X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)／財
団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工
業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO/IEC 16382:2000，Information
technology−Data interchange on 12.7 mm 208-track magnetic tape cartridges−DLT6 formatを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS X 6174には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定）光透過率の測定法
附属書B（規定）データブロックのCRCの生成法
附属書C（規定）ECCの生成
附属書D（規定）ページCRCの生成
附属書E（規定）MAPエントリのフォーマット
附属書F（規定）コントロールフィールド1のフォーマット
附属書G（規定）コントロールフィールド2のフォーマット
附属書H（参考）輸送条件
附属書J（参考）不良テープ
附属書K（参考）テープの耐久性
附属書L（参考）カートリッジの操作
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 磁気テープカートリッジ ································································································· 1
2.2 生成システム ················································································································ 1
2.3 受領システム ················································································································ 1
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 定義 ······························································································································ 2
4.1 平均信号振幅（average signal amplitude） ··········································································· 2
4.2 アジマス（azimuth） ······································································································ 2
4.3 裏面（back surface） ······································································································ 2
4.4 テープの始端マーカ［beginning-of-tape marker（BOT）］ ······················································ 2
4.5 物理ブロック（block） ··································································································· 2
4.6 バイト（byte） ·············································································································· 2
4.7 カートリッジ（cartridge） ······························································································· 2
4.8 巡回冗長検査文字［cyclic redunduncy check（CRC）character］············································· 2
4.9 終端予告［early warning（EW）］ ····················································································· 2
4.10 誤り検出符号［error-detecting code（EDC）］ ···································································· 2
4.11 テープの終端マーカ［end-of-tape marker（EOT）］ ···························································· 2
4.12 エンティティ（entity） ·································································································· 2
4.13 誤り訂正符号［error-correcting code（ECC）］ ··································································· 2
4.14 実体集合（envelope） ···································································································· 2
4.15 実体個数（envelope size） ······························································································ 2
4.16 磁束反転位置（flux transition position） ············································································ 2
4.17 磁束反転間隔（flux transition spacing） ············································································ 2
4.18 グループレコード（group record） ·················································································· 3
4.19 論理トラック（logical track） ························································································· 3
4.20 磁気テープ（magnetic tape） ·························································································· 3
4.21 主基準テープ（master standard reference tape） ································································· 3
4.22 オブジェクト（object） ································································································· 3
4.23 ページ（page） ············································································································ 3
4.24 物理記録密度（physical recording density）········································································ 3
4.25 物理トラック（physical track） ······················································································· 3
4.26 レコード（record）······································································································· 3
4.27 基準縁（reference edge）································································································ 3
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ページ
4.28 基準磁界（reference field） ····························································································· 3
4.29 二次基準テープ（secondary standard reference tape） ·························································· 3
4.30 基準信号振幅［standard reference amplitude（SRA）］ ························································· 3
4.31 基準電流（standard reference current） ············································································· 3
4.32 試験記録電流（test recording current） ············································································· 3
4.33 ティピカル磁界（typical field） ······················································································· 3
5. 表記法 ··························································································································· 3
5.1 数字の表現 ··················································································································· 3
5.2 寸法 ···························································································································· 4
5.3 名称 ···························································································································· 4
5.4 略号 ···························································································································· 4
6. 環境条件及び安全性 ········································································································· 4
6.1 試験環境条件 ················································································································ 4
6.2 使用環境条件 ················································································································ 4
6.3 保存環境条件 ················································································································ 4
6.4 安全性の要求事項 ·········································································································· 5
7. 機械的特性及び電気的特性 ································································································ 5
7.1 材料 ···························································································································· 5
7.2 テープの長さ ················································································································ 5
7.3 テープの幅 ··················································································································· 5
7.4 テープの厚さ ················································································································ 5
7.5 テープの連続性 ············································································································· 5
7.6 長手方向の湾曲 ············································································································· 5
7.7 平面からのひずみ ·········································································································· 5
7.8 カッピング ··················································································································· 5
7.9 塗布面の表面粗さ ·········································································································· 5
7.10 塗布面の接着強度 ········································································································· 5
7.11 層間の粘着 ·················································································································· 6
7.12 弾性率 ························································································································ 7
7.13 剛性 ··························································································································· 7
7.14 伸び荷重 ····················································································································· 7
7.15 電気抵抗 ····················································································································· 7
7.16 不良テープ ·················································································································· 8
7.17 研磨性 ························································································································ 8
7.18 テープ及びリーダテープの光透過率 ················································································· 9
7.19 動摩擦係数 ·················································································································· 9
8. 磁気記録特性 ················································································································· 10
8.1 ティピカル磁界 ············································································································ 10
8.2 信号振幅 ····················································································································· 10
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000) 目次
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
8.3 分解能 ························································································································ 10
8.4 重ね書き ····················································································································· 10
8.5 ピークシフト ··············································································································· 10
9. テープの品質 ················································································································· 11
9.1 ミッシングパルス ········································································································· 11
9.2 ミッシングパルス領域 ··································································································· 11
9.3 テープの耐久性 ············································································································ 11
10. 概要 ··························································································································· 11
10.1 底面及び側面（図8及び図9） ······················································································· 12
10.2 後面及び左側面（図10及び図11） ················································································· 13
10.3 テープリール（図8，図12及び図13） ············································································ 13
10.4 テープリーダ（図14，図15及び図16） ·········································································· 14
10.5 前面（図17） ············································································································· 15
10.6 カートリッジの動作（図18及び図19） ··········································································· 15
10.7 テープの巻き方 ··········································································································· 16
10.8 慣性モーメント ··········································································································· 16
10.9 材料 ·························································································································· 16
11. 記録方式······················································································································ 23
11.1 物理記録密度 ·············································································································· 23
11.2 チャネルビットセル長 ·································································································· 23
11.3 磁束反転間隔 ·············································································································· 24
11.4 再生信号振幅 ·············································································································· 24
11.5 アジマス ···················································································································· 24
11.6 チャネルスキュ ··········································································································· 24
12. テープフォーマット ······································································································ 24
12.1 基準縁 ······················································································································· 24
12.2 記録の方向 ················································································································· 24
12.3 テープ上の配置 ··········································································································· 24
12.4 調整エリア及びディレクトリエリア ················································································ 25
12.5 データエリア ·············································································································· 26
13. データフォーマット ······································································································ 29
13.1 データバイト ·············································································································· 29
13.2 データブロック ··········································································································· 29
13.3 ブロックのタイプ ········································································································ 30
13.4 実体 ·························································································································· 30
13.5 実体集合 ···················································································································· 30
13.6 ブロックフォーマット ·································································································· 30
14. 物理ブロックの使用 ······································································································ 35
14.1 データブロック ··········································································································· 35
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000) 目次
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14.2 フィラーブロック ········································································································ 35
14.3 トラックブロックの終端 ······························································································· 35
14.4 データブロックの終端 ·································································································· 35
14.5 ECCブロック ············································································································· 35
15. 実体のフォーマット ······································································································ 35
16. 実体集合のフォーマット ································································································ 36
17. 誤りの処理 ·················································································································· 36
附属書A（規定）光透過率の測定法 ························································································ 37
附属書B（規定）データブロックのCRCの生成法 ····································································· 40
附属書C（規定）ECCの生成 ································································································ 41
附属書D（規定）ページCRCの生成 ······················································································ 44
附属書E（規定）MAPエントリのフォーマット ········································································ 45
附属書F（規定）コントロールフィールド1のフォーマット ························································ 46
附属書G（規定）コントロールフィールド2のフォーマット ······················································· 47
附属書H（参考）輸送条件 ···································································································· 48
附属書J（参考）不良テープ ·································································································· 49
附属書K（参考）テープの耐久性 ··························································································· 50
附属書L（参考）カートリッジの操作······················································································ 51
解 説 ······························································································································· 52
日本工業規格 JIS
X 6174：2004
(ISO/IEC 16382：2000)
情報交換用12.7 mm 幅，208トラック
磁気テープカートリッジ−DLT6様式
Information technology−Data interchange on 12.7 mm
208-track magnetic tape cartridges−DLT6 format
序文 この規格は，2000年に第1版として発行されたISO/IEC 16382，Information technology ‒ Data
interchange on 12.7 mm 208-track magnetic tape cartridges ‒ DLT 6 formatを翻訳し，技術的内容及び規格票の
様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，12.7 mm幅，208トラックの磁気テープカートリッジの装置間での物理的互
換性をとるために，物理的特性及び磁気的特性を規定する。さらに，装置間でのデータ交換ができるよう
記録信号品質，DLT6（ディジタルリニアテープ6）のフォーマット及び記録方式について規定する。
この規格は，JIS X 0601とともに使用することによって磁気テープカートリッジを介した情報交換を可
能にする。
備考 この規格の国際対応規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO/IEC 16382:2000，Information technology ‒ Data interchange on 12.7 mm 208-track magnetic tape
cartridges ‒ DLT 6 format (IDT)
2. 適合性
2.1
磁気テープカートリッジ 磁気テープカートリッジは，この規格のすべての必要要求事項を満たす
とき，この規格に適合する。
テープの要求事項は，テープの全領域にわたって満たされなければならない。
2.2
生成システム 交換用磁気テープカートリッジを生成する書込みシステムは，2.1で規定されたテー
プ上に生成するすべての記録がこの規格の必要要求事項に合致しているとき，この規格に適合する。
適合性を表示する場合，次の事項について記載する。
− 一つ以上の登録済みアルゴリズムを採用し，データをブロックに集める前にホストから受け取った
データを圧縮できるか否か。
− 採用している圧縮アルゴリズムの登録識別番号。
2.3
受領システム 交換用磁気テープカートリッジを受領するシステムは，2.1で規定されたテープ上に
生成するすべての記録を処理できるとき，この規格に適合する。
次の事項について記載する。
2
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 一つ以上の復元アルゴリズムを採用し，データをホストに送る前に復元できるか否か。
− 採用している圧縮アルゴリズムの登録識別番号。
3. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の一部を構成する。こ
れらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。
JIS X 0601 : 2000 情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成
備考 ISO 1001:1986 Information processing ‒ File structure and labelling of magnetic tapes for information
interchangeからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
ISO 1302 : 1992 Technical drawings-method of indicating surface texture
ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology ‒ Procedure for the registration of algorithms for the lossless
compression of data
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
4.1
平均信号振幅（average signal amplitude） 記録密度2 578 ftpmmで記録した磁気テープ上のミッシ
ングパルスのない部分を25.4 mm以上にわたって測定した再生ヘッドからの平均ピーク（P-P）出力電圧。
4.2
アジマス（azimuth） 磁束反転線及びテープ基準縁に垂直な直線との角度。
4.3
裏面（back surface） データの記録に使う磁性面の反対側のテープ面。
4.4
テープの始端マーカ［beginning-of-tape marker（BOT）］ リーダテープに最も近いテープ始端近傍
のテープの中心線上にあけた孔。
4.5
物理ブロック（block） 物理トラックに記録し1単位とみなされる一連のバイトの列。
4.6
バイト（byte） 一単位として取り扱うビットの列。
備考 この規格のバイトは，8ビットとする。
4.7
カートリッジ（cartridge） 単一のリールに巻いた最外周にリーダテープの付いた12.7 mm幅の磁
気テープを収納するケース。
4.8
巡回冗長検査文字［cyclic redunduncy check（CRC）character］ 誤り検出のために用いる64ビッ
トの文字。
4.9
終端予告［early warning（EW）］ 駆動装置が記録するテープの終端に近づいたことを示す信号。
4.10 誤り検出符号［error-detecting code（EDC）］ 誤りを検出するために用いる数学的に計算して生成
する検査用バイト。
4.11 テープの終端マーカ［end-of-tape marker（EOT）］ リーダテープから最も離れたテープ終端近傍
のテープ中心線上にあけた孔。
4.12 エンティティ（entity） 論理トラックに記録した論理単位として取り扱うフィラーブロックを除く
20ブロックの集合。
4.13 誤り訂正符号［error-correcting code（ECC）］ 検出した誤りを自動訂正できるように設計した符号。
4.14 実体集合（envelope） 実体の集合。
4.15 実体個数（envelope size） 1実体集合の中の実体の数。
4.16 磁束反転位置（flux transition position） テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となるテープ上
の点。
4.17 磁束反転間隔（flux transition spacing） 一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。
3
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.18 グループレコード（group record） 同一サイズのレコード群からなるレコード。
4.19 論理トラック（logical track） 同時に書き込み又は読み取る4本の物理トラック。
4.20 磁気テープ（magnetic tape） 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。
4.21 主基準テープ（master standard reference tape） 基準磁界，信号振幅，分解能，ピークシフト及び
重ね書き特性の基準として用いるテープ。
参考 主基準テープは，Quantum Corporationによって管理されている。
4.22 オブジェクト（object） 1レコード又はタイプテープマークの1ページ。
4.23 ページ（page） 物理ブロックの1論理区分。
4.24 物理記録密度（physical recording density） トラックの長さ1 mm当たりに記録する磁束反転数
（ftpmm）。
4.25 物理トラック（physical track） 磁気テープの長手方向に連続して記録できる部分。
4.26 レコード（record） ホストが決める数で，利用者バイトの集合。
4.27 基準縁（reference edge） 磁性面を手前にし，BOTを左にEOTを右に見たときのテープの下端。
4.28 基準磁界（reference field） 主基準テープのティピカル磁界。
4.29 二次基準テープ（secondary standard reference tape） テープの特性が既知であり，主基準テープと
の偏差を明示しているテープ。
備考 二次基準テープは，Quantum Corporation, 333 South Street, Shrewsbury, Mass. 01545-4195 USAが
部品番号“SSRT/DLT4”で通常2010年まで供給する。ただし，入手可能期間は，二次基準テー
プの需要によってISO/IECとQuantum社との合意に基づいて変更することがある。このテープ
は，定期校正用の三次基準テープとの偏差を補正するために使用する。
4.30 基準信号振幅［standard reference amplitude（SRA）］ 主基準テープに記録密度2 578 ftpmmの信号
を試験記録電流で記録し，これを再生したときの出力電圧の平均値。
4.31 基準電流（standard reference current） 基準磁界を発生する記録電流。
4.32 試験記録電流（test recording current） 基準電流の1.1倍。
4.33 ティピカル磁界（typical field） 記録密度2 578 ftpmmで記録して，再生したとき，その平均信号振
幅が最大値の95 ％を示す最小の印加磁界。
5. 表記法
5.1
数字の表現 数字の表現は，次による。
− 測定した値は，対応する規定値の小有効数字に対応して丸める。すなわち，規定値が1.26であり，
正の許容誤差が0.01であり，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未
満を許容する。
− 各ブロック及びフィールド内では，データバイト1（最下位バイト）が，最初となる順序とする。
各バイト内では，ビット1（最下位ビット）が，最初となる順序とし，ビット8（最上位ビット）が，
最後となる順序とする。この順序は，特に規定がない限り，誤り検出符号及び訂正符号の入出力に
も適用する。
− 16進数は，丸括弧に数字及び英文字で表す。
− ビットの設定は，“0”又は“1”で表す。
− ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。
4
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.2
寸法 図1〜4の寸法は，公称値とする。図8〜23の寸法は，規定がない限りミリメートル表示で，
その公差は，±50 mmとする。
5.3
名称 原国際規格では，名称を英大文字ではじめる表記法を採用しているが，この規格では特別な
表記法は，用いない。
5.4
略号
BOT
テープ始端（beginning of tape）
CF1
コントロールフィールド1（control field 1）
CF2
コントロールフィールド2（control field 2)
CRC
巡回冗長検査（cyclic redundancy check）
CT1
調整用トラック1（calibration track 1）
CT2
調整用トラック2（calibration track 2）
ECC
誤り訂正符号（error-correcting code）
EDC
誤り検出符号（error-detecting code）
EOD
データの終端（end of data）
EOT
テープの終端（end of tape）
EOTR
トラックの終端（end of track）
EW
終端予告（early warning）
RLL
ランレングスリミッテッド（run length limited）
SRA
基準信号振幅（standard reference amplitude）
6. 環境条件及び安全性 次によって規定する条件は，別に規定がない限り装置内部の環境条件ではなく，
試験を行う部屋の環境条件とする（附属書L参照）。
6.1
試験環境条件 試験環境条件は，規定がない限り次による。
温度
23 ℃±2 ℃
相対湿度
40 ％〜60 ％
試験前放置時間
24時間以上
6.2
使用環境条件 使用環境条件は，次による。
温度
10 ℃〜40 ℃
相対湿度
20 ％〜80 ％
湿球温度
25 ℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
カートリッジは，保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合，使用環境条件以外の環境条件に放置
した時間と同等以上，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。ただし，24時間以上として
もよい。
参考 テープの温度が49 ℃を超えた場合，テープに損傷を与えることがある。
6.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度
16 ℃〜32 ℃
相対湿度
20 ％〜80 ％
周辺磁界は，テープ上で4 000 A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては
ならない。
5
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6.4
安全性の要求事項
6.4.1
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，情報処理システムで適正使用時又はあらかじめ予想可
能な誤使用時に安全性，又は健康上の危険が生じてはならない。
6.4.2 難燃性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチなどの炎などによって着火してもよいが，
二酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
6.4.3
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Hに
よる。
7. 機械的特性及び電気的特性
7.1
材料 テープは，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品）上の片面に強
固で柔軟性のあるバインダと適切な磁性材を塗布したものとする。
テープの裏面は，導電性の非磁性材を塗布したものとする。
7.2
テープの長さ リーダスプライス部からハブまでのテープの長さは，557 m±5 mとする。
7.3
テープの幅 テープの幅は，12 .649 mm±0.010 mmとする。
テープの幅は，テープに最大0.28 Nの張力を加えてテープの端から端までを測定する。
7.4
テープの厚さ 磁気テープの厚さは，テープの任意の箇所で，8.3 μm〜9.3 μmとする。
7.5
テープの連続性 テープは，BOT及びEOTの間に継ぎ目又は孔のような不連続性があってはならな
い。
7.6
長手方向の湾曲 テープの長手方向の湾曲は，テープ表面と同一平面上にある長手方向の直線とテ
ープ基準縁の隔たりを測定する。
7.6.1
要求事項 直線からテープ基準縁との隔たりは，連続的で，かつ，テープの長さ229 mmの範囲内
で0.076 mm以下とする。
7.6.2
試験方法 229 mmの間隔に置いた二つのガイドをもつ装置に1.39 N ± 0.28 Nの張力を加えて測
定する。二つのテープガイドは，表面にテープ基準面を押し当てるように，ばね荷重制御する。二つのガ
イド制御面の間に引いた直線とテープ基準縁との間隔が最大の場所を測定する。
7.7
平面からのひずみ テープに0.6 Nの張力を加えたとき，目視できるひずみがテープにあってはなら
ない。テープのひずみは，テープの一部分が反り返ったことによる局部的な変形である。平面からのひず
みは，テープに張力を加えずに平面の上に置いたとき，最も簡単に観察できる。
7.8
カッピング カッピングは，平面からテープ幅方向への浮き上がり量とし，2.54 mm以下とする。
測定方法は，次による。
テープを長さ1.0 m±0.1 mに切り取る。テープ両面が試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時
間以上放置する。このテープの中心部分から，長さ25 mmの試験片を切り取る。この試験片を高さ25 mm
以上，内径13.0 mm±0.2 mmの円筒の中に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ，試験片
の両方の縁をコンパレータの十字線にそろえて，十字線から試験片の中心までの距離を測定する。
7.9
塗布面の表面粗さ
7.9.1
裏面の粗さ 裏面の粗さは，中心線平均粗さRaで，0.003〜0.018 μmとする（ISO 1302:N2）。半径
12.5 μmの触針を荷重20 mgで254 μmのカットオフにて測定する。
7.9.2
磁性面の粗さ 磁性面の粗さは，中心線平均粗さRaで，0.003〜0.008 μmとする（ISO 1302:N3）。
半径12.5 μmの触針を荷重20 mgで254 μmのカットオフで測定する。
7.10 塗布面の接着強度 塗布面をテープのベース材料からは（剥）がす力は，0.4 N以上とする。
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試験方法
a) 長さ約380 mmの試験片を切り取り，一方の端から125 mmの位置でテープの幅方向にけがき（罫書
き）線をベース面に達するまで引く。
b) 図1に示すとおりに，磁性塗布面（記録面）を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわた
って滑らかな金属の板にはり付ける。
c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを万力引張試験器に取り付けて，速度254 mm/
分で引っ張る。
d) 塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれるときの力を記録する。この力が，0.4 N
未満のとき試験は失敗とする。この力が，0.2 Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれたと
きは，別の種類の両面接着テープを使用する。
e) 磁気テープの裏面についてもa) からd) を繰り返す。
図 1 塗布面の接着強度の試験方法
7.11 層間の粘着 層間の粘着は，隣接層を密着して保持したときに，層の滑らかなはく（剥）離を妨げ
る隣接層の粘着状態をみる。
7.11.1 要求事項 塗布面に，はがれ又はその他の損傷の兆候があってはならない。
7.11.2 試験方法
a) 図2に示す水平に固定したステンレススチール円柱に低ひずみの粘着材料で，磁性面を内側にして，
長さ914 mmのテープ端を固定する。
b) 円柱の寸法は，次による。
− 直径：12.7 mm
− 長さ：102 mm
c) 1 000 gのおもりを反対の端に付ける。
d) おもりの25.4 mm上の磁性面に短い幅で両面テープを付ける。
e) ゆっくり円柱を回転し，テープを一様に巻き付けロールにする。両面接着テープは，テープの端を固
定し，ほどけないようにする。
f)
テープを巻いた円柱を，次の温度相対湿度サイクルに放置する。
時間
温度
相対湿度
16時間〜18時間
54 ℃
85 ％
4時間
54 ℃
10 ％以下
1時間〜2時間
21 ℃
45 ％
両面接着テープ
125
mm
記録面
けがき線
7
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g) ロールの終端を切り開いて，両面接着テープをはがす。
h) テープの終端を緩める。
i)
外側のテープ1枚又は2枚の部分は，粘着性がなくほどける。
j)
テープの終端を固定して円柱をぶら下げることによってテープは，ほどける。
k) 円柱からテープ内側51 mmの箇所を除き，塗布膜のはがれがあってはならない。
単位 mm
図 2 層間の粘着の試験方法
7.12 弾性率 弾性率（ヤング率）は，長手方向への張力によるひずみ率である。
7.12.1 要求事項 弾性率は，4 900〜11 700 N/mm2とする。
7.12.2 試験方法 178 mm以上のテープ試験片を102 mmの長さで固定し，固定ジグを3 mm/分の速度で
引っ張る。0 ％及び1 ％伸びたときの張力の傾きによって弾性率を計算する。
7.13 剛性 剛性は，テープの長手方向でのたわみ力とする。
7.13.1 要求事項 テープの長手方向での剛性は，2×10-7〜8×10-7 N･mmとする。
7.13.2 試験方法 剛性Dは，次による。
D = E × t 3 / 12 × (1 - v 2)
ここに， E： 7.12から得る弾性率
t： テープの厚さ（mm）
v： ポアソン比，0.33
7.14 伸び荷重 テープの伸び荷重は，試験片を3 ％伸ばした場合，9.6 N以上とする。
7.14.1 試験方法 2 ％の精度で荷重表示可能な引張試験器で測定する。178 mm以上のテープ試験片を102
mmの長さになるように固定ジグに取り付ける。最低10 ％の伸び率になるまで，51 mm/分の速度で試験
片を伸ばす。3 ％の伸び率での張力を伸び荷重とする。
7.15 電気抵抗
7.15.1 要求事項 磁性層の電気抵抗は，5×106〜50×1012 Ωとする。
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裏面の電気抵抗は，100×106 Ω以下とする。
7.15.2 試験方法 テープ試験片を，試験環境条件に24時間放置する。図3に示す24Kの金めっきを施し
た半径が（r）25.4 mmで粗さをN4（ISO 1302参照）以上で仕上げてある二つの半円の電極に，記録面が
接するように置く。二つの電極は，水平で互いに平行に位置し，その距離（d）は，12.7 mmとする。試験
片の両端に，力（F）1.62 Nを加える。電極に100 V±10 Vの直流電圧をかけて電流を測定する。この値か
ら，表面電気抵抗を算出する。
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの平均を算出し表面電気抵抗とする。裏
面についてもこの試験を行う。
図 3 電気抵抗の試験方法
試験片を電極に置くとき，電極の間にはテープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。
備考 試験前に電極の表面を清掃する。
7.16 不良テープ この規格では，テープが不良であるか否かを評価するパラメータは，規定しない。不
良テープに関する参考情報は，附属書Jによる。
7.17 研磨性 テープの研磨性は，磁性塗布面による磁気ヘッドの磨耗を表す。
7.17.1 要求事項 フェライト磨耗試験用バーでの磨耗量は，1.27 μm未満とする。
7.17.2 試験方法 61 mの長さの試験テープを，図4に示すマンガン亜鉛フェライトの長方形バー上で100
回（50往復）走行する。試験用バーは，0.3 mm幅とし，その先端表面は，曲率半径（r0）5 mmとする。
テープ速度は2.54 m/秒，張力は1.3 N及び接触角度は12°とする。磨耗度は，テープの幅方向に形状測定
器で測定する。
参考 マンガン亜鉛フェライトは，Philips Ceramic Division Saugerties NYから注文部品番号3H7で入
手可能である。
r
r
d
F
F
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図 4 研磨性の試験方法
7.18 テープ及びリーダテープの光透過率 テープ及びリーダテープの光透過率は5 ％未満とする。光透
過率の測定法は，附属書Aによる。
7.19 動摩擦係数 動摩擦係数は，テープ両面とカルシウムチタンセラミックとの間で測定する。
7.19.1 要求事項
磁性面対裏面
：0.15以上
磁性面対カルシウムチタンセラミック ：0.05〜0.35
裏面対カルシウムチタンセラミック
：0.05〜0.20
7.19.2 磁性面と裏面との摩擦試験方法
a) 裏面を外側にして巻付け角度が90°以上になるように，直径25.4 mmのカルシウムチタンセラミック
筒（Ra=0.05 μm）に第1のテープ試験片を巻き付ける。
b) 磁性面を内側にして，第2のテープ試験片を第1のテープ試験片に90°巻き付ける。
c) 外側のテープ試験片の端に力F1=0.64 Nを加える。
d) 別の端に張力ゲージを取り付ける。
e) ゲージを速度1 mm/秒で引張って，張力F2を測定する。
f)
次の式によって，動摩擦係数γを計算する。
γ = 1/φ×ln (F2 / F1 )
ここに， φ： 巻付け角度（ラジアン）
7.19.3 磁性面又は裏面とカルシウムチタンセラミックとの摩擦試験方法
a) 磁性面又は裏面を内側にして巻付け角度が90°になるように，直径25.4 mmのカルシウムチタンセラ
ミック筒（Ra=0.05 μm）に第1のテープ試験片を巻き付ける。
b) テープ試験片の外側の端に力F1=0.64 Nを加える。
c) 別の端に張力ゲージを取り付ける。
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d) ゲージを速度1 mm/秒で引っ張って，張力F2を測定する。
e) 次の式によって，動摩擦係数γを計算する。
γ = 1/φ×ln (F2 / F1 )
ここに， φ： 巻付け角度（ラジアン）
参考 カルシウムチタンセラミックは，Philips Ceramic Division Saugerties NYから注文部品番号CaTi
で入手可能である。
8. 磁気記録特性 磁気記録特性は，次に示す試験条件による。
これらの試験を行うときには，出力信号及び残留信号の測定は，主基準テープで校正したテープ及び被
試験テープ共に同じ走行系（記録時再生をするか，又は記録時再生機能がないときには，1回目の再生時
に読み取る。）を使用する。
すべての磁気記録特性の試験は，特に規定がない限り次による。
− テープの状態
：平均信号振幅の2 ％以下まで交流消去
− テープ速度
：4.26 m/秒±0.05 m/秒
− 再生トラック
：記録トラック以内
− ギャップアライメント ：再生ギャップと記録ギャップとが38.1 μmの範囲内で平行
− 記録ギャップ長
：0.64 μm±0.18 μm
− 記録ギャップ幅
：0.216 mm±0.010 mm
− 再生ギャップ
：0.18 μm±0.05 μm
− 再生ギャップ幅
：39.4 μm±5.0 μm
− テープ張力
：0.79 N±0.08 N
− 記録電流
：試験記録電流
− 物理的記録密度
：2 f =2 578 ftpmm±44 ftpmm（5.5 MHz±2 ％に相当）
1 f =1 289 ftpmm±22 ftpmm（2.75 MHz±2 ％に相当）
− 再生増幅器の帯域幅
：10.0 MHz
8.1
ティピカル磁界 ティピカル磁界は，基準磁界の75〜125 ％とする。
主基準テープの基準磁界との関係付けは，二次基準テープとその校正値によって保証される。
8.2
信号振幅 平均信号の振幅は，SRAの85〜115 ％とする。
主基準テープのSRAとの関係付けは，二次基準テープとその校正値によって保証される。
8.3
分解能 分解能は，記録密度2 578 ftpmmでの平均信号振幅を記録密度1 289 ftpmmでの平均信号振
幅で除した値とし，その値は，主基準テープの分解能の90〜120 ％とする。
主基準テープの分解能との関係付けは，二次基準テープとその校正値によって保証される。
8.4
重ね書き 重ね書きは，1 289 ftpmmの記録をした後に，2 578 ftpmmで重ね書きし，残留する1 289
ftpmmの平均信号振幅と1 289 ftpmmの平均信号振幅の比率とする。
8.4.1
要求事項 重ね書きは，主基準テープの重ね書きの110 ％未満とする。
主基準テープの重ね書きとの関係付けは，二次基準テープの校正値によって保証される。
8.5
ピークシフト ピークシフトは，ビットセル長が，0.129 μmの記録パターン110110110…の1の公称
時間値からの時間変位を測定する。
8.5.1
要求事項 ピークシフトは，主基準テープのピークシフト比をn ％とした場合，(n‒2)〜(n+2) ％
とする。
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主基準テープのピークシフト比との関係付けは，二次基準テープの校正値によって保証される。
8.5.2
試験方法 2 f周波数の96倍の帯域で250個以上の101パターンの時間間隔を測定し，平均値をと
る。
ここで，1-1パターンでの隣接するピーク時間をt1，1-1パターンの最後の1から続く1-1パターンの最
後の1までの時間をt0とし，ピークシフト（PS）は，次の式による。
PS= (3t1 ‒ t0) / 2t0 × 100 ％
図 5 ピークシフトの測定
9. テープの品質
9.1
ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生した電圧の0 Vを基準
にしたピーク値が，その直前のトラック長25.4 mmの平均信号振幅（8.2参照）の1/2の35 ％未満のとき，
25.4 mmをミッシングパルスとする。この測定は，25.4 mm間隔で行う。
9.1.1
要求事項 ミッシングパルスの平均発生率は，任意の100 m長のトラック当り，20未満とする。
9.2 ミッシングパルス領域 ミッシングパルス領域は，100 mmを超えるミッシングパルスの連続とする。
9.2.1
要求事項 ミッシングパルス領域は，発生してはならない。
9.3
テープの耐久性 この規格では，テープの耐久性を評価するパラメータは，規定しない。
なお，テープの耐久性は，附属書Kによることが望ましい。
10. 概要 テープカートリッジは，次の構成要素からなる。
− ケース
− 磁気テープ用リール
− リールのロック機構
− リールハブに巻いた磁気テープ
− 書込み禁止機構
− テープリーダ
構成要素の寸法の規定は，カートリッジを用いて情報交換及び互換性上必す（須）のパラメータを表す。
それ以外の箇所は，設計の自由度がある場合には，機能的特性だけを示す。
寸法は，三つの直交する基準面A，基準面B及び基準面Cに基づく。カートリッジを装着した場合，寸
法は，カートリッジの他の面を基準としてもよい。
カートリッジの具体図は，次による。
図6
カートリッジの外観
図7
基準面A， 基準面B及び基準面C
12
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図8
カートリッジの底面
図9
カートリッジの右側面
図10 カートリッジの後面
図11 カートリッジの左側面
図12 非動作状態のカートリッジの部分断面図
図13 動作状態のカートリッジの部分断面図
図14 リーダとテープの接合位置
図15 スプライステープの接合位置
図16 テープリーダ
図17 カートリッジの前面
図18 カートリッジの後面のドアロック位置
図19 カートリッジのリーダチップの位置
カートリッジの外観を図6に示す。カートリッジが動作状態にないとき，磁気テープのリールは，ロッ
クされ，回転しない。カートリッジを装置に装着する場合，後面を最初に挿入し，前面は，動作中見える
こととする。カートリッジを装着する過程で，テープリールは，ロックを解除し，カートリッジは，ケー
スの部品とかみ合う装置の部品によって，装置内に固定する。
ケースの基準面A，基準面B及び基準面Cを図7に示す。上面を基準面A，右側面を基準面B及び後面
を基準面Cとする。
10.1 底面及び側面（図8及び図9） カートリッジ全体の寸法は，次による。
l1 = 105.79 mm±0.20 mm
l2 = 105.41 mm±0.20 mm
l3 = 25.40 mm±0.25 mm
底面の窓の位置及び寸法は，次による。
l4 = 6.25 mm±0.10 mm
l5 = 4.85 mm±0.05 mm
l6 = 84.07 mm±0.20 mm
l7 = 3.81 mm±0.05 mm
装置のフィンガの一つが窓からケース内に貫通し，テープリールのロックを一部解除する（10.6参照）。
底面の位置決め孔，右側面のガイドノッチ及び位置決めノッチによって，カートリッジの装置内の位置
を決定する。
位置決め孔の寸法及び位置は，次による。
l8 = 21.59 mm±0.10 mm
l9 =
mm
mm
45
.4
13
.00
+
l10 = 2.79 mm±0.05 mm
l11 = 44.58 mm±0.20 mm
位置決めノッチの寸法及び位置は，次による。
l12 = 5.56 mm±0.10 mm
l13 = 33.30 mm±0.20 mm
l14 = 5.08 mm±0.10 mm
h1 = 9.02 mm±0.10 mm
13
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a1 = 14°± 30ʼ
ガイドノッチの寸法及び位置は，次による。
l15 = 8.59 mm±0.10 mm
l16 = 24.64 mm±0.10 mm
l17 = 1.50 mm±0.05 mm
a2 = 45°± 30ʼ
a3 = 14°± 30ʼ
カートリッジ右側面の手動の書込み禁止スイッチ（10.5参照）表示の寸法及び位置は，次による。
l18 = 8.64 mm±0.10 mm
l19 = 5.08 mm±0.10 mm
l20 = 86.11 mm±0.20 mm
l21 = 10.16 mm±0.10 mm
書込み禁止表示の表面がカートリッジの側面と同一面になるとき，記録可能とする。この面が，5.1 mm
くぼんでいるとき，書込み禁止とする。表面の中心に垂直方向に最大1.0 Nの力が加えられても，基準面
Bから0.5 mm以上くぼんでいてはならない。
10.2 後面及び左側面（図10及び図11） 後面の窓の寸法及び位置は，次による。
l22 = 8.76 mm±0.10 mm
l23 = 4.25 mm±0.10 mm
l24 = 4.45 mm±0.10 mm
l25 = 8.89 mm±0.10 mm
装置の残りのフィンガの一つが，窓からケース内に貫通し，テープリールのロックを完全に解除する
（10.6参照）。
扉は，後面と左側面との角に装着し，回転しなければならない（10.6参照）。
l26 = 61.47 mm±0.20 mm
l27 =
mm
mm
65
.9
13
.00
+
l71 = 41.9 mm±0.20 mm
l72 =
mm
mm
18
.6
18
.00
+
10.3 テープリール（図8，図12及び図13） ケースの底面は，装置スピンドルが，リールハブに接触し，
トルクを伝達できるように丸窓を設けなければならない。
丸窓の直径は，次による。
d1 = 35.05 mm±0.08 mm
丸窓の中心の位置は，次による。
l69 = 50，42 mm±0.31 mm
l70 = 52.83 mm±0.10 mm
スピンドル及びハブは，ハブに均等に配列した48個の歯で接触する。非動作時，ハブの表面は，ケース
の外面よりくぼむこととし，その寸法は，次による。
l28 = 0.38 mm±0.05 mm
歯形は，直線の側面で構成する。歯の包囲寸法は，次による。
d2 = 23.88 mm±0.13 mm
d3 = 29.21 mm±0.13 mm
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d4 = 34.29 mm±0.13 mm
a4 = 22°± 30ʼ
a5 = 15°± 30ʼ
ここに，d3は，歯のピッチ径とする。
動作時，基準面Aからハブまでの距離は，次による。
l29 = 23.55 mm±0.10 mm
10.4 テープリーダ（図14，図15及び図16） リーダとテープの接合部及びテープの終端を基準として
BOT及びEOTの位置は，次による。
リーダとテープの接合部からBOTまでの距離は，次による。
l30 = 13 260 mm±150 mm
テープの終端は，ハブに固定し，その終端からEOTまでの距離は，次による。
l31 = 6 096 mm±150 mm
BOT孔及びEOT孔の直径は，次による。
d5 = 4.78 mm±0.10 mm
テープ，テープリーダ及びスプライステープの位置関係の寸法は，次による（図15参照）。
11.81 mm ≦ l32 ≦ 20.32 mm
l33 ≧ 0.25 mm
l54 ≧ 0.41 mm
l35 ≦ 0.00 mm
l36 ≧ 0.20 mm
l34，l35及びl36は，相互に関連する。l35は，スプライステープが，テープ又はリーダの両縁をはみ出して
はならないことを示す。
最大22.2 Nの張力をスプライステープの長手方向に加えたとき，スプライステープは，結合を維持しな
ければならない。リーダの寸法は，次による（図16参照）。
l37 = 12.65 mm
00
.010
.0
+−
mm
l38 = 309.63 mm±0.30 mm
l39 = 130.96 mm±0.10 mm
l40 = 22.35 mm±0.10 mm
l41 = 8.13 mm±0.10 mm
l42 = 3.05 mm±0.05 mm
l43 = 2.95 mm±0.05 mm
l44 = 2.79 mm
13
.000
.0
+−
mm
l45 =18.54 mm±0.10 mm
l46 = 8.69 mm±0.10 mm
l47 = 5.89 mm±0.10 mm
l48 = 6.33 mm±0.10 mm
l49 = 3.40 mm±0.05 mm
l50 = 3.73 mm±0.05 mm
l51 = 5.00 mm±0.05 mm
l52 = 7.47 mm±0.10 mm
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l53 = 6.86 mm±0.10 mm
l54 = 8.15 mm±0.10 mm
l55 = 2.24 mm±0.10 mm
l56 = 3.40 mm±0.05 mm
l57 = 6.325 mm±0.001 mm
r1 = 4.98 mm±0.05 mm
r2 = 15.01 mm±0.10 mm
r3 = 10.21 mm±0.10 mm
r4 = 3.40 mm±0.05 mm
r5 = 4.00 mm±0.01 mm
a6 = 5°± 30ʼ
a7 = 15°± 30ʼ
a8 = 60°± 30ʼ
リーダの形状は，10.6による。
10.5 前面（図17） 手動による書込み禁止スイッチの寸法は，次による。
l58 =
mm
mm
29
.
18
020
.0
−
l59 = 26.60 mm±0.20 mm
スイッチは，2端子型とし，ケースの右側面の書込み禁止表示に連動しなければならない。スイッチの
動作に要する力は，連動方法による。
前面は，ラベル用領域とし，その寸法は，次による。
l60 = 54.40 mm±0.20 mm
l61 = 18.40 mm±0.20 mm
l62 = 21.40 mm±0.20 mm
l63 = 0.76 mm±0.10 mm
10.6 カートリッジの動作（図18及び図19） カートリッジを装置に装着するとき，カートリッジの動作
シーケンスは，次による。
a) 基準面Aから扉の可動ロックの下辺までの距離は，次による。
l64 = 14.50 mm±0.20 mm
装置のカムがロックを起こし，扉のロックを解除する。扉は，ロックの下辺が，1.0 mm以上移動し
たとき，解除しなければならない。
扉は，装置によって90°開き，105°まで回転できなければならない。扉が開口位置のとき，後面
の領域は，制限部分を除いて，操作できなければならない。その制限領域は，次による。
l65 = 35.79 mm±0.20 mm
この位置で，左側面に沿う空間は，装置の部品がl26及びl27による突起に接触してはならない（図
11参照）。
この空間の範囲は，次による。
l66 = 3.40 mm±0.05 mm
b) 装置のフィンガは，l22〜l25による窓を通して，ケース内に貫通し，リールのロックを一部解除する（図
10参照）。ロック機構の装置側の部品の貫通する距離は，8 mm±1 mmとし，動作に要する力は，3.3 N
±0.4 Nとする。
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c) カートリッジを完全に装置内に装着したとき，カートリッジは，右側面の位置決めノッチ及び底面の
位置決め孔（図8参照）にかみ合う装置の部品によって位置を保持する（図8及び図9参照）。
装置の第2フィンガは，l4〜l7による底面の窓を通して，ケース内に貫通し，リールのロックを完全
に解除する。貫通する距離及び動作に要する力は，b) による。
d) 装置のスピンドルは，ハブの歯にかみ合いリールを動作可能状態に置き（図13参照），テープリール
の保持に要する力を6.0 N±0.5 Nとする。
e) 装置内にカートリッジを完全に装着したとき，テープリーダの先端は，次による（図18及び図19参
照）。
l67 = 4.42 mm±1.52 mm
l68 = 49.28 mm±1.27 mm
f)
カートリッジが装置内で動作可能状態のとき（図13及び図19参照），装置内のテープリールハブのド
ライブリーダが，カートリッジからテープを引き出す。装置リーダの先端は，テープリーダの主孔の
形状に適合し，かつ，かみ合う設計とする。装置リーダは，図16のBに示す孔に対応する孔をもつ。
テープリーダを装置リールハブに巻いたとき，リーダの結合部が両孔の間に入るよう，両孔の寸法及
び位置を決める。
主孔の終端からストップエッジまでの距離は，長手方向にl40とする（図16参照）。テープをカート
リッジ内に完全に巻き戻すとき，ストップエッジが停止する受け台をケースに取り付ける。
テープリーダの細長い孔にかみ合う部品及び受け台は，l67及びl68の寸法とする。
テープリーダ及び受け台は，テープリーダを152〜178 mm/秒の速度で引き込むとき，リールを完全
に止める衝撃に耐えなければならない。リールを完全にロックし，カートリッジを装置から排出する
まで，ストップエッジは，1.1〜1.7 Nの力で受け台に保持しなければならない。
10.7 テープの巻き方 テープは，ハブに磁気塗布面を内側にして巻かなければならない。テープは，カ
ートリッジを上から見たとき，順方向に再生又は記録動作中，反時計方向に巻き取る。
テープを巻く張力は，1.11 N±0.28 Nとする。
10.8 慣性モーメント リールにテープを完全に巻いたときの直径は，84.75〜91.19 mmとする。
慣性モーメントは，次による。
− リールにテープを完全に巻いたとき：131×10-6 kg･m2〜160×10-6 kg･m2
− リールが空のとき：19×10-6 kg･m2〜23×10-6 kg･m
10.9 材料 カートリッジの材料は，この規格の要求事項を満足すればよい。例えば，ハブ及びケースは，
ガラスを10 ％含むポリカーボネイトとし，厚さは1.5 mmとする。
リーダテープは，着色したポリエチレンテレフタレートのような半透明な材料とする。
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図 6 カートリッジの外観
図 7 基準面A，基準面B及び基準面C
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図 8 カートリッジの底面
図 9 カートリッジの右側面図
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図 10 カートリッジの後面
図 11 カートリッジの左側面
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図 12 非動作状態のカートリッジの部分断面図
図 13 動作状態のカートリッジの部分断面図
図 14 リーダ及びテープの接合位置
図 15 スプライステープの接合位置
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図 16 テープリーダ
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図 17 カートリッジの前面
図 18 カートリッジの後面のドアロック位置
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図 19 カートリッジのリーダチップの位置
11. 記録方式 記録方式は，2-7RLL（Run Length Limited）とし，次による。
− “1”は，ビットセルの中央で磁束反転する。
− “0”は，ビットセルが磁束反転しない。
− 二つの連続する1の間の0の数は，最小2個，最大7個までとする。
入力ビット列を媒体に記録するチャネルビット列に変換する方法は，表1による。
表 1 コード変換
入力ビット列
チャネルビット列
10
11
000
010
011
0010
0011
0100
1000
000100
100100
001000
00100100
00001000
11.1 物理記録密度 最大物理記録密度は，2 578 ftpmmとする。
11.2 チャネルビットセル長 最大記録密度に相当する公称チャネルビットセル長は，0.129 μmとする。
11.2.1 平均チャネルビットセル長 平均チャネルビットセル長は，nチャネルビットセル長の全長の合計
をnで除したものとする。
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11.2.2 長周期平均チャネルビットセル長 長周期平均チャネルビットセル長は，1 000 000個のチャネル
ビット以上にわたる平均チャネルビットセル長とし，その値は，公称チャネルビットセル長の2.25 ％以内
とする。
11.2.3 短周期平均チャネルビットセル長 短周期平均チャネルビットセル長は，10個のチャネルビット
にわたる平均とし，その値は，公称チャネルビットセル長の5 ％以内とする。
11.3 磁束反転間隔 磁束反転の間隔は，再生記録過程，記録パターン（波形干渉効果）及びその他の要
因によって影響を受ける。
ピークシフト比は，主基準テープのピークシフト比をnとし，8.5によって測定したとき，(n‒3)〜(n+3) ％
とする。
主基準テープのピークシフトの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
11.4 再生信号振幅 再生信号振幅は，再生ヘッド部の磁束変化に比例する信号が得られる再生チャネル
部で測定する。
情報交換用カートリッジの平均信号振幅は，SRAの75〜125 ％とする。
情報交換用カートリッジの信号振幅の平均は，ブロックで分割してもよいが，ミッシングパルスのない
箇所で測定しなければならない。
SRAは，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
11.5 アジマス 磁束反転は，テープの基準縁に対し垂直に記録する。
逆方向調整用トラック（12.4参照）のアジマスは，10′を超えてはならない。
奇数物理トラックのアジマスは，+9.41°± 0.03°とする。
偶数物理トラックのアジマスは，‒9.41°± 0.03°とする。
11.6 チャネルスキュ 論理トラック（12.5.2参照）を構成する物理トラックのチャネルビット間の偏差は，
どの物理トラックの対をとっても200ビットセル長を超えてはならない。
12. テープフォーマット
12.1 基準縁 基準縁は，BOTを左にEOTを右にしてテープの磁性面を見たとき，下側の縁とする。
12.2 記録の方向 記録の方向は，2方向とする。
− 順方向は，BOTからEOTとする。
− 逆方向は，EOTからBOTとする。
12.3 テープ上の配置 テープは，二つのエリアからなる。
− 調整エリア及びディレクトリエリア
− データエリア
図 20 テープ上の配置
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12.4 調整エリア及びディレクトリエリア 調整エリア及びディレクトリエリアは，図21及び図22に示
すように，その長さは，リーダスプライスからBOTまで13 260 mm±150 mmとする。
図 21 調整エリア及びディレクトエリア
12.4.1 スクラッチエリア スクラッチエリアは，リーダスプライスの終わりから始まり，BOTから2 692
mm±50 mmとする。スクラッチエリアは，装置の利得及び記録電流などの設定に用いる。
12.4.2 保護エリアG1 保護エリアG1は，スクラッチエリアの終端から始まり，BOTから2 388 mm±50
mmとする。
12.4.3 調整用トラックエリア 調整用トラックエリアは，保護エリアG1の終わりから始まり，BOTから
914 mm±50 mmとする。調整用トラックエリアは，0.215 9 mm±0.012 7 mm幅の4調整用トラックとし，
次による。
順方向調整用トラック2（FCT2） FCT2の中心線は，基準縁から0.908 mm±0.030 mmとする（図22参
照）。
FCT2は，保護エリアG1の端から始まり，BOTから2 108 mm±50 mmまで，正アジマス角＋9.41°±0.03
及び2 f =2 578 ftpmm±44 ftpmmで記録し，BOTから914 mm±50 mmまで1f =1 289 ftpmm±22 ftpmmで記
録する。
順方向調整用トラック1（FCT1） FCT1の中心線は，FCT2の中心線から6.633 mm±0.030 mmとする。
FCT1は，FCT2と同様の記録とする。
逆方向調整用トラック2（RCT2） RCT2の中心線は，基準縁から1 505 mm±0.030 mmとする。
RCT2は，保護エリアG2の終わりから始まり，BOTから1 219 mm±50 mmまで，2 f =2 578 ftpmm±44
ftpmmで記録し，BOTから2 388 mm±50 mmまで1f =1 289 ftpmm±22 ftpmmで記録する。
逆方向調整用トラック1（RCT1） RCT1の中心線は，RCT2の中心線から5.334 mm±0.030 mmとする。
RCT1は，RCT2と同様の記録とする。
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図 22 調整トラックエリア
12.4.4 保護エリアG2 保護エリアG2は，調整用トラックエリアの終わりから始まり，BOTから762 mm
±50 mmで終わるものとする。
12.4.5 ディレクトリエリア ディレクトリエリアは，保護エリアG2の終わりから始まり，BOTから152
mm±50 mmで終わるものとする。ディレクトリエリアは，FCT1及びFCT2の中心線上方の2.604 mm±0.030
mmに中心線をもつ2物理トラック上に記録する。
ディレクトリエリアは，テープ記録についての製造情報を記録する。この情報は，逆方向についても記
録し，ディレクトリエリアの終わりから記録する。ディレクトリエリアの内容は，データ交換では無視す
る。
12.4.6 保護エリアG3 保護エリアG3は，ディレクトリエリアの終わり（12.4.5参照）から始まり，BOT
までとする。
12.5 データエリア データエリアは，ホストから装置に転送し，13. によって記録するデータとする。記
録するデータの容量は，最大208物理トラックまで要求してもよいが，208物理トラックに満たない場合
もある。データエリアの規定は，次による。
12.5.1 物理トラック データエリアの208物理トラックは，物理トラック番号によって識別する。物理ト
ラック208は，基準縁から最も遠く，物理トラック1は，基準縁に最も近いこととする。
12.5.1.1 物理トラック幅 物理トラックの幅は，0.043 18 mm±0.012 70 mmとする。
12.5.1.2 物理トラックの位置 物理トラックの中心線の位置は，二つの順方向調整用トラックの中心線の
位置に関係する。
二つの順方向調整用トラックの位置に対する物理トラックの中心線の位置は，表2による。正のオフセ
ットは，物理トラックが基準となる調整用トラックよりも上に位置することを表し，負のオフセットは，
基準調整用トラックよりも下に位置することを表す。
0，25，26及び51の論理トラック（12.5.2参照）の物理トラックは，他の物理トラック幅より広くても
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よい。トラックの利用できる部分の中心線は，前に記録した隣接トラックの中心線から0.044 45 mm±
0.003 20 mmとする。
表 2 物理トラックの位置
物理トラック番号 n
物理トラックの位置 公差：±0.003 20
1
FCT2 − 0.377 83
2
FCT2 − 0.428 63
3〜 26
FCT2 − [0.387 35 ＋ (n−1) 0.044 45]
27
FCT2 ＋ 2.885 87
28
FCT2 ＋ 2.936 87
29〜 52
FCT2 ＋ [01.739 90 ＋ (n−27) 0.044 45]
53〜 78
FCT2 ＋ [2.927 35 ＋ (n−53) 0.044 45]
79〜104
FCT2 ＋ [4.279 90 ＋ (n−79) 0.044 45]
105
FCT1 − 0.993 77
106
FCT1 − 0.942 97
107〜130
FCT1 − [0.984 25 ＋ (n−105) 0.044 45]
131
FCT1 ＋ 0.358 77
132
FCT1 ＋ 0.409 57
133〜156
FCT1 ＋ [0.368 30 ＋ (n−131) 0.044 45]
157〜182
FCT1 ＋ [1.555 75 ＋ (n−157) 0.044 45]
183〜208
FCT1 ＋ [2.908 30 ＋ (n−183) 0.044 45]
12.5.1.3 データエリアのトラックの配置 データエリアのトラックの配置は，図23による。
図 23 データエリアのトラックの配置（0≦n≦102）
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12.5.1.3.1 順方向トラック 奇数番号をもつ物理トラックは，順方向（BOTからEOT）に記録し，次によ
る。
保護エリアG4 保護エリアG4は，BOTから3 073 mm±76 mmとする。
保護エリアG6 保護エリアG6は，EOTまで1 524 mm以上とする。順方向トラックは，保護エリアG6
で終わる。
参考 ISO/IEC 13421，ISO/IEC 13962及びISO/IEC 14833は，トラックが，保護ゾーンG4，2 fの記
録ゾーン及び保護ゾーンG5からなる3ゾーン部から始まり，保護ゾーンG6で終わると規定し
ている。ISO/IEC 15307及びISO/IEC 15898同様この規格では，3ゾーンを保護ゾーンG4だけ
とする。名称の統一及び関連する規格間の比較を簡単にするために，12.5.1.3.1及び12.5.1.3.2
では，G5とはせず，G6と表す。
12.5.1.3.2 逆方向トラック 偶数番号をもつ物理トラックは，逆方向（EOTからBOT）に記録し，次によ
る。
保護エリアG4 保護エリアG4は，EOTから3 073 mm±76 mmとする。
保護エリアG6 保護エリアG6は，BOTまで1 524 mm以上とする。逆方向トラックは，保護エリアG6
で終わる。
12.5.2 論理トラック 論理トラックは，4物理トラックによって構成し，同時に記録・再生する。
論理トラックは，番号0〜51で識別し，0から始まり，論理トラック番号の昇順で記録する。
偶数番号の論理トラックは，奇数番号の物理トラックの上に順方向で記録する。
奇数番号の論理トラックは，偶数番号の物理トラックの上に逆方向で記録する。
論理トラックに対する物理トラックの配置は，表3に示す。
表 3 論理トラックに対する物理トラックの配置
論理トラック番号χ
物理トラック番号
0 ≦χ≦ 25
(χ＋1) (χ＋27) (χ＋105) (χ＋131)
26 ≦χ≦ 51
(χ＋27) (χ＋53) (χ＋131) (χ＋157)
論理トラック0，25，26及び51と物理トラックの関係は，図24による。
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図 24 論理トラックの例
13. データフォーマット ホストは，装置にデータをレコードとして転送する。レコードは，1バイト以
上とし，その内容は，データの送信者及び受信者間の合意事項であり，この規格では規定しない。
このフォーマットで許容する最大レコードの大きさは，224 ‒1バイトとする。
13.1 データバイト データバイトは，次による。
− ホストが転送する利用者バイト
− MAPエントリ（13.6.3.3参照）を構成する8バイトグループ
− すべて0に設定するパッドバイト
13.2 データブロック ホストから受信後，レコードは，8 208データバイトを単位とするグループに配分
する。各グループは，次の要素を付加する。
− プリアンブル（13.6.1参照）
− 同期（Sync）（13.6.2参照）
− 16ビットCRC（13.6.3.1a参照）
− 2EDCバイト（13.6.4参照）
− 2パッドバイト（図24参照）
− コントロールフィールド1（13.6.5参照）
− コントロールフィールド2（13.6.6.参照）
− 64ビットCRC（13.6.7参照）
− ポストアンブル（13.6.8参照）
8 208バイトグループは，9要素を付加し8 450バイトのデータブロックを形成する。
30
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13.3 ブロックのタイプ ブロックのタイプは，次の5個とする。
データブロック（14.1参照）
フィラーブロック（14.2参照）
トラックの終端（EOTR）（14.3参照）
データの終端（EOD）（14.1参照）
ECCブロック（14.5参照）
13.4 実体 ブロックは，EOTRブロック及びEODブロック（15. 参照）を除き，実体に記録する。実体
は，同じ論理トラック内で記録を完了する。
ブロックは，公称0.303 mmの直流消去したギャップを設け，その再生信号振幅は，平均信号振幅の5 ％
未満とする。
実体のフォーマットは，15. による。
13.5 実体集合 実体集合は実体の集合とし，実体集合中の実体の数を実体個数とする。このサイズは，
最大3とする。実体集合のフォーマットは，16. による。
13.6 ブロックフォーマット ブロックフォーマットは図25とし，ECCブロックは14.5による。
バイト数
フィールド
97
プリアンブル
1
同期 (Sync)
可変長
ページ1：レコード番号1及びCRC
可変長
ページ2：レコード番号2及びCRC
：
・
：
・
可変長
ページ(n−1)：レコード番号(n−1)及びCRC
可変長
ページn：レコード番号n及びCRC
データ
可変長
必要な場合パッドバイト
フィールド
8
ページnのMAP
8 208バイト
8
ページ (n−1) のMAP
：
・
：
・
8
ページ2のMAP
8
ページ1のMAP
2
EDC
2
パッドバイト
20
CF1
16
CF2
8
CRC
96
ポストアンブル
図 25 ブロックフォーマット
13.6.1 プリアンブル このフィールドは，776個の1を設定する。
13.6.2 同期（Sync） このフィールドは，01101111を設定し，次がデータフィールドの最初のバイトで
あることを表す。
31
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13.6.3 データフィールド ブロックのデータフィールドは，パッドバイトを含め8 208バイトとし，可変
長の1以上のページ及び8バイトのMAPエントリを配置する。MAPエントリは，各ページに対応し，ペ
ージは，バイト99からとし，バイト位置の昇順に配置する。MAPエントリは，バイト8 307からとし，
バイト位置の降順に配置する。
ページは，可変長のレコード又はレコードの一部を含み，レコードバイト数が奇数の場合，1パッドバ
イトを付加し補正する。
1レコードは，1) すべてがこのデータブロックに含まれる場合，2) このデータブロックで開始し，続く
データブロックで終了する場合，3) 前のデータブロックで開始し，このデータブロック若しくは次のデー
タブロックで終了する場合の3種類とする。
タイプが異なるブロックのデータフィールドは，ブロックに関する項目で規定する。
13.6.3.1 ページの配置 ページ内のバイト数は，4の倍数とする。
a) ページごとにレコードは，16ビットのCRC（附属書D参照）を付加する。ただし，d)，e) 及びf) は，
例外とする。
b) ページのレコードデータバイト数とCRCの和が4の倍数のとき，次のページに移る。
c) ページのレコードデータバイト数が4の倍数のとき，CRCに続き，2パッドバイトを付加しページを
完成する。
d) レコード又はレコードの一部が8 208バイトのとき，CRCは，次のデータブロックの第1ページに記
録し，第1ページは，CRC及び2パッドバイトとする。
e) レコードの開始及び終了がこのデータブロック以外のデータブロックとなる場合，このデータブロッ
クに記録するレコードは，CRCを付加しない。
f)
データブロックで開始したレコードが，次のデータブロックに連続する場合，このデータブロックは，
CRCを付加しない。
13.6.3.2 パッドバイト ページ終了後パッドバイトは，データを補完し，MAPエントリがバイトに対応
する。ページタイプは，フィラーとする（13.6.3.3参照）。
データフィールドの余りが6バイト以下のとき，MAPエントリの余地がなく，新しくページを開始して
はならない。
13.6.3.3 MAPエントリ MAPエントリは，8バイトとし，ページの属性を規定する。MAPエントリは，
図26とし，テープへ記録する場合，附属書Eのフォーマットによる。
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フィールド
設定
ページタイプ
3ビット
001 フィラー
010 データ
011 テープマーク
Nビット
0：レコードは，このデータブロックで終了
1：レコードは，次のデータブロックに継続
Pビット
0：レコードは，このデータブロックから開始
1：レコードは，他のブロックから開始
Lビット
0：MAPの継続
1：最後のMAP
Iビット
0に設定
Cビット
0：非圧縮レコードデータ
1：圧縮レコードデータ
グループレコード数
1バイト
1：レコードは，グループレコードではない
2〜255：グループレコードとし，グループレコードを構
成するサブレコード数による
0：使用を禁止する
ページバイトカウント
16ビット
ページの利用者バイト及び／又はパッドバイトの数
レコードバイトカウント
32ビット
レコードのバイト総数
図 26 MAPエントリの内容
ページタイプがフィラー又はテープマークのとき，ページバイトカウントは，データフィールドのパッ
ドバイト数とし，レコードバイトカウントは，無視する。
13.6.4 EDC EDCは，データフィールドの8 208バイトにわたって計算した16ビットとし，2バイトと
する。
EDCは，データフィールドの8 208バイトからなる4 104個の16ビットデータワードについて生成した
結果を16ビットのワードで表す。第1データバイトは，第1データワードの下位とし，第2データバイト
を第1データバイトの上位とする。以下，同様にデータワードを作成する。EDCは，1≦i≦4 104の4 104
データワードを用い，次の生成方法による。
EDC0に，(00) (45)を設定する。
EDCiに，EDCi-1⊕（データワード）iを設定する。
EDCiを左へ1ビットシフトし，最上位ビットを最下位ビットへ巡回する。
ここに，⊕は，Exclusive ORとする。
この生成法によって生成したEDC4104は，ブロックフォーマットのバイト位置8 308及びバイト位置8 309
の16ビットパターンとなる。
13.6.5 コントロールフィールド1（CF1） CF1は，160ビットフィールドとし，ブロックの属性を表す。
CF1は図27とし，テープへ記録する場合，附属書Fのフォーマットによる。
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ビット数
フィールド
26
0に設定
6
フォーマット
24
テープマーク
8
圧縮
32
オブジェクト番号
16
レコードブロックの連続番号
4
連続ファイルマークオフセット
12
連続ファイルマーク番号
3
ブロックタイプ
1
終端予告
4
実体個数
24
実体集合バックリンク
図 27 コントロールフィールド1の内容
フォーマットは，ECCブロックには適用しない（14.5参照）。
13.6.5.1 予約フィールド 予約ビットは，0に設定する。
13.6.5.2 フォーマット このフィールドは，000110に設定する。
13.6.5.3 テープマーク このフィールドは，テープマークタイプのページを含むブロックが最初に現れる
まで，0に設定する。
このフィールドは，テープマークタイプのページを含むブロックに先行するデータブロックの序数を2
進数で表す。
EOTRブロック及びEODブロックは，このフィールドをすべて0に設定する。
13.6.5.4 圧縮 このフィールドは，適用する圧縮アルゴリズムの識別子を2進数で表す。適用しない場合，
0に設定する（ISO/IEC 11576参照）。
13.6.5.5 オブジェクト番号 このフィールドは，テープ上のすべてのレコード及びテープマークタイプの
ページの計数を表し，最初を1とし，レコード及びテープマークタイプのページごとに1を加算する。
EOTRブロック及びEODブロックは，このフィールドをすべて0に設定する。
13.6.5.6 レコードブロックの連続番号 このフィールドは，レコードが1ブロックを超える場合，ブロッ
クの連続番号を表し，最初を1とし，ブロックが増えるごとに1を加算し，2進数で表す。
レコードがブロックを超えない場合，このフィールドは，すべて0に設定する。
13.6.5.7 連続ファイルマークオフセット このフィールドは，グループ（13.6.5.7参照）内のテープマー
クタイプのページ数を2進数で表す。グループは，第2ページに対応する2を最小値とする。
13.6.5.8 連続ファイルマーク番号 このフィールドは，2個以上連続するテープマークタイプのページの
グループの計数を表し，最初を1とし，グループごとに1を加算する。グループは，テープマークタイプ
のページを含まない1以上のデータブロックによって分離する。
13.6.5.9 ブロックタイプ このフィールドは，3ビットとし，ブロックのタイプを表す。
ビットパターン
ブロックのタイプ
000
フィラーブロック
001
データブロック
011
トラックの終端
100
データの終端
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101
ECCブロック
これ以外のビットパターンは，この規格では使用できない。
13.6.5.10 終端予告 終端予告ビットは，論理トラック0〜50では0に設定する。終端予告ビットは，論
理トラック51では，終端予告信号を生成するまで0に設定し，終端予告信号生成後は，残りの全論理ブロ
ックに対して1に設定する。
終端予告信号は，順方向トラックでは，少なくともEOTの手前1 650 mmで生成し，逆方向トラックで
は，少なくともBOTの手前1 650 mmで生成する。
13.6.5.11 実体個数 このフィールドは，実体集合中の実体数を表す。
13.6.5.12 実体集合バックリンク このフィールドは，先行実体集合の最終ブロックのブロックオフセッ
トとし，論理トラック0の先頭実体集合の場合，すべてのブロックに対して0に設定する。その他の論理
トラックの先頭実体集合の場合，先行する論理トラックの最終実体集合の最終ブロックによるブロックオ
フセットを保持する。
13.6.6 コントロールフィールド2（CF2） このフィールドは，128ビットとし，ブロックの属性を表し，
ブロックを記録する実体と実体集合について表す。
CF2は，図28とし，テープへの記録は，附属書Gのフォーマットによる。
ビット数
フィールド
5
0に設定
5
実体オフセット
32
ブロックオフセット
24
実体集合の先頭オブジェクト番号
5
実体サイズ
1
レコードの先頭ブロック
8
実体番号
16
実体集合番号
24
ランダムタグ
1
Kビット
7
論理トラック番号
図 28 コントロールフィールド2の内容
13.6.6.1 実体オフセット このフィールドは，実体の連続するブロックの序数を2進数で表し，先頭ブロ
ックを1とし，連続するブロックごとに1を加算する。
13.6.6.2 ブロックオフセット このフィールドは，ブロックの序数を2進数で表し，先頭ブロックを0と
し，同一の論理トラックに記録するごとに1を加算する。
13.6.6.3 実体集合の先頭オブジェクト番号 このフィールドは，実体集合の先頭ブロックのオブジェクト
番号を表す。
13.6.6.4 実体サイズ このフィールドは，実体のブロックの数とし，フィラーブロックは除外する。
13.6.6.5 レコードの先頭ブロック このビットは，ブロックがレコードの先頭ブロックのとき，1に設定
し，それ以外のとき，0に設定する。
13.6.6.6 実体番号 このフィールドは，実体集合中の実体の序数とし，下位4ビットは，この序数を表す。
上位4ビットは，論理トラック0の先頭実体集合を0とし，テープに記録するごとに1（mod 16）を加算
する。
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13.6.6.7 実体集合番号 このフィールドは，論理トラックの実体集合の序数を表し，先頭実体集合は1と
し，後続する実体集合ごとに1を加算する。
13.6.6.8 ランダムタグ このフィールドは，2進数の乱数で表し，記録時再生検査過程で再生し，生成し
た数値と比較し，検査能力を高める。このフィールドは，情報交換時には，無視する。
13.6.6.9 Kビット 先行する実体集合中に誤りを検出した物理ブロックが存在するとき，始めの4ブロッ
クのKビットは，1に設定する。先行実体集合に誤りブロックの再記録が終了したとき，Kビットは，0
に再設定する。
13.6.6.10 論理トラック番号 このフィールドは，ブロックを記録する論理トラックの論理番号（0〜51）
を2進数で表す。
13.6.7 CRC このフィールドは，64ビットのCRCとし，データフィールド8 208バイト，EDC，2パッ
ドバイト，CF1及びCF2にわたって計算する。CRCの生成方法は，附属書Bによる。
13.6.8 ポストアンブル このフィールドは，768個の1とする。
14. 物理ブロックの使用
14.1 データブロック データブロックは，利用者バイトを含む。利用者データとして使用しないブロッ
クのデータフィールド及びMAPエントリは，いずれのバイトにも1パッドバイトを含むこととする。
14.2 フィラーブロック フィラーブロックは，実体を完結するときにだけ使用する（15. 参照）。
フィラーブロックのデータフィールドは，0に設定する。
14.3 トラックブロックの終端 論理トラックの最後の実体集合処理後，次の論理トラックに記録するデ
ータがない場合，少なくとも11EOTRブロックを最後の実体集合後の論理トラックに記録し，次の論理ト
ラックは，少なくとも11EODブロックの記録から開始する（14.4参照）。
EOTRブロックのデータフィールドは，この規格では規定しない。情報交換時には，無視する。
14.4 データブロックの終端 11EODブロックは，テープに記録するデータの終端を表す。
EODブロックのデータフィールドは，この規格では規定しない。情報交換時には，無視する。
14.5 ECCブロック 4ECCブロックのバイトは，8 208バイトのデータフィールド，2EDCバイト，2パ
ッドバイト及び実体の先行するブロックの最初の16CF1バイト（附属書F参照）にわたって計算する。
4 114ECCの2バイトワードは，バイト位置99〜8 326とし，ECCブロックのCF1は，バイト位置8 327〜
8 330までの4バイトとする。
ECCブロックのCF2は，13.6.6による。
ECCブロックは，13.6.7のCRCによって完結する。
ECCバイトの生成法は，附属書Cによる。
15. 実体のフォーマット 実体は，1〜20の連続した20ブロックとする。1及び2のブロックは，データ
ブロックとし，3〜16までのブロックは，データブロック又はフィラーブロックとする。
− ブロック17は，ECC1ブロックとする。
− ブロック18は，ECC2ブロックとする。
− ブロック19は，ECC3ブロックとする。
− ブロック20は，ECC4ブロックとする。
ECCブロックを計算後，データブロック及びECCブロックはテープに記録し，フィラーブロックは，
テープに記録しない。
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EOTRブロック及びEODブロックは，実体の一部ではない。
16. 実体集合のフォーマット 実体集合内の実体は，実体集合に関する実体の数とする（13.6.6.6参照）。
実体集合は，論理トラックをまたがってはならない。ホストからの記録命令を受け取って記録を開始し，
第1のEODブロックの前のブロックの後に，新しい実体集合を記録する。
17. 誤りの処理 ブロックに誤りが発生したとき，正しく書き込むまで，同じ論理トラックを別の物理ト
ラックに再書き込みする（13.6.6.9参照）。
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附属書A（規定）光透過率の測定法
A.1
概要 この附属書（規定）は，テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。
光透過率は，測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率（％）で表
す。要求値は，A.2.1による二つの波長について5 ％以下とする。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は，次による。
− 光源
− 光検出部
− 測定用マスク
− 光学系
− 測定回路
A.2.1 光源 光源は，次のパラメータをもつ二つの赤外線発光ダイオード（LED）を使用する。
LED 1
波長 ：750 nm ± 50 nm
半値幅：± 50 nm
LED 2
波長 ：1 050 nm ± 50 nm
半値幅：± 50 nm
A.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクは，厚さを2 mmとし，孔の直径（d）をフォトダイオードの受光領
域の80 ％〜100 ％の大きさに設定する。
表面は，黒のつや消しとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないようにマスクに固定する。
A.2.4 光学系（附属書A図1） 光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離（L）は，次
の式による。
α
2tan
d
L=
ここに，
d： mm
α： 光軸上の最大光量に対して95 ％以上の光量がある領域
参考 附属書A図1は，原国際規格のとおりに，機器などの配置を概念的に説明したものであり，定
量的な関係まで示すものではない。定量的関係については，上の式が正しい。
A.2.5 仕上げ 装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路（附属書A図2） 測定回路は，次による。
E
：出力電圧可変の定電圧電源
R
：電流制限用の抵抗器
LED
：赤外線発光ダイオード
Di
：シリコンフォトダイオード
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A
：演算増幅器
Rf0，Rf1 ：帰還用の抵抗器
S
：増幅率切替えスイッチ
V
：電圧計
LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧（E）によって変化させる。
Diは，短絡回路モードで動作させる。
演算増幅器の出力電圧は，次による。
V0 = Ik × Rf
ここに， Ik：Diの短絡回路モードでの電流
出力電圧は，光量に比例する。
Rf0 及び Rf1 は，許容誤差1 ％で，温度による抵抗変化の少ない抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，
次の式による。
20
1
R
R
f1
f0=
A.3 測定法 測定法は，次による。
− スイッチ（S）を位置（0）に設定する。
− 試験片を取り付けないで，電圧計（V）の指示がフルスケール（100 ％）になるように供給電圧（E）
を変化させる。
− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このとき電圧計は，60 ％〜100 ％を示さ
なければならない。
− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ（S）を位置（1）に設定する。このとき，電
圧計のフルスケールは，光透過率5 ％を示す。
− LED1及びLED2についてそれぞれ1回，合計2回測定する。
L
d
マスク
LED
シリコン
フォトダイオード
光軸
テープ
2α
附属書A図 1 工学系の構成
シリコン
フォトダイオード
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R
LED
E
Rf0
Rf1
Di
A
0
1
S
V
附属書A図 2 測定回路
Rf0
Rf1
A
S
0
R
E
LED
Di
V
40
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附属書B（規定）データブロックのCRCの生成法
CRCフィールドは，データフィールドの最初のバイトから始まり，最後のCF2バイトで終わる8 264バ
イトの66 112 ビットにわたって算出し，64ビットとする。
下側のb0ビットで始まるビットは，次の多項式による。
i
i
i
ix
b
x
M
∑
=
=
=
112
66
0
)
(
P(x) = M(x) x64
生成多項式は，次による。
G(x) = x64 + x62 + x57 + x55 + x54 + x53 + x52 + x47 + x46 + x45 + x40 + x39 + x38 + x37 + x35 + x33 + x32 + x31 + x29 + x27 +
x24 + x23 + x22 + x21 + x19 + x17 + x13 + x12 + x10 + x9 + x7 + x4 + x + 1
64ビットのCRCは，P(x)/G(x)の剰余とする。
41
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附属書C（規定）ECCの生成
C.1 4ECCブロックは，ECC1，ECC2，ECC3及びECC4とする（本体の15. 参照）。ECCブロックの8
ビットバイトは，データフィールド，EDC，パッドバイト及び実体の最初の16ブロックのCF1にわたっ
て計算する。
ECCブロックは，ECC1（バイトi），ECC2（バイトi），ECC3（バイトi）及びECC4（バイトi）を元に，
ブロック1（バイトi），ブロック2（バイトi），ブロック3（バイトi）･…及びブロック16（バイトi）と
する。
C.2 ECCブロックのバイトは，次による。
− ECC演算の開始時に，RS1バイト(i， 0)，RS2バイト(i， 0)，RS3バイト(i， 0)及びRS4バイト(i，
0)を0に設定する（ここに，iはブロックのバイト位置とする。）。
− 16バイトのグループは，リードソロモン生成器によって，次による。
ECC1 バイト(i)→RS1 バイト（i，16）
ECC2 バイト(i)→RS2 バイト（i，16）
ECC3 バイト(i)→RS3 バイト（i，16）
ECC4 バイト(i)→RS4 バイト（i，16）
C.3 附属書C図1は，処理の概要を表す。ここに，iは，バイトの位置を表し，j (j=1〜16) は，データブ
ロックの番号とする。
42
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附属書C図 1 ECCブロック
C.4 附属書C図1のマトリックスは，次による。
− マトリックス4
07 = i7 xor i6 xor i5 xor i1;
06 = i6 xor i5 xor i4 xor i0;
05 = i5 xor i4 xor i3;
04 = i4 xor i3 xor i2;
03 = i6 xor i5 xor i3 xor i2;
02 = i7 xor i6 xor i4 xor i2;
入力データ
xor
RS4ﾊﾞｲﾄ(i,j-1)
ﾏﾄﾘｯｸｽ1
ﾏﾄﾘｯｸｽ2
ﾏﾄﾘｯｸｽ3
ﾏﾄﾘｯｸｽ4
xor
RS3ﾊﾞｲﾄ(i,j-1)
RS4ﾊﾞｲﾄ(i,j)
xor
RS3ﾊﾞｲﾄ(i,j)
RS2ﾊﾞｲﾄ(i,j-1)
xor
RS2ﾊﾞｲﾄ(i,j)
RS1ﾊﾞｲﾄ(i,j-1)
RS1ﾊﾞｲﾄ(i,j)
43
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01 = i7 xor i3;
00 = i7 xor i6 xor i2.
− マトリックス3
07 = i7 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2 xori1;
06 = i7 xor i6 xor i4 xor i3 xor i1 xor i0;
05 = i6 xor i5 xor i3 xor i2 xor i1 xor i0;
04 = i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i2 xor i1 xor i0;
03 = i6 xor i5 xor i2 xor i0;
02 = i7 xor i3 xor i2;
01 = i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i3;
00 = i6 xor i5 xor i4 xor i3 xori2.
− マトリックス2
07 = i5 xor i3 xor i2;
06 = i4 xor i2 xor i1;
05 = i3 xor i1 xor i0;
04 = i2 xor i0;
03 = i5 xor i3 xor i2 xor i1;
02 = i5 xor i4 xor i3 xor i1 xor i0;
01 = i7 xor i5 xor i4 xor i0;
00 = i6 xor i4 xor i3.
− マトリックス1
07 = i7 xor i6 xor i5 xor i4;
06 = i7 xor i6 xor i5 xor i4 xor i3;
05 = i6 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2;
04 = i7 xor i5 xor i4 xor i3 xor i2 xor i1;
03 = i5 xor i3 xor i2 xor i1 xor i0;
02 = i6 xor i5 xor i2 xor i1 xor i0;
01 = i7 xor i6 xor i1 xor i0;
00 = i7 xor i6 xor i5 xor i0.
44
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
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附属書D（規定）ページCRCの生成
ページCRCは，ページのレコードのkビットにわたって計算する16ビットの検査符号とする。
kビットのb0〜bk-1は，次の多項式の計数とする。ここに，b0は，下位のビットとする。
i
k
ix
b
x
M
∑
−
=
1
0
)
(
P(x) = M(x) x16
P(x)を，次の生成多項式で除した剰余は，16ビットCRCとする。
x16 + x15 + x2 + 1
45
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
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附属書E（規定）MAPエントリのフォーマット
テープに記録する前のMAPエントリのフォーマットは，附属書E図1による。
ビット位置
フィールド
ビット長
1〜 8
グループレコード数
8
9
Cビット
1
10〜12
ページタイプ
3
13
Nビット
1
14
Pビット
1
15
Lビット
1
16
0に設定
1
17〜24
ページバイトカウント ビット1〜8
8
25〜32
ページバイトカウント ビット9〜16
8
33〜40
レコートバイトカウント ビット17〜24
8
41〜48
レコートバイトカウント ビット25〜32
8
49〜56
レコートバイトカウント ビット1〜8
8
57〜64
レコートバイトカウント ビット9〜16
8
附属書E図 1 MAPエントリのフォーマット
46
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附属書F（規定）コントロールフィールド1のフォーマット
テープに記録する前のCF1フィールドのフォーマットは，附属書F図1による。
ビット位置
フィールド名
ビット長
1 〜 8
テープマーク，ビット17〜24
8
9 〜 10
0に設定
2
11 〜 16
フォーマット
6
17 〜 24
テープマーク，ビット1〜8
8
25 〜 32
テープマーク，ビット9〜16
8
33 〜 36
圧縮ビット，ビット5〜8
4
37 〜 40
圧縮ビット，ビット1〜4
4
41 〜 64
0に設定する
24
65 〜 72
オブジェクト番号，ビット17〜24
8
73 〜 80
オブジェクト番号，ビット25〜32
8
81 〜 88
オブジェクト番号，ビット1〜8
8
89 〜 96
オブジェクト番号，ビット9〜16
8
97 〜 104
レコードブロックの連続番号，ビット1〜8
8
105 〜 112
レコードブロックの連続番号，ビット9〜16
8
113 〜 120
連続ファイルマーク番号，ビット1〜8
8
121 〜 124
連続ファイルマークオフセット
4
125 〜 128
連続ファイルマーク番号，ビット9〜12
4
129 〜 136
実体集合バックリンク，ビット17〜24
8
137
終端予告
1
138 〜 140
ブロックタイプ
3
141 〜 144
実体集合サイズ
4
145 〜 152
実体集合バックリンク，ビット1〜8
8
153 〜 160
実体集合バックリンク，ビット9〜16
8
附属書F図 1 CF1のフォーマット
47
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附属書G（規定）コントロールフィールド2のフォーマット
テープに記録する前のCF2フィールドのフォーマットは，附属書G図1による。
ビット位置
フィールド名
ビット長
1 〜 8
ブロックオフセット，ビット17〜24
8
9
実体オフセット，ビット5
1
10 〜 12
0に設定
3
13 〜 16
実体オフセット，ビット1〜4
4
17 〜 24
ブロックオフセット，ビット1〜8
8
25 〜 32
ブロックオフセット，ビット9〜16
8
33 〜 40
実体集合第1オブジェクト番号，ビット17〜24
8
41 〜 48
実体集合第1オブジェクト番号，ビット25〜32
8
49 〜 56
実体集合第1オブジェクト番号，ビット1〜8
8
57 〜 64
実体集合第1オブジェクト番号，ビット9〜16
8
65 〜 72
実体番号，ビット1〜8
8
73
レコードの第1ブロック
1
74及び75
0に設定
2
76 〜 80
実体サイズ
5
81 〜 88
実体集合番号，ビット1〜8
8
89 〜 96
実体集合番号，ビット9〜16
8
97 〜104
ランダムタグ，ビット9〜16
8
105 〜112
ランダムタグ，ビット17〜24
8
113
Kビット
1
114 〜120
論理トラック番号
7
121 〜128
ランダムタグ，ビット1〜8
8
附属書G図 1 CF2のフォーマット
48
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（参考）輸送条件
この附属書は，カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので，規定の一部ではない。
H.1
環境条件 カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。
H.1.1 未記録カートリッジ
温度
：‒ 23 °C〜48 °C
相対湿度 ：5 ％〜100 ％
期間
：連続10日以内
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
H.1.2 記録済カートリッジ
温度
：5 °C〜32 °C
相対湿度 ：5 ％〜80 ％
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
H.2 安全性 記録済カートリッジの輸送条件は，次による。
H.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策を取ること
が望ましい。
a) カートリッジを変形させるおそれがある，機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1.0 mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。
d) カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃），水などの侵入がない構造とする。
e) カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。
f)
カートリッジの収納箱は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。
H.2.2 極端な温度及び湿度 温度及び湿度の急激な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。
輸送されたカートリッジは，使用環境条件に最低24時間放置する。
H.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による
信号破壊の危険性を最小限にするため，80 mm以上とする。
49
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考）不良テープ
この附属書は，不良テープについて記述するもので，規定の一部ではない。
テープ装置の性能を阻害するテープは，使用禁止テープとする。テープの特性には，テープ装置の性能
を劣化するものがある。高い研磨性，テープ走行部品に対する高い静摩擦係数，エッジの悪い状態，極端
な磨耗粉，テープ層間のスリップ，テープ裏面への磁性層からの転写，粘着スリップの原因，他のテープ
の性能を阻害するテープ成分のにじ（滲）みだしなどである。これらの特性は，テープの性能を劣化させ，
誤りを多く発生させる。
カートリッジに使用禁止テープを入れて，用いてはならない。
50
X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（参考）テープの耐久性
この附属書は，テープの耐久性について記述するもので，規定の一部ではない。
耐久性及び信頼性のテストは，テープ装置についてテープを繰り返し使用したときの磨耗に対する耐性
で評価する。このテストは，テープの寿命又は装置の誤り修復能力のテストではない。
テープメーカから新しいカートリッジの出荷時，次の要求事項を満足することが望ましい。
適切な装置を使用するカートリッジの試験と評価は，次による。テストは，テープと装置の使用環境（本
体6.2参照）で行う。
K.1 テープの耐久性及び信頼性は，データのファイルを繰り返しアクセスして，磨耗に対する耐性で表
す。永久的なミッシングパルスは，10回の連続再生で1回とする。
K.2 20 000パス後，10実体の1実体中の3ブロックに誤りがあるとき，不合格とする。3ブロックすべ
てに，少なくとも1ミッシングパルスがあったことを意味する。
K.3 250 000パス後，10実体の1実体中の5ブロックに誤りがあるとき，不合格とする。5ブロックすべ
てに，少なくとも1ミッシングパルスがあったことを意味する。
K.4 手順 試験の前に，装置は清潔にする。
試験には，4巻以上のカートリッジを使用する。試験領域は，1 m以上又は10実体とする。
試験サイクルは，試験領域の始めの部分から開始し，試験領域に記録の後，始めの部分に戻る。ミッシ
ングパルスが発生した場合，7回まで再生を繰り返した後に，ミッシングパルスとして記録する。
試験中は，テープの走行系を清掃してはならない。
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X 6174：2004 (ISO/IEC 16382：2000)
著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考）カートリッジの操作
この附属書は，カートリッジの操作について記述するもので，規定の一部ではない。
L.1
概要
L.1.1 カートリッジに不必要な物理的衝撃が加わらないようなコンテナで輸送する。
L.1.2 カートリッジは，使用するまで保護ケースに入れる。
L.1.3 テープに汚染又は物理的な損傷を与えるので，カートリッジのリッドを不必要に開けない。テープ
を直接触れない。
L.1.4 カートリッジは，蒸気又は直射日光にさらさない。
L.1.5 使用環境及び保存環境は，清潔にする。
L.1.6 磁界を発生する機器の上又は近くにカートリッジを置かない。
L.2
ラベル
L.2.1 カートリッジメーカが供給するラベルを使用する。他のラベルを使用すると，カートリッジ使用時
に支障がでることがある。
L.2.2 鉛筆，水溶性フェルトペン又は脱落物が発生するおそれがあるラベル書込み装置は，使用しない。
ラベルを，消去したり，交換したりしない。
L.3
保管 カートリッジは，保護ケースに入れて，立てて保管する。