2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

X 6225-1995 

90mmフレキシブルディスク 

カートリッジのトラックフォーマット 

−15 916磁束反転／rad 

Track format for 90 mm flexible disk cartridges 

−15 916 ftprad 

1. 適用範囲 この規格は，JIS X 6223に規定する磁束反転密度15 916磁束反転／rad，トラック密度5.3

トラック／mmのフレキシブルディスクカートリッジ（以下，フレキシブルディスクという。）に情報を記

録する際のトラックフォーマットについて規定する。 

備考1. この規格の引用規格を，次に示す。 

JIS X 0008 情報処理用語（規制，完全性及び安全保護） 

JIS X 0201 情報交換用符号 

JIS X 0202 情報交換用符号の拡張法 

JIS X 0208 情報交換用漢字符号 

JIS X 0605 情報交換用フレキシブルディスクカートリッジのボリューム及びファイル構成 

JIS X 6223 90mmフレキシブルディスクカートリッジ（13 262/15 916磁束反転／rad） 

2. この規格の対応国際規格を，次に示す。 

ISO/IEC 9529-2 : 1989 Information processing systems−Data interchange on 90mm (3.5 in) flexible 

disk cartridges using modified frequency modulation recording at 15 916 ftprad, on 80 tracks on 

each side−Part 2 : Track format 

2. 用語の定義 この規格に用いる主な用語の定義は，JIS X 6223の規定によるほか，次による。 

2.1 

MFM記録方式 情報を記録する際，データ “1” の場合には，ビットセルの中心で磁束を反転し，

データ “0” が連続した場合には，データ “0” のビットセルの境界で磁束を反転する方式。 

2.2 

ヘッドアクセス線 磁気ヘッドのギャップの中心線が全トラックを移動するときに描く直線。 

2.3 

誤り検出符号 (EDC) データ中の誤りのビットを検出するために，特定の生成規則に従って符号化

した冗長な符号（JIS X 0008参照）。 

2.4 

インデックス 駆動軸の1回転ごとに発生する信号。 

3. 記録の一般的必要条件 

3.1 

記録方式 記録方式は，全トラックについてMFM記録方式とする。 

2 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

3.2 

記録済みのトラック半径の許容差 記録済みのトラック半径の許容差は，JIS X 6223の10.1.2（使用

環境）の使用環境でJIS X 6223の6.4（トラック位置）に規定するトラック中心線の半径の公称値を実際

の温度で補正した値に対して，±0.028mmとする。 

なお，この温度補正は，JIS X 6223の7.2（ディスクの熱線膨張係数）に規定するディスクの熱線膨張係

数の公称値を用いる。 

3.3 

記録時のオフセット角 記録時のオフセット角 (θ) は，次の式によって算出する。 

18'

0

sin

゜

＝

±

n

R

d

arc

θ

ここに， d＝0.35 mm 
 

Rn： JIS X 6223の6.4に規定するトラック中心線の半径の公称 (mm) 

なお，オフセット角は，図1に示すとおりデータの書込み又は読取りの瞬間に生じる磁束反転の半径方

向に対する傾き角度とする。 

図1 記録時のオフセット角 

備考 トラックの両側には，書込み及び読取り時の3.2及び3.3に規定する許容差によって，読取り時

に古い記録信号が雑音として混入するのを防ぐために，消去帯を設ける。 

3.4 

記録密度及びビットセル長 

3.4.1 

記録密度 記録密度の公称値は，1ラジアン当たり15 916磁束反転とし，ビットセル長は，角度で

表し，その公称値は，62.8μradとする。 

3.4.2 

長周期の平均ビットセル長 長周期の平均ビットセル長は，1セクタにわたり測定したビットセル

長の平均値とし，その値は，ビットセル長の公称値の±2.5%を超えて変化してはならない。 

3.4.3 

短周期の平均ビットセル長 短周期の平均ビットセル長は，特定の1ビットセルに先行する8ビッ

トセル長の平均値とし，その値は，長周期の平均ビットセル長の±8%を超えて変化してはならない。 

3.5 

磁束反転間隔 磁束反転間隔の瞬時値は，記録・再生過程，ビット列（波形干渉効果）及びその他

の要因に影響される。磁束反転の位置は，再生信号のピークの位置で規定し，その間隔は，附属書によっ

て測定し図2及び次による（参考1参照）。 

(1) データ “1” が連続した場合，磁束反転間隔は，短周期の平均ビットセル長の80〜120%の範囲とする。 

(2) データ “0” が連続した場合，先行するデータ “1” との磁束反転間隔，又は後続するデータ “1” との

磁束反転間隔は，短周期の平均ビットセル長の130〜165%の範囲とする。 

3 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(3) データ “1” の磁束反転の間にデータ “0” が1個ある場合，磁束反転間隔は，短周期の平均ビットセ

ル長の185〜225%の範囲とする。 

図2 磁束反転間隔 

3.6 

平均信号振幅 欠陥がないすべてのトラックの平均信号振幅は，1fの出力については標準信号振幅

の160%以下とし，2fの出力については標準信号振幅の40%以上とする。 

3.7 

バイト 1バイトは，8ビットからなり，それぞれをB1からB8まで割り付ける各ビットは， “0” 又

は “1” とする。 

3.8 

セクタ セクタは，全トラックについて，トラック当たり18セクタとし，セクタ当たりのデータ容

量は，512バイトとする。 

3.9 

シリンダ シリンダは，両面の同一トラック番号の対のトラックとする。 

3.10 シリンダ番号 シリンダ番号は，トラック番号と同一の2けたの数字とする。 

3.11 トラックのデータ容量 トラックのデータ容量は，9 216バイトとする。 

3.12 16進数による表現 この規格で，特定の意味に用いるバイト (B8〜B1) のビット組合せ（コード）

の表現は，表1の括弧を付けた16進数2けたで表す。 

表1 16進数による表現 

16進数 B8 

B7 

B6 

B5 

B4 

B3 

B2 

B1 

仕様 

(00) 

0 

0 

0 

0 

0 

0 

0 

0 

− 

(01) 

0 

0 

0 

0 

0 

0 

0 

1 

− 

(02) 

0 

0 

0 

0 

0 

0 

1 

0 

− 

(4E) 

0 

1 

0 

0 

1 

1 

1 

0 

− 

(FE) 

1 

1 

1 

1 

1 

1 

1 

0 

− 

(FB) 

1 

1 

1 

1 

1 

0 

1 

1 

− 

(A1)* 

1 

0 

1 

0 

0 

0 

0 

1 

B4とB3との境界の磁束反転がないもの 

備考 (A1) *は，仕様欄に規定する特殊のものを示す。 

なお，以下の規定で，例えば，11 (FE) バイトという表現は，11バイトをすべて (FE) で記録すること

を意味する。 

3.13 誤り検出符号 (EDC) 誤り検出符号 (EDC) は，2バイトとし，16ビットのシフトレジスタを用い

て次の生成多項式で生成し，トラック各部の定めた領域に付加する（参考2参照）。 

生成多項式：X16＋X12＋X5＋1 

4. トラックの様式 フォーマット設定時でのディスクの回転数は，次による。 

(1) インデックス間の平均値で300rpm±2 % 

(2) 1セクタにわたる平均値で300rpm±2.5 % 

フォーマット設定後の各トラックは，18セクタとする。各セクタの様式は，図3による。 

4 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

図3 トラックの様式 

4.1 

インデックスギャップ インデックスギャップは，146バイト長とし， (A1) *を含んではならない。

インデックスギャップの書込みは，インデックスパルスを検出してから開始する。インデックスギャップ

は，重ね書きの繰返しに対しては，146バイトでなくてもよい。 

なお，インデックスパルスは，どのトラックでも図4に示す基準線Bがヘッドアクセス線と平行になる

時（0.35mmの位置）の±440μs以内で発生することとし，その立ち上がり時点をトラックの始点とする。 

図4 インデックスパルスの発生位置 

4.2 

セクタ識別子 セクタ識別子の領域は，表2による。 

5 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表2 セクタ識別子 

識別子マーク 

アドレス識別子 

トラックアドレス 

セクタ番号 

1バイト 

(02) 

EDC 

C 

面 

S 

12バイト 

(00) 

3バイト 

(A1) * 

1バイト 

(FE) 

1バイト 

1バイト 

(00) 又は (01) 

1バイト 

2バイト 

4.2.1 

識別子マーク 識別子マークの領域は，12 (00) バイト，3 (A1) *バイト及び1 (FE) バイトからなる

16バイトとする。 

4.2.2 

アドレス識別子 アドレス識別子の領域は，6バイトとし，次による。 

(1) トラックアドレス トラックアドレスの領域は，アドレス識別子の最初の2バイトとし，シリンダ番

号及び面番号からなり，次による。 

(a) シリンダ番号 (C) の領域は，トラックアドレスの第1バイトとし，最外周のシリンダ00から最内

周のシリンダ79までのシリンダ番号を2進法を用いて記録する。 

(b) 面番号（面）の領域は，トラックアドレスの第2バイトとし，ディスクの面番号を記録する。0面

の全トラックは， (00) とし，1面の全トラックは， (01) とする。 

(2) セクタ番号 (S)  セクタ番号の領域は，アドレス識別子の第3バイトとし，第1セクタの01から最

後のセクタの18までのセクタ番号を2進法を用いて記録する。 

なお，セクタは，任意の順番でセクタ番号を記録してもよい。 

(3) アドレス識別子の第4バイト アドレス識別子の第4の領域は， (02) とする。 

(4) EDC EDCは，2バイトとし，識別子マークの第13バイトの (A1) *からアドレス識別子の第4バイ

トまでを用いて，3.13で規定する生成多項式によって生成する。 

もし，EDCが誤っている場合は，そのセクタは，欠陥セクタとする。欠陥セクタの取扱いは，JIS X 

0605の規定による。 

4.3 

識別子ギャップ 識別子ギャップの領域は，初期設定時に22 (4E) バイトとし，重ね書きの繰返しに

対しては22 (4E) バイトでなくてもよい。 

4.4 

データブロック データブロックの領域は，表3による。 

表3 データブロック 

データマーク 

データ領域 

EDC 

12バイト 

(00) 

3バイト 

(A1) * 

1バイト 

(FB) 

512バイト 

2バイト 

4.4.1 

データマーク データマークの領域は，12 (00) バイト，3 (A1) *バイト及び1 (FB) バイトからなる

16バイトとする。 

4.4.2 

データ領域 データ領域は，512バイトとする。 

この領域に記録するデータが512バイト未満の場合には，残りの領域は， (00) を記録する。 

4.4.3 

EDC EDCの2バイトは，データマークの第13バイトの (A1) *からデータ領域の最終バイトまで

を用いて，3.13で規定する生成多項式によって生成する。 

もし，EDCが誤っている場合は，そのセクタは，欠陥セクタとする。欠陥セクタの取扱いは，JIS X 0605

の規定による。 

4.5 

データブロックギャップ データブロックギャップの領域は，初期設定時に101 (4E) バイトとし，

重ね書きの繰返しに対しては101 (4E) バイトでなくてもよい。 

データブロックギャップは，次のセクタ識別子に先行して，各データブロックの後に記録する。ただし，

6 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

最後のデータブロックギャップは，トラックギャップに先行する。 

4.6 

トラックギャップ トラックギャップの領域は，最後のセクタのデータブロックギャップの後から

インデックスパルスを検出するまでとし， (4E) を記録する。ただし，最後のデータブロックギャップの

書込み中にインデックスパルスを検出した場合には，トラックギャップは，ないこととする。 

5. データのコード化表現 データ領域の内容は，コード化表現を規定したJIS X 0201，JIS X 0202及び

JIS X 0208の規定によって表現する。 

(1) コード化法による表現をする場合には，データは，8ビットを列とするバイトの連続体とみなす。各

バイトのビット位置は，B8からB1とし，最上位のビットをB8の位置に，最下位のビットをB1の位置

に記録する。記録の順序は，最上位のビットを最初とする。 

参考 データを8単位符号でコード化する場合は，各ビット位置の2進重みは，参考表1による 

参考表1 8ビット符号のビット位置及び2進重み 

ビット位置 

B8 

B7 

B6 

B5 

B4 

B3 

B2 

B1 

2進重み 

128 

64 

32 

16 

8 

4 

2 

1 

データを7単位符号でコード化する場合は，B8は常に “0” とし，B7からB1は，参考表1に示した

2進重みによってコード化する。 

(2) ビット対応の表現をする場合には，データは，1ビットごとに規定されたビット列の連続体とみなす。 

7 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書 磁束反転間隔の測定方法 

1. 適用範囲 この附属書は，磁束反転密度15 916磁束反転／rad，トラック密度5.3トラック/mmでMFM

記録方式を用いて両面に記録する90 mmフレキシブルディスク（13 262/15 916磁束反転／rad）の磁束反

転間隔の試験装置及び測定方法について規定する。試験時の回転数は，公称値で300rpmとする。 

2. フォーマット 測定するディスクは，情報交換用に使用するディスク装置によって記録する。 

3. 試験装置 

3.1 

ディスク装置 ディスク装置の回転数は，1回転の平均値で300±3rpmとする。ただし，32μsにわ

たる平均回転角速度は，1回転の平均回転数の±0.5%を超えて変化してはならない。 

3.2 

ヘッド 

3.2.1 

分解能 ヘッドの分解能は，各面のトラック79で，70〜75%の範囲とする。 

なお，分解能は，標準フレキシブルディスク (RM 9529) を用い，JIS X 6223の8.1（試験条件）に規定

する試験記録電流で記録したときの値とし，3.3.1に規定するリード増幅器の出力から求める。 

ヘッドの共振周波数は，500kHz以上とし，分解能は，ヘッドの負荷インピーダンスを変えることによっ

て調整してはならない。 

3.2.2 

オフセット角 オフセット角は，次による。 

'6

0

sin

゜

＝

±

n

R

d

arc

θ

ここに， d＝0.35mm 
 

Rn： JIS X 6223の6.4（トラック位置）に規定するトラック中心線の

半径の公称値 (mm) 

3.2.3 

接触 フレキシブルディスクとの接触は，試験の間は良好に維持できるものとする。 

3.3 

リードチャネル 

3.3.1 

リード増幅器 リード増幅器は，飽和を起こしてはならない。リード増幅器の周波数特性は，1kHz

から375kHzまで±1dBの平たんな特性とする。 

3.3.2 

ピーク検出増幅器 ピーク検出増幅器は，微分・リミッティング増幅器又はそれと等価なピーク検

出回路をもつものとする。 

3.4 

時間間隔カウンタ 時間間隔カウンタは，5μsまでの測定ができ，その分解能は，5ns以内とする。 

4. 測定方法 

4.1 

磁束反転間隔の測定 磁束反転間隔は，再生信号のピーク間の時間間隔をトラック当たり105回のラ

ンダムサンプリングによって測定し，附属書図1に示すとおり，時間間隔の分布を対数で表す。 

測定は，3.3で規定したリードチャネルの出力で行う。 

4.2 

全トラックの磁束反転間隔 測定したt1〜t6の時間間隔は，次による。 

(1) 

0

2tt×100%及び01tt×100%は，本体の3.5(1)の磁束反転間隔に対応する。 

(2) 

0

4tt×100%及び03tt×100%は，本体の3.5(2)の磁束反転間隔に対応する。 

8 

X 6225-1995  

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(3) 

0

6

t

t×100%及び

0

5

t

t×100%は，本体の3.5(3)の磁束反転間隔に対応する。 

t0は，短周期の平均ビットセル長（公称値2μs）とする。データブロック及びインデックスの継ぎ目での

規格外の時間間隔は，無視する。 

附属書図1 時間間隔の分布 

関連規格 JIS X 6224 90mmフレキシブルディスクカートリッジのトラックフォーマット−13 262磁束

反転／rad 

ISO 9293 : 1987 Information processing-Volume and file structure of flexible disk cartridges for 

information interchange 

9 

X 6225-1995  

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参考1 MFM記録の符号化解読のためのデータセパレータ 

この参考は，MFM記録の符号化解読のためのデータセパレータについて記述するもので，規定の一部

ではない。 

MFM記録方式は，ビットセル長を時間tで表したとき，次に示す磁束反転間隔の公称値をもつ。 

(1) 111又は000パターンに対し，t 

(2) 100又は001パターンに対し，t

23 

(3) 101パターンに対し，2t 

データセパレータは，2μsの時間差が弁別できることが必要である。これを実行するには，データセパ

レータの発振器は，固定周期ではデータ分離が不可能であり，ビットセル長の変動に追従して周期を変化

する必要がある。 

現在では，フェーズロック発振器に基づくデータセパレータによってデータ分離が行われている。 

10 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

参考2 EDCの生成方法 

この参考は，EDCの生成方法について記述するもので，規定の一部ではない。 

EDCを生成するシフトレジスタのフィードバック接続を，参考2図1に示す。 

動作前に，すべてのレジスタに “1” をセットする。入力データをレジスタC15の出力と加算（排他的論

理和）し，フィードバックの入力とする。 

このフィードバックをC4及びC11の出力に加算する。シフトレジスタをけた送りして，排他的論理和の

出力を，それぞれC0，C5，C12に入力する。 

最後のデータビットが入力された後で，レジスタをもう1回けた送りする。このときのレジスタの内容

をEDCバイトとする。 

EDCバイトをけた送りして，出力（書込み）する間は，制御信号によって排他的論理和を制御する。 

読取り時には，データビットを書き込むときと全く同様な方法でシフトレジスタに入力して，誤りを検

出する。データに続くEDCバイトも，データと同様にシフトレジスタに入力する。最後のけた送り後，レ

ジスタの内容は，データに誤りがない場合，すべて0となる。 

参考2図1 シフトレジスタによるEDCの発生例 

11 

X 6225-1995  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

90mmフレキシブルディスク 

カートリッジのトラックフォーマット−15 916磁束反転/rad 

JIS改正原案作成委員会 構成表（敬称略・順不同） 

氏名 

所属 

（委員長） 

富 田 正 典 

日本電信工業株式会社 

（幹事） 

広 知 利 彦 

帝人株式会社 

（幹事） 

千 原 健 一 

富士通株式会社 

早 川 雄 一 

日本電気株式会社 

小 林 敏 郎 

ソニー株式会社 

山 森 一 毅 

株式会社東芝 

下 薗 俊 二 

株式会社ワイ・イー・データ 

平 川   卓 

富士写真フィルム株式会社 

荒 木   学 

日本ユニシス株式会社 

柴 田 不二雄 

TDK株式会社 

菊 地 紀 彦 

松下通信工業株式会社 

松 本 冨士雄 

日立マクセル株式会社 

磯 崎   眞 

コニカ株式会社 

長谷川   正 

三菱電機株式会社 

平 松 謙 一 

化成バーベイタム株式会社 

村 山 邦 樹 

ティアック株式会社 

中 島 一 郎 

通商産業省 

倉 重 有 幸 

工業技術院標準部 

瀬戸屋 英 雄 

工業技術院標準部 

（事務局） 

東 條 喜 義 

社団法人日本電子工業振興協会