JISX6135:1997 １２．７ｍｍ幅，３６トラック，情報交換用磁気テープカートリッジ

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案件，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，

このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案件，又は出願公開後の実用新案出

願登録にかかわる確認について，責任はもたない。

この規格には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）テープの研磨性試験方法

附属書B（規定）記録前の磁気的状態

附属書C（規定） 8ビットバイトの9ビットパターンでの表現

附属書D（規定）ビットシフトの測定方法

附属書E（規定） CRCの生成方法

附属書F（規定）テープの物理的位置の算出方法

附属書G（規定）テープのタイプラベル

附属書H（参考）輸送条件

附属書J（参考）不良テープカートリッジ

附属書K（参考）テープの耐久性

附属書L（参考）データの流れ

附属書M（参考）加速寿命試験

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

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ページ

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 適合性 ··························································································································· 1

2.1 磁気テープカートリッジ·································································································· 1

2.2 生成システム ················································································································ 2

2.3 受領システム ················································································································ 2

3. 引用規格 ························································································································ 2

4. 用語の定義 ····················································································································· 2

4.1 アルゴリズム ················································································································ 2

4.2 アルゴリズム圧縮データ·································································································· 2

4.3 テープの始端 ················································································································ 2

4.4 バイト ························································································································· 3

4.5 巡回冗長検査文字 ·········································································································· 3

4.6 データレコード ············································································································· 3

4.6.1 圧縮データレコード ····································································································· 3

4.6.2 ホストデータレコード ·································································································· 3

4.6.3 論理データレコード ····································································································· 3

4.6.4 ユーザデータレコード ·································································································· 3

4.7 テープの終端 ················································································································ 3

4.8 誤り訂正符号 ················································································································ 3

4.9 磁束反転位置 ················································································································ 3

4.10 磁束反転間隔 ··············································································································· 3

4.11 フレーム ····················································································································· 3

4.12 論理バックワード ········································································································· 3

4.13 論理フォワード ············································································································ 3

4.14 磁気テープ ·················································································································· 3

4.15 標準テープ ·················································································································· 3

4.16 パケット ····················································································································· 3

4.17 パッドバイト ··············································································································· 3

4.18 物理バックワード ········································································································· 3

4.19 物理フォワード ············································································································ 3

4.20 記録密度 ····················································································································· 3

4.21 圧縮データ ·················································································································· 3

4.22 副標準テータ ··············································································································· 3

4.23 標準信号振幅 ··············································································································· 3

4.24 基準電流 ····················································································································· 3

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(2)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.25 テープ基準縁 ··············································································································· 4

4.26 試験記録電流 ··············································································································· 4

4.27 トラック ····················································································································· 4

4.28 ティピカル磁界 ············································································································ 4

4.29 変換 ··························································································································· 4

4.30 ラップ ························································································································ 4

4.31 ハーフラップ ··············································································································· 4

5. 表記法 ··························································································································· 4

5.1 数字の表し方 ················································································································ 4

5.2 名称 ···························································································································· 4

5.3 略号 ···························································································································· 4

6. 環境条件及び安全性 ········································································································· 5

6.1 試験環境条件 ················································································································ 5

6.2 使用環境条件 ················································································································ 5

6.3 保存環境条件 ················································································································ 5

6.4 安全性の要求事項 ·········································································································· 5

6.4.1 安全性 ······················································································································· 5

6.4.2 燃焼性 ······················································································································· 5

6.5 輸送条件 ······················································································································ 5

7. テープの特性 ·················································································································· 5

7.1 材料 ···························································································································· 5

7.2 テープの長さ ················································································································ 5

7.3 テープの幅 ··················································································································· 5

7.4 テープの連続性 ············································································································· 6

7.5 テープの厚さ ················································································································ 6

7.6 ベースの厚さ ················································································································ 6

7.7 長手方向の湾曲 ············································································································· 6

7.7.1 CSTテープ ················································································································· 6

7.7.2 ECCSTテープ ············································································································· 6

7.8 平面からのひずみ ·········································································································· 6

7.9 カッピング ··················································································································· 6

7.10 動摩擦特性 ·················································································································· 6

7.10.1 記録面と裏面との動摩擦力 ··························································································· 6

7.10.2 環境繰返し試験後の記録面とフェライトとの動摩擦力 ······················································· 7

7.11 塗布面の接着強度 ········································································································· 7

7.12 剛性 ··························································································································· 7

7.13 表面電気抵抗 ··············································································································· 8

7.14 耐久性 ························································································································ 9

7.15 不良テープ ·················································································································· 9

7.16 テープの研磨性 ············································································································ 9

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(3)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

7.17 寿命加速試験 ··············································································································· 9

7.18 データ保全試験 ············································································································ 9

7.18.1 要求事項 ··················································································································· 9

7.18.2 測定方法 ··················································································································· 9

7.19 記録前の磁気的状態 ······································································································ 9

7.20 磁気記録特性 ··············································································································· 9

7.20.1 ティピカル磁界 ········································································································· 10

7.20.2 平均信号振幅 ············································································································ 10

7.20.3 分解能 ····················································································································· 10

7.20.4 重ね書き ·················································································································· 10

7.20.5 狭帯域信号対雑音比 (NB−SNR) ·················································································· 10

7.21 テープの品質 ·············································································································· 11

7.21.1 ミッシングパルス ······································································································ 11

7.21.2 ミッシングパルス領域 ································································································ 11

7.21.3 同時発生ミッシングパルス領域 ···················································································· 11

8. カートリッジの寸法及び機械的特性 ··················································································· 12

8.1 カートリッジの全体の寸法······························································································ 12

8.2 書込み禁止機構 ············································································································ 13

8.3 後面のラベル領域 ········································································································· 13

8.3.1 単一ラベル領域の適用 ································································································· 13

8.3.2 2か所のラベル領域の適用 ···························································································· 13

8.4 上面のラベル領域 ········································································································· 13

8.5 ケース開口部 ··············································································································· 13

8.6 位置決めノッチ ············································································································ 14

8.7 位置決め領域 ··············································································································· 14

8.8 ケースの開口部周辺の内部構造 ························································································ 14

8.9 ケースのその他の外形···································································································· 14

8.10 中心孔 ······················································································································· 15

8.11 スタッキングリブ ········································································································ 15

8.12 リセス領域 ················································································································· 15

8.13 ケースの柔軟性 ··········································································································· 15

8.13.1 要求事項 ·················································································································· 15

8.13.2 試験方法 ·················································································································· 16

8.14 リール ······················································································································· 16

8.14.1 ロック機構 ··············································································································· 16

8.14.2 リールの回転軸 ········································································································· 16

8.14.3 金属接合部 ··············································································································· 16

8.14.4 歯形リム ·················································································································· 16

8.14.5 リールのハブ ············································································································ 16

8.14.6 相対位置 ·················································································································· 17

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)目次

(4)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.14.7 歯形リムの形状 ········································································································· 17

8.15 リーダブロック ··········································································································· 17

8.16 リーダブロックへのテープの取付 ··················································································· 18

8.17 ラッチング機構 ··········································································································· 18

8.18 テープの巻き方 ··········································································································· 19

8.19 テープの巻き張力 ········································································································ 19

8.20 テープの巻きの円周 ····································································································· 19

8.21 慣性モーメント ··········································································································· 19

8.22 カートリッジケースの配色 ···························································································· 19

9. 記録方式 ······················································································································· 27

9.1 記録密度 ····················································································································· 27

9.2 ビットセル長 ··············································································································· 27

9.3 平均ビットセル長 ········································································································· 28

9.3.1 長周期平均ビットセル長 ······························································································ 28

9.3.2 短周期平均ビットセル長 ······························································································ 28

9.4 短周期平均ビットセル長の変動率 ····················································································· 28

9.5 ビットセルのピーク位置································································································· 28

9.6 ビットシフト ··············································································································· 28

9.7 トータルキャラクタスキュー ··························································································· 28

9.8 再生信号振幅 ··············································································································· 28

9.9 同時発生ミッシングパルス領域 ························································································ 28

10. トラックフォーマット···································································································· 28

10.1 トラック数 ················································································································· 28

10.2 トラック位置 ·············································································································· 28

10.3 トラック幅 ················································································································· 29

10.4 アジマス ···················································································································· 29

10.5 トラックの識別 ··········································································································· 29

11. パケットフォーマット ···································································································· 30

11.1 パケット ···················································································································· 30

11.2 パケットID ················································································································ 31

11.3 UDR ·························································································································· 31

11.4 パケットトレーラ ········································································································ 32

11.4.1 圧縮時のパケットトレーラ ·························································································· 32

11.4.2 非圧縮時のパケットトレーラ ······················································································· 32

12. データブロックの様式···································································································· 32

12.1 データ部 ···················································································································· 32

12.1.1 パケットバイト ········································································································· 33

12.1.2 カウントフィールドバイト ·························································································· 33

12.1.3 ブロックIDバイト ···································································································· 33

12.2 データバイトのフレームへの割当て ················································································ 33

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(5)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

12.2.1 接頭辞フレーム ········································································································· 35

12.2.2 データフレーム ········································································································· 35

12.2.3 剰余フレーム1 ········································································································· 36

12.2.4 剰余フレーム2 ········································································································· 37

12.2.5 接尾辞フレーム ········································································································· 39

12.3 誤り訂正符号 (ECC) ····································································································· 39

12.4 テープへの8ビットバイトの記録 ··················································································· 39

12.5 記録データブロック ····································································································· 40

12.5.1 プリアンブル ············································································································ 40

12.5.2 データ開始マーク (BDM) ··························································································· 40

12.5.3 再同期制御フレーム ··································································································· 40

12.5.4 データ終了マーク (EDM) ···························································································· 40

12.5.5 ポストアンブル ········································································································· 40

12.6 最大データ密度 ··········································································································· 41

13. テープフォーマット ······································································································ 41

13.1 領域 ·························································································································· 41

13.2 記録密度識別マーク ····································································································· 41

13.3 VOLIDマーク ············································································································· 42

13.4 ID分離マーク ············································································································· 43

13.5 ブロックギャップ (IBG) ······························································································· 43

13.6 消去ギャップ ·············································································································· 43

13.6.1 通常消去ギャップ ······································································································ 43

13.6.2 拡張消去ギャップ ······································································································ 43

13.7 テープマーク ·············································································································· 43

13.8 ラップマーク ·············································································································· 44

13.9 マークの伸長 ·············································································································· 44

13.9.1 IBGに続くテープマーク ····························································································· 44

13.9.2 テープマークに続くIBG ····························································································· 44

13.9.3 IBGに続く消去ギャップ ····························································································· 44

13.9.4 消去ギャップに続くIBG ····························································································· 45

13.9.5 IBGに続くラップマーク ····························································································· 45

13.9.6 ラップマークに続くIBG ····························································································· 45

13.9.7 IBGに続くVOLIDマーク”1”又は”0” ············································································· 45

13.9.8 VOLIDマーク”1”又は”0”に続くIBG ·············································································· 45

13.10 データブロックの終了 (EOD) ······················································································· 46

13.11 記録領域··················································································································· 47

附属書A（規定）テープの研磨性試験方法············································································· 48

附属書B（規定）記録前の磁気的状態 ··················································································· 50

附属書C（規定） 8ビットバイトの9ビットパターンでの表現 ··················································· 51

附属書D（規定）ビットシフトの測定方法············································································· 54

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)目次

(6)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書E（規定） CRCの生成方法 ························································································ 56

附属書F（規定）テープの物理的位置の算出方法 ···································································· 57

附属書G（規定）テープのタイプラベル················································································ 58

附属書H（参考）輸送条件 ································································································· 61

附属書J（参考）不良テープカートリッジ·············································································· 62

附属書K（参考）テープの耐久性 ························································································ 63

附属書L（参考）データの流れ ···························································································· 64

附属書M（参考）加速寿命試験 ··························································································· 65

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6135 : 1997

(ISO/IEC 14251 : 1995)

12.7mm幅，36トラック，情報交換用

磁気テープカートリッジ

Data interchange on 12.7 mm 36-tracks magnetic tape cartridges

序文この規格は，1995年に第1版として発行されたISO/IEC 14251 Information technology−Data

interchange on 12.7mm 36-tracks magnetic tape cartridgesを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

1. 適用範囲この規格は，情報交換に用いる12.7mm幅，36トラックの磁気テープカートリッジの物理

的特性及び磁気的特性について規定する。この規格は，JIS X 0601とともに，テープカートリッジを媒体

として情報交換に使用できるように磁気テープカートリッジの記録信号の品質，フォーマット及び記録様

式を規定する。

この規格は，2種類のカートリッジを規定する。一つは，カートリッジシステムテープ (CST) と呼称し，

もう一つは，拡張容量カートリッジシステムテープ (ECCST) と呼称する。これらは，テープの厚さ及び

テープの長さが異なる。CSTは，非圧縮で公称400メガバイトの容量をもち，ECCSTは非圧縮で公称800

メガバイトの容量をもつ。

JIS X 6132の規定で書き込む記録様式とこの規格の規定との変更点及び拡張部分は，次に示す。

− テープ上に記録したトラック数を18トラックから36トラックへ増加する。18トラックずつ2度に分

けて書き込み，最初にテープ始端からテープ終端方向へ，次にテープ終端からテープ始端方向へ書き

込む。

− データをテープから読み取るとき，エラーの検出及び訂正に用いる誤り訂正符号の生成方法を変更す

る。

2. 適合性

2.1

磁気テープカートリッジ磁気テープカートリッジは，次の要求事項を満たすとき，この規格に適

合する。

− 磁気テープカートリッジが6.〜8.の2種類の磁気カートリッジのどちらか一つに対するすべての要求

事項を満たす。

− テープ上の記録が9.〜13.のすべての要求事項を満たす。

− 圧縮データを記録する場合には，登録済みのアルゴリズムを用い，登録番号をパケットIDのバイト

13に記録する（11.2参照）。この登録番号は，ISO/IEC 11576に適合しなければならない。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

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2.2

生成システム情報交換用磁気テープカートリッジを生成するシステムは，生成するテープ上のす

べての記録がこの規格の要求事項を満たすとき，この規格に適合する。適合性の表現は，どちらのタイプ

のカートリッジに記録するのか，登録済みのアルゴリズムを使用するか否か，及び使用する場合には，使

用するすべてのアルゴリズムの登録番号を明示しなければならない。オプションのVOLIDマーク情報を

生成できるか否かも明示しなければならない（13.3参照）。

2.3

受領システム情報交換用磁気テープカートリッジを受領するシステムは，この規格に従って生成

した2種類の磁気テープカートリッジ上の記録を読取り可能な場合，この規格に適合する。受領システム

は，次の要求事項を満たさなければならない。

− 拡張ブロック内の個々のパケットからデータを識別し，読み取る。

− 圧縮データを認識し，アルゴリズムを識別する。圧縮されたデータを復元し，復元できないときには，

ホストに明示する。

適合性の表現は，登録済みのアルゴリズムを使用するか否か，及び使用する場合には，使用するす

べてのアルゴリズムの登録番号を明示しなければならない。オプションのVOLIDマーク情報を使用

できるか否かも明示しなければならない。

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発効年（又は発行年）を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの

規格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年（又は発行年）を付

記していない引用規格は，その最新版を（追補を含む。）を適用する。

JIS G 4303-1991 ステンレス鋼棒

備考 ISO 683-13：1986 Heat-treatable steels, alloy steels and free-cutting steels−Part 13：Wrought

stainless steelsが，この規格と一致している。

JIS X 0601-1990 情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成

備考 ISO 1001：1986 Information processing−File structure and labelling of magnetic tapes for

information interchangeが，この規格と一致している。

JIS X 6132-1995 12.7mm幅，18トラック，情報交換用磁気テープカートリッジ−拡張フォーマット

備考 ISO/IEC 11559：1993 Information technology−Data interchange on 12.7mm wide 18-track

magnetic tape cartridges−Extended formatが，この規格と一致している。

JIS X 0201-1997 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合

備考 ISO/IEC 646：1991 Information technology−ISO 7-bit coded character set for information

interchangeが，この規格と一致している。

ISO 1302：1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture

ISO/IEC 11576：1993 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless

compression of data

4. 用語の定義この規格で用いる主な用語の定義は，次による。

4.1

アルゴリズム (algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。

4.2

アルゴリズム圧縮データ (algorithmically processed data) 定義されたアルゴリズムによって圧縮処

理したデータ。

4.3

テープの始端 (Beginning of Tape, BOT) 磁気テープの長手方向に沿って，情報を書き始める点。

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4.4

バイト (byte) 1単位として取り扱われる8ビット（変換した9ビット）の列。

4.5

巡回冗長検査文字 [Cyclic Redundancy Check (CRC) character] 誤り検出のための巡回符号として用

いる2バイトの文字。

4.6

データレコード (Data Records)

4.6.1

圧縮データレコード (Processed Data Record, PDR) 論理データレコード (LDR) にアルゴリズム

を適用して生成したデータ列。

4.6.2

ホストデータレコード (Host Data Record, HDR) ホストで最初に集められるデータ列。

4.6.3

論理データレコード (Logical Data Record, LDR) サブシステムがホストから受領するデータ列。

ホストで拡張ブロック処理にまとめた1個以上のホストデータレコード (HDR) からなる。

4.6.4

ユーザデータレコード (User Data Record, UDR) パケット生成に有効なデータ列。データが圧縮

処理されている場合には，圧縮データレコード (PDR) とし，非圧縮データの場合には，論理データレコ

ード (LDR) とする。

4.7

テープの終端 (End of Tape, EOT) 記録できるBOTから最も遠い点。

4.8

誤り訂正符号 (Error correcting code, ECC) 誤りを自動訂正できるように設計された符号。

4.9

磁束反転位置 (flux transition position) テープの表面に垂直な方向で磁束密度が最大となる点。

4.10 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転の長さ。

4.11 フレーム (Frame) 論理的に関連するバイトを含むハーフラップ内のすべての18トラックにまた

がる箇所。

4.12 論理バックワード (logical backward) 降べき順にLDRを検出するテープ走行方向。

4.13 論理フォワード (logical forward) 昇べき順にLDRを検出するテープ走行方向。

4.14 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ。

4.15 標準テープ (Master Standard Reference Tape) 基準磁界，信号振幅，分解能及び重ね書き特性の標準

として用いるもので，その特性値を国際標準化機構 (ISO) が規定するテープ。

備考標準テープは，NISTで管理されている。

4.16 パケット (packet) パケット識別子とパケットトレーラを付加したユーザデータレコード (UDR) 。

4.17 パッドバイト (Pad byte) 8個のビット“0”で構成するバイト。

4.18 物理バックワード (physical backward) EOTからBOTへのテープ走行方向。ハーフラップ2の論

理フォワードになる。

4.19 物理フォワード (physical forward) BOTからEOTへのテープ走行方向。ハーフラップ1の論理フ

ォワードになる。

4.20 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm) 。

4.21 圧縮データ (Processed Data) アルゴリズムによって圧縮処理したデータ。

4.22 副標準テープ (Secondary Standard Reference Tape) テープの特性が既知であり，標準テープとの偏

差が明示されているテープ。

参考副標準テープは，NISTが開発し，SRM3202の番号で供給する。入手先は，次による。

NIST Office of Standard Reference Materials, Room 205, Building 202 NIST, Gaitherburg, MA

20899, USA

4.23 標準信号振幅 (Standard Reference Amplitude, SRA) NISTの計測システムで，標準テープに記録密

度972ftpmmで試験記録電流で記録し，これを再生したときの出力電圧の平均ピーク値 (P−P)。

4.24 基準電流 (Standard Reference Current) 基準磁界を発生する電流。

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4.25 テープ基準縁 (Tape Reference Edge) ハブ終端（EOT側）を右側に置きテープの記録面を見たとき

のテープ下端。

4.26 試験記録電流 (Test Recording Current) 基準電流の1.5倍の電流。

4.27 トラック (Track) 磁気テープの長手方向に，連続して磁気信号が記録できる部分。

4.28 ティピカル磁界 (Typical Field) 試験テープに記録密度972ftpmmで連続する磁束反転を記録し，こ

れを再生したとき，再生出力電圧が最大出力電圧（飽和値）の85%となる最小印加磁界。

4.29 変換 (transformation) フォーマットする前のホストデータレコードの圧縮処理，パケット生成及び

パケット連鎖の操作。

4.30 ラップ (Wrap) 36トラックの集まり。18トラックは，BOTからEOT方向に連続記録し，残り18

トラックは，EOTからBOT方向に連続に記録する。

4.31 ハーフラップ (Half-Wrap) 同一方向に連続記録した18トラックの集まり。BOTからEOT方向に

記録するハーフラップ1とEOTからボリューム終端方向へ記録するハーフラップ2の2種類がある。

5. 表記法

5.1

数字の表し方数字の表し方は，次による。

− 各フィールドのバイトは，バイト1を最上位として最初に配列する。各バイトのビットは，ビット1

を最上位として最初に配列し，ビット8を最下位として最後に配列する。この配列の順序は，データ，

ECC及びCRCの入出力に適用する。

− 16進数は，丸括弧内に数字及び文字A〜Fで表す。

− ビットの設定は，“0”又は“1”で表す。

− 2進数表記の数字及びビットの組合せは，“0”及び“1”の列で表し，最上位ビットを左とする。

5.2

名称エンティティの名称は，英文字で表記する場合，先頭の文字だけを大文字とする。

5.3

略号

BDM

データ開始マーク (Beginning of Data Mark)

BOT

テープの始端 (Beginning of Tape)

CRC

巡回冗長検査 (Cyclic Redundancy Check)

CST

カートリッジシステムテープ (Cartridge System Tape)

ECC

誤り訂正符号 (Error Correction Code)

ECCST

拡張容量カートリッジシステムテープ (Extended Capacity Cartridge System Tape)

EDM

データ終了マーク (End of Data Mark)

EOT

テープの終端 (End of Tape)

EOV

ボリュームの終了 (End of Volume)

IBG

ブロックギャップ (Interblock Gap)

識別子 (Identifier or Identification)

LBAP

リーダブロック取付け位置 (Leader Block Attachment Point)

LDR

論理データレコード (Logical Data Record)

NB-SNR

狭帯域信号対雑音比 (Narrow Band Signal-to−Noise Ratio)

PDR

圧縮データレコード (Processed Data Record)

RBW

分解能帯域幅 (Resolution Bandwidth)

SRA

標準信号振幅 (Standard Reference Amplitude)

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UDR

ユーザデータレコード (User Data Record)

VBW

ビデオ帯域幅 (Vide Band Width)

6. 環境条件及び安全性カートリッジの試験環境条件及び使用環境条件は，規定がない限り，試験室又

は計算機室の環境条件とする。

6.1

試験環境条件カートリッジの試験環境条件は，規定がない限り，次による。

温度

23℃±2℃

相対湿度

40%〜60%

試験前に，この環境条件に24時間以上放置しなければならない。

6.2

使用環境条件カートリッジの使用環境条件は，次による。

温度

16℃〜32℃

相対湿度

20%〜80%

湿球温度

25℃以下

テープ近傍の平均空気温度は，40.5℃を超えてはならない。

備考部分的であっても温度が49℃を超えると，テープは，損傷する可能性がある。カートリッジが

保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合には，この環境条件に24時間以上放置してから

使用しなければならない。

6.3

保存環境条件カートリッジの保存環境条件は，次による。

温度

5℃〜32℃

相対湿度

5%〜80%

湿球温度

26℃以下

6.4

安全性の要求事項

6.4.1

安全性カートリッジ及びその構成部品は，正しい使用方法又は予測し得る誤った便用方法でも安

全性を保ち，かつ，健康を害するものであってはならない。

6.4.2

燃焼性カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチなどの炎によって着火してもよいが，二

酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

6.5

輸送条件この規格では，カートリッジの輸送条件を規定しない。ただし，輸送条件は，附属書H

によることが望ましい。

7. テープの特性この規格では，2種類のテープを規定する。ECCSTのテープは，CSTのテープより長

く，薄い。ECCSTは，テープを供給リールに完全に巻いたときにテープの円周が大きいこと，及びカート

リッジケースが2色に色分けしていることでCSTと区別する。これらのカートリッジの相違は，この規格

で規定する。

7.1

材料テープは，ベース（延伸したポリエチレンテレフタレート又はこれと同等品）上の片面に強

固で柔軟性のあるバインダと適切な磁性材を塗布したものとする。CSTテープの裏面は，塗布してはなら

ない。

7.2

テープの長さテープの最小の長さは，次による。

CSTテープ

：165m

ECCSTテープ

：332m

7.3

テープの幅テープの幅は，次による。

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CSTテープ

：12.650mm±0.025mm

ECCSTテープ

：12.570mm±0.025mm

テープに0.28N未満の張力を加えてテープの縁から縁までを測定する。

7.4

テープの連続性テープは，全長にわたり継目又は孔があってはならない。

7.5

テープの厚さテープの厚さは，次による。

CSTテープ

：0.025 9mm〜0.033 7mm

ECCSTテープ

：0.016 1mm〜0.018 0mm

7.6

ベースの厚さベースの公称の厚さは，次による。

CSTテープ

：0.023 4mm

ECCSTテープ

：0.014 2mm

7.7

長手方向の湾曲

7.7.1

CSTテープ CSTテープの長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。

長さ1mのテープを平面上に自然の状態に置き，その縁線上に沿って1m離れた2点を定めて，これら

を結ぶ直線を引き，縁線とこの直線上との隔たりを測定し，この隔たりを3.8mm以下とする。この偏差は，

33mの曲率半径と一致する。

7.7.2

ECCSTテープ ECCSTテープの長手方向の湾曲は，曲率半径33.75m以上とする。試験方法は，

次による。

長さ0.90mのテープを平面上に自然の状態に置き，その縁線上に沿って0.90m離れた2点を定めて，こ

れらを結ぶ直線を引き，縁線とこの直線上との隔たりを測定し，この隔たりを3.0mm以下とする。この偏

差は，33.75mの曲率半径と一致する。

7.8

平面からのひずみテープを平面に置いて，次の張力を加えたとき，目視できるひずみがテープに

あってはならない。

CSTテープ

：0.6N

ECCSTテープ

：0.4N

7.9

カッピングカッピングは，平面からのテープの幅方向での浮き上がり量とし，0.3mm以下とする。

試験方法は，次による。

テープを長さ1.0m±0.1mに切り取り，記録面を露出して，テープを試験環境条件に3時間以上つり下

げて放置した後，このテープの中央部分から25mmの試験片を切り取る。次に，このテープ試験片をテー

プの一方の切断部を下側にして，高さ25mm以上，内径13.0mm±0.2mmの円筒の中に立てる。この円筒

を光学的コンパレータに立てて載せ，テープ試験片の基準縁と反対側の縁とを十字線にそろえて，十字線

から試験片の中心までの距離を測定する。

7.10 動摩擦特性動摩擦力は，7.10.1及び7.10.2で規定し，その規定値1.00N及び1.50Nには，動摩擦力

とテープ試験片に加える力0.64Nを含む。

備考試験時には，フェライト棒の表面を清掃すること。

7.10.1 記録面と裏面との動摩擦力記録面の裏面に対する動摩擦力は，1.00N以上とする。試験方法は，

次による。

a) 記録面を内側にして，テープの試験片を直径25.4mmの円筒に動かないように巻き付ける。

b) 記録面を内側にして，第2のテープ試験片を第1の試験片に90°巻き付ける。

c) 第2のテープ試験片の片側の端に0.64Nの力を加え，別の端をゲージに固定する。

d) ゲージを速度1mm/sで引っ張る。

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7.10.2 環境繰返し試験後の記録面とフェライトとの動摩擦力カートリッジのリーダブロックから

1.34mmの位置でテープを動かすのに要する力は，1.5N以下とする。テープとハブの接合部から4.3mの位

置でテープを動かすのに要する力は，6.0N以下とする。試験方法は，次による。

a) CSTテープでは，張力2.2N±0.2Nで，ECCSTテープでは，張力1.8N±0.2Nでテープを直径50mmの

スプールにテープの外径が97mになるまで巻く。

b) 次の操作を5回繰り返す。

− 温度50℃，相対湿度10%〜20%の環境に48時間放置する。

− 試験環境条件に2時間慣らしてから，CSTテープでは，張力2.2N±0.2Nで巻き戻し，ECCSTテープ

では，張力1.8N±0.2Nで巻き戻す。

c) 温度30.5℃，相対湿度85%の環境に48時間放置する。テープは，d)及びe)の操作の間，この環境条件

に保つ。

d) リーダブロックから1.34mの位置で長さ1m以下のテープ試験片を切り取り，試験片の一方の端に

0.64Nの力を加える。記録面を内側にして試験片を直径25.4mmのフェライトの棒に90°巻き付けて

走行させる。この棒は，附属書Aによるフェライトを材質とする。この表面粗さは，ISO 1302のN2

で規定するRaを0.05μmとする。試験片の他の一方の端を速度1mm/sで水平に引っ張る。

e) テープとハブの接合部から4.3mの位置で切り取った同様の試験片について，d)の操作を繰り返す。

7.11 塗布面の接着強度塗布面の接着強度は，塗布面をテープのベース材料からは（剥）がす力とし，

その力は，1.5N以上とする。試験方法は，次による。

a) 長さ約380mmのテープ試験片を切り取り，一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき（罫

書き）線をベース面に達するまで引く。

b) 図1に示すとおりに，塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金

属の板に取り付ける。

c) 試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを万能引張試験機に取り付けて，速度

254mm/minで引っ張る。

d) 塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれるときの力を記録する。この力が1.5Nに

達する前に試験片が両面接着テープからはがれる場合には，別の種類の両面接着テープを使用しなけ

ればならない。

e) テープ裏面が塗布されている場合には，裏面についてもa）〜d）を繰り返す。

図1 塗布面の接着強度の試験方法

7.12 剛性テープの長手方向の剛性は，次による。

CSTテープ

：0.06N･mm2〜0.16N･mm2

ECCSTテープ

：0.03N･mm2〜0.14N･mm2

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

試験方法は，次による。

長さ180mmのテープ試験片を，間隔が100mmとなるように万能引張試験機に取り付けて，速度5mm/min

で引っ張り，距離と力の関係を打点する。2.2N〜7.7Nの範囲の曲線の傾きを用いて，剛性 (EI) を次の式

によって算出する。

ここに，

δF：力の変化 (N)

T：テープ試験片の厚さの測定値 (mm)

W：テープ試験片の幅の測定値 (mm)

δ：テープ試験片の長さの変化を初期の長さで除した値

7.13 表面電気抵抗表面電気抵抗は，次による。

裏面が塗布されていないテープの記録面

：105Ω〜5×108Ω

裏面が塗布されているテープの記録面

：105Ω〜5×109Ω

裏面が塗布されているテープの裏面

：106Ω未満

試験方法は，次による（図2参照）。

テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。24カラットの金めっきした半径がr＝25.4mmで粗さ

をN4（ISO 1302参照）以上で仕上げてある二つの半円の電極に，記録面が接するように置く。これらの

電極は，水平で中心間の距離d＝12.7mmとなるように平行に置く。試験片の両端にF＝1.62Nの力を加え

る。電極に500V±10Vの直流電圧をかけて，電流を測定する。この値から表面電気抵抗を算出する。

この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，これらの表面電気抵抗の平均を算出する。裏面

が塗布されている場合には，裏面についてもこの試験を行う。

図2 表面電気抵抗の試験方法

試験片を電極に置くとき，電極の間にはテープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。

備考試験前に電極の表面を清掃すること。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

7.14 耐久性この規格では，テープの耐久性を評価するパラメータは規定しない。

なお，試験方法は，附属書Kによることが望ましい。

7.15 不良テープこの規格では，テープが不良であるか否かを評価するパラメータは規定しない。

なお，不良テープに関する参考情報は，附属書Jによる。

7.16 テープの研磨性テープの研磨性は，テープ走行系に対する研磨度とする。

附属書Aによって測定したとき，研磨性試験用バーに生じる研磨パターンの長さは，56μm以下とする。

7.17 寿命加速試験この規格では，テープが長期間の保存と極端な動作環境条件に耐えるか否かを評価

するパラメータは規定しない。試験方法は，附属書Mによることが望ましい。

7.18 データ保全試験データ保全試験の目的は，過酷な動作環境条件下の装置で，テープが記録したデ

ータを失うことなしに動作し続けることを示す。試験方法は，データをBOTからEOTへ正方向に記録し，

テープを全長にわたって繰り返し走行させる。その後，誤りの発生を検出するためにデータを読み取る。

7.18.1 要求事項読取り時には，一時的な読取り誤りが8個以上増えてはならない。また，永久的な読取

り誤りが発生してはならない。

7.18.2 測定方法

a) カートリッジを室温になじませ，さらに巻緩みを除去するためにテープをBOTからEOTまで1往復

走行する。

b) 試験装置とカートリッジを30.0℃±2.0℃，85%の環境に24時間放置する。

c) カートリッジのBOTからEOTまで正方向で32Kバイトのデータブロックを記録する。データを書込

み中に読み取り，誤りの情報を得る。

d) カートリッジを書込み禁止状態とする。

e) EOTから50データブロックまで戻り，そのブロックIDを読み取る。

4m/s〜5m/sの速度でe)で求めたブロックIDの箇所まで走行し，次にBOTまで高速巻戻しをする。こ

の高速走行を50回繰り返す。

g) テープ全体のデータを読み取り，誤りの情報を得る。

h) f)からg)までを4回繰り返し，BOTからe)で求めたIDの箇所まで250回高速走行しBOTに戻り，5

回テープ全体を読み取る。最初の誤りの情報と比較するための情報を得る。

c)の最初の誤りの情報と5回の読取りの結果を比較する。

7.19 記録前の磁気的状態データの記録又は試験に先立ち，テープは減衰する交流磁界をかけることに

よって（非可逆過程），記録面の残留磁気モーメントを最大残留磁気モーメントの20%以下に消去しなけ

ればならない。試験方法は，附属書Bによる。

テープは，低密度の磁束反転があってはならない。

7.20 磁気記録特性磁気記録特性は，次に示す試験条件による。

これらの試験を行うとき，出力信号及び残留信号の測定は，標準テープで校正したテープ，被試験テー

プともに同じ走行系（記録時再生をするか，又は記録時再生機能がないときには，1回目の再生時に読み

取る）を使用する。

磁気記録特性の試験条件は，特に規定がない限り次による。

− テープの状態

：記録前の磁気的状態

− テープ速度

：2.5m/s以下

− 再生トラック幅

：記録トラック幅以下

− アジマス

：記録時の磁束反転と再生ギャップとの傾き6´以下

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 記録ギャップ長

：1.0μm±0.2μm

− 記録ヘッドの飽和磁束密度

：0.34T±0.03T

− テープ張力

CSTテープ

：2.2N±0.2N

ECCSTテープ

：1.8N±0.2N

− 記録電流

：試験記録電流

7.20.1 ティピカル磁界ティピカル磁界は，基準磁界の90%〜110%とする。

基準磁界の値は，副標準テープの校正値から求める。

7.20.2 平均信号振幅平均信号振幅は，記録密度972ftpmmで記録したときのSRAの70%〜140%とする。

SRAの値は，副標準テープの校正値から求める。

7.20.3 分解能分解能は，記録密度1 458ftpmmでの平均信号振幅を記録密度972ftpmmの平均信号振幅で

除した値とし，その値は，標準テープの分解能の80%〜120%とする。

標準テープの分解能の値は，副標準テープの校正値から求める。

7.20.4 重ね書き重ね書きは，トーンパターンの信号を記録した後，記録密度972ftpmmで重ね書きし，

残留するトーンの基本周波数 (162ftpmm) の平均信号振幅を972ftpmmの信号振幅で除した値とする。トー

ンの平均信号振幅は，等価な実効電力をもつ正弦波信号のピーク値 (P−P) とする。

7.20.4.1 要求事項重ね書きは，標準テープの重ね書きの120%未満とする。

標準テープの重ね書きの値は，副標準テープの校正値から求める。

7.20.4.2 試験方法試験時には，図3に示すトーンパターンを記録する。

記録したトーンパターンに記録密度972ftpmmの信号を重ね書きした後，残留するトーンパターンの基

本周波数 (162ftpmm) の信号及び972ftpmmの信号の平均振幅を測定する。これらの信号振幅は，適切なフ

ィルタを用いて測定する。

図3 トーンパターン

7.20.5 狭帯域信号対雑音比 (NB−SNR) NB−SNRは，実効電力の平均信号振幅を雑音の実効電力の積

分（側帯波）で除した値とし，デシベル (dB) で表す。

7.20.5.1 要求事項 NB−SNRは，トラック幅が410μmのとき，30dB以上とする。

測定時のトラック幅がWμmのとき，次の式によって換算する。

(

)

()

410

log

410

ここに，

dB (410)：トラック幅が410μmのときのNB-SNR

dB (W)：トラック幅がWμmのときのNB-SNR

W：測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅 (μm)

7.20.5.2 試験方法試験方法は，分解能帯域幅 (RBW) 1kHz及びビデオ帯域幅 (VBW) 10MHzのスペクト

ラムアナライザを使用し，テープ速度を762mm/sとし，次による。

− 972ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ46m以上にわたり，150個以上のサンプルについて測定する。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 次の走行（再生時）でテープ上の同じ部分の雑音の実効電力を測定し，その雑音の実効電力を332kHz

〜366kHzの範囲まで，実際の分解能帯域幅で正規化して積分する。

その他のテープ速度で試験する場合，テープ速度に応じて周波数を補正する。

7.21 テープの品質テープの品質は，保存環境条件又は輸送環境条件に放置してあった場合を含めて，

7.21.1〜7.21.3による。試験条件は，次による。

− 環境条件

：使用環境条件

− テープの状態

：記録前の磁気的状態

− テープ速度

：2m/s

− 書込みトラック幅

：読取りトラック幅以上

− 読取りトラック幅

：190μm±2.5μm

− 記録密度

：972ftpmm

− 書込みギャップ長

：1.0μm±0.2μm

− アジマス

：書込み時の磁束反転と読取りヘッドギャップとの傾き6´以下

− 書込みヘッドの飽和磁束密度：0.34T±0.03T

− 記録電流

：試験記録電流

− フォーマット

：36トラック

− テープ張力

CSTテープ

：2.2N±0.2N

ECCSTテープ

：1.8N±0.2N

7.21.1 ミッシングパルスミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生した電圧の0Vを基準

にしたピーク値 (0-P) が，その直前のテープの長さ25.4mmにわたる平均信号振幅の1/2の25%以下とす

る。

7.21.2 ミッシングパルス領域ミッシングパルス領域は，ミッシングパルスが生じた箇所から続く64個

の磁束反転を検出するまで，又は1mmの長さまでの領域とする。

ミッシングパルス領域の数の比率は，8×106個を記録した磁束反転当たり1未満でなければならない。

7.21.3 同時発生ミッシングパルス領域同時発生ミッシングパルス領域は，これを測定する目的で36ト

ラックを次のように4個の9トラック群に分ける。9トラック群の2トラック以上での同一ミッシングパ

ルス領域は，同時ミッシングパルス領域とする。

第1群は，物理トラック1, 5, 9, 13, 17, 21, 25, 29及び33とする。

第2群は，物理トラック3, 7, 11, 15, 19, 23, 27, 31及び35とする。

第3群は，物理トラック2, 6, 10, 14, 18, 22, 26, 30及び34とする。

第4群は，物理トラック4, 8, 12, 16, 20, 24, 28, 32及び36とする。

同時発生ミッシングパルス領域が第1トラック群及び第2トラック群に，又は第3トラック群及び第4

トラック群に同時に発生しても，1個の同時発生ミッシングパルス領域とみなす。その長さは，最初に発

生した一つのトラック群の同時発生ミッシングパルス領域から，最後に発生したトラック群の同時発生ミ

ッシングパルス領域の終わりまでとする。

テープの同時発生ミッシングパルス領域の数は，12個を超えてはならない。同時発生ミッシングパルス

領域の長さは，50mm以下とする。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8. カートリッジの寸法及び機械的特性この規格で規定する2種類のカートリッジ，CST及びECCST

は，寸法及び機械的特性がほぼ同じである。8.の要求事項は，2種類のカートリッジの明確な差異が表記さ

れたものを除いて，両カートリッジに適用する。

カートリッジの構成は，次による。

− ケース

− リール

− リールハブに巻いた磁気テープ

− リールのロック機構

− 書込み禁止機構

− リーダブロック

− リーダブロックのラッチ機構

カートリッジの寸法は，互換性上必す（須）の箇所を規定し，それ以外の箇所は，機能的特性だけを示

す。カートリッジの寸法を図4〜図20に示す。

寸法は，三つの直交する基準面A，基準面B及び基準面Cに基づく（図4参照）。カートリッジを装着

した場合，寸法は，カートリッジの他の面を基準としてもよい。カートリッジのケースの寸法を図4〜図

14に示す。

図4 カートリッジの外観

図5 ケースの前面

図6 ケースの上面

図7 ケースの後面

図8 ケースの底面

図9 ケースの側面

図10 図5の一部拡大図

図11 位置決めノッチの拡大断面図

図12 ケース開口部の詳細拡大図

図13 ケースの底面図

図14 くぼみ部分の拡大断面図

図15 カートリッジが未装着の場合のカートリッジの部分拡大断面図

図16 カートリッジが装着の場合のカートリッジの部分拡大断面図

図17 リムの歯形図

図18 リーダブロックの投影図と拡大断面図

図19 リーダブロックへのテープの取付け

図20 ケース内のリーダブロック

8.1

カートリッジの全体の寸法（図6及び図7）カートリッジの全体の寸法は，次による。

l1＝125.00mm±0.32mm

l2＝109.00mm±0.32mm

l3＝24.50mm

+−

ケース各部の丸みの半径は，次による。

r1≦3.00mm

r2≦4.00mm

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

r3≧3.00mm

8.2

書込み禁止機構（図5及び図6）書込み禁止機構は，書込み禁止状態を識別できる目印（例えば，

白い点）を付けた平らな表面を設けなければならない。

平らな表面は，ケースの前面の窓から取扱いができることとし，その窓の位置及び寸法は，次による。

l4＝11.80mm±0.25mm

l5＝15.60mm±0.25mm

l6＝ 7.40mm±0.25mm

l7＝12.00mm±0.25mm

書込み禁止状態のとき，書込み禁止機構の平らな表面は，ケースの窓の奥にあるものとし，ケースの前

面からの距離は，次による。

l8≧2.55mm

書込み可能状態のとき，平らな表面は，ケースの前面から0.25mm以内とする。

書込み禁止機構が作動するのに要する力は，ケースの前面に平行に力を加えたとき，2N〜9Nとする。

この規格では，書込み禁止機構の実装方法を規定しない。回転式であってもスライド式であってもよい。

窓を大きくしたり別の窓を設けても，ケースが汚れたり，きずがっかないようにしなければならない。

8.3

後面のラベル領域（図6及び図7）ケースの後面のラベル領域は，ラベルを保持する領域とし，単

一又は2か所とする。カートリッジは，この規格の要求事項のどちらかを適用する。

8.3.1

単一ラベル領域の適用単一ラベル領域の適用は，次による。

l9 ＝ 7.00mm±0.25mm

l10＝80.00mm

+−

l11＝12.30mm±0.25mm

l12＝ 0.50mm±0.25mm

r4 ≦ 1.00mm

l74，l75，l76は，規定しない。

8.3.2

2か所のラベル領域の適用 2か所のラベル領域の適用は，次による。

l9は，規定しない。

l10＝80.00mm

+−

l11＝12.30mm±0.25mm

l12＝ 0.50mm±0.25mm

l74＝17.55mm±0.13mm

l75＝21.97mm±0.25mm

l76＝ 2.41mm±0.13mm

r4 ≦ 1.00mm

8.4

上面のラベル領域（図6）ケースの上面のラベル領域は，ケースの上面から0.50mm±0.25mmの

段差を設け，その位置，寸法及び丸みの半径は，l9，l10，r4及び次による。

l13＝31.00mm±0.25mm

l14＝75.00mm

+−

8.5

ケース開口部（図5，図6及び図10）ケースには，リーダブロックを挿入できる開口部を設ける

（図18参照）。ケース開口部の位置，寸法，角部の丸みの半径及び切欠きは，次による。

l15＝ 4.70mm±0.25mm

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l16＝14.90mm±0.32mm

l17＝ 7.50mm±0.25mm

l18＝87.10mm±0.25mm

l19＝ 4.00mm±0.25mm

r5 ＝ 4.00mm±0.25mm

α ＝50°±1°

図5を右側から見たときのケース開口部の構造の拡大図を図10に示し，その寸法及び角度は，次による。

l61＝ 3.4mm±0.5mm

l62＝16.9mm±0.5mm

l63＝ 3.0mm±0.5mm

l64＝11.6mm±0.5mm

ω1＝1°00´±30´

ω2＝20°±2°

8.6

位置決めノッチ（図8，図9及び図11）位置決めノッチは，ケースの底面の2か所に設け，その

位置，寸法及び角度は，次による。

l20＝106.00mm±0.25mm

l21＝ 5.00mm±0.25mm

l22＝ 7.00mm±0.25mm

l23＝104.00mm±0.25mm

l24＝ 2.50mm±0.25mm

β ＝1°30´±30´

γ ＝2°00´±30´

8.7

位置決め領域（図8）位置決めの領域は，ケースの底面の3か所に，底面からの深さ0.25mm以内

とした円形の位置決め領域a1，a2及びa3を設ける。

位置決め領域a1及びa2の直径は，10.00mm±0.25mmとし，この中心の位置は，次による。

l25＝108.50mm±0.25mm

l26＝ 3.50mm±0.25mm

l27＝105.50mm±0.25mm

位置決め領域a3の直径は，14.00mm±0.25mmとし，この中心の位置は，次による。

l28＝31.25mm±0.25mm

l29＝54.50mm±0.25mm

8.8

ケースの開口部周辺の内部構造（図8及び図12）ケース開口部周辺の内部構造は，図8及び図12

に示すとおりとし，その位置，寸法及び角部の丸みは，次による（8.10参照）。

l30＝ 3.30mm±0.25mm

l31＝18.40mm±0.25mm

r6 ＝ 1.50mm±0.25mm

r7 ＝ 1.50mm±0.25mm

ケースの傾斜の角度は，半径r6で規定する円の接線とケースの側面との角度とし，その値は，次による。

λ＝40°00´±30´

8.9

ケースのその他の外形（図9）ケースのその他の外形の寸法は，次による。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l32＝113.2mm±0.3mm

l33＝ 26.00mm±0.25mm

r8＝145.50mm±0.25mm

r9＝145.50mm±0.25mm

δ ＝30°00´±30´

8.10 中心孔（図8）中心孔は，ケースの底面に設け，その中心の位置は，基準面Bからの距離l29及び

基準面Aからの距離l34とし，次による。

l34＝61.00mm±0.25mm

中心孔の直径は，次による。

d1＝43.5mm±2.0mm

図8に示す部分の二つの接線と中心孔の中心との角度 (θ) は，次による。

θ＝16°00´±30´

8.11 スタッキングリブ（図7及び図8）二つの平行なスタッキングリブを底面に設け，その寸法は，次

による。

l35＝ 5.00mm±0.25mm

l36＝ 1.00mm±0.16mm

l37＝74.50mm±0.25mm

スタッキングリブの位置は，次による。

l38＝31.25mm±0.25mm

l39＝ 7.50mm±0.32mm

l40＝79.50mm±0.25mm

8.12 リセス領域（図13及び図14）リセス領域は，ECCSTケースの底面に設け，その寸法は，次によ

る。

l67＝61.50mm±0.25mm

l68＝ 5.00mm±0.25mm

l69＝ 0.45mm

+−

μ6≦2.0°

r16≦0.25mm

r17≦0.10mm

リセス領域の位置は，l20及び次による。

l70＝16.50mm±0.25mm

この領域は，CSTについては規定しない。

8.13 ケースの柔軟性ケースの上面及び底面（図4参照）の柔軟性は，直角に力Fを加えたときのたわ

み量とする。

8.13.1 要求事項たわみ量は，次の要求事項を満たさなければならない。

ケースの上面のたわみ量：0.025 6F≦d≦0.38＋0.054F

ケースの底面のたわみ量：0.022 8F≦d≦0.38＋0.040F

ここに， d：たわみ量 (mm)

F： 4.5N≦F≦54.0N

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.13.2 試験方法ケースの柔軟性の試験は，万能試験機を使用して圧縮モードで行う。適切なロードセル

を使用してケースの上面及び底面の測定点に，半径10mm±1mmの点加重をかけて，たわみ量dを測定す

る。測定点の位置は，図6，図8及び次による。

l65：公称値86.9mm

l66：公称値54.5mm

8.14 リール（図15及び図16）ケースに組み込まれたリールを図15及び図16に示し，図15は，装着

していないときの寸法を示し，図16は，装着したときの寸法を示す。図15及び図16は，スタッキングリ

ブを省略している。

8.14.1 ロック機構（図16）ロック機構は，ロック状態で次の要求事項を満たさなければならない。た

だし，この規格では，ロック機構の実装方法を規定しない。

− ロック機構の傾斜の分解能は，6°以下とする。

− テープの繰出し方向に，0.32N･mのトルクを加えたとき，10°を超えて回転してはならない。

ロック機構のボタンの材料は，二硫化モリブテンを (2±1) %含むナイロン6/6とする。

ボタンの寸法及び角度は，次による。

d9 ＝ 2.0mm±0.5mm

d10＝10.0mm±0.2mm

ρ ＝15°±2°

8.14.2 リールの回転軸リールの回転軸は，平面P（図17及び8.14.7参照）に直角でl29及びl34によって

規定した中心孔の中心を通らなければならない。

8.14.3 金属接合部（図15）ケースの裏面側のリールには，ステンレス鋼（JIS G 4303，SUS 410又はSUS

416）の金属接合部を挿入する。この金属接合部は，300Nの引張り張力に耐えることとし，その寸法は，

次による。

d2＝35.00mm

.1+−

d3＝11.15mm±0.05mm

e1＝ 1.51mm±0.10mm

直径d3で規定する金属接合部の内側は，0.15mm以内の精度でリールの回転軸と同心でなければならな

い。

金属接合部の表面は，平面Pに0.15mm以内の精度で平行でなければならない。

8.14.4 歯形リム（図15）歯形リムは，中心孔から取扱いができ，かつ，リールに設ける。その寸法及

びリムの傾き角は，次による。

d4＝36.00mm

+−

d5＝41.00mm±0.25mm

ψ ＝11°15´±5´

8.14.5 リールのハブ（図15）リールのハブの直径は，次による。

d6＝50.0mm

0.0mm
2.0

+−

ハブの寸法は，ハブの表面で測定し，次による。

l41＝13.05mm

+−

角部の丸みの半径は，次による。

r10≦0.08mm

ハブは，次の要求事項を満たさなければならない。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− ハブの表面の平面度は，0.04mm以内とする。

− リムのピッチ線である平面P（8.14.7参照）とハブの表面との傾きは，0.07mm以内とする。

− 直径d6の軸に直角な二つの断面をとり，それぞれの直径の差と二つの断面間の距離との比率は，0.003

8以下とする。

− ハブの表面に沿った幅の変動率は，0.025mm/mm以下とする。

− 歯形リムの歯のピッチ線（8.14.7参照）に直角な円筒の変形の総計は，全円周にわたり0.2mm以下と

する。

8.14.6 相対位置

8.14.6.1 カートリッジが未装着の場合（図15）

ロック機構のボタンの先端から基準面Cまでの距離は，次による。

l42＝1.90mm

+−

金属接合部の底面から基準面Cまでの距離は，次による。

l43＝0.4mm

0.1mm
5.0

+−

8.14.6.2 カートリッジが未装着又は装着のいずれかの場合（図15及び図16）

− 金属接合部の底面から平面Pまでの距離は，次による。

l44＝2.27mm±0.12mm

− リールのフランジ内側から平面Pまでの距離は，次による。

l45＝0.65mm±0.09mm

8.14.6.3 カートリッジが装着の場合（図16）

− ロック機構のボタンの先端から基準面Cまでの距離は，次による。

l46＝8.10mm±0.35mm

− ロック機構のボタンをl42の位置からl46の位置に移動させるのに要する力は，12.25N以下とする。

− テープの中心から基準面Cまでの距離は，次による。

l47：公称値12.25mm

− 基準面Cから平面P（8.14.7参照）までの距離は，次による。

l60 ＝5.04mm±0.25mm

8.14.7 歯形リムの形状（図17）歯形リムの歯は，60個からなり，その角度は，次による。その公差は，

累積してはならない。

6°0′＋5′

ピッチ径d5の歯形の寸法及び角度は，次による。

l48：公称値4mm

l49：公称値2mm

φ ：公称値30°

ピッチ線は，l49で規定する円周とし，このピッチ線を平面Pとする。

歯底の半径は，次による。

r11＝0.2mm

1.0mm
0.0

+−

歯先の半径は，次による。

r12≦0.25mm

8.15 リーダブロック（図18）リーダブロックの寸法及び角部の丸みの半径，直径及び角度は，次によ

る。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

l50＝31.80mm±0.04mm

l51＝ 6.8mm±0.1mm

l52＝21.8mm±0.2mm

l53＝10.93mm

+−

l54＝ 5.46mm±0.10mm

l55＝ 6.00mm±0.25mm

l56＝16.5mm

0.0mm
2.0

+−

l57＝ 5.2mm±0.2mm

r13＝25.00mm±0.25mm

r14＝ 1.4mm±0.2mm

r15＝ 5.50mm±0.25mm

d7＝ 7.0mm±0.2mm

d8＝ 4.0mm±0.2mm

μ1＝90°±2°

μ2＝

ο03

8+−

μ3＝

ο0

44+−

8.16 リーダブロックへのテープの取付け（図19）テープをリーダブロックに取り付けるための円筒形

の挿入部品は，テープの全幅を巻き付けることができ，かつ，リーダブロックの表面から突き出てはなら

ない。

領域Zでのテープの下側の縁（図16参照）は，リーダブロックの端と0.12mm以内で平行とし，テープ

に張力を加えたときの距離は，次による。

l58＝1.90mm±0.26mm

テープをリーダブロックに取り付けたとき，リーダブロックの表面からのテープ先端の突出し量は，次

による。

l59≦2.5mm

図16に示す角度μ4でテープに10Nの力を加えたとき，リーダブロックとテープとは，結合を維持しな

ければならない。

μ4＝38°±2°

8.17 ラッチング機構（図20）この規格では，リーダブロックの位置及び引出し力を規定する。ただし，

リーダブロックへのラッチング機構の実装方法は，規定しない。

リーダブロックをケース内にラッチしているとき，l51及びl54（図18参照）で規定する交点は，l17及び

l18（図6参照）で規定する二つの直線の交点を中心とした直径0.5mm以下の円内になければならない。

リーダブロックとこれに結合しているテープとをカートリッジから引き出すのに要する力は，次の要求

事項を満たさなければならない。

− 2.0N〜7.5Nの範囲とする。

− 引き出すのに要する力の最大値と移動した距離との積は，13N･mm未満とする。

リーダブロックをケースに挿入するのに要する力を測定する場合，その角度及び引張速度は，引出

しに要する力を測定するときと同じとする。試験方法は，次による。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

引出し点から，角度μ5（図20参照）でリーダブロックを引っ張ることができる万能試験機にカートリッ

ジを取り付ける。リーダブロックの引出し点は，l17及びl18の交点とする。引張速度は，10mm/minとし，

引張ピンによって，リーダブロックを引っ張る。力が最初に0.5Nを超える点と引張力が最大となる点との

距離を測定する。直径d7及び直径d8（図18参照）にかん（嵌）合するピンを用いて測定する。

挿入力，すなわち，リーダブロックをカートリッジのラッチ位置に押し込む力は，角度μ5で測定したと

き，12N以下とする。

μ5＝48°±3°

8.18 テープの巻き方テープは，カートリッジを上から見たとき，リールに記録面を内側にして反時計

方向に巻かなければならない。

8.19 テープの巻き張力テープの巻き張力は，次による。

CSTテープ

：2.2N±0.3N

ECCSTテープ

：1.8N±0.3N

8.20 テープの巻きの円周リールに巻かれたテープの外側の円周は，次による。

CSTテープ

：280mm〜307mm

ECCSTテープ

：310mm〜314mm

8.21 慣性モーメント慣性モーメントは，ハブ付きのリールにテープを巻いた状態で軸の周りを自由に

回転するトルクと，この軸の角速度との比とし，その値は，次による。

− テープの巻きの円周が280mm以上，289mm未満のとき，145×10-6kg･m2〜180×10-6kg･m2とする。

− テープの巻きの円周が289mm以上，298mm未満のとき，160×10-6kg･m2〜195×10-6kg･m2とする。

− テープの巻きの円周が298mm以上，307mm未満のとき，180×10-6kg･m2〜216×10-6kg･m2とする。

− テープの巻きの円周が310mm以上，314mm未満のとき，190×10-6kg･m2〜240×10-6kg･m2とする。

− 空リールのとき，33.00×10-6kg･m2±3.63×10-6kg･m2とする。

試験方法は，次による。

慣性試験機にリールを載せて振動させる。振動周期は，ユニバーサルカウンタで計測する。振動時間か

ら回転の慣性値に変換する。

8.22 カートリッジケースの配色 ECCSTケースの底面（図4参照）は，JIS X 6123で規定するカートリ

ッジと目視で区別できるようにケース上半部の色と相違しなければならない。カートリッジの底面は，基

準面Cに平行な面の下部のすべての部分とする。この面は，l9〜l12で規定するラベル領域の端から下面と

し，基準面Cから上面とする。色調は，Macrolon FCR2405-3091による色及び輝度とする。

参考底面の色のサンプル (Macrolon FCR2405-3091) は，Mobay Corporation, Mobay Road, Pittsburg, PA.

USA15205-9741で入手可能である。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

9.3

平均ビットセル長平均ビットセル長は，nビットセル長の合計をnで除す。

9.3.1

長周期平均ビットセル長長周期平均ビットセル長は，連続する972 000ビットセル以上にわたる

平均とし，その値は，公称ビットセル長の (100±4)%とする。

9.3.2

短周期平均ビットセル長短周期平均ビットセル長は，16ビットセルにわたる平均とし，その値

は，公称ビットセル長の (100±7)%とする。

9.4

短周期平均ビットセル長の変動率短周期平均ビットセル長の変動率は，図21で規定したとき，

1.6%を超えてはならない。

Tn＋1

←64ビット→ ←64ビット→

()

6.1

100

≦

−

ここに，

Tnは，最初に64ビットを測定した時間

Tn＋1は，次の64ビットを測定した時間

図21 短周期平均ビットセル長の変動率

9.5

ビットセルのピーク位置ビットセルのピーク位置の最大変動は，次の方法で測定したとき，30%

以内とする。

a) 測定する領域に“1”の連続パターンを記録する。

b) ミッシングパルスのない64ビットの連続したサンプルを測定する。このサンプルの前後には，5ビッ

ト以上の“1”がなければならない。

c) 平均ビットセル長位置は，64ビットセル長を63で除した値とする。任意のビットセル位置は，公差

を含めて64ビットセル長以内とする。

9.6

ビットシフトミッシングパルスがない状態で，“1”のゼロ交差点は，平均ビットセル長によって

規定した公称位置から，28%を超えてはならない（附属書D参照）。

9.7

トータルキャラクタスキュー同一のコラムに属するすべてのビットの変位は，テープの基準縁

（10.2参照）に平行に測定したとき，19ビットセル長を超えてはならない。

9.8

再生信号振幅再生信号振幅は，記録密度972ftpmmで連続する4 000磁束反転以上にわたり再生し

た出力の平均値とし，その値は，SRAの60%〜150%とする。この測定は，ブロックごとに分割して行っ

てもよい。

SRAは，副標準テープの校正値から求める。

9.9

同時発生ミッシングパルス領域ブロックは，同時発生ミッシングパルス領域に記録してはならな

い。この領域は，13.4の規定によって消去しなければならない。

10. トラックフォーマット

10.1 トラック数トラック数は，1から36に番号付けした36とする。

10.2 トラック位置各トラックの中心線と基準縁との間隔は，次による。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

トラック番号

トラック中心線と基準縁との間隔 mm

11.838±0.040

11.523±0.040

11.208±0.040

10.893±0.040

10.578±0.040

10.263±0.040

9.948±0.040

9.633±0.040

9.318±0.040

9.003±0.040

8.688±0.040

8.373±0.040

8.058±0.040

7.743±0.040

7.428±0.040

7.113±0.040

6.798±0.040

6.483±0.040

6.168±0.040

5.853±0.040

5.538±0.040

5.223±0.040

4.908±0.040

4.593±0.040

4.278±0.040

3.963±0.040

3.648±0.040

3.333±0.040

3.018±0.040

2.703±0.040

2.388±0.040

2.073±0.040

1.758±0.040

1.443±0.040

1.128±0.040

0.813±0.040

10.3 トラック幅書き込んだトラック幅は，0.285mm±0.012mmとする。

10.4 アジマストラックを横切る磁束反転と基準縁に直角な直線との傾きは，3′を超えてはならない。

参考テープに書き込むときのアジマスは，2.5′未満が望ましい。残りの0.5′は，環境条件及び経

時変化によって生じるテープの変形に対する許容差とすることが望ましい。

10.5 トラックの識別 36トラックは，18トラックずつのハーフラップ1及びハーフラップ2と呼ぶ二組

に分割する。ハーフラップ1は，奇数のトラック番号のトラックで構成し，ハーフラップ2は，偶数のト

ラック番号のトラックで構成する（図22参照）。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

トラック番号

ハーフラップトラック番号

ハーフラップ1

ハーフラップ2

図22 トラックとハーフラップトラックの関係

11. パケットフォーマット記録するデータをフォーマットする前に，LDRは，1対1のパケットにする。

パケットは，非圧縮又は圧縮したユーザデータを含むことができる（図23及び附属書L参照）。

11.1 パケットパケットは，次による。

− パケットID

− UDR

− パケットトレーラ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

パケットID

UDR

パケットトレーラ

←パケットデータフィールド→

図23 パケットフォーマット

11.2 パケットID パケットIDは，番号1〜32の32バイトからなり，圧縮処理をしてはならない。パケ

ットIDは，次による。

バイト1〜6

パケットブロックIDとする。

バイト1

ビット1〜7

“0100000”に設定する。

ビット8

パケットをハーフラップ1に記録する場合，“0”に設定する。

パケットをハーフラップ2に記録する場合，“1”に設定する。

バイト2

ビット1

パケットをハーフラップ1に記録する場合，“0”に設定する。

パケットをハーフラップ2に記録する場合，“1”に設定する。

ビット2〜8

テープの物理的位置表示の値を2進数で表す。

算出方法は，附属書Fによる。

バイト3〜6

パケット番号を2進数で表す。パケット番号は，最初のUDR，VOLIDマーク

後のIBGに続くテープマーク又はIDセパレータマークについて，“0”に設

定する。パケット番号は，各UDR，テープマーク及びデータブロックの終了

によって1ずつ増加する。

バイト7〜10

パケットデータフィールドのデータバイトの総数から1を引いた値を2進数で

表す。

バイト11

パケットトレーラのバイトの総数を2進数で表す。バイト7〜10とバイト11

の和は，パケットのバイト総数から1を引いた値とする。

バイト12

ビット1

パケットがデータブロックの最終パケットでない場合，“0”に設定し，最終

パケットの場合，“1”に設定する。

ビット2

データが圧縮処理されていない場合，“0”に設定し，圧縮処理されている場

合，“1”に設定する。

ビット3〜8

すべて“0”に設定する。

バイト13

バイト12のビット2が，“0”の場合，すべて“0”に設定する。バイト12

のビット2が“1”の場合，バイト13は，UDRの圧縮処理に使用したアルゴ

リズムの識別子（ISO/IEC 11576による。）を示す2進数とする。

バイト14〜30

すべて“0”に設定する。

バイト31, 32

CRCバイト1及びCRCバイト2とし，直前のバイトについて附属書Eに示す

とおりに順番に算出する。入力は，CRC文字生成器で処理する前に反転する。

CRC文字の各ビットは，パケットIDのバイトの残りを加える前に反転する。

11.3 UDR UDRは，パケットIDのバイト12のビット2の指定に従い，圧縮データ又は非圧縮データか

らなる。一つの論理データレコードの非圧縮ユーザバイト数は，このフォーマットでは，最大262 144バ

イトまでとする。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.4 パケットトレーラパケットトレーラは，圧縮時及び非圧縮時のパケットトレーラの二つの形式と

する。パケットトレーラバイトは，圧縮処理をしてはならない。

11.4.1 圧縮時のパケットトレーラ圧縮時のパケットトレーラの長さは，10〜41バイトとする。

バイト1〜4

パケット内のLDR（圧縮処理前）のバイト数を2進数で表す。

バイト5，6

パケット内のLDR（圧縮処理前）を附属書Eに示すとおりに順番に算出したCRC

バイト1及びCRCバイト2とする。

バイト7，8

パケット内のUDR（圧縮処理後）及びパケットトレーラの最初の6バイトについ

て附属書Eに示すとおりに順番に算出したCRCバイト1及びCRCバイト2とす

る。

パッドバイト

パケット全体のバイト数が32の整数倍になるように，パケットトレーラにパッド

バイトを0〜31バイトの範囲で付加する。

パケットトレーラCRCバイト

パケットトレーラの最終の2バイトは，CRCバイト1及びCRCバイト2とする。

CRCバイト1及びCRCバイト2は，UDR（圧縮処理後）及びパケットトレーラ内

の直前のバイトまでを附属書Eに示すとおりに順番に算出する。

CRCを生成するデータは，反転した後CRCを算出する。

CRC文字の各ビットは，反転した後パケットトレーラのバイトに付加する。

11.4.2 非圧縮時のパケットトレーラ非圧縮時のパケットトレーラの長さは，2〜33バイトとする。

パッドバイト

パケット全体のバイト数が32の整数倍になるように，パケットトレーラにパッド

バイトを0〜31バイトの範囲で付加する。

パケットトレーラCRCバイト

パケットトレーラの最終の2バイトは，CRCバイト1及びCRCバイト2とする。

CRCバイト1及びCRCバイト2は，LDR及びパケットトレーラ内の直前のパッド

バイトまでを附属書Eに示すとおりに順番に算出する。

CRCを生成するデータは，反転した後CRCを算出する。

CRC文字の各ビットは，反転した後パケットトレーラのバイトに付加する。

12. データブロックの様式

12.1 データ部データブロックのデータ部は，一つ又は順番に連結した複数のパケット及びカウントフ

ィールド及びプロッタIDからなる。

データブロックのデータ部のバイトは，データバイトと呼び，パケットバイト，カウントフィールドバ

イト及びブロックIDバイトからなる（図24参照）。

図24 データブロックのデータ部

連結したパケットのバイト総数は，461 824バイトを超えてはならない。連結したパケットの数は，2 048

を超えてはならない。パケットの連結は，テープマークを記録するとき終了しなければならない。パケッ

トの連結は，その他適当な理由があるとき，パケットの境界で終了しなければならない。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

参考データブロックの大きさは，128Kバイトまでを推奨する。

12.1.1 パケットバイトパケットバイトは，UDRバイト，パケットIDバイト及びパケットトレーラバイ

トからなる。

12.1.2 カウントフィールドバイトカウントフィールドバイトは，6バイトからなり，最後のパケットト

レーラバイトの次に位置する。

バイト1, 2

データブロックに含まれるパケットの数を2進数で表す。

バイト3〜6

圧縮処理前に算出した数値を2進数で表し，次による。

データブロックの各LDRについて，バイト数を32で割った商を小計する。ただし，

余りがある場合は，商に1を加えた数を小計する。小計を総和し，記録値とする。

12.1.3 ブロックIDバイトブロックIDバイトは，4バイトからなり，カウントフィールドバイトの次に

位置する。ビットは，1（最上位ビット）から32（最下位ビット）までの番号を付ける。

ビット1

ハーフラップ1に記録する場合，“0”に設定し，ハーフラップ2に記録する場合，

“1”に設定する。

ビット2〜8

テープの物理的位置表示の値を2進数で表す。算出方法は，附属書Fによる。

ビット9

“0”に設定する。

ビット10

“1”に設定する。

ビット11〜32

データブロックの最初のパケットのパケットブロックIDと同じ値を2進数で表す

（11.2のバイト3〜6参照）。

12.2 データバイトのフレームへの割当てデータバイトは，検査文字を含めてフレームというグループ

に配列する。フレームは，定められたビットパターンをもった付加バイト群とともに，一定の順序で配列

する。このように配列したデータバイト及び付加バイトを規定のコード化法（附属書C参照）でテープに

記録する。

フレームは，1トラック当たり1バイトの論理的に関連する8ビットバイトからなる18個のハーフラッ

プトラックとする。フレーム内の各バイトは，トラックに沿って記録する（図25参照）。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表1 剰余フレームの要求事項

最終データフレームの後
に残るデータバイト数

剰余フレーム1

剰余フレーム2

ユーザ
バイト

カウント
フイールド
バイト

ブロッ
クID
バイト

パケッ
ト
バイト

カウント
フィールド
バイト

ブロッ
クID
バイト

付加
パッド
バイト

パケッ
ト
バイト

カウント
フィールド
バイト

ブロッ
クID
バイト

付加
パッド
バイト

剰余
バイト

CRC
バイト

剰余フレーム1なし

12.2.5 接尾辞フレーム接尾辞フレームは，18個のハーフラップトラックにパッドバイトからなる2フ

レームとする。

12.3 誤り訂正符号 (ECC) ECCバイトは，ECCバイトを除くデータブロックバイトから生成し，デー

タ読出し時に誤りの検出及び訂正に用いる。

誤り訂正符号は，リードソロモン符号とする。各フレームの4ECCバイトは，誤り訂正符号発生回路（図

30参照）によって，ハーフラップトラック1〜14の14バイトから生成する。

ガロア体GF (28) は，次の式によって算出する。

G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1

ガロア体GF (28) の原始元αは，次の式による。

α＝ ( 0 0 0 0 0 0 1 0 )

α7α6α5α4α3α2α1α0

生成多項式は，次による。

G (x) ＝x4◯

＋α75x3◯

＋α249x2◯

＋α78x◯

＋α6

図30 誤り訂正符号発生回路

ここに， ◯

＋はEXCLUSIVE ORとする。

4ECCバイト（ECC1, ECC2, ECC3及びECC4）は，それぞれハーフラップトラック17, 15, 16及び18に

記録する。

12.4 テープへの8ビットバイトの記録接頭辞フレーム，データフレーム，剰余フレーム及び接尾辞フ

レームのECCバイトを含む8ビットバイトは，テープ上では9ビットパターンで表す。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

各8ビットバイトの9ビットパターンでの表現は，附属書Cによる。9ビットパターンの最上位のビッ

トは，最初に記録する。

12.5 記録データブロック各データブロックは，図31に示す構成でテープに記録し，記録データブロッ

クとする。

ハーフラップ1は，ハーフラップ2にデータを書き込む前に完全に記録しなければならない。

図31 記録データブロック

ここに，

Dir：ハーフラップ1のとき“0”

ハーフラップ2のとき“1”

＊＊：ハーフラップ1のとき (40)

ハーフラップ2のとき (41)

＊：この位置の再同期制御フレームの有無は，直前のフレーム数

による（12.5.3参照）。

12.5.1 プリアンブルプリアンブルは，全ハーフラップトラックに9ビットパターン“111111111”を記

録した9〜13フレームとする。

12.5.2 データ開始マーク (BDM) BDMは，全ハーフラップトラックに9ビットパターン“100010001”

を記録した2フレームとする。

12.5.3 再同期制御フレーム再同期制御フレームは，全ハーフラップトラックに9ビットパターン

“100010001”を記録した1フレームとし，各クラスタの後に記録する。ただし，データ終了マーク (EDM)

の直前の場合，再同期制御フレームを記録してはならない。EDMの最初のフレームを再同期制御フレーム

の代替えとする。

12.5.4 データ終了マーク (EDM) EDMは，全ハーフラップトラックに9ビットパターン“100010001”

を記録した2フレームとする。

12.5.5 ポストアンブルポストアンブルは，全ハーフラップトラックに9ビットパターン“111111111”

を記録した9〜13フレームとする。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

12.6 最大データ密度 ECCバイト，8ビットから9ビットへの変換及び再同期制御フレームの挿入によ

って，ハーフラップでのデータバイト数の最大密度は，14×972× (1/8) × (8/9) × (71/72) ＝1 491バイ

ト/mmとなる。

ここに，

14： 1フレーム当たりのバイト数

972：オール“1”パターンの長さ1mm当たりの磁束反転数

1/8： 1バイト当たりのビット数の逆数

8/9： 12.4の記録方法に対応

71/72：再同期制御フレームに対応

13. テープフォーマットテープフォーマットは，記録データブロックの区別及び／又は認識のために，

次のマーク及びギャップによって定義する。

記録密度識別マーク

ID分離マーク

IBG

消去ギャップ

テープマーク

ラップマーク

VOLIDマーク

マーク及びギャップは，ハーフラップトラック群の領域に書き込むオール“1”又はトーンパターンの組

合せとする。

トーンは，テープ上に6ビットパターン“100000”の繰返しとする。

13.1 領域 18ハーフラップトラックは，次の6領域に分割する。

領域A：ハーフラップトラック1, 7, 13

領域B：ハーフラップトラック2, 8, 14

領域C：ハーフラップトラック3, 9, 15

領域D：ハーフラップトラック4, 10, 16

領域E：ハーフラップトラック5, 11, 17

領域F：ハーフラップトラック6, 12, 18

13.2 記録密度識別マーク記録密度識別マークは，次による。

ハーフラップ1：領域B, C, Eにオール“1”を記録する。

領域A, D, Fにトーンを記録する。

ハーフラップ2：全領域にオール“0”を記録する。

記録密度識別マークは，次の二つのモードのどちらかによる。モード1は，VOLIDを書き込まないとき

に使用し，モード2は，VOLIDを書き込むときに使用する。VOLIDの使用は，任意とする（図32参照）。

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図32 VOLIDマークと記録密度識別マーク

VOLIDを書き込まないとき，CSTテープの記録密度識別マークの長さは，公称2 375mm，最小2 250mm，

最大3 060mmとする。

VOLIDを書き込むとき，CSTテープの記録密度識別マークの長さは，公称2 195mm，最小2 070mm，

最大2 880mmとする。

CSTテープにオール“0”パターンを書き込む領域は，リーダブロックから最小4.50mの距離から始ま

り，ハーフラップ2のBOTまでとする。記録密度識別マークは，リーダブロックから最大1.34mの距離

から始まり，VOLIDマークがない場合，リーダブロックから最小3.28mまでとし，VOLIDマークがある

場合，リーダブロックから最小3.18mまでとする。

ECCSTテープでは，VOLIDの有無にかかわらず記録密度識別マークの長さは，公称1 056mm，最小1

003mm，最大1 714mmとする。

ECCSTテープにオール“0”パターンを書き込む領域は，リーダブロックから最小8.75mの距離から始

まり，ハーフラップ2のBOTまでとする。記録密度識別マークは，リーダブロックから最大6.94mの距

離から始まり，リーダブロックから最小7.38mまでとする。

記録密度識別マーク及びオール“0”パターンは，通常リーダブロックに最も近く最初に記録する。ハー

フラップ1の最初の25mmまでは，記録密度識別マークパターン以外の情報を含んでいてもよい。

13.3 VOLIDマーク VOLIDマークは，使用する場合，ID分離マーク後のIBG直後とする。

VOLIDマークは，マークの組合せとし，カートリッジのボリューム識別のデータとする。マークは，IBG

（13.5参照）で分離されるVOLID“0”と“1”を区別する。VOLIDマークは，通常の消去ギャップ（13.6.1

参照）で完了し，次にIBGが続く。

VOLID“0”及び“1”は，次による。

領域B, C, Fにオール“1”を記録する。

領域A, D, Eにトーンを記録する。

VOLID“1”の長さは，公称1.00mm，最小0.95mm，最大1.05mmとする。

VOLID“0”の長さは，公称0.50mm，最小0.47mm，最大0.53mmとする。

VOLIDマークのIBGパターンの長さは，公称2.0mm，最小1.9mm，最大2.1mmとする。

VOLIDマークは，73個のVOLIDビットとし，次による。

VOLIDビット1〜48

カートリッジのボリューム識別名を表し，VOL1ヘッダがある場合，

VOL1ヘッダレコードのバイト5〜10と同一とする。VOL1ヘッダのバ

イトの規定は，JIS X 0601による。

VOLIDビット49〜56

カートリッジのボリュームアクセス条件を表し，VOL1ヘッダレコード

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

がある場合，VOL1ヘッダレコードのバイト11と同一とする。

VOLIDビット57〜64

VOL1ラベルがある場合，適合するラベル規格番号を表す。VOL1ヘッ

ダレコードのバイト80と同一とする。

VOLIDビット65

VOLIDビット1〜64がJIS X 0201に適合している場合，“1”に設定す

る。適合していない場合，“0”に設定する。

VOLIDビット66〜73

VOLIDビット1〜65についての8ビットのCRCとし，次の生成多項式

による短縮したハミング符号とする。

G (x) ＝1＋x＋x3＋x4＋x7＋x8

ここに， P(x)＝1＋x3＋x7の原始多項式

ハミング符号は，127, 119から73, 65に短縮する。

VOLIDマークは，オプションであり，73ビットとする。

13.4 ID分離マーク ID分離マークは，次による。

全領域にオール“1”を記録する。

ID分離マークの長さは，公称2.0mm，最小1.9mm，最大2.1mmとする。

ID分離マークは，ハーフラップ1の記録密度識別マークの直後に記録し，後に続くIBGと記録密度識

別マークを分離する。

13.5 ブロックギャップ (IBG) IBGは，次による。

領域A，D，Fにオール“1”を記録する。

領域B，C，Eにトーンを記録する。

IBGの長さは，公称2.0mm，最小1.6mm，最大3.0mmとする。

IBGの全トラックでの不連続な部分の長さ（例えば，起動／停止モードに起因）は，0.03mmを超えて

はならない。この不連続な部分は，記録データブロックのプリアンブルの手前の0.5mm以内，又はポスト

アンブルの後の0.5mm以内に存在してはならない。

IBGは，ID分離マークの直後に記録する。IBGは，各記録データブロック，各消去ギャップ，各テープ

マーク，各ラップマーク，各VOLIDマーク，及びEDMの前後に記録する。最終テープマークの後にEDM

が続いていないとき，IBGは，テープ上の最終テープマークの後に必要としない。局部的なIBGを，最終

テープマークの後に記録するとき，IBGの長さは，0.5mm以上とする。ハーフラップ2の最初のラップマ

ークに先行するIBGは，局部的なIBGとしてもよい。そのとき，IBGの長さは，0.5mm以上とする。

13.6 消去ギャップ消去ギャップは，次による。

領域B，C，Fにオール“1”を記録する。

領域A，D，Eにトーンを記録する。

消去ギャップは，正しく書き込めなかった箇所の長さ，又は消去命令による長さに記録する。

13.6.1 通常消去ギャップ通常消去ギャップの長さは，公称7.8mm，最小7.4mm，最大8.2mmとする。

通常消去ギャップは，欠陥箇所を避けるため，IBGで分離し，50回まで連続記録してもよい。

13.6.2 拡張消去ギャップ拡張消去ギャップの長さは，200mm以下とする。

拡張消去ギャップは，通常消去ギャップ及び／又は後に続くIBGが認識されない場合に記録する。拡張

消去ギャップの内部に，長さが1mm以下のIBGが部分的に存在してもよい。

13.7 テープマークテープマークは，次による。

領域B，D，Eにオール“1”を記録する。

領域A，C，Fにトーンを記録する。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

テープマークの長さは，公称1.0mm，最小0.7mm，最大1.3mmとする。

テープマークの使用法は，JIS X 0601による。

13.8 ラップマークラップマークは，次による。

領域A，C，Eにオール“1”を記録する。

領域B，D，Fにトーンを記録する。

ラップマークは，ハーフラップ1の最後のデータの後とハーフラップ2の最初のデータの前に，図33

に示すとおり記録する。

データ

IBG ラップ

マーク
1

IBG ラップ

マーク
2

IBG ラップ

マーク
3

IBG

ハーフラップ1

→EOT

データ

IBG ラップ

マーク
3

IBG ラップ

マーク
2

IBG ラップ

マーク
4

IBG

ハーフラップ2

図33 ラップマークの順序

ラップマーク1の長さは，公称10.0mm，最小9.0mm，最大11.0mmとする。

ラップマーク2の長さは，公称6.0mm，最小5.2mm，最大6.8mmとする。

ラップマーク3の長さは，公称10.0mm，最小9.0mm，最大11.0mmとする。

ラップマーク4の長さは，公称10.0mm，最小9.0mm，最大11.0mmとする。

ラップマーク3は，後に続くIBGの読取りチェックに失敗したときに，公称10.0mmの長さに加えて

3.0mm±0.3mmの3倍の長さまで拡張してもよい。最大3倍の長さまで拡張したとき，ラップマーク3の

長さは，20.9mm以下とする。ラップマークを最大に拡張した場合，有効なIBGは，ハーフラップ1では

ラップマーク3の後に必要ではなく，又はハーフラップ2ではラップマーク4の前に必要としない。

ラップマーク4は，ハーフラップ1のラップマーク3と同じ長さに拡張し，ハーフラップ1のラップマ

ーク3に隣接する。

EOT直前のIBGは，公称の長さより短くてもよいが，ラップマーク3とラップマーク4が最大に拡張し

ない限り，0.50mm以上とする。

13.9 マークの伸長 IBGが，消去ギャップ，テープマーク，ラップマーク，又はVOLIDマークに先立つ

か続く場合，次に示すとおりに，制御ブロックの9トラックのトーンパターンの内の6トラックのパター

ンは，他方の制御ブロックのオール“1”パターンの中まで伸ばさなければならない（図34参照）。

13.9.1 IBGに続くテープマーク

ハーフラップトラック1，6，7，12，13及び18

− IBGの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック2，5，8，11，14及び17

− テープマークの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.2 テープマークに続くIBG

ハーフラップトラック1，6，7，12，13及び18

− IBGの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック2，5，8，11，14及び17

− テープマークの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.3 IBGに続く消去ギャップ

ハーフラップトラック1，4，7，10，13及び16

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− IBGの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック2，3，8，9，14及び15

− 消去ギャップの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.4 消去ギャップに続くIBG

ハーフラップトラック1，4，7，10，13及び16

− IBGの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック2，3，8，9，14及び15

− 消去ギャップの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.5 IBGに続くラップマーク

ハーフラップトラック4，6，10，12，16及び18

− IBGの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック3，5，9，11，15及び17

− ラップマークの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.6 ラップマークに続くIBG

ハーフラップトラック4，6，10，12，16及び18

− IBGの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック3，5，9，11，15及び17

− ラップマークの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.7 IBGに続くVOLIDマーク“1”又は“0”

ハーフラップトラック1，4，7，10，13及び16

− IBGの最後の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック2，3，8，9，14及び15

− VOLIDマークの最初の18個のオール“1”又は“0”を18個のトーンビットで置き換える。

13.9.8 VOLIDマーク“1”又は“0”に続くIBG

ハーフラップトラック1，4，7，10，13及び16

− IBGの最初の18個のオール“1”を18個のトーンビットで置き換える。

ハーフラップトラック2，3，8，9，14及び15

− VOLIDマークの最後の18個のオール“1”又は“0”を18個のトーンビットで置き換える。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図34 ギャップとマークの関係

備考 VOLIDビットとIBGの関係は，IBGと消去ギャップの関係と同一とする。

13.10 データブロックの終了 (EOD) EODは，最後の有効なデータが書かれた後，テープに書き込んで

もよい。

EODは，28バイトからなり，次による。

バイト1

ビット1〜8は，“11000000”に設定する。

バイト2

ビット1は，次による。

EODをラップ1に記録している場合，“0”に設定する。

EODをラップ2に記録している場合，“1”に設定する。

ビット2〜8は，次による。

テープの物理的位置表示の値を2進数で表す。

算出方法は，附属書Fによる。

バイト3

オール“0”に設定する。

バイト4

ビット1, 2は，XXに設定する。

ビット3〜8は，次による。

UDR識別の最上位6ビットを示す。UDR識別は，VOLIDマーク若しくは記録密

度識別マークの後の最初のIBGに続く最初のUDR又はテープマークでは，“0”に

設定する。各UDR，テープマーク及びEODによって“1”増加する。

バイト5，6

UDR識別の最下位16ビットを示す。

バイト7

“11110000”に設定する。

バイト8〜14

オール“0”に設定する。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト15

バイト2と同じ内容に設定する。

バイト16，17

オール“0”に設定する。

バイト18

“11110000”に設定する。

バイト19〜25

オール“0”に設定する。

バイト26

“XX110111”に設定する。

バイト27，28

バイト1からバイト26までを附属書Eに示すとおり算出したCRCバイト1及び

CRCバイト2とする。

ここに，Xは，“0”又は“1”のどちらかとする。

13.11 記録領域両ハーフラップでの記録領域は，BOTとEOTの間とする。LBAPは，リーダブロック取

付け位置とする。EOTは，テープとカートリッジのハブの接合部から4.3m以上とする（図35及び図36

参照）。

CST

ECCST

LBAPからBOTまでの最大値

1.34m

6.94m

LBAPからハーフラップ1のデータまでの最小値

3.28m

7.38m

図35 記録範囲の位置

CST

ECCST

最小値公称値最大値最小値公称値最大値

−

1.34m

−

6.94m

3.28m

−

7.38m

−

4.5m

−

8.75m

−

マークとギャップの長さは，13.による。

図36 テープ上の記録の配列

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A（規定）テープの研磨性試験方法

A.1 概要テープの研磨性は，テープのテープ走行系に対する研磨度とする。

A.2 取付け附属書A図1に示す清浄なフェライトの試験用バーを附属書A図2に示す取付け用機構に

取り付ける。試験用の刃は，上向きに取り付け，摩耗しておらず，かつ，1μm以上のチップや欠けがない

ものとする。

試験用の刃の半径は，13μm以下とする。

フェライトのバーは，多結晶フェライトからなり，その成分及び重量比は，次による。

ZnO 22%

NiO 11%

FeO 67%

粒子の平均の大きさは，7.2μm±2.0μmとし，密度は，5.32g/cm3以上とする。

参考例えば，“住友H4R2又はH4R3”などが適合し，Sumitomo Special Metals Div. Torrance CA. USA.

から入手可能である。

バーの4面の表面仕上げは，N2（ISO 1302参照）以上とする。

A.3 試験方法試験用機器をバーに対するテープの巻付け角度が両側でそれぞれ8°，合計で16°とな

るようにテープ装置に取り付ける。

バーにおけるテープの張力は，1.4Nに設定する。

テープをバーに掛けて，バーを通過するテープの長さを520.0m±2.5mとし，速度1m/sで1回走行させ

る。この長さは，カートリッジを適当な数に分割した合計としてもよい。

試験用機器をテープ装置から取り外し，試験用バーの摩耗した部分の長さを測定する。この測定には，

倍率が300倍以上の顕微鏡を使用する。

幅12.65mmの摩耗パターンの41，21及び43の部分で測定し，これらの3か所の平均の長さを算出する。附

属書A図3に摩耗パターンの例を示す。

附属書A図1 研磨性試験用バー

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書B（規定）記録前の磁気的状態

B.1

概要記録前の磁気的状態は，記録面の残留磁気モーメントで表す。残留磁気モーメントは，磁界

がない場合の記録面の磁気モーメントで表す。記録面の最大残留磁気モーメントは，記録面を350kA/mの

磁界にさらした後の，記録面の最大残留磁気モーメントで表す。記録面は，製造過程，試験過程又は記録

面の直流消去若しくは低密度の磁束反転を伴う磁気記録装置の使用によって，強磁界の影響を受ける可能

性がある。記録面は，強い磁気モーメントがあると，記録システムの機能に支障をきたす可能性があるの

で，記録の前に記録面の状態を7.19で規定する状態にしておくことが必要である。

B.2

試験方法磁気モーメントは，振動試料磁化測定器 (VSM) を使用して測定する。試験方法は，次

による。

1) 直径が6mm〜12mmのテープ試験片をとる。

2) 原テープの長手（塗布）方向を示す矢印をテープの試験片に付ける。

3) テープ試験片の長手方向を極方向にそろえて，振動試料磁化測定器に取り付ける。

4) テープ試験片を振動試料磁化測定器の極と極の中心に置く。

試験片は，試験の準備又は取付け中，4kA/mより強いいかなる磁界中にもさらしてはならない。

5) テープ試験片の残留磁気モーメントを測定する。

6) テープ試験片を180°回転させて，4)及び5)を繰り返す。

7) テープ試験片を，磁界のピーク値350kA/mでヒステリシスループに沿って4回磁界を変える。

8) 残留磁気モーメントの正及び負の最大値を測定する。

9) 5)〜8)の操作で得た測定値を比較する。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書C（規定） 8ビットバイトの9ビットパターンでの表現

8ビットバイトは，左端が最上位ビット及び右端が最下位ビットを示す。

9ビットパターンは，左端のビットを最初に，右端のビットを最後に記録する。

8ビットバイト

9ビットパターン

8ビットバイト

9ビットパターン

00000000

011001011

00101000

101001011

00000001

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100010111

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットバイト

9ビットパターン

8ビットバイト

9ビットパターン

01010100

010100101

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111001111

01010101

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111001110

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011101001

01011101

010111101

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8ビットバイト

9ビットパターン

8ビットバイト

9ビットパターン

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書D（規定）ビットシフトの測定方法

試験テープに記録する装置は，通常の情報交換用装置とする。

テープは，記録前の磁気的状態を満たさなければならない。

D.1 読取り装置読取り装置のテープ速度の許容差は，公称テープ速度の1%以内とする。

読取りヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。ヘッドの設計及びテープ速度は，低い信号対雑音比

による影響を避けるように配慮しなければならない。

a) 読取りヘッド

− 磁気誘導型ヘッド：ギャップ長は，0.63μm未満とする。

− 磁気抵抗型ヘッド：磁気抵抗素子とシールドとの間の距離の平均有効ギャップ長は，0.63μm未満とす

る。

読取りヘッドギャップのアジマスアライメントと，書き込まれたトラックの平均磁束反転ラインは，9′

未満の傾きでなければならない。

b) 読取りチャネル

ヘッド及び読取り増幅器の周波数応答特性は，リード線を読取りギャップに隣接して平行に配置して測

定したとき，次による。

磁気誘導型ヘッドの場合，オール“1”パターンの周波数の1/20〜2倍までの帯域で総合応答特性は，＋

6dB／オクターブの線から1dB以内とする。例えば，テープ速度が762mm/sの場合の帯域は，18.5kHz〜

740.7kHzとする。位相応答特性は，同じ帯域で直線から2°以内とする。

磁気抵抗型ヘッドの場合，総合応答特性は，同上の帯域で平たんな線から1dB以内とし，位相応答特性

は，同じ帯域で直線から2°以内とする。

いずれの読取りチャネルの場合でもオール“1”パターンの周波数の2倍以上の周波数では，18dB/オク

ターブの傾きとする。

D.2 測定方法測定方法は，次による。

平均ビットセル長 (L) は，試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差点 (RZC) の間隔か

ら得る。基準ゼロ交差点は，少なくとも両側にそれぞれ2個以上のビット“1”のゼロ交差点をもつような

ビット“1”のゼロ交差点とする。基準ゼロ交差点の間隔は，その変化率による最大エラーを2%未満に保

っため，40ビットセル以下とする。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G（規定）テープのタイプラベル

この附属書は，オプションの媒体のタイプを示すラベルの情報を提供する。ラベルは，オプションであ

るが，使用することを推奨する。使用する場合は，G.1による。バーコードラベルの寸法は，附属書G表

1による。

G.1

文字文字は，Eとし，附属書G図2による。

ここに， T＝0.787mm±0.127mm

H＝5.613mm±0.127mm

W＝3.150mm±0.127mm

1H/2と1W/2の文字の中心線は，附属書G図1の文字の垂直及び水平の中心線と一致する。

G.2

バーコードバーコードは，ANSI MH 10.8M.1983による文字Eで3/9コードとする。バーコードは，

初めのビットコードがラベル底側に，最後のビットコードがラベル上側に印刷する。

狭い白地とバーの幅は，0.737mm±0.127mmとする。

広い白地とバーの幅は，1.437mm±0.127mmとする。

バーの幅の最大値は，端部のにじみ部の外側から測定する。白地の幅は，これらどうしの最も離れた距

離とする。

バーの幅の最小値は，端部のにじみ部の内側から測定する。

G.3

カストムストップコードバーコードには，附属書G図1に示す，2/4ストップコードを付ける。

G.4

反射率白及び黒の領域の反射率の測定は，Macbeth PCM II Print Contrast Meter，又は同等品を使用

する。

G.4.1 白領域

G.4.1.1 反射率白領域の反射率RWは，次による。

55%≦RW≦75%

狭い白地の中心で測定し，印刷の欠陥や端部のにじみ部分は，避ける。

G.4.1.2 スポットスポットは，白地領域でその反射率が55%未満とする。スポットの直径は，0.20mm

未満とする。スポットは，ラベルにつき5個以下とする。どのスポットも，0.51mm以上離れていなけれ

ばならない。

G.4.2 黒領域

G.4.2.1 プリント・コントラスト信号 (PCS) 黒領域の反射率は，印刷の欠陥と端部のにじみ部分を避

けた任意の黒領域の任意の場所で測定する。PCSは，次による。

PCS

−

＝

最小値は，0.85とする。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G表1 バーコードラベル寸法

シンボル

SI系 (mm)

寸法

公差

5.59

0.51

3.25

0.13

16.51

0.25

12.70

0.13

8.255

0.127

6.35

0.13

0.76

0.13

0.76

0.13

9.80

＋0.51
−1.02

L10

5.21

0.13

L11

0.38

0.13

L12

1.65

0.51

L13

13.26

0.13

L14

1.143

＋0.508
−0.000

L15

3.45

0.51

1.52

0.13

附属書G図2 データ文字

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書H（参考）輸送条件

H.1 環境条件カートリッジの輸送時においては，次の環境条件とすることが望ましい。

H.1.1 未記録のカートリッジ

温度

：−23℃〜48℃

相対湿度

：5%〜100%

湿球温度

：26℃以下

期間

：連続10日以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

H.1.2 記録済みカートリッジ

温度

：5℃〜32℃

相対湿度

：5%〜80%

湿球温度

：26℃以下

カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。

H.2 危険性データを記録したカートリッジを輸送する際，次の3種類の危険性がある。

H.2.1 衝撃及び振動輸送中のカートリッジの損傷を少なくするために，次の対策をとることが望ましい。

カートリッジを変形させるおそれがある機械的な加重を加えてはならない。

カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。

カートリッジは，十分な衝撃材を用いた固い箱の中に収納する。

カートリッジ収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵挨）や水の浸入防止が十分可能な構造とす

る。

カートリッジ収納箱内でのカートリッジ収納方向は，テープ中心軸が水平になるようにする。

カートリッジ収納箱は，正しい位置方向（天地）に置くように明確な表示をする。

H.2.2 極端な高温・高湿度環境

a) 温度及び湿度の急激な変化は，いかなる場合でも，可能な限り回避する。

b) 輸送されたカートリッジを使用する前には，必ず使用環境に24時間以上放置する。

H.2.3 誘導磁界の影響カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，80mm以上確保する。

これによって，外部磁界の影響による信号品質劣化の危険性は，無視できる程度に減少する。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書K（参考）テープの耐久性

供給者から磁気テープカートリッジを購入するとき，磁気テープカートリッジは，次の要求事項を満た

さなければならない。

適切な装置を用いた磁気テープカートリッジの試験及び測定法を次に示す。試験は，テープや装置の使

用環境（6.2参照）で実施しなければならない。

K.1 短区間耐久性信頼性試験

K.1.1 短区間耐久性信頼性試験は，短いデータのファイルを繰り返し走行させる場合の，テープの耐摩耗

性を試験するために行う。連続して10回読み取っても回復しないミッシングパルスは，永久的なミッシン

グパルスとみなす。

K.1.2 永久的な同時発生ミッシングパルス領域は，読取り回数が40 000回に達する前に発生してはなら

ない。さらに，読取り回数が80 000回に達するまでに平均1個を超えて発生してはならない。

K.1.3 試験方法試験に先立ち，テープ装置を清掃する。

試料は，4巻以上用意して，同時発生ミッシングパルス領域がないテープの領域に信号を書き込む。試

験する領域は，テープのローディング点から約10m以降，又は25 000バイトからなるレコードの500レ

コード以降とすることが望ましい。その長さは，1m又は50レコードとすることが望ましい。

試験の各サイクルでは，試験する領域の始めから終わりまですべてのレコードを記録してから始めの領

域に戻る。試験を完全に行うためには，各カートリッジについて試験サイクルを80 000回続けることが望

ましい。同時発生ミッシングパルス領域を検出した場合は，永久的な同時発生ミッシングパルス領域とす

る前に，正方向の読取りを10回まで行うことがましい。

K.2 長区間耐久性信頼性試験

K.2.1 長区間耐久性信頼性試験は，テープ装置でテープ全長を繰り返し走行させる場合のテープの耐摩耗

性を試験するために行う。これは，テープの寿命試験ではない。

K.2.2 カートリッジは，次の要求事項を満たさなければならない。

a) 同時発生ミッシングパルス領域は，テープ全長の走行回数の最初の200回とし，テープの長さ165m

当たり平均6個を超えないことが望ましい。

b) 同時発生ミッシングパルス領域は，1回の走行では，テープの長さ165m当たり12個を超えないこと

が望ましい。

K.2.3 試験方法試験に先立ち，テープ装置を清掃する。試験中は，テープの走行部分を清掃してはなら

ない。試験用の信号は，テープ全長に連続のデータを書き込むか，又は16 000バイト以上のレコードを書

き込むことが望ましい。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書M（参考）加速寿命試験

加速寿命試験の目的は，テープの磁性層の長期安定性を実証することである。過酷な環境条件下で保存

し，加速環境での使用条件で操作を行い，製品固有の寿命を推定する。

M.1 要求事項試験中及び試験後に永久的な書込み又は読取りエラーの発生がなく，かつ，不良テープ

（附属書B参照）になってはならない。

M.2 試験方法

M.2.1 加速試験は，永久的なエラーのない10個のカートリッジを1グループとする。

M.2.2 環境条件

a) 47℃から49℃の範囲の温度で，相対湿度が18%〜22%の範囲の環境で21日間テープを保存する。

b) カートリッジの試験環境（6.1参照）に少なくとも24時間なじませ，BOTとEOTの間を早送りと巻

戻しによってテープを巻き直す。

c) 試験機と試験用のカートリッジ10本を30℃±2℃で相対湿度83%〜87%の範囲に調整した加速試験室

内に放置する。最低24時間この環境に放置する。

M.2.3 試験サイクル

M.2.3.1 書込みサイクル BOTからEOT方向へ32 768個の8ビットバイトのデータブロックを順方向へ

書き込み，BOTへ巻き戻す。

M.2.3.2 起動／停止サイクル

a) データブロック50までテープを進め，起動／停止モードで次の100個のデータブロックを読み取る。

b) データブロック3 050までテープを進め，起動／停止モードで次の100個のデータブロックを読み取

る。

c) データブロック6 050までテープを進め，起動／停止モードで次の100個のデータブロックを読み取

る。

d) テープをBOTへ巻き戻す。

e) a)〜d)を4回繰り返す。

M.2.3.3 読取りサイクル BOTからEOTまでストリーミングモードで，テープを読み取る。

M.2.3.4 残り9巻のカートリッジも同様M.2.3.1〜M.2.3.3の操作を繰り返す。

M.2.3.5 クリーニングテープを使って装置を清掃する。

M.2.4 K.2.3を9回繰り返す。

M.2.5 K.2.1で選んだ10本のカートリッジに対しM.2.2〜M.2.4を更に2回繰り返す。

X 6135 : 1997 (ISO/IEC 14251 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

磁気テープJIS原案作成委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

大石完一

パルステック工業株式会社

（幹事）

富田正典

日本システムインテグレーション株式会社

徳永賢次

イメーション株式会社

（委員）

千原健一

富士通株式会社

竹内正

株式会社トリム・アソシエイツ

平川卓

富士写真フイルム株式会社

新井清

日本システムハウス株式会社

伊藤欣也

日本電機株式会社

安藤晴夫

日立マクセル株式会社

樋口重光

株式会社日立製作所

酒井和夫

株式会社日立製作所

堀川憲一

ソニー株式会社

荒木学

日本ユニシス株式会社

岸野忠信

財団法人日本規格協会

永松荘一

通商産業省

兼谷明男

通商産業省

（関係者）

佐々木喜七

財団法人日本電子部品信頼性センター

（事務局）

内山誠作

社団法人日本電子工業振興協会

長谷川久子

社団法人日本電子工業振興協会