JISX6149:2003 情報交換用８ｍｍ幅，磁気テープカートリッジ－ヘリカル走査記録

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)／財

団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工

業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

JIS X 6149には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）テープの光透過率の測定法

附属書B（規定）テープの研磨性測定法

附属書C（規定）論理ブロックのCRCの生成

附属書D（規定）ECC3チェックバイト

附属書E（規定）データ領域のCRCの生成

附属書F（規定）ECCの生成

附属書G（規定）前置符号器

附属書H（規定）8ビットバイトから10ビットパターンへの変換

附属書J（規定）乱数化

附属書K（規定）サーチフィールドのCRCの生成条件

附属書L（規定）サーチフィールドECC

附属書M（規定）ビットシフトの測定法

附属書N（参考）輸送条件

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

2.1 磁気テープカートリッジ ································································································· 1

2.2 生成システム ················································································································ 1

2.3 受領システム ················································································································ 1

3. 引用規格 ························································································································ 2

4. 定義 ······························································································································ 2

4.1 交流消去 (a.c. erase) ······································································································· 2

4.2 アルゴリズム (algorithm) ································································································ 2

4.3 平均信号振幅 (average signal amplitude) ············································································· 2

4.4 アジマス (azimuth) ········································································································ 2

4.5 裏面 (back surface) ········································································································· 2

4.6 ビットセル (bit cell) ······································································································· 2

4.7 バイト (byte) ················································································································ 2

4.8 カートリッジ (cartridge) ································································································· 2

4.9 チャネルビット (channel bit) ···························································································· 2

4.10 巡回冗長検査文字 [cyclic redundancy check (CRC) character] ················································ 2

4.11 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC)]········································································ 2

4.12 ファイルマーク (file mark) ····························································································· 2

4.13 LBOP (logical beginning of partition) ················································································· 2

4.14 論理ブロック (logical block) ··························································································· 2

4.15 磁気テープ (magnetic tape) ····························································································· 2

4.16 主基準テープ (master standard reference tape) ···································································· 2

4.17 パーティション (partition) ····························································································· 2

4.18 PBOP (physical beginning of partition) ··············································································· 2

4.19 PBOT (physical beginning of tape) ····················································································· 2

4.20 PEOP (physical end of partition) ······················································································· 2

4.21 PEOT (physical end of tape) ····························································································· 2

4.22 物理記録密度 (physical recording density) ·········································································· 2

4.23 リードバック検査 [read back check (RBC)] ········································································ 3

4.24 基準磁界 (reference field) ······························································································· 3

4.25 二次基準テープ [secondary standard reference tape (SSRT)] ·················································· 3

4.26 セットマーク (set mark) ································································································ 3

4.27 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] ····························································· 3

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（3）

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4.28 基準電流 [standard reference current (Ir)] ·········································································· 3

4.29 テープ基準縁 (tape reference edge) ··················································································· 3

4.30 試験記録電流 [test recording current (TRC)]······································································· 3

4.31 トラック (track) ··········································································································· 3

4.32 ティピカル磁界 (typical field) ························································································· 3

5. 表記法 ··························································································································· 3

5.1 数字の表現 ··················································································································· 3

5.2 エンティティの名称 ······································································································· 3

6. 略号 ······························································································································ 3

7. 環境条件及び安全性 ········································································································· 4

7.1 試験環境条件 ················································································································ 4

7.2 使用環境条件 ················································································································ 4

7.3 保存環境条件 ················································································································ 4

7.4 輸送 ···························································································································· 5

7.5 安全性 ························································································································· 5

7.6 難燃性 ························································································································· 5

8. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 5

8.1 概要 ···························································································································· 5

8.2 全体の寸法（図5及び図6） ···························································································· 6

8.3 保持領域 ······················································································································ 6

8.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 6

8.5 窓（図1） ···················································································································· 7

8.6 ローディンググリップ（図5及び図7） ············································································· 7

8.7 ラベル領域（図6及び図8） ···························································································· 7

8.8 基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11） ····································································· 8

8.9 支持領域（図9） ··········································································································· 8

8.10 識別孔（図10，図11及び図12） ···················································································· 9

8.11 書込み禁止孔（図11及び図12） ···················································································· 10

8.12 位置決め面（図4及び図10） ························································································ 10

8.13 リッド（図6及び図13） ······························································································ 10

8.14 リールロック（図16） ································································································· 11

8.15 リール受け孔（図10） ································································································· 12

8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ············································································· 12

8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21） ··································································· 13

8.18 ケース内のテープの位置（図21） ·················································································· 14

8.19 テープ走行領域（図21） ······························································································ 14

8.20 テープ引出し開口部（図10） ························································································ 14

8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24） ··································································· 14

9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 29

9.1 材料 ··························································································································· 29

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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9.2 テープの長さ ··············································································································· 30

9.3 テープの幅 ·················································································································· 30

9.4 連続性 ························································································································ 31

9.5 テープの厚さ ··············································································································· 31

9.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 32

9.7 カッピング ·················································································································· 32

9.8 磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度············································································ 32

9.9 層間の粘着 ·················································································································· 32

9.10 引張強度 ···················································································································· 33

9.11 残留伸び ···················································································································· 33

9.12 磁性面の電気抵抗 ········································································································ 33

9.13 テープの巻き方 ··········································································································· 34

9.14 テープの光透過率 ········································································································ 34

9.15 研磨性 ······················································································································· 34

10. 磁気的特性 ·················································································································· 34

10.1 試験条件 ···················································································································· 34

10.2 ティピカル磁界 ··········································································································· 34

10.3 平均信号振幅 ·············································································································· 34

10.4 分解能 ······················································································································· 34

10.5 信号対雑音比 ·············································································································· 34

10.6 消去特性 ···················································································································· 35

10.7 テープの品質 ·············································································································· 35

11. フォーマット················································································································ 36

11.1 概要 ·························································································································· 36

11.2 物理ブロックのフォーマット ························································································· 37

11.3 サーチフィールドフォーマット ······················································································ 45

11.4 サーボエリア ·············································································································· 47

11.5 トラックの配置 ··········································································································· 47

12. 記録方式 ····················································································································· 50

12.1 記録密度 ···················································································································· 50

12.2 ビットシフト ·············································································································· 50

12.3 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 51

13. トラックの構成 ············································································································ 51

13.1 概要 ·························································································································· 51

13.2 トラック間隔 ·············································································································· 51

13.3 平均トラック間隔 ········································································································ 51

13.4 トラック幅 ················································································································· 51

13.5 トラック角 ················································································································· 51

13.6 トラック長 ················································································································· 51

13.7 ガードバンド ·············································································································· 52

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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13.8 アジマス角 ················································································································· 52

13.9 トラックエッジの直線性 ······························································································· 52

14. テープの配置 ··············································································································· 52

14.1 概要 ·························································································································· 52

14.2 テープ履歴ログ (THL) ································································································· 52

14.3 PBOP ························································································································ 53

14.4 LBOP ························································································································ 53

14.5 データ領域 ················································································································· 53

14.6 EOD ························································································································· 53

14.7 PEOP ························································································································ 53

附属書A（規定）テープの光透過率の測定法 ············································································ 54

附属書B（規定）テープの研磨性測定法··················································································· 57

附属書C（規定）論理ブロックのCRCの生成 ·········································································· 59

附属書D（規定）ECC3チェックバイト ··················································································· 60

附属書E（規定）データ領域のCRCの生成·············································································· 61

附属書F（規定）ECCの生成································································································· 62

附属書G（規定）前置符号器 ································································································· 63

附属書H（規定）8ビットバイトから10ビットパターンへの変換 ················································· 64

附属書J（規定）乱数化 ········································································································ 70

附属書K（規定）サーチフィールドのCRCの生成条件 ······························································ 71

附属書L（規定）サーチフィールドECC ················································································· 72

附属書M（規定）ビットシフトの測定法 ·················································································· 73

附属書N（参考）輸送条件 ···································································································· 75

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6149：2003

(ISO/IEC 18836：2001)

情報交換用8 mm幅，磁気テープカートリッジ −

ヘリカル走査記録 − マンモステープ2様式

Information technology−8mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange−Helical scan recording−Mammoth Tape-2 format

序文この規格は，2001年に第１版として発行されたISO/IEC 18836, Information technology ‒ 8mm wide

magnetic tape cartridge for information interchange ‒ Helical scan recording ‒ MammothTape-2 formatを翻訳し，

技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲この規格は，8mm幅の磁気テープカートリッジの装置間での物理的互換性をとるために物

理的特性及び磁気的特性を規定する。さらに，装置間でのデータ交換ができるよう記録信号品質，マンモ

ステープ-2のフォーマット及び記録方式について規定する。

システム相互の情報交換には，情報交換するカートリッジの情報交換符号並びにラベル及びファイル構

成について情報交換当事者間で最低限の合意が必要である。

備考この規格の対応国際引用規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT(一致している)，MOD（修

正している），NEQ（同等でない）とする。

ISO/IEC 18836:2001, Information technology ‒ 8mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange ‒ Helical scan recording ‒ MammothTape-2 format (IDT)

2. 適合性

2.1

磁気テープカートリッジカートリッジは，この規格のすべての必要要求事項を満たすとき，この

規格に適合する。

2.2

生成システム交換用磁気テープカートリッジを生成する書込み装置は，テープ上に生成するすべ

ての記録がこの規格の必要要求事項に合致しているとき，この規格に適合する。

適合性を表示する場合，ホストシステムからのデータを物理ブロックに配置する前にシステムが一つ以

上の登録済みの圧縮アルゴリズムを採用するかを明示しなければならない。

2.3

受領システム交換用磁気テープカートリッジを受領する装置は，この規格に適合するテープ上の

記録を処理できるときこの規格に適合する。

受領システムは，データ圧縮アルゴリズムの使用を認識しホストシステムへアルゴリズムの登録番号を明示

しなければならない。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格

の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には，適用しない。

JIS X 6136 : 1999 情報交換用データ圧縮−適合化無損失アルゴリズム（ALDC）

備考 ISO/IEC 15200 : 1996 Information technology ‒ Adaptive Lossless Data Compression algorithm

(ALDC)が，この規格と一致している。

JIS K 7161 : 1994 プラスチック−引張特性の試験方法第1部：通則

備考 ISO 527-1 : 1993 Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 : General principles が，

この規格と一致している。

ISO 1302 : 1992 Technical Drawings−Method of indicating surface texture on drawings

IEC 60950 : 1996 Safety of information technology equipment

4. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

4.1

交流消去 (a.c. erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

アルゴリズム (algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。

4.3

平均信号振幅 (average signal amplitude) 記録密度3 704 ftpmmで記録した磁気テープ上のミッシン

グパルスのない部分を3 000mm以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク(P-P)出力電圧。

4.4

アジマス (azimuth) 磁束反転線とトラックの中心線に垂直な直線との角度。

4.5

裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.6

ビットセル (bit cell) トラックに記録する1チャネルビットの領域。

4.7

バイト (byte) 一単位として取り扱うビット列。

4.8

カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。

4.9

チャネルビット (channel bit) 8ビットから10ビットに変換後のビット。

4.10 巡回冗長検査文字 [cyclic redundancy check (CRC) character] 誤り検出のために用いる文字。

4.11 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC)] 検出した誤りを自動訂正できるように設計した符号。

4.12 ファイルマーク (file mark) ファイルを分離するため，又は追記録点を示すためテープ上に記録す

るマーク。ロングファイルマーク及びショートファイルマークがある。

4.13 LBOP (logical beginning of partition) パーティション内でのデータの記録開始位置。

4.14 論理ブロック (logical block) 情報の単位として扱うデータ，ファイルマーク又はセットマーク。

4.15 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.16 主基準テープ (master standard reference tape) 基準磁界，信号振幅，分解能及び重ね書き特性の基

準として用いるテープ。

参考この主基準テープは，Pericomp社によって管理されている。

4.17 パーティション (partition) データを記録するためのテープの長さ方向の分割。

4.18 PBOP (physical beginning of partition) パーティションのテープの長さ方向の始端。

4.19 PBOT (physical beginning of tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.20 PEOP (physical end of partition) パーティションのテープの長さ方向の終端。

4.21 PEOT (physical end of tape) テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.22 物理記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1 mm当たりに記録する磁束反転数

(ftpmm)。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.23 リードバック検査 [read back check (RBC)] 書込み中に行うデータの読取り誤りの有無の検査。

4.24 基準磁界 (reference field) 主基準テープのティピカル磁界。

4.25 二次基準テープ [secondary standard reference tape (SSRT)] テープの特性が既知であり，主基準テ

ープとの偏差を明示しているテープ。

参考二次基準テープは，Pericomp社 (14 Huron Drive, Natick, MA 01760 USA) が部品番号

SSRT/M.AME/PC97で原則として，2011年まで供給する。ただし入手可能期間は，二次基準テ

ープの需要動向によって，ISO/IECとPericomp社との合意に基づいて，変更することがある。

このテープは定期校正用の三次基準テープとの偏差を補正するために使用する。

4.26 セットマーク (set mark) データセットを分離するため，又は追記録点を示すためテープ上に記録

するマーク。

4.27 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] 主基準テープに記録密度3 704 ftpmmの信号を

試験記録電流で記録し，これを再生したときの出力が電圧の平均値。

4.28 基準電流 [standard reference current (Ir)] 基準磁界を発生する記録電流。

4.29 テープ基準縁 (tape reference edge) 供給リールが右側になるようにテープの記録面から見たとき

のテープの下端。

4.30 試験記録電流 [test recording current (TRC)] 基準電流の1.5倍の電流。

4.31 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.32 ティピカル磁界 (typical field) 記録密度3 704 ftpmmで記録して，再生したとき，その平均信号振

幅が最大値の90 %を示す最小の印加磁界。

5. 表記法

5.1

数字の表現測定した値は，対応する規定値の最小有効数字に対応して丸める。すなわち，規定値

が1.26，正の許容誤差が0.01，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未満を許

容する。

− 16進数は，丸括弧に数字及び英文字で表す。

− ビットの設定は，“0”又は“1”で表す。

− ビットの組合せ及び2進数表現の数字は，“0”又は“1”の列で表す。

− ビットの組合せ及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。

− 2進数の負の表現は，2の補数で表す。

− 各フィールド内では，最上位バイト（データバイト0）を最初に記録する。各バイト内では，最上位

ビット（8ビットバイトのビット7）を最初に記録し，最下位ビット（ビット0）を最後に処理する。

この順序は，特に規定がない限り，誤り検出符号及び誤り訂正符号の入出力回路にも適用する。

5.2

エンティティの名称原国際規格では，エンティティの名称を英大文字ではじめる表記法を採用し

ているが，この規格では特別な表記法は，用いない。

6. 略号略号を次に示す。

ABID

増加ブロック識別子 (augmentative block identifier)

BID

ブロック識別子 (block identifier)

CRC

巡回冗長検査 (cyclic redundancy check)

CUH

圧縮ユニットヘッダ (compression unit header)

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

CUID

圧縮ユニット識別子 (compression unit identifier)

ECC

誤り訂正符号 (error correcting code)

EOD

データの終端 (end of data)

FID

ファイル識別子 (file identifier)

LBOP

論理パーティション始端 (logical beginning of partition)

LID

論理ブロック識別子 (logical block identifier)

lsb

最下位ビット (least significant bit)

LSB

最下位バイト (least significant byte)

LTS

論理変換セグメント (logical transfer segment)

msb

最上位ビット (most significant bit)

MSB

最上位バイト (most significant byte)

PBOP

物理パーティション始端 (physical beginning of partition)

PBOT

物理テープ始端 (physical beginning of tape)

PEOP

物理パーティション終端 (physical end of partition )

PEOT

物理テープ終端 (physical end of tape)

PID

物理識別子 (physical identifier)

RBC

リードバック検査 (read back check)

SID

ストリーム識別子 (stream identifier)

SMID

セットマーク識別子 (set mark identifier)

SRA

標準信号振幅 (standard reference amplitude)

SSRT

二次基準テープ (secondary standard reference tape)

TRC

試験記録電流 (test recording current)

7. 環境条件及び安全性次に規定する条件は，カートリッジ近傍の環境条件とする。カートリッジをこ

れらの規定を超えた環境に放置した場合，永久的な損傷を与えることがある。

7.1

試験環境条件規格の要求を検査するカートリッジの試験及び測定は，規定がない限り次の条件に

よる。

温度

23 °C ± 2 °C

相対湿度

40 % 〜 60 %

試験前放置時間 24 時間

7.2

使用環境条件データ交換に用いるカートリッジは，次の条件下で使用可能でなければならない。

温度

5 °C 〜 45 °C

相対湿度

20 % 〜 80 %

湿球温度

26 °C 以下

カートリッジ近傍の平均空気温度は，45 °Cを超えてはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置

した時間と同等以上，又は24時間以上，使用環境条件に放置してから使用する。

7.3

保存環境条件保存環境条件は，次による。

温度

5 °C 〜 32 °C

相対湿度

20 % 〜 60 %

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

周辺磁界

テープ上で4 000 A/mを超えてはならない。

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

7.4

輸送カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Nによ

る。

7.5

安全性カートリッジ及びその構成部品は，IEC 60950の要求を満たさなければならない。

7.6

難燃性カートリッジ及びその構成部品の材料は，IEC 60950に規定されたHB材，又は同等以上に

適合したものでなければならない。

8. ケースの寸法及び機械的特性

8.1

概要カートリッジは，次の構成要素からなる。

− ケース

− 識別孔

− 書込み禁止機構

− 磁気テープを巻いた一対のリール

− リールロック機構

構成要素の寸法の規定は，情報交換のための要求事項とする。設計の自由度がある場合には，構成要素

の機能的な特性だけを記述する。具体図は，三角法で表す。

図 1

リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観

図 2

リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観

図 3

基準面X，基準面Y及び基準面Z

図 4

リッドが閉じた状態の前面

図 5

リッドが閉じた状態の左側面

図 6

リッドが閉じた状態の上面

図 7

リッドが閉じた状態の右側面

図 8

リッドが閉じた状態の背面

図 9

底面，基準領域及び支持領域

図 10 リッドがない状態の底面

図 11 基準孔及び識別孔の詳細図

図 12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図

図 13 リッドの詳細図

図 14 リッドロック解除ピンの挿入経路

図 15 リッドロック解除機構

図 16 リールロック解除機構

図 17 リールロックの解除に必要な力の方向

図 18 リッドのロック解除に必要な力の方向

図 19 リッドを開けるために必要な力の方向

図 20 光通過経路及び光通過窓

図 21 内部のテープ通過経路及び光通過経路

図 22 リールの外観及び断面図

図 23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図 24 テープ引出し開口部

寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図3参照）。

基準面Xは，基準孔A及び基準孔Bの中心を通り，基準面Zに垂直とする。

基準面Yは，基準孔Aの中心を通り，基準面X及び基準面Zに垂直とする。

基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，基準面Z内とする。

8.2

全体の寸法（図5及び図6）

ケースの長さは，次による。

l1 = 62.5 mm ± 0.3 mm

ケースの幅は，次による。

l2 = 95.0 mm ± 0.2 mm

ケースの上面から基準面Zまでの長さは，次による。

l3 = 15.0 mm ± 0.2 mm

背面から基準面Xまでの長さは，次による。

l4 = 47.35 mm ± 0.15 mm

右側面から基準面Yまでの長さは，次による。

l5 = 13.0 mm ± 0.1 mm

8.3

保持領域カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の斜線の領域とする。

基準面Xから保持領域までの長さは，次による。

l6 ≦ 12.0 mm

ケースの端からの幅は，次による。

l7 ≧ 3.0 mm

8.4

カートリッジ挿入部カートリッジ挿入部は，誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ

ために，溝，切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。

溝は，リッドが閉じてロックした状態のとき，ロック解除を可能にするために，リッドロック解除ピン

の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面Yからの長さは，次による（図4及び図14参照）。

l8 = 79.7 mm ± 0.2 mm

溝の端部の面取りは，次による。

l9 = 1.0 mm ± 0.1 mm

l16 = 1.5 mm ± 0.1 mm

溝の内部の面取りは，次による。

l10 = 0.7 mm ± 0.1 mm

l17 = 1.0 mm ± 0.1 mm

l18 = 3.8 mm ± 0.1 mm

溝の内部の幅は，次による。

l11 ≧ 1.0 mm

リッドの厚さは，次による。

l12 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドの面取りは，次による。

l13 = 0.8 mm ± 0.1 mm

l14 = 1.2 mm ± 0.1 mm

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

リッドのケースからの突出は，次による。

l15 = 0.5 mm ± 0.1 mm

ケースの左側面からリッドロックまでの長さは，次による。

l19 = 0.2 mm ± 0.2 mm

挿入領域の高さは，次による。

l20 ≧ 2.3 mm

l21 = 2.5 mm ± 0.2 mm

切込みは，カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は，次による（図5，図7及び図10参照）。

l22 ≦ 7.5 mm

l23 = 11.0 mm ± 0.2 mm

l24 = 1.5 mm ± 0.1 mm

切込みの深さは，次による。

l25 = 1.5 mm ± 0.1 mm

こう配面は，リッドの構造の一部とし，基準面Xからの長さは，次による［図13 a) 参照］。

7.7

5.2

−

こう配面の角度は，次による。

a1 = 20 ° ± 1°

こう配面は，半径r3との交点で終る。

8.5

窓（図1）窓は，リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合，カ

ートリッジの高さを超えてはならない。

8.6

ローディンググリップ（図5及び図7）ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジ

を自動的に装着するために設ける。

ローディンググリップの中心線の基準面Xからの長さは，次による。

l28 = 39.35 mm ± 0.20 mm

ローディンググリップの基準面Z及びカートリッジ上面からの長さは，次による。

l29 = 1.5 mm ± 0.1 mm

ローディンググリップのくぼみの幅は，次による。

l30 = 5.0 mm ± 0.3 mm

ローディンググリップのくぼみの深さは，次による。

l31 = 2.0 mm ± 0.2 mm

ローディンググリップのくぼみの傾斜は，次による。

a2 = 90 ° ± 5 °

8.7

ラベル領域（図6及び図8）ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ

ル領域の位置及び寸法は，カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域は，l6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。

l32 ≧ 0.5 mm

l33 ≧ 1.5 mm

l34 ≦ 80.0 mm

上面ラベル領域のくぼみの深さは，0.3 mm以下とする。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

背面ラベル領域のくぼみの深さは，0.30 mm ± 0.05 mmとする。

8.8

基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11）環状の基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，

基準面Z上に設け，磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ

れの直径d1は，6.0 mm ± 0.1 mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔A及び基準孔Bの中心は，基準面X上とする。

円形の基準孔Aの中心は，基準面X及び基準面Yの交線とする（図10参照）。

基準孔Bの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図9参照）。

l35 = 68.0 mm ± 0.1 mm

円形の基準孔Cの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。

l36 = 10.20 mm ± 0.05 mm

基準孔Dの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。

l37 = 79.2 mm ± 0.1 mm

基準孔C及び基準孔Dの中心から基準面Xまでの長さは，次による（図10参照）。

l38 = 36.35 mm ± 0.08 mm

基準領域のケースの厚さは，次による。

l39 = 1.2 mm ± 0.1 mm

基準孔A及び基準孔Cの深部の直径は，次による。

l40 ≧ 2.6 mm

基準孔の深さは，次による。

l42 ≧ 4.0 mm

基準孔A及び基準孔Cの開口部付近の直径は，次による。

基準孔A及び基準孔Cの直径がl44となる部分の深さは，次による。

l41 ≧ 1.5 mm

基準孔A及び基準孔Cの開口部の面取りは，次による。

l43 ≦ 0.3 mm

a3 = 45 ° ± 1 °

基準孔B及び基準孔Dの深部の幅は，l40とする。

基準孔B及び基準孔Dの深さは，l42とする。

基準孔B及び基準孔Dの開口部付近の寸法は，次による。

l45 = 3.5 mm ± 0.1 mm

l46 = 3.00 mm ± 0.05 mm

r1 = 1.75 mm ± 0.05 mm

基準孔B及び基準孔Dの寸法がl45，l46及びr1となる部分の深さは，l41とする。

基準孔B及び基準孔Dの開口部の面取りは，l43及びa3とする。

8.9

支持領域（図9）カートリッジ支持領域は，図9の網掛け部分とする。支持領域A′，支持領域B′

及び支持領域C′は，それぞれ，基準領域A，基準領域B及び基準領域Cから± 0.1 mm以内で同一の平面

上とする。支持領域D′は，基準面Zから± 0.15 mm 以内で同一の平面上とする。

カートリッジの端からl49の長さの領域は，支持領域から除かなければならない。

l49 = 0.5 mm ± 0.1 mm

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

基準面Xから支持領域A′及び支持領域B′のケース前面側の端までの長さは，次による。

l47 = 10.0 mm ± 0.1 mm

基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A′及び支持領域B′のケース側面側の端までの長

さは，l47とする。

基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A′及び支持領域B′のケース内側の端までの長さ

は，次による。

l48 = 11.0 mm ± 0.1 mm

基準面Xから支持領域A′及び支持領域B′のケース背面側の端までの長さは，次による。

l50 = 7.0 mm ± 0.1 mm

基準面Xから支持領域C′及び支持領域D′までの長さは，次による。

l51 = 30.0 mm ± 0.1 mm

支持領域C′及び支持領域D′の寸法は，l47及び次による。

l52 = 5.5 mm ± 0.1 mm

l53 = 64.5 mm ± 0.2 mm

8.10 識別孔（図10，図11及び図12）識別孔は，図11に示す1〜5の番号を付けた5個を設ける。

識別孔1の中心の位置は，次による。

l54 = 43.35 mm ± 0.15 mm

l57 = 6.4 mm ± 0.1 mm

識別孔2の中心の位置は，l54及びl57とする。

識別孔3の中心の位置は，l54及び次による。

l58 = 79.0 mm ± 0.2 mm

識別孔4の中心の位置は，次による。

l55 = 3.7 mm ± 0.1 mm

l56 = 2.3 mm ± 0.1 mm

識別孔5の中心の位置は，l55及びl56とする。

すべての識別孔は，図12のE ‒ E及び図12のF ‒ Fに示す断面構造をもち，その直径は，3.0 mm ± 0.1 mm

とする。

閉じた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。

2.1

3.01.0

+−

開いた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。

l60 ≧ 5.0 mm

図12のE ‒ Eは，識別孔をプラグで閉じた状態を示し，図12のF ‒ Fは，二つの識別孔のうち一つを

プラグで閉じ，もう一方は，プラグを打ち抜いて開いた状態を示す。これらのプラグは，最大0.5 Nの力

を加えても打ち抜かれてはならない。

識別孔の開閉状態は，次による。

識別孔1は，開く。

識別孔2は，閉じる。

識別孔3は，開く。

識別孔4は，閉じる。

識別孔5は，閉じる。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.11 書込み禁止孔（図11及び図12）書込み禁止孔の位置は，l54及び次による。

l61 = 10.0 mm ± 0.1 mm

書込み禁止孔の直径は，3.0 mm ± 0.1 mmとする。

閉じた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l59とする。

開いた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l60とする。

書込み禁止孔は，開いた状態で書込み禁止とし，閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は，可動の機構としてもよい。このとき，書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ

ならない（図8参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5 Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止

孔の開閉に要する力は，1 N〜15 Nとする。

8.12 位置決め面（図4及び図10）位置決め面は，カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき，カ

ートリッジの位置決めに用い，その寸法は，次による。

基準面Zからの長さは，次による。

mm01.0

4.2

−

基準面Yからの長さは，次による。

l63 = 1.0 mm ± 0.1 mm

l64 = 69.0 mm ± 0.2 mm

基準面Xからの長さは，次による。

l65 = 14.65 mm ± 0.10 mm

位置決め面の面取りは，次による。

l66 = 13.15 mm ± 0.10 mm

a4 = 45 ° ± 1 °

8.13 リッド（図6及び図13）リッドは，カートリッジの取扱い中，保管中及び運搬中にテープを保護

するために設け，主リッド及び副リッドからなる。

主リッドは，ケースに取り付けた軸Aを軸として回転する（図13参照）。

軸Aの位置は，次による。

+−

l67 = 7.5 mm ± 0.1 mm

副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動く軸Bを軸として回転する。リッドが閉じた状

態では，軸Bの位置は，次による。

l68 = 7.0 mm ± 0.1 mm

l69 = 10.1 mm ± 0.1 mm

副リッドの回転は，両側のカムによって，図13に示す経路で制御する。

完全に開いた副リッドの開口部の長さは，次による。

l70 ≧ 14.8 mm

l71 = 11.5 mm ± 0.2 mm

l72 = 1.2 mm ± 0.1 mm

リッドは，完全に開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl73離れた平面を超え

てはならない。

l73 ≦ 22.3 mm

完全に開いたリッドの底面が基準面Zに対する角度は，次による。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

a5 = 85 ° ± 2 °

リッドは，途中まで開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl74離れた平面を超

えてはならない。

l74 ≦ 22.5 mm

リッドが開くとき，リッドの頂点の通過経路は，次による。

r2 ≦ 14.9 mm

ケースと主リッドの継ぎ目は，次による（図6のB ‒ B参照）。

l75 ≦ 8.4 mm

主リッドの基準面Zからの高さは，次による（図13参照）。

5.0

−

主リッドの前面の基準面Xからの長さは，次による。

03.0

−

リッドの内側のすきまは，次による。

l78 = 13.15 mm ± 0.10 mm

リッド前面の曲面の中心は，軸Aとし，半径は，次による。

3.0

−

リッドロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。

解除ピンは，図15の網掛け領域にあるとき，リッドロック機構を解除する。図15の網掛け領域は，次

による。

l79 = 2.0 mm ± 0.1 mm

l80 = 8.2 mm ± 0.2 mm

l81 = 0.7 mm ± 0.2 mm

a6 = 30 ° ± 1 °

リッドロックの解除に要する力は，図18に示す方向に0.25 N以下とする。

リッドを開く力は，図19に示す方向に1.0 N以下とする。

8.14 リールロック（図16）リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき，ロックし

なければならない。ロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。

ロック機構は，図10に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面Yからの長さは，

次による。

l82 = 34.5 mm ± 0.1 mm

方形孔の基準面Xからの寸法は，次による（図10参照）。

l83 = 35.85 mm ± 0.15 mm

l84 = 4.0 mm ± 0.1 mm

l85 ≧ 6.5 mm

ロック機構の寸法は，次による。

2.3

3.02.0

+−

l87 = 4.0 mm ± 0.1 mm

a7 = 60.0 ° ± 1.0 °

解除ピンの動作面が基準面Xからl88に位置するとき，リールはロックする。

0.20

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

解除ピンの動作面が基準面Xからl89に位置するとき，リールはロックしてはならない。

.0
0

カートリッジの背面板の内側とロック機構との間にl90のすきまを設ける。

l90 ≧ 0.5 mm

解除ピンをカートリッジに挿入する深さは，次による。

l91 ≦ 7.8 mm

ロック機構のすきまは，次による。

l92 = 4.0 mm ± 0.1 mm

r4 ≦ 0.3 mm

リールロックの解除に要する力は，図17に示す方向に1.0 N以下とする。

8.15 リール受け孔（図10）二つのリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設ける。

リール受け孔の位置は，次による。

l93 = 23.00 mm ± 0.05 mm

l94 = 11.40 mm ± 0.05 mm

l95 = 46.2 mm ± 0.1 mm

リール受け孔の直径は，次による。

d2 = 18.80 mm ± 0.05 mm

8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域リールと駆動スピンドルとの接触領域は，次による（図22

及び図23）。

l96 = 11.75 mm ± 0.15 mm

l97 = 8.30 mm ± 0.05 mm

l98 = 0.6 mm ± 0.1 mm

l99 = 0.3 mm ± 0.1 mm

l100 = 1.10 mm ± 0.05 mm

l101 ≦ 0.6 mm

l102 = 5.4 mm ± 0.1 mm

l103 = 4.4 mm ± 0.1 mm

l104 ≦ 0.6 mm

.0
0

d5 ≦ 16.0 mm

1.0

−

0
1.0

−

0
5.0

−

2.0

−

リール駆動孔の面取りは，次による。

l105 = 2.4 mm ± 0.1 mm

a9 = 15 ° ± 1 °

リール底面の外側のエッジの面取りは，次による。

l106 ≦ 0.2 mm

a8 = 45 ° ± 1 °

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は，次による。

l107 = 2.4 mm ± 0.2 mm

a10 = 60 ° ± 1 °

リール駆動孔の歯の半径は，次による。

r5 ≦ 0.2 mm

リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。

l108 ≧ 9.4 mm

.0
0

基準面Zからのテープ中心線の位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。

l109 = 7.05 mm ± 0.10 mm

基準面Zからのリールの位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。

l110 = 0.6 mm ± 0.2 mm

リールを挿入したとき，リールと駆動スピンドルとのかみ合いは，次による。

l111 ≦ 7.5 mm

l112 ≦ 8.0 mm

l113 = 1.20 mm ± 0.05 mm

l114 = 1.40 mm ± 0.05 mm

a11 = 60 ° ± 1 °

リールのばね力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持部が基準面Zからl110の位置にあ

るとき，図23に示す方向に0.6 N ± 0.2 Nとする。

8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21）光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープを

検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径d10の光通過孔から一辺がl118の正方形

の窓，及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない（図12のD ‒ D参照）。

光通過孔の中心の位置は，l82及び次による。

l115 = 8.35 mm ± 0.10 mm

光通過孔の直径は，次による。

5.6

3.0
0

光通過孔の開口部の面取りは，次による。

l116 ≦ 0.5 mm

a12 = 45 ° ± 1 °

光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は，次による。

l117 = 6.05 mm ± 0.10 mm

l118 = 2.5 mm ± 0.4 mm

光通過孔は，発光素子を挿入するため，次の深さとする。

l119 ≧ 12.5 mm

光通過経路の角度は，次による。

a13 = 5.50 ° ± 0.25 °

リッドの光通過窓の位置及び寸法は，次による。

l120 = 3.8 mm ± 0.1 mm

l121 = 2.5 mm ± 0.4 mm

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l122 = 6.05 mm ± 0.10 mm

8.18 ケース内のテープの位置（図21）テープは，基準面Xに平行な二つのガイド面を通る。基準面X

からガイド面までの長さは，次による。

l123 = 13.15 mm ± 0.20 mm

ガイド面は，r6の半径をもち，図21に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。

r6 = 3.0 mm ± 0.1 mm

これらの点の位置及び寸法は，次による。

l124 = 76.28 mm ± 0.30 mm

l125 = 27.15 mm ± 0.20 mm

l126 = 31.15 mm ± 0.20 mm

l127 = 9.67 mm ± 0.10 mm

8.19 テープ走行領域（図21）カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，テープガイド

によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テー

プ走行領域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，l124〜l127及び次による。

l128 = 23.0 mm ± 0.1 mm

l129 ≧ 0.3 mm

l130 = 46.2 mm ± 0.2 mm

l131 = 11.4 mm ± 0.1 mm

テープとガイドとのすきまは，次による。

l132 ≧ 0.3 mm

8.20 テープ引出し開口部（図10）磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置のテ

ープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。二つの半径r7の中心は，基準孔A及び基準孔Bの

中心とする。

テープ引出し開口部の形状及び寸法は，l63，l64及び次による。

r7 = 2.3 mm ± 0.1 mm

二つの半径r8の中心は，二つのリール受け孔の中心とする。

r8 = 24.15 mm ± 0.10 mm

l133 = 3.85 mm ± 0.10 mm

8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24）ケースは，テープ引出し機構のためのすきまを設け，

開口部への要求事項は，次による。

l134 ≦ 1.2 mm

.0
0

135

0
2.0

136

−

l137 ≧ 66.8 mm

l138 ≧ 10.0 mm

l139 = 14.8 mm ± 0.1 mm

a14 ≦ 49 °

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図 24 テープ引出し開口部

9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法

9.1

材料ケース内にあるテープは，リーダテープ，クリーニングテープ，磁気テープ及びトレーラテ

ープで構成される（図25参照）。

図 25 テープ構成

リーダ

クリーニング

テープ

リーダ

磁気テープ

トレーラ

PBOT

PEOT

0.2

5.00.0

225

5.10.0

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

磁気テープは，ベース（ポリエチレンナフタレートフィルム又はこれと同等品）上の片面に蒸着した，

メタル材料の磁気層をもち，，強固で柔軟性のあるもの（又はこれと同等品）とする。磁気テープの裏面は，

塗布してもよい。

クリーニングテープは，ポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）とし，片面には研磨層を塗

布する（9.15参照）。テープの裏面は，塗布してもよい。

テープの始端には，巻取りリールのハブとクリーニングテープとの間にリーダテープを設ける。テープ

の終端には，供給リールのハブとPEOTとの間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテ

ープは，磁性材の塗布又は裏面の塗布がない同じベース材料（又はこれと同等品）の半透明とする。

リーダテープ及びトレーラテープは，それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。

スプライシングテープは，ポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）とし，片面にはアクリル系

接着剤（又はこれと同等品）を塗布する。

9.2

テープの長さ

9.2.1

磁気テープの長さ PBOTとPEOTとの間のテープの長さは，225.0〜226.5 mとする。

9.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さリーダテープ及びトレーラテープの長さは，70〜90 mm

とする。クリーニングテープと磁気テープとの間のリーダテープの長さは，17〜37 mmとする。リーダテ

ープ及びトレーラテープと磁気テープ又はクリーニングテープとの接合は，テープ基準縁の垂直方向に

1 °以内とする。

9.2.3

クリーニングテープの長さクリーニングテープの長さは，2.0〜2.5 mとする。クリーニングテー

プとリーダテープとの接合は，テープ基準縁の垂直方向に1 °以内とする。

9.2.4

スプライシングテープの長さスプライシングテープの長さは，13 mm以下とし，リーダテープ及

びトレーラテープ上で6.5 mm±1.5 mmとする。

9.3

テープの幅

9.3.1

磁気テープ，クリーニングテープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅磁気テープ及びクリー

ニングテープの幅は，8.00 mm ± 0.01 mmとする。幅の最大値と最小値の差は，6 µmを超えてはならない。

リーダテープ，トレーラテープ及びスプライステープの幅は，8.00 mm ± 0.02 mmとする。

磁気テープの幅の測定方法は，次による。

a) 顕微鏡用のスライドガラスを試験片にかぶせる。

b) 少なくとも0.5 µmの精度の顕微鏡，投影機又はこれと同等の装置を使用し，張力をかけないで幅を測

定する。

c) 長さ1 m以上のテープで異なる位置5か所以上の測定を繰り返す。

測定した値の平均をテープの幅とする。

9.3.2

スプライシングテープの幅及び位置スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが

リーダテープ，トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は，次による。

スプライシングテープの下端は，その他のテープの下端から0.60 mm以下とし，スプライシングテープ

の上端は，その他のテープの上端から0.60 mm以下とする。スプライシングテープの端がリーダテープ，

トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。

9.3.3

テープ縁の波形テープ縁の波形は，長さ50 mmのテープの試験片で算出したテープ基準縁の平

均位置からの平均偏差とし，6 μmを超えてはならない。

測定方法は，次による。

a) 長さ450 mmの試験片を0.050 N ± 0.005 Nの力で引張る。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

b) 0.5 μm以上の精度で校正した縁位置センサで，試験片のテープ基準縁の長さ250 mmにわたって0.25

mm間隔に1 001か所を測定する（図26参照）。

c) 1〜201の測定値で，線形回帰解析を用いて長さ50 mmのテープ基準縁位置の平均値を算出する（図

27参照）。

d) c) の201個の測定値の中で平均テープ基準位置からの最大偏差を求める（図27参照）。

e) 2〜202，3〜203続いて801〜1 001の測定値について，c) 及びd) を繰り返し算出する。

801個の測定値から得た801個の最大偏差の平均値を，テープ縁の波形とする。

図 26 テープ縁の波形の測定

図 27 テープ縁の波形

9.4

連続性テープは，PBOTとPEOTとの間に継ぎ目及び孔のような不連続があってはならない。

9.5

テープの厚さ

9.5.1

磁気テープの厚さ磁気テープの厚さは，4.9〜5.5 µmとする。

9.5.2

クリーニングテープの厚さクリーニングテープの厚さは，8.5〜9.5 µmとする。

9.5.3

リーダテープ及びトレーラテープの厚さリーダテープ及びトレーラテープの厚さは，9〜17 µm

とする。

エッジ位置センサ

0.050 N

テープ

250 mm

フランジガイド

テープ基準縁

最大偏差

算出基準縁位置

50 m

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

9.5.4

スプライシングテープの厚さスプライシングテープの厚さは，20 µm以下とする。

9.6

長手方向の湾曲長手方向の湾曲は，曲率半径33 m以上とする。

試験方法は，次による。

a) 長さ1 mのテープを平面上に自然の状態で置く。

b) 1 mの弦からの偏差を測定する。

c) 偏差は，3.8 mm以下とする。この偏差は，33 mの曲率半径と一致する。

9.7

カッピングカッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.9 mm以下とする。

試験方法は，次による。

a) テープを長さ150 mm ± 10 mmに切り取る。

b) 磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以上放置する。

c) 中心間35 mm離して水平に置いた2個の円筒型ガイドにテープを置く。

d) テープの両端に0.3 gのおもりを付ける。

e) テープの縁で決まる面とこの面からの最大偏差の距離を測定する。

9.8

磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度磁性面の接着強度は，磁性面をテープのベース材料から

はがす力とし，0.10 N以上とする。

試験方法は，次による（図28参照）。

a) 長さ約380 mmのテープの試験片を採り，一方の端から125 mmの位置でテープ幅方向にけがき線を

ベース面に達するまで引く。

b) 磁性面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。

c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254 mm／分で引っ

張る。

d) 磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が0.10 Nに達

する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テープを使用する。

テープの裏面に塗布されている場合は，a) 〜 d) に準じ，裏面の試験を行う。

試験面

125 mm

両面接着テープ

けがき線

図 28 磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法

9.9

層間の粘着層間の粘着は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び磁性面又は磁

気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

a) 直径36 mmのガラス管の表面に，長さ1 mの試験片の端を付ける。

b) 1.1 Nの張力でガラス管にテープを巻く。

c) 巻かれた試験片を温度45 °C ± 3 °C，相対湿度80 %の環境の中に4時間放置する。

d) さらに，試験環境条件に24時間放置する。

e) 試験片の自由端に0.1 Nの力を加え，ゆっくりほどく。

9.10 引張強度引張強度は，JIS K 7161の試験方法による。

テープの試験片の長さは，200 mmとする。リーダテープの試験片の長さは，50 mmとする。トレーラ

テープの試験片の長さは，50 mmとする。引張速度は，100 mm/分とする。

9.10.1 破断強度破断強度は，テープが破断するまで負荷をかけたときとし，その値は，8 N以上とする。

9.10.2 降伏強度降伏強度は，テープが5 %伸びるまで負荷をかけたときとし，その値は，4 N以上とす

る。

9.11 残留伸び残留伸びは，元のテープの長さの0.04 %未満とする。

試験方法は，次による。

a) 0.20 N以下の張力で，約1 m長の試験片の初期の長さを測定する。

b) さらに，全断面に20.5 N/mm2の力を10分間加える。

c) 加えた力を取り除き，10分後にテープ長を測定する。

9.12 磁性面の電気抵抗テープの磁性面の電気抵抗は，103 Ω 以下とする。

試験方法は，次による（図29参照）。

a) テープ試験片を，試験環境条件に24時間放置する。

b) 24 Kの金めっきを施した半径r =10 mmで粗さをN4（ISO 1302参照）で仕上げてある二つの半円の電

極に，記録面が接するように置く。これらの電極は，水平で，中心間の距離d = 8 mmとなるように平

行に置く。

c) 5 N/mm2の張力を発生させるために必要な力Fを試験片の両端に加える。

d) 電極に7 V ± 1 Vの直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。

この測定を一つのテープの試験片の5か所について行い，読み取った抵抗値を平均する。

試験片を電極に置くとき，電極間には，試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考試験前に電極の表面を清掃する。

図 29 磁性面の電気抵抗試験法

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

9.13 テープの巻き方テープの巻き方は，テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14 テープの光透過率磁気テープ及びクリーニングテープの光透過率は，5 %以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60 %以上とする。

光透過率の測定方法は，附属書Aによる。

9.15 研磨性テープの研磨性は，テープ走行系に対する磨耗度とし，附属書Bによって測定する。磁気

テープの場合，磨耗試験用バーに生じる磨耗パターンは，あってはならない（附属書B.3参照）。クリーニ

ングテープの場合，磨耗試験用バーに生じる磨耗パターンの長さは，8 μm±1 μmとする。

10. 磁気的特性磁気的特性の試験は，次による。

この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，主基準テープ，供試テープともに同じ装置の同

じ走行系を使用し，記録時再生によって行う。

規定がない限り，正アジマストラックを使用して試験する。

10.1 試験条件磁気的特性の試験条件は，次による。

テープの状態：記録密度3 704 ftpmm の平均信号振幅の2 %未満に交流消去

ヘッド／テープ速度：14.627 5 m/秒 ± 0.043 9 m/秒

テープ張力：スキャナ（ドラム）入口で0.10 N ± 0.02 N

トラック幅：9.91 μm ± 1.00 μm

記録ヘッドのギャップ長：0.27 μm ± 0.02 μm

再生ヘッドのギャップ長：0.16 μm ± 0.02 μm

ギャップアジマス：20.009ﾟ ± 0.200ﾟ

記録電流：試験記録電流

記録波形：方形波

10.2 ティピカル磁界ティピカル磁界は，基準磁界の80〜120 %とする。

主基準テープの基準磁界との関係付けは，二次基準テープの校正値によって保証される。

10.3 平均信号振幅平均信号振幅は，記録密度3 704 ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号振

幅の80〜130 %とする。

主基準テープの平均信号振幅との関係付けは，二次基準テープの校正値によって保証される。

10.4 分解能分解能は，記録密度 3 704 ftpmmの平均信号振幅を1 447 ftpmmの平均信号振幅で除した値

とし，その値は，主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して80〜120 %とする。

主基準テープの分解能との関係付けは，二次基準テープの校正値によって保証される。

10.5 信号対雑音比信号対雑音比(SNR)は，平均実効リード信号振幅を平均雑音振幅の積分で除した値と

し，デシベル（dB）で表す。

要求事項

log

SNR

平均雑音振幅の積分

幅

平均実効リード信号振

供試テープのSNR (SNRtape) は，主基準テープのSNR (SNRMSRT) より‒2 dB以上とする。

SNRMSRTとの関係付けは，二次基準テープの校正値によって保証される。信号対雑音比は，分解能3 kHz

のスペクトラムアナライザを使用して測定する。

試験方法は，次による。

a) 供試テープは，交流消去する。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

b) 3 704 ftpmmでテープに記録する。その記録周波数は，f1とする。

c) スペクトラムアナライザを使用して実効信号振幅を測定する。リードヘッドがテープに最初に接触し

て1 ms後測定を開始し，1 ms間測定する。各スィープで一回測定し，8回の平均値Stapeを算出する。

f1より2 MHz低い周波数f2で全体の雑音レベルを1 ms間測定する。同様に得る。各スィープで1

回測定し，100回の平均値Ntotalを算出する。

d) テープは装着せずにモータを回転させて，c) のように1 ms間周波数f2でリード実効チャネル雑音レ

ベルを測定する。各スィープで一回測定し，8回の平均値Nampを算出する。

e) この試験で信号対雑音比，20 log Stape/Ntape dBを算出する。

ここに，

amp

total

tape

−

tape

amp

は，0.7以下とする。

10回以上 c)，d) 及びe) を繰り返す。10個の信号対雑音比の平均値からテープの信号対雑音比SNRtape

を求める。

g) 二次基準テープについてa) 〜 f) まで繰り返し，SNRMSRTを求める。信号対雑音比の特性は，SNRtape -

SNRMSRTdBとする。

10.6 消去特性消去特性は，試験記録電流3 704 ftpmmで記録密度926 ftpmmの信号を記録した後，テー

プの長手方向に320 000 A/mの均一な磁界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，標準信号振幅の2 %

以下とする。消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。また，測定は

バンドパスフィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。

10.7 テープの品質テープの品質は，次による。

10.7.1 ミッシングパルスミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損とし，再生信号の出力電圧の0 Vを

基準としたピーク値（0-P）が記録密度3 704 ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の40 %以下のときとする。

10.7.2 ミッシングパルスゾーンミッシングパルスゾーンは，次による。

ミッシングパルスゾーンは，ミッシングパルスによって開始し，トラック方向に1 mmの長さに達した

とき終了する。ミッシングパルスが連続して1 mmを超えて発生したとき，次のミッシングパルスゾーン

とする。

一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。

ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について5 × 106

の磁束反転当たり1個未満とする。

10.7.3 重ね書き重ね書きは，低記録密度の信号を記録をした後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残

留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。

主基準テープの重ね書きの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

試験方法は，次による。

a) テープを交流消去する。

b) 記録密度926 ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を測定する。

c) 記録密度3 704 ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度926 ftpmmの信号の平均信号振幅を測

定する。

d) 二次基準テープについて繰り返し測定する。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

要求事項は，次による。

記録密度926 ftpmmの重ね書きは，次の比によって求めたとき，主基準テープの120 %未満とする。

重ね書き後に残留する記録密度 926 ftpmm の信号の平均信号振幅

記録密度 926 ftpmm の信号の平均信号振幅

11. フォーマット

11.1 概要テープに書き込む情報は，データバイト，ロングファイルマーク，ショートファイルマーク，

又はセットファイルマークから成る。各情報単位を論理ブロックと呼ぶ。データは，論理変換セグメント

(LTS) に変換する。LTSは，グループ化及び処理を経て圧縮ユニットとなる。圧縮ユニットは，物理ブロ

ックを形成する。

論理ブロックは，11.2で規定する物理ブロックに変換する。サーチフィールドは，11.3で規定し，サー

ボは，11.4で規定する。完全なトラックレイアウトを構成する要素は，11.5で規定する。

トラックは，一対の正アジマス及び負アジマスから成り，その構成は次による（図30参照）。

− パッド

− サーチフィールド

− パッド

− サーボゾーン（偶数トラックだけ）

− パッド（偶数トラックだけ）

− サーチフィールド

− 物理ブロック列

− サーチフィールド

− パッド

− サーボゾーン（偶数トラックだけ）

− パッド（偶数トラックだけ）

− サーチフィールド

− データクロック同期

− 物理ブロック列

− サーチフィールド

− パッド

− サーボゾーン（偶数トラックだけ）

− パッド（偶数トラックだけ）

− サーチフィールド

− パッド

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図 30 トラックフォーマット

11.2 物理ブロックのフォーマット

11.2.1 論理変換セグメント（LTS） LTSは，LTSヘッダ及びそれに続く論理ブロックデータから成る。

4バイトの論理ブロックCRCは，LTS内の論理ブロックに続く。CRCの生成は，附属書Cによる。論理

ブロックは，1個のLTSを占めてもよいし，1個のLTSが複数の論理ブロックを含んでもよい。

32バイトのLTSヘッダのフィールドは，次による（図31）。

バイト

7 6 5 4 3 2 1 0

LTSタイプ

1〜3

ブロックサイズ

(00)

6,7

ブロック数

8〜11

SMID

12〜15

FID

16〜19

LID

20〜27

(00)

28〜31

ヘッダCRC

図 31 LTSヘッダ

：物理ブロックデータ
：サーチフィールド
：サーソトーン
：パッド

テープ走行方向

トラック２

トラック１

テープ走行方向

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

LTSタイプは，4ビットのフィールドで表し，次による。

(0) データ

(A) ロングファイルマーク

(B) ショートファイルマーク

(D) セットマーク

(F) EOD

すべての他の値は，情報交換時には無視する。

ブロックサイズ − 論理ブロックサイズを3バイトのフィールドで表す。

ブロック数 − LTSの論理ブロック数を2バイトフィールドで表す。

SMID − LBOPと現在のLTSを含む現在の論理ブロック位置間のセットマーク数を4バイトフィールド

で表す。

FID − LBOPと現在のLTSを含む現在の論理ブロック位置間のファイルマーク数を4バイトフィール

ドで表す。

LID − LBOPと現在のLTSを含む現在の論理ブロック位置間の論理ブロック数を4バイトフィールド

で表す。

ヘッダCRC − LTSヘッダのヘッダCRCを4バイトフィールドで表し，その生成は附属書Cによる。

11.2.2 圧縮ユニット LTSは，圧縮ユニットへ加工される。圧縮ユニットは，8バイト圧縮ユニットヘッ

ダ (CUH) に続くこととし，CUHのフィールドは，図32よる。

バイト

7 6 5 4 3 2 1 0

NDB

Append

Comp

Last

End

1〜3

圧縮数

圧縮ユニットタイプ

5〜7

元のサイズ

図 32 圧縮ユニットヘッダ

NDB − 圧縮ユニットがデータ（セットマーク又はファイルマーク）を含まないとき，1に設定し，そ

れ以外のとき，0に設定する。

Append − CUHが追記圧縮ユニットに関連するとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定する。

Comp − 圧縮ユニットが圧縮アルゴリズムで処理されるとき，1に設定し，圧縮されないとき，0に設

定する。

Last − 物理ブロック内の最後のCUHのとき，1に設定し，現在のCUHに続くCUHのとき，0に設定

する。

End − 圧縮ユニットがこの物理ブロック内で終わるとき，1に設定し，圧縮ユニットが次の物理ブロッ

クに続くとき，0に設定する。

圧縮数 − 圧縮ユニットの最初のCUHのとき，圧縮ユニットの合計バイト数を3バイトフィールドで

表す。圧縮ユニットの最初のCUHでないとき，現在の物理ブロックにある圧縮ユニットのバイト数

を3バイトフィールドで表す。

圧縮ユニットタイプ − 圧縮ユニットのタイプを1バイトフィールドで表す。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(00) データ

(0A) ロングファイルマーク

(0B) ショートファイルマーク

(0C) LBOP

(0D) セットマーク

(0F)

EOD

元のサイズ − 圧縮ユニットの圧縮前のバイト数を3バイトフィールドで表す。

11.2.3 物理ブロック物理ブロックは，図33に示す圧縮ユニットを含む33 448バイトとし，図34に示

す11物理ブロックタイプとする。各物理ブロックのデータ領域の内容は，11.2.3.3に規定する。

33 448バイトの物理ブロックの情報は，次による。

24バイト物理ヘッダデータ

12バイト論理ヘッダデータ

33 440バイトデータ

4バイトチェックサム

8バイト CRCデータ

バイト

7 6 5 4 3 2 1 0

0〜23

物理ブロックヘッダ

24〜35

論理ヘッダ

36〜43

圧縮ユニットヘッダ

44〜n

圧縮ユニット

n+1〜n +1+7

圧縮ユニットヘッダ

…

圧縮ユニット

…

m-1-7〜m-1

圧縮ユニットヘッダ

m〜33435

圧縮ユニット

33436〜33439

データ領域チェックサム

33440〜33447

物理ブロックCRC

図 33 物理ブロック

タイプ

定義

(00)

データ

(04)

ECC3チェックバイトブロック

(05)

消去

(09)

PBOP

(0A)

ロングファイルマーク

(0B)

ショートファイルマーク

(0C)

LBOP

(0D)

セットマーク

(0E)

ギャップ

(0F)

EOD

(10)

シャットダウン

図 34 物理ブロックタイプ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.3.1 物理ブロックヘッダ物理ブロックヘッダは，24バイトからなる（図35参照）。

バイト 7 6 5 4 3 2 1 0

0〜3

PID

4〜7

BID

パーティション

Rwtstat

rwcount

SID

タイプ

(00)

ECC3グループサイズ

ECC3ID

ECC3インデックス

16〜19

(00)

20〜23

物理ヘッダチェックサム

図 35 物理ブロックヘッダ

11.2.3.1.1 物理ID (PID) PIDは，4バイトのカウンタとしテープ上の物理ブロックの絶対位置を示すもの

とする。PID番号は，物理ブロックのタイプにかかわらず，ブロックごとに1を加算する。パーティショ

ン間の空白領域へもPID番号を割り当てる。テープ履歴ログを表す最初の物理ブロックのPID番号は，

(00000000)とする。テープ上の最初のパーティションにあるPID番号は，(000017DE) とする。

11.2.3.1.2 ブロックID (BID) BIDは，4バイトのカウンタとしホストから受信した論理ブロックの順序

を示すものとする。BIDは，各パーティションで (00000000) から始まる。BIDの値は，ブロックタイプ

で異なり次による。

データ，ロングファイルマーク，ショートファイルマーク，セットマーク及びEODブロックの場合，

パーティション内にある最初の物理ブロックのBIDは，(00000001) とし，物理ブロックごとに1を加算す

る。

ECC3ブロックのBIDは，現在のABIDに設定する（11.2.3.3.2及び11.3.1参照）。

消去ブロックのBIDは，現在のABIDに設定する。

LBOP及びPBOPブロックのBIDは，(00000000) とする。

ギャップブロックのBIDは，ギャップブロックがデータブロック間にあるとき，現在のABIDに設定す

る。

シャットダウンブロックのBIDは，(FFFFFFFF) とする。

11.2.3.1.3 再書込みステータス (Rwstat) 再書込みステータスは，4ビットのフィールドとし物理ブロッ

クの再書込み状態を示すものとする。その値は，次による。

0000：最初に書き込んだ物理ブロック

0001：RBCの前に再書き込みした物理ブロック

0010：RBCで書込み不良を検出後，再書込みした物理ブロック

0011：RBCによる書込み不良検出以外の原因で再書込みした物理ブロック

PBOP及びLBOPの最後の2物理ブロックは，0011に設定する。

他の設定は，使用しないし，情報交換時には，無視する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.3.1.4 再書込み回数 (rwcount) 再書込み回数は，4ビットのフィールドとし物理ブロックが再書込み

された回数を示すものとする。最初に書き込んだブロックの値は，0とする。このフィールドは，データ，

ショートファイルマーク及びECC3物理ブロックだけに有効とする。

11.2.3.1.5 ストリームID (SID) SIDは，1バイトのカウンタとし書込み時に連続した物理ブロックの中で

無効物理ブロックを示すものとする。SIDは，テープ動作が停止するごとに1を加算する。

11.2.3.1.6 タイプタイプは，1バイトのフィールドとし物理ブロックヘッダに関連するブロックの物理

ブロックタイプを示すものとする。物理ブロックタイプとその値は，図34に示す。

11.2.3.1.7 ECC3グループサイズ ECC3ブロックを除いたECC3グループ内の物理ブロック数を示す。

11.2.3.1.8 ECC3 ID ECC3 IDは，1バイトのフィールドとしECC3グループに含まれる物理ブロックを示

すものとする。ECC3グループ内の全物理ブロックは，同じECC3 IDをもつ。ECC3 IDは，新しいECC3

グループがテープに加えられるごとに1を加算する。

11.2.3.1.9 ECC3インデックス ECC3インデックスは，1バイトのフィールドとしECC3チェックバイト

ブロックを含むECC3グループ内の全物理ブロックに割り当てられるものとする。グループにある最初の

ブロックのECC3インデックスは，(00) とする。

11.2.3.1.10 物理ヘッダチェックサム物理ヘッダチェックサムは，4バイトとし，物理ヘッダの20バイト

を初期値0から連続して合計する。4バイトワードで算術合計し，オーバフローは無視する。

11.2.3.2 論理ヘッダ論理ヘッダは，物理ブロックに続くこととし，12バイトで構成する（図36参照）。

バイト 7 6 5 4 3 2 1 0

CUID

1〜3

SMID

4〜7

FID

8〜11

LID

図 36 論理ヘッダ

11.2.3.2.1 圧縮ユニットID (CUID) CUIDは1バイトのカウンタとし，物理ブロックの最初の完全な圧縮

ユニット又は圧縮ユニットの一部分を示すものとする。この計数は，パーティションの始めで (01) に設

定し，各圧縮ユニットごとに1を加算する。

11.2.3.2.2 セットマークID (SMID) SMIDは，3バイトのカウンタとし物理ブロックが属しているセット

を示すものとする。SMIDは，パーティションに書かれた最初のセットマークを含む物理ブロックを

(000000) に設定し，各セットマークごとに1を加算する。

11.2.3.2.3 フィールドID (FID) FIDは，4バイトのカウンタとし物理ブロックが属しているファイルを示

すものとする。FIDは，パーティションに書かれた最初のファイルマークを含む物理ブロックを (00000000)

に設定し，各ショートファイルマーク又はロングファイルマークごとに1を加算する。

11.2.3.2.4 論理ブロックID (LID) LIDは，ホストシステムからの論理ブロックの計数を4バイトで表す。

LIDは，パーティション内の最初の論理ブロックを (00000000) に設定し，各論理ブロック，ファイルマ

ーク又はセットマークごとに1を加算する。ヘッダデータに格納されるLIDは，物理ブロックが含む最初

の論理ブロック（一部分だけでもよい。）のLIDとする。

11.2.3.3 データ領域データの内容は，ブロックタイプごとに異なる。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.2.3.3.1 データブロック (00) 圧縮ユニットヘッダ及び圧縮ユニットは，データタイプブロックの場合，

データ領域を占める。CUHは，圧縮ユニットが物理ブロック内で開始しなくても，論理ヘッダに続く。

11.2.3.3.2 ECC3ブロック (04) 2個のECC3ブロックは，各ECC3グループごとに生成することとする。

ECC3グループは，最大62個の物理ブロックを含んでもよい。ECC3は，論理ヘッダ，データ領域及びデ

ータ領域チェックサムにわたって生成することとする（附属書D参照）。データ領域CRCは，ECC3を生

成するとき，含まないこととする。

11.2.3.3.3 消去ブロック (05) 消去ブロックの内容は，規定せず，情報交換時には無視する。

11.2.3.3.4 PBOPブロック (09) 及びLBOPブロック (0C) PBOPブロックとLBOPブロックのデータ領

域は，CUH及びLTSヘッダで始まる。40バイトのテープフォーマットデータは，LTSヘッダに続く（図

37参照）。

バイト

0〜3

（00000000）

4〜7

ストラクチャ長

（00）

圧縮アルゴリズムテープフォーマット

テープタイプ

ECC3ブロック

12〜19

テープID

20〜23

ECC列

24〜27

ECC行

28〜31

行ECCチェックバイト

32〜35

列ECCチェックバイト

36〜39

（00000000）

図 37 テープフォーマットデータ

ストラクチャ長 − データストラクチャ内で後続するバイト数を4バイトで表し，32に設定する。

N − LBOPブロックの場合，このパーティションで再書込みができないとき，1とし，再書込みができるとき，0

とする。PBOPブロックの場合，0とする。

圧縮アルゴリズム − パーティションで使用する圧縮アルゴリズムを示し，フィールドを4ビットで表す。値（0）

は，IDRCを示し，値（1）は，1 024バイトの履歴バッファをもつALDCを示す。

テープフォーマット − フィールドを4ビットで表し，マンモステープ2フォーマットのとき，１とする。

テープタイプ − バイトで表し，情報交換用テープのとき，（00）とする。

ECC3ブロック − パーティション内の各ECC3グループに関連するECC3ブロック数を1バイトで表す。

テープID − この8バイトのフィールドは，テープの識別子として使用してもよい。情報交換時には無視する。

ECC行 − ECCチェックバイトを含む情報マトリクスの各行のバイト数を4バイトで表す。この規格では，160に

設定する。

ECC列 − ECCチェックバイトを含む情報マトリクスの各列のバイト数を4バイトで表す。この規格では，242に

設定する。

行ECCチェックバイト − 情報マトリクスの各列のチェックバイト数を4バイトで表す。この規格では，12に設

定する。

列ECCチェックバイト − 情報マトリクスの各行のチェックバイト数を4バイトで表す。この規格では，16に設

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

定する。

テープ上の各パーティションの32バイトパーティション情報ストラクチャが，テープフォーマットデー

タに続くものとする（図38参照）。

バイト

0〜3

（00000001）

4〜7

ストラクチャ長

（0）

PSUM

パーティションSID

パーティション総数

現在パーティション

12〜15

（00000000）

16〜17

パーティションサイズ

18〜19

（0000）

20〜23

PBOP PID

24〜27

PEOP PID

28〜31

（00000000）

図 38 パーティション情報ストラクチャ

ストラクチャ長 − データストラクチャ内で後続するバイト数を4バイトで表し，24に設定する。

PSUM（Partition size of measure）− パーティションの大きさをメガバイト単位で示し，106とする。

パーティションSID − フィールドを4バイトで表し，テープを最初に分割したとき，（00000000）とする。テープ

をパーティションにフォーマットするごとに，1を加算する。

パーティション総数 − テープ上のパーティション数を1バイトで表し，初期値を1とする。

現在パーティション − PBOP又はLBOPとして識別するパーティション数を1バイトで表す。THL用のパーティ

ション数は，（FF）とする。

パーティションサイズ − パーティションで使用可能なデータ領域長を1バイトで表す。PSUMフィールドは，大

きさの単位を示す。

PBOP PID − パーティションのPBOPブロックのPID数を4バイトで示す。

PEOP PID − パーティションに書き込み可能な最後のPIDのPID数を4バイトで示す。

残りのデータ領域は，（00）とする。

11.2.3.3.5 ロングファイルマーク (0A)，セットマーク (0D) 及びEOD (0F) ロングファイルマーク，セ

ットマーク及びEODのデータ領域は，CUH及びLTSヘッダで始まる。24バイトの追記データは，LTSヘ

ッダに続く（図39参照）。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト

0〜3

（00000002）

4〜7

ストラクチャ長

8〜11

前PID

12〜15

前BID

16〜19

後PID

20〜23

後BID

24〜27

ECC3 ID

28〜30

（000000）

CUID

32〜35

CRC

図 39 追記データ

ストラクチャ長 − データストラクチャ内で後続するバイト数を4バイトで表し，28に設定する。

前PID − マークを重ね書きするとき，次に書き込むブロックのPIDを4バイトで表す。

前BID − マークを重ね書きするとき，次に書き込むブロックのBIDを4バイトで表す。

後PID − マークを追記するとき，次に書き込むブロックのPIDを4バイトで表す。EODブロックのとき，

（00000000）とする。

後BID − マークを追記するとき，次に書き込むブロックのBIDを4バイトで表す。EODブロックのとき，

（00000000）とする。

ECC3 ID − 次のECC3グループのIDを4バイトで表す。

CUID − 次に書き込む圧縮ユニットのCUIDを1バイトで表す。

CRC − 4バイトCRCは，36バイトの追記データ全体で算出する（附属書C参照）。

11.2.3.3.6 ショートファイルマーク (0B)，ギャップ (0E) 及びシャットダウン (10) ショートファイルマ

ークブロック，ギャップブロック及びシャットダウンブロックのデータ領域の内容は，規定せず，情報交

換時には，無視する。

11.2.3.4 データ領域チェックサムデータ領域チェックサムは，4バイトで表し，12バイトの論理ヘッダ

及び33 400バイトのデータ領域を初期値0から連続して合計する。4バイトワードで算術合計し，オーバ

フローは，無視する。

11.2.3.5 データ領域CRC データ領域CRCは，12バイトの論理ヘッダ，33 400バイトのデータ領域及び

4バイトのチェックサム全体で算出する（附属書E参照）。

11.2.4 情報マトリクス 33 448バイトの物理ブロックは，148列226行の情報マトリクスに格納する（図

40参照）。マトリクスは，列0で始まる列から格納する。各セルは，1バイトのデータからなる。24バイ

トのヘッダデータは，00/00〜00/23に順次格納する。12バイトの論理ヘッダデータは，00/24〜02/35に順

次格納する。33 400バイトのデータは，00/36〜147/213に順次格納する。4バイトのデータ領域チェック

サムは，147/214〜147/217に格納する。8バイトのCRCデータは，147/218〜147/225に格納する。

5 272バイトのECCデータの生成は，附属書Fによる。2712バイトの水平ECCバイトは，148/00〜159/225

に格納する。2 560バイトの垂直ECCは，列00〜159の行226〜241に格納する。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

列

行

1 2 3 〜

146

147

148 〜 159

〜

物理ヘッダ

〜

論理ヘッダ

水平ECC

〜

データ領域

213

214

〜

チェックサム

217

218

〜

CRC

225

226

〜

垂直
ECC

241

図 40 情報マトリクス

11.2.5 記録パターン 38 720バイトの情報マトリクスからのデータは，行0から行単位にテープに順次記

録する。各行のデータストリームは，20チャネルビットの同期フィールドに続く30チャネルビットの行

ID及び各行からの1 600チャネルビットで構成する。完全なデータストリームは，テープに書き込む前に

附属書Gによって符号化する。

11.2.5.1 シンボル同期フィールド 20チャネルビットシンボル同期フィールドは，(A1F0B) とする。

11.2.5.2 行ID 1バイトの行IDのビット7〜3は，行数の下位5ビットとする。ビット2〜0は，書込み

トラックごとに1を加算するモデュロ14カウンタの上位3ビットとする。このバイトは，3コピーに対し

て2回繰り返す。行IDは，附属書Hによって8ビットから10ビットのチャネルビットに変換する。

11.2.5.3 行バイト各行のバイトは，附属書Jによって乱数化する。160バイトのデータは，附属書Hに

よって8ビットから10ビットのチャネルビットに変換する。

11.3 サーチフィールドフォーマット

11.3.1 サーチフィールドデータ 32バイトのサーチフィールドデータのフォーマットは，図41に示す。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト

3 2 1 0

パーティション

1〜3

SMID

4〜7

FID

8〜11

LID

12〜15

PID

16〜19

ABID

20〜23

DBID

EDM BOP THL 消去

(0)

CUID

PSID

SID

28〜29

(00)

30〜31

フォーマットID

図 41 サーチフィールドデータ

サーチフィールドデータの各フィールドは，次による。

パーティション − 1バイトのフィールドとし現在のパーティションのパーティション番号を表す。

SMID − 3バイトのフィールドとし次に書き込むセットマークのセットマーク番号を表す。一対のセットマークト

ラックの両トラックにあるサーチフィールドは，セットマークブロックのヘッダブロックのSMIDと同じSMID

とする。

FID − 4バイトのフィールドとし次に書き込むファイルマークのファイルマーク番号を表す。一対のロングファイ

ルマークトラックの両トラックにあるサーチフィールドは，ロングファイルマークブロックのヘッダブロックの

FIDと同じFIDとする。ショートファイルマークに続くトラックにあるサーチフィールドのFIDは，前のトラッ

クにある最後のショートファイルマークブロックのブロックヘッダのFIDと同じFIDとする。

LID − 4バイトのフィールドとしこのサーチフィールドを含むトラックの前にテープ上に書き込んだ最大の論理

ブロック番号を表す。

PID − 4バイトのフィールドとし前に書き込んだトラックにある最後の物理ブロックのPID番号を表す。

ABID − 4バイトのフィールドとし書込みを試みた任意のブロックの最新のECC3グループに書き込む最小のBID

を表す。

DBID − 4バイトのフィールドとしECC3ブロックを含む正常に書き込まれた全ブロックをもつ最も早いECC3グ

ループの最大のBIDを表す。

EOD − サーチフィールドをEODトラックのうちの一つに配置するとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定

する。

BOP − サーチフィールドをLBOPトラック又はPBOPトラックのうちの一つに配置するとき，1に設定し，それ

以外のとき，0に設定する。

THL − サーチフィールドをテープ履歴ログに配置するとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定する。

消去 − サーチフィールドを消去動作の一部として書き込むとき，1に設定し，それ以外のとき，0に設定する。

CUID − 次に書き込む圧縮のユニットのCUIDを1バイトで表す。

PSID − テープを最初にパーティションするとき，0に設定し，テープをパーティションするごとに1を加算する。

SID − SIDは1バイトのカウンタとし，書き込むとき連続した物理ブロックのなかの無効物理ブロックを示すもの

とする。SIDは，テープ動作が停止するごとに1を加算する。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

フォーマットID − 2バイトのフィールドとしテープフォーマットを示し，(0001) に設定する。

11.3.2 サーチフィールドCRCとECC 2バイトのCRCは，附属書Kによってサーチフィールドから生

成し，サーチフィールドデータの終わりに付加する。32バイトのサーチフィールド及び2バイトのCRC

を対象範囲とする8バイトのECCは，附属書Lによって生成する。

11.3.3 サーチフィールド記録パターン各サーチフィールドのデータストリームは，50チャネルビット

の同期，20チャネルビットのシンボル同期，それに続く30チャネルビットのサーチフィールドID，及び

それに続く420チャネルビットのサーチフィールドデータからなる。完全なデータストリームは，附属書

Gによって符号化する。

11.3.3.1 同期フィールド 50チャネルビットの同期フィールドは，2種類のパターンの中の1種類とする。

先行パッドパターンが (…3333) のとき，パターンは (3FFEDF92D93FF) とする。先行パッドパターンが

(…CCCC) のとき，パターンは (3FFADF92D93FF) とする。

11.3.3.2 シンボル同期フィールド 20チャネルビットのシンボル同期フィールドは，(A1F0B) とする。

11.3.3.3 サーチフィールドID 1バイトのサーチフィールドIDのビット7〜3は，サーボゾーンに先行す

るトラック1にあるサーチフィールドを01111，サーボゾーンに先行するトラック3にあるサーチフィー

ルドを10 000及びすべての他のサーチフィールドを01101に設定する。ビット2〜0は，111とする。サー

チフィールドIDは，附属書Hによって8ビットから10ビットのチャネルビットに変換する。

11.3.3.4 サーチフィールドデータ 42バイトのサーチフィールドは，附属書Hによって8ビットから10

ビットのチャネルビットに変換する。

11.4 サーボエリアトラック2とトラック4上のサーボエリアは，3個とする。各サーボエリアの前後に

サーボパッドエリアを2869.5 ftpmm (2T) で記録する。サーボエリアは，57.39 ftpmm（トーン）で記録す

る。

11.5 トラックの配置 11.1〜11.4で規定したトラックの構成要素の配置は，図42，図43及び図44によ

る。トラックは，4個のトラックを一組として書き込む。トラック1は，トラック3と異なり，サーチフ

ィールド領域にある3か所のパッドの前に6Tパターン (956.5 ftpmm) を書き込む。6Tのトラック1IDは，

テープを読み出した場合，トラック1であることを識別する。トラック2及びトラック4の構成は，同一

とする。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

要素

チャネルビットパターン

パッド

2 020

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

トラック1ID

パッド

2 560

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データPLL

220

データ行0〜120

199 650

データ

パッド

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

トラック1ID

パッド

2 560

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データPLL

220

データ行121〜241

199 650

データ

パッド

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

トラック1ID

パッド

3 880

図 42 トラック1の配置

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

要素

チャネルビットパターン

パッド

1 980

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド

1 300

サーボゾーン

1 200

トーン

パッド

1 300

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データPLL

データ行0〜120

199 650

データ

パッド

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド

1 300

サーボゾーン

1 200

トーン

パッド

1 300

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データPLL

データ行121〜241

199 650

データ

パッド

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド

1 300

サーボゾーン

1 200

トーン

パッド

2 000

図 43 トラック2及びトラック4の配置

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

要素

チャネルビットパターン

パッド

2 020

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド

2 620

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データPLL

220

データ行0〜120

199 650

データ

パッド

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド

2 620

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

データPLL

220

データ行121〜241

199 650

データ

パッド

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

サーチフィールド

520

データ

パッド

3 940

図 44 トラック3の配置

12. 記録方式記録方式は，“1”の場合，ビットセルの中央で磁束を反転し，“0”の場合，ビットセルで

磁束を反転しないこととする。

12.1 記録密度最大記録密度は，公称5 739 ftpmmとし，公称ビットセル長は，0.174 μmとする。

12.1.1 長周期平均ビットセル長長周期平均ビットセル長は，各トラックについて133 060個以上の連続

するビットセルの記録を測定し，その値は，公称ビットセル長の ± 0.20 %以内とする。

12.1.2 短周期平均ビットセル長短周期平均ビットセル長は，任意のビットセルを基準とし，その前の

16個のビットセルの平均とする。その値は，同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長

の± 0.35 %以内とする。

12.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率短周期平均ビットセル長は，任意の2個の連続する16ビット

セル長当たり0.05 %を超えて変化してはならない。

12.2 ビットシフトミッシングパルスを除去して “1” を再生したときの再生信号のゼロ交差は，短周期

平均ビットセル長の規定による予測位置から25 %以上ずれてはならない。ビットシフトの測定は，附属書

Mによる。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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12.3 情報交換時の再生信号振幅記録密度3 704 ftpmmで3 000磁束反転以上にわたる平均信号振幅は，

標準信号振幅の80〜130 %とする。

13. トラックの構成

13.1 概要トラックパターンは，テープ走行方向と一対の二つのヘッドの回転軸との相対関係で形成す

る。この一対のヘッドの一つは，正のアジマス角をもち，他のヘッドは，負のアジマス角をもつ。記録の

方向は，テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの位置及び寸法は，図45による。

ヘッド走査方向

正アジマス角

負アジマス角

テープ走行方向

トラック1

トラック2

トラック

中心線

：トラック角

：トラック幅

：トラック間隔

：トラック長

：ガードバンド

図 45 トラックの位置及び寸法

13.2 トラック間隔トラック間隔は，任意の隣接した二つのトラック間で，9.91 μm ± 1.50 μmとする。

13.3 平均トラック間隔平均トラック間隔は，任意の連続した60トラックの間隔の平均とし，その値は，

9.91 µm ± 0.35 µmとする。

13.4 トラック幅トラック幅は，公称値 9.91 μmとする。

13.5 トラック角トラック角は，テープ基準縁に対する角度とし，公称値4.902 5 °とする。

13.6 トラック長トラック長は，73.438 mm ± 0.220 mmとする。

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13.7 ガードバンドテープ基準縁からトラックの記録開始までをガードバンドとし，その幅は，905 μm ±

10 μmとする。

13.8 アジマス角正のアジマス角は，20.009 ° ± 0.200 °とする。負のアジマス角は，‒ 9.991 ° ± 0.200 °と

する。

13.9 トラックエッジの直線性記録したトラックエッジは，6 μm間隔の2本の平行線の間になければな

らない。平行線は，テープ基準縁から公称トラック角で設定する。

14. テープの配置

14.1 概要テープの配置は，図46による。テープは，1〜255個までのパーティションからなる。最初の

パーティションをパティーション0とし，昇順に番号を付ける。テープフォーマットの構成要素は，14.2

〜14.7で規定する。テープは，全体に消去ブロックを書込み消去する。テープをフォーマットするとき，

各パーティションは，PBOP，LBOP及びEODを含むこととする。

図 46 テープの配置

14.2 テープ履歴ログ (THL) THLは，パーティション番号を (FF) とする。THLの記録は，PBOTから

518 mm±10 mmの位置で開始する。THLは，50トラックのPBOPブロック及び50トラックのLBOPブロ

ックからなる。最初のPBOPブロックは，トラック1で始まり，最初のPBOPブロックのPIDを (00000000)

とする。THLの内容は，規定せず，情報交換時には無視する。100トラックのEODブロックが，最後のデ

ータトラックに続くこととする。

リーダ

磁気テープ（記録面）

リーダ

PBOT

PEOT

THL

パーティション0

パーティション1パーティションn

LBOP

EOD

ホストデータ

ファイルマーク

セットマーク

PBOP

PEOP

LEOP

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14.3 PBOP すべてのパーティションは，PBOPで始まる。PBOPは，340トラックのPBOPブロックか

らなる。最初のPBOPトラックは，トラック1で始まる。すべてのPBOPブロックヘッダは，PID及びRwtstat

を除いて同じとする。最後の2トラックのRwtstatフィールドは，0011とする。PIDは，テープ上の位置

を示す。BIDは，(00000000) に設定する。

14.4 LBOP LBOPは，PBOPに続いて記録し，460トラックのLBOPブロックからなる。すべてのLBOP

のBIDは，(00000000) に設定する。

14.5 データ領域

14.5.1 概要データ領域は，LBOPに続いて記録し，データブロック，シャットダウンブロック及びギャ

ップブロックからなる。書込みを中止するとき，2個以上のギャップブロック，それに続く2個のシャッ

トダウンブロックを偶数番号トラックの終わりに書き込む。再び書込みを開始するとき，2個のシャット

ダウンブロックは，ギャップブロックで重ね書きする。ファイルマーク及びセットマークは，ホストから

の要求で記録する。データブロック又はショートファイルマークブロックは，誤りがあるとき，再書込み

してもよい。再書込み物理ブロックのブロックヘッダは，テープ上の位置を示すPIDを除いて元のブロッ

クヘッダと同じとする。物理ブロックをテープ上に更に再書込みできるかは，DBIDフィールドによる。

ブロックは，繰り返し再書込みしてもよい。

14.5.2 ショートファイルマークショートファイルマークは，1個のショートファイルマークブロックか

らなる。

14.5.3 ロングファイルマークロングファイルマークは，2トラックのギャップブロック，それに続く2

トラックのロングファイルマークブロック及びそれに続く2トラック以上のギャップブロックからなる。

ロングファイルマークブロックの最初のトラックは，トラック1で始まる。すべてのロングファイルマー

クブロックのBIDは，同じとする。すべてのデータブロックは，RBCによって照合し，ロングファイルマ

ークを書き込む前に再書込みする。

14.5.4 セットマークセットマークは，2トラックのギャップブロック，それに続く2トラックのセット

マークブロック及びそれに続く2トラック以上のギャップブロックからなる。セットマークブロックの最

初のトラックは，トラック1で始まる。すべてのセットマークブロックのBIDは，同じとする。すべての

データブロックは，RBCによって照合し，セットマークを書き込む前に再書込みする。

14.6 EOD EODは，データ領域の直後に書き込む。EODは，2トラックのギャップブロック及びそれに

続く880トラックのEODブロックからなる。データ領域は，EODに重ね書きし，追記録してもよい。

14.7 PEOP PEOPは，テープ上に記録しない。PEOPは，パーティションの終端で，パーティションの

データを次のパーティションに重ね書きしないようにする。PEOPのPIDは，LBOPブロックに記録する。

PIDがPEOPのPIDに一致したとき，すべてのホストデータの書込みが終了する。PEOPのPIDに続いて，

追加の32トラックを書き込む。このトラックの内容は，規定せず，情報交換時には無視する。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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附属書A（規定）テープの光透過率の測定法

A.1 概要この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。

光透過率は，測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率（％）で表

す。

A.2 測定装置の構成測定装置の構成は，次による。

− 光源

− 光検出部

− 測定用マスク

− 光学系

− 測定回路

A.2.1 光源光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード(LED)を使用する。

波長：850 nm ± 50 nm

半値幅：± 50 nm

A.2.2 光検出部光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。

A.2.3 測定用マスク測定用マスクは，厚さを2 mmとし，孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域

の80〜100 %の大きさに設定する。

表面は，黒のつや消しとする。

試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないようにマスクに固定する。

A.2.4 光学系（附属書A図1）光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離 (L) は，次

の式による。

2tan

ここに， d： mm

α：光軸上の最大光量に対して95 %以上の光量がある領域に設定

参考附属書A図1は，原国際規格のとおりに機器の配置などを概念的に説明したものであり，定量

的な関係まで示すものではない。定量的関係については，上式が正しい。

A.2.5 仕上げ装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6 測定回路（附属書A図2）測定回路は，次による。

：出力電圧可変の定電圧電源

：電流制限用の抵抗器

LED

：赤外線発光ダイオード

：シリコンフォトダイオード

：演算増幅器

Rf0，Rf1 ：帰還用の抵抗器

：増幅率切替えスイッチ

：電圧計

LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧 (E) によって変化させる。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

Diは，短絡回路モードで動作させる。

演算増幅器の出力電圧は，次による。

ここに， Ik： Diの短絡回路モードでの電流

出力電圧は，光量に比例する。

Rf0 及び Rf1 は，許容誤差1 %で，温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，

次の式による。

f0=

A.3 測定法測定法は，次による。

− スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。

− 試験片を取り付けないで，電圧計 (V) の指示がフルスケール (100 %) になるようにLEDの供給電圧

(E) を変化させる。

− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このとき電圧計は，60 %〜100 %を示さな

ければならない。

− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計

のフルスケールは，光透過率5 %を示す。

マスク

LED

シリコン
フォトダイオード

テープ

光軸

2α

附属書A図 1 光学系の構成

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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附属書B（規定）テープの研磨性測定法

B.1 概要テープの研磨性は，テープがテープ走行系を磨耗させる度合いとする。

B.2

取付け附属書B図1に示す清浄な試験用バーを附属書B図2に示す試験用固定具に取り付ける。

試験用の刃は，上向けに取り付け，磨耗のない，かつ，1 µm以上の欠けがないこととする。試験用の刃の

曲率半径は，113 µm以下とする。

試験用バーの成分及び重量比は，次による。

A l5.4%

Si 9.6%

Fe 85.0%

バーの4面すべての表面仕上げは，N2 (0.05 µm) 以上とする。

試験用バーの正方形からのずれは，0.5 mm以内とする。

B.3

測定方法バーに対するテープの巻付け角度が片側15°合計30°になるよう試験用固定具をテープ

装置に取り付ける（B.2参照）。

バーにおけるテープ張力を0.13 N±0.02 Nに設定する。

相対湿度を50 %±10 %に設定する。

テープを速度25.4 mm/sで，バーの上を1回走行させる。バーを通過するテープの長さを39.5 m±0.5 m

とする。

テープ装置から試験用固定具を取り外し，試験用バーの磨耗した部分の長さを測定する。この測定には，

倍率が300倍の顕微鏡，カメラ及び網線を使用するとよい。

測定は，磨耗パターンの幅の1/4，1/2及び3/4の部分で行い，3回の平均から長さを測定する。附属書B

図3に磨耗パターンと測定点を示す。

附属書B図 1 研磨性試験用バー

18 mm

4.5 mm

±0.3 mm

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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附属書C（規定）論理ブロックのCRCの生成

論理CRCの生成は，次のGF(2)の生成多項式による。

)

(

論理CRCは，情報多項式にx32を乗じて（乗算し），次にg(x)で除算して得られる剰余とする。情報多項

式の最上位係数は，データの最初のバイトのビット7とし，最下位係数はデータの最後のバイトのビット

0とする。

CRC多項式は，CRCレジスタで情報多項式をシフトする前，初期値 (FFFFFFFF) に設定する。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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附属書D（規定）ECC3チェックバイト

8ビットガロア体の生成多項式gf(x)は，次による。

)

(

各8ビットバイトのガロア体の原始元は，上記の生成多項式によって生成する。α0, α1, α2, α3,…, α254

は，生成多項式gf (x)によって生成される255個の非ゼロ原始元を示す。ECC3チェックバイトの生成は，

次の生成多項式による。

25+

αx

)

(

ECC3情報多項式は，ECC3ブロックから生成する。最初のバイトは，情報多項式の最上位項の係数とす

る。最後のバイトは，情報多項式の最下位項の係数とする。情報生成多項式は，x2で積算し，次にg (x)で

除算して，剰余を求める。剰余は，2個のECC3チェックバイトとする。

附属書D図 1 ECC3ブロック

ECC3コードワードは，各ブロックから対応するバイトを抽出して算出する。物理ヘッダ及びCRCは，

ECC3の計算には含まない。各情報多項式は，ECC3グループにあるバイト数（最大253個）を含む。

・・・

ECC3

ブロック1

ブロック2

ブロック3

ECC3

ブロック1

ECC3

ブロック2

チェックサムバイト

リードソロモンコードワード

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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附属書F（規定）ECCの生成

ガロア体GF (28) の生成多項式は，次による。

)

(

α0, α1, α2, α3,…, α254は，ガロア体の255個の非ゼロ原始元を示す。

水平ECCチェックバイトの生成多項式は，次による。

∏

−

)

(

)

(

垂直ECCチェックバイトの生成多項式は，次による。

∏

−

)

(

)

(

チェックバイトは，データバイトから情報多項式i (x) に水平ECCのときx12，垂直ECCのときx16を乗

じて（乗算し），次にｇh (x)，及びｇv (x) で各々除算して得る。この除算の剰余をチェックバイトとする。

剰余の最下位係数は，最上位チェックバイトとし，最上位係数は，最下位チェックバイトとする。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

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附属書H（規定）8ビットバイトから10ビットパターンへの変換

8ビットバイトから10ビットパターンへの変換アルゴリズムは，次による。8ビットバイトは，10進数

で表す。表1パターン又は表2パターンの選択は，トラック上に前に記録したビットの直流成分による。

直流成分は，各データストリームの始めで0に設定し，前もって符号化したデータストリームの1の数と

0の数の相違による。パターンは，パターンの前もって符号化した値が直流成分の絶対値を最小化するよ

うに選択する。

表1パターン及び表2パターンの最も左側のビットは，テープ上に最初に記録するビットとする。

8ビットパターン

10ビットパターン

バイト（10進数）バイト（16進数）表1パターン

表2パターン

(00)

1010111111

(01)

1011010001

(02)

1011010011

(03)

1011010110

(04)

1011100010

(05)

1011100101

(06)

1011100111

(07)

1011101010

(08)

1011101101

(09)

1011101111

(0A)

1011111001

(0B)

1011111110

(0C)

1100010001

(0D)

1100010011

(0E)

1100010110

(0F)

1100100010

(10)

1100100101

(11)

1100100111

(12)

1100101010

(13)

1100101101

(14)

1100101111

(15)

1100111001

(16)

1100111011

(17)

1100111110

(18)

1101001001

(19)

1101001011

(1A)

1101001110

(1B)

1101010010

(1C)

1101010101

(1D)

1101010111

(1E)

1101011010

(1F)

1101011101

(20)

1101011111

(21)

1101101001

(22)

1101101011

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットパターン

10ビットパターン

バイト（10進数）バイト（16進数）表1パターン

表2パターン

(23)

1101101110

(24)

1101110010

(25)

1101110101

(26)

1101110111

(27)

1101111010

(28)

1101111101

(29)

1101111111

(2A)

1110010001

(2B)

1110010011

(2C)

1110010110

(2D)

1110100010

(2E)

1110100101

(2F)

1110100111

(30)

1110101010

(31)

1110101101

(32)

1110101111

(33)

1110111001

(34)

1110111011

(35)

1110111110

(36)

1111001001

(37)

1111001011

(38)

1111001110

(39)

1111010010

(3A)

1111010101

(3B)

1111010111

(3C)

1111011010

(3D)

1111011101

(3E)

1111011111

(3F)

1111101001

(40)

1111101011

(41)

1111101110

(42)

1111110010

(43)

1111110101

(44)

1111110111

(45)

1111111010

(46)

0110110010

1110011010

(47)

1010011001

1110110010

(48)

0010001001

(49)

0010001011

(4A)

0010001110

(4B)

0010010010

(4C)

0010010101

(4D)

0010010111

(4E)

0010011010

(4F)

0010011101

(50)

0010011111

(51)

0010101001

(52)

0010110010

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットパターン

10ビットパターン

バイト（10進数）バイト（16進数）表1パターン

表2パターン

(53)

0011010001

(54)

0011010011

(55)

0011100010

(56)

0011100101

(57)

0011100111

(58)

0011111001

(59)

0100010001

(5A)

0100010011

(5B)

0100010110

(5C)

0100100010

(5D)

0100100101

(5E)

0100100111

(5F)

0100101010

(60)

0100101101

(61)

0100101111

(62)

0100111001

(63)

0100111011

100

(64)

0100111110

101

(65)

0101001001

102

(66)

0101001011

103

(67)

0101001110

104

(68)

0101010010

105

(69)

0101101001

106

(6A)

0101110010

107

(6B)

0110010001

108

(6C)

0110010011

109

(6D)

0110010110

110

(6E)

0110100010

111

(6F)

0110100101

112

(70)

0110100111

113

(71)

0110111001

114

(72)

0111001001

115

(73)

0111001011

116

(74)

0111001110

117

(75)

0111010010

118

(76)

0111101001

119

(77)

0111110010

120

(78)

1000100011

121

(79)

1000100110

122

(7A)

1001000101

123

(7B)

1001000111

124

(7C)

1001001010

125

(7D)

1001001101

126

(7E)

1001001111

127

(7F)

1001011001

128

(80)

1001011011

129

(81)

1001011110

130

(82)

1001110001

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットパターン

10ビットパターン

バイト（10進数）バイト（16進数）表1パターン

表2パターン

131

(83)

1001110011

132

(84)

1001110110

133

(85)

1010001001

134

(86)

1010001011

135

(87)

1010001110

136

(88)

1010010010

137

(89)

1010010101

138

(8A)

1010010111

139

(8B)

1010011010

140

(8C)

1010011101

141

(8D)

1010011111

142

(8E)

1010101001

143

(8F)

1010110010

144

(90)

1101100101

1001001011

145

(91)

1101100111

1001001011

146

(92)

1101101010

1001001110

147

(93)

1101101101

1001010010

148

(94)

1101101111

1001010101

149

(95)

1101111001

1001010111

150

(96)

1101111011

1001011010

151

(97)

1101111110

1001011101

152

(98)

1110100011

1001011111

153

(99)

1110100110

1001101001

154

(9A)

1111000101

1001101011

155

(9B)

1111000111

1001101110

156

(9C)

1111001010

1001110010

157

(9D)

1111001101

1001110101

158

(9E)

1111001111

1001110111

159

(9F)

1111011001

1001111010

160

(A0)

1111011011

1001111101

161

(A1)

1111011110

1001111111

162

(A2)

1111110001

1010010011

163

(A3)

1111110011

1010010110

164

(A4)

1111110110

1010100101

165

(A5)

0010010001

1010100111

166

(A6)

0010010011

1010101010

167

(A7)

0010010110

1010101111

168

(A8)

0010100101

1010111001

169

(A9)

0010100111

1010111110

170

(AA)

0010101010

1011001001

171

(AB)

0010101101

1011001011

172

(AC)

0010101111

1011001110

173

(AD)

0010111001

1011010010

174

(AE)

0010111011

1011010111

175

(AF)

0010111110

1011011010

176

(B0)

0011001001

1011011101

177

(B1)

0011001011

1011011111

178

(B2)

0011001110

1011101001

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットパターン

10ビットパターン

バイト（10進数）バイト（16進数）表1パターン

表2パターン

179

(B3)

0011010010

1011101011

180

(B4)

0011010101

1011101110

181

(B5)

0011010111

1011110010

182

(B6)

0011011010

1011110101

183

(B7)

0011011101

1011110111

184

(B8)

0011011111

1011111010

185

(B9)

0011101001

1011111101

186

(BA)

0011101011

1011111111

187

(BB)

0011101110

1100100011

188

(BC)

0011110010

1100100110

189

(BD)

0011110101

1101001010

190

(BE)

0011110111

1101001101

191

(BF)

0011111010

1101001111

192

(C0)

0011111101

1101011001

193

(C1)

0011111111

1101011011

194

(C2)

0100100011

1101011110

195

(C3)

0100100110

1101110011

196

(C4)

0101000101

1101110110

197

(C5)

0101000111

1110010010

198

(C6)

0101001010

1110010101

199

(C7)

0101001101

1110010111

200

(C8)

0101001111

1110011101

201

(C9)

0101011001

1110011111

202

(CA)

0101011011

1110101001

203

(CB)

0101011110

1110101011

204

(CC)

0101110001

1110101110

205

(CD)

0101110011

1110110101

206

(CE)

0101110110

1110110111

207

(CF)

0110010010

1110111010

208

(D0)

0110010101

1110111101

209

(D1)

0110010111

1110111111

210

(D2)

0110011101

1111010011

211

(D3)

0110011111

1111010110

212

(D4)

0110101001

1111100101

213

(D5)

0110101011

1111100111

214

(D6)

0110101110

1111101010

215

(D7)

0110110101

1111101101

216

(D8)

0110110111

1111101111

217

(D9)

0110111010

1111111001

218

(DA)

0110111101

1111111011

219

(DB)

0110111111

0010001010

220

(DC)

0111010001

0010001111

221

(DD)

0111010011

0010011011

222

(DE)

0111010110

0010011110

223

(DF)

0111100010

0010110011

224

(E0)

0111100101

0010110110

225

(E1)

0111100111

0011100011

226

(E2)

0111101010

0011100110

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットパターン

10ビットパターン

バイト（10進数）バイト（16進数）表1パターン

表2パターン

227

(E3)

0111101101

0100101001

228

(E4)

0111101111

0100101011

229

(E5)

0111111001

0100101110

230

(E6)

0111111011

0100110101

231

(E7)

0111111110

0100110111

232

(E8)

1010001010

0100111010

233

(E9)

1010001111

0100111101

234

(EA)

1010011011

0100111111

235

(EB)

1010011110

0101010011

236

(EC)

1010110011

0101010110

237

(ED)

1010110110

0101100101

238

(EE)

1011100011

0101100111

239

(EF)

1011100110

0101101010

240

(F0)

1100010010

0101101101

241

(F1)

1100010101

0101101111

242

(F2)

1100010111

0101111001

243

(F3)

1100011101

0101111011

244

(F4)

1100011111

0101111110

245

(F5)

1100101001

0110100011

246

(F6)

1100101011

0110100110

247

(F7)

1100101110

0111001010

248

(F8)

1100110101

0111001101

249

(F9)

1100110111

0111001111

250

(FA)

1100111010

0111011001

251

(FB)

1100111101

0111011011

252

(FC)

1100111111

0111011110

253

(FD)

1101010001

0111110011

254

(FE)

1101010011

0111110110

255

(FF)

1101010110

1000111011

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書L（規定）サーチフィールドECC

サーチフィールドECCのチェックバイトは，リードソロモン符号とする。フィールドの生成多項式は，

次による。

)

(

ECCの生成多項式は，次による。

∏

−

)

(

)

(

チェックバイトは，32個のサーチフィールドバイト及び2個のCRCバイトから情報多項式を算出して

得る。サーチフィールドの第1バイトは，最上位係数とし，第34バイトは最下位係数とする。情報多項式

は，x8を乗じて（乗算し），次にｇsf (x) を除算して得る。剰余多項式をサーチフィールドのチェックバイ

トとする。剰余の最上位係数は，最下位チェックバイトとし，最下位係数は，最上位チェックバイトとす

る。

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書M（規定）ビットシフトの測定法

試験テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。

M.1 読取り装置測定は，本体10. に規定する要求事項のもとで行う。読取りヘッドの出力電圧の絶対

値は，規定しない。ただし，読取りヘッド，回転トランス，前置増幅器，ヘッドとテープとの相対速度及

び等化器は，低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択する。

M.2 測定方法ビットシフトは，再生電圧波形をデジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力

で測定する。信号取込みは，物理データブロックの最初のビットで始まり，物理データブロックのチャネ

ルビットを少なくとも25 000個読取った時点で終わる。信号処理のアルゴリズムは，次の段階で実行する。

a) 物理データブロックからのデジタル波形をファーストフーリエ変換のようなタイミング抽出アルゴリ

ズムに入力する。タイミング抽出アルゴリズムは，このゾーンからのリードバック検査信号のビット

間隔の公称中心位置に対応する一連の一定間隔の基準タイムを生成する。これらの基準タイムは，b)

〜 d) を実行したとき，d) に指定したビットエラー率を満足するように，十分に正確であることとす

る。

b) 一連の基準タイムを，同一の周波数及び位相で残りの信号キャプチャ間隔に拡張する。これらの基準

タイムが，物理データブロックからのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での公称中心位

置のタイミングを定義する。

c) 物理データブロックから取り込んだビット間隔での公称中心位置で，再生電圧を2 %よりも高い精度

で測定する。

d) 物理データブロックから取り込んだ各ビット間隔について，ビットエラー率が1/10 000よりも小さい

検出方法を使用して，テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化され

ている各ビットセルに，+1のデータ値Dを割り当て，ヘッド走行と反対方向に磁化されている各ビ

ットセルに，‒1のデータ値Dを割り当てる。

e) 各ビットセルについて，4要素のベクトルを作成し，各要素に1, 2, 3, 4と番号を付ける。第3要素の

D3の値は，現在のビットセルのデータ値Dとし，第4要素のD4の値が，次のビットセルのデータ値

Dとする。第1要素及び第2要素の値D1とD2は，それぞれ前の2個のビットセルのデータ値Dとす

る。その結果，ベクトル値は16個のベクトル値の一つのベクトル値i をもつ。

16個の各ベクトル値について，ベクトル値がそのベクトル値iをもつすべてのビットセルの c) で測

定した再生電圧の平均値Viを計算する。

g) 16個の各ベクトル値ごとに，電圧平均値とデータ値からボルテラシリーズを作成する。各シリーズは，

次による。

Vi = A0000+

（d.c. 成分）

+ A0100D2 + A0010D3

（信号成分）

+ A1000D1 + A0001D4

（線形 ISI 成分）

+ A1100D1D2 + A0110D2D3 + A0011D3D4

（非線形 ISI 成分）

+ A1010D1D3 + A0101D2D4 + A1001D1D4

（高次線形 ISI 成分の続き）

+ A1101D1D2D4 + A1011D1D3D4 + A1111D1D2D3D4 （高次線形 ISI 成分の続き）

X 6149：2003 (ISO/IEC 18836：2001)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書N（参考）輸送条件

この附属書は，カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので，規定の一部ではない。

N.1

環境条件カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。

温度

：‒ 40〜45°C

相対湿度：5〜80 %

湿球温度：26 °C 以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

N.2 カートリッジの輸送条件カートリッジの輸送は，次による。

N.2.1 衝撃及び振動輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策を取ること

が望ましい。

− カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。

− カートリッジは，1 mを超える高さから落下させてはならない。

− カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。

− カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃），水などの侵入がない構造とする。

− カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。

− カートリッジの収納箱は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。

N.2.2 極端な温度及び湿度温度及び湿度の急激な変化は，どのような場合でも可能な限り回避する。輸

送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。

N.2.3 誘導磁界の影響カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による

信号破壊の危険性を最小限にするため，80 mm以上とする。