X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子工業振興協会 (JEIDA) ／
財団法人日本規格協会 (JSA) から日本工業標準原案を具して，日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS X 6145には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） テープ及びリーダの光透過率の測定法
附属書B（規定） 信号対雑音比の測定法
附属書C（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件）
附属書D（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換
附属書E（規定） ビットシフトの測定法
附属書F（規定） トラックエッジの直線性の測定法
附属書G（規定） ECCの計算
附属書H（参考） 輸送条件
附属書J（参考） 記録時再生 (RAW)
附属書K（参考） 基本グループ0の内容の例
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目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 カートリッジ ················································································································ 1
2.2 書込み装置 ··················································································································· 1
2.3 読取り装置 ··················································································································· 2
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 定義 ······························································································································ 2
4.1 絶対フレーム番 ············································································································· 2
4.2 交流消 ························································································································· 2
4.3 アクセ ························································································································· 2
4.4 アルゴリズ ··················································································································· 2
4.5 エリアI ························································································································ 2
4.6 自動トラックファインディン ···························································································· 2
4.7 平均信号振 ··················································································································· 2
4.8 アジマ ························································································································· 2
4.9 裏 ······························································································································· 2
4.10 バイ ··························································································································· 2
4.11 カートリッ ·················································································································· 3
4.12 チャネルビッ ··············································································································· 3
4.13 コードワー ·················································································································· 3
4.14 EW ···························································································································· 3
4.15 EO ····························································································································· 3
4.16 エンティテ ·················································································································· 3
4.17 誤り訂正符 ·················································································································· 3
4.18 磁束反転位 ·················································································································· 3
4.19 磁束反転間 ·················································································································· 3
4.20 フレー ························································································································ 3
4.21 ハウスキーピングフレー ································································································ 3
4.22 LBO ··························································································································· 3
4.23 磁気テー ····················································································································· 3
4.24 信号振幅基準テー ········································································································· 3
4.25 主基準テー ·················································································································· 3
4.26 MI ····························································································································· 3
4.27 パーティション境 ········································································································· 3
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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4.28 PBO ··························································································································· 3
4.29 PEO ··························································································································· 3
4.30 記録密 ························································································································ 3
4.31 記録条 ························································································································ 3
4.32 圧縮処 ························································································································ 3
4.33 圧縮デー ····················································································································· 3
4.34 圧縮レコー ·················································································································· 3
4.35 レコー ························································································································ 3
4.36 基準磁 ························································································································ 3
4.37 復元処 ························································································································ 3
4.38 信号振幅二次基準テー ··································································································· 4
4.39 二次基準テー ··············································································································· 4
4.40 セパレータマー ············································································································ 4
4.41 基準信号振幅 ··············································································································· 4
4.42 基準電 ························································································································ 4
4.43 テープ基準 ·················································································································· 4
4.44 試験記録電 ·················································································································· 4
4.45 トラッ ························································································································ 4
4.46 ティピカル磁 ··············································································································· 4
4.47 未圧縮デー ·················································································································· 4
4.48 未圧縮レコー ··············································································································· 4
5. 表記法 ··························································································································· 4
5.1 数字の表現 ··················································································································· 4
5.2 エンティティの名称 ······································································································· 4
6. 略号 ······························································································································ 4
7. 環境条件及び安全性 ········································································································· 5
7.1 試験環境条件 ················································································································ 5
7.2 使用環境条件 ················································································································ 5
7.3 保存環境条件 ················································································································ 5
7.4 輸送 ···························································································································· 6
7.5 安全性 ························································································································· 6
7.6 難燃性 ························································································································· 6
8. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 6
8.1 概要 ···························································································································· 6
8.2 全体の寸法（図5及び図6） ···························································································· 7
8.3 保持領域 ······················································································································ 7
8.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 7
8.5 窓（図1） ···················································································································· 8
8.6 ローディンググリップ（図5及び図7） ············································································· 8
8.7 ラベル領域（図6及び図8） ···························································································· 8
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8.8 基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11） ····································································· 8
8.9 支持領域（図9） ··········································································································· 9
8.10 識別孔（図10，図11及び図12） ··················································································· 10
8.11 書込み禁止孔（図11及び図12） ···················································································· 10
8.12 位置決め面（図4及び図10） ························································································ 11
8.13 リッド（図6，図13及び図15） ····················································································· 11
8.14 リールロック（図10及び図16） ···················································································· 12
8.15 リール受け孔（図10） ································································································· 13
8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ············································································· 13
8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21）···································································· 14
8.18 ケース内のテープの位置（図21） ·················································································· 14
8.19 テープ走行領域（図21） ······························································································ 15
8.20 テープ引出し開口部（図10） ························································································ 15
8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24）···································································· 15
8.22 MICへの要求事項········································································································ 15
8.22.1 MICアクセス ··········································································································· 15
8.22.2 識別用切込み（図8及び図10） ··················································································· 16
9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 32
9.1 材料 ··························································································································· 32
9.2 テープの長さ ··············································································································· 32
9.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 32
9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 33
9.2.3 スプライシングテープの長さ ························································································ 33
9.3 テープの幅 ·················································································································· 33
9.3.1 磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 ··························································· 33
9.3.2 スプライシングテープの幅及び位置 ··············································································· 33
9.4 連続性 ························································································································ 33
9.5 テープの厚さ ··············································································································· 33
9.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 33
9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 33
9.5.3 スプライシングテープの厚さ ························································································ 33
9.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 33
9.7 カッピング ·················································································································· 33
9.8 磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度 ··············································································· 33
9.9 層間の粘着 ·················································································································· 34
9.10 引張強度 ···················································································································· 34
9.10.1 破断強度 ·················································································································· 34
9.10.2 降伏強度 ·················································································································· 34
9.11 残留伸び ···················································································································· 34
9.12 磁性面の電気抵抗 ········································································································ 34
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9.13 テープの巻き方 ··········································································································· 35
9.14 テープの光透過率 ········································································································ 35
10. 磁気的特性 ·················································································································· 35
10.1 ティピカル磁界 ··········································································································· 35
10.2 平均信号振幅 ·············································································································· 35
10.3 分解能 ······················································································································· 36
10.4 重ね書き ···················································································································· 36
10.5 消去特性 ···················································································································· 36
10.6 テープの品質 ·············································································································· 36
10.6.1 ミッシングパルス ······································································································ 36
10.6.2 ミッシングパルスゾーン ····························································································· 36
10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性 ····························································································· 36
11. フォーマット··············································································································· 37
11.1 一般事項 ···················································································································· 37
11.2 基本グループ ·············································································································· 37
11.2.1 エンティティ ············································································································ 38
11.2.2 グループ情報テーブル ································································································ 39
11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT) ················································································· 40
11.3 サブグループ ·············································································································· 43
11.3.1 G1サブグループ ······································································································· 43
11.3.2 G2サブグループ（ランダム化） ··················································································· 43
11.3.3 G3サブグループ ······································································································· 45
11.4 データブロック ··········································································································· 46
11.4.1 ID情報 ···················································································································· 47
11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録 ······································································ 49
12. 記録方式 ····················································································································· 51
12.1 記録密度 ···················································································································· 51
12.2 長周期平均ビットセル長 ······························································································· 51
12.3 短周期平均ビットセル長 ······························································································· 51
12.4 短周期平均ビットセル長の変動率 ··················································································· 52
12.5 ビットシフト ·············································································································· 52
12.6 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 52
12.7 最大の記録レベル ········································································································ 52
13. トラック ····················································································································· 52
13.1 トラックの構成 ··········································································································· 52
13.2 平均トラック間隔 ········································································································ 53
13.3 トラック間隔の変化 ····································································································· 53
13.4 トラック幅 ················································································································· 53
13.5 トラック角 ················································································································· 53
13.6 トラックエッジの直線性 ······························································································· 53
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13.7 トラック長 ················································································································· 53
13.8 アジマス角 ················································································································· 53
14. 記録パターン ··············································································································· 53
14.1 記録データブロック ····································································································· 53
14.2 マージンブロック ········································································································ 53
15. トラックのフォーマット································································································· 53
15.1 トラックの内容 ··········································································································· 53
15.2 トラック位置精度 ········································································································ 54
15.3 トラッキング法 ··········································································································· 54
16. シングルデータスペーステープの構成 ··············································································· 55
16.1 デバイス領域 ·············································································································· 56
16.2 リファレンス領域 ········································································································ 56
16.3 ガードバンド1 ············································································································ 56
16.4 システム領域 ·············································································································· 56
16.4.1 システムプリアンブル ································································································ 56
16.4.2 システムログ ············································································································ 56
16.4.3 システムポストアンブル ····························································································· 59
16.4.4 ガードバンド2 ········································································································· 59
16.4.5 ベンダグループプリアンブル ······················································································· 59
16.5 データ領域 ················································································································· 59
16.5.1 ベンダグループ ········································································································· 59
16.5.2 記録データグループ ··································································································· 59
16.5.3 ECC3 ······················································································································ 60
16.5.4 多重記録インスタンス ································································································ 61
16.5.5 再記録フレーム ········································································································· 61
16.5.6 追記録及び重ね書き ··································································································· 61
16.6 EOD領域 ··················································································································· 63
16.7 オプションデバイス領域 ······························································································· 63
16.8 アーリーワーニングポイント (EWP) ··············································································· 64
16.9 初期化 ······················································································································· 64
17. パーティションテープの構成 ··························································································· 64
17.1 テープ上の配置 ··········································································································· 65
17.1.1 パーティション ········································································································· 65
17.2 LBOT ························································································································ 66
17.3 空きのパーティション ·································································································· 66
17.4 パーティションテープの初期化 ······················································································ 66
18. ハウスキーピングフレーム······························································································ 66
18.1 アンブルフレーム ········································································································ 66
18.2 システムアンブルフレーム ···························································································· 67
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)目次
(6)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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附属書A（規定） テープ及びリーダの光透過率の測定法 ··························································· 68
附属書B（規定） 信号対雑音比の測定法 ················································································ 70
附属書C（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法 （記録条件） ······························· 71
附属書D（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換 ·································· 72
附属書E（規定） ビットシフトの測定法 ················································································ 79
附属書F（規定） トラックエッジの直線性の測定法 ································································· 81
附属書G（規定） ECCの計算 ······························································································ 82
附属書H（参考） 輸送条件 ································································································· 85
附属書J（参考） 記録時再生 (RAW) ····················································································· 86
附属書K（参考） 基本グループ0の内容の例·········································································· 87
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
X 6145 : 2000
(ISO/IEC 15780 : 1998)
8mm幅，ヘリカル走査記録，
情報交換用
磁気テープカートリッジ，AIT-1様式
8mm wide magnetic tape cartridge for information interchange−
Helical scan recording−AIT-1 format
序文 この規格は，1998年に第1版として発行されたISO/IEC 15780, Information technology−Data
inter-change on 8mm wide magnetic tape cartridge−Helical scan recording−AIT-1 formatを翻訳し，技術的内容
及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
この規格に記載のIEC規格番号は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものである。
これより前に発行された規格については，規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切り替え
る。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一である。
1. 適用範囲 この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い
る8mm幅，ヘリカル走査記録，AIT-1 (Advanced Intelligent Tape-1) 様式，磁気テープカートリッジ（以下，
カートリッジという。）の構造，寸法，物理的特性，機械的特性，磁気的特性及び情報の規格様式について
規定する。
この規格は，情報交換当事者間で合意した情報交換符号並びにラベル及びファイル構成の規格を用いる
ことでシステム相互の情報交換に適用する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO/IEC 15780 Information technology−Data interchange on 8mm wide magnetic tape cartridge−
Helical scan recording−AIT-1 format (IDT)
2. 適合性
2.1
カートリッジ カートリッジは，この規格のすべてを満足するとき，この規格に適合する。
2.2
書込み装置 情報交換用カートリッジに用いる書込み装置は，テープに記録するすべての記録がこ
の規格に適合するとき，この規格に適合する。
適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示する。
− 記録時再生によるチェック及び不良フレームの再記録。
− ECC3（誤り訂正用C3符号）フレームの生成。
2
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
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また，次の任意機能の有無を明示する。
− 登録した圧縮アルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。
− 圧縮アルゴリズムの登録番号。
2.3
読取り装置 情報交換用カートリッジに用いる読取り装置は，この規格に適合するテープ上の記録
を処理でき，次の機能をもつとき，この規格に適合する。
− 再記録フレームを識別し，これらのフレームの一つだけから利用者データ及びセパレータマークを
取り出す。
− 同一の基本グループが複数表れてもそれを識別し，これらの中の一つだけから利用者データ及びセ
パレータマークを取り出しホストに伝える。
− ECC3フレームの識別。ただし，ECC3機能がない場合，無視する。
− 定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し，ホストが利用できる登録番号を取り出す。
− ホストが利用できる圧縮データの生成。
次の任意機能の有無を明示する。
− ECC3を使用した誤り訂正の可否。
− 圧縮データ復元用アルゴリズムの有無，及びそのアルゴリズムを圧縮データに適用する機能の有無。
− その装置がもつ圧縮データ復元アルゴリズムに対応する圧縮アルゴリズムの登録番号。
3. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・
追補には，適用しない。
JIS K 7161 : 1994 プラスチック−引張特性の試験方法 第1部：通則
備考 ISO 527-1 : 1993 Plastics−Determination of tensile properties−Part 1：General principlesが，こ
の規格と一致している。
ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings
ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for
the lossless compression of data
IEC 60950 : 1996 Safety of information technology equipment
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
4.1
絶対フレーム番号 [absolute frame number (AFN)] フレームに付けた連続番号。
4.2
交流消去 (a.c. erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。
4.3
アクセス (access) パーティションの記録又は再生。
4.4
アルゴリズム (algorithm) データの論理的表現を変換する規則の集合。
4.5
エリアID (area ID) 磁気テープ領域及び記録したフレームタイプの識別子。
4.6
自動トラックファインディング [automatic track finding (ATF)] トラッキング方法。
4.7
平均信号振幅 (average signal amplitude) 規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ
ルスがない部分を長さ20.0mm以上にわたって測定した再生ヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。
4.8
アジマス (azimuth) 磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。
4.9
裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープ面。
4.10 バイト (byte) 一単位として取り扱うビット列。
3
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
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4.11 カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻いた磁気テープを収納したケース。
4.12 チャネルビット (channel bit) 8ビットから10ビットに変換後のビット。
4.13 コードワード (codeword) データ圧縮アルゴリズムによって変換処理したワード。コードワードの
ビット数は，可変であり，この規格では規定しない。
4.14 EWP (early warning point) パーティションの境界又はPEOTに近付いたことを示す箇所。
4.15 EOD (end of data) 最後の利用者データを含むグループの終端。
4.16 エンティティ (entity) エンティティヘッダ及びレコードによって構成する記録データの集合。
4.17 誤り訂正符号 [error correcting code (ECC)] 誤りを自動訂正できるように設計した符号。
4.18 磁束反転位置 (flux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となるテープ上
の点。
4.19 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。
4.20 フレーム (frame) 正のアジマスとこれに続く負のアジマスからなる一対のトラック。
4.21 ハウスキーピングフレーム (housekeeping frame) 利用者データを含まないフレーム。
4.22 LBOT (logical beginning of tape) テープ上でのデータの記録開始位置。
4.23 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。
4.24 信号振幅基準テープ (master standard amplitude calibration tape) 交流消去したテープ上に正アジマ
ス及び負アジマス，35.0μmのトラック幅ヘッド，11.0μmのトラック間隔で主基準信号を記録し，信号振
幅の校正の基準として用いるテープ。
参考1. この基準テープは，1 428.6ftpmm，1 904.8ftpmm，2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmの信号を記
録している。
2. この基準テープは，ソニー株式会社によって管理されている。
4.25 主基準テープ (master standard reference tape) 基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書き及び信号対
雑音比の主基準として用いるテープ。
参考 この主基準テープは，ソニー株式会社によって管理されている。
4.26 MIC (memory in cartridge) ケース内にあり，テープの記録に関する情報を保持する半導体メモリ。
4.27 パーティション境界 (partition boundary) パーティションが終わり次のパーティションが始まる磁
気テープの長さ方向に沿った点。
4.28 PBOT (physical beginning of tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.29 PEOT (physical end of tape) テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。
4.30 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm)。
4.31 記録条件 (pre-recording condition) 互換性維持のために許容される記録レベル。
4.32 圧縮処理 (processing) ホストからのデータを圧縮アルゴリズムによって，コードワードに変換す
る処理。
4.33 圧縮データ (processed data) 圧縮処理したコードワードの列。
4.34 圧縮レコード (processed record) 未圧縮レコードを圧縮処理することによって生成するレコード。
4.35 レコード (record) 情報の単位として扱うデータ。
4.36 基準磁界 (reference field) 主基準テープのティピカル磁界。
4.37 復元処理 (reprocessing) コードワードを元のデータに復元する処理。
4
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
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4.38 信号振幅二次基準テープ (secondary standard amplitude calibration tape) 信号振幅基準テープと同じ
種類の信号を記録し，そのテープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれとの偏差を明示したテープ。供
試テープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれとを比較するために用い，供試テープの実測値を補正す
ることによって，間接的に供試テープとの特性の比較を行うことを可能にするテープ。
参考 信号振幅副基準テープは，〒141-0001 東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社が部品番
号SSCT-AIT-1で2006年まで供給する。
4.39 二次基準テープ (secondary standard reference tape) テープの基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書
き及び信号対雑音比を主基準テープのそれと比較するために用い，その特性値と主基準テープの特性との
偏差を明示して，実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと主基準テープとの特性の
比較を行うことを可能にするテープ。
参考 二次基準テープは，〒141-0001 東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社が部品番号
SSRT-AIT-1で2006年まで供給する。
4.40 セパレータマーク (separator mark) データの区切りに使用する利用者データを含まないレコード。
4.41 基準信号振幅 [standard reference amplitude (SRA)] 信号振幅基準テープの正アジマストラックに
記録した主基準信号の平均信号振幅。
4.42 基準電流 (standard reference current) 基準磁界を発生させる記録電流。
4.43 テープ基準縁 (tape reference edge) BOTのテープ接合箇所が左側になるようにテープの記録面か
ら見たときのテープの下端。
4.44 試験記録電流 (test recording current) SRAを記録した電流で，基準電流の1.5倍の電流。
4.45 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。
4.46 ティピカル磁界 (typical field) 記録密度2 857.1ftpmmで記録して，再生したとき，その平均信号振
幅が最大値の90%を示す最小の印加磁界。
4.47 未圧縮データ (unprocessed data) 圧縮処理をしていないデータの列。
4.48 未圧縮レコード (unprocessed record) バイト単位で構成する未圧縮データのレコード。
5. 表記法
5.1
数字の表現 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸める。すなわち，規定値が1.26，
正の許容誤差が0.01，負の許容誤差が0.02である場合，測定した値は，1.235以上1.275未満を許容する。
16進数は，丸括弧を付け数字及び英文字で表す。
ビットの設定は， “0” 又は “1” で表す。
ビットパターン及び2進数表現の数字は， “0” 又は “1” の列で表す。規定しないビットは，Xを使用
してもよい。
ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。
2進数の負の表現は，2の補数で表す。
各フィールド内では，データバイト0を最上位バイトとし，最初に記録する。各バイト内では，最上位
ビット（8ビットバイトのビット7）を最初に記録する。この順序は，特に規定がない限り，誤り検出符号
及び誤り訂正符号の入出力にも適用する。
5.2
エンティティの名称 エンティティの名称は，この規格では規定しない。
6. 略号 略号は，次による。
5
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
AEWP
アフターアーリーワーニングポイント (after early warning point)
AFN
絶対フレーム番号 (absolute frame number)
ATF
自動トラックファインディング (automatic track finding)
BAT
ブロックアクセステーブル (block access table)
ECC
誤り訂正符号 (error correcting code)
EOD
EOD (end of data)
EWP
アーリーワーニングポイント (early warning point)
GIT
グループ情報テーブル (group information table)
LBOT
LBOT (logical beginning of tape)
LSB
最下位バイト (least significant byte)
LF-ID
論理フレーム識別子 (logical frame identifier)
MIC
メモリインカートリッジ (memory in cartridge)
MSB
最上位バイト (most significant byte)
MSRT
主基準テープ (master standard reference tape)
PBOT
PBOT (physical beginning of tape)
PEOT
PEOT (physical end of tape)
RAW
記録時再生 (read-after-write)
SNR
信号対雑音比 (signal-to-noise ratio)
msb
最上位ビット (most significant bit)
7. 環境条件及び安全性
7.1
試験環境条件 試験環境条件は，カートリッジ近傍の環境条件とし，規定がない限り次による。
温度
23℃±2℃
相対湿度
40%〜60%
試験前放置時間
24時間
7.2
使用環境条件 使用環境条件は，書込み装置又は読取り装置のスキャナ（ドラム）からテープ取出
し方向に10mm以内の大気中で測定し，次による。
温度
5℃〜45℃
相対湿度
20%〜80%
湿球温度
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
使用環境条件は，装置使用に伴う温度上昇分も含む。
カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置
した時間と同等以上，又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用する。
備考 急激な温度変化は，避ける。
7.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度
5℃〜32℃
相対湿度
20%〜60%
周辺磁界は，テープ上で4 000A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては
ならない。
6
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7.4
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Hによ
る。
7.5
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，IEC 60950の要求を満足しなければならない。
カートリッジ及びその構成部品は，適正使用時又はあらかじめ予想可能な誤使用時に，安全性，又は健
康上の危険が生じてはならない。
7.6
難燃性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチの炎などによって着火してもよいが，二
酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
8. ケースの寸法及び機械的特性
8.1
概要 カートリッジ寸法の規定は，情報交換のための要求事項とする。具体図は次による。
図1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観
図2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観
図3 基準面X，基準面Y及び基準面Z
図4 リッドが閉じた状態の前面
図5 リッドが閉じた状態の左側面
図6 リッドが閉じた状態の上面
図7 リッドが閉じた状態の右側面
図8 リッドが閉じた状態の背面
図9 底面，基準領域及び支持領域
図10 リッドがない状態の底面
図11 基準孔及び識別孔の詳細図
図12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図
図13 リッドの詳細図
図14 リッドロック解除機構の挿入経路
図15 リッドロック解除機構
図16 リールロック解除機構
図17 リールロックの解除に必要な力の方向
図18 リッドのロック解除に必要な力の方向
図19 リッドを開けるために必要な力の方向
図20 光通過経路及び光通過窓
図21 内部のテープ通過経路及び光通過経路
図22 リールの外観及び断面図
図23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図
図24 テープ引出し開口部
図25 MIC部背面の詳細図
図26 MIC部底面の詳細図
寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図3参照）。
基準面Xは，基準孔A及び基準孔Bの中心を通り，基準面Zに垂直とする。
基準面Yは，基準孔Aの中心を通り，基準面X及び基準面Zに垂直とする。
基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，基準面Z内とする。
7
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8.2
全体の寸法（図5及び図6） ケースの長さは，次による。
l1＝62.5mm±0.3mm
ケースの幅は，次による。
l2＝95.0mm±0.2mm
ケースの上面から基準面Zまでの長さは，次による。
l3＝15.0mm±0.2mm
背面から基準面Xまでの長さは，次による。
l4＝47.35mm±0.15mm
右側面から基準面Yまでの長さは，次による。
l5＝13.0mm±0.1mm
8.3
保持領域 カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の斜線の領域とする。
基準面Xから保持領域までの長さは，次による。
l6≦12.0mm
ケースの端からの幅は，次による。
l7≧3.0mm
8.4
カートリッジ挿入部 カートリッジ挿入部は，誤った向きで磁気テープ装置に挿入することを防ぐ
ために，溝，切込み及びこう配面からなる非対称な形状をもつ。
溝は，リッドが閉じてロックした状態のとき，ロック解除を可能にするために，リッドロック解除ピン
の挿入領域を妨げないように設ける。溝の基準面Yからの長さは，次による（図4及び図14参照）。
l8＝79.6mm±0.2mm
溝の端部の面取りは，次による。
l9＝1.0mm±0.1mm
l16＝1.5mm±0.1mm
溝の内部の面取りは，次による。
l10＝0.7mm±0.1mm
l17＝1.0mm±0.1mm
l18＝3.65mm±0.10mm
溝の内部の幅は，次による。
l11≧1.0mm
リッドの厚さは，次による。
l12＝1.2mm±0.1mm
リッドの面取りは，次による。
l13＝0.8mm±0.1mm
l14＝1.2mm±0.1mm
リッドのケースからの突出は，次による。
l15＝0.5mm±0.1mm
ケースの左側面からリッドロックまでの長さは，次による。
l19＝0.2mm±0.2mm
挿入領域の高さは，次による。
l20≧2.3mm
8
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l21＝2.5mm
mm
2.0mm
0.0
+−
切込みは，カートリッジの右側面に設ける。その位置及び寸法は，次による（図7及び図10参照）。
l22≦7.5mm
l23＝11.0mm±0.2mm
l24＝1.5mm±0.1mm
切込みの深さは，次による。
l25＝1.5mm±0.1mm
こう配面は，リッドの構造の一部とし，基準面Xからの長さは，次による（図13参照）。
l26＝7.7mm
mm
0.0mm
5.2
+−
こう配面の角度は，半径r3と交差するところまでとし（8.13参照），次による。
a1＝17.5°±4.0°
8.5
窓（図1） 窓は，リールの一部を目視可能とするために上面に設けてもよい。窓を設ける場合，カ
ートリッジの高さを超えてはならない。
8.6
ローディンググリップ（図5及び図7） ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジ
を自動的に装着するために設ける。
ローディンググリップの中心線の基準面Xからの長さは，次による。
l28＝39.35mm±0.20mm
ローディンググリップの基準面Z及びカートリッジ上面からの長さは，次による。
l29＝1.5mm±0.1mm
ローディンググリップのくぼみの幅は，次による。
l30＝5.0mm±0.3mm
ローディンググリップのくぼみの深さは，次による。
l31＝2.0mm±0.2mm
ローディンググリップのくぼみの傾斜は，次による。
a2＝90°±5°
8.7
ラベル領域（図6及び図8） ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設けてもよい。各ラベ
ル領域の位置及び寸法は，カートリッジの機構部の要求事項及び動作を妨げてはならない。
上面のラベル領域は，l6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。
背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。
l32≧0.5mm
l33≧1.5mm
l34≦65.0mm
l171≧l164
ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。
8.8
基準領域及び基準孔（図9，図10及び図11） 環状の基準領域A，基準領域B及び基準領域Cは，
基準面Z上に設け，磁気テープ装置に装着したときのカートリッジの垂直方向位置決めに用いる。それぞ
れの直径d1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。
基準孔A及び基準孔Bの中心は，基準面X上とする。
円形の基準孔Aの中心は，基準面X及び基準面Yの交線とする（図10参照）。
基準孔Bの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図9参照）。
9
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l35＝68.0mm±0.1mm
円形の基準孔Cの中心から基準面Yまでの長さは，次による（図11参照）。
l36＝10.20mm±0.05mm
基準孔Dの中心から基準孔Cの中心までの長さは，次による（図9参照）。
l37＝89.4mm±0.2mm
基準孔C及び基準孔Dの中心から基準面Xまでの長さは，次による（図10参照）。
l38＝36.35mm±0.08mm
基準領域のケースの厚さは，次による。
l39＝1.2mm±0.1mm
基準孔A及び基準孔Cの深部の直径は，次による。
l40≧2.6mm
基準孔の深さは，次による。
l42≧4.0mm
基準孔A及び基準孔Cの開口部付近の直径は，次による。
l44＝3.00mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
基準孔A及び基準孔Cの直径がl44となる部分の深さは，次による。
l41≧1.5mm
基準孔A及び基準孔Cの開口部の面取りは，次による。
l43≦0.3mm
a3＝45°±1°
基準孔B及び基準孔Dの深部の幅は，l40とする。
基準孔B及び基準孔Dの深さは，l42とする。
基準孔B及び基準孔Dの開口部付近の寸法は，次による。
l45＝3.5mm±0.1mm
l46＝3.00mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
r1＝1.75mm±0.05mm
基準孔B及び基準孔Dの寸法がl45，l46及びr1となる部分の深さは，l41とする。
基準孔B及び基準孔Dの開口部の面取りは，l43及びa3とする。
8.9
支持領域（図9） カートリッジ支持領域は，図9の網掛け部分とする。支持領域A，支持領域B
及び支持領域Cは，それぞれ，基準領域A，基準領域B及び基準領域Cから±0.1mm以内で同一の平面
上とする。支持領域Dは，基準面Zから±0.15mm以内で同一の平面上とする。
カートリッジの端からl49の長さの領域は，支持領域から除かなければならない。
l49＝0.5mm±0.1mm
基準面Xから支持領域A及び支持領域Bのケース前面側の端までの長さは，次による。
l47＝10.0mm±0.1mm
基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A及び支持領域Bのケース側面側の端までの長
さは，l47とする。
基準孔A及び基準孔Bの中心から，それぞれ支持領域A及び支持領域Bのケース内側の端までの長さ
は，次による。
l48＝11.0mm±0.1mm
10
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
基準面Xから支持領域A及び支持領域Bのケース背面側の端までの長さは，次による。
l50＝7.0mm±0.1mm
基準面Xから支持領域C及び支持領域Dまでの長さは，次による。
l51＝30.0mm±0.1mm
支持領域C及び支持領域Dの寸法は，l47及び次による。
l52＝5.5mm±0.1mm
l53＝64.5mm±0.2mm
8.10 識別孔（図10，図11及び図12） 識別孔は，図11に示す1〜3の番号を付けた3個を設ける。
識別孔1の中心の位置は，次による。
l54＝43.35mm±0.15mm
l55＝3.7mm±0.1mm
l56＝2.3mm±0.1mm
識別孔2の中心の位置は，l54及び次による。
l61＝10.0mm±0.1mm
識別孔1及び識別孔2は円形とし，その直径は，3.0mm±0.1mmとする。
識別孔3は方形とし，その位置及び寸法は次による。
l58＝74.3mm±0.1mm
l142＝77.3mm±0.1mm
l143＝41.15mm±0.10mm
l144＝44.45mm±0.10mm
すべての識別孔は，図12のE-E及び図12のF-Fに示す断面構造をもち，閉じた識別孔の基準面Zから
の深さは，次による。
l59＝1.2mm
mm
3.0mm
1.0
+−
開いた識別孔の基準面Zからの深さは，次による。
l60≧5.0mm
図12のE-Eは，識別孔をプラグで閉じた状態を示す。このプラグは，最大0.5Nの力を加えても打ち抜
かれてはならない。
識別孔の開閉状態は，次による。
識別孔1は，閉じる。
識別孔2は，開く。
識別孔3は，開く。
8.11 書込み禁止孔（図11及び図12） 書込み禁止孔の位置は，l54及び次による。
l57＝6.4mm±0.1mm
書込み禁止孔の直径は，3.0mm±0.1mmとする。
閉じた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l59とする。
開いた書込み禁止孔の基準面Zからの深さは，l60とする。
書込み禁止孔は，開いた状態で書込み禁止とし，閉じた状態で書込み可能とする。
書込み禁止孔は，可動の機構としてもよい。このとき，書込み禁止孔の開閉の状態が目視できなければ
ならない（図8参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止
孔の開閉に要する力は，1N〜15Nとする。
11
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.12 位置決め面（図4及び図10） 位置決め面は，カートリッジを磁気テープ装置に装着したとき，カ
ートリッジの位置決めに用い，その寸法は，次による。
基準面Zからの長さは，次による。
l62＝2.4mm
mm
0.0mm
1.0
+−
基準面Yからの長さは，次による。
l63＝1.0mm±0.1mm
l64＝69.0mm±0.2mm
基準面Xからの長さは，次による。
l65＝14.65mm±0.10mm
位置決め面の面取りは，次による。
a4＝45°±1°
8.13 リッド（図6，図13及び図15） リッドは，カートリッジの取扱い中，保管中及び運搬中にテープ
を保護するために設け，主リッド及び副リッドからなる。
主リッドは，ケースに取り付けた軸Aを軸として回転する（図13参照）。
軸Aの位置は，次による。
l27＝0.55mm±0.10mm
l67＝7.5mm±0.1mm
副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動く軸Bを軸として回転する。リッドが閉じた状
態では，軸Bの位置は，次による。
l68＝7.0mm±0.1mm
l69＝10.1mm±0.1mm
副リッドの回転は，両側のカムによって，図13に示す経路で制御する。
完全に開いた副リッドの開口部の長さは，次による。
l70≧14.8mm
l71＝11.5mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l72＝1.2mm ±0.1mm
リッドは，完全に開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行で，l73離れた平面を超
えてはならない。
l73≦22.3mm
完全に開いたリッドの底面が基準面Zに対する角度は，次による。
a5＝
ο
ο
ο12
85+−
リッドは，途中まで開いた状態では，主リッド及び副リッドともに基準面Zに平行で，l74離れた平面を
超えてはならない。
l74≦22.5mm
リッドが開くときのリッドの頂点の通過経路は，次による。
r2≦14.9mm
ケースと主リッドの継ぎ目は，次による（図6のB-B参照）。
l75≦8.4mm
主リッドの基準面Zからの高さは，次による（図13参照）。
12
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l76＝15.2mm
mm
0.0mm
5.0
+−
主リッドの前面の基準面Xからの長さは，次による。
l77＝15.3mm
mm
0.0mm
3.0
+−
リッドの内側のすきまは，次による。
l78＝13.15mm±0.10mm
リッド前面の曲面の中心は，軸Aとし，半径は，次による。
r3≦14.7mm
リッドロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。リッドが閉じロックした位置のとき，リッド
ロックの解除動作は，図15の斜線部に遮られてはならない。図15の斜線部は，次による。
l79＝2.0mm±0.1mm
l145＝6.3mm±0.2mm
l146＝1.2mm±0.1mm
a15＝45°±1°
a16＝15°±1°
解除ピンは，図15の網掛け領域にあるとき，リッドロック機構を解除する。図15の網掛け領域は，l79
及び次による。
l80＝8.2mm±0.2mm
l81＝0.7mm±0.2mm
a6＝15°±1°
リッドロックの解除に要する力は，図18に示す方向に0.25N以下とする。
リッドを開く力は，図19に示す方向に1.0N以下とする。
8.14 リールロック（図10及び図16） リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り出したとき，
ロックしなければならない。ロック機構は，装置の解除ピンによって解除する。
ロック機構は，図10に示す方形孔を通して動作する。その方形孔の中心線の基準面Yからの長さは，
次による。
l82＝34.5mm±0.1mm
方形孔の基準面Xからの寸法は，次による（図10参照）。
l83＝35.85mm±0.15mm
l84＝4.0mm±0.1mm
l85≧6.5mm
ロック機構の寸法は，次による。
l86＝3.2mm
mm
3.0mm
2.0
+−
l87＝4.0mm±0.1mm
a7＝60.0°±1.0°
解除ピンの動作面が基準面Xからl88に位置するとき，リールはロックする。
l88＝39.0mm
mm
2.0mm
0.0
+−
解除ピンの動作面が基準面Xからl89に位置するとき，リールはロックしてはならない。
l89＝41.75mm
mm
50
.0
mm
00
.0
+−
カートリッジの背面板の内側とロック機構の間にl90のすきまを設ける。
l90≧0.5mm
13
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解除ピンをカートリッジに挿入する深さは，次による。
l91≦7.8mm
ロック機構のすきまは，次による。
l92＝4.0mm±0.1mm
r4≦0.3mm
リールロックの解除に要する力は，図17に示す方向に1.0N以下とする。
8.15 リール受け孔（図10） 二つのリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設ける。
リール受け孔の位置は，次による。
l93＝23.00mm±0.05mm
l94＝11.40mm±0.05mm
l95＝46.2mm±0.1mm
リール受け孔の直径は，次による。
d2＝18.80mm±0.05mm
8.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 リールと駆動スピンドルの接触領域は，次による（図22及
び図23）。
l102＝5.4mm±0.1mm
l103＝4.4mm±0.1mm
l104≦0.6mm
d4＝10.00mm
mm
08
.0
mm
00
.0
+−
d5≦16.0mm
d6＝18.0mm
mm
0.0mm
1.0
+−
d7＝16.0mm
mm
0.0mm
1.0
+−
リール駆動孔の面取りは，次による。
l105＝2.4mm±0.1mm
a9＝15°±1°
リール底面の外側エッジの面取りは，次による。
l106≦0.2mm
a8＝45°±1°
リール駆動孔のスロットの位置及び寸法は，次による。
l107＝2.4mm
mm
2.0mm
0.0
+−
a10＝60°±1°
リール駆動孔の歯の半径は，次による。
r5≦0.2mm
リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。
l108≧9.4mm
d3＝6.50mm
mm
08
.0
mm
00
.0
+−
基準面Zからのテープ中心線の位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。
l109＝7.05mm±0.10mm
基準面Zからのリールの位置は，磁気テープ装置にカートリッジを装着したとき，次による。
l110＝0.6mm±0.2mm
14
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
リールを挿入したとき，リールと駆動スピンドルとのかみ合いは，次による。
l111≦7.5mm
l112≦8.0mm
a11＝60°±1°
リールのばね力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持部が基準面Zからl110の位置にあ
るとき，図23に示す方向に0.6N±0.2Nとする。
8.17 光通過経路（図10，図12，図20及び図21） 光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープを
検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径d10の光通過孔から一辺がl118の正方形
の窓，及びリッドの光通過窓を遮られることなく通過しなければならない（図12のD-D参照）。
光通過孔の中心の位置は，l82及び次による。
l115＝8.35mm±0.10mm
光通過孔の直径は，次による。
d10＝6.5mm
mm
3.0mm
0.0
+−
光通過孔の開口部の面取りは，次による。
l116≦0.5mm
a12＝45°±1°
光通過孔側面の二つの正方形の窓の位置及び寸法は，次による。
l117＝6.05mm±0.10mm
l118＝2.5mm
mm
4.0mm
0.0
+−
光通過孔は，発光素子を挿入するため，次の深さとする。
l119≧12.5mm
光通過経路の角度は，次による。
a13＝5.50°±0.25°
リッドの光通過窓の位置及び寸法は，次による。
l120＝3.8mm±0.1mm
l121＝2.5mm
mm
4.0mm
0.0
+−
l122＝6.05mm±0.10mm
8.18 ケース内のテープの位置（図21） テープは，基準面Xに平行な二つのガイド面を通る。基準面X
からガイド面までの長さは，次による。
l123＝13.15mm±0.10mm
ガイド面は，r6の半径をもち，図21に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな
ければならない。
r6＝3.0mm±0.1mm
これらの点の位置及び寸法は，次による。
l124＝76.28mm±0.30mm
l125＝27.15mm±0.20mm
l126＝31.15mm±0.20mm
l127＝9.67mm±0.10mm
15
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8.19 テープ走行領域（図21） カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，テープガイド
によってカートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テー
プ走行領域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，l124からl127及び次による。
l128＝23.0mm±0.1mm
l130＝46.2mm±0.2mm
l131＝11.4mm±0.1mm
テープとガイドのすきまは，次による。
l129≧0.3mm
l132≧0.3mm
8.20 テープ引出し開口部（図10） 磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置のテ
ープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。二つの半径r7の中心は，基準孔A及び基準孔Bの
中心とする。テープ引出し開口部の形状及び寸法は，l63，l64及び次による。
r7＝2.3mm±0.1mm
二つの半径r8の中心は，二つのリール受け孔の中心とする。
r8＝24.15mm±0.10mm
l133＝3.85mm±0.10mm
8.21 テープの引出し開口部への要求事項（図24） ケースは，テープ引出し機構のためのすきまを設け，
開口部への要求事項は，次による。
l134≦1.2mm
l135＝1.15mm
mm
20
.0
mm
00
.0
+−
l136＝14.0mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l137≧66.8mm
l138≧10.0mm
l139≧66.8mm
l140≦1.2mm
a14≦49°
l141≧14.8mm
l159≧13.0mm
l170≦4.0mm
8.22 MICへの要求事項 MICは，ケースに組み込まれた半導体メモリで，システムログや利用者情報な
どを保持する。このMICの組込みの有無及び内容は，規定しない。ただし，MICが組み込まれたカート
リッジを装置が正常に使用できることを確実にするために，8.22.1及び8.22.2を規定する。
8.22.1 MICアクセス孔（図25及び図26） MICアクセス孔は，5個設け，その寸法は，次による。
l165＝67.2mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l166＝69.0mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l167＝70.0mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l168＝71.8mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l169＝72.8mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l147＝74.6mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l148＝75.6mm
mm
0.0mm
2.0
+−
16
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l149＝77.4mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l150＝78.4mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l151＝80.2mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l152＝5.1mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l153＝1.4mm
mm
3.0mm
1.0
+−
MICアクセス孔の面取りは，次による。
l154＝0.4mm±0.1mm
a17＝45°±1°
カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，カートリッジを識別するため，装置のピンが識別孔3を
貫く。このため，図26のN-Nの網掛け領域に障害物があってはならない。図26の網掛け領域は，l143，l144
及び次による。
l157≧5.0mm
l158≦1.5mm
l160≧45.4mm
8.22.2 識別用切込み（図8及び図10） 識別用切込みは，ライブラリー装置でカートリッジ識別に用い
る。
識別用切込みは，ケースの背面に2個設け，その寸法は，次による。
l161＝8.4mm
mm
0.0mm
2.0
+−
l162＝6.0mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l163＝2.0mm
mm
2.0mm
0.0
+−
l164＝2.0mm
mm
2.0mm
1.0
+−
図1 リッドが開いた状態の上側から見たカートリッジの外観
17
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図2 リッドが閉じた状態の下側から見たカートリッジの外観
図3 基準面X，基準面Y及び基準面Z
18
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図4 リッドが閉じた状態の前面
図5 リッドが閉じた状態の左側面 図6 リッドが閉じた状態の上面
図7 リッドが閉じた状態の右側
面
図8 リッドが閉じた状態の背面
19
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図9 底面，基準領域及び支持領域
20
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図10 リッドがない状態の底面
21
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図11 基準孔及び識別孔の詳細図
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図12 光通過孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面図
図13 リッドの詳細図
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図13 リッドの詳細図（続き）
図14 リッドロック解除機構の挿入経路
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図15 リッドロック解除機構
図16 リールロック解除機構
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図17 リールロックの解除に必要な力の方向
図18 リッドのロック解除に必要な力の方向
図19 リッドを開けるために必要な力の方向
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図20 光通過経路及び光通過窓
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図21 内部のテープ通過経路及び光通過経路
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図22 リールの外観及び断面図
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図23 リールと駆動スピンドルとの接触領域断面図
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図24 テープ引出し開口部
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図25 MIC部背面の詳細図
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図26 MIC部底面の詳細図
9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法
9.1
材料 磁気テープは，配向したポリエチレンテレフタレートフィルムベース（又はこれと同等品）
上の片面に強固で柔軟性のあるメタル蒸着層（又はこれと同等品）をもつこととする。磁気テープの裏面
は，塗布してもよい。
テープの始端には，巻取りリールのハブとPBOTの間にリーダテープを設け，テープの終端には，供給
リールのハブとPEOTの間にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは，磁性材の塗
布及び裏面の塗布がないポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）の半透明な材料とする。
リーダテープ及びトレーラテープは，それぞれスプライシングテープによって磁気テープと接合する。
スプライシングテープは，ポリエチレンテレフタレート（又はこれと同等品）とし，片面にはアクリル系
接着剤（又はこれと同等品）を塗布する。
9.2
テープの長さ
9.2.1
磁気テープの長さ PBOTとPEOT間のテープの長さは，9.0m〜172.0mとする。
33
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9.2.2
リーダテープ及びトレーラテープの長さ リーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜
90mmとする。リーダテープ及びトレーラテープと磁気テープとの接合は，テープ基準縁の垂直方向に1°
以内とする。
9.2.3
スプライシングテープの長さ スプライシングテープの長さは，13mm以内とし，リーダテープ及
びトレーラテープ上で6.5mm±1.5mmとする。
9.3
テープの幅
9.3.1
磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとする。
幅の最大値と最小値の差は，6μmを超えてはならない。
リーダテープ及びトレーラテープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。
磁気テープの幅の測定方法は，次による。
a) 顕微鏡用のスライドガラスを試験テープにかぶせる。
b) 張力をかけないでテープ幅を測定する。測定には，2.5μm以上の高精度の顕微鏡，投影機又はこれと
同等の装置を使用する。
c) 長さ1m以上のテープにわたり，異なる5か所以上の位置で測定を繰り返す。
テープの幅は，測定した値の平均とする。
9.3.2
スプライシングテープの幅及び位置 スプライシングテープの幅並びにスプライシングテープが
リーダテープ、トレーラテープ及び磁気テープの幅方向に占める位置は，次による。
スプライシングテープの下端は，その他のテープの下端から0.60mm以下とし，スプライシングテープ
の上端は，その他のテープの上端から0.60mm以内とする。スプライシングテープの端が，リーダテープ，
トレーラテープ及び磁気テープの端を超えてはならない。
9.4
連続性 テープは，PBOTとPEOTとの間に継ぎ目や孔のような不連続があってはならない。
9.5
テープの厚さ
9.5.1
磁気テープの厚さ 磁気テープの厚さは，6.5μm〜7.3μmとする。
9.5.2
リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，9μm〜
17μmとする。
9.5.3
スプライシングテープの厚さ スプライシングテープの厚さは，27μm以下とする。
9.6
長手方向の湾曲 長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。
長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以下と
する。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。
9.7
カッピング カッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.7mm以下とする。試
験方法は，次による。
a) テープを長さ150mm±10mmに切り取る。
b) 磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以上放置する。
c) 2個の円筒型ガイドの中心を35mm離して水平に置き，その上にテープを置く。
d) テープの両端に0.3gのおもりを付ける。
e) テープの上端と下端で決まる面とテープ表面との距離の最大値を測定する。
9.8
磁性面及び磁気テープ裏面の接着強度 接着強度は，磁性面又は塗布面をテープのベース材料から
はがす力とし，0.1N以上とする。試験方法は，次による（図27参照）。
a) 長さ約380mmのテープの試験片を採り，一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき線をベ
ース面に達するまで引く。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 磁性面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。
c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254mm／分で引っ
張る。
d) 磁性面のいかなる部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が0.1Nに
達する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テープを使用する。テ
ープの裏面に塗布されている場合は，a)〜d)に準じて，裏面の試験を行う。
図27 記録面及び塗布面の接着強度の試験法
9.9
層間の粘着 層間の粘着は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び磁性面又は塗
布面のはがれの兆候があってはならない。試験方法は，次による。
a) 直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。
b) 1.1Nの張力でガラス管にテープを巻く。
c) 巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境に4時間放置する。
d) さらに，試験環境条件に24時間放置する。
e) 試験片の自由端に0.1Nの力を加え，ゆっくりほどく。
9.10 引張強度 引張強度は，JIS K 7161の試験方法による。
テープの試験片の長さは，200mmとする。リーダテープ及びトレーラテープの試験片の長さは，50mm
とする。引張速度は，100mm／分とする。
9.10.1 破断強度 破断強度は，テープが破断するのに要する力とし，8N以上とする。
9.10.2 降伏強度 降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，4N以上とする。
9.11 残留伸び 残留伸びは，元のテープ長の0.04%未満とする。試験方法は，次による。
a) 0.20N以下の張力で，約1m長の試験片の初期の長さを測定する。
b) さらに全断面に20.5N/mm2の力を10分間加える。
c) 加えた力を取り除き，10分後にテープ長を測定する。
9.12 磁性面の電気抵抗 テープ記録面の電気抵抗は，103Ω以下とする。
試験方法は，次による（図28参照）。
a) テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。
b) 24カラットの金めっきした半径r＝10mmで粗さをN4（IS0 1302参照）で仕上げてある二つの半円の
電極に，記録面が接するように置く。これらの電極は，水平で，中心間の距離d＝8mmとなるように
平行に置く。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 5N/mm2の張力を発生させるために必要な力Fを試験片の両端に加える。
d) 電極に7V±1Vの直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，読み取った抵抗値を平均する。
試験片を電極に置くとき，電極間には，試験片以外の導電性のものがあってはならない。
備考 試験前に電極の表面を清掃する。
図28 磁性面の電気抵抗試験法
9.13 テープの巻き方 テープの巻き方は，テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。
9.14 テープの光透過率 磁気テープの光透過率は，5%以下とする。
リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60%以上とする。
光透過率の測定方法は，附属書Aによる。
10. 磁気的特性 磁気的特性の試験は，次による。
この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，主基準テープ，供試テープともに同じ装置の同
じ走行系を使用し，記録時再生によって行う。
規定がない限り，磁気的特性の試験条件は，次による。
テープの状態
：記録密度2 857.1ftpmmの平均信号振幅の0.1%未満に交流消去
スキャナの直径
：40.00mm
mm
01
.0
mm
00
.0
+−
スキャナの回転速度
：4 800.0rpm±0.5rpm
テープ速度
：20.63mm/s±0.30mm/s
試験トラック
：正アジマス
再生ヘッドのギャップ長
：0.20μm±0.05μm
記録電流
：試験記録電流
記録トラック幅
：11μm±1μm
テープ張力
：スキャナ（ドラム）入口で0.050N±0.005N
記録ヘッドのギャップ長
：0.22μm±0.05μm
再生ヘッドのトラック幅
：13mm以上15mm以下
再生ヘッドの配置
：記録時再生中，再生トラックの全体が記録トラックの内側
再生出力
：基本周波数で測定
10.1 ティピカル磁界 ティピカル磁界は，基準磁界の80%〜112%とする。
基準磁界の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.2 平均信号振幅 平均信号振幅は，記録密度3 809.5ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号
振幅の90%〜140%とする。
平均信号振幅は，記録密度1 428.6ftpmmで記録したとき，主基準テープの平均信号振幅の90%〜130%
とする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
主基準テープの平均信号振幅の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.3 分解能 分解能は，記録密度3 809.5ftpmmの平均信号振幅を1 428.6ftpmmの平均信号振幅で除した
値とし，その値は，主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して85%〜120%とする。
主基準テープの分解能の特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.4 重ね書き 重ね書きは，低記録密度の信号を記録した後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残留
する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。
主基準テープの重ね書きの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
試験方法は，次による。
交流消去したテープを用い記録密度1 142.9ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を測定する。記録密度
5 714.3ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度1 142.9ftpmmの信号の平均信号振幅を測定する。二
次基準テープについて繰り返し測定する。
要求事項は，次による。
記録密度1 142.9ftpmmの重ね書きは，次の比によって求めたとき，主基準テープの120%未満とする。
の信号の平均信号振幅
記録密度
の信号の平均信号振幅
記録密度
重ね書き後に残留する
ftpmm
9.
1142
ftpmm
9.
1142
10.5 消去特性 消去特性は，次による。
試験記録電流で記録密度1 142.9ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に320 000A/mの均一な
磁界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，主基準信号振幅の2%以下とする。
消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。また，測定はバンドパス
フィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。
10.6 テープの品質 テープの品質は，次による。
10.6.1 ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0V
を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度1 428.6ftpmmの信号の平均信号振幅の2分の1の40%以下とする。
10.6.2 ミッシングパルスゾーン ミッシングパルスゾーンは，次による。
ミッシングパルスゾーンは，ミッシングパルスによって開始し，トラック方向に1mmの長さに達した
とき終了する。ミッシングパルスが連続して1mmを超えて発生したとき，次のミッシングパルスゾーン
とする。
一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。
ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について5×106の
磁束反転当たり1個未満とする。
10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性 信号対雑音比は，再生信号の平均信号振幅を雑音の平均信号振幅で除し，
デシベル (dB) で表す。
SNR＝20 log Stape/Ntape
ここに，
SNR： 信号対雑音比 (dB)
Stape： 再生信号の平均信号振幅
Ntape： 雑音の平均信号振幅
試験テープのSNRは，附属書Bの測定法で測定したとき，主基準テープのSNRに比べて−2dB以上良
くなければならない。
主基準テープのSNRの特性値は，二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
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11. フォーマット
11.1 一般事項 この規格によって規定するデータの最小集合をレコードと呼ぶ。レコードは，テープ装
置で処理し記録するためにホストから提供されるデータバイトを識別する最小単位である。また，レコー
ドは，テープ装置で再処理してホストに送るためのデータを識別する最小単位である。圧縮レコードと未
圧縮レコードの2種類のレコードがある。
記録したテープは，未圧縮レコード，圧縮レコード，又はこれらの両方を含むことができることとし，
セパレータマークを含んでもよい。圧縮レコード及び未圧縮レコードは，共にエンティティとしてテープ
に記録する。セパレータマークは，構造スキームでのデータの論理的な区分を示すためにホストが使用し
てもよい。
エンティティ及びセパレータマークは，グループにまとめる。各グループのインデックスによって，そ
のグループの内容を記述する。一連の転送過程中での処理，すなわち，ランダムマイジング，インタリー
ビング，ブロッキング，二つのリードソロモン誤り訂正符号の生成と記録，及びバイトからチャネルビッ
トへの変換は，テープに記録する前に各グループに適用する。3番目のリードソロモン誤り訂正符号をグ
ループに適用してもよい。その場合，生成するバイトを変換して，テープ上のグループの後に続くフレー
ム内に記録する。
各グループは，トラックのグループ上に記録する。各トラック上の利用者データ，セパレータマーク，
及び関連情報を記録する部分は，トラックのメインデータゾーンと呼ぶ。グループの内容，トラックの位
置，及びトラックの内容についての追加情報は，メインデータゾーンのID領域内にある記録データブロ
ックのヘッダに記録する。
ホストコンピュータから受け取ったデータに対するすべての処理は，誤り検出符号及び誤り訂正符号の
使用方法を含めて規定する。ただし，処理方法については，規定しない。テープへの記録方法及びテープ
レイアウトを規定する。ただし，このフォーマットは，固有の特性をもっているので，必要な場合，デー
タの処理についての規定で，テープレイアウトの詳細を規定する。
11.2 基本グループ 記録するデータは，801 792バイトの基本グループにグループ化する。基本グループ
は，0から始まる連続番号を付けて識別する。基本グループは，バイトは1〜801 792の番号で識別する。
基本グループ0の構成は，この規格では規定しない。グループ用のデータは，テープシステムで生成し，
ベンダグループとして記録する（附属書K参照）。
ホストコンピュータから受け取ったデータ及びセパレータマークは，基本グループ0の後に，基本グル
ープ1から開始して基本グループとしてグループ化する。これらの基本グループの構成は，次による。
参考 この規格では，セパレータ1及びセパレータ2と呼ぶ2種類のセパレータマークを使用する。
磁気テープ装置とホストコンピュータ間のインタフェースを定義する他の規格は，セパレータ
マークをファイルマーク及びセットマークと呼んでいる。その場合には，セパレータ1はファ
イルマークとし，セパレータ2は，セットマークとすることを推奨する。
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
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図29 基本グループの構成
エンティティを構成するデータは，基本グループで左から右に生成する（図29参照）。同時にブロック
アクセステーブル (BAT) と呼ぶ基本グループの一部は，右から左に生成する。グループ情報テーブル
(GIT) は，基本グループ内の40バイトとする。
11.2.1 エンティティ
11.2.1.1 内容 エンティティは，エンティティヘッダ及びレコード列から構成する。エンティティヘッダ
の長さは，8バイトとし，レコード列の前に配置する。
エンティティのすべての圧縮レコードは，同じ長さの未圧縮レコードについて同一の圧縮アルゴリズム
を適用して生成する。
エンティティは，すべてのエンティティヘッダ及びレコード列の最初の8ビットが同じ基本グループに
あれば，複数の基本グループにまたがってもよい。
エンティティが複数の基本グループにまたがる場合，基本グループ内の分断されているエンティティ部
分をパーシャルエンティティと呼ぶ。パーシャルエンティティは，エンティティのスタートパート，ミド
ルパート，又はラストパートのいずれかとする（11.2.3.1.2，11.2.3.1.3参照）。分断しているエンティティ
内では，ミドルパート（存在する場合）及びラストパートのパーシャルエンティティの合計は，最大1レ
コードとする。
エンティティは，交換用データを含まないレコードを含めてはならない。
11.2.1.2 エンティティヘッダ バイト1は，レコード列に隣接するエンティティヘッダの最初のバイトと
し，バイト8は，最後のバイトとする。エンティティヘッダのレイアウトは，次による。
バイト1
このバイトは，エンティティヘッダのバイト8を定義するために00001000に設
定する。
バイト2
このバイトは，次による。
− レコードが未圧縮レコードの場合，1に設定する。
− レコードが圧縮レコードの場合，
・ レコードに適用する圧縮アルゴリズムISO/IEC 11576によって，登録ID
に対応する2〜250に設定する。
・ 圧縮アルゴリズムが未登録の場合，255に設定する。
このバイトは，0に設定してはならない。
バイト3〜バイト5
圧縮する前のレコードのバイト数を2進数で表す（11.2.1.1の第2段落を参照）。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この長さは，0に設定してはならない。バイト3は，MSBとし，バイト5は，
LSBとする。
バイト6〜バイト8
エンティティ内のレコードの数を2進数で表す。この値は，0に設定してはな
らない。バイト6は，MSBとし，バイト8は，LSBとする。
11.2.2 グループ情報テーブル グループ情報テーブルのレイアウトは，次による。
表1 グループ情報テーブル
バイト位置
バイト長
フィールド名
801 753
1
すべて0に設定
801 754
〜
3
グループ番号
801 756
801 757
〜
4
レコード数
801 760
801 761
〜
4
セパレータ1数
801 764
801 765
〜
4
セパレータ2数
701 768
801 769
1
すべて0に設定
801 770
〜
3
前のレコードのグループ番号
801 772
801 773
1
すべて0に設定
801 774
〜
3
前のセパレータ1のグループ番号
801 776
801 777
1
すべて0に設定
801 778
〜
3
前のセパレータ2のグループ番号
801 780
801 781
2
ブロックアクセステーブル数
801 782
801 783
2
現在の基本グループ内のレコード数
801 784
801 785
2
現在の基本グループ内のセパレータ1数
801 786
801 787
2
現在の基本グループ内のセパレータ2数
801 788
801 789
〜
4
すべて0に設定
801 792
表1の各フィールド内の最上位バイトは，最小バイト番号とし，最下位バイトは，最大バイト番号とす
る。
11.2.2.1 グループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。現在の基本グループの番号を2
進数で表す。
40
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.2.2.2 レコード数フィールド このフィールドは，4バイトとする。LBOTから現在の基本グループま
での，すべての基本グループのGITの現在の基本グループフィールド内にあるレコード数の合計を2進数
で表す。セパレータマークは，レコードとして計数する。
11.2.2.3 セパレータ1数フィールド このフィールドは，4バイトとする。LBOTから現在の基本グルー
プまでに記録したセパレータ1の数を2進数で表す。
11.2.2.4 セパレータ2数フィールド このフィールドは，4バイトとする。LBOTから現在の基本グルー
プまでに記録したセパレータ2の数を2進数で表す。
11.2.2.5 前のレコードのグループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。セパレータマー
ク，アクセスポイント，又は未圧縮レコードの最初の部分が発生した前の基本グループの最大番号を2進
数で表す。このような基本グループが存在しない場合は，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.6 前のセパレータ1のグループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。最後に記録
したセパレータ1を含む前の基本グループの最大番号を2進数で表す。このような基本グループが存在し
ない場合は，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.7 前のセパレータ2のグループ番号フィールド このフィールドは，3バイトとする。最後に記録
したセパレータ2を含む前の基本グループの最大番号を2進数で表す。このような基本グループが存在し
ない場合は，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.8 ブロックアクセステーブル数フィールド このフィールドは，2バイトとする。ブロックアクセ
ステーブル内のエントリ数を2進数で表す。この値は，基本グループ内のレコード又はパーシャルレコー
ドの数を示すものではない。
11.2.2.9 現在の基本グループのレコード数フィールド このフィールドは，2バイトとする。次の合計を
2進数で表す。
− 現在の基本グループのブロックアクセステーブル内にあるセパレータマークエントリの数
− 現在の基本グループのエンティティ内にあるレコードの数
− 現在の基本グループのブロックアクセステーブル内にエンティティエントリ全体があるすべてのエ
ンティティのエンティティヘッダのバイト6からバイト8までの値の合計
− 現在の基本グループのブロックアクセステーブル内にエンティティエントリのスタートパートがあ
るエンティティのエンティティヘッダのバイト6からバイト8までの値よりも1小さい値（このよ
うなエントリが存在する場合）
− 現在の基本グループのブロックアクセステーブル内のエンティティエントリの総数
11.2.2.10 セパレータ1数フィールド このフィールドは，2バイトとする。現在の基本グループに記録し
たセパレータ1の数を2進数で表す。
11.2.2.11 セパレータ2数フィールド このフィールドは，2バイトとする。現在の基本グループに記録し
たセパレータ2の数を2進数で表す。
11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT) ブロックアクセステーブルは，基本グループの各エンティテ
ィと各セパレータマークについて一つ以上のエントリを含む。基本グループに完全に含まれていないエン
ティティも一つ以上のエントリによって識別する。最初のエントリは，グループ情報テーブルの直前のバ
イト位置801 749〜801 752に記録する。各エントリは，図30に示す構成の4バイトのフィールドとする。
最初のバイトは，最小バイト番号とし，4番目のバイトは最大バイト番号とする。
41
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ブロックアクセステーブルのエントリ
フラグバイト
カウント
第1バイト
第2バイト
(MSB)
第3バイト 第4バイト
(LSB)
図30 ブロックアクセステーブル
3バイトのカウントフィールドは，次のフラグバイトの設定によって224−1を超えない数値を2進数で
表す。この規格は，フラグバイトとして表2に示す14種類の設定を規定する。その他の設定は，この規格
では，禁止する。
フラグバイトの最上位ビット（表2参照）は，アフターアーリーワーニングポイントビットとし，エン
トリの意味には無関係で，次による。
− EWPの前では，0に設定する。
− EWPの後では，現在の基本グループ、及びその後のすべての基本グループのすべてのブロックアク
セステーブルエントリ内で1に設定する。
表2 フラグバイトの設定
設定
エントリ
0000 0001
エンタイアエンティティ
0000 0010
スタートパートエンティティ
0000 0011
ミドルパートエンティティ
EWPの前
0000 0100
ラストパートエンティティ
0000 0101
エンティティの総数
0000 0110
セパレータマーク
0000 0111
スキップ
1000 0001
エンタイアエンティティ
1000 0010
スタートパートエンティティ
1000 0011
ミドルパートエンティティ
EWPの後
1000 0100
ラストパートエンティティ
1000 0101
エンティティの総数
1000 0110
セパレータマーク
1000 0111
スキップ
11.2.3.1 エンタイアエンティティ このエントリは，エンティティが現在の基本グループで始まり，かつ，
終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，エンティティのバイト数を表す。
11.2.3.2 スタートパートエンティティ このエントリは，エンティティが現在の基本グループで始まり，
それに続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループ
内に含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。
11.2.3.3 ミドルパートエンティティ このエントリは，エンティティが前の基本グループで始まり，それ
に続く基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループ内に
含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。
11.2.3.4 ラストパートエンティティ このエントリは，エンティティが前の基本グループで始まり，現在
の基本グループで終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループ内にある
パーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。現在の基本グループのブロックアクセステーブル
は，このエントリの直後にエンティティの総数エントリが続かなければならない。
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11.2.3.5 エンティティの総数 このエントリは，ラストパートエンティティエントリの直後に配置する。
このエントリは，ラストパートエンティティの前の同一エンティティに関連する。カウントフィールドは，
該当するエンティティの総バイト数を表す。
11.2.3.6 セパレータマーク このエントリは，セパレータマークレコードのエンティティを規定する。カ
ウントフィールドは，エンティティがセパレータ1レコードの場合，0に設定し，エンティティがセパレ
ータ2レコードの場合，1に設定する。
11.2.3.7 スキップ 各基本グループのブロックアクセステーブルの最後のエントリとしてスキップエン
トリを規定する。このエントリは，現在の基本グループ内利用者データの最後のバイトに到達したことを
示す。カウントフィールドは，基本グループに残っているバイトの数を表す。カウントフィールドに指定
可能な最小値は，グループ情報テーブルとブロックアクセステーブルの総バイト数とする。
11.2.3.8 カウントフィールド このブロックアクセステーブル内のカウントフィールドに設定する数値
は，801 792でなければならない。エントリタイプは，スキップ，エンタイアエンティティ，スタートパー
トエンティティ，ミドルパートエンティティ及びラストパートエンティティとする。
11.2.3.9 ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス 表3にエントリの有効なシーケンスを
示す。状態及び動作は，長方形内に示し，エントリ（フラグバイトで設定）は，長円内に示す。
表3は，各状態内，各動作後に表れるエントリ，又は有効なエントリだけを示し，その他のエントリは
すべて無効とする。
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表3 ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス
11.3 サブグループ
11.3.1 G1サブグループ 一つの基本グループは，これを1〜44 544の番号をもつ18個の44 544バイトの
G1サブグループに分割する（図31参照）。各G1サブグループは，1〜18の走行番号をもつ。
図31 G1サブグループ
11.3.2 G2サブグループ（ランダム化） 各G1サブグループの奇数番号のバイトは，図32に示すシフト
レジスタから出力したビット列によってEXCLUSIVE-OR演算を行う。各G1サブグループの偶数番号のバ
イトは，図32に示すシフトレジスタから出力したビット列によってEXCLUSIVE-OR演算を行う。
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図33 G2サブグループ
各バイトの最下位ビットb1を最初に入力する。論理演算子は，EXCLUSIVE-ORとする。
G1サブグループは，それぞれ22 272バイトからなる偶数G2サブグループ及び奇数G2サブグループの
二つのG2サブグループに変換する（図33参照）。
n＝1，2，...，22 272について，G1サブグループのバイトDnは，次によって割り当てる。
− 偶数G2サブグループは，バイトD2nで構成
− 奇数G2サブグループは，バイトD (2n−1) で構成
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各G2サブグループのバイト順序は，G1サブグループのバイト順序と同じとする。
11.3.3 G3サブグループ 各G2サブグループのバイトは，図34に示すようにG3サブグループ内に配置
する。G3サブグループは，それぞれ128バイトを含む224個のセルに配列する。各G2サブグループの22
272データバイトは，セル番号17〜208の192個のセルに配置する。各セルは，64バイト及び52バイトの
二組のデータバイトを含め，その後にセルの116データバイトに対して算出した12バイトのC1 ECCバイ
トを続ける。C1バイトは，附属書Gに指定する方法で算出する。
192個のすべてのセルについて，C2 ECCバイトを算出し，各セルに対応するC2バイトは，セル番号1
〜16及び209〜224に格納する。C2バイトは，附属書Gに規定する方法で算出する。この操作は，偶数
G2サブグループ及び奇数G2サブグループの両方について行う。
各セルに含む64バイトセットでブロックを構成する。これらのブロックには，0〜447のブロック番号
をもつ。
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図34 G3サブグループ
11.4 データブロック 64バイトの各ブロックは，その先頭に8バイトのヘッダを付けて72バイトのデー
タブロックに変換する。ヘッダの構成は，図35に示す。
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b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
ID1
データブロック番号 (DBN)
ID2
DBN
ID情報
ID3
ID情報
ID4
ID情報
ID5
ID情報
ID6
ID情報
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
図35 データブロックヘッダの構成
これらのIDバイトは，次のID情報を含む。
− データブロック番号
− ローフォーマットID
− 論理フレームID
− パーティションID
− エリアID
− 位置
− グループ数
− セパレータ1数
− セパレータ2数
− レコード数
− 絶対フレーム番号
− IDパリティ
11.4.1 ID情報
11.4.1.1 データブロック番号 (DBN) データブロック番号は，9ビットとし，バイトID1の8ビット，
及びバイトID2の最上ビット8で表す。この番号は，0〜477とする。
11.4.1.2 ローフォーマットID この8ビットフィールドは，次による。
ビット1及びビット2
1ブロック当たりのバイト数が64であることを示し，00に設定する。
ビット3及びビット4
1トラック当たりのデータブロック数が448であることを示し，00に設定する。
ビット5及びビット6
フレームサイズが44 544バイトであることを示し，00に設定する。
ビット7及びビット8
トラックピッチが11.00μmであることを示し，00に設定する。
11.4.1.3 論理フレームID (LFID) この8ビットフィールドは，次による。
ビットb8 フレームが基本グループの最後にある場合，1に設定する。その他の場合，0に設定する。
ビットb7 フレームがECCフレームの場合，1に設定する。その他の場合，0に設定する。
ビットb6〜ビットb1
フレームがアンブルフレームの場合，すべて0に設定する。その他の場合，n＝1〜20のデ
ータフレーム順序番号nを2進数で表す。
11.4.1.4 パーティションID この8ビットフィールドは，0〜225のパーティション順序番号を2進数で
表す。
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11.4.1.5 エリアID この4ビットフィールドは，テープ上の現在の領域及び現在のフレームの形式を表す。
図36に示す設定以外は，この規格では禁止する。
ビット位置
定義
b7 b6 b5 b4
0
0
0
0
デバイス領域
0
0
0
1
リファレンス領域
0
0
1
0
システム領域
0
1
0
0
データ領域
0
1
0
1
EOD領域
0
1
1
1
オプションデバイス領域
図36 エリアID
11.4.1.6 リピート この3ビットフィールドは，次の基本グループのインスタンスの数を表す。
000
基本グループのインスタンスが一つだけ存在することを示す。
001
基本グループのインスタンスが二つ存在することを示す。
010
基本グループのインスタンスが三つ存在することを示す。
011
基本グループのインスタンスが四つ存在することを示す。
100
基本グループのインスタンスが五つ存在することを示す。
101
基本グループのインスタンスが六つ存在することを示す。
110
基本グループのインスタンスが七つ存在することを示す。
111
基本グループのインスタンスが八つ存在することを示す。
11.4.1.7 ポジション この3ビットフィールドは，次のとおり，この基本グループの連続レコードインス
タンス列で現在のレコードインスタンスの位置を表す（図37参照）。
ビット位置
定義
b3 b2 b1
0
0
0
グループの最初のインスタンス
0
0
1
グループの2番目のインスタンス
0
1
0
グループの3番目のインスタンス
0
1
1
グループの4番目のインスタンス
1
0
0
グループの5番目のインスタンス
1
0
1
グループの6番目のインスタンス
1
1
0
グループの7番目のインスタンス
1
1
1
グループの8番目のインスタンス
図37 ポジションフィールド
11.4.1.8 グループ番号 この24ビットフィールドは，現在のパーティションのベンダグループの後に記
録した1から現在のグループまでの利用者データグループの数を表す。ベンダグループのグループ番号は，
0とし，リピートを用いる場合，グループ番号は，各インスタンスについて同一とする。
11.4.1.9 セパレータ1数 この32ビットフィールドは，パーティションの最初から現在のグループまで
に記録したセパレータ1の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ1の数は，1とする。
11.4.1.10 セパレータ2数 この32ビットフィールドは，パーティションの最初から現在のグループまで
に記録したセパレータ2の数を表す。パーティション内の最初のセパレータ2の数は，1とする。
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11.4.1.11 レコード番号 この32ビットフィールドは，現在の基本グループに含まれる完結したレコード
を含めて，パーティションの最初から記録したレコードの数を表す。グループに含む完了レコードの数は，
基本グループのブロックアクセステーブル内に設定するレコードの数に一致する。セパレータ1及びセパ
レータ2は，エントリレコードとして数える。
11.4.1.12 絶対フレーム番号 (AFN) この24ビットフィールドは，カレントフレームの絶対フレーム番号
を表す。リファレンス領域の最初のフレームの絶対フレーム番号は，1とする。断続する番号又は繰返し
番号は，アンブルフレームシーケンスだけに用いる（18.1参照）。ただし，中間フレームは，例外とする（16.5.5
参照）。
11.4.1.13 IDパリティ IDパリティバイトは，拡張リードソロモンコードを用いて算出する。
GF (28) は，次による
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF (28) の原始元αは，00000010とする
IDパリティバイトは，次の式による。
Hs×Vs＝0
=
1
0
1
0
1
1
1
1
1
1
1
H
1
2
3
4
5
S
α
α
α
α
α
=
ID8
ID7
ID6
ID5
ID4
ID3
ID2
ID1
VS
11.4.2 データブロックヘッダへのID情報の記録 G3サブグループの448個のデータブロックは，64連
続した7データブロックとして構成する。ID情報は，図38に示すとおりデータブロック1〜データブロ
ック7について，これらの7個のデータブロックのヘッダに配置する。7個のデータブロックの各項目に
ついて同じ配置を繰り返す。
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データブロック1
ID1
データブロック番号
ビット8
データブロック番号 (msb)
ID2
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
0に設定
ID3
0に設定
ID4
0に設定
ID5
0に設定
ID6
ローフォーマットID
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
データブロック2
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
0に設定
ID3
セパレータ1数 (LSB)
ID4
セパレータ1数
ID5
セパレータ1数
ID6
セパレータ1数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
データブロック3
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
0に設定
ID3
セパレータ2数 (LSB)
ID4
セパレータ2数
ID5
セパレータ2数
ID6
セパレータ2数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
データブロック4
ID1
データブロック番号
ビット8
データブロック番号 (msb)
ID2
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
0に設定
ID3
レコード数 (LSB)
ID4
レコード数
ID5
レコード数
ID6
レコード数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
図38 ID情報の割当て
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データブロック5
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
0に設定
ID3
パーティションID
ID4
グループ数 (LSB)
ID5
グループ数
ID6
グループ数 (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
データブロック6
ID1
データブロック番号
ID2
ビット8
データブロック番号 (msb)
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
リピート
ID3
LFID
ID4
AFN (LSB)
ID5
AFN
ID6
AFN (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
データブロック7
ID1
データブロック番号
ビット8
データブロック番号 (msb)
ID2
ビット7〜ビット4
エリアID
ビット3〜ビット1
ポジション
ID3
LFID
ID4
AFN (LSB)
ID5
AFN
ID6
AFN (MSB)
ID7
IDパリティ
ID8
IDパリティ
DATA
64バイトデータ
図38 ID情報の割当て（続き）
12. 記録方式 記録方式は，次による。
− ビットセルの中心で磁束反転がある場合，1とする。
− ビットセルの中心で磁束反転がない場合，0とする。
12.1 記録密度 公称最大記録密度は，5 714.3ftpmmとする。生成する公称ビットセル長は，0.175μmとす
る。この値は，トラック長（13.7参照）を1トラック当たりのビット数で除して算出する。
12.2 長周期平均ビットセル長 各トラックの長周期平均ビットセル長は，記録した64メインデータブロ
ックについて測定する。この値は，公称ビットセル長の0.2%以内とする。
12.3 短周期平均ビットセル長 任意のビットセルを基準とした短周期平均ビットセル長は，その前の40
個のビットセルの平均値とし，その値は，同一アジマスの，その前の長周期平均ビットセル長の0.35%以
内とする。
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12.4 短周期平均ビットセル長の変動率 短周期平均ビットセル長は，1ビットセル当たり0.05%を超えて
変化してはならない。
12.5 ビットシフト ビットシフトは，附属書Eによって測定し， (| A1110 | ＋ | A0111 |) / (A0100＋A0010) で
表し，その値は，0.05未満とする。
12.6 情報交換時の再生信号振幅 情報交換時の再生信号振幅は，次による。
− 1 142.9ftpmm，1 428.6ftpmm，1 904.8ftpmm，2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmm，それぞれに対応する
各公称記録レベルの80%〜140%とする（附属書CのC.1参照）。
12.7 最大の記録レベル 記録信号は，重ね書きによって消去可能でなければならない。この値は，附属
書CのC.2に規定している。
13. トラック
13.1 トラックの構成 ヘリカルトラックパターンは，テープの移動方向と正及び負のアジマス角度をも
つ2個一組のヘッド回転軸との相対関係によって，形成する。記録方向は，テープ基準縁から離れる方向
とする。トラックの構成は，図39による。
図39 トラックの構成（記録面）
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13.2 平均トラック間隔 平均トラック間隔は，30個の連続したトラックの任意のグループについて
11.00μm±0.20μmとする。ただし，ノンシームレス追記録（16.5.6.2参照）のトラック間隔は，平均値に含
めない。
13.3 トラック間隔の変化 連続したトラック間でのトラック間隔の変化は，追記録操作（16.5.6参照）の
効果を除外して2.0%を超えてはならない。
13.4 トラック幅 公称トラック幅は，11.00μmとする測定する。トラック幅は，11.00μm±1.50μmとする。
この規定は，ノンシームレス追記録には，適用しない。
13.5 トラック角 テープ基準縁に対する各トラック角の公称角度は，4.8950°とする。
13.6 トラックエッジの直線性 各トラックのエッジの直線性は，附属書Fによって測定したとき，その
要求事項を満足することとする。
13.7 トラック長 各トラックの長さは，60.170mm±0.050mmとする。
13.8 アジマス角 正のアジマス角度は，25°0′0″±0°15′0″とする。負のアジマス角度は，−25°0′
0″±0°15′0″とする。
14. 記録パターン メインデータブロックの各8ビットバイトは，テープ上に10ビットパターンで表す。
各8ビットバイトについて記録する10ビットパターンは，附属書Dによって規定する。10ビットパター
ンのビットは，チャネルビットと呼ぶ。
14.1 記録データブロック 記録データブロックは，メインデータブロックの72個の8ビットバイトを表
す730個のチャネルビットで構成する。このチャネルビットの前には，次のどちらかのパターンの10チャ
ネルビットからなる同期フィールドを付ける。
a) 0100010001
b) 1100010001
パターンa)は，Q′＝−1，DC＝0，Q＝1に使用する。パターンb)は，Q′＝1，DC＝0，Q＝1に使
用する（附属書D参照）。それ以前にパターンがなく，Q′の値がないとき，どちらのパターンを使用
してもよい。記録順序は，附属書Dによる。
正のアジマストラックでは，記録データブロックは，偶数G3サブグループから形成したメインデ
ータブロックを表す。同じフレームの負のアジマストラックで，記録データブロックは，対応する奇
数G3サブグループから形成したメインデータブロックを表す。記録メインデータブロックは，各ト
ラックでそのブロック番号順に記録する。
14.2 マージンブロック このブロックの長さはチャネルビットパターン1100 1100...又は0011 0011....を
繰り返して構成する730個のチャネルビットとする。
15. トラックのフォーマット
15.1 トラックの内容 各トラックは，表4及び表5に示すとおり，二つのマージンゾーン，三つのATF
ゾーン，及び二つのメインデータゾーンで構成する。ATFゾーンは，スペーサブロック，及び正のアジマ
ストラック及び負のアジマストラックとで異なるATFブロックから構成する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4 トラックのフォーマット（負のアジマストラック）
表5 トラックのフォーマット（正のアジマストラック）
15.2 トラック位置精度 トラック236番目のブロックの中心は，テープ基準縁から4.460mm±0.021mm
の距離になければならない。トラックの中心線上にある236番目のブロックの中心は，234番目のブロッ
クの最初のビット及び239番目のブロックの最初のビットとの中間点とする。また，隣接する任意のトラ
ックの236番目のブロックの中心は，5.4μmを超えてはならない。この値は，トラックの中心でトラック
に沿って0.5ブロックに相当する。
15.3 トラッキング法 トラッキングは，ATF（自動トラックファインディング）方式による。ATFブロ
ックは，表4及び表5に示すようにATFゾーン1，ATFゾーン2及びATFゾーン3の三つのゾーンに割り
当てる。
ATFゾーンは，スペーサブロック及びATFブロックから構成する。
スペーサブロックは，チャネルビットパターン1010101010を繰り返して構成する730個のチャネルビッ
トとする。スペーサブロックは，正のアジマストラックでは，正のアジマスを記録し，負のアジマストラ
ックでは，負のアジマスを記録する。
ATFブロックは，チャネルビットパターン1000010000を繰り返して構成する730個のチャネルビット
とする。ATFブロックは，正のアジマスを記録する。
ATFブロックは，トラック間の位相関係をATF-A，ATF-B及びATF-Cで示す。トラックn上のATF-B
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ブロック，トラックn-1上のATF-Cブロック及びトラックn-2上のATF-Aブロックは，位相内で記録し，
図40に示す。
図40 ATFブロックとスペーサブロックの割当て
16. シングルデータスペーステープの構成 磁気テープは，シングルデータスペーステープ又はパーティ
ションテープとして記録する。ここでは，シングルデータスペーステープの構成を規定する。パーティシ
ョンテープの構成は，17.で規定する。
シングルデータスペーステープの構成は，次の六つの領域によって構成する。
図41 シングルデータスペーステープの構成
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.1 デバイス領域 この領域は，磁気テープ上の最初の領域で，PBOTからLBOTまでとする。この領
域は，情報交換用データの記録はできない。テープ基準縁に沿ってPBOTからリファレンス領域の最初の
記録トラックの最初のブロックの最初のビットまでの長さは，870mm±10mmとする。この領域は，スピ
ンアップゾーン，試験ゾーン及びガードゾーンの三つのゾーンから構成する。
デバイス領域の最初のゾーンは，スピンアップゾーンとする。スピンアップゾーンは，テープをテープ
装置にロードしたとき，ドラムに巻き取られる部分である。
スピンアップゾーンの後に記録再生用の試験ゾーンが続く。これら二つのゾーンの内容はこの規格では
規定しない。
試験ゾーンの後に，最小6.2mmのガードゾーンが続く。ここに記録することは，禁止する。
16.2 リファレンス領域 リファレンス領域は，AFN＝001〜264のフレームで構成する。最初のフレーム
は，LBOTに始まり，その絶対フレーム番号を1とする。リファレンス領域は，システムログを更新する
ときに物理的な基準として使用する。これらのフレームの内容は，この規格では規定しない。情報交換で
は，無視する。
16.3 ガードバンド1 ガードバンド1は，公称長を24フレームでAFN＝265〜288とし，システムログを
更新するとき，位置誤差を吸収するために使用する。ガードバンド1は，絶対フレーム番号の不連続及び
繰返しが発生することがある。記録信号は，無視してもよい。これらのフレームの内容は，この規格では
規定しない。情報交換では無視する。
16.4 システム領域 システム領域は，システムプリアンブル，システムログ，システムポストアンブル，
ガードバンド2及びベンダグループプリアンブルで構成する。
16.4.1 システムプリアンブル システムプリアンブルは，絶対フレーム番号289〜360の72個のフレーム
で構成する。
16.4.2 システムログ システムログは，絶対フレーム番号361〜540の180個のフレームで構成する。シ
ステムログ内の各フレームは，図42によるボリューム情報とパーティション情報を含む。テープの各パー
ティションは，パーティション情報として48バイトの格納場所を確保する。各パーティションのパーティ
ション情報は，パーティション0のシステムログに記録する。
パーティション0情報
48バイト
パーティション1情報
48バイト
・
・
12 288バイト 445 44バイト
・
・
・
・
パーティション255情報 48バイト
ボリューム情報
72バイト
システムログベンダデータタイプ番号
2バイト
システムログベンダデータ
32 182バイト
図42 システムログ
16.4.2.1 パーティション情報 パーティション情報は，図43に示す。
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前の記録グループ数
4バイト
記録データグループの記録総数
4バイト
予約フィールド
1バイト
前の再生グループ数
3バイト
記録データグループの再生総数
4バイト
予約フィールド
1バイト
再記録フレーム総数
3バイト
予約フィールド
1バイト
ECC3総数
3バイト
アクセス回数
4バイト
更新回数
4バイト
前の再記録フレーム数
2バイト
前のECC3総数
2バイト
予約フィールド
1バイト
ロード回数
3バイト
予約フィールド
1バイト
有効な最終の絶対フレーム番号
3バイト
フラグバイト
ビット1
記録禁止
1バイト
ビット2
再生禁止
ビット3
記録リトライ禁止
ビット4
再生リトライ禁止
ビット5
0に設定
ビット6
0に設定
ビット7
0に設定
ビット8
パーティション操作中
最大絶対フレーム番号
3バイト
図43 パーティション情報
16.4.2.1.1 前の記録グループ数 このフィールドは，システム領域を最後に更新した後でパーティション
に物理的に記録した基本グループの数を表す。
16.4.2.1.2 記録データグループの記録総数 このフィールドは，パーティションに記録した最初からの基
本グループの総数を表す。
16.4.2.1.3 前の再生グループ数 このフィールドは，システム領域を最後に更新した後でパーティション
から物理的に再生した基本グループの数を表す。
16.4.2.1.4 記録データグループの再生総数 このフィールドは，パーティションから再生した最初からの
基本グループの総数を表す。この値は，記録時再生検査の再生操作の数は，含めない。この値は，テープ
の使用期間にわたって累積するが，フォーマットしたときは，0とする。
16.4.2.1.5 再記録フレーム総数 このフィールドは，パーティションに最初に記録した後で再度記録した
フレームの総数を表す。この値は，記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰り返し記録するたびに，
1ずつ増やす。この値は，元のフレームと再記録フレームとの間に記録したフレームの数は，含めない。
この値は，テープの使用期間にわたって累積するが，フォーマットしたときは，0とする。
16.4.2.1.6 ECC3総数 このフィールドは，物理的に再生した基本グループがC3訂正符号を使ったデータ
修復回数を，そのパーティションが作られた最初のときからの累積回数として表す。この値は，テープの
使用期間にわたって累積するが，フォーマットしたときは，0とする。
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16.4.2.1.7 アクセス回数 このフィールドを使用する場合，パーティションのアクセス回数を表す。使用
しない場合，このフィールドは，すべて0に設定する。
16.4.2.1.8 更新回数 このフィールドを使用する場合，パーティションへの記録回数を表す。使用しない
場合，このフィールドは，すべて0に設定する。
16.4.2.1.9 前の再記録フレーム数 このフィールドは，システム領域を最後に更新した後で再記録したパ
ーティションの数を表す。この値は，記録時再生で誤りを検出した後にフレームを繰り返し記録するごと
に1ずつ増やす。この値は，元のフレーム及び再記録フレームとの間に記録したフレームの数は，含めな
い。
16.4.2.1.10 前のECC3総数 このフィールドは，そのシステム領域を最後に更新したときから物理的に再
生した基本グループがC3訂正符号を使ったデータ修復回数を表す。
16.4.2.1.11 ロード回数 このフィールドは，テープに最初に記録した後でテープがロードされた回数を表
す。1回のロードは，テープをテープ装置機構のドラムに巻き付け，テープが使用可能で，テープ送りが
できる位置に設定する操作とする。この値は，テープの使用期間にわたって累積するが，フォーマットを
したときは，0とする。このフィールドは，パーティションテープのパーティション0のシステムログ内
に格納する。
16.4.2.1.12 有効な最終の絶対フレーム番号 このフィールドは，有効なデータを含む最後の絶対フレーム
番号を表す。リファレンス領域の最初のフレームの絶対フレーム番号は，1とする。
16.4.2.1.13 フラグバイト
ビット1
記録禁止
このビットが1の場合，パーティションへの記録は，禁止する。
ビット2
再生禁止
このビットが1の場合，パーティションからの再生は，禁止する。
ビット3
記録リトライ禁止
このビットが1の場合，パーティションへの記録リトライは，禁止する。
ビット4
再生リトライ禁止
このビットが1の場合，パーティションからの再生リトライは，禁止する。
ビット5〜ビット7
これらのビットは，0に設定する。
ビット8
パーティション操作中
このビットは，パーティションでの1回の再生操作又は記録操作の前に1に設定する。パーティシ
ョンのすべての操作が終了したとき，これらのビットは，すべて0に設定する。
16.4.2.1.14 最大絶対フレーム番号 このフィールドは，最後のEOD領域の最後のフレームの絶対フレーム
番号を表す。
16.4.2.1.15 予約フィールド すべて0に設定する。
16.4.2.2 ボリューム情報 ボリューム情報は，ボリュームに関する情報を含み，図44に示す。
16.4.2.2.1 フラグ フラグは，次による。
ビット1
このビットが1の場合，ボリュームをAIT-1ネイティブモードで処理する。0に設定している場合，
パーティション数を2以内とする。
ビット2
このビットが1の場合，ロード／アンロードをPBOTで行う。0に設定している場合，オプション
デバイス領域が存在するとき，ロード／アンロードをオプションデバイス領域で行う。
ビット3及びビット4
これらのビットは，システムログ情報が存在することを示し，0に設定し，それ以外の
設定は，この規格では禁止する。
16.4.2.2.2 最後のパーティションの番号 テープ上で最後に有効なパーティションの番号を表す。
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16.4.2.2.3 デバイス領域の配置 オプションデバイス領域のビット配置は，32バイト中に256ビットごと
に各パーティションに割り当てる。このビットが1の場合，パーティションにオプションデバイス領域が
存在することを示す。
予約済み
6バイト
0に設定
フラグ
1バイト
ビット1 AITネイティブ
ビット2 PBOTでロード／アンロード
ビット3 システムログ情報の存在
ビット4
ビット5 0に設定
ビット6 0に設定
ビット7 0に設定
ビット8 0に設定
最後のパーティション番号 1バイト
カートリッジの最後のパーティション番号
デバイス領域の配置
32バイト デバイス領域の配置を示す256ビット
予約済み
32バイト すべて0に設定
図44 ボリューム情報
16.4.2.3 システムログベンダデータ型式番号 この番号は，2バイトで表す。
0に設定している場合，システムログベンダデータは，すべて0とする。
1に設定している場合，システムログベンダデータは，ベンダ固有情報を含み，それ以外の設定は，禁
止する。
16.4.3 システムポストアンブル システムポストアンブルは，絶対フレーム番号541〜564の24フレーム
からなる。
参考 システムログの更新時にシステムプリアンブル，システムログ及びシステムポストアンブルを
含む一連の領域を続けて書き込むことを推奨する。
16.4.4 ガードバンド2 ガードバンド2の長さの公称値は，24フレームとする。このフレームの内容は，
この規格では規定しない。情報交換では，無視する。
16.4.5 ベンダグループプリアンブル ベンダグループプリアンブルは，絶対フレーム番号589〜660の72
フレームとし，ベンダグループの直前にあってベンダグループと連続する。フレームの内容は，この規格
では規定しない。情報交換では，無視する。
16.5 データ領域 この領域は，ベンダグループと一つ以上の記録データグループとする。
16.5.1 ベンダグループ ベンダグループは，基本グループ0に記録したインスタンスとする。内容は，こ
の規格では規定しない。ベンダグループは，11.に規定している操作を適用し，その結果，生成したフレー
ムを記録することによって，その基本グループのバイトから形成する。これらのフレーム内の最初のフレ
ームの絶対フレーム番号は，661とする。
さらにECC3及びリピートフレームのどちらか一方，又は両方の操作を適用してもよい。
ベンダグループは，未記録領域，物理的不連続域，物理的継ぎ目，絶対フレーム番号の不連続又は繰返
しがあってはならない。
16.5.2 記録データグループ 記録データグループは，基本グループに記録したインスタンスで，11.に規
定している操作を適用し，その結果，生成したフレームをその論理フレーム番号順に記録することによっ
て，ホストコンピュータのデータから生成する。
さらにECC3及びリピートフレームのどちらか一方，又は両方の操作を適用してもよい。
記録データグループは，未記録領域，物理的不連続域，物理的継ぎ目，絶対フレーム番号の不連続又は
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繰返しがあってはならない。
16.5.3 ECC3 ECC3は，記録データグループ内で二つの不良トラックを訂正することができる。ECC3
データは，基本グループの18個のG1サブグループを次のリードソロモン符号を用いて生成する。
GF(28) (20, 18, 3)
GF(28)は，次の多項式によって算出する。
G(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1 a＝ (00000010)
ECC3のインタリーブの深度は，1フレームとし，ECCバイトは，次の式を満足する。
HR×VR＝0
生成多項式は，次による。
()
(
)
∏
=
=
−
=
1
0
R
G
j
i
i
x
x
α
=
0
1
2
16
17
18
19
R
1
1
1
1
1
1
1
α
α
α
α
α
α
α
・・・
・・・
H
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
×
+
+
×
+
×
=
44544
19
1
22272
2
Q
44544
19
0
22272
2
P
44544
6
1
22272
2
D
44544
6
0
22272
2
D
44544
5
1
22272
2
D
44544
5
0
22272
2
D
44544
4
1
22272
2
D
44544
4
0
22272
2
D
44544
3
1
22272
2
D
44544
3
0
22272
2
D
44544
2
1
22272
2
D
44544
2
0
22272
2
D
44544
1
1
22272
2
D
44544
1
0
22272
2
D
44544
0
1
22272
2
D
44544
0
0
22272
2
D
R
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
i
V
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
Μ
Μ
ここに，
n＝ 0，1，2，...，22271
i＝ 0，1
Dn＝ 利用者データバイト番号
Pn＝ パリティバイト番号
Qn= パリティバイト番号
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16.5.4 多重記録インスタンス 基本グループ0以外の各基本グループは，一連の連続インスタンスに記録
してもよい。最大インスタンス数は，8とする。同一の基本グループからの一連の記録データグループ内
で，論理フレームID，ポジション，及び絶対フレーム番号が異なり，計算するパリティバイトの値も異な
る。また，これらのインスタンスで記録データグループ当たりの再記録フレームの数も異なる。
16.5.5 再記録フレーム データ領域内で記録データグループの任意のフレームは，再記録によって繰り返
してもよい。再記録フレームは，0個〜7個の中間フレームの記録後に記録することができる。この操作（例
えば，元のフレーム又は再記録フレーム及びそれに引き続く0個〜7個の中間フレーム）は，複数回繰り
返すことによって，このテープの不良箇所を回避することができる。一連のフレームの上限のインスタン
ス数は，256（元のフレームと255までの繰返しフレームを含めて）とする。
中間フレーム（元のフレーム及び次のフレームとの間に記録するフレーム）は，通常の順番としてそれ
に続く論理フレーム番号のフレームとなり，それ以降も正しい順番でなければならない。正しい順番とは，
1ずつ増加する論理フレーム番号をもつ連続したフレームをいう。記録データグループの最後のフレーム
又はECC3フレームが存在する場合，その後の論理フレーム番号は，アンブルフレームについては，0と
し，次の論理フレーム番号の最初のフレームについては，1とする。アンブルフレームは，中間フレーム
の数が7個を超えない限り，この順番とし，最後の再記録フレームの後に正しい順番で記録した中間フレ
ームが続く。
絶対フレーム番号の不連続又は繰返しがあってはならない。
16.5.6 追記録及び重ね書き テープ上に既に記録しているデータに新しいデータを追記録するとき，又は
既存のデータを新しいデータによって重ね書きするとき，記録開始点は，記録データグループの最後のフ
レーム（図46のフレームA）を基準とする。最後のグループの多重記録インスタンスが複数個存在すると
き，関連する記録データグループは，その順番の最後になる。再記録フレームを記録した場合，関連する
フレームは，最後のフレームの最後の繰返しフレームになる。追記録又は重ね書きの最小単位は，記録デ
ータグループとする。
参考 重ね書きを開始すると，現在の記録位置とPEOTとの間にあるすべてのデータは，論理的に無
効となる。
追記録及び重ね書きの規則は，同一とする。簡素化のため，追記録だけを規定する。
データは，シームレス又はノンシームレスのいずれかの方法でテープに追記録できる。追記録操作は，
追記録したトラックがその前のトラックと連続シーケンスを形成するように配置されている場合だけ，シ
ームレスとする。トラックは，再生不可能な位置まで部分的に重ね書きしたり，トラック間にギャップを
作ったりしてはならない。
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図45 追記録規則
図45では，フレームAまでのフレームは，保持すべき情報を含み，追記録は，アンブルフレームのフ
レームBか始まり，情報は，フレームCから記録する。
16.5.6.1 シームレス追記録の規則 シームレス追記録は，次の規則による。
規則1. フレームAとフレームBの間は，一つのフレームが存在する。例えば，フレームAの絶対フレ
ーム番号 (AFN) がnのとき，フレームBのAFNは，n＋2とする。
規則2. フレームAとフレームBの間に記録するフレームは，フレームAに連続とする。例えば，フレ
ームAとフレームBとの間に未記録領域，AFNの不連続，AFNの繰返し又は物理的不連続があ
ってはならない。アンブルフレーム以外は，フレームのグループ番号がフレームAのグループ番
号よりも大きくなければならない。アンブルフレームは，グループ番号がフレームAのグループ
番号に等しくなる。フレームの内容は，無視する。
規則3. フレームBとフレームCとの間は，アンブルフレームが少なくとも一つ存在する。例えば，フレ
ームBのAFNがn＋2のとき，フレームCのAFNの最小値は，n＋4とする。フレームBとフレ
ームCとの間には，未記録領域，AFNの不連続，AFNの繰返し又は物理的不連続があってはな
らない。
規則4. テープの走行方向の位置（図46参照）で測定したフレームB (AFN＝n＋2) の最初のトラック位
置は，AFN＝n＋1のフレームの最初のトラックからx＝257.8μm±42.9μmの距離とする。
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図46 シームレス追記録での許容値
16.5.6.2 ノンシームレス追記録の規則 ノンシームレス追記録の規則は，次による。
規則1. フレームAとフレームBとの距離は，最小1フレーム最大11フレームとする。フレームAとフ
レームBとの間に未記録領域が存在してはならない。フレームAとフレームBとの間の一つ以上
のフレームは，誤った内容でもよい。すなわち，追記録地点での部分的な重ね書きの結果，誤っ
たフレームができる。
規則2. 次の条件を満足する場合，フレームAとフレームBとの間にAFNの不連続及びAFNの繰返しが
あってもよい。フレームAのAFNがnのとき，
− すべてのフレームのAFNは，nよりも大
− フレームBのAFNは，最小n＋2最大n＋12
規則3. フレームAとフレームBの間にあるアンブルフレームのグループ番号は，フレームAのグルー
プ番号と同じとする。その他のフレームのグループ番号は，フレームAのグループ番号よりも大
きくなければならない。
規則4. フレームBとフレームCとの間には，最低29フレームなければならない。例えば，フレームB
のAFNがn＋2≦n′≦n＋12のとき，フレームCのAFNは，n′＋30以上とする。フレームB
とフレームCとの間には，未記録領域，物理的不連続，物理的継ぎ目，AFNの不連続又はAFN
の繰返しがあってはならない。
16.6 EOD領域 EOD領域は，データ領域の後に続く領域とする。
EOD領域は，300ハウスキーピングフレーム以上からなり，最後の記録データグループに続く一連のア
ンブルフレームの最後のアンブルフレームの後から始まる。EOD領域の最初のフレームは，PEOTの少な
くとも5 000mm手前に記録する。
EOD領域は，一つのテープに複数存在してもよい。LBOTに一番近いEOD領域だけは，情報交換に有
効とする。
16.7 オプションデバイス領域 オプションデバイス領域は，EOD領域の後PEOTまでの間に設けてもよ
い。オプションデバイス領域の内容は，情報交換には，規定しない。
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16.8 アーリーワーニングポイント (EWP) 新しいテープ又はバルク消去テープのEWPの位置は，テー
プに記録をしているテープ装置が算出する。算出したEWPの位置は，PEOTから5 258mm以上手前とし
なければならない。算出したEWPを超えてデータを記録することがない限り，EWPの位置表示は，テー
プには記録しない。算出したEWPを超えて最初にデータを記録するとき，EWPの前に完全又は部分的に
記録した最後の基本グループで，AEWPビットの設定を0から1にする。このビットの変化を以後テープ
を再生する場合，EWPの位置として利用する。
データを含むテープの重ね書きの場合，重ね書きを開始した位置が，重ね書きの開始前に定義したEWP
より手前の場合，データを記録している磁気テープ装置が新しいEWPを算出する。算出したEWPの位置
は，少なくともPEOTから5 258mm以上手前としなければならない。算出したEWPを超えてデータを記
録するとき，EWPの前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループで，AEWPビットの設定を0から
1にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合，EWPの位置として利用する。
データを含んでいるテープの重ね書きは，新たな重ね書きを開始する位置から手前にAEWPビットが0
から1に変化しているとき，その変化点がEWPの位置となる。それ以降のすべての新しい重ね書きグル
ープは，AEWPビットの設定を1にする。
16.9 初期化 初期化は，利用者データを記録するために最初にテープカートリッジを使用する前に行う。
初期化によって，LBOTとベンダグループの終了位置との間に未記録領域があってはならない。LBOTと
ベンダグループの終了位置との間は，連続して記録する。ガードバンド1及びガードバンド2の公称フレ
ーム数は，それぞれ24フレームとする。ガードバンド1の各フレームのエリアIDは，リファレンス領域
IDに設定する。
記録済みテープに初期化を行う場合，テープ上のすべてのデータ（システムログ内の履歴データも含む。）
が破壊される。
参考 テープ割付上，最初の記録データグループの記録前に，新しいテープ又はバルク消去したテー
プに対して初期化を行う必要はない。リファレンス領域，システム領域及びベンダグループは，
最初の記録データグループの記録と同時に記録できる。
17. パーティションテープの構成 パーティションテープの構成を，図47に示す。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図47 パーティションテープの構成
17.1 テープ上の配置 パーティションテープの配置は，デバイス領域の後にPBOTからPEOTまでパー
ティションが続く。
17.1.1 パーティション
17.1.1.1 システムログ システムログ領域の内容は，この規格では規定しない。情報交換では，無視する
（16.4.2参照）。
17.1.1.2 テープの仮想EOT (VEOT) VEOTは，パーティション境界の手前の300フレームに相当する
距離を基準点とする。この基準点は，シングルデータスペーステープ上のPEOTと同じ方法で使用する。
例えば，VEOTを超えたパーティション0の中では，初期化の場合を除いて記録してはならない。
VEOTとパーティション境界との間の領域は，他のパーティションのEOD領域と同じハウスキーピング
フレームを含む。
17.1.1.3 アーリーワーニングポイント (EWP) 最後のパーティションのEWPの位置は，シングルデー
タスペーステープのそれと同じとする。空きのパーティションのEWPの位置は，テープに記録するテー
プ装置が算出する。算出したEWPの位置は，VEOTから1 000フレーム以上手前になければならない。算
出したEWPを超えてデータを記録するまでは，テープにEWPの位置は記録しない。算出したEWPを超
えてデータを記録したとき，EWPの手前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループで，AEWPビッ
トの設定を0から1にする。このビットの変化を以後テープに再生する場合，EWPの位置として利用する。
データを重ね書き中のパーティションは，重ね書きが始まった位置が重ね書きを始める前に定義した
EWPの手前にある場合，新しいEWPの位置は，テープに重ね書きしているテープ装置が算出する。算出
したEWPは，VEOTから1 000フレーム以上手前になければならない。算出したEWPを超えてデータを
記録したとき，EWPの手前に完全又は部分的に記録した最後の基本グループで，AEWPビットの設定を0
から1にする。このビットの変化を以後テープを再生する場合，EWPの位置として利用する。
データを重ね書き中のパーティション1で，新たに重ね書きを開始する位置よりも手前でAEWPビット
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が0から1に変化しているとき，EWPの位置は，変化点として利用する。AEWPビットは，このパーティ
ションのすべての重ね書きグループで1に設定する。
17.1.1.4 EOD領域 EOD領域は，データ領域の後に続く領域とする。最後のパーティションのEOD領域
の位置は，シングルデータスペーステープのそれと同じとする。
EOD領域は，ハウスキーピングフレームとし，最後の記録データグループに続く一連のアンブルフレー
ム最後のアンブルフレームの後から始まる。EOD領域は，最後のアンブルフレームとVEOTとの間のテー
プの長さが300フレーム以上のとき，300フレーム以上とし，最後のアンブルフレームとVEOTとの間の
テープの長さが300フレーム未満のとき，その長さと同一とする。
17.1.1.5 オプションデバイス領域 オプションデバイス領域の規定は，シングルデータスペーステープに
ついての規定と同じとする（16.7参照）。
17.2 LBOT LBOTは，パーティション境界とする。この位置の後の最初のフレームの絶対フレーム番号
は，1とする。
17.3 空きのパーティション 空きのパーティションは，次の内容とする。
− リファレンス領域
− システム領域
− 一つのベンダグループ及び12個以上のアンブルフレームで構成するデータ領域
− 300フレーム以上の長さのEOD領域
ベンダグループプリアンブル，データ領域，及びそれに続くハウスキーピングフレームは，パーティシ
ョンの境界まで連続としなければならない。未記録領域，物理的不連続，物理的継ぎ目，AFNの不連続又
はAFNの繰返しがあってはならない。
17.4 パーティションテープの初期化 新しいテープ又はバルク消去したテープをパーティションテープ
として使用するとき，一つのパーティションにだけ記録データグループを記録し，他のパーティションは，
空とする。パーティション境界の位置を定義し，空のパーティションの規定に適合し，かつテープ位置の
効率的な管理を補助するために，最初の記録の前に初期化することを推奨する。初期化のときは，空のパ
ーティションを連続して書き込む。
記録済みテープを初期化する場合，システムログの履歴データを含むすべてのデータが破壊される可能
性がある。
18. ハウスキーピングフレーム ハウスキーピングフレームは，利用者データ又はセパレータを含めては
ならない。データは，ID情報だけ記録することができる（11.4.1参照）。このデータは，ハウスキーピング
フレームを記録している磁気テープ領域に依存する。ハウスキーピングフレームの内容は，この規格では
規定しない。
ハウスキーピングフレームは，次に示すアンブルフレーム及びシステムアンブルフレームの2種類があ
る
18.1 アンブルフレーム アンブルフレームは，データ領域内だけに存在する。論理フレーム番号は，0
とする。
アンブルフレームは，中間フレームとして挿入した場合を除いて，記録データグループ及びベンダグル
ープの手前にあってはならない。
アンブルフレームは，追記録点を除いて，その他のアンブルフレーム又は参照する記録データグループ
の最後のフレームに続かなければならない。
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
フレームの内容は，この規格では規定しない。情報交換では，無視する。
18.2 システムアンブルフレーム システムアンブルフレームは，システム領域内に記録する。絶対フレ
ーム番号は，289〜360及び541〜564とする。
フレームの内容はこの規格では規定しない。情報交換では，無視する。
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A（規定） テープ及びリーダの光透過率の測定法
A.1 概要 この附属書は，テープ及びリーダの光透過率の測定装置及び測定法を示す。
光透過率は，測定装置に試験片を入れないときを100とし，入れたときの比を百分率 (%) で表す。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は，次による。
− 光源
− 光検出部
− 測定用マスク
− 光学系
− 測定回路
A.2.1 光源 光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
波長 ：850nm±50nm
半値幅：±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクは，厚さを2mmとし，孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の
80%〜100%の大きさに設定する。
表面は，黒のつや消しとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないようにマスクに固定する。
A.2.4 光学系（附属書A図1） 光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離 (L) は，次の
式による。
α
tan
2
d
L=
αは，光軸上の最大強度に対して95%以上の強度がある領域に設定する。
A.2.5 仕上げ 装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路（附属書A図2） 測定回路は，次による。
E
：出力電圧可変の定電圧電源
R
：電流制限用の抵抗器
LED
：赤外線発光ダイオード
Di
：シリコンフォトダイオード
A
：演算増幅器
Rf0, Rf1 ：帰還用の抵抗器
S
：増幅率切替えスイッチ
V
：電圧計
LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧 (E) によって変化させる。
Diは，回路を閉じて動作させる。
演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，Diの閉回路での電流とする。
出力電圧は，光の明るさに比例する。
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Rf0及びRf1は，許容誤差1%で，温度による抵抗変化の少ない抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，次
の式による。
20
1
f1
0
f
=
R
R
A.3 測定法 測定法は，次による。
− スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。
− 試験片を取り付けないで，電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるように供給電圧 (E)
を変化させる
− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。電圧計は，60%〜100%を示す。
− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このとき，電圧
計のフルスケールは，光透過率5%を示す。
附属書A図1 光学系の構成
附属書A図2 測定回路
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B（規定） 信号対雑音比の測定法
信号対雑音比の測定は，分解能10kHzのスペクトラムアナライザを用いる。試験条件は，特に規定がな
い限り，本体10.による。
B.1 テープを交流消去する。
B.2 テープに記録密度2 857.1ftpmmで記録する。その記録周波数をf1で表す。
B.3 信号振幅の実効値は，読取りヘッドが最初にテープに接触して1ms後から測定を開始し，1msの時間
にわたってスペクトラムアナライザを掃引して測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定
値とし，8回分の測定値の平均値を求める。これをStapeとする。
これらの8回の掃引の際，周波数f2で全雑音レベルの実効値を測定する。ここで，f2は，f1より2MHz
低い周波数とする。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし，100回分の測定値の平均値を求
める。これをNtotalとする。
B.4 周波数f2の再生系雑音レベルの実効値は，同じ1msの時間にわたって，テープを巻き付けずにモータ
を回転させて測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし，8回分の測定値の平均値を
求める。これをNampとする。
B.5 信号対雑音比は，次による。
tape
tape
log
20
N
S
ここに， テープ雑音：
2amp
2total
tape
N
N
N
−
=
tape
amp
N
N
は，0.7未満とする。
B.6 テープの信号対雑音比 (SNRtape) は，B.3〜B.5を10回以上繰り返し測定した平均値とする。
B.7 副標準テープについてもB.1〜B.6の測定を行い，副標準テープの信号対雑音比SNRMSRTを求める。
供試テープの信号対雑音比は，次による。
(SNRtape−SNRMSRT) dB
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法
（記録条件）
記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は，本体10.による。
C.1 記録レベルの公称値の決定法
C.1.1 信号振幅副基準テープの記録密度3 809.5ftpmmの信号を再生し，読み取った値を信号振幅副基準テ
ープによって校正する。
C.1.2 交流消去した副基準テープに，3 809.5ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増やしながら
記録し，読み取った値がC.1.1で求めた値と等しくなるまで記録電流を増やす。
C.1.3 交流消去した供試テープに対し，C.1.2で求めた記録電流で3 809.5ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を，記録密度3 809.5ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
C.1.4 記録密度1 428.6ftpmm，1 904.8ftpmm，2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmの値を求めるために，C.1.1
〜C1.3を同様に繰り返す。
C.2 記録レベルの最大許容値の決定法
C.2.1 交流消去した副基準テープに，記録密度3 809.5ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増や
しながら記録し，読み取った値がC.1.1で求めた校正後の値の120%になるまで記録電流を増やす。
C.2.2 交流消去した供試テープに対し，C.2.1で求めた記録電流で3 809.5ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を，記録密度3 809.5ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
C.2.3 記録密度1 428.6ftpmm，1 904.8ftpmm，2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmの値を求めるために，C.2.1
〜C2.2を同様に繰り返す。
C.3 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは，この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので，
互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は，次による。
記録密度1 428.6ftpmm，1 904.8ftpmm，2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmでは，記録レベルの最大許容値
とする。
参考 互換性確保のために，記録レベルは，記録密度1 428.6ftpmm，1 904.8ftpmm，2 857.1ftpmm及び
3 809.5ftpmmで，記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。
72
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変
換
D.1 8ビットバイトは，最上位ビットを左側とし，最下位ビットを右側とする。
10チャネルビットパターンは，最初に記録するビットを左側とし，最後に記録するビットを右側とする。
D.2 使用する記録装置は，記録信号の直流成分を0に近づける必要がある。
すべての10チャネルビットパターンは，0平衡又は6 : 4若しくは4 : 6の直流不平衡である。
各10チャネルビットパターンは，DC（直流成分）を最小にするために，次の10チャネルビットパター
ンの二つの代替パターンのいずれを選択するかを変調器に指示するインジケータQが含まれる。
Q′は，前のパターンの直流情報である。
Qは，現在のパターンの直流情報である。
D.3 左側の列には，検索を容易にするために，8ビットバイトを16進数で表記する。
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q′＝−1
Q′＝1
8ビットバイト
10チャネルビットパターン
DC
Q
10チャネルビットパターン
DC
Q
(00)
00000000
0101010101
0
1
0101010101
0
−1
(01)
00000001
0101010111
0
−1
0101010111
0
1
(02)
00000010
0101011101
0
−1
0101011101
0
1
(03)
00000011
0101011111
0
1
0101011111
0
−1
(04)
00000100
0101001001
0
−1
0101001001
0
1
(05)
00000101
0101001011
0
1
0101001011
0
−1
(06)
00000110
0101001110
0
1
0101001110
0
−1
(07)
00000111
0101011010
0
1
0101011010
0
−1
(08)
00001000
0101110101
0
−1
0101110101
0
1
(09)
00001001
0101110111
0
1
0101110111
0
−1
(0A)
00001010
0101111101
0
1
0101111101
0
−1
(0B)
00001011
0101111111
0
−1
0101111111
0
1
(0C)
00001100
0101101001
0
1
0101101001
0
−1
(0D)
00001101
0101101011
0
−1
0101101011
0
1
(0E)
00001110
0101101110
0
−1
0101101110
0
1
(0F)
00001111
0101111010
0
−1
0101111010
0
1
(10)
00010000
1101010010
0
1
1101010010
0
−1
(11)
00010001
0100010010
2
−1
1100010010
−2
−1
(12)
00010010
0101010010
0
−1
0101010010
0
1
(13)
00010011
0101110010
0
1
0101110010
0
−1
(14)
00010100
1101110001
2
1
0101110001
−2
1
(15)
00010101
1101110011
2
−1
0101110011
−2
−1
(16)
00010110
1101110110
2
−1
0101110110
−2
−1
(17)
00010111
1101110010
0
−1
1101110010
0
1
(18)
00011000
0101100101
2
−1
1101100101
−2
−1
(19)
00011001
0101100111
2
1
1101100111
−2
1
(1A)
00011010
0101101101
2
1
1101101101
−2
1
(1B)
00011011
0101101111
2
−1
1101101111
−2
−1
(1C)
00011100
0101111001
2
1
1101111001
−2
1
(1D)
00011101
0101111011
2
−1
1101111011
−2
−1
(1E)
00011110
0101111110
2
−1
1101111110
−2
−1
(1F)
00011111
0101101010
2
−1
1101101010
−2
−1
(20)
00100000
0111010101
0
−1
0111010101
0
1
(21)
00100001
0111010111
0
1
0111010111
0
−1
(22)
00100010
0111011101
0
1
0111011101
0
−1
(23)
00100011
0111011111
0
−1
0111011111
−2
1
(24)
00100100
1111010001
2
1
0111010001
−2
1
(25)
00100101
1111010011
2
−1
0111010011
−2
−1
(26)
00100110
1111010110
2
−1
0111010110
−2
−1
(27)
00100111
0111011010
0
−1
0111011010
0
1
(28)
00101000
0111110101
0
1
0111110101
0
−1
(29)
00101001
0111110111
0
−1
0111110111
0
1
(2A)
00101010
0111111101
0
−1
0111111101
0
1
(2B)
00101011
0111111111
0
1
0111111111
0
−1
74
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q′＝−1
Q′＝1
8ビットバイト
10チャネルビットパターン
DC
Q
10チャネルビットパターン
DC
Q
(2C)
00101100
0111101001
0
−1
0111101001
0
1
(2D)
00101101
0111101011
0
1
0111101011
0
−1
(2E)
00101110
0111101110
0
1
0111101110
0
−1
(2F)
00101111
0111111010
0
1
0111111010
0
−1
(30)
00110000
0111010010
0
1
0111010010
0
−1
(31)
00110001
1110010010
2
−1
0110010010
−2
−1
(32)
00110010
1111010010
0
−1
1111010010
0
1
(33)
00110011
1111110010
0
1
1111110010
0
−1
(34)
00110100
0111110001
2
1
1111110001
−2
1
(35)
00110101
0111110011
2
−1
1111110011
−2
−1
(36)
00110110
0111110110
2
−1
1111110110
−2
−1
(37)
00110111
0111110010
0
−1
0111110010
0
1
(38)
00111000
0111000101
2
−1
1111000101
−2
−1
(39)
00111001
0111000111
2
1
1111000111
−2
1
(3A)
00111010
0111001101
2
1
1111001101
−2
1
(3B)
00111011
0111001111
2
−1
1111001111
−2
−1
(3C)
00111100
0111011001
2
1
1111011001
−2
1
(3D)
00111101
0111011011
2
−1
1111011011
−2
−1
(3E)
00111110
0111011110
2
−1
1111011110
−2
−1
(3F)
00111111
0111001010
2
−1
1111001010
−2
−1
(40)
01000000
0100010101
2
1
1100010101
−2
1
(41)
01000001
0100010111
2
−1
1100010111
−2
−1
(42)
01000010
0100011101
2
−1
1100011101
−2
−1
(43)
01000011
0100011111
2
1
1100011111
−2
1
(44)
01000100
0101010001
2
1
1101010001
−2
1
(45)
01000101
0101010011
2
−1
1101010011
−2
−1
(46)
01000110
0101010110
2
−1
1101010110
−2
−1
(47)
01000111
0100011010
2
1
1100011010
−2
1
(48)
01001000
0100110101
2
−1
1100110101
−2
−1
(49)
01001001
0100110111
2
1
1100110111
−2
1
(4A)
01001010
0100111101
2
1
1100111101
−2
1
(4B)
01001011
0100111111
2
−1
1001111111
−2
−1
(4C)
01001100
0100101001
2
1
1100101001
−2
1
(4D)
01001101
0100101011
2
−1
1100101011
−2
−1
(4E)
01001110
0100101110
2
−1
1100101110
−2
−1
(4F)
01001111
0100111010
2
−1
1100111010
−2
−1
(50)
01010000
0100100101
0
−1
0100100101
0
1
(51)
01010001
0100100111
0
1
0100100111
0
−1
(52)
01010010
0100101101
0
1
0100101101
0
−1
(53)
01010011
0100101111
0
−1
0100101111
0
1
(54)
01010100
0100111001
0
1
0100111001
0
−1
(55)
01010101
0100111011
0
−1
0100111011
0
1
(56)
01010110
0100111110
0
−1
0100111110
0
1
(57)
01010111
0100101010
0
−1
0100101010
0
1
75
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q′＝−1
Q′＝1
8ビットバイト
10チャネルビットパターン
DC
Q
10チャネルビットパターン
DC
Q
(58)
01011000
0110100101
0
1
0110100101
0
−1
(59)
01011001
0110100111
0
−1
0110100111
0
1
(5A)
01011010
0110101101
0
−1
0110101101
0
1
(5B)
01011011
0110101111
0
1
0110101111
0
−1
(5C)
01011100
0110111001
0
−1
0110111001
0
1
(5D)
01011101
0110111011
0
1
0110111011
0
−1
(5E)
01011110
0110111110
0
1
0110111110
0
−1
(5F)
01011111
0110101010
0
1
0110101010
0
−1
(60)
01100000
0010010101
0
−1
0010010101
0
1
(61)
01100001
0010010111
0
1
0010010111
0
−1
(62)
01100010
0010011101
0
1
0010011101
0
−1
(63)
01100011
0010011111
0
−1
0010011111
0
1
(64)
01100100
1010010001
2
1
0010010001
−2
1
(65)
01100101
1010010011
2
−1
0010010011
−2
−1
(66)
01100110
1010010110
2
−1
0010010110
−2
−1
(67)
01100111
0010011010
0
−1
0010011010
0
1
(68)
01101000
0010110101
0
1
0010110101
0
−1
(69)
01101001
0010110111
0
−1
0010110111
0
1
(6A)
01101010
0010111101
0
−1
0010111101
0
1
(6B)
01101011
0010111111
0
1
0010111111
0
−1
(6C)
01101100
0010101001
0
−1
0010101001
0
1
(6D)
01101101
0010101011
0
1
0010101011
0
−1
(6E)
01101110
0010101110
0
1
0010101110
0
−1
(6F)
01101111
0010111010
0
1
0010111010
0
−1
(70)
01110000
0010010010
0
1
0010010010
0
−1
(71)
01110001
1011010010
2
−1
0011010010
−2
−1
(72)
01110010
1010010010
0
−1
1010010010
0
1
(73)
01110011
1010110010
0
1
1010110010
0
−1
(74)
01110100
0010110001
2
1
1010110001
−2
1
(75)
01110101
0010110011
2
−1
1010110011
−2
−1
(76)
01110110
0010110110
2
−1
1010110110
−2
−1
(77)
01110111
0010110010
0
−1
0010110010
0
1
(78)
01111000
0011100101
0
1
0011100101
0
−1
(79)
01111001
0011100111
0
−1
0011100111
0
1
(7A)
01111010
0011101101
0
−1
0011101101
0
1
(7B)
01111011
0011101111
0
1
0011101111
0
−1
(7C)
01111100
0011111001
0
−1
0011111001
0
1
(7D)
01111101
0011111011
0
1
0011111011
0
−1
(7E)
01111110
0011111110
0
1
0011111110
0
−1
(7F)
01111111
0011101010
0
1
0011101010
0
−1
(80)
10000000
1010010101
0
1
1010010101
0
−1
(81)
10000001
1010010111
0
−1
1010010111
0
1
(82)
10000010
1010011101
0
−1
1010011101
0
1
(83)
10000011
1010011111
0
1
1010011111
0
−1
(84)
10000100
1010001001
0
−1
1010001001
0
1
76
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q′＝−1
Q′＝1
8ビットバイト
10チャネルビットパターン
DC
Q
10チャネルビットパターン
DC
Q
(85)
10000101
1010001011
0
1
1010001011
0
−1
(86)
10000110
1010001110
0
1
1010001110
0
−1
(87)
10000111
1010011010
0
1
1010011010
0
−1
(88)
10001000
1010110101
0
−1
1010110101
0
1
(89)
10001001
1010110111
0
1
1010110111
0
−1
(8A)
10001010
1010111101
0
1
1010111101
0
−1
(8B)
10001011
1010111111
0
−1
1010111111
0
1
(8C)
10001100
1010101001
0
1
1010101001
0
−1
(8D)
10001101
1010101011
0
−1
1010101011
0
1
(8E)
10001110
1010101110
0
−1
1010101110
0
1
(8F)
10001111
1010111010
0
−1
1010111010
0
1
(90)
10010000
1100100101
0
1
1100100101
0
−1
(91)
10010001
1100100111
0
−1
1100100111
0
1
(92)
10010010
1100101101
0
−1
1100101101
0
1
(93)
10010011
1100101111
0
1
1100101111
0
−1
(94)
10010100
1100111001
0
−1
1100111001
0
1
(95)
10010101
1100111011
0
1
1100111011
0
−1
(96)
10010110
1100111110
0
1
1100111110
0
−1
(97)
10010111
1100101010
0
1
1100101010
0
−1
(98)
10011000
1010100101
2
−1
0010100101
−2
−1
(99)
10011001
1010100111
2
1
0010100111
−2
1
(9A)
10011010
1010101101
2
1
0010101101
−2
1
(9B)
10011011
1010101111
2
−1
0010101111
−2
−1
(9C)
10011100
1010111001
2
1
0010111001
−2
1
(9D)
10011101
1010111011
2
−1
0010111011
−2
−1
(9E)
10011110
1010111110
2
−1
0010111110
−2
−1
(9F)
10011111
1010101010
2
−1
0010101010
−2
−1
(A0)
10100000
1011010101
2
1
0011010101
−2
1
(A1)
10100001
1011010111
2
−1
0011010111
−2
−1
(A2)
10100010
1011011101
2
−1
0011011101
−2
−1
(A3)
10100011
1011011111
2
1
0011011111
−2
1
(A4)
10100100
1011001001
2
−1
0011001001
−2
−1
(A5)
10100101
1011001011
2
1
0011001011
−2
1
(A6)
10100110
1011001110
2
1
0011001110
−2
1
(A7)
10100111
1011011010
2
1
0011011010
−2
1
(A8)
10101000
1011110101
2
−1
0011110101
−2
−1
(A9)
10101001
1011110111
2
1
0011110111
−2
1
(AA)
10101010
1011111101
2
1
0011111101
−2
1
(AB)
10101011
1011111111
2
−1
0011111111
−2
−1
(AC)
10101100
1011101001
2
1
0011101001
−2
1
(AD)
10101101
1011101011
2
−1
0011101011
−2
−1
(AE)
10101110
1011101110
2
−1
0011101110
−2
−1
(AF)
10101111
1011111010
2
−1
0011111010
−2
−1
(B0)
10110000
1101110101
0
1
1101110101
0
−1
77
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q′＝−1
Q′＝1
8ビットバイト
10チャネルビットパターン
DC
Q
10チャネルビットパターン
DC
Q
(B1)
10110001
1101110111
0
−1
1101110111
0
1
(B2)
10110010
1101111101
0
−1
1101111101
0
1
(B3)
10110011
1101111111
0
1
1101111111
0
−1
(B4)
10110100
1101101001
0
−1
1101101001
0
1
(B5)
10110101
1101101011
0
1
1101101011
0
−1
(B6)
10110110
1101101110
0
1
1101101110
0
−1
(B7)
10110111
1101111010
0
1
1101111010
0
−1
(B8)
10111000
1011100101
0
−1
1011100101
0
1
(B9)
10111001
1011100111
0
1
1011100111
0
−1
(BA)
10111010
1011101101
0
1
1011101101
0
−1
(BB)
10111011
1011101111
0
−1
1011101111
0
1
(BC)
10111100
1011111001
0
1
1011111001
0
−1
(BD)
10111101
1011111011
0
−1
1011111011
0
1
(BE)
10111110
1011111110
0
−1
1011111110
0
1
(BF)
10111111
1011101010
0
−1
1011101010
0
1
(C0)
11000000
1110010101
2
1
0110010101
−2
1
(C1)
11000001
1110010111
2
−1
0110010111
−2
−1
(C2)
11000010
1110011101
2
−1
0110011101
−2
−1
(C3)
11000011
1110011111
2
1
0110011111
−2
1
(C4)
11000100
1110001001
2
−1
0110001001
−2
−1
(C5)
11000101
1110001011
2
1
0110001011
−2
1
(C6)
11000110
1110001110
2
1
0110001110
−2
1
(C7)
11000111
1110011010
2
1
0110011010
−2
1
(C8)
11001000
1110110101
2
−1
0110110101
−2
−1
(C9)
11001001
1110110111
2
1
0110110111
−2
1
(CA)
11001010
1110111101
2
1
0110111101
−2
1
(CB)
11001011
1110111111
2
−1
0110111111
−2
−1
(CC)
11001100
1110101001
2
1
0110101001
−2
1
(CD)
11001101
1110101011
2
−1
0110101011
−2
−1
(CE)
11001110
1110101110
2
−1
0110101110
−2
−1
(CF)
11001111
1110111010
2
−1
0110111010
−2
−1
(D0)
11010000
1101000101
2
−1
0101000101
−2
−1
(D1)
11010001
1101000111
2
1
0101000111
−2
1
(D2)
11010010
1101001101
2
1
0101001101
−2
1
(D3)
11010011
1101001111
2
−1
0101001111
−2
−1
(D4)
11010100
1101011001
2
1
0101011001
−2
1
(D5)
11010101
1101011011
2
−1
0101011011
−2
−1
(D6)
11010110
1101011110
2
−1
0101011110
−2
−1
(D7)
11010111
1101001010
2
−1
0101001010
−2
−1
(D8)
11011000
1110100101
0
−1
1110100101
0
1
(D9)
11011001
1110100111
0
1
1110100111
0
−1
(DA)
11011010
1110101101
0
1
1110101101
0
−1
(DB)
11011011
1110101111
0
−1
1110101111
0
1
(DC)
11011100
1110111001
0
1
1110111001
0
−1
(DD)
11011101
1110111011
0
−1
1110111011
0
1
78
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q′＝−1
Q′＝1
8ビットバイト
10チャネルビットパターン
DC
Q
10チャネルビットパターン
DC
Q
(DE)
11011110
1110111110
0
−1
1110111110
0
1
(DF)
11011111
1110101010
0
−1
1110101010
0
1
(E0)
11100000
1111010101
0
1
1111010101
0
−1
(E1)
11100001
1111010111
0
−1
1111010111
0
1
(E2)
11100010
1111011101
0
−1
1111011101
0
1
(E3)
11100011
1111011111
0
1
1111011111
0
−1
(E4)
11100100
1111001001
0
−1
1111001001
0
1
(E5)
11100101
1111001011
0
1
1111001011
0
−1
(E6)
11100110
1111001110
0
1
1111001110
0
−1
(E7)
11100111
1111011010
0
1
1111011010
0
−1
(E8)
11101000
1111110101
0
−1
1111110101
0
1
(E9)
11101001
1111110111
0
1
1111110111
0
−1
(EA)
11101010
1111111101
0
1
1111111101
0
−1
(EB)
11101011
1111111111
0
−1
1111111111
0
1
(EC)
11101100
1111101001
0
1
1111101001
0
−1
(ED)
11101101
1111101011
0
−1
1111101011
0
1
(EE)
11101110
1111101110
0
−1
1111101110
0
1
(EF)
11101111
1111111010
0
−1
1111111010
0
1
(F0)
11110000
1101010101
0
−1
1101010101
0
1
(F1)
11110001
1101010111
0
1
1101010111
0
−1
(F2)
11110010
1101011101
0
1
1101011101
0
−1
(F3)
11110011
1101011111
0
−1
1101011111
0
1
(F4)
11110100
1101001001
0
1
1101001001
0
−1
(F5)
11110101
1101001011
0
−1
1101001011
0
1
(F6)
11110110
1101001110
0
−1
1101001110
0
1
(F7)
11110111
1101011010
0
−1
1101011010
0
1
(F8)
11111000
1111100101
2
−1
0111100101
−2
−1
(F9)
11111001
1111100111
2
1
0111100111
−2
1
(FA)
11111010
1111101101
2
1
0111101101
−2
1
(FB)
11111011
1111101111
2
−1
0111101111
−2
−1
(FC)
11111100
1111111001
2
1
0111111001
−2
1
(FD)
11111101
1111111011
2
−1
0111111011
−2
−1
(FE)
11111110
1111111110
2
−1
0111111110
−2
−1
(FF)
11111111
1111101010
2
−1
0111101010
−2
−1
79
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E（規定） ビットシフトの測定法
試験テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置によってシステムオペレーションと互換性のあるモ
ードで記録する。
E.1 読取り装置 読取り装置は，次による。
附属書Fによって測定するときに，トラックの直線性が附属書Fの規定を満たす磁気テープ装置によっ
て読み取らなければならない。
再生ヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。ただし，再生ヘッド，前置増幅器，回転トランス，ヘ
ッドとテープの相対速度及び積分器は，低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択しなけ
ればならない。
− 再生ヘッド
ギャップ長
：0.20μm±0.05μm
ヘッドギャップの角度 ：正アジマスのヘッドギャップは，スキャナ軸に対して＋25°00′±15′と
する。
：負アジマスのヘッドギャップは，スキャナ軸に対して−25°00′±15′と
する。
− ヘッドとテープの接触及び再生チャネル
信号取込み中（E.2参照）のヘッドとテープの接触の安定性及び読取りヘッド，前置増幅器及び回転ト
ランスの総合周波数応答特性は，信号対雑音比で10dB以上の良好なものとする。
E.2 測定方法 ビットシフトは，再生電圧波形をディジタル記録する計数信号処理を用いて等化器の出力
で測定する。信号取込みは，メインデータゾーン1の最初のビットで始まり（本体の15.1参照），メイン
データゾーン1のチャネルビットが少なくとも25 000個読み取られた時点で終わる。
信号処理のアルゴリズムは，次の段階で実行する。
a) メインデータゾーン1からのディジタル波形をタイミング抽出アルゴリズムに入力する。タイミング
抽出アルゴリズムの例としては，このゾーンからのリードバックチャネルビットシグナルのビット長
間での公称中央位置について，一連の一定間隔タイムリファレンスを生成するファーストフーリエ変
換がある。これらのリファレンスはb)，c)，及びd)を実行したとき，d)に指定したビットエラー率を
満足するように，十分に正確であることとする。
b) 一連のタイムリファレンスを，同一の周波数とフェーズで残りの信号キャプチャ長間に拡張する。こ
れらのリファレンスが，メインデータゾーン1からのリードバックチャネルビットシグナルのビット
長間での公称中央位置のタイミングを定義する。
c) メインデータゾーン1から取り込んだビット長間での公称中央位置で，再生電圧を2%よりも高い精
度で測定する。
d) メインデータゾーン1から取り込んだ各ビット長間について，ビットエラー率が1/10 000よりも小さ
い検出方法を使用して，テープ上の対応するビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化さ
れている各ビットセルに，＋1のデータ値Dを割り当て，ヘッド走行と反対方向に磁化されている各
ビットセルに，−1のデータ値Dを割り当てる。
80
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
e) 各ビットセルについて，4要素のベクトルを作成し，各要素に1，2，3，4と番号を付ける。第3要素
のD3の値が，現在のビットセルのデータ値Dになり，第4要素のD4の値が，次のビットセルのデー
タ値Dになる。第1及び第2要素の値D1とD2は，それぞれ前の二つのビットセルのデータ値Dにな
る。その結果，ベクトルは16個のうちのいずれかのベクトル値iをもつ。
f)
16個の各ベクトル値について，ベクトル値がそのベクトル値iをもつすべてのビットセルのc)で測定
したプレイバック電圧の平均値Viを計算する。
g) 電圧平均値とデータ値を各ベクトル値に一つずつ与え，16個のVolterraシリーズを作成する。各シリ
ーズは，次による。
Vi＝ A0000
(d.c. term)
＋A0100D2＋A0010D3
(signal terms)
＋A1000D1＋A0001D4
(linear ISI terms)
＋A1100D1D2＋A0110D2D3＋A0011D3D4
(non-linear ISI terms)
＋A1010D1D3＋A0101D2D4＋A1001D1D4
（non-linear ISI termsの続き）
＋
A1101D1D2D4
＋
A1011D1D3D4
＋
A1111D1D2D3D4
（non-linear ISI termsの続き）
＋A1110D1D2D3＋A0111D2D3D4
（ビットシフトに関係するnon-linear ISI terms）
h) g)で定義する16個の同時式を解くことによって，Volterra係数のA0000からA1111を算出する。
i)
ビットシフトに対応するnon-linear inter-symbol interferenceを示すVolterra係数は，A1110とA0111となる。
参考 この方法の論理的根拠は，次の文献に記述されている。
Newby, P. and Wood, R., 1986 “The effects of Nonlinear Distortion on Class IV Partial Response” IEEE
Transactions on Magnetics, Volume MAG-22, Number 5, September 1986, page1203
この方法の適用方法については，次の文献に記述されている。
Williams, C.H., 1990 “The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports”
8th Conference on Video, Audio and Data Recording, IEE Conference Publication No.319, page67
81
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F（規定） トラックエッジの直線性の測定法
F.1 測定条件 試験片は，長手方向に0.04N〜0.06Nの張力を加える。
F.2 測定方法 記録トラックのエッジ上に，テープ基準縁からの距離4.454 5mmを中心とし，長手方向の
軸がテープ基準縁に対して，α＝4.895 0°傾いた59.148mm×7.5μmの長方形の箱を設定する。
F.3 要求事項 トラックエッジは，箱の短い辺にだけ交差しなければならない。
附属書F図1 トラックエッジの直線性の測定法
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G（規定） ECCの計算
C1符号は，GF(28)リードソロモン符号 (64, 58, 7) とし，C2符号は，GF(28)リードソロモン符号 (56, 48,
9) とする。
*C1パリティは，シンボルでインタリーブした2ブロックとして完了する。
GF(28)は，次の多項式によって算出する。
G(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
α＝ (00000010)
C1符号のインタリーブ深度は，2バイトとし，C2符号のインタリーブ深度は8ブロックとする。
ECCバイトは，次の式による。
Hp×VP＝0
HQ×VQ＝0
生成多項式は，次の式による。
()
(
)
∏
=
=
−
=
5
0
P
i
i
i
x
x
G
α
()
(
)
∏
=
=
−
=
7
0
Q
i
i
i
x
x
G
α
α0
α0
α0
α0
…
α0
α0
α0
α63
α62
α61
α60
…
α2
α1
α0
Hp＝
α126
α124
α122
α120
…
α4
α2
α0
α189
α186
α183
α180
…
α6
α3
α0
α252
α248
α244
α240
…
α8
α4
α0
α315
α310
α305
α300
…
α10
α5
α0
α0
α0
α0
α0
…
α0
α0
α0
α55
α54
α53
α52
…
α2
α1
α0
α110
α108
α106
α104 …
α4
α2
α0
α165
α162
α159
α156 …
α6
α3
α0
HQ＝
α220
α216
α212
α208 …
α8
α4
α0
α275
α270
α265
α260 …
α10
α5
α0
α330
α324
α318
α312 …
α12
α6
α0
α385
α378
α371
α364 …
α14
α7
α0
α440
α432
α424
α416 …
α16
α8
α0
83
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D2k, l
Qm, n
D2k, l＋2
Qm＋8, n
D2k, l＋4
Qm＋16, n
D2k, l＋6
Qm＋24, n
D2k, l＋8
Dm＋32, n
D2k, l＋10
Dm＋40, n
D2k, l＋12
Dm＋48, n
D2k, l＋14
Dm＋56, n
D2k, l＋16
Dm＋64, n
D2k, l＋18
Dm＋72, n
D2k, l＋20
Dm＋80, n
D2k, l＋22
Dm＋88, n
D2k, l＋24
Dm＋96, n
D2k, l＋26
Dm＋104, n
D2k, l＋28
Dm＋112, n
D2k, l＋30
Dm＋120, n
D2k, l＋32
Dm＋128, n
D2k, l＋34
Dm＋136, n
D2k, l＋36
Dm＋144, n
D2k, l＋38
Dm＋152, n
D2k, l＋40
Dm＋160, n
D2k, l＋42
Dm＋168, n
D2k, l＋44
Dm＋176, n
D2k, l＋46
Dm＋184, n
D2k, l＋48
Dm＋192, n
D2k, l＋50
Dm＋200, n
D2k, l＋52
Dm＋208, n
D2k, l＋54
Dm＋216, n
D2k, l＋56
Dm＋224, n
D2k, l＋58
Dm＋232, n
D2k, l＋60
Dm＋240, n
VP＝
D2k, l＋62
VQ＝
Dm＋248, n
D2k＋1, l
Dm＋256, n
D2k＋1, l＋2
Dm＋264, n
D2k＋1, l＋4
Dm＋272, n
D2k＋1, l＋6
Dm＋280, n
D2k＋1, l＋8
Dm＋288, n
D2k＋1, l＋10
Dm＋296, n
D2k＋1, l＋12
Dm＋304, n
D2k＋1, l＋14
Dm＋312, n
D2k＋1, l＋16
Dm＋320, n
D2k＋1, l＋18
Dm＋328, n
D2k＋1, l＋20
Dm＋336, n
D2k＋1, l＋22
Dm＋344, n
D2k＋1, l＋24
Dm＋352, n
D2k＋1, l＋26
Dm＋360, n
D2k＋1, l＋28
Dm＋368, n
D2k＋1, l＋30
Dm＋376, n
D2k＋1, l＋32
Dm＋384, n
D2k＋1, l＋34
Dm＋392, n
D2k＋1, l＋36
Dm＋400, n
D2k＋1, l＋38
Dm＋408, n
D2k＋1, l＋40
Qm＋416, n
D2k＋1, l＋42
Qm＋424, n
D2k＋1, l＋44
Qm＋432, n
D2k＋1, l＋46
Qm＋440, n
D2k＋1, l＋48
D2k＋1, l＋50
P2k＋1, l＋52
P2k＋1, l＋54
P2k＋1, l＋56
P2k＋1, l＋58
P2k＋1, l＋60
P2k＋1, l＋62
84
X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ここに，
Pij＝C1バイト
Qij＝C2バイト
i＝ ブロック番号
j＝ シリアル番号
なお，C1バイトは，次による。
k＝ 0, 1,...,223
l＝ 0, 1
k＝ 0〜15，又は208〜223では，VPのDijはQij
C2バイトは，次による。
0≦m≦7
0≦n≦63
各セルに含む64個のバイトセットは，00〜63のシリアル番号で識別し，ブロック番号で識別するブロ
ックを構成する。
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X 6145 : 2000 (ISO/IEC 15780 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（参考） 輸送条件
この附属書（参考）は，カートリッジの望ましい輸送条件を記述するもので，規定の一部ではない。
H.1 環境条件 カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。
温度
：−40℃〜45℃
相対湿度 ：5%〜80%
湿球温度 ：26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
H.2 カートリッジの輸送条件 カートリッジの輸送は，次による。
H.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策を取ること
が望ましい。
a) カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。
d) カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵挨），水などの侵入がない構造とする。
e) カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。
f)
カートリッジの収納箱は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。
H.2.2 極端な温度及び湿度
a) 温度及び湿度の急激な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。
b) 輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。
H.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による
信号破壊の危険性を最小限にするため，80mm以上とする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考） 記録時再生 (RAW)
記録時再生 (RAW) は，フレームを記録した後に，正しく記録できたかどうかを検査し，正しく記録で
きていないときは，再記録するために，直ちに，そのフレームを再生することである。RAWは，フレーム
単位で行う。RAWを行うときは，テープのデータ領域だけで行うこととし，アンブルフレームで行っては
ならない。RAWを行うときは，他のフレームに適用したか否かにかかわらず，個々のフレームごとに適用
するかどうかを決めてもよい。RAW検査で，フレームが正しく記録できていないと判断すると，テープに
沿いその先に再記録する。再記録するフレームが，元のフレームを重ね書きすることはない。
RAW検査の第一の目的は，テープの欠陥によって発生する多量の誤りを含むフレームの検出である。し
たがって，すべてのチャネルビットが正しく再生できなくても必ずしも再記録を行う必要はない。データ
交換の信頼性は，記録品質及びデータデコード品質だけに十分な余裕をもつことが最小の要求事項である。
フレームの品質を検査する方法の例としては，ミッシングパルスの長さ，レベル及びレベルの分布，C1
符号又はC2符号によって検出された欠陥の数を数えること，記録及び再生のチェックサムを比較するこ
と，記録及び再生データの比較をサンプル期間又は常時行うことなどである。
フレームを再記録するときは，テープ上に複数の同じフレームが存在する可能性がある。それに引き続
く再生によって，フレームのデータが複数の部分から再生した場合，前に再生したフレームのデータは，
記録の失敗の可能性があるので，最後に再生したデータを使用することを推奨する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（参考） 基本グループ0の内容の例
この附属書（参考）は，基本グループ番号0の内容の例を記述するもので，附属書K図1に示すものと
し，規定の一部ではない。
バイト位置1〜バイト位置400のすべてのエントリの後に(00)が続き，残りのフィールドは(00)で埋める。
バイト位置
フィールドID
内容の説明
0〜127
製造業者名
パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置の製造業者の
名前ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
128〜159
モデル番号
パーティションの初期化又は記録を行ったテープ装置のモデル番号
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
160〜191
シリアル番号
テープ装置のシリアル番号
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
192〜223
改定番号
テープ装置構成部品の改定番号
192〜199サブアセンブリ1
200〜207サブアセンブリ2
208〜215サブアセンブリ3
216〜223サブアセンブリ4
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
224〜255
ホストインタフェースの
型式とアドレス
SCSIや接続アドレスなどの，ホストインタフェースの型式
224〜239ホストインタフェース型式
240〜255アドレス
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
256〜271
日時
パーティションの初期化又は記録を行った時期
YYMMDDHHMMSS
256〜257YY年＝1996＋YY
258〜259 MM月
260〜261 DD日
262〜263 HH時間
264〜265 MM分
266〜267 SS秒
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
272〜399
テープラベル又はID
パーティションの内容を示すインジケータ
ASCII文字列，ヌルで終わりパディングされる。
400〜22 271
確保
すべてのバイトを0に設定
22 272〜801 792
製造業者用データ
規定しない
附属書K図1 基本グループ0の内容の例
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
磁気テープJIS改正原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
大 石 完 一
パルステック工業株式会社
（幹事）
富 田 正 典
日本システムインテグレーション株式会社
（幹事）
徳 永 賢 次
日本ナドコ株式会社
（委員）
中 島 郁 志
ソニー株式会社
村 上 恒 夫
日本システムハウス株式会社
荒 木 学
日本ユニシス株式会社
益 田 憲 明
株式会社日立製作所
安 藤 晴 夫
日立マクセル株式会社
竹 内 正
株式会社トリム・アソシエイツ
船 越 正 次
TDK株式会社
小 林 政 吉
富士通株式会社
藤 原 圭 介
ソニー株式会社
川 田 道 孝
日本電気株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
永 松 荘 一
通商産業省機械情報産業局
橋 爪 邦 隆
通商産業省工業技術院
（事務局）
長谷川 久 子
社団法人日本電子工業振興協会