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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観
図2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) ／財団法
人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標
準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS X 6147には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） 光透過率の測定法
附属書B（規定） 信号対雑音比の測定法
附属書C（規定） 記録レベルの公称値及び最大値の決定法（記録条件）
附属書D（規定） 16ビットワードから20チャネルビットパターンへの変換
附属書E（規定） ビットシフトの測定法
附属書F（規定） トラックエッジの直線性の測定法
附属書G（規定） ECCの計算
附属書H（参考） 輸送条件
附属書J（参考） 記録時再生 (RAW)
附属書K（参考） 記録グループ0の内容の例
附属書L（参考） チップの例
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 カートリッジ ················································································································ 1
2.2 書込み装置 ··················································································································· 1
2.3 読取り装置 ··················································································································· 2
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 定義 ······························································································································ 2
4.1 絶対フレーム番号 [absolute frame number (AFN)] ································································· 2
4.2 交流消 (a. c. erase) ········································································································· 2
4.3 アクセス (access) ·········································································································· 2
4.4 アルゴリズム (algorithm) ································································································ 2
4.5 エリアID (area ID) ········································································································ 2
4.6 自動トラックファインディング [automatic track finding (ATF)] ················································ 2
4.7 平均信号振幅 (average signal amplitude) ·············································································· 2
4.8 アジマス (azimuth) ········································································································ 2
4.9 裏面 (back surface) ········································································································ 2
4.10 バイト (byte) ·············································································································· 2
4.11 カートリッジ (cartridge) ································································································ 3
4.12 チャネルビット (channel bit) ·························································································· 3
4.13 コードワード (code word) ····························································································· 3
4.14 EWP (early warning point) ······························································································· 3
4.15 EOD (end of data) ········································································································· 3
4.16 エンティティ (entity) ··································································································· 3
4.17 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC)] ········································································· 3
4.18 磁束反転位置 (flux transition position) ··············································································· 3
4.19 磁束反転間隔 (flux transition spacing) ··············································································· 3
4.20 フレーム (frame) ········································································································· 3
4.21 ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame) ································································ 3
4.22 LBOT (logical beginning of tape) ······················································································· 3
4.23 磁気テープ (magnetic tape) ···························································································· 3
4.24 信号振幅主基準テープ (master standard amplitude calibration tape) ··········································· 3
4.25 主基準テープ (master standard reference tape) ······································································ 3
4.26 MIC (memory in cartridge) ······························································································· 3
4.27 パーティション境界 (partition boundary) ··········································································· 3
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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4.28 PBOT (physical beginning of tape) ······················································································ 3
4.29 PEOT (physical end of tape) ····························································································· 3
4.30 物理記録密度 (physical recording density) ··········································································· 3
4.31 記録条件 (pre-recording condition) ···················································································· 3
4.32 圧縮処理 (processing) ··································································································· 3
4.33 圧縮データ (processed data) ···························································································· 3
4.34 圧縮レコード (processed record) ······················································································ 3
4.35 レコード (record) ········································································································ 3
4.36 基準磁界 (reference field) ······························································································· 3
4.37 信号振幅二次基準テープ (secondary standard amplitude calibration tape) ···································· 4
4.38 二次基準テープ (secondary standard reference tape) ······························································· 4
4.39 セパレータマーク (separator mark) ·················································································· 4
4.40 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] ··························································· 4
4.41 基準電流 (standard reference current) ················································································· 4
4.42 テープ基準縁 (tape reference edge) ··················································································· 4
4.43 試験記録電流 (test recording current) ················································································· 4
4.44 トラック (track) ·········································································································· 4
4.45 ティピカル磁界 (typical field) ························································································· 4
4.46 未圧縮データ (unprocessed data) ······················································································ 4
4.47 未圧縮レコード (unprocessed record) ················································································ 4
5. 表記法 ··························································································································· 4
5.1 数字の表現 ··················································································································· 4
5.2 名称 ···························································································································· 4
6. 略号 ······························································································································ 4
7. 環境条件及び安全性 ········································································································· 5
7.1 試験環境条件 ················································································································ 5
7.2 使用環境条件 ················································································································ 5
7.3 保存環境条件 ················································································································ 5
7.4 輸送 ···························································································································· 6
7.5 安全性 ························································································································· 6
7.6 難燃性 ························································································································· 6
8. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 6
8.1 概要 ···························································································································· 6
8.2 全体の寸法 ··················································································································· 7
8.3 保持領域 ······················································································································ 7
8.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 7
8.5 窓 ······························································································································· 8
8.6 ローディンググリップ····································································································· 8
8.7 ラベル領域 ··················································································································· 8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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8.8 基準領域及び基準孔 ······································································································· 8
8.9 支持領域 ······················································································································ 9
8.10 識別孔 ······················································································································· 10
8.11 書込み禁止孔 ·············································································································· 10
8.12 位置決め面 ················································································································· 11
8.13 リッド ······················································································································· 11
8.14 リールロック ·············································································································· 12
8.15 リール受け孔 ·············································································································· 13
8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ············································································· 13
8.17 光通過経路 ················································································································· 14
8.18 ケース内のテープの位置 ······························································································· 14
8.19 テープ走行領域 ··········································································································· 15
8.20 テープ引出し開口部 ····································································································· 15
8.21 テープの引出し開口部のすきま ······················································································ 15
8.22 MICへの要求事項········································································································ 15
8.23 識別用切込み ·············································································································· 16
9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 34
9.1 材料 ··························································································································· 34
9.2 テープの長さ ··············································································································· 35
9.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 35
9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 35
9.2.3 スプライシングテープの長さ ························································································ 35
9.3 テープの幅 ·················································································································· 35
9.3.1 磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 ··························································· 35
9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置 ··············································································· 35
9.4 連続性 ························································································································ 35
9.5 テープの厚さ ··············································································································· 35
9.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 35
9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 35
9.5.3 スプライシングテープの厚さ ························································································ 35
9.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 35
9.7 カッピング ·················································································································· 35
9.8 塗布面の接着強度 ········································································································· 36
9.9 層間の粘着 ·················································································································· 36
9.10 引張強度 ···················································································································· 36
9.10.1 破断強度 ·················································································································· 36
9.10.2 降伏強度 ·················································································································· 36
9.11 残留伸び ···················································································································· 37
9.12 記録面の電気抵抗 ········································································································ 37
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9.13 テープの巻き方 ··········································································································· 37
9.14 テープの光透過率 ········································································································ 37
9.15 識別ストライプ ··········································································································· 37
10. 磁気的特性 ·················································································································· 38
10.1 ティピカル磁界 ··········································································································· 38
10.2 平均信号振幅 ·············································································································· 38
10.3 分解能 ······················································································································· 38
10.4 重ね書き ···················································································································· 38
10.5 消去特性 ···················································································································· 39
10.6 テープの品質 ·············································································································· 39
10.6.1 ミッシングパルス ······································································································ 39
10.6.2 ミッシングパルスゾーン ····························································································· 39
10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性 ····························································································· 39
11. フォーマット················································································································ 40
11.1 一般事項 ···················································································································· 40
11.2 基本グループ ·············································································································· 40
11.2.1 エンティティ ············································································································ 41
11.2.2 グループ情報テーブル ································································································ 42
11.2.3 ブロックアクセステーブル ·························································································· 43
11.3 サブグループ ·············································································································· 45
11.3.1 G1サブグループ ······································································································· 45
11.3.2 G2サブグループ−ランダム化······················································································ 46
11.3.3 G3サブグループ ······································································································· 47
11.4 データブロック ··········································································································· 47
11.4.1 ID情報 ···················································································································· 48
11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録 ······································································ 50
12. 記録方式 ····················································································································· 57
12.1 記録密度 ···················································································································· 57
12.2 長周期平均ビットセル長 ······························································································· 57
12.3 短周期平均ビットセル長 ······························································································· 57
12.4 短周期平均ビットセル長の変動率 ··················································································· 57
12.5 ビットシフト ·············································································································· 57
12.6 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 57
12.7 最大の記録レベル ········································································································ 57
13. トラック ····················································································································· 57
13.1 トラックの構成 ··········································································································· 57
13.2 平均トラック間隔 ········································································································ 58
13.3 トラック間隔の変化 ····································································································· 58
13.4 トラック幅 ················································································································· 58
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13.5 トラック角 ················································································································· 58
13.6 トラックエッジの直線性 ······························································································· 58
13.7 トラック長 ················································································································· 58
13.8 アジマス角 ················································································································· 58
14. 記録パターン ··············································································································· 59
14.1 記録データブロック ····································································································· 59
14.2 マージンブロック ········································································································ 59
15. トラックのフォーマット································································································· 59
15.1 トラックの内容 ··········································································································· 59
15.2 トラック位置精度 ········································································································ 60
15.3 トラッキング法 ··········································································································· 60
16. テープのレイアウト ······································································································ 61
16.1 デバイス領域 ·············································································································· 62
16.2 リファレンス領域 ········································································································ 62
16.3 ガードバンド1 ············································································································ 62
16.4 システム領域 ·············································································································· 63
16.4.1 システムプリアンブル ································································································ 63
16.4.2 システムログ ············································································································ 63
16.4.3 システムポストアンブル ····························································································· 66
16.4.4 ガードバンド2 ········································································································· 67
16.4.5 ベンダグループプリアンブル ······················································································· 67
16.5 データ領域 ················································································································· 67
16.5.1 ベンダグループ ········································································································· 67
16.5.2 記録済みデータグループ ····························································································· 67
16.5.3 ECC3 ······················································································································ 67
16.5.4 多重記録インスタンス ································································································ 68
16.5.5 再記録フレーム ········································································································· 68
16.5.6 追記録及び重ね書き ··································································································· 69
16.6 EOD領域 ··················································································································· 70
16.7 オプションデバイス領域 ······························································································· 71
16.8 LEOT ························································································································ 71
16.9 LBOT ························································································································ 71
16.10 終端予告点 ··············································································································· 71
16.11 空のパーティション ···································································································· 71
16.12 初期化 ····················································································································· 72
17. ハウスキーピングフレーム······························································································ 72
17.1 アンブルフレーム ········································································································ 72
17.2 システムアンブルフレーム ···························································································· 72
18. MICの内容 ·················································································································· 72
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001) 目次
(6)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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ページ
附属書A（規定） 光透過率の測定法 ····················································································· 74
附属書B（規定） 信号対雑音比の測定法 ················································································ 76
附属書C（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録前条件） ····························· 77
附属書D（規定） 16ビットワードから20チャネルビットパターンへの変換 ································· 78
附属書E（規定） ビットシフトの測定法 ················································································ 79
附属書F（規定） トラックエッジの直線性の測定法 ································································· 81
附属書G（規定） ECCの計算 ······························································································ 82
附属書H（参考） 輸送条件 ································································································· 85
附属書J（参考） 記録時再生 (RAW) ····················································································· 86
附属書K（参考） 基本グループ0の内容の例·········································································· 87
附属書L（参考） チップの例 ······························································································· 88
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日本工業規格 JIS
X 6147 : 2001
(ISO/IEC 18810 : 2001)
8mm幅，ヘリカル走査記録，
情報交換用磁気テープ
カートリッジ，AIT-2・MIC様式
Information technology−8mm wide magnetic tape cartridge for information
interchange−Helical scan recording AIT-2 with MIC format
序文 この規格は，2000年に第1版として発行されたISO/IEC 18810 : 2001 Information technology−8mm
wide magnetic tape cartridge for information interchange−Helical scan recording AIT-2 with MIC formatを翻訳し，
技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い
る8mm幅，ヘリカル走査記録，AIT-2･MIC (Advanced Intelligent Tape No.2 Memory In Cartridge) 様式，磁気
テープカートリッジ，メモリチップ内蔵（以下，カートリッジという。）の構造，寸法，物理的特性，機械
的特性，磁気的特性及び情報の規格様式について規定する。
この規格は，ケースに内蔵する磁気テープの厚さが異なる2種類のカートリッジを規定する。
この規格は，情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる
ことでシステム相互の情報交換に適用する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO/IEC 18810 : 2001 Information technology−8mm wide magnetic tape cartridge for information
interchanger−Helical scan recording AIT-2 with MIC format (IDT)
2. 適合性
2.1
カートリッジ カートリッジは，この規格のすべてを満足するとき，この規格に適合する。
2.2
書込み装置 情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は，テープに記録するすべての記録がこ
の規格に適合するとき，この規格に適合する。書込み装置は，MICにシステムログを記録できるものとす
る。
適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示する。
− 記録時再生によるチェック及び不良フレームの再記録。
− ECC3（誤り訂正用C3符号）フレームの生成。
また，次の任意機能の有無を明示する。
− 登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。
2
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
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− 圧縮アルゴリズムの登録番号。
2.3
読取り装置 情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は，この規格に適合するテープ上の記録
を処理でき，次の機能をもつとき，この規格に適合する。
− MICに記録したシステムログを読み取る。
− 再記録フレームを識別し，これらのフレームの一つだけから利用者データ及びセパレータマークを取
り出す。
− 同一の基本グループが複数現れてもそれを識別し，これらの中の一つだけから利用者データ及びセパ
レータマークを取り出しホストに伝える。
− ECC3フレームの識別。ただし，ECC3機能がない場合，無視する。
− 定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し，ホストが利用できる登録番号を取り出す。
− ホストが利用できる圧縮データの生成。
次の任意機能の有無を明示する。
− ECC3を使用した誤り訂正の可否。
− 圧縮データ復元用アルゴリズムの有無及びそのアルゴリズムを圧縮データに適用する機能の有無。
− その装置がもつ圧縮データ復元アルゴリズムに対応する圧縮アルゴリズムの登録番号。
3. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで，発効年（又は発行年）を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの
規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年（又は発行年）を付
記していない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS K 7161 : 1994 プラスチック−引張特性の試験方法 第1部：通則
備考 ISO 527-1 : 1993, Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 : General principlesが，この
日本工業規格と一致している。
ISO 1302 : 1992 Technical Drawings−Method of indicating surface texture
ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless
compression of data
IEC 60950 : 1996 Safety of information technology equipment
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
4.1
絶対フレーム番号 [absolute frame number (AFN)] フレームに付けた連続番号。
4.2
交流消去 (a. c. erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。
4.3
アクセス (access) パーティションの記録又は再生。
4.4
アルゴリズム (algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。
4.5
エリアID (area ID) 磁気テープ領域及び記録したフレームタイプの識別子。
4.6
自動トラックファインディング [automatic track finding (ATF)] トラッキング方法。
4.7
平均信号振幅 (average signal amplitude) 規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ
ルスがない部分を長さ20.0mm以上にわたって測定した再生ヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。
4.8
アジマス (azimuth) 磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。
4.9
裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープ面。
4.10 バイト (byte) 一単位として取り扱うビット列。
3
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
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4.11 カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。
4.12 チャネルビット (channel bit) 変調後に2進数0及び2進数1を異なった残留磁化でテープに記録
するビット。
4.13 コードワード (code word) データ圧縮アルゴリズムによって変換処理したワード。コードワード
のビット数は，可変であり，この規格では規定しない。
4.14 EWP (early warning point) パーティションの境界又はPEOTに近付いたことを示す箇所。
4.15 EOD (end of data) 最後の利用者データを含むグループの終端。
4.16 エンティティ (entity) エンティティヘッダ及びレコードによって構成する記録データの集合。
4.17 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC)] 誤りを自動訂正できるように設計した符号。
4.18 磁束反転位置 (flux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となるテープ上
の点。
4.19 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。
4.20 フレーム (frame) 正のアジマスとこれに続く負のアジマスからなる一対のトラック。
4.21 ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame) 利用者データを含まないフレーム。
4.22 LBOT (logical beginning of tape) テープ上でのデータの記録開始位置。
4.23 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。
4.24 信号振幅主基準テープ (master standard amplitude calibration tape) 交流消去したテープ上に正アジ
マス及び負アジマス，11.0μmのトラック間隔で基準信号を記録し，信号振幅の校正の基準として用いるテ
ープ。
参考1. この主基準テープは，2 053.6ftpmm及び4 107.1ftpmmの信号を記録している。
2. この主基準テープは，ソニー株式会社によって管理されている。
4.25 主基準テープ (master standard reference tape) 基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書き及び信号対
雑音比の基準として用いるテープ。
参考 この主基準テープは，ソニー株式会社によって管理されている。
4.26 MIC (memory in cartridge) ケース内にあり，テープの記録に関する情報を保持する半導体メモリ。
4.27 パーティション境界 (partition boundary) パーティションが終わり次のパーティションが始まる磁
気テープの長さ方向に沿った点。
4.28 PBOT (physical beginning of tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合か所。
4.29 PEOT (physical end of tape) テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合か所。
4.30 物理記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数
(ftpmm)。
4.31 記録条件 (pre-recording condition) 互換性維持のために許容される記録レベル。
4.32 圧縮処理 (processing) ホストからのデータを圧縮アルゴリズムによって，コードワードに変換す
る処理。
4.33 圧縮データ (processed data) 圧縮処理したコードワードの列。
4.34 圧縮レコード (processed record) 未圧縮レコードを圧縮処理することによって生成するレコード。
4.35 レコード (record) 情報の単位として扱うデータ。
4.36 基準磁界 (reference field) 主基準テープのティピカル磁界。
4
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
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4.37 信号振幅二次基準テープ (secondary standard amplitude calibration tape) 信号振幅主基準テープと同
じ種類の信号を記録し，そのテープの信号振幅と信号振幅主基準テープのそれとの偏差を明示したテープ。
供試テープの信号振幅と信号振幅主基準テープのそれとを比較するために用い，供試テープの実測値を補
正することによって，間接的に供試テープとの特性の比較を行うことを可能にするテープ。
参考 信号振幅二次基準テープは，〒141-0001 東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社RMEカ
ンパニーデータメディアマーケティング部が部品番号SSCT-AIT-2で2011年まで供給する。
4.38 二次基準テープ (secondary standard reference tape) テープの基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書
き及び信号対雑音比を主基準テープのそれと比較するために用い，その特性値と主基準テープの特性との
偏差を明示して，実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと主基準テープとの特性の
比較を行うことを可能にするテープ。
参考 二次基準テープは，〒141-0001 東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社RMEカンパニー
データメディアマーケティング部が部品番号SSRT-AIT-2で2011年まで供給する。
4.39 セパレータマーク (separator mark) データの区切りに使用する利用者データを含まないレコード。
4.40 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] 信号振幅主基準テープの正アジマストラッ
クに記録した標準信号の平均信号振幅。
4.41 基準電流 (standard reference current) 基準磁界を発生させる記録電流。
4.42 テープ基準縁 (tape reference edge) BOTのテープ接合か所が左側になるようにテープの記録面から
見たときのテープの下端。
4.43 試験記録電流 (test recording current) SRAを記録した電流で，基準電流の1.5倍の電流。
4.44 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。
4.45 ティピカル磁界 (typical field) 記録密度4 107.1ftpmmで記録して，再生したとき，その平均信号振
幅が最大値の90%を示す最小の印加磁界。
4.46 未圧縮データ (unprocessed data) 圧縮処理をしていないデータの列。
4.47 未圧縮レコード (unprocessed record) バイト単位で構成する未圧縮データのレコード。
5. 表記法
5.1
数字の表現 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち，規定値が1.26，
正の許容誤差が0.01，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未満を許容する。
ビットの設定は， “0” 又は “1” で表す。
ビットパターン及び2進数表現の数字は，“0” 又は “1” の列で表す。規定しないビットは，Xを使用し
てもよい。
ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。
2進数の負の表現は，2の補数で表す。
各フィールド内では，データバイト0を最上位バイトとし，最初に記録する。各8ビットバイトでは，
最上位ビットをb8とし，最下位ビットをb1とする。
5.2
名称 名称は，この規格では規定しない。
6. 略号 略号は，次による。
AEWP
終端予告点後 (after early warning point)
AFN
絶対フレーム番号 (absolute frame number)
5
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ATF
自動トラックファインディング (automatic track finding)
BAT
ブロックアクセステーブル (block access table)
ECC
誤り訂正符号 (error correcting code)
EOD
EOD (end of data)
EWP
終端予告点 (early warning point)
GIT
グループ情報テーブル (group information table)
LBOT
LBOT (logical beginning of tape)
LEOT
LEOT (logical end of tape)
LSB
最下位バイト (least significant byte)
LF-ID
論理フレーム識別子 (logical frame identifier)
MIC
メモリインカートリッジ (memory in cartridge)
MSB
最上位バイト (most significant byte)
MSRT
主基準テープ (master standard reference tape)
PBOT
PBOT (physical beginning of tape)
PEOT
PEOT (physical end of tape)
RAW
記録時再生 (read-after-write)
SNR
信号対雑音比 (signal-to-noise ratio)
msb
最上位ビット (most significant bit)
7. 環境条件及び安全性
7.1
試験環境条件 試験環境条件は，カートリッジ近傍の環境条件とし，規定がない限り次による。
温度 23±2℃
相対湿度 40〜60%
試験前放置時間 24時間以上
7.2
使用環境条件 使用環境条件は，書込み装置又は読取り装置のスキャナ（ドラム）からテープ取出
し方向に10mm以内の大気中で測定し，次による。
温度 5〜45℃
相対湿度 20〜80%
湿球温度 26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
使用環境条件は，装置使用に伴う温度上昇分も含む。
カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置
した時間と同等以上，又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用する。
備考 急激な温度変化は，避ける。
7.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度 5〜32℃
相対湿度 20〜60%
周辺磁界は，テープ上で4 000A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては
ならない。
6
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7.4
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Hによ
る。
7.5
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，IEC 60950の要求を満足しなければならない。
カートリッジ及びその構成部品は，適正使用時又はあらかじめ予想可能な誤使用時に，安全性，又は健
康上の危険が生じてはならない。
7.6
難燃性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチの炎などによって着火してもよいが，二
酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
8. ケースの寸法及び機械的特性
8.1
概要 カートリッジ寸法の規定は，情報交換のための要求事項とする。具体図は次による。
図1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観
図2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観
図3 基準面X，基準面Y及び基準面Z
図4 リッドが閉じた状態の前面
図5 リッドが閉じた状態の左側面
図6 リッドが閉じた状態の上面
図7 リッドが閉じた状態の右側面
図8 リッドが閉じた状態の背面
図9 底面，基準領域及び支持領域
図10 リッドがない状態の底面
図11 基準孔及び識別孔の詳細図
図12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図
図13 リッドの詳細図
図14 リッドロック解除機構の挿入経路
図15 リッドロック解除機構
図16 リールロック解除機構
図17 リールロックの解除に必要な力の方向
図18 リッドのロック解除に必要な力の方向
図19 リッドを開けるために必要な力の方向
図20 光通過経路及び光通過窓
図21 内部のテープ通過経路及び光通過経路
図22 リールの外観及び断面図
図23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図
図24 テープ引出し開口部
図25 MIC部背面のアクセス孔
図26 MIC部底面のアクセス孔
寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図3参照）。
基準面Xは，基準孔A及び基準孔Bの中心を通り，基準面Zに垂直とする。
基準面Yは，基準孔Aの中心を通り，基準面X及び基準面Zに垂直とする。
基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，基準面Z内とする。
7
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
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8.2
全体の寸法（図5及び図6） ケースの長さは，次による。
l1＝62.5mm±0.3mm
ケースの幅は，次による。
l2＝95.0mm±0.2mm
ケースの上面から基準面Zまでの長さは，次による。
l3＝15.0mm±0.2mm
背面から基準面Xまでの長さは，次による。
l4＝47.35mm±0.15mm
右側面から基準面Yまでの長さは，次による。
l5＝13.0mm±0.1mm
8.3
保持領域 カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の斜線の領域とする。
基準面Xから保持領域までの長さは，次による。
l6≦12.0mm
ケースの端からの幅は，次による。
l7≧3.0mm
8.4 カートリッジ挿入部 カートリッジ挿入部は，誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐた
めに，溝，切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。
溝は，リッドが閉じてロックした状態のとき，ロック解除を可能にするために，リッドロック解除ピン
の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面Yからの長さは，次による（図4及び図14参照）。
l8＝79.6mm±0.2mm
溝の端部の面取りは，次による。
l9＝1.0mm±0.1mm
l16＝1.5mm±0.1mm
溝の内部の面取りは，次による。
l10＝0.7mm±0.1mm
l17＝1.9mm±0.1mm
l18＝3.65mm±0.10mm
溝の内部の幅は，次による。
l11≧1.0mm
リッドの厚さは，次による。
l12＝1.2mm±0.1mm
リッドの面取りは，次による。
l13＝0.8mm±0.1mm
l14＝1.2mm±0.1mm
リッドのケースからの突出は，次による。
l15＝0.5mm±0.1mm
ケースの左側面からリッドロックまでの長さは，次による。
l19＝0.2mm±0.2mm
挿入領域の高さは，次による。
l20≧2.3mm
8
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l21＝2.5mm
mm
2.0mm
0.0
+−
切込みは，カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は，次による（図7及び図10参照）。
l22≦7.5mm
l23＝11.0mm±0.2mm
l24＝1.5mm±0.1mm
切込みの深さは，次による。
l25＝1.5mm±0.1mm
こう配面は，リッドの構造の一部とし，基準面Xからの長さは，次による（図13参照）。
l26＝7.7mm
mm
0.0mm
5.2
+−
こう配面の角度は，半径r3と交差するところまでとし（8.13参照），次による。
a1＝17.5°±4.0°
8.5
窓（図1） 窓は，リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合，カ
ートリッジの高さを超えてはならない。
8.6
ローディンググリップ（図5及び図7） ロディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジを
自動的に装着するために設ける。
ローディンググリップの中心線の基準面Xからの長さは，次による。
l28＝39.35mm±0.20mm
ローディンググリップの基準面Z及びカートリッジ上面からの長さは，次による。
l29＝1.5mm±0.1mm
ローディンググリップのくぼみの幅は，次による。
l30＝5.0mm±0.3mm
ローディンググリップのくぼみの深さは，次による。
l31＝2.0mm±0.2mm
ローディンググリップのくぼみの傾斜は，次による。
a2＝90°±5°
8.7
ラベル領域（図6及び図8） ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ
ル領域の位置及び寸法は，カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。
上面のラベル領域は，l6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。
背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。
l32≧0.5mm
l33≧1.5mm
l34≦65.0mm
l171≧l164
ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。
8.8
基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11） 環状の基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，
基準面Z上に設け，磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ
れの直径d1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。
基準孔A及び基準孔Bの中心は，基準面X上とする。
円形の基準孔Aの中心は，基準面X及び基準面Yの交線とする（図10参照）。
基準孔Bの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図9参照）。
9
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l35＝68.0mm±0.1mm
円形の基準孔Cの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。
l36＝10.20mm±0.05mm
基準孔Dの中心から基準孔Cの中心までの長さは，次による（図9参照）。
l37＝89.4mm±0.2mm
基準孔C及び基準孔Dの中心から基準面Xまでの長さは，次による（図10参照）。
l38＝36.35mm±0.08mm
基準領域のケースの厚さは，次による。
l39＝1.2mm±0.1mm
基準孔A及び基準孔Cの深部の直径は，次による。
l40≧2.6mm
基準孔の深さは，次による。
l42≧4.0mm
基準孔A及び基準孔Cの開口部付近の直径は，次による。
l44≧3.00mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
基準孔A及び基準孔Cの直径がl44となる部分の深さは，次による。
l41≧1.5mm
基準孔A及び基準孔Cの開口部の面取りは，次による。
l43≦0.3mm
a3＝45°±1°
基準孔B及び基準孔Dの深部の幅は，l40とする。
基準孔B及び基準孔Dの深さは，l42とする。
基準孔B及び基準孔Dの開口部付近の寸法は，次による。
l45＝3.5mm±0.1mm
l46≧3.00mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
r1≧1.75mm
基準孔B及び基準孔Dの寸法がl45，l46及びr1となる部分の深さは，l41とする。
基準孔B及び基準孔Dの開口部の面取りは，l43及びa3とする。
8.9
支持領域（図9） カートリッジ支持領域は，図9の網掛け部分とする。支持領域A，支持領域B
及び支持領域Cは，それぞれ，基準領域A，基準領域B及び基準領域Cから±0.1mm以内で同一の平面
上とする。支持領域Dは，基準面Zから±0.15mm以内で同一の平面上とする。
カートリッジの端からl49の長さの領域は，支持領域から除かなければならない。
l49＝0.5mm±0.1mm
基準面Xから支持領域A及び支持領域Bのケース前面側の端までの長さは，次による。
l47＝10.0mm±0.1mm
基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A及び支持領域Bのケース側面側の端までの長
さは，l47とする。
基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A及び支持領域Bのケース内側の端までの長さ
は，次による。
l48＝11.0mm±0.1mm
10
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
基準面Xから支持領域A及び支持領域Bのケース背面側の端までの長さは，次による。
l50＝7.0mm±0.1mm
基準面Xから支持領域C及び支持領域Dまでの長さは，次による。
l51＝30.0mm±0.1mm
支持領域C及び支持領域Dの寸法は，l47及び次による。
l52＝5.5mm±0.1mm
l53＝64.5mm±0.2mm
8.10 識別孔（図10，図11及び図12） 識別孔は，図11に示す1及び2の番号を付けた2個を設ける。
識別孔1の中心の位置は，次による。
l55＝39.65mm±0.15mm
l56＝2.5mm±0.1mm
識別孔1は，円形とし，その直径は，3.0mm±0.1mmとする。
識別孔2は方形とし，その位置及び寸法は次による。
l58＝74.3mm±0.1mm
l142＝77.3mm±0.1mm
l143＝41.15mm±0.10mm
l144＝44.45mm±0.10mm
閉じた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。
l59＝1.2mm
mm
3.0
mm
1.0
+−
開いた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。
l60≧5.0mm
図12のE-Eは，識別孔をプラグで閉じた状態を示す。このプラグは，最大0.5Nの力を加えても打ち抜
かれてはならない。
識別孔の開閉状態は，次による。
識別孔1は，閉じる。
識別孔2は，開く。
8.11 書込み禁止孔（図11及び図12） 書込み禁止孔は，方形とし，その位置及び寸法は，次による。
l172＝5.40mm
mm
05
.0
mm
10
.0
+−
l173＝9.1mm±0.1mm
l174＝1.4mm±0.1mm
l175＝8.2mm±0.1mm
r9＝1.6mm
mm
15
.0
mm
10
.0
+−
平面Zからの書込み禁止孔の位置は，次による。
l180≧3.0mm
書込みは，平面Zからの書込み禁止孔可動部の位置によって，可能又は禁止とする。
書込み可能の場合は，次による。
l181＝0.00mm
mm
00
.0
mm
25
.0
+−
書込み禁止の場合は，次による。
l182≧3.0mm
可動部の位置及び寸法は，次による。
11
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l176＝5.45mm
mm
10
.0
mm
15
.0
+−
l177＝9.05mm±0.15mm
l178＝1.57mm±0.15mm
l179＝5.23mm
mm
10
.0
mm
15
.0
+−
書込み禁止孔は，可動の機構としてもよいが，書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければならない
（図8参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止孔の開閉
に要する力は，1N〜29Nとする。
8.12 位置決め面（図4及び図10） 位置決め面は，カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき，カ
ートリッジの位置決めに用い，その寸法は，次による。
基準面Zからの長さは，次による。
l62＝2.4mm
mm
0.0
mm
1.0
+−
基準面Yからの長さは，次による。
l63＝1.0mm±0.1mm
l64＝69.0mm±0.2mm
基準面Xからの長さは，次による。
l65＝14.65mm±0.10mm
位置決め面の面取りは，次による。
a4＝45°±1°
8.13 リッド（図6，図13及び図15） リッドは，カートリッジの取扱い中，保管中及び運搬中にテープ
を保護するために設け，主リッド及び副リッドからなる。
主リッドは，ケースに取り付けた軸Aを軸として回転する（図13参照）。
軸Aの位置は，次による。
l27＝0.55mm±0.10mm
l67＝7.5mm±0.1mm
副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動く軸Bを軸として回転する。リッドが閉じた状
態では，軸Bの位置は，次による。
l68＝7.0mm±0.1mm
l69＝10.1mm±0.1mm
副リッドの回転は，両側のカムによって，図13に示す経路で制御する。
完全に開いた副リッドの平面Zからの開口部の高さは，次による。
l70≧14.8mm
ケースは，リッドと副リッドの間に適当なすきまがあるものとし，次による。
l71＝11.5mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
l72＝1.2mm±0.1mm
リッドは，完全に開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl73離れた平面を超え
てはならない。
l73≦22.3mm
完全に開いたリッドの底面が基準面Zに対する角度は，次による。
a5＝85°
°
+°
−12
リッドは，途中まで開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行でl74離れた平面を超
12
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
えてはならない。
l74≦22.5mm
リッドが開くときのリッドの頂点の通過経路は，次による。
r2≦14.9mm
ケースと主リッドの継ぎ目は，次による（図6参照）。
l75≦8.4mm
主リッドの基準面Zからの高さは，次による（図13参照）。
l76≦15.2mm
mm
0.0
mm
5.0
+−
主リッドの前面の基準面Xからの長さは，次による。
l77≦15.3mm
mm
0.0
mm
3.0
+−
リッドの内側のすきまは，次による。
l78＝13.15mm±0.10mm
リッド前面の曲面の中心は，軸Aとし，半径は，次による。
r3≦14.7mm
リッドロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。リッドが閉じロックした位置のとき，リッド
ロックの解除動作は，図15の斜線部に遮られてはならない。図15の斜線部は，次による。
l79＝2.0mm±0.1mm
l145＝6.3mm±0.2mm
l146＝1.2mm±0.1mm
a15＝45°±1°
a16＝15°±1°
解除ピンは，図15の網掛け領域にあるとき，リッドロック機構を解除する。図15の網掛け領域は，l79
及び次による。
l80＝8.2mm±0.2mm
l81＝0.7mm±0.2mm
a6＝15°±1°
リッドロックの解除に要する力は，図18に示す方向に0.25N以下とする。
リッドを開く力は，図19に示す方向に1.0N以下とする。
8.14 リールロック（図10及び図16） リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき，
ロックしなければならない。ロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。
ロック機構は，図10に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面Yからの長さは，
次による。
l82＝4.5mm±0.1mm
方形孔の基準面Xからの寸法は，次による（図10参照）。
l83＝35.85mm±0.15mm
l84＝4.0mm±0.1mm
l85≧6.5mm
ロック機構の寸法は，次による。
l86＝3.2mm
mm
3.0
mm
2.0
+−
l87＝4.0mm±0.1mm
13
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a7＝60.0°±1.0°
解除ピンの動作面が基準面Xからl88に位置するとき，リールはロックする。
l88＝39.0mm
mm
0.2
mm
0.0
+−
解除ピンの動作面が基準面Xからl89に位置するとき，リールはロックしてはならない。
l89＝41.75mm
mm
50
.0
mm
00
.0
+−
カートリッジの背面板の内側とロック機構の間にl90のすきまを設ける。
l90≧0.5mm
解除ピンをカートリッジに挿入する深さは，次による。
l91≦7.8mm
ロック機構のすきまは，次による。
l92＝4.0mm±0.1mm
r4≦0.3mm
リールロックの解除に要する力は，図17に示す方向に1.0N以下とする。
8.15 リール受け孔（図10） 二つのリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設ける。
リール受け孔の位置は，次による。
l93＝23.00mm±0.05mm
l94＝11.40mm±0.05mm
l95＝46.2mm±0.1mm
リール受け孔の直径は，次による。
d2＝18.80mm±0.05mm
8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 リールと駆動スピンドルの接触領域は，次による（図22及
び図23）。
l102＝5.4mm±0.1mm
l103＝4.4mm±0.1mm
l104≦0.6mm
d4＝10.00mm
mm
08
.0
mm
00
.0
+−
d5≦16.0mm
d6＝18.0mm
mm
0.0
mm
1.0
+−
d7＝16.0mm
mm
0.0
mm
1.0
+−
リール駆動孔の面取りは，次による。
l105＝2.4mm±0.1mm
a9＝15°±1°
リール底面の外側エッジの面取りは，次による。
l106≦0.2mm
a8＝45°±1°
リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は，次による。
l107≦2.4mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
a10＝60°±1°
リール駆動孔の歯の半径は，次による。
r5≦0.2mm
14
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。
l108≧9.4mm
d3≧6.50mm
mm
08
.0
mm
00
.0
+−
基準面Zからのテープ中心線の位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。
l109＝7.05mm±0.10mm
基準面Zからのリールの位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。
l110＝0.6mm±0.2mm
リールを挿入したとき，リールと駆動スピンドルとのかみ合いは，次による。
l111≦7.5mm
l112≦8.0mm
a11＝60°±1°
リールのばね力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持部が基準面Zからl110の位置にあ
るとき，図23に示す方向に0.6N±0.2Nとする。
8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21） 光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープを
検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径d10の光通過孔から一辺がl118の正方形
の窓，及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない（図12のD-D参照）。
光通過孔の中心の位置は，l82及び次による。
l115＝8.35mm±0.10mm
光通過孔の直径は，次による。
d10≧6.5mm
mm
3.0
mm
0.0
+−
光通過孔の開口部の面取りは，次による。
l116≦0.5mm
a12＝45°±1°
光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は，次による。
l117＝6.05mm±0.10mm
l118＝2.5mm
mm
4.0
mm
0.0
+−
光通過孔は，発光素子を挿入するため，次の深さとする。
l119≧12.5mm
光通過経路の角度は，次による。
a13＝5.50°±0.25°
リッドの光通過窓の位置及び寸法は，次による。
l120＝3.8mm±0.1mm
l121＝2.5mm
mm
4.0
mm
0.0
+−
l122＝6.05mm±0.10mm
8.18 ケース内のテープの位置（図21） テープは，基準面Xに平行な二つのガイド面を通る。基準面X
からガイド面までの長さは，次による。
l123＝13.15mm±0.10mm
ガイド面は，r6の半径をもち，図21に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな
ければならない。
r6＝3.0mm±0.1mm
15
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
これらの点の位置及び寸法は，次による。
l124＝76.28mm±0.30mm
l125＝27.15mm±0.20mm
l126＝31.15mm±0.20mm
l127＝9.67mm±0.10mm
8.19 テープ走行領域（図21） カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，テープガイド
によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テー
プ走行領域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，l124からl127及び次による。
l128＝23.0mm±0.1mm
l130＝46.2mm±0.2mm
l131＝11.4mm±0.1mm
テープとガイドのすきまは，次による。
l129≧0.3mm
l132≧0.3mm
8.20 テープ引出し開口部（図10） 磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置のテ
ープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。二つの半径r7の中心は，基準孔A及び基準孔Bの
中心とする。テープ引出し開口部の形状及び寸法は，l63，l64及び次による。
r7＝2.3mm±0.1mm
二つの半径r8の中心は，二つのリール受け孔の中心とする。
r8＝24.15mm±0.10mm
l133＝3.85mm±0.10mm
8.21 テープの引出し開口部のすきま（図24） ケースは，テープ引出し機構のためのすきまを設け，そ
の形状と寸法は，次による。
l134≦1.2mm
l135＝1.15mm
mm
20
.0
mm
00
.0
+−
l136＝14.0mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
l137≧66.8mm
l138≧10.0mm
l139≧66.8mm
l140≦1.2mm
a14≦49°
l141≧14.8mm
l159≧13.0mm
l170≦4.0mm
8.22 MICへの要求事項（図25及び図26） MICは，ケース中のIC素子とし（附属書L参照），5か所
のアクセス孔によってアクセスする。
MICは，ケースに組み込み，装置にケースを装着するとき，MICと装置が5か所のアクセス孔を通して
1.70mm以上接触する。インタフェースは，I2CTMとする。アクセス孔の位置及び寸法は，次による。
アクセス孔GNDは，次による。
l165＝67.2mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
16
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l166＝69.0mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
アクセス孔SCLは，次による。
l167＝70.0mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
l168＝71.8mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
アクセス孔IDは，次による。
l169＝72.8mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
l147＝74.6mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
アクセス孔SDAは，次による。
l148＝75.6mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
l149＝77.4mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
アクセス孔Vccは，次による。
l150＝78.4mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
l151＝80.2mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
5か所のアクセス孔は，次による。
l152＝5.1mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
l153＝1.4mm
mm
3.0
mm
1.0
+−
MICアクセス孔の面取りは，次による。
l154＝0.4mm±0.1mm
a17＝45°±1°
カートリッジを磁気テープ装置に装着するとき，カートリッジを識別するため，装置のピンが識別孔3
を貫く。このため，図26のN-Nの網掛け領域に障害物があってはならない。図26の網掛け領域は，l143，
l144及び次による。
l157≧5.0mm
l158≦1.5mm
l160≧45.4mm
8.23 識別用切込み（図8及び図10） 識別用切込みは，ケースの背面に2個設け，ライブラリシステム
でカートリッジの識別に用いる。その寸法は，次による。
l161＝8.4mm
mm
0.0
mm
2.0
+−
l162＝6.0mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
l163＝2.0mm
mm
2.0
mm
0.0
+−
l164＝2.0mm
mm
2.0
mm
1.0
+−
17
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観
図2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観
18
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図3 基準面X，基準面Y及び基準面Z
図4 リッドが閉じた状態の前面
19
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図5 リッドが閉じた
状態の左側面
図6 リッドが閉じた状態の上面
図7 リッドが閉じた
状態の右側面
図8 リッドが閉じた状態の背面
20
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図9 底面，基準領域及び支持領域
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図10 リッドがない状態の底面
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図11 基準孔及び識別孔の詳細図
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図12 光通過孔，識別孔及び禁止孔の断面図
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図13 リッドの詳細図
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図14 リッドロックの解除機構の挿入経路
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図15 リッドロック解除機構
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図16 リーリロック解除機構
図17 リールロックの解除に必要な力の方向
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図18 リードのロック解除に必要な力の方向
図19 リッドを開けるために必要な力の方向
図20 光通過経路及び光通過窓
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図21 内部のテープ通過経路及び光通過経路
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図22 リールの外観及び断面図
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図23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図
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図24 テープ引出し開口部
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図25 MIC部の背面の詳細図
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図26 MIC部底面の詳細図
9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法
この規格は，テープの厚さが異なる2種類のカートリッジを規定する。
タイプA：公称厚さ7.0μm
タイプB：公称厚さ5.2μm
9.1
材料 磁気テープは，ベース（又はこれと同等品）上の片面に強固で柔軟性のあるメタル蒸着層（又
はこれと同等品）をもつとする。磁気テープの裏面は，塗布してもよい。テープベース材は，次による。
タイプA：配向したポリエチレンテレフタレートフィルム又はこれと同等品
タイプB：ポリアミドフィルム又はこれと同等品
テープの始端には，巻取りリールのハブとPBOTの間にリーダテープを設け，テープの終端には，供給
リールのハブとPEOTの間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは，ポリエチレ
ンテレフタレート（又はこれと同等品）の半透明な材料とする。
リーダテープ及びトレーラテープは，それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。
スプライシングテープは，ポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）とし，片面にはアクリル系
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
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接着剤（又はこれと同等品）を塗布する。
9.2
テープの長さ
9.2.1
磁気テープの長さ 磁気テープの長さは，PBOTとPEOTとの間で測定し，次による。
タイプA：5.0m〜170.0m
タイプB：5.0m〜230.0m
9.2.2
リーダテープ及びトレーラテープの長さ リーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜
90mmとする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は，テープ基準縁の垂直方向に1°
以内とする。
9.2.3
スプライシングテープの長さ スプライシングテープの長さは，13mm以内とし，リーダテープ及
びトレーラテープ上で6.5mm±1.5mmとする。
9.3
テープの幅
9.3.1
磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとする。
幅の最大値と最小値の差は，6μmを超えてはならない。
リーダテープ及びトレーラテープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。
磁気テープの幅の測定方法は，次による。
a) 顕微鏡用のスライドガラスを試験テープにかぶせる。
b) 張力をかけないでテープ幅を測定する。測定には，2.5μm以上の高精度の顕微鏡，投影機又はこれと
同等の装置を使用する。
c) 長さ1m以上のテープにわたり，異なる5か所以上の位置で測定を繰り返す。
テープの幅は，測定した値の平均とする。
9.3.2
スプライシングテープの幅及び位置 スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが
リーダテープ，トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は，次による。
スプライシングテープの下端は，その他のテープの下端から0.6mm以下とし，スプライシングテープの
上端は，その他のテープの上端から0.60mm以内とする。スプライシングテープの端が，リーダテープ，
トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。
9.4
連続性 テープは，PBOTとPEOTとの間に継目や孔のような不連続があってはならない。
9.5
テープの厚さ
9.5.1
磁気テープの厚さ 磁気テープの厚さは，次による。
タイプA：6.5μm〜7.3μm
タイプB：5.0μm〜5.5μm
9.5.2
リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，9μm〜
17μmとする。
9.5.3
スプライシングテープの厚さ スプライシングテープの厚さは，27μm以下とする。
9.6
長手方向の湾曲 長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。
長さ1.0mのテープを平面上に自然の状態で置く。1.0mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以
下とする。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。
9.7
カッピング カッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.7mm以下とする。試
験方法は，次による。
a) テープを長さ150mm±10mmに切り取る。
b) 磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以上放置する。
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 2個の円筒型ガイドの中心を35mm離して水平に置き，その上にテープを置く。
d) テープの両端に0.3gの重りをつける。
e) テープの上端と下端で決まる面とテープ表面との距離の最大値を測定する。
9.8
塗布面の接着強度 接着強度は，塗布面をテープのベース材料からはがす力とし，0.1N以上とする。
試験方法は，次による（図27参照）。
a) 長さ約380mmのテープの試験片を採り，一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき線をベ
ース面に達するまで引く。
b) 図27に示すように，塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属
の板にはり付ける。
c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254mm／分で引っ
張る。
d) 塗布面のいかなる部分でも最初にベース材料から塗布面がはがれたときの力を記録する。この力が
0.1Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テープを使用す
る。
テープの裏面に塗布されている場合は，a)〜d)に準じて，裏面の試験を行う。
図27 塗布面の接着強度の試験法
9.9
層間の粘着 層間の粘着は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び塗布面のはが
れの兆候があってはならない。試験方法は，次による。
a) 直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。
b) 1.1Nの張力でガラス管にテープを巻く。
c) 巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境に4時間放置する。
d) さらに，試験環境条件に24時間放置する。
e) 試験片の自由端に0.1Nの力を加え，ゆっくりほどく。
9.10 引張強度 引張強度は，JIS K 7161の試験方法による。
テープの試験片の長さは，200mmとする。リーダテープ及びトレーラテープの試験片の長さは，50mm
とする。引張速度は，100mm／分とする。
9.10.1 破断強度 破断強度は，テープが破断するのに要する力とし，6N以上とする。
試験方法は，次による。
テープの試験片を破断点に達するまで引っ張る。破断点へ達する力を破断強度とする。
9.10.2 降伏強度 降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，3N以上とする。
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9.11 残留伸び 残留伸びは，元のテープ長の0.04%未満とする。試験方法は，次による。
a) 0.20N以下の張力で，約1m長の試験片の初期の長さを測定する。
b) さらに全断面に20.5N/mm2の力を10分間加える。
c) 加えた力を取り除き，10分後にテープ長を測定する。
9.12 記録面の電気抵抗 記録面の電気抵抗は，103Ω以下とする。
試験方法は，次による（図28参照）。
a) テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。
b) 24カラットの金めっきした半径r＝10mmで粗さをN4（ISO 1302参照）で仕上げてある二つの半円の
電極に，記録面が接するように置く。これらの電極は，水平で，中心間の距離d＝8mmとなるように
平行に置く。
c) 5N/mm2の張力を発生させるために必要な力Fを試験片の両端に加える。
d) 電極に7V±1Vの直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，読み取った抵抗値を平均する。
試験片を電極に置くとき，電極間には，試験片以外の導電性のものがあってはならない。
備考 試験前に電極の表面を清掃する。
図28 記録面の電気抵抗試験法
9.13 テープの巻き方 テープの巻き方は，テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。
9.14 テープの光透過率 磁気テープの光透過率は，5%以下とする。
リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60%以上とする。
光透過率の測定方法は，附属書Aによる。
9.15 識別ストライプ 1本の識別ストライプは，リーダテープ裏面の全幅にわたって印刷しなければなら
ない。（図29参照）。ストライプの長さは，次による。
l180＝3.0mm±0.1mm
接合部に隣接するストライプ端の位置は，リーダテープと磁気テープの接合部からとし，次による。
l181＝20.7mm±10.8mm
ストライプの光透過率は，附属書Aによって測定した場合，10%以下とする。
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図29 識別ストライプの位置
10. 磁気的特性 磁気的特性の試験は，次による。
この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，主基準テープ，供試テープともに同じ装置の同
じ走行系を使用し，記録時再生によって行う。
規定がない限り，磁気的特性の試験条件は，次による。
テープの状態：記録密度4 107.1ftpmmの平均信号振幅の0.1%未満に交流消去
スキャナの直径 ：40.00mm
mm
01
.0
mm
00
.0
+−
スキャナの回転速度 ：6 400.0rpm±0.5rpm
テープ速度 ：27.51mm/s±0.30mm/s
試験トラック ：正アジマス
再生ヘッドのギャップ長：0.18μm±0.05μm
記録電流 ：試験記録電流
記録トラック幅 ：11μm±1μm
テープ張力 ：スキャナ（ドラム）入口で0.050N±0.005N
記録ヘッドのギャップ長：0.18μm±0.05μm
再生ヘッドのトラック幅：13μm〜15μm
再生ヘッドの配置 ：再生トラックの全幅が記録トラックの内側
再生出力 ：基本周波数で測定
10.1 ティピカル磁界 ティピカル磁界は，基準磁界の80%〜112%とする。
基準磁界の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.2 平均信号振幅 平均信号振幅は，記録密度4 107.1ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号
振幅の90%〜140%とする。
平均信号振幅は，記録密度2 053.6ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号振幅の90%〜130%
とする。
主基準テープの平均信号振幅の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.3 分解能 分解能は，記録密度4 107.1ftpmmの平均信号振幅を2 053.6ftpmmの平均信号振幅で除した
値とし，その値は，主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して85%〜120%とする。
主基準テープの分解能の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.4 重ね書き 重ね書きは，低記録密度の信号を記録した後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残留
する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。
主基準テープの重ね書きの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
試験方法は，次による。
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交流消去したテープを用い記録密度821.4ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を測定する。記録密度8
214.2ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度821.4ftpmmの信号の平均信号振幅を測定する。二次
基準テープについて繰返し測定する。
要求事項は，次による。
重ね書きは，次の比によって求めたとき，主基準テープの120%未満とする。
の信号の平均信号振幅
記録密度
の信号の平均信号振幅
記録密度
重ね書き後に残留する
821.4ftpmm
821.4ftpmm
10.5 消去特性 消去特性は，次による。
試験記録電流で記録密度821.4ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に320 000A/mの均一な磁
界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，標準信号振幅の2%以下とする。
消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。また，測定はバンドパス
フィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。
10.6 テープの品質 テープの品質は，次による。
10.6.1 ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0V
を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度2 053.6ftpmmの信号の平均信号振幅の2分の1の40%以下とする。
10.6.2 ミッシングパルスゾーン ミッシングパルスゾーンは，次による。
ミッシングパルスゾーンは，ミッシングパルスによって開始し，トラック方向に1mmの長さに達した
とき終了する。ミッシングパルスが連続して1mmを超えて発生したとき，次のミッシングパルスゾーン
とする。
一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。
ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について5×106の
磁束反転当たり1個未満とする。
10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性 信号対雑音比は，再生信号の平均信号振幅を雑音の平均信号振幅で除し，
デシベル (dB) で表す。
SNR＝20logStape/Ntape
ここに，
SNR： 信号対雑音比 (dB)
Stape： 再生信号の平均信号振幅
Ntape： 雑音の平均信号振幅
要求事項は，次による。
試験テープのSNRは，附属書Bの測定法で測定したとき，主基準テープのSNRに比べて−2dB以上よ
くなければならない。
主基準テープのSNRの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
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11. フォーマット
11.1 一般事項 この規格によって規定するデータの最小集合をレコードと呼ぶ。レコードは，テープ装
置で処理し記録するためにホストから提供されるデータバイトを識別する最小単位である。また，レコー
ドは，テープ装置で再処理してホストに送るためのデータを識別する最小単位である。圧縮レコードと未
圧縮レコードの2種類のレコードがある。
記録したテープは，未圧縮レコード，圧縮レコード，又はこれらの両方を含むことができることとし，
セパレータマークを含んでもよい。圧縮レコード及び未圧縮レコードは，共にエンティティとしてテープ
に記録する。セパレータマークは，構造スキームでのデータの論理的な区分を示すためにホストが使用し
てもよい。
エンティティ及びセパレータマークは，グループにまとめる。各グループのインデックスによって，そ
のグループの内容を記述する。一連の転送過程中での処理，すなわち，ランダムマイジング，インタリー
ビング，ブロッキング，二つのリードソロモン誤り訂正符号の生成と記録，及びバイトからチャネルビッ
トへの変換は，テープに記録する前に各グループに適用する。3番目のリードソロモン誤り訂正符号をグ
ループに適用してもよい。その場合，生成するバイトを変換して，テープ上のグループの後に続くフレー
ム内に記録する。
各グループは，トラックのグループ上に記録する。各トラック上の利用者データ，セパレータマーク，
及び関連情報を記録する部分は，トラックのメインデータゾーンと呼ぶ。グループの内容，トラックの位
置，及びトラックの内容についての追加情報は，メインデータゾーンのID領域内にある記録データブロ
ックのヘッダに記録する。
ホストコンピュータから受け取ったデータに対するすべての処理は，誤り検出符号及び誤り訂正符号の
使用方法を含めて規定する。ただし，処理方法については，規定しない。テープへの記録方法及びテープ
レイアウトを規定する。ただし，このフォーマットは，固有の特性をもっているので，必要な場合，デー
タの処理についての規定で，テープレイアウトの詳細を規定する。
11.2 基本グループ 記録するデータは，1 202 688バイトの基本グループにグループ化する。基本グルー
プのバイトは，0から始まる連続番号を付けて識別する。各基本グループのバイトは，1〜1 202 688の番号
で識別する。
基本グループ0の内容は，この規格では規定しない。この基本グループのデータは，テープシステムで
生成し，ベンダグループとして記録する（附属書K参照）。
ホストコンピュータから受け取ったデータ及びセパレータマークは，基本グループ0の後に，基本グル
ープ1から開始して基本グループとしてグループ化する。これらの基本グループの構成は，次による。
参考 この規格では，セパレータ1及びセパレータ2と呼ぶ2種類のセパレータマークを使用する。
磁気テープ装置とホストコンピュータ間のインタフェースを定義する他の規格は，セパレータ
マークをファイルマーク及びセットマークと呼んでいる。その場合には，セパレータ1はファ
イルマークとし，セパレータ2は，セットマークとすることを推奨する。
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
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図30 基本グループの構成
エンティティを構成するデータは，基本グループで左から右に生成する（図30参照）。同時にブロック
アクセステーブル (BAT) と呼ぶ基本グループの一部は，右から左に生成する。グループ情報テーブル
(GIT) は，基本グループ内の40バイトとする。
11.2.1 エンティティ
11.2.1.1 内容 エンティティは，エンティティヘッダ及びレコード列から構成する。エンティティヘッダ
の長さは，8バイトとし，レコード列の前に配置する。
エンティティのすべての圧縮レコードは，同じ長さの未圧縮レコードについて同一の圧縮アルゴリズム
を適用して生成する。
エンティティは，すべてのエンティティヘッダ及びレコード列の最初の8ビットが同じ基本グループに
あれば，複数の基本グループにまたがってもよい。
エンティティが複数の基本グループにまたがる場合，基本グループ内の部分とし，エンティティのスタ
ートパート，ミドルパート，又はラストパートのいずれかとする（11.2.3.2〜11.2.3.4参照）。
エンティティは，交換用データを含まないレコードを含めてはならない。
11.2.1.2 エンティティヘッダ バイト1は，レコード列に隣接するエンティティヘッダの最初のバイトと
し，バイト8は，最後のバイトとする。エンティティヘッダのレイアウトは，次による。
バイト1
このバイトは，エンティティヘッダのバイト8を定義するために0000 1000つまり8に
設定する。
バイト2
このバイトは，次による。
−レコードが未圧縮レコードの場合，1に設定する。
−レコードが圧縮レコードの場合，
・レコードに適用する圧縮アルゴリズムISO/IEC 11576によって，登録IDに対応する
2〜254に設定する。
・圧縮アルゴリズムが未登録の場合，255に設定する。
このバイトは，0に設定してはならない。
バイト3〜5
圧縮する前のレコードのバイト数を2進数で表す（11.2.1.1の第2段落を参照）。この
長さは，0に設定してはならない。バイト3は，MSBとし，バイト5は，LSBとする。
バイト6〜8
エンティティ内のレコードの数を2進数で表す。この値は，0に設定してはならない。
バイト6は，MSBとし，バイト8は，LSBとする。
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11.2.2 グループ情報テーブル グループ情報テーブルのレイアウトは，40バイトとし，表1による。
表1 グループ情報テーブル
バイト位置 バイト長
フイールド名
1 202 649
1
すべて0に設定
1 202 650
3
基本グループ番号
〜
1 202 652
1 202 653
4
レコード数
〜
1 202 656
1 202 657
4
セパレータ1数
〜
1 202 660
1 202 661
4
セパレータ2数
〜
1 202 664
1 202 665
1
すべて0に設定
1 202 666
3
前のレコードの基本グループ番号
〜
1 202 668
1 202 669
1
すべて0に設定
1 202 670
3
前のセパレータ1の基本グループ番号
〜
1 202 672
1 202 673
1
すべて0に設定
1 202 674
3
前のセパレータ2の基本グループ番号
〜
1 202 676
1 202 677
2
ブロックアクセステーブル数
1 202 678
最下位2バイト
1 202 679
2
現在の基本グループのレコード数
1 202 680
最下位2バイト
1 202 681
2
現在の基本グループのセパレータ1数
1 202 682
最下位2バイト
1 202 683
2
現在の基本グループのセパレータ2数
1 202 684
最下位2バイト
1 202 685
1
ブロックアクセステーブル数のMSB
1 202 686
1
現在の基本グループのレコード数のMSB
1 202 687
1
現在の基本グループのセパレータ1数の
MSB
1 202 688
1
現在の基本グループのセパレータ2数の
MSB
表1の各フィールド内の最上位バイトは最小バイト番号とし，最下位バイトは，最大バイト番号とする。
ただし，最後の4個の1バイトエントリは，それぞれ最後の4個の2バイトの最上位バイトとする。
11.2.2.1 グループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。現在の基本グループの番号を2
進数で表す。
11.2.2.2 レコード数フィールド このフィールドは，4バイトとする。LBOTから現在の基本グループま
での，すべての基本グループのGITの現在の基本グループフィールド内にあるレコード数の合計を2進数
で表す。セパレータマークは，レコードとして計数する。
43
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.2.2.3 セパレータ1数フィールド このフィールドは，4バイトとする。LBOTから現在の基本グルー
プまでに記録したセパレータ1の数を2進数で表す。
11.2.2.4 セパレータ2数フィールド このフィールドは，4バイトとする。LBOTから現在の基本グルー
プまでに記録したセパレータ2の数を2進数で表す。
11.2.2.5 前のレコードのグループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。セパレータマー
ク，又は未圧縮レコードの最初の部分が発生した前の基本グループの最大番号を2進数で表す。このよう
な基本グループが存在しない場合は，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.6 前のセパレータ1のグループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。最後に記録
したセパレータ1を含む前の基本グループの最大番号を2進数で表す。このような基本グループが存在し
ない場合は，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.7 前のセパレータ2のグループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。最後に記録
したセパレータ2を含む前の基本グループの最大番号を2進数で表す。このような基本グループが存在し
ない場合は，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.8 ブロックアクセステーブル数フィールド このフィールドは，3バイトとする。ブロックアクセ
ステーブル内のエントリ数を2進数で表す。この値は，基本グループ内のレコード又はパーシャルレコー
ドの数を示すものではない。
11.2.2.9 現在の基本グループのレコード数フィールド このフィールドは，3バイトとする。次の合計を
2進数で表す。
− 現在の基本グループのBAT内にあるセパレータマークエントリの数
− 現在の基本グループのエンティティ内にあるレコードの数
− 現在の基本グループのBAT内にエンタイヤエンティティエントリ全体（11.2.3.1 参照）がある
すべてのエンティティのエンティティヘッダのバイト6からバイト8までの値の合計
− 現在の基本グループのBAT内にエンティティエントリのスタートパートがある（11.2.3.2 参照）
エンティティのエンティティヘッダのバイト6からバイト8までの値よりも1小さい値（このよ
うなエントリが存在する場合）
− 現在の基本グループのBAT内のエンティティエントリの総数
11.2.2.10 セパレータ1数フィールド このフィールドは，3バイトとする。現在の基本グループに記録し
たセパレータ1の数を2進数で表す。
11.2.2.11 セパレータ2数フィールド このフィールドは，3バイトとする。現在の基本グループに記録し
たセパレータ2の数を2進数で表す。
11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT) BATは，基本グループの各エンティティと各セパレータマー
クについて一つ以上のエントリを含むこととする。基本グループに完全に含まれていないエンティティも
一つ以上のエントリによって識別する。最初のエントリは，グループ情報テーブルの直前のバイト位置1
202 645〜1 202 648に記録する。各エントリは，図31に示す構成の4バイトのフィールドとする。最初の
バイトは，最小バイト番号のバイト1とし，4番目のバイトは，最大バイト番号のバイト1とする。
ブロックアクセステーブルのエントリ
フラグバイト
カウント
第1バイト
第2バイト
(MSB)
第3バイト
第4バイト
(LSB)
図31 ブロックアクセステーブル
3バイトのカウントフィールドは，次のフラグバイトの設定によって224−1を超えない数値を2進数で
44
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表す。この規格は，フラグバイトとして表2に示す14種類の設定を規定する。その他の設定は，この規格
では，禁止する。
フラグバイトの最上位ビット（表2参照）は，終端予告点後ビットとし，エントリの意味には無関係で，
次による。
− EWPの前では，0に設定する。
− EWPの後では，現在の基本グループ及びその後のすべての基本グループのブロックアクセステーブ
ルエントリ内で1に設定する。
表2 フラグバイトの設定
設定
エントリ
EWPの前
0000 0001 エンタイヤエンティティ
0000 0010 スタートパートエンティティ
0000 0011 ミドルパートエンティティ
0000 0100 ラストパートエンティティ
0000 0101 エンティティの総数
0000 0110 セパレータマークエンティティ
0000 0111 スキップ
EWPの後
1000 0001 エンタイヤエンティティ
1000 0010 スタートパートエンティティ
1000 0011 ミドルパートエンティティ
1000 0100 ラストパートエンティテイ
1000 0101 エンティティの総数
1000 0110 セパレータマークエンティティ
1000 0111 スキップ
11.2.3.1 エンタイヤエンティティ このエントリは，エンティティが現在の基本グループで始まり，かつ，
終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，エンティティのバイト数を表す。
11.2.3.2 スタートパートエンティティ このエントリは，エンティティが現在の基本グループで始まり，
それに続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループ
に記録したスタートパートエンティティのバイト数を表す。
11.2.3.3 ミドルパートエンティティ このエントリは，エンティティが前の基本グループで始まり，それ
に続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに記
録したパーシャルエンティティのバイト数を表す。
11.2.3.4 ラストパートエンティティ このエントリは，エンティティが前の基本グループで始まり，現在
の基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループ内にある
パーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。現在の基本グループのブロックアクセステーブル
は，このエントリの直後にエンティティの総数エントリが続かなければならない。
11.2.3.5 エンティティの総数 このエントリは，ラストパートエンティティエントリの直後に配置する。
このエントリは，ラストパートエンティティの前の同一エンティティに関連する。カウントフィールドは，
該当するエンティティの総バイト数を表す。
11.2.3.6 セパレータマークエンティティ このエントリは，セパレータマークレコードのエンティティを
規定する。カウントフィールドは，エンティティセパレータ1レコードの場合，0に設定し，エンティテ
ィがセパレータ2レコードの場合，1を設定する。
45
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.2.3.7 スキップ 各基本グループのブロックアクセステーブルの最後のエントリとしてスキップエン
トリを規定する。このエントリは，現在の基本グループ内利用者データの最後のバイトに到達したことを
示す。カウントフィールドは，基本グループに残っているバイトの数を表す。カウントフィールドに指定
可能な最小値は，グループ情報テーブルとブロックアクセステーブルの総バイト数とする。
ブロックアクセステーブルのスキップエントリの数は，4の倍数とする。
11.2.3.8 カウントフィールド このブロックアクセステーブル内のカウントフィールドに設定する数値
の合計は，1 202 688でなければならない。エントリタイプは，スキップ，エンタイアエンティティ，スタ
ートパートエンティティ，ミドルパートエンティティ及びラストパートエンティティとする。
11.2.3.9 ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス 表3にエントリの有効なシーケンスを
示す。状態及び動作は，長方形内に示し，エントリ（フラグバイトで設定）は，長円内に示す。
表3は，各状態内，各動作後に現れるエントリ，又は有効なエントリだけを示し，その他のエントリは
すべて無効とする。
表3 ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス
11.3 サブグループ
11.3.1 G1サブグループ 一つの基本グループは，これを1〜66 816の番号をもつ18個の66 816バイトの
G1サブグループに分割する（図32参照）。各G1サブグループは，1〜18の走行番号をもつ。
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図32 G1サブグループ
11.3.2 G2サブグループ−ランダム化 各G1サブグループの奇数番号のバイトは，図33に示すシフトレ
ジスタから出力したビット列によってEXCLUSIVE-OR演算を行う。各G1サブグループの偶数番号のバイ
トは，図33に示すシフトレジスタから出力したビット列によってEXCLUSIVE-OR演算を行う。
図33 シフトレジスタ
図34 G2サブグループ
各バイトの最下位ビットb1を最初に入力する。論理演算子は，EXCLUSIVE-ORとする。
G1サブグループは，それぞれ33 408バイトからなる偶数G2サブグループ及び奇数G2サブグループの二
つのG2サブグループに変換する（図34参照）。
n＝1，2，…，33 408について，G1サブグループのバイトDnは，次によって割り当てる。
− 偶数G2サブグループは，バイトD2nで構成
− 奇数G2サブグループは，バイトD(2n−1)で構成
各G2サブグループのバイト順序は，G1サブグループのバイト順序と同じとする。
47
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.3.3 G3サブグループ G3サブグループは，1〜336の番号付けした336ブロックの集合で構成する。
G2サブグループの33 408バイトは，番号25〜312の288ブロックとし，各ブロックは，116データバイト
とする。各ブロックは，12バイトのC1 ECCで完結する。C1 ECCは，116データバイトで算出し，附属書
Gによる。
288ブロックは，C1 ECCバイトを生成し図35に示すように詰め込むこととする。C2 ECCバイトは，288
ブロックとC1 ECCバイトから算出する。6 144個のC2 ECCバイトは，番号1〜24及び番号313〜336の
ブロックに割り当てる。C2 ECCバイトの生成は，附属書Gによる。
この操作は，偶数G2サブグループ及び奇数G2サブグループに適用し，G3サブグループを生成する。
G3サブグループは，128バイトとし，1〜336の連続ブロック番号を付ける。
図35 G3サブグループ
11.4 データブロック 128バイトの各ブロックは，その先頭に8バイトのヘッダを付けて136バイトのデ
ータブロックに変換する。ヘッダの構成は，図36に示す。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
ID1
データブロック番号 (DBN)
ID2 DBN
ID情報
ID3
ID情報
ID4
ID情報
ID5
ID情報
ID6
ID情報
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
図36 データブロックヘッダの構成
これらのIDバイトは，次のID情報とする。
− データブロック番号
− テープ長及び厚さID
− 論理フレームID
− パーティションID
48
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− エリアID
− リピート
− ポジション
− グループ数
− セパレータ1数
− セパレータ2数
− レコード数
− 絶対フレーム番号
− IDパリティ
ID情報は，11.4.2による。
11.4.1 ID情報
11.4.1.1 データブロック番号 (DBN) データブロック番号は，9ビットとし，バイトID1の8ビット及
びバイトID2の最上ビット8で表す。この番号は，0〜335とする。
11.4.1.2 テープの長さID及び厚さID この8ビットフィールドは，次による。
ビット8及びビット7：00の場合，テープの厚さは，6.5μm〜7.3μm
01の場合，テープの厚さは，5.0μm〜5.5μm
ビット6〜1：テープ長を1〜46の範囲の2進数nで表し，テープ長を5nメートルとする。
11.4.1.3 論理フレームID (LF-ID) この8ビットフィールドは，次による。
ビット8
フレームが基本グループの最後にある場合，1に設定する。その他の場合，0に設定する。
ビット7
フレームがECC3フレームの場合（16.5.3参照），1に設定する。その他の場合，0に設
定する。
ビット6〜1
フレームがアンブルフレームの場合，すべて0に設定する。その他の場合，n＝1〜20の
データフレーム順序番号nを2進数で表す。
11.4.1.4 パーティションID この8ビットフィールドは，0〜225のパーティション順序番号を2進数で
表す。
11.4.1.5 エリアID この4ビットフィールドは，テープ上の現在の領域及び現在のフレームの形式を表す。
図37に示す定義以外の設定は，この規格では禁止する。
ビット位置
定義
b7 b6 b5 b4
0
0
0
0 デバイス領域
0
0
0
1 リファレンス領域
0
0
1
0 システム領域
0
1
0
0 データ領域
0
1
0
1 EOD領域
0
1
1
1 オプションテバイス領域
図37 エリアID
11.4.1.6 リピート この3ビットフィールドは，次の基本グループのインスタンスの数を表す。
000 基本グループのインスタンスが一つだけ存在することを示す。
001 基本グループのインスタンスが二つ存在することを示す。
010 基本グループのインスタンスが三つ存在することを示す。
011 基本グループのインスタンスが四つ存在することを示す。
100 基本グループのインスタンスが五つ存在することを示す。
49
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
101 基本グループのインスタンスが六つ存在することを示す。
110 基本グループのインスタンスが七つ存在することを示す。
111 基本グループのインスタンスが八つ存在することを示す。
11.4.1.7 ポジション この3ビットフィールドは，基本グループの連続レコードインスタンス列で現在の
レコードインスタンスの位置を表す（図38参照）。
ビット位置
定義
b3 b2 b1
0
0
0 基本グループの最初のインスタンス
0
0
1 基本グループの2番目のインスタンス
0
1
0 基本グループの3番目のインスタンス
0
1
1 基本グループの4番目のインスタンス
1
0
0 基本グループの5番目のインスタンス
1
0
1 基本グループの6番目のインスタンス
1
1
0 基本グループの7番目のインスタンス
1
1
1 基本グループの8番目のインスタンス
図38 ポジションフィールド
11.4.1.8 グループ数 この24ビットフィールドは，現在のパーティションのベンダグループの後に記録
した1から現在の基本グループまでの利用者データグループの数を表す。ベンダグループの基本グループ
番号は，0とし，リピートを用いる場合，基本グループ番号は，各インスタンスについて同一とする。
11.4.1.9 セパレータ1数 この32ビットフィールドは，パーティションの最初から現在の基本グループ
までに記録したセパレータ1の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ1の数は1とする。
11.4.1.10 セパレータ2数 この32ビットフィールドは，パーティションの最初から現在のグループまで
に記録したセパレータ2の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ2の数は，1とする。
11.4.1.11 レコード数 この32ビットフィールドは，現在の基本グループに含まれる完結したレコードを
含み，パーティションの最初から記録したレコードの数を表す。この数は，グループ情報テーブルに記録
したレコードの総数（11.2.2参照）とする。
11.4.1.12 絶対フレーム番号 (AFN) この24ビットフィールドは，カレントフレームの絶対フレーム番号
を表す。リファレンス領域の最初のフレームは，AFN1とする。断続する番号又は繰返し番号は，アンブ
ルフレームシーケンスだけに用いる（17.1参照）。ただし，中間フレームは，例外とする（16.5.5参照）。
11.4.1.13 IDパリティ IDパリティバイトは，拡張リードソロモンコードを用いて算出する。
GF (28) は，次の式による。
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF (28) の原始元αは，00000010とする。
IDパリティバイトは，次の式による。
HS×VS＝0
HS＝
1
0
1
0
1
1
1
1
1
1
1
1
2
3
4
5
α
α
α
α
α
50
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
VS＝
ID8
ID7
ID6
ID5
ID4
ID3
ID2
ID1
11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録 G3サブグループの336個のデータブロックは，21連
続した16データブロックとして構成する。ID情報は，図39に示すとおりデータブロック1〜16について，
これらの16個のデータブロック内に配置する。16個のデータブロックの各項目について同じ配置を繰り
返す。
51
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
データブロック1
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
テープの長さ及び厚みID
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
データブロック2
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
セパレータ1数 (LSB)
ID4
セパレータ1数
ID5
セパレータ1数
ID6
セパレータ1数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
データブロック3
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
セパレータ2数 (LSB)
ID4
セパレータ2数
ID5
セパレータ2数
ID6
セパレータ2数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
図39 ID情報の割当て
52
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
データブロック4
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
レコード数 (LSB)
ID4
レコード数
ID5
レコード数
ID6
レコード数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
データブロック5
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
パーティションID
ID4
グループ数 (LSB)
ID5
グループ数
ID6
グループ数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
データブロック6
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
リピート
ID3
LF-ID
ID4
AFN (LSB)
ID5
AFN
ID6
AFN (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
図39 ID情報の割当て（続き）
53
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
データブロック7
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
ポジション
ID3
LF-ID
ID4
AFN (LSB)
ID5
AFN
ID6
AFN (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128バイトデータ
データブロック8
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3
0に設定
ビット2
0に設定
ビット1
0の場合，ID3及びID4を0に設定
1の場合，ID3及びID4の設定は，下記
による
ID3
データブロック8のID2のビット1が1
の場合，基本グループの偶数G2サブグ
ループ内の33 408バイトについて
EXCLUSIVE-ORした結果とする
データブロック8のID2のビット1が0
の場合，0に設定
ID4
データブロック8のID2のビット1が1
の場合，基本グループの奇数G2サブグ
ループ内の33 408バイトについて
EXCLUSIVE-ORした結果とする
データブロック8のID2のビット1が0
の場合，0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
図39 ID情報の割当て（続き）
54
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
データブロック9
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
データブロック10
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
データブロック11
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
図39 ID情報の割当て（続き）
55
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
データブロック12
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
データブロック13
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
データブロック14
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
図39 ID情報の割当て（続き）
56
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
データブロック15
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
データブロック16
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜4
エリアID
ビット3〜1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
0に設定
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
データ
128データバイト
図39 ID情報の割当て（続き）
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12. 記録方式 記録方式は，次による。
− 1は，正の残留磁化
− 0は，負の残留磁化
12.1 記録密度 公称最大記録密度は，8 214.2ftpmmとする。生成する公称ビットセル長は，0.121 7μmと
する。この値は，トラック長（13.7参照）を1トラック当たりのビット数で除して算出する。
12.2 長周期平均ビットセル長 各トラックの長周期平均ビットセル長は，記録した64記録済みデータブ
ロックについて測定する。この値は，公称ビットセル長の0.2%以内とする。
12.3 短周期平均ビットセル長 任意のビットセルを基準とした短周期平均ビットセル長は，その前の40
個のビットセルの平均値とし，その値は，同一アジマスの，その前の長周期平均ビットセル長の0.35%以
内とする。
12.4 短周期平均ビットセル長の変動率 短周期平均ビットセル長は，1ビットセル当たり0.05%を超えて
変化してはならない。
12.5 ビットシフト ビットシフトは，附属書Eによって測定し，(｜A1110｜＋｜A0111｜) / (A0100＋A0010) で
表し，その値は，0.05未満とする。
12.6 情報交換時の再生信号振幅 情報交換時の再生信号振幅は，次による。
− 821.4ftpmm，912.7ftpmm，1 026.8ftpmm，1 173.5ftpmm，1 369.0ftpmm，1 642.9ftpmm，2 053.6ftpmm，
2 738.1ftpmm，4 107.1ftpmm及び5 476.2ftpmmそれぞれに対応する各公称記録レベルの80%〜140%
とする（附属書C.1参照）。
12.7 最大の記録レベル 記録信号は，重ね書きによって消去可能でなければならない。この値は，附属
書CのC.2に規定している。
13. トラック
13.1 トラックの構成 ヘリカルトラックパターンは，テープの移動方向と正及び負のアジマス角度をも
つ2個一組のヘッドの回転軸との相対関係によって，形成する。記録方向は，テープ基準縁から離れる方
向とする。トラックの構成は，図40による。
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図40 トラックの構成（記録面）
13.2 平均トラック間隔 平均トラック間隔は，30個の連続したトラックの任意のグループについて
11.00μm±0.20μmとする。ただし，ノンシームレス追記録（16.5.6.2参照）のトラック間隔は，平均値に含
めない。
13.3 トラック間隔の変化 連続したトラック間でのトラック間隔の変化は，追記録操作（16.5.6参照）の
効果を除外して2.0%を超えてはならない。
13.4 トラック幅 公称トラック幅は，11.00μmとする。
測定するトラック幅は，11.00μm±1.50μmとする。
この規定は，ノンシームレス追記録には，適用しない。
13.5 トラック角 テープ基準縁に対する各トラック角の公称角度は，4.895 0°とする。
13.6 トラックエッジの直線性 各トラックのエッジの直線性は，附属書Fによって測定したとき，その
要求事項を満足することとする。
13.7 トラック長 各トラックの長さは，60.334mm±0.050mmとする。
13.8 アジマス角 正のアジマス角度は，25°0' 0" ±0°15' 0" とする。
負のアジマス角度は，−25°0' 0" ±0°15' 0" とする。
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14. 記録パターン データブロックは，128データバイト及び8データブロックヘッダバイトからなる136
個の8パッドバイトとする。8ビットバイトは，対の68個の16ビットバイトにグループ分けし，附属書
Dによって20チャネルビットに変換する。
14.1 記録データブロック 記録済みのデータブロックは，1 400チャネルビットとし，メインデータブロ
ックは，68個の16ビットバイトで表し，次のいずれかの40ビットの同期フィールドが先行する。
a) 1000100111 1111111000 0000000111 1111111000 ; Q＝3
b) 1011011000 0000000111 1111111000 0000000111 ; Q＝0
c) 0100100111 1111111000 0000000111 1111111000 ; Q＝3
d) 0111011000 0000000111 1111111000 0000000111 ; Q＝0
パターンa : Q' ＝0
パターンb : Q' ＝1
パターンc : Q' ＝2
パターンd : Q' ＝3
（附属書D参照）
14.2 マージンブロック マージンブロックは，次のいずれかの20チャネルビットパターンの繰返しとし，
1 400チャネルビットとする。
a) 00110011001100110011Q' ＝0又は1
b) 11001100110011001100Q' ＝2又は3
15. トラックのフォーマット
15.1 トラックの内容 各トラックは，表4及び表5に示すとおり，二つのマージンゾーン，三つのATF
ゾーン及び二つのメインデータゾーンで構成する。ATFゾーンは，スペーサブロック並びに正のアジマス
トラック及び負のアジマストラックとで異なるATFブロックから構成する。
表4 トラックのフォーマット（負のアジマストラック）
ゾーン
内容
ブロック数
マージンゾーン1
マージンブロック
3
ATFゾーン1
スペーサブロック
ATF-Cブロック
スペーサブロック
1
1.5
1.5
メインデータゾーン1 記録済みデータブロック1〜168
168
ATFゾーン2
スペーサブロック
ATF-Cブロック
スペーサブロック
1
1.5
1.5
メインデータゾーン2 記録済みデータブロック169〜
336
168
ATFゾーン3
スペーサブロック
ATF-Cブロック
スペーサブロック
1
1.5
1.5
マージンゾーン2
マージンブロック
3
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表5 トラックのフォーマット（正のアジマストラック）
ゾーン
内容
ブロック数
マージンゾーン1
マージンブロック
3
ATFゾーン1
スペーサブロック
ATF-Aブロック
ATF-Bブロック
スペーサブロック
0.25
1.5
1.5
0.75
メインデータゾーン1 記録済みデータブロック1〜168
168
ATFゾーン2
スペーサブロック
ATF-Aブロック
ATF-Bブロック
スペーサブロック
0.25
1.5
1.5
0.75
メインデータゾーン2 記録済みデータブロック169〜
336
168
ATFゾーン3
スペーサブロック
ATF-Aブロック
ATF-Bブロック
スペーサブロック
0.25
1.5
1.5
0.75
マージンゾーン2
マージンブロック
3
各トラックは，354ブロックからなる。
15.2 トラック位置精度 トラック178番目のブロックの先頭は，テープ基準縁から4.460mm±0.021mm
の距離になければならない。トラックの中心線上にある236番目のブロックの先頭は，176番目のブロッ
クの最初のビット及び180番目のブロックの最初のビットとの中間点とする。また，隣接する任意のトラ
ックの178番目のブロックの先頭は，5.4μmを超えてはならない。この値は，トラックの中心でトラック
に沿って0.5ブロックに相当する。
15.3 トラッキング法 トラッキングは，ATF（自動トラックファインディング）方式とする。ATFブロ
ックは，表4及び表5に示すようにATFゾーン，ATFゾーン2及びATFゾーン3の三つのゾーンに割り
当る。
ATFゾーンは，スペーサブロック及びATFブロックから構成する。
スペーサブロックは，マージンブロック（14.2参照）で規定する同一チャネルビットパターンを繰り返
す1 400チャネルビット長とする。スペーサブロックは，正のアジマストラックでは，正のアジマスを記
録し，負のアジマストラックでは，負のアジマスを記録する。
ATFブロックは，正のアジマスを記録し，20チャネルビットパターンを繰り返す1 400チャネルビット
長とする。
a) 00000111110000011111Q' ＝0又は1
b) 11111000001111100000Q' ＝2又は3
ATFブロックは，トラック間の位相関係をATF-A，ATF-B及びATF-Cで示す。トラックn上のATF-B
ブロック，トラックn-1上のATF-Cブロック及びトラックn-2上のATF-Aブロックは，位相内で記録し，
図41に示す。
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図41 ATFブロックとスペーサブロックの割当て
16. テープのレイアウト テープのレイアウトは，デバイス領域に続いて最大256パーティションで構成
する。パーティションの構成は，次による。
− リファレンス領域
− システム領域
− データ領域
− EOD領域
− オプションデバイス領域
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図42 テープのレイアウト
16.1 デバイス領域 この領域は，磁気テープ上の最初の領域で，PBOTからLBOTまでとする。この領
域は，情報交換用データの記録はできない。テープ基準縁に沿ってPBOTからリファレンス領域の最初の
記録トラックの最初のブロックの最初のビットまでの長さは，870mm±10mmとする。この領域は，スピ
ンアップゾーン，試験ゾーン及びガードゾーンの三つのゾーンから構成する。
デバイス領域の最初のゾーンは，スピンアップゾーンとする。スピンアップゾーンは，テープをテープ
装置にロードしたとき，ドラムに巻き取られる部分である。
スピンアップゾーンは，記録再生用の試験ゾーンが続かなければならない。これら二つのゾーンの内容
はこの規格では規定しない。
試験ゾーンは，最小6.2mmのガードゾーンが続かなければならない。ここに記録することは，禁止する。
16.2 リファレンス領域 リファレンス領域は，AFN1〜264のフレームで構成する。最初のフレームは，
LBOTに始まり，AFN1とする。リファレンス領域は，システムログを更新するときに物理的な基準とし
て使用する。これらのフレームの内容は，この規格では規定しない。情報交換では，無視する。
16.3 ガードバンド1 ガードバンド1は，公称長を24フレームでAFN265〜288とし，システムログを更
新するとき，位置誤差を吸収するために使用する。ガードバンド1は，絶対フレーム番号の不連続及び繰
返しが発生することがある。記録信号は，無視してもよい。これらのフレームの内容は，この規格では規
定しない。情報交換では無視する。
16.4 システム領域 システム領域は，システムプリアンブル，システムログ，システムポストアンブル，
ガードバンド2及びベンダグループプリアンブルで構成する。
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16.4.1 システムプリアンブル システムプリアンブルは，AFN289〜360の72個のシステムプリアンブル
フレームで構成する。システムプリアンブルの内容は，この規格では規定しない。データ交換時は，無視
する。
16.4.2 システムログ システムログは，MICに記録することとし，テープ上に記録してもよい（16.4.2.2.2
及び18.参照）。
ベンダデータ情報を含むシステムログをテープ上にも記録する場合，図42に示すAFN361〜AFN540を
もつ180フレームとする。各パーティションは，48バイトをパーティション情報とし，システムログのパ
ーティション0に記録する。ベンダデータ情報を含むシステムログを図43に示す。
システムログをMICだけに記録する場合，180フレームの内容は規定しない。データ交換時は，無視す
る。18.は，MICへのシステムログの記録の方法を規定する。
1〜48
パーティション0情報
48バイト 12 288バイト 66 816バイト
49〜96
パーティション1情報
48バイト
…
…
…
12 240〜12 288 パーティション255情報
48バイト
12 289〜12 359 ボリューム情報
72バイト
12 360〜12 361 システムログベンダデータタイプ番号
2バイト
12 362〜66 816 システムログベンダデータ
54 454バイト
図43 ベンダデータ情報を含むシステムログ
テープが1パーティション構成の場合，パーティション1情報からパーティション255情報の12 240バ
イトは，0に設定する。テープが2パーティション以上で構成する場合，最終パーティションに引き続く
パーティション情報は，0に設定する。
16.4.2.1 パーティション情報 パーティション情報は，図44に示す。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
前の記録グループ数
4バイト
記録グループの記録総数
4バイト
0に設定
1バイト
前の再生グループ数
3バイト
記録グループの再生総数
4バイト
0に設定
1バイト
再記録フレーム総数
3バイト
0に設定
1バイト
ECC3総数
3バイト
アクセス回数
4バイト
更新回数
4バイト
前の再記録フレーム数
2バイト
前のECC3数
2バイト
0に設定
1バイト
ロード回数
3バイト
0に設定
1バイト
有効な最終の絶対フレーム番号
3バイト
フラグバイト ビット1 記録禁止
1バイト
ビット2 再生禁止
ビット3 記録リトライ禁止
ビット4 再生リトライ禁止
ビット5 0に設定
ビット6 0に設定
ビット7 0に設定
ビット8 パーティション操作中
最大絶対フレーム番号
3バイト
図44 パーティション情報
パーティション情報領域が数値をもつ場合，2進数とする。
16.4.2.1.1 前の記録グループ数 このフィールドは，システム領域を最後に更新した後でパーティション
に物理的に記録した基本グループの数を表す。
16.4.2.1.2 記録グループの記録総数 このフィールドは，パーティションに記録した最初からの基本グル
ープの総数を表す。
16.4.2.1.3 前の再生グループ数 このフィールドは，システム領域を最後に更新した後でパーティション
から物理的に再生した基本グループの数を表す。
16.4.2.1.4 記録グループの再生総数 このフィールドは，パーティションから再生した最初からの基本グ
ループの総数を表す。この値は，記録時再生検査の再生操作の数は，含めてはならない。この値は，テー
プの使用期間にわたって累積するが，フォーマットしたときは，0とする。
16.4.2.1.5 再記録フレーム総数 このフィールドは，パーティションに最初に記録した後で再度記録した
フレームの総数を表す。この値は，記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰り返し記録するごとに，
1ずつ増やす。この値は，元のフレームと再記録フレームとの間に記録したフレームの数は，含めてはな
らない。この値は，テープの使用期間にわたって累積するが，フォーマットしたときは，0とする。
16.4.2.1.6 ECC3総数 このフィールドは，物理的に再生した基本グループがC3訂正符号を使ったデータ
修復回数を，そのパーティションが作られた最初のときからの累積回数として表す。この値は，テープの
使用期間にわたって累積するが，フォーマットしたときは，0とする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.4.2.1.7 アクセス回数 このフィールドを使用する場合，パーティションのアクセス回数を表す。使用
しない場合，このフィールドは，すべて0に設定する。
16.4.2.1.8 更新回数 このフィールドを使用する場合，パーティションへの記録回数を表す。使用しない
場合，このフィールドは，すべて0に設定する。
16.4.2.1.9 前の再記録フレーム数 このフィールドは，システム領域を最後に更新した後で再記録したパ
ーティションのフレームの数を表す。この値は，記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰返し記録
するごとに1ずつ増やす。この値は，元のフレーム及び再記録フレームとの間に記録したフレームの数は，
含めてはならない。
16.4.2.1.10 前のECC3数 このフィールドは，そのシステム領域を最後に更新したときから物理的に再生
した基本グループがC3訂正符号を使ったデータ修復回数を表す。
16.4.2.1.11 ロード回数 このフィールドは，テープに最初に記録した後でテープがロードされた回数を表
す。1回のロードは，テープをテープ装置機構のドラムに巻き付け，テープが使用可能で，テープ送りが
できる位置に設定する操作とする。この値は，テープの使用期間にわたって累積するが，フォーマットを
したときは，0とする。このフィールドは，パーティションテープのパーティション0のシステムログ内
に格納する。
16.4.2.1.12 有効な最終の絶対フレーム番号 このフィールドは，有効なデータを含む最後の絶対フレーム
番号を表す。リファレンス領域の最初のフレームの絶対フレーム番号は，1とする。
16.4.2.1.13 フラグバイト
ビット1
記録禁止
このビットが0の場合，パーティションへの記録は，可能とする。
このビットが1の場合，パーティションへの記録は，禁止する。
ビット2
再生禁止
このビットが0の場合，パーティションからの再生は，可能とする。
このビットが1の場合，パーティションからの再生は，禁止する。
ビット3
記録リトライ禁止
このビットが0の場合，パーティションへの記録リトライは，可能とする。
このビットが1の場合，パーティションへの記録リトライは，禁止する。
ビット4
再生リトライ禁止
このビットが0の場合，パーティションからの再生リトライは，可能とする。
このビットが1の場合，パーティションからの再生リトライは，禁止する。
ビット5〜7
これらのビットは，0に設定する。
ビット8
パーティション操作中
このビットは，パーティションでの1回の再生操作又は記録操作の前に1に設定する。
パーティションのすべての操作が終了したとき，これらのビットは，すべて0に設定す
る。
16.4.2.1.14 最大絶対フレーム番号 このフィールドは，最後のEOD領域の最後のフレームの絶対フレーム
番号を表す。
16.4.2.1.15 予約フィールド すべて0に設定する。
16.4.2.2 ボリューム情報 ボリューム情報は，次の72バイトとする。
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予約済み
5バイト
0に設定
テープ長番号及びテープ厚さ番号 1バイト ビット1〜6
テープ長番号
ビット7及びビット8 テープ厚さ番号
フラグ
1バイト ビット1 AITネイティブフラグ
ビット2 PBOTでロード／アンロード
ヒット3 システムログ情報の場所
ビット4
ビット5 MICの存在
ビット6 0に設定
ビット7 0に設定
ビット8 0に設定
最後のパーティション番号
1バイト カートリッジの最後のパーティション番号
デバイス領域の配置
32バイト デバイス領域の配置を示す256ビット
予約済み
32バイト すべて0に設定
図45 ボリューム情報
16.4.2.2.1 テープ長番号及びテープ厚さ番号
ビット1〜6：テープ長さ及びテープ厚さのIDバイト（11.4.1.2参照）のビット1〜6と同一とする。
ビット7及びビット8：00 タイプA
01 タイプB
他のビット設定は，この規格では禁止する。
16.4.2.2.2 フラグ フラグは，次による。
ビット1
0の場合，パーティション番号は，2とする
1の場合，最大のパーティション番号は，MICの記録容量による
ビット2
0に設定し，かつ，オプショナルデバイス領域が存在する場合，ロード／アンロード動作
は，オプショナルデバイス領域で実行
1の場合，ロード／アンロード動作は，PBOTで実行
ビット3及びビット4 これらのビットは，システムログの場所を示す。
10の場合，システムログは，テープ上とMICに記録
11の場合，システムログはMICにだけに記録
ビット5
MICが存在する場合，1に設定
ビット6〜8
0に設定
他のビット設定は，この規格では禁止する。
16.4.2.2.3 最後のパーティションの番号 テープ上で最後に有効なパーティションの番号を表す。
16.4.2.2.4 デバイス領域の配置 オプションデバイス領域のビット配置は，32バイト中に256ビットごと
に各パーティションに割り当てる。このビットが1の場合，パーティションにオプションデバイス領域が
存在することを示す。
16.4.2.3 システムログベンダデータ型式番号 この番号は，2バイトで表す。
0に設定している場合，システムログベンダデータは，すべて0とする。
1に設定している場合，システムログベンダデータは，ベンダ固有情報を含み，それ以外の設定は，禁
止する。
16.4.3 システムポストアンブル システムポストアンブルは，AFN541〜564の24システムアンブルフレ
ームからなる。システムポストアンブルの内容は，この規格では規定しない。データ交換時は，無視する。
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参考 システムログの更新時にシステムプリアンブル，システムログ及びシステムポストアンブルを
含む一連の領域を続けて書き込むことを推奨する。
16.4.4 ガードバンド2 ガードバンド2の長さの公称値は，24フレームとする。このフレームの内容は，
この規格では規定しない。情報交換では，無視する。
16.4.5 ベンダグループプリアンブル ベンダグループプリアンブルは，AFN589〜660の72フレームとし，
ベンダグループの直前にあってベンダグループと連続する。フレームの内容は，この規格では規定しない。
情報交換では，無視する。
16.5 データ領域 この領域は，ベンダグループと一つ以上の記録データグループとする。
16.5.1 ベンダグループ ベンダグループは，基本グループ0に記録したインスタンスとする。内容は，こ
の規格では規定しない。ベンダグループは，11.に規定している操作を適用し，その結果，生成したフレー
ムを記録することによって，その基本グループのバイトから形成する。これらのフレーム内の最初のフレ
ームは，AFN661とする。
さらにECC3及び再記録フレームのどちらか一方，又は両方の操作を適用してもよい。
ベンダグループは，未記録領域，物理的不連続域，物理的継目，絶対フレーム番号の不連続又は繰返し
があってはならない。
16.5.2 記録済みデータグループ 記録済みデータグループは，基本グループに記録したインスタンスで，
11.に規定している操作を適用し，その結果，生成したフレームをその論理フレーム番号順に記録すること
によって，ホストコンピュータのデータから生成する。
さらにECC3及び再記録フレームのどちらか一方，又は両方の操作を適用してもよい。
記録データグループは，未記録領域，物理的不連続域，物理的継目，絶対フレーム番号の不連続又は繰
返しがあってはならない。
16.5.3 ECC3 ECC3は，記録データグループ内で二つの不良トラックを訂正することができる。ECC3
データは，基本グループの18個のG1サブグループを次のリードソロモン符号を用いて生成し，19番及び
20番のG1基本サブグループに形成する。
GF (28) (20, 18, 3)
GF (28) は，次の多項式によって算出する。
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1 α＝(00000010)
ECC3のインタリーブの深度は，1フレームとし，ECCバイトは，次の式を満足する。
HR×VR＝0
生成多項式は，次による。
∏
=
=
−
=
1
0
)
(
)
(
GR
j
i
i
x
x
α
=
0
1
2
16
17
18
19
1
1
1
1
1
1
1
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
R
H
68
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×
816
66
19
0
408
33
2
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66
19
0
408
33
2
816
66
6
1
408
33
2
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66
6
0
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33
2
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1
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33
2
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33
2
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4
1
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33
2
816
66
4
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3
1
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33
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66
3
0
408
33
2
816
66
2
1
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33
2
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2
0
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33
2
816
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1
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1
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1
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2
816
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0
0
408
33
2
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
i
n
R
Q
P
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
V
Μ
ここに， n＝0，1，2，…，33 407
i＝0，1
Dn＝利用者データバイト番号
Pn＝パリティバイト番号
Qn＝パリティバイト番号
16.5.4 多重記録インスタンス 基本グループ0以外の各基本グループは，一連の連続インスタンスに記録
してもよい。最大インスタンス数は，8とする。同一の基本グループからの一連の記録データグループ内
で，論理フレームID，ポジション，及び絶対フレーム番号が異なり，計算するパリティバイトの値も異な
る。また，これらのインスタンスで記録データグループ当たりの再記録フレームの数も異なる。
16.5.5 再記録フレーム データ領域内で記録データグループの任意のフレームは，再記録によって繰り返
してもよい。再記録フレームは，0〜7個の中間フレームの記録後に記録することができる。この操作（例
えば，元のフレーム又は再記録フレーム及びそれに引き続く0〜7個の中間フレーム）は，複数回繰り返す
ことによって，このテープの不良か所を回避することができる。一連のフレームの上限のインスタンス数
は，256（元のフレームと255までの繰返しフレームを含めて）とする。
中間フレーム（元のフレーム及び次のフレームとの間に記録するフレーム）は，通常の順番としてそれ
に続く論理フレーム番号のフレームとなり，それ以降も正しい順番でなければならない。正しい順番とは，
一つずつ増加する論理フレーム番号をもつ連続したフレームをいう。記録データグループの最後のフレー
ム又はECC3フレームが存在する場合，その後の論理フレーム番号は，アンブルフレームについては，0
とし，次の論理フレーム番号の最初のフレームについては，1とする。アンブルフレームは，中間フレー
ムの数が7個を超えない限り，この順番とし，最後の再記録フレームの後に正しい順番で記録した中間フ
レームが続く。
絶対フレーム番号の不連続又は繰返しがあってはならない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.5.6 追記録及び重ね書き テープ上に既に記録しているデータに新しいデータを追記録するとき，又は
既存のデータを新しいデータによって重ね書きするとき，記録開始点は，記録データグループの最後のフ
レーム（図46のフレームA）を基準とする。最後のグループの多重記録インスタンスが複数個存在すると
き，関連する記録データグループは，その順番の最後になる。再記録フレームを記録した場合，関連する
フレームは，最後のフレームの最後の繰返しフレームになる。追記録又は重ね書きの最小単位は，記録デ
ータグループとする。
参考 重ね書きを開始すると，現在の記録位置とPEOTとの間にあるすべてのデータは，論理的に無
効となる。
追記録及び重ね書きの規則は，同一とする。簡素化のため，追記録だけを規定する。
データは，シームレス又はノンシームレスのいずれかの方法でテープに追記録できる。追記録操作は，
追記録したトラックがその前のトラックと連続シーケンスを形成するように配置されている場合だけ，シ
ームレスとする。トラックは，再生不可能な位置まで部分的に重ね書きしたり，トラック間にギャップを
作ったりしてはならない。
図46 追記録規則
図46では，フレームAまでのフレームは，保持すべき情報を含み，追記録は，アンブルフレームのフ
レームBから始まり，情報は，フレームCから記録する。
16.5.6.1 シームレス追記録の規則 シームレス追記録は，次の規則による。
規則1. フレームAとフレームBの間は，一つのフレームが存在する。例えば，フレームAの絶対フレ
ーム番号 (AFN) がnのとき，フレームBのAFNは，n＋2とする。
規則2. フレームAとフレームBの間に記録するフレームは，フレームAに連続とする。例えば，フレ
ームAとフレームBとの間に未記録領域，AFNの不連続，AFNの繰返し又は物理的不連続があ
ってはならない。アンブルフレーム以外は，フレームのグループ番号がフレームAのグループ番
号よりも大きくなければならない。アンブルフレームは，グループ番号がフレームAのグループ
番号に等しくなる。フレームの内容は，無視する。
規則3. フレームBとフレームCとの間は，アンブルフレームが少なくとも一つ存在する。例えば，フレ
ームBのAFNがn＋2のとき，フレームCのAFNの最小値は，n＋4とする。フレームBとフレ
ームCとの間には，未記録領域，AFNの不連続，AFNの繰返し又は物理的不連続があってはな
らない。
規則4. テープの走行方向の位置（図47参照）で測定したフレームB (AFN＝n＋2) の最初のトラック位
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
置は，AFN＝n＋1のフレームの最初のトラックからx＝257.8μm±42.9μmの距離とする。
図47 シームレス追記録での許容値
16.5.6.2 ノンシームレス追記録の規則 ノンシームレス追記録の規則は，次による。
規則1. フレームAとフレームBとの距離は，最小1フレーム最大11フレームとする。フレームAとフ
レームBとの間に未記録領域が存在してはならない。フレームAとフレームBとの間の一つ以上
のフレームは，誤った内容でもよい。すなわち，追記録地点での部分的な重ね書きの結果，誤っ
たフレームができる。
規則2. 次の条件を満足する場合，フレームAとフレームBとの間にAFNの不連続及びAFNの繰返しが
あってもよい。フレームAのAFNがnのとき，
− すべてのフレームのAFNは，nよりも大
− フレームBのAFNは，最小n＋2，最大n＋12
規則3. フレームAとフレームBの間にあるアンブルフレームのグループ番号は，フレームAのグルー
プ番号と同じとする。その他のフレームのグループ番号は，フレームAのグループ番号よりも大
きくなければならない。
規則4. フレームBとフレームCとの間には，最低29フレームなければならない。例えば，フレームB
のAFNがn＋2≦n'≦n＋12のとき，フレームCのAFNは，n'＋30以上とする。フレームBとフ
レームCとの間には，未記録領域，物理的不連続，物理的継目，AFNの不連続又はAFNの繰返
しがあってはならない。
16.6 EOD領域 EOD領域は，データ領域の後に続く領域とする。
すべてのパーティションにおいて，最後のアンブルフレームとLEOTとの間が300フレーム以上の場合，
EOD領域は，300フレーム以上とする。最後のアンブルフレームとLEOTとの間が300フレーム未満の場
合，EOD領域は，そのフレーム数とする。
最後のパーティションのEOD領域は，300アンブルフレーム以上からなり，最後の記録データグループ
に続く一連のアンブルフレームの最後のアンブルフレームの後から始まる。EOD領域の最初のフレームは，
PEOTの少なくとも5 000mm手前に記録する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
EOD領域は，一つのテープ及びパーティションに複数存在してもよい。パーティションに二つ以上の
EOD領域が存在する場合，LBOTに番近いEOD領域だけは，情報交換に有効とする。
16.7 オプションデバイス領域 オプションデバイス領域は，EOD領域の後パーティション境界又は
PEOTまでの間に設けてもよい。オプションデバイス領域の内容は，情報交換には，規定しない。
16.8 LEOT LEOTは，パーティション境界から300フレーム手前の箇所とする。
16.9 LBOT LBOTは，パーティション境界とし，LBOTから最初のフレームは，AFN1とする。
16.10 終端予告点 (EWP) 新しいテープ又はバルク消去テープのEWPの位置は，テープに記録をしてい
るテープ装置が算出する。算出したEWPの位置は，PEOTから5 258mm以上手前としなければならない。
算出したEWPを超えてデータを記録することがない限り，EWPの位置表示は，テープには記録しない。
算出したEWPを超えて最初にデータを記録するとき，EWPの前に完全又は部分的に記録した最後の基本
グループで，AEWPビットの設定を0から1にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合，EWP
の位置として利用する。
データが記録済みの最後のパーティションへの重ね書き及び追記録は，重ね書きを開始した位置が，重
ね書きの開始前に定義したEWPより手前の場合，データを記録している磁気テープ装置が新しいEWPを
算出する。算出したEWPの位置は，少なくともPEOTから5 258mm以上手前としなければならない。算
出したEWPを超えてデータを記録するとき，EWPの前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループ
で，AEWPビットの設定を0から1にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合，EWPの位置
として利用する。
データが記録済みの最後のパーティションへの重ね書き及び追記録は，新たな重ね書きを開始する位置
から手前にAEWPビットが0から1に変化しているとき，その変化点がEWPの位置となる。それ以降の
すべての新しい重ね書きグループは，AEWPビットの設定を1にする。
空のパーティションでは，EWPは記録しているテープ装置が算出し，LEOTから1 000フレーム以上手
前としなければならない。算出したEWPを超えてデータを記録することがない限り，EWPの位置表示は，
テープには記録しない。算出したEWPを超えて最初にデータを記録するとき，EWPの前に完全又は部分
的に記録した最後の基本グループで，AEWPビットの設定を0から1にする。このビットの変化を以降テ
ープを再生する場合，EWPの位置として利用する。
最後のパーティションを除くデータが記録済みのパーティションにおける重ね書きの場合，重ね書きを
開始した位置が，重ね書きの開始前に定義したEWPより手前の場合，データを記録している磁気テープ
装置が新しいEWPを算出する。算出したEWPの位置は，少なくともLEOTから1 000フレーム以上手前
としなければならない。算出したEWPを超えてデータを記録するとき，EWPの前に完全又は部分的に記
録した最後の基本グループで，AEWPビットの設定を0から1にする。このビットの変化を以後テープを
再生する場合，EWPの位置として利用する。
最後のパーティションを除くデータが記録済みのパーティションにおける重ね書きは，新たな重ね書き
を開始する位置から手前にAEWPビットが0から1に変化しているとき，その変化点をEWPの位置とす
る。それ以降のすべての新しい重ね書きの基本グループは，AEWPビットの設定を1にする。
16.11 空のパーティション 空のパーティションの構成は，次による。
− リファレンス領域
− システム領域
− ベンダグループ及び12アンブルフレーム以上のデータ領域
− パーティションのEOD領域と同一の300フレーム以上
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ベンダグループプリアンブル，データ領域及び引き続くアンブルフレームは，連続体を形成し，パーテ
ィション境界又はPEOTに入り込み，未記録領域，物理的な不連続域，物理的継目，絶対フレーム番号の
不連続又は繰返しがあってはならない。
16.12 初期化 初期化は，利用者データを記録するために最初にテープカートリッジを使用する前に行う
手続きとする。初期化によって，LBOTとベンダグループの終了位置との間に未記録領域があってはなら
ない。LBOTとベンダグループの終了位置との間は，連続して記録する。ガードバンド1及びガードバン
ド2の公称フレーム数は，それぞれ24フレームとする。ガードバンド1の各フレームのエリアIDは，リ
ファレンス領域IDに設定する。
記録済みテープの初期化は，システムログ内の履歴データも含みテープ上のすべてのデータを破壊する。
参考 テープ割付上のレイアウト規定によって，最初の記録データグループの記録前に，さらに新し
いテープ又はバルク消去したテープに対して初期化を行う必要はない。リファレンス領域，シ
ステム領域及びベンダーグループは，最初の記録データグループの記録と同時に記録できる。
17. ハウスキーピングフレーム ハウスキーピングフレームは，利用者データ又はセパレータを含めては
ならない。データは，ID情報だけ記録することができる（11.4.1参照）。このデータは，ハウスキーピング
フレームを記録しているテープレイアウトの領域に依存する。ハウスキーピングフレームの内容は，この
規格では規定しない。
ハウスキーピングフレームは，次に示すアンブルフレーム及びシステムアンブルフレームの2種類があ
る。
17.1 アンブルフレーム アンブルフレームは，データ領域内だけに存在する。論理フレーム番号は，0
とする。
アンブルフレームは，中間フレームとして挿入した場合を除いて，記録データグループ及びベンダグル
ープの手前にあってはならない。
アンブルフレームは，追記録点を除いて，その他のアンブルフレーム又は参照する記録データグループ
の最後のフレームに続かなければならない。
フレームの内容は，この規格では規定しない。情報交換では，無視する。
17.2 システムアンブルフレーム システムアンブルフレームは，システム領域内に記録する。絶対フレ
ーム番号は，289〜360及び541〜564とする。
フレームの内容はこの規格では規定しない。情報交換では，無視する。
18. MICの内容 ここでは，MICの内容について規定する。テープのパーティションの最大数は，MIC
の記録容量によって，図48に8パーティションの場合のMICの内容を規定する。ボリューム情報は，16.4.2.2
とし，パーティション情報は，16.4.2.1による。
図48の網掛け部は，この規格では規定しない。データ交換時は無視する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
1バイト
2
00010001
1バイト
3〜349
347バイト
350〜354 ボリューム
情報
0に設定
5バイト
72バイト
355
テープ長さ及びテープ厚さ
1バイト
356
フラグ
1バイト
357
最後のパーティション番号
1バイト
358〜389
デバイス領域配置図
32バイト
390〜421
0に設定
32バイト
422〜1024
603バイト
1025〜1040
16バイト
1041〜1088 パーティション0情報
48バイト
1089〜1104
16バイト
1105〜1152 パーティション1情報
48バイト
1153〜1168
16バイト
1169〜1216 パーティション2情報
48バイト
1217〜1232
16バイト
1233〜1280 パーティション3情報
48バイト
1281〜1296
16バイト
1297〜1344 パーティション4情報
48バイト
1345〜1360
16バイト
1361〜1408 パーティション5情報
48バイト
1409〜1424
16バイト
1425〜1472 パーティション6情報
48バイト
1473〜1488
16バイト
1489〜1536 パーティション7情報
48バイト
1537〜2048
メモリの最後から最小480バイト
図48 8パーティションの場合のMICの内容
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A（規定） 光透過率の測定法
A.1 概要 この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定法を規定する。
光透過率は，測定装置に試験片を入れないときを100とし，入れたときの比を百分率 (%) で表す。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は，次による。
− 光源
− 光検出部
− 測定用マスク
− 光学系
− 測定回路
A.2.1 光源 光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
波長：850nm±50nm
半値幅：±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクは，厚さを2mmとし，孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の
80〜100%の大きさに設定する。
表面は，黒のつや消しとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないようにマスクに固定する。
A.2.4 光学系（附属書A図1） 光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離 (L) は，次の
式による。
α
tan
2
d
L=
αは，光軸上の最大強度に対して95%以上の強度がある領域に設定する。
A.2.5 仕上げ 装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路（附属書A図2） 測定回路は，次による。
E：出力電圧可変の定電圧電源
R：電流制限用の抵抗器
LED：赤外線発光ダイオード
Di：シリコンフォトダイオード
A：演算増幅器
Rf0，Rf1：帰還用の抵抗器
S：増幅率切替えスイッチ
V：電圧計
LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧 (E) によって変化する。
Diは，閉回路で動作する。
演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，Diの閉回路での電流とする。
出力電圧は，光の明るさに比例する。
Rf0及びRf1は，許容誤差1%で，温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，次
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
の式による。
20
1
f1
0
f
=
R
R
A.3 測定法 測定法は，次による。
− スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。
− 試験片を取り付けないで，電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるようにLED供給電圧 (E)
を変化させる。
− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このときの電圧計は，60〜100%を示す。
− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計
のフルスケールは，光透過率5%を示す。
附属書A図1 光学系の構成
附属書A図2 測定回路
76
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B（規定） 信号対雑音比の測定法
信号対雑音比の測定は，分解能3kHzのスペクトラムアナライザを用いる。試験条件は，特に規定がな
い限り，本体10.による。
B.1 テープを交流消去する。
B.2 テープに記録密度4 107.1ftpmmで記録する。その記録周波数をf1で表す。
B.3 信号振幅の実効値は，読取りヘッドが最初にテープに接触して1ms後から測定を開始し，1msの時間
にわたってスペクトラムアナライザを掃引して測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定
値とし，8回分の測定値の平均値を求める。これをStapeとする。
これらの8回の掃引の際，周波数f2で全雑音レベルの実効値を測定する。ここで，f2は，f1より2MHz
低い周波数とする。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし，100回分の測定値の平均値を求
める。これをNtotalとする。
B.4 周波数f2の再生系雑音レベルの実効値は，同じ1msの時間にわたって，テープを巻き付けずにモータ
を回転させて測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし，8回分の測定値の平均値を
求める。これをNampとする。
B.5 信号対雑音比は，次の式による。
tape
tape
log
20
N
S
ここに，
テープ雑音：
2amp
2total
tape
N
N
N
−
=
tape
amp
N
N
は，0.7未満とする。
B.6 テープの信号対雑音比 (SNRtape) は，B.3〜B.5を10回以上繰り返し測定した平均値とする。
B.7 二次基準テープについてもB.1〜B.6の測定を行い，二次基準テープの信号対雑音比SNRMSRTを求める。
供試テープの信号対雑音比は，次による。
(SNRtape−SNRMSRT)dB
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附属書C（規定） 記録レベルの公称値及び
最大許容値の決定法（記録前条件）
記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は，本体10.による。
C.1 記録レベルの公称値の決定法
C.1.1 信号振幅二次基準テープの記録密度5 476.2ftpmmの信号を再生し，読み取った値を信号振幅二次基
準テープによって校正する。
C.1.2 交流消去した二次基準テープに，5 476.2ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増やしなが
ら記録し，読み取った値がC.1.1で求めた値と等しくなるまで記録電流を増やす。
C.1.3 交流消去した供試テープに対し，C.1.2で求めた記録電流で5 476.2ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を，記録密度5 476.2ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
C.1.4 記録密度821.4ftpmm，912.7ftpmm，1 026.8ftpmm，1 173.5ftpmm，1 369.0ftpmm，1 642.9ftpmm，
2 053.6ftpmm，2 738.1ftpmm，4 107.1ftpmm及び5 476.2ftpmmの値を求めるために，C.1.1〜C1.3を同様に
繰り返す。
C.2 記録レベルの最大許容値の決定法
C.2.1 交流消去した二次基準テープに，記録密度5 476.2ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増
やしながら記録し，読み取った値がC.1.1で求めた校正後の値の120%になるまで記録電流を増やす。
C.2.2 交流消去した供試テープに対し，C.2.1で求めた記録電流で5 476.2ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を，記録密度5476.2ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
C.2.3 記録密度821.4ftpmm，912.7ftpmm，1 026.8ftpmm，1 173.5ftpmm，1 369.0ftpmm，1 642.9ftpmm，
2 053.6ftpmm，2 738.1ftpmm及び4 107.1ftpmmの値を求めるために，C.2.1〜C2.2を同様に繰り返す。
C.3 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは，この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので，
互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は，次による。
記録密度821.4ftpmm，912.7ftpmm，1 026.8ftpmm，1 173.5ftpmm，1 369.0ftpmm，1 642.9ftpmm，2 053.6ftpmm，
2 738.1ftpmm，4 107.1ftpmm及び5 476.2ftpmmでは，記録レベルの最大許容値とする。
参考 互換性確保のために，記録レベルは，記録密度821.4ftpmm，912.7ftpmm，1 026.8ftpmm，
1 173.5ftpmm，1 369.0ftpmm，1 642.9ftpmm，2 053.6ftpmm，2 738.1ftpmm，4 107.1ftpmm及び
5 476.2ftpmmで，記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D（規定） 16ビットワードから
20チャネルビットパターンへの変換
16ビットワードは，最上位ビットを左側とし，最下位ビットを右側とする。20チャネルビットパターン
は，最初に記録するビットを左側とし，最後に記録するビットを右側とする。
使用する記録装置は，記録信号の直流成分を0に近づける必要がある。すべての20チャネルビットパタ
ーンは，0直流平衡又は直流部とする，各20チャネルビットパターンは，DC（直流成分）を最小にする
ために，次の20チャネルビットパターンの二つの代替パターンのどちらかを選択するかを変調器に指示す
るインジケータQが含まれる。
Q'は，前のパターンの直流情報である。
Qは，現在のパターンの直流情報である。
ビットの変換表は，1 639ページにも及ぶため，次のURLによって入手できる。
http : //www. iso. ch/isoiec18810table. htm
変換表の最初を情報として次に示す。16ビット及び20チャネルビットパターンは，16進数で示す。
16-bit
Q'＝0
Q
Q'＝1
Q
Q'＝2
Q
Q'＝3
Q
Words
Channel
bits
pattern
Channel
bits
pattern
Channel
bits
pattern
Channel
bits
pattern
(0000)
(2659B)
0
(2659B)
1
(D9A64)
2
(D9A64)
3
(0001)
(2659E)
0
(2659E)
1
(D9A61)
2
(D9A61)
3
(0002)
(265A7)
0
(265A7)
1
(D9A58)
2
(D9A58)
3
(0003)
(265AB)
2
(265AB)
3
(D9A54)
0
(D9A54)
1
(0004)
(265AD)
0
(265AD)
1
(D9A52)
2
(D9A52)
3
(0005)
(265AE)
2
(265AE)
3
(D9A51)
0
(D9A51)
1
(0006)
(265B3)
0
(265B3)
1
(D9A4C)
2
(D9A4C)
3
(0007)
(265B6)
0
(265B6)
1
(D9A49)
2
(D9A49)
3
(0008)
(265B9)
0
(265B9)
1
(D9A46)
2
(D9A46)
3
(0009)
(265BA)
2
(265BA)
3
(D9A45)
0
(D9A45)
1
(000A)
(265BC)
0
(265BC)
1
(D9A43)
2
(D9A43)
3
(000B)
(265CB)
0
(265CB)
1
(D9A34)
2
(D9A34)
3
(000C)
(265CE)
0
(265CE)
1
(D9A31)
2
(D9A31)
3
(000D)
(265E3)
0
(265E3)
1
(D9A1C)
2
(D9A1C)
3
(000E)
(265E6)
0
(265E6)
1
(D9A19)
2
(D9A19)
3
(000F)
(265E9)
0
(265E9)
1
(D9A16)
2
(D9A16)
3
(0011)
(265EA)
2
(265EA)
2
(D9A15)
0
(D9A15)
1
(0012)
(265F2)
0
(265F2)
0
(D9A0D)
2
(D9A0D)
3
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
・
79
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E（規定） ビットシフトの測定法
試験テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置によってシステムオペレーションと互換性のあるモ
ードで記録する。
E.1 読取り装置 読取り装置は，次による。
附属書Fによって測定するときに，トラックの直線性が附属書Fの規定を満足する磁気テープ装置によ
って読み取る。
再生ヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。ただし，再生ヘッド，前置増幅器，回転トランス，ヘ
ッドとテープの相対速度及び積分器は，低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択する。
− 再生ヘッド
ギャップ長
： 0.18μm±0.05μm
ヘッドギャップの角度 ： 正アジマスのヘッドギャップは，スキャナ軸に対して＋25°00'±15'とす
る。
： 負アジマスのヘッドギャップは，スキャナ軸に対して−25°00'±15'とす
る。
− ヘッドとテープの接触及び再生チャネル
信号取込み中（E.2参照）のヘッドとテープの接触の安定性及び読取りヘッド，前置増幅器及び回
転トランスの総合周波数応答特性は，信号対雑音比で10dB以上の良好なものとする。
E.2 測定方法 ビットシフトは，再生電圧波形をデジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力で
測定する。信号取込みは，メインデータゾーン1の最初のビットで始まり（本体の15.1参照），メインデ
ータゾーン1のチャネルビットが少なくとも25 000個読み取られた時点で終わる。
信号処理のアルゴリズムは，次の段階で実行する。
a) メインデータゾーン1からのデジタル波形をタイミング抽出アルゴリズムに入力する。タイミング抽
出アルゴリズムの例としては，このゾーンからのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での
公称中心位置について，一連の一定間隔の基準タイムを生成する第一次フーリエ変換がある。これら
の基準タイムはb)〜d)を実行したとき，d)に指定したビットエラー率を満足するように，十分に正確
であることとする。
b) 一連の基準タイムを，同一の周波数と位相で残りの信号キャプチャ間隔に拡張する。これらの基準タ
イムは，メインデータゾーン1からのリードバックチャネルビット信号のビット間隔での公称中心位
置のタイミングを定義する。
c) メインデータゾーン1から取り込んだビット間隔での公称中心位置で，再生電圧を2%よりも高い精
度で測定する。
d) メインデータゾーン1から取り込んだ各ビット間隔について，ビットエラー率が1/10 000よりも小さ
い検出方法を使用して，テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化さ
れている各ビットセルに，＋1のデータ値Dを割り当て，ヘッド走行と反対方向に磁化されている各
ビットセルに，−1のデータ値Dを割り当てる。
e) 各ビットセルについて，4要素のベクトルを作成し，各要素に1，2，3，4と番号を付ける。第3要素
80
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
のD3の値は，現在のビットセルのデータ値Dとし，第4要素のD4の値は，次のビットセルのデータ
値Dとする。第1要素及び第2要素それぞれの値D1とD2は，前の2個のビットセルのデータ値Dと
する。その結果，ベクトル値は，16個のベクトル値のベクトル値iをもつ。
f)
16個の各ベクトル値について，ベクトル値がそのベクトル値iをもつすべてのビットセルのc)で測定
したプレイバック電圧の平均値Viを計算する。
g) 電圧平均値とデータ値を各ベクトル値に一つずつ与え，16個のボルテラシリーズを作成する。各シリ
ーズは，次による。
Vi＝ A0000
（d. c成分）
＋A0100D2＋A0010D3
（信号成分）
＋A1000D1＋A0001D4
（線形ISI成分）
＋A1100D1D2＋A0110D2D3＋A0010D3D4
（非線形ISI成分）
＋A1010D1D3＋A0101D2D4＋A1001D1D4
（高次非線形ISI成分）
＋A1101D1D2D4＋A1011D1D3D4＋A1111D1D2D3D4 （高次線形ISI成分）
＋A1110D1D2D3＋A0111D2D3D4
（ビットシフトに関係する非線形ISI成分）
h) g)で定義する16個の連立方程式を解くことによって，ボルテラ係数のA0000〜A1111を算出する。
i)
ビットシフトに関係する非線形ISI干渉を示すボルテラ係数は，A1110及びA0111となる。
参考 この方法の論理的根拠は，次の文献に記述されている。
Newby, P. and Wood, R., 1986 “The effects of Nonlinear Distortion on Class IV Partial Response” IEEE
Transactions on Magnetics Volulme MAG-22, Number 5, September 1986, Page 1203
この方法の適用方法については，次の文献に記述されている。
Williams C. H., 1990 “The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports” 8th
Conference on Video, Audio and Data Recording IEE Conference Publication No.319, page 67
81
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F（規定） トラックエッジの直線性の測定法
F.1 測定条件 試験片は，長手方向に0.04N〜0.06Nの張力を加える。
F.2 測定方法 記録トラックのエッジ上に，テープ基準縁からの距離4.454 5mmを中心とし，長手方向の
軸がテープ基準縁に対して，α＝4.895 0°傾いた59.148mm×7.5μmの長方形の箱を設定する。
F.3 要求事項 トラックエッジは，箱の短い辺にだけ交差しなければならない。
附属書F図1 トラックエッジの直線性の測定法
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G（規定） ECCの計算
C1符号は，GF (28) リードソロモン符号 (64，58，7) とし，C2符号は，GF (28) リードソロモン符号 (56，
48，9) とする。
*C1パリティは，シンボルでインターリブした2ブロックとして完了する。
GF (28) は，次の多項式によって算出する。
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
α＝(00000010)
C1符号のインターリーブ深度は，2バイトとし，C2符号のインターリーブ深度は8ブロックとする。
ECCバイトは，次の式による。
HP×VP＝0
HQ×VQ＝0
生成多項式は，次の式による。
∏
=
=
−
=
5
i
0
i
i
P
)
(
)
(
α
x
x
G
∏
=
=
−
=
7
i
0
i
i
Q
)
(
)
(
α
x
x
G
=
0
5
10
300
305
310
315
0
4
8
240
244
248
252
0
3
6
180
183
186
189
0
2
4
120
122
124
126
0
1
2
60
61
62
63
0
0
0
0
0
0
0
P
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
H
=
0
8
16
416
424
432
440
0
7
14
364
371
378
385
0
6
12
312
318
324
330
0
5
10
260
265
270
275
0
4
8
208
212
216
220
0
3
6
156
159
162
165
0
2
4
104
106
108
110
0
1
2
52
53
54
55
0
0
0
0
0
0
0
Q
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
H
83
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
VP＝
D2k,l
D2k,l+2
D2k,l+4
D2k,l+6
D2k,l+8
D2k,l+10
D2k,l+12
D2k,l+14
D2k,l+16
D2k,l+18
D2k,l+20
D2k,l+22
D2k,l+24
D2k,l+26
D2k,l+28
D2k,l+30
D2k,l+32
D2k,l+34
D2k,l+36
D2k,l+38
D2k,l+40
D2k,l+42
D2k,l+44
D2k,l+46
D2k,l+48
D2k,l+50
D2k,l+52
D2k,l+54
D2k,l+56
D2k,l+58
D2k,l+60
D2k,l+62
D2k+1,l+64
D2k+1,l+66
D2k+1,l+68
D2k+1,l+70
D2k+1,l+72
D2k+1,l+74
D2k+1,l+76
D2k+1,l+78
D2k+1,l+80
D2k+1,l+82
D2k+1,l+84
D2k+1,l+86
D2k+1,l+88
D2k+1,l+90
D2k+1,l+92
D2k+1,l+94
D2k+1,l+96
D2k+1,l+98
D2k+1,l+100
D2k+1,l+102
D2k+1,l+104
D2k+1,l+106
D2k+1,l+108
D2k+1,l+110
D2k+1,l+112
D2k+1,l+114
P2k+1,l+116
P2k+1,l+118
P2k+1,l+120
P2k+1,l+122
P2k+1,l+124
P2k+1,l+126
VQ=
Qm,n
Qm+6,n
Qm+12,n
Qm+18,n
Dm+24,n
Dm+30,n
Dm+36,n
Dm+42,n
Dm+48,n
Dm+54,n
Dm+60,n
Dm+66,n
Dm+72,n
Dm+78,n
Dm+84,n
Dm+90,n
Dm+96,n
Dm+102,n
Dm+108,n
Dm+116,n
Dm+122,n
Dm+128,n
Dm+132,n
Dm+138,n
Dm+144,n
Dm+150,n
Dm+156,n
Dm+162,n
Dm+168,n
Dm+174,n
Dm+180,n
Dm+186,n
Dm+192,n
Dm+198,n
Dm+204,n
Dm+210,n
Dm+216,n
Dm+222,n
Dm+234,n
Dm+246,n
Dm+252,n
Dm+258,n
Dm+264,n
Dm+270,n
Dm+276,n
Dm+282,n
Dm+288,n
Dm+294,n
Dm+300,n
Dm+306,n
Qm+312,n
Qm+318,n
Qm+324,n
Qm+330,n
84
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ここに，
Pij＝ C1バイト
Qij＝ C2バイト
i＝ ブロック番号
j＝ シリアル番号
なお，C1バイトは，次による。
k＝0，1，…，335
l＝0，1
k＝0〜23，又は312〜335では，VPのDijはQij
C2バイトは，次による。
0≦m≦5
0≦n≦127
各ブロックに含む128個のバイトは，0〜127のシリアル番号で識別し，0〜335ブロック番号で識別する。
85
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（参考） 輸送条件
この附属書（参考）は，カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので，規定の一部ではない。
H.1 環境条件 カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。
温度： −40〜45℃
相対湿度：5〜80%
湿球温度：26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
H.2 カートリッジの輸送条件 カートリッジの輸送は，次による。
H.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策を取ること
が望ましい。
a) カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。
d) カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵埃），水などの侵入がない構造とする。
e) カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。
f)
カートリッジの収納箱は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。
H.2.2 極端な温度及び湿度
a) 温度及び湿度の急激な変化は，どの場合でも可能な限り回避する。
b) 輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。
H.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による
信号破壊の危険性を最小限にするため，80mm以上とする。
86
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考） 記録時再生 (RAW)
この附属書（参考）は，記録時再生について記述するもので，規定の一部ではない。
記録時再生 (RAW) は，フレームを記録した後に，正しく記録できたかどうかを検査し，正しく記録で
きていないときは，再記録するために，直ちに，そのフレームを再生することである。RAWは，フレーム
単位で行う。RAWを行うときは，テープのデータ領域だけで行うこととし，アンブルフレームで行っては
ならない。RAWを行うときは，他のフレームに適用したか否かにかかわらず，個々のフレームごとに適用
するかどうかを決めてもよい。RAW検査で，フレームが正しく記録できていないと判断するとテープに沿
い，その先にフレームを再記録する。再記録するフレームが，元のフレームを重ね書きすることはない。
RAW検査の第一の目的は，テープの欠陥によって発生する多量の誤りを含むフレームの検出である。し
たがって，すべてのチャネルビットが正しく再生できなくても必ずしも再記録を行う必要はない。データ
交換の信頼性は，記録品質及びデータデコード品質だけに十分な余裕をもつことが最小の要求事項である。
フレームの品質を検査する方法の例としては，ミッシングパルスの長さ，レベル及びレベルの分布，C1
符号又はC2符号によって検出された欠陥の数を数えること，記録及び再生のチェックサムを比較するこ
と，記録及び再生データの比較をサンプル期間又は常時行うことなどである。
フレームを再記録するときは，テープ上に複数の同じフレームが存在する可能性がある。それに引き続
く再生によって，フレームのデータが複数の部分から再生した場合，前に再生したフレームのデータは，
記録の失敗の可能性があるので，最後に再生したデータを使用することを推奨する。
87
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（参考） 基本グループ0の内容の例
この附属書（参考）は，基本グループ番号0の内容の例を記述するもので，附属書K図1に示すものと
し，規定の一部ではない。
バイト位置1からバイト位置400のすべてのエントリの後に(00)が続き，残りのフィールドは(00)で埋め
る。
バイト位置
フィールドID
内容の説明
0〜127
製造業者名
パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置の製造
業者の名前
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
128〜159
モデル番号
パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置のモデ
ル番号
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
160〜191
シリアル番号
テープ装置のシリアル番号
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
192〜223
改定番号
テープ装置構成部品の改定番号
192〜199 サブアセンブリ1
200〜207 サブアセンブリ2
208〜215 サブアセンブリ3
216〜223 サブアセンブリ4
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
241〜255
ホストインタフェース
の形式とアドレス
SCSIや接続アドレスなどの，ホストインタフェースの形式
224〜239ホストインタフェース形式
240〜255アドレス
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
256〜271
日時
パーティションの初期化又は記録を行った日時
YYMMDDHHMMSS
256〜257 YY年＝1996＋YY
258〜259 MM月
260〜261 DD日
262〜263 HH時間
264〜265 MM分
266〜267 SS秒
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
272〜399
テープラベル又はID
パーティションの内容を示すインジケータ
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
400〜22 271
確保
すべてのバイトを0に設定
22 272〜801 792 製造業者用データ
規定しない
附属書K図1 基本グループ0の内容の例
88
X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考） チップの例
この附属書（参考）は，MICに使用するICについて記述するもので，規定の一部ではない。
この附属書では，この規格で規定するカートリッジに有効な市場で流通している2種類のICチップ，
Serial I2C EEPROM ST24E16及びST25E16について記述する。これらの2種類のICチップの信号，デバイ
ス走査及び読出し／書込みの詳細な技術情報は，次のSTMicroelectronicsのURLから入手できる。
http : //www. st. com
http : //www. st. com/stonline/index. htm
後者のURLでは，シリアルSerial EEPROM I2Cバス類を選択しパーツリストの中にST24E16 SERIAL
EXTENDED ADDRESSING COMPATIBLE WITH I2C 16K (2K×8) EEPROMを検索することができる。
附属書L図1は，2種類のEEPROMの論理ダイアグラムを示し，右側の信号名は本体8.2.2に規定する
アクセス孔の配置を示す。
附属書L図1 アクセス孔とICチップとの接触の関連
アクセス孔IDは，この規格では使用しない（附属書L図1参照）。
URLで使用している “K” の表現は，1 024と等価とし，MICチップの容量は，2 048バイトとする。
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X 6147 : 2001 (ISO/IEC 18810 : 2001)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS X 6147（8mm幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，AIT-2･MIC様式）
原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
大 石 完 一
（幹事）
富 田 正 典
トータルシステム株式会社
（幹事）
荒 木 学
日本ユニシス株式会社
高 山 佳 久
ソニー株式会社
中 島 郁 志
ソニー株式会社
船 越 正 次
TDK株式会社
竹 内 正
株式会社トリム・アソシエイツ
村 上 恒 夫
日本システムハウス株式会社
吉 岡 雄
日本ストレージ・テクノロジー株式会社
川 田 道 孝
日本電気株式会社
益 田 憲 明
株式会社日立製作所
渡 谷 誠 治
日立マクセル株式会社
稲 垣 博 康
富士通株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
和 泉 章
経済産業省商務情報政策局
八 田 勲
経済産業省産業技術環境局
（事務局）
鈴 木 尋 士
社団法人電子情報技術産業協会