JISX6223:1987 ９０ｍｍフレキシブルディスクカ－トリッジ（１３２６２／１５９１６磁束反転／ｒａｄ）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6223-1987

90mmフレキシブルディスクカート

リッジ（13262/15916磁束反転/rad）

90mm Flexible Disk Cartridges (13262/15916 ftprad)

1. 適用範囲この規格は，両面を磁束反転密度13262/15916磁束反転/rad，トラック密度5.3トラック/mm

で記録する情報交換用90mmフレキシブルディスクカートリッジの構造・寸法，物理的・機械的特性及び

電気的・磁気的特性について規定する。

2. 用語の意味この規格で用いる主な用語の意味は，情報処理用語に関する日本工業規格(1)によるほか，

次のとおりとする。

(1) フレキシブルディスクカートリッジケースにディスクを内蔵し，両面の記録面に情報処理システム

及びそれに関連するシステムの情報を，磁気的に記録保持する可どう（撓）形情報記録媒体。以下，

フレキシブルディスクという。

(2) ハブディスクの中心に取り付けられたディスク駆動用円板。ハブは，特定の角度の孔に，駆動軸を

はめこむことによって，ディスクの同心回転を確実にする。

(3) シャッタフレキシブルディスクをディスク装置に着脱するときに，自動的にヘッドウィンド部を開

閉する機構。

(4) ライナディスクの清掃と摩耗防止のために，ディスクとケースの間に設ける保護用シート。

(5) ケースシャッタ機構，書込み禁止孔及び識別孔をもつディスク保護用封入籍。

(6) 書込み禁止孔閉じた状態のときだけディスクへの記録を可能とするため，ケースに設けた貫通孔。

(7) 識別孔この規格で規定されるフレキシブルディスクを識別するため，ケースに設けた貫通孔。

(8) 標準フレキシブルディスク記録磁界，信号振幅，分解能，ピークシフト及び重ね書きの標準として

用いられるもので，その特性値を国際標準化機構 (ISO) が規定したフレキシブルディスク。

両面のトラック00と79を基準トラックとする。基準トラックは，磁束反転密度15916磁束反転/rad

で校正されている。

注(1) JIS X 0001 情報処理用語（基本用語）

JIS X 0002 情報処理用語（算術演算及び論理演算）

JIS X 0003 情報処理用語（装置技術）

JIS X 0004 情報処理用語（データの構成）

JIS X 0005 情報処理用語（データの表現）

JIS X 0006 情報処理用語（データの準備及び取扱い）

引用規格，対応国際規格及び関連規格：13ページに示す。

X 6223-1987

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JIS X 0007 情報処理用語（プログラミング）

JIS X 0008 情報処理用語（規制，完全性及び安全保護）

JIS X 0009 情報処理用語（データ通信）

JIS X 0010 情報処理用語（操作技法及び機能）

JIS X 0011 情報処理用語（制御装置，入出力装置及び演算装置）

JIS X 0012 情報処理用語（データ媒体，記憶装置及び関連装置）

JIS X 0013 情報処理用語（図形処理）

JIS X 0014 情報処理用語（信頼性，保守及び可用性）

JIS X 0015 情報処理用語（プログラム言語）

JIS X 0016 情報処理用語（情報理論）

(9) 副標準フレキシブルディスク標準フレキシブルディスクとの電磁変換特性の偏差が明示され，供試

フレキシブルディスクと標準フレキシブルディスクとの電磁変換特性の比較を可能にするフレキシブ

ルディスク。

参考副標準フレキシブルディスクは，参考に示す機関及び内容によって提供される。

(10) 基準磁界標準フレキシブルディスクの特定トラックにおいて，規定の磁束反転周波数で記録し，こ

れを再生するとき，平均信号振幅がその最大出力値（飽和値）の95%となる最小記録磁界。

(11) 平均信号振幅当該トラック1周の再生された出力電圧のせん（尖）頭間振幅の平均値。

(12) せん（尖）頭値再生された出力電圧の0Vを基準にした波高値。

3. 構造フレキシブルディスクは，図1〜5に示す構造とする。すなわち，中心部に金属ハブを取り付け

たディスクをケースに封入したもので，ケース内面にライナをもち，ヘッドウィンドは，シャッタで覆わ

れたものとする。

ケースには，片面中心部にハブ操作孔を，両面にヘッドウィンド，書込み禁止孔及び識別孔を設ける。

ケースは，ハブ操作孔側を0面側，他の側を1面側とする。

4. 形状及び寸法

4.1

ケースケースの基準線は，図1のX及びYが直角に交じわる点の延長線とする。厚さ方向の基準

面は，図2の網掛け領域の0面側の面XYとする。

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図2 フレキシブルディスク（1面側）

(1) 大きさケースの2辺の長さ (L1, L2)，3か所の角部の丸みの半径 (R1) 及び4番目の角部の角度 (ω) は，

図1及び次のとおりとする。

L1＝94.0±0.3mm

4.01.0

+−

R1＝2.0±1.0mm

ω＝45±2°

(2) 厚さケースの両端からそれぞれ8.5mmの領域（図2に示す網掛け領域）におけるケースの厚さ (E1)

及び角部の半径 (R2) は，次のとおりとする。

E1＝3.3±0.2mm

R2＝0.40±0.25mm

フレキシブルディスクは，附属書1に示す垂直壁をもつ厚さゲージの間を，最大0.2Nの力で挿入し

たときに，落下しなければならない。

(3) ハブ操作孔ハブ操作孔の位置 (L3, L4) 及び直径 (D1) は，図1及び次のとおりとする。

L3＝40.00±0.15mm

L4＝31.00±0.15mm

D1≧26.50mm

(4) 基準孔

(a) 第1基準孔第1基準孔の中心は，基準線X及びYの交点とし，その形状 (L8, L9, L10. D2, D3) は，

図1及び次のとおりとする。

L8＝0.2±0.1mm

L9≧1.0mm

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L10≧2.5mm

D2＝3.6±0.1mm

D3≧1.5mm

(b) 第2基準孔第2基準孔の中心は，基準線X上とし，基準線Yからの距離 (L5) 及び寸法 (L6, L7) は，

図1，図3及び次のとおりとする。

L5＝80.0±0.2mm

L6＝3.6±0.1mm

L7＝4.4±0.2mm

また，孔の形状 (L8, L9, L10, D3) は，(a)のとおりとする。

図3 フレキシブルディスク拡大図（0面側）

(5) ラベル領域

(a) 0面 0面のラベル領域は，図1に示す斜線部分とし，その範囲を示す寸法 (L11, L12, L14) は，次の

とおりとする。

L11≧3.5mm

L12≦76.5mm

L14≧60.0mm

(b) 1面 1面のラベル領域は，図2に示す斜線部分とし，その範囲を示す寸法 (L11, L12, L13) は，次の

とおりとする。

L11≧3.5mm

L12≦76.5mm

L13≧20.0mm

(6) ヘッドウィンドヘッドウィンドの位置を示す寸法 (L15〜L17)，幅 (L18),下端部の半径 (R3) 及び上端

部の半径 (R4) は，図3及び次のとおりとする。

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L15≧12.3mm

L16≧11.5mm

L17＝35.5±0.2mm

L18＝9.00±0.20mm

R3＝0.5±0.1mm

R4≧8.85mm

(7) 書込み禁止孔書込み禁止孔の中心は，基準線Y上とし，基準線Xからの距離 (L19) 及び大きさ (L20,

L21) は，図2及び次のとおりとする。

L19＝67.75±0.25mm

L20≧3.5mm

L21≧4.0mm

(8) 識別孔識別孔の中心位置 (L5, L9) 及び大きさ (L49, L50) は，図1，図2及び次のとおりとする。

L49≧3.5mm

L50≧4.0mm

(9) シャッタ部分の形状シャッタが装着されている部分の形状寸法 (L22〜L31, L45) 及び切欠き角(α，β)

は，図3及び次のとおりとする。

L22＝8.0±0.2mm

L23＝76.0±0.3mm

L24＝68.0±0.3mm

L25＝64.50±0.35mm

L26＝57.00±0.35mm

L27＝55.5±0.6mm

L28≧3.5mm

L29＝17.5±0.2mm

L30＝17.00±0.15mm

L31＝15.50±0.25mm

L45＝12.50±0.25mm

α＝45±2°

β＝135±2°

(10) シャッタシャッタが開いた状態での基準線Yからの距離 (L32) 及びウィンドの幅 (L33) は，図2，

図3及び次のとおりとする。

L32＝53.75±1.25mm

L33＝12.0±0.2mm

なお，シャッタの移動は，L25からL28までの範囲とする。

4.2

ライナライナは，ヘッドウィンド開口部から0.2mm以上はみ出してはならない。

4.3

ディスクディスクは，次による。

(1) 寸法ディスクの直径 (D4) 及び厚さ (E2) は，図4及び次のとおりとする。

D4＝85.8±0.2mm

E2＝0.080±0.008mm

(2) 磁性層の有効領域磁性層の有効領域は，次に示す半径の二つの円で囲まれる範囲とする。

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内半径＝20.6mm

外半径＝42.0mm

(3) 記録面記録面は，ハブ操作孔のある側を0面，他の側を1面とする。

4.4

ハブハブは，図4に示すように中央部とフランジ部で構成する。

図4 ディスク及びハブ

(1) 大きさ中央部の直径 (D5)，フランジ部の直径 (D6)，中央部の面からディスクの0面までの距離 (L34)

及びL34の測定位置の半径 (R7) は，次のとおりとする。

D5＝

.015
.0

−

D6≦31.15mm

L34＝1.36±0.10mm

R7：公称値14mm

(2) 位置決め孔ハブには，中心孔と駆動孔の二つの位置決め孔を設ける。

(a) 中心孔中心孔の正方形の一辺を長さ (L35)，ディスク回転中心からの距離 (L36) 及び角部の半径

(R5) は，次のとおりとする。

L35≧4.00mm

L36＝1.995 5mm

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R5＝1.0±0.3mm

ディスクの回転中心は，ディスクの幾何学的中心の0.5mm以内とし，位置は，孔の二辺について

測定する。

(b) 駆動孔駆動孔は，直交する2本の基準線A, Bによって規定する。その角度 (γ),孔の大きさ (L37, L38)，

基準線A, Bからの距離 (L39, L40)，3か所の角部の半径 (R5) 及び4番目の角部の半径 (R6) は，次の

とおりとする。

γ＝15±3°

L37＝8.0±0.3mm

L38≧4.5mm

L39＝2.0±0.2mm

L40＝10.00±0.15mm

R5＝1.0±0.3mm

R6＝2.0±0.1mm

4.5

ノッチノッチを付ける場合，基準線Xからの距離 (L41)，大きさ (L42, L43) 及び基準面XYからの

深さ (L44) は，図1，図2及び次のとおりとする。

L41＝7.50±0.15mm

L42≧3.0mm

L43＝4.2±0.2mm

L44≧2.0mm

4.6

フレキシブルディスクとディスク装置との接触断面フレキシブルディスクをディスク装置に装着

したとき，基準面XYからハブ中央部表面までの距離 (L46)，ケース1面の厚さ (E3)，L47とL48で規定され

た環状帯の厚さ (E4) 及び環状帯の位置 (L47, L48) は，図5及び次のとおりとする。

L46：公称値0.3mm

E3＝1.3±0.1mm

E4≦2.5mm

L47＝22.6mm

L48＝21.7±0.2mm

図5 フレキシブルディスク接触断面図

4.7

可どう性フレキシブルディスクは，附属書2に示す試験方法で試験するとき，P1〜P4にフレキシ

ブルディスクが接触しなければならない。

X 6223-1987

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5. 材料

5.1

ケースケースは，適切な材料（例えば，ABS樹脂）とする。

5.2

ライナライナは，ディスクをきずつけないでほこりを除去できる材料（例えば，不織布）とする。

5.3

ディスクディスクは，適切なベース（例えば，2軸に延伸したポリエチレンテレフタレート）の両

面に強固で柔軟性のある磁性塗膜（例えば，磁性材としてCo−γFe2O3を用いた塗膜）を形成したものとす

る。

5.4

ハブハブは適切な材料（例えば，SUS430又はこれと同等な磁気特性をもつ材料）とする。

6. トラック

6.1

トラック数記録面には，磁性層の有効領域に80本の同心のトラックをもつ。

6.2

トラック番号トラック番号は，外周から始まる00から79までの10進2けたの数字で表す。

6.3

トラック幅記録されたトラック幅は，0.115±0.008mmとする。また，隣接するトラックの間は，

消去されているものとする。

なお，トラック幅の測定方法は，附属書3による。

6.4

トラック位置トラック位置は，次のとおりとする。

(1) トラック番号とトラック半径の関係トラック中心線の半径の公称値 (Rn) は，次式による値とする。

Rn＝X−0.187 5n

ここに，

Rn：トラック中心線の半径の公称値 (mm)

X： 0面の場合39.500mm，1面の場合38.000mm

n：トラック番号 (00〜79)

(2) トラック半径の許容差試験時における各トラック半径の許容差は，10.1.1で測定したとき，±

0.020mmとする。

7. 物理的・機械的特性

7.1

燃焼性ディスク，ケース及びライナの材料は，マッチの炎によって着火しても差し支えないが，

二酸化炭素中で燃焼し続けるものであってはならない。

7.2

ディスクの熱線膨張係数ディスクの熱線膨張係数は， (17±8) ×10-6/℃とする。

7.3

ディスクの湿度線膨張係数ディスクの湿度線膨張係数は， (0〜15) ×10-6/%RHとする。

7.4

トルク始動トルク及び回転トルクは，次のとおりとする。

(1) 始動トルク始動トルクは，ヘッドをディスクに接触させない状態で，0.006Nmを超えてはならない。

(2) 回転トルクディスクの回転を維持するのに必要な回転トルクは，ヘッドをディスクに接触させない

状態で，0.000 5〜0.002 5Nmとする。ただし，回転数は，300±3rpmとする。

7.5

シャッタ機構シャッタの開閉力は，閉じた位置で0.2N以上，開いた位置で1N以下とする。

7.6

書込み禁止孔書込み禁止孔は，機械的なスイッチ又は光学的検出器によって利用される。書込み

禁止孔を閉じたとき，閉じた部分はケースの基準面より飛び出さないものとし，3Nの荷重をかけたとき，

基準面から0.3mmを超えるへこみを生じてはならない。

また，附属書4に示す光学系を用いて測定したとき，書込み禁止孔における光透過率は閉じた状態で1%

以下とする。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8. 電気的・磁気的特性

8.1

試験条件電気的・磁気的特性の測定は，磁束反転密度15916磁束反転/radで行い，その試験条件は，

次のとおりとする。

(1) 磁束反転周波数磁束反転周波数は，次のとおりとする

1f＝250 000±250磁束反転/s

2f＝500 000±500磁束反転/s

(2) 試験記録電流試験記録電流は，トラック00において1fを記録したとき，基準磁界を生ずべき電流

の148〜152%の記録電流とする。

(3) 直流消去特に指定のない限り，記録に先行して，試験記録電流にほぼ等しい直流電流によって消去

を行う。

(4) 回転数ディスクの回転数は，300±3rpmとする。

なお，回転方向は，フレキシブルディスクの0面から見て反時計方向とする。

8.2

平均信号振幅平均信号振幅は，標準フレキシブルディスク(2)を用いて同じ条件で記録したときの

標準信号振幅に対して，トラック00の1f出力は，130%以下，トラック79の2f出力は80%以上とする。

注(2) 電気的・磁気的特性の測定に用いる標準フレキシブルディスクは，副標準フレキシブルディス

クに代えることができる。

8.3

分解能トラック79において，2fの平均信号振幅を1fの平均信号振幅で除した値は，標準フレキシ

ブルディスクを用いて測定したときの値に対して，80%以上とする。この試験は，両面において行う。

8.4

ピークシフトピークシフトは，附属書5の方法で測定したとき，標準フレキシブルディスクを用

いて同じ条件で測定したときの値に対して，63〜137%とする。この試験は，両面のトラック79において

行う。

なお，ピークシフトは次式で表す。

T−′

ピークシフト

ここに，

T′：再生波形における1対のビット間隔の周期の平均。テス

トパターン (DB6) における値と， (B6D) における値の
平均とする。

T： 2fパターンの周期で，2μsとする。

8.5

重ね書き直流消去を行った後，トラック00に1fを1周にわたって記録し，1fの平均信号振幅を測

定する。次に消去を行わないで2fを1周にわたって重ね書きし，1fの残留平均信号振幅を測定する。これ

らの平均信号振幅の測定には，周波数選択レベル計（セレクティブ電圧計）を使用する。これらの測定値

から次式によって平均信号振幅比を算出したとき，その値は，標準フレキシブルディスクに対する値の

125%以下とする。

平均信号振幅

残留平均信号振幅

記録後の

平均信号振幅比

この試験は，両面において行う。

8.6

飽和特性トラック00において，1fの試験周波数で記録し，これを再生するとき，平均信号振幅が

その最大値（飽和値）の95%となる最小記録磁界は，基準磁界の±20%以内とする。

8.7

モジュレーショントラック00における1fのモジュレーション及びトラック79における2fのモジ

ュレーションは，10%以下とする。

X 6223-1987

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

なお，モジュレーションは，次式で表す。

100

(%)

−

モジュレーション

ここに， A：トラック1周のうち最大出力電圧を含む約2 000磁束反転の平均

出力電圧

B：トラック1周のうち最小出力電圧を含む約2 000磁束反転の平均

出力電圧

8.8

トラックの品質

8.8.1

ミッシングパルス 2fのせん（尖）頭値が，その平均信号振幅の21の45%未満のものを，ミッシン

グパルスとする。

8.8.2

エキストラパルス 2fを記録した後，直流消去を行い，再生された信号のせん頭値が，その平均信

号振幅の21の20%を超える信号となるものをエキストラパルスとする。

8.8.3

トラックの必要条件全トラックにおいて，次の条件を満足しなければならない。

(1) トラック00には，ミッシングパルス又はエキストラパルスがないこと。

(2) トラック00を除く全トラックにおいては，原則としてミッシングパルス又はエキストラパルスがない

こと。

9. 耐久性及び耐候性

9.1

耐久性耐久性は，附属書6の方法で試験する。試験前の平均信号振幅に対する試験後の平均信号

振幅の比は，0.7以上でなければならない。

9.2

耐候性耐候性は，附属書7の方法で8.の各項目を試験し，それらの規格値を満足しなければなら

ない。

また，この試験によってミッシングパルス又はエキストラパルスの数が増加してはならない。

10. 環境及び輸送

10.1 環境

10.1.1 試験環境試験環境は，次のとおりとする。

温度：23±2℃

相対湿度：40〜60%、

試験前放置時間：最低24時間

周辺磁界：4 000A/m以下

温度及び相対湿度の測定は，8.の各項目を試験する場合にはディスク装置の近傍の空気中で行い，その

他の場合にはフレキシブルディスクの近傍の空気中で行う。

また，周辺磁界は，ヘッドによる磁束の集中効果を含めたフレキシブルディスク面上の値とする。

10.1.2 使用環境フレキシブルディスクは，次の環境で使用する。

温度：10〜51.5℃

相対湿度：20〜80%

湿球温度：29℃以下

最大温度変化率：20℃/h

周辺磁界：4 000A/m以下

X 6223-1987

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

温度及び相対湿度の測定は，フレキシブルディスクの近傍の空気中で行う。フレキシブルディスクの外

面及び内面に結露してはならない。

また，周辺磁界は，ヘッドによる磁束の集中効果を含めたフレキシブルディスク面上の値とする。

10.1.3 保存環境フレキシブルディスクは，次の環境で保存する。

温度：4〜51.5℃

相対湿度：8〜90%

周辺磁界：4 000A/m以下

フレキシブルディスクは，外面及び内面に結露してはならない。

なお，使用環境外の温湿度に長時間さらされたフレキシブルディスクは，使用環境下になじまぜた後に

使用する。

10.2 輸送発送者は，輸送中フレキシブルディスクに対し十分な注意が払われるための責任をもたなけ

ればならない。

保護箱は，内部が清浄で，ほこりや水が入らない構造とする。

また，周辺磁界の影響を避けるため，フレキシブルディスクとこん（梱）包の外側との間には十分な間

げき（隙）をもたせる。

輸送中，次の条件を満たさなければならない。

温度：−40〜51.5℃

最大温度変化率：20℃/h

相対湿度：8〜90%

フレキシブルディスクは，外面及び内面に結露してはならない。

11. 表示フレキシブルディスクのケースに，次の事項を明りょうに表示する。

(1) 製造業者名又はその略号

(2) フレキシブルディスク，形式（両面），記録形式及びトラック数又はそれらの略号

(3) 製造年月又はその略号

X 6223-1987

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

引用規格：

JIS X 0001 情報処理用語（基本用語）

JIS X 0002 情報処理用語（算術演算及び論理演算）

JIS X 0003 情報処理用語（装置技術）

JIS X 0004 情報処理用語（データの構成）

JIS X 0005 情報処理用語（データの表現）

JIS X 0006 情報処理用語（データの準備及び取扱い）

JIS X 0007 情報処理用語（プログラミング）

JIS X 0008 情報処理用語（規制，完全性及び安全保護）

JIS X 0009 情報処理用語（データ通信）

JIS X 0010 情報処理用語（操作技法及び機能）

JIS X 0011 情報処理用語（制御装置，入出力装置及び演算装置）

JIS X 0012 情報処理用語（データ媒体，記憶装置及び関連装置）

JIS X 0013 情報処理用語（図形処理）

JIS X 0014 情報処理用語（信頼性，保守及び可用性）

JIS X 0015 情報処理用語（プログラム言語）

JIS X 0016 情報処理用語（情報理論）

対応国際規格：

ISO/DP 9529/1 Information processing−Data interchange on 90mm (3.5in) flexible diskcartridges

using modified frequency modulation recording at 15916 ftprad, on 80 tracks on each side−Part1 :

Dimensional, physical and magnetic characteristics

関連規格：JIS X 0201 情報交換用符号

JIS X 0202 情報交換用符号の拡張法

JIS X 0603 情報交換用フレキシブルディスクカートリッジのラベルとファイル構成

JIS X 6201 200mmフレキシブルディスクカートリッジ

JIS X 6211 130mmフレキシブルディスクカートリッジ

JIS X 6221 90mmフレキシブルディスクカートリッジ（7958磁束反転/rad）

ISO/DP 9529/2 Information processing−Data interchange on 90mm (3.5in) flexible disk cartridges

using modified frequency modulation recording at 15 916 ftprad, on 80 tracks on each side−Prat2 :

Track format

ISO 7665 File structure and labelling of flexible disk cartridges for information interchange

X 6223-1987

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書2 可どう（撓）性の測定方法

1. フレキシブルディスクの可どう性の測定点測定点は，附属書2図1に示すa, b, c, dの4点とし，そ

の間隔 (L5), (Lx) は，次のとおりとする。

L5＝80.0±0.2mm

Lx＝62.0±0.2mm

なお，測定点a及びbは，それぞれ第1基準孔及び第2基準孔とする。

2. 可どう性試験装置可どう性試験装置は，附属書2図2に示すように，平板上に垂直に立てた支柱P1

〜P5からなる。測定点a, b, c, dに対応した位置にそれぞれP1, P2, P3, P4を設け，ハブ操作孔に対応した位置

にP5を設ける。

P1〜P5の寸法は，次のとおりとする。

(1) P1, P2の寸法支柱P1及びP2の寸法は，附属書2図3及び次のとおりとする。

d1＝6.00±0.01mm

d2＝3.00±0.01mm

h1≦1.00mm

h2≦2.00mm

(2) P3, P4の寸法支柱P3及びP4の寸法は，附属書2図3及び次のとおりとする。

d5＝6.00±0.01mm

(3) P5の寸法支柱P5の寸法は，附属書2図3及び次のとおりとする。

d3＝12.70±0.01mm

d4＝3.98±0.01mm

h3＝2.20

.000

＋

r＝2.5±0.3mm

(4) P1〜P4の上端面の平面度支柱P1, P2, P3及びP4の上端面の高さの公差は，0.02mm以内とする。

3. 試験方法フレキシブルディスクの測定点a, b, c, dを可どう性試験装置の支柱P1, P2, P3及びP4上に置

き，各測定点に対応する上部の4点にそれぞれ0.6Nの力を加えて測定する。

X 6223-1987

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書3 トラック幅の測定方法

7トラックの幅にわたり直流消去を行い，記録再生ヘッドを消去した幅の中央に位置決めし，消去ヘッ

ドも作動させながら1fの周波数で記録する。次に，ヘッドを半径方向に0.01mmを超えないピッチで附属
書3図の左及び右へ，再生信号が25%になるまで移動させる。附属書3図のように21実効トラック幅A及

びBをそれぞれ測定し，A及びBの和からトラック幅を求める。ただし，試験に使用するヘッドのギャッ

プ幅は，実効トラック幅以上とする。

附属書3図トラック幅の測定方法

X 6223-1987

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附属書4図2 測定回路

項目

仕様

発光ダイオード

最大放射光の波長：λpeak＝940±10nm

半値幅：b＝±50nm
ディスクまでの距離：

tan

5.3

ここに，α：発光ダイオードの最大光度の95%

以上を得るために必要な角度

マスク

開口厚：1.2〜1.4mm
開口径：D＝2L2tanαmm

ここに，L2＝L1＋1.5mm

表面塗装：黒色，つや消し

ホトダイオード

受光面：マスク開口径の100〜120%

抵抗器 (Rf0, Rf1) Rf0とRf1の比：

精度：1%

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附属書5 ピークシフトの測定方法

1. 試験装置

1.1

測定回路ピークシフトの測定回路とタイムチャートは，附属書5図1及び附属書5図2に示すと

おりとする。これらの図において，信号a, b, c,……, gは，次のとおりとする。

a: インデックスパルストラックの始点と終点を表す。

b: インデックスパルスタイマインデックスパルスによって起動される1msのタイマであり，記録電流

がオフになったとき不連続記録部のサンプリングを防ぐために用いる。

c: 再生信号テストパターンの再生出力であり，1対のビットの最初のビットの立ち上がりはLS74フリ

ップフロップを起動し，立ち下がりはLS221タイマを起動する。

d: ビット周期ウィンド LS221タイマの出力であり，再生信号の1対のビットの2番目のビットの立ち

上がりとタイミングをとり，LS74フリップフロップをリセットする。

e: ビット周期 LS74フリップフロップの出力であり，再生信号の1対の2ビット間の時間間隔T'を示す。

サンプリング周期サンプリング周期は，インデックスパルスタイマがリセットされてから，2番目

のLS74フリップフロップがdの後縁によってセットされるときに始まり，次のインデックスパルス

タイマの周期の間に生じる最初のLS221タイマの後縁によって終わる。

g: 出力 gの波形は，ビット周期 (e) とサンプリング周期 (f) の否定論理積であり，時間間隔カウンタ

に送られる。

1.2

LS221タイマの周期 LS221タイマの周期は，3μsである。

1.3

時間間隔カウンタ時間間隔カウンタの分解能は，5ns以上でなければならない。

2. 試験方法

2.1

消去フレキシブルディスクを交流でバルク消去する。

2.2

記録テストパターン110110110110 (DB6) を連続して，両面のトラック79に記録する。この記録

は，インデックスパルスとともに始まり，インデックスパルスが検出されたときに終わる。

2.3

再生記録に使用したディスク装置と同じディスク装置によって再生し，時間間隔カウンタによっ

て時間間隔T'を測定する。

備考ディスク装置の回転速度による誤差を最小限にするため，記録した後，直ちに再生する必要が

ある。

2.4

サンプリング方法

2.4.1

データ記録領域データ記録領域は，インデックスパルスの後縁から次のインデックスパルスの後

縁までとする。

2.4.2

サンプリング領域サンプリング領域は，インデックスパルスタイマのリセットから次のインデッ

クスパルスの後縁までとする。

2.4.3

サンプリング方法サンプリング方法は，サンプリング領域においてすべての時間間隔T'を測定す

る。ただし，すべての時間間隔T'を測定することが不可能なサンプリングレートである場合は，サンプル

サイズ（測定数）が1 000以上の条件でランダムサンプリングしてもよい。

X 6223-1987

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附属書6 耐久性の試験方法

附属書6表に示すそれぞれの試験条件下において，トラック12にあらかじめ1周にわたって2fを記録

し，1周にわたる再生を300回繰り返した後の平均信号振幅をA0とする。その後，トラック12において，

1周にわたる再生を附属書6表に示す走行回数繰り返す。試験後の平均信号振幅をA1とするとき，A1/A0

によって評価する。

附属書6表耐久性試験

試験条件

温度℃

相対湿度%

走行回数万パス

高温試験

51.5

−

20〜30

100

常温試験

23±2

40〜60

300

低温試験

20〜80

100

備考温度及び湿度の測定は，ディスク装置の近傍の空気中で

行う。

X 6223-1987

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参考副標準フレキシブルディスクの提供機関及び種類

1. 提供機関副標準フレキシブルディスクは，次の機関で購入できる。

Physikalisch−Technische Bundesanstalt (PTB)

Lab.1.41

Postfach 3345

D-3300 Braunschweig. West Germany

Telex ：9-52822 (ptb d)

Fax

：＋49-531-592-7614

Phone ：＋49-531-592-1410

1411

1413

備考テレックス又は電報で注文する場合は，注文者のテレックス番号を明示すること。

2. 種別副標準フレキシブルディスクは，次の内容によって提供される。

種別

PTB Part No.

90mm両面形（15916磁束反転/rad）

RM 9529

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フレキシブルディスクカートリッジJIS原案作成委員会構成表

（敬称略・順不同）

氏名

所属

（委員長）

小野京右

東京工業大学工学部

（幹事）

安達修

日本電信電話株式会社複合通信研究所宅内機器研究部

富田正典

日本電信工業株式会社

国分明男

工業技術院電子技術総合研究所電子計算部

佐藤堅哉

総務庁統計センター管理部

田辺茂人

日本国有鉄道技術研究所

佐藤知康

日本電信電話株式会社技術部プロセッサ部門

多羅雄悌三

富士通株式会社ファイルシステム事業部

大矢健雄

日本電気株式会社周辺事業部

古賀尚之

株式会社日立製作所コンピュータ事業部

海東晴行

株式会社日立製作所多賀工場開発部

高崎紀良

三菱電機株式会社郡山製作所ディスク技術部

長谷川三郎

松下通信工業株式会社メモリー装置事業部

橋本邦弘

株式会社ワイ・イー・データ第1生産部

松本富士雄

日立マクセル株式会社筑波工場ディジタル設計部

荒木学

日本ユニバック株式会社ハードウェアプロダクト第2部

徳永賢次

住友スリーエム株式会社磁気製品事業部

上田勝久

富士写真フイルム株式会社磁気材料事業本部

坂井淑晃

ティアック株式会社情報機器事業部

熊切利良

日本メモレックス株式会社磁気製品技術部

田中義豊

ソニー株式会社メカトロニックス事業部

渡辺脩二

沖電気工業株式会社情報処理事業本部

伊藤陽之助

株式会社東芝青梅工場情報通信システム技術研究所

小林敏郎

ソニー・マグネ・プロダクト株式会社

佐藤君俊

TDK株式会社磁気テープ事業部

平野隆之

工業技術院標準部

菅原淳夫

財団法人日本規格協会

（事務局）

楡木武久

社団法人日本電子工業振興協会

水田哲郎

社団法人日本電子工業振興協会