JISX6142:1995 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，デュアルアジマス様式

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

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1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

3. 引用規格 ························································································································ 1

4. 用語の定義 ····················································································································· 2

4.1 交流消去 ······················································································································ 2

4.2 アルゴリズム ················································································································ 2

4.3 平均信号振幅 ················································································································ 2

4.4 アジマス ······················································································································ 2

4.5 裏面 ···························································································································· 2

4.6 ビットセル ··················································································································· 2

4.7 バイト ························································································································· 2

4.8 カートリッジ ················································································································ 2

4.9 圧縮データ ··················································································································· 2

4.10 巡回冗長検査文字 ········································································································· 2

4.11 誤り訂正符号 ··············································································································· 2

4.12 磁束反転位置 ··············································································································· 2

4.13 磁束反転間隔 ··············································································································· 2

4.14 論理レコード ··············································································································· 2

4.15 磁気テープ ·················································································································· 2

4.16 標準テープ ·················································································································· 2

4.17 PBOT ························································································································· 2

4.18 PEOT ························································································································· 2

4.19 記録密度 ····················································································································· 2

4.20 副標準信号振幅 ············································································································ 2

4.21 副基準磁界 ·················································································································· 2

4.22 副標準テープ ··············································································································· 2

4.23 基準電流 ····················································································································· 3

4.24 テープ基準縁 ··············································································································· 3

4.25 試験記録電流 ··············································································································· 3

4.26 トラック ····················································································································· 3

4.27 ティピカル磁界 ············································································································ 3

4.28 非圧縮データ ··············································································································· 3

5. 環境条件及び安全性 ········································································································· 3

5.1 試験環境条件 ················································································································ 3

5.2 使用環境条件 ················································································································ 3

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5.3 保存環境条件 ················································································································ 3

5.4 輸送 ···························································································································· 3

5.5 安全性 ························································································································· 3

5.6 燃焼性 ························································································································· 3

6. カートリッジの寸法及び機械的特性 ···················································································· 3

6.1 概要 ···························································································································· 3

6.2 ····································································································································· 4

6.3 保持領域 ······················································································································ 4

6.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 4

6.5 ····································································································································· 5

6.6 ローディンググリッ ······································································································· 5

6.7 ラベル領 ······················································································································ 5

6.8 基準領域及び基準 ·········································································································· 5

6.9 支持領域 ······················································································································ 6

6.10 識別 ··························································································································· 7

6.11 書込み禁止 ·················································································································· 7

6.12 位置決め ····················································································································· 7

6.13 リッ ··························································································································· 8

6.14 リールロッ ·················································································································· 9

6.15 リール受け ·················································································································· 9

6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領 ················································································· 9

6.17 光通過経 ···················································································································· 10

6.18 ケース内のテープの位 ·································································································· 10

6.19 テープ走行領 ·············································································································· 11

6.20 テープ引出し開口 ········································································································ 11

6.21 テープ引出し開口部の要求事 ························································································· 11

7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 26

7.1 材料 ··························································································································· 26

7.2 長さ ··························································································································· 26

7.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 26

7.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 26

7.2.3 接合テープの長さ ······································································································· 26

7.3 幅 ······························································································································ 26

7.4 連続性 ························································································································ 26

7.5 厚さ ··························································································································· 26

7.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 26

7.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 26

7.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 26

7.7 カッピング ·················································································································· 26

7.8 塗布面の接着強 ············································································································ 26

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7.9 層間の粘着 ·················································································································· 27

7.10 引張強度 ···················································································································· 27

7.10.1 破断強度 ·················································································································· 27

7.10.2 降伏強度 ·················································································································· 27

7.11 残留伸び ···················································································································· 27

7.12 表面の電気抵抗 ··········································································································· 27

7.13 テープの巻き方 ··········································································································· 28

7.14 光透過率 ···················································································································· 28

8. 磁気記録特性 ················································································································· 28

8.1 試験条件 ····················································································································· 28

8.2 ティピカル磁界 ············································································································ 28

8.3 平均信号振幅 ··············································································································· 28

8.4 分解能 ························································································································ 28

8.5 狭帯域の信号対雑音比 (NB-SNR) ····················································································· 29

8.5.1 要求事項 ··················································································································· 29

8.5.2 試験方法 ··················································································································· 29

8.6 消去特性 ····················································································································· 29

8.7 テープの品質 ··············································································································· 29

8.7.1 ミッシングパルス ······································································································· 29

8.7.2 ミッシングパルスゾーン ······························································································ 29

8.8 不良テープ ·················································································································· 29

9. フォーマット ················································································································· 29

9.1 概要 ··························································································································· 29

9.2 情報マトリクス ············································································································ 30

9.2.1 情報マトリクスのロード ······························································································ 30

10. 記録方式 ····················································································································· 34

10.1 記録密度 ···················································································································· 34

10.1.1 長周期平均ビットセル長 ····························································································· 34

10.1.2 短周期平均ビットセル長 ····························································································· 34

10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 ················································································· 34

10.2 ビットシフト ·············································································································· 34

10.3 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 34

10.3.1 データ信号の平均信号振幅 ·························································································· 35

10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅 ·························································································· 35

10.4 消去 ·························································································································· 35

11. トラック ····················································································································· 35

11.1 トラックの位置 ··········································································································· 35

11.2 トラック間隔 ·············································································································· 36

11.2.1 隣接トラック間隔 ······································································································ 36

11.2.2 平均トラック間隔 ······································································································ 36

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11.3 トラック幅 ················································································································· 36

11.4 トラック角 ················································································································· 37

11.5 トラックエッジの直線性 ······························································································· 37

11.6 アジマス角 ················································································································· 37

12. トラックのフォーマット································································································· 37

12.1 チャネルビット ··········································································································· 37

12.2 情報セグメント ··········································································································· 37

12.2.1 ビット同期フィールド ································································································ 37

12.2.2 情報セグメント番号 ··································································································· 37

12.2.3 情報セグメントフィールド ·························································································· 38

12.3 情報ブロック ·············································································································· 39

12.4 物理トラックの形式 ····································································································· 39

12.4.1 T1トラック，T2トラックの構 ····················································································· 39

12.5 サーチフィールドゾーン ······························································································· 40

12.5.1 サーチフィールドデータゾー ······················································································· 40

12.5.2 サーチフィールドゾーンシーケンスの記録 ····································································· 42

12.6 サーボゾーン ·············································································································· 42

12.6.1 第1サーボゾーン ······································································································ 42

12.6.2 第2サーボゾーン ······································································································ 43

12.6.3 第3サーボゾーン ······································································································ 43

12.7 情報トラック ·············································································································· 43

12.7.1 フォーマットトラック ································································································ 43

12.7.2 データトラック ········································································································· 43

12.7.3 ロングテープマークトラック ······················································································· 43

12.7.4 ギャップトラック ······································································································ 43

12.7.5 エンドオブデータトラック ·························································································· 43

13. テープマーク ··············································································································· 43

13.1 ロングテープマーク ····································································································· 43

13.2 ショートテープマーク ·································································································· 43

14. エンドオブデータ ········································································································· 44

15. ID情報 ······················································································································· 44

15.1 物理ブロックID ·········································································································· 44

15.2 論理ブロックID ·········································································································· 44

15.3 論理レコードID ·········································································································· 44

15.4 ブロック形式 ·············································································································· 44

15.4.1 データブロック ········································································································· 45

15.4.2 ギャップブロック ······································································································ 45

15.4.3 フォーマットブロック ································································································ 46

15.4.4 ロング／ショートテープマークブロック ········································································ 46

15.4.5 エンドオブデータブロック ·························································································· 47

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6142-1995

(ISO/IEC 12246 : 1993)

8mm幅，ヘリカル走査記録，

情報交換用磁気テープカートリッジ，

デュアルアジマス様式

8 mm wide magnetic tape cartridge dual azimuth format for

information interchange−Helical scan recording

日本工業規格としてのまえがき

この規格は，1993年初版として発行されたISO/IEC 12246 (Information technology-8mm wide magnetic tape

cartridge dual azimuth format for information interchange−Helical scan recording) を翻訳し，技術的内容及び規

格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 適用範囲この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換用に用

いる8mm幅，ヘリカル走査記録，磁気テープカートリッジ（以下，カートリッジという。）の物理的特性

及び磁気的特性について規定する。この規格は，JIS X 0601とともに，テープカートリッジを媒体として

情報交換に使用できるように磁気テープカートリッジの記録信号の品質，フォーマット及び記録様式を規

定する。この規格は，JIS X 6141（8mm幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ）を

基本としているが，記録容量を2倍とするために，デュアルアジマス様式を用いている。記録様式は，可

変長論理レコード，高速サーチ及び登録されたデータ圧縮アルゴリズムを適用する。

2. 適合性カートリッジは，この規格のすべてを満たすとき，この規格に適合する。テープの要求事項

は，テープの全域について適用する。

3. 引用規格次の規格は，この規格がよりどころとしている規格を含んでいる。出版時に明示されてい

る版号が有効であるが，すべての規格は改正されるので，この規格の関係者は，次の最新のものを調査し

適用するよう推奨する。

ISO/R 527 : 1966 Plastics−Determination of tensile properties

ISO 1001 : 1986 Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for

information interchange

備考 JIS X 0601-1990 （情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成）が，この国際規格と

一致している。

ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ISO/IEC 11319 : 1993 Information technology−8 mm wide magnetic tape cartridge for

information interchange−Helical scan recording

ISO/IEC 11576 : 1993 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for

the lossless compression of data

IEC 950 : 1990 Safety of information technology equipment, including electrical business

equipment

4. 用語の定義この規格で用いる用語の定義は，次による。

4.1

交流消去 (a. c. erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

アルゴリズム (algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。

4.3

平均信号振幅 (Average Signal Amplitude) 規定の記録密度で記録したテープ上のミッシングパルス

がない部分の長さ1.40mm以上にわたって測定した読取りヘッドの出力電圧の平均ピーク値 (P−P)。

4.4

アジマス (azimuth) 磁束反転のトラックの中心線に垂直な直線に対する角度の偏差。

4.5

裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

4.6

ビットセル (bit cell) トラックに記録するデータの1ビットの領域。

4.7

バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。

4.8

カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻かれた磁気テープを収納したケース。

4.9

圧縮データ (compressed data) データ圧縮アルゴリズムによって変換処理したデータ。

4.10 巡回冗長検査文字 [Cyclic Redundancy Check (CRC) Character] 誤り検出及び誤り訂正のために巡回

符号として用いる文字。

4.11 誤り訂正符号 [Error Correcting Code (ECC)] 誤りを自動訂正できるように設計された符号。

4.12 磁束反転位置 (flux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となる点。

4.13 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。

4.14 論理レコード (logical record) ホストから送られて，情報の単位として取り扱うデータ。

4.15 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.16 標準テープ (Master Standard Reference Tape) 平均信号振幅，ティピカル磁界及び分解能の標準とし

て用いるテープ。

参考標準テープは，ソニー株式会社で管理されている。

4.17 PBOT (Physical Beginning of Tape) 磁気テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.18 PEOT (Physical End of Tape) 磁気テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.19 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録される磁束反転数

(ftpmm)。

4.20 副標準信号振幅 (Secondary Reference Amplitude) 副標準テープに記録密度2 236ftpmmの信号を試

験記録電流で記録したときの平均信号振幅。

4.21 副基準磁界 (Secondary Reference Field) 副標準テープのティピカル磁界。

4.22 副標準テープ (Secondary Standard Reference Tape) テープの平均信号振幅，ティピカル磁界及び分

解能を標準テープのそれらと比較するために用い，その特性と標準テープの特性との偏差が明示されて，

実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと標準テープとの特性の比較を行うことを可

能とするテープ。

参考副標準テープは，東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社記録メディア営業本部データメ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ディア営業部が，部品番号RSE-5001で2001年まで供給する。

4.23 基準電流 (Standard Reference Current) 副基準磁界を生じさせる記録電流。

4.24 テープ基準縁 (Tape Reference Edge) テープの記録面を上側にして水平に置き，繰出しリールが右

側となるように見たときのテープの下端。

4.25 試験記録電流 (Test Recording Current) 基準電流の1.5倍。

4.26 トラック (track) 磁気反転を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.27 ティピカル磁界 (Typical Field) 記録密度2 236ftpmmで連続する磁束反転を記録して，これを再生

するとき，その再生出力電圧が最大出力電圧（飽和値）の90%となる最小印加磁界。

4.28 非圧縮データ (uncompressed data) データ圧縮アルゴリズムによって変換処理されていないホスト

からのデータ。

5. 環境条件及び安全性次に規定する条件は，カートリッジ近傍の環境条件である。この条件を超えた

環境にさらされたカートリッジは，機能的に使用可能であっても恒久的な損傷を受ける原因となる。

5.1

試験環境条件試験環境条件は，規定がない限り次による。

温度

23℃±2℃

相対湿度

40%〜60%

試験前放置時間

24時間

5.2

使用環境条件使用環境条件は，次による。

温度

5℃〜45℃

相対湿度

20%〜80%

湿球温度

26℃以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合，使用環境条件以外の環境条件に放置し

た時間と同等以上又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。

参考急激な温度変化は，避けることが望ましい。

5.3

保存環境条件保存環境条件は，次による。

温度

5℃〜32℃

相対湿度

20%〜60%

湿球温度

26℃以下

周辺磁界は，テープ上で4 000A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は，結露しては

ならない。

5.4

輸送カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための諸注意は，附属書Dによる。

5.5

安全性カートリッジ及びその構成部品は，IEC 950の規定を満たさなければならない。

5.6

燃焼性カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチなどの炎によって着火してもよいが，二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

6. カートリッジの寸法及び機械的特性

6.1

概要カートリッジは，上ハーフ，下ハーフ，及び上ハーフに取り付けた回転式リッドからなり，

具体図は，次による。

図1は，上側から見たカートリッジの外観を示す。

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図2は，下側から見たカートリッジの外観を示す。

図3は，リッドが閉じた状態での上面を示す。

図4は，底面，基準領域及び支持領域を示す。

図5は，リッドを開いた状態での底面を示す。

図6は，基準孔及び識別孔の拡大を示す。

図7は，光通過経路孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面を示す。

図8は，リッドが閉じたとき，回転しているとき，及び開いたときの詳細を示す。

図9は，リッドロック解除用挿入溝の詳細を示す。

図10は，リッドロック解除の要件を示す。

図11は，リールロック解除の要件を示す。

図12は，リールロック解除に要する力の方向を示す。

図13は，リッドロック解除に要する力の方向を示す。

図14は，リッド開放に要する力の方向を示す。

図15は，光通過経路及び光窓を示す。

図16は，テープ走行領域及び光通過経路を示す。

図17は，リール及びその断面を示す。

図18は，リール及び駆動スピンドルの接触領域の断面を示す。

図19は，テープ引出し開口部を示す。

寸法は，三つの直交する基準面X，Y及びZに基づく。

6.2

全体の寸法（図3参照）リッドが閉じた状態でのケースの全体の寸法は，次による。

l1＝62.5mm±0.3mm

l2＝95.0mm±0.2mm

l3＝15.0mm±0.2mm

ケースの背面から基準面Xまでの距離は，次による。

l4＝47.35mm±0.15mm

ケースの右側面から基準面Yまでの距離は，次による。

l5＝13.0mm±0.1mm

6.3

保持領域磁気テープ装置にカートリッジを保持するときの保持領域は，図3の斜線部分とし，そ

の位置及び寸法は，次による。

l6≦12.0mm

l7≧ 3.0mm

6.4

カートリッジ挿入部カートリッジは，磁気テープ装置に誤った向きに挿入できないように溝，切

込み及びこう配面からなる非対称のカートリッジ挿入部を設ける。

溝は，リッドロック解除ピンの挿入領域を妨げないように設け，その位置及び寸法は，図3，図9及び

次による。

l8 ＝79.7mm±0.2mm

l9 ＝ 1.0mm±0.1mm

l10＝ 0.7mm±0.1mm

l11≧ 1.0mm

l12＝ 1.2mm±0.1mm

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l13＝ 0.8mm±0.1mm

l14＝ 1.2mm±0.1mm

l15＝ 0.5mm±0.1mm

l16＝ 1.5mm±0.1mm

l17＝ 1.0mm±0.1mm

l18＝ 3.8mm±0.1mm

l19＝ 0.2mm±0.2mm

l20≧ 2.3mm

l21＝ 2.5mm±0.2mm

切込みの寸法は，図3，図5及び次による。

l22≦7.5mm

l23＝11.0mm±0.2mm

l24＝1.5mm±0.1mm

l25＝1.5mm±0.1mm

リッドの一部は，こう配面とし，その寸法は，図8及び次による

l26＝7.7mm

0.05.2

+−

l27＝0.55mm

.010

+−

A1＝17.5°±4.0°

6.5

窓（図1参照）窓は，リールの一部が見えるように上面に設けてもよいが，カートリッジの高さ

を超えてはならない。

6.6

ローディンググリップ（図3参照）ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジを

自動的に装着するために設け，その位置及び寸法は，次による。

l28＝39.35mm±0.20mm

l29＝1.5mm±0.1mm

l30＝5.0mm±0.3mm

l31＝2.0mm±0.2mm

A2＝90°±5°

6.7

ラベル領域（図3参照）ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設ける。背面のラベルは，

磁気テープ装置に挿入又は積み重ねたときに目視でき，各ラベルの位置及び寸法は，カートリッジの機構

部の要求事項及び動作を妨げてはならない。

上面のラベル領域は，l6及びl7で規定した保持領域の内側に入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。

l32≧0.5mm

l33≧1.5mm

l34≦80.0mm

ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。

6.8

基準領域及び基準孔（図4，図5及び図6参照）環状の基準領域A，B及びCは，磁気テープ装

置に装着したときのカートリッジの垂直位置決めに用い，基準面Zとする（図4の斜線部参照）。それぞ

れの直径d1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。

基準孔A及びBの中心は，基準面X上とする。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

円形の基準孔Aの中心は，基準面X及びYの交線とする（図5参照）。

基準孔Bの中心から基準面Yまでの距離は，図4及び次による。

l35＝68.0mm±0.1mm

基準孔Cの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。

l36＝10.20mm±0.05mm

基準孔Dの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。

l37＝79.2mm±0.1mm

基準孔C及びDの中心から基準面Xまでの距離は，図5及び次による。

l38＝36.35mm±0.08mm

基準孔A及びCの直径は，3.00mm

mmとし，基準孔A及びCの寸法は，図6及び次による。

l39＝1.2mm

0.1

l40≧2.6mm

l41≧1.5mm

l42≧4.0mm

l43≦0.3mm

A3＝45°±1°

基準孔B及びDの寸法は，図6及び次による。

l39＝1.2mm

0.1

l40≧2.6mm

l41≧1.5mm

l42≧4.0mm

l43≦0.3mm

l44＝3.00mm

l45＝3.5mm±0.1mm

l46＝3.00mm±0.05mm

A3＝45°±1°

r1≧1.7mm

6.9

支持領域カートリッジの支持領域A，B，C及びDは，図4の網掛け部とする。支持領域A，B及

びCは，基準領域A，B及びCからそれぞれ±0.1mm以内で同一の平面上とする。支持領域Dは，基準面

Zから±0.15mm以内で同一の平面上とする。

カートリッジの端からl49の距離の領域は，支持領域から除かなければならない。

支持領域の位置及び寸法は，図4及び次による。

l35＝68.0mm±0.1mm

l47＝10.0mm±0.1mm

l48＝11.0mm±0.1mm

l49＝ 0.5mm±0.1mm

l50＝ 7.0mm±0.1mm

l51＝30.0mm±0.1mm

l52＝ 5.5mm±0.1mm

l53＝64.5mm±0.2mm

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.10 識別孔（図5，図6及び図7参照）識別孔は，図6に示す番号1から5までの5個を設け，それぞ

れの位置及び寸法は，次による。

l54＝43.35mm±0.15mm

l55＝ 3.7mm±0.1mm

l56＝ 2.3mm±0.1mm

l57＝ 6.4mm±0.1mm

l58＝ 3.7mm±0.1mm

l59＝ 2.3mm±0.1mm

l60＝ 6.4mm±0.1mm

l61＝79.0mm±0.2mm

すべての識別孔は，図7の断面F−Fに示す断面構造をもち，直径は，3.0mm±0.1mmとする。

識別孔の寸法は，次による。

l62＝1.2mm

3.01.0

+−

l63≧5.0mm

断面図の一つは，プラグで閉じた識別孔を示し，他方は，プラグが打ち抜かれた状態を示す。これらの

プラグは，最大0.5Nの力を加えても打ち抜かれてはならない。これらの識別孔の開閉の状態は，次による。

− 識別孔1は，閉じる。

− 識別孔2は，公称13μm厚テープの場合，閉じる。

− 識別孔2は，公称10μm厚テープの場合，開く。

− 識別孔3，4及び5は，閉じる。

6.11 書込み禁止孔（図6及び図7参照）書込み禁止孔の位置及び寸法は，次による。

l55＝ 3.7mm±0.1mm

l62＝ 1.2mm

3.01.0

+−

l63≧ 5.0mm

l64＝10.0mm±0.1mm

書込み禁止孔の直径は，3.0mm±0.1mmとする。

書込み禁止孔は，開いた状態で書込み禁止とし，閉じた状態で書込み可能とする。

書込み禁止孔は，可動の機構としてもよい。この場合，書込み禁止孔が目視できなければならない（図

3参照）。書込み禁止孔を閉じたとき，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止孔の開閉に要す

る力は，1Nから15Nまでとする。

6.12 位置決め面（図3及び図5参照）位置決め面は，磁気テープ装置に装着したとき，カートリッジ

のY方向の位置決めに用い，その位置及び寸法は，次による。

l25＝ 1.5mm±0.1mm

l65＝ 2.4mm01

−

l66＝ 2.4mm01

−

l67＝ 1.0mm±0.1mm

l68＝69.0mm±0.2mm

l69＝14.65mm±0.10mm

l70＝13.15mm±0.10mm

A4＝45°±1°

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.13 リッド（図3及び図8参照）装着，格納及び輸送のとき，テープを保護するリッドは，主リッド

及び副リッドからなる。

主リッドは，ケースに取り付けたピボットAを軸として回転する（図8参照）。ピボットAの位置は，

l27及び次による。

l71＝7.5mm±0.1mm

副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動くピボットBを軸として回転する。リッドが閉

じた状態では，ピボットBの位置は，次による。

l72＝7.0mm±0.1mm

l73＝10.1mm±0.1mm

副リッドの回転は，両側のカムによって，図8に示した経路で制御される。

リッドは，完全に開いた状態では，基準面Zと平行なl77に位置する平面を超えてはならない。

l74≧14.8mm

l75＝11.5mm±0.2mm

l76＝1.2mm±0.1mm

l77≦22.3mm

A5＝85°±2°

リッドは，部分的に開いた状態では，基準面Zと平行なl78に位置する平面を超えてはならない。

l78≦22.5mm

r2≦14.9mm

主リッドの位置及び寸法は，図3，図8及び次による。

l71＝7.5mm±0.1mm

l79≦8.4mm

l80＝15.2mm05

−

l81＝15.3mm03

−

l82＝13.15mm±0.10mm

r3＝14.7mm03

−

ロック機構は，装置の解除ピンによって解除される。リッドが閉じロックした位置のとき，リッドロッ

クの解除動作は，図10の斜線部に遮られてはならない。この領域の位置及び寸法は，図10及び次による。

l83＝2.0mm±0.1mm

l84＝6.3mm±0.2mm

l85＝1.2mm±0.1mm

A6＝45°±1°

A7＝15°±1°

リッドの解除機構は，解除ピンが図10の網掛け部にあるとき，作動しなければならない。この領域の位

置及び寸法は，図10及び次による。

l83＝2.0mm±0.1mm

l86＝8.2mm±0.2mm

l87＝0.7mm±0.2mm

A8＝15°±1°

リッドロックの解除に要する力は，図13に示す方向に0.25N以下とする。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

リッドを開く力は，図14に示す方向に1.0N以下とする。

6.14 リールロック（図11参照）リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り外すとき，ロック

されなければならない。

解除機構は，ケースの孔を通して動作するとき，その位置及び寸法は，図5及び次による。

l88＝34.5mm±0.1mm

l89＝35.85mm±0.15mm

l90＝ 4.0mm±0.1mm

l91≧ 6.5mm

解除ピンの動作面が基準面Xからl95にあるとき，リールは，ロックしてはならない。この位置では，

ロック機構とカートリッジの背面板の内側との間にl96のすき間がなければならない。解除機構の寸法は，

図11及び次による。

l92＝ 3.2mm

3.02.0

+−

l93＝ 4.0mm±0.1mm

l94＝39.0mm

l95＝41.75mm

l96≧ 0.5mm

l97≦ 7.8mm

l98＝ 4.0mm±0.1mm

A9＝60.0°±1.0°

r4≦ 0.3mm

リールロックの解除に要する力は，図12に示す方向に1.0 N以下とする。

6.15 リール受け孔（図5参照）二つの円形のリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設け，そ

の位置及び寸法は，次による。

l99＝23.00mm±0.05mm

l100＝11.40mm±0.05mm

l101＝46.2mm±0.1mm

d2＝18.80mm±0.05mm

6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域（図17及び図18参照）駆動スピンドルは，次の領域でリ

ールとかみ合わなければならない。

l102＝5.4mm±0.1mm

l103＝4.4mm±0.1mm

l104≦0.6mm

l105＝2.4mm±0.1mm

l106≦0.2mm

l107＝2.4mm±0.2mm

A10＝45°±1°

A11＝15°±1°

A12＝60°±1°

r5≦0.2mm

d3＝6.50mm

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

d4＝10.00mm

d5≦16.0mm

d6＝18.0mm01

−

リール駆動孔の深さl108は，直径d3の部分までとし，次による。

l108≧9.4mm

リールのスプリング力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持領域が基準面Zからl110の

位置にあるとき，図18に示す方向に0.6N±0.2Nとする。接触領域の寸法は，次による。

l109＝7.05mm±0.10mm

l110＝0.6mm±0.2mm

l111≦7.5mm

l112≦8.0mm

A13＝60°±1°

6.17 光通過経路（図5，図7，図15及び図16参照）光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープ

を検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径d7の通過孔から一辺がl116の正方形

の孔，及びリッドの光窓を遮られることなく通過しなければならない。

光通過経路の位置及び寸法は，次による。

l88＝34.5mm±0.1mm

l113＝8.35mm±0.10mm

l114≦0.5mm

l115＝6.05mm±0.10mm

l116＝2.5mm±0.4mm

l117≧12.5mm

l118＝3.8mm±0.1mm

l119＝2.5mm±0.4mm

l120＝6.05mm±0.10mm

A14＝45°±1°

A15＝5.50°±0.25°

d7＝6.5mm

6.18 ケース内のテープの位置（図16参照）テープは，基準面Xに平行な二つのガイドの間を通る。こ

の二つのガイドの間隔は，次による。

l121＝12.46mm±0.10mm

ガイド面は，r6の半径をもち，図16に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線としな

ければならない。ガイドの位置及び寸法は，次による。

l122＝76.28mm±0.30mm

l123＝27.15mm±0.20mm

l124＝31.15mm±0.20mm

l125＝9.67mm±0.10mm

r6≧1.5mm

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.19 テープ走行領域（図16及び図17参照）磁気テープ装置にカートリッジを挿入すると，テープは，

カートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テープ走行領

域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，次による。

l122＝76.28mm±0.30mm

l123＝27.15mm±0.20mm

l124＝31.15mm±0.20mm

l125＝9.67mm±0.10mm

l126＝23.0mm±0.1mm

l127≧0.3mm

l128＝46.2mm±0.2mm

l129＝11.4mm±0.1mm

l130≧0.3mm
d8＝16.05mm010

−

6.20 テープ引出し開口部（図5参照）磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置

のテープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。このテープガイドのためのテープ引出し開口部

の形状及び寸法は，次による。

r7＝2.3mm±0.1mm

r8＝24.15mm±0.10mm

l67＝1.0mm±0.1mm

l68＝69.0mm±0.2mm

l131＝3.81mm±0.10mm

なお，二つの半径r7の中心は，基準孔A及びBの中心とし，二つの半径r8の中心は，リール受け孔の

中心とする。

6.21 テープ引出し開口部の要求事項（図19参照）テープ引出し開口部の機構は，次の要求事項を満た

さなければならない。

l132≦1.2mm

l133＝1.15mm

l134＝14.0mm02

−

l135≧66.8mm

l136≧10.0mm

A16≦49°

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7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法

7.1

材料テープの記録面は，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレートフィルム又はこれと同等

品）上の片面に強固で柔軟性がある磁性材料を塗布しなければならない。テープの裏面は，磁性材又は非

磁性材を塗布してもよい。

リーダテープ及びトレーラテープは，テープのベースと同じか又は同等の材質とし，表面及び裏面に塗

布があってはならない。

7.2

長さ

7.2.1

磁気テープの長さテープのPBOTからPEOTまでの長さは，14.72m〜113mとする。

7.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さリーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜

90mmとする。

7.2.3

接合テープの長さ接合テープの長さは，13mm以下とする。

7.3

幅磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとし，最大値と最小値との差は，6μm以下とする。

リーダテープ，トレーラテープ及び接合テープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。

磁気テープの幅の測定方法は，次による。

顕微鏡用のスライドグラスを試験片にかぶせる。少なくとも2.5μmの精度の顕微鏡，投影器又はこれと

同等の装置を使用し，張力をかけずに幅を測定する。長さ1m以上のテープについて異なる位置5か所以

上の測定を繰り返す。測定した値の平均をテープの幅とする。

7.4

連続性テープは，PBOTからPEOTまでに継目があってはならない。

7.5

厚さ

7.5.1

磁気テープの厚さこの規格では，厚さが異なる2形式のテープを規定し，それら磁気テープの厚

さは，全幅にわたり12.0μm〜14.0μm又は9.2μm〜11.2μmとする。

7.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さリーダテープ及びトレーラテープの厚さは，13μm〜

17μmとする。

7.6

長手方向の湾曲長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。

試験方法は，次による。

長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以下と

する。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。

7.7

カッピングカッピングは，平面から磁気テープの幅方向での浮き上がり量とし，0.9mm以下とす

る。

試験方法は，次による。

テープを長さ1.0m±0.1mに切り取る。塗布面を露出するように垂らして，試験環境条件に3時間以上

放置する。このテープの中央部分から，長さ25mmの試験片を切り取る。この試験片を，テープの一方の

切断部を下側にして高さ25mm以上，内径8mmの円筒内に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立

てて載せ，試験片の基準縁と反対側の縁とをコンパレータの十字線にそろえて，十字線から試験片の中心

までの距離を測定する。

7.8

塗布面の接着強度（図20参照）塗布面をテープのベース材料からはがす力は，0.10N以上とする。

試験方法は，次による。

長さ380mmのテープの試験片を取り，一方の端から125mmの位置でテープの幅方向にけがき線をベー

ス面に達するまで引く。塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属

の板に張り付ける。けがき線に平行に，試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試

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験機に取り付けて，254mm/minで引っ張る。塗布面のいかなる部分でも，最初にベースからはがれたとき

の力を記録する。この力が0.10Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれる場合，別の種類の両

面接着テープを使用しなければならない。テープの裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験

を行う。

図20 塗布面の接着強度の試験方法

7.9

層間の粘着テープの試験片は，粘着又は塗布面のはがれの徴候があってはならない。

試験方法は，次による。

直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。1.1Nの張力でガラス管にテープを巻

く。巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。さらに，試験環境条

件に24時間放置する。試験片の自由端に0.1Nの力をかけ，ゆっくりとほどく。

7.10 引張強度引張強度は，ISO/R527の測定方法によって試験したとき，次による。

試験片の長さは，200mmとし，引張り速度は，100mm/minとする。 (ISO/R527, rateD)

7.10.1 破断強度破断強度は，試験片が破断するまで負荷をかけたときとし，その値は，17.6N以上とす

る。

7.10.2 降伏強度降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，その値は，4.9Nを超えなければな

らない。

7.11 残留伸び残留伸びは，元のテープ長の0.03%未満とする。

試験方法は，次による。

0.20N以下の張力で約1mの長さの試験片の初期の長さを測定する。さらに，全断面積に対し，20.5N/mm2

の力を10分間加える。加えた力を除き，10分経過後にテープの長さを測定する。

7.12 表面の電気抵抗表面の電気抵抗は，次による。

裏面が塗布されていないテープの記録面

105Ω〜5×108Ω

裏面が塗布されているテープの記録面

105Ω〜5×1012Ω

裏面が塗布されているテープの裏面

9×108Ω未満

試験方法は，次による（図21参照）。

テープの試験片を試験環境条件に24時間放置する。24カラットの金めっきをした半径r＝10mmで，粗

さをN4（ISO 1302参照）で仕上げてある二つの半円の電極に，記録面が接するように置く。これらの電

極は，水平で，かつ，中心間の距離d＝8mmとなるように平行に置く。試験片の両端に5N/mm2の力を加

える。電極に100V±10Vの直流電圧を加えて，電流を測定する。この値から表面の電気抵抗を算出する。

この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの表面の電気抵抗の平均を求める。テープ

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の裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験を行う。試験片を電極に置くとき，電極の間にテ

ープの試験片以外の導電性の物質があってはならない。

参考表面は，清浄にするのがよい。

図21 表面の電気抵抗の試験方法

7.13 テープの巻き方テープの巻き方は，テープの磁性面を外側とする（図1参照）。

7.14 光透過率磁気テープの光透過率は，5%以下とする。

リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60%以上とする。

光透過率の測定方法は，附属書Aによる。

8. 磁気記録特性磁気記録特性の試験は，次に示す試験項目による。

この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，副標準テープ及び供試テープ共に同じ装置上の

同じ走行系（記録同時読取りをするか，記録同時読取り機能がない装置の場合，記録後の1回目の再生時

に読み取る）を使用する。

8.1

試験条件磁気記録特性の試験条件は，規定がない限り，次による。

テープの状態

残留する信号の振幅が記録密度2 236 ftpmmでの平均信号振幅の2%

以下になるように交流消去する。

ヘッドとテープの相対速度

3.759m/s±0.2%

トラック幅

25μm±1μm

アジマス

−10.000°±0.133°

ギャップ長

0.30μm±0.05μm

テープの張力

0.117 0N±0.009 8N

記録電流

試験記録電流

8.2

ティピカル磁界ティピカル磁界は，副基準磁界の80%〜120%とする。

8.3

平均信号振幅平均信号振幅は，記録密度2 236ftpmmを記録したとき，副標準信号振幅の70%〜

130%とする。ただし，ミッシングパルスを除く。

8.4

分解能分解能は，記録密度2 236ftpmmの平均信号振幅を記録密度745.33ftpmmの平均信号振幅で

除した値とし，副標準テープを用いて測定したときの値の80%〜120%とする。

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8.5

狭帯域の信号対雑音比 (NB-SNR) 狭帯域の信号対雑音比は，実効電力の平均信号振幅を雑音の実

効電力の積分（側帯波）で除した値とし，デシベル (dB) で表す。

8.5.1

要求事項 NB-SNRは，トラック幅を25μmとしたとき，34dB以上とする。

次の式によって算出する。

log

)

(

)

(

ここに， W：測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅 (μm)

8.5.2

試験方法試験方法は，分解能3kHz及びビデオ帯域幅30Hzのスペクトラムアナライザを使用し，

次による。

記録密度2 236ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ6m以上にわたり，150か所以上のサンプルについ

て測定する。次の走行（再生時）でテープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電力

を3.59MHzから3.96MHzまで，実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。

8.6

消去特性消去特性は，記録密度2 236ftpmmの試験記録電流と等しい記録電流で，記録密度

745.33ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に320 000A/mの均一な磁界中を通過したときの残留

した信号振幅で表し，その値は，副標準信号振幅の2%以下とする。

消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。この測定は，バンドパス

フィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。

8.7

テープの品質

8.7.1

ミッシングパルスミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損とし，再生信号振幅のピーク値 (0-P)

を記録密度2236ftpmmの平均信号振幅 (P−P) の21の25%以下とする。

8.7.2 ミッシングパルスゾーンミッンングパルスゾーンは，7個の連続したミッシングパルスで始まり，

28個の連続した磁束反転を検出したとき，又はトラックの0.038mmの長さを検出したとき終了する。そ

れ以後のミッシングパルスは，次のミッシングパルスゾーンとする。

一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。

平均ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，検出したミッシングパルスゾーンの数をテープに記録した

磁束反転数の合計で除した値とし，その値は，2 236ftpmmの密度で記録したとき，2×10−7未満でなけれ

ばならない。

8.8

不良テープ不良テープの規格値は，この規格では規定しない。

なお，不良テープの特性は，附属書Eに示す。

9. フォーマット

9.1

概要記録するデータは，ホストコンピュータからテープサブシステムへ送られる。テープサブシ

ステムは，テープ上に記録する前に付加情報をこのデータに加える。付加情報は，可変長の論理レコード

の形式をもったホストデータと固定長の物理ブロックとの関係の定義を含む。さらに，ホストデータを記

録するとき，テープサブシステムは，圧縮データか，又は非圧縮データかを識別する。

参考このフォーマットを用いる既存の装置は，1Kバイト〜240Kバイトの論理レコード長を使用し

ている。この規格は，誤り検出符号及び誤り訂正符号の使用を含み，ホストコンピュータから

受信したデータの処理，並びにテープ上への記録方法及びテープの記録形式について規定する。

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9.2

情報マトリクスホストコンピュータからの受信データは，情報マトリクスと呼ぶ二次元のグルー

プに配置する。

情報マトリクスは，60列×24行に配置した1 440セルで構成する。各セルは，1データバイトで構成し，

行番号及び列番号によって識別する。

情報マトリクスは，次による。

ID情報

14バイト（15.参照）

データバイト

1 024バイト（9.2.1.1.2参照）

CRCバイト

2バイト（9.2.1.2参照）

水平ECバイト

160バイト（9.2.1.3.1参照）

垂直ECバイト

240バイト（9.2.1.3.2参照）

合計

1 440バイト

図22 情報マトリクス

9.2.1

情報マトリクスのロード各セルは，00列／00行から59列／23行の書式で，列及び行によって

識別する。CRCバイト及びECバイトの計算データの付加は，EXCLUSIVE-OR演算による。

9.2.1.1

G1グループ G1グループは，ID情報の14バイト，及びその他の1 024バイトで構成する。

9.2.1.1.1

ID情報 ID情報は，00列／00行から00列／13行のセルに格納する。これらの各バイトの内

容は，15.で規定する。

9.2.1.1.2

データバイトホストコンピュータからのデータバイトは，00列／14行〜00列／19行に，次

に02列／00行〜02列／19行に，更に50列／19行までの偶数列に順次格納する。その後，01列／00行〜

01列／19行に格納し，以下51列/17行までの奇数列に順次格納する。これらは，次の五つの規則による。

規則1：ホストコンピュータからのユーザデータバイトが，情報マトリクスで2個を超える論理レコー

ドを構成するとき，情報マトリクスの3番目以降の論理レコードの最初のユーザデータバイトに先立ち，2

バイトグループを順次2個のセルに格納する。

バイト0：

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ビット7〜5

：

“0”とする。

ビット4

：

論理レコードのユーザデータがテープサブシステムで圧縮処理さ

れていれば“1”，圧縮処理されていなければ“0”とする。

ビット3

：

論理レコードが情報マトリクスで最終の論理レコードであれば

“1”，最終の論理レコードでなければ“0”とする。

ビット2

：

論理レコードがこの情報マトリクスで終了すれば“1”，この情報

マトリクスで終了しなければ“0”とする。

ビット1，0及びバイト1

：

情報マトリクスに含まれている論理レコードのバイト数を2進数

で表示する。バイト1のビット0は，最下位ビットとする。フォ

ーマットブロックのバイト4のビット7が“1”であれば，この数

は，情報マトリクスの中にあるCRCバイトも含まなければならな

い。

規則2：フォーマットブロックのバイト4のビット7が“1”に設定され，この論理レコードが情報マト

リクスの中で終了しているとき，この論理レコードのユーザデータについて2個のCRCバイトを算出し，

順次この論理レコードの最終バイトのセルに格納しなければならない。15.3の規定によって，テープ上の

最初の論理レコードは，論理レコード0とする。論理レコードの最初のバイトは，バイト0とする。2個

のCRCバイトは，次によって算出する。

∑

)

(

∑−

−

)

(

)

(

)

(

)

(

GCRC

)

(

mod

)

(

)

(

CRC

∑

)

(

)

(

ここに，

Dk：論理レコードのk番目のバイト

Dk, j： k番目のバイトのj番目のビット

n：論理レコードの中のユーザデータバイト数

CH0, CH1,…, CH7： CH7を最上位ビットとする第1CRCバイト (CH)

CL0, CL1,…, CL7： CL7を最上位ビットとする第2CRCバイト (CL)

規則3：テープサブシステムは，ユーザデータを圧縮処理するとき，規定の圧縮アルゴリズム（15.4.3

参照）を使用しなければならない。

また，圧縮処理したユーザデータは，偶数バイトになるように“0”を詰め，情報マトリクスに格納する。

規則4：データバイトの数が1 024未満のとき，残りのバイトは，すべて“0”とする。G1グループは，

データバイトを含まない場合もある（12.3参照）。

規則5：データバイトがデータブロックの終わりであれば（12.3及び14.参照），バイト14のビット1〜7

は“0”とし，バイト14のビット0及びバイト15〜17は，このテープ上の最初のEODブロックの物理ブ

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ロックID番号より1少ない物理ブロックID番号を25ビットで表す。

9.2.1.2

G2グループ G2グループは，G1グループにCRC1及びCRC2の2バイトを付加する。このCRC

の2バイトは，G1グループの1 038バイトについて算出し，51列／18行及び51列／19行のセルに格納す

る。

このCRCバイトの生成は，次による。

∑

jxj

)

(

∑

−

037

)

039

(

)

(

)

(

)

(

GCRC

)

(

mod

)

(

)

(

CRC

∑

)

(

)

(

ここに，

Dk： c列とr行のバイト

k＝ 0〜1 037

k＝ (10c＋r) ：cが偶数のとき

k＝ (10c＋r＋510)：cが奇数のとき

c＝ 0〜51

r＝ 0〜19

Dk, 0, Dk, 1, …, Dk, 7： Dk, 7を最上位ビットとするDkの8ビット

CH0, CH1, …, CH7： CH7を最上位ビットとする第1CRCバイト

(CRC1)

CL0, CL1, …, CL7： CL7を最上位ビットとする第2CRCバイト

(CRC2)

9.2.1.3

誤り訂正符号 (ECC) ECCは，リードソロモン符号 (30, 26, 5) を水平符号，リードソロモン符

号 (24, 20, 5) を垂直符号とし，水平ECバイトと垂直ECバイトの2種類の検査バイトを生成する。

ECCの変換演算子は，次による。

]

[

];

[

−

ここに，

T [A]： 8ビットECバイトの線形変換演算子

T−1 [B]： 8ビットECバイトの逆線形変換演算子

バイトAとバイトBの相互変換は，次による。

B0＝A0＋A2＋A3＋A5＋A7

A0＝B5

B1＝A3＋A4＋A6＋A7

A1＝B4

B2＝A0＋A6＋A7

A2＝B3＋B7

B3＝A0＋A1＋A6

A3＝B2＋B6＋B7

B4＝A1

A4＝B1＋B5＋B6＋B7

B5＝A0

A5＝B0＋B4＋B5＋B6

B6＝A1＋A2＋A3＋A7

A6＝B3＋B4＋B5

B7＝A0＋A1＋A2＋A6

A7＝B2＋B3＋B4

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに，

A0, A1, …, A7： A7を最上位ビットとするバイトAの8ビット

B0, B1, …, B7： B7を最上位ビットとするバイトBの8ビット

ガロア体GF (28) の生成多項式は，次の式による。

)

(

Gα

Bは，ガロア体GF (28) の任意の元とし，次の式によって算出する。

∑

ここに，

B0, B1, …, B7： B7を最上位ビットとするバイトBの8ビット

G (x) は，次の式によって定義する。

∏

−

)

(

)

(

9.2.1.3.1

G3グループ G3グループは，G2グループに水平ECバイトを付加する。

Dc，rは，cを0〜51の列番号，rを0〜19の行番号とし，G2グループのバイトを表す。

DHEr (x) は，r行の偶数列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CREk, r] は，r行の偶数列の水

平ECバイトの変換，CREk, rは，r行の偶数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算出する。

∑

−

)

]

[

)

(

DHE

∑

−

[

)

(

mod

)

(

CRE

DHE

]]

[

CRE

DHE

−

ここに， r＝0, 1, …, 19

k＝1, 2, 3, 4

CREk, rは，c＝50＋2kとするc列及び各r行のセルに格納する。

DHOr (x) は，r行の奇数列のバイトが変換した値を係数とする多項式，T [CROk, r] は，r行の奇数列の水

平ECバイトの変換，CROk, rは，r行の奇数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算出する。

∑

−

]

[

)

(

DHO

∑

−

[

)

(

mod

)

(

CRO

DHO

]]

[

CRO

−

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに， r＝0, 1, …, 19

k＝1, 2, 3, 4

CROk, rは，c＝51＋2kとするc列及び各r行のセルに格納する。

9.2.1.3.2

G4グループ G4グループは，G3グループに垂直ECバイトを付加する。

Dc, rは，cを0〜59の列番号，rを0〜19の行数番号として，0行〜19行のすべての列で構成するG3グ

ループの各バイトを表す。

DVc (x) は，c列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CCc, k] は，c列の中の垂直ECバイトの

変換，CCc, kは，c列の中の垂直ECバイトを表し，それぞれは次の式によって算出する。

∑

−

[

∑

−

[

)

(

mod

)

(

]]

[

−

ここに， c＝0, 1, …, 59

k＝1, 2, 3, 4

CCc, kは，r＝19＋kとするc列及びr行のセルに格納する。

10. 記録方式データの記録方式は，データが“1”のときは，ビットセルの中央で磁化を反転し，データ

が“0”のときは，磁化を反転しないNRZ1方式とする。

10.1 記録密度最大記録密度は，2 236ftpmmですべて“1”を記録したときとし，この公称ビットセル長

は，0.447μmとする。

10.1.1 長周期平均ビットセル長各トラックの長周期平均ビットセル長は，連続する140 083個以上のビ

ットセルにわたる平均とし，その値は，0.447μm±0.2%とする。

10.1.2 短周期平均ビットセル長短周期平均ビットセル長は，任意の16個以上のビットセルの平均とし，

その値は，直前のトラックの長周期平均ビットセル長の0.35%を超えて変化してはならない。

10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率短周期平均ビットセル長の変動率は，任意の二つの連続する

16ビットセル (STAn, STAn＋1) の長さの変動と一つの連続する16ビットセル (STAn) の長さの比とし，そ

の値は，次の式で算出し，0.05%以下とする。

(%)

100

1×

−

STA

変動率

10.2 ビットシフト任意のビット“1” のゼロ交差の最大位置誤差は，ミッシングパルスを除いて，短

周期平均ビットセル長による公称位置から25%を超えて偏移してはならない。測定方法は，附属書Bによ

る。

10.3 情報交換時の再生信号振幅

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表1 情報セグメント番号

情報セグメント番号

記録パターン

情報セグメント番号

記録パターン

1 1 1 1 1 1 1 0 1 1

1 1 0 1 1 1 1 1 1 1

1 1 1 1 1 1 1 1 0 1

1 1 0 1 1 1 1 1 0 1

1 1 1 1 1 1 0 1 1 1

1 1 0 1 1 1 1 0 1 1

1 1 1 1 1 1 0 1 0 1

1 1 0 1 1 1 0 1 0 1

1 1 1 0 1 1 1 0 1 1

1 0 1 1 1 1 1 1 1 1

1 1 1 0 1 1 1 1 0 1

1 0 1 1 1 0 1 1 0 1

1 1 1 0 1 1 0 1 1 1

1 0 1 1 0 1 0 1 1 1

1 1 1 0 1 1 0 1 0 1

1 0 1 1 0 1 0 1 0 1

1 1 0 1 0 1 1 0 1 1

1 1 1 0 1 1 1 1 1 1

1 1 0 1 0 1 1 1 0 1

1 1 1 1 1 0 1 1 1 1

1 1 0 1 0 1 0 1 1 1

1 1 1 1 1 0 1 1 0 1

1 1 0 1 0 1 0 1 0 1

1 1 1 1 1 0 1 0 1 1

1 0 1 1 1 1 1 0 1 1

1 1 1 0 1 0 1 1 1 1

1 0 1 1 1 1 1 1 0 1

1 1 1 0 1 0 1 1 1 1

1 0 1 1 1 1 0 1 1 1

1 1 1 0 1 0 1 1 0 1

1 0 1 1 1 1 0 1 0 1

1 1 1 0 1 0 1 0 1 1

1 0 1 0 1 1 1 0 1 1

1 0 1 0 1 1 1 1 1 1

1 0 1 0 1 1 1 1 0 1

1 0 1 1 1 0 1 1 1 1

1 0 1 0 1 1 0 1 1 1

1 0 1 1 1 0 1 1 0 1

1 0 1 0 1 1 0 1 0 1

1 0 1 1 1 0 1 0 1 1

1 1 1 1 0 1 1 1 1 1

1 0 1 1 1 1 1 1 1 1

1 1 1 1 0 1 1 1 0 1

1 0 1 0 1 0 1 1 1 1

1 1 1 1 0 1 0 1 1 1

1 0 1 0 1 0 1 0 1 1

1 1 1 1 0 1 0 1 0 1

1 1 0 1 1 0 1 0 1 1

ビット位置

10 1

ビット位置

10 1

12.2.3 情報セグメントフィールド情報セグメントフィールドは，情報マトリクスから順次読み取った

30データバイトを表す300チャネルビットからなる。

情報マトリクスの各行 (R) は，二つの情報セグメントフィールド00〜29列と30〜59列とに分割する。

これらの情報セグメントフィールドは，図25に示すように番号付けすることとし，この番号順に読み取

らなければならない。

図25 情報マトリクスセグメントフィールドの分割

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図27 サーチフィールドデータゾーン

バイト0〜2

これらのバイトは，LBOTからその以前のトラックまでに記録したロングテープマーク及びショートテ

ープマークの数で表す。最初のテープマーク以前のトラックのバイトは，計数を0とする。計数は，1個

以上のロングテープマークブロックを含むT1トラックごとに一つずつ増加する。

ショートテープマークブロックのID情報バイト0のビット5を “1” に設定しているとき，再書込みを

意味し，このショートテープマークブロックでは，計数を行わない。その他のショートテープマークブロ

ックについては，計数を行う。

バイト3〜6

これらのバイトは，このトラックの以前に記録した論理レコードID番号の最大値を表す。

バイト7〜10

これらのバイトは，直前に記録したトラックに含まれる物理ブロックID番号の最大値を表す。

バイト11

このバイトは，すべて “0” とする。

バイト12

ビット7は，EODトラックのときだけ “1” とし，その他のとき “0” とする。ビット6〜0は， “0” と

する。

バイト13〜16

これらのバイトは，フォーマットトラックのとき，すべて “0” とし，その他のトラックでは，現在のト

ラック以前に記録されたトラックのコピーであることが確認されていない論理ブロックID番号の最小値

をnとしたとき，n−1とする。ただし，nが0のとき，これらのバイトは “0” とする。

バイト17〜20

これらのバイトは，フォーマットトラックのとき，すべて “0” とし，その他のトラックのとき，LBOT

とこのトラックとの間に記録した論理ブロックID番号の最大値とする。

バイト21〜22

これらのバイトは，すべて “0” とする。

バイトCHとCL

これらのバイトは，サーチフィールドデータゾーンの23情報バイトについて算出した検査バイトとする。

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

これらのバイトは，次式によって生成する。

∑

−

)

(

)

(

mod

)

(

∑

ここに，

k＝0〜22

α1は，ガロア体GF (28) の元で，次の式で生成する。

)

(

12.5.2 サーチフィールドゾーンシーケンスの記録

12.5.2.1 T1 T1トラックは，3サーチフィールドゾーンをもつ。

第1サーチフィールドゾーンは，3 760チャネルビットの長さとし，プリアンブルに続いて80チャネル

ビット (“1”) とサーチフィールドデータゾーンとを10回繰返し記録した後，160チャネルビット (“1”) を

記録する。

第2サーチフィールドゾーンは，3 870チャネルビットの長さとし，第4情報ブロックの後に55個のチ

ャネルビット (“1”) を記録し，これに続いて80チャネルビット (“1”) とサーチフィールドゾーンとを10

回繰返し記録し，更に215チャネルビット (“1”) を記録する。

第3サーチフィールドゾーンは，2 520チャネルビットの長さとし，第8情報ブロックの後に80チャネ

ルビット (“1”) とサーチフィールドゾーンとを7回繰返し記録する。

12.5.2.2 T2 T2トラックは，5サーチフィールドゾーンをもつ。

第1サーチフィールドゾーンは，800チャネルビットの長さとし，第1情報ブロックに先立ってサーチ

フィールドデータゾーン，80チャネルビット (“1”)，サーチフィールドデータゾーン及び160チャネルビ

ット (“1”) を記録する。

第2サーチフィールドゾーンは，360チャネルビットの長さとし，第4情報ブロックに続いて80チャネ

ルビット (“1”) 及びサーチフィールドデータゾーンを記録する。

第3サーチフィールドゾーンは，800チャネルビットの長さとし，第5情報ブロックに先立ってサーチ

フィールドデータゾーン，80チャネルビット (“1”)，サーチフィールドデータゾーン及び160チャネルビ

ット (“1”) を記録する。

第4サーチフィールドゾーンは，360チャネルビットの長さとし，第8情報ブロックに続いて80チャネ

ルビット (“1”) 及びサーチフィールドデータゾーンを記録する。

第5サーチフィールドゾーンは，640チャネルビットの長さとし，ポストアンブルの直前にサーチフィ

ールドデータゾーン，80チャネルビット (“1”) 及びサーチフィールドデータゾーンを記録する。

12.6 サーボゾーンサーボゾーンは，記録したトラックとヘッドとの相対位置を決めるために使用し，

T2トラックだけに記録する。T2トラック上のサーボゾーンは，3個とする。

12.6.1 第1サーボゾーン第1サーボゾーンは，プリアンブルに続いて797チャネルビット (“1”)，

745.33ftpmmで記録した長さが356μm（797チャネルビットに相当）の信号及び957チャネルビット (“1”)

を記録する。

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

12.6.2 第2サーボゾーン第2サーボゾーンは，第2サーチフィールドゾーンに続いて，957チャネルビ

ット (“1”)，745.33ftpmmで記録した長さが356μm（797チャネルビットに相当）の信号及び957チャネル

ビット (“1”) の長さを記録する。

12.6.3 第3サーボゾーン第3サーボゾーンは，第4サーチフィールドゾーンに続いて，957チャネルビ

ット (“1”)，745.33ftpmmで記録した長さが356μm（797チャネルビットに相当）の信号及び957チャネル

ビット (“1”) を記録する。

12.7 情報トラック情報トラックは，次の5形式とする。

− フォーマットトラック

− データトラック

− ロングテープマークトラック

− ギャップトラック

− エンドオブデータトラック

12.7.1 フォーマットトラックフォーマットトラックは，フォーマットブロックで構成する（15.4.3参照）。

第1フォーマットトラックの第1フォーマットブロックは，物理ブロックID番号を0としなければな

らない。物理ブロックID番号は，15.1で規定するすべてのトラックのすべてのブロックの順序で割り付

ける。LBOT領域は，320番目のフォーマットトラックで終わる。320番目のフォーマットトラックのブロ

ック8は，物理ブロックID番号を2 559 [2 559＝(320×8)−1] とする。

12.7.2 データトラックデータトラックは，データブロック，ギャップブロック及び／又はショートテー

プマークブロックで構成する（15.4.1，15.4.2，15.4.4参照）。

12.7.3 ロングテープマークトラックロングテープマークトラックは，ロングテープマークブロックで構

成する（15.4.4参照）。

12.7.4 ギャップトラックギャップトラックのすべてのブロックは，ギャップブロックで構成する（15.4.2

参照）。ギャップトラックの位置と数は，次の事項を除いて規定しない。

a) ギャップトラックは，LBOT領域にあってはならない。

b) ギャップトラックは，シングルロングテープマークのロングテープマークトラックの間にあってはな

らない。

c) ギャップトラックは，EODトラックの間に発生してはならない。

12.7.5 エンドオブデータトラックエンドオブデータトラックは，15.4.5の規定によるエンドオブデータ

ブロックで構成する。

13. テープマークテープマークは，記録したユーザデータのグループの境界を定めるために使用し，二

つの形式とする。

13.1 ロングテープマークロングテープマークは，2ギャップトラック，2ロングテープマークトラック

及び2ギャップトラックで構成する。ロングテープマークは，T1トラックから始まらなければならない。

ID情報（15.4.4参照）は，物理ブロックID番号を除いて，ロングテープマークの2個のロングテープ

マークトラックのすべてのブロックについて同じとする。

13.2 ショートテープマークショートテープマークは，1物理ブロックで構成する。

参考ショートテープマークは，再書込みしてもよい（16.参照）。ショートテープマークブロックは，

データブロックの再書込みに先行してもよく，また後続の複数のデータブロックは，ショート

テープマークの再書込みに先行してもよい。

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

14. エンドオブデータテープ上のエンドオブデータは，600エンドオブデータトラック及びそれに先行

し連続した2個のギャップトラックで表す。エンドオブデータは，T1トラックから始まらなければならな

い。

データを追加したとき，エンドオブデータトラックは，重ね書きしなければならない。

15. ID情報トラックの8情報ブロックは，それぞれ14バイトのID情報をもつ。これらのバイトは，テ

ープサブシステムの管理のためテープサブシステムが供給し，使用する。情報マトリクスフィールドの00

列の00〜13行は，ユーザデータブロックの論理的分割及び物理的分割に関する情報，ブロック形式，スタ

ート／エンド物理ブロックフラグ並びにその他のサブシステム制御情報を含まなければならない。

15.1 物理ブロックID 物理ブロックIDは，0から始まり，テープ上に記録した各物理ブロックごとに一

つずつ加算する。バイト7のビット7及びバイト11〜13は，すべてのブロック形式のID情報の中に計数

を25ビットで表す。バイト13のビット0は，この25ビットの計数値の最下位ビットとする。LBOT領域

に続く最初の物理ブロックの物理ブロックID番号は，2 560とする。

15.2 論理ブロックID 論理ブロックIDは，0から始まり，LBOTから記録する各データブロック，ロン

グテープマーク，ショートテープマークブロック又はエンドオブデータブロックごとに一つずつ加算する。

バイト0のビット4及びバイト1〜3は，データブロック，ロングテープマークブロック，ショートテープ

マークブロック又はエンドオブデータブロックのID情報の中に25ビットの計数値で表す。バイト3のビ

ット0は，この25ビット計数値の最下位ビットとする。

この計数値は，再書込みしたデータブロック又はショートテープマークブロックについて加算してはな

らない。

15.3 論理レコードID 論理レコードIDは，0から始まり，LBOTからそのテープに記録した各論理レコ

ード，ロングテープマーク又はショートテープマークブロックごとに一つずつ加算する。バイト7のビッ

ト0〜6及びバイト8〜10は，偶数番号の論理ブロックIDをもつデータブロック，ロングテープマークブ

ロック，ショートテープマークブロック又はエンドオブデータブロックのID情報の中に計数を31ビット

で表す。バイト10のビット0は，この31ビットの計数の最下位ビットとする。

15.4 ブロック形式バイト0のビット3〜0の内容は，ブロック形式を示す。

ビット3210

0000

：ユーザデータが非圧縮であるデータブロックを表示。

0001

：第1論理レコードを圧縮処理し，もし，第2レコードがあればそのレコードを圧縮

処理していないデータブロックを表示。

0010

：第2論理レコードを圧縮処理し，第1論理レコードを圧縮処理していないデータブ

ロックを表示。

0011

：第1及び第2両方の論理レコードを圧縮処理したデータブロックを表示。

0100

：使用しない。

0101

：使用しない。

0110

：使用しない。

0111

：使用しない。

1000

：使用しない。

1001

：使用しない。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

1010

：ロングテープマークブロックを表示。

1011

：ショートテープマークブロックを表示。

1100

：フォーマットブロックを表示。

1101

：使用しない。

1110

：ギャップブロックを表示。

1111

：エンドオブデータブロックを表示。

15.4.1 データブロック

バイト0

ビット7及び6

： “0” とする。

ビット5

：以前の物理ブロックを再書込みしたとき，“1” とし，その他

のとき，“0” とする。

ビット4及びバイト3〜1

： 15.2で規定した論理ブロックID番号を示す。

ビット3〜0

： 15.4で規定したブロック形式を示す。

バイト4

ビット7

：第2論理レコードが物理ブロックの中で最終論理レコードのと

き，“1” とし，その他の場合 “0” とする。

ビット6

：第2論理レコードが物理ブロックの中で終了したとき，“1” とし，

その他の場合 “0” とする。

ビット5

：論理レコードの最初のデータがその物理ブロックの00/14の位置

で始まるとき，“1” とし，その他の場合 “0” とする。

ビット4

：物理ブロックの第1論理レコードがこの物理ブロックで終了した

とき，“1” とし，その他の場合 “0” とする。

ビット3，2及びバイト6

：物理ブロックの中で，第2論理レコードのバイト数の計数値をこ

れらの10ビットで表す。バイト6のビット0は，この計数値の最

下位ビットとする。この計数値は，フォーマットブロックのバイ

ト4のビット7が “1” のとき，CRCバイトを示す。

ビット1，0及びバイト5

：物理ブロックの中で，第1論理レコードのバイト数の計数値をこ

れらの10ビットで表す。バイト5のビット0は，この計数値の最

下位ビットとする。この計数値は，フォーマットブロックのバイ

ト4のビット7が “1” のとき，CRCバイトを示す。

バイト7

ビット7及びバイト11〜13 ： 15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。

ビット6〜0

：データブロックの論理ブロックID番号が偶数のとき，15.3で規定

した内容とし，奇数のとき，オール “0” とする。

バイト8〜10

データブロックの論理ブロックID番号が偶数のとき，15.3で規定した内容とし，奇数のとき，その

テープ上の次のテープマークの0から始まる数を3バイトで表す。バイト10のビット0は，この計

数値の最下位ビットとする。

15.4.2 ギャップブロック

バイト0

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビット7〜4

：

“0” とする。

ビット3〜0

：

15.4で規定したブロック形式を表す。

バイト1〜4

そのテープ上の次の論理レコードID番号で，0から始まる計数値を4バイトで表す。

バイト5，6

すべて “0” する。

バイト7

ビット7及びバイト11〜13

：

15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。

ビット6〜0及びバイト8〜10

：

すべて “0” とする。

15.4.3 フォーマットブロック

バイト0

ビット7〜4

：

すべて “0” とする。

ビット3〜0

：

15.4で規定したブロック形式を表す。

バイト1〜3

すべて “0” とする。

バイト4

ビット7

：

2個のCRCバイトが算出され，テープ上の各論理レコードへの

付加が終了したとき，“1” とする。その他のとき，“0” とする

（9.2.1.1.2参照）。

ビット6

：

却下された情報ブロックの再書込みと同時に “1” とする。その

他のとき，“0” とする。

ビット5〜0及びバイト5

：

すべて “0” とする。

バイト6

このバイトは，論理レコードに対してテープサブシステムで使用する登録されたデータ圧縮アルゴ

リズム（ISO/IEC 11576参照）を表す。データ圧縮を使用しないとき，すべて “0” とする。

バイト7

ビット7及びバイト11〜13

：

15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。

ビット6及びバイト8〜10

：

すべて “0” とする。

15.4.4 ロング／ショートテープマークブロック

バイト0

ビット7，6

：

“0” とする。

ビット5

：

ショートテープマークブロックを再書込みしたとき，“1” とし，

その他の場合は，“0” とする。

ビット4及びバイト1〜3

：

15.2で規定した論理ブロックID番号を表す。

ビット3〜0

：

15.4で規定したブロック形式を表す。

バイト4〜6

これらのバイトは，LBOTからテープマークの0から始まる計数値を表す。バイト6のビット0は，

この計数値の最下位ビットとする。

バイト7

ビット7及びバイト11〜13

：

15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビット6〜0及びバイト8〜10

：

15.3で規定した論理レコードID番号を表す。

15.4.5 エンドオブデータブロック

バイト0

ビット7〜5

：

すべて “0” とする。

ビット4及びバイト1〜3

：

15.2で規定した論理ブロックID番号を表す。

ビット3〜0

：

15.4で規定したブロック形式を表す。

バイト4〜6

これらのバイトは，テープ上のLBOTからのテープマークの数を0から計数した値に1を加えた値

とする。バイト6のビット0は，この計数値の最下位ビットとする。

バイト7

ビット7及びバイト11〜13

：

15.1で規定した物理ブロックID番号を表す。

ビット6〜0及びバイト8〜10

：

15.3で規定した論理レコードID番号を表す。

16. 再書込み情報ブロック再書込み情報ブロックは，1個のデータブロック及び1個のショートテープ

マークブロックだけを再書込み可能とする。データブロック又はショートテープマークブロックを再書込

みしたとき，再書込みしたブロックのID情報は，再書込みフラグ（バイト0, ビット5）及び再書込みし

た場所を示す物理ブロックID番号（15.1参照）を除いて，本来のものと同じとする。例えば，物理ブロ

ックnに対して再書込みを要求すると，物理ブロックn＋27で再書込みする。再書込みした情報ブロック

の物理ブロックのずれは，最初の位置から297物理ブロックを超えてはならない。記録済みのデータの信

頼性を保証するため，ミッシングパルスゾーンを含む情報セグメントは，1ブロック当たり2個未満とす

る。

17. テープの物理フォーマットテープの物理フォーマットは，図28による。

図28 テープの物理フォーマット（記録面側を示す）

17.1 初期消去領域初期消去領域は，PBOTからLBOT領域の始まりまでとし，その長さMは，725.0mm

〜745.0mmとする。

17.2 LBOT領域 LBOT領域は，320フォーマットトラックからなる。

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附属書A（規定）光透過率の測定方法

A.1 概要この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定方法についての概略を示す。

光透過率は，装置にテープ試験片を入れないときの読取り値と入れたときの読取り値との比を百分比で

表す。

A.2 装置及び構成装置及び構成は，次による。

光源

光検出部

測定用マスク

光学系の配置

測定回路

A.2.1 光源光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。

波長

：

850nm±50nm

半値幅

：

±50nm

A.2.2 光検出部光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，回路を閉じた状態で動作する。

A.2.3 測定用マスク測定用マスクの厚さは，2mmとし，円形の孔の直径 (d) は，シリコンフォトダイオ

ードの受光領域の80%〜100%とする。マスクの表面は，黒のつや消し仕上げとする。

試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないように，マスクに固定する。

A.2.4 光学系の配置（附属書A図1参照）光軸に対してマスクは垂直に設置する。光源からマスクまで

の距離 (l) は，次の式による。

tan

角度αは，光軸上の最大強度の95%以上の光の強度がある角度とする。

A.2.5 追補装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6 測定回路（附属書A図2参照）測定回路は，次によって構成する。

：

出力電圧を変えられる直流安定化電源

：

電流を制限する抵抗器

LED

：

赤外線発光ダイオード

：

シリコンフォトダイオード

：

演算増幅器

Rf 0, Rf1

：

帰還用の抵抗器

：

利得切換用スイッチ

：

電圧計

LEDに流す電流（照射力）は，供給電圧 (E) によって変化させる。

Diは，回路を閉じて動作させる。

演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，回路を閉じているときの電流値とする。

出力電圧は，光の強度の一次関数である。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書B（規定）ビットシフトの測定方法

ビットシフトの試験で用いる書込み装置は，通常の情報交換用に用いる装置とする。

なお，テープは，システム動作と同様の起動停止方式で書き込む。

B.1 読取り装置読取り装置は，次による。

トラックの直線性が5μmの範囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを読み取る。読取り

ヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。

なお，ヘッドの性能，回転トランス，プリアンプ及びヘッドとテープとの相対速度は，信号対雑音比を

低くするために選択する。

ヘッド，回転トランス，プリアンプ及び関連する回路の周波数特性は，次による。

読取りヘッド

ギャップ長

：

0.30μm±0.05μm

共振周波数

：

“1” パターンの周波数の15倍以上

トラック幅

：

25μm±3μm

アジマス

：

−10.000°±0.133°又は＋20.000°±0.133°

回転トランス

バンド幅

：

fhigh (−3dB) は，“1” パターンの周波数の4倍以上

flow (−3dB) は，“1” パターンの周波数の400

1以下

プリアンプ

増幅率

：

100以上

入力雑音

：

2以下

バンド幅

：

fhigh (−3dB) は，“1” パターンの周波数の3倍以上

flow (−3dB) は，“1” パターンの周波数の400

1以下

読取りフィルタ

ローパスフィルタ

：

“1” パターンの周波数の少なくとも2倍のカットオフ周波数をもつ3

次のバターワース特性とする。

ハイパスフィルタ

：

“1” パターンの周波数の401の点でQを0.7とする2個の極以上をもつ

（すべての他の交流対極は，“1” パターンの周波数の800

1に存在しなけ

ればならない）。

イコライザ

：

イコライザの伝達関数は，次の式による。

−

)

(

)

)(

(

)

(

ここに，

K≧ 1

W1＝ 2πfi

fz＝ “1” パターンの周波数の41

fp＝ “1” パターンの周波数の401

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附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換

8ビットバイトは，左側を最上位ビットとし，右側を最下位ビットとする。

10ビットパターンは，左側を最初の記録ビットとし，右側を最後の記録ビットとする。

括弧で示した数は，16進数で表す。

8ビットバイト

10ビットパターン

(00)

00000000

0100100101

(01)

00000001

0100100111

(02)

00000010

0100101010

(03)

00000011

0100101101

(04)

00000100

0100101111

(05)

00000101

0100111001

(06)

00000110

0100111011

(07)

00000111

0100111110

(08)

00001000

0101001001

(09)

00001001

0101001011

(0A)

00001010

0101001110

(0B)

00001011

0101010010

(0C)

00001100

0101010101

(0D)

00001101

0101010111

(0E)

00001110

0101011010

(0F)

00001111

0101011101

(10)

00010000

0101101001

(11)

00010001

0101101011

(12)

00010010

0101101110

(13)

00010011

0101110010

(14)

00010100

0101110101

(15)

00010101

0101110111

(16)

00010110

0101111010

(17)

00010111

0101111101

(18)

00011000

0110100101

(19)

00011001

0110100111

(1A)

00011010

0110101010

(1B)

00011011

0110101101

(1C)

00011100

0110101111

(1D)

00011101

0110111001

(1E)

00011110

0110111011

(1F)

00011111

0110111110

(20)

00100000

0111001001

(21)

00100001

0111001011

(22)

00100010

0111001110

(23)

00100011

0111010010

(24)

00100100

0111010101

(25)

00100101

0111010111

(26)

00100110

0111011010

(27)

00100111

0111011101

(28)

00101000

0111101001

(29)

00101001

0111101011

(2A)

00101010

0111101110

8ビットバイト

10ビットパターン

(2B)

00101011

0111110010

(2C)

00101100

0111110101

(2D)

00101101

0111110111

(2E)

00101110

0111111010

(2F)

00101111

0111111101

(30)

00110000

1001110011

(31)

00110001

1001110110

(32)

00110010

1001001010

(33)

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(34)

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1001001111

(35)

00110101

1001011001

(36)

00110110

1001011011

(37)

00110111

1001011110

(38)

00111000

0110010011

(39)

00111001

0110010110

(3A)

00111010

1010011111

(3B)

00111011

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(3C)

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(3D)

00111101

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(3E)

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(3F)

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(40)

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(42)

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(43)

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(44)

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(45)

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(46)

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(47)

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(48)

01001000

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(49)

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1011100111

(4A)

01001010

1011101010

(4B)

01001011

1011101101

(4C)

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(4D)

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(4E)

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(4F)

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(50)

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(51)

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(52)

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(53)

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(54)

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(55)

01010101

1100111001

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットバイト

10ビットパターン

(56)

01010110

1100111011

(57)

01010111

1100111110

(58)

01011000

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(59)

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1101001011

(5A)

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1101001110

(5B)

01011011

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(5C)

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1101010101

(5D)

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(5E)

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1101011010

(5F)

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1101011101

(60)

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(61)

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(62)

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(63)

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(65)

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1101110111

(66)

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(68)

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(69)

01101001

1110100111

(6A)

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1110101010

(6B)

01101011

1110101101

(6C)

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1110101111

(6D)

01101101

1110111001

(6E)

01101110

1110111011

(6F)

01101111

1110111110

(70)

01110000

1111001001

(71)

01110001

1111001011

(72)

01110010

1111001110

(73)

01110011

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(74)

01110100

1111010101

(75)

01110101

1111010111

(76)

01110110

1111011010

(77)

01110111

1111011101

(78)

01111000

1111101001

(79)

01111001

1111101011

(7A)

01111010

1111101110

(7B)

01111011

1111110010

(7C)

01111100

1111110101

(7D)

01111101

1111110111

(7E)

01111110

1111111010

(7F)

01111111

1111111101

(80)

10000000

0100101011

(81)

10000001

0100101110

(82)

10000010

0100110101

(83)

10000011

0100111010

(84)

10000100

0101101010

(85)

10000101

0101101111

(86)

10000110

0101111011

(87)

10000111

0101111110

(88)

10001000

0111001010

8ビットバイト

10ビットパターン

(89)

10001001

0111001111

(8A)

10001010

0111011011

(8B)

10001011

0111011110

(8C)

10001100

1001001011

(8D)

10001101

1001001110

(8E)

10001110

1001010101

(8F)

10001111

1001011010

(90)

10010000

1001101001

(91)

10010001

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(92)

10010010

1001110111

(93)

10010011

1001111101

(94)

10010100

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(95)

10010101

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(96)

10010110

1010111011

(97)

10010111

1010111110

(98)

10011000

1011001001

(99)

10011001

1011010010

(9A)

10011010

1011010111

(9B)

10011011

1011011101

(9C)

10011100

1011101011

(9D)

10011101

1011101110

(9E)

10011110

1011110101

(9F)

10011111

1011111010

(A0)

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1101001010

(A1)

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(A2)

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(A3)

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(A4)

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(A8)

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(AA)

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1110110101

(AB)

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1110111010

(AC)

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1111100101

(AD)

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(AE)

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(AF)

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1111111011

(B0)

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(B1)

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(B2)

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(B3)

10110011

1110111111

(B4)

10110100

0101100101

(B5)

10110101

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(B6)

10110110

1111010011

(B7)

10110111

1111010110

(B8)

10111000

0101010011

(B9)

10111001

0111110011

(BA)

10111010

1010010011

(BB)

10111011

1101110011

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットバイト

10ビットパターン

(BC)

10111100

0101010110

(BD)

10111101

0111110110

(BE)

10111110

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(BF)

10111111

1101110110

(C0)

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(C1)

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(C2)

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(C3)

11000011

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(C4)

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(C5)

11000101

1010011001

(C6)

11000110

0110011010

(C7)

11000111

0110011111

(C8)

11001000

0110101001

(C9)

11001001

0110110010

(CA)

11001010

0110110111

(CB)

11001011

0110111101

(CC)

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0111100111

(CD)

11001101

0111101101

(CE)

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(CF)

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(D0)

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1100101001

(D1)

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(D2)

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(D3)

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(D4)

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(D5)

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(D6)

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(D7)

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1101111111

(D8)

11011000

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(D9)

11011001

1110010011

(DA)

11011010

1110010110

(DB)

11011011

1111011001

(DC)

11011100

0101011111

(DD)

11011101

0111011111

8ビットバイト

10ビットパターン

(DE)

11011110

1010111111

(DF)

11011111

1101011111

(E0)

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(E1)

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(E2)

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(E4)

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(E5)

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(E6)

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(E7)

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(E9)

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1111011011

(EA)

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1111011110

(EB)

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1100111111

(EC)

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0110101110

(ED)

11101101

1111110011

(EE)

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1111100110

(EF)

11101111

0110111111

(F0)

11110000

1010101101

(F1)

11110001

0111010110

(F2)

11110010

0101011110

(F3)

11110011

1001111111

(F4)

11110100

1011010101

(F5)

11110101

1011110111

(F6)

11110110

1011111101

(F7)

11110111

1011011111

(F8)

11111000

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(F9)

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1110110111

(FA)

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1110111101

(FB)

11111011

1110011111

(FC)

11111100

1111100111

(FD)

11111101

1111101101

(FE)

11111110

1111111001

(FF)

11111111

1111011111

X 6142-1995 (ISO/IEC 12246 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書E（参考）不良テープ

テープ装置又は他のテープの性能を低下させるテープを不良テープとよぶ。テープの特性には，テープ

装置の性能を低下させる次のものがある。このような不良テープを使用するとき，テープ装置の性能が低

下し，かつ，誤りが多く発生するので不良テープは，使用しない方がよい。

E.1 不良特性テープの不良特性を，次に示す。

a) 高い研磨性

b) テープ走行部に対する高い摩擦力

c) テープエッジの不良な状態

d) テープ又はテープ走行部への帯電

e) テープの層間の滑り

テープの裏面への記録表面塗膜の転移

g) テープのスティッキング又は他のテープの特性を低下させるようなテープ組成物の浸み出し

JIS 磁気テープ原案作成委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

大石完一

パルステック工業株式会社

（幹事）

富田正典

日本電信工業株式会社

（委員）

金子悟

富士通株式会社

竹内正

株式会社トリム・アソシエイツ

徳永賢次

住友スリーエム株式会社

平川卓

富士写真フイルム株式会社

山口茂孝

ティアック株式会社

新井清

日本システムハウス株式会社

今井伸二

日本電気株式会社

安藤晴夫

日立マクセル株式会社

三瓶徹

株式会社日立製作所

堀川憲一

ソニー株式会社

荒木学

日本ユニシス株式会社

岸野忠信

財団法人日本規格協会

中島一郎

通商産業省

古市正敏

工業技術院標準部

瀬戸屋英雄

工業技術院標準部

（関係者）

佐々木修二

財団法人日本電子部品信頼性センター

（事務局）

東條喜義

社団法人日本電子工業振興協会