X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS X 6130 : 1996は改正され，この規格に置き換えられる。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
JIS X 6130には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） プリズムの光透過率の測定法
附属書B（規定） テープ及びリーダの光透過率の測定法
附属書C（規定） 信号対雑音比の測定法
附属書D（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件）
附属書E（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換
附属書F（規定） ビットシフトの測定法
附属書G（規定） トラックエッジの直線性の測定法
附属書H（参考） 識別孔
附属書J（参考） 前ふたの開放方法
附属書K（参考） 輸送条件
附属書L（参考） 記録時再生 (RAW)
附属書M（参考） 基本グループ番号0の内容の例
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 カートリッジ ················································································································ 1
2.2 書込み装置 ··················································································································· 1
2.3 読取り装置 ··················································································································· 2
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 定義 ······························································································································ 2
4.1 絶対フレーム番号 ·········································································································· 2
4.2 交流消去 ······················································································································ 2
4.3 アクセスポイント ·········································································································· 3
4.4 アルゴリズム ················································································································ 3
4.5 エリアID ····················································································································· 3
4.6 平均信号振幅 ················································································································ 3
4.7 アジマス ······················································································································ 3
4.8 裏面 ···························································································································· 3
4.9 バイト ························································································································· 3
4.10 カートリッジ ··············································································································· 3
4.11 チャネルビット ············································································································ 3
4.12 コードワード ··············································································································· 3
4.13 データフォーマットID ·································································································· 3
4.14 EWP ·························································································································· 3
4.15 EOD ··························································································································· 3
4.16 エンティティ ··············································································································· 3
4.17 誤り訂正符号 ··············································································································· 3
4.18 磁束反転位置 ··············································································································· 3
4.19 磁束反転間隔 ··············································································································· 3
4.20 フラグメント ··············································································································· 3
4.21 フレーム ····················································································································· 3
4.22 ハウスキーピングフレーム ····························································································· 3
4.23 LBOT ························································································································· 3
4.24 磁気テープ ·················································································································· 3
4.25 信号振幅基準テープ ······································································································ 3
4.26 標準テープ ·················································································································· 3
4.27 最適印加磁界 ··············································································································· 3
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)目次
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.28 パーティション境界 ······································································································ 4
4.29 PBOT ························································································································· 4
4.30 PEOT ························································································································· 4
4.31 記録密度 ····················································································································· 4
4.32 記録条件 ····················································································································· 4
4.33 圧縮処理 ····················································································································· 4
4.34 圧縮データ ·················································································································· 4
4.35 圧縮レコード ··············································································································· 4
4.36 圧縮レコード列 ············································································································ 4
4.37 レコード ····················································································································· 4
4.38 基準磁界 ····················································································································· 4
4.39 復元処理 ····················································································································· 4
4.40 信号振幅副基準テープ ··································································································· 4
4.41 副標準テープ ··············································································································· 4
4.42 セパレータマーク ········································································································· 4
4.43 標準信号振幅 ··············································································································· 4
4.44 テープ基準縁 ··············································································································· 4
4.45 試験記録電流 ··············································································································· 4
4.46 トラック ····················································································································· 4
4.47 未圧縮データ ··············································································································· 4
4.48 未圧縮レコード ············································································································ 4
4.49 VEOT ························································································································· 4
5. 数字の表現 ····················································································································· 5
6. 略号 ······························································································································ 5
7. 環境条件及び安全性 ········································································································· 5
7.1 試験環境条件 ················································································································ 5
7.2 使用環境条件 ················································································································ 5
7.3 保存環境条件 ················································································································ 6
7.4 輸送 ···························································································································· 6
7.5 安全性 ························································································································· 6
7.6 燃焼性 ························································································································· 6
8. ケースの寸法及び機械的特性 ····························································································· 6
8.1 概要 ···························································································································· 6
8.2 全体の寸 ······················································································································ 7
8.3 装着用握 ······················································································································ 7
8.4 保持領 ························································································································· 7
8.5 前ふたの切欠 ················································································································ 7
8.6 前ふたの寸 ··················································································································· 7
8.7 テープの始端及び終端の光学的検 ······················································································ 8
8.8 底面 ···························································································································· 8
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)目次
(3)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.8.1 スライダのロック機 ····································································································· 9
8.8.2 スライダ受け ·············································································································· 9
8.8.3 識別孔，書込み禁止孔及び位置決め補助 ·········································································· 9
8.8.4 位置決め ··················································································································· 10
8.8.5 テープガイド可動空 ···································································································· 11
8.8.6 ハブ受け ··················································································································· 11
8.8.7 下ハーフの内部構 ······································································································· 11
8.8.8 光通過経 ··················································································································· 12
8.8.9 支持領 ······················································································································ 12
8.8.10 位置決め領域（図13） ······························································································· 12
8.8.11 支持領域，位置決め領域及び基準面Zの関 ····································································· 13
8.9 ハブ ··························································································································· 13
8.10 リーダテープ及びトレーラテープ ··················································································· 13
8.11 ハブと磁気テープ装置スピンドルとの接触領 ···································································· 13
8.12 前ふたの開 ················································································································· 13
8.13 ハブロック機構の解 ····································································································· 14
8.14 ラベル領 ···················································································································· 14
8.15 オートローダからの要求事 ···························································································· 14
9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ·········································································· 25
9.1 材料 ··························································································································· 25
9.2 テープの長さ ··············································································································· 26
9.2.1 テープの長さ ············································································································· 26
9.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································· 26
9.2.3 スプライシングテープの長さ ························································································ 26
9.3 テープの幅 ·················································································································· 26
9.3.1 磁気テープの幅 ·········································································································· 26
9.3.2 リーダテープ及びトレーラテープの幅 ············································································ 26
9.3.3 スプライシングテープの幅及び位置 ··············································································· 26
9.3.4 基準縁の直線性 ·········································································································· 26
9.4 連続性 ························································································································ 27
9.5 テープの厚さ ··············································································································· 27
9.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································· 27
9.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································· 27
9.5.3 スプライシングテープの厚さ ························································································ 27
9.6 長手方向の湾曲 ············································································································ 27
9.7 カッピング ·················································································································· 27
9.8 塗布面の接着強度 ········································································································· 27
9.9 層間の粘着性 ··············································································································· 28
9.10 引張強度 ···················································································································· 28
9.10.1 破断強度 ·················································································································· 28
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)目次
(4)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.10.2 降伏強度 ·················································································································· 28
9.11 残留伸び ···················································································································· 28
9.12 剛性 ·························································································································· 28
9.13 塗布面の電気抵抗 ········································································································ 29
9.14 光透過率 ···················································································································· 29
9.15 媒体認識システム (MRS) ······························································································ 30
10. 磁気的特性 ·················································································································· 30
10.1 最適印加磁界 ·············································································································· 31
10.2 平均信号振幅 ·············································································································· 31
10.3 分解能 ······················································································································· 31
10.4 重ね書き ···················································································································· 31
10.5 消去特性 ···················································································································· 31
10.6 テープの品質 ·············································································································· 31
10.6.1 ミッシングパルス ······································································································ 31
10.6.2 ミッシングパルスゾーン ····························································································· 31
10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性 ····························································································· 31
11. フォーマット················································································································ 32
11.1 概要 ·························································································································· 32
11.2 基本グループ ·············································································································· 32
11.2.1 エンティティ ············································································································ 33
11.2.2 グループ情報テーブル ································································································ 34
11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT) ················································································· 36
11.3 サブグループ ·············································································································· 38
11.3.1 G1サブグループ ······································································································· 38
11.3.2 G2サブグループ（ランダム化） ··················································································· 39
11.3.3 G3サブグループ ······································································································· 39
11.3.4 G4サブグループ ······································································································· 41
11.3.5 メインデータフラグメント ·························································································· 43
11.3.6 基本グループの変換の要点 ·························································································· 45
11.4 サブコード情報 ··········································································································· 45
11.4.1 パックアイテム番号0 ································································································· 45
11.4.2 パックアイテム番号1 ································································································· 45
11.4.3 パックアイテム番号2 ································································································· 46
11.4.4 パックアイテム番号3 ································································································· 46
11.4.5 パックアイテム番号4 ································································································· 46
11.4.6 パックアイテム番号5 ································································································· 47
11.4.7 パックアイテム番号6 ································································································· 47
11.4.8 パックアイテム番号7 ································································································· 48
11.4.9 パックアイテム番号8 ································································································· 48
11.4.10 パックアイテム番号9 ······························································································· 48
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)目次
(5)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.4.11 パックアイテム番号10 ······························································································ 48
11.4.12 パックアイテム番号11 ······························································································ 48
11.4.13 パックアイテム番号12 ······························································································ 49
11.4.14 パックアイテム番号13 ······························································································ 49
11.4.15 パックアイテム番号14 ······························································································ 49
11.4.16 パックアイテム番号15 ······························································································ 49
11.5 サブコードの配置 ········································································································ 50
11.5.1 シングルデータスペーステープのサブコードパックアイテム ············································· 50
11.5.2 パーティションテープのサブコードパックアイテム ························································· 50
12. 記録方式 ····················································································································· 51
12.1 記録密度 ···················································································································· 51
12.2 長周期平均ビットセル長 ······························································································· 51
12.3 短周期平均ビットセル長 ······························································································· 51
12.4 短周期平均ビットセル長の変動率 ··················································································· 51
12.5 ビットシフト ·············································································································· 51
12.6 情報交換時の再生信号振幅 ···························································································· 51
12.7 最大の記録レベル ········································································································ 51
13. トラック ····················································································································· 51
13.1 トラックの構成 ··········································································································· 51
13.2 平均トラック間隔 ········································································································ 52
13.3 トラック間隔の変化 ····································································································· 52
13.4 トラック幅 ················································································································· 52
13.5 トラック角 ················································································································· 52
13.6 トラックエッジの直線性 ······························································································· 52
13.7 トラック長 ················································································································· 52
13.8 理想テープ中心線 ········································································································ 52
13.9 アジマス角 ················································································································· 52
14. 記録パターン ··············································································································· 52
14.1 記録メインデータフラグメント ······················································································ 52
14.2 マージンゾーン及びプリアンブルゾーン ·········································································· 53
15. トラックのフォーマット································································································· 53
15.1 トラックのフォーマット ······························································································· 53
15.2 トラックの位置精度 ····································································································· 53
15.3 トラッキング法 ··········································································································· 53
16. シングルデータスペーステープの構成 ··············································································· 53
16.1 デバイス領域 ·············································································································· 54
16.2 リファレンス領域 ········································································································ 54
16.3 ガードバンド1 ············································································································ 54
16.4 システム領域 ·············································································································· 54
16.4.1 システムプリアンブル ································································································ 55
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)目次
(6)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.4.2 システムログ ············································································································ 55
16.4.3 システムポストアンブル ····························································································· 55
16.4.4 ガードバンド2 ········································································································· 55
16.4.5 ベンダグループプリアンブル ······················································································· 55
16.5 データ領域 ················································································································· 55
16.5.1 ベンダグループ ········································································································· 55
16.5.2 記録データグループ ··································································································· 55
16.5.3 ECC3 ······················································································································ 55
16.5.4 再記録フレーム ········································································································· 56
16.5.5 追記録及び重ね書き ··································································································· 57
16.6 EOD領域 ··················································································································· 58
16.7 ポストEOD領域 ········································································································· 58
16.8 アーリーワーニングポイント (EWP) ··············································································· 58
16.9 初期化 ······················································································································· 59
17. パーティションテープの構成 ··························································································· 59
17.1 テープ上の配置 ··········································································································· 60
17.1.1 デバイス領域 ············································································································ 60
17.1.2 パーティション1 ······································································································ 60
17.1.3 パーティション0 ······································································································ 61
17.2 エリアID ··················································································································· 61
17.3 システム領域のパックアイテム番号6 ·············································································· 61
17.4 空のパーティション ····································································································· 61
17.4.1 空のパーティション1································································································· 61
17.4.2 空のパーティション0································································································· 62
17.5 パーティションテープの初期化 ······················································································ 62
18. ハウスキーピングフレーム······························································································ 62
18.1 アンブルフレーム ········································································································ 62
18.2 システムログフレーム ·································································································· 62
18.3 テープ管理フレーム ····································································································· 62
附属書A（規定） プリズムの光透過率の測定法 ······································································· 64
附属書B（規定） テープ及びリーダの光透過率の測定法 ··························································· 66
附属書C（規定） 信号対雑音比の測定法 ················································································ 68
附属書D（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件） ································ 69
附属書E（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換 ·································· 70
附属書F（規定） ビットシフトの測定法 ················································································ 77
附属書G（規定） トラックエッジの直線性の測定法 ································································· 79
附属書H（参考） 識別孔 ···································································································· 80
附属書J（参考） 前ふたの開放方法 ······················································································ 81
附属書K（参考） 輸送条件 ································································································· 82
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)目次
(7)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考） 記録時再生 (RAW)····················································································· 83
附属書M（参考） 基本グループ番号0の内容の例 ··································································· 84
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
X 6130 : 1999
(ISO/IEC 15521 : 1998)
3.81mm幅，ヘリカル走査記録
情報交換用
磁気テープカートリッジ，
DDS-3様式，テープ長125m
3.81 mm wide magnetic tape cartridge for information
interchange−Helical scan recording−DDS-3 format
using 125 m length tapes
序文 この規格は，1998年に第1版として発行されたISO/IEC 15521, Information techno1ogy−3.81mm wide
magnetic tape cartridge for information interchange−Helical scan recording−DDS-3 format using 125m length
tapes と技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い
る3.81mm幅，ヘリカル走査記録，DDS-3様式，磁気テープカートリッジ（以下，カートリッジという。）
の構造，寸法，物理的特性，機械的特性，磁気的特性及び情報の記録様式について規定する。
この規格は，情報交換用磁気テープのラベル及びファイル構成及び情報交換当事者間で合意した情報交
換符号を用いることでシステム相互の情報交換に適用する。
圧縮アルゴリズムを用いる場合，ISO/IEC 11558の規定を適用し，情報交換当事者間で，テープへの記
録及びテープからの読出しに用いる圧縮アルゴリズムについて合意の上使用する。
2. 適合性
2.1
カートリッジ カートリッジは，この規格のすべてを満たすとき，この規格に適合する。
ロスレスデータ圧縮に使用するアルゴリズムは，ISO/IEC 11576に従って登録し，その識別子番号をエ
ンティティヘッダのバイト3に記録しなければならない。
2.2
書込み装置 書込み装置は，作成したテープ上の記録がすべてこの規格を満足し，作成した追記録
若しくは重ね書きのいずれか一方が可能な場合，又は追記録及び重ね書きの両方が可能な場合，この規格
に適合する。
適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示する。
− 記録時再生によるチェック及び不良フレームの再記録。
− ECC3（誤り訂正用C3符号）フレームの生成。
また，次の任意機能の有無を明示する。
2
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 登録したアルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。
− アルゴリズムの登録番号。
2.3
読取り装置 読取り装置は，この規格によって再生したテープからの処理が可能な場合，この規格
に適合する。
− 再記録フレームを識別し，これらのフレームの一つだけからユーザデータ及びセパレータマークを取
り出す。
− ECC3フレームの識別。ただし，ECC3の機能がない場合は，無視する。
− 定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し，ホストが利用できる登録番号を取り出す。
− ホストが利用できる圧縮データの生成。
次の任意機能の有無を明示する。
− ECC3を使用し，誤り訂正の可否。
− 復元用アルゴリズムの有無及び圧縮データの取出しの可否。
− 復元のためにアルゴリズムの登録番号を取り出す。
3. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版を適用する。
JIS K 7161 : 1994 プラスチック−引張り特性の試験方法 第1部：通則
備考 ISO/R 527 : 1966 Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 ：General principlesがこ
の規格と一致している。
JIS X 6127 : 1992 3.81mm幅，ヘリカル走査記録情報交換用磁気テープカートリッジ，DDS様式
備考 ISO/IEC 12247 : 1993 Information technology−3.81 mm wide magnetic tape cartridge for
information interchange−Helical scan recording−DDS format using 60 m and 90 m length
tapesがこの規格と一致している。
JIS X 6129 : 1993 3.81mm幅，ヘリカル走査記録情報交換用磁気テープカートリッジ，DDS-2様式
備考 ISO/IEC 13923 : 1996 Information technology−3.81 mm wide magnetic tape cartridge for
information interchange−Helical scan recording−DDS-2 format using 120 m length tapesがこ
の規格と一致している。
IEC 60950 : 1996 Safety of information technology equipment, including electrical business equipment
IEC 61119-1 : 1992 Digital audio tape cassette system (DAT)−Part 1 ：Dimensions and characteristics
ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture
ISO/IEC 11557 : 1992 Information technology−3.81 mm wide magnetic tape cartridge for information
interchange−Helical scan recording−DDS-DC format using 60 m and 90 m length tapes
ISO/IEC 11558 : 1992 Information technology−Data compression for information interchange−Adaptive
coding with embedded dictionary−DCLZ Algorithm
ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for lossless
compression of data
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
4.1
絶対フレーム番号 (Absolute Frame Number, AFN) フレームに付けた連続番号。
4.2
交流消去 (a. c erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。
3
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.3
アクセスポイント (Access Point) コードワードの復元用アルゴリズムを開始する点で，圧縮した
一連のレコードの始まりの位置。復元操作の対象となるデータは，アクセスポイント又は後の箇所から開
始してよい。
4.4
アルゴリズム (Algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。
4.5
エリアID (Area ID) 磁気テープ領域の定義及びフレームの形式を記述する識別子。
4.6
平均信号振幅 (Average Signal Amplitude) 規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ
ルスのない部分を長さ7.8mm以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク (P-P) 出力電圧。
4.7
アジマス (azimuth) 磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。
4.8
裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。
4.9
バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。
4.10 カートリッジ (cartridge) 一組のハブに巻いた磁気テープを収納したケース。
4.11 チャネルビット (Channel bit) 8ビットから10ビットに変換後のビット。
4.12 コードワード (Codeword) 圧縮アルゴリズムによって生成したワード。コードワードのビット数
は，可変であり，この規格では，規定しない。
4.13 データフォーマットID (Data Format ID) データフォーマットの識別子。
4.14 EWP (Early Warning Point) パーティションの境界又はPEOTに近付いたことを示す箇所。
4.15 EOD (End of Data) 最後のユーザデータを含むグループの終端。
4.16 エンティティ (Entity) エンティティヘッダ及び圧縮レコード列によって構成する記録データの集
合。
4.17 誤り訂正符号 (Error Correcting Code) 誤りを自動訂正できるように設計された誤り訂正符号。
4.18 磁束反転位置 (flux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となる点。
4.19 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。
4.20 フラグメント (Fragment) 記録，再生及び誤り訂正符号の単位として取り扱うバイトの集合。
4.21 フレーム (Frame) 正のアジマスとこれに続く負のアジマスからなる一対のトラック。
4.22 ハウスキーピングフレーム (House Keeping Frame) ユーザデータを含まないフレーム。
4.23 LBOT (Logical Beginning of Tape) テープ上でデータの記録開始位置。
4.24 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ（以下，
テープという。）。
4.25 信号振幅基準テープ (Master Standard Amplitude Calibration Tape) 交流消去したテープ上に正アジ
マス，21.0μmのトラック幅，27.2μmのトラック間隔で標準信号振幅を交流消去されたテープ上に記録し，
信号振幅の校正の基準として用いるテープ。
参考1. このテープは，4 499.8ftpmm，2 999.9ftpmm，1 999.9ftpmm及び1 499.9ftpmmの信号が記録さ
れている。
2. このテープは，財団法人 日本電子部品信頼性センター (RCJ) によって管理されている。
4.26 標準テープ (Master Standard Reference Tape) 基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書き及び信号対雑
音比の標準として用い，その特性値を日本工業標準調査会 (JISC) が規定するテープ。
参考 このテープは，財団法人 日本電子部品信頼性センター (RCJ) によって管理されている。
4.27 最適印加磁界 (Optimum Recording Field) 記録密度2 999.9ftpmmで記録して，再生したとき，その
平均信号振幅が最大値を示す印加磁界。
4
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.28 パーティション境界 (Partition Boundary) パーティション1が終わりパーティション0が始まる磁
気テープの長さ方向に沿った点。
4.29 PBOT (Physical Beginning of Tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.30 PEOT (Physical End of Tape) テープ終端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.31 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm)。
4.32 記録条件 (pre-recording condition) 互換性維持のために許容される記録レベル。
4.33 圧縮処理 (processing) ホストからのデータを圧縮アルゴリズムによって，コードワードに変換す
る処理。
4.34 圧縮データ (processed data) 圧縮処理したコードワードの列。
4.35 圧縮レコード (Processed Record) 未圧縮レコードを圧縮処理することによって生成するレコード。
4.36 圧縮レコード列 (Processed Record Sequence) 8ビット単位の境界で始まり，次の8ビット単位の境
界で終わる一つ以上のコードワードの列。
4.37 レコード (record) 情報の単位として扱うデータ。
4.38 基準磁界 (Reference Recording Field) 標準テープの最適印加磁界。
4.39 復元処理 (reprocessing) コードワードを元のデータに復元する処理。
4.40 信号振幅副基準テープ (Secondary Standard Amplitude Calibration Tape) 信号振幅基準テープと同じ
種類の信号が記録され，そのテープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれとの偏差を明示したテープ。
供試テープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれと比較するために用い，供試テープの実測値を補正す
ることによって，間接的に供試テープとの特性の比較を行うことを可能にするテープ。
参考 信号振幅副基準テープは，〒203-0042 東京都東久留米市八幡町1-1-12 財団法人 日本電子
部品信頼性センターが部品番号JCM 6130/IS CM 15521で2007年まで供給する。
4.41 副標準テープ (Secondary Standard Reference Tape) テープの基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書
き及び信号対雑音比を標準テープのそれと比較するために用い，その特性値と標準テープの特性との偏差
を明示して，実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと標準テープとの特性の比較を
行うことを可能にするテープ。
参考 副標準テープは，〒203-0042 東京都東久留米市八幡町1-1-12 財団法人 日本電子部品信頼
性センターが部品番号JRM 6130/IS RM 15521で2007年まで供給する。
4.42 セパレータマーク (Separator Mark) データの区切りに使用するユーザデータを含まないレコード。
4.43 標準信号振幅 (Standard Reference Amplitude) 信号振幅基準テープに記録した標準信号の平均信号
振幅。
4.44 テープ基準縁 (Tape Reference Edge) PEOTが右端となるようにテープの記録面から見たときのテ
ープの下端。
4.45 試験記録電流 (Test Recording Current) 標準テープに基準磁界を生じさせる記録電流。
4.46 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。
4.47 未圧縮データ (unprocessed data) 圧縮処理をしていないデータの列。
4.48 未圧縮レコード (Unprocessed Record) バイト単位で構成する未圧縮データのレコード。
4.49 VEOT (Virtual End of Tape) 記録データの区分に用いるパーティション1の終端を定義した磁気テ
ープの長手方向の点。
5
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5. 数字の表現 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸める。これは，例えば規格値
01
.002
.0
26
.1
+−
は，1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。
ビットの設定は， “0” 又は “1” で表す。
ビットパターン及び2進数表現の数字は， “0” 又は “1” の列で表す。規定しないビットは，Xを使用
してもよい。
ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，最下位ビットを右とする。
8ビットバイトは，ビット8を最上位ビットとし，ビット1を最下位ビットとする。
6. 略号
AEWP
アフタアーリーワーニングポイント (After-Early Warning Point)
AFN
絶対フレーム番号 (Absolute Frame Number)
BAT
ブロックアクセステーブル (Block Access Table)
DF-ID
データフォーマット識別子 (Data Format Identifier)
ECC
誤り訂正符号 (Error Correcting Code)
EOD
EOD (End of Data)
EWP
アーリーワーニングポイント (Early Warning Point)
GIT
グループ情報テーブル (Group Information Table)
LBOT
LBOT (Logical Beginning of Tape)
LSB
最下位バイト (Least Significant Byte)
LF-ID
論理フレーム識別子 (Logical Frame Identifier)
MRS
媒体認識システム (Media Recognition System)
MSB
最上位バイト (Most Significant Byte)
MSRT
標準テープ (Master Standard Reference Tape)
PBOT
PBOT (Physical Beginning of Tape)
PEOT
PEOT (Physical End of Tape)
RAW
記録時再生 (Read-After-Write)
SNR
信号対雑音比 (Signal-to-Noise Ratio)
VEOT
VEOT (Virtual End of Tape)
7. 環境条件及び安全性
7.1
試験環境条件 試験環境条件は，規定がない限り次による。
温度
23℃±2℃
相対湿度
40%〜60%
試験前放置時間
24時間
7.2
使用環境条件 使用環境条件は，装置に装着したカートリッジの近傍で測定し，次による。
温度
15℃〜55℃
相対湿度
10%〜80%
湿球温度
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置
6
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
した時間と同等以上，又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。
参考 急激な温度変化は，避けなければならない。
7.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度
5℃〜32℃
相対湿度
20%〜60%
湿球温度
26℃以下
周辺磁界は，カートリッジ面で4 000A/mを超えてはならない。
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
7.4
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Kによ
る。
7.5
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，IEC 60950の要求を満足しなければならない。
7.6
燃焼性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチの炎などによって着火してもよいが，二
酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
8. ケースの寸法及び機械的特性
8.1
概要 カートリッジのケースは，上ハーフ，下ハーフ，スライダ及び前ふた（蓋）からなり，具体
図は，次による。
図1
上側から見たカートリッジの外観
図2
下側から見たカートリッジの外観
図3
背面から見た書込み禁止孔の外観
図4
基準面X，基準面Y，基準面Z
図5
前ふたが閉じた状態の正面
図6
前ふたが閉じた状態の上面
図7
前ふたが閉じた状態の左側面
図8
前ふたが開いた状態の上面
図9
前ふたが開いた状態の左側面
図10
前ふた及びスライダが閉じた状態の底面
図11
前ふた及びスライダが開いた状態の底面
図12
上側から見た下ハーフ内面の見取図
図13
前ふた及びスライダが開いた状態の下ハーフ底面
図14
前ふた及びスライダが開いた状態の左側面
図15
ハブの上面
図16
ハブの断面を含んだ側面
図17
ハブ及び上下ハーフと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域断面図
図18
完全に開いた状態の前ふた詳細図
図19及び図20
前ふた及びハブロック機構の関係を示す詳細図
図21及び図22
上面及び背面のラベル領域
図23
カートリッジ下面両側の角部
図24
正面から見たスライダの反り
寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図4参照）。
7
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
基準面Xは，スライダを開いたとき，基準面Zに垂直で長円形及び円形の位置決め孔の中心を通る面と
する（8.8.4及び図11参照）。
基準面Yは，基準面X及び基準面Yに垂直で位置決め孔の中心を通る面とする。
基準面Zは，スライダが作動する面とする（図7参照）。
8.2
全体の寸法（図5，図6及び図7） 前ふたが閉じた状態のケース全体の寸法は，次による。
l1＝73.0mm±0.3mm
l2＝54.0mm±0.3mm
l3＝10.5mm±0.2mm
前ふたの面取り角度は，次による。
θ＝45°±8°（図21 H−H参照）
ケース後側の左右の縁の半径は，次による。
r1＝1.0mm±0.5mm
前ふたの縁の半径は，次による。
r2≦0.5mm
8.3
装着用握り（図6） カートリッジを磁気テープ装置に挿入し，位置決めするための上面の装着用握
りの位置及び寸法は，次による。
l4＝25.5mm±0.3mm
l5＝11.0mm±1.0mm
l6＝5.0mm±0.2mm
l7＝2.3mm±0.3mm
装着用握りの上面からの深さは，
mm
2.0
mm
0.0
mm
5.0
+−
とする。
8.4
保持領域（図6） カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の網掛け領域
とし，その位置及び寸法は，次による。
l8＝6.0mm±0.1mm
l9＝5.0mm±0.1mm
8.5
前ふたの切欠き（図5及び図8） 前ふたに二組の切欠きを設ける。外側の切欠きは，カートリッジ
を磁気テープ装置に挿入するときのスライダのロック機構を解除するために設け（8.8.1参照），その位置
及び寸法は，次による。
l10≦0.4mm
l11≧3.0mm
l12＝1.2mm±0.1mm
l13＝49.8mm±0.2mm
内側の切欠きは，カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときにスライダを開けるために設け（8.8.1
参照），その位置及び寸法は，次による。
l11≧3.0mm
l14≧0.9mm
l15＝7.5mm±0.1mm
l16＝36.00mm±0.15mm
8.6
前ふたの寸法（図6〜図8） 前ふたの寸法は，次による。
l17＝1.2mm±0.1mm
8
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l18＝6.8mm±0.4mm
l19＝1.1mm±0.1mm
l20＝2.0mm±0.1mm
l21＝6.4mm±0.2mm
l22＝1.5mm±0.1mm
r3＝6.8mm±0.4mm
前ふたは，45°の面取りをし，その寸法は，次による。
l23＝1.5mm±0.1mm
図7に示すl24は，スライダ底面から上ハーフの上面までの高さとし，l25は，前ふたの高さとする。上ハ
ーフに垂直に1Nの力を加えたときの寸法は，次による。
l24＝10.5mm±0.2mm
l25≦l24
力を加えないときの寸法は，次による。
l24≦10.9mm
前ふたを開いたときの前ふたの縁から背面までの寸法は，次による（図8参照）。
l26＝55.5mm±0.3mm
8.7
テープの始端及び終端の光学的検出（図8，図9及び図12） テープの始端及び終端の光学的検出
用に，ケースの両側に一組の光通過窓を設ける（図18参照）。
光通過窓の位置及び寸法は，次による。
l27＝6.20mm±0.10mm
l28＝7.65mm±0.10mm
l29＝
mm
20
.0
mm
00
.0
1.50mm+−
l30＝3.9mm±0.1mm
l31＝1.8mm±0.1mm
l32＝7.0mm±0.2mm
l33≧2.5mm
l32は，基準面Xから窓の後縁までの寸法とし，l33は，この後縁から前縁までの寸法とする。
この窓の使用方法は，二通りある。一つは，カートリッジの両側にそれぞれに光源及び検出器を設け，
上側の窓から光を入射し，ケース内のプリズムで反射させて，テープを通過した光を，下側の窓で検出す
る。他方は，カートリッジを磁気テープ装置に装着するときに，カートリッジの中側に光源を挿入し，テ
ープを通過した光を下側の窓で検出する。
カートリッジに設けたプリズム（図8 A−A参照）の光透過率は，附属書Aによって測定したとき，
基準プリズムの50%以上とする。
8.8
底面 前ふた及びスライダが閉じた状態の底面を図10に示し，前ふた及びスライダが開いた状態の
底面を図11に示す。
下ハーフの寸法 (l34)，スライダの寸法 (l35) 及び前ふたの寸法 (l36) は，次による。
l34＝73.0mm±0.3mm
l35≦l34
l36≦l34
9
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.8.1
スライダのロック機構（図10） スライダを閉じた状態，又は開いた状態にロックする機構を設
ける。
スライダには，ロックが外れた状態で，スプリングによって閉じる方向の力が加わる。この力は，2Nを
超えてはならない。
スライダには，2本の溝及びその端に開口部を設け，引っ掛けつめがこの開口部を通して突き出ること
によって，スライダを閉じた状態，又は開いた状態に保持する。図10 C−Cに引っ掛けつめの機構例を
示す。
溝は，基準面Zに平行で，前ふたの切欠きと一致しなければならない。スライダが閉じた状態での，ロ
ック機構の溝及び開口部の位置並びに寸法は，次による。
l37＝1.2mm±0.1mm
l38＝49.8mm±0.2mm
l39＝10.0mm±0.1mm
l40＝2.0mm
mm
5.0
mm
1.0
+−
l41≧3.0mm
l42≧1.5mm
l43＝0.8mm±0.1mm
l44＝0.8mm
mm
5.0
mm
1.0
+−
λ≧45°
l45＝0.65mm±0.05mm
ここに，l39，l40，l43及びl44は，スライダが開いた状態の引っ掛けつめが突き出るための開口部の位置及
び寸法とする。
スライダが閉じた状態で，引っ掛けつめを基準面Zに垂直に0.65mm以上動かす力は，0.5N以下とする。
スライダを開いた状態に保持する力は，0.3N以上とする。
8.8.2
スライダ受け孔（図10） スライダには，図10 B−Bに示す二つの円形の受け孔を設け，スライ
ダが開いているとき，磁気テープ装置スピンドルがこの受け孔を介してハブに突き出る。受け孔の直径は，
次による。
d1＝10.0mm±0.2mm
d2≦12.0mm
受け孔の面取りは，0.5mm±0.2mmとする。
8.8.3
識別孔，書込み禁止孔及び位置決め補助孔（図11） 識別孔，書込み禁止孔及び位置決め補助孔
は，下ハーフ底面の後側の縁に設ける。この縁及び孔の位置は，図11及び次による。
l46＝45.2mm±0.2mm
l47＝49.2mm±0.2mm
l48＝47.2mm±0.2mm
8.8.3.1
識別孔（図10及び図11） 識別孔は，図10に示す(1)〜(4)の4個からなり，その位置及び寸法
は，図11及び次による。
d3＝2.5mm±0.1mm
l49＝1.0mm±0.1mm
10
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l50＝56.0mm±0.3mm
l51＝4.0mm±0.1mm
l52＝1.0mm±0.1mm
l53≧3.0mm
4個の識別孔は，図11 F−Fに示す断面構造をもち，開閉の状態は，0.5Nの力を加えても変化しては
ならない。
この規格では，孔の開閉状態は，次による。
(1)及び(3)の孔は，開く。(2)及び(4)の孔は，閉じる。
なお，(1)〜(4)の孔の使用方法は，附属書Hによる。
8.8.3.2
書込み禁止孔（図11） 書込み禁止孔の位置及び寸法は，次による。
d4＝2.5mm±0.1mm
l50＝56.0mm±0.3mm
l52＝1.0mm±0.1mm
l53≧3.0mm
書込み禁止孔が開いているときは，書込み禁止とし，書込み禁止孔が閉じているときは，書込み可能と
する。
書込み禁止孔は，図11 F−Fに示す識別孔と同じ断面構造とする。書込み禁止孔は，片方をプラグに
よって開閉できる構造とし，それぞれの状態は，最大0.5Nの力を加えても変化してはならない。
書込み禁止孔に可動機構を設けてもよいが，図3に示すように，開閉の状態が容易に判別できなければ
ならない。可動機構は，0.5Nの力を加えても開閉状態が変化してはならない。
8.8.3.3
位置決め補助孔（図11） 下ハーフの後縁に二つの位置決め補助孔を設け，磁気テープ装置内で，
カートリッジの位置決めに用いる。
一方の位置決め補助孔は，長円形とし，他方は，円形とする。断面は，図11 E−Eに示す。書込み禁
止孔の下側にある長円形の孔の位置及び寸法は，次による。
l54＝45.5mm±0.2mm
l55＝3.5mm
mm
1.0
mm
0.0
+−
l56＝2.50mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
他方の位置決め補助孔の位置及び寸法は，次による。
d5＝2.5mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
d6≧1.0mm
l57＝5.5mm±0.1mm
l58≧2.0mm
l59≧1.2mm
位置決め補助孔の縁は，いずれも0.2mm±0.1mmの面取りをする。
8.8.4
位置決め孔（図11） 位置決め孔は，下ハーフの前縁にあって，磁気テープ装置内で，カートリ
ッジの位置決めに用いる二つの孔からなる。一方の位置決め孔は，長円形とし，他方は，円形とする。位
置決め孔の位置及び寸法は，図11 D−D及び次による。
11
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
l60＝51.0mm±0.1mm
l61＝2.80mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
l62＝3.5mm
mm
1.0
mm
0.0
+−
l63≧3.0mm
d7＝2.80mm
mm
05
.0
mm
00
.0
+−
位置決め孔の上側の縁は，0.2mm±0.1mmの面取りをする。
8.8.5
テープガイド可動空間（図11） カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープガイドは，
テープを磁気テープ装置のヘッドの方へ引き出す。この可動空間の位置及び寸法は，次による（8.8.7.5参
照）。
l64≦3.1mm
l65≧5.6mm
l66≦11.0mm
l67＝7.0mm
mm
7.0
mm
0.0
+−
l68≧6.7mm
α＝45°±1°
l69≧47.9mm
l70＝3.30mm
mm
00
.0
mm
15
.0
+−
8.8.6
ハブ受け孔（図11） スライダが開いたときに，磁気テープ装置のスピンドルをハブに装着でき
るように，下ハーフに二つのハブ受け孔を設け，その位置及び寸法は，次による。
d8＝9.0mm±0.1mm
l71＝29.00mm±0.15mm
l72＝10.5mm±0.1mm
l73＝30.0mm±0.1mm
8.8.7
下ハーフの内部構造（図12） 下ハーフに，前ふたが閉じた状態で，ハブが回転しないロック機
構を設ける。ロック機構の解除については，8.13で規定するが，その構造については，規定しない。
8.8.7.1
テープの巻き径 ハブに巻いたテープの直径は，次による。
d9≦36.5mm
8.8.7.2
テープの巻き方 テープの巻き方は，テープの磁性面を外側にする。
8.8.7.3
テープの走行方向 テープの走行方向は，カートリッジの左側から右側を順方向とする（図1及
び図2参照）。
8.8.7.4
ガイドポスト テープが通る二つのガイドポストの軸は，基準面Zに垂直で，位置決め孔の中心
とする。ガイドポストの位置及び寸法は，位置決め孔の中心の位置及び寸法とする。
図12で示す角度ρの位置を始点とするテープ通路側の断面は，180°以上を円形とし，軸の直径及び角度ρ
は，次による。
r4＝3.0mm±0.1mm
12
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ρ＝45°±1°
ほかの断面については，規定しない。
8.8.7.5
ケース内のテープの位置（図12 “Aから見た図”） テープは，二つのガイドポストで，基準
面Zに平行な二つの面内を走行しなければならない。これらの面の基準面Zからの距離は，次による。
l74≧1.4mm
l75≦6.4mm
テープの中心線は，次による。
l76＝3.9mm
8.8.5で規定したテープガイドの可動空間の高さは，次による。
l77＝8.0mm
mm
6.0
mm
0.0
+−
8.8.7.6
テープ走行領域 カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，カートリッジの外側
に引き出される。テープの走行時には，ガイドポストに接触してはならない。テープ走行領域は，テープ
が自由に走行できることとし，その領域は，次による。
l78＝5.5mm±0.1mm
l79＝56.5mm±0.3mm
l80＝8.0mm±0.2mm
8.8.8
光通過経路（図12） 8.7で規定した光路は，光をさえぎる構造であってはならない。光通過経路
の寸法は，次による。
l81≦1.5mm
l82≧5.0mm
8.8.9
支持領域（図13） カートリッジを磁気テープ装置に挿入するとき，図13の網掛けで示す三つの
支持領域A'，支持領域B'及び支持領域C'で支持して位置決めする。これらの位置及び寸法は，次による（8.4
参照）。
支持領域A'及び支持領域B'は，この規格で規定していない下ハーフの部品構造に依存するため，この規
格では規定しない。
支持領域C'は，次による。
l83＝1.0mm±0.1mm
l84＝49.0mm±0.3mm
8.8.10 位置決め領域（図13） 中空円形の位置決め領域A及び位置決め領域B並びに円形の位置決め領
域Cの三つの領域は，基準面Z上に設ける。
位置決め領域Aは，基準面X，基準面Y及び基準面Zの交点に設け，その内径は，d7（8.8.4及び図11
参照）とし，外径d10は，次による。
d10＝5.0mm±0.1mm
位置決め領域Bは，基準面X及び基準面Zが交わる線上で，位置決め領域Aの中心から距離l60に設け
（8.8.4及び図11参照），内側の寸法は，l61及びl62とし，外径は，d10とする。
位置決め領域Cの直径は，d10とし，中心の位置は，次による。
l85＝42.0mm±0.3mm
l86＝25.5mm±0.3mm
13
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.8.11 支持領域，位置決め領域及び基準面Zの関係（図14） 支持領域A'は，位置決め領域Aの面から
0.1mm以内とする。
支持領域B'は，位置決め領域Bの面から0.1mm以内とする。
支持領域C'は，基準面Zに0.1mmの範囲で平行とし，支持領域C'の面と基準面Zからの距離は，次に
よる。
l87＝1.10mm±0.05mm
8.9
ハブ（図15及び図16） ハブの寸法は，次による。
d1＝6.6mm
mm
08
.0
mm
0.0
+−
d12＝8.8mm
mm
0.0
mm
1.0
+−
d13＝15.00mm±0.05mm
β＝60°±1°
r＝45°±1°
l88＝2.5mm
mm
1.0
mm
0.0
+−
l89＝2.60mm
mm
20
.0
mm
0.0
+−
直径d11及び直径d13の2個の円筒は，同軸で，中心のずれは，0.05mm以内とする。
テープが巻かれたハブを回転させるのに必要なトルクは，0.000 2N･m以下とする。
8.10 リーダテープ及びトレーラテープ ハブに接続するリーダテープ及びトレーラテープのそれぞれの
部材に加わる力は，5N以下とし，ハブから外れてはならない。
8.11 ハブと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域（図17） ハブと磁気テープ装置スピンドルとの接
触領域は，図17及び次による。
1.0mm≦ (d15−d14) ≦1.2mm
l91−l90≦1.3mm
参考 磁気テープ装置スピンドルの頭は，基準面Zからの距離ldが7.65mm以下に位置するので，ハ
ブから突き出ることはない。
8.12 前ふたの開放（図18） 前ふたを開けると，前ふたの下側の縁が弧を描いて回転し，その半径は，
次による。
r5＝9.6mm±0.2mm
回転の中心は，d17及びd21とし，前ふたの最終位置，すなわち，完全に開放したときの位置は，次によ
る。
l92＝10.9mm±0.2mm
l93＝0.3mm±0.1mm
l94＝6.3mm±0.2mm
前ふたを開けるのに必要な力は，r5の回転の中心から基準面Zに平行なl95の位置で測定したとき，1.2N
未満とする（附属書J参照）。寸法l95は，次による。
l95＝5.0mm±0.1mm
14
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.13 ハブロック機構の解除（図19及び図20） 前ふたの回転位置によってハブを開閉するロック機構と
前ふたの関係は，次による。
前ふたを閉じた状態から（図19及び図20に示すように時計回り）回転させて開くとき，図19に示すよ
うに，前ふたの縁が次の位置になるまでにハブは，ロック状態にならなければならない。
l96＝7.0mm
l97＝7.5mm±0.2mm
図20に示すように，前ふたの縁が次の位置になるまでにハブは，完全な解除状態にならなければならな
い。
l98＝10.3mm
l99＝6.6mm±0.2mm
8.14 ラベル領域（図21及び図22） ラベル領域は，ケースの上面及び背面に設け，ラベルは，ケースの
上面及び背面に使用しなければならない。その寸法は，次による。
l100≧5.2mm
l101≦39.4mm
l102≦8.8mm
r6≧0.5mm
8.15 オートローダからの要求事項（図23及び図24） オートローダで使用するために，基準面Zと寸
法l87とで形成するチャネル状の溝部を確保する。図23に示す溝部の角部の形状及び寸法は，次による。
l87＝1.10mm±0.05mm
r7≦0.3mm又は面取り0.3mm以下
δ≦6°
図23に示すカートリッジ側面のスライダのくぼみと操作領域との高さは，次による。
l103＝5.4mm±0.5mm
図24に示すカートリッジ底面のスライダの反りは，次による。
l104≦0.6mm
図1 上側から見たカートリッジの外観
15
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図2 下側から見たカートリッジの外観
図3 背面から見た書込み禁止孔の外観
図4 基準面X，基準面Y，基準面Z
16
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図5 前ふたが閉じた状態の正面
図6 前ふたが閉じた状態の上面
図7 前ふたが閉じた状態の左側面
17
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図8 前ふたが開いた状態の上面
図9 前ふたが開いた状態の左側面
18
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図10 前ふた及びスライダが閉じた状態の底面
19
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図11 前ふた及びスライダが開いた状態の底面
20
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図12 上側から見た下ハーフ内側の見取図
21
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図13 前ふた及びスライダが開いた状態の下ハーフ底面
図14 前ふた及びスライダが開いた状態の左側面
22
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図15 ハブの上面
図16 ハブの断面を含んだ側面
図17 ハブ及び上下ハーフと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域断面図
23
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図18 完全に開いた状態の前ふた詳細図
図19 前ふた及びハブロック機構
の関係を示す詳細図
図20 前ふた及びハブロック機構
の関係を示す詳細図
24
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図21 上面のラベル領域
図22 背面のラベル領域
25
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図23 カートリッジ下面両側の角部
図24 正面から見たスライダの反り
9. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法
9.1
材料 磁気テープは，ベース（芳香族ポリアミド又は相当品）上の片面に強固で柔軟性のあるバイ
ンダと適切な磁性材料を塗布したものとする。磁気テープの裏面は，磁性材又は非磁性材を塗布してもよ
い。
テープの始端には，巻取りハブとPBOTとの間にリーダテープを設け，終端には，PEOTとハブとの間
26
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは，磁性材の塗布及び裏面の塗布がない半
透明の材料とする。
リーダテープ及びトレーラテープは，スプライシングテープによって磁気テープを接続する。スプライ
シングテープは，ポリエチレンテレフタレート又は相当品とし，片面には，アクリル系接着材などを塗布
する。
9.2
テープの長さ
9.2.1
テープの長さ PBOTとPEOTとの間のテープの長さは，10m〜125mとする。
9.2.2
リーダテープ及びトレーラテープの長さ リーダテープ及びトレーラテープの長さは，60mm±
5mmとする。PBOTでの磁気テープとリーダテープの接続部，及びPEOTでの磁気テープとトレーラテー
プの接続部は，テープ基準縁に対して垂直度を90°±10°とする。
9.2.3
スプライシングテープの長さ スプライシングテープの長さは，リーダテープ及びトレーラテープ
上で6.0mm〜7.0mmとし，磁気テープ上で4.0mm〜10.0mmとする。
9.3
テープの幅
9.3.1
磁気テープの幅 磁気テープの幅は，3.800mm±0.005mmとする。テープ幅の測定は，0.10N±0.01N
の張力を加えて行う。
9.3.2
リーダテープ及びトレーラテープの幅 リーダテープ及びトレーラテープの幅は，3.81mm
mm
00
.0
mm
02
.0
+−
とする。
リーダテープ及びトレーラテープの幅の測定は，0.10N±0.01Nの張力を加えて行う。
9.3.3
スプライシングテープの幅及び位置 スプライシングテープの上端及び下端は，リーダテープ，ト
レーラテープ及び磁気テープの上端又は下端から幅方向に0.60mm以内とし，それぞれの縁からはみ出し
てはならない。
9.3.4
基準縁の直線性 基準縁の直線性は，50mmのサンプル長以上の基準縁の偏位とし，3.5μmを超え
てはならない。
試験方法は，次による。
1) 長さ450mmのテープサンプルに0.050N±0.005Nの張力を加える。
2) ±0.5μm以上の測定精度をもつ測定器（図25参照）を用いて，テープ基準縁の250mmの長さに沿っ
て，0.25mmの間隔で測定する。
3) 測定した最初の50mmの基準縁の位置データから回帰直線（図26参照）を算出する。
4) 3)で得た回帰直線から50mmの基準縁の位置データの最大偏位を求める（図26参照）。
5) 次の50mm長を計算するため，開始位置を0.25mm動かす。
6) 引き続く50mmについて3)〜5)を250mmの長さに沿って繰り返す。
7) 4)で得た801個のデータから平均値を算出し，基準縁の直線性の値とする。
27
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図25 基準縁の直線性の測定法
図26 基準縁の直線性
9.4
連続性 テープは，PBOTとPEOTとの間に継目があってはならない。
9.5
テープの厚さ
9.5.1
磁気テープの厚さ 磁気テープの厚さは，6.9μm
mm
0.0
mm
8.0
+−
とする。
9.5.2
リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，11μm〜
17μmとする。
9.5.3
スプライシングテープの厚さ スプライシングテープの厚さは，27μm以下とする。
9.6
長手方向の湾曲 長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。
長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以下と
する。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。
9.7
カッピング カッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.5mm以下とする。試
験方法は，次による。
テープを長さ1.0m±0.1mに切り取る。塗布面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以
上放置する。このテープの中央部分から長さ25mmの試験片を切り取る。この試験片を一端にして高さ
25mm以上，内径4.1mm±0.2mmの円筒内に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ，試験
片の両方の縁をコンパレータの十字線にそろえ，十字線から試験片の中心の表面までの距離を測定する。
9.8
塗布面の接着強度 塗布面の接着強度は，塗布面をテープのベース材料からはがす力とし，0.05N以
上とする。試験方法は，次による（図27参照）。
長さ約380mmのテープの試験片を採り，一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき線をベー
ス面に達するまで引く。塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属
の板にはり付ける。試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて
28
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
254mm/minで引っ張る。塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれたときの力を記録す
る。この力が0.05Nに達する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テー
プを使用する。テープの裏面に塗布されている場合は，裏面について繰り返し測定を行う。
図27 塗布面の接着強度の測定法
9.9
層間の粘着性 層間の粘着性は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び塗布面の
はがれの兆候があってはならない。
直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。
1.1Nの張力でガラス管にテープを巻く。
巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。
さらに，試験環境条件に24時間放置する。
試験片の自由端に0.1Nの力を加え，ゆっくりほどく。
9.10 引張強度 引張強度は，JIS K 7161の測定方法によって測定する。磁気テープ試験片の長さは，
200mmとし，リーダテープ及びトレーラテープの試験片の長さは，それぞれ50mmとする。引張速度は，
100mm/minとする。
9.10.1 破断強度 破断強度は，テープが破断するのに要する力とする。磁気テープの破断強度は，6.0N
以上とし，リーダテープ，トレーラテープ及びそれぞれの接合部の破断強度は，それぞれ5.0N以上とする。
9.10.2 降伏強度 降伏強度は，磁気テープが3%伸びるのに要する力とし，4.5N以上とする。
9.11 残留伸び 残留伸びは，元のテープの長さの0.03%未満とする。試験方法は，次による。
0.05N未満の張力で，約1mの長さの試験片の初期の長さを測定する。
さらに0.8Nの力を3分間加える。
加えた力を取り除き，3分後にテープ長を測定する。
9.12 剛性 テープの長手方向の剛性は，0.000 7N･mm2〜0.001 4N･mm2とする。ベース材の幅方向のヤン
グモジュラスは，長手方向以上とする。試験方法は，次による。
長さ180mmのテープ試験片を間隔が100mmとなるように万能引張試験機に取り付けて速度5mm/min
で引っ張り，距離と力の関係をプロットする。0.5N〜1.5Nの範囲の曲線の傾斜を用いて，剛性 (EI) を次
の式によって算出する。
L
L
WT
F
E
δ
δ
=
12
3
WT
I=
29
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
L
L
FT
EI
δ
δ
12
2
=
ここに，
δF： 力の変化 (N)
T： テープ試験片の厚さの測定値 (mm)
W： テープ試験片の幅の測定値 (mm)
L
L
δ： テープ試験片の長さの変化を初期の長さで除した値
E： ヤングモジュラス (N/mm2)
9.13 塗布面の電気抵抗 テープの塗布面の電気抵抗は，次による。
裏面が塗布されていないテープ
：105Ω〜5×108Ω
裏面が塗布されているテープ
：105Ω〜5×1012Ω
裏面が塗布されているテープの裏面 ：9×108Ω未満
試験方法は，次による（図28参照）。
テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。
24カラットの金めっきした半径がr＝10mmで粗さをN4（ISO 1302参照）で仕上げてある二つの半円の
電極に，記録面が接するように置く。これらの電極は，水平で，中心間の距離d＝3.81mmとなるように平
行に置く。
試験片の両端に0.25Nの力を加える。
電極に100V±10Vの直流電圧をかけて電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，読み取った抵抗値を平均する。裏面が塗布され
ているテープの場合は，裏面に電極を当ててこの測定を行う。試験片を電極に置くとき，電極間には，試
験片以外の導電性のものがあってはならない。
参考 試験前に電極の表面を清掃すること。
図28 塗布面の電気抵抗測定法
9.14 光透過率 テープの光透過率は，5%以下とし，リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60%
以上とする。測定方法は，附属書Bによる。
30
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.15 媒体認識システム (MRS) 媒体認識システムは，情報交換用のテープとして認識するために設け
る。PBOTのスプライシングテープは，全長，全幅にわたって透明及び不透明のしま模様を付けなければ
ならない（図29参照）。PEOTのスプライシングテープは，透明であっても，しま模様が付けられていて
もよい。
テープ基準縁に対する各しま模様の垂直度は，90°±10°とし，透明及び不透明のしまのテープ基準縁に
平行な方向の間隔は，1.50mm±0.20mmとする。
スプライシングテープの両端及びテープとリーダテープとの接合部で，透明及び不透明のしま模様の特
定の位置が一致する必要はない。スプライシングテープの不透明部とリーダテープとを組み合わせた光透
過率は，5%以下とし，スプライシングテープの透明部とリーダテープとを組み合わせた光透過率は，60%
以上とする。測定方法は，附属書Bによる。
図29 PBOTのスプライシングテープ
10. 磁気的特性 磁気的特性の試験は，次による。
この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，標準テープ，供試テープともに同じ装置の同じ
走行系（記録時再生をするか，記録時再生機能がない場合は，記録後の1回目再生時に読み取る。）を使用
する。記録時再生についての規定は，附属書Lによる。
磁気的特性の試験条件は，次による。
テープの状態
： 記録密度2 999.9ftpmmの平均信号振幅の0.1%未満に交流消去。
テープとヘッドのインタフェ
ース
： この規格のテープとJIS X 6127及びJIS X 6129の規定によるテープ
厚さ及び剛性の相違による影響をなくすための慣らし走行。
スキャナの直径
： 30.00mm
mm
01
.0
mm
00
.0
+−
スキャナの回転速度
： 2 000.0rpm±0.2rpm
テープ速度
： 8.15mm/s±0.03mm/s
テープ張力
： スキャナ（ドラム）入口で0.07N±0.02N
試験トラック
： 正アジマス。ヘッドギャップは，スキャナの軸に対して20°00'±12'
書込みヘッドのギャップ長
： 0.25μm±0.03μm
読取りヘッドのギャップ長
： 0.20μm±0.05μm
記録電流
： 試験記録電流
記録波形
： 方形波
31
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
読取りトラック幅
： 5μm以上15μm以下
書込みトラック幅
： 読取りトラック幅以上。ただし，24μm以下。
読取りヘッド高さの設定
： 記録したトラック幅以内
読取り出力
： 基本周波数で測定
10.1 最適印加磁界 最適印加磁界は，基準磁界の89%〜112%とする。
基準磁界の特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.2 平均信号振幅 記録密度4 499.8ftpmmの平均信号振幅は，標準テープの平均信号振幅の89%〜142%
とする。
標準テープの重ね書きの特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.3 分解能 記録密度4 499.8ftpmmの平均信号振幅を1 499.9ftpmmの平均信号振幅で除した値とし，そ
の値は，標準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して84%〜119%とする。
標準テープの分解能の特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
10.4 重ね書き 重ね書きは，低記録密度の信号を記録した後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残留
する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。
標準テープの重ね書きの特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
試験方法 交流消去したテープを用い記録密度1 499.9ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を測定する。
記録密度5 999.7ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度1 499.9ftpmmの信号の平均信号振幅を測定
する。副標準テープについて繰り返し測定する。
要求事項 記録密度1 499.9ftpmmの重ね書きは，次の比によって求めたとき，標準テープの119%未満
とする。
の信号の平均信号振幅
記録密度
の信号の平均信号振幅
記録密度
重ね書き後に残留する
ftpmm
499.9
1
ftpmm
499.9
1
10.5 消去特性 消去特性は，次による。
試験記録電流で記録密度1 499.9ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に290 000A/mの均一な
磁界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，標準信号振幅の3%以下とする。
消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。
また，測定はバンドパスフィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。
10.6 テープの品質 テープの品質は，次による。
10.6.1 ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0V
を基準としたピーク値 (0−P) が記録密度2 999.9ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の50%以下とする。
10.6.2 ミッシングパルスゾーン ミッシングパルスゾーンは，次による。
同一トラック内で5個連続した磁束反転又はトラックの長さ0.277mmにわたって連続してミッシングパ
ルスが発生したとき，この部分をミッシングパルスゾーンとする。ミッシングパルスが連続して0.277mm
を超えて発生したとき，次のミッシングパルスゾーンとする。一つのミッシングパルスゾーンは，次のト
ラックにまたがってはならない。ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのト
ラックの両方について1.4×105の磁束反転当たり1個未満とする。
10.7 信号対雑音比 (SNR) 特性 信号対雑音比は，再生信号の平均信号振幅を雑音の平均信号振幅で除し，
デシベル (dB) で表す。
tape
tape
log
20
N
S
SNR=
32
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ここに， SNR： 信号対雑音比 (dB)
Stape： 再生信号の平均信号振幅
Ntape： 雑音の平均信号振幅
SNRは，附属書Cの測定法で測定したとき，標準テープのSNRに比べて−2dB以上よくなければなら
ない。
標準テープのSNRの特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
11. フォーマット
11.1 概要 このフォーマットで扱うレコードは，データの最小集合である。レコードは，ホストから送
られ，磁気テープ装置によって処理し，記録され，また，磁気テープ装置によってテープ上から読み取ら
れ，ホストに送られるバイト単位のデータ列の最小集合である。ここでは，圧縮レコード及び未圧縮レコ
ードの2形式を扱う。
記録したテープは，圧縮レコード及び／又は未圧縮レコードで構成し，セパレータマークを含んでもよ
い。この規格では，圧縮レコードは，エンティティと呼ぶ論理単位で扱う。セパレータマークは，データ
の論理的区分を識別するために用いてもよい。
グループは，エンティティ，未圧縮レコード及びセパレータマークによって構成する。
それぞれのグループにあるインデックスは，グループの内容を示す。ランダム化，インタリーブ，ブロ
ック化，二つのリードソロモン誤り訂正符号の生成，チャネルビットへの変換の一連の処理は，記録する
前に各グループに対して行う。三つ目のリードソロモン誤り訂正符号は，一連の処理したグループについ
て行い，テープに記録したグループに続くフレームに記録する。
それぞれのグループは，複数のトラックに記録する。ユーザデータ，セパレータマーク及び付随する情
報を記録する各トラックの部分をトラックのメインゾーンという。グループの内容，トラックの位置及び
その内容についての付加情報は，メインデータゾーンのフラグメントヘッダに記録する。
11.〜18.にホストコンピュータから送られたデータの処理と誤り検出符号・誤り訂正符号の付加方法，テ
ープへの記録方式及びデータ割付けについて規定する。このフォーマットで固有の様式が要求されるとき，
データ配列の拡張は，データ処理の記述の中で定義される。
11.2 基本グループ 記録するデータは，384 296バイトの基本グループに分ける。これらの基本グループ
は，0から始まる連続した番号によって識別する。これらの基本グループ内の各バイトは，1〜384 296の
番号で識別する。
番号0の基本グループは，この規格では，規定しない。この基本グループのデータは，磁気テープ装置
（附属書M参照）によって生成し，ベンダグループとして記録する（16.5.1参照）。
ホストコンピュータから受けたデータ及びセパレータマークは，基本グループ番号0に続く基本グルー
プ番号1に始まる基本グループに分ける。これらの基本グループの構造は，次による。
33
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図30 基本グループの構造
エンティティ及び／又は未圧縮レコードのデータは，図30に示すように，基本グループの左から右へ割
り付け，ブロックアクセステーブル (BAT) は，右から左へ割り付ける。
グループ情報テーブル (GIT) は，基本グループの最後の35バイトの領域に配置する。
参考 この規格では，セパレータ1及びセパレータ2の2種類のセパレータマークを規定している。
磁気テープ装置とホストコンピュータ間のインタフェースを定義するほかの規格はセパレータ
マークとしてファイルマーク及びセットマークを使用している。この場合，セパレータ1をフ
ァイルマークとし，セパレータ2をセットマークとすることを推奨する。
11.2.1 エンティティ
11.2.1.1 エンティティの内容 エンティティは，エンティティヘッダと圧縮レコード列によって構成する。
エンティティヘッダは，8バイトの長さとし，圧縮レコード列の前に配置する。
エンティティにあるすべての圧縮レコードは，同じ長さの未圧縮レコードに同一の圧縮アルゴリズムを
用いて生成する。
エンティティは，エンティティヘッダと圧縮レコード列の最初の8ビットが同じ基本グループに存在す
る場合，複数の基本グループにまたがってもよい。
エンティティが複数の基本グループにまたがる場合，各基本グループにある個々の部分は，パーシャル
エンティティと呼ぶ。パーシャルエンティティは，スタートパート，ミドルパート又はラストパートのい
ずれかとする（11.2.3.1.2〜11.2.3.1.4参照）。エンティティが複数の基本グループにまたがるスパンエンテ
ィティの場合，ミドルパート及びラストパートのエンティティを集合した圧縮レコードは，最大でも一つ
とする（一つの圧縮レコードの全体，又はその一部分にしかミドルパート及びラストパートには含めては
ならない。）。
エンティティの圧縮レコード列は，情報交換用以外の圧縮レコードを含んでもよい。その場合，情報交
換用以外の圧縮レコードは，情報交換用の圧縮レコードの後に配置しなければならない。このようなエン
ティティを読み取るとき，システムは，情報交換用以外の圧縮レコードをスキップしなければならない。
このような情報交換用以外の圧縮レコードの数は，積算する必要がない。このような状況は，例えば，前
に記録した圧縮レコード列の上に重ね書きした結果発生する。
11.2.1.2 アクセスポイント エンティティは，最大一つのアクセスポイントを含めなければならない。ア
クセスポイントは，エンティティの最初の圧縮レコードの先頭に配置し，エンティティヘッダ（11.2.1.3
参照）のバイト番号3を0以外の値で示す。アクセスポイントは，それを含むエンティティの圧縮レコー
ドに有効とし，後に続くエンティティの圧縮レコードについても有効としてもよい。
34
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
アクセスポイントは，エンタイアエンティティ又はパーシャルエンティティのスタートパートに配置す
る。基本グループの中に一つ以上のエンタイアエンティティが存在する場合は，最初のエンティティには，
アクセスポイントを配置しなければならない。基本グループの中にエンタイアエンティティがなく，パー
シャルエンティティのスタートパートがあるときは，そのスタートパートにアクセスポイントを配置しな
ければならない。
アクセスポイントは，最初のエンティティの最初の圧縮レコードの先頭に配置しなければならない。最
初のエンティティには，次に示す項に続かなければならない。
− LBOT
− セパレータマーク
− 未圧縮レコード
− 圧縮アルゴリズムの変化点
− 情報交換用以外の圧縮レコードを含むエンティティ
11.2.1.3 エンティティヘッダ エンティティヘッダの最初のバイトは，バイト番号1とし，最後のバイト
は，バイト番号8とする。圧縮レコード列は，エンティティヘッダの後に続くこととする。バイトのビッ
ト番号1は，最下位ビットとし，ビット番号8は，最上位ビットとする。エンティティヘッダは，次によ
る。
バイト番号1
ビット番号1〜4は，2進数でエンティティヘッダの長さ8バイトをバイト単位で
示す。ビット番号5〜8は，0に設定する。
バイト番号2
すべてのビットを0に設定する。
バイト番号3
2進数で定義し，その内容は，次による。
− 0のとき，エンティティには，アクセスポイントが存在しない。
− ほかの値のときは，エンティティに，アクセスポイントが存在し，その値は，
登録された圧縮アルゴリズムの登録番号を示す (ISO/IEC 11576)。
このフォーマットは，2〜254の範囲をもったアルゴリズムの登録だけに対応する。
255の値は，アルゴリズムが登録されていないことを示す。
バイト番号4〜6
2進数で定義し，圧縮する前の未圧縮レコードの長さをバイト単位で示す。この数
は，0としてはならない。バイト番号4は，最上位バイトとし，バイト番号6は，
最下位バイトとする。
バイト番号7〜8
情報交換用圧縮レコードの数を2進数で定義する。この数は，0としてはならない。
バイト番号7は，バイト番号8より上位バイトとする。
11.2.2 グループ情報テーブル グループ情報テーブルは，表1による。
表1 グループ情報テーブル
バイト番号
バイト数
フィールド名
384 296〜384 294
3
前のセパレータ2のグループ番号
384 293〜384 291
3
セパレータ2の数
384 290〜384 288
3
前のセパレータ1のグループ番号
384 287〜384 285
3
セパレータ1の数
384 284〜384 282
3
前のレコードのグループ番号
384 281〜384 279
3
現在の基本グループのレコードの総数
384 278〜384 276
3
セパレータ2の総数
384 275〜384 272
4
セパレータ1の総数
35
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト番号
バイト数
フィールド名
384 271〜384 268
4
レコードの総数
384 267〜384 265
3
ブロックアクセステーブルの総数
384 264〜384 262
3
グループ番号
各フィールド内の最上位バイトは，最小バイト番号とし，最下位バイトは，最大バイト番号とする。
11.2.2.1 前のセパレータ2のグループ番号 このフィールドは，3バイトとする。前のセパレータ2のグ
ループ番号は，現在の基本グループ直前の，セパレータ2を最後に記録した基本グループの番号を2進数
で表す。該当する基本グループが存在しないときは，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.2 セパレータ2の数 このフィールドは，3バイトとする。グループ内のセパレータ2の数は，現
在の基本グループに記録したセパレータ2の数を2進数で表す。
11.2.2.3 前のセパレータ1のグループ番号 このフィールドは，3バイトとする。前のセパレータ1のグ
ループ番号は，現在の基本グループ直前の，セパレータ1を最後に記録した基本グループの番号を2進数
で表す。該当する基本グループが存在しないときは，このフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.4 セパレータ1の数 このフィールドは，3バイトとする。グループ内のセパレータ1の数は，現
在の基本グループに記録したセパレータ1の数を2進数で表す。
11.2.2.5 前のレコードのグループ番号 このフィールドは，3バイトとする。前のレコードのグループ番
号は，現在の基本グループ直前の，セパレータマーク，アクセスポイント又は未圧縮レコードの最初の部
分を最後に記録した基本グループの番号を2進数で表す。該当する基本グループが存在しないときは，こ
のフィールドは，すべて0に設定する。
11.2.2.6 現在の基本グループのレコードの総数 このフィールドは，3バイトとする。現在の基本グルー
プのレコードの総数は，現在の基本グループのブロックアクセステーブル（11.2.3参照）で，次に示す合
計を2進数で表す。
− セパレータマークエントリの数
− 未圧縮レコードエントリの総数
− エンタイア未圧縮レコードエントリの数
− すべてのエンタイアエンティティエントリのエンティティヘッダのバイト番号7及びバイト番号8の
合計数
− エンティティエントリのスタートパートのエンティティヘッダのバイト番号7及びバイト番号8から
1を減じた数
− エンティティエントリの総数
11.2.2.7 セパレータ2の総数 このフィールドは，3バイトとする。セパレータ2の総数は，現在の基本
グループを含みLBOTから記録したセパレータ2の総数を2進数で表す。
11.2.2.8 セパレータ1の総数 このフィールドは，4バイトとする。セパレータ1の総数は，現在の基本
グループを含みLBOTから記録したセパレータ1の総数を2進数で表す。
11.2.2.9 レコードの総数 このフィールドは，4バイトとする。レコードの総数は，現在の基本グループ
を含み，LBOTから記録したすべての基本グループでグループ内のレコードの総数の合計を2進数で表す。
11.2.2.10 ブロックアクセステーブルの総数 このフィールドは，3バイトとする。ブロックアクセステー
ブルの総数は，ブロックアクセステーブルのエントリの総数を2進数で表す。
11.2.2.11 グループ番号 このフィールドは，3バイトとする。グループ番号は，現在の基本グループの番
号を2進数で表す。
36
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.2.3 ブロックアクセステーブル (BAT) ブロックアクセステーブルは，基本グループに含まれる未圧
縮レコード及びセパレータマークに対応した情報を含み，1個以上のエントリで構成する。一つの基本グ
ループに含まれないエンティティ及び未圧縮レコードは，1個以上のエントリで識別する。最初のエント
リは，グループ情報テーブルの直前の384 258〜384 261のバイト番号の位置に記録する。各エントリは，
図31に示す4バイトで構成する。第1バイトは，最小下位のバイト番号とし，第4バイトは，最上位のバ
イト番号とする。
ブロックアクセステーブルのエントリ
フラグバイト
カウント
第1バイト
第2バイト
(MSB)
第3バイト
第4バイト
(LSB)
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
図31 ブロックアクセステーブル
3バイトのカウントフィールドは，次のフラグバイトの設定によって224−1より小さい番号の2進数で
表す。ただし，この規格では，次に示す12個のフラグバイトの設定を規定し，他のフラグバイトの設定は，
禁止する。
11.2.3.1 フラグバイトの設定
11.2.3.1.1 0111X011（エンタイアエンティティエントリ） エンタイアエンティティエントリは，エンテ
ィティが現在の基本グループで始まり，かつ終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，エ
ンティティのバイト数を表す。
11.2.3.1.2 0101X010（エンティティのスタートパートエントリ） エンティティのスタートパートエント
リは，エンティティが現在の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わるエンティティを規
定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバ
イト数を表す。
11.2.3.1.3 0101X000（エンティティのミドルパートエントリ） エンティティのミドルパートエントリは，
エンティティが前の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わるエンティティを規定する。
カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を
表す。
11.2.3.1.4 0111X000（エンティティのラストパートエントリ） エンティティのラストパートエントリは，
エンティティが前の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わるエンティティを規定する。カウ
ントフィールドは，現在の基本グループに含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。
現在の基本グループのブロックアクセステーブルでは，このエントリの直後にエンティティのトータルカ
ウントエントリが続かなければならない。
11.2.3.1.5 0001X001（エンティティのトータルカウントエントリ） エンティティのトータルカウントエ
ントリは，ラストパートエントリの直後に配置する。カウントフィールドは，該当するエンティティのバ
イトの総数を表す。
11.2.3.1.6 0110X011（エンタイア未圧縮レコードエントリ） エンタイア未圧縮レコードエントリは，未
圧縮レコードが現在の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わる未圧縮レコードを規定する。
カウントフィールドは，未圧縮レコードのバイト数を表す。
37
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.2.3.1.7 0100X010（未圧縮レコードのスタートパートエントリ） 未圧縮レコードのスタートパートエ
ントリは，未圧縮レコードが現在の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わる未圧縮レコ
ードを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれる未圧縮レコードの該当部分のバ
イト数を表す。
11.2.3.1.8 0100X000（未圧縮レコードのミドルパートエントリ） 未圧縮レコードのミドルパートエント
リは，未圧縮レコードが前の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わる未圧縮レコードを
規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれる未圧縮レコードの該当部分のバイト数
を表す。
11.2.3.1.9 0110X000（未圧縮レコードのラストパートエントリ） 未圧縮レコードのラストパートエント
リは，未圧縮レコードが前の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わる未圧縮レコードを規定
する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれる未圧縮レコードの該当部分のバイト数を表
す。
11.2.3.1.10 0000X001（未圧縮レコードのトータルカウントエントリ） 未圧縮レコードのトータルカウン
トエントリは，次による。
− このエントリの前に未圧縮レコードのラストパートエントリ（11.2.3.1.9参照）があるとき，この未圧
縮レコードは，前の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わる。カウントフィールドは，
未圧縮レコードの総バイト数を表す。
− 前の基本グループのブロックアクセステーブルの最後の二つのエントリが，未圧縮レコードのラスト
パートエントリで，それにスキップエントリが続くとき，その未圧縮レコードは，その基本グループ
で終わり，以前の基本グループで始まったことを表す。
このエントリは，現在の基本グループのブロックアクセステーブルの最初のエントリでなければならな
い。カウントフィールドは，未圧縮レコードの総バイト数を表す。
11.2.3.1.11 0000X111（セパレータマークエントリ） セパレータマークエントリは，レコードがセパレー
タであることを規定する。カウントフィールドは，レコードがセパレータ1のとき，番号0とし，レコー
ドがセパレータ2のとき，番号1とする。
11.2.3.1.12 1000X000（スキップエントリ） スキップエントリは，各基本グループのブロックアクセステ
ーブルの最後に設ける。このエントリは，現在の基本グループのユーザデータが最終バイトに達したこと
を示す。カウントフィールドは，基本グループの残りのバイト数を表す。したがって，カウントフィール
ドで規定できる最小数は，ブロックアクセステーブルのバイト数に35を加えた数とする。
11.2.3.1.13カウントフィールド エントリのブロックアクセステーブル内のカウントフィールドの総数は，
384 296とする。総数の対象になるエントリは，スキップ，エンタイア未圧縮レコード，未圧縮レコードの
スタートパート，未圧縮レコードのミドルパート，未圧縮レコードのラストパート，エンタイアエンティ
ティ，エンティティのスタートパート，エンティティのミドルパート及びエンティティのラストパートと
する。
11.2.3.1.14 ビットb4 (AEWP) ビットb4 (After Early Warning Point) の設定は，11.2.3.1.1〜11.2.3.1.12に規
定したエントリのそれぞれについて，エントリには関係なく，次による。
− EWP（16.8及び17.1.2.4参照）の前は，0に設定する。
− EWPの後に続く現在の基本グループのエントリ及びそれに続くすべての基本グループのエントリは，
1に設定する。
38
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.2.3.2 ブロックアクセステーブルのエントリの有効シーケンス ブロックアクセステーブルのエント
リの有効シーケンスは，表2による。このフローチャートでは，動作状態は，長方形で示し，フラグバイ
トで指示した各エントリは，長円形で示す。スパンエンティティ及びスパン未圧縮レコードは，基本グル
ープで始まり，それに続く1個以上の基本グループで終わるエンティティ又は未圧縮レコードを示す。
表2は，有効なエントリだけを示し，その他のエントリは，無効とする。スパン未圧縮レコードだけ，
特別な場合として，未圧縮レコードのトータルカウントエントリは，次の基本グループのブロックアクセ
ステーブルの最初に記録してもよい。
表2 ブロックアクセステーブルのエントリの有効なシーケンス
11.3 サブグループ
11.3.1 G1サブグループ G1サブグループは，基本グループを22に分割した，図32に示す0〜17 467の
番号を付けた17 468バイトとする。各G1グループは，1〜22の走行番号をもつ。
39
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図32 G1サブグループ
11.3.2 G2サブグループ（ランダム化） G2サブグループは，各G1サブグループのバイトを図33に示
すシフトレジスタの出力であるビット列によって，EXCLUSIVE-OR演算を行いランダム化して生成する。
各G1サブグループの演算に先立ってシフトレジスタは，次のように設定する。
図33 シフトレジスタ
各バイトについて，最下位ビットであるビット番号1を最初に入力する。論理演算子は，それぞれ
EXCLUSIVE-ORとする。この演算の結果は，すべてのバイトがD0〜D17 467の番号をもつG2サブグループ
になる。これらのバイトの順番は，ランダム化操作の前のG1サブグループと同じとする。
11.3.3 G3サブグループ G3サブグループは，17 468バイトのG2サブグループに再配列した17 472バイ
トとする。
G2サブグループのD0〜D8 733バイトは，G3サブグループのトラックAにグループ化する。残りのD8 734
〜D17 467は，G3サブグループのトラックBにグループ化する。
各トラックのバイトの下位又は上位の割当ては，次による（図34参照）。
偶数番号のバイトは，G3サブグループの下位バイトに割り当てる。
奇数番号のバイトは，G3サブグループの上位バイトに割り当てる。
各トラックは，4 367バイトの対とする。各バイトの対は，ワード番号1から始まるトラックのワードに
割り当てる。最初のトラックのワードは，ワード番号0とし，2バイトのヘッダとする。
40
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図34 G3サブグループ
11.3.3.1 ヘッダ ヘッダは，ワード番号0で，6個のフィールドで構成する。
11.3.3.1.1 データフォーマットID (DF-ID) データフォーマットIDは，両方のトラックでそれぞれ4ビ
ットのフィールドとし，0010を設定する。
11.3.3.1.2 両方のトラックの下位バイトのビット番号5〜8 両方のトラックの下位バイトのビット番号5
〜8は，すべて0に設定する。
11.3.3.1.3 論理フレームID (LF-ID) 論理フレームIDは，両方のチャネルで8ビットのフィールドとす
る。G1サブグループ番号の論理フレーム番号は，次に示すビット番号6〜1によって2進数で表す。
− ビット番号6〜1が1〜21の範囲の番号を表す場合，ビット番号7及びビット番号8は，0に設定する。
− ビット番号6〜1が番号22を表す場合，ビット番号7は，0とし，ビット番号8は，次による。
ECC3（16.5.3参照）のチェックバイトを含む23番目のサブグループがあるときは，0に設定し，な
いときは，1に設定する。
− ビット番号6〜1が番号23を表す場合，ビット番号7及びビット番号8は，1に設定する。
ビット番号7は，サブグループがECC3のチェックバイトを含むことを示し，ビット番号8は，サ
ブグループが最後のシーケンスであることを示す。
11.3.3.1.4 バイト識別 バイト識別は，次による。
− トラック（A又はB）
− バイト名（下位又は上位）
− ワード番号（0〜4 367）
なお，次の記述方法を用いる。
Ail：i番目のワードのトラックAの下位バイト
Aiu：i番目のワードのトラックAの上位バイト
Bil：i番目のワードのトラックBの下位バイト
41
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Biu：i番目のワードのトラックBの上位バイト
11.3.4 G4サブグループ G4サブグループは，各G3サブグループを図35に示す二組の配列によって構
成するサブグループに変換する。
配列の極性（正負），フラグメント番号及びシリアル番号は，次の式によって算出し，各バイトに割り当
てる。
AP＝ [−1] a
FN＝i (mod 78) ＋9
)2
(mod
78
int
78
int
2
i
i
u
SN
−
+
=
ここに，
int： 係数の整数部
AP： 配列の極性
FN： フラグメント番号
SN： シリアル番号
i： 0〜4 367
a： Aiuバイト及びAilバイトでは0，Biuバイト及びBilバイトで
は1
u： Aiuバイト及びBiuバイトでは0，Aillバイト及びBilバイトで
は1
この方法によるG3サブグループの処理によって，図35に示す正配列及び負配列を生成する。これらの
各バイトは，フラグメント番号 (0〜95) 及びシリアル番号 (0〜123) で識別する。トラックAからのバイ
トは，正配列に配置し，トラックBからのバイトは，負配列に配置する。
図35 C1符号及びC2符号算出前のG4サブグループの配列
G3サブグループのバイトからG4グループへの変換式を適用すると両配列に割り当てられない次の位置
が残る（図35の網掛け部）。
42
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− フラグメント番号9〜86のフラグメントでシリアル番号112〜123のすべてのバイト。
− フラグメント番号0〜8又はフラグメント番号87〜95のフラグメントのすべてのバイト。
これらの位置は，両配列に割り当てたバイトから算出したECC及び誤り訂正のC1符号及びC2符号を
割り当てる。
C2バイトは，フラグメント番号0〜8又は87〜95の各フラグメントのシリアル番号0〜111の位置とし，
フラグメント番号9〜86のシリアル番号0〜111のバイトから算出する。
C1バイトは，すべてのフラグメントのシリアル番号112〜123の位置とし，同じフラグメントのシリア
ル番号0〜111のバイトから算出する。フラグメント番号0〜8又は87〜95のフラグメントのC1バイトは，
前に算出したC2バイトから算出する。
これら二つの算出したバイトは，図35の二つの配列の網掛け部に示す位置に配置する。
C1符号は，GF (28) リードソロモン符号 (62, 56, 7) とし，C2符号は，GF (28) リードソロモン符号 (32,
26, 7) とする。
GF (28) は，次の多項式によって算出する。
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF (28) の原始元は，次による。
)
0
1
0
0
0
0
0
0
(
0
1
2
3
4
5
6
7
α
α
α
α
α
α
α
α
α=
C1符号のインタリーブ深度は，2バイトとし，C2符号のインタリーブ深度は，3フラグメントとする。
ECCバイトは，次の式を満足する。
HP×VP＝0
HQ×VQ＝0
生成多項式は，次の式による。
)
(
)
(
5
0
i
i
i
P
x
x
G
α
−
∏
===
)
(
)
(
5
0
i
i
i
Q
x
x
G
α
−
∏
===
=
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
5
10
40
45
50
4
8
236
240
244
3
6
177
180
183
2
4
118
120
122
2
59
60
61
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
P
H
参考 HP最後の行は， [α305 α300 α295 … α10 α5 1] と表してもよいが，α255＝1の関係を用いて簡単に
した。
=
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
5
10
145
150
155
4
8
116
120
124
3
6
87
90
93
2
4
58
60
62
2
29
30
31
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
P
H
43
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
=
=
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
P
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
P
Q
Q
Q
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
Q
Q
V
P
P
P
P
P
P
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
V
,
93
,
90
,
87
,
84
,
81
,
78
,
75
,
72
,
69
,
66
,
63
,
60
,
21
,
18
,
15
,
12
,9
,6
,3
,
122
,
120
,
118
,
116
,
114
,
112
,
110
,
108
,
106
,
104
,
102
,
100
,
14
,
12
,
10
,
8
,
6
,
4
,
2
,
,
Μ
Μ
ここに， Pij： C1バイト
Qij： C2バイト
i： フラグメント番号
j： シリアル番号
なお，C1バイトは，次による。
k＝0，1，…，95
l＝0，1
k＝0〜8又は87〜95ではDijはQij
C2バイトは，次による。
m＝0，1，2
n＝0，1，…，111
11.3.5 メインデータフラグメント メインデータフラグメントは，G4サブグループのフラグメントに8
バイトのヘッダを追加して132バイトとする。メインデータフラグメントの最初のバイトは，フラグメン
トID領域に含まれるヘッダのバイトとする。メインデータフラグメントの構造を図36に示す。
44
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
0
フラグメントID
フラグメントヘッダ
エリアID
フレーム番号
サブコードバイト番号0 (SC0)
サブコードバイト番号1 (SC1)
サブコードバイト番号2 (SC2)
サブコードバイト番号3 (SC3)
ヘッダパリティバイト番号0 (FHP0)
ヘッダパリティバイト番号1 (FHP1)
シリアル番号0のバイト
G4サブグループ
シリアル番号1のバイト
からの
：
フラグメントバイト
：
シリアル番号122のバイト
シリアル番号123のバイト
図36 メインデータフラグメント
11.3.5.1 フラグメントヘッダ
11.3.5.1.1 フラグメントID フラグメントIDは，フラグメント番号0〜95の該当する番号の2進数とす
る。
11.3.5.1.2 エリアID エリアIDは，テープの領域の識別（16.参照）とし，次による。
0000：デバイス領域
X001：リファレンス領域
X010：システム領域
X100：データ領域
X101：EOD領域
この規格では，このフィールドに他の領域を設定することを禁止する。
シングルデータスペース（16.参照）のテープでは，ビットXは，1を設定する。2パーティション（17.
参照）では，ビットXは，パーティション0に1を設定し，パーティション1に0を設定する。
11.3.5.1.3 フレーム番号 フレーム番号は，連続したフレームで一つずつ増加 (mod 16) する番号を2進
数で表す。追記録点（16.5.5参照）及びガードバンド位置（16.3及び16.4.4参照）は，フレーム番号の繰
返し及び不連続があってもよい。
11.3.5.1.4 サブコード サブコードは，サブコード情報として使用し，フラグメントヘッダの4バイトと
する（11.4参照）。
11.3.5.1.5 フラグメントヘッダパリティ フラグメントヘッダパリティバイトは，拡張リードソロモン符
号を用いて算出する。
GF (28) は，次による。
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF (28) の原始元αは，00000010とする。
フラグメントヘッダパリティバイトは，次の式を満たす。
Hs×Vs＝0
45
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
=
1
0
1
0
1
1
1
1
1
1
1
2
3
4
5
α
α
α
α
α
S
H
=
1
0
3
2
1
0
1
10
FHP
FHP
SC
SC
SC
SC
FH
FH
VS
FH0は，フラグメントIDのヘッダバイトであり，FH1は，エリアID及びフレーム番号領域のヘッダバ
イトとする。
11.3.6 基本グループの変換の要点 各基本グループは，22個のG4サブグループに変換する。各G4サブ
グループは，96個のフラグメントの二つの配列によって構成する。これらフラグメントは，メインデータ
フラグメントに変換する。基本グループは，テープ上に記録する前に，4 224 (22×2×96) 個のメインデー
タフラグメントに変換する。
11.4 サブコード情報 サブコード情報は，各トラックのフラグメントヘッダに記録する。その情報は，
次による。
・ 基本グループの走行番号
・ LBOTから書き込んだセパレータ1の数
・ LBOTから書き込んだセパレータ2の数
・ LBOTから書き込んだレコードの数
・ トラック内容の情報
・ テープ使用の履歴の情報
サブコード情報は，4バイトパックアイテムに配置する。
パックアイテムの識別番号は，フラグメントIDをmod 8又はmod 16として算出し，各フラグメントヘ
ッダに含める（11.5参照）。
11.4.1 パックアイテム番号0 パックアイテム番号0は，図37に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
グループ番号 (MSB)
SC1
グループ番号
SC2
グループ番号 (LSB)
SC3
LF-ID
図37 パックアイテム番号0
11.4.1.1 SC0, 1, 2 これらのバイトは，グループ情報テーブル（11.2.2参照）に記録したグループ番号を2
進数で表す。
11.4.1.2 SC3 このバイトは，G1サブグループの論理フレームID（11.3.3.1.3参照）と同じ内容を設定す
る。
11.4.2 パックアイテム番号1 パックアイテム番号1は，図38に示すとおりに割り付ける。
46
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
セパレータ1の総数 (MSB)
SC1
セパレータ1の総数
SC2
セパレータ1の総数
SC3
セパレータ1の総数 (LSB)
図38 パックアイテム番号1
11.4.2.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，グループ情報テーブル（11.2.2参照）に記録したセパレータの
総数を2進数で表す。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
セパレータ2の総数 (MSB)
SC1
セパレータ2の総数
SC2
セパレータ2の総数 (LSB)
SC3
すべて0に設定
DF-ID
図39 パックアイテム番号2
11.4.3 パックアイテム番号2 パックアイテム番号2は，図39に示すとおりに割り付ける。
11.4.3.1 SC0, 1, 2 これらのバイトは，グループ情報テーブル（11.2.2参照）に記録したセパレータ2の
総数を2進数で表す。
11.4.3.2 SC3 このバイトは，次による。
ビット1〜4は，現在のG3サブグループのデータフォーマットIDと同じ内容を設定する（11.3.3.1.1参
照）。ビット5〜8は，すべて0に設定する。
11.4.4 パックアイテム番号3 パックアイテム番号3は，図40に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
レコードの総数 (MSB)
SC1
レコードの総数
SC2
レコードの総数
SC3
レコードの総数 (LSB)
図40 パックアイテム番号3
11.4.4.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，グループ情報テーブル（11.2.2参照）に記録したレコードの総
数を2進数で表す。
11.4.5 パックアイテム番号4 パックアイテム番号4は，図41に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
絶対フレーム番号 (MSB)
SC1
絶対フレーム番号
SC2
絶対フレーム番号
SC3
絶対フレーム番号 (LSB)
図41 パックアイテム番号4
11.4.5.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，LBOT後の最初のフレーム1から現在のフレームの絶対フレー
ム番号を2進数で表す。
47
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.4.6 パックアイテム番号5 パックアイテム番号5は，図42に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
チェックサム番号1
SC1
チェックサム番号2
SC2
チェックサム番号3
SC3
チェックサム番号4
図42 パックアイテム番号5
11.4.6.1 SC0 このバイトの各ビットは，パックアイテム番号0のSC3と同じG3サブグループのワード
番号0のトラックA上位（11.3.3参照）と一致するビットと，このパックアイテムが参照するG1サブグ
ループのうち次に示すバイトのビットの合計 (mod 2) とする。
D2i＋1
ここに， i＝0, 1, 2, …, 4 366
11.4.6.2 SC1 このバイトの各ビットは，パックアイテム番号0のSC3と同じG3サブグループのワード
番号0のトラックA上位（11.3.3参照）と一致するビットと，このパックアイテムが参照するG1サブグ
ループのうち次に示すバイトのビットの合計 (mod 2) とする。
D2i
ここに，
i＝ 0, 1, 2, …, 4 366
11.4.6.3 SC2 このバイトの各ビットは，パックアイテム番号0とSC3と同じG3サブグループのワード
番号0のトラックA上位（11.3.3参照）と一致するビットと，このパックアイテムが参照するG1サブグ
ループのうち次に示すバイトのビットの合計 (mod 2) とする。
D2i＋1
ここに， i＝4 367, 4 368, …, 8 733
11.4.6.4 SC3 このバイトの各ビットは，パックアイテム番号0のSC3と同じG3サブグループのワード
番号0のトラックA上位（11.3.3参照）と一致するビットと，このパックアイテムが参照するG1サブグ
ループのうち次に示すバイトのビットの合計 (mod 2) とする。
D2i
ここに， i＝4 367, 4 368, …, 8 733
11.4.7 パックアイテム番号6 パックアイテム番号6は，図43に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
パーティション1の最大AFN (MSB)
SC1
パーティション1の最大AFN
SC2
パーティション1の最大AFN
SC3
パーティション1の最大AFN (LSB)
図43 パックアイテム番号6
11.4.7.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，フラグメントヘッダのエリアIDの設定内容によって，次のとお
りとする。
11.4.7.1.1 エリアIDに0010を設定 これらのバイトは，パーティションテープのパーティション1の最
大の絶対フレーム番号を2進数で表す（17.1.2.1参照）。
11.4.7.1.2 エリアIDに1010を設定 これらのバイトは，すべて1に設定する。
11.4.7.1.3 エリアIDに他のビット組合せを設定 これらのバイトは，すべて0に設定する。
48
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.4.8 パックアイテム番号7 パックアイテム番号7は，図44に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
すべて0に設定
SC1
すべて0に設定
SC2
すべて0に設定
SC3
すべて0に設定
図44 パックアイテム番号7
11.4.8.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，すべて0に設定する。
11.4.9 パックアイテム番号8 パックアイテム番号8は，図45に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
記録データグループ (MSB)
SC1
記録データグループ
SC2
記録データグループ
SC3
記録データグループ (LSB)
図45 パックアイテム番号8
11.4.9.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，前回のログ更新から今回のログ更新までのテープに記録した記
録データグループの数を2進数で表す。
11.4.10 パックアイテム番号9 パックアイテム番号9は，図46に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
記録データグループの総数 (MSB)
SC1
記録データグループの総数
SC2
記録データグループの総数
SC3
記録データグループの総数 (LSB)
図46 パックアイテム番号9
11.4.10.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，最後のテープ初期化（16.9及び17.5参照）から最新のログ更新
直前までの記録データグループの数を2進数で表す。
11.4.11 パックアイテム番号10 パックアイテム番号10は，図47に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
記録データグループの読取り (MSB)
SC1
記録データグループの読取り
SC2
記録データグループの読取り
SC3
記録データグループの読取り (LSB)
図47 パックアイテム番号10
11.4.11.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，前回のログ更新から最新のログ更新までに正常に読み取った記
録データグループの数を2進数で表す。
11.4.12 パックアイテム番号11 パックアイテム番号11は，図48に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
記録データグループの読取りの総数 (MSB)
SC1
記録データグループの読取りの総数
SC2
記録データグループの読取りの総数
SC3
記録データグループの読取りの総数 (LSB)
図48 パックアイテム番号11
49
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.4.12.1 SC0, 1, 2, 3 これらのバイトは，最後のテープ初期化（16.9及び17.5参照）から最新のログ更新
直前まで正常に読み取った記録データグループの数を2進数で表す。
11.4.13 パックアイテム番号12 パックアイテム番号12は，図49に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
ライトエラーフレームの総数 (MSB)
SC1
ライトエラーフレームの総数
SC2
ライトエラーフレームの総数 (LSB)
SC3
すべて0に設定
図49 パックアイテム番号12
11.4.13.1 SC0, 1, 2 これらのバイトは，最後のテープ初期化（16.9及び17.5参照）から今回のログ更新直
前までの記録データグループのフレームについて，記録時再生チェック（附属書L参照）で検出したフレ
ームの数を2進数で表す。
この数には，元のフレームとその再記録フレームとの間に記録するフレームは，含まない。
11.4.13.2 SC3 このバイトは，すべて0に設定する。
11.4.14 パックアイテム番号13 パックアイテム番号13は，図50に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
リードエラーグループの総数 (MSB)
SC1
リードエラーグループの総数
SC2
リードエラーグループの総数 (LSB)
SC3
すべて0に設定
図50 パックアイテム番号13
11.4.14.1 SC0, 1, 2 これらのバイトは，最後のテープ初期化（16.9及び17.5参照）から今回のログ更新直
前までの記録データグループについて，C1符号及びC2符号だけを用いて読取りできなかった回数を2進
数で表す。この数は，すべてのリトライを含む。
11.4.14.2 SC3 このバイトは，すべて0に設定する。
11.4.15 パックアイテム番号14 パックアイテム番号14は，図51に示すとおりに割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
ライトエラーフレームの総数 (MSB)
SC1
ライトエラーフレームの総数 (LSB)
SC2
リードエラーグループの数 (MSB)
SC3
リードエラーグループの数 (LSB)
図51 パックアイテム番号14
11.4.15.1 SC0, 1 これらのバイトは，前回のログ更新から最新のログ更新までに記録再生チェック（附属
書L参照）で検出したフレームの総数を2進数で表す。この総数には，元のフレームと再記録フレームと
の間に記録するフレームは，含まない。
11.4.15.2 SC2, 3 このバイトは，前回のログ更新から最新のログ更新までに読取ったすべての記録データ
グループについて，C1符号及びC2符号だけを用いて読取りができなかった回数を2進数で表す。この数
は，すべてのりトライを含む。
11.4.16 パックアイテム番号15 パックアイテム番号15は，図52に示すとおりに割り付ける。
50
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
SC0
ロードの総数 (MSB)
SC1
ロードの総数 (LSB)
SC2
すべて0に設定
SC3
すべて0に設定
図52 パックアイテム番号15
11.4.16.1 SC0, 1 これらのバイトは，最後のテープの初期化（16.9及び17.5参照）から今回のログ更新直
前までのテープのロード回数を2進数で表す。1回のロードは，テープをケースから引き出し，ドラムに
巻き付け，テープを走行状態とした後，再度ケース内に取り入れるまでとする。
11.4.16.2 SC2, 3 これらのバイトは，すべて0に設定する。
11.5 サブコードの配置 サブコード情報は，各メインデータフラグメントヘッダに記録する。サブコー
ドパックアイテムの有無は，テープ様式のフレーム位置に従う。
サブコードパックアイテムの位置は，フラグメント番号（11.3.5.1.1参照）上とする。パーティションテ
ープのシステムログ領域（17.参照）でのパックアイテムの値は，絶対フレーム番号 (AFN) に従って記録
する。
11.5.1 シングルデータスペーステープのサブコードパックアイテム シングルデータスペースのサブコ
ードパックアイテムは，表3による。
表3 シングルデータスペーステープのサブコードパックアイテム
テープ領域
パックアイテム
システムログ
（16.4.2参照）
すべてのパックアイテム (0〜15)。
各フラグメントヘッダにパックアイテム番号
をmod 16とするフラグメント番号で記録。
その他
パックアイテム (0〜7)。各フラグメントヘッダ
にパックアイテム番号をmod 8とするフラグメ
ント番号で記録。
11.5.2 パーティションテープのサブコードパックアイテム パーティションテープのサブコードパック
アイテムは，表4による。
表4 パーティションテープのサブコードパックアイテム
テープ領域
AFN
パックアイテム
パーティション1の
システムログ
（16.4.2及び17.1.2.2
参照）
奇数 すべてのパックアイテム (0〜15)。
各フラグメントヘッダにパックアイテム番
号をmod 16とするフラグメント番号で記録。
パックアイテム番号8〜15は，各パーティシ
ョンのログ値の合計を記録。
偶数 すべてのパックアイテム (0〜15)。
各フラグメントヘッダにパックアイテム番
号をmod 16とするフラグメント番号で記録。
パックアイテム番号8〜15は，各パーティシ
ョン0だけに関する値を記録。
その他
奇数
偶数
とも
パックアイテム (0〜7) にフラグメントヘッ
ダにパックアイテム番号をmod 8とするフラ
グメント番号で記録。
51
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
12. 記録方式 記録方式は， “1” の場合ビットセルの始めで磁束を反転し， “0” の場合ビットセルで磁
束を反転しない。
12.1 記録密度 最大記録密度は，5 999.7ftpmmとし，このとき公称ビットセル長は，0.166 6μmとする。
これらの値は，トラック長（13.7参照）をトラック当たりのビット数で除して算出する。
12.2 長周期平均ビットセル長 各トラックの長周期平均ビットセル長は，メインデータフラグメントの
96個以上の記録（14.1参照）を測定し，その値は，公称ビットセル長の0.2%以内とする。
12.3 短周期平均ビットセル長 任意のビットセルを基準とした短周期平均ビットセル長は，その前の40
個のビットセルの平均とし，その値は，同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長の
0.35%以内とする。
12.4 短周期平均ビットセル長の変動率 短周期平均ビットセル長は，ビットセル長当たり0.05%を超え
て変化してはならない。
12.5 ビットシフト ビットシフトは，附属書Fによって測定し， (|A1110|＋|A0111|) / (A0100＋A0010) で表し，
その値を5%未満とする。
12.6 情報交換時の再生信号振幅 情報交換時の再生信号振幅は，次による。
1 499.9ftpmm，1 999.9ftpmm，2 999.9ftpmm及び4 499.8ftpmm，それぞれに対応する公称記録レベルの80%
〜119%とする（附属書D参照）。
12.7 最大の記録レベル 最大の記録レベルは，附属書Dによる。
記録信号は，重ね書きによって消去できなければならない。
13. トラック
13.1 トラックの構成 トラックパターンは，テープ走行方向と一対の二つのヘッドの回転軸の相対関係
で形成する。この一対のヘッドの一つは，正のアジマス角をもち，他のヘッドは，負のアジマス角をもつ。
記録の方向は，テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの構成は，図53に示す。
52
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図53 トラックの構成（記録面側を示す。）
13.2 平均トラック間隔 任意の連続した30トラックの平均トラック間隔は，9.053μm±0.045μmとする。
ただし，ノンシームレス追記録（16.5.5.2参照）のトラック間隔は，平均値に含めてはならない。
13.3 トラック間隔の変化 連続したトラック間でのトラック間隔の変化は，追記録操作（16.5.5参照）に
よるトラック間隔の変化を除いて，2.0%を超えてはならない。
13.4 トラック幅 公称トラック幅は，9.053μmとする。
測定したトラック幅は，9.1μm±1.8μmの範囲内とする。
この規定は，ノンシームレス追記録には適用してはならない。
13.5 トラック角 テープ基準縁に対する各トラック角の公称値は，6°22′39.6″とする。
13.6 トラックエッジの直線性 各トラックエッジの直線性は，附属書Gの規定による長方形の範囲とす
る。
13.7 トラック長 トラック長は，23.521mm±0.047mmとする。
13.8 理想テープ中心線 テープの理想テープ中心線は，テープ基準縁から1.900mmとする。
13.9 アジマス角 正のアジマス角は，20°00′39.6″±15′00.0″とする。負のアジマス角は，19°59′20.4″±
15'00.0"とする。
14. 記録パターン メインデータフラグメントの各8ビットバイトは，附属書Eによって10ビットパタ
ーンに変換し，テープに記録する。10ビットパターンのビットは，チャネルビットという。
14.1 記録メインデータフラグメント 記録メインデータフラグメントは，次のa)，b)いずれかのパター
ンをもつ10チャネルビットの同期フィールド及びこれに続く132個の8ビットバイトからなる1 330個の
チャネルビットで構成する。
a) 0100010001
53
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 1100010001
パターンa)は，Q'＝−1，DC＝0，Q＝1を用い，パターンb)は，Q'＝1，DC＝0，Q＝1を用いる（附属
書E参照）。それ以前にパターンがないときは，Q'の値がなく，a)，b)いずれのパターンを使用してもよい。
正アジマストラックの記録メインデータフラグメントは，G4サブグループ（11.3.4参照）の正配列のメ
インデータフラグメント形式で表し，負アジマストラックの記録メインデータフラグメントは，G4サブグ
ループの負配列のメインデータフラグメント形式で表す。各トラックの記録メインデータフラグメントは，
フラグメント番号の順に記録しなければならない。
14.2 マージンゾーン及びプリアンブルゾーン マージンゾーン及びプリアンブルゾーンは，チャネルビ
ットパターン1010101010を繰り返し記録しなければならない。マージンゾーン1とプリアンブルゾーンと
の間には，記録パターンの不連続があってはならない。記録の順序は，附属書E.1による。
15. トラックのフォーマット
15.1 トラックのフォーマット トラックは，2マージンゾーン，1プリアンブルゾーン及び1メインデー
タゾーンからなる。表5に記録の方向を示す。
表5 トラックのフォーマット
ゾーン
内容
10ビットパターンの数
マージンゾーン1
マージンパターン
640
プリアンブルゾーン プリアンブルパターン
64
メインデータゾーン 記録メインデータフラグメント
12 768
マージンゾーン2
マージンパターン
640
15.2 トラックの位置精度 トラックの位置の測定は，フラグメント番号48の先頭のビットセルとトラッ
ク中心線との交点をそのトラックの基準点とし，テープ基準縁に対し垂直な方向に測る。
すべてのトラックの基準点の位置は，テープ基準縁から1.906mm±0.027mmとする。
次に示すトラックの基準点の位置は，全トラックの基準点の平均位置から4.5μm以内とし，連続した任
意の12トラックの基準点の平均位置は，全トラックの基準点の平均位置から1.0μm以内とする。
− 一つの記録データグループ（16.5.2参照），追記録点（16.5.5参照）及びフレームBから始まりその記
録データグループに先行したアンブルフレームからなる連続したすべてのトラック。
− システムプリアンブル，システムログ及びシステムポストアンブル（16.4参照）からなる連続したす
べてのトラック。
− ベンダグループプリアンブル及びベンダグループ（16.5.1参照）からなる連続したすべてのトラック。
15.3 トラッキング法 この規格では読取り装置のトラッキング法は，規定しない。ただし，15.2の規定
は，正常な処理をするための条件とする。
16. シングルデータスペーステープの構成 磁気テープは，シングルデータスペーステープ又はパーティ
ションテープによって記録する。シングルデータスペーステープは，16.で規定し，パーティションテープ
は17.で規定する。
シングルデータスペーステープは，デバイス領域，リファレンス領域，システム領域，データ領域，EOD
領域及びポストEOD領域の6個の領域で構成し，次による（図54参照）。
54
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図54 シングルデータスペーステープの構成
16.1 デバイス領域 デバイス領域は，磁気テープの最初の領域でPBOTからLBOTの範囲とし，情報交
換用のデータ記録に用いてはならない。PBOTからリファレンス領域の最初のトラックの最初のブロック
の最初のビットまでの長さは，テープの長手方向に，350mm±10mmとする。この領域は，スピンアップ
ゾーン，試験ゾーン及びガードゾーンの三つのゾーンからなる。
デバイス領域の最初のゾーンは，スピンアップゾーンとし，テープを磁気テープ装置に装着したとき，
ドラムに巻き付ける部分とする。
スピンアップゾーンの後に読取り又は書込みの試験ゾーンが続く。これらの二つのゾーンの内容は，こ
の規格では規定しないが，試験ゾーンの任意のトラックが15.1の表5のトラックフォーマットに適合する
すべてのフラグメントヘッダのエリアIDは，0000を設定する。試験ゾーンには，9mm以上の長さのガー
ドゾーンが続く。ガードゾーンには，記録してはならない。
16.2 リファレンス領域 リファレンス領域は，LBOTで始まり絶対フレーム番号1をもつ35個のテープ
フレーム（18.3参照）で構成する。リファレンス領域は，システムログを更新するときの物理的な位置の
基準に用いる。
16.3 ガードバンド1 ガードバンド1の公称の長さは，5フレームとし，0フレームから10フレーム長ま
でとする。この領域は，システムログを更新するときの位置誤差を吸収するために用いる。
このガードバンドは，絶対フレーム番号の不連続及び繰返しが発生してもよい。記録信号は，無視して
もよい。
16.4 システム領域 システム領域は，システムプリアンブル，システムログ，システムポストアンブル，
ガードバンド2及びベンダグループプリアンブルからなる。
55
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.4.1 システムプリアンブル システムプリアンブルは，絶対フレーム番号41〜70の30個のテープ管理
フレーム（18.3参照）からなる。
16.4.2 システムログ システムログは，絶対フレーム番号71〜95の25個のシステムログフレーム（18.2
参照）からなる。
参考 書込み禁止孔が開放のときは，磁気テープ装置によるログの変更が不可能なので，システムロ
グの履歴データが常に正確であるとは限らない。さらに，システムログの履歴データは，テー
プを初期化するとき，破壊されることがある（16.9参照）。
16.4.3 システムポストアンブル システムポストアンブルは，絶対フレーム番号96〜105の10個のテー
プ管理フレームからなる。
参考 システムログを更新するときは，システムプリアンブル，システムログ及びシステムポストア
ンブルの連続書込みを推奨する。
16.4.4 ガードバンド2 ガードバンド2の公称の長さは，15フレームとする。この領域の長さは，ガード
バンド1の長さ及びベンダグループプリアンブルの最初のフレームの実際の位置による。したがって，0
〜30フレームの間で長さが変化してもよい。このガードバンドは，絶対フレーム番号の不連続及び繰返し
が発生してもよい。記録信号は，無視してもよい。
16.4.5 ベンダグループプリアンブル ベンダグループプリアンブルは，絶対フレーム番号121〜150の30
個のテープ管理フレームからなる。ベンダグループプリアンブルは，ベンダグループの直前に置き，ベン
ダグループと連続しなければならない。
16.5 データ領域 データ領域は，ベンダグループ及び1個以上の記録データグループからなる。データ
領域の任意のフレームは，アンブルフレーム（18.1参照）又は各サブグループを記録した記録データグル
ープ内のフレームとし，論理フレーム番号を各フレームに割り当てる。アンブルフレームの論理フレーム
番号は，0とする。記録データグループ内の任意のフレームの論理フレーム番号は，それを示すサブグル
ープの番号とする。これを論理フレームID（11.3.3.1.3及び11.4.1参照）のビット番号1〜6で表す。
EOD直前の最後の記録データグループの直後には，12個以上のアンブルフレームが続かなければなら
ない。
16.5.1 ベンダグループ ベンダグループは，基本グループ番号0とし，その内容は，この規格では規定し
ない（附属書M参照）。ベンダグループは，11.3及び11.4によるフレームを記録することによって，その
基本グループのバイトを形成する。これらのフレームの最初は，絶対フレーム番号151とする。
さらに，ECC3（16.5.3参照）及び再記録フレーム（16.5.4参照）の両方又は一方を新たに適用してもよ
い。
ベンダグループ内では，未記録の空間，物理的不連続，継目，絶対フレーム番号の不連続又は絶対フレ
ーム番号の繰返しが発生してはならない。
16.5.2 記録データグループ 記録データグループは，基本グループの内容を記録し，ホストコンピュータ
から送られるデータを，11.の規定によって形成し，その結果のフレームを論理フレーム番号（11.3.3.1.3
参照）の順にG4サブグループごとに記録する。
さらに，新たな二つの処理，すなわちC3符号（16.5.3参照），及び再記録フレーム（16.5.4参照）は，
一つ又は組み合わせて適用してもよい。記録データグループ内では，未記録の空間，物理的不連続，継目，
絶対フレーム番号の不連続性又は絶対フレーム番号の繰返しが発生してはならない。
16.5.3 ECC3 ECC3は，記録データグループ内の任意の二つの不良トラックを訂正することができる。
ECC3データは，基本グループの22個のG1サブグループから算出し，23番目のG1サブグループとする。
56
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ECC3は，GF (28) リードソロモン符号 (46, 44, 3) とする。
GF (28) は，次の多項式によって算出する。
G (x) ＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
GF (28) の原始元は，次による。
)
0
1
0
0
0
0
0
0
(
0
1
2
3
4
5
6
7
α
α
α
α
α
α
α
α
α=
訂正用パリティバイトは，次の式を満足する。
HR×HR＝0
生成多項式は，次による。
)
(
)
(
1
0
i
i
i
R
x
x
G
α
−
∏
===
=
1
1
1
1
1
1
1
1
2
43
44
45
α
α
α
α
α
Λ
Λ
R
H
=
+
+
+
+
23
,
734
8
23
,
22
,
734
8
2,
734
8
2,
1,
734
8
1,
n
n
n
n
n
n
n
R
R
R
D
D
D
D
D
V
Μ
ここに，
n： 0，1，2，…，8 733
Dx, y： xは，G1サブグループのユーザデータバイト番号。
yは，G1サブグループ番号。
Rx, 23： xは，G1サブグループのECC3のパリティバイト番号。
C3 G1サブグループは，C3フレームの二つのトラックの記録メインデータフラグメントを形成するため
に，11.3及び11.4の方法によって変換する。
16.5.4 再記録フレーム データ領域で記録データグループのフレームは，再記録によって繰り返してもよ
い。この再記録フレームは，0〜7個の中間フレームを書き込んだ後に書き込むことができる。この動作（例
えば，元のフレーム又は再記録フレーム，及びそれに引き続く0〜7個の中間フレーム）は，複数回繰り返
すことによって，このテープの不良部分を回避することができる。繰返し数の上限は，255とし，元のフ
レームを含めて256とする。
元のフレームとその再記録フレームとの間にある中間フレームは，通常の順番としてそれに続く論理フ
レーム番号のフレームとなり，それ以降も正しい順番でなければならない。正しい順番とは，一つずつ増
加する論理フレーム番号をもつ連続したフレームをいう。記録データグループの最後のフレーム又はC3
フレームが存在するときは，その後のフレームの論理フレーム番号は，0（アンブルフレームに対して）又
は1（次の記録データグループの最初のフレーム）で始まる。アンブルフレームは，中間フレームが7個
を超えない限り，この順番とし，最後の再記録フレームの後に，正しい順番で書いた中間フレームが続く。
57
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
16.5.5 追記録及び重ね書き テープに記録しているデータに新しいデータを追記録するとき，又は現存す
るデータを新しいデータによって重ね書きするとき，記録を開始する位置は，記録データグループの最後
のフレーム（図55のフレームA）を基準とする。再記録フレームを記録したときは，関連するフレームは，
最後のフレームの最後の繰返しになる。追記録又は重ね書きの最小の単位は，記録データグループとする。
参考 重ね書きを開始した後は，現在の記録点とPEOTとの間のデータは，論理的に無効となる。
追記録及び重ね書きの規定は，同一とする。追記録に関する規定は，次による。
データは，テープ上にノンシームレス（継目あり）又はシームレス（継目なし）のいずれかの方法で追
記録できる。シームレス追記録の追記録トラックは，前のトラックに続く連続したシーケンスとする。読
取りができないような部分的な重ね書きをしたトラックが存在したり，トラックの間にギャップが残って
はならない。
図55 追記録
図55では，フレームAまでのフレームは，保持するべき情報を含み，追記録は，アンブルフレームの
フレームBから始まり，情報は，フレームCから書き込む。
16.5.5.1 シームレス追記録の規則 シームレス追記録の規則は，次による。
規則1 フレームAとフレームBとの間には，一つのフレームとする。例えば，フレームAの絶対フレ
ーム番号 (AFN) がnのとき，フレームBのAFNはn＋2としなければならない。
規則2 フレームAとフレームBとの間に記録したフレームは，フレームAに連続とする。例えば，フ
レームAとフレームBとの間には，未記録の空間，AFNの不連続，AFNの繰返し又は物理的
不連続があってはならない。このフレームのグループ番号は，フレームAのグループ番号より
大きい。ただし，そのフレームがアンブルフレーム（18.1参照）の場合，フレームAのグルー
プ番号と同じグループ番号とし，このフレームの内容は，無視する。
規則3 フレームBとフレームCとの間には，最低一つのアンブルフレームが存在する。例えば，フレ
ームBのAFNがn＋2のとき，フレームCのAFNは，少なくともn＋4とする。フレームBと
フレームCとの間には，未記録の空間，物理的不連続，AFNの不連続又はAFNの繰返しがあ
ってはならない。
規則4 図56に示すテープの長手方向で測定したフレームB (AFN＝n＋2) の最初のトラックの位置は，
AFN＝n＋1のフレームの最初のトラックからX＝163.0μm±26.7μmとする。
58
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図56 シームレス追記録の許容差
16.5.5.2 ノンシームレス追記録の規則 ノンシームレス追記録の規則は，次による。
規則1 フレームAとフレームBとの距離は，1〜11個のフレーム相当分とする。フレームAとフレー
ムBとの間には，未記録の空間があってはならない。フレームAとフレームBとの間の1個以
上のフレームは，誤った内容でもよい。例えば，ある追記録点での部分的な重ね書きが複数回
生じた場合が，これに該当する。
規則2 AFNの不連続性及びAFNの繰返しは，フレームAのAFNがnの場合，フレームAとフレーム
Bとの間で，すべてのフレームのAFNは，nより大きく，かつフレームBのAFNは，n＋2〜n
＋12とする。
規則3 フレームAとフレームBとの間のアンブルフレーム（18.1参照）は，フレームAのグループ番
号と同じグループ番号の値とする。フレームAとフレームBとの間のその他のフレームは，フ
レームAのグループ番号の値よりも大きいグループ番号の値とする。
規則4 フレームBとフレームCとの間には，29個以上のフレームとする。例えば，フレームBのAFN
がn＋2≦n'≦n＋12のときは，フレームCのAFNは，n'＋30以上とする。フレームBとフレー
ムCとの間には，未記録の空間，物理的不連続，物理的継目，AFNの不連続又はAFNの繰返
しがあってはならない。
16.6 EOD領域 EOD領域は，データ領域の後に続く領域とする。
EOD領域は，450個以上のテープ管理フレーム（18.3参照）によって構成し，データ領域の最後のアン
ブルフレームの後とする。EOD領域の最初のフレームは，PEOTの少なくとも2 500mm前に記録する。
複数のEOD領域がテープ上に存在してもよい。LBOTに最も近いEOD領域だけが情報交換に有効とす
る。
16.7 ポストEOD領域 ポストEOD領域は，EOD領域の後にPEOTまで続く領域とする。このポスト
EOD領域の内容は，規定しない。
16.8 アーリーワーニングポイント (EWP) アーリーワーニングポイントは，次による。
新しいテープ又はバルク消去したテープでは，EWPの位置は，磁気テープ装置によって算出する。算出
したEWPの位置は，PEOTから3 000mm以上前としなければならない。EWPを超えてデータを記録する
59
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
までは，その位置表示は，テープ上には記録しない。EWPを超えて最初にデータを記録するときは，全体
又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループでのAEWPビット（11.2.3.1.14参照）の設定を0
から1にする。この変化点は，テープを引き続き読み取るときに，EWPの位置として利用する。
データを含んでいるテープの重ね書きについては，重ね書きを開始した位置が，重ね書きの開始前に定
義したEWPより前のときは，現在，テープを記録している磁気テープ装置が，EWPを算出する。算出し
たEWPの位置は，少なくともPEOTから3 000mm以上前でなければならない。EWPを超えてデータを記
録するときは，全体又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループでのAEWPビット（11.2.3.1.14
参照）の設定を0から1にする。この変化点は，テープを引き続き読み取るときに，EWPの位置として利
用する。
データを含んでいるテープの重ね書きについて，新たな重ね書きを開始する位置から前にAEWPビット
が0から1に変化しているときは，その変化点がEWPの位置となる。したがって，それ以降のすべての
新しい重ね書きグループでは，AEWPビットは1にする。
16.9 初期化 初期化は，ユーザデータを記録するために最初にテープを使用する前に行う。ただし，任
意に必要に応じて行うことができる。初期化によってLBOTとベンダグループの終わりとの間に未記録の
空間があってはならない。LBOTからベンダグループの終わりまでは，連続して記録し，ガードバンド1
のフレーム数の公称値は，5フレームとし，ガードバンド2のフレーム数の公称値は，15フレームとする。
ガードバンド1のエリアIDは，リファレンス領域（11.3.5.1.2参照）に設定する。
記録済みのテープを初期化すると，システムログの履歴データを含むすべてのデータは，破壊される。
参考 テープ割付け上，最初の記録データグループの記録前に，新しいテープ又はバルク消去したテ
ープに対して初期化を行う必要はない。リファレンス領域，システム領域及びベンダグループ
は，最初の記録データグループの記録と同時に記録できる。
17. パーティションテープの構成 パーティションテープは，一つのテープの上に二つの独立したパーテ
ィションをもつことができる（図57参照）。これらのパーティションは，それぞれシングルデータスペー
ステープと同様な構成と特性をもつ。
17.1〜17.5の規定を除いて，すべての記録フォーマットの規定は，パーティションテープのそれぞれの
パーティションに適用する。
60
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図57 パーティションテープの構成
17.1 テープ上の配置 パーティションテープ上の配置は，PBOTからPEOTまでの間にデバイス領域，
パーティション1及びパーティション0の順番とする。
17.1.1 デバイス領域 デバイス領域は，シングルデータスペーステープと同じとする。
17.1.2 パーティション1
17.1.2.1 パーティション1のフレーム数 パーティション1のフレーム数の合計は，パーティション1の
システム領域のパックアイテム番号6（11.4.7参照）に記録する。
17.1.2.2 システムログ システムログフレームのパックアイテム番号8〜15は，絶対フレーム番号の奇数
か偶数かによって記録する（11.5.2参照）。
17.1.2.3 VEOT VEOTは，パーティション境界の前，450フレームに相当する距離を基準点とする。こ
の基準点は，シングルデータスペーステープのPEOTと同じ方法で使用する。例えば，VEOTを超えたパ
ーティション1の中では，初期化（17.5参照）の場合を除いて，記録してはならない。
VEOTとパーティション境界との間の空間は，パーティション1のEOD領域と同等のテープ管理フレー
ムを含むこととする。
参考 パーティション1で重ね書きを開始した後は（16.5.5参照），現在の記録点とVEOTの間にある
すべてのデータは，論理的に無効となる。パーティション0にあるデータは，影響されない。
61
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
17.1.2.4 パーティション1のアーリーワーニングポイント (EWP) EWPは，空のパーティション1（17.4
参照）では，磁気テープ装置がその位置を算出する。算出したEWPの位置は，VEOTから3 067フレーム
以上前になければならない。EWPを超えてデータを記録するまでは，その位置表示は，テープ上に記録し
ない。EWPを超えて最初にデータを記録するときは，全体又は部分的にその点の前に記録した最後の基本
グループでのAEWPビット（11.2.3.1.14参照）の設定を0から1にする。この変化点は，テープが引き続
き読み取るときに，EWPの位置として利用する。
データを含んでいるパーティション1の重ね書きについては，重ね書きを開始した位置が，重ね書きの
開始前に定義したEWPより前のときは，現在，テープを記録している磁気テープ装置がEWPを算出する。
算出したEWPの位置は，少なくともVEOTから3 067フレーム以上前になければならない。
EWPを超えてデータを記録するときは，全体又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループで
のAEWPビット（11.2.3.1.14参照）の設定を0から1にする。この変化点は，テープを引き続き読み取る
ときに，EWPの位置として利用する。
データを含んでいるパーティション1で，新たに重ね書きを開始する位置から前にAEWPビットが0か
ら1に変化しているときは，その変化点がEWPの位置となる。したがって，それ以降のパーティション1
のすべての新しい重ね書きグループで，AEWPビットを1とする。
参考 3 067フレーム相当のテープの長さは，約500mmとなる。
17.1.2.5 パーティション1のEOD領域 EOD領域は，データ領域に続くこととし，テープ管理フレーム
によって構成し，データ領域の最後のアンブルフレームの後とする。EOD領域の長さは，最後のアンブル
フレームとVEOTとの長さが450フレーム以上のとき，450フレーム以上とし，最後のアンブルフレーム
とVEOTとの長さが450フレーム未満のときは，その長さと同じにする。
17.1.2.6 ポストEOD領域 ポストEOD領域は，VEOTの前にEOD領域の終わりがあるとき，EOD領域
の後にVEOTまで続く領域とする。ポストEOD領域は，エリアID（11.3.5.1.2参照）がパーティション1
を示す記録フレームで構成する。内容については，規定しない。
17.1.3 パーティション0
17.1.3.1 LBOT LBOTは，パーティションの境界とする。この位置の後の最初のフレームは，絶対フレ
ーム番号1とする。
17.1.3.2 システムログ この領域は，パックアイテム番号8〜15に記録してはならない（11.5.2参照）。
17.2 エリアID エリアID（11.3.5.1.2参照）の最上位ビットは，パーティション0では1とし，パーテ
ィション1では0とする。
17.3 システム領域のパックアイテム番号6 パーティション0のシステム領域では，パックアイテム番号
6は，すべて1に設定する。
17.4 空のパーティション 一つのパーティションだけが記録データグループを含むパーティションテー
プ上では，他のパーティションは空とみなす。
17.4.1 空のパーティション1 空のパーティション1は，次の内容とする。
− リファレンス領域
− システム領域
− 一つのベンダグループ及び35個以上のアンブルフレームで構成するデータ領域
− パーティション1のEOD領域にあるものと同じ，3 517個以上のテープ管理フレーム
ベンダグループプリアンブル，データ領域及びそれに続くテープ管理フレームは，パーティション境界
まで連続としなければならない。そこには，未記録の空間，物理的不連続，継目，AFNの不連続又はAFN
62
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
の繰返しがあってはならない。
17.4.2 空のパーティション0 空のパーティション0は，次の内容とする。
− リファレンス領域
− システム領域
− 一つのベンダグループ及び35個以上のアンブルフレームで構成するデータ領域
− 450フレーム以上の長さのEOD領域
EODの最初のフレームは，PEOTより少なくとも2 500mm以前に記録する。
ベンダグループプリアンブル，データ領域及びEOD領域は，未記録の空間，物理的不連続，継目，AFN
の不連続又はAFNの繰返しがあってはならない。
17.5 パーティションテープの初期化 新しいテープ又はバルグ消去したテープをパーティションテープ
として使用するときは，一つのパーティションだけに記録データグループを記録し，他のパーティション
を空とする。パーティション境界の位置を定義し，空のパーティションを17.5の規定に適合し，かつテー
プ位置の効率的な管理を補助するために，最初の記録の前に初期化することを推奨する。初期化のときは，
空のパーティション1及びパーティション0を連続して書き込まなければならない。
記録済みテープを初期化するときは，システムログの履歴データを含むすべてのデータが破壊される可
能性がある。
18. ハウスキーピングフレーム ハウスキーピングフレームは，ユーザデータ，セパレータ又はインデッ
クスを含めてはならない。データは，各トラックのサブコードの領域だけに記録し，ハウスキーピングフ
レームを記録した磁気テープの領域に存在する。各トラックのメインデータフラグメントは，各バイトを
すべて0に設定するG1サブグループの形式及び11.3の手順を適用して生成する。サブコードの領域に記
録するデータは，11.4の規定による。
ハウスキーピングフレームは，アンブルフレーム，システムログフレーム及びテープ管理フレームの3
形式がある。
18.1 アンブルフレーム アンブルフレームは，データ領域内にだけ存在可能である。論理フレーム番号
は，0とする。パックアイテムの番号0，1，2及び3のサブコード情報は，直前の記録データグループの
基本グループを参照しなければならない。
アンブルフレームは，中間フレーム（16.5.4参照）として挿入した場合を除いて，記録データグループ
内及びベンダーグループの前にあってはならない。
アンブルフレームの前には追記録点（16.5.5.1及び16.5.5.2参照）を除いて，他のアンブルフレーム又は
参照する記録データグループの最後のフレーム以外のフレームがあってはならない。
18.2 システムログフレーム システムログフレームは，システムの領域に71〜95の絶対フレーム番号で
記録する。テープ使用履歴のログデータは，各システムログフレームのサブコードの領域に記録する。パ
ックアイテム番号0，1及び3のすべてのバイトは，すべて0に設定する。パックアイテム番号2のSC0
〜SC2バイトは，すべて0に設定する。パックアイテム番号2のSC3バイトは，11.4.3.2の規定による。
18.3 テープ管理フレーム テープを管理するフレームは，次の領域に記録する。
− リファレンス領域
− システムログ内を除くシステム領域
− EOD領域
− VEOTとパーティション境界との間
63
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
パックアイテム番号0，1及び3のすべてのバイトは，すべて0に設定する。パックアイテム番号2の
SC0〜SC2バイトは，すべて0に設定する。パックアイテム番号2のSC3バイトは，11.4.3.2の規定による。
64
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A（規定） プリズムの光透過率の測定法
A.1 概要 この附属書は，プリズムの光透過率の測定装置及び測定方法を示す。
光透過率は，測定装置で読み取ったカートリッジのプリズムの値と基準プリズムの値の比とする。
カートリッジのプリズムの光透過率は，次の式による。
100
r
c×
=PP
P
ここに，
P： カートリッジのプリズムの光透過率 (%)
Pc： カートリッジのプリズムの値
Pr： 基準プリズムの値
A.2 光源 光源は，波長850nm±50nm，半値幅±50nmの赤外発光ダイオード (LED) を使用する。
A.3 光検出部 光検出部は，シリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
A.4 光学系 光学系は，附属書A図2による。すべての裏面は，黒のつや消し仕上げとする。両方の光学
測定装置は，附属書A図1で示す基準プリズムを用いて校正する。
すべての測定装置は，暗室に入れる。
A.5 基準プリズム 基準プリズムの仕様は，次による。
光透過率 ：波長850nm±50nmで95%。
寸法
：附属書A図3に示す。
A.6 測定回路 測定回路は，附属書B.2.6に示す。スイッチSは，0の位置とする。
65
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A図1 基準プリズム
附属書A図2 カートリッジ
附属書A図3 基準プリズムの外観図
66
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B（規定） テープ及びリーダの光透過率の測定法
B.1 概要 この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。
光透過率は，測定装置にテープ試験片を入れないときを100とし，入れたときの比を百分率 (%) で表す。
B.2 測定装置 測定装置の構成は，次による。
− 光源
− 光検出部
− 測定用マスク
− 光学系
− 測定回路
B.2.1 光源 光源は，波長850nm±50nm，半値幅±50nmの赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
B.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
B.2.3 測定用マスク 測定用マスクは，厚さを2mm，孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の80%
〜100%の大きさに設定する。
表面は，黒のつや消しとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，周りの光が漏れないようにマスクを固定する。
B.2.4 光学系 光学系は，附属書B図1による。光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距
離 (L) は，次の式による。
α
tan
2
d
L=
光軸上の最大強度に対して，95%以上の強度がある領域にαを設定する。
附属書B図1 光学系の構成
B.2.5 仕上げ 仕上げは，装置全体をつや消しの黒いケースで覆う。
B.2.6 測定回路（附属書B.2） 測定回路の構成は，次による。
E： 出力電圧を変える定電圧電源
R： 電流を制限する抵抗
LED： 赤外線発光ダイオード
Di： シリコンフォトダイオード
A： 演算増幅器
67
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Rf0, Rf1： 帰還用の抵抗器
S： 増幅率切替え用スイッチ
V： 電圧計
LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧 (E) によって変化させる。
Diは，回路を閉じて動作させる。
演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，Diの閉回路での電流とする。
Rf0及びRf1は，許容差1%の温度特性の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，次の式による。
20
1
1
0=
f
f
R
R
附属書B図2 測定回路
B.3 測定法 測定法は，次による。
B.3.1 スイッチ (S) を位置0にする。
B.3.2 試験片を取り付けないで，電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるように供給電圧 (E) を
変化させる。
B.3.3 リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。電圧計は，60%〜100%を示す。
B.3.4 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置1に設定する。電圧計のフルスケ
ールは，光透過率5%を示す。
68
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C（規定） 信号対雑音比の測定法
信号対雑音比の測定は，分解能10kHzのスペクトラムアナライザを用い，試験条件は，本体10.による。
C.1 テープを交流消去する。
C.2 テープに記録密度2 999.9ftpmmで記録する。その記録周波数をf1で表す。
C.3 再生信号振幅の実効値をドラムの70°±3°に相当するトラック長についてスペクトラムアナライザの
掃引によって測定する。このトラックの中心は，再生ヘッドがテープに接触する中心から5°以内とする。
各掃引ごとに一つの測定値を得て八つの測定値の平均を算出する。これをStapeとする。
雑音レベルを8回の掃引のそれぞれの期間に周波数f2での実効値を測定する。
f2は，f1より1MHz低い値とし，各掃引ごとに一つの測定値を得て八つの測定値の平均を算出する。こ
れをNtotalとする。
C.4 周波数f2の再生系雑音レベルの実行値をテープを巻き付けず，モータを回転させ，ドラムの70°に相
当する期間以上を測定する。
各掃引ごと一つの測定値を得て八つの測定値の平均を計算する。これをNampとする。
C.5 信号対雑音比を20 log (Stape/Ntape) で算出する。雑音は，周波数f2で測定する。
2amp
2total
tape
N
N
N
−
=
Namp/Ntapeは，0.7未満とする。
C.6 テープの信号対雑音比 (SNRtape) は，C.3〜C.5を64回以上測定した平均とする。
C.7 副標準テープについてもC.1〜C.6の測定を行い，副標準テープの信号対雑音比SNRMSRT (dB) を求め
る。供試テープの信号対雑音比SNR (dB) は，次の式によって算出する。
SNR＝SNRtape−SNRMSRT
69
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件）
記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は，本体10.による。
D.1 記録レベルの公称値の決定法
D.1.1 信号振幅副標準テープの記録密度4 499.8ftpmmの信号を再生し，読み取った値を信号振幅副標準テ
ープによって校正する。
D.1.2 交流消去した副標準テープに，記録密度4 499.8ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増や
しながら記録し，読み取った値がD.1.1で求めた校正後の値と等しくなるまで記録電流を増やす。
D.1.3 交流消去した供試テープに対し，D.1.2で求めた記録電流で記録密度4 499.8ftpmmの信号を記録する。
読み取った値を，記録密度4 499.8ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
D.1.4 記録密度1 499.9ftpmm，1 999.9ftpmm及び2999.9ftpmmの値を求めるために，D.1.1〜D.1.3を同様に
繰り返す。
D.2 記録レベルの最大許容値の決定法
D.2.1 交流消去した副標準テープに，記録密度4 499.8ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増や
しながら記録し，読み取った値がD.1.1で求めた校正後の値の119%になるまで記録電流を増やす。
D.2.2 交流消去した供試テープに対し，D.2.1で求めた記録電流で記録密度4 499.8ftpmmの信号を記録する。
読み取った値を，記録密度4 499.8ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
D.2.3 記録密度1 499.9ftpmm，1 999.9ftpmm及び2 999.9ftpmmの値を求めるために，D.2.1〜D.2.2を同様に
繰り返す。
D.3 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは，この規格を用いた記録システムの動作に支障をきたすの
で，互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は，次による。
記録密度1 499.9ftpmm，1 999.9ftpmm，2 999.9ftpmm及び4 499.8ftpmmでは，記録レベルの最大許容値
とする。
参考 互換性確保のために，記録レベルは，記録密度1 499.9ftpmm，1 999.9ftpmm，2 999.9ftpmm及び
4 499.8ftpmmで記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。
70
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変
換
E.1 8ビットバイトは，最上位ビットを左側とし，最下位ビットを右側とする。10チャネルビットパター
ンは，最初に記録するビットを左側とし，最後に記録するビットを右側とする。
E.2 使用する記録装置は，記録信号の直流成分を0に近づける必要がある。すべての10チャネルビットパ
ターンは，0平衡又は6 : 4若しくは4 : 6の直流不平衡である。
各10チャネルビットパターンには，直流成分を最小にするために，次の10チャネルビットパターンの
二つの代替パターンのいずれを選択するかを変調器に指示するインジケータQが含まれる。
Q'は，前のパターンの直流情報である。
Qは，現在のパターンの直流情報である。
E.3 左側の列には，8ビットバイトの16進数表記で記している。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
00
00000000
0101010101
0
1
0101010101
0
−1
01
00000001
0101010111
0
−1
0101010111
0
1
02
00000010
0101011101
0
−1
0101011101
0
1
03
00000011
0101011111
0
1
0101011111
0
−1
04
00000100
0101001001
0
−1
0101001001
0
1
05
00000101
0101001011
0
1
0101001011
0
−1
06
00000110
0101001110
0
1
0101001110
0
−1
07
00000111
0101011010
0
1
0101011010
0
−1
08
00001000
0101110101
0
−1
0101110101
0
1
09
00001001
0101110111
0
1
0101110111
0
−1
0A
00001010
0101111101
0
1
0101111101
0
−1
0B
00001011
0101111111
0
−1
0101111111
0
1
0C
00001100
0101101001
0
1
0101101001
0
−1
0D
00001101
0101101011
0
−1
0101101011
0
1
0E
00001110
0101101110
0
−1
0101101110
0
1
0F
00001111
0101111010
0
−1
0101111010
0
1
10
00010000
1101010010
0
1
1101010010
0
−1
11
00010001
0100010010
2
−1
1100010010
−2
−1
12
00010010
0101010010
0
−1
0101010010
0
1
13
00010011
0101110010
0
1
0101110010
0
−1
14
00010100
1101110001
2
1
0101110001
−2
1
15
00010101
1101110011
2
−1
0101110011
−2
−1
16
00010110
1101110110
2
−1
0101110110
−2
−1
17
00010111
1101110010
0
−1
1101110010
0
1
71
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
18
00011000
0101100101
2
−1
1101100101
−2
−1
19
00011001
0101100111
2
1
1101100111
−2
1
1A
00011010
0101101101
2
1
1101101101
−2
1
1B
00011011
0101101111
2
−1
1101101111
−2
−1
1C
00011100
0101111001
2
1
1101111001
−2
1
1D
00011101
0101111011
2
−1
1101111011
−2
−1
1E
00011110
0101111110
2
−1
1101111110
−2
−1
1F
00011111
0101101010
2
−1
1101101010
−2
−1
20
00100000
0111010101
0
−1
0111010101
0
1
21
00100001
0111010111
0
1
0111010111
0
−1
22
00100010
0111011101
0
1
0111011101
0
−1
23
00100011
0111011111
0
−1
0111011111
0
1
24
00100100
1111010001
2
1
0111010001
−2
1
25
00100101
1111010011
2
−1
0111010011
−2
−1
26
00100110
1111010110
2
−1
0111010110
−2
−1
27
00100111
0111011010
0
−1
0111011010
0
1
28
00101000
0111110101
0
1
0111110101
0
−1
29
00101001
0111110111
0
−1
0111110111
0
1
2A
00101010
0111111101
0
−1
0111111101
0
1
2B
00101011
0111111111
0
1
0111111111
0
−1
2C
00101100
0111101001
0
−1
0111101001
0
1
2D
00101101
0111101011
0
1
0111101011
0
−1
2E
00101110
0111101110
0
1
0111101110
0
−1
2F
00101111
0111111010
0
1
0111111010
0
−1
30
00110000
0111010010
0
1
0111010010
0
−1
31
00110001
1110010010
2
−1
0110010010
−2
−1
32
00110010
1111010010
0
−1
0111010010
0
1
33
00110011
1111110010
0
1
0111110010
0
−1
34
00110100
0111110001
2
1
1111110001
−2
1
35
00110101
0111110011
2
−1
1111110011
−2
−1
36
00110110
0111110110
2
−1
1111110110
−2
−1
37
00110111
0111110010
0
−1
0111110010
0
1
38
00111000
0111000101
2
−1
1111000101
−2
−1
39
00111001
0111000111
2
1
1111000111
−2
1
3A
00111010
0111001101
2
1
1111001101
−2
1
3B
00111011
0111001111
2
−1
1111001111
−2
−1
3C
00111100
0111011001
2
1
1111011001
−2
1
3D
00111101
0111011011
2
−1
1111011011
−2
−1
3E
00111110
0111011110
2
−1
1111011110
−2
−1
3F
00111111
0111001010
2
−1
1111001010
−2
−1
40
01000000
0100010101
2
1
1100010101
−2
1
41
01000001
0100010111
2
−1
1100010111
−2
−1
42
01000010
0100011101
2
−1
1100011101
−2
−1
72
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
43
01000011
0100011111
2
1
1100011111
−2
1
44
01000100
0101010001
2
1
1101010001
−2
1
45
01000101
0101010011
2
−1
1101010011
−2
−1
46
01000110
0101010110
2
−1
1101010110
−2
−1
47
01000111
0100011010
2
1
1100011010
−2
1
48
01001000
0100110101
2
−1
1100110101
−2
−1
49
01001001
0100110111
2
1
1100110111
−2
1
4A
01001010
0100111101
2
1
1100111101
−2
1
4B
01001011
0100111111
2
−1
1100111111
−2
−1
4C
01001100
0100101001
2
1
1100101001
−2
1
4D
01001101
0100101011
2
−1
1100101011
−2
−1
4E
01001110
0100101110
2
−1
1100101110
−2
−1
4F
01001111
0100111010
2
−1
1100111010
−2
−1
50
01010000
0100100101
0
−1
0100100101
0
1
51
01010001
0100100111
0
1
0100100111
0
−1
52
01010010
0100101101
0
1
0100101101
0
−1
53
01010011
0100101111
0
−1
0100101111
0
1
54
01010100
0100111001
0
1
0100111001
0
−1
55
01010101
0100111011
0
−1
0100111011
0
1
56
01010110
0100111110
0
−1
0100111110
0
1
57
01010111
0100101010
0
−1
0100101010
0
1
58
01011000
0110100101
0
1
0110100101
0
−1
59
01011001
0110100111
0
−1
0110100111
0
1
5A
01011010
0110101101
0
−1
0110101101
0
1
5B
01011011
0110101111
0
1
0110101111
0
−1
5C
01011100
0110111001
0
−1
0110111001
0
1
5D
01011101
0110111011
0
1
0110111011
0
−1
5E
01011110
0110111110
0
1
0110111110
0
−1
5F
01011111
0110101010
0
1
0110101010
0
−1
60
01100000
0010010101
0
−1
0010010101
0
1
61
01100001
0010010111
0
1
0010010111
0
−1
62
01100010
0010011101
0
1
0010011101
0
−1
63
01100011
0010011111
0
−1
0010011111
0
1
64
01100100
0010010001
2
1
0010010001
−2
1
65
01100101
0010010011
2
−1
0010010011
−2
−1
66
01100110
0010010110
2
−1
0010010110
−2
−1
67
01100111
0010011010
0
−1
0010011010
0
1
68
01101000
0010110101
0
1
0010110101
0
−1
69
01101001
0010110111
0
−1
0010110111
0
1
6A
01101010
0010111101
0
−1
0010111101
0
1
6B
01101011
0010111111
0
1
0010111111
0
−1
6C
01101100
0010101001
0
−1
0010101001
0
1
6D
01101101
0010101011
0
1
0010101011
0
−1
73
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
6E
01101110
0010101110
0
1
0010101110
0
−1
6F
01101111
0010111010
0
1
0010111010
0
−1
70
01110000
0010010010
0
1
0010010010
0
−1
71
01110001
1011010010
2
−1
0011010010
−2
−1
72
01110010
1010010010
0
−1
1010010010
0
1
73
01110011
1010110010
0
1
1010110010
0
−1
74
01110100
0010110001
2
1
1010110001
−2
1
75
01110101
0010110011
2
−1
1010110011
−2
−1
76
01110110
0010110110
2
−1
0010110110
−2
−1
77
01110111
0010110010
0
−1
0010110010
0
1
78
01111000
0011100101
0
1
0011100101
0
−1
79
01111001
0011100111
0
−1
0011100111
0
1
7A
01111010
0011101101
0
−1
0011101101
0
1
7B
01111011
0011101111
0
1
0011101111
0
−1
7C
01111100
0011111001
0
−1
0011111001
0
1
7D
01111101
0011111011
0
1
0011111011
0
−1
7E
01111110
0011101010
0
1
0011101010
0
−1
6F
01101111
0010111010
0
1
0010111010
0
−1
80
10000000
1010010101
0
1
1010010101
0
−1
81
10000001
1010010111
0
−1
1010010111
0
1
82
10000010
1010011101
0
−1
1010011101
0
1
83
10000011
1010011111
0
1
1010011111
0
−1
84
10000100
1010001001
0
−1
1010001001
0
1
85
10000101
1010001011
0
1
1010001011
0
−1
86
10000110
1010001110
0
1
1010001110
0
−1
87
10000111
1010011010
0
1
1010011010
0
−1
88
10001000
1010110101
0
−1
1010110101
0
1
89
10001001
1010110111
0
1
1010110111
0
−1
8A
10001010
1010111101
0
1
1010111101
0
−1
8B
10001011
1010111111
0
−1
1010111111
0
1
8C
10001100
1010101001
0
1
1010101001
0
−1
8D
10001101
1010101011
0
−1
1010101011
0
1
8E
10001110
1010101110
0
−1
1010101110
0
1
8F
10001111
1010111010
0
−1
1010111010
0
1
90
10010000
1100100101
0
1
1100100101
0
−1
91
10010001
1100100111
0
−1
1100100111
0
1
92
10010010
1100101101
0
−1
1100101101
0
1
93
10010011
1100101111
0
1
1100101111
0
−1
94
10010100
1100111001
0
−1
1100111001
0
1
95
10010101
1100111011
0
1
1100111011
0
−1
96
10010110
1100111110
0
1
1110111110
0
−1
97
10010111
1100101010
0
1
1100101010
0
−1
74
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
98
10011000
1010100101
2
−1
0010100101
−2
−1
99
10011001
1010100111
2
1
0010100111
−2
1
9A
10011010
1010101101
2
1
0010101101
−2
1
9B
10011011
1010101111
2
−1
0010101111
−2
−1
9C
10011100
1010111001
2
1
0010111001
−2
1
9D
10011101
1010111011
2
−1
0010111011
−2
−1
9E
10011110
1010111110
2
−1
0010111110
−2
−1
9F
10011111
1010101010
2
−1
0010101010
−2
−1
A0
10100000
1011010101
2
1
0011010101
−2
1
A1
10100001
1011010111
2
−1
0011010111
−2
−1
A2
10100010
1011011101
2
−1
0011011101
−2
−1
A3
10100011
1011011111
2
1
0011011111
−2
1
A4
10100100
1011001001
2
−1
0011001001
−2
−1
A5
10100101
1011001011
2
1
0011001011
−2
1
A6
10100110
1011001110
2
1
0011001110
−2
1
A7
10100111
1011011010
2
1
0011011010
−2
1
A8
10101000
1011110101
2
−1
0011110101
−2
−1
A9
10101001
1011110111
2
1
0011110111
−2
1
AA
10101010
1011111101
2
1
0011111101
−2
1
AB
10101011
1011111111
2
−1
0011111111
−2
−1
AC
10101100
1011101001
2
1
0011101001
−2
1
AD
10101101
1011101011
2
−1
0011101011
−2
−1
AE
10101110
1011101110
2
−1
0011101110
−2
−1
AF
10101111
1011111010
2
−1
0011111010
−2
−1
B0
10110000
1101110101
0
1
1101110101
0
−1
B1
10110001
1101110111
0
−1
1101110111
0
1
B2
10110010
1101111101
0
−1
1101111101
0
1
B3
10110011
1101111111
0
1
1101111111
0
−1
B4
10110100
1101101001
0
−1
1101101001
0
1
B5
10110101
1101101011
0
1
1101101011
0
−1
B6
10110110
1101101110
0
1
1101101110
0
−1
B7
10110111
1101111010
0
1
1101111010
0
−1
B8
10111000
1011100101
0
−1
1011100101
0
1
B9
10111001
1011100111
0
1
1011100111
0
−1
BA
10111010
1011101101
0
1
1011101101
0
−1
BB
10111011
1011101111
0
−1
1011101111
0
1
BC
10111100
1011111001
0
1
1011111001
0
−1
BD
10111101
1011111011
0
−1
1011111011
0
1
BE
10111110
1011111110
0
−1
1011111110
0
1
BF
10111111
1011101010
0
−1
1011101010
0
1
C0
11000000
1110010101
2
1
0110010101
−2
1
C1
11000001
1110010111
2
−1
0110010111
−2
−1
C2
11000010
1110011101
2
−1
0110011101
−2
−1
75
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
C3
11000011
1110011111
2
1
0110011111
−2
1
C4
11000100
1110001001
2
−1
0110001001
−2
−1
C5
11000101
1110001011
2
1
0110001011
−2
1
C6
11000110
1110001110
2
1
0110001110
−2
1
C7
11000111
1110011010
2
1
0110011010
−2
1
C8
11001000
1110110101
2
−1
0110110101
−2
−1
C9
11001001
1110110111
2
1
0110110111
−2
1
CA
11001010
1110111101
2
1
0110111101
−2
1
CB
11001011
1110111111
2
−1
0110111111
−2
−1
CC
11001100
1110101001
2
1
0110101001
−2
1
CD
11001101
1110101011
2
−1
0110101011
−2
−1
CE
11001110
1110101110
2
−1
0110101110
−2
−1
CF
11001111
1110111010
2
−1
0110111010
−2
−1
D0
11010000
1101000101
2
−1
0101000101
−2
−1
D1
11010001
1101000111
2
1
0101000111
−2
1
D2
11010010
1101001101
2
1
0101001101
−2
1
D3
11010011
1101001111
2
−1
0101001111
−2
−1
D4
11010100
1101011001
2
1
0101011001
−2
1
D5
11010101
1101011011
2
−1
0101011011
−2
−1
D6
11010110
1101011110
2
−1
0101011110
−2
−1
D7
11010111
1101001010
2
−1
0101001010
−2
−1
D8
11011000
1110100101
0
−1
1110100101
0
1
D9
11011001
1110100111
0
1
1110100111
0
−1
DA
11011010
1110101101
0
1
1110101101
0
−1
DB
11011011
1110101111
0
−1
1110101111
0
1
DC
11011100
1110111001
0
1
1110111001
0
−1
DD
11011101
1110111001
0
−1
1110111011
0
1
DE
11011110
1110111110
0
−1
1110111110
0
1
DF
11011111
1110101010
0
−1
1110101010
0
1
E0
11100000
1111010101
0
1
1111010101
0
−1
E1
11100001
1111010111
0
−1
1111010111
0
1
E2
11100010
1111011101
0
−1
1111011101
0
1
E3
11100011
1111011111
0
1
1111011111
0
−1
E4
11100100
1111001001
0
−1
1111001001
0
1
E5
11100101
1111001011
0
1
1111001011
0
−1
E6
11100110
1111001110
0
1
1111001110
0
−1
E7
11100111
1111011010
0
1
1111011010
0
−1
E8
11101000
1111110101
0
−1
1111110101
0
1
E9
11101001
1111110111
0
1
1111110111
0
−1
EA
11101010
1111111101
0
1
1111111101
0
−1
EB
11101011
1111111111
0
−1
1111111111
0
1
EC
11101100
1111101001
0
1
1111101001
0
−1
ED
11101101
1111101011
0
−1
1111101011
0
1
76
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビットバイト
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
10チャネル
ビット
パターン
直流
成分
Q
EE
11101110
1111101110
0
−1
1111101110
0
1
EF
11101111
1111111010
0
−1
1111111010
0
1
F0
11110000
1101010101
0
−1
1101010101
0
1
F1
11110001
1101010111
0
1
1101010111
0
−1
F2
11110010
1101011101
0
1
1101011101
0
−1
F3
11110011
1101011111
0
−1
1101011111
0
1
F4
11110100
1101001001
0
1
1101001001
0
−1
F5
11110101
1101001011
0
−1
1101001011
0
1
F6
11110110
1101001110
0
−1
1101001110
0
1
F7
11110111
1101011010
0
−1
1101011010
0
1
F8
11111000
1111100101
2
−1
0111100101
−2
−1
F9
11111001
1111100111
2
1
0111100111
−2
1
FA
11111010
1111101101
2
1
0111101101
−2
1
FB
11111011
1111101111
2
−1
0111101111
−2
−1
FC
11111100
1111111001
2
1
0111111001
−2
1
FD
11111101
1111111011
2
−1
0111111011
−2
−1
FE
11111110
1111111110
2
−1
0111111110
−2
−1
FF
11111111
1111101010
2
−1
0111101010
−2
−1
77
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F（規定） ビットシフトの測定法
試験テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。
テープは，システムの動作に支障がないように記録されているものを用いる。
F.1 読取り装置 読取り装置は，次による。
附属書Gによって測定するときに，トラックの直線性が3μmの範囲内に保持されている磁気テープ装
置によって読み取らなければならない。
− 読取りヘッド
ギャップ長
：0.20μm±0.05μm
ヘッドギャップの角度 ：正アジマスのヘッドのギャップは，スキャナ軸に対して＋20°00'±12'とす
る。
：負アジマスのヘッドのギャップは，スキャナ軸に対して−20°00'±12'とす
る。
− ヘッドとテープの接触と読取りチャネル 信号を読み込む期間（F.2参照）のヘッドとテープとの接
触の安定性は，ヘッド，回転トランス，前置増幅器，波形等化器の総合周波数応答特性を含めて，10dB
以上の信号対雑音比を与えるのに十分でなくてはならない。
F.2 測定方法 ビットシフトは，等化器出力の再生電圧波形をディジタル信号処理をして計測する。信号
捕そく（捉）期間は，マージンゾーン1（15.1参照）の最初のビットで始まり，メインデータゾーンの25 000
チャネルビット以上を読み取り終了する。
信号処理のアルゴリズムは，次の手順で行う。
1) メインデータゾーン1及びプリアンブルゾーンのディジタル化波形をタイミング抽出アルゴリズム
（第1次フーリエ変換）に入力する。アルゴリズムは，これらの基準は，ステップ2)〜4)を実行した
とき，4)の誤り率を達成するに十分な正確さがなければならない。
2) 信号捕そく期間中は，同一の周波数及び位相で基準タイムを発生する。この基準タイムは，メインデ
ータゾーンの再生チャネルビット信号のビット間隔の中心で定義する。
3) メインデータゾーンの各捕そくビット周期の中心で2%以内の精度で再生電圧を測定する。
4) メインデータゾーンの各捕そくビット周期について，ビット誤り率000
1
1未満が得られる検出方法を用
いて，試験テープ上のビットセルの状態を推測する。ヘッド走行方向に磁化した各ビットセルは，デ
ータ値D＝＋1とする。ヘッド走行方向と反対に磁化したビットセルは，データ値D＝−1とする。
5) 各ビットセルに関して，4次元のベクトルを作る。それらの要素は，1，2，3，4，と番号を付ける。
最初の要素のD1は直前のビットセルのデータ値Dとする。2番目の要素のD2は，現在のビットセ
ルのデータ値Dとする。3番目の要素のD3は，現在のビットセルのデータ値Dとする。4番目の要素
のD4は，その次のビットセルのデータ値Dとする。各々1番目，2番目のD1，Dは，その前の2ビッ
トセルのデータ値Dとする。
ベクトルは，16個の取り得るベクトル値の一つであるベクトル値iをもつ。
6) 16ベクトル値の各ベクトルは，ベクトル値iをもつすべてのビットセルについて3)によって測定した
78
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
再生電圧の平均Viを算出する。
7) ベクトル値は，16項のボルテラ係数を算出するために平均電圧及びデータ値の対で配置し，次によっ
て定義する。
Vi＝A0000
（d. c成分）
＋A0100 D2＋A0010 D3
（信号成分）
＋A1000 D1＋A0001 D4
（線形ISI成分）
＋A1100 D1 D2＋A0110 D2 D3＋A0011 D3 D4
（非線形ISI成分）
＋A1010 D1 D3＋A0101 D2 D4＋A1001 D1 D4
（高次非線形ISI成分）
＋A1101 D1 D2 D4＋A1011 D1 D3 D4＋A1111 D1 D2 D3
D4
（高次非線形ISI成分）
＋A1110 D1 D2 D3＋A0111 D2 D3 D4
（ビットシフトに相当する非線形ISI成分）
8) ボルテラ係数A0000からA1111は，7)の16連立方程式の解によって得る。
9) ビットシフトに相当する非線形ビット間干渉を示すボルテラ係数は，A1110及びA0111となる。
参考 この方法の理論的根拠は，Newby, P. and Wood, R. 1986の文献に記述されている。
“The effects of Nonlinear on Class IV Partial Response”, IEEE Transactions on Magnetics, Volume
MAG-22, Number 5, September 1986, page 1203
この方法の応用は，William, C. H., 1990の文献に記述されている。
“The Measurement and Classification of Impairment for DVTR Transports”, 8th Conference on Video,
Audio and Data Recording, IEEE Conference Publication, No.319, page 67
79
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G（規定） トラックエッジの直線性の測定法
G.1 測定条件 試験片は，長手方向に0.05N〜0.11Nの張力を加える。
G.2 測定方法 記録トラックのエッジ上に，理想テープ中心線（13.8参照）を中心とし，テープ基準縁に
対し角度α＝6°22'39.6″傾いた21.87mm×4μmの長方形の枠を設定する。
附属書G図1 トラックエッジの直線性
G.3 要求事項 トラックエッジは，枠の短い辺にだけ交差する。
80
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（参考） 識別孔
この附属書（参考）は，識別孔の組合せについて記述するものであり，規定の一部ではない。
この規格で規定した以外のテープの種類を識別するカートリッジケースの識別孔の組合せは，附属書H
表1による。
附属書H表1 識別孔
識別孔
1234
テープ厚さ
μm
テープの種類
トラックの幅
μm
記録済みテープ フォーマット
0000
13μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
無
DDS
0001
13μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
有
DDS
0010
クリーニングテープ
0011
13μm
バリウムフェライトテープ
20.4μm
有
DAT
0100
9μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
無
DDS
0101
9μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
有
DDS
0110
確保
0111
9μm
バリウムフェライトテープ
20.4μm
有
DAT
1000
6.9μm
メタルテープ (MP＋)
9.1μm
無
DDS-2
1001
確保
1010
6.9μm
メタルテープ (MP＋＋)
9.1μm
無
DDS-3
1011
確保
1100
確保
DDS-4
1101
確保
1110
確保
1111
確保
1＝識別孔が開いた状態
0＝識別孔が閉じた状態
附属書H表1の最右欄の意味は，次による。
DDS
：JIS X 6127で規定した記録フォーマット，又は，ISO/IEC 11557で規定したDDS-DCフォー
マット
DDS-2 ：JIS X 6129で規定した記録フォーマット
DDS-3 ：この規格で規定した記録フォーマット
DDS-4 ：将来の記録フォーマット
DAT
：IEC 61119-1で規定した記録フォーマット
81
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考） 前ふたの開放方法
この附属書（参考）は，前ふたの開放方法について記述するものであり，規定の一部ではない。
J.1 附属書J図1に示すケース底面の一辺の寸法α＝2mmの二つの正方形領域に，前ふたを開けるための
力を加える。
J.2 開放方法の一例を次に示す。カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，磁気テープ装置の二つの
ピンの端部が附属書J図1に示す二つの正方形領域に当たり，附属書J図2に示すように，カートリッジ
をさらに押し上げることによって，前ふたが完全に開く（附属書J図3）。
附属書J図1 ケースの底面
附属書J図2 磁気テープ装置への
装着する中間位置
附属書J図3
磁気テープ装置への
装着する最終位置
82
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（参考） 輸送条件
この附属書（参考）は，推奨する輸送条件の参考情報を記述するものであり，規定の一部ではない。
K.1 環境条件 カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。
温度
：−40℃〜45℃
相対湿度 ：5%〜80%
湿球温度 ：26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
K.2 カートリッジの輸送条件 カートリッジの輸送は，次による。
K.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策を取ること
が望ましい。
a) カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。
d) カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵挨）及び水の浸入防止が十分可能な
構造とする。
e) カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。
f)
カートリッジの収納箱内は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。
K.2.2 極端な温度及び湿度
a) 温度及び湿度の急激な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。
b) 輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。
K.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による
信号破壊の危険性を最小限にするため，80mm以上とする。
83
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考） 記録時再生 (RAW)
この附属書（参考）は，記録時再生 (RAW) について記述するものであり，規定の一部ではない。
記録時再生 (RAW) は，フレームを書き込んだ後に，それが正しく書き込まれたかどうかを調べて，正
しく書き込まれていないときは，再度書き込むために，直ちに，そのフレームを読み取ることである。RAW
は，フレーム単位で行う。RAWを行うときは，テープのデータ領域だけで行うこととし，アンブルフレー
ムで行ってはならない。RAWを行うときは，他のフレームに適用したか否かにかかわらず，個々のフレー
ムごとに適用するかどうかを決めてよい。RAWチェックで，フレームが正しく書かれていないと識別する
と，テープに沿ってその先に再書込みする。再書込みするフレームが，元のフレームを重ね書きすること
はない。
RAWチェックの第一の目的は，テープの欠陥によって発生する多量の誤りを含むフレームの検出である。
したがって，すべてのチャネルビットが正しく読めなくても必ずしも再記録を行う必要はない。データ交
換の信頼性は，記録品質及びデータデコード品質だけに十分な余裕をもつことが最小の要求事項である。
フレームの品質を検査する方法の例としては，ミッシングパルスの長さ，レベル及びその分布，C1符号
又はC2符号によって検出された欠陥の数を数えること，書込みと読取りのチェックサムを比較すること，
書込み及び読取りデータの比較をサンプル期間又は常時行うことなどである。
フレームを再書込みするときは，テープ上に複数の同じフレームが存在する可能性がある。それに引き
続く読取りによって，フレームのデータが複数の部分から読み取られた場合は，前に読み取ったフレーム
のデータは，書込みに失敗の可能性があるので，最後に読み取ったデータを使用することを推奨する。
84
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書M（参考） 基本グループ番号0の内容の例
この附属書（参考）は，基本グループ番号0の内容の例を記述するものであり，規定の一部ではない。
基本グループ番号0の内容の例を附属書M図1に示す。
バイト位置1〜400のすべてのエントリの余剰部分には， (00) を記録し，残りのフレームには (00) を
埋める。
バイト位置
フィールド名
内容
1〜128
製造業者名
パーティションを書いた又は
初期化したドライブの製造業者名
129〜160
モデル番号
パーティションを書いた又は
初期化したドライブのモデル番号又は識別
番号
161〜192
シリアル番号
ドライブに割り当てた識別番号
193〜224
改定番号
ドライブ部品の改定番号
193〜200 サブアセンブリ 1
201〜208 サブアセンブリ 2
209〜216 サブアセンブリ 3
217〜224 サブアセンブリ 4
225〜256
ホストインタフェース
タイプ及びアドレス
ホストインタフェースのタイプ（例えば，
SCSI及び接続アドレス）
225〜240 ホストインタフェースタイプ
241〜256 アドレス
257〜272
日付及び時間
YYMMDDHHMMSS
パーティションを初期化した日付及び時間
257〜258 YY
259〜260 MM
261〜262 DD
263〜264 HH
265〜266 MM
267〜268 SS
年 (1980＋YY)
月
日
時
分
秒
273〜400
テープラベル又は識別子 パーティション内容の表示
401〜17 468 確保
すべてのバイトを0に設定
17 469〜384 296 製造業者用データ
規定しない
附属書M図1 基本グループ番号0の例
85
X 6130 : 1999 (ISO/IEC 15521 : 1998)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
磁気テープJIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
大 石 完 一
パルステック工業株式会社
（幹事）
富 田 正 典
日本システムインテグレーション株式会社
（幹事）
徳 永 賢 次
イメーション株式会社
平 川 卓
富士写真フイルム株式会社
村 上 恒 夫
日本システムハウス株式会社
荒 木 学
日本ユニシス株式会社
樋 口 重 光
株式会社日立製作所
安 藤 晴 夫
日立マクセル株式会社
竹 内 正
株式会社トリム・アソシエイツ
船 越 正 次
TDK株式会社
金 子 悟
富士通株式会社
堀 川 憲 一
ソニー株式会社
藤 原 圭 介
ソニー株式会社
川 田 道 孝
日本電気株式会社
岸 野 忠 信
財団法人日本規格協会
永 松 荘 一
通商産業省機械情報産業局
兼 松 明 男
工業技術院標準部
（オブザーバ）
橋 本 繁 晴
財団法人日本規格協会
（オブザーバ）
中 島 敏 明
財団法人日本電子部品信頼性センター
（事務局）
長谷川 久 子
社団法人日本電子工業振興協会