X 6245 : 1999
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
この規格には,次に示す附属書がある
附属書A(規定) 角度偏差αの測定
附属書B(規定) 複屈折の測定
附属書C(規定) 位相差トラッキングエラー信号の測定方法
附属書D(規定) 光反射の測定
附属書E(規定) ディスククランプのためのテーパコーン
附属書F(規定) ジッタの測定
附属書G(規定) RLL (2, 10) 制約の8-16変調
附属書H(規定) ボーダゾーン
附属書J(規定) 最適パワー制御
附属書K(規定) 波長依存性
附属書L(規定) ディスクの光劣化
附属書M(参考) リファレンスコードについての留意点
附属書N(規定) 未記録ディスクの動作信号の測定方法
附属書P(参考) 記録ストラテジの変形
附属書Q(参考) ランドプリピット信号の測定方法
附属書R(規定) グルーブウォブル振幅の測定
附属書S(参考) ランニングOPC
附属書T(参考) 輸送
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
第1章 一般事項 ················································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 ディスク ······················································································································ 2
2.2 製造システム ················································································································ 2
2.3 情報再生システム ·········································································································· 2
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 定義 ······························································································································ 2
4.1 接着層 ························································································································· 2
4.2 チャネルビット ············································································································· 2
4.3 クランプゾー ················································································································ 2
4.4 ディジタル総計値 ·········································································································· 2
4.5 ディスク基準 ················································································································ 2
4.6 ダミー基板 ··················································································································· 2
4.7 入射面 ························································································································· 2
4.8 グルー ························································································································· 2
4.9 ラン ···························································································································· 2
4.10 光ディス ····················································································································· 2
4.11 物理セクタ番 ··············································································································· 2
4.12 再生専用ディスク ········································································································· 2
4.13 記録層 ························································································································ 2
4.14 リードソロモン符号 ······································································································ 2
4.15 予備フィールド ············································································································ 2
4.16 セク ··························································································································· 2
4.17 基 ······························································································································ 3
4.18 トラッ ························································································································ 3
4.19 トラックピッ ··············································································································· 3
4.20 ゾーン ························································································································ 3
5. 表記法 ··························································································································· 3
5.1 数値表示 ······················································································································ 3
6. 略語 ······························································································································ 3
7. ディスクの概要 ··············································································································· 4
8. 一般要求事項 ·················································································································· 5
8.1 環境条件 ······················································································································ 5
8.1.1 測定環境条件 ·············································································································· 5
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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8.1.2 動作環境条件 ·············································································································· 5
8.1.2.1 記録済み及び未記録ディスク ······················································································· 5
8.1.2.2 未記録ディスクの記録中の環境条件 ·············································································· 6
8.1.3 保存環境条件 ·············································································································· 6
8.1.4 輸送 ·························································································································· 6
8.2 安全性 ························································································································· 6
8.3 耐燃性 ························································································································· 6
9. 基準測定装置 ·················································································································· 6
9.1 ピックアップヘッド (PUH) ······························································································ 6
9.1.1 記録済みディスク測定用PUH ························································································· 6
9.1.2 未記録ディスク測定用PUH ···························································································· 7
9.2 測定条件 ······················································································································ 8
9.2.1 記録済みディスク及び未記録ディスク ············································································· 8
9.2.2 記録済みディスク ········································································································ 9
9.2.3 未記録ディスク ··········································································································· 9
9.3 正規化サーボ伝達関数····································································································· 9
9.4 軸方向のトラッキング基準サーボ ······················································································ 9
9.5 半径方向のトラッキング基準サーボ ·················································································· 10
第2章 ディスクの寸法,機械的及び物理的特性 ······································································ 10
10. 寸法特性(図6〜8参照) ······························································································· 10
10.1 全体寸 ······················································································································· 10
10.2 第1遷移領 ················································································································· 11
10.3 第2遷移領 ················································································································· 11
10.4 クランプゾー ·············································································································· 11
10.5 第3遷移領 ················································································································· 11
10.6 R情報ゾー ················································································································· 11
10.6.1 R情報ゾーンの分割 ··································································································· 11
10.7 情報ゾー ···················································································································· 12
10.7.1 情報ゾーンの分割 ······································································································ 12
10.7.1.1 リードインゾー ······································································································ 12
10.7.1.2 データゾー ············································································································ 12
10.7.1.3 リードアウトゾー···································································································· 12
10.8 トラックの寸法 ··········································································································· 12
10.9 チャネルビット長 ········································································································ 12
10.10 リム領 ····················································································································· 12
10.11 許容差についての注意 ································································································· 13
10.12 レーベル ·················································································································· 13
11. 機械的パラメータ ·········································································································· 13
11.1 質量 ·························································································································· 13
11.2 慣性モーメント ··········································································································· 13
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 13
11.4 回転方向 ···················································································································· 13
11.5 振れ量 ······················································································································· 13
11.5.1 軸方向の振れ量 ········································································································· 13
11.5.2 半径方向の振れ量 ······································································································ 13
12. 光学的パラメータ ········································································································· 14
12.1 記録済みディスク及び未記録ディスクの特性 ···································································· 14
12.1.1 屈折率 ····················································································································· 14
12.1.2 透明基板の厚さ ········································································································· 14
12.1.3 角度偏差 ·················································································································· 14
12.1.4 透明基板の複屈折 ······································································································ 14
12.2 記録済みディスクの反射率 ···························································································· 14
12.3 未記録ディスクの特性 ·································································································· 14
12.3.1 反射率変調の極性 ······································································································ 14
12.3.2 記録パワーの感度変化 ································································································ 14
13. 記録済みディスクの動作信号 ··························································································· 16
13.1 測定条件 ···················································································································· 16
13.2 読取り条件 ················································································································· 17
13.3 記録済みディスクの高周波信号 (HF) ··············································································· 17
13.3.1 変調振幅 ·················································································································· 17
13.3.2 信号の非対称性 ········································································································· 17
13.3.3 クロストラック信号 ··································································································· 17
13.4 信号の品質 ················································································································· 17
13.4.1 ジッタ ····················································································································· 17
13.4.2 ランダムエラー ········································································································· 17
13.4.3 欠陥 ························································································································ 17
13.5 サーボ信号 ················································································································· 18
13.5.1 位相差トラッキングエラー信号 ···················································································· 18
13.5.2 接線方向のプッシュプル信号 ······················································································· 18
14. 未記録ディスクの動作信号······························································································ 20
14.1 測定条件 ···················································································································· 20
14.2 記録条件 ···················································································································· 20
14.3 ディスクテスト用基本記録ストラテジ ············································································· 20
14.4 サーボ信号 ················································································································· 20
14.4.1 半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号 ······························································· 21
14.4.2 記録前のクロストラック信号(半径方向コントラスト=RC) ············································ 21
14.4.3 欠陥 ························································································································ 22
14.5 アドレス信号 ·············································································································· 23
14.5.1 ランドプリピット信号 ································································································ 23
14.5.2 グルーブウォブル信号 ································································································ 24
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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14.5.3 ウォブルとランドプリピットとの位相関係 ····································································· 24
第4章 データフォーマット ································································································· 24
15. 概要 ··························································································································· 24
16. データフレーム(図21) ································································································ 25
16.1 識別子 (ID) ················································································································ 25
16.2 ID誤り検出符号 (IED) ·································································································· 26
16.3 著作権管理情報 (CPR̲MAI) ··························································································· 26
16.4 誤り検出符号 (EDC)····································································································· 26
17. スクランブルドフレーム································································································· 27
18. ECCブロック ··············································································································· 27
19. 記録フレーム ··············································································································· 29
20. 変調 ··························································································································· 30
21. 物理セクタ ·················································································································· 30
22. 直流成分抑圧制御 ········································································································· 31
23. リンキング方式 ············································································································ 32
23.1 リンキングセクタ ········································································································ 32
23.2 リンキングロス領域 ····································································································· 32
23.2.1 パディングセクタ ······································································································ 32
第5章 情報ゾーンのフォーマット ························································································ 34
24. 情報ゾーンの概要 ········································································································· 34
24.1 情報ゾーンのレイアウト ······························································································· 34
24.2 物理セクタの番号付け ·································································································· 34
25. リードインゾーン及びリードアウトゾーン ········································································· 34
25.1 リードインゾーン ········································································································ 35
25.1.1 イニシアルゾーン ······································································································ 35
25.1.2 リファレンスコードゾーン ·························································································· 35
25.1.3 バッファゾーン1 ······································································································ 35
25.1.4 バッファゾーン2 ······································································································ 35
25.2 コントロールデータゾーン ···························································································· 35
25.2.1 物理フォーマット情報 ································································································ 36
25.2.2 ディスク製造情報 ······································································································ 38
25.3 リードアウトゾーン ····································································································· 38
第6章 未記録ゾーンのフォーマット ····················································································· 38
26. 一般 ··························································································································· 38
26.1 未記録ゾーンのレイアウト ···························································································· 38
26.2 ECCブロックアドレ ···································································································· 38
26.3 ECCブロックのアドレス付け························································································· 38
27. プリピットデータフォーマット ························································································ 39
27.1 一般 ·························································································································· 39
27.2 プリピットブロック構成 ······························································································· 41
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27.3 プリピットデータブロック構成 ······················································································ 43
27.3.1 相対アドレス ············································································································ 44
27.3.2 ECCブロックアドレスデータ構成 ················································································ 44
27.3.3 パリティA及びパリティB ························································································· 45
27.3.4 フィールドID0 ········································································································· 45
27.3.5 フィールドID1 ········································································································· 46
27.3.5.1 応用コード ············································································································ 46
27.3.5.2 ディスク物理コード································································································· 47
27.3.5.3 データゾーンの最終アドレス ····················································································· 47
27.3.6 フィールドID2 ········································································································· 47
27.3.6.1 OPC推奨コード ······································································································ 47
27.3.6.2 波長コード ············································································································ 48
27.3.6.3 記録ストラテジコード······························································································ 48
27.3.6.3.1 3Ttopフィールド,4Ttopフィールド,5Ttop〜11Ttopフィールド,14Ttopフィールド及びTmp
フィールド ························································································································· 49
27.3.6.3.2 3-3Tldフィールド,3-3Ttrフィールド,3-4Tldフィールド,3-4Ttrフィールド,4-3Tldフィー
ルド,4-3Ttrフィールド,4-4Tldフィールド及び4-4Ttrフィールド ··············································· 50
27.3.7 フィールドID3〜フィールドID5 ·················································································· 50
28. R情報ゾーンのデータ構造 ······························································································ 51
28.1 パワー校正領域及び記録管理領域の配置 ·········································································· 51
28.2 パワー校正領域の構造 ·································································································· 52
28.3 記録管理領域 (RMA) のデータ構成 ················································································ 52
28.3.1 記録管理領域のセクタフォーマッ ················································································· 52
28.3.2 記録管理情報 (RMD) ································································································· 53
28.3.2.1 RMDフィールド0 ··································································································· 53
28.3.2.2 RMDフィールド1 ··································································································· 55
28.3.2.3 RMDフィールド2 ··································································································· 56
28.3.2.4 RMDフィールド3 ··································································································· 56
28.3.2.5 RMDフィールド4 ··································································································· 57
28.3.2.6 RMDフィールド5〜RMDフィールド12 ······································································ 58
28.3.2.7 RMDフィールド13〜RMDフィールド14 ···································································· 58
附属書A(規定) 角度偏差(の測定 ······················································································· 59
附属書B(規定) 複屈折の測定 ···························································································· 61
附属書C(規定) 位相差トラッキングエラー信号の測定方法 ····················································· 63
附属書D(規定) 光反射の測定 ··························································································· 67
附属書E(規定) ディスククランプのためのテーパコーン ························································ 68
附属書F(規定) ジッタの測定 ···························································································· 69
附属書G(規定) RLL (2, 10) 制約の8-16変調 ········································································ 72
附属書H(規定) ボーダゾーン ··························································································· 81
附属書J(規定) 最適パワー制御 ························································································· 85
X 6245 : 1999 目次
(6)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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附属書K(規定) 波長依存性 ······························································································ 86
附属書L(規定) ディスクの光劣化 ······················································································ 87
附属書M(参考) リファレンスコードについての留意点 ·························································· 88
附属書N(規定) 未記録ディスクの動作信号の測定方法 ··························································· 89
附属書P(参考) 記録ストラテジの変形 ················································································ 90
附属書Q(参考) ランドプリピット信号の測定方法 ································································· 91
附属書R(規定) グルーブウォブル振幅の測定 ······································································· 92
附属書S(参考) ランニングOPC ························································································ 94
附属書T(参考) 輸送 ········································································································ 95
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日本工業規格 JIS
X 6245 : 1999
80mm(1.23GB/面)及び
120mm(3.95GB/面)
DVD-レコ-ダブルディスク (DVD-R)
80mm (1.23 GB/side) and 120mm (3.95 GB/side)
DVD-Recordable-Disk (DVD-R)
第1章 一般事項
1. 適用範囲 この規格は,80mm及び120mmのDVD-レコーダブルディスク(以下,ディスクという。)
の互換性を可能にする機械的特性,物理的特性及び光学的特性を規定する。また,それらのディスクによ
って情報交換を可能にするプリ記録部,未記録部及び記録部の信号品質,データフォーマット,情報ゾー
ンのフォーマット,未記録ゾーンのフォーマット並びに記録方法について規定する。このディスクを,DVD-
レコーダブル (DVD-R) ディスクと称する。一回DVD-Rディスクに書き込まれたデータは,修正すること
はできない。多数回の読取りが可能である。さらに,データを追記することもできる。
この規格は,次の項目を規定する。
− 直径80mm及び120mmの片面又は両面のディスク
− 適合条件
− このディスクの使用環境及び保存環境
− データ処理システム間の機械的互換のためのディスクの機械特性,物理特性及び寸法特性
− トラックとセクタとの物理的配置,誤り訂正符号及び符号化方法を含む未記録ディスク上のプリ記録
情報のフォーマット
− トラックとセクタとの物理的配置,誤り訂正符号及び符号化方法を含むディスク上の記録された情報
のフォーマット
− データ処理システムがディスク上からプリ記録データを読み,ディスクに記録を可能にするための,
ディスク上のプリ記録及び未記録領域からの信号の特性
− データ処理システムがディスク上のデータ読取りを可能にするための,ディスク上に記録した信号の
特性
この規格は,ディスクドライブ間のディスクの互換性を与える。また,ボリューム及びファイル構造の
規格とともに,データ処理システム間の完全なデータ互換性を与える。
2. 適合性
2
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2.1
ディスク この規格では,公称直径及び片面か又は両面かでディスクのタイプを規定する。ディス
クは,そのタイプの要求事項を満たすとき,この規格に適合する。
2.2
製造システム 製造システムは,製造するディスクが2.1に合致するとき,この規格に適合する。
2.3
情報再生システム 情報再生システムは,2.1に適合するディスクを取り扱うことができるならば,
この規格に適合する。
3. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発効年(又は発行年)を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの
規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年(又は発行年)を付
記していない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
IEC 60950 : Safty of information technology equipment
ISO 105-B02 : Colour fastness to artificial light : Xenon arc fading lamp test
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
4.1
接着層 (adhesive layer) ディスクの二つの部分を一つに結合する接着物質の層。
4.2
チャネルビット (channel bit) 変調後の2値の “0” 及び “1” をディスク上のビットで表す要素。
4.3
クランプゾーン (clamping zone) クランプ装置機構によってクランプ力が加わるディスクの環状
の部分。
4.4
ディジタル総計値 (digital sum value) 10進数の数値1をビット “1” 及び10進数の−1をビット
“0” に割り当てることによってビットストリームから得た算術和。
4.5
ディスク基準面 (disk reference plane) ディスクのクランプゾーンをクランプし,理想スピンドルの
完全に平らな環状表面で定義される回転軸に対して垂直な面。
4.6
ダミー基板 (dummy substrate) ディスク及び/又は記録層を機械的に支持するために用意した透
明又は不透明な層。
4.7
入射面 (entrance surface) 光ビームが最初に当たるディスクの表面。
4.8 グルーブ (groove) 情報を記録する前に形成され,トラックの位置決めに用いられるディスクの溝。
グルーブは,ランドよりも入射面に近く位置する。グルーブの中心に記録を行う。
4.9
ランド (land) グルーブ間の領域(半径方向信号に関して)。ビット間の領域(HF信号に関して)。
4.10 光ディスク (optical disk) 光ビームによって読み取ることができ,記録層に記録マークで情報を受
容し保持するディスク。
4.11 物理セクタ番号 (physical sector number) ディスクの物理セクタに割り当てた連続番号。
4.12 再生専用ディスク (read-only disk) ディスクの製造時に情報を記録したディスク。情報は,修正で
きずディスクから読み取ることだけができる。
4.13 記録層 (recorded layer) その上又は中にデータを記録したディスクの層。
4.14 リードソロモン符号 (Reed-Solomon code) 誤り訂正のため,誤りの検出及び/又は誤り訂正符号。
4.15 予備フィールド (reserved field) 特に規定のない限りすべて “0” に設定し,将来の標準化のために
予備とするフィールド。
4.16 セクタ (sector) 他のアドレスできる部分とは独立してアクセスできる情報ゾーンのトラックの一
番小さい部分。
3
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4.17 基板 (substrate) 記録する又は記録された層を機械的に支持する透明なディスクの層。これを通し
て光ビームが記録する又は記録された層にアクセスできる。
4.18 トラック (track) 連続スパイラルの360°,1回転。
4.19 トラックピッチ (track pitch) 半径方向に測定される,未記録ディスクに対しては1対の隣接する
ウォブルグルーブ(半径方向にわずかに蛇行したグルーブ)の平均中心線間の距離で,記録済みディスク
に対しては1対の隣接する連なった記録マークの物理トラックの中心線間の距離。
4.20 ゾーン (zone) ディスクの環状領域。
5. 表記法
5.1
数値表示 測定値は,該当規格値の最下位けた(桁)に丸める。例えば,+0.01のプラス許容差及
び0.02のマイナス許容差をもつ1.26という規格値は,1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。
10進数は,0〜9の数字で表す。
16進数は,括弧でくくった,0〜9のアラビア数字とA〜Fのアルファベットとで表す。
ビットの設定は,“0” 及び “1” で表す。
2進数及びビットパターンは,左側を最上位ビットとし,“0” 及び “1” の一連で表す。
2進数の負の値は,2の補数として表す。
各フィールドで,データは,バイト0とする最上位のバイト (MSB) を最初に記録し,最下位バイト
(LSB) を最後に記録する。
8nビットのフィールドで,ビットb (8n-1) は,最上位ビット (msb) とし,ビットb0は,最下位ビット (lsb)
としなければならない。
ビットb (8n-1) を最初に記録する。
6. 略語
BP
バイト位置 (Byte Position)
BPF
帯域フィルタ (Band Pass Filter)
CLV
一定線速度 (Constant Linear Velocity)
CPR̲MAI
著作権管理情報 (Copyright Management Information)
DCC
直流成分抑圧制御 [DC Component (suppress control)]
DPD
位相差検出法 (Differential Phase Detection)
DSV
ディジタル総計値 (Digital Sum Value)
ECC
誤り訂正符号 (Error Correction Code)
EDC
誤り検出符号 (Error Detection Code)
EQ
波形等化器 (Equalizer)
FWHM
半値幅 (Full Width Half Maximum)
HF
高周波 (High Frequency)
ID
識別子 (Identification Data)
IED
ID誤り検出符号 [ID Error Detection (Code)]
IR
屈折率 (Index of Refraction)
LPF
低域フィルタ (Low-Pass Filter)
LPP
ランドプリピット (Land Pre-Pit)
4
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LSB
最下位バイト (Least Significant Byte)
MSB
最上位バイト (Most Significant Byte)
NRZ
非ゼロ復帰 (Non Return to Zero)
NRZI
非ゼロ反転復帰 (Non Return to Zero Inverted)
OPC
最適パワー制御 (Optimum Power Control)
PBS
偏光ビームプリッタ (Polarizing Beam Splitter)
PCA
パワー校正領域 (Power Calibration Area)
PE
フェイズエンコーディング (Phase Encoding)
PI
内符号パリティ [Parity (of the) Inner (code)]
PLL
位相同期ループ (Phase-Locked Loop)
PO
外符号パリティ [Parity (of the) Outer (code)]
PUH
ピックアップヘッド (Pick-Up Head)
RIN
相対ノイズ強度 (Relative Intensity Noise)
RMA
記録管理領域 (Recording Management Area)
RMD
記録管理データ (Recording Management Data)
RS
リードソロモン符号 [Reed-Solomom (code)]
RZ
ゼロ復帰 (Return to Zero)
SYNC
同期符号 (Code Synchronization Code)
lsb
最下位ビット (least significant bit)
msb
最上位ビット (most significant bit)
7. ディスクの概要 この規格の主題である80mm及び120mmのディスクは,一つの記録層(片面ディ
スク)又は二つの記録層(両面ディスク)を内側に設けた基板2枚を接着層によって,は(貼)り合わせ
て構成する。ディスクの中心位置決めは,読取り側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプは,クラ
ンプゾーンで行う。ディスクは,記録層の数によって両面ディスクか又は片面ディスクとなる。両面ディ
スクは,各基板の内側に記録層をもつ。片面ディスクは,記録層を内側にもった1枚の基板と記録層をも
たないダミー基板とをもつ。未記録のDVD-Rディスクは,記録機によって非可逆的にデータを記録でき
る。記録されたディスクのデータは,ドライブの光ビームによって何回も読むことができる。記録された
DVD-Rディスクは,DVD再生専用ディスクと等価である
タイプ1S
基板,一つの記録層及びダミー基板から成り,記録層には一方向からのアクセス可能である。
容量の公称値は80mmディスクで1.23ギガバイト,120mmディスクで3.95ギガバイトであ
る。
タイプ2S
2枚の基板及び二つの記録層から成り,ディスクの一方向からは,これらの記録層の一方に
だけアクセス可能である。容量の公称値は80mmディスクで2.46ギガバイト,120mmディ
スクで7.90ギガバイトである。
図1に模式的にこれらのタイプを示す。
5
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図1 ディスク外観
8. 一般要求事項
8.1
環境条件
8.1.1
測定環境条件 測定環境条件は,ディスク近傍の環境条件とし,規定がない限り次による。
a) 寸法測定用
温度
:23℃±2℃
相対湿度 :45〜55%
大気圧
:86〜106kPa
b) a)以外の測定用
温度
:15〜35℃
相対湿度 :45〜75%
大気圧
:86〜106kPa
別に規定しない限り,すべての試験及び測定は,この測定環境条件で行わなければならない。
8.1.2
動作環境条件
8.1.2.1
記録済み及び未記録ディスク この規格によって,規定した測定環境でのこの規格のすべての要
求事項を満たすディスクは,動作環境条件において環境パラメータの規定範囲にわたってデータ交換がで
きなければならない。
データ交換用ディスクは,動作状態のドライブに装着し,ディスク近傍で測定したとき,次の条件下で
動作しなければならない。
6
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保存条件にさらされたディスクは,動作前に少なくとも2時間動作環境条件に放置してから使用する。
温度
:−25〜70℃
相対湿度
:3〜95%
絶対湿度
:0.5〜60g/m3
温度変動
:最大15℃/h
相対湿度変動 :最大10%/h
ディスクに結露があってはならない。
8.1.2.2
未記録ディスクの記録中の環境条件 保存条件にさらされたディスクは,動作前に少なくとも2
時間記録環境条件に放置してから使用する。
温度
:−5〜55℃
相対湿度
:10〜95%
絶対湿度
:0.5〜30g/m3
ディスクに結露があってはならない。
8.1.3
保存環境条件 保存環境条件はディスク近傍の環境条件とし,次による。
温度
:−20〜50℃
相対湿度
:5〜90%
絶対湿度
:1〜30g/m3
大気圧
:75〜106kPa
温度変動
:最大15℃/h
相対湿度変動 :最大10%/h
記録済み及び未記録ディスクは,光劣化テストの後で,12.及び14.の規定を満たさなければならない(附
属書L参照)。
8.1.4
輸送 この規格は,輸送条件については規定しないが指針を附属書Tに示す。
8.2
安全性 ディスクは,情報処理システムにおいて意図された方法での使用時又は想定される使用時
に,IEC 60950の安全性に関する要求事項を満たさなければならない。
8.3
耐燃性 ディスクは,IEC 60950に規定しているように,HB材料の耐燃性クラス以上のクラスに適
合する材料で作る。
9. 基準測定装置 この規格に適合するために,光学特性の測定には,記録済みディスク及び未記録ディ
スクの基準測定装置を使用しなければならない。これらの装置の重要部品は,ここで定義する特性をもつ。
9.1
ピックアップヘッド (PUH)
9.1.1
記録済みディスク測定用PUH
7
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図2 記録済みディスク測定用PUHの光学系
光学パラメータを測定する光学系を図2に示す。測定の精度に影響しないようにするために,その光学
系は,ディスク入射面から反射した検出光を最小化するものとする。偏光ビームスプリッタCを1/4波長
板Dと組み合わせることによって,入射光とディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリ
ッタCのP-S強度/反射率の比は,100以上とする。光学系Gは,非点収差の焦点合わせ及び読取りのた
めに,非点収差を生成してディスクFの記録層で反射した光をコリメートする。四分割ディテクタHの位
置は,対物レンズの焦点が記録層に合ったとき,光スポットが四分割ディテクタHの中心と一致する中心
をもつ円になるように調整する。そのようなフォトディテクタHの例を図2に示す。
PUHの特性は,次による
波長(λ)
:650nm±5nm
偏光
:円偏光
偏光ビームスプリッタ :特に規定のない限り使用
開口数
:0.60±0.01
対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度
:半径方向は最大光強度の60〜70%,接線方向は最大光強度の90%以上
理想的な基板を通過した後の波面収差
:最大0.033λrms
レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)
10log[(交流光パワー密度/Hz)/直流光パワー]
:最大−134dB/Hz
9.1.2
未記録ディスク測定用PUH
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A:レーザダイオード,B:コリメータレンズ,C:偏光ビームスプリッタ,D:1/4波長板,
E:対物レンズ,F:ディスク,G:四分割ディテクタ,H1, H2, H3, H4:直流結合増幅器
Ia, Ib, Ic, Id:四分割ディテクタ出力電流,I1, I2:増幅器出力電流
図3 未記録ディスク測定用PUHの光学系
特性測定を行う光学系を図3に示す。この光学系は,未記録ディスクの特性測定及びディスク測定に必
要な記録に使用する。図3の構成の機能と同じであれば,異なる部品及び部品の異なる配置をしてもよい。
光学系は,測定の精度に影響しないようにするために,ディスクの入射面から反射した検出光を最小化す
るものとする。偏光ビームスプリッタCを1/4波長板Dと組み合わせることによって,レーザダイオード
Aからの入射光とディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリッタCのP-S強度/反射率
の比は,100以上とする。
データの記録再生に用いられる集束光の特性は,次による。
波長(λ)
:635nm±5nm
偏光
:円偏光
開口数
:0.60±0.01
対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度
:半径方向は最大光強度の35%以上,接線方向は最大光強度の50%以上
理想的な基板を通過した後の波面収差
:最大0.033λrms
レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)
10log[(交流光パワー密度/Hz)/直流光パワー]
:最大−130dB/Hz
9.2
測定条件
9.2.1
記録済みディスク及び未記録ディスク
チャネルビットレートが26.156 25Mbpsのときの走査速度
:3.84m/s±0.3m/s
クランプ力
:2.0N+0.5N
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クランプゾーン
:10.5及び附属書A参照
テーパコーン角度
:40.0°±0.5°(附属書E参照)
9.2.2
記録済みディスク 記録済みディスクの動作信号の測定条件は,附属書Fに規定する。
9.2.3
未記録ディスク 未記録ディスクの動作信号の測定条件は,附属書Nに規定する。
9.3
正規化サーボ伝達関数 軸方向と半径方向とのトラッキングのサーボシステムを規定するために,
関数Hsを用いる[式(1)参照]。それは23.1Hz〜10kHzの周波数範囲において,基準サーボの開ループ伝達
関数Hの公称値を規定する。
()
0
0
2
0
3
1
3
1
3
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
i
i
i
i
Hs
+
+
×
×
=
························································· (1)
ここで, ω=2πf,ω0=2πf0,
1
−
=
i
f0: 開ループ伝達関数の0dBクロスオーバ周波数。サーボの位相進
み遅れ回路のクロスオーバ周波数は,次による。
進み交差周波数:f1=f0×1/3
遅れ交差周波数:f2=f0×3
9.4
軸方向のトラッキング基準サーボ 軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し
|1+H |は,図4に模式的に示すハッチング領域内になければならない。
図4 軸方向のトラッキング基準サーボ
100Hz〜10kHzの帯域幅 |1+H|は,|1+Hs|の20%以内でなければならない。
クロスオーバ周波数f0=ω0/2πは,式(2)による。
kHz
e
f
0.2
10
23
.0
3
5.1
8
2
1
3
2
1
6
max
max
0
=
×
×
×
=
=
−
π
α
π
······································ (2)
ここで,αmaxは,軸方向の最大加速度期待値8m/s2の1.5倍,最大許容トラッキングエラーemaxは,0.23μm
とする。
軸方向トラッキングエラーemaxは,0レベルの上か下で,軸方向に測定したピーク偏差である。
23.1Hz〜100Hzの帯域幅 |1+H|は,次の4点で囲まれる範囲内とする。
100Hzで40.6dB(100Hzで|1+Hs|−20%)
23.1Hzで66.0dB(23.1Hzで|1+Hs|−20%)
10
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23.1Hzで86.0dB(23.1Hzで|1+Hs|−20%に20dB加える)
100Hzで44.1dB(100Hzで|1+Hs|+20%)
9.6Hz〜23.1Hzの帯域幅 |1+H|は,66.0dBと86.0dBとの間になければならない。
9.5
半径方向のトラッキング基準サーボ 半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに
対し|1+H|は,図5に模式的に示すハッチングの領域内になければならない。
図5 半径方向のトラッキング基準サーボ
100Hz〜10kHzの帯域幅 |1+H|は,|1+Hs|の20%以内でなければならない。
クロスオーバ周波数f0=ω0/2πは,式(3)による
kHz
e
f
4.2
10
022
.0
3
5.1
1.1
2
1
3
2
1
6
max
max
0
=
×
×
×
=
=
−
π
α
π
···································· (3)
ここで, αmaxは,軸方向の最大加速度期待値1.1m/s2の1.5倍,最大許容トラッ
キングエラーemaxは,0.022μmとする。
半径方向のトラッキングエラーは,0レベルより内側か外側で半径方向に測定したピーク偏差とする。
23.1Hz〜100Hzの帯域幅 |1+H|は,次の4点で囲まれる範囲内とする。
100Hzで43.7dB(100Hzで|1+Hs|−20%)
23.1Hzで69.2dB(23.1Hzで|1+Hs|−20%)
23.1Hzで89.2dB(23.1Hzで|1+Hs|−20%に20dB加える)
100Hzで47.3dB(100Hzで|1+Hs|+20%)
9.6Hz〜23.1Hzの帯域幅 |1+H|は,69.2dBと89.2dBとの間になければならない。
第2章 ディスクの寸法,機械的及び物理的特性
10. 寸法特性(図6〜8参照) 寸法特性は,ディスクの互換性及び適合する上で必要なパラメータについ
て規定する。設計の自由度があるところは,機能特性の要素記述にとどめる。寸法要求事項は,この規格
に記載している図面にまとめて示す。ディスクの各部分について,中心孔から外周部までを記載している。
寸法は,二つの基準面P及びQを基準とする。
基準面Pは,主基準面とし,クランプゾーン(10.4参照)の下面が置かれる面とする。
基準面Qは,クランプゾーンの上面の高さで基準面Pと平行な面とする。
10.1 全体寸法(図6参照)
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120mmディスクの直径は,次による。
d1=120.00mm±0.30mm
80mmディスクの直径は,次による。
d1=80.00mm±0.30mm
基板又はダミー基板の中心孔の直径は,次による。
mm
mm
mm
d
15
.000
.0
2
00
.
15
+
=
2枚の基板を貼り合わせたとき,ディスクの中心孔の直径の最小値は,15.00mmとする(図8参照)。
中心孔の両方のエッジにバリがあってはならない。
中心孔のエッジは,丸めるか又は面取りしなければならない。丸みの半径は,0.1mm以下とする。面取
りは,0.1mm以上の高さを超えてはならない。
接着層及びレーベルを含むディスクの厚さは,次による。
mm
mm
mm
e
30
.006
.0
1
20
.1
+−
=
10.2 第1遷移領域(図6参照) 第1遷移領域は,直径d2及び次に示す直径d3で囲まれた領域とし,こ
の領域のディスク面は,基準面P及び/又は基準面Qから最大0.10mmの内側にあってもよい。
d3≧16.0mm
10.3 第2遷移領域(図6参照) 第2遷移領域は,直径d3及び次に示す直径d4で囲まれた領域とする。
d4≦22.0mm
この領域では,基準面P又はQの外側に最大0.05mmの平たんでない部分及びバリがあってもよい。
10.4 クランプゾーン(図6参照) このゾーンは,直径d4及び次に示す直径d5に囲まれた領域とする。
d5≧33.0mm
クランプゾーンの各面は,0.1mm以内で平たんでなければならない。クランプゾーンの上面,すなわち,
基準面Qの面は,下面,すなわち,基準面Pの面に0.1mm以内で平行でなければならない。
クランプゾーンの,ディスクの厚さ (e2) は,次による。
mm
mm
mm
e
20
.010
.0
2
20
.1
+−
=
10.5 第3遷移領域(図6参照) 第3遷移領域は,直径d5及び次に示す直径d6で囲まれた領域とする。
d6≦44.0mm
この領域では,ディスクの上面は,基準面Qから高さh1高くなってもよく,高さh2低くなってもよい。
ディスクの下面は,基準面Pから高さh3高くなってもよく,高さh4低くなってもよい。
高さh1,h2,h3及びh4の値は,次による。
h1≦0.25mm
h2≦0.10mm
h3≦0.10mm
h4≦0.25mm
10.6 R情報ゾーン(図6参照) R情報ゾーンは,28.で規定するようにパワー校正領域の始めからリー
ドインゾーンの始めまで広がっていなければならない。R情報ゾーンでのディスクの厚さは,10.1で規定
したe1に等しくなければならない。R情報ゾーンは記録用途だけに用いられる。
10.6.1 R情報ゾーンの分割 R情報ゾーンの主要部分は,次による。
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− パワー校正領域 (PCA)
− 記録管理領域 (RMA)
10.7 情報ゾーン(図6参照) 情報ゾーンは,リードインゾーンの始めから表1に示す直径d10まで広が
っていなければならない。情報ゾーンでのディスクの厚さは,10.1で規定したe1に等しくなければならな
い。
10.7.1 情報ゾーンの分割 情報ゾーンの主要部分は,次による。
− リードインゾーン
− データゾーン
− リードアウトゾーン
10.7.1.1 リードインゾーン(図6参照) リードインゾーンは,直径d6から次に示す直径d7までの間で
開始し,直径d8で終了する。直径d7の値は,次による。
d7≦45.2mm
10.7.1.2 データゾーン(図6参照) データゾーンは,直径d8から始まり直径d9で終了する。
直径d8の値は,次による。
mm
mm
mm
d
04.0
8
0.
48
−
=
120mmディスクのd9は,次による。
d9≦116.0mm
80mmディスクのd9は,次による。
d9≦76.0mm
10.7.1.3 リードアウトゾーン(図6参照) リードアウトゾーンは,直径d9で開始し,直径d10で終了す
る。d10の値は,表1に示すようにデータゾーンの長さに依存する。
表1 情報ゾーンの終了
データゾーンの外径d9
120mmディスクのd10の値
80mmディスクのd10の値
68.0mm以下
最小70.0mm
68.0mm〜115.0mm
データゾーン外径+最小2.0mm
115.0mm〜116.0mm
最小117.0mm
68.0mm以下
最小70.0mm
68.0mm〜75.0mm
データゾーン外径+最小2.0mm
75.0mm〜76.0mm
最小77.0mm
10.8 トラックの寸法 情報ゾーンでのトラックは,360°回転のスパイラルによって構成する。
データゾーン全体にわたる平均トラックピッチは,0.80μm±0.01μmとする。
トラックピッチの0.80μmからの最大変位は,±0.04μmとする。
10.9 チャネルビット長 情報ゾーンでは,CLVモードでデータを記録する。データゾーンの全体にわた
る平均チャネルビット長は,146.7nm±1.5nmとする。
10.10 リム領域(図7参照) リム領域は,直径d11〜直径d1の領域とする。
120mmディスクのd11は,次による。
d11≧118.0mm
80mmディスクのd11は,次による。
d11≧78.0mm
この領域では,ディスクの上面は,基準面Qから高さh5高くなってもよい。ディスクの下面は,基準面
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Pから高さh6低くなってもよい。
高さh5及びh6の値は,次による。
h5≦0.1mm
h6≦0.1mm
この領域の全体厚さは,1.50mm,すなわち,e1の最大値より大きくてはならない。
リムの厚さ (e3) は,次による。
e3≧0.60mm
ディスクの外周エッジは,丸み半径最大0.2mmで丸めるか又は次に示す高さh7,h8にわたり面取りしな
ければならない。
h7≦0.2mm
h8≦0.2mm
10.11 許容差についての注意 10.5で規定したhiで示すすべての高さは,相互に独立した値とする。例え
ば,第3遷移領域の上側の面がh2だけ基準面Qから下がっている場合,この領域の下側の面が必ずしも
h3だけ基準面Pから上がっていなくてもよいことを意味している。寸法が同じ数値“一般的には最大値”
であるところでは,これは,実際の値が同一でなければならないことを意味していない。
10.12 レーベル レーベルは,それに関連した情報をアクセスする入射面のある基板と反対側の基板に設
け,ディスクの外面又はディスクの内面の接合面かのいずれかに設ける。前者の場合,レーベルは,クラ
ンプゾーンにかかってはならない。後者の場合,レーベルは,クランプゾーンに及んでもよい。いずれの
場合でも,レーベルは,中心孔の縁及びディスクの外周エッジからはみ出してはならない。レーベルは,
ディスクの特性に影響を与えてはならない。両面ディスクは,どちらの読取り面にもレーベルを付けては
ならない。
11. 機械的パラメータ
11.1 質量 120mmディスクの質量は,13〜20gの範囲内とする。
80mmディスクの質量は,6〜9gの範囲内とする。
11.2 慣性モーメント 回転軸に関する120mmディスクの慣性モーメントは,最大0.040g・m2とする。
回転軸に関する80mmディスクの慣性モーメントは,最大0.010g・m2とする。
11.3 ダイナミックインバランス 回転軸に関する120mmディスクのダイナミックインバランスは,最大
0010g・mとする。
回転軸に関する80mmディスクのダイナミックインバランスは,最大0.004 5g・mとする。
11.4 回転方向 ディスクの回転方向は,光学的システムからみて反時計方向とする。
11.5 振れ量
11.5.1 軸方向の振れ量 軸方向のトラッキングのための基準サーボをもつPUH及び走査速度でのディス
クの回転で測定するとき,基準面に垂直の方向での公称位置からの記録層の偏差は,120mmディスクは
0.3mm以下とし,80mmディスクは0.2mm以下とする。軸方向トラッキングのためのサーボを用いて測定
した10kHz以下の残留トラッキングエラーは,0.23μm以下とする。測定用フィルタは,バタワースLPF,
fc (−3dB) : 10kHz,傾斜:−80dB/decadeとする。
11.5.2 半径方向の振れ量 ディスクの外周エッジの振れは,0.30mm (P-P) 以下とする。
トラックの半径方向の振れは,70μm (P-P) 以下とする。
半径方向のトラッキングのための基準サーボを用いて測定した1.1kHz以下の残留トラッキングエラー
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は,0.022μm以下とする。測定用フィルタは,バタワースLPF,fc (−3dB) : 1.1kHz,傾斜:−80dB/decade
とする。
半径方向トラッキング基準サーボを用いて20msの積分時間で測定した1.1kHz〜10kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は,0.016μm以下とする。測定用フィルタは,バタワースBPF,周波数
範囲 (−3dB) : 1.1kHz,傾斜:+80dB/decade〜周波数範囲 (−3dB) : 10kHz,傾斜:−80dB/decadeとする。
12. 光学的パラメータ
12.1 記録済みディスク及び未記録ディスクの特性
12.1.1 屈折率 透明基板の屈折率は,1.55±0.10とする。
12.1.2 透明基板の厚さ 透明基板の厚さは,屈折率の関数とし,図9に規定する。
12.1.3 角度偏差 角度偏差は,平行光の入射光と反射光との間の角度αである。入射光は,0.3mm〜3.0mm
の直径をもつものとする。角度偏差は,入射面によるゆがみ及び反射層の非平行を含む(図A.1参照)。そ
の値は,附属書Aによって測定したとき,次のとおりとする。
半径方向で:α=0.80°以内
接線方向で:α=0.30°以内
12.1.4 透明基板の複屈折 透明基板の複屈折は,附属書Bによって測定したとき,100nm以下とする。
12.2 記録済みディスクの反射率 附属書D及び附属書Kとによって測定したとき,記録層の反射率は,
次による。
− 45〜85%(PBSをもつPUH)
− 65〜85%(PBSをもたない円偏光のPUH)
12.3 未記録ディスクの特性
12.3.1 反射率変調の極性 反射率は,未記録領域で高く記録マーク領域で低く変化する。
12.3.2 記録パワーの感度変化 ディスクの全面にわたって最適記録パワーP0の変化は,P0±0.05P0とする。
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図6 ディスクの領域
図7 リム領域
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図8 組立ディスクのあな
図9 屈折率と基板の厚さ
13. 記録済みディスクの動作信号
13.1 測定条件
− ピックアップヘッド (PUH) は,9.1.1による。
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− 測定条件は,9.2.1及び9.2.2による。
− ジッタ測定のHF信号波形等化は,附属書Fによる。
− 軸方向のトラッキングの基準サーボは,9.4による。
− 半径方向のトラッキングの基準サーボは,9.5による。
13.2 読取り条件 読取りパワーはディスクの入射面に投射したパワーであり,1.0mW以下とする(中心
スポットで連続波)。
13.3 記録済みディスクの高周波信号 (HF) HF信号は,四分割フォトディテクタの電流の和である。こ
れらの電流は,記録層の情報を表す記録マークにおける光ビームの光量変化によって変調される。記録パ
ワー条件は,附属書Jによる。ジッタを除く測定は,波形等化前のHF信号によって行う。
13.3.1 変調振幅 変調振幅I14は,最大記録マーク及びスペースによって発生したP-P値とする(図10参
照)。
ピーク値I14Hは,高域フィルタ前のHF信号のピーク値とし,最短記録マーク及びランド長の値 (P-P) は,
I3とする。
0レベルは,ディスクを挿入しないときの測定装置から得る信号レベルとする。
これらのパラメータは,次による。
I14/I14H≧0.60
I3/I14≧0.15
[(I14Hmax−I14Hmin) /I14Hmax] の最大値は,表2による。
表2 [(I14Hmax−I14Hmin) /I14Hmax] の最大値
1枚のディスク内 1回転内
PBSをもつPUH
0.33以下
0.15以下
円偏光でPBSをもたないPUH
0.20以下
0.10以下
13.3.2 信号の非対称性 ディスクを最適記録パワーP0で記録したときの信号の非対称性は,次による(図
10参照)。
−0.05≦ [(I14H+I14L) /2− (I3H+I3L) /2] /I14H≦0.15
ここで,(I14H+I14L) /2は,I14の中心値とし,(I3H+I3L) /2は,I3の中心値とする。
13.3.3 クロストラック信号 クロストラック信号は,光ビームがトラックを交差するときのHF信号をカ
ットオフ30kHzの低域フィルタで帯域制限したものである(図11参照)。低域フィルタは,1次フィルタ
である。クロストラック信号は,次による。
IT=IH−IL
IT/IH≧0.10
ここで,IHは,この信号のピーク値とし,ITは,P-P値とする。
13.4 信号の品質
13.4.1 ジッタ ジッタは,波形等化器を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。立上りエ
ッジと立下りエッジのジッタをPLLクロックで測定し,チャネルビットクロック周期によって正規化する。
ジッタσは,附属書Fによって測定するとき,9.0%以下とする。
13.4.2 ランダムエラー PIエラーの数は,少なくとも1バイトのエラーをもつ,ECCブロック(18.参照)
の行の数である。どの8連続ECCブロックにおいても,エラー訂正前のPIエラーの総数は,280以下と
する。
13.4.3 欠陥 欠陥は,気泡及び黒点である。欠陥の直径は,次の条件を満たすものとする。
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− 気泡については,最大100μmとする。
− 黒点については,最大200μmとする。
− 複屈折を発生させない黒点については,最大300μmとする。
さらに,欠陥はトラックの走査方向の80mmの距離内で,次の条件を満たすものとする。
− 30μmより大きい欠陥長の総和の最大値は,300μmとする。
− 欠陥の数は,最大6個とする。
13.5 サーボ信号 図12に示す四分割ディテクタの出力電流は,Ia,Ib,Ic及びIdとする。
13.5.1 位相差トラッキングエラー信号 位相差トラッキングエラー信号は,光ビームがトラックを交差す
るとき,ディテクタの対角の対間の位相差:位相 (Ia+Ic) −位相 (Ib+Id) から導く(図12参照)。位相差
トラッキングエラー信号は,30kHzのカットオフの低減フィルタをかける(附属書C参照)。この信号は,
次の要求事項を満たすものとする(図13参照)。
振幅 正のゼロ交差において,半径方向オフセット0.10μmがあるとき,
1.1
5.0
/
〜
=
∆T
t
。ここでt
∆はデ
ィテクタの対角の対間の位相差から導く平均時間差とし,Tはチャネルビットクロック周期とする。
非対称性 非対称性は,次による(図13参照)。
2.0
2
1
2
1
≦
T
T
T
T
+
−
ここで,
− T1は,
T
t/
∆
の正のピーク値。
− T2は,
T
t/
∆
の負のピーク値。
13.5.2 接線方向のプッシュプル信号 この信号は,差動出力 (Ia+Id) − (Ib+Ic) の瞬時レベルから導く。
この信号は,次による(図14参照)。
(
)(
)
[
]
9.0
0
14
≦
≦
I
I
I
I
I
pp
c
b
d
a
+
−
+
図10 変調振幅
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図11 クロストラック信号
図12 四分割ディテクタ
図13 位相差トラッキングエラー信号
図14 接続方向のプッシュプル信号
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14. 未記録ディスクの動作信号
14.1 測定条件
− 未記録ディスクの特性測定及びディスクの測定に必要な記録を行う記録機のピックアップヘッド
(PUH) は,9.1.2による。
− 測定条件は,9.2.1及び9.2.3による。
− 軸方向のトラッキングの基準サーボは,9.4による。
− 半径方向のトラッキングの基準サーボは,9.5による。
14.2 記録条件
− 記録位置
:グルーブ
− 最適記録パワー (P0)
:附属書JによるOPCによって決める。
− 最適記録パワー範囲
:6.0≦P0≦12.0mW
− バイアスパワー (Pb)
:Pb≦0.7mW
− 記録パワー誤差
:P0±0.25mW
14.3 ディスクテスト用基本記録ストラテジ ディスクの測定に必要な9.1.2に規定した記録機のピックア
ップヘッドを用いて記録する際のレーザパワーは,基本記録ストラテジに従って変調する(図15参照)。
Tを1チャネルビットクロック周期の長さを表すものとするとき,4T〜11T及び14Tの長さの各記録パル
スは,先頭パルスとマルチパルス列との二つの部分から成る。3Tの長さの記録パルスは,先頭パルスだけ
を用いる。先頭パルスは,記録データの立上りエッジから幅を狭め,記録データの立上りエッジから3T
のところで終了することによって作る。先頭パルスの幅 (Ttop) は,次に示すように記録データの長さ
(Twd) によって選ぶ。マルチパルス列は,記録データの立上りエッジから3Tの時間のところで始まり記録
データの立下りのところで終わる。マルチパルス列の幅 (Tmp) は,記録データの長さには依存しない。各
パルス幅の推奨値は,次による。
Twdが3TのときTtop=1.25Tとなる。
Twdが4T以上のときTtop=1.20Tとなる。
Tmp=0.65T
記録ストラテジ変形の推奨方法については,附属書P参照。
図15 基本記録ストラテジ
14.4 サーボ信号 図16に示す四分割ディテクタの出力電流は,Ia,Ib,Ic及びIdとする。
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14.4.1 半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号 半径方向のプッシュプルトラッキングエラー信
号は,光ビームがトラックを横切るときのディテクタの差分出力から導き,[(Ia+Ib) − (Ic+Id)] とする。
半径方向のプッシュプルトラッキングエラー信号は,9.1.2に規定する記録機のピックアップヘッド (PUH)
でカットオフ30kHzの低域フィルタをかけて測定する。
図17に示す半径方向プッシュプル振幅は,次による。
| (Ia+Ib) − (Ic+Id) |AC/| (Ia+Ib+Ic+Id) |DC
記録前の半径方向プッシュプル振幅をPPb,記録後をPPa,その比をPPr (=PPb/PPa) とする。
これらのパラメータは,次による。
− PPbの信号振幅
:0.18<PPb<0.36
− プッシュプル比
:0.5<PPr<1.0
− PPb信号の変化幅
:⊿PPb<15%
ここに, ⊿PPb= [(PPb) max − (PPb) min] / [(PPb) max+ (PPb) min]
− ⊿PPbは,半径22mm〜120mmディスクで58.5mm,80mmディスクで38.5mmまでのすべてのディス
ク面にわたって測定する。
14.4.2 記録前のクロストラック信号(半径方向コントラスト=RC) 記録済みディスクのクロストラッ
ク信号は,13.3.3による。図18に示す,記録前のクロストラック信号(半径方向コントラスト=RC)は,
サーボ回路のために定義し,次による。
RC=2× (Ihb−Ilb) / (Ihb+Ilb) >0.05
ここで,Ihbは記録前のクロストラック信号のピーク値,Ilbはボトム値とする。
図16 四分割ディテクタ
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図17 半径方向プッシュプルトラッキングエラー信号
図18 記録前のクロストラック信号(半径方向コントラスト)
14.4.3 欠陥 特性は,13.4.3と同じとする。
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14.5 アドレス信号 図16に示す四分割ディテクタの出力電流は,Ia,Ib,Ic及びIdとする。
14.5.1 ランドプリピット信号 ランドプリピット信号は,光ビームがトラックを追従するときのディテク
タの差分出力の瞬時値から導き,[(Ia+Ib) − (Ic+Id)] とする。この差信号は,9.1.2に規定する記録機のピ
ックアップヘッド (PUH) によって測定する。ランドプリピット信号振幅は,次による。
− | (Ia+Ib) − (Ic+Id) |0-p/| (Ia+Ib+Ic+Id) |DC
− | (Ia+Ib) − (Ic+Id) |0-pは,信号の最大と最小との場所の平均を測定する(図19及び附属書Q参照)。
記録前のランドプリピット信号振幅をLPPb,記録後をLPPaとすると,これらのパラメータは,次によ
る。
− LPPb信号振幅
:LPPb=0.18±0.04
− LPPa信号振幅
:LPPa>0.14
− LPPbのブロックエラー比
:BER<3%
− LPPaのブロックエラー比
:BER<5%
図19 ランドプリピット信号
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14.5.2 グルーブウォブル信号 グルーブウォブル信号は,光ビームがトラックを追従するときのディテク
タの差分出力から導き,[(Ia+Ib) − (Ic+Id)] とする。グルーブウォブル信号は,9.1.2に規定する記録機の
PUHによって測定する。
グルーブウォブル信号振幅は,次による。
− [(Ia+Ib) − (Ic+Id)] PP
記録前のグルーブウォブル信号振幅をWOb,記録後をWOaとすると,これらのパラメータは,次によ
る。
− グルーブウォブルのロック周波数は,同期フレーム周波数の8倍とする。
− WObのCNR:>35dB (RBW=1kHz)
− WOaのCNR:>31dB (RBW=1kHz)
WOb及びWOaのCNRは,平均値を測定する。
正規化ウォブル信号 (NWO) は,ウォブル振幅をnmで得るように規定する。NWO=WOb/RPSで,値
は次による。
0.08<NWO<0.12
ここでRPSは,光ビームがトラックを横切るときの記録前の半径方向プッシュプル信号 [(Ia+Ib) − (Ic
+Id)] のP-P値で,カットオフ30kHzの低域フィルタをかけた値である(附属書R参照)。
14.5.3 ウォブルとランドプリピットとの位相関係 グルーブウォブル信号及びランドプリピット信号は,
差分出力電流から導き [(Ia+Ib) − (Ic+Id)] とする。四分割ディテクタの要素 (Ia, Ib) がディスクの外側に
位置し,グルーブウォブルがサイン波とみなされるとき,グルーブウォブルとランドプリピットとの位相
関係 (PWP) は,次による(図20参照)。
図20 ウォブルとランドプリピットの位相関係
第4章 データフォーマット
15. 概要 主データと呼ぶホストから受け取ったデータは,ディスクに記録する前に,次の順に変換し,
フォーマットを行う。
− データフレーム
− スクランブルドフレーム
− ECCブロック
− 記録フレーム
− 物理セクタ
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これらのステップは,16.で規定する。
16. データフレーム(図21) データフレームは,図21に示すとおりに,各行172バイトを含む12行の
配列に配置した2 064バイトによって構成する。最初の行は,4バイトから成る識別子 (ID),2バイトから
成るID誤り検出符号 (IED),6バイトから成る著作権管理情報 (CPR̲MAI) の三つのフィールド及び160
バイトの主データによって構成する。次の10行は,各172バイトの主データから成り,最後の行は,168
バイトの主データ及び4バイトの誤り検出符号 (EDC) によって構成する。2 048バイトの主データは,D0
〜D2 047とする
図21 データフレーム
16.1 識別子 (ID) このフィールドは4バイトで構成し,そのビットは最下位ビット (lsb) をb0とし,
最上位ビット (msb) をb31とする連続した番号付けをする(図22参照)。
b31
b24b23
b0
セクタ情報
セクタ番号
図22 識別子 (ID)
b31
b30
b29
b28
b27及びb26
b25
b24
セクタ
フォーマットタイプ
トラッキング
方法
反射率
予備
ゾーンタイプ データタイプ レイヤ番号
図23 識別子 (ID) のセクタ情報
ビットb0〜b23の最下位3バイトは,セクタ番号を2進表示で表す。16セクタのECCブロックの最初の
セクタ番号は,16の倍数とする。
セクタ情報である図23に示した最上位バイトのビットは,次による。
a) セクタフォーマットタイプ ビットb31
再生専用ディスクとレコーダブルディスク用CLVフ
ォーマットを示す0に設定する。
b) トラッキング方式
ビットb30
ビットトラッキングを示す0に設定する。
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c) 反射率
ビットb29
PBSを用いたPUHで反射率が40%を超えるとき,0
に設定する。
PBSを用いたPUHで反射率が40%以下のとき,1に
設定する。
d) 予備
ビットb28
0に設定する。
e) ゾーンタイプ
ビットb26及びb27 次の値に設定する。
データゾーン 00
リードインゾーン 01
リードアウトゾーン 10
f)
データタイプ
ビットb25
次の値に設定する。
再生専用データを示すとき 0
リンキングデータを示すとき 1
g) レイヤ番号
ビットb24
0に設定し,入射面から一つの記録層だけがアクセ
スできることを示す。
この規格では,その他の値を設定してはならない。
16.2 ID誤り検出符号 (IED) 図21に示す配列のすべてのバイトをCi, j (i=0〜11, j=0〜171) とすると
き,IEDのバイトは,C0, j (j=4〜5) で表す。これらの設定は,次による。
()
()
()
x
G
x
x
I
x
C
x
IED
E
j
j
j
mod
2
5
4
5
,0
=
=∑
=
−
ここに,
()∑
=
−
=
3
0
3
,0
j
j
jx
C
x
I
()
(
)
∏
=
+
=
1
0
k
k
E
x
x
G
α
αは,原始多項式P (x) =x8+x4+x3+x2+1の原始根とする。
16.3 著作権管理情報 (CPR̲MAI) このフィールドは,6バイトで構成する。これらの内容は,アプリ
ケーション(例えば,ビデオアプリケーション)に依存する。アプリケーションによって規定しない場合,
デフォルトの設定とし,すべてのバイトを0に設定する。
16.4 誤り検出符号 (EDC) この4バイトのフィールドには,先行するデータフレームの2 060バイトに
わたって計算した誤り検出符号を入れる。データフレームを,IDフィールドの最初のバイトの最上位ビッ
トで始まり,EDCフィールドの最下位ビットで終了する単一のビットフィールドとしたとき,この最上位
ビットを,b16 511とし,最下位ビットを,b0とし,EDCの各ビットbiは,i=31〜0に対し次による。
()
()
()
x
G
x
I
x
b
x
EDC
i
i
i
mod
0
31
=
=∑
=
ここに,
()∑
=
=
32
16511
i
i
ix
b
x
I
G (x)=x32+x31+x4+1
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17. スクランブルドフレーム 2 048主データバイトは,図24に示すシフトレジスタのビットr7 (msb) 〜
r0 (lsb) のビットが,各8ビットシフトごとに,スクランブルをかけるバイトを表すフィードバックビット
シフトレジスタ回路によって,スクランブルする。データフレームのスクランブル処理を始めるとき,シ
フトレジスタのビットr14〜r0は,表3の値にプリセットする。同じプリセット値は,16個の連続したデー
タフレームに使用される。16グループの16データフレームの後に,手順は最初から繰り返される。初期
のプリセット番号は,データフレームのIDフィールドのシフトレジスタのビットb7 (msb) 〜b4 (lsb) のビ
ットによって表す値と等しい。表3は,16初期プリセット番号に相当するシフトレジスタの初期プリセッ
ト値を表す。
表3 シフトレジスタの初期値
初期プリセット番号 初期プリセット値 初期プリセット番号 初期プリセット値
(0)
(0001)
(8)
(0010)
(1)
(5500)
(9)
(5000)
(2)
(0002)
(A)
(0020)
(3)
(2A00)
(B)
(2001)
(4)
(0004)
(C)
(0040)
(5)
(5400)
(D)
(4002)
(6)
(0008)
(E)
(0080)
(7)
(2800)
(F)
(0005)
図24 フィールドバックシフトレジスタ
シフトレジスタのビットr7〜r0の初期値の部分は,スクランブルをかけるバイトS0として取り出す。そ
の後,8ビットシフトが2 047回繰り返され,レジスタr7〜r0によって,スクランブルをかける2 047バイ
トをS1〜S2 047として取り出さなければならない。データフレームの主データバイト(Dkは,次によってス
クランブルバイトD´kとなる。
k
k
k
S
D
D
⊕
=
′
k=0〜2 047
ここで,
⊕は,EXCLUSIVE ORを表す。
18. ECCブロック ECCブロックは,16連続スクランブルドフレームを,図25に示すように,各行172
バイトを192行に配列する。各172列に外符号パリティ16バイトを加え,その結果208行になった各行に
内符号パリティ10バイトを加える。完全なECCブロックは,各行182バイトの208行によって構成する。
この配列のバイトは,iが行数でjが列数であるBi, jとし,次による。
i=0〜191及びj=0〜171に対するBi, jは,スクランブルドフレームからのバイト。
i=192〜207及びj=0〜171に対するBi, jは,外符号パリティのバイト。
i=0〜207及びj=172〜181に対するBi, jは,内符号パリティのバイト。
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図25 ECCブロック
PO及びPIバイトは,次の式によって算出する。
列j=0〜171の各々で16POバイトは,剰余多項式Rj (x) で定義され,外符号RS (208, 192, 17) を形成す
る。
()
()
()x
G
x
I
x
B
x
R
PO
j
i
i
j
i
j
mod
16
207
192
207
,
=
=∑
=
−
ここに,
()∑
=
−
=
191
0
191
,
i
i
j
i
j
x
B
x
I
()
(
)
∏
=
+
=
15
0
k
k
PO
x
x
G
α
行i=0〜207の各々10PIバイトは,剰余多項式Rj (x) で定義され,内符号RS (182, 172, 11) を形成する
()
()
()x
G
x
x
I
x
B
x
R
PI
i
j
j
j
i
i
mod
10
181
172
181
,
=
=∑
=
−
ここに,
()∑
=
−
=
171
0
171
,
j
j
j
i
i
x
B
x
I
()
(
)
∏
=
+
=
9
0
k
k
PI
x
x
G
α
αは,原始多項式P (x) =x8+x4+x3+x2+1の原始根とする。
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19. 記録フレーム 16の記録フレームは,図26に示すように,ECCブロックの各12行ごとの後に,16PO
行の一つをインタリーブすることによって算出する。これは,ECCブロックのバイトBi, jを次の式に対す
るBm, nとして再配置することによって算出する。
m=i+int [i/12] 及びn=j i≦191
m=13 (i−191) −1及びn=j i≧192
ここに, int [x] は,x以下の最大の整数とする
ECCブロックの37 856のバイトは,各セクタ2 366バイトの16記録フレームに再配置される。各記録
フレームは,各行182バイト13行の配列を構成する。
図26 ECCブロックから得た記録フレーム
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20. 変調 各記録フレームの8ビットバイトは,二つの “1” の間に最小2個の “0” 及び最大10個の “0”
がなければならないRLL (2, 10) というラン長の制限をもつ16ビット符号語に変換する。附属書Gは,適
用する変換テーブルを規定する。主変換テーブル及び代替テーブルは,各8ビットバイトに対して4状態
の一つと16ビット符号語とを規定する。各8ビットバイトに対して,テーブルは,相当する符号語だけで
なくエンコードする次の8ビットバイトの状態を示す。
16ビット符号語は,図27に示すようにディスクに記録する前に,チャネルビットにNRZI変換する。
図27 NRZI変換
21. 物理セクタ 物理セクタの構造は,図28に示すように,各行が二つの同期フレーム13行で構成する。
一つの同期フレームは表4の同期符号の一つと1 456チャネルビットとで構成し,1 456チャネルビットは
記録フレームの一つの行のそれぞれの第1及び第2の91の8ビットバイトを表す。物理セクタの第1行は
記録フレームの第1行を表し,物理セクタの第2行は記録フレームの第2行を表し,以下同様とする。
記録は,第1行の第1同期フレームで開始して,第2同期フレームに続き,以下各行ごとに同様とする。
図28 物理セクタ
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表4 同期符号
状態1及び状態2
主同期符号
副同期符号
(msb)
(lsb) (msb)
(lsb)
SY0=0001001001000100 0000000000010001 / 0001001000000100 0000000000010001
SY1=0000010000000100 0000000000010001 / 0000010001000100 0000000000010001
SY2=0001000000000100 0000000000010001 / 0001000001000100 0000000000010001
SY3=0000100000000100 0000000000010001 / 0000100001000100 0000000000010001
SY4=0010000000000100 0000000000010001 / 0010000001000100 0000000000010001
SY5=0010001001000100 0000000000010001 / 0010001000000100 0000000000010001
SY6=0010010010000100 0000000000010001 / 0010000010000100 0000000000010001
SY7=0010010001000100 0000000000010001 / 0010010000000100 0000000000010001
状態3及び状態4
主同期符号
副同期符号
(msb)
(lsb) (msb)
(lsb)
SY0=1001001000000100 0000000000010001 / 1001001001000100 0000000000010001
SY1=1000010001000100 0000000000010001 / 1000010000000100 0000000000010001
SY2=1001000001000100 0000000000010001 / 1001000000000100 0000000000010001
SY3=1000001001000100 0000000000010001 / 1000001000000100 0000000000010001
SY4=1000100001000100 0000000000010001 / 1000100000000100 0000000000010001
SY5=1000100100000100 0000000000010001 / 1000000100000100 0000000000010001
SY6=1001000010000100 0000000000010001 / 1000000001000100 0000000000010001
SY7=1000100010000100 0000000000010001 / 1000000010000100 0000000000010001
22. 直流成分抑圧制御 半径方向のトラッキング及びHF信号の検出を確実にするために,チャネルビッ
トパターンのストリームの低周波成分は,できる限り低く保つことが望ましい。これを達成するために,
ディジタル総計値(DSV, 4.4参照)は,できるだけ低く保つようにする。変調の始めのDSVは,0に設定
する。
DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を,次に示す。
a) 主同期信号と副同期信号との間の同期符号を選択する。
b) 0〜87の範囲の8ビットバイトに対して,代替テーブルは,すべての状態に対して代わるべき16ビッ
ト符号語を提示する。
c) 88〜255の範囲の8ビットバイトに対して,指定した状態が1又は4のとき,RLLの要求事項を満た
すならば,16ビット符号を状態1又は状態4から選択することができる。
これらの可能性を活用するため,ストリーム1及びストリーム2の二つのデータストリームを各同期フ
レームに対して生成し,ストリーム1は主同期符号で,ストリーム2は同期符号の同じ分類の副同期符号
で,各々開始する。両ストリームは,個別に変調するので,主同期符号と副同期符号とのビットパターン
間の差異によって異なったDSVを生成する。
b)及びc)の場合,一つの8ビットバイトを表すのに二つの可能性がある。各ストリームのDSVは,この
選択を行う8ビットバイトの手前から一つ前の8ビットバイトまで計算する。最も低い|DSV|のストリーム
を選択し,もう一つのストリームに複製する。それから次の8ビットバイトの符号語表現の一つがストリ
ーム1に入り,他の一つは,ストリーム2に入る。この動作は,b)又はc)の発生の都度繰り返す。
b)の場合は,両ストリームでの同じパターン位置で常に起こるが,c)の場合は,例えば,前の8ビット
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バイトで規定した次の状態が1又は4の代わりに2又は3になり得るために,ストリームの一つで起こる
が他の一つでは起こらない可能性がある。その場合,次の三つの手順を適用する。
1) 両ストリームの|DSV|を比較する
2) c)の場合が起こるストリームの|DSV|がもう一つのストリームのものより小さければ,そのときc)の場
合が起こったストリームを選択し,他のストリームに複製する。次の8ビットバイトの符号語表現の
一つがこのストリームに入り,もう一方は,もう一方のストリームに入る。
3) c)の場合が起こったストリームの|DSV|が他のストリームのものより大きければ,そのときc)の場合は
無視し,その8ビットバイトは,規定された状態に従って決められる。
b)及びc)の場合,|DSV|が等しければ,ストリーム1又はストリーム2の選択の決定は,実用化のときに
決めればよい。
a)の場合の手順は,次による。
同期フレームの終わりで,b)又はc)の生起にかかわらず全体の同期フレームのDSVは計算され,最も低
い|DSV|をもつストリームが選択される。このDSVが+63より大きいか又は−64より小さければ,そのと
き同期フレームの始めの同期符号は,主同期信号から副同期信号に変えるか又はその逆にするかである。
これがより小さい|DSV|を生じるなら,その変更は決定され,|DSV|がより小さくなければ,元の同期符号
が保持される。DSVの計算中,DSVの実際値は,−1 000と+1 000との間を変動する可能性があり,DSV
のカウント範囲は,少なくとも−1 024〜+1 023を推奨する。
23. リンキング方式 リンキング方式は,インクリメンタル記録モードでデータを追加するときに規定さ
れる方式とする。
23.1 リンキングセクタ リンキングは,図29に示すように新しく記録する最初のECCブロックの第1
の物理セクタの第2同期フレームの82番目〜87番目の間のバイトで行う。このセクタをリンキングセク
タという。
リンキングを用いるインクリメンタル記録は,リンキングセクタの第2同期フレームの86番目のバイト
で終了し,リンキングセクタの第2同期フレームの82番目〜87番目のバイトで開始する。
リンキングセクタのデータタイプ(16.1参照)は,0にする。
23.2 リンキングロス領域 データの信頼性がリンキングの影響のために落ちるのを防ぐために,リンキ
ングロス領域を設定する。リンキングロス領域の大きさは,2キロバイトか又は32キロバイトとする。リ
ンキング領域を2キロバイトか又は32キロバイトのいずれかを選択することによって,より大きなデータ
容量か又は,より高い信頼性を得ることができる。
32キロバイトのリンキングロス領域は,リンキングセクタを含むECCブロック全体と前のECCブロッ
クのパディングセクタとを含む。32キロバイトのリンキングロス領域の中でリンキングセクタの後の14
セクタのデータタイプは,1とする(図30参照)。
2キロバイトリンキングロス領域は,前のECCブロックのパディングセクタ及びリンキングセクタだけ
を含む(図31参照)。リンキングロス領域のすべてのメインデータは,(00) とする。
23.2.1 パディングセクタ インクリメンタル記録の最後のECCブロック全体の中で,ユーザデータをも
つ最後のセクタの後のすべてのセクタは,パディングセクタであり,リンキングロス領域に含まれる。こ
れらのセクタのメインデータバイトは,(00) とする。各パディングセクタ及びユーザデータをもつ最後の
セクタのデータタイプは,1とする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図29 リンキングの構造
図30 リンキングロス領域2キロバイトをもつECCブロックの構造
34
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図31 リンキングロス32キロバイトをもつECCブロックの構造
第5章 情報ゾーンのフォーマット
24. 情報ゾーンの概要 情報ゾーンは,リードインゾーン,データゾーン及びリードアウトゾーンの三つ
の部分に分割する。データゾーンは,主データを記録するのが目的である。リードインゾーンは,制御情
報を含んでいる。リードアウトゾーンは,連続的に円滑な読取りを行うためにある。
24.1 情報ゾーンのレイアウト 情報ゾーンは,表5に示すように,細分する。指示した半径の値は,一
つのゾーンについての第1物理セクタの第1トラックの半径の公称値であり,一つのゾーンの最終物理セ
クタの最終トラックの半径の公称値である。
表5 情報ゾーンのレイアウト
公称半径 (mm)
最初の物理セクタ
のセクタ番号
物理セクタ
の番号
リードインゾーン
−イニシアルゾーン
22.6max〜24.0
−リファレンスコードゾーン
(02F000)
32
−バッファゾーン1
(02F020)
480
−コントロールデータゾーン
(02F200)
3 072
−バッファゾーン2
(02FE00)
512
データゾーン
24.0〜r1
(030000)
120mmディスクの
リードアウトゾーン
r1〜35.0min
(r1<34.0
のとき)
r1〜r1+1.0
(34.0≦r1≦57.5
のとき)
r1〜58.5
(57.5<r1<58.0
のとき)
80mmディスクの
リードアウトゾーン
r1〜35.0min
(r1<34.0
のとき)
r1〜r1+1.0
(34.0≦r1≦37.5
のとき)
r1〜38.5
(37.5<r1<38.0
のとき)
24.2 物理セクタの番号付け データゾーンの第1の物理セクタは,セクタ番号 (030000) とする。
物理セクタの間は,すき間をおかない。リードインゾーンの始めからリードアウトゾーンの最後まで連
続して配置する。
物理セクタ番号は,リードインゾーンの始めからリードアウトゾーンの最後まで連続して増加する(図
32参照)。
図32 物理セクタの配置と番号付け
25. リードインゾーン及びリードアウトゾーン
35
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25.1 リードインゾーン リードインゾーンは,情報ゾーンの最内周のゾーンとし,図33に示すように,
次の部分で構成する。
各部分の先頭の物理セクタ番号は,16進数及び10進数で図33に示す。
− イニシアルゾーン
− リファレンスコードゾーン
− バッファゾーン1
− コントロールデータゾーン
− バッファゾーン2
インクリメンタル記録の場合,リードインゾーンは最終ECCブロック(リンキングロス領域)以外はリ
ンキング構造を使うことなく連続的に記録される。
セクタ№192511
イニシアルゾーン
すべての物理セクタの中で
主データは(00)に設定される
セクタ№(02EFFF)
セクタ№192512
リファレンスコードゾーン
32物理セクタ
セクタ№(02F000)
セクタ№192544
バッファゾーン1
(00)に設定された主データをもつ
480物理セクタ
セクタ№(02F020)
セクタ№193024
コントロールデータゾーン
3072物理セクタ
セクタ№(02F200)
セクタ№196096
バッファゾーン2
(00)に設定された主データをもつ
512物理セクタ
セクタ№(02FE00)
セクタ№196608
データゾーン
セクタ№(030000)
図33 リードインゾーン
25.1.1 イニシアルゾーン イニシアルゾーンにおける物理セクタとして最終的に記録されたデータフレ
ームの主データは,(00) にする。この規格では,イニシアルゾーンの物理セクタの数を規定しないが,デ
ータゾーンの最初の物理セクタのセクタ番号は十分大きく設定されていて,セクタNo.0がイニシアルゾー
ンで起こることはない。
25.1.2 リファレンスコードゾーン リファレンスコードゾーンは,ディスク上に特定チャネルビットパタ
ーンを生成する二つのECCブロックからなる32物理セクタで構成する。これは,各対応するデータフレ
ームのすべての2048主データバイトを (AC) に設定することによって達成する。さらに,スクランブル
は,各ECCブロックの最初のデータフレームの最初の160主データバイト以外に,これらのデータフレー
ムに適用してはならない(附属書M参照)。
25.1.3 バッファゾーン1 このゾーンは,30ECCブロックからなる480の物理セクタで構成する。このゾ
ーンでの物理セクタとして最終的に記録したデータフレームの主データは,(00) に設定する。
25.1.4 バッファゾーン2 このゾーンは,30ECCブロックからなる512物理セクタで構成する。このゾー
ンでの物理セクタとして最終的に記録したデータフレームの主データは,(00) に設定する。
25.2 コントロールデータゾーン このゾーンは,192ECCブロックからなる3 072物理セクタで構成する。
各ECCブロックの16物理セクタの内容は,192回繰り返す。コントロールデータブロックの構造は,図
34に示すとおりとする。
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物理フォーマット情報
2 048バイト
ディスク製造情報
2 048バイト
(00) に設定
14×2048バイト
図34 コントロールデータブロックの構造
25.2.1 物理フォーマット情報 この情報は,表6に示す2 048バイトからなり,図35〜図39に示す。
表6 物理フォーマット情報
バイト番号
内容
バイト数
0
ディスクカテゴリ及びバージョン番号
1
1
ディスクサイズ及び最大転送レート
1
2
ディスク構造
1
3
記録密度
1
4〜15
データゾーン配置
12
16
BCA記述子
1
17〜31
(00) に設定
15
32〜39
ボーダゾーンの開始セクタ番号
8
40〜2 047 (00) に設定
2 008
バイト0−ディスクカテゴリ及びバージョン番号
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
ディスクカテゴリ
バージョン番号
図35 バイト0
ビットb0〜b3は,バージョン番号を指定する。
これらのビットは,この規格を示す0001に設定する。
ビットb4〜b7は,ディスクカテゴリを指定する。
これらのビットは,レコーダブルディスクを示す0010に設定する。
その他の値を設定してはならない。
バイト1−ディスクサイズ及び最大転送レート
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
ディスクのサイズ
最大転送レート
図36 バイト1
ビットb0〜b3は,最大転送レートを指定する。
0000に設定のとき,2.52Mbit/sの最大転送レートを指定する。
0001に設定のとき,5.04Mbit/sの最大転送レートを指定する。
0010に設定のとき,10.80Mbit/sの最大転送レートを指定する。
ビットb4〜b7は,ディスクのサイズを指定する。
0000に設定のとき,120mmのディスクを指定する。
0001に設定のとき,80mmのディスクを指定する。
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その他の値を設定してはならない。
バイト2−ディスク構造
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
予備
層の数
トラック経路
レイヤタイプ
図37 バイト2
ビットb0〜b3は,レイヤタイプを指定する。レコーダブルユーザデータゾーンを含むことを示す0010
に設定する。
ビットb4は,トラック経路を指定する。0に設定する。
ビットb5及びb6は,層の数を指定する。入射面から一つの層にだけアクセスできることを示す00に設
定する。
ビットb7は,予備で0に設定しなければならない。
その他の値を設定してはならない。
バイト3−記録密度
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
線密度
トラック密度
図38 バイト3
ビットb0〜b3は,平均トラックピッチを指定し,平均トラックピッチ0.80μmを示す0001に設定する。
ビットb4〜b7は,平均チャネルビット長を指定する。0.147μmを示す0001に設定する。
バイト4〜15−データゾーンの配値
バイト4は,(00) に設定する。
バイト5〜7は,データゾーンの最初の物理セクタのセクタ番号196 608を指定するために (030000) に
設定する。
バイト8は,(00) に設定する。
バイト9〜11は,ボーダゾーンの最終Rゾーンのアドレスを指定する。
バイト12は,(00) に設定する。
バイト13〜15は,(00) に設定する。
その他の値を設定してはならない。
バイト16−BCA記述子
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
BCAフラグ
予備
図39 バイト16
このバイトは,バーストカッティング領域がディスク上にあるかどうかを示す。
ビットb0〜b6は,0に設定する。
ビットb7のBCAフラグは,BCAが存在するかどうかを示し,BCAが存在しないことを示す0に設定す
る。
バイト17〜31
これらのバイトは,(00) に設定する。
バイト32〜39−ボーダゾーンの開始セクタ番号
バイト32〜35は,現在ボーダアウトの開始セクタ番号を指定する(附属書H参照)。
バイト36〜39は,次のボーダインの開始セクタ番号を指定する(附属書H参照)。
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リードインゾーンが,ボーダゾーンがないディスクアットワンスモードか又はインクリメンタル記録モ
ードで記録されるとき,これらのバイトは,(00) に設定する。
バイト40〜2 047
これらのバイトは,(00) に設定する。
25.2.2 ディスク製造情報 この規格は,ディスク製造情報の2 048バイトのフォーマット及び内容を規定
しない。互換性では,これらの情報を無視する。
25.3 リードアウトゾーン リードアウトゾーンでの物理セクタとして最終的に記録するデータフレーム
の主データは,(00) に設定する。この規格は,リードアウトゾーンでの物理セクタの数を規定しない。
第6章 未記録ゾーンのフォーマット
26. 一般 未記録ゾーンのトラックは,ディスクの内周から外周にかけて連続したスパイラルのプリグル
ーブで構成する。トラックは,記録機の機能を制御するため,規定した周波数でウォブルする。未記録デ
ィスクの詳細なアドレスは,グルーブ領域に隣接したランド上にピットで成形する。未記録ゾーンを,R
情報ゾーンと情報ゾーンとの二つの部分に分割する。
R情報ゾーンを,パワー校正領域と記録管理領域との二つの部分に分割する。
情報ゾーンは,再生専用ディスクと同じ構成をとり,リードインゾーン,データゾーン及びリードアウ
トゾーンの三つの部分に分割する。情報ゾーンの三つのゾーンの記録順は,規定の記録モードによる。
記録データは,ランドに成形したプリピット情報及びウォブルに従いプリグルーブに記録する。
記録前の正確な開始アドレスは,ランド上のプリピット情報を復調することによって決める。
26.1 未記録ゾーンのレイアウト 未記録ゾーンは,表7に示すように細分する。ゾーンの最初のECCブ
ロックアドレス(26.3参照)を,表7に示す。
表7 未記録ゾーンのレイアウト
ゾーンの最初のブロックの
ECCブロックアドレス
ブロック数
R情報ゾーン
−パワー校正領域
(002080)
443
−記録管理領域
(00223C)
701
リードインゾーン
データゾーン
(003000)
リードアウトゾーン
26.2 ECCブロックアドレス(27.3.2参照) ECCブロックアドレスは,トラックの絶対物理アドレスと
する。
各ゾーンの開始位置と終了位置とは,ECCブロックアドレスを用いて定義する。アドレスは,ディスク
の内周から外周にかけて増加する。アドレスを,プリピット情報としてランド上にピットを成形する。
26.3 ECCブロックのアドレス付け ECCブロックアドレスは,ディスクの内周から外周に向けて連続し
て増加する。ECCブロックアドレス(27.3.2参照)は,データ記録ゾーンの開始のブロックのECCブロッ
クアドレスを (003000) として計算する。データ記録ゾーンの最初のブロックは,リードインゾーンのす
ぐ後とする。
図40に示すパワー校正領域と記録管理領域とを,リードインゾーンの内側に配置する。
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図40 プリピットセクタレイアウトとECCブロックのアドレス付け
27. プリピットデータフォーマット
27.1 一般 プリピットデータは,ランド上の一連のプリピットとして成形する。プリピットのデータシ
ーケンスは,グルーブに記録する1ECCブロックと同じ物理的大きさの16個のセクタに相当する。
一組のプリピットは,2同期フレーム間隔で (b2, b1, b0) の3ビットとする。プリピット物理セクタの最
初の一組のプリピットは,プリピット同期符号である。最初の一組のビットの最初のビットを,フレーム
同期符号ビットと呼ぶ。3ビットの最初のビットは,グルーブ上に記録する16ビット符号語の同期符号の
規定の位置に置く。プリピットのビットの割当てを,表8に示す。
プリピット及び16ビット符号語の同期パターンの位置の配置を,図41と図42に示す。また,ウォブル
及びランドプリピットの位相を,14.5.3に規定する。
表8 ランドプリピットの割当て
b2
b1
b0
偶数位置のプリピット同期符号
1
1
1
奇数位置のプリピット同期符号
1
1
0
プリピットデータ1
1
0
1
プリピットデータ0
1
0
0
40
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図41 トラック構成
図42 グルーブとランドに記録された信号の関係
2同期フレーム間でのプリピットの位置は,偶数位置と奇数位置と呼ぶ二つの場合がある。通常プリピ
41
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ットは,偶数位置に記録する。マスタリングで隣のランドに既にプリピットがあるとき,プリピットの位
置を奇数位置にシフトする。そのような場合を図43に示す。
図43 ランドプリピット位置の配置
プリピット物理セクタは,プリピットブロックを構成する最小単位である。プリピットブロックは,16
個のプリピット物理セクタで構成する。
プリピットデータフレームは,27.3.1に規定する4ビットの相対アドレスと8ビットのユーザデータか
らなる。プリピットデータは,プリピットデータフレームのユーザデータ領域に記録する。プリピットデ
ータフレームを図44に示す。
プリピット物理セクタは,1ビットを3ビットに変換したプリピットデータフレームにプリピット同期
符号を付加したものである。プリピット物理セクタは,ランドプリピット記録でランド上に記録する(図
45と表8参照)。
相対アドレス
ユーザデータ
4ビット
8ビット
図44 プリピットデータフレームの構成
プリピット同期符号 変換した相対アドレス 変換したユーザアドレス
3ビット
12ビット
24ビット
図45 プリピット物理セクタの構成
27.2 プリピットブロック構成 プリピットデータブロックは,16個のプリピットデータフレームで構成
する。プリピットデータブロックは,パートA及びパートBの二つのパートからなる。
42
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パートAは,3バイトのECCブロックアドレス(27.3.2参照),3バイトのパリティA(27.3.3参照)及
び0000〜0101の相対アドレス(27.3.1参照)から構成する。したがって,パートAは,6個のプリピット
データフレームで構成する。
パートBは,1バイトのフィールドID,6バイトのディスク情報,3バイトのパリティB及び0110〜1111
の相対アドレスから構成する。その結果,パートBは,10個のプリピットデータフレームから構成する。
プリピット物理ブロックを,プリピットデータブロックの各1ビットを3ビットに変換したプリピット
同期符号を付加した16個のプリピット物理セクタによって構成する。
信号処理を図46に示す。
図46 プリピットブロックを構成する処理手順
プリピットブロック構成を図47に示す。
プリピット物理ブロック(表8によって記録時1ビットを3ビットに変換)
プリピットデータブロック
プリピット同期符号
相対アドレス
0000−0101
ECCブロックアドレス(3バイト)
パートA
パリティB(3バイト)
相対アドレス
0110−1111
フィールドID(6バイト)と
ディスク情報(1バイト)
パートB
パリティA(3バイト)
図47 プリピットブロック構成
プリピット物理ブロックを図48に図示する。
43
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ここで,
a) Gはグルーブを,Lはランドを,Eは偶数位置を,Oは奇数位置を意味する。
b) プリピット同期符号は,この図では偶数位置に示す。この図では相対アドレスのプリピットデータ1
は “101” で,プリピットデータ0は “100” で表す。ランドプリピットの割当ては,表8に規定する。
c) 最後の列は,プリピット物理ブロック内のプリピット物理セクタ番号とする。
d) 後ろから2列目は,プリピット物理ブロックのパートA及びパートBを示す。
図48 プリピット物理ブロックの構成
27.3 プリピットデータブロック構成 パートA及びBのデータを,プリピット情報と呼ぶ。パートAの
プリピット情報は,ECCブロックアドレスである。パートBのプリピット情報は,パートBのディスク
情報フィールド中に記録する。
パートBのディスク情報は,階層化されフィールドIDによって区別する。それゆえ,階層化したパー
トBを含む各プリピットデータブロックは,フィールドIDによって区別される。
プリピットデータブロックの階層及び配置を,表9に示す。
44
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表9 プリピットデータブロックの階層及び配置
フィールドID パートBのディスク情報の内容
場所
0
ECCブロックアドレス
すべてのゾーン
1
応用コード/物理データ
リードインゾーン
2
記録情報
リードインゾーン
3
製造業者ID (1)
リードインゾーン
4
製造業者ID (2)
リードインゾーン
5
製造業者ID (3)
リードインゾーン
プリピットデータブロックのフィールドID1〜ID5は,リードインゾーンでは図49のように記録する。
フィールドID
場所
ECCブロックアドレス
フィールドID1
リードインゾーンの開始
(024FA)
フィールドID2
フィールドID3
フィールドID4
フィールドID5
フィールドID1
フィールドID2
フィールドID3
フィールドID4
フィールドID5
フィールドID1
・
・
・
フィールドID4
フィールドID5
フィールドID0
(02FFE)
フィールドID0
リードインゾーンの終了
(02FFF)
図49 リードインゾーンのプリピットデータブロックの配置
27.3.1 相対アドレス プリピットデータフレームは,相対アドレスを含む。相対アドレスは,プリピット
データブロックの中の16個のプリピットデータフレームの位置を示す。相対アドレスは,4ビットで規定
される。
0000 1番目のプリピットデータフレーム
0001 2番目のプリピットデータフレーム
・
・
・
1111 最後のプリピットデータフレーム
相対アドレス番号は,グルーブに記録する物理セクタ番号の下位4ビットで表す10進数値と一致する。
相対アドレス番号は,エラー検出訂正符号をもたない。
27.3.2 ECCブロックアドレスデータ構成 ECCブロックアドレスは,グルーブに記録する物理セクタ番
号のb23〜b4で表す10進数値と一致する。データゾーンの開始のECCブロックアドレスは,図50に示す
ように (003000) とする。ECCブロックアドレスは,パリティをもつ。したがって,エラー訂正可能であ
る。
45
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図50 物理セクタ番号とECCブロックアドレスとの関係
27.3.3 パリティA及びパリティB 図47で,各バイトがマトリックスに配置されていてCj(jは0〜15)
とする。パリティの各バイトCj(jは3〜5及び13〜15)は,次による。
パリティA:
Parity ()∑
=
−
=
5
3
5
j
j
jX
C
X
A
= {I (X) ・X3} mod {GE (X)}
ここに,
()∑
=
−
=
2
0
2
j
j
jX
C
X
I
()
(
)
∏
=
+
=
2
0
k
k
E
X
X
G
α
αは,原始多項式GP (X) =X8+X4+X3+X2+1の根とする。
パリティB:
Parity ()∑
=
−
=
15
13
15
j
j
jX
C
X
B
= {I (X) ・X3} mod {GE (X)}
ここに,
()∑
=
−
=
12
6
2
j
j
jX
C
X
I
()
(
)
∏
=
+
=
2
0
k
k
E
X
X
G
α
αは,原始多項式GP (X) =X8+X4+X3+X2+1の根とする。
27.3.4 フィールドID0 フィールドIDが0のプリピットデータブロックを,図51に示す。
プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
0
プリピット
同期符号*
0000 ECCブロックアドレスの第1バイ
ト
パートA
1
0001 ECCブロックアドレスの第2バイ
ト
2
0010 ECCブロックアドレスの第3バイ
ト
3
0011 パリティAの第1バイト
4
0100 パリティAの第2バイト
5
0101 パリティAの第3バイト
6
0110 フィールドID(00)
パートB
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プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
7
0111 ECCブロックアドレスの第1バイ
ト
8
1000 ECCブロックアドレスの第2バイ
ト
9
1001 ECCブロックアドレスの第3バイ
ト
10
1010 予備
11
1011 予備
12
1100 予備
13
1101 パリティBの第1バイト
14
1110 パリティBの第2バイト
15
1111 パリティBの第3バイト
注*
プリピット同期符号を,プリピット物理ブロックを構成するためにプリピッ
トデータブロックに付加する。
図51 フィールドID0のプリピットデータブロック構成
27.3.5 フィールドID1 フィールドID1のプリピットデータブロックを,図52に示す。
プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
0
プリピット
同期符号*
0000 ECCブロックアドレスの第1バイト
パートA
1
0001 ECCブロックアドレスの第2バイト
2
0010 ECCブロックアドレスの第3バイト
3
0011 パリティAの第1バイト
4
0100 パリティAの第2バイト
5
0101 パリティAの第3バイト
6
0110 フィールドID (01)
パートB
7
0111 応用コード
8
1000 ディスク物理コード
9
1001 データゾーンの最終アドレスの第1バイ
ト
10
1010 データゾーンの最終アドレスの第2バイ
ト
11
1011 データゾーンの最終アドレスの第3バイ
ト
12
1100 予備
13
1101 パリティBの第1バイト
14
1110 パリティBの第2バイト
15
1111 パリティBの第3バイト
注*
プリピット同期符号を,プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデー
タブロックに付加する。
図52 フィールドID1のプリピットデータブロック構成
27.3.5.1 応用コード 応用コードは,次による。
第5ビット
:0に設定する
第6ビット 0のとき :限られた用途のディスク(ディスクは,次の目的のうち両方ではなくいずれ
か一つに使用する。)
第7ビット〜第12ビットが000000ならば :一般目的記録機だけに使用する一般用途のディスク
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第7ビット〜第12ビットが000000以外ならば :特別の記録機に使用する特別用途のディスク
第6ビット 1のとき :用途を限定しないディスク(ディスクは,次の目的の両方に使用してもよい。)
第7ビット〜第12ビットが000000ならば :一般用途の記録機での使用
第7ビット〜第12ビットが000000以外ならば :規定した特定用途に限定された民生用途記録機又は一般
用途の記録機での使用
27.3.5.2 ディスク物理コード 基本的なディスクの物理特性を,表10のディスク物理コードに示す。
表10 ディスク物理コード
ビット位置
内容
ビット設定及び意味
5 (msb)
トラックピッチ
0=0.8μm 1=0.74μm
6
基準速度
0=3.84m/s 1=3.49m/s
7
ディスク半径
0=120mm 1=80mm
8
反射率 (1)
0=45%〜85% 1=18%〜30%
9
反射率 (2)
予備
10
メディアタイプ (1) 0=有機色素 1=有機色素以外
11
メディアタイプ (2) 予備
12(lsb)
予備
予備
27.3.5.3 データゾーンの最終アドレス データゾーンのECCブロックの最終アドレスは,“データレコー
ダブルゾーンの最終アドレス”フィールドに16進数で示す。データゾーンの最終アドレスは,ディスクの
ECCブロックの最大アドレスを示すものではなく,データゾーンの最外限度を示す。プリピット物理ブロ
ックは,データゾーンの最大アドレスで示されるゾーンを超えて外側に広がらなければならない。
27.3.6 フィールドID2 フィールドID2のプリピットデータブロックの構成を,図53に示す。
プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
0
プリピット
同期符号*
0000 ECCブロックアドレス第1バイト
パートA
1
0001 ECCブロックアドレス第2バイト
2
0010 ECCブロックアドレス第3バイト
3
0011 パリティA第1バイト
4
0100 パリティA第2バイト
5
0101 パリティA第3バイト
6
0110 フィールドID (02)
パートB
7
0111 OPC推奨コード
8
1000 波長コード
9
1001 記録ストラテジコード第1バイト
10
1010 記録ストラテジコード第2バイト
11
1011 記録ストラテジコード第3バイト
12
1100 記録ストラテジコード第4バイト
13
1101 パリティB第1バイト
14
1110 パリティB第2バイト
15
1111 パリティB第3バイト
注*
プリピット同期符号を,プリピット物理ブロックを構成するためにプリピットデータブロッ
クに付加する。
図53 フィールドID2のプリピットデータブロック構成
27.3.6.1 OPC推奨コード OPC推奨コードフィールドにディスクの最適記録パワーを規定する。OPC推
奨コードを表11に示す。規定しないときは,このフィールドのすべてのバイトは,(00) に設定する。
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表11 OPC推奨コード
OPC推奨コード
記録パワー
(00)
規定しない
(01)
6.0mW
(02)
6.5mW
(03)
7.0mW
(04)
7.5mW
(05)
8.0mW
(06)
8.5mW
(07)
9.0mW
(08)
9.5mW
(09)
10.0mW
(0A)
10.5mW
(0B)
11.0mW
(0C)
11.5mW
(0D)
12.0mW
備考 その他の値を設定してはならない。
27.3.6.2 波長コード 波長コードフィールドは,表12に示す推奨記録パワーを決めるレーザの波長を規
定する。
OPC推奨コードが(00) ならば,このフィールドのすべてのバイトは,(00) に設定する。
表12 波長コード
波長コード 推奨記録パワーを決めるレーザの波長
(00)
規定しない
(01)
630nm
(02)
631nm
(03)
632nm
(04)
633nm
(05)
634nm
(06)
635nm
(07)
636nm
(08)
637nm
(09)
638nm
(0A)
639nm
(0B)
640nm
備考 その他の値を設定してはならない。
27.3.6.3 記録ストラテジコード 記録ストラテジコードフィールドは,ディスクの最適記録ストラテジを
示す。記録ストラテジコードフィールドは,表13に示す幾つかのフィールドによる。図53の記録ストラ
テジコードフィールドの最初のバイトを(00) に設定する場合は,他の記録ストラテジコードフィールドは
無効となり,これらのフィールド(記録ストラテジコードフィールドの第2バイトから記録ストラテジコ
ードフィールド第4バイトまで)のすべてのバイトは,(00) に設定する。表13及び表14でnTtopは,nT
のデータを記録するとき,記録パルスのトップパルスの長さである(nは3〜11及び14)(附属書P参照)。
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表13 記録ストラテジコードフィールド
記録ストラテジコードフィールド
プリピットデータフレーム番号
内容
9
3Ttop
4Ttop
10
5Ttop-11Ttop, 14Ttop
Tmp
11
3-3Tld
3-3Ttr
3-4Tld
3-4Ttr
12
4-3Tld
4-3Ttr
4-4Tld
4-4Ttr
記録ストラテジコードは,4ビットのnTtopコード,4ビットのTmpコード,2ビットのTldコード及び
2ビットのTtrコードからなる。記録ストラテジコードは,表14〜16による。
Tmpは,マルチパルスの幅を示す(附属書P参照)。
Tldは,立上りエッジのシフト量を示す(附属書P参照)。
Ttrは,立下りエッジのシフト量を示す(附属書P参照)。
表14 nTtopコード
コード 3Ttop
4Ttop
5Ttop〜11Ttop, 14Ttop
Tmp
0001
1.00T
1.00T
1.00T
0.30T
0010
1.05T
1.05T
1.05T
0.35T
0011
1.10T
1.10T
1.10T
0.40T
0100
1.15T
1.15T
1.15T
0.45T
0101
1.20T
1.20T
1.20T
0.50T
0110
1.25T
1.25T
1.25T
0.55T
0111
1.30T
1.30T
1.30T
0.60T
1000
1.35T
1.35T
1.35T
0.65T
1001
1.40T
1.40T
1.40T
0.70T
1010
1.45T
1.45T
1.45T
0.75T
1011
1.50T
1.50T
1.50T
0.80T
1100
1.55T
1.55T
1.55T
0.85T
1101
1.60T
1.60T
1.60T
0.90T
1110
1.65T
1.65T
1.65T
0.95T
1111
1.70T
1.70T
1.70T
1.00T
表15 Tldコード
コード
Tld
00
0.00T
01
0.05T
10
−0.05T
11
−0.10T
表16 Ttrコード
コード
Ttr
00
0.00T
01
0.05T
10
−0.05T
11
−0.10T
27.3.6.3.1 3Ttopフィールド,4Ttopフィールド,5Ttop〜11Ttopフィールド,14Ttopフィールド及びTmp
フィールド 各フィールドの値は,表14のコードからなる。
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27.3.6.3.2 3-3Tldフィールド,3-3Ttrフィールド,3-4Tldフィールド,3-4Ttrフィールド,4-3Tldフィー
ルド,4-3Ttrフィールド,4-4Tldフィールド及び4-4Ttrフィールド これらのフィールドは,記録データ
の長さとその前のスペースの長さとの組合せに従って,表15及び表16からTldコードとTtrコードとを設
定する(附属書P参照)。前のスペースの長さがmTで記録データの長さがnTのとき,Tldはm-nTld,Ttr
はm-nTtrと表す(mは3又は4。nは3又は4。)。
27.3.7 フィールドID3〜フィールドID5 フィールドID3〜フィールドID5のプリピットデータブロック
の構成を,図54,図55及び図56に示す。
製造業者IDは,製造業者名に相当する18バイトのコードからなる。この規格は,これら18バイトの
フォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視する。
プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
0
プリピット
同期符号*
0000 ECCブロックアドレス第1バイト
パートA
1
0001 ECCブロックアドレス第2バイト
2
0010 ECCブロックアドレス第3バイト
3
0011 パリティA第1バイト
4
0100 パリティA第2バイト
5
0101 パリティA第3バイト
6
0110 フィールドID (03)
パートB
7
0111 製造業者ID第1バイト
8
1000 製造業者ID第2バイト
9
1001 製造業者ID第3バイト
10
1010 製造業者ID第4バイト
11
1011 製造業者ID第5バイト
12
1100 製造業者ID第6バイト
13
1101 パリティB第1バイト
14
1110 パリティB第2バイト
15
1111 パリティB第3バイト
注*
プリピット同期符号を,プリピット物理ブロックを構成するためにプリピッ
トデータブロックに付加する。
図54 フィールドID3のプリピットデータブロック構成
プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
0
プリピット
同期符号*
0000 ECCブロックアドレス第1バイト
パートA
1
0001 ECCブロックアドレス第2バイト
2
0010 ECCブロックアドレス第3バイト
3
0011 パリティA第1バイト
4
0100 パリティA第2バイト
5
0101 パリティA第3バイト
6
0110 フィールドID (04)
パートB
7
0111 製造業者ID第7バイト
8
1000 製造業者ID第8バイト
9
1001 製造業者ID第9バイト
10
1010 製造業者ID第10バイト
11
1011 製造業者ID第11バイト
12
1100 製造業者ID第12バイト
13
1101 パリティB第1バイト
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プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
14
1110 パリティB第2バイト
15
1111 パリティB第3バイト
注*
プリピット同期符号を,プリピット物理ブロックを構成するためにプリピッ
トデータブロックに付加する。
図55 フィールドID4のプリピットデータブロック構成
プリピットデータ
フレーム番号
ビット位置
0
1〜4
5 (msb) 〜12 (lsb)
0
プリピット
同期符号*
0000 ECCブロックアドレス第1バイト
パートA
1
0001 ECCブロックアドレス第2バイト
2
0010 ECCブロックアドレス第3バイト
3
0011 パリティA第1バイト
4
0100 パリティA第2バイト
5
0101 パリティA第3バイト
6
0110 フィールドID (05)
パートB
7
0111 製造業者ID第13バイト
8
1000 製造業者ID第14バイト
9
1001 製造業者ID第15バイト
10
1010 製造業者ID第16バイト
11
1011 製造業者ID第17バイト
12
1100 製造業者ID第18バイト
13
1101 パリティB第1バイト
14
1110 パリティB第2バイト
15
1111 パリティB第3バイト
注*
プリピット同期符号を,プリピット物理ブロックを構成するためにプリピッ
トデータブロックに付加する。
図56 フィールドID5のプリピットデータブロック構成
28. R情報ゾーンのデータ構造
28.1 パワー校正領域及び記録管理領域の配置 図57に示すパワー校正領域及び記録管理領域を,リード
インゾーンの前に置く。
図57 R情報ゾーンのアドレス配置
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28.2 パワー校正領域の構造 パワー校正領域は,ECCブロックアドレスの (002080) 〜 (00223A) の位置
とする。パワー校正領域の最小単位は,1プリピット物理セクタとし,パワー校正セクタと呼ぶ。パワー
校正領域は,7 088個のパワー校正セクタからなる。パワー校正領域の構成を図58に示す。
パワー校正は,ディスクの外側から内側に向かって行う。
図58 パワー校正領域の構成
28.3 記録管理領域 (RMA) のデータ構成
28.3.1 記録管理領域のセクタフォーマット(図59参照) 記録管理領域は,ECCブロックアドレスの
(00223C) 〜 (0024F8) とする。RMAは,RMAリードイン及び記録管理データ (RMD) とからなる。RMA
リードインの大きさは,32キロバイトとし,16キロバイトのシステム予備フィールド及び16キロバイト
のユニークIDフィールドとからなる。
システム予備フィールドのデータは,(00) に設定する。
ユニークIDフィールドは,八つの同じ大きさ2キロバイトで同じ内容のユニットからなる。各ユニッ
トのバイト割当てを,表17に示す。
図59 記録管理領域の配置
表17 ユニークIDフィールドの内容
バイト位置
内容
0〜31
売り主ID
32〜39
予備
40〜55
シリアル番号
56〜63
予備
64〜79
モデル番号
80〜87
予備
88〜105
ユニークディスクID
106〜2 047
予備
バイト0〜バイト31−売主ID
この規格は,これら32バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
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する。
バイト32〜バイト39−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
バイト40〜バイト55−シリアル番号
この規格は,これら16バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト56〜バイト63−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
バイト64〜バイト79−モデル番号
この規格は,これら16バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト80〜バイト87−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
バイト88〜バイト105−ユニークディスク識別子 (ID)
この規格は,これら18バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト106〜バイト2 047−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
28.3.2 記録管理情報 (RMD) 記録管理情報 (RMD) は,ディスクへの記録に関する情報とする。RMD
の大きさは,32キロバイトとする。RMDのデータ構造を,表18に示す。
表18 記録管理情報のデータ構造
セクタ番号
フィールド
セクタ0
リンキングロス領域
セクタ1
RMDフィールド0
セクタ2
RMDフィールド1
セクタ3
RMDフィールド2
セクタ4
RMDフィールド3
セクタ5
RMDフィールド4
セクタ6
RMDフィールド5
セクタ7
RMDフィールド6
セクタ8
RMDフィールド7
セクタ9
RMDフィールド8
セクタ10
RMDフィールド9
セクタ11
RMDフィールド10
セクタ12
RMDフィールド11
セクタ13
RMDフィールド12
セクタ14
RMDフィールド13
セクタ15
RMDフィールド14
備考 各RMDは,2 048バイトのメインデータとし,第4章に規定した信号処理に従って記録する。
RMDを追記するためには,2キロバイトの大きさのリンキングロス領域を選ぶ。
28.3.2.1 RMDフィールド0 RMDフィールド0は,ディスクの一般情報とし,フィールドの内容を表19
に示す。
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表19 RMDフィールド0
バイト位置
内容
バイト長
0及び1
RMDフォーマット
2
2
ディスク状態
1
3
予備
1
4〜21
ユニークディスク識別子
18
22〜85
プリピット情報のコピー
64
86〜2 047
予備
1 962
バイト0及びバイト1−RMDフォーマット
これらのバイトは,(0001) に設定する。
他の値を設定してはならない。
バイト2−ディスク状態
このフィールドは,ディスク状態を次のように規定する。
(00)設定のとき,ディスクは,未記録であることを示す。
(01)設定のとき,ディスクは,“ディスクアットワンス”記録モードであることを示す。
(02)設定のとき,ディスクは,“インクリメンタル記録”モードであることを示す。
(03)設定のとき,ディスクは,ファイナライズ(追記されたDVD-RをDVD再生装置で再生可能にする
ための処理)されていることを示す(“インクリメンタル記録”用に)。
他の値を設定してはならない。
バイト3−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
バイト4〜バイト21−ユニークディスク識別子
この規格は,これら18バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト22〜バイト85−プリピット情報のコピー
27.3に規定したプリピット情報のコピーをこのフィールドに記録する。記録フォーマットを,表20に示
す。
バイト86〜バイト2 047−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
表20 プリピット情報のコピー
バイト位置
内容
22
フィールドID (01) 設定
23
応用コード
24
ディスク物理コード
25〜27
データゾーンの最終アドレス(27.3.5.3参
照)
28〜29
(00)
30
フィールドID (02) 設定
31
OPC推奨コード
32
波長コード
33〜36
記録ストラテジコード
37
(00)
38
フィールドID (03) 設定
55
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バイト位置
内容
39〜44
製造業者ID
45
(00)
46
フィールドID (04) 設定
47〜52
製造業者ID
53
(00)
54
フィールドID (05) 設定
55〜60
製造業者ID
61〜85
(00)
28.3.2.2 RMDフィールド1 RMDフィールド1は,表21に示すようにOPC関連の情報とする。RMD
フィールド1には,システムの中に同時に存在し得る記録機につき四つまでについてOPC関連の情報を記
録できる。
一つの記録機の場合は,OPC関連情報はフィールド#1に記録し,他のフィールドは,(00) に設定する。
どの場合でもRMDフィールド1の未使用のフィールドは,(00) に設定する。
表21 RMDフィールド1
バイト位置
内容
バイト長
0〜31
#1 売り主識別子
32
32〜47
シリアル番号
16
48〜63
モデル番号
16
64〜67
記録ストラテジコード
4
68〜71
記録パワー
4
72〜79
タイムスタンプ
8
80〜83
パワー校正アドレス
4
84〜107
ランニングOPC情報
24
108〜127
予備
20
128〜159 #2 売り主識別子
32
160〜175
シリアル番号
16
176〜191
モデル番号
16
192〜195
記録ストラテジコード
4
196〜199
記録パワー
4
200〜207
タイムスタンプ
8
208〜211
パワー校正アドレス
4
212〜235
ランニングOPC情報
24
236〜255
予備
20
256〜287 #3 売り主識別子
32
288〜303
シリアル番号
16
304〜319
モデル番号
16
320〜323
記録ストラテジコード
4
324〜327
記録パワー
4
328〜335
タイムスタンプ
8
336〜339
パワー校正アドレス
4
340〜363
ランニングOPC情報
24
364〜383
予備
20
384〜415 #4 売り主識別子
32
416〜431
シリアル番号
16
432〜447
モデル番号
16
448〜451
記録ストラテジコード
4
452〜455
記録パワー
4
56
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト位置
内容
バイト長
456〜463
タイムスタンプ
8
464〜467
パワー校正アドレス
4
468〜491
ランニングOPC情報
24
492〜511
予備
20
512〜2 047 予備
1 536
バイト0〜31, 128〜159, 256〜287, 384〜415−売り主識別子
この規格は,これら128バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無
視する。
バイト32〜47, 160〜175, 288〜303, 416〜431−シリアル番号
この規格は,これら64バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト48〜63, 176〜191, 304〜319, 432〜447−モデル番号
この規格は,これら64バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト64〜67, 192〜195, 320〜323, 488〜451−記録ストラテジコード
これらのフィールドは,実際の記録ストラテジタイプを記録ストラテジコードとして規定する。記録ス
トラテジコードは,27.3.6に規定している。
バイト68〜71, 196〜199, 324〜327, 452〜455−記録パワー
これらのフィールドは,OPCの結果の値を保存するのに使用してもよい。このフィールドのフォーマッ
トは,記録機の売り主による。このフィールドが(00) に設定してある場合,このフィールドは,無効であ
る。
バイト72〜79, 200〜207, 328〜335, 456〜463−タイムスタンプ
この規格は,これら64バイトのフォーマット及び内容を規定しない。互換性では,これらの情報を無視
する。
バイト80〜83, 208〜211, 336〜339, 464〜467−パワー校正アドレス
これらのフィールドは,最後のパワー校正を行ったPCAの開始ECCブロックアドレスを規定する。
バイト84〜107, 212〜235, 340〜363, 468〜491−ランニングOPC情報
これらのフィールドは,ランニングOPC関連情報を記録してもよい。ランニングOPC情報のフォーマ
ットは,ユーザによる。このフィールドが(00) に設定してある場合,このフィールドは,無効である。
バイト108〜127, 236〜255, 364〜383, 492〜511, 512〜2 047‐予備
これらのフィールドは,予備とし(00) に設定する。
28.3.2.3 RMDフィールド2 RMDフィールド2は,表22によってユーザの特定情報を規定してもよい。
このフィールドを使用しないとき,(00) に設定する。
表22 RMDフィールド2
バイト位置
内容
バイト長
0〜2 047
ユーザの特定データ
2048
28.3.2.4 RMDフィールド3 マルチボーダ記録を行うとき,ボーダゾーン情報は,表23によってRMD
フィールド3に記録する。
RMDが最初のボーダ記録を行う前に記録されているか又はボーダが記録されていないとき,RMDフィ
ールド3のすべてのフィールドを(00) に設定する。
57
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表23 RMDフィールド3
バイト位置
内容
バイト長
0〜3
ボーダアウト領域#1の開始セクタ番号
4
4〜7
ボーダアウト領域#2の開始セクタ番号
4
Μ
Μ
Μ
2 044〜2 047 ボーダアウト領域#nの開始セクタ番号
4
28.3.2.5 RMDフィールド4 RMDフィールド4は,Rゾーン情報を規定する。このフィールドの内容を,
表24に示す。
データゾーンの中でユーザデータを記録するために予約されている部分をRゾーンと呼ぶ。Rゾーンを,
記録条件によって二つのタイプに分ける。開放Rゾーンでは,追加データを追記できる。完了Rゾーンで
は,更なるユーザデータの追記はできない。データゾーンの中に二つ以上の開放Rゾーンを設けてはなら
ない。
データゾーンの中でデータを記録するためにまだ予約されていない部分を隠れRゾーンと呼ぶ。Rゾー
ンの後のゾーンは隠れRゾーンの中に予約できる。更にデータが追記できなければ,隠れRゾーンは存在
しない。
表24 RMDフィールド4
バイト位置
内容
バイト長
0, 1
隠れRゾーン番号
2
2, 3
最初の開放Rゾーン番号
2
4, 5
第2の開放Rゾーン番号
2
6〜15
予備
10
16〜19
Rゾーン#1の開始セクタ番号
4
20〜23
Rゾーン#1の最終記録アドレス
4
24〜27
Rゾーン#2の開始セクタ番号
4
28〜31
Rゾーン#2の最終記録アドレス
4
Μ
Μ
Μ
2 040〜2 043 Rゾーン#254の開始セクタ番号
4
2 044〜2 047
Rゾーン#254の最終記録アドレス
4
バイト0, 1−隠れRゾーン番号
このフィールドは,隠れRゾーン番号を規定する。隠れRゾーン番号は,隠れRゾーン,開放Rゾー
ン及び完了Rゾーンのすべての数を加えたものとする。
バイト2, 3−最初の開放Rゾーン番号
このフィールドは,最初の開放Rゾーン番号を規定する。最初の開放Rゾーンがないとき,このフィー
ルドのすべてのバイトを,(00) に設定する。
バイト4, 5−第2の開放Rゾーン番号
このフィールドは,第2の開放Rゾーン番号を規定する。第2の開放Rゾーンがないとき,このフィー
ルドのすべてのバイトを,(00) に設定する。
バイト6〜15−予備
このフィールドは,予備とし,(00) に設定する。
バイト16〜19, 24〜27, …,2 040〜2 043−Rゾーン#nの開始セクタ番号 (n=1, 2, …,254)
これらのフィールドは,Rゾーンの開始セクタ番号を規定する。これらのフィールドの設定が(00) のと
き,このRゾーン番号に予約したRゾーンはない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト20〜23, 28〜31, …,2 044〜2 047−Rゾーン#nの最終記録アドレス (n=1, 2, …,254)
これらのフィールドは,Rゾーンの最終記録セクタ番号を規定する。これらのフィールドが(00) のとき,
これらのフィールドは最終記録アドレスを意味しない。
28.3.2.6 RMDフィールド5〜RMDフィールド12 RMDフィールド5〜RMDフィールド12は,Rゾー
ンの情報を規定してもよく,これらのフィールドの内容を,表25に示す。
これらのフィールドを使用しない場合,これらフィールドのすべてのバイトを(00) に設定する。
表25 RMDフィールド5〜RMDフィールド12
バイト位置
内容
バイト長
0〜3
Rゾーン#nの開始セクタ番号
4
4〜7
Rゾーン#nの最終記録アドレス
4
8〜11
Rゾーン#n+1の開始セクタ番号
4
12〜15
Rゾーン#n+1の最終記録アドレス
4
Μ
Μ
Μ
2 044〜2 047 Rゾーン#n+255の最終記録アドレス
4
各RMDフィールド5〜RMDフィールド12の#nは,次による。
RMDフィールド 5
:#n=255
RMDフィールド 6
:#n=511
RMDフィールド 7
:#n=767
RMDフィールド 8
:#n=1 023
RMDフィールド 9
:#n=1 279
RMDフィールド 10 :#n=1 535
RMDフィールド 11 :#n=1 791
RMDフィールド 12 :#n=2 047
28.3.2.7 RMDフィールド13〜RMDフィールド14 RMDフィールド13〜RMDフィールド14は,将来
の用途のために確保してあり,すべてのバイトは(00) に設定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A(規定) 角度偏差αの測定
角度偏差は,基準面Pに垂直な入射光と反射光とによって作られる角度αとする(図A.1参照)
図A.1 角度偏差α
角度偏差αの測定のために,ディスクは,クランプゾーンのほぼ全域を覆う同心円環の間でクランプす
る。上面のクランプゾーンは,下面のクランプゾーンと同じ直径でなくてはならない。
mm
mm
in
mm
d
5.00
3.
22
+
=
mm
mm
out
mm
d
05.0
7.
32
−
=
全クランプ力は,F1=2.0N±0.5Nとする。クランプ力とディスクの中心孔のリムに加わるチャック力F2
とによって生じる力のモーメントによるディスクのそりを防ぐために,F2は,0.5Nを超えてはならない(図
A.2参照)。
この測定は,8.1.1a)の条件のもとで行う。
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図A.2 α角測定のクランプ及びチャックの条件
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附属書B(規定) 複屈折の測定
B.1 測定原理 複屈折を測定するために,平行光の円偏光を使用する。位相遅延は,反射光のだ円率を観
測することによって測定する(図B.1参照)。
図B.1 だ円率e=b/a及び方位θをもつだ円
だ円の方位θは,光学軸の方位で決定する。
θ=γ−π/4 ················································································· (1)
ここに, γは光学軸と半径方向との間の角度を表す。
だ円率e=b/aは,位相遅延δの関数を表す。
−
=
δ
π
2
2
1
tan
e
········································································ (2)
位相遅延δが既知であるとき,複屈折BRは,波長の分数として表す。
nm
BR
δ
π
λ
2
=
··········································································· (3)
このように,ディスクから反射しただ円偏光を観測することによって,複屈折を測定でき,光学軸の方
位も評価できる。
B.2 測定条件 B.1に規定した複屈折の測定は,次の条件で行う。
反射での測定モード
:ダブルパス測定法
レーザ光の波長λ
:640nm±15nm
光ビーム径 (FWHM) :1.0mm±0.2mm
基準面Pに垂直な半径方向の面に関して半径方向の入射光の角度β
:7.0°±0.2°
クランプ及びチャックの条件
:附属書Aの規定による。
ディスクの装着
:水平
回転
:1Hz以下
温度及び相対湿度
:本体8.1.1a)の規定による。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
B.3 測定装置の例 この規格は,複屈折を測定する特定の測定装置を規定しないが,この測定に適した装
置の例を図B.2に示す。
図B.2 複屈折測定装置の例
偏光子(消光比≈10-5)にコリメートしたレーザ光源からの光は,1/4波長板によって円偏光にする。反
射光のだ円率は,回転検光子及びフォトディテクタで分析する。ディスクのあらゆる位置に対して強度の
最小及び最大値を測定する。だ円率はこのとき,
e2=Imin/Imax ··············································································· (4)
式(2),(3)及び(4)を組み合わせて,
max
min
arctan
/
4/
I
I
BR
×
−
=
π
λ
λ
この装置は,次のように容易に校正できる。
− Iminは,偏光子又は1/4波長板を測定することによって0に設定する。
− 鏡面を測定するときは,Imax=Imin
表面反射による,直流的変化以外に,表面反射及び記録面からの反射のために交流成分が生じる可能性
がある。この交流成分は,基板が限りなく平らで光源の干渉性が高いときにだけ顕著となる。
63
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附属書C(規定) 位相差トラッキングエラー信号の測定方法
C.1 位相差トラッキングエラー信号の測定方法 トラッキングエラー測定の基準回路は,図C.1に示す。4
分割ディテクタの対角の対の各出力は,次の式によって,定義した波形等化の後に独立して2値化する。
H (s) = (1+1.6×10-7jω) / (1+4.7×10-8jω)
比較器の利得は,最小の信号振幅でも出力が完全飽和に達しなければならない。2値化したパルス信号
のエッジ(信号B1及びB2)の位相は,相互に比較し時間進み信号C1及び時間遅れ信号C2を作る。位相
比較器は,個々のエッジに応じて,⊿tiの符号(正負)に応じ,信号C1又はC2を出力する。トラッキン
グエラー信号は,低域フィルタによってC1及びC2信号を平滑化し,単位利得差動増幅器の手段で差し引
くことによって作る。低域フィルタは,30kHzで−3dBの遮断周波数をもつ1次フィルタとする。
Tの1%は,0.38nsのように非常に小さい時間差を測定しなければならないので,回路実装に当たっては
特別な注意をしなければならない。また,注意深い平均化が必要である。
4分割ディテクタの対角の対からの二つの信号間の平均時間差は,次による。
(
)
it
N
t
∆
∑
=
∆
/1
ここで,Nは立上り及び立下りの両方のエッジの数とする。
C.2 タイムインタバルアナライザを使用しない
T
t/
∆
の測定 相対時間差
T
t/
∆
は,C1及びC2信号の振幅
及び読取り信号の周波数成分を基準化している場合のトラッキングエラー信号の振幅で表す。トラッキン
グエラー振幅TVE
∆
と時間差との関係は,次による。
n
V
T
t
V
NnT
t
V
T
t
TVE
PC
PC
i
PC
i
i
×
∆
=
∆
∑
=
∑
∆
∑
=
∆
ここで, VPCは,C1及びC2信号の振幅。
Tiは,3T〜14Tの範囲内で読取り信号の実際の長さ。
nTは,実際の長さの重み付き平均。
NnTは,平均時間の総和。
Vpcを≈5Vとし,測定したnの値を≈5とすると,トラッキングエラー振幅TVE
∆
と時間差t
∆との上の関
係は,次のとおり簡略化することができる。
T
t
TVE
/
∆
=
∆
トラッキングの利得の規格は,トラッキングエラー振幅を用いて,半径方向のオフセット0.1μmで,次
のように書き換えることができる。
(
)
(
)n
V
TVE
n
V
PC
PC
/
1.1
/
5.0
≦
≦∆
C.3
T
t/
∆
の校正 位相比較器の利得は,ばらつく傾向があるので,位相比較器の利得の校正には特別な注
意をしなければならない。位相差トラッキングエラー信号の測定に当たって,次のチェック及び校正方法
を行う。
a) 測定回路の検査
1) 最初の比較器の入力 (3T) の振幅とトラッキングエラー信号の振幅との関係を測定する。
2) 増幅器の現状利得が飽和領域であることを検査する(図C.2参照)。
64
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b) 校正係数Kの決定
1) 周波数が2.616MHz(5Tに相当)で,位相差をもつ二つの正弦波信号A1及びA2を生成し,二つの
波形等化回路に加える。
2)
T
t/
∆
と
PC
V
TVE/
∆
との関係を測定する。
(
)(
)n
T
t
K
V
TVE
PC
/
/
/
∆
=
∆
n=5に対して
(
)(
)
PC
V
TVE
T
t
K
/
/
/
2.0
∆
∆
=
T
t/
∆
及び
PC
V
TVE/
∆
との関係は線形である(図C.3参照)。
c) 測定された
T
t/
∆
と算出されたものを比較する。
1) C.1の方法を用いて
T
t/
∆
を測定する。
2)
T
t/
∆
(真の値)を次のようにして算出する。
T
t/
∆
(真の値)=K×
T
t/
∆
(測定値)
65
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図C.1 トラッキングエラー測定回路
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図C.2 比較器入力信号振幅とトラッキングエラー信号振幅との関係
図C.3
T
t/
∆
と
PC
V
TVE/
∆
との関係
67
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D(規定) 光反射の測定
D.1 校正方法 良好な基準ディスク,例えば,金の反射鏡面をもつ0.6mm厚さのガラスディスクを用いる。
この基準ディスクは,図D.1に示すように平行光で測定する。
図D.1 反射の校正
図D.1の各事項は,次による。
I=入射光
r=入射面の反射
Rs=記録層の主反射
Rint=入射面及び記録層からのその他の反射
R”=図D.1のアレンジメントを用いた測定値
R”=r+Rs+Rint
r= [(n−1) / (n+1)]2 ここで,nは基板の屈折率
Rs=R〃−r−Rint
Rs= [(1−r)2× (R”−r)] / [1−r× (2−R”)]
基準ディスクは,基準ドライブで測定する。集束光で測定したLmirrorは,上記の方法で計算してRsとな
る。
アレンジメントは校正され,集束光反射率は,入射面の反射率とは無関係になり,記録面の反射率に線
形に比例した値となる。
D.2 測定方法 測定方法は,次のステップからなる。
a) 校正した反射率Rsをもつ基準ディスクから反射光パワーDSを測定する。
b) ディスクの情報ゾーンのI14Hを測定する。
c) 反射率の算出は,次による。
s
H
s
H
D
I
R
R
14
14
×
=
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附属書E(規定) ディスククランプのためのテーパコーン
測定用ディスクの中心位置決めに用いる装置は,テーパ角度40.0°±0.5°をもつコーンとする(図E.1
参照)。
図E.1 テーパコーン
69
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附属書F(規定) ジッタの測定
ジッタは,本体9.1の条件のもとで,この附属書で規定する追加条件によって測定する。
F.1 ジッタ測定のためのシステム図 ジッタ測定のための一般システム図は,図F.1に示すとおりとする。
図F.1 ジッタ測定のための一般システム図
F.2 PLLの開ループ伝達関数 図F.1に示すPLLの開ループ伝達関数は,図F.2に示すとおりとする。
70
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図F.2 PLLの開ループ伝達関数の図表示
F.3 スライサ スライサは,閉ループ−3dBで帯域幅5kHzの1次積分フィードバック型オートスライサ
とする。
F.4 測定条件 フォトディテクタ前置増幅器の帯域幅は,遅延ひずみを防ぐために20MHz以上とする。
低域フィルタ:6次ベッセルフィルタ,fc (−3dB) =8.2MHz
アナログ波形等化器の例:伝達関数H (z) =1.35z-2 093−0.175 (1+z-4 186) をもつ3タップトランスバーサ
ルフィルタ。
フィルタ及び波形等化:
− 利得変動:最大1dB(7MHz以下)
− 群遅延変動:最大3ns(6.5MHz以下)
− (5.0MHzでの利得)−(0MHzにおける利得)=3.2dB±0.3dB
交流カップリング(高域フィルタ):1次,fc (−3dB) =1kHz
角度偏差の修正:直流偏差だけ
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図F.3 波形等化及び低域フィルタの周波数特性
F.5 測定 1回転中のすべての立上り及び立下りエッジのジッタを測定する。
この測定でジッタは,チャネルビットクロック周期の9.0% (1σ) 以下とする。
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附属書G(規定) RLL (2, 10) 制約の8-16変調
表G.1及び表G.2は,8ビットバイトを16ビット符号語に変換した表を示す。図G.1は,符号語及び関
係状態規定がどのように生じているかを図示する。図G.2は状態の決定を示す。
図G.1 符号語の生成
図G.1の記号は,次による
X (t) =H {B (t), S (t)} X15 (t) =msb及びX0 (t) =lsb
S (t+1) =G {B (t), S (t)}
Hは,出力関数
Gは,次の状態関数
状態を離れる符号語は,一つの状態に入る符号語とその状態から離れる符号語との接続部において,二
つの “1” の間で最小2及び最大10の “0” がなければならないという要求事項を満たすように選ぶ。
追加要求事項は,次による。
− 状態2を離れる符号語では,ビットX15及びビットX3の両者を,“0” に設定する。
− 状態3を離れる符号語では,ビットX15とビットX3とのいずれか又は両者を “1” に設定する。
このことは,状態2及び状態3の符号語のセットが一致しないことを意味する。
符号語X (t)
次の状態S (t+1)
符号語X (t+1)
末尾部連続 “0” が1個又はなし
状態1
先頭部連続 “0” が2個〜9個
末尾部連続 “0” が2個〜5個
状態2
先頭部連続 “0” が1個〜5個及び
X15 (t+1), X3 (t+1) =0, 0
末尾部連続 “0” が2個〜5個
状態3
先頭部連続 “0” が0個〜5個及び
X15 (t+1), X3 (t+1) ≠0, 0
末尾部連続 “0” が6個〜9個
状態4
先頭部連続 "0" が1個又はなし
図G.2 状態の決定
記録したデータをデコードするとき,元の主データを再構築するためにはエンコーダの知識を必要とす
ることに留意されたい。
B (t) =H -1 {X (t), S (t)}
誤り伝ぱ(播)が含まれているために,そのような状態依存のデコーディングを避けるべきである。こ
の8-16変調の場合には,状態についての知識をほとんどの場合必要としないように変換テーブルを選んで
いる。テーブルから集められるように,幾つかの場合で,二つの8ビットバイト,例えば,表G.1の状態
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X 6245 : 1999
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1及び状態2における8ビットバイト5及び6は,同じ16ビット符号語を生成する。テーブルの構成によ
って,この明らかなあいまいさを解決する。実際,二つの同一符号語が“状態”を離れる場合,その一つ
は“状態2”に行き,他方は“状態3”に行く。ビットX15及びX3の設定がこの二つの状態で常に異なっ
ているために,どの符号語も次の符号語のビットX15及びX3と一緒に符号語それ自体を解析することによ
って一義的にデコードすることができる。
B (t) =H -1 {X (t), X15 (t+1), X3 (t+1)}
テーブルでは,8ビットバイトをその10進数で表す。
表G.1 主変換テーブル
8ビット
バイト
状態1
状態2
状態3
状態4
符号語
次の
状態
符号語
次の
状態
符号語
次の
状態
符号語
次の
状態
msb
lsb
msb
lsb
msb
lsb
msb
lsb
0
0010000000001001
1
0100000100100000
2
0010000000001001
1
0100000100100000
2
1
0010000000010010
1
0010000000010010
1
1000000100100000
3
1000000100100000
3
2
0010000100100000
2
0010000100100000
2
1000000000010010
1
1000000000010010
1
3
0010000001001000
2
0100010010000000
4
0010000001001000
2
0100010010000000
4
4
0010000010010000
2
0010000010010000
2
1000000100100000
2
1000000100100000
2
5
0010000000100100
2
0010000000100100
2
1001001000000000
4
1001001000000000
4
6
0010000000100100
3
0010000000100100
3
1000100100000000
4
1000100100000000
4
7
0010000001001000
3
0100000000010010
1
0010000001001000
3
0100000000010010
1
8
0010000010010000
3
0010000010010000
3
1000010010000000
4
1000010010000000
4
9
0010000100100000
3
0010000100100000
3
1001001000000001
1
1001001000000001
1
10
0010010010000000
4
0010010010000000
4
1000100100000001
1
1000100100000001
1
11
0010001001000000
4
0010001001000000
4
1000000010010000
3
1000000010010000
3
12
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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0100000100000010
1
0010010001001000
2
0100000100000010
1
79
0000100100000100
2
0000100100000100
2
0100100100001000
2
0100100100001000
2
80
0000100100100100
2
0000100100100100
2
1000010000000100
2
1000010000000100
2
81
0001001000000100
2
0001001000000100
2
1000010000100100
2
1000010000100100
2
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0001001000100100
2
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2
1000010001001000
2
1000010001001000
2
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0010010000000100
2
0010010000000100
2
1000010010010000
2
1000010010010000
2
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0010010000100100
2
0010010000100100
2
1000100000001000
2
1000100000001000
2
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0010010010010000
2
0010010010010000
2
0100010001001001
1
0100010001001001
1
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0000000100000100
2
0100001000100100
2
1000100001000100
2
0100001000100100
2
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0000000100100100
2
0100010001000100
2
1000100010001000
2
0100010001000100
2
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H(規定) ボーダゾーン
H.1 構成 ボーダゾーンは,ディスクをファイナライズされていない中間状態でDVD再生専用ディスク
ドライブで再生するときに,光学ピックアップがオーバランするのを防ぐための接続領域である。
ボーダゾーンは,次のボーダ領域を識別するための後続ボーダマーカをもつ。
ボーダゾーンは,現在のボーダアウトと次のボーダインとから成る。構成を図H.1に示す。
ディスクをファイナライズされない中間状態でDVD再生専用ディスクドライブで再生するとき,ボー
ダアウト及び/又はボーダインは,既に記録されていなくてはならない。
図H.1 ボーダゾーンの構成
各種状態のDVD-Rディスクのボーダゾーンを図H.2に示す。
図H.2 各状態のボーダゾーン
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図H.3 ファイナライズした後のボーダゾーンの状態
H.2 ボーダゾーンの大きさ ボーダゾーンの大きさは,場所及び順序による。最初のボーダゾーンは,少
なくとも0.5mmの幅である。その他のボーダゾーンは,少なくとも0.1mm幅である。ボーダアウトの最
小のセクタ番号は,(3D6FF) 以上とする。ボーダアウトは,エラー訂正ブロックの境界で開始する。ボー
ダゾーンの大きさは,表H.1による。
表H.1 ボーダゾーンの大きさ
ボーダアウトの物理セクタ番号
(3D700)〜(9DAFF)
(9DB00)〜(1342FF)
(134300)〜
最初のボーダゾーンの大きさ
32MB
1 024ECCブロック
64MB
2 048ECCブロック
96MB
3 072ECCブロック
その他のボーダゾーンの大きさ
6MB
192ECCブロック
12MB
384ECCブロック
18MB
576ECCブロック
H.3 ボーダゾーン情報
H.3.1 ボーダゾーンの構成 ボーダゾーンの構成を図H.4に示す。各ユニットの内容は,表H.2による。
各ユニットの大きさは,1ECCブロックとする。
図H.4 ボーダゾーンの構成
最初の後続ボーダマーカのアドレスは,
[(次のボーダインの開始セクタ番号)+(現在のボーダアウトの開始セクタ番号)]/2とする。
次のボーダインの開始セクタ番号及び現在のボーダアウトの開始セクタ番号は,リードイン又はボーダ
インに記録する。
表H.2で,ユニット位置はボーダゾーンの先頭からの相対位置を示し,M及びNは各ボーダゾーンの位
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
置と順序による。
表H.2 ボーダゾーンの構成
ユニット位置
内容
ボーダアウト
0〜4
現在のRMD
5〜36
(00) に設定
37及び38
停止ブロック
39〜M−1
(00) に設定
M〜M+1
後続ボーダマーカ#1
M+2
ブロック同期ガード領域#1
M+3〜M+9 (00) に設定
M+10〜M+11 後続ボーダマーカ#2
M+12
ブロック同期ガード領域#2
M+13〜M+19 (00) に設定
M+20〜M+21 後続ボーダマーカ#3
M+22
ブロック同期ガード領域#3
M+23〜N−1 (00) に設定
N
リンキングロス領域
ボーダイン
N+1〜N+5
変更コントロールデータ
N+6
ブロック同期ガード領域
ユニット位置0〜4
この領域は,現在のRMDを入れる。この領域は,ボーダアウトの始めから最新の5個のRMDのコピ
ーを記録する。
ユニット位置5〜36
(00) に設定する。
ユニット位置37〜38
この領域は,ストップブロックを入れる。このストップブロック領域の形は,リードアウトに相当し,
このブロックのメインデータは(00) に設定する。
ユニット位置39〜M−1
(00) に設定する。
ユニット位置M〜M+1
この領域は,後続ボーダマーカ#1を入れる。後続ボーダマーカは,次のボーダ領域を認識するためにボ
ーダアウトに入れる。次のボーダ領域がないとき,この後続ボーダマーカは,記録してはならない。次の
ボーダ領域があるとき,この後続ボーダマーカは,(00) を記録する。後続ボーダマーカの構造を図H.5に
示す。
図H.5 後続ボーダマーカ構造
ユニット位置M+2
この領域は,ブロック同期ガード領域#1を入れる。ブロック同期ガード領域#1は,次に続くECCブロ
ックに記録されたデータを読むのに使用する。後続ボーダマーカのデータを記録後,この領域は,リンキ
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ングロス領域となる(本体23.参照)。
ユニット位置M+3〜M+9
(00) に設定する。
ユニット位置M+10〜M+11
この領域は,後続ボーダマーカ#2を入れる。後続ボーダマーカ#1と同じである。
ユニット位置M+12
この領域は,ブロック同期ガード領域#2を入れる。ブロック同期ガード領域#1と同じである。
ユニット位置M+13〜M+19
(00) に設定する。
ユニット位置M+20〜M+21
この領域は,後続ボーダマーカ#3を入れる。後続ボーダマーカ#1と同じである。
ユニット位置M+22
この領域は,ブロック同期ガード領域#3を入れる。ブロック同期ガード領域#1と同じである。
ユニット位置M+23〜N−1
(00) に設定する。
ユニット位置N
この領域は,リンキングロス領域を含む(本体23.参照)。
ユニット位置N+1〜N+5
この領域は,変更コントロールデータとする。このユニットには同じデータを5回記録する。このフィ
ールドは,更新した現在のボーダアウトの開始アドレス(バイト位置36〜39)と更新した次のボーダイン
の開始セクタ番号(バイト位置36〜39)を含むコントロールデータを規定する(本体25.2参照)。
ユニット位置N+6
この領域は,ブロック同期ガード領域とする。ブロック同期ガード領域#1と同じである。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J(規定) 最適パワー制御
J.1 最適パワー制御 ディスクを記録するレーザパワーは,実際に使用する記録機及びディスクの両方に
依存する。そのため,このパワーは,各ディスクと記録機との組合せによって決まる。そのような実際の
最適記録パワーP0の決定が最適パワー制御 (OPC) と呼ばれる。
OPCをやりやすくするために記録パワーの基準値を与える。この値は,データゾーン以外のプリピット
の特別な情報として符号化する(本体27.参照)。この値は,基準速度で波長コードとして規定する波長に
対してのOPC推奨コードである。
OPCは,この目的のために特別に予約したディスクの領域で行う。それがパワー校正領域 (PCA) であ
る(本体28.参照)。
最適記録パワーは,記録済みディスクの特性の測定条件でジッタを最小にするレーザパワーによって決
める(本体9.参照)。
実用記録機の回路でP0を決めるのに簡単なOPCの方法を次に示す。
16ビット符号語を記録したときの非対称性は,記録パワーによって異なる。したがって,特定のディス
クと記録機との組合せでの最適記録パワーは,16ビット符号語の変調データを異なる記録パワーでテスト
記録し,その結果のHF信号の非対称性を測定することで求めることができる。直接非対称性の定義を求
めるのは,記録機の回路では複雑すぎる。したがって,非対称性を表すのに,違うパラメータを定義する。
このパラメータβは,波形等化する前の交流結合したHF信号を用いることによって,次のように定義する。
2
1
2
1
A
A
A
A
−
+
=
β
ここに, (A1+A2): HF信号のピークレベルA1とA2との差
(A1−A2): HF信号のピークピーク値(図J.1,図J.2及び図J.3参照)。
測定したHF信号の非対象がゼロのときβ=0となる
βは記録機のピックアップで(本体9.1.2参照),非対称性は再生ピックアップで(本体9.1.1参照)それ
ぞれ測定する。
これは,各記録機の設計で記録機の読取り状態から再生ピックアップの状態への変換をしなければなら
ないことを意味する。
図J.1 β<0(低パワー)
図J.2 β=0
図J.3 β>0(高パワー)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K(規定) 波長依存性
記録層として有機色素を用いたとき,DVD-Rディスクは若干の波長依存性を示す。有機色素の複素屈折
率 (n=n−ik) は基本的に波長に依存する。
ここに,nは屈折率の実数の部分であり,Kは屈折率の虚数の部分である。
備考 再生専用ディスクの測定条件として650nm±5nmの波長範囲が規定されているので,記録済み
のDVD-Rディスクの特性は,650nm±5nmのレーザダイオードを用いて規格を満足するよう設
定している。実際のDVDプレーヤでは,例えば,630nm〜660nmの幅広い波長幅のレーザダイ
オードが使用される可能性があり,プレーヤの設計のときにDVD-Rディスクの光学特性の変
化を考慮することが必要になる。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L(規定) ディスクの光劣化
DVD-Rディスクの光劣化は,空冷のキセノンランプで試験を行い,試験装置はISO 105-B02に従う。
L.1 試験条件 黒色板温度は,40℃未満とする。
相対湿度は,70%〜80%とする。
L.2 ディスク照射 ディスクの照射は,基板を通しての通常の入射とする。
L.3 試験要求項目 ISO 105‐B02に従ってキセノンランプの照射後,本体13.,14.の記録済みディスク及
び未記録ディスクに対するすべての規格を満たすこととする。
備考 DVD-Rディスクのどのような色の変化も,この試験には無関係である。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書M(参考) リファレンスコードについての留意点
この附属書(参考)は,本体及び附属書(規定)に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
リファレンスコードの目的は,(3T‐6T‐7T) の繰返し信号を発生するチャネルビットパターンを準備す
ることである。ドライブは,HF信号を読むための波形等化を調整するために,これらの信号を使用して
もよい。この附属書は,要求されるチャネルビットパターンを発生させる実際的な方法を記述している。
本体第4章に規定するように,主データは,ECCバイトを発生させる前にスクランブルされる。スクラ
ンブルし,変調の直前のECC発生の後,3T,6T及び7T変調チャネル信号を発生させる規定のデータパタ
ーンを得るために,プリスクランブルを主データに適用する。プリスクランブルデータがこの規格に規定
するエンコーディング処理で使用される規定スクランブルデータと同じであるならば,そのとき同じスク
ランブルデータがユーザデータに2度加えられ,スクランブルされないデータは,ECCバイトを発生させ
る直前に現れる。このことは,記録セクタがECCバイトを除いて主データの複製である固定データパター
ンを含んでいることを意味する。プリスクランブルデータは,大きいDSV値を避けるために,各ECCブ
ロックの最初のデータセクタの最初の160主データバイトを除いて,リファレンスコードゾーンで使用さ
れるすべての32データセクタに加えられる。
次のステップは,リファレンスコードを意図した主データをエンコードシステムに供給する前にいかに
処理するかを示す。
ステップ1 32データセクタのすべての主データを (AC) に設定する。
ステップ2 このステップは,192 512 (02F000) 〜192 543 (02F01F) のセクタ番号をもつ物理セクタに対応
するデータセクタに適用する。
セクタ番号192 512 (02F000) 〜192 527 (02F00F) については,本体17.のスクランブリング手順を用いて,
初期プリセット番号 (0) で発生させたプリスクランブリングデータを,セクタ番号が192 512 (02F000) で
あるセクタの最初の160バイトを除いて,すべての主データバイトに加える。
セクタ番号192 528 (02F010) 〜192 543 (02F01F) については,本体17.のスクランブリング手順を用いて,
初期プリセット番号 (1) で発生させたプリスクランブリングデータを,セクタ番号が192 528 (02F010) で
あるセクタの最初の160バイトを除いて,すべての主データバイトに加える。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書N(規定) 未記録ディスクの動作信号の測定方法
次に示す方法によって,未記録ディスクの動作信号を測定する。
− フォーカス方法
:非点収差法
− トラッキング方法
:プッシュプル法
− ランドプリピット検出方法 :プッシュプル法
− ウォブル信号検出方法
:プッシュプル法
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書P(参考) 記録ストラテジの変形
この附属書(参考)は,本体及び附属書(規定)に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
本体14.3規定の基本記録ストラテジに加えて以下の記録ストラテジの変形を推奨する(図P.1参照)。
各4T〜11T及び14Tの長さのパルスは,次の二つの部分で構成する。
− 先頭パルス
− 1チャネルビットクロック同期 (T) で繰り返すマルチパルス列
3Tの記録パルスは先頭パルスだけである。
先頭パルスは,記録データの幅を立上りエッジから狭め,記録データの立上りエッジから3Tのところ
で終了するように作る。先頭パルスの幅 (Ttop) は,記録データの長さ (Twd) 及び記録ストラテジコード
の規定によって選ぶ(本体27.3.6.3参照)。
先頭パルスの立上りと立下りエッジは,時間方向に独立して動かすことができる。立上りエッジのシフ
ト (Tld) 及び立下りエッジのシフト (Ttr) は,記録データの前のスペース長 (Tsp) 及び記録データ長
(Twd) によって選ぶ。記録ストラテジの詳細なパラメータは,記録ストラテジコードによる(本体27.3.6.3
参照)。
マルチパルス列は,記録データの立上りエッジから3Tのところで開始し,記録データの立下りエッジ
のところで終了し,その幅 (Tmp) は,記録データ長及びその前のスペース長には依存しない。このパラメ
ータは,記録ストラテジコードによる(本体27.3.6.3参照)。
図P.1 記録ストラテジの変形
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書Q(参考) ランドプリピット信号の測定方法
この附属書(参考)は,本体及び附属書(規定)に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
ランドプリピット信号の測定方法のブロックダイヤグラムを図Q.1に示す。ランドプリピット検出器の
例を図Q.2に示す。
図Q.1 ランドプリピット信号測定ブロックダイヤグラム
図Q.2 ランドプリピット検出器の例
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書R(規定) グルーブウォブル振幅の測定
ウォブル振幅のnm値は,次に示す正規化ウォブル信号 (NWO) から得ることができる。
R.1 ウォブル信号 (WOb) ウォブル信号は,次の式によって計算する。
=
p
b
T
RPS
WO
α
π
2
sin
2
2
したがって,
=
p
b
T
RPS
WO
α
π
2
sin
································································· (1)
ここに(図R.1参照), WOb: 近隣のウォブルが同相のときのウォブル信号の
ピークピーク値(最小値)
RPS: 半径方向プッシュプル信号のピークピーク値
α: ウォブル振幅のnm値
Tp: トラックピッチのnm値
したがって,
=
=
p
b
T
RPS
WO
NWO
α
π
2
sin
···························································· (2)
この正規化によって,グルーブ寸法や,光スポット形状及び光学収差の影響は,除かれる。
R.2 ウォブル振幅 式(2)の定義によって,NWOとトラックピッチが0.8μmのときのウォブル振幅との関
係は,
下限値:10nmに相当する0.08
上限値:15nmに相当する0.12
である。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図R.1 グルーブウォブル信号
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書S(参考) ランニングOPC
この附属書(参考)は,本体及び附属書(規定)に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
DVD-Rディスクの正確な記録パワーは,最適パワー制御方式によって決める。しかし,校正した後で最
適パワーは,幾つかの理由によって変化することもある。
− ディスク上での記録感度の変化(本体12.によって限られているが)
− 動作温度の変化によるレーザダイオ−ドの波長シフト(本体8.1.2参照)
− ディスクの傾き,基板の厚み,デフォ−カスなどの変化による光スポットの収差の変化
− ディスク及び/又は光学系の状態の変化,特にOPCを実際の記録のずっと前に行ったとき
ランニングOPCの目的は,記録マークが形成される過程を積極的にモニタし,必要な記録パワーに合わ
せることにある。OPCの過程で光学的に記録されたマークに関連したランニングOPC信号(例えば,反
射光の瞬時値を使用する。)が得られるであろう。それは,OPCのときと同じ最適レベルをその後の記録
で維持するのに使用できる。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書T(参考) 輸送
この附属書(参考)は,本体及び附属書(規定)に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
T.1 一般 輸送は,例えば,異なる期間,多くの輸送方法によって,そして世界中のすべての場所で,広
い範囲の温度及び湿度の変動の中で行われるので,輸送又は包装の条件を規定することは不可能である。
T.2 包装 包装の形態は,送付元と受領先との間で合意を得ておくことが望ましいがそのような合意がな
い場合は,送付元の責任である。次のような損害を考慮しておくことが望ましい。
T.2.1 温度及び湿度 断熱及び包装は,輸送の見込まれる期間中にわたる保存条件を維持するように設計
することが望ましい。
T.2.2 衝撃負荷及び振動
a) ディスクの形状にひずみを与える機械的負荷を避ける。
b) ディスクの落下を避ける。
c) ディスクは,適切な衝撃吸収材料を含む堅い箱にこん包することが望ましい。
d) 個装箱は,清浄な内部並びに汚れ及び湿気の侵入を防ぐシールをした構造をもつことが望ましい。
光ディスク標準化委員会 構成表
氏名
所属
(委員長)
板 生 清
東京大学
石 井 正 則
日本電気株式会社
伊 藤 武
富士通株式会社
入 江 満
三菱電機株式会社
入 江 英 之
株式会社東芝
応 和 英 男
ソニー株式会社
金 沢 安 矩
木 目 健治朗
三菱電機株式会社
小 町 祐 史
松下電送システム株式会社
菅 谷 寿 鴻
株式会社東芝
高 橋 正 彦
株式会社日立製作所
田 辺 隆 也
日本電信電話株式会社
土 屋 洋 一
三洋電機株式会社
徳 丸 春 樹
日本放送協会
戸 島 知 之
NTTインテリジェントテクノロジ株式会社
橋 爪 邦 隆
通商産業省工業技術院
橋 本 進
財団法人日本規格協会
増 井 久 之
財団法人マルチメディアコンテンツ振興協会
松 林 宣 秀
オリンパス光学工業株式会社
三 和 邦 彦
日本アイ・ビー・エム株式会社
村 上 善 照
シャープ株式会社
山 田 昇
松下電器産業株式会社
横 川 文 彦
パイオニア株式会社
増 田 岳 夫
財団法人光産業技術振興協会
(事務局)
岩 本 正 己
財団法人光産業技術振興協会
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
光ディスク標準化委員会第3メディア分科会 構成表
氏名
所属
(統括)
入 江 満
三菱電機株式会社
伊 藤 雅 樹
日本電気株式会社
井 上 章 賢
パイオニア株式会社
植 野 文 章
松下電器産業株式会社
木 村 寛 之
株式会社日立製作所
小 林 忠
株式会社東芝
佐 野 孝 史
日本コロムビア株式会社
竹 原 英 章
日本ビクター株式会社
土 屋 洋 一
三洋電機株式会社
南 雲 收
パルステック工業株式会社
橋 爪 邦 隆
通商産業省工業技術院
藤 田 睦
イーストマン・コダック・ジャパン株式会社
増 田 岳 夫
財団法人光産業技術振興協会
(事務局)
杉 山 雄 二
財団法人光産業技術振興協会(平成10年7月まで)
平 野 隆 之
財団法人光産業技術振興協会(平成10年7月から)
なお原案作成に当たり次の方の協力を得た。
(協力者)
野 村 進
パイオニア株式会社
牟 田 健 一
通商産業省工業技術院
(オブザーバ)
横 川 文 彦
パイオニア株式会社
谷 口 昭 史
パイオニア株式会社