JISX6246:2005 １２０ｍｍ（４．７ＧＢ／面）及び８０ｍｍ（１．４６ＧＢ／面）ＤＶＤ－書換形ディスク（ＤＶＤ

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会(OITDA)／財団

法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業

標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO/IEC 17592:2004，Information

Technology-120 mm (4.7 Gbytes per side) and 80 mm (1.46 Gbytes per side) DVD Rewritable Disk (DVD-RAM)を

基礎として用いた。

この規格に従うことは，次に示す企業が管理する特許権の使用に該当するおそれがある。

株式会社東芝

コーニンクレッカ・フィリップス・エレクトロニクス・エヌヴィ

なお，この記載は、上記に示す企業が管理する特許権の効力，範囲などに関して何ら影響を与えるもの

ではない。

この規格の原案作成団体である財団法人光産業技術振興協会は，上記の企業の子会社である東芝ＤＶＤ

ライセンス株式会社，日本フィリップス株式会社が，日本工業標準調査会に対して，それぞれの親会社で

ある株式会社東芝及びコーニンクレッカ・フィリップス・エレクトロニクス・エヌヴィが，非差別的，か

つ，合理的な条件で，いかなる者に対しても当該特許権の実施を許諾する意志があることを保証している

ことを表明している旨述べている。

この規格の一部が，上記に示す以外の技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，

又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，

このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登

録出願に係わる確認について，責任はもたない。

JIS X 6246には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）角度偏差αの測定

附属書B（規定）複屈折の測定

附属書C（規定）位相差トラッキングエラー信号の測定方法

附属書D（規定）反射率の校正及び測定方法

附属書E（規定）ディスククランプのためのテーパコーン

附属書F（規定）動作信号の測定条件

附属書G（規定）RLL(2, 10)制約の8-16記号符号

附属書H（規定）書込みパルスの定義

附属書J（規定）バーストカッティング領域（BCA)

附属書K（参考）ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のためのガイドライン

附属書L（参考）輸送

附属書M（参考）セクタ置換えのガイドライン

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004) 目次

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

序文 ··································································································································· 1

第1章一般事項 ················································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 2

2.1 光ディスク ··················································································································· 2

2.2 製造システム ················································································································ 2

2.3 情報再生システム ········································································································· 2

3. 引用規格 ························································································································ 2

4. 定義 ······························································································································ 2

5. 慣例及び表記法 ··············································································································· 3

5.1 数値表示 ······················································································································ 3

6. 略語 ······························································································································ 3

7. ディスクの概要 ··············································································································· 4

8. 一般要求事項 ·················································································································· 5

8.1 環境条件 ······················································································································ 5

8.2 安全性 ························································································································· 6

8.3 耐燃性 ························································································································· 6

9. 基準ドライブ ·················································································································· 6

9.1 光ヘッド ······················································································································ 6

9.2 読取りチャネル ············································································································· 7

9.3 回転速度 ······················································································································ 7

9.4 ディスクのクランプ ······································································································· 7

9.5 正規化サーボ伝達関数 ···································································································· 8

9.6 軸方向のトラッキング基準サーボ······················································································ 8

9.7 半径方向のトラッキング基準サーボ··················································································· 9

第2章ディスクの寸法，機械的及び物理的特性 ······································································ 10

10. 寸法特性 ····················································································································· 10

10.1 全体寸法 ···················································································································· 12

10.2 第1遷移領域 ·············································································································· 12

10.3 第2遷移領域 ·············································································································· 12

10.4 クランプゾーン ··········································································································· 12

10.5 第3遷移領域 ·············································································································· 12

10.6 リム領域 ···················································································································· 13

10.7 許容差についての注意 ·································································································· 13

10.8 レーベル ···················································································································· 13

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004) 目次

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11. 機械的特性··················································································································· 13

11.1 質量 ·························································································································· 13

11.2 慣性モーメント ··········································································································· 13

11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 13

11.4 回転方向 ···················································································································· 13

11.5 振れ量 ······················································································································· 13

12. 光学的特性 ·················································································································· 14

12.1 屈折率 ······················································································································· 14

12.2 透明基板の厚さ ··········································································································· 14

12.3 角度偏差 ···················································································································· 14

12.4 透明基板の複屈折 ········································································································ 14

12.5 反射率 ······················································································································· 14

第3章情報のフォーマット ································································································· 15

13. データフォーマット ······································································································ 15

13.1 データフレーム ··········································································································· 15

13.2 スクランブルドフレーム ······························································································· 17

13.3 ECCブロック ············································································································· 18

13.4 記録フレーム ·············································································································· 19

13.5 記録符号及びNRZI変換 ······························································································· 19

13.6 記録データフィールド ·································································································· 20

13.7 直流成分抑圧制御 ········································································································ 21

14. トラックフォーマット ··································································································· 22

14.1 トラック形状 ·············································································································· 22

14.2 トラック経路 ·············································································································· 22

14.3 トラックピッチ ··········································································································· 22

14.4 トラックレイアウト ····································································································· 22

14.5 回転速度 ···················································································································· 23

14.6 半径方向のアライメント ······························································································· 24

14.7 セクタ番号 ················································································································· 24

15. セクタフォーマット ······································································································ 24

15.1 セクタレイアウト ········································································································ 24

15.2 VFOフィールド ·········································································································· 26

15.3 アドレスマーク(AM) ·································································································· 27

15.4 物理識別データ(PID)フィールド ····················································································· 27

15.5 物理ID誤り検出符号(PED)フィールド ············································································ 27

15.6 ポストアンブル1，2(PA1，PA2)フィールド ······································································ 28

15.7 ミラーフィールド ········································································································ 29

15.8 ギャップフィールド ····································································································· 29

15.9 ガード1フィールド ····································································································· 29

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004) 目次

（4）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

15.10 プリシンク符号(PS)フィールド ····················································································· 29

15.11 データフィールド ······································································································· 29

15.12 ポストアンブル(PA3)フィールド ··················································································· 29

15.13 ガード2フィールド ··································································································· 30

15.14 記録極性のランダム化 ································································································ 30

15.15 バッファフィールド ··································································································· 30

16. 情報ゾーンのフォーマット ····························································································· 30

16.1 情報ゾーンの区分 ········································································································ 30

16.2 リードインゾーン ········································································································ 34

16.3 データゾーン ·············································································································· 51

16.4 リードアウトゾーン ····································································································· 55

17. 欠陥管理 ····················································································································· 56

17.1 欠陥管理領域(DMA) ··································································································· 56

17.2 ディスク定義構造(DDS) ······························································································ 57

17.3 スペアセクタ ·············································································································· 59

17.4 スリッピングアルゴリズム ···························································································· 60

17.5 リニアリプレイスメントアルゴリズム ············································································· 61

17.6 一次欠陥管理表(PDL) ································································································· 63

17.7 二次欠陥管理表(SDL) ·································································································· 64

17.8 ディスクのフォーマッティング ······················································································ 66

17.9 書込み手順 ················································································································· 69

17.10 読取り手順 ··············································································································· 69

第4章エンボス情報の特性 ································································································· 70

18. 試験方法 ····················································································································· 70

18.1 環境条件 ···················································································································· 70

18.2 基準ドライブ ·············································································································· 70

18.3 信号の定義 ················································································································· 70

19. ランド及びグループからの信号 ······················································································· 75

19.1 プッシュプル信号 ········································································································ 75

19.2 デバイデットプッシュプル信号 ······················································································ 75

19.3 オントラック信号 ········································································································ 75

19.4 位相深さ ···················································································································· 75

19.5 ウォブル信号 ·············································································································· 76

20. 書換可能領域のヘッダフィールドからの信号 ······································································ 76

20.1 VFO1及びVFO2 ········································································································· 76

20.2 アドレスマーク，PID，PED及びポストアンブル ······························································ 77

20.3 ヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号 ······················································· 77

20.4 位相深さ ···················································································································· 78

21. エンボス領域からの信号 ································································································ 78

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004) 目次

（5）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

21.1 高周波(HF)信号 ··········································································································· 78

21.2 ジッタ ······················································································································· 79

21.3 サーボ信号 ················································································································· 79

第5章記録層の特性 ·········································································································· 81

22. 試験方法 ····················································································································· 81

22.1 環境条件 ···················································································································· 81

22.2 基準ドライブ ·············································································································· 81

22.3 書込み条件 ················································································································· 82

22.4 信号の定義 ················································································································· 85

23. 書込み特性 ·················································································································· 86

23.1 変調振幅及び信号の非対称性 ························································································· 86

23.2 ジッタ ······················································································································· 86

第6章ユーザデータの特性 ································································································· 87

24. 試験方法 ····················································································································· 87

附属書A（規定）角度偏差αの測定 ······················································································· 88

附属書B（規定）複屈折の測定 ······························································································ 89

附属書C（規定）位相差トラッキングエラー信号の測定方法························································ 91

附属書D（規定）反射率の校正及び測定方法 ············································································ 94

附属書E（規定）ディスククランプのためのテーパコーン ··························································· 96

附属書F（規定）動作信号の測定条件 ······················································································ 97

附属書G（規定）RLL(2，10)制約の8-16記録符号 ····································································· 99

附属書H（規定）書込みパルスの定義 ···················································································· 115

附属書J（規定）バーストカッティング領域(BCA) ···································································· 117

附属書K（参考）ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のためのガイドライン ············· 123

附属書L（参考）輸送 ········································································································· 124

附属書M（参考）セクタ置換えのガイドライン ········································································ 125

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6246：2005

(ISO/IEC 17592：2004)

120 mm (4.7 GB／面)及び

80 mm(1.46 GB／面)DVD-書換形ディスク

（DVD-RAM)

120 mm (4.7 Gbyte per side) and 80 mm (1.46 Gbyte per side) DVD

Rewritable Disk (DVD-RAM)

序文この規格は，2004年に第1版として発行されたISO/IEC 17592:Information Technology-120 mm (4.7

Gbytes per side) and 80 mm (1.46 Gbytes per side) DVD Rewritable Disk (DVD-RAM)を翻訳し，技術的内容及び

規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

第1章一般事項

1. 適用範囲この規格は，120 mm［4.7ギガバイト（以下，GBという。）/ 面］及び80 mm (1.46GB/ 面)DVD-

書換形ディスク(以下，ディスクという。)の互換性を可能にする機械的特性，物理的特性及び光学的特性

を規定するとともに，情報交換を可能にする記録した信号の品質，データのフォーマット及び記録方法に

ついて規定する。データは，相変化方式を用いて，多数回の書込み，読取り及びオーバライトが可能であ

る。直径によって120 mm及び80 mmの2種類の容量を規定する。

この規格は，次の項目について規定する。

− 二つの関連する異なるタイプのディスク(7.参照)

− 適合条件

− ディスクの試験環境，使用環境及び保存環境

− データ処理システム間の機械的互換性のためのディスクの機械的特性，物理的特性及び寸法特性

− トラック及びセクタの物理的配置，誤り訂正符号及び符号化方法を含むディスク上の情報のフォー

マット

− データ処理システムがディスクからのデータ読取りを可能にするためのディスク上の記録信号特性

この規格は，ディスクとドライブ間との互換性を与えるものである。ボリューム及びファイル構造の規

格とともに，この規格は，データ処理システム間の完全なデータの互換性を与えるものである。この規格

に規定するディスクは，JIS X 6247に規定するケースに収納してもよい。

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21に基づき，IDT（一致している），MOD（修

正している），NEQ（同等でない）とする。

ISO/IEC 17592:2004，Information Technology-120 mm (4.7 Gbytes per side) and 80 mm (1.46 Gbytes

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

per side) DVD Rewritable Disk (DVD-RAM) (IDT)

2. 適合性

2.1

光ディスクこの規格は，ディスクのタイプを規定する。ディスクは，ここに規定するすべての要

求事項を満たすとき，この規格に適合する。

2.2

製造システムフォーマットの製造システムは，製造するディスクが2.1に一致するとき，この規

格に適合する。

2.3

情報再生システム情報再生システムは，2.1に適合するディスクを取り扱うことができるならば，

この規格に適合する。

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS X 0221-1 国際符号化文字集合(UCS)―第1部：体系及び基本多語面

備考 ISO/IEC 10646-1:2000, Information technology−Universal Multiple-Octet Corded Character Set

(USC)−Part 1:Architecture and Basic Multilingual Planeがこの規格と一致している。

JIS X 6247 120 mm及び80 mm DVD-RAM用ケース

備考 ISO/IEC 17594:2004, Information technology−Cases for 120 mm and 80 mm DVD-RAM disks

ECMA-287 Safety of electoronic equipment

4. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

4.1 ケース(Case) ディスクを保護するための入れ物。

4.2 チャネルビット(Channel bit) 変調後の2値の“0”及び“1”をディスク上のピット又はマークで表す

要素。

4.3 ディジタル総計値(DSV)[Digital Sum Value(DSV)] 10進数の数値1をビット“1”及び10進数の数

値−1をビット“0”に割り当てることによってビットストリームから得た算術和。

4.4 ディスク基準面(Disk reference plane) ディスクをクランプするための基準となる，ディスク表面

にある環状の平面であって，理想的なスピンドルの回転軸に対して垂直に位置する面。

4.5 ダミー基板(Dummy substrate) ディスク及び/又は記録層を機械的に支持するために用意した透明

又は不透明な基体。

4.6 エンボスマーク(Embossed mark) 光学的方法で変更できないように形成したマーク。

4.7 入射面(Entrance surface) 光ビームが最初に当たるディスクの表面。

4.8 ランド及びグルーブ(Land and Groove) 情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト

ラック位置を明らかにするために用いられ，グルーブは，それと一対でトラックを構成するランドよりも

入射面に近い方に位置する。グルーブの中心及びランドの中心の両方に記録を行う。

4.9 マーク(Mark) ピット，非晶質の形態又は光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マーク

及びスペースのパターンがディスクのデータを表す。

4.10 相変化(Phase change) 記録膜に光ビームを照射して加熱することによって，可逆的に非晶質状態

から結晶状態，又はその逆方向に変化する物理的効果。

4.11 偏光(Polarization) 光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状態。光ビームの偏光

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

方向は，光ビームの電気ベクトルの方向。

備考偏光面は，光ビームの伝ぱ(播)方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝ぱ(播)方

向から見て，電気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を，右回転偏光という。

4.12 記録層(Recording layer) 製造及び/又は使用時にデータを書き込むディスク上又はディスク内の

層。

4.13 セクタ(Sector) ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で，アドレス指定可能な最小領域。

4.14 スペース(Space) 非ピット，結晶の形態又は光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マー

ク及びスペースのパターンがディスクのデータを表す。

4.15 基板(Substrate) 記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。これを通して光ビームで記録層

にアクセスする。

4.16 トラック(Track) 360°回転の連続スパイラル。

4.17 トラックピッチ(Track pitch) 隣接するトラック(グルーブ及びランド)中心線間の半径方向の距離。

4.18 ZCLV(ZCLV) ゾーン間で定線速度動作に必要なディスクフォーマット。

4.19 ゾーン(Zone) ディスクの環状領域。

慣例及び表記法

5.1

数値表示測定値は，該当規格値の最下位けた(桁)に丸める。例えば，＋0.01のプラス許容差と−

0.02のマイナス許容差をもつ1.26という規格値は，1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。

10進数は，0から9までの数字で表す。

16進数は，括弧でくくった，0から9までのアラビア数字とAからFまでのアルファベット

で表す。

ビットの設定は，“0”及び“1”で表す。

2進数及びビットパターンは，左側を最上位ビットとし，“0”及び“1”の一連で表す。

2進数の負の値は，2の補数として表す。

各フィールドで，データは，バイト0とする最上位のバイト(MSB)を最初に記録し，最下位バイト(LSB)

を最後に記録する。

8nビットのフィールドで，ビットb(8n−1)は，最上位ビット(msb)とし，ビットb0は，最下位ビット(lsb)

としなければならない。

ビットb(8n−1)を最初に記録する。

“0”又は“1”どちらかをとれる2進の数字は，“x”で表す。

6. 略語
AM

：Address Mark アドレスマーク

BCA ：Burst Cutting Area バーストカッティング領域

BPF ：Band Pass Filter 帯域フィルタ

DCC ：DC Component Suppress Control 直流成分抑圧制御

DDS ：Disk Definition Structure ディスク定義構造

DMA ：Defect Management Area 欠陥管理領域

DSV ：Digital Sum Value ディジタル総計値

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ECC ：Error Correction Code 誤り訂正符号

EDC ：Error Detection Code 誤り検出符号

：High Frequency 高周波

：Identification Data 識別データ

IED

：ID Error Detection Code ID誤り検出符号

LPF ：Low Pass Filter 低域フィルタ

lsb

：least significant bit 最下位ビット

LSB ：Least Significant Byte 最下位バイト

LSN ：Logical Sector Number 論理セクタ番号

msb

：most significant bit 最上位ビット

MSB ：Most Significant Byte 最上位バイト

NRZ ：Non Return to Zero 非ゼロ復帰

NRZI ：Non Retum to Zero Inverted 非ゼロ反転復帰

：Postamble ポストアンブル

PDL ：Primary Defect List 一次欠陥管理表

PED ：P(ID) Error Detection code 物理ID誤り検出符号

：Parity of Inner-code 内符号パリティ

PID

：Physical Identification Data 物理識別データ

PLL ：Phase-Locked Loop 位相同期ループ

：Parity of Outer-Code 外符号パリティ

：Pre-Synchronous Code プリシンク符号

：Reed-Solomon Code リードソロモン符号

SDL ：Secondary Defect List 二次欠陥管理表

SLR ：Status of Linear Replacement リニアリプレイスメントの状態

SYNC Code：Synchronous Code 同期符号

VFO ：Variable Frequency Oscillator VFO信号

ZCLV ：Zoned Constant Linear Velocity ゾーン化された線速度一定方式

ディスクの概要この規格で規定するディスクは，記録層を内側にして，2枚の基板を接着層ではり

合わせた構造をもつ。ディスクの中心位置決めは，読取り側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプ

は，クランプゾーンで行う。クランプゾーンの最内周からリードアウトゾーンの最外周までの領域は，接

着剤によって接着する。この規格は，次の二つのタイプについて規定する。

タイプ1S 一つの基板，一つの記録層及びダミー基板からなり，記録層には，一方向だけからアクセス

できる。公称容量は，120 mm ディスクは4.7ギガバイト，80 mm ディスクは1.46ギガバイトである。

タイプ2S 二つの基板，二つの記録層からなり，ディスクの片面からは，一つの記録層だけにアクセス

できる。公称容量は，120 mm ディスクは9.4ギガバイト，80 mm ディスクは2.92ギガバイトである。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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タイプ1Sでは，ダミー基板は，例えば，エンボスしてもよい。

JIS X 6247 に規定したケースを使用するとき，タイプ1Sの120 mmディスクは，タイプ1，タイプ

2，タイプ3又はタイプ5のケースタイプのいずれに収納してもよい。タイプ2Sの120 mmディスクは，

タイプ1，タイプ3，タイプ4又はタイプ5のケースタイプのいずれに収納してもよい。タイプ1Sの80 mm

ディスクは，タイプ7又はタイプ9のケースタイプのいずれに収納してもよい。タイプ2Sの80 mmディ

スクは，タイプ6又はタイプ8のケースタイプのいずれに収納してもよい。

データは，非晶質状態及び結晶状態の間の相変化効果を利用して，結晶の記録層に非晶質部分を形成し

てマークとしてディスクに書込み，また集束光でその上にオーバライトすることができる。データは，非

晶質状態及び結晶状態の間の相変化効果を利用して，集束光で読み取ることができる。光ビームは，ディ

スクの透明基板を通して記録層にアクセスする。

ディスクの一部分は，製造業者によってエンボスピットの形で形成された再生専用データを含む。こ

のデータは，エンボスピットによる光ビームの回折を利用して読み取ることができる。図1に，これらの

二つのタイプを図示する。

図1 DVD-RAMディスクのタイプ

一般要求事項

8.1

環境条件

8.1.1 試験環境条件試験環境条件は，ディスク近傍の環境条件とし，次による。

温度：23 ℃±2 ℃

相対湿度：50 ％±5 ％

大気圧：86〜106 kPa

ディスク上に結露があってはならない。試験前に，ディスクを最少48時間この環境条件に放置するも

のとする。試験前に，光ディスクの読取り表面をディスク製造業者の指示書に従って清浄することを推奨

入射面

基板

記録層

接着層

ダミー基板

タイプ 1S

入射面

基板

記録層

接着層

記録層

基板

タイプ 2S

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する。

別に規定しない限り，すべての試験及び測定は，この試験環境条件で行わなければならない。

8.1.2 動作環境条件この規格によって，規定した測定環境でこの規格のすべての要求事項を満たすディ

スクは，動作環境条件において，環境パラメータの規定範囲にわたってデータ交換ができなければならな

い。

動作環境条件は，ディスク近傍の環境条件とし，次による。

温度：5〜60 ℃

相対湿度：3〜85 ％

絶対湿度：1〜30 g / m3

温度変動：最大10 ℃ / h

相対湿度変動：最大10 ％ / h

ディスク上に結露があってはならない。ディスクがこの項に規定する条件以外の条件にさらされたとき，

動作前に少なくとも2時間，動作環境条件にならしてから使用するものとする。

8.1.3 保存環境条件保存環境条件は，ディスク近傍の環境条件とし，次による。

温度：−10〜50 ℃

相対湿度：3〜85 ％

絶対湿度：1〜30 g / m3

大気圧：75〜l06 kPa

温度変動：最大10 ℃ / h

相対湿度変動：最大10 ％ / h

ディスク上に結露があってはならない。

8.1.4 輸送この規格は，輸送については規定しないが指針を附属書Lに示す。

8.2

安全性ディスクは，情報処理システムにおいて意図された方法での使用時又は想定される使用時

に，ECMA-287の安全性に関する要求事項を満たすものとする。

8.3

耐燃性ディスクは，もしマッチで点火されたとしても二酸化炭素雰囲気中で燃え続けない材料で

作られるものとする。

基準ドライブこの規格の要求事項に適合した光学的パラメータの測定には，基準ドライブを用い

る。この基準ドライブの基本構成要素は，この箇条の特性を満たすものとする。

9.1

光ヘッドオーバライト及び読取りのパラメータを測定するために用いる基準ドライブの光学的シ

ステムの基本的構成を図2に示す。図2の構成の機能と同じであれば，異なる部品及び部品の異なる配置

を許容する。光学系は，測定の精度に影響しないようにするために，ディスクの入射面から反射した光の

影響を最小化するものとする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

A : レーザダイオード F : ディスク

B : コリメータレンズ G : 四分割フォトディテクタ

C : 偏光ビームスプリッタ H1， H2， H3， H4 : 直流結合増幅器

D : 1 / 4波長板 Ia， Ib ，Ic， Id : 四分割フォトディテクタ出力

E : 対物レンズ I1， I2 : H1， H2の出力

図2 基準ドライブの光学的システム

偏光ビームスプリッタCを1/4波長板Dと組み合わせることによって，入射光とディスクFからの反

射光は分離される。偏光ビームスプリッタCのP偏光及びS偏光の強度反射率の比は，100以上とする。

書込み及び読取りデータのために用いる集束光の特性は，次による。
波長()

650

10
5

+−

偏光：円偏光

偏光ビームスプリッタ：別に規定しない限り使用するものとする。

開口数： 0.60±0.01

対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度：半径方向は最大光強度レベルの30 %以上55 %以下

接線方向は最大光強度レベルの少なくとも50 %以上

厚さ0.6 mm，屈折率1.56の理想的な

単層ディスク基板を通した後の波面収差：最大0.033 λ rms

レーザダイオードの相対ノイズ強度(RIN)

RIN(dB/Hz)＝10 log [(交流光パワー実効値/Hz) / 直流光パワー]：最大−134 dB/Hz

9.2

読取りチャネル読取りチャネル1は，対物レンズの出射ひとみ(瞳)の総光量を検出するものとす

る。読取りチャネル2は，分割フォトディテクタの差動出力を検出するものとする。

波形等化器の周波数特性，PLL，スライサなどの特性は，附属書Fに規定する。

接線方向

トラッキングチャネル

読取りチャネル2

半径方向

四分割フォトディテクタ G

読取りチャネル1

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

9.3

回転速度実際の回転速度は，表3及び表4で定義する公称回転速度の1 ％以内とする。

9.4

ディスクのクランプ

ディスクのクランプ力：2.0 N±0.5 N

テーパコーンの角度：40.0 °±0.5 °(附属書E参照)

9.5

正規化サーボ伝達関数軸方向と半径方向のトラッキングのサーボシステムを規定するために，関

数HSを用いる[式(1)参照]。それは31.2 Hzから10 kHzの周波数範囲において，基準サーボの開ループ伝達

関数Hの公称値を規定する。

()

iω

···················································· (1)

ここに，

−

＝

f0は，開ループ伝達関数の0 dBクロスオーバ周波数。サーボの位相進み遅れ回路のクロスオーバ周波数

は，次による。

進み交差周波数：f 1 ＝ f0 × 1 / 3

遅れ交差周波数：f 2 ＝ f0 × 3

9.6

軸方向のトラッキング基準サーボ軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し，

| 1＋H |は，図3に示すハッチング領域内にある。

図3 軸方向のトラッキング基準サーボ

100 Hzから10 kHzまでの帯域幅 |1＋H| は，|1＋HS | の20 ％以内でなければならない。クロスオ

ーバ周波数f0＝ω0 / 2π は，式(2)による。

kHz

7.2

5.1

2π

6 -

max

······························ (2)

周波数（ Hz ）

利
得

86.

66.

62.

49.

45.

22.31.2 54.

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに，αmaxは，軸方向の最大加速度期待値15 m/s2の1.5倍，最大許容トラッキングエラーemaxは，

0.23 μmとする。

軸方向のトラッキングエラーは，0レベルより内側又は外側の，軸方向に測定したピーク偏差である。

31.2 Hzから100 Hzまでの帯域幅 |1＋H|は，次の4点で囲まれる範囲内とする。

100 Hzで45.8 dB (100 Hzで |1＋HS |−20 ％ )

31.2 Hzで66.0 dB (31.2 Hzで |1＋HS |−20 ％ )

31.2 Hzで86.0 dB (31.2 Hzで |1＋HS |−20 ％に20 dB加える。)

100 Hzで49.3 dB (100 Hzで |1＋HS |＋20 ％ )

22.9 Hzから31.2 Hzまでの帯域幅 |1＋H | は，66.0 dBと86.0 dBの間になければならない。

9.7

半径方向のトラッキング基準サーボ半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに

対し，|1＋H |は，図4に示すハッチングの領域内にある。

図4 半径方向のトラッキング基準サーボ

100 Hzから10 kHzまでの帯域幅 |1＋H |は，|1＋HS|の20 ％以内でなければならない。クロスオー

バ周波数f0＝ω0 / 2πは，式(3)による。

kHz

9.3

022

5.1

9.2

2π

6 -

max

······································ (3)

ここに，αmaxは，半径方向の最大加速度期待値2.9 m/s2の1.5倍，最大許容トラッキングエラーemax

は，0.022 μmとする。

半径方向のトラッキングエラーは，0レベルより内側又は外側の，半径方向に測定したピーク偏差であ

る。

54.1 Hzから100 Hzまでの帯域幅 |1＋H | は，次の4点で囲まれる範囲内とする。

100 Hzで52.2 dB ( 100 Hzで |1＋HS |−20 ％ )

周波数（Hz）

利
得

82.7

62.7

61.1
55.7

52.2

22.9

54.1

2.9

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

54.1 Hzで62.7 dB ( 54.1 Hzで |1＋HS|−20 ％ )

54.1 Hzで82.7 dB ( 54.1 Hzで |1＋HS|−20 ％に20 dB加える。)

100 Hzで55.7 dB ( 100 Hzで |1＋HS|＋20 ％ )

22.9 Hzから54.1 Hzまでの帯域幅 |1＋H |は，62.7 dBと82.7 dBの間になければならない。

第2章ディスクの寸法並び機械的及び物理的特性

10.

寸法特性寸法特性は，ディスクの互換性及び適合させるために上に必要なパラメータについて規

定する。設計の自由度があるところは，機能特性の要素規定にとどめる。寸法要求事項は，この規格に規

定している図面にまとめて示す。ディスクの各部分について，中心孔から外周部までを規定している。

寸法は，二つのディスク基準面P及びQを基準とする。

基準面Pは，主基準面とし，クランプゾーン(10.4参照)の下側の面とする。

基準面Qは，クランプゾーンの上側の面の高さで基準面Pと平行な面とする。

図5〜図7参照。

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図5 組立ディスクの孔

図6 ディスクの領域

図7 リム領域

15.00mm

最小

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10.1

全体寸法 120 mmディスクの直径(d1)は，次による。

d1＝120.00 mm±0.30 mm

80 mmディスクの直径(d1)は，次による。

d1＝80.00 mm±0.30 mm

基板又はダミー基板の中心孔の直径(d2)は，次による。

d2＝

2枚の基板をはり合わせたとき，ディスクの中心孔の直径の最小値は，15.00 mmとする(図5参照)。

中心孔の両方のエッジにばりがあってはならない。

中心孔のエッジは，丸めるか面取りしなければならない。丸みの半径は，0.1 mm以下とする。面取り

は，0.1 mm以上の高さを超えてはならない。

接着層，スペーサ及びレーベルを含むディスクの厚さは，次による。

.0 +

−

10.2

第1遷移領域第1遷移領域は，直径d2及び次に示す直径d3で囲まれた領域とし，この領域のデ

ィスク面は，基準面P及び/又は基準面Qから最大0.10 mmの内側にあってもよい。

d3 ≧ 16.00 mm

10.3

第2遷移領域第2遷移領域は，直径d3及び次に示す直径d4に囲まれた領域とする。

d4 ≦ 22.0 mm

この領域では，基準面P又はQの外側に最大0.05 mmの平たんでない部分やばりがあってもよい。

10.4

クランプゾーンクランプゾーンは，直径d4及び次に示す直径d5に囲まれた領域とする。

d5 ≧ 33.0 mm

クランプゾーンの各面は，0.1 mm以内で平たんでなければならない。クランプゾーンの上面，すなわ

ち，基準面Qの面は，下面，すなわち，基準面Pの面に0.1 mm以内で平行でなければならない。

クランプゾーンの，ディスクの厚さ( )は，次による。

.0 +

−

10.5

第3遷移領域第3遷移領域は，直径d5及び次に示す直径d6で囲まれた領域とする。

d6 ≦ 44.0 mm

この領域では，ディスクの上面は，基準面Qから高さh1高くなってもよく，高さh2低くなってもよい。

ディスクの下面は，基準面Pから高さh3高くなってもよく，高さh4低くなってもよい。

高さh1，h2，h3及びh4の値は，次による。

h1 ≦ 0.25 mm

h2 ≦ 0.10 mm

h3 ≦ 0.10 mm

h4 ≦ 0.25 mm

120 mmディスクの情報ゾーンは直径d6から次の直径d7まで及ぶものとする。

117

4.0

−

80 mmのディスクの情報ゾーンは直径d6から次の直径d7まで及ぶものとする。

4.0

−

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10.6 リム領域リム領域は，直径d7から直径d1の領域とする(図7参照)。

この領域では，ディスクの上面は，基準面Qから高さh5高くなってもよい。ディスクの下面は，基準

面Pから高さh6低くなってもよい。

高さh5及びh6の値は，次による。

h5 ≦ 0.1 mm

h6 ≦ 0.1 mm

この領域の全厚さは，1.50 mm，すなわち，e1の最大値より大きくてはいけない。

リム端の厚さ(e3)は，次による。

e3 ≧ 0.60 mm

ディスクの外周エッジは，丸み半径最大0.2 mmで丸めるか又は次に示す高さh7，h8にわたり面取りし

なければならない。

h7 ≦ 0.2 mm

h8 ≦ 0.2 mm

10.7 許容差についての注意前項で規定したhiで示すすべての高さは，相互に独立した値とする。例え

ば，第3遷移領域の上側の面がh2だけ基準面Qから下がっている場合，この領域の下側の面が必ずしも

h3だけ基準面Pから上がっていなくてもよいことを意味している。寸法が同じ数値(一般的には最大値)で

あるところでは，これは，実際の値が同一でなければならないということを意味していない。

10.8 レーベルケースに収納されていないディスク又はタイプ2，タイプ4，タイプ6，タイプ7に収納

されているディスクは，レーベルをもたなければならない。レーベルは，ディスクの情報をアクセスする

入射面とは反対側のディスク面に設け，ディスクの外面又はディスク内面の接合面のいずれかに設ける。

前者の場合，レーベルはクランプゾーンにかかってはならない。後者の場合，レーベルはクランプゾーン

にかかってもよい。いずれの場合でもレーベルは，ディスク中心孔のリム及びディスクの外周エッジから，

はみ出してはならない。

11.

機械的特性

11.1 質量 120 mmディスクの質量は，14.0 gから20.0 gの範囲内とする。

80 mmディスクの質量は，6.0 gから9.0 gの範囲内とする。

11.2 慣性モーメント回転軸に関する120 mmディスクの慣性モーメントは，最大0.040 g･m2とする。

回転軸に関する80 mmディスクの慣性モーメントは，最大0.010 g･m2とする。

11.3 ダイナミックインバランス回転軸に関する120 mmディスクのダイナミックインバランスは，最

大0.010 g･mとする。回転軸に関する80 mmディスクのダイナミックインバランスは，最大0.0045 g･

mとする。

11.4 回転方向ディスクの回転方向は，光学的システムから見て反時計方向とする。

11.5 振れ量

11.5.1 軸方向の振れ量軸方向のトラッキングのための基準サーボをもつ光ヘッドと各ゾーンの測定走

査速度に対応するディスク回転で測定するとき，基準面に垂直の方向での公称位置からの記録層の偏差は，

120 mmディスクでは0.3 mm以下，80 mmディスクでは0.2 mm以下とする。軸方向トラッキングのた

めのサーボを用いて測定した10 kHz以下の残留トラッキングエラーは，0.23 μm以下とする。測定用フ

ィルタは，バタワースLPF，fc (−3 dB )：10 kHz ( 傾斜：−80 dB / decade )とする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.5.2 半径方向の振れ量ディスクの外周のエッジの振れは，0.30 mmp-p以下とする。

トラックの半径方向の振れは，50 μmp-p以下とする。

半径方向のトラッキングのための基準サーボを用いて測定した2.3 kHz以下の残留トラッキングエラー

は，0.022 μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースLPF，fc (−3 dB )：2.3 kHz，傾斜：−80 dB / decade

とする。半径方向トラッキング基準サーボを用いて20 msの積分時間で測定した2.3 kHzから10 kHzまで

の周波数帯域での残留エラー信号のノイズ実効値は，書換え可能領域では，0.016 μm以下とし，エンボス

領域では0.025 μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースBPF，周波数範囲(−3 dB)：2.3 kHz ( 傾斜：

＋80 dB / decade )から，10 kHz ( 傾斜：−80 dB / decade )とする。

12.

光学的特性

12.1 屈折率透明基板の屈折率は，1.55±0.10とする。

12.2 透明基板の厚さ透明基板の厚さは，図8に規定するように，屈折率の関数とする。

12.3 角度偏差角度偏差は，平行光の入射光と反射光との間の角度αである。入射光は，0.3 mmから

3.0 mmの直径をもつものとする。角度偏差は，入射面によるひずみ及び反射層の非平行を含む。その値

は，附属書Aによって測定したとき，次による。

半径方向で：α＝0.70 °以内

接線方向で：α＝0.30 °以内

12.4 透明基板の複屈折透明基板の複屈折は，附属書Bによって測定したとき，60 nm以下とする。

12.5 反射率附属書Dによって測定したとき，記録層の反射率は，15〜25 %とする。

図8 基板の厚さ

屈折率

厚さ

0.6

0.5

1.40

1.50

1.6

1.70

（1.45; 0.643）

（1.56; 0.630）

（1.65;

（1.65; 0.570）

（1.56; 0.570）

（1.45; 0.583）

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第3章情報のフォーマット

13.

データフォーマット主データと呼ばれるホストから受け取ったデータは，ディスクに記録される

前に，次の各ステップに変換し，フォーマットを行う。

― データフレーム

― スクランブルドフレーム

― ECCブロック

― 記録フレーム

― 記録データフィールド

これらのステップは，次の項で規定する。

13.1 データフレームデータフレームは，図9に示すように，各行172バイトを含む12行の配列に配置

した2 064バイトによって構成する。最初の行は，4バイトからなるデータ識別データ(データID)，2バイ

トからなるID誤り検出符号(IED)，6バイトの予備バイト(RSV)及び160バイトの主データによって構成す

る。次の10行は，各172バイトの主データとし，最後の行は，168バイトの主データ及び4バイトの誤り

検出符号(EDC)によって構成する。2 048バイトの主データは，D0からD2 047とする。

図9 データフレーム

13.1.1 データID このフィールドは，4バイトで構成し，そのビットは最下位ビット(lsb)をb0とし，最

上位ビット(msb)をb31として連続的に番号付けする(図10及び図11参照)。

データID

RSV

データID

RSV

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b31

b24 b23

データフィールド情報

データフィールド番号

図10 データID

b31

b30

b29

b28

b27及びb26

b25

b24

セクタ

フォーマットタイプトラッキング

方法

反射率

記録タイプゾーンタイプデータタイプレイヤ番号

図11 データフィールド情報

最上位バイトのビット，すなわち，データフィールド情報の設定は，次による。

ビットb31

“1”に設定し，ゾーンドフォーマットタイプを示す。

ビットb30

設定は，次による。

リードインゾーン内のエンボス部で，ピットトラッキングを示す“0”に設定

する(16.1参照)。

その他の領域で，グルーブトラッキングを示す“1”に設定する(16.1参照)。

ビットb29

“1”に設定し，反射率が，40%以下であることを示す。

ビットb28

設定は，次による。

エンボス部(16.1参照)，リードインゾーン(16.2参照)，リードアウトゾーン

  (16.4参照)，及び，データゾーン内のブロック(16.3参照)のうちそのブロック
  が欠陥であったときにリニアリプレイスメントアルゴリズム(17.5参照)を
  適用するブロックで，“0”に設定する。

データゾーン内のブロック(16.3参照)のうちそのブロックが欠陥であったと

してもリニアリプレイスメントアルゴリズムを適用しないブロックで， “1”
に設定する。

ビットb27及びb26 設定は，次による。

データゾーンで “00”
リードインゾーンで “01”
リードアウトゾーンで“10”

ビットb25

設定は，次による。

エンボス領域で “0”
書換可能領域で“1”

ビットb24

“0”に設定し，一つの入射面からは一層の記録層だけがアクセスできることを示
す。

ビットb23からb0までの最下位の3バイトの設定は，次による。

リードインゾーン内のエンボス部(16.1参照)，欠陥管理領域(17.1参照)及びリードインゾーン(16.2

参照)とリードアウトゾーン(16.4参照)の予備ゾーンではセクタ番号を2進表示で示す。

データゾーン(16.3参照)では17.8.3の規定に従って設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

13.1.2 データID誤り検出符号(IED) 図9の配列の各バイトをCi，j (i＝0〜11，j＝0〜171)とするとき，

IEDの各バイトはC0，j (j＝4〜5)で表す。この設定は，次による。

()

()x

IED

mod

=∑

−

ここに，

()∑

−

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()

(

)

∏

αは，原始多項式P(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根である。

13.1.3 予備バイト(RSV) この6バイトフィールドのすべてのバイトは，(00)に設定する。

13.1.4 誤り検出符号(EDC) この4バイトのフィールドには，先行するデータフレームの2 060バイト

にわたって計算した誤り検出符号を入れる。データフレームをIDフィールドの最初のバイトの最上位ビ

ットで始まり，EDCフィールドの最下位ビットで終了する単一のビットフィールドとしたとき，この最上

位ビットを，b16 511とし，最下位ビットを，b0とし，EDCの各ビットbiは，i＝31〜0に対し次による。

()

()x

EDC

mod

=∑

ここで，

()∑

16511

()

13.2 スクランブルドフレームスクランブルドフレームは，データフレームの主データDk ( k＝0〜2

047)を，次の式によって，スクランブルしたDʼk ( k＝0〜2 047 )で置き換えて生成する。

Dʼk＝Dk Sk k＝0〜2 047

ここで，は排他的論理和(EXCLUSIVE OR)を表す。

バイトSkは，図12に示すフィードバックシフトレジスタを用い，次の手順で生成する。

データフレームのスクランブル処理を始めるとき，シフトレジスタのビットr14からr0は，表1の値にプ

リセットする。表1は16種類の初期プリセット番号に相当するシフトレジスタの初期プリセット値を表す。

初期プリセット番号は，データフレームのデータIDフィールドのビットb7(msb)からb4(lsb)までのビット

によって表す値と等しい。同じプリセット値は，16個の連続したデータフレームに使用される。シフトレ

ジスタのビットr7からr0までの初期値の部分は，バイトS0として取り出す。その後，8ビットシフトが2 047

回繰り返され，レジスタのr7からr0より，2 047バイトのS1からS2 047として取り出される。

表1 シフトレジスタの初期値

初期プリセット番号

初期プリセット値

初期プリセット番号初期プリセット値

(0)

(0001)

(8)

(0010)

(1)

(5500)

(9)

(5000)

(2)

(0002)

(A)

(0020)

(3)

(2A00)

(B)

(2001)

(4)

(0004)

(C)

(0040)

(5)

(5400)

(D)

(4002)

(6)

(0008)

(E)

(0080)

(7)

(2800)

(F)

(0005)

図12 フィードバックシフトレジスタ

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13.3 ECCブロック ECCブロックは，16個の連続するスクランブルドフレームを，図13に示すように，

各行172バイトを192行に配列する。各172列に外符号パリティ16バイトを加え，その結果208行になっ

た各行に内符号パリティ10バイトを加える。完全なECCブロックは，各行182バイトの208行によって

構成する。この配列のバイトは，iが行数でjが列数であるBi，jとし，次による。

i＝0〜191及びj＝0〜171に対するBi，jは，スクランブルドフレームからのバイト。

i＝192〜207及びj＝0〜171に対するBi，jは，外符号パリティのバイト。

i＝0〜207及びj＝172〜181に対するBi，jは，内符号パリティのバイト。

図13 ECCブロックの構成

PO及びPIバイトは，次の式によって算出する。

列j＝0〜171の各々で16 POバイトは，剰余多項式Rj (x)で定義し，外符号RS(208，192，17)を形成

する。

()

()x

mod

207

192

207

=∑

−

ここに，

()∑

−

=191

191

()

(

)

∏

行i＝0〜207の各々で10 PIバイトは，剰余多項式Ri(x)で定義し，内符号RS(182，172，11)を形成する。

()

()x

mod

181

172

181

=∑

−

ここに，

()∑

−

=171

171

()

(

)

∏

行

16行

172バイト

10バイト

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

αは，原始多項式P(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根とする。

13.4 記録フレーム 16の記録フレームは，図13のECCブロックの各12行ごとに，16 PO行の一つを

インタリーブすることによって算出する。これは，ECCブロックのバイトBi，jを次の式に対するBm，nと

して再配置することによって算出する。

m＝i＋int[ i / 12] 及びn＝j ( i ≦ 191の場合 )

m＝13 ( i - 191) - 1 及びn＝j ( i ≧ 192の場合 )

ここで，int[x]は，x以下の最大の整数とする。

ECCブロックの37 856のバイトは，2 366バイトの16記録フレーム(図14)に再配置される。各記録フレ

ームは，各行182バイト13行の配列を構成する。

図14 ECCブロックから得た記録フレーム

13.5 記録符号及びNRZI変換各記録フレームの8ビットバイトは，二つの“1”の間に最小2個の“0”及

び最大10個の“0”が含まれるRLL(2,10)というラン長の制限をもつ16ビット符号語に変換する。附属書G

は，適用する変換テーブルを規定する。主変換テーブル及び代替テーブルは，各8ビットバイトの4状態

の一つに対する16ビット符号語を規定する。各8ビットバイトに対して，テーブルは，相当する符号語だ

けでなくエンコードする次の8ビットバイトの状態を示す。16ビット符号語は，図15に示すように，デ

ィスクに記録する前に，チャネルビットにNRZI変換する。

図15 NRZI変換

16ビット符号語

NRZ変換

排他的論理和

(Exclusive-OR）

16チャネルビット
NRZI変換パルス

T＝1チャネルクロック間隔

16ビット符号語

NRZ変換

排他的論理和

(Exclusive-OR）

16チャネルビット
NRZI変換パルス

T＝1チャネルクロック間隔

182バイト

記録フレーム

182バイト

記録フレーム

行

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13.6 記録データフィールド記録されたデータフィールドの構造は，図16に示すように，各行が二つの

同期フレームからなる13行で構成する。一つの同期のフレームは，表2の同期符号の一つと1 456チャネ

ルビットで構成し，1 456チャネルビットは，記録フレームの一つの行のそれぞれの第1，第2の91個の8

ビットバイトを表す。記録されたデータフィールドの第1行は，記録フレームの第1行を表し，記録され

たデータフィールドの第2行は，記録フレームの第2行を表し，以下同様である。

図16 記録データフィールド

記録は，第1行の第1同期フレームで開始し，第2同期フレームに続き，以下各行ごとに同様である。

主同期符号と副同期符号の選択は13.7に規定する。

表2 同期符号

状態1及び状態2

主同期信号副同期信号

     (msb)                        (lsb)      (msb)                        (lsb)
SY0 = 0001001001000100 0000000000010001  /  0001001000000100 0000000000010001
SY1 = 0000010000000100 0000000000010001  /  0000010001000100 0000000000010001
SY2 = 0001000000000100 0000000000010001  /  0001000001000100 0000000000010001
SY3 = 0000100000000100 0000000000010001  /  0000100001000100 0000000000010001
SY4 = 0010000000000100 0000000000010001  /  0010000001000100 0000000000010001
SY5 = 0010001001000100 0000000000010001  /  0010001000000100 0000000000010001
SY6 = 0010010010000100 0000000000010001  /  0010000010000100 0000000000010001
SY7 = 0010010001000100 0000000000010001  /  0010010000000100 0000000000010001

状態3及び状態4

主同期信号副同期信号

      (msb)                       (lsb)      (msb)                         (lsb)
SY0 = 1001001000000100 0000000000010001  /  1001001001000100 0000000000010001
SY1 = 1000010001000100 0000000000010001  /  1000010000000100 0000000000010001
SY2 = 1001000001000100 0000000000010001  /  1001000000000100 0000000000010001
SY3 = 1000001001000100 0000000000010001  /  1000001000000100 0000000000010001
SY4 = 1000100001000100 0000000000010001  /  1000100000000100 0000000000010001
SY5 = 1000100100000100 0000000000010001  /  1000000100000100 0000000000010001
SY6 = 1001000010000100 0000000000010001  /  1000000001000100 0000000000010001
SY7 = 1000100010000100 0000000000010001  /  1000000010000100 0000000000010001

13
行

同期フレーム

行

同期フレーム

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13.7 直流成分抑圧制御

13.7.1 書換可能データフィールドでの直流成分抑圧制御直流成分抑圧制御は，NRZI変換された“変調

チャネルビットストリーム”において累積するディジタル総計値(DSV，4.3参照)の絶対値を最小化する。

その制御アルゴリズムは，DSVの絶対値が最小になるように，次の各場合[a)〜c)]で，同期符号及び変

換された符号語の選択をコントロールすることである。その選択は，選択された符号の終わりの位置での

累積DSVに基づいて決定する。

DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を次に示す。

a) 主同期符号と副同期符号の間で，同期符号を選択する。

b) 0から87までの範囲の8ビットバイトに対して，主変換テーブルの代わりに代替テーブルを用いる

ことができる。

c) 88から255までの範囲の8ビットバイトに対して，指定される状態が1又は4のとき，ラン長に対

する要求事項を満たすならば，16ビット符号を状態1又は4から選択することができる。

13.7.2 エンボスデータフィールドでの直流成分抑圧制御半径方向のトラッキング及びHF信号の検出

を確実にするために，チャネルビットパターンのストリームの低周波成分は，できる限り低く保つことが

望ましい。これを達成するために，ディジタル総計値(DSV)は，できる限り低く保つようにする。変調の

はじめのDSVは，0に設定する。

DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を次に示す。

a) 主同期符号と副同期符号の間で，同期符号を選択する。

b) 0から87までの範囲の8ビットバイトに対して，主変換テーブルの代わりに代替テーブルを用いる

ことができる。

c) 88から255までの範囲の8ビットバイトに対して，指定される状態が1又は4のとき，ラン長に

対する要求事項を満たすならば，16ビット符号を状態1又は4から選択することができる。

これらの可能性を活用するために，ストリーム1及びストリーム2の二つのデータストリーム声名同期

フレームに対して生成し，ストリーム1は主同期符号で，ストリーム2は同期符号の同じ分類の第2同期

符号で，各々開始する。両ストリームは，個別に変調するので，主同期符号と副同期符号のビットパター

ン間の差違のために異なったDSVが得られる。

b)及びc)の場合，一つの8ビットバイトを表すのに二つの可能性がある。各ストリームのDSVは，こ

の選択を行う8ビットバイトの一つ手前の8ビットバイトまで計算する。最も絶対値の小さいDSVのス

トリームを選択し，もう一つのストリームに複製する。それから次の8ビットバイトの符号語表現の一つ

がストリーム1に入り，他の一つはストリーム2に入る。この動作はb)又はc)の発生の都度繰り返す。

b)の場合，両ストリームでの同じパターン位置で常に起こるが，c)の場合は，例えば，前の8ビットバ

イトで規定される次の状態が1又は4の代わりに2又は3になり得るために，一方のストリームでは起こ

るが他方では起こらない可能性がある。その場合，次の三つの手順を適用する。

1) 両ストリームの| DSV |を比較する。

2) c)が起こるストリームの| DSV |がもう一方のストリームのものより小さければ，c)が起こるス

トリームを選択し，他のストリームに複製する。次の8ビットバイトの符号表現の一つがこのス

トリームに入り，もう一方の表現は，他方のストリームに入る。

3) c)が起こるストリームの| DSV |がもう一方のストリームのものより大きければ，c)の選択は無

視し，その8ビットバイトは，規定された状態に決められる。

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b)及びc)の場合，| DSV |が等しければ，ストリーム1又はストリーム2の選択の決定は，実用化のと

き決めればよい。

a)の場合の手順は，次による。

同期フレームの終わりで，b)又はc)の起きる起きないにかかわらず全体の同期フレームのDSVは計算

され，最も低い| DSV |をもつストリームが選択される。もし，このDSVが＋63より大きいか−64よ

り小さい場合，同期フレームの始めの同期符号は主同期符号から副同期符号に変えるか，副同期符号

から主同期符号に変えるかする。この結果，より小さい|DSV|が得られるなら，そのように変更し，そう

でなければ，元の同期符号が用いる。

DSVの計算中，DSVの実際値として−1 000と＋1 000の間を変動する可能性があるため，DSVのカ

ウント範囲は少なくとも−1 024から＋1 023までを推奨する。

13.7.3 物理ID及び物理ID誤り検出符号書換可能領域の物理ID(15.4参照)フィールド及び物理ID誤り

検出符号フィールド(15.5参照)の変調は，記録データフィールドと同じやり方又は主変換テーブルだけを

用いる簡便なやり方のいずれかで行う。

前者の場合，DSV値を，ヘッダフィールドのVFO1の先頭で0にリセットする。

両者とも，変調は，状態1で開始する。

14.

トラックフォーマット

14.1 トラック形状情報ゾーン内のエンボス領域(リードインゾーンの最初の5ゾーン，16.1参照)は，

一連のエンボスピットからなるトラックで構成される。情報ゾーン内の書換可能領域(前者以外)は，連続

コンポジットサーボトラッキングのためのトラックを含むものとする。各トラックは，360°回転の連続ス

パイラルを形成する。トラックは，情報ゾーンで連続とする。トラックの形状は，第4章の要求事項によ

って決定する。書換可能領域は，一連のグルーブ及びランドトラックからなる。グルーブトラックは，ラ

ンドトラックに交互に結合する。グルーブトラックは，グルーブセクタからなる。ランドトラックは，ラ

ンドセクタからなる。各セクタは，ヘッダフィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドからなる。

グルーブセクタの記録フィールドには，溝を付ける。ランドセクタの記録フィールドには，溝を付けない。

グルーブは，ざんごう(塹壕)のような溝であり，その底は，ランドより入射面に近い位置にある。

ミラーゾーンは，グルーブもエンボスマークももたないものとする。

14.2 トラック経路トラック経路は，ディスクの内側(リードインゾーンの開始)から外側(リードアウト

ゾーンの終了)までの連続スパイラルとする。

14.3 トラックピッチトラックピッチは，半径方向に隣接するトラック(グルーブトラック及びランドト

ラック)の中心線間の距離として測定される。トラックピッチは，書換可能領域で0.615μm ±0.03 μm，

エンボス領域で0.74μm ±0.03 μmとする。データゾーンにわたる平均トラックピッチは，書換可能領域

で0.615μm ±0.01 μm，エンボス領域から0.74 μm±0.01 μmとする。

トラックは，リードインゾーンから次の半径で始まるものとする。

0.2

−

14.4 トラックレイアウト各トラックは，セクタに分割するものとする。リードインゾーンのエンボス

領域でのトラック当たりのセクタ数は，18とする(表3及び表4参照)。各セクタは2 418バイトからなる

ものとし，各バイトはディスク上では16チャネルビットによって表される。リードインゾーンのエンボス

領域でのセクタは，一つのトラックにわたり等しい間隔を置いて並べるものとする。セクタのサイズは，

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38 688チャネルビットとする。

書換可能領域でのトラック当たりのセクタ数は，ゾーンによらず記録密度を一定にするために，120 mm

ディスクでは内周のゾーン0から外周のゾーン34へ，80 mm ディスクでは内周のゾーン0から外周のゾ

ーン13へ向かうにつれて増加する。各セクタは2 697バイトからなるものとし，各バイトはディスク上で

は16チャネルビットによって表される。書換可能領域でのセクタは，一つのトラックにわたり等しい間隔

を置いて並べるものとする。セクタのサイズは，43 152チャネルビットとする。

14.5 回転速度公称回転速度は，各ゾーンで異なり，ゾーンの番号で決定する(表3及び表4参照)。こ

れらの値は，参考用だけのものである。絶対回転速度は，22.16 Mbpsのユーザデータビットレートが次

の式で実現するように調整するものとする。

回転速度( Hz )＝22 160 000 / (トラック当たりのセクタ数×2 048×8 )

ディスクは，光ヘッドから見て反時計回りに回転するものとする。

エンボスデータゾーンの絶対回転速度は，ゾーン0に合わせるものとする。

表3 120 mmディスクの公称回転速度

ゾーン

回転速度

(Hz)

1トラックの

セクタ数

チャネル

クロック周期

(ns)

バイトの周期

(ns)

セクタの周期

(μs)

リードイン

ゾーン

エンボス領域

54.10

26.54

425

1 027

書換可能領域

54.10

17.13

274

739

データゾーン

書換可能領域

ゾーン 0

54.10

17.13

274

739

ゾーン 1

52.02

17.13

274

739

ゾーン 2

50.09

17.13

274

739

ゾーン 3

48.30

17.13

274

739

ゾーン 4

46.64

17.13

274

739

ゾーン 5

45.08

17.13

274

739

ゾーン 6

43.63

17.13

274

739

ゾーン 7

42.27

17.13

274

739

ゾーン 8

40.99

17.13

274

739

ゾーン 9

39.78

17.13

274

739

ゾーン 10

38.64

17.13

274

739

ゾーン 11

37.57

17.13

274

739

ゾーン 12

36.56

17.13

274

739

ゾーン 13

35.59

17.13

274

739

ゾーン 14

34.68

17.13

274

739

ゾーン 15

33.81

17.13

274

739

ゾーン 16

32.99

17.13

274

739

ゾーン 17

32.20

17.13

274

739

ゾーン 18

31.45

17.13

274

739

ゾーン 19

30.74

17.13

274

739

ゾーン 20

30.06

17.13

274

739

ゾーン 21

29.40

17.13

274

739

ゾーン 22

28.78

17.13

274

739

ゾーン 23

28.18

17.13

274

739

ゾーン 24

27.60

17.13

274

739

ゾーン 25

27.05

17.13

274

739

ゾーン 26

26.52

17.13

274

739

ゾーン 27

26.01

17.13

274

739

ゾーン 28

25.52

17.13

274

739

ゾーン 29

25.05

17.13

274

739

ゾーン 30

24.59

17.13

274

739

ゾーン 31

24.15

17.13

274

739

ゾーン 32

23.73

17.13

274

739

ゾーン 33

23.32

17.13

274

739

ゾーン 34

22.92

17.13

274

739

リードアウトゾーン書換可能領域

22.92

17.13

274

739

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表4 80 mmディスクの公称回転速度

ゾーン

回転速度

(Hz)

1トラックの

セクタ数

チャネル

クロック周期

(ns)

バイトの周期

(ns)

セクタの周期

(μs)

リードイン
ゾーン

エンボス領域

54.10

26.54

425

1 027

書換可能領域

54.10

17.13

274

739

データゾーン
書換可能領域

ゾーン 0

54.10

17.13

274

739

ゾーン 1

52.02

17.13

274

739

ゾーン 2

50.09

17.13

274

739

ゾーン 3

48.30

17.13

274

739

ゾーン 4

46.64

17.13

274

739

ゾーン 5

45.08

17.13

274

739

ゾーン 6

43.63

17.13

274

739

ゾーン 7

42.27

17.13

274

739

ゾーン 8

40.99

17.13

274

739

ゾーン 9

39.78

17.13

274

739

ゾーン 10

38.64

17.13

274

739

ゾーン 11

37.57

17.13

274

739

ゾーン 12

36.56

17.13

274

739

ゾーン 13

35.59

17.13

274

739

リードアウトゾーン
書換可能領域

35.59

17.13

274

739

14.6 半径方向のアラインメントデータ領域，リードインゾーン又はリードアウトゾーン内のトラック

のうち，ゾーン間で1トラックのセクタ数が異なるゾーンの境界部以外のトラックに属するセクタは，半

径方向に隣接するセクタの最初のチャネルビット間の角度方向の距離が，4チャネルビット以下とするよ

うに半径方向に配置する。

各トラックの先頭は，データゾーン，リードインゾーン又はリードアウトゾーン内の任意の2トラック

間の角度方向の距離が，256チャネルビット以下とするように半径方向に調整する。

14.7 セクタ番号各セクタは，セクタ番号で識別するものとする。セクタ(030000)は，リードインゾー

ンの書換可能領域の最初のセクタである。これは，次の半径に位置する。

0.2

−

セクタ(030000)のセクタ番号より大きい半径に位置するセクタ番号は，セクタごとに1ずつ増加するも

のとする。セクタ(030000)は，グルーブトラックの最初のセクタとする。

15.

セクタフォーマット

15.1 セクタレイアウト

15.1.1 書換可能領域でのセクタレイアウトセクタは，ヘッダフィールド，ミラーフィールド及び2 048

バイトのユーザデータを記録できる記録フィールドからなる。記録フィールドは，記録してもよいし記録

しなくてもよい。セクタ長は，公称2 697バイトとする。ヘッダフィールド長は，公称128バイト，ミラ

ーフィールド長は，公称2バイト，そして記録フィールド長は，公称2 567バイトである。記録フィール

ドは，ギャップフィールド，ガード1フィールド，VFO3フィールド，PSフィールド，データフィール

ド，PA3フィールド，ガード2フィールド及びバッファフィールドからなる。

ヘッダフィールドは，ヘッダ1フィールド，ヘッダ2フィールド，ヘッダ3フィールド及びヘッダ4フ

ィールドからなるものとする。

ヘッダ1フィールドは，VFO1，アドレスマーク，物理ID1，PED1及びPA1からなるものとする。

ヘッダ2フィールドは，VFO2，アドレスマーク，物理ID2，PED2及びPA2からなるものとする。

ヘッダ3フィールドは，VFO1，アドレスマーク，物理ID3，PED3及びPA1からなるものとする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ヘッダ4フィールドは，VFO2，アドレスマーク，物理ID4，PED4及びPA2からなるものとする。

ヘッダフィールドは，千鳥状に配置されたビットアドレスからなる。

ヘッダ1フィールド及びヘッダ2フィールドは，グルーブトラックと外側近傍ランドトラックとの間の

境界上に配置するものとする。ヘッダ3フィールド及びヘッダ4フィールドは，グルーブトラックと内側

近接ランドトラックとの間の境界上に配置するものとする。

グルーブは，ギャップフィールドの先頭から41 072チャネルビットの長さにあるものとする。グルー

ブは，ウォブルし，一つのウォブルサイクルは，186チャネルビットとする。このウォブルグルーブは，

正弦波状とし，各セクタでギャップフィールドの先頭で，位相0で開始するものとする。最初の半サイク

ルは，外側の半径方向ヘウォブルするものとする。グルーブセクタの記録フィールドの最後の4チャネル

ビットは，グルーブであってもなくてもよい。

ミラーフィールドは，ヘッダ4とギャップフィールドとの間に配置する。

書換可能領域のセクタのレイアウトは，図17に示す。

対物レンズから見たディスク上のヘッダフィールドのレイアウトは，図18に示す。

15.1.2 エンボス領域でのセクタレイアウトセクタは，連続エンボスビット列で形成した38 688チャン

ネルビットからなる。

トラック上のセクタは，いかなるギャップももたず，リードインゾーンの開始からリードインゾーンの

エンボス領域の終了(バッファゾーン2の終了)まで連続的に配置される。

記録フィールド

ヘッダ
フィー

ルド

ミラー
フィー

ルド

ギャップ

フィールド

ガード1

フィール

ド

VFO 3

フィール

ド

フィール

ド

データ

フィール

ド

PA 3

フィール

ド

ガード 2
フィール

ド

バッファ

フィールド

128

10 +J /16

20 + K

2 418

55 - K

25 ‒J /16

0≦J≦15 0≦K≦7

a) セクタレイアウト

b) ヘッダーフィールドレイアウト

図17 書換可能領域でのセクタとヘッダーフィールドレイアウト

ヘッダ1フィールド

ヘッダ2フィールド

ヘッダ3フィールド

ヘッダ4フィールド

VFO1 AM PID 1 PED

PA 1 VFO

AM PID 2 PED

PA 2 VFO

AM PID 3 PED

PA 1 VFO

AM PID 4 PED 4 PA 2

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図18 書換可能領域のヘッダフィールドのレイアウト

15.2 VFOフィールド読取りチャネルビットの位相同期ループの可変周波数発振器に同期を与えるた

めに，ヘッダフィールドに二つのエンボスされたVFO1フィールド及び二つのエンボスされたVFO2フィ

ールドがあり，記録フィールドに一つのVFO3フィールドがあるものとする。VFO1は，576チャネルビッ

ト長をもつものとする。VFO2は，128チャネルビット長をもつものとする。VFO3は，560チャネルビッ

ト長をもつものとする。VFOフィールドの連続チャネルビットパターンは，図19による。

図19 VFOパターン

a) トラックでの最初のセクタのヘッダフィールドのレイアアウト

b) トラックでの最初のセクタ以外のヘッダフィールドのレイアアウト

トラックピッチ

トラックピッチ／2

トラックピッチ

内側

外側

トラックピッチ／2

グループセクタ

ランドセクタ

ヘッダ1フィールド

ヘッダ2フィールド

ヘッダ3フィールド

ヘッダ4フィールド

ミラーフィールド

186チャネルビット

N：1トラック当りのセクタ数

N：1トラック当りのピッチ／2

外側

ランドセクタ

スペース

マーク

スペース

マーク

VFO 1, 576 チャネルビット:

VFO 2, 128チャネルビット:

VFO 3, 560チャネルビット：（同上、図省略）

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

15.3 アドレスマーク(AM) アドレスマークは，8-16変調では起こらないエンボスパターンからなるもの

とする。このフィールドは，次のPIDフィールドのためにドライブにバイト同期を与えるようにしてある。

フィールドは，図20のパターンをもち，48チャネルビット長をもつものとする。

図20 アドレスマークパターン

15.4 物理識別データ(PID)フィールドこの4バイトのフィールドは，b0(lsb)からb31(msb)まで連続的に

番号付けしたビットからなるものとする(図21参照)。

b31

b30

b29

b28

b27

b26

b25

b24

b23

予備

PID番号

セクタタイプ

レイヤ番号

セクタ番号

図21 物理識別データフィールド

最上位バイト，すなわち，セクタ情報の設定は，次による。

ビットb31〜b30

“00”に設定する。

ビットb29〜b28

次によって設定する。
“00” PID1を示す。
“0l” PID2を示す。
“10” PID3を示す。
“11” PID4を示す。

ビットb27〜b25

次によって設定する。
“100” トラックの最初のセクタを示す。
“101” トラックの最後のセクタを示す。
“110” トラックの最後から2番目のセクタを示す。
“111” トラックの他のセクタを示す。

ビットb24

“0”に設定し，レイヤ0を示す。

最下位の3バイトである，ビットb23からb0までは，2進表記のセクタ番号を規定する。

書換可能領域のPID1フィールド及びPID2フィールドは，それに後続するランドセクタを示す同じセ

クタ番号をもつものとする。書換可能領域のPID3フィールド及びPID4フィールドは，それに後続する

グルーブセクタを示す同じセクタ番号をもつものとする。

15.5 物理ID誤り検出符号(PED)フィールド要素6の配列Cj (j＝0〜5)において，物理IDを最上位バイ

トがC0から最下位バイトがC3になるように配置したとき，PEDの各バイト：Cj ( j＝4〜5 )は，次による。

()

()x

PED

mod

=∑

−

ここに，

()∑

−

()

(

)

∏

αは，原始多項式P(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根である。

000100010000000000000100010001000000000000010001

スペース

マーク

48チャンネルビット

000100010000000000000100010001000000000000010001

スペース

マーク

48チャンネルビット

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

15.6 ポストアンブル1，2(PA1，PA2)フィールドポストアンブル1，2は，それぞれ16チャネルビット

長に等しいものとする。PA1フィールド及びPA2フィールドによって，先行するPEDの最後のバイトの

8-16変調が完結する(図22から図25参照)。

図22 状態1及び状態2のPA1

図23 状態3及び状態4のPA1

図24 状態1及び状態2のPA2

0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1

0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

スペース

マーク

16チャネルビット

0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1

0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

スペース

マーク

16チャネルビット

1 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1

1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1

スペース

マーク

16チャネルビット

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

16チャネルビット

1 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 1

1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1

スペース

マーク

16チャネルビット

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

16チャネルビット

0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

スペース

マーク

16チャネルビット

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

16チャネルビット

0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

スペース

マーク

16チャネルビット

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

16チャネルビット

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図25 状態3及び状態4のPA2

15.7 ミラーフィールドこのフィールドは，長さで，32チャネルビットに等しい領域とする。このフィ

ールドは，グルーブもエンボスマークももたないものとする。このフィールドに記録を行ってはならない。

15.8 ギャップフィールドギャップフィールドは，公称値として( 160＋J )チャネルビットの長さをもつ

ものとする。ここで，番号Jは，0から15までランダムに変化させるものとする。実際の記録後の長さは，

公称値の±20チャネルビットの範囲内でなければならない。ギャップフィールドの長さの変化は，バッフ

ァフィールドの長さで補償する(附属書K参照)。

読取りに際し，その内容は無視するものとするが，エンボスしてはならない。ギャップフィールドは，

記録フィールドの最初のフィールドであり，ヘッダフィールド読取りを終了した後及びガード1フィール

ドを書き込むか又はVFO3フィールドを読み取る前に，処理のために若干の時間を与えるものである。

15.9 ガード1フィールドガード1フィールドは，20バイトから(20＋K)バイトまでの長さをもつもの

とする。ここで，番号Kは，記録フィールドのVFO3フィールドからガード2フィールドまで続くフィ

ールドで形成したマークの位置をシフトさせるために，0から7までランダムに変化させるものとする(附

属書K参照)。ガード1フィールドの最初の20バイトは，多数回オーバライトした後の信号の劣化から

VFO3フィールドの始端を保護する。読取りに際し，その内容は無視するものとする。

ガード1フィールドは，

16チャネルビットパターン：1000 1000 1000 1000

を( 20＋K )回繰り返すものとする。

15.10 プリシンク符号(PS)フィールド PSフィールドは，ドライブに次のデータフィールドのためのバイ

ト同期を得るようにしてある。PSフィールドは，48チャネルビット長で，次のチャネルビットパターン

で記録するものとする。

0000 0100 0100 1000 0010 0001 0010 0000 1000 0010 0001 0000

15.11 データフィールドこのフィールドは，13.の規定に従って変調の後，記録される。

15.12 ポストアンブル3(PA3)フィールドポストアンブル3(PA3)は，長さで，16ビットチャネルビット

に等しいものとする。PA3は，先行するデータフィールドの最後のバイトの8-16変調が完結する。

状態1及び状態2に対しては，次のように設定する。

0001 0010 0100 0100 / 0001 0010 0000 0100

状態3及び状態4に対しては，次のように設定する。

1001 0010 0000 0100 / 1001 0010 0100 0100

0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

スペース

マーク

16チャネルビット

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

16チャネルビット

0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 00 0

スペース

マーク

16チャネルビット

先行するバイトが，マークで終了した場合

先行するバイトが，スペースで終了した場合

スペース

マーク

16チャネルビット

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

復調で，PA3は，次のデータフィールドでのSY0の最初の16チャネルビットの代わりに使用できる。

15.13 ガード2フィールドガード2フィールドは，公称(55−K)バイトの長さをもつものとする。ここ

で，番号Kは，0から7の範囲でガード1フィールドとガード2フィールドの長さの合計が75バイトに

なるように設定する。ガード2フィールドの最後の20バイトは，多数回オーバライトした後のデータフ

ィールドの終端を信号の劣化から保護する。ガード2フィールドの残りは，書き込んだデータの実際の長

さの変動のためにある。その内容は，読取りに際し無視するものとする。

ガード2フィールドは，次に示す16チャネルビットパターンを(55−K)回繰り返すものとする。

1000 1000 1000 1000

ガード1フィールド，VFO3フィールド，PSフィールド，データフィールド及びガード2フィールド

のフィールドは，ギャップなしで書き込むものとし，その長さは，2 532バイトとする(附属書K参照)。

15.14 記録極性のランダム化記録領域で多数回オーバライトを繰り返した後の媒体上のマーク及びスペ

ースの位置の確率を均一化するために，NRZI変換パルスの極性は，各記録ごとにランダムに反転するも

のとする。パルスの反転は，ガード1フィールド，VFO3フィールド，PSフィールド，データフィール

ド及びガード2フィールドの全体のパルスに，同時に適用するものとする。ランダムな選択は，極性，ギ

ャップフィールドの長さ及びガード2フィールドの長さが互いに無関係になるように行うものとする(附

属書K参照)。その極性は，読取りに際し無視するものとする。

15.15 バッファフィールドバッファフィールドは公称値として( 400−J )チャネルビットの長さをもつ

ものとする。ここで，番号Jは，15.8で選択された値と同じとする。実際の記録後の長さは公称値の±272

チャネルビットの範囲内でなければならない。その内容は，読取りに際し無視するものとする。

バッファフィールドは，データの書込みのときのトラックの偏心及びディスクの速度変化による書き込

んだデータの実際の長さの変化のために必要とする。

16.

情報ゾーンのフォーマット

16.1 情報ゾーンの区分情報ゾーンは，リードインゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンの三

つの部分で構成され，データの互換に関連するディスク上のすべての情報を含む。この情報はトラッキン

グのためのグルーブ及びビット，ヘッダフィールド，データ及びユーザ記録データを含む。リードインゾ

ーンの前半の五つのゾーン(16.2参照)においては情報はエンボスによって提供される。リードインゾーン

の後半の六つのゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンにおいて，情報は書換え可能な形で記録さ

れる。

情報ゾーンは，以下のような三つの部分で構成されている。

リードインゾーン

イニシャルゾーン

リファレンスコードゾーン

バッファゾーン1，2

コントロールデータゾーン

結合ゾーン

ガードトラックゾーン1，2

ディスク試験ゾーン

ドライブ試験ゾーン

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ディスク識別ゾーン

欠陥管理領域(DMA1及びDMA2)

データゾーン

リードアウトゾーン

欠陥管理領域(DMA3及びDMA4)

予備ゾーン

ガードトラックゾーン1，2

ドライブ試験ゾーン

ディスク試験ゾーン

120 mm ディスクの情報ゾーンの区分は表5に，80 mm ディスクの情報ゾーンの区分は表6に与える。

表中のゾーンの半径は，ゾーンの最初のトラック中心の半径から最後のトラックの中心半径の公称値を示

し，その精度は，0 mm と−0.2 mm の間とする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表5 120 mmディスクの情報ゾーンのレイアウト

(265F60) 〜(26601F)

(266020) 〜(2660DF)

(2660E0) 〜(2662DF)
(2662E0) 〜(2669DF)
(2669E0) 〜(2670DF)
(2670E0) 〜(2741CF)

982.5

57.9 〜58.5

DMA3及びDMA4
予備ゾーン
ガードトラックゾーン1
ドライブ試験ゾーン
ディスク試験ゾーン
ガードトラックゾーン2

リードアウトゾーン
書換可能領域

(24C260) 〜(265F5F)

1 792

56.8 〜57.9

ゾーン34

(235F20) 〜(24C25F)

1 568

55.8 〜56.8

ゾーン33

(220200) 〜(235F1F)

1 568

54.9 〜55.8

ゾーン32

(20AB00) 〜(2201FF)

1 568

53.9 〜54.9

ゾーン31

(1F5A20) 〜(20AAFF)

1 568

52.9 〜53.9

ゾーン30

(1E0F60) 〜(1F5A1F)

1 568

52.0 〜52.9

ゾーン29

(1CCAC0) 〜(1E0F5F)

1 568

51.0 〜52.0

ゾーン28

(1B8C40) 〜(1CCABF)

1 568

50.0 〜51.0

ゾーン27

(1A53E0) 〜(1B8C3F)

1 568

49.1〜50.0

ゾーン26

(1921A0) 〜(1A53DF)

1 568

48.1 〜49.1

ゾーン25

(17F580) 〜(19219F)

1 568

47.1 〜48.1

ゾーン24

(16CF80) 〜(17F57F)

1 568

46.2 〜47.1

ゾーン23

(15AFA0) 〜(16CF7F)

1 568

45.2 〜46.2

ゾーン22

(1495E0) 〜(15AF9F)

1 568

44.3 〜45.2

ゾーン21

(138240) 〜(1495DF)

1 568

43.3 〜44.3

ゾーン20

(1274C0) 〜(13823F)

1 568

42.3 〜43.3

ゾーン19

(116D60) 〜(1274BF)

1 568

41.4 〜42.3

ゾーン18

(106C20) 〜(116D5F)

1 568

40.4 〜41.4

ゾーン17

(0F7100) 〜(106C1F)

1 568

39.4 〜40.4

ゾーン16

(0E7C00) 〜(0F70FF)

1 568

38.5 〜39.4

ゾーン15

(0D8D20) 〜(0E7BFF)

1 568

37.5 〜38.8

ゾーン14

(0CA460) 〜(0D8D1F)

1 568

36.5 〜37.5

ゾーン13

(0BC1C0) 〜(0CA45F)

1 568

35.6 〜36.5

ゾーン12

(0AE540) 〜(0BC1BF)

1 568

34.6 〜35.6

ゾーン11

(0A0EE0) 〜(0AE53F)

1 568

33.6 〜34.6

ゾーン10

(093EA0) 〜(0A0EDF)

1 568

32.7 〜33.6

ゾーン9

(087480) 〜(093E9F)

1 568

31.7 〜32.7

ゾーン8

(07B080) 〜(08747F)

1 568

30.8 〜31.7

ゾーン7

(06F2A0) 〜(07B07F)

1 568

29.8 〜30.8

ゾーン6

(063AE0) 〜(06F29F)

1 568

28.8 〜29.8

ゾーン5

(058940) 〜(063ADF)

1 568

27.9 〜28.8

ゾーン4

(04DDC0) 〜(05893F)

1 568

26.9 〜27.9

ゾーン3

(043860) 〜(04DDBF)

1 568

25.9 〜26.9

ゾーン2

(039920) 〜(04385F)

1 568

25.0 〜25.9

ゾーン1

(031000) 〜(03991F)

24.1 〜25.0

ゾーン0

データゾーン
書換可能領域

(030000) 〜(0301FF)
(030200) 〜(0305FF)

(030600) 〜(030CFF)

(030D00) 〜(030EFF)

(030F00) 〜(030F7F)
(030F80) 〜(030FFF)

1 568

24.0 〜24.1

書換可能領域

ガードトラックゾーン1
ディスク試験ゾーン
ドライブ試験ゾーン
ガードトラックゾーン2
ディスク識別ゾーン
DMA1及びDMA2

結合ゾーン

〜(02EFFF)

(02F000) 〜(02F00F)
(02F010) 〜(02F1FF)

(02F200) 〜(02FDFF)
(02FE00) 〜(02FFFF)

1 896 以上

22.6 〜24.0

エンボス領域

イニシャルゾーン
リファレンスコードゾーン
バッファゾーン1
コントロールデータゾーン
バッファゾーン2

リードインゾーン

セクタ番号

トラック数

トラック当た
りのセクタ数

公称半径(mm)

ゾーン

(265F60) 〜(26601F)

(266020) 〜(2660DF)

(2660E0) 〜(2662DF)
(2662E0) 〜(2669DF)
(2669E0) 〜(2670DF)
(2670E0) 〜(2741CF)

982.5

57.9 〜58.5

DMA3及びDMA4
予備ゾーン
ガードトラックゾーン1
ドライブ試験ゾーン
ディスク試験ゾーン
ガードトラックゾーン2

リードアウトゾーン
書換可能領域

(24C260) 〜(265F5F)

1 792

56.8 〜57.9

ゾーン34

(235F20) 〜(24C25F)

1 568

55.8 〜56.8

ゾーン33

(220200) 〜(235F1F)

1 568

54.9 〜55.8

ゾーン32

(20AB00) 〜(2201FF)

1 568

53.9 〜54.9

ゾーン31

(1F5A20) 〜(20AAFF)

1 568

52.9 〜53.9

ゾーン30

(1E0F60) 〜(1F5A1F)

1 568

52.0 〜52.9

ゾーン29

(1CCAC0) 〜(1E0F5F)

1 568

51.0 〜52.0

ゾーン28

(1B8C40) 〜(1CCABF)

1 568

50.0 〜51.0

ゾーン27

(1A53E0) 〜(1B8C3F)

1 568

49.1〜50.0

ゾーン26

(1921A0) 〜(1A53DF)

1 568

48.1 〜49.1

ゾーン25

(17F580) 〜(19219F)

1 568

47.1 〜48.1

ゾーン24

(16CF80) 〜(17F57F)

1 568

46.2 〜47.1

ゾーン23

(15AFA0) 〜(16CF7F)

1 568

45.2 〜46.2

ゾーン22

(1495E0) 〜(15AF9F)

1 568

44.3 〜45.2

ゾーン21

(138240) 〜(1495DF)

1 568

43.3 〜44.3

ゾーン20

(1274C0) 〜(13823F)

1 568

42.3 〜43.3

ゾーン19

(116D60) 〜(1274BF)

1 568

41.4 〜42.3

ゾーン18

(106C20) 〜(116D5F)

1 568

40.4 〜41.4

ゾーン17

(0F7100) 〜(106C1F)

1 568

39.4 〜40.4

ゾーン16

(0E7C00) 〜(0F70FF)

1 568

38.5 〜39.4

ゾーン15

(0D8D20) 〜(0E7BFF)

1 568

37.5 〜38.8

ゾーン14

(0CA460) 〜(0D8D1F)

1 568

36.5 〜37.5

ゾーン13

(0BC1C0) 〜(0CA45F)

1 568

35.6 〜36.5

ゾーン12

(0AE540) 〜(0BC1BF)

1 568

34.6 〜35.6

ゾーン11

(0A0EE0) 〜(0AE53F)

1 568

33.6 〜34.6

ゾーン10

(093EA0) 〜(0A0EDF)

1 568

32.7 〜33.6

ゾーン9

(087480) 〜(093E9F)

1 568

31.7 〜32.7

ゾーン8

(07B080) 〜(08747F)

1 568

30.8 〜31.7

ゾーン7

(06F2A0) 〜(07B07F)

1 568

29.8 〜30.8

ゾーン6

(063AE0) 〜(06F29F)

1 568

28.8 〜29.8

ゾーン5

(058940) 〜(063ADF)

1 568

27.9 〜28.8

ゾーン4

(04DDC0) 〜(05893F)

1 568

26.9 〜27.9

ゾーン3

(043860) 〜(04DDBF)

1 568

25.9 〜26.9

ゾーン2

(039920) 〜(04385F)

1 568

25.0 〜25.9

ゾーン1

(031000) 〜(03991F)

24.1 〜25.0

ゾーン0

データゾーン
書換可能領域

(030000) 〜(0301FF)
(030200) 〜(0305FF)

(030600) 〜(030CFF)

(030D00) 〜(030EFF)

(030F00) 〜(030F7F)
(030F80) 〜(030FFF)

1 568

24.0 〜24.1

書換可能領域

ガードトラックゾーン1
ディスク試験ゾーン
ドライブ試験ゾーン
ガードトラックゾーン2
ディスク識別ゾーン
DMA1及びDMA2

結合ゾーン

〜(02EFFF)

(02F000) 〜(02F00F)
(02F010) 〜(02F1FF)

(02F200) 〜(02FDFF)
(02FE00) 〜(02FFFF)

1 896 以上

22.6 〜24.0

エンボス領域

イニシャルゾーン
リファレンスコードゾーン
バッファゾーン1
コントロールデータゾーン
バッファゾーン2

リードインゾーン

セクタ番号

トラック数

トラック当た
りのセクタ数

公称半径(mm)

ゾーン

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6 80 mmディスクの情報ゾーンのレイアウト

ゾーン

公称半径

(mm)

トラック当た

りのセクタ数

トラック

数

セクタ番号

リードインゾーン

エンボス領域
イニシャルゾーン
リファレンスコードゾーン
バッファゾーン1
コントロールデータゾーン
バッファゾーン2

22.6 〜

24.0

1 896

以上

〜 (02EFFF)

(02F000) 〜 (02F00F)

(02F010) 〜 (02F1FF)

(02F200) 〜

(02FDFF)

(02FE00) 〜

(02FFFF)

結合ゾーン

書換可能領域
ガードトラックゾーン1
ディスク試験ゾーン
ドライブ試験ゾーン
ガードトラックゾーン2
ディスク識別ゾーン
DMA1及びDMA2

24.0 〜24.1

1 568

(030000) 〜 (0301FF)
(030200) 〜 (0305FF)

(030600) 〜 (030CFF)

(030D00) 〜

(030EFF)

(030F00) 〜 (030F7F)

(030F80) 〜 (030FFF)

データゾーン
書換可能領域

ゾーン 0

24.1 〜

25.0

(031000) 〜 (03991F)

ゾーン 1

25.0 〜25.9

1 568

(039920) 〜 (04385F)

ゾーン 2

25.9 〜

26.9

1 568

(043860) 〜

(04DDBF)

ゾーン 3

26.9 〜

27.9

1 568

(04DDC0)

〜

(05893F)

ゾーン 4

27.9 〜

28.8

1 568

(058940) 〜 (063ADF)

ゾーン 5

28.8 〜

29.8

1 568

(063AE0) 〜

(06F29F)

ゾーン 6

29.8 〜

30.8

1 568

(06F2A0) 〜

(07B07F)

ゾーン 7

30.8 〜

31.7

1 568

(07B080) 〜 (08747F)

ゾーン 8

31.7 〜

32.7

1 568

(087480) 〜 (093E9F)

ゾーン 9

32.7 〜

33.6

1 568

(093EA0) 〜

(0A0EDF)

ゾーン 10

33.6 〜

34.6

1 568

(0A0EE0) 〜

(0AE53F)

ゾーン 11

34.6 〜

35.6

1 568

(0AE540) 〜

(0BC1BF)

ゾーン 12

35.6 〜

36.5

1 568

(0BC1C0) 〜

(0CA45F)

ゾーン 13

36.5 〜

38.1

2 464

(0CA460) 〜

(0E121F)

リードアウトゾーン

書換可能領域

DMA3及びDMA4
予備ゾーン
ガードトラックゾーン1
ドライブ試験ゾーン
ディスク試験ゾーン
ガードトラックゾーン2

38.1 〜

38.5

730.2

(0E1220) 〜

(0E12DF)

(0E12E0) 〜

(0E139F)

(0E13A0) 〜

(0E159F)

(0E15A0) 〜

(0E1A1F)

(0E1A20) 〜

(0E1D9F)

(0E1DA0) 〜

(0E7E7F)

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

16.2 リードインゾーン

16.2.1 リードインゾーンの構造リードインゾーンの構造は，図26に示す。図に記載されているセクタ

番号は各々のゾーンの先頭セクタを示す。イニシャルゾーンとバッファゾーン2については最終セクタの

セクタ番号が併記されている。最初の5ゾーンはエンボス領域である。結合ゾーンはミラー領域で，最後

の6ゾーンは書換可能領域である。

セクタ番号

192 511

イニシャルゾーン

(02EFFF)

192 512

リファレンスコードゾーン

16 セクタ

(02F000)

192 528

バッファゾーン1

1 496 セクタ

(02F010)

193 024

コントロールデータゾーン

3 072 セクタ

(02F200)

196 096

196 607

バッファゾーン2

512 セクタ

(02FE00)

(02FFFF)

結合ゾーン

196 608

ガードトラックゾーン1

512 セクタ

(030000)

197 120

ディスク試験ゾーン

1 024 セクタ

(030200)

198 144

ドライブ試験ゾーン

1 792 セクタ

(030600)

199 936

ガードトラックゾーン2

512 セクタ

(030D00)

200 448

ディスクIDゾーン

128 セクタ

(030F00)

200 576

DMA1 & DMA2

128 セクタ

(030F80)

200 704

データゾーン

(031000)

図26 リードインゾーンの構造

16.2.2 イニシャルゾーンこのゾーンは少なくとも30 032セクタからなる。このゾーンにおいて，記録

データフィールドに対応するデータフレームの主データのすべてのバイトは(00)とする。

16.2.3 リファレンスコードゾーンリファレンスコードゾーンは，ディスク上に特定チャネルビットパ

ターンを生成する一つのECCブロックからなる16セクタで構成する。これは，対応するデータフレーム

のすべての2 048主データバイトを(AC)に設定することによって達成する。このとき，先頭セクタの最初

の160バイトの主データを除いて，スクランブルを行ってはならない。

16.2.4 バッファゾーン1 このゾーンは31 ECCブロックからなる496セクタで構成する。このゾーン

において，記録データフィールドに対応するデータフレームの主データのすべてのバイトは(00)とする。

16.2.5 バッファゾーン2 このゾーンは32 ECCブロックからなる512セクタで構成する。このゾーン

において，記録データフィールドに対応するデータフレームの主データのすべてのバイトは(00)とする。

16.2.6 コントロールデータゾーンコントロールデータゾーンはセクタ番号193 024(02F200)で始まる

192ECCブロックからなる。図27に示す各ブロックの16セクタの内容は，192回繰り返す。各ECCブロ

ックの最初のセクタは，物理フォーマット情報を含む。各ブロックの2番目のセクタは，ディスク製造業

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

者情報を含む。各ブロックの他のセクタの内容は，予備である。予備ブロックのすべてのバイトは，(00)

に設定する。

物理フォーマット情報

2 048 バイト

ディスク製造情報

2 048 バイト

予備

14×2 048 バイト

［すべて(00)］

図27 コントロールデータを構成するECCブロックの構造

16.2.6.1 物理フォーマット情報この情報は，2 048バイトからなり，その内容は表7に示したものとす

る。

表7 物理フォーマット情報

バイト位置

内容

バイト数

ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ディスクサイズ及び最大転送レート

ディスク構造

記録密度

4〜15

データゾーン配置

BCA 記述子

17〜31

予備

ディスクタイプ識別

33〜499

予備

467

500

速度

501

読取りパワー

502

適応書込みパルス制御のモードフラグ

503

ランドトラックのピークパワー

504

ランドトラックのバイアスパワー1

505

ランドトラックのバイアスパワー2

506

ランドトラックのバイアスパワー3

507

グルーブトラックのピークパワー

508

グルーブトラックのバイアスパワー1

509

グルーブトラックのバイアスパワー2

510

グルーブトラックのバイアスパワー3

511

先頭パルス終了時間

512

先頭パルス持続時間

513

マルチパルス持続時間

514

末尾パルス開始時間

515

末尾パルス持続時間

516

バイアスパワー2持続時間

517

先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース3T

518

先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース3T

519

先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース3T

520

先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース3T

521

先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース4T

522

先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース4T

523

先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース4T

524

先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース4T

525

先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース5T

526

先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース5T

527

先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース5T

528

先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース5T

529

先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース＞5T

530

先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース＞5T

531

先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース＞5T

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表7 物理フォーマット情報（続き）

バイト位置

内容

バイト数

532

先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース＞5T

533

末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース3T

534

末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース3T

535

末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース3T

536

末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース3T

537

末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース4T

538

末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース4T

539

末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース4T

540

末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース4T

541

末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース5T

542

末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース5T

543

末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース5T

544

末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース5T

545

末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース＞5T

546

末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース＞5T

547

末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース＞5T

548

末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース＞5T

549〜596

ディスク製造業者名

597〜612

ディスク製造業者の追加情報

613〜623

書込みパルスコントロールパラメータ

624〜2 047

予備

1 424

バイト0−ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ビットb7からb4は，ディスクカテゴリを規定する。

これらのビットは，“0001”に設定し，書換形ディスクを示す。

ビットb3からb0は，バージョン番号を規定する。

これらは，”0110”に設定し，この規格を示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト1−ディスクサイズ及び最大転送レート

ビットb7からb4は，ディスクサイズを規定する。

これらのビットは，120 mmディスクでは“0000”に設定し，80 mmディスクでは“0001”に設定する。

ビットb3からb0は，最大転送レートを規定する。

これらは，“1111”に設定し，最大転送レートを規定しないものとする。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト2−ディスク構造

ビットb7は，“0”に設定する。

ビットb6及びb5は，面の記録層の番号を規定する。

これらは，“00”に設定し，単層ディスクを示す。

ビットb4は，“0”に設定する。

ビットb3からb0は，記録層のタイプを規定する。

これらは，“0100”に設定し，書換可能記録層を示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト3−記録密度

ビットb7からb4は，平均チャネルビット長を規定する。

これらは，“0100”に設定し，0.140〜0.148 μmを示す。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb3からb0は，平均トラックピッチを規定し，“0010”に設定して，0.615 μmの平均トラックピッ

チを示す。この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト4〜15−データゾーン配置

バイト4は，(00)に設定する。

バイト5から7は，(031000)に設定して，データゾーンの最初の物理セクタのセクタ番号200 704を規

定する。

バイト8は，(00)に設定する。

バイト9から11は，120 mmディスクでは(265F5F)に設定して，データゾーンの最後の記録済み物理

セクタのセクタ番号2 514 783を規定し，80 mmディスクでは(0E121F)に設定して，データゾーンの最

後の物理セクタのセクタ番号922 143を規定する。

バイト12は，(00)に設定する。

バイト13から15は，(00)に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト 16−BCA記述子

このバイトは，バーストカッティング領域（BCA）（付属書J参照）がディスクに存在するかどうかを

規定する。

ビットb7は，ディスク上にBCAが存在するとき，“1”に設定する。

ディスク上にBCAが存在しないとき，“0”に設定する。

ビットb6からboは，“0000000”に設定する。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト17〜31−予備

これらのバイトは，(00)に設定する。

バイト32−ディスクタイプ識別

このバイトは，ディスクタイプを規定する。

このバイトの設定は，次による。

ケースなしでディスクに書込みを禁止するとき，(00)に設定する。

ケースなしでディスクに書き込んでもよいとき，(10)に設定する。

バイト33〜499−予備

これらのバイトは，(00)に設定する。

バイト500−速度

このバイトは，“01010010”に設定し，8.2 m / sの線速度を示す。

この規格では，この他の設定を禁止する。

バイト501−読取りパワー

このバイトは，再生のためのディスクの表面の読取りパワーを規定する。

このバイトは，“00001010”に設定し，1.0 mWの読取りパワーを示す。

バイト502−適応書込みパルス制御のモードフラグ

このバイトは，適応書込みパルス制御のモードを規定する（22.3.4参照）。

ビットb7は，ケース1のとき，“0”に設定する。

ケース2のとき，“1”に設定する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb6からb0は，“0”に設定する。

バイト503−ランドトラックのピークパワー

このバイトは，ランドトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のピークパワーを規定する。

このバイトは，次の式で規定する実際のピークパワーを示す値に設定するものとする。

実際のピークパワー＝値×0.1 ( mW )

バイト504−ランドトラックのバイアスパワー1

このバイトは，ランドトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のバイアスパワー1を規定する。

このバイトは，次の式で規定する実際のバイアスパワー1を示す値に設定するものとする。

実際のバイアスパワー1＝値×0.1( mW )

バイト505−ランドトラックのバイアスパワー2

このバイトは，ランドトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のバイアスパワー2を規定する。

このバイトは，次の式で規定する実際のバイアスパワー2を示す値に設定するものとする。

実際のバイアスパワー2＝値×0.1 ( mW )

バイト506−ランドトラックのバイアスパワー3

このバイトは，ランドトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のバイアスパワー3を規定する。

このバイトは，次の式で規定する実際のバイアスパワー3を示す値に設定するものとする。

実際のバイアスパワー3＝値×0.1 ( mW )

バイト507−グルーブトラックのピークパワー

このバイトは，グルーブトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のピークパワーを規定する。

このバイトは，次の式で規定する実際のピークパワーを示す値に設定するものとする。

実際のピークパワー＝値×0.1 ( mW )

バイト508−グルーブトラックのバイアスパワー1

このバイトは，グルーブトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のバイアスパワー1を規定

する。

このバイトは，次の式で規定する実際のバイアスパワー1を示す値に設定するものとする。

実際のバイアスパワー1＝値×0.1 ( mW )

バイト509−グルーブトラックのバイアスパワー2

このバイトは，グルーブトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のバイアスパワー2を規定

する。

このバイトは，次の式で規定する実際のバイアスパワー2を示す値に設定するものとする。

実際のバイアスパワー2＝値×0.1 ( mW )

バイト510−グルーブトラックのバイアスパワー3

このバイトは，グルーブトラック上の記録のためのディスクの読取り表面のバイアスパワー3を規定

する。

このバイトは，次の式で規定する実際のバイアスパワー3を示す値に設定するものとする。

実際のバイアスパワー3＝値×0.1 ( mW )

バイト511−先頭パルス終了時間

このバイトは，先頭パルス終了時間（TEFP）を規定する（附属書H参照）。

このバイトは，適応書込みパルス制御のモードフラグ（バイト502のビットb7）を“1”に設定するとき，

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

無視する。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト512−先頭パルス持続時間

このバイトは，先頭パルス持続時間（TFP）を規定する（附属書H参照）。

このバイトは，適応書込みパルス制御のモードフラグ（バイト502のビットb7）を“0”に設定するとき，

無視する。

このバイトは，次の式で規定する実際の持続時間を示す値に設定するものとする。

実際の持続時間＝値×1 ( ns )

バイト513−マルチパルス持続時間

このバイトは，マルチパルス持続時間（TMP）を規定する（附属書H参照）。

ビットb7は，“0”に設定し，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

ビットb6からb0は，“0000000”に設定し，0 nsのTMPを示す。

バイト514−末尾パルス開始時間

このバイトは，末尾パルス開始時間（TSLP）を規定する（附属書H参照）。このバイトは，適応書込み

パルス制御のモードフラグ（バイト502のビットb7）を“1”に設定するとき，無視する。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 (ns)

バイト515−末尾パルス持続時間

このバイトは，末尾パルス持続時間（TLP）を規定する（附属書H参照）。

このバイトは，適応書込みパルス制御のモードフラグ（バイト502のビットb7）を“0”に設定するとき，

無視する。

このバイトは，次の式で規定する実際の持続時間を示す値に設定するものとする。

実際の持続時間＝値×1 ( ns )

バイト516−ランドトラックで速度1の場合のバイアスパワー2持続時間

このバイトは，バイアスパワー2持続時間（TLC）を規定する（附属書H参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の持続時間を示す値に設定するものとする。

実際の持続時間＝値×1 ( ns )

バイト517−先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース3T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト518−先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース3T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト519−先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース3T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト520−先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース3T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト521−先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース4T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト522−先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース4T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト523−先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース4T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト524−先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース4T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト525−先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト526−先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト527−先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト528−先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト529−先頭パルス開始時間，マーク3T，立ち上がりスペース＞5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト530−先頭パルス開始時間，マーク4T，立ち上がりスペース＞5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト531−先頭パルス開始時間，マーク5T，立ち上がりスペース＞5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト532−先頭パルス開始時間，マーク＞5T，立ち上がりスペース＞5T

このバイトは，先頭パルス開始時間（TSFP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク前のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがLS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

ビットb7は，方向を規定する。

“0”の設定は，レーザスポットスキャンと同じ方向を示す。

“1”の設定は，レーザスポットスキャンと逆方向を示す。

ビットb6からb0は，次の式で規定する実際の開始時間を示す値に設定するものとする。

実際の開始時間＝値×1 ( ns )

バイト533−末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース3T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト534−末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース3T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト535−末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース3T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト536−末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース3T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS3のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト537−末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース4T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト538−末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース4T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト539−末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース4T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト540−末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース4T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS4のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト541−末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト542−末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト543−末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト544−末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS5のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト545−末尾パルス終了時間，マーク3T，立ち下がりスペース＞5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM3で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト546−末尾パルス終了時間，マーク4T，立ち下がりスペース＞5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM4で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト547−末尾パルス終了時間，マーク5T，立ち下がりスペース＞5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM5で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト548−末尾パルス終了時間，マーク＞5T，立ち下がりスペース＞5T

このバイトは，末尾パルス終了時間（TELP）を規定する（附属書H参照）。

この値は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがM6で，マークに近接する及びマーク後のNRZI信号

のスペース長のカテゴリーがTS6のとき，有効である（22.3.3参照）。

このバイトは，次の式で規定する実際の終了時間を示す値に設定するものとする。

実際の終了時間＝値×1 ( ns )

バイト549〜596−ディスク製造業者名

このフィールドの使用は，任意である。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(1)ディスク製造業者がこのフィールドを使用しないとき，このフィールドを(00)とする。

(2)ディスク製造業者がこのフィールドを使用するとき，このフィールドの使用条件は，次による。

このフィールドは，ディスク製造業者名に対応するJIS X 0221-1の48バイトとする。

このフィールドに利用できるコードは，(0D)及び(20)から(7E)までのコードに限定する。

ディスク製造業者名のこの先頭文字は，このフィールドの先頭バイトに記録する。

ディスク製造業者名は，フィールドが満ちていないとき，(0D)で終了する。

このフィールドの(0D)の後のバイトは，(20)とする。

バイト 597〜612−ディスク製造業者の追加情報

このフィールドの使用は，任意である。ディスク製造業者の追加情報（例えば，製造ロット番号，日付，

場所等）は，このフィールドに位置付けることができる。

(1)ディスク製造業者がこのフィールドを使用しないとき，このフィールドを(00)とする。

(2)ディスク製造業者がこのフィールドを使用するとき，このフィールドの使用条件は，次による。

このフィールドは，ディスク製造業者の追加情報に対応するJIS X 0221-1の16バイトとする。

このフィールドに利用できるコードは，(0D)及び(20)から(7E)までのコードに限定する。

ディスク製造業者の追加情報は，フィールドが満ちていないとき，(0D)で終了する。

このフィールドの(0D)の後のバイトは，(20)とする。

バイト613〜623−書込みパワーコントロールパラメータ

このフィールドの使用は，オプションである。ディスク製造業者がこのフィールドを使用しない場合，

このフィールドは，(00)に設定する。ディスク製造業者がこのフィールドを使用する場合，このフィール

ドの内容は，次による。

バイト615から623までの値は，ディスク製造業者が決定する。

書込みパワーコントロールパラメータは，ドライブによる書込みパワー校正に用いてもよい。

バイト613及び614−識別子

このフィールドは，(01)(01)に設定する。

バイト615−ランドトラック限界ピークパワーに対するランドトラックピークパワーの比率

このバイトは，ランドトラック限界ピークパワーに対するランドトラックピークパワーの比率を規定す

る。限界ピークパワーは，バイアスパワー1，2，3並びに物理フォーマット情報のバイト504から506ま

で，バイト502及びバイト511から548までに与えた値に設定した書込みパルスで，ランダムデータのジ

ッタ値が13 %になるときのピークパワーとして定義する。

このバイトは，次の式によって規定されたランドトラック限界ピークパワーに対するランドトラックピ

ークパワーの実際の比率を指示する値に設定する。

実際の比率＝値×0.01

バイト616−非対称性の目標値

このバイトは，ピークパワー，バイアスパワー1，2，3及び物理フォーマット情報のBP617からBP620

まで，BP502及びBP511からBP548までに与えた値に設定した書込みパルスでランドトラックに記録し

た6T信号の非対称性を規定する。

ビットb7は，0又は正符号の場合，“0”に設定する。

負符号の場合，“1”に設定する。

ビットb6からb0は，次の式によって規定される実際の非対称性を示す値に設定する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

実際の非対称性を示す値＝値×1 ( % )

バイト617−一時的ピークパワー

このバイトは，適応書込み制御テーブルの決定のためにディスクの読出面上の一時的ピークパワーを規

定する。このバイトは，次の式によって規定される実際の一時的ピークパワーを示す値に設定する。

実際の一時的ピークパワー＝値×0.1 ( mW )

バイト618−一時的バイアスパワー1

このバイトは，適応書込み制御テーブルの決定のためにディスクの読出面上の一時的バイアスパワー1

を規定する。

このバイトは，次の式によって規定される実際の一時的バイアスパワー 1を示す値に設定する。

実際の一時的バイアスパワー1＝値×0.1 ( mW )

バイト619−一時的バイアスパワー2

このバイトは，適応書込み制御テーブルの決定のためにディスクの読出面上の一時的バイアスパワー2

を規定する。

このバイトは，次の式によって規定される実際の一時的バイアスパワー2を示す値に設定する。

実際の一時的バイアスパワー2＝値×0.1 ( mW )

バイト620−一時的バイアスパワー3

このバイトは，適応書込み制御テーブルの決定のためにディスクの読出面上の一時的バイアスパワー3

を規定する。

このバイトは，次の式によって規定される実際の一時的バイアスパワー3を示す値に設定する。

実際の一時的バイアスパワー3＝値×0.1 ( mW )

バイト621−グルーブトラック限界ピークパワーに対するグルーブトラックピークパワーの比率

このバイトは，グルーブトラック限界ピークパワーに対するグルーブトラックピークパワーの比率を規

定する。限界ピークパワーは，バイアスパワー1，2，3並びに物理フォーマット情報のバイト504から506

まで，バイト502及びバイト511から548までに与えた値に設定した書込みパルスで，ランダムデータの

ジッタ値が13 %になるときのピークパワーとして定義する。

このバイトは，次の式によって規定されたグルーブトラック限界ピークパワーに対するグルーブト
ラックピークパワーの実際の比率を指示する値に設定する。

実際の比率＝値×0.01

バイト622−ランドトラック限界6Tピークパワーに対するランドトラックピークパワーの比率

このバイトは，ランドトラック限界6Tピークパワーに対するランドトラックピークパワーの比率を規

定する。限界6Tピークパワーは，バイアスパワー1，2，3並びに物理フォーマット情報のバイト504か

ら506まで，バイト502及びバイト511から548までに与えた値に設定した書込みパルスで，6Tパター

ンのジッタ値が13 %になるときのピークパワーとして定義する。

このバイトは，次の式によって規定されたランドトラック限界6Tピークパワーに対するランドトラッ

クピークパワーの実際の比率を指示する値に設定する。

実際の比率＝値×0.01

バイト623−グルーブトラック限界6Tピークパワーに対するグルーブトラックピークパワーの比率

このバイトは，グルーブトラック限界6Tピークパワーに対するグルーブトラックピークパワーの比率

を規定する。限界6Tピークパワーは，バイアスパワー1，2，3並びに物理フォーマット情報のバイト

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

504から506まで，バイト502及びバイト511から548までに与えた値に設定した書込みパルスで，6T

パターンのジッタ値が13 %になるときのピークパワーとして定義する。

このバイトは，次の式によって規定されたグルーブトラック限界6Tピークパワーに対するグルーブト

ラックピークパワーの実際の比率を指示する値に設定する。

実際の比率＝値×0.01

バイト624〜2 047−予備これらのバイトは，(00)に設定する。

16.2.6.2 ディスク製造情報この規格は，2 048バイトのフォーマット及び内容を規定しない。これらは，

互換性では，無視するものとする。

16.2.7 結合ゾーン結合ゾーンは，エンボス領域及び書換可能領域を結合するためのものである。この

ゾーンは，グルーブもエンボスマークも含まないものとする。

エンボス領域の終了であるセクタ(02FFFF)の中心線と書換可能領域の開始であるセクタ(030000)のトラ

ック中心線の間の距離は，1.42〜6.16 μmである(図28参照)。

図28 結合ゾーン周辺の構造

16.2.8 ガードトラックゾーン1，2 いずれのゾーンも各々512セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘ

ッダフィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。ガードトラックゾーンの記録フィールド

は，未記録のままにしておくものとする。

16.2.9 ディスク試験ゾーンディスク試験ゾーンは1 024セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダ

フィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。このゾーンは，ディスク製造業者が使用する

エンボス
データゾーン

書換可能
データゾーン

外周側

結合ゾーン

内周側

1.42μｍ〜6.16μｍ

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ためのものである。

16.2.10 ドライブ試験ゾーンドライブ試験ゾーンは1 792セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダ

フィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。このゾーンは，ドライブが使用するためのも

のである。

16.2.11 ディスク識別ゾーンリードインエリアのディスク識別ゾーンは，ディスク識別情報，ドライブ

情報及び予備のエリアを含む。ディスク識別情報は，セクタ番号(030F00)から始まる四つのECCブロッ

クで構成する。

各ディスク識別情報ブロックの16セクタの内容は，等しい。

ドライブ情報は，セクタ番号(030F40)から始まる二つのECCブロックで構成する。

各ドライブ情報ブロックの16セクタの内容は，等しい。

リードインエリアのディスク識別ゾーンの構造は，図29に示す。

ドライブ情報は，セクタ番号の昇順で，読み取るか，又は書き込む。

セクタ番号

200 448

ディスク識別情報 1

16 セクタ

(030F00)

200 464

ディスク識別情報2

16 セクタ

(030F10)

200 480

ディスク識別情報3

16 セクタ

(030F20)

200 496

ディスク識別情報4

16 セクタ

(030F30)

200 512

ドライブ情報1

16 セクタ

(030F40)

200 528

ドライブ情報2

16 セクタ

(030F50)

200 544

予備

16 セクタ

(030F60)

200 560

予備

16 セクタ

(030F70)

図29 リードインゾーンでのディスク識別ゾーンの構造

16.2.11.1 ディスク識別情報ディスク識別情報は，ディスクの物理的及び/又は論理的な状態を説明す

る特定情報を含む。

ディスク識別情報の内容は，表8に示す。

ディスク識別情報は，セクタ番号の昇順で，読み取るか又は書き込む。

ディスクを初期化するか又は再初期化するとき，書込み禁止フラグは，“0”に設定する。

表8 ディスク識別情報の内容

バイト位置

内容

バイト数

ディスクのための書込み禁止フラグ

1〜32 767

予備

32 767

バイト0−ディスクの書込み禁止フラグ

ビットb7は，全体のディスクが書込み禁止でないとき，“0”に設定する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

全体のディスクがドライブ試験ゾーン及びディスク識別ゾーン以外の書込み禁止のとき，

“1”に設定する。

ビットb6からb0は，“0”に設定する。

バイト1〜32 767−予備バイトは，すべて，(00)に設定する。

16.2.11.2 書込み禁止ディスク識別情報の書込み禁止フラグは，ケースのないディスクの書込み禁止

機能のために使用することができる。書込み禁止フラグは，オプションである。書込み禁止フラグは，そ

のケースの上の機械的な書込み禁止穴に加えて，ケースの中にあるディスクのために独立に用いてもよい。

16.2.11.3 ドライブ情報ドライブ情報の使用は，オプションである。ドライブ情報ブロックの構造は，

図30に示す。

相対的セクタ番号

ドライブ記述0

2 048 バイト

ドライブ記述1

2 048 バイト

.
.
.
.

・
・
・
・

ドライブ記述15

2 048 バイト

図30 ドライブ情報ブロックの構造

この情報が使用されるとき，このフィールドは，次の条件を満たす。

ドライブ情報ブロックを更新する場合，次の手順を使用する。

a) ドライブ情報1を読み取ることができる場合

新しいドライブ記述0は，ドライブ情報1及びドライブ情報2の両方の相対的セクタ番号0に書き込む。

ドライブ情報1の相対的セクタ番号0から14までのあらかじめ書き込んである内容は，ドライブ情報1

及びドライブ情報2の両方の相対的セクタ番号1から15までに書き込む。

b) ドライブ情報1を読み取ることができず，かつ，ドライブ情報2を読み取ることができる場合

新しいドライブ記述0は，ドライブ情報1及びドライブ情報2の両方の相対的セクタ番号0に書き込む。

ドライブ情報2の相対的セクタ番号0から14までのあらかじめ書き込んである内容は，ドライブ情報1

及びドライブ情報2の両方の相対的セクタ番号1から15までに書き込む。

c) ドライブ情報1及びドライブ情報2を読み取ることができない場合

新しいドライブ記述0は，ドライブ情報1及びドライブ情報2の両方の相対的セクタ番号0に書き込む。

ドライブ情報1及びドライブ情報2の両方の相対的セクタ番号1から15は，(00)に設定する。ドライブ

記述の内容は，表9に示す。

表9 ドライブ記述の内容

バイト位置

内容

バイト数

0〜47

ドライブ製造業者の名前

48〜95

追加情報

96〜2 047

ドライブ条件

1 952

バイト0〜47−ドライブ製造業者の名前

このフィールドは，ドライブ製造業者の名前に相当する，JIS X 0221-1の48バイトで構成する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

このフィールド用の利用可能な文字は，(0D)によって表される文字及び(20)から(7E)によって表される

文字に制限する。

ドライブ製造業者の名前の第1文字は，このフィールドの第一バイトで規定する。

フィールドが満杯でない場合，ドライブ製造業者の名前は，(0D)で終了する。

このフィールドの(0D)後のバイトは，(20)に設定する。

バイト48〜95−追加情報

追加情報(例えば，製造業者の通し番号，日付，場所など)は，このフィールドに位置することができる。

このフィールドは，ドライブ製造業者の追加情報に相当する，JIS X 0221-1の48バイトで構成する。

このフィールド用の利用可能な文字は，(0D)によって表される文字及び(20)から(7E)によって表される文

字に制限する。

フィールドが満杯でない場合，ドライブ製造業者の名前は，(0D)で終了する。

このフィールドの(0D)後のバイトは，(20)に設定する。

バイト96〜2 047−ドライブ条件

バイト0から47に定義されたドライブ製造業者だけは，このフィールドでデータを書き込んでもよい。

ドライブ製造業者は，このフィールドでどんなデータも書き込んでよい。

16.2.12 DMA1及びDMA2 このゾーンは128セクタからなる。欠陥管理領域については，17.1参照。

16.3 データゾーン

16.3.1 データゾーン及び欠陥管理領域の構造データゾーンは，書換可能領域とする。データゾーンは，

(031000)のセクタ番号から開始するものとする。データゾーンは，16.3.2に規定するように各ゾーンの境

界でガードトラックゾーンによって遮られるものとする。データゾーン及び近接のゾーンのレイアウトは，

図31に示す。

DMA1

リードイン

予備

ゾーン

DMA2

予備

データ
ゾーン

DMA3

リードアウト

予備

ゾーン

DMA4

予備

図31 データゾーン及び欠陥管理領域のレイアウト

16.3.2 ガードトラックゾーンガードトラックゾーンで開始しないゾーン0，及び，ガードトラックゾ

ーンで終了しないゾーンである120 mmディスクのゾーン34及び80 mmディスクのゾーン13を除いて，

データゾーン内の各ゾーンは，ガードトラックゾーンで開始し，終了するものとする。ガードトラックゾ

ーンのセクタの数は，二つのトラックを占有するのに十分，かつ，最も小さい16の倍数とする。

ガードトラックゾーンは，エンボスグルーブ，ヘッダフィールド及び未記録のままとする記録フィール

ドを含むものとする。

16.3.3 区画データゾーンは，ユーザ領域及びスペア領域からなる単一のグループで構成する。グループ

は，120 mmディスクでは35ゾーン，80 mmディスクでは14ゾーンで構成する。スペア領域には，一次

スペア領域及び追加スペア領域の2タイプある。一次スペア領域は初期化時に割付けるものとする。追加

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

スペア領域は初期化時又は初期化後に必要に応じて割付けることができる。追加スペア領域が割り付けら

れたとき，追加スペア領域内のセクタに論理セクタ番号(LSN)をもたせてはならない。スペア領域の配列

は，割付けの時点に依存しないものとする。これらの領域の配列は，表10及び表11に示す。

ユーザ領域のセクタは，次のように，連続したLSNをもつものとする。すなわち，表10及び表11に規

定するユーザ領域のすべてのセクタは，ゾーン0のユーザ領域の最初のセクタを0に設定して，あらゆる

セクタに対して1だけ増加させ，そしてゾーン1のユーザ領域の最初のセクタは，ゾーン0のユーザ領域

の最後のセクタから続くような方法で，LSNによって順番に番号を付けるものとする。

データゾーンは，ECCブロックの書込み及び読取りの単位としてのデータブロックからなるものとする。

各データブロックは，連続LSNをもつ16セクタからなるものとする。データブロックは，データブロッ

クの最初のセクタのLSNが16の倍数であるように配列するものとする。すなわち，区画は，次のように

ユーザ領域及びデータ領域をデータブロック及びスペアブロックに区画することである。

― ユーザ領域及びスペア領域を，それぞれデータブロック及びスペアブロックに区分する。

― データブロックのセクタは，LSNをもつ。

― 一つのデータブロックは，次の三つの状態のうちどれかにあるものとする。

・それは，ECCブロックである。

・そのデータフィールド番号は，(000000)から(00000F)の範囲にある。

・それは，未書込みである。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表

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ク

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域

ユ

ー

ザ

領

域

ゾ

ー

ン

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先

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セ

ク

タ

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ゾ

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ン

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セ

ク

タ

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セ

ク

タ

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号

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ガ

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ド

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ラ

ッ

ク

ゾ

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ン

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先

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及

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セ

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ク

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プ

先

頭

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ゾ

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セ

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

合

計

)

参

照

-M

〜

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照

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計

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デ

ィ

ス

クゾ

ー

ン

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ン

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先

頭

セ

ク

タ

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

16.3.4 追加スペア領域のブロック数表10及び表11中で，追加スペア領域に使用されるブロック数

はMで指定され，Mは32の整数n倍の数である。これらのブロックは各々16セクタからなる。

120mmディスク： M=n×32， 0≦n≦191

Mmin=0 （スペアブロックを割付けない時） Mmax=6 112 （スペアブロックを割付けた時）

80mmディスク： M=n×32， 0≦n≦174

Mmin=0 （スペアブロックを割付けない時） Mmax=5 568 （スペアブロックを割付けた時）

ゾーン34とゾーン13に示されたセクタ数は，Mminに対応する。追加スペア領域を割付ける時，ユーザ

領域の最終セクタのセクタ番号及びスペア領域の先頭セクタのセクタ番号は，追加スペア領域に割付ける

ブロック数に応じて変動する。追加スペア領域はデータゾーンの最終ゾーンの最後の部分に配置される。

16.4 リードアウトゾーン

16.4.1 リードアウトゾーンの構造リードアウトゾーンの構造を，図32に示す。

セクタ番号

120 mm

ディスク

80 mm

ディスク

120 mm ディスク

及び80 mm ディスク

120 mm

ディスク

80 mm
ディスク

2 514 783

922 143

データゾーン

(265F5F)

(0E121F)

2 514 784

922 144

DMA3 & DMA4

192 セクタ / 192 セクタ

(265F60)

(0E1220)

2 514 976

922 336

予備ゾーン

192 セクタ / 192 セクタ

(266020)

(0E12E0)

2 515 168

922 528

ガードトラックゾーン1

512 セクタ / 512 セクタ

(2660E0)

(0E13A0)

2 515 680

923 040

ドライブ試験ゾーン

1 792 セクタ / 1 152 セクタ

(2662E0)

(0E15A0)

2 517 472

924 192

ディスク試験ゾーン

1 792 セクタ / 896 セクタ

(2669E0)

(0E1A20)

2 519 264

925 088

ガードトラックゾーン2

53 488 セクタ / 24 800 セクタ

(2670E0)

(0E1DA0)

図32 リードアウトゾーンの構造

16.4.2 DMA3及びDMA4 このゾーンは，192セクタからなる。欠陥管理領域については，17.1参照。

16.4.3 予備ゾーンこのゾーンは，192セクタからなり，すべてのバイトは(00)に設定する。

16.4.4 ガードトラックゾーン1 このゾーンは，512セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフィ

ールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。ガードトラックゾーンの記録フィールドは，未記

録のままにする。

16.4.5 ドライブ試験ゾーンドライブ試験ゾーンは，120 mmディスクでは1 792セクタ，80 mmディ

スクでは1 152セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフィールド，ミラーフィールド及び記録フィ

ールドを含む。このゾーンは，ドライブによって使用されるためのものであり，読取りに際してはその内

容は無視する。

16.4.6 ディスク試験ゾーンディスク試験ゾーンは，120 mmディスクでは1 792セクタ，80 mmディ

スクでは896セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフィールド，ミラーフィールド及び記録フィー

ルドを含む。このゾーンは，ディスク製造業者によって使用されるためのものであり，読取りに際しては

その内容は無視する。

16.4.7 ガードトラックゾーン2 このゾーンは，120 mmディスクでは53 488セクタ，80 mmディス

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

クでは24 800セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフィールド，ミラーフィールド及び記録フィ

ールドを含む。ガードトラックゾーンの記録フィールドは，未記録のままにする。

17.

欠陥管理

17.1 欠陥管理領域(DMA) ディスクの各面に四つの欠陥管理領域(DMA)がある。四つのDMAは，デー

タゾーンの構造及び欠陥管理に関する情報を含む。各DMAの長さは，32セクタ(2ECCブロック)とする。

DMAの二つのDMA1及びDMA2は，ディスクの内径の近傍に位置し，他の二つのDMA3及びDMA4

は，ディスクの外径の近傍に位置するものとする。120 mmディスクのDMAの境界は表12に，80 mm

ディスクのDMAの境界は表13に示す。

表12 120 mmディスクのDMAの位置

セクタ番号の始まり

セクタ番号の終わり

ブロックの数

DMA 1

(030F80)

(030F9F)

予備

(030FA0)

(030FBF)

DMA 2

(030FC0)

(030FDF)

予備

(030FE0)

(030FFF)

DMA 3

(265F60)

(265F7F)

予備

(265F80)

(265FBF)

DMA 4

(265FC0)

(265FDF)

予備

(265FE0)

(26601F)

表13 80 mmディスクのDMAの位置

セクタ番号の始まり

セクタ番号の終わり

ブロックの数

DMA 1

(030F80)

(030F9F)

予備

(030FA0)

(030FBF)

DMA 2

(030FC0)

(030FDF)

予備

(030FE0)

(030FFF)

DMA 3

(0E1220)

(0E123F)

予備

(0E1240)

(0E127F)

DMA 4

(0E1280)

(0E129F)

予備

(0E12A0)

(0E12DF)

各DMAは，二つのECCブロックからなるものとし，二つの予備ブロックに続く。各DMAの最初の

ECCブロックはDDS/PDLブロックと呼ばれ，ディスク定義構造(DDS)及び一次欠陥管理表(PDL)を含

むものとする。各DMAの二番目のECCブロックはSDLブロックと呼ばれ，二次欠陥管理表(SDL)を含

むものとする。四つのDMAの内容は，同一とする。

ディスクの初期化の後（17.8.1参照），各DMAは，次の内容をもつものとする。

― DDS/PDLブロックの第一セクタは，DDSを含む。

― DDS/PDLブロックの第二セクタは，PDLの最初のセクタとする。

― SDLブロックの第一セクタは，SDLの最初のセクタとする。

PDL及びSDLの長さは，各リストのエントリの数によって決まる。DDSの内容は，17.2に規定する。

PDL及びSDLの内容は，17.6及び17.7に規定する。DMAの未使用セクタは，(FF)で満たすものとする。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

すべての予備セクタは，(00)で満たすものとする。

17.2 ディスク定義構造(DDS) DDSは，1セクタの長さをもつ表からなる。DDSは，ディスクのフォー

マッティングしたディスクの構造を規定する。DDSは，ディスクのフォーマッティングの終わりに各DMA

の最初のセクセクタに記録する。表14及び表15に与えるディスク構造に関する情報は，それぞれ 120 mm

ディスクと80 mmディスクの四つのDDSの各々に記録するものとする。

表14 120 mmディスクのディスク定義構造のバイト割り当て

バイト位置

内容

バイト数

0 〜 1

DDS識別子 (0A0A)

予備

ディスクサーティフィケーションフラグ

4 〜 7

DDS/PDL更新カウンタ

8 〜 9

グループ数

10 〜 11

ゾーン数

12 〜 79

予備

80 〜 87

一次スペア領域の位置

88 〜 91

LSN0の位置

92 〜 255

予備

164

256 〜 259

ゾーン0の先頭LSN

260 〜 263

ゾーン1の先頭LSN

…

140

392 〜 395

ゾーン34の先頭LSN

396 〜 2 047

予備

1 652

表15 80 mmディスクのディスク定義構造のバイト割り当て

バイト位置

内容

バイト数

0 〜 1

DDS識別子 (0A0A)

予備

ディスクサーティフィケーションフラグ

4 〜 7

DDS/PDL更新カウンタ

8 〜 9

グループ数

10 〜 11

ゾーン数

12 〜 79

予備

80 〜 87

一次スペア領域の位置

88 〜 91

LSN0の位置

92 〜 255

予備

164

256 〜 259

ゾーン0の先頭LSN

260 〜 263

ゾーン1の先頭LSN

…

308 〜 311

ゾーン13の先頭LSN

312 〜 2 047

予備

1 736

バイト0〜1−DDS識別子

この2バイトは，(0A0A)に設定し，DDS識別子を示す。

バイト2−予備

このバイトは，(00)に設定する。

バイト3−ディスクサーティフィケーションフラグ

このフラグは，図33にあるようなビットフィールドに分割する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

b6 〜 b2

インプログレス

予備

ユーザ

サーティフィケーション

製造業者

サーティフィケーション

図33 ディスクサーティフィケーションフラグ

このフィールドの設定は，次による。

ビットb7

設定は，次による。
フォーマッティングが完了したとき，“0”
フォーマッティングがインプログレス中のとき，“1”

ビットb6〜b2

“00000”に設定する。

ビットb1

設定は，次による。
ディスクがユーザによってサーティフィケーションされていないとき，“0”
ディスクがユーザによってサーティフィケーション済みのとき，“1”

ビットb0

設定は，次による。
ディスクが製造業者によってサーティフィケーションされていないとき，
“0”
ディスクが製造業者によってサーティフィケーション済みのとき，“1”

備考ビットb7は，どんなサーティフィケーションをもつフォーマッティングの開始時にも“1”に

設定し，フォーマッティングの終了で“0”に設定するものとする。

バイト4〜7−DDS/PDL更新カウンタ

このフィールドは，DDS/PDLブロックの更新及び書換え操作の回数を規定する。

このフィールドは，初期化の始まりで0に設定し，DDS/PDLブロックを更新，又は書換えするとき，1

だけ増加するものとする。DDS/PDL更新カウンタのコピーをSDLのバイト16〜19に記録する(17.7参

照)。

バイト8〜9−グループ数

この2バイトフィールドは，(0001)に設定し，1グループを示す。

バイト10〜11−ゾーン数

この2バイトフィールドは，120 mm ディスクでは(0023)に設定し，35ゾーンを示す。

この2バイトフィールドは，80 mm ディスクでは(000E)に設定し，14ゾーンを示す。

バイト12〜79−予備

すべてのバイトは，(00)に設定する。

バイト80〜87−一次スペア領域の位置

この8バイトは，図34にあるようなフィールドに分割する。

b63 〜 b56

b55 〜 b32

b31 〜 b24

b23 〜 b0

予備

一次スペア領域の先頭

セクタのセクタ番号

予備

一次スペア領域の最終

セクタのセクタ番号

図34 一次スペア領域の位置

このフィールドの設定は，次による。

ビットb63〜b56

(00)に設定する。

ビットb55〜b32

(031000)に設定して，一次スペア領域の先頭セクタのセクタ番号を規定す
る。

ビットb31〜b24

(00)に設定する。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb23〜b0

120 mm ディスクでは(0341FF)に設定して，一次スペア領域の最終セクタ
のセクタ番号を規定する。
80 mm ディスクでは(0323FF)に設定して，一次スペア領域の最終セクタの
セクタ番号を規定する。

バイト88〜91−LSN0の位置

この4バイトは，図35にあるようなフィールドに分割する。

b31 〜 b24

b23 〜 b0

予備

LSN0の位置

図35 LSN0の位置

このフィールドの設定は，次による。

ビットb31〜b24

(00)に設定する。

ビットb23〜b0

先頭のLSNのセクタ番号を設定する。

バイト92〜255−予備

すべてのバイトは，(00)に設定する。

バイト256〜395−120 mmディスクの各ゾーンの先頭LSN

バイト256〜311−80 mmディスクの各ゾーンの先頭LSN

このフィールドは，図36にあるような各4バイトからなる。

b31 〜 b24

b23 〜 b0

予備

ゾーンの先頭LSN

図36 先頭LSN

このフィールドの設定は，次による。

ビットb31〜b24

(00)に設定する。

ビットb23〜b0

そのゾーンの先頭LSNを設定する。

バイト396〜2 047

120 mmディスクのすべてのバイトは，(00)に設定する。

バイト312〜2 047

80 mmディスクのすべてのバイトは，(00)に設定する。

17.3 スペアセクタデータ領域の欠陥のあるセクタは，この規格に規定した以外の仕様で欠陥セクタを

管理する場合を除き，下記の欠陥管理方法に従って良好なセクタで置き換えるものとする。ディスクは，

使用前にフォーマッティングするものとする。この規格は，サーティフィケーション付きフォーマッティ

ングとサーティフィケーションなしのフォーマッティングの両者を許容する。

ディスクはゾーン0に一つの一次スペア領域をもつものとし，一つの拡張可能な追加スペア領域を，120

mmディスクではゾーン34，80 mmディスクではゾーン13にもつことができるものとする。一次スペア

領域のスペアセクタ数は，120 mmディスクでは12 800，80 mmディスクでは5 120とする。追加スペ

ア領域のスペアブロックの最大数は，120 mmディスクでは6 112，80 mmディスクでは5 568とする。

追加スペア領域のスペアブロックの数は，32の倍数とする。追加スペア領域はデータゾーンの先頭に向か

って拡張することができる。

欠陥のあるセクタは，スリッピングアルゴリズム又はリニアリプレイスメントアルゴリズム，又は，ブ

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ロックスキッピングアルゴリズムによって処理する。一次欠陥管理表(PDL)(17.6参照)及び二次欠陥管理

表(SDL)(17.7参照)に登録したエントリの全数は，次の要求事項を満たすものとする。

1 ≦ SPDL ≦ 15，1 ≦ SSDL ≦ 15 ： 120 mmディスクの場合

1 ≦ SPDL ≦ 8， 1 ≦ SSDL ≦ 15 ： 80 mmディスクの場合

(

)

048

047

int

PDL

(

)

048

047

int

PDL

ここに，SPDLは，PDLエントリを保持するために使用するセクタの番号

SSDLは，SDLエントリを保持するために使用するセクタの番号

EPDLは，PDLエントリの番号

ESDLは，SDLエントリの番号

int[x]は，x以下の最大の整数とする

17.4 スリッピングアルゴリズムスリッピングアルゴリズムは，欠陥セクタがPDLに登録されているな

らば，データ領域全体に適用するものとする。

PDLに登録した欠陥のあるデータセクタは，その欠陥セクタに後続する良好な最初のセクタに置き換え

るものとする。個々の欠陥セクタは，欠陥セクタが位置するゾーンの開始部に向かって一つのセクタのス

リップを起こす。ゾーン内の欠陥セクタによって，ECCブロックの一部分が作られてもよい。この一部

分は，ゾーンの終了部のガード領域の直前に移動させる。最外周のゾーンの場合には，ECCブロックの一

部分はゾーンの終了部に位置するものとする。この結果，そのゾーンに欠陥セクタ及びECCブロックの

一部分が有れば，その前のゾーンのセクタがデータ領域の開始部に向かってスリップを起こす。欠陥のあ

るセクタのセクタ番号は，PDLに書き込む。欠陥セクタ及びECCブロックの一部分は，ユーザデータを

記録するために用いてはならない。セクタにLSNを割り当てる必要がある場合，そのセクタがPDLに記

録されているならば，セクタは，上記の方法で置き換えられるものとする。

スリッピングアルゴリズムを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係を，図37に示す。

ケース１：欠陥セクタのない場合

セクタ番号

ケース２：欠陥セクタのある場合

セクタ番号

一次スペア領域

ユーザ領域（ゾーン０）

(ｍ +I +ｎ +ｊ) セクタ

ｍセクタ

n セクタ

o セクタ

j セクタ

i セクタ

(m+i)，(n+o+j)は，それぞれ16の倍数。

欠陥セクタ

ガード領域

ECCブロックの一部分

ユーザ領域（ゾーン1）

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図37 スリッピングアルゴリズムを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係

17.5 リニアリプレイスメントアルゴリズムリニアリプレイスメントアルゴリズムは，フォーマッティ

ングの後に発見された欠陥セクタを処理するために使用する。これらは，フォーマッティング中にPDL

に登録されなかった欠陥セクタや，過度の重ね書きのために損きずしたセクタにも適用される。置き換え

は，16セクタ単位，すなわち，データブロックで行う。

欠陥ブロックは，一次スペア領域の最初の利用可能な良品スペアブロックで置き換えるものとする。一

次スペア領域に残された良品スペアブロックがないならば，SDLの一次スペア領域フルフラグを“1”に設

定し，かつ，追加スペア領域が割り振られていた場合，欠陥ブロックを追加スペア領域の最初の利用可能

な良品スペアブロックに置き換えるものとする。追加スペア領域に残されたスペアブロックがないならば，

SDLの追加スペア領域フルフラグを“1”に設定するものとする。リニアリプレイスメント状態(SLR)(17.7

参照)が“0”に設定されているならば，SDLの交替ブロックの第一セクタのセクタ番号は最終的な交替ブロ

ックを指し示すものとする。

一次スペア領域の最初の利用可能な良品スペアブロックは，SDLに登録された第一交替ブロックの直前

にある最初の良品ブロックである。SDLに交替ブロックがリストされていないならば，一次スペア領域の

最初の利用可能な良品スペアブロックは，第一データブロックの直前にある最初の良品ブロックである。

一次スペア領域が使い尽くされ，かつ，追加スペア領域が割り振られていたならば，最初の利用可能な

良品スペアブロックは，追加スペア領域の最も外側の未使用の良品ブロックである。ブロックの降順で，

スペア領域を使用する。スペア領域の欠陥セクタ，及び，これに対応するPDL又はSDLに既に登録され

た交替セクタをスペアセクタとして用いてはならない。

読み取られるか又は書き込まれるブロックが，SDLに“0”のSLRをもってリストされているならば，デ

ータはSDLに指し示されたスペア領域の交替ブロックから読み取られるか又は交替ブロックに書き込ま

れるものとする。読み取られるブロックが， SDLに“1”のSLRをもってリストされているならば，部分

的に訂正されたデータ，又は，すべてのビットに0bを充てたデータが，戻されるものする。

書き込まれるブロックが， SDLに“1”のSLRをもってリストされ，交替ブロックの第一セクタのセク

タ番号のフィールドが(000000)で，かつ，欠陥ブロックのリニアリプレイスメントが許されるならば，デ

ータは，最初の利用可能な良品スペアブロックに書き込まれるものとする。この場合，SDLエントリの

SLR は，“0”に変えるものとし，交替ブロックの第一セクタのセクタ番号のフィールドは，新しい交替ブ

ロックの第一セクタ番号に設定するものとする。

書き込まれるブロックが，SDLに“1”のSLRをもってリストされ，交替ブロックの第一セクタのセクタ

番号のフィールドが(000000)でなく，かつ，欠陥ブロックのリニアリプレイスメントが許されるならば，

データは，交替ブロックに書き込まれるものとする。この場合，SDLエントリのSLRは，“0”に変える

ものとする。

書き込まれるブロックが欠陥であることが発見され，かつ，利用可能なスペアブロックがないか又は欠

陥ブロックがリニアリプレイスメントアルゴリズムで処理されるならば，欠陥ブロックは， SDLに“1”の

SLRをもって登録してもよい。この場合，SDLエントリの交替ブロックの第一セクタのセクタ番号は，

(000000)に設定するものとする。

フォーマッティング後にデータブロックに欠陥があることが分かり，使用可能なスペアブロックが有っ

て，かつ，欠陥ブロックをリニアリプレイスメントアルゴリズムで処理するのであれば，それは欠陥ブロ

ックとみなし，新しいエントリとしてSDLにSLRを“0”に設定して登録する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

SDLに登録した交替ブロックが後に欠陥ブロックであると分かれば，直接ポインタ方法を適用し，SDL

に登録する。この直接ポインタ方法では，SDLエントリ中の交替ブロックの第一セクタを欠陥のものから

新しいものへ変更することによって欠陥交替ブロックを登録するものとする。

SDLを更新する時点で，SDL更新カウンタは，1だけ増加するものとする。

リニアリプレイスメントアルゴリズムを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係を，図38

に示す。

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図38 リニアリプレイスメントを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係

17.6 一次欠陥管理表(PDL) 一次欠陥管理表(PDL)は，各DDS/PDLブロックがたとえ空でも常に記録す

るものとする。欠陥セクタのリストは，ディスクのサーティフィケーション以外の手段で得てもよい。

PDLは，フォーマッティングで識別した欠陥セクタのエントリを含むものとする。セクタ番号は，昇順

でリストするものとする。PDLは，必要な最少セクタに記録し，PDLの第一セクタのバイト0に始まる

ものとする。PDLの最終のセクタの未使用バイトは，(FF)に設定するものとする。DDS/PDLブロックの

すべての未使用セクタは，(FF)のデータで満たすものとする。表16の情報は，各PDLに記録する。

PDLが複数にわたる場合，欠陥セクタのエントリのリストは，第二セクタ及びそれに続くセクタの第一

バイトへ続くものとする。したがって，PDL識別子及びPDLのエントリ数は，PDLの最初のセクタでだ

け存在するものとする。空のPDLでは，PDLのエントリ数(PDLの第一セクタのバイト2及びバイト3)

は，(0000)に設定し，バイト4からバイト2 047は，(FF)に設定するものとする。

エントリタイプは，欠陥セクタの発生元を規定する。

1) ディスク製造業者が定義する欠陥セクタ(Pリスト)

2) サーティフィケーションプロセスで発見した欠陥セクタ(G1リスト)

3) サーティフィケーションプロセスなしでSDLから移動した欠陥セクタ(G2リスト)

Pリストは，どのフォーマッティングの後でも以前のリストを保存するものとする。

表16 PDLの内容

バイト位置

内容

バイト数

0〜1

PDL識別子 (0001)

2〜3

PDLのエントリ数 (EPDL)

4〜7

第一PDLエントリ

8〜11

第二PDLエントリ

---

n〜n+3

最後のPDLエントリ

n＝4×EPDL

バイト0〜1−PDL識別子

このフィールドは，(0001)に設定し，PDL識別子を示す。

スペア領域

セクタ番号

ユーザ領域

又は

スペア領域

２スペアブロック

最初に検出した

欠陥ブロック

２番目に検出した

欠陥ブロック

交替処理はブロック

単位で行う

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バイト2〜3−PDLのエントリ数

このフィールドは，PDLのエントリ数EPDLを規定するものとする。

PDLエントリ

各4バイトフィールドは，図39に示すように三つのフィールドに区分する。

b31

b30b29

b24b23

エントリタイプ

予備

欠陥セクタ番号

図39 PDLエントリ

ビットb31〜b30の設定は，次による。

“00” Pリストを示す。

“10” G1リストを示す。

“11” G2リストを示す。

ビットb29〜b24は，“000000”に設定する。

ビットb23〜b0は，欠陥セクタのセクタ番号を規定する。

17.7 二次欠陥管理表(SDL) 二次欠陥管理表(SDL)は，各SDLブロックがたとえ空でも常に記録するも

のとする。

SDLは，欠陥ブロックの第一セクタのセクタ番号及び置き換える交替先の第一セクタのセクタ番号を含

むエントリを含むものとする。SDLの各エントリは，8バイト，すなわち，欠陥ブロックの第一セクタの

セクタ番号に対して3バイト，交替ブロックの第一セクタ番号に対して3バイト，リニアリプレイスメン

ト状態(SLR)に対しての1バイト(このうち1ビットをSLRに使用し，残り7ビットは予備)及び，1予備

バイトを含む。欠陥ブロックの第一セクタのセクタ番号は，昇順でリストするものとする。SDLは，必要

最少数のセクタに記録するものとする。SDLの最終セクタのすべての未使用バイトは，(FF)に設定するも

のとする。SDLブロックのすべての未使用セクタは，(FF)で満たすものとする。表17の情報は，四つの

SDLの各々に記録するものとする。

SDLに登録した交替ブロックが後で欠陥ブロックであると分かれば，直接ポインタ方法を適用してSDL

に登録するものとする。この方法で，欠陥交替ブロックが登録されているSDLエントリは，交替ブロッ

クの最初のセクタのセクタ番号を欠陥交替ブロックから新しいものに変更することによって修正するもの

とする。したがって，SDLのエントリ数は，欠陥セクタの登録の際にも変更しないものとする。

SDLが複数のセクタにまたがる場合，エントリのリストは，第二セクタ及びそれに続くセクタの第一バ

イトへ続くものとする。したがって，SDL識別子，SDL更新カウンタ，スペア領域フルフラグ及びSDL

のエントリ数は，SDLの最初のセクタにだけ存在するものとする。

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表17 SDLの内容

内容

バイト数

0〜1

SDL識別子 (0002)

2〜3

予備

4〜7

SDL 更新カウンタ

8〜11

追加スペア領域のセクタ番号

12〜15

論理セクタの総数

16〜19

DDS/PDL 更新カウンタ

スペア領域フルフラグ

予備

22〜23

SDLのエントリ数 (ESDL)

24〜31

最初のSDLエントリ

---

m〜m+7

最後のSDLエントリ

m = ( 8×ESDL )＋16

バイト0〜1−SDL識別子

このフィールドは，(0002)に設定し，SDL識別子を示す。

バイト2〜3−予備

すべてのバイトは，(00)に設定する。

バイト4〜7−SDL更新カウンタ

このフィールドは，SDLブロックに対する更新操作の回数を規定するものとする。このフィールドは，

初期化(17.8.1参照)で0に設定し，SDLの内容を更新するごとに1ずつ増加するものとする。

バイト8〜11−追加スペア領域のセクタ番号

このフィールドは，追加スペア領域の先頭セクタ番号を規定する。追加スペア領域を割付けていないと

きは，すべてのバイトを(00)に設定するものとする。

b31

b24b23

予備

追加スペア領域の先頭セクタ番号

図40 追加スペア領域のセクタ番号

このフィールドの設定は，次による。

ビットb31〜b24

(00)に設定する。

ビットb23〜b0

追加スペア領域の先頭セクタのセクタ番号を規定する。
追加スペア領域はブロックの先頭セクタから開始するものとする。

バイト12〜15−論理セクタの総数

このフィールドは，ユーザ領域の論理セクタの総数を規定するものとする。

バイト16〜19−DDS/PDL更新カウンタ

このフィールドは，DDS/PDLブロックに対する更新及び書換えの回数を規定するものとする。このフ

ィールドは，初期化の始まりで0に設定し，DDS/PDLの内容を更新又は書換えするごとに1ずつ増加す

るものとする。すべてのDDS/PDLブロック及びSDLブロックは，フォーマッティングの後同一の更新

カウンタ値をもつものとする。

バイト20−スペア領域のフルフラグ

これらのフラグは，対応するスペア領域の使用可能スペアブロックの有無を表示する。追加スペア領域

を割付けていない場合，及び，追加スペア領域をすでに割付けていても残っていない場合は，追加スペア

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領域フルフラグを“1”に設定するものとする。追加スペア領域を割付けた場合，及び，追加スペア領域を拡

張した場合は，追加スペア領域フルフラグを“0”に設定するものとする。

予備

追加スペア領域の

フルフラグ

一次スペア領域の

フルフラグ

図41 スペア領域のフルフラグ

このフィールドの設定は，次による。

ビットb7〜b2

“000000”に設定する。

ビットb1

追加スペア領域にスペアブロックが残っていないとき，“1”
追加スペア領域にスペアブロックが残っているとき，“0”

ビットb0

一次スペア領域にスペアブロックが残っていないとき，“1”
一次スペア領域にスペアブロックが残っているとき，“0”

バイト21−予備

すべてのバイトは，(00)に設定するものとする。

バイト22〜23−SDLのエントリ数

このフィールドは，SDL（ESDL）のエントリ数を規定する。

SDLエントリ

各8バイトフィールドは，図42に示すような幾つかのフィールドに区分する。

b63

b62 b61

b56 b55

b32 b31

b24 b23

予備 SLR

予備

欠陥ブロックでの

第一セクタのセクタ番

号

予備

交替ブロックでの

第一セクタのセクタ番号

図42 SDLエントリ

b63は“0”に設定する。

b62の設定は，次による。

欠陥ブロックがスペアブロックに交替されているとき，“0”

欠陥ブロックが交替されていないとき，“1”

b61からb56は“0”に設定する。

b55からb32は，欠陥ブロックの最初のセクタのセクタ番号を規定する。

b31からb24は“0”に設定する。

b23からb0は，交替ブロックの第一セクタのセクタ番号を規定するか，又は交替ブロックが割り当て

られないとき，すべて“0”に設定する。

17.8 ディスクのフォーマッティングディスクは，ディスクの使用前にフォーマットするものとする。

フォーマッティング処理前にディスク上に記録済みのDMAがなければ，その処理は初期化とみなすもの

とする。フォーマッティング処理前にディスク上に記録済みのDMAがあれば，その処理は，再初期化と

みなす。

ディスクのどのフォーマッティングの後にも，四つのDMAを記録するものとする。データゾーンは，

単一グループからなる(16.3.3参照)。グループは，ユーザ領域及びスペア領域を含むものとする。スペア

領域のセクタは，欠陥セクタの交替として使用可能である。フォーマッティングは，初期化又は再初期化

のどちらかによって行うものとする。フォーマッティングは，サーティフィケーションを含んでよい。

すべてのDDSパラメータは，四つのDDSセクタに記録するものとする。PDL及びSDLは，四つの

DMAに記録するものとする。すべての予備ブロックは，(00)で満たすものとする。PDL及びSDLの記録

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の要求事項は，表16及び表17に示す。

フォーマッティング後，スリッピングアルゴリズム(17.4参照)の結果として割り当てられたデータブロ

ック又はスペアブロックはどれも次のいずれかの状態にあるものとする。

a) 一つのデータブロック又はスペアブロックは一組の16データフレームを含み，13.3に定義する完

全ECCブロックを組織する。データフレームは，再初期化の前などに書き込まれていてもよい。

b) 一つのデータブロック又はスペアブロックは，未記録である。

c) 一つのデータブロック又はスペアブロックは，サーティフィケーション処理中などに書き込まれる

(000000)から(00000F)までのデータフィールド番号を含む。

フォーマッティング後，三つのタイプのエントリ，Pリスト，G1リスト及びG2リストはPDL中に存

在してもよい。SDLも，エントリを含んでもよい。タイプは，エントリごとにエントリタイプによって識

別する(表16参照)。

ディスクをサーティフィケーションするとき，サーティフィケーションは，ユーザ領域及びスペア領域

のセクタに適用するものとする。

サーティフィケーション中に発見したユーザ及びスペア領域の欠陥セクタは，PDLのG1リストに登録

し，スリッピングアルゴリズムによって処理するものとする。欠陥セクタは，読取り又は書込みに用いて

はならない。欠陥セクタを置き換えるためのガイドラインは，附属書Mに与える。

フォーマッティング処理がサーティフィケーション又は他のデータ書込み処理を伴うならば，データフ

ィールド番号は(000000)から (00000F)までにあるものとする。ディスクサーティフィケーションフラグ

のインプログレスフィールドは，サーティフィケーションのあいだ“1”に設定するものとする。この手順に

よって，以前にサーティフィケーション又は他のデータ書込み処理を伴うフォーマッティング中に発生し

たシステムの故障を，検出することができる。

スペアブロックは，フォーマッティングのとき割り当てられるが，LSNは付与されない。スペアブロッ

クは，欠陥データブロックを置き換えるのに用いたり，スペアブロックの代用に用いる。スペアブロック

は，フォーマッティングのときスペア領域に割り当てられる。

17.8.1 初期化ディスク上に記録済みのDMAがなければ，ディスクは初期化を要求するものとする。

初期化では，DDS/PDL更新カウンタ及びSDL更新カウンタは，0に設定するものとする。ディスク製造

業者による初期化の場合，初期化中に発見された欠陥セクタは，PDLのPリストに登録するものとする。

ディスク製造業者以外の者による初期化の場合，初期化中に発見された欠陥セクタは，PDLのG1リスト

に登録するものとする。両方の場合，ユーザ領域の欠陥セクタだけでなくスペア領域の欠陥セクタもPDL

に登録するものとする。

サーティフィケーション処理は，初期化中に適用してよい。サーティフィケーション処理をディスク製

造業者が適用したならば，ディスクサーティフィケーションフラグのディスク製造業者サーティフィケー

ションフィールドは，“1”に設定するものとする。サーティフィケーション処理をディスク製造業者以外の

者が適用してあるならば，ディスクサーティフィケーションフラグのユーザサーティフィケーションフィ

ールドは，“1”に設定するものとする。

PDLに記録済みの欠陥セクタの数が認証中に17.3の基準を超えた場合，PDLに記録不可能な欠陥セク

タをSDLに記録する。初期化中に一次スペア領域にスペアブロックが残されていない場合，一次スペア

領域フルフラグは，“1b”に設定するものとする。認証中にディスク上に利用可能なスペアブロックがない

場合，初期化のエラーとみなす。

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17.8.2 再初期化 DMAがフォーマッティング前にディスクに既に記録してあるなら，フォーマッティン

グは，再初期化とみなす。再初期化処理では，Pリスト，DDS / PDL更新カウンタ，及び，SDL更新カ

ウンタを保存するものとする。再初期化は，次の処理を伴ってもよい。

1) PDLからG1リストを削除するために及び/又はサーティフィケーション中に発見された新しい

PDL

エントリを登録するために，サーティフィケーションを適用する。

2) SDLエントリをPDLのG2リストに変換する。

3) G2リストをPDLから除去し，SDLエントリを除去する。

処理1)では，PDLのG2リストを常に除去する。サーティフィケーション中に発見された欠陥セクタは，

PDLのG1リストに登録するものとする。この処理は，書込み操作を伴うディスクのサーティフィケーシ

ョンを必ずしも要求しない。

“10”のエントリタイプであるPDLエントリのG1リストの修正を行うと，17.8[記述17.8a)，b)又は

17.8c)]の要求条件に反するECCブロックミスアラインメントを起こす結果となることがある。しかし，

ディスクをフォーマットするシステムは，要求条件に準拠しなければならない。サーティフィケーション

をディスク製造業者以外の者が適用した場合は，ディスクサーティフィケーションフラグのユーザサーテ

ィフィケーションは，“1”に設定するものとする。

処理2)で，PDLのG1リストを保存し，SDLに登録した欠陥ブロックの16セクタのすべては，16個

のPDLエントリとしてPDLのG2リストに登録するものとする。

処理3)は，PDLエントリを迅速に最新サーティフィケーション後の状態に戻すようにするためのもの

である。

PDLに記録済みの欠陥セクタの数が認証中に17.3の基準を超える場合，PDLに記録不可能な欠陥セク

タをSDLに記録する。再初期化中に一次スペア領域にスペアブロックが残されていない場合，一次スペ

ア領域フルフラグを“1”に設定するものとする。認証中にディスク上に利用可能なスペアブロックがない

場合，再初期化のエラーとみなす。

セクタがPDLに登録されたとき，これらのセクタは，ユーザサーティフィケーションフラグ及びディ

スク製造業者サーティフィケーションフラグの両方が“0”の場合でも，スキップするものとする。この処理

は，17.4に規定する処理と同じである。

17.8.3 初期化及び再初期化後のデータフィールド番号

a) サーティフィケーション付き初期化

1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号を，(000000)と(00000F)の間に設定する。

2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号をLSN + (031000) とする。

b) サーティフィケーションなしの初期化

1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号を，未記録とする。

2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号をLSN + (031000) とする。

c) サーティフィケーション付きで初期化されたディスクの再初期化

1) サーティフィケーション付き再初期化

1.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号を，(000000)と(00000F)の間の番号に設定

する。

1.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号をLSN ＋(031000) と

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する。

2) サーティフィケーションなしの再初期化

2.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号を，次の2種のうちいずれかに設定する。

― 先頭セクタのセクタ番号を(10)の倍数とし，そのブロック内の後続セクタを連続的に番号付け

する。

― 各セクタのデータフィールド番号を，(000000)と(00000F)の間の番号とする。

2.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号をLSN+(031000)とす

る。

d) サーティフィケーションなしで初期化されたディスクの再初期化

1) サーティフィケーション付き再初期化

1.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号を，(000000)と(00000F)の間の番号に設定

する。

1.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号をLSN ＋(031000) と

する。

2) サーティフィケーションなしの再初期化

2.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号を，次の2種のうちいずれかに設定する。

― 先頭セクタのセクタ番号を(10)の倍数とし，そのブロック内の後続セクタを連続的に番号付け

する。

― 各セクタのデータフィールド番号を，未記録とする。

2.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号をLSN+(031000)とす

る。

e) 一度再初期化されたディスクの再初期化

1) c)1)，c)2)及びd)1)の手続で得られたディスクの再初期化は，c)の手順で扱うものとする。

2) d)2)の手続で得られたディスクの再初期化は，d)のプロセスによる。

17.9 書込み手順データを書き込むとき，PDLに登録した欠陥セクタをスキップし，スリッピングアル

ゴリズムに従って，次のデータセクタにデータを書き込むものとする。

書き込むブロックに欠陥があると分かれば，欠陥ブロックは，リニアリプレイスメントアルゴリズムに

従って，利用可能な良品の最初のスペアブロックに置き換えてもよいし，スキップしてもよい。

書き込むブロックがSDLに登録してあれば，リニアリプレイスメントアルゴリズムに従って，利用可

能な良品の最初のスペアブロックに置き換えてもよいし，スキップしてもよい。

17.10 読取り手順

17.10.1 読取り手順データを読み取るとき，PDLに登録した欠陥セクタをスキップし，リニアリプレ

イスメントアルゴリズムに従って，次のデータセクタからデータを読み取るものとする。

読み取るブロックが“0”のSLRをもつSDLに登録してあれば，リニアリプレイスメントアルゴリズムに

従って，SDLによって示されたスペア領域の交替ブロックからデータを読み取るものとする。

読み取るブロックが“1”のSLRをもつSDLに登録してあれば，部分的に訂正されたデータ，又は，すべ

て(00)のパディングデータを受け取るものとする。読み取るブロックに欠陥があり，修正可能で，ディス

クが書込み禁止でないならば，リニアリプレイスメントアルゴリズムに従って，利用可能な良品の最初の

スペアブロックで欠陥ブロックを置き換えてもよい。

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17.10.2 ブランクECCブロックブランクECCブロックは，次の二つの条件のどちらかを満たすブロ

ックである。

1) ECCブロックの各セクタのデータフィールド番号は，(000000)及び(00000F)の間にある。

2) 各セクタの記録フィールドは，未記録である。

ブランクECCブロックは，ユーザデータを含まない。

第4章エンボス情報の特性

18.

試験方法ディスクのエンボス情報のフォーマットは，第3章で定義してある。19から21までは，

9.1で定義した光ヘッドを使用するとき得られる，ランド及びグルーブ，ヘッダフィールド及びエンボス

データからの信号の要求事項を規定する。19から21までは，エンボス情報の平均品質だけを規定する。

規定値からの局部的な変動は，これを欠陥と呼ぶが，トラッキングエラー，ヘッダフィールドでのエラー

及びデータフィールドでのエラーの原因となる。

18.1 環境条件 19から21までのすべての信号は，8.1.2で定義された許容動作環境条件の範囲にあるデ

ィスクにおいて規定範囲にあるものとする。

18.2 基準ドライブ 19から21までに規定するすべての信号は，基準ドライブの規定チャネルで測定す

るものとする。基準ドライブは，これらの試験の目的のために次の特性をもつものとする。

18.2.1 光学及び機構焦点を合わせた光ビームは，9.1に定義された性質をもつものとする。

18.2.2 読取りパワー読取りパワーは，ディスクの入射面に投射した光学的パワーで，情報の読取りに

使用する。読取りパワーは，コントロールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。パワー変動の

許容値は，与えられたパワーの±10 ％以内とする。

18.2.3 読取りチャネル1，2 ドライブは，対物レンズの出射ひとみ(瞳)での全光量を測定するための，

読取りチャネル1をもつものとする。読取りチャネルからの読取り信号は，ジッタを測定するとき以外は

波形等化を行わない。ドライブは，四分割フォトディテクタの差動出力を測定する，読取りチャネル2を

もつものとする。読取りチャネル2からの読取り信号は，ジッタを測定するとき以外は波形等化を行わな

いものとする(9.4参照)。

18.2.4 トラッキングチャネルドライブは，四分割フォトディテクタの総出力及び差動出力を測定する

ための，トラッキングチャネルをもつものとする。

18.2.5 トラッキング信号の測定中，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，

次の値を超えてはならない。

e max (軸方向)＝0.23 μm

そして，光ビームの焦点とトラックのセンターの半径方向のエラーは，次の値を超えてはならない。

e max (半径方向)＝0.022 μm

18.3

信号の定義すべての信号は，フォトディテクタの電流に対してリニアな関係にあり，したがって，

ディテクタに入る光学的パワーに対しリニアな関係にある。

光ヘッドの直流結合増幅器H1，H2の出力，すなわち，Ia ＋Ib，Ic ＋IdをそれぞれI1，I2で示す（9.1参

照）。トラッキングチャネルの信号は，信号( I1＋I2 )aを基準とする。信号( I1＋I2 )aは，例えば，セクタの

ミラーフィールドのように，情報ゾーン(16.1参照)内で未記録であり，かつ，グルーブのない領域から得

た信号の合計値である。

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読取りチャネル1の信号は，I0を基準としたI1及びI2の合計値である。I0は例えば，セクタのミラーフ

ィールドのように，情報ゾーン内で未記録であり，かつ，グルーブのない領域からの読取りチャネルの信

号(I1+I2)である。

読取りチャネル2の信号は，I0を基準としたI1及びI2の差異である。

図43〜図50は，19，20及び21で規定した信号を示す。

図43 トラッキングチャネルのランド及びグルーブからの信号

図44a 読取りチャネル1のヘッダフィールドからの信号

ＶＦＯフィールド

アドレスマーク

ＶＦＯフィールド

アドレスマーク

( I1＋I2 )a

０レベル

光ビームが

グルーブのない

領域上にある場合

( I1＋I2 )

( I1−I2 )

( I1−I2 )pp

( I1＋I2 )a

０レベル

光ビームが

グルーブのない

領域上にある場合

( I1＋I2 )

( I1−I2 )

( I1−I2 )pp

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図44b 読取りチャネル2のヘッダフィールドからの信号

図45 読取りチャネル1のミラーフィールド及びギャップフィールドからの信号

図46 読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号

アドレスマーク

ＶＦＯフィールド

アドレスマーク

ＶＦＯフィールド

ヘッダ1

ヘッダ2

ヘッダ3

ヘッダ4

0レベル

０レベル

ミラーフィールド

ギャップ
フィールド

０レベル

ミラーフィールド

ギャップ
フィールド

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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図47 読取りチャネル2のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号

図48 読取りチャネル1からの信号

IVFOHD2

IαHD3

IαHD4

IαHD2

IβHD1

IβHD2

IβHD3

IβHD4

IαHD2

IαHD4

IαHD1

IβHD2

IβHD4

IβHD1

VFO1

VFO2

VFO1

VFO2

VFO1

VFO2

IVFOHD4

IαHD3

IβHD3

AMHD1

IAMHD3

IAMHD4

IVFOHD3

IAM31

IAMHD2

IAM13

IαHD1

IVFOHD

IAMHD4

IAMHD3

IAMHD1

IVFOHD1

IAM31

IVFOHD3

IAM13

IVFOHD2

IAMHD2

VFO2

a)グルーブセクタ上

ヘッダ１

ヘッダ２

ヘッダ３

ヘッダ４

ヘッダ３

ヘッダ４

ヘッダ１

ヘッダ２

b)ランドセクタ上

０レベル

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図49 エンボス領域からのクロストラック信号

図50 読取りチャネル2のグルーブ又はランドからの信号

0レベル

97-0161-A

(a) on groove track

(b) on land track

Wpp

ａ）グルーブトラック上

ｂ）ランドトラック上

97-0161-A

(a) on groove track

(b) on land track

Wpp

ａ）グルーブトラック上

ｂ）ランドトラック上

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19.

ランド及びグルーブからの信号トラッキングチャネルでの信号(I1＋I2)及び(I1−I2)は，30 kHzの

遮断周波数で低域フィルタされるものとする。低域フィルタは，一次フィルタである。この条件は，(I1＋

I2)aの測定に適用してはならない。

グルーブの形状は，次の要求事項を満たすものとする。

19.1 プッシュプル信号プッシュプル信号は，光ビームが，書換え可能領域の書込み及び書込みをして

ない記録フィールドの両方のトラックを横切るときの，トラッキングチャネルでの差動信号(I1−I2)である。

プッシュプル信号のp-p値は，次の要求事項を満たすものとする。

0.35≦

)

(

)

(

−

≦1.05

19.2 デバイデッドプッシュプル信号デバイデッドプッシュプル信号の第一次項は，書換え可能領域の

書込み及び書込みをしてない記録フィールドの両方のトラックを，光ビームが横切るときの(I1−I2)の瞬時

レベルを(I1＋I2)の瞬時レベルで除した値のp-p値である。

デバイデッドプッシュプル信号の第二次項は，第一次項の最小値を第一次項の最大値で除した値である。

トラッキングサーボは，この測定中，開ループモードで動作するものとする。

第一次項は，次の要求事項を満たすものとする。

第二次項は，次を満たすものとする。

19.3 オントラック信号オントラック信号は，光ビームが書換え可能領域の記録フィールドのグルーブ

又はランドを追従するときの読取りチャネル1の信号である。書込みのないギャップフィールドで測定さ

れたオントラック信号Iotは，次の要求事項を満たすものとする。

a) グルーブトラック上

0.56≦

Iot≦0.80

b) ランドトラック上

0.56≦

Iot≦0.80

次の追加条件を，ランドトラック上だけでなく，グルーブトラック上でも満たすものとする。

0.09≦

land

groove

)

(

)

(

≦1.1

19.4 位相深さグルーブの位相深さは，90 °以下とする。

max

min

−

≧70

max

min

−

≧

(

)

(

)

−

≦

(

)

(

)

−

≦

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19.5 ウォブル信号ウォブル信号は，光ビームが書換え可能領域の記録フィールドのグルーブ又はラン

ドを追従するときの読取りチャネル2の信号である。

ウォブル信号の狭帯域信号対雑音比は，次の要求事項を満たすものとする。

a) グルーブトラック上

狭帯域信号対雑音比は，少なくとも34 dB ( 10 kHzのレゾルーション帯域 )とする。

b) ランドトラック上

狭帯域信号対雑音比は，少なくとも34 dB ( 10 kHzのレゾルーション帯域 )とする。

記録されていない領域で測定されたウォブル信号の振幅Wppは，次の要求事項を満たすものとする。

(a) グルーブトラック上

0.05≦(

)

−I

≦0.10

(b)ランドトラック上

0.05≦(

)

−I

≦0.10

( I1−I2 )ppは，書換可能領域の書込みのない記録フィールドのトラックを光ビームが横切るときのトラ

ッキングチャネルでの( I1−I2 )のp-p値である。

20.

書換可能領域のヘッダフィールドからの信号書換可能領域のヘッダフィールドから得た信号は，

基準ドライブの読取りチャネル1及び読取りチャネル2で測定する。

ヘッダフィールドからの信号は，読取りチャネル1と読取りチャネル2の信号のp-p値とする。

ジッタは，次の手順に従いグルーブトラック及びランドトラックの各々に対して測定するものとする。

−18.2で規定する条件のもとで，ヘッダ1フィールドのVFO1フィールドのうちアドレスマークに先行

する約8バイトから，ヘッダ2フィールドのPA2フィールドまでの信号を読み取る。

−18.2で規定する条件のもとで，ヘッダ3フィールドのVFO1フィールドのうちアドレスマークに先行

する約8バイトから，ヘッダ4フィールドのPA2フィールドまでの信号を読み取る。

ジッタは，18.2.3で規定する読取りチャネル1を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。

立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのジッタを，PLLクロックで測定し，チャネルクロック周期で正

規化する。

ジッタσは，附属書Fに従って測定するとき，チャネルクロック周期の9.0 ％以下とする。

20.1 VFO1及びVF02 VFO1及びVFO2フィールドのマークからの信号Isvfoは，次の要求事項を満た

すものとする。

Isvfo≧0.14

追加条件として，各ヘッダフィールド内で次の式を満たすものとする。

max

svfo

≧0.37

ここで，Ish maxは，20.で定義されたヘッダフィールドのマークからの信号の最大値である。VFO1及び

VFO2フィールドのマークからの信号Ivfoは，次の要求事項を満たすものとする。

Ivfo≧0.14

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

追加条件として，各ヘッダフィールド内で次の式を満たすものとする。

max

vfo

≧0.37

ここで，Ih maxは，20.で定義されたヘッダフィールドのマークからの信号の最大値である。

20.2 アドレスマーク，PID，PED及びポストアンブルアドレスマーク，PID，PED及びポストアンブ

ルフィールドのマークからの信号Ishは，次の要求事項を満たすものとする。

min

≧0.043

max

≧0.23

min

≧0.17

最後の式の要求事項は，どのヘッダフィールドに対しても適用する。Ish min及びIsh maxは，セクタのヘ

ッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4の各々の最小値及び最大値である。

アドレスマーク，PID，PED及びポストアンブルフィールドのマークからの信号Ihは，次の要求事項を

満たすものとする。

max

min

≧0.10

上述の式の要求事項は，どのヘッダフィールドに対しても適用する。Ih min及びIh maxは，セクタのヘッ

ダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4の各々の最小値及び最大値である。

20.3 ヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号読取りチャネル2のヘッダ1，ヘッダ2，

ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，ランドトラック及びグルーブトラックの境界を検出するため及びラ

ジアルチルトの検出に用いてもよい。読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4か

らの信号は，トラッキングオフセットを補正するために用いてもよい。

読取りチャネル2のグルーブセクタのヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，図47

に示す。読取りチャネル2のランドセクタのヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，

図47に示す。

グルーブセクタのヘッダ1及びヘッダ2からの信号は，読取りチャネル2のランドセクタのこれらのヘ

ッダに対して反対の極性をもつ。グルーブセクタのヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，読取りチャネル

2のランドセクタのこれらのヘッダに対して反対の極性をもつ。

読取りチャネル2のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，次の要求事項を満たす

ものとする。

0.9≦

AMHD

≦1.1

0.9≦

AMHD

≦1.1

AMHD

≧0.8

AMHD

≦0.8

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−0.10≦(

)

AMHD

−

≦0.10

−0.10≦(

)

AMHD

−

≦0.10

−0.10≦(

)

AMHD

−

≦0.10

−0.10≦(

)

AMHD

−

≦0.10

読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，次の要求事項を満たす

ものとする(図46参照)。

SVFOHD

)

(

)

(

−

＜0.03

ただし，I1−I2＝0とする。

0.04≦

SVFOHD

−

)

(

)

(

ただし，Δは半径方向に光ビームを0.05 μmオフセットさせたときの変化分を表す。

0.9≦

SAMHD

≦1.1

0.9≦

SAMHD

≦1.1

非対称性値は次の規格値を満たすものとする。
−0.10≦(

)

AMHD

−

≦0.10

−0.10≦(

)

SAMHD

−

≦0.10

−0.10≦(

)

SAMHD

−

≦0.10

−0.10≦(

)

SAMHD

−

≦0.10

20.4 位相深さエンボスピットの位相深さは，90 °以下とする。

21.

エンボス領域からの信号

21.1 高周波(HF)信号 HF信号は，読取りチャネル1で測定されたエンボス領域のマークからの信号で

ある(図48及び附属書F参照)。

21.1.1 変調振幅変調振幅I14は，最大ピット長又はランド長によって発生した値( p-p )とする。ピーク

値I14Hは，高域フィルタ前のHF信号のピーク値とし，最短ピット又はランド長の値( p-p )は，I3とする。

0レベルは，ディスクの有在しないときの反射のないレベルである。

上記のパラメータは，次の規格値を満たすものとする。

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14≧0.35

I≧0.35

(

)

max

min

14−

≦0.33 （一枚のディスク内）

(

)

max

min

max

−

≦0.15 （一回転内）

ここで，I14H maxはディスク内又は一回転内のI14Hの最大値，I14H minはディスク内又は一回転内のI14Hの

最小値とする。

21.1.2 信号の非対称性非対称性値は，次の規格値を満たすものとする。
−0.05≦(

)(

)

[

]

(

)

−

≦0.15

21.1.3 クロストラック信号クロストラック信号は，光ビームがトラックを横切るとき，30 kHzの遮断

周波数で低域フィルタされたHF信号から得る。低域フィルタは一次フィルタである(図49参照)。

信号は，次の規格値を満たすものとする。

−

＝

I≧0.10

21.2 ジッタジッタは，波形等化器を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。立ち上が

りエッジ及び立ち下がりエッジのジッタを，PLLクロックで測定し，チャネルクロック周期で正規化する。

ジッタσは，附属書Fに従って測定するとき，チャネルクロック周期の8.0 %以下とする。

21.3 サーボ信号光ヘッドの各々の四分割フォトディテクタの出力電流は，Ia，Ib，Ic及びIdである(図

51参照)。

21.3.1 位相差トラッキングエラー信号位相差トラッキングエラー信号は，光ビームがトラックを横切

るとき，ディテクタの対角の対間の位相差，［位相(Ia＋Ic)−位相(Ib＋Id)］から導かれる(図52及び図53

参照)。位相差トラッキングエラー信号は，30 kHzの遮断周波数で低域フィルタをかける(附属書C参照)。

この信号は，次の要求事項を満たすものとする。

振幅

正のゼロ交差において，半径方向のオフセット0.10 μmがあるとき

0.5≦Tt

∆≦1.1

ここで，t

∆はディテクタの対角の対間の位相差から導く平均時間差とし，Tは，チャネルクロック周期と

する。

非対称性

非対称性値は，次の規格値を満たすものとする。

)

(

)

(

−

≦0.2

21.3.2 接線方向のプッシュプル信号接線方向のプッシュプル信号は，光ビームが一つのトラックを追

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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従するときの差動出力，[( Ia＋Id )−( Ib＋Ic )]の瞬時レベルから導く(図52参照)。

上記パラメータは，次の式を満たすものとする。

(

)(

)

[

]

max

2.1

−

図51 四分割フォトディテクタ

接線方向

光ビーム

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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図52 接線方向のプッシュプル信号

図53 位相差トラッキングエラー信号

第5章記録層の特性

22.

試験方法 23.では，データを書き込むために用いる記録層の相変化記録性能を評価する一連の試験

を規定している。試験は，書換可能領域の任意のセクタの記録フィールドで行うものとする。試験に必要

な書込み及び読取り動作は，同じ基準ドライブで行うものとする。

22.1 環境条件 23.のすべての信号は，8.1.2で定義した許容動作環境条件の範囲にあるディスクにおいて

規定範囲内にあるものとする。

22.2 基準ドライブ 23.で述べるオーバライト及び読取り試験は，基準ドライブの読取りチャネル1で測

定する。基準ドライブは，これらの試験のために次の特性をもつものとする。

22.2.1 光学系及び機構系絞り込まれた光ビームは，9.1に定義した性質をもつものとする。ディスクは，

9.3に規定するように回転するものとする。

22.2.2 読取りパワー読取りパワーは，ディスクの入射面に投射した光ビームのパワーであり，情報を

読み取るために用いる。読取りパワーは，コントロールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。パ

ワー変動の許容値は，与えられたパワーの±10 %以内とする。

22.2.3 読取りチャネル基準ドライブは，記録層のマーク及びスペースを検出できる読取りチャネル1

をもつものとする。読取りチャネルからの読取り信号は，ジッタを測定するとき以外は波形等化を行わな

０レベル

半径方向スポット移動
Ｔp：トラックピッチ

０レベル

半径方向スポット移動
Ｔp：トラックピッチ

ピット

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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い。読取り信号を2値化するしきい値レベルは，オーバライトによるマーク及びスペースのサイズ変化の

影響を最小化するように調整するものとする(附属書F参照)。

基準ドライブは，対物レンズの出射ひとみ(瞳)での全光量を測定する読取りチャネル1をもつものとす

る(9.2参照)。

22.2.4 トラッキング信号の測定中，絞り込まれた光ビームは，18.2.5に規定するようにトラックに追

従するものとする。

22.3 書込み条件マーク及びスペースは，ピークパワー，バイアスパワー1，バイアスパワー2及びバイ

アスパワー3の4つのパワーレベルのパルスによってディスク上にオーバライトする。マークは，ピーク

パワーとバイアスパワー2及びバイアスパワー3との間で変調した書込みパルスを照射することによって

ディスク上にオーバライトする。スペースは，バイアスパワー1を照射することによってディスク上にオ

ーバライトする。

22.3.1 書込みパルス書込みパルスは，附属書Hの図H.1で与えられる一連の光パルスからなる。3Tマ

ークの書込みパルスは，ピークパワーの単一パルスと，バイアスパワー2のパルスからなる。4Tマークの

書込みパルスは，ピークパワーの先頭パルスと，バイアスパワー3のパルス，ピークパワーの末尾パルス

と，バイアスパワー2のパルスからなる。4Tより長いマークの書込みパルスは，ピークパワーの先頭パル

ス，ピークパワーのパルスとバイアスパワー3のパルスの繰り返しからなるマルチパルス列，ピークパワ

ーの末尾パルスと，それらに続くバイアスパワー2のパルスからなる。Tは，チャネルクロックの時間長

である。

a) 3Tマークの書込みパルスの構造

単一パルスは，NRZI信号の立ち上がりエッジからTSFP遅れて開始し，NRZI信号の立ち下がりエッジ

より2T−TELP前で終了する。単一パルスの長さは1 T−TSFP + TELPである。TSFP及びTELPは，コントロ

ールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。単一パルスに続くバイアスパワー2のパルスの長さは

TLCである。TLCは，コントロールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。

b) 3Tより長いマークの書込みパルスの構造

先頭パルスは，NRZI信号の立ち上がりエッジからTSEP遅れて始まり，NRZI信号の立ち上がりエッジ

から2T−TEFP後で終了する。先頭パルスの長さはTFPで，TEFP−TSFPに等しい。TSFT，TEFP，及びTFP

は，コントロールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。

5Tから14Tまでのマークに対応する記録パルスはマルチパルス列をもつ。マルチパルス列は，持続期

間TMP，周期Tの繰返しパルスからなる。マルチパルス列はNRZI信号の立ち上がりエッジから2 Tだけ

遅れて開始する。

マルチパルス列の最後のパルスは，NRZI信号の立ち下がりエッジの3 T前に開始する。TMPは，コン

トロールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。

末尾パルスは，NRZI信号の立ち下がりエッジの2T−TSLP前に開始し，NRZI信号の立ち下がりエッジ

の2T−TELP前に終了する。末尾パルスの長さはTLPであって，TELP−TSLPに等しい。TSLP，TELP，及び

TLPは，コントロールデータゾーンで与えるものとする(16.2.6参照)。

末尾パルスに続くバイアスパワー2のパルスの長さはTLCである。TLCはコントロールデータゾーンで

与えるものとする(16.2.6参照)。

TFP，TMP，TLP及びTLCは，半値幅での持続期間である。各光パルスの半値幅での持続期間は，附属書

Hの図H.2に定義する。立ち上がり時間Tr及び立ち下がり時間Tfは，各々5 ns以下とする。

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TrとTfの差は，1.0 ns以内とする。

TSFP，TELP，TEFP，TSLP，TFP，TLP，TLC，及びTMPは，コントロールデータゾーンにns単位で与えら

れ，次の範囲の値をもつ。

TSFPは最短で−0.5Tで，1.0T以下。

TELPは最短で0.0Tで，1.5T以下。

TEFPは最短で1.0Tで，2.5T以下。

TSLPは最短で−1.0Tで，0.5T以下。

TFPは最短で1.0Tで，2.0T以下。

TLPは最短で0.5Tで，1.5T以下。

TLCは最短で1.0Tで，2.5T以下。

TMPは0.5Tに設定する。

これらのパラメータ範囲には，22.3.4に規定するようにさらに制限があり，±0.5 nsの精度に制御する

ことが望ましい。

先頭パルス及びマルチパルス列が，そのピークパワー持続期間に重複部分をもてば，複合ピークパワー

持続時間は，これら二つのパルスのピークパワー持続時間の連続総計になるものとする。連続総計とはパ

ルスの重複部分を二重にカウントしない合計時間とする。先頭パルス及び末尾パルスが，そのピークパワ

ー持続期間に重複部分をもてば，複合ピークパワー持続時間は，これら二つのピークパワー持続時間の連

続総計になるものとする。マルチパルス列の末尾パルス，及び末尾パルスが，そのピークパワー持続期間

に重複部分をもてば，複合ピークパワー持続時間は，これら二つのピークパワー持続時間の連続総計にな

るものとする。

22.3.2 書込みパワー書込みパワーは，ピークパワー，バイアスパワー1，バイアスパワー2，及びバイ

アスパワー3の四つのレベルをもつ。これらは，ディスクの読み取り面に投射する光パワーで，マーク及

びスペースを書き込むために使用する。

ピークパワー，バイアスパワー1，バイアスパワー2，及びバイアスパワー3は，コントロールデータゾ

ーンに与える（16.2.6参照）。バイアスパワー2は，バイアスパワー1以下とする。バイアスパワー3は，

バイアスパワー1以下とする。最大ピークパワーは，14 mWを超えてはならない。最大バイアスパワー1

は，10 mWを超えてはならない。

単一パルス，先頭パルス及び末尾パルスの平均ピークパワーは，次の要求事項を満たすものとする。

｜平均ピークパワー−与えられたピークパワー｜≦ 与えられたピークパワーの5 %

平均バイアスパワー1及び平均バイアスパワー2は，次の要求事項を満たすものとする。

｜平均バイアスパワー1−与えられたバイアスパワー1｜≦ 与えられたバイアスパワー1の5 %

｜平均バイアスパワー2−与えられたバイアスパワー2｜≦ 与えられたバイアスパワー2の5 %

マルチパルス列の平均パワーは，測定期間内の瞬時パワーの平均パワーである。測定期間は，マルチパ

ルス列のすべてを含む期間とし，かつ，Tの倍数とする。

マルチパルス列の平均パワーは，次の要求事項を満たすものとする。

｜マルチパルス列の平均パワー−（与えられたピークパワー＋与えられたバイアスパワー3）/2｜≦

（与えられたピークパワー＋与えられたバイアスパワー3）/2の5 %

瞬時パワーは，実際のパワーの瞬時値である。平均パワーは，与えられたパワー範囲内の瞬時パワーの

平均パワーである。

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平均パワーに対するパワー範囲は，次の要求事項を満たすものとする。

平均ピークパワー：

｜（実際のパワー）−（与えられたピークパワー）｜≦（与えられたピークパワーの10 %）

平均バイアスパワー1：

｜（実際のパワー）−（与えられたバイアスパワー1）｜≦ （与えられたバイアスパワー1の

10 %）

平均バイアスパワー2：

｜（実際のパワー）−（与えられたバイアスパワー2）｜≦ （与えられたバイアスパワー2の

10 %）

平均バイアスパワー3：

｜（実際のパワー）−（与えられたバイアスパワー3）｜≦ （与えられたバイアスパワー3の

10 %）

平均パワーを測定するための時間範囲は，各パルスの持続時間を超えてはならない。

瞬時パワーは，次の要求事項を満たすものとする。

｜（瞬時パワー）−（与えられたピークパワー）｜ ≦ （与えられたピークパワーの10 %）

｜（瞬時パワー1）−（与えられたバイアスパワー1）｜ ≦ （与えられたバイアスパワー 1の10 %）

｜（瞬時パワー2）−（与えられたバイアスパワー2）｜ ≦ （与えられたピークパワーの10 %）

｜（瞬時パワー3）−（与えられたバイアスパワー3）｜ ≦ （与えられたピークパワーの10 %）

平均ピークパワー，平均バイアスパワー1，平均バイアスパワー2及びマルチパルス列の平均パワーの定

義は，附属書Hの図H.3に示す。

22.3.3 適応書込み制御マークエッジ位置を正確に制御するために，先頭パルス，末尾パルス及び単一

パルスのタイミングを変化させることが可能である。基本書込みパルスの定義については22.3.1を参照。

NRZI信号のマーク長は，M3，M4，M5及びM6のカテゴリーに分類する。M3，M4，M5及びM6の

マーク長は，それぞれ3T，4T，5T及び5Tより長いものである。

NRZI信号のマーク直前のスペース長は，LS3，LS4，LS5及びLS6のカテゴリーに分類する。

LS3，LS4，LS5及びLS6のスペース長は，それぞれ3T，4T，5T及び5Tより長いものである。

NRZI信号のマーク直後のスペース長は，TS3，TS4，TS5及びTS6のカテゴリーに分類する。

TS3，TS4，TS5及びTS6のスペース長は，それぞれ3T，4T，5T及び5Tより長いものである。

TSFPは，NRZI信号のマーク長のカテゴリー，及びマーク直前のスペース長のカテゴリーの関数として

変化させることが可能である。したがって，TSFPは，次のように16の値をもつことができる。

TSFP (M3，LS3)

TSFP (M4，LS3) TSFP (M5，LS3) TSFP (M6，LS3)

TSFP (M3，LS4)

TSFP (M4，LS4) TSFP (M5，LS4) TSFP (M6，LS4)

TSFP (M3，LS5)

TSFP(M4，LS5)

TSFP (M5，LS5) TSFP (M6，LS5)

TSFP (M3，LS6)

TSFP (M4，LS6) TSFP (M5，LS6) TSFP (M6，LS6)

TSFP(M，LS)は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがMで，マーク直前のスペース長のカテゴリーが

LSであるときのTSFP値を表す。これらの16のTSFP値は，コントロールデータゾーンに与えるものとす

る（16.2.6参照）。

TELPは，NRZI信号のマーク長のカテゴリー，及びマーク直後のスペース長のカテゴリーの関数として

変調することが可能である。したがって，TELPは次のように16の値をもつことができる。

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

TELP (M3， TS3)

TELP (M4， TS3) TELP (M5， TS3) TELP (M6， TS3)

TELP (M3， TS4)

TELP (M4， TS4) TELP (M5， TS4) TELP (M6， TS4)

TELP (M3， TS5)

TELP (M4， TS5) TELP (M5， TS5) TELP (M6， TS5)

TELP (M3， TS6)

TELP (M4， TS6) TELP (M5， TS6) TELP (M6， TS6)

TELP（M，TS）は，NRZI信号のマーク長のカテゴリーがMでマーク直後のスペース長のカテゴリーが

TSであるときのTELP値を表す。これら16のTELP値は，コントロールデータゾーンに与えるものとする

（16.2.6参照）。

TSFP値は，マーク長及び前のスペース長の関数として，aからpまでの文字で表すことができる。TELP

値は，マーク長及び後のスペース長の関数として，qからafまでの文字で表すことができる。TSFP表及び

TELP表を，表18に示す。

表18 適応書込み制御テーブル

TSFPテーブル

マーク長

TELPテーブル

マーク長

4T 5T

>5T

立ち上がり
スペース長

立ち下がり
スペース長

>5T m

>5T ac

適応書込みパルス制御モード

適応書込みパルス制御にはケース1及びケース2の二つのモードがある。基本書込みパルスの定義につ

いては，22.3.1参照。

a) ケース1

先頭パルスに対してはコントロールデータゾーンに与えるTEFP値及びTSFP値を適用し，コントロール

データゾーンに与えるTFP値を無視するものとする。TEFP−TSFPは，1.0T以上及び2.0T以下とする。

末尾パルスに対してはコントロールデータゾーンに与えるTSLP値及びTELP値を適用し，コントロール

データゾーンに与えるTLP値を無視するものとする。TSFP，TEFP−TSFP，TSLP，TELP及びTELP−TSLPの値

の範囲は，附属書Hの表H.1にまとめている。

b) ケース2

先頭パルスに対してはコントロールデータゾーンに与えるTFP値及びTSFP値を適用し，コントロールデ

ータゾーンに与えるTEFP値を無視するものとする。TSFP＋TFPは，1.0 T以上及び2.5 T以下とする。末尾

パルスに対してはコントロールデータゾーンに与えるTLP値及びTELP値を適用し，コントロールデータゾ

ーンに与えるTSLP値を無視するものとする。TELP−TLPは，−1.0T以上及び0.5T以下とする。

TFP，TSFP，TSFP＋TFP，TLP，TELP及びTELP−TLPの値の範囲は，附属書Hの表H.1にまとめている。

ケース1又はケース2の選択は，コントロールデータゾーンに与えるものとする（16.2.6参照）。

22.4 信号の定義読取りチャネルの信号は，分割フォトディテクタの出力電流の総計値とリニアな関係

があり，それはディテクタに入射する光のパワーとリニアな関係がある。

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23.

書込み特性

23.1 変調振幅及び信号の非対称性変調振幅及び信号の非対称性は，読取りチャネル1で測定する(図

48及び附属書F参照)。

これらの測定は，ディスク試験ゾーン及びドライブ試験ゾーンのグルーブトラック及びランドトラック

の各々に対して次の手順で行うものとする。

― 記録フィールドにランダムデータを10回オーバライトする。書込み条件は22.3に規定する。

― 22.2に規定する条件のもとで記録フィールドを読み取る。

変調振幅I14は，最大長である14Tマーク及びスペースによって発生した値( p-p )とする。I14Hは，読出

し信号の（高域フィルタ前のHF信号の）ピーク値である。0レベルは，ディスクの存在しないときの反

射のないレベルである。最短である3Tのマーク及びスペース長によって得られた値( p-p )を，I3とする。

上記の各パラメータは，次の条件を満たすものとする。

I14 / I14H ：最小0.40

I3 / I14 ：最小0.15

(I14max−I14min) / I14max ：最大0.10

I14maxとI14minは，I14の1セクタ内の最大値と最小値である。

(I14max−I14min) / I14maxの最大値は，

1枚のディスク内では最大0.33，

1トラック内では最大0.15，

I14H maxはディスク内又は1トラック内のI14H及びI0tの最大値，I14H minはディスク内又は1ラック内の

I14H及びI0tの最小値である。

非対称性値（アシンメトリー）は，次の式を満たすものとする。

[

]

)

(2/

)

(

)

(

≦

−

23.2 ジッタジッタの試験は，（ディスク試験ゾーン及びドライブ試験ゾーンの）記録フィールドで，(m

−2)，(m−1)，m，(m＋1)，(m＋2)で表した任意の五つの隣接したトラックで行う。トラックmがグルー

ブのとき，(m−2)，(m＋2)のトラックは，グルーブであり，(m−1)，(m＋1)のトラックは，ランドである。

一方，トラックmがランドのとき，(m−2)，(m＋2)のトラックは，ランドであり，(m−1)，(m＋1)のト

ラックは，グルーブである。ジッタは,グルーブ及びランドトラックの各々に対し，次の手続で測定するも

のとする。

すべての五つのトラックの記録フィールドにランダムデータをそれぞれ10回オーバライトする。書込

み条件は，22.3に規定する。

22.2に規定する条件のもとで，トラックmの少なくともPSフィールド，データフィールド及びPA3

フィールドを読み取る。

ジッタは，18.2.3で規定する読取りチャネル1を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。

立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのジッタを，PLLクロックで測定し，チャネルクロック周期で正

規化する。ジッタは，チャネルクロック周期の9.0 %以下とする。

第6章ユーザデータの特性

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24.

試験方法ユーザ書込みデータは，どのドライブで，どの環境で書かれてもよい。読取り試験は

基準ドライブで行うものとする。すべての信号は，8.1.2で定義した動作環境条件の範囲において，この規

格範囲内になければならない。ただし，試験前にディスクの入射面は，ティスクの製造業者の指示に従っ

て清浄にすることを推奨する。

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附属書A（規定）角度偏差αの測定

角度偏差は，基準面Pに垂直な入射光と反射光とによって作られる角度αである(図A.1参照)

図A.1 角度偏差α

角度偏差αの測定のために，ディスクは，クランプゾーンのほぼ全域を覆う同心円環の間でクランプす

る。上面のクランプゾーンは，下面のクランプゾーンと同じ直径とする。

+0.5

0.5

−

out

全クランプ力は，F1=2.0 N±0.5 Nとする。クランプ力とディスクの中心孔のリムに加わるチャック力

F2によって生じる力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために，F2は，0.5Nを超えてはならない(図

A.2)。この測定は，本体8.1.1の条件のもとで行う

図A.2 クランプ及びチャックの条件

入射光

反射光

入射面

基板

記録層

15.00 mm最小

dout

din

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附属書B（規定）複屈折の測定

B.1 測定原理複屈折を測定するために，平行光の円偏光を使用する。位相遅延は，反射光のだ円率を

観測することによって測定する。

図B.1 だ円率e＝b／a及び方位θをもつだ円

だ円の方位θは，光学軸の方位で決定する。

−

················································································· (1)

ここで，γは，光学軸と半径方向との間の角度を表す。

楕円率e＝b /aは，位相遅延δの関数を表す。

−

tan

······································································ (2)

位相遅延dが既知であるとき，複屈折BRは，波長の分数として表す。

BR＝

··········································································· (3)

このように，ディスクから反射しただ円偏光を観測することによって複屈折を測定でき，光学軸の方位

も評価できる。

B.2 測定条件上記に規定した複屈折の測定は，次の条件で行う。

反射での測定モード

：ダブルパス測定法

レーザ光の波長λ

：645 nm±15 nm

光線径(FWHM)

：1. 0 mm±0.2 mm

基準面Pに垂直な半径方向の面に関して半径方向での入射光の角度β

：7.0 °±0.2 °

クランプ及びチャックの条件

：附属書Aの規定による。

ディスクの装着

：水平

回転

：l Hz以下

温度及び相対湿度

：本体8.1.1の規定による。

ラジアル方向

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B.3 測定装置の例この規格は，複屈折を測定する特定の測定装置を規定しないが，この測定に適した

装置の例を図B.2に示す。

図B.2 複屈折測定用装置の例

偏光子(消光比≒10--5)にコリメートしたレーザ光源からの光は，1/4波長板によって円偏光にする。反射

光のだ円率は，回転検光子及びフォトディテクタで分析する。ディスクのあらゆる位置に対して強度の最

小及び最大値を測定する。だ円率は，このとき，

e2＝

max

min

················································································· (4)

式(2)，(3)及び(4)を組合せて，

max

min

arctan

−

この装置は，次のように容易に校正できる。

I minは，偏光子又は1 / 4波長板を測定することによって0に設定する。

鏡面を測定するときは，I max＝I min

表面反射による直流的変化以外に，表面反射と記録面からの反射のために交流成分が生じる可能性があ

る。この交流成分は，基板が限りなく平らで光源の干渉性が高いときだけ顕著となる。

ディスク

回転検光子

コリメータレンズ

フォトディテクタ

レーザ

偏光子

1 / 4波長板

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附属書C（規定）位相差トラッキングエラー信号の測定方法

C.1 位相差トラッキングエラー信号の測定方法トラッキングエラー測定の基準回路は，図C.1に示す。

四分割ディテクタの対角の対の各出力は，次の式によって，定義した波形等化の後に独立して2値化する。

()(

)(

)

3.26

1.11×

−

比較器の利得は，最小の信号振幅でも出力が完全飽和に達しなければならない。2値化したパルス信号

のエッジ(信号B1及びB2)の位相は，相互に比較し時間進み信号C1及び時間遅れ信号C2を作る。位相

比較器は，個々のエッジに応じて，Δtiの符号(正負)に応じ，信号C1又はC2を出力する。トラッキング

エラー信号は，低域フィルタによって信号Cl，C2を平滑化し，単位利得差動増幅器の手段で差し引くこ

とによって作る。低域フィルタは，30 kHzで−3 dBの遮断周波数をもつ一次フィルタとする。

Tの1％は，0.27 nsのように非常に小さい時間差を測定しなければならないので，回路実装に当たって

は特別な注意をしなければならない。また，注意深い平均化が必要である。

四分割ディテクタの対角の対からの二つの信号間の平均時間差は，次による。

Δt＝1 / N

Δt

∑

ここで，Nは，立ち上がり及び立ち下がりの両方のエッジの数とする。

C.2 タイムインタバルアナライザを使用しない

∆

の測定相対時間差

∆

は，C1及びC2信号の振

幅及び読取り信号の周波数成分を基準化している場合のトラッキングエラー信号の振幅で表す。トラッキ

ングエラー振幅TVE

∆

と時間差との関係は，次による。

NnT

TVE

∑

∆

ここに，
VPC

：C1及びC2信号の振幅。

T i ：3Tから14Tの範囲内で読取り信号の実際の長さ。
nT ：実際の長さの重みつき平均。

N nTは，平均時間の総和。

VPCを5Vとし，測定したnの値を5とすると，トラッキングエラー振幅TVE

∆

と時間差t

Δの上記の関係

は，次のとおり簡略化することができる。

TVE

=∆

∆

C.3

∆/Tの校正位相比較器の利得は，ばらつく傾向があるので，位相比較器の利得の校正には特別の

注意をしなければならない。位相差トラッキングエラー信号の測定に当たって，次のチェック及び校正方

法を行う。

a) 測定回路のチェック

1) 最初の比較器の入力(3T)の振幅とトラッキングエラー信号の振幅との関係を測定する。

2) 増幅器の現状利得が飽和領域であることをチェックする (図C.2参照)。

b) 校正係数Kの決定

n及びVpc又は他の回路パラメータの変動により，校正係数Kは次のように決定されなければならない。

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（真の値）＝K×TVE

∆

（測定値）

これは次の方法で実現できる。

1) 周波数が3.767MHz (5Tに相当)で，位相差をもつ二つの正弦波信号A1及びA2を生成し，二つの

波形等化回路に加える。

∆/T及びTVE

∆

との関係を測定し，Kを決定する（図C.3参照）。

(

)

(

)

測定値

印加値

＝

ΔT

Δt

位相差トラッキングエラーの測定装置に，図C.1に示す差動増幅器の後にゲインKの増幅器を加えるこ

とを推奨する。これによって校正係数Kを調整することができ，出力から直接にt

∆/Tを測定できる。

図C.1 トラッキングエラー測定回路

トラッキングエラー

信号TVE

信号C2

信号C1

信号A2

信号A1

信号B1

信号B2

増幅器

波形等化器

H(S)

増幅器

波形等化器

H(S)

レベル比較器

位相比較器

低域フィルタ

差動増幅器

ｍ

信号C2

＝正

＝負

信号C1

信号B2

信号B1

信号A2

信号A1

Δti

トラッキングエラー

信号TVE

信号C2

信号C1

信号A2

信号A1

信号B1

信号B2

増幅器

波形等化器

H(S)

増幅器

波形等化器

H(S)

レベル比較器

位相比較器

低域フィルタ

差動増幅器

ｍ

トラッキングエラー

信号TVE

信号C2

信号C1

信号A2

信号A1

信号B1

信号B2

増幅器

波形等化器

H(S)

増幅器

波形等化器

H(S)

レベル比較器

位相比較器

低域フィルタ

差動増幅器

ｍ

信号C2

＝正

＝負

信号C1

信号B2

信号B1

信号A2

信号A1

Δti

信号C2

＝正

＝負

信号C1

信号B2

信号B1

信号A2

信号A1

Δti

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図C.2 比較器入力信号振幅とトラッキングエラー信号振幅との関係

図C.3

∆/ TとTVE

との関係

比較器入力信号振幅（任意）

飽和領域

信

号

振

幅

（任意）

（印加値）

測定された

ラインの例

理論ライン

（

測

定

値

）

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附属書D（規定）反射率の校正及び測定方法

D.1 校正方法良好な基準ディスク，例えば，金の反射鏡面をもつ0.6 mm厚さのガラスディスクを用

いる。この基準ディスクの下記各事項は，図D.1に示すように平行光で測定する。

図D.1 反射の校正

この図の各事項は，次による。

：入射光

：入射面の反射

R s

：記録層の主反射

R int

：入射面及び記録層からのその他

の反射

R//

：図D.1での反射率の測定値

R//＝r＋R s＋R int

r＝[ ( n−1 ) / ( n＋1 ) ]2ここで，nは基板の屈折率
R s＝R//−r−R int

R s＝[ ( 1−r )2×( R//−r ) ] / [ 1−r× ( 2−R// ) ]

基準ディスクの金反射鏡面からのImirror（本体図2参照。読取りチャネル1の出力値）は，基準ドライ

ブで測定するものとする。集束光による測定で，基準ディスクのImirrorは，上記で定義されたR sと等し

い。

ここで測定装置は校正されたので，入射面からの反射とは関係なく，集束光反射率は記録面の反射率の

一次関数である。

D.2 測定方法

a) 書換え可能領域での反射率

光ヘッドによる反射率の測定方法

1) 校正した反射率RSをもつ基準ディスクからの反射光DSを測定する。

2) 被測定ディスクのミラーフィールドからの反射光Dmを測定する。

3) 被測定ディスクの書換え可能領域でのディスク反射率Rdの算出は，次による。

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b) エンボス領域での反射率

光ヘッドによる反射率の測定方法

1) 校正した反射率RSをもつ基準ディスクからの反射光DSを測定する。

2) 被測定ディスクのエンボス領域からの反射光I 14Hを測定する(本体図48参照)。

3) 被測定ディスクのエンボス領域でのディスクの反射率R 14Hの算出は，次による。

＝

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附属書E（規定）ディスククランプのためのテーパコーン

測定用ディスクの中心位置決めに用いる装置は，テーパ角度40.0°±0.5°をもつコーンとする(図E.1参照)。

図E.1 テーパコーン

40.0°±0.5°

入射面

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附属書F（規定）動作信号の測定条件

1) PLL

自然角周波数

4Tでωn＝0.6×10 6 rad / s

ダンピング比

4Tでζ＝0.7

2) スライサ

スライサは，20 kHzの−3 dB閉ループ帯域をもった，一次積分の帰還形自動スライサである。

3) ジッタ

ディスクの1/4回転のジッタを測定する。

測定周波数帯域は，1 kHzからHFまでとする。

図F.1 スライサの回路図の例

低域フィルタ（LPF）：6次ベッセルフィルタ，f c (−3 dB ) ＝20.0 MHz

アナログ波形等化器の例：伝達関数H ( z )＝1.60 z -2−0. 30 ( 1＋z -4 ) をもつ3タップトランスバーサル

フィルタ

フィルタ及び波形等化：

― 利得変動：最大1.0 dB ( 15 MHz以下 )

― 群遅延変動：最大1.5 ns ( 14 MHz以下 )

― ( 12 MHzでの利得 )−( 0 Hzでの利得 ) ＝5.5 dB±0.3 dB

読取りチャネル1

比較器

2値化データ

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図F.2 波形等化器及び低域フィルタの周波数特性

周波数(MHz)

利得

(

)

-6

-5

-4

-3

-2

-1

波形等化器のみ

波形等化器+ LPF

LPF6次

周波数(MHz)

利得

(

)

-6

-5

-4

-3

-2

-1

波形等化器のみ

波形等化器+ LPF

LPF6次

波形等化器だけ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G（規定）RLL(2, 10)制約の8-16記号符号

表G.1及び表G.2は，8ビットバイトを16ビット符号語に変換した表を示す。図G.1に，符号語及び

関係状態規定を図示する。

図G.1 符号語の生成

図G.1の記号は，次による。

()

{

}

＝

()

msb

＝

及び

()

lsb

(

)

()

{

}

＝

Hは，出力関数

Gは，次の状態の関数

状態を離れる符号語は，一つの状態に入る符号語と，その状態から離れる符号語の接続部において，二

つの“1”の間で最小2及び最大10の“0”がなければならないという要求事項を満たすように選ぶ。

追加要求事項は，次による。

― 状態2を離れる符号語では，ビットX 15及びビットX 3の両者を，“0”に設定する。

― 状態3を離れる符号語では，ビットX 15，ビットX 3のいずれか又は両者を，“1”に設定する。

このことは，状態2及び状態3の符号語のセットが一致しないことを意味する。

8ビットバイト

次状態

16ビット符号語X ( t )

状態

メモリ

変換テーブル

100

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

符号語X(t)

次の状態S(t+1)

符号語X(t+1)

末尾部連続“0”が1個又はなし

状態 1

先頭部連続“0”が2個又は9個まで

末尾部連続“0”が2個又は5個まで

状態 2

先頭部連続“0”が2個又は9個まで及び
X15 ( t＋1 ) ，X3 ( t＋1 )＝0 ，0

末尾部連続“0”が2個又は5個まで

状態 3

先頭部連続“0”が2個又は9個まで及び
X15 ( t＋1 ) ，X3 ( t＋1 ) ≠ 0 ，0

末尾部連続“0”が6個又は9個まで

状態 4

末尾部連続“0”が1個又はなし

図G.2 状態の決定

記録したデータをデコードするとき，元の主データを再構築するためには，エンコーダの知識を必要と

することに留意されたい。

()

{

}

−

＝

誤り伝ぱ(播)が含まれているために，そのような状態依存のデコーディングを避けるべきである。この

8-16変調の場合には，状態についての知識をほとんどの場合必要としないように変換テーブルを選んでき

た。テーブルから集められるように，幾つかの場合で，二つの8ビットバイト，例えば，表G.1の状態1

及び状態2における8ビットバイト5及び6は，同じ16ビット符号語を生成する。テーブルの構成によ

って，この明らかなあいまいさを解決する。実際，二つの同一符号語が“状態”を離れる場合，その一つは“状

態2”に行き，他方は“状態3”に行く。ビットX 15及びX 3の設定がこの二つの状態で常に異なっているた

めに，どの符号語も次の符号語のビットX 15及びX 3と一緒に符号語それ自体を解析することによって一

義的にデコードすることができる。

()

(

)

(

)

{

}

−

＝

テーブルでは，8ビットバイトをその10進数で表す。

101

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.1-1 主変換テーブル

8ビット

状態1

状態2

状態3

状態4

バイト

符号語

msb

lsb

状態

msb

lsb

状態

msb

lsb

状態

msb

lsb

状態

0
1
2
3
4
5
6
7
8
9

10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45

001000000000100

001000000001001

001000010010000

001000000100100

001000001001000

001000000010010

001000000100100

001000001001000

001000010010000

001001001000000

001000100100000

001001001000000

001000100100000

001000000100100

001000010010000

001000001001000

001000000010001

000100000000100

001000000001000

000100000001001

000010000000001

000001000000000

001000100010000

001000010001000

1
1
2
2
2
2
3
3
3
3
4
4
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
4
4
1

010000010010000

001000000001001

001000010010000

010001001000000

001000001001000

001000000010010

010000000001001

001000001001000

001000010010000

001001001000000

001000100100000

001001001000000

001000100100000

010000000010010

001000010010000

001000001001000

001000000010001

010000001001000

001000000001000

000100000001001

000010000000001

000001000000000

001000100010000

001000010001000

2
1
2
4
2
2
3
1
3
3
4
4
1
1
3
1
1
1
2
1
1
1
1
2
2
2
2
2
3
2
3
2
2
3
3
4
3
3
1
3
1
3
3
4
4
4

001000000000100

100000010010000

100000000001001

001000000100100

100000010010000

100100100000000

100010010000000

001000000100100

100001001000000

100100100000000

100010010000000

100000001001000

100001001000000

001000000100100

100000100100000

100000010010000

100000100100000

000100000000100

100100010000000

100010001000000

100000001001000

100000000100100

1
3
1
2
2
4
4
3
4
1
1
3
2
1
1
1
1
4
1
4
4
1
1
2
3
2
1
1
2
1
2
1
1
1
2
3
3
4
3
4
3
1
2
1
3
1

010000010010000

100000010010000

100000000001001

010001001000000

100000010010000

100100100000000

100010010000000

010000000001001

100001001000000

100100100000000

100010010000000

100000001001000

100001001000000

010000000010010

100000100100000

100000010010000

100000100100000

010000001001000

100100010000000

100010001000000

100000001001000

100000000100100

2
3
1
4
2
4
4
1
4
1
1
3
2
1
3
1
1
4
2
4
4
1
1
2
3
2
1
1
3
1
3
1
1
1
2
4
3
4
1
4
1
1
2
1
3
4

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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000100001001000

000100000100100

000100000010010

000100000000010

000100000010010

000100000100100

000100001001000

000100010010000

001000000000100

001000000100010

001000001000100

001000010001000

001000100010000

001001000100000

000100100100000

000000100000000

010000000010010

001000000100010

000100010010000

010000001001000

000100001001000

010000010010000

000100000010010

000100000000010

000100000010010

010000100100000

000100001001000

000100010010000

010010010000000

001000000100010

010001001000000

001000010001000

001000100010000

001001000100000

000100100100000

010001000100000

001000001000100

100000000010001

100000000001000

001000000000100

100100100000001

000100000100100

100100010000000

100010010000001

100010001000000

100000000010010

000100000100100

100000000010010

100001000100000

001000000000100

100100001000000

001000001000100

100001001000001

100000100010000

100001000100000

100000100010000

100000100100001

010000000010010

100000000010001

100000000001000

010000001001000

100100100000001

010000010010000

100100010000000

100010010000001

100010001000000

100000000010010

010000100100000

100000000010010

100001000100000

010010010000000

100100001000000

010001001000000

100001001000001

100000100010000

100001000100000

100000100010000

010001000100000

表G.1-2 主変換テーブル(続き)

8ビット

状態1

状態2

状態3

状態4

バイト

符号語

msb

lsb

状態 msb

lsb

状態

msb

lsb

状態

msb

lsb

状態

46
47
48
49
50

001001001000001

001000001000100

001001000100000

1
1
1
1
1

001001001000001

010000100100000

001001000100000

1
1
1
1
1

100000100010000

001000001000100

100000010001000

1
1
2
2
3

100000100010000

010000100100000

100000010001000

1
1
2
2
3

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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63
64
65
66
67
68
69
70
71
72
73
74
75
76
77
78
79
80
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83
84
85
86
87
88
89
90
91
92
93
94

001000100100001

001000100010000

000100000100100

001000010010001

001000010001000

001000001001001

001000000100001

001000000010000

000010000000100

000100100100000

000100010010000

000100001001000

000100000010001

000100000001000

000010000001001

000001000000001

001001000010000

001000100001000

001000010000100

001000001000010

001000000001000

000100001000100

000100100010000

000100000000100

000100010001000

000100000100010

000010010010000

000010001001000

1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3

001000100100001

001000100010000

010000010010000

001000010010001

001000010001000

001000001001001

001000000100001

001000000010000

010000001001000

000100100100000

000100010010000

000100001001000

000100000010001

000100000001000

000010000001001

000001000000001

001001000010000

001000100001000

010000000010001

001000001000010

001000000001000

010000100010000

000100100010000

010000010001000

000100010001000

000100000100010

000010010010000

000010001001000

1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
2
2
1
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
3
1
3
3

100000001000100

100000010001000

000100000100100

100000010010001

100000010001000

100000001001001

100000001000100

100000000100001

000010000000100

100000000010000

010000000100100

100100100001001

100100100000100

100100010000001

100000000100010

010000000100100

100001000010000

100000100001000

001000010000100

100000010000100

100000001000010

000100001000100

010000001000100

000100000000100

100000000100010

010000000100100

100001000010000

100000100001000

1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
3
3
3
3
2
3
3
3
4
3
3
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3
2
3
3
1
1
1
3
1
1

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010000010010000

100000010010001

100000010001000

100000001001001

100000001000100

100000000100001

010000001001000

100000000010000

010000000100100

100100100001001

100100100000100

100100010000001

100000000100010

010000000100100

100001000010000

100000100001000

010000000010001

100000010000100

100000001000010

010000100010000

010000001000100

010000010001000

100000000100010

010000000100100

100001000010000

100000100001000

1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
2
2
2
2
1
2
2
2
2
2
3
3
3
3
2
3
3
3
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2
3
2
3
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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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表G.1-3 主変換テーブル(続き)

8ビット

状態1

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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表G.1-4 主変換テーブル(続き)

8ビット

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バイト

符号語

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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表G.1-6 主変換テーブル(続き)

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表G.2-1 代替テーブル

8ビット

状態1

状態2

状態3

状態4

バイト

符号語

msb

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状態 msb

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状態

msb

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状態

msb

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状態

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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表G.2-2 代替テーブル(続き)

8ビット

状態1

状態2

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状態4

バイト

符号語

msb

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状態

msb

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状態

msb

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状態

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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2
2
1
3
3
3
3
3
3
3
2
3
3
3
3
3
2
2
1
2
2
2
2
2
2
1
2
2

114

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

000001001000010

000010000010000

001001000100100

000010010000010

000010010010010

000100100000010

000100100010010

001001000000010

001001000010010

001001001001000

000000010000010

000000010010010

000001001000010

000010000010000

010000010000001

000010010000010

000010010010010

000100100000010

000100100010010

001001000000010

001001000010010

001001001001000

010000100010010

010001000100010

010001000000100

010001001000100

001001000100100

010010010000100

100001000000010

100001000010010

100001000100100

100001001001000

100010000000100

010001000100100

100010000100010

100010001000100

010001000000100

010001001000100

010000010000001

010010010000100

100001000000010

100001000010010

100001000100100

100001001001000

100010000000100

010001000100100

010000100010010

010001000100010

115

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書H（規定）書込みパルスの定義

NRZI信号波形及び光パルスの形状は，図H.1に示す。

図H.1 書込みパルスの波形

表H.1 各パラメータの範囲

パラメータ

範囲

パラメータ

範囲

注記

共通パラメータ

TLC

+1.0T 〜
+2.5T

TMP

0.5T

適応制御パラメ
ータ

TSFP

-0.5T 〜
+1.0T

TELP

0.0T 〜
+1.5T

値はNRZI信号の組合せにより変化す
る。

パラメータ定義
ケース1

TEFP

+1.0T 〜
+2.5T

TEFP − TSLP

+1.0T 〜
+2.0T

物理フォーマット情報の TFP は無視さ
れる。

TSLP

-1.0T 〜
+0.5T

TELP − TSLP

+0.5T 〜
+1.5T

物理フォーマット情報の TLP TFP は無
視される。

パラメータ定義
ケース2

TFP

+1.0T 〜
+2.0T

TSFP + TFP

+1.0T 〜
+2.5T

物理フォーマット情報の TEFP TFP は無
視される。

TLP

+0.5T 〜
+1.5T

TELP − TLP

-1.0T 〜
+0.5T

物理フォーマット情報のTSLP TFP は無
視される。

(Tはチャネルクロック間隔 )

光パルスの形状

NRZI信号

ピークパワー

バイアスパワー1

バイアスパワー2

バイアスパワー3

時間

レ
ー
ザ
ー
パ
ワ
ー

先頭パワー

マルチパルス

書き込みパルス

末尾パルス列

バイアスパワー2

持続期間

先頭パワー

マルチパルス列

書き込みパルス

末尾パルス列

バイアスパワー2

持続期間

単一パルス

書き込みパルス

バイアスパワー2

持続期間

116

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図H.2 光パルス形状の定義

Pp ：与えられたピークパワー

Pb1 ：与えられたバイアスパワー1

Pb2 ：与えられたバイアスパワー2

図H.3

平均ピ−クパワ−，平均バイアスパワー1，

平均バイアスパワー2，マルチパルス列の平均パワーの定義

P１

0.9P1

0.5P1

0.1P1

TFP

TMP

TLP

TLC

0.5P2

0.1P3

0.1P4

0.9P4

0.5P4

0.5P3

0.9P2

0.9P3

0.1P2

ピークパワー

バイアスパワー1

バイアスパワー2

バイアスパワー3

P１

0.9P1

0.5P1

0.1P1

TFP

TMP

TLP

TLC

0.5P2

0.1P3

0.1P4

0.9P4

0.5P4

0.5P3

0.9P2

0.9P3

0.1P2

ピークパワー

バイアスパワー1

バイアスパワー2

バイアスパワー3

0 mW

時間

周期T のマルチパルス列

P + 0.1P

P ‒0.1P

P -0.1P

P + 0.1P

P ‒0.1P

P + 0.1P

平均バイアス

パワー1

平均ピーク

パワー

平均ピーク

パワー

平均バイアス

パワー2

マルチパルス列

の平均パワー

レ
ー
ザ
ー
パ

ワ
ー

0 mW

時間

周期T のマルチパルス列

P + 0.1P

P ‒0.1P

P -0.1P

P + 0.1P

P ‒0.1P

P + 0.1P

平均バイアス

パワー1

平均ピーク

パワー

平均ピーク

パワー

平均バイアス

パワー2

マルチパルス列

の平均パワー

レ
ー
ザ
ー
パ

ワ
ー

117

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書J（規定）バーストカッティング領域（BCA)

J.1 全般バーストカッティング領域は，オプションの部分である。もし用いられるなら，この附属書の

要求事項を満たさなければならない。

BCAに記録する符号の目的は，ディスクの内容とそのディスクとともに用いるソフトウェアとの間のリ

ンクを提供することにある。したがって，この符号の構造だけをこの附属書で規定し，データバイトの内

容は規定しない。後者は，ディスクのコンテンツプロバイダーから供給される。BCA符号は，各ディスク

のシリーズに対して同じもの又はディスクごとに固有なもの，例えば，一連番号を指定する場合のものと

する。

BCA符号は，本体9.1に規定した光ヘッドによって読み取ることができなければならない。

J.2 BCAの位置 BCAは，直径d minとd maxの間にある次の環状の領域とする。

0.8

min

−

0.1

max

−

BCAが用いられるならば，リードインゾーンの開始は，直径44.5 mm以下でなければならない。

図J.1 バーストカッティング領域

J.3 書込み形式 BCA符号は，周囲方向に配置された低反射の一連のストライプで記録する（図J.1参

照）。

J.4 変調方法 BCA符号データは，“0”ビットが“10”に設定した二つのチャネルビットで表し，“1”ビット

が“01” に設定した二つのチャネルビットによって表すフェイズエンコーディングによって変換する。チャ

ネルビットの列は，RZ変調方法によって変調する (図J.4参照)。低反射ストライプは，RZ変調後のパ

ルスに対応して形成する。その幅は，チャネルビット幅の半分以下でなければならない。

J.5 BCA符号の構造 BCA符号は，プリアンブル，データフィールド及びポストアンブルによって構成

する。

バースト
カッティング
領域

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図J.2 BCA符号の構造

J.5.1 BCAプリアンブル BCAプリアンブルは，SBBCAと表示したBCAシンクバイトを先頭にして，(00)

に設定したPR0からPR3までの4バイトによって構成する。

J.5.2 BCAデータフィールド BCAのデータフィールドは，次によって構成する。

− (16×n )−4の情報バイト，I0，I1....I16n-5

− nは，1 ≦ n ≦ 12の整数

− 誤り検出符号EDCBCAの4バイトD0，D1，D2，D3

− C0，0からC3，0まで，C0，1からC3，1まで，C0，2からC3，2まで及びC0，3からC3，3までの順序で記録

された誤り訂正符号ECCBCAの16バイトC ij

− リシンクバイトRSBCAiをIiバイトの各4バイト行の前に4行ごとに変えながら挿入する(図J.3参照)

J.5.3 BCAポストアンブル BCAポストアンブルは，( 55 )に設定したPO0からPO3までの4バイトで

構成し，それの前にリシンクバイトRS BCA14と後にリシンクバイトRS BCA15を加える。

J.6 誤り検出符号EDCBCA D0からD3までの4バイトは，情報バイトIiの後に続く。多項式EDC BCA (x)

及びI BCA (x) は，次の式による。

1行

BCA プリアンブル

4n行

情報データ

1行

BCAポストアン

ブル

BCAデータ
4バイト

リシンク
１バイト

1行

4行

1行

BCA プリアンブル

4n行

情報データ

1行

BCAポストアン

ブル

BCAデータ
4バイト

リシンク
１バイト

1行

4行

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X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

()∑

=31

BCA

EDC

()∑−

128

BCA

ここで，iは0で開始するビット番号とし，EDCBCAの最終バイトのLSBから情報データの最初のバイ

トのMSBまでカウントする。i番目のビットの値は，biで表す。

多項式EDCBCA (x)は，次の式による。

()

EDC

BCA

mod

ここで，()

J.7 BCA誤り訂正符号(ECCBCA) 4方面インタリービングをもつリードソロモンタイプECC符号を情

報データ及びECCBCAに適用する。多項式RBCAj (X)及びIBCA j(X)は，次の式による。

()∑

−

SCAj

()

(

)

∑2

−

BCAj

ここで，I mは，m番目の情報データバイトを表し，Dkは，k番目のEDCBCAバイトを表す。多項式RBCAj(x)

は，次による。

()

()x

PBCA

BCAj

mod

()

(

)

∏

PBCA

ここで，αは，次の原始多項式の原始根を表す。

()

J.8 BCAシンクバイト(SBBCA)及びBCAリシンク(RSBCA) BCAシンクバイト(SB BCA)は，BCAプリア

ンブルに先行する。BCA-リシンク(RSBCA)は，4情報バイトごとの前に，EDCBCAの前に，ECCBCAの前に，

BCAポストアンブルの前後に挿入するものとする。

表J.1 BCAシンクバイト及びBCA-リシンクのビットパターン

シンク
バイト

/リシンク

ビットパターン

固定のパターン

同期符号

(チャネル・ビット)

C15C14C13C12C11C10C9C8

(データ・ビット)

b3 b2 b1 b0

SBBCA

0 1 0 0 0 1 1 0

0 0 0 0

RSBCA1

0 1 0 0 0 1 1 0

0 0 0 1

RSBCA2

0 1 0 0 0 1 1 0

0 0 1 0

: :

RSBCAi

0 1 0 0 0 1 1 0

: :

RSBCA15

0 1 0 0 0 1 1 0

1 1 1 1

RZ変調で記録

PE-RZ変調で記録

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

J.9 BCA信号規格

J.9.1 BCAからの信号 BCA信号を測定するための基準回路図は，図J.3に示す。 BCA信号の計測中

に，光学ビームの焦点は，記録層に追従しているものとする。 BCA領域の読取りチャネル1からの信号

は，1.2 MHz遮断周波数( LPFB )をもつ三次バターワース低域フィルタを通過後，反転増幅器で増幅され，

その後14 kHzの遮断周波数( HPFB )をもつ高域線形フィルタを通過する。

その後，320 μsの時定数をもつHPFBからの信号とピークホールド値からの信号を比較することによっ

て，2値化BCA信号を生成することができる。

J.9.2 BCA信号の信号規格次の規格を，中心孔穴の中心から22.40 mmと23.30 mmの間で規定する。

a) 変調振幅 BCA符号チャネルビット0b ( BCAスペース)に対応するLPFBからの信号の平均のレベル

は，IBSとして定義する。BCA符号チャネルビット1b ( BCAマーク)に対応するLPFBからの信号の底部

レベルは，IBMとして定義する。LPFBからの信号のピークレベルは，IBRmaxとして定義する(図J.4参照)。

上記のパラメータは，次の規格を満たすものとする。

8.0

min

max≤

5.1

max≤

b) BCA符号チャネルビットの周期 BCA符号チャネルビットの周期は，2値化BCA信号の立ち上がり

エッジ間の時間周期として測定する。BCA符号チャネルビットの周期は，3 246 rpm ( 54.10 Hz )の回転

速度で3.94 μsとする。BCA信号を2値化のスライスレベルは，HPFBのIBS min及びIBM maxの中心に設定

する。

c) ジッタジッタは，2値化BCA信号の時間変動の標準偏差σBとして定義する。

連続リーディングエッジ間のジッタは，8.5 %以下でなければならない。

図J.3 BCA信号計測用回路図

コンパレータ

線形フィルタ

第3次

バターワースフィルタ

リードチャネル1

反転増幅器

2値化

BCA信号

ピークホールド

＝1.2 MHｚ

−

＝14 MHｚ

−

コンパレータ

線形フィルタ

第3次

バターワースフィルタ

リードチャネル1

反転増幅器

2値化

BCA信号

ピークホールド

＝1.2 MHｚ

−

＝1.2 MHｚ

−

＝14 MHｚ

−

＝14 MHｚ

−

121

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図J.4 BCA信号からの波形

2値化BCA信号

0レベル

LPFBからの信号

リードチャネル1信号

3.94

122

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

J.10 情報データの論理フォーマット BCAデータフィールドは，J.5.2で規定するように，情報データ

I0，I1，…I6n-5の16n-4バイトをもつ。この情報データをBCA記録の1ユニット上で記録する。BCA記

録長は，4バイトの倍数とする。各BCA記録は，表J.2(ここで，mは正整数)で示すようなBCA記録ID，

バージョン番号フィールド，データ長フィールド及び記録データフィールドから構成する。

表J.2 BCA記録形式

相対的バイト位置(RBP)

内容

バイト数

0〜1

BCA記録ID

バージョン番号

データ長

4〜4m＋3

記録データ

RBP0から1まで−BCA記録ID

このフィールドは，各BCA記録のために専用に割り当てられたBCA記録IDとする。

RBP2−バージョン番号

このフィールドは，各BCA記録のために別々に割り当てられたバージョン番号とする。

RBP3−データ長

このフィールドは，記録データ長を規定する。

RBP4から4m＋3まで−記録データ

このフィールドは，4バイトの倍数とし，記録データだけを含む。

BCA記録IDは，表J.3に示すような二つのカテゴリーに分類する。

表J.3 BCA記録IDのカテゴリー

BCA記録ID

定義

(0000)〜(7FFF)

認定アプリケーションのための割当て

(8000)〜(FFFF)

通知アプリケーションのための割当て

二つ以上のBCA記録がBCAデータフィールドに記録される場合，各BCA記録は，異なるBCA記録

IDを互いにもつものとし，BCA記録IDの昇順で記録する。後続“0”を情報データの16n−4バイトに合

わせるために埋めてもよい。情報データの例は，表J.4に示す。

表J.4 情報データの例

バイト位置

内容

バイト数

0〜11

BCA記録No.1

(記録データ長は，8バイトである。)

12〜31

BCA記録No.2

(記録データ長は，16バイトである。)

32〜43

後続“0”

123

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書K（参考）ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のた

めのガイドライン

この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではな

い。

図K.1 ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のためのガイドライン

図K.2 ランダム信号発生器の例

LDドライバ

NRZI変換

極性反転:P

ランダム

信号発生器

ガード1，VF03，PS，PA3

及びガード2の付加

8-16変調及びDCC

スクランブル及びECC

ユーザデータ

セクタごとに，J.K及び極性Pを

選択する。

クロック

書込みゲート

P: 正／負

J: 0〜15チャネルビット

K: 0〜7バイト

は,排他的論理和(EXC̲JSIVE OR)を表す。

124

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書L（参考）輸送

この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではな

い。

L.1 一般輸送は，例えば，異なる期間，多くの輸送方法によって，そして世界中のすべての場所で，

広い範囲の温度及び湿度の変動の中で行われるので，輸送又は包装の規定条件を規定することは不可能で

ある。

L.2 包装包装の形態は，送付元及び受領先との間で合意を得ておくことが望ましいが，そのような合

意がない場合は，送付元の責任である。次のような損害を考慮しておくことが望ましい。

L.2.1 温度及び湿度断熱及び包装は，輸送の見込まれる期間中にわたる保存条件を維持するように設計

することが望ましい。

L.2.2 衝撃負荷及び振動

a) ディスクの形状にひずみを与える機械的負荷を避ける。

b) ディスクの落下を避ける。

c) ディスクは，適切な衝撃吸収材料を含む堅い箱にこん包することが望ましい。

d) 個装箱は，清浄な内部と汚れや湿気の侵入を防ぐシールをした構造をもつことが望ましい。

125

X 6246：2005 (ISO/IEC 17592：2004)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書M（参考）セクタ置換えのガイドライン

この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事柄を補足するもので，規定の一部ではな

い。

本体17.では，欠陥セクタは，欠陥管理によって置き換えられることを想定している。次は，欠陥管理

を適用してセクタの交替処理を行う場合の判断基準の例を示す。

1) 例1

PIDエラー

： 1セクタに三つ以上のIDにエラーがある。

行エラー

： ECCブロックの1行内で4バイト以上のエラーがある。

と定義する。

スリッピングアルゴリズム

PIDエラーのときは，そのセクタは交替する。

1セクタに四つ以上の行エラーがあるとき，そのセクタは交替する。

1ECCブロック内に六つ以上の行エラーがあるとき，行エラーの数を6未満に抑えるのに必要なだけ

のセクタを交替する。

リニアリプレイスメントアルゴリズム

1ECCブロック内にPIDエラーのセクタが一つ以上あった場合，そのECCブロック全体を交替する。

1ECCブロックに八つ以上の行エラーがあった場合，そのECCブロック全体を交替する。

2) 例2

PIDエラー

： 1セクタに四つ以上のIDにエラーがある。

行エラー

： ECCブロックの1行内で4バイト以上のエラーがある。

と定義する。

スリッピングアルゴリズム

PIDエラーのときは，そのセクタは交替する。

1セクタに四つ以上の行エラーがあるとき，そのセクタは交替する。

1ECCブロック内に六つ以上の行エラーがあるとき，行エラーの数を6未満に抑えるのに必要なだけ

のセクタを交替する。

リニアリプレイスメントアルゴリズム

1ECCブロック内にPIDエラーのセクタが二つ以上あった場合，そのECCブロック全体を交替する。

1ECCブロックに八つ以下の行エラーがあった場合，そのECCブロック全体を交替する。