X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
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目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 適合性···························································································································· 2
2.1 光ディスク ··················································································································· 2
2.2 製造システム ················································································································ 2
2.3 情報受領システム ·········································································································· 2
2.4 互換性表示 ··················································································································· 2
3 引用規格························································································································· 2
4 用語及び定義 ··················································································································· 3
5 慣例及び表記法 ················································································································ 7
5.1 用語 ···························································································································· 7
5.2 数値表示 ······················································································································ 8
5.3 整数計算法 ··················································································································· 9
5.4 英語名称 ······················································································································ 9
6 略語······························································································································· 9
7 ディスクの概要 ··············································································································· 12
8 一般要求事項 ·················································································································· 14
8.1 環境条件 ····················································································································· 14
8.2 安全性 ························································································································ 17
8.3 難燃性 ························································································································ 17
9 基準ドライブ ·················································································································· 17
9.1 一般 ··························································································································· 17
9.2 測定条件 ····················································································································· 17
9.3 光学システム ··············································································································· 17
9.4 光ビーム ····················································································································· 18
9.5 高周波（HF）読取りチャネル ························································································· 19
9.6 半径方向のプッシュプル（PP）読取りチャネル ·································································· 19
9.7 ディスクのクランプ ······································································································ 19
9.8 ディスクの回転及び測定速度 ·························································································· 20
9.9 正規化サーボ伝達関数 ··································································································· 20
9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ ································································· 21
9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ ······························································ 23
10 寸法特性 ······················································································································ 25
10.1 一般 ·························································································································· 25
10.2 ディスクの基準面及び基準軸 ························································································· 25
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10.3 全体寸法 ···················································································································· 26
10.4 第1遷移領域 ·············································································································· 27
10.5 保護リング ················································································································· 27
10.6 クランプゾーン ··········································································································· 28
10.7 第2遷移領域 ·············································································································· 28
10.8 情報領域 ···················································································································· 28
10.9 リム領域 ···················································································································· 30
11 機械的特性 ··················································································································· 30
11.1 質量 ·························································································································· 30
11.2 慣性モーメント ··········································································································· 31
11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 31
11.4 軸方向の振れ量 ··········································································································· 31
11.5 半径方向の振れ量 ········································································································ 32
11.6 カバー層の耐久性 ········································································································ 34
12 情報領域の光学的特性 ···································································································· 34
12.1 一般 ·························································································································· 34
12.2 透過積層（TS）の屈折率 ······························································································ 34
12.3 透過積層（TS）の厚さ ································································································· 34
12.4 反射率 ······················································································································· 36
12.5 複屈折 ······················································································································· 36
12.6 角度偏差 ···················································································································· 36
13 データフォーマット ······································································································· 37
13.1 一般 ·························································································································· 37
13.2 データフレーム ··········································································································· 40
13.3 エラー検出符号（EDC） ······························································································· 40
13.4 スクランブルドデータフレーム ······················································································ 40
13.5 データブロック ··········································································································· 41
13.6 LDCブロック ············································································································· 42
13.7 LDC符号語 ················································································································ 42
13.8 LDCクラスタ ············································································································· 43
13.9 アドレス及びコントロールデータ ··················································································· 46
13.10 アクセスブロック ······································································································ 51
13.11 BISブロック ············································································································· 51
13.12 BIS符号語 ················································································································ 51
13.13 BISクラスタ ············································································································· 52
13.14 ECCクラスタ ··········································································································· 55
13.15 記録フレーム ············································································································ 56
13.16 物理クラスタ ············································································································ 57
13.17 記録データのための17PP変調 ····················································································· 57
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13.18 変調及びNRZI変換 ··································································································· 59
14 物理データの配置及びリンキング ····················································································· 60
14.1 一般 ·························································································································· 60
14.2 記録ユニットブロック（RUB） ······················································································ 60
14.3 ウォブルアドレスに対するデータの位置決め ···································································· 63
15 トラックフォーマット ···································································································· 63
15.1 一般 ·························································································································· 63
15.2 トラックの形 ·············································································································· 64
15.3 トラックパス ·············································································································· 65
15.4 トラックピッチ ··········································································································· 65
15.5 HFMグルーブのトラック構成 ······················································································· 66
15.6 ウォブルグルーブのトラック構造 ··················································································· 72
15.7 ADIP情報 ·················································································································· 74
15.8 ADIP予備フレームのディスク情報 ················································································· 80
16 情報ゾーンの概要 ········································································································· 117
16.1 一般 ························································································································· 117
16.2 単層ディスクの情報ゾーンのフォーマット ······································································ 117
16.3 2層ディスクの情報ゾーンのフォーマット ······································································· 117
17 情報ゾーンの記録領域の構成 ·························································································· 117
18 内側ゾーン ·················································································································· 120
18.1 一般 ························································································································· 120
18.2 不変情報・制御データ（PIC）ゾーン ············································································· 123
18.3 内側ゾーン0の記録領域 ······························································································ 126
18.4 内側ゾーン1の記録領域 ······························································································ 130
19 データゾーン ··············································································································· 131
20 外側ゾーン ·················································································································· 131
20.1 一般 ························································································································· 131
20.2 外側ゾーンの記録領域 ································································································· 132
21 物理アクセス制御クラスタ ····························································································· 134
21.1 一般 ························································································································· 134
21.2 PACゾーンの構成 ······································································································ 134
21.3 PACクラスタの一般構成 ····························································································· 135
21.4 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ ····················································································· 138
22 ディスク管理 ··············································································································· 139
22.1 一般 ························································································································· 139
22.2 記録管理 ··················································································································· 139
22.3 仮ディスク管理領域（TDMA） ····················································································· 140
22.4 ディスク管理構造（DMS） ·························································································· 141
22.5 未記録（ブランク）ディスク構造 ·················································································· 150
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22.6 記録済み（クローズした）ディスク構造 ········································································· 153
23 論理セクタ番号（LSN）の割当て ···················································································· 156
24 グルーブ領域の特性 ······································································································ 156
25 グルーブ領域の試験方法 ································································································ 157
25.1 一般 ························································································································· 157
25.2 環境条件 ··················································································································· 157
25.3 基準ドライブ ············································································································· 157
25.4 信号の規定 ················································································································ 157
26 HFMグルーブの信号 ···································································································· 158
26.1 プッシュプルの極性 ···································································································· 158
26.2 プッシュプル信号 ······································································································· 159
26.3 ウォブル信号 ············································································································· 159
26.4 HFM信号のジッタ ····································································································· 159
27 ウォブルグルーブからの信号 ·························································································· 159
27.1 位相深さ ··················································································································· 159
27.2 プッシュプル信号 ······································································································· 159
27.3 ウォブル信号 ············································································································· 160
27.4 HFM及びウォブルグルーブの遷移の要求事項 ································································· 161
28 記録層の特性 ··············································································································· 161
29 記録層の試験方法 ········································································································· 161
29.1 一般 ························································································································· 161
29.2 環境条件 ··················································································································· 161
29.3 基準ドライブ ············································································································· 161
29.4 記録条件 ··················································································································· 162
29.5 信号の規定 ················································································································ 164
30 記録領域からの信号 ······································································································ 164
30.1 HF信号 ···················································································································· 164
30.2 変調振幅 ··················································································································· 164
30.3 反射率−変調度積 ······································································································· 165
30.4 非対称性 ··················································································································· 165
30.5 ジッタ ······················································································································ 165
30.6 読取耐久性 ················································································································ 166
31 局所欠陥 ····················································································································· 167
32 使用者データの特性 ······································································································ 167
33 使用者データの測定方法 ································································································ 167
33.1 一般 ························································································································· 167
33.2 環境条件 ··················································································································· 168
33.3 基準ドライブ ············································································································· 168
33.4 信号の定義 ················································································································ 168
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ページ
34 記録情報の下限品質 ······································································································ 169
34.1 シンボルエラー率 ······································································································· 169
34.2 最大バーストエラー ···································································································· 169
34.3 使用者記録データ ······································································································· 170
35 BCA ··························································································································· 170
附属書A（規定）多層の場合の透過積層の厚さ ········································································ 171
附属書B（規定）反射率の測定 ····························································································· 172
附属書C（規定）カバー層のきず耐久性の測定 ········································································ 174
附属書D（規定）カバー層の汚れはつ（撥）油性の測定 ···························································· 176
附属書E（規定）ウォブル振幅の測定····················································································· 179
附属書F（規定）試験のための記録パルス波形 ········································································· 183
附属書G（規定）ディスクの最適パワー制御（OPC）方法 ························································· 194
附属書H（規定）ジッタ測定のためのHF信号の前処理 ····························································· 198
附属書I（規定）測定方法 ···································································································· 205
附属書J（参考）複屈折の測定 ······························································································ 211
附属書K（参考）カバー層及びスペーサ層の厚さの測定 ···························································· 213
附属書L（参考）カバー層の衝突耐久性の測定 ········································································· 216
附属書M（参考）グルーブ偏移及びウォブル振幅 ····································································· 218
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格に従うことは，次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので，留意する。
− 氏名：日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 知財管理本部
− 住所：〒244−0817 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地
− 氏名：パナソニック株式会社 知的財産センター
− 住所：〒540−6207 大阪府大阪市中央区城見2丁目1−61 OBPパナソニックタワー
− 氏名：パイオニア株式会社 知的財産部
− 住所：〒212−0031 神奈川県川崎市幸区新小倉1−1
− 氏名：ソニー株式会社 知的財産センター
− 住所：〒108−0075 東京都港区港南1−7−1
上記の，特許権等の権利者は，非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施
の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし，この規格に関連する他の特許権等の権利者に対
しては，同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。
この規格に従うことが，必ずしも，特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ
る。
この規格の一部が，上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標
準調査会は，このような特許権等に関わる確認について，責任はもたない。
なお，ここで“特許権等”とは，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。
日本工業規格 JIS
X 6230：2017
(ISO/IEC 30190：2016)
情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−
120 mm単層（25ギガバイト／ディスク）及び
2層（50ギガバイト／ディスク）
BDレコーダブルディスク
Information technology-Digitally recorded media for
information interchange and storage-
120 mm Single Layer (25.0 Gbytes per disk) and
Dual Layer (50.0 Gbytes per disk) BD Recordable disk
序文
100社以上が参加するブルーレイディスクアソシエーション（BDA）で作成された，ブルーレイディス
クTMの物理フォーマットをベースに，四つの記録形ディスクのISO/IEC物理規格が作成された。この規
格は，2016年に第2版として発行されたISO/IEC 30190を基に，技術的内容及び構成を変更することなく
作成した日本工業規格である。
BDレコーダブルディスクにビデオの記録再生を行うためには，この国際規格以外にBDMV，BDAVな
どBDAで規定したフォーマットが必要となる。これらのBDA規定の応用関連フォーマット，ファイルシ
ステムフォーマット又は著作権保護フォーマットは，ディスク，情報生成システム，及び情報受領システ
ムに必要である。更に詳細なBDフォーマットに関する情報が必要な場合は，http://www.blu-raydisc.infoを
参照。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，記録容量25ギガバイト（GB）及び50 GBの120 mmレコーダブル光ディスクの機械的特
性，物理的特性及び光学的特性を規定するとともに，そのディスクを用いての情報交換を可能にする記録
及び未記録の信号品質，データのフォーマット及び記録方法について規定する。使用者データは，非可逆
的方法によって一度だけ記録でき，何回も読み取ることができる。このディスクを，BDレコーダブルデ
ィスクと称する。
この規格は，次の項目について規定する。
− このディスクに関する三つの異なるタイプ
− 適合条件
− このディスクの使用環境及び保存環境
− データ処理システム間の機械的互換性のためのディスクの機械的特性及び物理的特性
2
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− トラック及びセクタの物理的配置を含むディスク上の情報フォーマット
− エラー訂正符号及び使用した符号化方法
− データ処理システムがディスクからデータの読取りを可能にする，ディスクに記録された信号の特性
この規格は，ディスクドライブ間のディスクの互換性を与える。ボリューム及びファイル構造の規格と
ともに，データ処理システム間の完全なデータ互換性を与える。
注記1 この規格では，GBは，109バイトとしている。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 30190:2016，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Single Layer (25,0 Gbytes per disk) and Dual Layer (50,0
Gbytes per disk) BD Recordable disk（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
適合性
2.1
光ディスク
この規格への適合の主張には，製造対象のディスクのタイプを明示する。光ディスクは，製造対象のデ
ィスクのタイプの全ての要求事項に適合する場合に，この規格に適合する。
2.2
製造システム
製造システムは，製造する光ディスクが2.1に適合する場合に，この規格に適合する。
2.3
情報受領システム
情報受領システムは，2.1に適合する三つのタイプの光ディスク全てを取り扱うことができる場合は，こ
の規格に適合する。
2.4
互換性表示
製造システム又は情報受領システムがこの規格に適合するというためには，他のサポートする規格の一
覧の表示を含むものとする。この表示は，規格の番号，サポートする光ディスクのタイプ，並びに読取り
だけをサポートするのか，又は記録及び読取り両方をサポートするのかを明示する。
3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60950-1，Information technology equipment−Safety−Part 1: General
requirements
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気･電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B)
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気･電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試
験方法（試験記号：Db）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,
cyclic (12 h + 12 h cycle)
3
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
JIS K 7204 プラスチック−摩耗輪による摩耗試験方法
注記 対応国際規格：ISO 9352，Plastics−Determination of resistance to wear by abrasive wheels
JIS X 0201 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合
注記 対応国際規格：ISO/IEC 646，Information technology−ISO 7-bit coded character set for
information interchange
JIS Z 8901:2006 試験用粉体及び試験用粒子
4
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
4.1
アプリケーション（Application）
ビデオ応用のような，著作権保護及び欠陥管理システムのためのディスク上の領域を要求する，BD（4.2）
用に規定した応用。
4.2
BD
約0.1 mmの厚さのカバー層（4.4）及び約1.1 mmの厚さの基板（4.35）をもち，NA＝0.85のレンズ及
び波長405 nmのレーザダイオードを用いる光ピックアップユニットで，ディスク上にデータを読み書き
するディスク。
注記 ディスクに記録する使用者データは，17PP変調及びLDC＋BIS符号でフォーマットされる。
4.3
チャネルビット（Channel bit）
ディスク上の，ピット（4.22）又はマーク（4.17）を使いスペース（4.34）との組合せで，2値の“0”又
は“1”を表す要素。
4.4
カバー層（Cover Layer）
ディスクの入射面（4.10）に一番近い記録層（4.27）を覆う，精密に制御した光学特性をもつ透明な層。
4.5
データゾーンn（Data Zone n）
Ln層（4.16）にある内側ゾーンと外側ゾーンとの間の領域。
4.6
欠陥クラスタ（Defective Cluster）
信頼できない又は訂正できないとして欠陥リストに登録された，使用者データ領域（4.39）中のクラス
タ。
4.7
デジタル総計値，DSV（Digital-Sum Value, DSV）
“1”に設定したチャネルビットに10進数の数値“＋1”を，“0”に設定したチャネルビット（4.3）に
10進数の“−1”を割り当てることによって，ビット列から得られた算術和。
4.8
ディスク基準面（Disk reference plane）
その上でディスクのクランプゾーンがクランプされる，理想スピンドルの完全に平らな環状表面で規定
4
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
する，回転軸に対して垂直な面。
4.9
エンボスHFM領域（Embossed HFM Area）
ディスクの製造中に，HFMグルーブ（4.12）によって情報が保存されたディスク領域。
4.10
入射面（Entrance surface）
光ビームが最初に入射する，ディスクの表面。
4.11
グルーブ（Groove）
記録層（4.27）に連なる，ディスクの溝状構造。
注記 グルーブは，単層ディスクの場合は基板（4.35）に形成可能で，2層ディスクの場合は，一つは
基板に，他はスペーサ層（4.33）又はカバー層（4.4）に形成できる（図1，図2及び図3参照）。
グルーブは，トラックの位置決めをするために用いられる。グルーブは，マスタリングで光ス
ポットを照射した場所に相当する。通常，グルーブは，構造体の中にくぼみ又は突起の形をと
ることがある。グルーブがランド（4.15）よりも入射面（4.10）に近い場合は（図55参照），記
録方法は，“オングルーブ記録”と呼ばれる。グルーブがランドよりも入射面に対して遠い場合
は，記録方法は，“イングルーブ記録”と呼ばれる。BDレコーダブルシステムでは，次の3種
類のグルーブがある。
− アドレスをもつ記録領域中のウォブルグルーブ（4.41）
− 不変制御情報データをもつエンボスHFM領域（4.9）のHFMグルーブ（4.12）
− BCAゾーンの無変調の直線グルーブ
4.12
高周波変調グルーブ，HFMグルーブ［HFM (High-Frequency Modulated) Groove］
比較的高い帯域幅の信号で，半径方向に変調されたグルーブ（4.11）。
注記 HFMグルーブは，転写記録する情報のための十分な容量及び転送スピードのデータチャネルを
作っている。
4.13
情報領域（Information Area）
情報を記録できるディスク上の領域。
4.14
情報ゾーン（Information Zone）
情報領域（4.13）で記録された部分。
4.15
ランド（Land）
連続して渦巻くグルーブの間の記録層（4.27）の表面。
4.16
Ln層（Layer Ln）
数字nで識別される記録層（4.27）。
注記 L(n＋1)層は，Ln層よりも入射面（4.10）に近い。
5
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
4.17
マーク（Marks）
光学読取りシステムで感知できる未記録層の中の，反射率の高い又は低い領域の形をとることもある記
録層（4.27）の構造。
注記 マーク及びスペース（4.34）のパタンは，ディスク上のデータを表している。
4.18
測定速度（Measurement Velocity）
ディスクを読取中に測定する線速度。
注記 測定速度nxは，基準速度x（4.29）のn倍を意味している。
4.19
変調ビット（Modulation bit）
通信チャネルで伝送するため又は蓄積システムに蓄積するために，より適するようにデータを変形した
形。
4.20
NRZ又はNRZI変換［NRZ (Non-Return-to-Zero)/NRZI (Non-Return-to-Zero Inverting) conversion］
変調ビットストリームを物理信号に変換する方法。
4.21
埋込み（Padding）
ホストコンピュータが，32セクタから構成される64Kサイズのクラスタに満たないデータを転送してき
て，そのクラスタをデータで満たす必要がある場合に不足のセクタ（4.32）を全て00hのデータで満たす，
ドライブの処理方法。
4.22
ピット（Pits）
光学読取りシステムで感知できる，ランド表面のくぼみ又は突起の形をとり得る記録層（4.27）の構造。
注記 ピット及びスペース（4.34）のパタンは，ディスク上のデータを表している。
4.23
偏光（Polarization）
光ビームの電場ベクトルの方向。
注記 偏光面は，電場ベクトル及びビームの伝ぱ方向を含む面である。
4.24
プリ記録領域（Pre-recorded Area）
ディスクの転写成形工程が終わった後に，通常の記録方法によってディスク製造業者又は供給者が情報
を記録した，ディスク上の領域。
4.25
保護コート（Protective Coating）
きず，その他の危害から保護する機能をもつカバー層（4.4）の上に任意で追加する層。
4.26
記録領域（Recordable Area）
ディスクの製造業者若しくは供給者又は最終使用者が箇条13で規定したデータフォーマットによって，
マーク（4.17）及びスペース（4.34）で情報を記録する，ディスク上の領域。
6
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
注記 その領域の記録層（4.27）は，一度記録した後に情報を改変しようとするとデータが読み出せ
なくなる材料で構成される。
4.27
記録層（Recording Layer）
製造中及び／又は使用中に，その上又は中にデータが記録される，特定の材料の積層膜から構成される，
ディスクの部分。
4.28
記録速度（Recording Velocity）
ディスクを記録する線速度。
注記 記録速度nxは，基準速度x（4.29）のn倍を意味している。
4.29
基準速度（Reference Velocity）
チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなる線速度。
4.30
リザーブ（値）（Reserved）
この規格で使用しない予備の値。
注記 将来の規格でこの値は，使用可能となる。
4.31
リザーブ（領域）（Reserved）
使用を規定しないで互換性は無視し，値はゼロにセットする予備領域。
注記 将来の規格で，この領域の使用を規定し値を設定できる。
4.32
セクタ（Sector）
情報ゾーン（4.14）中のアドレスでアクセスできる，最小サイズのトラック（4.36）のデータ部分。
4.33
スペーサ層（Spacer Layer）
二つの記録層（4.27）を分離する，精密に光学特性を制御した透明層。
4.34
スペース（Spaces）
HF信号の流れの接線方向にピット（4.22）又はマーク（4.17）の間を分ける領域。
注記 ピット又はマーク及びスペースのパタンは，ディスクのデータを表している。
4.35
基板（Substrate）
記録層（4.27）を機械的に支持する透明又は不透明の層。
4.36
トラック（Track）
グルーブで構成する連続らせんの360°回転分。
4.37
トラックピッチ（Track Pitch）
半径方向に測定した隣接トラックのグルーブ（4.11）の中心線間距離。
7
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
4.38
透過積層（Transmission Stack）
ディスクの入射面（4.10）と注目する記録層（4.27）との間の全部の層を一つとみた層。
注記 言い換えると，特定の記録層の透過積層は，その記録層にアクセスする場合，光ビームが通過
する全ての層で構成している。
4.39
使用者データ領域（User-Data Area）
ディスク上の全てのデータゾーン（4.5）を集めたもので，使用者データが記録できるクラスタだけで構
成するもの。
4.40
バージングルーブ（Virgin Groove）
記録されたことがないディスク上の未使用グルーブ。
4.41
ウォブルグルーブ（Wobbled Groove）
平均した中心線から周期的正弦波で偏移するグルーブ（4.11）。
注記 正弦波偏移を変調することによって，ウォブルはディスクのアドレス情報及び一般的情報を供
給している。
4.42
ゾーン（Zone）
ディスクの環状領域。
5
慣例及び表記法
5.1
用語
5.1.1
末尾の表現
この規格では次に示す語は，特別の意味をもつ。
− …（し）てもよい。：
任意の動作又は機能を示す。
− 任意：
実施してもよい又はしなくてもよい機能を示す。実施する場合は，
その機能は規定したとおりにする。
− …（し）なければならない。： 必須の動作又は機能でこの規定に適合するためには実施しなければ
…する。
ならないことを示す。
…とする。
…による。
注記 shallで書かれた要求事項文は，例えば，“〜する”という能動形で翻訳される。一方，be＋
過去分詞，be＋現在分詞（現在進行形）又は動詞で書かれた説明文を能動文として“〜する”
の能動形で翻訳すると，要求事項を示した文と説明文とを区別できなくなるという課題が生
じる。そのために，この規格では，次の表現としている。
− shall：〜（と）するなどの能動形の表現としている。
− be＋過去分詞は，受動形の表現とし，be＋現在分詞（現在進行形）又は動詞は，“〜となっ
ている”などの状況説明の表現としている。
− …することが望ましい。：
任意の動作又は機能を示すが，その実施が強く望まれる。
8
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
5.1.2
グループのレベル
上位階層のグループを作ることができる形に集められたデータが再配置される。この動作が何回も繰り
返される。グループの階層を明確にするために，この規格では次の階層を使用している。
− フレーム（Frame）：最下層のグループ。通常フレームは，複数バイトの情報をもつ。
− ブロック（Block）：第2順位のグループ。通常ブロックは，幾つかのフレームで構成する。
− クラスタ（Cluster）：最上位順位のグループ。クラスタは，幾つかのブロックで構成する。
− フラグメント（Fragment）：応用に適用できるレベルのグループ。相応量のデータが（固定した個数の）
連続するクラスタに割り付けられる。
5.2
数値表示
測定値xmeasuredは，対応する規定されている値xの最下位桁に丸めておいてからxと比べてもよい。
例
− 規格がx＝1.26
0.01
0.02
＋
−
（公称値＝1.26で，正の許容誤差が＋0.01，かつ，負の許容誤差が−0.02）
の場合，次に示す範囲の測定値が，この規格を満たす。
1.235≦xmeasured＜1.275
注記 この規格において，正又は負の許容誤差がゼロとなる場合についても，同様の考え方とし，ゼ
ロは，小数点以下の有効数字を示す表記としている。
− 規格がx≦0.3の場合は，次に示す測定値が，この規格を満たす（0.3＜xmeasured＜0.35の測定
値に対し丸めを適用しxmeasured＝0.3となる。）。
xmeasured＜0.35
− 規格がx＜0.3の場合，
− 次に示す測定値が，この規格を満たす（丸めは必要ない。）。
xmeasured＝0.299
− 次に示す測定値は，この規格を満たさない。
xmeasured＝0.3
規定されている値が“最大x単位”又は“最小x単位”と示されている場合は，この規定されている値
との比較に先立って測定値を丸めてはならない。この方法で決めた測定値は，xの値そのものが規定した
限度値を逸脱してはならない。
例
− 規格が最大0.3 mmの場合，
− 測定値0.300 mmは，この規格を満たす。
− 測定値0.301 mmは，この規格を満たさない。
− 規格が最小3 dBの場合，
− 測定値3.00 dBは，この規格を満たす。
− 測定値2.99 dBは，この規格を満たさない。
10進数は，0〜9の数字で表す。小数点は，“.”である。大きな数値は，空白を入れて群で分けることが
できる。
16進数は，括弧でくくるか又は最後に小文字の“h”を付けた0〜9のアラビア数字及びA〜Fのアルフ
ァベットで表される。16進数中の文字xは，任意の0〜9又はA〜Fを表す。
2進数及びビットパタンは，左側を最上位ビットとする“0”及び“1”の一連で表される。2進数中の文
字xは，“0”又は“1”のいずれかで表される。
9
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
2進数の負の数値は，2の補数で表される。
nビットのビットパタンで，ビットb(n−1)は最上位ビット（msb）とし，ビットb0は最下位ビット（lsb）
とする。ビットb(n−1)を最初に記録する。
ビットパタン中で連続して中断のないm個の“0”は，[0m]で表記できる。
ビットの設定は，“0”及び“1”で示す。
バイトで構成するデータフィールドで，バイト0とする最上位バイト（MSB）を最初に記録し，最下位
バイト（LSB）を最後に記録する。
8nビットのフィールドで，ビットb(8n−1)は最上位ビットとし，ビットb0は最下位ビットとする。ビット
b(8n−1)を最初に記録する。
ニブルで構成するデータフィールドで，ニブル0とする最上位ニブルを最初に記録し，最下位ニブルを
最後に記録する。
4nビットのフィールドで，ビットb(4n−1)は最上位ビット（msb）とし，ビットb0は最下位ビット（lsb）
とする。ビットb(4n−1)を最初に記録する。
値の範囲はx〜yで表され，このときx及びyはその範囲に含まれる。
一連の整数は，i .. jで表される。それは，i及びjを含むiとjとの間の全ての数値を含む（例えば，k＝
0 .. 7）。変化幅の大きさが1ではない場合は，i，（i＋変化幅）.. jと表される（例えば，変化幅が3の場合
にk＝1，4 .. 16となる。）。
一群の要素は，Param m .. n又はPm .. Pnで表される。その群は，m及びnを含むmとnとの間の添字を
もつ全ての要素を含む（例えば，バイト16 .. 31，ビット7 .. 4，Add0 .. Add256）。
xがyにほぼ等しい場合は，
y
x≈と表される。
5.3
整数計算法
div(n,d)は，nをdで除した商を表す。
mod(n,d)は，nをdで除した余りを表し，次の式となる。
mod(n,d)＝n−d×div(n,d)
例 div(＋11,＋3)＝＋3
div(−11,＋3)＝−3
div(＋11,−3)＝−3
div(−11,−3)＝＋3
mod(＋11,＋3)＝＋2
mod(−11,＋3)＝−2
mod(＋11,−3)＝＋2
mod(−11,−3)＝−2
floor(x)は，x以下を満たす最大の整数を表す。
例 floor(＋3.7)＝＋3
floor(−3.7)＝−4
5.4
英語名称
特定のものを示す英語名称，例えば，特定のトラック，フィールドなどの英語名称は，頭文字に大文字
が当てられる。この規格のために明示的に意味を規定した英語名称も，大文字が当てられる。
6
略語
ac：
交流（alternating current）
ADIP：
プリグルーブのアドレス（Address In Pre-Groove）
APC：
自動パワー制御（Automatic Power Control）
AU：
アドレスユニット（Address Unit）
AUN：
アドレスユニット番号（Address-Unit Number）
BCA：
バーストカッティング領域（Burst-Cutting Area）
BIS：
バースト検出サブコード（Burst-Indicating Subcode）
10
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
BPF：
帯域通過フィルタ（Band-Pass Filter）
CAV：
角速度一定（方式）（Constant Angular Velocity）
cbs：
チャネルビット（channel bits）
CNR：
キャリアノイズ比（Carrier-to-Noise Ratio）
dc：
直流（direct current）
DCZ：
ドライブ校正ゾーン（Drive-Calibration Zone）
DDS：
ディスク定義構造（Disk-Definition Structure）
DFL：
欠陥リスト（Defect List）
DI：
ディスク情報（Disk Information）
DL：
2層（Dual Layer）
DMA：
ディスク管理領域（Disk-Management Area）
DMS：
ディスク管理構造（Disk-Management Structure）
DSV：
デジタル総計値（Digital-Sum Value）
EB：
緊急制動（Emergency Brake）
ECC：
エラー訂正符号（Error-Correction Code）
EDC：
エラー検出符号（Error-Detection Code）
FAA：
（データゾーンの）先頭ADIPアドレス［First ADIP Address (of Data Zone)］
FS：
フレーム同期（Frame Sync）
FWHM： 半値幅（Full Width at Half Maximum）
HF：
高周波（High Frequency）
HFM：
高周波変調の（High-Frequency Modulated）
HMW：
高調波変調波（Harmonic-Modulated Wave）
HPF：
高域通過フィルタ（High-Pass Filter）
HTL：
高反射率から低反射率（High-To-Low）
LAA：
（データゾーンの）最終ADIPアドレス［Last ADIP Address (of Data Zone)］
LDC：
長距離符号（Long-Distance Code）
LPF：
低域通過フィルタ（Low-Pass Filter）
LRA：
最終記録アドレス（Last-Recorded Address）
LSB：
最下位バイト（Least-Significant Byte）
lsb：
最下位ビット（least significant bit）
LSN：
論理セクタ番号（Logical-Sector Number）
LTH：
低反射率から高反射率（Low-To-High）
MM：
MSKマーク（MSK Mark）
MSB：
最上位バイト（Most-Significant Byte）
ms：
ミリ秒（millisecond）
msb：
最上位ビット（most-significant bit）
MSK：
最小シフトキー（Minimum-Shift Keying）
MW：
単一周波数ウォブル（Monotone Wobble）
NA：
開口数（Numerical Aperture）
NHWS： 正規化HFMウォブル信号（Normalized HFM-Wobble Signal）
11
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
NRZ：
NRZ（Non-Return-to-Zero）
NRZI：
NRZI（Non-Return-to-Zero Inverting）
ns：
ナノ秒（nanosecond）
NWA：
次記録可能アドレス（Next-Writable Address）
NWL：
公称ウォブル長（Nominal Wobble Length）
NWS：
正規化ウォブル信号（Normalized Wobble Signal）
OPU：
光ピックアップユニット（Optical Pick-up Unit）
PAA：
物理ADIPアドレス（Physical ADIP Address）
PIC：
不変情報・制御データ（Permanent Information & Control data）
PLL：
位相同期ループ（Phase-Lock Loop）
PoA：
ポストアンブル（Post-amble）
PP：
プッシュプル（Push-Pull）
pp：
両ピーク（peak-to-peak）
PrA：
プリアンブル（Pre-amble）
ps：
ピコ秒（picosecond）
PSN：
物理セクタ番号（Physical-Sector Number）
RH：
相対湿度（Relative Humidity）
RHWG： 高周波ウォブルグルーブ比（Ratio HFM-Wobbled Groove）
RIN：
相対ノイズ強度（Relative-Intensity Noise）
RMTR： 最小反転ラン長繰返し（Repeated Minimum-Transition Run-length）
RS：
リードソロモン（符号）［Reed-Solomon (code)］
RT：
相対厚さ（Relative Thickness）
RUB：
記録ユニットブロック（Recording-Unit Block）
RхIn：
反射率×In解像度（Reflectivity×In Resolution）
RхM：
反射率×変調度（Reflectivity×Modulation）
SER：
シンボルエラー率（Symbol Error Rate）
SHD：
2次高調波ひずみ（Second-Harmonic Distortion）
SHL：
2次高調波レベル（Second-Harmonic Level）
SL：
単層（Single Layer）
SNR：
信号ノイズ比（Signal-to-Noise Ratio）
SRM：
連続記録モード（Sequential-Recording Mode）
SRR：
連続記録範囲（Sequential-Recording Range）
SRRI：
連続記録範囲情報（Sequential-Recording Range Information）
STW：
のこぎり波ウォブル（SawTooth Wobble）
Sync：
同期（Synchronization）
TDDS：
仮ディスク定義構造（Temporary Disk Definition Structure）
TDFL：
仮欠陥リスト（Temporary Defect-List）
TDMA： 仮ディスク管理領域（Temporary Disk-Management Area）
TDMS： 仮ディスク管理構造（Temporary Disk-Management Structure）
TP：
トラックピッチ（Track Pitch）
12
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
TS：
透過積層（Transmission Stack）
Vref：
基準速度（Reference Velocity）
wbs：
ウォブル（wobbles）
7
ディスクの概要
この規格の主題であるディスクは，公称厚さ約1.1 mmの基板で構成される。クランプは，クランプゾ
ーンで行われる。
ディスクの記録層は，高反射率から低反射率（HTL）又は低反射率から高反射率（LTH）の技術を用い
てもよい。記録したHTLのマークは未記録層よりも低い反射率に，記録したLTHのマークは未記録層よ
りも高い反射率になる。
この規格は，次の三つのディスクのタイプを規定する。
− タイプSL/HTL：ディスクの基板上は，幾つかの積層膜で構成した，HTL記録層で覆われている。こ
の記録層の上に，光学特性を精密に規定した0.1 mmの透明なカバー層が設けられる（図1参照）。デ
ィスク容量は，25.0 GBである。
− タイプDL/HTL：ディスクの基板は，各々幾つかの積層膜で構成した，二つのHTL記録層で覆われて
いる。二つの記録層は，約0.025 mmの透明なスペーサ層で分離している。読取面から見て最初の記
録層は，半透明にする。この記録層の上に約0.075 mmの透明なカバー層が設けられる。このスペー
サ層及びカバー層は，共に精密に規定した光学特性をもつ（図2参照）。ディスク容量は，50.0 GBで
ある。
− タイプSL/LTH：ディスクの基板は，幾つかの積層膜で構成したLTH記録層で覆われている。この記
録層の上に，光学特性を精密に規定した0.1 mmの透明なカバー層が設けられる（図3参照）。ディス
ク容量は，25.0 GBである。
きずへの耐久性を高めるために，カバー層は，ハードコートを任意に追加できる。
データは，高パワーの集光した光ビームによって，ディスク上に記録できる。データは，低パワーの集
光した光ビームによって，マークとスペースとの反射率の違いを用いて読み取ることができる。
記録層にはアドレスのあるウォブルグルーブがあり，そのおかげで回転速度の制御及び記録層の目的の
場所へデータを書くためにアクセスするシステムが可能となる。
データの記録及び読取りは，どの記録層が対象かによって，カバー層を通して又は最初の記録層スペー
サ層及びカバー層の全体の積層を通して行われる。
参照のために，ある記録層にアクセスする場合は，光ビームが通過する全ての層をその記録層に対する
透過積層という（図1，図2及び図3参照）。
13
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
（保護コート)
カバー層
基板
回転方向
光ビーム入射面
透過積層
HTL記録層
（保護コート)
カバー層
基板
回転方向
光ビーム入射面
透過積層
HTL記録層
図1−タイプSL/HTLディスクの概略図
（保護コート)
カバー層
スペーサ層
基板
回転方向
HTL記録層
L1 層
HTL記録層
L0 層
光ビームの入射面
透過積層1
透過積層0
（保護コート)
カバー層
スペーサ層
基板
回転方向
HTL記録層
L1 層
HTL記録層
L0 層
光ビームの入射面
透過積層1
透過積層0
図2−タイプDL/HTLディスクの概略図
14
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
（保護コート)
カバー層
基板
回転方向
光ビーム入射面
透過積層
LTH記録層
（保護コート)
カバー層
基板
回転方向
光ビーム入射面
透過積層
LTH記録層
図3−タイプSL/LTHディスクの概略図
この規格は，1х，2х，4х及び6хの四つの記録速度を規定する。
図4にディスクタイプ別の記録速度の要求事項を示す。
ディスクタイプ
マーク
極性
プッシュプル
極性
層
タイプ
記録速度
1х
2х
4х
6х
タイプSL/HTL
HTL
オングルーブ
SL
m
m
o
o
タイプDL/HTL
HTL
オングルーブa)
DL
m
m
o
o
タイプSL/LTH
LTH
イングルーブ
SL
m
m
o
o
m： 必須とする。
o： 任意とする。
注a) L0層及びL1層のグルーブ極性は，両方オングルーブとする。
図4−ディスクタイプ別の記録速度要求事項
図5にディスク別の記録速度の要求事項を示す（15.8.3.7参照）。
タイプSL/HTL
タイプDL/HTL
タイプSL/LTH
1х
2х
4х
6х
1х
2х
4х
6х
1х
2х
4х
6х
2хディスク
m
m
−
−
m
m
−
−
m
m
−
−
4хディスク
m
m
m
−
m
m
m
−
m
m
m
−
6хディスク
m
m
m
m
m
m
m
m
m
m
m
m
m：必須とする。
− ：この規格では許されない。
図5−ディスク別の記録速度要求事項
8
一般要求事項
8.1
環境条件
8.1.1
試験環境条件
8.1.1.1
一般
ディスクがこの規格に適合するかどうかの試験を行う間，ディスクは，次の試験環境条件下に置く。試
験環境条件は，ディスク近傍の環境条件で，次による。
15
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 温度：
(23±2) ℃
− 相対湿度： 45 %〜55 %
− 大気圧： 86 kPa〜106 kPa
ディスクに結露があってはならない。ディスクは，試験前に十分な時間この環境下に置いておく。
8.1.1.2
動作環境の急激変化の試験条件
幾つかのパラメタは，動作環境の変化に影響を受けやすい。次の二つの条件の試験を行う。ディスクは，
いずれの場合も新しい環境条件に順応する間においても規格で要求する事項を満たす。
a) 温度を一定に保ちながら相対湿度を急変化させる。
相対湿度＝90 %，温度＝25 ℃ → 相対湿度＝45 %，温度＝25 ℃［図6のa)参照］。
b) 一定（約10.4 g/m3）に保ちながら温度を急変化させる。
温度＝25 ℃，相対湿度＝45 % → 温度＝55 ℃，相対湿度＝10 %［図6のb)参照］。
8.1.2
動作環境条件
この規格に適合するディスクは，動作環境条件で規定する環境条件の範囲で，データ交換ができる。動
作環境条件は，ディスク近傍の環境条件で，次による。
− 温度：
5 ℃〜55 ℃
− 相対湿度： 3 %〜90 %
− 絶対湿度： 0.5 g/m3〜30 g/m3
− 大気圧：
60 kPa〜106 kPa
ディスクに結露があってはならない。ディスクが上記の環境条件から外れる条件にさらされていた場合
は，使用前に少なくとも2時間以上動作環境条件下で慣らす。
16
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
-40
-20
0
20
40
60
80
100
温度℃
100
80
60
40
20
0
絶対湿度g/m3
0.1
0.5
1
10
100
30
b)
a)
相
対
湿
度
%
図6−動作環境条件
8.1.3
保存環境条件
8.1.3.1
一般
保存環境条件は，ディスクの近傍の環境条件で，次による。
− 温度：
−10 ℃〜55 ℃
− 相対湿度：
5 %〜90 %
− 絶対湿度：
1 g/m3〜30 g/m3
− 大気圧：
60 kPa〜106 kPa
− 温度変化：
最大15 ℃/h
− 相対湿度変化： 最大10 %/h
8.1.3.2
気象保存条件
ディスクの環境での安定度を検査するために，次の環境条件にディスクを置く。
− JIS C 60068-2-2による高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
温度（T）＝55 ℃，相対湿度（RH）＝50 %で96時間。
− JIS C 60068-2-30による温湿度サイクル試験方法（試験記号：Db）
上限温度＝40 ℃，下限温度＝25 ℃，RH＝95 %，サイクル時間＝（12＋12）時間，6サイクル。
これらの環境条件にディスクをさらした後で，測定の前に24時間又は48時間の回復時間を置くことが
望ましい。
17
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
8.1.4
輸送
8.1.4.1
一般
輸送は，広い範囲の温度及び湿度の変動，異なる所要時間，多くの輸送手段並びに世界のあらゆる地域
で行われているため，輸送又はこん包の必須条件を規定することは不可能である。
8.1.4.2
包装
8.1.4.2.1
一般
包装の形は，送り手と受け手との間で合意をとることが望ましい。合意がない場合は，送り手の責任で
ある。次の細分箇条に示す障害を考慮することが望ましい。
8.1.4.2.2
温度及び湿度
緩衝材及び包装は，見込んだ輸送期間中保存条件を維持するように設計することが望ましい。
8.1.4.2.3
負荷及び振動の衝撃
a) ディスクの変形を起こすような機械的負荷は避ける。
b) ディスクの落下は避ける。
c) 衝撃を吸収する材料をもつ硬い箱に，ディスクを収納することが望ましい。
d) 外箱は，中がきれいで，汚れ及び湿度の侵入を防ぐ密閉構造をもつことが望ましい。
8.2
安全性
ディスクは，意図する取扱方法で使われる，又は情報システムの中で予測される範囲内で使用される場
合には，JIS C 6950-1の要求事項を満たす。
8.3
難燃性
ディスクは，JIS C 6950-1に規定するHB材料又はそれ以上の難燃性区分の材料で作る。
9
基準ドライブ
9.1
一般
この規定の適合を確認するための光学測定及び電気信号測定には，基準ドライブを用いる。この基準ド
ライブの重要部品は，この箇条で規定する。
9.2
測定条件
ほかに規定しない限り，ディスクは，8.1.1で規定した試験環境条件下で測定する。
9.3
光学システム
規定した記録及び読取りのパラメタの測定に用いる基準ドライブの光学システムの基本構成を，図7に
示す。性能が図7の構成と同じ場合，異なる部品及び部品の異なる配置は許容される。
光学システムは，測定を行う半径で光ビームが集光する記録層に対して，集光した光ビームが垂直にな
るように配置する。
光学システムは，測定精度に影響が出ないように，ディスク入射面で反射した光の検出光を最小にする。
18
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
レーザ
ダイオード
コリメータ
レンズ
偏光
ビームスプリッタ
1/4
波長板
対物
レンズ
球面収差
補正
ディスク
4分割
フォトディテクタ
Ia
Ib
Id
Ic
トラック接線方向
高周波信号読取りチャネル
半径方向プッシュプル読取りチャネル
IaIbIcId
I = I + I
1
a
b
I + I
1 2
I −I
1
2
I = I + I
2 c d
図7−基準ドライブの光学システム
レーザダイオードから来る入射光と光ディスクで反射しフォトディテクタに行く反射光とを分離するた
めに，偏光ビームスプリッタ及び1/4波長板を用いる。偏光ビームスプリッタを透過する光ビームは，100:1
以上のPS強度比にする。
光ビームは，測定を行う半径で光ビームが集光する記録層の透過積層の厚さに対して，集光した光ビー
ムの収差（SA）が最小になるように調整する。
2層ディスクの片方の層の測定中に，他層から反射された光が影響を与える可能性がある。この影響に
対処するために，フォトディテクタの寸法を制限する。ディテクタの縦横の長さは，M×5 μmよりも小さ
くする。ここに，Mは，ディスクから4分割フォトディテクタ近傍の共役面までの光学拡大率である。
9.4
光ビーム
データの記録及び読取りに用いる集光した光ビームの特性は，次による。
− レーザビームの波長（λ）：
(405±5) nm
− 偏光：
円偏光
− 開口数（NA）：
0.85±0.01
− 最大強度に対する対物レンズの瞳の縁での光強度：
− 接線方向：
(60±5) %
− 半径方向：
(65±5) %
− 記録層での最大波面収差（チルト及び球面収差補正後）：
0.033×λ rms
− 次の式で定義するレーザダイオードの最大相対ノイズ強度： −125 dB/Hz
×
dc
m
log
10
P
P
ここに，
Pm： 交流光パワー密度/Hz
Pdc： 直流光パワー
19
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 正規化ディテクタサイズ：
S/M2≦25 μm2
ここに，
S： 4分割フォトディテクタの全面積
− ディスク試験読取りパワー（平均）：
− 単層ディスク：
(0.35±0.1) mW
− 2層ディスク：
(0.70±0.1) mW
− 記録パワー及びパルスの形： 29.4.2及び附属書F参照
9.5
高周波（HF）読取りチャネル
HF読取りチャネルによって，使用者データを読み取れる信号が供給される。この信号は，4分割フォト
ディテクタの電流の総和（Ia＋Ib＋Ic＋Id）で生成される。これらの電流は，マークとスペースとの反射率
の違いによって，使用者が記録した情報を使って変調される。
フォトディテクタを含むHF読取りチャネルは，直流〜22 MHzの周波数範囲で，直流利得に対して±1.0
dB以内で平たんな振幅特性をもつ。群遅延変動は，3 MHz〜22 MHzの周波数範囲で，最大2 ns ppとする。
ジッタ測定における信号処理部，データスライサ，PLLなどの特性は，附属書Hに規定する。
9.6
半径方向のプッシュプル（PP）読取りチャネル
半径方向のPP読取りチャネルによって，光ビームの半径方向のトラッキング制御用のトラッキングエ
ラー信号が供給される。また，グルーブで変調された情報を読み取るウォブル信号が供給される。
半径方向のトラッキングエラーは，対物レンズ瞳の出口の半分ともう半分との光量の差に関連した信号
[(Ia＋Ib)−(Ic＋Id)]として生成される。
半径方向のPP読取りチャネル内のフォトディテクタを含む読取増幅器は，直流〜8 MHzの周波数範囲
で，直流利得に対して±1.0 dB以内で平たんな振幅特性とする。
9.7
ディスクのクランプ
ディスクは，パラメタの測定中に，クランプゾーン（10.6参照）のほぼ全域を覆う二つの同心円環の間
でクランプする。上部のクランプ領域は，下部のクランプ領域と同じ内径及び外径とする（図8参照）。
クランプは，dinとdoutとの間とし，次による。
din＝(23.5±0.5) mm
dout＝(32.5±0.5) mm
全クランプ力はF1とし，次による。
F1＝2.0 N±0.5 N
このクランプ力と，ディスクの中心孔の縁にテーパコーンによって加わるチャック力F2との間で生じる
力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために，F2は0.5 Nを超えてはならない（図8参照）。
ディスクの中心位置決めに用いるテーパコーンの頂角αは，次による。
α＝40.0°±0.5°
20
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
図8−測定のクランプ条件
9.8
ディスクの回転及び測定速度
ディスクの回転方向は，対物レンズから見て反時計方向とする。
全ての規定は，特に指定がない限り，基準速度に等しい接線方向の読取速度に基づいている。この速度
は，一定線速度4.917 m/sに相当している。
9.9
正規化サーボ伝達関数
軸方向及び半径方向のトラッキングのサーボシステムを規定するために，関数HN(iω)が用いられる。そ
れは，基準サーボの開ループ伝達関数Hの公称値を規定し，次による。
()
K
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
H
+
×
×
+
×
+
×
×
=
i
1
3
i
1
i
3
1
i
3
1
i
int
0
0
2
0
N
ここに，
ω： 2π×f
ω0： 2π×f0
ωint： 2π×fint
i： i2＝−1
K： 積分の次数
f0は，開ループ伝達関数の0 dB交差周波数である。
サーボの位相進み遅れ回路の交差周波数は，次による。
− 進み交差周波数：f1＝f0/3
− 遅れ交差周波数：f2＝f0×3
式の中の[1＋ωint/(iω)]の項は，積分関数を表している。そのような積分関数及び同等の関数は，特にディ
スクの回転周波数及びその高次周波数による偏移による低域成分を更に低減するために使用される。
また，fintは，積分関数の交差周波数である。
もう一つの重要な周波数はfxであり，その周波数では，振幅が最大許容残留トラッキングエラーemaxと
等しい正弦波偏移が，最大加速度期待値αmaxに合致している。この周波数は，次による。
max
max
x
π
2
1
e
α
f=
21
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ディスクのトラッキングエラー信号は，幾分大きい変動があるため，各基準サーボループに入力するト
ラッキングエラー信号は，規定した帯域幅を保証するために決めた値に調整する（結果として全体のルー
プゲインを校正することになる。）。
9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ
9.10.1 一般
軸方向の残留エラーを測定する基準サーボ及び状態の選択は，測定するディスクの測定速度に依存する。
− 2xディスクの基準サーボは，1x測定速度（9.10.2参照）で行う。
− 4xディスク及び半径36 mmまでの6xディスクの基準サーボは，2x測定速度（9.10.3参照）で行う。
− 半径36 mm以上の6xディスクの基準サーボは，3x測定速度（9.10.3参照）で行う。
全ての状態のサーボは，同じ基本特性をもつが積分定数が異なっている。
9.10.2 1x測定速度の軸方向のトラッキング基準サーボ
軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図9に示す影を付けた
領域内で示される。
100
80
40
20
0
77.0
97.0
利得(dB)
1
10
100
1 10
×
3
10 10
×
3
100 10
×
3
周波数(Hz)
36
54.6
52.9
図9−1x測定速度の軸方向のトラッキングサーボ特性
│1＋H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0（9.9参照）は，次による。
kHz
2.3
10
55
0.6
25
.1
3
π
2
1
3
π
2
1
9
max
max
0
=
×
×
×
=
×
×
=
−
e
α
m
f
ここに， αmax： 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは，αmax＝6.0
m/s2とする。
m： サーボマージンとしての係数。ここでは，m＝1.25とする。
emax： m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは，emax＝55 nmと
する。
積分は，1次積分（K＝1）とし，交差周波数は，次による。
fint＝100 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)による。
22
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
a) 100 Hz〜10 kHzの帯域で
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
N
N
f
H
f
H
f
H
+
×
+
+
×
b) 36 Hz〜100 Hzの帯域で
78
.4
int
int
N
N
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
c) 36 Hzまでの帯域で
77.0 dB≦
)
(
1
f
H
+
≦97.0 dB
周波数fxは，次による。
kHz
6.1
10
55
0.6
π
2
1
π
2
1
9
max
max
x
≈
×
=
=
−
e
α
f
9.10.3 2x測定速度及び3x測定速度の軸方向のトラッキング基準サーボ
軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図10に示す影を付け
た領域内で示される。
dB
100
97.0
77.0
60
45.7
44.0
20
0
利得(dB)
1
10
66.5
200
1×103
10×103
100×103
周波数（Hz）
図10−2x測定速度及び3x測定速度の軸方向のトラッキングサーボ特性
0 dB交差周波数f0は，1x測定速度と同じ測定条件で，次による。
f0＝3.2 kHz
最大残留トラッキングエラー80 nmに対して（11.4.3参照）相当する加速度は，次による。
2
9
2
3
max
2
0
max
m/s
8.
10
10
80
3
)
10
2.3
π
2(
3
)
π
2(
=
×
×
×
×
=
×
×
=
−
e
f
α
最大残留トラッキングエラー110 nmに対して（11.4.4参照）相当する加速度は，次による。
2
9
2
3
max
2
0
max
m/s
8.
14
10
110
3
)
10
2.3
π
2(
3
)
π
2(
=
×
×
×
×
=
×
×
=
−
e
f
α
23
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
積分は，2次積分（K＝2）とし，交差周波数は，次による。
fint＝200 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)による。
a) 200 Hz〜10 kHzの帯域で
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
N
N
f
H
f
H
f
H
+
×
+
+
×
b) 66.5 Hz〜200 Hzの帯域で
36
.5
int
int
N
N
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
c) 66.5 Hzまでの帯域で
)
(
1
f
H
+
≧77.0 dB
9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ
9.11.1 一般
半径方向の残留エラーを測定する基準サーボ及び状態の選択は，測定するディスクの測定速度に依存す
る。
− 2xディスクの基準サーボは，1x測定速度（9.11.2参照）で行う。
− 4xディスク及び半径36 mmまでの6xディスクの基準サーボは，2x測定速度（9.11.3参照）で行う。
− 半径36 mm以上の6xディスクの基準サーボは，3x測定速度（9.11.3参照）で測定する。
全ての状態のサーボは，同じ基本特性をもつが積分定数が異なっている。
9.11.2 1x測定速度の半径方向のトラッキング基準サーボ
半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図11に示す影を付
けた領域内で示される。
100
80
40
20
0
79.0
99.0
利得(dB）
1
10
100
1 10
×
3
10 10
×
3
100 10
×
3
周波数(Hz)
36
56.6
54.9
図11−1x測定速度の半径方向のトラッキングサーボ特性
│1＋H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0（9.9参照）は，次による。
24
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
kHz
6.3
10
16
2.2
25
.1
3
π
2
1
3
π
2
1
9
max
max
0
=
×
×
×
=
×
×
=
−
e
α
m
f
ここに， αmax： 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは，αmax＝2.2
m/s2とする。
m： サーボマージンとしての係数。ここでは，m＝1.25とする。
emax： m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは，emax＝16 nmと
する。
積分は，1次積分（K＝1）とし，交差周波数は，次による。
fint＝100 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)による。
a) 100 Hz〜10 kHzの帯域で
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
N
N
f
H
f
H
f
H
+
×
+
+
×
b) 36 Hz〜100 Hzの帯域で
78
.4
int
int
N
N
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
c) 36 Hzまでの帯域で
79.0 dB≦
)
(
1
f
H
+
≦99.0 dB
周波数fxは，次による。
kHz
8.1
10
16
2.2
π
2
1
π
2
1
9
max
max
x
≈
×
=
=
−
e
α
f
9.11.3 2x測定速度及び3x測定速度の半径方向のトラッキング基準サーボ
半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1＋H(f)│は，図12に示す影を付
けた領域内で示される。
×
x
x
dB
10099.0
79.0
60
47.7
46.0
20
0
1 10 66.5 200 1×103
10 ×103
100 ×103
利得(dB)
周波数(Hz)
×
x
x
dB
10099.0
79.0
60
47.7
46.0
20
0
1 10 66.5 200 1×103
10 ×103
100 ×103
利得(dB)
周波数(Hz)
図12−2x測定速度及び3x測定速度の半径方向のトラッキングサーボ特性
25
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
0 dB交差周波数f0は，1x測定速度と同じ測定条件で，次による。
f0＝3.6 kHz
最大残留トラッキングエラー20 nmに対して（11.5.4参照）相当する加速度は，次による。
2
9
2
3
max
2
0
max
m/s
4.3
10
20
3
)
10
6.3
π
2(
3
)
π
2(
=
×
×
×
×
=
×
×
=
−
e
f
α
積分は，2次積分（K＝2）とし，交差周波数は，次による。
fint＝200 Hz
│1＋H(f)│の境界は，次のa)〜c)による。
a) 200 Hz〜10 kHzの帯域で
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
N
N
f
H
f
H
f
H
+
×
+
+
×
b) 66.5 Hz〜200 Hzの帯域で
36
.5
int
int
N
N
)
(
1
1.1
≦
)
(
1
≦
)
(
1
9.0
×
+
×
+
+
×
f
f
f
H
f
H
f
H
c) 66.5 Hzまでの帯域で
)
(
1
f
H
+
≧79.0 dB
10 寸法特性
10.1 一般
寸法特性は，ディスクの互換性及び適合をとる上で必須とみなされるパラメタについて規定する。設計
の自由度があるところは，規定した要素の基本特性だけ示す。図13にまとめて寸法要求事項を示してい
る。ディスクの各部分について，中心孔〜外周リムを規定している。
図13−ディスク寸法の全体概要
10.2 ディスクの基準面及び基準軸
（ディスクの基準面については，図14及び図15も参照。）
ディスク基準面Pは，ディスクの読取面側のクランプゾーン表面（10.6参照）で決まる平面である。
ディスク基準面Qは，ディスクの基板側のクランプゾーン表面で決まる平面である。
基準軸Aは，ディスク基準面Pに垂直で，中心孔の中心を通る軸である。
26
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ディスク基準面Rは，ディスク基準面Pに平行な平面である。ディスク基準面Rは，ディスク基準面P
よりもディスクの内側にe4の距離とし（図14及び図15参照），次による。
e4＝(100±25) μm
ディスク基準面Rは，L0層の半径raとrbとの間の平均位置で，記録層L0（記録層L0は，単層ディス
クの唯一の記録層又は2層ディスクの最も奥の記録層である。）と交差し，次による。
ra＝23 mm
rb＝24 mm
図14−ディスク寸法の詳細
図15−ディスク基準面P及びR並びに記録層L0の詳細
10.3 全体寸法
ディスクの外径はd1とし（図13参照），次による。
27
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
d1＝(120.0±0.3) mm
中心孔の直径はd2とし（図13参照），次による。
d2＝
10
.0
00
.0
00
.
15
＋ mm
読取面側の中心孔のエッジにばりがあってはならない。
読取面側の中心孔のエッジは，ディスクの中心位置決めの基準であり，丸めるか面取りをする。丸めの
半径はreとし，次による。
最大re＝0.1 mm
面取りの高さは，第1遷移領域の下面よりも上に最大0.1 mmとする。丸め又は面取りの高さは，ディ
スク基準面Pからh1とし（詳細は図14参照），次による。
最大h1＝0.25 mm
ディスクの最大厚さは，ディスク入射面から突き出す最も高い構造物とディスクの上面から突き出す最
も高い構造物との間の基準軸Aの方向の距離で規定する。
カバー層，保護コート及びレーベル印刷を含むディスクの最大厚さは，ディスクのいずれの半径位置で
もe1（図14参照）とし，次による。
e1＝1.40 mm
ディスクの情報領域の最小厚さはe2とし，次による。
e2＝0.90 mm
クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも内側にh2入ってもよいとし，次によ
る。
最大h2＝0.4 mm
クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも外側にh3出てもよいとし（図14参
照），次による。
最大h3＝0.1 mm
10.4 第1遷移領域
クランプゾーンの内側（d＜d6）の領域では，ディスク表面はディスク基準面P及びQに対してそれぞ
れh5，h4内側に入ってもよいとし，次による。
最大h5＝0.20 mm
最大h4＝0.12 mm
このディスク表面は，ディスク基準面P及びQの外側にそれぞれh7平たんでない部分，及びh6ばりが
あってもよいとし，次による（図13及び図14参照）。
最大h7＝0.05 mm
最大h6＝0.05 mm
10.5 保護リング
ディスクの内側の領域に任意に設けるリング状の突出部は，ディスクを置く表面及びディスクが置かれ
る表面が全面で接触するのを防ぐことができる。そのようなリングを設けることによって，ディスクの読
取面がきず付くのを減らすことができる。
保護リングを設ける場合，その位置は直径d3と直径d5との間とし，次による。
d3＝17.5 mm
d5＝21.0 mm
d3と直径d4との間で保護リングの高さはクランプ表面の上にh8とし，次による。
28
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d4＝20.5 mm
最大h8＝0.12 mm
d4とd5との間で保護リングの高さは，緩やかに周辺の表面の高さまで減少する（図14参照）。
10.6 クランプゾーン
ディスククランプゾーンの内径はd6とし，次による。
d6≦23.0 mm
ディスククランプゾーンの外径はd7（図13参照）とし，次による。
d7≧33.0 mm
ディスククランプゾーン内のディスク厚さはe3（図14参照）とし，次による。
e3＝
10
.0
05
.0
0
.2
1
＋
−
mm
ディスククランプゾーン内（d6＜d＜d7）でディスクの両面は，最大0.1 mm以内の平たんとする。
ディスククランプゾーン内（d6＜d＜d7）でディスクの両面は，最大0.1 mm以内の平行とする。
10.7 第2遷移領域
第2遷移領域は，クランプゾーンと情報領域との間でd7＜d＜d9の領域である（図13参照）。
この領域でディスクの読取側の表面はディスク基準面Pよりもh9内側に入ってもよく，次による。
最大h9＝0.12 mm
この表面は情報領域の入射面に対してh10外側に出てもよく（図14参照），次による。
最大h10＝0.01 mm
この領域でディスクの上面はディスク基準面Qよりもh11外側に出てもよく，次による。
最大h11＝0.2 mm
h16は，この領域のディスク上面から情報領域上面への段差である。l1は，傾斜部の開始半径と終了半径
との間の距離である。h16が0.2 mmよりも大きい場合は，図14に示すとおりに，情報領域上面への下降の
傾斜はなだらかとし，かつ，l1は，次による。
l1＞1.8 mm
第2遷移領域から情報領域の上面へ下がる段差がある場合は，その段差は，直径d8以内でなくなるとし，
次による。
d8＝40.0 mm
10.8 情報領域
10.8.1 一般
情報領域は直径d9〜直径d10とし（図13及び図16参照），次による。
d9＝42 mm
d10＝117 mm
各記録層上で，データ領域は内径dDZIと外径dDZOとの間とする。全ての記録層のデータ領域は，同じ記
録容量をもつ。
記録層Lnの内径dDZIはdDZIn，記録層Lnの外径dDZOはdDZOnとし，次による
dDZIn＝
0.0
0.2
0.
48
− mm
dDZOn≦116.2 mm
d9とdDZIとの間の領域を内側ゾーンと呼び，dDZOとd10との間の領域を外側ゾーンと呼ぶ（図16参照）。
情報領域のディスクの全体厚さは，10.3に規定したとおりとする。
29
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図16−情報領域の分割
10.8.2 単層ディスク情報ゾーンの区分
情報領域は，情報ゾーンを記録するために使用される。
情報ゾーンは，次の主部分に区分される（図17参照）。
− リードインゾーン（内側ゾーンの部分）
− データゾーン
− リードアウトゾーン（外側ゾーン）
基板
記録層
カバー層
リードインゾーン
リードアウトゾーン
データゾーン
光ビーム
らせん方向
ディスク内周
ディスク外周
基板
記録層
カバー層
リードインゾーン
リードアウトゾーン
データゾーン
光ビーム
らせん方向
ディスク内周
ディスク外周
図17−単層ディスク情報ゾーンの区分
リードインゾーンは直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり，データゾーンの先頭の直径dDZIで
終了する。
リードアウトゾーンはデータゾーンの最後の直径dDZOで始まり，最小で直径117 mmで終了する。
10.8.3 2層ディスク情報ゾーンの区分
情報領域は，二つの記録層に分かれた情報ゾーンを記録するために使用される。
情報ゾーンは，次の主部分に区分される（図18参照）。
− 記録層L0
− リードインゾーン（内側ゾーン0の部分）
− データゾーン0
− 外側ゾーン0
− 記録層L1
− 外側ゾーン1
30
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− データゾーン1
− リードアウトゾーン（内側ゾーン1の部分）
L0層のらせんグルーブは，ディスクの内側から外側に向かって進む。
L1層のらせんグルーブは，ディスクの外側から内側に向かって進む。
基板
記録層L0
記録層L1
スペーサ層
カバー層
リードインゾーン
リードアウトゾーン
外側ゾーン1
外側ゾーン0
データゾーン1
データゾーン0
光ビーム
らせん方向
らせん方向
ディスク内周
ディスク外周
基板
記録層L0
記録層L1
スペーサ層
カバー層
リードインゾーン
リードアウトゾーン
外側ゾーン1
外側ゾーン0
データゾーン1
データゾーン0
光ビーム
らせん方向
らせん方向
ディスク内周
ディスク外周
図18−2層ディスク情報ゾーンの区分
リードインゾーンは直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり，データゾーン0の先頭の直径dDZI0
で終了する。
外側ゾーン0は，データゾーン0の最後の直径dDZO0で始まり，最小で直径117 mmで終了する。
外側ゾーン1は，最小で直径117 mmで始まり，データゾーン1の始まりの直径dDZO1で終了する。
リードアウトゾーンは，データゾーン1の最後の直径dDZI1で始まり，直径44.0 mmと44.4 mmとの間の
領域で終了する。
10.9 リム領域
リム領域は，情報領域の外の領域でd10で始まり，ディスクの外径まで広がっている（図13参照）。
リム領域の最初の0.5 mmでは，読取面側のディスク表面は，情報領域の入射面よりも外側に出てはな
らない。
残りのリム領域で，読取面側のディスク表面は，情報領域の入射面よりもh13を超えて外側に出てはな
らないとし，次による。
最大h13＝0.05 mm
リム領域では，読取面側のディスク表面は，情報領域の入射面よりもh14内側に入ってもよいとし（図
14参照），次による。
最大h14＝0.12 mm
リム領域では，ディスクの上面は，情報領域の上面よりもh15を超えて外側に出てはならないとし（図
14参照），次による。
最大h15＝0.05 mm
11 機械的特性
11.1 質量
ディスクの質量mは，次による。
12 g≦m≦17 g
31
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11.2 慣性モーメント
ディスクの慣性モーメントは，0.032 g·m2以下とする。
11.3 ダイナミックインバランス
ディスクのダイナミックインバランスは，2.5 g·mm以下とする。
11.4 軸方向の振れ量
11.4.1 一般
軸方向のトラッキング基準サーボをもつ光学システムで，ディスクを線速度4.917 m/sで回転して測定す
る場合は（全ての容量で），各記録層とディスク基準面R（図14及び図15参照）との間の基準軸Aの方
向の距離はディスク全体でh12とし，次による。
最大h12＝0.3 mm
1トラック内（1回転内）で，ディスク基準軸Aの方向の各記録層の平均位置からの偏移は，最大0.1 mm
とする。
これは，ディスクの内周で線速度4.917 m/sの回転をしている場合に，ディスクの回転周波数での正弦波
偏移と考えると，最大加速度4.6 m/s2に相当している。
基準サーボの積分機能のために（9.10参照）この回転成分は十分に抑制され，11.4.2，11.4.3及び11.4.4
に規定する残留トラッキングエラーは主として局所外乱に起因している。
11.4.2 1x測定速度の軸方向残留トラッキングエラー
9.10.2で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，1.6 kHz（＝fx，9.10.2参照）より
も低い周波数での各記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは，ディスクが1×Vref（基準速度）で回転
する場合は最大45 nmとする（光ビームの焦点が記録層の上に来るように動かすために，対物レンズの移
動が必要である。）。
ほこり，きずなどの局所欠陥による軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.6 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，1.6 kHz未満の周波数で，基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は6.0 m/s2を超えないこ
とを意味する。
軸方向のトラッキング基準サーボを使い20 msの積分時間で測定した，1.6 kHz〜10 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は，最大32 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワース
帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.6 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝10 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.4.3 2x測定速度の軸方向残留トラッキングエラー
9.10.2で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，3.2 kHzよりも低い周波数での各
記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは，ディスクが2×Vrefで回転する場合は最大80 nmとする（光
ビームの焦点が記録層の上に来るように動かすために対物レンズの移動が必要である。）。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
2×Vrefで，大きな軸方向のトラッキングエラーの原因となるものは，附属書Iの規定によって対処する。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.2 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，3.2 kHz未満の周波数で，基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は10.8 m/s2を超えない
ことを意味する（9.10.3参照）。しかし，2次の積分特性によって低域成分が更に減衰するため，400 Hzよ
32
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
りも低い周波数での最大加速度は45 m/s2の値まで近づくことができる。
軸方向のトラッキング基準サーボを使い，10 msの積分時間で測定した3.2 kHz〜20 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は，最大32 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワース
帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.2 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝20 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.4.4 3x測定速度の軸方向残留トラッキングエラー
9.10.3で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，4.8 kHzよりも低い周波数での各
記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは，次のいずれかによる。
a) ディスクが3×Vrefで回転する場合は，最大80 nmとする（光ビームの焦点が記録層の上に来るように
動かすために対物レンズの移動が必要である。）。
b) ディスクが3×Vrefで回転する場合は，±10 %のパワーウィンドウでジッタ特性を満たせば，最大110
nmとする（光ビームの焦点が記録層の上に来るように動かすために対物レンズの移動が必要である。）。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
3×Vrefで，大きな軸方向のトラッキングエラーの原因となるものは，附属書Iの規定によって対処する。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝4.8 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，4.8 kHz未満の周波数で，基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は14.8 m/s2を超えない
ことを意味する（9.10.3参照）。しかし，2次の積分特性によって低域成分が更に減衰するため，400 Hzよ
りも低い周波数での最大加速度は45 m/s2の値まで近づくことができる。
軸方向のトラッキング基準サーボを使い，10 msの積分時間で測定した4.8 kHz〜30 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は，最大32 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワース
帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝4.8 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝30 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.5 半径方向の振れ量
11.5.1 一般
ディスクの外周エッジの振れ量は，最大0.3 mm ppとする。
各記録層のトラックの半径方向の振れ量（偏芯及び真円からのずれを含む。）は，ディスクを線速度4.917
m/sで回転させ，半径方向のトラッキング基準サーボをもつ光学システムで測定する（全ての容量で）。
半径方向の振れ量は，最大75 μm ppとする（単層及び2層ディスク）。
これは，ディスクの内周で線速度4.917 m/sの回転をしている場合に，ディスクの回転周波数での正弦波
偏移と考えると最大加速度1.7 m/s2に相当している。
基準サーボの積分機能のために（9.11参照），この回転成分は十分に抑圧され，11.5.2，11.5.3及び11.5.4
に規定する残留トラッキングエラーは主として局所外乱に起因している。
残留トラッキングエラーは，図7に示す半径方向のPP読取りチャネル(I1−I2)信号を測定及び半径方向
の制御用の両方に供給することによって判定する。
11.5.2 単層ディスクの1x測定速度の半径方向残留トラッキングエラー
9.11.2で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，1.8 kHz（＝fx，9.11.2参照）よ
りも低い周波数での各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは，ディスクが1×Vrefで回転する場合
は最大9 nmとする。ほこり，きずなどの局所欠陥による，半径方向の残留トラッキングエラーのスパイ
33
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
クは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，1.8 kHz未満の周波数で半径方向の記録層の局所加速度の最大値は1.5 m/s2を超えないことを意
味している。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い，20 msの積分時間で測定した1.8 kHz〜10 kHzの周波数帯域
での残留エラー信号のノイズ実効値は，最大6.4 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワー
ス帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝10 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.5.3 2層ディスクの1x測定速度の半径方向残留トラッキングエラー
9.11.2で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，1.8 kHz（＝fx，9.11.2参照）よ
りも低い周波数での各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは，ディスクが1×Vrefで回転する場合
は，最大13 nmとする。ほこり，きずなどの局所欠陥による，半径方向の残留トラッキングエラーのスパ
イクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，1.8 kHz未満の周波数で半径方向の記録層の局所加速度の最大値は2.2 m/s2を超えないことを意
味する。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い，20 msの積分時間で測定した1.8 kHz〜10 kHzの周波数帯域
での残留エラー信号のノイズ実効値は，最大9.2 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワー
ス帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝1.8 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝10 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.5.4 単層ディスク及び2層ディスクの2x測定速度の半径方向残留トラッキングエラー
9.11.3で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，3.6 kHzよりも低い周波数での
各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは，ディスクが2×Vrefで回転する場合は最大20 nmとする。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.6 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，3.6 kHz未満の周波数で半径方向の記録層の局所加速度の最大値は，3.4 m/s2を超えないことを
意味する（9.11.3参照）。しかし，2次の積分特性よりも低域成分が更に減衰するため，400 Hzよりも低い
周波数での最大加速度は15 m/s2の値まで近づくことができる。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い，10 msの積分時間で測定した3.6 kHz〜20 kHzの周波数帯域
での残留エラー信号のノイズ実効値は，最大9.2 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワー
ス帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.6 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝20 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.5.5 単層ディスク及び2層ディスクの3x測定速度の半径方向残留トラッキングエラー
9.11.3で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って測定した，3.6 kHzよりも低い周波数での
各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは，ディスクが3×Vrefで回転する場合は最大20 nmとする。
ほこり，きずなどの局所欠陥による，半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは，次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
34
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
f−3dB＝3.6 kHz，傾斜−60 dB/decade
これは，3.6 kHz未満の周波数で半径方向の記録層の局所加速度の最大値は3.4 m/s2を超えないことを意
味する（9.11.3参照）。しかし，2次の積分特性よりも低域成分が更に減衰するため，400 Hzよりも低い周
波数での最大加速度は15 m/s2の値までなり得る。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い，10 msの積分時間で測定した3.6 kHz〜30 kHzの周波数帯域
での残留エラー信号のノイズ実効値は，最大9.2 nmとする。測定フィルタは，次の特性をもつバターワー
ス帯域通過フィルタとする。
f−3dB＝3.6 kHz，傾斜＋60 dB/decadeから，f−3dB＝30 kHz，傾斜−60 dB/decadeまで
11.6 カバー層の耐久性
11.6.1 カバー層の衝突耐久性
ディスクの読取面に対物レンズが衝突する場合に，過度にディスクが損傷するのを防ぐために，ディス
ク表面は最低限の衝突耐久性をもつことが望ましい。この衝突耐久性は，附属書Lに規定する測定方法で
測定できる。
11.6.2 カバー層のきず耐久性
過度にきずが付かないように，ディスク表面は最低限の硬さをもつ。きず耐久性は，附属書Cに規定す
る測定方法で測定する。
11.6.3 カバー層による指紋はつ（撥）油性
過度の汚れを防ぐため，ディスク表面はできるだけ汚れをはじくことが望ましい。汚れのはじき具合は，
附属書Dに規定する測定方法で測定する。
12 情報領域の光学的特性
12.1 一般
ディスクの情報領域内で，次の要求事項を満たす。
透過積層（TS）のこれらの規格は，記録層の上の全ての関連する層（例えば，積層膜の場合は接着層，
TS0の場合はスペーサ層及びL1層の半透明記録層，カバー層及び保護コート付きの場合は保護コート層
など。）を含んでいる。
12.2 透過積層（TS）の屈折率
透過積層（TS）全体を形成する層が異なる屈折率をもっている場合は，附属書Aに規定した方法に従う。
ディスクのカバー層及びスペーサ層の屈折率nは，次による。
1.45≦n≦1.70
12.3 透過積層（TS）の厚さ
12.3.1 単層ディスクの透過積層の厚さ
半径raとrbとの間の平均厚さは，ディスクの透過積層（TS）の基準厚さ（10.2及び図15参照）という。
ディスク全面で測定したTSの厚さは，次の二つの要求事項を満たす。
a) 屈折率で決まるTSの厚さは，図19（屈折率が1.6の場合は，厚さは95 μm〜105 μmとし，図中太い
破線は，公称厚さを屈折率の関数として示す。）の上側の網掛け領域内とする。
b) TSの厚さの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は，次による。
│ΔD│≦2.0 μm
12.3.2 2層ディスクの透過積層の厚さ
半径raとrbとの間の平均厚さは，関連するディスクの透過積層（TS0又はTS1）の基準厚さという。
35
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ディスク全面で測定したTS0及びTS1の厚さは，次の四つの要求事項を満たす。
a) 屈折率で決まるTS0（L0層の上の全ての層）の厚さは，図19（屈折率が1.6の場合の厚さは，95 μm
〜105 μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折率の関数として示す。）の上側の網掛け領域内とす
る。
b) 屈折率で決まるTS1（L1層の上の全ての層）の厚さは，図19（屈折率が1.6の場合は，厚さは70 μm
〜80 μmとし，図中太い破線は，公称厚さを屈折率の関数として示す。）の下側の網掛け領域内とする。
c) スペーサ層の厚さは，20 μm〜30 μmとする。
d) TS0及びTS1の厚さの各々の基準厚さからの偏差ΔDの最大値は，次による。
│ΔD│≦2.0 μm
104
106
108
102
100
94
100.0
75.0
74.4
74.1
74.1
75.8
76.7
96
98
98.6
98.5
99.2
101.1
102.4
81
79
77
75
69
71
73
透
過
積
層
の
厚
さ
(
m
)
μ
1.40
1.45
1.50
1.55
1.60
1.70
1.75
1.65
透過積層の屈折率
104
106
108
102
100
94
100.0
75.0
74.4
74.1
74.1
75.8
76.7
96
98
98.6
98.5
99.2
101.1
102.4
81
79
77
75
69
71
73
透
過
積
層
の
厚
さ
(
m
)
μ
1.40
1.45
1.50
1.55
1.60
1.70
1.75
1.65
透過積層の屈折率
図19−屈折率の関数としての透過積層の厚さ
（
μ
m
）
36
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
12.4 反射率
12.4.1 単層ディスクの記録層の反射率
カバー層の透過を含む情報ゾーンの記録層の反射率は，附属書Bの測定条件の下で，次による。
− 未記録のバージングルーブ： 12 %≦Rg−v≦24 %
− 記録グルーブ：
− HTLディスク：
11 %≦R8H≦24 %
− LTHディスク：
16 %≦R8H≦35 %
− ディスクの各部：
− HTLディスク：
0.75×Rg−v＜R8H＜1.25×Rg−v
− LTHディスク：
0.75×Rg−v＜R8L＜1.25×Rg−v
HTLディスクの場合は，記録マークは未記録層よりも低い反射率とする。LTHの場合は，記録マークは
未記録層よりも高い反射率とする。
12.4.2 2層ディスクの記録層の反射率
カバー層の透過を含む情報ゾーンの記録層の反射率は，附属書Bの測定条件の下で，次による。
− 未記録のバージングルーブ： 4 %≦Rg−v≦8 %
− 記録グルーブ：
3.5 %≦R8H≦8 %
− ディスクの各部：
0.75×Rg−v＜R8H＜1.25×Rg−v
記録マークは，未記録層よりも低い反射率とする。
12.5 複屈折
透過積層のディスク面方向の複屈折は（附属書J参照），次による。
Δn//≦1.5×10−4
透過積層のディスク面に対して垂直方向の複屈折は（附属書J参照），次による。
Δn┴≦1.2×10−3
12.6 角度偏差
角度偏差は，ディスクの基準面Pに垂直な入射平行光と反射光との間の角度αである。入射光の直径は，
0.3 mm〜1.0 mmの範囲とする。角度偏差αは，入射面のゆがみ並びにカバー層及び／又はスペーサ層の非
平行を含んでいる（図20参照）。
37
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
カバー層
基板
記録層
読取り面
反射光
a
入射光
図20−角度偏差の規定
角度偏差αの要求事項は，次による。
− 半径方向
− 8.1.1に規定する通常の試験環境条件： 最大│α│＝0.60°
− 8.1.1に規定する急激変化の試験条件： 最大│α│＝0.70°
− 接線方向
− 8.1.1に規定する通常の試験環境条件： 最大│α│＝0.30°
13 データフォーマット
13.1 一般
情報源（ホストコンピュータ又は応用）から受け取ったデータは，使用者データフレームと呼ばれ，デ
ィスクに記録する前に幾つかのステップを踏んで，次のとおりにフォーマットされる（図21参照）。
38
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
32 フレーム
使用者データ
x 2 048バイト
32 セクタ
データブロック
304 列
216 行
アクセスブロック
24 列
30
行
LDC ブロック
304 列
216 行データ
32 行パリティ
使用者コントロールデータ
32 ユニット
x18 バイト
物理セクタ番号
アドレスユニット番号
16アドレス
x9 バイト
24 列
30 行データ
32 行パリティ
BIS ブロック
BIS クラスタ
3 列
496 行
LDC クラスタ
152 列
496 行
物理クラスタ
ECC クラスタ
(155 列)
(
1 288 データビット)
1 932 チャネルビット
LDC
38 列
BIS
1 列
LDC
38 列
BIS
1 列
LDC
38 列
BIS
1 列
LDC
38 列
496 行は、各31行の
16 アドレスユニットに
分割する。
フレーム
同期
20
データ
25
直流
制御
1
直流
制御
1
直流
制御
1
データ
45
データ
45
496
記録フレーム
32 フレーム
データフレーム
x(2 048バイトデータ
+4 バイトEDC)
32 フレーム
スクランブルドデータフレーム
x2 052バイト
図21−エンコードプロセスの図
− 使用者データは，データフレーム，スクランブルドデータフレーム，データブロック，LDCブロック
及びLDCクラスタと，順番に変換される。
− BDレコーダブルシステムで追加するアドレス及びコントロールデータは，アクセスブロック，BIS
ブロック及びBISクラスタと，順番に変換される。
− LDCクラスタ及びBISクラスタは，多重化され16アドレスユニットに分割されるECCクラスタとな
39
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
り，変調されて496記録フレームから構成される物理クラスタとなる。
BDレコーダブルディスクのデータは，2 048バイトの使用者データから構成される32個のデータフレ
ームをもつ，クラスタと呼ぶ64Kのパーティションに記録される。このクラスタは，二つのエラー訂正の
仕組みで保護されている。
− 第1に，(248,216,33)リードソロモン（RS）符号語で構成する長距離（LDC）エラー訂正符号で保護さ
れる。この符号は，十分なパリティ及びインターリーブ長をもち効率がよく，ランダムエラー及びバ
ーストエラーの両方を訂正できる。
− 第2に，データは，(62,30,33)RS符号語で構成する，強力なバースト検出サブコード（BIS）と多重化
される。このBIS符号語は，場所を特定するためのアドレス及び使用者データに付随したコントロー
ル情報をもっている。また，LDCが効率的に消失訂正できるように，長いバーストエラーを示すため
に使うことができる。
これらの二つの符号の組合せは，LDC＋BIS符号と呼ばれる（図22参照）。
全てのデータは，図22に示す配列に構成される。この配列は，行から行へと水平方向に読まれ，直流制
御ビットを追加し，変調し，同期パタンを追加してディスク上に記録される。
エラー訂正符号は，ディスク上のバーストエラーを原理的にうまく分割する垂直方向に適用される。さ
らに，LDC符号は，対角線方向にインターリーブされている。
同期
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
D0........D37
B0
D38......D75
B1
D76....D113
B2
D114...D151
D152…. D189
B3
D190...........
アドレス
ユニット0
31
行
496
行
ディスク上の
データの流れ
:
:
:
アドレス
ユニット14
31
行
アドレス
ユニット15
....... D75 391
31
行
同期
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
1
バイト
38
バイト
D0........D37
B0
D38......D75
B1
D76....D113
B2
D114...D151
D152…. D189
B3
D190...........
アドレス
ユニット0
31
行
496
行
ディスク上の
データの流れ
:
:
:
アドレス
ユニット14
31
行
アドレス
ユニット15
....... D75 391
31
行
図22−ディスク上の物理クラスタの図
アドレスユニット，物理セクタ及び論理セクタは，次による。
− アドレスユニット
ディスク上の所定の位置へ光ピックアップの位置決めをするために，物理クラスタは，それぞれが
31の連続する行から構成される16個のアドレスユニットに細分される。アドレスユニット番号
（AUN）を記録データに埋め込むことによって，迅速な位置決めができる。
40
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 物理セクタ
コントロールデータが附属したデータフレームは，セクタと呼ばれる。ディスク全体（内側ゾーン
及び外側ゾーンを含む。）の全ての物理クラスタ内の全てのセクタは，物理セクタと呼ばれる。全ての
物理セクタは，物理セクタ番号（PSN）と呼ぶ仮想番号をもっている。このPSNは，ディスク上に記
録されないがAUNと同期している。
− 論理セクタ
ホストコンピュータ又は応用から供給される使用者データを保存するために，全ての物理セクタが
利用できるわけではない。内側ゾーン及び外側ゾーンは，除かれる。残りのセクタは，使用者データ
保存に利用でき，論理セクタと呼ばれる。
13.2 データフレーム
一つのデータフレームは，2 048バイトの使用者データ及び4バイトのエラー検出符号（EDC）の2 052
バイトで構成される。2 048バイトの使用者データバイトはud0〜ud2 047として，また，4バイトのEDCは
ed2 048〜ed2 051として識別される（図23参照）。
ud0
:
2048
:
使用者データ
:
バイト
:
2052
ud2047
バイト
ed2048
4
ed2049
EDCバイト
ed2050
ed2051
ud0
:
2048
:
使用者データ
:
バイト
:
2052
ud2047
バイト
ed2048
4
ed2049
EDCバイト
ed2050
ed2051
図23−データフレーム
13.3 エラー検出符号（EDC）
4バイトのフィールドed2 048〜ed2 051は，2 048バイトの使用者データ全体に対し算出されたエラー検出符
号を収納する。データフレームを，最初の使用者データバイト（ud0）の最上位ビットから始まり，最後の
EDCバイト（ed2 051）の最下位ビットで終わる一つのビットフィールドとして考えると，msbはb16 415で，
lsbはb0となる。
EDCの各ビットbiは，i＝0〜31に対して，次のとおりに示される。
)
(
mod
)
(
b
)
(
∑
0
31
x
G
x
I
x
x
EDC
i
i
i
=
=
=
ここに， I(x)：
∑
32
415
16
b
)
(
=
=
i
i
ix
x
I
G(x)：
1
)
(
4
31
32
+
+
+
=
x
x
x
x
G
13.4 スクランブルドデータフレーム
使用者データ及びEDCの2 052バイトから構成される各データフレームは，図24に規定する回路の出
力でスクランブルする。この図でビットs7（msb）〜s0（lsb）は，各8ビットシフトごとのスクランブル
バイトを表す。
回路の心臓部は，線形帰還シフトレジスタ（LFSR）で，次の多項式によっている。
1
)
(
4
13
15
16
+
+
+
+
=
x
x
x
x
x
φ
41
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ここで，s0〜s15は16ビットシフトレジスタを構成している。各シフトクロックで，snの中身はsn＋1（n
＝0 .. 14）にシフトし，一方，s0は，s15⊕s14⊕s12⊕s3（⊕は排他的論理和を表す。）にセットされる。
各データフレームのスクランブル手順の最初で，s0〜s15のシフトレジスタは，データフレームに付随す
る（仮想）PSN（箇条17参照）から生成する値にプリセットする。16ビットのプリセット値は，次に示
す方法で作成する。
− s15は，1にセットする。
− s14〜s0は，PSNのPS19〜PS5にセットする（図24参照）。
同じプリセット値を，同一クラスタ内の全32データフレームに用いる。
最上位バイト
“１”
最下位バイト
PS31
PS23
PS15
PS7
PS24
PS16
PS19
PS8
PS0
PS5PS4
s15s14
s12
s7s6s5s4s3s2s1s0
PSN
パラレル
入力
シフトクロック
図24−スクランブル回路
プリセット値を読み込んだ後，s7〜s0は，スクランブルバイトS0として取り出される。さらに，8ビッ
トシフトを2 051回繰り返し，続きの2 051バイトは，s7〜s0からスクランブルバイトS1〜S2 051として取り
出される。データフレームの2 052バイトのud/edkは，スクランブルバイトdkとなり，次による。
k
k
k
S
⊕
ud/ed
d=
ここに，
k： 0〜2 051
⊕： 排他的論理和
13.5 データブロック
次のステップで，32個のスクランブルドデータフレーム（Fは，0〜31）は，一塊のデータに統合され
る（図25参照）。
32 フレーム
0
1
:
F
:
31
d0,0
d0,1
:
d0,F
:
d0,31
d1,0
d1,1
:
d1,F
:
d1,31
2052
:
:
:
:
:
バイト
:
:
:
:
:
d2050,0
d2050,1
:
d2050,F
:
d2050,31
d2051,0
d2051,1
:
d2051,F
:
d2051,31
32 フレーム
0
1
:
F
:
31
d0,0
d0,1
:
d0,F
:
d0,31
d1,0
d1,1
:
d1,F
:
d1,31
2052
:
:
:
:
:
バイト
:
:
:
:
:
d2050,0
d2050,1
:
d2050,F
:
d2050,31
d2051,0
d2051,1
:
d2051,F
:
d2051,31
図25−32スクランブルドデータフレーム
これらのデータは，各スクランブルドデータフレームを図26に示すとおりに9，5列に分けることによ
42
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
って，216行×304列の配列に再配置される。この新しい配列は，データブロックと呼ばれる。全ての偶数
スクランブルドデータフレームは，列を半分下がったところで終わり，全ての奇数スクランブルドデータ
フレームは，列を半分下がったところから始まることに注意することが望ましい。
304 列
0
1
:
9
10
:
18
19
303
d0,0
d216,0
:
d1944,0
d108,1
:
d1836,1
d0,2
:
d1836,31
d1,0
d217,0
:
d1945,0
d109,1
:
d1837,1
d1,2
:
d1837,31
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d2050,0
:
:
:
:
:
:
216
:
:
:
d2051,0
:
:
:
:
:
:
行
:
:
:
d0,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d1,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d106,1
:
:
:
:
:
:
d215,0
d431,0
:
d107,1
d323,1
:
d2051,1
d215,2
:
d2051,31
304 列
0
1
:
9
10
:
18
19
303
d0,0
d216,0
:
d1944,0
d108,1
:
d1836,1
d0,2
:
d1836,31
d1,0
d217,0
:
d1945,0
d109,1
:
d1837,1
d1,2
:
d1837,31
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d2050,0
:
:
:
:
:
:
216
:
:
:
d2051,0
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d2050,0
:
:
:
:
:
:
216
:
:
:
d2051,0
:
:
:
:
:
:
行
:
:
:
d0,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d1,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
行
:
:
:
d0,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d1,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
d106,1
:
:
:
:
:
:
d215,0
d431,0
:
d107,1
d323,1
:
d2051,1
d215,2
:
d2051,31
図26−32スクランブルドデータフレームからのデータブロックの構成
13.6 LDCブロック
データブロックの各列のバイトは，図27に示すとおりに各行の先頭から，Lが符号語番号（＝列番号：
0〜303）を表すとして，e0,L，e1,L..ei,L..〜e215,Lという番号に付け直される。
LDCブロックは，各列を，(248,216,33)長距離RS符号に従って32パリティバイトで拡張して完成され
る。パリティバイトは，p216,L，p217,L .. pj,L〜p247,Lと番号が付けられる。
304 列
符号語
0
符号語
1
:
符号語
L
:
符号語
302
符号語
303
1 LDC
符号語
216
データ行
e0,0
e1,0
e2,0
:
:
e215,0
e0,1
e1,1
:
:
:
e215,1
:
:
:
:
:
:
e0,L
e1,L
:
:
:
e215,L
:
:
:
:
:
:
e0,302
e1,302
:
:
:
e215,302
e0,303
e1,303
:
:
:
e215,303
= 248
バイト
32
パリティ行
p216,0
:
:
:
:
p247,0
p216,1
:
:
:
:
p247,1
:
:
:
:
:
:
p216,L
:
:
:
:
p247,L
:
:
:
:
:
:
p216,302
:
:
:
:
p247,302
p216,303
:
:
:
:
p247,303
304 列
符号語
0
符号語
1
:
符号語
L
:
符号語
302
符号語
303
1 LDC
符号語
216
データ行
e0,0
e1,0
e2,0
:
:
e215,0
e0,1
e1,1
:
:
:
e215,1
:
:
:
:
:
:
e0,L
e1,L
:
:
:
e215,L
:
:
:
:
:
:
e0,302
e1,302
:
:
:
e215,302
e0,303
e1,303
:
:
:
e215,303
= 248
バイト
32
パリティ行
p216,0
:
:
:
:
p247,0
p216,1
:
:
:
:
p247,1
:
:
:
:
:
:
p216,L
:
:
:
:
p247,L
:
:
:
:
:
:
p216,302
:
:
:
:
p247,302
p216,303
:
:
:
:
p247,303
図27−データバイトの再番号割当て及びパリティ追加によるLDCブロックの構成
13.7 LDC符号語
長距離RS符号は，GF(28)の有限体上で規定する。有限体GF(28)の非ゼロ要素は，原始根αによって生
成される。ここに，αは次の原始多項式p(x)の根である。
1
)
(
2
3
4
8
+
+
+
+
=
x
x
x
x
x
p
GF(28)のシンボルは，(α7,α6,α5, ..,α2,α,1)を元とする元多項式の表現を用いてバイト（8ビットのグループ）
で表される。したがって，根αは次で表される。
α＝00000010
43
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ベクトルIdc＝(e0,L .. ei,L .. e215,L .. p216,L .. pj,L .. p247,L)で表す各LDC符号語は，216の情報バイト及び32のパ
リティバイトをもつGF(28)上のRS符号である。そのような符号語は，247次の多項式Idc(x)で表すことが
できる（幾つかの係数はゼロの可能性がある。）。ここに，最高次はベクトルの情報部分（e0,L .. など）に
相当し，最低次はベクトルのパリティ部分（p216,L .. など）に相当する。
Idc(x)は，LDC符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は，次による。
(
)
∏
=
−
=
31
0
)
(
i
iα
x
x
g
LDCは組織符号で，216の情報バイトは，変わることなく各符号語の最高次に現れる。Idc符号のパリテ
ィチェック行列HLDCは，全てのLDC符号語Idcに対して，次による。
0
T
dc
LDC
=
×I
H
パリティチェック行列HLDCの第2行hLDC2は，生成多項式g(x)のゼロαに相当し，エラーの場所の特定
に用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HLDCの第2行hLDC2は，次による。
(
)1,
,
..
,
2
246
247
LDC2
α
α
α
α
h
=
13.8 LDCクラスタ
13.8.1 一般
LDC符号語を生成した後，LDCブロックは，二つのステップでインターリーブが行われLDCクラスタ
となる。
13.8.2 インターリーブの第1のステップ
第1のインターリーブのステップで，高さ248の304列は，152列×496行の新しい配列に再構築される。
各新しい列は，LDCブロックの各偶数列及び次の奇数列を組み合わせることによって作られる。新しい
列は，図28に示すとおりにLDCブロックの偶数列の最初のバイトを取り込み，次にLDCブロックの奇数
列の最初のバイトを取り込み，次にLDCブロックの偶数列の2番目のバイトを取り込み，その後，奇数列
の2番目のバイトを取り込む，という形を続けることで埋められる。
152 列
0
1
151
e0,0
e0,2
:
:
e0,302
e0,1
e0,3
:
:
e0,303
432
e1,0
e1,2
:
:
e1,302
データ行
e1,1
e1,3
:
:
e1,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
e215,0
e215,2
:
:
e215,302
e215,1
e215,3
:
:
e215,303
496
p216,0
p216,2
:
:
p216,302
行
p216,1
p216,3
:
:
p216,303
64
p217,0
p217,2
:
:
p217,302
パリティ行
p217,1
p217,3
:
:
p217,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
p247,0
p247,2
:
:
p247,302
p247,1
p247,3
:
:
p247,303
152 列
0
1
151
e0,0
e0,2
:
:
e0,302
e0,1
e0,3
:
:
e0,303
432
e1,0
e1,2
:
:
e1,302
データ行
e1,1
e1,3
:
:
e1,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
e215,0
e215,2
:
:
e215,302
e215,1
e215,3
:
:
e215,303
496
p216,0
p216,2
:
:
p216,302
行
p216,1
p216,3
:
:
p216,303
64
p217,0
p217,2
:
:
p217,302
パリティ行
p217,1
p217,3
:
:
p217,303
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
p247,0
p247,2
:
:
p247,302
p247,1
p247,3
:
:
p247,303
図28−インターリーブの第1のステップ
44
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
13.8.3 インターリーブの第2のステップ
エラー伝ぱの影響を低減し，バーストエラーの訂正能力を更に良くするために，追加のインターリーブ
が行われる。
第1のインターリーブのステップによって生成されたLDCブロックの全ての行は，mod(k×3 152)バイ
ト左にシフトする。ここで，0≦行番号≦495及びk＝div(行番号, 2)である。
シフトによって左からはみ出したバイトは，配列の右側から再投入される（図29参照）。
この工程の後にバイトは，全ての行にわたって水平方向に番号が付け直され，図22に示すとおりに，
D0〜D75 391となる。
152
バイト
シフト
e0,0
e0,2
...
...
e0,300
e0,302
0
e0,1
e0,3
...
...
e0,301
e0,303
シフト
e1,6
e1,8
...
...
e1,300
e1,302
e1,0
e1,2
e1,4
3
e1,7
e1,9
...
...
e1,301
e1,303
e1,1
e1,3
e1,5
シフト
e2,12
e2,14
...
...
e2,302
e2,0
e2,2
e2,4
e2,6
e2,8
e2,10
6
e2,13
e2,15
...
...
e2,303
e2,1
e2,3
e2,5
e2,7
e2,9
e2,11
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
e50,300
e50,302
e50,0
...
...
e50,298
150
e50,301
e50,303
e50,1
...
...
e50,299
シフト
e51,2
e51,4
...
...
e51,300
e51,302
e51,0
1
e51,3
e51,5
...
...
e51,301
e51,303
e51,1
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
...
...
...
...
mod(k×3,152)
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト130
p246,260
p246,262
...
p246,302
p246,0
...
p246,258
p246,261
p246,263
...
p246,303
p246,1
...
p246,259
シフト133
p247,266
p247,268
...
p247,302
p247,0
p247,2
p247,4
p247,6
...
p247,264
p247,267
p247,269
...
p247,303
p247,1
p247,3
p247,5
p247,7
...
p247,265
152
バイト
シフト
e0,0
e0,2
...
...
e0,300
e0,302
0
e0,1
e0,3
...
...
e0,301
e0,303
シフト
e1,6
e1,8
...
...
e1,300
e1,302
e1,0
e1,2
e1,4
3
e1,7
e1,9
...
...
e1,301
e1,303
e1,1
e1,3
e1,5
シフト
e2,12
e2,14
...
...
e2,302
e2,0
e2,2
e2,4
e2,6
e2,8
e2,10
6
e2,13
e2,15
...
...
e2,303
e2,1
e2,3
e2,5
e2,7
e2,9
e2,11
...
e2,302
e2,0
e2,2
e2,4
e2,6
e2,8
e2,10
6
e2,13
e2,15
...
...
e2,303
e2,1
e2,3
e2,5
e2,7
e2,9
e2,11
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
e50,300
e50,302
e50,0
...
...
e50,298
150
e50,301
e50,303
e50,1
...
...
e50,299
...
e50,298
150
e50,301
e50,303
e50,1
...
...
e50,299
シフト
e51,2
e51,4
...
...
e51,300
e51,302
e51,0
1
e51,3
e51,5
...
...
e51,301
e51,303
e51,1
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト
...
...
...
...
mod(k×3,152)
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
...
シフト130
p246,260
p246,262
...
p246,302
p246,0
...
p246,258
p246,261
p246,263
...
p246,303
p246,1
...
p246,259
シフト133
p247,266
p247,268
...
p247,302
p247,0
p247,2
p247,4
p247,6
...
p247,264
p247,267
p247,269
...
p247,303
p247,1
p247,3
p247,5
p247,7
...
p247,265
p247,268
...
p247,302
p247,0
p247,2
p247,4
p247,6
...
p247,264
p247,267
p247,269
...
p247,303
p247,1
p247,3
p247,5
p247,7
...
p247,265
図29−LDCクラスタ
2
X
6
2
3
0
：
2
0
1
7
(I
S
O
/IE
C
3
0
1
9
0
：
2
0
1
6
)
46
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
13.9 アドレス及びコントロールデータ
13.9.1 一般
ディスク上のデータにアクセスするために，アドレス及びコントロールデータが含まれている。
13.9.2 アドレスユニット
13.9.2.1
一般
光ヘッドを目的のトラックに位置決めするために，64Kの物理クラスタを16のアドレスユニットに更に
分割することによる，高速アドレスの仕組みが組み込まれている。各アドレスユニットは，迅速に位置決
めできるように，BIS符号語（13.11参照）の中にアドレスをもっている（図30参照）。
各アドレスフィールドは，9バイトで，次のとおりに構成される。
− アドレスユニット番号4バイト（箇条17参照）
− フラグビット1バイト
− エラー訂正4バイト
16 アドレス
0
1
:
S
:
15
AF0,0
AF0,1
:
AF0,S
:
AF0,15
アドレス-
AF1,0
AF1,1
:
:
:
AF1,15
ユニット番号
:
:
:
:
:
:
9
AF3,0
AF3,1
:
AF3,S
:
AF3,15
バイト
フラグビット
AF4,0
AF4,1
:
AF4,S
:
AF4,15
AF5,0
AF5,1
:
AF5,S
:
AF5,15
パリティ
:
:
:
:
:
:
AF8,0
AF8,1
:
AF8,S
:
AF8,15
16 アドレス
0
1
:
S
:
15
AF0,0
AF0,1
:
AF0,S
:
AF0,15
アドレス-
AF1,0
AF1,1
:
:
:
AF1,15
ユニット番号
:
:
:
:
:
:
9
AF3,0
AF3,1
:
AF3,S
:
AF3,15
バイト
フラグビット
AF4,0
AF4,1
:
AF4,S
:
AF4,15
AF5,0
AF5,1
:
AF5,S
:
AF5,15
パリティ
:
:
:
:
:
:
AF8,0
AF8,1
:
AF8,S
:
AF8,15
図30−16アドレスフィールド
13.9.2.2
アドレスフィールドのバイト割付け
AF0,S＝アドレスユニット番号の最上位バイト
AF1,S＝アドレスユニット番号の第2上位バイト
AF2,S＝アドレスユニット番号の第3上位バイト
AF3,S＝アドレスユニット番号の最下位バイト
AF4,S＝フラグビットで，これらのビットは，クラスタ中の個々のデータフレームの状態を示すため，又
はアドレスのような他の情報を収納するために使用できる。これらのフラグビットの幾つかの基本的な割
当ては，13.9.2.4に規定する。使用しないフラグビットは，ゼロにセットする。
AF5,S〜AF8,S＝アドレスフィールドで，(9,5,5)RS符号を構成するためのパリティバイト。
このRS符号は，GF(28)の有限体上で規定される。有限体GF(28)の非ゼロ要素は，原始根αによって生
成される。ここに，αは次の原始多項式p(x)の根である。
1
)
(
2
3
4
8
+
+
+
+
=
x
x
x
x
x
p
GF(28)のシンボルは，(α7,α6,α5, ..,α2,α,1)を元とする元多項式の表現を用いて，バイト（8ビットのグルー
プ）で表される。したがって，根αは次で表される。
α＝00000010
ベクトルafc＝(AF0,S .. AFi,S .. AF8,S)で表す各アドレスフィールド符号語は，四つのパリティバイト及び五
つの情報バイトをもつGF(28)上のRS符号である。そのような符号語は，8次の多項式afc(x)で表すことが
できる（幾つかの係数は，ゼロの可能性がある。）。ここに，最高次はベクトルの情報部分（AF0,S .. など）
47
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
に相当し，最低次はベクトルのパリティ部分（AF5,S .. など）に相当する。
afc(x)は，アドレスフィールド符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は，次による。
(
)
∏
=
−
=
3
0
)
(
i
iα
x
x
g
アドレスフィールド符号語は組織符号で，五つの情報バイトは変わることなく各符号語の最高次に現れ
る。afc符号のパリティチェック行列HAFCは，全てのアドレスフィールド符号語afcに対して，次による。
0
T
AFC
=
×afc
H
パリティチェック行列HAFCの第2行hAFC2は，生成多項式g(x)のゼロαに相当し，エラーの場所の特定
に用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HAFCの第2行hAFC2は，次による。
(
)1,
,
..
,
2
7
8
AFC2
α
α
α
α
h
=
13.9.2.3
アドレスユニット番号
物理クラスタのBIS列に記録する16個のアドレスフィールドは，それぞれ4バイトのアドレスユニッ
ト番号（AUN）をもっている。
アドレスユニット番号は，図31に規定するとおりに，物理セクタ番号（PSN）から生成する。
アドレスユニット番号は，PSNと同期をとるために，各連続したアドレスユニット間で二つずつ増加し
ている（箇条17参照）。
各物理クラスタの最初のアドレスユニット番号は，32の倍数である。
データゾーン0の最初のアドレスユニット番号は，00 10 00 00h（10進数で1 048 576）となる。
データゾーン1の最後のアドレスユニット番号は，01 EF FF FEh（10進数で32 505 854）となる。
アドレスユニット番号のビット設定は，次による。
− AU31 .. AU5は，PSNからPS31 .. PS5を複製する。
− AU4 .. AU1は，物理クラスタ内で0〜15をカウントする。
− AU0は，リザーブ（領域）とする。
最上位バイト
最下位バイト
AU31
PS31
AU8
PS8
AU0
PS0
AU1
AU23
PS23
AU24
PS24
AU26
AU27
AU15
PS15
AU7
PS7
AU5
PS5
AU4
PS4
AU16
PS16
カウント
“０”
AU31
PS31
AU8
PS8
AU0
PS0
AU1
AU23
PS23
AU24
PS24
AU26
AU27
AU15
PS15
AU7
PS7
AU5
PS5
AU4
PS4
AU16
PS16
PSN
クラスタ内
アドレスユニット番号
図31−PSNからAUNの生成
48
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
13.9.2.4
フラグビットの割付け
ビット
バイト
AF4,S
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
AF4,0
Sa0,1
Sa1,1
Sa0,0
Sa1,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,1
Sa2,1
Sa3,1
Sa2,0
Sa3,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,2
Sa4,1
Sa5,1
Sa4,0
Sa5,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,3
Sa6,1
Sa7,1
Sa6,0
Sa7,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,4
Sa8,1
Sa9,1
Sa8,0
Sa9,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,5
Sa10,1
Sa11,1
Sa10,0
Sa11,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,6
Sa12,1
Sa13,1
Sa12,0
Sa13,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,7
Sa14,1
Sa15,1
Sa14,0
Sa15,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,8
Sa16,1
Sa17,1
Sa16,0
Sa17,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,9
Sa18,1
Sa19,1
Sa18,0
Sa19,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,10
Sa20,1
Sa21,1
Sa20,0
Sa21,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,11
Sa22,1
Sa23,1
Sa22,0
Sa23,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,12
Sa24,1
Sa25,1
Sa24,0
Sa25,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,13
Sa26,1
Sa27,1
Sa26,0
Sa27,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,14
Sa28,1
Sa29,1
Sa28,0
Sa29,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
AF4,15
Sa30,1
Sa31,1
Sa30,0
Sa31,0
Rsv
Rsv
Rsv
Rsv
RSVは，アプリケーションで規定する場合を除いてリザーブ（領域）とする。
図32−16アドレスフィールドからのフラグビット
状態ビットSai,j（0≦i≦31，0≦j≦1）：各クラスタは，32データフレームを含み16のアドレスユニット
しかないため，そのような各アドレスユニットは，二つのデータフレームに対応したフラグビットをもつ
（図32参照）。
連続したフラグバイトAF4,Sのb7及びb5ビットは，それぞれデータフレーム2Sの状態ビットSa2S,1及び
Sa2S,0を規定する。
連続したフラグバイトAF4,Sのb6及びb4ビットは，それぞれデータフレーム2S+1の状態ビットSa2S+1,1 及
びSa2S+1,0を規定する。
全フラグバイトAF4,Sのb3〜b0ビットは，アプリケーションに規定する場合を除いて，リザーブ（領域）
とする。
13.9.2.5
状態ビットSai, jの使用方法
クラスタの中の個別のデータフレームの状態を示すために，状態ビットの組合せSai,1/Sai,0が使用される。
次のセッティングによる。
− Sai,1/Sai,0＝00：データフレームは，通常の使用者データを含む。
− Sai,1/Sai,0＝11：データフレームは，ディスクに記録する前にクラスタを完結させるために，ドライブ
によって挿入した埋込みデータを含む。
− 他の設定：アプリケーションに規定する場合を除いて，リザーブ（値）とする。
49
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
使用者データ領域で，状態ビットSai,1/Sai,0は，ディスクに記録する前にクラスタを完結させるために，
ドライブによってデータを挿入したデータフレーム（埋込み）に対して，11に設定する。
データフレームiのデータがホストコンピュータから供給される他の全ての場合は，状態ビットSai,1/Sai,0
は，00に設定する。
注記 Sai,1及びSai,0の2ビットの組合せを，Sai,1/Sai,0と表記している。
13.9.3 使用者コントロールデータ
使用者データにアクセスするために，各使用者データフレームに特別なコントロールデータを付加する
ことができる。これらの追加バイトは，アプリケーションに関連した情報をもつことができる。使用者コ
ントロールデータユニットを伴う使用者データフレームは，セクタと呼ばれる。各使用者コントロールデ
ータユニットは，18バイトで構成される（図33参照）。
32 ユニット
0
1
:
S
:
31
UC0,0
UC0,1
:
UC0,S
:
UC0,31
UC1,0
UC1,1
:
:
:
UC1,31
18 バイト
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,0
UC17,1
:
UC17,S
:
UC17,31
32 ユニット
0
1
:
S
:
31
UC0,0
UC0,1
:
UC0,S
:
UC0,31
UC1,0
UC1,1
:
:
:
UC1,31
18 バイト
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,0
UC17,1
:
UC17,S
:
UC17,31
図33−使用者コントロールデータユニット
13.9.4 使用者コントロールデータのビット又はバイト設定
使用者コントロールデータバイトは，アプリケーションに依存している。これらの設定をアプリケーシ
ョンに規定する場合を除いて，これらのバイトは，00hに設定する。
24列
6行
物理
アドレス
AF0,0
AF1,0
AF2,0
AF0,7
AF1,7
AF2,7
AF0,6
AF1,6
AF2,6
AF0,5
:
:
AF0,1
AF1,1
AF2,1
30
行
AF0,8
AF1,8
AF2,8
AF0,15
:
:
AF0,14
:
:
AF0,13
:
:
AF0,9
AF1,9
AF2,9
AF4,1
AF5,1
AF3,1
AF4,0
AF5,0
AF3,0
AF4,7
AF5,7
AF3,7
AF4,6
:
:
AF4,2
AF5,2
AF3,2
AF4,9
:
:
AF4,8
AF5,8
AF3,8
AF4,15
:
:
AF4,14
:
:
AF4,10
AF5,10
AF3,10
AF8,2
AF6,2
AF7,2
AF8,1
AF6,1
AF7,1
AF8,0
AF6,0
AF7,0
AF8,7
:
:
AF8,3
AF6,3
AF7,3
AF8,10
:
:
AF8,9
:
:
AF8,8
AF6,8
AF7,8
AF8,15
:
:
AF8,11
AF6,11
AF7,11
24行
使用者
コントロール
データ
UC0,0
UC6,1
UC12,2
UC0,4
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC12,30
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,2
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,30
:
:
UC0,3
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,31
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,2
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,30
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC17,0
:
:
UC17,4
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC0,1
:
:
UC0,5
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC5,1
UC11,2
UC17,3
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
UC11,30
UC17,31
図34−アクセスブロックの構成
（16アドレスフィールド及び32使用者コントロールデータユニットから）
2
X
6
2
3
0
：
2
0
1
7
(I
S
O
/IE
C
3
0
1
9
0
：
2
0
1
6
)
51
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
13.10
アクセスブロック
アドレスフィールド及び使用者コントロールデータユニットのデータは，30行×24列の配列に配置され，
アクセスブロックと呼ばれる。
アドレスフィールドを，迅速に位置決めする必要があるため，これらのアクセスフィールドのデータは，
特別なプリインターリーブの方法で配置される。
各16アドレスの9バイト（図34参照）は，3バイトの3グループにまとめられる。
各アドレス0〜7の3グループのバイトは，アドレス0から始まり，各続きのアドレスは，3ポジション
左に循環的にシフトする位置に，アクセスブロックの第1，第3及び第5の行の対角方向に配置される（図
34参照）。
各アドレス8〜15の3グループのバイトは，アドレス8から始まり，各続きのアドレスは，3ポジショ
ン左に循環的にシフトする位置に，アクセスブロックの第2，第4及び第6の行の対角方向に配置される。
第3及び第4行の各バイトグループ内では，バイトは，左方向に循環的に1バイトシフトされる。
第5及び第6行の各バイトグループ内では，バイトは，左方向に循環的に2バイトシフトされる。
数式で表すと，このアクセスブロックへのアドレスバイトAFx,yの配置は，次に示す式で表すことができ
る。
− 行：r＝2×div(x,3)＋div(y,8)
− 列：c＝3×mod{[div(x,3)＋16−y],8}＋mod{[x−div(x,3)],3}
使用者コントロールデータユニットは，列方向に配置され，各使用者コントロールデータは，1列の3/4
だけを埋めることになる（3列に4使用者コントロールデータユニットが入る。図34参照）。
13.11
BISブロック
アクセスブロックの各列のバイトは，Cが符号語番号を表す場合（＝0〜23の列番号）は，図35に示す
とおりに各列の先頭からb0,C，b1,C .. bi,C ..〜b29,Cというように番号が付け直される。
BISブロックは，各列に対し，(62,30,33)RS符号による32個のパリティバイトを追加拡張して，完成と
なる。パリティバイトは，pb30,C，pb31,C .. pbj,C .. pb61,Cと番号が付けられる。
24 列
符号語
0
符号語
1
:
符号語
C
:
符号語
22
符号語
23
1BIS
符号語
30
情報バイト
b0,0
b1,0:
:
:
b29,0
b0,1
b1,1:
:
:
b29,1
:
:
:
:
:
:
b0,C
b1,C
:
bN,C
:
b29,C
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
b0,23
b1,23
:
:
:
b29,23
= 62 バイト
32
パリティバイト
pb30,0
:
:
:
pb61,0
pb30,1
:
:
:
pb61,1
:
:
:
:
:
pb30,C
:
:
:
pb61,C
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
pb30,23
:
:
:
pb61,23
図35−データバイトの再番号割当て及びパリティ追加によるBISブロック構成
13.12
BIS符号語
BIS RS符号は，GF(28)の有限体上で規定される。有限体GF(28)の非ゼロ要素は，原始根αによって生成
52
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
される。ここに，αは次の原始多項式p(x)の根である。
1
)
(
2
3
4
8
+
+
+
+
=
x
x
x
x
x
p
GF(28)のシンボルは，(α7,α6,α5, ..,α2,α,1)を元とする元多項式の表現を用いてバイト（8ビットのグループ）
で表される。したがって，根αは，次による。
α＝00000010
ベクトルbis＝(b0,C .. bi,C .. b29,C, pb30,C .. pbj,C .. pb61,C)で表す各BIS符号語は，32個のパリティバイト及び
30個の情報バイトをもつ，GF(28)上のRS符号である。そのような符号語は，61次の多項式bis(x)で表す
ことができる（幾つかの係数はゼロの可能性がある。）。ここに，最高次は，ベクトルの情報部分（b0,C .. な
ど）に相当し，最低次は，ベクトルのパリティ部分（b30,C .. など）に相当する。
bis(x)は，BIS符号語の生成多項式g(x)の倍数である。生成多項式は，次による。
(
)
∏
=
−
=
31
0
)
(
i
iα
x
x
g
BIS符号語は，組織符号で30個の情報バイトは変わることなく各符号語の最高次に現れる。bis符号の
パリティチェック行列HBISは，全てのBIS符号語bisに対して，次による。
0
T
BIS
=
×bis
H
パリティチェック行列HBISの第2行hBIS 2は，生成多項式g(x)のゼロαに相当し，エラーの場所の特定に
用いる符号の位置を規定する。このパリティチェック行列HBISの第2行hBIS 2は，次による。
(
)1,
,
..
,
2
60
61
2
BIS
α
α
α
α
h
=
13.13
BISクラスタ
BIS符号語生成の後，BISブロックは，インターリーブされ496行×3列の配列に配置される。この新し
くフォーマットした配列は，BISクラスタと呼ばれる。
BISクラスタは，図22に示すとおりにアドレスユニットによって更に分割される。ユニットは，u＝0
〜15の番号が付けられ，そのユニット内では，行がr＝0〜30及び列がe＝0〜2に番号が付けられる（図
36参照）。
BISのインターリーブ方法の要点は，次による（図35，図36，図37及び図38中の例を参照）。
− BISブロックの各行は，3バイトの8グループに分けられる。これらの3バイトのグループは，それ
ぞれBISクラスタの一行に配置される。
− BISブロックの偶数行は，ユニット0〜7に配置され，BISブロックの奇数行は，ユニット8〜15に配
置される。
− BISブロックの偶数行からの3バイトのグループは，ユニット0〜7の同じ行に配置される。ここに，
ユニットは，（番号に従って）逆順で使用される。
− BISブロックの各連続する行の最初の3バイトグループは，前の行で使用された開始ユニットよりも
一つ大きい番号のユニットに配置する。
− BISブロックのN＝0の行は，ユニット：0，7，6，5，..，2，1のr＝0の行に配置される。
− BISブロックのN＝2の行は，ユニット：1，0，7，6，..，3，2のr＝1の行に配置される。
− BISブロックのN＝4の行は，ユニット：2，1，0，7，..，4，3のr＝2の行に配置される。
− このようにこのプロセスは，r＝30の行のユニット6，5，4，3，..，0，7に配置されるN＝60の行
まで繰り返される。
53
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− ここに，各ユニットの中で各行rは，循環的に右側に位置をmod(r,3)だけシフトされる。r＝0の行は，
シフトされない。r＝1の行は，1シフトされる。r＝2の行は，2シフトされる。r＝3の行は，シフト
されない。r＝4の行は，1シフトされる。
− BISブロックの奇数行についても同様の方法が行われるが，ユニット8〜15が使用される。
3列
B0
B1
B2
31
:
:
:
B90
B91
B92
B93
B94
B95
31
:
:
:
:
:
:
:
:
u
496
16
行
31
e
r
ユニット
行
Bm
:
:
31
B1 487
図36−BISクラスタ
BISブロックからBISクラスタへのバイトbN,C又はpbN,C（図35参照）の配置は，数式で表すと，次の
式で表すことができる。
− ユニット： u＝mod{[div(N,2)＋8 − div(C,3)]，8}＋8×mod(N,2)
− その行：
r＝div(N,2)
− その列：
e＝mod{[C＋div(N,2)],3}
物理クラスタとしてディスクに記録されるBmに付与される連続番号（図22参照）であるバイト番号m
は，次による。
m＝(u×31＋r)×3＋e
54
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
BISブロックのバイト番号N,C
右シフト
(= mod(r, 3))
上方向に挿入
ユニット
u
行r
0
列e
1
2
0
0
0,0
0,1
0,2
0
開始ブロック行
N= 0
1
2,5
2,3
2,4
1
↑
継続ブロック
N= 2
2
4,7
4,8
4,6
2
3
6,9
6,10
6,11
0
:
7
14,23
14,21
14,22
1
8
16,1
16,2
16,0
2
開始ブロック行
N= 16
:
30
60,18
60,19
60,20
0
1
0
0,21
0,22
0,23
0
終了ブロック行
N= 0
1
2,2
2,0
2,1
1
開始ブロック行
N= 2
2
4,4
4,5
4,3
2
3
6,6
6,7
6,8
0
:
2
0
0,18
0,19
0,20
0
1
2,23
2,21
2,22
1
終了ブロック行
N= 2
2
4,1
4,2
4,0
2
開始ブロック行
N= 4
3
6,3
6,4
6,5
0
:
3
0
0,15
0,16
0,17
0
1
2,20
2,18
2,19
1
2
4,22
4,23
4,21
2
3
6,0
6,1
6,2
0
開始ブロック行
N= 6
:
4
0
0,12
0,13
0,14
0
1
2,17
2,15
2,16
1
2
:
5
0
0,9
0,10
0,11
0
1
2,14
2,12
2,13
1
2
:
6
0
0,6
0,7
0,8
0
1
2,11
2,9
2,10
1
2
4,13
4,14
4,12
2
:
7
0
0,3
0,4
0,5
0
↑継続ブロック行
N= 0
1
2,8
2,6
2,7
1
↑継続ブロック行N= 2
2
4,10
4,11
4,9
2
:
7
14,2
14,0
14,1
1
開始ブロック行
N= 14
:
30
60,21
60,22
60,23
0
終了ブロック行
N= 60
図37−BISバイトを最初の8ユニットに配置する例（部分）
55
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
BISブロックからのバイト番号N,C
右シフト
(= mod(r,3))
上方向へ挿入
ユニットu
行r
0
列e
1
2
8
0
1,0
1,1
1,2
0
開始ブロック行
N= 1
1
3,5
3,3
3,4
1
2
5,7
5,8
5,6
2
3
7,9
7,10
7,11
0
:
8
17,1
17,2
17,0
2
開始ブロック行
N= 17
:
30
61,18
61,19
61,20
9
0
1,21
1,22
1,23
終了ブロック行
N= 1
10
0
1,18
1,19
1,20
11
0
1,15
1,16
1,17
12
0
1,12
1,13
1,14
13
0
1,9
1,10
1,11
14
0
1,6
1,7
1,8
15
0
1,3
1,4
1,5
0
↑継続ブロック行N= 1
1
3,8
3,6
3,7
1
2
5,10
5,11
5,9
2
:
7
15,2
15,0
15,1
1
開始ブロック行
N= 15
:
30
61,21
61,22
61,23
0
終了ブロック行
N= 61
図38−BISバイトを最後の8ユニットへ配置する例（部分）
結論は，次による。
− BISブロックの全ての情報バイトは，各アドレスユニットの最初の15行の中に見つかる。
− BISブロックの全てのパリティバイトは，各アドレスユニットの最後の16行の中に見つかる。
− 各アドレスフィールドは，各アドレスユニットの最初の3行に見つかる（図39参照）。
13.14
ECCクラスタ
LDCクラスタ及びBISクラスタを構成の後，LDCクラスタは，各38列の四つのグループに分割される。
この4グループの間に3列のBISクラスタから1列ずつが挿入される。BISクラスタ及びLDCクラスタを
多重した後に図39のECCクラスタになる。
56
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
LDC
38
列
BIS
1
列
LDC
38
列
BIS
1
列
LDC
38
列
BIS
1
列
LDC
38
列
AF0,0
AF1,0
AF2,0
AF3,0
AF4,0
AF5,0
AF6,0
AF7,0
AF8,0
アドレス
UCu,v
:
:
ユニット0
:
:
:
AF0,1
AF1,1
AF2,1
496
AF3,1
AF4,1
AF5,1
行
AF6,1
AF7,1
AF8,1
アドレス
UCx,y
:
:
ユニット1
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
:
図39−BISクラスタ及びLDCクラスタを多重した後のECCクラスタ
13.15
記録フレーム
各ECCクラスタの行は，規定の場所にフレーム同期ビット及び直流制御ビットを加えて，記録フレーム
に変換される。
このために，各ECCクラスタの各行155バイトから形成される一連の1 240データビットは，25データ
ビットの1グループ及び45データビットの27グループに分けられ（図40参照），バイトの最上位ビット
が最初に処理される。
最初の25データビットのグループは，特別な30変調チャネルビット列であるフレーム同期を挿入する
ための20データビット位置分が拡張される。
次に，各45データビットのグループは，直流制御ブロックを構成する1ビットの位置を足して完成とな
る。
57
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
38
バイト
38
バイト
38
バイト
38
バイト
1
バイト
1
バイト
1
バイト
データ
25
データ
45
データ
45
フレーム
同期
20
直流
制御
1
直流
制御
1
直流
制御
1
25
ビット
45
ビット
45
ビット
45
ビット
45
ビット
155バイト
1240ビット
1288ビット
46ビット
46ビット
46ビット
直流制御ブロック#0
直流制御ブロック#1
直流制御ブロック#2..26
直流制御ブロック#27
25
46ビット
×
図40−記録フレームの生成
13.16
物理クラスタ
記録フレームに変換されたECCクラスタの496行は，物理クラスタと呼ばれる。
13.17
記録データのための17PP変調
13.17.1
一般
フレーム同期以外の記録フレームの全てのビットは，17PP変調符号則に従い変調ビットに変換される。
この17PP変調符号は，ラン長が2T以上かつ8T以下のRLL(1,7)符号で，幾つかの特徴がある。
PPは，パリティ保存及びRMTR禁止を意味しており，次を意味する。
− パリティ保存
− データビット列の“1”の数が偶数の場合は，変調ビット列の“1”の数も偶数である。
− データビット列の“1”の数が奇数の場合は，変調ビット列の“1”の数も奇数である。
この性質によって，記録信号の低周波成分を効率よく制御することが簡単になる（13.17.3参照）。
− RMTR禁止
− 連続する最小ラン長（2T）の数は，6に制限される。
最小ラン長は信号振幅が小さいため，この措置によって読取性能が改善される。
13.17.2
ビット変換規則
図41の表は，データビットを変調ビットに変換する規則を規定している。データビットは左から右へ（最
上位ビットが最初で図40参照）処理する。記録フレームの最後に残ったビットは，終端ビット用の表に
従って変換する。
表の“1”は，記録信号の反転を表している。変調ビット列は，NRZIチャネルビット列に変換された後
に（13.18参照）ディスクに記録される。
58
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
データビット
変調ビット
00 00 00 00
010 100 100 100
00 00 10 00
000 100 100 100
00 00 00
010 100 000
00 00 01
010 100 100
00 00 10
000 100 000
00 00 11
000 100 100
00 01
000 100
00 10
010 000
00 11
010 100
01
010
10
001
11
000
101
前の変調ビットがxx1の場合
前の変調ビットがxx0の場合
置き換える
データビットパターン
置き換える
変調ビット
置換えの条件
11 01 11
001 000 000
次の変調ビットが010の場合
終端の
データビット
終端の
変調ビット
00 00
010 100
00
000
図41−17PP変調符号変換表
13.17.3
直流制御方法
変調ビット列の“1”は記録信号の反転を意味するため，奇数の変調ビット“1”を制御して，変調ビッ
ト列に追加すれば，この信号の極性を反転することができる。17PP変調符号のパリティ保存の特徴から，
単にデータビット列に追加ビットを挿入し，反転が必要な場合は“1”に設定することで，これは可能とな
る。
前の直流制御ブロックの最後の直流制御ビットを“0”又は“1”に設定することによって，各直流制御
ブロックの後で記録信号の積算したDSVが最小になるようにする（図40参照）。
13.17.4
フレーム同期
物理クラスタは，16アドレスユニットで構成され，各アドレスユニットは31の記録フレームから構成
される（図22及び図40参照）。
変調された記録フレームは，30チャネルビットから構成されるフレーム同期で始まる。
フレーム同期の主部は，17PPの変調法則に従わない24ビットパタン（ラン長9Tが2回）で構成される。
最後の6ビットは，七つの異なるフレーム同期パタンを識別する記号を規定する。6ビットのフレーム
同期IDのための記号は，変調の反転間隔が2以上となるように選択されている。
フレーム同期の前の最後のデータビットが終端表（図40参照）に従って符号化されている場合は，フレ
ーム同期#の最初の変調ビットは“1”であり，そうでなければ“0”である（図42参照）。
フレーム同期パタンは，変調ビットによって規定される。表の“1”は，記録信号の反転を表している。
ディスクに記録する前に，フレーム同期符号は，NRZIチャネルビット列に変換される（13.18参照）。
59
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
同期番号
24-bit 同期主部
6-bit 同期ID
FS0
#01 010 000 000 010 000 000 010
000 001
FS1
#01 010 000 000 010 000 000 010
010 010
FS2
#01 010 000 000 010 000 000 010
101 000
FS3
#01 010 000 000 010 000 000 010
100 001
FS4
#01 010 000 000 010 000 000 010
000 100
FS5
#01 010 000 000 010 000 000 010
001 001
FS6
#01 010 000 000 010 000 000 010
010 000
図42−30ビットフレーム同期符号
七つの異なるフレーム同期では，31の記録フレームを識別するためには不十分なので，各フレームは自
分自身のフレーム同期と前の記録フレームのいずれかのフレーム同期との組合せで識別される。これらの
組合せ配置によって，前のフレーム同期がたとえ1，2又は3フレームにわたって欠落したとしても，その
記録フレームは，自分のフレーム同期及び最後にあったフレーム同期から，識別できる（図43参照）。
記録フレームn−4
記録フレームnは，下記のフレーム同期IDの組合わせで識別できる。:
記録フレームn + 記録フレームn −1
記録フレームn+ 記録フレームn−2
記録フレームn+ 記録フレームn−3
記録フレームn+ 記録フレームn−4
記録フレームn−3記録フレームn−2記録フレームn−1
記録フレームn
図43−記録フレームの識別
各アドレスユニットの最初の記録フレームは，特別なフレーム同期FS0をもっている。
他のフレーム同期の配置は，図44の規定による。
フレーム番号
フレーム同期
フレーム番号
フレーム同期
0
FS0
1
FS1
16
FS5
2
FS2
17
FS3
3
FS3
18
FS2
4
FS3
19
FS2
5
FS1
20
FS5
6
FS4
21
FS6
7
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
フレーム番号
フレーム同期
フレーム番号
フレーム同期
0
FS0
1
FS1
16
FS5
2
FS2
17
FS3
3
FS3
18
FS2
4
FS3
19
FS2
5
FS1
20
FS5
6
FS4
21
FS6
7
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
図44−記録フレームのフレーム同期符号の配置
13.18
変調及びNRZI変換
ディスクに記録する前にデータビットは，変調ビットに変換され，それは，図45に示す方法によって最
記録フレームnは，下記のフレーム同期IDの組合せで識別できる。：
60
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
後にNRZIチャネルビットに変換される。
変調ビット
データ
ビット
NRZ
変換
変調器
排他的論理和
1T
遅延
NRZI変換された
チャネルビット
T=1チャネルクロック周期
データビットパターンの例 :
01
01
10
01
-
変調ビットパターン
:
010 010
001
010 0
NRZ変換信号
:
NRZI変換信号
:
図45−変調及びNRZI変換
14 物理データの配置及びリンキング
14.1 一般
記録の単位は，データランインが手前にデータランアウトが後に配置される，物理クラスタで構成する
記録ユニットブロック（RUB）である。
記録ユニットブロックは，一つずつ又は幾つかのRUBの連続（記録列）で記録できる。
ディスクの記録可能領域で，チャネルビットレートがウォブル周波数に同期している場合は，ウォブル
の周期は69チャネルビットとする。これは，変調された1 932チャネルビット（＝1 288データビット）
の記録フレームは，正確に28ウォブル周期になることを意味している。この同期状態は，標準の状態とみ
なされる。
14.2 記録ユニットブロック（RUB）
14.2.1 一般
各RUBは，2 760 cbs（公称40ウォブル周期）のデータランイン，496×1 932 cbs（公称496×28ウォブ
ル周期）の物理クラスタ，及び1 104 cbs（公称16ウォブル周期）のデータランアウトから構成される。
ランイン
物理クラスタ
ランアウト
ガード̲3
40 wbs
496×28 wbs
16 wbs
8 wbs
図46−単一記録の記録ユニットブロックの配置
各単一記録したRUB又は各連続記録した列のRUBは，いかなる二つのRUB間にもギャップ（未記録
領域）ができないことを確実にするため，ガード̲3フィールドで終端する。
そのようなガード̲3フィールドは，540 cbs（公称≈ 8ウォブル周期）によって構成する。
61
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ランイン
物理クラスタ
ランアウト
ランイン
物理クラスタ
:
物理クラスタ
ランアウト
ガードﾞ̲3
40 wbs
496×28 wbs
16 wbs
40 wbs
496×28 wbs
:
496×28 wbs
16 wbs
8 wbs
図47−連続記録の記録ユニットブロックの構成
14.2.2 データランイン
14.2.2.1 一般
データランインは，次に示す部分から構成されている。
− ガード̲1：
1 100チャネルビット
− PrA（プリアンブル）： 1 660チャネルビット
PrAフィールドは，（PLLロックと同期のための）信号処理用のランイン用である。
ガード̲1フィールドは，記録動作の開始を決める位置がばらつくために，前回記録箇所と重なることに
対処するためのフィールドである（図48参照）。
ガード̲1
1100 cbs
PrA
1660 cbs
任意のAPC
≈ 5 ウォブル
ビットパタンの繰返し
≈ 11ウォブル
公称値
≈ 24 ウォブル
図48−データランインの構成
14.2.2.2 ガード̲1フィールドの内容
ガード̲1フィールドは，1 100チャネルビットの長さである。
変調ビットで表す内容は，01[02]1[02]10101[04]1[03]を55回繰り返すパタンである。
これらのパタンは，3T/3T/2T/2T/5T/5Tが繰り返されるものとなり，電子回路を再度安定させることに適
している。
14.2.2.3 自動パワー制御（APC）
記録動作の開始でのガード̲1フィールドの最初の5ウォブルは，自動パワー制御を行うために使用でき
る。そのようなAPCのために使う変調ビットパタンは，記録機の製造業者が自由に選ぶことができ，14.2.2.2
で規定した繰返しパタンと異なっていてもよい。
14.2.2.4 PrAフィールドの内容
PrAフィールドは，1 660チャネルビットの長さである。PrAフィールドの内容は，図49による。
を77回繰り返す
01[02]1[02]10101[04]1[03]
同期̲1
を２回繰り返す
01[02]1[02]10101[04]1[03]
同期̲2
01[02]1[02]10101[04]1[03]
1540cbs
30cbs
40cbs
30cbs
20 cbs
図49−PrAフィールドの構成
62
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一般に，PrAの後の最初のフレーム同期がFS(N)（N＝0 .. 6，13.17.4参照）の場合は，同期̲1はFS{mod[(N
＋4),7]}とし，同期̲2はFS{mod[(N＋6),7]}とする。
これは，同期̲1はFS4とし，同期̲2はFS6とすることを意味する（PrAの後の最初のフレーム同期は
FS0である。）。
各同期̲1，同期̲2及びPrAの後の，最初のフレーム同期の先頭のビットは，直流制御に使用できる（#
＝“0”又は“1”，図42参照）。
14.2.3 データランアウト
14.2.3.1 一般
データランアウトは，次に示す部分から構成されている。
− PoA（ポストアンブル）： 564チャネルビット
− ガード̲2：
540チャネルビット
PoAフィールドは，信号処理のランアウト用である。
ガード̲2フィールドは，記録動作の開始位置決定がばらつくことに対処するためのフィールドである
（図50参照）。
PoA
564 cbs
ガード̲2
540 cbs
公称値
≈ 8 ウォブル
公称値
≈ 8 ウォブル
図50−データランアウトの構成
14.2.3.2 PoAフィールドの内容
PoAフィールドは，564チャネルビットの長さである。
PoAフィールドの内容は，図51による。
同期̲3
01[08]1[08]1[08]1[08]1[08]1[07]
を24回繰り返す
01[02]1[02]10101[04]1[03]
30 cbs
54 cbs
480 cbs
図51−PoAフィールドの構成
一般に，PoAの前の使用者データがフレーム番号nで終わる場合は，フレーム番号n＋1に相当するも
のとして，同期̲3を選ぶこととする（13.17.4を参照）。
これは，同期̲3をFS0とすることを意味する。
同期̲3パタンの最初のビットは，13.17.4の規定に従って用いる。
同期̲3の後の9T/9T/9T/9T/9T/9Tパタンは，“使用者データ停止”の指示として使うことができる。
14.2.3.3 ガード̲2フィールドの内容
ガード̲2フィールドは，540チャネルビットの長さである。
変調ビットで表す内容は，01[02]1[02]10101[04]1[03]を27回繰り返すパタンである。
63
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14.2.4 ガード̲3フィールド
14.2.4.1 一般
ガード̲3
540 cbs
ビットパターンの繰返し
≈ 3 ウォブル
任意のAPC
≈ 5ウォブル
図52−ガード̲3フィールドの構成
ガード̲3フィールドは，540チャネルビットの長さである。
変調ビットで表す内容は，01[02]1[02]10101[04]1[03]を27回繰り返すパタンである（図52参照）。
14.2.4.2 自動パワー制御（APC）
記録動作の最後にある，ガード̲3フィールドの最後の5ウォブルは，自動パワー制御を行うために使用
できる。そのようなAPC動作のために使う変調ビットパタンは，記録機器の製造業者が自由に選ぶことが
でき，14.2.4.1で規定した繰返しパタンと異なっていてもよい。
14.2.4.3 リンキングの要求事項
ガード̲1フィールド及びガード̲3フィールドは，別々に記録された記録ユニットブロック列のリンキン
グに用いる。一つ前の記録ユニットブロック列のガード̲3領域は，現在記録している記録ユニットブロッ
ク列のガード̲1フィールドで上書きする。リンク動作でのSERの要求事項は，34.1に規定している。
図53に，3回に分けて別々に記録した，単一記録ユニットブロックのリンキングの例を示す。
PoA
G2
G3
リンク
G1 = ガード̲1 フィールド
G2 = ガード̲2 フィールド
G3 = ガード̲3 フィールド
G1
PrA
物理クラスタ
PoA
G2
G3
ランアウト
G1
PrA
PoA
G2
G3
ランイン
PrA
G1
物理ｸﾗｽﾀ
ランアウト
ランアウト
ランイン
物理クラスタ
リンク
ランイン
図53−3回に分けて別々に記録した単一記録ユニットブロックのリンキング
14.3 ウォブルアドレスに対するデータの位置決め
連続する複数のRUB（及び単一RUB）の公称記録開始位置は，PAAがAA1，AA0＝00であるADIP語
の同期̲3ユニットと最初のデータ̲xユニットとの間の基準ユニットにある，NWL25ウォブルの中央であ
る（15.7参照）。
記録開始位置は，±34 cbsよりも良い精度で決める。
この結果，重ね書き領域の長さは，7〜9ウォブル長とする。
15 トラックフォーマット
15.1 一般
トラックは，連続らせんの360°1回転分で形成される。
各記録層は，ほぼ同じ場所に同じ基本トラックをもつ（図54参照）。
一貫性の観点から，単層ディスクの記録層全体は，同じくL0層と呼ばれる。
64
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
15.2 トラックの形
半径r1と半径r3との間のゾーンは，BCAに用いるために確保されており（箇条35参照），r1及びr3は，
次による。
r1＝21.0 mm
r3＝22.2 mm
半径
0.0
1.0
0
1.
2
− mmで，L0層では開始しL1層では終了する，1本のらせんのグルーブで形成されるトラッ
クを，このゾーンに置く。
BCAゾーンとエンボスHFM領域との間での直線グルーブからHFMグルーブの移行は，半径r2とr3と
の間とし（図54参照），r2は，次による。
r2＝22.0 mm
この移行で，らせんグルーブは，中断しない。
L0層では半径21 mmとエンボスHFM領域でHFMグルーブのエンコードが開始する点との間，L1層で
は半径21 mmとウォブルグルーブが終了する点との間，BCAゾーンのグルーブトラックは（変調のない）
直線グルーブとする（箇条18参照）。
図54−異なるグルーブタイプの間の接続領域
L0層のエンボスHFM領域では（箇条16参照），BCAゾーンの直線グルーブから中断することなく続く
1本のらせんグルーブで，トラックが形成される。
これらのエンボスHFM領域のグルーブトラックは，比較的高い周波数で公称中心線の周りで半径方向
に偏移し，それによって，転写情報を保存するための高ビットレートかつ高容量のデータチャネル（HFM
グルーブ）を供給する。
各トラックの形は，箇条26の要求事項で決められる。
記録領域では（箇条16参照），トラックは，L0層のエンボスHFM領域の最後から開始し，L1層では直
線グルーブ領域の始めで終了する1本のらせんで形成される。記録領域のグルーブは，主として単一正弦
波で，公称中心線の周りで半径方向に偏移する（ウォブルグルーブ）。その正弦波偏移は，幾つかのサイク
ルを規定の場所で違うパタンに置き換える形で，変調される。
ウォブルは，ディスクのスピード制御及びドライブの記録クロックの同期に使うことができ，変調され
た部分は，プリグルーブ中のアドレス又はADIPというアドレス情報（15.7参照）を表している。各トラ
ックの形は，箇条27に規定する要求事項で決められる。
注記 この規格では“プリグルーブ”という用語は規定していないが，“ADIP”は，“プリグルーブ中
のアドレス”の頭字語として，光ディスクの規格では広く使用されている。“プリグルーブ”の
意味は，この規格の“グルーブ”と同じ意味である。
65
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
エンボスHFM領域と記録領域との間の接続部分では，らせんグルーブは中断しない。HFMグルーブの
転写情報とウォブルグルーブのADIP情報との間では，トラックの接線方向に最大1 mmの長さのグルー
ブだけの場所（変調がない状態）が許されている。
グルーブ形状は，次による。
− 各層で，オングルーブ記録又はイングルーブ記録のいずれを用いてもよい。
− オングルーブ記録では，ランドよりも入射面に近いグルーブの形状が使用される。イングルーブ記録
では，ランドよりも入射面から遠いグルーブ形状が使用される。グルーブ形状の概要を図55に示す。
透過積層
透過積層
基板
基板
グルーブ
グルーブ
ランド
ランド
読取りビーム
“オングルーブ記録”
“イングル−ブ記録”
読取りビーム
図55−グルーブ形状の概要（ディスクの半径方向の断面）
15.3 トラックパス
L0層では，ディスクが9.8に従って回転する場合は，らせんは，ディスクの内周側からディスクの外周
側に向かって進む。
L1層では，ディスクが9.8に従って回転する場合は，らせんは，ディスクの外周側からディスクの内周
側に向かって進む。
単層ディスクでは，トラックは，内側ゾーンの開始位置で始まり，外側ゾーンの終端で終わり，情報ゾ
ーンで連続にする（図17参照）。
2層ディスクでは，L0層のトラックは，内側ゾーン0の開始位置で始まり，外側ゾーン0の終端で終わ
り，情報ゾーンで連続にする。L1層では，トラックは，外側ゾーン1の開始位置で始まり，内側ゾーン1
の終端で終わり，情報ゾーンでは連続にする（図18参照）。
15.4 トラックピッチ
15.4.1 BCAゾーンのトラックピッチ
BCAゾーンのトラックピッチ（TP）は，半径方向に測定した隣り合うトラックのグルーブの平均中心線
間の距離である。
トラックピッチは，(2.0±0.1) μmとする。
r2とr3との間の領域では，トラックピッチは，L0層では2.0 μmからエンボスHFM領域のトラックピッ
チへ，L1層では2.0 μmからウォブルグルーブ領域のトラックピッチへ移行する。
15.4.2 エンボスHFM領域のトラックピッチ
エンボスHFM領域のトラックピッチは，半径方向に測定した隣り合うトラックのHFMグルーブの平均
中心線間の距離である。
トラックピッチは，(0.350±0.010) μmとする。
エンボスHFM領域全体で平均したトラックピッチは，(0.350±0.003) μmとする。
66
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
15.4.3 記録領域のトラックピッチ
記録領域のトラックピッチは，半径方向に測定した隣り合うトラックのウォブルグルーブの平均中心線
間の距離である。
トラックピッチは，(0.320±0.010) μmとする。
記録領域全体で平均したトラックピッチは，(0.320±0.003) μmとする。
15.4.4 エンボスHFM領域と記録領域との間のトラックピッチ
L0層におけるトラックピッチ0.35 μmから0.32 μmへの変更は，そのトラックが保護ゾーン2の中に完
全に収まることとし，最大100トラック（回転）の間に実現する（図85参照）。
15.5 HFMグルーブのトラック構成
15.5.1 一般
15.5では，データのエンコードフォーマットだけを規定する。場所及び内容は，箇条18及び18.2で規
定される。
HFMグルーブのデータは，PICクラスタという4Kパーティションで記録される。そのような，各PIC
クラスタは，2 048バイトのデータの二つのデータフレームを含んでいる。このデータを保護するエラー訂
正のメカニズム及びパーティション全体をフォーマットする方法は，箇条13に規定したものとよく似てい
る。
図56に示すとおりに，LDC＋BIS符号の組合せの一部が使用される。
関連するプロセスの段階及び応用符号化の詳細な規定は，箇条13の規定を参照できる。
同期
1バイト
10 バイト
1 バイト
9 バイト
D0......... D9
B0
D10....... D18
D19..... D28
B1
D29............
:
:
248 行
ディスク上の
データ列方向
:
:
216 データ
:
:
B247
.... D4 711
32 パリティ
図56−ディスク上の4K PICクラスタの図
15.5.2 データフォーマット
15.5.2.1 データフレーム
各データフレームは，13.2及び13.3に規定したとおり4バイトのエラー検出符号（EDC）を追加して拡
張される。
15.5.2.2 スクランブルドデータフレーム
EDCを追加した各データフレームは，13.4に規定した方法によってスクランブルされる。スクランブラ
のプリセットには，PS19 .. PS5の代わりにAUN15 .. AUN1（15.5.3.2及び13.9.2.2参照）を用いる。
15.5.2.3 データブロック
各2スクランブルドデータフレームは，13.5に規定し図26に示される216行×19列の配列に配置され
67
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
る（0〜18列だけ使用。）。
15.5.2.4 LDCブロック
次に，エラー訂正パリティの32行は，（L＝0 .. 18）の19列しかないという違いはあるものの，13.5及
び13.6に規定された方法によって追加される。この結果，248行×19列の配列ができる。
15.5.2.5 インターリーブ
インターリーブの方法は，13.8に規定したものと異なる。13.8.3に規定した第2のインターリーブステ
ップだけが適用される。各連続した行は，左に1バイト以上シフトされる。シフト（shift）は，次による。
shift＝mod(k,19)
ここに，
k： 行番号。0≦k≦247
左側からはみ出したバイトは，列の右側から再投入される（図57参照）。
19 バイト
シフト0
e0,0
e0,1
...
...
e0,18
シフト1
e1,1
e1,2
...
...
e1,18
e1,0
シフト2
e2,2
e2,3
...
...
e2,18
e2,0
e2,1
...
...
...
...
シフト18
e18,18
e18,0
...
...
e18,17
248
シフト0
e19,0
e19,1
...
...
e19,18
行
...
...
...
...
シフトmod(k,19)
...
...
...
...
...
...
...
...
p246,18
p246,0
...
...
p246,17
p247,0
p247,1
...
...
p247,18
シフト18
シフト0
図57−PIC LDCブロックのインターリーブ
この工程の後，バイトは，全ての行を通して番号を水平方向に振り直し，図56に示すとおりに，D0 .. D4 711
となっている。
15.5.3 アドレス及びコントロールデータ
15.5.3.1 一般
記録領域のフォーマットと異なり，BISブロックは四つのBIS符号から成り，各9バイトの八つのアド
レスが18行に，各24バイトの二つの使用者コントロールデータが12行に入っている（図58参照）。
（k, 19）
68
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
4 列
0
1
2
3
0
AF0,0
AF0,3
AF0,2
AF0,1
1
AF0,4
AF0,7
AF0,6
AF0,5
2
AF1,1
AF1,0
AF1,3
AF1,2
3
AF1,5
AF1,4
AF1,7
AF1,6
4
AF2,2
AF2,1
AF2,0
AF2,3
5
AF2,6
AF2,5
AF2,4
AF2,7
6
AF3,3
AF3,2
AF3,1
AF3,0
7
AF3,7
AF3,6
AF3,5
AF3,4
8
AF4,0
:
:
AF4,1
18 行
9
AF4,4
:
:
:
アドレス
10
AF5,1
AF5,0
:
:
11
AF5,5
:
:
:
12
AF6,2
AF6,1
AF6,0
:
1 BIS符号
13
AF6,6
:
:
:
= 62 バイト
14
AF7,3
:
AF7,1
AF7,0
15
AF7,7
:
:
:
16
AF8,0
:
:
AF8,1
17
AF8,4
AF8,7
AF8,6
AF8,5
18
UC0,0
UC12,0
UC0,1
UC12,1
19
UC1,0
UC13,0
UC1,1
UC13,1
12 行
:
:
:
:
:
使用者コントロールデータ
28
UC10,0
UC22,0
UC10,1
UC22,1
29
UC11,0
UC23,0
UC11,1
UC23,1
30
pb30,0
pb30,1
pb30,2
pb30,3
31
pb31,0
pb31,1
pb31,2
pb31,3
32 行
:
:
:
:
:
パリティ
61
pb61,0
pb61,1
pb61,2
pb61,3
符号語0
符号語1
符号語2
符号語3
図58−PIC BISブロック
15.5.3.2 アドレスフィールド
各64Kのクラスタの1/16（＝4Kバイト）が一つのアドレスユニット番号で識別される（13.9.2参照）デ
ィスクの記録領域と同じように，各4KのPICクラスタは，アドレスユニット番号で識別する。これらの
アドレスユニット番号は，連続した4KのPICクラスタ間で二つずつ増やす。
各PICのBISブロックは，同じアドレスを8回繰り返し（S＝0 .. 7），繰返し回数を識別するフラグビッ
トが使われる。
AF0,S
：アドレスユニット番号のMSB（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF1,S
：アドレスユニット番号の第2 SB（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF2,S
：アドレスユニット番号の第3 SB（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF3,S
：アドレスユニット番号のLSB（S＝0 .. 7に対して全て同じ。）
AF4,S
：フラグビットで，b7〜b3はリザーブ（領域）とし，b2〜b0はSの2値の値に設定する。
AF5,S .. AF8,S ：アドレスフィールド上で構成する，(9,5,5)RS符号のパリティバイト。パリティバイト
は，13.9.2で規定したとおりに計算する。
八つのアドレスは，PICのBISブロックに特殊なプリインターリーブの方法で配列される。
69
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
アドレス0〜3のバイトは，偶数行の対角線上に配置され，アドレス0のバイト0は，行列0,0から開始
し，続きの各アドレスは，循環しながら一つ左の位置にシフトされる（図58参照）。
アドレス4〜7のバイトは，奇数行の対角線上に配置され，アドレス4のバイト0は，行列1,0から開始
し，続きの各アドレスは，循環しながら一つ左の位置にシフトされる。
数式で表すと，このPICのBISクラスタへのバイトAFx, yの配列は，次の式で表すことができる。
− 行r：r＝2×x＋div(y,4)
− 列c：c＝mod[(x＋8 − y),4]
15.5.3.3 使用者コントロールデータ
各24バイトにて構成される，二つの使用者コントロールデータユニットがある。最初の使用者コントロ
ールデータユニットのバイト0〜11は，PICのBISブロックの0列18〜29行に配置し，バイト12〜23は，
1列18〜29行に配置する。同様に，第2の使用者コントロールデータユニットのバイト0〜11は，PICの
BISブロックの2列に，バイト12〜23は，3列に配置する（図58参照）。
両方の使用者コントロールデータは，全てリザーブ（領域）とする。
15.5.3.4 BIS符号語
PICのBISブロックは，4列（c＝0 .. 3）しかないという違いはあるものの，13.11及び13.12に規定する
方法によって，32行のパリティ（図58参照）を追加して完成となる。この結果，62行×4列の配列がで
きる。
15.5.3.5 BISクラスタ
最後に，BIS符号の配列は，図56に示すとおりにPICクラスタに挿入可能な248バイトの1列に再配置
される。
バイトB0〜B123は，行0列0から開始して，循環しながらBISブロックの偶数行を対角線上を続けて複
製して埋められる（図59参照）。
バイトB124〜B247は，行1列0から開始して，循環しながらBISブロックの奇数行を対角線上を続けて
複製して埋められる。
数式で表すと，PICのBISブロックからPICのBISクラスタへのバイトの配置は，次の式で表すことが
できる。
− バイトbr, c：行r列cのBISブロックのバイト
− バイトBi：BISクラスタの列のi番目のバイト
− 行r：r＝mod(2×i,62)＋div(i,124)
− 列c：c＝mod(i,4)
逆に，iは，r及びcを用いて，次の式で表すことができる。
i＝124×mod(r,2)＋div(r,2)＋31×mod{[4 − c＋div(r,2)],4}
インターリーブの結果，1列248バイトのBISクラスタは，それぞれが，9アドレスバイト，6使用者コ
ントロールデータバイト及び16パリティバイトの順に構成される，31バイトの8グループに分かれる。
アドレスバイトは，プリインターリーブのおかげで，直接アクセスするために適切な順番で表れる。
70
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
BIS ブロック
BIS クラスタ
i
c= 0
1
2
3
1 バイト
r= 0
0
93
62
31
B0
1
124
217
186
155
:
2
32
1
94
63
:
3
156
125
218
187
:
4
33
2
95
:
5
157
126
219
Bi
6
34
3
:
7
158
127
:
8
4
35
:
9
128
159
:
10
5
:
11
129
B123
248
12
6
B124
行
13
130
:
:
:
:
:
:
:
53
243
:
54
120
27
:
55
244
:
56
28
121
:
57
152
245
:
58
60
29
122
:
59
184
153
246
:
60
92
61
30
123
:
61
216
185
154
247
B247
図59−PIC BISクラスタを構成するための読取順
15.5.4 記録フレーム
15.5.4.1 一般
次の工程で，19列のインターリーブされたLDCブロックは，1列のBISクラスタと合わせて，図56に
規定したとおりに拡張して1列の同期パタンが追加される。
21列×248行の配列の各行は，PIC記録フレームと呼ばれる。
15.5.4.2 変調
各PIC記録フレームの168ビットは，同期パタンのビットを除きバイフェーズ変調によって変調ビット
に変換される。この変調方式では，ビット“0”は，ビットセルの最初の反転で表され，ビット“1”は，
ビットセルの最初及び中央の反転で表される（図60の例参照）。変調ビットは，図60に示すとおりに，
ディスク上にグルーブの平均中心線からの偏移として記録される。各セルの長さは，Tを記録領域のチャ
ネルビット長とする場合は36Tとする。
0
1
0
1
1
0
36 T
36 T
グルーブ中心
の平均
データ列の例
図60−バイフェーズ変調されたHFMグルーブ
71
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
15.5.4.3 フレーム同期
各記録フレームは，8データビット相当の同期パタンで始まる。最初の4ビットは，通常のバイフェー
ズエンコード規則を破る，特別のパタンの4ビットセルで置き換えられる（図61参照：最初の位相によ
る二通りの可能性のあるパタン。）。
1
1
1
1
0
0
0
0
1
1
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
同期主部
同期識別子
ID0
ID1
ID2
ﾊﾟﾘﾃｨ
データ
データ
x
x
x
x
x
x
x
x
同期パターン
図61−バイフェーズ同期パタン
7種類の同期パタンが，ID0 .. ID2及びパリティビットの終わりの4ビットで識別される（図62参照）。
同期番号
ID0
ID1
ID2
パリティ
FS0
0
0
0
0
FS1
0
0
1
1
FS2
0
1
0
1
FS3
0
1
1
0
FS4
1
0
0
1
FS5
1
0
1
0
FS6
1
1
0
0
図62−同期の識別
PICのBIS列によって，248行のPICクラスタは，31記録フレームの8グループに分けることができ，
各記録フレームのグループは，それぞれの最初の9行にアドレスがある（15.5.3.5参照）。
そのような連続した31記録フレームの各グループは，特別な同期パタンの配列で識別される（13.17.4
も参照）。各グループの最初の記録フレームは，特別な同期パタンFS0をもっている。
他の同期パタンは，図63に規定するとおりに配置される。
72
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
フレーム番号
同期番号
0
FS0
1
FS1
16
FS5
2
FS2
17
FS3
3
FS3
18
FS2
4
FS3
19
FS2
5
FS1
20
FS5
6
FS4
21
FS6
7
FS1
22
FS5
8
FS5
23
FS1
9
FS5
24
FS1
10
FS4
25
FS6
11
FS3
26
FS2
12
FS4
27
FS6
13
FS6
28
FS4
14
FS6
29
FS4
15
FS3
30
FS2
フレーム番号
同期番号
図63−PIC記録フレームへの同期パタンの配置
15.6 ウォブルグルーブのトラック構造
15.6.1 一般
トラックのウォブルは，おおよそ平均センターラインからの正弦波偏移である。
公称ウォブル長NWL（69チャネルビットと等価。）は，使用者データ容量25.0 GB/層のディスクで記録
領域全体で平均した場合に，5.140 5 μm±0.005 μmとする。
これは，基準速度において基本周波数fwobに相当し，次による。
fwob＝956.522 kHz
15.6.2 ウォブルの変調
15.6.2.1 一般
ウォブルの基本形は，コサイン波：cos(2π×fwob×t)である。この基本形のウォブルは，“単一周波数ウォ
ブル”（MW）と呼ばれる。
ウォブルのうち幾つかが変調され，次の二つの変調方法を併用する。
− 第1の変調方法：“MSK-cos”（最小シフトキー−コサイン変形）と呼ばれる
− 第2の変調方法：“HMW”（高調波変調波）と呼ばれる
外側ゾーンの保護ゾーン3領域（箇条16及び20.2.10参照）では，グルーブはHMWでは変調せず，MSK-cos
だけで変調する。
両方の変調方法は，15.7に規定するとおりにADIP情報を表す。
15.6.2.2 MSK-cos変調
MSK-cos変調は，三つの連続した単一周波数ウォブルを一つのMSKマーク（MM）で置き換えること
によって行われる。
MSKマークは，図64に示すとおりに，次に示すウォブルパタンをもった3公称ウォブル長NWLで構
成される。
− 第1番目のNWL：周波数＝1.5×fwobのコサインウォブルでMSKマークを始める。
− 第2番目のNWL：周波数＝fwobのコサインウォブルが続く。
73
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 第3番目のNWL：周波数＝1.5×fwobのコサインウォブルでMSKマークを終える。
図64−MSKマークの規定（オングルーブ）
15.6.2.3 HMW変調
HMW変調は，連続した単一周波数ウォブルを同数ののこぎり波ウォブル（STW）に置き換えることに
よって行われる。一つののこぎり波ウォブルは，基本コサイン波に2倍の周波数のサイン波を組み合わせ
ることで形成され，次の式で表される。
cos(2π×fwob×t)±a×sin[2π×(2×fwob)×t]
ここに，
a： 0.25
そのような基本周波数のコサイン波及びある量の2次高調波の組合せは，1次近似では，のこぎり波を
表している。“＋”又は“−”の符号は，左又は右の傾斜を作り出し，“＋”記号は，ビット“1”を表すた
めに，“−”記号は，ビット“0”を表すために使用される（図65参照）。
図65−のこぎり波ウォブルの規定（オングルーブ）
74
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
15.6.3 ウォブル極性
プッシュプルの極性（26.1参照）が負の場合は，ウォブルグルーブは，最初のウォブル偏移をディスク
の外周方向に開始する。
プッシュプルの極性（26.1参照）が正の場合は，ウォブルグルーブは，最初のウォブル偏移をディスク
の内周方向に開始する。
15.7 ADIP情報
15.7.1 一般
ディスクに記録するデータは，ウォブル中に変調されて入っているADIPアドレスに同期する。したが
って，56 NWLは，2記録フレームに相当する（13.16参照）。そのような56 NWLのグループは，ADIPユ
ニットと呼ばれる（図66参照）。
2 記録フレーム
1 932 チャネルビット
1 932 チャネルビット
同期
データ
同期
データ
9.5
ウォブル
9.5
ウォブル
1ADIPユニット
56 NWLs
≈
≈
図66−ADIPの一般構造
15.7.2 ADIPユニットタイプ
ADIPユニットの56 NWLの中で，隣り合うMM間の長さを個別の距離にするようにMMを挿入するこ
とによって，異なるタイプのADIPユニットを作ることができる。
データビットを表すADIPユニットは，追加でSTWで変調される。
さらに，基準のSTWが規定される。各タイプのADIPユニットは，MMで始まる。
次のタイプのADIPユニットを規定する（図67参照）。
− 単一周波数ユニット：1MM，続いて53 MWの構成
− 基準ユニット：1MM，続いて15 MW，37 STW及び1MWの構成
− 同期̲0ユニット：1MM，続いて13 MW，1MM，7MW，1MM及び27 MWの構成
− 同期̲1ユニット：1MM，続いて15 MW，1MM，7MW，1MM及び25 MWの構成
− 同期̲2ユニット：1MM，続いて17 MW，1MM，7MW，1MM及び23 MWの構成
− 同期̲3ユニット：1MM，続いて19 MW，1MM，7MW，1MM及び21 MWの構成
− データ̲xユニット：xは“1”又は“0”を表す。
− データ̲1ユニット：1MM，続いて9 MW，1MM，3 MW，37 STW及び1MWの構成
− データ̲0ユニット：1MM，続いて11 MW，1MM，1 MW，37 STW及び1MWの構成
四つの同期ユニットは，同期をとるために使用され，一方，データ̲1ユニットはビット値“1”を表す
75
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ために使用され，データ̲0ユニットはビット値“0”を表すために使用される。
基準ユニット
単一周波数ユニット
同期̲0ユニット
同期̲1ユニット
同期̲2ユニット
同期̲3ユニット
データ̲0ユニット
データ̲1ユニット
NWL 番号
0
18
55
3
....
..
..
..
単一周波数ウォブル
MSK マーク
“0”を表す､のこぎり波ウォブル
“1”を表す､のこぎり波ウォブル
図67−ADIPユニットタイプ
15.7.3 ADIPワード構造
83 ADIPユニットは，まとめて一つのADIPワードとなる。これは，3 ADIPワードが一つの記録ユニッ
トブロック（RUB）に等価な，3×83×2＝498記録フレームに相当することを意味する（14.2参照）。
各ADIPワードは，図68に示すとおりに構成する。
76
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ADIPユニット番号
ADIPユニットタイプ
ADIPニブル
ビット番号
ADIP符号
ニブル番号
0
単一周波数
−
−
1
同期̲0
−
2
単一周波数
−
3
同期̲1
−
4
単一周波数
−
5
同期̲2
−
6
単一周波数
−
7
同期̲3
−
8
基準
−
9
データ̲x
b3
c0
10
データ̲x
b2
11
データ̲x
b1
12
データ̲x
b0
13
基準
−
−
14
データ̲x
b3
c1
15
データ̲x
b2
16
データ̲x
b1
17
データ̲x
b0
18
基準
−
−
:
:
:
:
8＋i×5
基準
−
−
9＋i×5
データ̲x
b3
ci
10＋i×5
データ̲x
b2
11＋i×5
データ̲x
b1
12＋i×5
データ̲x
b0
:
:
:
:
78
基準
−
−
79
データ̲x
b3
c14
80
データ̲x
b2
81
データ̲x
b1
82
データ̲x
b0
図68−ADIPワード構造
77
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
15.7.4 ADIPデータ構造
15.7.4.1 一般
各ADIPワードは，全部で60ビットを含み，非組織リードソロモン（RS）エラー訂正符号によって符
号語を形成している。この符号語は，36の情報ビットで構成される。エンコード前に，36の情報ビットは，
図69の配列によって規定する，n0〜n8の九つの4ビットニブルに整列される。
b3
b2
b1
b0
n0
AA23
AA22
AA21
AA20
n1
AA19
AA18
:
:
6
ADIP
:
:
:
:
:
アドレス
n5
AA3
:
:
AA0
n6
AX11
:
:
:
:
:
:
:
:
3
ニブル
予備データ
n8
AX3
:
:
AX0
ニブル
ニブル
図69−ADIP情報構造
n0〜n8のニブルは，エラー訂正システムによって，c0〜c14のニブルにコード変換される（15.7.5参照）。
このエラー訂正システムは非組織符号であり，情報ビット列のビットとADIPユニット内の符号ビット
との間には，単純な直接の関係はない。
15.7.4.2 ADIP情報ビットの割当て
ADIPデータに入れる情報は，次による。
− AA23 .. AA0：これらの24ビットは，物理ADIPアドレス（PAA）を入れる。AA23はmsbで，AA0
はlsbとする。このアドレスは，三つの部分の構成とする。
− AA23 .. AA21：この3ビットは，層番号とし，L0層では，000に設定し，L1層では，001に設定す
る。他の設定は，リザーブ（値）とする。
− AA20 .. AA2：この19ビットは，三つの連続するADIPワードごとに一つ増加する連続番号を入れ
る（RUBに同期する。14.2参照）。
− AA1，AA0：この2ビットは，1RUBに相当する三つの連続するADIPワードの中で，00，01及び
10と連続して設定する。11の設定は使用しない。
L0層の情報ゾーンの最初のアドレスは，データゾーンの最初のアドレスである，PAA 02 00 00hが半径
0.0
0.2
0.
24
− mmの位置とする。
L0層のデータゾーンの最終ADIPアドレス（LAA）は，半径58.1 mm未満となる位置とする。
L1層のデータゾーンの先頭ADIPアドレス（FAA）は，半径58.1 mm未満となる位置とする。
L1層のデータゾーンの最終ADIPアドレス（3D FF FEh）は，半径
0.0
0.2
0.
24
− mmの位置とする。
− AX11 .. AX0：この12ビットは，ディスクの予備情報が入っている。
− ディスクのデータゾーン及び外側ゾーンでは，予備ビットは，“0”に設定する。
− ディスクの内側ゾーンで，予備ビットは，次のとおりに用いる。
78
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 96の連続したADIPワード（32RUB相当）のAX11 .. AX0は，一つの144バイトのADIP予備フレ
ームを構成する。
− 各ADIP予備フレームの最初のビットは，128の倍数のPAA（PAA＝xxxx xxxx xxxx xxxx x000 0000）
をもつADIPワードの位置に置く。
− 144バイトの内容は，15.8に規定する。
15.7.4.3 L0層及びL1層の物理ADIPアドレスの関係
L0層及びL1層のPAAは，決まった関係とする。L0層のPAAとL1層のPAAとは，同じ半径にある（そ
れぞれの内側ゾーンからADIPワードの数が同じ距離にある。）が，それらはAA20〜AA2が反転したビッ
トをもつ（図70参照）。
このようにすることによって，L1層のPAAは，トラッキング方向であるディスクの外周部から内周部
に向かって増加することになる。同時に，PAA1のAA20〜AA2を反転したアドレスビットは，L0層の同
じ半径の相当する反転しないアドレスビットと同じ関係となる。
層番号
連続番号
RUB 中の番号
L0層上のPAA0
AA23 .. AA21 = 000
AA
AA
20
2
..
AA1,AA0 = 00,01,10
内周から外周に
L1層上のPAA1
AA23 .. AA21 = 001
AA
AA
20
2
..
AA1,AA0 = 00,01,10
外周から内周に
L0層
最初のアドレス
最後のアドレス
02 00 00h.....
PAA0
..... LAA
内側ゾーン
外側ゾーン
3D FF FEh.....
PAA1
..... FAA
L1層
最後のアドレス
最初のアドレス
層番号
連続番号
RUB 中の番号
L0層上のPAA0
AA23 .. AA21 = 000
AA
AA
20
2
..
AA1,AA0 = 00,01,10
内周から外周に
L1層上のPAA1
AA23 .. AA21 = 001
AA
AA
20
2
..
AA1,AA0 = 00,01,10
外周から内周に
層番号
連続番号
RUB 中の番号
L0層上のPAA0
AA23 .. AA21 = 000
AA
AA
20
2
..
AA1,AA0 = 00,01,10
内周から外周に
L1層上のPAA1
AA23 .. AA21 = 001
AA
AA
20
2
..
AA
AA
20
2
..
AA1,AA0 = 00,01,10
外周から内周に
L0層
最初のアドレス
最後のアドレス
02 00 00h.....
PAA0
..... LAA
内側ゾーン
外側ゾーン
3D FF FEh.....
PAA1
..... FAA
L1層
最後のアドレス
最初のアドレス
図70−L0層及びL1層のPAAの関係の説明
数学的には，次のとおりに説明できる。
PAA0にC0 00 01hを加算した後に全ての24ビットを反転することによって，L1層の対応するアドレス
PAA1となる。
数式で表すと，次になる。
01h
00
C0
PAA
PAA
0
1
+
=
（1の加算は，内部のRUB番号の順番を修正し，一方，C0 00 00hの加算は，正しい層番号に配慮して
いる。）
このようにして，データゾーン1の最終ADIPアドレスは，次のとおりに生成される。
h
01
00
C0
00h
00
02
FEh
FF
3D
+
=
データゾーン1の先頭ADIPアドレスは，次のとおりに生成される。
01h
00
C0
LAA
FAA
+
=
注記
LAAは，LAAの各ビットの“1”及び“0”を反転したものを表している。
15.7.5 ADIPエラー訂正
エラー訂正システムは，ニブルベースであり，有限体GF(24)で規定される(15,9,7)非組織RS符号である。
符号の全ニブル数は15で，符号は9情報ニブルから計算され，この符号の最小距離は，7である。
79
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
有限体GF(24)の非ゼロ要素は，原始根αによって生成される。ここに，αは次の原始多項式p(x)の根で
ある。
1
)
(
4
+
+
=
x
x
x
p
GF(24)のシンボルは，多項式表現の(α3,α2,α,1)を元とする，ニブル（4ビットのグループ）の多項式で表
される。したがって，根αは次の式で表される。
α＝0010
ベクトル(c0 c1 .. c13 c14)で表す符号語は，情報シンボルn0〜n8から，次の式によって計算できる。
)
(
n
)
(
n
c
)
(
p
8
)
(
7
0
14
0
-
14
x
g
x
g
x
x
C
i
i
i
i
i
i
×
+
×
=
×
=
∑
∑
=
=
ここに，gp(x)は，親生成多項式で，次による。
(
)
∏
=
−
=
13
0
p
)
(
i
i
x
x
g
a
g(i) (x)は，各シンボルni (i＝0 .. 7)に対する，特別生成多項式である。
g(i) (x)は，親生成多項式gp(x)からgp(x)のゼロのうちの1個のziを除き，その結果をg(i)(zi)＝1となるよう
に正規化することで，生成される。
除くべきゼロziは，次による。
zi＝αi＋6
生成多項式は，次によって計算される。
i
i
i
β
x
g
x
g
)
(
~
)
(
)
(
)
(
=
ここに，
i
p
i
z
x
x
g
x
g
−
=
)
(
)
(
~
)
(
及び
[]
i
i
i
z
g
β
)
(~
=
ディスクに記録する前に，ニブルc9〜c14の全てのビットを，反転する。
留意事項1 符号は非組織符号であるため，通常のRS復号で訂正した後に符号語のシンボルから情
報シンボルを生成するために，追加の計算が必要となる。
注記 留意事項は，規格をシステムに実装する場合の注意事項を示したものである。
n0〜n7の情報シンボルは，訂正した符号語C(x)に情報シンボルのゼロを代入することによって，生成さ
れる。すなわち，次のとおりにシンドロームを計算する。
j
i
j
j
i
i
i
α
c
α
C
S
×
+
=
−
+
+
×
=
=
=
∑
)6
(
14
0
14
6
6
)
(
n
n8は，組織シンボルで，C(x)からc0を複製することによって，直接生成することができる。
留意事項2 各情報シンボルniは，親生成多項式gp(x)のゼロに相当する。図71は，各情報シンボル
に対応したゼロ要素を示している（n8は，対応するゼロ要素はないことに，注意された
い。）。
80
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
シンボル
相当するゼロ要素
(x ‒α0)
(x ‒α1)
(x‒α2)
(x‒α3)
(x‒α4)
(x ‒α5)
n0
(x‒α6)
n1
(x‒α7)
n2
(x‒α8)
n3
(x‒α9)
n4
(x‒α10)
n5
(x ‒α11)
n6
(x ‒α12)
n7
(x ‒α13)
図71−各情報ビットに対応したゼロ要素
情報シンボルが既知で，それに対応したゼロが(x−α0) .. (x−α5) .. に相当する，既存の一連のゼロを拡張
する場合は，ハミング距離は増える。例えば，n0が既知の場合は，ハミング距離はd＝8となる。n0及び
n1が共に既知の場合は，ハミング距離はd＝9となる。
すなわち，情報シンボルの事前情報によってハミング距離を増やすことができる。ADIPのアドレスは，
直線的に増加するため，このような事前情報となっている。
この現象は，復号結果の信頼性の追加確認に使用できる。
15.8 ADIP予備フレームのディスク情報
15.8.1 一般
96の連続したADIPワード予備フィールドの情報ニブルは，バイト単位のフレームにまとめられ，幾つ
かのディスクパラメタをもっている。図72に従って，ニブルはバイトに再配置される。幾つかのディス
ク情報（DI）予備フレームは，DIブロックにグループ化できる。全てのディスク情報ブロック（DIブロ
ック）は，同じ内容とする。
81
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト
番号
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
b0
0
AX11
ワード1
AX10
AX9
AX8
AX7
AX6
AX5
AX4
1
AX3
AX2
AX1
AX11
AX10
AX9
AX8
2
AX7
AX6
AX5
AX4
AX3
AX2
AX1
AX0
3
AX11
AX10
AX9
AX8
AX7
AX6
AX5
AX4
:
:
141
AX11
AX10
AX9
AX8
AX7
AX6
AX5
AX4
142
AX3
AX2
AX1
AX0
AX11
AX10
AX9
AX8
143
AX7
AX6
AX5
AX4
AX3
AX2
AX1
AX0
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
ワード1
AX0
ワード1
ワード95
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード2
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード3
ワード95
ワード95
ワード95
ワード95ワード95
ワード95
ワード95
ワード95ワード95
ワード95
ワード95
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
ワード96
図72−ADIP予備フレームバイトの順番
15.8.2 ディスク情報予備フレームのエラー保護
DI予備フレームは，13.7の長距離RS符号によって保護される。そのような長距離符号は，248バイト
で構成されるため，104のダミーバイト（ディスク上に記録しない。）は，DI予備フレームの長距離符号
語を完成するために，追加される（図73参照）。13.7のバイトe0,L .. e103,Lは，ダミーバイトを表し（全て
FFhに設定される。），バイトe104,L .. e215,Lはディスク情報バイトを表し，バイトp216,L .. p247,Lはパリティバ
イトを表す。
各DI予備フレームに追加する104 バイト
96 ADIP ワード
12 ビット=144 バイト
×
FFh
ディスク情報ユニット(112 バイト)
パリティ
216
32
長距離ｴﾗｰ訂正符号
ダミーバイト：
ディスクの1 DI 予備フレーム:
0
0
1
N-1
DI 予備フレーム
N-1
....
DI ブロック
DI 予備フレーム
DI 予備フレーム
DI 予備フレーム
DI 予備フレーム
図73−ディスク情報構造及びエラー訂正フォーマット
82
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
15.8.3 ディスク情報データ構造
15.8.3.1 一般
DIブロックは，複数の144バイトのDI予備フレーム（図73参照）で構成できる。必要な場合は，最大
31個までDI予備フレームを追加して使うことができる。各記録層は，同じDI予備フレームで構成する，
同じDIブロックをもつ。
DI予備フレーム列は，内側ゾーンで繰り返し，DI予備フレーム0は，L0層ではPAA 01 B8 00hから開
始し，L1層ではPAA 3E 00 00hから開始する。
L0層の保護ゾーン2（図84参照）及びL1層のバッファゾーン，OPC1及びバッファゾーン（図85参照）
では，予備ビットを“0”に設定するか，又はDI予備フレームを含むことができる（それによって，上記
アドレスで規定したDI予備フレーム0から，DI予備フレームが連続でつながる。）。
各DI予備フレームのディスク情報112バイトは，ディスク情報（DI）ユニットと呼ばれる。各DIユニ
ットは，DIユニットヘッダを構成する8バイトで開始する（15.8.3.2参照）。
DIユニットは，異なる記録ストラテジなどの違ったパラメタセットを収納できる。内容が異なる定義の
DIユニットを区別するために，DIユニット特有の識別子が必要である。
DIユニットヘッダのバイト2のDIフォーマット番号は，この目的に用いる。このバイトで，256タイ
プの違う内容のDIユニットが識別できる。
一つのセットのパラメタ群が一つのDIユニットに収まらなければ，連続した複数のDIユニットに収納
する。この場合は，バイト6のビットb7は，次のDIユニットが一連の続きであることを示す。
記録ストラテジに関するDIユニットの使用方法は，15.8.3.7に示される。
この規格の将来の拡張では，例えば，より高速の記録線速度及び新しい記録ストラテジを規定するため
に，追加のDI予備フレームが必要になる可能性がある。新しいDI予備フレームが追加される場合に，既
存のものが適切の場合は継続して使用し，そのような方法で，既存のドライブとのバックワード互換を容
易に保つことができる。各ドライブは，ディスクにある全てのDI予備フレームを検査し，DIフォーマッ
ト番号（バイト2）及び示される記録速度（バイト32〜35）に基づき，サポートするものだけを使うこと
が望ましい（15.8.3.7も参照）。
15.8.3.2 DIユニットの一般規定
各DIユニットは，図74に示すとおりにヘッダ，本体及びフッタで構成する。
83
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト番号
内容
バイト数
0〜1
ディスク情報識別子
2
2
DIフォーマット番号
1
3
各DIブロックのDI予備フレーム数（5 ビット）
このDIユニットを適用する層数（3 ビット）
1
4
リザーブ（領域）
1
5
DIブロック内のDIユニット連続番号
1
6
継続フラグ（ビット）
このDI ユニットで使用中のDIバイト数（7 ビット）
1
ヘッダ
7
リザーブ（領域）
1
本体
8 〜99
DIユニットの中身
92
100 〜105
ディスク製造業者識別子
6
106 〜108
メディアタイプ識別子
3
109 〜110
タイムスタンプ
2
フッタ
111
製造変更番号
1
図74−DIユニットの通常フォーマット
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
この2バイトは，文字“DI”を表す，44 49hに設定する。
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトで，DIユニット又はDIユニットセットの内容を識別する（バイト6
の規定参照）。
BCAコード付きのディスクは，このバイトのmsbを，“0”に設定する。
BCAコードなしのディスクは，このバイトのmsbを，“1”に設定する。
注記 DIフォーマット番号は，DIユニットの内容だけを規定し，バイト11に規定するクラス番号及
びバージョン番号とは関係ない。
この規格は，将来，高速記録，高密度記録など新しい機能が許されるように拡張される可能
性がある。その場合は，新しいディスクと古いドライブとの間のバックワード互換の問題をで
きるだけ防ぐために，クラス番号及びバージョン番号が導入されている。
クラス番号は，新しい規定によってBD層が既存のドライブで全く記録も読取りもしないほ
うがよい場合は（例えば，ディスク又はドライブの破損を防ぐため。），番号が上げられる。
既存のクラスとの読取互換が確認できれば，新しいクラス番号は不要である。
クラス番号の更新を必要としない（読取互換が維持される。）が，記録互換ができない場合の
拡張又は変更の新規格の場合は，バージョン番号が上げられる。
そのようなBD層は，上のバージョン番号であるが，前に定義したDIユニットの記録ストラ
テジに従って記録できる場合は，そのDIユニットを保持できる。
結果，ドライブは，既知のDIフォーマット番号をもつDIユニットを常に確認することが望
ましい。そのような場合は，記録ストラテジに絡む記録パラメタ（記録速度，記録パワー，必
要なタイミングなど）を確認でき，それらがドライブの能力の範囲内の場合は，ドライブは，
そのディスクに記録をすることが望ましい。
上記のように，クラス番号及びバージョン番号を使うことによって，ディスク及びドライブ
の想定される破損を防ぎながら，将来のディスクのバックワード互換が最大限確保できる。
DIユニットの内容
このDIユニット適用の層数（3ビット）
製造改正番号
84
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
各層のタイプ（バイト8〜10で規定する。）には，独立したDIフォーマット番号がある。DI
フォーマット番号は，DIユニットに規定される記録ストラテジの指標でもある。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
ビットb7〜b3：
この5ビットは，各DIブロックのDI予備フレーム数Nを規定する（1≦N≦31）。
ビットb2〜b0：
この3ビットは，このDIユニットの規定を適用する記録層の数を規定する。
バイト4：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
このバイトは，DIブロック内のDIユニットの連続番号を規定する。
実際のDIブロックの，実際のDIユニット番号n (0≦n≦N−1)に設定する。
DIユニットは，序列を付けて並べる（図75参照）。第1優先は，公称記録速度の
増加順（バイト32〜33），第2優先は，同じ公称記録速度内のDIユニット列で層
番号（バイト3）増加順，第3優先は，記録ストラテジの推奨順（DIフォーマッ
ト番号によって識別されるが，DIフォーマット番号の連番順でなくてもよい。）。
連続番号
記録速度
層番号
記録ストラテジ(WS)
0
推奨WS
1
0
代替WS
:
推奨WS
k‒1
1
代替WS
k
推奨WS
:
:
代替WS
:
推奨WS
2k‒1
v1
k‒1
代替WS
2k
:
0
最も推奨するWS
:
:
:
:
:
:
v2>v1
k‒1
:
最後に推奨するWS
:
v3>v2
0
:
:
:
:
:
N‒1
等
等
:
図75−DIブロック順の例
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニットで使用中のDIバイト数
ビットb7：
このビットは，このDIユニット内のパラメタセットが次のDIユニットへも継続
するのか，又は次のDIユニットで新しいパラメタセットが始まるのかを規定す
る。
次のDIユニットで新しいパラメタセットが始まる場合は，“0”に設定する。
このDIユニットのパラメタセットが次のDIユニットに継続する場合は，“1”に
設定する（図76参照）。
ビットb6〜b0：
この7ビットは，フッタ直前の最後の未使用［リザーブ（領域）］バイトまでの実
際のDIユニット中で用いているバイト数を示す（例えば，図77参照）。
85
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
:
バイト2 = ..
バイト3 = N / L0層
バイト5 = n‒1
先行するパラメタセットの終了
バイト2 = x
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n
今のパラメタセットの開始
:
:
:
バイト2 = x
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n+1
:
今のパラメタセット継続
:
L1層の3DIユニット
にまたがる
パラメタセット
バイト2 = x
バイト3 = N/ L1層
バイト5 = n+2
:
:
:
今のパラメタセット終了
バイト2 = ..
バイト3 = N/ L0層
バイト5 = n+3
次のパラメタセットの開始
:
バイト6，ビットb7= 0
バイト6，ビットb7= 0
バイト6，ビットb7= 1
バイト6，ビットb7= 1
バイト6，ビットb7= ..
図76−DIユニット拡張の例
バイト7：
リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
バイト8〜99：
DIユニット内容
この92バイトは，DIユニットの一般的なディスクパラメタ，読取り，記録パワ
ー，記録ストラテジパラメタなどの，特定の内容を含む。
バイト100〜105：
ディスク製造業者識別子
この6バイトのフォーマット及び内容は，関係者間の合意が必要であり，合意が
ない場合は，これらのバイトは，00hに設定する。
バイト106〜108：
メディアタイプ識別子
この3バイトのフォーマット及び内容は，関係者間の合意が必要であり，合意が
ない場合は，これらのバイトは，00hに設定する。
バイト109〜110：
タイムスタンプ
この2バイトは，このディスクが転写されたマスターディスクの製造日に関する
情報を与える。同じディスク製造業者識別子及び同じメディアタイプ識別子をも
つ全てのディスクは，タイムスタンプにかかわらず同じ記録特性をもつ（軽微な
違いだけ許され，タイムスタンプは，記録機には無関係とする。）。
バイト109のビットb7〜b0＋バイト110のビットb7〜b4は，製造年を表す12ビッ
ト2進数の一つの領域とする。
バイト110のビットb3〜b0は，製造月を表す4ビット2進数とする。
タイムスタンプが使われない場合は，両方のバイトは，00hに設定する。
バイト111：
製造改正番号
86
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
このバイトは，製造改正番号を2進数で識別する。同じディスク製造業者識別子
及び同じメディアタイプ識別子をもつ全てのディスクは，製造改正番号にかかわ
らず，同じ記録特性をもつ（軽微な違いだけ許され，製造改正番号は，記録機に
は無関係とする。）。
このバイトの内容は，ディスク製造業者が自由に設定できる。この規格では，こ
のバイトのフォーマット及び内容は規定しない。互換性を確保するためには無視
する。
15.8.3.3 DIフォーマット1（N−1記録ストラテジ）の規定
フォーマット1のDIユニットの主部の内容は，図77に示すとおりに規定する。
バイト番号
内容
バイト数
0 〜7
DIユニットヘッダ
8
8 〜10
BD 層タイプﾟ識別子
3
11
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
1
12
BD 構造
1
13
チャネルビット長
1
14
プッシュプル極性フラグビット
1
15
記録マーク極性フラグビット
1
16
BCA 記述子
1
17
最大転送レート
1
18 〜23
リザーブ（領域）
6
24 〜31
データゾーンの配置
8
32 〜35
記録速度
4
36 〜39
最大直流読取りパワー
4
40 〜43
最大高周波重じょう（畳）読取りパワー
4
44 〜47
リザーブ（領域）
4
48 〜55
記録パワー設定
8
56
TMP：記録マルチパルス継続時間
1
57 〜68
dTtop：最初の記録パルスの開始時間
12
69 〜92
Ttop：最初の記録パルスの継続時間
24
93 〜94
TLP：最後のパルスの継続時間
2
95 〜97
dTS：スペースレベルの開始時間
3
98 〜99
使用しないで全て00h とする。
2
100 〜111
DIユニットフッタ
12
図77−DIフォーマット1のディスク情報内容
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
15.8.3.2参照。
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトは，BCAコード付きのディスクでは，01hに設定する。
このバイトは，BCAコードなしのディスクでは，81hに設定する。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
15.8.3.2参照。
最大高周波重畳読取りパワー
87
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト4：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
15.8.3.2参照。
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニット使用中のDIバイト数
このバイトは，このDIユニットの最初の98バイトを使用し，次のDIユニット
に継続がないことを示す62hに設定する。残りのDIユニット主部（DIユニット
フッタのバイトを除く。）のバイトは使用せず，00hに設定する。
バイト7：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト8〜10：
BD層タイプ識別子
この3バイトは，DIユニットが適用されるBD層のタイプを識別し，各記録層で
“BDR”の文字を示す42 44 52hに設定する。
バイト11：
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
ビットb7〜b6：
この2ビットは，ディスクのサイズを規定する。120 mmディスクを示す00に設
定する。
ビットb5〜b4：
この2ビットは，クラス番号を規定する。クラス番号は，同じ層タイプで異なる
基本特性をもつBD層を識別する。
この規格に適合したBD層は，これらのビットを，00に設定する。
ドライブが，ある特定のクラスの層を認識できない場合は，その層のデータゾー
ンにアクセスしないほうがよい（読取りも記録も行わない。）。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，バージョン番号を規定する。この規格に適合した層であること
を示す0001に設定する。
バイト12：
BD構造
ビットb7〜b4：
この4ビットは，ディスク上のBDの記録可能層及び記録済みの層の層数の全層
数を規定する。単層ディスクでは，記録層が一つであることを示す0001に設定す
る。
2層ディスクでは，記録層が二つであることを示す0010に設定する。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，このDIユニットを適用する，BDの記録可能層又は記録済み層
の層のタイプを規定する。
ビットb3〜b0は，レコーダブル記録層を示す0010に設定する。
注記 記録済み層は，（半透明）反射層から構成される再生専用ディスクの層である。
バイト13：
チャネルビット長
ビットb7〜b4：
この4ビットは，0000に設定する。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，メインデータのチャネルビット長を規定し，全てのBD記録層
で同じとする。
チャネルビット長が74.5 nm（25.0 GB/層）であることを示す0001に設定する。
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト14：
プッシュプル極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liのプッシュプル信号の極性を規定し，次による（26.1
88
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
参照）。
“0”：記録層Liのプッシュプル極性が正
“1”：記録層Liのプッシュプル極性が負
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
バイト15：
記録マーク極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liの記録マークの極性を規定し，次による。
“0”：記録マークの反射率が未記録層よりも低い層タイプ
（HTLディスク）
“1”：記録マークの反射率が未記録層よりも高い層タイプ
（LTHディスク）
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
バイト16：
BCA記述子
ビットb7〜b4：
この4ビットは，リザーブ（領域）とする。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，ディスク上のBCAコードの有無を示す。
0000：BCAコードなし
0001：BCAコードあり
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト17：
最大転送レート
このバイトは，アプリケーションが必要とする最大読取転送レートを数値nで規
定し，次による。
n：最大読取転送レート（Mbit/s）
(n≦255，M＝106)
nは，最大転送レートが規定されない場合は，00hに設定する。
バイト18〜23：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト24〜31：
データゾーンの配置
バイト24〜27：
これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最初の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最初の
PAAがPAA 131 072であることを示す00 02 00 00hに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最初の
PAAがFAAであることを示し，25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は，
00 26 B1 80hに設定する。
バイト28〜31：
これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最後の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最後の
PAAがLAAであることを示し，25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は，
00 19 4E 7Ehに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最後の
PAAがPAA 4 063 230であることを示す00 3D FF FEhに設定する。
バイト32〜35：
記録速度
バイト32〜33：
これらのバイトは，公称記録速度を規定する。それは，このDIユニットに2バ
89
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
イトの2進数（バイト32がMSB）で規定するパラメタを用いて使用される。
公称記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vnorm
nは，公称記録速度4.92 m/sを示す場合は，01 EChとし，公称記録速度9.83 m/s
を示す場合は，03 D7hとする。
バイト34：
このバイトは，このDIユニットに規定したパラメタを用いて使用する最大記録
速度を規定する。最大記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vmax/V norm (n≧100)
nは，最大記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。
バイト35：
このバイトは，このDIユニットに規定したパラメタを用いて使用する最小記録
速度を規定する。最小記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vmin/V norm (n≧100)
nは，最小記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。
バイト36〜39：
最大直流読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取り
ができる，ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この細分箇条での最大パワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフ
ォルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
バイト36：
このバイトは，基準速度（Vref）での最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで
規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
バイト37〜39：
これらのバイトは，このDIユニットのバイト32及び33で規定する公称記録速
度に相当する読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定
し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読取りをする場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証
するために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト40〜43：
最大高周波重畳読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取り
ができる，ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
ここでの最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフォ
ルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
バイト40：
このバイトは，基準速度での最大高周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで
規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
バイト41〜43：
これらの各バイトは，このDIユニットのバイト32〜33で規定する公称記録速度
に相当する読取速度の場合の最大読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し，次
に示す数値nによる。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証する
90
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト44〜47：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト48〜55：
記録パワー設定
バイト48：
PIND：PINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として，使用できる（附属書
G参照）。
このバイトは，Ptargetを示唆する値PINDをミリワットの単位で規定し，次に示す数
値nによる。
n＝20×PIND
バイト49：
mIND：mINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として，使用できる（附属書
G参照）。
このバイトは，メディア製造業者によって決められる，PINDでの変調度を規定し，
次に示す数値nによる。
n＝200×mIND
バイト50：
ρ：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録パワーに
乗じる係数ρを規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×ρ
バイト51：
εBW：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録バイア
スパワーと記録ピークパワーとの比εBWを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εBW
バイト52：
εc：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる冷却パワーと
記録ピークパワーとの比εcを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εc
バイト53：
εs：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われるスペースパワ
ーと記録ピークパワーとの比εsを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εs
バイト54：
κ：このバイトは，OPC（附属書G参照）で使われるターゲット値κを規定し，
次に示す数値nによる。
n＝20×κ
バイト55：
β：このバイトは，代替のOPC（附属書G参照）で使われるターゲット値βを規
定し，次に示す数値nによる。
n＝500×(β＋0.2)
バイト56：
TMP：記録マルチパルス継続時間
このバイトは，マークを記録するための，N−1記録ストラテジのマルチパルス列
の2番目で高レベルのパルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
マルチパルス継続時間TMPは，可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され，
次による。
TMP＝TMP,var＋TMP,fix
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，可変部分を実際のチャネルビ
ットクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数pによる。
91
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
W
var
MP,
16
T
T
p
×
=
(0≦p≦15)
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，固定部分を，TXの分数として
規定する。ここに，
1×Vref：TX＝15.15 ns
2×Vref：TX＝7.58 ns
値は，次に示す正の2進数qで表される。
X
fix
MP,
16
T
T
q
×
=
(0≦q≦15)
バイト57〜68：
dTtop：最初の記録パルスの開始時間
これらのバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，ラン長2T，3T，4T又は
5T以上のスペースに続く，ラン長2T，3T及び4T以上のマークを記録するN−1
記録ストラテジのマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を規定する（附
属書F参照）。
最初のパルスの開始時間dTtopは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す，符号付き2の補数iで表される。
W
top
16
T
dT
i
×
=
(−14≦i≦15)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト57〜60：
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
4T以上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を，最
初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する（正の値は進み
を，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト57は，ラン長5T以上のスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記録
する最初のパルスの開始時間を表す。
バイト58は，ラン長4Tのスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記録する
最初のパルスの開始時間を表す。
バイト59は，ラン長3Tのスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記録する
最初のパルスの開始時間を表す。
バイト60は，ラン長2Tのスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記録する
最初のパルスの開始時間を表す。
バイト61〜64：
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
3Tのマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を，最初の
データパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する（正の値は進みを，
負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト61は，ラン長5T以上のスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録する
最初のパルスの開始時間を表す。
バイト62は，ラン長4Tのスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録する最初
のパルスの開始時間を表す。
バイト63は，ラン長3Tのスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録する最初
92
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
のパルスの開始時間を表す。
バイト64は，ラン長2Tのスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録する最初
のパルスの開始時間を表す。
バイト65〜68：
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
2Tのマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を，最初の
データパルスのチャネルビットの後エッジに対して規定する（正の値は進みを，
負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
バイト65は，ラン長5T以上のスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録する
最初のパルスの開始時間を表す。
バイト66は，ラン長4Tのスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録する最初
のパルスの開始時間を表す。
バイト67は，ラン長3Tのスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録する最初
のパルスの開始時間を表す。
バイト68は，ラン長2Tのスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録する最初
のパルスの開始時間を表す。
バイト69〜92：
Ttop：最初の記録パルスの継続時間
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
2T，3T及び4T以上のマークを記録するN−1記録ストラテジのマルチパルス列
の最初の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
最初のパルスの継続時間Ttopは，可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され
次による。
Ttop＝Ttop,var＋Ttop,fix
f＝69，71 .. 91のf〜f＋1の各バイトフィールドで，次による。
バイトf：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，可変部分を実際のチャネルビ
ットクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数jによる。
W
var
,
top
16
T
T
j
×
=
(0≦j≦30)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト(f＋1)：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，固定部分をTXの分数として規
定する。ここに，
1×Vref：TX＝15.15 ns
2×Vref：TX＝7.58 ns
値は，次に示す正の2進数kで表される。
X
fix
top,
16
T
T
k
×
=
(0≦k≦30)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト69〜76：
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
4T以上のマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規
定する（附属書F参照）。
バイト69及び70は，ラン長5T以上のスペースに続く，ラン長4T以上のマーク
93
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
を記録する最初のパルスの継続時間を表す。
バイト71及び72は，ラン長4Tのスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記
録する最初のパルスの継続時間を表す。
バイト73及び74は，ラン長3Tのスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記
録する最初のパルスの継続時間を表す。
バイト75及び76は，ラン長2Tのスペースに続く，ラン長4T以上のマークを記
録する最初のパルスの継続時間を表す。
バイト77〜84：
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
3Tのマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定す
る（附属書F参照）。
バイト77及び78は，ラン長5T以上のスペースに続く，ラン長3Tのマークを記
録する最初のパルスの継続時間を表す。
バイト79及び80は，ラン長4Tのスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録す
る最初のパルスの継続時間を表す。
バイト81及び82は，ラン長3Tのスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録す
る最初のパルスの継続時間を表す。
バイト83及び84は，ラン長2Tのスペースに続く，ラン長3Tのマークを記録す
る，最初のパルスの継続時間を表す。
バイト85〜92：
これらのバイトは，ラン長2T，3T，4T又は5T以上のスペースに続く，ラン長
2Tのマークを記録するマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定す
る（附属書F参照）。
バイト85及び86は，ラン長5T以上のスペースに続く，ラン長2Tのマークを記
録する最初のパルスの継続時間を表す。
バイト87及び88は，ラン長4Tのスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録す
る最初のパルスの継続時間を表す。
バイト89及び90は，ラン長3Tのスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録す
る最初のパルスの継続時間を表す。
バイト91及び92は，ラン長2Tのスペースに続く，ラン長2Tのマークを記録す
る最初のパルスの継続時間を表す。
バイト93〜94：
TLP：最後のパルスの継続時間
これらのバイトは，ラン長3T及び4T以上のマークを記録する，N−1記録スト
ラテジのマルチパルス列の最後のパルス長を規定する（附属書F参照）。
最後のパルスの継続時間TLPは，可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され，
次による。
TLP＝TLP,var＋TLP,fix
このバイトの最初の4ビット（ビットb7〜b4）は，可変部分を実際のチャネルビ
ットクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数sによる。
W
var
LP,
16
T
T
s
×
=
(0≦s≦15)
このバイトの最後の4ビット（ビットb3〜b0）は，固定部分をTXの分数として規
94
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
定する。ここに，
1×Vref：TX＝15.15 ns
2×Vref：TX＝7.58 ns
値は，次に示す符号なし整数2進数tとして表される。
X
fix
LP,
16
T
T
t
×
=
(0≦t≦15)
バイト93：
このバイトは，ラン長4T以上のマークを記録する，マルチパルス列の最後のパ
ルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト94：
このバイトは，ラン長3Tのマークを記録する，マルチパルス列の最後のパルス
の継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト95〜97：
dTS：スペースレベルの開始時間
これらのバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，ラン長2T，3T及び4T以
上の記録マークに続く，N−1記録ストラテジのスペースレベルの開始時間を規定
する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
スペースレベルの開始時間dTSは，実際のチャネルビットクロック周期の分数と
して，次に示す符号付き2の補数uで表される。
W
S
16TdT
u
×
=
(−24≦u≦15)
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト95：
このバイトは，ラン長4T以上の記録マークに続く，N−1記録ストラテジのスペ
ースレベルの開始時間を規定する。
バイト96：
このバイトは，ラン長3Tの記録マークに続く，N−1記録ストラテジのスペース
レベルの開始時間を規定する。
バイト97：
このバイトは，ラン長2Tの記録マークに続く，N−1記録ストラテジのスペース
レベルの開始時間を規定する。
バイト98〜99：
使用しない。
15.8.3.4 DIフォーマット2（N/2記録ストラテジ）の規定
フォーマット2のDIユニットの主部の内容は，図78に示すとおりに規定する。
95
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト番号
内容
バイト数
0 〜7
DIユニットヘッダ
8
8 〜10
BD 層タイプ識別子
3
11
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
1
12
BD 構造
1
13
チャネルビット長
1
14
プッシュプル極性フラグビット
1
15
記録マーク極性フラグビット
1
16
BCA 記述子
1
17
最大転送レート
1
18 〜23
リザーブ（領域）
6
24 〜31
データゾーンの配置
8
32 〜35
記録速度
4
36 〜39
最大直流読取りパワー
4
40 〜43
最大高周波重じょう(畳）読取りパワー
4
44 〜47
リザーブ（領域）
4
48 〜55
記録パワー設定
8
56 〜57
TMP：記録マルチパルス継続時間
2
58 〜61
dTtop：最初の記録パルスの開始時間
4
62 〜69
Ttop：最初の記録パルスの継続時間
8
70 〜73
TLP：最後のパルスの継続時間
4
74 〜77
dTS：スペースレベルの開始時間
4
78 〜99
使用しないで全て00h とする。
22
100 〜111
DIユニットフッタ
12
図78−DIフォーマット2のディスク情報内容
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
15.8.3.2参照。
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトは，BCAコード付きのディスクでは，02hに設定する。
このバイトは，BCAコードなしのディスクでは，82hに設定する。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
15.8.3.2参照。
バイト4：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
15.8.3.2参照。
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニット使用中のDIバイト数
このバイトは，このDIユニットの最初の78バイトを使用し，次のDIユニット
に継続がないことを示す4Ehに設定する。残りのDIユニット主部（DIユニット
フッタのバイトを除く。）のバイトは使用せず，00hに設定する。
最大高周波重畳読取りパワー
96
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト7：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト8〜10：
BD層タイプ識別子
この3バイトは，DIユニットが適用される，BD層のタイプを識別し，各記録層
で，“BDR”の文字を示す42 44 52hに設定する。
バイト11：
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
ビットb7〜b6：
この2ビットは，ディスクのサイズを規定する。120 mmディスクを示す00に設
定する。
ビットb5〜b4：
この2ビットは，クラス番号を規定する。クラス番号は，同じ層タイプで異なる
基本特性をもつ，BD層を識別する。
この規格に適合したBD層は，このビットを，00に設定する。
ドライブが，ある特定のクラスの層を認識できない場合は，その層のデータゾー
ンにアクセスしないほうがよい（読取りも記録も行わない。）。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，バージョン番号を規定している。この規格に適合した層である
ことを示す0001に設定する。
バイト12：
BD構造
ビットb7〜b4：
この4ビットは，ディスク上のBDの記録可能層及び記録済みの層の層数の全層
数を規定する。単層ディスクでは，記録層が一つであることを示す0001に設定す
る。
2層ディスクでは，記録層が二つであることを示す0010に設定する。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，このDIユニットを適用する，BDの記録可能層又は記録済み層
の層のタイプを規定する。
ビットb3〜b0は，レコーダブル記録層を示す0010に設定する。
バイト13：
チャネルビット長
ビットb7〜b4：
この4ビットは，0000に設定する。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，メインデータのチャネルビット長を規定し，全てのBD記録層
で同じとする。
チャネルビット長が74.5 nm（25.0 GB/層）であることを示す0001に設定する。
他の設定は，リザーブ（領域）とする。
バイト14：
プッシュプル極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liのプッシュプル信号の極性を規定し，次による（26.1
参照）。
“0”：記録層Liのプッシュプル極性が正
“1”：記録層Liのプッシュプル極性が負
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
バイト15：
記録マーク極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liの記録マークの極性を規定し，次による。
“0”：記録マークの反射率が未記録層よりも低い層タイプ
（HTLディスク）
“1”：記録マークの反射率が未記録層よりも高い層タイプ
97
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
（LTHディスク）
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
バイト16：
BCA記述子
ビットb7〜b4：
この4ビットは，リザーブ（領域）とする。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，ディスク上のBCAコードの有無を示す。
0000：BCAコードなし
0001：BCAコード付き
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト17：
最大転送レート
このバイトは，アプリケーションが必要とする最大読取転送レートを数値nで規
定し，次による。
n：最大読取転送レート（Mbit/s）
（n≦255，M＝106）
nは，最大転送レートが規定されない場合は，00hに設定する。
バイト18〜23：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト24〜31：
データゾーンの配置
バイト24〜27：
これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最初の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最初の
PAAがPAA 131 072であることを示す00 02 00 00hに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最初の
PAAがFAAであることを示し，25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は，00 26 80h
に設定する。
バイト28〜31：
これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最後の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最後の
PAAがLAAであることを示し，25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は，
00 19 4E 7Ehに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最後の
PAAがPAA 4 063 230であることを示し，00 3D FF FEhに設定する。
バイト32〜35：
記録速度
バイト32〜33：
これらのバイトは，公称記録速度規定する。それは，このDIユニットに2バイ
トの2進数（バイト32がMSB）で規定するパラメタを用いて使用される。
公称記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vnorm
nは，公称記録速度4.92 m/sを示す場合は，01 EChとし，公称記録速度9.83 m/s
を示す場合は，03 D7hとする。
バイト34：
このバイトは，このDIユニットで規定するパラメタを用いて使用する最大記録
速度を規定する。最大記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vmax/V norm (n≧100)
nは，最大記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。
98
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト35：
このバイトは，このDIユニットで規定するパラメタを用いて使用する場合の，
最小記録速度を規定する。最小記録速度を数値nとして，次による。
n＝100×Vmin/V norm (n≧100)
nは，最小記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。
バイト36〜39：
最大直流読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく，少なくとも106回連続読取
りができる，ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この細分箇条での最大パワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフ
ォルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
バイト36：
このバイトは，基準速度での最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し，
次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
バイト37〜39：
これらのバイトは，このDIユニットのバイト32及び33で規定する，公称記録
速度に相当する読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規
定し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読取りをする場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証
するために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト40〜43：
最大高周波重畳読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく，少なくとも106回連続読取
りができる，ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
ここでの最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフォ
ルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
バイト40：
このバイトは，基準速度での最大高周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで
規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
バイト41〜43：
これらの各バイトは，このDIユニットのバイト32〜33で規定する，公称記録速
度に相当する読取速度の場合の最大読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し，
次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証する
ために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト44〜47：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト48〜55：
記録パワー設定
バイト48：
PIND：PINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G
参照）。
このバイトは，Ptargetを示唆する値PINDをミリワットの単位で規定し，次に示す数
値nによる。
n＝20×PIND
99
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト49：
mIND：mINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G
参照）。
このバイトは，メディア製造業者によって決められるPINDでの変調度を規定し，
次に示す数値nによる。
n＝200×mIND
バイト50：
ρ：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録パワーに
乗じる係数ρを規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×ρ
バイト51：
εBW：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録バイア
スパワーと記録ピークパワーとの比εBWを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εBW
バイト52：
εc：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる冷却パワーと
記録ピークパワーとの比εcを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εc
バイト53：
εs：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われるスペースパワ
ーと記録ピークパワーとの比εsを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εs
バイト54：
κ：このバイトは，OPC（附属書G参照）で使われるターゲット値κを規定し，
次に示す数値nによる。
n＝20×κ
バイト55：
β：このバイトは，代替のOPC（附属書G参照）で使われるターゲット値βを規
定し，次に示す数値nによる。
n＝500×(β＋0.2)
バイト56〜57：
TMP：記録マルチパルス継続時間
これらのバイトは，マークを記録するためのN/2記録ストラテジの，マルチパル
ス列の2番目で高レベルのパルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
マルチパルス継続時間TMPは，可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され，
次による。
TMP＝TMP,var＋TMP,fix
バイト56：
これらのバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，可変部分を実際のチャネ
ルビットクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数pによる。
W
var
MP,
16
T
T
p
×
=
(0≦p≦31)
これらのバイトの，最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とす
る。
バイト57：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，固定部分をTXの分数として規
定する。ここに，
1×Vref：TX＝15.15 ns
2×Vref：TX＝7.58 ns
値は，次に示す正の2進数qとして表される。
100
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
X
fix
MP,
16
T
T
q
×
=
(0≦q≦31)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト58〜61：
dTtop：最初の記録パルスの開始時間
これらのバイトは，ラン長2T，3T，[4T，6T，8T]及び[5T，7T，9T]のマークを記
録する，N/2記録ストラテジのマルチパルス列の最初の記録パルスの開始時間を
規定する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
最初のパルスの開始時間dTtopは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す符号付きの2の補数iで表される。
W
top
16
T
dT
i
×
=
(−16≦i≦15)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト58：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，最初のデータパルスのチャネ
ルビットの後エッジに対する，ラン長[5T，7T，9T]の記録マークのマルチパルス
の最初のパルスの開始時間を規定する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。
附属書F参照）。
バイト59：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，最初のデータパルスのチャネ
ルビットの後エッジに対する，ラン長[4T，6T，8T]の記録マークのマルチパルス
の最初のパルスの開始時間を規定する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。
附属書F参照）。
バイト60：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，最初のデータパルスのチャネ
ルビットの後エッジに対する，ラン長3Tの記録マークのマルチパルスの最初の
パルスの開始時間を規定する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。附属書F
参照）。
バイト61：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜 b3）は，最初のデータパルスのチャネ
ルビットの後エッジに対する，ラン長2Tの記録マークのマルチパルスの最初の
パルスの開始時間を規定する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。附属書F
参照）。
バイト62〜69：
Ttop：最初の記録パルスの継続時間
これらのバイトは，ラン長2T，3T，[4T，6T，8T]及び[5T，7T，9T]のマークを記
録する，N/2記録ストラテジのマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を
規定する（附属書F参照）。
最初のパルスの継続時間Ttopは，可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され
次による。
Ttop＝Ttop,var＋Ttop,fix
f＝62，64，66及び68のf〜f＋1の各バイトフィールドで，次の値による。
バイトf：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，可変部分を実際のチャネルビ
ットクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数jとして表される。
W
var
,
top
16
T
T
j
×
=
(0≦j≦46)
101
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト(f＋1)：
このバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，固定部分をTXの分数として規
定する。ここに，
1×Vref：TX＝15.15 ns
2×Vref：TX＝7.58 ns
値は，次に示す正の2進数kとして表される。
X
fix
top,
16
T
T
k
×
=
(0≦k≦46)
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト62〜63：
これらのバイトは，ラン長[5T，7T，9T]のマークを記録する，N/2記録ストラテ
ジのマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト64〜65：
これらのバイトは，ラン長[4T，6T，8T]のマークを記録する，N/2記録ストラテ
ジのマルチパルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト66〜67：
これらのバイトは，ラン長3Tのマークを記録する，N/2記録ストラテジのマルチ
パルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト68〜69：
これらのバイトは，ラン長2Tのマークを記録する，N/2記録ストラテジのマルチ
パルス列の最初の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト70〜73：
TLP：最後のパルスの継続時間
これらのバイトは，ラン長[4T，6T，8T]及び[5T，7T，9T]のマークを記録する，
N/2記録ストラテジのマルチパルス列の最後の記録パルス長（附属書F参照）を
規定する。
最後のパルスの継続時間TLPは，可変部分及び固定部分の二つの部分で構成され，
次による。
TLP＝TLP,var＋TLP,fix
f＝70，72のf〜f＋1の各バイトフィールドで，次の値が規定される。
バイトf：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，可変部分を実際のチャネルビ
ットクロック周期の分数として規定し，次に示す正の2進数sによる。
W
var
LP,
16
T
T
s
×
=
(0≦s≦31)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト(f＋1)：
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，固定部分をTXの分数として規
定する。ここに，
1×Vref：TX＝15.15 ns
2×Vref：TX＝7.58 ns
値は，次に示す正の2進数tとして表される。
X
fix
LP,
16
T
T
t
×
=
(0≦t≦31)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト70〜71：
これらのバイトは，ラン長[5T，7T，9T]のマークを記録する，N/2記録ストラテ
ジのマルチパルス列の最後の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
102
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト72〜73：
これらのバイトは，ラン長[4T，6T，8T]のマークを記録する，N/2記録ストラテ
ジのマルチパルス列の最後の記録パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト74〜77：
dTS：スペースレベルの開始時間
これらのバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，ラン長2T，3T，[4T，6T，
8T]及び[5T，7T，9T]の記録マークに続く，N/2記録ストラテジのスペースレベル
の開始時間を規定する（正の値は進みを，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
スペースレベルの開始時間dTSは，実際のチャネルビットクロック周期の分数と
して，次に示す符号付き2の補数uで表される。
W
S
16TdT
u
×
=
(−31≦u≦15)
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト74：
このバイトは，ラン長[5T，7T，9T]のマーク記録に続く，N/2記録ストラテジの
スペースレベルの開始時間を規定する。
バイト75：
このバイトは，ラン長[4T，6T，8T]の記録マークに続く，N/2記録ストラテジの
スペースレベルの開始時間を規定する。
バイト76：
このバイトは，ラン長3Tの記録マークに続く，N/2記録ストラテジのスペースレ
ベルの開始時間を規定する。
バイト77：
このバイトは，ラン長2Tの記録マークに続く，N/2記録ストラテジのスペースレ
ベルの開始時間を規定する。
バイト78〜99：
使用しない。
15.8.3.5 DIフォーマット3（キャッスル記録ストラテジ）の規定
フォーマット3のDIユニットの主部の内容は，図79に示すとおりに規定する。
103
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト番号
内容
バイト数
0 〜7
DIユニットヘッダﾞ
8
8 〜10
BD 層タイプ識別子
3
11
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
1
12
BD 構造
1
13
チャネルビット長
1
14
プッシュプル極性フラグビット
1
15
記録マーク極性フラグビット
1
16
BCA 記述子
1
17
最大転送レート
1
18 〜23
リザーブ（領域）
6
24 〜31
データゾーンの配置
8
32 〜35
記録速度
4
36 〜39
最大直流読取りパワー
4
40 〜43
最大高周波重じょう(畳）読取りパワー
4
44 〜46
リザーブ（領域）
3
47〜55
記録パワー設定
9
56 〜58
dTC：冷却レベルの開始時間
3
59 〜67
dTtop：Ttopレベルの開始時間
9
68 〜76
Ttop
9
77
TLP：最後のパルスの継続時間
1
78 〜80
dTS：スペースレベルの開始時間
3
81 〜99
使用しないで全て00h とする。
19
100 〜111
DIユニットフッタ
12
レベルの継続時間
図79−DIフォーマット3のディスク情報内容
バイト0〜1：
ディスク情報識別子
15.8.3.2参照。
バイト2：
DIフォーマット番号
このバイトは，BCAコード付きのディスクでは，02hに設定する。
このバイトは，BCAコードなしのディスクでは，82hに設定する。
バイト3：
各DIブロックのDI予備フレーム数及びこのDIユニット適用の層数
15.8.3.2参照。
バイト4：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト5：
DIブロック内のDIユニットの連続番号
15.8.3.2参照。
バイト6：
継続フラグ及びこのDIユニット使用中のDIバイト数
このバイトは，このDIユニットの最初の78バイトを使用し，次のDIユニット
に継続がないことを示す4Ehに設定する。残りのDIユニット主部（DIユニット
最大高周波重畳読取りパワー
104
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
フッタのバイトを除く。）のバイトは，使用せず，00hに設定する。
バイト7：
リザーブ（領域）
15.8.3.2参照。
バイト8〜10：
BD層タイプ識別子
この3バイトは，DIユニットが適用される，BD層のタイプを識別し，各記録層
で，“BDR”の文字を示す42 44 52hに設定する。
バイト11：
ディスクサイズ，クラス及びバージョン
ビットb7〜b6：
この2ビットは，ディスクのサイズを規定する。120 mmディスクを示す00に設
定する。
ビットb5〜b4：
この2ビットは，クラス番号を規定する。クラス番号は，同じ層タイプで異なる
基本特性をもつ，BD層を識別する。
この規格に適合したBD層は，このビットを，00に設定する。
ドライブが，ある特定のクラスの層を認識できない場合は，その層のデータゾー
ンにアクセスしないほうがよい（読取りも記録も行わない。）。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，バージョン番号を規定している。この規格に適合した層である
ことを示す0001に設定する。
バイト12：
BD構造
ビットb7〜b4：
この4ビットは，ディスク上のBDの記録可能層及び記録済みの層の層数の全層
数を規定する。単層ディスクでは，記録層が一つであることを示す0001に設定す
る。
2層ディスクでは，記録層が二つであることを示す0010に設定する。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，このDIユニットを適用する，BDの記録可能層又は記録済み層
の層のタイプを規定する。
ビットb3〜b0は，レコーダブル記録層を示す0010に設定する。
バイト13：
チャネルビット長
ビットb7〜b4：
この4ビットは，0000に設定する。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，メインデータのチャネルビット長を規定し，全てのBD記録層
で同じとする。
チャネルビット長が74.5 nm（25.0 GB/層）であることを示す0001に設定する。
他の設定は，リザーブ（領域）とする。
バイト14：
プッシュプル極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liのプッシュプル信号の極性を規定し，次による（26.1
参照）。
“0”：記録層Liのプッシュプル極性が正
“1”：記録層Liのプッシュプル極性が負
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
バイト15：
記録マーク極性フラグビット
ビットbi：
各ビットbiは，記録層Liの記録マークの極性を規定し，次による。
“0”：記録マークの反射率が未記録層よりも低い層タイプ
（HTLディスク）
105
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
“1”：記録マークの反射率が未記録層よりも高い層タイプ
（LTHディスク）
存在しない記録層に対して，biは，“0”に設定する。
バイト16：
BCA記述子
ビットb7〜b4：
この4ビットは，リザーブ（領域）とする。
ビットb3〜b0：
この4ビットは，ディスク上のBCAコードの有無を示す。
0000：BCAコードなし
0001：BCAコード付き
他の設定は，リザーブ（値）とする。
バイト17：
最大転送レート
このバイトは，アプリケーションが必要とする最大読取転送レートを数値nで規
定し，次による。
n：最大読取転送レート（Mbit/s）
(n≦255，M＝106)
nは，最大転送レートが規定されない場合は，00hに設定する。
バイト18〜23：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト24〜31：
データゾーンの配置
バイト24〜27：
これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最初の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最初の
PAAがPAA 131 072であることを示す00 02 00 00hに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最初の
PAAがFAAであることを示し，25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は，00 26 80h
に設定する。
バイト28〜31：
これらのバイトは，関係する層のデータゾーンの最後の物理ADIPを規定する。
L0層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン0の最後の
PAAがLAAであることを示し，25.0 GB/層の使用者データ容量の場合は，00 19 4E
7Ehに設定する。
L1層に関連する各DIユニットで，これらのバイトは，データゾーン1の最後の
PAAがPAA 4 063 230であることを示す00 3D FF FEhに設定する。
バイト32〜35：
記録速度
バイト32〜33：
これらのバイトは，公称記録速度を規定する。このDIユニットに2バイトの2
進数（バイト32がMSB）で規定するパラメタを用いて使用される。
公称記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vnorm
nは，公称記録速度4.92 m/sを示す場合は，01 EChとし，公称記録速度9.83 m/s
を示す場合は，03 D7hとする。
バイト34：
このバイトは，このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最大記録
速度を規定する。最大記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vmax/V norm (n≧100)
106
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
nは，最大記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。
バイト35：
このバイトは，このDIユニットで規定したパラメタを用いて使用する最小記録
速度を規定する。最小記録速度を数値nとして規定し，次による。
n＝100×Vmin/V norm (n≧100)
nは，最小記録速度が公称記録速度と等しいことを示す64hにする。
バイト36〜39：
最大直流読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取り
ができるディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
この箇条での最大パワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフォル
トとして，30.6に規定したパワーを用いる。
バイト36：
このバイトは，基準速度での最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規定
し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
バイト37〜39：
これらのバイトは，このDIユニットのバイト32及び33で規定する，公称記録
速度に相当する読取速度の場合の最大直流読取りパワーPrを単位ミリワットで規
定し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読取りをする場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証
するために，読取りパワーを下げることが必要になる可能性がある。
バイト40〜43：
最大高周波重畳読取りパワー
最大読取りパワーは，記録信号が劣化することなく少なくとも106回連続読取り
ができる，ディスクの入射面上の最大光パワーとして規定する（30.6参照）。
ここでの最大読取りパワーは，30.6で規定する読取りパワー以上とする。デフォ
ルトとして，30.6に規定したパワーを用いる。
バイト40：
このバイトは，基準速度での最大高周波重畳読取りパワーPrを単位ミリワットで
規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
バイト41〜43：
これらの各バイトは，このDIユニットのバイト32〜33で規定する公称記録速度
に相当する読取速度の場合の，最大読取りパワーPrを単位ミリワットで規定し，
次に示す数値nによる。
n＝100×Pr
注記 規定された最低速度よりも遅い速度で読み取る場合は，ディスク上の記録の耐久性を保証する
ために，読取りパワーを下げることが，必要になる可能性がある。
バイト44〜46：
リザーブ（領域）
これらのバイトは，00hに設定する。
バイト47〜55：
記録パワー設定
バイト47〜48：
PIND：PINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G
参照）。
このバイトは，Ptargetを示唆する値PINDを規定し，次に示す数値nによる。
n＝20×PIND
107
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト49：
mIND：mINDは，OPCで，Ptargetを決めるための開始値として使用できる（附属書G
参照）。
このバイトは，メディア製造業者によって決められる，PINDでの変調度を規定し，
次に示す数値nによる。
n＝200×mIND
バイト50：
ρ：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる記録パワーに
乗じる係数ρを規定し，次に示す数値nによる。
n＝100×ρ
バイト51：
εM：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる中間パワーと
記録ピークパワーとの比εMを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εM
バイト52：
εc：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われる冷却パワーと
記録ピークパワーとの比εcを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εc
バイト53：
εs：このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書G参照）で使われるスペースパワ
ーと記録ピークパワーとの比εsを規定し，次に示す数値nによる。
n＝200×εs
バイト54：
κ：このバイトは，OPC（附属書G参照）で使われるターゲット値κを規定し，
次に示す数値nによる。
n＝20×κ
バイト55：
β：このバイトは，代替のOPC（附属書G参照）で使われるターゲット値βを規
定し，次に示す数値nによる。
n＝500×(β＋0.2)
バイト56〜58：
dTC：冷却レベルの開始時間
これらのバイトは，3T，4T及び5T以上のマークを記録する，キャッスル記録ス
トラテジの記録パルスの冷却レベルの開始時間を規定する（附属書F参照）。冷
却レベルの開始時間dTCは，実際のチャネルビットクロックの分数として，次に
示す符号付きの2の補数kで表される。
W
C
16TdT
k
×
=
(−31≦k≦15)
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト56：
このバイトは，ラン長5T以上のマークを記録する，キャッスル記録ストラテジ
の記録パルスの冷却レベルの開始時間を規定する。
バイト57：
このバイトは，ラン長4Tのマークを記録する，キャッスル記録ストラテジの記
録パルスの冷却レベルの開始時間を規定する。
バイト58：
このバイトは，ラン長3Tのマークを記録する，キャッスル記録ストラテジの記
録パルスの冷却レベルの開始時間を規定する。
バイト59〜67：
dTtop：Ttopレベルの開始時間
これらのバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，ラン長2T，3T又は4T以
上のスペースに続くラン長2T，3T及び4T以上のマークを記録する，キャッスル
108
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
記録ストラテジのマルチパルス列のTtopの部分の開始時間を規定する（附属書F
参照）。
最初のパルスの開始時間dTtopは，実際のチャネルビットクロック周期の分数とし
て，次に示す符号付きの2の補数iで表される。
W
top
16
T
dT
i
×
=
(−16≦i≦15)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト59〜61：
これらのバイトは，最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対する，
ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する，
マルチパルス列の最初のパルスの開始時間を規定する（正の値は進み，負の値は
遅れを示す。附属書F参照）。
バイト59は，ラン長4T以上のスペースに続くラン長4T以上のマークを記録す
る，最初のパルスの開始時間を示す。
バイト60は，ラン長3Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する，
最初のパルスの開始時間を示す。
バイト61は，ラン長2Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する，
最初のパルスの開始時間を示す。
バイト62〜64：
これらのバイトは，最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対する，
ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，マ
ルチパルス列の最初のパルスの開始時間を規定する（正の値は進み，負の値は遅
れを示す。附属書F参照）。
バイト62は，ラン長4T以上のスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，
最初のパルスの開始時間を示す。
バイト63は，ラン長3Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，最初
のパルスの開始時間を示す。
バイト64は，ラン長2Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，最初
のパルスの開始時間を示す。
バイト65〜67：
これらのバイトは，最初のデータパルスのチャネルビットの後エッジに対する，
ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，マ
ルチパルス列の最初のパルスの開始時間を規定する（正の値は進み，負の値は遅
れを示す。附属書F参照）。
バイト65は，ラン長4T以上のスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，
最初のパルスの開始時間を示す。
バイト66は，ラン長3Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，最初
のパルスの開始時間を示す。
バイト67は，ラン長2Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，最初
のパルスの開始時間を示す。
バイト68〜76：
Ttopレベルの継続時間
これらのバイトは，ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長2T，3T
及び4T以上のマークを記録する，キャッスル記録ストラテジのTtopレベルの記録
109
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
パルスの継続時間を規定する（附属書F参照）。これらのバイトの最初の6ビッ
ト（ビットb7〜b2）は，実際のチャネルビットクロック周期の分数として，Ttop
レベルの長さを規定し，次に示す正の2進数jによる。
W
top
16TT
j
×
=
(0≦j≦46)
これらのバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とす
る。
バイト68〜70：
これらのバイトは，ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長4Tのマ
ークを記録する，記録パルスのTtopレベルの継続時間を規定する（附属書F参照）。
バイト68は，ラン長4T以上のスペースに続くラン長4T以上のマークを記録す
る，最初のパルスの継続時間を表す。
バイト69は，ラン長3Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する，
最初のパルスの継続時間を表す。
バイト70は，ラン長2Tのスペースに続くラン長4T以上のマークを記録する，
最初のパルスの継続時間を表す。
バイト71〜73：
これらのバイトは，ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長3Tのマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続時間を規定する（附属書
F参照）。
バイト71は，ラン長4T以上のスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，
最初のパルスの継続時間を表す。
バイト72は，ラン長3Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，最初
のパルスの継続時間を表す。
バイト73は，ラン長2Tのスペースに続くラン長3Tのマークを記録する，最初
のパルスの継続時間を表す。
バイト74〜76：
これらのバイトは，ラン長2T，3T又は4T以上のスペースに続くラン長2Tのマ
ークを記録する，マルチパルス列の最初のパルスの継続時間を規定する（附属書
F参照）。
バイト74は，ラン長4T以上のスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，
最初のパルスの継続時間を表す。
バイト75は，ラン長3Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，最初
のパルスの継続時間を表す。
バイト76は，ラン長2Tのスペースに続くラン長2Tのマークを記録する，最初
のパルスの継続時間を表す。
バイト77：
TLP：最後のパルスの継続時間
このバイトは，ラン長4T以上のマークを記録する，キャッスル記録ストラテジ
の記録パルスの最後のパルスの長さを規定する（附属書F参照）。
このバイトの最初の5ビット（ビットb7〜b3）は，実際のチャネルビットクロッ
ク周期の分数としてTLPレベルの長さを規定し，次に示す正の2進数sによる。
W
LP
16TT
s
×
=
(0≦s≦31)
110
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
このバイトの最後の3ビット（ビットb2〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト78〜80：
dTS：スペースレベルの開始時間
これらのバイトの最初の6ビット（ビットb7〜b2）は，ラン長2T，3T又は4T以
上のマーク記録に続く，キャッスル記録ストラテジのスペースレベルの開始時間
を規定する（正の値は進み，負の値は遅れを示す。附属書F参照）。
スペースレベルの開始時間dTSは，実際のチャネルビットクロック周期の分数と
して，次に示す符号付きの2の補数uで表される。
W
S
16TdT
u
×
=
(−31≦u≦15)
このバイトの最後の2ビット（ビットb1〜b0）は，リザーブ（領域）とする。
バイト78：
このバイトは，ラン長4T以上のマーク記録に続く，キャッスル記録ストラテジ
の記録パルスのスペースレベルの開始時間を規定する。
バイト79：
このバイトは，ラン長3Tのマーク記録に続く，キャッスル記録ストラテジの記
録パルスのスペースレベルの開始時間を規定する。
バイト80：
このバイトは，ラン長2Tのマーク記録に続く，キャッスル記録ストラテジの記
録パルスのスペースレベルの開始時間を規定する。
バイト81〜99：
使用しない。
15.8.3.6 記録ストラテジの要求事項
この規格によるディスクの記録ストラテジの要求事項を，図80に示す。
記録ストラテジﾞ
ﾃﾞｨｽｸﾀｲﾌﾟ
記録速度
N-1
N/2
キャッスル
1x
必須
任意
---
2x
任意a)
任意a)
任意
4x
---
---
必須
HTL
6x
---
---
必須
1x
必須
任意
---
2x
任意a)
任意a)
任意
4x
---
---
必須
LTH
6x
---
---
必須
---：この規格では適用不可。
キャッスル記録ストラテジは，4x及び6xディスクだけ許される。
図5（ディスクの記録速度要求事項）も参照。
注a) 2xだけのデバイスとの互換性を確保するためには，少なくとも二つの記録
ストラテジ中一つがあり，最も推奨する記録ストラテジに設定する。
図80−記録ストラテジタイプの要求事項
15.8.3.7 記録ストラテジのDIユニットの使用方法
DIフォーマット番号（バイト2）で識別される複数のDIユニットの概念を使うことによって，BDのシ
ステムは，バックワード互換を最善の方法で確保しながら，1，2又はそれ以上の記録層に対して異なる記
111
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
録速度でディスクを（将来に）容易に使うことができる。
一般的に，異なる記録速度でそれぞれ異なる記録ストラテジ（異なるパラメタセット）が必要になる可
能性があり，さらに，記録ストラテジは，応用した技術に依存する可能性がある。
なお，各記録層は，記録パラメタの異なる値の組合せが必要になる可能性がある。
2xディスク，4xディスク及び6xディスクの一連のDIの例
2xディスク
“2x”と呼ばれるディスクは（使える記録速度は，基準速度の1倍及び2倍とする。），単層及び2層の
記録層をもつことができる。
これらのディスクは，少なくとも各記録層に対して，二つのDIユニットをもつ。一つは1xの記録速度
のパラメタをもち，他は2xの記録速度のパラメタをもつ（図81参照）。
代替の記録ストラテジパラメタセットをもつDIユニットは，使いたい順番で追加してもよい（図75参
照）。
1x記録速度のパラメタを規定するDIユニットで，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度4.92 m/sを示す01 EChに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
2x記録速度のパラメタを規定するDIユニットで，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度9.83 m/sを示す03 D7hに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
112
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
2x ディスク(SL)
1x N‒1 &2x N/2
記録ストラテジをもつ
2x ディスク(DL)
1x ＆2x N‒1 (L0層)
及び
1x N‒1 及び2x N/2 (L1層)
記録ストラテジをもつ
バイト2: DIフォーマット番号
1
バイト2: DIフォーマット番号
1
バイト3: DI / L#の#
2/0
バイト3: DI / L#の#
4/0
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
0
バイト5: 連番#
0
バイト6のmsb :
0
バイト6のmsb :
0
バイト32 〜35: 速度
1x
バイト32 〜35: 速度
1x
バイト36 〜85: 記録ストラテジ
N‒1
バイト36 〜85: 記録ストラテジﾞ
N‒1
バイト2: DIフォーマット番号
2
バイト2: DIフォーマット番号
1
バイト3: DI / L#の#
2/0
バイト3: DI / L#の#
4/1
バイト4: ---
00h
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
1
バイト5: 連番#
1
バイト6のmsb :
0
バイト6のmsb:
0
バイト32 〜35: 速度
2x
バイト32 〜35: 速度
1x
バイト36 〜77: 記録ストラテジ
N/2
バイト36 〜85: 記録ストラテジ
N‒1
バイト2: DIフォーマット番号
1
繰返し
バイト3: DI / L#の#
4/0
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
2
バイト6のmsb:
0
バイト32 〜35: 速度
2x
バイト36 〜85: 記録ストラテジﾞ
N‒1
バイト2: DIフォーマット番号
2
バイト3: DI / L#の#
4/1
バイト4: ---
00h
バイト5: 連番#
3
バイト6のmsb:
0
バイト32 〜35: 速度
2x
バイト36 〜77: 記録ストラテジ
N/2
繰返し
図81−2xディスクの一連のDIの例
4xディスク
記録層を一つ（単層ディスク）又は二つ（2層ディスク）もつことができる，“4x”ディスク（適用でき
る記録速度は，基準速度の1倍，2倍及び4倍とする。）と呼ばれるディスクに対し，この規格ではパラメ
タが定義されている（図82参照）。各記録層は，図80に示される記録ストラテジの要求事項を満たす。
これらのディスクは，各記録層に対して少なくとも三つのDIユニットをもつ。一つは，1x記録速度の
パラメタを含み，一つは2x記録速度のパラメタを含み，そして一つは4x記録速度のパラメタを含む。代
替の記録ストラテジパラメタセットを含むDIユニットは，使いたい順番に追加してもよい（図75参照）。
1x記録のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度4.92 m/sを示す01 EChに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
113
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
2x記録速度のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度9.83 m/sを示す，03 D7hに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
4x記録速度のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度19.68 m/sを示す，07 B07hに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
114
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
1x N‒1 &2x N/2
&4x
1x &2x N-1& 4x
(L0層)
及び
1x N-1 &2xN/2 & 4x
(L1層)
1
1
3/0
6/0
00h
00h
0
0
0
0
1x
1x
N‒1
N‒1
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85: 記録ストラテジ
2
1
3/0
6/1
00h
00h
1
1
0
0
2x
1x
N/2
N‒1
3
1
N/2
3
6/0
00h
4
0
4x
3
6/1
00h
5
0
4x
3/0
6/0
00h
00h
2
2
0
0
4x
2x
キャッスル
N‒1
2
6/1
00h
3
0
2x
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜77: 記録ストラテジ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80: 記録ストラテジ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85: 記録ストラテジ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85: 記録ストラテジ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85: 記録ストラテジ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜77: 記録ストラテジ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80: 記録ストラテジﾞ
2: DIフォーマット番号
3: DI
4: ---
5: 連番#
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80: 記録ストラテジ
4x ディスク(SL)
1x N‒1 &2x N/2
&4x キャッスル
記録ストラテジをもつ
4x
(DL)
1x &2x N-1& 4x
(L0層)
及び
1x N-1 &2xN/2 & 4x
(L1層)
記録ストラテジをもつ
1
1
3/0
6/0
00h
00h
0
0
0
0
1x
1x
N‒1
N‒1
バイト2: DIフォーマット番号
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: D
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2
1
3/0
6/1
00h
00h
1
1
0
0
2x
1x
N/2
N‒1
3
1
N/2
3
6/0
00h
4
0
4x
キャッスル
3
6/1
00h
5
0
4x
キャッスル
3/0
6/0
00h
00h
2
2
0
0
4x
2x
N‒1
2
繰返し
6/1
00h
3
0
2x
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜77:
2: DI
3: DI/L#の＃
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜77:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜85:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜77:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜77:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80:
2: DI
3: DI
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80:
2: DI
3: DI/L#の#
4: ---
5: 連番
6のmsb:
32 〜35: 速度
36 〜80:
キャッスル
キャッスル
ディスク
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
バイト
図82−4xディスクの一連のDIの例
115
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
6xディスク
記録層を一つ（単層ディスク）又は二つ（2層ディスク）もつことができる，“6x”ディスク（適用でき
る記録速度は，基準速度の1倍，2倍，4倍及び6倍とする。）と呼ばれるディスクに対し，この規格では
パラメタが定義されている（図83参照）。各記録層は，図80に示される記録ストラテジの要求事項を満
たす。
これらのディスクは，各記録層に対して少なくとも四つのDIユニットをもつ。一つは1x記録速度のパ
ラメタを含み，一つは2x記録速度のパラメタを含み，一つは4x記録速度のパラメタを含み，そして一つ
は6x記録速度のパラメタを含む。代替の記録ストラテジパラメタセットを含むDIユニットを，使いたい
順番で追加してもよい（図75参照）。
1x記録のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度4.92 m/sを示す，01 EChに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
2x記録速度のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度9.83 m/sを示す，03 D7hに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
4x記録速度のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度19.68 m/sを示す，07 B07hに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
6x記録速度のパラメタを規定するDIユニットでは，バイト32〜35は，次のとおりに設定される。
− バイト32〜33： これらのバイトは，公称記録速度29.50 m/sを示す，0B 86hに設定
− バイト34：
このバイトは，最大記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
− バイト35：
このバイトは，最小記録速度が公称記録速度と同じことを示す64hに設定
6xディスク
1x N-1& 2x N/2 & 4x & 6xキャッスル
記録ストラテジをもつ
6xディスク
1x & 2x N-1& 4x & 6ｘキャッスル(L0層)
及び
1x N-1& 2x N/2 & 4x & 6x キャッスル(L1層)
記録ストラテジをもつ
1
1
3
4/0
8/0
8/0
00h
00h
00h
0
0
4
0
0
0
1x
1x
4x
N‒1
N‒1
キャッスル
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜85: 記録ストラテジ
2
1
3
4/0
8/1
8/1
00h
00h
00h
1
1
5
0
0
0
2x
1x
4x
N/2
N‒1
キャッスル
3
1
3
4/0
8/0
8/0
00h
00h
00h
2
2
6
0
0
0
4x
2x
6x
キャッスル
N‒1
キャッスル
3
2
3
4/0
8/1
8/1
00h
00h
00h
3
3
7
0
0
0
6x
2x
6x
キャッスル
N/2
キャッスル
繰返し
繰返し
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜77: 記録ストラテジ
バイト2: DIﾌｫｰﾏｯﾄ番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜80: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜80: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜85: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜85: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜85: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜77: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜80: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜80: 記録ストラテジ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜80: 記録ストラテジﾞ
バイト2: DIフォーマット番号
バイト3: DI/L#の#
バイト4: ---
バイト5: 連番#
バイト6のmsb:
バイト32 〜35: 速度
バイト36 〜80: 記録ストラテジ
図83−6xディスクの一連のDIの例
2
X
6
2
3
0
：
2
0
1
7
(I
S
O
/IE
C
3
0
1
9
0
：
2
0
1
6
)
117
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
16 情報ゾーンの概要
16.1 一般
情報ゾーンは，データ交換に関する全てのディスク上の情報を含み，d9〜d10までの情報領域の中に位置
している（10.8.1及び図16参照）。
内側ゾーン0の内周部（保護ゾーン1＋PIC）は，ディスクに関する転写情報をもつことができる，HFM
グルーブをもつ。内側ゾーンの他の部分，データゾーン及び外側ゾーンは，ウォブルグルーブ上に情報を
記録することができる記録領域を構成している。
16.2 単層ディスクの情報ゾーンのフォーマット
一貫性の理由から，単層ディスクの一つだけの記録層もL0層と呼ばれる。
SLディスクの情報ゾーンは，リードインゾーン（内側ゾーン0の一部），データゾーン0及びリードア
ウトゾーン（外側ゾーン0）の，三つの部分に分けられる（図84参照）。
データゾーンは，使用者データの記録に当てられる。リードインゾーンは，転写及び記録による制御情
報並びにディスク及びドライブのテスト領域を含んでいる。リードアウトゾーンは，円滑な終了を可能に
し，また制御情報をもっている。
16.3 2層ディスクの情報ゾーンのフォーマット
2層ディスクの情報ゾーンは，L0層のリードインゾーン（内側ゾーン0の一部），データゾーン0及び
外側ゾーン0，並びにL1層の外側ゾーン1，データゾーン1及びリードアウトゾーン1（内側ゾーン1の
一部）の，六つの部分に分けられる（図84及び図85参照）。
データゾーン0及びデータゾーン1は，使用者データの記録に当てられる。リードインゾーン及びリー
ドアウトゾーンは，転写及び記録による制御情報並びにディスク及びドライブのテスト領域を含んでいる。
外側ゾーン0及び外側ゾーン1は，各層の円滑な導入又は終了を可能にし，また制御情報をもっている。
17 情報ゾーンの記録領域の構成
情報ゾーンの記録領域は，内側ゾーン，データゾーン及び外側ゾーンの部分から構成されている。図84
に示す開始半径は，各ゾーンの最初又は最後のグルーブトラックの中心の公称値である。
図84に示す物理ADIPアドレス（PAA）は，各ゾーンのグルーブトラックの開始又は終了アドレスであ
る。ゾーン当たりの，記録できる物理クラスタ（RUB）数も示している。
118
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
図84に示す値は，25.0 GB及び50.0 GBの容量をもつディスクに対する値である。
L0層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
ゾーンの最初の
PAA
:
物理
クラスタ数
第1遷移領域
終了半径
11.5 mm
クランプゾーン
開始半径
11.5 mm
終了半径
16.5 mm
第2遷移領域
開始半径
16.5 mm
終了半径
21.0 mm
開始半径
21.0 mm
“
グルーブﾞ
BCA
22.2
---
---
ｴﾝﾎﾞｽ
HFM
(HFM
ｸﾞﾙｰﾌﾞ)
PIC
22.512
(最初の
AUN =
000D
8E C0h
:
最後の
AUN =
000D
A3
FEh)
2720
(×4KB)
リードイン
23
01 B4 80h
:
224
ゾーン０
(内側ゾーン
の一部)
INFO2
23
01 B8 00h
:
256
OPC
23
01 BC 00h
:
01 DBFEh
2048
情報領域
23
01 DC 00h
:
01 FBFEh
2
記録可能
23
01 FC 00h
:
01 FFFEh
256
(ウォブル
24
02 00 00h
)
データ
:
:
LAA
381
INFO 3/4
:
:
268
DCZ
0
58.017
:
LAA
512
トラッキング方向
リードアウト
ゾーン/
外側ゾーン０
58.049
LAA + C32h
:
---
終了半径
58.5 mm
リム領域
開始半径
58.5 mm
ゾーンの最後の
PAA
保護ｿﾞｰﾝ
1
保護ゾーン3
L0層
記載事項
公称
開始半径
(mm)
PAA
:
物理
第1遷移領域
開始半径
11.5 mm
終了半径
16.5 mm
第2遷移領域
開始半径
16.5 mm
終了半径
21.0 mm
開始半径
21.0 mm
幅広ピッチ”
BCA
22.2
---
---
エンボス
HFM
(HFM
グルーブ)
PIC
22.512
(最初の
AUN =
000D 8E C0h
:
最後の
AUN =
000D A3 FEh)
2720
(×4KB)
23.252
:
01 B7FEh
224
(
の一部)
23.289
:
01 BBFEn
256
OPC0
23.329
01 BC 00h
:
情報領域
TDMA0
23.647
01 DC 00h
:
2048
記録可能
INFO1
23.961
01 FC 00h
:
256
(
24.000
02 00 00h
グルーブ)
ゾーン0
:
:
LAA
381856
INFO 3/4
58.000
LAA +
2h
:
:
LAA + 430h
268
DCZ
0
58.017
LAA + 432h
:
+ C30h
512
情報ゾーン
/
58.049
:
---
終了半径
58.5 mm
開始半径
58.5 mm
PAA
保護ゾーン1
保護ゾーン2
図84−L0層の情報ゾーンの構成
119
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
図85に示す値は，50.0 GBの容量をもつディスクに対する値である。
L1層
記載事項
公称
終了半径
(mm)
最後のPAA
ゾーン
:
物理
クラスタ数
終了半径
21.0 mm
“幅広ピッチ”
グルーブ
ウォブル
グルーブ
22.2
:
3E 94 00h
---
バッファゾーン
22.512
3E 93 FEh
:
3E 7E 00h
1408
OPC1
22.740
3E 7D FEh
:
3E 5E 00h
2408
リードアウト
ゾーン
23.067
3E 5D FEh
:
3E 48 00h
1408
(内側ゾーン1
の部分)
INFO2
23.289
3E 47 FEh
:
3E 44 00h
256
TDMA1
23.329
3E 43 FEh
:
3E 24 00h
2408
情報領域
リザーブ領域
23.647
3E 23 FEh
:
3E 04 00h
2408
記録可能
INFO1
23.961
3E 03 FEh
:
3E 00 00h
256
(ウォブル
24.000
3D FF FEh
グルーブﾞ）
データ
ゾーン１
:
:
FAA a)
381856
INFO3/4
58.000
FAA−
2h
:
FAA−4 30h
268
DCZ1
58.017
FAA−4 32h
:
FAA−C 30h
512
トラッキング方向
情報ゾーン
外側
ゾーン１
58.049
FAA−C 32h
:
---
開始半径58.5 mm
最初のPAA
保護ゾーン１
保護ゾーン3
ゾーン
バッファゾーン
注a) FAA＝LAA＋C0 00 01h（15.7.4.3参照）
図85−L1層の情報ゾーンの構成
120
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
物理セクタの番号付けは，次による。
− 一つのクラスタは，32物理セクタをもち，各物理セクタは，2Kデータバイト（2 048バイト）である。
ディスクに記録したデータには2Kバイト単位の番号は含まれないが，各物理セクタは，（仮の）物理
セクタ番号（PSN）と関連付けられる。
− PSNは，関連する記録層のトラッキング方向に続く物理セクタで，一つずつ増加する。
− 各物理クラスタの最初の物理セクタのPSNは，32の倍数である。
− PSNのPS31〜PS27のビットは，リザーブ（領域）とする。
− PSNのPS26〜PS24のビットは，層番号を設定する。
− データゾーン0の最初のPSNは，00 10 00 00hである。
− データゾーン0の最後のPSNは，8×LAA＋15で，25.0 GB及び50.0 GBのディスクでは，00 CA 73 FFh
である。
− データゾーン1の最初のPSNは，8×FAAで，50.0 GBのディスクでは，01 35 8C 00hである。
− データゾーン1の最後のPSNは，01 EF FF FFhである。
MSB
“0”
LSB
AU31
PS31
PS27PS26
AU8
PS8
AU0
PS0
AU1
AU23
PS23
AU24
PS24
AU26
AU27
AU15
PS15
AU7
PS7
AU5
PS5
AU4
PS4
AU16
PS16
PSN
物理ADIPアドレス
クラスタ中で
カウント
AA23
AA21AA20
AA0
AA1
AA2
AA15
AA16
AA17
AA7
AA8
アドレスユニット番号
00,01,10に設定
連続で
層番号に設定
図86−PSNから派生する物理ADIPアドレス
これらのPSNは，ECCクラスタのBIS列に記録するアドレスユニット番号に変換される（13.9.2参照）。
図86に規定するとおりに，物理ADIPアドレスは，PSN及びAUNから派生する。このPAAによって，
データを記録しなければならないディスクの場所が，識別される。
18 内側ゾーン
18.1 一般
L0層の情報ゾーンの最内ゾーンは，リードインゾーンと呼ばれる。L1層の情報ゾーンの最内ゾーンは，
リードアウトゾーンと呼ばれる。
121
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
内側ゾーン0は，エンボスHFM領域及び記録領域を含んでいる。内側ゾーン1は，エンボスウォブル
部分及び記録領域を含む（図87及び図88参照）。
L0層のエンボスHFM領域で，全てのグルーブは，15.5に規定するフォーマットでエンコードする。
L0層でエンコードは，最初のクラスタのAUNを00 0D 85 F4hとし，半径
0.0
0.1
2.
22
− mmで開始する。
アドレスは，15.5.3.2に規定するとおりに連続で増加させ，PICゾーンの最外半径の最後の4Kクラスタ
のAUN＝00 0D A3 FEhで終了する。
内側ゾーン0の保護ゾーン1では，データフレームの内容は，全て00hに設定するか又はPICゾーンの
内容と同じにするかのいずれかにできる。
保護ゾーン1は，PICゾーンがBCAコードで上書きされないように，保護のためにある。
不変情報・制御データ（PIC）ゾーンは，ディスクの一般情報及び種々の他の情報をエンボスHFMグル
ーブに保存できる。
記録領域及びウォブルグルーブ領域（L1層の保護ゾーン1）では，全てのグルーブを15.6の規定によっ
てウォブルする。
内側ゾーンの記録領域は，OPC（最適パワー制御）を実行すること及びディスク管理情報，制御情報な
どのディスクに関する特有の情報を保存するために，使用される。ドライブがその特有の情報を保存する
ために使用可能なゾーンも，確保されている。
122
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
内側
ゾーン0
記載事項
ゾーンの
最初のPAA物理クラスタ数
目的
---
---
---
エンボス
HFM
PIC
---
---
不変情報･制御データゾーン
---
01 B4 80h
224
---
リザーブ（領域）8
01 B8 00h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）7
01 B8 80h
32
リザーブ（領域）6
01 B9 00h
32
リザーブ（領域）5
01 B9 80h
32
PAC 2
01 BA 00h
32
物理ｱｸｾｽ制御
DMA 2
01 BA 80h
32
ディスク管理
記録可能
コントロールデータ201 BB 00h
32
データ情報
INFO2
バッファ2
01 BB 80h
32
---
トラッキング方向
テストゾーン
01 BC 00h
2044
OPC テスト
OPC0
OPC 0 バッファ
01 DB F0h
4
バッファ
TDMA0
---
01 DC 00h
2048
仮DM 領域
プリ記録領域
01 FC 00h
32
ドライブ校正
ドライブ領域
01 FC 80h
32
ドライブ特有の情報
01 FD 00h
32
01 FD 80h
32
01 FE 00h
32
DMA 1
01 FE 80h
32
ディスク管理
コントロールデータ101 FF 00h
32
データ情報
INFO1
PAC 1
01 FF 80h
32
物理アクセス制御
（データゾーン0）02 00 00h
保護ゾーン1
保護ゾーン2
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
図87−内側ゾーン0（リードインゾーン）
123
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
記録可能
コントロールデータ23E 44 80h
32
データ情報
DMA 2
3E 45 00h
32
ディスク管理
PAC 2
3E 45 80h
32
物理アクセス制御
リザーブ（領域）5
3E 46 00h
32
将来の拡張
リザーブ（領域）6 3E 46 80h
32
リザーブ（領域）73E 47 00h
32
トラッキング方向
INFO2
リザーブ（領域）83E 47 80h
32
内側
ゾーン1
記載事項
ゾーンの
最初のPAA
物理クラスタ数
目的
（データゾーン1）
PAC 1
3E 00 00h
32
物理アクセス制御
コントロールデータl 3E 00 80h
32
データﾀ情報
DMA 1
3E 01 00h
32
ディスク管理
ドライブ領域
3E 01 80h
32
ドライブ特有の情報
3E 02 00h
32
3E 02 80h
32
3E 03 00h
32
INFO1
プリ記録領域
3E 03 80h
32
ドライブﾞ校正
リザーブ（領域）
---
3E 04 00h
2048
将来の拡張
TDMA1
---
3E 24 00h
2048
仮DM 領域
バッファ2
3E 44 00h
32
---
バッファ
---
3E 48 00h
1408
---
OPC1
テストゾーン
3E 5E 00h
2048
OPCテスト
---
3E 7E 00h
1408
---
ウォブル
グルーブ
保護ゾーン1
---
---
---
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
将来の拡張
将来の拡張
将来の拡張
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
ドライブ特有の情報
図88−内側ゾーン1（リードアウトゾーン）
18.2 不変情報・制御データ（PIC）ゾーン
18.2.1 一般
不変情報・制御データ（PIC）ゾーンは，ディスク情報などの種々の目的のためのデータをもつ，エン
ボスHFM領域である。特定のPICが供給されない場合は，全ての使用者データを（スクランブルする前
の），00hに設定する。不変情報・制御データ（PIC）は，L0層にだけ存在する。
18.2.2 PICゾーンの内容
PICゾーンは，PIC情報フラグメントを5回繰り返して構成する。ここに，各PIC情報フラグメントは，
544のPICクラスタから構成されている（全体では2 720で，図89参照）。PICクラスタは，15.5の規定に
従ってフォーマットする。
PIC情報フラグメントは，L0層の各AUN，00 0D 8E C0h，00 0D 93 00h，00 0D 97 40h，00 0D 9B 80h及
び00 0D 9F C0hで開始する。
124
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
PIC情報フラグメント番号
PICクラスタ番号
L0層のAUN
0
00 0D 8E C0h
1
00 0D 8E C2h
IF0
2
00 0D 8E C4h
:
:
543
00 0D 92 FEh
0
00 0D 93 00h
IF1
:
:
543
00 0D 97 3Eh
0
00 0D 97 40h
IF2
:
:
543
00 0D 9B 7Eh
0
00 0D 9B 80h
IF3
:
:
543
00 0D 9F BEh
0
00 0D 9F C0h
IF4
:
:
543
00 0D A3 FEh
図89−PICゾーン
各情報フラグメントの最初のPICクラスタは，ADIP予備フレームにあるディスク情報ブロックの複製
をもつ（15.8.3及び図90参照）。ディスク情報予備フレームの最初の112バイトだけを含む（32パリティ
バイトは，除く。）。32 DIユニット以下の場合は，3 584バイトまでの残りのバイトは，00hに設定する。
各PIC情報フラグメントの最初のPICクラスタの最後の512バイトは，緊急制動（EB）データセットを
もつ（18.2.3及び図90参照）。
PIC クラスタ中の
バイト位置
内容
バイト数
0 〜111
DI ユニット0
112
112 〜223
DI ユニット1
112
:
:
112×28
3360 〜3471
DI ユニット30
112
3472 〜3583
リザーブ（領域）
112
3584 〜4095
EB データセット
512
図90−各情報フラグメントの最初のPICクラスタ
全ての他のPICクラスタは，アプリケーションに規定する場合を除いてリザーブ（領域）とする。
18.2.3 緊急制動
保護措置として，破壊的な誤動作を防ぐために，特別の取扱いを必要とするディスクを特定のモデルの
ドライブが認識するために使うことができるように，データセットを規定する。
このデータセットは，緊急制動（EB）データと呼ばれる。
125
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
EBデータは，各情報フラグメントの最初のPICクラスタの，3 584バイト〜4 095バイトに規定する。
EBデータは，EBヘッダ，EBデータフィールド及びEBフッタで，構成される。EBデータフィールドは，
例えば，ディスク又はドライブの破損を防ぐためというような，特定のドライブがディスクを扱うために
特定の動作を要求するという合意がある場合に限り，関係するディスク製造業者とドライブ製造業者との
相互で導入する。最大で62個のEBデータフィールドを用意してもよい。
EBデータは，図91に示すとおりに実装する。
バイト番号
機能
記載事項
バイト数
3584 〜3585
識別子
2
3586
バージョン
1
3587
リザーブ（領域）
1
3588
リスト長
1
3589 〜3591
EB
ヘッダ
リザーブ（領域）
3
3592 〜3593
ドライブﾞ製造業者ID
-
2
3594 〜3595
ドライブモデル
2
3596 〜3597
ファームウェアバージョン
2
3598 〜3599
EB
データフィールド
1
ドライブアクション
2
:
:
:
:
:
:
:
:
(3584+i×8) 〜(3584+i ×8) + 1
2
(3584+i ×8) + 2 〜(3584+i ×8) + 3
2
(3584+i ×8) + 4 〜(3584+i ×8) + 5
2
(3584+i ×8) + 6 〜(3584+i ×8) + 7
EB
i
(1 ≦i≦N)
2
:
:
:
:
:
:
:
:
(3584+N×8) 〜(3584+N×8) + 1
2
(3584+N×8) + 2 〜(3584+N×8) + 3
2
(3584+N×8) + 4 〜(3584+N×8) + 5
2
(3584+N×8) + 6 〜(3584+N×8) + 7
EB
N
(N≦62)
2
[3584+(N+1)×8]
〜[3584+(N+1)×8] + 7
EB フッタ
終端子
8
[3584+(N+2) ×8] 〜4095
未使用
リザーブ（領域）
512 ‒(N+2) ×8
データフィールド
データフィールド
ドライブﾞ製造業者ID
ドライブﾞ製造業者ID
ドライブモデル
ドライブモデル
ファームウェアバージョン
ファームウェアバージョン
ドライブアクション
ドライブアクション
図91−緊急制動データの規定
バイト3 584〜3 585：EB識別子
これらのバイトは，“EB”の文字を表す，45 42hに設定する。
バイト3 586：EBバージョン
このバイトは，EBフォーマットのバージョン1を表す，01hに設定する。
バイト3 587：リザーブ（領域）
このバイトは，00hに設定する。
126
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト3 588：長さNのEBリスト
このバイトは，EBデータフィールドの数を表す。
EBデータフィールドがない場合は，このバイトは，00hに設定する。
バイト3 589〜3 591：リザーブ（領域）
これらのバイトは，00 00 00hに設定する。
バイト(3 584＋i×8)〜(3 584＋i×8)＋1 (1≦i≦N)：ドライブ製造業者ID
これらの2バイトのフォーマット及び内容は，データ交換する受渡当事者間で合意が必要で，合意
がなければこれらのバイトは，00hに設定する。
バイト(3 584＋i×8)＋2〜(3 584＋i×8)＋3 (1≦i≦N)：ドライブモデル番号
これらの2バイトは，ドライブのモデル番号を表し，ドライブ製造業者が規定する。この規格は，
これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視する。
バイト(3 584＋i×8)＋4〜(3 584＋i×8)＋5 (1≦i≦N)：ドライブファームウェアバージョン
これらの2バイトは，ドライブのファームウェアバージョンを表し，ドライブ製造業者が規定する。
この規格は，これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視する。
バイト(3 584＋i×8)＋6〜(3 584＋i×8)＋7 (1≦i≦N)：ドライブ製造業者動作
これらの2バイトは，ドライブモデルが，ディスクを扱うために行う動作を表す。ドライブの製造
業者が規定する。この規格は，これらのバイトの規定をしていない。互換性を確保するためには無視
する。
バイト[3 584＋(N＋1)×8]〜[3 584＋(N＋1)×8]＋7 (0≦N≦62)：EB終端子
これらのバイトは，EBデータの最後を示すために，FF FF FF FF FF FF FF FFhに設定する。
バイト[3 584＋(N＋2)×8]〜4 095 (0≦N≦62)：リザーブ（領域）
これらのバイトは，リザーブ（領域）とする。
18.3 内側ゾーン0の記録領域
18.3.1 保護ゾーン2
このゾーンは224物理クラスタから構成され，PAA 01 B4 80hから始まり，エンボスHFM領域から記録
領域への移行のバッファゾーンとしている（15.4.4参照）。
18.3.2 INFO2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 B8 00hから始まり，アプリケーションに依存して
いる。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
18.3.3 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 B8 80hから始まり，未記録のままとする。
18.3.4 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 B9 00hから始まり，未記録のままとする。
18.3.5 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 B9 80hから始まり，アプリケーションに依存して
いる。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いてこのゾーンは未記録のままと
127
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
する。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
18.3.6 INFO 2のPAC 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 01 BA 00hから始まり，物理アクセス制御
（PAC）クラスタを保存するために使用される（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは，未記録の
ままとする。
18.3.7 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 BA 80hから始まり，ディスク管理システムが用い
る。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），これらのクラスタは，未記録のままとする。
18.3.8 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 01 BB 00h及びL1層のPAA 3E 44 80hから始
まり，制御情報が保存される。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで，未記録のままとす
る。
18.3.9 INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 BB 80hから始まり，未記録のままとする。
18.3.10
OPC 0のテストゾーン
テストゾーンは2 044物理クラスタから構成され，PAA 01 BC 00hから始まり，テスト及び／又はOPC
のために予約されている。OPC 0領域は，18.3.11に従って用いる。
18.3.11
OPC領域の使用方法
18.3.11.1
OPCの順番
OPC領域は，PAAが減少する順番に連続して用いる。OPCで最初に用いる領域は，最後のPAAの終端
で終了する。OPC領域の最後に使える物理クラスタは，OPC領域の最初のPAAに位置する（図92参照）。
<< ----------<< -
2044
>>--------------------------->>
P
A
A
:0
0
0
1
B
C
0
0
h
P
A
A
:0
0
0
1
D
B
E
E
h
P
A
A
:0
0
3
E
5
E
0
0
h
P
A
A
: 0
0
3
E
7
D
F
E
h
トラック方向
L0層
OPC0
L1層
OPC1
2043
2042
1
2
3
4
OPC使用方向
2 048
2 047
2 046
1
2
3
OPC使用方向
トラック方向
4
図92−L0層及びL1層のOPC領域の使用方向
128
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
18.3.11.2
OPC物理クラスタ使用方法
OPCに用いる長さは，ドライブが選んでもよく，また，物理クラスタの整数倍に制限されない（図93
参照）。用いたOPC領域と未使用の領域との移行部分は，OPCマーカによって示す。いずれの二つの連続
するOPCマーカの間の距離も，16物理クラスタを超えてはならない。OPCが16物理クラスタよりも多く
必要な場合は，この要求事項を満たすようにOPCマーカを挿入する。OPCマーカは，少なくとも868 NWL
（一つのAUNと同じ）の長さとし，この領域の変調度は，次による。
I8pp/I8H≧0.30
クラスタ#N
クラスタ#N‒1
クラスタ#N‒2
クラスタ#P+1
記録方向
OPC領域
クラスタ#P
O
PC
#
M
+
1
O
PC
マ
ー
カ
# M
O
P
C
#
M
O
PC
マ
ー
カ
# M
+
1
O
PC
#
M
+
2
O
PC
マ
ー
カ
# M
+
2
OPC＃Mは，1クラスタの長さに等しく，OPC＃M＋1は，1クラスタを超え，OPC＃M＋2は1クラスタよりも短い。
図93−OPCマーカの位置の例
18.3.11.3
TDMAでのOPC更新
各OPCは，TDDSの中の“Ln層のテストゾーンの次に使用できるPSN”を更新して終了する（22.4.4
参照）。
18.3.12
OPC 0のOPC 0バッファ
このゾーンは4物理クラスタから構成され，PAA 01 DB F0hから始まり，OPC 0領域からTDMA 0領域
へのバッファゾーンに用い，未記録のままとする。
18.3.13
TDMA 0
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 01 DC 00hから始まり，一時的な仮ディスク管理領
域として用いられる。
18.3.14
INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 FC 00hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L0層を記録する最初のドライブによって全て00hで記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）。
18.3.15
INFO 1のドライブ領域
18.3.15.1
一般
このゾーンはPAA 01 FC 80hから始まり，各32物理クラスタから四つの部分に分かれる。このゾーンの
使用は，任意である。
このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用でき，その情報を作ったドライブ
に限定して使用される。ドライブがその情報を位置決めできるように，次のフォーマットを用いる。この
ゾーンのドライブ領域のクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
129
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
18.3.15.2
ドライブ特有の情報のフォーマット
各ドライブ特有の情報は，一つの2Kデータフレーム中に収める。データフレームの最初の128バイト
に，次に示すフォーマットによって，当該のデータフレームを作ったドライブの署名を収納する。
− JIS X 0201の文字セットによる文字で表す，製造業者名用の48バイト
− JIS X 0201の文字セットによる文字で表す，追加の識別用の48バイト
− ドライブ特有の連続番号用の32バイト
残りのデータフレームの1 920バイトは規定されず，各ドライブの設計者が自由に選べる。
この任意の領域を用いる最新の32ドライブのドライブ特有の情報を，新しく記録する物理クラスタに保
存する。新しいドライブがこのドライブ特有の情報を新しい物理クラスタに書き始めるごとに，最後に記
録された物理クラスタのデータフレーム31に位置する最も古いドライブ特有の情報は削除され，最後に記
録された物理クラスタのデータフレーム0〜30の内容は新しい物理クラスタのデータフレーム1〜31に複
製され，新しい情報は，データフレーム0に記録される（図94参照）。
ドライブ特有の情報を記録するために，PAA 01 FC 80hから始まる物理クラスタを初めに用いる。
物理クラスタ
データフレーム
(データフレーム0)
ドライブﾞi
製造業者名
(データフレーム1)
ドライブﾞi−1
1つの2K
セクタ
追加ID
ドライブﾞ領域
:
:
特有の連続番号
記録済み物理クラスタ
(データフレーム30)
ドライブﾞi−30
ドライブﾞ特有の情報
32 ×2K
セクタ
(データフレーム31)
ドライブﾞi−31
(データフレーム0)
新ドライブﾞ
(データフレーム1)
ドライブi
:
:
:
:
(データフレーム30)
ドライブﾞi−29
32 ×2K
セクタ
(データフレーム31)
ドライブﾞi−30
新規
記録済み物理クラスタ
最後の
記録済み物理クラスタ
未記録物理クラスタ
記録済み物理クラスタ
図94−ドライブ領域のフォーマット（例）
18.3.16
INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 01 FE 80hから始まり，ディスク管理システムが用い
るために用いられる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは未記録のままとする。
18.3.17
INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 01 FF 00h及びL1層のPAA 3E 00 80hから始
まり，制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記
録のままとする。
18.3.18
INFO 1のPAC 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L0層のPAA 01 FF 80hから始まり，物理アクセス制御（PAC）
130
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
クラスタを保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは，未記録のままとす
る。
18.4 内側ゾーン1の記録領域
18.4.1 バッファ
このゾーンは1 408物理クラスタから構成され，PAA 3E 7E 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.2 OPC 1
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 3E 5E 00hから始まり，テスト及びOPCのために
予約されている。OPC 1領域は，18.3.11に従って用いる。
18.4.3 バッファ
このゾーンは1 408物理クラスタから構成され，PAA 3E 48 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.4 INFO 2のリザーブ（領域）8
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 47 80hから始まり，アプリケーションに依存して
いる。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは未記録のまま
とする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
18.4.5 INFO 2のリザーブ（領域）7
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 47 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.6 INFO 2のリザーブ（領域）6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 46 80hから始まり，未記録のままとする。
18.4.7 INFO 2のリザーブ（領域）5
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 46 00hから始まり，アプリケーションに依存して
いる。
BCA符号付きのディスクでは，アプリケーションに規定する場合を除いて，このゾーンは，未記録のま
まとする。
BCA符号なしのディスクでは，出荷前にこのゾーンは，全て00hを記録する。
18.4.8 INFO 2のPAC 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L1層のPAA 3E 45 80hから始まり，物理アクセス制御（PAC）
を保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは，未記録のままとする。
18.4.9 INFO 2のDMA 2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 45 00hから始まり，ディスク管理システムに用い
られる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは，未記録のままとする。
18.4.10 INFO 2のコントロールデータ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 44 80hから始まり，制御情報を保存するために用
いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.4.11 INFO 2のバッファ2
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 44 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.12 TDMA 1
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 3E 24 00hから始まり，一時的な仮ディスク管理と
して用いられる。
131
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
18.4.13 リザーブ（領域）
このゾーンは2 048物理クラスタから構成され，PAA 3E 04 00hから始まり，未記録のままとする。
18.4.14 INFO 1のプリ記録領域
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 03 80hから始まり，全ての32物理クラスタは，
L1層を記録する最初のドライブによって，全て00hを記録する。
INFO 1のプリ記録領域を記録するドライブは，TDDSのプリ記録フラグを更新する（22.4.4参照）
18.4.15 INFO 1のドライブ領域
このゾーンはPAA 3E 01 80hから始まり，各32物理クラスタから構成される四つの部分に分かれる。こ
のゾーンの使用は任意である。
このゾーンは，ドライブがドライブ特有の情報を保存するために使用でき，当該の情報を作ったドライ
ブに限定して使用される。ドライブが，その情報を位置決めできるように，18.3.15に規定するフォーマッ
トを用いる。このゾーンのクラスタは，互換性を確保するためには無視する。
18.4.16 INFO 1のDMA 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 01 00hから始まり，ディスク管理システムに用い
られる。ディスクがクローズされるまで（22.6参照），このクラスタは，未記録のままとする。
18.4.17 INFO 1のコントロールデータ1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，PAA 3E 00 80hから始まり，制御情報を保存するために用
いられる。未使用のクラスタは，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
18.4.18 INFO 1のPAC 1
このゾーンは32物理クラスタから構成され，L1層のPAA 3E 00 00hから始まり，物理アクセス制御（PAC）
クラスタを保存するために用いられる（21.2参照）。このゾーンの未使用のクラスタは，未記録のままとす
る。
19 データゾーン
単層ディスクでデータゾーンは，総計381 856クラスタの使用者データを収納でき，25.0 GBの容量のデ
ィスクとなる。
2層ディスクでデータゾーンは，総計763 712クラスタの使用者データを収納でき，50.0 GBの容量のデ
ィスクとなる。
20 外側ゾーン
20.1 一般
単層ディスクでは，情報ゾーンの最外ゾーンは，リードアウトゾーンとして機能している。
2層ディスクでは，外側ゾーン0及び外側ゾーン1は，L0層のデータゾーンからL1層のデータゾーン
への遷移領域として機能している（図95及び図96参照）。
132
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
外側
ゾーン0
記載事項
ゾーンの最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
バッファ4
LAA + 2h
32
---
INFO 3
DMA 3
LAA + 82h
32
ディスク管理
コントロールデータ3
LAA + 1 02h
32
データ情報
---
回転バッファ
LAA + 1 82h
76
---
DMA 4
LAA + 2 B2h
32
INFO 4
コントロールデータ4
LAA + 3 32h
32
バッファ6
LAA + 3 B2h
32
---
記録可能
トラッキング方向
DCZ0
テストゾーン
LAA + 4 32h
512
ドライブ校正
---
保護ｿﾞｰﾝ3
LAA + C 32h
---
---
ディスク管理
データ情報
図95−外側ゾーン0のリードアウトゾーン
外側
ゾーン1
記載事項
ゾーン最初の
PAA
物理クラスタ数
目的
---
保護ゾーン3
---
---
DCZ1
テストゾーン
FAA−C 30h
512
ドライブ校正
バッファ6
FAA−4 30h
32
---
コントロールデータ4
FAA−3 B0h
32
データ情報
INFO 4
DMA 4
FAA−3 30h
32
ディスク管理
---
回転バッファ
FAA−2 B0h
76
---
コントロールデータ3
FAA−180h
32
DMA 3
FAA−1 00h
32
記録可能
トラッキング方向
INFO 3
バッファ4
FAA−80h
32
---
データ情報
ディスク管理
---
図96−外側ゾーン1
20.2 外側ゾーンの記録領域
20.2.1 INFO 3のバッファ4
このゾーンは32物理クラスタから構成され，未記録のままとする。
20.2.2 INFO 3のDMA 3
このゾーンは32物理クラスタから構成され，ディスク管理システムに用いられる。ディスクがクローズ
されるまで（22.6参照）このクラスタは未記録のままとする。
20.2.3 INFO 3のコントロールデータ3
このゾーンは32物理クラスタから構成され，制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタ
は，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
20.2.4 回転バッファ
このゾーンは76物理クラスタから構成され，未記録のままとする。
20.2.5 INFO 4のDMA 4
このゾーンは32物理クラスタから構成され，ディスク管理システムに用いられる。ディスクがクローズ
されるまで（22.6参照）このクラスタは未記録のままとする。
20.2.6 INFO 4のコントロールデータ4
このゾーンは32物理クラスタから構成され，制御情報を保存するために用いられる。未使用のクラスタ
133
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
は，ディスクがクローズされるまで未記録のままとする。
20.2.7 INFO 4のバッファ6
このゾーンは32物理クラスタから構成され，未記録のままとする。
20.2.8 DCZ 0のテストゾーン及びDCZ 1のテストゾーン
これらのテストゾーンは512物理クラスタから構成され，ドライブ校正のために予約されている。DCZ
領域は，20.2.9に従って用いる。
20.2.9 DCZ領域の使用法
20.2.9.1 DCZ方法の順番
ドライブ校正ゾーンは，PAAが減少する順番に連続で用いる。校正に用いる最初の領域は，最後のPAA
の終端で終了する。DCZ領域最後の使用できる物理クラスタは，DCZ領域の最初のPAAの場所に，位置
している（図97参照）。
<< ----------<< -
512
>>---------->>
トラック方向
L0層
DCZ0
L1層
DCZ1
511
510
1
2
3
4
DCZ使用方向
512
511
510
1
2
3
DCZ使用方向
トラック方向
4
P
A
A
: F
A
A
‒
4
3
2
h
P
A
A
: F
A
A
‒
C
3
0
h
P
A
A
: L
A
A
+
C
3
0
h
P
A
A
: L
A
A
+
4
3
2
h
図97−L0層及びL1層のDCZ領域の使用方向
20.2.9.2 DCZ物理クラスタの使用方法
1回の校正に用いる長さは，ドライブによって選ばれ，物理クラスタの整数倍には限定されない（図98
参照）。用いた校正領域と未使用との校正領域の移行部分は，校正マーカによって示す。いずれの二つの連
続する校正マーカの間の距離も，16物理クラスタを超えてはならない。校正が16物理クラスタよりも多
く必要な場合は，この要求事項を満たすように校正マーカを挿入する。校正マーカは，少なくとも868 NWL
（一つのAUNと同じ）の長さとし，この領域の変調度は，次による。
I8pp/I8H≧0.30
134
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
クラスタ#N
クラスタ#N‒1
クラスタ#N‒2
クラスタ#P+1
記録方向
DCZ領域
クラスタ#P
校
正
#
M
+
1
校
正
マ
ー
カ
#
M
校
正
#
M
校
正
マ
ー
カ
#
M
+
1
校
正
#
M
+
2
校
正
マ
ー
カ
#
M
+
2
校正＃Mは，1クラスタの長さに等しく，校正＃M＋1は，1クラスタを超え，校正＃M＋2は，
1クラスタよりも短い。
図98−校正マーカの位置の例
20.2.9.3 TDMAの更新
DCZゾーンで行われる各校正はいずれも，TDDSの中の該当する“Ln層のドライブ校正ゾーンの，次に
使用できるPSN”を更新して終了する（22.4.4参照）。
20.2.10
保護ゾーン3
このゾーンは，未記録のグルーブをもっている。
このゾーンのグルーブの全てのADIPユニットは，MSK-cosだけで変調し，HMWでは変調しない（15.6.2
参照）。
21 物理アクセス制御クラスタ
21.1 一般
物理アクセス制御（PAC）クラスタは，情報交換をする関係者間の追加情報を交換するために，ディス
ク上に構造を用意している。PACクラスタは，INFO 1のPAC 1ゾーンに記録する，そしてバックアップ
複製は，INFO 2のPAC 2ゾーンに記録する。全てのPACクラスタは，PACヘッダを構成する最初の384
バイトのデータに関しては，同一のフォーマットとする。
将来，特別な応用又は機能について，新しいPACを規定できる。
新しいPACを導入する日付以前に設計されたドライブは，一般に，その新PACを解釈できないため，
そのようなPACを，いわゆる“未知PAC”として取り扱う。PACのヘッダに規定される，標準の“未知
PACルール”に従うことによって，互換問題及び特別な応用のデータが不本意に破壊されることを，可能
な限り避けることができる。
新PACの導入日以降に設計されたドライブは，新PACに関連した特定の応用又は機能が解釈できると
仮定できる。そのようなドライブは，“未知PACルール”を無視することができ，PACの“PAC特別情報”
フィールドに規定する規則を応用できる。そのような“既知PAC”に対し，“PAC特別情報”フィールド
に規定する場合を除き，物理的なアクセス制限はない。
21.2 PACゾーンの構成
単層ディスクでは，INFO 1のPAC 1ゾーン及びINFO 2のPAC 2ゾーンの各々が一つの32クラスタの
領域を構成し，PACの保存に使える。
2層ディスクでは，L0層及びL1層のINFO 1のPAC 1ゾーンが一つの64クラスタの領域を構成し，PAC
135
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
の保存に使える，そして，L0層及びL1層のINFO 2のPAC 2ゾーンがもう一つの64クラスタの領域を構
成し，PACの保存に使える。
各PACクラスタは，常に各PACクラスタの二つの複製が記録されるように，INFO 1のPAC 1及びINFO
2のPAC 2の両方のゾーンに記録する。PACは，最初にINFO 1のPAC 1ゾーンを更新し，次に，INFO 2
のPAC 2ゾーンに複製する。これによって，起こり得るパワーダウンによる失敗への対処が容易になる。
INFO 2のPAC 2ゾーンに記録するPACクラスタのPAC更新カウントは，INFO 1のPAC 1ゾーンに記録
したPACクラスタのPAC更新カウントと同じにする。
INFO 1のPAC 1ゾーン及びINFO 2のPAC 2ゾーン両方の全ての位置の状態は，次に示す2ビットのパ
タンでTDDSに示す（22.4.4参照）。
b(n＋1)，bn
PAC位置の内容
00
未記録
（層がない場合も使用）
01
−
［このビット設定は，リザーブ（値）］
10
無効なPACを含む。a)
11
有効なPACを含む。
注a) TDDSで示される状態“10”のPACクラスタは，ドライブの
外に転送することが許されない（未知のPACルールのビット
b0及びビットb1の設定とは独立に設定する。）。
図99−PACの位置の状態
記録中に，PACクラスタが欠陥だと分かった場合は，欠陥クラスタはスキップし，TDDSに無効である
ことを示す（図99参照）。代替PACを，次に使えるクラスタに記録する。
PACを更新しなければならない場合は，新バージョンのPACは次の使えるクラスタに記録し，古いバー
ジョンのPACがある前の場所はTDDSに無効と示す。
21.3 PACクラスタの一般構成
PACクラスタの使用者データは，図100に従ってフォーマットする。最初の384バイトは，PACヘッダ
を構成している。
136
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
データフレーム
データフレーム中
のバイト位置
内容
バイト数
0
0〜2
PAC̲ID
3
0
3
PAC フォーマット
1
0
4〜7
PAC更新カウント
4
0
8〜11
未知PACルール
4
0
12
未知PAC ディスク全体フラグ
1
0
13〜14
リザーブ（領域）
2
0
15
セグメント数
1
0
16〜23
セグメント̲0
8
0
24〜31
セグメント̲1
8
0
32〜263
:
29 ×8
0
264〜271
セグメント̲31
8
0
272〜383
リザーブ（領域）
112
0
384
既知PACディスク全体フラグ
1
0
385〜387
リザーブ（領域）
3
0
388〜2 047
PAC特別情報
1660
1
0〜2 047
2048
:
:
:
:
30
0〜2 047
2048
31
0〜2 047
リザーブ（領域）
2048
PAC特別情報
PAC特別情報
図100−PACクラスタの一般構成
PAC̲IDは，PACクラスタの特別なタイプを識別する。
− 49 53 31hの設定の場合は，PACクラスタは，21.4に規定するIS1 PACである。
− 49 53 32hの設定の場合は，PACクラスタは，21.4に規定するIS2 PACである。
他のPAC̲IDの値は，将来のこの規格で設定できる。
INFO 1のPAC 1ゾーン又はINFO 2のPAC 2ゾーンに追加される新しい各PACは，これらのゾーンで使
える最初のクラスタ（TDDSで状態00で示され，図99参照。）に記録する。
PACフォーマットフィールドは，特定のPACのバージョン番号を示す。
PAC更新カウントは，現在のPACが更新された回数の総数を規定する。このフィールドは，最初のフ
ォーマット動作の間だけ，00 00 00 00hに設定し，そして，現在のPACを更新するごとに一つ増やす。
未知PACルールは，PACの内容及び使用法が分からない（例えば，PAC̲IDが既知の値に設定されてい
ない等。）場合の要求する動作を規定する。これらのバイトは，32の個別ビットから構成されるフィール
ドを構成する（ビットb31はバイト8のmsbとし，ビットb0はバイト11のlsbとする。）。関係する領域（図
101参照）の中のいずれのクラスタに対しても（PACが未知の場合。），次に規定する動作をとる。使用者
データ領域の規定した動作は，セグメントが規定されている場合は，規定したセグメント内だけで行い，
セグメントが規定されていない場合は，使用者データ領域全体のいずれのクラスタに対しても行う。
ドライブがディスク上の複数の既知のPACを見つけた場合は，未知PACルールのOR（論理和）をとっ
た動作をする（すなわち，PACの一つがある動作を排除した場合は，他のPACの同じ規則は，意味がない。）。
137
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
領域
ビット
制御タイプ
必須設定
b31〜b24
リザーブ（領域）
0000 0000
b23
記録
-
リザーブ（領域）8
b22
読取り
-
b21
“1”
リザーブ（領域）7
b20
-
b19
リザーブ（領域）6
b18
-
b17
-
INFO 2
リザーブ（領域）5
b16
-
b15
“0”
ドライブ領域（パート4）
b14
b13
ドライブ領域（パート3）
b12
b11
ドライブ領域（パート2）
b10
b9
INFO 1
ドライブ領域(パート1）
b8
TDMA ゾーン（TDDSを含まない;
22.6.2.1参照）
b7
-
b6
アプリケーションに規定
する場合を除き
リザーブ（領域）
-
b5
-
INFO 1，2，3，4コントロールデータゾーン
b4
-
b3
-
データゾーン
使用者データ領域/セグメント
b2
-
b1
-
INFO 1&2
PAC クラスタ
b0
-
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
記録
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
読取り
“1”
“0”
“0”
“0”
“0”
“0”
“0”
“0”
“-”は，必須の設定が規定されないことを意味する。特定のPACでは，“0”又は“1”が許される。
図101−未知PACルールの一般的なビット設定
PACクラスタ以外の全てのゾーン又は領域で，ビットは，次の意味をもっている。
− 制御タイプ＝記録
− 設定が“0”の場合は，関連するゾーン又は領域の記録を許すことを示している。
− 設定が“1”の場合は，関連するゾーン又は領域の記録を許さないことを示している。
− 制御タイプ＝読取り
− 設定が“0”の場合は，関連するゾーン又は領域の読取りを許すことを示している。
− 設定が“1”の場合は，関連するゾーン又は領域の読取りを許さないことを示している。
（“読取りを許さない”とは，関連する領域のクラスタのデータ内容のドライブの外への転送を，許
さないことを意味している。）
PACクラスタでは，ビットは，次の意味をもっている。
22.4.2
138
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 制御タイプ＝記録
− 設定が“0”の場合は，現在のPACクラスタの書換え又はTDDSの状態ビットの変更を許すことを
示している。
− 設定が“1”の場合は，現在のPACクラスタの書換え及びTDDSの状態ビットの変更を許さないこ
とを示している。
− 制御タイプ＝読取り
− 設定が“0”の場合は，現在のクラスタの内容を読み取り，ドライブの外への転送を許すことを示し
ている。
− 設定が“1”の場合は，最初のデータフレームの最初の384バイト以外は，現在のPACクラスタの
ドライブの外への転送を許さないで，クラスタの内容を転送する前にPACヘッダ以外の全てのバイ
トを00hに設定するように強制されることを示している。
未知PACのディスク全体フラグバイトは，ディスク全体をカバーする，未知PACルールを規定してい
る。
− ビットb7〜b1：これらのビットは，リザーブ（領域）とする。
− ビットb0：このビットは“1”に設定し，再初期化は不可能であることを示す。
セグメント数は，現在のPACで規定しているセグメントの総数N (0≦N≦32)を規定する。
さらに，ディスクの全てのPACで規定するセグメントの総数は，32を超えない。
∑PAC
32
PAC
全ての
≦
のセグメント数
i
セグメント̲iフィールドは，セグメントと呼ばれるクラスタが連続した領域の，開始及び終了アドレス
を規定する。
セグメントは，セグメント̲0からセグメント̲(N−1) (N≦32)までに割り当てる。一つのPAC中に規定
するセグメントは，重なることなくアドレスの昇順に保存する。セグメントは，クラスタ境界だけで開始
及び終了する。iがN以上の全てのセグメント̲iフィールドは，00hに設定する。
− セグメント̲iフィールドの最初の4バイトは，使う場合には，セグメントに所属する最初のクラスタ
の最初のPSNを入れる。
− そして，最後の4バイトは，セグメントに属する最後のクラスタの最後のPSNを入れる。
これらのセグメントは，未知PACルールだけに適用する。異なるPAC間でセグメントが重なる場合に
は，ドライブは，重なった領域で関連した未知PACルールに対してORを適用する。
既知PACのディスク全体フラグバイトは，ドライブがPACを解釈できる場合の，ディスク全体の規則
を規定する。
− ビットb7〜b1：これらのビットは，リザーブ（領域）とする。
− ビットb0：このビットは“1”に設定し，再初期化は不可能であることを示す。
21.4 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ
IS1 PAC及びIS2 PACは，未記録ディスクに記録してもよい。BCA符号が未記録ディスクに記録されて
いない場合には，ディスクの出荷前に，IS1 PAC及びIS2 PAC構造をINFO 1のPAC 1及びINFO 2のPAC
2に記録する。未記録ディスクにBCAコードが記録されているは，IS1及びIS2構造を記録しない。
139
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
IS1 PAC及びIS2 PACの構成は，図102に示すとおりにフォーマットする。
データフレーム
データフレーム中
のバイト位置
内容
バイト数
0
0〜2
PAC̲ID
3
0
3
PAC フォーマット
1
0
4〜7
PAC更新カウント
4
0
8〜11
未知PAC ルール
4
0
12
未知PACディスク全体フラグ
1
0
13〜14
リザーブ（領域）
2
0
15
セグメント数
1
0
16〜23
セグメント̲0
8
0
24〜31
セグメント̲1
8
0
32〜263
:
29 ×8
0
264〜271
セグメント̲31
8
0
272〜383
リザーブ（領域）
112
0
384
既知PACディスク全体フラグ
1
0
385〜2 047
1663
1
0〜2 047
2048
:
:
:
:
31
0〜2 047
2048
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
リザーブ（領域）
図102−IS1 PAC及びIS2 PACクラスタの一般的な構成
PAC̲IDは，IS1 PACに対しては，文字“IS1”を表す，49 53 31hに設定する。PAC̲IDは，IS2 PACに
対しては，文字“IS2”を表す，49 53 32hに設定する。
PACフォーマットフィールドは，両方のPACを共に，バージョン0を示す00hに設定する。
PAC更新カウントは，両方のPACを共に，00 00 00 00hに設定する。
未知PACルールは，IS1 PACに対しては00 AA 00 00h，IS2 PACに対しては00 AA 00 CBhに設定する。
未知PACディスク全体フラグバイトは，両方のPACを共に，01hに設定する。
セグメント数は，両方のPACを共に，00hに設定する。
セグメント̲iフィールドは，両方のPACを共に，00hに設定する。
既知PACディスク全体フラグバイトは，両方のPACを共に，01hに設定する。
22 ディスク管理
22.1 一般
ディスク管理は，使用者データをディスクに記録する方法を規定し制御する。
22.2 記録管理
BD記録システムは，連続記録範囲情報（SRRI）構造によって管理される連続記録モード（SRM）がで
きる。
22.2.1 連続記録モード（SRM）
ディスクは，連続記録範囲（SRR）として参照される連続する領域をもっている。SRRの中で，使用者
データは，アドレスが増加する方向に連続に記録する。
SRRの位置及び状態の情報は，連続記録範囲情報（SRRI）構造の中に保存する。SRRIは，仮ディスク
140
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
管理領域（TDMA 22.3参照）の中に記録する。記録ディスクでは，最終のSRRIは，ディスク管理領域
（DMA）の中に記録される。
SRRは，クラスタの境界で開始させ，新しいデータが記録できる唯一の場所をもっている。
22.2.2 SRRへの使用者データの記録
連続記録の間，ホストコンピュータから2 KBの論理セクタの形で与えられた使用者データは，SRR中
に最後に記録されたセクタのすぐ後に追加する。しかし，ホストコンピュータが，SRRに記録するために
使うことができる次のアドレスを要求した場合に，ドライブは，次に使うことができるSRR中の完全に未
記録のクラスタの最初のPSNを返送する。このアドレスは，次記録可能アドレス（NWA）と呼ばれる。
連続記録の工程中に，NWAは，記録する使用者データのサイズに従って，動的に物理クラスタの単位で
増加される。
連続記録が終わり，使用者データのサイズが物理クラスタの境界に合わない場合は，最後の物理クラス
タの残りの部分は，“0”データで埋め込む。ここに，埋込みデータが入った個々のデータフレームは，状
態ビットSai,1/Sai,0を“11”に設定して識別する（13.9.2.5参照）。NWAは，次の未記録のクラスタの最初
のセクタを示す。
SRR登録（22.4.6.4参照）は，SRRの使用者データ（埋込みデータではない。）で満たされた最後のセク
タを示す，最終記録データアドレス（LRAと同じ。）をもっている（図103参照）。
1 セクタ
記録済み物理クラスタ
LRA
NWA
“ 0”
埋込み
記録
使用者データ
未記録
図103−記録使用者データ及び“0”の埋込みのある最後のRUBの例
22.2.3 SRR状態
SRRは，次の状態の一つをもつことができる。
− オープン：SRRは，有効なNWAをもち，データを追加できる。
− クローズ：SRRは，NWAがなく，データの追加が許されていない。
オープンSRRの数は，1とする。ディスクのDMAに記録中は，SRRは，クローズ状態とする。
22.2.4 SRRのクローズ
オープンSRRをクローズした場合には，オープンSRRのバイト数は，00hに設定する（22.4.6.3参照）。
任意で，一つ又はそれ以上のクラスタを全てのバイトを00hにして埋め込み，全てのデータフレームの状
態ビットSai,1/Sai,0を11に設定することができる。
SRRの残りの未記録のクラスタは，クローズ時に記録する必要はない。クローズSRRのLRAは，訂正
する。
22.3 仮ディスク管理領域（TDMA）
22.3.1 一般
記録管理情報は，使用中に何回も更新する必要となる場合がある。このために，リードインゾーン及び
141
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
リードアウトゾーンに，仮ディスク管理領域（TDMA）と呼ばれる特別な領域を使用できる。
単層ディスクでは，この領域は，リードインゾーン中のTDMA 0と呼ばれる場所にある。2層ディスク
では，L0層のリードインゾーンに同じTDMA 0があり，L1層のリードアウトゾーンにTDMA 1と呼ばれ
る第1の領域がある。TDMA 0及びTDMA 1は，両方共に2 048物理クラスタの固定サイズである。
2層ディスクでは，TDMA 0及びTDMA 1は，順番にTDMA 0，TDMA 1の順に用いる。
各TDMAは，PSNが増加する方向に続けて埋めていく。実際のTDMSの全ての要素（22.4.2参照）を，
一つのTDMAの中に入れる。実際のTDMAの残りの空領域が不十分な場合は，新しい完全なTDMSのセ
ットを次に使うことができるTDMAの中に作り，この次のTDMAの指標（22.3.2参照）を記録する。
TDMA全体の中で，未使用で残ったクラスタは，全てのデータフレームの状態ビットSai,1/Sai,0を“11”
に設定して，00hデータを記録する。
22.3.2 TDMAアクセス指標
いずれのTDMAが現在使用されているのかを素早く見つけるために，TDMA 0の最初のクラスタを，指
標として使う。この目的のために，単層ディスクでは，最初の3クラスタを予約し，2層ディスクでは，
最初の6クラスタを予約する。これらのTDMAアクセス指標クラスタは，図104に示すとおりに，アドレ
スが減る方向に用いる。
TDMA 0を完全に使い果たしTDMA 1を使用中の場合は，TDMA 1への指標を記録する。
ディスクがクローズされた場合は，DMAを指し示すTDMA 0の最初の指標クラスタも記録する。
さらに，現在使用中のTDMAの位置を素早く見つけるために，TDMAアクセス指標クラスタは，TDMA
アクセス指標が記録された場合の瞬間のディスクの状態によって，TDDSを含む。安定度を上げるために，
指標クラスタの全ての32データフレームは，実際の指標クラスタに関連してTDMAに記録した最初の
TDDSの複製を記録する。DMAが記録されたことを示すTDMA 0の最初の指標クラスタは，DMA1に記
録されるDDSを，32回繰り返して保存する（22.6.3参照）。
T
D
M
A
1
D
M
A
D
M
A
指標クラスタ
指標クラスタ
TDMA 0
単層ディスク
2層ディスク
内側
ゾーン
内側
ゾーン
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
リ
ザ
ー
ブ
（
領
域
）
図104−TDMA指標クラスタ
22.4 ディスク管理構造（DMS）
22.4.1 一般
DMSは，ディスク管理及び記録モード情報のための構造をもつ。次の2種類のディスク管理構造がある。
− ディスク管理構造（DMS：22.6.3参照）は，（最後の仮ディスク管理構造にある，全てのディスク管理
情報を保存するため）ディスクをクローズする場合は，DMAゾーンに記録される。
142
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 仮ディスク管理構造（TDMS）は，ディスクがクローズされる場合を除き，TDMAゾーンに記録され
る。
22.4.2 仮ディスク管理構造（TDMS）
仮ディスク管理構造は，記録モードによって，次に示す三つの要素によって構成される。これらの要素
全てを，実際に使用中の同じTDMA nの中に置く。
連続記録モードでは，TDMSは，次に示すものによって構成する。
− 仮ディスク定義構造（TDDS）
− 仮欠陥リスト（TDFL）
− 連続記録範囲情報（SRRI）
TDMS更新ユニットを構成するクラスタ中の最後のクラスタの最後のデータフレームは，常にTDDSを
含む（22.3参照）。TDDSは，最後に記録されたTDFLクラスタ及びSRRIへのポインタをもっている。こ
れらの要素の一つ又はそれ以上が更新した後には，TDDSポインタを更新する。
TDMSは，最後に記録されたバージョンの，TDDS，TDFL及びSRRIで構成する。
TDMS更新ユニットは，各TDMAの中で，PSNが増える方向に順番に続けて記録する（22.3参照）。記
録中に物理クラスタが欠陥と分かった場合は，このクラスタはスキップし，TDMAの中で次に使える物理
クラスタにデータ記録を続ける。記録後のベリファイで，全部のTDMS更新ユニットを記録した直後に欠
陥クラスタが見つかったら，欠陥クラスタ及びTDMS更新ユニットの最後のクラスタだけを，TDDS中の
TDFLポインタを更新するために，次に使える場所に再記録すればよい。この結果，TDFLクラスタのディ
スク上の記録順は，欠陥リストの順番と同じでなくてもよい。最後のものは，TDDSのポインタで指示す
る。
22.4.3 連続記録モードのTDMS
連続記録モードでは，SRRIのためのTDMS更新ユニットは，最後のデータセクタに常に仮ディスク定
義構造（TDDS）をもち，TDDS直前のセクタに連続記録範囲情報（SRRI）ブロックをもつ（図105参照）。
SRRIブロックは，セクタ境界で始め，SRRIブロック長は，31データセクタで制限する。SRRIブロック
は，SRRI終端で終了する（図114参照）。
クラスタ
データフレーム
内容
0 .. 29
00hに設定
30
SRRI
(1 セクタ)
1ク
ラ
ス
タ
31
TDDS
(1セクタ）
図105−SRMのSRRI用のTDMS更新ユニットの例
TDFLは，TDMS更新ユニットの最初のクラスタの最初のデータセクタから，常に始まっている（図106
参照）。TDFLは，欠陥リスト終端で終了する（図112参照）。TDFLのためのTDMS更新ユニットのクラ
スタの最後のデータセクタは，TDDSをもつ。SRRI及びTDFLの両方が記録された場合は，図106に示す
とおりに，一つのTDMS更新ユニットの中で二つの構造を合成することができる。そこでは，TDFLは
TDMS更新ユニットの先頭に位置し，SRRIは最後のTDDSの直前に位置する。
143
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
クラスタ
データフレーム
内容
0
TDFL
(1 セクタ)
1 .. 29
00hに設定
30
SRRI
(1 セクタ)
31
TDDS
(1セクタ)
単一クラスタTDMS 更新ユニット
1
ク
ラ
ス
タ
図106−SRMの合成したTDMS更新ユニットの例
22.4.4 仮ディスク定義構造（TDDS）
TDDSは，ディスクのフォーマット及び状態の情報をもっている。最後に記録したTDDSは，TDMSの
他の部分又は要素へのアドレスの参照情報となっている。TDDSのポインタは，全てTDDSそれ自体と同
じTDMA n内に位置する，以前に記録した構造（フォワードポインタではない。）だけのアドレスを指し
示す。TDDSのフォーマットは，図107に規定する。
TDDS識別子は，文字“DS”を表す，44 53hに設定する。
TDDSフォーマットフィールドは，TDDSを識別する，00hに設定する。
TDDS更新カウントは，TDDSの更新動作の総回数を規定する。このフィールドは，初期化の動作中に
は，00 00 00 00hに設定し，TDDSをディスクに記録するごとに一つ増やす。
144
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
31
0〜1
TDDS識別子
2
31
2
TDDSフォーマット
1
31
3
リザーブ（領域）
1
31
4〜7
TDDS更新カウント
4
31
8〜15
リザーブ（領域）
8
31
16〜19
ドライブ領域の最初のPSN (P̲DA)
4
31
20〜23
リザーブ（領域）
4
31
24〜27
欠陥リストの最初のPSN (P̲DFL)
4
31
28〜31
リザーブ（領域）
4
31
32〜35
使用者データ領域のLSN 0 の場所
-
4
31
36〜39
使用者データ領域の最後のLSN
4
31
40〜51
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
12
31
52
フラグA
1
31
53〜55
リザーブ（領域）
3
31
56
プリ記録領域フラグﾞ
1
31
57〜63
リザーブ（領域）
7
31
64〜71
L0層のINFO 1/ PAC 1の場所の状態ビット
8
31
72〜79
L0層のINFO 2 / PAC 2の場所の状態ビット
8
31
80〜87
L1層のINFO 1 / PAC 1の場所の状態ビット
8
31
88〜95
L1層のINFO 2 / PAC 2 の場所の状態ビット
8
31
96〜1 023
リザーブ（領域）
928
31
1024
記録モード
1
31
1025〜1 027
3
31
1028〜1 031
リザーブ（領域）
4
31
1032〜1 035
使用者データ領域の最後の記録のアドレス
4
31
1036〜1 039
リザーブ（領域）
4
31
1040〜1 051
12
31
1052〜1 087
リザーブ（領域）
36
31
1088〜1 091
L0層のテストゾーンの次に使えるPSN (P̲TZ0)
4
31
1092〜1 095
L1層のテストゾーンの次に使えるPSN (P̲TZ1)
4
31
1096〜1 103
リザーブ（領域）
8
31
1104〜1 107
L0層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSN(P̲CZ0)
4
31
1108〜1 111
L1層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSN(P̲CZ1)
4
31
1112〜1 119
リザーブ（領域）
8
31
1120〜1 123
欠陥リストの最初のクラスタの最初のPSN(P̲firstDFL)
4
31
1124〜1 151
28
31
1152〜1 183
リザーブ（領域）
32
31
1184〜1 187
連続記録領域情報の最初のPSN(P̲SRRI)
4
31
1188〜1 191
4
31
1192〜1 215
リザーブ（領域）
24
31
1216〜1 231
16
31
1232〜1 915
リザーブ（領域）
684
31
1916〜1 919
4
31
1920〜2 047
ドライブﾞID: 製造業者名
追加ID
特有連続番号
48
48
32
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
アプリケーションに規定する場合を除きリザーブ（領域）
図107−TDDSのフォーマット
145
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ドライブ領域の最初のPSNフィールドは，最新のドライブ特有の情報をもつクラスタの最初のPSNを
規定する。ドライブ領域が未記録の場合は，このフィールドは，00 00 00 00hに設定する。
欠陥リストの最初のPSNフィールドは，TDMAに現れる全てのTDDSセクタで，00 00 00 00hに設定す
る。
ディスクがクローズされ最終のDDSをDMAに記録する場合に，このフィールドは，特定のDDSをも
つDMAゾーンの中にエラーなしで復元できる最初の欠陥リストのPSNを規定する。エラーなしで欠陥リ
ストが保存できなかった場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
使用者データ領域のLSN 0の場所フィールドは，最初のクラスタの最初の使用者データフレームのPSN
を規定し，アプリケーションに規定する場合を除いて，00 10 00 00hに設定する。
使用者データ領域の最後のLSNフィールドは，使用者データを保存するために使うことができる，最後
のセクタの論理セクタ番号（LSN；箇条23参照）を規定し，アプリケーションに規定する場合を除いて，
単層ディスクでは00 BA 73 FFhに設定し，2層ディスクでは01 74 E7 FFhに設定する。
8ビットフラグAフィールドは，単層又は2層ディスクの状態を規定する。アプリケーションに規定す
る場合を除いて，このバイトは，単層ディスクで03hに，2層ディスクで0Fhに設定する。
8ビットプリ記録領域フラグフィールドは，各記録層のINFO 1のプリ記録領域の状態を規定する。層i
のプリ記録領域が記録されている場合は，ビットbiは“1”に設定し，未記録の場合は，biは“0”に設定
する。
L0層のINFO 1のPAC 1位置の状態ビットフィールドは，L0層のINFO及びPAC 1ゾーンの，全ての
32クラスタの記録状態を規定する（図108参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
バイト位置
ビット
INFO1/PAC1 位置のPAA
64
b7b6
01 FF 80h
64
b5b4
01 FF 84h
64
b3b2
01 FF 88h
64
b1b0
01 FF 8Ch
65
b7b6
01 FF 90h
:
:
:
:
:
:
70
b1b0
01 FF ECh
71
b7b6
01 FF F0h
71
b5b4
01 FF F4h
71
b3b2
01 FF F8h
71
b1b0
01 FF FCh
図108−L0層の状態ビット及び関連するINFO 1のPAC 1のアドレス位置
L0層のINFO 2のPAC 2位置の状態ビットフィールドは，L0層のINFO 2のPAC 2ゾーンの全ての32
クラスタの記録状態を規定する（図109参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
146
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
バイト位置
ビット
INFO2/PAC2 位置のPAA
72
b7b6
01 BA00h
72
b5b4
01 BA 04h
72
b3b2
01 BA 08h
72
b1b0
01 BA 0Ch
73
b7b6
01 BA 10h
:
:
:
:
:
:
78
b1b0
01 BA 6Ch
79
b7b6
01 BA 70h
79
b5b4
01 BA 74h
79
b3b2
01 BA 78h
79
b1b0
01 BA 7Ch
図109−L0層の状態ビット及び関連するINFO 2のPAC 2のアドレス位置
L1層のINFO 1のPAC 1位置の状態ビットフィールドは，L1層のINFO 1のPAC 1ゾーンの全ての32
クラスタの記録状態を規定する（図110参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
バイト位置
ビット
INFO1/PAC1 位置のPAA
80
b7b6
3E 00 00h
80
b5b4
3E 00 04h
80
b3b2
3E 00 08h
80
b1b0
3E 00 0Ch
81
b7b6
3E 00 10h
:
:
:
:
:
:
86
b1b0
3E 00 6Ch
87
b7b6
3E 00 70h
87
b5b4
3E 00 74h
87
b3b2
3E 00 78h
87
b1b0
3E 00 7Ch
図110−L1層の状態ビット及び関連するINFO 1のPAC 1のアドレス位置
L1層のINFO 2のPAC 2位置の状態ビットフィールドは，L1層のINFO 2のPAC 2ゾーンの全ての32
クラスタの記録状態を規定する（図111参照）。ビットの組合せは，21.2の規定に従って設定する。
バイト位置
ビット
INFO2/PAC2 位置のPAA
88
b7b6
3E 45 80h
88
b5b4
3E 45 84h
88
b3b2
3E 45 88h
88
b1b0
3E 45 8Ch
89
b7b6
3E 45 90h
:
:
:
:
:
:
94
b1b0
3E 45 ECh
95
b7b6
3E 45 F0h
95
b5b4
3E 45 F4h
95
b3b2
3E 45 F8h
95
b1b0
3E 45 FCh
図111−L1層の状態ビット及び関連するINFO 2のPAC 2のアドレス位置
記録モードフィールドは，使用者データ領域で，使用者データが記録されるモードを規定する。アプリ
147
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ケーションに規定する場合を除いて，このフィールドは，連続記録モードを示す00hに設定する。
使用者データ領域の最終記録アドレスフィールドは，ホストコンピュータから供給されたデータを記録
した使用者データ領域の中で，最も大きい番号の物理セクタのPSNを規定する。このアドレスは，使用者
データを含む最も大きい番号のSRRのLRAと一致する（22.4.6.4参照）使用者データが使用者データ領域
に記録されていない場合は，このフィールドの値は，00 00 00 00hに設定する。
L0層のテストゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L0層のテストゾーンでテスト及びOPCを行う
ために，次に使えるクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のテストゾーンの場合のこのフィールドの
初期値は，00 0E DF 60hである（L0層の大きい方のアドレスの4クラスタは，バッファゾーンとして予備
とする。）。L0層のテストゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに
設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは正しくTDMSを更新できない可能性がある。
L1層のテストゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L1層のテストゾーンでテスト及びOPCを行う
ために，次に使えるクラスタの最初のPSNを規定する。単層ディスクでは，このフィールドは，00 00 00 00h
に設定する。未使用のテストゾーンの場合のこのフィールドの初期値は，01 F3 EF E0hである。L1層のテ
ストゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールドは，FF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは正しくTDMSを更新できない可能性がある。
L0層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L0層のドライブ校正ゾーンでドライブ校
正のために使うことができる次のクラスタの最初のPSNを規定する。未使用のドライブ校正ゾーンの場合
のこのフィールドの初期値は，8×(LAA＋C 2Eh)である。L0層のドライブ校正ゾーンに使用できるクラス
タがない場合は，このフィールドはFF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくDCZを更新できない可能性がある。
L1層のドライブ校正ゾーンの次に使えるPSNフィールドは，L1層のドライブ校正ゾーンでドライブ校
正のために使うことができる，次のクラスタの最初のPSNを規定する。単層ディスクの場合は，このフィ
ールドは，00 00 00 00hに設定する。未使用のドライブ校正ゾーンの場合のこのフィールドの初期値は，8
×(FAA−4 34h)である。L1層のドライブ校正ゾーンに使用できるクラスタがない場合は，このフィールド
はFF FF FF FFhに設定する。
注記 OPCに失敗した場合は，ドライブは，正しくDCZを更新できない可能性がある。
欠陥リストの最初のクラスタの最初のPSNフィールドは，TDMAゾーンの最新の仮欠陥リストの最初
のクラスタの最初のPSNを規定する。
連続記録範囲情報の最初のPSNフィールドは，TDMAゾーンの最新の連続記録範囲情報の最初のセク
タのPSNを規定する。
ドライブID：製造業者名，追加ID，特有連続番号フィールドは，このTDDSを記録したドライブを特
定する。これらの128バイトは，次のフォーマットによって，ドライブの識別サインをもつ（18.3.15ドラ
イブ領域参照）。
− 48バイトの製造業者名で，JIS X 0201の文字セットで表される。
− 48バイトの追加情報で，JIS X 0201の文字セットで表される。
− 32バイトのドライブの特有連続番号
22.4.5 仮欠陥リスト（TDFL）
22.4.5.1 一般
TDFLの最初のデータフレームは，欠陥リストヘッダをもち，その後，欠陥リストが続く。欠陥リスト
148
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
は，欠陥リスト終端子で終了する。
欠陥リストは，アプリケーションで規定する場合を除いてリザーブ（領域）とする。
22.4.5.2 TDFLデータ構造
TDFLデータフレームは，図112の構成とする。
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0〜63
欠陥リストヘッダﾞ
64
64〜71
欠陥リスト終端子
8
0
72〜2 047
00hに設定
1 976
図112−仮欠陥リストのフォーマット
欠陥リストヘッダ（DLH）は，欠陥リストを識別し，欠陥リストの構成の情報をもっている（22.4.5.3
参照）。
欠陥リスト終端子は，欠陥リストを終了し，実際の最後の欠陥リスト登録の直後に記録する。欠陥リス
ト終端子は，TDFLの最後のデータフレームの位置とする（22.4.5.4参照）。
最後のデータフレームの欠陥リスト終端子の後の残りのバイトは，00hに設定する。
22.4.5.3 欠陥リストヘッダ
図113に，欠陥リストヘッダのフォーマットを示す。
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0
0〜1
DFL識別子
2
0
2
DFLフォーマット
1
0
3
リザーブ（領域）
1
0
4〜7
DFL更新カウント
4
0
8〜11
リザーブ（領域）
4
0
12〜23
アプリケーションに規定する場合を除き
リザーブ（領域）
12
0
24〜63
リザーブ（領域）
40
図113−欠陥リストヘッダのフォーマット
DFL識別子は，文字“DL”を表す，44 4Chに設定する。
DFLフォーマットフィールドは，DFLを識別する，00hに設定する。
DFL更新カウントは，欠陥リストの更新動作の総回数を規定する。このフィールドは，初期化動作中は，
00 00 00 00hに設定し，DFLをディスクに記録するごとに一つ増やす。
22.4.5.4 欠陥リスト終端子
欠陥リスト終端子は，次の二つの4バイト部分で構成する。
− 最初の4バイトは，FF FF FF FFhに設定する。
− 2番目の4バイトは，TDFLのヘッダのTDFL更新カウントと同じにする（欠陥リストの有効性の確認
に使うことができる。）。
22.4.6 連続記録範囲情報（SRRI）
22.4.6.1 一般
SRRI構造は，連続記録モード（SRM）の記録状態を規定する。一つの構造で，単層及び2層の両方の
149
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ディスクを包含している。SRRIのデータ構造は，22.4.6.2に規定される。
22.4.6.2 SRRIデータ構造
一つのセクタから構成されるSRRIの構造は，後にSRR登録リストが続くSRRIヘッダを含んでいる。
SRRI終端子は，SRR登録リストを終端する。
相対
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0〜63
SRRI ヘッダ
64
64〜71
SRR登録
8
72〜79
SRRI 終端子
8
30
80〜2047
00h設定
1 968
31
（TDDS）
図114−SRRIテーブルのフォーマット
SRRIヘッダは，SRRIを識別し，SRR登録リストの構成についての情報を含んでいる（22.4.6.3参照）。
SRR登録は，SRRのリスト及びその関連する情報をもっている（22.4.6.4参照）。アプリケーションに規
定する場合を除いて，SRRの数は一つである。
SRRI終端子は，SRR登録のリストを終了し，実際のSRR登録リストの最後の登録直後に記録する
（22.4.6.5参照）。
SRRI終端子に続く残りのバイトは，データフレームの境界まで，00hに設定する。
22.4.6.3 SRRIヘッダ
SRRIヘッダは，図115に示すとおりに構成する。
相対
データフレーム
データフレーム中の
バイト位置
内容
バイト数
0〜1
SRRI識別子
2
2
SRRIフォーマット
1
3
リザーブ（領域）
1
4〜7
SRRI更新ｶｳﾝﾄ
4
8〜11
リザーブ（領域）
4
12〜15
SRR登録数
4
16
オープンSRR数
1
17〜19
リザーブ（領域）
3
20〜21
オープンSRR番号
2
22〜51
アプリケーションに規定する場合を除き
リザーブ（領域）
30
30
52〜63
リザーブ（領域）
12
図115−SRRIヘッダ
SRRI識別子フィールドは，文字“SR”を表す，53 52hに設定する。
SRRIフォーマットフィールドは，SRRIを識別する，00hに設定する。
SRRI更新カウントは，SRRI構造の更新動作の総回数を規定する。このフィールドは，初期化動作中は，
00 00 00 00hに設定し，SRRI構造が更新されるごとに一つ増やす。
SRR登録数は，SRRI中のSRR登録の総数を規定する。アプリケーションに規定する場合を除いて，SRR
の数は一つである。ディスクへの記録終了後，このフィールドを，00hに設定する。
オープンSRR数フィールドは，状態がオープンのSRRの数を示す。アプリケーションに規定する場合
SRRI終端子
150
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
を除いて，このフィールドの最大値は1である。
オープンSRR番号は，状態がオープンのSRR番号を示す。
22.4.6.4 SRR登録
SRR登録は，図116に示すとおりにフォーマットする。
SRR登録は，8バイトで構成し連続で記録される。
SRR登録のバイトは，msbが先頭の64ビット列に変換される。SRR登録リストは，増加する方向に，
各登録が単一の64ビット正の整数であるかのように保存する。アプリケーションに規定する場合を除いて，
SRR数は1に設定する。
バイト0 / ビット7..4
バイト0 / ビット3..0
& バイト1 〜3
バイト4/ ビット7バイト4 / ビット6..4
バイト4 / ビット3..0 &
バイト5 〜7
b63
..
b60
b59
.. b32
b31
b30
..b28
b27
..
b0
リザーブ（領域）
SRRの開始PSN
セッション開始
リザーブ（領域）
SRR中のLRA
SRR登録の
SRR登録の
SRR登録の
SRR登録の
SRR登録の
図116−SRR登録
SRRの開始PSNは，SRRの最初のクラスタの最初のPSNを規定し，アプリケーション規定する場合を
除いて，00 10 00 00hに設定する。
セッション開始ビットは，このSRRがセッション中の最初のSRRかどうかを示し，アプリケーション
に規定する場合を除いて“1”に設定する。
SRR中のLRAは，ホストコンピュータから供給されたデータを記録した，SRR中の最後のセクタのPSN
を規定する。空のSRRでは，このフィールドの値は，0 00 00 00hに設定する。オープンSRRでは，NWA
及びLRAの関係は，次の式とする。
− LRA ≠ 0 00 00 00hの場合は，NWA＝32×[floor(LRA/32)＋1]
− LRA＝0 00 00 00hの場合は，NWA＝SRRの開始PSN
22.4.6.5 SRRI終端子
SRRI終端子は，次の二つの4バイトの部分から構成する。
− 最初の4バイトは，FF FF FF FFhに設定する。
− 次の4バイトは，SRRI構造のヘッダ中のSRRI更新カウントに合わせる。
22.5 未記録（ブランク）ディスク構造
22.5.1 一般
未記録ディスクの幾つかのゾーンは，ディスク出荷前にプリ記録してもよい。ゾーンの未記録（ブラン
ク）ディスクの状態を，22.5にまとめる。
22.5.2 未記録ディスクのプリ記録領域
図117及び図118に規定する未記録（ブランク）ディスクの領域は，プリ記録してもよい。
151
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ゾーン名
記載事項
ゾーンの
最初のPAA
物理クラスタ数
プリ記録状態
参照
BCA
BCA
どちらかa)
PIC
PIC
---
---
記録
---
リザーブ（領域）8
01 B8 00h
32
どちらかa）
18.3.2参照
リザーブ（領域）7
01 B8 80h
32
未記録
---
リザーブ（領域）6
01 B9 00h
32
---
リザーブ（領域）5
01 B9 80h
32
どちらかa）
18.3.5参照
PAC 2
01 BA 00ｈ
32
どちらかa）
18.3.6参照
DMA 2
01 BA 80h
32
---
コントロールデータ201 BB 00h
32
---
INFO2
バッファ2
01 BB 80h
32
---
テストゾーン
01 BC 00h
2044
どちらかa）
18.3.10参照
OPC0
OPC 0 バッファ
01 DB F0h
4
---
TDMA0
---
01 DC 00h
2048
どちらかa)
18.3.13参照
プリ記録領域
01 FC 00h
32
どちらかa)
18.3.14参照
ドライブ領域
01 FC 80h
32
---
01 FD 00h
32
---
01 FD 80h
32
---
01 FE 00h
32
---
DMA 1
01 FE 80h
32
---
コントロールデータ101 FF 00h
32
---
INFO1
PAC 1
01 FF 80h
32
どちらかa）
18.3.18参照
（データゾーン0）02 00 00h
---
箇条35参照
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
注a) ゾーンがその記載事項によって，プリ記録されてもよいし，されなくてもよいことを意味する。
図117−内側ゾーン0（リードインゾーン）のプリ記録領域
152
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
記載事項
ゾーンの
最初のPAA
物理クラスタ数
プリ記録状態
参照
（データゾーン1）
未記録
---
PAC 1
3E 00 00h
32
どちらかa）
18.4.18参照
コントロールデータ1
3E 00 80h
32
---
DMA 1
3E 01 00h
32
---
ドライブ領域
3E 01 80h
32
---
3E 02 00h
32
---
3E 02 80h
32
---
3E 03 00h
32
---
INFO 1
プリ既記録領域
3E 03 80h
32
どちらかa）
18.4.14参照
リザーブ（領域）
---
3E 04 00h
2048
---
TDMA 1
---
3E 24 00h
2048
18.4.12参照
バッファ2
3E 44 00h
32
---
3E 44 80h
32
---
DMA 2
3E 45 00h
32
---
PAC 2
3E 45 80h
32
どちらかa）
18.4.8参照
リザーブ（領域）5
3E 46 00h
32
どちらかa）
18.4.7参照
リザーブ（領域）6
3E 46 80h
32
---
リザーブ（領域）7
3E 47 00h
32
---
INFO 2
リザーブ（領域）8
3E 47 80h
32
どちらかa）
18.4.4参照
バッファ
---
3E 48 00h
1408
---
OPC 1
テストゾーン
3E 5E 00h
2048
どちらかa)
18.4.2参照
バッファ
---
3E 7E 00h
1408
---
---
---
---
---
ドライブ領域
ドライブ領域
ドライブ領域
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
未記録
保護ゾーン1
注a) ゾーンがその記載事項によって，プリ記録されてもよいし，されなくてもよいことを意味する。
図118−内側ゾーン1（リードアウトゾーン）のプリ記録領域
22.5.3 プリ記録のBCA
BCA符号は記録してもよいし，しなくてもよい。アプリケーションに規定する場合を除いて，BCA符
号は記録されない。BCA符号の変調及びフォーマットは，この規格では定めていない（箇条35参照）。
22.5.4 プリ記録のINFO 2のリザーブ（領域）5及びリザーブ（領域）8並びにプリ記録のINFO 1のプリ
記録領域
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，内側ゾーン0及び内側ゾーン1の両方で，INFO 2
のリザーブ（領域）5及びリザーブ（領域）8並びにINFO 1のプリ記録領域は，00hが記録される。未記
録ディスクにBCAが記録される場合は，これらのゾーンは未記録となる（18.3.5，18.4.7，18.3.2，18.4.4，
18.3.14及び18.4.14参照）。
22.5.5 プリ記録のINFO 1のPAC 1及びプリ記録のINFO 2のPAC 2
未記録ディスクにBCA符号が記録されないとき，IS1 PAC及びIS2 PAC構造がINFO 1のPAC 1及びINFO
2のPAC 2に記録される。未記録ディスクにBCA符号が記録される場合は，これらのゾーンは，未記録と
153
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
なり，IS1 PAC及びIS2 PAC構造は，記録されない（21.4参照）。
22.5.6 OPC 0のテストゾーン及びOPC 1のテストゾーン
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，プリ記録ゾーンを記録するためのOPCを行うため
に，OPC 0テストゾーン及びOPC 1テストゾーンの幾つかのクラスタを用いてもよい（18.3.10及び18.4.2
参照）。
22.5.7 TDMA 0
未記録ディスクにBCA符号が記録されない場合は，図117及び図118に規定されたゾーンを記録しても
よい。幾つかのゾーンが未記録ディスクに記録される場合は，TDMA 0中のTDMSが次のものを規定する
ために記録される。
− ゾーンが記録されている。
− LSN0から空のSRRが作られる。
− 幾つかのOPCクラスタが使用される。
22.5.8 ディスクの初期化
BDレコーダブルディスクは，使用前に初期化される。未記録ディスクで，仮ディスク管理構造及びプ
リ記録領域（18.3.14及び18.4.14参照）が記録されていない場合は，これらの領域を使用者データ領域の
記録の前に記録する。
新しく作ったTDMSの全ての更新フィールドを，“0”に設定する。TDMA 0のTDMAアクセス指標の
次から始まる最初のクラスタに記録する。
アプリケーションに規定する場合を除いて，BDレコーダブルディスクは，連続記録モードにフォーマ
ットしてもよい。新しく作られた単一クラスタのTDMSは，次の要素をもっている（22.4.3及び図106参
照）。
− ヘッダ及び終端子だけをもちDFL登録がない空のTDFL
− 少なくとも一つのオープンSRRをもつSRRI（最初のSRRI登録は，“1”に設定したセッション開始
ビットをもつ。）
− 全ての適切な情報をもつTDDS（図107参照）
22.6 記録済み（クローズした）ディスク構造
22.6.1 一般
22.6に記録済みのディスク構造をまとめる。未記録ディスクへのデータ記録が終了した場合は，ディス
クの領域は，規定に従って記録される。TDMAの全てのクラスタが使用されたら，ディスクは記録済みデ
ィスクと扱う。
記録ディスクの，四つのDMAゾーン及びDMAアクセス指標（22.3.2参照）を記録する（これによって
クローズとなる。）。
22.6.2 DMAゾーン
DMAゾーンの構造は，データ記録が終了した場合のディスクの状態を規定している。SRR状態はクロ
ーズに設定し，TDMS構造を更新し，記録ディスクのTDMAに記録する。任意で，TDMAの残っている
クラスタを，全00hデータで記録できる（図119参照）。
他のディスクの未記録領域は，記録しなくてよい。
154
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
DMA2
DMA1
DMA3
DMA4
データゾーン
内側ゾーン
外側ゾーン
図119−ディスク管理領域
DMA1，2，3及び4は，最新のTDMSの情報の複製を記録する。
DMAゾーンのDDSは，これらのTDMSへの参照情報をもっている。
22.6.3 ディスク管理構造（DMS）
22.6.3.1 一般
ディスク管理構造（DMS）は，ディスク定義構造（DDS）及び欠陥リスト（DFL）で構成される。
DDSは，SRRIと一緒に1クラスタに統合され，堅ろう（牢）性を確保するために繰り返す。DFLは，
単層ディスクでは四つの連続したクラスタから構成され，2層ディスクでは八つの連続したクラスタから
構成され，7回繰り返すことができる。
内側及び外側ゾーンのDMAゾーンに記録する全ての四つのDMSは，欠陥リストの最初のPSN（22.4.4，
DDSのデータフレーム0のバイト24参照）を除き，同じ情報をもつ。
DMAゾーンは，想定されるパワーダウンに対応しやすくするために，DMA 1，DMA 2，DMA 3，DMA 4
の順番で更新する。
22.6.3.2 単層ディスクのディスク管理構造（DMS）
単層ディスクでは，DMAは，図120に示すとおりに32個の連続したクラスタから構成される。
トラッキング方向
L0層
クラスタ
1
2
3
...
31
32
クラスタ
クラスタ
クラスタ
クラスタ
図120−単層ディスクのDMAのクラスタ
DDS＋SRRIは，各DMAの最初の4クラスタに繰り返して記録する。DFLは，各DMAのクラスタ5〜
8へ記録され，任意でクラスタ9〜32へも繰り返してもよい（繰返しが適用されない場合は，クラスタ9
〜32は，全て00hを記録する。）（図121参照）。
クラスタ1 ~ 4
DDS + SRRI
4 回繰り返し
クラスタ5 ~ 8
DFLの最初の位置
DFL
クラスタ9 ~12
DFLの2番目の位置
クラスタ13 ~16
DFLの3番目の位置
任意でDFLの複製
又は00h
:
:
:
クラスタ29 ~32
DFLの7番目の位置
任意でDFLの複製
又は00h
任意でDFLの複製
又は00h
図121−単層ディスクのDMAゾーンの例
各クラスタ1〜4の最初のデータフレームは，DDSに指定される。そのデータフレームは，最新のTDDS
の複製を含む。ただし，そのTDDSは，欠陥リストの最初のPSNを含まない。欠陥リストの最初のPSN
は，このDDSをもつDMAゾーンのクラスタ5，9 .. 29のいずれかの最初のPSNに設定する。その設定し
155
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
たアドレスは，エラーなしで読み取れる最初の完全なDFLが記録されたことを示す。
クラスタ1〜4のデータフレーム1（22.4.3参照）は，SRRIに指定され，TDMSから最新のSRRIの複製
を記録する。残りのデータフレーム2〜31は，全て00hとする。
DFLは，クラスタ5〜8に記録され，最新のTDFLの複製を記録する。ここに，TDFLは，4クラスタの
長さになるまで，“0”データを埋める。DFLは，堅ろう（牢）さを確保するために，各DMAの中の続き
の4クラスタグループに繰り返してもよい。
22.6.3.3 2層ディスクのディスク管理構造（DMS）
2層ディスクでは，DMAは，図122に示すとおりに，二つの記録層に分かれた64クラスタで構成され
る。
トラッキング方向
L0層
クラスタ
1
クラスタ
2
クラスタ
3
...
クラスタ
31
クラスタ
32
L1層
クラスタ
64
クラスタ
63
...
クラスタ
35
クラスタ
34
クラスタ
33
トラッキング方向
図122−2層ディスクのDMAのクラスタ
DDS＋SRRIは，各DMAの最初の4クラスタに，繰り返して記録する（図123参照）。DFLは，各DMA
のクラスタ9〜16へ記録され，任意でクラスタ17〜64へも繰り返してもよい（繰返しが適用されない場合
は，クラスタ17〜64は，全て00hを記録する。）。
クラスタ1~ 4
DDS+ SRRI
4 回繰り返し
クラスタ5 ~ 8
リザーブ（領域）
クラスタ9 ~ 16
DFLの最初の位置
DFL
クラスタ17 ~ 24
DFLの2番目の位置
任意でDFLの複製
又は00h
クラスタ25 ~ 32
DFLの3番目の位置
:
:
クラスタ57 ~ 64
DFLの7番目の位置
任意でDFLの複製
又は00h
任意でDFLの複製
又は00h
図123−2層ディスクのDMAゾーンの例
各クラスタ1〜4の最初のデータフレーム0は，DDSに指定され，このDDSをもつDMAゾーンのクラ
スタ9，17 .. 57のいずれかの最初のPSNに設定する欠陥リストの最初のPSNを除き，最新のTDDSの複
製を含む。指定されたアドレスは，エラーなしで読み取れる最初の完全なDFLの記録場所を示す。
クラスタ1〜4のデータフレーム1（22.4.3参照）は，SRRIに指定され，TDMSから最新のSRRIの複製
を記録する。残りのデータフレーム2〜31は，全て00hとする。
DFLは，クラスタ9〜16に記録され，最新のTDFLの複製を記録する。ここに，TDFLは，8クラスタ
の長さになるまで“0”データを埋める。DFLは，堅ろう（牢）さを確保するために，各DMA内の続きの
8クラスタグループに繰り返してもよい。
156
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
23 論理セクタ番号（LSN）の割当て
使用者データを保存するために使用できる全てのクラスタに対しては，連続する使用者データフレーム
ごとに，LSN 0から始まって一つずつ増加する論理セクタ番号を連続で割り当てる（図124参照）。
LSN 0は，（PSN＝1 048 576において）リードインゾーンの後の最初のクラスタの，最初の使用者データ
フレームに割り当てられる。
L0層の最後のLSNは，（PSN＝8×LAA＋15＝Xにおいて）8×LAA＋15−1 048 576に等しく，外側ゾー
ン0の前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てられる。
L1層の最初のLSNは，（
00h
00
00
FE
FAA
8
PSN
+
=
×
=
X
において）L0層の最後のLSNよりも一つ大
きくし，外側ゾーン1の後の最初のクラスタの最初の使用者データフレームに割り当てる。
L1層の最後のLSNは，（PSN＝01 EF FF FFhにおいて）16×LAA＋31−2 097 152に等しく，リードイン
ゾーンの前の最後のクラスタの最後の使用者データフレームに割り当てられる。
PSN
LS
N
00 10 00 00h
01 EF FF FFh
0
0
0
0
0
0
h
リードイン
ゾーン
外側
ゾーン0
外側
ゾーン1
リードアウト
ゾーン
使用者データ領域
使用者データ領域
X
X+ FE 00 00 00h
L0層
L1層
内周
内周
外周
外周
図124−論理セクタ番号の割当て
24 グルーブ領域の特性
箇条24〜箇条27で規定する信号値は，他に規定する場合を除き，全てのディスク容量で有効である。
この規格では，次の二つのタイプの信号を区別している。
− ディスクのグルーブ構造を再生した信号
− 使用者が記録した，マークを再生した信号
箇条25〜箇条27は，グルーブ構造を再生した信号を定義し規定する（グルーブのフォーマットは，箇
条15に規定されている。）。
箇条25〜箇条27の全ての要求事項を，他の層の記録状態（未記録，記録又は部分記録）に関係なく，
公称半径22.4 mmのエンボスHFM領域（PICゾーンの開始又は終了）の内径と外側ゾーンの半径＋20 μm
（dDZO/2＋20 μm）との間で，全ての層で満たす。要求事項は，外周ゾーンの残りの領域でも満たすことが
望ましい。
157
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
25 グルーブ領域の試験方法
25.1 一般
試験は，記録領域で行う。試験に必要な記録及び読取りの動作は，同じ基準ドライブで行う。
信号の測定をする場合は，ほこり，きずなどの局所欠陥の影響は，除外される。局所欠陥は，トラッキ
ングエラー及び訂正不能データの原因となる可能性がある（箇条34参照）。
25.2 環境条件
ディスクが8.1.1に規定した許容される環境条件外の場合を除き，全ての信号は，規定する範囲内とする。
25.3 基準ドライブ
25.3.1 一般
全ての信号は，基準ドライブの適したチャネルで，箇条9及び附属書Hの規定に従って測定する。
25.3.2 読取りパワー
読取りパワーは，ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。読取り
パワーは，単層ディスクでは，(0.35±0.1) mW及び2層ディスクでは，(0.70±0.1) mWとする。
25.3.3 読取りチャネル
ドライブは，9.5及び9.6に規定する，二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信
号は，ジッタ測定以外は波形等化しない（附属書H参照）。
プッシュプル信号の測定には，半径方向PP読取りチャネルに，次の特性をもつ1次のLPFを通す。
f−3dB＝30 kHz
ウォブル信号の測定には，半径方向PP読取りチャネルに，次の特性をもつ1次のLPFを通す。
f−3dB＝8 MHz
25.3.4 トラッキング要求事項
信号を測定する間に，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，emax(axial)とし，
次による。
emax(axial)＝80 nm
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，emax(radial)とし，次による。
emax(radial)＝20 nm
4x及び6xディスクで，大きなトラッキングエラーを起こす局所欠陥の扱いは，附属書Iの規定に従う。
25.3.5 走査速度
実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周
波数が956.522 kHzとなる速度とする。
25.4 信号の規定
全ての信号の振幅は，フォトディテクタの電流と線形関係にあり，したがって，ディテクタに当たる光
パワーと線形関係にある。
幾つかの信号は，未記録のグルーブ領域の全ディテクタ電流で正規化される。
この全ディテクタ電流は，次による。
IG＝(I1＋I2)groove
プッシュプル信号は，次による。
− プッシュプル信号は，光ビームの焦点がトラックを横切る場合の，低域通過フィルタを通した半径方
向PP読取りチャネルの正弦波状差信号(I1−I2)（図7参照）である。プッシュプル信号は，ドライブ
の半径方向のトラッキング動作に使用できる（図125参照）。
158
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 通常，差信号(I1−I2)は，低域通過フィルタを通した全ディテクタ電流(I1＋I2)で正規化される。この実
時間の正規化プッシュプル信号の両ピーク値は，次による。
()
()
()
()
(
)
(
)
(
)
(
)
1
1
2
2
at
2
1
at
2
1
at
2
1
at
2
1
peak
peak
2
1
2
1
norm
t
t
t
t
I
I
I
I
I
I
I
I
t
I
t
I
t
I
t
I
PP
+
−
−
+
−
≡
+
−
=
−
オントラック
オントラック
半径方向位置
(時間)
(I-I)
差信号
1 2
(I-I)
1 2 min
(I-I)
1 2 max
(I+ I)
和信号
1 2
ディテクタ
電流
(mA)
0
t1
t2
図125−プッシュプル信号の規定
ウォブル信号は，次による。
− ウォブル信号IWppは，光ビームの焦点が25.3.4に従ってトラックを追いかける場合の，半径方向PP
読取りチャネルの正弦波状差信号(I1−I2)（図7参照）の両ピーク値である。測定方法については，附
属書M及び附属書Eも参照。
− ウォブル信号は，プッシュプル信号の両ピーク値(I1−I2)ppで正規化し（正規化ウォブル信号：NWS），
次による。
(
)pp
2
1
Wpp
I
I
I
NWS
−
=
HFMグルーブ領域及びウォブルグルーブ領域の正規化プッシュプル信号の比は，次による。
HFMグルーブ領域及び未記録グルーブ領域の，正規化プッシュプル信号の比は，次による。
Unrec
WG,
norm,
HFM
norm,
PP
PP
RHWG=
26 HFMグルーブの信号
26.1 プッシュプルの極性
プッシュプル信号の極性は，信号が次のピット又はグルーブ構造から検出したプッシュプル信号の極性
と同じ場合は，正極性という。
− “オングルーブ記録”（15.2参照）
159
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− グルーブの単一経路の位相深さが，90°未満の場合
規定した場合と，極性が反対の場合は，負極性という。
ディスクの各記録層のプッシュプル信号の極性は，ディスク情報に示す（15.8.3参照）
26.2 プッシュプル信号
実時間の，正規化プッシュプル信号の両ピーク値PPnorm，HFMは，エンボスHFM領域で，次による。
0.26≦PPnorm,HFM≦0.52
26.3 ウォブル信号
正規化HFMウォブル信号は，グルーブトラックの平均中心線からの偏移量を表している。隣接トラッ
クのウォブルとの干渉によって，HFMウォブル信号の振幅は，変動している（ウォブルビートと呼ばれる。）。
HFMウォブル信号が，ウォブルビートによって最小の振幅を示す場所では，正規化HFMウォブル信号
（NHWS）は，次による。
0.30≦NHWSmin≦0.60
HFMウォブル信号が，ウォブルビートによって最大の振幅を示す場所では，正規化HFMウォブル信号
は，次による。
NHWSmax≦3×NHWSmin
注記 エンボスHFM領域で検出するHFMウォブル信号の形は，記録領域のウォブル信号と非常に違
うため，附属書Eに規定した測定方法は，これらのHFMウォブル信号を測定することに適さ
ない。
26.4 HFM信号のジッタ
HFMグルーブからのウォブル信号を2値化したものは，PICゾーンのエンボスHFM情報を表している。
この2値信号の，前エッジ及び後エッジのジッタは，別々に，PLLクロックを基準に測定する。
前エッジ及び後エッジ両方のジッタは，4.5 %以下とする。
ジッタは，次に示す条件で測定する。
− ac結合（高域通過フィルタ）：1次のフィルタで，f−3dB＝10 kHz
− 波形等化なし
− 18Tクロック周期で正規化（15.5.4.2参照）
27 ウォブルグルーブからの信号
27.1 位相深さ
グルーブの単一経路位相深さは，90度を超えない。
27.2 プッシュプル信号
正規化プッシュプル信号（PPnorm）の実時間の両ピーク値は，次に示す要求事項を各層で満たす。
− 未記録領域（全ての隣接トラックが未記録）で，次による。
− HTLディスク：
0.21≦PPnorm,unrec≦0.45
− LTHディスク：
0.21≦PPnorm,unrec≦0.60
− 未記録領域の150トラック内でのプッシュプル信号の最大変動量は，次による。
160
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 単層ディスク：
(
)
(
)
(
)
(
)
0.15
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
≦
PP
PP
PP
PP
+
−
− 2層ディスク：
(
)
(
)
(
)
(
)
0.18
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
≦
PP
PP
PP
PP
+
−
− 一つの層内での未記録領域のプッシュプル信号の最大変動量は，次による。
(
)
(
)
(
)
(
)
0.25
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
min
unrec
norm,
max
unrec
norm,
≦
PP
PP
PP
PP
+
−
− 記録済み領域（隣接トラック全て記録済み。）で，次による。
− HTLディスク：
0.21≦PPnorm,rec≦0.45
− LTHディスク：
0.21≦PPnorm,rec≦0.60
− 一つの層内での，記録済み領域及び未記録領域の平均プッシュプル信号の比は，次による。
− HTLディスク：
0.75≦
unrec
norm,
rec
norm,
PP
PP
≦1.25
− LTHディスク：
0.50≦
unrec
norm,
rec
norm,
PP
PP
≦1.0
27.3 ウォブル信号
27.3.1 一般
正規化ウォブル信号（NWS）は，グルーブトラックの平均中心線からの偏移量を表している。平均のト
ラック中心線からの，ウォブルグルーブトラックの実際の中心の偏移量は，附属書Mに従って計算できる。
27.3.2 NWSの測定
隣接トラックとのウォブルの干渉によって，ウォブル信号振幅は，変動している（ウォブルビートと呼
ばれる。）。ウォブル信号は，未記録領域で，らせんグルーブを連続トラッキングしながら測定する。測定
方法は，附属書Eに規定されている。
ウォブル信号が最小の振幅を示す場所では（MSKマークの影響を除く。），NWSは，次による。
0.20≦NWSmin≦0.55
ウォブル信号が，ウォブルビートによって最大の振幅を示す場所では，NWSは，次による。
NWSmax≦3×NWSmin
27.3.3 ウォブルCNRの測定
15.8.3に規定した，ディスクの最小及び最大の速度の場合の記録後のウォブル信号の狭帯域SNR（又は
CNR）は，ウォブル信号が最小の振幅を示す場所で26 dBを超える。
キャリアは956.5 kHzで測定し，ノイズレベルは，500 kHzで測定する（附属書E参照）。
161
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
27.3.4 ウォブルの高調波ひずみの測定
HMW変調の最低限の品質を保証するために，HMW変調の2次高調波の大きさに比べて，ウォブル信
号の2次高調波ひずみは十分小さくする。
2次高調波レベル（SHL）及び2次高調波ひずみ（SHD）は，ディスクの2か所でウォブルの基本波の大
きさ及び2次高調波の大きさを測定することによって決める。この両方の大きさは，データゾーン及び保
護ゾーン3で測定する。
局所のウォブル基本周波数レベルで正規化したSHD及びSHLの比は，次のいずれかによる。
− 半径方向のチルトなしで SHD/SHL＜−12 dB
− 半径方向のチルト±0.70°以内で SHD/SHL＜−6 dB
測定は，スペクトラムアナライザを用いる（附属書E参照）。
27.4 HFM及びウォブルグルーブの遷移の要求事項
HFM領域とウォブルグルーブ領域との間のグルーブトラッキングの最低限の品質を確保するために，
HFMグルーブ及び未記録ウォブルグルーブ領域の正規化プッシュプル信号の比（RHWG）は，LTHディス
クに対して，次による。
RHWG≧0.50
28 記録層の特性
箇条28〜箇条31で規定する信号値は，他に規定する場合を除き，全ての容量のディスクで有効である。
この規格では，次に示す二つのタイプの信号を区別している。
− グルーブ構造を再生した信号
− 使用者が記録したマークを再生した信号
箇条29〜箇条31は，データを記録するために用いる記録層の記録特性を評価する，一連の試験を規定
する。
箇条29〜箇条31の全ての要求事項は，他の記録層の状態（記録，未記録又は部分記録かどうか）にか
かわらず，記録領域の内径（INFOのOPCゾーンの開始又は終了）で，公称半径23.2 mmと外部ゾーンの
内径＋20 μm（dDZO/2＋20 μm）との間で，全ての層で満たす。要求事項は，外部ゾーンの残りの領域でも，
満たすことが望ましい。
29 記録層の試験方法
29.1 一般
試験は，記録領域で行う。試験に必要な記録及び読取りの動作は，同じ基準ドライブで行う。
信号を測定する場合は，ほこり，きずなどの局所欠陥の影響は除かれる。局所欠陥は，トラッキングエ
ラー及び訂正不能データの原因となる可能性がある（箇条33参照）。
29.2 環境条件
ディスクが，8.1.1に規定した許容環境条件内にある場合は，全ての信号は，規定する範囲内とする。
29.3 基準ドライブ
29.3.1 一般
全ての信号は，基準ドライブの適したチャネルで，箇条9及び附属書Hの規定に従い測定する。
162
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
29.3.2 読取りパワー
読取りパワーは，ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。読取り
パワーは，単層ディスクでは(0.35±0.1) mW及び2層ディスクでは(0.70±0.1) mWとする。
29.3.3 読取りチャネル
ドライブは，9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は，ジッタ測定以外は，波形等化しない（附属書H参照）。
29.3.4 トラッキング要求事項
信号の記録中及び読取り中に，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，2xデ
ィスクでは最大55 nm，4xディスク及び6xディスクの半径36 mmまでは最大80 nmとする。6xディスク
の半径36 mm及びそれ以上の半径では，軸方向のトラッキングエラーは最大80 nm，又はディスクがジッ
タの特性を満たす場合は最大110 nmとする。
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，2xディスクは最大16 nm，
4xディスク及び6xディスクは最大20 nmとする。
4x及び6xディスクで大きなトラッキングエラーを起こす局所欠陥の扱いは，附属書Iの規定に従う。
29.3.5 走査速度
記録の試験は，ディスクにあるDIユニットに規定した速度で行う（15.8.3参照）。
読取りの間，実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平
均ウォブル周波数が956.522 kHzとなる速度とする。
29.4 記録条件
29.4.1 記録パルス波形
マーク及びスペースは，レーザをパルス状に照射することによって，ディスク上に記録される。レーザ
パワーは，附属書Fの記録パルス波形のうちの一つによって変調される。NRZIの2T〜9Tのラン長は，マ
ルチパルス列の記録パルスを適用して記録される。
記録中のレーザパワーは，次に示す四つのレベルがあり，ディスクの入射面に照射される。
− 記録ピークパワーPW
− バイアス記録パワーPBW又は中間パワーPM
− スペースパワーPS
− 冷却パワーPC
マークは記録ピークパワーPWで形成され，スペースはスペースパワーPSで形成される。
PW，PBW，PS，PM，及びPCの値は，附属書Gに従って最適化する。
試験の実際のパワーPW，PBW，PS，PM及びPCは，最適値の±5 %以内とする。ここに，PBW，PC，PM及
びPSは，ディスク情報に規定した比例係数εに従ってPWに比例する（15.8.3参照）。
29.4.2 記録パワー
最適化された記録パワーPWO，PBWO，PSO，PMO及びPCOは，図126に示す条件を満たす。
163
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
メディアタイプ
HTLディスク
LTHディスク
層
単層
2層
単層
2層
速
度
パワー(mW)
最小
最大
最小
最大
最小
最大
最小
最大
PWO(mW)
3.0
6.0
6.0
12.0
3.0
6.0
---
---
PBWO(mW)
0.10
4.0
0.10
8.0
0.10
4.0
---
---
PSO(mW)
0.30
4.0
0.60
8.0
0.30
4.0
---
---
1x
PCO(mW)
0.10
4.0
0.10
8.0
0.10
4.0
---
---
PWO (mW)
3.0
7.0
6.0
14.0
3.0
7.0
---
---
PBWO(mW)
0.10
7.0
0.10
14.0
0.10
7.0
---
---
PSO(mW)
0.30
5.4
0.60
10.8
0.30
5.4
---
---
PCO(mW)
0.10
5.4
0.10
10.8
0.10
5.4
---
---
2x
PMO(mW)a)
1.50
7.0
3.0
14.0
---
---
---
---
PWO(mW)
4.0
10.5
7.0
18.0
4.0
10.5
---
---
PBWO(mW)
---
---
---
---
---
---
---
---
PSO(mW)
0.30
5.4
0.60
10.8
0.30
5.4
---
---
PCO(mW)
0.10
5.4
0.10
10.8
0.10
5.4
---
---
4x
PMO(mW)
2.0
10.5
3.50
18.0
2.0
10.5
---
---
PWO(mW)
5.0
14.0
8.5
22.0
5.0
14.0
---
---
PBWO(mW)
---
---
---
---
---
---
---
---
PSO(mW)
0.3
7.2
0.6
13.2
0.3
7.2
---
---
PCO(mW)
0.1
7.2
0.1
13.2
0.1
7.2
---
---
6x
PMO(mW)
2.5
14.0
4.2
22.0
2.5
14.0
---
---
注a) キャッスルストラテジを適用する場合だけに用いる。
図126−単層及び／又は2層LTH及びHTLディスクの記録パワーの要求事項
図126に示した条件に追加して，記録パワーは，次の条件を満たす。
− 1×Vref：
PWO＞PSO≧PCO及びPSO≧PBWO
− 2×Vref：
PWO＞PSO≧PCO及びPMO≧PBWO
− 4×Vref及び6×Vref：
PWO≧PMO＞PSO≧PCO
29.4.3 ジッタ測定の記録条件
ジッタの測定は，ディスクの記録領域の，(m−2)，(m−1)，m，(m＋1)及び(m＋2)で示される，任意の隣
接した5トラックグループで行う。
5トラックは，ランダムデータを，29.4.1に規定したとおり，PWOに等しいPWの記録パワーで記録され
る。ジッタ測定のためには，5トラック全部に，PWOに等しいPWの記録パワーでランダムデータが記録さ
れる。
164
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
29.5 信号の規定
全ての信号振幅は，フォトディテクタの電流に線形比例している。したがって，ディテクタに当たる光
パワーに，線形比例している。
ジッタは，次による。
ジッタは，2値化した読取信号の遷移の時間変動の標準偏差σである。この読取り2値信号は，HF読取
りチャネルからのHF信号をLPF及び波形等化器を通し，スライサに供給して得られる（附属書H参照）。
前エッジのジッタ及び後エッジのジッタは，PLLのクロックに対して別々に測定され，チャネルクロック
周期で正規化される。
30 記録領域からの信号
30.1 HF信号
4分割フォトディテクタの電流の総和によって，HF信号が得られる。これらの電流は，記録層の情報を
表すマーク及びスペースの異なる反射率によって，変調される（図127参照）。
30.2 変調振幅
変調振幅I8ppは，最大のマーク及びスペースによって生成されるHF信号の両ピーク値である。ピーク値
I8Hは，HF信号を交流結合する前のHF信号のピーク値である。
変調振幅I2ppは，最小のマーク及びスペースによって生成されるHF信号の両ピーク値である。0レベル
は，ディスクが挿入されていない場合の測定デバイスの信号レベルである。
注記 同期パタンでは実際にラン長9Tが生じる。しかし，この9Tは，めったに現れないため，HF
信号の両ピークへの影響は無視できる。
0 レベル
I
=I
8H
top
I8pp
I8L
I2H
I2pp
I3pp
I2L
0 レベル
0 レベル
I
=I
8H
top
I8pp
I8L
I2H
I2pp
I3pp
I2L
図127−マーク及びスペースからのHF信号の図
I2ppは比較的小さい信号なので，その振幅は，ランダムHF信号から確実な値を得られない。したがって，
ある場所に連続した2Tのマーク及びスペースだけを，またある場所に連続した8Tのマーク及びスペース
だけを，記録することが望ましい。これによって，信号は，適した測定装置を用いれば正確に測定できる。
変調信号は，次による。
− I8pp/I8H≧0.40
− I3pp/I8pp≧0.25
− ディスク容量25.0 GB及び50.0 GBのディスクで，I2pp/I8pp≧0.040
165
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
変調信号の変動は，次による。
− 連続記録した一つの層内：
(I8Hmax−I8Hmin)/I8Hmax≦0.33
− 連続記録した1回転内：
(I8Hmax−I8Hmin)/I8Hmax≦0.15
2層ディスクで，L0層及びL1層の変調信号の比は，連続記録された状態で，次による。
−0.25≦(I8H,L0−I8H,L1)/(I8H,L0＋I8H,L1)≦＋0.25
ここで，I8H,L0及びI8H,L1は，同じ場所で半径方向及び接線方向の両方向に測定される。
30.3 反射率−変調度積
変調度（正規化したI8pp変調振幅に等しい。）を乗じたディスクの反射率は，次による（附属書B参照）。
×
=
×
8H
8pp
H
8
I
I
R
M
R
このR×Mは，次による。
− HTL単層ディスク：
0.050≦R×M≦0.15
− LTH単層ディスク：
0.060≦R×M≦0.18
− 2層ディスク：
0.016≦R×M≦0.048
I2解像度（正規化したI2pp変調振幅に等しい。）を乗じたディスクの反射率は，次による。
×
=
×
8H
2pp
8H
2
I
I
R
I
R
このR×I2は，次による。
− 25.0 GBの容量の単層ディスク：
R×I2≧0.003 6
− 50.0 GBの容量の2層ディスク：
R×I2≧0.001 2
30.4 非対称性
HF信号の非対称性は，次による。
−0.10≦
+
−
+
8pp
2L
2H
8L
8H
2
2
I
I
I
I
I
≦＋0.15
30.5 ジッタ
ジッタを測定するトラックは，29.4.3の規定に従って記録する。
ジッタは，記録5トラックの中心のトラックmで，基準速度で測定する。
トラックmで，前エッジ及び後エッジ両方（別々に測定）とも，容量によらず全てのディスクで，次に
166
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
よる。
− 単層ディスク及び2層ディスクのL0層の場合
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定したとき，7.0 %以下とす
る。
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定したとき，ジッタ測定で
2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを除いたとき，6.5 %以下とする。
− 2層ディスクのL1層の場合
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定したとき，8.5 %以下とす
る。
− 附属書Hに規定した回路を用い回路をリミットイコライザモードに設定し，ジッタ測定で2Tマー
ク又は2Tスペース隣接のエッジを除いたとき，6.5 %以下とする。
注記 2Tマーク又は2Tスペース隣接のエッジを含まないということは，nが3以上かつmが3以上
の場合の，nTマーク又はnTスペースとmTスペース又はマークとの間にあるエッジだけの，
ジッタ測定を行うことを意味している。
30.6 読取耐久性
図128に示す直流読取りパワーで，一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディスクは，その
後，動作環境で全ての規格を満たす。
DIバイト36〜39（15.8.3.3，15.8.3.4及び15.8.3.5参照）によって高い直流読取りパワーが規定されてい
る場合は，そのパワーを適用する。
2x ディスク
4xディスク
6xディスク
読取速度
単層
2層
単層
2層
単層
2層
1x
0.40 mW
0.70 mW
0.40 mW
0.70 mW
0.40 mW
0.70 mW
2x
0.45 mW
0.80 mW
0.45 mW
0.80 mW
0.45 mW
0.80 mW
4x
---
---
0.70 mW
1.30 mW
0.70 mW
1.30 mW
6x
0.70 mW
1.30 mW
---
---
---
---
図128−直流読取耐久性測定の読取りパワー値
図129に示す高周波重畳読取りパワーで，一つのトラックを連続して106回まで読み取る。ディスクは，
その後，動作環境で全ての規格を満たす。
DIバイト40〜43（15.8.3.3，15.8.3.4及び15.8.3.5参照）によって，高い高周波重畳読取りパワーが規定
されている場合は，そのパワーを適用する。
2x ディスク
4xディスク
6xディスク
読取速度
単層
2層
単層
2層
単層
2層
1x
0.30 mW
0.60 mW
0.30 mW
0.60 mW
0.30 mW
0.60 mW
2x
0.35 mW
0.70 mW
0.35 mW
0.70 mW
0.35 mW
0.70 mW
4x
---
---
0.60 mW
1.20 mW
0.60 mW
1.20 mW
6x
0.60 mW
1.20 mW
---
---
---
---
図129−高周波重畳読取耐久性測定の読取りパワー値
167
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
高周波重畳は，次によることが望ましい（図130参照）。
− 重畳周波数（＝1/THF-laser）
(400±40) MHz
− パルス幅
(300±30) ps
− ピークパワー及び平均パワーの比
− 1×Vref（基準速度）及び2×Vrefで
7.0±0.7
− 4×Vref及び6×Vrefで
4.5±0.5
− ピーク間のボトムレベルフラット
ピーク
平均
パルス幅
(FWHM)
時間
THF-laser
光強度
図130−高周波重畳されたレーザダイオードからの光パルス波形の図
追加で，SER（34.1参照）は，いずれのLDCブロックでも4.2×10−3未満とする［317カウント未満と
等価（＝4.2×10−3×75 392バイト）］。
31 局所欠陥
“気泡”とか“黒点”（透過積層中に入ったほこり，記録層のピンホールなどの欠陥）といった，記録層
上又は透過積層中の欠陥は，いかなる意図しないトラックジャンプ及び訂正不能エラーも引き起こしては
ならない（33.4及び箇条34も参照）。
そのような欠陥の大きさは，次による。
− 気泡：
直径＜100 μm
− 複屈折を伴う黒点：
直径＜150 μm
− 複屈折を伴わない黒点： 直径＜150 μm
32 使用者データの特性
箇条32〜箇条34は，この規格にディスク上の使用者データが適合するかどうかを測定する一連の測定
方法を規定する。規定した測定は，使用者が記録したデータの読みやすさを確認している。データは，任
意と仮定している。
使用者が記録したデータは，任意の動作環境，速度，ドライブで記録されていてもよい。
33 使用者データの測定方法
33.1 一般
箇条32〜箇条34規定の読取試験は，基準ドライブで行う。
168
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
箇条24〜箇条30は，局所欠陥を考慮しなかったが，箇条32〜箇条34は，局所欠陥を，読取信号の避け
られない劣化として含んでいる。欠陥の程度は，次に示す読取りチャネルのエラー検出及びエラー訂正回
路のエラー訂正能力によって決められる。箇条32〜箇条34の要求事項は，データ交換のためのデータ品
質の下限を規定する。
33.2 環境条件
ディスクが，8.1.1に規定した許容される環境条件にない場合を除き，全ての信号は，規定した範囲内に
ある。
33.3 基準ドライブ
33.3.1 一般
全ての信号は，箇条9に規定した，基準ドライブの適したチャネルで測定する。
33.3.2 読取りパワー
読取りパワーは，ディスクの入射面に照射し情報を読み取るためだけに用いる光パワーである。読取り
パワーは，単層ディスクでは(0.35±0.1) mW及び2層ディスクでは(0.70±0.1) mWとする。
33.3.3 読取りチャネル
ドライブは，9.5及び9.6に規定する二つの読取りチャネルをもつ。HF読取りチャネルからのHF信号
は波形等化をし，データ信号処理の前にフィルタを通す。HF信号を2値の読取信号に変換するしきい値
は，記録中のパラメタの変動による，マーク及びスペースの大きさの変動の影響が小さくなるように制御
する。ディスクの品質測定では，波形等化，フィルタ及びスライサの特性，並びにPLLの特性は，ジッタ
測定用の附属書H（リミットイコライザ）に規定したものと同じにする。
33.3.4 エラー訂正
データバイトのエラーの訂正は，箇条13の規定に基づいた，エラー検出訂正システムで行う。
33.3.5 トラッキング要求事項
信号の測定中に，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，最大80 nmとし，
光ビームの焦点とトラック中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，最大20 nmとする。
4x及び6xディスクで大きな軸方向トラッキングエラーを起こす局所欠陥の扱いは，附属書Iの規定に
従う。
33.3.6 走査速度
実際のディスクの回転速度は，平均チャネルビットレートが66.000 Mbit/sとなるか又は平均ウォブル周
波数が956.522 kHzとなる速度とする。
33.4 信号の定義
バイトエラーは，次による。
バイトエラーは，バイト中の1ビット又はそれ以上のビットが誤った場合に発生し，関連するエラー検
出回路及び／又は訂正回路によって検出される。
バーストエラーは，次による。
− バーストエラーは，任意の二つのエラーバイトの間に三つ以上の正しいバイトがない場合の，一連の
バイトで定義される（13.1及び13.8参照）。
− バーストエラー長は，少なくとも3バイト長以上の正しいバイトで，その前のエラーバイトから分離
された最初のエラーバイトから数え始め，次のエラーバイトの先頭から少なくとも3バイト長以上の
正しいバイトで分離される最後のエラーバイトまでを数えた，総バイト数で定義する。
− バースト中のエラーバイト数は，実際のバースト中で正しくないバイト数で定義される（図131の例
169
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
を参照）。
x
c
c
c
x
x
c
c
x
c
x
x
x
c
c
c
...
c
x
バースト長は，9 バイト
バースト中のエラーバイト数は，6
c = 正しいバイト，x = エラーバイト
図131−バーストエラーの例
シンボルエラー率は，次による。
N LDCブロックで平均をとったシンボルエラー率（SER）は，選択したLDCブロックの全てのエラーバ
イトの総和を，そのLDCブロックの全バイト数で除したもので定義され，次の式で表される。
392
75
1
a,
×
∑
=
N
E
N
i
i
ここに， Ea,i： LDCブロックi中のエラーバイト数
N： LDCブロック数
ランダムシンボルエラー率は，次による。
ランダムシンボルエラー率は，シンボルエラー率で，40バイト以上のバーストエラー中のエラーバイト
をSERの式の分子，分母両方から除いた式で定義され，次による。
(
)
∑
∑
=
=
−
×
−
N
i
i
N
i
i
i
E
N
E
E
1
b,
1
b,
a,
392
75
ここに， Ea,i： LDCブロックiの全エラーバイト数
Eb,i： LDCブロックiで40バイト以上のバーストエラー中の全ての
エラーバイト数
N： LDCブロック数
34 記録情報の下限品質
34.1 シンボルエラー率
欠陥を含むディスクの品質を確認する場合に，SERを決めるために選んだ領域に任意の使用者データを
記録する。SERは，34.1で規定する要求事項を満たす。
連続及び不連続記録の品質は，次による。
全てのブロックが連続で記録された条件（図47参照），又はディスクの欠陥を除外し不連続で記録され
た条件（図46参照）で，いかなる連続した10 000 LDCブロックで平均化しても，次を満たす。
ランダムSER＜2.0×10−4
34.2 最大バーストエラー
各記録ユニットブロックで，40バイト以上のバーストエラー個数及びバーストの長さの総和は，次によ
る。
− バーストエラー個数：八つ未満
− バーストの長さの総和：600バイト以下
170
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
34.3 使用者記録データ
HF読取りチャネルで読み取る記録ユニットブロック（RUB）の中の使用者記録データは，箇条13に規
定したエラー訂正システムで，訂正不能となるバイトがあってはならない。
35 BCA
r1とr3との間のゾーンは，バーストカッティング領域（BCA）に使うために，予約している（15.2及び
図54参照）。
BCA領域は，製造工程が終わった後に，ディスクに情報を追加するために用いる。
BCA符号は，レコーダブルディスクの場合は，高パワーレーザシステムで記録できる。
BCA符号の全ての情報は，全ての同心円上で全く同じ情報であり，内容は，半径方向に整列しており，
CAVモードで記録する（図132参照）。
BCA符号は，L0層の半径
0.0
0.3
3.
21
− mmと
0.2
0.0
0.
22
− mmとの間に記録する（BCA符号は，保護ゾーン1の
一部と重なってもよい。）。
BCA符号は，L1層には書かない。しかし，L0層にBCA符号を記録する影響がL1層に見えてもよい。
BCA符号は，円周方向に配置した低反射率のストライプの連続で記録する。各ストライプは，BCA領
域の半径方向の幅最大限に伸ばす。
BCA符号の情報は，L0層の半径21.3 mmと22.0 mmとの間の任意の半径位置で，ドライブで読むこと
ができる。
BCA符号を記録するかどうかは，アプリケーションによって決められる。アプリケーションが規定する
場合を除いて，BCA符号はBCA領域に記録しない。BCA符号のフォーマット及び内容は，関連団体の合
意によって定義をしている。
バーストカッティング領域
BCA符号
バーストカッティング領域
BCA符号
図132−BCAの図
171
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書A
（規定）
多層の場合の透過積層の厚さ
A.1 一般
透過積層全体がk層の構成の場合は，個々の層の厚さを決めるために，この附属書の方法を用いる。
− d1 .. dk：
層1 .. kの厚さ
− n1 .. nk：
層1 .. kの屈折率
− D(n)：
図19の屈折率nの場合の公称厚さ
層kの厚さdkは，次の式と等しくなることが望ましい。
−
×
=
∑
−
=
1
1
)
(
1
)
(
k
i
i
i
k
k
n
D
d
n
D
d
A.2 カバー層及びスペーサ層の全ての層の屈折率ni
カバー層及びスペーサ層の各層の屈折率niは，次による。
1.45≦ni≦1.70
A.3 透過積層の厚さばらつき
透過積層jの相対厚さは，次による。
()
∑
=
=
k
i
i
i
j
n
D
d
RT
1
ディスク全体で測定する，全透過積層の相対厚さRTは，次による。
a) TS0の相対厚さRT0：
95≦100×RT0≦105
b) TS1の相対厚さRT1：
70≦75×RT1≦80
注記 記録層の厚さは大変薄く，タイプDL/HTLディスクの場合の厚さの計算では無視できる。
A.4 単層の厚さ計算例
屈折率がn1＝1.70であり，公称厚さ75 μmのカバーシートが，基板に屈折率がn2＝1.45の接着シートで
付けられていると仮定する。
図19から，次のことが分かる。
D(n1)＝102.4及びD(n2)＝98.5
上の式によって，次の計算ができる。
μm
356
.
26
4.
102
75
1
5.
98
2
=
−
×
=
d
172
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附属書B
（規定）
反射率の測定
B.1
一般
ディスクの反射率は，幾つかの方法で測定できる。二つの一般的な方法を，次に示す。
− 平行光測定法
− 収束光測定法
ディスクの反射率は，既知の反射率の基準ディスクを使うことによって収束光測定法で測定される。一
方で，基準ディスクの反射率は，平行光測定法で校正される。
収束光測定法で反射率を測定する場合は，ディスクの反射層から帰ってきた光（Rm）だけがフォトディ
テクタに当たる。ディスク表面での反射光及びディスク内部での付随した折返し反射光は，大部分はフォ
トディテクタの外に出る。平行光測定法では，全体反射（R//）だけが測定でき，反射層からの主反射を決
めるためには計算が必要となる。
B.2
校正方法
例えば，0.1 mmのガラスのカバー層で，金の反射ミラーをもつような複屈折の影響がない良い基準ディ
スクを選ぶ。図B.1に示すとおりに，基準ディスクは，平行光測定法で測定する。
I
入射ビーム
B
R
ディテクタへ
//
Rint
Rm
Rs
r
R
図B.1−反射率校正
この図で，次の式を適用する。
R
＝ 記録層の反射率（透過積層内の折返し反射光を含む。）
r
＝ 表面の反射率
Rref
＝ 収束光によって測定した反射率（Rm/IBで規定）
IB
＝ 入射ビーム
Rs
＝ 入射面の反射率による反射
Rm
＝ 記録層の反射率による主反射
173
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
Rint
＝ 入射面と記録層との間の，内部反射による反射
R//
＝ 測定値（Rs＋Rm＋Rint）
入射面の反射率は，次による。
2
1
1
+
−
=nn
r
ここに，
n： カバー層の屈折率
収束光によって測定した反射率として，次の式が導かれる。
−
×
−
−
×
−
=
=
B
//
B
//
2
B
m
ref
2
1
)
1(
I
R
r
r
I
R
r
I
R
R
ここに，
Rm： 次の式による主反射
Rm＝R//−Rs−Rint
基準ディスクは，基準ドライブで測定する。収束光で測定し，基準ディスクで得られるディテクタの全
電流（4分割の総和＝Itotal）によって，上に規定したRmが計算される。
これで装置は校正され，収束光反射率は，入射面の反射とは関係なく，記録層及び透過積層内の折返し
反射光の反射率に比例することになる。
B.3
測定方法
未記録の記録領域の反射率は，次による。
基準ドライブを使った反射率測定法は，次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ，基準ディスクからの反射光による全ディテクタ電流(I1＋I2)refを測定する。
b) 測定するグルーブ及びその両側の隣接する2トラックが記録されていない，調査対象のディスクのグ
ルーブトラックからの反射光による全ディテクタ電流(I1＋I2)Gを測定する。
c) 未記録ディスクの記録領域の，グルーブトラックの反射率Rg−vは，次による。
(
)
(
)
ref
ref
2
1
G
2
1
v
g
R
I
I
I
I
R
×
+
+
=
−
記録済み記録領域の反射率は，次による。
基準ドライブを使った反射率測定法は，次による。
a) 校正した反射率Rrefをもつ，基準ディスクからの反射光による全ディテクタ電流(I1＋I2)refを測定する。
b) 測定するグルーブ及び最低限その両側の隣接する2トラックが記録済みの，調査対象のディスクの記
録済みグルーブトラックからのI8Hを測定する。トラックの記録は，OPCアルゴリズム（附属書G参
照）の規定による最適パワーで行う。
c) 記録領域のグルーブトラックの記録済みディスクの反射率R8Hは，次による。
(
)
ref
ref
2
1
H
8
H
8
R
I
I
I
R
×
+
=
174
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書C
（規定）
カバー層のきず耐久性の測定
C.1 一般
ディスクの入射面は，十分なきず耐久性をもつ。保護コートをして改善してもよい。
C.2 テーバ摩耗試験
“テーバ摩耗”と呼ばれる試験は，ディスクの入射面のきず耐久性が十分かどうか検証する。
摩耗素材に覆われた2本の輪が，規格値の負荷をかけて，試験を受けるディスクに載せられる（図C.1
参照）。
ディスクの回転軸
輪の回転
回転方向
ディスクの
ディスクの中心を
通る線
輪の回転軸の投影
図C.1−標準的な摩耗試験の構成
試験条件は，次による。
試験の構成は，JIS K 7204に従い，次に詳細を示す。
− 輪のタイプ：
CS10F
− 各輪への負荷値： 2.5 N
− 回転回数：
5
− 摩耗試験は，試験に必要な記録を行う前に実施する。
試験後の結果は，次による。
175
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書Hに規定するリミットイコライザモードに設定した回路の波形等化後で，L0層測定のジッタは，
10 %以下とする。
摩耗輪の取扱いは，次による。
摩耗輪の取扱いは，ASTM D1044 [1]の規定に従うことが望ましい。
テーバ摩耗試験を行う前に，毎回両方の摩耗輪は，ST-11研磨石で表面を研磨することが望ましく，次
による。
− 新しい輪は，100回研磨する。
− 前に用いた輪は，25回研磨する。
176
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書D
（規定）
カバー層の汚れはつ（撥）油性の測定
D.1 一般
附属書Dは，ディスクの指紋に対する感度を決めるために，人工の指紋（AFP）をディスクに付ける方
法を規定する。図D.1は，基本的な方法を示している。
シリコンゴムスタンプ
4.9Nで10秒
4.9 Nで10秒
インクパッド
スタンプにインクを付ける
テストされるディスクに
スタンピング
テストされるディスク
AFP付き
図D.1−ディスクへのAFPの付着
AFP付着後，AFPを付けた領域の各物理クラスタのランダムSER（33.4参照）は，AFPを通して記録し
再生してL0層を測定した場合は，4.2×10−3未満とする。各物理クラスタで，40バイト長以上のバースト
エラー数は，8未満及びバースト長の総和は，800バイト以下とする。
D.2 スタンプの規格
シリコンゴムスタンプは，次の規定による（図D.2参照）。
− 寸法：スタンプの形状：φ16 mm×φ12 mm×高さ20 mm
− スタンプ柱の固さ：A60
図D.2−スタンプの形及び準備
ランダムなきずがあるスタンプを作るために，＃240番のサンドペーパで磨く。
177
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
サンドペーパは，ゆっくり一方向に10回〜20回の間動かす。サンドペーパに加える力は，4.9 Nと9.8 N
との間とする。
スタンプを，任意の角度回転させ前記の方法を繰り返す。
回転及び研磨は，少なくとも30回は繰り返す。
D.3 インクの準備
AFPを付けるインクは，次の成分によって構成する。
− M：メトキシプロパノール(M)。正確には，1−メトキシ2−プロパノール
− T：トリオレイン(T)。純度は，少なくとも60 %とする。
− D：標準ほこり(D)。JIS Z 8901の規定に従い，試験用粉体1の11種（関東ローム）を選ぶ。さらに，
詳細の情報は，一般社団法人日本粉体工業技術協会（http://www.appie.or.jp/）で入手する。
インクのクリーニング用としては，エタノールを用いる。
M，T及びDの成分は，質量比240：20：8で合成する。混ぜたものは，プラスチックの棒を使い手で少
なくとも15秒間かき混ぜる。
D.4 インクパッドの準備
スタンプに決まった量のインクが付くように，インクは，インクパッドの上にスピンコートされる。こ
こに，インクパッドは，ピット及びグルーブのパタンのないポリカーボネートの成形基板とする。インク
をディスクに付ける前に，基板は，例えば，超音波振動などで少なくとも30秒間十分に揺する。
基板を，スピナ上で60回毎分で回転しながら，10秒間以内に少なくとも2 mlのインク液を概略12 mm
の半径位置に垂らす（図D.3参照）。
solution
put on
substrate
spreading
the solution
by spinnig
radius
12 mm
基板に付けた
溶剤
回転による
溶剤の広がり
12 mm
半径
図D.3−インクパッドスピンコート
ディスクにインクを付けた後，回転速度100回毎分で1秒間回す。そして，回転速度を5秒間の間に直
線的に5 000回毎分に上げ，その速度で1秒間維持する（図D.4参照）。回転降下時間は，問題とならない。
178
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
60回毎分
100
5 000
1秒
1秒
5秒
0.1秒~1秒
<100
インク溶剤を
注ぐ
回毎分
回毎分
回毎分
図D.4−インクパッドスピンコートの速度プロファイル
D.5 インクパッド及びスタンプの使用
スタンプにインクを付けるのは，半径30 mm辺りがよい。
スタンプは，ベンコットのような，糸くずの出ないティシュできれいにできる。
スタンプは，最初に，エチルアルコールでぬらしたティシュできれいにし，その後，乾いたティシュで
拭き取ることができる。
179
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書E
（規定）
ウォブル振幅の測定
E.1
測定方法
ウォブル信号及びプッシュプル信号は，測定前にフィルタを通す。ウォブル信号は8 MHzの低域通過フ
ィルタを通し，プッシュプル信号は30 kHzの低域通過フィルタを通す。
グルーブの変調及びウォブルビートのために，ウォブル信号を普通のオシロスコープを使って十分正確
に求めることは，非常に難しい。したがって，ウォブル信号をスペクトラムアナライザを使って測定する
方法（らせんグルーブを連続トラッキングしながら）の手順を，次に示す。
a) ステップ1：正規化していないウォブル信号の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で，プッシ
ュプル信号を次の設定で測定する。
− 中心周波数：
956.5 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅： 30 kHz
− ビデオ帯域幅： 100 Hz
− 掃引時間：
ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
この条件下で，スペクトラムアナライザは，時間に対しての入力信号の実効値を示す（図E.1参照）。
Mkr1
Mkr2
Ref -32 dBV
Log
2 dB/
Mkr1 533 ｍｓ-39.6 dBV
Mkr2 367 ｍｓ-46.4 dBV
中心956.5 kHz
分解能帯域幅30 kHz
スパン0 Hz
掃引時間750 ｍｓ
ビデオ帯域幅100 Hz
Atten 0 dB
図E.1−ウォブル信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr2での信号レベルは，最小ウォブル信号WSminのdBV値を表している。スペクトラムア
ナライザは，実効値を測定するため
2
2×
の係数を乗じて，測定値を電圧の両ピーク値に変換する（例
の中の−46.4 dBVは，13.5 mVppに相当する。）。
180
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
b) ステップ2：正規化していないプッシュプル信号の測定 次に，トラッキングサーボオフのプッシュ
プル信号(I1−I2)ppを測定する（25.4参照）。
この例では，30 mVppであったとする。
c) ステップ3：正規化ウォブル信号（NWS）の計算
(
)
45
.0
30
5.
13
pp
2
1
min
min
=
=
−
=
I
I
WS
NWS
d) ステップ4：ウォブルビートの決定 マーカMkr1の信号レベルは，最大ウォブル信号WSmaxのdBV
値を表す。
ウォブルビートは，次による。
WSmax−WSmin＝6.8 dB又はNWSmax＝2.2×NWSmin
e) ステップ5：ウォブル信号のキャリアノイズ比の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で，プッ
シュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザを使って測定する。
− 中心周波数：
500 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅： 30 kHz
− ビデオ帯域幅： 10 Hz
− 掃引時間：
ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
これらの条件下でスペクトラムアナライザは，時間に対しての500 kHzの帯域幅のノイズ信号の実
効値を示す（図E.2参照）。
Mkr1
Ref -60 dBV
Log
2 dB/
Mkr1 1.27秒-75,4 dBV
中心500 kHz
分解能帯域幅30 kHz
スパン0 Hz
掃引時間1.767 秒
ビデオ帯域幅10 Hz
Atten 0 dB
図E.2−ノイズ信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr1の信号レベルは，ノイズ信号の信号レベルをdBV値で表している。
ウォブルCNRは，このように簡単に計算でき，次による。
181
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
WSmin−ノイズレベル＝−46. 4＋75.4＝29 dB（例の値の場合）
f)
ステップ6：SHD/SHLの測定 この測定は，27.3.4に従って行う。
25.3.4のトラッキングの要求事項の下で，プッシュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザ
を用いて測定する。
基本波レベルの測定は，次の設定とする。
− 中心周波数：
956.5 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅： 10 kHz
− ビデオ帯域幅： 1 Hz
− 掃引時間：
約5秒
2次高調波レベルの測定は，次の設定とする。
− 中心周波数：
1 913 kHz
− スパン：
ゼロスパン
− 分解能帯域幅： 10 kHz
− ビデオ帯域幅： 1 Hz
− 掃引時間：
約5秒
これらの条件下でスペクトラムアナライザは，時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の基
本波レベルの実効値を示す（図E.3参照）。
Ref-10dBm
Log
10dB/
A-viewB-view
中心956.5kHz
分解能帯域幅10kHz
スパン0Hz
掃引時間5秒
ビデオ帯域幅1Hz
Atten10dB
3dB
FPZ3
FDZ
図E.3−ウォブル基本波レベル測定の例
図E.3で下側の軌跡は，データゾーンの任意の記録領域で測定したFDZで示す基本波レベルを表す。
図E.3で上側の軌跡は，保護ゾーン3で測定したFPZ3で示す基本波レベルを表す。
FDZ及びFPZ3の値は，FDZ及びFPZ3の軌跡の平均値で決められる。
182
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
同様に，スペクトラムアナライザは，時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の2次高調波
レベルの実効値を示す（図E.4参照）。
-10.9dB
Ref-10dBm
Log
10dB/
A-viewB-view
中心1913kHz
分解能帯域幅10kHz
スパン0Hz
掃引時間5秒
ビデオ帯域幅1Hz
Atten10dB
SDZ
SPZ3
図E.4−2次高調波レベルの測定例
図E.4で上側の軌跡は，データゾーンの任意の記録領域のSDZで示す2次高調波レベルを表す。
図E.4で下側の軌跡は，保護ゾーン3の任意の記録領域のSPZ3で示す2次高調波レベルを表す。
SDZ及びSPZ3の値は，SDZ及びSPZ3の軌跡の平均値で決められる。
SHD/SHLは，次の式で計算される。
(
)(
)
DZ
PZ3
DZ
PZ3
F
F
S
S
SHL
SHD
−
−
−
=
例では，
dB
9.
13
)3(
)9.
10
(
−
=
−
−
=
SHL
SHD
E.2
フィルタの校正
ノイズ測定の分解能帯域幅フィルタの形は，理想的には方形である。そのようなフィルタは，実現でき
ないため，実際のスペクトラムアナライザのフィルタは測定値に影響を与える。ノイズの真の実効値を決
めるために，補正係数を適用することが望ましい。そのような補正係数は，通常，測定器の製造業者から
与えられ，実際のフィルタの形及びタイプに依存する。
183
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書F
（規定）
試験のための記録パルス波形
F.1
記録パルス波形概要
この規格では，次の三つのタイプの記録ストラテジを規定する。
a) N−1記録ストラテジ（図F.1参照）
b) N/2記録ストラテジ（図F.3参照）
c) キャッスル記録ストラテジ（図F.6参照）
各パルスの開始は，図F.1，図F.3及び図F.6に示すとおりに規定する。
N−1及びN/2記録ストラテジに対し，次の項目が適用される。
− 最初のパルス幅は，Ttopとする。
− 最終パルス幅は，適用できる場合はTLPとする。
− 最初のパルスと最後のパルスとの間のパルスの幅は，TMPとする。
− パルス列の最初のパルスの前は，スペースレベル（PS）とする。
− 後に冷却レベル（PC）が来る最終パルスを除く各パルスの後は，バイアス記録レベル（PBW）とする。
− Ttop，TMP，及びTLPパルスの記録レベルは，PWとする。
− NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で冷却レベルの期間は，dTS時間分延ばすか又は縮めても
よい。
− 残りのNRZIの低レベルの時間は，スペースレベル（PS）とする。
キャッスル記録ストラテジに対し，次の項目が適用される。
− 各記録パルスの前は，スペースレベル（PS）とする。
− 各スペースレベルの前は，冷却レベル（PC）とする。
− 各スペースレベルの後は，記録レベル（PW）で長さはTtopとする。
− 各記録レベルの後は，2Tマークを除き，中間レベル（PM）とする。
− 各中間レベルの後は，2T及び3Tマークを除き長さTLPの記録レベルとする。
F.2
N−1記録ストラテジ
パルス幅は，次による。
パルス幅（F.5参照）は，実際のチャネルクロックTW（TW/16の整数倍）に関連しているか，若しくは
TXに関連した固定値［TX/16の整数倍で，1×Vref（基準速度）の場合はTX＝15.15 nsであり，2×Vrefの場
合はTX＝7.58 nsである。］に関連しているか，又はこれらの組合せである。全ての許容された記録速度で
許容されるパルス幅時間は，次に示す値で構成する（正の値は，図F.1のdTtopで示すとおりに進みであり，
負の値は，dTSで示すとおりに遅れである。）。
dTtop＝i×(TW/16)
ここに，
i： −14，−13，..，−1，0，1，2，.. 又は15
（dTtopは，2T，3T若しくは4T以上のマーク，及び／又は先
行する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存しても
184
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
よい。）
Ttop＝j×(TW/16)＋k×(TX/16)
ここに，
j： 0，1，2，.. 又は30
k： 0，1，2，.. 又は30
0≦j＋k≦i＋15
k＝0（この規格では）
（Ttopは，2T，3T若しくは4T以上のマーク，及び／又は先行
する2T，3T，4T若しくは5T以上のスペースに依存してもよ
い。）
TMP＝p×(TW/16)＋q×(TX/16)
ここに，
p： 0，1，2，.. 又は15
q： 0，1，2，.. 又は15
0≦p＋q≦15
q＝0（この規格では）
TLP＝s×(TW/16)＋t×(TX/16)
ここに，
s： 0，1，2，.. 又は15
t： 0，1，2，.. 又は15
0≦s＋t≦16
t＝0（この規格では）
（TLPは，3T又は4T以上のマークに依存してもよい。）
dTS＝u×(TW/16)
ここに，
u： −24，−23，..，−1，0，1，2，.. 又は15
（dTSは，2T，3T又は4T以上のマークに依存してもよい。）
全てのパワーレベルPW，PBW，PS及びPCは，1×Vrefの場合は，継続時間は2.5 ns以上とし，2×Vrefの
場合は2.0 ns以上とする。
パルスの幅は，次のとおりに制限を受ける。
− j＋k，p＋q，及びs＋tの最小値は，1×Vrefの場合は3となり，2×Vrefの場合は5となる。
− j＋k−i（≧3T），p＋q，j＋k−i＋u（2Tだけ）及びs＋t＋uの最大値は，1×Vrefの場合は13となり，2
×Vrefの場合は11となる。
パラメタはディスクに依存し，最適値は，15.8.3に示すとおりになる。PW，PBW，PC及びPSの値は，OPC
アルゴリズムに従って決定される（附属書G参照）。
185
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
3T
4T
5T
NRZIチャネルビット
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
2T
6T
7T
0
PW
dTtop
Ttop
PW
dTtop
Ttop
0
0
PW
dTtop
Ttop
0
PW
dTtop
Ttop
0
PW
dTtop
Ttop
PS
dTS
PBW
dTS
TLP
PBW
PS
dTS
TMP
TLP
TMP
PS
dTS
TMP
TLP
TMP
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
PS
dTS
TMP
TLP
TMP
TMP
TMP
PS
dTS
TMP
TLP
8T
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
PS
dTS
TMP
TLP
9T
0
PW
dTtop
Ttop
TMP
TMP
TMP
TMP
PS
dTS
TMP
TLP
TMP
PC
PS
PC
PC
PBW
PC
PBW
PBW
PBW
PBW
PC
PC
PC
PC
図F.1−N−1記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 図F.2に最小マーク及び最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例を
186
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
示す。
2 T
マーク
2 T
スペース
5 T
マーク
5T
スペース
NRZI データ
PW
PS
PC
0
PBW
図F.2−N−1記録信号の例
F.3
N/2記録ストラテジ
パルス幅（F.5参照）は，実際のチャネルクロックTW（TW/16の整数倍）に関連しているか又はTXに関
連した固定値（TX/16の整数倍で，1×Vrefの場合はTX＝15.15 ns又は2×Vrefの場合はTX＝7.58 ns）に関連
しているか又はこれらの組合せである。全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は，次に示
す値で構成する（負の値は，図F.3のdTtopで示すとおりに遅れである。）。
dTtop＝i×(TW/16)
ここに，
i： −16，−15，..，−1，0，1，2，.. 又は15
（dTtopは，2T，3T，[4T，6T，8T]又は[5T，7T，9T]マークに
依存してもよい。）
注記 記録ストラテジの表記において，4T以上の偶数パルスのいずれか又は4T以上の奇数パルスの
いずれかに対して，同様の記録ストラテジを適用する場合に，奇数及び偶数のパルスセットを
[4T，6T，8T]，[5T，7T，9T]のように[ ]で囲う表記をしている。
Ttop＝j×(TW/16)＋k×(TX/16)
ここに，
j： 0，1，2，.. 又は46
k： 0，1，2，.. 又は46
0≦j＋k≦i＋31
k＝0（この規格では）
（Ttopは，2T，3T，[4T，6T，8T]又は[5T，7T，9T]マークに依
存してもよい。）
dTMP＝m×(TW/16)
ここに，
m： [6T，8T]マークでは，m＝0
[7T，9T]マークでは，m＝−8
TMP＝p×(TW/16)＋q×(TX/16)
ここに，
p： 0，1，2，.. 又は31
q： 0，1，2，.. 又は31
0≦p＋q≦31
q＝0（この規格では）
dTLP＝r×(TW/16)
187
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
ここに，
r： [4T，6T，8T]マークでは，r＝0
[5T，7T，9T]マークでは，r＝−8
TLP＝s×(TW/16)＋t×(TX/16)
ここに，
s： 0，1，2，.. 又は31
t： 0，1，2，.. 又は31
0≦s＋t≦32
t＝0（この規格では）
（TLPは，[4T，6T，8T]又は[5T，7T，9T]マークに依存しても
よい。）
dTS＝u×(TW/16)
ここに，
u： −31，−30，..，−1，0，1，2，.. 又は15
（dTSは，2T，3T，[4T，6T，8T]又は[5T，7T，9T]マークに依
存してもよい。）
全てのパワーレベルPW，PBW，PS及びPCは，1×Vrefの場合の継続時間は2.5 ns以上とし，2×Vrefの場
合は2.0 ns以上とする。
パルスの幅は，次のとおりに制限を受ける。
− j＋k，p＋q，及びs＋tの最小値は，1×Vrefの場合は3となり，2×Vrefの場合は5となる。
− j＋k−i＋r（4T，5T），j＋k−i＋m（≧6T），p＋q，j＋k−i＋u（3Tだけ），及びs＋t−r＋u [5T，7T，9T]
の最大値は，1×Vrefの場合は29となり，2×Vrefの場合は27となる。
− j＋k−i＋u（2Tだけ），s＋t−r＋u [4T，6T，8T]の最大値は，1×Vrefの場合は13となり，2×Vrefの場
合は11となる。
− i＋u−32の最大値は，1×Vrefの場合は13となり，2×Vrefの場合は11となる。この制約は，異なるマ
ーク長のi及びuの全ての組合せに，適用する。
パラメタはディスクに依存し，最適値は15.8.3に示すとおりになる。PW，PBW，PC及びPSの値は，OPC
アルゴリズムに従って決定される（附属書G参照）。
188
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
PBW
PBW
dTLP9T
TLP4T
9T
0
dTMP9T
PW
PBW
PS
dTtop9T
Ttop9T
5T
0
PW
PS
dTtop5T
Ttop5T
0
6T
TMP6T
PW
PS
dTtop6T
Ttop6T
7T
0
dTLP7T
dTMP7T
PW
PBW
PS
dTtop7T
Ttop7T
8T
0
TMP8T
PW
PBW
PS
dTtop8T
Ttop8T
dTS9T
4T
0
PW
PBW
PS
dTtop4T
Ttop4T
3T
0
PW
PC
PS
Ttop3T
dTtop3T
dTS3T
PS
Ttop2T
PC
2T
0
PW
dTS2T
dTtop2T
dTLP5T
TLP7T
dTS5T
TLP5T
TLP6T
dTS6T
TMP7T
dTS7T
TLP8T
dTMP9T
TMP9T
TMP9T
TLP9T
TMP8T
dTLP4T
dTLP6T
dTLP8T
dTMP6T
dTMP8T
dTMP8T
PC
PC
PC
PC
PC
PC
dTS4T
dTS8T
NRZIチャネルビット
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
図F.3−N/2記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 図F.4に，最小マーク及び最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例
を示す。
189
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
2T
スペース
5T
マーク
5T
スペース
NRZIデータ
PW
PBW
PS
2T
マーク
PC
0
図F.4−N/2記録信号の例
F.4
キャッスル記録ストラテジ
パルス幅（F.5参照）は，実際のチャネルクロックTW（TW/16の整数倍）に関連している。
全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は，次に示す値で構成する（負の値は，図F.6の
dTSで示すとおりに遅れである。）。
dTtop＝i×(TW/16)
ここに，
i： −16，−15，..，−1，0，1，2，.. 又は15
（dTtopは，2T，3T若しくは4T以上のマーク，及び／又は先
行する2T，3T若しくは4T以上のスペースに依存してもよい。）
Ttop＝j×(TW/16)
ここに，
j： 0，1，2，.. 又は46
0≦j≦i＋31
（Ttopは，2T，3T若しくは4T以上のマーク，及び／又は先行
する2T，3T若しくは4T以上のスペースに依存してもよい。）
dTC＝k×(TW/16)
ここに，
k： −31，−30，..，−1，0，1，2，.. 又は8
（dTCは，3T，4T又は5T以上のマークに依存してもよい。）
TLP＝p×(TW/16)
ここに，
p： 0，1，2，.. 又は31
0≦p≦15−k
（TLPは，4T以上のマークだけに適用される。）
dTS＝q×(TW/16)
ここに，
q： −31，−30，..，−1，0，1，2，.. 又は15
（dTSは，2T，3T又は4T以上のマークに依存してもよい。）
パラメタは，ディスクに依存し，最適値は，15.8.3に示すとおりになる。PW，PM，PC及びPSの値は，
OPCアルゴリズムに従って決定される（附属書G参照）。
全てのパワーレベルPW，PM，PS及びPCは，2×Vref及び4×Vrefの場合は継続時間は2.0 ns以上とする。
パワーレベルPW，PM（キャッスル形の場合の）及びPCは，6×Vrefの場合の継続時間は2.0 ns以上とす
る。
190
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
パワーレベルPM（L形の場合の）及びPSは，6×Vrefの場合の継続時間は1.5 ns以上とする。
制限は，次による。
パルスの幅は，次のとおりに制限を受ける。
− j及びpの最小値は，2×Vrefの場合は5，4×Vrefの場合は9及び6×Vrefの場合は13とする。
− j−i＋q（2Tだけ），j−i＋p＋k−16（4Tマーク），j−i＋p＋k−32（5Tだけ）及び−k＋q（3T以上）の
最大値は，2×Vrefの場合は11，4×Vrefの場合は7，そして6×Vrefの場合は3となる（全てのパラメ
タは，マークとそれに先立つスペースの幅で計算する。）。
− j−i＋k（3Tマーク）の最大値は，2×Vrefの場合は11，4×Vrefの場合は7及び6×Vrefの場合は6とな
る。全てのパラメタは，マークとそれに先立つスペースの幅で計算する。
− i−q−32の最大値は，2×Vrefの場合は11，4×Vrefの場合は7及び6×Vrefの場合は6となる（全ての
異なるマーク長のi及びqの組合せに適用する。）。
例外が，次のいずれかの場合は許される。
− j−i＋k＝16
3Tだけについて適用する。この条件は，3Tの単一パルス形状を示し，この任意の設定を用いる場
合は，全ての先行するスペースの幅について適用する。
− p＝0
許されるパルスの形の組合せを，図F.5に規定する。
2T
3T
≧4T
パワーレベルl
j-i+k(3T)
p
M
M
M
PW= PM
-
-
M
M
L
PW PM
16
0
M
M
C
PW PM
16
0
M
L
L
PW PM
16
0
M
L
C
PW PM
16
0
M: 単一パルス形
L : L形-
C: キャッスル形
≠
≠
≠
≠
≠
≠
≠
≠
図F.5−キャッスル記録ストラテジーの許されるパルス形の組合せ
191
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
NRZIチャネルビット
2T
3T
4T
5T
6T
7T
8T
9T
2T
dTS
9T
5T
6T
7T
8T
4T
dTtop
dTtop
dTC
3T
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
TLP
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
dTtop
dTC
Ttop
PW
PC
PM
PW
PS
PS
PC
0
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
PC
PM
PW
PS
0
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
dTS
TLP
TLP
TLP
TLP
TLP
図F.6−キャッスル記録ストラテジを表す記録パルス波形
例 最小マーク，最小スペース，3Tマーク，最小スペース及び8Tマークの記録パルス波形の例を図
192
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
F.7に示す。
T
dT
dT
dT
T
T
T
dT
dT
dT
dT
dTS
P
P
P
P0
2T
3T
8T
Ttop
dTtop
dTtop
dTtop
Ttop
Ttop
TLP
dTC
dTC
dTS
dTS
PW
PM
PS
PC
0
図F.7−キャッスル記録信号の例
F.5
パルス幅並びに立上がり時間及び立下がり時間の規定
全ての立上がり時間及び立下がり時間は，実際の記録パワーの変化の10 %に等価なレベルから90 %に
等価なレベルまでにかかる時間又はその逆の時間で規定する。
立上がり時間Trise及び立下がり時間Tfallを，図F.8に規定する。
いかなるオーバーシュートも，10 %未満とする。
P1
P2
0.9P1
0.9P2
0.5P1
0.5P2
0.1P1
0.1P2
Twidth1
Twidth2
Twidth3
Trise
Tfall
P1
P2
0.9P1
0.9P2
0.5P1
0.5P2
0.1P1
0.1P2
Twidth1
Twidth2
Twidth3
Trise
Tfall
図F.8−立上がり時間及び立下がり時間
193
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
立上がり時間及び立下がり時間は，1×Vrefで2.0 nsを超えない。
立上がり時間及び立下がり時間は，2×Vrefで1.5 nsを超えない。
立上がり時間及び立下がり時間は，4×Vrefで1.5 nsを超えない。
立上がり時間及び立下がり時間は，6×Vrefで1.2 nsを超えない。
パルスの持続時間及びパルス間のスペースは，関連するパワー変化の50 %と等価のレベルで測定する
（図F.8のTwidth参照）。全てのパルス幅の精度は，1×Vref，2×Vref及び4×Vrefで，±0.2 nsよりも小さい。
6×Vrefでは，パルス幅の精度は，±0.15 nsよりも小さくする。
194
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書G
（規定）
ディスクの最適パワー制御（OPC）方法
G.1
一般
附属書Gでは，最適パワーPWO，PBWO，PSO，PMO及びPCO（附属書F参照）並びにディスク情報（15.8.3.3，
15.8.3.4及び15.8.3.5参照）に含む関連するパラメタκ，PIND，mIND，ρ，εBW，εS，εC，εM及びβWOについて
規定する。
G.2
記録パワーに対する変調度の関数の数学的モデル
HF信号の変調度は，m＝I8pp/I8Hで規定する。記録パワーに対する変調度のカーブm(PW)は，図G.1に示
すような形となる。感度の高いOPCのために，変調度の測定は，変調度が飽和するレベルの前のパワー範
囲で行う。
この目的のために，次に示すPtargetを規定する。
ρ
P
P
WO
target=
ここに，
ρ： PtargetからPWOを求めるための乗算係数
ρ≧1.0
m
記録パワー
target
P
WO
P
W
P
target
WO
P
P
×
=
ρ
図G.1−記録パワーに対する変調度の関数
ランダムな測定エラー及びノイズの影響を最小にするために，記録パワーに対する変調度のカーブは，
次に示す関数で近似する。
()
−
×
=
W
thr
max
W
1PP
m
P
m
ここに， mmax： 最大変調度（飽和レベル）
Pthr： しきい値パワー
この（簡単にした）モデルで，関数f(PW)＝PW×m(PW)は直線となり，次の式で表される。
PW×m(PW)＝mmax×(PW−Pthr)
Ptarget
PWO
記録パワーPW
PWO＝Ptarget×ρ
195
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
P
m
(P
)
W
×
W
Pthr
Ptarget
Ptarget= P
κ×thr
記録パワーPW
直線近似
図G.2−変調度に記録パワー乗じたもの 対 記録パワーの関数
κの値は，Ptarget及びPthrの比で規定し，次による。
thr
target
P
P
κ=
PWO，PBWO，PSO，PCO，PMO及びその関係を決めるために必要なパラメタを，次に示す定義並びに図G.1
及び図G.2に示す。
− mIND：
ディスク情報に，PINDの場合の変調度として示す。
− κ：
変調度カーブの中でOPCを行うべきポイントを示すPW及びPthrのターゲット比
− PIND：
ディスク情報中に示すPtargetの推定値
− Ptarget＝κ×Pthr：
κにおける実際の記録ピークパワー
− ρ：
PtargetからPWOを求めるための乗算係数
− PWO＝ρ×Ptarget： 最適記録ピークパワーPWO
− εBW：
記録バイアスパワーと記録ピークパワーとの比
− PBWO＝εBW×PWO： 最適記録バイアスパワーPBWO
− εS：
スペースパワーと記録ピークパワーとの比
− PSO＝εS×PWO：
最適スペースパワーPSO
− εC：
冷却パワーと記録ピークパワーとの比
− PCO＝εC×PWO：
最適冷却パワーPCO
− εM：
中間パワーと記録ピークパワーとの比
− PMO＝εM×PWO： 最適中間パワーPMO
追加で，次に示すPWOから得られるベータ値が内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に
含まれる。
− βWO：
PWOを用いることによって得られる，HF信号の最適ベータ値
βWOの値は，PWOを決めるためにベータ値を用いるドライブが使用してもよい。
直線近似方法は，次による。
PBW＝εBW×ρ×PIND（PSO＜PBWO，PBW＝εBW×PWiの場合），PS＝εS×PWi，PM＝εM×PWi及びPC＝εC×ρ×
PINDを使って，異なる記録パワーPWiでランダムデータを試験記録することによって，それに伴う変調度
miが求められる。
PW×m(PW)＝mmax×(PW−Pthr)の直線を，幾つかのポイント（PWi，mi×PWi）に当てはめることによって，
196
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
これらのポイントに対応するmmax及びPthrを簡単に決めることができる（モデルの正確度の限界から，mmax
は，1よりも大となる可能性があることを認識しておくことが望ましい。）。
G.3
ディスクのOPCパラメタを決める方法
メディア製造業者は，最初に，ディスクの最適パワーPWO，PBWO，PSO，PMO及びPCOを決めなければな
らない。これは，幾つかのPW，PBW，PS，PM，及びPCの条件で試験記録をし，箇条30に従って記録パラ
メタの結果を測定することによってできる。記録及び測定は，箇条9に適合した基準ドライブを使用し，
T＝23 ℃で行う。
最適記録パラメタとなるPW＝PWO，PBW＝PBWO，PS＝PSO，PM＝PMO及びPC＝PCOの組合せを選んだ後に，
εBW＝PBWO/PWO，εS＝PSO/PWO，εC＝PCO/PWO及びεM＝PMO/PWOの比が決められる。
次のステップでは，内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に規定する他のパラメタ（κ，
PIND，mIND及びρ）を決める。メディア製造業者は，ターゲット記録パワーの推定指示値PINDを選び，こ
のPINDでの変調度mINDを測定する。乗算係数は，ρ＝PWO/PINDとする。
最後のステップは，内側ゾーンの，ADIP予備フレームの中のディスク情報に規定するβWOの値を決め
ることである。
κの値を決める方法は，次による。
PBW＝εBW×PWi，PS＝εS×PWi，PM＝εM×PWi及びPC＝PCOを使って，0.9×PIND〜1.1×PINDの範囲で，異な
る記録パワーPWiでランダムデータを記録した後に，その結果の変調度miを測定する。記録及び変調度mi
の測定の両方を，基準ドライブを使いT＝23 ℃で行う。
次に，G.2に従って得られた測定ポイントに対して直線近似を行い，それによってPthrが決まり，κが次
のとおりに計算できる。
thr
IND
P
P
κ=
留意事項1 必ずしも全ての記録パラメタは，独立には最適化できないであろうことから，製造業者
のディスクに対しての記録パラメタの最適値の組合せを決めることは，製造業者に任せ
る。
留意事項2 変調度の測定は，値が小さい場合には幾分か不正確になるため，記録パワーの範囲（す
なわちPIND）は，一番低いパワーでの変調度が20 %を超えるように選ぶことが望ましい。
さらに，変調度及び記録パワーの測定は，変調度が飽和レベルよりも十分に下のレベル
で行うことが望ましい。
G.4
ベータ値を決める方法
ベータ（β）は，波形等化を行う前の，交流結合したHF信号を使用して求める。ベータは，次の式で規
定し，A1及びA2のピークレベルの差(A1＋A2)を両ピークレベル(A1−A2)で正規化したものである（図G.3
参照）。
β＝(A1＋A2)/(A1−A2)
βWOの値は，G.2に示した方法に従って得られるPWOを適用することによって決まる。
197
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
A2
A1
A1
A1
A2
A2
0
H
F
信
号
高反射レベル
低反射レベル
図G.3−異なる記録パワーで記録した交流結合のHF信号
OPCの結果として，PWOを用いて得られるベータ値は，DIの表に含まれる（15.8.3参照）。
198
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書H
（規定）
ジッタ測定のためのHF信号の前処理
H.1 一般
ディスク上のデータは高密度であり，そのために，I2pp変調振幅は，若干小さい。光ディスクの読取りシ
ステムに用いる装置には，次がある。
a) 従来波形等化器 一般的に，光ディスクの読取りシステムで使う従来波形等化器は，少しの高周波の
強調しかできない。なぜならば，そのような形の波形等化器でもっと高域強調をすると符号間干渉が
更に増え，良いジッタ値が得られないからである。
b) リミットイコライザ リミットイコライザと呼ばれる波形等化器は非線形の波形等化器だが，符号間
干渉を起こすことなく高周波成分を強調することができる。そのような波形等化器は，スライサに入
れるHF信号の品質の改善ができ，ジッタが小さくなり，システムのマージンが増える。
附属書Hでは，従来波形等化器モードとリミットイコライザモードとの切替えができる，HF信号の前
処理の流れ全体を規定する。
H.2 波形等化器の実装一般
図H.1の回路は，切替えができる波形等化器及びその周辺回路の実装例を示す。
A/D
D/A
スライサ
2値
HF 読取り
信号
アナログﾞ
HF 読取り
信号
ポスト
LPF
HPF
プリ
LPF
従来の
波形等化器
リミットイコライザ
PLL
TIA
プリアンプ
4分割
フォトディテクタ
図H.1−前処理回路の実装例
9.5に規定したHF読取りチャネルからのHF信号は，図H.1に示す高域通過フィルタ（HPF）によって
信号処理回路に交流結合される。
低域通過フィルタ（プリLPF）は，折返しひずみを防ぐために，ナイキスト周波数以上の周波数成分を
除く。
8ビット以上の分解能のA/Dコンバータによって，チャネルビットレートに同期したクロック信号で，
HF信号をサンプリングする。サンプリングは，チャネルビットのエッジがアイパタンのゼロクロスに相
当するため，チャネルビットの中央で行う（図H.2参照）。
199
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
サンプリング後に，HF信号は，デジタル的に波形等化される。
デジタル信号処理の後で，信号はD/Aコンバータ及びその後の適度な低域通過フィルタ（ポストLPF）
にて変換され，アナログ信号に戻る。アナログの波形等化されたHF信号は，スライサによって2値化さ
れる。
2値化されたHF信号は，箇条30に規定されたタイムインタバルアナライザ（TIA）を使って，ジッタ
の測定及び箇条34の規定によるシンボルエラー率（SER）の測定に使用される。
アナログHF読取信号は，箇条30の規定による信号パラメタの決定に使用される。
サンプリングタイミング
ゼロクロスレベル
図H.2−サンプリングタイミングの規定
H.3 従来の波形等化回路
HF信号前処理ユニットが従来波形等化器モードに設定されると，リミットイコライザ回路はオフとな
り，この従来波形等化器回路（図H.3参照）が高域の強調を行う。
リミットイコライザモードに設定されると，この従来波形等化器回路は，プリ波形等化器として機能す
る。
従来波形等化器回路は，次の伝達関数をもつ4タップのトランスバーサルフィルタである。
()
×
−
×
+
+
×
+
+
−
=
−
−
−
3
2
1
2
2
1
2
1
2
z
r
z
r
z
r
r
z
H
+
T
T
T
-r
2
-r
2
1+r
2
1+r
2
波形等化器
出力
波形等化器
入力
+
T
T
T
-r
2
-r
2
1+r
2
1+r
2
波形等化器
出力
波形等化器
入力
図H.3−従来波形等化器回路の例
従来波形等化器モードで，係数rを，次のとおりに設定する。
− HTLディスク： r＝40/32 (7.0 dB)
200
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− LTHディスク： r＝29/32 (5.0 dB)
リミットイコライザモードで，係数rを，次のとおりに設定する。
− HTLディスク： r＝40/32 (7.0 dB)
− LTHディスク： r＝29/32 (5.0 dB)
H.4 リミットイコライザ回路
リミットイコライザ回路は，図H.4に示すとおりに，補間器，適応リミッタ，及び高域強調回路で構成
される。
HF前処理回路が，従来波形等化器モードに設定されると，リミットイコライザは，適応リミッタの出
力を0に変えるか又は高域強調部の係数mを0に設定することによって，オフに切替えができる。
-m
+m
+m
-m
+
+
+
適応リミッタ
T
T
T
T
T
T
T
T
T
補間器
高域強調
-k
2
-k
2
1+k
2
1+k
2
リミットイコライザ
出力
リミットイコライザ
入力
IP(i)
OP(i)
図H.4−リミットイコライザの例
補間器は，次の伝達関数をもつ，トランスバーサルフィルタである。
()
×
−
×
+
+
×
+
+
−
=
−
−
−
3
2
1
2
2
1
2
1
2
z
k
z
k
z
k
k
z
H
ここに，
k： 3/16
適応リミッタの出力信号OP(i)は，次による。
− abs[IP(i)]≦Thの場合，
OP(i)＝IP(i)
− そうでない場合，
OP(i)＝sgn[IP(i)]×Th
ここに，
Th： しきい値
abs (x)： 変数xの絶対値
sgn (x)： 変数xの極性（＋又は−）
適応リミッタのしきい値は，IP(i)の各ゼロクロスごとに，次の方法で更新する。
201
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− sgn[IP(i)] ≠ sgn[IP(i−1)]の場合，
()
(
)
[
]
n
Th
i
IP
i
IP
c
Th
Th
−
−
−
×
+
=
1
abs
:
− そうでない場合，
Th:＝Th
ここに，
c： 1/2
n： 256
Th:： 次のTh
高域強調の部分は，次の伝達関数のトランスバーサルフィルタである。
()
3
2
1
−
−
−
×
−
×
+
×
+
−
=
z
m
z
m
z
m
m
z
H
ここに，
m： 1
高域強調部分の出力は，適度に遅らせたリミットイコライザの入力信号に加算する。
H.5 周辺回路の規定
H.5.1 増幅器及びフィルタ
HF信号前処理回路ユニットのフィルタの部分は，次による。
− 交流結合（高域通過フィルタ）： 1次，f−3dB＝10 kHz
− プリLPF：
f−3dB＝25 MHz〜33 MHz
50 MHzよりも大の周波数の抑圧は，−30 dBよりも小さい
− ポストLPF：
f−3dB＝30 MHz±3 MHz，
50 MHzよりも大の周波数の抑圧は，−50 dBよりも小さい
プリLPFの入力からポストLPFの出力まで［HTLディスクで，r＝40/32 (7.0 dB)及びLTHディスクで，
29/32 (5.0 dB)に設定した，従来波形等化器モードの波形等化器及びゼロ次ホールドのD/Aコンバータを含
む。］を測定したHF信号前処理回路の周波数特性は，図H.5に示すものとする。
16.5 MHzの利得−0.1 MHzの利得＝7.0 dB±0.5 dB
202
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
利得
等化器単体特性
全体特性
周波数(MHz)
利得
等化器単体特性
全体特性
周波数(MHz)
図H.5−従来波形等化器の周波数特性
フォトディテクタ，プリアンプ，交流結合，プリLPF，従来波形等化器モード設定の波形等化回路セッ
ト，D/Aコンバータ及びポストLPFの全体の特性は，図H.5に示した特性に対し，3 MHzと22 MHzとの
間で，次に示す範囲に入る。
− 利得の偏移：
0.0 dB±1 dB
− 群遅延の最大変動： 2 ns pp
H.5.2 PLLの開ループ伝達特性
PLLの開ループ伝達特性は，図H.6に示すものとする。
利得
周波数
(dB)
0 dB
8
32
100
(kHz)
−40 dB/decade
−40 dB/decade
−20 dB/decade
図H.6−PLL開ループ伝達関数の図
203
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
H.5.3 スライサ
スライサは，−3 dB閉ループ帯域幅が10 kHzの1次の積分帰還形自動スライサとする。スライサの帰
還は，2値出力の平均デューティサイクルを50 %に制御する。
図H.7に，このようなスライサの例を示す。
+VS
UO
Ri
Ri
Ui
RO
RO
CO
CO
Ci
図H.7−帰還自動スライサの例
H.6 測定条件
ジッタは，箇条9の条件及びこの附属書に規定した追加条件のもとで測定する。
全てサーボは，固定利得及び次に示すオフセット設定とする。
a) 半径方向のトラッキングサーボは，記録層上の光スポットの中心がトラックの中心から9 nm以内と
なる直流オフセットを与える。
b) フォーカスサーボは，対物レンズが，図H.8に示すとおりに最適位置Dから最大でも0.03 μm以内と
なるような直流オフセットを与える。最適フォーカス位置Dは，ディスクのボトムジッタの位置に相
当する。
204
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
フォーカスエラー
電圧
(S-カーブ)
ジッタ
対物レンズとディスクの
距離
最適ﾌｫｰｶｽ位置
最適距離
D
0.03 m
0.03m
ボトムジッタ
μ
μ
距離
対物レンズﾞとディスクの
図H.8−最適フォーカスオフセットを含むジッタ曲線及びフォーカスS曲線の例
H.7 ジッタ測定
ジッタは，1トラック分を平均する。そして，前エッジと後エッジとを別々に測定する。
他に規定する場合を除き，ジッタは，全てのラン長のエッジを使って測定する。
205
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書I
（規定）
測定方法
I.1
一般
ディスクの品質を検証するために，この規格に多くの規定がされている。BDレコーダブルディスクの
品質を決めるために必要な測定の再現性を最大化するために，附属書Iに幾つかの測定方法を規定する。
I.2
基準ドライブの初期調整
BDレコーダブルディスクの評価の前に，基準ドライブを調整する。
幾つかの項目を調整する。
初期調整は，ディスクの各測定場所で行う。
調整順番は，次による。
a) 球面収差
b) フォーカスオフセット
c) 半径方向の傾き
d) 接線方向の傾き
e) トラッキングサーボ利得（AGCがない場合だけ適用する。）
f)
フォーカスサーボ利得
g) トラッキングオフセット
h) 自動スライサオフセット（任意）
上記のa)〜g)の調整の準備として，未記録ディスクに29.4.3の規定に従ってランダムデータを記録する。
そして，基準ドライブの初期設定条件で，a)〜c)の調整をI8ppが最大になるまで繰り返す。
次に，記録ディスクを基準速度で読み取り，全てのエッジのジッタが最小になるようにa)〜h)の調整を
繰り返す。全てのエッジのジッタは，PLLクロックに対して測定し，チャネルクロック周期で正規化する。
ジッタは，トラックジャンプの領域を除き，全ての連続したマーク及びスペースの期間を1回転分測定す
る。
調整手順を，規定した順番でジッタの測定結果が前回よりも良くなることが0.1 %未満となるまで繰り
返す。
I.3
ジッタ測定
ジッタ測定を行うために，測定条件（附属書H参照）を満たす。
ジッタは，1トラック分を平均化し，前エッジと後エッジとを別々に測定する。
他に規定する場合を除き，ジッタは，全てのラン長のエッジで測定する。
ジッタ測定を行うために，次の方法を順番に行うことが望ましい。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) タイムインタバルアナライザ（TIA）を準備する。TIAの測定窓幅TWを，トラックジャンプ領域を除
206
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
いた1回転に設定する。最小の測定窓幅は，次の式で計算できる。
秒
005
.0
V
π
2
ref
W
−
×
×
=
R
T
ここに，
Vref： 基準速度
R： 測定半径
0.005： トラックジャンプ及びPLLのプルインの時間を表す。
TIAの取込み回数は，この測定期間を使い次のとおりに計算できる。
TIAの取込み回数
9
W
10
51
.
51
−
×
=
T
ここに， 51.51×10−9： Vrefで1回転中のマーク又はスペースの平均時間を表す。
TIAのトリガ遅延は，各基準ドライブによる。適度な値に設定することが望ましい。
c) ジッタは，29.5の規定に従って信号を供給して測定することが望ましい。
d) 前エッジの測定を行う。
e) 後エッジの測定を行う。
I.4
変調振幅測定
変調振幅測定を行うためには，測定条件（30.2参照）を満たす。
I.5
I2pp/I8pp及びI3pp/I8ppの解像度の測定
I.5.1
I2pp及びI8ppの測定方法
解像度の測定は，29.3.3の規定を適用して行う。I2ppは，スペクトラムアナライザを使って測定する。I8pp
は，デジタルストレージオシロスコープ（DSO）を使って測定する。スペクトラムアナライザ及びDSO
は，同じHF基準ドライブの出力を測定しケーブル終端を用いる。
次の測定方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがかか
り，1回転後に，アクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) I2pp及びI8ppの測定条件
− スペクトラムアナライザの設定
− 中心周波数：
16.5 MHz（2T）
− スパン：
500 kHz
− 分解能帯域幅（RBW）： 30 kHz
− ビデオ帯域幅（VBW）： 10 Hz
− 掃引時間（SWT）：
約5秒
− ディスク信号
− 信号：
I2単一周波数，I8ランダム信号
− トラック：
1トラック
− 測定方法
− I2ppは，単一周波数信号をスペクトラムアナライザを使って測定する（図I.1参照）。
− I8ppは，HF信号をデジタルストレージオシロスコープを使って測定する（図127参照）。
207
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
中心周波数16.5MHz
スパン500kHz
50kHz/
Ref
47dBmV
Aｔｔ30dB
30kHz
10Hz
5秒
A
SGL
-50
-40
-30
-20
-10
0
10
20
30
40
1
Marker1[T1]
11.21dBmV
16.500000000MHz
分解能帯域幅
ビデオ帯域幅
掃引時間
図I.1−スペクトラムアナライザを用いたI2変調度の測定例
スペクトラムアナライザで得られる，I2ppの単位は，dBmVであり，一方，I8ppは，mVの値が得られる。
そこで，I2pp/I8ppは，次による。
(
)
(
)
pp
8pp
20
dBmV
8pp
2pp
mV
10
2
2
/
2pp
I
I
I
I
×
=
I.5.2
I3pp/I8pp，I8pp/I8H及び非対称性の測定方法
I3pp/I8pp，I8pp/I8H及び非対称性の測定は，29.3.3に規定した条件を適用して行う。
I3pp/I8pp，I8pp/I8H及び非対称性の測定は，次の方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) スライサによって2値化したHFデータ信号は，デジタルストレージオシロスコープ（DSO）のトリ
ガ信号として用いる。
c) I2L，I2H，I3L，I3H，I8L及びI8Hの値を，DSO又はアナログオシロスコープで測定する。
d) DSOを使う場合は，各波形は，周内に均等に分散している1 000回測定分を平均化する。
e) I3pp/I8ppの値は，次による。
8L
8H
3L
3H
8pp
3pp/
I
I
I
I
I
I
−
−
=
f) I8pp/I8Hの値は，次による。
8H
8L
8H
8H
8pp/
I
I
I
I
I
−
=
g) 非対称性の値は，次による。
208
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
8L
8H
2L
2H
8L
8H
2
2
I
I
I
I
I
I
−
+
−
+
=
非対称性
I.6
トラッキングエラー信号測定（PPnorm測定方法）
PPnormの測定は，25.3.3及び25.4に規定した信号を使って行う。
PPnorm信号は，ディスク1回転中にDSOでサンプリングされる。測定は，図I.2の測定領域として示し
た場所で測定する。
PPnorm信号は，ディスク1回転中少なくとも15波は出現するようにする。
基準ドライブの調整は，フォーカスオフセット及び球面収差の調整（記録トラックのI8ppの振幅が最大
になるようにする。）の後に，PPnorm,recを測定する。
次のステップとして，PPnorm,rec測定で得られたのと同じフォーカスオフセット及び球面収差の設定条件
で，未記録トラックでPPnorm,unrecを測定する。
PPnormの値の測定は，次の方法を順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを，半径方向トラッキングオープンモード（フォーカスサーボオンで，半径方向サーボ
オフ）にする。
b) DSOのトリガに，1回転パルス（PPR）を使い1回転分のPPnorm信号を表示する。
c) 10トラック連続の，PPnorm振幅を決める（例えば，図I.2の測定領域1）。
d) 得られた10個の値の平均をとる。
e) c)で測定した場所の反対側（トリガをディスク1回転の半分遅らせる。）に位置する10トラック連続
のPPnorm振幅を決める（例えば，図I.2に示す測定領域2）。
f)
得られた10個の値の平均をとる。
g) d)及びf)の二つの値の平均をとる。
h) b)で得られたPPnorm信号の，最大値及び最小値を決める。
0.025
0.015
0
0.020
0.005
0.010
t（秒）
測定領域1
測定領域2
−30
−10
−20
0
10
20
30
プ
ッ
シ
ュ
プ
ル
(V
）
図I.2−PP測定領域の指示
209
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
I.7
軸方向トラッキングの残留エラー測定方法
軸方向トラッキングの残留エラー測定は，11.4に規定したフィルタを通したフォーカスエラー信号を使
って行う。測定を行う前に，信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を
超える場合は，欠陥部の測定を避けるために，信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位
置を動かす。
次に示す方法を，軸方向の残留エラー値測定に順番に用いるのがよい。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブはフォーカス及びトラッキングサーボがかか
り，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) 9.10に規定したとおりに，軸方向のトラッキング基準サーボの軸方向サーボ特性を調整する。
c) 11.4に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順で，ピーク値を測定する。
− フィルタをLPFとし，カットオフ周波数を，次のとおりに設定する。
− 2xディスクでは，1.6 kHz
− 4xディスク及び6xディスクの半径36 mm未満では，3.2 kHz
− 6xディスクの半径36 mm及びそれよりも外側では，4.8 kHz
− トラックジャンプ領域を除き，1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を，次に示す方法で測定する。
− フィルタをBPFとし，カットオフ周波数を，次のとおりに設定する。
− 2xディスクでは，1.6 kHz & 10 kHz
− 4xディスク及び6xディスクの半径36 mm未満では，3.2 kHz & 20 kHz
− 6xディスクの半径36 mm及びそれよりも外側では，4.8 kHz & 30 kHz
− 1回転分のエラー信号波形を表示する。
− ノイズの実効値を，トラックジャンプ領域を除き，DSOの機能（2xディスクでは積分時間20 ms
とし，4xディスク及び6xディスクでは10 msとする。）を使って測定する。
注記 この値は，他の測定器でも測定できる。
4xディスク及び6xディスクの軸方向の残留エラーの測定中に，例えば，ほこり，きずなどによるスパ
イクが残留エラーの中に生じる可能性がある。
これらのスパイクは，残留エラー測定結果に望ましくない影響を与える。
4x及び6xディスクの，軸方向の最大残留エラーを決めるために，次の一連の測定を順番に用いる。
a) 測定をディスク1回転で行う。
b) HF信号に，振幅で20 %よりも大きい影響を与えるスパイクを除く（図I.3参照）。
c) b)の残りのスパイクで，次の条件のいずれかを満たす大きなスパイクを除く。
− 80 nmの軸方向のエラーの限界値を超え，かつ，Tspike≦(700 μm)/Vscanningの条件を超えるもの
− 6xディスクで，110 nmの軸方向のエラーの限界値を超え，かつ，Tspike≦(700 μm)/Vscanningの条件を超
えるもの
d) c)で残ったスパイク中最大のものが，その半径の最大軸方向残留エラーの最大値となる。
210
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
軸
方
向
エ
ラ
ー
振
幅
時間
0
80nm
Tspike
0
H
F
振
幅
時間
Tspike
図I.3−軸方向残留エラースパイクの例
I.8
半径方向トラッキング残留エラーの測定方法
半径方向トラッキングの残留エラー測定は，11.5に規定したフィルタを通した半径方向エラー信号を使
って行う。測定を行う前に信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を超
える場合は，欠陥部の測定を避けるために，信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位置
を動かす。
次に示す方法を，半径方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを，1トラックジャンプモード（ドライブは，フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり，1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。）にする。
b) 9.11に規定したとおりに，半径方向のトラッキング基準サーボの半径方向サーボ特性を調整する。
c) 11.5に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順でピーク値を測定する。
− フィルタをLPFとしカットオフ周波数を，次のとおりに設定する。
− 2xディスクでは，1.8 kHz
− 4xディスク及び6xディスクでは，3.6 kHz
− トラックジャンプ領域を除き，1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を，次に示す方法で測定する。
− フィルタをBPFとし，カットオフ周波数を次のとおりに設定する。
− 2xディスクでは，1.8 kHz & 10 kHz
− 4xディスク及び半径36 mm未満の6xディスクでは，3.6 kHz & 20 kHz
− 半径36 mm及びそれよりも外側の6xディスクでは，3.6 kHz & 30 kHz
− 1回転分のエラー信号波形を表示する。
− ノイズの実効値を，トラックジャンプ領域を除き，DSOの機能（2xディスクでは積分時間20 ms
とし，4xディスク及び6xディスクでは10 msとする。）を使って測定する。
注記 この値は，他の測定器でも測定できる。
I.9
ランダムSER測定
測定条件は，33.4に規定されている。
211
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書J
（参考）
複屈折の測定
J.1
測定の原理
複屈折の測定には偏光平行光が使用される。位相遅延は，反射光の偏光のだ円率を見ることによって，
測定される。
この規格では，複屈折を測定する特定の装置の指定はしないが，図J.1に例示する装置は，この測定に
適している。
入力するレーザ光の二つの偏光の方位は，既知であると仮定する。
透過積層中でのレーザ光の入射角は，θとする。この角度は，空気中でのレーザ光の入射角θ0と，次の
関係式で表される。
n×sin(θ)＝sin(θ0)
ここに，
n： 平均の（面方向の）屈折率
ディスク
1/4 波長板
偏光子
レーザ
回転アナライザ
コリメータレンズ
フォトディテクタ
0θ
図J.1−複屈折を測定する装置の例
J.2
測定条件
上記に規定した，複屈折の測定は，次の条件で測定することが望ましい。
− 測定モード：
反射で透過積層を通過するダブルパス
− レーザビームの波長（λ）： 405 nm±10 nm
− ビーム半径（FWHM）：
1.0 mm±0.2 mm
− 入射角θ0：
25°〜60°
− ディスク設置方向：
水平方向
− 温度及び相対湿度：
8.1.1の規定による
212
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
J.3
測定方法の例
次に示す方法を順番に行うことによって，複屈折がディスクの透過積層の中では均一であるという仮定
のもとに，平面方向複屈折Δn//及び垂直方向複屈折Δn⊥を明確に決めることができる。さらに，複屈折Δn//
及びΔn⊥の絶対値は，1よりも十分小さいと仮定する。
a) アナライザを，入力光のs偏光軸又はp偏光軸に平行に合わせる。1/4波長板を通過した光が，直線偏
光となるように合わせる。
b) ディスクを，表面に垂直な軸の周りに，アナライザを通過した光が最小又は最大となるように回転す
る。
c) この位置から，ディスクを45°回す。1/4波長板を45°回す。
d) アナライザ通過光が，再び最小又は最大となるように回転する。アナライザの回転角の変化幅Δφを
記録する（ラジアンで）。最小の通過Tmin及び最大の通過Tmaxを記録する。
e) 位相遅れRを得るために，次の式を計算する。
+
−
×
=
min
max
min
max
arcsin
4
T
T
T
T
π
λ
R
f)
次の二つの式の中で，Rの値をΔφとθとを組み合わせ，Δn//及びΔn⊥の値を得る。
(
)
φ
d
R
n
Δ
2
cos
Δ//
×
×
=
()()
(
)
φ
θ
θ
d
R
n
Δ
2
sin
sin
cos
Δ
2
×
×
×
=
⊥
ここに，
d： 透過積層の厚さ
入射角は，平行方向及び垂直方向の両方の複屈折が正確に測定できるように選ぶことが望ましい。適し
た値は，Δn//及びΔn⊥の比による。
J.4
測定結果の互換性
J.2の測定条件を基にしている場合は，他の種々の測定方法が可能であり，使ってもよい。測定結果の互
換性を保証するために，次に示す影響を考慮することが望ましい。
反射光の解析の際，カバー層の表面による反射光を考慮に入れる。
表面による反射光の直接の影響を別にしても，表面の反射光及び記録層の反射光の干渉に起因する全反
射光の変動が起こる可能性がある。この反射光の変動が顕著なのは，ディスクのカバー層が非常に正確に
平たんであり，かつ，光源のコヒーレンスが高い場合だけである。
213
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書K
（参考）
カバー層及びスペーサ層の厚さの測定
K.1 フォーカス方法
レーザ光は，対物レンズによって，カバー層の表面から各記録層へと順番に焦点を合わす。カバー層及
びスペーサ層の厚さは，レンズの動きを測定することによって決めることができる。図K.1は，この方法
でディスクの測定をする例を，図示している。
カバー層
L1層
スペーサ層
L0層
基板
d1
d2
図K.1−カバー層及びスペーサ層の厚さの測定例
上記に規定した，カバー層及びスペーサ層の厚さの測定は，次に示す条件で行うことが望ましい。
− レーザビームの波長： 405 nm±5 nm
− 試験環境：
8.1.1の規定による。
測定器によって，レンズの移動距離が各層の厚さd1及びd2に変換できる。
この測定では，フォーカスシステムの引込み範囲の幅は，スペーサ層の厚さよりも十分短くすることが
望ましい。
K.2 干渉計方法
この方法では，波長の変化可能な光源が使用される。反射光の強度は，次のパラメタ：厚さ，屈折率及
び波長によって変わる。
反射光の干渉パタンを測定した，標準的な例を，図K.2に示す。
214
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
560580600620640660680700720740760780800820840860880900
0
100
200
300
400
500
波長,
(nm)
F
F
T
強度
(a
rb
.)
λ
反
射
光
強
度
（
任
意
の
単
位
）
図K.2−反射光強度の例
この波形から開始し，層の厚さは，高速フーリエ変換（FFT）の手法を使って得ることができる。しか
し，屈折率は，波長の関数であるため，FFTで，次に示す方法を行うことが望ましい。
最初に，波長空間は，波長の逆数及び波長依存の屈折率の積に変換される。この変換した結果の波形を，
図K.3に示す。ここに，横軸は，n(λ)/2λに変換されている。
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.4
0
100
200
300
400
500
n()/2
( ×106m-1)
F
F
T
強
度
(a
rb
.)
λλ
反
射
光
強
度
（
任
意
の
単
位
）
図K.3−反射光強度の例
FFT法を使い，この変換した波形は，図K.4に示すとおりに厚さの空間の干渉空間へ変換できる。横軸
は，干渉距離の値を示している。d1及びd2の位置は，光強度がピークになる場所で，それぞれスペーサ層
及びカバー層の厚さを示している。
0
20
40
60
80
100
120
0
50
100
d2
d1
F
F
T
強
度
(a
rb
.)
干渉距離, d(
m)
μ
反
射
光
強
度
（
任
意
の
単
位
）
図K.4−反射光強度のFFTの例
215
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
それによって，スペーサ層の厚さ＝d1，かつ，カバー層の厚さ＝d2となる。
注記 スペーサ層の厚さを得るために，スペーサ層の屈折率n1(λ)を用いる必要があり，カバー層の厚
さを得るためにカバー層の屈折率n2(λ)を用いる必要がある。
この方法は，層の厚さが薄めの場合は，特にフォーカス方法で二つの層の表面の区別が難しい場合に，
正確に厚さを測定することに向いている。
216
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書L
（参考）
カバー層の衝突耐久性の測定
L.1
一般
BDレコーダブルディスクシステム構成は，次の特徴がある。
− ディスクに入射するレーザのスポットサイズは，以前の光記録システムのものよりも小さい。
− レンズの自由作動距離（FWD）は，以前の光記録システムのものよりも短い。
L.2
ドライブの推奨
L.1の両方の結果から，光ピックアップユニットの先端とディスクとの間の機械的接触の危険性及び実
際に衝突することが増えた。そこで，ドライブはディスクに衝突した後でも，SER（33.4参照）が許容限
度内にあるようなレンズ及びディスクを保護する十分な手段をもつことが望ましい。そこで，バンパ（例
えば，衝撃ダンパ）をOPUの先端に付けることが推奨される。このバンパは，円柱状形でもよく，ポリマ，
ポリオキシメチレン（POM）のようなポリマ化合物で作ることができる。
L.3
カバー層の衝突耐久性の測定
さらに，ディスクの入射面は，十分な衝突耐久性をもつことが望ましい。衝突耐久性は，保護コートに
よって改善できる。
次に示す試験は，ディスクの入射面の衝突耐久性が十分かどうか検証する。
球面形状のピン（図L.1参照）が，ディスクに対しピンを当てることができる機械装置の先端に装着さ
れる。ピンは，回転するディスクを規定の衝撃で打つ。
R
図L.1−標準的ピン形状
試験開始前は，次のとおりに確認する。
ディスクに，任意のデータを記録する。半径24.5 mmから25.5 mmまでの全てのデータエラーが，箇条
31及び34.1の規定を満たすことを検証する。
バンパ及びディスク入射面がきれいであることを確認する。
試験条件は，次による。
− ピンの材料：
ポリオキシメチレン（POM；自然グレード，成形ピース）
− ピンの半径：
先端：球形で半径R＝1.0 mm
− 表面の最大粗さ：
0.1 μm（山から谷まで）
− 可動部（ピン及びピン保持部）質量： (0.5±0.1)グラム
217
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
− 衝突直前速度：
(0.20±0.05) m/s
− ディスクの線速度：
5.0 m/s
− テスト領域半径：
(25.0±0.2) mm
− 衝突回数：
1回
− 環境：
8.1.1に規定した，全ての動作条件
試験の後の結果は，次による。
ディスクの関係した領域で生じたエラーは，いずれのLDCブロックのSER（33.4参照）も4.2×10−3未
満を満たすことが望ましい。
218
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
附属書M
（参考）
グルーブ偏移及びウォブル振幅
M.1 正規化ウォブル信号及びウォブル振幅の関係
nm単位のウォブル振幅を直接測定することは，簡単にはできない。しかし，正規化ウォブル信号から
求めることができる。このように求めた誘導の近似式を，次に示す。
ウォブル信号のピーク値IWは，次のとおりに表すことができる。
×
×
×
=
p
Wp
π
2
sin
T
a
A
I
ここに，
a： nm単位のウォブル振幅
Tp： 半径方向エラー信号のトラックピッチ
A： 半径方向エラー信号のピーク値
図M.1に，パラメタa，Tp，A及びIWpが示される。トラックの平均中心は，“O”点にとられる。トラ
ックは，トラックの平均中心から実際のトラック中心までピーク偏移“a”（ウォブル振幅）となる。正規
化ウォブル信号は，それらを用いて，次による。
(
)
×
×
=
×
×
=
−
p
Wp
pp
2
1
Wpp
π
2
sin
2
2
T
a
A
I
I
I
I
ここに，(I1−I2)pp＝2×A
ウォブル信号IWは，ウォブル振幅aだけではなくトラックピッチTpにも依存する。
正規化によって，グルーブ構造及びスポット形状並びに光学収差要因を除く。
M.2 正規化ウォブル信号の許容値
M.1の正規化ウォブル信号の式によって，27.3の許容値は，与えられたトラックピッチTp＝0.32 μmで
のnm単位のウォブル振幅に変換できる。
− 下限： 0.20は，10 nmに相当する。
− 上限： 0.55は，30 nmに相当する。
219
X 6230：2017 (ISO/IEC 30190：2016)
O
A
Tｐ
IWp
ランド
グルーブ
ランド
半径方向
a
平均の
トラック中心
実際の
トラック中心
ウォブル振幅
接線方向
半径方向
エラー信号
図M.1−グルーブ上のウォブル信号生成
参考文献
[1] ASTM D1044:2005，Standard Test Method for Resistance of Transparent Plastic to Surface Abrasion.
American Society for Testing and Materials