JISX6177:2006 情報交換用１２．７ｍｍ幅，４４８トラック磁気テープカートリッジ

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002) 目次

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序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

2.1 磁気テープカートリッジ ································································································· 1

2.2 生成システム ················································································································ 1

2.3 受領システム ················································································································ 1

3. 引用規格 ························································································································ 2

4. 定義 ······························································································································ 2

5. 表記法 ··························································································································· 3

5.1 数字の表現 ··················································································································· 3

5.2 寸法 ···························································································································· 3

5.3 名称 ···························································································································· 3

5.4 略号 ···························································································································· 4

6. 環境条件及び安全性 ········································································································· 4

6.1 試験環境条件 ················································································································ 4

6.2 使用環境条件 ················································································································ 4

6.3 保存環境条件 ················································································································ 4

6.4 安全性 ························································································································· 4

6.5 輸送 ···························································································································· 5

7. 機械的特性及び電気的特性 ································································································ 5

7.1 材料 ···························································································································· 5

7.2 テープの長さ ················································································································ 5

7.3 テープの幅 ··················································································································· 5

7.4 テープの厚さ ················································································································ 5

7.5 テープの連続性 ············································································································· 5

7.6 長手方向の湾曲 ············································································································· 5

7.7 平面からのひずみ ·········································································································· 5

7.8 カッピング ··················································································································· 5

7.9 塗布面の表面粗さ ·········································································································· 5

7.10 塗布面の接着強度 ········································································································· 5

7.11 層間の粘着 ·················································································································· 6

7.12 弾性率 ························································································································ 7

7.13 剛性 ··························································································································· 7

7.14 伸び荷重 ····················································································································· 7

7.15 電気抵抗 ····················································································································· 8

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7.16 不良テープ ·················································································································· 8

7.17 テープ及びリーダテープの光透過率 ················································································· 8

7.18 研磨性 ························································································································ 8

7.19 動摩擦係数 ·················································································································· 8

7.20 サーボ ························································································································ 9

8. 磁気記録特性 ················································································································· 11

8.1 ティピカル磁界 ············································································································ 12

8.2 信号振幅 ····················································································································· 12

8.3 分解能 ························································································································ 12

8.4 重ね書き ····················································································································· 12

9. テープの品質 ················································································································· 12

9.1 ミッシングパルス ········································································································· 12

9.2 ミッシングパルス領域 ··································································································· 12

9.3 テープの耐久性 ············································································································ 12

10. 概要 ··························································································································· 12

10.1 底面及び側面 ·············································································································· 13

10.2 後面及び左側面 ··········································································································· 14

10.3 テープリール ·············································································································· 15

10.4 テープリーダ ·············································································································· 15

10.5 前面 ·························································································································· 16

10.6 カートリッジの動作 ····································································································· 17

10.7 テープの巻き方 ··········································································································· 17

10.8 慣性モーメント ··········································································································· 17

10.9 材料 ·························································································································· 17

11. テープフォーマット ······································································································· 26

11.1 基準縁 ······················································································································· 26

11.2 記録の方向 ················································································································· 26

11.3 テープの配置 ·············································································································· 26

12. データフォーマット ······································································································ 30

12.1 記録 ·························································································································· 30

12.2 データバイト ·············································································································· 30

12.3 データフィールド ········································································································ 30

12.4 データブロック ··········································································································· 32

13. 記録方式 ····················································································································· 35

13.1 物理記録密度 ·············································································································· 35

13.2 チャネルビットセル長 ·································································································· 35

13.3 再生信号振幅 ·············································································································· 36

13.4 チャネルスキュー ········································································································ 36

14. ブロック記録フォーマット······························································································ 36

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14.1 スクランブル ·············································································································· 36

14.2 変調 ·························································································································· 36

14.3 プリコーダ ················································································································· 38

14.4 記録データブロック ····································································································· 38

15. ブロックのタイプ及び用途······························································································ 38

15.1 ブロックのタイプ ········································································································ 39

15.2 物理ブロックの用途 ····································································································· 39

16. 論理実体フォーマット ··································································································· 39

17. 実体集合のフォーマット ································································································ 40

18. 誤りの処理 ·················································································································· 40

附属書A（規定）光透過率の測定方法 ····················································································· 41

附属書B（規定）研磨性の測定方法························································································· 43

附属書C（規定）データブロックのCRC生成法 ······································································· 45

附属書D（規定）ページCRCの生成法 ··················································································· 46

附属書E（規定）ECCの生成 ································································································ 47

附属書F（規定）物理トラックの論理トラックの割当て ······························································ 50

附属書G（参考）輸送条件 ···································································································· 51

附属書H（参考）不良テープ ································································································· 52

附属書J（参考）テープの耐久性 ···························································································· 53

附属書K（参考）カートリッジの操作 ····················································································· 54

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日本工業規格 JIS

X 6177：2006

(ISO/IEC 22051：2002)

情報交換用12.7 mm幅，

448トラック磁気テープカートリッジ−SDLT1様式

Information technology−

Data interchange on 12.7 mm，

448-track magnetic tape cartridges−SDLT1 format

序文この規格は，2002年に第1版として発行されたISO/IEC 22051，Information technology−Data

interchange on 12.7 mm，448-track magnetic tape cartridges−SDLT1 formatを翻訳し，技術的内容及び規格票

の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 適用範囲この規格は，12.7 mm幅，448トラックの磁気テープカートリッジの装置間での物理的互

換性をとるために，物理的特性及び磁気的特性について規定する。さらに，装置間でのデータ交換ができ

るよう記録信号品質，スーパディジタルリニアテープ1 [Super Digital Linear Tape1(SDLT1)]のフォーマット

及び記録方式について規定する。

この規格は，JIS X 0601とともに使用することによって，磁気テープカートリッジを介して情報交換を

可能にする。

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

ISO/IEC 22051:2002，Information technology−Data interchange on 12.7 mm，448-track magnetic tape

cartridges−SDLT1 format (IDT)

2. 適合性

2.1

磁気テープカートリッジ磁気テープカートリッジは，この規格のすべての必要事項を満たすとき，

この規格に適合する。

テープの要求事項は，テープの全領域にわたって満たされなければならない。

2.2

生成システム交換用磁気テープカートリッジを生成する書込みシステムは，2.1によって生成する

テープ上のすべての記録が，この規格の要求事項に合致しているとき，この規格に適合する。

さらに，適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示しなければならない。

− 一つ以上の登録済みのアルゴリズムの採用の有無

− 採用している圧縮アルゴリズムの登録識別番号

2.3

受領システム交換用磁気テープカートリッジを受領するシステムは，2.1によって生成するテープ

上のすべての記録を処理できるとき，この規格に適合する。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

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さらに，適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示しなければならない。

− 一つ以上の登録済みアルゴリズムの採用の有無及びデータをホストシステムに送る前の復元の可否

− 採用している圧縮アルゴリズムの登録識別番号

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その

最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS X 0601 情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成

備考 ISO 1001:1986，Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for

information interchangeが，この規格と一致している。

ISO 1302:2002，Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface texture in technical product

documentation

ISO/IEC 11576:1994，Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

IEC 60950-1:2001，Information technology equipment−Safety−Part 1: General requirements

4. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

4.1 裏面 (back surface) データの記録に用いる磁性面の反対側のテープ面。

4.2 テープの始端マーカ [beginning-of-tape marker (BOT)] テープの始端で，リーダテープ最近傍のテー

プ中心線上にあけた孔。

4.3 ブロック (block) 物理トラックに記録し，一単位とするバイトの集合。

4.4 バイト (byte) 一単位として取り扱うビットの一組。

備考この規格のバイトは，8ビットバイトとする。

4.5 カートリッジ (cartridge) 単一のリールに巻いた最外周に，リーダテープの付いた12.7 mm幅の磁気

テープを収納するケース。

4.6 巡回冗長検査文字 [cyclic redunduncy check (CRC) character] 誤り検出のための巡回符号として用

いる64ビットの文字。

4.7 誤り検出符号 [error-detecting code (EDC)] 誤りを検出するために用いる，数学的に計算して生成す

る検査用バイト。

4.8 テープの終端マーカ [end-of-tape marker (EOT)] テープ終端で，リーダテープ最遠のテープ中心線

上にあけた孔。

4.9 実体 (entity) 論理単位として取り扱う，論理トラックに記録した20論理ブロックの集合。

4.10 誤り訂正符号 [error-correcting code (ECC)] CRC及びEDCによって検出した，誤り訂正に用いる

数学的に計算して生成する検査用バイト。

4.11 実体集合 (envelope) 実体の集合。

4.12 実体集合個数 (envelope size) 実体集合中の実体の数。

4.13 磁束反転位置 (flux transition position) テープの表面に垂直な方向の，磁束密度が最大となる点。

4.14 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する，磁束反転間の長さ。

4.15 論理トラック (logical track) 同時に書き込み又は読み取る8本の物理トラックの集合。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

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4.16 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録する磁性層をもつテープ。

4.17 主基準テープ (master standard reference tape) 基準磁界，信号振幅，分解能及び重ね書き特性の標

準として選定したテープ。

主基準テープは，Quantum Corporationによって管理されている。

4.18 オブジェクト (object) 1レコード又は1テープマークのページ。

4.19 ページ (page) 物理ブロックの1論理区分。

4.20 物理記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1 mm当たりに記録する磁束反転数

(ftpmm)。

4.21 物理トラック (physical track) 磁気テープの長手方向に連続して記録できる領域。

4.22 レコード (record) 12.に規定する利用者データ。

4.23 基準縁 (reference edge) 磁性面を手前にし，BOTを左にEOTを右に見たときのテープの下端。

4.24 基準磁界 (reference field) 主基準テープのティピカル磁界。

4.25 二次基準テープ (secondary standard reference tape) 主基準テープとの偏差を明示したテープ。

備考二次基準テープは，部品番号SSRT/SDLT1にてQuantum Corporation, 333 South Street, Shrewsbury,

Mass. 01545-4195 USAに発注できる。このテープは，定期校正用の三次基準テープとの偏差を

補正するために使用する。

一般に二次基準テープは，2011年までは入手可能である。しかし，入手可能期間は，ISO/IEC

とQuantum社との合意に基づき，テープの需要動向によってこの期間は，延長又は短縮するこ

とができる。

4.26 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] 主基準テープに記録密度2 700 ftpmmの信号を

試験記録電流で記録し，これを再生したときの平均信号振幅。

4.27 基準電流 (standard reference current) 基準磁界を発生させる記録電流。

4.28 試験記録電流 (test recording current) 基準電流の1.1倍の電流。

4.29 ティピカル磁界 (typical field) 試験テープに記録密度2 700 ftpmmで記録して，再生したとき，そ

の平均信号振幅が最大値の95 ％を示す最小の印加磁界。

5. 表記法

5.1

数字の表現数字の表現は，次による。

− 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち，規定値が1.26であり，正の許

容誤差が0.01であり，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未満を許容

する。

− 各フィールド内では，データバイト1を最上位バイトとし，最初に記録する。各バイト内では，ビッ

ト1を最下位ビットとし，最初に記録し，ビット8を最上位ビットとし，最後に記録する。この順序

は，データ，巡回冗長文字並びに誤り検出及び誤り訂正符号の入出力に適用する。

− 16進数は，丸括弧に数字及び英文字で表す。

− ビットの設定は，“0”又は“1”で表す。

− ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。

5.2

寸法図1〜3の寸法は，公称寸法とする。その他の図の寸法は，指定しない限りミリメートル表示

とし，その公差は，±50 mmとする。

5.3

名称名称は，英語表記の場合の頭文字を規定しているので，この規格では規定しない。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.4

略号略号を，次に示す。

BOT ：テープの始端 (beginning of tape)

CAF ：粗調整フィールド (coarse alignment field)

CF1 ：コントロールフィールド1 (control field 1)

CF2 ：コントロールフィールド2 (control field 2)

CRC ：巡回冗長検査 (cyclic redundancy check)

ECC ：誤り訂正符号 (error-correcting code)

EDC ：誤り検出符号 (error-detecting code)

EOD ：データの終端 (end of data)

EOT ：テープの終端 (end of tape)

EOTR：トラックの終端 (end of track)

FAF1 ：微調整フィールド1 (fine alignment field 1)

FAF2 ：微調整フィールド2 (fine alignment field 2)

SRA ：基準信号振幅 (standard reference amplitude)

6. 環境条件及び安全性次によって規定する条件は，別に規定がない限り，装置内部の環境条件ではな

く，試験を行う部屋の環境条件とする。

6.1

試験環境条件試験環境条件は，規定がない限り，次による。

温度

23 ℃±2 ℃

相対湿度

40 ％〜60 ％

試験前放置時間

24 時間

6.2

使用環境条件使用環境条件は，次による。

温度

10 ℃ 〜 40 ℃

相対湿度

20 ％〜 80 ％

湿球温度

26 ℃以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

カートリッジは，保存時又は輸送時に使用環境条件を越えた場合，使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上又は24時間以上使用環境条件に放置してから使用する。

備考テープの温度が49 ℃を超えた場合，テープに損傷を与えることがある。

6.3

保存環境条件カートリッジの保存環境条件は，次による。

温度

16 ℃ 〜 32 ℃

相対湿度

20 ％〜 80 ％

周辺磁界は，テープ上で4 000 A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては

ならない。

6.4

安全性

6.4.1

安全性カートリッジ及びその構成部品は，情報処理システムで適正使用時又はあらかじめ予想可

能な誤使用時に，IEC 60950-1の要求事項を満たさなければならない。

6.4.2

難燃性カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチの炎などによって着火してもよいが，二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

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6.5

輸送この規格は，カートリッジの輸送条件を規定しないが，推奨する輸送条件を，附属書Gに記

載する。

7. 機械的特性及び電気的特性

7.1

材料テープは，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品）上の片面に，

強固で柔軟性のあるバインダと磁性材とを塗布したものとする。

テープの裏面は，導電性の非磁性材を塗布したものとする。

7.2

テープの長さリーダスプライス部からハブまでのテープの長さは，558 m±1 mとする。

7.3

テープの幅テープの幅は，12.649 mm±0.010 mmとする。

テープの幅は，テープに最大0.28 Nの張力を加えて，テープの端から端までを測定する。

7.4

テープの厚さ磁気テープの厚さは，テープの任意の箇所で，8.20 μm〜9.30 μmとする。

7.5

テープの連続性テープは，BOTとEOTとの間に，継ぎ目又は孔のような不連続性があってはなら

ない。

7.6

長手方向の湾曲テープの長手方向の湾曲は，テープ表面の平面上にある長手方向の直線とテープ

基準縁との隔たりを測定する。

7.6.1

要求事項直線とテープ基準縁との隔たりは，連続的で，かつ，テープの長さ229 mmの範囲内で

0.076 mm以下とする。

7.6.2

試験方法試験方法は，次による。

a) 229 mmの間隔に置いた二つのガイドをもつ装置に1.39 N±0.28 Nの張力を加えて測定する。

b) 二つのテープガイドは，表面にテープ基準面を押し当てるように，ばね荷重を制御する。

c) 二つのガイド制御面の間に引いた直線及びテープ基準縁の間隔が最大の場所を測定する。

7.7

平面からのひずみテープに0.6 Nの張力を加えたとき，目視できるひずみがテープにあってはなら

ない。テープのひずみは，テープの一部分が反り返ったことによる局部的な変形である。平面からのひず

みは，テープに張力を加えずに平面の上に置いたとき，最も簡単に観察できる。

7.8

カッピングカッピングは，平面からテープ幅方向への浮き上がり量とし，2.54 mm以下とする。

測定方法は，次による。

a) テープを長さ1.0 m±0.1 mに切り取る。テープ両面が試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3

時間以上放置する。

b) このテープの中心部分から，長さ25 mmの試験片を切り取る。この試験片を高さ25 mm以上，内径

13.0 mm±0.2 mmの円筒の中に立てる。

c) この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ，試験片の両方の縁をコンパレータの十字線にそろえ，

十字線から試験片の中心までの距離を測定する。

7.9

塗布面の表面粗さ

7.9.1

裏面の粗さ裏面の粗さは，中心線平均粗さRabで，0.003 μm〜0.027 μmとする(ISO 1302：N2)。

半径12.5 μmの触針を荷重20 mgで254 μmのカットオフにて測定する。

7.9.2

磁性面の粗さ磁性面の粗さは，中心線平均粗さRamで，0.003 μm〜0.008 μmとする(ISO 1302：

N3)。半径12.5 μmの触針を荷重20 mgで254 μmのカットオフにて測定する。

7.10 塗布面の接着強度塗布面をテープのベース材料からは（剥）がす力は，0.016 N以上とする。

7.10.1 試験方法

a) 長さ約380 mmのテープの試験片を採り，一方の端から125 mmの位置でテープ幅方向にけがき線を

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ベース面に達するまで引く。

b) 図1に示すとおりに，磁性塗布面（記録面）を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわた

って滑らかな金属の板にはり付ける。

c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて速度254 mm/minで

引っ張る。

d) 塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれるときの力を記録する。この力が，0.016

N未満のとき，試験は失敗とする。力が，0.010 N以上に達する前に両面接着テープが試験片からはが

れたときは，別の種類の両面接着テープを使用する。

e) 磁気テープの裏面についてもa)からd)までを繰り返す。

図 1 塗布面の接着強度の試験法

7.11 層間の粘着層間の粘着は，隣接層を密着して保持したときに，層の滑らかなはく離を妨げる隣接

層の粘着状態をみる。

7.11.1 要求事項塗布面に，はがれ又はその他の損傷の兆候があってはならない。

7.11.2 試験方法

a) 水平に固定したステンレススチール円柱に低ひずみの粘着材料で，磁性面を内側にして，長さ914 mm

のテープ端を固定する。

円柱の寸法は，次のとおりとする。

− 直径：12.7 mm

− 長さ：102 mm

b) 1 000 gのおもりを反対の端に付ける。

c) おもりの25.4 mm上の磁性面に，短い幅で両面テープを付ける。

d) ゆっくり円柱を回転し，テープを一様に巻付け円筒にする。両面接着テープは，テープの端を固定し，

ほどけないようにする。

e) テープを巻いた円柱を，次の温度及び相対湿度サイクルに放置する。

時間

温度

相対湿度

16時間〜18時間

54 ℃

85 ％

4時間

54 ℃

10 ％以下

1時間〜2時間

21 ℃

45 ％

ロールの終端を切り開いて，両面接着テープをはがす。

g) テープの終端を緩める。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

h) 外側のテープ1枚又は2枚の部分は，粘着性がなくほどける。

テープの終端を固定して円柱をぶら下げることによってテープは，ほどける。

円柱からテープ内側51 mmの箇所を除き，塗布膜のはがれがあってはならない。

単位 mm

図 2 層間の粘着の試験方法

7.12 弾性率弾性率（ヤング率）は，長手方向への張力によるひずみ率である。

7.12.1 要求事項弾性率は，5 884 N/mm2〜11 768 N/mm2とする。

7.12.2 試験方法試験方法は，次による。

a) 180 mm以上のテープ試験片を100 mmの長さで固定し，固定ジグを3 mm/minの速度で引っ張る。

b) 0 ％及び1 ％伸びたときの張力の傾きによって弾性率を計算する。

7.13 剛性剛性は，テープの長手方向でのたわみ力とする。

7.13.1 要求事項テープの長手方向での剛性は，3×10-7 N･mm〜9×10-7 N･mmとする。

7.13.2 試験方法剛性（D）は，次の式によって求める。

)

−

ここに， E： 7.12で求めた弾性率

t：テープの厚さ (mm)

v：ポアソン比，0.33

7.14 伸び荷重テープの伸び荷重は，試験片を3 ％伸ばした場合，9.6 N以下とする。

7.14.1 試験方法試験方法は，次による。

a) 2 ％の精度で荷重表示可能な引張試験機で測定する。

b) 178 mm以上のテープ試験片を，102 mmの長さになるように固定ジグに取り付ける。

c) 最低10 ％の伸び率になるまで，51 mm/minの速度で試験片を伸ばす。

d) 3 ％の伸び率での張力を伸び荷重とする。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

7.15 電気抵抗

7.15.1 要求事項磁性層の電気抵抗は，106 Ω〜50×1012 Ωとする。

裏面の電気抵抗は，100×106 Ω未満とする。

7.15.2 試験方法試験方法は，次による。

a) テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。

b) 24カラットの金めっきした半径が(r) 25.4 mmで粗さをN4（ISO 1302参照）以上で仕上げてある二つ

の半円の電極に，記録面が接するように置く。

c) 二つの電極は，グランドに対して平行に位置し，その距離(d)は，12.7 mmとする。

d) 試験片の両端に，力(F) 1.62 Nを加える。

e) 電極に100 V±10 Vの直流電圧をかけて電流を測定する。

この値から，表面電気抵抗を算出する。

g) この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの平均を算出し，表面電気抵抗とする。

h) 裏面についてもこの試験を行う。

試験片を電極に置くとき，電極の間には，テープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考試験前に電極の表面を清掃する。

図 3 電気抵抗の試験方法

7.16 不良テープこの規格では，テープが不良であるか否かを評価するパラメタは，規定しない。不良

テープに関する参考情報は，附属書Hによる。

7.17 テープ及びリーダテープの光透過率テープ及びリーダテープの光透過率は，5 ％未満とする。光

透過率の測定方法は，附属書Aによる。

7.18 研磨性テープの研磨性は，磁性塗布面による磁気ヘッドの摩耗を表す。フェライトバーの摩耗量

は，45 μm〜65 μmとし，測定方法は，附属書Bによる。

7.19 動摩擦係数動摩擦係数は，テープ両面とカルシウムチタンセラミックとの間で測定する。

7.19.1 要求事項

磁性面対裏面

：0.15以上

磁性面対カルシウムチタンセラミック

：0.05〜0.35

裏面対カルシウムチタンセラミック

：0.05〜0.20

7.19.2 磁性面と裏面との摩擦試験方法

a) 裏面を外側にして巻付け角度が90°以上になるように，直径25.4 mmのカルシウムチタンセラミック

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

筒(Ra＝0.05 μm)に，第1のテープ試験片を巻き付ける。

b) 磁性面を内側にして，第2のテープ試験片を第1のテープ試験片に90°巻き付ける。

c) 外側のテープ試験片の端に力F1＝0.64 Nを加える。

d) 別の端に張力ゲージを取り付ける。

e) ゲージを速度1 mm/sで引っ張って，張力F2を測定する。

次の式によって，動摩擦係数γを計算する。

(

)

Φ×

ここに， Φ：巻付け角度（ラジアン）

7.19.3 磁性面又は裏面とカルシウムチタンセラミックとの摩擦試験方法

a) 磁性面又は裏面を内側にして巻付け角度が90°になるように，直径25.4 mmのカルシウムチタンセラ

ミック筒(Ra＝0.05 μm)に第1のテープ試験片を巻き付ける。

b) テープ試験片の外側の端に力F1＝0.64 Nを加える。

c) 別の端に張力ゲージを取り付ける。

d) ゲージを速度1 mm/sで引っ張って，張力F2を測定する。

e) 次の式によって，動摩擦係数γを計算する。

(

)

Φ×

ここに， Φ：巻付け角度（ラジアン）

7.20 サーボサーボは，各々17サーボトラックをもつ4サーボバンドとし，サーボトラックは，0〜16

の番号を付与する。サーボトラックは，テープ裏面に記録したサーボマークとする。

7.20.1 サーボバンド（図4参照）サーボバンドは，光学系で記録した4本とし，0〜3の番号を付与す

る。

サーボバンド0のサーボトラック0の中心線位置は，基準縁から2.43 mm±0.05 mmとする。

隣接したサーボトラックバンドの距離は，各サーボトラック0の中心線間で測定したとき，2.794 0 mm

±0.018 0 mmとする。

サーボバンド0からサーボバンド3の累積誤差は，±0.001 80 mmを超えてはならない。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

単位 mm

図 4 サーボバンド

7.20.2 サーボトラックサーボマークの直径は，12.0 μm±0.6 μmとする（図5参照）。隣接するサーボマ

ーク間の距離は，141.0 μm±2.0 μmとし，サーボトラック間の距離は，24 μm±1 μmとする。隣接するサ

ーボトラックのサーボマークの距離は，70.5 μm±2.0 μmとする。サーボバンド内でサーボトラック0〜16

の距離の累積誤差は，1 μmを超えてはならない。

7.20.3 サーボ信号サーボマークからの連続するパルスは，光学ピックアップからの光線が走行するテー

プ裏面に焦点があったとき，検出器が検出する。包絡線の振幅値を2√2で除した数値を信号と呼ぶ。測定

は，分光計から試料面に垂直から10°以内の入射光線によって行う。光線の波長は，250 nm〜1 100 nmと

する。

7.20.4 信号対雑音比集束光がサーボ信号のないゾーンを走査すると，検出器による反射光は，雑音を含

んでいる。雑音信号は，4 kHz，3 dBカットオフの低域フィルタを通過しなければならない。通過したRMS

値は，雑音とし，信号対雑音比は，24.5 dB±1.5 dBとする。

7.20.5 ミッシングサーボマーク 7.20.4による信号対雑音比の要求を連続する3サーボマークで満足しな

いとき，1ミッシングサーボマークとする。連続する100サーボマークにおいて，2個以上のミッシングサ

ーボマークがあってはならない。ミッシングサーボマークに連続する100サーボマークにおいて，7.20.4

による要求値に満たないサーボマークがあってはならない。4連続ミッシングサーボマークをもつテープ

は，排除する。

2.794 0±0.018 0

2.43±0.05

基準縁

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図 5 サーボトラック

8. 磁気記録特性磁気記録特性は，次に示す試験条件による。

これらの試験を行うときには，出力信号及び残留信号の測定は，主基準テープで校正したテープ及び被

試験テープともに同じ走行系（記録時再生をするか，又は記録時再生機能がないときには，1回目の再生

時に読み取る。）を使用する。

すべての磁気記録特性の試験は，特に規定がない限り次による。

− テープの状態

：平均信号振幅の2 ％以下まで交流消去

− テープ速度

：2.946 m/s±0.029 m/s

− 再生トラック

：記録トラック以内

− ギャップアライメント：再生ギャップ及び記録ギャップが2.54 μm 以内に平行

− 記録ギャップ長

：1.00 μm±0.10 μm

− 記録ギャップ幅

：23 μm±1 μm

− 再生ギャップ

：0.376 3 μm±0.037 6 μm

− 再生ギャップ幅

：14 μm±1 μm

− テープ張力

：0.83 N±0.01 N

141.0 μm±2.0 μm

70.5 μm±2.0 μm

12.0 μm±0.6 μm

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 記録電流

：試験記録電流

− 物理的記録密度

：5 400 ftpmm±100 ftpmm

− 再生増幅器の帯域幅

：25.0 MHz

8.1

ティピカル磁界ティピカル磁界は，基準磁界の85 ％〜125 ％とする。

主基準テープの基準磁界の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

8.2

信号振幅平均信号の振幅は，SRAの85 ％〜115 ％とする。

主基準テープのSRAの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

8.3

分解能分解能は，記録密度2 700 ftpmmでの平均信号振幅を記録密度1 350 ftpmmで除した値とし，

その値は，主基準テープの分解能の85 ％〜125 ％とする。

主基準テープの分解能の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

8.4

重ね書き重ね書きは，675 ftpmmの記録をした後に，5 400 ftpmmで重ね書きし，残留する675 ftpmm

の平均信号振幅と5 400 ftpmmの平均信号振幅の比率とする。

8.4.1

要求事項重ね書きは，主基準テープの重ね書きの110 ％未満とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

9. テープの品質

9.1

ミッシングパルスミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生した電圧の0 Vを基準

にしたピーク値が，その直前のトラック長25.4 mmの平均信号振幅（8.2参照）の1/2の40 ％未満のとき，

25.4 mmをミッシングパルスとする。この測定は，25.4 mm間隔で行う。

9.1.1

要求事項ミッシングパルスの平均発生率は，任意100 m長のトラック当たり，20未満とする。

9.2 ミッシングパルス領域ミッシングパルス領域は，100 mmを超えるミッシングパルスの連続とする。

9.2.1

要求事項ミッシングパルス領域は，発生してはならない。

9.3

テープの耐久性この規格では，テープの耐久性を評価するパラメタは，規定しない。

なお，テープの耐久性は，附属書Jによることが望ましい。

10. 概要テープカートリッジは，次の構成要素からなる。

− ケース

− 磁気テープ用リール

− リールのロック機構

− リールハブに巻いた磁気テープ

− 書込み禁止機構

− テープリーダ

構成要素の寸法の規定は，カートリッジを用いたときの情報交換上及び互換性上必す（須）のパラメタ

を表す。それ以外の箇所は，設計に自由度をもたせるため，機能的特性だけを示す。

寸法は，三つの直交する基準面A，基準面B及び基準面Cに基づく。カートリッジを装着した場合，寸

法は，カートリッジの他の面を基準としてもよい。

カートリッジの具体図は，次による。

図6

カートリッジの外観

図7

基準面A，基準面B及び基準面C

図8

カートリッジの底面

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図9

カートリッジの右側面

図10

ドア閉状態でのカートリッジ後面

図11

カートリッジの左側面

図12

非動作状態のカートリッジの断面図

図13

動作状態のカートリッジの断面図

図14

リーダテープと磁気テープとの接合位置

図15

スプライステープの接合位置

図16

バックル接合部の拡大図（上面）

図17

リーダバックルと装置側巻取り部との関連（接合前）

図18

図17A部拡大図

図19

リーダバックルと装置側巻取り部との関連（接合後）

図20

カートリッジの前面

図21

カートリッジ後面のドアロック位置

図22

ドア開状態でのカートリッジの後面

カートリッジの外観を図6に示す。カートリッジが動作状態にないとき，磁気テープのリールは，ロッ

クし回転しない。カートリッジを装置に装着する場合，後面を最初に挿入し，前面は，動作中見えること

とする。カートリッジを装着する過程で，テープリールは，ロックを解除し，カートリッジは，ケースの

部品とかみ合う装置の部品によって，装置内に固定する。

ケースの基準面A，基準面B及び基準面Cを，図7に示す。上面を基準面A，右側面を基準面B，及び

後面を基準面Cとする。

10.1 底面及び側面（図8及び図9）カートリッジ全体の寸法は，次による。

l1＝105.79 mm±0.20 mm

l2＝105.41 mm±0.20 mm

l3＝25.40 mm±0.25 mm

底面の窓の位置及び寸法は，次による。

l4＝4.85 mm±0.05 mm

l5＝6.25 mm±0.10 mm

l6＝83.61 mm±0.20 mm

l7＝3.81 mm±0.05 mm

装置のフィンガの一つが窓からケース内に貫通し，テープリールのロックを一部解除する（10.6参照）。

底面の位置決め孔，右側面のガイドノッチ及び位置決めノッチによって，カートリッジの装置内の位置

を決定する。

位置決め孔の寸法及び位置は，次による。

l8＝21.59 mm±0.10 mm

l9＝4.45 mm

000

0..

l10＝2.79 mm±0.05 mm

l11＝44.58 mm±0.20 mm

位置決めノッチの寸法及び位置は，次による。

l12＝5.56 mm±0.10 mm

l13＝33.60 mm±0.20 mm

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l14＝5.08 mm±0.10 mm

h1＝9.02 mm±0.10 mm

a1＝14°±30´

ガイドノッチの寸法及び位置は，次による。

l15＝8.59 mm±0.10 mm

l16＝24.64 mm±0.10 mm

l17＝1.50 mm±0.05 mm

a2＝45°±30´

a3＝17°±30´

カートリッジ右側面の手動の書込み禁止スイッチ（10.5参照）表示の寸法及び位置は，次による。

l18＝8.64 mm±0.10 mm

l19＝5.08 mm±0.10 mm

l20＝86.11 mm±0.20 mm

l21＝10.16 mm±0.10 mm

書込み禁止表示の表面がカートリッジの側面と同一面になるとき，書込み可能とする。この面が5.1 mm

くぼんでいるとき，書込み禁止とする。表面の中心に垂直方向に最大1.0 Nの力を加えても，基準面Bか

ら0.5 mm以上くぼんでいなければならない。

10.2 後面及び左側面（図8，図10及び図11）後面の窓の寸法及び位置は，次による。

l22＝8.76 mm±0.10 mm

l23＝4.25 mm±0.10 mm

l24＝4.45 mm±0.10 mm

l25＝8.89 mm±0.10 mm

装置の残りのフィンガの一つが，窓からケース内に貫通し，テープリールのロックを完全に解除する

（10.6参照）。

扉は，後面と左側面との角に装着し，回転しなければならない（10.6参照）。

ドアは，後面及び左側面の角に装着し，回転する。基準面Bからのドアの位置及びドアの幅方向の寸法

は，次による。

l73＝70.65 mm±0.20 mm

l74＝0.71 mm±0.01 mm

l75＝2.18 mm±0.10 mm

左側面の2個の突起の位置及び寸法は，次による。

l26＝61.47 mm±0.20 mm

l27＝9.65 mm

000

0..

l71＝41.9 mm±0.20 mm

l72＝6.18 mm

000

0..

l76＝47.24 mm±0.10 mm

l77＝16.35 mm±0.10 mm

l78＝1.34 mm±0.10 mm

l79＝11.22 mm±0.10 mm

備考水平突起は，DLT装置へのカートリッジの挿入を防止する役割をもつ。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

10.3 テープリール（図8，図12及び図13）ケースの底面は，装置スピンドルがリールハブに接触し，

トルクを伝達できるように丸窓を設けなければならない。

丸窓の直径は，次による。

d1＝35.05 mm±0.08 mm

丸窓の中心の位置は，次による。

l69＝50.42 mm±0.31 mm

l70＝52.83 mm±0.10 mm

スピンドル及びハブは，ハブに均等に配列した48個の歯で接触する。非動作時，ハブの表面は，ケース

の外面よりくぼむこととし，その寸法は，次による。

l28＝0.38 mm±0.05 mm

歯形は，直線の側面で構成する。歯の包囲寸法は，次による。

d2＝23.88 mm±0.13 mm

d3＝29.21 mm±0.13 mm

d4＝34.29 mm±0.13 mm

a4＝22°±30´

a5＝15°±30´

ここに，d3は，歯のピッチ径とする。

動作時，基準面Aからハブまでの距離は，次による。

l29＝23.55 mm±0.10 mm

10.4 テープリーダ（図14，図15及び図16）リーダテープとテープとの接合部及びテープの終端を基

準としてBOT及びEOTの位置は，次による。

リーダテープとテープとの接合部からBOTまでの距離は，次による。

l30＝13 260 mm±150 mm

テープの終端は，ハブに固定し，その終端からEOTまでの距離は，次による。

l31＝7 620 mm±152 mm

BOT孔及びEOT孔の直径は，同じ大きさとし，次による。

d5＝3.60 mm±0.10 mm

テープ，リーダテープ及びスプライステープの位置関係の寸法は，次による（図15参照）。

11.81 mm ≦ l32 ≦ 20.32 mm

l33 ≦ 0.25 mm

l34 ≦ 0.41 mm

l35 ≧ 0.00 mm

l36 ≦ 0.20 mm

寸法l34，l35及びl36は，相互に関連する。寸法l35は，スプライステープが，テープ又はリーダテープの

両縁をはみ出してはならないことを示す。

最大22.2 Nの張力をスプライステープの長手方向に加えたとき，スプライステープは，結合を維持しな

ければならない。

バックルは，2個のアームからなり，リーダテープの終端に取り付ける（図16参照）。バックルアーム

の寸法は，バックルアームの終端とバックルアームの軸との間を測定したとき，次による。

l80＝13.51 mm±0.13 mm

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

スプライステープの接合部からバックルアームまでの距離は，次による。

l37＝425.00 mm±0.13 mm

リーダテープの幅は，次による。

l38＝12.65 mm

010

0..

−

バックルアームの軸は，リーダテープに固定し，自由に回転する。バックピンの中央は，両端に比較し

て太く，その寸法は，次による。

d6＝0.91 mm±0.13 mm

d7＝0.71 mm±0.25 mm

リーダテープとバックルアーム軸との接合部の寸法は，次による。

l39＝5.33 mm±0.16 mm

l40＝3.65 mm±0.09 mm

リーダテープとバックルアームとの相対位置は，次による。

l41＝16.15 mm±0.25 mm

l42＝22.76 mm±0.11 mm

l43＝5.11 mm±0.25 mm

接合する前のリーダバックルと装置側の巻取り部との関連を図17及び図18に示す。

アームの高さは，次による。

l81＝3.30 mm±0.08 mm

アームの側面開口部の寸法は，次による。

l82＝5.71 mm±0.13 mm

アームの終端と開口部の縁との距離は，次による。

l83＝5.76 mm±0.13 mm

図17のA方向からのアーム終端の内側の部分図は，図18とし，寸法は，次による。

l85＝10.16 mm

アームは，傾きをもち，その寸法は，次による。

l86＝12.70 mm±0.08 mm

自由空間の幅は，次による。

l84＝16.16 mm±0.13 mm

装置側巻取り部は，バックルアームの側壁と傾斜面とによってリーダテープの端に位置する（図19参照）。

10.5 前面（図20）手動による書込み禁止スイッチの寸法は，次による。

l58＝18.29 mm

−

l59＝26.60 mm±0.20 mm

スイッチは，2端子形とし，ケースの右側面の書込み禁止表示に連動しなければならない。スイッチの

動作に要する力は，連動方法による。

前面は，ラベル用エリアとし，その寸法は，次による。

l60＝54.40 mm±0.20 mm

l61＝18.40 mm±0.20 mm

l62＝21.40 mm±0.20 mm

l63＝0.76 mm±0.10 mm

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10.6 カートリッジの動作（図19及び図21）カートリッジを装置に装着するとき，カートリッジの動作

シーケンスは，次による。

a) 基準面Aから扉の可動ロックの下辺までの距離は，次による。

l64＝14.50 mm±0.20 mm

装置のカムがロックを起こし，扉のロックを解除する。扉のロックの下辺が，1.0 mm以上移動した

とき解除しなければならない。

扉は，装置によって90°開き，105°まで回転できなければならない。扉が開口位置のとき，後面

の領域は，制限部分を除いて，操作できなければならない。その制限は，次による。

l65＝35.79 mm±0.20 mm

この位置で，左側面に沿う空間は，装置の部品がl26及びl27による突起に接触してはならない（図

11参照）。

この空間の範囲は，次による。

l66＝34.57 mm±0.05 mm

b) 装置のフィンガは，l22〜l25による窓を通して，ケース内に貫通し，リールのロックを一部解除する（図

10参照）。ロック機構の装置側の部品の貫通する距離は，9 mm未満とし，動作に要する力は，3.7 N

以下とする。

c) カートリッジを完全に装置内に装着したとき，カートリッジは，右側面の位置決めノッチ（図8及び

図9参照）及び底面の位置決め孔（図9参照）にかみ合う装置の部品によって位置を保持する。

装置の第2フィンガは，l4〜l7による底面の窓（図8参照）を通して，ケース内に貫通し，リールの

ロックを完全に解除する。貫通する距離及び動作に要する力は，b)による。

d) 装置のスピンドルは，ハブの歯にかみ合い，リールを動作可能状態に置き（図13参照），テープリー

ルの保持に要する力を，6.0 N±0.5 Nとする。

e) カートリッジが装置内で動作可能状態のとき（図13及び図19参照），装置内のテープリールハブのド

ライブリーダは，カートリッジからテープを引き出す。装置リーダの先端は，テープリーダのバック

ルの形状に適合し，かつ，かみ合う設計とする。テープをカートリッジ内に完全に巻き戻すとき，ス

トップエッジが停止する受け台をケースに取り付ける。

テープリーダ及び受け台は，テープリーダを152 mm/s〜178 mm/sの速度で引き込むとき，リールを完

全に止める衝撃に耐えなければならない。リールを完全にロックしカートリッジを装置から排出する

まで，ストップエッジは，1.1 N〜1.7 Nの力で受け台に保持しなければならない。

10.7 テープの巻き方テープは，ハブに磁気塗布面を内側にして巻かなければならない。テープは，カ

ートリッジを上から見たとき，順方向に再生又は記録動作中，反時計方向に巻き取る。

テープを巻く張力は，1.11 N±0.28 Nとする。

10.8 慣性モーメントリールにテープを完全に巻いたときの直径は，84.75 mm〜91.19 mmとする。

慣性モーメントは，次による。

− リールにテープを完全に巻いたとき：131×10-6 kg･m2〜160×10-6 kg･m2

− リールが空のとき：19×10-6 kg･m2〜23×10-6 kg･m2

10.9 材料カートリッジは，この規格を満たすのであれば，任意の材料で製造することができる。例え

ば，ハブ及びケースは，ガラスを10 ％含むポリカーボネートとし，厚さは，1.5 mmとする。

リーダテープは，着色したポリエチレンテレフタレートのような半透明な材料とする。

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11.3.1.1 物理トラック物理トラックは，データ領域の448物理トラックとし，1〜448の物理トラックに

よって識別する。物理トラック448は，基準縁から最も遠いこととし，物理トラック1は，基準縁に最も

近いこととする。物理トラックは，それぞれ112物理トラックの四つの記録バンドに分ける。

11.3.1.2 物理トラック幅物理トラック幅は，0.023 mm±0.001 mmとする。

11.3.1.3 物理トラックの位置最初の順方向物理トラックの中心線の位置は，バンドの9番目のサーボト

ラックの中心線から，1.906 5 mm±0.002 0 mmとする。

順方向と逆方向の隣接トラックの中心線との距離は，0.024 mm±0.001 mmとする。

最後の順方向トラックと次の逆方向トラックとの距離は，0.026 mm±0.001 mmとする。

論理トラックの物理トラック間の距離は，0.343 mm±0.010 mmとする。

11.3.1.4 順方向トラック（図25）奇数番号をもつ物理トラックは，順方向（BOTからEOT）に記録す

る。記録は，BOTから8 458 mm±50 mmで始まり，EOTの前から最大1 525 mmまでとする。

11.3.1.5 逆方向トラック（図26）偶数番号をもつ物理トラックは，逆方向（EOTからBOT）に記録す

る。記録は，EOTから8 458 mm±50 mmで始まり，BOTの前から最大1 525 mmまでとする。

11.3.1.6 論理トラック論理トラックは，同時に記録及び読取りを行う8本の物理トラックとする。

論理トラックは，論理トラック番号0〜55で識別し，論理トラック番号0から昇順に記録する。

偶数番号をもつ論理トラックは，奇数番号をもつ物理トラックの上に順方向に記録する。

奇数番号をもつ論理トラックは，偶数番号をもつ物理トラックの上に逆方向に記録する。

論理トラックに対する物理トラックの配置は，附属書Fによる。

トラックID開始ブロック（15.2.1参照）は，論理トラックの最初に書き込み，記録長は，BOT又はEOT

から8 458 mm±50 mm までとし，データ領域の始まりから開始し1 000 mm±100 mmとする。

トラックID終了ブロック（15.2.5参照）は，トラックID開始ブロックの直後に記録し，完全な実体集

合を1個以上とする。

ホストからのデータを含んだデータブロックは，12.で規定する処理によって，トラックID終了ブロッ

クの直後に記録する。

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図 24 データ領域

11.3.2 順方向調整領域及びディレクトリ領域粗調整フィールド (CAF)は，論理トラック6（8物理トラ

ック）に順方向に記録する。

CAFフィールドは，BOTから9 150 mm±0.50 mmで始まり，BOTから2 440 mm±50 mmで終了し，1 350

ftpmmの磁束反転とする。

ディレクトリフィールドは，CAFと同じ物理トラックに記録し，BOTから915 mm±50 mmで始まり，

BOTから76 mm±15 mmで終了する。その内容は，この規格では，規定しないこととし，互換性に関して

も触れない。

順方向微調整フィールド1 (FAF1)は，4個の論理トラック6，20，34及び48（32物理トラック）にBOT

の後に順方向に記録する。

FAF1は，BOTから1 525 mm±50 mmで始まり，BOTから6 090 mm±50 mmで終了し，1 350 ftpmmの

磁束反転とする。

順方向微調整フィールド2 (FAF2)は，全物理トラックに記録する。

順方向FAF2は，BOTから7 112 mm±50 mmで始まり，BOTから8 330 mm±50 mmで終了する。

FAF2フィールドは，トラックID開始ブロック（15.2.1参照）及びトラックID終了ブロック（15.2.5参

照）からなる。

データ領域

順方向調整

領域及びディレクトリ領域

逆方向調整領域

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単位 mm

図 26 逆方向調整領域

12. データフォーマット

12.1 記録ホストシステムは，装置にデータを1バイト以上のレコードとして転送する。その内容は，

データの送信者及び受信者間の合意事項とし，この規格では規定しない。

ホストシステムから受信したレコードのバイト数が4の倍数でない場合，そのレコードは，適応した1

〜3個のパッドバイトで完結する。附属書Dに従って，32ビットCRCは，レコード又は完結したレコー

ドのバイトにわたって算出し，レコード又は完結したレコードに付加する。

CRCを付加したレコード又は完結したレコードは，レコードとして定義する。

このフォーマットで許容する最大レコードの大きさは，(224−1)バイトとする。

12.2 データバイトデータバイトは，次による。

− レコードのバイト

− 8バイトMAPエントリ（12.3.4参照）

− 必要とするパッドバイト（12.3.2参照）

12.3 データフィールドレコードは，データフィールドを形成する4 096のデータバイトの集合によって

構成する（図27参照）。

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バイト位置

バイト数

フィールド

1〜

可変

ページ1：レコード1及びCRC

＊

可変

ページ2：レコード2及びCRC

＊
＊
＊

＊

可変

ページ(n-1)：レコード(n-1)及びCRC

＊

可変

ページn：レコードn及びCRC

＊

可変

必要とするパッドバイト

＊

ページnのMAP

＊

ページ(n-1)のMAP

＊
＊
＊

4 077〜4 084

ページ2のMAP

4 085〜4 092

ページ1のMAP

4 093〜4 096

EDC

図 27 データフィールド

12.3.1 ページページは，1レコード又は可変長レコードの一部を含む。

12.3.2 パッドバイトパッドバイトは，すべて0に設定する。最後のページの後，データフィールドは，

パッドバイトで満たす。これらのバイトには，MAPエントリ（12.3.4参照）は，含まない。ページタイプ

は，フィラーとする。データフィールドの余りが16バイトのとき，新しくページを開始してはならない。

これらのバイトには，MAPエントリがあってはならない。

12.3.3 ページレイアウトページ内のバイト数は，4の倍数とする。

a) 各ページのレコードは，次のb)及びc)を除き32ビットのCRCを付加する（附属書D参照）。

b) ページのレコードデータバイト数とCRCの和が4の倍数のとき，次のページに移る。

c) レコード又はレコードの一部が4 096バイトのとき，CRCは，次のデータフィールドの第1ページに

記録し，第1ページは，CRCとする。

12.3.4 MAPエントリ MAPエントリは，8バイトとし，ページの属性を表す。MAPエントリの内容は，

図28とする。レコード1の場合のMAPエントリは，データフィールドの4 085〜4 092のバイト位置に記

録し，レコード2のMAPエントリは，4 077〜4 084のバイト位置に記録する（図27参照）。

ページタイプがフィラー，テープマーク又はセットマークのとき，ページバイト数は，データフィール

ドのパッドバイト数とし，レコードバイト数は，無視する。

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ビット位置

フィールド

設定

Cビット

0＝記録データは，非圧縮
1＝記録データは，圧縮

2〜4

ページタイプ

3ビット

001 フィラー
010 データ
100 セットマーク
011 テープマーク

Nビット

0＝レコードは，このデータブロックで終了
1＝レコードは，次のデータブロックに継続

Pビット

0＝レコードは，このデータブロックから開始
1＝レコードは，他のデータブロックから開始

Lビット

0＝MAPの継続
1＝最後のMAP

8〜16

9ビット

これらのビットは，0に設定

17〜32

ページバイトカウント

16ビット

ページの利用者バイト及び／又はパッドバイトの数

33〜64

ページバイトカウント

32ビット

レコードのバイト総数

図 28 MAPエントリの内容

12.3.5 EDC 32ビットEDCは，データフィールドの4 093〜4 096のバイトに記録し，データフィールド

の4 092バイトにわたって計算する。

EDCは，データフィールド直前の4 092バイトからなる1 023個の32ビットデータワードにわたって計

算した32ビットワードとする。最初のデータバイトは，最初のデータワードの最下位部分を構成し，2番

目のデータバイトは，最上位部分を構成する。1 023のデータワードのEDCワードは，1 ≦ i ≦ 1 023で

表し，次のアルゴリズムによる。

EDC0に，(FFFFFFFF)を設定

EDCiに，EDCi-1⊕（データワード）iを設定

EDCiを左へ1ビットシフトし，最上位ビットを最下位ビットへ巡回する。

ここに， ⊕： Exclusive OR

12.4 データブロックデータフィールドは，4 144バイトのデータブロックを形成し，次の要素とする。

− コントロールフィールドCF1

− コントロールフィールドCF2

− 64ビットCRC

バイト数

フィールド

4 096

データフィールド

CF1

CF2

CRC

図 29 データブロック

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12.4.1 コントロールフィールド1(CF1) CF1は，128ビットフィールドとし，ブロックの属性を表す。

CF1の内容は，図30による。

ビット位置

フィールド名

ビット長

1〜16

論理ブロック番号又は連続ファイルマークオフセット

17〜28

連続ファイルマーク番号

LBN有効

30〜32

0に設定

33〜56

セットマーク番号

57〜64

圧縮形

65〜88

テープマーク番号

89及び90

0に設定

91〜96

フォーマット

97〜128

オブジェクト番号

図 30 CF1の内容

このフォーマットは，ECCブロック（15.2.4参照）には適用しない。

12.4.1.1 論理ブロック番号このフィールドの内容は，論理ブロック番号又は連続ファイルマークオフセ

ットを表し，選定は，LBN有効ビット（12.4.1.3参照）の設定に依存する。

論理ブロック番号は，レコードのブロックの序数を2進数で表し，最初のブロックは，1とし，同じレ

コードに記録する次のブロックは，1ずつ加算する。

ブロックは，データ及び／又はファイルマークを含んでもよい。ページは，ファイルマークを含めない

こととする。このグループに次のファイルマークがある場合，連続するブロック内の1ブロックは，1フ

ァイルマークを記録する。

連続ファイルマークオフセットフィールドは，連続ファイルマークのグループにファイルマークの番号

を2進数で表す。

12.4.1.2 連続ファイルマーク番号連続ファイルマーク番号は，2個以上の連続したブロック（15.1参照）

の設定した数とし，1から始まるテープマークタイプのページをもち，1ずつ加算する。番号の設定は，テ

ープマークタイプのページをもたない1個以上のデータブロックによって分けてもよい。

12.4.1.3 LBN有効 LBN有効ビットは，12.4.1.1で規定する連続ファイルマークオフセットを表す場合，

0に設定する。このビットは，論理ブロック番号を表す場合，1に設定する。ETORブロック及びEODブ

ロック（15.2.2及び15.2.3参照）の場合，このビットは，0に設定する。

12.4.1.4 セットマーク番号セットマーク番号は，セットマークタイプのページを含むブロックが最初に

現れるまで，すべてのブロックを0に設定し，セットマークタイプのページを含む最初のブロックは，0

に設定する。

データブロックの場合，このフィールドは，セットマークタイプのページを含む先行するデータブロッ

クの序数を2進数で表す。

EOTRブロック及びEODブロックの場合，このフィールドは，すべて0に設定する。

12.4.1.5 圧縮形圧縮形は，圧縮アルゴリズムの識別子を2進数で記述する。圧縮を適用しない場合，こ

のフィールドは，0に設定する（ISO/IEC 11576参照）。

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12.4.1.6 テープマーク番号テープマーク番号は，テープマークタイプのページを含むブロックが最初に

現れるまで，すべてのブロックを0に設定する。

データブロックの場合，このフィールドは，テープマークタイプのページを含むブロックに先行するデ

ータブロックの序数を2進数で表す。

EOTRブロック及びEODブロックの場合，このフィールドは，0に設定する。

12.4.1.7 フォーマットフォーマットは，001010に設定する。

12.4.1.8 オブジェクト番号オブジェクト番号は，すべてのレコード数及びテープ上のテープマークタイ

プのページの数とし，1から始まり，レコード及びテープマークタイプのページごとに1を加算する。

EOTRブロック及びEODブロックの場合，このフィールドは，0に設定する。

12.4.2 コントロールフィールド2(CF2) CF2は，192ビットとし，ブロックの属性，ブロックを記録する

実体及び実体集合について表す。CF2の内容は，図31とする。

ビット位置

フィールド名

ビット長

1〜8

トラック番号

Kビット

10〜32

実体集合インスタンスタグ

33〜64

物理ブロック番号

65〜96

バックリンク物理番号

97〜101

実体オフセット

102〜104

ブロックタイプ

105

論理ブロック0

106〜128

バックリンクインスタンスタグ

129〜133

実体番号

134〜138

実体長

139〜143

実体集合長

144

0に設定

145〜160

実体集合番号

161〜192

実体集合先頭オブジェクト番号

図 31 CF2の内容

12.4.2.1 トラック番号トラック番号は，ブロック内の論理トラック番号(0〜55)を2進数で表す。

12.4.2.2 Kビット実体集合の最初のKビットは，実体集合のブロックに誤りがある場合，1に設定する。

先行する実体集合の誤ったブロックの再書込みが終了した場合，0に再設定する。

12.4.2.3 実体集合インスタンスタグ実体集合インスタンスタグは，擬似ランダム番号を2進数で表す。

この番号は，生成した擬似ランダム番号を記録再生過程で得る値と比較することによる追加検査機能をも

つ。データ交換時は，無視する。

12.4.2.4 物理ブロック番号物理ブロック番号は，物理ブロック数を示し，物理トラックの最初の物理ブ

ロックの場合，1に設定する。連続する物理ブロックは，1ずつ加算する。

12.4.2.5 バックリンク物理番号バックリンク物理番号は，先行する実体集合の最後の物理ブロック数を

示す。

12.4.2.6 実体オフセット実体オフセットは，実体のブロックの序数を示す。

12.4.2.7 ブロックタイプブロックタイプは，3ビットパターンとし，ブロックのタイプを示す。

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ビットパターン

ブロックのタイプ

001

データブロック

010

トラックID開始ブロック

011

トラックブロックの終端

100

データブロックの終端

110

トラックID終了ブロック

12.4.2.8 論理ブロック0 このビットは，ブロックが実体の最初の論理ブロックの場合，1に設定し，そ

れ以外の場合，0に設定する。

12.4.2.9 バックリンクインスタンスタグバックリンクインスタンスタグは，論理トラックの最後のエン

ベロープ数を示す。

12.4.2.10 実体番号実体番号は，実体集合内の実体の序数を示し，下位4ビットは，この序数とし，上

位4ビットは，論理トラック0の先頭実体集合を0とし，テープに記録するごとに1 (mod 16)を加算する。

12.4.2.11 実体長実体長は，実体内に記録するブロック数とする。

12.4.2.12 実体集合長実体集合長は，実体集合内の実体数とする（17.参照）。

12.4.2.13 実体集合番号実体集合番号は，論理トラックの実体集合の序数を示し，最初の実体集合は，1

とし，連続する実体集合は，1ずつ加算する。

12.4.2.14 実体集合先頭オブジェクト番号実体集合先頭オブジェクト番号は，実体集合の先頭ブロック

のオブジェクト番号を示す。

12.4.3 CRC CRCは，64ビットとし，データフィールド，CF1及びCF2の4 096バイトにわたって計算

する。CRCの生成は，附属書Cによる。

13. 記録方式記録方式は，次による。

− 記録データが1から0，又は0から1に変化するとき，磁束反転は，ビットセルの境界から20 ％〜25 ％

の箇所とする。

− 記録データが変化しないとき，反転は，ビットセルの境界とし，一方の反転は，ビットセルの境界か

ら20 ％〜25 ％の箇所とする。

図 32 記録方式

13.1 物理記録密度 2ビットセルの平均記録密度は，675 ftpmmから5 400 ftpmmの範囲とする。

13.2 チャネルビットセル長公称チャネルビットセル長は，0.185 2 μmとする。

13.2.1 平均チャネルビットセル長平均チャネルビットセル長は，nチャネルビットセル長の全長の合計

をnで除す。

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13.2.2 長周期平均チャネルビットセル長長周期平均チャネルビットセル長は，1 000 000個のチャネル

ビット以上にわたる平均チャネルビットセル長とし，その値は，公称チャネルビットセル長の2.25 ％以内

とする。

13.2.3 短周期平均チャネルビットセル長短周期平均チャネルビットセル長は，10個のチャネルビット

にわたる平均とし，その値は，公称チャネルビットセル長の5 ％以内とする。

13.3 再生信号振幅再生信号振幅は，再生ヘッド部の磁束変化に比例する信号が得られる再生チャネル

部で測定する。

情報交換用カートリッジの平均信号振幅は，SRAの75 ％〜125 ％とする。

情報交換用カートリッジの平均信号振幅は，ブロックに分割してもよいが，ミッシングパルスのない箇

所で測定しなければならない。

SRAの値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

13.4 チャネルスキュー論理トラック（11.3.1.6参照）を構成する物理トラックのチャネルビット間の偏

差は，任意物理トラックの対について200ビットセル長を超えてはならない。

14. ブロック記録フォーマット

14.1 スクランブルデータブロック（図29）の4 144バイトは，図33による回路でビットごとにスクラ

ンブルし，オリジナルデータブロックは，4 144バイトのスクランブルデータブロックに変換する。初期状

態の回路は，すべて1に設定する。すべてのステージは，すべてD形フリップフロップとする。

図 33 スクランブル回路

14.2 変調スクランブルデータブロックの4 144バイトは，8ビットで32ビットずつの1 036グループに

分け変調し，4 144バイトは，34 188ビットとなる。

14.2.1 変調プロセス 4 144バイトは，同時に4グループ処理する。4バイトの各グループは，N0〜N7で

示し4ビットの8ニブルに分け，N0を最下位ニブルとする。ニブルのビットは，N00，N01，N02，N03，

N10，…N70，N71，N72及びN73で識別する。33符号化ビットは，プロセスの終了によって生成する。

変調プロセスの終了では，8 Nニブルは，7個の4ビットニブル，M0〜M4，M6及びM7並びに1個の5

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ビットニブルM5（図34）に変換する。これらMの4ビットニブルのビットは，M00，M01，M02，及び

M03等に識別する。5ビットニブルM5のビットは，M50〜M54で識別する。プロセス開始時には，Mニ

ブルは，Nニブルと同じパターンN0/M0，N1/M1…N7/M7に設定する。ニブルN5のビットN50，N51，

N52，及びN53は，ニブルM5のビット位置4，3，2及び1に配列し，ビット位置0におけるビットM50

の設定は，初期には，定めない。

Mニブルを生成するアルゴリズムは，次による。

図 34 32ビットから33ビットへの変換

a) すべてを0に設定するNニブルが存在しない場合，ビットM50は，1に設定し，他のすべてのビット

は，変化しない。

b) 1個のNニブルがすべて0に設定している場合，ビットM50は，0に設定し，ビットM52は，1に設

定する。ビットM54，M53及びM51は，Nニブルの序数をすべて0に設定し，他のすべてのビット

は，変化しない。ニブルN5をすべて0に設定しない場合，ニブルN5からのデータは，Nニブルがす

べて0に設定する場合と同じ序数をもつMニブルに記録する。

c) 2個のNニブルをすべて0に設定している場合，ビットM50及びM52は，0に設定し，ビットM43

は，1に設定し，ビットM51，M53及びM55は，Nニブルの一つの序数をすべて0に設定する。ビッ

トM42，M41及びM40は，他のNニブルの序数をすべて0に設定する。他のビットの設定は，変化

しない。N5ニブルからのデータは，すべて0に設定するNニブルに対応する左側のMニブルに記録

する。N4ニブルからのデータは，すべて0に設定した二つ目のNニブルの右側に，すべて0に設定

する二つ目のNニブルに対応するMニブルに記録する。

d) 3個以上のNニブルがすべて0に設定している場合，ビットM51及びM33は，0に設定し，ビット

M54，M53，M42，M41，M40，M32，M31及びM30は，すべて0に設定しないNニブルそれぞれに

ついて1に設定する。0に設定したNニブルは，要求どおり対応するMニブルに割り当てる。4以上

のニブルをすべて0に設定する場合，すべて0に設定しているMニブルは，1に設定する。ニブル

N3，N4及びN5は，すべて0に設定したMニブルに割り当てる。

14.2.2 変調データグループ 168ビットのポストアンブルは，1 036グループに加え，全変調データグル

ープを，34 356ビットとし，図35の回路による。すべてのステージは，タイプDのフリップフロップと

し，初期には，1 000に設定する。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図 35 ポストアンブル回路

14.3 プリコーダ変調データグループは，図36によるプリコーダで処理する。ステージは，D形フリッ

プフロップとし，対応するアルゴリズムは，Yn=Xn+Yn-2とする。初期状態では，プリコーダは，00に設定

する。

図 36 プリコーダ回路

14.4 記録データブロック記録データブロックは，プリアンブル及び同期で完成したプリコードデータ

ブロックで構成する。プリアンブル及び同期の処理は，13.によって処理してはならない。

14.4.1 プリアンブルプリアンブルは，800ビットセルとし，プリアンブルフィールドの前にあるギャッ

プの終わりで磁束反転とする。プリアンブルフィールドは，4ビットセル間隔の200磁束反転する。

14.4.2 同期同期は，37ビットセルとする。磁束反転は，次のビットセル間隔99992222で発生する。

表示範囲

フィールド

800ビットセル

プリアンブル

37ビットセル

同期

34 356ビットセル

記録データブロック

図 37 記録データブロック

15. ブロックのタイプ及び用途

ポストアンブル出力

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

15.1 ブロックのタイプブロックのタイプは，次の6個とする。

− データブロック

− トラックID開始ブロック

− トラックブロックの終端 (EOTR)

− データブロックの終端 (EOD)

− ECCブロック

− トラックID終了ブロック

ブロックは，データブロックを示す図29（12.4参照）によるフォーマットとする。ECCブロック（15.2.4

参照）を除くブロックは，同じ構造とし，データフィールドは，使用者データを含めてはならない。

15.2 物理ブロックの用途

15.2.1 トラックID開始ブロックトラックIDブロックは，FAF2にだけに位置する。

トラックIDブロックのデータフィールドは，この規格では規定しない。情報交換時には，無視する。

このブロックのCF2の物理ブロック番号は，(FFFF)に設定し，CF2のKビットは，1に設定する。

15.2.2 トラックブロックの終端実体集合を完全に記録し，BOT又はEOTから1 524 mm〜3 048 mmが

残っている場合，EOTRブロックは，74個以上を記録し，記録を完結しなければならない。実体集合が完

全でなく，1 524 mm〜3 048 mmがBOT又はEOTに残っている場合，EOTRブロックは，最小74個をテ

ープに記録し，記録を終了する。最後に，完全な実体集合を次の論理トラックのはじめに記録する。

EOTRブロックのデータフィールドの内容は，この規格では規定しない。情報交換時には，無視する。

15.2.3 データブロックの終端 120個のEODブロックの実体集合は，テープに記録するデータの終端を

示す。

EODブロックのデータフィールドの内容は，この規格では規定しない。情報交換時には，無視する。

15.2.4 ECCブロック 4個のECCブロックのバイトは，4 096バイトのデータフィールド及び実体の先行

する16バイトのCF1にわたって計算する。ECC検査バイトは，バイト位置0001〜4112に記録し，ECC

ブロックのCF1は，4バイトだけとする。

ECCブロックのCF2は，12.4.2による。

ECCブロックは，12.4.3のCRCによって完結する。

ECCバイトの生成法は，附属書Eによる。

15.2.5 トラックID終了ブロックトラックID終了ブロックは，FAF2だけに位置し，トラックID開始

ブロックの直後に続く。CF2の物理ブロック番号は，0に設定し，Kビットは，1に設定する。完全な実体

集合は，最小1個を記録しなければならない。

トラックID終了ブロックのデータフィールドの容量は，この規格では規定しない。情報交換時には，

無視する。

16. 論理実体フォーマットブロックは，EOTRブロック及びEODブロックを除き，論理実体に記録する。

論理実体は，同じ論理トラック内で記録を完了し，1〜20の連続した20ブロックとする。1番目のブロ

ックは，データブロックとし，2〜16番目のブロックは，データブロック又は繰返しデータブロックとす

る。その他のブロックは，次による。

− 17番目は，ECC1ブロックとする。

− 18番目は，ECC2ブロックとする。

− 19番目は，ECC3ブロックとする。

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附属書A（規定）光透過率の測定方法

A.1 序文この附属書は，テープの光透過率を測定する測定装置及び測定方法について規定する。

この規格の光透過率は，テスト片を挟んだ測定装置からの読取値と挟んでいない読取値の関係として定

義する。光透過率は，二つの読取値の比を百分率で表す。光透過率5 ％未満の要求事項は，A.2.1に定め

る2波長について満たさなければならない。

A.2 測定装置の構成測定装置の構成は，次による。

発光源

受光装置

測定用遮光壁

光学系

測定回路

A.2.1 発光源発光源は，二つ赤外発光ダイオード (LED)で構成し，次のパラメタで連続的に使う。

LED No.1

最大発光波長：750 nm±50 nm

帯域の半値幅：±50 nm

LED No.2

最大発光波長：1 050 nm±50 nm

帯域の半値幅：±50 nm

A.2.2 受光部受光部は，平面のシリコンフォトダイオードを用いる。このダイオードは，閉回路モード

で駆動する。

A.2.3 測定用遮へい壁測定用遮へい壁は，厚さを2 mmとし，円形の穴の直径dは，フォトダイオード

の有効面積の80 ％〜100 ％とする。

遮へい壁は，黒のマットとする。

試験片は，遮へい壁に対して固定し，円形の穴をふさぎ，光の漏れがあってはならない。

A.2.4 光学系（附属書A図1）光学系は，遮へい壁に対して垂直とする。発光ダイオードの発光表面か

ら遮へい壁までの距離Lは，次による。

tan

ここに， α： LEDの相対強度が最大強度の95 ％以上とする

A.2.5 仕上げすべての組立部品は，つや消しの黒いケースの中に入れる。

A.2.6 測定回路（附属書A図2）測定回路は，次による。

E：出力電圧が可変の定格電源

R：電流制限抵抗

LED：発光ダイオード

Di：シリコンフォトダイオード

A：演算増幅器

Rf0，Rf1：フィードバック抵抗

S：切替えスイッチ

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V：電圧計

LEDの正方向の電流は，電源Eによって変更でき，その結果，発光出力も変更できる。

Diは，閉回路モードで動作する。

演算増幅器の出力電圧は，V0＝Ik×Rfによる。ここに，Ikは，Diの閉回路電流とする。

出力電圧は，光強度の線形関数となる。

Rf0及びRf1は，温度変動の少ない抵抗で，その精度は，1 ％以下とし，比率は，次による。

A.3 測定方法測定方法は，次による。

スイッチSの位置を0にする。

テスト片を付けないで，電源Eの電圧を変え，電圧計Vの目盛が最大になるまで上げる。

磁気テープのテスト片を遮へい壁に取り付け，スイッチSの位置を1に設定する。電圧計の最大振れが

5 ％光透過率を示す。

1回目は，LED No.1で行い，2回目は，LED No.2の合計2回行う。

附属書A図 1 光学系の配置

附属書A図 2 測定回路

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附属書B（規定）研磨性の測定方法

B.1

概論テープの研磨性は，テープ走向によるテープの摩耗の度合を示す。

B.2

試験器附属書B図1に示す成形した清浄なフェライトバーを用意し，附属書B図2に示すジグに

取り付ける。角柱の上面のエッジは，削れておらず，1 μm以上の欠け又は穴があってはならない。エッジ

の半径は，13 μmを超えてはならない。

フェライトバーは，多結晶のフェライトとし，バーの成分，次のモル質量における質量比で示す。

MgO 30 ％

ZnO 17 ％

Fe2O3 53 ％

濃度は，99 ％，ヌープ硬度は，500とする。

バーの4面の表面仕上げは，粗さグレードがN2，0.05 μm以上とする。

バー断面は，5 mm角の正方形とする。

参考バーは，型番MND5200でCeramic Magnetics Inc. (16 Law Drive， Fairfield， NJ 07004， U.S.A)

から購入できる。

B.3

測定方法測定方法は，次による。

B.2による固定ジグは，テープの走向面に対してしゅう（摺）動面がなす巻き付け角をそれぞれ8°両方

で16°に設定する。

バーに対するテープの張力を1.4 Nにする。

テープスピードは，2.54 m/sとし，600パス（300往復）バー表面を走行する。バーのテープ走向長さは，

300.0 m±3.0 mとする。

走向面からジグを外して角柱の削れて平らになった面の幅を測定する。この測定は，倍率が既知の顕微

鏡，カメラ，及び方眼目盛によって簡単に測定できる。測定倍率は，300倍以上が望ましい。

測定は，削れパターンの幅12.65 mmの1/4，1/2及び3/4の場所の三つの長さの平均値とする。附属書B

図3は，一般的な削れパターンと測定の場所を示す。

附属書B図 1 フェライトバー

4.5 mm

±0.3 mm

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E.4

附属書E図1のマトリックスは，次による。

− マトリックス4

07＝i7 xor i6 xor i5 xor i1;

06＝i6 xor i5 xor i4 xor i0;

05＝i5 xor i4 xor i3;

04＝i4 xor i3 xor i2;

03＝i6 xor i5 xor i3 xor i2;

02＝i7 xor i6 xor i4 xor i2;

01＝i7 xor i3;

00＝i7 xor i6 xor i2.

− マトリックス3

07＝i7 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2 xori1;

06＝i7 xor i6 xor i4 xor i3 xor i1 xor i0;

05＝i6 xor i5 xor i3 xor i2 xor i1 xor i0;

04＝i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i2 xor i1 xor i0;

03＝i6 xor i5 xor i2 xor i0;

02＝i7 xor i3 xor i2;

01＝i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i3;

00＝i6 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2.

− マトリックス2

07＝i5 xor i3 xor i2;

06＝i4 xor i2 xor i1;

05＝i3 xor i1 xor i0;

04＝i2 xor i0;

03＝i5 xor i3 xor i2 xor i1;

02＝i5 xor i4 xor i3 xor i1 xor i0;

01＝i7 xor i5 xor i4 xor i0;

00＝i6 xor i4 xor i3.

− マトリックス1

07＝i7 xor i6 xor i5 xor i4;

06＝i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i3;

05＝i6 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2;

04＝i7 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2 xor i1;

03＝i5 xor i3 xor i2 xor i1 xor i0;

02＝i6 xor i5 xor i2 xor i1 xor i0;

01＝i7 xor i6 xor i1 xor i0;

00＝i7 xor i6 xor i5 xor i0.

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

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附属書F（規定）物理トラックの論理トラックの割当て

物理トラックの論理トラックの割当ては，次による。

バンド番号論理トラック

物理トラック奇数順方向

論理トラック

物理トラック偶数逆方向

1 15 29 43 57 71 85 99

8 22 36 50 64 78 92 106

2 16 30 44 58 72 86 100

9 23 37 51 65 79 93 107

3 17 31 45 59 73 87 101

10 24 38 52 66 80 94 108

4 18 32 46 60 74 88 102

11 25 39 53 67 81 95 109

5 19 33 47 61 75 89 103

12 26 40 54 68 82 96 110

6 20 34 48 62 76 90 104

13 27 41 55 69 83 97 111

7 21 35 49 63 77 91 105

14 38 42 56 70 84 98 112

113 127 141 155 169 183 197 211

120 134 148 162 176 190 204 218

114 128 142 156 170 184 198 212

121 135 149 163 177 191 205 219

115 129 143 157 171 185 199 213

122 136 150 164 178 192 206 220

116 130 144 158 172 186 200 214

123 137 151 165 179 193 207 221

117 131 145 159 173 187 201 215

124 138 152 166 180 194 208 222

118 132 146 160 174 188 202 216

125 139 153 167 181 195 209 223

119 133 147 161 175 189 203 217

126 140 154 168 182 196 210 224

225 239 253 267 281 295 309 323

232 246 260 274 290 302 316 330

226 240 254 268 282 296 310 324

233 247 261 275 291 303 317 331

227 241 255 269 283 297 311 325

234 248 262 276 292 304 318 332

228 242 256 270 284 298 312 326

235 249 263 277 293 305 319 333

229 243 257 271 285 299 313 327

236 250 264 278 294 306 320 334

230 244 258 272 286 300 314 328

237 251 265 279 295 307 321 335

231 245 259 273 289 301 315 329

238 252 266 280 296 308 322 336

337 351 365 379 393 407 421 435

344 358 372 386 400 414 428 442

338 352 366 380 394 408 422 436

345 359 373 387 401 415 429 443

339 353 367 381 395 409 423 437

346 360 374 388 402 416 430 444

340 354 368 382 396 410 424 438

347 361 375 389 403 417 431 445

341 355 369 383 397 411 425 439

348 362 376 390 404 418 432 446

342 356 370 384 398 412 426 440

349 363 377 391 405 419 433 447

343 357 371 385 399 413 427 441

350 364 378 392 406 420 434 448

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G（参考）輸送条件

この附属書は，カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので，規定の一部ではない。

G.1

環境条件カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。

G.1.1 未記録カートリッジ

温度

：−23 ℃〜48 ℃

相対湿度

：5 ％〜100 ％

湿球温度

：26 ℃以下

期間

：連続10日以内

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

G.1.2 記録済カートリッジ

温度

：5 ℃〜32 ℃

相対湿度

：5 ％〜80 ％

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

G.2

安全性記録済カートリッジの輸送条件は，次による。

G.2.1 衝撃及び振動輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策をとること

が望ましい。

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えない。

カートリッジは，1 mを超える高さから落下させない。

カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃），水などの侵入がない構造とする。

カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。

カートリッジの収納箱は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。

G.2.2 極端な温度及び湿度温度及び湿度の急激な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。

輸送されたカートリッジは，使用環境条件に最低24時間放置する。

G.2.3 誘導磁界の影響カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため，80 mm以上とする。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書J（参考）テープの耐久性

この附属書は，テープの耐久性について記載するもので，規定の一部ではない。

耐久性及び信頼性のテストは，テープ装置についてテープを繰り返し使用したときの摩耗に対する耐性

で評価する。このテストは，テープの寿命又は装置の誤り修復能力のテストではない。

テープ製造業者から新しいカートリッジの出荷時，次の要求事項を満足することが望ましい。

適切な装置を使用するカートリッジの試験及び評価は，次による。テストは，テープと装置の使用環境

（本体6.2参照）で行う。

J.1

テープの耐久性及び信頼性は，データのファイルを繰り返しアクセスして，摩耗に対する耐性で表

す。永久的なミッシングパルスは，10回の連続再生で1回とする。

J.2

20 000パス後，10実体の1実体中の3ブロックに誤りがあるとき，不合格とする。誤りは，3ブロ

ックすべてに，少なくとも1ミッシングパルスがあったことを意味する。

J.3

250 000パス後，10実体の1実体中の5ブロックに誤りがあるとき，不合格とする。誤りは，5ブロ

ックすべてに，少なくとも1ミッシングパルスがあったことを意味する。

J.4

手順試験の前に，装置は清浄にする。

試験には，4巻以上のカートリッジを使用する。試験領域は，1 m以上又は10実体とする。

試験サイクルは，試験領域の始めの部分から開始し，試験領域に記録の後，始めの部分に戻る。ミッシ

ングパルスが発生した場合，7回まで再生を繰り返した後に，ミッシングパルスとして記録する。

試験中は，テープの走行系を清掃しない。

X 6177：2006 (ISO/IEC 22051：2002)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書K（参考）カートリッジの操作

この附属書は，カートリッジの操作性について記載するもので，規定の一部ではない。

K.1 概要

K.1.1 カートリッジに不必要な物理的衝撃が加わらないようなコンテナで輸送する。

K.1.2 カートリッジは，使用するまで保護ケースに入れる。

K.1.3 テープに汚染又は物理的な損傷を与えるので，カートリッジのリッドを不必要に開けない。テープ

を直接手で触れない。

K.1.4 カートリッジは，蒸気又は直射日光にさらさない。

K.1.5 使用環境及び保存環境は，清潔にする。

K.1.6 磁界を発生する機器の上又は近くにカートリッジを置かない。

K.2 ラベル

K.2.1 カートリッジ製造業者が供給するラベルを使用する。他のラベルを使用すると，カートリッジ使用

時に支障がでることがある。

K.2.2 鉛筆，水溶性フェルトペン又は脱落物が発生するおそれがあるラベル書込み装置は，使用しない。

ラベルを，消去したり，交換したりしない。

K.3 保管カートリッジは，保護ケースに入れて，立てて保管する。