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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
この規格には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） 角度偏差αの測定
附属書B（規定） 複屈折の測定
附属書C（規定） 位相差トラッキングエラー信号の測定方法
附属書D（規定） 反射率の校正及び測定方法
附属書E（規定） ディスククランプのためのテーパコーン
附属書F（規定） 動作信号の測定条件
附属書G（規定） RLL (2, 10) 制約の8-16記録符号
附属書H（規定） 書込みパルスの定義
附属書J（参考） ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のためのガイドライン
附属書K（参考） 輸送
附属書L（参考） 現在及び将来の規格で使用する数値
附属書M（参考） セクタ置換えのガイドライン
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目次
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第1章 一般事項 ················································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 光ディスク ··················································································································· 1
2.2 製造システム ················································································································ 1
2.3 情報再生システム ·········································································································· 1
3. 引用規格 ························································································································ 1
4. 定義 ······························································································································ 2
4.1 ケース (Case) ················································································································ 2
4.2 チャネルビット (Channel bit) ···························································································· 2
4.3 ディジタル総計値 (DSV) [Digital Sum Value (DSV)] ································································ 2
4.4 ディスク基準面 (Disk reference plane) ················································································· 2
4.5 ダミー基板 (Dummy substrate) ··························································································· 2
4.6 エンボスマーク (Embossed mark) ······················································································· 2
4.7 入射面 (Entrance surface) ·································································································· 2
4.8 ランド及びグルーブ (Land and Groove) ··············································································· 2
4.9 マーク (Mark) ··············································································································· 2
4.10 相変化 (Phase change) ···································································································· 2
4.11 偏光 (Polarization) ········································································································· 2
4.12 記録層 (Recording layer) ································································································· 2
4.13 セクタ (Sector) ············································································································· 2
4.14 スペース (Space) ·········································································································· 2
4.15 基板 (Substrate) ············································································································ 2
4.16 トラック (Track) ··········································································································· 2
4.17 トラックピッチ (Track pitch) ··························································································· 2
4.18 ZCLV (ZCLV) ··············································································································· 2
4.19 ゾーン (Zone) ·············································································································· 2
5. 慣例及び表記法 ··············································································································· 2
5.1 数値表示 ······················································································································ 3
6. 略語 ······························································································································ 3
7. ディスクの概要 ··············································································································· 4
8. 一般要求事項 ·················································································································· 5
8.1 環境条件 ······················································································································ 5
8.1.1 試験環境条件 ·············································································································· 5
8.1.2 動作環境条件 ·············································································································· 5
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8.1.3 保存環境条件 ·············································································································· 5
8.1.4 輸送 ·························································································································· 5
8.2 安全性 ························································································································· 5
8.3 耐燃性 ························································································································· 5
9. 基準ドライブ ·················································································································· 5
9.1 光ヘッド ······················································································································ 6
9.2 読取りチャネル ············································································································· 7
9.3 回転速度 ······················································································································ 7
9.4 ディスクのクランプ ······································································································· 7
9.5 正規化サーボ伝達関数····································································································· 7
9.6 軸方向のトラッキング基準サーボ ······················································································ 7
9.7 半径方向のトラッキング基準サーボ ··················································································· 8
第2章 ディスクの寸法，機械的及び物理的特性 ······································································· 8
10. 寸法特性 ······················································································································ 8
10.1 全体寸法 ···················································································································· 10
10.2 第1遷移領域 ·············································································································· 10
10.3 第2遷移領域 ·············································································································· 10
10.4 クランプゾーン ··········································································································· 10
10.5 第3遷移領域 ·············································································································· 10
10.6 リム領域 ···················································································································· 11
10.7 許容差についての注意 ·································································································· 11
10.8 レーベル ···················································································································· 11
11. 機械的特性··················································································································· 11
11.1 質量 ·························································································································· 11
11.2 慣性モーメント ··········································································································· 11
11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 11
11.4 回転方向 ···················································································································· 11
11.5 振れ量 ······················································································································· 11
11.5.1 軸方向の振れ量 ········································································································· 12
11.5.2 半径方向の振れ量 ······································································································ 12
12. 光学的特性 ·················································································································· 12
12.1 屈折率 ······················································································································· 12
12.2 透明基板の厚さ ··········································································································· 12
12.3 角度偏差 ···················································································································· 12
12.4 透明基板の複屈折 ········································································································ 12
12.5 反射率 ······················································································································· 12
第3章 情報のフォーマット ································································································· 13
13. データフォーマット ······································································································ 13
13.1 データフレーム ··········································································································· 13
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13.1.1 データID ················································································································· 14
13.1.2 データID誤り検出符号 (IED) ······················································································ 15
13.1.3 予備バイト (RSV) ····································································································· 15
13.1.4 誤り検出符号 (EDC) ·································································································· 15
13.2 スクランブルドフレーム ······························································································· 15
13.3 ECCブロック ············································································································· 16
13.4 記録フレーム ·············································································································· 18
13.5 記録符号及びNRZI変換································································································ 19
13.6 記録データフィールド ·································································································· 19
13.7 直流成分抑圧制御 ········································································································ 20
13.7.1 書換え可能データフィールドでの直流成分抑圧制御 ························································· 20
13.7.2 エンボスデータフィールドでの直流成分抑圧制御 ···························································· 20
13.7.3 物理ID及び物理ID誤り検出符号 ················································································· 21
14. トラックフォーマット···································································································· 21
14.1 トラック形状 ·············································································································· 21
14.2 トラック経路 ·············································································································· 22
14.3 トラックピッチ ··········································································································· 22
14.4 トラックレイアウト ····································································································· 22
14.5 回転速度 ···················································································································· 22
14.6 半径方向のアラインメント ···························································································· 23
14.7 セクタ番号 ················································································································· 24
15. セクタフォーマット ······································································································ 24
15.1 セクタレイアウト ········································································································ 24
15.1.1 書換え可能領域でのセクタレイアウト ··········································································· 24
15.1.2 エンボス領域でのセクタレイアウト ·············································································· 25
15.2 VFOフィールド ·········································································································· 26
15.3 アドレスマーク (AM) ··································································································· 27
15.4 物理識別データ (PID) フィールド ·················································································· 27
15.5 物理ID誤り検出符号 (PED) フィールド ·········································································· 28
15.6 ポストアンブル1，2 (PA1，PA2) フィールド ···································································· 28
15.7 ミラーフィールド ········································································································ 29
15.8 ギャップフィールド ····································································································· 29
15.9 ガード1フィールド ····································································································· 30
15.10 プリシンク符号 (PS) フィールド ·················································································· 30
15.11 データフィールド ······································································································· 30
15.12 ポストアンブル3 (PA3) フィールド ··············································································· 30
15.13 ガード2フィールド···································································································· 30
15.14 記録極性のランダム化································································································· 30
15.15 バッファフィールド···································································································· 31
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16. 情報ゾーンのフォーマット······························································································ 31
16.1 情報ゾーンの区分 ········································································································ 31
16.2 リードインゾーン ········································································································ 32
16.2.1 リードインゾーンの構造 ····························································································· 33
16.2.2 イニシャルゾーン ······································································································ 33
16.2.3 リファレンスコードゾーン ·························································································· 33
16.2.4 バッファゾーン1 ······································································································ 33
16.2.5 バッファゾーン2 ······································································································ 33
16.2.6 コントロールデータゾーン ·························································································· 34
16.2.7 結合ゾーン ··············································································································· 38
16.2.8 ガードトラックゾーン1，2 ························································································· 39
16.2.9 ディスク試験ゾーン ··································································································· 39
16.2.10 ドライブ試験ゾーン ································································································· 39
16.2.11 予備ゾーン ············································································································· 39
16.2.12 DMA1及びDMA2 ···································································································· 39
16.3 データゾーン ·············································································································· 39
16.3.1 データゾーン及び欠陥管理領域の構造 ··········································································· 39
16.3.2 ガードトラックゾーン ································································································ 40
16.3.3 区画 ························································································································ 40
16.4 リードアウトゾーン ····································································································· 42
16.4.1 リードアウトゾーンの構造 ·························································································· 42
16.4.2 DMA3及びDMA4 ····································································································· 42
16.4.3 予備ゾーン ··············································································································· 42
16.4.4 ガードトラックゾーン1······························································································ 42
16.4.5 ドライブ試験ゾーン ··································································································· 42
16.4.6 ディスク試験ゾーン ··································································································· 42
16.4.7 ガードトラックゾーン2······························································································ 42
17. 欠陥管理 ····················································································································· 42
17.1 欠陥管理領域 (DMA)···································································································· 42
17.2 ディスク定義構造 (DDS)······························································································· 43
17.3 スペアセクタ ·············································································································· 45
17.4 スリッピングアルゴリズム ···························································································· 46
17.5 リニアリプレイスメントアルゴリズム ············································································· 46
17.6 一次欠陥管理表 (PDL) ·································································································· 47
17.7 二次欠陥管理表 (SDL) ·································································································· 48
17.8 ディスクのフォーマッティング ······················································································ 50
17.8.1 フルサーティフィケーション及び部分サーティフィケーション ·········································· 51
17.8.2 初期化 ····················································································································· 51
17.8.3 再初期化 ·················································································································· 51
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17.8.4 初期化及び再初期化後のデータフィールド番号 ······························································· 52
17.9 書込み手順 ················································································································· 53
17.10 読取り手順 ··············································································································· 53
17.10.1 ブランクECCブロック ····························································································· 53
17.10.2 読取り手順 ············································································································· 54
第4章 エンボス情報の特性 ································································································· 54
18. 試験方法 ····················································································································· 54
18.1 環境条件 ···················································································································· 54
18.2 基準ドライブ ·············································································································· 54
18.2.1 光学及び機構 ············································································································ 54
18.2.2 読取りパワー ············································································································ 54
18.2.3 読取りチャネル1，2 ·································································································· 54
18.2.4 トラッキングチャネル ································································································ 54
18.2.5 トラッキング ············································································································ 55
18.3 信号の定義 ················································································································· 55
19. ランド及びグルーブからの信号 ························································································ 59
19.1 プッシュプル信号 ········································································································ 59
19.2 デバイデッドプッシュプル信号 ······················································································ 59
19.3 オントラック信号 ········································································································ 59
19.4 位相深さ ···················································································································· 59
19.5 ウォブル信号 ·············································································································· 59
20. 書換え可能領域のヘッダフィールドからの信号 ··································································· 60
20.1 VFO1及びVFO2 ········································································································· 60
20.2 アドレスマーク，PID，PED及びポストアンブル ······························································· 60
20.3 ヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号 ······················································· 61
20.4 位相深さ ···················································································································· 61
21. エンボス領域からの信号································································································· 61
21.1 高周波 (HF) 信号 ········································································································ 61
21.1.1 変調振幅 ·················································································································· 62
21.1.2 信号の非対称性 ········································································································· 62
21.1.3 クロストラック信号 ··································································································· 62
21.2 ジッタ ······················································································································· 62
21.3 サーボ信号 ················································································································· 62
21.3.1 位相差トラッキングエラー信号 ···················································································· 62
21.3.2 接線方向のプッシュプル信号 ······················································································· 62
第5章 記録層の特性 ·········································································································· 63
22. 試験方法 ····················································································································· 63
22.1 環境条件 ···················································································································· 63
22.2 基準ドライブ ·············································································································· 63
X 6243: 1998 目次
(6)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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ページ
22.2.1 光学及び機構 ············································································································ 63
22.2.2 読取りパワー ············································································································ 63
22.2.3 読取りチャネル ········································································································· 63
22.2.4 トラッキング ············································································································ 64
22.2.5 走査速度 ·················································································································· 64
22.3 書込み条件 ················································································································· 64
22.3.1 書込みパルス ············································································································ 64
22.3.2 書込みパワー ············································································································ 64
22.4 信号の定義 ················································································································· 64
23. 書込み特性 ·················································································································· 64
23.1 変調振幅及び信号の非対称性 ························································································· 65
23.2 ジッタ ······················································································································· 65
第6章 ユーザデータの特性 ································································································· 65
24. 試験方法 ····················································································································· 65
附属書A（規定） 角度偏差(の測定 ······················································································· 66
附属書B（規定） 複屈折の測定 B.1 測定原理 TC ································································ 67
附属書C（規定） 位相差トラッキングエラー信号の測定方法 ····················································· 69
附属書D（規定） 反射率の校正及び測定方法·········································································· 73
附属書E（規定） ディスククランプのためのテーパコーン ························································ 75
附属書F（規定） 動作信号の測定条件 ··················································································· 76
附属書G（規定） RLL (2, 10) 制約の8-16記録符号 ·································································· 78
附属書H（規定） 書込みパルスの定義 ·················································································· 87
附属書J（参考） ················································································································· 90
附属書K（参考） 輸送 ······································································································· 91
附属書L（参考） 現在及び将来の規格で使用する数値 ······························································ 92
附属書M（参考） セクタ置換えのガイドライン ······································································ 95
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日本工業規格 JIS
X 6243: 1998
120mm DVD−書換形ディスク
(DVD−RAM)
120mm DVD Rewritable Disk (DVD−RAM)
第1章 一般事項
1. 適用範囲 この規格は，120mm DVD−書換形ディスク（以下，ディスクという。）の互換性を可能に
する機械的特性，物理的特性及び光学的特性を規定するとともに，情報交換を可能にする記録した信号の
品質，データのフォーマット及び記録方法について規定する。データは，相変化方式を使用して，多数回
の書込み，読取り及びオーバライトが可能である。このディスクを，120mm DVD−RAMディスクと称す
る。
この規格は，次の項目について規定する。
− 二つの関連する異なるタイプのディスク（7.参照）
− 適合条件
− ディスクの使用環境及び保存環境
− データ処理システム間の機械的互換性のためのディスクの機械的特性，物理的特性及び寸法特性
− トラック及びセクタの物理的配置，誤り訂正符号及び符号化方法を含むディスク上の情報のフォー
マット
− データ処理システムがディスクからのデータ読取りを可能にするための，ディスク上の記録信号の
特性
この規格は，ディスクドライブ間の互換性を与えるものである。ボリューム及びファイル構造の規格と
ともに，この規格は，データ処理システム間の完全なデータの互換性を与えるものである。この規格に規
定するディスクは，JIS X 6244に規定するケースに収納してもよい。
2. 適合性
2.1
光ディスク この規格では，ディスクのタイプを規定する。ディスクは，ここに規定する要求事項
を満たすとき，この規格に適合する。
2.2
製造システム 製造システムは，製造するディスクが2.1に一致するとき，この規格に適合する。
2.3
情報再生システム 情報再生システムは，2.1に適合する二つのタイプのディスクを取り扱うことが
できるならば，この規格に適合する。
3. 引用規格
JIS X 6244 120mm DVD-RAMディスク用ケース
IEC 60950 : 1991 Safety of information technology equipment including electrical business equipment
2
X 6243: 1998
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備考 IEC規格番号は，1997年1月1日から実施のIECの規格新番号体系によるものであり，こ
れより前に発行された規格についても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。こ
れは，番号だけの切替えであり，内容は同一である。
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
4.1
ケース (Case) ディスクを保護するための入れ物。
4.2
チャネルビット (Channel bit) 変調後の2値の“0”及び“1”をディスク上のピット又はマークで
表す要素。
4.3
ディジタル総計値 (DSV) [Digital Sum Value (DSV)] 10進数の数値1をビット“1”及び10進数の
数値−1をビット“0”に割り当てることによってビットストリームから得た算術和。
4.4
ディスク基準面 (Disk reference plane) ディスクをクランプするための基準となる，ディスク表面
にある環状の平面であって，理想的なスピンドルの回転軸に対して垂直に位置する面。
4.5
ダミー基板 (Dummy substrate) ディスク及び／又は記録層を機械的に支持するために用意した透
明又は不透明な基体。
4.6
エンボスマーク (Embossed mark) 光学的方法で変更できないように形成したマーク。
4.7
入射面 (Entrance surface) 光ビームが最初に当たるディスクの表面。
4.8
ランド及びグルーブ (Land and Groove) 情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。
トラック位置を明らかにするために用いられ，グルーブは，それと一対でトラックを構成するランドより
も入射面に近い方に位置する。グルーブの中心及びランドの中心の両方に記録を行う。
4.9
マーク (Mark) ピット，非晶質の形態又は光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マー
ク及びスペースのパターンがディスクのデータを表す。
4.10 相変化 (Phase change) 記録膜に光ビームを照射して加熱することによって，可逆的に非晶質状態
から結晶状態，又はその逆方向に変化する物理的効果。
4.11 偏光 (Polarization) 光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状態。光ビームの偏
光方向は，光ビームの電気ベクトルの方向。
備考 偏光面は，光ビームの伝ぱ（播）方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝ぱ（播）
方向から見て，電気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を，右回転偏光という。
4.12 記録層 (Recording layer) 製造及び／又は使用時にデータを書き込むディスク上又はディスク内
の層。
4.13 セクタ (Sector) ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で，アドレス指定可能な最小領域。
4.14 スペース (Space) 非ピット，結晶の形態又は光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マ
ーク及びスペースのパターンがディスクのデータを表す。
4.15 基板 (Substrate) 記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。これを通して光ビームで記録層
にアクセスする。
4.16 トラック (Track) 360°回転の連続スパイラル。
4.17 トラックピッチ (Track pitch) 隣接するトラック（グルーブ及びランド）中心線間の半方向の距離。
4.18 ZCLV (ZCLV) ゾーン間で定線速度動作に必要なディスクフォーマット。
4.19 ゾーン (Zone) ディスクの環状領域。
5. 慣例及び表記法
3
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5.1
数値表示 測定値は，該当規格値の最下位けた（桁）に丸める。例えば，＋0.01のプラス許容差と
−0.02のマイナス許容差をもつ1.26という規格値は，1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。
10進数は，0から9までの数字で表す。
16進数は，かっこ（括弧）でくくった，0から9までのアラビア数字とAからFまでのアルファベット
で表す。
ビットの設定は，“0”及び“1”で表す。
2進数及びビットパターンは，左側を最上位ビットとし，“0”及び“1”の一連で表す。
2進数の負の値は，2の補数として表す。
各フィールドで，データは，バイト0とする最上位のバイト (MSB) を最初に記録し，最下位バイト
(LSB) を最後に記録する。
8nビットのフィールドで，ビットb (8n−1) は，最上位ビット (msb) とし，ビットb0は，最下位ビット (lsb)
としなければならない。
ビットb (8n−1) を最初に記録する。
“0”又は“1”どちらかをとれる2進の数字は，“x”で表す。
6. 略語
AM：Address Mark アドレスマーク
BCA：Burst Cutting Area バーストカッティング領域
BPF：Band Pass Filter 帯域フィルタ
DC：Direct Current 直流
DCC：DC Component Suppress Control 直流成分抑圧制御
DDS：Disk Definition Structure ディスク定義構造
DMA：Defect Management Area 欠陥管理領域
DSV：Digital Sum Value ディジタル総計値
ECC：Error Correction Code 誤り訂正符号
EDC：Error Detection Code 誤り検出符号
HF：High Frequency 高周波
ID：Identification Data 識別データ
IED：ID Error Detection Code ID誤り検出符号
LPF：Low Pass Filter 低域フィルタ
LSN：Logical Sector Number 論理セクタ番号
NRZ：Non Return to Zero 非ゼロ復帰
NRZI：Non Return to Zero Inverted 非ゼロ反転復帰
PA：Postamble ポストアンブル
PDL：Primary Defect List 一次欠陥管理表
PED：物理ID誤り検出符号
PI：Parity of Inner-coda 内符号パリティ
PID：Physical Identification Data 物理識別データ
PLL：Phase Locked Loop 位相同期ループ
PO：Parity of Outer−code 外符号パリティ
4
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PS：Pre-synchronous Code プリシンク符号
RS：Reed-Solomon Code リードソロモン符号
SDL：Secondary Defect List 二次欠陥管理表
SYNC：Synchronous Code 同期符号
VFO：Variable Frequency Oscillator VFO信号
ZCLV：Zoned Constant Linear Velocity ゾーン化された線速度一定方式
7. ディスクの概要 データは，非晶質状態及び結晶状態の間の相変化効果を利用して，結晶の記録層に
非晶質部分を形成してマークとしてディスクに書き込み，また集束光でその上にオーバライトすることが
できる。データは，非晶質状態及び結晶状態の間の相変化効果を利用して，集束光で読み取ることができ
る。光ビームは，ディスクの透明基板を通して記録層にアクセスする。
ディスクの一部分に，製造業者によってエンボスピットの形で形成された再生専用データを含む。この
データは，エンボスピットによる光ビームの回折を利用して読み取ることができる。
この規格で規定されるディスクは，記録層を内側にして，2枚の基板を接着層では（貼）り合わせた構
造をもつ。ディスクの中心位置決めは，読取り側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプは，クラン
プゾーンで行う。この規格は，次の二つのタイプについて規定する。
タイプ1S
一つの基板，一つの記録層及びダミー基板からなり，記録層には，一方向だけからアクセ
スできる。公称容量は，2.6ギガバイトである。
タイプ2S
二つの基板，二つの記録層からなり，ディスクの片面からは，一つの記録層だけにアクセ
スできる。公称容量は，5.2ギガバイトである
タイプ1Sでは，ダミー基板は，例えば，エンボスしてもよい。
JIS X 6244に規定したケースを使用するとき，タイプ1Sのディスクは，三つのケースタイプのいずれに
収納してもよい。レーベルのないタイプ1Sのディスク及びタイプ2Sのディスクは，タイプ1ケースだけ
に収納する。図1にこれらの二つのタイプを図示する。
図1 120mm DVD-RAMディスクのタイプ
5
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8. 一般要求事項
8.1
環境条件
8.1.1
試験環境条件 試験環境条件は，ディスク近傍の環境条件とし，次による。
温度
： 23℃±2℃
相対湿度 ： 50%±5%
大気圧
： 86〜106kPa
ディスク上に結露があってはならない。試験前に，ディスクを最少48時間この環境条件に放置するもの
とする。試験前に，光ディスクの読取り表面をディスク製造業者の指示書に従って清浄にするよう推奨す
る。
別に，規定しない限り，すべての試験及び測定は，この試験環境条件で行わなければならない。
8.1.2
動作環境条件 この規格によって，規定した測定環境でこの規格のすべての要求事項を満たすディ
スクは，動作環境条件において環境パラメータの規定範囲にわたってデータ交換ができなければならない。
動作環境条件は，ディスク近傍の環境条件とし，次による。
温度
： 5〜60℃
相対湿度
： 3〜85%
絶対湿度
： 1〜30g/m3
温度変動
： 最大10℃/h
相対湿度変動 ： 最大10%/h
ディスク上に結露があってはならない。ディスクがこの項に規定する条件以外の条件にさらされたとき，
動作前に少なくとも2時間，動作環境条件にならしてから使用するものとする。
8.1.3
保存環境条件 保存環境条件は，ディスク近傍の環境条件とし，次による。
温度
： −10〜50℃
相対湿度
： 3〜85%
絶対湿度
： 1〜30g/m3
大気圧
： 75〜106kPa
温度変動
： 最大10℃/h
相対湿度変動 ： 最大10%/h
ディスク上に結露があってはならない。
8.1.4
輸送 この規格は，輸送については規定しないが指針を附属書Kに示す。
8.2
安全性 ディスクは，情報処理システムにおいて意図された方法での使用時又は想定される使用時
に，IEC 60950の安全性に関する要求事項を満たすものとする。
8.3
耐燃性 ディスクは，IEC 60950に規定しているように，HB材料の耐燃性クラス又はそれ以上のク
ラスに適合する材料で作るものとする。
9. 基準ドライブ
この規格の要求事項に適合した光学的パラメータの測定には，基準ドライブを用いる。この基準ドライ
ブの基本構成要素は，この節の特性を満たすものとする。
6
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9.1
光ヘッド オーバライト及び読取りのパラメータを測定するために用いる基準ドライブの光学的シ
ステムの基本的構成を図2に示す。図2の構成の機能と同じであれば，異なる部品及び部品の異なる配置
を許容する。光学系は，測定の精度に影響しないようにするために，ディスクの入射面から反射した光の
影響を最小化するものとする。
図2 基準ドライブの光学的システム
偏光ビームスプリッタCを1/4波長板Dと組み合わせることによって，入射光とディスクFからの反射
光は分離される。偏光ビームスプリッタCのP偏光とS偏光の強度反射率の比は，100以上とする。
書込み及び読取りデータのために用いる集束光の特性は，次による。
a) 波長（λ）
：650nm10
5
+−nm
b) 偏光
：円偏光
c) 偏光ビームスプリッタ
：別に規定しない限り使用するものとする。
d) 開口数
：0.60±0.01
e) 対物レンズのひとみ（瞳）の縁での光強度
：最大光強度の30% 以上55%以下
f)
波面収差
：最大0.033λ rms
g) レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)
RIN (dB/Hz) ＝10log［（交流光パワー実効値／Hz）／直流光パワー］
7
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：最大−134dB/Hz
9.2
読取りチャネル 読取りチャネル1は，対物レンズのひとみ（瞳）出口の総光量を検出するものと
する。読取りチャネル2は，分割フォトディテクタの差動出力を検出するものとする。
波形等化器の周波数特性，PLL，スライサなどの特性は，附属書Fに規定する。
9.3
回転速度 実際の回転速度は，表3で定義される公称回転速度の1%以内とする。
9.4
ディスクのクランプ
ディスクのクランプ力 ： 2.0N±0.5N
テーパコーンの角度
： 40.0°±0.5°（附属書E参照）
9.5
正規化サーボ伝達関数 軸方向と半径方向のトラッキングのサーボシステムを規定するために，関
数HSを用いる［式(1)参照］。それは23.1Hzから10kHzの周波数範囲において，基準サーボの開ループ伝
達関数Hの公称値を規定する。
()
0
0
2
0
3
1
3
1
3
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
i
i
i
i
Hs
+
+
×
×
＝
····················································· (1)
ここで，ω＝2πf，ω0＝2πf0，
1
−
＝
i
f0は，開ループ伝達関数の0dBクロスオーバ周波数。サーボの位相進み遅れ回路のクロスオーバ周波数
は，次による。
進み交差周波数：f1＝f0×1/3
遅れ交差周波数：f2＝f0×3
9.6
軸方向のトラッキング基準サーボ 軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し
|1＋H |は，図3に示すハッチング領域内にある
図3 軸方向のトラッキング基準サーボ
100Hzから10kHzまでの帯域幅 |1＋H |は，|1＋Hs|の20%以内でなければならない。
クロスオーバ周波数f0＝ω0/2πは，式(2)による。
0.2
10
23
.0
3
5.1
8
2
1
3
2
1
6
max
max
0
＝
＝
＝
−
×
×
×
π
α
π e
f
kHz ···································· (2)
ここで，αmaxは，軸方向の最大加速度期待値8m/s2の1.5倍，最大許容トラッキ
ングエラーemaxは，0.23μmとする。
8
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軸方向のトラッキングエラーは，0レベルより上か下で，軸方向に測定したピーク偏差である。
23.1Hzから100Hzまでの帯域幅 |1＋H |は，次の4点で囲まれる範囲内とする。
100Hzで40.6dB（100Hzで|1＋Hs|−20%）
23.1Hzで66.0dB（23.1Hzで|1＋HS|−20%）
23.1Hzで86.0dB（23.1Hzで|1＋HS|−20%に20dB加える）
100Hzで44.1dB（100Hzで|1＋HS|＋20%）
16.9 Hzから23.1Hzまでの帯域幅 |1＋H |は，66.0dBと86.0dBの間になければならない。
9.7
半径方向のトラッキング基準サーボ 半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに
対し|1＋H |は，図4に示すハッチングの領域内にある。
図4 半径方向のトラッキング基準サーボ
100Hzから10kHzまでの帯域幅 |1＋H |は，|1＋Hs|の20%以内でなければならない。
クロスオーバ周波数f0＝ω0/2πは，式(3)による。
0.3
10
22
.0
3
5.1
8.1
2
1
3
2
1
6
max
max
0
＝
＝
＝
−
×
×
×
π
α
π e
f
kHz ···································· (3)
ここで，αmaxは，半径方向の最大加速度期待値1.8m/s2の1.5倍，最大許容トラッキングエラーemaxは，
0.022μmとする。
半径方向のトラッキングエラーは，0レベルより内側か外側で，半径方向に測定したピーク偏差である。
39.8Hzから100Hzまでの帯域幅 |1＋H |は，次の4点で囲まれる範囲内とする。
100Hzで47.9dB（100Hzで|1＋Hs|−20%）
39.8Hzで63.9dB（39.8Hzで|1＋Hs|−20%）
39.8Hzで83.9dB（39.8Hzで|1＋Hs|−20%に20dB加える）
100Hzで51.4dB（100Hzで|1＋Hs|＋20%）
16.9Hzから39.8Hzまでの帯域幅 |1＋H |は，63.9dBと83.9dBの間になければならない。
第2章 ディスクの寸法，機械的及び物理的特性
10. 寸法特性 寸法特性は，ディスクの互換性及び適合をとる上に必要なパラメータについて規定する。
設計の自由度があるところは，機能特性の要素記述にとどめる。寸法要求事項は，この規格に記載してい
る図面にまとめて示す。ディスクの各部分について，中心孔から外周部までを記載している。
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寸法は，二つのディスク基準面P及びQを基準とする。
基準面Pは，主基準面とし，クランプゾーン（10.4参照）の下側の面とする。
基準面Qは，クランプゾーンの上側の面の高さで基準面Pと平行な面とする。
図5〜7参照。
図5 組立ディスクの孔
図6 ディスクの領域
10
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図7 リム領域
10.1 全体寸法 ディスクの直径 (d1) は，次による。
d1＝120.00mm±0.30mm
基板又はダミー基板の中心孔の直径 (d2) は，次による。
d2＝15.00mm
15
.00
+
mm
2枚の基板をは（貼）り合わせたとき，ディスクの中心孔の直径の最小値は，15.00mmとする（図5参
照）。
中心孔の両方のエッジにばりがあってはならない。
中心孔のエッジは，丸めるか面取りしなければならない。丸みの半径は，0.1mm以下とする。面取りは，
0.1mm以上の高さを超えてはならない。
接着層，スペーサ及びレーベルを含むディスクの厚さは，次による。
e1＝1.20mm
30
.006
.0
+−
mm
10.2 第1遷移領域 第1遷移領域は，直径d2及び次に示す直径d3で囲まれた領域とし，この領域のディ
スク面は，基準面P及び／又は基準面Qから最大0.10mmの内側にあってもよい。
d3≧16.00mm
10.3 第2遷移領域 第2遷移領域は，直径d3及び次に示す直径d4に囲まれた領域とする。
d4≦22.0mm
この領域では，基準面P又はQの外側に最大0.05mmの平たんでない部分やばりがあってもよい。
10.4 クランプゾーン クランプゾーンは，直径d4及び次に示す直径d5に囲まれた領域とする。
d5≧33.0mm
クランプゾーンの各面は，0.1mm以内で平たんでなければならない。クランプゾーンの上面，すなわち，
基準面Qの面は，下面，すなわち，基準面Pの面に0.1mm以内で平行でなければならない。
クランプゾーンの，ディスクの厚さ (e2) は，次による。
e2＝1.20mm
20
.010
.0
+−
mm
10.5 第3遷移領域 第3遷移領域は，直径d5及び次に示す直径d6で囲まれた領域とする。
d6≦44.0mm
この領域では，ディスクの上面は，基準面Qから高さh1高くなってもよく，高さh2低くなってもよい。
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ディスクの下面は，基準面Pから高さh3高くなってもよく，高さh4低くなってもよい。
高さh1，h2，h3及びh4の値は，次による。
h1≦0.25mm
h2≦0.10mm
h3≦0.10mm
h4≦0.25mm
10.6 リム領域 リム領域は，直径d7から直径d1の領域とする（図7参照）。
d7＝117.2mm
0.04.0
+−
mm
この領域では，ディスクの上面は，基準面Qから高さh5高くなってもよい。ディスクの下面は，基準面
Pから高さh6低くなってもよい。
高さh5及びh6の値は，次による。
h5≦0.1mm
h6≦0.1mm
この領域の全厚さは，1.50mm，すなわち，e1の最大値より大きくてはいけない。
リム端の厚さ (e3) は，次による。
e3≧0.60mm
ディスクの外周エッジは，丸み半径最大0.2mmで丸めるか又は次に示す高さh7，h8にわたり面取りしな
ければならない。
h7≦0.2mm
h8≦0.2mm
10.7 許容差についての注意 前項で規定したhiで示すすべての高さは，相互に独立した値とする。例え
ば，第3遷移領域の上側の面がh2だけ基準面Qから下がっている場合，この領域の下側の面が必ずしも
h3だけ基準面Pから上がっていなくてもよいことを意味している。寸法が同じ数値（一般的には最大値）
であるところでは，これは，実際の値が同一でなければならないということを意味していない。
10.8 レーベル タイプ1ケースに収納されていないタイプ1Sディスクは，レーベルをもたなければなら
ない。レーベルは，ディスクの情報をアクセスする入射面とは反対側のディスク面に設け，ディスクの外
面又はディスク内面の接合面のいずれかに設ける。レーベルは，ディスク中心孔のエッジ及びディスクの
外周エッジからはみ出してはならない。
11. 機械的特性
11.1 質量 ディスクの質量は，13gから20gの範囲内とする。
11.2 慣性モーメント 回転軸に関するディスクの慣性モーメントは，最大0.040g･m2とする。
11.3 ダイナミックインバランス 回転軸に関するディスクのダイナミックインバランスは，最大0.010g･
mとする。
11.4 回転方向 ディスクの回転方向は，光学的システムから見て反時計方向とする。
11.5 振れ量
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11.5.1 軸方向の振れ量 軸方向のトラッキングのための基準サーボをもつ光ヘッドと各ゾーンの測定走
査速度に対応するディスク回転で測定するとき，基準面に垂直の方向での公称位置からの記録層の偏差は，
0.3mm以下とする。軸方向トラッキングのためのサーボを用いて測定した10kHz以下の残留トラッキング
エラーは，0.23μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースLPF, fc (−3dB) ：10kHz（傾斜：−80dB/decade）
とする。
11.5.2 半径方向の振れ量 ディスクの外周のエッジの振れは，0.30mmp-p以下とする。
トラックの半径方向の振れは，50μmp-p以下とする。
半径方向のトラッキングのための基準サーボを用いて測定した1.7kHz以下の残留トラッキングエラー
は，0.022μm以下とする。測定用フィルタは，バタワースLPF, fc (−3dB) ：1.7kHz，傾斜：−80dB/decade
とする。
半径方向トラッキング基準サーボを用いて20msの積分時間で測定した1.7kHzから10kHzまでの周波数
帯域での残留エラー信号のノイズ実効値は，書換形領域では，0.016μm以下とし，エンボス領域では0.025μm
以下とする。測定用フィルタは，バタワースBPF，周波数範囲 (−3dB) ：1.7kHz（傾斜：＋80dB/decade）
から，10kHz（傾斜：−80dB/decade）とする。
12. 光学的特性
12.1 屈折率 透明基板の屈折率は，1.55±0.10とする。
12.2 透明基板の厚さ 透明基板の厚さは，図8に規定するように，屈折率の関数とする。
12.3 角度偏差 角度偏差は，平行光の入射光と反射光との間の角度αである。入射光は，0.3mmから3.0mm
の直径をもつものとする。角度偏差は，入射面によるひずみ及び反射層の非平行を含む（図A.1参照）。そ
の値は，附属書Aによって測定したとき，次による。
半径方向で：α＝0.70°以内
接線方向で：α＝0.30°以内
12.4 透明基板の複屈折 透明基板の複屈折は，附属書Bによって測定したとき，60nm以下とする。
12.5 反射率 附属書Dによって測定したとき，記録層の反射率は，15〜25%とする。
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図8 基板の厚さ
第3章 情報のフォーマット
13. データフォーマット 主データと呼ばれるホストから受け取ったデータは，ディスクに記録される前
に，次の各ステップに変換し，フォーマットを行う。
− データフレーム
− スクランブルドフレーム
− ECCブロック
− 記録フレーム
− 記録データフィールド
これらのステップは，以下の項で規定する。
13.1 データフレーム データフレームは，図9に示すように，各行172バイトを含む12行の配列に配置
した2 064バイトによって構成する。最初の行は，4バイトからなるデータ識別データ（データID），2バ
イトからなるID誤り検出符号 (IED) ，6バイトの予備バイト (RSV) 及び160バイトの主データによって
構成する。次の10行は，各172バイトの主データとし，最後の行は，168バイトの主データ及び4バイト
の誤り検出符号 (EDC) によって構成する。2 048バイトの主データは，D0からD2 047とする。
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図9 データフレーム
13.1.1 データID このフィールドは，4バイトで構成し，そのビットは最下位ビット (lsb) をb0とし，
最上位ビット (msb) をb31として連続的に番号付けする（図10及び図11参照）。
b31
b24 b23
b0
データフィールド情報
データフィールド番号
図10 データID
b31
b30
b29
b28
b27及びb26
b25
b24
セクタ
フォーマットタイプ
トラッキング
方法
反射率
予備 ゾーンタイプ
データタイプ
レイヤ番号
図11 データフィールド情報
最上位バイトのビット，すなわち，データフィールド情報の設定は，次による。
ビットb31
“1”に設定し，ゾーンドフォーマットタイプを示す。
ビットb30
設定は，次による。
リードインゾーン内のエンボス部で，ピットトラッキングを示す“0”に設定す
る。
その他の領域で，グルーブトラッキングを示す“1”に設定する。
ビットb29
“1”に設定し，反射率が，40 %以下であることを示す。
ビットb28
“0”に設定する。
ビットb27及びb26
設定は，次による。
データゾーンで“00”
リードインゾーンで“01”
リードアウトゾーンで“00”
ビットb25
設定は，次による
エンボス領域で“0”
書換え可能領域で“1”
ビットb24
“0”に設定し，一つの入射面からは一層の記録層だけがアクセスできることを示
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す。
ビットb23からb0までの最下位の3バイトの設定は，次による。
リードインゾーン内のエンボス部，欠陥管理領域及び予備ゾーンでは
セクタ番号を2進表示で示す。
データゾーンでは17.8.4の規定に従って設定する。
リードアウトゾーン内の欠陥管理領域及び予備ゾーンでは
セクタ番号を2進表示で示す。
この規格では，この他の設定を禁止する。附属書L参照。
13.1.2 データID誤り検出符号 (IED) 図9の配列の各バイトをCi, j (i＝0〜11，j＝0〜171) とするとき，
IEDの各バイトはC0, j (j＝4〜5) で表す。この設定は，次による
()
()
()
∑
−
5
4
2
5
,0
mod
＝
＝
＝
j
E
j
j
x
G
x
x
I
x
C
x
IED
ここで，
()∑
−
3
0
3
,0
＝
＝
j
j
jx
C
x
I
()
(
)
∏=
+
=1
0
k
k
E
x
x
G
α
αは，原始多項式P (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根である。
13.1.3 予備バイト (RSV) この6バイトフィールドのすべてのバイトは， (00) に設定する。
13.1.4 誤り検出符号 (EDC) この4バイトのフィールドには，先行するデータフレームの2 060バイト
にわたって計算した誤り検出符号を入れる。データフレームをIDフィールドの最初のバイトの最上位ビ
ットで始まり，EDCフィールドの最下位ビットで終了する単一のビットフィールドとしたとき，この最上
位ビットを，b16 511とし，最下位ビットを，b0とし，EDCの各ビットbiは，i＝31〜0に対し次による。
()
()
()
∑031
mod
＝
＝
＝
i
i
i
x
G
x
I
x
b
x
EDC
ここで，
()
∑
32
511
16
＝
＝
i
i
ix
b
x
I
G (x) ＝x32＋x31＋x4＋1
13.2 スクランブルドフレーム スクランブルドフレームは，データフレームの主データDk (k＝0〜2 047)
を，次の式によって，スクランブルしたD'k (k＝0〜2 047) で置き換えて生成する。
k
k
k
S
D
D
⊕
=
′
k＝0〜2 047
ここで，⊕は排他的論理和 (EXCLUSIVE OR) を表す。
バイトSkは，図12に示すフィードバックシフトレジスタを用い，以下の手順で生成する。
データフレームのスクランブル処理を始めるとき，シフトレジスタのビットr14からr0は，表1の値にプ
リセットする。表1は16種類の初期プリセット番号に相当するシフトレジスタの初期プリセット値を表す。
初期プリセット番号は，データフレームのデータIDフィールドのビットb7 (msb) からb4 (lsb) までのビッ
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トによって表す値と等しい。同じプリセット値は，16個の連続したデータフレームに使用される。シフト
レジスタのビットr7からr0までの初期値の部分は，バイトS0として取り出す。その後，8ビットシフトが
2 047回繰り返され，レジスタのr7からr0より，2 047バイトのS1からS2 047として取り出される。
表1 シフトレジスタの初期値
初期プリセット番号
初期プリセット値 初期プリセット番号 初期プリセット値
(0)
(0001)
(8)
(0010)
(1)
(5500)
(9)
(5000)
(2)
(0002)
(A)
(0020)
(3)
(2A00)
(B)
(2001)
(4)
(0004)
(C)
(0040)
(5)
(5400)
(D)
(4002)
(6)
(0008)
(E)
(0080)
(7)
(2800)
(F)
(0005)
図12 フィードバックシフトレジスタ
13.3 ECCブロック ECCブロックは，16個の連続するスクランブルドフレームを，図13に示すように，
各行172バイトを192行に配列する。各172列に外符号パリティ16バイトを加え，その結果208行になっ
た各行に内符号パリティ10バイトを加える。完全なECCブロックは，各行182バイトの208行によって
構成する。この配列のバイトは，iが行数でjが列数であるBi, jとし，次による。
i＝0〜191及びj＝0〜171に対するBi, jは，スクランブルドフレームからのバイト。
i＝192〜207及びj＝0〜171に対するBi, jは，外符号パリティのバイト。
i＝0〜207及びj＝172〜181に対するBi, jは，内符号パリティのバイト。
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図13 ECCブロックの構成
PO及びPIバイトは，次の式によって算出する。
列j＝0〜171の各々で16POバイトは，剰余多項式Rj (x) で定義され，外符号RS (208, 192, 17) を形成す
る。
()
()
()
∑
−
207
192
16
207
,
mod
＝
＝
＝
i
PO
j
i
j
i
j
x
G
x
x
I
x
B
x
R
ここで，
()∑
−
191
0
191
,
＝
＝
i
i
j
i
j
x
B
x
I
()
(
)
∏
+
15
0
＝
＝
k
k
PO
x
x
G
α
行i＝0〜207の各々で10PIバイトは，剰余多項式Rj (x) で定義し，内符号RS (182, 172, 11) を形成する。
()
()
()
∑
−
181
172
10
181
,
mod
＝
＝
＝
j
PI
i
j
j
i
i
x
G
x
x
I
x
B
x
R
ここで，
()∑
−
171
0
171
,
＝
＝
j
j
j
i
i
x
B
x
I
()
(
)
∏
+
9
0
＝
＝
k
k
PI
x
x
G
α
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αは，原始多項式P (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根とする。
13.4 記録フレーム 16の記録フレームは，図13のECCブロックの各12行ごとに，16PO行の一つをイ
ンタリーブすることによって算出する。これは，ECCブロックのバイトBi, jを次の式に対するBm, nとして
再配置することによって算出する。
m＝i＋int [i/12] 及びn＝j i≦191
m＝13 (i−191) −1及びn＝j i≧192
ここで，int [x] は，x以下の最大の整数とする。
ECCブロックの37 856のバイトは，2 366バイトの16記録フレーム（図14）に再配置される。各記録
フレームは，各行182バイト13行の配列を構成する。
図14 ECCブロックから得た記録フレーム
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13.5 記録符号及びNRZI変換 各記録フレームの8ビットバイトは，二つの“1”の間に最小2個の“0”
及び最大10個の“0”がなければならない。RLL (2, 10) というラン長の制限をもつ16ビット符号語に変
換する。附属書Gは，適用する変換テーブルを規定する。主変換テーブル及び代替テーブルは，各8ビッ
トバイトの4状態の一つに対する16ビット符号語を規定する。各8ビットバイトに対して，テーブルは，
相当する符号語だけでなくエンコードする次の8ビットバイトの状態を示す。16ビット符号語は，図15
に示すように，ディスクに記録する前に，チャネルビットにNRZI変換する。
図15 NRZI変換
13.6 記録データフィールド 記録されたデータフィールド（15.11参照）の構造は，図16に示すように，
各行が二つの同期フレームからなる13行で構成する。一つの同期のフレームは，表2の同期符号の一つと
1 456チャネルビットで構成し，1 456チャネルビットは，記録フレームの一つの行のそれぞれの第1，第2
の91個の8ビットバイトを表す。記録されたデータフィールドの第1行は，記録フレームの第1行を表し，
記録されたデータフィールドの第2行は，記録フレームの第2行を表し，以下同様である。
図16 記録データフィールド
記録は，第1行の第1同期フレームで開始し，第2同期フレームに続き，以下各行ごとに同様である。
リードインゾーンのエンボス部以外では，SY0は，状態1とする。
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主同期符号と副同期符号の選択は13.7に規定する。
表2 同期符号
状態1及び状態2
主同期符号
副同期符号
(msb)
(lsb)
(msb)
(lsb)
SY0
＝
0001001001000100
0000000000010001
/
0001001000000100
0000000000010001
SY1
＝
0000010000000100
0000000000010001
/
0000010001000100
0000000000010001
SY2
＝
0001000000000100
0000000000010001
/
0001000001000100
0000000000010001
SY3
＝
0000100000000100
0000000000010001
/
0000100001000100
0000000000010001
SY4
＝
0010000000000100
0000000000010001
/
0010000001000100
0000000000010001
SY5
＝
0010001001000100
0000000000010001
/
0010001000000100
0000000000010001
SY6
＝
0010010010000100
0000000000010001
/
0010000010000100
0000000000010001
SY7
＝
0010010001000100
0000000000010001
/
0010010000000100
0000000000010001
状態3及び状態4
主同期符号
副同期符号
(msb)
(lsb)
(msb)
(lsb)
SY0
＝
1001001000000100
0000000000010001
/
1001001001000100
0000000000010001
SY1
＝
1000010001000100
0000000000010001
/
1000010000000100
0000000000010001
SY2
＝
1001000001000100
0000000000010001
/
1001000000000100
0000000000010001
SY3
＝
1000001001000100
0000000000010001
/
1000001000000100
0000000000010001
SY4
＝
1000100001000100
0000000000010001
/
1000100000000100
0000000000010001
SY5
＝
1000100100000100
0000000000010001
/
1000000100000100
0000000000010001
SY6
＝
1001000010000100
0000000000010001
/
1000000001000100
0000000000010001
SY7
＝
1000100010000100
0000000000010001
/
1000000010000100
0000000000010001
13.7 直流成分抑圧制御
13.7.1 書換え可能データフィールドでの直流成分抑圧制御 直流成分抑圧制御は，NRZI変換された“変
調チャネルビットストリーム”において累積するディジタル総計値（DSV，4.4参照）の絶対値を最小化す
る。
その制御アルゴリズムは，DSVの絶対値が最小になるように，次の各場合 [a)〜c)] で，同期符号及び
変換された符号語の選択をコントロールすることである。その選択は，選択された符号の終わりの位置で
の累積DSVに基づいて決定する。
DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を以下に示す。
21
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 主同期符号と副同期符号の間で，同期符号を選択する。
b) 0から87までの範囲の8ビットバイトに対して，主変換テーブルの代わりに代替テーブルを用いるこ
とができる。
c) 88から255までの範囲の8ビットバイトに対して，指定される状態が1又は4のとき，ラン長に対す
る要求事項を満たすならば，16ビット符号を状態1又は4から選択することができる。
13.7.2 エンボスデータフィールドでの直流成分抑圧制御 半径方向のトラッキング及びHF信号の検出を
確実にするために，チャネルビットパターンのストリームの低周波成分は，できる限り低く保つことが望
ましい。これを達成するために，ディジタル総計値（DSV，4.4参照）は，できる限り低く保つようにする。
変調のはじめのDSVは，0に設定する。
DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を以下に示す。
a) 主同期符号と副同期符号の間で，同期符号を選択する。
b) 0から87までの範囲の8ビットバイトに対して，主変換テーブルの代わりに代替テーブルを用いるこ
とができる。
c) 88から255までの範囲の8ビットバイトに対して，指定される状態が1又は4のとき，ラン長に対す
る要求事項を満たすならば，16ビット符号を状態1又は4から選択することができる。
これらの可能性を活用するために，ストリーム1及びストリーム2の二つのデータストリームを各同期
フレームに対して生成し，ストリーム1は主同期符号で，ストリーム2は同期符号の同じ分類の第2同期
符号で，各々開始する。両ストリームは，個別に変調するので，主同期符号と副同期符号のビットパター
ン間の差違のために異なったDSVが得られる。
b)及びc)の場合，一つの8ビットバイトを表すのに二つの可能性がある。各ストリームのDSVは，この
選択を行う8ビットバイトの一つ手前の8ビットバイトまで計算する。最も絶対値の小さいDSVのストリ
ームを選択し，もう一つのストリームに複製する。それから次の8ビットバイトの符号語表現の一つがス
トリーム1に入り，他の一つはストリーム2に入る。この動作はb)又はc)の発生の都度繰り返す。
b)の場合，両ストリームでの同じパターン位置で常に起こるが，c)の場合は，例えば，前の8ビットバ
イトで規定される次の状態が1又は4の代わりに2又は3になり得るために，一方のストリームでは起こ
るが他方では起こらない可能性がある。その場合，次の三つの手順を適用する。
1) 両ストリームの|DSV|を比較する。
2) c)が起こるストリームの|DSV|がもう一方のストリームのものより小さければ，c)が起こるストリーム
を選択し，他のストリームに複製する。次の8ビットバイトの符号表現の一つがこのストリームに入
り，もう一方の表現は，他方のストリームに入る。
3) c)が起こるストリームの|DSV|がもう一方のストリームのものより大きければ，c)の選択は無視し，そ
の8ビットバイトは，規定された状態に決められる。
b)及びc)の場合，|DSV|が等しければ，ストリーム1又はストリーム2の選択の決定は，実用化のときに
決めればよい。
a)の場合の手順は，次による。
同期フレームの終わりで，b)又はc)の起きる起きないにかかわらず全体の同期フレームのDSVは計算さ
れ，最も低い|DSV|をもつストリームが選択される。もし，このDSVが＋63より大きいか−64より小さい
場合，同期フレームの始めの同期符号は主同期符号から副同期符号に変えるか，副同期符号から主同期符
号に変えるかする。この結果，より小さい|DSV|が得られるなら，そのように変更し，そうでなければ，元
の同期符号が用いられる。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
DSVの計算中，DSVの実際値として−1 000と＋1 000の間を変動する可能性があるため，DSVのカウ
ント範囲は少なくとも−1 024から＋1 023までを推奨する。
13.7.3 物理ID及び物理ID誤り検出符号 書換え可能領域の物理ID（15.4参照）フィールド及び物理ID
誤り検出符号フィールド（15.5参照）の変調は，記録データフィールドと同じやり方又は主変換テーブル
だけを用いる簡便なやり方のいずれかで行う。
前者の場合，DSV値を，ヘッダフィールドのVFO1の先頭で0にリセットする。
両者とも，変調は，状態1で開始する。
14. トラックフォーマット
14.1 トラック形状 情報ゾーン内のエンボス領域（リードインゾーンの最初の5ゾーン，16.2.1参照）は，
一連のエンボスピットからなるトラックで構成される。
情報ゾーン内の書換え可能領域（前者以外）は，連続コンポジットサーボトラッキングのためのトラッ
クを含むものとする。各トラックは，360°回転の連続スパイラルを形成する。トラックは，情報ゾーンで
連続とする。トラックの形状は，第4章の要求事項によって決定する。書換え可能領域は，一連のグルー
ブ及びランドトラックからなる。グルーブトラックは，ランドトラックに交互に結合する。グルーブトラ
ックは，グルーブセクタからなる。ランドトラックは，ランドセクタからなる。各セクタは，ヘッダフィ
ールド，ミラーフィールド及び記録フィールドからなる。グルーブセクタの記録フィールドには，溝を付
ける。ランドセクタの記録フィールドには，溝を付けない。グルーブは，ざんごう（塹壕）のような溝で
あり，その底は，ランドより入射面に近い位置にある。
ミラーゾーンは，グルーブもエンボスマークももたないものとする。
14.2 トラック経路 トラック経路は，ディスクの内側（リードインゾーンの開始）から外側（リードア
ウトゾーンの終了）までの連続スパイラルとする。
14.3 トラックピッチ トラックピッチは，半径方向に隣接するトラック（グルーブトラック及びランド
トラック）の中心線間の距離として測定される。トラックピッチは，0.74μm±0.03μmとする。データゾー
ンにわたる平均トラックピッチは，0.74μm±0.01μmとする。トラックは，リードインゾーンで下記半径で
始まるものとする。
22.6mm02.0
−
mm
14.4 トラックレイアウト 各トラックは，セクタに分割するものとする。
リードインゾーンのエンボス領域でのトラック当たりのセクタ数は，18とする（表3参照）。各セクタ
は2 418バイトからなるものとし，各バイトはディスク上では16チャネルビットによって表される。リー
ドインゾーンのエンボス領域でのセクタは，一つのトラックにわたり等しい間隔を置いて並べるものとす
る。セクタのサイズは，38 688チャネルビットとする。
書換え可能領域でのトラック当たりのセクタ数は，ゾーンによらず記録密度を一定にするために，内周
のゾーン0から外周のゾーン23へ向かうにつれて増加する。各セクタは2 697バイトからなるものとし，
各バイトはディスク上では16チャネルビットによって表される。書換え可能領域でのセクタは，一つのト
ラックにわたり等しい間隔を置いて並べるものとする。セクタのサイズは，43 152チャネルビットとする。
14.5 回転速度 公称回転速度は，各ゾーンで異なり，ゾーンの番号で決定する（表3参照）。これらの値
は，参考用だけのものである。絶対回転速度は，11.08Mbpsのユーザデータビットレートが次の式で実現
するように調整するものとする。
回転速度 (Hz) ＝11 080 000/（トラック当たりのセクタ数×2 048×8）
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ディスクは，光ヘッドから見て反時計回りに回転するものとする。
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表3 公称回転速度
回転速度
1トラックの
セクタ数
チャネル
クロック周期
バイトの周期
セクタの周期
(Hz)
(ns)
(ns)
(μs)
リードインゾーン
イニシャルゾーン
リファレンスコードゾーン
バッファゾーン1
コントロールデータゾーン
バッファゾーン2
37.57
18
38.22
612
1 479
リードインゾーン
ガードトラックゾーン1
ディスク試験ゾーン
ドライブ試験ゾーン
ガードトラックゾーン2
予備ゾーン
欠陥管理領域
39.78
17
34.27
548
1 479
データゾーン
ゾーン0
39.78
17
34.27
548
1 479
ゾーン1
37.57
18
34.27
548
1 479
ゾーン2
35.59
19
34.27
548
1 479
ゾーン3
33.81
20
34.27
548
1 479
ゾーン4
32.20
21
34.27
548
1 479
ゾーン5
30.74
22
34.27
548
1 479
ゾーン6
29.40
23
34.27
548
1 479
ゾーン7
28.18
24
34.27
548
1 479
ゾーン8
27.05
25
34.27
548
1 479
ゾーン9
26.01
26
34.27
548
1 479
ゾーン10
25.05
27
34.27
548
1 479
ゾーン11
24.15
28
34.27
548
1 479
ゾーン12
23.32
29
34.27
548
1 479
ゾーン13
22.54
30
34.27
548
1 479
ゾーン14
21.82
31
34.27
548
1 479
ゾーン15
21.13
32
34.27
548
1 479
ゾーン16
20.49
33
34.27
548
1 479
ゾーン17
19.89
34
34.27
548
1 479
ゾーン18
19.32
35
34.27
548
1 479
ゾーン19
18.79
36
34.27
548
1 479
ゾーン20
18.28
37
34.27
548
1 479
ゾーン21
17.80
38
34.27
548
1 479
ゾーン22
17.34
39
34.27
548
1 479
ゾーン23
16.91
40
34.27
548
1 479
リードアウトゾーン
16.91
40
34.27
548
1 479
14.6 半径方向のアラインメント データ領域，リードインゾーン又はリードアウトゾーン内のトラック
のうち，ゾーン間でセクタ数が異なるゾーンの境界部以外のトラックに属するセクタは，半径方向に隣接
するセクタの最初のチヤネルビット間の角度方向の距離が4チャネルビット以下とするように半径方向に
配置される。
各トラックの先頭は，データゾーン，リードインゾーン又はリードアウトゾーン内の任意の2トラック
間の角度方向の距離が256チャネルビット以下とするように半径方向に調整する。
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14.7 セクタ番号 各セクタは，セクタ番号で識別するものとする。セクタ (030000) は，リードインゾー
ンの書換え可能領域（ガードトラックゾーン1，16.2.1参照）の最初のセクタである。これは，次の半径に
位置する。
24.0mm02.0
−
mm
セクタ (030000) のセクタ番号より大きい半径に位置するセクタ番号は，セクタごとに1ずつ増加する
ものとする。
セクタ (030000) は，グルーブトラックの最初のセクタとする。
15. セクタフォーマット
15.1 セクタレイアウト
15.1.1 書換え可能領域でのセクタレイアウト セクタは，ヘッダフィールド，ミラーフィールド及び2 048
バイトのユーザデータを記録できる記録フィールドからなる。記録フィールドは，記録してもよいし記録
しなくてもよい。セクタ長は，公称2 697バイトとする。ヘッダフィールド長は，公称128バイト，ミラ
ーフィールド長は，公称2バイト，そして記録フィールド長は，公称2 567バイトである。記録フィール
ドは，ギャップフィールド，ガード1フィールド，VFO3フィールド，PSフィールド，データフィールド，
PA3フィールド，ガード2フィールド及びバッファフィールドからなる。
ヘッダフィールドは，ヘッダ1フィールド，ヘッダ2フィールド，ヘッダ3フィールド及びヘッダ4フ
ィールドからなるものとする。
ヘッダ1フィールドは，VFO1，アドレスマーク，物理ID1，PED1及びPA1からなるものとする。
ヘッダ2フィールドは，VFO2，アドレスマーク，物理ID2，PED2及びPA2からなるものとする。
ヘッダ3フィールドは，VFO1，アドレスマーク，物理ID3，PED3及びPA1からなるものとする。
ヘッダ4フィールドは，VFO2，アドレスマーク，物理ID4，PED4及びPA2からなるものとする。
ヘッダフィールドは，千鳥状に配置されたビットアドレスからなる。
ヘッダ1フィールド及びヘッダ2フィールドは，グルーブトラックと外側近傍ランドトラックとの間の
境界上に配置するものとする。ヘッダ3フィールド及びヘッダ4フィールドは，グルーブトラックと内側
近接ランドトラックとの間の境界上に配置するものとする。
グルーブは，ギャップフィールドの先頭から41 072チャネルビットの長さにあるものとする。グルーブ
は，ウォブルし，一つのウォブルサイクルは，186チャネルビットとする。このウォブルグルーブは，正
弦波状とし，各セクタでギャップフィールドの先頭で位相0で開始するものとする。最初の半サイクルは，
外側の半径方向へウォブルするものとする。グルーブセクタの記録フィールドの最後の4チャネルビット
は，グルーブであってもなくてもよい。
ミラーフィールドは，ヘッダ4とギャップフィールドとの間に配置する。
書換え可能領域のセクタのレイアウトは，図17に示す。
図中，数字は，各フィールドのバイト長を示し，各バイトは13.5及び附属書Gで規定された手続に従
って生成された16ビット符号語又は15.2以下に規定されるチャネルビットパターンからなる。一つのト
ラックは，最初のセクタ，最後から2番目のセクタ，最後のセクタ及びその他のセクタからなる（15.4参
照）。グルーブトラック（ランドトラック）の最後のセクタは，ランドトラック（グルーブトラック）の最
初のセクタにつながる。
対物レンズから見たディスク上のヘッダフィールドのレイアウトは，図18に示す。
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15.1.2 エンボス領域でのセクタレイアウト セクタは，連続エンボスビット列で形成した2 418バイト長
のデータフィールドからなり，各バイト長は13.5及び附属書Gで規定された手続に従って生成される。
トラック上のセクタは，いかなるギャップももたず，リードインゾーンの開始からリードインゾーンの
エンボス領域の終了（バッファゾーン2の終了）まで連続的に配置される。
記録フィールド
ヘッダ
フィールド
ミラー
フィールド
ギャップ
フィールド
ガード1
フィールド
VFO3
フィールド
PS
フィールド
データ
フィールド
PA3
フィールド
ガード2
フィールド
バッファ
フィールド
128
2
10＋J/16
20＋K
35
3
2 418
1
55−K
25−J/16
0≦J≦15 0≦K≦7
a) セクタレイアウト
ヘッダ1フィールド
ヘッダ2フィールド
ヘッダ3フィールド
ヘッダ4フィールド
VFO1
AM
PID1
PED1
PA1
VFO2
AM
PID2
PED2
PA2
VFO1
AM
PID3
PED3
PA1
VFO2
AM
PID4
PED4
PA2
36
3
4
2
1
8
3
4
2
1
36
3
4
2
1
8
3
4
2
1
b) ヘッダフイールドレイアウト
図17 書換え可能領域でのセクタレイアウト
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b) トラックでの最初のセクタ以外のヘッダフィールドのレイアウト
図18 書換え可能領域のヘッダフィールドのレイアウト
15.2 VFOフィールド 読取りチャネルビットの位相同期ループの可変周波数発振器に同期を与えるため
に，ヘッダフィールドに二つのエンボスされたVFO1フィールド及び二つのエンボスされたVFO2フィー
ルドがあり，記録フィールドに一つのVFO3フィールドがあるものとする。VFO1は，576チャネルビット
長をもつものとする。VFO2は，128チャネルビット長をもつものとする。VFO3は，560チャネルビット
長をもつものとする。
VFOフィールドの連続チャネルビットパターンは，図19による。
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図19 VFOパターン
15.3 アドレスマーク (AM) アドレスマークは，8-16変調では起こらないエンボスパターンからなるも
のとする。このフィールドは，次のPIDフィールドのためにドライブにバイト同期を与えるようにしてあ
る。フィールドは，図20のパターンをもち，48チャネルビット長をもつものとする。
図20 アドレスマークパターン
15.4 物理識別データ (PID) フィールド この4バイトのフィールドは，b0 (lsb) からb31 (msb) まで連続
的に番号付けしたビットからなるものとする（図21参照）。
b31
b30 b29
b28 b27
b26
b25
b24
b23
b0
予備
PID番号
セクタタイプ
レイヤ番号
セクタ番号
図21 物理識別データフィールド
最上位バイト，すなわち，セクタ情報の設定は，次による。
ビットb31からb30まで
“00”に設定する。
ビットb29からb28まで
次によって設定する。
“00” PID1を示す。
“01” PID2を示す。
“10” PID3を示す。
“11” PID4を示す。
ビットb27からb25まで
次によって設定する
“100” トラックの最初のセクタを示す。
“101” トラックの最後のセクタを示す。
“110” トラックの最後から2番目のセクタを示す。
“111” トラックの他のセクタを示す。
ビットb24
“0”に設定し，レイヤ0を示す。
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最下位の3バイトである，ビットb23からb0までは，2進表記のセクタ番号を規定する。
書換え可能領域のPID1フィールド及びPID2フィールドは，それに後続するランドセクタを示す同じセ
クタ番号をもつものとする。書換え可能領域のPID3フィールド及びPID4フィールドは，それに後続する
グルーブセクタを示す同じセクタ番号をもつものとする。
15.5 物理ID誤り検出符号 (PED) フィールド 要素6の配列Cj (j＝0〜5) において，物理IDを最上位バ
イトがC0から最下位バイトがC3になるように配置したとき，PEDの各バイト：Cj (j＝4〜5) は，次による。
()
()
()
x
G
x
x
I
x
C
x
PED
E
j
j
j
mod
2
5
4
5
＝
＝
＝∑
−
ここで，
()∑
−
3
0
3
＝
＝
j
j
jx
C
x
I
()
(
)
∏
+
1
0
＝
＝
k
k
E
x
x
G
α
αは，原始多項式P (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根である。
15.6 ポストアンブル1，2 (PA1，PA2) フィールド ポストアンブル1，2は，それぞれ16チャネルビッ
ト長に等しいものとする。PA1フィールド及びPA2フィールドによって，先行するPEDの最後のバイト
の8-16変調が完結する（図22から図25参照）。
図22 状態1及び状態2のPA1
30
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図23 状態3及び状態4のPA1
図24 状態1及び状態2のPA2
図25 状態3及び状態4のPA2
15.7 ミラーフィールド このフィールドは，長さで，32チャネルビットに等しい領域とする。このフィ
ールドは，グルーブもエンボスマークももたないものとする。このフィールドに記録を行ってはならない。
15.8 ギャップフィールド ギャップフィールドは，公称値として (160＋J) チャネルビットの長さをもつ
ものとする。ここで，番号Jは，0から15までランダムに変化させるものとする。実際の記録後の長さは，
公称値の±20チャネルビットの範囲内でなければならない。ギャップフィールドの長さの変化は，バッフ
ァフィールドの長さで補償する（15.15及び附属書J参照）。
31
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読取りに際し，その内容は無視するものとするが，エンボスしてはならない。ギャップフィールドは，
記録フィールドの最初のフィールドであり，ヘッダフィールド読取りを終了した後及びガード1フィール
ドを書き込むか又はVFO3フィールドを読み取る前に，処理のために若干の時間を与えるものである。
15.9 ガード1フィールド ガード1フィールドは，20バイトから (20＋K) バイトまでの長さをもつもの
とする。ここで，番号Kは，記録フィールドのVFO3フィールドからガード2フィールドまで続くフィー
ルドで形成したマークの位置をシフトさせるために，0から7までランダムに変化させるものとする（附
属書J参照）。ガード1フィールドの最初の20バイトは，多数回オーバライトした後の信号の劣化からVFO3
フィールドの始端を保護する。読取りに際し，その内容は無視するものとする。
ガード1フィールドは，16チャネルビットパターン：1000 1000 1000 1000
を (20＋K) 回繰り返すものとする。
15.10 プリシンク符号 (PS) フィールド PSフィールドは，ドライブに次のデータフィールドのためのバ
イト同期を得るようにしてある。PSフィールドは，48チャネルビット長で，次のチャネルビットパター
ンで記録するものとする。
0000 0100 0100 1000 0010 0001 0010 0000 1000 0010 0001 0000
15.11 データフィールド このフィールドは，13.の規定に従って変調の後，記録される。
15.12 ポストアンブル3 (PA3) フィールド ポストアンブル3 (PA3) は，長さで，16ビットチャネルビッ
トに等しいものとする。PA1フィールド及びPA2フィールドによって，先行するデータフィールドの最後
のバイトの8-16変調が完結する。
状態1及び状態2に対しては，次のように設定する。
16チャネルビット：0001 0010 0100 0100/0001 0010 0000 0100
状態3及び状態4に対しては，次のように設定する。
16チャネルビット：1001 0010 0000 0100/1001 0010 0100 0100
復調で，PA3は，次のデータフィールドでのSY0の最初の16チャネルビットの代わりに使用できる。
15.13 ガード2フィールド ガード2フィールドは，公称 (55-K) バイトの長さをもつものとする。ここで，
番号Kは，0から7の範囲でガード1フィールドとガード2フィールドの長さの合計が71バイトになるよ
うに設定する。ガード2フィールドの最後の20バイトは，多数回オーバライトした後のデータフィールド
の終端を信号の劣化から保護する。ガード2フィールドの残りは，書き込んだデータの実際の長さの変動
のためにある。その内容は，読取りに際し，無視するものとする。
ガード2フィールドは，次に示す16チャネルビットパターンを (55-K) 回繰り返すものとする。
1000 1000 1000 1000
ガード1フィールド，VFO3フィールド，PSフィールド，データフィールド及びガード2フィールドの
フィールドは，ギャップなしで書き込むものとし，その長さは，2 532バイトとする（附属書J参照）。
15.14 記録極性のランダム化 記録領域で多数回オーバライトを繰り返した後の媒体上のマーク及びスペ
ースの位置の確率を均一化するために，NRZI変換パルスの極性は，各記録ごとにランダムに反転するも
のとする。パルスの反転は，ガード1フィールド，VFO3フィールド，PSフィールド，データフィールド
及びガード2フィールドの全体のパルスに，同時に適用するものとする。ランダムな選択は，極性，ギャ
ップフィールドの長さ及びガード2の長さが互いに無関係になるように行うものとする（附属書J参照）。
その極性は，読取りに際し無視するものとする。
32
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15.15 バッファフィールド バッファフィールドは公称値として (400-J ) チャネルビットの長さをもつも
のとする。ここで，番号Jは，15.8で選択された値と同じとする。実際の記録後の長さは公称値の±272
チャネルビットの範囲内でなければならない。その内容は，読取りに際し無視するものとする。
バッファフィールドは，データの書込みのときのトラックの偏心及びディスクの速度変化による書き込
んだデータの実際の長さの変化のために必要とする。
16. 情報ゾーンのフォーマット
16.1 情報ゾーンの区分 情報ゾーンは，リードインゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンの三
つの部分で構成され，データの互換に関連するディスク上のすべての情報を含む。この情報はトラッキン
グのためのグルーブ及びビット，ヘッダフィールド，データ及びユーザ記録データを含む。リードインゾ
ーンの前半の五つのゾーン（16.2参照）においては情報はエンボスによって提供される。リードインゾー
ンの後半の六つのゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンにおいては情報は書き換え可能な形で記
録される。
情報ゾーンは，以下のような三つの部分で構成されている。
リードインゾーン
イニシャルゾーン
リファレンスコードゾーン
バッファゾーン1，2
コントロールデータゾーン
結合ゾーン
ガードラックゾーン1，2
ディスク試験ゾーン
ドライブ試験ゾーン
予備ゾーン
欠陥管理領域（DMA1及びDMA2）
データゾーン
リードアウトゾーン
欠陥管理領域（DMA3及びDMA4）
予備ゾーン
ガードトラックゾーン1，2
ドライブ試験ゾーン
ディスク試験ゾーン
情報ゾーンの区分は，表4に与える。表中のゾーンの半径は，ゾーンの最初のトラックの中心の半径及
び最後のトラックの中心の半径の公称値を示し，実際の半径は公称値の0.0と−0.2mmの間とする。
33
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表4 情報ゾーンのレイアウト
ゾーン
公称半径
(mm)
トラック当たり
のセクタ数
トラック
数
セクタ番号
リードインゾーン
イニシャルゾーン
リファレンスコードゾーン
バッファゾーン1
コントロールデータゾーン
バッファゾーン2
22.6〜24.0
18
1 896
(27AB0) 〜 (2EFFF)
(2F000) 〜 (2F00F)
(2F010) 〜 (2F1FF)
(2F200) 〜 (2FDFF)
(2FE00) 〜 (2FFFF)
結合ゾーン
ガードトラックゾーン1
ディスク試験ゾーン
ドライブ試験ゾーン
ガードトラックゾーン2
予備ゾーン
DMA1及びDMA2
24.0〜24.2
17
1 888
(30000) 〜 (301FF)
(30200) 〜 (305FF)
(30600) 〜 (30CFF)
(30D00) 〜 (30EFF)
(30F00) 〜 (30F7F)
(30F80) 〜 (30FFF)
データゾーン
0
24.2〜25.4
17
1 888
(31000) 〜 (37D5F)
1
25.4〜26.8
18
1 888
(37D60) 〜 (4021F)
2
26.8〜28.2
19
1 888
(40220) 〜 (48E3F)
3
28.2〜29.6
20
1 888
(48E40) 〜 (521BF)
4
29.6〜31.0
21
1 888
(521C0) 〜 (5BC9F)
5
31.0〜32.4
22
1 888
(5BCA0) 〜 (65EDF)
6
32.4〜33.8
23
1 888
(65EE0) 〜 (7087F)
7
33.8〜35.2
24
1 888
(70880) 〜 (7B97F)
8
35.2〜36.6
25
1 888
(7B980) 〜 (871DF)
9
36.6〜38.0
26
1 888
(871E0) 〜 (9319F)
10
38.0〜39.4
27
1 888
(931A0) 〜 (9F8BF)
11
39.4〜40.8
28
1 888
(9F8C0) 〜 (AC73F)
12
40.8〜42.2
29
1 888
(AC740) 〜 (B9D1F)
13
42.2〜43.6
30
1 888
(B9D20) 〜 (C7A5F)
14
43.6〜45.0
31
1 888
(C7A60) 〜 (D5EFF)
15
45.0〜46.4
32
1 888
(D5F00) 〜 (E4AFF)
16
46.4〜47.8
33
1 888
(E4B00) 〜 (F3E5F)
17
47.8〜49.1
34
1 888
(F3E60) 〜 (10391F)
18
49.1〜50.5
35
1 888
(103920) 〜 (113B3F)
19
50.5〜51.9
36
1 888
(113B40) 〜 (1244BF)
20
51.9〜53.3
37
1888
(1244C0) 〜 (13559F)
21
53.3〜54.7
38
1 888
(1355A0) 〜 (146DDF)
22
54.7〜56.1
39
1 888
(146DE0) 〜 (158D7F)
23
56.1〜57.5
40
1 888
(158D80) 〜 (16B47F)
リードアウトゾーン DMA3及びDMA4
予備ゾーン
ガードトラックゾーン1
ドライブ試験ゾーン
ディスク試験ゾーン
ガードトラックゾーン2
57.5〜58.6
40
1 446
(16B480) 〜 (16B4FF)
(16B500) 〜 (16B57F)
(16B580) 〜 (16B77F)
(16B780) 〜 (16BE7F)
(16BE80) 〜 (16C57F)
(16C580) 〜 (17966F)
16.2 リードインゾーン
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16.2.1 リードインゾーンの構造 リードインゾーンの構造は，図26に示す。図に記載されているセクタ
番号は各々のゾーンの先頭セクタを示す。イニシャルゾーンとバッファゾーン2については最終セクタの
セクタ番号が併記されている。最初の5ゾーンはエンボス領域である。結合ゾーンはミラー領域で，最後
の6ゾーンは書換え可能領域である。
セクタ番号
セクタ番号
162480
イニシャルゾーン
30 032セクタ
(027AB0)
192511
(02EFFF)
192512
リファレンスコードゾーン
16セクタ
(02F000)
192528
バッファゾーン1
496セクタ
(02F010)
193024
コントロールデータゾーン
3 072セクタ
(02F200)
196096
バッファゾーン2
512セクタ
(02FE00)
196607
(02FFFF)
結合ゾーン
196608
ガードトラックゾーン1
512セクタ
(030000)
197120
ディスク試験ゾーン
1 024セクタ
(030200)
198144
ドライブ試験ゾーン
1 792セクタ
(030600)
199936
ガードトラックゾーン2
512セクタ
(030D00)
200448
予備ゾーン
128セクタ
(030F00)
200579
DMA1&DMA2
128セクタ
(030F80)
200704
データゾーン
(031000)
図26 リードインゾーンの構造
16.2.2 イニシャルゾーン このゾーンは30 032セクタからなる。このゾーンにおいて記録データフィー
ルドに対応するデータフレームの主データのすべてのバイトは (00) とする。
16.2.3 リファレンスコードゾーン リファレンスコードゾーンは，ディスク上に特定チャネルビットパタ
ーンを生成する一つのECCブロックからなる16セクタで構成する。これは，対応するデータフレームの
すべての主データバイトを (AC) に設定することによって達成する。このとき，先頭セクタの最初の160
バイトの主データを除いて，スクランブルを行ってはならない。
16.2.4 バッファゾーン1 このゾーンは31ECCブロックからなる496セクタで構成する。このゾーンに
おいて記録データフィールドに対応するデータフレームの主データのすべてのバイトは (00) とする。
16.2.5 バッファゾーン2 このゾーンは32ECCブロックからなる512セクタで構成する。このゾーンに
おいて記録データフィールドに対応するデータフレームの主データのすべてのバイトは (00) とする。
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16.2.6 コントロールデータゾーン コントロールデータゾーンはセクタ番号193024 ((02F200))で始まる
192ECCブロックからなる。図27に示す各ブロックの16セクタの内容は，192回繰り返す。各ECCブロ
ックの最初のセクタは，物理フォーマット情報を含む。各ブロックの2番目のセクタは，ディスク製造業
者情報を含む。各ブロックの他のセクタの内容は，予備である。予備ブロックのすべてのバイトは， (00)
に設定する。
物理フォーマット情報
2 048バイト
ディスク製造情報
2 048バイト
予備
14×2 048バイト［すべて (00) ］
図27 コントロールデータを構成するECCブロックの構造
16.2.6.1 物理フォーマット情報 この情報は，2 048バイトからなり，その内容は表5に示したものとす
る。
表5 物理フォーマット情報
バイト位置
内容
バイト数
0
ディスクカテゴリ及びバージョン番号
1
1
ディスクサイズ及び最大転送レート
1
2
ディスク構造
1
3
記録密度
1
4〜15
データゾーン配置
12
16〜31
予備
16
32
ディスクタイプ識別子
1
33〜47
予備
15
48
速度1
1
49
速度1での読取りパワー
1
50
速度1でのランドトラックのピークパワー
1
51
速度1でのランドトラックのバイアスパワー1
1
52
速度1でのランドトラックの先頭パルス開始時間
1
53
速度1でのランドトラックの先頭パルス終了時間
1
54
速度1でのランドトラックのマルチパルス持続時間
1
55
速度1でのランドトラックの末尾パルス開始時間
1
56
速度1でのランドトラックの末尾パルス終了時間
1
57
速度1でのランドトラックのバイアスパワー2持続時間
1
58
速度1でのグルーブトラックのピークパワー
1
59
速度1でのグルーブトラックのバイアスパワー1
1
60
速度1でのグルーブトラックの先頭パルス開始時間
1
61
速度1でのグルーブトラックの先頭パルス終了時間
1
62
速度1でのグルーブトラックのマルチパルス持続時間
1
63
速度1でのグルーブトラックの末尾パルス開始時間
1
64
速度1でのグルーブトラックの末尾パルス終了時間
1
65
速度1でのグルーブトラックのバイアスパワー2持続時間
1
66〜479
速度2から速度24までの速度での書込み条件用予備
414
480〜2047
予備
1 568
36
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト0−ディスクカテゴリ及びバージョン番号
ビットb7からb4は，ディスクカテゴリを規定する。
これらのビットは，“0001”に設定し，書換形ディスクを示す。
ビットb3からb0は，バージョン番号を規定する。
これらは，“0001”に設定し，この規格を示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト1−ディスクサイズ及び最大転送レート
ビットb7からb4は，ディスクサイズを規定する。
これらのビットは，“0000”に設定し，120mmディスクを示す。
ビットb3からb0は，10.08Mbits/sの最大転送レートを規定する。
これらは，“0010”に設定し，この規格を示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト2−ディスク構造
ビットb7は，“0”に設定する。
ビットb6及びb5は，面の記録層の番号を規定する。
これらは，“00”に設定し，単層ディスクを示す。
ビットb4は，“0”に設定する。
ビットb3からb0は，記録層のタイプを規定する。
これらは，“0100”に設定し，書換え可能記録層を示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト3−記録密度
ビットb7からb4は，平均チャネルビット長を規定する。
これらは，“0010”に設定し，0.205〜0.218 μmを示す。
ビットb3からb0は，平均トラックピッチを規定し，“0000”に設定して，0.74μmの平均トラックピッチ
を示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト4〜15−データゾーン配置
バイト4は， (00) に設定する。
バイト5から7は， (031000) に設定して，データゾーンの最初の物理セクタのセクタ番号200704を規
定する。
バイト8は， (00) に設定する。
バイト9から11は， (16B47F) に設定して，データゾーンの最後の物理セクタのセクタ番号1487999を
規定する。
バイト12は， (00) に設定する。
バイト13から15は， (000000) に設定する。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト16〜31
これらのバイトは， (00) に設定する。
バイト32−ディスクタイプ識別
このバイトは，ディスクタイプを規定する。
37
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
このバイトの設定は，次による。
ケースなしでディスクに書込みを禁止するとき， (00) に設定する。
ケースなしでディスクに書き込んでもよいとき， (10) に設定する。
バイト33〜47
これらのバイトは， (00) に設定する。
バイト48−速度1
このバイトは，このディスクを使用するための中心線速度を定義する。
このバイトは，“00111100”に設定し，6.0m/sの線速度を示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト49−速度1での読取りパワー
このバイトは，速度1での再生のためのディスクの表面の読取りパワーを規定する。
このバイトは，“00001010”に設定し，1.0mWの読取りパワーを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト50−速度1でのランドトラックのピークパワー
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のためのディスクの表面のピークパワーを規定する。
このバイトは，“01101110”に設定し，11.0mWのピークパワーを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト52−速度1でのランドトラックの先頭パルス開始時間
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のための先頭パルス開始時間 (TSFP) を規定する（附
属書H参照）。
ビットb7は，“0”に設定し，光ビームの走査と同じ方向を示す。
ビットb6からb0は，“0010001”に設定し，17nsのTSFPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト53−速度1でのランドトラックの先頭パルス終了時間
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のための先頭パルス終了時間 (TEFP) を規定する（附
属書H参照）。
このバイトは，“00110011”に設定し，51nsのTEFPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト54−速度1でのランドトラックのマルチパルス持続時間
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のためのマルチパルス持続時間 (TMP) を規定する（附
属書H参照）。
このバイトは，“00010001”に設定し，17nsのTMPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト55−速度1でのランドトラックの末尾パルス開始時間
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のための末尾パルス開始時間 (TSLP) を規定する（附
属書H参照）。
ビットb7は，“0”に設定し，光ビームの走査と同じ方向を示す。
ビットb6からb0は，“0000000”に設定し，0nsのTSLPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト56−速度1でのランドトラックの末尾パルス終了時間
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のための末尾パルス終了時間 (TELP) を規定する（附
属書H参照）。
このバイトは，“00100010”に設定し，34nsのTELPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト57−速度1でのランドトラックのバイアスパワー2持続時間
このバイトは，速度1でのランドトラック上の記録のためのバイアスパワー2持続時間 (TLE) を規定す
る（附属書H参照）。
このバイトは，“01000100”に設定し，68nsのTLEを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト58−速度1でのグルーブトラックのピークパワー
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のためのディスクの表面のピークパワーを規定す
る。
このバイトは，“01101110”に設定し，11.0mWのピークパワーを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト59−速度1でのグルーブトラックのバイアスパワー1
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のためのディスクの表面のバイアスパワー1を規
定する。
このバイトは，“00110010”に設定し，5.0mWのバイアスパワー1を示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト60−速度1でのグルーブトラックの先頭パルス開始時間
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のための先頭パルス開始時間 (TSFP) を規定する
（附属書H参照）。
ビットb7は，“0”に設定し，光ビームの走査と同じ方向を示す。
ビットb6からb0は，“0010001”に設定し，17nsのTSFPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト61−速度1でのグルーブトラックの先頭パルス終了時間
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のための先頭パルス終了時間 (TEFP) を規定する
（附属書H参照）。
このバイトは，“00110011”に設定し，51nsのTEFPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト62−速度1でのグルーブトラックのマルチパルス持続時間
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のためのマルチパルス持続時間 (TMP) を規定する
（附属書H参照）。
このバイトは，“00010001”に設定し，17nsのTNPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト63−速度1でのグルーブトラックの末尾パルス開始時間
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のための末尾パルス開始時間 (TSLP) を規定する
（附属書H参照）。
ビットb7は， “0” に設定し，光ビームの走査と同じ方向を示す。
ビットb6からb0は，“0000000”に設定し，0nsのTSLPを示す。
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この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト64−速度1でのグルーブトラックの末尾パルス終了時間
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のための末尾パルス終了時間 (TELP) を規定する
（附属書H参照）。
このバイトは，“00100010”に設定し，34nsのTELPを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト65−速度1でのグルーブトラックのバイアスパワー2持続時間
このバイトは，速度1でのグルーブトラック上の記録のためのバイアスパワー2持続時間 (TLE) を規定
する（附属書H参照）。
このバイトは，“01000100”に設定し，68nsのTLEを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する（附属書L参照）。
バイト66〜479
これらのバイトは， (00) に設定する。
バイト480〜2 047
これらのバイトは， (00) に設定する。
16.2.6.2 ディスク製造情報 この規格は，2 048バイトのフォーマット及び内容を規定しない。これらは，
互換性では，無視するものとする。
16.2.7 結合ゾーン 結合ゾーンは，エンボス領域及び書換え可能領域を結合するためのものである。この
ゾーンは，グルーブもエンボスマークも含まないものとする。
エンボス領域の終了であるセクタ (02FFFF) の中心線と書換え可能領域の開始であるセクタ (030000)
のトラック中心線の間の距離は，1.42〜6.16μmである（図28参照）。
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図28 結合ゾーン回りの構造
16.2.8 ガードトラックゾーン1，2 どちらのゾーンも各々512セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッ
ダフィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。ガードトラックゾーンの記録フィールドは，
未記録のままにしておくものとする。
16.2.9 ディスク試験ゾーン ディスク試験ゾーンは1 024セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフ
ィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。このゾーンは，ディスク製造業者によって使用
されるためのものである。
16.2.10 ドライブ試験ゾーン ドライブ試験ゾーンは1 792セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフ
ィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。このゾーンは，ドライブによって使用されるた
めのものである。
16.2.11 予備ゾーン このゾーンは，128セクタからなり，すべてのバイトは (00) に設定される。
16.2.12 DMA1及びDMA2 このゾーンは128セクタからなる。欠陥管理領域については，17.参照。
16.3 データゾーン
16.3.1 データゾーン及び欠陥管理領域の構造 データゾーンは，書換え可能領域とする。データゾーンは，
(031000) のセクタ番号から開始するものとする。データゾーンは，16.3.2に規定するように各ゾーンの境
界でガードトラックゾーンによって遮られるものとする。データゾーン及び近接のゾーンのレイアウトは，
図29に示す。
41
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DMA1
リードイン
予備
ゾーン
DMA2
予備
データ
ゾーン
DMA3
リードアウト
ゾーン
予備
DMA4
予備
図29 データゾーン及び欠陥管理領域のレイアウト
16.3.2 ガードトラックゾーン ガードトラックゾーンで開始しないゾーン0及びガードトラックゾーン
で終了しないゾーン23を除いて，データゾーン内の各ゾーンは，ガードトラックゾーンで開始し，終了す
るものとする。ガードトラックゾーンのセクタの数は，二つのトラックを占有するのに十分，かつ，最も
小さい16の倍数とする。
ガードトラックゾーンは，エンボスグルーブ，ヘッダフィールド及び未記録のままとする記録フィール
ドを含むものとする。
16.3.3 区画 データ領域は，24のグループに区画するものとする。各グループは，ガードトラックゾー
ンを除いて一つの完全なゾーンにまたがっているものとする。ガードトラックゾーンは，ゾーン0の開始
及びゾーン23の終了を除いて，各ゾーンの開始部及び終了部に配置する。各グループは，ユーザ領域及び
スペア領域からなるものとする。これらの領域の配列は，表6に示す。ユーザ領域のセクタは，次のよう
に，連続した論理セクタ番号 (LSN) をもつものとする。すなわち，表6に規定するユーザ領域のすべて
のセクタは，ゾーン0のユーザ領域の最初のセクタを0に設定して，あらゆるセクタに対して1だけ増加
させ，そしてゾーン1のユーザ領域の最初のセクタは，ゾーン0のユーザ領域の最後のセクタから続くよ
うな方法で，LSNによって順番に番号を付けるものとする。
データゾーンは，ECCブロックの書込み及び読取りの単位としてのデータブロックからなるものとする。
各データブロックは，連続LSNをもつ16セクタからなるものとする。データブロックは，データブロッ
クの最初のセクタのLSNが16の倍数であるように配列するものとする。すなわち，区画は，次のように
ユーザ領域及びデータ領域をデータブロック及びスペアブロックに区画することである。
− ユーザ領域及びスペア領域を，それぞれデータブロック及びスペアブロックに区分する。
− データブロックのセクタは，LSNをもつ。
− 一つのデータブロックは，次の三つの状態のうちどれかにあるものとする。
・ それは，ECCブロックである。
・ そのデータフィールド番号は， (00) から (0F) の範囲にある。
・ それは，未書込みである。
42
X 6243: 1998
4
2
X
6
2
4
3
: 1
9
9
8
表6 グループの構造
ゾーン
トラック
当たりの
セクタ数
グループ
の先頭セ
クタのセ
クタ番号
ガードトラックゾーン
の先頭及び最終セクタ
のセクタ番号
グループ
ガードトラックゾーン
の先頭及び最終セクタ
のセクタ番号
グループ
の最終セ
クタのセ
クタ番号
グループ
の先頭セ
クタの
LSN
グループ
の先頭セ
クタのデ
ータフィー
ルド番号
グル
ープ
番号
ユーザ領域
スペア領域
セクタ番号
ブロッ
ク数
セクタ番号
セクタ
数
0
17
(31000)
−
0
(31000) 〜 (377DF)
1 662
(377E0) 〜 (37D2F)
1 360
(37D30) 〜 (37D5F)
(37D5F)
0
(30000)
1
18
(37D60)
(37D60) 〜 (37D8F)
1
(37D90) 〜 (3FB2F)
2 010
(3FB30) 〜 (401EF)
1 728
(401F0) 〜 (4021F)
(4021F)
26 592
(367E0)
2
19
(40220)
(40220) 〜 (4024F)
2
(40250) 〜 (486EF)
2 122
(486F0) 〜 (48E0F)
1 824
(48E10) 〜 (48E3F)
(48E3F)
58 752
(3E580)
3
20
(48E40)
(48E40) 〜 (48E6F)
3
(48E70) 〜 (51A0F)
2 234
(51A10) 〜 (5218F)
1 920
(52190) 〜 (521BF)
(521BF)
92 704
(46A20)
4
21
(521C0)
(521C0) 〜 (521EF)
4
(521F0) 〜 (5B48F)
2 346
(5B490) 〜 (5BC6F)
2 016
(5BC70) 〜 (5BC9F)
(5BC9F)
128 448
(4F5C0)
5
22
(5BCA0)
(5BCA0) 〜 (5BCCF)
5
(5BCD0) 〜 (6566F)
2 458
(65670) 〜 (65EAF)
2 112
(65EB0) 〜 (65EDF)
(65EDF)
165 984
(58860)
6
23
(65EE0)
(65EE0) 〜 (65F0F)
6
(65F10) 〜 (6FFAF)
2 570
(6FFB0) 〜 (7084F)
2 208
(70850) 〜 (7087F)
(7087F)
205 312
(62200)
7
24
(70880)
(70880) 〜 (708AF)
7
(708B0) 〜 (7B04F)
2 682
(7B050) 〜 (7B94F)
2 304
(7B950) 〜 (7B97F)
(7B97F)
246 432
(6C2A0)
8
25
(7B980)
(7B980) 〜 (7B9BF)
8
(7B9C0) 〜 (8683F)
2 792
(86840) 〜 (8719F)
2 400
(871A0) 〜 (871DF)
(871DF)
289 344
(76A40)
9
26
(871E0)
(B71E0) 〜 (8721F)
9
(87220) 〜 (9279F)
2 904
(927A0) 〜 (9315F)
2 496
(93160) 〜 (9319F)
(9319F)
334 016
(818C0)
10
27
(931A0)
(931A0) 〜 (931DF)
10
(931E0) 〜 (9EE5F)
3 016
(9EE60) 〜 (9F87F)
2 592
(9F880) 〜 (9F8BF)
(9F8BF)
380 480
(8CE40)
11
28
(9F8C0)
(9F8C0) 〜 (9F8FF)
11
(9F900) 〜 (ABC7F)
3 128
(ABC80) 〜 (AC6FF)
2 688
(AC700) 〜 (AC73F)
(AC73F)
428 736
(98AC0)
12
29
(AC740)
(AC740) 〜 (AC77F)
12
(AC780) 〜 (B91FF)
3 240
(B9200) 〜 (B9CDF)
2 784
(B9CE0) 〜 (B9D1F)
(B9D1F)
478 784
(A4E40)
13
30
(B9D20)
(B9D20) 〜 (B9D5F)
13
(B9D60) 〜 (C6EDF)
3 352
(C6EE0) 〜 (C7A1F)
2 880
(C7A20) 〜 (C7A5F)
(C7A5F)
530 624
(B18C0)
14
31
(C7A60)
(C7A60) 〜 (C7A9F)
14
(C7AA0) 〜 (D531F)
3 464
(D5320) 〜 (D5EBF)
2 976
(D5EC0) 〜 (D5EFF)
(D5EFF)
584 256
(BEA40)
15
32
(D5F00)
(D5F00) 〜 (D5F3F)
15
(D5F40) 〜 (E3EBF)
3 576
(E3EC0) 〜 (E4ABF)
3 072
(E4AC0) 〜 (E4AFF)
(E4AFF)
639 680
(CC2C0)
16
33
(E4B00)
(E4B00) 〜 (E4B4F)
16
(E4B50) 〜 (F31AF)
3 686
(F31B0) 〜 (F3E0F)
3 168
(F3E10) 〜 (F3E5F)
(F3E5F)
696 896
(DA240)
17
34
(F3E60)
(F3E60) 〜 (F3EAF)
17
(F3EB0) 〜 (102C0F)
3 798
(102C10) 〜 (1038CF)
3 264
(1038D0) 〜 (10391F)
(10391F)
755 872
(E88A0)
18
35
(103920)
(103920) 〜 (10396F)
18
(103970) 〜 (112DCF)
3 910
(112DD0) 〜 (113AEF)
3 360
(113AF0) 〜 (113B3F)
(113B3F)
816 640
(F7600)
19
36
(113B40)
(113B40) 〜 (113B8F)
19
(113B90) 〜 (1236EF)
4 022
(1236F0) 〜 (12446F)
3 456
(124470) 〜 (1244BF)
(1244BF)
879 200
(106A60)
20
37
(1244C0)
(1244C0) 〜 (12450F)
20
(124510) 〜 (13476F)
4 134
(134770) 〜 (13554F)
3 552
(135550) 〜 (13559F)
(13559F)
943 552
(1165C0)
21
38
(1355A0)
(1355A0) 〜 (1355EF)
21
(1355F0) 〜 (145F4F)
4 246
(145F50) 〜 (146D8F)
3 648
(146D90) 〜 (146DDF)
(146DDF)
1 009 696
(126820)
22
39
(146DE0)
(146DE0) 〜 (146E2F)
22
(146E30) 〜 (157E8F)
4 358
(157E90) 〜 (158D2F)
3 744
(158D30) 〜 (158D7F)
(158D7F)
1 077 632
(137180)
23
40
(158D80)
(158D80) 〜 (158DCF)
23
(158DD0) 〜 (16A57F)
4 475
(16A580) 〜 (16B47F)
3 840
−
(16B47F)
1 147 360
(1481E0))
合計
76 185
65 392
43
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.4 リードアウトゾーン
16.4.1 リードアウトゾーンの構造 リードアウトゾーンの構造を，図30に示す。
セクタ番号
データゾーン
セクタ番号
1488000
DMA3&DMA4
128セクタ
(16B480)
1488128
予備ゾーン
128セクタ
(16B500)
1488256
ガードトラックゾーン1
256セクタ
(16B580)
1488768
ドライブ試験ゾーン
1 792セクタ
(16B780)
1490560
ディスク試験ゾーン
1 792セクタ
(16BE80)
1492352
1545839
ガードトラックゾーン2
53 488セクタ
(16C580)
(17966F)
図30 リードアウトゾーンの構造
16.4.2 DMA3及びDMA4 このゾーンは，128セクタからなる。欠陥管理領域については，17.1参照。
16.4.3 予備ゾーン このゾーンは，128セクタからなり，すべてのバイトは (00) に設定される。
16.4.4 ガードトラックゾーン1 このゾーンは，512セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフィー
ルド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。ガードトラックゾーンの記録フィールドは，未記録
のままにしておくものとする。
16.4.5 ドライブ試験ゾーン ドライブ試験ゾーンは，1 792セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダ
フィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。このゾーンは，ドライブによって使用される
ためのものであり，読取りに際してはその内容は無視される。
16.4.6 ディスク試験ゾーン ディスク試験ゾーンは，1 792セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダ
フィールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。このゾーンは，ディスク製造業者によって使
用されるためのものであり，読取りに際してはその内容は無視される。
16.4.7 ガードトラックゾーン2 このゾーンは，53 488セクタからなり，グルーブ，ランド，ヘッダフィ
ールド，ミラーフィールド及び記録フィールドを含む。ガードトラックゾーンの記録フィールドは，未記
録のままにしておくものとする。
17. 欠陥管理
17.1 欠陥管理領域 (DMA) 四つの欠陥管理領域は，データゾーンの構造及び欠陥管理に関する情報を
含む。各DMAの長さは，32セクタとするDMAの二つのDMA1及びDMA2は，ディスクの内径の近傍
に位置し，他の二つのDMA3及びDMA4は，ディスクの外径の近傍に位置するものとする。DMAの境界
は，表7に示す。
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表7 DMAの位置
セクタ番号の始まり セクタ番号の終わり
ブロックの数
DMA1
(30F80)
(30F9F)
2
予備
(30FA0)
(30FFB)
2
DMA2
(30FC0)
(30FFD)
2
予備
(30FE0)
(30FFF)
2
DMA3
(16B480)
(16B49F)
2
予備
(16B4A0)
(16B4BF)
2
DMA4
(16B4C0)
(16B4DF)
2
予備
(16B4E0)
(16B4FF)
2
各DMAは，二つのECCブロックからなるものとし，二つの予備ブロックに続く。ディスク定義構造
(DDS) 及び一次欠陥管理表 (PDL) は，各DMA（DDS/PDLブロック）の最初のECCブロックに含まれる
ものとする。二次欠陥管理表 (SDL) は，各DMA（SDLブロック）の二番目のECCブロックに含まれる
ものとする。四つのDMAの内容は，同一とする。DDS/PDLブロックは，DDS及びPDLを含むECCブロ
ックを意味する。
ディスクの初期化の後，各DMAは，次の内容をもつものとする。
− DDS/PDLブロックの第一セクタは，DDSを含む。
− DDS/PDLブロックの第二セクタは，PDLの最初のセクタとする。
− SDLは，SDLブロックの第一セクタから始まる。
PDL及びSDLの長さは，各リストのエントリの数によって決まる。DDSの内容は，17.2に規定する。
PDL及びSDLの内容は，17.8及び17.9に規定する。DMAの未使用セクタは， (FF) で満たすものとする。
すべての予備セクタは， (00) で満たすものとする。
17.2 ディスク定義構造 (DDS) DDSは，1セクタの長さをもつ表からなる。DDSは，ディスクのフォー
マッティングの方法を規定する。DDSは，ディスクのフォーマッティングの終わりに各DMAの最初のセ
クタに記録する。表8に与えるディスク構造に関する情報は，四つのDDSの各々に記録するものとする。
表8 ディスク定義構造のバイト割り当て
バイト位置
内容
バイト数
0〜1
DDS識別子 (0A0A)
2
2
予備
1
3
ディスクサーティフィケーションフラグ
1
4〜7
DDS/PDL更新カウンタ
4
8〜9
グループの数
2
10〜15
予備
6
16
グループ0用グループサーティフィケーションフラグ
64
17
グループ1用グループサーティフィケーションフラグ
−
−
39
グループ23用グループサーティフィケーションフラグ
40〜79
予備
40
80〜2 047
予備
1 968
バイト0〜1−DDS識別子
この2バイトは， (0A0A) に設定し，DDS識別子を示す。
バイト2−予備
バイトは， (00) に設定する。
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バイト3−ディスクサーティフィケーションフラグ
このフラグは，図31にあるようなビットフィールドに分割する。
b7
b6
b5
b4
b5
b2
b1
b0
インプロセス
予備
ユーザ
サーティフィケーション
製造業者
サーティフィケーション
図31 ディスクサーティフィケーションフラグ
このフィールドの設定は，次による。
ビットb7
設定は，次による。
フォーマッティングが完了したとき，
“0”
フォーマッティングがインプロセス中のとき， “1”
ビットb6
設定は，次による。
インプロセス中のフォーマッティングがフルサーティフィケーションを使用して
いるとき，“0”
インプロセス中のフォーマッティングが部分サーティフィケーションを使用して
いるとき，“1”
ビットb5
設定は，次による。
インプロセス中のフォーマッティングが全ティスク用のとき，
“0”
インプロセス中のフォーマッティングが一つのグループ用だけのとき， “1”
この場合，グループサーティフィケーションフラグは，有効である。
ビットb4〜b2
“000”に設定する。
ビットb1
設定は，次による。
ディスクがユーザーによってサーティフィケーションされていないとき，“0”
ディスクがユーザーによってサーティフィケーション済みのとき，
“1”
ビットb0
設定は，次による。
ディスクが製造業者によってサーティフィケーションされていないとき，“0”
ディスクが製造業者によってサーティフィケーション済みのとき，
“1”
備考 ビットb5〜b7は，どんなサーティフィケーションをもつフォーマッティングの開始でも “1xx”
に設定し，フォーマッティングの終了で“000”に設定するものとする。
バイト4〜7−DDS/PDL更新カウンタ
このフィールドは，DDS/PDLブロックの更新及び書換え操作の回数を規定する。
このフィールドは，初期化の始まりで0に設定し，DDS/PDLブロックを更新，又は書換えするとき，1
だけ増加するものとする。
すべてのDDS/PDLブロックは，フォーマッティングの完了後同一の更新カウンタをもつものとする。
バイト8〜9−グループの番号
この2バイトフィールドは， (0018) に設定し，24グループを示す。
バイト10〜15
すべてのバイトは， (00) に設定する。
バイト16〜39−グループサーティフィケーションフラグ
あらゆるバイトは，下記に規定する同じ構成をもつ。
バイトは，図32にあるような幾つかのビットフィールドに区分するものとする。
46
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
インプロセス
予備
ユーザ
サーティフィケーション
予備
図32 グループサーティフィケーションフラグ
ビットb7
設定は，次による。
このグループのフォーマッティングが完了したとき， “0”
このグループのフォーマッティングがインプロセス中のとき， “1”
ビットb6
設定は，次による。
インプロセス中のこのグループのフォーマッティングがフルサーティフィケー
ションを使用しているとき，“0”
インプロセス中のこのグループのフォーマッティングが部分サーティフィケー
ションを使用しているとき，“1”
ビットb5〜b2
“0000”に設定する。
ビットb1
設定は，次による。
ユーザーがこのグループをサーティフィケーションしていなかったとき，“0”
ユーザーがこのグループをサーティフィケーション済みのとき，
“1”
ビットb0
“0”に設定する。
バイト40〜79
すべてのバイトは， (00) に設定する。
バイト80〜2 047
すべてのバイトは， (00) に設定する。
17.3 スペアセクタ データ領域の欠陥のあるセクタは，下記の欠陥管理方法に従って良好なセクタで置
き換えるものとする。ディスクは，使用前にフォーマッティングするものとする。この規格は，サーティ
フィケーション付きフォーマッティングとサーティフィケーションなしのフォーマッティングの両者を許
容する。スペアセクタの全数は，65 392とする。欠陥のあるセクタは，スリッピングアルゴリズム又はリ
ニアリプレイスメントアルゴリズムによって処理する。一次欠陥管理表 (PDL) （17.6参照）及び二次欠
陥管理表 (SDL) （17.7参照）に登録したエントリの全数は，次の要求事項を満たすものとする。
SPDL＋SSDL≦16 (1≦SPDL≦15，1≦SSDL≦15)
(
)
+
+
×
=
048
2
047
2
4
4
PDL
PDL
E
INT
S
(
)
+
+
×
=
2048
2047
24
8
SDL
SDL
E
INT
S
ここで，
・SPDLは，PDLエントリを保持するために使用するセクタの番号
・SSDLは，SDLエントリを保持するために使用するセクタの番号
・EPDLは，PDLエントリの番号
・ESDLは，SDLエントリの番号
PDLに登録した一つのグループ内のセクタの数は，グループのスペア領域のセクタの総数を超えてはな
らない。
47
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
17.4 スリッピングアルゴリズム スリッピングアルゴリズムは，欠陥セクタがPDLに登録されているな
らば，データ領域のそれぞれのグループに個別に適用するものとする。
PDLに登録した欠陥のあるデータセクタは，その欠陥セクタに後続する良好な最初のセクタに置き換え
るものとし，そしてグループの終わりに向かって一つのセクタのズレ，すなわち，スリップを起こすこと
になる。その場合グループの最後のデータセクタは，グループのスペアセクタ領域に入り込むことになる。
欠陥のあるセクタのセクタ番号は，PDLに書き込む。欠陥セクタは，ユーザデータを記録するために使用
してはならない。PDLに記録したスペア領域のセクタは，最後のデータセクタがスペア領域に入り込んだ
ときスリップされる。
スリッピングアルゴリズムを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係を，図33に示す。
図33 スリッピングアルゴリズムを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係
17.5 リニアリプレイスメントアルゴリズム リニアリプレイスメントアルゴリズムは，フォーマッティ
ングの後に発見された欠陥セクタ又はフォーマッティング中にPDLに記録しきれない欠陥セクタを処理
するために使用する。置き換えは，16セクタ単位，すなわち，データブロックで行う。
欠陥ブロックは，グループの最初の利用可能な良品スペアブロックで置き換えるものとする。グループ
に残された良品スペアブロックがないならば，すなわち，グループに16個未満のセクタしか残されていな
いならば，このことを，当該グループのSDLのスペア領域フルフラグ（図36参照）を1に設定して示す
ものとし，欠陥ブロックは，他のグループの利用できる良品の最初のスペアブロックで置き換えるものと
する。この際，欠陥ブロックの第一セクタのセクタ番号及び最終的な交替ブロックの第一セクタのセクタ
番号は，強制再割当マーキングを“0”に設定し，SDLエントリとしてSDLに記録するものとする。
書き込むブロックが“0”の強制再割当マーキングをもってSDLに登録してあれば，データは，SDLで
指し示されたスペア領域の交替ブロックに書き込むものとする。
書き込むブロックが“1”の強制再割当マーキングを付けてSDLに登録してあれば，データは，グルー
プ内の利用できる最初の良品スペアブロックに書き込むものとする。グループに残されたスペアブロック
がないならば，すなわち，グループに16以下のセクタしか残されていないならば，相当するグループの
SDLのスペア領域フルフラグは，“1”に設定するものとし，欠陥ブロックは，他のグループの利用できる
最初の良品スペアブロックで置き換えるものとする。この場合，相当するSDLエントリの強制再割当マー
キングは“0”に変更し，相当するSDLエントリの交替ブロックの最初のセクタ番号は，新しい交替ブロ
48
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ックの最初のセクタ番号に変更するものとする。
再生の際，読み出そうとしたデータブロックかスペアブロック（交替ブロックとして使用中）に欠陥が
ありECCによる訂正不能の場合，もしディスクが記録禁止でないならば，そのような欠陥ブロックを強制
再割当マーキングを“1”と設定して登録できる。この登録の可否は装置に依存し，及び／又はホストから
指定される。このようなデータブロックの登録する際には，強制再割当マーキングを“1”とし，交替ブロ
ックの第一セクタのセクタ番号を (000000) に設定して，SDLエントリとして欠陥ブロックの第一セクタ
のセクタ番号をSDLに記録する。このようなスペアブロック（交替ブロックとして使用中）を登録する場
合には，それに対応するSDLエントリの強制再割当マーキングを“1”に変更するものとする。
フォーマッティング後にデータブロックに欠陥があることが分かれば，それは欠陥ブロックとみなし，
新しいエントリとしてSDLに登録する。
SDLに登録した交替ブロックが後に欠陥ブロックであると分かれば，直接ポインタ方法を適用し，SDL
に登録する。この直接ポインタ方法では，SDLエントリ中の交替ブロックの第一セクタを欠陥のものから
新しいものへ変更することによって欠陥交替ブロックを登録するものとする。
SDLを更新する時点で，SDL更新カウンタは，1だけ増加するものとする。
リニアリプレイスメントを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係を，図34に示す。
図34 リニアリプレイスメントを使用するときのセクタ番号と論理セクタ番号との関係
17.6 一次欠陥管理表 (PDL) 一次欠陥管理表 (PDL) は，各DDS/PDLブロックに常に記録するものと
する。それは，空であってもよい。欠陥セクタのリストは，ディスクのサーティフィケーション以外の手
段で得てもよい。
PDLは，フォーマッティングで識別した欠陥セクタのエントリを含むものとする。セクタ番号は，昇順
でリストするものとする。PDLは，必要な最少セクタに記録し，PDLの第一セクタのバイト0に始まるも
のとする。PDLの最終のセクタの未使用バイトは， (FF) に設定するものとする。DDS/PDLブロックのす
べての未使用セクタは， (FF) のデータで記録するものとする。表9の情報は，各PDLに記録する。
PDLが複数にわたる場合，欠陥セクタのエントリのリストは，第二セクタ及びそれに続くセクタの第一
バイトへ続くものとする。したがって，PDL識別子及びPDLのエントリ数は，PDLの最初のセクタでだ
け存在するものとする。空のPDLでは，PDLのエントリ数（PDLの第一セクタのバイト2及びバイト3）
は， (0000) に設定し，バイト4からバイト2 047は， (FF) に設定するものとする。
エントリタイプは，欠陥セクタの発生元を規定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1) ディスク製造業者が定義する欠陥セクタ（Pリスト）
2) サーティフィケーションプロセスで発見した欠陥セクタ（G1リスト）
3) サーティフィケーションプロセスなしでSDLから移動した欠陥セクタ（G2リスト）
Pリストは，どのフォーマッティングの後でも以前のリストを保存するものとする。
表9 PDLの内容
バイト位置
内容
バイト数
0〜1
PDL識別子 (0001)
2
2〜3
PDLのエントリ数
2
4〜7
第一PDLエントリ
4
8〜11
第二PDLエントリ
4
−
−
−
n〜n＋3
最後のPDLエントリ
4
バイト0〜1−PDL識別子
このフィールドは， (0001) に設定し，PDL識別子を示す。
バイト2〜3−PDLのエントリ数
このフィールドは，PDLのエントリ数を規定するものとする。
PDLエントリ
各4バイトフィールドは，図35に示すように三つのフィールドに区分する。
b31
b30
b29
b24
b23
b0
エントリタイプ
予備
欠陥セクタ番号
図35 PDLエントリ
ビットb31〜b30の設定は，次による。
“00” Pリストを示す。
“10” G1リストを示す。
“11” G2リストを示す。
この規格では，この他の設定を禁止する。
ビットb31〜b30は，“000000”に設定する。
ビットb23〜b0は，欠陥セクタのセクタ番号を規定する。
17.7 二次欠陥管理表 (SDL) 二次欠陥管理表 (SDL) は，各SDLブロックに記録するものとする。これ
は，空でもよい。
SDLは，欠陥ブロックの第一セクタのセクタ番号及び置き換える交替先の第一セクタのセクタ番号を含
むエントリを含むものとする。
SDLの各エントリは，8バイト，すなわち，欠陥ブロックの第一セクタのセクタ番号に対して3バイト，
交替ブロックの第一セクタ番号に対して3バイト，強制再割当マーキング (FRM) に対しての1バイト及
び1予備バイトを含む。欠陥ブロックの第一セクタのセクタ番号は，昇順でリストするものとする。SDL
は，必要最少数のセクタに記録するものとする。SDLの最終セクタのすべての未使用バイトは， (FF) に
設定するものとする。SDLブロックのすべての未使用セクタは， (FF) を記録するものとする。表10の情
報は，四つのSDLの各々に記録するものとする。
SDLに登録した交替ブロックが後で欠陥ブロックであると分かれば，直接ポインタ方法を適用してSDL
に登録するものとする。この方法で，欠陥交替ブロックが登録されているSDLエントリは，交替ブロック
の最初のセクタのセクタ番号を欠陥交替ブロックから新しいものに変更することによって修正するものと
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する。したがって，SDLのエントリ数は，欠陥セクタの登録の際にも変更しないものとする。
SDLが複数のセクタにまたがる場合，エントリのリストは，第二セクタ及びそれに続くセクタの第一バ
イトへ続くものとする。したがって，SDL識別子，SDL更新カウンタ，スペア領域フルフラグ及びSDL
のエントリ数は，SDLの最初のセクタにだけ存在するものとする。
表10 SDLの内容
バイト位置
内容
バイト数
0〜1
SDL識別子 (0002)
2
2〜3
予備
2
4〜7
SDL更新カウンタ
4
8〜15
スペア領域フルフラグ
8
16〜19
DDS/PDL更新カウンタ
4
20〜21
予備
2
22〜23
DDSのエントリ数
2
24〜31
最初のSDLエントリ
8
−
−
−
m〜m＋7
最後のSDLエントリ
8
バイト0〜1−SDL識別子
このフィールドは， (0002) に設定し，SDL識別子を示す。
バイト2〜3−予備
すべてのバイトは， (00) に設定する。
バイト4〜7−SDL更新カウンタ
このフィールドは，SDLブロックに対する更新操作の回数を規定するものとする。
このフィールドは，初期化（17.8.2参照）で0に設定し，SDLの内容を更新するごとに1ずつ増加する
ものとする。
バイト8〜15−スペア領域のフルフラグ
これらのフラグは，相当するグループの残存スペアブロックの有無を規定する。
フラグの各ビットは，図36に示す各グループに対応する。
b63…b24
b23
b22
b21
b20…b3
b2
b1
b0
予備
グループ23
グループ22
グループ21
･････････
グループ2
グループ1
グループ0
図36 スペア領域フルフラグ
各グループに対応する各ビットの設定は，次による。
スペアブロックがグループに残っていないとき， “1”
スペアブロックがグループに残っているとき，
“0”
バイト16〜19−DDS/PDL更新カウンタ
このフィールドは，DDS/PDLブロックに対する更新及び書換えの回数を規定するものとする。
このフィールドは，初期化の始まりで0に設定し，DDS/PDLの内容を更新又は書換えするごとに1ずつ
増加するものとする。すべてのDDS/PDLブロック及びSDLブロックは，フォーマッティングの後同一の
更新カウンタ値をもつものとする。
バイト20〜21−予備
すべてのバイトは， (00) に設定するものとする。
バイト22〜23−SDLのエントリ数
このフィールドは，SDLのエントリ数を規定する。
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SDLエントリ
各8バイトフィールドは，図37に示すような幾つかのフィールドに区分する。
b63
b62…b56
b55
………
b32 b31…b24
b23
………
b0
FRM
予備
欠陥ブロックでの
第一セクタのセクタ番号
予備
交替ブロックでの
第一セクタのセクタ番号
図37 SDLエントリ
b63の設定は，次による。
交替ブロックが割り当てられ，欠陥がないとき，
“0”
交替ブロックが割り当てられないか又は割当て交替ブロックに欠陥があるとき， “1”
b62からb56は“0”に設定する。
b55からb32は，欠陥ブロックの最初のセクタのセクタ番号を規定する。
b31からb24は“0”に設定する。
b23からb0は交替ブロックの第一セクタのセクタ番号を規定するか，又は交替ブロックが割り当てられ
ないとき (000000) に設定する。
17.8 ディスクのフォーマッティング ディスクは，ディスクの使用前にフォーマットするものとする。
フォーマッティング処理前にディスク上に記録済みのDMAがなければ，その処理は初期化とみなすもの
とする。フォーマッティング処理前にディスク上に記録済みのDMAがあれば，その処理は，再初期化と
みなす。
ディスクのどのフォーマッティングの後にも，四つのDMAを記録するものとする。データゾーンは，
24グループに区画する（16.3.3参照）。各グループは，ユーザ領域及びスペア領域を含むものとする。スペ
ア領域のセクタは，欠陥セクタの交替として使用可能である。フォーマッティングは，初期化又は再初期
化のどちらかによって行うものとする。フォーマッティングは，すべてのグループ又は指定されたグルー
プに対するサーティフィケーションを含んでよい。
すべてのDDSパラメータは，四つのDDSセクタに記録するものとする。PDL及びSDLは，四つのDMA
に記録するものとする。すべての予備ブロックは，00で満たすものとする。PDL及びSDLの記録の要求
事項は，表9及び表10に記述している。
フォーマッティング後，スリッピングアルゴリズム（17.4参照）の結果として割り当てられたデータブ
ロック及びスペアブロックはどれも次のいずれかの状態にあるものとする。
a) 一つのデータブロック又はスペアブロックは，13.3に定義する完全ECCブロックを組織する一組の
16データフレームを含むものとする。データフレームは，再初期化の前などに書き込まれているもの
とする。
b) 一つのデータブロック又はスペアブロックのすべてのセクタは，未記録である。
c) 一つのデータブロック又はスペアブロックのすべてのセクタは，サーティフィケーション処理中など
に書き込まれる (000000) から (00000F) までのデータフィールド番号を含む。
フォーマッティング後，三つのタイプのエントリ，Pリスト，G1リスト及びG2リストはPDL中に存在
してもよい。SDLも，エントリを含んでもよい。タイプは，エントリごとにエントリタイプによって識別
する（表9参照）。
ディスクをサーティフィケーションするとき，サーティフィケーションは，ユーザ領域及びスペア領域
のセクタに適用するものとする。
サーティフィケーション中に発見したユーザ及びスペア領域の欠陥セクタは，PDLのG1リストに登録
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し，スリッピングアルゴリズムによって処理するものとする。欠陥セクタは，読取り又は書込みに使用し
てはならない。欠陥セクタを置き換えるためのガイドラインは，附属書Mに与える。
フォーマッティング処理がサーティフィケーション又は他のデータ書込み処理を伴うならば，データフ
ィールド番号は， (000000) から (000000F) までにあるものとする。サーティフィケーション又は他のデ
ータ書込み処理を伴う前のフォーマッティング中のシステムの故障を，この手順によって検出するように
する。
スペアブロックは，フォーマッティングのとき割り当てられるが，LSNは，付与されない。スペアブロ
ックは，欠陥データブロックを置き換えるのに用いたり，スペアブロックの代用に用いる。スペアブロッ
クは，フォーマッティングのときスペア領域に割り当てられる。
17.8.1 フルサーティフィケーション及び部分サーティフィケーション 二つのタイプのサーティフィケ
ーションがある。フルサーティフィケーション及び部分サーティフィケーションである。前者の場合，グ
ループ内のユーザ領域及びスペア領域のすべてのセクタを試験する。後者の場合，PDL及びSDLのG2リ
ストに登録された欠陥ブロックだけを試験する。PDL又はSDLのG2リストに登録してないスペア領域の
他のブロックも，サーティフィケーションを行ってもよい。
17.8.2 初期化 ディスク上に記録済みのDMAがなければ，ディスクを初期化するものとする。初期化で
は，DDS/PDL更新カウンタ及びSDL更新カウンタは，0に設定するものとする。ディスク製造業者によ
る初期化の場合，初期化中に発見された欠陥セクタは，PDLのPリストに登録するものとする。ディスク
製造業者以外の者による初期化の場合，初期化中に発見された欠陥セクタは，PDLのG1リストに登録す
るものとする。両方の場合，ユーザ領域の欠陥セクタだけでなくスペア領域の欠陥セクタもPDLに登録す
るものとする。サーティフィケーション処理は，初期化中に適用してよい。サーティフィケーション処理
をディスク製造業者が適用したならば，ディスクサーティフィケーションフラグのディスク製造業者サー
ティフィケーションフィールドは，“1”に設定するものとする。フルサーティフィケーション処理をディ
スク製造業者以外の者が全体のディスクに対して適用してあるならば，ディスクサーティフィケーション
フラグのユーザサーティフィケーションフィールドは，“1”に設定するものとする。フルサティフィケー
ション処理をグループに対して適用するならば，相当するグループサーティフィケーションフラグのユー
ザサーティフィケーションフィールドは，“1”に設定するものとする。すべてのグループサーティフィケ
ーションフラグのユーザサーティフィケーションフィールドが“1”に設定されているならば，ディスクサ
ーティフィケーションフラグのユーザサーティフィケーションフィールドは，“1”に設定するものとする。
PDLに登録するグループのセクタの数は，そのグループでのスペア領域のセクタの数を超えてはならな
い。
グループ内で遭遇する欠陥セクタの数がそのグループのスペア領域のセクタの数を超えるならば，PDL
に登録しきれない欠陥セクタは，SDLに登録し，そのグループに相当するスペア領域フルフラグは，“1”
に設定するものとする。
17.8.3 再初期化 DMAがフォーマッティング前にディスクに既に記録してあるなら，フォーマッティン
グは，再初期化とみなす。Pリストは，再初期化処理の前後を通じて保存するものとし，DDS/PDL更新カ
ウンタ及びSDL更新カウンタも再初期化前の値を引き続いて使用するものとする。再初期化は，次の処理
を伴ってもよい。
1) PDLからG1リストを削除するために及び／又はサーティフィケーション中に発見された新しい
PDLエントリを登録するために，フルサーティフィケーションを適用する。
2) SDLエントリをPDLのG2リストに変換する。
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3) G2リストをPDLから除去し，SDLエントリを除去する。
4) G2リストをPDLから除去し，SDLエントリを除去するために，部分サーティフィケーションを適
用する。
処理1)では，PDLのG2リストを常に除去する。サーティフィケーション中に発見された欠陥セクタは，
PDLのG1リストに登録するものとする。この処理は，書込み操作を伴うディスクのサーティフィケーシ
ョンを必ずしも要求しない。
“10”のエントリタイプであるPDLエントリのG1リストの修正を行うと，17.8［記述a)，b)又はc)］
の要求条件に反するECCブロックミスアラインメントを起こす結果となることがある。しかし，ディスク
をフォーマットするシステムは，要求条件を維持するようにしなければならない。フルサーティフィケー
ションを全体のディスクに対しディスク製造業者以外の者が適用した場合は，ディスクサーティフィケー
ションフラグのユーザサーティフィケーションは，“1”に設定するものとする。
フルサーティフィケーション処理をあるグループに適用した場合，相当するグループサーティフィケー
ションフラグのユーザサーティフィケーションは，“1”に設定するものとする。すべてのグループサーテ
ィフィケーションフラグのユーザサーティフィケーションフィールドが“1”に設定されれば，ディスクサ
ーティフィケーションフラグのユーザサーティフィケーションフィールドは，“1”に設定するものとする。
処理2)で，PDLのG1リストを保存し，SDLに登録した欠陥ブロックの16セクタのすべては，16個の
PDLエントリとしてPDLのG2リストに登録するものとする。
処理3)は，PDLエントリを迅速に最新サーティフィケーション後の状態に戻すようにするためのもので
ある。
処理4)で，部分サーティフィケーションは，PDL及びSDLのG2リストに登録した欠陥ブロックだけに
対してサーティフィケーションを行い，PDLのG1リストの実際の欠陥セクタを登録する。PDLのG2リ
スト又はSDLにリストしてないスペア領域での他のブロックについても，サーティフィケーションが必要
となる場合がある。“10”のエントリタイプをもつPDLエントリであるG1リストを変更すると，17.8［記
述a)，b)又はc)］の要求条件に反するECCブロックミスアラインメントを起こす結果となることがある。
しかし，ディスクをフォーマットするシステムは，要求条件を維持するようにしなければならない。
上記のどの場合も，PDLに登録したグループのセクタ数は，そのグループのスペア領域のセクタの数を
超えてはならない。
グループ内での欠陥セクタ数がそのグループのスペア領域のセクタの数を超えるならば，PDLに登録す
ることのできないこれらの欠陥セクタはSDLに登録し，そのグループに相当するスペア領域フルフラグは，
“1”に設定するものとする。
PDLにPDLエントリが存在するとき，これらのセクタは，ユーザサーティフィケーションフラグ及び
ディスク製造業者サーティフィケーションフラグの両方が“0”であるとしても，スキップするものとする。
この処理は，17.4に規定する処理と同じである。
17.8.4 初期化及び再初期化後のデータフィールド番号
a) サーティフィケーション付き初期化
1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号は (000000) と (00000F) の間に設定する。
2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号は (031000) ＋LSNとする。
b) サーティフィケーションなしの初期化
1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号は，未記録である。
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2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号は (031000) ＋LSNとする。
c) サーティフィケーション付きで初期化されたディスクの再初期化
1) サーティフィケーション付き再初期化
1.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号は (000000) と (00000F) の間に設定する。
1.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号は (031000) ＋LSNとする。
2) サーティフィケーションなしの再初期化
2.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号は，次の2種のうちいずれかに設定する。
− 先頭セクタのセクタ番号を (10) の倍数とし，そのブロック内の後続セクタは連続的に番号付
けされている。
− 各セクタのデータフィールド番号は (000000) と (00000F) の間にある。
2.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号は (031000) ＋LSNとする。
d) サーティフィケーションなしで初期化されたディスクの再初期化
1) サーティフィケーション付き再初期化
1.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号は (000000) と (00000F) の間に設定する。
1.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号は (031000) ＋LSNとする。
2) サーティフィケーションなしの再初期化
2.1) 未使用ブロックの各セクタのデータフィールド番号は，次の2種のうちいずれかに設定する。
− 先頭セクタのセクタ番号を (10) の倍数とし，そのブロック内の後続セクタは連続的に番号付
けされている。
− 各セクタのデータフィールド番号は，未記録である。
2.2) このような未使用ブロックを使用するとき，そのデータフィールド番号は (031000) ＋LSNとする。
e) 一度再初期化されたディスクの再初期化
1) c) 1)，c) 2)及びd) 1)の手続で得られたディスクの再初期化は，c)の手順で扱うものとする。
2) d) 2)の手続で得られたディスクの再初期化は，d)のプロセスによる。
17.9 書込み手順 グループのセクタにデータを書き込むとき，PDLに登録した欠陥セクタをスキップし，
スリッピングアルゴリズムに従って，次のデータセクタにデータを書き込むものとする。
書き込むブロックに欠陥があると分かれば，欠陥ブロックは，リニアリプレイスメントアルゴリズムに
従って，利用できる良品の最初のスペアブロックに置き換えるものとする。
書き込むブロックが“0”のFRMをもつSDLに登録してあれば，リニアリプレイスメントアルゴリズム
に従って，SDLによって示されたスペア領域の交替ブロックにデータを書き込むものとする。
書き込むブロックが“1”のFRMをもつSDLに登録してあれば，リニアリプレイスメントアルゴリズム
に従って，利用可能な良品の最初のスペアブロックに置き換えるものとする。
17.10 読取り手順
17.10.1 ブランクECCブロック ブランクECCブロックは，次の二つの条件のどちらかを満たすブロック
である。
1) ECCブロックの各セクタのデータフィールド番号は， (000000) 及び (00000F) の間にある（17.8.4参
照）。
2) 各セクタの記録フィールドは，未記録である。
ブランクECCブロックは，ユーザデータを含まない。
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17.10.2 読取り手順 グループのセクタからデータを読み取るとき，PDLに登録した欠陥セクタをスキッ
プし，リニアリプレイスメントアルゴリズムに従って，次のデータセクタからデータを読み取るものとす
る。
読み取るブロックが“0”又は“1”のFRMをもつSDLに登録してあり，交替ブロックの第一セクタの
セクタ番号が (000000) 以外であれば，リニアリプレイスメントアルゴリズムに従って，SDLによって示
されたスペア領域の交替ブロックからデータを読み取るものとする。
読み取るブロックが“1”のFRMをもつSDLに欠陥ブロックとして登録してあり，交替ブロックの最初
のセクタのセクタ番号が (000000) であれば，その欠陥ブロックからデータを読み取るものとする。
読み取るブロックに欠陥があり，修正可能で，ディスクが書込み禁止でないならば，リニアリプレイス
メントアルゴリズムに従って，利用可能な良品の最初のスペアブロックで欠陥ブロックを置き換えてもよ
い。
読み取るブロックに欠陥があり，修正不可能で，ディスクが書込み禁止でないならば，リニアリプレイ
スメントアルゴリズムに従って，FRMを“1”としてSDLに欠陥ブロックを登録してもよい。
読み取るスペアブロック（交替ブロックとして使用中）に欠陥があり，修正不可能で，ディスクが書込
み禁止でなければ，相当するSDLエントリのFRMを“1”に変えてもよい。
第4章 エンボス情報の特性
18. 試験方法 ディスクのエンボス情報のフォーマットは，第3章で定義してある。19.から21.までは，
9.1で定義した光ヘッドを使用するとき得られる，ランド及びグルーブ，ヘッダフィールド及びエンボスデ
ータからの信号の要求事項を規定する。
19.から21.までは，エンボス情報の平均品質だけを規定する。規定値からの局部的な変動は，これを欠
陥と呼ぶが，トラッキングエラー，ヘッダフィールドでのエラー及びデータフィールドでのエラーの原因
となる。
18.1 環境条件 19.から21.までのすべての信号は，8.1.2で定義された許容動作環境条件の範囲にあるデ
ィスクにおいて規定範囲にあるものとする。
18.2 基準ドライブ 19.から21.までに規定するすべての信号は，基準ドライブの規定チャネルで測定する
ものとする。基準ドライブは，これらの試験の目的のために次の特性をもつものとする。
18.2.1 光学及び機構 焦点を合わせた光ビームは，9.1に定義された性質をもつものとする。
18.2.2 読取りパワー 読取りパワーは，ディスクの入射面に投射した光学的パワーで，情報の読取りに使
用する。読取りパワーは，コントロールデータゾーンで与えるものとする（16.2.6参照）。パワー変動の許
容値は，与えられたパワーの±10 %以内とする。
18.2.3 読取りチャネル1，2 ドライブは，対物レンズのひとみ（瞳）の出口での全光量を測定するため
の，読取りチャネル1をもつものとする。読取りチャネルからの読取り信号は，ジッタを測定するとき以
外は波形等化を行わない。ドライブは，分割フォトディテクタの差動出力を測定する，読取りチャネル2
をもつものとする。読取りチャネル2からの読取り信号は，ジッタを測定するとき以外は波形等化を行わ
ないものとする（9.2参照）。
18.2.4 トラッキングチャネル ドライブは，四分割フォトディテクタの総出力及び差動出力を測定するた
めの，トラッキングチャネルをもつものとする。
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18.2.5 トラッキング 信号の測定中，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，
次の値を超えてはならない。
emax（軸方向）＝0.23μm
そして，光ビームの焦点とトラックのセンターの半径方向のエラーは，次の値を超えてはならない。
emax（半径方向）＝0.022μm
18.3 信号の定義 すべての信号は，フォトディテクタの電流に対してリニアな関係にあり，したがって，
ディテクタに入る光学的パワーに対しリニアな関係にある。
光ヘッドの直流結合増幅器H1，H2の出力，すなわち，Ia＋Ib，Ic＋IdをそれぞれI1，I2で示す（9.1参照）。
トラッキングチャネルの信号は，信号 (I1＋I2) aを基準とする。信号 (I1＋I2) aは，例えば，セクタのミラー
フィールドのように，情報ゾーン（16.1参照）内で未記録であり，かつ，グルーブのない領域から得た信
号の合計値である。
読取りチャネル1の信号は，I0を基準としたI1及びI2の合計値である。I0は例えば，セクタのミラーフ
ィールドのように，情報ゾーン内で未記録であり，かつ，グルーブのない領域からの読取りチャネルの信
号 (I1＋I2) である。
読取りチャネル2の信号は，I0を基準としたI1及びI2の差異である。
図38〜45は，19.，20.及び21.で規定した信号を示す。
図38 トラッキングチャネルのランド及びグルーブからの信号
図39 読取りチャネル2のヘッダフィールドからの信号
図40 読取りチャネル1のミラーフィールド及びギャップフィールドからの信号
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図41 読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号
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a) グルーブセクタ上
b) ランドセクタ上
図42 読取りチャネル2のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図43 高周波信号
図44 エンボス領域からのクロストラック信号
a) グルーブトラック上
b) ランドトラック上
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図45 読取りチャネル2のグルーブ又はランドからの信号
19. ランド及びグルーブからの信号 トラッキングチャネルでの信号 (I1＋I2) 及び (I1−I2) は，30kHzの
遮断周波数で低域フィルタされるものとする。低域フィルタは，一次フィルタである。この条件は， (I1
＋I2) aの測定に適用してはならない。
グルーブの形状は，次の要求事項を満たすものとする。
19.1 プッシュプル信号 プッシュプル信号は，光ビームが，書換え可能領域の書込み及び書込みをして
ない記録フィールドの両方のトラックを横切るときの，トラッキングチャネルでの差動信号 (I1−I2) であ
る。プッシュプル信号のp-p値は，次の要求事項を満たすものとする。
(
)
(
)
05
.1
35
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
−
19.2 デバイデッドプッシュプル信号 デバイデッドプッシュプル信号の第一次項は，書換え可能領域の
書込み及び書込みをしてない記録フィールドの両方のトラックを光ビームが横切るときの (I1−I2) の瞬時
レベルを (I1＋I2) の瞬時レベルで除した値のp-p値である。
デバイデッドプッシュプル信号の第二次項は，第一次項の最小値を第一次項の最大値で除した値である。
トラッキングサーボは，この測定中，開ループモードで動作するものとする。
第一次項は，次の要求事項を満たすものとする。
(
)
(
)
65
.1
10
.1
2
1
2
1
≦
≦
pp
I
I
I
I
+
−
第二次項は，次を満たすものとする。
(
)
(
)
(
)
(
)
70
.0
max
2
1
2
1
min
2
1
2
1
≧
+
−
+
−
pp
pp
I
I
I
I
I
I
I
I
19.3 オントラック信号 オントラック信号は，光ビームが書換え可能領域の記録フィールドのグルーブ
又はランドを追従するときの読取りチャネル1の信号である。書き込みのないギャップフィールドで測定
されたオントラック信号Iotは，次の要求事項を満たすものとする。
a) グルーブトラック上
84
.0
56
.0
0
≦
≦IIot
b) ランドトラック上
84
.0
56
.0
0
≦
≦IIot
次の追加条件を，ランドトラック上だけでなく，グルーブトラック上でも満たすものとする。
()
()
1.1
9.0
≦
≦
land
ot
groove
ot
I
I
19.4 位相深さ グルーブの位相深さは，90°以下とする。
19.5 ウォブル信号 ウォブル信号は，光ビームが書換え可能領域の記録フィールドのグルーブ又はラン
ドを追従するときの読取りチャネル2の信号である。
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ウォブル信号の狭帯域信号対雑音比は，次の要求事項を満たすものとする。
a) グルーブトラック上
狭帯域信号対雑音比は，少なくとも20dB（3kHzのレゾルーション帯域）とする。
b) ランドトラック上
狭帯域信号対雑音比は，少なくとも20dB（3kHzのレゾルーション帯域）とする。
ウォブル信号の振幅Wppは，次の要求事項を満たすものとする。ウォブル信号の振幅は，記録されてい
ない領域で測定する。
a) グルーブトラック上
(
)
10
.0
05
.0
2
1
≦
≦
pp
pp
I
I
W
−
b) ランドトラック上
(
)
10
.0
05
.0
2
1
≦
≦
pp
pp
I
I
W
−
(I1−I2)ppは，書換え可能領域の書込みのない記録フィールドのトラックを光ビームが横切るときのトラ
ッキングチャネルでの (I1−I2) のp-p値である。
20. 書換え可能領域のヘッダフィールドからの信号 書換え可能領域のヘッダフィールドから得た信号
は，基準ドライブの読取りチャネル2で測定する。
ジッタは，次の手順に従いグルーブトラック及びランドトラックの各々に対して測定するものとする。
− 18.2で規定する条件のもとで，ヘッダ1フィールドのアドレスマークに先行するVFO1フィールドの
後端から約8バイトを含み，ヘッダ2フィールドのPA2フィールドまでの信号を読み取る。
− 18.2で規定する条件のもとで，ヘッダ3フィールドのアドレスマークに先行するVFO1フィールドの
後端から約8バイトを含み，ヘッダ4フィールドのPA2フィールドまでの信号を読み取る。
ジッタは，18.2.3で規定する読取りチャネル2を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。
立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのジッタを，PLLクロックで測定し，チャネルクロック周期で正
規化する。ジッタσは，附属書Fに従って測定するとき，チャネルクロック周期の8.5 %以下とする。
20.1 VFO1及びVFO2 VFO1及びVFO2フィールドのマークからの信号は，次の要求事項を満たすもの
とする。
25
.0
0
VFO≧
I
I
追加条件として，各ヘッダフィールド内で次の式を満たすものとする。
50
.0
max
h
VFO≧
I
I
ここで，Ih maxは，20.で定義されたヘッダフィールドのマークからの信号の最大値である。
20.2 アドレスマーク，PID，PED及びポストアンブル アドレスマーク，PID，PED及びポストアンブル
は，次の要求事項を満たすものとする。
10
.0
0
min≧
I
Ih
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
30
.0
0
max≧
I
Ih
30
.0
max
min≧
h
h
I
I
最後の式の要求事項は，どのヘッダフィールドに対しても適用する。Ih min及びIh maxは，セクタのヘッダ
1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4の各々の最小値及び最大値である。
20.3 ヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号 読取りチャネル2のヘッダ1，ヘッダ2，
ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，ランドトラック及びグルーブトラックの境界を検出するために用い，
読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，トラッキングオフセットを
補正するために用いる。読取りチャネル2のグルーブセクタのヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4
からの信号は，図42に示す。読取りチャネル2のランドセクタのヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッ
ダ4からの信号は，図42に示す。グルーブセクタのヘッダ1及びヘッダ2からの信号は，読取りチャネル
2のランドセクタのこれらのヘッダに対して反対の極性をもつ。グルーブセクタのヘッダ3及びヘッダ4
からの信号は，読取りチャネル2のランドセクタのこれらのヘッダに対して反対の極性をもつ。読取りチ
ャネル2のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，次の要求事項を満たすものとする。
1.1
9.0
1
AMHD
2
AMHD≦
≦II
1.1
9.0
3
AMHD
4
AMHD≦
≦II
8.0
1
AMHD
13
AM
≧
I
I
8.0
3
AMHD
31
AM
≧
I
I
−0.1≦ (IβHD1−IαHD1) /2IAMHD1≦0.1
−0.1≦ (IβHD2−IαHD2) /2IAMHD2≦0.1
−0.1≦ (IβHD3−IαHD3) /2IAMHD3≦0.1
−0.1≦ (IβHD4−IαHD4) /2IAMHD4≦0.1
読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，次の要求事項を満たすも
のとする（図41参照）。
| [IHD1＋IHD2) − (IHD3＋IHD4) ] /2I0|≦0.05
読取りチャネル1のヘッダ1，ヘッダ2，ヘッダ3及びヘッダ4からの信号は，次の要求事項を満たすも
のとする（図41参照）。
|⊿ [IHD1＋IHD2) − (IHD3＋IHD4) ] /2I0|≧0.10
⊿は，半径方向に光ビームを0.1μmオフセットさせたときの変化分を表す。
20.4 位相深さ エンボスピットの位相深さは，90°以下とする。
21. エンボス領域からの信号
21.1 高周波 (HF) 信号 HF信号は，読取りチャネル1で測定されたエンボス領域のマークからの信号で
ある（図43及び附属書F参照）。
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21.1.1 変調振幅 変調振幅I14は，最大ピット長又はランド長によって発生した値 (p-p) とする。ピーク
値I14Hは，高域フィルタ前のHF信号のピーク値とし，最短ピット又はランド長の値 (p-p) は，I3とする。
0レベルは，ディスクの存在しないときの反射のないレベルである。
上記のパラメータは，次の規格値を満たすものとする。
I14/I14H≧0.35
I3/I14≧0.35
(I14H max−I14 min) /I14H max≦0.33（1枚のディスク内）
(I14H max−I14 min) /I14H max≦0.15（1回転内）
ここで，I14H maxはディスク内又は1回転内のI14Hの最大値，I14H minはディスク内又
は1回転内のI14Hの最小値とする。
21.1.2 信号の非対称性 非対称性値は，次の規格値を満たすものとする。
−0.05≦ [ (I14H＋I14L) − (I3H＋I3L) ] /2 (I14H−I14L) ≦0.15
21.1.3 クロストラック信号 クロストラック信号は，光ビームがトラックを横切るとき，30kHzの遮断周
波数で低域フィルタされたHF信号から得る。低域フィルタは一次フィルタである（図44参照）。
信号は，次の規格値を満たすものとする。
IT＝IH−IL
IT/IH≧0.10
21.2 ジッタ ジッタは，波形等化器を通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。立ち上がり
エッジ及び立ち下がりエッジのジッタを，PLLクロックで測定し，チャネルクロック周期で正規化する。
ジッタσは，附属書Fに従って測定するとき，チャネルクロック周期の8.0 %以下とする。
21.3 サーボ信号 光ヘッドの各々の四分割フォトディテクタの出力電流は，Ia，Ib，Ic及びIdである（図
46参照）。
21.3.1 位相差トラッキングエラー信号 位相差トラッキングエラー信号は，光ビームがトラックを横切る
とき，ディテクタの対角の対間の位相差 位相 (Ia＋Ic) −位相 (Ib＋Id) から導かれる（図48参照）。位相差
トラッキングエラー信号は，30kHzの遮断周波数で低域フィルタをかける（附属書C参照）。この信号は，
次の要求事項を満たすものとする。
振幅 正のゼロ交差において，半径方向のオスセット0.10 μmがあるとき，t
∆/T＝0.5〜1.1。ここで，t
∆は
ディテクタの対角の対間の位相差から導く平均時間差とし，Tは，チャネルクロック周期とする。
非対称性 非対称性値は，次の規格値を満たすものとする。
| (T1−T2) / (T1＋T2) |≦0.2
21.3.2 接線方向のプッシュプル信号 接線方向のプッシュプル信号は，光ビームが一つのトラックを追従
するときの差動出力， [ (Ia＋Id) − (Ib＋Ic) ] の瞬時レベルから導く（図47参照）。
上記パラメータは，次の規格値を満たすものとする。
| (Ia＋Id) − (Ib＋Ic) | p−p/I14≦1.2
図46 四分割フォトディテクタ
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図47 接線方向のプッシュプル信号
図48 位相差トラッキングエラー信号
第5章 記録層の特性
22. 試験方法 23.は，データを書き込むために用いる記録層の相変化記録性能を評価する一連の試験を述
べている。試験は，書換え可能領域のセクタの記録フィールドで行うものとする。試験に必要な書込み及
び読取り動作は，同じ基準ドライブで行うものとする。
22.1 環境条件 23.のすべての信号は，8.1.2で定義した許容動作環境条件の範囲にあるディスクにおいて
規定範囲内にあるものとする。
22.2 基準ドライブ 23.で述べたオーバライト及び読取り試験は，基準ドライブの読取りチャネル1で測
定する。基準ドライブは，これらの試験の目的のために次の特性をもつものとする。
22.2.1 光学及び機構 焦点を合わせた光ビームは，9.1に定義した性質をもつものとする。ディスクは，
9.3に規定するように回転するものとする。
22.2.2 読取りパワー 読取りパワーは，ディスクの入射面に投射した光ビームのパワーであり，情報を読
取るために用いる。読取りパワーは，コントロールデータゾーンに与えるものとする（16.2.6参照）。パワ
ー変動の許容値は，与えられたパワーの±10 %以内とする。
22.2.3 読取りチャネル 基準ドライブは，記録層のマーク及びスペースを検出できる読取りチャネル1
をもつものとする。読取りチャネルからの読取り信号は，ジッタを測定するとき以外は波形等化を行わな
い。読取り信号を2値化するしきい値レベルは，オーバライトによるマーク及びスペースのサイズの変化
の影響を最小化するように調整するものとする（附属書F参照）。
ドライブは，対物レンズの出口ひとみ（瞳）での全光量を測定する読取りチャネル1をもつものとする
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（9.2参照）。
22.2.4 トラッキング 信号の測定中，光ビームの焦点は，18.2.5に規定するようにトラックに追従するも
のとする。
22.2.5 走査速度 すべてのオーバライト及び読取り試験は，線速度：速度1× (1±0.01) で行う。速度1
は，コントロールデータゾーンで規定するものとする（16.2.6参照）。
22.3 書込み条件 マーク及びスペースは，ピークパワー，バイアスパワー1及びバイアスパワー2によっ
て，ディスク上にオーバライトする。マークは，ピークパワーとバイアスパワー2との間で変調した書込
みパルスを照射することによってディスク上にオーバライトする。スペースは，バイアスパワー1を照射
することによってディスク上にオーバライトする。
22.3.1 書込みパルス 書込みパルスは，附属書Hの図H.1で与えられる光パルスからなる。書込みパル
スは，先頭パルス，マルチパルス列及び末尾パルスからなる。書込みパルスは，先頭パルスで開始し，末
尾パルスで終了する。末尾パルスに引き続き，バイアスパワー2が照射される。先頭パルスは，NRZI信号
の立ち上がりエッジから遅れてTSFPで開始し，NRZI信号の立ち上がりエッジから遅れてTEFPで終了する。
TSFP及びTEFPは，コントロールデータゾーンで与えるものとする（16.2.6参照）。
マルチパルス列は，持続期間TMP及び周期Tの繰返しパルスからなる。Tは，チャネルロックの周期で
あり，TMPは，コントロールデータゾーンで与えるものとする（16.2.6参照）。
TEFPがTより小さい場合，マルチパルス列は，NRZI信号の4Tから14Tに相当する書込みパルスに対し
て存在し，NRZI信号の立ち上がりエッジからTだけ遅れて開始する。
TEFPがTより大きいか又は等しい場合，マルチパルス列は，NRZI信号の5Tから14Tに相当する書込み
パルスに対して存在し，NRZI信号の立ち上がりエッジから2Tだけ遅れて開始する。
マルチパルス列の最後のパルスは，NRZI信号の立ち下がりエッジの3T前で開始する。
末尾パルスは，NRZI信号の立ち下がりエッジの時間の前の2T-TSLPで開始し，NRZI信号の立ち下がり
エッジの時間の前の2T-TELPで終了する。TSLP及びTELPは，コントロールデータゾーンで与えるものとする
（16.2.6参照）。末尾パルスから続くバイアスパワー2の期間は，NRZI信号の立ち下がりエッジの時間の
前の2T-TLEで終了する。これは，コントロールデータゾーンで与えるものとする（16.2.6参照）。TEFP-TSFP，
TMP，TELP-TSLP及びTLE-TELPは，半値幅での持続期間である。各光パルスの半値幅での持続期間は，附属書
Hの図H.2に定義する。立ち上がり時間Tr及び立ち下がり時間Tfは，各々5ns以下とする。各パルスの実
際の持続期間の変動の許容値は，10%以内とする。
22.3.2 書込みパワー 書込みパワーは，三つのレベル，ピークパワー，バイアスパワー1及びバイアスパ
ワー2をもっており，これらは，ディスクの入射面に投射する光ビームのパワーで，マーク及びスペース
を書き込むために使うものである。
ピークパワー及びバイアスパワーは，コントロールデータゾーンに与えるものとし（16.2.6参照），バイ
アスパワー2は，読取りパワーより小さいか又は等しいものとする。先頭パルス及びマルチパルス列の全
ピークパワーは，ピークパワーと同値である。実際のパワー変動の許容値は，これらの選択されたものの
5%以内にあるものとする。最大ピークパワーは，14mWを超えてはならない。最大バイアスパワー1は，
10mWを超えてはならない。
22.4 信号の定義 読取りチャネルの信号は，分割フォトディテクタの出力電流の総計値とリニアな関係
があり，それはディテクタに入射する光学的パワーとリニアな関係がある。
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23. 書込み特性 試験は，ディスク試験ゾーン及びドライブ試験ゾーンで行うものとする。
23.1 変調振幅及び信号の非対称性 変調振幅及び信号の非対称性は，読取りチャネル1で測定する（図
43及び附属書F参照）。
この測定は，ディスク試験ゾーン及びドライブ試験ゾーンのグルーブトラック及びランドトラックの
各々に対して行うものとする。
− 記録フィールドにランダムデータを10回オーバライトする。書込み条件は，22.3に規定する。
− 22.2に規定する条件のもとで記録フィールドを読み取る。
変調振幅I14は，最大マーク長又はスペース長によって発生した値 (p-p) とする。ピーク値I14Hは，高域
フィルタ前のHF信号のピーク値とし，最短マーク又はスペース長の値 (p-p) は，I3とする。0レベルは，
ディスクの存在しないときの反射のないレベルである（図43参照）。
上記のパラメータは，次の規格値を満たすものとする。
I14/I14H≧0.43
I3/I14≧0.40
(I14 max−I14 min) /I14 max≦0.10（1セクタ内）
(I14H max−I14H min) /I14H max≦0.33（1枚のディスク内）
(I14H max−I14H min) /I14H max≦0.15（1トラック内）
ここで，I14 max及びI14 minはセクタ内でのI14の最大値及び最小値，I14H maxはディ
スク内又は1トラック内のI14H及びI0tの最大値，I14H minはディスク内又は1ト
ラック内のI14H及びI0tの最小値とする。
非対称性値は，次の規格値を満たすものとする。
−0.05≦ [ (I14H＋I14L) − (I3H＋I3L) ] /2 (I14H−I14L) ≦0.15
23.2 ジッタ ジッタの試験は，ディスク試験ゾーン及びドライブ試験ゾーンの記録フィールドで， (m−
2) ， (m−1) ，m， (m＋1) ， (m＋2) で表した任意の五つの隣接したトラックで行う。トラックmがグ
ルーブのとき， (m−2) ， (m＋2) は，グルーブであり， (m−1) ， (m＋1) のトラックは，ランドであ
る。一方，トラックmがランドのとき， (m−2) ， (m＋2) は，ランドであり， (m−1) ， (m＋1) のト
ラックは，グルーブである。ジッタは，グルーブ及びランドトラックの各々に対し，次の手続で測定する
ものとする。
− すべての五つのトラックの記録フィールドにランダムデータをそれぞれ10回オーバライトする。書
き込み条件は，22.3に規定する。
− 22.2に規定する条件のもとでトラックmの少なくともPSフィールド，データフィールド及びPA3
フィールドを読み取る（図17参照）。
ジッタは，22.2.3で規定する読取りチャネルを通過した2値化データの時間変動の標準偏差σで表す。立
ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのジッタを，PLLクロックで測定し，チャネルクロック周期で正規
化する。ジッタσは，附属書Fに従がって測定するとき，チャネルクロック周期の8.5%以下とする。
第6章 ユーザデータの特性
24. 試験方法 ユーザ書込みデータの読取り試験は，基準ドライブで行うものとする。すべての信号は，
8.1.2で定義した動作環境条件の範囲において，この規格範囲内になければならない。ただし，試験前にデ
ィスクの入射面は，ディスクの製造業者の指示に従って清浄にすることを推奨する。
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附属書A（規定） 角度偏差αの測定
角度偏差は，基準面Pに垂直な入射光と反射光とによって作られる角度αである（図A.1参照）。
図A.1 角度偏差α
角度偏差αの測定のために，ディスクは，クランプゾーンのほぼ全域を覆う同心円環の間でクランプす
る。上面のクランプゾーンは，下面のクランプゾーンと同じ直径とする。
din＝22.3mm
5.00
+
mm
dout＝32.7mm05.0
−
mm
全クランプ力は，F1＝2.0N±0.5Nとする。クランプ力とディスクの中心孔のリムに加わるチャック力F2
によって生じる力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために，F2は，0.5Nを超えてはならない（図
A.2）。
この測定は，8.1.1の条件のもとで行う。
図A.2 クランプ及びチャックの条件
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附属書B（規定） 複屈折の測定
B.1測定原理 複屈折を測定するために，平行光の円偏光を使用する。位相遅延は，反射光のだ（楕）円率
を観測することによって測定する。
図B.1 だ円率e＝b/a及び方位θをもつだ円
だ円の方位θは，光学軸の方位で決定する。
θ＝γ−π/4 ················································································· (1)
ここで，γ は，光学軸と半径方向との間の角度を表す。
だ円率e＝b/aは，位相遅延δの関数を表す。
−δ
π
2
2
1
tan
＝
e
········································································ (2)
位相遅延δが既知であるとき，複屈折BRは，波長の分数として表す。
δ
π
λ
2
＝
BR
nm ·········································································· (3)
このように，ディスクから反射しただ円偏光を観測することによって複屈折を測定でき，光学軸の方位
も評価できる。
B.2 測定条件 上記に規定した複屈折の測定は，次の条件で行う。
反射での測定モード
： ダブルパス測定法
レーザ光の波長λ
： 645nm±15nm
光線径 (FWHM)
： 1.0mm±0.2mm
基準面Pに垂直な半径方向の面に関して半径方向での入射光の角度β
： 7.0°±0.2°
クランプ及びチャックの条件 ： 附属書Aの規定による
ディスクの装着
： 水平
回転
： 1Hz以下
温度及び相対湿度
： 8.1.1の規定による
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B.3 測定装置の例 この規格は，複屈折を測定する特定の測定装置を規定しないが，この測定に適した装
置の例を図B.2に示す。
図B.2 複屈折測定用装置の例
偏光子（消光比≈10−5）にコリメートしたレーザ光源からの光は，1/4波長板によって円偏光にする。反
射光のだ円率は，回転検光子及びフォトディテクタで分析する。ディスクのあらゆる位置に対して強度の
最小及び最大値を測定する。だ円率は，このとき，
e2＝Imin/Imax ··············································································· (4)
式 (2)，(3)及び(4)を組み合わせて，
max
min
arctan
/
4/
I
I
BR
×
−
=
π
λ
λ
この装置は，次のように容易に校正できる。
− Iminは，偏光子又は1/4波長板を測定することによって0に設定する。
− 鏡面を測定するときは，Imax＝Imin
表面反射による，直流的変化以外に，表面反射と記録面からの反射のために交流成分が生じる可能性が
ある。この交流成分は，基板が限りなく平らで光源の干渉性が高いときだけ顕著となる。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C（規定） 位相差トラッキングエラー信号の測定方法
C.1 位相差トラッキングエラー信号の測定方法 トラッキングエラー測定の基準回路は，図C.1に示す。
四分割ディテクタの対角の対の各出力は，次の式によって，定義した波形等化の後に独立して2値化する。
H (s) ＝ (1＋1.6×10−7iω) / (1＋4.7×10−8iω)
比較器の利得は，最小の信号振幅でも出力が完全飽和に達しなければならない。2値化したパルス信号
のエッジ（信号B1及びB2）の位相は，相互に比較し時間進み信号C1及び時間遅れ信号C2を作る。位相
比較器は，個々のエッジに応じて，⊿tiの符号（正負）に応じ，信号C1又はC2を出力する。トラッキン
グエラー信号は，低域フィルタによって信号C1，C2を平滑化し，単位利得差動増幅器の手段で差し引く
ことによって作る。低域フィルタは，30kHzで−3dBの遮断周波数をもつ一次フィルタとする。
Tの1%は，0.38nsのように非常に小さい時間差を測定しなければならないので，回路実装に当たっては
特別な注意をしなければならない。また，注意深い平均化が必要である。
四分割ディテクタの対角の対からの二つの信号間の平均時間差は，次による。
(
)
it
N
t
∆
∑
=
∆
/1
ここで，Nは，立ち上がり及び立ち下がりの両方のエッジの数とする。
C.2 タイムインタバルアナライザを使用しない
T
t/
∆
の測定 相対時間差
T
t/
∆
は，C1及びC2信号の振幅
及び読取り信号の周波数成分を基準化している場合のトラッキングエラー信号の振幅で表す。トラッキン
グエラー振幅TVE
∆
と時間差との関係は，次による。
n
V
T
t
V
NnT
t
V
T
t
TVE
i
i
i
PC
PC
PC
×
∆
∆
∑
∑
∆
∑
∆
＝
＝
＝
ここで， VPCは，C1及びC2信号の振幅。
Tiは，3Tから14Tの範囲内で読取り信号の実際の長さ。
nTは，実際の長さの重みつき平均。
NnTは，平均時間の総和。
Vpcを≈5Vとし，測定したnの値を≈5とすると，トラッキングエラー振幅TVE
∆
と時間差t
∆の上記の関
係は，次のとおり簡略化することができる。
T
t
TVE
/
∆
∆
＝
C.3
T
t/
∆
の校正 位相比較器の利得は，ばらつく傾向があるので，位相比較器の利得の校正には特別の注
意をしなければならない。位相差トラッキングエラー信号の測定に当たって，次のチェック及び校正方法
を行う。
a) 測定回路のチェック
1) 最初の比較器の入力 (3T) の振幅とトラッキングエラー信号の振幅との関係を測定する。
2) 増幅器の現状利得が飽和領域であることをチェックする（図C.2参照）。
b) 校正係数Kの決定
1) 周波数が2.616MHz（5Tに相当）で，位相差をもつ二つの正弦波信号A1及びA2を生成し，二つの
波形等化回路に加える。
2)
T
t/
∆
及び
PC
/V
TVE
∆
との関係を測定する
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(
)(
)n
T
t
K
V
TVE
/
/
/
PC
∆
∆
＝
n＝5に対して
(
)(
)
PC
/
/
/
2.0
V
TVE
T
t
K
∆
∆
＝
T
t/
∆
及び
PC
/V
TVE
∆
との関係はリニアである（図C.3参照）。
c) 測定された
T
t/
∆
と算出されたものを比較する。
1) C.1の方法を用いて
T
t/
∆
を測定する
2)
T
t/
∆
（真の値）を次のようにして算出する
T
t/
∆
（真の値）＝
T
t
K
/
∆
×
（測定値）
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図C.1 トラッキングエラー測定回路
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図C.2 比較器入力信号振幅とトラッキングエラー信号振幅との関係
図C.3
T
t/
∆
と
PC
/V
TVE
∆
との関係
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附属書D（規定） 反射率の校正及び測定方法
D.1 校正方法 良好な基準ディスク，例えば，金の反射鏡面をもつ0.6mm厚さのガラスディスクを用いる。
この基準ディスクは，図D.1に示すように平行光で測定する。
図D.1 反射の校正
この図の各事項は，次による。
I
： 入射光
r
： 入射面の反射
Rs
： 記録層の主反射
Rin
t
： 入射面及び記録層からのその他の反射
R//
： 図D.1での反射率の測定値
R//
＝ r＋Rs＋Rint
r
＝ [(n−1) / (n＋1)] 2 ここで，nは基板の屈折率
Rs
＝ R//-r-Rint
Rs
＝ [(1−r) 2× (R//−r)] / [1-r× (2−R//)]
R//から上記の方法でRsを求める。
ここで，Rsは，基準ドライブで測定される収束光反射率と等価であり，入射面の反射の影響を受けない
ものである。
D.2 測定方法 反射光パワーは，基準ドライブで測定する。
a) 書換え可能領域での反射率
光ヘッドによる反射率の測定方法
1) 校正した反射率Rsをもつ基準ディスクの反射光パワーDsを測定する。
2) 被測定ディスクのミラーフィールドから反射光パワーDsを測定する。
3) 被測定ディスクの書換え可能領域でのディスクの反射率Rdの算出は，次による。
m
s
s
d
D
D
R
R ＝
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b) エンボス領域での反射率
光ヘッドによる反射率の測定方法
1) 校正した反射率Rsをもつ基準ディスクの反射光パワーDsを測定する。
2) 被測定ディスクのエンボス領域から反射光パワーI14Hを測定する。
3) 被測定ディスクのエンボス領域でのディスクの反射率R14Hの算出は，次による。
14H
14H
I
D
R
R
s
s
＝
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附属書E（規定） ディスククランプのためのテーパコーン
測定用ディスクの中心位置決めに用いる装置は，テーパ角度40.0°±0.5°をもつコーンとする（図E.1
参照）。
図E.1 テーパコーン
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附属書F（規定） 動作信号の測定条件
1) PLL
自然角周波数
4Tでωn＝0.3×106 rad/s
ダンピング比
4Tでζ＝0.7
2) スライサ
デューティフィードバック法fc＝10kHz
3) ジッタ
ディスクの1/4回転のジッタを測定する。
測定周波数帯域は，1kHz〜HFとする。
図F.1 スライサの回路図の例
フォトディテクタ前置増幅器の帯域幅は，群遅延ひずみを防ぐために20MHz以上とする。
低域フィルタ：6次ベッセルフィルタ，fc (−3dB) ＝10.0MHz
アナログ波形等化器の例：伝達関数H (z) ＝1.30z−2−0.15 (1＋z−4) をもつ3タップトランスバーサルフ
ィルタ
フィルタ及び波形等化：
− 利得変動：最大1.0dB（8.0MHz以下）
− 群遅延変動：最大3ns（7.0MHz以下）
− （6.0MHzでの利得）−（0Hzでの利得）＝2.8dB±0.3dB
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図F.2 波形等化器及び低域フィルタの周波数特性
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附属書G（規定） RLL (2, 10) 制約の8-16記録符号
表G.1及び表G.2は，8ビットバイトを16ビット符号語に変換した表を示す。図G.1は，符号語及び関
係状態規定がどのように生じているかを図示する。
図G.1 符号語の生成
図G.1の記号は，次による。
X (t) ＝H {B (t) , S (t)}
X15 (t) ＝msb及びX0 (t) ＝lsb
S (t＋1) ＝G {B (t) , S (t)}
Hは，出力関数
Gは，次の状態の関数
状態を離れる符号語は，一つの状態に入る符号語と，その状態から離れる符号語の接続部において，二
つの“1”の間で最小2及び最大10の“0”がなければならないという要求事項を満たすように選ぶ。
追加要求事項は，次による。
− 状態2を離れる符号語では，ビットX15及びビットX3の両者を，“0”に設定する。
− 状態3を離れる符号語では，ビットX15，ビットX3のいずれか又は両者を，“1”に設定する。
このことは，状態2及び状態3の符号語のセットが一致しないことを意味する。
符号語X (t)
次の状態S (t＋1)
符号語X (t＋1)
末尾部連続“0”が1個又はなし
状態1
先頭部連続“0”が2個又は9個まで
末尾部連続“0”が2個又は5個まで
状態2
先頭部連続“0”が1個又は5個まで及び
X15 (t＋1) , X3 (t＋1) ＝0, 0
末尾部連続“0”が2個又は5個まで
状態3
先頭部連続“0”が0個又は5個まで及び
X15 (t＋1) , X3 (t＋1) ≠0, 0
末尾部連続“0”が6個又は9個まで
状態4
先頭部連続“0”が1個又はなし
図G.2 状態の決定
記録したデータをデコードするとき，元の主データを再構築するためには，エンコーダの知識を必要と
することに留意されたい。
B (t) ＝H−1 {X (t) , S (t)}
誤り伝ぱ（播）が含まれているために，そのような状態依存のデコーディングを避けるべきである。こ
の8-16変調の場合には，状態についての知識をほとんどの場合必要としないように変換テーブルを選んで
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きた。テーブルから集められるように，幾つかの場合で，二つの8ビットバイト，例えば，表G.1の状態
1及び状態2における8ビットバイト5及び6は，同じ16ビット符号語を生成する。テーブルの構成によ
って，この明らかなあいまいさを解決する。実際，二つの同一符号語が“状態”を離れる場合，その一つ
は“状態2”に行き，他方は“状態3”に行く。ビットX15及びX3の設定がこの二つの状態で常に異なっ
ているために，どの符号語も次の符号語のビットX15及びX3と一緒に符号語それ自体を解析することによ
って一義的にデコードすることができる。
B (t) ＝H−1 {X (t) , X15 (t＋1) , X3 (t＋1)}
テーブルでは，8ビットバイトをその10進数で表す。
表G.1 主変換テーブル
8ビット
バイト
状態1
状態2
状態3
状態4
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
0
0010000000001001
1
0100000100100000
2
0010000000001001
1
0100000100100000
2
1
0010000000010010
1
0010000000010010
1
1000000100100000
3
1000000100100000
3
2
0010000100100000
2
0010000100100000
2
1000000000010010
1
1000000000010010
1
3
0010000001001000
2
0100010010000000
4
0010000001001000
2
0100010010000000
4
4
0010000010010000
2
0010000010010000
2
1000000100100000
2
1000000100100000
2
5
0010000000100100
2
0010000000100100
2
1001001000000000
4
1001001000000000
4
6
0010000000100100
3
0010000000100100
3
1000100100000000
4
1000100100000000
4
7
0010000001001000
3
0100000000010010
1
0010000001001000
3
0100000000010010
1
8
0010000010010000
3
0010000010010000
3
1000010010000000
4
1000010010000000
4
9
0010000100100000
3
0010000100100000
3
1001001000000001
1
1001001000000001
1
10
0010010010000000
4
0010010010000000
4
1000100100000001
1
1000100100000001
1
11
0010001001000000
4
0010001001000000
4
1000000010010000
3
1000000010010000
3
12
0010010010000001
1
0010010010000001
1
1000000010010000
2
1000000010010000
2
13
0010001001000001
1
0010001001000001
1
1000010010000001
1
1000010010000001
1
14
0010000001001001
1
0100000000100100
3
0010000001001001
1
0100000000100100
3
15
0010000100100001
1
0010000100100001
1
1000001001000001
1
1000001001000001
1
16
0010000010010001
1
0010000010010001
1
1000000100100001
1
1000000100100001
1
17
0010000000100010
1
0010000000100010
1
1000001001000000
4
1000001001000000
4
18
0001000000001001
1
0100000010010000
2
0001000000001001
1
0100000010010000
2
19
0010000000010001
1
0010000000010001
1
1001000100000000
4
1001000100000000
4
20
0001000000010010
1
0001000000010010
1
1000100010000000
4
1000100010000000
4
21
0000100000000010
1
0000100000000010
1
1000000010010001
1
1000000010010001
1
22
0000010000000001
1
0000010000000001
1
1000000001001001
1
1000000001001001
1
23
0010001000100000
2
0010001000100000
2
1000000001001000
2
1000000001001000
2
24
0010000100010000
2
0010000100010000
2
1000000001001000
3
1000000001001000
3
25
0010000010001000
2
0100000000100100
2
0010000010001000
2
0100000000100100
2
26
0010000001000100
2
0010000001000100
2
1000000000100010
1
1000000000100010
1
27
0001000100100000
2
0001000100100000
2
1000000000010001
1
1000000000010001
1
28
0010000000001000
2
0100000010010000
3
0010000000001000
2
0100000010010000
3
29
0001000010010000
2
0001000010010000
2
1001001000000010
1
1001001000000010
1
30
0001000001001000
2
0100000100100000
3
0001000001001000
2
0100000100100000
3
31
0001000000100100
2
0001000000100100
2
1001000100000001
1
1001000100000001
1
32
0001000000000100
2
0001000000000100
2
1000100100000010
1
1000100100000010
1
33
0001000000000100
3
0001000000000100
3
1000100010000001
1
1000100010000001
1
34
0001000000100100
3
0001000000100100
3
1000000000100100
2
1000000000100100
2
35
0001000001001000
3
0100001001000000
4
0001000001001000
3
0100001001000000
4
36
0001000010010000
3
0001000010010000
3
1000000000100100
3
1000000000100100
3
81
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8ビット
バイト
状態1
状態2
状態3
状態4
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
37
0001000100100000
3
0001000100100000
3
1000010001000000
4
1000010001000000
4
38
0010000000001000
3
0100100100000001
1
0010000000001000
3
0100100100000001
1
39
0010000001000100
3
0010000001000100
3
1001000010000000
4
1001000010000000
4
40
0010000010001000
3
0100010010000001
1
0010000010001000
3
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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87
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8ビット
バイト
状態1
状態2
状態3
状態4
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
符号語
msb
lsb
次の
状態
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3
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2
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3
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3
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3
74
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2
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2
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1
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1
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2
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2
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2
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2
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2
1000100010001000
2
0100010001000100
2
88
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（規定） 書込みパルスの定義
NRZI信号波形及び光パルスの形状は，図H.1に示す。
8
9
X
6
2
4
3
: 1
9
9
8
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図H.1 書込みパルスの波形
90
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図H.2 光パルス形状の定義
91
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考）
ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のためのガイドライン
この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
図J.1 ギャップ長，ガード1長及び記録極性のランダム化のためのガイドライン
図J.2 ランダム信号発生器の例
92
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（参考） 輸送
この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
K.1 一般 輸送は，例えば，異なる期間，多くの輸送方法によって，そして世界中のすべての場所で，広
い範囲の温度及び湿度の変動の中で行われるので，輸送又は包装の規定条件を規定することは不可能であ
る。
K.2 包装 包装の形態は，送付元及び受領先との間で合意を得ておくことが望ましいが，そのような合意
がない場合は，送付元の責任である。次のような損害を考慮しておくことが望ましい。
K.2.1 温度及び湿度 断熱及び包装は，輸送の見込まれる期間中にわたる保存条件を維持するように設計
することが望ましい。
K.2.2 衝撃負荷及び振動
a) ディスクの形状にひずみを与える機械的負荷を避ける。
b) ディスクの落下を避ける。
c) ディスクは，適切な衝撃吸収材料を含む堅い箱にこん包することが望ましい。
d) 個装箱は，清浄な内部と汚れや湿気の侵入を防ぐシールをした構造をもつことが望ましい。
93
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考） 現在及び将来の規格で使用する数値
この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
この規格が規定するバイト値は，この規格，すなわち，“120mm DVD−書換形ディスク”の規格に適合
するDVDディスクに関するものである。DVDディスクの他のカテゴリーを将来標準化することを期待す
る。したがって，次の数値をこれら他のDVDディスクに使うよう推奨する。さらに可能なビットパター
ンが規定されていないところでは，将来の規格を意図しており使用すべきでない。
データID
ビットb31の設定は，次による
“0” 再生専用又はレコーダブル (DVD-R) ディスク用定線速度フォーマットを示す。
“1” 書換形ディスク用ゾーンフォーマットを示す。
ビットb30の設定は，次による。
“0” ビットトラッキングを示す。
“1” グルーブトラッキングを示す。
ビットb29の設定は，次による。
“0” 反射率は，40%を超えることを示す。
“1” 反射率は，40%以下であることを示す。
ビットb28は，“0”に設定する。
ビットb27及びb26の設定は，次による。
データゾーンで，
“00”
リードインゾーンで，
“01”
リードアウトゾーンで， “10”
ミドルゾーンで，
“11”
ビットb25の設定は，次による。
セクタデータが再生専用データであるとき， “0”
セクタデータが書換え可能データのとき，
“1”
ビットb24の設定は，次による。
2層ディスクのレイヤ0のとき， “0”
2層ディスクのレイヤ1のとき， “1”
単層ディスクのとき，
“0”
ビットb23からb0までは，セクタ番号又はデータフィールド番号を規定する。
物理フォーマット情報
バイト0−ディスクカテゴリー及びバージョン番号
ビットb7からb4は，ディスクカテゴリーを規定する。
“0000”に設定のとき，再生専用ディスクを示す。
“0001”に設定のとき，書換形ディスクを示す。
94
X 6243: 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
“0010”に設定のとき，レコーダブル (DVD-R) ディスクを規定する。
ビットb0からb3は，バージョン番号を規定する。
“0000”に設定のとき，書換形ディスクのDVD規格で試験用だけに用いるバージョン0.9を規定する。
“0001”に設定のとき，この規格を規定する。
バイト1−ディスクサイズ及び最大転送レート
ビットb7からb0は，ディスクサイズを規定する。
“0000”に設定のとき，120mmのディスクを規定する。
“0001”に設定のとき，80mmのディスクを規定する。
ビットb3からb0は，最大転送レートを規定する。
“0000”に設定のとき，2.52Mbit/sの最大転送レートを規定する。
“0001”に設定のとき，5.04Mbit/sの最大転送レートを規定する。
“0010”に設定のとき，10.08Mbit/sの最大転送レートを規定する。
バイト2−ディスク構造
ビットb3からb0は，記録層のタイプを規定する。
“0001”に設定すれば，書換え可能レイヤを規定する。
別のビットパターンに設定のとき，次の規則を適用する。
ビットb0 “0”に設定のとき，ディスクはエンボス領域を含まないことを規定する。
“1”に設定のとき，ディスクはエンボス領域を含むことを規定する。
ビットb1 “0”に設定のとき，ディスクはレコーダブル領域を含まないことを規定する。
“1”に設定のとき，ディスクはレコーダブル領域を含むことを規定する。
ビットb2 “0”に設定のとき，ディスクは書換え可能領域を含まないことを規定する。
“1”に設定のとき，ディスクは書換え可能領域を含むことを規定する。
ビットb3は，“0”に設定する。
ビットb4は，トラック経路を規定する。
“0”に設定のとき，2層ディスクのPTP（並行トラック経路）又は単層ディスクを規定する。
“1”に設定のとき，2層ディスクのOTP（対向トラック経路）を規定する。
ビットb5及びb6は，ディスク面のレイヤの数を規定する。
“00”に設定のとき，単層ディスクを規定する。
“01”に設定のとき，2層ディスクを規定する。
ビットb7は，“0”に設定する。
バイト3−記録密度
ビットb7からb4は，平均チャネルビット長を規定する。
“0000”に設定のとき，0.134μmの平均チャネルビット長を示す。
“0001”に設定のとき，0.147μmのチャネルビット長を示す。
“0010”に設定のとき，0.205〜0.218μmの平均チャネルビット長を示す。
ビットb3からb0は，平均トラックピッチを規定する。
“0000”に設定のとき，0.74μmの平均トラックピッチを示す。
“0001”に設定のとき，0.80μmの平均トラックピッチを示す。
バイト4〜15−データゾーン配置
バイト4は， (00) に設定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト5は，データゾーンの最初のセクタのセクタ番号を規定する。
バイト8は， (00) に設定する。
バイト9は，データゾーンの最後のセクタのセクタ番号を規定する。
バイト12は， (00) に設定する。
バイト13から15までは，再生専用ディスク用ミドルゾーンの開始アドレスのセクタ番号を規定する。
バイト16−BCA記述子
バイトは，BCA（バーストカッティング領域）が存在するかどうかを示す。
(00) に設定のとき，BCAが存在しないことを示す。
(10) に設定のとき，BCAが存在することを示す。
BCAはDVD−再生専用ディスク (JIS X 6241) で規定される。
バイト17〜31
これらのバイトは， (00) に設定する。
バイト32−ディスクタイプ識別子
このバイトは，ディスクタイプを規定する。
(00) に設定のとき，ディスクにケースなしで書き込んではならないことを示す。
(10) に設定のとき，ディスクにケースなしで書き込んでもよいことを示す。
バイト33から47まで
これらのバイトは， (00) に設定する。
バイト48−速度1
このバイトは，このディスクを用いるための中心線速度を示す。
このバイトの値は，実際の線速度＝値×0.1 (m/s) を規定する。
バイト48，50，51，57，58，59
実際のパワーは，バイトの値×0.1 (m/s) で表す。
バイト52，55，60，63
ビットb7は，極性を表す。
“0”に設定するとき，極性は，正を表す。
“1”に設定するとき，極性は，負を表す。
ビットb6からb0は，nsでの実際の時間を表す。
バイト53，54，56，61，62，64
ビットb7からb0は，nsでの実際の時間を表す。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書M（参考） セクタ置換えのガイドライン
この附属書（参考）は，本体及び附属書（規定）に関連する事項を補足するもので規定の一部ではない。
本体17.では，欠陥セクタは，欠陥管理によって置き換えられることを想定している。以下は，欠陥管理
を適用してセクタの交替処理を行う場合の判断基準の例を示す。ただし，
PIDエラー ： 1セクタに三つ以上のIDにエラーがある。
行エラー
： ECCブロックの1行内で4バイト以上のエラーがある。
と定義する。
スリッピングアルゴリズム
PIDエラーのときは，そのセクタは交替する。
1セクタに四つ以上の行エラーがあるとき，そのセクタは交替する。
1ECCブロック内に六つ以上の行エラーがあるとき，行エラーの数を6未満に抑えるのに必要なだけの
セクタを交替する。
リニアリプレイスメントアルゴリズム
1ECCブロック内にPIDエラーのセクタが一つ以上あった場合，そのECCブロック全体を交替する。
1ECCブロックに八つ以上の行エラーがあった場合，そのECCブロック全体を交替する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
光ディスク標準化委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
板 生 清
東京大学
石 井 正 則
日本電気株式会社
磯 村 嘉 伯
日本電信電話株式会社
伊 藤 武
富士通株式会社
入 江 英 之
株式会社東芝
金 沢 安 矩
橋 爪 邦 隆
通商産業省工業技術院
木 目 健治郎
三菱電機株式会社
小 町 祐 史
松下電送株式会社
佐 藤 正 聡
株式会社ニコン
菅 谷 寿 鴻
株式会社東芝
高 橋 正 彦
株式会社日立製作所
土 屋 洋 一
三洋電機株式会社
徳 丸 春 樹
日本放送協会
戸 島 知 之
日本電信電話株式会社
増 井 久 之
財団法人マルチメディアコンテンツ振興協会
松 林 宣 秀
オリンパス光学工業株式会社
三 和 邦 彦
日本アイ・ビー・エム株式会社
村 上 善 照
シャープ株式会社
山 上 保
ソニー株式会社
山 田 昇
松下電器産業株式会社
横 川 文 彦
パイオニア株式会社
吉 田 秀 実
三菱化学株式会社
光ディスク標準化委員会第2メディア分科会 構成表
氏名
所属
（総括）
菅 谷 寿 鴻
株式会社東芝
伊 藤 雅 樹
日本電気株式会社
伊 藤 正 也
三菱電機株式会社
大 林 元太郎
東レ株式会社
小 平 康 人
旭化成工業株式会社
佐 藤 哲 生
帝人株式会社
杉 本 守
セイコーエプソン株式会社
南 雲 收
パルステック工業株式会社
西 田 哲 也
株式会社日立製作所
橋 爪 邦 隆
通商産業省工業技術院
橋 詰 隆
株式会社小野測器
宮 園 泰
HOYA株式会社
山 田 昇
松下電器産業株式会社