X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS X 6129-1993は改正され，この規格に置き換えられる。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
JIS X 6129には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） プリズムの光透過率の測定法
附属書B（参考） 識別孔
附属書C（参考） 前ふたの開放方法
附属書D（規定） テープの光透過率の測定法
附属書E（規定） 信号対雑音比 (S/N) 特性の測定法
附属書F（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件）
附属書G（規定） 8ビットバイトから10チャネルビットパターンへの変換
附属書H（規定） ビットシフトの測定法
附属書J（参考） 輸送条件
附属書K（規定） トラックエッジの直線性の測定法
附属書L（参考） 記録時再生 (RAW)
附属書M（参考） 基本グループ番号0の内容の例
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性 ··························································································································· 1
2.1 カートリッジ ················································································································ 1
2.2 書込み装置 ··················································································································· 1
2.3 読取り装置 ··················································································································· 2
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 用語の定義 ····················································································································· 2
4.1 絶対フレーム番号 ·········································································································· 2
4.2 交流消去 ······················································································································ 2
4.3 アクセスポイント ·········································································································· 2
4.4 アルゴリズム ················································································································ 2
4.5 エリアID ····················································································································· 2
4.6 ATF ····························································································································· 2
4.7 平均信号振幅 ················································································································ 2
4.8 アジマス ······················································································································ 3
4.9 裏面 ···························································································································· 3
4.10 バイト ························································································································ 3
4.11 カートリッジ ··············································································································· 3
4.12 チャネルビット ············································································································ 3
4.13 コードワード ··············································································································· 3
4.14 データフォーマット ······································································································ 3
4.15 EWP ·························································································································· 3
4.16 EOD ··························································································································· 3
4.17 エンティティ ··············································································································· 3
4.18 誤り訂正符号 ··············································································································· 3
4.19 磁束反転位置 ··············································································································· 3
4.20 磁束反転間隔 ··············································································································· 3
4.21 フレーム ····················································································································· 3
4.22 ハウスキーピングフレーム ····························································································· 3
4.23 LBOT ························································································································· 3
4.24 磁気テープ ·················································································································· 3
4.25 信号振幅基準テープ ······································································································ 3
4.26 標準テープ ·················································································································· 3
4.27 最適印加磁界 ··············································································································· 3
4.28 パーティション境界 ······································································································ 3
4.29 PBOT ························································································································· 3
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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4.30 PEOT ························································································································· 3
4.31 記録密度 ····················································································································· 3
4.32 記録条件 ····················································································································· 3
4.33 圧縮処理 ····················································································································· 3
4.34 圧縮データ ·················································································································· 3
4.35 圧縮レコード ··············································································································· 3
4.36 圧縮レコード列 ············································································································ 3
4.37 レコード ····················································································································· 4
4.38 基準磁界 ····················································································································· 4
4.39 復元処理 ····················································································································· 4
4.40 信号振幅副基準テープ ··································································································· 4
4.41 副基準テープ ··············································································································· 4
4.42 セパレータマーク ········································································································· 4
4.43 基準信号振幅 ··············································································································· 4
4.44 テープ基準縁 ··············································································································· 4
4.45 試験記録電流 ··············································································································· 4
4.46 トラック ····················································································································· 4
4.47 未圧縮データ ··············································································································· 4
4.48 未圧縮レコード ············································································································ 4
4.49 VEOT ························································································································· 4
5. 環境条件及び安全性 ········································································································· 4
5.1 試験環境条件 ················································································································ 4
5.2 使用環境条件 ················································································································ 4
5.3 保存環境条件 ················································································································ 5
5.4 輸送 ···························································································································· 5
5.5 安全性 ························································································································· 5
5.6 燃焼性 ························································································································· 5
6 ケースの寸法及び機械的特性 ······························································································ 5
6.1 概要 ···························································································································· 5
6.2 全体の寸法 ··················································································································· 6
6.3 装着用握り ··················································································································· 6
6.4 保持領域 ······················································································································ 6
6.5 前ふたの切欠き ············································································································· 6
6.6 前ふたの寸法 ················································································································ 6
6.7 テープの始端及び終端の光学的検出 ··················································································· 7
6.8 底面 ···························································································································· 7
6.8.1 スライダのロック機構 ·································································································· 7
6.8.2 スライダ受け孔 ··········································································································· 8
6.8.3 識別孔，書込み禁止孔及び位置決め補助孔 ······································································· 8
6.8.4 位置決め孔 ················································································································· 9
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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6.8.5 テープガイド可動空間 ·································································································· 9
6.8.6 ハブ受け孔 ··············································································································· 10
6.8.7 下ハーフの内部構造 ··································································································· 10
6.8.8 光通過経路 ··············································································································· 10
6.8.9 支持領域 ·················································································································· 10
6.8.10 位置決め領域 ··········································································································· 11
6.8.11 支持領域，位置決め領域及び基準面Zの関係 ································································· 11
6.9 ハブ ·························································································································· 11
6.10 リーダテープ及びトレーラテープ ·················································································· 11
6.11 ハブと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域 ································································ 11
6.12 前ふたの開放 ············································································································· 11
6.13 ハブのロック機構の解除 ······························································································ 12
6.14 ラベル領域 ················································································································ 12
6.15 オートローダからの要求事項 ························································································ 12
7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法 ········································································· 24
7.1 材料 ·························································································································· 24
7.2 テープの長さ ·············································································································· 24
7.2.1 テープの長さ ············································································································ 24
7.2.2 リーダテープ及びトレーラテープの長さ ········································································ 24
7.2.3 スプライシングテープの長さ ······················································································· 24
7.3 テープの幅 ················································································································· 24
7.3.1磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 ···························································· 24
7.3.2 スプライシングテープの幅及び位置 ·············································································· 24
7.4 連続性 ······················································································································· 24
7.5 テープの厚さ ·············································································································· 24
7.5.1 磁気テープの厚さ ······································································································ 24
7.5.2 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ ········································································ 24
7.5.3 スプライシングテープの厚さ ······················································································· 24
7.6 長手方向の湾曲 ··········································································································· 24
7.7 カッピング ················································································································· 24
7.8 塗布面の接着強度 ········································································································ 24
7.9 層間の粘着性 ·············································································································· 25
7.10 引張強度 ··················································································································· 25
7.10.1 破断強度 ················································································································· 25
7.10.2 降伏強度 ················································································································ 258
7.11 残留伸び ··················································································································· 25
7.12 剛性 ························································································································· 25
7.13 塗布面の電気抵抗 ······································································································· 26
714 光透過率 ···················································································································· 26
7.15 媒体識別システム（MRS） ··························································································· 26
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8. 磁気的特性 ··················································································································· 27
8.1 最適印加磁界 ·············································································································· 28
8.2 平均信号振幅 ·············································································································· 28
8.3 分解能 ······················································································································· 28
8.4 重ね書き ···················································································································· 28
8.4.1 記録密度750.0 ftpmm及び記録密度2 999.9 ftpmm ····························································· 28
8.4.2 記録密度83.3 ftpmm及び記録密度1 000.0 ftpmm······························································· 28
8.5 消去特性 ···················································································································· 28
8.6テープの品質 ················································································································· 28
8.6.1 ミッシングパルス ······································································································ 28
8.6.2 ミッシングパルスゾーン ····························································································· 28
8.7 信号対雑音比（S/N）特性 ······························································································ 29
9. フォーマット ················································································································ 29
9.1 概要 ·························································································································· 29
9.2 基本グループ ·············································································································· 29
9.2.1 エンティティ ············································································································ 30
9.2.2 グループ情報テーブル ································································································ 31
9.2.3 ブロックアクセステーブル ·························································································· 32
9.3 サブグループ ·············································································································· 35
9.3.1 G1サブグループ ········································································································ 35
9.3.2 G2サブグループ ········································································································ 35
9.3.3 G3サブグループ ········································································································ 36
9.3.4 G4サブグループ ········································································································ 37
9.3.5 メインデータブロック ································································································ 41
9.4 サブデータ領域 ··········································································································· 42
9.4.1 パックアイテム番号1 ································································································· 43
9.4.2 パックアイテム番号2 ································································································· 43
9.4.3 パックアイテム番号3 ································································································· 43
9.4.4 パックアイテム番号4 ································································································· 44
9.4.5 パックアイテム番号5 ································································································· 45
9.4.6 パックアイテム番号6 ································································································· 46
9.4.7 パックアイテム番号7 ································································································· 46
9.4.8 パックアイテム番号8 ································································································· 47
9.4.9 サブデータブロック ··································································································· 47
10. 記録方式 ···················································································································· 50
10.1 記録密度 ··················································································································· 50
10.2 長周期平均ビットセル長 ······························································································ 50
10.3 短周期平均ビットセル長 ······························································································ 50
10.4 短周期平均ビットセル長の変動率 ·················································································· 50
10.5 ビットシフト ············································································································· 50
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
10.6 情報交換時の再生信号振幅 ··························································································· 50
10.7 最大の記録レベル ······································································································· 51
11. トラック ···················································································································· 51
11.1 トラックの構成 ·········································································································· 51
11.2 平均トラック間隔 ······································································································· 51
11.3 トラック間隔の変化 ···································································································· 51
11.4 トラック幅 ················································································································ 51
11.5 トラック角 ················································································································ 51
11.6 トラックエッジの直線性 ······························································································ 52
11.7 トラック長 ················································································································ 52
11.8 理想テープ中心線 ······································································································· 52
11.9 アジマス角 ················································································································ 52
12. テープ上へのブロックの記録 ·························································································· 52
12.1 記録メインデータブロック ··························································································· 52
12.2 記録サブデータブロック ······························································································ 52
12.3 マージンブロック，プリアンブルブロック及びポストアンブロック······································ 52
12.4 スペーサブロック ······································································································· 52
13. トラックのフォーマット································································································ 52
13.1 トラックの容量 ·········································································································· 52
13.2 トラックに位置精度 ···································································································· 53
13.3 トラッキング法 ·········································································································· 53
14. シングルデータスペーステープの構成 ·············································································· 56
14.1 デバイス領域 ············································································································· 56
14.2 リファレンス領域 ······································································································· 56
14.3 ガードバンド1 ··········································································································· 57
14.4 システム領域 ············································································································· 57
14.4.1 システムプリアンブル ······························································································· 57
14.4.2 システムログ ··········································································································· 57
14.4.3 システムポストアンブル ···························································································· 57
14.4.4 ガードバンド2 ········································································································ 57
14.4.5 ベンダグループプリアンブル ······················································································ 57
14.5 データ領域 ················································································································ 57
14.5.1 ベンダグループ ········································································································ 57
14.5.2 記録データグループ ·································································································· 57
14.5.3 ECC3 ····················································································································· 58
14.5.4 多重記録 ················································································································· 58
14.5.5 再記録フレーム ········································································································ 59
14.5.6 追記録及び重ね書き ·································································································· 59
14.6 EOD領域 ·················································································································· 60
14.7 ポストEOD領域 ········································································································ 60
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)目次
(6)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
14.8 アーリーワーニングポイント（EWP） ············································································ 60
14.9 初期化 ······················································································································ 61
15. パーティションテープの構成 ·························································································· 61
15.1 テープ上の配置 ·········································································································· 62
15.1.1 デバイス領域 ··········································································································· 62
15.1.2 パーティション1 ····································································································· 62
15.1.3 パーティション0 ····································································································· 63
15.2 エリアID ·················································································································· 63
15.3 システム領域でのパックアイテム番号3及びパックアイテム番号4 ······································ 63
15.4空のパーティション ······································································································ 63
15.4.1 空のパーティション1································································································ 63
15.4.2 空のパーティション0································································································ 64
16. ハウスキーピングフレーム····························································································· 64
16.1 アンブルフレーム ······································································································· 64
16.2 システムログフレーム ································································································· 64
16.3 テープ管理フレーム ···································································································· 64
附属書A（規定） プリズムの光透過率の測定法 ······································································ 65
附属書B（参考） 識別孔···································································································· 67
附属書C（参考） 前ふたの開放方法 ····················································································· 68
附属書D（規定） テープの光透過率の測定法········································································· 69
附属書E（規定） 信号対雑音比（S/N）特性の測定法 ······························································· 71
附属書F（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件） ······························· 72
附属書G（規定） 8ビットバイトから10チャンネルビットパターンへの変換 ······························ 73
附属書H（規定） ビットシフトの測定法··············································································· 79
附属書J（参考） 輸送条件 ································································································· 81
附属書K（規定） トラックエッジの直線性の測定法 ································································ 82
附属書L（参考） 記録時再生（RAW） ················································································· 83
附属書M（参考） 基本グループ番号0内容の例 ····································································· 84
解説 ································································································································· 85
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
X 6129 : 1997
(ISO/IEC 13923 : 1996)
3.81 mm幅，ヘリカル走査記録情報
交換用磁気テープカートリッジ，
DDS−2様式，テープ長120m
3.81 mm wide magnetic tape cartridge for information interchange
−Helical scan recording−DDS-2 format using 120 m length tapes
序文 JIS X 6129-1997は，日本工業規格制定後，ISO/IEC JTC1の規定によるFast-track手続きによって，
ISO/IEC 13923 : 1996として制定された。
ISO/IEC 13923 : 1996は，日本工業規格制定後，ISO/IECの審議を経て制定されたもので，JIS X 6129-1993
と一部に相違が生じている。今回の改正は，ISO/IECの審議結果を反映させたISO/IEC 13923 : 1996,
Information technology−3.81 mm wide magnetic tape cartridge for information interchange−Helical scan
recording−DDS-2 format using120 m length tapeと技術的内容及び規格票の様式を一致させるために改正し
た日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子計算機，関連周辺端末機器などの機器及びシステム間で情報交換に用い
る3.81mm幅，ヘリカル走査記録，DDS-2様式，磁気テープカートリッジ（以下，カートリッジという。）
の構造，寸法，物理的特性，機械的特性，電気的特性，磁気的特性及び情報の記録様式について規定する。
この規格は，JIS X 6127で規定したDDS様式及びISO/IEC 11557で規定したDDS−DC様式と比較して
高密度のトラックの様式を規定する。この規格は，JIS X 0601及び情報交換当事者間で合意した情報交換
用符号を用いることでシステム相互の情報交換に適用する。
この規格は，圧縮アルゴリズムの規定を適用外とし，情報交換当事者間で，テープへの記録及びテープ
からの読み出しを用いる圧縮アルゴリズムについての合意の上使用する。
2. 適合性
2.1
カートリッジ カートリッジは，この規格のすべてを満たすとき，この規格に適合する。
データ圧縮に使用するアルゴリズムは，登録し，その登録番号をエンティティヘッダのバイト3に設定
しなければならない。
記録テープは，シングルデータスペーステープ又はパーティションテープとする。
2.2
書込み装置 書込み装置は，作成したテープ上の記録がすべてこの規格を満足し，追記録若しくは
重ね記録のいずれか一方が可能な場合，又は追記録及び重ね記録の両方が可能な場合，この規格に適合す
る。
適合性を表示する場合，次の機能の有無を明示する。
2
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 記録時再生によるチェック及び不良フレームの再記録。
− 基本グループの多重記録。
− ECC3（誤り訂正用C3符号）フレームの生成。
また，次の任意機能の有無を明示する。
− 登録したアルゴリズムの有無及びデータ圧縮の可否。
− アルゴリズムの登録番号。
2.3
読取り装置 読取り装置は，この規格によって作成したテープから，次の処理が可能な場合，この
規格に適合する。
− 再記録フレームを識別し，これらのフレームの一つだけからユーザデータ及びセパレータを取り出す。
− 基本グループの多重記録を識別し，これらのフレームの一つだけからユーザデータ及びセパレータを
取り出す。
− ECC3フレームの識別。ただし，ECC3の機能がない場合は，無視する。
− 書込み禁止孔が書込み可能な状態では，システムログを更新。
− 定義したアルゴリズムを用いて圧縮データを識別し，ホストが利用できる登録番号を取り出す。
− ホストが利用できる圧縮データの生成。
次の任意機能の有無を明示する
− ECC3を使用し，誤り訂正の可否。
− 復元用アルゴリズムの有無及び圧縮データの取出しの可否。
− 復元のためにアルゴリズムの登録番号を取り出す。
3. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。
JIS X 6127-1992 3.81mm幅，ヘリカル走査記録情報交換用磁気テープカートリッジ，DDS様式
備考 ISO/IEC 12247 : 1993, Information technology−3.81 mm wide magnetic tape cartridge for
information interchange−Helical scan recording−DDS format using 60 m and 90 m length
tapesがこの規格と一致している。
JIS K 7161-1994 プラスチック−引張特性の試験方法第1部：通則
備考 ISO/R 527-1 : 1993, Plastics−Determination of tensile properties−Part 1 : General principlesがこ
の規格と一致している。
ISO 1302 : 1992 Technical drawings−Method of indicating surface texture
ISO/IEC 11576 : 1994 Information technology−Procedure for the registration of algorithms for the lossless
compression of data
IEC 950 : 1994 Safety of information technology equipment including electrical business equipment
ISO/IEC 11557 : 1992 Information technology−3.81 mm wide magnetic tape cartridge for information
inter-change−Helical scan recording−DDS−DC format using 60 m and 90 m length tapes
IEC 1119-1 : 1992 Digital audio tape cassette system (DAT)−Part 1 : Dimensions and characteristics
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による
4.1
絶対フレーム番号 (Absolute Frame Number, AFN) フレームに付けた連続番号。
4.2
交流消去 (a. c. erase) 減衰する交流磁界を用いた消去。
3
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.3
アクセスポイント (Access Point) コードワードの復元用アルゴリズムを開始する点で，圧縮した
一連のレコードの始まりの位置。復元操作の対象となるデータは，アクセスポイント又は後の箇所から開
始してよい。
4.4
アルゴリズム (Algorithm) 論理的に表現したデータに変換する規則。
4.5
エリアID (Area ID) 磁気テープ領域の定義及びフレームの形式を記述する識別子。
4.6
ATF (Automatic Track Finding) トラックに記録した制御信号によって磁気テープのトラック位置
と磁気ヘッドとの相対位置の検出。
4.7
平均信号振幅 (Average Signal Amplitude) 規定の記録密度で記録した磁気テープ上のミッシングパ
ルスのない部分を長さ7.8mm以上にわたって測定した読取りヘッドの平均ピーク (P−P) 出力電圧。
4.8
アジマス (azimuth) 磁束反転とトラックの中心線に垂直な直線との角度。
4.9
裏面 (back surface) データの記録に使う磁性面の反対側のテープの面。
4.10 バイト (byte) 一単位として取り扱われるビット列。
4.11 カートリッジ (cartridge) 一組のハブに巻いた磁気テープを収納したケース。
4.12 チャネルビット (Channel Bit) 8ビットから10ビットに変換後のビット。
4.13 コードワード (Codeword) 圧縮アルゴリズムによって生成したワード。コードワードのビット数
は，可変であり，この規格では，規定しない。
4.14 データフォーマットID (Data Format ID) データフォーマットの識別子。
4.15 EWP (Early Warning Point) パーティションの境界又はPEOTに近付いたことを示す箇所。
4.16 EOD (End ofData) 最後のユーザデータを含むグループの終端。
4.17 エンティティ (Entity) 識別情報とそれに続く圧縮レコード列によって構成する記録データの集合。
4.18 誤り訂正符号 (Error Correcting Code) 誤りを自動訂正できるように設計された誤り訂正符号。
4.19 磁束反転位置 (flux transition position) テープ表面に垂直の方向に磁束密度が最大となる点。
4.20 磁束反転間隔 (flux transition spacing) 一つのトラックに沿って連続する磁束反転位置の長さ。
4.21 フレーム (Frame) 正のアジマスとこれに続く負のアジマスからなる一対のトラック。
4.22 ハウスキーピングフレーム (Housekeeping Frame) ユーザデータを含まないフレーム。
4.23 LBOT (Logical Beginning of Tape) テープ上でデータの記録開始位置。
4.24 磁気テープ (magnetic tape) 磁気記録によってデータを記録できる磁性表面層をもつテープ（以下，
テープという。）。
4.25 信号振幅基準テープ (Master Standard Amplitude Calibration Tape) 交流消去したテープ上に正アジ
マス，21μmのトラック幅，公称トラック間隔で標準信号振幅を記録し，信号振幅の校正の基準として用
いるテープ。
参考1. このテープは，83.3ftpmm，333.3ftpmm，500.0ftpmm，1 000.0ftpmm及び1 499.9ftpmmの信号
が記録されている。
2. このテープは，財団法人日本電子部品信頼性センター (RCJ) によって管理されている。
4.26 標準テープ (Master Standard Reference Tape) 基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書き及び信号対雑
音比の標準として用い，その特性値を日本工業標準調査会 (JISC) が規定するテープ。
参考 このテープは，財団法人日本電子部品信頼性センター (RCJ) によって管理されている。
4.27 最適印加磁界 (Optimum Recording Field) 記録密度2 999.9ftpmmで記録して，再生したとき，その
平均信号振幅が最大値を示す印加磁界。
4
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.28 パーティション境界 (Partition Boundary) パーティション1が終わりパーティション0が始まる磁
気テープの長さ方向に沿った点。
4.29 PBOT (Physical Beginning of Tape) テープ始端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.30 PEOT (Physical End of Tape) テープ終端での磁気テープとリーダテープとの接合箇所。
4.31 記録密度 (physical recording density) トラックの長さ1mm当たりに記録する磁束反転数 (ftpmm)。
4.32 記録条件 (pre-recording condition) 互換性維持のために許容する記録レベル。
4.33 圧縮処理 (processing) ホストからのデータを圧縮アルゴリズムによって，コードワードに変換す
る処理。
4.34 圧縮データ (processed data) 圧縮処理したコードワードの列。
4.35 圧縮レコード (Processed Record) 未圧縮レコードを圧縮処理することによって生成するレコード。
4.36 圧縮レコード列 (Processed Record Sequence) 8ビット単位の境界で始まり，次の8ビット単位の境
界で終わる一つ以上のコードワードの列。
4.37 レコード (record) 情報の単位として扱うデータ。
4.38 基準磁界 (Reference Recording Field) 標準テープの最適印加磁界。
4.39 復元処理 (reprocessing) コードワードを元のデータに復元する処理。
4.40 信号振幅副基準テープ (Secondary Standard Amplitude Calibration Tape) 信号振幅基準テープと同じ
種類の信号が記録され，そのテープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれとの偏差を明示したテープ。
供試テープの信号振幅と信号振幅基準テープのそれと比較するために用い，供試テープの実測値を補正す
ることによって，間接的に供試テープとの特性の比較を行うことを可能にするテープ。
参考 信号振幅副基準テープは，〒203 東京都東久留米市八幡町1-1-12 財団法人日本電子部品信頼
性センターが部品番号JCM 6129/IS CM 13923で2005年まで供給する。
4.41 副標準テープ (Secondary Standard Reference Tape) テープの基準磁界，信号振幅，分解能，重ね書
き及び信号対雑音比を標準テープのそれと比較するために用い，その特性値と標準テープの特性との偏差
を明示して，実測値の偏差を補正することによって，間接的に供試テープと標準テープとの特性の比較を
行うことを可能にするテープ。
参考 副標準テープは，〒203 東京都東久留米市八幡町1-1-12 財団法人日本電子部品信頼性センタ
ーが部品番号JRM 6129/IS RM 13923で2005年まで供給する。
4.42 セパレータマーク (Separator Mark) データの区切りに使用するユーザデータを含まないレコード。
4.43 標準信号振幅 (Standard Reference Amplitude) 信号振幅基準テープに記録した標準信号の平均信号
振幅。
4.44 テープ基準縁 (Tape Reference Edge) PEOTが右端となるようにテープの記録面から見たときのテ
ープの下端。
4.45 試験記録電流 (Test Recording Current) 標準テープに基準磁界を生じさせる記録電流。
4.46 トラック (track) 磁気信号を直列に記録するテープ上の斜めの領域。
4.47 未圧縮データ (unprocessed data) 圧縮処理をしていないデータの列。
4.48 未圧縮レコード (Unprocessed Record) バイト単位で構成する未圧縮データのレコード。
4.49 VEOT (Virtual End of Tape) 記録データの区分に用いるパーティション1の終端を定義した磁気テ
ープの長手方向の点。
5. 環境条件及び安全性
5
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.1
試験環境条件 試験環境条件は，規定がない限り次による。
温度
23℃±2℃
相対湿度
40%〜60%
試験前放置時間 24時間
5.2
使用環境条件 使用環境条件は，カートリッジの近傍の大気中で測定し，次による。
温度
5℃〜45℃
相対湿度
20%〜80%
湿球温度
26℃以下
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
カートリッジが保存時又は輸送時に使用環境条件を超えた場合は，使用環境条件以外の環境条件に放置
した時間と同等以上，又は最大24時間，使用環境条件に放置してから使用しなければならない。
備考 急激な温度変化は，避けなければならない。
5.3
保存環境条件 保存環境条件は，次による。
温度
5℃〜32℃
相対湿度
20%〜60%
湿球温度
26℃以下
周辺磁界は，カートリッジ面で4 000A/mを超えてはならない。
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
5.4
輸送 カートリッジの輸送条件及び輸送での損傷を最小限にするための参考情報は，附属書Jよる。
5.5
安全性 カートリッジ及びその構成部品は，IEC 950の要求を満足しなければならない。
5.6
燃焼性 カートリッジ及びその構成部品の材料は，マッチの炎などによって着火してもよいが，二
酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。
6. ケースの寸法及び機械的特性
6.1
概要 カートリッジのケースは，上ハーフ，下ハーフ，スライダ及び前ふた（蓋）からなり，具体
図は，次による。
図1 上側から見たカートリッジの外観
図2 下側から見たカートリッジの外観
図3 後側から見た書込み禁止孔の外観
図4 基準面X，基準面Y，基準面Z
図5 前ふたが閉じた状態の正面
図6 前ふたが閉じた状態の上面
図7 前ふたが閉じた状態の左側面
図8 前ふたが開いた状態の上面
図9 前ふたが開いた状態の左側面
図10 前ふた及びスライダが閉じた状態の底面
図11 前ふた及びスライダが開いた状態の底面
図12 上側から見た下ハーフ内面の見取図
図13 前ふた及びスライダが開いた状態の下ハーフ底面
図14 前ふた及びスライダが開いた状態の左側面
6
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図15 ハブの上面
図16 ハブの断面を含んだ側面
図17 ハブ及び上下ハーフと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域断面図
図18 完全に開いた状態の前ふた詳細図
図19及び図20 前ふた及びブロック機構の関係を示す詳細図
図21 上面のラベル領域
図22 背面のラベル領域
図23 カートリッジ下面両側の角部
寸法は，三つの直交する基準面X，基準面Y及び基準面Zに基づく（図4参照）。
基準面Xは，スライダを開いたとき，基準面Zに垂直で長円形及び円形の位置決めの孔の中心を通る面
とする（6.8.4及び図11参照）。
基準面Yは，基準面X及び基準面Yに垂直で位置決め孔の中心を通る面とする。
基準面Zは，スライダが作動する面とする（図7参照）。
6.2
全体の寸法（図6及び図7） 前ふたが閉じた状態のケース全体の寸法は，次による。
l1＝73.0mm±0.3mm
l2＝54.0mm±0.3mm
l3＝10.5mm±0.2mm
ケース後側の左右の縁の半径は，次による。
r1≦1.5mm
前ふたの縁の半径は，次による。
r2≦0.5mm
6.3
装着用握り（図6） カートリッジを磁気テープ装置に挿入し，位置決めするための上面の装着用握
りの位置及び寸法は，次による。
l4＝25.5mm±0.3mm
l5≧10mm
l6＝5.0mm±0.2mm
l7≧2.0mm
装置用握りの上面からの深さは，0.5mm
mm
mm
0.02.0
−+
とする。
6.4
保持領域（図6） カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときの保持領域は，図6の網掛け領域
とし，その位置及び寸法は，次による。
l8＝6.0mm±0.1mm
l9＝5.0mm±0.1mm
6.5
前ふたの切欠き（図5及び図8） 前ふたに二組の切欠きを設ける。外側の切欠きは，カートリッジ
を磁気テープ装置に挿入するときのスライダのロック機構を解除するために設け，その位置及び寸法は，
次による。
l10≦0.4mm
l11≧3.0mm
l12＝1.2mm±0.1mm
l13＝49.8mm±0.2mm
内側の切欠きは，カートリッジを磁気テープ装置に挿入するときにスライダを開けるために設け，その
7
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位置及び寸法は，次による。
l11≧3.0mm
l14≧0.9mm
l15＝7.5mm±0.1mm
l16＝36.00mm±0.15mm
6.6
前ふたの寸法（図6〜図8） 前ふたの寸法は，次による。
l17＝1.2mm±0.1mm
l18＝6.8mm±0.4mm
l19＝1.1mm±0.1mm
l20＝2.0mm±0.1mm
l21＝6.4mm±0.2mm
l22＝1.5mm±0.1mm
r3＝6.8mm±0.4mm
前ふたは，45°の面取りをし，その寸法は，次による。
l23＝1.5mm±0.1mm
図7に示すl241は，スライダ底面から上ハーフの上面までの高さとし，l25は，前ふたの高さとする。上
ハーフに垂直に1Nの力を加えたときの寸法は，次による。
l24＝10.5mm±0.2mm
l25≦l24
力を加えないときの寸法は，次による。
l24≦10.9mm
前ふたを開いたときの前ふたの縁から背面までの寸法は，次による（図8参照）。
l26＝55.5mm±0.3mm
6.7
テープの始端及び終端の光学的検出（図8，図9及び図12） テープの始端及び終端の光学的検出
用に，ケースの両側に一組の光通過窓を設ける（図18参照）。
光通過窓の位置及び寸法は，次による。
l27＝6.20mm±0.10mm
l28＝7.65mm±0.10mm
l29＝
mm
mm
mm
00
.0
20
.0
50
.1
−
+
l30＝3.9mm±0.1mm
l31＝1.8mm±0.1mm
l32＝7.0mm±0.2mm
l33≧2.5mm
l32は，基準面Xから窓の後縁までの寸法とし，l33は，この後縁から前縁までの寸法とする。
この窓の使用方法は，二通りある。一つは，カートリッジの両側にそれぞれに光源及び検出器を設け，
上側の窓から光を入射し，ケース内のプリズムで反射させて，テープを通過した光を，下側の窓で検出す
る。他方は，カートリッジを磁気テープ装置に装着するときに，カートリッジの中側に光源を挿入し，テ
ープを通過した光を下側の窓で検出する。
カートリッジに設けたプリズム（図8の断面A−A参照）の光透過率は，附属書Aによって測定したと
き，基準プリズムの50%以上とする。
8
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6.8
底面 前ふた及びスライダが閉じた状態の底面を図10に示し，前ふた及びスライダが開いた状態の
底面を図11に示す。
下ハーフの寸法 (l34)，スライダの寸法 (l35) 及び前ふたの寸法 (l36) は，次による。
l34＝73.0mm±0.3mm
l35≦l34
l36≦l34
6.8.1
スライダのロック機構（図10） スライダを閉じた状態，又は開いた状態にロックする機構を設
ける。
スライダには，ロックが外れた状態で，スプリングによって閉じる方向の力が加わる。この力は，2Nを
超えてはならない。
スライダには，2本の溝及びその端に開口部を設け，引っ掛けつめがこの開口部を通して突き出ること
によって，スライダを閉じた状態，又は開いた状態に保持する。図10の断面C−Cに引っ掛けつめの機構
例を示す。
溝は，基準面Zに平行で，前ふたの切欠きと一致しなければならない。スライダが閉じた状態での，ロ
ック機構の溝及び開口部の位置並びに寸法は，次による。
l37＝1.2mm±0.1mm
l38＝49.8mm±0.2mm
l39＝10.0mm±0.1mm
l40＝
mm
mm
mm
0.0
5.0
0.2
−+
l41≧3.0mm
l42≧1.5mm
l43＝0.8mm±0.1mm
l44＝
mm
mm
mm
1.0
5.0
8.0
−
+
λ≧45ﾟ
l45＝0.65mm±0.05mm
ここに，l39，l40，l43及びl44は，スライダが開いた状態の引っ掛けつめが突き出るための開口部の位置及
び寸法とする。
スライダが閉じた状態で，引っ掛けつめを基準面Zに垂直に0.65mm以上動かす力は，0.5N以下とする。
スライダを開いた状態に保持する力は，0.3N以上とする。
6.8.2
スライダ受け孔（図10） スライダには，図10の断面B−Bに示す二つの円形の受け孔を設け，
スライダが開いているとき，磁気テープ装置スピンドルがこの受け孔を介してハブに突き出る。受け孔の
直径は，次による。
d1＝10.0mm±0.2mm
d2≦12.0mm
6.8.3
識別孔，書込み禁止孔及び位置決め補助孔（図11） 識別孔，書込み禁止孔及び位置決め補助孔
は，下ハーフ底面の後側の縁に設ける。この縁及び孔の位置は，図11及び次による。
l46＝45.2mm±0.2mm
l47＝49.2mm±0.2mm
l48＝47.2mm±0.2mm
9
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6.8.3.1
識別孔（図10及び図11） 識別孔は，図10に示す(1)〜(4)の4個からなり，その位置及び寸法
は，図11及び次による。
d3＝2.5mm±0.1mm
l49＝1.0mm±0.1mm
l50＝56.0mm±0.3mm
l51＝4.0mm±0.1mm
l52＝1.0mm±0.1mm
l53≧3.0mm
4個の識別孔は，図11の断面F−Fに示す断面構造をもち，開閉の状態は，0.5Nの力を加えても変化し
てはならない。
この規格では，孔の開閉状態は，次による。
(1)の孔は，開く。(2)〜(4)の孔は，閉じる。
なお，(1)〜(4)の孔の使用方法は，附属書Bによる。
6.8.3.2
書込み禁止孔（図11） 書込み禁止孔の位置及び寸法は，次による。
d4＝2.5mm±0.1mm
l50＝56.0mm±0.3mm
l52＝1.0mm±0.1mm
l53≧3.0mm
書込み禁止孔が開いているときは，書込み禁止とし，書込み禁止孔が閉じているときは，書込み可能と
する。
書込み禁止孔は，図11の断面F−Fに示す識別孔と同じ断面構造とする。書込み禁止孔は，片方をプラ
グによって開閉できる構造とし，それぞれの状態は，最大0.5Nの力を加えても変化してはならない。
書込み禁止孔に可動機構を設けてもよいが，図3に示すように，開閉の状態が容易に判別できなければ
ならない。可動機構は，0.5Nの力を加えても開閉状態が変化してはならない。
6.8.3.3
位置決め補助孔（図11） 下ハーフの後縁に二つの位置決め補助孔を設け，磁気テープ装置内で，
カートリッジの位置決めに用いる。
一方の位置決め補助孔は，長円形とし，他方は，円形とする。断面は，図11の断面E−Eに示す。書込
み禁止孔の下側にある長円形の孔の位置及び寸法は，次による。
l54＝45.5mm±0.2mm
mm
mm
mm
l
0.0
1.0
55
5.3
−
+
=
mm
mm
mm
l
00
.0
05
.0
56
50
.2
−
+
=
他方の位置決め補助孔の位置及び寸法は，次による。
mm
mm
mm
d
00
.0
05
.0
5
50
.2
−
+
=
d6≧1.0mm
l57＝5.5mm±0.1mm
l58≧2.0mm
l59≧1.2mm
位置決め補助孔の縁は，いずれも0.2mm±0.1mmの面取りをする。
10
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6.8.4
位置決め孔（図11） 位置決め孔は，下ハーフの前縁にあって，磁気テープ装置内で，カートリ
ッジの位置決めに用いる二つの孔からなる。一方の位置決め孔は，長円形とし，他方は，円形とする。位
置決め孔の位置及び寸法は，図11の断面D−D及び次による
l60＝51.0mm±0.1mm
mm
mm
mm
l
00
.0
05
.0
61
80
.2
−
+
=
mm
mm
mm
l
0.0
1.0
62
5.3
−
+
=
l63≧3.0mm
mm
mm
mm
d
00
.0
05
.0
7
80
.2
−+
=
位置決め孔の上側の縁は，0.2mm±0.1mmの面取りをする。
6.8.5
テープガイド可動空間（図11） カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープガイドは，
テープを磁気テープ装置のヘッドの方へ引き出す。この可動空間の位置及び寸法は，次による（6.8.7.5参
照）。
l64≦3.1mm
l65≧5.6mm
l66≦11.0mm
mm
mm
mm
l
0.0
7.0
67
0.7
−
+
=
l68≧6.7mm
α＝45°±1°
l69≧47.9mm
mm
mm
mm
l
15
.0
00
.0
70
30
.3
−+
=
6.8.6
ハブ受け孔（図11） スライダが開いたときに，磁気テープ装置のスピンドルをハブに装着でき
るように，下ハーフに二つのハブ受け孔を設け，その位置及び寸法は，次による。
d8＝9.0mm±0.1mm
l71＝29.00mm±0.15mm
l72＝10.5mm±0.1mm
l73＝30.0mm±0.1mm
6.8.7
下ハーフの内部構造（図12） 下ハーフに，前ふたが閉じた状態で，ハブが回転しないロック機
構を設ける。ロック機構の解除については，6.13で規定するが，その構造については，規定しない。
6.8.7.1
テープの巻き径 ハブに巻いたテープの直径は，次による。
d9≦36.5mm
6.8.7.2
テープの巻き方 テープの巻き方は，テープの磁性面を外側にする。
6.8.7.3
テープの走行方向 テープの走行方向は，カードリッジの左側から右側を順方向とする（図1及
び図2参照）。
6.8.7.4
ガイドポスト テープが通る二つのガイドポストの軸は，基準面Zに垂直で，位置決め孔の中心
とする。ガイドポストの位置及び寸法は，位置決め孔の中心の位置及び寸法とする。
図12で示す角度ρの位置を始点とするテープ通路側の断面は，180°以上を円形とし，軸の直径及び角
度ρは，次による。
r4＝3.0mm±0.1mm
ρ＝45°±1°
他の断面については，規定しない。
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6.8.7.5
ケース内のテープの位置（図12−A） テープは，二つのガイドポストで，基準面Zに平行な二
つの面内を走行しなければならない。これらの面の基準面Zからの距離は，次による。
l74≧1.4mm
l75≦6.4mm
テープの中心線は，次による。
l76＝3.9mm
6.8.5で規定したテープガイドの可動空間の高さは，次による。
mm
mm
mm
l
0.0
6.0
77
0.8
−+
=
6.8.7.6
テープ走行領域 カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，テープは，カートリッジの外側
に引き出される。テープの走行時には，ガイドポストに接触してはならない。テープ走行領域は，テープ
が自由に走行できることとし，その領域は，次による。
l78＝5.5mm±0.1mm
l79＝56.5mm±0.3mm
l80＝8.0mm±0.2mm
6.8.8
光通過経路（図12） 6.7で規定した光学的検出用の光路を確保するためのケース内の光通過経路
の寸法は，次による。
l81≦1.5mm
l82≧5.0mm
6.8.9
支持領域（図13） カートリッジを磁気テープ装置に挿入するとき，図13の網掛けで示す三つの
支持領域A'，支持領域B'及び支持領域C'で支持して位置決めする。これらの位置及び寸法は，次による（6.4
参照）。
支持領域A'及び支持領域B'は，この規格で規定していない下ハーフの部品構造に依存するため，この規
格では規定しない。
支持領域C'は，次による。
l83＝1.0mm±0.1mm
l84＝49.0mm±0.3mm
6.8.10 位置決め領域（図13） 中空円形の位置決め領域A及び位置決め領域B並びに円形の位置決め領
域Cの三つの領域は，基準面Z上に設ける。
位置決め領域Aは，基準面X，基準面Y及び基準面Zの交点に設け，その内径は，d7（6.8.4及び図11
参照）とし，外径d10は，次による。
d10＝5.0mm±0.1mm
位置決め領域Bは，基準面X及び基準面Zが交わる線上で，位置決め領域Aの中心から距離l60に設け
（6.8.4及び図11参照），内側の寸法は，l61及びl62（6.8.4及び図11参照）とし，外径は，d10とする。
位置決め領域Cの直径は，d10とし，中心の位置は，次による。
l85＝42.0mm±0.3mm
l86＝25.5mm±0.3mm
6.8.11 支持領域，位置決め領域及び基準面Zの関係（図14） 支持領域A'は，位置決め領域Aの面から
0.1mm以内とする。
支持領域B'は，位置決め領域Bの面から0.1mm以内とする。
支持領域C'は，基準面Zに0.1mmの範囲で平行とし，支持領域C'の面と基準面Zからの距離は，次に
12
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よる。
l87＝1.10mm±0.05mm
6.9
ハブ（図15及び図16） ハブの寸法は，次による。
mm
mm
mm
d
00
.0
08
.0
11
60
.6
−+
=
mm
mm
mm
d
1.0
0.0
12
8.8
−+
=
d13＝15.00mm±0.05mm
β＝60°±1°
γ＝45°±1°
mm
mm
mm
l
0.0
1.0
88
5.2
−+
=
mm
mm
mm
l
00
.0
20
.0
89
60
.2
−+
=
直径d11及び直径d13の2個の円筒は，同軸で，中心のずれは，0.05mm以内とする。テープが巻かれた
ハブを回転させるのに必要なトルクは，0.000 2N･m以下とする。
6.10 リーダテープ及びトレーラテープ ハブに接続するリーダテープ及びトレーラテープのそれぞれの
部材に加わる力は，5N以下とし，ハブから外れてはならない。
6.11 ハブと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域（図17） ハブと磁気テープ装置スピンドルとの接
触領域は，図17に断面図を示し，次による。
1.0mm≦d15−d14≦1.2mm
l91−l90≦1.3mm
参考 磁気テープ装置スピンドルの頭は，基準面Zからの距離ldが7.65mm以下に位置するので，ハ
ブから突き出ることはない。
6.12 前ふたの開放（図18） 前ふたを開けると，前ふたの下側の縁が弧を描いて回転し，その半径は，
次による。
r5＝9.6mm±0.2mm
回転の中心は，l17及びl21とし，前ふたの最終位置，すなわち，完全に開放したときの位置は，次による。
l92＝10.9mm±0.2mm
l93＝0.3mm±0.1mm
l94＝6.3mm±0.2mm
前ふたを開けるのに必要な力は，r5の回転の中心から基準面Zに平行なl95の位置で測定したとき，1.2N
未満とする（附属書C参照）。寸法l95は，次による。
l95＝5.0mm±0.1mm
6.13 ハブのロック機構の解除（図19及び図20） 前ふたの回転位置によってハブを開閉するロック機構
と前ふたの関係は，次による。
前ふたを閉じた状態から（図19及び図20に示すように時計回り）回転させて開くとき，図19に示すよ
うに，前ふたの縁が次の位置になるまでにハブは，ロック状態にならなければならない。
l96＝7.0mm
l97＝7.5mm±0.2mm
図20に示すように，前ふたの縁が次の位置になるまでにハブは，完全な解除状態にならなければならな
い。
l98＝10.3mm
l99＝6.6mm±0.2mm
13
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6.14 ラベル領域（図21及び図22） ラベル領域は，ケースの上面及び背面に設け，その寸法は，次によ
る。
l100≦28.9mm
l101≧5.2mm
l102≦43.4mm
l103≦39.4mm
l104≦8.8mm
r6≧0.5mm
6.15 オートローダからの要求事項（図23） オートローダで使用するために，基準面Zと寸法l87とで形
成するチャネル状の溝部を確保する。この溝部の角部の形状及び寸法は，次による。
l87＝1.10mm±0.05mm
r7≦0.3mm又は面取り0.3mm以下
δ≦6°
図1 上側から見たカートリッジの外観
14
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図2 下側から見たカートリッジの外観
図3 後側から見た書込み禁止孔の外観
図4 基準面X，基準面Y及び基準面Z
15
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図5 前ふたが閉じた状態の正面
図6 前ふたが閉じた状態の上面
図7 前ふたが閉じた状態の左側面
16
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図8 前ふたが開いた状態の上面
図9 前ふたが開いた状態の左側面
17
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図10 前ふた及びスライダが閉じた状態の底面
18
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図11 前ふた及びスライダが開いた状態の底面
19
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図12 上面から見た下ハーフ内側の見取図
20
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図13 前ふた及びスライダが開いた状態の下ハーフ底面
図14 前ふた及びスライダが開いた状態の左側面
21
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図15 ハブの上面
図16 ハブの断面を含んだ側面
図17 ハブ及び上下ハーフと磁気テープ装置スピンドルとの接触領域断面図
22
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図18 完全に開いた状態の前ふた詳細図
図19 前ふた及びハブブロック機構の
関係を示す詳細図
図20 前ふた及びハブブロック機構の
関係を示す詳細図
23
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図21 上面のラベル領域
図22 背面のラベル領域
24
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図23 カートリッジ下面両面側の角部
7. テープの機械的特性，物理的特性及び寸法
7.1
材料 磁気テープは，ベース（芳香族ポリアミド又は相当品）上の片面に強固で柔軟性のあるバイ
ンダと適切な磁性材料を塗布したものとする。磁気テープの裏面は，磁性材又は非磁性材を塗布してもよ
い。
テープの始端には，巻取りハブとPBOTとの間にリーダテープを設け，終端には，PEOTとハブとの間
にトレーラテープを設ける。リーダテープ及びトレーラテープは，磁性材の塗布及び裏面の塗布がない半
透明の材料とする。
リーダテープ及びトレーラテープは，スプライシングテープによって磁気テープを接続する。スプライ
シングテープは，ポリエチレンテレフタレート又は相当品とし，片面には，アクリル系接着材などを塗布
25
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する。
7.2
テープの長さ
7.2.1
テープの長さ PBOTとPEOTとの間のテープの長さは，10m〜125mとする。
7.2.2
リーダテープ及びトレーラテープの長さ リーダテープ及びトレーラテープの長さは，60mm±
5mmとする。PBOTでの磁気テープとリーダテープの接続部，及びPEOTでの磁気テープとトレーラテー
プの接続部は，テープ基準縁に対して垂直度を90°±10°とする。
7.2.3
スプライシングテープの長さ スプライシングテープの長さは，リーダテープ及びトレーラテープ
上で6.0mm〜7.0mmとし，磁気テープ上で4.0mm〜10.0mmとする。
7.3
テープの幅
7.3.1
磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテープの幅 磁気テープ，リーダテープ及びトレーラテー
プの幅は，
mm
mm
mm
02
.0
00
.0
81
.3
−+
とする。テープ幅の測定は，テープに最大0.18Nの張力を加えて行う。
7.3.2
スプライシングテープの幅及び位置 スプライシングテープの上端及び下端は，リーダテープ，ト
レーラテープ及び磁気テープの上端又は下端から幅方向に0.60mm以内とし，それぞれの縁からはみ出し
てはならない。
7.4
連続性 テープは，PBOTとPEOTとの間に継ぎ目があってはならない。
7.5
テープの厚さ
7.5.1
磁気テープの厚さ 磁気テープの厚さは，
m
m
m
μ
μ
μ
8.0
0.0
9.6
−
+
とする。
7.5.2
リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは，11μm〜
17μmとする。
7.5.3
スプライシングテープの厚さ スプライシングテープの厚さは，27μm以下とする。
7.6
長手方向の湾曲 長手方向の湾曲は，曲率半径33m以上とする。試験方法は，次による。
長さ1mのテープを平面上に自然の状態で置く。1mの弦からの偏差を測定する。偏差は，3.8mm以下と
する。この偏差は，33mの曲率半径と一致する。
7.7
カッピング カッピングは，平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし，0.5mm以下とする。試
験方法は，次による。
テープを長さ1.0m±0.1mに切り取る。塗布面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以
上放置する。このテープの中央部分から長さ25mmの試験片を切り取る。この試験片を一端にして高さ
25mm以上，内径4.1mm±0.2mmの円筒内に立てる。この円筒を光学的コンパレータに立てて載せ，試験
片の両方の縁をコンパレータの十字線にそろえ，十字線から試験片の中心の表面までの距離を測定する。
7.8
塗布面の接着強度 塗布面の接着強度は，塗布面をテープのベース材料からはがす力とし，0.05N以
上とする。試験方法は，次による（図24参照）。
長さ約380mmのテープの試験片を採り，一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき線をベー
ス面に達するまで引く。
塗布面を下向きにして，両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。
試験片を180°折り曲げ，金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254mm/minで引っ張
る。
塗布面のいかなる部分でも最初にベースから塗布面がはがれたときの力を記録する。この力が0.05Nに
達する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は，別の種類の両面接着テープを使用する。
テープの裏面に塗布されている場合は，裏面について繰り返し，測定を行う。
26
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図24 塗布面の接着強度の測定法
7.9
層間の粘着性 層間の粘着性は，次の試験方法によって試験したとき，試験片に粘着及び塗布面の
はがれの兆候があってはならない。
直径36mmのガラス管の表面に，長さ1mの試験片の端を付ける。
1.1Nの張力でガラス管にテープを巻く。
巻かれた試験片を温度45℃±3℃，相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。
さらに，試験環境条件に24時間放置する。
試験片の自由端に0.1Nの力を加え，ゆっくりほどく。
7.10 引張強度 引張強度は，JIS K 7161の測定方法によって試験する。
磁気テープの試験片の長さは，200mmとし，リーダテープ及びトレーラテープの試験片の長さは，それ
ぞれ50mmとする。引張速度は，100mm/minとする。
7.10.1 破断強度 磁気テープの破断強度は，6.0N以上とする。
リーダテープ及びトレーラテープの破断強度は，5.0N以上とする。
7.10.2 降伏強度 降伏強度は，テープが3%伸びるのに要する力とし，4.5N以上とする。
7.11 残留伸び 残留伸びは，元のテープの長さの0.03%未満とする。試験方法は，次による。
0.05N未満の張力で，約1mの長さの試験片の初期の長さを測定する。
さらに，0.8Nの力を3分間加える。
加えた力を取り除き，3分後にテープ長を測定する。
7.12 剛性 テープの長手方向の剛性は，0.0007N･mm2〜0.0014N･mm2とする。試験方法は，次による。
長さ180mmのテープ試験片を間隔が100mmとなるように万能引張試験機に取り付けて速度5mm/min
で引っ張り，距離と力の関係をプロットする。0.5N〜1.5Nの範囲の曲線の傾斜を用いて，剛性 (EI) を次
の式によって算出する。
L
L
WT
F
E
δ
δ
＝
12
3
WT
I＝
L
L
FT
EI
δ
δ
12
2
＝
ここに，
δF： 力の変化 (N)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
T： テープ試験片の厚さの測定値 (mm)
W： テープ試験片の幅の測定値 (mm)
L
L
δ： テープ試験片の長さの変化を初期の長さで除した値
E： ヤングモジュラス (N/mm2)
7.13 塗布面の電気抵抗 テープの塗布面の電気抵抗は，次による。
裏面が塗布されていないテープ
：105Ω〜5×108Ω
裏面が塗布されているテープ
：105Ω〜5×1012Ω
裏面が塗布されているテープの裏面 ：9×108Ω未満
試験方法は，次による（図25参照）。
テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する。
24カラットの金めっきした半径がr＝10mmで粗さをN4（ISO 1302参照）で仕上げてある二つの半円の
電極に，記録面が接するように置く。これらの電極は，水平で，中心間の距離d＝3.81mmとなるように平
行に置く。
試験片の両端に0.25Nの力を加える。
電極に100V±10Vの直流電圧をかけて電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い，読み取った抵抗値を平均する。裏面が塗布され
ているテープの場合は，裏面に電極を当ててこの測定を行う。試験片を電極に置くとき，電極間には，試
験片以外の導電性のものがあってはならない。
備考 試験前に電極の表面を清掃する。
図25 塗布面の電気抵抗測定法
7.14 光透過率 テープの光透過率は，5%以下とし，リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は，60%
以上とする。測定方法は，附属書Dによる。
7.15 媒体識別システム (MRS) 媒体識別システムは，情報交換用のテープとして識別するために設け
る。PBOTのスプライシングテープは，全長，全幅にわたって透明及び不透明のしま模様を付けなければ
ならない（図26参照）。PEOTのスプライシングテープは，透明であっても，しま模様が付けられていて
もよい。
テープ基準縁に対する各しま模様の垂直度は，90°±10°とし，透明及び不透明のしまのテープ基準縁
に平行な方向の間隔は，1.50mm±0.20mmとする。
スプライシングテープの両端及びテープとリーダテープとの接合部で，透明及び不透明のしま模様の特
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定の位置が一致する必要はない。スプライシングテープの不透明部とリーダテープとを組み合わせた光透
過率は，5%以下とし，スプライシングテープの透明部とリーダテープとを組み合わせた光透過率は，60%
以上とする。測定方法は，附属書Dによる。
図26 PBOTのスプライシングテープ
8. 磁気的特性 磁気的特性の試験は，次による。
この試験を行うとき，出力信号又は残留信号の測定は，標準テープ，供試テープともに同じ装置の同じ
走行系（記録時再生をするか，記録時再生機能がない場合は，記録後の1回目再生時に読み取る。）を使用
する。記録時再生についての規定は，附属書Lによる。
磁気的特性の試験条件は，次による。
テープの状態
：記録密度83.3ftpmmの平均信号振幅の0.1%未満に交流消去。
テープとヘッドの
インタフェース
：この規格のテープとJIS X 6127の規定によるテープの厚さ及び剛性
の相違による影響をなくすための慣らし走行。
スキャナの直径
：
mm
mm
mm
05
.000
.0
00
.
30
+−
スキャナの回転速度
：2 000.0rpm±0.2rpm
テープ速度
：5.43mm/s±0.03mm/s
テープ張力
：スキャナ（ドラム）入口で0.09N±0.02N
試験トラックのアジマス
：正アジマス
書込みヘッドのギャップ長 ：0.25μm±0.03μm
記録密度
：83.3ftpmm, 500.0ftpmm, 750.0ftpmm, 1 000.0ftpmm, 1 499.9ftpmm及び
2999.9ftpmm（それぞれの試験で規定する。）
記録電流
：試験記録電流
記録波形
：方形波
読取りトラック幅
：6μm〜14μm
書込みトラック幅
：読取りトラック幅以上。ただし，18.1μm以下。
読取り出力
：基本周波数で測定
8.1
最適印加磁界 最適印加磁界は，基準磁界の84%〜119%とする。
基準磁界の特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
29
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8.2
平均信号振幅 記録密度2 999.9ftpmmの平均信号振幅は，標準テープの平均信号振幅の80%〜126%
とする。
記録密度83.3ftpmmの平均信号振幅は，標準テープの平均信号振幅の80%〜126%とする。
標準テープの信号振幅の特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
8.3
分解能 記録密度2 999.9ftpmmの平均信号振幅を7 500ftpmmの平均信号振幅で除した値とし，その
値は，標準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して84%〜119%とする。
記録密度1 000.0ftpmmの平均信号振幅を83.3ftpmmの平均信号振幅で除した値とし，その値は，標準テ
ープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して84%〜119%とする。
標準テープの分解能の特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
8.4
重ね書き 重ね書きは，低記録密度の信号を記録をした後に，高記録密度の信号を重ね書きし，残
留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。
標準テープの重ね書きの特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
8.4.1
記録密度750.0ftpmm及び記録密度2 999.9ftpmm
8.4.1.1
試験方法 交流消去したテープを用い，記録密度750.0ftpmmの信号を記録し，平均信号振幅を
測定する。
記録密度2 999.9ftpmmの信号を重ね書きし，残留した記録密度750.0ftpmmの信号の平均信号振幅を測
定する。副標準テープについて繰り返して測定する。
8.4.1.2
要求事項 記録密度750.0ftpmmの重ね書きは，次の比によって求めたとき，標準テープの119%
未満とする。
の信号の平均信号振幅
記録密度
の信号の平均信号振幅
記録密度
重ね書き後に残留する
750.0ftpmm
750.0ftpmm
8.4.2
記録密度83.3ftpmm及び記録密度1 000.0ftpmm
8.4.2.1
試験方法 記録密度83.3ftpmm及び1 000.0ftpmmでそれぞれ8.4.1.1を繰り返す。
8.4.2.2
要求事項 記録密度83.3ftpmmの重ね書きは，次の比によって求めたとき，標準テープの119%
未満とする。
の信号の平均信号振幅
記録密度
の信号の平均信号振幅
記録密度
重ね書き後に残留する
ftpmm
3.3
8
ftpmm
3.3
8
8.5
消去特性 消去特性は，次による。
試験記録電流で記録密度750.0ftpmmの信号を記録した後，テープの長手方向に1 98900A/mの均一な磁
界中を通過したとき，残留信号の信号振幅は，標準信号振幅の3%以下とする。
消去磁界は，ソレノイドの中央部の磁界のように，均一でなければならない。
また，測定はバンドパスフィルタを通し，少なくとも第3高調波まで行う。
8.6
テープの品質 テープの品質は，次による。
8.6.1
ミッシングパルス ミッシングパルスは，再生信号振幅の欠損であり，再生信号の出力電圧の0V
を基準としたピーク値 (0−P) が記録密度1 499.9ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の50%以下とする。
8.6.2
ミッシングパルスゾーン ミッシングパルスゾーンは，次による。
同一トラック内で5個連続した磁束反転又はトラックの長さ0.120mmにわたって連続してミッシングパ
ルスが発生したとき，この部分をミッシングパルスゾーンとする。それ以後，ミッシングパルスが続いて
発生するとき，次のミッシングパルスゾーンとする。
一つのミッシングパルスゾーンは，次のトラックにまたがってはならない。
30
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ミッシングパルスゾーンの発生頻度は，正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について7.2×104
の磁束反転当たり1個未満とする。
8.7
信号対雑音比 (S/N) 特性 信号対雑音比は，再生信号の平均信号振幅を雑音の平均信号振幅で除し，
デシベル (dB) で表す。
tape
tape
N
S
N
S
log
20
/
=
ここに，
S/N： 信号対雑音比 (dB)
Stape： 再生信号の平均信号振幅
Ntape： 雑音の平均信号振幅
S/Nは，附属書Eの測定法で測定したとき，標準テープのS/Nに比べて−2dB以上良くなければならな
い。
標準テープのS/Nの特性値は，副標準テープの校正値を用いて代えることができる。
9. フォーマット
9.1
概要 このフォーマットで扱うレコードは，データの最小集合である。レコードは，ホストから送
られ，磁気テープ装置によって処理し，記録され，また，磁気テープ装置によってテープ上から読み取ら
れ，ホストに送られるバイト単位のデータ列の最小集合である。ここでは，圧縮レコード及び未圧縮レコ
ードの2形式を扱う。
記録したテープは，圧縮レコード及び／又は未圧縮レコードで構成し，セパレータマークを含んでもよ
い。この規格では，圧縮レコードは，エンティティと呼ぶ論理単位で扱う。セパレータマークは，データ
の論理的区分を識別するために用いてもよい。
グループは，エンティティ，未圧縮レコード及びセパレータマークによって構成する。
それぞれのグループにあるインデックスは，グループの内容を示す。ランダム化，インタリーブ，ブロ
ック化，二つのリードソロモン誤り訂正符号の生成，チャネルビットへの変換の一連の処理は，記録する
前に各グループに対して行う。
それぞれのグループは，複数のトラックに記録する。ユーザデータ，セパレータマーク及び付随する情
報を記録する各トラックの部分をトラックのメインゾーンという。グループの内容，トラックの位置及び
その内容についての付加情報は，各トラックの二つのサブゾーンに記録する。この二つのサブゾーンは，
サブデータ領域を形成する。
9.〜16.にホストコンピュータから送られたデータの処理と誤り検出符号・誤り訂正符号の付加方法，テ
ープへの記録方式及びデータ割り付けについて規定する。このフォーマットで固有の様式が要求されると
き，データ配列の拡張は，データ処理の記述の中で定義する。
9.2
基本グループ 記録するデータは，126632バイトの基本グループに分ける。これらの基本グループ
は，0から始まる連続した番号によって識別する。これらの基本グループ内の各バイトは，1〜126632の番
号で識別する。
番号0の基本グループは，この規格では，規定しない。この基本グループのデータは，磁気テープ装置
（附属書M参照）によって生成し，ベンダグループ（14.5.1参照）として記録する。
ホストコンピュータから受けたデータ及びセパレータマークは，基本グループ番号0に続く基本グルー
プ番号1に始まる基本グループにグループ化する。これらの基本グループは，次による。
このフォーマットで固有の様式が要求されるとき，テープ配列の拡張は，データ処理の記述の中で定義
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
する。
図27 基本グループの構造
エンティティ及び／又は未圧縮レコードのデータは，図27に示すように，基本グループの左から右へ割
り付け，ブロックアクセステーブルは，右から左へ割り付ける。
グループ情報テーブルは，基本グループの最後の32バイトの領域に配置する。
参考 この規格では，セパレータ1及びセパレータ2の2種類のセパレータマークを規定している。
磁気テープ装置とホストコンピュータ間のインタフェースを定義する他の規格は，セパレータ
マークとしてファイルマーク及びセットマークを使用している。この場合，セパレータ1をフ
ァイルマークとし，セパレータ2をセットマークとすることを推奨する。
9.2.1
エンティティ
9.2.1.1 エンティティの内容 エンティティは，エンティティヘッダと圧縮レコード列によって構成する。
エンティティヘッダは，8バイトの長さとし，圧縮レコード列の前に配置する。
エンティティにあるすべての圧縮レコードは，同じ長さの未圧縮レコードに同一の圧縮アルゴリズムを
用いて生成する。
エンティティは，エンティティヘッダと圧縮レコード列の最初の8ビットが同じ基本グループに存在す
る場合，複数の基本グループにまたがってもよい。
エンティティが複数の基本グループにまたがる場合，各基本グループにある個々の部分は，パーシャル
エンティティと呼ぶ。パーシャルエンティティは，スタートパート，ミドルパート又はラストパートのい
ずれかとする（9.2.3.1.2〜9.2.3.1.4参照）。エンティティが複数の基本グループにまたがるスパンエンティ
ティの場合，ミドルパート及びラストパートのエンティティを集合した圧縮レコードは，最大でも一つと
する（一つの圧縮レコードの全体，又はその一部分にしかミドルパート及びラストパートには含めてはな
らない。）。
エンティティの圧縮レコード列は，情報交換用以外の圧縮レコードを含んでもよい。その場合，情報交
換用以外の圧縮レコードは，情報交換用の圧縮レコードの後に配置しなければならない。このようなエン
ティティを読み取るとき，システムは，情報交換用以外の圧縮レコードをスキップしなければならない。
このような情報交換用以外の圧縮レコードの数は，積算する必要がない。
参考 このような状況は，例えば，前に記録した圧縮レコード列の上に，重ね書きした結果発生する。
9.2.1.2
アクセスポイント エンティティは，最大一つのアクセスポイントを含めなければならない。ア
クセスポイントは，エンティティの最初の圧縮レコードの先頭に配置し，エンティティヘッダ（9.2.1.3参
照）のバイト番号3を0以外の値で示す。アクセスポイントは，それを含むエンティティの圧縮レコード
に有効とし，後に続くエンティティの圧縮レコードについても有効としてもよい。
アクセスポイントは，エンタイアエンティティ又はパーシャルエンティティのスタートパートに配置す
32
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る。基本グループの中に一つ以上のエンタイアエンティティが存在する場合は，最初のエンティティには，
アクセスポイントを配置しなければならない。基本グループの中にエンタイアエンティティがなく，パー
シャルエンティティのスタートパートがあるときは，そのスタートパートにアクセスポイントを配置しな
ければならない。
アクセスポイントは，最初のエンティティの最初の圧縮レコードの先頭に配置しなければならない。最
初のエンティティには，次に示す項に続かなければならない。
− LBOT
− セパレータマーク
− 未圧縮レコード
− 圧縮アルゴリズムの変化点
− 情報交換用以外の圧縮レコードを含むエンティティ
9.2.1.3
エンティティヘッダ エンティティヘッダの最初のバイトは，バイト番号1とし，最後のバイト
は，バイト番号8とする。圧縮レコード列は，エンティティヘッダの後に続くこととする。バイトのビッ
ト番号1は，最下位ビットとし，ビット番号8は，最上位ビットとする。エンティティヘッダは，次によ
る。
バイト番号1
ビット番号1〜4は，2進数でエンティティヘッダの長さ8バイトをバイト単位で示す。
ビット番号5〜8は，0に設定する。
バイト番号2
すべてのビットを0に設定する。
バイト番号3
2進数で定義し，その内容は，次による。
0のとき，エンティティには，アクセスポイントが存在しない。他の値のときは，
エンティティに，アクセスポイントが存在し，その値は，登録された圧縮アルゴリズ
ムの登録番号を示す (ISO/IEC 11576)。このフォーマットは，2〜254の範囲をもった
アルゴリズムの登録だけに対応する。255の値は，アルゴリズムが登録されていない
ことを示す。
バイト番号4〜6 2進数で定義し，圧縮する前の未圧縮レコードの長さをバイト単位で示す。この数は，
0としてはならない。バイト番号4は，最上位バイトとし，バイト番号6は，最下位
バイトとする。
バイト番号7, 8
情報交換用圧縮レコードの数を2進数で定義する。この数は，0としてはならない。
バイト番号7は，バイト番号8より上位バイトとする。
9.2.2
グループ情報テーブル グループ情報テーブルは，表1による。
表1 グループ情報テーブル
バイト番号
バイト数
フィールド名
126632〜126629
4
（すべて0に設定）
126628〜126627
2
前のセパレータ2のグループ番号
126626〜126625
2
グループ内のセパレータ2の総数
126624〜126623
2
前のセパレータ1のグループ番号
126622〜126621
2
グループ内のセパレータ1の総数
126620〜126619
2
前のレコードのグループ番号
126618〜126617
2
グループ内のレコードの総数
126616〜126615
2
セパレータ2の総数
126614〜126613
2
（すべて0に設定）
126612〜126609
4
セパレータ1の総数
33
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト番号
バイト数
フィールド名
126608〜126605
4
レコードの総数
126604〜126603
2
ブロックアクセステーブルの総数
126602〜126601
2
グループ番号
各フィールド内の最上位バイトは，最小バイト番号とし，最下位バイトは，最大バイト番号とする。
9.2.2.1
前のセパレータ2のグループ番号 このフィールドは，2バイトとする。前のセパレータ2のグ
ループ番号は，現在の基本グループ直前の，セパレータ2を最後に記録した基本グループの番号を2進数
で表す。該当する基本グループが存在しないとき，このフィールドは，すべて0に設定する。
9.2.2.2
グループ内のセパレータ2の総数 このフィールドは，2バイトとする。グループ内のセパレー
タ2の総数は，現在の基本グループに記録したセパレータ2の総数を2進数で表す。
9.2.2.3
前のセパレータ1のグループ番号 このフィールドは，2バイトとする。前のセパレータ1のグ
ループ番号は，現在の基本グループ直前の，セパレータ1を最後に記録した基本グループの番号を2進数
で表す。該当する基本グループが存在しないとき，このフィールドは，すべて0に設定する。
9.2.2.4
グループ内のセパレータ1の総数 このフィールドは，2バイトとする。グループ内のセパレー
タ1の総数は，現在の基本グループに記録したセパレータ1の総数を2進数で表す。
9.2.2.5
前のレコードのグループ番号 このフィールドは，2バイトとする。前のレコードのグループ番
号は，現在の基本グループ直前の，セパレータマーク，アクセスポイント又は未圧縮レコードの最初の部
分を最後に記録した基本グループの番号を2進数で表す。該当する基本グループが存在しないとき，この
フィールドは，すべて0に設定する。
9.2.2.6
グループ内のレコードの総数 このフィールドは，2バイトとする。グループ内のレコードの総
数は，現在の基本グループのブロックアクセステーブルで，次に示す合計を2進数で表す。
− セパレータエントリの数
− 未圧縮レコードエントリの総数
− エンタイア未圧縮レコードエントリの数
− すべてのエンタイアエンティティエントリのエンティティヘッダのバイト番号7及びバイト番号8の
合計数
− エンティティエントリのスタートパートのエンティティヘッダのバイト番号7及びバイト番号8から
1を減じた数
− エンティティエントリの総数
9.2.2.7
セパレータ2の総数 このフィールドは，2バイトとする。セパレータ2の総数は，現在の基本
グループを含みLBOTから記録したセパレータ2の総数を2進数で表す。
9.2.2.8
セパレータ1の総数 このフィールドは，2バイトとする。セパレータ1の総数は，現在の基本
グループを含みLBOTから記録したセパレータ1の総数を2進数で表す。
9.2.2.9
レコードの総数 このフィールドは，2バイトとする。レコードの総数は，現在の基本グループ
を含み，LBOTから記録したすべての基本グループでグループ内のレコードの総数の合計を2進数で表す。
9.2.2.10 ブロックアクセステーブルの総数 このフィールドは，2バイトとする。ブロックアクセステー
ブルの総数は，ブロックアクセステーブルのエントリの総数を2進数で表す。
9.2.2.11 グループ番号 このフィールドは，2バイトとする。グループ番号は，現在の基本グループの番
号を2進数で表す。
34
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.2.3
ブロックアクセステーブル ブロックアクセステーブルは，基本グループに含まれる未圧縮レコー
ド及びセパレータマークに対応した情報を含み，1個以上のエントリで構成する。一つの基本グループに
含まれないエンティティ及び未圧縮レコードは，1個以上のエントリで識別する。最初のエントリは，グ
ループ情報テーブルの直前の126597〜126600のバイト番号の位置に記録する。各エントリは，図28に示
す4バイトで構成する。
ブロックアクセステーブルのエントリ
フラグバイト
カウント
第1バイト
第2バイト
(MSB)
第3バイト
第4バイト
(LSB)
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
図28 ブロックアクセステーブル
3バイトのカウントフィールドは，次のフラグバイトの設定によって224−1より小さい番号の2進数で
表す。ただし，この規格では，次に示す12個のフラグバイトの設定を規定し，他のフラグバイトの設定は，
禁止する。
9.2.3.1
フラグバイトの設定
9.2.3.1.1
0111X011（エンタイアエンティティエントリ） エンタイアエンティティエントリは，エンテ
ィティが現在の基本グループで始まり，かつ終わるエンティティを規定する。カウントフィールドは，エ
ンティティのバイト数を表す。
9.2.3.1.2
0101X010（エンティティのスタートパートエントリ） エンティティのスタートパートエント
リは，エンティティが現在の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わるエンティティを規
定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバ
イト数を表す。
9.2.3.1.3
0101X000（エンティティのミドルパートエントリ） エンティティのミドルパートエントリは，
エンティティが前の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わるエンティティを規定する。
カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を
表す。
9.2.3.1.4
0111X000（エンティティのラストパートエントリ） エンティティのラストパートエントリは，
エンティティが前の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わるエンティティを規定する。カウ
ントフィールドは，現在の基本グループに含まれるパーシャルエンティティの該当部分のバイト数を表す。
現在の基本グループのブロックアクセステーブルでは，このエントリの直後にエンティティのトータルカ
ウントエントリが続かなければならない。
9.2.3.1.5
0001X001（エンティティのトータルカウントエントリ） エンティティのトータルカウントエ
ントリは，ラストパートエントリの直後に配置する。カウントフィールドは，該当するエンティティのバ
イトの全数を表す。
9.2.3.1.6
0110X011（エンタイア未圧縮レコードエントリ） エンタイア未圧縮レコードエントリは，未
圧縮レコードが現在の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わる未圧縮レコードを規定する。
カウントフィールドは，未圧縮レコードのバイト数を表す。
35
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.2.3.1.7
0100X010（未圧縮レコードのスタートパートエントリ） 未圧縮レコードのスタートパートエ
ントリは，未圧縮レコードが現在の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わる未圧縮レコ
ードを規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれる未圧縮レコードの該当部分のバ
イト数を表す。
9.2.3.1.8
0100X000（未圧縮レコードのミドルパートエントリ） 未圧縮レコードのミドルパートエント
リは，未圧縮レコードが前の基本グループで始まり，それに続く基本グループで終わる未圧縮レコードを
規定する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれる未圧縮レコードの該当部分のバイト数
を表す。
9.2.3.1.9
0110X000（未圧縮レコードのラストパートエントリ） 未圧縮レコードのラストパートエント
リは，未圧縮レコードが前の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わる未圧縮レコードを規定
する。カウントフィールドは，現在の基本グループに含まれる未圧縮レコードの該当部分のバイト数を表
す。
9.2.3.1.10 0000X001（未圧縮レコードのトータルカウントエントリ） 未圧縮レコードのトータルカウン
トエントリは，次による。
− このエントリの前に未圧縮レコードのラストパートエントリ（9.2.3.1.9参照）があるとき，この未圧
縮レコードは，前の基本グループで始まり，現在の基本グループで終わる。カウントフィールドは，
未圧縮レコードの総バイト数を表す。
− 前の基本グループのブロックアクセステーブルの最後の二つのエントリが，未圧縮レコードのラスト
パートエントリで，それにスキップエントリが続くとき，その未圧縮レコードは，その基本グループ
で終わり，以前の基本グループで始まったことを表す。
このエントリは，現在の基本グループのブロックアクセステーブルの最初のエントリでなければな
らない。カウントフィールドは，未圧縮レコードの総バイト数を表す。
9.2.3.1.11 0000X111（セパレータマークエントリ） セパレータマークエントリは，レコードがセパレー
タであることを規定する。カウントフィールドは，レコードがセパレータ1のとき，番号0とし，レコー
ドがセパレータ2のとき，番号1とする。
9.2.3.1.12 1000X000（スキップエントリ） スキップエントリは，各基本グループのブロックアクセステ
ーブルの最後に設ける。このエントリは，現在の基本グループのユ−ザデータが最終バイトに達したこと
を示す。カウントフィールドは，基本グループの残りのバイト数を表す。したがって，カウントフィール
ドで規定できる最小数は，ブロックアクセステーブルのバイト数に32を加えた数とする。
9.2.3.1.13 カウントフィールド エントリのブロックアクセステーブル内のカウントフィールドの総数は，
126632とする。総数の対象になるエントリは，スキップ，エンタイア未圧縮レコード，未圧縮レコードの
スタートパート，未圧縮レコードのミドルパート，未圧縮レコードのラストパート，エンタイアエンティ
ティ，エンティティのスタートパート，エンティティのミドルパート及びエンティティのラストパートと
する。
9.2.3.1.14 ビットb4 (AEWP) ビットb4 (After Early Warning Point) の設定は，9.2.3.1.1〜9.2.3.1.12に規定
したエントリのそれぞれについて，エントリには関係なく，次による。
− EWP（14.8及び15.1.2.4参照）の前は，0に設定する。
− EWPの後に続く現在の基本グループのエントリ及びそれに続くすべての基本グループのエントリは，
1に設定する。
36
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.2.3.2
ブロックアクセステーブルのエントリの有効なシーケンス ブロックアクセステーブルのエン
トリの有効なシーケンスは，表2による。このフローチャートでは，動作状態は，長方形で示し，フラグ
バイトで指示した各エントリは，長円形で示す。スパンエンティティ及びスパン未圧縮レコードは，基本
グループで始まり，それに続く1個以上の基本グループで終わるエンティティ又は未圧縮レコードを示す。
表2では有効なエントリだけを示し，その他のエントリは，無効とする。
スパン未圧縮レコードだけについて，特別な場合として，未圧縮レコードのトータルカウントエントリ
は，次の基本グループのブロックアクセステーブルの最初に記録してもよい。
表2 ブロックアクセステーブルのエントリの有効なシーケンス
9.3
サブグループ
9.3.1
G1サブグループ G1サブグループは，基本グループを22に分割した，図29に示す0〜5755の番
号を付けた5756バイトとする。
37
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図29 G1サブグループ
9.3.2
G2サブグループ（ランダム化） G2サブグループは，各G1サブグループのバイトを図30に示
すシフトレジスタの出力であるビット列によって，EXCLUSIVE−OR演算を行いランダム化して生成する。
各G1サブグループの演算に先立ってシフトレジスタは，次のように設定する。
図30 シフトレジスタ
各バイトについて，最下位ビットであるビット番号1を最初に入力する。論理演算子は，それぞれ
EXCLUSIVE−ORとする。この演算の結果は，すべてのバイトがD0〜D5755の番号をもつG2サブグルー
プになる。これらのバイトの順番は，ランダム化操作の前のG1サブグループと同じとする。
9.3.3
G3サブグループ G3サブグループは，5756バイトの各G2のサブグループを再整列した5824バ
イトとする。
G3サブグループは，G2サブグループの5756バイトをワードと呼ぶ4バイトの列に連続した順番に置く。
これらのワードは，1〜1439の連続した番号とする。ワード番号0は，4バイトのヘッダを設定し，4バイ
トのワードからなる16個のワード番号1440〜1455は，すべて0に設定する（図31参照）。
G2サブグループのバイトDkのうち，番号kが0又は1 (mod 4) になるバイトは，2バイトチャネルA
にグループ分けする。バイトDkのうち番号kが2又は3 (mod 4) になるバイトは，2バイトチャネルBに
グループ分けする。
チャネルA及びチャネルBの下位バイト又は上位バイトへのバイトDkの割り当ては，次による。
k＝0 (mod 4) の場合，チャネルAの下位バイト。
k＝1 (mod 4) の場合，チャネルAの上位バイト。
k＝2 (mod 4) の場合，チャネルBの下位バイト。
k＝3 (mod 4) の場合，チャネルBの上位バイト。
38
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図31 G3サブグループ
9.3.3.1
ヘッダ ヘッダは，ワード番号0で，6個のフィールドで構成する。
9.3.3.1.1
データフォーマットID (DF−ID) データフォーマットIDは，両方のチャネルでそれぞれ4
ビットのフィールドとし，0001に設定する。
9.3.3.1.2
両方のチャネルの下位バイトのビット番号5〜8 両方のチャネルの下位バイトのビット番号5
〜8は，0に設定する。
9.3.3.1.3
論理フレームID (LF−ID) 論理フレームIDは，両方のチャネルで8ビットのフィールドと
する。G1サブグループ番号の論理フレーム番号は，次に示すビット番号6〜1によって2進数で表す。
− ビット番号6〜1が1〜21の範囲の番号を表す場合，ビット番号7及びビット番号8は，0に設定する。
− ビット番号6〜1が番号22を表す場合，ビット番号7は，0に設定し，ビット番号8は，次による。
ECC3（14.5.3参照）のチェックバイトを含む23番目のサブグループがあるときは，0に設定し，な
いときは，1に設定する。
− ビット番号6〜1が番号23を表す場合，ビット番号7及びビット番号8は，1に設定する。
ビット番号7は，サブグループがECC3のチェックバイトを含むことを示し，ビット番号8は，サ
ブグループが最後のシーケンスであることを示す。
9.3.3.1.4
バイト識別 バイト識別は，次による。
− チャネル（A又はB）
− バイト名（下位又は上位）
− ワード番号 (0〜1455)
なお，次の記述方法を用いる。
Ail：i番目のワードのチャネルAの下位バイト
Aiu：i番目のワードのチャネルAの上位バイト
Bil：i番目のワードのチャネルBの下位バイト
Biu：i番目のワードのチャネルBの上位バイト
39
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.3.4
G4サブグループ G4サブグループは，各G3サブグループを図32に示す二組の配列によって構
成するサブグループに変換する。
配列の極性（正，負），ブロック番号及びシリアル番号は，次の式によって算出し，各バイトに割り当て
る。
AP＝ (−1) a＋i
(
)
(
)
[
]
832
int
2
mod
75
52
mod
i
i
i
BN
＋
＋
＝
(
)
832
int
32
2
mod
52
int
52
int
(2
i
i
i
u
SN
−
−
＋
＝
ここに，
int： 係数の整数部
AP： 配列の極性
BN： ブロック番号
SN： シリアル番号
i： 0〜1455
a： Aiuバイト及びAilバイトでは0, Biuバイト及びBilバイトでは1
u： Aiuバイト及びBiuバイトでは0, Ailバイト及びBilバイトでは1
この方法によるG3サブグループの処理によって，図32に示す正配列及び負配列を生成する。これらの
各バイトは，ブロック番号 (0〜127) 及びシリアル番号 (0〜31) で識別する。
40
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図32 C1符号及びC2符号算出前のG4サブグループの配列
この方法をG3サブグループのバイトに適用すると，次に示す両方の配列に割り当てられない位置が残
る（図32の網掛け部）。
− ブロック番号1〜51及び77〜127のすべての奇数番号でシリアル番号24〜31。
− ブロック番号52〜75のすべてのブロック。
これらの位置は，C1符号及びC2符号によって生成した誤り訂正用のC1パリティバイト及びC2パリテ
ィバイトを次のように割り当てる。
C2パリティバイトは，ブロック番号52〜74の偶数番号ブロックにあるすべてのシリアル番号及びブロ
ック番号53〜75の奇数番号ブロックにあるシリアル番号0〜23について，それらを除くすべてのブロック
の偶数番号及び奇数番号ごとに同じシリアル番号をもつバイトから算出する。
C1パリティバイトは，すべての奇数番号ブロックのシリアル番号24〜31について，前の偶数番号ブロ
41
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ックのシリアル番号0〜31のバイト，及び奇数番号ブロックのシリアル番号0〜23のバイトから算出する。
ブロック番号53〜75のブロックのC1パリティバイトは，前に算出したC2パリティバイトから算出する。
これらの二つの算出によって，図32の二つの配列の網掛け部分の位置に相応するバイトを生成する。
C1符号は，GF (28) リードソロモン符号 (32, 28, 5) とし，C2符号は，GF (28) リードソロモン符号 (32,
26, 7) とする
GF (28) は，次の多項式によって算出する。
G (X) ＝X8＋X4＋X3＋X2＋1
GF (28) の原始元は，次の式による。
α＝ ( 0 0 0 0 0 0 1 0)
α7 α6 α5 α4 α3 α2 α1 α0
C1符号のインタリーブ深度は，2バイトとし，C2符号のインタリーブ深度は，4ブロックとする。訂正
用パリティバイトは，次の式を満足する。
HP･VP＝0
HQ･VQ＝0
生成多項式は，次の式による。
)
(
)
(
3
0
i
i
i
P
x
X
G
α
−
Π
===
)
(
)
(
5
0
i
i
i
Q
x
X
G
α
−
Π
===
=
1
1
1
1
1
1
1
1
1
3
2
6
4
2
87
58
29
90
60
30
93
62
31
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
Λ
Λ
P
H
=
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
5
4
3
2
10
8
6
4
2
145
116
87
58
29
150
120
90
60
30
155
124
93
62
31
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
α
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Λ
Q
H
42
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
=
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
30
,1
2
28
,1
2
26
,1
2
24
,1
2
22
,1
2
20
,1
2
18
,1
2
16
,1
2
14
,1
2
12
,1
2
10
,1
2
8
,1
2
6
,1
2
4
,1
2
2
,1
2
,1
2
30
,
2
28
,
2
26
,
2
24
,
2
22
,
2
20
,
2
18
,
2
16
,
2
14
,
2
12
,
2
10
,
2
8
,
2
6
,
2
4
,
2
2
,
2
,
2
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
l
k
P
P
P
P
P
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
V
=
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
n
m
Q
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
Q
Q
Q
Q
Q
Q
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
V
,
124
,
120
,
116
,
112
,
108
,
104
,
100
,
96
,
92
,
88
,
84
,
80
,
76
,
72
,
68
,
64
,
60
,
56
,
52
,
48
,
44
,
40
,
36
,
32
,
28
,
24
,
20
,
16
,
12
,8
,4
,
ここに， Pij： C1パリティバイト
Qij： C2パリティバイト
i： ブロック番号
j： シリアル番号
なお，C1パリティバイトは，次による。
k＝0, 1,…, 63
l＝0, 1
k＝26, 27,…, 37の場合，VPのDijは，Qijとする。
C2パリティバイトは，次による。
m＝0又は2の場合，n＝0, 1,…, 31
43
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
m＝1又は3の場合，n: 0, 1,…, 23
9.3.5
メインデータブロック メインデータブロックは，G4サブグループの各配列の各32バイトのブロ
ックに，次の3バイトの8ビットバイトのヘッダを前に追加して35バイトとする。
− 2バイト：メインID W1及びメインID W2
− 1バイト：メインIDパリティ
9.3.5.1
メインID メインIDは，W1バイト及びW2バイトからなり，それぞれメインID W1及びメイ
ンID W2とする。
9.3.5.1.1
メインID W1 メインID W1は，図33に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
偶数ブロック番号のブロック
フォーマットID
規定しない
フレーム番号
奇数ブロック番号のブロック
0
0
0
0
0
0
0
0
図33 メインID W1
G4サブグループの奇数ブロック番号のブロックに対するメインID W1は，0に設定する。
G4サブグループの偶数ブロック番号のブロックに対するメインID W1は，次による。
ビット番号8及びビット番号7 ：ブロック番号 (mod 8) が0の場合，呼び出されたフォーマットIDの
ビットは，01に設定し，他の場合，00に設定する。
ビット番号6及びビット番号5 ：規定せず，情報交換時には無視する。
ビット番号4〜1
：フレーム番号は，2進数で表し，連続したフレームごとに一つずつ増
加 (mod 16) する（図48参照）。追記録点では，繰返し又は不連続
でもよい（14.5.6参照）。
9.3.5.1.2
メインID W2 メインID W2は，図34に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
0
G4サブグループのブロックのブロック番号
図34 メインID W2
ビット番号8
：ブロックがメインデータブロックであることを示し，0に設定する。
ビット番号7〜1 ：G4サブグループのブロックのブロック番号0〜127を2進数で表す。
9.3.5.2
メインIDパリティ メインIDパリティは， (W1⊕W2) とする。この場合，⊕は，EXCLUSIVE
−OR演算子を示す。
9.3.5.3
メインデータブロック構造の概要 メインデータブロック構造の概要を図35に示す。
44
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図35 メインデータブロック
9.3.5.4
基本グループの変換の概要 各基本グループは，22個のG4サブグループに変換する。各G4サ
ブグループは，128 ブロックの二つの配列によって構成する。これらのブロックをメインデータブロック
に変換する。このようにして基本グループは，テープ上に記録する前に，5632 (22×2×128) 個のメインデ
ータブロックに変換する。
9.4
サブデータ領域 サブデータ領域は，次に示す3種類の情報グループ（パックアイテム）で構成す
る。
− パックアイテム番号1及びパックアイテム番号2は，基本グループの情報とし，基本グループの番号，
LBOTから書き込んだセパレータ1の総数，LBOTから書き込んだセパレータ2の総数，及びLBOT
から書き込んだレコードの総数とする。
− パックアイテム番号3及びパックアイテム番号4は，トラック内容の情報とする。
− パックアイテム番号5〜8は，テープ使用履歴のログデータとする。
各パックアイテムは，ビット番号8を最上位ビットとするバイト番号1〜8の8ビットバイトで構成する。
すべてのパックアイテムは，次による。
− バイト番号1のビット番号8〜5は，パックアイテム番号を2進数で表す。
− 複数バイトのフィールドは，最小のバイト番号を最上位とし，最大のバイト番号を最下位とする。
− バイト番号8は，パリティとする。各ビットは，バイト番号1〜7の対応するビットの合計 (mod 2) と
する。
9.4.1
パックアイテム番号1 パックアイテム番号1は，図36に示すように割り付ける。
45
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
0
0
1
0
位置
2
グループ番号
3
グループ番号
4
セパレータ1の総数
5
セパレータ1の総数
6
セパレータ1の総数
7
セパレータ1の総数
8
パリティ
図36 パックアイテム番号1
9.4.1.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
ビット番号8〜5は，パックアイテム番号1を表す。
ビット番号4は，0に設定する。
ビット番号3〜1は，この基本グループを連続した順番で多重記録する場合，現在の記録基本グループの
位置を表す（14.5.4参照）。最初の記録基本グループは，000とし，2番目以降の基本グループは，001,…と
する。
9.4.1.2
バイト番号2及びバイト番号3 バイト番号2及びバイト番号3は，グループ情報テーブルに記
録するグループ番号を表す（9.2.2参照）。
9.4.1.3
バイト番号4〜7 バイト番号4〜7は，グループ情報テーブルに記録するセパレータ1の総数を
表す（9.2.2参照）。
9.4.2
パックアイテム番号2 パックアイテム番号2は，図37に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
0
1
0
0
繰返し回数
2
セパレータ2の総数
3
セパレータ2の総数
4
レコードの総数
5
レコードの総数
6
レコードの総数
7
レコードの総数
8
パリティ
図37 パックアイテム番号2
9.4.2.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
ビット番号8〜5は，パックアイテム番号2を表す。
ビット番号4は，0に設定する。
ビット番号3〜1は，この基本グループを連続した順番で多重記録する場合，基本グループの繰返し回数
を表す。すなわち，この基本グループの全記録数から1を引いた数を表す（14.5.4参照）。
9.4.2.2
バイト番号2及びバイト番号3 バイト番号2及びバイト番号3は，グループ情報テーブルに記
録するセパレータ2の総数を表す（9.2.2参照）。
9.4.2.3
バイト番号4〜7 バイト番号4〜7は，グループ情報テーブルに記録するレコードの総数を表す
（9.2.2参照）。
46
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.4.3
パックアイテム番号3 パックアイテム番号3は，図38に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
0
1
1
エリアID
2
絶対フレーム番号
3
絶対フレーム番号
4
絶対フレーム番号
5
チェックサム1
6
チェックサム2
7
LF−ID
8
パリティ
図38 パックアイテム番号3
9.4.3.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
ビット番号8〜5は，パックアイテム番号3を表す。
ビット番号4〜1は，テープ上の領域を示すエリアIDで，9.4.9.1.1によって設定する。
9.4.3.2
バイト番号2〜4 バイト番号2〜4は，LBOTの後の最初のフレームが1で始まる絶対フレーム
番号で現在のフレーム番号を表す。
9.4.3.3
バイト番号5〜7
9.4.3.3.1
エリアIDをX100に設定する領域（9.4.9.1.1参照）。
9.4.3.3.1.1
バイト番号5（チェックサム1） バイト番号5の各ビットは，このパックアイテムが参照す
るG3サブグループのワード番号0のチャネルAの上位バイト，及びこのパックアイテムが参照するG1
サブグループのうち，次に示すバイト番号の各ビットの合計 (mod 2) とする。
D8i＋3, D8i＋5, D5755
ここに，
i＝ 0, 1, 2,…, 718
9.4.3.3.1.2
バイト番号6（チェックサム2） バイト番号6の各ビットは，このパックアイテムが参照す
るG3サブグループのワード番号0のチャネルAの下位バイト，及びこのパックアイテムが参照するG1
サブグループのうち，次に示すバイト番号の各ビットの合計 (mod 2) とする
D8i＋2, D8i＋4, D5754
ここに，
i＝ 0, 1, 2,…, 718
9.4.3.3.1.3
バイト番号7 バイト番号7は，パックアイテム番号3が参照するサブグループのLF−ID
（9.3.3.1.3参照）と同じ内容を設定する。
9.4.3.3.2
エリアIDを0010に設定する領域 エリアIDを0010に設定する領域では，バイト番号5〜7
は，パーティションテープ（15.参照）のパーティション1の中の最大絶対フレーム番号を2進数で表す。
9.4.3.3.3
エリアIDを1010に設定する領域 エリアIDを1010に設定する領域では，バイト番号5〜7
は，すべてのビットを1に設定する。
9.4.3.3.4
エリアIDをその他の組合せに設定する領域 エリアIDをその他の組合せに設定する領域では，
バイト番号5〜7は，すべてのビットを0に設定する。
9.4.4
パックアイテム番号4 パックアイテム番号4は，図39に示すように割り付ける。
47
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
1
0
0
エリアID
2
絶対フレーム番号
3
絶対フレーム番号
4
絶対フレーム番号
5
チェックサム3
6
チェックサム4
7
LF−ID
8
パリティ
図39 パックアイテム番号4
9.4.4.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
− ビット番号8〜5は，パックアイテム番号4を表す。
− ビット番号4〜1は，テープ上の領域を示すエリアIDで，9.4.9.1.1によって設定する。
9.4.4.2
バイト番号2〜4 バイト番号2〜4は，パックアイテム番号3のバイト番号2〜4で規定した番号
と同じとする。
9.4.4.3
バイト番号5〜7
9.4.4.3.1
エリアIDをX100に設定する領域（9.4.9.1.1参照）
9.4.4.3.1.1
バイト番号5（チェックサム3） バイト番号5の各ビットは，このパックアイテムが参照す
るG3サブグループのワード番号0のチャネルBの上位バイト，及びこのパックアイテムが参照するG1
サブグループのうち，次に示すバイト番号の各ビットの合計 (mod 2) とする。
D1, D8i−1, D8i＋1
ここに，
i＝ 1, 2,…, 719
9.4.4.3.1.2
バイト番号6（チェックサム4） バイト番号6の各ビットは，このパックアイテムが参照す
るG3サブグループのワード番号0のチャネルBの下位バイト，及びこのパックアイテムが参照するG1
サブグループのうち，次に示すバイト番号の各ビットの合計 (mod 2) とする。
D0, D8i−2, D8i
ここに，
i＝ 1, 2,…, 719
9.4.4.3.1.3
バイト番号7 バイト番号7は，パックアイテム番号4が参照するサブグループのLF−ID
（9.3.3.1.3参照）と同じ内容を設定する。
9.4.4.3.2
エリアIDを0010に設定する領域 エリアIDを0010に設定する領域では，バイト番号5〜7
は，パーティションテープ（15.参照）のパーティション1の中の最大絶対フレーム番号を2進数で表す。
9.4.4.3.3
エリアIDを1010に設定する領域 エリアIDを1010に設定する領域では，バイト番号5〜7
は，すべてのビットを1に設定する。
9.4.4.3.4
エリアIDをその他の組合せに設定する領域 エリアIDをその他の組合せに設定する領域では，
バイト番号5〜7は，すべてのビットを0に設定する。
9.4.5
パックアイテム番号5 パックアイテム番号5は，図40に示すように割り付ける。
48
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
1
0
1
記録データグループ
2
記録データグループ
3
記録データグループ
4
記録データグループの総数
5
記録データグループの総数
6
記録データグループの総数
7
記録データグループの総数
8
パリティ
図40 パックアイテム番号5
9.4.5.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
− ビット番号8〜5は，パックアイテム番号5を表す。
− ビット番号4〜1は，9.4.5.2による。
9.4.5.2
バイト番号2及びバイト番号3バイト番号 2及びバイト番号3は，バイト番号1のビット番号
4〜1とともに，前回のテープログ更新から最新のテープログ更新直前までの記録データグループ（14.5.2
及び14.5.4参照）の数を20ビットで表す。バイト番号1のビット番号4は，最上位ビットとし，バイト番
号3のビット番号1は，最下位ビットとする。
9.4.5.3
バイト番号4〜7 バイト番号4〜7は，最後のテープ初期化（14.9及び15.5参照）から最新のテ
ープログ更新直前までの記録データグループ（14.5.2及び14.5.4参照）の総数を表す。
9.4.6
パックアイテム番号6 パックアイテム番号6は，図41に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
1
1
0
記録データグループの
読取り
2
記録データグループの読取り
3
記録データグループの読取り
4
記録データグループの読取り総数
5
記録データグループの読取り総数
6
記録データグループの読取り総数
7
記録データグループの読取り総数
8
パリティ
図41 パックアイテム番号6
9.4.6.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
− ビット番号8〜5は，パックアイテム番号6を表す。
− ビット番号4〜1については，9.4.6.2による。
9.4.6.2
バイト番号2及びバイト番号3 バイト番号2及びバイト番号3は，バイト番号1のビット番号
4〜1とともに，前回のテープログ更新から最新のテープログ更新直前までに正常に読み取った記録データ
グループ（14.5.2及び14.5.4参照）の数を20ビットで表す。バイト番号1のビット番号4は，最上位ビッ
トとし，バイト番号3のビット番号1は，最下位ビットとする。
9.4.6.3
バイト番号4〜7 バイト番号4〜7は，最後のテープ初期化（14.9及び15.5参照）から最新のテ
ープログ更新直前までに正常に読み取った記録データグループ（14.5.2及び14.5.4参照）の総数を表す。
49
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.4.7
パックアイテム番号7 パックアイテム番号7は，図42に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
0
1
1
1
0
0
0
0
2
ライトエラーフレームの総数
3
ライトエラーフレームの総数
4
ライトエラーフレームの総数
5
リードエラーグループの総数
6
リードエラーグループの総数
7
リードエラーグループの総数
8
パリティ
図42 パックアイテム番号7
9.4.7.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
− ビット番号8〜5は，パックアイテム番号7を表す。
− ビット番号4〜1は，0に設定する。
9.4.7.2
バイト番号2〜4 バイト番号2〜4は，最後のテープ初期化（14.9及び15.5参照）からテープロ
グ更新直前までの記録データグループ（14.5.2及び14.5.4参照）のフレームについて，記録時再生チェッ
ク（附属書L参照）で検出したライトエラーフレームの総数を表す。
この数には，元のフレームとその再記録フレーム（14.5.5参照）との間に記録するフレームは，含まな
い。
9.4.7.3
バイト番号5〜7 バイト番号5〜7は，最後のテープ初期化（14.9及び15.5参照）からテープロ
グ更新直前までに読み取った記録データグループ（14.5.2及び14.5.4参照）についてC1符号及びC2符号
だけを用いて読取りができなかった回数を表す。この数値は，リトライを含む。
9.4.8
パックアイテム番号8 パックアイテム番号8は，図43に示すように割り付ける。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
1
0
0
0
0
0
0
0
2
ロードの総数
3
ロードの総数
4
ライトエラーフレームの総数
5
ライトエラーフレームの総数
6
リードエラーグループの総数
7
リードエラーグループの総数
8
パリティ
図43 パックアイテム番号8
9.4.8.1
バイト番号1 バイト番号1は，次による。
− ビット番号8〜5は，パックアイテム番号8を表す。
− ビット番号4〜1は，0に設定する。
9.4.8.2
バイト番号2及びバイト番号3 バイト番号2及びバイト番号3は，最後のテープ初期化（14.9
及び15.5参照）からテープログ更新直前までのテープのロード回数を表す。ロードは，テープをカートリ
ッジから引き出し，ドラムの周囲に巻き付け，テープ走行状態とした後，再度カートリッジ内に取り入れ
るまでとする。
50
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.4.8.3
バイト番号4及びバイト番号5 バイト番号4及びバイト番号5は，前回のテープログ更新から
最新のテープログ更新までに記録時再生チェック（附属書L参照）で検出したライトエラーフレームの総
数を表す。この総数には，元のフレームと再記録フレームとの間に記録するフレームは，含まない。
9.4.8.4
バイト番号6及びバイト番号7 バイト番号6及びバイト番号7は，前回のテープログ更新から
最新のテープログ更新までに読み取ったすべての記録データグループ（14.5.2及び14.5.4参照）について，
C1符号及びC2符号だけを用いて読取りができなかった回数を表す。この数値は，リトライを含む。
9.4.9
サブデータブロック サブデータブロックは，次に示す35個の8ビットバイトで構成する。
− 3バイトのヘッダ
− 3個の8バイトのパックアイテム
− パックアイテム番号3若しくはパックアイテム番号4の8バイト，すべてを0に設定した8バイト又
はC1パリティバイトの8バイト。
サブデータブロックは，トラックごとに番号付けした16個とする（表4参照）。ブロック番号は，各ト
ラックの各サブデータブロックに順番に割り当て，トラックのサブゾーン1では0〜7とし，サブゾーン2
では8〜15とする。
9.4.9.1
ヘッダ ヘッダは，次による
− 2バイト：サブID SW1及びサブID SW2
− 1バイト：サブIDパリティ
9.4.9.1.1
サブID SW1 サブID SW1は，図44及び次による。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
偶数ブロック番号
エリアID
1
0
0
0
奇数ブロック番号
0
0
0
0
DF−ID
図44 サブID SW1
4ビットのエリアIDは，テープの現在の領域を識別する（14.参照）。この規格では，次に示す設定だけ
を用いる。
0000：デバイス領域
X001：リファレンス領域
X010：システム領域
X100：データ領域
X101：EOD領域
シングルデータスペーステープでは，ビットXは，1に設定し，二つのパーティションのテープでは，
パーティション0の場合ビットXは，1に設定し，パーティション1の場合ビットXは，0に設定する（14.
及び15.参照）。
4ビットのDF−IDは，データフォーマットを識別し，0001を設定する（9.3.3.1.1参照）。
9.4.9.1.2
サブID SW2 サブID SW2は，図45及び次による。
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
偶数ブロック番号
1
パックID
ブロック番号
奇数ブロック番号
1
0
トラック間隔
ブロック番号
図45 サブID SW2
− ビット番号8は，ブロックがサブデータブロックであることを示し，1に設定する。
− ビット番号7〜5は，次による。
51
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
・偶数ブロック番号のブロックでのパックIDは，サブデータブロック及びその隣接の大きい番号
のサブデータブロックに含まれるパックアイテムの数を2進数で表す。この番号は，パックアイテム
の数によって，6又は7とする。
・奇数ブロック番号のブロックは，ビット7を0に設定し，呼び出されたトラック間隔のビット番
号6〜5を10に設定する。
− ビット番号4〜1は，ブロック番号0〜15のブロック番号を2進数で表す。
9.4.9.1.3
サブIDパリティ サブIDパリティは， (SW1⊕SW2) とする。この場合，⊕は，EXCLUSIVE
−OR演算子を示す。
9.4.9.2
サブデータブロックのデータ部 サブデータブロックのデータ部は，次による。
− 最初の24バイトは，3個の8バイトのパックアイテムとする。
− 最後の8バイトは，8バイトのパックアイテム若しくはすべてを0に設定した8バイト又はC1パリテ
ィバイトの8バイトとする。
偶数サブデータブロック番号のサブデータブロックは，最後の8バイトを次のとおりとする。
− パックIDを6に設定するとき，すべて0に設定する。
− パックIDを7に設定するとき，パックアイテム番号3又はパックアイテム番号4とする。
奇数サブデータブロック番号のサブデータブロックは，最後の8バイトをC1パリティバイトとする。
これらは，直前の偶数番号サブデータブロックの最後の32バイト，及び現在のサブデータブロックのバイ
ト番号4〜27の24バイトを用いて算出する（C1パリティバイトは，ヘッダバイトからは算出しない。）。
9.4.9.3
サブデータブロック構造の概要 サブデータブロックの構造の概要を図46に示す。
バイト位置
b8
b7
b6
b5
b4
b3
b2
b1
1
サブID SW1
2
サブID SW2
3
サブIDパリティ
4
3パックアイテム
・
・
27
28
パックアイテム番号3若しくはパックアイテム
番号4の8バイト，すべて0に設定した8バイト
又はC1パリティバイト
・
・
35
図46 サブデータブロック
9.4.9.4
パックアイテムの配置 パックアイテムは，サブゾーン1及びサブゾーン2（表4参照）の二つ
の領域にグループ分けして記録する。パックアイテムのグループ分け，及びグループの記録サブデータブ
ロック（12.2参照）への割当ては，エリアID並びにパックアイテム番号3及びパックアイテム番号4の
絶対フレーム番号 (AFN) によって指示するテープ割付け上（14.及び図50参照）のトラック位置とヘッダ
のパックIDで決まる。
サブデータブロック番号0〜7に記録するパックアイテムは，サブゾーン1に割り当て，サブデータブロ
ック番号8〜15に記録するパックアイテムは，サブゾーン2に割り当てる。
表3の“内容”欄は，記録サブデータブロックのパックアイテム番号を示す。記録サブデータブロック
の最後の8バイトをすべて0に設定したときは， (00) で表し，C1パリティバイトのときは， (C1) で表
52
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
す。
“テープ領域”の欄は，記録サブデータブロックを記録するテープの領域を示す。
表3 パックアイテムの配置
ブロック
番号
パック
ID
エリア
ID
絶対フレーム
番号
内容
テープ領域
X100
任意
1
2
3
(00)
データ領域
X010
70＜n＜96
5
7
3
(00)
システムログ
6
n＜71又はn＞95
リファレンス領域
EOD領域
システムプリアンブル
システムポストアンブル
X001
3
3
3
(00)
X101
任意
奇数
X100
任意
1
2
3
3又は4 データ領域
X010
70＜n＜96
5
7
3
3又は4 システムログ
n＜71又はn＞95
リファレンス領域
EOD領域
システムプリアンブル
システムポストアンブル
7
X001
3
3
3
3又は4
X101
任意
X100
任意
1
2
4
C1
データ領域
X010
70＜n＜96
6
8
4
C1
システムログ
6
n＜71又はn＞95
リファレンス領域
EOD領域
システムプリアンブル
システムポストアンブル
X001
4
4
4
C1
X101
任意
偶数
X100
任意
1
2
4
C1
データ領域
X010
70＜n＞96
6
8
4
C1
システムログ
7
n＜71又は＞95n
リファレンス領域
EOD領域
システムプリアンブル
システムポストアンブル
X001
4
4
4
C1
X101
任意
10. 記録方式 記録方式は，“1”のとき，ビットセルの始めで磁束を反転し，“0”のとき，ビットセルで
磁束を反転しないこととする。
10.1 記録密度 記録密度は，公称2 999.9ftpmmとし，ビットセル長は，公称0.333 35μmとする。この値
は，トラック長（11.7参照）をトラック当たりのビット数（7 0560：1レコード当たり360チャネルビット
の196レコードブロック12.及び13.1参照）で除して算出する。
10.2 長周期平均ビットセル長 長周期平均ビットセル長は，各トラックについて，128個以上の記録メイ
ンデータブロック（12.1参照）にわたる平均とし，その値は，公称ビットセル長の (100±0.2) %とする。
10.3 短周期平均ビットセル長 短周期平均ビットセル長は，任意のビットセルを基準に，その前の20個
のビットセルの平均とし，その値は，同一アジマスのその前のトラックの長周期平均ビットセル長の (100
±0.35) %とする。
10.4 短周期平均ビットセル長の変動率 短周期平均ビットセル長の変動率は，ビットセル長当たり0.05%
を超えてはならない。
10.5 ビットシフト 任意の“1”のゼロ交差の最大位置誤差は，ミッシングパルスを除いて，短周期平均
ビットセル長による公称位置から28%を超えて偏移してはならない。測定法は，付属書Hによる。
53
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
10.6 情報交換時の再生信号振幅 情報交換時の再生信号振幅は，次による。
− 83.3ftpmm：公称記録レベル（附属書F参照）の60%〜100%とする。
− 333.3ftpmm, 500.0ftpmm, 1 000.0ftpmm及び1 499.9ftpmm：それぞれに対応する公称記録レベルの80%
〜119%とする。
10.7 最大の記録レベル 最大の記録レベルは，附属書Fによる。
記録信号は，重ね書きによって消去できなければならない。
11. トラック
11.1 トラックの構成 トラックパターンは，テープ走行方向と一対の二つのヘッドの回転軸の相対関係
で形成する。この一対のヘッドの一つは，正のアジマス角をもち，他のヘッドは，負のアジマス角をもつ。
記録の方向は，テープ基準縁から離れる方向とする。トラックの構成は，図47に示す。
図47 トラックの構成（記録面側を示す。）
11.2 平均トラック間隔 平均トラック間隔は，任意の連続した30トラックの間隔の平均とし，その値は，
9.053μm±0.045μmとする。ただし，ノンシームレス追記録（14.5.6.2参照）のトラック間隔は，平均値に
含めてはならない。
11.3 トラック間隔の変化 トラック間隔の変化は，連続したトラック間での変化とし，追記録操作（14.5.6
参照）によるトラック間隔の変化を除いて，2.0%を超えてはならない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.4 トラック幅 トラック幅は，公称9.053μmとする。
測定したトラック幅は，9.1μm±1.8μmの範囲内とする。
この規定は，ノンシームレス追記録には適用してはならない。
11.5 トラック角 トラック角は，テープ基準縁に対する角度とし，公称値を6°22'39.6''とする。
11.6 トラックエッジの直線性 トラックエッジの直線性は，附属書Kの規定に従って測定したとき，5μm
以内とする。
11.7 トラック長 トラック長は，23.521mm±0.047mmとする。
11.8 理想テープ中心線 理想テープ中心線は，テープ基準縁から1.905mmとする。
11.9 アジマス角 正のアジマス角は，20°00'39.6″±15'00.0″ とする。負のアジマス角は，19°59'20.4″
±15'00.0″ とする。
12. テープ上へのブロックの記録 メインデータブロック及びサブデータブロックの各8ビットバイトは，
附属書Gによって10ビットパターンに変換し，テープに記録する。変換後の10ビットパターンのビット
をチャネルビットという。
すべての情報は，360個のチャネルビットからなる記録ブロックを単位としてテープに記録する。
テープ上の記録ブロックは，記録メインデータブロック，記録サブデータブロック，マージンブロック，
プリアンブルブロック，ポストアンブルブロック及びスペーサブロックとする。
12.1 記録メインデータブロック 記録メインデータブロックは，次のa)，b)いずれかのパターンをもつ
10チャネルビットの同期フィールド及びこれに続く35個の8ビットバイトからなるメインデータブロッ
ク相当のチャネルビットの合計360個のチャネルビットで構成する。
a) 0100010001
b) 1100010001
パターンa)は，Q'＝−1，DC＝0，Q＝1を用い，パターンb)は，Q'＝1，DC＝0，Q＝1を用いる（附属
書G参照）。それ以前にパターンがないときは，Q'の値がなく，a)，b)いずれのパターンを使用してもよい。
正アジマストラックの記録メインデータブロックは，G4サブグループ（9.3.4参照）の正配列のメイン
データブロックを表し，同じフレームの負アジマストラックの記録メインデータブロックは，G4サブグル
ープの負配列のメインデータブロックを表す。各トラックの記録メインデータブロックは，G4サブグルー
プのブロック番号に従って記録しなければならない。
12.2 記録サブデータブロック 記録サブデータブロックは，10チャネルビットの同期フィールド及びこ
れに続く35個の8ビットバイトからなるサブデータブロック相当のチャネルビットの合計360個のチャネ
ルビットで構成する。この同期フィールドのチャネルビットのパターンは，12.1の規定による。
12.3 マージンブロック，プリアンブルブロック及びポストアンブルブロック マージンブロック，プリ
アンブルブロック及びポストアンブルブロックは，チャネルビットパターン “111” を繰り返して記録し，
360個のチャネルビットの長さとする。
12.4 スペーサブロック スペーサブロックは，チャネルビットパターン “100” を繰り返して記録し，360
個のチャネルビットの長さとする。
13. トラックのフォーマット
13.1 トラックの容量 トラック容量は，1トラック当たり196個の記録ブロックとする。ATF (Automatic
Track Finding) は，13.3による。一つのトラックは，表4に示す7個のゾーンからなる。
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表4 トラックのフォーマット
ゾーン
内容
ブロックの総数
記録の順序
マージンゾーン1
マージンブロック
11
↓
サブゾーン1
プリアンブルブロック
2
記録サブデータブロック
8
ポストアンブルブロック
1
ATFゾーン1
スペーサブロック
3
ATFブロック
5
スペーサブロック
3
メインゾーン
プリアンブルブロック
2
記録メインデータブロック
128
ATFゾーン2
スペーサブロック
3
ATFブロック
5
スペーサブロック
3
サブゾーン2
プリアンブルブロック
2
記録サブデータブロック
8
ポストアンブルブロック
1
マージンゾーン2
マージンブロック
11
合計
196
13.2 トラックの位置精度 トラックの位置精度は，そのトラックの中心線上のブロックの最初のビット
セルの位置をブロックの開始位置として，テープ基準縁に対して直角方向に，すべてのトラックの99番目
のブロックの開始位置で表す。その位置精度は，理想テープ中心から0.0267mm以内とする。この値は，
トラックに沿って2ブロックの長さに相当する。
さらに，任意の一組の隣接トラックの99番目，26番目及び167番目のブロックの開始位置のずれは，
テープ基準縁に対して直角方向に6.66μmを超えてはならない。この値は，ATFブロックの開始位置及び
トラックの中心線に沿って0.5ブロックの長さに相当する。
13.3 トラッキング法 トラッキング法は，ATFによる。ATFブロックは，トラックの二つのゾーンに配
置する。これらのゾーンは，ATFゾーン1及びATFゾーン2とし，それぞれメインゾーンの前と後に配置
する。ATFブロックは，三つのスペーサブロックで囲まれ，各ブロックは，360個のチャネルビットで構
成する。
各ATFゾーンは，異なる記録密度で記録した異なるチャネルビットパターンをもつ四つの信号の組合せ
で構成する。これらの信号は，次による。
ATFパイロット信号f1
繰返しパターン
：1個の1及びこれに続く35個の0
記録密度
：83.3ftpmm
ATF同期信号f2又はATF同期信号f3
繰返しパターンf2
：100000000
記録密度
：333.3ftpmm
繰返しパターンf3
：100000
記録密度
：500.0ftpmm
− ATF同期信号f2は，正のアジマストラック上に記録する。
− ATF同期信号f3は，負のアジマストラック上に記録する。
− ATF同期信号の長さは，f2又はf3にかかわらず偶数番号フレームでは180個のチャネルビット，奇数
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番号フレームでは360個のチャネルビットとする。
ATFスペース信号f4
繰返しパターン
：100
記録密度
：1 000.0ftpmm
トラックに対するATF信号の割当てを図48に示す。図48でスペーサは，三つのスペーサブロックが，
メインゾーンでは，130個の記録ブロックが存在する。ATF信号の割当ては，4トラックごとに繰り返し，
フレーム番号による（9.3.5.1.1参照）。
参考 トラッキングエラー検知アルゴリズムの例を次に示す。
最初にATF同期信号をその周波数と長さによって検知し，次に隣接トラックのうち片側の
ATFパイロット信号からのクロストークをサンプリングする。一定の時間の後，同様に隣接ト
ラックの他の側のATFパイロット信号からのクロストークをサンプリングする。トラッキング
エラーは，これらの二つのクロストーク信号の振幅の差になる。
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図48 ATF信号の配置
5
7
X
6
1
2
9
:
1
9
9
7
(I
S
O
/IE
C
1
3
9
2
3
:
1
9
9
6
)
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14. シングルデータスペーステープの構成 磁気テープは，シングルデータスペーステープ又はパーティ
ションテープによって記録する。シングルデータスペーステープは，14.で規定し，パーティションテープ
は，15.で規定する。シングルデータスペーステープは，デバイス領域，リファレンス領域，システム領域，
データ領域，EOD領域及びポストEOD領域の6個の領域で構成し，次による（図49参照）。
図49 シングルデータスペーステープの構成
14.1 デバイス領域 デバイス領域は，磁気テープの最初の領域でPBOTからLBOTの範囲とし，情報交
換用のデータ記録に用いてはならない。PBOTからリファレンス領域の最初のトラックの最初のブロック
の最初のビットまでの長さは，テープの長手方向に，350mm±10mmとする。この領域は，スピンアップ
ゾーン，試験ゾーン及びガードゾーンの三つのゾーンからなる。
デバイス領域の最初のゾーンは，スピンアップゾーンとし，テープを磁気テープ装置に装着したとき，
ドラムに巻き付ける部分とする。
スピンアップゾーンの後に読取り又は書込みの試験ゾーンが続く。これらの二つのゾーンの内容は，こ
の規格では規定しないが，試験ゾーンの任意のトラックが表4のトラックフォーマットに適合するとき，
サブデータブロックのエリアIDは，0000に設定する。
試験ゾーンには，9mm以上の長さのガードゾーンが続く。ガードゾーンには，記録してはならない。
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14.2 リファレンス領域 リファレンス領域は，LBOTで始まり絶対フレーム番号1をもつ35個のテープ
管理フレーム（16.3参照）で構成する。リファレンス領域は，システムログを更新するときの物理的な位
置の基準に用いる。
14.3 ガードバンド1 ガードバンド1の公称の長さは，5フレームとし，0フレームから10フレーム長ま
でとする。この領域は，システムログを更新するときの位置誤差を吸収するために用いる。
このガードバンドは，絶対フレーム番号の不連続及び繰返しが発生してもよい。記録信号は，無視して
もよい。
14.4 システム領域 システム領域は，システムプリアンブル，システムログ，システムポストアンブル，
ガードバンド2及びベンダグループプリアンブルからなる。
14.4.1 システムプリアンプル システムプリアンブルは，絶対フレーム番号41〜70の30個のテープ管理
フレーム（16.3参照）からなる。
14.4.2 システムログ システムログは，絶対フレーム番号71〜95の25個のシステムログフレーム（16.2
参照）からなる。
参考 書込み禁止孔が開放のときは，磁気テープ装置によるログの変更が不可能なので，システムロ
グの履歴データが常に正確であるとは限らない。さらに，システムログの履歴データは，テー
プを初期化するとき，破壊されることがある（14.9参照）。
14.4.3 システムポストアンブル システムポストアンブルは，絶対フレーム番号96〜105の10個のテー
プ管理フレームからなる。
参考 システムログを更新するときは，システムプリアンブル，システムログ及びシステムポストア
ンブルの連続書込みを推奨する。
14.4.4 ガードバンド2 ガードバンド2の公称の長さは，15フレームとする。この領域の長さは，ガード
バンド1の長さ及びベンダグループプリアンブルの最初のフレームの実際の位置による。0〜30フレーム
の間で長さが変化してもよい。このガードバンドは，絶対フレーム番号の不連続及び繰返しが発生しても
よい。記録信号は，無視してもよい。
14.4.5 ベンダグループプリアンブル ベンダグループプリアンブルは，絶対フレーム番号121〜150の30
個のテープ管理フレームからなる。ベンダグループプリアンブルは，ベンダグループの直前に置き，ベン
ダグループと連続しなければならない。
14.5 データ領域 データ領域は，ベンダグループ及び1個以上の記録データグループからなる。データ
領域の任意のフレームは，アンブルフレーム（16.1参照）又は各サブグループを記録した記録データグル
ープ内のフレームとし，論理フレーム番号を各フレームに割り当てる。アンブルフレームの論理フレーム
番号は，0とする。記録データグループ内の任意のフレームの論理フレーム番号は，それを示すサブグル
ープの番号とする。これを論理フレームID（9.3.3.1.3参照）のビット番号1〜6で表す。
EOD直前の最後の記録データグループの直後には，12個以上のアンブルフレームが続かなければなら
ない。
14.5.1 ベンダグループ ベンダグループは，基本グループ番号0とし，その内容は，この規格では規定し
ない（附属書M参照）。ベンダグループは，9.3及び9.4によるフレームを記録することによって，その基
本グループのバイトを形成する。これらのフレームの最初は，絶対フレーム番号151とする。
ECC3（14.5.3参照）及び再記録フレーム（14.5.5参照）の処理は，両方又は一方を適用してもよい。
ベンダグループ内では，未記録の空間，物理的不連続，継目，絶対フレーム番号の不連続又は絶対フレ
ーム番号の繰返しが発生してはならない。
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14.5.2 記録データグループ 記録データグループは，基本グループの内容を記録し，ホストコンピュータ
から送られるデータを，9.の規定によって形成し，その結果のフレームを論理フレーム番号（9.3.3.1.3参照）
の順にG4サブグループごとに記録する。
ECC3（14.5.3参照），基本グループの多重記録（14.5参照）及び再記録フレーム（14.5.5参照）の三つの
処理は，一つ又は組み合わせて適用してもよい。記録データグループ内では，未記録の空間，物理的不連
続，継目，絶対フレーム番号の不連続性又は絶対フレーム番号の繰返しが発生してはならない。
14.5.3 ECC3 誤り訂正用のC3符号 (ECC3) は，記録データグループ内の任意の二つの不良トラックを
訂正することができる。ECC3データは，基本グループの22個のG1サブグループから算出し，23番目の
G1サブグループを構成する。ECC3は，GF (28) リードソロモン符号 (46, 44, 3) とする。
GF (28) は，次の多項式によって算出する。
G (X) ＝ X8＋X4＋X3＋X2＋1
GF (28) の原始元は，次の式による。
α＝ (0 0 0 0 0 0 1 0)
α7 α 6 α5 α4 α3 α2 α1 α0
ECC3は，次の式を満足する。
HR･VR＝0
生成多項式は，次の式による。
[]
)
(10
i
i
i
R
x
X
G
α
−
Π
===
=
1
1
1
1
1
1
1
2
43
44
45
a
a
a
a
a
HR
=
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
+
23
,
6
8
23
,
)1
(2
8
22
,
6
8
2,
6
8
2,
)1
(2
8
1,
6
8
1,
)1
(2
8
L
M
N
L
M
N
L
M
N
L
M
N
L
M
N
L
M
N
L
M
N
R
Q
P
D
D
D
D
D
V
ここに， N：0, 1, 2,…, 719
M：0, 1 (N＝0,…, 718)
M：0 (N＝719)
L：0, 1
Dx, y,：xは，G1サブグループでのユーザデータバイト番号
Px, y,：xは，ECC3G1サブグループでのパリティバイト番号
yは，G1サブグループ番号
Qx, y,：xは，ECC3G1サブグループでのパリティバイト番号
ECC3 G1サブグループは，ECC3フレームの二つのトラックの記録メインデータブロックを形成するた
めに，9.3の方法によって変換する。この変換の結果，PパリティバイトのECC3フレームを最初の（すな
わち，正アジマス）トラックに記録し，QパリティバイトのECC3フレームを2番目の（すなわち，負ア
ジマス）トラックに記録する。サブデータ領域に記録するデータは，9.4による。
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14.5.4 多重記録 基本グループ番号0を除く各基本グループは，連続して8個まで多重記録してもよい。
同じ基本グループから得られた記録データグループの範囲内では，フレーム番号（9.3.5.1.1参照），繰返し
位置（9.4.1.1参照）及び絶対フレーム番号（9.4.3.2及び9.4.4.2参照）の値は異なる。これらから算出した
パリティバイトの値も異なる。さらに，記録データグループごとの再記録フレーム（14.5.5参照）の数も
異なってもよい。
14.5.5 再記録フレーム データ領域で記録データグループの任意のフレームは，再記録によって繰り返し
てもよい。この再記録フレームは，0〜7個の中間フレームを書き込んだ後に書き込むことができる。この
動作（例えば，元のフレーム又は再記録フレーム，及びそれに引き続く0〜7個の中間フレーム）は，複数
回繰り返すことによって，このテープの不良部分を回避することができる。繰返し数の上限は，255とし，
元のフレームを含めて256とする。
元のフレームとその再記録フレームとの間にある中間フレームは，通常の順番としてそれに続く論理フ
レーム番号のフレームとなり，それ以降も正しい順番でなければならない。正しい順番とは，一つずつ増
加する論理フレーム番号をもつ連続したフレームをいう。記録データグループの最後のフレーム又は
ECC3フレームが存在するときは，その後のフレームの論理フレーム番号は，0（アンブルフレームに対し
て）又は1（次の記録データグループの最初のフレーム）で始まる。アンブルフレームは，中間フレーム
が7個を超えない限り，この順番とし，最後の再記録フレームの後に，正しい順番で書いた中間フレーム
が続く。
14.5.6 追記録及び重ね書き テープに記録しているデータに新しいデータを追記録するとき，又は現存す
るデータを新しいデータによって重ね書きするとき，記録を開始する位置は，記録データグループの最後
のフレーム（図50のフレームA）を基準とする。最後のグループの多重記録が存在するときは，関連する
記録データグループは，その順番の最後になる。再記録フレームを記録したときは，関連するフレームは，
最後のフレームの最後の繰返しになる。追記録又は重ね書きの最小の単位は，記録データグループとする。
参考 重ね書きを開始した後は，現在の記録点とPEOTとの間のデータは，論理的に無効となる。
追記録及び重ね書きの規定は，同一とする。追記録に関する規定は，次による。
データは，テープ上にノンシームレス（継目あり）又はシームレス（継目なし）のいずれかの方法で追
記録できる。前のトラックに続く連続した順番となるように追記録トラックを構成するときだけ，シーム
レス追記録とする。読取りができないような部分的な重ね書きをしたトラックが存在したり，トラックの
間にギャップが残ってはならない。
図50 追記録
図50では，フレームAまでのフレームは，保持するべき情報を含み，追記録は，アンブルフレームの
フレームBから始まり，情報は，フレームCから書き込む。
14.5.6.1 シームレス追記録の規則 シームレス追記録の規則は，次による。
規則1 フレームAとフレームBとの間には，一つのフレームが存在する。例えば，フレームAの絶対
フレーム番号 (AFN) がnのとき，フレームBのAFNはn＋2としなければならない。
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規則2 フレームAとフレームBとの間に記録したフレームは，フレームAに連続とする。例えば，フ
レームAとフレームBとの間には，未記録の空間，AFNの不連続，AFNの繰返し又は物理的
不連続があってはならない。このフレームのグループ番号は，フレームAのグループ番号より
大きい。ただし，そのフレームがアンブルフレーム（16.1参照）の場合，フレームAのグルー
プ番号と同じグループ番号とし，このフレームの内容は，無視する。
規則3 フレームBとフレームCとの間には，最低一つのアンブルフレームが存在する。例えば，フレ
ームBのAFNがn＋2のとき，フレームCのAFNは，少なくともn＋4とする。フレームB
とフレームCとの間には，未記録の空間，物理的不連続，AFNの不連続又はAFNの繰返しが
あってはならない。
規則4 図51に示すテープの長手方向で測定したフレームB (AFN＝n＋2) の最初のトラックの位置は，
AFN＝n＋1のフレームの最初のトラックからX＝163.0μm±26.7μmとする。
図51 シームレス追記録の許容差
14.5.6.2 ノンシームレス追記録の規則 ノンシームレス追記録の規則は，次による。
規則1
フレームAとフレームBとの距離は，1〜11個のフレーム相当分とする。フレームAとフレ
ームBとの間には，未記録の空間があってはならない。フレームAとフレームBとの間の1
個以上のフレームは，誤った内容でもよい。例えば，ある追記録点での部分的な重ね書きが
複数回生じた場合が，これに該当する。
規則2
AFNの不連続性及びAFNの繰返しは，フレームAのAFNがnの場合，フレームAとフレ
ームBとの間で，すべてのフレームのAFNは，nより大きく，かつ，フレームBのAFNは，
n＋2〜n＋12とする。
規則3
フレームAとフレームBとの間のアンブルフレーム（16.1参照）は，フレームAのグループ
番号と同じグループ番号の値とする。フレームAとフレームBとの間のその他のフレームは，
フレームAのグループ番号の値よりも大きいグループ番号の値とする。
規則4
フレームBとフレームCとの間には，29個以上のフレームが存在する。例えば，フレームB
のAFNがn＋2≦n'≦n＋12のときは，フレームCのAFNは，n'＋30以上とする。フレームB
とフレームCとの間には，未記録の空間，物理的不連続，物理的継目，AFNの不連続又は
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AFNの繰返しがあってはならない。
14.6 EOD領域 EOD領域は，データ領域の後に続く領域とする。
EOD領域は，450個以上のテープ管理フレームによって構成し，データ領域の最後のアンブルフレーム
の後とする。EOD領域の最初のフレームは，PEOTの少なくとも2 500mm前に記録する。複数のEOD領
域がテープ上に存在してもよい。LBOTに最も近いEOD領域だけが情報交換に有効とする。
14.7 ポストEOD領域 ポストEOD領域は，EOD領域の後にPEOTまで続く領域とする。このポスト
EOD領域の内容は，規定しない。
14.8 アーリーワーニングポイント (EWP) アーリーワーニングポイントは，次による。
新しいテープ又はバルク消去したテープでは，EWPの位置は，磁気テープ装置によって算出する。算出
したEWPの位置は，PEOTから3 000mm以上前としなければならない。EWPを超えてデータを記録する
までは，その位置表示は，テープ上には記録しない。EWPを超えて最初にデータを記録するときは，全体
又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループでのAEWPビット（9.2.3.1.14参照）の設定を0
から1にする。この変化点は，テープを引き続き読み取るときに，EWPの位置として利用する。
データを含んでいるテープの重ね書きについては，重ね書きを開始した位置が，重ね書きの開始前に定
義したEWPより前のときは，現在，テープを記録している磁気テープ装置が，EWPを算出する。算出し
たEWPの位置は，少なくともPEOTから3000mm以上前でなければならない。EWPを超えてデータを記
録するときは，全体又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループでのAEWPビット（9.2.3.1.14
参照）の設定を0から1にする。この変化点は，テープを引き続き読み取るときに，EWPの位置として利
用する。
データを含んでいるテープの重ね書きについて，新たな重ね書きを開始する位置から前にAEWPビット
が0から1に変化しているとき，その変化点がEWPの位置となる。したがって，それ以降のすべての新
しい重ね書きグループでは，AEWPビットは1にする。
14.9 初期化 初期化は，ユーザデータを記録するため，最初にテープを使用する前に行う。ただし，任
意に必要に応じて行うことができる。初期化によってLBOTとベンダグループの終わりとの間に未記録の
空間が生じてはならない。LBOTからベンダグループの終わりまでは，連続して記録し，ガードバンド1
のフレーム数の公称値は，5フレームとし，ガードバンド2のフレーム数の公称値は，15フレームとする。
ガードバンド1で5個のテープ管理フレームのエリアIDは，リファレンス領域（9.4.9.1.1参照）に設定す
る。
記録済みのテープを初期化するとき，システムログの履歴データを含むすべてのデータは，破壊される。
参考 テープ割付け上，最初の記録データグループの記録前に，新しいテープ又はバルク消去したテ
ープに対して初期化を行う必要はない。リファレンス領域，システム領域及びベンダグループ
は，最初の記録データグループの記録と同時に記録できる。
15. パーティションテープの構成 パーティションテープは，一つのテープの上に二つの独立したパーテ
ィションをもつことができる（図52参照）。これらのパーティションは，それぞれシングルデータスペー
ステープと同様な構成と特性をもつ。
15.1〜15.5の規定を除いて，すべての記録フォーマットの規定は，パーティションテープのそれぞれの
パーティションに適用する。
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図52 パーティションテープの構成
15.1 テープ上の配置 パーティションテープ上の配置は，PBOTからPEOTまでの間にデバイス領域，
パーティション1及びパーティション0の順番とする。
15.1.1 デバイス領域 デバイス領域は，シングルデータスペーステープと同じとする。
15.1.2 パーティション1
15.1.2.1 パーティション1のフレーム数 パーティション1のフレーム数の合計は，パーティション1の
システム領域のパックアイテム番号3及びパックアイテム番号4のバイト番号5〜7に記録する。
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15.1.2.2 システムログ システムログのパックアイテム番号5〜8のデータフィールドは，各パーティシ
ョンのパラメータ値の合計を記録する。このログは，テープ使用の履歴になる。
15.1.2.3 テープの仮想EOT (VEOT) VEOTは，パーティション境界の前，450フレームに相当する距離
を基準点とする。この基準点は，シングルデータスペーステープのPEOTと同じ方法で使用する。例えば，
VEOTを超えたパーティション1の中では，初期化（15.5参照）の場合を除いて，記録してはならない。
VEOTとパーティション境界との間の空間は，パーティション1のEOD領域と同等のテープ管理フレー
ムを含むこととする。
参考 パーティション1で重ね書きを開始した後は（14.5.6参照），現在の記録点とVEOTの間にある
すべてのデータは，論理的に無効となる。パーティション0にあるデータは，影響されない。
15.1.2.4 パーティション1のアーリーワーニングポイント (EWP) 空のパーティション1（15.4参照）
のEWPは，磁気テープ装置がその位置を算出する。
算出したEWPの位置は，VEOTから3 067フレーム以上前になければならない。EWPを超えてデータ
を記録するまで，その位置表示は，テープ上に記録しない。EWPを超えて最初にデータを記録するとき，
全体又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループでのAEWPビット（9.2.3.1.14参照）の設定
は，0から1にする。この変化点は，テープが引き続き読み取るときに，EWPの位置として利用する。
データを含んでいるパーティション1の重ね書きについては，重ね書きを開始した位置が，重ね書きの
開始前に定義したEWPより前にあるとき，テープを記録している磁気テープ装置がEWPを算出する。算
出したEWPの位置は，VEOTから3 067フレーム以上前になければならない。EWPを超えてデータを記
録するとき，全体又は部分的にその点の前に記録した最後の基本グループでのAEWPビット（9.2.3.1.14
参照）の設定は，0から1にする。この変化点は，テープを引き続き読み取るとき，EWPの位置として利
用する。
データを含んでいるパーティション1で，重ね書きを開始する位置の前でAEWPビットが0から1に変
化しているとき，その変化点がEWPの位置となる。パーティション1のすべての重ね書きグループの
AEWPビットは，1となる。
参考 3 067フレーム相当のテープの長さは，約500mmとなる。
15.1.2.5 パーティション1のEOD領域 EOD領域は，テープ管理フレームによって構成し，データ領域
の最後のアンブルフレームの後とする。その長さは，最後のアンブルフレームとVEOTとの長さが450フ
レームより大きいとき，少なくとも450フレームとし，小さいときはその長さに応じたものとする。
15.1.2.6 パーティション1のポストEOD領域 ポストEOD領域は，VEOTの前にEOD領域の終わりが
あるとき，EOD領域の後にVEOTまで続く領域とする。ポストEOD領域は，エリアID（9.4.9.1.1参照）
がパーティション1を示す記録フレームで構成する。内容については，規定しない。
15.1.3 パーティション0
15.1.3.1 LBOT LBOTは，パーティションの境界とする。この位置の後の最初のフレームは，絶対フレ
ーム番号1とする。
15.1.3.2 システムログ システムログのロード総数（パックアイテム番号8のバイト番号2及びバイト番
号3）は，すべて0に設定する。
15.2 エリアID エリアID（9.4.9.1.1参照）の最上位ビットは，パーティション0では1に設定し，パー
ティション1では0に設定する。
15.3 システム領域でのパックアイテム番号3及びパックアイテム番号4
パーティション0のシステム領域のパックアイテム番号3及びパックアイテム番号4のバイト番号5〜7
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は，すべてのビットを1に設定する。
15.4 空のパーティション パーティションテープで一つのパーティションだけが記録データグループを
含むとき，他のパーティションは，空とみなす。
15.4.1 空のパーティション1 空のパーティション1は，次の内容とする。
− リファレンス領域
− システム領域
− 一つのベンダグループ及び35個以上のアンブルフレームで構成するデータ領域
− パーティション1のEOD領域にあるものと同じ3 517個以上のテープ管理フレーム
ベンダグループプリアンブル，データ領域及びそれに続くテープ管理フレームは，パーティション境界
まで連続としなければならない。そこには，未記録の空間，物理的不連続，継目，AFNの不連続又はAFN
の繰返しがあってはならない。
15.4.2 空のパーティション0 空のパーティション0は，次の内容とする。
− リファレンス領域
− システム領域
− 一つのベンダグループ及び35個以上のアンブルフレームで構成するデータ領域
− 450フレーム以上の長さのEOD領域
EODの最初のフレームは，PEOTより少なくとも2 500mm以前に記録する。
ベンダグループプリアンブル，データ領域及びEOD領域には，未記録の空間，物理的不連続，継目，
AFNの不連続又はAFNの繰返しがあってはならない。
15.5 パーティションテープの初期化 新しいテープ又はバルク消去したテープをパーティションテープ
として使用するとき，一つのパーティションだけに記録し，他のパーティションが空になる。パーティシ
ョン境界の位置を定義し，空のパーティションが15.4の規定に適合し，かつ，効率的なテープ位置の管理
を補助するために，最初の記録の前に初期化することを推奨する。初期化のとき，空のパーティション1
及びパーティション0を連続して書き込まなければならない。
記録済みテープを初期化するときは，システムログの履歴データを含むすべてのデータが破壊される可
能性がある。
16. ハウスキーピングフレーム ハウスキーピングフレームは，ユーザデータ，セパレータ又はインデッ
クスを含まない。データは，各トラックのサブデータ領域にだけ記録する。このデータは，ハウスキーピ
ングフレームを記録するテープ領域の内容に依存する。各トラックの記録メインデータブロックは，各バ
イトをすべて0に設定するG1サブグループ及び9.3の適用によって生成する。サブデータ領域に記録する
データは，9.4による。
ハウスキーピングフレームにはアンブルフレーム，システムログフレーム及びテープ管理フレームの3
種類がある。
16.1 アンブルフレーム アンブルフレームは，データ領域内にだけ存在可能である。論理フレーム番号
は，0とする。サブデータ領域内のデータは，直前の記録データグループ内の基本データを参照しなけれ
ばならない。
アンブルフレームは，中間フレーム（14.5.5参照）として挿入した場合を除いて，記録データグループ
内及びベンダグループの前にあってはならない。
アンブルフレームの前には追記録点（14.5.6.1及び14.5.6.2参照）を除いて，他のアンブルフレーム又は
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参照する記録データグループの最後のフレーム以外のフレームがあってはならない。
16.2 システムログフレーム システムログフレームは，システム領域内に71〜95の絶対フレーム番号で
記録する。テープ使用履歴のログデータは，各システムログフレームのサブデータ領域に記録する。
16.3 テープ管理フレーム テープ管理フレームは，次の領域に記録する。
− リファレンス領域
− システムログ内を除くシステム領域
− EOD領域
− VEOTとパーティション境界との間
テープ管理フレームのサブデータ領域は，パックアイテム番号3及びパックアイテム番号4のデータだ
けを含む。
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附属書A（規定） プリズムの光透過率の測定法
A.1 この附属書は，プリズムの光透過率の想定装置及び測定方法を示す。
光透過率は，測定装置で読み取ったカートリッジのプリズムの値と基準プリズムの値の比とする。
カートリッジのプリズムの光透過率は，次の式による。
100
r
×
r
c
P
P
P＝
ここに，
P： カートリッジのプリズムの光透過率 (%)
Pc： カートリッジのプリズムの値
Pr： 基準プリズムの値
A.2 光源 光源は，波長850nm±50nm，半値幅±50nmの赤外発光ダイオード (LED) を使用する。
A.3 光検出部 光検出部は，シリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
A.4 光学系 光学系は，附属書A図2による。すべての裏面は，黒のつや消し仕上げとする。両方の光学
測定装置は，附属書A図1で示す基準プリズムを用いて校正する。
すべての測定装置は，暗室に入れる。
A.5 基準プリズム 基準プリズムの仕様は，次による。
光透過率 ：波長850nm±50nmで95%。
寸法
：附属書A図3に示す。
A.6 測定回路 測定回路は，附属書D.2.6に示す。スイッチSは，0の位置とする。
附属書A図1 基準プリズム
附属書A図2 カートリッジプリズム
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附属書A図3 基準プリズムの外観図
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附属書B（参考） 識別孔
この附属書（参考）は，識別孔の組合せについて記述するものであり，規定の一部ではない。
この規格で規定した以外のテープの種類を識別するカートリッジケースの識別孔の組合せは，附属書B
表1による。
附属書B表1 識別孔
識別孔
1234
テープ厚さ
テープの種類
トラックの幅
記録済みテープ
フォーマット
0000
13μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
無
DDS
0001
13μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
有
DDS
0010
クリーニングテープ
0011
13μm
バリウムフェライトテープ
20.4μm
有
DAT
0100
9μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
無
DDS
0101
9μm
メタルテープ (MP)
13.6μm
有
DDS
0110
確保
0111
9μm
バリウムフェライトテープ
20.4μm
有
DAT
1000
6.9μm
メタルテープ (MP＋)
9.1μm
無
DDS-2
1001
確保
1010
確保
DDS-3
1011
確保
1100
確保
DDS-4
1101
確保
1110
確保
1111
確保
1＝識別孔が開いた状態
0＝識別孔が閉じた状態
附属書B表1の最右欄の意味は，次による。
DDS ：ISO/IEC 12247によるDDSフォーマット，又はISO/IEC 11557によるDDS−DCフォーマット
DDS-2 ：この規格で規定した記録フォーマット
DDS-3 ：将来の記録フォーマット
DDS-4 ：将来の記録フォーマット
DAT ：ISO/IEC 1119-1による記録フォーマット
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附属書C（参考） 前ふたの開放方法
この附属書（参考）は，前ふたの開放方法について記述するものであり，規定の一部ではない。
C.1 附属書C図1に示すケース底面の一辺の寸法a＝2mmの二つの正方形領域に，前ふたを開けるための
力を加える。
C.2 開放方法の一例を次に示す。カートリッジを磁気テープ装置に挿入すると，磁気テープ装置の二つの
ピンの端部が附属書C図1に示す二つの正方形領域に当たり，附属書C図2に示すように，カートリッジ
を更に押し下げることによって，前ふたが完全に開く（附属書C図3）。
附属書C図1 ケースの底面
附属書C図2 磁気テープ装置へ装着
する中間位置
附属書C図3 磁気テープ装置へ装着
する最終位置
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附属書D（規定） テープの光透過率の測定方法
D.1 概要 この附属書は，テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。
光透過率は，テープ試験片を入れたときの値と入れないときの値との比を百分率 (%) で表す。
D.2 測定装置 測定装置の構成は，次による。
光源
光検出部
測定用マスク
光学系
測定回路
D.2.1 光学 光源は，波長850nm±50nm，半値幅±50nmの赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
D.2.2 光検出部 光検出部は，平らなシリコンフォトダイオードを用い，閉回路で動作する。
D.2.3 測定用マスク 測定用マスクは，厚さを2mm，孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の80%
〜100%の大きさに設定する。
表面は，黒のつや消しとする。
試験片は，マスクの孔を覆い，周りの光が漏れないようにマスクを固定する。
D.2.4 光学系 光学系は，附属書D図1による。光は，マスクに垂直に入射し，光源からマスクまでの距
離 (L) は，次の式による。
α
tan
2
d
L=
光軸上の最大強度に対して，95%以上の強度がある領域にαを設定する。
附属書D図1 光学系の構成
D.2.5 仕上げ 仕上げは，装置全体をつや消しの黒いケースで覆う。
D.2.6 測定回路（附属書D図2） 測定回路の構成は，次による。
E
：出力電圧を変える定電圧電源
R
：電流を制限する抵抗
LED
：赤外線発光ダイオード
Di
：シリコンフォトダイオード
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A
：演算増幅器
Rf0Rf1
：帰還用の抵抗器
S
：増幅率切換用スイッチ
V
：電圧計
LEDに流れる電流，すなわち，照射力は，供給電圧(E)によって変化させる。
Diは，回路を閉じて動作させる。
演算増幅器の出力は，V0＝Ik×Rfで与えられる。ここで，Ikは，Diの閉回路での電流とする。
Rf0×Rf1は，許容差1%の温度変化特性がよい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は，次の式による。
20
1
1
0＝
f
f
R
R
附属書D図2 測定回路
D.3 測定法 測定法は，次による。
D.3.1 スイッチ (S) を位置 (0) にする。
D.3.2 試験片を取り付けないで，電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるように供給電圧 (E) を
変化させる。
D.3.3 リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。電圧計は，60%〜100%を示す。
D.3.4 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置(1)に設定する。電圧計のフルスケ
ールは，光透過率5%を示す。
74
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E（規定） 信号対雑音比 (S/N) 特性の測定法
信号対雑音比の測定は，分解能10kHzのスペクトラムアナライザを用い，試験条件は，本体8.による。
E.1 テープを交流消去する。
E.2 テープに記録密度2 999.9ftpmmで記録する。
E.3 平均信号振幅 (Stape) を測定する。
E.4 全雑音 (Ntotal) は，3.7MHzで測定する。
E.5 再生系の雑音 (Namp) は，テープを装着しないでモータを回転させて3.7MHzで測定する。
テープ雑音：
amp
total
tape
N
N
N
2
2
−
＝
tape
amp
N
N
は，70%未満とする。
信号対雑音比S/Nは，
tape
tape
N
S
log
20
で算出した，デシベル (dB) で表す。
E.6 テープの信号対雑音比 (S/Ntape) は，64回以上を測定した平均とする。
E.7 副標準テープについてもE.1〜E.6の測定を行い，副標準テープの信号対雑音比S/NMSRT (dB) を求める。
供試テープの信号対雑音比S/N (dB) は，次の式によって算出する。
S/N＝S/Ntape−S/NMSRT
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F（規定） 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法（記録条件）
記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は，本体8.による。
F.1 記録レベルの公称値の決定法
F.1.1 信号振幅副標準テープの記録密度1 499.9ftpmmの信号を再生し，読み取った値を信号振幅副標準テ
ープによって校正する。
F.1.2 交流消去した副標準テープに，記録密度1 499.9ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増や
しながら記録し，読み取った値がF.1.1で求めた校正後の値と等しくなるまで記録電流を増やす。
F.1.3 交流消去した供試テープに対し，F.1.2で求めた記録電流で記録密度1 499.9ftpmmの信号を記録する。
読み取った値を，記録密度1 499.9ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
F.1.4 記録密度83.3ftpmm，333.3ftpmm，500.0ftpmm及び1 000.0ftpmmの値を求めるために，F.1.1〜F.1.3
を同様に繰り返す。
F.2 記録レベルの最大許容値の決定法
F.2.1 交流消去した副標準テープに，記録密度1 499.9ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増や
しながら記録し，読み取った値がF.1.1で求めた校正後の値の119%になるまで記録電流を増やす。
F.2.2 交流消去した供試テープに対し，F.2.1で求めた記録電流で記録密度1 499.9ftpmmの信号を記録する
読み取った値を，記録密度1 499.9ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
F.2.3 記録密度333.3ftpmm，500.0ftpmm及び1 000.0ftpmmの値を求めるために，F.2.1〜F.2.2を同様に繰り
返す。
F.3 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは，この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので，
互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は，次による。
記録密度83.3ftpmmでは，記録レベルの公称値とする。
記録密度333.3ftpmm，500.0ftpmm，1 000.0ftpmm及び1 499.9ftpmmでは，記録レベルの最大許容値とす
る。
参考 互換性確保のために，記録レベルは，記録密度333.3ftpmm，500.0ftpmm，1 000.0ftpmm及び1
499.9ftpmmで記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。
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X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G（規定） 8ビットバイトから10チャネル
ビットパターンヘの変換
G.1 8ビットバイトは，最上位ビットを左側とし，最下位ビットを右側とする。
10チャネルビットパターンは，最初に記録するビットを左側とし，最後に記録するビットを右側とする。
G.2 使用する記録装置は，記録信号の直流成分を0に近づける必要がある。すべての10チャネルビットパ
ターンは，0平衡又は6：4若しくは4：6の直流不平衡である。各10チャネルビットパターンには，直流
成分を最小にするために，次の10チャネルビットパターンの二つの代替パターンのいずれを選択するかを
変調器に指示するインジケータQが含まれる。
Q'は，前のパターンの直流情報である。
Qは，現在のパターンの直流情報である。
G.3 左側の列には，8ビットバイトの16進数表記で記している。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビット
バイト
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
00
00000000
0101010101
0
1
0101010101
0
−1
01
00000001
0101010111
0
−1
0101010111
0
1
02
00000010
0101011101
0
−1
0101011101
0
1
03
00000011
0101011111
0
1
0101011111
0
−1
04
00000100
0101001001
0
−1
0101001001
0
1
05
00000101
0101001011
0
1
0101001011
0
−1
06
00000110
0101001110
0
1
0101001110
0
−1
07
00000111
0101011010
0
1
0101011010
0
−1
08
00001000
0101110101
0
−1
0101110101
0
1
09
00001001
0101110111
0
1
0101110111
0
−1
0A
00001010
0101111101
0
1
0101111101
0
−1
0B
00001011
0101111111
0
−1
0101111111
0
1
0C
00001100
0101101001
0
1
0101101001
0
−1
0D
00001101
0101101011
0
−1
0101101011
0
1
0E
00001110
0101101110
0
−1
0101101110
0
1
0F
00001111
0101111010
0
−1
0101111010
0
1
10
00010000
1101010010
0
1
1101010010
0
−1
11
00010001
0100010010
2
−1
1100010010
−2
−1
12
00010010
0101010010
0
−1
0101010010
0
1
13
00010011
0101110010
0
1
0101110010
0
−1
14
00010100
1101110001
2
1
0101110001
−2
1
15
00010101
1101110011
2
−1
0101110011
−2
−1
16
00010110
1101110110
2
−1
0101110110
−2
−1
17
00010111
1101110010
0
−1
1101110010
0
1
18
00011000
0101100101
2
−1
1101100101
−2
−1
77
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビット
バイト
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
19
00011001
0101100111
2
1
1101100111
−2
1
1A
00011010
0101101101
2
1
1101101101
−2
1
1B
00011011
0101101111
2
−1
1101101111
−2
−1
1C
00011100
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1011010111
2
−1
0011010111
−2
−1
A2
10100010
1011011101
2
−1
0011011101
−2
−1
A3
10100011
1011011111
2
1
0011011111
−2
1
A4
10100100
1011001001
2
−1
0011001001
−2
−1
A5
10100101
1011001011
2
1
0011001011
−2
1
A6
10100110
1011001110
2
1
0011001110
−2
1
A7
10100111
1011011010
2
1
0011011010
−2
1
A8
10101000
1011110101
2
−1
0011110101
−2
−1
A9
10101001
1011110111
2
1
0011110111
−2
1
AA
10101010
1011111101
2
1
0011111101
−2
1
AB
10101011
1011111111
2
−1
0011111111
−2
−1
AC
10101100
1011101001
2
1
0011101001
−2
1
AD
10101101
1011101011
2
−1
0011101011
−2
−1
AE
10101110
1011101110
2
−1
0011101110
−2
−1
AF
10101111
1011111010
2
−1
0011111010
−2
−1
B0
10110000
1101110101
0
1
1101110101
0
−1
B1
10110001
1101110111
0
−1
1101110111
0
1
B2
10110010
1101111101
0
−1
1101111101
0
1
B3
10110011
1101111111
0
1
1101111111
0
−1
B4
10110100
1101101001
0
−1
1101101001
0
1
B5
10110101
1101101011
0
1
1101101011
0
−1
B6
10110110
1101101110
0
1
1101101110
0
−1
B7
10110111
1101111010
0
1
1101111010
0
−1
B8
10111000
1011100101
0
−1
1011100101
0
1
B9
10111001
1011100111
0
1
1011100111
0
−1
BA
10111010
1011101101
0
1
1011101101
0
−1
BB
10111011
1011101111
0
−1
1011101111
0
1
BC
10111100
1011111001
0
1
1011111001
0
−1
BD
10111101
1011111011
0
−1
1011111011
0
1
BE
10111110
1011111110
0
−1
1011111110
0
1
BF
10111111
1011101010
0
−1
1011101010
0
1
C0
11000000
1110010101
2
1
0110010101
−2
1
C1
11000001
1110010111
2
−1
0110010111
−2
−1
C2
11000010
1110011101
2
−1
0110011101
−2
−1
C3
11000011
1110011111
2
1
0110011111
−2
1
C4
11000100
1110001001
2
−1
0110001001
−2
−1
C5
11000101
1110001011
2
1
0110001011
−2
1
C6
11000110
1110001110
2
1
0110001110
−2
1
C7
11000111
1110011010
2
1
0110011010
−2
1
81
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビット
バイト
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
C8
11001000
1110110101
2
−1
0110110101
−2
−1
C9
11001001
1110110111
2
1
0110110111
−2
1
CA
11001010
1110111101
2
1
0110111101
−2
1
CB
11001011
1110111111
2
−1
0110111111
−2
−1
CC
11001100
1110101001
2
1
0110101001
−2
1
CD
11001101
1110101011
2
−1
0110101011
−2
−1
CE
11001110
1110101110
2
−1
0110101110
−2
−1
CF
11001111
1110111010
2
−1
0110111010
−2
−1
D0
11010000
1101000101
2
−1
0101000101
−2
−1
D1
11010001
1101000111
2
1
0101000111
−2
1
D2
11010010
1101001101
2
1
0101001101
−2
1
D3
11010011
1101001111
2
−1
0101001111
−2
−1
D4
11010100
1101011001
2
1
0101011001
−2
1
D5
11010101
1101011011
2
−1
0101011011
−2
−1
D6
11010110
1101011110
2
−1
0101011110
−2
−1
D7
11010111
1101001010
2
−1
0101001010
−2
−1
D8
11011000
1110100101
0
−1
1110100101
0
1
D9
11011001
1110100111
0
1
1110100111
0
−1
DA
11011010
1110101101
0
1
1110101101
0
−1
DB
11011011
1110101111
0
−1
1110101111
0
1
DC
11011100
1110111001
0
1
1110111001
0
−1
DD
11011101
1110111011
0
−1
1110111011
0
1
DE
11011110
1110111110
0
−1
1110111110
0
1
DF
11011111
1110101010
0
−1
1110101010
0
1
E0
11100000
1111010101
0
1
1111010101
0
−1
E1
11100001
1111010111
0
−1
1111010111
0
1
E2
11100010
1111011101
0
−1
1111011101
0
1
E3
11100011
1111011111
0
1
1111011111
0
−1
E4
11100100
1111001001
0
−1
1111001001
0
1
E5
11100101
1111001011
0
1
1111001011
0
−1
E6
11100110
1111001110
0
1
1111001110
0
−1
E7
11100111
1111011010
0
1
1111011010
0
−1
E8
11101000
1111110101
0
−1
1111110101
0
1
E9
11101001
1111110111
0
1
1111110111
0
−1
EA
11101010
1111111101
0
1
1111111101
0
−1
EB
11101011
1111111111
0
−1
1111111111
0
1
EC
11101100
1111101001
0
1
1111101001
0
−1
ED
11101101
1111101011
0
−1
1111101011
0
1
EE
11101110
1111101110
0
−1
1111101110
0
1
EF
11101111
1111111010
0
−1
1111111010
0
1
F0
11110000
1101010101
0
−1
1101010101
0
1
F1
11110001
1101010111
0
1
1101010111
0
−1
F2
11110010
1101011101
0
1
1101011101
0
−1
82
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q'＝−1
Q'＝1
8ビット
バイト
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
10チャネルビ
ットパターン
直流
成分
Q
F3
11110011
1101011111
0
−1
1101011111
0
1
F4
11110100
1101001001
0
1
1101001001
0
−1
F5
11110101
1101001011
0
−1
1101001011
0
1
F6
11110110
1101001110
0
−1
1101001110
0
1
F7
11110111
1101011010
0
−1
1101011010
0
1
F8
11111000
1111100101
2
−1
0111100101
−2
−1
F9
11111001
1111100111
2
1
0111100111
−2
1
FA
11111010
1111101101
2
1
0111101101
−2
1
FB
11111011
1111101111
2
−1
0111101111
−2
−1
FC
11111100
1111111001
2
1
0111111001
−2
1
FD
11111101
1111111011
2
−1
0111111011
−2
−1
FE
11111110
1111111110
2
−1
0111111110
−2
−1
FF
11111111
1111101010
2
−1
0111101010
−2
−1
83
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（規定） ビットシフトの測定法
テープは，情報交換に使用する磁気テープ装置によってシステムオペレーションと互換性のあるモード
で記録する。
H.1 読取り装置 読取り装置は，次による。
附属書Kによって測定するときに，トラックの直線性が3μmの範囲内に保持されている磁気テープ装
置によって読み取らなければならない。
読取りヘッドの出力電圧の絶対値は，規定しない。ヘッド設計，回転トランス，前置増幅器及びヘッド
とテープの相対速度は，低い信号対雑音比による測定誤差を避けるように選ばなければならない。
− 読取りヘッド
ギャップ長
：0.25μm±0.03μm
トラック幅
：14.0μm±0.5μm
ヘッドギャップの角度 ：正アジマスのヘッドのギャップは，スキャナ軸に対して＋20°00'±12'とする。
：負アジマスのヘッドのギャップは，スキャナ軸に対して−20°00'±12'とする。
− 読取りチャネル 読取りギャップに接近させて平行に置いたリード線を用いて試験を行い，ヘッド，
回転トランス及び前置増幅器の総合周波数特性は，次に示す伝達関数G (S) について，チャネルビット1
の周波数の941〜1.5倍までの周波数範囲で，振幅2dB以内，位相5°以内とする。
参考 伝達関数G (S) は，前置増幅器に対する入力の結合時定数に関連する1次低周波遮断点，並び
にヘッド，回転トランス及び前置増幅器のインダクタンス，キャパシタンスに関連する2次高
周波遮断点によって定義される。
(
)
2
2
2
2
)
(
c
c
b
a
c
S
Q
S
S
KS
S
G
ω
ω
ω
ω
ω
＋
＋
＋
＝
ここに， K≧1
ωi＝2πfi
fa＝1の周波数
fb≦1の周波数の1/94
fc≧1の周波数の1.5倍
0.7≦Q≦1.0
− 等価器 前置増幅器の出力に接続する等価器の特性は，次の式による。
(
)(
)
2
2
2
2
1
2
2
0
2
2
2
4
)
)(
(
)
(
L
L
L
L
I
I
P
H
I
p
L
S
Q
S
S
Q
S
S
Q
S
S
S
S
S
K
S
G
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
＋
＋
＋
＋
＋
＋
＋
＋
−
−
＝
ここに， K≧5
ωi＝2πfi
fH＝1の周波数の1/200
fP＝1の周波数の2/3
fI＝1の周波数の1/4
fL＝1の周波数
Q0＝0.12
Q1＝2.0
84
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Q2＝0.5
H.2 測定 測定は，次による。
平均ビットセル長 (L) は，試験ゼロ交差 (TZC) の両側の任意の一対の基準ゼロ交差 (RZC) によって得
る。基準ゼロ交差は，2個以上の1のゼロ交差を両側にもつ1のゼロ交差とする。これらの1のゼロ交差
の外側のチャネルビットは，0又は1のいずれでもよい。
RZCは，ビットセル長の変化による最大の誤りを2%以下とするために，TZCから40個以下のビットセ
ルとする。
本体10.5に規定するビットシフトは，TZCとRZCとの間のビットセルで，任意の0及び1のパターン
に適合する。
H.3 データ分析
基準ゼロ交差間のビットセル長をnとすると，平均ビットセル長 (L) は，次の式による。
n
P
P
L
1
3−
＝
Pnは，n番目の1ゼロ交差点の位置とする。
最初の基準ゼロ交差と試験ゼロ交差との間にmビットの間隔があるときは，次の式による。
100
)
(
(%)
1
2
×
n
P
P
mL
−
−
＝
ビットシフト
85
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考） 輸送条件
この附属書（参考）は，推奨する輸送条件について記述するものであり，規定の一部ではない。
J.1 環境条件 カートリッジの輸送時の環境条件は，次によることが望ましい。
温度
：−40℃〜45℃
相対湿度 ：5%〜80%
湿球温度 ：26℃
カートリッジの内部及び表面は，結露してはならない。
J.2 カートリッジの輸送条件 カートリッジの輸送は，次による。
J.2.1 衝撃及び振動 輸送中のカートリッジへの損傷を最小限にするために，次のような対策をとること
が望ましい。
a) カートリッジを変形させるおそれがある機械的な荷重を加えてはならない。
b) カートリッジは，1mを超える高さから落下させてはならない。
c) カートリッジは，十分な衝撃吸収材をもった強固な箱の中に収納する。
d) カートリッジの収納箱は，内部が清浄で，かつ，じんあい（塵挨）及び水の浸入防止が十分可能な構
造とする。
e) カートリッジの収納箱内での収納方法は，テープリールの中心軸が水平になるようにする。
f)
カートリッジの収納箱内は，正しい方向（天地）に置けるように明確な表示をする。
J.2.2 極端な温度及び湿度
a) 温度及び湿度の急激な変化は，いかなる場合でも可能な限り回避する。
b) 輸送されたカートリッジは，必ず使用環境条件に最低24時間放置する。
J.2.3 誘導磁界の影響 カートリッジとカートリッジ収納箱の最外壁との距離は，外部磁界の影響による
信号破壊の危険性を最小限にするため，80mm以上とする。
86
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（規定） トラックエッジの直線性の測定法
K.1 測定法 測定法は，附属書K図1及び次による。
a) 試験片は，長手方向に0.09N±0.02Nの張力を加える。
b) 記録トラックのエッジとテープ基準縁に対し，d1＝0.961mm±0.005mm離れた平行線との交点をAと
する。
c) 同じ記録トラックのエッジとテープ基準縁に対し，d2＝2.839mm±0.005mm離れた平行線との交点をB
とする。
d) 線分ABの中点Cを中心とし，長手方向の軸がテープ基準縁に対し，α＝6°22'39.6″傾いた5μm×
21.36mmの長方形の箱を設定する。
附属書K図1 トラックエッジの直線性
K.2 要求事項 トラックエッジは，箱の短い辺にだけ交差しなければならない。
87
X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考） 記録時再生 (RAW)
この附属書（参考）は，記録時再生について記述するものであり，規定の一部ではない。
記録再生 (RAW) は，フレームを書き込んだ後に，それが正しく書き込まれたかどうかを調べて，正し
く書き込まれていないときは，再度書き込むために，直ちに，そのフレームを読み取ることである。RAW
は，フレーム単位で行う。RAWを行うときは，テープのデータ領域だけで行うこととし，アンブルフレー
ムで行ってはならない。RAWを行うときは，他のフレームに適用したか否かにかかわらず，個々のフレー
ムごとに適用するかどうかを決めてよい。RAWチェックで，フレームが正しく書かれていないと識別する
と，テープに沿ってその先に再書き込みする。再書き込みするフレームが，元のフレームを重ね書きする
ことはない。
RAWチェックの第一の目的は，テープの欠陥によって発生する多量の誤りを含むフレームの検出である。
したがって，すべてのチャネルビットが正しく読めなくても必ずしも再記録を行う必要はない。データ交
換の信頼性は，記録品質及びデータデコード品質だけに十分な余裕をもつことが最小の要求事項である。
フレームの品質を検査する方法の例としては，ミッシングパルスの長さ，レベル及びその分布，C1符号
又はC2符号によって検出された欠陥の数を数えること，書込みと読取りのチェックサムを比較すること，
書込み及び読取りデータの比較をサンプル期間又は常時行うことなどである。
フレームを再書込みするときは，テープ上に複数の同じフレームが存在する可能性がある。それに引き
続く読取りによって，フレームのデータが複数の部分から読み取られた場合は，前に読み取ったフレーム
のデータは，書込みに失敗の可能性があるので，最後に読み取ったデータを使用することを推奨する。
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X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書M（参考） 基本グループ番号0の内容の例
この附属書（参考）は，基本グループ番号0の内容の例を記述するものであり，規定の一部ではない。
基本グループ番号0の内容の例を附属書M図1に示す。
バイト位置1〜400のすべてのエントリの余剰部分には，(00) を記録し，残りのフレームには (00) を埋
める。
バイト位置
フィールド名
内容
1〜128
製造業者名
パーティションを書いた又は
初期化したドライブの製造業者名
129〜160
モデル番号
パーティションを書いた又は
初期化したドライブのモデル番号又は識別番号
161〜192
シリアル番号
ドライブに割り当てた識別番号
193〜224
改定番号
ドライブ部品の改定番号
193〜200 サブアセンブリ1
201〜208 サブアセンブリ2
209〜216 サブアセンブリ3
217〜224 サブアセンブリ4
225〜256
ホストインタフェースタイプ
及びアドレス
ホストインタフェースのタイプ（例えば，SCSI及び接続アド
レス）
225〜240 ホストインタフェースタイプ
241〜256 アドレス
257〜272
日付及び時間
YYMMDDHHMMSS
パーティションを初期化した日付及び時間
257〜258 YY 年(1980＋YY)
259〜260 MM 月
261〜262 DD 日
263〜264 HH 時
265〜266 MM 分
267〜268 SS 秒
273〜400
テープラベル又は識別子
パーティション内容の表示
401〜5756
確保
すべてのバイトを0に設定
5757〜126632
製造業者用データ
規定しない
附属書M図1 基本グループ番号0の例
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X 6129 : 1997 (ISO/IEC 13923 : 1996)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
磁気テープJIS改正原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
大 石 完 一
パルステック工業株式会社
（幹事）
富 田 正 典
日本システムインテグレーション株式会社
（幹事）
徳 永 賢 次
イメーション株式会社
千 原 健 一
富士通株式会社
竹 内 正
株式会社トリム・アソシエイツ
平 川 卓
富士写真フィルム株式会社
新 井 清
日本システムハウス株式会社
伊 藤 欣 也
日本電気株式会社
安 藤 晴 夫
日立マクセル株式会社
樋 口 重 光
株式会社日立製作所
酒 井 和 夫
株式会社日立製作所
堀 川 憲 一
ソニー株式会社
荒 木 学
日本ユニシス株式会社
岸 野 忠 信
財団法人日本規格協会
永 松 荘 一
通商産業省
兼 谷 明 男
工業技術院標準部
（関係者）
佐々木 喜 七
財団法人日本電子部品信頼性センター
（事務局）
内 山 誠 作
社団法人日本電子工業振興協会
長谷川 久 子
社団法人日本電子工業振興協会