JISX6249:2009 ８０　ｍｍ（１．４６ＧＢ／面）及び１２０　ｍｍ（４．７０ＧＢ／面）ＤＶＤレコーダブルディスク（ＤＶＤ

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

第1章一般事項 ················································································································· 1

1 適用範囲 ························································································································· 1

2 適合性···························································································································· 2

2.1 光ディスク ··················································································································· 2

2.2 製造システム ················································································································ 2

2.3 情報再生システム ·········································································································· 2

3 引用規格 ························································································································· 2

4 用語及び定義 ··················································································································· 2

5 表記法···························································································································· 4

5.1 数値表示 ······················································································································ 4

5.2 頭字語 ························································································································· 5

6 略語······························································································································· 5

7 ディスクの概要 ················································································································ 6

8 一般要求事項 ··················································································································· 7

8.1 環境条件 ······················································································································ 7

8.2 安全性 ························································································································· 8

8.3 耐燃性 ························································································································· 8

9 基準測定装置 ··················································································································· 8

9.1 ピックアップヘッド (PUH) ······························································································ 8

9.2 測定条件 ····················································································································· 10

9.3 正規化サーボ伝達関数 ··································································································· 10

9.4 軸方向のトラッキング基準サーボ····················································································· 11

9.5 半径方向のトラッキング基準サーボ ·················································································· 12

第2章ディスクの寸法特性，機械的特性及び物理的特性··························································· 13

10 寸法特性 ······················································································································ 13

10.1 全体寸法 ···················································································································· 14

10.2 第1遷移領域 ·············································································································· 14

10.3 第2遷移領域 ·············································································································· 14

10.4 クランプゾーン ··········································································································· 14

10.5 第3遷移領域 ·············································································································· 14

10.6 R情報ゾーン ·············································································································· 15

10.7 情報ゾーン ················································································································· 15

10.8 トラックの寸法 ··········································································································· 16

10.9 チャネルビット長 ········································································································ 16

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10.10 リム領域 ·················································································································· 16

10.11 許容差についての注意 ································································································· 16

10.12 レーベル ·················································································································· 17

11 機械的パラメタ ············································································································· 17

11.1 質量 ·························································································································· 17

11.2 慣性モーメント ··········································································································· 17

11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 17

11.4 回転方向 ···················································································································· 17

11.5 振れ量 ······················································································································· 17

12 光学的パラメタ ············································································································· 18

12.1 記録済みディスク及び未記録ディスクの特性 ···································································· 18

12.2 記録済みディスクの反射率 ···························································································· 19

12.3 未記録ディスクの特性 ·································································································· 19

第3章動作信号 ················································································································ 19

13 記録済みディスクの動作信号 ··························································································· 19

13.1 測定条件 ···················································································································· 19

13.2 読取り条件 ················································································································· 19

13.3 記録済みディスクの高周波信号 (HF) ·············································································· 19

13.4 信号の品質 ················································································································· 21

13.5 サーボ信号 ················································································································· 21

13.6 グルーブウォブル信号 ·································································································· 22

14 未記録ディスクの動作信号 ······························································································ 23

14.1 測定条件 ···················································································································· 23

14.2 記録条件 ···················································································································· 23

14.3 ディスクテスト用基本記録ストラテジ ············································································· 23

14.4 サーボ信号 ················································································································· 24

14.5 アドレス信号 ·············································································································· 26

第4章データフォーマット ································································································· 29

15 概要 ···························································································································· 29

16 データフレーム ············································································································· 29

16.1 識別データ (ID) ·········································································································· 29

16.2 ID誤り検出符号 (IED) ································································································· 30

16.3 予備バイト (RSV) ······································································································· 30

16.4 誤り検出符号 (EDC) ···································································································· 31

17 スクランブルドフレーム ································································································· 31

18 ECCブロック ··············································································································· 32

19 記録フレーム ················································································································ 33

20 変調 ···························································································································· 34

21 物理セクタ ··················································································································· 35

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22 直流成分抑圧制御 ·········································································································· 36

23 リンキング方式 ············································································································· 37

23.1 リンキングの構造 ········································································································ 37

23.2 2Kリンク及び32Kリンク ····························································································· 37

23.3 ロスレスリンク ··········································································································· 38

第5章情報ゾーンのフォーマット ························································································ 39

24 情報ゾーンの概要 ·········································································································· 39

24.1 情報ゾーンのレイアウト ······························································································· 39

24.2 物理セクタの番号付け ·································································································· 40

25 リードインゾーン及びリードアウトゾーン ········································································· 40

25.1 リードインゾーン ········································································································ 40

25.2 リードアウトゾーン ····································································································· 48

第6章未記録ゾーンのフォーマット ····················································································· 48

26 未記録ゾーンの概要 ······································································································· 48

26.1 未記録ゾーンのレイアウト ···························································································· 48

26.2 ECCブロックアドレス ································································································· 48

26.3 ECCブロックの番号付け ······························································································ 48

27 プリピットデータフォーマット ························································································ 49

27.1 概要 ·························································································································· 49

27.2 プリピットブロック構成 ······························································································· 51

27.3 プリピットデータブロック構成 ······················································································ 53

28 R情報ゾーンのデータ構造 ······························································································ 66

28.1 パワー校正領域及び記録管理領域の配置 ·········································································· 66

28.2 パワー校正領域の構造 ·································································································· 66

28.3 記録管理領域(RMA)のデータ構成 ··················································································· 67

附属書A（規定）角度偏差αの測定 ························································································ 76

附属書B（規定）複屈折の測定 ······························································································ 77

附属書C（規定）位相差トラッキングエラー信号の測定方法 ························································ 79

附属書D（規定）光反射の測定 ······························································································ 83

附属書E（規定）ディスククランプのためのテーパコーン ··························································· 84

附属書F（規定）ジッタの測定 ······························································································· 85

附属書G（規定）RLL(2,10)制約の8-16変調 ············································································· 88

附属書H（規定）最適パワー制御 ··························································································· 97

附属書J（規定）グルーブウォブル振幅の測定 ·········································································· 98

附属書K（規定）未記録ディスクの動作信号の測定法 ······························································· 100

附属書L（規定）NBCA信号 ································································································ 101

附属書M（規定）ボーダゾーン ····························································································· 107

附属書N（規定）記録ストラテジの変形 ················································································· 116

附属書P（規定）ランドプリピット信号の測定方法 ··································································· 117

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005) 目次

（4）

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附属書Q（参考）輸送 ········································································································· 118

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

（5）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会(OITDA)から，

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格に従うことは，次に示す企業が管理する多数の特許権の使用に該当するおそれがある。

株式会社東芝

コーニンクレッカ・フィリップス・エレクトロニクス・エヌヴィ

なお，この記載は，上記に示す企業が管理する特許権の効力，範囲などに関して何ら影響を与えるもの

ではない。

この規格の原案作成団体である財団法人光産業技術振興協会は，上記の企業の子会社である東芝DVD

ライセンス株式会社，日本フィリップス株式会社が，日本工業標準調査会に対して，それぞれの親会社で

ある株式会社東芝及びコーニンクレッカ・フィリップス・エレクトロニクス・エヌヴィが，非差別的及び

合理的な条件で，いかなる者に対しても当該特許権の実施を許諾する意志があることを保証していること

を表明している旨述べている。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許

出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任はもたない。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

（6）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

白紙

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6249：2009

(ISO/IEC 23912：2005)

80 mm（1.46 GB／面）及び120 mm（4.70 GB／面）

DVDレコーダブルディスク（DVD-R）

Information technology-80 mm(1.46 Gbytes per side) and 120 mm

(4.70 Gbytes per side) DVD Recordable Disk (DVD-R)

序文

この規格は，2005年に第1版として発行されたISO/IEC 23912を基に，技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。

第1章一般事項

適用範囲

この規格は，80 mm及び120 mmのDVDレコーダブルディスク（以下，ディスクという。）の互換性を

可能にする機械的特性，物理的特性及び光学的特性について規定する。また，それらのディスクによって

情報交換を可能にするプリ記録部（事前記録部），未記録部及び記録部の信号品質，データフォーマット，

情報ゾーンのフォーマット，未記録ゾーンのフォーマット及び記録方法について規定する。このディスク

を，DVDレコーダブル (DVD-R) ディスクという。この規格は，次の項目を規定する。

− 直径80 mm及び120 mmの片面又は両面のディスク

− 適合条件

− ディスクの使用環境及び保存環境

− データ処理システム間の機械的互換のためのディスクの機械的特性，物理的特性及び寸法特性

− トラック及びセクタの物理的配置，誤り訂正符号及び符号化方法を含む未記録ディスク上のプリ記録

情報のフォーマット

− トラック及びセクタの物理的配置，誤り訂正符号及び符号化方法を含むディスク上の記録された情報

のフォーマット

− データ処理システムがディスク上からプリ記録データを読み，ディスクに記録を可能にするための，

ディスク上のプリ記録及び未記録領域からの信号の特性

− データ処理システムがディスク上のデータ読取りを可能にするための，ディスク上に記録した信号の

特性

この規格は，ディスクドライブ間のディスクの互換性を与える。また，ボリューム及びファイル構造の

規格とともに，データ処理システム間の完全なデータ互換性を与える。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

ISO/IEC 23912:2005，Information technology−80 mm(1.46 Gbytes per side) and 120 mm(4.70 Gbytes

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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per side) DVD Recordable Disk (DVD-R) (IDT)

なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示す。

適合性

2.1

光ディスク

規格への適合性を表明する場合，ディスクのタイプ（公称直径及び片面か両面かの別）を明らかにしな

ければならない。ディスクは，そのタイプの要求事項を満たす場合，この規格に適合する。

2.2

製造システム

製造システムは，製造するディスクが2.1に合致するとき，この規格に適合する。

2.3

情報再生システム

情報再生システムは，2.1に適合するディスクを取り扱うことができるとき，この規格に適合する。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用

規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）には適用しない。

ECMA 287:2002 Safety of electronic equipment

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。

4.1

ブロック同期ガード領域 (block sync guard area)

未記録領域において，32Kリンクを用いて記録が開始された連続領域の最初のECCブロック。

4.2

ボーダゾーン (border zone)

部分的に記録された状態のディスクを再生するときに，ピックアップの暴走を防止するための領域。

4.3

チャネルビット (channel bit)

変調後の2値の“0”及び“1”をディスク上のビットで表す要素。

4.4

クランプゾーン (clamping zone)

クランプ装置機構によってクランプ力が加わるディスクの環状の部分。

4.5

データゾーン (data zone)

リードインゾーンとリードアウトゾーンとに挟まれたユーザデータが記録された領域。

4.6

データレコーダブルゾーン (data recordable zone)

ユーザデータが記録可能なゾーン。

4.7

デジタル総計値 (digital sum value : DSV)

10進数の数値1をビット“1”及び10進数の−1をビット“0”に割り当てることによってビットストリ

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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ームから得た算術和。

4.8

ディスクアットワンス記録 (disk at once recording)

リードインゾーン，ユーザデータ及びリードアウトゾーンを連続的に記録する記録モード。

4.9

ディスク基準面 (disk reference plane)

ディスクのクランプゾーンをクランプし，理想スピンドルの完全に平らな環状表面で定義される回転軸

に対して垂直な面。

4.10

ECCブロックアドレス (ECC block address)

ランドプリピットとして配置され，ディスク上の各領域への記録位置を決定するために用いるトラック

の絶対物理番地。

4.11

誤り訂正符号：ECC (error correction code : ECC)

データの誤りを検出，訂正するために用いる照合バイトを生成するための数学的計算。

4.12

誤り検出符号 (error detection code : EDC)

データの誤りを検出するために生成されたコード。

4.13

ファイナライゼーション (finalization)

リードインゾーン及びリードアウトゾーンを記録する動作。

4.14

グルーブ (groove)

トラックの位置決めに用いるディスクの溝。グルーブは，ランドよりも入射面に近く位置する。グルー

ブの中心に記録を行う。

4.15

インクリメンタル記録 (incremental recording)

リンキング方式を用いてディスクが複数回に分けて記録されるときに用いる記録モード。

4.16

情報ゾーン (information zone)

リードインゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンで構成されるゾーン。

4.17

ランド (land)

グルーブ間の領域。

4.18

ランドプリピット (land pre-pit : LPP)

ディスク基板製造工程において，ランド上に形成された番地情報を含むエンボスピット。

4.19

リードインゾーン (lead-in zone)

データゾーンより内側，かつ，隣接した物理セクタで構成されるゾーン。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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4.20

リードアウトゾーン (lead-out zone)

データゾーンより外側，かつ，隣接した物理セクタで構成されるゾーン。

4.21

記録管理領域 (recording management area: RMA)

リードインゾーンより内側，かつ，隣接した記録管理データで構成される領域。

4.22

記録管理データ (recording management data: RMD)

ディスク上の記録モードを含む記録に関する情報。

4.23

R情報ゾーン (R-information zone)

パワー校正領域 (PCA) と記録管理領域 (RMA) とで構成される領域。

4.24

Rゾーン (R zone)

インクリメンタル記録及びリストリクテッドオーバライトモードの場合に，ユーザデータ記録用に予約

される連続したECCブロック。

4.25

セクタ (sector)

ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で，アドレス指定可能な最小領域。

4.26

基板 (substrate)

記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。これを通して光ビームで記録層にアクセスする。

4.27

トラック (track)

連続スパイラルの360°，1回転分。

4.28

トラックピッチ (track pitch)

半径方向に測定される，未記録ディスクに対しては一対の隣接するウォブルグルーブ（半径方向にわず

かに蛇行したグルーブ）の平均中心線間の距離で，記録済みディスクに対しては一対の隣接する連なった

記録マークの物理トラックの中心線間の距離。

4.29

ゾーン (zone)

ディスクの環状領域。

表記法

5.1

数値表示

測定値は，該当規格値の最下位けた（桁）に丸める。例えば，＋0.01のプラス許容差及び−0.02のマイ

ナス許容差をもつ1.26という規格値は，1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。

10進数は，0〜9の数字で表す。

16進数は，括弧でくくった，0〜9のアラビア数字とA〜Fのアルファベットとで表す。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットの設定は，“0”及び“1”で表す。

2進数及びビットパターンは，左側を最上位ビットとし，“0”及び“1”の一連で表す。

2進数の負の値は，2の補数として表す。

各フィールドで，データは，バイト0とする最上位のバイト(MSB)を最初に記録し，最下位バイト(LSB)

を最後に記録する。

8nビットのフィールドで，ビットb (8n-1) は，最上位ビット(msb)とし，ビットb0は，最下位ビット(lsb)

としなければならない。

ビットb (8n-1) を最初に記録する。

5.2

頭字語

（対応国際規格では，この細分箇条において，頭字語について英語特有の語句の用法について規定して

いるが，この規格では不要であり，不採用とした。）

略語

Amplitude of the land Pre-Pit signal ランドプリピットの信号振幅（ウォブル振幅を含まない。）

Aperture Ratio (of the Land Pre-Pit after recording) 開口比（記録後のランドプリピット信号にお

ける）

Byte Position バイト位置

BPF

Band Pass Filter 帯域フィルタ

CLV

Constant Linear Velocity 一定線速度

CNR

Carrier to Noise Ratio キャリア対雑音比

DCC

DC Component (Suppress) Control 直流成分抑圧制御

DSV

Digital Sum Value デジタル総計値

ECC

Error Correction Code 誤り訂正符号

EDC

Error Detection Code 誤り検出符号

High Frequency 高周波

Identification Data 識別データ

Lead-out Attribute リードアウト属性

IED

ID Error Detection (code) ID誤り検出符号

LPF

Low-Pass Filter 低域フィルタ

LPP

Land Pre-Pit ランドプリピット

LSB

Least Significant Byte 最下位バイト

lsb

least significant bit 最下位ビット

MSB

Most Significant Byte 最上位バイト

msb

most significant bit 最上位ビット

NBCA

Narrow Burst Cutting Area ナローバーストカッティング領域

NRZI

Non Return to Zero Inverted 非ゼロ反転復帰

OPC

Optimum Power Control 最適パワー制御

PBS

Polarizing Beam Splitter 偏光ビームスプリッタ

PCA

Power Calibration Area パワー校正領域

Parity (of the) Inner (code) 内符号パリティ

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

PLL

Phase Locked Loop 位相同期ループ

Parity (of the) Outer (code) 外符号パリティ

PSN

Physical Sector Number 物理セクタ番号

PUH

Pick-Up Head ピックアップヘッド

RBP

Relative Byte Position 相対バイト位置

RBW

Resolution Bandwidth レゾルーション帯域幅

RESYNC Re-Synchronization 再同期

RMA

Recording Management Area 記録管理領域

RMD

Recording Management Data 記録管理データ

Reed-Solomon (code) リードソロモン符号

SYNC

Synchronization 同期

ディスクの概要

この規格の主題である80 mm及び120 mmのディスクは，一つの記録層（片面ディスク）又は二つの記

録層（両面ディスク）を内側に設けた基板2枚を接着層によって，は(貼)り合わせて構成する。ディスク

の中心位置決めは，読取側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプは，クランプゾーンで行う。ディ

スクは，記録層の数によって両面ディスクか又は片面ディスクとなる。両面ディスクは，各基板の内側に

記録層をもつ。片面ディスクは，記録層を内側にもった1枚の基板と記録層をもたないダミー基板とをも

つ。記録されたディスクのデータは，ドライブの光ビームによって何回も読むことができる。

タイプ1S

基板，一つの記録層及びダミー基板からなり，記録層には一方向からアクセスすることがで

きる。容量の公称値は80 mmディスクで1.46ギガバイト，120 mmディスクで4.70ギガバイトである。

タイプ2S

2枚の基板及び二つの記録層からなり，ディスクの一方向からは，これらの記録層の一方に

だけアクセスすることができる。容量の公称値は80 mmディスクで2.92ギガバイト，120 mmディスクで

9.40ギガバイトである。

図1に，模式的にこれらのタイプを示す。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図1−ディスク外観

一般要求事項

8.1

環境条件

8.1.1

試験環境条件

試験環境条件は，ディスク近傍の空気が次の条件を満たす環境とする。

a) 寸法測定用

温度

：23 ℃±2 ℃

相対湿度

：45 ％〜55 ％

大気圧

：86〜106 kPa

b) a)以外の測定用

温度

：15 ℃〜35 ℃

相対湿度

：45 ％〜75 ％

大気圧

：86〜106 kPa

別に規定しない限り，すべての試験及び測定は，この試験環境条件で行わなければならない。

8.1.2

動作環境条件

規定した測定環境でのこの規格のすべての要求事項を満たすディスクは，動作環境条件において環境パ

ラメタの規定範囲にわたってデータ交換ができなければならない。

データ交換用ディスクは，電源を入れたドライブに装着し，ディスク近傍で測定したとき，次の条件下

で動作しなければならない。

注記ここで，データ交換とは，再生のことをいう。

8.1.2.1

読取時の環境条件

保存条件にさらされたディスクは，動作前に少なくとも2時間動作環境条件に放置してから使用する。

温度

：−25 ℃〜70 ℃

相対湿度

：3 ％〜95 ％

絶対湿度

：0.5〜60 g/m3

反射層

タイプ 1S

タイプ 2S

入射面

ダミー基板

基板

接着層

記録層

反射層

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

温度変動

：最大15 ℃/h

相対湿度変動：最大10 ％/h

ディスクに結露があってはならない。

8.1.2.2

未記録ディスクの記録中の環境条件

保存条件にさらされたディスクは，動作前に少なくとも2時間記録環境条件に放置してから使用する。

温度

：−5 ℃〜55 ℃

相対湿度

：3 ％〜95 ％

絶対湿度

：0.5〜30 g/m3

ディスクに結露があってはならない。

8.1.3

保存環境条件

保存環境条件はディスク近傍の環境条件とし，次による。

温度

：−20 ℃〜50 ℃

相対湿度

：5 ％〜90 ％

絶対湿度

：1〜30 g/m3

大気圧

：75〜106 kPa

温度変動

：最大15 ℃/h

相対湿度変動：最大10 ％/h

8.1.4

輸送

この規格では，輸送条件については規定しないが，指針を附属書Qに示す。

8.2

安全性

ディスクは，情報処理システムにおいて意図された方法での使用時又は想定される使用時に，ECMA-287

の安全性に関する要求事項を満たさなければならない。

8.3

耐燃性

ディスクは，ECMA-287に規定しているように，HB材料の耐燃性クラス以上のクラスに適合する材料

で作る。

基準測定装置

この規格に適合するために，光学特性の測定には，記録済みディスク及び未記録ディスクの基準測定装

置を使用しなければならない。これらの装置の重要部品は，ここで規定する特性をもつ。

9.1

ピックアップヘッド (PUH)

9.1.1

記録済みディスク測定用PUH

光学パラメタを測定する光学系を，図2に示す。測定の精度に影響しないようにするために，その光学

系は，ディスク入射面から反射した検出光を最小化する。偏光ビームスプリッタCを1/4波長板Dと組み

合わせることによって，入射光とディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリッタCの

P-S強度又は反射率の比は，100以上とする。光学系Gは，非点収差の焦点合せ及び読取りのために，非

点収差を生成してディスクFの記録層で反射した光をコリメートする。四分割フォトディテクタHの位置

は，対物レンズの焦点が記録層に合ったとき，光スポットが四分割ディテクタHの中心と一致する中心を

もつ円になるように調整する。そのようなフォトディテクタHの例を，図2に示す。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

A：レーザダイオード
B：コリメータレンズ
C：偏光ビームスプリッタ
D：1/4波長板
E：対物レンズ

F：ディスク
G：非点収差焦点合せ光学系
H：四分割フォトディテクタ

Ia，Ib，Ic，Id：四分割フォトディテクタ出力電流

J：直流結合増幅器

図2−記録済みディスク測定用PUHの光学系

PUHの特性は，次による。

波長(λ)

：650 nm±5 nm

偏光

：円偏光

偏光ビームスプリッタ：特に規定のない限り使用

開口数

：0.60±0.01

対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度：半径方向は最大光強度の60 ％〜70 ％，接線方向は最

大光強度の90 ％以上

単層ディスクの理想基板を通過した後の波面収差（厚さ0.6 mm，屈折率1.56）：最大 0.033 λ rms

レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)

10 log［（交流光パワー実効値／Hz）／直流光パワー実効値］：最大 −134 dB/Hz

9.1.2

未記録ディスク測定用PUH

特性測定を行う光学系を，図3に示す。この光学系は，未記録ディスクの特性測定及びディスク測定に

必要な記録に使用する。図3の構成の機能と同じであれば，異なる部品及び部品の異なる配置をしてもよ

い。光学系は，測定の精度に影響しないようにするために，ディスクの入射面から反射した検出光を最小

化する。偏光ビームスプリッタCを1/4波長板Dと組み合わせることによって，レーザダイオードAから

の入射光とディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリッタCのP-S強度／反射率の比は，

100以上とする。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

A：レーザダイオード
B：コリメータレンズ
C：偏光ビームスプリッタ
D：1/4波長板
E：対物レンズ

F：ディスク
G：四分割フォトディテクタ
H1， H2， H3， H4：直流結合増幅器

Ia， Ib， Ic， Id：四分割フォトディテクタ出力電流
I1， I2：増幅器出力電流

図3−未記録ディスク測定用PUHの光学系

データの記録再生に用いる集束光の特性は，次による。

波長(λ)

：650 nm

＋
−

偏光

：円偏光

開口数

：0.60±0.01

対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度：半径方向は最大光強度の40 ％，接線方向は最大光強度

の50 ％以上

単層ディスクの理想基板を通過した後の波面収差（厚さ0.6 mm，屈折率1.56）：最大 0.033 λ rms

レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)

10 log［（交流光パワー実効値／Hz）／直流光パワー実効値］：最大 −130 dB/Hz

9.2

測定条件

9.2.1

記録済みディスク及び未記録ディスク

チャネルビットレートが26.156 25 Mbits/sのときの走査速度：3.49 m/s±0.03 m/s

クランプ力

：2.0 N±0.5 N

クランプゾーン：10.4及び附属書A参照

テーパコーン角度：40.0 °±0.5 °（附属書E参照）

9.2.2

記録済みディスク

記録済みディスクの動作信号の測定条件は，附属書Fに規定する。

9.2.3

未記録ディスク

未記録ディスクの動作信号の測定条件は，附属書Kに規定する。

9.3

正規化サーボ伝達関数

軸方向と半径方向とのトラッキングのサーボシステムを規定するために，関数Hsを用いる［式 (1) 参

照］。23.1 Hz〜10 kHzの周波数範囲において，基準サーボの開ループ伝達関数Hの公称値を規定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

()

························································ (1)

ここに，

ω： 2 π f

ω0： 2 π f0

i：

−

f0：開ループ伝達関数の0 dBクロスオーバ周波数とする。

サーボの位相進み遅れ回路のクロスオーバ周波数は，次による。

進み交差周波数：f1＝f0×1/3

遅れ交差周波数：f2＝f0×3

9.4

軸方向のトラッキング基準サーボ

軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し，|1＋H |は，図4に模式的に示すハッチ

ング領域内になければならない。

図4−軸方向のトラッキング基準サーボ

100 Hz〜10 kHzの帯域幅

|1＋H |は，|1＋Hs |の20 ％以内でなければならない。

クロスオーバ周波数f0＝ω0 / 2πは，式 (2) による。

kHz

0.2

5.1

max

−

···································· (2)

ここに，αmaxは，軸方向の最大加速度期待値8 m/s2の1.5倍，最大許容トラッキングエラーemaxは，0.23

μmとする。

23.1 Hz〜100 Hzの帯域幅

|1＋H |は，次の4点で囲まれる範囲内とする。

100 Hzで40.6 dB（100 Hzで|1＋Hs|−20 ％）

利

得

(dB)

周波数 (Hz)

86.0

66.0

62.3

44.1

40.6

8 m/s2

100

10 000

(300 μm)

(0.23 μm)

23.1

9.6

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

23.1 Hzで66.0 dB（23.1 Hzで|1＋Hs|−20 ％）

23.1 Hzで86.0 dB（23.1 Hzで|1＋Hs|−20 ％に20 dB加える。）

100 Hzで44.1 dB（100 Hzで|1＋Hs|＋20 ％）

9.6 Hz〜23.1 Hzの帯域幅

|1＋H|は，66.0 dBと86.0 dBとの間になければならない。

9.5

半径方向のトラッキング基準サーボ

半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し，|1＋H|は，図5に模式的に示すハッ

チングの領域内になければならない。

図5−半径方向のトラッキング基準サーボ

100 Hz〜10 kHzの帯域幅

|1＋H|は，|1＋Hs|の20 ％以内でなければならない。

クロスオーバ周波数f0＝ω0 / 2πは，式 (3) による。

kHz

4.2

022

5.1

1.1

max

−

································· (3)

ここに，α maxは，軸方向の最大加速度期待値1.1 m/s2の1.5倍，最大許容トラッキングエラーemaxは，

0.022 μmとする。

半径方向のトラッキングエラーは，0レベルより内側か外側で半径方向に測定したピーク偏差とする。

23.1 Hz〜100 Hzの帯域幅

|1＋H |は，次の4点で囲まれる範囲内とする。

100 Hzで43.7 dB（100 Hzで|1＋Hs |−20 ％）

23.1 Hzで69.2 dB（23.1 Hzで|1＋Hs |−20 ％）

23.1 Hzで89.2 dB（23.1 Hzで|1＋Hs |−20 ％に20 dB加える。）

100 Hzで47.3 dB（100 Hzで|1＋Hs |＋20 ％）

9.6 Hz〜23.1 Hzの帯域幅

|1＋H |は，69.2 dBと89.2 dBとの間になければならない。

利

得

(dB)

周波数 (Hz)

89.2

69.2

64.0

47.3

43.7

1.1 m/s2

100

10 000

(35 μm)

(0.022 μm)

23.1

9.6

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第2章ディスクの寸法特性，機械的特性及び物理的特性

10 寸法特性

寸法特性は，ディスクの互換性及び適合をとる上で必要なパラメタについて規定する。設計の自由度が

あるところは，機能特性の要素記述にとどめる。寸法要求事項は，図6〜図8にまとめて示す。ディスク

の各部分について，中心孔から外周部までを記載している。

寸法は，二つの基準面P及びQを基準とする。

基準面Pは，主基準面とし，クランプゾーン（10.4参照）の下面が置かれる面とする。

基準面Qは，クランプゾーンの上面の高さで基準面Pと平行な面とする。

図6−ディスクの領域

図7−リム領域

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図8−組立ディスクの孔

10.1 全体寸法

120 mmディスクの直径は，次による。

120

80 mmディスクの直径は，次による。

基板又はダミー基板の中心孔の直径は，次による。

0.15
0

2枚の基板をはり合わせたとき，ディスクの中心孔の直径の最小値は，15.00 mmとする（図8参照）。

中心孔の両方のエッジにばりがあってはならない。

中心孔のエッジは，丸めるか又は面取りしなければならない。丸みの半径は，0.1 mm以下とする。面取

りは，0.1 mm以上の高さを超えてはならない。

接着層及びレーベルを含むディスクの厚さは，次による。

+−

10.2 第1遷移領域

第1遷移領域は，直径d2及び次に示す直径d3で囲まれた領域とし，この領域のディスク面は，基準面P

及び／又は基準面Qから最大0.10 mmの内側にあってもよい。

3≧

10.3 第2遷移領域

第2遷移領域は，直径d3及び次に示す直径d4で囲まれた領域とする。

4≦

この領域では，基準面P又はQの外側に最大0.05 mmの平たんでない部分及びばりがあってもよい。

10.4 クランプゾーン

このゾーンは，直径d4及び次に示す直径d5で囲まれた領域とする。

5≧

クランプゾーンの各面は，0.1 mm以内で平たんでなければならない。クランプゾーンの上面，すなわち，

基準面Qの面は，下面，すなわち，基準面Pの面に0.1 mm以内で平行でなければならない。

クランプゾーンの，ディスクの厚さ (e2) は，次による。

+−

10.5 第3遷移領域

第3遷移領域は，直径d5及び次に示す直径d6で囲まれた領域とする。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6≦

（120 mmディスクのとき）

6≦

（80 mmディスクのとき）

この領域では，ディスクの上面は，基準面Qから高さh1高くなってもよく，高さh2低くなってもよい。

ディスクの下面は，基準面Pから高さh3高くなってもよく，高さh4低くなってもよい。

高さh1，h2，h3及びh4の値は，次による。

1≦

2≦

3≦

4≦

10.6 R情報ゾーン

R情報ゾーンは，箇条28で規定するとおりパワー校正領域の始めのd7 = 44.00 mm及びリードインゾー

ンの始めで囲まれた領域とする。R情報ゾーンでのディスクの厚さは，10.1で規定するe1に等しくなけれ

ばならない。

10.6.1 R情報ゾーンの分割

R情報ゾーンの主要部分は，次による。

− パワー校正領域 (PCA)

− 記録管理領域 (RMA)

10.7 情報ゾーン

情報ゾーンは，リードインゾーンの始め及び表1に示す直径d10で囲まれた領域とする。情報ゾーンで

のディスクの厚さは，10.1で規定するe1に等しくなければならない。

10.7.1 情報ゾーンの分割

情報ゾーンの主要部分は，次による。

− リードインゾーン

− データゾーン

− リードアウトゾーン

10.7.1.1

リードインゾーン

リードインゾーンは，25.1で規定するR情報ゾーンの終わり及び直径d8で囲まれた領域とする。

10.7.1.2

データゾーン

データゾーンは，直径d8から始まり直径d9で終了する。

直径d8の値は，次による。

2.0

−

120 mmディスクのd9は，次による。

116

9≦

80 mmディスクのd9は，次による。

9≦

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10.7.1.3

リードアウトゾーン

リードアウトゾーンは，直径d 9で開始し，直径d10で終了する。d10の値は，表1に示すようにデータゾ

ーンの長さに依存する。

表1−情報ゾーンの終了

単位 mm

データゾーンの外径d9

120 mmディスクのd10の値

80 mmディスクのd10の値

68.0以下

最小70.0

68.0〜115.0

データゾーン外径＋最小2.0

115.0〜116.0

最小117.0

68.0以下

最小70.0

68.0〜75.0

データゾーン外径＋最小2.0

75.0〜76.0

最小77.0

10.8 トラックの寸法

R情報ゾーン及び情報ゾーンでのトラックは，360°回転のスパイラルによって構成する。データゾーン

全体にわたる平均トラックピッチは，0.74 μm±0.01 μmとする。トラックピッチの0.74 μmからの最大変

位は，±0.03 μmとする。

10.9 チャネルビット長

R情報ゾーン及び情報ゾーンでは，CLVモードでデータを記録する。データゾーンの全体にわたる平均

チャネルビット長は，133.3 nm±1.4 nmとする。

10.10 リム領域

リム領域は，直径d11から直径d1の領域とする。

120 mmディスクのd11は，次による。

118

11≧

80 mmディスクのd11は，次による。

11≧

この領域では，ディスクの上面は，基準面Qから高さh5高くなってもよい。ディスクの下面は，基準面

Pから高さh6低くなってもよい。

高さh5及びh6の値は，次による。

5≦

6≦

この領域の全体厚さは，1.50 mm，すなわち，e1の最大値より大きくてはならない。

リムの厚さ (e3) は，次による。

3≧

ディスクの外周エッジは，丸み半径最大0.2 mmで丸めるか又は次に示す高さh 7，h 8にわたり面取りし

なければならない。

7≦

8≦

10.11 許容差についての注意

10.5で規定するhiで示すすべての高さは，相互に独立した値とする。例えば，第3遷移領域の上側の面

がh2だけ基準面Qから下がっている場合，この領域の下側の面が必ずしもh3だけ基準面Pから上がって

いなくてもよいことを意味している。寸法が同じ数値“一般的には最大値”のところでは，これは，実際

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

の値が同一でなければならないことを意味していない。

10.12 レーベル

レーベルは，それに関連した情報をアクセスする入射面のある基板と反対側の基板とに設け，ディスク

の外面又はディスクの内面の接合面かのいずれかに設ける。前者の場合，レーベルは，クランプゾーンに

かかってはならない。後者の場合，レーベルは，クランプゾーンに及んでもよい。いずれの場合でも，レ

ーベルは，中心孔の縁及びディスクの外周エッジからはみ出してはならない。レーベルは，ディスクの特

性に影響を与えてはならない。両面ディスクは，いずれの読取面にもレーベルを付けてはならない。

11 機械的パラメタ

11.1 質量

120 mmディスクの質量は，13〜20 gの範囲内とする。

80 mmディスクの質量は，6〜9 gの範囲内とする。

11.2 慣性モーメント

回転軸に関する120 mmディスクの慣性モーメントは，最大0.040 g･m2とする。

回転軸に関する80 mmディスクの慣性モーメントは，最大0.010 g･m2とする。

11.3 ダイナミックインバランス

回転軸に関する120 mmディスクのダイナミックインバランスは，最大0.010 g･mとする。

回転軸に関する80 mmディスクのダイナミックインバランスは，最大0.004 5 g･mとする。

11.4 回転方向

ディスクの回転方向は，光学的システムからみて反時計方向とする。

11.5 振れ量

11.5.1 軸方向の振れ量

軸方向のトラッキングのための基準サーボをもつPUH及び走査速度でのディスクの回転で測定すると

き，基準面に垂直の方向での公称位置からの記録層の偏差は，120 mmディスクは0.3 mm以下とし，80 mm

ディスクは0.2 mm以下とする。軸方向トラッキングのためのサーボを用いて測定した10 kHz以下の残留

トラッキングエラーは，0.23 μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースLPF，fc (−3 dB) : 10 kHz，

傾斜：−80 dB/decadeとする。

11.5.2 半径方向の振れ量

ディスクの外周エッジの振れは，0.30 mm p-p 以下とする。

トラックの半径方向の振れは，70 μm p-p 以下とする。

半径方向のトラッキングのための基準サーボを用いて測定した1.1 kHz以下の残留トラッキングエラー

は，0.022 μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースLPF，fc (−3 dB) : 1.1 kHz，傾斜：−80 dB/decade

とする。

半径方向トラッキング基準サーボを用いて20 msの積分時間で測定した1.1 kHz〜10 kHzの周波数帯域で

の残留エラー信号のノイズ実効値は，0.016 μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースBPF，周波数

範囲 (−3 dB) : 1.1 kHz，傾斜：＋ 80 dB/decade〜周波数範囲 (−3 dB) : 10 kHz，傾斜：−80 dB/decadeと

する。

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12 光学的パラメタ

12.1 記録済みディスク及び未記録ディスクの特性

12.1.1 屈折率

基盤の屈折率は，1.55±0.10とする。

12.1.2 透明基板の厚さ

透明基板の厚さは，屈折率の関数とし，図9に規定する。

図9−屈折率及び基板の厚さ

12.1.3 角度偏差

角度偏差は，平行光の入射光と反射光との間の角度αとする。入射光は，0.3 mm〜3.0 mmの直径をも

つ。角度偏差は，入射面によるゆがみ及び反射層の非平行を含む（図A.1参照）。その値は，附属書Aに

よって測定したとき，次のとおりとする。

半径方向で：α ＝ 0.80°以内

接線方向で：α ＝ 0.30°以内

12.1.4 透明基板の複屈折

透明基板の複屈折は，附属書Bによって測定したとき，100 nm以下とする。

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12.2 記録済みディスクの反射率

附属書Dによって測定したとき，記録層の反射率は，45 ％〜85 ％（PBSをもつPUH）又は60 ％〜85 ％

（PBSをもたないPUH）とする。

12.3 未記録ディスクの特性

12.3.1 反射率変調の極性

反射率は，未記録領域で高く，記録マークで低く変化する。

12.3.2 記録パワーの感度変化（附属書H参照）

ディスクの全面にわたって最適記録パワーP0の変化は，P0±0.05 P0とする。

第3章動作信号

13 記録済みディスクの動作信号

13.1 測定条件

動作信号は，5トラック以上の領域に8-16変調データを記録した後に測定する。

− ピックアップヘッド(PUH)は，9.1.1による。

− 測定条件は，9.2.1及び9.2.2による。

− ジッタ測定のHF信号波形等化は，附属書Fによる。

− 正規化サーボ伝達関数は，9.3による。

− 軸方向のトラッキングの基準サーボは，9.4による。

− 半径方向のトラッキングの基準サーボは，9.5による。

13.2 読取り条件

読取りパワーは，ディスクの入射面に投射したパワーであり，1.0 mW以下とする。

13.3 記録済みディスクの高周波信号 (HF)

HF信号は，四分割フォトディテクタの電流の和とする。これらの電流は，記録層の情報を表す記録マ

ークにおける光ビームの回折と反射率変化とによって変調される。記録パワー条件は，附属書Hによる。

ジッタを除く測定は，波形等化前のHF信号によって行う。

13.3.1 変調振幅（図10参照）

変調振幅I14は，最長記録マーク及びスペースによって発生したピークからピークまでの値とする。

ピーク値I14Hは，高域フィルタ前のHF信号のピーク値とする。

I3は最短記録マーク及びスペースによって発生したピークからピークまでの値とする。

0レベルは，ディスクを挿入しないときの測定装置から得る信号レベルとする。

これらのパラメタは，次による。

≧

[(I14H max−I14H min) / I14H max] の最大値は，表2による。

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表2−[(I14H max−I14H min)/I14H max]の最大値

1枚のディスク内 1回転内

PBSをもつPUH

0.33

0.15

PBSをもたないPUH

0.20

0.10

13.3.2 信号の非対称性

ディスクを最適記録パワーP0で記録したときの信号の非対称性は，次による（図10参照）。

(

)

(

)

[

]

≦

−

ここで，(I14H＋I14L) / 2は，I14の中心値とし，(I3H＋I3L) / 2は，I3の中心値とする。

図10−変調振幅

13.3.3 クロストラック信号

クロストラック信号は，光ビームがトラックを交差するときのHF信号をカットオフ30 kHzの低域フィ

ルタで帯域制限したもの（図11参照）。低域フィルタは，1次フィルタとする。

クロストラック信号は，次による。

−

＝

≧

ここで，IHは，この信号のピーク値とし，ITは，ピークからピークまでの値とする。

図11−クロストラック信号

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13.4 信号の品質

13.4.1 ジッタ

ジッタは，波形等化器を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。立上がりエッジ及び立

下がりエッジのジッタをPLLクロックで測定し，チャネルビットクロック周期によって正規化する。

ジッタσは，附属書Fによって測定するとき，8.0 ％以下とする。

13.4.2 ランダムエラー

PIエラーの数は，少なくとも1バイトのエラーをもつ，ECCブロック（箇条19参照）の行の数とする。

どの8連続ECCブロックにおいても，エラー訂正前のPIエラーの総数は，280以下とする。

13.4.3 欠陥

欠陥の直径は，次の規定を満たすものとする。

− 気泡については，最大100 μmとする。

− 黒点については，最大200 μmとする。

− 複屈折を発生させない黒点については，最大300 μmとする。

さらに，欠陥はトラックの走査方向の80 mmの距離内で，次の規定を満たすものとする。

− 30 μmより大きい欠陥長の総和の最大値は，300 μmとする。

− 欠陥の数は，最大6個とする。

13.5 サーボ信号

図12に示す四分割フォトディテクタの出力電流は，Ia，Ib，Ic及びIdとする。

97-0047-A

光ビーム

接線方向

半径方向（外側）

図12−四分割フォトディテクタ

13.5.1 位相差トラッキングエラー信号

位相差トラッキングエラー信号は，光ビームがトラックを交差するとき，ディテクタの対角の対間の位

相差：位相 (Ia＋Ic)−位相 (Ib＋Id) から導く（図13参照）。位相差トラッキングエラー信号は，30 kHzの

カットオフの低減フィルタをかける（附属書C参照）。この信号は，次の要求事項を満たすものとする（図

13参照）。

振幅

正のゼロ交差において半径方向オフセット0.10 μmがあるとき，

1.1

5.0

〜

∆T

。

ここで，t

∆はディテクタの対角の対間の位相差から導く平均時間差とし，Tはチャネルビッ

トクロック周期とする。

非対称性

非対称性は，次による（図13参照）。

2.0

≦

−

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ここに， T1：

の正のピーク値

T2：

の負のピーク値

図13−位相差トラッキングエラー信号

13.5.2 接線方向のプッシュプル信号

この信号は，差動出力 (Ia＋Id) − (Ib＋Ic) の瞬時レベルから導く。この信号は，次による（図14参照）。

(

)(

)

[

]

≦

−

≦

−

(I +I )-(I +I )

a d

bcp-p

マーク

(I +I )-(I +I )

a d

bcp-p

マーク

(

)(

)

[

]

−

図14−接続方向のプッシュプル信号

13.6 グルーブウォブル信号

PUHの四分割フォトディテクタの各受光部からの出力電流をIa ，Ib ，Ic及びIdとする（図12参照）。グ

ルーブウォブル信号は，光ビームがトラックを追従するときのディテクタの差分出力から導き，[(Ia＋Ib) −

(Ic＋Id)] とする。グルーブウォブル信号は，次による。

− グルーブウォブルのロック周波数は，同期フレーム周波数の8倍とする。

− グルーブウォブルのCNR：＞ 31 dB (RBW＝1 kHz)

グルーブウォブルのCNRは，RBWを1 kHzに設定したスペクトラムアナライザを用いて平均値を測定

する（図15参照）。

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キャリアレベル

ノイズレベル

キャリアレベル

ノイズレベル

図15−ウォブルCNRの測定

14 未記録ディスクの動作信号

14.1 測定条件

− 未記録ディスクの特性測定及びディスクの測定に必要な記録を行う記録機のピックアップヘッド

(PUH)は，9.1.2による。

− 測定条件は，9.2.1及び9.2.3による。

− 正規化サーボ伝達関数は，9.3による。

− 軸方向のトラッキングの基準サーボは，9.4による。

− 半径方向のトラッキングの基準サーボは，9.5による。

14.2 記録条件

− 記録位置：グルーブ

− 最適記録パワー (Po)

：附属書HによるOPCによって決める。

− 最適記録パワー範囲

：6.0 mW≦ Po ≦ 12.0 mW

− バイアスパワー (Pb)

：Pb ≦ 0.7 mW

− 記録パワー

：Po±0.25 mW

14.3 ディスクテスト用基本記録ストラテジ

ディスクの測定に必要な9.1.2に規定した記録機のピックアップヘッドを用いて記録するときのレーザ

パワーは，基本記録ストラテジに従って変調する（図16参照）。Tを1クロック周期の長さを表すものと

するとき，4Tから11T及び14Tの長さの各記録パルスは，先頭パルス及び連続マルチパルスの二つの部

分からなる。3Tの長さの記録パルスは，先頭パルスだけを用いる。先頭パルスは，記録データの立上がり

エッジから幅を狭め，記録データの立上がりエッジから3Tのところで終了することによって作る。先頭

パルスの幅(Ttop)は，次に示すように記録データの長さ(Twd)によって選ぶ。連続マルチパルスは，記録デー

タの立上がりエッジから3Tの時間のところで始まり記録データの立下がりのところで終わる。連続マル

チパルスのパルス周期はTとする。その幅(Tmp)は，記録データの長さには依存しない。各パルス幅の推奨

値は，表3による。

表3−基本記録ストラテジのパラメタ

Ttop

Tmp

Twd = 3 T

Twd = 4 T

Twd ≧ 5 T

タイプ1

1.55 T

1.50 T

1.55 T

0.65 T

タイプ2

1.50 T

1.55 T

0.65 T

タイプ3

1.25 T

1.15 T

0.60 T

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記録ストラテジ変形の推奨方法については，附属書N参照。

図16−基本記録ストラテジ

14.3.1 記録パルスの定義

対物レンズからの記録パルスは，図17による。

立上がり時間 (Tr) 及び立下がり時間 (Tf) は，最大3 nsとする。

図17−記録パルス

14.4 サーボ信号

図18に示す四分割フォトディテクタの出力電流は，Ia，Ib，Ic及びIdとする。Ia及びIbは，Ic及びIdより

もディスクの外側に位置する。

0.5(P0−Pb)

0レベル

0.9(P0−Pb)

Ttop

Tmp

0.1(P0−Pb)

記録データ

記録パルス

Twd ( 8T )

Twd (3T )

Ttop

Tmp

0レベル

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97-0047-A

光ビーム

接線方向

半径方向（外側）

図18−四分割フォトディテクタ

14.4.1 半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号

半径方向のプッシュプルトラッキングエラー信号は，光ビームがトラックを横切るときのディテクタの

差分出力から導き，[(Ia＋Ib) − (Ic＋Id)] とする。半径方向のプッシュプルトラッキングエラー信号は，9.1.2

に規定するピックアップヘッド(PUH)を用いてカットオフ周波数30 kHzの低域フィルタを通過させて測定

する。

半径方向の記録前のプッシュプル振幅をPPb，記録後をPPaとすると，これらのパラメタは，次による

（図19参照）。

PPb，PPa＝|(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)|a.c./|(Ia＋Ib＋Ic＋Id)|d.c.

|(Ia＋Ib＋Ic＋Id)|d.c.は，0レベルから|(Ia＋Ib＋Ic＋Id)|a.c.の平均値を測定する（図19参照）。

半径方向のプッシュプル比は，次による。

PPr＝PPb / PPa

上述のパラメタは，次の規定を満たすものとする。

− PPbの信号振幅

：0.22 ＜PPb＜0.44

− プッシュプル比

：0.5 ＜PPr＜1.0

− PPb信号の変化幅

：ΔPPb ＜15 ％

ここに，ΔPPb＝[(PPb)max−(PPb)min] / [(PPb)max＋(PPb)min]

− ΔPPbは，すべてのディスク面にわたって測定する（80 mmディスクで半径22 mm〜38.5 mm，120 mm

ディスクで半径22 mm〜58.5 mm）。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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02-0001-A

(Ia+Ib+Ic+Id)a.c.

(Ia+Ib+Ic+Id)d.c.

|(Ia+Ib)−(Ic+Id)|a.c.

差動信号

内周方向

グルーブ

|(Ia+Ib)−(Ic+Id)|a.c.

図19−半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号

14.4.2 欠陥

特性は，13.4.3と同じとする。

14.5 アドレス信号

図18に示す四分割フォトディテクタの出力電流は，Ia，Ib，Ic及びIdとする。

14.5.1 ランドプリピット信号

ランドプリピット信号は，光ビームがトラックを追従するときのフォトディテクタの差分出力の瞬時値

から導き，[(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)]とする。この差動信号は，9.1.2に規定する記録機のピックアップヘッドによ

って測定する。記録前のランドプリピット信号振幅 (LPPb) は，次による。

LPPb＝| (Ia＋Ib)−(Ic＋Id) |o-p /| (Ia＋Ib＋Ic＋Id) |d.c.

（図19及び図20参照）

− |(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)|o-pは，信号の最大と最小との場所の平均を測定し，フォトディテクタの増幅器の

帯域を20 MHz以上とする。

− |(Ia＋Ib＋Ic＋Id)|d.c.は，光ビームがトラックを追従するときに測定し，低域フィルタのカットオフ周

波数は30 kHzとする。

記録後のランドプリピット信号の開口比(AR)は，次による。

AR=APmin./APmax.

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APmin.及びAPmax.は，ウォブル信号を含まないランドプリピット信号AP=|(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)|の最小値及び

最大値とする（図20及び附属書P参照）。

前記のパラメタは，次の規定を満たすものとする。

− 記録前の信号振幅

：0.18＜LPPb＜0.28

− 記録後の開口比(AR)

：AR＞15 ％

− 記録前のブロックエラー比：BLERb＜3 ％

− 記録後のブロックエラー比：BLERa＜5 ％

LPPbの半値全幅は，1T以上とする。光ビームがトラックを追従するとき外周側のランドプリピットを

検出する。ランドプリピットデータのブロックエラー比は，誤り訂正前のパリティAの誤りを1 000 ECC

ブロックにわたって測定する。

|(Ia+Ib)−(Ic+Id)|o-p

a) LPPb測定用の記録前信号

AP min

AP max

b) AR測定用の記録後信号

図20−ランドプリピット信号

14.5.2 グルーブウォブル信号

グルーブウォブル信号は，光ビームがトラックを追従するときのフォトディテクタの差分出力から導き，

[(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)]とする。グルーブウォブル信号は，9.1.2に規定するPUHによって，記録前及び記録後に

測定する。

記録前のグルーブウォブル信号振幅をWOb，記録後をWOaとすると，これらのパラメタは，次による。

WOb，WOa＝[(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)] P-P

WOb，WOaのパラメタは，次の規定を満たす。

− グルーブウォブルのロック周波数は，同期フレーム周波数の8倍とする。

− WObのCNR：＞35 dB (RBW＝1 kHz)

− WOaのCNR：＞31 dB (RBW＝1 kHz)

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

WOb及びWOaのCNRは，RBWを1 kHzに設定したスペクトラムアナライザを用いて平均値を測定する

（図21参照）。

正規化ウォブル信号(NWO)は，ウォブル振幅をnm単位で導出できるようにするために規定する。

NWO＝WOb / RPS

で定義され，値は次の規定を満たす。

0.06＜NWO＜0.12

ここでRPSは，光ビームがトラックを横切るときの記録前の半径方向プッシュプル信号[(Ia＋Ib)−(Ic＋

Id)]のピークからピークまでの値で，カットオフ周波数30 kHzの低域フィルタ通過後の値とする。

キャリアレベル

ノイズレベル

図21−ウォブルCNRの測定

14.5.3 ウォブルとランドプリピットとの位相関係

グルーブウォブル信号及びランドプリピット信号は，差分出力電流から導き [(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)]とする。

四分割フォトディテクタの要素(Ia，Ib)がディスクの外側に位置し，グルーブウォブルがサイン波とみなさ

れるとき，グルーブウォブルとランドプリピットとの位相関係(PWP)は，次の規定を満たすものとする。

PWP =−90 °±10 °

PWPの値は，LPP信号の最大信号振幅点とウォブル信号の平均的ゼロクロス点との間の位相差とする

（図22参照）。PWPの値は，記録前に測定する。

0クロス

PWP

WOb

図22−ウォブルとランドプリピットとの位相関係

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第4章データフォーマット

15 概要

主データと呼ぶホストから受け取ったデータは，ディスクに記録する前に，次の順に変換し，フォーマ

ットを行う。

− データフレーム

− スクランブルドフレーム

− ECCブロック

− 記録フレーム

− 物理セクタ

これらのステップは，次の箇条で規定する。

16 データフレーム

データフレームは，図23に示すとおりに，各行172バイトを含む12行の配列に配置した2 064バイト

によって構成する。最初の行は，4バイトからなる識別データ(ID)，2バイトからなるID誤り検出符号

(IED)，6バイトからなる予備バイト(RSV)の三つのフィールド及び160バイトの主データによって構成す

る。次の10行は，各172バイトの主データからなり，最後の行は，168バイトの主データ及び4バイトの

誤り検出符号(EDC)によって構成する。2 048バイトの主データは，D0〜D2 047とする。

4バイト

6バイト

IED

主データ 160 バイト( D0〜D159 )

2バイト

主データ 172 バイト ( D160〜D331 )

主データ 172 バイト ( D172〜D503 )

主データ 172 バイト (D1078〜D1879)

RSV

主データ 168 バイト (D1880〜D2047)

EDC

4 バイト

172 バイト

行

図23−データフレーム

16.1 識別データ (ID)

このフィールドは4バイトで構成し，そのビットは最下位ビット(lsb)をb0とし，最上位ビット(msb) を

b31とする連続した番号付けをする（図24及び図25参照）。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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b31

b24 b23

セクタ情報

セクタ番号

図24−識別データ (ID)

b31

b30

b29

b28

b27及びb26

b25

b24

セクタ

フォーマットタイプ

トラッキング

方法

反射率

予備

ゾーンタイプデータタイプレイヤ番号

図25−識別データ (ID) のセクタ情報

ビットb0〜b23の最下位3バイトは，セクタ番号を2進表示で表す。16セクタのECCブロックの最初の

セクタ番号は，16の倍数とする。

セクタ情報である図25に示した最上位バイトのビットは，次による。

セクタフォーマットタイプ

ビットb31

再生専用ディスク及びレコーダブルディスク用CLVフォ
ーマットを示す0に設定する。

トラッキング方法

ビットb30

位相差トラッキングを示す0に設定する。

反射率

ビットb29

PBSを用いたPUHで反射率が40 ％以上を示す，0に設
定する。

予備

ビットb28

0に設定する。

ゾーンタイプ

ビットb27及びb26

次の値に設定する。

データゾーン 00
リードインゾーン 01
リードアウトゾーン 10

データタイプ

ビットb25

次の値に設定する。

再生専用データを示すとき 0
リンキングデータを示すとき 1 （箇条23参照）

レイヤ番号

ビットb24

0に設定し，入射面から一つの記録層だけがアクセスでき
ることを示す。

この規格では，その他の値を設定してはならない。

16.2 ID誤り検出符号 (IED)

図23に示す配列のすべてのバイトをCi, j (i＝0〜11，j＝0〜171)とするとき，IEDのバイトは，C0, j (j＝4

〜5)で表す。これらの設定は，次による。

()

()x

IED

mod

=∑

−

ここに，

()∑

−

,0C

()

(

)

∏

αは，原始多項式P (x) ＝ x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根とする。

16.3 予備バイト (RSV)

このフィールドは，6バイトで構成する。アプリケーションによって規定しない場合，デフォルトの設

定とし，すべてのバイトを0に設定する。

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16.4 誤り検出符号 (EDC)

この4バイトのフィールドには，先行するデータフレームの2 060バイトにわたって計算した誤り検出

符号を入れる。データフレームを，IDフィールドの最初のバイトの最上位ビットで始まり，EDCフィー

ルドの最下位ビットで終了する単一のビットフィールドとしたとき，この最上位ビットを，b16 511とし，最

下位ビットを，b0とし，EDCの各ビットbiは，i＝31〜0に対し次による。

()

()x

EDC

mod

＝

＝∑

ここに，

()

∑

511

＝

G (x) ＝ x32＋x31＋x4＋1

17 スクランブルドフレーム

2 048主データバイトは，図26に示すシフトレジスタのビットr7 (msb)〜r0 (lsb)のビットが，各8ビット

シフトごとにスクランブルをかけるバイトを表すフィードバックビットシフトレジスタ回路によってスク

ランブルする。データフレームのスクランブル処理を始めるとき，シフトレジスタのビットr14〜r0は，表

4の値にプリセットする。同じプリセット値は，16個の連続したデータフレームに使用される。16グルー

プの16データフレームの後に，手順は最初から繰り返される。初期のプリセット番号は，データフレーム

のIDフィールドのシフトレジスタのビットb7 (msb)〜b4 (lsb)のビットによって表す値と等しい。表4は，

16初期プリセット番号に相当するシフトレジスタの初期プリセット値を表す。

表4−シフトレジスタの初期値

初期プリセット番号初期プリセット値初期プリセット番号初期プリセット値

(0)

(0001)

(8)

(0010)

(1)

(5500)

(9)

(5000)

(2)

(0002)

(A)

(0020)

(3)

(2A00)

(B)

(2001)

(4)

(0004)

(C)

(0040)

(5)

(5400)

(D)

(4002)

(6)

(0008)

(E)

(0080)

(7)

(2800)

(F)

(0005)

r14

r13

r12

r11

r10

図26−フィードバックシフトレジスタ

シフトレジスタのビットr7〜r0の初期値の部分は，スクランブルをかけるバイトS0として取り出す。そ

の後，8ビットシフトが2 047回繰り返され，レジスタr7〜r0によって，スクランブルをかける2 047バイ

トをS1〜S2 047として取り出さなければならない。データフレームの主データバイトDkは，次によってス

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

クランブルバイトD′kとなる。

⊕

′

ここに， k＝0〜2 047

⊕は，排他的論理和 (Exclusive OR)を表す。

18 ECCブロック

ECCブロックは，16連続スクランブルドフレームを，図27に示すように，各行172バイトを192行に

配列する。各172列に外符号パリティ16バイトを加え，その結果208行になった各行に内符号パリティ

10バイトを加える。完全なECCブロックは，各行182バイトの208行によって構成する。この配列のバ

イトは，iが行数でjが列数のBi, jとし，次による。

i＝0〜191及びj＝0〜171に対するBi, jは，スクランブルドフレームからのバイト。

i＝192〜207及びj＝0〜171に対するBi, jは，外符号パリティのバイト。

i＝0〜207及びj＝172〜181に対するBi, jは，内符号パリティのバイト。

B0,0

B0,1

B0,170

B0,171

B0,172

B0,181

B1,0

B2,0

B1,1

B2,1

B1,170

B2,170

B1,171

B1,172

B1,181

B2,171

B2,172

B2,181

B189,0

B189,1

B189,170 B189,171 B189,172

B189,181

B190,0

B190,1

B190,170 B190,171 B190,172

B190,181

B191,0

B191,1

B191,170 B191,171 B191,172

B191,181

B192,0

B192,1

B192,170 B192,171 B192,172

B192,181

B207,0

B207,1

B207,170 B207,171 B207,172

B207,181

172 バイト

10 バイト

192

行

図27−ECCブロック

PO及びPIバイトは，次の式によって算出する。

列j＝0〜171の各々で16 POバイトは，剰余多項式Rj (x) で定義され，外符号RS (208，192，17) を形

成する。

()

()x

207

192

207

mod

=∑

−

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ここに，

()∑

−

=191

191

()

(

)

∏

=15

行i＝0〜207の各々10 PIバイトは，剰余多項式Ri (x) で定義され，内符号RS (182,172,11) を形成する。

()

()x

i,j

181

172

181

mod

=∑

−

ここに，

()∑

−

=171

171

()

(

)

∏

αは，原始多項式P (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根とする。

19 記録フレーム

16の記録フレームは，図28に示すとおり，ECCブロックの各12行ごとの後に，16 PO行の一つをイン

タリーブすることによって算出する。これは，ECCブロックのバイトBi, jを，次の式に対するBm, nとして

再配置することによって算出する。

m＝i＋int[i/12] 及びn＝j （i ≦191の場合）

m ＝13 (i−191)−1 及び n＝j （i ≧192の場合）

ECCブロックの37 856のバイトは，各セクタ2 366バイトの16記録フレームに再配置される。各記録

フレームは，各行182バイト13行の配列を構成する。

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182 バイト

B0,0

………………………………………………

B0,171

B0,172

…… B0,181

13
行

記録

フレーム

No. 0

B11,0

………………………………………………

B11,171

B11,172

…… B11,181

B192,0

………………………………………………

B192,171

B192,172

…… B192,181

B12,0

………………………………………………

B12,171

B12,172

…… B12,181

13
行

記録

フレーム

No. 1

B23,0

………………………………………………

B23,171

B23,172

…… B23,181

B193,0

………………………………………………

B193,171

B193,172

…… B193,181

B180,0

………………………………………………

B180,171

B180,172

…… B180,181

13
行

記録

フレーム

No. 15

B191,0

………………………………………………

B191,171

B191,172

…… B191,181

B207,0

………………………………………………

B207,171

B207,172

…… B207,181

図28−ECCブロックから得た記録フレーム

20 変調

各記録フレームの8ビットバイトは，二つの“1”の間に最小2個の“0”及び最大10個の“0”が含ま

れるRLL (2,10)というラン長の制限をもつ16ビット符号語に変換する。附属書Gは，適用する変換テー

ブルを規定する。主変換テーブル及び代替テーブルは，各8ビットバイトに対して4状態の一つと16ビッ

ト符号語とを規定する。各8ビットバイトに対して，テーブルは，相当する符号語だけでなくエンコード

する次の8ビットバイトの状態を示す。

16ビット符号語は，図29に示すようにディスクに記録する前に，チャネルビットにNRZI変換する。

図29−NRZI変換

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21 物理セクタ

物理セクタの構造は，図30に示すように，各行が二つの同期フレーム13行で構成する。一つの同期フ

レームは，表5の同期符号の一つと1 456チャネルビットとで構成し，1 456チャネルビットは記録フレー

ムの一つの行のそれぞれの第1及び第2の91の8ビットバイトを表す。物理セクタの第1行は記録フレー

ムの第1行を表し，物理セクタの第2行は記録フレームの第2行を表し，以下同様とする。

記録は，第1行の第1同期フレームで開始して，第2同期フレームに続き，次の各行ごとに同様とする。

SY1

SY2

SY3

SY2

SY3

SY4

SY6

SY7

チャネルビット

SY0

SY1

SY2

SY3

SY4

SY1

1 456

SY4

SY5

行

同期フレーム

SY5

SY6

SY7

チャネルビット

1 456

図30−物理セクタ

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表5−同期符号

状態1及び状態2

主同期符号

副同期符号

(msb)

(lsb) (msb)

(lsb)

SY0＝0001001001000100 0000000000010001 / 0001001000000100 0000000000010001
SY1＝0000010000000100 0000000000010001 / 0000010001000100 0000000000010001
SY2＝0001000000000100 0000000000010001 / 0001000001000100 0000000000010001
SY3＝0000100000000100 0000000000010001 / 0000100001000100 0000000000010001
SY4＝0010000000000100 0000000000010001 / 0010000001000100 0000000000010001
SY5＝0010001001000100 0000000000010001 / 0010001000000100 0000000000010001
SY6＝0010010010000100 0000000000010001 / 0010000010000100 0000000000010001
SY7＝0010010001000100 0000000000010001 / 0010010000000100 0000000000010001

状態3及び状態4

主同期符号

副同期符号

(msb)

(lsb) (msb)

(lsb)

SY0＝1001001000000100 0000000000010001 / 1001001001000100 0000000000010001
SY1＝1000010001000100 0000000000010001 / 1000010000000100 0000000000010001
SY2＝1001000001000100 0000000000010001 / 1001000000000100 0000000000010001
SY3＝1000001001000100 0000000000010001 / 1000001000000100 0000000000010001
SY4＝1000100001000100 0000000000010001 / 1000100000000100 0000000000010001
SY5＝1000100100000100 0000000000010001 / 1000000100000100 0000000000010001
SY6＝1001000010000100 0000000000010001 / 1000000001000100 0000000000010001
SY7＝1000100010000100 0000000000010001 / 1000000010000100 0000000000010001

物理セクタは，記録フレームの91バイトごとの先頭に，同期符号を付加する8/16変調後のセクタとす

る。

22 直流成分抑圧制御

半径方向のトラッキング及びHF信号の検出を確実にするために，チャネルビットパターンのストリー

ムの低周波成分は，できる限り低く保つことが望ましい。これを達成するために，デジタル総計値（DSV，

4.7参照）は，できるだけ低く保つようにする。変調の始めのDSVは，0に設定する。

DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を，次に示す。

a) 主同期符号と副同期符号との間の同期符号を選択する。

b) 0〜87の範囲の8ビットバイトに対して，代替テーブルは，すべての状態に対して代わるべき16ビッ

ト符号語を提示する。

c) 88〜255の範囲の8ビットバイトに対して，指定した状態が1又は4のとき，RLLの要求事項を満た

すならば，16ビット符号を状態1又は状態4から選択することができる。

これらの可能性を活用するため，ストリーム1及びストリーム2の二つのデータストリームを各同期フ

レームに対して生成し，ストリーム1は主同期符号で，ストリーム2は同期符号の同じ分類の副同期符号

で，各々開始する。両ストリームは，個別に変調するので，主同期符号と副同期符号とのビットパターン

間の差異によって異なったDSVを生成する。

b)及びc)の場合，一つの8ビットバイトを表すのに二つの可能性がある。各ストリームのDSVは，この

選択を行う8ビットバイトの手前から一つ前の8ビットバイトまで計算する。最も低い|DSV|のストリーム

を選択し，もう一つのストリームに複製する。それから次の8ビットバイトの符号語表現の一つがストリ

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ーム1に入り，他の一つは，ストリーム2に入る。この動作は，b)又はc)の発生の都度繰り返す。

b)の場合は，両ストリームでの同じパターン位置で常に起こるが，c)の場合は，例えば，前の8ビット

バイトで規定した次の状態が1又は4の代わりに2又は3になり得るために，ストリームの一つで起こる

が他の一つでは起こらない可能性がある。その場合，次の三つの手順を適用する。

1) 両ストリームの|DSV|を比較する。

2) c)の場合が起こるストリームの|DSV|がもう一方のストリームのものより小さければ，そのときc)の場

合が起こったストリームを選択し，他のストリームに複製する。次の8ビットバイトの符号語表現の

一つがこのストリームに入り，もう一つは，もう一方のストリームに入る。

3) c)の場合が起こったストリームの|DSV|が他のストリームのものより大きければ，そのときc)の場合は

無視し，その8ビットバイトは，規定された状態に従って決められる。

b)及びc)の場合，|DSV|が等しければ，ストリーム1又はストリーム2の選択の決定は，実用化のときに

決めればよい。

a)の場合の手順は，次による。

同期フレームの終わりで，b)又はc)の生起にかかわらず全体の同期フレームのDSVは計算され，最も低

い|DSV|をもつストリームが選択される。このDSVが＋63より大きいか又は−64より小さければ，そのと

き同期フレームの始めの同期符号は，主同期符号から副同期符号に変えるか又はその逆にする。これがよ

り小さい|DSV|を生じるならば，その変更は決定され，|DSV|がより小さくなければ，元の同期符号が保持

される。DSVの計算中，DSVの実際値は，−1 000と＋1 000との間を変動する可能性があり，DSVのカ

ウント範囲は，少なくとも−1 024〜＋1 023を推奨する。

23 リンキング方式

リンキング方式は，インクリメンタル記録モードでデータを追加する場合のために規定する。リンキン

グ方式は，2Kリンク，32Kリンク及びロスレスリンクと呼ぶ三つのタイプのリンキング方法が存在する。

23.1 リンキングの構造

追加されるデータは，ECCブロックの最初の物理セクタであるリンキングセクタから，又はそのセクタ

まで記録する。

各リンキング動作で，データ記録は，リンキングセクタの第1同期フレームの第16番目バイトで終了し，

リンキングセクタの第1同期フレームの第15〜17番目で開始しなければならない（図31参照）。ディスク

がインクリメンタル記録モードで，かつ，図31 b)の場合のとき，リンキング前にはブロック同期ガード領

域が第1 ECCブロックに位置するものとし，また，リンキング後にリンキングロス領域の一部になる。

23.2 2Kリンク及び32Kリンク

リンキングロス領域は，2Kリンク及び32Kリンクの場合に，リンキングの影響によるデータ信頼性の

劣化を防ぐために割り付ける。リンキングロス領域は，図32 （2Kリンク）及び図33 （32Kリンク）に

示すように，それぞれ2 048バイト及び32 768バイトの最小サイズをもち，パディングセクタを含めても

よいものとする。リンキングロス領域の主データは，(00)に設定する。

リンキングのないセクタのうち，リンキングロス領域に属するセクタが後ろに続くセクタは，そのデー

タタイプビット（16.1参照）を“1”に設定する。リンキングセクタのデータタイプは常に“0”を設定す

る（図32及び図33参照）。

各Rゾーンの最後に記録されるセクタは，2Kリンク又は32Kリンクで記録され，そのデータタイプビ

ットは“1”に設定する。

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23.3 ロスレスリンク

リンキングロス領域のないリンキングは，図34に示すように，ロスレスリンクとして許可される。この

リンキング方式にはデータタイプビットが“1”となるセクタは存在しない。

パッディング

セクタ

16バイト

ECC ブロック

記録の終了

記録の開始

ECC ブロック

リンキングロス領域（32 Kリンク）

リンキングセクタ

第1同期フレーム

第2同期フレーム

15 〜17
バイト

同

期

同

期

パッディング

セクタ

16バイト

ECC ブロック

記録の終了

記録の開始

ECC ブロック

リンキングロス領域（32 Kリンク）

リンキングセクタ

第1同期フレーム

第2同期フレーム

15 〜17
バイト

同

期

同

期

a) 記録済み領域直後のリンキング

パッディング

セクタ

16バイト

ECCブロック

記録の終了

記録の開始

ECC ブロック

リンキングロス領域（32 Kリンク）

ブロック同期ガード領域

リンキングセクタ

第1同期フレーム

第2同期フレーム

15 〜17

バイト

同期

パッディング

セクタ

16バイト

ECCブロック

記録の終了

記録の開始

ECC ブロック

リンキングロス領域（32 Kリンク）

ブロック同期ガード領域

リンキングセクタ

第1同期フレーム

第2同期フレーム

15 〜17

バイト

同期

b) 記録済み領域直前のリンキング

図31−リンキングの構造

リンキングセクタ

最後に記録されるアドレス

リンキングロス領域

データ: (00)

データタイプ: “1”

パディングセクタ: (00)

ECCブロック

図32−2 048バイト（2Kリンク）のリンキングロス領域を備えたECCブロックの構造

パディング

セクタ

パディング

セクタ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

最後に記録されるアドレス

リンキングロス領域

データ: (00)

データタイプ: “１”

パディングセクタ: (00)

リンキングセクタ

32 768 バイト

ECCブロック

図33−32 768バイト（32Kリンク）のリンキングロス領域を備えたECCブロックの構造

リンキングセクタ

ECCブロック

図34−リンキングロス領域を備えていないECCブロックの構造（ロスレスリンク）

第5章情報ゾーンのフォーマット

24 情報ゾーンの概要

情報ゾーンは，リードインゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンの3部分に分割する。データ

ゾーンは，主データを記録する領域とする。リードインゾーンは，制御情報を含んでいる。リードアウト

ゾーンは，読出しの終了を連続的で滑らかとすることを可能とする。

24.1 情報ゾーンのレイアウト

情報ゾーンは，表6に示すように，細分割する。表示された半径の値は，最初の物理セクタ及びゾーン

の最後の物理セクタの最後のトラックに対する公称値とする。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6−情報ゾーンのレイアウト

公称半径

開始セクタ

番号

物理セクタ

数

リードインゾーン
イニシャルゾーン

−

(022FA0)

45 664

バッファゾーン0

−

(02E200)

512

R物理フォーマット
情報ゾーン

−

(02E400)

3 072

リファレンスコード
ゾーン

−

(02F000)

バッファゾーン1

−

(02F020)

480

制御データゾーン

−

(02F200)

3 072

エキストラボーダ
ゾーン

−

(02FE00)

512

データゾーン

24.0 〜r1

(030000)

120 mmディスクのリ
ードアウトゾーン

r1＜34.0のとき，
r1〜35.0最小

34.0≦r1≦57.5の
とき，

r1〜(r1+1.0)

57.5＜r1＜58.0の
とき，

r1〜58.5

80 mmディスクのリ
ードアウトゾーン

r1＜34.0のとき，
r1〜35.0最小

34.0≦r1≦37.5の
とき，

r1〜(r1+1.0)

37.5＜r1＜38.0の
とき，

r1〜38.5

24.2 物理セクタの番号付け

データゾーンの最初の物理セクタは，セクタ番号 (030000) をもつものとする。物理セクタは，ギャッ

プを含まない。物理セクタは，リードインゾーンの初めからリードアウトゾーンの終わりまで互いに連続

的に続く。物理セクタ番号 (PSN)は，リードインゾーンの初めからリードアウトゾーンの終わりまで連続

的に増加する（図35参照）。

リードインゾーン

リードアウトゾーン

データゾーン

アドレス

物理
セクタ

番号

(02FFFF)

(030000)

半径

情報ゾーン

図35−物理セクタの番号付け

25 リードインゾーン及びリードアウトゾーン

25.1 リードインゾーン

リードインゾーンは，情報ゾーンの最も内側のゾーンとする。リードインゾーンは，次の部分で構成す

る（図36参照）。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− イニシャルゾーン

− バッファゾーン0

− R物理フォーマット情報ゾーン

− リファレンスコードゾーン

− バッファゾーン1

− 制御データゾーン

− エキストラボーダゾーン

各部分の最初の物理セクタのセクタ番号は，図36に示す。

イニシャルゾーン

すべての物理セクタで，主データ(00)に設定

セクタ番号(022FA0)
（リードイン開始）

セクタ番号188 928

バッファゾーン0

512 物理セクタ

主データを(00)に設定

セクタ番号(02E200)

セクタ番号189 440

R物理フォーマット情報ゾーン

3 072 物理セクタ

セクタ番号(02E400)

セクタ番号192 512

リファレンスコードゾーン

32 物理セクタ

セクタ番号(02F000)

セクタ番号192 544

バッファゾーン1

480 物理セクタ

主データを(00)に設定

セクタ番号(02F020)

セクタ番号193 024

制御データゾーン

3 072 物理セクタ

セクタ番号(02F200)

セクタ番号196 096

エキストラボーダゾーン

512 物理セクタ

セクタ番号(02FE00)

セクタ番号196 608

データゾーン

セクタ番号(030000)

図36−リードインゾーン

25.1.1 イニシャルゾーン

イニシャルゾーンでの物理セクタとして最終的に記録されるデータフレームの主データは，(00) で設定

する。

25.1.2 バッファゾーン0

このゾーンは，32 ECCブロックからの512セクタで構成する。このゾーンでの物理セクタとして最終的

に記録されるデータフレームの主データは，(00) で設定する。

25.1.3 R物理フォーマット情報ゾーン

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

R物理フォーマット情報ゾーンは，セクタ番号 (02E400) から開始する192 ECCブロック（3 072セクタ）

で構成する。

個々のR物理フォーマット情報ブロックの16セクタの内容は，192回繰り返す。R物理フォーマット情

報ブロックの構造は，図37に示す。

相対セクタ番号

(00) に設定

製造情報

物理フォーマット情報

(00) に設定

.
.
.
.
.

図37−R物理フォーマット情報ブロックの構造

25.1.3.1 製造情報

この規格は，これらの2 048バイトのフォーマット及び内容を規定しない。この内容は，互換性では無

視する。

25.1.3.2 物理フォーマット情報

この情報は，表7に示し，次に規定する2 048バイトを含まなければならない。

表7−物理フォーマット情報

内容

バイト数

ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ディスクサイズ及びディスクの最大転送レート

ディスク構造

記録密度

4〜15

データゾーン割付け

NBCA記述子

17〜31

(00) に設定

32〜39

ボーダゾーンの最初のセクタのセクタ番号

40〜2 047

(00) に設定

2 008

注記ボーダゾーンは，附属書Mを参照する。

バイト0−ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ビットb0〜b3は，バージョン番号を指定する。

これらのビットは，“0101”に設定し，この規格を示す。

ビットb4〜b7は，ディスクカテゴリを指定する。

これらのビットは，“0010”に設定し，記録可能なディスクを示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト1−ディスクサイズ及びディスクの最大転送レート

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb0〜b3は，ディスクの最大転送レートを規定する。

“0000”に設定するとき，これらは，2.52 Mbits/sの最大転送レートを規定する。

“0001”に設定するとき，これらは，5.04 Mbits/sの最大転送レートを規定する。

“0010”に設定するとき，これらは，10.08 Mbits/sの最大転送レートを規定する。

“1111”に設定するとき，これらの最大転送レートを規定しない。

ビットb4〜b7は，ディスクサイズを規定する。

ディスクの直径が120 mmのとき，これらは，“0000”に設定する。

ディスクの直径が80 mmのとき，これらは，“0001”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト2−ディスク構造

ビットb0〜b3は，レイヤタイプを規定する。

これらは，“0010”に設定し，ディスクが記録可能なユーザデータゾーンを含むことを示す。

ビットb4は，トラックパスを規定する。これは，“0”に設定する。

ビットb5及びb6は，記録済み層数を規定する。これらは，“00”に設定する。

ビットb7は，“0”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト3−記録密度

ビットb0〜b3は，平均トラックピッチを規定する。

これらは，“0000”に設定し，0.74 μmの平均トラックピッチを示す。

ビットb4〜b7は，平均チャネルビット長を規定する。

これらは，“0000”に設定し，0.133 μmを示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト4〜15−データゾーン割付け

バイト4は，(00)に設定する。

バイト5〜7は，(030000)に設定し，データゾーンの最初の物理セクタのセクタ番号196 608を規定す

る。

バイト8は，(00)に設定する。

バイト9〜11は，ボーダエリアで最後のRゾーンに最後に記録されるアドレスを規定する（附属書M

参照）。

リードインゾーンをディスクアットワンス記録モードで記録するとき，これらのビットは，データゾ

ーンの終了セクタ番号を規定する。

バイト12〜15は，(00) に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト16−NBCA記述子

ビットb7は，NBCAがディスク上にあるかどうかを規定する（附属書L参照）。

NBCAが存在しないとき，“0”に設定する。

NBCAが存在するとき，“1”に設定する。

ビットb6〜b0は，“0000000”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト17〜31

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

これらのバイトは，(00) に設定する。

バイト32〜39−ボーダゾーンの最初のセクタのセクタ番号（附属書M参照）

バイト32〜35は，現在のボーダアウトの開始セクタ番号を規定する。

バイト36〜39は，次のボーダインの開始セクタ番号を規定する。

リードインゾーンをディスクアットワンス記録モードで記録するとき，これらフィールドは，(00) に

設定する。インクリメンタル記録モードでは，現在のボーダアウトの開始セクタ番号フィールドは，現

在のボーダエリア（附属書M参照）のボーダアウトの開始セクタ番号を規定し，次のボーダインの開始

セクタ番号フィールドは，次のボーダエリアのボーダインの開始セクタ番号を規定する。このフィール

ドを(00) に設定した場合，次のボーダエリアは記録してはならない。

バイト40〜2 047

これらのバイトは，(00)に設定する。

25.1.4 リファレンスコードゾーン

リファレンスコードゾーンは，ディスク上で特定のチャネルビットパターン (3T-6T-7T) を生成する二つ

のECCブロックからの32物理セクタで構成する。各々の対応するデータフレームのすべての2 048主デ

ータバイトを (AC) に設定することによって，これを達成しなければならない。さらに，各ECCブロック

の最初のデータフレームの最初の160主データバイトに適用する以外に，これらのデータフレームにスク

ランブルを適用してはならない。

25.1.5 バッファゾーン1

このゾーンは，30 ECCブロックからの480物理セクタで構成する。このゾーンでの物理セクタとして最

終的に記録されるデータフレームの主データは，(00) に設定する。バッファゾーン1の最後のECCブロ

ックは，ブロック同期ガード領域でなければならない。ブロック同期ガード領域は，リンキング後のリン

キングロス領域の一部となる。

記録済み領域は，ブロック同期ガード領域のリンキングセクタから開始する。リンキング方式は，制御

データゾーンに接続するためにバッファゾーン1の記録に対して適用する。

25.1.6 制御データゾーン

制御データゾーンは，セクタ番号193 024 (02F200)から開始する192 ECCブロック（3 072セクタ）を含

み，制御データゾーン（制御データブロック）のそれぞれのECCブロックは記録済み又はエンボスにしな

ければならない。

制御データブロックの構造は，図38に示す。

各制御データブロックの第1及び第2セクタは，記録済み物理フォーマット情報及びディスク製造情報

をそれぞれ含み，また，それらの内容は，192回繰り返すものとする。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

相対セクタ番号

記録済み物理フォーマット情報

2 048 バイト

ディスク製造情報

2 048 バイト

システム使用の予備

14×2 048バイト

図38−制御データブロックの構造

25.1.6.1 記録済み物理フォーマット情報

この情報は，表8に示し，かつ，次に規定する2 048バイトを含まなければならない。

表8−記録済み物理フォーマット情報

内容

バイト数

ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ディスクサイズ及びディスクの最大転送レート

ディスク構造

記録密度

4〜15

データゾーン割付け

NBCA記述子

17〜31

(00) に設定

32〜39

エキストラボーダゾーンの最初のセクタのセクタ番号

40〜2 047

(00) に設定

2 008

バイト0−ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ビットb0〜b3は，バージョン番号を規定する。

これらは，“0101”に設定し，この規格を示す。

ビットb4〜b7は，ディスクカテゴリを規定する。

これらのビットは，“0010”に設定し，記録可能なディスクを示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト1−ディスクサイズ及びディスクの最大転送レート

ビットb0〜b3は，ディスクの最大転送レートを規定する。

これらは，“1111”に設定し，規定しないことを示す。

ビットb4〜b7は，ディスクサイズを規定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ディスクの直径が120 mmのとき，“0000”に設定する。

ディスクの直径が80 mmのとき，“0001”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト2−ディスク構造

ビットb0〜b3は，レイヤタイプを規定する。

これらは，“0010”に設定し，ディスクが記録可能なユーザデータゾーンを含むことを示す。

ビットb4は，トラックパスを規定する。これは，“0”に設定する。

ビットb5及びb6は，層数を規定する。これらのビットは，“00”に設定する。

ビットb7は，“0”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト3−記録密度

ビットb0〜b3は，平均トラックピッチを規定する。

これらは，“0000”に設定し，0.74 μmの平均トラックピッチを示す。

ビットb4〜b7は，チャネルビット長を規定する。

これらは，“0000”に設定し，0.133 μmを示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト4〜15−データゾーン割付け

バイト4は，(00)に設定する。

バイト5〜7は，(030000)に設定し，データゾーンの最初の物理セクタ番号196 608を規定する。

バイト8は，(00)に設定する。

バイト9〜11は，データレコーダブルゾーンの最外限度を規定する。これらのバイトは，フィールド

ID1のプリピットデータブロックのプリピット情報で規定されたECCブロックアドレスに対応するセク

タ番号に設定する（27.3.5.3参照）。

バイト12は，(00)に設定する。

バイト13〜15は，(00)に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト16−NBCA記述子

ビットb7は，NBCAがディスク上にあるか否かを規定する（附属書L参照）。

NBCAが存在しないとき，“0”に設定する。

NBCAが存在するとき，“1”に設定する。

ビットb6〜b0は，“0000000”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト17〜31

これらのバイトは，(00)に設定する。

バイト32〜39−エキストラボーダゾーンの最初のセクタのセクタ番号

バイト32〜35は，エキストラボーダゾーンでカレントRMDの開始セクタ番号を規定する。

これらは，(02FE10)に設定する。

バイト36〜39は，エキストラボーダゾーンで物理フォーマット情報ブロック開始セクタ番号を規定す

る。

これらは，(02FFA0)に設定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト40〜2 047

これらのバイトは，(00)に設定する。

25.1.6.2 ディスク製造情報

この規格は，これらの2 048バイトのフォーマット及び内容を規定しない。これらは，互換性では無視

する。

25.1.6.3 システム使用のための予備

このフィールドでのビットの設定は，例えば，ビデオアプリケーションのようなアプリケーションに依

存する。この設定がアプリケーションによって規定しないとき，初期設定値は，すべて“0”でなければな

らない。

25.1.7 エキストラボーダゾーン

エキストラボーダゾーンの構成は，表9に示す。

表9−エキストラボーダゾーンの構造

ユニット

位置

内容

リンキングロス領域 [すべて(00) バイト]

1〜5

カレントRMD

6〜25

予備 [ (00) に設定]

26〜30

物理フォーマット情報ブロック

予備 [ (00) に設定]＊

ブロック同期ガード領域＊＊

注＊ディスクアットワンス記録モード

＊＊インクリメンタル記録モード

ユニット位置は，エキストラボーダゾーンの初めからの相対的な位置を示す。

五重書きされたカレントRMDの各セクタ0直前のセクタのデータタイプビットは，“0”に設定する。

図39に示すデータ構造で物理フォーマット情報ブロックを5回記録する。

物理フォーマット情報

2 048 バイト

製造情報

2 048 バイト

(00) に設定

図39−物理フォーマット情報ブロックの構造

物理フォーマット情報は，25.1.3.2に規定する。

製造情報は，25.1.3.1に規定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

25.2 リードアウトゾーン

リードアウトゾーンでの物理セクタとして最終的に記録されるデータフレームの主データは，(00) に設

定する。この規格は，リードアウトゾーンで物理セクタの数を規定しない。

第6章未記録ゾーンのフォーマット

26 未記録ゾーンの概要

ディスクの内周からディスクの外周に及ぶ連続的なら(螺)旋プリグルーブは，未記録ゾーンのトラック

を形成する。トラックは，ドライブの機能を制御するために特定の周波数でウォブルする。未記録ディス

クのための正確なアドレス情報は，隣接グルーブ部位間のランドにエンボスで形成する。

未記録ゾーンは，R情報ゾーン及び情報ゾーンの二つの部分に分割する。

R情報ゾーンは，パワー校正領域及び記録管理領域の二つの部分に分割する。

図40に示す情報ゾーンは，三つの部分に分割する。内周の半径位置から開始して，これらのゾーンは，

リードインゾーン，データレコーダブルゾーン及びリードアウトゾーンからなる。リードアウトゾーンの

配置は，ファイナライズすることによって決まる。これらの三つのゾーンは，不可欠であり，かつ，通常，

DVD再生専用ディスク上の同じゾーンと同一とする。

記録データは，ランドにエンボスで形成されたプリピット情報及びトラックのウォブルにガイドされた

プリグルーブに記録する。

記録前の正確な開始アドレスは，ランド上のプリピット情報を復号することによって決める。

26.1 未記録ゾーンのレイアウト

表10に示すように，未記録ゾーンは，細分割する。各ゾーンの第1ブロックのECCブロックアドレス

（26.2参照）は，表10に示す。

表10−未記録ゾーンのレイアウト

ゾーンの第1ブロックのECC

ブロックアドレス

ブロックの数

R情報ゾーン

パワー校正領域

(FFE17F)

443

記録管理領域

(FFDFC3)

701

リードインゾーン

(FFDD05)

3 334

データゾーン

(FFCFFF)

−

26.2 ECCブロックアドレス

ECCブロックアドレス（4.10及び27.3.2参照）は，トラックの絶対物理アドレスとする。

各ゾーンの開始及び停止の位置は，ECCブロックアドレスを使用して定義する。

ECCブロックアドレスは，ディスクの内周から外周にかけて減少する。

ECCブロックアドレスは，プリピット情報としてランド上にエンボスで形成する。

26.3 ECCブロックの番号付け

ECCブロックアドレスは，ディスクの内周の半径から外周の半径まで連続的に減少しなければならない。

ECCブロックアドレスは，データゾーンの始めに置かれたブロックが (FFCFFF) であるようにECCブ

ロックアドレスを設定することによって計算する。データゾーンのこの第1ブロックは，リードインゾー

ン後の位置とする。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図40に示すパワー校正領域及び記録管理領域は，リードインゾーン前の位置とする。

リードイン
ゾーン

データレコーダブル
ゾーン

リードアウト
ゾーン

ECCブロックアドレス

(FFCFFF)

(FFD000)

半径

ECC

ブロックアドレス

R情報ゾーン

情報ゾーン

記録管理領域

パワー校正領域

図40−プリピットセクタレイアウト及びECCブロックの番号付け

27 プリピットデータフォーマット

27.1 概要

プリピットデータは，ランド上のプリピットのシーケンスとしてエンボスで形成する。プリピットデー

タシーケンスは，一つのECCブロックの物理サイズがグルーブに記録される主データの16セクタの物理

サイズに相当する。

一つのセットのプリピットは，二つの同期フレームごとに3ビット(b2，b1，b0)ずつ与えられるものとす

る。プリピット物理セクタのプリピットの第1セットは，プリピット同期符号と呼ぶものとする。3ビッ

トの先頭ビットはフレーム同期ビットと呼ぶものとする。インクリメンタル記録モード及びリストリクテ

ッドオーバライトモードで，フレーム同期ビットは，グルーブの16ビット符号語の記録済み同期符号の特

定位置とする。これらのビットの割当ては，表11に示す。

表11−ランドプリピットの割当て

偶数位置のプリピット同期符号

奇数位置のプリピット同期符号

“1”に設定したプリピットデータ

“0”に設定したプリピットデータ

プリピットの割り当てられた位置及び16ビット符号語の同期パターンは，図41及び図42に示す。ウォ

ブルとランドプリピットとの位相関係は，14.5.3に規定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

1 物理セクタサイズ

ランド

偶数位置での

ランドの

プリピット同期符号

奇数位置での

ランドの

プリピット同期符号

偶数位置での

データ“1”

奇数位置での

データ“0”

1 同期フレーム

グルーブの記録済み

同期符号位置

記録するグルーブ

1 物理セクタサイズ

ランド

偶数位置での

ランドの

プリピット同期符号

奇数位置での

ランドの

プリピット同期符号

偶数位置での

データ“1”

奇数位置での

データ“0”

1 同期フレーム

グルーブの記録済み

同期符号位置

記録するグルーブ

図41−トラック構成

スペーススタイルで記録された同期符号

マークスタイルで記録された同期符号

XXXXX0010000000000000100 XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX

プリグルーブに記録された同期パターン

検出されたウォブル信号

奇数位置での
ランドのプリピット同期符号

“0”に設定したプリピットデータ

“1”に設定したプリピットデータ

偶数位置での
ランドのプリピット同期符号

‖

16ビット符号語

スペーススタイルで記録された同期符号

マークスタイルで記録された同期符号

XXXXX0010000000000000100 XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX

プリグルーブに記録された同期パターン

検出されたウォブル信号

奇数位置での
ランドのプリピット同期符号

“0”に設定したプリピットデータ

“1”に設定したプリピットデータ

偶数位置での
ランドのプリピット同期符号

‖

16ビット符号語

図42−グルーブ及びランドに記録された信号の関係

プリピット位置には二つの場合があり，二つの同期フレームの位置関係から偶数位置及び奇数位置と呼

ぶ。通常は，偶数位置でプリピットを記録することが望ましい。マスタリングで，近隣のランド上にプリ

ピットが既にある場合，プリピットの位置を奇数位置へ移す。図43にそのような場合について記載する。

プリピット物理セクタ内でプリピット位置を変えることができる。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図43−ランドプリピット位置の配置

プリピットデータフレームは，27.3.1に規定する相対アドレスの4ビット及びユーザデータの8ビット

で構成する。

プリピットデータは，プリピットデータフレームのユーザデータ領域で記録する。プリピットデータフ

レームは，図44に示す。

プリピット物理セクタは，1ビットを3ビットに変換し，プリピット同期符号を加えた後のプリピット

データフレームとする。プリピットの物理セクタは，ランドプリピット記録の一部としてランドに記録す

る（図45及び表11参照）。

相対アドレス

4ビット

ユーザデータ

8ビット

図44−プリピットデータフレーム構成

プリピット同期符号

3ビット

変換した相対アドレス

12ビット

変換したユーザデータ

24ビット

図45−プリピット物理セクタ構成

27.2 プリピットブロック構成

プリピットデータブロックは，16のプリピットデータフレームで構成する。

プリピットデータブロックは，パートA及びパートBの二つのデータパートをもつものとする。

パートAは，ECCブロックアドレス（27.3.2参照）の3バイト及びパリティA（27.3.3参照）の3バイ

ト，並びに相対アドレス“0000〜0101”（27.3.1参照）で構成する。したがって，パートAは，6プリピッ

トデータフレームで構成する。

パートBは，フィールドIDの1バイト，ディスク情報の6バイト及びパリティBの3バイト並びに相

対アドレス“0110〜1111”で構成する。したがって，パートB は，10プリピットデータフレームで構成

する。

プリピット物理ブロックは，プリピットデータブロックの各1ビットを3ビットに変換し，プリピット

同期符号を加えることによって構成される16のプリピット物理セクタで構成する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

この信号処理は，図46に示す。

ECCブロックア
ドレス＋相対アド
レス

フィールドID＋
ディスク情報＋相
対アドレス

パートA＋パートB

プリピットデータ
ブロック

プリピット同期符号を
加える前のプリピット
物理ブロック

プリピットデータ
ブロック

パートB

パートA

プリピット物理
ブロック

パリティA符号

パリティB符号

1ビットを3ビ
ットに変換

プリピット
同期符号

図46−プリピットブロックを構成する処理手順

プリピットブロック構成は，図47に示す。

プリピット物理ブロック
［変換したプリピットデータブロック（表11参照）を使用する。］

プリピットデータブロック

プリピット同期符号

相対アドレス
0000〜 0101

ECCブロックアドレス（3バイト）

パートA

パリティA （3バイト）

相対アドレス
0110 〜1111

プリピットフィールドID及び

ディスク情報

（7バイト）

パートB

パリティB （3バイト）

図47−プリピットブロック構成

プリピット物理ブロックは，図48に示す。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

←------------------------------------------------------26 同期フレーム------------------------------------------------------------------------→

←-------プリピット同期符号及び相対アドレス------------→ ←---------プリピットパートA及びパートB情報-----------→

O E O E O E O E O E O E O E O E O

A No.0

L 111

100

ECCブロックアドレス

No.1

L 111

100

101

ECCブロックアドレス

No.2

L 111

100

101

100

ECCブロックアドレス

No.3

L 111

100

101

パリティA

No.4

L 111

100

101

100

パリティA

No.5

L 111

100

101

100

101

パリティA

B No.6

L 111

100

101

100

フィールドID

No.7

L 111

100

101

ディスク情報

No.8

L 111

101

100

ディスク情報

No.9

L 111

101

100

101

ディスク情報

No.10

L 111

101

100

101

100

ディスク情報

No.11

L 111

101

100

101

ディスク情報

No.12

L 111

101

100

ディスク情報

No.13

L 111

101

100

101

パリティB

No.14

L 111

101

100

パリティB

No.15

L 111

101

パリティB

説明：

1) Gはグルーブ，Lはランド，Eは偶数位置及びOは奇数位置を意味する。
2) プリピット同期符号は，この表現での偶数位置に示す。相対アドレスプリピットデータ“1”は，“101”で表す。

また，プリピットデータ“0”は，この表現で“100”で表される。ランドプリピットの割当ては，表11に規定
する。

3) 最後のカラムは，プリピット物理ブロックのプリピットの物理セクタ番号とする。
4) 最後のカラムから第2番目は，プリピット物理ブロック構造のパートA及びパートBを表示する。

図48−プリピット物理ブロック

27.3 プリピットデータブロック構成

パートA及びパートBのユーザデータは，プリピット情報と呼ぶ。パートAのプリピット情報は，ECC

ブロックアドレスとする。パートBのプリピット情報は，パートBのディスク情報フィールド中に記録す

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

る。

パートBのディスク情報の内容は，階層化され，フィールドIDによって区別する。したがって，階層

化したパートBを含む各プリピットデータブロックは，フィールドIDによって区別する。

プリピットデータブロックの階層及び位置は，表12に示す。

表12−プリピットデータブロックの階層及び位置

フィールドID

パートBのディスク情報の内容

位置

ECCブロックアドレス

すべてのゾーン

アプリケーションコード・物理データ

リードインゾーン

OPC推奨コード・記録ストラテジコードの
第1フィールド

リードインゾーン

製造業者IDの第1フィールド

リードインゾーン

製造業者IDの第2フィールド

リードインゾーン

記録ストラテジコードの第2フィールド

リードインゾーン

リードインゾーンで，フィールドID 1〜5のプリピットデータブロックは，図49に示すように記録する。

フィールドID

位置

ECCブロックアドレス

フィールドID1

リードインゾーンの開始

リードインゾーンの終了

(FFDD05)

(FFD003)

フィールドID2

フィールドID3

フィールドID4

フィールドID5

フィールドID1

フィールドID2

フィールドID3

フィールドID4

フィールドID5

フィールドID1

フィールドID4

フィールドID5

フィールドID0

(FFD002)

フィールドID0

(FFD001)

フィールドID0

(FFD000)

フィールドID0

(FFCFFF)

図49−リードインゾーンのプリピットデータブロックの配置

27.3.1 相対アドレス

プリピットデータフレームは，相対アドレスを含む。相対アドレスは，16プリピットデータフレーム

（一つのプリピットデータブロック）の位置を示す。相対アドレスを規定するために4ビットを使用する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

0000 第1プリピットデータフレーム

0001 第2プリピットデータフレーム

1111 最後のプリピットデータフレーム

相対アドレス番号は，グルーブに記録される物理セクタ番号の最下位の4ビットによって表される値に

等しいものとする。相対アドレスは，誤り検出及び誤り訂正符号をもってはならない。

27.3.2 ECCブロックアドレスデータ構造

ECCブロックアドレスは，隣接した内側のグルーブに記録される物理セクタ番号のb23〜b4によって表

される値の反転ビットに等しいものとする。データゾーンの開始でのECCブロックアドレスは，図50に

示す (FFCFFF)とする。

ECCブロックアドレスは，パリティをもたなければならない。したがって，誤り訂正が可能になる。

リードインゾーン

データレコーダブルゾーン

リードアウトゾーン

グルーブ：物理セクタ番号(030000)

ランド：ECCブロックアドレス(FFCFFF)

図50−物理セクタ番号とECCブロックアドレスとの関係

リードアウトゾーンの配置は，ファイナライズすることによって決めるものとする。

注記 “ECCブロックアドレス”の定義は，この規格に特有のものである。

27.3.3 パリティA及びパリティB

図51で行列に割り付けられた各バイトがCj（j = 0〜15）のとき，その後，パリティCj（j = 3〜5及びj =

13〜15）用の各バイトは，次による。

パリティA：

()∑

−

Parity

()

{

}

()

{

}

3mod

ここに，

()∑

−

()

(

)

∏

αは，原始多項式Gp(x) ＝ x 8＋x 4＋x3＋x 2＋1の原始根を表す。

パリティB：

()∑

−

=15

Parity

()

{

}

()

{

}

3mod

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに，

()∑

−

=12

()

(

)

∏

αは，原始多項式Gp(x) ＝ x 8＋x 4＋x3＋x 2＋1の原始根を表す。

27.3.4 フィールドID0

フィールドID0のプリピットデータブロック構成は，図51に示す。

プリピット

データフレーム

番号

ビット位置

1〜4

5 (msb) 〜12 (lsb)

プリピット同期符号*

0000

ECCブロックアドレスの第1バイト

パートA

0001

ECCブロックアドレスの第2バイト

0010

ECCブロックアドレスの第3バイト

0011

パリティAの第1バイト

0100

パリティAの第2バイト

0101

パリティAの第3バイト

0110

フィールドID (00)

パートB

0111

ECCブロックアドレスの第1バイト

1000

ECCブロックアドレスの第2バイト

1001

ECCブロックアドレスの第3バイト

1010

(00) に設定

1011

(00) に設定

1100

(00) に設定

1101

パリティBの第1バイト

1110

パリティBの第2バイト

1111

パリティBの第3バイト

注*

プリピット同期符号を，プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロックに付加する。

図51−フィールドID0のプリピットデータブロック構成

27.3.5 フィールドID1

フィールドID1のプリピットブロック構成は，図52に示す。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

プリピット

データフレーム

番号

ビット位置

1〜4

5 (msb) 〜12 (lsb)

プリピット同期符号*

0000

ECCブロックアドレスの第1バイト

パートA

0001

ECCブロックアドレスの第2バイト

0010

ECCブロックアドレスの第3バイト

0011

パリティAの第1バイト

0100

パリティAの第2バイト

0101

パリティAの第3バイト

0110

フィールドID (01)

パートB

0111

応用コード

1000

ディスク物理コード

1001

データレコーダブルゾーンの最終アドレスの

第1バイト

1010

データレコーダブルゾーンの最終アドレスの

第2バイト

1011

データレコーダブルゾーンの最終アドレスの

第3バイト

1100

バージョン番号

拡張符号

1101

パリティBの第1バイト

1110

パリティBの第2バイト

1111

パリティBの第3バイト

注*

プリピット同期符号を，プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロックに付加する。

図52−フィールドID1のプリピットデータブロック構成

27.3.5.1 アプリケーションコード

アプリケーションコードは，次のように規定する。

ビット位置5

“0”に設定

ビット位置6

“0”に設定：限定用途のディスク

ビット位置7〜12

“000000”に設定：一般目的ドライブに使用する一般用途のディスク

ビット位置7〜12

その他に設定：特別のドライブだけに使用する特別用途のディスク

ビット位置6

“1”に設定：限定しない用途のディスク

ビット位置7〜12

“000000”に設定：民生用ドライブに使用する民生用途のディスク

ビット位置7〜12

その他に設定：予備

27.3.5.2 ディスク物理コード

ディスクの基本物理特性は，表13に示すディスク物理コードフィールドに規定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表13−ディスク物理コード

ビット位置

内容

ビット設定値及び意味

5 (msb)

トラックピッチ

“1”に設定し，トラックピッチが0.74 μmであることを示す。

基準速度

“1”に設定し，基準速度が3.49 m/s であることを示す。

ディスク直径

“0”＝ 120 mm “1”＝ 80 mm

反射率(1)

“0”に設定し，反射率が45 ％〜85 ％であることを示す。

反射率(2)

“0”に設定

メディアタイプ(1)

“0”＝有機色素 “1”＝その他

メディアタイプ(2)

“0”に設定し，記録可能なメディアを示す。

12 (lsb)

記録波長

“0”に設定し，レーザ波長が650 nmであることを示す。

27.3.5.3 データレコーダブルゾーンの最終アドレス

データレコーダブルゾーンの最終アドレスフィールドには，データレコーダブルゾーンの最終のECCブ

ロックアドレスを，16進法で規定する。

最終のECCブロックアドレスは，12 cmディスクの片面4.70 GB及び8 cmディスクの片面1.46 GBのユ

ーザデータ容量を保証するために定義する。

データレコーダブルゾーンの最終アドレスは，データレコーダブルゾーンの最外限度を示すものであっ

て，ディスクの最小ECCブロックアドレスを示さない。プリピット物理ブロックは，データレコーダブル

ゾーンの最終アドレスによって示されたゾーンを越えてディスクの外周の方へ広がらなければならない。

27.3.5.4 バージョン番号

これらのビットは，“0101”に設定し，この規格を示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

27.3.5.5 拡張コード

これらのビットは，“0000”に設定し，この規格を示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

27.3.6 フィールドID2及びID5

フィールドID2及びID5のプリピットデータブロック構成は，図53及び図54に示す。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

プリピット

データ

フレーム番号

ビット位置

1〜4

5 (msb) 〜12 (lsb)

プリピット

同期符号*

0000

ECCブロックアドレスの第1バイト

パートA

0001

ECCブロックアドレスの第2バイト

0010

ECCブロックアドレスの第3バイト

0011

パリティAの第1バイト

0100

パリティAの第2バイト

0101

パリティAの第3バイト

0110

フィールドID(02)

パートB

0111

OPC推奨コード

(β値)

OPC推奨コード

(記録パワー)

1000

波長コード

1001

記録ストラテジコードの第1バイト

1010

記録ストラテジコードの第2バイト

1011

記録ストラテジコードの第3バイト

1100

記録ストラテジコードの第4バイト

1101

パリティBの第1バイト

1110

パリティBの第2バイト

1111

パリティBの第3バイト

注*

プリピット同期符号を，プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロックに付加する。

図53−フィールドID2のプリピットデータブロック構成

プリピット

データ

フレーム番号

ビット位置

1〜4

5 (msb) 〜12 (lsb)

プリピット

同期符号*

0000

ECCブロックアドレスの第1バイト

パートA

0001

ECCブロックアドレスの第2バイト

0010

ECCブロックアドレスの第3バイト

0011

パリティAの第1バイト

0100

パリティAの第2バイト

0101

パリティAの第3バイト

0110

フィールドID(05)

パートB

0111

記録ストラテジコードの第5バイト

1000

記録ストラテジコードの第6バイト

1001

記録ストラテジコードの第7バイト

1010

記録ストラテジコードの第8バイト

1011

記録ストラテジコードの第9バイト

1100

記録ストラテジコードの第10バイト

（基本記録ストラテジコード）

1101

パリティBの第1バイト

1110

パリティBの第2バイト

1111

パリティBの第3バイト

注*

プリピット同期符号を，プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロックに付加する。

図54−フィールドID5のプリピットデータブロック構成

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

27.3.6.1 OPC推奨コード

このOPC推奨コードフィールドは，ディスクのための最適β値及び最適記録パワーを規定する。β値及

び記録パワーのためのコードはそれぞれ，表14及び表15に示すようにこのフィールドの上位，下位の4

ビットで構成する。それぞれを規定しない場合，このコードは，“0000”に設定する（附属書H参照）。

表14−OPC推奨コード（β値）

OPC推奨コード

β値

0000

規定しない

0001

−0.02

0010

−0.01

0011

0.00

0100

0.01

0101

0.02

0110

0.03

0111

0.04

1000

0.05

1001

0.06

1010

0.07

1011

0.08

1100

0.09

1101

0.10

1110

0.11

1111

0.12

表15−OPC推奨コード（記録パワー）

OPC推奨コード

mW単位の記録パワー

0000

規定しない

0001

6.0

0010

6.5

0011

7.0

0100

7.5

0101

8.0

0110

8.5

0111

9.0

1000

9.5

1001

10.0

1010

10.5

1011

11.0

1100

11.5

1101

12.0

この規格では，この他の設定を禁止する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

27.3.6.2 波長コード

この波長コードフィールドは，表16に示すように推奨記録パワーのレーザ波長を規定する。OPC推奨

コードが (00) に設定される場合は，このフィールドのすべてのバイトは (00) に設定されなければならな

い。

表16−波長コード

波長コード

nm単位の波長

(00)

規定しない

(01)

645

(02)

646

(03)

647

(04)

648

(05)

649

(06)

650

(07)

651

(08)

652

(09)

653

(0A)

654

(0B)

655

(0C)

656

(0D)

657

(0E)

658

(0F)

659

(10)

660

この規格では，この他の設定を禁止する。

27.3.6.3 記録ストラテジコード

記録ストラテジコードフィールドは，ディスク用の最適記録ストラテジを示す。記録ストラテジコード

フィールドは，表17に示すように，フィールドID2及びID5に位置して，ユーザデータの10バイトで構

成する。

フィールドID2に位置する第1記録ストラテジコードフィールドは，記録ストラテジの基本パラメタを

示す。ID5に位置する第2記録ストラテジコードフィールドは，第12プリピットデータフレームを除いて

記録ストラテジの適応パラメタを示す。

図53に示す記録ストラテジコードフィールドの第1バイトが(00)に設定された場合は，他の記録ストラ

テジコードフィールドは無効となり，すべてのバイト（記録ストラテジコードフィールドの第2バイトか

ら第9バイトまで）は(00)に設定されなければならない。

記録ストラテジコードフィールドの第1バイトの値にかかわらず，第12プリピットデータフレームは基

本記録ストラテジコードを示す。27.3.6.3.5参照。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表17−記録ストラテジコードフィールド

フィールドID

プリピットデータ

フレームの数

内容

ID2

Ttop

3Tdtp

4Tdtp

5Tdtp

6Tdtp〜 11Tdtp及び14Tdtp

Tmp

予備

ID5

3-3Tld

3-3Ttr

3-4Tld

3-4Ttr

3-5Tld

3-5Ttr

4-3Tld

4-3Ttr

4-4Tld

4-4Ttr

4-5Tld

4-5Ttr

5-3Tld

5-3Ttr

5-4Tld

5-4Ttr

5-5Tld

5-5Ttr

予備

基本記録ストラテジコード

記録ストラテジコードは，Ttopコードの1バイト，nTdtpコードの4ビット，Tmpコードの4ビット，m-nTld

コードの18ビット及びTtrコードの18ビットで構成する。

27.3.6.3.1 Ttopフィールド

このフィールドは，表18から選択されたTtopコードを規定する。Ttopは，記録パルスの基準先頭パルス

幅であり，記録データ長に依存しない（附属書M参照）。

表18−Ttopコード

Ttopコード

Ttopパルス幅

(01)

0.70T

(02)

0.75T

(03)

0.80T

(04)

0.85T

(05)

0.90T

(06)

0.95T

(07)

1.00T

(08)

1.05T

(09)

1.10T

(0A)

1.15T

(0B)

1.20T

(0C)

1.25T

(0D)

1.30T

(0E)

1.35T

(0F)

1.40T

(10)

1.45T

(11)

1.50T

(12)

1.55T

(13)

1.60T

(14)

1.65T

(15)

1.70T

この規格では，この他の設定を禁止する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

27.3.6.3.2 nTdtpフィールド（n=3〜11及び14）

これらのフィールドは，表19から選択された3Tdtp, 4Tdtp，5Tdtp，6Tdtp〜11Tdtp及び14Tdtpコードを規定す

る。

nTデータ（n＝3〜11及び14）を記録する場合，nTdtpは，Ttopからの先頭パルス幅の差となる（附属書M

参照）。したがって，個々のトップのパルス幅(nTtop)は，Ttop及びnTdtpのコードで表せる。

nTtop＝Ttop＋nTdtp（n＝3〜11及び14）

表19−nTdtpコード

nTdtpコード

Ttopとの差

0001

−0.35T

0010

−0.30T

0011

−0.25T

0100

−0.20T

0101

−0.15T

0110

−0.10T

0111

−0.05T

1000

0.00T

1001

＋0.05T

1010

＋0.10T

1011

＋0.15T

1100

＋0.20T

1101

＋0.25T

1110

＋0.30T

1111

＋0.35T

27.3.6.3.3 Tmpフィールド

このフィールドは，表20から選択されたTmpコードを規定する。Tmpは，マルチパルス幅とする（附属

書M参照）。

表20−Tmpコード

Tmpコード

マルチパルス幅

0001

0.30T

0010

0.35T

0011

0.40T

0100

0.45T

0101

0.50T

0110

0.55T

0111

0.60T

1000

0.65T

1001

0.70T

1010

0.75T

1011

0.80T

1100

0.85T

1101

0.90T

1110

0.95T

1111

1.00T

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

27.3.6.3.4 m-nTld及びm-nTtrフィールド（m=3,4,5及びn=3,4,5）

これらのフィールドは，先行するスペース長と記録データ長との組合せに従って，表21及び表22から

選択されたTldコード及びTtrコードを規定する（附属書M参照）。

先行するスペース長がmTで記録データ長がnTの場合，Tldはm-nTldと表され，Ttrはm-nTtrと表される

（m=3,4,5及びn =3,4,5）。

m又はnが5の場合は，5T以上（5T 〜11T及び14T）の機能を表す。

表21−Tldコード

コード

Tld

0.00T

0.05T

−0.05T

−0.10T

表22−Ttrコード

コード

Ttr

0.00T

0.05T

−0.05T

−0.10T

27.3.6.3.5 基本記録ストラテジコード

このフィールドは，表23から選択されたディスクの基本記録ストラテジコードを規定する（14.3参照）。

Tclは，冷却パルス幅とする。

表23−基本記録ストラテジコード

基本記録ストラテジコード

パラメタ

(01)

タイプ1

(02)

タイプ2

(03)

タイプ3

この規格では，この他の設定を禁止する。

27.3.7 フィールドID3及びフィールドID4

フィールドID3及びフィールドID4のプリピットデータブロック構成は，図55及び図56に示す。

この規格は，製造業者IDとして規定された12バイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無

視する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

プリピット

データ

フレーム番号

ビット位置

1〜4

5 (msb) 〜12 (lsb)

プリピット

同期符号*

0000

ECCブロックアドレスの第1バイト

パートA

0001

ECCブロックアドレスの第2バイト

0010

ECCブロックアドレスの第3バイト

0011

パリティAの第1バイト

0100

パリティAの第2バイト

0101

パリティAの第3バイト

0110

フィールドID(03)

パートB

0111

製造業者IDの第1バイト

1000

製造業者IDの第2バイト

1001

製造業者IDの第3バイト

1010

製造業者IDの第4バイト

1011

製造業者IDの第5バイト

1100

製造業者IDの第6バイト

1101

パリティBの第1バイト

1110

パリティBの第2バイト

1111

パリティBの第3バイト

注*

プリピット同期符号を，プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロックに付加する。

図55−フィールドID3のプリピットデータブロック構成

プリピット

データ

フレーム番号

ビット位置

1〜4

5 (msb) 〜12 (lsb)

プリピット

同期符号*

0000

ECCブロックアドレスの第1バイト

パートA

0001

ECCブロックアドレスの第2バイト

0010

ECCブロックアドレスの第3バイト

0011

パリティAの第1バイト

0100

パリティAの第2バイト

0101

パリティAの第3バイト

0110

フィールドID(04)

パートB

0111

製造業者IDの第7バイト

1000

製造業者IDの第8バイト

1001

製造業者IDの第9バイト

1010

製造業者IDの第10バイト

1011

製造業者IDの第11バイト

1100

製造業者IDの第12バイト

1101

パリティBの第1バイト

1110

パリティBの第2バイト

1111

パリティBの第3バイト

注*

プリピット同期符号を，プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロックに付加する。

図56−フィールドID4のプリピットデータブロック構成

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

28 R情報ゾーンのデータ構造

28.1 パワー校正領域及び記録管理領域の配置

図57に示すパワー校正領域及び記録管理領域は，リードインゾーンの前に位置する。

R情報ゾーン

パワー校正領域

記録管理領域

リードインゾーン

PCA開始アドレス

RMA終了アドレス

リードインゾーン終了アドレス

ECCブロックアドレス：

(FFE17F)--------------------------------------------(FFDD07)-------------------------------------------------(FFD000)

物理セクタ番号：

(01E800)---------------------------------------------(022F8F)---------------------------------------------------(02FFFF)

図57−R情報ゾーンのアドレス配置

28.2 パワー校正領域の構造

パワー校正領域は，ECCブロックアドレスの(FFE17F) 〜(FFDFC5)の位置とする。

パワー校正のための最小単位は，1プリピット物理セクタとし，パワー校正セクタと呼ぶ。パワー校正

処理は，パワー校正セクタの開始から終了まで連続的に使用されなければならない。

未使用の領域との境界を容易に見つけ出すために，各パワー校正処理で使用される最も内側のセクタに，

十分な読出し振幅をもつ信号を記録することを推奨する。信号は，パワー校正セクタの少なくとも四連続

同期記録フレームの長さにおいて少なくとも0.5の変調振幅 (I14/I14H) （図10参照）又はこれと等価のも

のとする。この信号は，32の連続するセクタごとに少なくとも一度，最も内側に使用されるセクタに記録

されるものとする。

パワー校正領域は，7 088パワー校正セクタで構成する。パワー校正領域の構造は，図58に示す。

この規格は，ディスク製造業者のためのPCAでのパワー校正処理を規定していない。しかし，この領域

の少なくとも8 ECCブロックは，第1RMDの記録を安定にするために記録しないままにしておくことを推

奨する。

(FFDFD4)

(FFDFC5)

(FFDFD5)

(FFE17F)

パワー校正方向

ドライブ用PCA (6832セクタ)

ディスク製造業者用PCA

パワー構成領域

(256 セクタ)

6832 6831 16 4 3 2 1

ECC
ブロック
アドレス

図58−パワー校正領域の構造

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

28.3 記録管理領域(RMA)のデータ構成

28.3.1 記録管理領域のセクタフォーマット

記録管理領域は，ECCブロックアドレスの(FFDFC3)〜(FFDD07) の位置とする。図59参照。

RMAは，RMAリードイン及び記録管理データ(RMD)ブロックで構成する。

RMAリードインは，32 768バイトのサイズをもち，また，16 384バイトのシステム予備フィールド及

び16 384バイトのユニーク識別データ(ID)フィールドで構成する。

システム予備フィールドでのデータは，(00)に設定する。

ユニークIDフィールドは，同じ2 048バイトサイズ及び内容をもつ8ユニットで構成する。各ユニット

のバイト割当ては，表24に示す。

RMA

PCA

リードインゾーン

リンキングロス領域

RMAリードイン

第1

PCA

リンキングロス領域

（32 768 バイト）

システム予備フィールド

（16 384 バイト）

ユニークID フィールド

（16 384 バイト）

第1

RMD

RMA

PCA

リードインゾーン

リンキングロス領域

RMAリードイン

第1

PCA

リンキングロス領域

（32 768 バイト）

システム予備フィールド

（16 384 バイト）

ユニークID フィールド

（16 384 バイト）

第1

RMD

図59−記録管理領域の配置

表24−ユニークIDフィールドの内容

内容

0〜31

ドライブ製造業者ID

32〜39

(00) に設定

40〜55

シリアル番号

56〜63

(00) に設定

64〜79

モデル番号

80〜87

(00) に設定

88〜105

ドライブ製造業者ID

106〜2 047

(00) に設定

バイト0〜31−ドライブ製造業者ID

この規格は，これらの32バイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト32〜39

これらのバイトは，(00) に設定する。

バイト40〜55−シリアル番号

この規格は，これらの16バイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト56〜63

これらのバイトは，(00) に設定する。

バイト64〜79−モデル番号

この規格は，これらの16バイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト80〜87

これらのバイトは，(00) に設定する。

バイト88〜105−ドライブ製造業者ID

この規格は，これらの18バイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト106〜2 047

これらのバイトは，(00) に設定する。

28.3.2 記録管理データ (RMD)

記録管理データ(RMD)は，ディスクへの記録に関する情報をもつ。RMDの大きさは32 768バイトとす

る。RMDの構造は，表25に示す。

表25−記録管理データのデータ構造

セクタ番号

フィールド

セクタ0

リンキングロス領域

セクタ1

RMDフィールド0

セクタ2

RMDフィールド1

セクタ3

RMDフィールド2

セクタ4

RMDフィールド3

セクタ5

RMDフィールド4

セクタ6

RMDフィールド5

セクタ7

RMDフィールド6

セクタ8

RMDフィールド7

セクタ9

RMDフィールド8

セクタ10

RMDフィールド9

セクタ11

RMDフィールド10

セクタ12

RMDフィールド11

セクタ13

RMDフィールド12

セクタ14

RMDフィールド13

セクタ15

RMDフィールド14

RMDはそれぞれ2 048バイトの主データであり，第4章に規定されている信号生成過程によって記録さ

れなければならない。

RMDを追記するために，2Kリンクを用いなければならない。箇条23参照。

28.3.2.1 RMDフィールド0

RMD フィールド0は，ディスクの一般情報を規定し，また，このフィールドの内容を，表26に規定す

る。

表26−RMDフィールド0

内容

バイト数

0及び1

RMDフォーマット

ディスクステータス

(00) に設定

4〜21

ドライブ製造業者ID

22〜85

プリピット情報のコピー

86〜2 047

(00) に設定

1 962

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト0及び1−RMDフォーマット

これらのバイトは，(0001)に設定する。

バイト2−ディスクステータス

このフィールドは，次のとおりディスクステータスを規定する。

(00)に設定するとき，ディスクが空であることを規定する。

(01)に設定するとき，ディスクがディスクアットワンス記録モードにあることを規定する。

(02)に設定するとき，ディスクがインクリメンタル記録モードにあることを規定する。

(03)に設定するとき，ディスクがインクリメンタル記録の場合のファイナライズしたディスクである

ことを規定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト3

このバイトは，(00)に設定する。

バイト4〜21−ドライブ製造業者ID

この規格は，これらの18バイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト22〜85−プリピット情報のコピー

27.3に規定するプリピット情報のコピーは，このフィールドで記録する。記録フォーマットは，表27

に示す。

表27−プリピット情報のコピー

内容

(01) に設定したフィールドID

アプリケーションコード

ディスク物理コード

25〜27

データレコーダブルゾーンの最終アドレス
（27.3.5.3参照)

パートバージョン

拡張コード

(00) に設定

(02) に設定したフィールドID

OPC推奨コード（β値）

OPC推奨コード（記録パワー）

波長コード

33〜36

記録ストラテジコードの第1フィールド

(00) に設定

(03) に設定したフィールドID

39〜44

製造業者IDの第1フィールド

(00) に設定

(04) に設定したフィールドID

47〜52

製造業者IDの第2フィールド

(00) に設定

(05) に設定したフィールドID

55〜60

記録ストラテジコードの第2フィールド

61〜85

(00) に設定

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト86〜2047

これらのバイトは，(00) に設定する。

28.3.2.2 RMDフィールド1

RMD フィールド1は，OPC関連情報を含まなければならない。RMD フィールド1には，一つのシス

テムで共存する4台までのドライブのためのOPC関連情報を記録することができる（表28参照）。

1台のドライブシステムの場合には，フィールドNo.1にOPC関連情報を記録しなければならない。ま

た，他のフィールドは，(00) に設定する。すべての場合に，RMD フィールド1の未使用フィールドは，

(00) に設定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表28−RMDフィールド1

内容

バイト数

0〜31

No.1

ドライブ製造業者ID

32〜47

シリアル番号

48〜63

モデル番号

64〜67

記録ストラテジコードの第1フィールド

68〜71

記録パワー

72〜79

タイムスタンプ

80〜83

パワー校正アドレス

84〜107

ランニングOPC情報

108〜113

記録ストラテジコードの第2フィールド

114〜115

DSV

116〜127

(00) に設定

128〜159

No.2

ドライブ製造業者ID

160〜175

シリアル番号

176〜191

モデル番号

192〜195

記録ストラテジコードの第1フィールド

196〜199

記録パワー

200〜207

タイムスタンプ

208〜211

パワー校正アドレス

212〜235

ランニングOPC情報

236〜241

記録ストラテジコードの第2フィールド

242〜243

DSV

244〜255

(00) に設定

256〜287

No.3

ドライブ製造業者ID

288〜303

シリアル番号

304〜319

モデル番号

320〜323

記録ストラテジコードの第1フィールド

324〜327

記録パワー

328〜335

タイムスタンプ

336〜339

パワー校正アドレス

340〜363

ランニングOPC情報

364〜369

記録ストラテジコードの第2フィールド

370〜371

DSV

372〜383

(00) に設定

384〜415

No.4

ドライブ製造業者ID

416〜431

シリアル番号

432〜447

モデル番号

448〜451

記録ストラテジコードの第1フィールド

452〜455

記録パワー

456〜463

タイムスタンプ

464〜467

パワー校正アドレス

468〜491

ランニングOPC情報

492〜497

記録ストラテジコードの第2フィールド

498〜499

DSV

500〜511

(00) に設定

512〜2 047

(00) に設定

1 536

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト0〜31，128〜159，256〜287，384〜415−ドライブ製造業者ID

この規格は，これらフィールドの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト32〜47，160〜175，288〜303，416〜431−シリアル番号

この規格は，これらフィールドの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト48〜63，176〜191，304〜319，432〜447−モデル番号

この規格は，これらフィールドの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト64〜67，192〜195，320〜323，448〜451−記録ストラテジコードの第1フィールド

これらフィールドは，フィールドID2のプリピットデータブロック中の記録ストラテジコードの基本

パラメタを規定する（27.3.6.3参照）。

バイト68〜71，196〜199，324〜327，452〜455−記録パワー

この規格は，これらフィールドの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト72〜79，200〜207，328〜335，456〜463−タイムスタンプ

この規格は，これらフィールドの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト80〜83，208〜211，336〜339，464〜467−パワー校正アドレス

これらフィールドは，最後のパワー校正を行ったPCAの開始ECCブロックアドレスを規定する。こ

れらフィールドを (00) に設定するとき，互換性では無視する。

バイト84〜107，212〜235，340〜363，468〜491−ランニングOPC情報

この規格は，これらフィールドの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

バイト108〜113，236〜241，364〜369，492〜497−記録ストラテジコードの第2フィールド

これらフィールドは，フィールドID5のプリピットデータブロック中の記録ストラテジコードの適応

パラメタを規定する（27.3.6.3参照）。

バイト114〜115，242〜243，370〜371，498〜499−DSV

インクリメンタル記録が選択されたとき，これらのフィールドは，最後のDSVを2進数で規定する。

これらのフィールドを(00)に設定するときは無効となる。

b15

b14

b13

b12

b11

b10

初期値

次の状態

Tフラグ

“0”

図60−DSVフィールド

第1バイト及び第2バイトのビットb7〜b5は次回のインクリメンタル記録のDSV初期値を示すため

に用いる。このフィールドは11ビットを使用して最大±1 023を表す（箇条22参照）。第2バイトのビ

ットb4〜b2は，16ビット符号の次の状態を示すために用いる。このフィールドは規定した状態に従って，

同期符号の状態1〜状態4を表す（箇条21参照）。第2バイトのビットb1は16ビット符号の最後のビッ

トを示すために用いる（1又は0）。1はスペースを表し，0は記録マークを表す。

DSVは前回の記録におけるリンキングセクタの第2シンクフレームの初期状態から決定されなければ

ならない。

バイト116〜127，244〜255，372〜383，500〜511，512〜2 047

これらのバイトは，(00)に設定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

28.3.2.3 RMDフィールド2

RMD フィールド2は，ユーザ特定データを規定してもよい。このフィールドを使用しないとき，(00)

に設定する。

この規格は，これらのバイトの内容を規定しない。この内容は，互換性では無視する。

28.3.2.4 RMDフィールド3

ボーダアウトを記録するならば，ボーダゾーン情報は，表29に示すRMD フィールド3に記録しなけ

ればならない。これらのフィールドは，RMD フィールド3を (00) に設定しない限り，ボーダアウトの開

始セクタ番号を示す。

第1ボーダを閉じる前にRMDを記録するとき又はボーダを記録しないとき，RMDフィールド3のすべ

てのフィールドは，(00)に設定する。

表29−RMDフィールド3

内容

バイト数

0〜3

ボーダアウト領域No.1の開始セクタ番号

4〜7

ボーダアウト領域No.2の開始セクタ番号

:
:

2 044 〜2 047

ボーダアウト領域No.nの開始セクタ番号

バイト0〜3，…，2 044〜2 047−ボーダアウトNo.n（n =1,2,…,512）の開始セクタ番号

これらのフィールドは，(00) に設定されていない限り，ボーダアウト開始セクタ番号を示す。

28.3.2.5 RMDフィールド4

RMDフィールド4は，Rゾーンの情報を規定する。また，フィールドの内容は，表30に規定する。

ユーザデータの記録のために予約されているデータレコーダブルゾーンの部分は，Rゾーンと呼ぶ。R

ゾーンは，記録条件に依存して二つのタイプに分類する。開放Rゾーンでは，データを追加することがで

きる。完了Rゾーンでは，更にユーザデータを追加することができない。データレコーダブルゾーンに

は，二つより多くの開放Rゾーンがあってはならない。

データを記録するためにまだ予約していないデータレコーダブルゾーンの部分は，インビジブルRゾー

ンと呼ぶ。後続のRゾーンのためのゾーンは，インビジブルRゾーンで予約することができる。

さらに，データを追加できない場合，インビジブルRゾーンは，存在しない。

表30−RMDフィールド4

内容

バイト数

0及び1

インビジブルRゾーン数

2及び3

第1開放Rゾーン番号

4及び5

第2開放Rゾーン番号

6〜15

(00) に設定

16〜19

Rゾーン No.1の開始セクタ番号

20〜23

Rゾーン No.1の最後に記録されるアドレス

24〜27

Rゾーン No.2の開始セクタ番号

28〜31

Rゾーン No.2の最後に記録されるアドレス

:
:

2 040〜 2 043

Rゾーン No.254の開始セクタ番号

2 044 〜2 047

Rゾーン No.254の最後に記録されるアドレス

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト0及び1−インビジブルRゾーン数

このフィールドは，インビジブルRゾーン数を規定する。インビジブルRゾーン数は，インビジブル

Rゾーン，開放Rゾーン及び完了Rゾーンの合計数とする。

バイト2及び3−第1開放Rゾーン番号

このフィールドは，第1開放Rゾーン番号を規定する。第1開放Rゾーンがない場合，このフィール

ドは，(00)に設定する。

バイト4及び5−第2開放Rゾーン番号

このフィールドは，第2開放Rゾーン番号を規定する。第2開放Rゾーンがない場合，このフィール

ドは，(00)に設定する。

バイト6〜15

これらのバイトは，(00) に設定する。

バイト16〜19，24〜27，…，2 040〜2 043−Rゾーン No.n（n = 1,2,….,254）の開始セクタ番号

これらフィールドは，Rゾーンの開始セクタ番号を規定する。これらフィールドを(00)に設定する場

合，このRゾーン番号のRゾーンはない。

バイト20〜23，28〜31…，2 044〜2 047−Rゾーン No.n（n=1,2,….,254）の最後に記録されるアドレス

これらフィールドは，Rゾーンの最後に記録されるセクタ番号を規定する。これらフィールドを(00)

に設定する場合，このRゾーン番号のRゾーンはない。

28.3.2.6 RMDフィールド5〜RMDフィールド12

RMDフィールド5〜RMDフィールド12は，Rゾーンの情報を規定する。また，このフィールドの内容

は，表31に規定する。

これらフィールドを使用しない場合，これらはすべて，(00)に設定する。

表31−RMD フィールド5〜RMD フィールド12

内容

バイト数

0〜3

Rゾーン No.nの開始セクタ番号

4〜7

Rゾーン No.nの最後に記録されるアドレス

8〜11

Rゾーン No.n＋1の開始セクタ番号

12〜15

Rゾーン No.n＋1の最後に記録されるアドレス

:
:

2 044 〜2 047

Rゾーン No.n＋255の最後に記録されるアドレス

RMDフィールド5〜RMDフィールド12の各No. nは，次による。

RMDフィールド5

：No.n＝255

RMDフィールド6

：No.n＝511

RMDフィールド7

：No.n＝767

RMDフィールド8

：No.n＝1 023

RMDフィールド9

：No.n＝1 279

RMDフィールド10

：No.n＝1 535

RMDフィールド11

：No.n＝1 791

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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RMDフィールド12

：No.n＝2 047

28.3.2.7 RMDフィールド13及びRMDフィールド14

RMDフィールド13及びRMDフィールド14は，(00)に設定する。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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附属書A

（規定）

角度偏差αの測定

序文

この附属書は，角度偏差αの測定について規定する。

角度偏差は，基準面Pに垂直な入射光と反射光とによって作られる角度αとする（図A.1参照）。

図A.1−角度偏差α

角度偏差αの測定のために，ディスクは，クランプゾーンのほぼ全域を覆う同心円環の間でクランプす

る。上面のクランプゾーンは，下面のクランプゾーンと同じ直径でなければならない。

0.5

out

−

全クランプ力は，F1＝2.0 N±0.5 Nとする。クランプ力とディスクの中心孔のリムに加わるチャック力

F2とによって生じる力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために，F2は，0.5 Nを超えてはならな

い（図A.2参照）。

この測定は，8.1.1 a)の条件の下で行う。

図A.2−α角測定のクランプ及びチャックの条件

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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附属書B

（規定）

複屈折の測定

序文

この附属書は，複屈折の測定について規定する。

B.1

測定原理

複屈折を測定するために，平行光の円偏光を使用する。位相遅延は，反射光のだ円率を観測することに

よって測定する（図B.1参照）。

半径方向

図B.1−だ円率e＝b/a及び方位θをもつだ円

だ円の方位θは，光学軸の方位で決定する。

−

=γ

············································································· (1)

ここに，

γ：光学軸と半径方向との間の角度を表す。

だ円率e＝b/aは，位相遅延δの関数を表す。

−

tan

······································································· (2)

位相遅延δが既知であるとき，複屈折BRは，波長の分数として表す。

2δ

··········································································· (3)

このように，ディスクから反射しただ円偏光を観測することによって，複屈折を測定でき，光学軸の方

位も評価できる。

B.2

測定条件

B.1に規定する複屈折の測定は，次の条件で行う。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

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反射での測定モード

：ダブルパス測定法

レーザ光の波長λ

：640 nm±15 nm

光ビーム径 (FWHM)

：1.0 mm±0.2 mm

基準面Pに垂直な半径方向の面に関して半径方向の入射光の角度β：7.0 °±0.2 °

クランプ及びチャックの条件：附属書Aの規定による。

ディスクの装着

：水平

回転

：1 Hz以下

温度及び相対湿度

：8.1.1 b) の規定による。

B.3

測定装置の例

この規格は，複屈折を測定する特定の測定装置を規定しないが，この測定に適した装置の例を図B.2に

示す。

フォトディテクタ

コリメータレンズ

回転検光子

レーザ

偏光子

1/4 波長板

ディスク

フォトディテクタ

コリメータレンズ

回転検光子

レーザ

偏光子

1/4 波長板

ディスク

図B.2−複屈折測定装置の例

偏光子（消光比≈10−5）にコリメートしたレーザ光源からの光は，λ/4波長板によって円偏光にする。反

射光のだ円率は，回転検光子及びフォトディテクタで分析する。ディスクのあらゆる位置に対して強度の

最小及び最大値を測定する。だ円率はこのとき，

max

min

············································································ (4)

式(2)，式(3)及び式(4)を組み合わせて，

max

min

arctan

π/

−

この装置は，次のように容易に校正できる。

− Iminは，偏光子又はλ/4波長板を測定することによって0に設定する。

− 鏡面を測定するときは，Imax＝Imin

表面反射による，直流的変化以外に，表面反射及び記録面からの反射のために交流成分が生じる可能性

がある。この交流成分は，基板が限りなく平らで光源の干渉性が高いときにだけ顕著となる。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書C
（規定）

位相差トラッキングエラー信号の測定方法

序文

この附属書は，位相差トラッキングエラー信号の測定方法について規定する。

C.1 位相差トラッキングエラー信号の測定方法

トラッキングエラー測定の基準回路を，図C.1に示す。四分割フォトディテクタの対角の対の各出力は，

次の式によって，定義した波形等化の後に独立して2値化する。

()(

)(

)

7.4

6.1

−

比較器の利得は，最小の信号振幅でも出力が完全飽和に達しなければならない。2値化したパルス信号

のエッジ（信号B1及びB2）の位相は，相互に比較し時間進み信号C1及び時間遅れ信号C2を作る。位相比

較器は，個々のエッジに応じて，Δtiの符号（正負）に応じ，信号C1又はC2を出力する。トラッキングエ

ラー信号は，低域フィルタによってC1及びC2信号を平滑化し，単位利得差動増幅器の手段で差し引くこ

とによって作る。低域フィルタは，30 kHzで−3 dBの遮断周波数をもつ1次フィルタとする。

Tの1 ％は，0.38 nsのように非常に小さい時間差を測定しなければならないので，回路実装に当たって

は特別な注意をしなければならない。また，注意深い平均化が必要となる。

四分割フォトディテクタの対角の対からの二つの信号間の平均時間差は，次による。

(

)∑∆

∆

ここで，Nは立上がり及び立下がりの両方のエッジの数とする。

C.2 タイムインターバルアナライザを使用しない̅

Δt/Tの測定

相対時間差

∆

は，C1及びC2信号の振幅及び読取信号の周波数成分を基準化している場合のトラッキ

ングエラー信号の振幅で表す。トラッキングエラー振幅TVE

∆

と時間差との関係は，次による。

NnT

TVE

＝

∑

＝

∑

＝

ここに，

Vpc： C1及びC2信号の振幅

Ti： 3T〜14Tの範囲内で読取信号の実際の長さ

nT：実際の長さの重み付き平均

NnT：平均時間の総和

Vpcを≈5Vとし，測定したnの値を≈5とすると，トラッキングエラー振幅̅̅

ΔTVEと時間差̅

Δtとの上の関

係は，次のとおり簡略化することができる。

TVE

／

∆

トラッキングの利得の規格は，トラッキングエラー振幅を用いて，半径方向のオフセット0.1 μmで，次

のように書き換えることができる。

(

)

( ) /

1.1

5.0

TVE

≦

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C.3 ̅

Δt/Tの校正

位相比較器の利得は，ばらつく傾向があるので，位相比較器の利得の校正には特別な注意をしなければ

ならない。位相差トラッキングエラー信号の測定に当たって，次のチェック及び校正方法を行う。

a) 測定回路の検査

1) 最初の比較器の入力 (3T) の振幅とトラッキングエラー信号の振幅との関係を測定する。

2) 増幅器の現状利得が飽和領域であることを検査する（図C.2参照）。

b) 校正係数Kの決定

1) 周波数が2.616 MHz（5Tに相当）で，位相差をもつ二つの正弦波信号A1及びA2を生成し，二つの

波形等化回路に加える。

2) ̅

Δt/Tと

TVE

∆

との関係を測定する。

(

)(

TVE

∆

n＝5に対して

(

)(

)

2.0

TVE

Δt/Tと

TVE

∆

との関係は，線形とする（図C.3参照）。

c) 測定された̅

Δt/Tと算出されたものを比較する。

1) C.1の方法を用いて，̅

Δt/Tを測定する。

2) ̅

Δt/T（真の値）を，次のようにして算出する。

(

)

(

)

測定値

真の値

∆

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図C.1−トラッキングエラー測定回路

−

Vpc

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図C.2−比較器入力信号振幅とトラッキングエラー信号振幅との関係

図C.3−̅

Δt/Tと¯¯¯¯

ΔTVE/ Vpcとの関係

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書D
（規定）

光反射の測定

序文

この附属書は，光反射の測定について規定する。

D.1 校正方法

良好な基準ディスク，例えば，金の反射鏡面をもつ0.6 mm厚さのガラスディスクを用いる。この基準

ディスクは，図D.1に示すように平行光で測定する。

int

r R

Rint

図D.1−反射の校正

図D.1の各事項は，次による。

I：入射光

r：入射面の反射

Rs：記録層の主反射

Rint：入射面及び記録層からのその他の反射

R〃：図D.1のアレンジメントを用いた測定値

R〃： r＋Rs＋Rint

r： [(n−1) / (n＋1)]2 ここに，nは基板の屈折率

Rs： R〃−r−Rint

Rs： [(1−r)2× (R〃−r)] / [1−r× (2−R〃)]

基準ディスクは，基準ドライブで測定する。集束光で測定したImirrorは，前記の方法で計算してRsとなる。

アレンジメントは校正され，集束光反射率は，入射面の反射率とは無関係になり，記録面の反射率に線

形に比例した値となる。

D.2 測定方法

測定方法は，次のステップからなる。

a) 校正した反射率Rsをもつ基準ディスクから反射光パワーDsを測定する。

b) ディスクの情報ゾーンのI14Hを測定する（13.3参照）。

c) 反射率の算出は，次による。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書E

（規定）

ディスククランプのためのテーパコーン

序文

この附属書は，ディスククランプのためのテーパコーンについて規定する。

測定用ディスクの中心位置決めに用いる装置は，テーパ角度40.0 °±0.5 °をもつコーンとする（図E.1

参照）。

図E.1−テーパコーン

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書F

（規定）

ジッタの測定

序文

この附属書は，ジッタの測定について規定する。

ジッタは，9.1の条件の下で，この附属書で規定する追加条件によって測定する。

F.1

ジッタ測定のためのシステム図

ジッタ測定のための一般システム図は，図F.1に示すとおりとする。

スライサ

PLL

HF-信号

LPF

四分割

ディテクタ

前置増幅器

交流カップリング

位相検出器

フィルタ

VCO

全データエッジ

クロック信号

ジッタアナライザ

（例えば，タイムインタバルアナライザ）

回転パルスからの

開始／停止信号

スライサ

PLL

HF-信号

LPF

四分割

ディテクタ

前置増幅器

交流カップリング

位相検出器

フィルタ

VCO

全データエッジ

クロック信号

ジッタアナライザ

（例えば，タイムインタバルアナライザ）

回転パルスからの

開始／停止信号

VCO

PLL

TIA

図F.1−ジッタ測定のための一般システム図

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

F.2

PLLの開ループ伝達関数

図F.1に示すPLLの開ループ伝達関数は，図F.2に示すとおりとする。

図F.2−PLLの開ループ伝達関数の図表示

F.3

スライサ

スライサは，閉ループ−3 dBで帯域幅5 kHzの1次積分フィードバック形オートスライサとする。

F.4

測定条件

フォトディテクタ前置増幅器の帯域幅は，遅延ひずみを防ぐために20 MHz以上とする。

低域フィルタ：6次ベッセルフィルタ，fc(−3 dB)＝8.2 MHz

アナログ波形等化器の例：伝達関数H (z)＝1.35z−2.093−0.175 (1＋z−4.186 )をもつ3タップトランスバーサ

ルフィルタ。

フィルタ及び波形等化：

− 利得変動：最大1 dB（7 MHz以下）

− 群遅延変動：最大3 ns（6.5 MHz以下）

− （5.0 MHzでの利得）−（0 Hzにおける利得）＝3.2 dB±0.3 dB

交流カップリング（高域フィルタ）：1次，fc(−3 dB)＝1 kHz

角度偏差の修正：直流偏差だけ

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図F.3−波形等化及び低域フィルタの周波数特性

F.5

測定

1回転中のすべての立上がり及び立下がりエッジのジッタを測定する。

この測定でジッタは，チャネルビットクロック周期の8.0 ％ (1σ )以下とする。

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G
（規定）

RLL(2,10)制約の8-16変調

序文

この附属書は，RLL(2,10)制約の8-16変調について規定する。

表G.1及び表G.2は，8ビットバイトを16ビット符号語に変換した表を示す。図G.1は，符号語及び関

係状態規定がどのように生じているかを図示する。図G.2は，状態の決定を示す。

図G.1−符号語の生成

図G.1の記号は，次による。

X (t)＝H {B (t)，S (t)} X15 (t)＝msb及びX0 (t)＝lsb

S (t＋1)＝G {B (t)，S (t)}

ここに，Hは，出力関数であり，Gは，次の状態関数である。

状態を離れる符号語は，一つの状態に入る符号語とその状態から離れる符号語との接続部において，二

つの“1”の間で最小2及び最大10の“0”がなければならないという要求事項を満たすように選ぶ。

追加要求事項は，次による。

− 状態2を離れる符号語では，ビットX15及びビットX3の両者を，“0”に設定する。

− 状態3を離れる符号語では，ビットX15とビットX3とのいずれか又は両者を“1”に設定する。

このことは，状態2及び状態3の符号語のセットが一致しないことを意味する。

符号語X (t)

次の状態S (t+1)

符号語X (t+1)

末尾部連続“0”が1個又はなし

状態1

先頭部連続“0”が2個〜9個

末尾部連続“0”が2個〜5個

状態2

先頭部連続“0”が1個〜5個及び

X15 (t＋1)，X3 (t＋1) ＝0，0

末尾部連続“0”が2個〜5個

状態3

先頭部連続“0”が0個〜5個及び

X15 (t＋1)，X3 (t＋1) ≠0，0

末尾部連続“0”が6個〜9個

状態4

先頭部連続“0”が1個又はなし

図G.2−状態の決定

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

記録したデータを復号するとき，元の主データを再構築するためには符号器の知識を必要とすることに

留意されたい。

()

()()

{

}

−

誤り伝ぱ（播）が含まれているために，そのような状態依存の復号を避けるのがよい。この8-16変調の

場合には，状態についての知識をほとんどの場合必要としないように変換表を選んでいる。テーブルから

集められるように，幾つかの場合で，二つの8ビットバイト，例えば，表G.1の状態1及び状態2におけ

る8ビットバイト5及び6は，同じ16ビット符号語を生成する。表の構成によって，この明らかなあいま

いさを解決する。実際，二つの同一符号語が“状態”を離れる場合，その一つは“状態2”に行き，他方

は“状態3”に行く。ビットX15及びX3の設定がこの二つの状態で常に異なっているために，どの符号語

も次の符号語のビットX15及びX3と一緒に符号語それ自体を解析することによって一義的に復号すること

ができる。

()

(

)

(

)

{

}

−

テーブルでは，8ビットバイトをその10進数で表す。

表G.1−主変換表

8ビット

バイト

状態1

状態2

状態3

状態4

符号語

状態

符号語

状態

符号語

状態

符号語

状態

msb

lsb

msb

lsb

msb

lsb

msb

lsb

0010000000001001

0100000100100000

0010000000001001

0100000100100000

0010000000010010

1000000100100000

0010000100100000

1000000000010010

0010000001001000

0100010010000000

0010000001001000

0100010010000000

0010000010010000

1000000100100000

0010000000100100

1001001000000000

0010000000100100

1000100100000000

0010000001001000

0100000000010010

0010000001001000

0100000000010010

0010000010010000

1000010010000000

0010000100100000

1001001000000001

0010010010000000

1000100100000001

0010001001000000

1000000010010000

0010010010000001

1000000010010000

0010001001000001

1000010010000001

0010000001001001

0100000000100100

0010000001001001

0100000000100100

0010000100100001

1000001001000001

0010000010010001

1000000100100001

0010000000100010

1000001001000000

0001000000001001

0100000010010000

0001000000001001

0100000010010000

0010000000010001

1001000100000000

0001000000010010

1000100010000000

0000100000000010

1000000010010001

0000010000000001

1000000001001001

0010001000100000

1000000001001000

0010000100010000

1000000001001000

0010000010001000

0100000000100100

0010000010001000

0100000000100100

0010000001000100

1000000000100010

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.1−主変換表（続き）

8ビット

バイト

状態1

状態2

状態3

状態4

符号語

状態

符号語

状態

符号語

状態

符号語

状態

msb

lsb

msb

lsb

msb

lsb

msb

lsb

0001000100100000

1000000000010001

0010000000001000

0100000010010000

0010000000001000

0100000010010000

0001000010010000

1001001000000010

0001000001001000

0100000100100000

0001000001001000

0100000100100000

0001000000100100

1001000100000001

0001000000000100

1000100100000010

0001000000000100

1000100010000001

0001000000100100

1000000000100100

0001000001001000

0100001001000000

0001000001001000

0100001001000000

0001000010010000

1000000000100100

0001000100100000

1000010001000000

0010000000001000

0100100100000001

0010000000001000

0100100100000001

0010000001000100

1001000010000000

0010000010001000

0100010010000001

0010000010001000

0100010010000001

0010000100010000

1000010010000010

0010001000100000

1000001000100000

0010010001000000

1000010001000001

0001001001000000

1000001000100000

0000001000000001

0100010001000000

1000001001000010

0100010001000000

0010010010000010

1000001000100001

0010000010001001

0100001001000001

0010000010001001

0100001001000001

0010010001000001

1000000100010000

0010001001000010

1000000010001000

0010001000100001

1000000100010000

0001000001001001

0100000100100001

0001000001001001

0100000100100001

0010000100100010

1000000100100010

0010000100010001

1000000100010001

0010000010010010

1000000010010010

0010000001000010

1000000010001001

0010000000100001

1000000001000010

0000100000001001

0100000010010001

0000100000001001

0100000010010001

0001001001000001

1000000000100001

0001000100100001

0100000001001001

0001000010010001

1001001000010010

0001000000100010

1001001000001001

0001000000010001

1001000100000010

0000100000010010

1000000001000100

0000010000000010

0100000001001000

0010010000100000

1000010000100000

0010001000010000

1000001000010000

0010000100001000

0100000000100010

0010000100001000

0100000000100010

0010000010000100

1000000100001000

0010000000010000

1000000010000100

0001000010001000

0100001000100000

0001000010001000

0100001000100000

0001001000100000

0100000010001000

0001000000001000

0100000100010000

0001000000001000

0100000100010000

0001000100010000

1000000001000100

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.1−主変換表（続き）

8ビット

バイト

状態1

状態2

状態3

状態4

符号語

状態

符号語

状態

符号語

状態

符号語

状態

msb

lsb

msb

lsb

msb

lsb

msb

lsb

0001000001000100

0100000001001000

0000100100100000

1000010000100000

0000100010010000

1000001000010000

0000100001001000

0100000001000100

0000100001001000

0100000001000100

0000100000100100

1000000100001000

0000100000000100

1000000010000100

0000100000000100

0100000010001000

0000100000100100

1000100001000000

0000100001001000

0100000001000100

0000100001001000

0100000001000100

0000100010010000

1000000010001000

0000100100100000

1001001001001000

0001000000001000

0100000100010000

0001000000001000

0100000100010000

0001000001000100

1001001000100100

0001000010001000

0100001000100000

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.1−主変換表（続き）

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.1−主変換表（続き）

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.2−代替表

8ビット

バイト

状態1

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状態3

状態4

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状態

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状態

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状態

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状態

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X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.2−代替表（続き）

8ビット

バイト

状態1

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状態4

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状態

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X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書H
（規定）

最適パワー制御

序文

この附属書は，最適パワー制御について規定する。

ディスクを記録するレーザパワーは，実際に使用するディスク及び記録機の両方に依存する。そのため，

このパワーは，各記録機とディスクとの組合せによって決まる。そのような実際の最適記録パワーPoの

決定方法は，最適パワー制御(OPC)と呼ばれる。

OPCをやりやすくするために，記録パワーの基準値を与える。この値は，リードインゾーンでのプリピ

ットの特別な情報として符号化する（箇条27）。この値を，波長コードとして規定された波長に対する基

準速度でのOPC推奨コードとする。

OPCは，この目的のために特別に予約されたディスクの領域で行う。これが，パワー校正領域（PCA，

箇条28）とする。

OPC推奨コードで符号化された最適記録パワーは，記録済みディスクの特性の測定条件でジッタを最小

にするレーザパワーによって決める（箇条13）。

実際の記録機で，Poを決めるための簡単なOPC手順の例について次に示す。

記録済みの8-16変調データの非対称性は，記録パワーによって異なる。したがって，特定の記録機とデ

ィスクとの組合せの最適記録パワーは，異なる記録パワーをもつ8-16変調データをテスト記録し，その結

果のHF信号の非対称性を測定することによって求めることができる。しかし，規定の非対称性を直接測

定することは，実際の記録機では困難である。

そこで非対称性を表すのに実用的なパラメタを定義する。このパラメタβは，波形等化する前の交流結

合したHF信号を用いることによって，次のように定義する。

(

)(

)

−

ここに，

(A1 ＋A2)： HF信号のピークレベル A1とA2との差

(A1−A2)： HF信号のピークピーク値

図H.1〜図H.3参照。

測定したHF信号の非対称性がゼロのときβ＝0 となる。

βは，9.1.2に規定する記録用のPUHで，非対称性は，再生用のPUH（9.1.1）でそれぞれ測定する。こ

れは，各記録機の設計で，記録機の読取状態から再生用PUHの状態への変換をしなければならないことを

意味する。

HF信号

図H.1−β＜0（低パワー）

図H.2−β＝0

図H.3−β＞0（高パワー）

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書J

（規定）

グルーブウォブル振幅の測定

序文

この附属書は，グルーブウォブル振幅の測定について規定する。

ウォブル振幅のnm値は，次に示す正規化ウォブル信号(NWO)から得ることができる。

J.1

ウォブル信号 (WOb)

ウォブル信号は，次の式によって計算する。

sin

RPS

したがって，

π2

sin

RPS

··································································· (1)

ここに（図J.1参照）， WOb：近隣のウォブルが同相のときのウォブル信号

のピークピーク値（最小値）

RPS：半径方向プッシュプル信号のピークピーク値

a：ウォブル振幅のnm値

Tp：トラックピッチのnm値

したがって，

sin

RPS

NWO

······························································ (2)

この正規化によって，グルーブ寸法，光スポット形状及び光学収差の影響は，除かれる。

J.2

ウォブル振幅

式(2)の定義によって，NWOとトラックピッチが0.74 μmのときのウォブル振幅との関係は，次のとお

りとする。

下限値

：7 nmに相当する0.06

上限値

：14 nmに相当する0.12

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ランド

グルーブ

半径方向

−a

トラックピッチ (Tp)

RPS

トラッキングエラー信号

RPS

−

WOb

−

−a

図J.1−グルーブウォブル信号

100

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書K

（規定）

未記録ディスクの動作信号の測定法

序文

この附属書は，未記録ディスクの動作信号の測定法について規定する。

次に示す方法によって，未記録ディスクの動作信号を測定する。

− フォーカス方法

：非点収差法

− トラッキング方法

：プッシュプル法

− ランドプリピット検出方法

：プッシュプル法

− ウォブル信号検出方法

：プッシュプル法

K.1 測定回路の加算回路に対する条件

半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号及びランドプリピット振幅の測定において用いられる加

算回路との出力はレーザダイオードが点灯し，かつ，ディスクがスピンドルモータ上にない場合に0とな

るよう調整されなければならない。

K.2 測定回路の差動回路に対する条件

半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号，ランドプリピット振幅及びウォブル信号の測定におい

て用いられるそれぞれのフォトディテクタ出力回路の増幅量及び差動バランス量は，それぞれの交流信号

振幅が一致するように調整されなければならない。

K.3 加算回路及び差動回路の出力増幅量

半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号及びランドプリピット振幅の正規化において用いられる

加算回路及び差動回路の出力増幅量は，正確に一致するよう調整されなければならない。

101

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附属書L

（規定）

NBCA信号

序文

この附属書は，NBCA信号について規定する。

L.1

NBCA及びリードインゾーンの位置

NBCAは，中心孔の中心から22.71±0.06 mmと23.51±0.06 mmとの間に位置しなければならない（図

L.1参照）。NBCA符号を適用する場合，リードインゾーンでの記録は，セクタ番号(02DA80)から行う。

図L.1−NBCAの概要

L.2

記録フォーム

NBCAは，円周方向に配列した一連の低反射のストライプで記録する。各々のストライプは，半径方向

にNBCAの幅にわたって完全に広がらなければならない。

L.3

変調方法方式

NBCA符号記録データビットは，NBCA符号チャネルビットへの移送符号化によって符号化する。移送

符号化では，データビット“0”は，“01”のNBCA符号チャネルビットに変換し，また，データビット“1”

は，“10”のNBCA符号チャネルビットに変換しなければならない。NBCA符号チャネルビット列は，RZ

変調方式によって変調しなければならない。低い反射率のストライプは，RZ変調プロセス後のパルスに

対応して形成しなければならない。低い反射率のストライプ幅は，NBCA符号チャネルビット周期の半分

以下でなければならない。

前記に規定する移送符号化方式は，NBCAデータフィールドで，情報データ，誤り検出符号(EDCNBCA)

の4チェックバイト及び誤り訂正符号(ECCNBCA)の16バイトに適用する。NBCAデータ構造の他のフィー

ルドでは，データビット“0”は，“10”のNBCA符号チャネルビットに変換し，また，データビット“1”

は，“01”のNBCA符号チャネルビットに変換しなければならない（L.4及び図L.2参照）。

L.4

NBCA符号の構造

NBCA符号のデータは，NBCAプリアンブルフィールド，NBCAデータフィールド及びNBCAポストア

ンブルフィールドで構成する。これらのフィールドは，すべて，図L.2に示すように，連続的にギャップ

なしで記録する。

102

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L.4.1 NBCAプリアンブルフィールド

NBCAプリアンブルフィールドは，NBCA同期記録バイト(SBNBCA) に続く(00)の4バイトで構成する。

L.4.2 NBCAデータフィールド

NBCAデータフィールドでは，情報データ (I0，I1… I16n-5) の16n−4バイト，誤り検出符号 (D0，D1，

D2，D3) の4チェックバイト及び誤り訂正符号 (C00…C03，C10…C13，…，C30…C33) の16バイトをこの順

に記録しなければならない。ここに，nは，12以下の正整数とする。このフィールド全体で4バイトごと

の前にNBCA-Resync (RSNBCA)を挿入する。

L.4.3 NBCAポストアンブルフィールド

NBCAポストアンブルフィールドは，NBCA-Resync (RSNBCA) が先行し，かつ，後続する，(55)の4バイ

トで構成する。

5バイト

1バイト

4バイト

SBNBCA

NBCAプリアンブル［すベて(00)］

1行

RSNBCA1

4バイト（予備）

RSNBCA1

RSNBCA2

情報

RSNBCAi-1

RSNBCAi

4n行

RSNBCAi

（1≦n≦12）

RSNBCAi

RSNBCAi＋1

RSNBCAn−1

RSNBCAn

I16n-8

I16n-7

I16n-6

I16n-5

RSNBCAn

EDCNBCA（4バイト）

図 L.2−NBCAデータ構造

103

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5バイト

1バイト

4バイト

RSNBCA13

C0.0

C1.0

C2.0

C3.0

RSNBCA13

ECCNBCA

4行

RSNBCA13

C0.3

C1.3

C2.3

C3.3

RSNBCA14 NBCAポストアンブル［すべて(55)］

1行

RSNBCA15

図 L.2−NBCAデータ構造（続き）

L.5

NBCA誤り検出符号 (EDCNBCA)

情報データ(I0，I1...I16n-5)に，誤り検出符号(D0，D1，D2，D3) (EDCNBCA)の4チェックバイトを付けなけれ

ばならない。多項式EDCNBCA(x)及びI NBCA(x)を，次のように定義する。

∑

=31

NBCA

)

(

EDC

∑−

128

NBCA)

(

ここに，iは，0から始まるビット番号であり，また，EDCNBCAの最後のバイトのLSBから，情報デー

タの第1バイトがMSBへ向かって増分する。また，biは，第i番目のビットの値を表す。

多項式EDCNBCA (x) は，次のように計算する。

()

()x

mod

EDC

NBCA

ここに，

G(x)： x32＋x31＋x4＋1

L.6

NBCA誤り訂正符号 (ECCNBCA)

4ウェイインタリービングを備えたリードソロモンタイプECCは，情報データ及びEDCNBCAに使用する。

多項式RNBCAj (x) 及びINBCAj (x) は，次のように定義する。

∑

−

NBCA

)

(

∑−=

−

NBCA

)

(

ここに，Imは，m番目の情報データバイトの値を表す。また，Dkは，k番目のEDCNBCAバイトの値を表

す。

多項式RNBCAj(x) は，次のように計算する。

()

()x

NBCA

mod

∏

pNBCA

)

(

)

(

104

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに，αは，多項式の根を表す。

Gp(x) = x8+x4+x3+x2+1

L.7

NBCA同期バイト (SBNBCA)及びNBCA再同期 (RSNBCA)

NBCA同期バイト(SBNBCA)は，NBCAプリアンブルに先行する。4情報バイトごとの前，EDCNBCAの前，

ECCNBCAの前，及びNBCAポストアンブルの前後にNBCA再同期(RSNBCA)を挿入しなければならない。

NBCA同期バイト及びNBCA再同期は，表L.1に示すパターンをもたなければならない。

表L.1−NBCA同期バイト及びNBCA再同期のビットパターン

同期バイト

／再同期

ビットパターン

固定パターン

同期符号

(チャネルビット)

(データビット)

C15 C14 C13 C12 C11 C10 C9 C8

SBNBCA

RSNBCA1

RSNBCA2

:
:
:

RSNBCAi

:
:
:

RSNBCA15

RZ変調で記録

PE-RZ変調で記録

L.8

NBCA信号仕様

9.1.1 及び9.1.2 の測定状態で規定された光学ピックアップによるNBCAからの読取信号は，NBCA信

号特性を満たさなければならない。NBCA読取信号は，ビームがトラックを横断するとき，四分割フォト

ディテクタの四つの素子の電流を合計して求める。

L.8.1 NBCA信号振幅

高い反射率及び低い反射率に対応する信号レベルは，それぞれ，IBH及びIBLとし，ゼロレベルは，図

L.3に示すように，ディスクを挿入しないとき測定装置から得る信号レベルとする。

これらの信号は，次の仕様を満たさなければならない。

IBL / IBH：最大0.50

L.8.2 NBCA時間間隔

NBCA信号の検出位置は，NBCA信号がIBHとIBLとの間の平均レベルと交差する位置とする。NBCA

の時間間隔は，ディスクの回転速度が1 440 rpm (24 Hz) である場合，次の仕様を満たさなければならない

（図L.3参照）。

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立上がり時間間隔 (TPI)： 8.89n±2.00 μs (n＝1，2，3又は4)
パルス幅 (TL)： 3.00±1.50 μs

TP1

IBH

IBL

(IBH + IBL) / 2

0 レベル

TP1

IBH

IBL

(IBH + IBL) / 2

0 レベル

TPI

図L.3−NBCAからの読取信号

L.8.3 NBCAジッタ値

ジッタ値は，立上がり時間間隔(TPI)の正規化標準偏差として定義し，また，次の仕様を満たさなければ

ならない。

ジッタ値＜8 ％

測定法：

a) 信号の条件：フィルタリングのない生のNBCA信号

b) 回転速度：1 440 rpm (24 Hz)

c) 位置の測定：r＝23.1 mm（NBCAラインの中心の周り）

d) タイムインターバルアナライザのスライスレベルは，NBCAパルス信号の半分の深さに設定する。

e) ジッタ値：σ/8.89

ここに，σ (μs)は，n＝1のときのTPIの標準偏差，8.89 (μs)は，n＝1のときのTPIの標準値。

L.9

情報データの論理フォーマット

NBCAデータフィールドは，L.4.2に規定する情報データ(I0，I1････I16n-5)の(16n−4)バイトをもたなければ

ならない。この情報データは，NBCA記録の一つのユニット上に記録する。 NBCA記録の長さは，4バイ

トの倍数とする。各NBCA記録は，表L.2に示すNBCA記録IDフィールド，バージョン番号フィールド，

データ長フィールド及び記録データフィールドで構成する。

表L.2−NBCA記録形式

相対的バイト位置(RBP)

内容

バイト数

0〜1

NBCA記録ID

2バイト

バージョン番号

1バイト

データ長

1バイト

4〜4m＋3

記録データ

4mバイト

m：正整数

106

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

RBP 0〜1−NBCA記録ID

このフィールドは，各NBCA記録のためにユニークに割り当てられたNBCA記録IDとする。

RBP 2−バージョン番号

このフィールドは，各NBCA記録のために別々に割り当てられたバージョン番号とする。

RBP 3−データ長

このフィールドは，記録データ長を規定する。

RBP 4〜4m＋3−記録データ

このフィールドは，4バイトの倍数とし，また，記録データだけを含んでいなければならない。

NBCA記録IDは，すべてのDVDの物理仕様に対し共通に定義し，また，表L.3に示す二つのカテゴ

リに分類する。

表L.3−NBCA記録IDのカテゴリ

NBCA記録ID

定義

(0000) 〜 (7FFF)

認可アプリケーションに割り当てる

(8000) 〜 (FFFF)

通知アプリケーションに割り当てる

二つ以上のNBCA記録をNBCAデータフィールドに記録する場合，各NBCA記録は，異なるNBCA記

録IDをもち，かつ，NBCA記録IDの昇順に記録する。情報データの (16n−4)バイトに対して調整するた

めにゼロを記録しなければならない。表L.4に情報データの例を示す。

表L.4−情報データの例

バイト位置

内容

バイト数

0〜11

NBCA記録No.1（8バイトの記録データ長）

12バイト

12〜31

NBCA記録No.2（16バイトの記録データ長）

20バイト

32〜43

後置ゼロ

12バイト

107

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書M

（規定）

ボーダゾーン

序文

この附属書は，ボーダゾーンについて規定する。

M.1 ボーダゾーンの構成

ボーダゾーンは，再生専用機器での読取中，光学ピックアップがファイナライズ前の未記録領域にオー

バーランをするのを防ぐ接続領域とする。

ボーダゾーンは，カレントボーダアウト及びネクストボーダインで構成する（図M.1参照）。

ボーダゾーンは，次のボーダ領域を示すために三つのネクストボーダマーカをもたなければならない。

ファイナライズ前のディスクが再生専用機器で読み取られるとき，ディスクはボーダアウト及びボーダ

インをもたなければならない。

リードアウトゾーンが後続するボーダアウトは，最初の37 ECCブロック（0〜36のユニット位置，図

M.6及び表M.6参照）で構成することができる。

カレントボーダアウト

ネクストボーダイン

ボーダゾーン

図M.1−ボーダゾーンの構造

ディスクの異なる領域での様々な状態のボーダゾーンは，図M.2に示す。

108

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

リード

アウト

ゾーン

第2インビジブルRゾーン

データレコーダブルゾーン

第1インビジブルRゾーン

a) ボーダ領域のないオープン状態

エクストラボーダゾーン

ボーダゾーン

リード

イン

ゾーン

ボーダ領域

第1完了Rゾーン

b) クローズ状態

c) ボーダ領域のあるオープン状態

d) ファイナライズ状態

第2完了Rゾーン

データゾーン

LLA : リンキングロスエリア

情報ゾーン

データレコーダブルゾーン

リード

イン

ゾーン

リード

イン

ゾーン

リード

イン

ゾーン

エクストラボーダゾーン

第1完了Rゾーン

第2インビジブルRゾーン

ボーダ領域

ボーダ

アウト

ボーダ

アウト

ボーダ

アウト

ボーダ

イン

ボーダ

イン

ボーダ

イン

ボーダ

アウト

データ記録領域の外側限界

図M.2−情報ゾーンでのボーダ記録例

109

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

M.2 ボーダゾーンサイズ

ボーダゾーンのサイズは，その位置及び順序に依存するものとする。

ボーダアウトのセクタ番号は，(03FEFF) より大きいものとする。

ボーダアウトは，ECCブロック境界で開始するものとする。

ボーダゾーンのサイズは，表M.1に示す。

表M.1−ボーダゾーンサイズ

ボーダアウト開始 PSN

(03FF00)
〜(0B25FF)

(0B2600)
〜(1656FF)

(165700) 〜データレコーダブルゾ
ーンの最外限度− （ボーダゾーンサ
イズ＋短縮ボーダアウトサイズ）

第1ボーダゾーン
サイズ

56 MB
1 792 ECCブロック

74 MB
2 368 ECC ブロック

92MB
2 944 ECCブロック

他のボーダゾーン
サイズ

12 MB
384 ECCブロック

15 MB
480 ECCブロック

19 MB
608 ECCブロック

M.3 ボーダゾーン情報

M.3.1 ボーダゾーン情報構造

ボーダゾーン情報構造は，図M.3に示す。

各ユニットの内容は，表M.2に示す。

各ユニットは，一つのECCブロックで構成する。

ボーダゾーン

RMDの
コピー

ストップブロック

ネクストボーダマーカ

1ユニット: 1ECC ブロック

(16 セクタ)

No.1

No.2

No.3

0 1 2 3 4 • • • • • • • • • • • • • • • •

• • • •

N
+1

N
+2

N
+3

N
+4

N
+5

N
+6

カレント

ボーダアウト

ネクスト

ボーダイン

図M.3−ボーダゾーン情報構造

第1ボーダマーカのアドレスは，次のように算出する。

第1ボーダマーカのアドレス＝［（ネクストボーダインの開始セクタ番号）＋（カレントボーダアウトの

開始セクタ番号）］/ 2

ネクストボーダインの開始セクタ番号及びカレントボーダアウト開始セクタ番号は，リードインゾーン

又はボーダインに記録する。

110

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表M.2−ボーダゾーン情報の内容

ユニット位置(UP)

内容

ボーダアウト

0〜4

カレントRMD

5〜36

予備

37，38

ストップブロック

39 〜M−1

予備

M〜M＋1

第1ネクストボーダマーカ

M＋2

第1ブロック同期ガード領域

M＋3〜M＋9

予備

M＋10〜M＋11

第2ネクストボーダマーカ

M＋12

第2ブロック同期ガード領域

M＋13〜M＋19

予備

M＋20〜M＋21

第3ネクストボーダマーカ

M＋22

第3ブロック同期ガード領域

M＋23〜N−1

予備

リンキングロス領域

ボーダイン

N＋1〜N＋5

最新物理フォーマット情報ブロック

N＋6

ブロック同期ガード領域

ユニット位置は，ボーダゾーンの初めからの相対的な位置に相当する。

M及びNは，各ボーダゾーンの位置及び順序に依存する。

(UP 0〜4) カレントRMD

この領域では，最新のRMDのコピーをボーダアウトの初めから5回連続で記録する。

カレントRMDの五つのコピーにおけるセクタのデータタイプビットは，“0”に設定する。

(UP 5〜36)

予備

(UP 37，38) ストップブロック

ストップブロックのエリアタイプはリードアウト属性であり，このブロックのメインデータは，(00)

に設定する。

(UP 39〜M−1)

予備

(UP M〜M＋1) 第1ネクストボーダマーカ

ネクストボーダマーカはボーダゾーンのボーダアウト内に配置され，このボーダゾーンに続く次のボ

ーダ領域があるか否かを示す。

次のボーダ領域がなければ，ネクストボーダマーカは記録してはならない。

次のボーダ領域がある場合は，ネクストボーダマーカは(00)又は同じボーダゾーン内にある最新物理

フォーマット情報ブロックのデータと同一のデータとを記録しなければならない（表 M.3 参照）。

ネクストボーダマーカの構造を，図M.4に示す。

最新物理フォーマット情報ブロックをネクストボーダマーカに記録する場合は，それぞれのネクスト

ボーダマーカ（第1〜第3）にロスレスリンキングで2度書きする（23.3参照）。

111

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ディスクをファイナライズするときは，それぞれのネクストボーダマーカの内容はリードアウト属性

の(00)で記録しなければならない。

ユニットM−1

ユニットM

ユニットM+2

ユニットM+1

1ECC ブロック

第1ネクストボーダマーカ

第1ブロック同期ガード領域

未記録状態

図M.4−ネクストボーダマーカの構造

(UP M＋2) 第1ブロック同期ガード領域

ブロック同期ガード領域は，次のECCブロックに記録されるデータを読むために使用する。ネクスト

ボーダマーカの記録後は，リンキングロス領域となる（箇条23参照）。

(UP M＋3〜M＋9)

予備

(UP M＋10〜M＋11) 第2ネクストボーダマーカ

このフィールドは，(UP M〜M＋1)第1ネクストボーダマーカの規定と同一である。

(UP M＋12) 第2ブロック同期ガード領域

このフィールドは，(UP M＋2)第1ブロック同期ガード領域の規定と同一である。

(UP M＋13〜M＋19)

予備

(UP M＋20〜M＋21) 第3ネクストボーダマーカ

このフィールドは，(UP M〜M＋1)第1ネクストボーダマーカの規定と同一である。

(UP M＋22) 第3ブロック同期ガード領域

このフィールドは，(UP M＋2)第1ブロック同期ガード領域の規定と同一である。

(UP M＋23〜N−1)

予備

(UP N) リンキングロス領域

箇条23 参照。

(UP N＋1〜N＋5) 最新物理フォーマット情報ブロック

このブロックを，図M.5に示す。同じブロックをこのフィールドで5回記録する。

このブロックは，表M.3に示すように，最新データ領域割付け(BP 4〜15)，カレントボーダアウト(BP

32〜35)の最新開始セクタ番号及びネクストボーダイン(BP 36〜39)の最新開始セクタ番号を含んでいる

最新物理フォーマット情報を規定する。

112

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

相対セクタ番号

最新物理フォーマット情報

製造情報*

すべて (00)

注*

25.1.3.1 参照。

図M.5−最新物理フォーマット情報ブロックの構造

表M.3−最新物理フォーマット情報

内容

バイト数

ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ディスクサイズ及びディスクの最大転送レート

ディスク構造

記録密度

4〜15

最新データ領域割付け

NBCA記述子

17〜31

予備

32〜39

ボーダゾーンの最新開始セクタ番号

40〜2 047 予備

2 008

(BP 0) ディスクカテゴリ及びバージョン番号

25.1.3.2 の規定と同じ。

(BP 1) ディスクサイズ及びディスクの最大転送レート

25.1.3.2 の規定と同じ。

(BP 2) ディスク構造

25.1.3.2 の規定と同じ。

(BP 3) 記録密度

25.1.3.2 の規定と同じ。

(BP 4〜15) 最新データ領域割付け

表M.4に定義する。

113

X 6249：2009 (ISO/IEC 23912：2005)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表M.4−最新データ領域割付け

内容

(00)

5 〜7

データ領域の開始セクタ番号 (030000)

(00)

9〜11

ボーダエリア最後のRゾーンの最終記録アドレス

(00)

13〜15 (000000)

(BP 16) NBCA記述子

25.1.3.2 の規定と同じ。

(BP 17〜31)

25.1.3.2 の規定と同じ。

(BP 32〜39) ボーダゾーンの最新開始セクタ番号

表M.5に定義する。

表M.5−ボーダゾーンの最新開始セクタ番号

内容

32〜35

カレントボーダアウトの開始セクタ番号

36〜39

ネクストボーダインの開始セクタ番号

カレントボーダアウトフィールドの開始セクタ番号は，現在のボーダエリアのボーダアウトの開始セ

クタ番号を規定する。

ネクストボーダインフィールドの開始セクタ番号は，次のボーダエリアのボーダインの開始セクタ番

号を規定する。このフィールドを(00)に設定した場合，次のボーダ領域は記録してはならない。

(BP 40〜2047) 予備

25.1.3.2 の規定と同じ。

(UP N＋6) ブロック同期ガード領域

このフィールドは，(UP M＋2)第1ブロック同期ガード領域の規定と同一である。

M.4 ボーダアウト及び短縮ボーダアウト

リードアウトゾーンが後続するボーダアウト及び短縮ボーダアウトは，ディスクを再生する場合，光学

ピックアップが未記録領域でオーバーランするのを防ぐ領域である。

ボーダアウト及び短縮ボーダアウトの構成は，表M.6に定義する。

ボーダエリアは，エキストラボーダゾーン又はボーダインとボーダアウト又は短縮ボーダアウトとの間

に位置するものとする。インクリメンタル記録モードでディスクのファイナライズをするとき，データゾ

ーンの終了位置で，リードアウトゾーンは，ボーダゾーンの代わりにディスク上でボーダアウト及び短縮

ボーダアウトの後に位置するものとする。インクリメンタル記録モードでファイナライズした後の構造例

を，図M.6に示す。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

a) データを完全に記録した単一のボーダエリア

(a) データを完全に記録した単一のボーダエリア

エキストラボーダゾーン

データレコーダブルゾーンの外周限界

LLA

リードイン

ゾーン

ボーダアウト
又は
TBO

リードアウト
ゾーン

≧ 92 MB

b) データを完全に記録した複数のボーダエリア

エキストラボーダゾーン

データレコーダブルゾーンの外周限界

LLA

ボーダアウト

ボーダイン

56 MB / 74 MB / 92 MB

LLA: リンキンギロス領域

TBO: 短縮ボーダアウト

リードイン

ゾーン

≧92 MB

ボーダアウト
又は
TBO

リードアウト
ゾーン

グ

図M.6−ファイナライズした後の情報領域構造の例

M.4.1 リードアウトゾーンが後に続くボーダアウト及び短縮ボーダアウトの最小サイズ

ボーダアウト又は短縮ボーダアウト及びリードアウトゾーンのサイズは，表M.6に示す。

表M.6−ボーダアウト又は短縮ボーダアウト及びリードアウトゾーンの最小サイズ

ボーダアウト又は
短縮ボーダアウトの
開始物理セクタ番号

(03FF00) 〜(0B25FF)

(0B2600) 〜 (1656FF)

(165700)〜データレコーダブル
ゾーンの最外限度−（ボーダア
ウトのサイズ又は短縮ボーダ
アウトのサイズ）

ボーダアウト又は
短縮ボーダアウト
及びリードアウトゾ
ーンのサイズ

56 MB
1 792 ECCブロック

74 MB
2 368 ECCブロック

92 MB
2 944のECCブロック

M.4.2 ボーダアウト及び短縮ボーダアウトの構造

各ユニットの内容は，表M.7に示す。

各ユニットは，一つのECCブロックで構成する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表M.7−リードアウトゾーンが後に続くボーダアウト及び短縮ボーダアウトの構成

ユニット位置

内容

ボーダアウト

短縮ボーダアウト

0〜4

カレントRMD

5〜36

(00) に設定

37，38

ストップブロック

（リードアウトゾーン）

39〜M−1

予備

M〜M＋1

第1ネクストボーダ
マーカ［すべて(00)］

M＋2

第1ブロック同期ガード
領域

M＋3〜M＋9

予備

M＋10〜M＋11 第2ネクストボーダ

マーカ［すべて(00)］

M＋12

第2ブロック同期ガード
領域

M＋13〜M＋19 予備

M＋20〜M＋21 第3ネクストボーダ

マーカ［すべて(00)］

M＋22

第3ブロック同期ガード
領域

M＋23〜N−1

予備

リンキングロス領域

N＋1〜

（リードアウトゾーン）

ユニット位置は，ボーダゾーンの始めからの相対的位置に相当する。

M及びNは，各ボーダゾーンの位置及び順序に依存する。

各ユニット位置の内容は，表M.2のものと同一とする。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書N
（規定）

記録ストラテジの変形

序文

この附属書は，記録ストラテジの変形について規定する。

14.3に規定する基本記録ストラテジに加えて，次の記録ストラテジの変形を推奨する（図N.1参照）。

Tを1クロック周期の長さを表すものとするとき，4Tから11Tの長さの各記録パルスは，先頭パルスと

連続マルチパルス列との二つの部分からなる。

3Tの長さの記録パルスは，先頭パルスだけを用いる。

先頭パルスは，記録データの立上がりエッジの後から始まり，必ず記録データの立上がりエッジから3T

のところで終了する（Tはクロック周期を表す）。先頭パルスの幅(Ttop)は，27.3.6.3で規定される記録スト

ラテジコードに従って，データの長さ(Twd)によって選択する。

トップパルスの立上がりと立下がりエッジは，時間軸方向に独立に動かせる。立上がりエッジの移動量

(Tld)と立下がりエッジの移動量(Ttr)は，前スペースの長さ(Tsp)と記録データの長さ(Twd)とに従って選択する。

詳細なパラメタは記録ストラテジコードによって得られる（27.3.6.3参照）。

マルチパルス列は，記録データの立上がりエッジから3Tの時間のところで始まり，記録データの立下

がりのところで終わる。マルチパルス列のパルス周期は，Tでなければならない。その幅(Tmp)は，記録デ

ータの長さには依存しない。このパラメタは，記録ストラテジコードによって得られる（27.3.6.3参照）。

記録データ

記録パルス

Twd(8T)

Twd(3T)

Ttop

Tmp

Tsp(3T)

＋Ttr

−Ttr

+Tld

−Tld

＋Tld

−Tld

＋Ttr

−Ttr

ゼロレベル

図N.1−記録ストラテジの変形

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書P

（規定）

ランドプリピット信号の測定方法

序文

この附属書は，ランドプリピット信号の測定方法について規定する。

ランドプリピット信号の測定方法のブロックダイヤグラムを，図P.1に示す。ランドプリピット検出器

の例を，図P.2に示す。

アンプ

プリピット
デコーダ

Ia+Ib+Ic+Id

(Ia+Ib)−(Ic+Id)

ゲイン調整

バランス
調整

LPF

ランドプリピット

検出器

−

アンプ

図P.1−ランドプリピット信号測定ブロックダイヤグラム

ウォブルPLLからの 140 kHz

プリピット
デコーダ

過大入力リミッタ

BPF

ノイズゲート

比較器

過大入力リミッタは，ウォブル信号振幅よりも大きなノイズ成分を除去するために用意されている。
V1及びV2は各機器の適度な電圧
バンドパスフィルタ：4次

中心周波数＝140.6 kHz（ウォブル周波数）
遮断周波数＝±42.2 kHz（−3 dB）

図P.2−ランドプリピット検出器の例

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書Q
（参考）

輸送

序文

この附属書は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではない。

Q.1 一般

輸送は，例えば，異なる期間，様々な輸送方法によって，そして世界の各所で，広い範囲の温度及び湿

度の変動の中で行われるので，輸送又は包装の必す（須）条件を規定することは不可能である。

Q.2 包装

包装の形態は，送付元と受領先との間で合意を得ておくことが望ましいが，そのような合意がない場合

は，送付元の責任とする。次のような損害を考慮しておくことが望ましい。

Q.2.1 温度及び湿度

断熱及び包装は，輸送の見込まれる期間中にわたる保存条件を維持するように設計することが望ましい。

Q.2.2 衝撃負荷及び振動

a) ディスクの形状にひずみを与える機械的負荷を避ける。

b) ディスクの落下を避ける。

c) ディスクは，適切な衝撃吸収材料を含む堅い箱にこん包することが望ましい。

d) 個装箱は，清浄な内部並びに汚れ及び湿気の侵入を防ぐシールをした構造をもつことが望ましい。