X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
（1）
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 適合性···························································································································· 2
2.1 光ディスク ··················································································································· 2
2.2 製造システム ················································································································ 2
2.3 情報受領システム ·········································································································· 2
2.4 互換性表示 ··················································································································· 2
3 引用規格························································································································· 2
4 用語及び定義 ··················································································································· 3
5 慣例及び表記法 ················································································································ 7
5.1 用語 ···························································································································· 7
5.2 数値表示 ······················································································································ 8
5.3 整数計算法 ··················································································································· 9
5.4 英語名称 ······················································································································ 9
6 略語······························································································································· 9
7 ディスクの概要 ··············································································································· 12
8 一般要求事項 ·················································································································· 13
8.1 環境条件 ····················································································································· 13
8.2 安全性 ························································································································ 16
8.3 難燃性 ························································································································ 16
9 基準ドライブ ·················································································································· 16
9.1 一般 ··························································································································· 16
9.2 測定条件 ····················································································································· 16
9.3 光学システム ··············································································································· 16
9.4 光ビーム ····················································································································· 17
9.5 高周波（HF）読取りチャネル ························································································· 18
9.6 半径方向のプッシュプル（PP）読取りチャネル ·································································· 18
9.7 ディスクのクランプ ······································································································ 18
9.8 ディスクの回転及び測定速度 ·························································································· 19
9.9 正規化サーボ伝達関数 ··································································································· 19
9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ ································································· 20
9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ ······························································ 22
10 寸法特性 ······················································································································ 24
10.1 一般 ·························································································································· 24
10.2 ディスクの基準面及び基準軸 ························································································· 25
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10.3 全体寸法 ···················································································································· 26
10.4 第1遷移領域 ·············································································································· 27
10.5 保護リング ················································································································· 27
10.6 クランプゾーン ··········································································································· 27
10.7 第2遷移領域 ·············································································································· 28
10.8 情報領域 ···················································································································· 28
10.9 リム領域 ···················································································································· 31
11 機械的特性 ··················································································································· 31
11.1 質量 ·························································································································· 31
11.2 慣性モーメント ··········································································································· 31
11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 31
11.4 軸方向の振れ量 ··········································································································· 31
11.5 半径方向の振れ量 ········································································································ 33
11.6 カバー層の耐久性 ········································································································ 34
12 情報領域の光学特性 ······································································································· 34
12.1 一般 ·························································································································· 34
12.2 透過積層（TS）の屈折率 ······························································································ 34
12.3 透過積層（TS）の厚さ ································································································· 34
12.4 記録層の反射率 ··········································································································· 39
12.5 複屈折 ······················································································································· 39
12.6 角度偏差 ···················································································································· 39
13 データフォーマット ······································································································· 40
13.1 一般 ·························································································································· 40
13.2 データフレーム ··········································································································· 43
13.3 エラー検出符号（EDC） ······························································································· 43
13.4 スクランブルドデータフレーム ······················································································ 43
13.5 データブロック ··········································································································· 44
13.6 LDCブロック ············································································································· 45
13.7 LDC符号語 ················································································································ 45
13.8 LDCクラスタ ············································································································· 46
13.9 アドレス及びコントロールデータ ··················································································· 49
13.10 アクセスブロック ······································································································ 55
13.11 BISブロック ············································································································· 55
13.12 BIS符号語 ················································································································ 56
13.13 BISクラスタ ············································································································· 56
13.14 ECCクラスタ ··········································································································· 59
13.15 記録フレーム ············································································································ 60
13.16 物理クラスタ ············································································································ 61
13.17 記録データのための17PP変調 ····················································································· 61
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13.18 変調及びNRZI変換 ··································································································· 64
14 物理データの配置及びリンキング ····················································································· 64
14.1 一般 ·························································································································· 64
14.2 記録ユニットブロック（RUB） ······················································································ 64
14.3 ウォブルアドレスに対するデータの位置決め ···································································· 67
15 トラックフォーマット ···································································································· 67
15.1 一般 ·························································································································· 67
15.2 トラックの形 ·············································································································· 68
15.3 トラックパス ·············································································································· 69
15.4 トラックピッチ ··········································································································· 69
15.5 HFMグルーブのトラック構成 ······················································································· 70
15.6 ウォブルグルーブのトラック構造 ··················································································· 76
15.7 ADIP情報 ·················································································································· 78
15.8 ADIP予備フレームのディスク情報 ················································································· 86
16 情報ゾーンの概要 ········································································································· 133
16.1 一般 ························································································································· 133
16.2 3層ディスクの情報ゾーンのフォーマット ······································································· 133
16.3 4層ディスクの情報ゾーンのフォーマット ······································································· 133
17 情報ゾーンの記録領域の構成 ·························································································· 133
18 内側ゾーン ·················································································································· 142
18.1 一般 ························································································································· 142
18.2 不変情報・制御データ（PIC）ゾーン ············································································· 149
18.3 3層ディスクのリードインゾーンの記録領域 ···································································· 154
18.4 3層ディスクの内側ゾーン1の記録領域 ·········································································· 158
18.5 3層ディスクの内側ゾーン2の記録領域 ·········································································· 159
18.6 4層ディスクのリードインゾーンの記録領域 ···································································· 161
18.7 4層ディスクの内側ゾーン1の記録領域 ·········································································· 162
18.8 4層ディスクの内側ゾーン2の記録領域 ·········································································· 163
18.9 4層ディスクのリードインゾーンの記録領域 ···································································· 165
19 データゾーン ··············································································································· 166
20 外側ゾーン ·················································································································· 166
20.1 一般 ························································································································· 166
20.2 外側ゾーンの記録領域 ································································································· 168
21 物理アクセス制御クラスタ ····························································································· 170
21.1 一般 ························································································································· 170
21.2 PACゾーンの構成 ······································································································ 171
21.3 PACクラスタの一般構成 ····························································································· 171
21.4 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ ····················································································· 175
22 ディスク管理 ··············································································································· 176
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22.1 一般 ························································································································· 176
22.2 記録管理 ··················································································································· 176
22.3 仮ディスク管理領域（TDMA） ····················································································· 177
22.4 ディスク管理構造（DMS） ·························································································· 178
22.5 未記録（ブランク）ディスク構造 ·················································································· 188
22.6 記録済み（クローズした）ディスク構造 ········································································· 196
23 論理セクタ番号（LSN）の割当て ···················································································· 199
24 グルーブ領域の特性 ······································································································ 200
25 グルーブ領域の試験方法 ································································································ 201
25.1 一般 ························································································································· 201
25.2 環境条件 ··················································································································· 201
25.3 基準ドライブ ············································································································· 201
25.4 信号の規定 ················································································································ 201
26 HFMグルーブの信号 ···································································································· 203
26.1 プッシュプルの極性 ···································································································· 203
26.2 プッシュプル信号 ······································································································· 203
26.3 ウォブル信号 ············································································································· 203
26.4 HFM信号のジッタ ····································································································· 203
27 ウォブルグルーブからの信号 ·························································································· 203
27.1 位相深さ ··················································································································· 203
27.2 プッシュプル信号 ······································································································· 203
27.3 ウォブル信号 ············································································································· 204
28 記録層の特性 ··············································································································· 205
29 記録層の試験方法 ········································································································· 205
29.1 一般 ························································································································· 205
29.2 環境条件 ··················································································································· 205
29.3 基準ドライブ ············································································································· 205
29.4 記録条件 ··················································································································· 206
29.5 信号の規定 ················································································································ 207
30 記録領域からの信号 ······································································································ 207
30.1 HF信号 ···················································································································· 207
30.2 変調振幅 ··················································································································· 207
30.3 反射率−変調度積 ······································································································· 208
30.4 非対称性 ··················································································································· 209
30.5 i-MLSE····················································································································· 209
30.6 読取耐久性 ················································································································ 209
31 局所欠陥 ····················································································································· 210
32 使用者データの特性 ······································································································ 210
33 使用者データの測定方法 ································································································ 210
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ページ
33.1 一般 ························································································································· 210
33.2 環境条件 ··················································································································· 211
33.3 基準ドライブ ············································································································· 211
33.4 信号の定義 ················································································································ 211
34 記録情報の下限品質 ······································································································ 212
34.1 シンボルエラー率 ······································································································· 212
34.2 最大バーストエラー ···································································································· 212
34.3 使用者記録データ ······································································································· 213
35 BCA ··························································································································· 213
附属書A（規定）多層の場合の透過積層の厚さ ········································································ 214
附属書B（規定）反射率の測定 ····························································································· 217
附属書C（規定）カバー層のきず耐久性の測定 ········································································ 221
附属書D（規定）カバー層の汚れはつ（撥）油性の測定 ···························································· 223
附属書E（規定）ウォブル振幅の測定····················································································· 226
附属書F（規定）試験のための記録パルス波形 ········································································· 230
附属書G（規定）ディスクの最適パワー制御（OPC）方法 ························································· 238
附属書H（規定）i-MLSE［統合化最ゆう（尤）法系列エラー推定］測定のHF信号の前処理 ············ 242
附属書I（規定）測定方法 ···································································································· 254
附属書J（参考）複屈折の測定 ······························································································ 266
附属書K（参考）カバー層及びスペーサ層の厚さの測定 ···························································· 268
附属書L（参考）カバー層の衝突耐久性の測定 ········································································· 271
附属書M（参考）グルーブ偏移及びウォブル振幅 ····································································· 273
附属書N（参考）L-SEATエッジシフトを用いた記録パルス調整のガイドライン ···························· 275
附属書O（規定）タイプTL/Dディスク固有の要求事項 ····························································· 283
附属書P（参考）タイプTL/Dディスクの貼合せ ······································································ 285
参考文献 ··························································································································· 285
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格に従うことは，次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので，留意する。
− 氏名：日立コンシューマエレクトロニクス株式会社知財管理本部
− 住所：〒244−0817 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地
− 氏名：パナソニック株式会社知的財産センター
− 住所：〒540−6207 大阪府大阪市中央区城見2丁目1−61 OBPパナソニックタワー
− 氏名：パイオニア株式会社知的財産部
− 住所：〒212−0031 神奈川県川崎市幸区新小倉1−1
− 氏名：ソニー株式会社知的財産センター
− 住所：〒108−0075 東京都港区港南1−7−1
上記の，特許権等の権利者は，非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施
の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし，この規格に関連する他の特許権等の権利者に対
しては，同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。
この規格に従うことが，必ずしも，特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ
る。
この規格の一部が，上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標
準調査会は，このような特許権等に関わる確認について，責任はもたない。
なお，ここで“特許権等”とは，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。
日本工業規格 JIS
X 6231：2017
(ISO/IEC 30191：2015)
情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−
120 mm 3層片面（100ギガバイト／ディスク），
3層両面（200ギガバイト／ディスク）及び
4層片面（128ギガバイト／ディスク）
BDレコーダブルディスク
Information technology-Digitally recorded media for information
interchange and storage-120 mm Triple Layer (100.0 Gbytes single sided
disk and 200.0 Gbytes double sided disk) and Quadruple Layer (128.0
Gbytes single sided disk) BD Recordable disk
序文
100社以上が参加するブルーレイディスクアソシエーション（BDA）で作成された，ブルーレイディス
クTMの物理フォーマットをベースに，四つの記録形ディスクのISO/IEC物理規格が作成された。この規
格は，2015年に第2版として発行されたISO/IEC 30191を基に，技術的内容及び構成を変更することなく
作成した日本工業規格である。
BDレコーダブルディスクにビデオの記録再生を行うためには，この国際規格以外にBDMV，BDAVな
どBDAで規定したフォーマットが必要となる。これらのBDA規定の応用関連フォーマット，ファイルシ
ステムフォーマット又は著作権保護フォーマットは，ディスク，情報生成システム，及び情報受領システ
ムに必要である。更に詳細なBDフォーマットに関する情報が必要な場合は，http://www.blu-raydisc.infoを
参照。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，記録容量100ギガバイト（GB），128 GB又は200 GBの120 mmレコーダブル光ディスク
の機械的特性，物理的特性及び光学的特性を規定するとともに，そのディスクを用いての情報交換を可能
にする記録及び未記録の信号品質，データのフォーマット及び記録方法について規定する。使用者データ
は，非可逆的方法によって一度だけ記録でき，何回も読み取ることができる。このディスクを，BDレコ
ーダブルディスクと称する。
この規格は，次の項目について規定する。
− このディスクに関する三つの異なるタイプ
− 適合条件
2
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− このディスクの使用環境及び保存環境
− データ処理システム間の機械的互換性のためのディスクの機械的特性及び物理的特性
− トラック及びセクタの物理的配置を含むディスク上の情報フォーマット
− エラー訂正符号及び使用した符号化方法
− データ処理システムがディスクからデータの読取りを可能にする，ディスクに記録した信号の特性
この規格は，ディスクドライブ間のディスクの互換性を与える。ボリューム及びファイル構造の規格と
ともに，データ処理システム間の完全なデータ互換性を与える。
注記1 この規格では，GBは，109バイトとしている。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 30191:2015，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Triple Layer (100,0 Gbytes single sided disk and 200,0
Gbytes double sided disk) and Quadruple Layer (128,0 Gbytes single sided disk) BD Recordable
disk（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
適合性
2.1
光ディスク
この規格への適合の主張には，製造対象のディスクのタイプを明示する。光ディスクは，製造対象のデ
ィスクのタイプの全ての要求事項に適合する場合に，この規格に適合する。
2.2
製造システム
製造システムは，製造する光ディスクが2.1に適合する場合に，この規格に適合する。
2.3
情報受領システム
情報受領システムは，2.1に適合する，タイプTLディスク及びタイプQLディスクの両方を取り扱うこ
とができる場合は，この規格に適合する。情報受領システムが，タイプTL/Dディスクを取り扱うのは，
任意である。ディスクのタイプについては，箇条7を参照。
2.4
互換性表示
製造システム及び情報受領システムがこの規格に適合するというためには，他のサポートする規格の一
覧の表示を含むものとする。この表示は，規格の番号，サポートする光ディスクのタイプ，並びに読取り
だけをサポートするのか，又は記録及び読取り両方をサポートするのかを明示する。
3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60950-1，Information technology equipment−Safety−Part 1: General
requirements
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気･電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
3
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気･電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試
験方法（試験記号：Db）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,
cyclic (12 h＋12 h cycle)
JIS K 7204 プラスチック−摩耗輪による摩耗試験方法
注記 対応国際規格：ISO 9352，Plastics−Determination of resistance to wear by abrasive wheels
JIS X 0201 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合
注記 対応国際規格：ISO/IEC 646，Information technology−ISO 7-bit coded character set for
information interchange
JIS Z 8901:2006 試験用粉体及び試験用粒子
4
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
4.1
アプリケーション（Application）
ビデオ応用のような，著作権保護及び欠陥管理システムのためのディスク上の領域を要求する，BD用
に規定した応用。
4.2
BD
約0.1 mmの厚さのカバー層及び約1.1 mmの厚さの基板をもち，NA＝0.85のレンズ及び波長405 nmの
レーザダイオードを用いる光ピックアップユニットで，ディスク上にデータを読み書きするディスク。
注記 ディスクに記録する使用者データは，17PP変調及びLDC＋BIS符号でフォーマットされる。
4.3
ケース（Case）
ディスクを保護し交換を容易にする，光ディスクを収納するもの。
4.4
チャネルビット（Channel bit）
ディスク上の，ピット又はマークを使い，スペースとの組合せで，2値の“0”又は“1”を表す要素。
4.5
カバー層（Cover Layer）
ディスクの入射面に一番近い記録層を覆う，精密に制御した光学特性をもつ透明な層。
4.6
データゾーンn（Data Zone n）
Ln層にある内側ゾーンと外側ゾーンとの間の領域。
4.7
欠陥クラスタ（Defective Cluster）
信頼できない又は訂正できないとして欠陥リストに登録された，使用者データ領域中のクラスタ。
4.8
デジタル総計値，DSV（Digital-Sum Value，DSV）
4
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
“1”に設定したチャネルビットに10進数の数値“＋1”を，“0”に設定したチャネルビットに10進数
の“−1”を割り当てることによって，ビット列から得られた算術和。
4.9
ディスク基準面（Disk reference plane）
その上でディスクのクランプゾーンがクランプされる，理想スピンドルの完全に平らな環状表面で規定
する，回転軸に対して垂直な面。
4.10
エンボスHFM領域（Embossed HFM Area）
ディスクの製造中に，HFMグルーブによって情報が保存されたディスク領域。
4.11
入射面（Entrance surface）
光ビームが最初に入射する，ディスクの表面。
4.12
グルーブ（Groove）
記録層に連なる，ディスクの溝状構造。
注記 一つのグルーブは，基板に形成可能で，他のグルーブは，スペーサ層又はカバー層に形成でき
る（図1，図2及び図O.1参照）。グルーブは，トラックの位置決めをするために用いられる。
グルーブは，マスタリングで光スポットを照射した場所に相当する。通常，グルーブは，構造
体の中にくぼみ又は突起の形をとることがある。グルーブがランドよりも入射面に近い場合（図
55参照），記録方法は，“オングルーブ記録”と呼ばれる。BDレコーダブルシステムでは，次
の3種類のグルーブがある。
− アドレスをもつ記録領域中のウォブルグルーブ
− 不変制御情報データをもつエンボスHFM領域のHFMグルーブ
− BCAゾーンの無変調の直線グルーブ
4.13
高周波変調グルーブ，HFMグルーブ［HFM (High-Frequency Modulated) Groove］
比較的高い帯域幅の信号で，半径方向に変調されたグルーブ。
注記 HFMグルーブは，転写記録する情報のための十分な容量及び転送スピードのデータチャネルを
作っている。
4.14
情報領域（Information Area）
情報を記録できるディスク上の領域。
4.15
情報ゾーン（Information Zone）
情報領域で記録された部分。
4.16
ランド（Land）
連続して渦巻くグルーブの間の記録層の表面。
4.17
Ln層（Layer Ln）
5
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
数字nで識別される記録層。
注記 L(n＋1)層は，Ln層よりも入射面に近い。
4.18
マーク（Marks）
光学読取りシステムで感知できる未記録層の中の，反射率の高い又は低い領域の形をとることもある記
録層の構造。
4.19
測定速度（Measurement Velocity）
ディスクを読取中に測定する線速度。
注記 測定速度nxは，基準速度xのn倍を意味している。
4.20
変調ビット（Modulation bit）
通信チャネルで伝送するため又は蓄積システムに蓄積するために，より適するようにデータを変形した
形。
4.21
NRZ又はNRZI変換［NRZ (Non-Return-to-Zero)/NRZI (Non-Return-to-Zero Inverting) conversion］
変調ビットストリームを物理信号に変換する方法。
4.22
埋込み（Padding）
ホストコンピュータが，32セクタから構成される64Kサイズのクラスタに満たないデータを転送してき
て，そのクラスタをデータで満たす必要がある場合に不足のセクタを全て00hのデータで満たす，ドライ
ブの処理方法。
4.23
ピット（Pits）
光学読取りシステムで感知できる，ランド表面のくぼみ又は突起の形をとり得る記録層の構造。
注記 ピット及びスペースのパタンは，ディスク上のデータを表している。
4.24
偏光（Polarization）
光ビームの電場ベクトルの方向。
注記 偏光面は，電場ベクトル及びビームの伝ぱ方向を含む面である。
4.25
プリ記録領域（Pre-recorded Area）
ディスクの転写成形工程が終わった後に通常の記録方法によって，ディスク製造業者又は供給者が情報
を記録したディスク上の領域。
4.26
保護コート（Protective Coating）
きず，その他の危害から保護する機能をもつ，カバー層の上に任意で追加する層。
4.27
記録領域（Recordable Area）
ディスクの製造業者若しくは供給者又は最終使用者が箇条13で規定したデータフォーマットによって，
6
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
マーク及びスペースで情報を記録するディスク上の領域。
注記 その領域の記録層は，一度記録した後に情報を改変しようとするとデータが読み出せなくなる
材料で構成される。
4.28
記録層（Recording Layer）
製造中及び／又は使用中に，その上又は中にデータが記録される，特定の材料の積層膜から構成される
ディスクの部分。
4.29
記録速度（Recording Velocity）
ディスクを記録する線速度。
注記 記録速度nxは，基準速度xのn倍を意味している。
4.30
基準速度（Reference Velocity）
チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなる線速度。
4.31
リザーブ（値）（Reserved）
この規格で使用しない予備の値。
注記 将来の規格でこの値は，使用可能となる。
4.32
リザーブ（領域）（Reserved）
使用を規定しないで互換性は無視し，値はゼロにセットする予備領域。
注記 将来の規格で，この領域の使用を規定し，値を設定できる。
4.33
セクタ（Sector）
情報ゾーン中のアドレスでアクセスできる，最小サイズのトラックのデータ部分。
4.34
スペーサ層（Spacer Layer）
二つの記録層を分離する，精密に光学特性を制御した透明層。
4.35
スペース（Spaces）
HF信号の流れの接線方向に，ピット又はマークの間を分ける領域。
注記 ピット又はマーク及びスペースのパタンは，ディスクのデータを表している。
4.36
基板（Substrate）
記録層を機械的に支持する透明又は不透明の層。
4.37
トラック（Track）
グルーブで構成する連続らせんの360°回転分。
4.38
トラックピッチ（Track Pitch）
7
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
半径方向に測定した隣接トラックのグルーブの中心線間距離。
4.39
透過積層（Transmission Stack）
ディスクの入射面と注目する記録層との間の全部の層を一つとみた層。
注記 言い換えると，特定の記録層の透過積層は，その記録層にアクセスする場合は光ビームが通過
する全ての層で構成される。
4.40
使用者データ領域（User-Data Area）
ディスク上の全てのデータゾーンを集めたもので，使用者データが記録できるクラスタだけで構成する
もの。
4.41
バージングルーブ（Virgin Groove）
記録されたことがない，ディスク上の未使用グルーブ。
4.42
ウォブルグルーブ（Wobbled Groove）
平均した中心線から，周期的正弦波で偏移するグルーブ。
注記 正弦波偏移を変調することによって，ウォブルはディスクのアドレス情報及び一般的情報を供
給している。
4.43
ゾーン（Zone）
ディスクの環状領域。
5
慣例及び表記法
5.1
用語
5.1.1
末尾の表現
この規格では次に示す語は，特別の意味をもつ。
− …（し）てもよい。：
任意の動作又は機能を示す。
− 任意：
実施してもよい又はしなくてもよい機能を示す。実施する場合は，
その機能は規定したとおりにする。
− …（し）なければならない。： 必須の動作又は機能でこの規定に適合するためには実施しなければ
…する。
ならないことを示す。
…とする。
…による。
注記 shallで書かれた要求事項文は，例えば，“〜する”という能動形で翻訳される。一方，be＋
過去分詞，be＋現在分詞（現在進行形）又は動詞で書かれた説明文を能動文として“〜する”
の能動形で翻訳すると，要求事項を示した文と説明文とを区別できなくなるという課題が生
じる。そのために，この規格では，次の表現としている。
− shall：〜（と）するなどの能動形の表現としている。
− be＋過去分詞は，受動形の表現とし，be＋現在分詞（現在進行形）又は動詞は，“〜となっ
ている”などの状況説明の表現としている。
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X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− …することが望ましい。：
任意の動作又は機能を示すが，その実施が強く望まれる。
5.1.2
グループのレベル
上位階層のグループを作ることができる形に集められたデータが再配置される。この動作が何回も繰り
返される。グループの階層を明確にするために，この規格では次の階層を使用している。
− フレーム（Frame）：最下層のグループ。通常フレームは，複数バイトの情報をもつ。
− ブロック（Block）：第2順位のグループ。通常ブロックは，幾つかのフレームで構成する。
− クラスタ（Cluster）：最上位順位のグループ。クラスタは，幾つかのブロックで構成する。
− フラグメント（Fragment）：応用に適用できるレベルのグループ。相応量のデータが（固定した個数の）
連続するクラスタに割り付けられる。
5.2
数値表示
測定値xmeasuredは，対応する規定されている値xの最下位桁に丸めておいてからxと比べてもよい。
例
− 規格が
01
.0
02
.0
26
.1
+−
=
x
（公称値＝1.26で，正の許容誤差が＋0.01，かつ，負の許容誤差が−0.02）の
場合，次に示す範囲の測定値がこの規格を満たす。
1.235≦xmeasured＜1.275
注記 この規格において，正又は負の許容誤差がゼロとなる場合についても同様の考え方とし，
ゼロは，小数点以下の有効数字を示す表記としている。
− 規格がx≦0.3の場合，次に示す測定値が，この規格を満たす（0.30＜xmeasured＜0.35の測定値に
対し丸めを適用しxmeasured＝0.3となる。）。
xmeasured＜0.35
− 規格がx＜0.3の場合，
− 次に示す範囲の測定値が，この規格を満たす（丸めは必要ない。）。
xmeasured＝0.299
− 次に示す測定値は，この規格を満たさない。
xmeasured＝0.3
規定されている値が“最大x単位”又は“最小x単位”と示されている場合は，この規定されている値
との比較に先立って測定値を丸めてはならない。この方法で決めた測定値は，xの値そのものが規定した
限度値を逸脱してはならない。
例
− 規格が最大0.3 mmの場合，
− 測定値0.300 mmは，この規格を満たす。
− 測定値0.301 mmは，この規格を満たさない。
− 規格が最小3 dBの場合，
− 測定値3.00 dBは，この規格を満たす。
− 測定値2.99 dBは，この規格を満たさない。
10進数は，0〜9の数字で表す。小数点は，“.”である。大きな数値は，空白を入れて群で分けることが
できる。
16進数は，括弧でくくるか又は最後に小文字の“h”を付けた0〜9のアラビア数字及びA〜Fのアルフ
ァベットで表される。16進数中の文字xは，任意の0〜9又はA〜Fを表す。
2進数及びビットパタンは，左側を最上位ビットとする“0”及び“1”の一連で表される。2進数中の文
9
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
字xは，“0”又は“1”のいずれかで表される。
2進数の負の数値は，2の補数で表される。
nビットのビットパタンで，ビットb(n−1)は最上位ビット（msb）とし，ビットb0は最下位ビット（lsb）
とする。ビットb(n−1)を最初に記録する。
ビットパタン中で連続して中断のないm個の“0”は，[0m]で表記できる。
ビットの設定は，“0”及び“1”で示す。
バイトで構成するデータフィールドで，バイト0とする最上位バイト（MSB）を最初に記録し，最下位
バイト（LSB）を最後に記録する。
8nビットのフィールドで，ビットb(8n−1)は最上位ビットとし，ビットb0は最下位ビットとする。ビット
b(8n−1)を最初に記録する。
ニブルで構成するデータフィールドで，ニブル0とする最上位ニブルを最初に記録し，最下位ニブルを
最後に記録する。
4nビットのフィールドで，ビットb(4n−1)は最上位ビット（msb）とし，ビットb0は最下位ビット（lsb）
とする。ビットb(4n−1)を最初に記録する。
値の範囲はx〜yで表され，このときx及びyはその範囲に含まれる。
一連の整数は，i .. jで表される。それは，i及びjを含むiとjとの間の全ての数値を含む（例えば， k
＝0 ..7）。変化幅の大きさが1ではない場合は，i, (i＋変化幅) .. jと表される（例えば，変化の幅が3の場
合にk＝1, 4 .. 16となる。）。
一群の要素は，Param m .. n又はPm .. Pnで表される。その群は，m及びnを含むmとnとの間の添字を
もつ全ての要素を含む（例えば，バイト 16 .. 31，ビット 7 .. 4）。
xがyにほぼ等しい場合，
y
x≈と表される。
5.3
整数計算法
div(n,d)は，nをdで除した商を表す。
mod(n,d)は，nをdで除した余りを表し，次の式となる。
mod(n,d)＝n−d×div(n,d)
例 div(＋11,＋3)＝＋3
div(−11,＋3)＝−3
div(＋11,−3)＝−3
div(−11,−3)＝＋3
mod(＋11,＋3)＝＋2
mod(−11,＋3)＝−2
mod(＋11,−3)＝＋2
mod(−11,−3)＝−2
floor(x)は，x以下を満たす最大の整数を表す。
例 floor(＋3.7)＝＋3
floor(−3.7)＝−4
5.4
英語名称
特定のものを示す名称，例えば，特定のトラック，フィールドなどを示す英語名称は，頭文字に大文字
が当てられる。この規格のために明示的に意味を規定した英語名称も，大文字が当てられる。
6
略語
ac：
交流（alternating current）
ADIP：
プリグルーブのアドレス（Address In Pre-Groove）
APC：
自動パワー制御（Automatic Power Control）
AU：
アドレスユニット（Address Unit）
AUN：
アドレスユニット番号（Address-Unit Number）
BCA：
バーストカッティング領域（Burst-Cutting Area）
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X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
BIS：
バースト検出サブコード（Burst-Indicating Subcode）
BPF：
帯域通過フィルタ（Band-Pass Filter）
CAV：
角速度一定（方式）（Constant Angular Velocity）
cbs：
チャネルビット（channel bits）
CNR：
キャリアノイズ比（Carrier-to-Noise Ratio）
dc：
直流（direct current）
DCZ：
ドライブ校正ゾーン（Drive-Calibration Zone）
DDS：
ディスク定義構造（Disk-Definition Structure）
DFL：
欠陥リスト（Defect List）
DI：
ディスク情報（Disk Information）
DL：
2層（Dual Layer）
DMA：
ディスク管理領域（Disk-Management Area）
DMS：
ディスク管理構造（Disk-Management Structure）
DSV：
デジタル総計値（Digital-Sum Value）
EB：
緊急制動（Emergency Brake）
ECC：
エラー訂正符号（Error-Correction Code）
EDC：
エラー検出符号（Error-Detection Code）
EQ：
波形等価器（Equalizer）
FAA：
（データゾーンの）先頭ADIPアドレス［First ADIP Address (of Data Zone)］
FS：
フレーム同期（Frame Sync）
FWHM：
半値幅（Full Width at Half Maximum）
HF：
高周波（High-Frequency）
HFM：
高周波変調の（High-Frequency Modulated）
HMW：
高調波変調波（Harmonic-Modulated Wave）
HPF：
高域通過フィルタ（High-Pass Filter）
HTL：
高反射率から低反射率（High-To-Low）
LAA：
（データゾーンの）最終ADIPアドレス［Last ADIP Address (of Data Zone)］
LDC：
長距離符号（Long-Distance Code）
LPF：
低域通過フィルタ（Low-Pass Filter）
LRA：
最終記録アドレス（Last-Recorded Address）
LSB：
最下位バイト（Least-Significant Byte）
lsb：
最下位ビット（least significant bit）
LSN：
論理セクタ番号（Logical-Sector Number）
MM：
MSKマーク（MSK Mark）
MSB：
最上位バイト（Most-Significant Byte）
ms：
ミリ秒（millisecond）
msb：
最上位ビット（most-significant bit）
MSK：
最小シフトキー（Minimum-Shift Keying）
MW：
単一周波数ウォブル（Monotone Wobble）
NA：
開口数（Numerical Aperture）
11
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
NHWS：
正規化HFMウォブル信号（Normalized HFM-Wobble Signal）
NRZ：
NRZ（Non-Return-to-Zero）
NRZI：
NRZI（Non-Return-to-Zero Inverting）
ns：
ナノ秒（nanosecond）
NWA：
次記録可能アドレス（Next-Writable Address）
NWL：
公称ウォブル長（Nominal Wobble Length）
NWS：
正規化ウォブル信号（Normalized Wobble Signal）
OPU：
光ピックアップユニット（Optical Pick-up Unit）
PAA：
物理ADIPアドレス（Physical ADIP Address）
PIC：
不変情報・制御データ（Permanent Information & Control Data）
PLL：
位相同期ループ（Phase-Lock Loop）
PoA：
ポストアンブル（Post-amble）
PP：
プッシュプル（Push-Pull）
pp：
両ピーク（peak-to-peak）
PrA：
プリアンブル（Pre-amble）
ps：
ピコ秒（picosecond）
PSN：
物理セクタ番号（Physical-Sector Number）
QL：
4層（Quadruple Layer）
RH：
相対湿度（Relative Humidity）
RIN：
相対ノイズ強度（Relative-Intensity Noise）
RMTR：
最小反転ラン長繰返し（Repeated Minimum-Transition Run-length）
RS：
リードソロモン（符号）［Reed-Solomon(code)］
RT：
相対厚さ（Relative Thickness）
RUB：
記録ユニットブロック（Recording-Unit Block）
RхIn：
反射率×In解像度（Reflectivity × In Resolution）
RхM：
反射率×変調度（Reflectivity × Modulation）
SER：
シンボルエラー率（Symbol Error Rate）
SHD：
2次高調波ひずみ（Second-Harmonic Distortion）
SHL：
2次高調波レベル（Second-Harmonic Level）
SL：
単層（Single Layer）
SNR：
信号ノイズ比（Signal-to Noise Ratio）
SRM：
連続記録モード（Sequential-Recording Mode）
SRR：
連続記録範囲（Sequential-Recording Range）
SRRI：
連続記録範囲情報（Sequential-Recording Range Information）
STW：
のこぎり波ウォブル（SawTooth Wobble）
Sync：
同期（Synchronization）
TDDS：
仮ディスク定義構造（Temporary Disk Definition Structure）
TDFL：
仮欠陥リスト（Temporary Defect-List）
TDMA：
仮ディスク管理領域（Temporary Disk-Management Area）
TDMS：
仮ディスク管理構造（Temporary Disk-Management Structure）
12
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
TL：
3層（Triple Layer）
TL/D：
3層両面（Triple Layer Double-sided）
TP：
トラックピッチ（Track Pitch）
TS：
透過積層（Transmission Stack）
Vref：
基準速度（Reference Velocity）
wbs：
ウォブル（wobbles）
7
ディスクの概要
この規格では，次の三つのタイプを規定する。
− タイプTLディスク：この120 mmの光ディスクは，公称厚さ約1.1 mmの基板で構成される。ディス
クの基板は，三つの記録層で覆われている。記録層は，幾つかの層で構成される。三つの記録層は，
各々基板からの順番で約25.0 μm及び18.0 μmの透明な二つのスペーサ層で分離している。これらの
記録層の上に，約57.0 μmの精密に規定した光学特性をもつ透明なカバー層が設けられる（図1参照）。
− タイプQLディスク：この120 mmの光ディスクは，公称厚さ約1.1 mmの基板で構成される。ディス
クの基板は，四つの記録層で覆われている。四つの記録層は，各々基板からの順番で約15.5 μm，19.5
μm及び11.5 μmの透明な三つのスペーサ層で分離しており，これらの記録層の上に約53.5 μmの透明
なカバー層がある（図2参照）。
− タイプTL/Dディスク：この120 mmの光ディスクは，公称厚さ約1.0 mmの基板で構成される。ディ
スクの基板は，両方の面で，三つの記録層で覆われている。各面の記録層は，タイプTLディスクと
同じ特性及び構造をもつ（図O.1参照）。各面の三つの記録層は，その面からだけアクセスできる。
タイプTL/Dディスクにだけ適用する要求事項は，附属書Oに規定する。附属書Oを含み他に規定さ
れない限り，タイプTLディスクに対する全ての要求事項は，タイプTL/Dディスクに適用する。
ディスクの読取側から見た場合の，タイプTLディスク及びタイプTL/Dディスクの最初（L2層）及び
2番目（L1層）並びにタイプQLディスクの最初（L3層），2番目（L2層）及び3番目（L1層）の記録層
は，半透明にする。
きずへの耐久性を高めるために，カバー層は，ハードコートを任意に追加できる。
クランプは，クランプゾーンで行われる。
データは，高パワーの集光した光ビームによって，ディスク上に記録できる。データは，低パワーの集
光した光ビームによって，マークとスペースとの反射率の違いを用いて読み取ることができる。
記録層にはアドレス情報のあるウォブルグルーブがあり，そのアドレス情報によって回転速度の制御及
び記録層の目的の場所へデータを書くためにアクセスするシステムが可能となる。
データの記録及び読取りは，どの記録層が対象かによって，カバー層を通して又は最初の記録層スペー
サ層及びカバー層の全体の積層を通して行われる。
どの記録層にアクセスするかによって，光ビームは，透明なカバー層を通過するか（タイプTLディス
ク若しくはタイプTL/DディスクのL2層，又はタイプQLディスクのL3層の読取り又は記録）又は透明
なカバー層，半透明な記録層及び透明なスペーサ層を通過する（タイプTLディスク若しくはタイプTL/D
ディスクのL0層及びL1層，又はタイプQLディスクのL0層，L1層及びL2層）。
この規格で，3層ディスク及び4層ディスクの表記も，各々タイプTLディスク及びタイプQLディスク
を意味する。
13
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
カバー層
基板
回転方向
(保護コート)
スペーサ層１
スペーサ層２
透過積層0
透過積層１
光ビーム入射面
記録層L0
記録層L1
記録層L2
上面
透過積層2
カバー層
基板
回転方向
(保護コート)
スペーサ層１
スペーサ層２
透過積層0
透過積層１
光ビーム入射面
記録層L0
記録層L1
記録層L2
上面
透過積層2
図1−タイプTLディスクの概略図
カバー層
基板
回転方向
(保護コート)
スペーサ層1
スペーサ層2
透過積層0
透過積層1
記録層L0
記録層L1
記録層L2
上面
スペーサ層3
透過積層2
透過積層3
記録層L3
光ビーム入射面
カバー層
基板
回転方向
(保護コート)
スペーサ層1
スペーサ層2
透過積層0
透過積層1
記録層L0
記録層L1
記録層L2
上面
スペーサ層3
透過積層2
透過積層3
記録層L3
光ビーム入射面
図2−タイプQLディスクの概略図
この規格では，二つの記録速度2x及び4xを規定する。
図3は，各ディスクタイプの記録速度の要求事項を示す。
ディスクタイプ
プッシュプル極性
層タイプ
記録速度
2х
4х
タイプTL
タイプTL/D
オングルーブa)
TL
m
m
タイプQL
オングルーブa)
QL
m
m
m：必須とする。
注a) L0層及びL1層のグルーブ極性は，両方オングルーブとする。
図3−ディスクタイプ別の記録速度要求事項
8
一般要求事項
8.1
環境条件
8.1.1
試験環境条件
8.1.1.1
一般
ディスクがこの規格に適合するかどうかの試験を行う間，ディスクは，次の試験環境条件下に置く。試
14
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
験環境条件は，ディスク近傍の環境条件で，次による。
− 温度：
(23±2) ℃
− 相対湿度： 45 %〜55 %
− 大気圧： 86 kPa〜106 kPa
ディスクに結露があってはならない。ディスクは，試験前に十分な時間この環境下に置いておく。
8.1.1.2
動作環境の急激変化の試験条件
幾つかのパラメタは，動作環境の変化に影響を受けやすい。次の二つの条件の試験を行う。ディスクは，
いずれの場合も，新しい環境条件に順応する間においても，規格で要求する事項を満たす。
a) 温度を一定に保ちながら相対湿度を急変化させる。
相対湿度＝90 %，温度＝25 ℃ → 相対湿度＝45 %，温度＝25 ℃［図4のa)参照］。
b) 絶対湿度を一定（約10.4 g/m3）に保ちながら温度を急変化させる。
温度＝25 ℃，相対湿度＝45 % → 温度＝55 ℃，相対湿度＝10 %［図4のb)参照］。
8.1.2
動作環境条件
この規格に適合するディスクは，動作環境条件で規定する環境条件の範囲でデータ交換ができる。動作
環境条件は，ディスク近傍の環境条件で，次による。
− 温度：
5 ℃〜55 ℃
− 相対湿度： 3 %〜90 %
− 絶対湿度： 0.5 g/m3〜30 g/m3
− 大気圧：
60 kPa〜106 kPa
ディスクに結露があってはならない。ディスクが上記の環境条件から外れる条件にさらされていた場合
は，使用前に少なくとも2時間以上動作環境条件下で慣らす。
15
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
-40
-20
0
20
40
60
80
100
温度℃
100
80
60
40
20
0
絶対湿度g/m3
0.1
0.5
1
10
100
30
b)
a)
相
対
湿
度
%
図4−動作環境条件
8.1.3
保存環境条件
8.1.3.1
一般
保存環境条件は，ディスクの近傍の環境条件で，次による。
− 温度：
−10 ℃〜55 ℃
− 相対湿度：
5 %〜90 %
− 絶対湿度：
1 g/m3〜30 g/m3
− 大気圧：
60 kPa〜106 kPa
− 温度変化：
最大15 ℃/h
− 相対湿度変化： 最大10 %/h
8.1.3.2
気象保存条件
ディスクの環境での安定度を検査するために，次の環境条件にディスクを置く。
− JIS C 60068-2-2による高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
温度（T）＝55 ℃，相対湿度（RH）＝50 %で96時間
− JIS C 60068-2-30による温湿度サイクル試験方法（試験記号：Db）
上限温度＝40 ℃，下限温度＝25 ℃，RH＝95 %，サイクル時間＝（12＋12）時間，6サイクル
これらの環境条件にディスクをさらした後で，測定の前に24時間又は48時間の回復時間を置くことが
望ましい。
16
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
8.1.4
輸送
8.1.4.1
一般
輸送は，広い範囲の温度及び湿度の変動，異なる所要時間，多くの輸送手段並びに世界のあらゆる地域
で行われているため，輸送又はこん包の必須条件を規定することは不可能である。
8.1.4.2
包装
8.1.4.2.1
一般
包装の形は，送り手と受け手との間で合意をとることが望ましい。合意がない場合は，送り手の責任で
ある。次の細分箇条に示す障害を考慮することが望ましい。
8.1.4.2.2
温度及び湿度
緩衝材及び包装は，見込んだ輸送期間中保存条件を維持するように設計することが望ましい。
8.1.4.2.3
負荷及び振動の衝撃
a) ディスクの変形を起こすような機械的負荷は避ける。
b) ディスクの落下は避ける。
c) 衝撃を吸収する材料をもつ硬い箱に，ディスクを収納することが望ましい。
d) 外箱は，中がきれいで，汚れ及び湿度の侵入を防ぐ密閉構造をもつことが望ましい。
8.2
安全性
ディスクは，意図する取扱方法で使われる，又は情報システムの中で予測される範囲内で使用される場
合には，JIS C 6950-1の要求事項を満たす。
8.3
難燃性
ディスクは，JIS C 6950-1に規定するHB材料又はそれ以上の難燃性区分の材料で作る。
9
基準ドライブ
9.1
一般
この規定の適合を確認するための光学測定及び電気信号測定には，基準ドライブを用いる。この基準ド
ライブの重要部品は，この箇条で規定する。
9.2
測定条件
他に規定しない限り，ディスクは，8.1.1で規定した試験環境条件下で測定する。
9.3
光学システム
規定した記録及び読取りのパラメタの測定に用いる基準ドライブの光学システムの基本構成を図5に示
す。性能が図5の構成と同じ場合，異なる部品及び部品の異なる配置は許容される。
光学システムは，測定を行う半径で光ビームが集光する記録層に対して，集光した光ビームが垂直にな
るように配置する。
光学システムは，測定精度に影響が出ないようにディスク入射面で反射した光の検出光を最小にする。
17
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
レーザ
ダイオード
コリメータ
レンズ
偏光
ビームスプリッタ
1/4
波長板
対物
レンズ
球面収差
補正
ディスク
4分割
フォトディテクタ
Ia
Ib
Id
Ic
トラック接線方向
高周波信号読取りチャネル
半径方向プッシュプル読取りチャネル
IaIbIcId
I = I + I
1
a
b
I + I
1 2
I −I
1
2
I = I + I
2 c d
図5−基準ドライブの光学システム
レーザダイオードから来る入射光と光ディスクで反射しフォトディテクタに行く反射光とを分離するた
めに，偏光ビームスプリッタ及び1/4波長板を用いる。偏光ビームスプリッタを透過する光ビームは，100:1
以上のPS強度比にする。
光ビームは，測定を行う半径で光ビームが集光する記録層の透過積層の厚さに対して，集光した光ビー
ムの収差（SA）が最小になるように調整する。
多層ディスクの片方の層の測定中に，他層から反射された光が影響を与える可能性がある。この影響に
対処するために，フォトディテクタの寸法を制限する。ディテクタの縦横の長さは，M×5 μmよりも小さ
くする。
ここに，Mは，ディスクから4分割フォトディテクタ近傍の共役面までの光学拡大率である。
しかしながら，3層ディスク又は4層ディスクでは，フォトディテクタの縦横の長さがM×5 μm未満で
あっても大きさの影響を無視することができない。それゆえ，測定した反射率は，B.4に示す方法を用い
て補正する。
9.4
光ビーム
データの記録及び読取りに用いる集光した光ビームの特性は，次による。
− レーザビームの波長（λ）：
(405±5) nm
− 偏光：
円偏光
− 開口数（NA）：
0.85±0.01
− 最大強度に対する対物レンズのひとみ（瞳）の縁での光強度：
− 接線方向：
(60±5) %
− 半径方向：
(65±5) %
− 記録層での最大波面収差（チルト及び球面収差補正後）：
18
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
0.033×λ rms
− 次の式で定義するレーザダイオードの最大相対ノイズ強度：−125 dB/Hz
×
dc
m
P
P
log
10
ここに，
Pm： 交流光パワー密度/Hz
Pdc： 直流光パワー
− 正規化ディテクタサイズ：
S/M2≦25 μm2
ここに，
S： 4分割フォトディテクタの全面積
− ディスク試験読取りパワー（平均）：
− 3層ディスクのL0層及びL1層：
(1.20±0.10) mW
− 3層ディスクのL2層：
(1.10±0.10) mW
− 4層ディスクのL0，L1及びL2層： (1.20±0.10) mW
− 4層ディスクのL3層：
(1.10±0.10) mW
− 記録パワー及びパルスの形：
29.4.2及び附属書F参照。
9.5
高周波（HF）読取りチャネル
HF読取りチャネルによって，使用者データを読み取れる信号が供給される。この信号は，4分割フォト
ディテクタの電流の総和（Ia＋Ib＋Ic＋Id）で生成される。これらの電流は，マークとスペースとの反射率
の違いによって使用者が記録した情報を使って変調される。
フォトディテクタを含むHF読取りチャネルは，直流から44 MHzまでの周波数範囲で，直流利得に対
して±1.0 dB以内で平たんな振幅特性をもつ。群遅延変動は，6 MHz〜44 MHzの周波数範囲で最大1.5 ns pp
とする。
i-MLSE測定における信号処理部，ビタビ復号器，PLLなどの特性は，附属書Hに規定する。
9.6
半径方向のプッシュプル（PP）読取りチャネル
半径方向のPP読取りチャネルによって，光ビームの半径方向のトラッキング制御用のトラッキングエ
ラー信号が供給される。また，グルーブで変調された情報を読み取るウォブル信号が供給される。
半径方向のトラッキングエラーは，対物レンズひとみ（瞳）の出口の半分ともう半分との光量の差に関
連した信号[(Ia＋Ib) − (Ic＋Id)]として生成される。
半径方向のPP読取りチャネル内のフォトディテクタを含む読取増幅器は，直流から16 MHzまでの周波
数範囲で直流利得に対して±1.0 dB以内で平たんな振幅特性とする。
9.7
ディスクのクランプ
ディスクは，パラメタの測定中に，クランプゾーン（10.6参照）のほぼ全域を覆う二つの同心円環の間
でクランプする。上部のクランプ領域は，下部のクランプ領域と同じ内径及び外径とする（図6参照）。
クランプは，dinとdoutとの間とし，次による。
din＝(23.5±0.5) mm
dout＝(32.5±0.5) mm
全クランプ力は，F1とし，次による。
F1＝2.0 N±0.5 N
このクランプ力とディスクの中心孔の縁にテーパコーンによって加わるチャック力F2との間で生じる
19
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために，F2は，0.5 Nを超えてはならない（図6参照）。
ディスクの中心位置決めに用いるテーパコーンの頂角αは，次による。
α＝40.0°±0.5°
図6−測定のクランプ条件
9.8
ディスクの回転及び測定速度
ディスクの回転方向は，対物レンズから見て反時計方向とする。
全ての規定は，特に指定がない限り，基準速度の2倍に等しい接線方向の読取速度に基づいている。こ
の線速度は，次に相当している。
− 使用者データ容量33.368 GB/層の3層ディスクでは，7.375 m/s，
− 使用者データ容量32.000 GB/層の4層ディスクでは，7.690 m/s。
9.9
正規化サーボ伝達関数
軸方向及び半径方向のトラッキングのサーボシステムを規定するために，関数HN(iω)が用いられる。そ
れは，基準サーボの開ループ伝達関数Hの公称値を規定し，次による。
()
K
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
H
+
×
×
+
×
+
×
×
=
i
1
3
i
1
i
3
1
i
3
1
i
int
0
0
2
0
N
ここに，
ω： 2π×f
ω0： 2π×f0
ωint： 2π×fint
i： i2＝−1
K： 積分の次数
f0は，開ループ伝達関数の0 dB交差周波数である。
サーボの位相進み遅れ回路の交差周波数は，次による。
− 進み交差周波数：f1＝f0/3
− 遅れ交差周波数：f2＝f0×3
式の中の[1＋ωint/(iω)]の項は積分関数を表している。そのような積分関数及び同等の関数は，特にディス
20
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
クの回転周波数及びその高次周波数による偏移による低域成分を更に低減するために使用される。
また，fintは，積分関数の交差周波数である。
もう一つの重要な周波数はfxであり，その周波数では，振幅が最大許容残留トラッキングエラーemaxと
等しい正弦波偏移が最大加速度期待値αmaxに合致している。この周波数は，次による。
max
max
π
2
1
e
α
fx=
ディスクのトラッキングエラー信号は，幾分大きい変動があるため，各基準サーボループに入力するト
ラッキングエラー信号は，規定した帯域幅を保証するために決めた値に調整する（結果として，全体のル
ープゲインを校正することになる。）。
9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ
9.10.1 一般
軸方向の残留エラーを測定する基準サーボ及び状態の選択は，測定するディスクの測定速度に依存する。
− 軸方向の残留エラーの測定速度は，記録速度の1/2とする。
− 1x測定速度ディスクの基準サーボは，9.10.2参照。
− 2x測定速度ディスクの基準サーボは，9.10.3参照。
全ての状態のサーボは，同じ基本特性をもつが積分定数が異なっている。
9.10.2 1x測定速度の軸方向のトラッキングサーボ基準サーボ
軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図7に示す影を付けた
領域内で示される。
100
80
40
20
0
77.0
97.0
利得(dB)
1
10
100
1 10
×
3
10 10
×
3
100 10
×
3
周波数(Hz)
36
54.6
52.9
図7−1x測定速度の軸方向のトラッキングサーボ特性
│1＋H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0（9.9参照）は，次による。
21
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
kHz
2.3
10
55
0.6
25
.1
3
π
2
1
3
π
2
1
9
max
max
0
=
×
×
×
=
×
×
=
−
e
α
m
f
ここに， αmax： 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは，αmax＝6.0
m/s2とする。
m： サーボマージンとしての係数。ここでは，m＝1.25とする。
emax： m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは，emax＝55 nmと
する。
積分は，1次積分（K＝1）とし，交差周波数は，次による。
fint＝100 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)で規定する。
a) 100 Hz〜10 kHzの帯域で
0.9×│1＋HN(f)│≦│1＋H(f)│≦1.1×│1＋HN(f)│
b) 36 Hz〜100 Hzの帯域で
78
.4
int
int
N
N
)
(
1
1.1
)
(
1
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
≦
≦
c) 36 Hzまでの帯域で
77.0 dB≦│1＋H(f)│≦97.0 dB
周波数fxは，次による。
kHz
6.1
10
55
0.6
π
2
1
π
2
1
9
max
max
x
≈
×
=
=
−
e
α
f
9.10.3 2x測定速度の軸方向のトラッキング基準サーボ
軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図8に示す影を付けた
領域内で示される。
66.5
44.0
45.7
77.0
97.0
200
1×103
10×103
100×103
周波数(Hz)
10
0
20
60
100
利得(dB)
図8−2x測定速度の軸方向トラッキングサーボ特性
22
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
0 dB交差周波数f0は，1x測定速度と同じ測定条件で次による。
f0＝3.2 kHz
最大残留トラッキングエラー80 nmに対して（11.4.3参照）相当する加速度は，次による。
2
9
2
3
max
2
0
max
m/s
8.
10
10
80
3
)
10
2.3
π
2(
3
)
π
2(
=
×
×
×
×
=
×
×
=
−
e
f
α
最大残留トラッキングエラー110 nmに対して（11.4.4参照）相当する加速度は，次による。
2
9
2
3
max
2
0
max
m/s
8.
14
10
110
3
)
10
2.3
π
2(
3
)
π
2(
=
×
×
×
×
=
×
×
=
−
e
f
α
積分は2次積分（K＝2）とし，交差周波数は，次による。
fint＝200 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)で規定する。
a) 200 Hz〜10 kHzの帯域で
0.9×│1＋HN(f)│≦│1＋H(f)│≦1.1×│1＋HN(f)│
b) 66.5 Hz〜200 Hzの帯域で
36
.5
int
int
N
N
)
(
1
1.1
)
(
1
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
≦
≦
c) 66.5 Hzまでの帯域で
│1＋H(f)│≧77.0 dB
9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ
9.11.1 一般
半径方向の残留エラーを測定する基準サーボ及び状態の選択は，測定するディスクの測定速度に依存す
る。
− 半径方向の残留エラーの測定速度は，記録速度の半分とする。
− 1x測定速度ディスクの基準サーボは，9.11.2参照。
− 2x測定速度ディスクの基準サーボは，9.11.3参照。
全ての状態のサーボは，同じ基本特性をもつが積分定数が異なっている。
9.11.2 1x測定速度の半径方向のトラッキング基準サーボ
半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図9に示す影を付け
た領域内に示される。
23
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
100
80
40
20
0
79.0
99.0
利得(dB）
1
10
100
1 10
×
3
10 10
×
3
100 10
×
3
周波数(Hz)
36
56.6
54.9
図9−1x測定速度の半径方向のトラッキングサーボ特性
│1＋H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0（9.9参照）は，次による。
kHz
6.3
10
16
2.2
25
.1
3
π
2
1
3
π
2
1
9
max
max
0
=
×
×
×
=
×
×
=
−
e
α
m
f
ここに， αmax： 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは，αmax＝2.2
m/s2とする。
m： サーボマージンとしての係数。ここでは，m＝1.25とする。
emax： m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは，emax＝16 nmと
する。
積分は1次積分（K＝1）とし，交差周波数は，次による。
fint＝100 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)で規定する。
a) 100 Hz〜10 kHzの帯域で
0.9×│1＋HN(f)│≦│1＋H(f)│≦1.1×│1＋HN(f)│
b) 36 Hz〜100 Hzの帯域で
78
.4
int
int
N
N
)
(
1
1.1
)
(
1
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
≦
≦
c) 36 Hzまでの帯域で
79.0 dB≦│1＋H(f)│≦99.0 dB
周波数fxは，次による。
kHz
8.1
10
16
2.2
π
2
1
π
2
1
9
max
max
x
≈
×
=
=
−
e
α
f
9.11.3 2x測定速度の半径方向のトラッキング基準サーボ
半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図10に示す影を付
24
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
けた領域内で示される。
×
x
x
dB
100
99.0
79.0
60
47.7
46.0
20
0
1 10 66.5 200 1×103
10 ×103
100 ×103
利得(dB)
周波数(Hz)
×
x
x
dB
100
99.0
79.0
60
47.7
46.0
20
0
1 10 66.5 200 1×103
10 ×103
100 ×103
利得(dB)
周波数(Hz)
図10−2x測定速度の半径方向のトラッキングサーボ特性
0 dB交差周波数f0は，1x測定速度と同じ測定条件で，次による。
f0＝3.6 kHz
最大残留トラッキングエラー20 nmに対して（11.5.3参照）相当する加速度は，次による。
2
9
2
3
max
2
0
max
m/s
4.3
10
20
3
)
10
2.3
π
2(
3
)
π
2(
=
×
×
×
×
=
×
×
=
−
e
f
α
積分は2次積分（K＝2）とし，交差周波数は，次による。
fint＝200 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)で規定する。
a) 200 Hz〜10 kHzの帯域で
0.9×│1＋HN(f)│≦│1＋H(f)│≦1.1×│1＋HN(f)│
b) 66.5 Hz〜200 Hzの帯域で
36
.5
int
int
N
N
)
(
1
1.1
)
(
1
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
≦
≦
c) 66.5 Hzまでの帯域で
│1＋H(f)│≧79.0 dB
10 寸法特性
10.1 一般
寸法特性は，ディスクの互換性及び適合をとる上で必須とみなされるパラメタについて規定する。設計
の自由度があるところは，規定した要素の基本特性だけ示す。図11にまとめて寸法要求事項を示している。
25
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ディスクの各部分について，中心孔〜外周リムを規定している。
図11−ディスク寸法の全体概要
10.2 ディスクの基準面及び基準軸
（ディスクの基準面については，図12，図O.2及び図13も参照。）
ディスク基準面Pは，ディスクの読取面側のクランプゾーン表面（10.6参照）で決まる平面である。
ディスク基準面Qは，ディスクの基板側のクランプゾーン表面で決まる平面である。
基準軸Aは，ディスク基準面Pに垂直で，中心孔の中心を通る軸である。
ディスク基準面Rは，ディスク基準面Pに平行な平面である。ディスク基準面Rは，ディスク基準面P
よりもディスクの内側にe4の距離とし（図12，図O.2及び図13参照），次による。
e4＝(100±25) μm
ディスク基準面Rは，L0層の半径raと半径rbとの間の平均位置で記録層L0（記録層L0は，3層ディス
ク及び4層ディスクの最も奥の記録層である。）と交差し，次による。
ra＝23 mm
rb＝24 mm
26
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
図12−タイプTLディスク及びタイプQLディスクのディスク寸法の詳細
図13−ディスク基準面P及びR並びに記録層L0の詳細
10.3 全体寸法
ディスクの外径はdとし（図11参照），次による。
d1＝(120.0±0.3) mm
中心孔の直径はd2とし（図11参照），次による。
mm
00
.
15
10
.0
00
.0
2
+
=
d
読取面側の中心孔のエッジにばりがあってはならない。
読取面側の中心孔のエッジは，ディスクの中心位置決めの基準であり，丸めるか面取りをする。丸めの
半径はreとし，次による。
最大re＝0.1 mm
面取りの高さは，第1遷移領域の下面よりも上に最大0.1 mmを超えない。丸め又は面取りの高さは，
27
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ディスク基準面Pからh1とし（詳細は図12及び図O.2参照），次による。
最大h1＝0.25 mm
ディスクの最大厚さは，ディスク入射面から突き出す最も高い構造物とディスクの上面から突き出す最
も高い構造物との間の基準軸Aの方向の距離で規定する。
タイプTLディスク及びタイプQLディスク（図12参照）では，カバー層，保護コート及びレーベル印
刷を含むディスクの最大厚さは，ディスクのいずれの半径位置でもe1（図12参照）とし，次による。
e1＝1.40 mm
タイプTL/Dディスクの最大厚さは，附属書O参照。
ディスクの情報領域の最小厚さはe2とし，次による。
e2＝0.90 mm
クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも内側にh2入ってもよいとし，次によ
る。
最大h2＝0.4 mm
クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも外側にh3出てもよいとし（図12参
照），次による。
最大h3＝0.1 mm
パラメタh2及びh3は，タイプTLディスク及びタイプQLディスクだけに適用される。
10.4 第1遷移領域
クランプゾーンの内側（d＜d6）の領域ではディスク表面は，ディスク基準面P及びQに対してそれぞ
れh5，h4内側に入ってもよいとし，次による。
最大h5＝0.20 mm
最大h4＝0.12 mm
このディスク表面は，ディスク基準面P及びQの外側にそれぞれh7，h6平たんでない部分及びばりがあ
ってもよいとし，次による（図11，図12及び図O.2参照）。
最大h7＝0.05 mm
最大h6＝0.05 mm
パラメタh4及びh6は，タイプTLディスク及びタイプQLディスクだけに適用される。
10.5 保護リング
ディスクの内側の領域に任意に設けるリング状の突出部は，ディスクを置く表面及びディスクが置かれ
る表面が全面で接触するのを防ぐことができる。そのようなリングを設けることによって，ディスクの読
取面がきず付くのを減らすことができる。
保護リングを設ける場合は，その位置は直径d3と直径d5との間とし，次による。
d3＝17.5 mm
d5＝21.0 mm
d3と直径d4との間で保護リングの高さはクランプ表面の上にh8とし，次による。
d4＝20.5 mm
最大h8＝0.12 mm
d4とd5との間で保護リングの高さは，緩やかに周辺の表面の高さまで減少する（図12参照）。
10.6 クランプゾーン
ディスククランプゾーンの内径はd6とし，次による。
28
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d6≦23.0 mm
ディスククランプゾーンの外径はd7（図11参照）とし，次による。
d7≧33.0 mm
ディスククランプゾーン内のディスク厚さはe3（図12及び図O.2参照）とし，次による。
mm
20
.1
10
.0
05
.0
3
+−
=
e
ディスククランプゾーン内（d6＜d＜d7）でディスクの両面は，最大0.1 mm以内の平たんとする。
ディスククランプゾーン内（d6＜d＜d7）でディスクの両面は，最大0.1 mm以内の平行とする。
10.7 第2遷移領域
第2遷移領域は，クランプゾーンと情報領域との間でd7＜d＜d9の領域である（図11参照）。
この領域でディスクの読取側の表面は，ディスク基準面Pよりもh9内側に入ってもよく，次による。
最大h9＝0.12 mm
この表面は，情報領域の入射面に対してh10外側に出てもよく（図12及び図O.2参照），次による。
最大h10＝0.01 mm
この領域でディスクの上面はディスク基準面Qよりもh11外側に出てもよく，次による。
最大h11＝0.2 mm
h16は，この領域のディスク上面から情報領域上面への段差である。l1は，傾斜部の開始半径及び終了半
径間の距離である。h16が0.2 mmよりも大きい場合は，図12に示すとおり，情報領域上面への下降の傾斜
はなだらかとし，かつ，l1は，次による。
l1＞1.8 mm
第2遷移領域から情報領域の上面へ下がる段差がある場合は，その段差は，直径d8以内でなくなるとし，
次による。
d8＝40.0 mm
パラメタh11，h16，l1及びd8は，タイプTLディスク及びタイプQLディスクだけに適用される。
10.8 情報領域
10.8.1 一般
情報領域は，直径d9〜直径d10とし（図11及び図14参照），次による。
d9＝42 mm
d10＝117 mm
各記録層上で，データ領域は，内径dDZIと外径dDZOとの間とする。全ての記録層のデータ領域は，同じ
記録容量をもつ。
記録層Lnの内径dDZIは，dDZIn，記録層Lnの外径dDZOは，dDZOnとし，次による
dDZIn＝
0.0
2.0
0.
48
−
mm
dDZOn≦116.2 mm
d9とdDZIとの間の領域を内側ゾーンと呼び，dDZOとd10との間の領域を，外側ゾーンと呼ぶ（図14参照）。
情報領域のディスクの全体厚さは，10.3に規定したとおりとする。
29
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
図14−情報領域の区分
10.8.2 3層ディスクの情報ゾーンの区分
情報領域は，三つの記録層に分かれた情報ゾーンを記録するために使用される。
情報ゾーンは，次の主部分に区分される（図15参照）。
− 記録層L0
− リードインゾーン（内側ゾーン0の部分）
− データゾーン0
− 外側ゾーン0
− 記録層L1
− 外側ゾーン1
− データゾーン1
− 内側ゾーン1
− 記録層L2
− 内側ゾーン2
− データゾーン2
− リードアウトゾーン（外側ゾーン2）
L0層及びL2層のらせんグルーブは，ディスクの内側から外側に向かって進む。
L1層のらせんグルーブは，ディスクの外側から内側に向かって進む。
記録層L0
記録層L1
記録層L2
スペーサ層
スペーサ層
カバー層
データゾン0
データゾーン1
データゾーン2
らせん方向
らせん方向
らせん方向
基板
リードインゾーン
外側ゾーン0
外側ゾーン１
リードアウトゾーン
内側ゾーン1
内側ゾーン2
ディスク内周
ディスク外周
光ビーム
図15−3層ディスクの情報領域の使用
データゾーン0
30
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
リードインゾーンは，直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり，データゾーン0の先頭の直径dDZI0
で終了する。
外側ゾーン0は，データゾーン0の最後の直径dDZO0で始まり，最小で直径117 mmで終了する。
外側ゾーン1は，最小で直径117 mmで始まり，データゾーン1の始まりの直径dDZO1で終了する。
内側ゾーン1は，データゾーン1の最後の直径dDZI1で始まり，直径最大44.4 mmで終了する。
内側ゾーン2は，直径最大44.4 mmで始まり，データゾーン2の始まりの直径dDZO2で終了する。
リードアウトゾーンは，データゾーン2の終わりの直径dDZO2で始まり，最小で直径117 mmで終了する。
10.8.3 4層ディスクの情報ゾーンの区分
情報領域は，四つの記録層に分かれた情報ゾーンを記録するために使用される。
情報ゾーンは，次の主部分に区分される（図16参照）。
− 記録層L0
− リードインゾーン（内側ゾーン0の部分）
− データゾーン0
− 外側ゾーン0
− 記録層L1
− 外側ゾーン1
− データゾーン1
− 内側ゾーン1
− 記録層L2
− 内側ゾーン2
− データゾーン2
− 外側ゾーン2
− 記録層L3
− 外側ゾーン3
− データゾーン3
− リードアウトゾーン（内側ゾーン3の部分）
L0層及びL2層のらせんグルーブは，ディスクの内側から外側に向かって進む。
L1層及びL3層のらせんグルーブは，ディスクの外側から内側に向かって進む。
リードインゾーンは，直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり，データゾーン0の先頭の直径dDZI0
で終了する。
外側ゾーン0は，データゾーン0の最後の直径dDZO0で始まり，最小で直径117 mmで終了する。
外側ゾーン1は，最小で直径117 mmで始まり，データゾーン1の始まりの直径dDZO1で終了する。
内側ゾーン1は，データゾーン1の最後の直径dDZI1で始まり，直径最大44.4 mmで終了する。
内側ゾーン2は，直径最大44.4 mmで始まり，データゾーン2の始まりの直径dDZO2で終了する。
外側ゾーン2は，データゾーン2の最後の直径dDZO2で始まり，最小で直径117 mmで終了する。
外側ゾーン3は，最小で直径117 mmで始まり，データゾーン3の始まりの直径dDZO3で終了する。
リードアウトゾーンは，データゾーン3の終わりの直径dDZO3で始まり，直径44.0 mmと44.4 mmとの
間に広がる領域で終了する。
31
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記録層L0
記録層L1
記録層L2
記録層L3
データゾーン0
データゾーン1
データゾーン2
データゾーン3
らせん方向
らせん方向
らせん方向
らせん方向
基板
スペーサ層
スペーサ層
スペーサ層
カバー層
リードインゾーン
外側ゾーン3
外側ゾーン0
外側ゾーン1
外側ゾーン2
内側ゾーン1
内側ゾーン2
リードアウトゾーン
光ビーム
ディスク内周
ディスク外周
図16−4層ディスクの情報領域の使用
10.9 リム領域
リム領域は，情報領域の外の領域でd10で始まりディスクの外径まで広がっている（図11参照）。
リム領域の最初の0.5 mmでは読取面側のディスク表面は，情報領域の入射面よりも外側に出てはなら
ない。
残りのリム領域で読取面側のディスク表面は，情報領域の入射面よりもh13を超えて外側に出てはなら
ないとし，次による。
最大h13＝0.05 mm
リム領域で読取面側のディスク表面は，情報領域の入射面よりもh14内側に入ってもよいとし（図12及
び図O.2参照），次による。
最大h14＝0.12 mm
リム領域でディスクの上面は，情報領域の上面よりもh15を超えて外側に出てはならないとし（図12参
照），次による。
最大h15＝0.05 mm
パラメタh15は，タイプTLディスク及びタイプQLディスクだけに適用される。
11 機械的特性
11.1 質量
ディスクの質量mは，次による。
12 g≦m≦17 g
11.2 慣性モーメント
ディスクの慣性モーメントは，0.032 g·m2以下とする。
11.3 ダイナミックインバランス
ディスクのダイナミックインバランスは，2.5 g·mm以下とする。
11.4 軸方向の振れ量
11.4.1 一般
軸方向のトラッキング基準サーボをもつ光学システムで，ディスクを記録速度の半分の速度で回転して
測定する場合は（全ての容量で），各記録層とディスク基準面R（図12，図O.2及び図13参照）との間の
32
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
基準軸Aの方向の距離は，ディスク全体でh12とする。
最大h12＝0.3 mm
1トラック内（1回転内）で，ディスク基準軸Aの方向の各記録層の平均位置からの偏移は，最大0.1 mm
とする。
基準サーボの積分機能のために（9.10参照）この成分は十分に抑制され，11.4.2及び11.4.3に規定する
残留トラッキングエラーは，主として局所外乱に起因している。
11.4.2 1x測定速度の軸方向残留トラッキングエラー
9.10.2で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って，ディスクをそれぞれ3層ディスクで3.688
m/s及び4層ディスクで3.845 m/sの1×Vref（基準速度）で回転させ，3層ディスク及び4層ディスク共に
いずれの層も(0.70±0.10) mWの読取りパワーで測定した1.6 kHz（＝fx，9.10.2参照）よりも低い周波数で
の各記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは，最大45 nmとする（光ビームの焦点が記録層の上に来
るように動かすために，対物レンズの移動が必要である。）。1×Vrefでの読取耐久性の劣化を避けるために，
残留エラーを短時間で測定することが望ましい。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.6 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，1.6 kHz未満の周波数で，基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は，6.0 m/s2を超えない
ことを意味する。
軸方向のトラッキング基準サーボを使い20 msの積分時間で測定した1.6 kHz〜10 kHzの周波数帯域での
残留エラー信号のノイズ実効値は，最大32 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワース帯
域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.6 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝10 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.4.3 2x測定速度の軸方向残留トラッキングエラー
9.10.3で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って，ディスクをそれぞれ3層ディスクで7.375
m/s及び4層ディスクで7.690 m/sの2×Vrefで回転させ，読取りパワー（9.4参照）で測定した3.2 kHzよ
りも低い周波数での各記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは，最大80 nmとする（光ビームの焦点
が記録層の上に来るように動かすために，対物レンズの移動が必要である。）。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
4x測定速度で，大きな軸方向のトラッキングエラーの原因となるものは，I.10の規定によって対処する。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.6 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，3.2 kHz未満の周波数で，基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は10.8 m/s2を超えない
ことを意味する（9.10.3参照）。しかし，2次の積分特性によって低域成分が更に減衰するため，400 Hzよ
りも低い周波数での最大加速度は，45 m/s2の値まで近づくことができる。
軸方向のトラッキング基準サーボを使い，10 msの積分時間で測定した3.2 kHz〜20 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は，最大32 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワース
帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.2 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝20 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
33
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
11.5 半径方向の振れ量
11.5.1 一般
ディスクの外周エッジの振れ量は，最大0.3 mm ppとする。
各記録層のトラックの半径方向の振れ量（偏芯及び真円からのずれを含む。）は，ディスクを記録速度の
半分の速度で回転させ，半径方向トラッキング基準サーボをもつ光学システムで測定する。
半径方向の振れ量は，最大75 μm ppとする。
基準サーボの積分機能のために（9.11参照），この回転成分は十分に抑圧され，11.5.2及び11.5.3に規定
する残留トラッキングエラーは，主として局所外乱に起因している。
残留トラッキングエラーは，図5に示す半径方向のPP読取りチャネル（I1−I2）信号を，測定及び半径
方向の制御用の両方に供給することによって判定する。
11.5.2 1x測定速度の半径方向の残留トラッキングエラー
9.11.2で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って，ディスクをそれぞれ3層ディスクで
3.688 m/s及び4層ディスクで3.845 m/sの1×Vrefで回転させ，3層ディスク及び4層ディスク共にいずれ
の層も(0.70±0.10) mWの読取りパワーで測定した1.8 kHz（＝fx，9.11.2参照）よりも低い周波数での各記
録層の半径方向の残留トラッキングエラーは，最大13 nmとする。1×Vrefでの読取耐久性の劣化を避ける
ために，残留エラーを短時間で測定することが望ましい。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，1.8 kHz未満の周波数で，半径方向の記録層の局所加速度の最大値は2.2 m/s2を超えないことを
意味している。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い20 msの積分時間で測定した1.8 kHz〜10 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は，最大9.2 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワース
帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝10 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.5.3 2x測定速度の半径方向の残留トラッキングエラー
9.11.3で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って，ディスクをそれぞれ3層ディスクで
7.375 m/s及び4層ディスクで7.690 m/sの2×Vrefで回転させ，9.4参照の読取りパワーで測定した3.6 kHz
よりも低い周波数での各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは，最大20 nmとする。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，3.6 kHz未満の周波数で，半径方向の記録層の局所加速度の最大値は3.4 m/s2を超えないことを
意味する（9.11.3参照）。しかし，2次の積分特性によって低域成分が更に減衰するため，400 Hzよりも低
い周波数での最大加速度は，15 m/s2の値までなり得る。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い10 msの積分時間で測定した3.6 kHz〜20 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は，最大9.2 nmとする。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.6 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝20 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
34
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
11.6 カバー層の耐久性
11.6.1 カバー層の衝突耐久性
ディスクの読取面に対物レンズが衝突する場合に，過度にディスクが損傷するのを防ぐために，ディス
ク表面は，最低限の衝突耐久性をもつことが望ましい。この衝突耐久性は，附属書Lに規定する測定方法
で測定できる。
11.6.2 カバー層のきず耐久性
過度にきずが付かないように，ディスク表面は，最低限の硬さをもつ。きず耐久性は，附属書Cに規定
する測定方法で測定する。
11.6.3 カバー層による指紋はつ（撥）油性
過度の汚れを防ぐため，ディスク表面は，できるだけ汚れをはじくことが望ましい。汚れのはじき具合
は，附属書Dに規定する測定方法で測定する。
12 情報領域の光学特性
12.1 一般
ディスクの情報領域内で，次の要求事項を満たす。
これらの透過積層（TS）の規格は，記録層の上の全ての関連する層（例えば，積層膜の場合は接着層，
TS0の場合はスペーサ層及び全てのLn層の半透明記録層，カバー層及び保護コート付きの場合は保護コ
ート層など）を含んでいる。
12.2 透過積層（TS）の屈折率
TS全体を形成する層が異なる屈折率をもっている場合は，附属書Aに規定した方法に従う。ディスク
のカバー層及びスペーサ層の屈折率nは，次による。
1.45≦n≦1.70
12.3 透過積層（TS）の厚さ
12.3.1 3層ディスクの透過積層の厚さ
半径raと半径rbとの間の平均厚さは，関連するディスクの透過積層（TS0，TS1又はTS2）の基準厚さ
という。
ディスク全面で測定したTS0，TS1及びTS2の厚さは，次の八つの要求事項を満たす。
要求事項a)〜c)に関連して図17では，曲線は，等価な球面収差となる厚さを示す。屈折率1.60に対す
る任意の屈折率nにおける厚さの比は，近似関数g(n)で表される。
g(n)＝−1.111 1n3＋5.814 3n2−9.880 8n＋6.476 0
図18は，実際の厚さを要求事項f)の有効厚さに変換する係数を示す。実際の厚さは，その物理的な値を
意味する。有効厚さは，屈折率を1.60と仮定した場合の仮想的な値を意味する。
任意の屈折率の実際の厚さは，標準の屈折率1.60の有効厚さに変換される。実際の厚さ及び有効厚さの
デフォーカスの値は同じである。この箇条では，デフォーカスは，それぞれの厚さ及び屈折率をもった透
明な材料を光が透過する場合のフォーカス位置の動きと規定する。
係数の関数f(n)は，tan(θr)/tan(θ0)に等しい。ここに，θ0及びθrは，それぞれ屈折率が1.60及び任意の屈
折率nの場合の，透過積層中の収束角度である。関数f(n)は，近似的に次の式で表される。
f(n)＝−1.088 0n3＋6.102 7n2−12.042n＋9.100 7
a) 屈折率で決まるTS0（L0層の上の全ての層）の厚さは，図17の最上部の網掛け領域内とする［屈折
率がnの場合の厚さは，94.0×g(n) μm〜106.0×g(n) μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折率の
35
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
関数として示す。］。
b) 屈折率で決まるTS1（L1層の上の全ての層）の厚さは，図17の中央の網掛け領域内とする［屈折率
がnの場合の厚さは，69.0×g(n) μm〜81.0×g(n) μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折率の関数
として示す。］。
c) 屈折率で決まるTS2（L2層の上の全ての層）の厚さは，図17の最下部の網掛け領域内とする［屈折
率がnの場合の厚さは，52.0×g(n) μm〜62.0×g(n) μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折率の関
数として示す。］。
d) L0層及びL1層に挟まれたスペーサ層1（S1）の厚さは，20.0 μm〜30.0 μmとする。
e) L1層及びL2層に挟まれたスペーサ層2（S2）の厚さは，13.0 μm〜23.0 μmとする。
f)
厚さの差は，次の要求事項を満たす。
C−(S1＋S2)≧1.0 μm
S1−S2≧1.0 μm
C，S1，S2は，実際の厚さに図18に示す係数f(n)を乗じて有効厚さに変換する。
ここに， TS2の厚さ： カバー層の厚さ（C）に等しい。
n： 屈折率
g) TS0及びTS1の厚さの各々の基準厚さからの偏差ΔDの最大値は，次による。
│ΔD│≦2.5 μm
h) TS2の厚さの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は，次による。
│ΔD│≦2.0 μm
12.3.2 3層ディスクのスペーサ層の目標厚さの例
ディスクの量産では，厚さの簡単な目標値が使いやすい。
次の三つの要求事項を満たすことが推奨されるが，その場合には12.3.1のa)〜f)の要求事項は屈折率1.60
に対して常に満たされる。
a) スペーサ層1の厚さS1は，(25.0±2.0) μmを満たすことが望ましい。
b) スペーサ層2の厚さS2は，(18.0±2.0) μmを満たすことが望ましい。
c) TS2の厚さCは，(57.0±2.0) μmを満たすことが望ましい。
12.3.3 4層ディスクの透過積層の厚さ
raとrbとの間の平均厚さは，関連するディスクの透過積層（TS0，TS1，TS2又はTS3）の基準厚さとい
う。
ディスク全面で測定したTS0，TS1，TS2及びTS3の厚さは，次の10個の要求事項を満たす。
要求事項a)〜d)に関連して図19では，曲線は，等価な球面収差となる厚さを示す。屈折率1.60に対す
る任意の屈折率nにおける厚さの比は，近似関数g(n)で表される。
g(n)＝−1.111 1n3＋5.814 3n2−9.880 8n＋6.476 0
図18は，実際の厚さを要求事項h)の有効厚さに変換する係数を示す。実際の厚さは，その物理的な値
を意味する。有効厚さは，屈折率を1.60と仮定した場合の仮想的な値を意味する。
任意の屈折率の実際の厚さは，標準の屈折率1.60の有効厚さに変換される。実際の厚さ及び有効厚さの
デフォーカスの値は同じである。この箇条では，デフォーカスは，各々の厚さ及び屈折率をもった透明な
材料を光が透過する場合のフォーカス位置の動きと規定する。
係数の関数f(n)は，tan(θr)/tan(θ0)に等しい。ここに，θ0及びθrは，各々屈折率が1.60及び任意の屈折率n
の場合の，透過積層中の収束角度である。関数f(n)は，近似的に次の式で表される。
36
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
f(n)＝−1.088 0n3＋6.102 7n2−12.042n＋9.100 7
a) 屈折率で決まるTS0（L0層の上の全ての層）の厚さは，図19の最上部の網掛け領域内とする［屈折
率がnの場合の厚さは，94.0×g(n) μm〜106.0×g(n) μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折率の
関数として示す。］。
b) 屈折率で決まるTS1（L1層の上の全ての層）の厚さは，図19の上から2番目の網掛け領域内とする
［屈折率がnの場合の厚さは，78.5×g(n) μm〜90.5×g(n) μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折
率の関数として示す。］。
c) 屈折率で決まるTS2（L2層の上の全ての層）の厚さは，図19の最下部の網掛け領域内とする［屈折
率がnの場合の厚さは，50.5×g(n) μmと56.5×g(n) μmとの間とし，図中太い破線は，公称厚さを屈
折率の関数として示す。］。
d) 屈折率で決まるTS3（L3層の上の全ての層）の厚さは，図19の下から2番目の網掛け領域内とする
［屈折率がnの場合の厚さは，60.5×g(n) μmと69.5×g(n) μmとの間とし，図中太い破線は，公称厚
さを屈折率の関数として示す。］。
e) L0層及びL1層に挟まれたスペーサ層1の厚さS1は，11.0 μm〜20.5 μmとする。
f)
L1層及びL2層に挟まれたスペーサ層2の厚さS2は，14.5 μm〜24.5 μmとする。
g) L2層及びL3層に挟まれたスペーサ層3の厚さS3は，10.0 μm〜16.5 μmとする。
h) 厚さの差は，次の要求事項を満たす。
C−(S1＋S2＋S3)≧1.0 μm
S1−S3≧1.0 μm
S2−S1≧1.0 μm
S3≧10 μm
C，S1，S2，S3は，実際の厚さに図18に示す係数f(n)を乗じて有効厚さに変換する。
ここに， TS3の厚さ： カバー層の厚さ（C）に等しい。
n： 屈折率
i)
TS0，TS1及びTS2の厚さのそれぞれの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は，次による。
│ΔD│≦2.5 μm
j)
TS3の厚さの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は，次による。
│ΔD│≦2.0 μm
12.3.4 4層ディスクのスペーサ層の目標厚さの例
ディスクの量産では，厚さの簡単な目標値が使いやすい。
次の四つの要求事項を満たすことが推奨されるが，その場合には12.3.3のa)〜h)の要求事項は屈折率1.60
に対して常に満たされる。
a) スペーサ層1の厚さS1は，(15.5±1.5) μmを満たすことが望ましい。
b) スペーサ層2の厚さS2は，(19.5±1.5) μmを満たすことが望ましい。
c) スペーサ層3の厚さS3は，(11.5±1.5) μmを満たすことが望ましい。
d) TS2の厚さCは，(53.5±1.5) μmを満たすことが望ましい。
37
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
透過積層の屈折率
102.3
76.7
58.3
100.099.298.798.6
75.875.074.4
57.657.056.556.356.2
40.0
50.0
60.0
70.0
80.0
90.0
100.0
110.0
TS2
TS1
TS0
74.074.0
1.40
1.50
1.60
1.70
1.45
1.55
1.65
1.75
101.1
透
過
積
層
の
厚
さ
(µ
m
)
図17−屈折率の関数としての透過積層の厚さ
38
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
スペーサ層の屈折率
1.154
1.097
1.046
1.000
0.959
0.921
0.9
1.0
1.1
1.2
1.40
1.50
1.60
1.70
1.45
1.55
1.65
1.75
f(
n
)
図18−屈折率1.60及び任意の屈折率nにおける有効厚さの比
39
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
TS1
TS0
98.6
98.7
99.2
100.0
101.1
83.3
83.4
83.8
84.5
85.4
64.1
64.2
64.5
65.0
65.7
52.8
52.8
53.1
53.5
54.1
TS2
TS3
98.6
98.7
99.2
100.0
101.1
102.3
83.3
83.4
83.8
84.5
85.4
86.4
64.1
64.2
64.5
65.0
65.7
66.5
52.8
53.1
53.5
54.1
54.7
40.0
50.0
60.0
70.0
80.0
90.0
100.0
110.0
透過積層の屈折率
1.40
1.50
1.60
1.70
1.45
1.55
1.65
1.75
透
過
積
層
の
厚
さ
(m
m
)
図19−屈折率の関数としての透過積層の厚さ
12.4 記録層の反射率
カバー層の透過を含む情報ゾーンの記録層の反射率は，附属書Bの測定条件の下で次の要求事項を満た
す。
− 未記録のバージングルーブ：
− 3層ディスクのL0層及びL1層又は4層ディスクのL0層，L1層及びL2層： 1.8 %≦Rg-v≦4.0 %
− 3層ディスクのL2層又は4層ディスクのL3層：
2.0 %≦Rg-v≦4.0 %
− 記録グルーブ：
− 3層ディスクのL0層及びL1層又は4層ディスクのL0層，L1層及びL2層： 1.6 %≦R8H≦4.0 %
− 3層ディスクのL2層又は4層ディスクのL3層：
1.8 %≦R8H≦4.0 %
− ディスクの各部：
0.75×Rg-v＜R8H＜1.25×Rg-v
記録マークは，未記録層よりも低い反射率とする。
12.5 複屈折
透過積層のディスク面方向の複屈折（附属書J参照）は，次による。
Δn//≦1.5×10−4
透過積層のディスク面に対して垂直方向の複屈折（附属書J参照）は，次による。
Δn┴≦1.2×10−3
12.6 角度偏差
角度偏差は，ディスクの基準面Pに垂直な入射平行光と反射光との間の角度αである。入射光の直径は，
0.3 mm〜1.0 mmの範囲とする。角度偏差αは，入射面のゆがみ並びにカバー層及び／又はスペーサ層の非
40
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
平行を含んでいる（図20参照）。
カバー層
基板
記録層
読取り面
反射光
a
入射光
図20−角度偏差の規定
角度偏差αの要求事項は，次による。
− 半径方向
− 8.1.1に規定する通常の試験環境条件： 最大│α│＝0.60°
− 8.1.1に規定する急激変化の試験条件： 最大│α│＝0.70°
− 接線方向
− 8.1.1に規定する通常の試験環境条件： 最大│α│＝0.30°
13 データフォーマット
13.1 一般
情報源（ホストコンピュータ又は応用）から受け取ったデータは使用者データフレームと呼ばれ，ディ
スクに記録する前に幾つかのステップを踏んで，次のとおりにフォーマットされる（図21参照）。
41
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
32 フレーム
使用者データ
x 2 048バイト
32 セクタ
データブロック
304 列
216 行
アクセスブロック
24 列
30
行
LDC ブロック
304 列
216 行データ
32 行パリティ
使用者コントロールデータ
32 ユニット
x18 バイト
物理セクタ番号
アドレスユニット番号
16アドレス
x9 バイト
24 列
30 行データ
32 行パリティ
BIS ブロック
BIS クラスタ
3 列
496 行
LDC クラスタ
152 列
496 行
物理クラスタ
ECC クラスタ
(155 列)
(
1 288 データビット)
1 932 チャネルビット
LDC
38 列
BIS
1 列
LDC
38 列
BIS
1 列
LDC
38 列
BIS
1 列
LDC
38 列
496 行は、各31行の
16 アドレスユニットに
分割する。
フレーム
同期
20
データ
25
直流
制御
1
直流
制御
1
直流
制御
1
データ
45
データ
45
496
記録フレーム
32 フレーム
データフレーム
x(2 048バイトデータ
+4 バイトEDC)
32 フレーム
スクランブルドデータフレーム
x2 052バイト
図21−エンコードプロセスの図
− 使用者データは，データフレーム，スクランブルドデータフレーム，データブロック，LDCブロック
及びLDCクラスタと，順番に変換される。
− BDレコーダブルシステムで追加するアドレス及びコントロールデータは，アクセスブロック，BIS
ブロック及びBISクラスタと，順番に変換される。
− LDCクラスタ及びBISクラスタは，多重化され16アドレスユニットに分割されるECCクラスタとな
42
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
り，変調されて496記録フレームから構成される物理クラスタとなる。
BDレコーダブルディスクのデータは，2 048バイトの使用者データから構成される，32個のデータフレ
ームをもつクラスタと呼ぶ64Kのパーティションに記録される。このクラスタは，二つのエラー訂正の仕
組みで保護されている。
− 第1に，（248,216,33）リードソロモン（RS）符号語で構成する長距離（LDC）エラー訂正符号で保護
される。この符号は，十分なパリティ及びインターリーブ長をもち，効率がよく，ランダムエラー及
びバーストエラーの両方を訂正できる。
− 第2に，データは，（62,30,33）RS符号語で構成する強力なバースト検出サブコード（BIS）と多重化
される。このBIS符号は，場所を特定するためのアドレス及び使用者データに付随したコントロール
情報をもっている。また，LDCが効率的に消失訂正できるように，長いバーストエラーを示すために
使うことができる。
これらの二つの符号の組合せは，LDC＋BIS符号と呼ばれる（図22参照）。
全てのデータは，図22に示す配列に構成される。この配列は，行から行へと水平方向に読まれ，直流制
御ビットを追加し，変調し，同期パタンを追加してディスク上に記録される。
エラー訂正符号は，ディスク上のバーストエラーを原理的にうまく分割する垂直方向に適用される。さ
らに，LDC符号は，対角線方向にインターリーブされている。
同期
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
D0........D37
B0
D38......D75
B1
D76....D113
B2
D114...D151
D152…. D189
B3
D190...........
アドレス
ユニット0
31
行
496
行
ディスク上の
データの流れ
:
:
:
アドレス
ユニット14
31
行
アドレス
ユニット15
....... D75 391
31
行
同期
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
D0........D37
B0
D38......D75
B1
D76....D113
B2
D114...D151
D152…. D189
B3
D190...........
アドレス
ユニット0
31
行
496
行
ディスク上の
データの流れ
:
:
:
アドレス
ユニット14
31
行
アドレス
ユニット15
....... D75 391
31
行
図22−ディスク上の物理クラスタの図
アドレスユニット，物理セクタ及び論理セクタは，次のとおりとする。
− アドレスユニット
ディスク上の所定の位置へ，光ピックアップの位置決めをするために，物理クラスタは，それぞれ
が31の連続する行から構成される16個のアドレスユニットに細分される。アドレスユニット番号
43
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
（AUN）を記録データに埋め込むことによって，迅速な位置決めができる。
− 物理セクタ
コントロールデータが附属したデータフレームは，セクタと呼ばれる。ディスク全体（内側ゾーン
及び外側ゾーンを含む。）の全ての物理クラスタ内の全てのセクタは，物理セクタと呼ばれる。全ての
物理セクタは，物理セクタ番号（PSN）と呼ぶ仮想番号をもっている。このPSNは，ディスク上に記
録されないがAUNと同期している。
− 論理セクタ
ホストコンピュータ又は応用から供給される使用者データを保存するために，全ての物理セクタが
利用できるわけではない。内側ゾーン及び外側ゾーンは除かれる。残りのセクタは，使用者データ保
存に利用でき，論理セクタと呼ばれる。
13.2 データフレーム
一つのデータフレームは，2 048バイトの使用者データ及び4バイトのエラー検出符号（EDC）の2 052
バイトで構成される。2 048バイトの使用者データバイトは，ud0〜ud2 047として，また，4バイトのEDC
は，ed2 048〜ed2 051として識別される（図23参照）。
ud0
:
2048
:
使用者データ
:
バイト
:
2052
ud2047
バイト
ed2048
4
ed2049
EDCバイト
ed2050
ed2051
ud0
:
2048
:
使用者データ
:
バイト
:
2052
ud2047
バイト
ed2048
4
ed2049
EDCバイト
ed2050
ed2051
図23−データフレーム
13.3 エラー検出符号（EDC）
4バイトのフィールドed2 048〜ed2 051は，2 048バイトの使用者データ全体に対し，算出されたエラー検出
符号を収納する。データフレームを，最初の使用者データバイト（ud0）の最上位ビットから始まり，最後
のEDCバイト（ed2 051）の最下位ビットで終わる一つのビットフィールドとして考えると，msbはb16 415
で，lsbはb0となる。
EDCの各ビットbiは，i＝0〜31に対して，次のとおりに示される。
)
(
mod
)
(
b
)
(
∑
0
31
x
G
x
I
x
x
EDC
i
i
i
=
=
=
ここに， I(x)：
∑
32
415
16
b
)
(
=
=
i
i
ix
x
I
G(x)： G(x)＝x32＋x31＋x4＋1
13.4 スクランブルドデータフレーム
使用者データ及びEDCの2 052バイトから構成される各データフレームは，図24に規定する回路の出
力でスクランブルする。この図でビットs7 (msb)〜s0 (lsb)は，各8ビットシフトごとのスクランブルバイト
を表す。
回路の心臓部は線形帰還シフトレジスタ（LFSR）で，次の多項式によっている。
44
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
φ(x)＝x16＋x15＋x13＋x4＋1
ここで，s0〜s1は16ビットシフトレジスタを構成している。各シフトクロックで，snの中身はsn＋1（n
＝0...14）にシフトし，一方，s0は，s15⊕s14⊕s12⊕s3（⊕は排他的論理和を表す。）にセットされる。
各データフレームのスクランブル手順の最初で，s0〜s15のシフトレジスタは，データフレームに付随す
る（仮想）PSN（箇条17参照）から生成する値にプリセットする。16ビットのプリセット値は，次に示
す方法で作成する。
− s15は，1にセットする。
− s14〜s0は，PSNのPS19〜PS5にセットする（図24参照）。
同じプリセット値を，同一クラスタ内の全32データフレームに用いる。
最上位バイト
“１”
最下位バイト
PS31
PS23
PS15
PS7
PS24
PS16
PS19
PS8
PS0
PS5PS4
s15s14
s12
s7s6s5s4s3s2s1s0
PSN
パラレル
入力
シフトクロック
図24−スクランブル回路
プリセット値を読み込んだ後，s7〜s0は，スクランブルバイトS0として取り出される。さらに，8ビッ
トシフトを2 051回繰り返し，続きの2 051バイトは，s7〜s0からスクランブルバイトS1〜S2 051として取り
出される。データフレームの2 052バイトのud/edkは，スクランブルバイトdkとなり，次による。
dk＝ud/edk⊕Sk
ここに，
k： 0〜2 051
⊕： 排他的論理和
13.5 データブロック
次のステップで，32個のスクランブルドデータフレーム（Fは，0〜31。）は，一塊のデータに統合され
る（図25参照）。
32 フレーム
0
1
:
F
:
31
d0,0
d0,1
:
d0,F
:
d0,31
d1,0
d1,1
:
d1,F
:
d1,31
2052
:
:
:
:
:
バイト
:
:
:
:
:
d2050,0
d2050,1
:
d2050,F
:
d2050,31
d2051,0
d2051,1
:
d2051,F
:
d2051,31
32 フレーム
0
1
:
F
:
31
d0,0
d0,1
:
d0,F
:
d0,31
d1,0
d1,1
:
d1,F
:
d1,31
2052
:
:
:
:
:
バイト
:
:
:
:
:
d2050,0
d2050,1
:
d2050,F
:
d2050,31
d2051,0
d2051,1
:
d2051,F
:
d2051,31
図25−32スクランブルドデータフレーム
45
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
これらのデータは，各スクランブルドデータフレームを図26に示すとおり9,5列に分けることによって，
216行×304列の配列に再配置される。この新しい配列は，データブロックと呼ばれる。全ての偶数スクラ
ンブルドデータフレームは列を半分下がったところで終わり，全ての奇数スクランブルドデータフレーム
は列を半分下がったところから始まることに注意することが望ましい。
304 列
0
1
:
9
10
:
18
19
303
d0,0
d216,0
:
d1944,0
d108,1
:
d1836,1
d0,2
:
d1836,31
d1,0
d217,0
:
d1945,0
d109,1
:
d1837,1
d1,2
:
d1837,31
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d2050,0
:
:
:
:
:
:
216
:
:
:
d2051,0
:
:
:
:
:
:
行
:
:
:
d0,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d1,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d106,1
:
:
:
:
:
:
d215,0
d431,0
:
d107,1
d323,1
:
d2051,1
d215,2
:
d2051,31
304 列
0
1
:
9
10
:
18
19
303
d0,0
d216,0
:
d1944,0
d108,1
:
d1836,1
d0,2
:
d1836,31
d1,0
d217,0
:
d1945,0
d109,1
:
d1837,1
d1,2
:
d1837,31
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d2050,0
:
:
:
:
:
:
216
:
:
:
d2051,0
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d2050,0
:
:
:
:
:
:
216
:
:
:
d2051,0
:
:
:
:
:
:
行
:
:
:
d0,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d1,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
行
:
:
:
d0,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d1,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d106,1
:
:
:
:
:
:
d215,0
d431,0
:
d107,1
d323,1
:
d2051,1
d215,2
:
d2051,31
図26−32スクランブルドデータフレームからのデータブロックの構成
13.6 LDCブロック
データブロックの各列のバイトは，図27に示すとおり各行の先頭からLが符号語番号（＝列番号：0〜
303）を表すとして，e0,L e1,L .. ei,L ..〜e215,L という番号に付け直される。
LDCブロックは，各列を，（248,216,33）長距離RS符号に従って32パリティバイトで拡張して完成され
る。パリティバイトは，p216,L p217,L ... pj,L〜p247,Lと番号が付けられる。
304 列
符号語
0
符号語
1
:
符号語
L
:
符号語
302
符号語
303
1 LDC
符号語
216
データ行
e0,0
e1,0
e2,0
:
:
e215,0
e0,1
e1,1
:
:
:
e215,1
:
:
:
:
:
:
e0,L
e1,L
:
:
:
e215,L
:
:
:
:
:
:
e0,302
e1,302
:
:
:
e215,302
e0,303
e1,303
:
:
:
e215,303
= 248
バイト
32
パリティ行
p216,0
:
:
:
:
p247,0
p216,1
:
:
:
:
p247,1
:
:
:
:
:
:
p216,L
:
:
:
:
p247,L
:
:
:
:
:
:
p216,302
:
:
:
:
p247,302
p216,303
:
:
:
:
p247,303
304 列
符号語
0
符号語
1
:
符号語
L
:
符号語
302
符号語
303
1 LDC
符号語
216
データ行
e0,0
e1,0
e2,0
:
:
e215,0
e0,1
e1,1
:
:
:
e215,1
:
:
:
:
:
:
e0,L
e1,L
:
:
:
e215,L
:
:
:
:
:
:
e0,302
e1,302
:
:
:
e215,302
e0,303
e1,303
:
:
:
e215,303
= 248
バイト
32
パリティ行
p216,0
:
:
:
:
p247,0
p216,1
:
:
:
:
p247,1
:
:
:
:
:
:
p216,L
:
:
:
:
p247,L
:
:
:
:
:
:
p216,302
:
:
:
:
p247,302
p216,303
:
:
:
:
p247,303
図27−データバイトの再番号割当て及びパリティ追加によるLDCブロックの構成
13.7 LDC符号語
長距離RS符号は，GF(28)の有限体上で規定する。有限体GF(28)の非ゼロ要素は，原始根αによって生
成される。ここに，αは次の原始多項式p(x)の根である。
p(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF(28)のシンボルは，（α7,α6,α5,..,α2,α,1）を元とする元多項式の表現を用いてバイト（8ビットのグループ）
46
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
で表される。したがって，根αは次で表される。
α＝00000010
ベクトルIdc＝(e0,L .. ei,L .. e215,L .. p216,L .. pj,L .. p247,L)で表す各LDC符号語は，216の情報バイト及び32のパ
リティバイトをもつGF(28)上のRS符号である。そのような符号語は，247次の多項式Idc(x)で表すことが
できる（幾つかの係数はゼロの可能性がある。）。ここに，最高次はベクトルの情報部分（e0,L .. など）に
相当し，最低次はベクトルのパリティ部分（p216,L ..など）に相当する。
Idc(x)は，LDC符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は，次による。
(
)
∏
=
−
=
31
0
)
(
i
iα
x
x
g
LDCは組織符号で，216の情報バイトは，変わることなく各符号語の最高次に現れる。Idc符号のパリテ
ィチェック行列HLDCは，全てのLDC符号語Idcに対して，次による。
HLDC×IdcT＝0
パリティチェック行列HLDCの第2行hLDC2は，生成多項式g(x)のゼロαに相当し，エラーの場所の特定
に用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HLDCの第2行hLDC2は，次による。
hLDC2＝(α247, α246 .. α2, α, 1)
13.8 LDCクラスタ
13.8.1 一般
LDC符号語を生成した後，LDCブロックは，二つのステップでインターリーブが行われLDCクラスタ
となる。
13.8.2 インターリーブの第1のステップ
第1のインターリーブのステップで，高さ248の304列は152列×496行の新しい配列に再構築される。
各新しい列は，LDCブロックの各偶数列及び次の奇数列を組み合わせることによって作られる。新しい
列は，図28に示すとおりLDCブロックの偶数列の最初のバイトを取り込み，次にLDCブロックの奇数列
の最初のバイトを取り込み，次にLDCブロックの偶数列の2番目のバイトを取り込み，その後奇数列の2
番目のバイトを取り込むという形を続けることで埋められる。
47
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
152 列
0
1
151
e0,0
e0,2
:
:
e0,302
e0,1
e0,3
:
:
e0,303
432
e1,0
e1,2
:
:
e1,302
データ行
e1,1
e1,3
:
:
e1,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
e215,0
e215,2
:
:
e215,302
e215,1
e215,3
:
:
e215,303
496
p216,0
p216,2
:
:
p216,302
行
p216,1
p216,3
:
:
p216,303
64
p217,0
p217,2
:
:
p217,302
パリティ行
p217,1
p217,3
:
:
p217,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
p247,0
p247,2
:
:
p247,302
p247,1
p247,3
:
:
p247,303
152 列
0
1
151
e0,0
e0,2
:
:
e0,302
e0,1
e0,3
:
:
e0,303
432
e1,0
e1,2
:
:
e1,302
データ行
e1,1
e1,3
:
:
e1,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
e215,0
e215,2
:
:
e215,302
e215,1
e215,3
:
:
e215,303
496
p216,0
p216,2
:
:
p216,302
行
p216,1
p216,3
:
:
p216,303
64
p217,0
p217,2
:
:
p217,302
パリティ行
p217,1
p217,3
:
:
p217,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
p247,0
p247,2
:
:
p247,302
p247,1
p247,3
:
:
p247,303
図28−インターリーブの第1のステップ
13.8.3 インターリーブの第2のステップ
エラー伝ぱの影響を低減しバーストエラーの訂正能力を更に良くするために，追加のインターリーブが
行われる。
第1のインターリーブのステップによって生成されたLDCブロックの全ての行は，mod(k×3.152)バイ
ト左にシフトする。
ここで，0≦行番号≦495，かつ，k＝div（行番号,2）である。
シフトによって左からはみ出したバイトは，配列の右側から再投入される（図29参照）。
この工程の後にバイトは，全ての行にわたって水平方向に番号が付け直され，図22に示すとおり，D0
〜D75 391となる。
48
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
152
バイト
シフト
e0,0
e0,2
...
...
e0,300
e0,302
0
e0,1
e0,3
...
...
e0,301
e0,303
シフト
e1,6
e1,8
...
...
e1,300
e1,302
e1,0
e1,2
e1,4
3
e1,7
e1,9
...
...
e1,301
e1,303
e1,1
e1,3
e1,5
シフト
e2,12
e2,14
...
...
e2,302
e2,0
e2,2
e2,4
e2,6
e2,8
e2,10
6
e2,13
e2,15
...
...
e2,303
e2,1
e2,3
e2,5
e2,7
e2,9
e2,11
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
e50,300
e50,302
e50,0
...
...
e50,298
150
e50,301
e50,303
e50,1
...
...
e50,299
シフト
e51,2
e51,4
...
...
e51,300
e51,302
e51,0
1
e51,3
e51,5
...
...
e51,301
e51,303
e51,1
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
...
...
...
...
mod(k×3,152)
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト130
p246,260
p246,262
...
p246,302
p246,0
...
p246,258
p246,261
p246,263
...
p246,303
p246,1
...
p246,259
シフト133
p247,266
p247,268
...
p247,302
p247,0
p247,2
p247,4
p247,6
...
p247,264
p247,267
p247,269
...
p247,303
p247,1
p247,3
p247,5
p247,7
...
p247,265
152
バイト
シフト
e0,0
e0,2
...
...
e0,300
e0,302
0
e0,1
e0,3
...
...
e0,301
e0,303
シフト
e1,6
e1,8
...
...
e1,300
e1,302
e1,0
e1,2
e1,4
3
e1,7
e1,9
...
...
e1,301
e1,303
e1,1
e1,3
e1,5
シフト
e2,12
e2,14
...
...
e2,302
e2,0
e2,2
e2,4
e2,6
e2,8
e2,10
6
e2,13
e2,15
...
...
e2,303
e2,1
e2,3
e2,5
e2,7
e2,9
e2,11
...
e2,302
e2,0
e2,2
e2,4
e2,6
e2,8
e2,10
6
e2,13
e2,15
...
...
e2,303
e2,1
e2,3
e2,5
e2,7
e2,9
e2,11
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
e50,300
e50,302
e50,0
...
...
e50,298
150
e50,301
e50,303
e50,1
...
...
e50,299
...
e50,298
150
e50,301
e50,303
e50,1
...
...
e50,299
シフト
e51,2
e51,4
...
...
e51,300
e51,302
e51,0
1
e51,3
e51,5
...
...
e51,301
e51,303
e51,1
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
...
...
...
...
mod(k×3,152)
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト130
p246,260
p246,262
...
p246,302
p246,0
...
p246,258
p246,261
p246,263
...
p246,303
p246,1
...
p246,259
シフト133
p247,266
p247,268
...
p247,302
p247,0
p247,2
p247,4
p247,6
...
p247,264
p247,267
p247,269
...
p247,303
p247,1
p247,3
p247,5
p247,7
...
p247,265
p247,268
...
p247,302
p247,0
p247,2
p247,4
p247,6
...
p247,264
p247,267
p247,269
...
p247,303
p247,1
p247,3
p247,5
p247,7
...
p247,265
図29−LDCクラスタ
2
X
6
2
3
1
：
2
0
1
7
(I
S
O
/IE
C
3
0
1
9
1
：
2
0
1
5
)
49
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
13.9 アドレス及びコントロールデータ
13.9.1 一般
ディスク上のデータにアクセスするために，アドレス及びコントロールデータが含まれている。
13.9.2 アドレスユニット
13.9.2.1 一般
光ヘッドを目的のトラックに位置決めするために，64Kの物理クラスタを16のアドレスユニットに更に
分割することによる，高速アドレスの仕組みが組み込まれている。各アドレスユニットは，迅速に位置決
めできるように，BIS符号語（13.11参照）の中にアドレスをもっている（図30参照）。
各アドレスフィールドは，9バイトで，次のとおりに構成される。
− 変形され反転されたアドレスユニット番号の4バイトのパリティ（13.9.2.2参照）
− フラグビット1バイト
− エラー訂正4バイト
16 アドレス
0
1
:
S
:
15
AF0,0
AF0,1
:
AF0,S
:
AF0,15
アドレス-
AF1,0
AF1,1
:
:
:
AF1,15
ユニット番号
:
:
:
:
:
:
9
AF3,0
AF3,1
:
AF3,S
:
AF3,15
バイト
フラグビット
AF4,0
AF4,1
:
AF4,S
:
AF4,15
AF5,0
AF5,1
:
AF5,S
:
AF5,15
パリティ
:
:
:
:
:
:
AF8,0
AF8,1
:
AF8,S
:
AF8,15
16 アドレス
0
1
:
S
:
15
AF0,0
AF0,1
:
AF0,S
:
AF0,15
アドレス-
AF1,0
AF1,1
:
:
:
AF1,15
ユニット番号
:
:
:
:
:
:
9
AF3,0
AF3,1
:
AF3,S
:
AF3,15
バイト
フラグビット
AF4,0
AF4,1
:
AF4,S
:
AF4,15
AF5,0
AF5,1
:
AF5,S
:
AF5,15
パリティ
:
:
:
:
:
:
AF8,0
AF8,1
:
AF8,S
:
AF8,15
図30−16アドレスフィールド
13.9.2.2 アドレスフィールドのバイト割付け
アドレスフィールドを規定する前に，アドレスユニット番号，フラグビット及びパリティビットで構成
する主アドレスフィールドを，次に規定する（図31参照）。
PAF0,S＝次に示すビット順を変えたアドレスユニット番号の最上位バイト
(AU31,AU30,AU29,AU28,AU24,AU27,AU26,AU25)
PAF1,S＝アドレスユニット番号の第2上位バイト
PAF2,S＝アドレスユニット番号の第3上位バイト
PAF3,S＝アドレスユニット番号の最下位バイト
PAF4,S＝フラグビットで，これらのビットは，クラスタ中の個々のデータフレームの状態を示すため，
又はアドレスのような他の情報を収納するために使用できる。これらのフラグビットの幾つかの基本的な
割当ては，13.9.2.4に規定する。使用しないフラグビットは，“0”にセットする。
PAF5,S〜PAF8,S＝主アドレスフィールドで，(9,5,5)RS符号を構成するためのパリティバイト
このRS符号は，GF(28)の有限体上で規定される。有限体GF(28)の非ゼロ要素は，原始根αによって生
成される。ここに，αは，次の原始多項式p(x)の根である。
p(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF(28)のシンボルは，（α7,α6,α5..α2,α,1）を元とする元多項式の表現を用いて，バイト（8ビットのグルー
プ）で表される。したがって，根αは次で表される。
α＝00000010
50
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ベクトルpafc＝(PAF0,S .. PAFi,S ...PAF8,S)で表す各主アドレスフィールド符号語（PAFC）は，四つのパリ
ティバイト及び五つの情報バイトをもつGF(28)上のRS符号である。そのような符号語は，8次の多項式
pafc(x)で表すことができる（幾つかの係数はゼロの可能性がある。）。ここに，最高次は，ベクトルの情報
部分（PAF0,S ... など）に相当し，最低次は，ベクトルのパリティ部分（PAF5,S .. など）に相当する。
pafc(x)は，主アドレスフィールド符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は，次による。
(
)
∏
=
−
=
3
0
)
(
i
iα
x
x
g
主アドレスフィールド符号語は組織符号で，五つの情報バイトは変わることなく各符号語の最高次に現
れる。pafc符号のパリティチェック行列HPAFCは，全ての主アドレスフィールド符号語pafcに対して，次
による。
HPAFC×pafcT＝0
パリティチェック行列HPAFCの第2行hPAFC2は生成多項式g(x)のゼロαに相当し，エラーの場所の特定に
用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HPAFCの第2行hPAFC2は，次による。
hPAFC2＝(α8, α7 .. α2, α, 1)
アドレスフィールドは，次に示すとおり部分的に主アドレスフィールドを反転して規定する。
AF0,S＝PAF0,S
AF1,S＝PAF1,S
AF2,S＝PAF2,Sの全ビット反転
AF3,S＝PAF3,Sの全ビット反転
AF4,S＝PAF4,S
AF5,S＝PAF5,Sの全ビット反転
AF6,S＝PAF6,Sの全ビット反転
AF7,S＝PAF7,S
AF8,S＝PAF8,S
13.9.2.3 アドレスユニット番号
物理クラスタのBIS列に記録する16個のアドレスフィールドは，それぞれ4バイトのアドレスユニッ
ト番号（AUN）をもっている。
アドレスユニット番号は，図31に規定するとおり，物理セクタ番号（PSN）から生成する。
アドレスユニット番号は，PSNと同期をとるために，各連続したアドレスユニット間で，二つずつ増加
している（箇条17参照）。
各物理クラスタの最初のアドレスユニット番号は，32の倍数である。
データゾーン0の最初のアドレスユニット番号は，00 10 00 00h（10進数で1 048 576）となる。
データゾーン1の最後のアドレスユニット番号は，03 EF FF FEh（10進数で66 060 286）となる。
データゾーン2の最初のアドレスユニット番号は，04 10 00 00h（10進数で68 157 440）となる。
4層ディスクでは，データゾーン3の最後のアドレスユニット番号は，07 EF FF FEh（10進数で
133 169 150）となる。
アドレスユニット番号のビット設定は，次による。
− AU31 .. AU5は，PSNからPS31 .. PS5を複製する。
− AU4 .. AU1は，物理クラスタ内で0〜15をカウントする。
− AU0は，リザーブ（領域）とする。
51
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
最上位バイト
クラスタ内
カウント
“０”
フラグビット
パリティバイト
主アドレスフィールド
アドレスフィールド
PSN
PS0
PS4
PS5
PS7
PS8
PS15
PS16
PS23
PS24
PS31
AU0
AU5 AU4
AU1
AU7
AU8
AU15
AU16
AU23
AU31
AU28 AU27
AU26 AU25
AU24
msb
lsb
msb
msb
lsb
lsb
msb
lsb
PAF0,S
PAF1,S
PAF2,S
PAF3,S
PAF4,S
PAF8,S
PAF7,S
PAF6,S
PAF5,S
AF0,S
AF1,S
AF3,S
AF4,S
AF5,S
AF6,S
AF7,S
AF8,S
AF2,S
アドレスユニット番号
最下位バイト
図31−PSNからAUN，主アドレスフィールド，アドレスフィールドの生成
52
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
13.9.2.4 フラグビットの割付け
ビット
バイト
AF4,S
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
AF4,0
Sa0,1
Sa1,1
Sa0,0
Sa1,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,1
Sa2,1
Sa3,1
Sa2,0
Sa3,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,2
Sa4,1
Sa5,1
Sa4,0
Sa5,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,3
Sa6,1
Sa7,1
Sa6,0
Sa7,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,4
Sa8,1
Sa9,1
Sa8,0
Sa9,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,5
Sa10,1
Sa11,1
Sa10,0
Sa11,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,6
Sa12,1
Sa13,1
Sa12,0
Sa13,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,7
Sa14,1
Sa15,1
Sa14,0
Sa15,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,8
Sa16,1
Sa17,1
Sa16,0
Sa17,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,9
Sa18,1
Sa19,1
Sa18,0
Sa19,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,10
Sa20,1
Sa21,1
Sa20,0
Sa21,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,11
Sa22,1
Sa23,1
Sa22,0
Sa23,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,12
Sa24,1
Sa25,1
Sa24,0
Sa25,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,13
Sa26,1
Sa27,1
Sa26,0
Sa27,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,14
Sa28,1
Sa29,1
Sa28,0
Sa29,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,15
Sa30,1
Sa31,1
Sa30,0
Sa31,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
Rsvは，アプリケーションで規定する場合を除いてリザーブ（領域）とする。
図32−16アドレスフィールドからのフラグビット
状態ビットSai,j（0≦i≦31，0≦j≦1）：各クラスタは，32データフレームを含み16のアドレスユニット
しかないため，そのような各アドレスユニットは，二つのデータフレームに対応したフラグビットをもつ
（図32参照）。
連続したフラグバイトAF4,Sのb7及びb5ビットは，それぞれデータフレーム2Sの状態ビットSa2S,1及び
Sa2S,0を規定する。
連続したフラグバイトAF4,Sのb6及びb4ビットは，それぞれデータフレーム2S＋1の状態ビット
Sa2S＋1,1及びSa2S＋1,0を規定する。
全フラグバイトAF4,Sのb3〜b0ビットは，アプリケーションに規定する場合を除いてリザーブ（領域）
とする。
13.9.2.5 状態ビットSai, jの使用方法
クラスタの中の個別のデータフレームの状態を示すために，状態ビットの組合せSai,1/Sai,0が使用される。
次のセッティングで規定する。
− Sai,1/Sai,0＝00：データフレームは，通常の使用者データを含む。
− Sai,1/Sai,0＝11：データフレームは，ディスクに記録する前にクラスタを完結させるために，ドライブ
によって挿入した埋込みデータを含む。
− 他の設定：アプリケーションに規定する場合を除いて，リザーブ（値）とする。
使用者データ領域で，状態ビットSai,1/Sai,0は，ディスクに記録する前にクラスタを完結させるために，
ドライブによってデータを挿入したデータフレーム（埋込み）に対して，11に設定する。
53
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
データフレームiのデータがホストコンピュータから供給される他の全ての場合は，状態ビットSai,1/Sai,0
は，00に設定する。
注記 Sai,1及びSai,0の2ビットの組合せを，Sai,1/Sai,0と表記している。
13.9.3 使用者コントロールデータ
使用者データにアクセスするために，各使用者データフレームに特別なコントロールデータを付加する
ことができる。これらの追加バイトは，アプリケーションに関連した情報をもつことができる。使用者コ
ントロールデータユニットを伴う使用者データフレームは，セクタと呼ばれる。各使用者コントロールデ
ータユニットは，18バイトで構成される（図33参照）。
32 ユニット
0
1
:
S
:
31
UC0,0
UC0,1
:
UC0,S
:
UC0,31
UC1,0
UC1,1
:
:
:
UC1,31
18 バイト
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,0
UC17,1
:
UC17,S
:
UC17,31
32 ユニット
0
1
:
S
:
31
UC0,0
UC0,1
:
UC0,S
:
UC0,31
UC1,0
UC1,1
:
:
:
UC1,31
18 バイト
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,0
UC17,1
:
UC17,S
:
UC17,31
図33−使用者コントロールデータユニット
13.9.4 使用者コントロールデータのビット又はバイト設定
使用者コントロールデータバイトは，アプリケーションに依存している。これらの設定をアプリケーシ
ョンに規定する場合を除いて，これらのバイトは，00hに設定する。
54
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
24列
6行
物理
アドレス
AF0,0
AF1,0
AF2,0
AF0,7
AF1,7
AF2,7
AF0,6
AF1,6
AF2,6
AF0,5
:
:
AF0,1
AF1,1
AF2,1
30
行
AF0,8
AF1,8
AF2,8
AF0,15
:
:
AF0,14
:
:
AF0,13
:
:
AF0,9
AF1,9
AF2,9
AF4,1
AF5,1
AF3,1
AF4,0
AF5,0
AF3,0
AF4,7
AF5,7
AF3,7
AF4,6
:
:
AF4,2
AF5,2
AF3,2
AF4,9
:
:
AF4,8
AF5,8
AF3,8
AF4,15
:
:
AF4,14
:
:
AF4,10
AF5,10
AF3,10
AF8,2
AF6,2
AF7,2
AF8,1
AF6,1
AF7,1
AF8,0
AF6,0
AF7,0
AF8,7
:
:
AF8,3
AF6,3
AF7,3
AF8,10
:
:
AF8,9
:
:
AF8,8
AF6,8
AF7,8
AF8,15
:
:
AF8,11
AF6,11
AF7,11
24行
使用者
コントロール
データ
UC0,0
UC6,1
UC12,2
UC0,4
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC12,30
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,2
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,30
:
:
UC0,3
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,31
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,2
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,30
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,0
:
:
UC17,4
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,1
:
:
UC0,5
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC5,1
UC11,2
UC17,3
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC11,30
UC17,31
図34−アクセスブロックの構成
（16アドレスフィールド及び32使用者コントロールデータユニットから）
2
X
6
2
3
1
：
2
0
1
7
(I
S
O
/IE
C
3
0
1
9
1
：
2
0
1
5
)
55
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
13.10
アクセスブロック
アドレスフィールド及び使用者コントロールデータユニットのデータは，30行×24列の配列に配置され，
アクセスブロックと呼ばれる。
アドレスフィールドを迅速に位置決めする必要があるため，これらのアクセスフィールドのデータは，
特別なプリインターリーブの方法で配置される。
各16アドレスの9バイト（図34参照）は，3バイトの3グループにまとめられる。
各アドレス0〜7の3グループのバイトはアドレス0から始まり，各続きのアドレスは，3ポジション左
に循環的にシフトする位置にアクセスブロックの第1，第3及び第5の行の対角方向に配置される（図34
参照）。
各アドレス8〜15の3グループのバイトはアドレス8から始まり，各続きのアドレスは，3ポジション
左に循環的にシフトする位置にアクセスブロックの第2，第4及び第6の行の対角方向に配置される。
第3及び第4行の各バイトグループ内では，バイトは，左方向に循環的に1バイトシフトされる。
第5及び第6行の各バイトグループ内では，バイトは，左方向に循環的に2バイトシフトされる。
数式で表すと，このアクセスブロックへのアドレスバイトAFx,yの配置は，次に示す式で表すことができ
る。
− 行r＝2×div(x,3)＋div(y, 8)
− 列c＝3×mod{[div(x,3)＋16 − y], 8}＋mod{[x − div(x,3)],3}
使用者コントロールデータユニットは列方向に配置され，各使用者コントロールデータは，1列の3/4
だけを埋めることになる（3列に4使用者コントロールデータユニットが入る。図34参照。）。
13.11
BISブロック
アクセスブロックの各列のバイトは，Cが符号語番号を表す場合（＝0〜23の列番号）は，図35に示す
とおり各列の先頭からb0,C b1,C .. bi,C ..〜b29,Cというように番号が付け直される。
BISブロックは，各列に対し，(62,30,33)RS符号による32個のパリティバイトを追加拡張して完成とな
る。パリティバイトは，pb30,C，pb31,C .. pbj,C .. pb61,Cと番号が付けられる。
24 列
符号語
0
符号語
1
:
符号語
C
:
符号語
22
符号語
23
1BIS
符号語
30
情報バイト
b0,0
b1,0:
:
:
b29,0
b0,1
b1,1:
:
:
b29,1
:
:
:
:
:
:
b0,C
b1,C
:
bN,C
:
b29,C
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
b0,23
b1,23
:
:
:
b29,23
= 62 バイト
32
パリティバイト
pb30,0
:
:
:
pb61,0
pb30,1
:
:
:
pb61,1
:
:
:
:
:
pb30,C
:
:
:
pb61,C
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
pb30,23
:
:
:
pb61,23
図35−データバイトの再番号割当て及びパリティ追加によるBISブロック構成
56
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
13.12
BIS符号語
BIS RS符号は，GF(28)の有限体上で規定される。有限体GF(28)の非ゼロ要素は，原始根αによって生成
される。ここに，αは，次の原始多項式p(x)の根である。
p(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF(28)のシンボルは，（α7,α6,α5,...,α2,α,1）を元とする元多項式の表現を用いてバイト（8ビットのグルー
プ）で表される。したがって，根αは次で表される。
α＝00000010
ベクトルbis＝(b0,C .. bi,C .. b29,C pb30,C .. pbj,C .. pb61,C)で表す各BIS符号語は，32個のパリティバイト及
び30個の情報バイトをもつGF(28)上のリードソロモン符号である。そのような符号語は，61次の多項式
bis(x)で表すことができる（幾つかの係数はゼロの可能性がある。）。ここに，最高次はベクトルの情報部分
（b0,C ... など）に相当し，最低次はベクトルのパリティ部分（b30,C .. など）に相当する。
bis(x)は，BIS符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は，次による。
(
)
∏
=
−
=
31
0
)
(
i
iα
x
x
g
BIS符号語は，組織符号で30個の情報バイトは変わることなく各符号語の最高次に現れる。bis符号の
パリティチェック行列HBISは，全てのBIS符号語bisに対して，次による。
HBIS×bisT＝0
パリティチェック行列HBISの第2行hBIS 2は，生成多項式g(x)のゼロαに相当し，エラーの場所の特定に
用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HBISの第2行hBIS 2は，次による。
hBIS2＝(α61, α60 .. α2, α, 1)
13.13
BISクラスタ
BIS符号語生成の後，BISブロックは，インターリーブされ496行×3列の配列に配置される。この新し
くフォーマットした配列は，BISクラスタと呼ばれる。
BISクラスタは，図22に示すとおりアドレスユニットによって更に分割される。ユニットは，u＝0〜15
の番号が付けられ，ユニット内では，行がr＝0〜30及び列がe＝0〜2に番号が付けられる（図36参照）。
BISのインターリーブ方法の要点は，次のとおりである（図35，図36，図37及び図38中の例を参照）。
− BISブロックの各行は，3バイトの8グループに分けられる。これらの3バイトのグループは，それ
ぞれBISクラスタの一行に配置される。
− BISブロックの偶数行はユニット0〜7に配置され，BISブロックの奇数行はユニット8〜15に配置さ
れる。
− BISブロックの偶数行からの3バイトのグループは，ユニット0〜7の同じ行に配置される。ここに，
ユニットは，（番号に従って）逆順で使用される。
− BISブロックの各連続する行の最初の3バイトグループは，前の行で使用された開始ユニットよりも
一つ大きい番号のユニットに配置する。
− BISブロックのN＝0の行は，ユニット：0，7，6，5，..，2，1のr＝0の行に配置される。
− BISブロックのN＝2の行は，ユニット：1，0，7，6，..，2のr＝1の行に配置される。
− BISブロックのN＝4の行は，ユニット：2，1，0，7，..，4，3のr＝2の行に配置される。
− このようにこのプロセスは，r＝30の行のユニット6，5，4，3，..，0，7に配置されるN＝60の行
まで繰り返される。
− ここに，各ユニットの中で各行rは，循環的に右側に位置をmod(r,3)だけシフトされる。r＝0の行は，
57
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
シフトされない。r＝1の行は，1シフトされる。r＝2の行は，2シフトされる。r＝3の行は，シフト
されない。r＝4の行は，1シフトされる。
− BISブロックの奇数行についても同様の方法が行われるが，ユニット8〜15が使用される。
3列
B0
B1
B2
31
:
:
:
B90
B91
B92
B93
B94
B95
31
:
:
:
:
:
:
:
:
u
496
16
行
31
e
r
ユニット
行
Bm
:
:
31
B1 487
図36−BISクラスタ
BISブロックからBISクラスタへのバイトbN,C又はpbN,C（図35参照）の配置は，数式で表すと，次の
式で表すことができる。
− ユニット： u＝mod{[div(N,2)＋8 − div(C,3)], 8}＋8×mod(N,2)
− その行：
r＝div(N,2)
− その列：
e＝mod{[C＋div(N,2)], 3}
物理クラスタとしてディスクに記録されるBmに付与される連続番号（図22参照）であるバイト番号m
は，次による。
m＝(u×31＋r)×3＋e
58
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
BISブロックのバイト番号N,C
右シフト
(= mod(r, 3))
上方向に挿入
ユニット
u
行r
0
列e
1
2
0
0
0,0
0,1
0,2
0
開始ブロック行
N= 0
1
2,5
2,3
2,4
1
↑
継続ブロック
N= 2
2
4,7
4,8
4,6
2
3
6,9
6,10
6,11
0
:
7
14,23
14,21
14,22
1
8
16,1
16,2
16,0
2
開始ブロック行
N= 16
:
30
60,18
60,19
60,20
0
1
0
0,21
0,22
0,23
0
終了ブロック行
N= 0
1
2,2
2,0
2,1
1
開始ブロック行
N= 2
2
4,4
4,5
4,3
2
3
6,6
6,7
6,8
0
:
2
0
0,18
0,19
0,20
0
1
2,23
2,21
2,22
1
終了ブロック行
N= 2
2
4,1
4,2
4,0
2
開始ブロック行
N= 4
3
6,3
6,4
6,5
0
:
3
0
0,15
0,16
0,17
0
1
2,20
2,18
2,19
1
2
4,22
4,23
4,21
2
3
6,0
6,1
6,2
0
開始ブロック行
N= 6
:
4
0
0,12
0,13
0,14
0
1
2,17
2,15
2,16
1
2
:
5
0
0,9
0,10
0,11
0
1
2,14
2,12
2,13
1
2
:
6
0
0,6
0,7
0,8
0
1
2,11
2,9
2,10
1
2
4,13
4,14
4,12
2
:
7
0
0,3
0,4
0,5
0
↑継続ブロック行N= 0
1
2,8
2,6
2,7
1
↑継続ブロック行N= 2
2
4,10
4,11
4,9
2
:
7
14,2
14,0
14,1
1
開始ブロック行
N= 14
:
30
60,21
60,22
60,23
0
終了ブロック行
N= 60
図37−BISバイトを最初の8ユニットに配置する例（部分）
59
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
BISブロックからのバイト番号N,C
右シフト
(= mod(r,3))
上方向へ挿入
ユニットu
行r
0
列e
1
2
8
0
1,0
1,1
1,2
0
開始ブロック行
N= 1
1
3,5
3,3
3,4
1
2
5,7
5,8
5,6
2
3
7,9
7,10
7,11
0
:
8
17,1
17,2
17,0
2
開始ブロック行
N= 17
:
30
61,18
61,19
61,20
9
0
1,21
1,22
1,23
終了ブロック行
N= 1
10
0
1,18
1,19
1,20
11
0
1,15
1,16
1,17
12
0
1,12
1,13
1,14
13
0
1,9
1,10
1,11
14
0
1,6
1,7
1,8
15
0
1,3
1,4
1,5
0
↑継続ブロック行N= 1
1
3,8
3,6
3,7
1
2
5,10
5,11
5,9
2
:
7
15,2
15,0
15,1
1
開始ブロック行
N= 15
:
30
61,21
61,22
61,23
0
終了ブロック行
N= 61
図38−BISバイトを最後の8ユニットへ配置する例（部分）
結論は，次のとおりとする。
− BISブロックの全ての情報バイトは，各アドレスユニットの最初の15行の中に見つかる。
− BISブロックの全てのパリティバイトは，各アドレスユニットの最後の16行の中に見つかる。
− 各アドレスフィールドは，各アドレスユニットの最初の3行に見つかる（図39参照）。
13.14
ECCクラスタ
LDCクラスタ及びBISクラスタを構成の後，LDCクラスタは，各38列の四つのグループに分割される。
この4グループの間に3列のBISクラスタから1列ずつが挿入される。BISクラスタ及びLDCクラスタを
多重した後に図39のECCクラスタになる。
60
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
LDC
38
列
BIS
1
列
LDC
38
列
BIS
1
列
LDC
38
列
BIS
1
列
LDC
38
列
AF0,0
AF1,0
AF2,0
AF3,0
AF4,0
AF5,0
AF6,0
AF7,0
AF8,0
アドレス
UCu,v
:
:
ユニット0
:
:
:
AF0,1
AF1,1
AF2,1
496
AF3,1
AF4,1
AF5,1
行
AF6,1
AF7,1
AF8,1
アドレス
UCx,y
:
:
ユニット1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
図39−BISクラスタ及びLDCクラスタを多重した後のECCクラスタ
13.15
記録フレーム
各ECCクラスタの行は，規定の場所にフレーム同期ビット及び直流制御ビットを加えて記録フレームに
変換される。
このために，各ECCクラスタの各行155バイトから形成される一連の1 240データビットは，25データ
ビットの1グループ及び45データビットの27グループに分けられ（図40参照），バイトの最上位ビット
が最初に処理される。
最初の25データビットのグループは，特別な30変調チャネルビット列であるフレーム同期を挿入する
ための20データビット位置分が拡張される。
次に，各45データビットのグループは，直流制御ブロックを構成する1ビットの位置を足して完成とな
る。
61
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
38
バイト
38
バイト
38
バイト
38
バイト
1
バイト
1
バイト
1
バイト
データ
25
データ
45
データ
45
フレーム
同期
20
直流
制御
1
直流
制御
1
直流
制御
1
25
ビット
45
ビット
45
ビット
45
ビット
45
ビット
155バイト
1240ビット
1288ビット
46ビット
46ビット
46ビット
直流制御ブロック#0
直流制御ブロック#1
直流制御ブロック#2..26
直流制御ブロック#27
25 46ビット
×
図40−記録フレームの生成
13.16
物理クラスタ
記録フレームに変換されたECCクラスタの496行は，物理クラスタと呼ばれる。
13.17
記録データのための17PP変調
13.17.1
一般
フレーム同期以外の記録フレームの全てのビットは，17PP変調符号則に従い変調ビットに変換される。
この17PP変調符号は，ラン長が，2T以上かつ8T以下のRLL(1,7)符号で，幾つかの特徴がある。
PPは，パリティ保存及びRMTR禁止を意味しており，次を意味する。
− パリティ保存
− データビット列の“1”の数が偶数の場合は，変調ビット列の“1”の数も偶数である。
− データビット列の“1”の数が奇数の場合は，変調ビット列の“1”の数も奇数である。
この性質によって，記録信号の低周波成分を効率よく制御することが簡単になる（13.17.3参照）。
− RMTR禁止
− 連続する最小ラン長（2T）の数は，6に制限される。
最小ラン長は信号振幅が小さいため，この措置によって読取性能が改善される。
13.17.2
ビット変換規則
図41の表は，データビットを変調ビットに変換する規則を規定している。データビットは左から右へ（最
上位ビットが最初で図40参照）処理する。記録フレームの最後に残ったビットは，終端ビット用の表に
従って変換する。
表の“1”は，記録信号の反転を表している。変調ビット列は，NRZIチャネルビット列に変換された後
に（13.18参照）ディスクに記録される。
62
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
データビット
変調ビット
00 00 00 00
010 100 100 100
00 00 10 00
000 100 100 100
00 00 00
010 100 000
00 00 01
010 100 100
00 00 10
000 100 000
00 00 11
000 100 100
00 01
000 100
00 10
010 000
00 11
010 100
01
010
10
001
11
000
101
前の変調ビットがxx1の場合
前の変調ビットがxx0の場合
置き換える
データビットパターン
置き換える
変調ビット
置き換えの条件
11 01 11
001 000 000
次の変調ビットが010の場合
終端の
データビット
終端の
変調ビット
00 00
010 100
00
000
図41−17PP変調符号変換表
13.17.3
直流制御方法
変調ビット列の“1”は記録信号の反転を意味するため，奇数の変調ビット“1”を制御して変調ビット
列に追加すれば，この信号の極性を反転することができる。17PP変調符号のパリティ保存の特徴から，単
にデータビット列に追加ビットを挿入し，反転が必要な場合は，“1”に設定することで，これは可能とな
る。
前の直流制御ブロックの最後の直流制御ビットを“0”又は“1”に設定することによって，各直流制御
ブロックの後で記録信号の積算したDSVが最小になるようにする（図40参照）。
13.17.4
フレーム同期
物理クラスタは16アドレスユニットで構成され，各アドレスユニットは31の記録フレームから構成さ
れる（図22及び図40参照）。
変調された記録フレームは，30チャネルビットから構成されるフレーム同期で始まる。
フレーム同期の主部は，17PPの変調法則に従わない24ビットパタン（ラン長9Tが2回）で構成される。
最後の6ビットは，七つの異なるフレーム同期パタンを識別する記号を規定する。6ビットのフレーム
同期IDのための記号は，変調の反転間隔が2以上となるように選択されている。
フレーム同期の前の最後のデータビットが終端表（図40参照）に従って符号化されている場合は，フレ
ーム同期#の最初の変調ビットは“1”であり，そうでなければ“0”である（図42参照）。
フレーム同期パタンは，変調ビットによって規定される。表の“1”は，記録信号の反転を表している。
ディスクに記録する前に，フレーム同期符号はNRZIチャネルビット列に変換される（13.18参照）。
63
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
同期番号
24-bit 同期主部
6-bit 同期ID
FS0
#01 010 000 000 010 000 000 010
000 001
FS1
#01 010 000 000 010 000 000 010
010 010
FS2
#01 010 000 000 010 000 000 010
101 000
FS3
#01 010 000 000 010 000 000 010
100 001
FS4
#01 010 000 000 010 000 000 010
000 100
FS5
#01 010 000 000 010 000 000 010
001 001
FS6
#01 010 000 000 010 000 000 010
010 000
図42−30ビットフレーム同期符号
七つの異なるフレーム同期では31の記録フレームを識別するためには不十分なので，各フレームは自分
自身のフレーム同期と前の記録フレームのいずれかのフレーム同期との組合せで識別される。これらの組
合せ配置によって，前のフレーム同期がたとえ1，2又は3フレームにわたって欠落したとしても，その記
録フレームは，自分のフレーム同期及び最後にあったフレーム同期から識別できる（図43参照）。
記録フレームn−4
記録フレームnは，下記のフレーム同期IDの組合わせで識別できる。:
記録フレームn + 記録フレームn −1
記録フレームn+ 記録フレームn−2
記録フレームn+ 記録フレームn−3
記録フレームn+ 記録フレームn−4
記録フレームn−3記録フレームn−2記録フレームn−1
記録フレームn
図43−記録フレームの識別
各アドレスユニットの最初の記録フレームは，特別なフレーム同期：FS0をもっている。
他のフレーム同期の配置は，図44による。
フレーム番号
フレーム同期
フレーム番号
フレーム同期
0
FS0
1
FS1
16
FS5
2
FS2
17
FS3
3
FS3
18
FS2
4
FS3
19
FS2
5
FS1
20
FS5
6
FS4
21
FS6
7
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
フレーム番号
フレーム同期
フレーム番号
フレーム同期
0
FS0
1
FS1
16
FS5
2
FS2
17
FS3
3
FS3
18
FS2
4
FS3
19
FS2
5
FS1
20
FS5
6
FS4
21
FS6
7
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
図44−記録フレームのフレーム同期符号の配置
64
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
13.18
変調及びNRZI変換
ディスクに記録する前にデータビットは変調ビットに変換され，それは，図45に示す方法によって最後
にNRZIチャネルビットに変換される。
変調ビット
データ
ビット
NRZ
変換
変調器
排他的論理和
1T
遅延
NRZI変換された
チャネルビット
T=1チャネルクロック周期
データビットパターンの例:
01
01
10
01
-
変調ビットパターン
:
010010
001
0100
NRZ変換信号
:
NRZI変換信号
:
図45−変調及びNRZI変換
14 物理データの配置及びリンキング
14.1 一般
記録の単位は，データランインが手前にデータランアウトが後に配置される，物理クラスタで構成する
記録ユニットブロック（RUB）である。
記録ユニットブロックは，一つずつ又は幾つかのRUBの連続（記録列）で記録できる。
ディスクの記録可能領域でチャネルビットレートがウォブル周波数に同期している場合は，ウォブルの
周期は69チャネルビットとする。これは，変調された1 932チャネルビット（＝1 288データビット）の
記録フレームは，正確に28ウォブル周期になることを意味している。この同期状態は，標準の状態とみな
される。
14.2 記録ユニットブロック（RUB）
14.2.1 一般
各RUBは，2 760 cbs（公称40ウォブル周期）のデータランイン，496×1 932 cbs（公称496×28ウォブ
ル周期）の物理クラスタ，及び1 104 cbs（公称16ウォブル周期）のデータランアウトから構成される。
ランイン
物理クラスタ
ランアウト
ガード̲3
40 wbs
496×28 wbs
16 wbs
8 wbs
図46−単一記録の記録ユニットブロックの構成
各単一記録したRUB又は各連続記録した列のRUBは，いかなる二つのRUB間にもギャップ（未記録
領域）ができないことを確実にするため，ガード̲3フィールドで終端する。
そのようなガード̲3フィールドは，540 cbs（公称 ≈ 8ウォブル周期）によって構成する。
65
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ランイン
物理クラスタ
ランアウト
ランイン
物理クラスタ
:
物理クラスタ
ランアウト
ガードﾞ̲3
40 wbs
496×28 wbs
16 wbs
40 wbs
496×28 wbs
:
496×28 wbs
16 wbs
8 wbs
図47−連続記録の記録ユニットブロックの構成
14.2.2 データランイン
14.2.2.1 一般
データランインは，次に示す部分から構成されている。
− ガード̲1：
1 080チャネルビット
− PrA（プリアンブル）：
1 680チャネルビット
PrAフィールドは，（PLLロックと同期のための）信号処理用のランイン用である。
ガード̲1フィールドは，記録動作の開始を決める位置がばらつくために，前回記録箇所と重なることに
対処するためのフィールドである（図48参照）。
ガード̲1
1080 cbs
プリアンブル
1680 cbs
任意のAPC
≈ 5 ウォブル
ビットパターンの繰返し
≈ 11ウォブル
公称値
≈ 24ウォブル
図48−データランインの構成
14.2.2.2 ガード̲1フィールドの内容
ガード̲1フィールドは，1 080チャネルビットの長さである。
変調ビットで表す内容は，01[04]1[04]1[02]1[02]1[06]1[05]を36回繰り返すパタンである。
これらのパタンは，5T/5T/3T/3T/7T/7Tが繰り返されるものとなり，電子回路を再度安定させるために適
している。
14.2.2.3 自動パワー制御（APC）
記録動作の開始でのガード̲1フィールドの最初の5ウォブルは，自動パワー制御を行うために使用でき
る。そのようなAPCのために使う変調ビットパタンは，記録機の製造業者が自由に選ぶことができ，14.2.2.2
で規定した繰返しパタンと異なっていてもよい。
14.2.2.4 PrAフィールドの内容
PrAフィールドは，1 680チャネルビットの長さである。
PrAフィールドの内容は，図49による。
を52回繰り返す
01[04]1[04]1[02]1[02]1[06]1[05]
同期̲1
同期̲2
01[02]1[02]1[06]1[05]
1560cbs
30cbs
40cbs
30cbs
20 cbs
01[04]1[04]1[02]1[02]1[06]1
[06]1[04]1[03]
図49−PrAフィールドの構成
66
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
一般に，PrAの後の最初のフレーム同期がFS(N)（N＝0..6，13.17.4参照）の場合は，同期̲1はFS{mod[(N
＋4),7]}とし，同期̲2は，FS{mod[(N＋6),7]}とする。
これは，同期̲1はFS4とし，同期̲2はFS6とすることを意味する（PrAの後の最初のフレーム同期は
FS0である。）。
各同期̲1，同期̲2及びPrAの後の最初のフレーム同期の先頭のビットは，直流制御に使用できる（#＝
“0”又は“1”，図42参照）。
14.2.3 データランアウト
14.2.3.1 一般
データランアウトは，次に示す部分から構成されている。
− PoA（ポストアンブル）：
564チャネルビット
− ガード̲2：
540チャネルビット
PoAフィールドは，信号処理のランアウト用である。
ガード̲2フィールドは，記録動作の開始位置決定がばらつくことに対処するためのフィールドである
（図50参照）。
PoA
564 cbs
ガード̲2
540 cbs
公称値
≈ 8 ウォブル
公称値
≈ 8 ウォブル
図50−データランアウトの構成
14.2.3.2 PoAフィールドの内容
PoAフィールドは，564チャネルビットの長さである。
PoAフィールドの内容は，図51による。
同期̲3
01[08]1[08]1[08]1[08]1[08]1[07]
を16回繰り返す
01[04]1[04]1[02]1[02]1[06]1[05]
30 cbs
54 cbs
480 cbs
図51−PoAフィールドの構成
一般に，PoAの前の使用者データがフレーム番号nで終わる場合は，フレーム番号n＋1に相当するも
のとして，同期̲3を選ぶこととする（13.17.4を参照）。
これは，同期̲3をFS0とすることを意味する。
同期̲3パタンの最初のビットは，13.17.4の規定に従って用いる。
同期̲3の後の9T/9T/9T/9T/9T/9Tパタンは，“使用者データ停止”の指示として使うことができる。
14.2.3.3 ガード̲2フィールドの内容
ガード̲2フィールドは，540 チャネルビットの長さである。
変調ビットで表す内容は，01[04]1[04]1[02]1[02]1[06]1[05]を18回繰り返すパタンである。
67
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
14.2.4 ガード̲3フィールド
14.2.4.1 一般
ガード̲3
540 cbs
ビットパターンの繰返し
≈ 3 ウォブル
任意のAPC
≈ 5ウォブル
図52−ガード̲3フィールドの構成
ガード̲3フィールドは，540チャネルビットの長さである。
変調ビットで表す内容は，01[04]1[04]1[02]1[02]1[06]1[05]を18回繰り返すパタンである（図52参照）。
14.2.4.2 自動パワー制御（APC）
記録動作の最後にあるガード̲3フィールドの最後の5ウォブルは，自動パワー制御を行うために使用で
きる。そのようなAPC動作のために使う変調ビットパタンは，記録機器の製造業者が自由に選ぶことがで
き，14.2.4.1で規定した繰返しパタンと異なっていてもよい。
14.2.4.3 リンキングの要求事項
ガード̲1フィールド及びガード̲3フィールドは，別々に記録された記録ユニットブロック列のリンキン
グに用いる。一つ前の記録ユニットブロック列のガード̲3領域は，現在記録している記録ユニットブロッ
ク列のガード̲1フィールドで上書きする。リンク動作でのSERの要求事項は，34.1に規定している。
図53に，3回に分けて別々に記録した単一記録ユニットブロックのリンキングの例を示す。
PoA
G2
G3
リンク
G1 = ガード̲1 フィールド
G2 = ガード̲2 フィールド
G3 = ガード̲3 フィールド
G1
PrA
物理クラスタ
PoA
G2
G3
ランアウト
G1
PrA
PoA
G2
G3
ランイン
PrA
G1
物理ｸﾗｽﾀ
ランアウト
ランアウト
ランイン
物理クラスタ
リンク
ランイン
図53−3回に分けて別々に記録した単一記録ユニットブロックのリンキング
14.3 ウォブルアドレスに対するデータの位置決め
連続する複数のRUB（及び単一RUB）の公称記録開始位置は，PAAがAA1，AA0＝00であるADIP語
の同期̲3ユニットと最初のデータ̲xユニットとの間の基準ユニットにある，NWL 25ウォブルの中央であ
る（15.7参照）。
記録開始位置は，±34 cbsよりも良い精度で決める。
この結果，重ね書き領域の長さは，7〜9ウォブル長とする。
15 トラックフォーマット
15.1 一般
トラックは，連続らせんの360°1回転分で形成される。
各記録層は，ほぼ同じ場所に同じ基本トラックをもつ（図54参照）。
68
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
15.2 トラックの形
半径r1と半径r3との間のゾーンは，BCAに用いるために確保されており（箇条35参照），r1及びr3は，
次による。
r1＝21.0 mm
r3＝22.2 mm
半径
mm
0.
21
0.0
1.0
−
で，L0層では開始しL1層では終了する，1本のらせんのグルーブで形成されるトラッ
クをこのゾーンに置く。
L0層で，BCAゾーンとエンボスHFM領域との間での直線グルーブからHFMグルーブへの移行は，半
径r2とr3との間とし（図54参照），r2は，次による。
r2＝22.0 mm
この移行で，らせんグルーブは，中断しない。
L0層では半径21 mmとエンボスHFM領域でHFMグルーブのエンコードが開始する点との間，他の層
では半径21 mmとウォブルグルーブの内側端との間，BCAゾーンのグルーブトラックは，（変調のない）
直線グルーブとする（箇条18参照）。
図54−異なるグルーブタイプ間の接続領域
L0層のエンボスHFM領域では（箇条16参照），BCAゾーンの直線グルーブから中断することなく続く
1本のらせんグルーブでトラックが形成される。
これらのエンボスHFM領域のグルーブトラックは，比較的高い周波数で公称中心線の周りで半径方向
に偏移し，それによって，転写情報を保存するための高ビットレートかつ高容量のデータチャネル（HFM
グルーブ）を供給する。
各トラックの形は，箇条26の要求事項で決められる。
記録領域では（箇条16参照）トラックは，L0層ではエンボスHFM領域の最後から，L2層では直線グ
ルーブの最後から，開始する。奇数番号の層ではトラックは，直線グルーブ領域の始めで終了する。記録
69
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
領域のグルーブは，主として単一正弦波で，ウォブルグルーブの公称中心線の周りで半径方向に偏移する。
その正弦波偏移は，幾つかのサイクルを規定の場所で違うパタンに置き換える形で変調される。
ウォブルは，ディスクのスピード制御及びドライブの記録クロックの同期に使うことができ，変調され
た部分は，プリグルーブ中のアドレス又はADIPというアドレス情報（15.7参照）を表している。各トラ
ックの形は，箇条27に規定する要求事項で決められる。
注記 この規格では，“プリグルーブ”という用語は規定していないが，“ADIP”は，“プリグルーブ
中のアドレス”の頭字語として，光ディスクの規格では広く使用されている。“プリグルーブ”
の意味は，この規格の“グルーブ”と同じ意味である。
エンボスHFM領域と記録領域との間の接続部分では，らせんグルーブは中断しない。HFMグルーブの
転写情報とウォブルグルーブのADIP情報との間では，トラックの接線方向に最大1 mmの長さのグルー
ブだけの場所（変調がない状態）が許されている。
グルーブ形状は，次のとおりとする。
− この規格では，各層でオングルーブ記録だけが許容される（箇条7参照）。
− オングルーブ記録では，ランドよりも入射面に近いグルーブの形状が使用される。グルーブ形状の概
要を図55に示す。
透過積層
基板
グルーブ
ﾗﾝﾄﾞ
“オングルーブ記録”
読取りビーム
ディスクの半径方向の断面
図55−グルーブ形状の概要
15.3 トラックパス
偶数番号の層では，ディスクが9.8に従って回転する場合は，らせんはディスクの内周側からディスク
の外周側に向かって進む。
奇数番号の層では，ディスクが9.8に従って回転する場合は，らせんはディスクの外周側からディスク
の内周側に向かって進む。
偶数番号nの層のトラックは，内側ゾーンnの開始位置で始まり，外側ゾーンnの終端で終わり，情報
ゾーンで連続にする（図17参照）。奇数番号nの層のトラックは，外側ゾーンnの開始位置で始まり，内
側ゾーンnの終端で終わり，情報ゾーンでは連続にする（図15及び図16参照）。
15.4 トラックピッチ
15.4.1 BCAゾーンのトラックピッチ
BCAゾーンのトラックピッチ（TP）は，半径方向に測定した隣り合うトラックのグルーブの平均中心線
間の距離である。
トラックピッチは，(2.0±0.1) μmとする。
70
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
r2とr3との間の領域では，トラックピッチはL0層では2.0 μmからエンボスHFM領域の0.35 μmへ移行
し，他の層では2.0 μmからウォブルグルーブ領域のトラックピッチ0.32 μmへ移行する。
15.4.2 エンボスHFM領域のトラックピッチ
エンボスHFM領域のトラックピッチは，半径方向に測定した隣り合うトラックのHFMグルーブの平均
中心線間の距離である。
トラックピッチは，(0.350±0.010) μmとする。
エンボスHFM領域全体で平均したトラックピッチは，(0.350±0.003) μmとする。
15.4.3 記録領域のトラックピッチ
記録領域のトラックピッチは，半径方向に測定した隣り合うトラックのウォブルグルーブの平均中心線
間の距離である。
トラックピッチは，(0.320±0.010) μmとする。
記録領域全体で平均したトラックピッチは，(0.320±0.003) μmとする。
15.4.4 エンボスHFM領域と記録領域との間のトラックピッチ
トラックピッチ0.35 μmから0.32 μm（L0層）の変更は，そのトラックが保護ゾーン2の中に完全に収
まることとし，最大100トラック（回転）の間に実現する（図85参照）。
15.5 HFMグルーブのトラック構成
15.5.1 一般
15.5では，データのエンコードフォーマットだけを規定する。場所及び内容は，箇条18及び18.2で規
定される。
HFMグルーブのデータは，PICクラスタという4Kパーティションで記録される。そのような，各PIC
クラスタは，2 048バイトのデータの二つのデータフレームを含んでいる。このデータを保護するエラー訂
正のメカニズム及びパーティション全体をフォーマットする方法は，箇条13に規定したものとよく似てい
る。
図56に図示するように，LDC＋BIS符号の組合せの一部が使用される。
関連するプロセスの段階及び応用符号化の詳細な規定は，箇条13の規定を参照できる。
同期
1バイト
10 バイト
1 バイト
9 バイト
D0......... D9
B0
D10....... D18
D19..... D28
B1
D29............
:
:
248 行
ディスク上の
データ列方向
:
:
216 データ
:
:
B247
.... D4 711
32 パリティ
図56−ディスク上の4K PICクラスタの図
71
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
15.5.2 データフォーマット
15.5.2.1 データフレーム
各データフレームは，13.2及び13.3に規定したとおり4バイトのエラー検出符号（EDC）を追加して拡
張される。
15.5.2.2 スクランブルドデータフレーム
EDCを追加した各データフレームは，13.4に規定した方法によってスクランブルされる。スクランブラ
のプリセットには，PS19 .. PS5の代わりにAUN15 .. AUN1（15.5.3.2及び13.9.2.2参照）を用いる。
15.5.2.3 データブロック
各2スクランブルドデータフレームは，13.5に規定し図26に示される216行×19列の配列に配置され
る（0〜18列だけ使用）。
15.5.2.4 LDCブロック
次に，エラー訂正パリティの32行は，（L＝0 .. 18）の19列しかないという違いはあるものの，13.5及
び13.6に規定された方法によって追加される。この結果，248行×19列の配列ができる。
15.5.2.5 インターリーブ
インターリーブの方法は，13.8に規定したものと異なる。13.8.3に規定した第2のインターリーブステ
ップだけが適用される。各連続した行は，左に1バイト以上シフトされる。シフト（shift）は，次による。
shift＝mod(k,19)
ここに，
k： 行番号。0≦k≦247
左側からはみ出したバイトは，列の右側から再投入される（図57参照）。
19 バイト
シフト0
e0,0
e0,1
...
...
e0,18
シフト1
e1,1
e1,2
...
...
e1,18
e1,0
シフト2
e2,2
e2,3
...
...
e2,18
e2,0
e2,1
...
...
...
...
シフト18
e18,18
e18,0
...
...
e18,17
248
シフト0
e19,0
e19,1
...
...
e19,18
行
...
...
...
...
シフトmod(k,19)
...
...
...
...
...
...
...
...
p246,18
p246,0
...
...
p246,17
p247,0
p247,1
...
...
p247,18
シフト18
シフト0
図57−PIC LDCブロックのインターリーブ
この工程の後，バイトは，全ての行を通して番号を水平方向に振り直し，図56に示すとおりD0 .. D4 711
となっている。
72
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
15.5.3 アドレス及びコントロールデータ
15.5.3.1 一般
記録領域のフォーマットと異なり，BISブロックは四つのBIS符号から成り，各9バイトの八つのアド
レスが18行に，各24バイトの二つの使用者コントロールデータが12行に入っている（図58参照）。
4 列
0
1
2
3
0
AF0,0
AF0,3
AF0,2
AF0,1
1
AF0,4
AF0,7
AF0,6
AF0,5
2
AF1,1
AF1,0
AF1,3
AF1,2
3
AF1,5
AF1,4
AF1,7
AF1,6
4
AF2,2
AF2,1
AF2,0
AF2,3
5
AF2,6
AF2,5
AF2,4
AF2,7
6
AF3,3
AF3,2
AF3,1
AF3,0
7
AF3,7
AF3,6
AF3,5
AF3,4
8
AF4,0
:
:
AF4,1
18 行
9
AF4,4
:
:
:
アドレス
10
AF5,1
AF5,0
:
:
11
AF5,5
:
:
:
12
AF6,2
AF6,1
AF6,0
:
1 BIS符号
13
AF6,6
:
:
:
= 62 バイト
14
AF7,3
:
AF7,1
AF7,0
15
AF7,7
:
:
:
16
AF8,0
:
:
AF8,1
17
AF8,4
AF8,7
AF8,6
AF8,5
18
UC0,0
UC12,0
UC0,1
UC12,1
19
UC1,0
UC13,0
UC1,1
UC13,1
12 行
:
:
:
:
:
使用者コントロールデータ
28
UC10,0
UC22,0
UC10,1
UC22,1
29
UC11,0
UC23,0
UC11,1
UC23,1
30
pb30,0
pb30,1
pb30,2
pb30,3
31
pb31,0
pb31,1
pb31,2
pb31,3
32 行
:
:
:
:
:
パリティ
61
pb61,0
pb61,1
pb61,2
pb61,3
符号語0
符号語1
符号語2
符号語3
図58−PIC BISブロック
15.5.3.2 アドレスフィールド
各64Kのクラスタの1/16（＝4Kバイト）が一つのアドレスユニット番号で識別される（13.9.2及び細分
箇条参照），ディスクの記録領域と同じように，各4KのPICクラスタは，アドレスユニット番号で識別す
る。これらのアドレスユニット番号は，連続した4KのPICクラスタ間で2ずつ増やす。
各PICのBISブロックは，同じアドレスを8回繰り返し（S＝0 .. 7），繰返し回数を識別するフラグビッ
トが使われる。
アドレスフィールドは，主アドレスフィールドから派生している（13.9.2及び他の細分箇条参照）。
AF0,S＝PAF0,S（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF1,S＝PAF1,S（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
73
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AF2,S＝PAF2,Sの全ビット反転（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF3,S＝PAF3,Sの全ビット反転（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF4,S＝PAF4,S［フラグビットであり，b7〜b3はリザーブ（領域）とし，b2〜b0はSの2値の値に設定する。］
AF5,S＝PAF5,Sの全ビット反転
AF6,S＝PAF6,Sの全ビット反転
AF7,S＝PAF7,S
AF8,S＝PAF8,S
PAF5,S .. PAF8,S＝アドレスフィールド上で構成する，(9,5,5)RS符号のパリティバイト
主アドレスフィールドのパリティバイトPAF5,S .. PAF8,Sは，13.9.2で規定したとおりに計算する。
八つのアドレスは，PICのBISブロックに特殊なプリインターリーブの方法で配列される。
アドレス0〜3のバイトは偶数行の対角線上に配置され，アドレス0のバイト0は行列0，0から開始し，
続きの各アドレスは循環しながら一つ左の位置にシフトされる（図58参照）。
アドレス4〜7のバイトは奇数行の対角線上に配置され，アドレス4のバイト0は行列1，0から開始し，
続きの各アドレスは循環しながら一つ左の位置にシフトされる。
数式で表すと，このPICのBISクラスタへのバイトAFx, yの配列は，次の式で表すことができる。
− 行r：r＝2×x＋div(y,4)
− 列c：c＝mod[(x＋8 − y),4]
15.5.3.3 使用者コントロールデータ
各24バイトにて構成される，二つの使用者コントロールデータユニットがある。最初の使用者コントロ
ールデータユニットのバイト0〜11は，PICのBISブロックの0列18〜29行に配置し，バイト12〜23は，
1列18〜29行に配置する。同様に，第2の使用者コントロールデータユニットのバイト0〜11は，PICの
BISブロックの2列に，バイト12〜23は3列に配置する（図58参照）。
両方の使用者コントロールデータは，全てリザーブ（領域）とする。
15.5.3.4 BIS符号語
PICのBISブロックは，4列（c＝0 .. 3）しかないという違いはあるものの，13.11及び13.12に規定する
方法によって，32行のパリティ（図58参照）を追加して完成となる。その結果，62行×4列の配列がで
きる。
15.5.3.5 BISクラスタ
最後に，BIS符号の配列は，図56に示すとおりPICクラスタに挿入可能な248バイトの1列に再配置さ
れる。
バイトB0〜B123は，行列0，0から開始して，循環しながらBISブロックの偶数行を対角線上に続けて
複製して埋められる（図59参照）。
バイトB124〜B247は，行列1，0から開始して，循環しながらBISブロックの奇数行を対角線上に続けて
複製して埋められる。
数式で表すと，PICのBISブロックからPICのBISクラスタへのバイトの配置は，次の式で表すことが
できる。
− バイトbr, c：行r列cのBISブロックのバイト
− バイトBi：BISクラスタの列のi番目のバイト
− 行r：r＝mod(2×i,62)＋div(i,124)
− 列c：c＝mod(i,4)
74
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逆に，iは，r及びcを用いて次の式で表すことができる。
i＝124×mod(r,2)＋div(r,2)＋31×mod{[4 − c＋div(r,2)],4}
インターリーブの結果，1列248バイトのBISクラスタは，それぞれが，9アドレスバイト，6使用者コ
ントロールデータバイト及び16パリティバイトの順に構成される，31バイトの8グループに分かれる。
アドレスバイトは，プリインターリーブのおかげで直接アクセスするために適切な順番で表れる。
BIS ブロック
BIS クラスタ
i
c= 0
1
2
3
1 バイト
r= 0
0
93
62
31
B0
1
124
217
186
155
:
2
32
1
94
63
:
3
156
125
218
187
:
4
33
2
95
:
5
157
126
219
Bi
6
34
3
:
7
158
127
:
8
4
35
:
9
128
159
:
10
5
:
11
129
B123
248
12
6
B124
行
13
130
:
:
:
:
:
:
:
53
243
:
54
120
27
:
55
244
:
56
28
121
:
57
152
245
:
58
60
29
122
:
59
184
153
246
:
60
92
61
30
123
:
61
216
185
154
247
B247
図59−PIC BISクラスタを構成するための読取順
15.5.4 記録フレーム
15.5.4.1 一般
次の工程で，19列のインターリーブされたLDCブロックは，1列のBISクラスタと合わせて，図56に
規定したとおり拡張して1列の同期パタンが追加される。
21列×248行の配列の各行は，PIC記録フレームと呼ばれる。
15.5.4.2 変調
各PIC記録フレームの168ビットは，同期パタンのビットを除きバイフェーズ変調によって変調ビット
に変換される。この変調方式ではビット“0”は，ビットセルの最初の反転で表され，ビット“1”は，ビ
ットセルの最初及び中央の反転で表される（図60の例参照）。
変調ビットは，図60に示すとおり，ディスク上にグルーブの平均中心線からの偏移として記録される。
75
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
各セルの長さは，Tを記録領域のチャネルビット長とする場合は，36Tとする。
図60−バイフェーズ変調されたHFMグルーブ
15.5.4.3 フレーム同期
各記録フレームは，8データビット相当の同期パタンで始まる。最初の4ビットは，通常のバイフェー
ズエンコード規則を破る特別のパタンの4ビットセルで置き換えられる（図61参照：最初の位相による
二通りの可能性のあるパタン）。
1
1
1
1
0
0
0
0
1
1
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
同期主部
同期識別子
ID0
ID1
ID2
ﾊﾟﾘﾃｨ
データ
データ
x
x
x
x
x
x
x
x
同期パターン
図61−バイフェーズ同期パタン
7種類の同期パタンがID0 .. ID2及びパリティビットの終わりの4ビットで識別される（図62参照）。
同期番号
ID0
ID1
ID2
パリティ
FS0
0
0
0
0
FS1
0
0
1
1
FS2
0
1
0
1
FS3
0
1
1
0
FS4
1
0
0
1
FS5
1
0
1
0
FS6
1
1
0
0
図62−同期の識別
PICのBIS列によって，248行のPICクラスタは，31記録フレームの8グループに分けることができ，
76
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各記録フレームのグループは，それぞれの最初の9行にアドレスがある（15.5.3.5参照）。
そのような連続した31記録フレームの各グループは，特別な同期パタンの配列で識別される（13.17.4
も参照）。各グループの最初の記録フレームは，特別な同期パタンFS0をもっている。
他の同期パタンは，図63に規定するとおり配置される。
フレーム番号
同期番号
0
FS0
1
FS1
16
FS5
2
FS2
17
FS3
3
FS3
18
FS2
4
FS3
19
FS2
5
FS1
20
FS5
6
FS4
21
FS6
7
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
フレーム番号
同期番号
図63−PIC記録フレームへの同期パタンの配置
15.6 ウォブルグルーブのトラック構造
15.6.1 一般
トラックのウォブルは，おおよそ平均センターラインからの正弦波偏移である。
公称ウォブル長NWL（69チャネルビットと等価）は，記録領域全体で平均した場合に，次による。
− 使用者データ容量32.0 GB/層のディスクで，(4.020 0±0.005) μm
− 使用者データ容量33.4 GB/層のディスクで，(3.855 3±0.005) μm
これは，2×Vrefにおいて基本周波数fwobに相当し，次による。
fwob＝1 913.043 kHz
15.6.2 ウォブルの変調
15.6.2.1 一般
ウォブルの基本形は，コサイン波：cos(2π×fwob×t)である。この基本形のウォブルは，“単一周波数ウォ
ブル”（MW）と呼ばれる。
ウォブルのうち幾つかが変調され，次の二つの変調方法を併用する。
− 第1の変調方法：“MSK-cos”（最小シフトキー−コサイン変形）と呼ばれる。
− 第2の変調方法：“HMW”（高調波変調波）と呼ばれる。
外側ゾーンの保護ゾーン3領域（箇条16及び20.2.10参照）では，グルーブはHMWでは変調せず，MSK-cos
だけで変調する。
両方の変調方法は，15.7に規定するとおりにADIP情報を表す。
77
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
15.6.2.2 MSK-cos変調
MSK-cos変調は，三つの連続した単一周波数ウォブルを一つのMSKマーク（MM）で置き換えること
によって行われる。
MSKマークは，図64に示すとおり，次に示すウォブルパタンをもった3個の公称ウォブル長NWLで
構成される。
− 第1番目のNWL：周波数＝1.5×fwobのコサインウォブルでMSKマークを始める。
− 第2番目のNWL：周波数＝fwobのコサインウォブルが続く。
− 第3番目のNWL：周波数＝1.5×fwobのコサインウォブルでMSKマークを終える。
図64−MSKマークの規定（オングルーブ）
15.6.2.3 HMW変調
HMW変調は，連続した単一周波数ウォブルを，同数ののこぎり波ウォブル（STW）に置き換えること
によって行われる。一つののこぎり波ウォブルは，基本コサイン波に2倍の周波数のサイン波を組み合わ
せることで形成され，次の式で表される。
cos(2π×fwob×t)±a×sin[2π×(2×fwob)×t]
ここに，
a： 0.25
そのような基本周波数のコサイン波及びある量の2次高調波の組合せは，1次近似ではのこぎり波を表
している。“＋”又は“−”の符号は，左又は右の傾斜を作り出し，“＋”記号はビット“1”を表すために，
“−”記号は，ビット“0”を表すために使用される（図65参照）。
78
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
図65−のこぎり波ウォブルの規定（オングルーブ）
15.6.3 ウォブル極性
プッシュプルの極性（26.1参照）が負の場合は，ウォブルグルーブは，最初のウォブル偏移をディスク
の外周方向に開始する。
プッシュプルの極性（26.1参照）が正の場合は，ウォブルグルーブは，最初のウォブル偏移をディスク
の内周方向に開始する。
15.7 ADIP情報
15.7.1 一般
ディスクに記録するデータは，ウォブル中に変調されて入っているADIPアドレスに同期する。したが
って，56 NWLは，2記録フレームに相当する（13.16参照）。そのような56 NWLのグループは，ADIPユ
ニットと呼ばれる（図66参照）。
2 記録フレーム
1 932 チャネルビット
1 932 チャネルビット
同期
データ
同期
データ
9.5
ウォブル
9.5
ウォブル
1ADIPユニット
56 NWLs
≈
≈
図66−ADIPの一般構造
15.7.2 ADIPユニットタイプ
ADIPユニットの56 NWLの中で，隣り合うMM間の長さを個別の距離にするようにMMを挿入するこ
とによって，異なるタイプのADIPユニットを作ることができる。
データビットを表すADIPユニットは，追加でSTWで変調される。
79
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
さらに，基準のSTWが規定される。各タイプのADIPユニットは，MMで始まる。
次のタイプのADIPユニットを規定する（図67参照）。
− 単一周波数ユニット：1MM，続いて53 MWの構成
− 基準ユニット：1MM，続いて15 MW，37 STW及び1MWの構成
− 同期̲0ユニット：1MM，続いて13 MW，1MM，7 MW，1MM及び27 MWの構成
− 同期̲1ユニット：1MM，続いて15 MW，1MM，7 MW，1MM及び25 MWの構成
− 同期̲2ユニット：1MM，続いて17 MW，1MM，7 MW，1MM及び23 MWの構成
− 同期̲3ユニット：1MM，続いて19 MW，1MM，7 MW，1MM及び21 MWの構成
− データ̲xユニット：xは“1”又は“0”を表す
− データ̲1ユニット：1MM，続いて9 MW，1MM，3 MW，37 STW及び1MWの構成
− データ̲0ユニット：1MM，続いて11 MW，1MM，1 MW，37 STW及び1MWの構成
四つの同期ユニットは，同期をとるために用いられ，一方，データ̲1ユニットはビット値“1”を表す
ために使用され，データ̲0ユニットはビット値“0”を表すために使用される。
基準ユニット
単一周波数ユニット
同期̲0ユニット
同期̲1ユニット
同期̲2ユニット
同期̲3ユニット
データ̲0ユニット
データ̲1ユニット
NWL 番号
0
18
55
3
....
..
..
..
単一周波数ウォブル
MSK マーク
“0”を表す､のこぎり波ウォブル
“1”を表す､のこぎり波ウォブル
図67−ADIPユニットタイプ
15.7.3 ADIPワード構造
83ADIPユニットは，まとめて一つのADIPワードとなる。これは，3ADIPワードが一つの記録ユニット
（RUB）に等価な3×83×2＝498記録フレームに相当することを意味する（14.2参照）。
各ADIPワードは，図68に示すとおりに構成する。
80
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ADIPユニット番号
ADIPユニットタイプ
ADIPニブル
ビット番号
ADIP符号
ニブル番号
0
単一周波数
−
−
1
同期̲0
−
2
単一周波数
−
3
同期̲1
−
4
単一周波数
−
5
同期̲2
−
6
単一周波数
−
7
同期̲3
−
8
基準
−
9
データ̲x
b3
c0
10
データ̲x
b2
11
データ̲x
b1
12
データ̲x
b0
13
基準
−
−
14
データ̲x
b3
c1
15
データ̲x
b2
16
データ̲x
b1
17
データ̲x
b0
18
基準
−
−
:
:
:
:
8＋i×5
基準
−
−
9＋i×5
データ̲x
b3
ci
10＋i×5
データ̲x
b2
11＋i×5
データ̲x
b1
12＋i×5
データ̲x
b0
:
:
:
:
78
基準
−
−
79
データ̲x
b3
c14
80
データ̲x
b2
81
データ̲x
b1
82
データ̲x
b0
図68−ADIPワード構造
81
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
15.7.4 ADIPデータ構造
15.7.4.1 一般
各ADIPワードは全部で60ビットを含み，非組織リードソロモン（RS）エラー訂正符号によって符号
語を形成している。この符号語は，36の情報ビットで構成される。エンコード前に，36の情報ビットは，
図69の配列によって規定するn0〜n8の九つの4ビットニブルに整列される。
b3
b2
b1
b0
n0
AS23
AS22
AS21
AS20
n1
AS19
AS18
:
:
6
ADIP
:
:
:
:
:
シンボル
n5
AS3
:
:
AS0
n6
AX11
:
:
:
:
:
:
:
:
3
ニブル
予備データ
n8
AX3
:
:
AX0
ニブル
ニブル
図69−ADIP情報構造
n0〜n8のニブルは，エラー訂正システムによって，c0〜c14のニブルにコード変換される（15.7.5参照）。
このエラー訂正システムは非組織符号であり，情報ビット列のビットとADIPユニット内の符号ビット
との間には単純な直接の関係はない。
15.7.4.2 ADIP情報ビットの割当て
ADIPデータに入れる情報は，次のとおりとする。
− AS23 .. AS0：これらの24ビットは，物理ADIPシンボル（PAS）を入れる。AS23は，msbでAS0は，
lsbとする。これらのシンボルは，物理ADIPアドレス（PAA）から，次のとおりに変換する。
最上位バイト
最下位バイト
AA7
AA2AA1AA0
00,01,10
に連続して設定
AA15
AA8
AA23AA22AA21AA20
AA16
AA24
物理ADIPアドレス
AS7
AS2AS1AS0
AS15
AS8
AS23AS22AS21AS20
AS16
物理ADIPシンボル
“11”に設定
AS7
AS2AS1AS0
AS15
AS8
AS23AS22AS21AS20
AS16
AA22=AA21の場合
AA22≠AA21の場合
層番号に設定
連続番号
図70−PAA及びPASの間の関係
82
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
外周
内周
内周
外周
外周
内周
層構造
物理ADIPアドレス（PAA)中の
[AA22,AA21]
L0
L1
L2
[0,0]
[0,1]
PAA=05FFFFEh
[1,1]
[0,0]
[0,1]
PAA=0A00000h
PAA=0200000h
[1,0]
図71−3層ディスクのAA22及びAA21の組合せ
外周
内周
内周
外周
外周
内周
層構造
[AA22,AA21]
物理ADIPアドレス(PAA)中の
L0
L1
L2
[0,0]
[0,1]
PAA=0 5F FF FEh
[1,0]
[1,1]
[0,0]
PAA=0 A0 00 00h
PAA=0 20 00 00h
L3
外周
内周
[0,1]
PAA=0 DF FF FEh
[1,0]
図72−4層ディスクのAA22及びAA21の組合せ
− AA24 .. AA0：これらの25ビットは，物理ADIPアドレス（PAA）を入れる。AA24はmsbで，AA0
はlsbとする。これらのシンボルは，三つの部分の構成とする（図71及び図72参照）。
− AA24 .. AA22：この3ビットは，層番号とし，L0層，L1層，L2層及びL3層でそれぞれ，000，001，
010及び011に設定する。他の設定は，リザーブ（値）とする。
− AA21 .. AA2：この20ビットは，三つの連続するADIPワードごとに1増加する連続番号を入れる
（RUBに同期する。14.2参照）。
− AA1，AA0：この2ビットは，1RUBに相当する三つの連続するADIPワードの中で，00，01及び
10と連続して設定する。11の設定は，使用しない。
L0層の情報ゾーンの最初のアドレスは，データゾーンの最初のアドレスであるPAA 0 02 00 00hが半径
mm
0.
24
0.0
1.0
−
の位置とする。
L0層のデータゾーンの最終ADIPアドレス（LAA）は，半径58.1 mm未満となる位置とする。
L1層のデータゾーンの先頭ADIPアドレス（FAA）は，半径58.1 mm未満となる位置とする。
L1層のデータゾーンの最終ADIPアドレス（0 7D FF FEh）は，半径
mm
0.
24
0.0
1.0
−
の位置とする。
L2層のデータゾーンの先頭ADIPアドレス（0 82 00 00h）は，半径
mm
0.
24
0.0
1.0
−
の位置とする。
L2層のデータゾーンの最終ADIPアドレス（LAA＋0 80 00 00h）は，半径58.1 mm未満となる位置とす
る。
L3層のデータゾーンの先頭ADIPアドレス（FAA＋0 80 00 00h）は，半径58.1 mm未満となる位置とす
る。
L3層のデータゾーンの最終ADIPアドレス（0 FD FF FEh）は，半径
mm
0.
24
0.0
1.0
−
の位置とする。
− AX11 .. AX0：この12ビットは，ディスクの予備情報が入っている。
− ディスクのデータゾーン及び外側ゾーンでは，予備ビットは，“0”に設定する。
− ディスクの内側ゾーンで，予備ビットは，次のとおりに用いる。
− 96の連続したADIPワード（32RUB相当）のAX11 .. AX0は，一つの144バイトのADIP予備フ
83
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
レームを構成する。
− 各ADIP予備フレームの最初のビットは，128の倍数のPAA（PAA＝x xxxx xxxx xxxx xxxx 0000）
をもつADIPワードの位置に置く。
− 144バイトの内容は，15.8に規定する。
15.7.4.3 L0層〜L3層の物理ADIPアドレスの関係
L0層〜L3層のPAAは，決まった関係とする。L0層（又はL2層）のPAAとL1層（又はL3層）のPAA
とは同じ半径にある（それぞれの内側ゾーンからADIPワードの数が同じ距離にある。）が，それらはAA21
〜AA2が反転したビットをもつ。L0層及びL2層（又はL1層及びL3層）の同じ半径にあるPAAは，同
じAA21〜AA2のビットとする（図73及び図74参照）。
このようにすることによって，L1層（又はL3層）のPAAは，トラッキング方向であるディスクの外周
部から内周部に向かって増加することになる。同時に，PAA1（又はPAA3）のAA21〜AA2を反転したア
ドレスビットは，L0層（又は2層）の同じ半径の相当する反転しないアドレスビットと同じ関係となる。
層番号
連続番号l
内部-RUB 番号
L0層のPAA0
AA24.. AA22= 000
AA21 .. AA2
AA1,AA0 = 00,01,10
内周から外周へ
L1層のPAA1
AA24.. AA22= 001
AA1,AA0 = 00,01,10
外周から内周へ
L2層のPAA2
AA24.. AA22= 010
AA21 .. AA2
AA1,AA0 = 00,01,10
内周から外周へ
L3層のPAA3
AA24.. AA22= 011
AA1,AA0 = 00,01,10
外周から内周へ
AA21.. AA2
AA21 .. AA2
図73−L0層〜L3層の物理ADIPアドレスの関係
84
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
L0層
最初のアドレス
最終アドレス
0 02 00 00h.....
PAA0
..... LAA
内側ゾーン
外側ゾーン
L1層
最終アドレス
最初のアドレス
0 7D FF FEh.....
PAA1
..... FAA
内側ゾーン
外側ゾーン
L2層
最初のアドレス
最終アドレス
0 820000h.....
PAA2
..... LAA + 0 80 00 00h
内側ゾーン
外側ゾーン
L3層
最終アドレス
最初のアドレス
0 FD FF FEh.....
PAA3
..... FAA
+ 0 80 00 00h
L0層
最初のアドレス
最終アドレス
0 02 00 00h.....
PAA0
..... LAA
内側ゾーン
外側ゾーン
L1層
最終アドレス
最初のアドレス
0 7D FF FEh.....
PAA1
..... FAA
内側ゾーン
外側ゾーン
L2層
最初のアドレス
最終アドレス
0 820000h.....
PAA2
..... LAA + 0 80 00 00h
内側ゾーン
外側ゾーン
L3層
最終アドレス
最初のアドレス
0 FD FF FEh.....
PAA3
..... FAA
+ 0 80 00 00h
図74−層間のPAAの関係の説明
数学的には，次のとおりに説明できる。
PAA0に1 80 00 01hを加算した後に，全ての25ビットを反転することによってL1層の対応するアドレ
スPAA1となる。
数式で表すと，次になる。
01h
00
0
18
PAA
PAA
0
1
+
=
（1の加算は，内部のRUB番号の順番を修正し，一方，1 80 00 00hの加算は，正しい層番号に配慮して
いる。）
このようにして，データゾーン1の最終ADIPアドレスは，次のとおりに生成される。
01h
00
0
18
00h
00
02
0
FEh
FF
7D
0
+
=
データゾーン1の先頭ADIPアドレスは，次のとおりに生成される。
01h
00
0
18
LAA
FAA
+
=
PAA2は，PAA0に0 80 00 00hを加えることによって生成される。
PAA3は，PAA1に0 80 00 00hを加えることによって生成される。
注記
LAAは，LAAの各ビットの“1”及び“0”を反転したものを表している。
15.7.5 ADIPエラー訂正
エラー訂正システムはニブルベースであり，有限体GF(24)で規定される(15，9，7)非組織RS符号である。
符号の全ニブル数は15で，符号は9情報ニブルから計算され，この符号の最小距離は7である。
有限体GF(24)の非ゼロ要素は，原始根αによって生成される。ここに，αは，次の原始多項式p(x)の根
85
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
である。
p(x)＝x4＋x＋1
GF(24)のシンボルは，多項式表現の（α3，α2，α，1）を元とするニブル（4ビットのグループ）の多項式
で表される。したがって，根αは次の式で表される。
α＝0010
ベクトル（c0 c1 .. c13 c14）で表す符号語は，情報シンボルn0〜n8から，次の式によって計算できる。
)
(
n
)
(
n
c
)
(
p
8
)
(
7
0
14
0
-
14
x
g
x
g
x
x
C
i
i
i
i
i
i
×
+
×
=
×
=
∑
∑
=
=
ここに，gp(x)は，親生成多項式で，次による。
(
)
∏
=
−
=
13
0
p
α
)
(
i
i
x
x
g
g(i)(x)は，各シンボルni (i＝0 .. 7)に対する特別生成多項式である。
g(i)(x)は，親生成多項式gp(x)からgp(x)のゼロのうちの1個のziを除き，その結果をg(i)(zi)＝1となるよう
に正規化することで生成される。
除くべきゼロziは，次による。
zi＝αi＋6
生成多項式は，次によって計算される。
i
i
i
β
x
g
x
g
)
(
~
)
(
)
(
)
(
=
ここに，
i
p
i
z
x
x
g
x
g
−
=
)
(
)
(
~
)
(
及び
()
i
i
i
z
g
β
)
(~
=
ディスクに記録する前に，ニブルc0，c1，c2，c3，c7及びc12の全てのビットを反転する。
留意事項1 符号は非組織符号であるために，通常のRS復号で訂正した後に符号語のシンボルから
情報シンボルを生成するために，追加の計算が必要となる。
注記 留意事項は，規格をシステムに実装する場合の注意事項を示したものである。
n0〜n7の情報シンボルは，訂正した符号語C(x)に情報シンボルのゼロを代入することによって生成され
る。すなわち，次のとおりにシンドロームを計算する。
j
i
j
j
i
i
i
C
S
×
+
=
−
+
+
×
=
=
=
∑
)6
(
14
0
14
6
6
α
c
)
α(
n
n8は，組織シンボルでC(x)からc0を複製することによって直接生成することができる。
留意事項2 各情報シンボルniは，親生成多項式gp(x)のゼロに相当する。図75は，各情報シンボル
に対応したゼロ要素を示している（n8は，対応するゼロ要素はないことに注意されたい。）。
86
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
シンボル
相当するゼロ要素
(x ‒α0)
(x ‒α1)
(x‒α2)
(x‒α3)
(x‒α4)
(x ‒α5)
n0
(x‒α6)
n1
(x‒α7)
n2
(x‒α8)
n3
(x‒α9)
n4
(x‒α10)
n5
(x ‒α11)
n6
(x ‒α12)
n7
(x ‒α13)
図75−各情報ビットに対応したゼロ要素
情報シンボルが既知で，それに対応したゼロが(x−α0) .. (x−α5) .. に相当する既存の一連のゼロを拡張す
る場合は，ハミング距離は増える。例えば，n0が既知の場合は，ハミング距離は，d＝8となる。n0及びn1
が共に既知の場合は，ハミング距離は，d＝9となる。
すなわち，情報シンボルの事前情報によってハミング距離を増やすことができる。ADIPのアドレスは，
直線的に増加するため，このような事前情報となっている。
この現象は，復号結果の信頼性の追加確認に使用できる。
15.8 ADIP予備フレームのディスク情報
15.8.1 一般
96の連続したADIPワード予備フィールドの情報ニブルは，バイト単位のフレームにまとめられ，幾つ
かのディスクパラメタをもっている。図76に従って，ニブルは，バイトに再配置される。幾つかのディ
スク情報（DI）予備フレームは，DIブロックにグループ化できる。全てのディスク情報ブロック（DIブ
ロック）は，同じ内容とする。
87
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト
番号
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
0
AX11
ワード1
AX10
AX9
AX8
AX7
AX6
AX5
AX4
1
AX3
AX2
AX1
AX11
AX10
AX9
AX8
2
AX7
AX6
AX5
AX4
AX3
AX2
AX1
AX0
3
AX11
AX10
AX9
AX8
AX7
AX6
AX5
AX4
:
:
141
AX11
AX10
AX9
AX8
AX7
AX6
AX5
AX4
142
AX3
AX2
AX1
AX0
AX11
AX10
AX9
AX8
143
AX7
AX6
AX5
AX4
AX3
AX2
AX1
AX0
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
AX0
ワード1
ワード95
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード95
ワード95
ワード95
ワード95ワード95
ワード95
ワード95
ワード95ワード95
ワード95
ワード95
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
図76−ADIP予備フレームバイトの順番
15.8.2 ディスク情報予備フレームのエラー保護
DI予備フレームは，13.7の長距離RS符号によって保護される。そのような長距離符号は248バイトで
構成されるため，104のダミーバイト（ディスク上に記録しない。）は，DI予備フレームの長距離符号語
を完成するために追加される（図77参照）。13.7のバイトe0,L .. e103,Lは，ダミーバイトを表し（全てFFh
に設定される。），バイトe104,L .. e215,Lはディスク情報バイトを表し，バイトp216,L .. p247,Lはパリティバイト
を表す。
各DI予備フレームに追加する104 バイト
96 ADIP ワード
12 ビット=144 バイト
×
FFh
ディスク情報ユニット(112 バイト)
パリティ
216
32
長距離ｴﾗｰ訂正符号
ダミーバイト：
ディスクの1 DI 予備フレーム:
0
0
1
N-1
DI 予備フレーム
N-1
....
DI ブロック
DI 予備フレーム
DI 予備フレーム
DI 予備フレーム
DI 予備フレーム
図77−ディスク情報構造及びエラー訂正フォーマット
88
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
15.8.3 ディスク情報データ構造
15.8.3.1 一般
DIブロックは，複数の144バイトの予備DIフレーム（図77参照）で構成できる。必要な場合は，最大
31個までDI予備フレームを追加して，使うことができる。各記録層は，同じDI予備フレームで構成する
同じDIブロックをもつ。
DI予備フレーム列は内側ゾーンで繰り返し，DI予備フレーム0は，L0層ではPAA 0 01 B8 00hで，L1
層ではPAA 0 7E 00 00hで，L2層ではPAA 0 81 B8 00hで，及び4層ディスクの場合のL3層ではPAA 0 FE
00 00hで開始する。
L0層の保護ゾーン2の開始PAA〜PAA 0 01 B7 FEh（図85の3層ディスクのL0層の構成及び図88の4
層ディスクのL0層の構成参照），PAA 0 7E 48 00h〜L1層の保護ゾーン1の最終PAA（図86の3層ディス
クのL1層の構成及び図89の4層ディスクのL1層の構成参照），L2層の保護ゾーン1の開始PAA〜PAA 0
81 B7 FEh（図87の3層ディスクのL2層の構成及び図90の4層ディスクのL2層の構成参照）並びにL3
層のPAA 0 FE 48 00h〜保護ゾーン1の保護ゾーン1の最終PAA（図91の4層ディスクのL3層の構成参
照）は，予備ビットを“0”に設定するか，又はDI予備フレームを含むことができる（それによって，上
記アドレスで規定したDI予備フレーム0から，DI予備フレームが連続でつながる。）。
各DI予備フレームのディスク情報112バイトは，ディスク情報（DI）ユニットと呼ばれる。各DIユニ
ットは，DIユニットヘッダを構成する8バイトで開始する（15.8.3.2参照）。
DIユニットは，異なる記録ストラテジなどの違ったパラメタセットを収納できる。内容が異なる定義の
DIユニットを区別するために，DIユニット特有の識別子が必要である。
DIユニットヘッダのバイト2のDIフォーマット番号は，この目的に用いる。このバイトで，256タイ
プの違う内容のDIユニットが識別できる。
一つのセットのパラメタ群が一つのDIユニットに収まらなければ，連続した複数のDIユニットに収納
する。この場合，バイト6のビットb7は，次のDIユニットが一連の続きであることを示す。
記録ストラテジに関するDIユニットの使用方法は，15.8.3.6に示される。
この規格の将来の拡張では，例えば，より高速の記録線速度及び新しい記録ストラテジを規定するため
に，追加のDI予備フレームが必要になる可能性がある。新しいDI予備フレームが追加される場合に，既
存のものが適切の場合は継続して使用し，そのような方法で，既存のドライブとのバックワード互換を容
易に保つことができる。各ドライブは，ディスクにある全てのDI予備フレームを検査し，DIフォーマッ
ト番号（バイト2）及び示される記録速度（バイト28〜29）に基づき，サポートするものだけを使うこと
が望ましい（15.8.3.6も参照）。
15.8.3.2 DIユニットの一般規定
各DIユニットは，図78に示すとおりヘッダ，本体及びフッタで構成する。
89
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト番号
内容
バイト数
0〜1
ディスク情報識別子
2
2
DIフォーマット番号
1
3
各DIブロックのDI予備フレーム数（5 ビット）
このDIユニットを適用する層数（3 ビット）
1
4
リザーブ（領域）
1
5
DIブロック内のDIユニット連続番号
1
6
継続フラグ（ビット）
このDI ユニットで使用中のDIバイト数（7 ビット）
1
ヘッダ
7
リザーブ（領域）
1
本体
8 〜99
DIユニットの中身
92
100 〜105
ディスク製造業者識別子
6
106 〜108
メディアタイプ識別子
3
109 〜110
タイムスタンプ
2
フッタ
111
製造変更番号
1
図78−DIユニットの通常フォーマット
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
この2バイトは，文字“DI”を表す，44 49hに設定する。
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトで，DIユニット又はDIユニットセットの内容を識別する（バイト6の
規定参照）。
BCAコード付きのディスクは，このバイトのmsbを，“0”に設定する。
BCAコードなしのディスクは，このバイトのmsbを，“1”に設定する。
注記 DIフォーマット番号は，DIユニットの内容だけを規定し，バイト11に規定するクラス番号及
びバージョン番号とは関係ない。
この規格は，将来，高速記録，高密度記録などの新しい機能が許されるように拡張される可
能性がある。その場合，新しいディスクと古いドライブとの間のバックワード互換の問題をで
きるだけ防ぐために，クラス番号及びバージョン番号が導入されている。
クラス番号は，新しい規定によってBD層が既存のドライブで全く記録も読取りもしないほ
うがよい場合（例えば，ディスク又はドライブの破損を防ぐため。），番号が上げられる。
既存のクラスとの読取互換が確認できれば，新しいクラス番号は不要である。
クラス番号の更新を必要としない（読取互換が維持される。）が，記録互換ができない場合の
拡張又は変更の新規格の場合は，バージョン番号が上げられる。
そのようなBD層は，上のバージョン番号であるが，前に定義したDIユニットの記録ストラ
テジに従って記録できる場合は，そのDIユニットを保持できる。
結果，ドライブは，既知のDIフォーマット番号をもつDIユニットを常に確認することが望
ましい。そのような場合，記録ストラテジに絡む記録パラメタ（記録速度，記録パワー，必要
なタイミングなど）を確認でき，それらがドライブの能力の範囲内の場合は，ドライブは，そ
のディスクに記録をすることが望ましい。
上記のように，クラス番号及びバージョン番号を使うことによって，ディスク及びドライブ
の想定される破損を防ぎながら，将来のディスクのバックワード互換が最大限確保できる。
製造改正番号
DIユニットの内容
90
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
各層のタイプ（バイト8〜10で規定する。）には，独立したDIフォーマット番号がある。DI
フォーマット番号は，DIユニットに規定される記録ストラテジの指標でもある。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
ビットb7〜b3： この5ビットは，各DIブロックのDI予備フレーム数Nを規定する（1≦N≦31）。
ビットb2〜b0： この3ビットは，このDIユニットの規定を適用する記録層の数を規定する。
バイト4：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
このバイトは，DIブロック内のDIユニットの連続番号を規定する。
実際のDIブロックの，実際のDIユニット番号n (0≦n≦N−1)に設定する。
DIユニットは，序列を付けて並べる（図79参照）。第1優先は，公称記録速度の増
加順（バイト28〜29），第2優先は，同じ公称記録速度内のDIユニット列で，層番
号（バイト3）増加順，第3優先は，記録ストラテジの推奨順（DIフォーマット番
号によって識別されるが，DIフォーマット番号の連番順でなくてもよい。）。
連続番号
記録速度
層番号
記録ストラテジ(WS)
0
推奨WS
1
0
代替WS
:
推奨WS
k‒1
1
代替WS
k
推奨WS
:
:
代替WS
:
推奨WS
2k‒1
v1
k‒1
代替WS
2k
:
0
最も推奨するWS
:
:
:
:
:
:
v2>v1
k‒1
:
最後に推奨するWS
:
v3>v2
0
:
:
:
:
:
N‒1
等
等
:
図79−DIブロック順の例
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニットで使用されているDIバイト数
ビットb7：
このビットは，このDIユニット内のパラメタセットが，次のDIユニットへも継続
するのか，又は次のDIユニットで，新しいパラメタセットが始まるのかを規定する。
次のDIユニットで，新しいパラメタセットの始まる場合は，“0”に設定する。
このDIユニットのパラメタセットが次のDIユニットに継続する場合は，“1”に設
定する（図80参照）。
ビットb6〜b0： この7ビットは，フッタ直前の最後の未使用［リザーブ（領域）］バイトまでの，実
際のDIユニット中で用いているバイト数を示す（例えば，図81参照）。
91
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
:
バイト2 = ..
バイト3 = N / L0層
バイト5 = n‒1
先行するパラメタセットの終了
バイト2 = x
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n
今のパラメタセットの開始
:
:
:
バイト2 = x
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n+1
:
今のパラメタセット継続
:
L1層の3DIユニット
にまたがる
パラメタセット
バイト2 = x
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n+2
:
:
:
今のパラメタセット終了
バイト2 = ..
バイト3 = N/ L0層
バイト5 = n+3
次のパラメタセットの開始
:
バイト6，ビットb7= 0
バイト6，ビットb7= 0
バイト6，ビットb7= 1
バイト6，ビットb7= 1
バイト6，ビットb7= ..
図80−DIユニット拡張の例
バイト7：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト8〜99：
DIユニット内容
この92バイトは，DIユニットの一般的なディスクパラメタ，読取り，記録パワー，
記録ストラテジのパラメタなどの，特定の内容を含む。
バイト100〜105： ディスク製造業者識別子
この6バイトのフォーマット及び内容は，関係者間の合意が必要であり，合意がな
い場合はこれらのバイトは，00hに設定する。
バイト106〜108： メディアタイプ識別子
この3バイトのフォーマット及び内容は，関係者間の合意が必要であり，合意がな
い場合はこれらのバイトは，00hに設定する。
バイト109〜110： タイムスタンプ
この2バイトは，このディスクが転写されたマスターディスクの製造日に関する情
報を与える。同じディスク製造業者識別子及び同じメディアタイプ識別子をもつ全
てのディスクは，タイムスタンプにかかわらず同じ記録特性をもつ（軽微な違いだ
け許され，タイムスタンプは，記録機には無関係とする。）。
バイト109のビットb7〜b0＋バイト110のビットb7〜b4は，製造年を表す12ビット
2進数の一つの領域とする。
92
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト110のビットb3〜b0は，製造月を表す4ビット2進数とする。タイムスタン
プが使われない場合は，両方のバイトは，00hに設定する。
バイト111：
製造改正番号
このバイトは，製造改正番号を2進数で識別する。同じディスク製造業者識別子及
び同じメディアタイプ識別子をもつ全てのディスクは，製造改正番号にかかわらず
同じ記録特性をもつ（軽微な違いだけ許され，製造改正番号は，記録機には無関係
とする。）。
このバイトの内容は，ディスク製造業者が自由に設定できる。この規格では，この
バイトのフォーマット及び内容は，規定しない。互換性を確保するためには，無視
する。
15.8.3.3 DIフォーマット4（拡張N−1記録ストラテジ）の規定
フォーマット4のDIユニットの主部の内容は，図81に示すとおり規定する。
93
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト番号
内容
バイト数
0 〜7
DIユニットヘッダ
8
8 〜10
BD層タイプ識別子
3
11
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
1
12
BD構造
1
13
チャネルビット長
1
14
プッシュプル極性フラグビット
1
15
記録マーク極性フラグビット
1
16
BCA記述子
1
17 〜18
リザーブ（領域）
2
19 〜26
データゾーンの配置
8
27
リザーブ（領域）
1
28 〜29
記録速度
2
30
公称記録速度の最大直流読取りパワー
1
31
公称記録速度の最大高周波重じょう（畳）読取りパワー
1
32
リザーブ（領域）
1
33 〜41
記録パワー設定
9
42
TMP：記録マルチパルス継続時間
1
43 〜47
dTtop: 最初の記録パルスの開始時間
5
48 〜52
Ttop：最初の記録パルスの継続時間
5
53 〜55
dTLP：最後の記録パルスの開始時間
3
56 〜58
TLP：最後のパルスの継続時間.
3
59 〜63
dTS：スペースレベルの開始時間.
5
64
リザーブ（領域）
1
65 〜72及び
73 (msb4ビット)
∆dTtop：最初の記録パルスのオフセット開始時間
8.5
73 (lsb4ビット)
及び74 〜80
∆Ttop：最初の記録パルスのオフセット継続時間
7.5
81 to 84 and 85
(msb 4bits)
∆dTLP：最後のパルスのオフセット開始時間
4.5
85 (lsb 4bits)
and 86 to 89
∆TLP：最後のパルスのオフセット継続時間.
4.5
90 to 97 and 98
(msb 4bits)
∆dTS：スペースレベルのオフセット開始時間
8.5
98 (lsb 4bits)
リザーブ（領域）
0.5
99
リザーブ（領域）
1
100 to 111
DI ユニットフッタ
12
図81−DIフォーマット4のディスク情報内容
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
15.8.3.2参照。
公称記録速度の最大高周波重畳読取りパワー
94
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトは，BCAコード付きのディスクでは，04hに設定する。
このバイトは，BCAコードなしのディスクでは，84hに設定する。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
15.8.3.2参照。
バイト4：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
15.8.3.2参照。
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニット使用のDIバイト数
このバイトは，このDIユニットの最初の99バイトを使用し，次のDIユニットに
継続がないことを示す63hに設定する。残りのDIユニット主部（DIユニットフッ
タのバイトを除く。）のバイトは使用せず，00hに設定する。
バイト7：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト8〜10：
BD層タイプ識別子
この3バイトは，DIユニットが適用されるBD層のタイプを識別し，各記録層で，
“BDR”の文字を示す42 44 52hに設定する。
バイト11：
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
ビットb7〜b6： この2ビットは，ディスクのサイズを規定する。120 mmディスクを示す00に設定
する。
ビットb5〜b4： この2ビットは，クラス番号を規定する。クラス番号は，同じ層タイプで異なる基
本特性をもつBD層を識別する。
この規格に適合したBD層は，これらのビットを，01に設定する。
ドライブが，ある特定のクラスの層を認識できない場合は，その層のデータゾーン
にアクセスしないほうがよい（読取りも記録も行わない。）。
ビットb3〜b0： この4ビットは，バージョン番号を規定する。この規格に適合した層であることを
示す0010に設定する。
バイト12：
BD構造
ビットb7〜b4： この4ビットは，ディスク上のBDの記録可能層及び記録済み層の層数の全層数を
規定する。3層ディスクでは，記録層が三つであることを示す0011に設定する。
4層ディスクでは，記録層が四つであることを示す0100に設定する。
ビットb3〜b0： この4ビットは，このDIユニットを適用する，BDの記録可能層又は記録済み層の
層のタイプを規定する。
ビットb3〜b0は，レコーダブル記録層を示す0010に設定する。
注記 記録済み層は，（半透明）反射層から構成される再生専用ディスクの層である。
バイト13：
チャネルビット長
ビットb7〜b4： この4ビットは，0000に設定する。
ビットb3〜b0： この4ビットは，メインデータのチャネルビット長を規定し，全てのBD記録層で
同じとする。
95
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
次の設定とする。
チャネルビット長が58.26 nm（32.0 GB/層）であることを示す0100
チャネルビット長が55.87 nm（33.4 GB/層）であることを示す0101
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト14：
プッシュプル極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liのプッシュプル信号の極性を，次のとおりとする（26.1
参照）。
“0”：記録層Liのプッシュプル極性が正
“1”：記録層Liのプッシュプル極性が負
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
この規格では，このバイトは，00hに設定する。
バイト15：
記録マーク極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liの記録マークの極性を，次のとおりとする。
“0”：記録マークの反射率が未記録層よりも低い層タイプ（HTLディスク）
“1”：記録マークの反射率が未記録層よりも高い層タイプ
この規格では，このバイトは，00hに設定する。
バイト16：
BCA記述子
ビットb7〜b4： この4ビットは，リザーブ（領域）とする。
ビットb3〜b0： この4ビットは，ディスク上のBCAコードの有無を示す。
0000：BCAコードなし
0001：BCAコード付き
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト17〜18：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト19〜26：
データゾーンの配置
バイト19〜22： これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最初の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最初のPAA
がPAA 131 072であることを示す00 02 00 00hに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最初のPAA
が，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクではPAA 6 304 384，33.4 GB/層のディ
スクではPAA 6 220 928であることを示すために，FAAの値に設定し，使用者デー
タ容量32.0 GB/層のディスクでは，00 60 32 80hに，33.4 GB/層のディスクでは，00 5E
EC 80hに設定する。
L2層に関連するDIユニットでは，これらのバイトは，データゾーン2の最初のPAA
としてPAA 8 519 680を示す00 82 00 00hに設定する。
L3層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン3の最初のPAA
が，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクでPAA 14 692 992であることを示すた
めに，FAA＋00 80 00 00hの値である00 E0 32 80hに設定する。
バイト23〜26： これらのバイトは，関連する層のデータゾーンの最後の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最後のPAA
96
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
が，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクではPAA 2 084 222，33.4 GB/層のディ
スクではPAA 2 167 678であることを示すためにLAAの値に設定し，使用者データ
容量32.0 GB/層のディスクでは，00 1F CD 7Ehに，33.4 GB/層のディスクでは，00 21
13 7Ehに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最後のPAA
がPAA 8 257 534であることを示す00 7D FF FEhに設定する。
L2層に関連する各DIユニットでは，これらのバイトは，データゾーン2の最後の
PAAが，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクではPAA 10 472 830，33.4 GB/層
のディスクではPAA 10 556 286であることを示すために，LAA＋00 80 00 00hの値
に設定し，使用者データ容量32 GB/層のディスクでは00 9F CD 7Eh，33.4 GB/層の
ディスクでは00 A1 13 7Ehに設定する。
L3層に関連するDIユニットでは，データゾーン3の最後のPAAがPAA 16 646 142
であることを示すために，00 FD FF FEhに設定する。
バイト27：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト28〜29：
記録速度
これらのバイトは，公称記録速度を規定する。それは，このDIユニットに2バイト
の2進数（バイト28がMSB）で規定するパラメタを用いて使用される。
公称記録速度を数値nとして規定し，次のとおりとする。
n＝100×Vnorm
nは，次のとおりとする。
公称記録速度が7.69 m/s（32.0 GB/層）：03 01h
公称記録速度が7.38 m/s（33.4 GB/層）：02 E2h
バイト30：
公称記録速度の最大直流読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが
できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この箇条での最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフ
ォルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
このバイトは，このDIユニットのバイト28〜29で規定する公称記録速度に等しい
読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを規定する。このバイトの10進表記は，
次に示す数値nの式とする。ここに，Prの単位はミリワットである。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読取りをする場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証
するために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト31：
公称記録速度の最大高周波重畳読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが
できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この箇条での最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワーと等しい又はそれ
以上にする。デフォルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
このバイトは，このDIユニットのバイト28〜29で規定する公称記録速度に等しい
97
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
読取速度の場合の最大読取りパワーPrを規定する。このバイトの10進表記は，次に
示す数値nの式とする。ここに，Prの単位はミリワットである。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証する
ために，パワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト32：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト33〜41：
記録パワー設定
バイト33〜34： PIND：PINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G参
照）。
これらのバイトは，Ptargetを示唆する値PINDをミリワットの単位で規定し，次に示す
数値nで表す。
n＝20×PIND
バイト33のビットb7がmsbで，バイト34のビットb0がlsbである。
バイト35：
mIND：mINDは，OPCでPtargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G参
照）。
このバイトは，メディア製造業者によって決められるPINDでの変調度を規定し，次
に示す数値nで表す。
n＝200×mIND
バイト36：
ρ：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録パワーに乗
ずる係数ρを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝100×ρ
バイト37：
εBW：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録バイアス
パワーと記録ピークパワーとの比εBWを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝200×εBW
バイト38：
εc：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる冷却パワーと記
録ピークパワーとの比εcを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝200×εc
バイト39：
εs：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われるスペースパワー
と記録ピークパワーとの比εsを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝200×εs
バイト40：
κ：このバイトは，OPC（附属書G参照）で使われるターゲット値κを規定し，次
に示す数値nで表す。
n＝20×κ
バイト41：
β：このバイトは，代替のOPC（附属書G参照）で使われるターゲット値βを規定
し，次に示す数値nで表す。
n＝500×(β＋0.2)
バイト42：
TMP：記録マルチパルスの継続時間
このバイトは，マークを記録するための拡張N−1記録ストラテジのマルチパルス
列の2番目で高レベルのパルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
98
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，可変部分を実際のチャネルビッ
トクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数pとして表す。
W
MP
32TT
p
×
=
（0≦p≦30）（ここに，p：偶数）
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト43〜63のバイトで，dTtop，Ttop，dTLP，TLP及びdTSの基準位置又は基準継続時間を規定する。基
準位置は，各記録パルスの立上がりエッジの位置を意味する（図F.1及び図F.4参照）継続時間に関して
も，基準点に関しては同様に規定する。
バイト43〜47：
dTtop：最初の記録パルスの開始時間
これらのバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，5T以上のスペースに続く，
ラン長2T，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジの
マルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を規定する（正の値は進み，負の値
は遅れを示す。附属書F参照）。
最初のパルスの開始時間dTtopは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す符号付き2の補数aで表される。
W
top
32
T
dT
a
×
=
（−28≦a≦30）（ここに，a：偶数）
このバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト43：
このバイトは，2Tスペースが後にくる2Tマークを記録するパルスの開始時間を，
データパルスの最初のチャネルビットの立下がりエッジに対して規定する（正の値
は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト44：
このバイトは，3T以上のスペースが後にくる2Tマークを記録
するパルスの開始時間を，データパルスの最初のチャネルビットの立下がりエッジに対して規定する
（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト45：
このバイトは，3Tマークを記録するマルチパル列の最初の記録パルスの開始時間を，
データパルスの最初のチャネルビットの立下がりエッジに対して規定する（正の値
は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト46：
このバイトは，4Tマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間
を，データパルスの最初のチャネルビットの立下がりエッジに対して規定する（正
の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト47：
このバイトは，5T以上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開
始時間を，データパルスの最初のチャネルビットの立下がりエッジに対して規定す
る（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト48〜52：
Ttop：最初の記録パルスの継続時間
これらのバイト最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，5T以上のスペースに続くラン
長2T，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマル
チパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
これらのバイトは，実際のチャネルビットクロック周期の分数を正の2進数bとし
て規定し，次の式で表す。
99
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
W
top
32TT
b
×
=
（0≦b≦60）（ここに，b：偶数）
これらのバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト48：
このバイトは，後に2Tスペースが続く2T記録マークパルスの継続時間を規定する
（附属書F参照）。
バイト49：
このバイトは，後に3T以上のスペースが続く2T記録マークパルスの継続時間を規
定する（附属書F参照）。
バイト50：
このバイトは，3Tマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間
を規定する（附属書F参照）。
バイト51：
このバイトは，4Tマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間
を規定する（附属書F参照）。
バイト52：
このバイトは，5T以上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継
続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト53〜55：
dTLP：最後の記録パルスの開始時間
これらのバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，5T以上のスペースが後に続
くラン長3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマ
ルチパルス列の最後の記録パルスの開始時間（正の値は進み，負の値は遅れを示す。
附属書F参照）を規定する。
最後のパルスの開始時間dTLPは実際のチャネルビットクロック周期の分数として，
次に示す符号付き2の補数cで表される。
W
LP
32
T
dT
c
×
=
（−30≦c≦30）（ここに，c：偶数）
これらのバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト53：
このバイトは，3Tマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの開始時間を，
データパルスの最後のチャネルビットの立上がりエッジに対して規定する（正の値
は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト54：
このバイトは，4Tマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの開始時間を，
データパルスの最後のチャネルビットの立上がりエッジに対して規定する（正の値
は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト55：
このバイトは，5T以上のマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの開始時
間，データパルスの最後のチャネルビットの立上がりエッジに対して規定する（正
の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト56〜58：
TLP：最後のパルスの継続時間
これらのバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，5T以上のスペースが後に続
くラン長3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマ
ルチパルス列の最後の記録パルスの長さ（附属書F参照）を規定する。
これらのバイトは，実際のチャネルビットクロック周期の分数を正の2進数dとし
て規定し，次の式で表す。
W
LP
32TT
d
×
=
（0≦d≦60）（ここに，d：偶数）
100
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
これらのバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト56：
このバイトは，3Tマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの継続時間を規
定する（附属書F参照）。
バイト57：
このバイトは，4Tマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの継続時間を規
定する（附属書F参照）。
バイト58：
このバイトは，5T以上のマークを記録するマルチパルス列の最後のパルスの継続時
間を規定する（附属書F参照）。
バイト59〜63：
dTS：スペースレベルの開始時間
これらのバイトの最初の7ビット（ビットb7〜b1）は，後に5T以上のスペースが続
くラン長2T，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジ
のスペースレベルの開始時間を規定する（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附
属書F参照）。
スペースレベルの開始時間dTSは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て規定し，次に示す符号付き2の補数eで表す。
W
S
32TdT
e
×
=
（−48≦e≦30）（ここに，e：偶数）
これらのバイトの最後のビット（b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト59：
このバイトは，2Tスペースが先行する2T記録マークに対するスペースレベルの開
始時間を規定する。
バイト60：
このバイトは，3T以上のスペースが先行する2T記録マークに対するスペースレベ
ルの開始時間を規定する。
バイト61：
このバイトは，マルチパルス列の3Tの記録マークに対するスペースレベルの開始
時間を規定する。
バイト62：
このバイトは，マルチパルス列の4Tの記録マークに対するスペースレベルの開始
時間を規定する。
バイト63：
このバイトは，マルチパルス列の5T以上の記録マークに対するスペースレベルの
開始時間を規定する。
バイト64：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hとする。
バイト65〜98のバイトでは，バイト43〜63に規定した基準位置又は基準継続時間に対するオフセット
としてΔを規定する。オフセットは，基準位置に対しての時間差を意味する。継続時間に対しても，オフ
セットは同様に規定する。
バイト65〜72及び73（msb 4ビット）：ΔdTtop：最初の記録パルスのオフセット開始時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tのスペースが先行する2T，3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマルチパルス列の最初のパルス
の立上がりエッジのオフセットを規定する（附属書F参照）。
最初のパルスのオフセット開始時間ΔdTtopは，実際のチャネルビットクロック周期
の分数として，次に示す符号付き2の補数fで表される。
バイト65及び66では，次による。
101
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
W
top
Δ
32
T
dT
f
×
=
（−28≦f≦30）（ここに，f：偶数）
バイト67，72及び73（msb 4ビット）では，次による。
W
top
Δ
32
T
dT
f
×
=
（−8≦f≦7）（ここに，f：偶数）
注記
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
a
2M
2S
≥3S
3M
dTtop
4M
≥5M
f
≧3S
≧5M
≧5S
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
a
2M
2S
≥3S
3M
dTtop
4M
≥5M
f
≧3S
≧5M
≧5S
この表は，記録する各マークの前後のスペースによる，dTtopの値の影響を示している。
“a”で示す領域は，基準値にあった部分で，“f”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“f”で示し，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“a”で示し，基準値を含んでいる。
“i＝f＋a”の値は，−28≦i≦30を満たしている（F.2参照）。
バイト65：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，2Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスのオフセット開始時間を規定
する。このバイトを適用する場合は，基準位置はバイト43に規定している（5T以
上のスペースが先行し，2Tスペースが後に続く，2T記録マークのdTtop）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト66：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，2Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスのオフセット開始時間
を規定する。このバイトを適用する場合は，基準位置はバイト44に規定している（5T
以上のスペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2T記録マークのdTtop）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト67：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースに続くラン長3Tの
マークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの開始オフセット時間を規定す
る。
このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト45に規
定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースが先行するラン長4T
のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスのオフセット開始時間を規定
する。
このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト46に規
定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのdTtop）。
バイト68：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースが先行するラン長5T
以上のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスのオフセット開始時間を
f
a
102
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
規定する。
このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト47に規
定している（5T以上のスペースが先行する5T以上のマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスのオフセット開始時間を規定
する。
このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト43に規
定している（5T以上のスペースが先行し2Tスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
バイト69：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスのオフセット開始時間
を規定する。
このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト44に規
定している（5T以上のスペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2Tマークの
dTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの開始オフセット時間を規定する。
このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト45に規
定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのdTtop）。
バイト70：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの開始オフセット時間を規定する。
このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト46に規
定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの開始オフセット時間を規
定する。
このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト47に規
定している（5T以上のスペースが先行する5T以上のマークのdTtop）。
バイト71：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスのオフセット開始時間を規定
する。
このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト43に規
定している（5T以上のスペースが先行し2Tのスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスのオフセット開始時間
を規定する。
このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト44に規
定している（5T以上のスペースが先行し，3T以上のスペースが後に続く，2Tマー
クのdTtop）。
バイト72：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの開始オフセット時間を規定する。
103
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト45に規
定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの開始オフセット時間を規定する。
このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト46に規
定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのdTtop）。
バイト73（msb 4ビット）：このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースに続くラ
ン長5T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスのオフセット開
始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準
位置はバイト47に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上のマークの
dTtop）。
バイト73（lsb 4ビット）及び74〜80：ΔTtop：最初の記録パルスのオフセット継続時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tのスペースが先行する2T，3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマルチパルス列の最初のパルス
の継続時間のオフセットを規定する（附属書F参照）。
これらのバイトは，実際のチャネルビットクロック周期の分数として規定し，次に
示す符号付き2の補数gで表す。
W
top
Δ
32
T
T
g
×
=
（−8≦g≦7）（ここに，g：偶数）
注記
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
Ttop
4M
≥5M
g
b
2M
2S
≥3S
3M
≧3S
≧5M
≧5S
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
Ttop
4M
≥5M
g
b
2M
2S
≥3S
3M
≧3S
≧5M
≧5S
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，Ttopの値の影響を示している。
“b”で示す領域は，基準値にあった部分で，“g”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“g”で示し，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“b”で示し，基準値を含んでいる。
“j＝g＋b”の値は，0≦j≦60を満たしている（F.2参照）。
バイト73（lsb 4ビット）
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースが先行し後に2Tの
スペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスの継続オフセット時間を規
定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準
継続時間はバイト48に規定している（5T以上のスペースが先行し2Tスペースが後
に続く2T記録マークのTtop）。
バイト74：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスの継続時間のオフセッ
g
b
104
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ト時間を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場
合は，基準継続時間はバイト49に規定している（5T以上のスペースが先行し3T以
上のスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規定する
（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継続時
間はバイト50に規定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのTtop）。
バイト75：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規定する
（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継続時
間はバイト51に規定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規
定する（附属書F参照）。このビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継続
時間はバイト52に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上のマークの
Ttop）。
バイト76：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースが先行し後に2Tの
スペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスの継続オフセット時間を規
定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準
継続時間はバイト48に規定している（5T以上のスペースが先行し2Tスペースが後
に続く2T記録マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスの継続オフセット時間
を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト49に規定している（5T以上のスペースが先行し3T以上のス
ペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
バイト77：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規定する
（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継続時
間はバイト50に規定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規定する
（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継続時
間はバイト51に規定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのTtop）。
バイト78：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規
定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準
継続時間はバイト52に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上のマー
クのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースが先行し後に2Tの
105
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
スペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスの継続オフセット時間を規
定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準
継続時間はバイト48に規定している（5T以上のスペースが先行し2Tスペースが後
に続く2T記録マークのTtop）。
バイト79：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するパルスの継続オフセット時間
を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト49に規定している（5T以上のスペースが先行し3T以上のス
ペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規定する
（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継続時
間はバイト50に規定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのTtop）。
バイト80：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規定する
（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継続時
間はバイト51に規定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続オフセット時間を規
定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準
継続時間はバイト52に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上のマー
クのTtop）。
バイト81〜84及び85（msb 4ビット）：ΔdTLP：最後のパルスのオフセット開始時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tスペースが後に続くラン長3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマルチパルス列の最後の記録パ
ルスのオフセット開始時間（附属書F参照）を規定する。
最後のパルスのオフセット開始時間ΔdTLPは，実際のチャネルビットクロック周期
の分数として，次に示す符号付き2の補数hで表される。
W
LP
Δ
32
T
dT
h
×
=
（−8≦h≦7）（ここに，h：偶数）
注記
マーク
２S
３S
４S
≧５S
h
c
dTLP
3M
4M
≧5M
続きのスペース
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，dTLPの値の影響を示している。
“c”で示す領域は，基準値にあった部分で，“h”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
106
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
このパタンの領域は，“h”で示し，オフセットを含んでいる。
このパタンの領域は，“c”で示し，基準値を示している。
“r＝h＋c”は，−30≦r≦30を満たしている（F.2参照）。
バイト81：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセット開始時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位
置はバイト53に規定している（5T以上のスぺースが後に続く3TマークのdTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に2Tスペースが続く4Tマー
クを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの開始オフセット時間を規定する（附
属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイ
トト54に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのdTLP）。
バイト82：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続く5T以上
のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの開始オフセット時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位
置はバイト55に規定している5T以上のスペースが後に続く5T以上のマークの
dTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセット開始時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位
置はバイト53に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのdTLP）。
バイト83：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセット開始時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位
置はバイト54に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのdTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセット開始時間
を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，
基準位置はバイト55に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上マーク
のdTLP）。
バイト84：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセット開始時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位
置はバイト53に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのdTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセット開始時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位
置はバイト54に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのdTLP）。
バイト85（msb 4ビット）：このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続
くラン長5T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスのオフセッ
ト開始時間を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用す
h
c
107
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
る場合は，基準位置はバイト55に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T
以上のマークのdTLP）。
バイト85（lsb 4ビット）及び86〜89：ΔTLP：最後のパルスのオフセット継続時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tスペースが後に続くラン長3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのマルチパルス列の最後の記録パ
ルスのオフセット継続時間を規定する（附属書F参照）。
このバイトは，実際のチャネルビットクロック周期の分数として，次に示す符号付
き2の補数vで表される。
W
LP
Δ
32
T
T
v
×
=
（−8≦v≦7）（ここに，v：偶数）
注記
マーク
２S
３S
４S
≧５S
v
d
TLP
3M
4M
≧5M
続きのスペース
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，TLPの値の影響を示している。
“d”で示す領域は，基準値にあった部分で，“v”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“v”で示し，オフセットを含んでいる。
このパタンの領域は，“d”で示し，基準値を含んでいる。
“s＝v＋d”の値は，0≦s≦30を満たしている（F.2参照）。
バイト85（lsb 4ビット）：このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続く
ラン長3Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時
間を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト56に規定している（5T以上のスペースが後に続く3Tマーク
のTLP）。
バイト86：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト57に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に2Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間
を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト58に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上の
マークのTLP）。
バイト87：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
v
d
108
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
続時間はバイト56に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト57に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのTLP）。
バイト88：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間
を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト58に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上の
マークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト56に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのTLP）。
バイト89：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間を規定
する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト57に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルスの継続オフセット時間
を規定する（附属書F参照）。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト58に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上の
マークのTLP）。
バイト90〜97及び98（msb 4ビット）：ΔdTS：スペースレベルのオフセット開始時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tスペースが後に続くラン長3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張N−1記録ストラテジのスペースレベルのオフセット開
始時間を規定する（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
スペースレベルのオフセット開始時間ΔdTSは，実際のチャネルビットクロック周期
の分数として，次に示す符号付き2の補数wで表される。
バイト90及び91では，次による。
W
S
Δ
32
T
dT
w
×
=
（−24≦w≦15）（ここに，w：偶数）
バイト92，97及び98（msb 4ビット）では，次による。
W
S
Δ
32
T
dT
w
×
=
（−8≦w≦7）（ここに，w：偶数）
109
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
注記
マーク
前のスペース
続きのスペース
２S
３S
４S
≧５S
ｗ
e
dTS
2M
3M
4M
≧5M
2S
≧3S
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，dTSの値の影響を示している。
“e”で示す領域は，基準値にあった部分で，“w”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“w”で示し，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“e”で示し，基準値を含んでいる。
“u＝w＋e”の値は，−48≦u≦30を満たしている（F.2参照）。
バイト90：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，2Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するスペースレベルのオフセット開始時
間を規定する。このバイトを適用する場合は，基準位置はバイト59に規定している
（2Tスペースが先行し，5T以上のスペースが後に続く2T記録マークのdTS）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト91：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，3T以上のスペースが先行し後に
2Tスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するスペースレベルのオフセット開
始時間を規定する。このバイトを適用する場合は，基準位置はバイト60に規定して
いる（3T以上のスペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2T記録マークの
dTS）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト92：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時間を規
定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト61
に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に2Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時間を規
定する。これらのビット（ビットb3〜b0を適用する場合は，基準位置はバイト62
に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのdTS）。
バイト93：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時
間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバ
イト63に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上のマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，前に2Tスペースがあり後に3T
スペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するスペースレベルのオフセット開始
時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置は
バイト59に規定している（2Tスペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2T
w
e
110
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
マークのdTS）。
バイト94：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3T以上のスペースが先行し後に
3Tスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するスペースレベルのオフセット開
始時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置
はバイト60に規定している（3T以上のスペースが先行し5T以上のスペースが後に
続く2T記録マークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時間を規
定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト61
に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのdTS）。
バイト95：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時間を規
定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト62
に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時
間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバ
イト63に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上のマークのdTS）。
バイト96：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースが先行し後に4Tス
ペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するスペースレベルのオフセット開始時
間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバ
イト59に規定している（2Tスペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2T記
録マークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3T以上のスペースが先行し後に
4Tスペースが続く，ラン長2Tのマークを記録するスペースレベルのオフセット開
始時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置
はバイト60に規定している（3T以上のスペースが先行し5T以上のスペースが後に
続く2T記録マークのdTS）。
バイト97：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時間を規
定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト61
に規定している（5T以上のスペースが後に続く3TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセット開始時間を規
定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト62
に規定している（5T以上のスペースが後に続く4TマークのdTS）。
バイト98（msb 4ビット）：このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続
くラン長5T以上のマークを記録する，マルチパルス列のスペースレベルのオフセ
ット開始時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基
準位置はバイト63に規定している（5T以上のスペースが後に続く5T以上のマーク
111
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
のdTS）。
バイト98（lsb 4ビット）：リザーブ（領域）
これらのビットは，0000とする。
バイト99：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hとする。
バイト100〜111： DIユニットフッタ
15.8.3.2参照。
15.8.3.4 DIフォーマット5（拡張キャッスル記録ストラテジ）の規定
フォーマット5によるDIユニットの主部の内容は，図82に示すとおり規定する。
112
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト番号
内容
バイト数
0 〜7
DIユニットヘッダ
8
8 〜10
BD層タイプ識別子
3
11
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
1
12
BD構造
1
13
チャネルビット長
1
14
プッシュプル極性フラグビット
1
15
記録マーク極性フラグビット
1
16
BCA識別子
1
17 〜18
リザーブ（領域）
2
19 〜26
データゾーンの配置
8
27
リザーブ(領域）
1
28 〜29
記録速度
2
30
公称記録速度の最大直流読取りパワー
1
31
公称記録速度の最大高周波重じょう（畳）読取りパワー
1
32
リザーブ(領域）
1
33 〜41
記録パワー設定
9
42 〜46
dTtop：Ttopレベルの開始時間
5
47 〜51
Ttopレベルの継続時間.
5
52 〜54
dTC：冷却レベルの開始時間
3
55 〜56
TLP：最後のパルスの継続時間
2
57 〜61
dTS：スペースレベルの開始時間
5
62
リザーブ(領域）
1
63 〜70 及び
71 (msb4ビット)
∆dTtop：Ttopレベルのオフセット開始時間.
8.5
71 (lsb4ビット)
及び72 〜78
∆Ttop：Ttopレベルのオフセット継続時間
7.5
79 〜82 及び
83 (msb4ビット)
∆dTC：冷却レベルのオフセット開始時間
4.5
83 (lsb4ビット) ,
84 ,85 及び86
(msb4ビット)
∆TLP：最後のパルスのオフセット継続時間
3
86 (lsb4ビット)
リザーブ(領域）
0.5
87 〜94 及び
95 (msb4ビット)
∆dTS：スペースレベルのオフセット開始時間
8.5
95 (lsb4ビット)
リザーブ(領域）
0.5
96 〜99
リザーブ(領域）
4
100 〜111
DIユニットフッタ
12
図82−DIフォーマット5のディスク情報内容
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
15.8.3.2参照。
公称記録速度の最大高周波重畳読取りパワー
113
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトは，BCAコード付きのディスクでは，04hに設定する。
このバイトは，BCAコードなしのディスクでは，84hに設定する。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
15.8.3.2参照。
バイト4：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
15.8.3.2参照。
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニット使用のDIバイト数
このバイトは，このDIユニットの最初の99バイトを使用し，次のDIユニットに
継続がないことを示す63hに設定する。残りのDIユニット主部（DIユニットフッ
タのバイトを除く。）のバイトは使用せず，00hに設定する。
バイト7：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト8〜10：
BD層タイプ識別子
この3バイトは，DIユニットが適用されるBD層のタイプを識別し，各記録層で，
“BDR”の文字を示す42 44 52hに設定する。
バイト11：
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
ビットb7〜b6： この2ビットは，ディスクのサイズを規定する。120 mmディスクを示す00に設定
する。
ビットb5〜b4： この2ビットは，クラス番号を規定する。クラス番号は，同じ層タイプで異なる基
本特性をもつBD層を識別する。
この規格に適合したBD層は，これらのビットを，01に設定する。
ドライブが，ある特定のクラスの層を認識できない場合は，その層のデータゾーン
にアクセスしないほうがよい（読取りも記録も行わない。）。
ビットb3〜b0： この4ビットは，バージョン番号を規定する。この規格に適合した層であることを
示す0010に設定する。
バイト12：
BD構造
ビットb7〜b4： この4ビットは，ディスク上のBDの記録可能層及び記録済み層の層数の全層数を
規定する。3層ディスクでは，記録層が三つであることを示す0011に設定する。
4層ディスクでは，記録層が四つであることを示す0100に設定する。
ビットb3〜b0： この4ビットは，このDIユニットを適用する，BDの記録可能層又は記録済み層の
層のタイプを規定する。
ビットb3〜b0は，レコーダブル記録層を示す0010に設定する。
バイト13：
チャネルビット長
ビットb7〜b4： この4ビットは，0000に設定する。
ビットb3〜b0： この4ビットは，メインデータのチャネルビット長を規定し，全てのBD記録層で
同じとする。
次の設定とする。
114
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
チャネルビット長が58.26 nm（32.0 GB/層）であることを示す0100
チャネルビット長が55.87 nm（33.4 GB/層）であることを示す0101
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト14：
プッシュプル極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liのプッシュプル信号の極性を，次のとおりとする（26.1
参照）。
“0”：記録層Liのプッシュプル極性が正
“1”：記録層Liのプッシュプル極性が負
存在しない記録層に対してbiは，“0”に設定する。
この規格では，このバイトは，00hに設定する。
バイト15：
記録マーク極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liの記録マークの極性を，次のとおりとする。
“0”：未記録層よりも記録マークの反射率が低い層タイプ（HTLディスク）
“1”：未記録層よりも記録マークの反射率が高い層タイプ
この規格では，このバイトは，00hに設定する。
バイト16：
BCA記述子
ビットb7〜b4： この4ビットは，リザーブ（領域）とする。
ビットb3〜b0： この4ビットは，ディスク上のBCAコードの有無を示す。
0000：BCAコードなし
0001：BCAコード付き
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト17〜18：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト19〜26：
データゾーンの配置
バイト19〜22： これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最初の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最初のPAA
がPAA 131 072であることを示す00 02 00 00hに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最初のPAA
が，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクではPAA 6 304 384，33.4 GB/層のディ
スクではPAA 6 220 928であることを示すために，FAAの値に設定し，使用者容量
32.0 GB/層のディスクでは00 60 32 80hに，33.4 GB/層のディスクでは00 5E EC 80h
に設定する。
L2層に関連するDIユニットでは，これらのバイトは，データゾーン2の最初のPAA
としてPAA 8 519 680を示す00 82 00 00hに設定する。
L3層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン3の最初のPAA
が，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクでPAA 14 692 992であることを示すた
めに，FAA＋00 80 00 00hの値を00 E0 32 80hに設定する。
バイト23〜26： これらのバイトは，関連する層のデータゾーンの最後の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最後のPAA
が，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクではPAA 2 167 678，33.4 GB/層のディ
115
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
スクではPAA 2 167 678であることを示すために，LAAの値を，使用者データ容量
32.0 GB/層のディスクでは00 1F CD 7Ehに，33.4 GB/層のディスクでは00 21 13 7Eh
に設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最後のPAA
がPAA 8 257 534であることを示す00 7D FF FEhに設定する。
L2層に関連する各DIユニットでは，これらのバイトは，データゾーン2の最後の
PAAが，使用者データ容量32.0 GB/層のディスクではPAA 10 472 830，33.4 GB/層
のディスクではPAA 10 556 286であることを示すためにLAA＋00 80 00 00hの値を，
使用者データ容量32 GB/層のディスクでは00 9F CD 7Ehに，33.4 GB/層のディスク
では00 A1 13 7Ehに設定する。
L3層に関連するDIユニットでは，データゾーン3の最後のPAAがPAA 16 646 142
であることを示すために，00 FD FF FEhに設定する。
バイト27：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト28〜29：
記録速度
これらのバイトは，公称記録速度を規定する。それは，このDIユニットに規定する
2バイトの2進数のパラメタ（バイト28がMSB）を用いて使用される。
公称記録速度を数値nとして規定し，次のとおりとする。
n＝100×Vnorm
nは，次のとおりとする。
公称記録速度が7.69 m/s（32.0 GB/層）：03 01h
公称記録速度が7.38 m/s（33.4 GB/層）：02 E2h
バイト30：
公称記録速度の最大直流読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが
できるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この箇条での最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフ
ォルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
このバイトは，このDIユニットのバイト28〜29で規定する公称記録速度に等しい
読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを規定する。このバイトの10進表記は，
次に示す数値nの式とする。ここに，Prの単位はミリワットである。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読取りをする場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証
するために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト31：
公称記録速度の最大高周波重畳読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取りが
できる，ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この箇条での最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフ
ォルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
このバイトは，このDIユニットのバイト28〜29で規定する公称記録速度に等しい
読取速度の場合の最大読取りパワーPrを規定する。このバイトの10進表記は，次に
116
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
示す数値nの式とする。ここに，Prの単位はミリワットである。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証する
ために，パワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト32：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト33〜41：
記録パワー設定
バイト33〜34： PIND：PINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G参
照）。
これらのバイトは，Ptargetを示唆する値PINDをミリワットの単位で規定し，次に示す
数値nで表す。
n＝20×PIND
バイト33のビットb7がmsbで，バイト34のビットb0がlsbである。
バイト35：
mIND：mINDは，OPCでPtargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G参
照）。
このバイトは，メディア製造業者によって決められるPINDでの変調度を規定し，次
に示す数値nで表す。
n＝200×mIND
バイト36：
ρ：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録パワーに乗
ずる係数ρを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝100×ρ
バイト37：
εBW：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録バイアス
パワーと記録ピークパワーとの比εBWを，次に示す数値nで規定する。
n＝200×εBW
バイト38：
εc：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる冷却パワーと記
録ピークパワーとの比εcを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝200×εc
バイト39：
εs：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われるスペースパワー
と記録ピークパワーとの比εsを規定し，次に示す数値nで表す。
n＝200×εs
バイト40：
κ：このバイトは，OPC（附属書G参照）で使われるターゲット値κを規定し，次
に示す数値nで表す。
n＝20×κ
バイト41：
β：このバイトは，代替のOPC（附属書G参照）で使われるターゲット値βを規定
し，次に示す数値nで表す。
n＝500×(β＋0.2)
バイト42〜61のバイトでは，dTtop，Ttop，dTC，TLP及びdTSの基準位置又は基準継続時間を規定する。
基準位置は，各記録パルスの立上がりエッジの位置を意味する（図F.1及び図F.4参照）。継続時間に関し
ても，基準に関しては同様に規定する。
バイト42〜46：
dTtop Ttopレベルの開始時間
117
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
これらのバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，5T以上のスペースに続くラ
ン長2T，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記
録パルスのTtop部分のデータパルスの開始時間を，最初のチャネルビットの立下が
りエッジに対して規定する（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
最初のパルスの開始時間dTtopは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す符号付き2の補数aで表される。
W
top
32
T
dT
a
×
=
（−32≦a≦30）（ここに，a：偶数）
このバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト42は，2Tスペースが後にくる2T記録マークの開始時間を規定する。
バイト43は，3T以上のスペースが後にくる2T記録マークの開始時間を規定する。
バイト44は，3T記録マークの開始時間を規定する。
バイト45は，4T記録マークの開始時間を規定する。
バイト46は，5T以上の記録マークの開始時間を規定する。
バイト47〜51：
Ttopレベルの継続時間
これらのバイト最初の7ビット（ビットb7〜b1）は，5T以上のスペースに続くラン
長2T，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録
パルスのTtopレベルの継続時間を規定する（附属書F参照）。
これらのバイトは，Ttopレベルの継続時間を，実際のチャネルビットクロック周期の
分数として規定し，次の式で正の2進数bとして表す。
W
top
32TT
b
×
=
（0≦b≦92）（ここに，b：偶数）
これらのバイトの最後のビット（ビットb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト47は，後に2Tスペースが続く2T記録マークパルスの継続時間を規定する。
バイト48は，後に3T以上のスペースが続く2T記録マークパルスの継続時間を規
定する。
バイト49は，3Tマークの最初の記録パルスの継続時間を規定する。
バイト50は，4Tマークの最初の記録パルスの継続時間を規定する。
バイト51は，5T以上のマークの最初の記録パルスの継続時間を規定する。
バイト52〜54：
dTC：冷却レベルの開始時間
これらのバイトの最初の7ビット（ビットb7〜b1）は，5T以上のスペースが後に続
くラン長3T，4T及び5T以上の，拡張キャッスルストラテジの記録パルスの冷却レ
ベルの開始時間を規定する（附属書F参照）。
これらのバイトは，開始時間を実際のチャネルビットクロック周期の分数として規
定し，次に示す符号付き2の補数cで表す。
W
C
32TdT
c
×
=
（−62≦c≦16）（ここに，c：偶数）
このバイトの最後のビット（ビットb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト52：
このバイトは，拡張キャッスルストラテジの，3T記録パルスの冷却レベルの開始時
間を規定する。
118
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト53：
このバイトは，拡張キャッスルストラテジの，4T記録パルスの冷却レベルの開始時
間を規定する。
バイト54：
このバイトは，拡張キャッスルストラテジの，5T以上の記録パルスの冷却レベルの
開始時間を規定する。
バイト55〜56：
TLP：最後のパルスの継続時間
これらのバイト最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，5T以上のスペースが後に続く
ラン長4T及び5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パル
スの最後の記録パルスレベルの長さを規定する（附属書F参照）。
これらのバイトは，TLPの長さを実際のチャネルビットクロック周期の分数として規
定し，次に示す正の2進数dで表す。
W
LP
32TT
d
×
=
（0≦d≦62）
これらのバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト55は，4T記録マークの最後のパルスを規定する。
バイト56は，5T以上の記録マークの最後のパルスを規定する。
バイト57〜61：
dTS：スペースレベルの開始時間
これらのバイトの最初の7ビット（ビットb7〜b1）は，後に5T以上のスペースが続
くラン長2T，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ
のスペースレベルの開始時間を規定する（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附
属書F参照）。
スペースレベルの開始時間dTSは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す符号付き2の補数eで表される。
W
S
32TdT
e
×
=
（−62≦e≦30）（ここに，e：偶数）
このバイトの最後のビット（b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト57：
このバイトは，2Tスペースが先行するラン長2Tの，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのスペースレベルの開始時間を規定する。
バイト58：
このバイトは，3T以上のスペースが先行するラン長2Tの，拡張キャッスルストラ
テジの記録パルスのスペースレベルの開始時間を規定する。
バイト59：
このバイトは，ラン長3Tの拡張キャッスルストラテジの記録パルスのスペースレ
ベルの開始時間を規定する。
バイト60：
このバイトは，ラン長4Tの拡張キャッスルストラテジの記録パルスのスペースレ
ベルの開始時間を規定する。
バイト61：
このバイトは，ラン長5T以上の拡張キャッスルストラテジの記録パルスのスペー
スレベルの開始時間を規定する。
バイト62：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト63〜95のバイトでは，バイト42〜61に規定した基準位置又は基準継続時間に対するオフセット
としてΔを規定する。オフセットは，基準位置に対しての時間差を意味する。継続時間に対しても，オフ
セットは同様に規定する。
119
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト63〜70及び71（msb 4ビット）：ΔdTtop：Ttopレベルのオフセット開始時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tのスペースが先行する2T，3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上が
りエッジのオフセットを規定する。
立上がりパルスのオフセットΔdTtopは，実際のチャネルビットクロック周期の分数
として，次に示す符号付き2の補数2値fで表される。
バイト63〜64では，次による。
W
top
Δ
32
T
dT
f
×
=
（−31≦f≦30）（ここに，f：偶数）
バイト65〜70及び71（msb 4ビット）では，次による。
W
top
Δ
32
T
dT
f
×
=
（−8≦f≦7）（ここに，f：偶数）
注記
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
a
2M
2S
≥3S
3M
dTtop
4M
≥5M
f
≧3S
≧5M
≧5S
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
a
2M
2S
≥3S
3M
dTtop
4M
≥5M
f
≧3S
≧5M
≧5S
この表は，記録する各マークの前後のスペースによる，dTtopの値の影響を示している。
“a”で示す領域は，基準値にあった部分で，“f”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“f”で示し，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“a”で示し，基準値を含んでいる。
“i＝f＋a”の値は，−32≦i≦30を満たしている（F.3参照）。
バイト63：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，2Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パ
ルスのTtop部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトを
適用する場合は，基準位置はバイト42に規定している（5T以上のスペースが先行
し2Tスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト64：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，2Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのTtop部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバ
イトを適用する場合は，基準位置はバイト43に規定している（5T以上のスペース
が先行し3T以上のスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1及びb0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト65：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースに続く，ラン長3T
マークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上がり
エッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb7〜b4）を
f
a
120
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
適用する場合は，基準位置はバイト44に規定している（5T以上のスペースが先行
する3TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上がりエ
ッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適
用する場合は，基準位置はバイト45に規定している（5T以上のスペースが先行す
る4TマークのdTtop）。
バイト66：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上
がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb7〜b4）
を適用する場合は，基準位置はバイト46に規定している（5T以上のスペースが先
行する5T以上のマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パ
ルスのTtop部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトの
ビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト42に規定している（5T
以上のスペースが先行し2Tスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
バイト67：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのTtop部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバ
イトのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト43に規定して
いる（5T以上のスペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上がりエ
ッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb3〜b0）を適
用する場合は，基準位置はバイト44に規定している（5T以上のスペースが先行す
る3TマークのdTtop）。
バイト68：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上がりエ
ッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb7〜b4）を適
用する場合は，基準位置はバイト45に規定している（5T以上のスペースが先行す
る4TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上
がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb3〜b0）
を適用する場合は，基準位置はバイト46に規定している（5T以上のスペースが先
行する5T以上のマークのdTtop）。
バイト69：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パ
ルスのTtop部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトの
121
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト42に規定している（5T
以上のスペースが先行し2Tのスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのTtop部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバ
イトのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト43に規定して
いる（5T以上のスペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2TマークのdTtop）。
バイト70：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースに続くラン長3Tの
マークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上がり
エッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb7〜b4）を
適用する場合は，基準位置はバイト44に規定している（5T以上のスペースが先行
する3TマークのdTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースに続くラン長4Tの
マークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分の立上がり
エッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビットb3〜b0）を
適用する場合は，基準位置はバイト45に規定している（5T以上のスペースが先行
する4TマークのdTtop）。
バイト71（msb 4ビット）：このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースに続くラ
ン長5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop
部分の立上がりエッジのオフセット開始時間を規定する。このバイトのビット（ビ
ットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト46に規定している（5T以上の
スペースが先行する5T以上のマークのdTtop）。
バイト71（lsb 4ビット）及び72〜78：ΔTtop：Ttopレベルのオフセット継続時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tのスペースが先行し2T，3T，4T及び5T以上の
マークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtopレベルのオフセ
ット継続時間を規定する。
これらのバイトは，実際のチャネルビットクロック周期の分数として規定し，次に
示す符号付き2の補数gで表す。
W
top
Δ
32
T
T
g
×
=
（−8≦g≦7）（ここに，g：偶数）
注記
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
Ttop
4M
≥5M
g
b
2M
2S
≥3S
3M
≧3S
≧5M
≧5S
マーク
続きのスペース
前のスペース
２S
３S
４S
≥５S
Ttop
4M
≥5M
g
b
2M
2S
≥3S
3M
≧3S
≧5M
≧5S
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，Ttopの値の影響を示している。
“b”で示す領域は，基準値にあった部分で，“g”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
122
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
このパタンの領域は，“g”で示し，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“b”で示し，基準値を含んでいる。
“j＝g＋b”の値は，0≦j≦92を満たす（F.3参照）。
バイト71（lsb 4ビット）：このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースが先行し後
に2Tのスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ
の記録パルスのTtop部分のオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビッ
トb3〜b0）を適用する場合は，基準継続時間はバイト47に規定している（5T以上
のスペースが先行し2Tスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
バイト72：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのTtop部分のオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビット
b7〜b4）を適用する場合は，基準継続時間はバイト48に規定している（5T以上のス
ペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフセット
継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト49に規定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのTtop）。
バイト73：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスの，Ttop部分のオフセット
継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト50に規定している（5T以上のスペースが先行する，4TマークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフ
セット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト51に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上の
マークのTtop）。
バイト74：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースが先行し後に2Tの
スペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録
パルスのTtop部分のオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜
b4）を適用する場合は，基準継続時間はバイト47に規定している（5T以上のスペ
ースが先行し2Tスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースが先行し後に3T以
上 のスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのTtop部分のオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビット
b3〜b0）を適用する場合は，基準継続時間はバイト48に規定している（5T以上のス
ペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
バイト75：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフセット
継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト49に規定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのTtop）。
g
b
123
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフセット
継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト50に規定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのTtop）。
バイト76：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフ
セット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト51に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上の
マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースが先行し後に2Tの
スペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録
パルスのTtop部分のオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜
b0）を適用する場合は，基準継続時間はバイト47に規定している（5T以上のスペ
ースが先行し2Tスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
バイト77：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースが先行し後に3T以
上のスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの
記録パルスのTtop部分のオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビット
b7〜b4）を適用する場合は，基準継続時間はバイト48に規定している（5T以上のス
ペースが先行し3T以上のスペースが後に続く2T記録マークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースに続くラン長3Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフセット
継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト49に規定している（5T以上のスペースが先行する3TマークのTtop）。
バイト78：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，4Tスペースに続くラン長4Tマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフセット
継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準継
続時間はバイト50に規定している（5T以上のスペースが先行する4TマークのTtop）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，4Tスペースに続くラン長5T以
上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの記録パルスのTtop部分のオフ
セット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，
基準継続時間はバイト51に規定している（5T以上のスペースが先行する5T以上の
マークのTtop）。
バイト79〜82及び83（msb 4ビット）：ΔdTC：冷却レベルのオフセット開始時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tスペースが後に続くラン長3T，4T及び5T以上
のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジの冷却レベルの開始時間の立上が
りエッジオフセットを規定する。
立上がりエッジオフセットΔdTCは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す符号付き2の補数hで表される。
W
C
Δ
32
T
dT
h
×
=
（−8≦h≦7）（ここに，h：偶数）
124
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
注記
マーク
２S
３S
４S
≧５S
h
c
dTC
3M
4M
≧5M
続きのスペース
この表は，記録される各マークの，前後のスペースによるdTCの値の影響を示している。
“c”で示す領域は，基準値にあった部分で，“h”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“h”で示し，オフセットを含んでいる。
このパタンの領域は，“c”で示し，基準値を示している。
“k＝h＋c”は，−62≦k≦16を満たしている（F.3参照）。
バイト79：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの開始時
間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適
用する場合は，基準位置はバイト52に規定している（5T以上のスペースが後に続
く3TマークのdTC）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に2Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの開始時
間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適
用する場合は，基準位置はバイト53に規定している（5T以上のスペースが後に続
く4TマークのdTC）。
バイト80：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの
開始時間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）
を適用する場合は，基準位置はバイト54に規定している（5T以上のスペースが後
に続く5T以上のマークのdTC）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの開始時
間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適
用する場合は，基準位置はバイト52に規定している（5T以上のスペースが後に続
く3TマークのdTC）。
バイト81：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの開始時
間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適
用する場合は，基準位置はバイト53に規定している（5T以上のスペースが後に続
く4TマークのdTC）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの
h
c
125
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
開始時間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）
を適用する場合は，基準位置はバイト54に規定している（5T以上のスペースが後
に続く5T以上のマークのdTC）。
バイト82：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの開始時
間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適
用する場合は，基準位置はバイト52に規定している（5T以上のスペースが後に続
く3TマークのdTC）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却レベルの開始時
間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適
用する場合は，基準位置はバイト53に規定している（5T以上のスペースが後に続
く4TマークのdTC）。
バイト83（msb 4ビット）：このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続
くラン長5T以上マークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの冷却
レベルの開始時間の立上がりエッジオフセットを規定する。これらのビット（ビッ
トb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト54に規定している（5T以上のス
ペースが後に続く5T以上のマークのdTC）。
バイト83（lsb 4ビット）及び84〜86：ΔTLP：最後のパルスのオフセット継続時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tスペースが後に続くラン長4T及び5T以上のマ
ークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパルスレベルの長
さのオフセット継続時間を規定する。
これらのバイトは，実際のチャネルビットクロック周期の分数として規定し，次に
示す符号付き2の補数vで表す。
W
LP
Δ
32
T
T
v
×
=
（−8≦v≦7）（ここに，v：偶数）
注記
マーク
２S
３S
４S
≧５S
v
d
TLP
4M
≧5M
続きのスペース
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，TLPの値の影響を示している。
“d”で示す領域は，基準値にあった部分で，“v”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“v”で示し，オフセットを含んでいる。
このパタンの領域は，“d”で示し，基準値を含んでいる。
“p＝v＋d”の値は，0≦p≦62を満たしている（F.3参照）。
バイト83（lsb 4ビット）：このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続く
v
d
126
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ラン長4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパル
スレベルの長さのオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）
を適用する場合は，基準継続時間はバイト55に規定している（5T以上のスペース
が後に続く4TマークのTLP）。
バイト84：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパルス
レベルの長さのオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）
を適用する場合は，基準継続時間はバイト56に規定している（5T以上のスペース
が後に続く5T以上のマークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3スペースが続くラン長4T
マークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパルスレベルの
長さのオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜b0）を適用す
る場合は，基準継続時間はバイト55に規定している（5T以上のスペースが後に続
く4TマークのTLP）。
バイト85：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパルス
レベルの長さのオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）
を適用する場合は，基準継続時間はバイト56に規定している（5T以上のスペース
が後に続く5T以上のマークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパルスレベル
の長さのオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）を適用
する場合は，基準継続時間はバイト55に規定している（5T以上のスペースが後に
続く4TマークのTLP）。
バイト86：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスの最後のパルス
レベルの長さのオフセット継続時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜b4）
を適用する場合は，基準継続時間はバイト56に規定している（5T以上のスペース
が後に続く5T以上のマークのTLP）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）：リザーブ（領域）
これらのビットは，0000に設定する。
バイト87〜94及び95（msb 4ビット）：ΔdTS：スペースレベルのオフセット開始時間
これらのバイトは，2T，3T又は4Tスペースが後に続くラン長2T，T，4T及び5T
以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベル
の開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。
スペースレベルの立上がりエッジオフセットΔdTSは，実際のチャネルビットクロッ
ク周期の分数として，次に示す符号付き2の補数wで表される。
バイト87及び88では，次による。
W
S
Δ
32
T
dT
w
×
=
（−31≦w≦30）（ここに，w：偶数）
127
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト89，94及び95（msb 4ビット）では，次による。
W
S
Δ
32
T
dT
w
×
=
（−8≦w≦7）（ここに，w：偶数）
注記
マーク
前のスペース
続きのスペース
２S
３S
４S
≧５S
ｗ
e
dTS
2M
3M
4M
≧5M
2S
≧3S
この表は，記録される各マークの前後のスペースによる，dTSの値の影響を示している。
“e”で示す領域は，基準値にあった部分で，“w”で示す部分は，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“w”で示し，オフセット値を含んでいる。
このパタンの領域は，“e”で示し，基準値を含んでいる。
“q＝w＋e”の値は，−62≦q≦30を満たしている（F.3参照）。
バイト87：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，2Tスペースが先行し後に2Tス
ペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パル
スのスペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。この
バイトを適用する場合は，基準位置はバイト57に規定している（2Tスペースが先
行し5T以上のスペースが後に続く2TマークのdTS）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト88：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，3T以上のスペースが先行し後に
2Tスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録
パルスのスペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。
このバイトを適用する場合は，基準位置はバイト58に規定している（3T以上のス
ペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2TマークのdTS）。
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト89：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベルの開
始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜
b4）を適用する場合は，基準位置はバイト59に規定している（5T以上のスペース
が後に続く3TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に2Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベルの開
始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜
b0）を適用する場合は，基準位置はバイト60に規定している（5T以上のスペース
が後に続く4TマークのdTS）。
バイト90：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に2Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベ
w
e
128
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビッ
トb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト61に規定している（2Tのスペー
スが後に続く5T以上のマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，2Tスペースが先行し後に3Tス
ペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パル
スのスペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これ
らのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト57に規定してい
る（2Tスペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2TマークのdTS）。
バイト91：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，3T以上のスペースが先行し後に
3Tスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録
パルスのスペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。
これらのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト58に規定し
ている（3T以上のスペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2T記録マークの
dTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
3Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベルの開
始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜
b0）を適用する場合は，基準位置はバイト59に規定している（5T以上のスペース
が後に続く3TマークのdTS）。
バイト92：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に3Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベルの開
始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜
b4）を適用する場合は，基準位置はバイト60に規定している（5T以上のスペース
が後に続く4TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に3Tスペースが続くラン長
5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベ
ルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビッ
トb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト61に規定している（5T以上のス
ペースが後に続く5T以上のマークのdTS）。
バイト93：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，2Tスペースが先行し後に4Tス
ペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パル
スのスペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これ
らのビット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト57に規定してい
る（2Tスペースが先行し，5T以上のスペースが後に続く2TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，3T以上のスペースが先行し後に
4Tスペースが続くラン長2Tのマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録
パルスのスペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。
これらのビット（ビットb3〜b0）を適用する場合は，基準位置はバイト58に規定し
ている（3T以上のスペースが先行し5T以上のスペースが後に続く2TマークのdTS）。
バイト94：
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続くラン長
129
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
3Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベルの開
始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビットb7〜
b4）を適用する場合は，基準位置はバイト59に規定している（5T以上のスペース
が後に続く3TマークのdTS）。
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，後に4Tスペースが続くラン長
4Tマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのスペースレベルの開
始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビット（ビットb3〜
b0）を適用する場合は，基準位置はバイト60に規定している（5T以上のスペース
が後に続く4TマークのdTS）。
バイト95（msb 4ビット）：このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，後に4Tスペースが続
くラン長5T以上のマークを記録する，拡張キャッスルストラテジ記録パルスのス
ペースレベルの開始時間の立上がりエッジオフセット時間を規定する。これらのビ
ット（ビットb7〜b4）を適用する場合は，基準位置はバイト61に規定している（5T
以上のスペースが後に続く5T以上のマークのdTS）。
バイト95（lsb 4ビット）：リザーブ（領域）
これらのビットは，0000とする。
バイト96〜99：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hとする。
バイト100〜111： DIユニットフッタ
15.8.3.2参照。
15.8.3.5 記録ストラテジ要求事項
この規格によるディスクの記録ストラテジの要求事項を，図83に示す。
必須
-----
4x
任意a)
任意a)
2x
拡張キャッスル
拡張N-1
記録ストラテジ
記録速度
ディスクタイプ
TL/QL
2xだけのディスクは，許されない。
注a) 少なくとも二つの記録ストラテジのうち一つを用意し，最も望ましい記録ス
トラテジとして規定する。
図83−記録ストラテジタイプ要求事項
15.8.3.6 記録ストラテジのDIユニットの使用方法
DIフォーマット番号（バイト2）で識別される複数のDIユニットの概念を使うことによって，BDのシ
ステムは，バックワード互換を最善の方法で確保しながら，3，4又はそれ以上の記録層に対して異なる記
録速度でディスクを（将来に）容易に使うことができる。
一般的に，異なる記録速度でそれぞれ異なる記録ストラテジ（異なるパラメタセット）が必要になる可
能性があり，さらに，記録ストラテジは，応用した技術に依存する可能性がある。
なお，各記録層は，記録パラメタの異なる値の組合せが必要になる可能性がある。
基準速度（Vref）は，チャネルクロック周波数が66 MHzに相当する速度である。
130
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記録速度は，DIの公称記録速度を参照する。
この規格のパラメタは，“4xディスク”と呼ばれるディスクに対し規定されている（使える記録速度は，
2×Vref及び4×Vrefとする。図84参照）。各記録層は，図83に示す記録ストラテジの要求事項を満たす。
代替の記録ストラテジパラメタセットをもつDIユニットは，使いたい順番に追加してもよい（図79参
照）。
2x記録速度のパラメタを規定するDIユニットで，バイト28〜29は，次のとおりに設定される。
− バイト28〜29： 公称記録速度7.69 m/s（32.0 GB/層）を示す03 01h
公称記録速度7.38 m/s（33.4 GB/層）を示す02 E2h
4x記録速度のパラメタを規定するDIユニットで，バイト28〜29は，次のとおりに設定される。
− バイト28〜29： 公称記録速度15.38 m/s（32.0 GB/層）を示す06 02h
公称記録速度14.75 m/s（33.4 GB/層）を示す05 C3h
131
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
4x ディスク(TL) で2x拡張N−1及びキャッスル
4x ディスク(QL)で2x 拡張N−１及びキャッスル
並びに4x 拡張キャッスル記録ストラテジ
並びに4x拡張キャッスル記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
4
バイト2: DIフォーマット番号
4
バイト3: DI/L#の#
9/0
バイト3: DI/L#の#
12/0
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
0
バイト5: 連番#
0
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト42 ~ 98:記録ストラテジ
拡張N−1
バイト42 ~ 98:記録ストラテジ
拡張N−1
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/0
バイト3: DI/L#の#
12/0
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
1
バイト5: 連番#
1
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト42 ~ 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~ 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
4
バイト2: DIフォーマット番号
4
バイト3: DI/L#の#
9/1
バイト3: DI/L#の#
12/1
バイト4: ---
00h
バイト4:---
00h
バイト5: 連番#
2
バイト5: 連番#
2
バイト６のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト42 ~ 98:記録ストラテジ
拡張N−1
バイト42 ~ 98:記録ストラテジ
拡張N−1
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/1
バイト3: DI/L#の#
12/1
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
3
バイト5: 連番#
3
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト42 ~ 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~ 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
4
バイト2: DIフォーマット番号
4
バイト3: DI/L#の#
9/2
バイト3: DI/L#の#
12/2
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
4
バイト5: 連番#
4
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
:
0
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト42 ~ 98:記録ストラテジ
拡張N−1
バイト42 ~ 98:記録ストラテジ
拡張N−1
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/2
バイト3: DI/L#の#
12/2
バイト4: ---
00h
バイト4:---
00h
バイト5: 連番#
5
バイト5: 連番#
5
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 to 29: 速度
2x
バイト28 ~ 29: 速度
2x
バイト42 to 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~ 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
図84−4xディスクの一連のDIの例
132
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2:DIフォーマット番号
4
バイト3: DI/L#の#
9/0
バイト3: DI/L#の#
12/3
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
6
バイト5: 連番#
6
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト28 ~29:
速度
2x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~98:記録ストラテジ
拡張N‒1
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/1
バイト3: DI/L#の#
12/3
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
7
バイト5: 連番#
7
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト28 ~29:
速度
2x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォー^マット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/2
バイト3: DI/L#の#
12/0
バイト4:---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
8
バイト5: 連番#
8
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
繰返し
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
12/1
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
9
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
12/2
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
10
バイト6のmsb:
0
バイト28 to 29:
速度
4x
バイト42 to 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
12/3
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
11
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
繰返し
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2:DIフォーマット番号
4
バイト3: DI/L#の#
9/0
バイト3: DI/L#の#
12/3
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
6
バイト5: 連番#
6
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト28 ~29:
速度
2x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~98:記録ストラテジ
拡張N‒1
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/1
バイト3: DI/L#の#
12/3
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
7
バイト5: 連番#
7
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト28 ~29:
速度
2x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォー^マット番号
5
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
9/2
バイト3: DI/L#の#
12/0
バイト4:---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
8
バイト5: 連番#
8
バイト6のmsb:
0
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
12/1
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
9
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
12/2
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
10
バイト6のmsb:
0
バイト28 to 29:
速度
4x
バイト42 to 95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
5
バイト3: DI/L#の#
12/3
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
11
バイト6のmsb:
0
バイト28 ~29:
速度
4x
バイト42 ~95:記録ストラテジ
拡張キャッスル
図84−4xディスクの一連のDIの例（続き）
DIフォーマット番号
133
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
16 情報ゾーンの概要
16.1 一般
情報ゾーンは，データ交換に関する全てのディスク上の情報を含み，d9〜d10の情報領域の中に位置して
いる（10.8.1及び図14参照）。
内側ゾーン0の内周部（保護ゾーン1＋PIC）は，ディスクに関する転写情報をもつことができるHFM
グルーブをもつ。内側ゾーン0の外側の部分，他の内側ゾーン，データゾーン及び外側ゾーンは，ウォブ
ルグルーブ上に情報を記録することができる記録領域を構成している。
16.2 3層ディスクの情報ゾーンのフォーマット
情報ゾーンは，L0層のリードインゾーン（内側ゾーン0の一部），データゾーン0及び外側ゾーン0，
L1層の外側ゾーン1，データゾーン1及び内側ゾーン1，L2層の内側ゾーン2，データゾーン2並びにリ
ードアウトゾーンの，九つの部分に分けられる（図85，図86及び図87参照）。
データゾーン0，データゾーン1及びデータゾーン2は，使用者データの記録に当てられる。リードイ
ンゾーンは，転写及び記録による制御情報並びにディスク及びドライブのテスト領域を含んでいる。内側
ゾーン1，内側ゾーン2，外側ゾーン0，外側ゾーン1及び外側ゾーン2は，個々の層への円滑な導入又は
終了を可能にし，また，制御情報をもっている。
16.3 4層ディスクの情報ゾーンのフォーマット
情報ゾーンは，L0層のリードインゾーン（内側ゾーン0の一部），データゾーン0及び外側ゾーン0，
L1層の外側ゾーン1，データゾーン1及び内側ゾーン1，L2層の内側ゾーン2，データゾーン2及び外側
ゾーン2，L3層の外側ゾーン3，データゾーン3並びにリードアウトゾーンの，12個の部分に分けられる
（図88，図89，図90及び図91参照）。
データゾーン0，データゾーン1，データゾーン2及びデータゾーン3は，使用者データの記録に当てら
れる。リードインゾーンは，転写及び記録による制御情報並びにディスク及びドライブのテスト領域を含
んでいる。内側ゾーン1，内側ゾーン2，内側ゾーン3，外側ゾーン0，外側ゾーン1，外側ゾーン2及び
外側ゾーン3は，個々の層への円滑な導入又は終了を可能にし，また，制御情報をもっている。
17 情報ゾーンの記録領域の構成
情報ゾーンの記録領域は，内側ゾーン，データゾーン及び外側ゾーンの部分から構成されている。図85，
図86，図87，図88，図89，図90及び図91に示す開始半径は，各ゾーンの最初又は最後のグルーブトラ
ックの中心の公称値である。
図に示す物理ADIPアドレス（PAA）は，各ゾーンのグルーブトラックの開始又は終了アドレスである。
ゾーン当たりの記録できる物理クラスタ（RUB）数も示している。
134
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
L0層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
第1遷移領域
終了半径
11.5mm
クランプゾーン
開始半径
11.5 mm
終了半径
16.5 mm
第2遷移領域
開始半径
16.5 mm
終了半径
21.0 mm
開始半径
21.0 mm
“幅広ピッチ”
グルーブ
BCA
22.2
---
---
ｴﾝﾎﾞｽ
HFM
(HFM
ｸﾞﾙｰﾌﾞ)
PIC
22.510
(最初の
AUN =
000C0480h
:
最後の
AUN =
000C19
BEh)
2720
(×4KB)
リードイン
23.068
0 01 83 38h
0 01 87 E6h
300
ゾーン
の一部)
INFO
2
23.468
0 01 B8 00h
0 01 BB
256
OPC
0
23.498
0 01 BC 00h
:
0 01 DB
2
情報領域
TDMA
0
23.736
0 01 DC 00h
:
0 01 FB
2
記録可能
INFO
1
23.971
0 01 FC 00h
:
0 01 FF
256
(ウォブル
24.000
0 02 00 00h
グーブ）
データ
:
:
LAA
509152
INFO 3/4
58.000
LAA + 2h
:
:
LAA+ 498h
294
DCZ
0
58.014
LAA+ 49Ah
:
LAA + 10
760
情報ゾーン
58.050
LAA + 107Ah
:
---
終了半径
58.5 mm
リム領域
開始半径
58.5 mm
PAA
保護ｿﾞｰﾝ
1
2
3
0 01 87 E8h
3 078
バッファ
ゾーン
23.107
L0層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
ゾーンの最初の
PAA
:
物理
クラスタ数
第1遷移領域
終了半径
11.5mm
開始半径
11.5 mm
終了半径
16.5 mm
第2遷移領域
開始半径
16.5 mm
終了半径
21.0 mm
開始半径
21.0 mm
“
”
BCA
22.2
---
---
エンボス
HFM
(HFM
グルーブ）
PIC
22.510
(最初の
AUN =
000C0480h
:
最後の
AUN =
000C19
BEh)
2720
(×4KB)
23.068
0 01 83 38h
300
(内側ゾーン0
の一部)
INFO
2
23.468
0 01 B8 00h
0 01 BBFEh
256
OPC
0
23.498
0 01 BC 00h
:
0 01 DBFEh
2048
情報領域
TDMA
0
23.736
0 01 DC 00h
:
0 01 FBFEh
2048
記録可能
INFO
1
23.971
0 01 FC 00h
:
0 01 FF FEh
256
(
24.000
0 02 00 00h
ゾーン0
:
:
LAA
INFO 3/4
58.000
LAA + 2h
:
:
294
DCZ
0
58.014
:
LAA + 1078h
760
トラッキング方向
外側ゾーン0
58.050
:
---
終了半径
58.5 mm
開始半径
58.5 mm
ゾーンの最後の
PAA
保護ゾーン1
保護ゾーン2
保護ゾーン3
0 01 87 E8h
0 01 B7FEh
3 078
バッファ
ゾーン
23.107
図85−3層ディスクのL0層の情報ゾーンの構成
（ウォブル
グルーブ）
135
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
リザーブ
（領域）
リザーブ
（領域）
L1層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
ゾーンの最後の
PAA
:
物理
クラスタ数
終了半径
21.0mm
“幅広ピッチ”
グルーブ
ｳｫﾌﾞﾙ
ｸﾞﾙｰﾌﾞ
22.2
:
0 7E C5 B8h
---
ﾊﾞｯﾌｧｿﾞｰﾝ
22.510
0 7E C5 B6h
:
0 7E 85 98h
4104
23.004
0 7E 85 96h
:
0 7E 65 98h
2048
23.246
0 7E 65 96h
:
0 7E 48 00h
1894
内側ゾーン1
23.468
0 7E 47FEh
:
0 7E 44 00h
256
23.498
0 7E 43FEh
:
0 7E 24 00h
2048
情報領域
23.736
0 7E 23FEh
:
0 7E 04 00h
2048
記録可能
INFO1
23.97
0 7E 03FEh
:
0 7E 00 00h
256
(ウォブル
24.000
0 7D FFFEh
グルーブﾞ）
データ
ゾーン1
:
:
FAA a)
509152
INFO 3/4
58.000
FAA
2h
:
FAA ‒4
294
58.014
FA
‒49Ah
:
FAA ‒1078h
760
トラッキング方向
情報ゾーン
外側
ゾーン1
58.050
FAA ‒107Ah
:
---
開始半径
58.5mm
ゾーンの最初の
PAA
保護ｿﾞｰﾝ
1
保護ゾーン3
L1層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
ゾーンの最後の
PAA
:
物理
終了半径
21.0mm
“
”
ウォブル
グルーブ
22.2
:
0 7E C5 B8h
---
ﾊﾞｯﾌｧｿﾞｰﾝ
22.510
:
OPC1
23.004
:
23.246
:
INFO2
23.468
:
TDMA1
23.498
:
情報領域
23.736
:
記録可能
23.971
:
24.000
:
:
INFO 3/4
58.000
‒:
‒498h
DCZ1
58.014
‒
:
‒
外側
58.050
‒
:
---
開始半径
58.5mm
ゾーンの最初の
PAA
保護ゾーン１
注a)
01h
00
80
1
LAA
FAA
+
=
（15.7.4.3参照）
図86−3層ディスクのL1層の情報ゾーンの構成
（ウォブル
グルーブ）
136
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
リザーブ
(領域）
開始半径
21.0 mm
“幅広ピッチ”
22.2
---
---
バッファ
ゾーン
22.510
081 3A 48h
081 3D 66h
200
22.535
0 81 5D 66h
2 048
内側ゾーン2
INFO
2
22.973
0 81 76 68h
0 81 7A 66h
256
TDMA 2
23.004
0 81 7A 68h
:
0 81 9A 66h
2
情報領域
バッファ
ゾーン
23.246
0 81 9A 68h
:
0 81 FBFEh
6
記録可能
INFO
1
23.971
0 81 FC 00h
:
0 81 FFFEh
256
(ウォブル
24.000
0 82 00 00h
グルーブ)
データ
ゾーン2
:
:
LAA 2
509
INFO 3/4
58.000
LAA 2 + 2h
:
294
DCZ 2
58.014
:
LAA2
760
情報ゾーン
トラッキング方向
リードアウト
ゾーン
58.050
:
---
終了半径 58.5 mm
リム領域
開始半径 58.5 mm
L2層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
PAA
保護ｿﾞｰﾝ1
OPC 2
0 81 5D 68h
0 81 76 66h
1 600
22.782
ウォブル
グルーブ
開始半径
21.0 mm
“
グルーブ
22.2
---
---
バッファ
ゾーン
22.510
:
200
22.
0 81 3D 68h
:
2 048
INFO
2
22.973
0 81 76 68h
:
0 81 7A 66h
256
TDMA 2
23.004
0 81 7A 68h
:
0 81 9A 66h
2048
情報領域
バッファ
ゾーン
23.246
0 81 9A 68h
:
6246
記録可能
INFO
1
23.971
0 81 FC 00h
:
256
(
24.000
0 82 00 00h
)
:
:
LAA 2a)
509152
INFO 3/4
58.000
LAA 2 + 2h
LAA 2 + 498h
294
DCZ 2
58.014
LAA2 + 49Ah
:
+ 1078h
760
リードアウト
ゾーン
（外側ゾーン2）
58.050
LAA2 + 107Ah
:
---
終了半径 58.5 mm
開始半径 58.5 mm
L2層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
ゾーンの最初の
PAA
:
物理
PAA
L2層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
クラスタ数
PAA
保護ゾーン1
OPC 2
保護ゾーン3
1 600
22.782
ウォブル
グルーブ
ゾーンの最後の
注a) LAA2＝LAA＋0 80 00 00h（15.7.4.3参照）
図87−3層ディスクのL2層の情報ゾーンの構成
137
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
L0層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
クラスタ数
第1遷移領域
終了半径
11.5mm
クランプゾーン
開始半径
11.5 mm
終了半径
16.5 mm
第2遷移領域
開始半径
16.5 mm
終了半径
21.0 mm
開始半径
21.0 mm
“幅広ピッチ”
BCA
22.2
---
---
ｴﾝﾎﾞｽ
HFM
(HFM
ｸﾞﾙｰﾌﾞ)
PIC
22.510
(最初の
AUN =
000C4540h
:
最後の AUN =
000C5A7Eh)
2720
(×4KB)
リードイン
23.091
0 01 8B 50h
0 01 8FFEh
300
ゾーン
(内側ゾーン0
の一部)
INFO
2
23.232
0 01 9C B8h
0 01 A0 B6h
256
OPC
0
23.263
0 01 A0 B8h
:
0 01 C0 B6h
2048
情報領域
バッファ
ゾーン
23.513
0 01 C0 B8h
:
0 01 FBFEh
3794
記録可能
INFO
1
23.970
0 01 FC 00h
:
0 01 FFFEh
256
(ウォブル
24.000
0 02 00 00h
グルーブ）
データ
ゾーン0
:
:
LAA
488288
INFO 3/4
58.000
LAA + 2h
:
:
LAA +498h
294
DCZ
0
58.014
LAA + 49Ah
:
LAA + 1008h
732
情報ゾーン
トラッキング方向
外側ゾーン0
58.050
LAA + 100Ah
:
---
終了半径
58.5 mm
リム領域
開始半径
58.5 mm
ゾーンの最後の
PAA
保護ｿﾞｰﾝ1
保護ゾーン2
保護ゾーン３
0 01 90 00h
0 01 9C B6h
814
バッファ
ゾーン
23.132
L0層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
ゾーンの最初の
PAA
:
物理
第1遷移領域
終了半径
11.5mm
開始半径
11.5 mm
終了半径
16.5 mm
第2遷移領域
開始半径
16.5 mm
終了半径
21.0 mm
開始半径
21.0 mm
“
グルーブﾞ
BCA
22.2
---
---
エンボス
HFM
(HFM
グルーブ）
PIC
22.510
(最初の
AUN =
000C 45 40h
:
最後の AUN =
000C 5A 7Eh)
2720
(×4KB)
23.091
:
300
(
の一部)
INFO
2
23.232
:
256
OPC
0
23.263
:
情報領域
バッファ
ゾーン
23.513
:
記録可能
INFO
1
23.970
0 01 FC 00h
:
256
(
24.000
0 02 00 00h
:
:
INFO 3/4
58.000
:
:
294
DCZ
0
58.014
:
732
58.050
:
---
終了半径
58.5 mm
開始半径
58.5 mm
PAA
保護ｿﾞｰﾝ1
814
バッファ
ゾーン
23.132
図88−4層ディスクのL0層の情報ゾーンの構成
138
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
L1層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
ゾーンの最後の
PAA
:
物理
クラスタ数
終了半径
21.0mm
“幅広ピッチ”
グルーブ
ｳｫﾌﾞﾙ
ｸﾞﾙｰﾌﾞ
22.2
:
0 7E BD B8h
---
バッファ
ゾーン
22.509
0 7E BD B6h
:
0 7E 96 A8h
2500
OPC1
22.824
0 7E 96 A6h
:
0 7E 76 A8h
2048
23.079
0 7E 76 A6h
:
0 7E 72 A8h
256
TDMA 0
23.111
0 7E 72 A6h
:
0 7E 4E A8h
2 304
バッファ
ゾーン
23.394
0 7E 4E A6h
:
0 7E 04 00h
4778
情報領域
記録可能
INFO 1
23.970
0 7E 03 FEh
:
0 7E 00 00h
256
(ウォブル
24.000
0 7D FF FEh
グルーブ）
データ
ゾーン1
:
:
FAAa)
488288
INFO 3/4
58.000
FAA ‒2h
:
FAA ‒498h
294
DCZ1
58.014
FAA ‒49Ah
:
FAA ‒1008h
732
トラッキング方向
情報ゾーン
外側
ゾーン１
58.050
FAA ‒100Ah
:
---
開始半径58.5mm
ゾーンの最初の
PAA
保護ｿﾞｰﾝ1
INFO 2
保護ゾーン3
L1層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
PAA
:
物理
終了半径
21.0mm
“
ウォブル
グルーブ
22.2
:
0 7E BD B8h
---
バッファ
ゾーン
22.509
0 7E BD B6h
:
0 7E 96 A8
2500
OPC1
22.824
0 7E 96 A6h
:
0 7E 76 A8h
2048
23.079
0 7E 76 A6h
:
0 7E 72 A8h
256
内側ゾーン１
TDMA 0
23.111
0 7E 72 A6h
:
0 7E 4E A8h
2 304
バッファ
ゾーン
23.394
0 7E 4E A6h
:
0 7E 04 00h
4778
情報領域
記録可能
INFO 1
23.970
0 7E 03 FEh
:
0 7E 00 00h
256
(
24.000
0 7D FF FEh
:
:
FAA
488288
INFO 3/4
58.000
FAA ‒2h
:
FAA ‒498h
294
DCZ1
58.014
FAA ‒49Ah
:
FAA ‒1008h
732
外側
58.050
FAA ‒100Ah
:
---
開始半径58.5mm
PAA
保護ゾーン
INFO 2
注a)
01h
00
80
1
LAA
FAA
+
=
（15.7.4.3参照）
図89−4層ディスクのL1層の情報ゾーンの構成
139
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
開始半径
21.0 mm
“幅広ピッチ”
グルーブ
22.2
---
---
バッファ
ゾーン
22.509
081 42 48h
:
081 75 56h
3268
22.920
0 81 75 58h
:
0 81 79 56h
256
内側ゾーン2
バッファ
ゾーン
23.111
0 81 8D 58H
0 81 C7FEh
3 754
OPC 2
23.570
0 81 C8 00h
:
0 81 E7FEh
2048
情報領域
TDMA 2
23.817
0 81 E8 00h
:
0 81 FBFEh
1280
記録可能
INFO1
23.970
0 81 FC 00h
:
0 81 FFFEh
256
(ウォブル
24.000
0 82 00 00h
データ
ゾーン
:
:
488288
INFO 3/4
58.000
LAA 2 + 2h
:
:
LAA 2 + 498h
294
DCZ2
58.014
LAA2+ 49Ah
:
LAA2+ 10 08h
732
情報ゾーン
ﾄトラッキング方向
外側ゾーン2
58.050
LAA2 + 100Ah
:
---
終了半径58.5 mm
開始半径58.5 mm
L2層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
ゾーンの最初の
PAA
:
物理
ゾーンの最後の
PAA
保護ｿﾞｰﾝ1
INFO2
保護ゾーン3
0 81 79 58h
0 81 8D 56h
1 280
TDMA 1
22.952
ウォブル
グルーブ
開始半径
21.0 mm
“
22.2
---
---
バッファ
ゾーン
22.509
:
22.920
:
バッファ
ゾーン
23.111
OPC 2
23.
:
情報領域
TDMA 2
23.817
:
記録可能
INFO1
23.970
:
(
24.000
グルーブ）
:
:
LAA 2a)
INFO 3/4
58.000
:
:
DCZ2
58.014
732
58.050
:
---
終了半径58.5 mm
リム領域
開始半径58.5 mm
L2層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
クラスタ数
PAA
L2層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
PAA
保護ゾーン1
INFO2
TDMA 1
22.952
ウォブル
グルーブ
081 42 46h
注a) LAA2＝LAA＋0 80 00 00h（15.7.4.3参照）
図90−4層ディスクのL2層の情報ゾーンの構成
140
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
L3層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
:
物理
終了半径
21.0mm
“幅広ピッチ”
グルーブ
ｳｫﾌﾞﾙ
ｸﾞﾙｰﾌﾞ
22.2
:
0 FE BD B8h
---
OPC 3
22.509
0 FE BD B6h
:
0 FE 9D B8h
2048
バッファ
ゾーン
22.768
0 FE 9D B6h
:
0 FE 3C 00h
6254
23.539
0 FE 3B FEh
:
0 FE 38 00h
256
リードアウト
ゾーン
（内側ゾーン3
の部分）
TDMA 3
23.570
0 FE 37 FEh
:
0 FE 04 00h
3 328
:
情報領域
記録可能
INFO1
23.970
0 FE 03 FEh
:
0 FE 00 00h
256
(
24.000
0 7D FF FEh
グルーブ
データ
ゾーン3
:
:
FAA3a)
488288
INFO 3/4
58.000
FAA3 ‒2h
:
FAA3 ‒498h
294
DCZ3
58.014
FAA3 ‒49Ah
:
FAA3 ‒1008h
732
トラッキング方向
情報ゾーン
外側
ゾーン3
58.050
FAA3 ‒100Ah
:
---
開始半径58.5mm
最初のPAAゾーン
保護ｿﾞｰﾝ1
INFO 2
保護ゾーン3
L3層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
最後のPAAゾーン
:
物理
クラスタ数
終了半径
21.0mm
“
ウォブル
グルーブ
22.2
:
0 FE BD B8h
---
OPC 3
22.509
0 FE BD B6h
:
0 FE 9D B8h
2048
バッファ
ゾーン
22.768
0 FE 9D B6h
:
0 FE 3C 00h
6254
23.539
0 FE 3B FEh
:
0 FE 38 00h
256
リードアウト
ゾーン
TDMA 3
23.570
0 FE 37 FEh
:
0 FE 04 00h
3 328
:
情報領域
記録可能
INFO1
23.970
0 FE 03 FEh
:
0 FE 00 00h
256
(ウォブル
24.000
0 7D FF FEh
)
:
:
FAA3
488288
INFO 3/4
58.000
FAA3 ‒2h
:
FAA3 ‒498h
294
DCZ3
58.014
FAA3 ‒49Ah
:
FAA3 ‒1008h
732
58.050
FAA3 ‒100Ah
:
---
開始半径58.5mm
保護ゾーン1
INFO 2
注a)
01h
00
00
1
LAA
FAA3
+
=
（15.7.4.3参照）
図91−4層ディスクのL3層の情報ゾーンの構成
物理セクタの番号付けは，次のとおりとする。
− 各クラスタは，32物理セクタをもち，各物理セクタは，2Kデータバイトをもつ。ディスクに記録し
たデータには各物理セクタの番号は含まれないが，各物理セクタは，（仮の）物理セクタ番号（PSN）
と関連付けられる。
− PSNは，関連する記録層のトラッキング方向に続く物理セクタで一つずつ増加する。
− 各物理クラスタの最初の物理セクタのPSNは，32の倍数である。
− PSNのPS31〜PS28のビットは，リザーブ（領域）とする。
141
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− PSNのPS27〜PS25のビットは，層番号を設定する。
− データゾーン0の最初のPSNは，00 10 00 00hである。
− データゾーン0の最後のPSNは，8×LAA＋15で，次による。
− 3層ディスク： 01 08 9B FFh
− 4層ディスク： 00 FE 6B FFh
− データゾーン1の最初のPSNは，8×FAAで，次による。
− 3層ディスク： 02 F7 64 00h
− 4層ディスク： 03 01 94 00h
− データゾーン1の最後のPSNは，03 EF FF FFhである。
− データゾーン2の最初のPSNは，04 10 00 00hである。
− データゾーン2の最後のPSNは，8×LAA2＋15で，次による。
− 3層ディスク： 05 08 9B FFh
− 4層ディスク： 04 FE 6B FFh
− データゾーン3の最初のPSNは，8×FAA3で，次による。
− 4層ディスク： 07 01 94 00h
− データゾーン3の最後のPSNは，07 EF FF FFhである。
MSB
”0”
LSB
AU31
PS31
PS27
PS25
AU8
PS8
AU0
PS0
AU1
AU23
PS23
AU24
PS24
AU25
AU27
AU15
PS15
AU7
PS7
AU5
PS5
AU4
PS4
AU16
PS16
Physical-Sector Number
in Cluster
count
AA23
AA21AA20
AA0
AA1
AA2
AA15
AA16
AA17
AA7
AA8
Address Unit Number
set to
00, 01, 10
consecutively
set to
layer number
AA24
AA22
MSB
”0”
LSB
AU31
PS31
PS27
PS25
AU8
PS8
AU0
AA2
AA15
AA16
AA17
AA7
AA8
Address Unit Number
set to
00, 01, 10
consecutively
set to
Layer number
AA24
AA22
MSB
”0”
LSB
AU31
PS31
PS27
PS25
AU8
PS8
AU0
PS0
AU1
AU23
P
23
AU24
PS24
AU25
AU27
AU
AA22
最上位バイト
“０”
最下位バイト
AU31
S31
PS27
PS25
AU8
PS8
AU0
PS0
AU1
AU23
PS23
AU24
PS24
AU25
AU27
AU15
PS15
AU7
PS7
AU5
PS5
AU4
PS4
AU16
PS16
PSN
物理ADIPアドレス
クラスタ内
カウント
AA23
AA21AA20
AA0
AA1
AA2
AA15
AA16
AA17
AA7
AA8
連続で
00, 01, 10に設定
層番号に設定
AA24
AA22
P
アドレスユニット番号
図92−PSNから派生する物理ADIPアドレス
これらのPSNは，ECCクラスタのBIS列に記録するアドレスユニット番号に変換される（13.9.2.2参照）。
図92に規定するとおり，物理ADIPアドレスは，PSN及びAUNから派生する。このPAAによって，デ
ータを記録しなければならないディスクの場所が識別される。
142
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18 内側ゾーン
18.1 一般
L0層の情報ゾーンの最内ゾーンは，リードインゾーン（内側ゾーン0の一部）と呼ばれる。L1層及び
L2層では，内側ゾーン1及び内側ゾーン2と呼ばれる。4層ディスクのL3層では，リードアウトゾーン
（内側ゾーン3の一部）と呼ばれる。
内側ゾーン0（リードインゾーンの部分）は，エンボスHFM領域及び記録領域を含んでいる。内側ゾー
ン1，内側ゾーン2及び内側ゾーン3（リードアウトゾーン部分）は，エンボスウォブル部分及び記録領域
を含む（図93，図94，図95，図96，図97，図98及び図99参照）。
L0層のエンボスHFM領域で，全てのグルーブは，15.5及び細分箇条に規定するフォーマットでエンコ
ードする。
L0層でエンコードは，半径
0.0
1.0
2.
22
−mmで開始し，最初のクラスタのAUNを，次に設定する。
− 3層ディスク： AUN＝00 0B F8 E2h
− 4層ディスク： AUN＝00 0C 3A 1Ch
アドレスは，15.5.3.2に規定するとおり連続で増加させ，PICゾーンの最外半径の最後の4Kクラスタで，
3層ディスクではAUN＝00 0C 19 BEhで，4層ディスクでは00 0C 5A 7Ehで終了する。
内側ゾーン0の保護ゾーン1では，データフレームの内容は，全て00hに設定するか，又はPICゾーン
の内容と同じにするかのいずれかにできる。
保護ゾーン1は，PICゾーンがBCAコードで上書きされないように保護のためにある。
不変情報・制御データ（PIC）ゾーンは，ディスクの一般情報及び種々の他の情報をエンボスHFMグル
ーブに保存できる。
記録領域及びウォブルグルーブ領域（L1層，L2層及び4層ディスクのL3層の保護ゾーン1）では，全
てのグルーブを15.6の規定によってウォブルする。
各内側ゾーンの記録領域は，OPC（最適パワー制御）を実行すること及びディスク管理情報，制御情報
などのディスクに関する特有な情報を保存するために使用される。ドライブがその特有な情報を保存する
ために使用可能なゾーンも確保されている。
143
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
リードイン
ゾーン
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
---
---
---
エンボス
HFM
PIC
---
---
不変情報･制御データゾーン
---
0 01 83 38h
300
---
リザーブ（領域）8
0 01 B8 00h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）7
0 01 B8 80h
32
リザーブ（領域）6
0 01 B9 00h
32
リザーブ（領域）5
0 01 B9 80h
32
PAC 2
0 01 BA 00h
32
物理ｱｸｾｽ制御
DMA 2
0 01 BA 80h
32
ディスク管理
記録可能
コントロールデータ2
0 01 BB 00h
32
データ情報
INFO2
バッファ2
0 01 BB 80h
32
---
トラッキング方向
テストゾーン
0 01 BC 00h
2044
OPC テスト
OPC 0
OPC 0 バッファ
0 01 DB F0h
4
バッファ
TDMA 0
---
0 01 DC 00h
2048
仮ディスク管理領域
プリ記録領域
0 01 FC 00h
32
ドライブ校正
ドライブ領域
0 01 FC 80h
32
ドライブﾞ特有の情報
0 01 FD 00h
32
0 01 FD 80h
32
0 01 FE 00h
32
DMA 1
0 01 FE 80h
32
ディスク管理
コントロールデータ1
0 01 FF 00h
32
データ情報
INFO 1
PAC 1
0 01 FF 80h
32
物理アクセス制御
（データゾーン0）
0 02 00 00h
保護ゾーン1
保護ゾーン2
ドライブﾞ領域
ドライブﾞ領域
ドライブﾞ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブﾞ特有の情報
ドライブﾞ特有の情報
ドライブﾞ特有の情報
バッファ
---
0 01 87 E8h
3 078
---
図93−3層ディスクのリードインゾーン
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
144
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記録可能
コントロールデータ2
0 7E 44 80h
32
データ情報
DMA 2
0 7E 45 00h
32
ディスク管理
PAC 2
0 7E 45 80h
32
物理アクセス制御
リザーブ（領域）5
0 7E 46 00h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）6
0 7E 46 80h
32
リザーブ（領域）7
0 7E 47 00h
32
トラッキング方向
INFO2
リザーブ（領域）8
0 7E 47 80h
32
内側
ゾーン1
記載事項
ゾーンの最初
のPAA
物理クラスタ数
目的
（データゾーン1）
PAC 1
0 7E 00 00h
32
物理アクセス制御
コントロールデータl
0 7E 00 80h
32
データ情報
DMA 1
0 7E 01 00h
32
ディスク管理
ドライブ領域
0 7E 01 80h
32
ドライブﾞ特有の情報
0 7E 02 00h
32
0 7E 02 80h
32
0 7E 03 00h
32
INFO1
プリ記録領域
0 7E 03 80h
32
ドライブﾞ校正
リザーブ（領域）
---
0 7E 04 00h
2048
将来の拡張
TDMA1
---
0 7E 24 00h
2048
仮ディスク管理領域
バッファ2
0 7E 44 00h
32
---
---
0 7E 48 00h
1894
OPC1
ﾃｽﾄｿﾞｰﾝ
0 7E 65 98h
2048
OPCテスト
バッファ
---
0 7E 85 98h
4104
---
ウォブル
グルーブ
保護ゾーン1
---
---
ドライブﾞ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブﾞ特有の情報
ドライブﾞ特有の情報
ドライブﾞ特有の情報
将来の拡張
0 7E C5 B8h
リザーブ（領域）
図94−3層ディスクの内側ゾーン1
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ校正
145
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
内側
ゾーン 2
記載事項
ゾーンの最初
のＰＡＡ
物理クラスタ数
目的
ウォブル
グルーブ
保護ゾーン
1
---
---
---
バッファ
---
0 81 3A 48h
200
---
0 81 3D 68h
2 044
OPC 2
OPC 2 バッファ
0 81 5D 58h
4
バッファ
リザーブ（領域）
---
0 81 5D 68h
1 600
将来の拡張
0 8
32
0 8
32
0 8
32
0 8
32
0 8
32
DMA 2
0 8
32
ディスク管理
記録可能
コントロールデータ
0 8
32
データ情報
INFO 2
バッファ
0 8
32
---
トラッキング
TDMA 2
---
0 8
2 048
バッファ
---
0 81 9A 68h
6 246
---
プリ記録領域
0 8
32
ドライブ校正
ドライブ領域
0 8
32
ドライブ特有の情報
0 8
32
0 8
32
0 8
32
DMA 1
0 8
32
ディスク管理
コントロールデータ
0 8
32
データ情報
INFO 1
0 8
32
将来の拡張
0 8
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
内側
ゾーン 2
記載事項
ゾーンの最初
のＰＡＡ
物理クラスタ数
目的
ウォブル
グルーブ
保護ゾーン1
---
---
---
バッファ
---
0 81 3A 48h
200
---
テストゾーン
0 81 3D 68h
2 044
OPCテスト
OPC 2
OPC 2 バッファ
0 81 5D 58h
4
バッファ
---
0 81 5D 68h
1 600
将来の拡張
0 81 76 68h
32
0 81 76 E8h
32
0 81 77 68h
32
0 81 77 E8h
32
0 81 78 68h
32
DMA 2
0 81 78 E8h
32
ディスク管理
記録可能
コントロールデータ2
0 81 79 68h
32
データ情報
INFO 2
バッファ2
0 81 79 E8h
32
---
方向
TDMA 2
---
0 81 7A 68h
2 048
仮ディスク管理領域
バッファ
---
0 81 9A 68h
6 246
---
プリ記録領域
0 81 FC 00h
32
ドライブ校正
ドライブ領域
0 81 FC 80h
32
ドライブ特有の情報
0 81 FD 00h
32
0 81 FD 80h
32
0 81 FE 00h
32
DMA 1
0 81 FE 80h
32
ディスク管理
コントロールデータ１
0 81 FF 00h
32
データ情報
INFO 1
0 81 FF 80h
32
将来の拡張
（データゾーン2）
0 82 00 00h
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
リザーブ（領域）8
リザーブ（領域）7
リザーブ（領域）6
リザーブ（領域）5
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
図95−3層ディスクの内側ゾーン2
146
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
リードイン
ゾーン
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
---
---
---
エンボス
HFM
PIC
---
---
不変情報･制御データゾーン
---
0 01 83 38h
300
---
リザーブ（領域）8
0 01 B8 00h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）7
0 01 B8 80h
32
リザーブ（領域）6
0 01 B9 00h
32
リザーブ（領域）5
0 01 B9 80h
32
PAC 2
0 01 BA 00h
32
物理ｱｸｾｽ制御
DMA 2
0 01 BA 80h
32
ディスク管理
記録可能
コントロールデータ2
0 01 BB 00h
32
データ情報
INFO2
バッファ2
0 01 BB 80h
32
---
トラッキング方向
テストゾーン
0 01 BC 00h
2044
OPC テスト
OPC 0
OPC 0 バッファ
0 01 DB F0h
4
バッファ
TDMA 0
---
0 01 DC 00h
2048
仮ディスク管理領域
プリ記録領域
0 01 FC 00h
32
ドライブ校正
ドライブ領域
0 01 FC 80h
32
ドライブﾞ特有の情報
0 01 FD 00h
32
0 01 FD 80h
32
0 01 FE 00h
32
DMA 1
0 01 FE 80h
32
ディスク管理
コントロールデータ1
0 01 FF 00h
32
データ情報
INFO 1
PAC 1
0 01 FF 80h
32
物理アクセス制御
（データゾーン0）
0 02 00 00h
保護ゾーン1
保護ゾーン2
ドライブﾞ領域
ドライブﾞ領域
ドライブﾞ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブﾞ特有の情報
ドライブﾞ特有の情報
ドライブﾞ特有の情報
バッファ
---
0 01 87 E8h
3 078
---
図96−4層ディスクのリードインゾーン
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
147
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記録可能
ｺﾝﾄﾛｰﾙﾃﾞｰﾀ2
0 7E 73 28h
32
ﾃﾞｰﾀ情報
DMA 2
0 7E 73 A8h
32
ﾃﾞｨｽｸ管理
PAC 2
0 7E 74 28h
32
物理ｱｸｾｽ制御
リザーブ（領域）5
0 7E 74 A8h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）6
0 7E 75 28h
32
リザーブ（領域）7
0 7E 75 A8h
32
ﾄﾗｯｷﾝｸﾞ方向
INFO2
リザーブ（領域）8
0 7E 76 28h
32
内側
ｿﾞｰﾝ1
記載事項
ｿﾞｰﾝの最初
のPAA
物理ｸﾗｽﾀ数
目的
（ﾃﾞｰﾀｿﾞｰﾝ1）
PAC 1
0 7E 00 00h
32
物理ｱｸｾｽ制御
ｺﾝﾄﾛｰﾙﾃﾞｰﾀl
0 7E 00 80h
32
ﾃﾞｰﾀ情報
DMA 1
0 7E 01 00h
32
ﾃﾞｨｽｸ管理
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ領域
0 7E 01 80h
32
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ特有の情報
0 7E 02 00h
32
0 7E 02 80h
32
0 7E 03 00h
32
INFO1
プリ記録領域
0 7E 03 80h
32
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ校正
バッファ
---
0 7E 04 00h
4778
将来の拡張
TDMA0
---
0 7E 4E A8h
2304
仮ディスク管理領域
ﾊﾞｯﾌｧ2
0 7E 72 A8h
32
---
OPC1
テストゾーン
0 7E 76 A8h
2048
OPC ﾃｽﾄ
ﾊﾞｯﾌｧ
---
0 7E 96 A8h
2500
---
ｳｫﾌﾞﾙ
ｸﾞﾙｰﾌﾞ
保護ｿﾞｰﾝ1
---
---
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ領域
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ領域
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ特有の情報
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ特有の情報
ﾄﾞﾗｲﾌﾞ特有の情報
0 7E BD B8h
図97−4層ディスクの内側ゾーン1
148
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
内側
ゾーン2
記載事項
ゾーンの最初
のＰＡＡ
物理クラスタ数
目的
ウォブル
グルーブ
保護ゾーン1
---
---
---
バッファ
---
0 81 42 48h
3 268
---
リザーブ（領域）80 81 75 58h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）70 81 75 D8h
32
リザーブ（領域）60 81 76 58h
32
リザーブ（領域）50 81 76 D8h
32
リザーブ（領域）
0 81 77 58h
32
DMA 2
0 81 77 D8h
32
ディスク管理
記録可能
コントロールデータ2
0 81 78 58h
32
データ情報
INFO 2
バッファ2
0 81 78 D8h
32
---
トラッキング方向
TDMA 1
---
0 81 79 58h
1 280
仮ディスク管理領域
バッファ
---
0 81 8D 58h
3 754
---
テストゾーン
0 81 C8 00h
2 044
OPC テスト
OPC 2
OPC 2 バッファ
0 81 E7 F0h
4
バッファ
TDMA 2
---
0 81 E8 00h
1 280
仮ディスク管理領域
プリ記録領域
0 81 FC 00h
32
ドライブ校正
ドライブ領域
0 81 FC 80h
32
ドライブ特有の情報
0 81 FD 00h
32
0 81 FD 80h
32
0 81 FE 00h
32
DMA 1
0 81 FE 80h
32
ディスク管理
コントロールデータ1
0 81 FF 00h
32
データ情報
INFO 1
リザーブ（領域）
0 81 FF 80h
32
将来の拡張
（データゾーン2）
0 82 00 00h
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
図98−4層ディスクの内側ゾーン2
149
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記録可能
ｺﾝﾄﾛｰﾙﾃﾞｰﾀ2
0 FE 38 80h
32
データ情報
DMA 2
0 FE 39 00h
32
ディスク管理
リザーブ（領域）
0 FE 39 80h
32
物理ｱｸｾｽ制御
リザーブ（領域）50 FE 3A 00h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）60 FE 3A 80h
32
リザーブ（領域）70 FE 3B 00h
32
トラッキング方向
INFO2
リザーブ（領域）80 FE 3B 80h
32
リードアウト
ゾーン
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
（データゾーン3）
リザーブ（領域）
0 FE 00 00h
32
コントロールデータl
0 FE 00 80h
32
データ情報
DMA 1
0 FE 01 00h
32
ディスク管理
ドライブ領域
0 FE 01 80h
32
ドライブ特有の情報
0 FE 02 00h
32
0 FE 02 80h
32
0 FE 03 00h
32
INFO1
プリ記録領域
0 FE 03 80h
32
ドライブ校正
TDMA3
---
0 FE 04 00h
3328
仮ディスク管理領域
バッファ2
0 FE 38 00h
32
---
バッファ
テストゾーン
0 FE 3C 00h
6254
OPC テスト
OPC 3
---
0 FE 9D B8h
2048
---
ウォブル
グルーブ
保護ゾーン1
---
---
ドライブ領域
ドライブﾞ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
0 FE BD B8h
将来の拡張
図99−4層ディスクのリードアウトゾーン
18.2 不変情報・制御データ（PIC）ゾーン
18.2.1 一般
不変情報・制御データ（PIC）ゾーンは，ディスク情報などの種々の目的のためのデータをもつエンボ
スHFM領域である。特にPICが供給されない場合は，全ての使用者データを（スクランブルする前の），
00hに設定する。不変情報・制御データ（PIC）は，L0層にだけ存在する。
18.2.2 PICゾーンの内容
PICゾーンは，PIC情報フラグメントを5回繰り返して構成する。ここに，各PICフラグメントは，544
のPICクラスタから構成されている（全体では2 720で，3層ディスクは図100，4層ディスクは図101参
照）。PICクラスタは，15.5の規定に従ってフォーマットする。
ドライブ領域
150
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
PIC情報フラグメントは，3層ディスクのL0層の各AUN，00 0C 04 80h，00 0C 08 C0h，00 0C 0D 00h，
00 0C 11 40h及び00 0C 15 80hで開始する。
PIC情報フラグメントは，4層ディスクのL0層の各AUN，00 0C 45 40h，00 0C 49 80h，00 0C 4D C0h，
00 0C 52 00h及び00 0C 56 40hで開始する。
PIC情報フラグメント番号
PICクラスタ番号
L0層のAUN
0
00 0C 04 80h
1
00 0C 04 82h
IF0
2
00 0C 04 84h
:
:
543
00 0C 08 BEh
0
00 0C 08 C0h
IF1
:
:
543
00 0C 0CFEh
0
00 0C 0D 00h
IF2
:
:
543
00 0C 11 3Eh
0
00 0C 11 40h
IF3
:
:
543
00 0C 15 7Eh
0
00 0C 15 80h
IF4
:
:
543
00 0C 19 BEh
図100−3層ディスクのPICゾーン
151
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
PIC情報フラグメント番号
PICクラスタ番号
L0層のAUN
0
00 0C 45 40h
1
00 0C 45 42h
IF0
2
00 0C 45 44h
:
:
543
00 0C 49 7Eh
0
00 0C 49 80h
IF1
:
:
543
00 0C 4D BEh
0
00 0C 4D C0h
IF2
:
:
543
00 0C 51 FEh
0
00 0C 52 00h
IF3
:
:
543
00 0C 56 3Eh
0
00 0C 56 40h
IF4
:
:
543
00 0C 5A 7Eh
図101−4層ディスクのPICゾーン
各情報フラグメントの最初のPICクラスタは，ADIP予備フレームにあるディスク情報ブロックの複製
をもつ（15.8.3及び図102参照）。ディスク情報予備フレームの最初の112バイトだけを含む（32パリティ
バイトは，除く。）。32 DIユニット以下の場合は，3 584バイトまでの残りのバイトは，00hに設定する。
各PIC情報フラグメントの最初のPICクラスタの最後の512バイトは，緊急制動（EB）データセットを
もつ（18.2.3及び図102参照）。
152
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
PIC クラスタ中の
バイト位置
内容
バイト数
0 〜111
DI ユニット0
112
112 〜223
DI ユニット1
112
:
:
112×28
3360 〜3471
DI ユニット30
112
3472 〜3583
リザーブ（領域）
112
3584 〜4095
EB データセット
512
図102−各情報フラグメントの最初のPICクラスタ
全ての他のPICクラスタは，アプリケーションに規定する場合を除いてリザーブ（領域）とする。
18.2.3 緊急制動
保護措置として，破壊的な誤動作を防ぐために，特別の取扱いを必要とするディスクを特定のモデルの
ドライブが認識するために使うことができるように，データセットを規定する。
このデータセットは，緊急制動（EB）データと呼ばれる。
EBデータは，各情報フラグメントの最初のPICクラスタの3 584バイト〜4 095バイトに規定する。EB
データは，EBヘッダ，EBデータフィールド及びEBフッタで構成される。EBデータフィールドは，例え
ば，ディスク又はドライブの破損を防ぐためというような，特定のドライブがディスクを扱うために特定
の動作を要求するという合意がある場合に限り，関係するディスク製造業者及びドライブ製造業者の相互
に導入する。最大で62個のEBデータフィールドを用意してもよい。
緊急制動データは，図103に示すとおり実装する。
153
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト番号
機能
記載事項
バイト数
3584 〜3585
識別子
2
3586
バージョン
1
3587
リザーブ（領域）
1
3588
リスト長
1
3589 〜3591
EB
ヘッダ
リザーブ（領域）
3
3592 〜3593
ドライブﾞ製造業者ID
-
2
3594 〜3595
ドライブモデル
2
3596 〜3597
ファームウェアバージョン
2
3598 〜3599
EB
データフィールド
1
ドライブアクション
2
:
:
:
:
:
:
:
:
(3584+i×8) 〜(3584+i ×8) + 1
2
(3584+i ×8) + 2 〜(3584+i ×8) + 3
2
(3584+i ×8) + 4 〜(3584+i ×8) + 5
2
(3584+i ×8) + 6 〜(3584+i ×8) + 7
EB
i
(1 ≦i≦N)
2
:
:
:
:
:
:
:
:
(3584+N×8) 〜(3584+N×8) + 1
2
(3584+N×8) + 2 〜(3584+N×8) + 3
2
(3584+N×8) + 4 〜(3584+N×8) + 5
2
(3584+N×8) + 6 〜(3584+N×8) + 7
EB
N
(N≦62)
2
[3584+(N+1)×8]
〜[3584+(N+1)×8] + 7
EB フッタ
終端子
8
[3584+(N+2) ×8] 〜4095
未使用
リザーブ（領域）
512 ‒(N+2) ×8
データフィールド
データフィールド
ドライブﾞ製造業者ID
ドライブﾞ製造業者ID
ドライブモデル
ドライブモデル
ファームウェアバージョン
ファームウェアバージョン
ドライブアクション
ドライブアクション
図103−緊急制動データの規定
バイト3 584〜3 585：EB識別子
これらのバイトは，“EB”の文字を表す，45 42hに設定する。
バイト3 586：EBバージョン
このバイトは，EBフォーマットのバージョン1を表す，01hに設定する。
バイト3 587：リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト3 588：長さNのEBリスト
このバイトは，EBデータフィールドの数を設定する。
EBデータフィールドがない場合は，このバイトは，00hに設定する。
バイト3 589〜3 591：リザーブ（領域）
これらのバイトは，00 00 00hに設定する。
ドライブ製造業者ID
ドライブ製造業者ID
ドライブ製造業者ID
154
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト(3 584＋i×8)〜(3 584＋i×8)＋1 (1≦i≦N)：ドライブ製造業者ID
これらの2バイトのフォーマット及び内容は，データ交換する受渡当事者間で合意が必要で，合意
がなければこれらのバイトは，00hに設定する。
バイト(3 584＋i×8)＋2〜(3 584＋i×8)＋3 (1≦i≦N)：ドライブモデル番号
これらの2バイトは，ドライブのモデル番号を表し，ドライブ製造業者が規定する。この規格は，
これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視する。
バイト(3 584＋i×8)＋4〜(3 584＋i×8)＋5 (1≦i≦N)：ドライブファームウェアバージョン
これらの2バイトは，ドライブのファームウェアバージョンを表し，ドライブ製造業者が規定する。
この規格は，これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視する。
バイト(3 584＋i×8)＋6〜(3 584＋i×8)＋7 (1≦i≦N)：ドライブ製造業者動作
これらの2バイトは，ドライブモデルが，ディスクを扱うために行う動作を表す。ドライブの製造
業者が規定する。この規格は，これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視
する。
バイト[3 584＋(N＋1)×8]〜[3 584＋(N＋1)×8]＋7 (0≦N≦62)：EB終端子
これらのバイトは，EBデータの最後を示すために，FF FF FF FF FF FF FF FFhに設定する。
バイト[3 584＋(N＋2)×8]〜4 095 (0≦N≦62)：リザーブ（領域）
これらのバイトは，リザーブ（領域）とする。
18.3 3層ディスクのリードインゾーンの記録領域
18.3.1 保護ゾーン2
このゾーンは300物理クラスタから構成され，PAA 0 01 83 38hから始まり，エンボスHFM領域から記
録領域への移行のバッファゾーンとしている（15.4.4参照）。
18.3.2 バッファ
この3 078物理クラスタのゾーンは，PAA 0 01 87 E8hで始まり，未記録のままとする。
18.3.3 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 B8 00hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
18.3.4 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 B8 80hから始まり，未記録のままとする。
18.3.5 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 B9 00hから始まり，未記録のままとする。
18.3.6 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 B9 80hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
155
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.3.7 INFO 2のPAC 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 0 01 BA 00hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために使用される（21.2参照）。このクラスタの未使用のクラスタは，未記録
のままとする。
18.3.8 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 BA 80hから始まりディスク管理システムが用い
る。ディスクがクローズされるまで（22.6参照）これらのクラスタは，未記録のままとする。
18.3.9 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 BB 00hから始まり制御情報が保存される。未使
用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.3.10
INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 BB 80hから始まり未記録のままとする。
18.3.11
OPC 0のテストゾーン
テストゾーンは2 044物理クラスタから構成され，PAA 0 01 BC 00hから始まり，テスト及び／又はOPC
のために予約されている。OPC 0領域は，18.3.12に従って用いる。
18.3.12
OPC領域の使用方法
18.3.12.1
OPCの順番
OPC領域は，PAAが減少する順番に連続して用いる。OPCで最初に用いる領域は，最後のPAAの終端
で終了する。OPC領域の最後に使える物理クラスタは，OPC領域の最初のPAAに位置する（図104参照）。
<< ----------<< -
n
>>--------------------------->>
トラック方向
L0層
OPC0/
L2層
OPC2
L1層
OPC1/
L3層
OPC3
n‒1
n‒2
1
2
3
4
OPC使用方向
n
n‒1
n‒2
1
2
3
OPC使用方向
トラック方向
4
PAA:
3層L0:001DBEEh
3層L2:0815D56h,
4層L0:001C0A6h,
4層L2:081E7EEh,
PAA:
3層L1:07E8596h
4層L1:07E96A6h,
4層L3:0FEBDA6h,
PAA:
3層L1:07E65A8h,n=2048
4層L1
:07E76B8h,n=2048
4層L3
:0FE9DB8h,n=2048
PAA:
3層L0:001BC00h,n=2044
3層L2:0813D68h,n=2044
4層L0:001A0B8h,n=2048
4層L2:081C800h,n=2044
L3層のOPC3は，4層ディスクのみ
図104−L0層，L1層，L2層及びL3層のOPC領域の使用方向
18.3.12.2
OPC物理クラスタの使用方法
OPCに用いる長さは，ドライブが選んでもよく，また，物理クラスタの整数倍に制限されない（図105
参照）。用いたOPC領域と未使用の領域との移行部分は，OPCマーカによって示す。いずれの二つの連続
156
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
するOPCマーカの間の距離も，16物理クラスタを超えてはならない。OPCが16物理クラスタよりも多く
必要な場合は，この要求事項を満たすようにOPCマーカを挿入する。OPCマーカは，少なくとも868 NWL
（一つのAUNと同じ。）の長さとし，この領域の変調度は，次による。
I8pp/I8H≧0.30。
クラスタ#N
クラスタ#N‒1
クラスタ#N‒2
クラスタ#P+1
記録方向
OPC領域
クラスタ#P
O
P
C
#
M
+
1
O
P
C
マ
ー
カ
#
M
O
P
C
#
M
O
P
C
マ
ー
カ
#
M
+
1
O
P
C
#
M
+
2
O
P
C
マ
ー
カ
#
M
+
2
OPC＃Mは，1クラスタの長さに等しく，OPC＃M＋1は，1クラスタを超え，OPC＃M＋2は1クラスタよりも短い。
図105−OPCマーカの位置の例
18.3.12.3
TDMAでのOPC更新
各OPCは，TDDSの中の“Lx層（x＝0,1,2及び3）のテストゾーンの次に使用できるPSN”を更新して
終了する（22.4.4参照）。
18.3.13
OPC 0のOPC 0バッファ
このゾーンは4物理クラスタから構成され，PAA 0 01 DB F0hから始まり，OPC 0領域からTDMA 0領
域へのバッファゾーンに用い未記録とする。
18.3.14
TDMA 0
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 01 DC 00hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
18.3.15
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 FC 00hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L0層を記録する最初のドライブによって，全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.3.16
INFO 1のドライブ領域
18.3.16.1
一般
このゾーンはPAA 0 01 FC 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は，任意である。
このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用でき，その情報を作ったドライブ
に限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，次のフォーマットを用いる。この
ゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.3.16.2
ドライブ特有の情報のフォーマット
各ドライブ特有の情報は，一つの2Kデータフレーム中に収める。データフレームの最初の128バイト
に，次に示すフォーマットによって，当該のデータフレームを作ったドライブの署名を収納する。
157
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− JIS X 0201の文字セットによる文字で表す，製造業者名用の48バイト
− JIS X 0201の文字セットによる文字で表す，追加の識別用の48バイト
− ドライブ特有の連続番号用の32バイト
残りのデータフレームの1 920バイトは規定されず，各ドライブの設計者が自由に選べる。
この任意の領域を用いる最新の32ドライブのドライブ特有の情報を，新しく記録する物理クラスタに保
存する。新しいドライブが，このドライブ特有の情報を新しい物理クラスタに書き始めるごとに，最後に
記録された物理クラスタのデータフレーム31に位置する最も古いドライブ特有の情報は除され，最後に記
録された物理クラスタのデータフレーム0〜30の内容は，新しい物理クラスタのデータフレーム1〜31に
複製され，新しい情報はデータフレーム0に記録される（図106参照）。
ドライブ特有の情報を記録するために，PAA 0 01 FC 80hから始まる物理クラスタを初めに用いる。
物理クラスタ
データフレーム
(データフレーム0)
ドライブﾞi
製造業者名
(データフレーム1)
ドライブﾞi−1
1つの2K
セクタ
追加ID
ドライブﾞ領域
:
:
特有の連続番号
記録済み物理クラスタ
(データフレーム30)
ドライブﾞi−30
ドライブﾞ特有の情報
32 ×2K
セクタ
(データフレーム31)
ドライブﾞi−31
(データフレーム0)
新ドライブﾞ
(データフレーム1)
ドライブi
:
:
:
:
(データフレーム30)
ドライブﾞi−29
32 ×2K
セクタ
(データフレーム31)
ドライブﾞi−30
新規
記録済み物理クラスタ
最後の
記録済み物理クラスタ
未記録物理クラスタ
記録済み物理クラスタ
図106−ドライブ領域のフォーマット（例）
18.3.17
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 FE 80hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照）このクラスタは未記録のままとする。
18.3.18
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 01 FF 00hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.3.19
INFO 1のPAC 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 0 01 FF 80hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
158
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
まとする。
18.4 3層ディスクの内側ゾーン1の記録領域
18.4.1 バッファ
この4 104物理クラスタのゾーンは，PAA 0 7E 85 98hで始まり，未記録のままとする。
18.4.2 OPC 1のテストゾーン
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 65 98hから始まり，テスト及び／又はOPCの
ために予約されている。OPC 1領域は，18.3.12に従って用いる。
18.4.3 リザーブ（領域）
このゾーンは1 894物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 48 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.4 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 47 80hから始まるアプリケーションに依存して
いる。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，00hを記録する。
18.4.5 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 47 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.6 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 46 80hから始まり，未記録のままとする。
18.4.7 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 46 00hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除き，このゾーンは未記録のままと
する。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，00hを記録する。
18.4.8 INFO 2のPAC 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L1層のPAA 0 7E 45 80hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために使用される（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
まとする。
18.4.9 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 45 00hから始まり，ディスク管理システムが用
いる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは未記録のままとする。
18.4.10
INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 44 80hから始まり，制御情報が保存される。未
使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.4.11
INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 44 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.12
TDMA 1
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 24 00hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
159
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.4.13
リザーブ（領域）
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 04 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.14
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 03 80hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L1層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.4.15
INFO 1のドライブ領域
このゾーンは，PAA 0 7E 01 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は，任意である。このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用
でき，当該の情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，
18.3.16に規定するフォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.4.16
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 01 00hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.4.17
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 7E 00 80hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.4.18
INFO 1のPAC 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L1層のPAA 0 7E 00 00hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
まとする。
18.5 3層ディスクの内側ゾーン2の記録領域
18.5.1 バッファ
この200物理クラスタのゾーンは，PAA 0 81 3A 48hで始まり，未記録のままとする。
18.5.2 OPC 2のテストゾーン
テストゾーンは，2 044物理クラスタから構成され，PAA 0 81 3D 68hから始まり，テスト及び／又はOPC
のために予約されている。OPC 2領域は，18.3.12に従って用いる。
18.5.3 OPC 2のOPC 2バッファ
このゾーンは4物理クラスタから構成され，PAA 0 81 5D 58hから始まり，OPC 2領域から予備領域への
バッファゾーンに用い未記録のままとする。
18.5.4 リザーブ（領域）
このゾーンは1 600物理クラスタから構成され，PAA 0 81 5D 68hから始まり，未記録のままとする。
18.5.5 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 76 68hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
18.5.6 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 76 E8hから始まり，未記録のままとする。
160
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.5.7 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 77 68hから始まり，未記録のままとする。
18.5.8 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 77 E8hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは全て00hを記録する。
18.5.9 INFO 2のリザーブ（領域）
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 78 68hから始まり，未記録のままとする。
18.5.10
INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 78 E8hから始まり，ディスク管理システムが用
いる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは未記録のままとする。
18.5.11
INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 79 68hから始まり，制御情報が保存される。未
使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.5.12
INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 79 E8hから始まり，未記録のままとする。
18.5.13
TDMA 2
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 81 7A 68hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
18.5.14
バッファ
このゾーンは6 246物理クラスタから構成され，PAA 0 81 9A 68hから始まり，未記録のままとする。
18.5.15
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 FC 00hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L2層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.5.16
INFO 1のドライブ領域
このゾーンは，PAA 0 81 FC 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は，任意である。このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用
でき，当該の情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，
18.3.16 に規定するフォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.5.17
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 FE 80hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.5.18
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 81 FF 00hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.5.19
INFO 1のリザーブ（領域）
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 FF 80hから始まり，未記録のままとする。
161
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.6 4層ディスクのリードインゾーンの記録領域
18.6.1 保護ゾーン2
このゾーンは300物理クラスタから構成され，PAA 0 01 8B 50hから始まり，エンボスHFM領域から記
録領域への移行のバッファゾーンとしている（15.4.4参照）。
18.6.2 バッファ
この814物理クラスタのゾーンは，PAA 0 01 90 00hで始まり，未記録のままとする。
18.6.3 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 9C B8hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは全て00hを記録する。
18.6.4 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 9D 38hから始まり，未記録のままとする。
18.6.5 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 9D B8hから始まり，未記録のままとする。
18.6.6 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 9E 38hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは全て00hを記録する。
18.6.7 INFO 2のPAC 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 0 01 9E B8hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために使用される（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
まとする。
18.6.8 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 9F 38hから始まり，ディスク管理システムが用
いる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは未記録のままとする。
18.6.9 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 9F B8hから始まり，制御情報が保存される。未
使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.6.10
INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 A0 38hから始まり，未記録のままとする。
18.6.11
OPC 0のテストゾーン
テストゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 01 A0 B8hから始まり，テスト及び／又はOPC
のために予約されている。OPC 0領域は，18.3.12に従って用いる。
18.6.12
バッファ
このゾーンは3 794物理クラスタから構成され，PAA 0 01 C0 B8hから始まり，未記録のままとする。
162
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.6.13
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 FC 00hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L0層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.6.14
INFO 1のドライブ領域
このゾーンはPAA 0 01 FC 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は任意である。このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用で
き，当該の情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，
18.3.16に規定するフォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.6.15
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 01 FE 80hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.6.16
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 01 FF 00hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.6.17
INFO 1のPAC 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 0 01 FF 80hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
まとする。
18.7 4層ディスクの内側ゾーン1の記録領域
18.7.1 バッファ
この2 500物理クラスタのゾーンは，PAA 0 7E 96 A8hで始まり，未記録のままとする。
18.7.2 OPC 1のテストゾーン
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 76 A8hから始まり，テスト及び／又はOPC
のために予約されている。OPC 1領域は，18.3.12に従って用いる。
18.7.3 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 76 28hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは00hを記録する。
18.7.4 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 75 A8hから始まり，未記録のままとする。
18.7.5 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 75 28hから始まり，未記録のままとする。
18.7.6 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 74 A8hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
163
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは00hを記録する。
18.7.7 INFO 2のPAC 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L1層のPAA 0 7E 74 28hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために使用される（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
まとする。
18.7.8 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 73 A8hから始まり，ディスク管理システムが用
いる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは未記録のままとする。
18.7.9 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 73 28hから始まり，制御情報が保存される。未
使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.7.10
INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 72 28hから始まり，未記録のままとする。
18.7.11
TDMA 0
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 4E A8hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
18.7.12
バッファ
このゾーンは4 778物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 04 00hから始まり，未記録のままとする。
18.7.13
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 03 80hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L1層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.7.14
INFO 1のドライブ領域
このゾーンはPAA 0 7E 01 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は，任意である。このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用
でき，当該の情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，
18.3.16に規定するフォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.7.15
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 7E 01 00hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.7.16
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 7E 00 80hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.7.17
INFO 1のPAC 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L1層のPAA 0 7E 00 00hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは未記録のま
まとする。
18.8 4層ディスクの内側ゾーン2の記録領域
18.8.1 バッファ
この3 268物理クラスタのゾーンは，PAA 0 81 42 48hで始まり，未記録のままとする。
164
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.8.2 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 75 58hから始まる32物理クラスタから構成され
アプリケーションに依存している。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは00hを記録する。
18.8.3 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 75 D8hから始まり，未記録とする。
18.8.4 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成される，PAA 0 81 76 58hから始まり，未記録のままとする。
18.8.5 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 76 D8hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは00hを記録する。
18.8.6 INFO 2のリザーブ（領域）
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 77 58hから始まり，未記録のままとする。
18.8.7 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 77 D8hから始まり，ディスク管理システムが用
いる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは未記録のままとする。
18.8.8 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 78 58hから始まり，制御情報が保存される。未
使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.8.9 INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 78 D8hから始まり，未記録のままとする。
18.8.10
TDMA 1
このゾーンは1 280物理クラスタから構成され，PAA 0 81 79 58hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
18.8.11
バッファ
このゾーンは3 754物理クラスタから構成され，PAA 0 81 8D 58hから始まり，未記録のままとする。
18.8.12
OPC 2のテストゾーン
このゾーンは2 044物理クラスタから構成され，PAA 0 81 C8 00hから始まり，テスト及び／又はOPCの
ために予約されている。OPC 2領域は，18.3.12に従って用いる。
18.8.13
OPC 2のOPC 2 バッファ
このゾーンは4物理クラスタから構成され，PAA 0 81 E7 F0hから始まり，OPC 2領域からTDMA2領域
へのバッファゾーンに用い未記録のままとする。
18.8.14
TDMA 2
このゾーンは1 280物理クラスタから構成され，PAA 0 81 E8 00hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
165
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.8.15
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 FC 00hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L2層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.8.16
INFO 1のドライブ領域
このゾーンはPAA 0 81 FC 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は，任意である。このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用
でき，当該の情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，
18.3.16に規定するフォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.8.17
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 FE 80hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.8.18
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 81 FF 00hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.8.19
INFO 1のリザーブ（領域）
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 81 FF 80hから始まり，未記録のままとする。
18.9 4層ディスクのリードインゾーンの記録領域
18.9.1 OPC 3のテストゾーン
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 9D B8hから始まり，テスト及び／又はOPC
のために予約されている。OPC 3領域は，18.3.12に従って用いる。
18.9.2 バッファ
この6 254物理クラスタのゾーンは，PAA 0 FE 3C 00hから始まり，未記録のままとする。
18.9.3 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 3B 80hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは00hを記録する。
18.9.4 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 3B 008hから始まり，未記録のままとする。
18.9.5 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 3A 80hから始まり，未記録のままとする。
18.9.6 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 3A 00hから始まり，アプリケーションに依存し
ている。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除き，このゾーンは未記録のままと
する。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは00hを記録する。
166
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
18.9.7 INFO 2のリザーブ（領域）
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 39 80hから始まり，未記録のままとする。
18.9.8 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 39 00hから始まり，ディスク管理システムが用
いる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは未記録のままとする。
18.9.9 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 38 80hから始まり，制御情報が保存される。未
使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.9.10
INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 38 00hから始まり，未記録のままとする。
18.9.11
TDMA 3
このゾーンは3 328物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 04 00hから始まり，一時的な仮ディスク管理
として用いられる。
18.9.12
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 03 80hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L3層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.9.13
INFO 1のドライブ領域
このゾーンはPAA 0 FE 01 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。
このゾーンの使用は，任意である。このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用
でき，当該の情報を作ったドライブに限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，
18.3.16に規定するフォーマットを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.9.14
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 01 00hから始まり，ディスク管理システムに用
いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.9.15
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA0 FE 00 80hから始まり，制御情報を保存するために
用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.9.16
INFO 1のリザーブ（領域）
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 0 FE 00 00hから始まり，未記録のままとする。
19 データゾーン
データゾーンは，3層ディスクでは総計1 527 456クラスタの使用者データを収納でき，4層ディスクで
は総計1 953 152クラスタの使用者データを収納できる。
20 外側ゾーン
20.1 一般
3層ディスクでは，外側ゾーン0及び外側ゾーン1は，L0層のデータゾーンからL1層のデータゾーン
への遷移領域として機能している。外側ゾーン2は，リードアウトゾーンとしての機能をもっている（図
107及び図108参照）。
167
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
4層ディスクでは，外側ゾーン0及び外側ゾーン1は，L0層のデータゾーンからL1層のデータゾーン
への遷移領域として機能している。外側ゾーン2及び外側ゾーン3は，やはりL2層のデータゾーンから
L3層のデータゾーンへの遷移領域の機能をもっている（図109及び図110参照）。
外側
ゾーン0 / 2
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
バッファ4
LAAn+ 2h
32
---
INFO 3
DMA 3
LAAn+ 82h
32
ディスク管理
コントロールデータ3
LAAn+ 1 02h
32
データ情報
---
回転バッファ
LAAn+ 1 82h
102
---
DMA 4
LAAn+ 3 1Ah
32
INFO 4
コントロールデータ4
LAAn+ 3 9Ah
32
バッファ6
LAAn+ 4 1Ah
32
---
記録可能
トラッキング方向
DCZ 0/2
テストゾーン
LAAn+ 4 9Ah
760
ドライブ校正
---
保護ゾーン3
LAAn+10 7Ah
---
---
ディスク管理
データ情報
LAAnは，外側ゾーン0ではLAA及び外側ゾーン2ではLAA2である。
図107−3層ディスクの 外側ゾーン0又は2（リードアウトゾーン）
外側
ゾーン1
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
---
保護ゾーン3
---
---
DCZ1
テストゾーン
FAA −10 78h
760
ドライブﾞ校正
バッファ6
FAA−4 98h
32
---
コントロールデータ4
FAA−4 18h
32
データ情報
INFO 4
DMA 4
FAA−3 98h
32
ディスク管理
---
回転バッファ
FAA−318h
102
---
コントロールデータ3
FAA−1 80h
32
DMA 3
FAA−1 00h
32
記録可能
トラッキング方向
INFO 3
バッファ4
FAA−80h
32
---
データ情報
ディスク管理
---
図108−3層ディスクの外側ゾーン1
168
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
外側
ゾーン0 / 2
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
バッファ4
LAAn+ 2h
32
---
INFO 3
DMA 3
LAAn+ 82h
32
ディスク管理
コントロールデータ3
LAAn+ 1 02h
32
データ情報
---
回転バッファ
LAAn+ 1 82h
102
---
DMA 4
LAAn+ 3 1Ah
32
INFO 4
コントロールデータ4
LAAn+ 3 9Ah
32
バッファ6
LAAn+ 4 1Ah
32
---
記録可能
トラッキング方向
DCZ 0/2
テストゾーン
LAAn+ 4 9Ah
732
ドライブﾞ校正
---
保護ゾーン3
LAAn+10 0Ah
---
---
ディスク管理
データ情報
LAAnは，外側ゾーン0ではLAA及び外側ゾーン2ではLAA2である。
図109−4層ディスクの外側ゾーン 0又は 2
外側
ゾーン1 / 3
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
---
保護ゾーン3
---
---
DCZ 1/3
テストゾーン
FAAn-10 08h
7 32
ドライブ校正
バッファ6
FAAn-4 98h
32
---
コントロールデータ4
FAAn-4 18h
32
データ情報
INFO 4
DMA 4
FAAn-3 96h
32
ディスク管理
---
回転バッファ
FAAn-318h
102
---
コントロールデータ3
FAAn-1 80h
32
DMA 3
FAAn-1 00h
32
記録可能
トラッキング方向
INFO 3
バッファ4
FAAn-80h
32
---
データ情報
ディスク管理
---
FAAnは，外側ゾーン1ではFAA及び外側ゾーン3ではFAA3である。
図110−4層ディスクの外側ゾーン1又は3
20.2 外側ゾーンの記録領域
20.2.1 INFO 3のバッファ4
このゾーンは32物理クラスタから構成され，未記録のままとする。
20.2.2 INFO 3のDMA 3
このゾーンは32物理クラスタから構成され，ディスク管理システムに用いられる。ディスクがクローズ
されるまで（22.6参照），このクラスタは，L1層及びL2層で未記録のままとする。
169
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
20.2.3 INFO 3のコントロールデータ3
このゾーンは32物理クラスタから構成され，制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタ
は，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
20.2.4 回転バッファ
このゾーンは102物理クラスタから構成され，未記録のままとする。
20.2.5 INFO 4のDMA 4
このゾーンは32物理クラスタから構成され，ディスク管理システムに用いられる。ディスクがクローズ
されるまで（22.6参照），このクラスタは，L0層及びL1層で未記録のままとする。
20.2.6 INFO 4のコントロールデータ4
このゾーンは32物理クラスタから構成され，制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタ
は，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
20.2.7 INFO 4のバッファ6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，未記録のままとする。
20.2.8 DCZ 0のテストゾーン，DCZ 1のテストゾーン，DCZ 2のテストゾーン及びDCZ 3のテストゾー
ン
3層ディスクでは760物理クラスタから構成され，4層ディスクでは732物理クラスタから構成される，
これらのテストゾーンは，ドライブ校正のために予約されている。DCZ領域は，20.2.9に従って用いる。
20.2.9 DCZ領域の使用法
20.2.9.1 DCZ方法の順番
ドライブ校正ゾーンは，PAAが減少する順番に連続で用いる。校正に用いる最初の領域は，最後のPAA
の終端で終了する。DCZ領域最後の使用できる物理クラスタは，DCZ領域の最初のPAAの場所に位置し
ている（図111参照）。
<< ----------<< -
m
>>---------->>
トラック方向
L0層
DCZ0/
L2層
DCZ2
L1層
DCZ1/
L3層
DCZ3
m‒1m‒2
1
2
3
4
DCZ使用方向
m
m‒1
m‒2
1
2
3
DCZ使用方向
トラック方向
4
PAA
3層L1 :FAA‒49Ah
4層L1 :FAA‒49Ah
4層L3 :FAA3-49Ah
PAA
3層L0 :LAA+49Ah
3層L2 :LAA2+49Ah
4層L0 :LAA+49Ah
4層L2 :LAA2+49Ah
PAA
3層L0 :LAA+1078h
3層L2 :LAA2+1078h
4層L0 :LAA+1008h
4層L2 :LAA2+1008h
PAA
3層L1 :FAA‒1078h
4層L1 :FAA‒1008h
4層L3 :FAA3‒1008h
mは，3層ディスクでは760で4層ディスクでは732である。
図111−L0層，L1層，L2層及びL3層のDCZ領域の使用方向
170
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
20.2.9.2 DCZ物理クラスタの使用方法
1回の校正に用いる長さはドライブによって選ばれ，物理クラスタの整数倍には限定されない（図112
参照）。用いた校正領域と未使用の校正領域との移行部分は，校正マーカによって示す。いずれの二つの連
続する校正マーカの間の距離も，16物理クラスタを超えてはならない。校正が16物理クラスタよりも多
く必要な場合は，この要求事項を満たすように校正マーカを挿入する。校正マーカは，少なくとも，868
NWL（一つのAUNと同じ）の長さとし，この領域の変調度は，次による。
I8pp/I8H≧0.30
クラスタ#N
クラスタ#N‒1
クラスタ#N‒2
クラスタ#P+1
記録方向
DCZ領域
クラスタ#P
校
正
#
M
+
1
校
正
マ
ー
カ
#
M
校
正
#
M
校
正
マ
ー
カ
#
M
+
1
校
正
#
M
+
2
校
正
マ
ー
カ
#
M
+
2
校正＃Mは，ちょうど1クラスタの長さ，校正＃M＋1は，1クラスタを超え，校正＃M＋2は，1クラスタよりも短
い。
図112−校正マーカの位置の例
20.2.9.3 TDMAの更新
DCZゾーンで行われる各校正はいずれも，TDDSの該当する“Ln層（n＝0,1,2及び3）のドライブ校正
ゾーンの次に使用できるPSN”を更新して終了する（22.4.4参照）。
20.2.10
保護ゾーン3
このゾーンは，未記録のグルーブをもっている。
このゾーンのグルーブの全てのADIPユニットは，MSK-cosだけで変調し，HMWでは変調しない（15.6.2
参照）。
21 物理アクセス制御クラスタ
21.1 一般
物理アクセス制御（PAC）クラスタは，情報交換をする関係者間の追加情報を交換するために，ディス
ク上に構造を用意している。PACクラスタは，INFO 1のPAC 1ゾーンに記録する。また，バックアップ
複製は，INFO 2のPAC 2ゾーンに記録する。全てのPACクラスタは，PACヘッダを構成する最初の384
バイトのデータに関しては，同一のフォーマットとする。
将来，特別な応用又は機能について，新しいPACを規定できる。
新しいPACを導入する日付以前に設計されたドライブは，一般に，その新PACを解釈できないため，
そのようなPACをいわゆる“未知PAC”として取り扱う。PACのヘッダに規定される，標準の“未知PAC
ルール”に従うことによって，互換問題及び特別な応用のデータが不本意に破壊されることを可能な限り
避けることができる。
新PACの導入日以降に設計されたドライブは，新PACに関連した特定の応用又は機能が解釈できると
171
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
仮定できる。そのようなドライブは，“未知PACルール”を無視することができ，PACの“PAC特別情報”
フィールドに規定する規則を応用できる。そのような“既知PAC”に対し，“PAC特別情報”フィールド
に規定する場合を除き，物理的なアクセス制限はない。
注記 互換性を確保するために，次の状態となっている。
− ゾーンの配置の観点から，PAC 1及びPAC 2はL0層及びL1層だけに配置され，L2層及び
L3層の該当するゾーンは予備となっている。
− PACの内容の観点から，これらの予備のゾーンには追加の未知PACルールはなく，そしてこ
れらの予備ゾーンはPAC制御の対象外である。
21.2 PACゾーンの構成
L0層及びL1層のINFO 1のPAC 1ゾーンは一つの64クラスタの領域を構成し，PACの保存に使い，L0
層及びL1層のINFO 2のPAC 2ゾーンはもう一つの64クラスタの領域を構成し，PACの保存に使える。
各PACクラスタは，常に各PACクラスタの二つの複製が記録されるように，INFO 1のPAC 1及びINFO
2のPAC 2の両方のゾーンに記録する。PACは，最初にINFO 1のPAC 1ゾーンを更新し，次に，INFO 2
のPAC 2ゾーンに複製する。これによって，起こり得るパワーダウンによる失敗への対処が容易になる。
INFO 2のPAC 2に記録するPACクラスタのPAC更新カウントは，INFO 1のPAC 1に記録したPACクラ
スタのPAC更新カウントと同じにする。
INFO 1のPAC 1ゾーン及びINFO 2のPAC 2ゾーン両方の全ての位置の状態は，次に示す2ビットのパ
タンでTDDSに示す（22.4.4参照）。
b(n＋1)，bn
PAC位置の内容
00
未記録
（層がない場合も使用）
01
−
［このビット設定は，リザーブ（値）］
10
無効なPACを含む。a)
11
有効なPACを含む。
注a) TDDSで示される状態“10”のPACクラスタは，ドライ
ブの外に転送することが許されない（未知のPACルール
のビットb0及びビットb1の設定とは独立に設定する。）。
図113−PACの場所の状態
記録中に，PACクラスタが欠陥だと分かった場合，欠陥クラスタはスキップし，TDDSに無効であるこ
とを示し（図113参照），そしてそのPACを次に使えるクラスタに記録する。
PACを更新しなければならない場合，新バージョンのPACは，次の使えるクラスタに記録し，古いバー
ジョンのPACがある前の場所はTDDSに無効と示す。
21.3 PACクラスタの一般構成
PACクラスタの使用者データは，図114に従ってフォーマットする。最初の384バイトは，PACヘッダ
を構成している。
172
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
データフレーム
データフレーム中
のバイト位置
内容
バイト数
0
0〜2
PAC̲ID
3
0
3
PAC フォーマット
1
0
4〜7
PAC更新カウント
4
0
8〜11
未知PACルール
4
0
12
未知PAC ディスク全体フラグ
1
0
13〜14
リザーブ（領域）
2
0
15
セグメント数
1
0
16〜23
セグメント̲0
8
0
24〜31
セグメント̲1
8
0
32〜263
:
29 ×8
0
264〜271
セグメント̲31
8
0
272〜383
リザーブ（領域）
112
0
384
既知PACディスク全体フラグ
1
0
385〜387
リザーブ（領域）
3
0
388〜2 047
PAC特別情報
1660
1
0〜2 047
2048
:
:
:
:
30
0〜2 047
2048
31
0〜2 047
リザーブ（領域）
2048
PAC特別情報
PAC特別情報
図114−PACクラスタの一般構成
PAC̲IDは，PACクラスタの特別なタイプを識別する。
− 49 53 31hの設定の場合は，PACクラスタは，21.4に規定するIS1 PACである。
− 49 53 32hの設定の場合は，PACクラスタは，21.4に規定するIS2 PACである。
他のPAC̲IDの値は，将来のこの規格で設定できる。
INFO 1のPAC 1ゾーン又はINFO 2のPAC 2ゾーンに追加される新しい各PACは，これらのゾーンで使
える最初のクラスタ（TDDSで状態00で示され図113参照）に記録する。
PACフォーマットフィールドは，特定のPACのバージョン番号を示す。
PAC更新カウントは，現在のPACが更新された回数の総数を規定する。このフィールドは，最初のフ
ォーマット動作の間だけ00 00 00 00hに設定する，そして，現在のPACを更新するごとに一つ増やす。
未知PACルールは，PACの内容及び使用法が分からない（例えば，PAC̲IDが既知の値に設定されてい
ないなど）場合の要求する動作を規定する。これらのバイトは，32の個別ビットから構成されるフィール
ドを構成する（ビットb31はバイト8のmsbとし，ビットb0はバイト11のlsbとする。）。関係する領域（図
115参照）の中のいずれのクラスタに対しても，（PACが未知の場合），次に規定する動作をとる。使用者
データ領域の規定した動作は，セグメントが規定されている場合は規定したセグメント内だけで行い，セ
173
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
グメントが規定されていない場合は使用者データ領域全体のいずれのクラスタに対しても行う。
ドライブがディスク上の複数の既知のPACを見つけた場合は，未知PACルールのOR（論理和）をとっ
た動作をする（すなわち，PACの一つがある動作を排除した場合は，他のPACの同じ規則は，意味がない。）。
領域
ビット
制御タイプﾟ
必須設定
b31to b24
リザーブ（領域）
0000 0000
b23
記録
-
リザーブ（領域）8
b22
読取り
-
b21
“1”
リザーブ（領域）7
b20
-
b19
リザーブ（領域）6
b18
-
b17
-
INFO 2
リザーブ（領域）5
b16
-
b15
“0”
ドライブﾞ領域（パート4）
b14
b13
ドライブﾞ領域（パート3）
b12
b11
ドライブﾞ領域（パート2）
b10
b9
INFO 1
ドライブﾞﾞ領域（パート1）
b8
TDMA ゾーン（TDDSを含まない; 22.4.2参照）
b7
-
b6
アプリケーションに規定
する場合を除き
リザーブ（領域）
-
b5
-
INFO 1，2，3，4コントロールデータゾーン
b4
-
b3
-
データゾーン
使用者データ領域/セグメント
b2
-
b1
-
INFO 1&2
PACクラスタ
b0
-
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
“1”
“0”
“0”
“0”
“0”
“0”
“0”
“0”
“-”は，必須の設定が規定されないことを意味する。特定のPACでは，“0”又は“1”が許される。
図115−未知PACルールの一般的なビット設定
PACクラスタ以外の全てのゾーン又は領域で，ビットは，次の意味をもっている。
− 制御タイプ＝記録
− 設定が“0”の場合は，関連するゾーン又は領域の記録を許すことを示している。
− 設定が“1”の場合は，関連するゾーン又は領域の記録を許さないことを示している。
− 制御タイプ＝読取り
174
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− 設定が“0”の場合は，関連するゾーン又は領域の読取りを許すことを示している。
− 設定が“1”の場合は，関連するゾーン又は領域の読取りを許さないことを示している。
（“読取りを許さない”とは，関連する領域のクラスタのデータ内容の，ドライブの外への転送を許
さないことを意味している。）
PACクラスタでは，ビットは，次の意味をもっている。
− 制御タイプ＝記録
− 設定が“0”の場合は，現在のPACクラスタの書換え又はTDDSの状態ビットの変更を許すことを
示している。
− 設定が“1”の場合は，現在のPACクラスタの書換え及びTDDSの状態ビットの変更を許さないこ
とを示している。
− 制御タイプ＝読取り
− 設定が“0”の場合は，現在のクラスタの内容を読み取り，ドライブの外への転送することを許すこ
とを示している。
− 設定が“1”の場合は，最初のデータフレームの最初の384バイト以外は，現在のPACクラスタの，
ドライブの外への転送を許さないで，クラスタの内容を転送する前にPACヘッダ以外の全てのバイ
トを00hに設定するように強制されることを示している。
未知PACのディスク全体フラグバイトは，ディスク全体をカバーする，未知PACルールを規定してい
る。
− ビットb7〜b1：これらのビットは，リザーブ（領域）とする。
− ビットb0：このビットは“1”に設定し，再初期化は不可能であることを示す。
セグメント数は，現在のPACで規定しているセグメントの総数N（0≦N≦32）を規定する。
さらに，ディスクの全てのPACで規定するセグメントの総数は，32を超えない。
∑PAC
32
PAC
全ての
≦
のセグメント数
i
セグメント̲iフィールドは，セグメントと呼ばれるクラスタが連続した領域の，開始及び終了アドレス
を規定する。
セグメントは，セグメント̲0〜セグメント̲(N−1) (N≦32) までに割り当てる。一つのPAC中に規定す
るセグメントは重なることなく，アドレスの昇順に保存する。セグメントは，クラスタ境界だけで開始及
び終了する。iがN以上の場合の全てのセグメント̲iフィールドは，00hに設定する。
− セグメント̲iフィールドの最初の4バイトは，使う場合には，セグメントに所属する最初のクラスタ
の最初のPSNを入れる。
− そして，最後の4バイトは，セグメントに所属する最後のクラスタの最後のPSNを入れる。
これらのセグメントは，未知PACルールにだけ適用する。異なるPAC間でセグメントが重なる場合に
は，ドライブは，重なった領域で関連した未知PACルールに対してORを適用する。
既知PACのディスク全体フラグバイトは，ドライブがPACを解釈できる場合のディスク全体の規則を
175
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
規定する。
− ビットb7〜b1：これらのビットは，リザーブ（領域）とする。
− ビットb0：このビットは“1”に設定し，再初期化は不可能であることを示す。
21.4 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ
IS1 PAC及びIS2 PACは，未記録ディスクに記録してもよい。BCA符号が未記録ディスクに記録されて
いない場合には，ディスクの出荷前に，IS1 PAC及びIS2 PAC構造をINFO 1のPAC 1及びINFO 2のPAC
2に記録する。未記録ディスクにBCAコードが記録されている場合は，IS1及びIS2構造を記録しない。
IS1 PAC及びIS2 PACの構成は，図116に示すとおりフォーマットする。
データフレーム
データフレーム中
のバイト位置
内容
バイト数
0
0〜2
PAC̲ID
3
0
3
PAC フォーマット
1
0
4〜7
PAC更新カウント
4
0
8〜11
未知PAC ルール
4
0
12
未知PACディスク全体フラグ
1
0
13〜14
リザーブ（領域）
2
0
15
セグメント数
1
0
16〜23
セグメント̲0
8
0
24〜31
セグメント̲1
8
0
32〜263
:
29 ×8
0
264〜271
セグメント̲31
8
0
272〜383
リザーブ（領域）
112
0
384
既知PACディスク全体フラグ
1
0
385〜2 047
1663
1
0〜2 047
2048
:
:
:
:
31
0〜2 047
2048
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
図116−IS1 PAC及びIS2 PACクラスタの一般的な構成
PAC̲IDは，IS1 PACに対しては，文字“IS1”を表す，49 53 31hに設定する。PAC̲IDは，IS2 PACに
対しては，文字“IS2”を表す，49 53 32hに設定する。
PACフォーマットフィールドは，両方のPACを共に，バージョン0を示す00hに設定する。
PAC更新カウントは，両方のPACを共に，00 00 00 00hに設定する。
未知PACルールは，IS1 PACに対しては00 AA 00 00h，IS2 PACに対しては00 AA 00 CBhに設定する。
未知PACディスク全体フラグバイトは，両方のPACを共に，01hに設定する。
セグメント数は，両方のPACを共に，00hに設定する。
セグメント̲iフィールドは，両方のPACを共に，00hに設定する。
既知PACディスク全体フラグバイトは，両方のPACを共に，01hに設定する。
176
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
22 ディスク管理
22.1 一般
ディスク管理は，使用者データをディスクに記録する方法を規定し制御する。
22.2 記録管理
BD記録システムは，連続記録範囲情報（SRRI）構造によって管理される連続記録モード（SRM）がで
きる。
22.2.1 連続記録モード（SRM）
ディスクは，連続記録範囲（SRR）として参照される連続する領域をもっている。SRRの中で，使用者
データは，アドレスが増加する方向に連続に記録する。
SRRの位置及び状態の情報は，連続記録範囲情報（SRRI）構造の中に保存する。SRRIは，仮ディスク
管理領域（TDMA 22.3参照）の中に記録する。記録ディスクでは，最終のSRRIは，ディスク管理領域
（DMA）の中に記録される。
SRRは，クラスタの境界で開始させ，新しいデータが記録できる唯一の場所をもっている。
22.2.2 SRRへの使用者データの記録
連続記録の間，ホストコンピュータから2 KBの論理セクタの形で与えられた使用者データは，SRR中
に最後に記録されたセクタのすぐ後に追加する。しかし，ホストコンピュータが，SRRに記録するために
使うことができる次のアドレスを要求した場合に，ドライブは，次に使うことができるSRR中の完全に未
記録のクラスタの最初のPSNを返送する。このアドレスは，次記録可能アドレス（NWA）と呼ばれる。
連続記録の工程中に，NWAは，記録する使用者データのサイズに従って動的に物理クラスタの単位で増
加される。
連続記録が終わり，使用者データのサイズが物理クラスタの境界に合わない場合は，最後の物理クラス
タの残りの部分は，“0”データで埋め込む。ここに，埋込みデータが入った個々のデータフレームは，状
態ビットSai,1/Sai,0を“11”に設定して識別する（13.9.2.5参照）。NWAは，次の未記録のクラスタの最初
のセクタを示す。
SRR登録（22.4.6.4参照）は，SRRの使用者データ（埋込みデータではない。）で満たされた最後のセク
タを示す最終記録使用者データアドレス（LRAと同じ）をもっている（図117参照）。
1 セクタ
記録済み物理クラスタ
LRA
NWA
“ 0”
埋込み
記録
使用者データ
未記録
図117−記録使用者データ及び“0”の埋込みのある最後のRUBの例
22.2.3 SRR状態
SRRは，次の状態の一つをもつことができる。
− オープン： SRRは，有効なNWAをもち，データを追加できる。
− クローズ： SRRは，NWAがなくデータの追加が許されていない。
オープンSRRの数は，1とする。ディスクのDMAに記録中は，SRRは，クローズ状態とする。
177
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
22.2.4 SRRのクローズ
オープンSRRをクローズした場合には，オープンSRRのバイト数は，00hに設定する（22.4.6.3参照）。
任意で，一つ又はそれ以上のクラスタを全てのバイトを00hにして埋め込み，全てのデータフレームの状
態ビットSai,1/Sai,0を“11”に設定することができる。
SRRの残りの未記録のクラスタは，クローズ時に記録する必要はない。クローズSRRのLRAは，訂正
する。
22.3 仮ディスク管理領域（TDMA）
22.3.1 一般
記録管理情報は，使用中に何回も更新する必要となる場合がある。このために，リードインゾーン及び
リードアウトゾーンに，仮ディスク管理領域（TDMA）と呼ばれる特別な領域を使用できる。
3層ディスクには，三つのTDMAがある。L0層のリードイン中のTDMA 0，L1層の内側ゾーン1中の
TDMA 1及びL2層の内側ゾーン中のTDMA 3は，それぞれ，2 048物理クラスタの固定サイズとする。
4層ディスクには，四つのTDMAがある。L1層の内側ゾーン1中のTDMA 0は，2 304物理クラスタの
固定サイズとする。L2層の内側ゾーン2中のTDMA 1及びTDMA2は，それぞれ，1 280物理クラスタの
固定サイズとする。L3層の内側ゾーン3のTDMA 3は，3 328物理クラスタの固定サイズとする。
3層ディスクのTDMA 0，TDMA 1及びTDMA 2は，順番にTDMA 0，TDMA 1，TDMA 2 の順番に用い
る。
4層ディスクのTDMA 0，TDMA 1，TDMA 2及びTDMA 3は，順番にTDMA 0，TDMA 1，TDMA 2，
TDMA 3の順番に用いる。
各TDMAは，PSNが増加する方向に続けて埋めていく。実際のTDMSの全ての要素（22.4.2参照）を，
一つのTDMAの中に入れる。実際のTDMAの残りの空き領域が不十分な場合は，新しい完全なTDMSの
セットを次に使うことができるTDMAの中に作り，この次のTDMAの指標（22.3.2参照）を記録する。
TDMA全体の中で，未使用で残ったクラスタは，全てのデータフレームの状態ビットSai,1/Sai,0を“11”
に設定して00hデータを記録する。
22.3.2 TDMAアクセス指標
いずれのTDMAが現在使用されているのかを素早く見つけるために，TDMA 0の最初のクラスタを指標
として使う。この目的のために，3層ディスクでは最初の9クラスタを予約し，4層ディスクでは最初の
12クラスタを予約する。これらのTDMAアクセス指標クラスタは，図118及び図119に示すとおり，ア
ドレスが減る方向に用いる。
TDMA 0 .. TDMA (n−1)を完全に使い果たし，TDMA nを使用中の場合は，TDMA 1からTDMA nまでを
含む全ての指標を記録する。
ディスクがクローズされた場合は，DMAを指し示すTDMA 0の最初の指標クラスタも記録する。
さらに，現在使用中のTDMAの位置を素早く見つけるために，TDMAアクセス指標クラスタは，TDMA
アクセス指標が記録された場合の瞬間のディスクの状態によって，TDDSを含む。安定度を上げるために，
指標クラスタの全ての32データフレームは，実際の指標クラスタに関連してTDMAに記録した最初の
TDDSの複製を記録する。DMAが記録されたことを示すTDMA 0の最初の指標クラスタは，DMA1に記
録されるDDSを32回繰り返して保存する（22.5.4参照）。
178
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
TDMA0
指標クラスタ
L0
トラック方向
D
M
A
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
T
D
M
A
2
T
D
M
A
1
図118−3層ディスクのTDMA指標クラスタ
TDMA0
指標クラスタ
L1
トラック方向
T
D
M
A
1
T
D
M
A
2
T
D
M
A
3
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
D
M
A
図119−4層ディスクのTDMA指標クラスタ
22.4 ディスク管理構造（DMS）
22.4.1 一般
DMSは，ディスク管理及び記録モード情報のための構造をもつ。次の2種類のディスク管理構造がある。
− ディスク管理構造（DMS：22.6.3参照）は，（最後の仮ディスク管理構造にある，全てのディスク管理
情報を保存するため）ディスクをクローズする場合は，DMAゾーンに記録される。
− 仮ディスク管理構造（TDMS）は，ディスクがクローズされる場合を除き，TDMAゾーンに記録され
る。
22.4.2 仮ディスク管理構造（TDMS）
仮ディスク管理構造は，記録モードによって，次に示す三つの要素によって構成される。これらの要素
全てを，実際に使用中の同じTDMA nの中に置く。
連続記録モードでは，TDMSは，次に示すものによって構成する。
− 仮ディスク定義構造（TDDS）
− 仮欠陥リスト（TDFL）
− 連続記録範囲情報（SRRI）
TDMS更新ユニットを構成する，クラスタ中の最後のクラスタの最後のデータフレームは，常にTDDS
を含む。TDDSは，最後に記録されたTDFLクラスタ及びSRRIへのポインタをもっている。これらの要
素の一つ又はそれ以上が更新した後には，TDDSポインタを更新する。
TDMSは，最後に記録されたバージョンの，TDDS，TDFL及びSRRIで構成する。
TDMS更新ユニットは，各TDMAの中で，PSNが増える方向に順番に続けて記録する（22.3参照）。記
録中に物理クラスタが欠陥と分かった場合は，このクラスタはスキップし，TDMAの中で次に使える物理
クラスタにデータ記録を続ける。記録後のベリファイで，全部のTDMS更新ユニットを記録した直後に欠
179
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
陥クラスタが見つかったら，欠陥クラスタ及びTDMS更新ユニットの最後のクラスタだけをTDDS中の
TDFLポインタを更新するために，次に使える場所に再記録することが望ましい。この結果TDFLクラス
タのディスク上の記録順は，欠陥リストの順番と同じでなくともよい。最後のものは，TDDSのポインタ
で指示する。
22.4.3 連続記録モードのTDMS
連続記録モードでは，SRRIのためのTDMS更新ユニットは，最後のデータセクタに常に仮ディスク定
義構造（TDDS）をもち，TDDS直前のセクタに連続記録範囲情報（SRRI）ブロックをもつ（図120参照）。
SRRIブロックはセクタ境界で始め，SRRIブロック長は31データセクタで制限する。SRRIブロックは，
SRRI終端で終了する（図129参照）。
クラスタ
データフレーム
内容
0 .. 29
00hに設定
30
SRRI
(1 セクタ)
1ク
ラ
ス
タ
31
TDDS
(1セクタ）
図120−SRMのSRRI用のTDMS更新ユニットの例
TDFLは，TDMS更新ユニットの，最初のクラスタの最初のデータセクタから常に始まっている（図121
参照）。TDFLは，欠陥リスト終端で終了する（図127参照）。TDFLのためのTDMS更新ユニットのクラ
スタの最後のデータセクタは，TDDSをもつ。SRRI及びTDFLの両方が記録された場合，図121に示すと
おり，一つのTDMS更新ユニットの中で二つの構造を合成することができる。そこでは，TDFLは，TDMS
更新ユニットの先頭に位置し，SRRIは，最後のTDDSの直前に位置する。
クラスタ
データフレーム
内容
0
TDFL
(1 セクタ)
1 .. 29
00hに設定
30
SRRI
(1 セクタ)
31
TDDS
(1セクタ)
単一クラスタTDMS 更新ユニット
1
ク
ラ
ス
タ
図121−SRMの合わせたTDMS更新ユニットの例
22.4.4 仮ディスク定義構造（TDDS）
TDDSは，ディスクのフォーマット及び状態の情報をもっている。最後に記録したTDDSは，TDMSの
他の部分又は要素へのアドレスの参照情報となっている。TDDSのポインタは，全てTDDSそれ自体と同
じTDMAn内に位置する，以前に記録した構造（フォワードポインタではない。）だけのアドレスを指し示
す。TDDSのフォーマットは，図122で規定する。
180
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
TDDS識別子は，文字“DS”を表す44 53hに設定する。
TDDSフォーマットフィールドは，TDDSを識別する00hに設定する。
TDDS更新カウントは，TDDSの更新動作の総回数を規定する。このフィールドは，初期化の動作中に
は，00 00 00 00hに設定し，TDDSをディスクに記録するごとに一つ増やす。
181
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
ﾊﾞｲﾄ数
31
0〜1
TDDS識別子
2
31
2
TDDSフォーマット
1
31
3
リザーブ（領域）
1
31
4〜7
TDDS更新カウント
4
31
8〜15
リザーブ（領域）
8
31
16〜19
ドライブﾞ領域の最初のPSN (P̲DA)
4
31
20〜23
リザーブ(領域）
4
31
24〜27
欠陥リストの最初のPSN (P̲DFL)
4
31
28〜31
リザーブ（領域）
4
31
32〜35
使用者データ領域のLSN 0 の場所
-
4
31
36〜39
使用者データ領域の最後のLSN
4
31
40〜51
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
12
31
52
フラグﾞA
1
31
53〜55
リザーブ（領域）
3
31
56
プリ記録領域フラグ
1
31
57〜63
リザーブ（領域）
7
31
64〜71
L0層のINFO 1/ PAC 1の場所の状態ビット
8
31
72〜79
L0層のINFO 2 / PAC 2の場所の状態ビット
8
31
80〜87
L1層のINFO 1 / PAC 1の場所の状態ビット
8
31
88〜95
L1層のINFO 2 / PAC 2 の場所の状態ビット
8
31
96〜1 023
リザーブ（領域）
928
31
1024
記録モード
1
31
1025
〜1 027
3
31
1028
〜1 031
リザーブ（領域）
4
31
1032
〜1 035
使用者データ領域の最後の記録のアドレス
4
31
1036
〜1 039
リザーブ（領域）
4
31
1040
〜1 051
12
31
1052
〜1 087
リザーブ（領域）
36
31
1088
〜1 091
L0層のテストゾーンの次に使えるPSN (P̲TZ0)
4
31
1092
〜1 095
L1層のテストゾーンの次に使えるPSN (P̲TZ1)
4
31
1104
〜1 107
L0層のドライブﾞ校正ゾーンの次に使えるPSN(P̲CZ0)
4
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
31
1108
〜1 111
L1層のドライブﾞ校正ゾーンの次に使えるPSN(P̲CZ1)
4
31
1120
〜1 123
欠陥リストの最初のクラスタの最初のPSN （P̲1stDFL)
4
31
1124
〜1 151
28
31
1152
〜1 183
リザーブ（領域）
32
31
1184
〜1 187
連続記録領域情報の最初のPSN(P̲SRRI)
4
31
1188
〜1 211
24
31
1212
〜1 215
リザーブ（領域）
4
31
1216
〜1 247
32
31
1232
〜1 915
リザーブ（領域）
668
31
1916
〜1 919
4
31
1920
〜2 047
ドライブID: 製造業者名
追加ID
特有連続番号
48
48
32
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
31
1096
〜1 099
4
L2層のテストゾーンの次に使えるPSN (P̲TZ2)
31
1100
〜1 103
4
L3層のテストゾーンの次に使えるPSN (P̲TZ3)
31
1116
〜1 119
L3層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSN(P̲CZ3)
4
31
1112
〜1 115
L2層のドライブﾞ校正ゾーンの次に使えるPSN(P̲CZ2)
4
図122−TDDSのフォーマット
182
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ドライブ領域の最初のPSNフィールドは，最新のドライブ特有の情報をもつクラスタの最初のPSNを
規定する。ドライブ領域が未記録の場合は，このフィールドは，00 00 00 00hに設定する。
欠陥リストの最初のPSNフィールドは，TDMAに現れる全てのTDDSセクタで，00 00 00 00hに設定す
る。
ディスクがクローズされ最終のDDSをDMAに記録する場合に，このフィールドは，特定のDDSをも
つDMAゾーンの中にエラーなしで復元できる，最初の欠陥リストのPSNを規定する。エラーなしで欠陥
リストが保存できなかった場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
使用者データ領域のLSN 0の場所フィールドは，最初のクラスタの最初の使用者データフレームのPSN
を規定し，アプリケーションに規定する場合を除いて，00 10 00 00hに設定する。
使用者データ領域の最後のLSNフィールドは，使用者データを保存するために使うことができる，最後
のセクタの論理セクタ番号（LSN：箇条23参照）を規定し，アプリケーションに規定する場合を除いて，
3層ディスクでは02 E9 D3 FFhに設定し，4層ディスクでは03 B9 AF FFhに設定する。
8ビットフラグAフィールドは，3層又は4層ディスクの状態を規定する。アプリケーションに規定す
る場合を除いて，このバイトは，3層ディスクではビットb7及びb6を“0”に設定し，ビットb5，b4，b3，
b2，b1及びb0を“1”に設定し，4層ディスクではビットb7，b6，b5，b4，b3，b2，b1及びb0を“1”に設定
する。
8ビットプリ記録領域フラグフィールドは，各記録層のINFO 1のプリ記録領域の状態を規定する。層i
のプリ記録領域が記録されている場合は，ビットbiは“1”に設定し，未記録の場合は，biは“0”に設定
する。
L0層のINFO 1のPAC 1位置の状態ビットフィールドは，L0層のINFO 1のPAC 1ゾーンの，全ての
32クラスタの記録状態を規定する（図123参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
バイト位置
ビット
INFO1/PAC1 位置のPAA
64
b7b6
01 FF 80h
64
b5b4
01 FF 84h
64
b3b2
01 FF 88h
64
b1b0
01 FF 8Ch
65
b7b6
01 FF 90h
:
:
:
:
:
:
70
b1b0
01 FF ECh
71
b7b6
01 FF F0h
71
b5b4
01 FF F4h
71
b3b2
01 FF F8h
71
b1b0
01 FF FCh
図123−L0層の状態ビット及び関連するINFO 1のPAC 1のアドレス位置
L0層のINFO 2のPAC 2位置の状態ビットフィールドは，L0層のINFO 2のPAC 2ゾーンの全ての32
クラスタの記録状態を規定する（図109参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
183
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト位置
ビット
INFO2/PAC2 位置の
3層ディスクのPAA
INFO2/PAC2 位置の
4層ディスクのPAA
72
b7b6
0 01 BA 00h
0 01 9E B8h
72
b5b4
0 01 BA 04h
0 01 9E BCh
72
b3b2
0 01 BA 08h
0 01 9E C0h
72
b1b0
0 01 BA 0Ch
0 01 9E C4h
73
b7b6
0 01 BA 10h
0 01 9E C8h
:
:
:
:
:
:
:
:
78
b1b0
0 01 BA 6Ch
0 01 9F 24h
79
b7b6
0 01 BA 70h
0 01 9F 28h
79
b5b4
0 01 BA 74h
0 01 9F 2Ch
79
b3b2
0 01 BA 78h
0 01 9F 30h
79
b1b0
0 01 BA 7Ch
0 01 9F 34h
バイト位置
ビット
INFO2/PAC2 位置の
3層ディスクのPAA
INFO2/PAC2 位置の
4層ディスクのPAA
72
b7b6
0 01 BA 00h
0 01 9E B8h
72
b5b4
0 01 BA 04h
0 01 9E BCh
72
b3b2
0 01 BA 08h
0 01 9E C0h
72
b1b0
0 01 BA 0Ch
0 01 9E C4h
73
b7b6
0 01 BA 10h
0 01 9E C8h
:
:
:
:
:
:
:
:
78
b1b0
0 01 BA 6Ch
0 01 9F 24h
79
b7b6
0 01 BA 70h
0 01 9F 28h
79
b5b4
0 01 BA 74h
0 01 9F 2Ch
79
b3b2
0 01 BA 78h
0 01 9F 30h
79
b1b0
0 01 BA 7Ch
0 01 9F 34h
図124−L0層の状態ビット及び関連するINFO 2のPAC 2のアドレス位置
L1層のINFO 1のPAC 1位置の状態ビットフィールドは，L1層のINFO 1のPAC 1ゾーンの全ての32
クラスタの記録状態を規定する（図125参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
バイト位置
ビット
INFO1/PAC1 位置のPAA
80
b7b6
0 7E 00 00h
80
b5b4
0 7E 00 04h
80
b3b2
0 7E 00 08h
80
b1b0
0 7E 00 0Ch
81
b7b6
0 7E 00 10h
:
:
:
:
:
:
86
b1b0
0 7E 00 6Ch
87
b7b6
0 7E 00 70h
87
b5b4
0 7E 00 74h
87
b3b2
0 7E 00 78h
87
b1b0
0 7E 00 7Ch
バイト位置
ビット
INFO1/PAC1 位置のPAA
80
b7b6
0 7E 00 00h
80
b5b4
0 7E 00 04h
80
b3b2
0 7E 00 08h
80
b1b0
0 7E 00 0Ch
81
b7b6
0 7E 00 10h
:
:
:
:
:
:
86
b1b0
0 7E 00 6Ch
87
b7b6
0 7E 00 70h
バイト位置
ビット
INFO1/PAC1 位置のPAA
80
b7b6
0 7E 00 00h
80
b5b4
0 7E 00 04h
80
b3b2
0 7E 00 08h
80
b1b0
0 7E 00 0Ch
81
b7b6
0 7E 00 10h
:
:
:
:
:
:
86
b1b0
0 7E 00 6Ch
87
b7b6
0 7E 00 70h
87
b5b4
0 7E 00 74h
87
b3b2
0 7E 00 78h
87
b1b0
0 7E 00 7Ch
図125−L1層の状態ビット及び関連するINFO 1のPAC1のアドレス位置
L1層のINFO 2のPAC 2位置の状態ビットフィールドは，L1層のINFO 2のPAC 2ゾーンの全ての32
クラスタの記録状態を規定する（図126参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
184
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
バイト位置
ビット
INFO2/PAC2 位置の
3層ディスクのPAA
INFO2/PAC2 位置の
4層ディスクのPAA
88
b7b6
0 7E4580h
0 7E 74 28h
88
b5b4
0 7E4584h
0 7E 74 2Ch
88
b3b2
0 7E4588h
0 7E 74 30h
88
b1b0
0 7E458Ch
0 7E 74 34h
89
b7b6
0 7E4590h
0 7E 74 38h
:
:
:
:
:
:
:
:
94
b1b0
0 7E45ECh
0 7E 74 94h
95
b7b6
0 7E45F0h
0 7E 74 98h
95
b5b4
0 7E45F4h
0 7E 74 9Ch
95
b3b2
0 7E45F8h
0 7E 74 A0h
95
b1b0
0 7E45FCh
0 7E 74 A4h
バイト位置
ビット
INFO2/PAC2 位置の
3層ディスクのPAA
INFO2/PAC2 位置の
4層ディスクのPAA
88
b7b6
0 7E4580h
0 7E 74 28h
88
b5b4
0 7E4584h
0 7E 74 2Ch
88
b3b2
0 7E4588h
0 7E 74 30h
88
b1b0
0 7E458Ch
0 7E 74 34h
89
b7b6
0 7E4590h
0 7E 74 38h
:
:
:
:
:
:
:
:
94
b1b0
0 7E45ECh
0 7E 74 94h
95
b7b6
0 7E45F0h
0 7E 74 98h
95
b5b4
0 7E45F4h
0 7E 74 9Ch
95
b3b2
0 7E45F8h
0 7E 74 A0h
95
b1b0
0 7E45FCh
0 7E 74 A4h
図126−L1層の状態ビット及び関連するINFO 2のPAC 2のアドレス位置
記録モードフィールドは，使用者データ領域で使用者データが記録されるモードを規定する。アプリケ
ーションに規定する場合を除いて，このフィールドは，連続記録モードを示す00hに設定する。
使用者データ領域の最終記録アドレスフィールドは，ホストコンピュータから供給されたデータを記録
した使用者データ領域の中で，最も大きい番号の物理セクタのPSNを規定する。このアドレスは，使用者
データを含む最も大きい番号のSRRのLRAと一致する（22.4.6.4参照）使用者データが使用者データ領域
に記録されていない場合，このフィールドの値は，00 00 00 00hに設定する。
L0層のテストゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L0層のテストゾーンでテスト及びOPCを行う
ために，次に使えるクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のテストゾーンの場合のこのフィールドの
初期値は，3層ディスクでは00 0E DF 60hであり（L0層の大きい方のアドレスの4クラスタは，3層ディ
スクのバッファゾーンとして予備とする。），4層ディスクでは00 0E 05 A0hである。L0層のテストゾーン
に使用できるクラスタがない場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくTDMSを更新できない可能性がある。
L1層のテストゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L1層のテストゾーンでテスト及びOPCを行う
ために，次に使えるクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のテストゾーンの場合のこのフィールドの
初期値は，3層ディスクでは03 F4 2C A0hであり，4層ディスクでは03 F4 B5 20hである。L1層のテスト
ゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくTDMSを更新できない可能性がある。
L2層のテストゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L2層のテストゾーンでテスト及びOPCを行う
ために，次に使えるクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のテストゾーンの場合のこのフィールドの
初期値は，3層ディスクでは04 0A EA A0hであり，4層ディスクでは04 0F 3F 60hである（4層ディスクで
は，テストゾーンの大きい方のアドレスの4クラスタは，バッファゾーンとして予備とする。）。L2層のテ
ストゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくTDMSを更新できない可能性がある。
L3層のテストゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L3層のテストゾーンでテスト及びOPCを行う
ために，次に使えるクラスタの最初のPSNを規定する。3層ディスクでは，このフィールドは，00 00 00 00h
に設定する。未使用のテストゾーンの場合のこのフィールドの初期値は，07 F5 ED A0hである。L3層のテ
185
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ストゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくTDMSを更新できない可能性がある。
L0層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L0層のドライブ校正ゾーンでドライブの
校正のために使うことができる次のクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のドライブ校正ゾーンの場
合のこのフィールドの初期値は，3層ディスクでは8×(LAA＋10 76h)であり，4層ディスクでは8×(LAA
＋10 06h)である。L0層のドライブ校正ゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールドはFF FF
FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくDCZを更新できない可能性がある。
L1層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L1層のドライブ校正ゾーンでドライブの
校正のために使うことができる次のクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のドライブ校正ゾーンの場
合のこのフィールドの初期値は，8×(FAA−4 9Ch)である。L1層のドライブ校正ゾーンに使用できるクラ
スタがない場合は，このフィールドはFF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくDCZを更新できない可能性がある。
L2層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L2層のドライブ校正ゾーンでドライブの
校正のために使うことができる，次のクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のドライブ校正ゾーンの
場合のこのフィールドの初期値は，3層ディスクでは8×(LAA＋0 80 00 00h＋10 76h)であり，4層ディスク
では8×(LAA＋0 80 00 00h＋10 06h)である。L2層のドライブ校正ゾーンに使用できるクラスタがない場合
は，このフィールドはFF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくDCZを更新できない可能性がある。
L3層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L3層のドライブ校正ゾーンでドライブの
校正のために使うことができる，次のクラスタの最初のPSNを規定する。3層ディスクではこのフィール
ドは00 00 00 00hに設定する。未使用のドライブ校正ゾーンの場合のこのフィールドの初期値は8×(FAA
＋0 80 00 00h−4 9Ch)である。L3層のドライブ校正ゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィ
ールドはFF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくDCZを更新できない可能性がある。
欠陥リストの最初のクラスタの最初のPSNフィールドは，TDMAゾーンの，最新の仮欠陥リストの最
初のクラスタの最初のPSNを規定する。
連続記録範囲情報の最初のPSNフィールドは，TDMAゾーンの最新の連続記録範囲情報の最初のセク
タのPSNを規定する。
ドライブID：製造業者名，追加ID，特有連続番号フィールドは，このTDDSを記録したドライブを特
定する。これらの128バイトは，次のフォーマットによってドライブの識別サインをもつ（18.3.16ドライ
ブ領域参照）。
− 48バイトの製造業者名でJIS X 0201の文字セットで表される。
− 48バイトの追加情報でJIS X 0201の文字セットで表される。
− 32バイトのドライブの特有連続番号
22.4.5 仮欠陥リスト（TDFL）
22.4.5.1 一般
TDFLの最初のデータフレームは，欠陥リストヘッダをもち，その後欠陥リストが続く。欠陥リストは，
欠陥リスト終端子で終了する。
欠陥リストは，アプリケーションに規定する場合を除いてリザーブ（領域）とする。
186
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
22.4.5.2 TDFLデータ構造
TDFLデータフレームは，図127の構成とする。
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0〜63
欠陥リストヘッダ
64
64〜71
欠陥リスト終端子
8
0
72〜2047
00hに設定
1 976
図127−仮欠陥リストのフォーマット
欠陥リストヘッダ（DLH）は，欠陥リストを識別し，欠陥リストの構成の情報をもっている（22.4.5.3
参照）。
欠陥リスト終端子は，欠陥リストを終了し，実際の最後の欠陥リスト登録の直後に記録する。欠陥リス
ト終端子は，TDFLの最後のデータフレームの位置とする。
最後のデータフレームの，欠陥リスト終端子の後の残りのバイトは，00hに設定する。
22.4.5.3 欠陥リストヘッダ
図128に，欠陥リストヘッダのフォーマットを示す。
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0
0〜1
DFL識別子
2
0
2
DFLフォーマット
1
0
3
リザーブ（領域）
1
0
4〜7
DFL更新ｶｳﾝﾄ
4
0
8〜11
リザーブ（領域）
4
0
12〜23
アプリケーションに規定する場合を除き
リザーブ（領域）
12
0
24〜63
リザーブ（領域）
40
図128−欠陥リストヘッダのフォーマット
DFL識別子は，文字“DL”を表す，44 4Chに設定する。
DFLフォーマットフィールドは，DFLを識別する，00hに設定する。
DFL更新カウントは，欠陥リストの更新動作の総回数を規定する。このフィールドは，初期化動作中は，
00 00 00 00hに設定し，DFLをディスクに記録するごとに一つ増やす。
22.4.5.4 欠陥リスト終端子
欠陥リスト終端子は，次の二つの4バイト部分で構成する。
− 最初の4バイトは，FF FF FF FFhに設定する。
− 2番目の4バイトは，TDFLのヘッダのTDFL更新カウントと，同じにする（欠陥リストの有効性の確
認に使うことができる。）。
187
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
22.4.6 連続記録範囲情報（SRRI）
22.4.6.1 一般
SRRI構造は，連続記録モード（SRM）の記録状態を規定する。一つの構造で，単層及び2層の両方の
ディスクを包含している。SRRIのデータ構造は，22.4.6.2に規定される。
22.4.6.2 SRRIデータ構造
一つのセクタから構成されるSRRIの構造は，後にSRR登録リストが続くSRRIヘッダを含んでいる。
SRRI終端子は，SRR登録リストを終端する。
相対
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0〜63
SRRI ヘッダ
64
64〜71
SRR登録
8
72〜79
SRRI 終端子
8
30
80〜2047
00h設定
1 968
31
(TDDS)
図129−SRRIテーブルのフォーマット
SRRIヘッダはSRRIを識別し，SRR登録リストの構成についての情報を含んでいる（22.4.6.3参照）。
SRR登録は，SRRのリスト及びその関連する情報をもっている（22.4.6.4参照）。アプリケーションに規
定する場合を除いて，SRRの数は，一つである。
SRRI終端子はSRR登録のリストを終了し，実際のSRR登録リストの最後の登録直後に記録する
（22.4.6.5参照）。
SRRI終端子に続く残りのバイトは，データフレームの境界まで，00hに設定する。
22.4.6.3 SRRIヘッダ
SRRIヘッダは，図130に示すとおり構成する。
相対
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0〜1
SRRI識別子
2
2
SRRIフォーマット
1
3
リザーブ（領域）
1
4〜7
SRRI更新カウント
4
8〜11
リザーブ（領域）
4
12〜15
SRR登録数
4
16
開いているSRR数
1
17〜19
リザーブ（領域）
3
20〜21
開いているSRR番号
2
22〜51
アプリケーションに規定する場合を除き
リザーブ（領域）
30
30
52〜63
リザーブ（領域）
12
図130−SRRIヘッダ
SRRI終端子
188
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
SRRI識別子フィールドは，文字“SR”を表す，53 52hに設定する。
SRRIフォーマットフィールドは，SRRIを識別する，00hに設定する。
SRRI更新カウントは，SRRI構造の更新動作の総回数を規定する。このフィールドは，初期化動作中は，
00 00 00 00hに設定し，SRRI構造が更新されるごとに一つ増やす。
SRR登録数は，SRRI中のSRR登録の総数を規定する。アプリケーションに規定する場合を除いて，SRR
の数は一つである。
オープンSRR数フィールドは，状態が開のSRRの数を示す。アプリケーションに規定する場合を除い
て，このフィールドの最大値は1である。
オープンSRR番号は，状態がオープンのSRR番号を示す。
22.4.6.4 SRR登録
SRR登録は，図131に示すとおりフォーマットする。
SRR登録は，8バイトで構成し連続で記録される。
SRR登録のバイトは，msbが先頭の64ビット列に変換される。SRR登録リストは，増加する方向に，
各登録が単一の64ビット正の整数であるかのように保存する。アプリケーションに規定する場合を除いて，
SRR数は1に設定する。
バイト0 / ビット7..4
バイト0 / ビット3..0
& バイト1 〜3
バイト4/ ビット7バイト4 / ビット6..4
バイト4 / ビット3..0 &
バイト5 〜7
b63
..
b60
b59
.. b32
b31
b30
..b28
b27
..
b0
リザーブ（領域）
SRRの開始PSN
セッション開始
リザーブ（領域）
SRR中のLRA
SRR登録の
SRR登録の
SRR登録の
SRR登録の
SRR登録の
図131−SRR登録
SRRの開始PSNは，SRRの最初のクラスタの最初のPSNを規定し，アプリケーションに規定する場合
を除いて，00 10 00 00hに設定する。
セッション開始ビットは，このSRRがセッション中の最初のSRRかどうかを示し，アプリケーション
に規定する場合を除いて，“1”に設定する。
SRR中のLRAは，ホストコンピュータから供給されたデータを記録したSRR中の最後のセクタのPSN
を規定する。空のSRRでは，このフィールドの値は，0 00 00 00hに設定する。オープンSRRでは，NWA
及びLRAの関係は，次の式とする。
− LRA≠0 00 00 00hの場合は，NWA＝32×[floor(LRA/32)＋1]
− LRA＝0 00 00 00hの場合は，NWA＝SRRの開始PSN
22.4.6.5 SRRI終端子
SRRI終端子は，次の二つの4バイトの部分から構成する。
− 最初の4バイトは，FF FF FF FFhに設定する。
− 次の4バイトは，SRRI構造のヘッダ中のSRRI更新カウントに合わせる。
22.5 未記録（ブランク）ディスク構造
22.5.1 一般
未記録ディスクの幾つかのゾーンは，ディスク出荷前にプリ記録してもよい。ゾーンの未記録（ブラン
189
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ク）ディスクの状態を22.5にまとめる。
22.5.2 未記録ディスクのプリ記録領域
図132，図133，図134，図135，図136，図137及び図138に規定する未記録（ブランク）ディスクの
領域は，プリ記録してもよい。
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
プリ記録状態
参照
BCA
BCA
どちらかa)
---
---
---
PIC
PIC
---
---
記録
---
保護ゾーン2
0 01 83 38h
300
---
バッファ
---
0 01 87 E8h
3 078
未記録
リザーブ（領域）8
0 01 B8 00h
32
どちらかa)
18.3.3参照
リザーブ（領域）7
0 01 B8 80h
32
未記録
リザーブ（領域）6
0 01 B9 00h
32
未記録
リザーブ（領域）5
0 01 B9 80h
32
どちらかa)
18.3.6参照
PAC 2
0 01 BA 00h
32
どちらかa)
18.3.7参照
DMA 2
0 01 BA 80h
32
未記録
コントロールデータ2
0 01 BB 00h
32
未記録
INFO2
バッファ2
0 01 BB 80h
32
未記録
テストゾーン
0 01 BC 00h
2 044
どちらかa)
18.3.11参照
OPC0
OPC 0 バッファ
0 01 DB F0h
4
未記録
TDMA0
---
0 01 DC 00h
2 048
どちらかa)
18.3.14参照
プリ記録領域
0 01 FC 00h
32
どちらかa)
18.3.15参照
ドライブ領域
0 01 FC 80h
32
未記録
0 01 FD 00h
32
未記録
0 01 FD 80h
32
未記録
0 01 FE 00h
32
未記録
DMA 1
0 01 FE 80h
32
未記録
コントロールデータ1
0 01 FF 00h
32
未記録
INFO1
PAC 1
0 01 FF 80h
32
どちらかa)
18.3.19参照
（データゾーン0）
0 02 00 00h
未記録
箇条35参照
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
保護ゾーン1
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図132−3層ディスクのリードインゾーンのプリ記録領域
190
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
プリ記録状態
参照
(データゾーン1）
未記録
PAC 1
0 7E 00 00h
32
どちらかa)
18.4.18参照
コントロールデータ1
0 7E 00 80h
32
未記録
DMA 1
0 7E 01 00h
32
未記録
0 7E 01 80h
32
未記録
0 7E 02 00h
32
未記録
0 7E 02 80h
32
未記録
ドライブ領域
0 7E 03 00h
32
未記録
INFO1
プリ記録領域
0 7E 03 80h
32
どちらかa)
18.4.14参照
リザーブ（領域）
---
0 7E 04 00h
2 048
未記録
TDMA 1
---
0 7E 24 00h
2 048
未記録
バッファ2
0 7E 44 00h
32
未記録
コントロールデータ2
0 7E 44 80h
32
未記録
DMA 2
0 7E 45 00h
32
未記録
PAC 2
0 7E 45 80h
32
どちらかa)
18.4.8参照
リザーブ（領域）5
0 7E 46 00h
32
どちらかa)
18.4.7参照
リザーブ（領域）6
0 7E 46 80h
32
未記録
リザーブ（領域）７
0 7E 47 00h
32
未記録
INFO 2
リザーブ（領域）8
0 7E 47 80h
32
どちらかa)
18.4.4参照
リザーブ（領域）
---
0 7E 48 00h
1 894
未記録
OPC 1
テストゾーン
0 7E 65 98h
2 048
どちらかa)
18.4.2参照
バッファ
---
0 7E 85 98h
4 104
未記録
0 7E C5 B8h
---
保護ゾーン1
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図133−3層ディスクの内側ゾーン1のプリ記録領域
191
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
プリ記録条件
参照
保護ゾーン1
---
---
バッファ
---
0 81 3A 48h
200
未記録
テストゾーン
0 81 3D 68h
2 044
どちらかa)
18.5.2参照
OPC 2
OPC 2 バッファ
0 81 5D 58h
4
未記録
リザーブ(領域）
---
0 81 5D 68h
1 600
未記録
リザーブ（領域）8
0 81 76 68h
32
どちらかa)
18.5.5参照
リザーブ（領域）7
0 81 76 E8h
32
未記録
リザーブ（領域）6
0 81 77 68h
32
未記録
リザーブ（領域）5
0 81 77 E8h
32
どちらかa)
18.5.8参照
リザーブ（領域）
0 81 78 68h
32
未記録
DMA 2
0 81 78 E8h
32
未記録
コントロールデータ2
0 81 79 68h
32
未記録
INFO 2
バッファ2
0 81 79 E8h
32
未記録
TDMA 2
---
0 81 7A 68h
2 048
未記録
バッファ
---
0 81 9A 68h
6 246
未記録
プリ記録領域
0 81 FC 00h
32
どちらかa)
18.5.15参照
ドライブ領域
0 81 FC 80h
32
未記録
0 81 FD 00h
32
未記録
0 81 FD 80h
32
未記録
0 81 FE 00h
32
未記録
DMA 1
0 81 FE 80h
32
未記録
コントロールデータ1
081 FF 00h
32
未記録
INFO 1
リザーブ（領域）
0 81 FF 80h
32
未記録
（データゾーン2）
0 82 00 00h
未記録
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図134−3層ディスクの内側ゾーン2のプリ記録領域
192
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記載事項
ゾーンの最初
のPAA
物理クラスタ数
プリ記録条件
参照
BCA
BCA
どちらかa)
箇条35参照
保護ゾーン1
---
---
PIC
---
---
記録
---
保護ゾーン2
0 01 8B 50h
300
バッファ
---
0 01 90 00h
814
未記録
リザーブ（領域）8
0 01 9C B8h
32
どちらかa)
18.6.3参照
リザーブ（領域）7
0 01 9D 38h
32
未記録
リザーブ（領域）6
0 01 9D B8h
32
未記録
リザーブ（領域）5
0 01 9E 38h
32
どちらかa)
18.6.6参照
PAC 2
0 01 9E B8h
32
どちらかa)
18.6.7参照
DMA 2
0 01 9F 38h
32
未記録
コントロールデータ2
0 01 9F B8h
32
未記録
INFO 2
バッファ2
0 01 A0 38h
32
未記録
OPC 0
テストゾーン
0 01 A0 B8h
2 048
どちらかa)
18.6.11参照
バッファ
---
0 01 C0 B8h
3 794
未記録
プリ記録領域
0 01 FC 00h
32
どちらかa)
18.6.13参照
ドライブ領域
0 01 FC 80h
32
未記録
0 01 FD 00h
32
未記録
0 01 FD 80h
32
未記録
0 01 FE 00h
32
未記録
DMA 1
0 01 FE 80h
32
未記録
コントロールデータ1
0 01 FF 00h
32
未記録
INFO 1
PAC 1
0 01 FF 80h
32
どちらかa)
18.6.17参照
（データゾーン0）
0 02 00 00h
未記録
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図135−4層ディスクのリードインゾーンのプリ記録領域
193
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数プリ記録条件
参照
（データゾーン1）
未記録
PAC 1
0 7E 00 00h
32
どちらかa)
18.7.17参照
コントロールデータ1
0 7E 00 80h
32
未記録
DMA 1
0 7E 01 00h
32
未記録
ドライブ領域
0 7E 01 80h
32
未記録
0 7E 02 00h
32
未記録
0 7E 02 80h
32
未記録
0 7E 03 00h
32
未記録
INFO 1
プリ記録領域
0 7E 03 80h
32
どちらかa)
18.7.13参照
バッファ
---
0 7E 04 00h
4 778
未記録
TDMA 0
---
0 7E 4E A8h
2 304
どちらかa)
18.7.11参照
バッファ２
0 7E 72 A8h
32
未記録
コントロールデータ2
0 7E 73 28h
32
未記録
DMA 2
0 7E 73 A8h
32
未記録
PAC 2
0 7E 74 28h
32
どちらかa)
18.7.7参照
リザーブ（領域）50 7E 74 A8h
32
どちらかa)
18.7.6参照
リザーブ（領域）6 0 7E 75 28h
32
未記録
リザーブ（領域）７0 7E 75 A8h
32
未記録
INFO 2
リザーブ（領域）8 0 7E 76 28h
32
どちらかa)
18.7.3参照
OPC 1
テストゾーン
0 7E 76 A8
2 048
どちらかa)
18.7.2参照
バッファ
---
0 7E 96 A8h
2 500
未記録
0 7E BD B8h
---
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
保護ゾーン1
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図136−4層ディスクの内側ゾーン1のプリ記録領域
194
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
TDMA 2
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数 プリ記録条件
参照
---
---
バッファ
---
0 81 42 48h
3 268
リザーブ（領域）8
0 81 75 58h
32
どちらかa)
18.8.2参照
リザーブ（領域）7
0 81 75 D8h
32
未記録
リザーブ（領域）6 0 81 76 58h
32
未記録
リザーブ（領域）5
0 81 76 D8h
32
どちらかa)
18.8.5参照
リザーブ（領域）
0 81 77 58h
32
未記録
DMA 2
0 81 77 D8h
32
未記録
コントロールデータ2
0 81 78 58h
32
未記録
INFO 2
バッファ2
0 81 78 D8h
32
未記録
TDMA 1
---
0 81 79 58h
1 280
未記録
バッファ
---
0 81 8D 58h
3 754
未記録
テストゾーン
0 81 C8 00h
2 044
どちらかa)
18.8.12参照
OPC 2
OPC 2 バッファ
0 81 E7 F0h
4
未記録
---
0 81 E8 00h
1 280
未記録
プリ記録領域
0 81 FC 00h
32
どちらかa)
18.8.15参照
ドライブ領域
0 81 FC 80h
32
未記録
0 81 FD 00h
32
未記録
0 81 FD 80h
32
未記録
0 81 FE 00h
32
未記録
DMA 1
0 81 FE 80h
32
未記録
コントロールデータ1
0 81 FF 00h
32
未記録
INFO 1
リザーブ（領域）
0 81 FF 80h
32
未記録
（データゾーン2） 0 82 00 00h
未記録
保護ゾーン1
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図137−4層ディスクの内側ゾーン2のプリ記録領域
195
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
プリ記録条件
参照
（データゾーン3）
未記録
リザーブ（領域）
0 FE 00 00h
32
未記録
コントロールデータ1
0 FE 00 80h
32
未記録
DMA 1
0 FE 01 00h
32
未記録
ドライブ領域
0 FE 01 80h
32
未記録
0 FE 02 00h
32
未記録
0 FE 02 80h
32
未記録
0 FE 03 00h
32
未記録
INFO 1
プリ記録領域
0 FE 03 80h
32
どちらかa)
18.9.12参照
TDMA 3
---
0 FE 04 00h
3 328
未記録
バッファ2
0 FE 38 00h
32
未記録
コントロールデータ2
0 FE 38 80h
32
未記録
DMA 2
0 FE 39 00h
32
未記録
リザーブ（領域）
0 FE 39 80h
32
未記録
リザーブ（領域）5
0 FE 3A 80h
32
どちらかa)
18.9.6参照
リザーブ（領域）6
0 FE 3A 80h
32
未記録
リザーブ（領域）7
0 FE 3B 00h
32
未記録
INFO 2
リザーブ（領域）8
0 FE 3B 80h
32
どちらかa)
18.9.3参照
バッファ
---
0 FE 3C 00h
6 254
未記録
OPC 3
テストゾーン
0 FE 9D B8h
2 048
どちらかa)
18.9.1参照
0 FE BD B8h
---
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
保護ゾーン1
注a) 規定によって，ゾーンが記録される場合とされない場合とがあることを示す。
図138−4層ディスクのリードアウトゾーンのプリ記録領域
22.5.3 プリ記録のBCA
BCA符号は記録してもよいし，しなくてもよい。アプリケーションに規定する場合を除いて，BCA符
号は記録されない。BCA符号の変調及びフォーマットは，この規格では定めていない（箇条35参照）。
22.5.4 プリ記録のINFO 2のリザーブ（領域）5及びリザーブ（領域）8並びにプリ記録のINFO 1のプリ
記録領域
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，内側ゾーン0及び内側ゾーン1の両方で，INFO 2
のリザーブ（領域）5及びリザーブ（領域）8並びにINFO 1のプリ記録領域は，00hが記録される。未記
録ディスクにBCAが記録される場合は，これらのゾーンは未記録となる（18.3.6，18.4.7，18.5.8，18.6.6，
18.3.3，18.4.4，18.5.5，18.6.3，18.3.15，18.4.14，18.5.15及び18.6.13参照）。
196
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
22.5.5 プリ記録のINFO 1のPAC 1及びプリ記録のINFO 2のPAC 2
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，IS1及びIS2 PAC構造が，INFO 1のPAC 1及びINFO
2のPAC 2に記録される。未記録ディスクにBCA符号が記録される場合は，これらのゾーンは，未記録と
なり，IS1及びIS2 PAC構造は記録されない（21.4参照）。
22.5.6 OPC 0のテストゾーン，OPC 1のテストゾーン，OPC 2のテストゾーン及びOPC 3のテストゾー
ン
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，プリ記録ゾーンを記録するためのOPCを行うため
に，OPC 0テストゾーン，OPC 1テストゾーン，OPC 2テストゾーン及びOPC 3テストゾーンの幾つかの
クラスタを用いてもよい（18.3.11，18.4.2，18.5.2，18.6.11，18.7.2，18.8.12及び18.9.1参照）。
22.5.7 TDMA 0
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，図132，図133，図134，図135，図136，図137及
び図138に規定されたゾーンを記録してもよい。幾つかのゾーンが未記録ディスクに記録される場合は，
TDMA 0中のTDMSが，次のものを規定するために記録される。
− ゾーンが記録されている。
− LSN0から空のSRRが作られる。
− 幾つかのOPCクラスタが使用される。
22.5.8 ディスクの初期化
BDレコーダブルディスクは，使用前に初期化される。未記録ディスクで，仮ディスク管理構造及びプ
リ記録領域（18.3.15，18.4.14，18.5.15，18.6.13，18.7.13，18.8.15及び18.9.12参照）が記録されていない
場合は，これらの領域を使用者データ領域の記録の前に記録する。
新しく作ったTDMSの全ての更新フィールドを，“0”に設定する。TDMA 0の最初のクラスタに記録す
る。
アプリケーションに規定する場合を除いて，BDレコーダブルディスクは，連続記録モードにフォーマ
ットしてもよい。新しく作られた単一クラスタのTDMSは，次の要素をもっている（22.4.3及び図121参
照）。
− ヘッダ及び終端子だけをもちDFL登録がない空のTDFL
− 少なくとも一つのオープンSRRをもつSRRI（最初のSRRI登録は，“1”に設定したセッション開始
ビットをもつ。）
− 全ての適切な情報をもつTDDS（図122参照）
22.6 記録済み（クローズした）ディスク構造
22.6.1 一般
22.6に記録済みのディスク構造をまとめる。未記録ディスクへのデータ記録が終了した場合は，ディス
クの領域は，規定に従って記録される。TDMAの全てのクラスタが使用されたら，ディスクは記録済みデ
ィスクと扱う。
記録ディスクの，四つのDMAゾーン及びDMAアクセス指標（22.3.2参照）を記録する（これによって
クローズとなる。）。
22.6.2 DMAゾーン
DMAゾーンの構造は，データ記録が終了した場合のディスクの状態を規定している。SRR状態は，ク
ローズに設定し，TDMS構造を更新し，記録ディスクのTDMAに記録する。任意で，TDMAの残ってい
るクラスタを，全00hデータで記録できる（図139参照）。
197
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
他のディスクの未記録領域は，記録しなくてよい。
DMA2
DMA1
DMA3
DMA4
データゾーン
内側ゾーン
外側ゾーン
図139−ディスク管理領域
DMA1，2，3及び4は，最新のTDMSの情報の複製を記録する。
DMAゾーンのDDSは，これらのTDMSへの参照情報をもっている。
22.6.3 ディスク管理構造（DMS）
22.6.3.1 一般
ディスク管理構造（DMS）は，ディスク定義構造（DDS）及び欠陥リスト（DFL）で構成される。
DDSは，SRRIと一緒に1クラスタに統合され，堅ろう（牢）性を確保するために繰り返す。DFLは，3
層ディスク及び4層ディスクでは，八つの連続したクラスタから構成され，7回繰り返すことができる。
内側及び外側ゾーンのDMAゾーンに記録する全ての四つのDMSは，欠陥リストの最初のPSN（22.4.4，
DDSのデータフレーム0のバイト24参照）を除き同じ情報をもつ。
DMAゾーンは，想定されるパワーダウンに対応しやすくするために，DMA 1，DMA 2，DMA 3，DMA 4
の順番で更新する。
22.6.3.2 3層ディスクのディスク管理構造（DMS）
3層ディスクでは，DMAは図140に示すとおり，3記録層に分けられた96個のクラスタから構成され
る。
トラッキング方向
L0層
クラスタ
1
クラスタ
2
クラスタ
3
...
クラスタ
31
クラスタ
32
トラッキング方向
L1層
クラスタ
64
クラスタ
63
...
クラスタ
35
クラスタ
34
クラスタ
33
トラッキング方向
L2層
クラスタ
65
クラスタ
66
クラスタ
67
...
クラスタ
95
クラスタ
96
トラッキング方向
L0層
クラスタ
1
クラスタ
2
クラスタ
3
...
クラスタ
31
クラスタ
32
トラッキング方向
L1層
クラスタ
64
クラスタ
63
...
クラスタ
35
クラスタ
34
クラスタ
33
トラッキング方向
L2層
クラスタ
65
クラスタ
66
クラスタ
67
...
クラスタ
95
クラスタ
96
図140−3層ディスクのDMAのクラスタ
DDS＋SRRIは，特別な順番で（図141参照），各DMAの最初の6クラスタに記録する。DFLは，各DMA
のクラスタ9〜16へ記録され，任意でクラスタ17〜64へ繰り返してもよい（繰返しが適用されない場合は，
クラスタ17〜64は全て00hを記録する。）。
198
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
クラスタ1~6
DDS + SRRI
6回繰返し
クラスタ7~ 8
リザーブ（領域）
これらのクラスタは，
未記録で残す。
クラスタ9~ 16
DFLの最初の位置
DFL
クラスタ17~24
DFLの2番目の位置
DFLの任意の複製
又は，00h の使用者データ
クラスタ25~32
DFLの3番目の位置
:
:
:
クラスタ57~64
DFLの7番目の位置
クラスタ65~96
リザーブ（領域）
DFLの任意の複製
DFLの任意の複製
これらのクラスタは，
未記録で残す。
又は，00h の使用者データ
又は，00h の使用者データ
図141−3層ディスクのDMAゾーンの例
各クラスタ1〜6の最初のデータフレームは，DDSに指定され，このDDSをもつDMAゾーンのクラス
タ9，17..又は57の最初のPSNに設定する欠陥リストの最初のPSNを除き，最新のTDDSの複製を含む。
指定されたアドレスは，エラーなしで読み取れる最初の完全なDFLの記録場所を示す。
クラスタ1〜6のデータフレーム1（22.4.3参照）は，SRRIに指定され，TDMSから最新のSRRIの複製
を記録する。残りのデータフレーム2〜31は，全て00hとする。
DFLは，クラスタ9〜16に記録され，最新のTDFLの複製を記録する。ここに，TDFLは，8クラスタ
の長さになるまで，“0”データを埋める。DFLは，堅ろう（牢）さを確保するために，各DMA内の続き
の8クラスタグループに，最大7回繰り返してもよい。
22.6.3.3 4層ディスクのディスク管理構造（DMS）
4層ディスクでは，DMAは，図142に示すとおり，四つの記録層に分かれた128クラスタで構成される。
トラッキング方向
L0層
クラスタ
1
クラスタ
2
クラスタ
3
...
クラスタ
31
クラスタ
32
L1層
クラスタ
64
クラスタ
63
...
クラスタ
35
クラスタ
34
クラスタ
33
L2層
クラスタ
65
クラスタ
66
クラスタ
67
...
クラスタ
95
クラスタ
96
L3層
クラスタ
128
クラスタ
127
...
クラスタ
99
クラスタ
98
クラスタ
97
トラッキング方向
トラッキング方向
トラッキング方向
トラッキング方向
L0層
クラスタ
1
クラスタ
2
クラスタ
3
...
クラスタ
31
クラスタ
32
L1層
クラスタ
64
クラスタ
63
...
クラスタ
35
クラスタ
34
クラスタ
33
L2層
クラスタ
65
クラスタ
66
クラスタ
67
...
クラスタ
95
クラスタ
96
L3層
クラスタ
128
クラスタ
127
...
クラスタ
99
クラスタ
98
クラスタ
97
トラッキング方向
トラッキング方向
トラッキング方向
図142−4層ディスクのDMAのクラスタ
199
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
DDS＋SRRIは，特別な順番（図143参照）で各DMAの最初から奇数番の4クラスタに記録する（クラ
スタ1，3，5及び7）。
DFLは，各DMAのクラスタ9〜16へ記録され，任意でクラスタ17〜64へも繰り返してもよい（繰返し
が適用されない場合は，クラスタ17〜64は全て00hを記録する。）。
クラスタ1
クラスタ2
クラスタ3
DDS+SRRI
クラスタ4
クラスタ5
DDS+SRRI
クラスタ6
クラスタ7
DDS+SRRI
クラスタ8
クラスタ9 ~16
DFLの最初の位置
DFL
クラスタ17 ~24
DFLの2番目の位置
DFL の任意の複製
又は00hの使用者データ
クラスタ25 ~32
DFLの3番目の位置
:
:
:
クラスタ57 ~64
DFLの7番目の位置
クラスタ65~128
リザーブ（領域）
これらのクラスタは，未記録で残す
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
DDS+SRRI
このクラスタは，未記録で残す
このクラスタは，未記録で残す
このクラスタは，未記録で残す
このクラスタは，未記録で残す
又は00hの使用者データ
又は00hの使用者データ
DFL の任意の複製
DFL の任意の複製
図143−4層ディスクのDMAゾーンの例
各クラスタ1，3，5及び7の最初のデータフレーム0は，DDSに指定される。そのデータフレームは，
最新のTDDSの複製を含む。ただし，そのTDDSは，欠陥リストの最初のPSNを含まない。欠陥リスト
の最初のPSNは，このDDSをもつDMAゾーンのクラスタ9，17..又は57のいずれかの最初のPSNに，
設定する。その設定したアドレスは，エラーなしで読み取れる，最初の完全なDFLが記録されたことを示
す。
各クラスタ1，3，5及び7のデータフレーム1はSRRIに指定され，TDMSから最新のSRRIの複製を記
録する。残りのデータフレーム2〜31は全て00hとする。
DFLはクラスタ9〜16に記録され，最新のTDFLの複製を記録する。ここに，TDFLは，8クラスタの
長さになるまで“0”データを埋める。DFLは，堅ろう（牢）さを確保するために，各DMAゾーンの続き
の8クラスタグループに，最大7回繰り返してもよい。
23 論理セクタ番号（LSN）の割当て
使用者データを保存するために使用できる全てのクラスタについては，連続する使用者データフレーム
ごとに，LSN 0から始まって一つずつ増加する論理セクタ番号が連続で割り当てられる（図144参照）。
LSN 0は，（PSN＝00 10 00 00hにおいて）リードインゾーンの後の最初のクラスタの，最初の使用者デ
ータフレームに割り当てられる。
200
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
L0層の最後のLSNは，（PSN＝8×LAA＋15＝Xにおいて）8×LAA＋15−00 10 00 00hに等しく，外側
ゾーン0の前の最後のクラスタの，最後の使用者データフレームに割り当てられる。
L1層の最初のLSNは，（
00h
00
00
FC
FAA
8
PSN
+
=
×
=
X
において）L0層の最後のLSNよりも一つ大
きくし，外側ゾーン1の後の最初のクラスタの最初の使用者データフレームに割り当てる。
L1層の最後のLSNは，（PSN＝03 EF FF FFhにおいて）16×LAA＋31−00 20 00 00hに等しく，内側ゾ
ーン1の前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てられる。
L2層の最初のLSNは，（PSN＝04 10 00 00hにおいて）L1層の最後のLSNよりも一つ大きくし，内側ゾ
ーン2の後の最初のクラスタの最初の使用者データフレームに割り当てる。
L2層の最後のLSNは，（PSN＝04 00 00 00h＋8×LAA＋15＝X＋04 00 00 00hにおいて）24×LAA＋47−
00 30 00 00hに等しく，外側ゾーン2の前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てら
れる。
L3層の最初のLSNは，（
00h
00
00
F8
FAA
8
h
00
00
00
04
PSN
+
=
×
+
=
X
において）L2層の最後のLSNよ
りも一つ大きくし，外側ゾーン3の後の最初のクラスタの最初の使用者データフレームに割り当てる。
L3層の最後のLSNは，（PSN＝07 EF FF FFhにおいて）32×LAA＋63−00 40 00 00hに等しく，リード
アウトゾーンの前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てられる。
リードイン
ゾーン
外側
ゾーン0
外側
ゾーン1
内側
ゾーン1
内側
ゾーン2
リードアウト
ゾーン
L0層
L1層
L2層
内周
外周
外周
内周
内周
外周
00 10 00 00h
X
X+ FC 00 00 00h
03 EF FF FFh
04 10 00 00h
0
0
0
0
0
0
0
0
h
使用者
データ
領域
L
S
N
使用者
データ
領域
使用者
データ
領域
PSN
図144−論理セクタ番号の割当て
24 グルーブ領域の特性
箇条24〜箇条27で規定する信号値は，他に規定する場合を除き，全てのディスク容量で有効である。
この規格では，次の二つのタイプの信号を区別している。
− ディスクのグルーブ構造を再生した信号
− 使用者が記録した，マークを再生した信号
箇条25〜箇条27は，グルーブ構造を再生した信号を定義し規定する（グルーブのフォーマットは，箇
条15に規定されている。）。
箇条25〜箇条27の全ての要求事項を，他の層の記録状態（未記録，記録又は部分記録）に関係なく，
公称半径22.4 mmのエンボスHFM領域（PICゾーンの開始又は終了）の内径と外側ゾーンの半径＋20 μm
（dDZO/2＋20 μm）との間で全ての層で満たす。要求事項は，外周ゾーンの残りの領域でも満たすことが望
201
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ましい。
25 グルーブ領域の試験方法
25.1 一般
試験は，記録領域で行う。試験に必要な記録及び読取りの動作は，同じ基準ドライブで行う。
信号の測定をする場合は，ほこり，きずなどの局所欠陥の影響は除外される。局所欠陥は，トラッキン
グエラー及び訂正不能データの原因となる可能性がある（箇条34参照）。
25.2 環境条件
ディスクが，8.1.1に規定した許容される環境条件外の場合を除き，全ての信号は規定する範囲内とする。
25.3 基準ドライブ
25.3.1 一般
全ての信号は，基準ドライブの適したチャネルで，箇条9及び附属書Hの規定に従って測定する。
25.3.2 読取りパワー
読取りパワーは，ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。プッシ
ュプル信号測定の場合以外の読取りパワーは，3層ディスクのL0層及びL1層並びに4層ディスクのL0
層，L1層及びL2層では(1.20±0.10) mW，そして，3層ディスクのL2層及び4層ディスクのL3層では(1.10
±0.10) mWとする。プッシュプル信号測定のための読取りパワーは，3層ディスク及び4層ディスクで(0.70
±0.10) mWとする。
25.3.3 読取りチャネル
ドライブは，9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は波形等化しない。
プッシュプル信号の測定には，半径方向PP読取りチャネルに，次の特性をもつ1次のLPFを通す。
f−3dB＝30 kHz
ウォブル信号の測定には，半径方向PP読取りチャネルに，次の特性をもつ1次のLPFを通す。
f−3dB＝16 MHz
25.3.4 トラッキング要求事項
信号を測定する間に，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーはemax(axial)とし，
次による。
emax(axial)＝80 nm
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーはemax(radial)とし，次による。
emax(radial)＝20 nm
4xディスクで，大きなトラッキングエラーを起こす局所欠陥の扱いは，I.10の規定に従う。
25.3.5 走査速度
プッシュプル信号測定の場合以外の実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが132.000
Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周波数が1 913.043 kHzとなる速度とする。
プッシュプル信号測定の場合の実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが66.000
Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周波数が956.522 kHzとなる速度とする。
25.4 信号の規定
全ての信号の振幅は，フォトディテクタの電流と線形関係にあり，それゆえ，ディテクタに当たる光パ
ワーと線形関係にある。
202
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
幾つかの信号は，未記録のグルーブ領域の全ディテクタ電流で正規化される。
この全ディテクタ電流は，次の式で表す。
IG＝(I1＋I2)groove
プッシュプル信号は，次のとおりとする。
− プッシュプル信号は，光ビームの焦点がトラックを横切る場合の，低域通過フィルタを通した半径方
向PP読取りチャネルの正弦波状差信号（I1−I2）（図5参照）である。プッシュプル信号は，ドライブ
の半径方向の，トラッキング動作に使用できる（図145参照）。
− 通常，差信号（I1−I2）は，低域通過フィルタを通した全ディテクタ電流（I1＋I2）で正規化される。
この実時間の正規化プッシュプル信号の両ピーク値は，次の式で規定する。
()
()
()
()
(
)
(
)
(
)
(
)
1
1
2
2
at
2
1
at
2
1
at
2
1
at
2
1
peak
peak
2
1
2
1
norm
t
t
t
t
I
I
I
I
I
I
I
I
t
I
t
I
t
I
t
I
PP
+
−
−
+
−
≡
+
−
=
−
オントラック
オントラック
半径方向位置
(時間)
(I-I)
差信号
1 2
(I-I)
1 2 min
(I-I)
1 2 max
(I+ I)
和信号
1 2
ディテクタ
電流
(mA)
0
t1
t2
図145−プッシュプル信号の規定
このBDレコーダブルシステムの規格では，実時間軸上の正規化プッシュプル信号（PPnorm）は，フォト
ディテクタの大きさが25 μm2に換算する（I.9参照）。
ウォブル信号は，次のとおりとする。
− ウォブル信号IWppは，光ビームの焦点が25.3.4に従ってトラックを追いかける場合の，半径方向PP
読取りチャネルの正弦波状差信号（I1−I2）（図5参照）の両ピーク値である。測定方法については，
附属書M及び附属書Eも参照。
− ウォブル信号は，プッシュプル信号の両ピーク値(I1−I2)ppで正規化し（正規化ウォブル信号：NWS），
次の式とする。
(
)pp
2
1
Wpp
I
I
I
NWS
−
=
203
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
26 HFMグルーブの信号
26.1 プッシュプルの極性
プッシュプル信号の極性は，信号が次のピット又はグルーブ構造から検出したプッシュプル信号の極性
と同じ場合は，正極性という。
− “オングルーブ記録”（15.2参照）
− グルーブの単一経路の位相深さが90°未満の場合
規定した場合と極性が反対の場合は，負極性という。
ディスクの各記録層のプッシュプル信号の極性は，ディスク情報に示す（15.8.3参照）
26.2 プッシュプル信号
実時間の正規化プッシュプル信号の両ピーク値(PPnorm,HFM)convは，エンボスHFM領域で，次の要求事項
を満たす。
0.26≦(PPnorm,HFM)conv≦0.52
26.3 ウォブル信号
正規化HFMウォブル信号は，グルーブトラックの平均中心線からの偏移量を表している。隣接トラッ
クのウォブルとの干渉によって，HFMウォブル信号の振幅は変動している（ウォブルビートと呼ばれる。）。
HFMウォブル信号が，ウォブルビートによって最小の振幅を示す場所では，正規化HFMウォブル信号
（NHWS）は，次の式を満たす。
0.30≦NHWSmin≦0.60
HFMウォブル信号が，ウォブルビートによって最大の振幅を示す場所では，正規化HFMウォブル信号
は，次の式を満たす。
NHWSmax≦3×NHWSmin
注記 エンボスHFM領域で検出するHFMウォブル信号の形は，記録領域のウォブル信号と非常に違
うため，附属書Eに規定した測定方法は，これらのHFMウォブル信号を測定することに適さ
ない。
26.4 HFM信号のジッタ
HFMグルーブからのウォブル信号を2値化したものは，PICゾーンのエンボスHFM情報を表している。
この2値信号の前エッジ及び後エッジのジッタは，別々に，PLLクロックを基準に測定する。
前エッジ及び後エッジ両方のジッタは，4.5 %以下とする。
ジッタは，次に示す条件で測定する。
− ac結合（高域通過フィルタ）：1次のフィルタで，f−3dB＝20 kHzとする
− 波形等化なし
− 18Tクロック周期で正規化する（15.5.4.2参照）
27 ウォブルグルーブからの信号
27.1 位相深さ
グルーブの単一経路位相深さは，90°を超えない。
27.2 プッシュプル信号
正規化プッシュプル信号(PPnorm)convの実時間の両ピーク値は，次に示す要求事項を各層で満たす。
− 未記録領域（全ての隣接トラックが未記録。）で，次を満たす。
204
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
0.21≦(PPnorm,unrec)conv≦0.45
− 未記録領域の150トラック内でのプッシュプル信号の最大変動量は，次を満たす。
(
)
(
)
(
)
(
)
0.18
≦
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
PP
PP
PP
PP
+
−
− 一つの層内での未記録領域のプッシュプル信号の最大変動量は，次を満たす。
(
)
(
)
(
)
(
)
0.25
≦
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
PP
PP
PP
PP
+
−
− 記録済み領域（隣接トラック全て記録済み。）で，次を満たす。
0.21≦(PPnorm,rec)conv≦0.45
− 一つの層内での記録済み領域及び未記録領域の平均プッシュプル信号の比は，次を満たす。
1.25
≦
≦
0.75
unrec
norm,
rec
norm,
PP
PP
27.3 ウォブル信号
27.3.1 一般
正規化ウォブル信号（NWS）は，グルーブトラックの平均中心線からの偏移量を表している。平均のト
ラック中心線からのウォブルグルーブトラックの実際の中心の偏移量は，附属書Mに従って計算できる。
27.3.2 NWSの測定
隣接トラックとのウォブルの干渉によって，ウォブル信号振幅は変動している（ウォブルビートと呼ば
れる。）。ウォブル信号は，未記録領域でらせんグルーブを連続トラッキングしながら測定する。測定方法
は，附属書Eに規定されている。
ウォブル信号が最小の振幅を示す場所では（MSKマークの影響を除く。），NWSは，次の式を満たす。
0.20≦NWSmin≦0.55
ウォブル信号がウォブルビートによって最大の振幅を示す場所では，NWSは，次の式を満たす。
NWSmax≦3×NWSmin
27.3.3 ウォブルCNRの測定
15.8.3に規定した，ディスクの最小及び最大の速度の場合の記録後のウォブル信号の狭帯域SNR（又は
CNR）は，ウォブル信号が最小の振幅を示す場所で29 dBを超える。
キャリアは1 913.043 kHzで測定し，ノイズレベルは1 MHzで測定する（附属書E参照）。
27.3.4 ウォブルの高調波ひずみの測定
HMW変調の最低限の品質を保証するために，HMW変調の2次高調波の大きさに比べて，ウォブル信
号の2次高調波ひずみは十分小さくする。
2次高調波レベル（SHL）及び2次高調波ひずみ（SHD）は，ディスクの2か所で，ウォブルの基本波の
大きさ及び2次高調波の大きさを測定することによって決める。この両方の大きさは，データゾーン及び
保護ゾーン3で測定する。
局所のウォブル基本周波数レベルで正規化したSHD及びSHLの比は，次の要求事項のいずれかを満た
す。
− 半径方向のチルトなしで SHD/SHL＜−12 dB
− 半径方向のチルト±0.70度以内で SHD/SHL＜−6 dB
測定は，スペクトラムアナライザを用いる（附属書E参照）。
205
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
28 記録層の特性
箇条28〜箇条31で規定する信号値は，他に規定する場合を除き，全ての容量のディスクで有効である。
この規格では，次に示す二つのタイプの信号を区別している。
− グルーブ構造を再生した信号
− 使用者が記録したマークを再生した信号
箇条28〜箇条31は，データを記録するために用いる記録層の記録特性を評価する一連の試験を規定す
る。
箇条28〜箇条31の全ての要求事項は，他の記録層の状態（記録，未記録又は部分記録かどうか）にか
かわらず，記録領域の内径（INFOのOPCゾーンの開始又は終了）で公称半径23.2 mmと外部ゾーンの内
径＋20 μm（dDZO/2＋20 μm）との間で，全ての層で満たす。要求事項は，外部ゾーンの残りの領域でも満
たすことが望ましい。
29 記録層の試験方法
29.1 一般
試験は，記録領域で行う。試験に必要な記録及び読取りの動作は，同じ基準ドライブで行う。
信号を測定する場合は，ほこり，きずなどの局所欠陥の影響は除かれる。局所欠陥は，トラッキングエ
ラー及び訂正不能データの原因となる可能性がある（箇条34参照）。
29.2 環境条件
ディスクが8.1.1に規定した許容環境条件内にある場合は，全ての信号は，規定する範囲内とする。
29.3 基準ドライブ
29.3.1 一般
全ての信号は，基準ドライブの適したチャネルで，箇条9及び附属書Hの規定に従い測定する。
29.3.2 読取りパワー
読取りパワーは，ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。プッシ
ュプル信号測定の場合以外の読取りパワーは，3層ディスクのL0層及びL1層並びに4層ディスクのL0
層，L1層及びL2層では(1.20±0.10) mW，そして，3層ディスクのL2層及び4層ディスクのL3層では(1.10
±0.10) mWとする。
29.3.3 読取りチャネル
ドライブは，9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は，i-MLSE測定以外は波形等化しない（附属書H参照）。
29.3.4 トラッキング要求事項
信号の記録中及び読取中に，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，2xディ
スクでは最大55 nm，4xディスクは最大80 nmとする。
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，2xディスクで最大16 nm，
4xディスクで最大20 nmとする。
4xディスクの大きな軸方向トラッキングエラーを起こす局所欠陥の扱いは，附属書Iの規定に従う。
29.3.5 走査速度
記録の試験は，ディスクにあるDIユニットに規定した速度で行う（15.8.3参照）。
読取りの間，実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが132.000 Mbit/sとなるか又は
206
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
平均ウォブル周波数が1 913.043 kHzとなる速度とする。
29.4 記録条件
29.4.1 記録パルス波形
マーク及びスペースは，レーザをパルス状に照射することによってディスク上に記録される。レーザパ
ワーは，附属書Fの記録パルス波形のうちの一つによって変調される。NRZIの2T〜9Tのラン長は，マル
チパルス列の記録パルスを適用して記録される。
記録中のレーザパワーは，次に示す四つのレベルがあり，ディスクの入射面に照射される。
− 記録ピークパワーPW
− バイアス記録パワーPBW又は中間パワーPM
− スペースパワーPS
− 冷却パワーPC
マークは記録ピークパワーPWで形成され，スペースはスペースパワーPSで形成される。
PW，PBW，PS，PM，及びPCの値は，附属書Gに従って最適化する。
試験の実際のパワーPW，PBW，PS，PM，及びPCは，最適値の±5 %以内とする。ここに，PBW，PC，PM，
及びPSは，ディスク情報に規定した比例係数εに従ってPWに比例する（15.8.3参照）。
29.4.2 記録パワー
最適化された記録パワーPWO，PBWO，PSO，PMO，及びPCOは，図146に示す条件を満たす。
ディスクタイプ
3層
4層
速
度
パワー(mW)
最小
最大
最小
最大
PWO(mW)
8.0
28.0
8.0
28.0
PBWO(mW)
0.10
16.8
0.10
16.8
PSO(mW)
0.60
16.8
0.60
16.8
PCO(mW)
0.10
16.8
0.10
16.8
2x
PMO(mW) a)
5.4
28.0
5.4
28.0
PWO(mW)
8.0
28.0
8.0
28.0
PBWO(mW)
---
---
---
---
PSO(mW)
0.60
16.8
0.60
16.8
PCO(mW)
0.10
16.8
0.10
16.8
4x
PMO(mW)
5.4
28.0
5.4
28.0
注a) キャッスル記録ストラテジを適用する場合だけに用いる。
図146−3層及び4層ディスクの記録パワーの要求事項
図146に示した条件に追加して，記録パワーは，次の条件を満たす。
− 2×Vref（基準速度）： PWO≧PMO＞PSO≧PCO 及びPWO≧PBWO
− 4×Vref：
PWO≧PMO＞PSO≧PCO
29.4.3 平均パワー
平均化した記録パワー（PAve.）は，14.0 mW以下とする。
207
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
29.4.4 i-MLSE測定の記録条件
i-MLSE［統合化最ゆう（尤）法系列エラー推定］測定は，ディスクの記録領域の(m−2)，(m−1)，m，
(m＋1)，(m＋2)で示される任意の5隣接トラックグループで行う。
5トラックは，29.4.1で規定したPWOに等しいPWの記録パワーでランダムデータが記録される。i-MLSE
を測定するためには，5トラック全部にPWOに等しいPWの記録パワーでランダムデータが記録される
29.5 信号の規定
全ての信号振幅は，フォトディテクタの電流に線形比例している。したがって，ディテクタに当たる光
パワーに線形比例している。
i-MLSEは，次のとおりとする。
− i-MLSEは，17PP変調符号を用いたPR(1,2,2,2,1)ML再生システムの信号の品質の指標である。それは，
PR(1,2,2,2,1)ML再生信号での特定パタンの，誤り確率に相関のある標準偏差（σ）で定義される（附
属書H参照）。
30 記録領域からの信号
30.1 HF信号
4分割フォトディテクタの電流の総和によって，HF信号が得られる。これらの電流は，記録層の情報を
表すマーク及びスペースの異なる反射率によって変調される（図147参照）。
30.2 変調振幅
変調振幅I8ppは，最大のマーク及びスペースによって生成されるHF信号の両ピーク値である。ピーク値
I8Hは，HF信号を交流結合する前のHF信号のピーク値である。
変調振幅I3ppは，2番目に小さいマーク及びスペースによって生成されるHF信号の両ピーク値である。
0レベルは，ディスクが挿入されていない場合の，測定デバイスの信号レベルである。
注記 同期パタンでは，実際にラン長9Tが生じる。しかし，この9Tはめったに現れないため，HF
信号の両ピークへの影響は無視できる。
0 LEVEL
I8H
I8pp
I3pp
I8pp
I8H=Itop
I3pp
I8L
0 レベル
I3pp
I8pp
I8L
I8H=Itop
図147−マーク及びスペースからのHF信号の図
I3ppは比較的小さい信号なので，その振幅は，ランダムHF信号から確実な値を得られない。したがって，
208
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
I3pp/I8ppの測定には，ある場所に連続した3Tのマーク及びスペースだけを，また，ある場所に連続した8T
のマーク及びスペースだけを記録することが望ましい。これによって，信号は，適した測定装置を用いれ
ば正確に測定できる。
このBDレコーダブルシステムの規格では，変調信号（I8pp/I8H）は，フォトディテクタの大きさが25 μm2
相当の値に換算する（I.6参照）。
変調信号は，次に示す要求事項を満たす。
− (I8pp/I8H)conv≧0.40
− I3pp/I8pp≧0.040
変調信号の変動は，次に示す式を満たす。
− 連続記録した一つの層内： (I8Hmax−I8Hmin)/I8Hmax≦0.33
− 連続記録した1回転内：
(I8Hmax−I8Hmin)/I8Hmax≦0.15
実際の各層の変調信号（I8Ha）の比は，連続記録された状態で，次の式を満たす。
− 0.25≦(I8Ha,Lj−I8Ha,Lk)/(I8Ha,Lj＋I8Ha,Lk)≦＋0.25
ここに，I8Ha,Lj及びI8Ha,Lkは，同じ場所で半径方向及び接線方向の両方向に測定され，次による。
I8Ha＝R8H×読取りパワー
ただし，j及びkの範囲は，次による。
− 3層ディスク： j＝1, 2
k＝0,1 j＞k
− 4層ディスク： j＝1, 2, 3 k＝0, 1. 2 j＞k
各層の反射率の比は，連続記録された状態で次の要求事項を満たす。
− 0.33≦(R8H,Lj−R8H,Lk)/(R8H,Lj＋R8H,Lk)≦＋0.33
ここに，R8H,Lj及びR8H,Lkは，同じ場所で半径方向及び接線方向の両方向に測定され，j及びkの範囲は，
次による。
− 3層ディスク： j＝1, 2
k＝0, j＞k
− 4層ディスク： j＝1, 2, 3 k＝0, 1. 2 j＞k
30.3 反射率−変調度積
I8変調度（正規化したI8pp変調振幅に等しい。）を乗じたディスクの反射率は，次による。
conv
8H
8pp
H
8
×
=
×
I
I
R
M
R
このR×Mは，次の事項を満たす。
− 3層ディスクのL0層及びL1層並びに4層ディスクのL0層，L1層及びL2：
0.007 3≦R×M≦0.022
− 3層ディスクのL2層及び4層ディスクのL3 層：
0.008 2≦R×M≦0.025
I3変調度（正規化したI3pp変調振幅に等しい。）を乗じたディスクの反射率は，次による（附属書B及び
附属書I参照）。
conv
8H
3pp
8H
3
×
=
×
I
I
R
I
R
このR×I3は，次の事項を満たす。
− 3層ディスクのL0層及びL1層並びに4層ディスクのL0層，L1層及びL2層：
R×I3≧0.000 55
209
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− 3層ディスクのL2層及び4層ディスクのL3層：
R×I3≧0.000 62
30.4 非対称性
HF信号の非対称性は，復号した信号及び波形等化をしないHF信号の組合せを用いた平均レベル測定で
行う（I.7参照）。
HF信号の非対称性は，次の要求事項を満たす。
− 0.10≦非対称性≦＋0.15
30.5 i-MLSE
i-MLSEを測定するトラックは，29.4.3の規定に従って記録する。
i-MLSEは，記録5トラックの中心のトラックmで2×Vrefで測定する。
i-MLSEは，トラックmで，容量によらず全てのディスクで，次に示す要求事項を満たす。
− 3層ディスクのL0層並びに4層ディスクのL0層及びL1層の場合
附属書Hに規定した回路を用い，11.0 %以下とする。
− 3層ディスクのL1層及び4層ディスクのL2層の場合
附属書Hに規定した回路を用い，11.5 %以下とする。
− 3層ディスクのL2層及び4層ディスクのL3層の場合
附属書Hに規定した回路を用い，12.0 %以下とする。
30.6 読取耐久性
図148に示す直流読取りパワー及び高周波重畳読取りパワーで，一つのトラックを連続して106回まで
読み取る。ディスクは，その後，動作環境で全ての規格を満たす。
DIバイト30及びバイト31（15.8.3.3及び15.8.3.4参照）によって，高い直流読取りパワー及びよりも高
い高周波重畳読取りパワーが規定されている場合は，そのパワーを適用する。
1.55mW
---
L3層
1.70mW
1.55mW
L2層
1.70mW
1.70mW
L1層
1.70mW
1.70mW
L0層
4x
1.10mW
---
L3層
1.20mW
1.10mW
1.20mW
1.20mW
1.20mW
1.20mW
2x
4層
3層
読取りパワー
mW
---
mW
mW
mW
mW
mW
mW
4x
mW
---
mW
mW
L2層
mW
mW
L1層
mW
mW
L0層
2x
層
読取速度
図148−読取耐久性測定の読取りパワー値
高周波重畳は，次に示す要求事項を満たすことが望ましい（図149参照）。
− 重畳周波数（＝1/THF-laser）
(400±40) MHz
− ピークパワー及び平均パワーの比
2.0±0.2
210
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ピーク
平均
パルス幅
(FWHM)
時間
THF-laser
光強度
図149−高周波重畳されたレーザダイオードの光パルス波形の図
追加で，SER（34.1参照）は，いずれのLDCブロックでも4.2×10−3未満とする［317カウント未満と
等価（＝4.2×10−3×75 392バイト）］。
注記 記録した信号が劣化することを防ぐためには，ドライブの直流読取りパワー及び高周波重畳読
取りパワーを，DIバイト30及び31の2×Vrefの値及びバイト28及び29に規定した4×Vrefの
値を超えないようにすることを強く推奨する。
31 局所欠陥
“気泡”及び“黒点”（透過積層中に入ったほこり，記録層のピンホールなどの欠陥）といった記録層上
又は透過積層中の欠陥は，いかなる意図しないトラックジャンプ及び訂正不能エラーも引き起こしてはな
らない（33.4及び箇条34も参照）。
そのような欠陥の大きさは，次の条件を満たす。
− 気泡：
直径＜100 μm
− 複屈折を伴う黒点：
直径＜150 μm
− 複屈折を伴わない黒点：
直径＜150 μm
32 使用者データの特性
箇条32〜箇条34は，この規格にディスク上の使用者データが適合するかどうかを測定する，一連の測
定方法を規定する。一連の測定は，使用者が記録したデータの読みやすさを確認している。データは，任
意と仮定している。
使用者が記録したデータは，任意の動作環境，速度，ドライブで記録されていてもよい。
33 使用者データの測定方法
33.1 一般
箇条32〜箇条34規定の読取試験は，基準ドライブで行う。
箇条24〜箇条30は局所欠陥を考慮しなかったが，箇条32〜箇条34は，局所欠陥を読取信号の避けられ
ない劣化として含んでいる。欠陥の程度は，次に示す読取りチャネルのエラー検出及びエラー訂正回路の
エラー訂正能力によって決められる。箇条32〜箇条34の要求事項は，データ交換のためのデータ品質の
下限を規定する。
211
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
33.2 環境条件
ディスクが8.1.1に規定した許容される環境条件にない場合を除き，全ての信号は，規定した範囲内にあ
る。
33.3 基準ドライブ
33.3.1 一般
全ての信号は，箇条9に規定した基準ドライブの適したチャネルで測定する。
33.3.2 読取りパワー
読取りパワーは，ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。読取り
パワーは，3層ディスクのL0層及びL1層並びに4層ディスクのL0層，L1層及びL2層では(1.20±0.10) mW，
そして，3層ディスクのL2層及び4層ディスクのL3層では(1.10±0.10) mWとする。
33.3.3 読取りチャネル
ドライブは，9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は，波形等化をしないでデータ信号処理の前にフィルタを通す。ディスクの品質測定では，HF信号の前
処理の特性は，i-MLSEのための附属書Hに規定したものと同じにする。
33.3.4 エラー訂正
データバイトのエラーの訂正は，箇条13に規定に基づいたエラー検出訂正システムで行う。
33.3.5 トラッキング要求事項
信号の測定中に，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，最大80 nmとし，
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，最大20 nmとする。
4xディスクの大きな軸方向トラッキングエラーを起こす，局所欠陥の扱いはI.10の規定に従う。
33.3.6 走査速度
実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが132.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル
周波数が1 913.043 kHzとなる速度とする。
33.4 信号の定義
バイトエラーは，次のとおりとする。
− バイトエラーは，バイト中の1ビット又はそれ以上のビットが誤った場合に発生し，関連するエラー
検出回路及び／又は訂正回路によって検出される。
バーストエラーは，次のとおりとする。
− バーストエラーは，任意の二つのエラーバイトの間に三つ以上の正しいバイトがない場合の，一連の
バイトで定義される（13.1及び13.8参照）。
− バーストエラー長は，少なくとも3バイト長以上の正しいバイトでその前のエラーバイトから分離さ
れた最初のエラーバイトから数え始め，次のエラーバイトの先頭から少なくとも3バイト長以上の正
しいバイトで分離される最後のエラーバイトまでを数えた，総バイト数で定義する。
− バースト中のエラーバイト数は，実際のバースト中で正しくないバイト数で定義される（図150の例
を参照）。
212
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
x
c
c
c
x
x
c
c
x
c
x
x
x
c
c
c
...
c
x
バースト長は，9 バイト
バースト中のエラーバイト数は，6
c = 正しいバイト，x = エラーバイト
図150−バーストエラーの例
シンボルエラー率は，次のとおりとする。
− N LDCブロックで平均をとったシンボルエラー率（SER）は，選択したLDCブロックの全てのエラー
バイトの総和をそのLDCブロックの全バイト数で除したもので定義され，次の式で表される。
392
75
1
a,
×
∑
=
N
E
N
i
i
ここに， Ea,i： LDCブロックi中のエラーバイト数
N： LDCブロック数
ランダムシンボルエラー率は，次のとおりとする。
− ランダムシンボルエラー率は，シンボルエラー率でバースト長40バイト以上のバーストエラー中のエ
ラーバイトをSERの式の分子，分母両方から除いた式で定義され，次の式で表される。
(
)
∑
∑
=
=
−
×
−
N
i
i
N
i
i
i
E
N
E
E
1
b,
1
b,
a,
392
75
ここに， Ea,i： LDCブロックiの全エラーバイト数
Eb,i： LDCブロックiで40バイト以上のバーストエラー中の全ての
エラーバイト数
N： LDCブロック数
34 記録情報の下限品質
34.1 シンボルエラー率
欠陥を含むディスクの品質を確認する場合に，SERを決めるために選んだ領域に任意の使用者データを
記録する。SERは，34.1で規定する要求事項を満たす。
連続及び不連続記録の品質は，次のとおりとする。
− 全てのブロックが連続で記録された条件（図47参照），又はディスクの欠陥を除外し不連続で記録さ
れた条件（図46参照）で，次の要求事項を満たす。
− いかなる連続した10 000 LDCブロックで平均化しても，次を満たす。
ランダムSER＜2.0×10−4
34.2 最大バーストエラー
各記録ユニットブロックで，40バイト以上のバーストエラー個数及びバーストの長さの総和は，次によ
る。
− バーストエラー個数：
八つ未満
− バーストの長さの総和： 600バイト以下
213
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
34.3 使用者記録データ
HF読取りチャネルで読み取る，記録ユニットブロック（RUB）の中の使用者記録データは，箇条13に
規定したエラー訂正システムで訂正不能となるバイトがあってはならない。
35 BCA
r1とr3との間のゾーンは，バーストカッティング領域（BCA）に使うために予約されている（15.2及び
図54参照）。
BCA領域は，製造工程が終わった後にディスクに情報を追加するために用いる。
BCA符号は，レコーダブルディスクの場合，高パワーレーザシステムで記録できる。
BCA符号の全ての情報は，全ての同心円上で全く同じ情報であり，内容は，半径方向に整列しており，
CAVモードで記録する（図151参照）。
BCA符号は，L0層の半径
mm
3.
21
0.0
3.0
−
と
mm
0.
22
2.0
0.0
＋
との間に記録する（BCA符号は，保護ゾーン1の一
部と重なってもよい。）。
BCA符号は，L0層に記録するが，L0層にBCA符号を記録する影響が他の層に見えてもよい。
BCA符号は，円周方向に配置した低反射率のストライプの連続で記録する。各ストライプは，BCA領
域の半径方向の幅一杯最大限に伸ばす。
BCA符号の情報は，L0層の半径21.3 mmと22.0 mmとの間の任意の半径位置で，ドライブで読むこと
ができる。
BCA符号を記録するかどうかは，アプリケーションによって決められる。アプリケーションに規定する
場合を除いて，BCA符号はBCA領域に記録しない。BCA符号のフォーマット及び内容は，関連団体の合
意によって定義をしている。
バーストカッティング領域
BCA符号
バーストカッティング領域
BCA符号
図151−BCAの図
214
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書A
（規定）
多層の場合の透過積層の厚さ
A.1 一般
透過積層全体がk層の構成の場合，個々の層の厚さを決めるために，この附属書の方法を用いる。
− d1 .. dk：層1..kの厚さ
− n1 .. nk：層1..kの屈折率
− D(n)：屈折率nの場合の図17による3層ディスク及び図19による4層ディスクの公称厚さ。図中の
曲線は，球面収差が同じになる厚さを示している。
D(n)は，箇条12の関数gを用いて，次の式で表すことができる。
D(n)＝D(1.6)×g(n)
層kの厚さdkは，次の式と等しくなることが望ましい。
−
×
=
∑
−
=
1
1
)
(
1
)
(
k
i
i
i
k
k
n
D
d
n
D
d
A.2 カバー層及びスペーサ層の全ての層の屈折率ni
カバー層及びスペーサ層の各層の屈折率niは，次による。
1.45≦ni≦1.70
A.3 3層ディスクの透過積層の厚さばらつき
透過積層jの相対厚さは，次の式で規定する。
()
∑
=
=
k
i
i
i
j
n
D
d
RT
1
ディスク全体で測定する全透過積層の相対厚さRTは，次の要求事項を満たす。
a) TS0の相対厚さRT0：
94.0≦100×RT0≦106.0
b) TS1の相対厚さRT1：
69.0≦75.0×RT1≦81.0
c) TS2の相対厚さRT2：
52.0≦57.0×RT2≦62.0
注記 記録層の厚さは，大変薄く，無視できる。
A.4 4層ディスクの透過積層の厚さばらつき
透過積層jの相対厚さは，次の式で規定する。
()
∑
=
=
k
i
i
i
j
n
D
d
RT
1
ディスク全体で測定する全透過積層の相対厚さは，次の要求事項を満たす。
a) TS0の相対厚さRT0：
94.0≦100×RT0≦106.0
b) TS1の相対厚さRT1：
78.5≦84.5×RT1≦90.5
215
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
c) TS2の相対厚さRT2：
60.5≦65.0×RT2≦69.5
d) TS3の相対厚さRT3：
50.5≦53.5×RT3≦56.5
注記 記録層の厚さは大変薄く，無視できる。
A.5 3層ディスクのスペーサ層厚さのばらつき
スペーサ層jの有効厚さESは，次の式で定義する。
)
(
1
i
k
i
i
j
n
f
d
ES
×
=∑
=
ここに， ES1： スペーサ層1の有効厚さ
ES2： スペーサ層2の有効厚さ
ESc： TS2又はカバー層の有効厚さ
関数f(n)は箇条12に規定されており，図18に示されている。有効厚さは，屈折率が1.60と仮定した場
合の仮想的な値を意味する。
任意の屈折率での実際の厚さ（附属書Kに示す方法で測定できる。）は，標準的な屈折率1.60の有効厚
さに変換される。実際の厚さ及び有効厚さ両方で，デフォーカス値は同じである。ここに，デフォーカス
は，各厚さ及び各屈折率をもつ透明媒体を通過する光のフォーカス位置の動きと規定する。
有効厚さは，次の要求事項を満たす。
ESc−(ES1＋ES2)≧1.0 μm
ES1−ES2≧1.0 μm
A.6 4層ディスクのスペーサ層厚さのばらつき
スペーサ層jの有効厚さESは，次の式で定義する。
)
(
1
i
k
i
i
j
n
f
d
ES
×
=∑
=
ここに， ES1： スペーサ層1の有効厚さ
ES2： スペーサ層2の有効厚さ
ES3： スペーサ層3の有効厚さ
ESc： TS2又はカバー層の有効厚さ
関数f(n)は箇条12に規定されており，図18に示されている。有効厚さは，屈折率が1.60と仮定した場
合の，仮想的な値を意味する。
任意の屈折率での実際の厚さ（附属書Kに示す方法で測定できる。）は，標準的な屈折率1.60の有効厚
さに変換される。実際の厚さ及び有効厚さ両方で，デフォーカス値は同じである。ここに，デフォーカス
は，各厚さ及び各屈折率をもつ透明媒体を通過する光のフォーカス位置の動きと規定する。
有効厚さは，次の要求事項を満たす。
ESc−(ES1＋ES2＋ES3)≧1.0 μm
ES1−ES3≧1.0 μm
ES2−ES1≧1.0 μm
ES3≧10.0 μm
A.7 3層ディスクの厚さの計算例
屈折率がn1＝1.52であり公称厚さ55.0 μmのカバーシートが，L2層をもつ基板に，屈折率がn2＝1.58の
216
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
接着シートで付けられていると仮定する。この場合，屈折率が1.52及び1.58のカバー層の公称厚さは，次
のとおりに計算される。
D(1.52)＝D(1.6)×g(1.52)＝56.35 μm
D(1.58)＝D(1.6)×g(1.58)＝56.81 μm
ここに，
D(1.6)＝57.0 μm，g(1.52)＝0.988 6及びg(1.58)＝0.996 6（12.3参照）。
接着シートの公称厚さd2は，次のとおりに計算される。
μm
36
.1
35
.
56
55
1
81
.
56
2
=
−
×
=
d
そして，カバー層の有効厚さ（ESc：カバーシート＋接着シート）は，次のとおりに計算される。
ESc＝55×1.075 7＋1.36×1.017 7＝60.55 μm
ここに，
f(1.52)＝1.075 7及びf(1.58)＝1.017 7（箇条12参照）
結果は，屈折率nが小さくなれば有効厚さEScは大きくなることを示している。したがって，3層ディ
スクのESc−(ES1＋ES2)≧1.0 μmの要求事項及び4層ディスクのESc−(ES1＋ES2＋ES3)≧1.0 μmの要求事項
の観点から，カバー層の屈折率（nc）は，スペーサ層の屈折率（ns1，ns2，ns3）よりも小さいのがよい。そ
して，ES1−ES2≧1.0 μmの要求事項の観点から，次の条件が望ましい。
3層ディスクの場合，ES1−ES2≧1.0 μmの要求事項の観点から，
nS2＞nS1＞nc
4層ディスクの場合，ES1−ES3≧1.0 μm及びES2−ES1≧1.0 μmの要求事項の観点から，
nS3＞nS1＞nS2＞nc
217
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書B
（規定）
反射率の測定
B.1
一般
ディスクの反射率は，幾つかの方法で測定できる。二つの一般的な方法を，次に示す。
− 平行光測定法
− 収束光測定法
ディスクの反射率は，既知の反射率の基準ディスクを使うことによって，収束光測定法で測定される。
一方で，基準ディスクの反射率は，平行光測定法で校正される。
収束光測定法で反射率を測定する場合，ディスクの反射層から帰ってきた光（Rm）だけがフォトディテ
クタに当たる。ディスク表面での反射光及びディスク内部の付随した折返し反射光は，大部分は，フォト
ディテクタの外に出る。平行光測定法では，全体反射（R//）だけが測定でき，反射層からの主反射を決め
るためには計算が必要となる。
B.2
校正方法
例えば，0.1 mmのガラスのカバー層で金の反射ミラーをもつような，複屈折の影響がない良い基準ディ
スクを選ぶ。図B.1に示すとおり，基準ディスクは，平行光測定法で測定する。
I
入射ビーム
B
R
ディテクタへ
//
Rint
Rm
Rs
r
R
図B.1−反射率校正
この図で，次の式を適用する。
R
＝ 記録層の反射率（透過積層内の折返し反射光を含む。）
r
＝ 表面反射率
Rref ＝ 収束光によって測定した反射率（Rm/IBで規定）
IB ＝ 入射ビーム
Rs ＝ 入射面の反射率による反射
Rm ＝ 記録層の反射率による主反射
218
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
Rint ＝ 入射面と記録層との間の，内部反射による反射
R// ＝ 測定値（Rs＋Rm＋Rint）
入射面の反射率は，次に規定する。
2
1
1
+−
=nn
r
ここに，
n： カバー層の屈折率
記録層の反射率による主反射によって，次の式が導かれる。
−
×
−
−
×
−
=
=
B
//
B
//
2
B
m
ref
2
1
)
1(
I
R
r
r
I
R
r
I
R
R
ここに，
Rm： 次の式による主反射
Rm＝R//−Rs−Rint
基準ディスクは，基準ドライブで測定する。収束光で測定し，基準ディスクで得られるディテクタの全
電流（4分割の総和＝Itotal）によって上に規定したRmが計算される。
これで，装置は校正され，収束光反射率は，入射面の反射とは関係なく記録層及び透過積層の折返し反
射光の反射率に比例することになる。
B.3
測定方法
未記録の記録領域の反射率は，次のとおりとする。
基準ドライブを使った反射率測定法は，次のとおりとする。
a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による，全ディテクタ電流(I1＋I2)refを測定する。
b) 測定するグルーブ及びグルーブの両側の隣接する2トラックが記録されていない調査対象のディスク
のグルーブトラックからの反射光による，全ディテクタ電流(I1＋I2)Gを測定する。
c) 未記録ディスクの記録領域のグルーブトラックの反射率Rg−vを，次の式で計算する。
(
)
(
)
ref
ref
2
1
G
2
1
v
g
R
I
I
I
I
R
×
+
+
=
−
記録済み記録領域の反射率は，次のとおりとする。
基準ドライブを使った反射率測定法は，次のとおりとする。
a) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの反射光による，全ディテクタ電流(I1＋I2)refを測定する。
b) 測定するグルーブ及び最低限グルーブの両側の隣接する2トラックが記録済みの，調査対象のディス
クの記録済みグルーブトラックからのI8Hを測定する。トラックの記録は，OPCアルゴリズム（G.1参
照）の規定による，最適パワーで行う。
c) 記録領域のグルーブトラックの記録済みディスクの反射率R8Hを，次の式で計算する。
ref
ref
2
1
8H
)
(
8H
R
I
II
R
×
+
=
留意事項 記録層で反射率を測定する場合に，測定部分に該当する他の層全て未記録とするよう注意
219
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
する。
B.4
測定した反射率から迷光の影響を補正する方法
B.3規定の方法で測定した反射率は，他の層から反射してくる迷光によって影響されている（図B.2参
照）。それゆえ，測定した反射率は，影響を少なくするように補正する。以下，B.3規定測定方法適用の反
射率は観測反射率として，次に示す方法で補正した反射率は補正反射率として参照する。
読取面からの反射
L0層
L1層
L2層
観測反射率
迷光
L1層集光入射光
ディスク表面
図B.2−他の層からの迷光の影響
読取層の観測反射率は，次に示す方法で補正できる。
次の条件を仮定する。
a) 多重反射は，無視できる。
b) 観測光は，読取層からの反射及び他の全ての層からの迷光の和である。
c) ディテクタ表面での，位相のそろった光の干渉効果は無視する。
d) 迷光の，ディテクタ上に投影した光強度は均一とする。したがって，単一の迷光のディテクタ出力は，
迷光のスポット及びフォトディテクタの面積比に比例する。
図B.3−迷光の光線追跡
図B.3において，
− i：
読取層の層番号
− j：
他の層の層番号
− n：
透過積層の屈折率
− α：
ディスク内部での入射光の角度でsinα＝NA/n
− dij：
Li層とLj層との間の物理的距離
− r：
他の層のスポット半径で，r＝dijtanα
− PDnorm： 読取層に投影した場合のディテクタの大きさ（9.4参照）
− M：
光学システムの光学拡大率
220
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
図B.3に示すとおり，光線の位置関係から，読取層Liに投影した迷光のスポット半径は2×rである。
Lj層からの迷光スポット及びディテクタの両方が，読取層に投影されたものの面積比は，次のとおりに
導出される。
2
norm
2
norm
)
tan
π(2
)
π(2
α
d
PD
r
PD
A
ij
ij
=
=
観測光は，読取層からの反射及びそれ以外の全ての層からの迷光の和である。したがって，読取層Li
の観測光は，次の式で表される。
[
]
)3,2
(
0
=
+
=
∑
≠=
N
A
R
R
S
ij
N
i
jj
j
i
i
ここに，
Si： 迷光の影響を含んだLi層の観測反射率（Rm,g−v，Rm,8H）
Ri： Li層の補正反射率（Rg−v，R8H）
N： ディスクの記録層の数（3層ディスクは2で4層ディスクは3。）
Rg−vを求める数式は，ベクトル及び行列表示を用い，次による。
Sg−v＝A·Rg−v
ここに， Sg−v： 未記録バージン層での観測反射率ベクトル
Rg−v： 未記録バージン層での補正反射率ベクトル
A： 面積比行列
その結果，補正反射率ベクトルRg−vは，次の式で導出される。
Rg−v＝A−1·Sg−v
記録層の補正反射率（R8H）は，次の式で表される。
[
]
)3,2
(
0
v,
g
8H,
8H,
=
−
=
∑
≠=
−
N
A
R
S
R
ij
N
i
jj
j
i
i
ここに， S8H： 記録層Liの観測反射率
221
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書C
（規定）
カバー層のきず耐久性の測定
C.1 一般
ディスクの入射面は，十分なきず耐久性をもつ。保護コートをして改善してもよい。
C.2 テーバ摩耗試験
“テーバ摩耗”と呼ばれる試験は，ディスクの入射面のきず耐久性が十分かどうか検証する。
摩耗素材に覆われた2本の輪が，規格値の負荷をかけて試験を受けるディスクに載せられる（図C.1参
照）。
ディスクの回転軸
輪の回転
回転方向
ディスクの
ディスクの中心を
通る線
輪の回転軸の投影
図C.1−標準的な摩耗試験の構成
試験条件は，次のとおりとする。
試験の構成は，JIS K 7204に従い，次に詳細を示す。
− 輪のタイプ：
CS10F
− 各輪への負荷値：
2.5 N
− 回転回数：
5
− 摩耗試験は，試験に必要な記録を行う前に実施する。
試験後の結果は，次のとおりとする。
222
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書Hに規定する，i-MLSEをL0層で測定して，値は，14 %以下とする。
摩耗輪の取扱いは，次のとおりとする。
摩耗輪の取扱いは，ASTM D1044 [1]の規定に従うことが望ましい。
テーバ摩耗試験を行う前に，毎回両方の摩耗輪はST-11研磨石で表面を研磨することが望ましく，次に
よる。
− 新しい輪は，100回研磨する。
− 前に用いた輪は，25回研磨する。
223
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書D
（規定）
カバー層の汚れはつ（撥）油性の測定
D.1 一般
この附属書は，ディスクの指紋に対する感度を決めるために，人工の指紋（AFP）をディスクに付ける
方法を規定する。図D.1は，基本的な方法を示している。
シリコンゴムスタンプ
4.9Nで10秒
4.9 Nで10秒
インクパッド
スタンプにインクを付ける
テストされるディスクに
スタンピング
テストされるディスク
AFP付き
図D.1−ディスクへのAFPの付着
AFP付着後，AFPを付けた領域の各物理クラスタのランダムSER（33.4参照）は，AFPを通して記録し
再生してL0層を測定した場合は，4.2×10−3未満とする。各物理クラスタで，40バイト長以上のバースト
エラー数は8未満及びバースト長の総和は800バイト以下とする。
D.2 スタンプの規格
シリコンゴムスタンプは，次の規定による（図D.2参照）。
− 寸法： スタンプの形状：
φ16 mm×φ12 mm×高さ20 mm
− スタンプ柱の固さ：
A60
図D.2−スタンプの形及び準備
ランダムなきずがあるスタンプを作るために，＃240番のサンドペーパで磨く。
224
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
サンドペーパは，ゆっくり一方向に10回〜20回の間動かす。サンドペーパに加える力は，4.9 Nと9.8 N
との間とする。
スタンプを任意の角度回転させ，前記の方法を繰り返す。
回転及び研磨は，少なくとも30回は繰り返す。
D.3 インクの準備
AFPを付けるインクは，次の成分によって構成する。
− M：メトキシプロパノール（M）。正確には，1−メトキシ 2−プロパノール
− T：トリオレイン（T）。純度は，少なくとも60 %とする。
− D：標準ほこり（D）。JIS Z 8901の規定に従い，試験用粉体1の11種（関東ローム）を選ぶ。さらに，
詳細の情報は，一般社団法人日本粉体工業技術協会（http://www.appie.or.jp/）で入手する。
インクのクリーニング用としては，エタノールを用いる。
M，T及びDの成分は，質量比240：20：8で合成する。混ぜたものは，プラスチックの棒を使い手で少
なくとも15秒間かき混ぜる。
D.4 インクパッドの準備
スタンプに決まった量のインクが付くように，インクは，インクパッドの上にスピンコートされる。こ
こに，インクパッドは，ピット及びグルーブのパタンのないポリカーボネートの成形基板とする。インク
をディスクに付ける前に，基板は，例えば，超音波振動などで少なくとも30秒間十分にゆする。
基板を，スピナ上で60回毎分で回転しながら，10秒間以内に少なくとも2 mlのインク液を概略12 mm
の半径位置に垂らす（図D.3参照）。
solution
put on
substrate
spreading
the solution
by spinnig
radius
12 mm
基板に付けた
溶剤
回転による
溶剤の広がり
12 mm
半径
図D.3−インクパッドスピンコート
ディスクにインクを付けた後，回転速度100回毎分で1秒間回す。そして，回転速度を，5秒間の間に
直線的に5 000回毎分に上げ，その速度で1秒間維持する（図D.4参照）。回転降下時間は問題とならない。
225
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
60回毎分
100
5 000
1秒
1秒
5秒
0.1秒~1秒
<100
インク溶剤を
注ぐ
回毎分
回毎分
回毎分
図D.4−インクパッドスピンコートの速度プロファイル
D.5 インクパッド及びスタンプの使用
スタンプにインクを付けるのは，半径30 mm辺りがよい。
スタンプは，ベンコットのような糸くずの出ないティシュできれいにできる。
スタンプは，最初に，エチルアルコールでぬらしたティシュできれいにし，その後，乾いたティシュで
拭き取ることができる。
226
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書E
（規定）
ウォブル振幅の測定
E.1
測定方法
ウォブル信号及びプッシュプル信号は，測定前にフィルタを通す。ウォブル信号は16 MHzの低域通過
フィルタを通し，プッシュプル信号は30 kHzの低域通過フィルタを通す。
グルーブの変調及びウォブルビートのために，ウォブル信号を普通のオシロスコープを使って十分正確
に求めることは非常に難しい。したがって，ウォブル信号を次に示す方法でスペクトラムアナライザを使
って測定する方法（らせんグルーブを連続トラッキングしながら。）の手順を，次に示す。
a) ステップ1：正規化していないウォブル信号の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下でプッシュ
プル信号を次の設定で測定する。
− 中心周波数：
1 913.043 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅：
30 kHz
− ビデオ帯域幅：
100 Hz
− 掃引時間：
ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
この条件下で，スペクトラムアナライザは，時間に対しての入力信号の実効値を示す（図E.1参照）。
Mkr1
Mkr2
Ref -32 dBV
Log
2 dB/
Mkr1 533 ｍｓ-39.6dBV
Mkr2 367 ｍｓ-46.4dBV
中心1 913.043kHz
分解能帯域幅30 kHz
スパン0 Hz
ビデオ帯域幅100 Hz
Atten0 dB
Mkr1
Mkr2
Ref -32 dBV
Log
2 dB/
Mkr1 533 ｍｓ-39.6dBV
Mkr2 367 ｍｓ-46.4dBV
中心1 913.043kHz
分解能帯域幅30 kHz
スパン0 Hz
ビデオ帯域幅100 Hz
Atten0 dB
図E.1−ウォブル信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr2での信号レベルは，最小ウォブル信号WSminのdBV値を表している。スペクトラムア
ナライザは，実効値を測定するため
2
2×
の係数を乗じて，測定値を電圧の両ピーク値に変換する（例
227
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
の中の−46.4 dBVは，13.5 mVppに相当する。）。
b) ステップ2：正規化していないプッシュプル信号の測定 次に，トラッキングサーボオフのプッシュ
プル信号(I1−I2)ppを測定する（25.4参照）。
この例では，30 mVppであったとする。
c) ステップ3：正規化ウォブル信号（NWS）の計算
(
)
45
.0
30
5.
13
pp
2
1
min
min
=
=
−
=
I
I
WS
NWS
d) ステップ4：ウォブルビートの決定 マーカMkr1の信号レベルは，最大ウォブル信号WSmaxのdBV
値を表す。
ウォブルビートは，次の式による。
WSmax−WSmin＝6.8 dB又はNWSmax＝2.2×NWSmin
e) ステップ5：ウォブル信号のキャリアノイズ比の測定 25.3.4のトラッキング要求事項ので，プッシ
ュプル信号を，次の設定でスペクトラムアナライザを使って測定する。
− 中心周波数：
1 MHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅：
30 kHz
− ビデオ帯域幅：
10 Hz
− 掃引時間：
ウォブル信号の幾つかのビートが見ることができるように選ぶ。
これらの条件下でスペクトラムアナライザは，時間に対しての1 MHzの帯域幅のノイズ信号の実効
値を示す（図E.2参照）。
Mkr1
Ref -60 dBV
Log
2 dB/
Mkr1 1.27秒-75,4 dBV
中心1.0 MHz
分解能帯域幅30 kHz
スパン0 Hz
掃引時間1.767 秒
ビデオ帯域幅10 Hz
Atten 0 dB
図E.2−ノイズ信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr1の信号レベルは，ノイズ信号の信号レベルをdBV値で表している。
228
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ウォブルCNRはこのように簡単に計算でき，次のとおりとなる。
WSmin−ノイズレベル＝−46.4＋75.4＝29 dB（例の値の場合）
f)
ステップ6：SHD/SHLの測定 この測定は，27.3.4に従って行う。
25.3.4のトラッキングの要求事項の下で，プッシュプル信号を，次の設定でスペクトラムアナライ
ザで測定する。
基本波レベルの測定は，次の設定とする。
− 中心周波数：
1 913.043 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅：
10 kHz
− ビデオ帯域幅：
1 Hz
− 掃引時間：
約5秒
2次高調波レベルの測定は，次の設定とする。
− 中心周波数：
3 826.086 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅：
10 kHz
− ビデオ帯域幅：
1 Hz
− 掃引時間：
約5秒
これらの条件下でスペクトラムアナライザは，時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の基
本波レベルの実効値を示す（図E.3参照）。
Ref-10dBm
Log
10dB/
A-viewB-view
中心1913.043kHz
分解能帯域幅10kHz
スパン0Hz
掃引時間5秒
ビデオ帯域幅1Hz
Atten10dB
3dB
FPZ3
FDZ
図E.3−ウォブル基本波レベル測定の例
図E.3で下側の軌跡は，データゾーンの任意の記録領域で測定したFDZで示す基本波レベルを表す。
図E.3で上側の軌跡は，保護ゾーン3で測定したFPZ3で示す基本波レベルを表す。
229
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
FDZ及びFPZ3の値は，FDZ及びFPZ3の軌跡の平均値で決められる。
同様に，スペクトラムアナライザは，時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の2次高調波レベ
ルの実効値を示す（図E.4参照）。
-10.9dB
Ref-10dBm
Log
10dB/
A-viewB-view
中心1913kHz
分解能帯域幅10kHz
スパン0Hz
掃引時間5秒
ビデオ帯域幅1Hz
Atten10dB
SDZ
SPZ3
図E.4−2次高調波レベルの測定例
図E.4で上側の軌跡は，データゾーンの任意の記録領域のSDZで示す2次高調波レベルを表す。
図E.4で下の軌跡は，保護ゾーン3の任意の記録領域のSPZ3で示す2次高調波レベルを表す。
SDZ及びSPZ3の値は，SDZ及びSPZ3の軌跡の平均値で決められる。
SHD/SHLは，次の式で計算される。
(
)(
)
DZ
PZ3
DZ
PZ3
F
F
S
S
SHL
SHD
−
−
−
=
例では，
dB
9.
13
)3(
)9.
10
(
−
=
−
−
=
SHL
SHD
E.2
フィルタの校正
ノイズ測定の分解能帯域幅フィルタの形は，理想的には方形である。そのようなフィルタは実現できな
いため，実際のスペクトラムアナライザのフィルタは，測定値に影響を与える。ノイズの真の実効値を決
めるために，補正係数を適用することが望ましい。そのような補正係数は，通常，測定器の製造業者から
与えられ，実際のフィルタの形及びタイプに依存する。
230
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書F
（規定）
試験のための記録パルス波形
F.1
記録パルス波形概要
この規格では，次に示す二つのタイプの記録ストラテジを規定する。
a) 拡張N−1記録ストラテジ（図F.1参照）
b) 拡張キャッスル記録ストラテジ（図F.4 参照）
各パルスの開始は，図F.1及び図F.4に示すとおり規定する。
拡張N−1記録ストラテジに対し，次の項目が適用される。
− 最初のパルス幅は，Ttopとする。
− 最終パルス幅は，適用できる場合はTLPとする。
− 最初のパルスと最後のパルスとの間のパルスの幅は，TMPとする。
− パルス列の最初のパルスの前は，スペースレベル（PS）とする。
− 後に冷却レベル（PC）が来る最終パルスを除く各パルスの後は，バイアス記録レベル（PBW）とする。
− Ttop，TMP，及びTLPパルスの記録レベルは，PWとする。
− NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で冷却レベルの期間は，dTS時間分延ばすか又は縮めても
よい。
− 残りのNRZIの低レベルの時間は，スペースレベル（PS）とする。
拡張キャッスル記録ストラテジに対し，次の項目が適用される。
− 各記録パルスの前は，スペースレベル（PS）とする。
− 各スペースレベルの前は，冷却レベル（PC）とする。
− 各スペースレベルの後は，記録レベル（PW）で長さはTtopとする。
− 各記録レベルの後は，2Tマークを除き，中間レベル（PM）とする。
− 各中間レベルの後は，2T及び3Tマークを除き，長さTLPの記録レベルとする。
F.2
拡張N−1記録ストラテジ
パルス幅は，次のとおりとする。
パルス幅（F.4参照）は，実際のチャネルクロックTW（TW/32の整数倍）に関連している。全ての許容
された記録速度で許容されるパルス幅時間は，次に示す値で構成する（正の値は，図F.1のdTtopで示すと
おり進みであり，負の値はdTSで示すとおり遅れである。）。
dTtop＝i×(TW/32)
ここに，
i： 偶数で，−28，−26，..，−2，0，2，4，.. 又は30
（dTtopは，2T，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又
は先行する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存し
てもよい。さらに，2TマークだけdTtopは，後に続く2T又は
3T以上のスペースに依存してもよい。）
Ttop＝j×(TW/32)
231
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ここに，
j： 偶数で，0，2，4，..又は60
（Ttopは，2T，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は
先行する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存して
もよい。さらに，2TマークだけTtopは，後に続く2T又は3T
以上のスペースに依存してもよい。）
TMP＝p×(TW/32)
ここに，
p： 偶数で，0，2，4，..又は30
TLP＝s×(TW/32)
ここに，
s： 偶数で，0，2，4，..又は30
（TLPは，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は後に
続く2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存してもよ
い。）
dTLP＝r×(TW/32)
ここに，
r： 偶数で，−30，−28，..，−2，0，2，4，..，又は30
（dTLPは，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は後
に続く2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存しても
よい。）
dTS＝u×(TW/32)
ここに，
u： 偶数で，−48，−46，..，−2，0，2，4，.. 又は30
（dTSは，2T，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は
後に続く2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存して
もよい。さらに，2TマークだけdTSは，後に続く2T又は3T
以上のスペースに依存してもよい。）
全てのパワーレベルPW，PBW，PS及びPCは，2x基準速度（Vref）で継続時間は2.0 ns以上とする。対応
するディスクのディスク情報の記録ストラテジパラメタによって，存在すると考えられる異なるマーク長
の先行するスペース及び後に続くスペースの全ての組合せで，この条件を守る。
注記 パルス幅の制約の例は，次のようである。
− 先頭，マルチ及び最終パルス幅：，2×Vrefでj，p及びsの最小値は，10となっている。
− バイアス記録レベル（PBW）又は冷却レベル（PC）の期間：j−i＋r(3T)，j−i(4T以上)，p，p
＋r，j−i＋u(2Tだけ)及びs＋u−rの最大値は，2×Vrefで，22となっている。
全てのパラメタは，マーク，マークの前のスペース及び後に続くスペースの組合せで計算される。パラ
メタは，ディスクに依存し，最適値は，15.8.3に示すとおりである。PW，PBW，PC及びPSの値は，OPCア
ルゴリズムに従って，決定される（G.1参照）。
232
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
3T
4T
5T
NRZI チャネルビット
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
2T
6T
7T
0
PW
dTtop
Ttop
PW
dTtop
Ttop
0
0
PW
dTtop
Ttop
0
PW
dTtop
Ttop
0
PW
dTtop
Ttop
PS
dTS
PBW
PBW
TMP
TMP
TMP
TMP
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
8T
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
9T
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
PC
PBW
PBW
PBW
PBW
PBW
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
3T
4T
5T
NRZI チャネルビット
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
2T
6T
7T
0
PW
dTtop
Ttop
PW
dTtop
Ttop
0
0
PW
dTtop
Ttop
0
PW
dTtop
Ttop
0
PW
dTtop
Ttop
PS
dTS
PBW
PBW
TMP
TMP
TMP
TMP
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
8T
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
9T
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
TMP
PC
PBW
PBW
PBW
PBW
PBW
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
PS
dTS
TLP
PC
dTLP
図F.1−拡張N−1記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 図F.2に最小マーク及び最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例を
示す。
233
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
2 T
マーク
2 T
スペース
5 T
マーク
5T
スペース
NRZI データ
PW
PS
PC
0
PBW
図F.2−拡張N−1記録信号の例
F.3
拡張キャッスル記録ストラテジ
パルス幅（F.4参照）は，実際のチャネルクロックTW（TW/32の整数倍）に関連している。
全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は，次に示す値で構成する（負の値は，図F.4の
dTSで示すとおり遅れである。）。
dTtop＝i×(TW/32)
ここに，
i： 偶数で，−32，−30，..，−2，0，2，4，.. 又は30
（dTtopは，2T，3T，4T若しくは5T以上マーク，及び／又は
先行する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存して
もよい。さらに，2TマークだけdTtopは，後に続く2T又は3T
以上のスペースにも依存してもよい。）
Ttop＝j×(TW/32)
ここに，
j： 偶数で，0，2，4，..又は92
0≦j≦i＋62
（Ttopは，2T，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は
先行する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存して
もよい。さらに，2TマークだけTtopは，後に続く2T又は3T
以上のスペースにも依存してもよい。）
dTC＝k×(TW/32)
ここに，
k： 偶数で，−62，−60，..，−2，0，2，4，.. 又は16
（dTCは，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は後に
続く2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存してもよ
い。）
TLP＝p×(TW/32)
ここに，
p： 偶数で，0，2，4，..又は62
0≦p≦30−k
（TLPは，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は後に続く
2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存してもよい。）
dTS＝q×(TW/32)
ここに，
q： 偶数で，−62，−60，..，−2，0，2，4，.. 又は30
（dTSは，2T，3T，4T若しくは5T以上のマーク，及び／又は
234
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
先行する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存して
もよい。さらに，2TマークだけdTSは，後に続く2T又は3T
以上のスペースにも依存してもよい。）
パラメタはディスクに依存し最適値は，15.8.3に示すとおりとなる。PW，PM，PC 及びPSの値は，OPC
アルゴリズムに従って決定される（G.1参照）。
全てのパワーレベルPW，PM，PS及びPCは，2×Vref及び4×Vrefの場合は継続時間は，2.0 ns以上とする。
対応するディスクのディスク情報の記録ストラテジパラメタによって，存在すると考えられる異なるマー
ク長の先行するスペース及び後に続くスペースの全ての組合せで，この条件を守る。
パルス幅の制限例は，次に示すとおりとなる。
− 最初及び最後のパルス幅：j及びpの最小値は，2×Vrefの場合は10，4×Vrefの場合は18となる。
− 中間レベル（PM）又は冷却レベル（PC）の期間： j−i＋q (2Tだけ)，j−i＋p＋k−32 (4Tマーク)，
j−i＋p＋k−64 (5Tだけ)及び−k＋q (3T以上)の最大値は，2×Vrefの場合は22，4×Vrefの場合は14と
なる。
全てのパラメタは，マーク，マークの前のスペース及び後に続くスペースの組合せで計算される。次に
示す例外が許される。
− j−i＋k＝32（3Tだけであり，この条件は，3Tの単一パルス形状を示し，この任意の条件を使用する
場合は，全ての先行するスペースの幅について適用する。このことは，3TモノトーンパルスのdTtop
及びTtopは先行するスペースに依存しなくてもよいこと，並びに3TモノトーンパルスのdTCは後に続
くスペースに依存しなくてよいことを意味する。）
− p＝0（この条件はL形を示す。）
注記 許容されるパルスの形の組合せは，図F.3に示される。
2T
3T
≥4T
パワーレベル j‒i+k(3T)
p
M
M
M
PW= PM
-
-
M
M
L
PW PM
32
0
M
M
C
PW PM
32
≠0
M
L
L
PW PM
32
0
M
L
C
PW PM
32
0
M: 単一パルス形
L : L形
C: キャッスル形
≠
≠
≠
≠
≠
≠
≠
2T
3T
≥4T
パワーレベル j‒i+k(3T)
p
M
M
M
PW= PM
-
-
M
M
L
PW PM
32
0
M
M
C
PW PM
32
≠0
M
L
L
PW PM
32
0
M
L
C
PW PM
32
0
M: 単一パルス形
L : L形
C: キャッスル形
≠
≠
≠
≠
≠
≠
≠
図F.3−拡張キャッスル記録ストラテジの許されるパルス形の組合せ
235
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
NRZIﾁｬﾈﾙﾋﾞｯﾄ
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
2T
dTS
9T
5T
6T
7T
8T
4T
dTtop
dTtop
dTC
3T
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
TLP
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
PW
PC
PM
PW
PS
PS
PC
0
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
TLP
TLP
TLP
TLP
TLP
NRZIﾁｬﾈﾙﾋﾞｯﾄ
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
2T
dTS
9T
5T
6T
7T
8T
4T
dTtop
dTtop
dTC
3T
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
TLP
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
PW
PC
PM
PW
PS
PS
PC
0
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
TLP
TLP
TLP
TLP
TLP
図F.4−拡張キャッスル記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 最小マーク，最小スペース，3Tマーク，最小スペース及び8Tマークの記録パルス波形の例を図
F.5に示す。
236
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
2T
3T
8T
Ttop
dTtop
dTtop
dTtop
Ttop
Ttop
Tlp
dTC
dTC
dTS
dTS
dTS
PW
PM
PS
PC
0
2T
3T
8T
Ttop
dTtop
dTtop
dTtop
Ttop
Ttop
Tlp
dTC
dTC
dTS
dTS
dTS
PW
PM
PS
PC
0
図F.5−拡張キャッスル記録信号の例
F.4
パルス幅並びに立上がり時間及び立下がり時間の規定
全ての立上がり時間及び立下がり時間は，実際の記録パワーの変化の10 %に等価なレベルから90 %に
等価なレベルまでにかかる時間，又はその逆の時間で規定する。
立上がり時間Trise及び立下がり時間Tfallを，図F.6に規定する。
いかなるオーバーシュートも，10 %未満とする。
P1
P2
0.9P1
0.9P2
0.5P1
0.5P2
0.1P1
0.1P2
Twidth1
Twidth2
Twidth3
Trise
Tfall
P1
P2
0.9P1
0.9P2
0.5P1
0.5P2
0.1P1
0.1P2
Twidth1
Twidth2
Twidth3
Trise
Tfall
図F.6−立上がり時間及び立下がり時間
237
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
立上がり時間及び立下がり時間は，2×Vrefで1.2 nsを超えない。
立上がり時間及び立下がり時間は，4×Vrefで1.2 nsを超えない。
パルスの持続時間及びパルス間のスペースは，関連するパワー変化の50 %と等価のレベルで測定する
（図F.6のTwidth参照）。全てのパルス幅の精度は，2×Vref及び4×Vrefで±0.2 nsよりも小さい。
238
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書G
（規定）
ディスクの最適パワー制御（OPC）方法
G.1
一般
この附属書では，最適パワーPWO，PBWO，PSO，PMO及びPCO（附属書F参照）並びにディスク情報（15.8.3.3
及び15.8.3.4参照）に含む関連するパラメタκ，PIND，mIND，ρ，εBW，εS，εC，εM及びβWOについて，規定
する。
G.2
記録パワーに対する変調度の関数の数学的モデル
HF信号の変調度はm＝I8pp/I8Hで規定し，mconvは，HF信号の変調度を補正したもの（I.6参照）である。
記録パワーに対する変調度のカーブmconv(PW)は，図G.1に示すような形となる。感度の高いOPCのために，
変調度の測定は，変調度が飽和するレベルの前のパワー範囲で行う。
この目的のために，次に示すPtargetを規定する。
ρ
P
P
WO
target=
ここに，
ρ： PtargetからPWOを求めるための乗算係数
ρ≧1.0
mconv
P
P
target
WO
P
P
×
=
ρ
記録パワーPW
図G.1−記録パワーに対する変調度の関数
ランダムな測定エラー及びノイズの影響を最小にするために，記録パワーに対する変調度のカーブは，
次に示す関数で近似する。
()
−
×
=
W
thr
max
W
conv
1PP
m
P
m
ここに， mmax： 最大変調度（飽和レベル）
Pthr： しきい値パワー
この（簡単にした）モデルで，関数f(PW)＝PW×mconv(PW)は直線となり，次の式で表される。
PW×mconv(PW)＝mmax×(PW−Pthr)
Ptarget
PWO
PWO＝Ptarget×ρ
239
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
Pthr
Ptarget
Ptarget= P
κ×thr
記録パワーPW
直線近似
Pw×mconv(Pw)
図G.2−変調度に記録パワー乗じたもの 対 記録パワーの関数
κの値は，Ptarget及びPthrの比で規定し，次の式となる。
thr
target
P
P
κ=
PWO，PBWO，PSO，PCO，PMO及び各パワーの関係を決めるために必要なパラメタを，次に示す定義並び
に図G.1及び図G.2に示す。
− mIND：
ディスク情報にPINDの場合の変調度として示す。
− κ：
変調度カーブの中でOPCを行うべきポイントを示すPW及びPthrのターゲット比
− PIND：
ディスク情報中に示すPtargetの推定値
− Ptarget＝κ×Pthr：
κにおける実際の記録ピークパワー
− ρ：
PtargetからPWOを求めるための乗算係数
− PWO＝ρ×Ptarget： 最適記録ピークパワーPWO
− εBW：
記録バイアスパワーと記録ピークパワーとの比
− PBWO＝εBW×PWO： 最適記録バイアスパワーPBWO
− εS：
スペースパワーと記録ピークパワーとの比
− PSO＝εS×PWO：
最適スペースパワーPSO
− εC：
冷却パワーと記録ピークパワーとの比
− PCO＝εC×PWO：
最適冷却パワーPCO
− εM：
中間パワーと記録ピークパワーとの比
− PMO＝εM×PWO： 最適中間パワーPMO
追加で，次に示すPWOから得られるベータ値が，内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報
に含まれる。
− βWO：
PWOを用いることによって得られる，HF信号の最適ベータ値
βWOの値は，PWOを決めるために，ベータ値を用いるドライブを使用してもよい。
直線近似方法は，次のとおりとする。
PBW＝εBW×ρ×PIND（PSO＜PBWO，PBW＝εBW×PWiの場合），PS＝εS×PWi，PM＝εM×PWi及びPC＝εC×ρ×
PINDを使って，異なる記録パワーPWiでランダムデータを試験記録することによって，それに伴う補正変調
度＝miが求められる。
240
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
PW×mconv(PW)＝mmax×(PW−Pthr)の直線を，幾つかのポイント（PWi，mi×PWi）に当てはめることによっ
て，これらのポイントに対応するmmax及びPthrを簡単に決めることができる（モデルの正確度の限界から，
mmaxは，1よりも大となる可能性があることを認識しておくことが望ましい。）。
G.3
ディスクのOPCパラメタを決める方法
メディア製造業者は，最初に，ディスクの最適パワーPWO，PBWO，PSO，PMO及びPCOを決めなければな
らない。これは，幾つかのPW，PBW，PS，PM及びPCの条件で試験記録をし，箇条30に従って記録パラメ
タの結果を測定することによってできる。記録及び測定は，箇条9に適合した基準ドライブを使用しT＝
23 ℃で行う。
最適記録パラメタとなるPW＝PWO，PBW＝PBWO，PS＝PSO，PM＝PMO，及びPC＝PCOの組合せを選んだ後
に，εBW＝PBWO/PWO，εS＝PSO/PWO，εC＝PCO/PWO及びεM＝PMO/PWOの比が決められる。
次のステップでは，内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に規定する他のパラメタ（κ，
PIND，mIND及びρ）を決める。メディア製造業者は，ターゲット記録パワーの推定指示値PINDを選び，こ
のPINDでの変調度mINDを測定する。乗算係数は，ρ＝PWO/PINDとする。
最後のステップは，内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に規定するβWOの値を決める
ことである。
κの値を決める方法は，次のとおりとする。
PBW＝εBW×PWi，PS＝εS×PWi，PM＝εM×PWi及びPC＝PCOを使って，0.9×PIND〜1.1×PINDの範囲で，異
なる記録パワーPWiでランダムデータを記録した後に，その結果の変調度miを測定する。記録及び変調度
miの測定の両方を，基準ドライブを使いT＝23 ℃で行う。
次に，G.2に従って，得られた測定ポイントに対して直線近似を行い，それによってPthrが決まり，κが
次のとおりに計算できる。
thr
IND
P
P
κ=
留意事項1 必ずしも全ての記録パラメタは独立には最適化できないであろうことから，ディスクに
対しての記録パラメタの最適値の組合せを決めることは，製造業者に任せる。
留意事項2 変調度の測定は，値が小さい場合には幾分か不正確になるため，記録パワーの範囲（す
なわち，PIND）は一番低いパワーでの変調度が20 %を超えるように選ぶことが望ましい。
さらに，変調度及び記録パワーの測定は，変調度が飽和レベルよりも十分に下のレベル
で，行うことが望ましい。
G.4
ベータ値を決める方法
ベータ（β）は，波形等化を行う前の交流結合したHF信号を使用して求める。ベータは，次の式で規定
し，A1及びA2のピークレベルの差(A1＋A2)を両ピークレベル(A1−A2)で正規化したものである（図G.3参照）。
β＝(A1＋A2)/(A1−A2)
βWOの値は，G.3に示した方法に従って得られるPWOを適用することによって決まる。
241
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
A2
A1
A1
A1
A2
A2
0
H
F
信
号
高反射レベル
低反射レベル
図G.3−異なる記録パワーで記録した交流結合のHF信号
OPCの結果として，PWOを用いて得られるベータ値は，DIの表に含まれる（15.8.3参照）。
242
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書H
（規定）
i-MLSE［統合化最ゆう（尤）法系列エラー推定］測定のHF信号の前処理
H.1 一般
BD多層ディスクシステムのデータ復号にパーシャルレスポンス信号処理技術を用いたため，パーシャ
ルレスポンスの適用に対しての新しい信号品質の評価方法を採用する。この附属書は，i-MLSE［統合化最
ゆう（尤）法系列エラー推定］と呼ばれる新しい方法を規定する。
H.2 i-MLSE測定システムの実装一般
図H.1の回路は，信号品質を評価する基準信号処理ユニットの実装例を示す。信号処理ユニットは，2
×Vrefでの動作を仮定している。
Viterbi
decoder
Viterbi
decoder
プリアンプʼ
HPF
LPF
A/D
補間器
デジタル
イコライザ
(PR)
PLL
適応形
イコライザ
ビタビ
復号器
i-MLSE
検出器
17PP
復調器
4分割フォトディテクタ
オフセット
キャンセラ
AGC
図H.1−基準信号処理ユニットの実装例
H.3 アナログフィルタ（HPF，LPF）の規定
HF読取りチャネルからのHF信号は，最初の信号処理ブロックに，図H.1に示す高域通過フィルタ（HPF）
によって交流結合される。2倍速（2x）動作の場合に，高域通過フィルタは遮断周波数（−3 dB）が20 kHz
の1次のアナログフィルタとする。
低域通過フィルタ（LPF）は，折返しひずみを防ぐためにナイキスト周波数以上の周波数成分を除く。
遮断周波数（−3 dB）は，40 MHzと60 MHzとの間とする。100 MHzよりも高い周波数の抑圧は，−30
dBよりも小さくする。
H.4 A/D変換器の規定
少なくとも8ビット以上の分解能のA/D変換器で，チャネルクロック周波数よりも高い固定周波数で，
HF信号を標本化する。A/Dで標本化された信号の実効分解能は，i-MLSEの正確度のために，7ビット以
上とする。標本化した信号振幅は，AGC回路によって一定に制御される。A/Dの標本化速度は，チャネル
クロック周波数の105 %と110 %との間にすることが望ましく，A/D変換器の標本化周波数は，次の式(H.1)
で規定する。
243
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
fs＝(1＋r)×fch ········································································· (H.1)
ここに，
fs： A/D変換器の標本化周波数
r： オーバーサンプリングレート
fch： チャネルクロック周波数
次に，標本化周波数の例は，次のとおりになる。
r＝6.06 %及びfch＝132 MHzの場合は，fs＝140 MHz
H.5 オフセットキャンセラの規定
オフセットキャンセラは，A/D変換器の後に実装される。目的は，標本化した信号のエネルギー中心に，
信号処理システムのゼロレベルを合わせることにある。図H.2は，デジタルオフセットキャンセラのブロ
ック図を示す。オフセットキャンセラの0 dB交差周波数は，1.4 kHzとする（k1＝1.0，k2＝2.0−14）。
+
+
+
+
D
+
-
1
k2
Input
Output
入力
出力
D
k1
k2
+
+
‒
+
+
図H.2−オフセットキャンセラのブロック図
H.6 自動利得制御（AGC）の規定
自動利得制御（AGC）は，オフセットキャンセラの後に実装される。AGCの目的は，ディスクの回転に
伴う信号エンベロープの変動を抑えることにある。AGCの開ループ伝達関数は，図H.3による。AGCの0
dB交差周波数は，1.0 kHzとする。
244
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
0 dB
Gain
(dB)
1
-20 dB/decade
Frequency
(kHz)
利得
(dB)
0 dB
‒20 dB / ディケード
1
周波数
(kHz)
0 dB
Gain
(dB)
1
-20 dB/decade
Frequency
(kHz)
利得
(dB)
0 dB
‒20 dB / ディケード
1
周波数
(kHz)
図H.3−AGCの開ループ伝達関数の図
H.7 補間器の規定
補間器は，AGCの後に実装する。補間器の目的は，標本化した信号をPLLブロックからの再標本化情
報を用いて再標本化することにある。補間器の位相分解能は，十分小さくする。補間器の位相調整可能範
囲は，標本化周期1/fsよりも広くする。補間器は，HF信号帯域で平たんな特性をもつ補間フィルタで実装
してもよい。事前に決めたタップ長及び位相分解能の補間器のタップ係数は，周波数特性の逆フーリエ変
換で計算される。式(H.2)は，あるタップ係数の設計例の周波数特性を示す。
(
)
+
>
+
−
−
−
×
−
<
=
)2
/
5.0
(
,
0.0
)2
/
5.0
2
/
5.0(
,
5.0
π
sin
0.1
5.0
)2
/
5.0
(
,
0.1
)
(F
s
s
s
s
s
R
f
f
R
f
f
R
f
f
f
R
R
f
f
f
≦
≦
···· (H.2)
図H.4は，補間器のタップ係数の設計として推奨するR＝0.25fsの周波数特性例を示す。
245
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
Low Pass Filter Response (R=0.25fs)
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
0.0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
Normalized Frequency
A
m
p
li
tu
d
e
[A
rb
.u
n
it
]
低域通過フィルタ応答(R = 0.25fs )
振
幅
[任
意
の
単
位.
]
正規化周波数
0.0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
図H.4−R＝0.25fsの周波数特性例
H.8 位相同期ループの規定
位相同期ループ（PLL）は，チャネルクロックを回復するために実装される。開ループ伝達関数を，図
H.5に示す。
0 dB
Gain
(dB)
16
64
-40 dB/decade
-20 dB/decade
Frequency
(kHz)
利得
(dB)
0 dB
‒40 dB / ディケード
‒20 dB / ディケード
16
64
周波数
(kHz)
0 dB
Gain
(dB)
16
64
-40 dB/decade
-20 dB/decade
Frequency
(kHz)
利得
(dB)
0 dB
‒40 dB / ディケード
‒20 dB / ディケード
16
64
周波数
(kHz)
図H.5−PLLの開ループ伝達関数の図
H.9 デジタル波形等化器の規定
デジタル波形等化器は，補間器の後に実装される。デジタル波形等化器は，13タップの係数をもつFIR
フィルタである。デジタル波形等化器の目的は，適応形波形等化器の収束を安定化することにある。デジ
246
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
タル波形等化器の係数は，次に示すものに設定する（図H.6参照）。
番号
係数
0
‒0.201 2
1
0.448 3
2
0.195 4
3
‒0.641 2
4
‒0.587 6
5
0.605 7
6
1.361 3
7
0.605 7
8
‒0.587 6
9
‒0.641 2
10
0.195 4
11
0.448 3
12
‒0.201 2
番号
係数
0
‒0.201 2
1
0.448 3
2
0.195 4
3
‒0.641 2
4
‒0.587 6
5
0.605 7
6
1.361 3
7
0.605 7
8
‒0.587 6
9
‒0.641 2
10
0.195 4
11
0.448 3
12
‒0.201 2
図H.6−デジタル波形等化器の係数
H.10 適応形波形等化器の規定
13タップをもつ適応形波形等化器が，デジタル波形等化器の後に実装される。適応形波形等化器のタッ
プ係数は，最小二乗平均（LMS）アルゴリズム又は符号付き誤差LMSアルゴリズムで更新することが望
ましい。
LMSアルゴリズムのタップ係数更新の式を，次に示す。
h(n＋1)＝h(n)＋μ×e(n)×u(n) ····················································· (H.3)
ここに， h(n)： タップ係数ベクトル
e(n)： 推定誤差
u(n)： 入力信号ベクトル
μ： 利得パラメタ
推定誤差e(n)は，適応形等化器出力と目標信号間との間の差分である。PR(1,2,2,2,1)の目標信号は，ビタ
ビ復号器の出力を用いて生成される。式(H.3)の場合，利得係数μは，3.8×10−6(2−18)に設定する。
信号処理回路は，符号付き誤差LMSアルゴリズムを用いることによって乗算器が省略できるため，簡
単にできる。この場合，利得パラメタμは1.2×10−7(2−23)に設定し，計数更新の式は，次に示すものとな
る。
h(n＋1)＝h(n)＋μ×sign[e(n)]×u(n)
ここに，
[
]
<
−
=
>
+
=
0
)
(
,1
,0
)
(
,0
0
)
(
,1
)
(
sign
n
en
n
e
n
e
n
e
H.11 ビタビ復号器の規定
ビタビ復号器は，適応形等化器のため及び信号評価のために実装される。ビタビ復号器のPRクラス（パ
ーシャルレスポンスクラス）は，PR(1,2,2,2,1)に設定する。17PP変調を仮定したPR(1,2,2,2,1)の状態遷移表
を，図H.7に示す。ビタビ復号器のパスメモリ長は，正確な復号を仮定して40ステップよりも長くする。
ビタビ復号器の出力は，PR(1,2,2,2,1)の符号間干渉（ISI）及び2値データを畳み込むことによって適応形
247
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
波形等化器の目標信号を生成すること，並びにi-MLSEのパタンの検出に，使用される。
0000
1000
0001
1001
1100
0110
1110
0111
1111
0011
1/8
0/0
1/7
0/6
0/7
0/1
1/1
1/2
0/5
1/5
0/3
1/3
1/4
1/4
0/4
0/4
0/0
0/1
1/1
1/2
0/3
1/4
1/4
0/4
0/4
1/5
0/5
0/6
0/7
1/8
1/7
0/6
1/3
0000
0001
0011
0111
1111
1110
1100
1000
1001
0011
0110
1100
図H.7−PR(1，2，2，2，1)状態遷移図
H.12 i-MLSE［統合化最ゆう（尤）法系列エラー推定］の定義
H.12.1 一般
i-MLSEは，17PP変調符号を用いたPR(1,2,2,2,1)ML［ゆう（尤）度最大］再生システムの信号の品質指
標である。それは，PR(1,2,2,2,1)MLの再生信号の特定パタンの誤り確率に相関をもつ標準偏差（σ）で規
定する。
この値は，従来のジッタと同様の方法で用いることができ，SERとも良い相関がある。
H.12.2 i-MLSE検出ユニットの実装一般
i-MLSE検出ユニットの例を，図H.8に示す。i-MLSEは，ビタビ復号器の入力信号及び出力（2値化デ
ータ）から計算される。パタン検出器は，ビタビ復号器の2値データに何らかのエラーを起こす可能性が
ある特定パタンを検出する。それぞれ，二乗ユークリッド距離が12又は14で全パタン数が54あるこれら
のパタンは，3種類（グループ14，グループ12A，グループ12B）にクラス分けされる。メトリック差分
計算器は，図H.9の中の対応するグループの読取信号の信頼性を計算している。図H.9の中のグループ（グ
ループ14，グループ12A，グループ12B）の各推定エラー率は，ビットエラー率推定器によってメトリッ
ク差分の標準偏差から計算される。この方法で，メトリック差分は，各グループの標準偏差の計算に使用
される。各グループのエラー率は，各パタンに特有のエラー数及び生起確率の積で得られる。全体のエラ
ー率は，三つのパタンのエラー率の和で推定され，i-MLSEは，エラー率及び標準偏差の関係から計算さ
れる。
248
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
Signal after
equalizing(S)
Binary data
Viterbi
decoder
Pattern 1
detector
i-MLSE calculator
Metric Difference
calculator ( MD1)
Pattern 2
detector
Metric Difference
calculator (
MD2)
Pattern 3
detector
Metric Difference
calculator (
MD3)
Judge
0≧MD1
Judge
0≧MD2
Judge
0≧MD3
Counter
(N1)
Accumulator
(S1)
Counter
(JN1)
Accumulator
(JS1)
Counter
(N2)
Accumulator
(S2)
Counter
(JN2)
Accumulator
(JS2)
Counter
(N3)
Accumulator
(S3)
Counter
(JN3)
Accumulator
(JS3)
1 bit error
rate
estimation
2 bit error
rate
estimation
3 bit error
rate
estimation
+
Total σ
calculator
i-MLSE
パターン1
検出器
i-MLSE 計算器
メトリック差分
計算器
MD1)
パターン2
検出器
メトリック差分
計算器(
MD2)
パターン3
検出器
メトリック差分
計算器
MD3)
判定
0≧MD1
判定
0≧MD2
判定
0≧MD3
カウンタ
(N1)
積算器
(S1)
カウンタ
(JN1)
積算器
(JS1)
カウンタ
(N2)
積算器
(S2)
カウンタ
(JN2)
積算器
(JS2)
カウンタ
(N3)
積算器
(S3)
カウンタ
(JN3)
積算器
(JS3)
1 ビットエラー
率推定
2 ビットエラー
率推定
+
i-MLSE
信号(S)
波形等化後の
復号器
ビタビ
2値データ
+
3 ビットエラー
率推定
統合σ
計算器
図H.8−i-MLSEの構成図
H.12.3 パタン検出器
評価パタン（パタン検出器によって検出される。）を，図H.9に示す。
ここに，記号xは，2値の“0”又は“1”であり，xは，xの反転である。
各グループで，x＝1とx＝0との間の二乗ユークリッド距離は異なる。グループ14の二乗ユークリッド
距離は14であり，このパタンは，1ビットシフトエラーに相当する。グループ12Aの二乗ユークリッド距
離は12であり，このパタンは，単一2T信号の1ビットシフトエラーに相当する。グループ12Bの二乗ユ
ークリッド距離は12であり，このパタンは，連続2T信号の1ビットシフトエラーに相当する。
249
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
グループ14
グループ12 A
グループ12 B
1
0,0,0,0,x,1,1,0,0
1
0,0,0,0,x,1,x
̲,0,0,0,0
1
0,0,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,0,0
2
0,0,0,0,x,1,1,1,0
2
0,0,0,0,x,1,x
̲,0,0,0,1
2
0,0,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,1,0
3
0,0,0,0,x,1,1,1,1
3
0,0,0,0,x,1,x
̲,0,0,1,1
3
0,0,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,1,1
4
0,0,1,1,x,0,0,0,0
4
0,0,1,1,x,0,x
̲
,1,1,0,0
4
0,0,1,1,x,0,x
̲
,1,x,0,0,0,0
5
0,0,1,1,x,0,0,0,1
5
0,0,1,1,x,0,x
̲,1,1,1,0
5
0,0,1,1,x,0,x
̲,1,x,0,0,0,1
6
0,0,1,1,x,0,0,1,1
6
0,0,1,1,x,0,x
̲,1,1,1,1
6
0,0,1,1,x,0,x
̲,1,x,0,0,1,1
7
0,1,1,1,x,0,0,0,0
7
0,1,1,1,x,0,x
̲,1,1,0,0
7
0,1,1,1,x,0,x
̲,1,x,0,0,0,0
8
0,1,1,1,x,0,0,0,1
8
0,1,1,1,x,0,x
̲
,1,1,1,0
8
0,1,1,1,x,0,x
̲
,1,x,0,0,0,1
9
0,1,1,1,x,0,0,1,1
9
0,1,1,1,x,0,x
̲,1,1,1,1
9
0,1,1,1,x,0,x
̲,1,x,0,0,1,1
10
1,0,0,0,x,1,1,0,0
10
1,0,0,0,x,1,x
̲,0,0,0,0
10
1,0,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,0,0
11
1,0,0,0,x,1,1,1,0
11
1,0,0,0,x,1,x
̲,0,0,0,1
11
1,0,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,1,0
12
1,0,0,0,x,1,1,1,1
12
1,0,0,0,x,1,x
̲
,0,0,1,1
12
1,0,0,0,x,1,x
̲
,0,x,1,1,1,1
13
1,1,0,0,x,1,1,0,0
13
1,1,0,0,x,1,x
̲,0,0,0,0
13
1,1,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,0,0
14
1,1,0,0,x,1,1,1,0
14
1,1,0,0,x,1,x
̲,0,0,0,1
14
1,1,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,1,0
15
1,1,0,0,x,1,1,1,1
15
1,1,0,0,x,1,x
̲,0,0,1,1
15
1,1,0,0,x,1,x
̲,0,x,1,1,1,1
16
1,1,1,1,x,0,0,0,0
16
1,1,1,1,x,0,x
̲
,1,1,0,0
16
1,1,1,1,x,0,x
̲
,1,x,0,0,0,0
17
1,1,1,1,x,0,0,0,1
17
1,1,1,1,x,0,x
̲,1,1,1,0
17
1,1,1,1,x,0,x
̲,1,x,0,0,0,1
18
1,1,1,1,x,0,0,1,1
18
1,1,1,1,x,0,x
̲
,1,1,1,1
18
1,1,1,1,x,0,x
̲
,1,x,0,0,1,1
図H.9−グループ14，12A及び12Bの評価パタン
H.12.4 メトリック差分計算器
メトリック差分計算器は，ビタビ入力信号S及び二つの状態遷移経路（PA，PB）の違いであるMD（メ
トリック差分）の計算を行う。MDの一般式は，式(H.4)のように規定する。
(
)
(
)
x
y
i
i
y
i
i
i
i
i
i
x
E
S
P
S
P
MD
−
−
−
−
=∑
∑
=
=
=
=
0
0
2
B
2
A
·································· (H.4)
ここに，
Ex： 二つのパタンPAとPBとの間の，二乗ユークリッド距離
Exは，式(H.5)で規定する。
∑==
−
=
y
0
2
B
A
)
(
i
i
i
i
x
P
P
E
······························································· (H.5)
250
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ここに， (x，y)： グループ14は，(1，4)，グループ12Aは，(2，6)，グルー
プ12Bは，(3，8)
例えば，グループ14-1の移行をトレリス図に示す（図H.10参照）。状態遷移のパタン（図H.10の2点
鎖線）は，状態遷移が(0，0，0，0) ⇒ (0，0，0，0) ⇒ (0，0，0，1) ⇒ (0，0，1，1) ⇒ (0，1，1，0) ⇒
(1，1，0，0)及び状態遷移が(0，1，3，4，4)に相当する信号レベル（PA）を示している。他の状態遷移候
補のパタン（図H.10の破線）は，状態遷移が(0，0，0，0) ⇒ (0，0，0，1) ⇒(0，0，1，1) ⇒ (0，1，1，
1) ⇒ (1，1，1，0) ⇒ (1，1，0，0)及び状態遷移が(1，3，5，6，5)に相当する信号レベルを示している。
グループ14-1の例では，Ex及びMDxは，次のとおりとする。
14
)5
4(
)6
4(
)5
3(
)3
1(
)1
0(
2
2
2
2
2
=
−
+
−
+
−
+
−
+
−
=
x
E
{
}
{
}14
)
5(
)
6(
)
5(
)
3(
)
1(
)
4(
)
4(
)
3(
)
1(
)
0(
2
4
2
3
2
2
2
1
2
0
2
4
2
3
2
2
2
1
2
0
−
−
+
−
+
−
+
−
+
−
−
−
+
−
+
−
+
−
+
−
=
S
S
S
S
S
S
S
S
S
S
MDx
0000
0001
0011
0110
0111
1000
1001
1100
1110
1111
k-5
0000
0001
0011
0110
0111
1000
1001
1100
1110
1111
0/0
1/1
1/3
0/4
0/5
0/4
0/6
1/7
0/1
1/2
1/4
1/4
0/3
0/5
1/8
0/7
k-4
0000
0001
0011
0110
0111
1000
1001
1100
1110
1111
0/0
1/1
1/3
0/4
0/5
0/4
0/6
1/7
0/1
1/2
1/4
1/4
0/3
0/5
1/8
0/7
k-3
0000
0001
0011
0110
0111
1000
1001
1100
1110
1111
0/0
1/1
1/3
0/4
0/5
0/4
0/6
1/7
0/1
1/2
1/4
1/4
0/3
0/5
1/8
0/7
k-2
0000
0001
0011
0110
0111
1000
1001
1100
1110
1111
0/0
1/1
1/3
0/4
0/5
0/4
0/6
1/7
0/1
1/2
1/4
1/4
0/3
0/5
1/8
0/7
k-1
0000
0001
0011
0110
0111
1000
1001
1100
1110
1111
0/0
1/1
1/3
0/4
0/5
0/4
0/6
1/7
0/1
1/2
1/4
1/4
0/3
0/5
1/8
0/7
k
入力
データ/信号
レベル
Pa
Pb
図H.10−PR(1，2，2，2，1)MLのトレリス図
H.12.5 エラー率推定
図H.9のパタングループが検出されたら，次の式を計算する。
251
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
∑
=
=
x
N
i
i
x
MD
S
1
さらに，MDiが0以下の場合は，次の式を計算する。
)0
(
1
≦
i
JN
i
i
x
MD
MD
JS
x∑
=
=
ここに，
i： MDiのサンプル番号を示す変数
Sxは，図H.9のMDiを足し合わせた値である。Nxは，MDiの数である。JSxは，MDiが0以下の場合の
MDiを足し合わせたものである。JNxはJSxの数であり，σxは，次のとおりとする。
π
2
2
×
×
×
+
×
=
x
x
x
x
x
x
x
x
JN
E
N
S
E
N
JS
a
x
x
x
x
E
N
S
b
×
=
)
(
)
(
2
x
x
x
x
b
Q
a
b
P
σ
+
×
=
ここに， P及びQ： bxの関数
P及びQの代表的な値を図H.11に示す。P及びQの正確な値は，この表から補間して求める。
252
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
bx
P(bx)
Q(bx)
bx
P(bx)
Q(bx)
bx
P(bx)
Q(bx)
‒0.300
0.647 0
0.097 5
‒0.100
0.511 6
0.021 3
0.100
0.418 6
0.017 4
‒0.295
0.637 4
0.095 8
‒0,095
0.512 0
0.019 5
0.105
0.414 0
0.018 8
‒0.290
0.628 3
0.094 0
‒0.090
0.512 5
0.017 7
0.110
0.409 6
0.020 1
‒0.285
0,619 5
0.092 3
‒0.085
0.512 9
0.016 0
0.115
0.405 2
0.021 5
‒0.280
0.611 2
0.090 5
‒0.080
0.513 3
0.014 3
0.120
0.400 9
0.022 8
‒0.275
0.603 4
0.088 7
‒0.075
0.513 6
0.012 7
0.125
0.396 7
0.024 1
‒0.270
0,595 9
0.086 9
‒0.070
0.513 8
0.011 2
0.130
0.392 6
0.025 4
‒0.265
0.588 7
0.085 2
‒0,065
0.514 0
0.009 7
0.135
0.388 7
0.026 7
‒0.260
0.582 0
0.083 4
‒0.060
0.514 0
0.008 4
0.140
0.384 9
0.027 9
‒0.255
0,575 6
0.081 6
‒0.055
0.513 9
0.007 1
0.145
0.381 2
0.029 1
‒0.250
0.569 6
0.079 8
‒0,050
0.513 6
0.005 9
0.150
0.377 7
0.030 3
‒0.245
0.563 9
0.077 9
‒0.045
0.513 2
0.004 8
0.155
0.374 3
0.031 5
‒0.240
0,558 6
0.076 1
‒0.040
0.512 6
0.003 8
0.160
0.371 1
0.032 6
‒0.235
0.553 5
0.074 3
‒0.035
0.511 8
0.002 9
0.165
0.368 1
0.033 8
‒0.230
0.548 8
0.072 4
‒0.030
0.510 8
0.002 1
0.170
0.365 2
0.034 8
‒0.225
0,544 5
0.070 5
‒0.025
0.509 6
0.001 5
0.175
0.362 4
0.035 9
‒0.220
0.540 4
0.068 6
‒0.020
0.508 1
0.001 0
0.180
0.359 9
0.036 9
‒0.215
0.536 6
0.066 8
‒0.015
0.506 4
0.000 5
0.185
0.357 5
0.037 9
‒0.210
0.533 1
0.064 8
‒0.010
0.504 5
0.000 2
0.190
0.355 3
0.038 8
‒0.205
0.529 9
0.062 9
‒0.005
0.502 4
0.000 1
0.195
0.353 2
0.039 8
‒0.200
0.527 0
0.061 0
0.000
0.500 0
0.000 0
0.200
0.351 3
0.040 7
‒0.195
0.524 3
0.059 0
0.005
0.497 4
0.000 1
0.205
0.349 6
0.041 5
‒0.190
0.521 9
0.057 1
0.010
0.494 5
0.000 2
0.210
0.348 1
0.042 3
‒0.185
0.519 8
0.055 1
0.015
0.491 5
0.000 5
0.215
0.346 7
0.043 1
‒0.180
0.517 9
0.053 1
0.020
0.488 2
0.000 9
0.220
0.345 5
0.043 9
‒0.175
0.516 2
0.051 1
0.025
0.484 7
0.001 4
0.225
0.344 5
0.044 6
‒0.170
0.514 8
0.049 1
0.030
0.481 0
0.002 0
0.230
0.343 6
0.045 3
‒0.165
0.513 5
0.047 1
0.035
0.477 2
0.002 7
0.235
0.342 9
0.046 0
‒0.160
0.512 5
0.045 1
0.040
0.473 2
0.003 5
0.240
0.342 3
0.046 6
‒0.155
0.511 7
0.043 1
0.045
0.469 0
0.004 4
0.245
0.342 0
0.047 3
‒0.150
0.511 0
0.041 0
0.050
0.464 7
0.005 3
0.250
0.341 7
0.047 9
‒0.145
0.510 5
0.039 0
0.055
0.460 3
0.006 3
0.255
0.341 7
0.048 4
‒0.140
0.510 2
0.037 0
0.060
0.455 8
0.007 4
0.260
0.341 8
0,049 0
‒0.135
0.510 0
0.035 0
0.065
0.451 2
0.008 5
0.265
0.342 1
0.049 5
‒0.130
0.510 0
0.033 0
0.070
0.446 6
0.009 7
0.270
0.342 5
0.050 0
‒0.125
0.510 0
0.031 0
0.075
0.441 9
0.010 9
0.275
0.343 1
0.050 4
‒0.120
0.510 2
0.029 0
0.080
0.437 2
0.012 2
0.280
0.343 8
0.050 9
‒0.115
0.510 5
0.027 0
0.085
0.432 5
0.013 5
0.285
0.344 7
0.051 3
‒0.110
0.510 8
0.025 1
0.090
0.427 8
0.014 8
0.290
0.345 8
0.051 7
‒0.105
0.511 2
0.023 2
0.095
0.423 2
0.016 1
0.295
0.347 0
0.052 1
0.300
0.348 4
0.052 5
図H.11−σ/2計算の近似表
各グループのエラー確率は，次の式で求められる。
dz
e
π
2
1
2
2
2
1
x
σ
x
x
x
σ
erf
−
−
∞
−∫
=
H.12.6 i-MLSEの計算
推定エラー率（EbER）は，次のとおりとする。
253
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
3
3
2
1
3
2
3
2
1
2
1
3
2
1
1
3
2
1
erf
N
N
N
N
erf
N
N
N
N
erf
N
N
N
N
EbER
×
+
+
×
+
×
+
+
×
+
×
+
+
×
=
i-MLSEは，EbERから式(H.6)及び式(H.7)によって計算する。
σ＝E−1(EbER) ········································································· (H.6)
i-MLSE＝σ/2 ·········································································· (H.7)
ここに，
=∫−∞
−
1
2
-
dz
e
π
2
1
)
(
2
2
σ
x
σ
σ
E
i-MLSEは，1又はそれ以上のクラスタのチャネルで測定される。
254
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書I
（規定）
測定方法
I.1
一般
ディスクの品質を検証するために，この規格に多くの規定がされている。BDレコーダブルディスクの
品質を決めるために，必要な測定の再現性を最大化するために，この附属書に幾つかの測定方法を規定す
る。
I.2
基準ドライブの初期調整
BDレコーダブルディスクの評価の前に，基準ドライブを調整する。
複数の項目を調整する。
初期調整は，ディスクの各測定場所で行う。
調整順は，次のとおりとする。
a) 球面収差
b) フォーカスオフセット
c) 半径方向の傾き
d) 接線方向の傾き
e) トラッキングサーボ利得（AGCがない場合だけ適用する。）
f)
フォーカスサーボ利得
g) トラッキングオフセット
上記のa)〜g)の調整の準備として，未記録ディスクに，29.4.3の規定に従ってランダムデータを記録す
る。そして，基準ドライブの初期設定条件で，a)〜c)の調整をI8ppが最大になるまで繰り返す。
次に，記録ディスクを2x基準速度（Vref）で読み取り，i-MLSEが最小になるようにa)〜g)の調整を繰り
返す。i-MLSEは，トラックジャンプの領域を除き，1クラスタ以上の期間で測定する。
調整手順を，規定した順番で，i-MLSEの測定結果が前回よりも良くなることが0.1 %未満となるまで，
繰り返す。
I.3
i-MLSE測定
i-MLSE測定を行うために，測定条件（附属書H参照）を満たす。
i-MLSEは，1クラスタ以上の期間を平均化する。
i-MLSE測定を行うために，次の方法を順番に行うことが望ましい。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) タイムインタバルアナライザ（TIA）を準備する。TIAの測定窓幅TW＝8 msを，トラックジャンプ領
域を除いた1回転に設定する。
c) i-MLSEは，29.5の規定に従って信号を供給して測定することが望ましい。
d) i-MLSEの測定を行う。
255
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
I.4
変調振幅測定
変調振幅測定を行うためには，測定条件（30.2参照）を満たす。
I.5
I3pp/I8ppの解像度の測定（参考）
解像度の測定は，29.3.3の規定によって行う。I3ppは，スペクトラムアナライザを使って測定する。I8pp
は，デジタルストレージオシロスコープ（DSO）を使って測定する。スペクトラムアナライザ及びDSO
は，同じHF基準ドライブの出力を測定しケーブル終端を用いる。
次の測定方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを1トラックジャンプモード（ドライブはフォーカス及びトラッキングサーボがかかり，
1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) I3pp及びI8ppの測定条件
− スペクトラムアナライザの設定
− 中心周波数：
22.0 MHz（2×Vrefの3T）
− スパン：
500 kHz
− 分解能帯域幅（RBW）： 30 kHz
− ビデオ帯域幅（VBW）： 10 Hz
− 掃引時間（SWT）：
約5秒
− ディスク信号
− 信号：
I3単一周波数信号，I8単一周波数信号
− トラック：
1トラック
− 測定方法
− I3ppは，単一周波数信号を，スペクトラムアナライザを使って測定する（図I.1参照）。
− I8ppは，単一周波数信号を，デジタルストレージオシロスコープを使って測定する。
256
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
中心周波数22.0MHz
スパン500kHz
50kHz/
Ref
47dBmV
Att
30dB
30kHz
10Hz
A
SGL
-50
-40
-30
-20
-10
0
10
20
30
40
1
Marker1[T1]
11.21dBmV
22.000000000MHz
分解能帯域幅
ビデオ帯域幅
掃引時間5秒
図I.1−スペクトラムアナライザを用いたI3変調度の測定例
スペクトラムアナライザで得られるI3ppの単位はdBmVであり，一方，I8ppはmVの値が得られる。そこ
で，I3pp/I8ppは，次のとおりに計算される。
(
)
(
)
pp
8pp
20
dBmV
8pp
3pp
mV
10
2
2
/
3pp
I
I
I
I
×
=
I.6
I8pp/I8H及びI3pp/I8pp変調度の測定方法
I8pp/I8H及びI3pp/I8H変調度の測定は，29.3.3に規定した条件によって行う。
I8pp/I8H及びI3pp/I8Hの測定は，次の方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) スライサによって2値化したHFデータ信号は，デジタルストレージオシロスコープ（DSO）のトリ
ガ信号として用いる。
c) I8L，I8H，I3L及びI3Hの値を，DSO又はアナログオシロスコープで測定する。
d) DSOを使う場合，各波形は，周内に均等に分散している1 000回測定分を平均化する。
e) I8pp/I8H及びI3pp/I8Hの値は，次の式によって計算する。
8H
8L
8H
8H
8pp/
I
I
I
I
I
−
=
8H
3L
3H
8H
3pp/
I
I
I
I
I
−
=
f) I8Hの測定値は，迷光の影響を受けるため（B.4参照），上記で測定したI8pp/I8H及びI3pp/I8Hの値は，光
学システムの正規化したディテクタの大きさに依存する。測定したI8pp/I8H及びI3pp/I8Hの値は，正規化
257
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
ディテクタの大きさが25 μm2に換算する。換算した値(I8pp/I8H)conv及び(I3pp/I8H)convは，測定値(I8pp/I8H)meas
及び(I3pp/I8H)measを用いて，次の式で計算する。
[
]
+
×
=
∑
≠
=
−
N
i
jj
ij
i
i
i
i
,i
α
d
PD
R
R
S
I
I
I
I
0
2
normc
v
g
8H
8H
meas,
8H
8pp
conv
8H
8pp
)
tan
2(
π
[
]
+
×
=
∑
≠=
−
N
i
jj
ij
i
i
i
i
i
α
d
PD
R
R
S
I
I
I
I
0
2
normc
v
g
8H
8H
meas,
8H
3pp
conv,
8H
3pp
)
tan
2(
π
ここに，
PDnormc： 25 μm2の正規化ディテクタの
大きさ（9.4参照）
i，j，S8Hi，Rg−vi，R8Hi，dij，N及びα： B.4に規定している。
留意事項 記録層の変調度測定を行う場合には，該当する部分の全ての他の層は未記録であり，上述
した補正には未記録グルーブの反射率の値を用いるように気を付ける。
I.7
非対称性の測定
I.7.1
一般
非対称性の測定は，測定条件（29.3.3参照）を満たす。非対称性の測定には，次に示す方法を行う。
復号データ
レベル
計算ブロック
2T関連レベル
8T 関連レベル
非対称性
計算ブロック
非対称性値
波形等化前HF信号
復号データ
レベル
計算ブロック
2T関連レベル
8T 関連レベル
非対称性
計算ブロック
非対称性値
波形等化前HF信号
図I.2−上位ブロック構成
非対称性の評価は，2T信号レベル及び8T信号レベルに基づいて行う。図I.2は，レベル計算ブロック
及び非対称性計算ブロックで構成する，非対称性評価の上位ブロック構成を示している。2Tレベル及び
8Tレベルの値は，HF信号（波形等化前の信号）及び2値信号（2値信号は，ビタビ復号器にて検出され
る。）の入力に従って，レベル計算ブロックにて平均方法で計算し出力する。その後で，非対称性の値は，
非対称性計算ブロックで，2Tレベル及び8Tレベルの値に従って計算し出力する。
I.7.2
サンプリング方法
チャネルクロックでサンプルした信号で非対称性の計算を実現するためには，2種類の方法がある。一
つ（ケース1）は，ゼロクロスポイントの位相を含む信号を用いる。他の方法（ケース2）は，ゼロクロス
ポイントを除いた信号を用いる（図I.3参照）。各方法は，非対称に関連した適切なレベルを得るために異
なる構造をもっている。
ケース1では，2Tレベルは，2値信号の1001及び0110のタイミングで直接検出されるサンプルレベル
D2s及びD2mの平均である。
ケース2では，2Tレベルは，2値信号11001，10011，00110，01100のタイミングで検出されるサンプル
レベルD2S1，D2S2，D2m1及びD2m2の平均である。
258
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
遅延読取信号
2値信号
1
1
1
0
0
0
0
0
D2s
D2m
1
1
1
選択信号1001のサンプリング位置
選択信号0110のサンプリング位置
2T
2T
3T
3T
ケース1) ゼロクロス点を含む場合
遅延読取信号
2値信号
1
1
1
0
0
0
0
0
選択信号11001，10011のサンプリング位置
選択信号00110，01100のサンプリング位置
1
1
1
D2s1
D2s2
D2m1
D2m2
2T
2T
3T
3T
ケース2) ゼロクロス点を除いた場合
図I.3−サンプリング方法
I.7.3
レベル計算ブロック（平均方法）
レベル計算ブロックは，2Tレベル値及び8Tレベル値をそれぞれ計算して出力する，2Tレベル計算ブロ
ック及び8Tレベル計算ブロックで構成する。
259
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
D
選択信号
D
D
選択信号
10011
10011
選択信号
01100
01100
選択信号
00110
00110
選択信号
11001
D
D
D
平均化
レベル出力
11001
D
遅延の数値は合わせた
方がよい。
遅延
読取
信号
ケース２）
D
波形等化前の
HF信号
選択信号
D
D
平均化
選択信号
1001
レベル出力
1001
選択信号
0110
レベル出力
0110
2値データ
D
D
D
I2s
遅延の数値は合わせた
方がよい。
遅延
読取
信号
及びI2m
ケース１）
平均化
の計算には，二つのレベルだけが使用される。
波形等化前の
HF信号
2値データ
平均化
平均化
平均化
レベル出力
レベル出力
レベル出力
I2s及びI2m
の計算には，四つのレベルだけが使用される。
図I.4−2Tレベル計算の詳細ブロック
図I.4は，2Tレベル計算の詳細ブロックを示す。
ケース1）
それぞれ“1001”及び“0110”に相当する，平均スペースレベル（I2s＝レベル1001）及び平均マークレベル
（I2m＝レベル0110）を計算する二つの平均ユニットがある。選択信号が，“1001”及び“0110”のどれか一つの
パタンの場合は，遅延したHF信号は，選択した平均ユニットに入力される。
ケース2）
それぞれ“11001”，“10011”，“01100”，“00110”に相当する，平均スペースレベル［I2s＝(レベル11001＋レベル
10011)/2］及び平均マークレベル［I2m＝(レベル00110＋レベル01100)/2］を計算する四つの平均ユニットがある。選択信
号が“11001”，“10011”，“01100”，“00110”のどれか一つのパタンの場合は，遅延したHF信号は，選択
した平均ユニットに入力される。
平均ブロックは，ディスク回転の変動を抑えるために，入力信号の平均値を計算する。
260
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
D
HF信号
波形等化前の
D
D
平均化
選択信号
0111111110
レベル出力
0111111110
二つのレベルのみが使用される。
I8s及びI8mの計算に
遅延数は，同じに
した方がよい。
遅延読取
信号
選択信号
2値データ
D
D
D
D
D
D
D
D
D
平均化
選択信号
1000000001
レベル出力
1000000001
ケース１）
D
HF信号
波形等化前の
D
D
01111111100
01111111100
選択信号
2値データ
D
D
D
D
D
D
D
D
D
10000000011
10000000011
D
00111111110
00111111110
平均化
選択信号
11000000001
レベル出力
11000000001
ケース2）
平均化
平均化
平均化
遅延数は，同じに
した方がよい。
遅延読取
信号
選択信号
選択信号
選択信号
レベル出力
レベル出力
レベル出力
レベル出力
四つのレベルのみが使用される。
I8s及びI8mの計算に
図I.5−8Tレベル計算の詳細ブロック
図I.5は，8Tレベル計算の，詳細ブロックを示す。
ケース1）
それぞれ“1000000001”及び“0111111110”に相当する，平均スペースレベル（I8s＝レベル1000000001）及び平
均マークレベル（I2m＝レベル0111111110）を計算する二つの平均ユニットがある。選択信号が“1000000001”及
び“0111111110”のどれか一つのパタンの場合は，遅延したHF信号は，選択した平均ユニットに入力さ
れる。
ケース2）
それぞれ“11000000001”，“10000000011”，“01111111100”，“00111111110”に相当する，平均スペースレ
ベル［I8s＝(レベル11000000001＋レベル10000000011)/2］及び平均マークレベル［I8m＝(レベル00111111110＋レベル01111111100)/2］を計算
する四つの平均ユニットがある。選択信号が“11000000001”，“10000000011”，“01111111100”，“00111111110”
のどれか一つのパタンの場合は，遅延したHF信号は，選択した平均ユニットに入力される。
平均ブロックは，ディスク回転の変動を抑えるために，入力信号の平均値を計算する。
I.7.4
非対称性の計算
非対称性の値は，2Tレベル及び8Tレベル値を，用いて次のとおりとする。
261
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
−
−
+
=
8m
8s
8m
8s
2T
2
I
I
I
I
レベル
平均
非対称性
）
（ケース
レベル
レベル
レベル
平均
1
2
0110
1001
2T
+
=
）
（ケース
レベル＝
レベル
レベル
レベル
レベル
平均
2
4
00110
01100
10011
11001
2T
+
+
+
）
（ケース
レベル
レベル
1
2
0111111110
1000000001
2
8m
s8
+
=
+I
I
）
（ケース
レベル
レベル
レベル
レベル
2
4
0
0111111110
0
0011111111
1
1000000001
1
1100000000
2
8m
s
8
+
+
+
=
+I
I
）
（ケース
レベル
レベル
1
0111111110
1000000001
8m
8s
−
=
−I
I
）
（ケース
レベル
レベル
レベル
レベル
2
2
0
0111111110
0
0011111111
2
1
1000000001
1
1100000000
8m
8s
+
−
+
=
−I
I
I.8
光反射率の測定
I.8.1
一般
光反射率の測定は，測定条件（附属書B参照）を満たす。
I.8.2
光反射率の測定方法
基準ドライブを用いた反射率の測定方法は，次に示される。
a) 校正した反射率Rref（B.2参照）をもつ，基準ディスクからの全ディテクタ電流(I1＋I2)refを測定する。
b) ディスクの評価を行う領域の記録したトラックで，I8Hを測定する。
c) 記録領域のトラックの記録ディスクの反射率R8Hを，次の式で計算する。
(
)
ref
ref
2
1
8H
8H
R
I
I
I
R
×
+
=
d) B.4に規定した方法を用いて，補正反射率を計算する。
留意事項 記録層で反射率を測定する場合に，測定部分に該当する他の層全て未記録とするよう注意
する。
I.9
トラッキングエラー信号測定（PPnorm測定方法）
PPnormの測定は，25.3.3及び25.4に規定した信号を使って行う。
PPnorm信号は，ディスク1回転中に，DSOでサンプリングされる。測定は，図I.6の測定領域として示
した場所で測定する。
PPnorm信号は，ディスク1回転中少なくとも15波は出現するようにする。
基準ドライブの調整は，フォーカスオフセット及び球面収差の調整（記録トラックのI8ppの振幅が最大
になるようにする。）の後に，PPnorm,recを測定する。
次のステップとして，PPnorm,rec測定で得られたのと同じフォーカスオフセット及び球面収差の設定条件
262
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
で未記録トラックでPPnorm,unrecを測定する。
PPnormの値の測定は，次の方法を順番に行うことが望ましい。
a) 基準ドライブを，半径方向トラッキングオープンモード（フォーカスサーボオンで，半径方向サーボ
オフ）にする。
b) DSOのトリガに1回転パルス（PPR）を使い，1回転分のPPnorm信号を表示する。
c) 10トラック連続の，PPnorm振幅を決める（例えば，図I.6の測定領域1。）。
d) 得られた10個の値の平均をとる。
e) c)で測定した場所の反対側（トリガをディスク1回転の半分遅らせる。）に位置する，10トラック連
続のPPnorm振幅を決める（例えば，図I.6に示す測定領域2。）。
f)
得られた10個の値の平均をとる。
g) d)及びf)の二つの値の平均をとる。
h) b)で得られたPPnorm信号の，最大値及び最小値を決める。
i)
上記で測定したPPnormは，光学システムの正規化したディテクタの大きさに依存する（B.4参照）。
PPnorm測定値は，正規化ディテクタの大きさが25 μm2の値に換算することが望ましい。換算した値
(PPnorm)convは，測定値(PPnorm)measを使って，次の式を用いて計算される。
(
)
(
)
(
)
[
]
+
×
=
∑
≠
=
−
−
−
N
i
j
j
ij
i
i
i
i
i
α
d
PD
R
R
S
PP
PP
0
2
normc
v
g
v
g
v
g
meas,
unrec
norm,
conv,
unrec
norm,
tan
2
π
(
)
(
)
(
)
[
]
+
×
=
∑
≠=
−
−
N
i
j
j
ij
i
i
i
i
,i
α
d
PD
R
R
S
PP
PP
0
2
normc
v
g
v
g
8H
meas,
rec
norm,
conv
rec
norm,
tan
2
π
ここに，
PDnormc： 25 μm2の正規化ディテ
クタの大きさ（9.4参照）
i，j，Sg-v i，S8Hi，Rg-v i，R8Hi，dij，N及びα： B.4に規定している。
留意事項 記録層のPPnorm測定を行う場合には，該当する部分の全ての他の層は未記録であり，上述
した換算には未記録グルーブの反射率の値を用いるように気を付ける。
263
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
0.025
0.015
0
0.020
0.005
0.010
t（秒）
測定領域1
測定領域2
−30
−10
−20
0
10
20
30
プ
ッ
シ
ュ
プ
ル
(V
）
図I.6−PP測定領域の指示
I.10 軸方向トラッキングの残留エラー測定方法
軸方向トラッキングの残留エラー測定は，11.4.1に規定したフィルタを通したフォーカスエラー信号を
使って行う。測定を行う前に，信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限
を超える場合は，欠陥部の測定を避けるために，信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定
位置を動かす。
次に示す方法を，軸方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) 9.10に規定したとおりに，軸方向のトラッキング基準サーボの軸方向サーボ特性を調整する。
c) 11.4.1に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順でピーク値を測定する。
− フィルタを，LPFとし，カットオフ周波数を，次のとおりに設定する：
− 1x測定速度では，1.6 kHz
− 2x測定速度では，3.2 kHz
− トラックジャンプ領域を除き，1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
− 得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を，次に示す方法で測定する
− フィルタをBPFとし，カットオフ周波数を次のとおりに設定する：
− 1x測定速度では，1.6 kHz & 10 kHz
− 2x測定速度では，3.2 kHz & 20 kHz
− 1回転分のエラー信号波形を表示する。
− ノイズの実効値を，トラックジャンプ領域を除きDSOの機能（1x測定速度では積分時間を，20 ms
及び2x測定速度では，10 msとする。）を使って測定する。
注記 この値は，他の測定器でも測定できる。
2x測定速度のディスクの軸方向の残留エラーの測定中に，例えば，ほこり，きずなどによるスパイクが
残留エラーの中に生じる可能性がある。
264
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
これらのスパイクは，残留エラー測定結果に望ましくない影響を与える。
2x測定速度の，軸方向の最大残留エラーを決めるために，次の規定群を順番に用いる。
a) 測定をディスク1回転で行う。
b) HF信号に，振幅で20 %よりも大きい影響を与えるスパイクは除く（図I.7参照）。
c) b)の残りのスパイクで，次の条件を満たす大きなスパイクは除く。
80 nmの軸方向のエラーの限界値を超え，かつ，
scanning
spike
μm
700
V
T
≦
の条件を超えるもの
d) c)で残ったスパイク中最大のものが，その半径の最大軸方向残留エラーの最大値となる。
軸
方
向
ｴ
ﾗ
ｰ
振
幅
時間
0
80 nm
Tspike
0
H
F
振
幅
時間
Tspike
軸
方
向
ｴ
ﾗ
ｰ
振
幅
時間
時間
0
80 nm
Tspike
0
H
F
振
幅
時間
時間
Tspike
図I.7−軸方向残留エラースパイクの例
I.11 半径方向トラッキング残留エラーの測定方法
半径方向トラッキングの残留エラー測定は，11.5に規定したフィルタを通した半径方向エラー信号を使
って行う。測定を行う前に，信号にスパイクがあるかどうか検査をする。欠陥部の測定を避けるために，
次の方法を行う。
− スパイクがあり規格値の上限を超える場合は，信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測
定位置を動かす。
次に示す方法を，半径方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) 9.11に規定したとおりに，半径方向のトラッキング基準サーボの半径方向サーボ特性を調整する。
c) 11.5に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順で，ピーク値を測定する。
− フィルタを，LPFとし，カットオフ周波数を，次のとおりに設定する：
− 1x測定速度では，1.8 kHz
− 2x測定速度では，3.6 kHz
− トラックジャンプ領域を除き，1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を，次に示す方法で測定する。
− フィルタをBPFとし，カットオフ周波数を，次のとおりに設定する：
− 1x測定速度では，1.8 kHz & 10 kHz
265
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− 2x測定速度では，3.6 kHz & 20 kHz
− 1回転分のエラー信号波形を表示する。
− ノイズの実効値を，トラックジャンプ領域を除き，DSOの機能（積分時間は，1x測定速度では20 ms
とし，2x測定速度では10 msとする。）を使って測定する。
注記 この値は，他の測定器でも測定できる。
I.12 ランダムSER測定
測定条件は，33.4に規定されている。
266
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書J
（参考）
複屈折の測定
J.1
測定の原理
複屈折の測定には，偏光平行光が使用される。位相遅延は，反射光の偏光のだ円率を見ることによって，
測定される。
この規格では，複屈折を測定する特定の装置の指定はしないが，図J.1に例示する装置は，この測定に
適している。
入力するレーザ光の二つの偏光の方位は，既知であると仮定する。
透過積層中でのレーザ光の入射角は，θとする。この角度は，空気中でのレーザ光の入射角θ0と，次の
関係式とで表される。
n×sin(θ)＝sin(θ0)
ここに，
n： 平均の（面方向の）屈折率
ディスク
1/4 波長板
偏光子
レーザ
回転アナライザ
コリメータレンズ
フォトディテクタ
0θ
図J.1−複屈折を測定する装置の例
J.2
測定条件
上記に規定した，複屈折の測定は，次の条件で測定することが望ましい。
− 測定モード：反射で透過積層を通過するダブルパス
− レーザビームの波長（λ）：
405 nm±10 nm
− ビーム半径（FWHM）：
1.0 mm±0.2 mm
− 入射角θ0：
25°〜60°
− ディスク設置方向：
水平方向
− 温度及び相対湿度：
8.1.1の規定による
267
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
J.3
測定方法の例
次に示す方法によって，複屈折がディスクの透過積層の中では均一であるという仮定の下に，平面方向
複屈折Δn//及び垂直方向複屈折Δn⊥を明確に決めることができる。さらに，複屈折Δn//及びΔn⊥の絶対値は，
1よりも十分小さいと仮定する。
a) アナライザを，入力光のs偏光軸又はp偏光軸に平行に合わせる。1/4波長板を通過した光が直線偏光
となるように合わせる。
b) ディスクを，表面に垂直な軸の周りに，アナライザを通過した光が最小又は最大となるように回転す
る。
c) この位置から，ディスクを45°回す。1/4波長板を45°回す。
d) アナライザ通過光が，再び最小又は最大となるように回転する。アナライザの回転角の変化幅Δφを
記録する（ラジアンで）。最小の通過Tmin及び最大の通過Tmaxを記録する。
e) 位相遅れRを得るために，次の式を計算する。
+
−
×
=
min
max
min
max
arcsin
π
4
T
T
T
T
λ
R
f)
次の二つの式の中で，Rの値をΔφとθとを組み合わせ，Δn//及びΔn⊥の値を得る。
(
)
φ
d
R
n
Δ
2
cos
Δ//
×
×
=
()()
(
)
φ
θ
θ
d
R
n
Δ
2
sin
sin
cos
Δ
2
×
×
×
=
⊥
ここに，
d： 透過積層の厚さ
射角は，平行方向及び垂直方向の両方の複屈折が正確に測定できるように選ぶことが望ましい。適した
値は，Δn//及びΔn⊥の比による。
J.4
測定結果の互換性
J.2の測定条件を基にしている場合は，他の種々の測定方法が可能であり使ってもよい。測定結果の互換
性を保証するために，次に示す影響を考慮することが望ましい。
反射光の解析の際，カバー層の表面による反射光を考慮に入れる。
表面による反射光の直接の影響を別にしても，表面の反射光及び記録層の反射光の干渉に起因する全反
射光の変動が起こる可能性がある。この反射光の変動が顕著なのは，ディスクのカバー層が非常に正確に
平たんであり，かつ，光源のコヒーレンスが高い場合だけである。
268
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書K
（参考）
カバー層及びスペーサ層の厚さの測定
K.1 フォーカス方法
この箇条では，3層ディスクを使ったフォーカス方法の例を説明する。
レーザ光は，対物レンズによってカバー層の表面から各記録層へと順番に焦点を合わす。カバー層及び
スペーサ層の厚さは，レンズの動きを測定することによって決めることができる。図K.1は，この方法で
ディスクの測定をする例を図示している。
基板
L0層
スペーサ層1
L1層
スペーサ層2
L2層
カバー層
d1
d2
d3
基板
L0層
スペーサ層1
L1層
スペーサ層2
L2層
カバー層
d1
d2
d3
図K.1−カバー層及びスペーサ層の厚さの測定例
上記規定した，カバー層及び二つのスペーサ層の厚さの測定は，次に示す条件で行うのがよい。
− レーザビームの波長：
405 nm±5 nm
− 試験環境：
8.1.1の規定による。
測定器によって，レンズの移動距離が各層の厚さd1，d2及びd3に変換できる。
この測定では，フォーカスシステムの引込み範囲の幅は，スペーサ層の厚さよりも十分短くすることが
望ましい。
K.2 干渉計方法
この箇条では，4層ディスクを使った干渉計方法の例を説明する。
この方法では，波長の変化可能な光源が使用される。反射光の強度は，次のパラメタ：厚さ，屈折率及
び波長によって変わる。
反射光の干渉パタンを測定した，標準的な例を，図K.2に示す。
269
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
0
100
200
300
400
560
580
600
620
640
660
680
700
720
740
760
780
800
820
840
860
880
900
In
te
n
s
ity
(
a
rb
.)
Wavelength , λ (nm)
波長，λ(nm)
F
F
T
強
度
（
ar
b
.）
反
射
光
強
度
（
単
位
は
任
意
）
図K.2−反射光強度の例
この波形から開始し，層の厚さは，高速フーリエ変換（FFT）の手法を使って得ることができる。しか
し，屈折率は波長の関数であるため，FFTで，次に示す方法を行うことが望ましい。
最初に，波長空間は，波長の逆数及び波長依存の屈折率の積に変換される。この変換した結果の波形を，
図K.3に示す。ここに，横軸は，n(λ)/2λに変換されている。
0
100
200
300
400
0.80
0.90
1.00
1.10
1.20
1.30
1.40
In
te
n
s
it
y
(
a
rb
.)
n(l) / 2l(x106m-1)
F
F
T
強
度
（
ar
b
.）
n(λ)/2λ(×106m-1)
反
射
光
強
度
（
単
位
は
任
意
）
図K.3−反射光強度の例
FFT法を使い，この変換した波形は，図K.4に示すとおり厚さの空間の干渉空間へ変換できる。横軸は，
干渉距離の値を示している。d1，d2，d3及びd4の位置は光強度がピークになる場所で，それぞれ，スペー
サ層3，スペーサ層1，スペーサ層2及びカバー層の厚さを示している。
0
3,500
7,000
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
FF
T
In
te
n
c
ity
(
a
rb
.)
Thickness [µm]
100
50
d3
d2
d1
d2+d3
d1+d2
D1~d3
d4
F
F
T
強
度
（
ar
b
.）
干渉距離，d(μm)
d4
d3d1
d2
d1+ d2+ d3
d2+ d3
d1+ d2
反
射
光
強
度
（
単
位
は
任
意
）
図K.4−反射光強度のFFTの例
270
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
それによって，スペーサ層1の厚さ＝d1，スペーサ層2の厚さ＝d2，スペーサ層3の厚さ＝d3及びカバ
ー層の厚さ＝d4となる。
注記 スペーサ層の厚さを得るために，スペーサ層の屈折率n1(λ)，n2(λ)及びn3(λ)を用いる必要があり，
カバー層の厚さを得るために，カバー層の屈折率n4(λ)を用いる必要がある。
この方法は，層の厚さが薄めの場合は，特にフォーカス方法で二つの層の表面の区別が難しい場合に正
確に厚さを測定することに向いている。
271
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書L
（参考）
カバー層の衝突耐久性の測定
L.1
一般
BDレコーダブルディスクシステム構成は，次の特徴がある。
− ディスクに入射するレーザのスポットサイズは，以前の光記録システムのものよりも小さい
− レンズの自由作動距離（FWD）は，前の光記録システムのものよりも短い
L.2
ドライブの推奨
L.1の両方の結果から，光学ピックアップユニットの先端とディスクとの機械的接触の危険性及び実際
に衝突することが増えた。そこで，ドライブは，ディスクに衝突した後でもSER（33.4参照）が許容限度
内にあるような，レンズ及びディスクを保護する十分な手段をもつことが望ましい。そこで，バンパ（例
えば，衝撃ダンパ）を，OPUの先端に付けることが推奨される。このバンパは，円柱状の形でもよく，ポ
リマ，ポリオキシメチレン（POM）のようなポリマ化合物で作ることができる。
L.3
カバー層の衝突耐久性の測定
さらに，ディスクの入射面は，十分な衝突耐久性をもつことが望ましい。衝突耐久性は，保護コートに
よって改善できる。
次に示す試験は，ディスクの入射面の衝突耐久性が十分かどうか検証する。
球面形状のピン（図L.1参照）が，ディスクに対しピンを当てることができる機械装置の先端に装着さ
れる。ピンは，回転するディスクを，規定の衝撃で打つ。
R
図L.1−標準的ピン形状
試験開始前は，次のとおりに確認する。
ディスクに，任意のデータを記録する。半径24.5 mm〜25.5 mmの，全てのデータエラーが箇条31及び
34.1の規定を満たすことを検証する。
バンパ及びディスク入射面が，きれいであることを確認する。
試験条件は，次のとおりとする。
− ピンの材料：
ポリオキシメチレン（POM：自然グレード，成形ピース）
− ピンの半径：
先端：球形で半径R＝1.0 mm
− 表面の最大粗さ：
0.1 μm（山から谷まで）
− 可動部質量（ピン及びピン保持部）：
(0.5±0.1) グラム
272
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
− 衝突直前速度：
(0.20±0.05) m/s
− ディスクの線速度：
5.0 m/s
− テスト領域半径：
(25.0±0.2) mm
− 衝突回数：
1回
− 環境：
8.1.1に規定した全ての動作条件
試験の後の結果は，次のとおりとする。
ディスクの関係した領域で生じたエラーは，次の要求事項を満たすことが望ましい。
− いずれのLDCブロックのSER（33.4参照）も4.2×10−3未満
273
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書M
（参考）
グルーブ偏移及びウォブル振幅
M.1 正規化ウォブル信号及びウォブル振幅の関係
nm単位のウォブル振幅を，直接測定することは簡単にはできない。しかし，正規化ウォブル信号から
求めることができる。このように求めた誘導の近似式を，次に示す。
ウォブル信号のピーク値IWは，次のとおりに表すことができる。
×
×
×
=
p
Wp
π
2
sin
T
a
A
I
ここに，
a： nm単位のウォブル振幅
Tp： 半径方向エラー信号のトラックピッチ
A： 半径方向エラー信号のピーク値
図M.1に，パラメタa，Tp，A及びIWpが示される。トラックの平均中心は，“O”点にとられる。トラ
ックは，トラックの平均中心から実際のトラック中心までピーク偏移“a”（ウォブル振幅）となる。正規
化ウォブル信号は，それによって，次のとおりとする。
(
)
×
×
=
×
×
=
−
p
Wp
pp
2
1
Wpp
π
2
sin
2
2
T
a
A
I
I
I
I
ここに， (I1−I2)pp＝2×A
ウォブル信号IWは，ウォブル振幅aだけではなくトラックピッチTpにも依存する。
正規化によって，グルーブ構造及びスポット形状並びに光学収差要因を除く。
M.2 正規化ウォブル信号の許容値
M.1の正規化ウォブル信号の式によって，27.3の許容値は，与えられたトラックピッチTp＝0.32 μmで
のnm単位のウォブル振幅に変換できる。
− 下限： 0.20は，10 nmに相当する。
− 上限： 0.55は，30 nmに相当する。
274
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
O
A
Tｐ
IWp
ランド
グルーブ
ランド
半径方向
a
平均の
トラック中心
実際の
トラック中心
ウォブル振幅
接線方向
半径方向
エラー信号
図M.1−グルーブ上のウォブル信号生成
275
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書N
（参考）
L-SEATエッジシフトを用いた記録パルス調整のガイドライン
N.1 一般
多層BDシステムの読取りシステムは，附属書H規定の，適応形波形等化器を用いたPR(1,2,2,2,1)ML
チャネルを用いている。しかしながら，適応形波形等化器は，その位相特性のために，エッジシフトが観
測される影響を与える可能性がある。そこで，適応形波形等化器の動作に影響を受けないで，エッジシフ
トを検出できる手段があれば望ましい。この参考附属書は，高い線記録密度のシステムに対して適切なエ
ッジシフト検出手段及び記録パルスの調整方法を供給することによって，互換性を改善することを意図し
ている。
N.2 エッジシフト検出システムの実装一般
N.2.1 エッジシフト評価ユニット
エッジシフト検出のシステム（L-SEAT：適応形ターゲットのラン長制限列誤差）のブロック構成を図
N.1に示す。信号処理ユニットは，2×Vrefで動作すると仮定している。システムの構成は，エッジシフト
評価機能だけ追加したため，i-MLSEの評価システムと大変よく似ている。
入力信号の極性は，交流結合HF信号と同じにすることが望ましい。
LPF
HPF
A/D
直流
補正
LMS
(13tap)
PLL
(補間)
拡張
エッジシフト
エッジパターン
分類表
L-SEAT
pre-EQ
(13tap)
2値データ
読取
波形
AGC
PR(1,2,2,2,1)ML
図N.1−エッジシフト評価ユニットの実装例
N.2.2 アナログフィルタ（HPF，LPF）
H.3参照。
N.2.3 AD変換器
H.4参照。
N.2.4 オフセットキャンセラ
H.5参照。
N.2.5 自動利得制御（AGC）
H.6参照。
N.2.6 補間器
H.7参照。
276
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
N.2.7 PLL
H.8参照。
N.2.8 デジタル波形等化器
H.9参照。
N.2.9 適応形波形等化器
適応形波形等化器の構造及び適応動作は，基本的にi-MLSE評価器に用いたものと同じであり，それゆ
え，詳細はH.10を参照することが望ましい。しかし，適応形波形等化器の一般的な特性は，入力信号に
あるエッジシフトを小さくするように位相特性を適応的に変える。したがって，線形な位相特性をもつ対
称なタップ係数のFIR適応形波形等化器を用いることが望ましい。そのような波形等化器の構成を図N.2
に示す。タップ係数は，中心タップ（a6）に配置した二つのタップ係数の値を単に平均することで対称化
でき，通常のLMSアルゴリズムを使って評価される。それは，
cn＝(an＋a12-n)/2
ここに，
an： LMSアルゴリズムで得られるタップ係数
cn： 対称化したタップ係数
タップ係数anは，i-MLSEのH.10規定の適応形波形等化器と同じように更新される。タップ係数の更新
アルゴリズムに，通常のLMSアルゴリズム又は符号付きLMSアルゴリズムのいずれを使用してもよい。
pre-EQ
FIR
LMS
PRML
係数レジスタ
ワーク
バッファ
c0 c1
cN/2
...
...cN-2cN-1
a1
aN/2
aN-2aN-1
...
...
a0
2
1
×
2
1
×
...
...
pre-EQ
FIR
LMS
PRML
係数レジスタ
ワーク
バッファ
c0 c1
cN/2
...
...cN-2cN-1
c0 c1
cN/2
...
...cN-2cN-1
a1
aN/2
aN-2aN-1
...
...
a0a1
aN/2
aN-2aN-1
...
...
a0
2
1
×
2
1
×
...
...
図N.2−タップ係数対称化
N.2.10 ビタビ復号器
H.11参照。
N.2.11 L-SEAT評価ブロック
L-SEAT評価ブロックは，拡張エッジシフト検出器及びエッジパタン分類器で構成している。拡張エッ
ジシフト検出器は，次のN.3.2に示す規定による拡張エッジシフトを評価している。エッジパタン分類器
は，検出したエッジシフトを関連する記録ストラテジの表によって分類している。詳細は，次の箇条に，
説明する。
N.3 L-SEATのHF信号処理
N.3.1 一般
L-SEATは，HF信号からエッジシフトを解析する手段である。それは，記録パルスを調整することによ
ってディスク上のマークのエッジシフトを小さくし，ドライブ間の互換性をよくすることを可能とする。
L-SEATは，PR(1,2,2,2,1)MLチャネル及びラン長制限された17PP変調で処理される信号に適した解析を目
277
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
的としている。
N.3.2 L-SEATの規定
W及びTを，それぞれ，ビタビ復号器の入力波形及びビタビ復号器出力から得た目標波形とする。検討
中のエッジの一つが，WとTとの間にあると仮定する。復号したビット列から，検討中のエッジを1ビッ
ト右（左）にシフトして得られるビット列は，右（左）目標ビット列と呼ばれる。ここに，光スポットの
移動方向は，右と規定する。右（左）目標ビット列は，ラン長制限を満たさなければならない。また，エ
ッジシフトエラーの場合，それらと復号したビット列との間のハミング距離は単一でなければならず，マ
ーク又はスペースのシフトエラーの場合は2でなければならない。したがって，右又は左の片方の目標ビ
ット列は，片方しかない場合の可能性がある。R及びLを，右又は左の目標ビット列から得られる目標波
形とする。
左及び右の等価エッジシフトは，次の，式(N.1)及び式(N.2)で規定する。
−
−
=
L)
(T,
W)
(T,
W)
(L,
1
2
1
ED
ED
ED
xL
··············································· (N.1)
−
−
=
R)
(T,
W)
(T,
W)
(R,
1
2
1
ED
ED
ED
xR
·············································· (N.2)
ここに， ED(A,B)： 波形A及びBの，二乗ユークリッド距離
検討中のエッジシフトは，拡張エッジシフトDと呼ばれる。Dは，左及び右のシフトビット列が両方存
在する場合は，式(N.3)で規定する。左シフトビット列だけ存在する場合は，式(N.4)で規定する。右シフト
ビット列だけ存在する場合は，式(N.5)で規定する。
2
xL
xR
D
−
=
·········································································· (N.3)
D＝−xL ··············································································· (N.4)
D＝＋xR ··············································································· (N.5)
光スポットの移動方向
+
マーク
‒
エッジシフトの方向
‒
+
光スポットの移動方向
+
マーク
‒
エッジシフトの方向
‒
+
図N.3−エッジシフトの符号の規定
マークエッジシフトの符号は，立上がり又は立下がりであっても，光スポットの移動方向と同じ方向の
場合は正と規定することに注意する（図N.3参照）。
Nを，試験したエッジの総数，Dnを，n番目のエッジの拡張エッジシフトとして，拡張エッジシフトの
統計平均Δを式(N.6)で規定する。このΔは，等価エッジシフトとみなすことができ，L-SEATエッジシフ
トと呼ばれる。
278
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
∑
=
=
N
n
n
D
N
Δ
1
1
········································································· (N.6)
N.3.3 エッジ検出ビットパタン
L-SEATエッジシフトは，記録ストラテジの表に応じて得ることが望ましい。検出したL-SEATエッジシ
フトは識別され，記録ストラテジ表の場所に応じて分配される。これは，エッジを識別する，識別ビット
列と呼ばれるビット列とのビットパタン整合によって行うことが望ましい。エッジ識別ビット列は，識別
ビット列と呼ばれる主部分及び付加部分で構成される。八つのエッジ識別ビット列を，図N.4に示すとお
り規定する。
ここに，検討中のエッジはNo.1〜No.6では，右から数えて3番目のビットで，No.7及びNo.8は5番目
のビットである。
以下，“1”は，識別ビット列又はエッジ識別列の中でマークを示し，“0”はスペースを示す。
番号
識別ビットアレイ
L-ターゲット
R-ターゲット
XOR マスクビット
アレイ
i-MLSEパターン
グループ番号
XORマスクビット
アレイ
i-MLSE パターン
グループ番号
1
000111
001000
14-2
000100
14-1
2
111000
14-4
14-3
3
000110
001000
14-2
-
-
4
111001
14-4
5
100111
-
-
000100
14-3
6
011000
14-1
7
1110011000
0010100000
12A-4
0000010100
12A-3
8
0001100111
12A-2
12A-1
番号
識別ビットアレイ
L-ターゲット
R-ターゲット
XOR マスクビット
アレイ
i-MLSEパターン
グループ番号
XORマスクビット
アレイ
i-MLSE パターン
グループ番号
1
000111
001000
14-2
000100
14-1
2
111000
14-4
14-3
3
000110
001000
14-2
-
-
4
111001
14-4
5
100111
-
-
000100
14-3
6
011000
14-1
7
1110011000
0010100000
12A-4
0000010100
12A-3
8
0001100111
12A-2
12A-1
図N.4−識別ビット列及び相当するL/R目標XORマスクビット列
エッジは，ビタビ復号器出力から識別ビット列を探すことによって見つけることができる。図N.4に上
げた各識別ビット列に相当する左（右）目標ビット列は，復号したビット列と左（右）目標XORマスク
ビット列との間で，ビットごとのXORをとり，そしてXORマスクビット列の下線を引いた部分の5ビッ
ト又は7ビットを取り出すことによって得られる。その結果の左（右）目標ビット列は，図N.5に示す再
グループ化したi-MLSE評価パタンの主要部分として現れる。
i-MLSE評価パタンは，三つのグループに分類され，各グループは，共通ビットパタン及びエッジ（マ
ーク又はスペース）シフト方向に注目して，四つに再グループ化できる。そこで，図N.5に示すとおり，
12のグループに分類される。
ここに，XXは，“00”，“10”，又は“11”を表し，YYは，“00”，“01”又は“11”を表す。
279
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
グループ番号
パターンA
パターンB
シフト
タイプ
14
1
XX00011XX
XX00111XX
左
前エッジ
2
XX00111XX
XX00011XX
右
3
YY11100YY
YY11000YY
左
後エッジ
4
YY11000YY
YY11100YY
右
12A
1
XX0001100YY
XX0011000YY
左
2T-マーク
2
XX0011000YY
XX0001100YY
右
3
YY1110011XX
YY1100111XX
左
2T-スペース
4
YY1100111XX
YY1110011XX
右
12B
1
XX000110011XX
XX001100111XX
左
連続
2T
2
XX001100111XX
XX000110011XX
右
3
YY111001100YY
YY110011000YY
左
連続
2T
4
YY110011000YY
YY111001100YY
右
グループ番号
パターンA
パターンB
シフト
タイプ
14
1
XX00011XX
XX00111XX
左
前エッジ
2
XX00111XX
XX00011XX
右
3
YY11100YY
YY11000YY
左
後エッジ
4
YY11000YY
YY11100YY
右
12A
1
XX0001100YY
XX0011000YY
左
2T-マーク
2
XX0011000YY
XX0001100YY
右
3
YY1110011XX
YY1100111XX
左
2T-スペース
4
YY1100111XX
YY1110011XX
右
12B
1
XX000110011XX
XX001100111XX
左
連続
2T
2
XX001100111XX
XX000110011XX
右
3
YY111001100YY
YY110011000YY
左
連続
2T
4
YY110011000YY
YY111001100YY
右
図N.5−再グループ化されたi-MLSE評価パタン
評価した拡張エッジシフトの値は，記録ストラテジ表に応じて分類の必要があるため，識別したエッジ
は，エッジ識別ビット列を用いて更に分類することが望ましい。図N.6に，エッジ識別ビット列又は拡張
N−1記録ストラテジ用の記録パルス評価表の例を示す。図N.6中に上げた番号は，図N.4に上げた識別ビ
ット列の番号を参照している。識別ビット列番号の下に記載したビット列は，エッジに特有のエッジ識別
ビット列である。エッジ識別ビット列の下線部分は，識別ビット列を示している。
記録マーク
続きスペース
前スペース
2S
-
7
1110011000
5
1001110
5
10011110
5
10011111
3S
3
100011001
3
100011000
1
10001110
1
100011110
1
100011111
4S
3
1000011001
3
1000011000
1
100001110
1
1000011110
1
1000011111
≥5S
3
0000011001
3
0000011000
1
000001110
1
0000011110
1
0000011111
3M
2S
≥3S
2M
4M
≥5M
記録マーク
続きスペース
前スペース
2S
-
6
100110001
6
1001100001
6
1001100000
≥3S
8
0001100111
6
000110001
6
0001100001
6
0001100000
2M
4S
≥5S
2S
3S
続きスペース
2S
4
0111001
4
01111001
4
11111001
3S
2
01110001
2
011110001
2
111110001
4S
2
011100001
2
0111100001
2
1111100001
≥5S
2
011100000
2
0111100000
2
1111100000
≥5M
3M
4M
記録マーク
Ttop/ dTtop
dTS
TLP/ dTLP/ dTS
記録マーク
続きスペース
前スペース
2S
-
7
1110011000
5
1001110
5
10011110
5
10011111
3S
3
100011001
3
100011000
1
10001110
1
100011110
1
100011111
4S
3
1000011001
3
1000011000
1
100001110
1
1000011110
1
1000011111
≥5S
3
0000011001
3
0000011000
1
000001110
1
0000011110
1
0000011111
3M
2S
≥3S
2M
4M
≥5M
記録マーク
続きスペース
前スペース
2S
-
7
1110011000
5
1001110
5
10011110
5
10011111
3S
3
100011001
3
100011000
1
10001110
1
100011110
1
100011111
4S
3
1000011001
3
1000011000
1
100001110
1
1000011110
1
1000011111
≥5S
3
0000011001
3
0000011000
1
000001110
1
0000011110
1
0000011111
3M
2S
≥3S
2M
4M
≥5M
記録マーク
続きスペース
前スペース
2S
-
6
100110001
6
1001100001
6
1001100000
≥3S
8
0001100111
6
000110001
6
0001100001
6
0001100000
2M
4S
≥5S
2S
3S
記録マーク
続きスペース
前スペース
2S
-
6
100110001
6
1001100001
6
1001100000
≥3S
8
0001100111
6
000110001
6
0001100001
6
0001100000
2M
4S
≥5S
2S
3S
続きスペース
2S
4
0111001
4
01111001
4
11111001
3S
2
01110001
2
011110001
2
111110001
4S
2
011100001
2
0111100001
2
1111100001
≥5S
2
011100000
2
0111100000
2
1111100000
≥5M
3M
4M
記録マーク
続きスペース
2S
4
0111001
4
01111001
4
11111001
3S
2
01110001
2
011110001
2
111110001
4S
2
011100001
2
0111100001
2
1111100001
≥5S
2
011100000
2
0111100000
2
1111100000
≥5M
3M
4M
記録マーク
Ttop/ dTtop
dTS
TLP/ dTLP/ dTS
図N.6−拡張N−1記録ストラテジの記録パルス評価
N.4 L-SEAT評価ブロックの実装一般
L-SEAT評価ブロックの例を，図N.7に示す。識別ビット列検出器は，ビタビ復号器の出力の中の識別
ビット列を探す。識別ビット列は，識別ビット列検出器に内蔵することが望ましい。識別ビット列検出器
が識別ビット列の一つを見つけたら，図N.4に上げた相当するXORマスクビット列を用いた左又は右目
280
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
標ビット列の生成をマスクビット列発生器に要求し，その結果として，右及び左の目標波形が得られる。
そして，ユークリッド差分計算器は，適応形波形等化器の出力波形W及び復号ビット列によって得られる
目標波形T，左目標波形L及び右目標波形R，それぞれの間の，二乗ユークリッド距離を評価する。そし
て，拡張エッジシフトが，式(N.1)〜式(N.3)［又は式(N.4)若しくは式(N.5)］に従って評価される。
エッジパターン分類器
読取信号
2値データ
識別器
ビット列
検出器
マスクビット
列発生器
ED
差分計算器
000111
00011000
0001100111
...
XORマスクビットアレイ
00100
0010100
001010100
...
要約
データ表
パターンシフト
記録制御
パラメータ表
分類器
拡張エッジシフト
検出器
波形等化信号
PR(1,2,2,2,1)ML
図N.7−L-SEAT評価ブロック実装の例
図N.4の，XORマスクビット列の下線部分は，XORマスクビット列及びその対応部分を用いて生成さ
れる波形間の二乗ユークリッド距離を得るための加算範囲を示している。計算に用いる波形の長さ及び範
囲は，識別ビット列のタイプ及び目標方向によって異なる。
図N.8に，ED評価の加算範囲の例を説明する。ここに，識別ビット列No.1“000111”は，開始時間t
＝0に存在し，その波形はTで示される。左及び右目標波形は，Tから生成され，それぞれ，L（破線）及
びR（一点鎖線）で示される。LがTと異なる区間は，t＝0〜4で，一方，Rに対しては，t＝1〜5である。
xL及びxRに対する，ED(T,W)の加算範囲は，それぞれ，ED(T,L)及びED(T,R)にあっていることが望まし
い。
記録制御パラメタ表分類器は，図N.6に上げたエッジ識別ビット列を用いて得られた拡張エッジシフト
値を分類し，それを統計平均して，その結果，L-SEATエッジシフト値が得られる。
281
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
-6
-4
-2
0
2
4
6
-1
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
t
T
L
R
t
図N.8−ED(T,L)及びED(T,R)の加算範囲
N.5 一般的な記録パルス調整方法
図N.6に，拡張N−1記録ストラテジの場合の記録パルス評価表が示されている。拡張キャッスル記録
ストラテジの記録パルス評価表も，同様に得ることが望ましい。
記録パルスパラメタとして，エッジシフト検出に加えて，マーク長及び位置の検出を用いてもよい。マ
ーク長及びマーク位置は，それぞれ，式(N.7)及び式(N.8)で規定する。
マーク長＝ΔTE−ΔLE ······························································ (N.7)
マーク位置＝(ΔLE＋ΔTE)/2 ······················································· (N.8)
ここに， ΔTE及びΔLE： 検討中のマークの，立上がりエッジ及び立下がりエ
ッジの，L-SEATエッジシフト
マーク長及びマーク位置は立上がりエッジ制御パラメタを変え，同時に立下がりエッジに対しては同じ
又は逆方向とする制御をしてもよい。
記録パルスパラメタは，記録パルスパラメタを繰り返し更新してL-SEATエッジシフト評価を行い，各
記録パルス評価表のL-SEATエッジシフト値を小さくすることで決めることが望ましい（図N.9参照）。上
記方法を行った後に，i-MLSEが規格を満たしていることを確認することが望ましい。
留意事項1 基準ドライブは，事前にI.2に従って調整することが望ましい。基準ドライブの接線方
向の傾き調整の場合には，適応形波形等化器は，非対称係数モードに設定することを確
認することが望ましい。
留意事項2 原理的には，記録パルスのシフト方向に記録マークのエッジもシフトするが，時々，dTtop
又はdTLPを変えると反対方向にシフトすることがある。
留意事項3 L-SEATエッジシフト値は，先行スペース，記録マーク及び続きのスペースが全て2Tの
場合は，検出できない。該当する記録パルスパラメタは，全ての他のパラメタがL-SEAT
エッジシフト値に基づいて決められた後に，i-MLSEの値を見て調整できる。
282
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
開始
L-SEATシフト
最小?
記録及び読取り
終了
L-SEATシフト評価
パルスパラメータ更新
No
Yes
基準ドライブの初期調整
図N.9−記録パルス調整のフローチャート
283
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書O
（規定）
タイプTL/Dディスク固有の要求事項
タイプTL/Dディスク固有の要求事項を，この附属書に規定する。
タイプTL/Dディスクは，ディスクを取り出すことができないケースに収納する。情報受領システムが
そのケースに対して正しく機能するように設計されている場合には，ディスク製造業者は，ケースを自由
に選ぶことができる。この規格では，ケースを規定しない。互換性は無視する。
タイプTL/Dディスクの概要は，箇条7に規定しており，図O.1に図示する（縮尺は均一ではない。）。
カバー層
基板
（保護コート）
スペーサ層1
スペーサ層2
透過積層0
透過積層1
光ビーム入射面
記録層L0
記録層L1
記録層L2
回転方向
他の面と同じ構造及び特性
透過積層2
上面
図O.1−タイプTL/Dディスクの概略図
284
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
図O.2−タイプTL/Dディスクのディスク寸法の詳細
タイプTL/Dディスクの各面は，他の面と同じ構造とする。カバー層及び保護コートを含むタイプTL/D
ディスクの最大厚さは，ディスクのいずれの半径でもe1（図O.2参照）とし，次による。
e1＝1.52 mm
e1を除く図O.2に示す寸法特性は，箇条10に規定したタイプTLディスクと同じである。
285
X 6231：2017 (ISO/IEC 30191：2015)
附属書P
（参考）
タイプTL/Dディスクの貼合せ
P.1
一般
タイプTL/Dディスクの貼合せに関して，幾つかの推奨事項がある。
P.2
ディスクの中心孔の貼合せ
クランプ領域の内径から情報領域の外径までの領域を貼り合わせることを推奨する。クランプメカニズ
ムのつめが二枚の基板間の隙間に入り込むのを防ぐために，貼り合わせた場合の二枚の基板の隙間は，で
きるだけ狭くすることも推奨する。さらに，クランプ力，チャック力及び／又は基準ドライブのクランプ
メカニズムのテーパ角によって壊れるのを防ぐように，貼合せ領域を適切に設計することを推奨する。
P.3
ディスクの外側エッジの貼合せ
ディスクの外側エッジからはみ出す貼合せ材料は，十分硬化させること及びディスクの入射面を超える
ような突起がないことを推奨する。
参考文献
[1] ASTM D1044:2005，Standard Test Method for Resistance of Transparent Plastic to Surface Abrasion.
American Society for Testing and Materials