JISX6141:1993 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

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1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

3. 引用規格 ························································································································ 1

4. 用語の定義 ····················································································································· 1

4.1 交流消去 ······················································································································ 1

4.2 平均信号振幅 ················································································································ 1

4.3 アジマス ······················································································································ 1

4.4 裏面 ···························································································································· 1

4.5 ビットセル ··················································································································· 2

4.6 バイト ························································································································· 2

4.7 カートリッジ ················································································································ 2

4.8 巡回冗長検査文字 ·········································································································· 2

4.9 誤り訂正符号 ················································································································ 2

4.10 磁束反転位置 ··············································································································· 2

4.11 磁束反転間隔 ··············································································································· 2

4.12 磁気テープ ·················································································································· 2

4.13 標準テープ ·················································································································· 2

4.14 PBOT ························································································································· 2

4.15 PEOT ························································································································· 2

4.16 記録密度 ····················································································································· 2

4.17 副標準信号振幅 ············································································································ 2

4.18 副基準磁界 ·················································································································· 2

4.19 副標準テープ ··············································································································· 2

4.20 基準電流 ····················································································································· 2

4.21 テープ基準 ·················································································································· 2

4.22 試験記録電流 ··············································································································· 2

4.23 トーン ························································································································ 2

4.24 トラック ····················································································································· 2

4.25 ティピカル磁界 ············································································································ 2

5. 環境条件及び安全性 ········································································································· 2

5.1 試験環境条件 ················································································································ 2

5.2 使用環境条件 ················································································································ 2

5.3 保存環境条件 ················································································································ 3

5.4 輸送 ···························································································································· 3

5.5 安全性 ························································································································· 3

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5.6 燃焼性 ························································································································· 3

6. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 3

6.1 概要 ···························································································································· 3

6.2 全体の寸法 ··················································································································· 4

6.3 保持領域 ······················································································································ 4

6.4 カートリッジ挿入部 ······································································································· 4

6.5 窓 ······························································································································· 5

6.6 ローディンググリップ····································································································· 5

6.7 ラベル領域 ··················································································································· 5

6.8 基準領域及び基準孔 ······································································································· 5

6.9 支持領域 ······················································································································ 6

6.10 識別孔 ························································································································ 6

6.11 書込禁止孔 ·················································································································· 7

6.12 位置決め面 ·················································································································· 7

6.13 リッド ························································································································ 7

6.14 リールロック ··············································································································· 8

6.15 リール受け孔 ··············································································································· 9

6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域 ·············································································· 9

6.17 光通過経路 ·················································································································· 9

6.18 ケース内のテープの位置 ······························································································· 10

6.19 テープ走行領域 ··········································································································· 10

6.20 テープ引出し開口部 ····································································································· 10

6.21 テープ引出し開口部の要求事項 ······················································································ 11

7. 材料 ···························································································································· 25

7.1 材料 ··························································································································· 26

7.2 長さ ··························································································································· 26

7.2.1 磁気テープの長さ ······································································································· 26

7.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 26

7.2.3 接合テープの長さ ······································································································· 26

7.3 幅 ······························································································································ 26

7.4 連続性 ························································································································ 26

7.5 厚さ ··························································································································· 26

7.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 26

7.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 26

7.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 26

7.7 カッピング ·················································································································· 26

7.8 塗布面の接着強度 ········································································································· 26

7.9 層間の粘着 ·················································································································· 27

7.10 引張強度 ···················································································································· 27

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7.10.1 破断強度 ·················································································································· 27

7.10.2 降伏強度 ·················································································································· 27

7.11 残留伸び ···················································································································· 27

7.12 表面の電気抵抗 ··········································································································· 27

7.13 テープの巻き方 ··········································································································· 28

7.14 光透過率 ···················································································································· 28

8. 磁気記録特性 ················································································································· 28

8.1 試験条件 ····················································································································· 28

8.2 ティピカル磁界 ············································································································ 28

8.3 平均信号振幅 ··············································································································· 28

8.4 分解能 ························································································································ 28

8.5 狭帯域の信号雑音費（NB-SNR） ····················································································· 28

8.5.1 要求事項 ··················································································································· 28

8.5.2 試験方法 ··················································································································· 29

8.6 消去特性 ····················································································································· 29

8.7 テープの品質 ··············································································································· 29

8.7.1 ミッシングパルス ······································································································· 29

8.7.2 ミッシングパルスゾーン ······························································································ 29

8.8 不良テープ ·················································································································· 29

9. フォーマット ················································································································· 29

9.1 概要 ··························································································································· 29

9.2 情報マトリクス ············································································································ 29

9.2.1 情報マトリクスのロード ······························································································ 30

9.2.1.1 G1グループ············································································································ 30

9.2.1.2 G2グループ············································································································ 30

9.2.1.3 誤り訂正符号（ECG） ······························································································ 31

9.2.1.3.1 G3グループ ········································································································· 32

9.2.1.3.2 G4グループ ········································································································· 32

10. 記録方式 ····················································································································· 33

10.1 記録密度 ···················································································································· 33

10.1.1 長周期平均ビットセル長 ····························································································· 33

10.1.2 短周期平均ビットセル長 ····························································································· 33

10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率 ················································································· 33

10.2 ビットシフト ·············································································································· 33

10.3 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 33

10.3.1 データ信号の平均信号振幅 ·························································································· 33

10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅 ·························································································· 33

10.3.3 アナログテープマーク上の信号振幅 ·············································································· 33

10.4 消去 ·························································································································· 33

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11. トラック ····················································································································· 33

11.1 トラックの位置 ··········································································································· 34

11.2 トラック間隔 ·············································································································· 34

11.2.1 平均トラック間隔 ······································································································ 34

11.2.2 隣接トラック間隔 ······································································································ 34

11.3 トラック幅 ················································································································· 34

11.4 トラック角 ················································································································· 35

11.5 トラックエッジの直線性 ······························································································· 35

11.6 アジマス角 ················································································································· 35

12. 情報トラックのフォーマット ··························································································· 35

12.1 チャネルビット ··········································································································· 35

12.2 情報セグメント ··········································································································· 35

12.2.1 ビット同期フィールド ································································································ 35

12.2.2 情報セグメント番号 ··································································································· 35

12.2.3 情報セグメントフィールド ·························································································· 36

12.3 情報ブロック ·············································································································· 37

12.4 情報ゾーン ················································································································· 37

12.5 サーボゾーン ·············································································································· 38

12.6 情報トラック ·············································································································· 38

12.6.1 フォーマットIDトラック ··························································································· 39

12.6.2 データトラック ········································································································· 39

12.6.3 テープマークトラック ································································································ 39

12.6.4 スプライストラック ··································································································· 39

13. テープマーク ··············································································································· 39

13.1 テープマークの概要 ····································································································· 39

13.2 ロングテープマーク ····································································································· 40

13.3 ショートテープマーク ·································································································· 40

13.3.1 標準ショートテープマーク ·························································································· 40

13.3.2 代替ショートテープマーク ·························································································· 40

14. ID情報 ······················································································································· 40

14.1 00列00行 ·················································································································· 40

14.1.1 ブロック形式−データブロック ···················································································· 40

14.1.2 ブロック形式−テープマーク ······················································································· 40

14.1.3 ブロック形式−フォーマットID ··················································································· 41

14.1.4 ブロック形式−パッドブロック ···················································································· 41

14.2 00列01行 ·················································································································· 41

14.3 00列02行 ·················································································································· 41

14.4 00列03行 ·················································································································· 41

14.5 00列04行 ·················································································································· 41

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)目次

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14.6 00列05，06行 ············································································································ 41

14.6.1 05行 ······················································································································· 41

14.6.2 06行 ······················································································································· 41

14.7 00列07行 ·················································································································· 41

14.8 00列08，09，10行 ······································································································ 41

14.8.1 ブロック形式−データブロック ···················································································· 41

14.8.2 ブロック形式−非データブロック ················································································· 41

14.9 00列11，12，13行 ······································································································ 41

15. 再書込み情報ブロック···································································································· 42

16. テープのフォーマット···································································································· 42

16.1 初期消去領 ················································································································· 42

16.2 LBOT領域 ················································································································· 42

16.3 テープの使用可能領域 ·································································································· 43

16.4 ポストデータ消去領域 ·································································································· 43

附属書A（規定）光透過率の測定方法 ·················································································· 44

附属書B（規定）ビットシフトの測定 ··················································································· 46

附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換 ·············································· 48

附属書D（参考）輸送条件 ································································································· 52

附属書E（参考）不良テープ ······························································································· 53

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日本工業規格 JIS

X 6141-1993

(ISO/IEC 11319 : 1993)

8mm幅，ヘリカル走査記録，情報交換用

磁気テープカートリッジ

8 mm wide magnetic tape cartridge for information

interchange−Helical scan recording

日本工業規格としてのまえがき

この規格は，1993年初版として発行されたISO/IEC 11319 (Information technology-8mm wide magnetic tape

cartridge for information interchange−Helical scan recording) を翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更

することなく作成した日本工業規格である。

1. 適用範囲この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換用に用

いる8mm幅，ヘリカル走査記録，磁気テープカートリッジ（以下，カートリッジという。）の構造，寸法，

物理的特性，機械的特性，電気的特性，磁気的特性及び情報の記録様式について規定する。テープマーク

の論理的要求事項は，ISO 1001による。

2. 適合性磁気テープカートリッジは，この規格のすべてを満たすとき，この規格に適合する。テープ

の要求事項は，テープの全域について適用する。

3. 引用規格この規格の引用規格は，次による。

ISO 1001 : 1986 Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for information

interchange

備考 JIS X 0601-1990 （情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成）が，この国際規格と

一致している。

ISO/R 527 : 1966 Plastics−Determination of tensile properties

ISO 1302 : 1978 Technical drawings−Method of indicating surface texture on drawings

IEC 950 : 1990 Safety of information technology equipment, including electrical business equipment

4. 用語の定義この規格で用いる用語の定義は，次による。

4.1

交流消去 (AC erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。

4.2

平均信号振幅 (average signal amplitude) 規定の記録密度で記録したテープ上のミッシングパルス

がない部分の長さ1.40mm以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク出力電圧 (P−P)。

4.3

アジマス (azimuth) 磁束反転のトラックの中心線に垂直な直線に対する角度の偏差。

4.4

裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.5

ビットセル (bit cell) トラックに記録するデータの1ビットの領域。

4.6

バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。

4.7

カートリッジ (cartridge) 一組のリールに巻かれた磁気テープを収納したケース

4.8

巡回冗長検査文字 [cyclic redundacy check (CRC) character] 誤り検出及び誤り訂正のために巡回符

号として用いる文字。

4.9

誤り訂正符号 (error correcting code，ECC) 誤りを自動訂正できるように設計された符号。

4.10 磁束反転位置 (Hux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となる点。

4.11 磁束反転間隔 (Hux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。

4.12 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.13 標準テープ (master standard reference tape) 平均信号振幅，ティピカル磁界及び分解能の標準とし

て用いるもので，その特性値を国際標準化機構 (ISO) が規定したテープ。

参考標準テープは，ソニー株式会社で管理されている。

4.14 PBOT (pbysical beginning of tape) 磁気テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。

4.15 PEOT (pbysical end of tape) 磁気テープ終端での磁気テープとトレーラテープとの接合箇所。

4.16 記録密度 (pbysical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録される磁束反転数

(ftpmm)。

4.17 副標準信号振幅 (secondary reference amplitude) 副標準テープに記録密度2 126 ftpmmの信号を試

験記録電流で記録したときの平均信号振幅。

4.18 副基準磁界 (secondary reference Held) 副標準テープのティピカル磁界。

4.19 副標準テープ (secondary standard reference tape) テープの平均信号振幅，ティピカル磁界及び分解

能を標準テープのそれと比較するために用い，その特性と標準テープの特性との偏差が明示されて，実測

値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと標準テープとの特性の比較を行うことを可能と

するテープ。

参考副標準テープは，東京都品川区北品川6-7-35 ソニー株式会社記録メディア営業本部データメ

ディア営業部が，部品番号RSE5001で2001年まで供給する。

4.20 基準電流 (standard reference current) 副基準磁界を生じさせる記録電流。

4.21 テープ基準縁 (tape reference edgc) テープの記録面を上側にして水平に置き，繰出しリールが右側

となるように見たときの手前の縁。

4.22 試験記録電流 (test recording current) 基準電流の1.5倍。

4.23 トーン (tonc) 98ftpmmの信号。

4.24 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。

4.25 ティピカル磁界 (typical field) 記録密度2 126ftpmmで連続する磁束反転を記録して，これを再生

するとき，その再生出力電圧が最大出力電圧（飽和値）の90%となる最小印加磁界。

5. 環境条件及び安全性

5.1

試験環境条件試験環境条件は，規定がない限り次による。

温度

23℃±2℃

相対湿度

40%〜60%

試験前放置時間

24時間

5.2

使用環境条件使用環境条件は，カートリッジの近傍の大気中で測定し，次による。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

温度

5℃〜45℃

相対湿度

20%〜80%

湿球温度

26℃以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合，使用環境条件以外の環境条件に放置し

た時間と同等以上又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。

参考急激な温度変化は，避けることが望ましい。

5.3

保存環境条件保存環境条件は，次による。

温度

5℃〜45℃

相対湿度

20%〜80%

湿球温度

26℃以下

周辺磁界は，カートリッジ面で4 000A/mを超えてはならない。

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

5.4

輸送カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Dによ

る。

5.5

安全性カートリッジ及びその構成部品は，IEC 950の規定を満足しなければならない。

5.6

燃焼性カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチなどの炎によって着火してもよいが，二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

6. ケースの寸法及び機械的特性

6.1

概要カートリッジのケースは，上ハーフ，下ハーフ及び上ハーフに取り付けた回転式リッドから

なり，具体図は，次による。

図1は，上側から見たカートリッジの外観を示す。

図2は，下側から見たカートリッジの外観を示す。

図3は，リッドが閉じた状態での上面を示す。

図4は，底面，基準領域及び支持領域を示す。

図5は，リッドを開いた状態での底面を示す。

図6は，基準孔及び識別孔の拡大を示す。

図7は，光通過経路孔，識別孔及び書込み禁止孔の断面を示す。

図8は，リッドが閉じたとき，回転しているとき及び開いたときの詳細を示す。

図9は，リッドロック解除用挿入溝の詳細を示す。

図10は，リッドロック解除の要件を示す。

図11は，リールロック解除の要件を示す。

図12は，リールロック解除に要する力の方向を示す。

図13は，リッドロック解除に要する力の方向を示す。

図14は，リッド開放に要する力の方向を示す。

図15は，光通過経路及び光窓を示す。

図16は，テープ走行領域及び光通過経路を示す。

図17は，リール及びその断面を示す。

図18は，リール及び駆動スピンドルの接触領域の断面を示す。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図19は，テープ引出し開口部を示す。

寸法は，三つの直交する基準面X，Y及びZに基づく。

6.2

全体の寸法（図3参照）リッドが閉じた状態でのケースの全体の寸法は，次による。

L1＝62.5mm±0.3mm

L2＝95.0mm±0.2mm

L3＝15.0mm±0.2mm

ケースの背面から基準面Xまでの距離は，次による。

L4＝47.35mm±0.15mm

ケースの右側面から基準面Yまでの距離は，次による。

L5＝13.0mm±0.1mm

6.3

保持領域磁気テープ装置にカートリッジを保持するときの保持領域は，図3の斜線部分とし，そ

の位置及び寸法は，次による。

L6≦12.0mm

L7≧3.0mm

6.4

カートリッジ挿入部カートリッジは，磁気テープ装置に誤った向きに挿入できないように，溝，

切込み及びこう配面からなる非対称のカートリッジ挿入部を設ける。

溝は，リッドロック解除ピンの挿入領域を妨げないように設け，その位置及び寸法は，図3，図9及び

次による。

L8＝79.7mm±0.2mm

L9＝1.0mm±0.1mm

L10＝0.7mm±0.1mm

L11≧1.0mm

L12＝1.2mm±0.1mm

L13＝0.8mm±0.1mm

L14＝1.2mm±0.1mm

L15＝0.5mm±0.1mm

L16＝1.5mm±0.1mm

L17＝1.0mm±0.1mm

L18＝3.8mm±0.1mm

L19＝0.2mm±0.2mm

L20≧2.3mm

L21＝2.5mm±0.1mm

切込みの寸法は，図3，図5及び次による。

L22≦7.5mm

L23＝11.0mm±0.2mm

L24＝1.5mm±0.1mm

L25＝1.5mm±0.1mm

リッドの一部は，こう配面とし，その寸法は，図8及び次による。

L26＝7.7mm

0.0
5.2

−

L27＝0.55mm

.010
.0

+−

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

A1＝17.5°±4.0°

6.5

窓（図1参照）窓は，リールの一部が見えるように上面に設けてもよいが，カートリッジの高さ

を超えてはならない。

6.6

ローディンググリップ（図3参照）ローディンググリップは，磁気テープ装置にカートリッジを

自動的に装着するために設け，その位置及び寸法は，次による。

L28＝39.35mm±0.20mm

L29＝1.5mm±0.1mm

L30＝5.0mm±0.3mm

L31＝2.0mm±0.2mm

A2＝90°±5°

6.7

ラベル領域（図3参照）ラベル領域は，カートリッジの背面及び上面に設ける。背面のラベルは，

磁気テープ装置に挿入又は積み重ねたときに目視でき，各ラベルの位置及び寸法は，カートリッジの機構

部の要求事項及び動作を妨げてはならない。上面のラベル領域は，L6及びL7で規定した保持領域の内側に

入ってはならない。

背面のラベル領域の位置及び寸法は，次による。

L32≧0.5mm

L33≧1.5mm

L34≦80.0mm

ラベル領域のくぼみの深さは，0.3mm以下とする。

6.8

基準領域及び基準孔（図4図5及び図6参照）環状の基準領域A，B及びCは，磁気テープ装置

に装着したときのカートリッジの垂直位置決めに用い，基準面Zとする（図4の斜線部参照）。それぞれ

の直径D1は，6.0mm±0.1mmとし，それぞれの基準孔の中心と同心とする。基準孔A及びBの中心は，

基準面X上とする。

円形の基準孔Aの中心は，基準面X及びYの交線とする（図5参照）。

基準孔Bの中心から基準面Yまでの距離は，図4及び次による。

L35＝68.0mm±0.1mm

基準孔Cの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。

L36＝10.20mm±0.05mm

基準孔Dの中心から基準面Yまでの距離は，図6及び次による。

L37＝79.2mm±0.1mm

基準孔C及びDの中心から基準面Xまでの距離は，図5及び次による。

L38＝36.35mm±0.08mm

基準孔A及びCの直径は，3.00mm

.000

mmとし，基準孔A及びCの寸法は，図6及び次による。

L39＝1.2mm

0.10.0

L40≧2.6mm

L41≧1.5mm

L42≧4.0mm

L43≦0.3mm

A3＝45°±1°

基準孔B及びDの寸法は，図6及び次による。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

L39＝1.2mm

0.10.0

L40≧2.6mm

L41≧1.5mm

L42≧4.0mm

L43≦0.3mm

L44＝3.00mm

.000

L45＝3.5mm±0.1mm

L46＝3.00mm±0.05mm

A3＝45°±1°

R1≧1.7mm

6.9

支持領域カートリッジの支持領域A，B，C及びDは，図4の網掛け部とする。支持領域A，B及

びCは，基準領域A，B及びCからそれぞれ±0.1mm以内で同一の平面上とする。支持領域Dは，基準面

Zから±0.15mm以内の範囲で同一の平面上とする。カートリッジの端からL49の距離の領域は，支持領域

から除かなければならない。支持領域の位置及び寸法は，図4及び次による。

L35＝68.0mm±0.1mm

L47＝10.0mm±0.1mm

L48＝11.0mm±0.1mm

L49＝ 0.5mm±0.1mm

L50＝ 7.0mm±0.1mm

L51＝30.0mm±0.1mm

L52＝ 5.5mm±0.1mm

L53＝64.5mm±0.2mm

6.10 識別孔（図5，図6及び図7参照）識別孔は，図6に示す番号1から5までの5個を設け，それぞ

れの位置及び寸法は，次による。

L54＝43.35mm±0.15mm

L55＝ 3.7mm±0.1mm

L56＝ 2.3mm±0.1mm

L57＝ 6.4mm±0.1mm

L58＝ 3.7mm±0.1mm

L59＝ 2.3mm±0.1mm

L60＝ 6.4mm±0.1mm

L61＝79.0mm±0.2mm

すべての識別孔は，図7の断面F−Fに示す断面構造をもち，直径は，3.0mm±0.1mmとする。

識別孔の寸法は，次による。

L62＝1.2mm

3.01.0

+−

L63≧5.0mm

断面図の一つは，プラグで閉じた識別孔を示し，他方は，プラグが打ち抜かれた状態を示す。これらの

プラグは，最大0.5Nの力を加えても打ち抜かれてはならない。これらの識別孔の開閉の状態は，次による。

a) 識別孔1は，閉じる。

b) 識別孔2は，公称13μm厚テープの場合，閉じ，公称10μm厚テープの場合，あける。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

c) 識別孔3，4及び5は，閉じる。

6.11 書込み禁止孔（図6及び図7参照）書込み禁止孔の位置及び寸法は，次による。

L55＝ 3.7mm±0.1mm

L62＝ 1.2mm

3.01.0

+−

L63≧ 5.0mm

L64＝10.0mm±0.1mm

書込み禁止孔の直径は，3.0mm±0.1mmとする。

書込み禁止孔が開いた状態では，書込み禁止，閉じた状態では書込み可能とする。書込み禁止孔は，可

動の機構としてもよい。この場合，書込み禁止孔が目視できなければならない（図3参照）。書込み禁止孔

を閉じたときは，0.5Nの力を加えても開いてはならない。書込み禁止孔の開閉に要する力は，1Nから15N

までとする。

6.12 位置決め面（図3及び図5参照）位置決め面は，磁気テープ装置に装着したとき，カートリッジ

のY方向の位置決めに用い，その位置及び寸法は，次による。

L25＝ 1.5mm±0.1mm

L65＝ 2.4mm

0.0
1.0

−

L66＝ 2.4mm

0.0
1.0

−

L67＝ 1.0mm±0.1mm

L68＝69.0mm±0.2mm

L69＝14.65mm±0.10mm

L70＝13.15mm±0.10mm

A4＝43°±1°

6.13 リッド（図3及び図8参照）装着，格納及び輸送のとき，テープを保護するリッドは，主リッド

及び副リッドからなる。主リッドは，ケースに取り付けたピボットAを軸として回転する（図8参照）。

ピボットAの位置は，次による。

L27＝0.55mm

.010
.0

+−

L71＝7.5mm±0.1mm

副リッドは，主リッドに取り付け，主リッドとともに動くピボットBを軸として回転する。リッドが閉

じた状態では，ピボットBの位置は，次による。

L72＝7.0mm±0.1mm

L73＝10.1mm±0.1mm

副リッドの回転は，両側のカムによって，図8に示した経路で制御される。リッドは，完全に開いた状

態では，基準面Zと平行でL77に位置する平面より高くなってはならない。

L74≧141.8mm

L75＝11.5mm±0.2mm

L76＝1.2mm±0.1mm

L77≦22.3mm

A5＝85°±2°

リッドは，部分的に開いた状態では，基準面Zと平行でL78に位置する平面より高くなってはならない。

L78≦22.5mm

R2≦141.9mm

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

主リッドの位置及び寸法は，図3，図8及び次による。

L71＝7.5mm±0.1mm

L79≦8.4mm

L80＝15.2mm

0.0
5.0

−

L81＝15.3mm

0.0
3.0

−

L82＝13.15mm±0.10mm

R3＝141.7mm

0.0
3.0

−

ここでは，解除ピンによって解除するロック機構の動作についてだけ規定する。リッドが閉じロックし

た位置のとき，リッドロックの解除動作は，図10の斜線部に遮られてはならない。この領域の位置及び寸

法は，図10及び次による。

L83＝2.0mm±0.1mm

L84＝6.3mm±0.2mm

L85＝1.2mm±0.1mm

A6＝45°±1°

A7＝15°±1°

リッドの解除機構は，解除ピンが図10の網掛け部にあるとき，作動しなければならない。この領域の位

置及び寸法は，図10及び次による。

L83＝2.0mm±0.1mm

L86＝8.2mm±0.2mm

L87＝0.7mm±0.2mm

A8＝15°±1°

リッドロックの解除に要する力は，図13に示す方向に0.25N以下とする。リッドを開く力は，図14に

示す方向に1.0N以下とする。

6.14 リールロック（図11参照）リールは，カートリッジを磁気テープ装置から取り外すとき，ロック

されなければならない。

ここでは，解除ピンによって作動するロック機構については規定しない。解除機構は，ケースの孔を通

して作動するとき，その位置及び寸法は，図5及び次による。

L88＝34.5mm±0.1mm

L89＝35.85mm±0.15mm

L90＝40mm±0.1mm

L91≧6.5mm

解除ピンの動作面が基準面XからL95にあるとき，リールは，ロックしてはならない。この位置では，

ロック機構とカートリッジの背面板の内側との間にL96のすき間がなければならない。解除機構の寸法は，

図11及び次による。

L92＝3.2mm

3.0
2.0

+−

L93＝4.0mm±0.1mm

L94＝39.0mm

L95＝41.75mm

.000

L96≧0.5mm

L97≦7.8mm

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

L98＝4.0mm±0.1mm

A9＝60.0°±1.0°

R4≦0.3mm

リールロックの解除に要する力は，図12に示す方向に1.0N以下とする。

6.15 リール受け孔（図5参照）二つの円形のリール受け孔は，駆動スピンドルを通すために設け，そ

の位置及び寸法は，次による。

L99＝23.00mm±0.05mm

L100＝11.40mm±0.05mm

L101＝46.2mm±0.1mm

D2＝18.80mm±0.05mm

6.16 リールと駆動スピンドルとの接触領域（図17及び図18参照）駆動スピンドルは，次の領域でリ

ールとかみ合わなければならない。

L102＝5.4mm±0.1mm

L103＝4.4mm±0.1mm

L104≦0.6mm

L105＝2.4mm±0.1mm

L106≦0.2mm

L107＝2.4mm±0.2mm

A10＝45°±1°

A11＝15°±1°

A12＝60°±1°

R5≦0.2mm

D3＝6.50mm

.000

D4＝10.00mm

.000

D5≦16.0mm

D6＝18.0mm

0.0
1.0

−

リール駆動孔の深さL108は，直径D3の部分までとし，次による。

L108≧9.4mm

リールのスプリング力Fは，磁気テープ装置にカートリッジを装着し，支持領域が基準面ZからL110の

位置にあるとき，図18に示す方向に0.6N±0.2Nとする。接触領域の寸法は，次による。

L109＝7.05mm±0.10mm

L110＝0.6mm±0.2mm

L111≦7.5mm

L112≦8.0mm

A13＝60°±1°

6.17 光通過経路（図5，図7，図15及び図16参照）光通過経路は，リーダテープ及びトレーラテープ

を検出するために設ける。リッドが開いたとき，光通過経路は，直径D7の通過孔から一辺がL116の正方形

の孔及びリッドの光窓を妨げられることなく通過しなければならない。

光通過経路の位置及び寸法は，次による。

L88＝34.55mm±0.10mm

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

L113＝8.35mm±0.10mm

L114≦0.5mm

L115＝6.05mm±0.10mm

L116＝2.5mm±0.4mm

L117≧12.5mm

L118＝3.8mm±0.1mm

L119＝2.5mm±0.4mm

L120＝6.05mm±0.10mm

A14＝45°±1°

A15＝5.50°±0.25°

D7＝6.5mm

3.00.0

6.18 ケース内のテープの位置（図16参照）テープは，基準面Xに平行な二つのガイドの間を通る。こ

の二つのガイドの間隔は，次による。

L121＝12.46mm±0.10mm

ガイド面は，R6の半径をもち，図16に示すカートリッジの外側の点からリールハブに引いた接線とし

なければならない。ガイドの位置及び寸法は，次による。

L122＝76.28mm±0.30mm

L123＝27.15mm±0.20mm

L124＝31.15mm±0.20mm

L125＝9.67mm±0.10mm

R6≧1.5mm

6.19 テープ走行領域（図16及び図17参照）磁気テープ装置にカートリッジを挿入すると，テープは，

カートリッジの外側に引き出される。このときテープは，ガイド面に接触してはならない。テープ走行領

域は，テープが自由に走行できることとし，その位置及び寸法は，次による。

L122＝76.28mm±0.30mm

L123＝27.15mm±0.20mm

L124＝31.15mm±0.20mm

L125＝9.67mm±0.10mm

L126＝23.0mm±0.1mm

L127≧0.3mm

L128＝46.2mm±0.2mm

L129＝11.4mm±0.1mm

L130≧0.3mm

D8＝16.05mm

−

6.20 テープ引出し開口部（図5参照）磁気テープ装置にカートリッジを装着すると，磁気テープ装置

のテープガイドは，カートリッジからテープを引き出す。このテープガイドのためのテープ引出し開口部

の形状及び寸法は，次による。

R7＝2.3mm±0.1mm

R8＝24.15mm±0.10mm

L67＝1.0mm±0.1mm

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法

7.1

材料テープの記録面は，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品）上の

片面に，強固で柔軟性がある磁性材料を塗布しなければならない。テープの裏面は，磁性材又は非磁性材

を塗布してもよい。

リーダテープ及びトレーラテープは，磁性材料の塗布及び裏面に塗布がない半透明な材料とする。

7.2

長さ

7.2.1

磁気テープの長さテープのPBOTからPEOTまでの長さは，14.72m〜113mとする。

7.2.2

リーダテープ及びトレーラテープの長さリーダテープ及びトレーラテープの長さは，70mm〜

90mmとする。

7.2.3

接合テープの長さ接合テープの長さは，13mm以下とする。

7.3

幅磁気テープの幅は，8.00mm±0.01mmとし，最大幅と最小幅との差は，ピーク対ピークで6μm

以下とする。リーダテープ，トレーラテープ及び接合テープの幅は，8.00mm±0.02mmとする。テープ幅

の測定方法は，次による。

顕微鏡用のスライドグラスを試験片にかぶせる。少なくとも2.5μmの精度の顕微鏡，投影器又はこれと

同等の装置を使用し，張力をかけずに幅を測定する。長さ1m以上のテープについて異なる位置5か所以

上の測定を繰り返す。測定した値の平均をテープの幅とする。

7.4

連続性テープは，PBOTからPEOTまでに継目があってはならない。

7.5

厚さ

7.5.1

磁気テープの厚さこの規格では，厚さが異なる2形式のテープを規定し，それら磁気テープの厚

さは，全幅にわたり12.0μm〜14.0μm又は9.2μm〜10.8μmとする。

7.5.2

リーダテープ及びトレーラテープの厚さリーダテープ及びトレーラテープの厚さは，13μm〜

17μmとする。

7.6

長手方向の湾曲長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。

長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。

偏差は，3.8m以下とする。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。

7.7

カッピングカッピングは，平面から磁気テープの幅方向での浮き上がり量とし，0.9mm以下とす

る。試験方法は，次による。

テープを長さ1.0m±0.1mに切り取る。塗布面を露出して，試験環境条件に3時間以上放置する。この

テープの中央部分から，長さ25mmの試験片を切り取る。この試験片を，テープの一方の切断部を下側に

して，高さ25mm以上，内径8mmの円筒内に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ，試

験片の基準縁と反対側の縁とをコンパレータの十字線にそろえて，十字線から試験片の中心までの距離を

測定する。

7.8

塗布面の接着強度塗布面をテープのベース材料からはがす力は，0.10N以上とする（図20参照）。

試験方法は，次による。

長さ380mmのテープの試験片を取り，一方の端から125mmの位置でテープの幅方向にけがき線をベー

ス面に達するまで引く。塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属

の板に張り付ける。けがき線に平行に，試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試

験機に取り付けて，254mm/minで引っ張る。塗布面のいかなる部分でも，最初にベースからはがれたとき

の力を記録する。この力が0.10Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれる場合，別の種類の両

面接着テープを使用しなければならない。テープの裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

を行う。

図20 塗布面の接着強度の試験方法

7.9

層間の粘着層間の粘着は，試験片の粘着又は塗布面のはがれの徴候があってはならない。試験方

法は，次による。

直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。1.1Nの張力でガラス管にテープを巻

く。巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。更に，試験環境条件

に24時間放置する。試験片の自由端に0.1Nの力をかけ，ゆっくりとほどく。

7.10 引張強度引張強度は，ISO/R 527の測定方法によって試験したとき，次による。

なお，試験片の長さは，200mm，引張速度は，100mm/minとする。(ISO/R 527，rate D)

7.10.1 破断強度破断強度は，試験片が破断するまで負荷をかけたときとし，その値は，17.6N以上とす

る。

7.10.2 降伏強度降伏強度は，テープが5%伸びるのに要する力とし，その値は，4.9N以上とする。

7.11 残留伸び残留伸びは，元のテープ長の0.03%未満とする。試験方法は，次による。

0.20N以下の張力で約1mの長さの試験片の初期の長さを測定する。更に，全断面積に対し，20.5N/mm2

の力を10分間加える。加えた力を除き，10分経過後にテープの長さを測定する。

7.12 表面の電気抵抗表面の電気抵抗は，次による。

裏面が塗布されていないテープの記録面

105Ω〜5×108Ω

裏面が塗布されているテープの記録面

105Ω〜5×1012Ω

裏面が塗布されているテープの裏面

9×108Ω未満

試験方法は，次による（図21参照）。

テープの試験片を試験環境条件に24時間放置する。24カラットの金めっきをした半径R＝10mmで，粗

さをN4（ISO1302参照）で仕上げてある二つの半円の電極に，記録面が接するように置く。これらの電極

は，水平で，かつ，中心間の距離d＝8mmとなるように平行に置く。試験片の両端に5N/mm2の力を加え

る。電極に100V±10Vの直流電圧を加えて，電流を測定する。この値から表面の電気抵抗を算出する。こ

の測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの表面の電気抵抗の平均を求める。テープの

裏面が塗布されている場合，裏面についてもこの試験を行う。試験片を電極に置くとき，電極の間にテー

プの試験片以外の導電性の物質があってはならない。

参考表面は，清浄にするのがよい。

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図21 表面の電気抵抗の試験方法

7.13 テープの巻き方テープの巻き方は，テープの磁性面を外側とする（図1参照）。

7.14 光透過率磁気テープの光透過率は，5%以下とし，リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，

60%以上とする。光透過率の測定方法は，附属書Aによる。

8. 磁気記録特性磁気記録特性の試験は，次に示す試験項目による。

この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，副標準テープ及び供試テープともに同じ装置上

の同じ走行系（記録同時読取りをするか，記録同時読取り機能がない装置の場合，記録後の1回目の再生

時に読み取る。）を使用する。

8.1

試験条件磁気記録特性の試験条件は，規定がない限り，次による。

テープの状態

残留する信号の振幅が記録密度2 126 ftpmmでの平均信号振幅の
2%以下になるように交流消去する。

ヘッドとテープの相対速度

3.759m/s±0.2%

トラック幅

25μm±1μm

アジマス

−10.000°±0.133°

ギャップ長

0.30μm±0.05μm

テープの張力

0.117 0N±0.009 8N

記録電流

試験記録電流

8.2

ティピカル磁界ティピカル磁界は，副基準磁界の80%〜120%とする。

8.3

平均信号振幅平均信号振幅は，記録密度2 126 ftpmmを記録したとき，標準信号振幅の70%〜130%

とする。ただし，ミッシングパルスを除く。

8.4

分解能分解能は，記録密度2126 ftpmmの平均信号振幅を記録密度708.67 ftpmmの平均信号振幅で

除した値とし，副標準テープを用いて測定したときの値の80%〜120%とする。

8.5

狭帯域の信号対雑音比 (NB−SNR) 狭帯域の信号対雑音比は，実効電力の平均信号振幅を雑音の

実効電力の積分（側帯波）で除した値とし，デシベル(dB)で表す。

8.5.1

要求事項トラック幅を25μmとしたとき，34dB以上とする。

なお，次の式によって算出する。

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dB (25) ＝dB (W) ＋10logW25

ここで， W：測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅 (μm)

8.5.2

試験方法試験方法は，分解能3kHz及びビデオ帯域幅30Hzのスペクトラムアナライザを使用し，

次による。

記録密度2 126ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ6m以上にわたり，150か所以上のサンプルについ

て測定する。次の走行（再生時）で，テープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電

力を3.59MHzから3.96MHzまで，実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。

8.6

消去特性記録密度2 126ftpmmの試験記録電流と等しい記録電流で，記録密度98ftpmmの信号を記

録した後，テープの長手方向に320 000A/mの均一な磁界中を通過したとき，残留した信号振幅は，標準

信号振幅の2%以下とする。

なお，消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。また，測定は，バ

ンドパスフィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。

8.7

テープの品質

8.7.1

ミッシングパルスミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0V

を規準としたピーク値 (0−P) を記録密度2 126 ftpmmの平均信号振幅の21の25%以下であるとき，これを

ミッシングパルスとする。

8.7.2 ミッシングパルスゾーンミッシングパルスゾーンは，7個の連続したミッシングパルスで始まり，

28個の連続した磁束反転が読めたとき，又はトラックの0.038mmの長さを検出したとき終了する。それ

以後のミッシングパルスは，次のミッシングパルスゾーンとする。

なお，ミッシングパルスゾーンは，次のトラックに続いてはならない。

平均ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，検出したミッシングパルスゾーンの数をテープに記録した

磁束反転数の合計で除して求め，2126ftpmmの密度で記録し，2×10−7未満でなければならない。

8.8

不良テープ不良テープの規格値は，この規格では規定しない。

なお，不良テープの特性などを附属書Eに示す。

9. フォーマット

9.1

概要ここでは，ホストコンピュータから受信したデータの誤り検出及び誤り訂正の動作並びにテ

ープ上の記録方法及びテープの記録様式について規定する。

9.2

情報マトリクスホストコンピュータからの受信データは，情報マトリクスと呼ぶ二次元のグルー

プに配置する。情報マトリクスは，60列×24行に配置した1440セルで構成する。各セルは，データバイ

トで構成し，行及び列によって識別する。情報マトリクスは，次による。

ID情報

14バイト（14.参照）

ユーザデータバイト及びパッドバイト

1 024バイト（9.2.1.1参照）

CRCバイト

2バイト（9.2.1.2参照）

水平ECバイト

160バイト（9.2.1.3.1参照）

垂直ECバイト

240バイト（9.2.1.3.2参照）

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図22 情報マトリクス

9.2.1

情報マトリクスのロード各セルは，00列／00行から59列／23行の書式で，列及び行によって

識別する。CRCバイト及びECバイトの全計算データの付加は，EXCLUSIVE-0R演算によって実行する。

9.2.1.1

G1グループ G1グループは，ID情報14バイト並びにユーザデータバイト及びパッドバイトの

1024バイトからなる1038バイトとする。

ユーザデータバイトの数が1 024バイト未満のとき，残りのバイトをパッドバイトとする。パッドバイ

トは，規定せず，情報交換時には無視する。G1グループにユーザデータバイトがない場合もある（12.3

参照）。

ID情報は，00列／00行〜00列／13行の14バイトとし，14.で規定する。

ホストコンピュータからのユーザデータバイトは，00列／14行〜00列／19行に，次に02列／00行〜

02列／19行に，更に50列／19行までの偶数列に順次格納する。その後，01列／00行〜01列／19行に格

納し，以下51列／17行までの奇数列に順次格納する。

9.2.1.2

G2グループ G2グループは，G1グループにCRC1及びCRC2の2バイトを付加する。このCRC

の2バイトは，G1グループの1 038バイトについて計算し，51列／18行及び51列／19行のセルに格納す

る。

このCRCバイトの生成は，次による。

∑

)

(

＝

∑

−

037

)

039

(

)

(

)

(

＝

GCRC (X) ＝x16＋x12＋x5＋1

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C(X)＝D(X) mod GCRC (X)

C (x) ＋x14＋x12＋x10＋x8＋x7＋x5＋x3＋x＝∑

)

(

ここに，

Dk： c列とr行のバイトを表す。

k＝ 0〜1 037

k＝ (10c＋r) ：cが偶数のとき

k＝ (10c＋r＋510) ：cが奇数のとき

c＝ 0〜51

r＝ 0〜19

Dk，

0，Dk，1，…，Dk, 7： Dkの8ビットを表し，Dk, 7を最上位ビッ

トとする。

CH0， CH1，…，CH7：第1CRCバイト (CRC1) を表し，CH7を最上

位ビットとする。

CL0， CL1，…，CL7：第2CRCバイト (CRC2) を表し，CL7を最上

位ビットとする。

9.2.1.3

誤り訂正符号 (ECC) ECCは，リードソロモン符号 (30，26，5) を水平符号，リードソロモン

符号 (24，20，5) を垂直符号とし，水平ECバイトと垂直ECバイトの2種類の検査バイトを生成する。

ECCの変換演算子は，次による。

B＝T [A] ；A＝T-1 [B]

ここに，

T [A] ： 8ビットECバイトの線形変換演算子を表す。

T-1 [B] ： 8ビットECバイトの逆線形変換演算子を表す。

バイトAとバイトBの相互変換は，次による。

B0＝A0＋A2＋A3＋A5＋A7

A0＝B5

B1＝A3＋A4＋A6＋A7

A1＝B4

B2＝A0＋A6＋A7

A2＝B3＋B7

B3＝A0＋A1＋A6

A3＝B2＋B6＋B7

B4＝A1

A4＝B1＋B5＋B6＋
B7

B5＝A0

A5＝B0＋B4＋B5＋
B6

B6＝A1＋A2＋A3＋A7

A6＝B3＋B4＋B5

B7＝A0＋A1＋A2＋A6

A7＝B2＋B3＋B4

ここに，

A0，A1，…，A7：バイトAの8ビットを表し，A7を最上位ビット

とする。

B0，B1，…，B7：バイトBの8ビットを表し，B7を最上位ビット

とする。

ガロア体GF (28) の生成多項式は．次の式による。

Gα (X) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1

Bは，ガロア体GF (28) の任意の元とし，次の式によって算出する。

∑

＝

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ここに， B0，B1，…，B7：バイトBの8ビットを表し，B7を最上位ビット

とする。

G (X) は，次の式によって定義する。

∏

−

)

(

)

(

＝

9.2.1.3.1

G3グループ G3グループは，G2グループに水平ECバイトを付加する（図22参照）。

Dc, rは，cを0〜51の列番号，rを0〜19の行番号とし，G2グループのバイトを表す。

DHEr (X) は，r行の偶数列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CREk, r] は，r行の偶数列の水

平ECバイトの変換，CREk, rは，r行の偶数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算出する。

∑

−

]

[

)

(

DHE

＝

∑

−

[

)

(

mod

)

(

CRE

DHE

＝

CREk, r＝T-1 [T [CREk, r] ]

ここに， r＝0，1，…，19

k＝1，2，3，4

CREk, rは，c＝50＋2kとするc列及びr行のセルに格納する。

DHOk, r (X) は，r行の奇数列のバイトが変換した値を係数とする多項式，T [CROk, r] は，r行の奇数列の

水平ECバイトの変換，CROk, rは，r行の中の奇数列の水平ECバイトを表し，それぞれ次の式によって算

出する。

∑

−

]

[

)

(

DHO

＝

∑

−

[

)

(

mod

)

(

CRO

DHO

＝

CROk, r＝T-1 [T [CROh, r] ]

ここに， r＝0，1，…，19

k＝1，2，3，4

CROk, rは，c＝51＋2kとするc列及びr行のセルに格納する。

9.2.1.3.2

G4グループ G4グループは，G3グループに垂直ECバイトを付加する（図22参照）。

Dc, rは，cを0〜59の列番号とし，rを0〜19の行番号として，0行〜19行のすべての列で構成するG3

グループの各バイトを表す。

DVc (X) は，c列のバイトを変換した値を係数とする多項式，T [CCc, k] は，c列の垂直ECバイトの変換，

CCc, kは，c列の垂直ECバイトを表し，それぞれは，次の式によって算出する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

∑

−

[

)

(

＝

∑

−

]

[

)

(

mod

)

(

＝

CCc, k＝T−1 [T [CCc, k] ]

ここに

c＝0，1，…，59

k＝1，2，3，4

CCc, kは，r＝19＋kとするc列及びr行のセルに格納する。

10. 記録方式データの記録方式は，データが1のときは，ビットセルの中央で磁化を反転し，データが

0のときは，磁化を反転しないNRZ1方式とする。

10.1 記録密度最大記録密度は，2 126 ftpmmですべて “1” を記録したときとし，この公称ビットセ

ル長は，0.470μmとする。

10.1.1 長周期平均ビットセル長各トラックの長周期平均ビットセル長は，連続する133 060個以上のビ

ットセルにわたる平均とし，その値は，0.470μm±0.20%とする。

10.1.2 短周期平均ビットセル長短周期平均ビットセル長は，任意の16個以上のビットセルの平均とし，

その値は，直前のトラックの長周期平均ビットセル長の0.35%を超えて変化してはならない。

10.1.3 短周期平均ビットセル長の変動率短周期平均ビットセル長の変動率は，任意の二つの連続する

16ビットセル (STAn，STAn＋1) の長さの変動と一つの連続する16ビットセル (STAn) の長さの比とし，そ

の値は，次の式で算出し，0.05%以下とする。

100

1×

−

STA

10.2 ビットシフト任意のビット1の零交差の最大位置誤差は，ミッシングパルスを除いて，短周期平

均ビットセル長による公称位置から25%を超えて偏移してはならない。測定法は，附属書Bによる。

10.3 情報交換時の再生信号振幅

10.3.1 データ信号の平均信号振幅記録密度2 126 ftpmmで，3 000磁束反転以上にわたるデータ信号の

平均信号振幅は，副標準信号振幅の70%〜130%とする。

10.3.2 サーボ信号の平均信号振幅任意のサーボフレーム（12.5参照）の平均信号振幅は，試験記録電流

で副標準テープに記録した98ftpmmの信号振幅の70%〜130%とする。

10.3.3 アナログテープマーク上の信号振幅任意に記録したトラックのアナログテープマークトラック

（13.1参照）の平均信号振幅は，試験記録電流で副標準テープに記録した98 ftpmmの信号振幅の70%〜

130%とする。

10.4 消去すべての消去領域は，テープの走行方向にテープの全幅を交流消去する。消去の後に残留す

る再生信号振幅は，同じテープ上に2 126 ftpmmで記録したときの平均信号振幅の2%以下とする。

11. トラック

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表1 情報セグメント番号

情報セグメ
ント番号

記録パターン

情報セグメ
ント番号

記録パターン

1111111011

1101111111

1111111101

1101111101

1111110111

1101111011

1111110101

1101110101

1110111011

1011111111

1110111101

1011101101

1110110111

1011010111

1110110101

1011010101

1101011011

1110111111

1101011101

1111101111

1101010111

1111101101

1101010101

1111101011

1011111011

1110101111

1011111101

1110101111

1011110111

1110101101

1011110101

1110101011

1010111011

1010111111

1010111101

1011101111

1010110111

1011101101

1010110101

1011101011

1111011111

1011111111

1111011101

1010101111

1111010111

1010101011

1111010101

1101101011

ビット位置

10 1

ビット位置

10 1

12.2.3 情報セグメントフィールド情報セグメントフィールドは，情報マトリクスから順次読み取った

30データバイトを表す300チャネルビットからなる。

情報マトリクスの各行 (r) は，二つの情報セグメントフィールド00〜29列と30〜59列とに分割する。

これらの情報セグメントフィールドは，図25によって番号付けすることとし，この番号順に読み取らな

ければならない。

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図29 情報トラック

12.6.1 フォーマットIDトラックフォーマットIDトラックの情報ゾーンは，フォーマットIDブロック

で構成する。物理ブロックID番号は，記録していないトラックを含み，すべてのトラックのすべてのブ

ロックに順番に割り付ける（14.9参照）。

第1フォーマットIDトラックの第1フォーマットIDブロックは，物理ブロックID番号を0としなけ

ればならない。LBOT領域は，160番目のフォーマットIDトラックで終了する。160番目のフォーマット

IDトラックのブロック8は，物理ブロックID番号を (160×8) −1＝1279とする。

12.6.2 データトラックデータトラックの情報ゾーンは，データトラック及び／又はパッドブロックで構

成する。

12.6.3 テープマークトラックテープマークトラックの情報ゾーンは，テープマークブロックで構成する。

12.6.4 スプライストラックスプライストラックの情報ゾーンは，パッドブロックで構成する。スプライ

ストラックは，データの記録時にテープの走行が停止したとき記録し，最後のトラックとする。スプライ

ストラックは，データトラック，他のスプライストラック又はテープマークの後に隣接して記録する。

13. テープマーク

13.1 テープマークの概要テープマークは，記録したユーザデータのグループの境界に用いてもよい。

テープマークは，ロングテープマーク及びショートテープマークの2形式とする。両形式のテープマーク

は，それぞれのテープマークの規定による長さで，直前の情報トラックに続いて，交流消去領域，11アナ

ログテープマークトラック及び10〜18テープマークトラックの順に構成する。

アナログテープマークは，サーボゾーン及びそれに続くトーンを記録した情報ゾーンで構成する。

第1テープマークトラックの第1ブロックは，最終の情報ブロックの物理ブロックID番号にテープマ

ークオフセットを加えた物理ブロックID番号を記録する。

消去領域の公称距離Rは，消去した領域に隣接する2トラックの中心線間をテープ基準縁に平行に測定

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した距離とする。

図30 テープマーク構成（テープ記録面側を示す。）

13.2 ロングテープマークロングテープマークの消去領域は，249個の消去トラックの領域に相当する公

称90.75mmまで拡張できる。そのオフセットは，(249＋11)×8＋1＝2 081とする。

13.3 ショートテープマークショートテープマークは，標準ショートテープマーク及び代替ショートテ

ープマークの2形式とする。

13.3.1 標準ショートテープマーク標準ショートテープマークの消去領域は，消去した39個の消去トラ

ックの領域に相当する公称14.52mmまで拡張できる。そのオフセットは，(39＋11)×8＋1＝401とする。

13.3.2 代替ショートテープマーク代替ショートテープマークの消去領域は，消去した2個の消去トラッ

クの領域に相当する公称1.089mmまで拡張できる。そのオフセットは，(2＋11)×8＋1＝105とする。

14. ID情報情報トラックの8個の物理ブロックは，それぞれ14バイトのID情報を含む。これらのバイ

トは，サブシステムの管理のためにテープサブシステムが供給し，使用する。情報マトリクスフィールド

の00列の00〜13行は，ユーザデータブロックの論理的分割及び物理的分割に関する情報，ブロック形式，

再書込み回数の計数，スタート／エンド物理ブロックフラグ並びにその他のサブシステム制御情報を含ま

なければならない。

14.1 00列00行このバイトは，00列03行で規定するブロック形式による。

14.1.1 ブロック形式−データブロックブロック形式がデータブロックのとき，このバイトの各ビットの

意味は，次による。

ビット7

： “1”とする。

ビット6

：物理ブロックへの論理ブロックの写像として用い，物理ブロック内での論理

ブロックの始まりを示す。このビットは，論理ブロックの第1バイトが物理
ブロックの中にある場合“1”とし，ない場合"0"とする。

ビット5

：物理ブロックへの論理ブロックの写像として用い，物理ブロック内での論理

ブロックの終わりを示す。このビットは，論理ブロックの最終バイトが物理
ブロックの中にある場合“1”とし，ない場合“0”とする。

ビット4

： “0”とする。

ビット3，2，1，0

：これらのビットは，16を法とする2進数とし，その論理ブロックの再書込み

回数を表す。その値は，その論理ブロックに最初に書き込むとき，“0”とし，
以後再書込みを行うごとに“1”を加算する。

14.1.2 ブロック形式−テープマークブロック形式がテープマークのとき，このバイトは，現在のテープ

マーク以前にテープ上に記録したテープマークの数を256を法とする数とし，2進数で表す。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

14.1.3 ブロック形式−フォーマットID ブロック形式がフォーマットIDブロックのとき，このバイトの

内容は，(00) とする。

14.1.4 ブロック形式−パッドブロックブロック形式がパッドブロックのとき，このバイトの内容は，規

定せず，情報交換時には無視する。

14.2 00列01行このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。

14.3 00列02行このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。

14.4 00列03行このバイトは，ブロック形式を規定する。そのブロック形式IDは，次による。

(00)

〜 (F7) ：データブロック

(F8) ：将来使用のため確保

(FC) ：フォーマットID

(F9) ：将来使用のため確保

(FD) ：将来使用のため確保

(FA) ：ロングテープマーク

(FE) ：パッドブロック

(FB) ：ショートテープマーク

(FF) ：将来使用のため確保

LBOT又はテープマーク後の第1データブロックのブロック形式1Dは，(00) とする。

ブロック形式IDは，(00) から順次 (F7) まで増加し，その後これを繰り返す。ブロック形式IDは，テ

ープマークの後でリセットしなければならない。

14.5 00列04行このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。

14.6 00列05，06行これらのバイトは，00列03行で規定するブロック形式による。ブロック形式がデ

ータブロックでないとき，これらのバイトの内容は，規定せず，情報交換時には無視する。

14.6.1 05行ブロック形式がデータブロックのとき，このバイトは，物理ブロックに含まれるユーザデ

ータバイト数を2バイト計数表示している上位バイトを表す。このバイトの内容は，(00) 〜 (03) とする。

14.6.2 06行ブロック形式がデータブロックのとき，このバイトは，物理ブロックに含まれるユーザデ

ータバイト数を2バイト計数表示している下位バイトを表す。このバイトの内容は，(00) 〜 (FF) とする。

上位バイト及び下位バイトの内容がいずれも (00) の場合は，1バイトの論理バイト数を表す。

14.7 00列07行このバイトは，すべてのブロック形式について (00) とする。

14.8 00列08，09，10行これらのバイトは，00列03行で規定するブロック形式による。

14.8.1 ブロック形式−データブロックブロック形式がデータブロックのとき，これらのバイトは，この

論理ブロックの論理ブロックID番号を表し，それぞれ上位バイト，中位バイト及び下位バイトの3バイ

トとし，それぞれを(00)〜(FF)とする。論理ブロッヌID番号は，LBOT又はテープマーク後の第1論理ブ

ロックを00とし，引き続く論理ブロックについて順次1を加算する。

1個の論理ブロックを1個以上のデータブロックに拡張する場合，それらのデータブロックは，同一の

論理プロッタID番号をもってもよい。

14.8.2 ブロック形式−非データブロックブロック形式がデータブロックでないとき，これらのバイトの

内容は，規定せず，情報交換時には無視する。

14.9 00列11，12，13行これらのバイトは，すべてのブロック形式について，物理ブロックID番号を

示す上位バイト，中位バイト及び下位バイトの3バイトを表し，各バイトの内容は，(00) 〜 (FF) とする。

第1フォーマットIDトラックの第1ブロックは，物理ブロックID番号を0とする。この番号は，情報ブ

ロックについては，順次1を加算し，消去したトラック及びアナログテープマークトラックについて，そ

れぞれ8を加算する。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A（規定）光透過率の測定方法

A.1 概要この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定方法についての概略を示す。

光透過率は，光学系にテープ試験片を入れないときの読取り値と入れたときの読取り値との比を百分比

で表す。

A.2 測定装置装置構成は，次による。

光源

光検出部

測定用マスク

光学系

測定回路

A.2.1 光源光源は，次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。

波長

：

850nm±50nm

半値幅

：

±50nm

A.2.2 光検出部光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，回路を閉じた状態で動作する。

A.2.3 測定用マスク測定用マスクの厚さは，2mmとし，円形の孔の直径 (d) は，シリコンフォトダイオ

ードの受光領域の80%〜100%とする。マスクの表面は，黒のつや消し仕上げとする。

試験片は，マスクの孔を覆い，かつ，周りの光が漏れないように，マスクに固定する。

A.2.4 光学系（附属書A図1参照）光学系は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距離 (L)

は，次の式による。

tan

L＝

角度αは，光軸上の最大強度の95%以上の光の強度がある角度とする。

A.2.5 追捕装置全体は，つや消しの黒いケースで覆う。

A.2.6 測定回路（附属書A図2参照）測定回路は，次によって構成する。

：

出力電圧を変える定電圧電源

：

電流を制限する抵抗器

LED

：

赤外線発光ダイオード

：

シリコンフォトダイオード

：

演算増幅器

Rf0，Rf1

：

帰還用の抵抗器

：

増幅率切代用スイッチ

：

電圧計

LEDに流す電流（照射力）は，供給電圧 (E) によって変化させる。

Diは，回路を閉じて動作させる。

演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，回路を閉じているときの電流値とする。

出力電圧は，光の強度の一次関数である。

Rf0及びRf1は，許容差1%の温度変化特性がよい抵抗器とする。

これらの抵抗値の比は，次の式による。

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書B（規定）ビットシフトの測定

ビットシフトの試験で用いる書込み装置は，通常の情報交換用に用いる装置とする。

なお，テープは，システム動作と同様の起動停止方式で書き込む。

B.1 読取り装置読取り装置は，次による。

トラックの直線性が5μmの範囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを読み取る。読取り

ヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。

なお，ヘッドの性能，回転トランス，プリアンプ及びヘッドとテープとの相対速度は，信号対雑音比を

低くするために選択する。

ヘッド，回転トランス，プリアンプ及び関連する回路の周波数特性は，次による。

読取りヘッド

ギャップ長

：

0.30μm±0.05μm

共振周波数

：

“1”パターンの周波数の15倍以上

トラック幅

：

25μm±1μm

アジマス

：

−10.000°±0.133。

回転トランス

バンド幅

：

fhigh(−3dB)は，“1”パターンの周波数の4倍以上

flow (−3dB)は，“1”パターンの周波数の400

1以下

プリアンプ

増幅率

：

100以上

入力雑音

：

2以下

バンド幅

：

fhigh (−3dB)は，“1”パターンの周波数の3倍以上

flow (−3dB)は，“1”パターンの周波数の400

1以下

読取りフィルタ

ローパスフィルタ

：

“1”パターンの周波数の少なくとも2倍のカットオフ周波数をもつ3次のバタ
ーワース特性とする。

ハイパスフィルタ

：

“1”パターンの周波数の401の点でQを0.7とする2個の極以上をもつ（すべて

の他の交流対極は，“1”パターンの周波数の800

1に存在しなければならない。）。

イコライザ

：

イコライザの伝達関数は，次の式による。

)

(

)

()

(

)

()

(

)

(

−

＝

ここに，

K≧ 1

ωi＝ 2πfi

fz＝ “1”パターンの周波数の41

fp＝ “1”パターンの周波数の401

f0＝ “1”パターンの周波数の2倍

Q＝ 0.7

B.2 測定測定は，次による。

平均ビットセルの長さ (L) は，試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差点 (RZC) の間

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書C（規定） 8ビットバイトから10ビットパターンへの変換

8ビットバイトは，左側を最上位ビットとし，右側を最下位ビットとする。

10ビットパターンは，左側を最初の記録ビットとし，右側を最後の記録ビットとする。

括弧で示した数は，16進数で表す。

8ビットバイト

10ビットパターン

(00)

00000000

0100100101

(01)

00000001

0100100111

(02)

00000010

0100101010

(03)

00000011

0100101101

(04)

00000100

0100101111

(05)

00000101

0100111001

(06)

00000110

0100111011

(07)

00000111

0100111110

(08)

00001000

0101001001

(09)

00001001

0101001011

(0A)

00001010

0101001110

(0B)

00001011

0101010010

(0C)

00001100

0101010101

(0D)

00001101

0101010111

(0E)

00001110

0101011010

(0F)

00001111

0101011101

(10)

00010000

0101101001

(11)

00010001

0101101011

(12)

00010010

0101101110

(13)

00010011

0101110010

(14)

00010100

0101110101

(15)

00010101

0101110111

(16)

00010110

0101111010

(17)

00010111

0101111101

(18)

00011000

0110100101

(19)

00011001

0110100111

(1A)

00011010

0110101010

(1B)

00011011

0110101101

(1C)

00011100

0110101111

(1D)

00011101

0110111001

(1E)

00011110

0110111011

(1F)

00011111

0110111110

(20)

00100000

0111001001

(21)

00100001

0111001011

(22)

00100010

0111001110

(23)

00100011

0111010010

(24)

00100100

0111010101

(25)

00100101

0111010111

(26)

00100110

0111011010

(27)

00100111

0111011101

(28)

00101000

0111101001

(29)

00101001

0111101011

(2A)

00101010

0111101110

8ビットバイト

10ビットパターン

(2B)

00101011

0111110010

(2C)

00101100

0111110101

(2D)

00101101

0111110111

(2E)

00101110

0111111010

(2F)

00101111

0111111101

(30)

00110000

1001110011

(31)

00110001

1001110110

(32)

00110010

1001001010

(33)

00110011

1001001101

(34)

00110100

1001001111

(35)

00110101

1001011001

(36)

00110110

1001011011

(37)

00110111

1001011110

(38)

00111000

0110010011

(39)

00111001

0110010110

(3A)

00111010

1010011111

(3B)

00111011

1010010010

(3C)

00111100

1010010101

(3D)

00111101

1010010111

(3E)

00111110

1010011010

(3F)

00111111

1010011101

(40)

01000000

1010101001

(41)

01000001

1010101011

(42)

01000010

1010101110

(43)

01000011

1010110010

(44)

01000100

1010110101

(45)

01000101

1010110111

(46)

01000110

1010111010

(47)

01000111

1010111101

(48)

01001000

1011100101

(49)

01001001

1011100111

(4A)

01001010

1011101010

(4B)

01001011

1011101101

(4C)

01001100

1011101111

(4D)

01001101

1011111001

(4E)

01001110

1011111011

(4F)

01001111

1011111110

(50)

01010000

1100100101

(51)

01010001

1100100111

(52)

01010010

1100101010

(53)

01010011

1100101101

(54)

01010100

1100101111

(55)

01010101

1100111001

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットバイト

10ビットパターン

(56)

01010110

1100111011

(57)

01010111

1100111110

(58)

01011000

1101001001

(59)

01011001

1101001011

(5A)

01011010

1101001110

(5B)

01011011

1101010010

(5C)

01011100

1101010101

(5D)

01011101

1101010111

(5E)

01011110

1101011010

(5F)

01011111

1101011101

(60)

01100000

1101101001

(61)

01100001

1101101011

(62)

01100010

1101101110

(63)

01100011

1101110010

(64)

01100100

1101110101

(65)

01100101

1101110111

(66)

01100110

1101111010

(67)

01100111

1101111101

(68)

01101000

1110100101

(69)

01101001

1110100111

(6A)

01101010

1110101010

(6B)

01101011

1110101101

(6C)

01101100

1110101111

(6D)

01101101

1110111001

(6E)

01101110

1110111011

(6F)

01101111

1110111110

(70)

01110000

1111001001

(71)

01110001

1111001011

(72)

01110010

1111001110

(73)

01110011

1111010010

(74)

01110100

1111010101

(75)

01110101

1111010111

(76)

01110110

1111011010

(77)

01110111

1111011101

(78)

01111000

1111101001

(79)

01111001

1111101011

(7A)

01111010

1111101110

(7B)

01111011

1111110010

(7C)

01111100

1111110101

(7D)

01111101

1111110111

(7E)

01111110

1111111010

(7F)

01111111

1111111101

(80)

10000000

0100101011

(81)

10000001

0100101110

(82)

10000010

0100110101

(83)

10000011

0100111010

(84)

10000100

0101101010

(85)

10000101

0101101111

(86)

10000110

0101111011

(87)

10000111

0101111110

(88)

10001000

0111001010

8ビットバイト

10ビットパターン

(89)

10001001

0111001111

(8A)

10001010

0111011011

(8B)

10001011

0111011110

(8C)

10001100

1001001011

(8D)

10001101

1001001110

(8E)

10001110

1001010101

(8F)

10001111

1001011010

(90)

10010000

1001101001

(91)

10010001

1001110010

(92)

10010010

1001110111

(93)

10010011

1001111101

(94)

10010100

1010101010

(95)

10010101

1010101111

(96)

10010110

1010111011

(97)

10010111

1010111110

(98)

10011000

1011001001

(99)

10011001

1011010010

(9A)

10011010

1011010111

(9B)

10011011

1011011101

(9C)

10011100

1011101011

(9D)

10011101

1011101110

(9E)

10011110

1011110101

(9F)

10011111

1011111010

(A0)

10100000

1101001010

(A1)

10100001

1101001111

(A2)

10100010

1101011011

(A3)

10100011

1101011110

(A4)

10100100

1010100101

(A5)

10100101

1110010010

(A6)

10100110

1110010111

(A7)

10100111

1110011101

(A8)

10101000

1110101011

(A9)

10101001

1110101110

(AA)

10101010

1110110101

(AB)

10101011

1110111010

(AC)

10101100

1111100101

(AD)

10101101

1111101010

(AE)

10101110

1111101111

(AF)

10101111

1111111011

(B0)

10110000

0100111111

(B1)

10110001

1001011111

(B2)

10110010

1011111111

(B3)

10110011

1110111111

(B4)

10110100

0101100101

(B5)

10110101

0110100110

(B6)

10110110

1111010011

(B7)

10110111

1111010110

(B8)

10111000

0101010011

(B9)

10111001

0111110011

(BA)

10111010

1010010011

(BB)

10111011

1101110011

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットバイト

10ビットパターン

(BC)

10111100

0101010110

(BD)

10111101

0111110110

(BE)

10111110

1010010110

(BF)

10111111

1101110110

(C0)

11000000

0101001101

(C1)

11000001

1011010011

(C2)

11000010

1011010110

(C3)

11000011

0101011001

(C4)

11000100

0110010101

(C5)

11000101

1010011001

(C6)

11000110

0110011010

(C7)

11000111

0110011111

(C8)

11001000

0110101001

(C9)

11001001

0110110010

(CA)

11001010

0110110111

(CB)

11001011

0110111101

(CC)

11001100

0111100111

(CD)

11001101

0111101101

(CE)

11001110

0111111001

(CF)

11001111

0101111111

(D0)

11010000

1100101001

(D1)

11010001

1100110010

(D2)

11010010

1100110111

(D3)

11010011

1100111101

(D4)

11010100

1101100111

(D5)

11010101

1101101101

(D6)

11010110

1101111001

(D7)

11010111

1101111111

(D8)

11011000

1111001101

(D9)

11011001

1110010011

(DA)

11011010

1110010110

(DB)

11011011

1111011001

(DC)

11011100

0101011111

(DD)

11011101

0111011111

8ビットバイト

10ビットパターン

(DE)

11011110

1010111111

(DF)

11011111

1101011111

(E0)

11100000

0111101010

(E1)

11100001

0111101111

(E2)

11100010

0111111011

(E3)

11100011

0111111110

(E4)

11100100

1101101010

(E5)

11100101

1101101111

(E6)

11100110

1101111011

(E7)

11100111

1101111110

(E8)

11101000

1111001111

(E9)

11101001

1111011011

(EA)

11101010

1111011110

(EB)

11101011

1100111111

(EC)

11101100

0110101110

(ED)

11101101

1111110011

(EE)

11101110

1111100110

(EF)

11101111

0110111111

(F0)

11110000

1010101101

(F1)

11110001

0111010110

(F2)

11110010

0101011110

(F3)

11110011

1001111111

(F4)

11110100

1011010101

(F5)

11110101

1011110111

(F6)

11110110

1011111101

(F7)

11110111

1011011111

(F8)

11111000

1100100110

(F9)

11111001

1110110111

(FA)

11111010

1110111101

(FB)

11111011

1110011111

(FC)

11111100

1111100111

(FD)

11111101

1111101101

(FE)

11111110

1111111001

(FF)

11111111

1111011111

X 6141-1993 (ISO/IEC 11319 : 1993)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書E（参考）不良テープ

テープ装置又は他のテープの性能を低下させるテープを不良テープとよぶ。テープの特性には，テープ

装置の性能を低下させる次のものがある。このような不良テープを使用するとき，テープ装置の性能が低

下し，かつ，誤りが多く発生するので不良テープは，使用しない方がよい。

E.1 不良特性テープの不良特性を，次に示す。

a) 高い研磨性

b) テープ走行部に対する高い摩擦力

c) テープエッジの不良な状態

d) テープ又はテープ走行部への帯電

e) テープの層間の滑り

テープの裏面への記録表面塗膜の移転

g) テープのスティッキング又は他のテープの特性を低下させるようなテープ組成物の浸み出し

JIS磁気テープ原案作成委員会構成表

（敬称略，順不同）

氏名

所属

（委員長）

大石完一

パルステック工業株式会社

（幹事）

多羅尾悌三

富士通株式会社

（幹事）

富田正典

日本電信工業株式会社

（委員）

徳永賢次

住友スリーエム株式会社

横山克哉

日本ビクター株式会社

平川卓

富士写真フイルム株式会社

竹内正

株式会社トリム・アソシエイツ

今井伸二

日本電気株式会社

中川原一彦

ティアック株式会社

新井清

日本システムハウス株式会社

安藤晴夫

日立マクセル株式会社

三瓶徹

株式会社日立製作所

堀川憲一

ソニー株式会社

三宅信弘

通商産業省

栗原史郎

工業技術院標準部

丸川章

工業技術院標準部

（事務局）

東條喜義

社団法人日本電子工業振興協会