X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 適合性···························································································································· 1
3 引用規格 ························································································································· 1
4 表記法···························································································································· 2
4.1 数字の表記 ··················································································································· 2
4.2 名称 ···························································································································· 2
4.3 試験成績書 ··················································································································· 2
5 用語及び定義 ··················································································································· 2
6 記号及び略語 ··················································································································· 4
7 概要······························································································································· 5
7.1 試験装置 ······················································································································ 5
8 ターゲット試験方法 ·········································································································· 6
8.1 ターゲット試験装置 ······································································································· 6
8.2 JIS X 5211に関するプロトコル試験方法リスト ···································································· 6
8.3 212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化 ····················································· 7
8.4 能動通信モードにおける活性化························································································· 9
8.5 ターゲット伝送プロトコルの論理操作 ················································································ 9
9 イニシエータ試験方法 ······································································································ 23
9.1 イニシエータ試験装置 ··································································································· 23
9.2 イニシエータのプロトコル試験方法リスト ········································································· 24
9.3 212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化 ···················································· 25
9.4 能動通信モードにおける活性化························································································ 26
9.5 伝送プロトコルの論理操作······························································································ 26
附属書A（規定）ターゲット試験の試験成績書テンプレート ························································ 37
附属書B（規定）イニシエータ試験の試験成績書テンプレート ····················································· 40
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人情報処理学会(IPSJ)及び財団法
人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標
準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
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日本工業規格
JIS
X 5214：2010
(ISO/IEC 23917：2005)
近距離通信用インタフェース及びプロトコル
(NFCIP-1)−プロトコル試験方法
Information technology-Telecommunications and information exchange
between systems-NFCIP-1-Protocol Test Methods
序文
この規格は，2005年に第1版として発行されたISO/IEC 23917を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。
この規格はJIS X 5211のプロトコル試験を規定するものであり，JIS X 5211のRFインタフェース試験
を規定するJIS X 5213を補足するものである。
1
適用範囲
この規格は，JIS X 5213に加えてJIS X 5211に対するプロトコル試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 23917:2005，Information technology−Telecommunications and information exchange between
systems−NFCIP-1−Protocol Test Methods (IDT)
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
適合性
この規格で規定するすべての必す（須）要件を満たしたとき，JIS X 5211を実装するシステムは，この
規格に適合する。
注記 この規格及びJIS X 5213がJIS X 5211の実装における，唯一の試験規格として国際規格を組み
立てている。このため，対応国際規格では，次のとおり規定されている。
JIS X 5211の実装は，JIS X 5213への適合に加え，この規格に規定するすべての試験及び要
件を満たさなければならない。試験結果は，この規格の附属書A及び附属書Bに記載する形式
で記録しなければならない。
3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS X 5211 システム間の通信及び情報交換−近距離通信用インタフェース及びプロトコル
2
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
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(NFCIP-1)
注記 対応国際規格：ISO/IEC 18092，Information technology−Telecommunications and information
exchange between systems−Near Field Communication−Interface and Protocol (NFCIP-1) (IDT)
JIS X 5213 近距離通信用インタフェース及びプロトコル (NFCIP-1)−RFインタフェース試験方法
注記 対応国際規格：ISO/IEC 22536，Information technology−Telecommunications and information
exchange between systems−Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)−RF
interface test methods (IDT)
JIS X 6305-6 識別カードの試験方法−第6部：外部端子なしICカード−近接型
注記 対応国際規格：ISO/IEC 10373-6，Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards
(IDT)
4
表記法
4.1
数字の表記
この規格においては，特に断らない限り，次の表記を適用する。
a) 16進法は，“XX”で表す。Xは数字及び英文字を表す。
b) ビットの設定は，0又は1で表す。
c) ビットパターン及び2進数表現の数字は，最上位ビットを左とし，b“xxxx xxxx”で表し，xは0又
は1とする。規定しないビットにはxを用いることがある。
4.2
名称
（対応国際規格では，この細分箇条において，名称の表記について英語特有の語句の用法について規定
しているが，この規格では不要であり，不採用とした。）
4.3
試験成績書
試験成績書には，実施した試験の総数に対して合格した試験の数，サンプル個体数，及び試験日を記述
する（附属書A及び附属書B参照）。
5
用語及び定義
この規格で使用する主な用語及び定義は，次による。
5.1
能動通信モードにおける活性化 (activation in active communication mode)
JIS X 5211の規定に従ってDUTを能動通信モードで活性化するフローであって，初期化及びプロトコル
活性化を含むもの。
5.2
受動通信モードにおける活性化 (activation in passive communication mode)
JIS X 5211の規定に従ってDUTを受動通信モードで活性化するフローであって，初期化及びプロトコル
活性化を含むもの。
5.3
能動通信モード (active communication mode)
イニシエータ及びターゲットが，それぞれ自ら発生したRFフィールドを用いて通信するモード (JIS X
5211参照)。
3
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5.4
動作範囲 (operating volume)
製造業者が指定する位置においてNFCデバイスが発生するHmin〜Hmaxの磁界強度範囲内となる空間領域。
5.5
受動通信モード (passive communication mode)
イニシエータがRFフィールドを発生し，ターゲットがイニシエータの命令に対しJIS X 5211で定義さ
れる負荷変調で応答する方式。
5.6
単一デバイス検出 [single device detection (SDD)]
RFフィールドにある複数のターゲットの中から一つを検出するために，イニシエータが使用するアルゴ
リズム。
5.7
シナリオ (scenario)
プロトコル及びアプリケーションに固有の試験手順。シナリオ記述表は，すべての試験の操作手順を列
挙したものである。
シナリオ記述表中に横線がある箇所では，デバイスが初期状態にリセットされなければならない。
5.8
試験命令 (test commands)
JIS X 5211に従って実装されたシステムにおいて専用の機能を動作させるために定義された命令。これ
らの命令の中で実際に使用したpduを試験成績書に記録しなければならない（附属書A及び附属書B参
照）。
注記 PDUの表記方法について，一般名称として記載するときには“pdu（小文字）”，固有名詞とし
て記載するときには，“xxxPDU（大文字）”とした。
すべての試験命令に対し有効な定義。
xx
PNI
次の試験命令は，JIS X 5211に規定されているpduに基づいて規定される。
A (ACK) xx
ACK/NACKビットが0に，PNIがxxにそれぞれ設定され，pduがACK/NACK PDUに符号化さ
れたDEP̲REQ PDU又はDEP̲RES PDU。
A (NACK) xx
ACK/NACKビットが1に，PNIがxxにそれぞれ設定され，pduがACK/NACK PDUに符号化さ
れたDEP̲REQ PDU又はDEP̲RES PDU。
S (A)
タイムアウトビットが0に設定され，pduが管理PDUに符号化されたDEP̲REQ PDU又は
DEP̲RES PDU。PNIはこの命令には使用されない。
S (TO)
タイムアウトビットが1に設定され，pduが管理PDUに符号化されたDEP̲REQ PDU又は
DEP̲RES PDU。PNIはこの命令には使用されない。
TEST̲COMMAND1xx
既定の試験命令。複数情報リンクビットが0（連鎖なし）に設定され，PNIがxxに設定され，情
4
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報PDUに符号化されたDEP̲REQ PDU。イニシエータ又はターゲット試験装置がこのpduを送信
する。
TEST̲RESPONSE1xx
PNIがxxに設定されたTEST̲COMMAND1への応答（DEP̲RES PDU）。
TEST̲COMMAND2xx
連鎖処理の試験のための試験命令。この命令は，通信相手（イニシエータ又はターゲット）に対
し，次のDEP̲REQ PDUに連鎖の使用を強要する。この命令は，イニシエータ又はターゲット各々
に対するDEP̲REQ PDU又はDEP̲RES PDUで，複数情報リンクビットが0，TEST̲COMMAND1
とpduとの型は同じであるが，そのデータは異なる。
TEST̲COMMAND3Bxx
この命令は，複数情報リンクビットは1，PNIはxxに設定され，イニシエータ又はターゲット
各々に対するDEP̲REQ PDU又はDEP̲RES PDUのフレームの開始を示す。
TEST̲COMMAND3nxx
この命令は，TEST̲COMMAND3Bの後及びTEST̲COMMAND3Eの前に送信される。nは0〜
9の値をとる。複数情報リンクビットは1，PNIはxxに設定される。
TEST̲COMMAND3Exx
この命令は，複数情報リンクビットは0，PNIはxxに設定されるイニシエータ又はターゲット
各々に対するDEP̲REQ PDU又はDEP̲RES PDUのフレームで，連鎖手順の終了を示す。
TEST̲RESPONSE3xx
連鎖命令への応答。イニシエータ又はターゲット各々に対するDEP̲REQ PDU又はDEP̲RES
PDUでなければならず，複数情報リンクビットは0，PNIはxxに設定される。
TEST̲COMMAND4xx
フレーム待ち時間を試験するための命令。イニシエータはこの命令を送信することでターゲット
にタイムアウトビットを1，PNIをxxに設定した管理PDUを使わせる。
TEST̲RESPONSE4xx
TEST̲COMMAND4への応答。複数情報リンクビットが0，PNIがxxに設定されたDEP̲RES
PDU。TEST̲RESPONSE1と同じこともある。
6
記号及び略語
ATR̲REQ（Attribute Request command）
JIS X 5211に規定する属性要求
ATR̲RES（Attribute Response command）
属性応答
CRC（Cyclic Redundancy Check）
JIS X 5211の附属書A（CRCの計算方法）に規定する
巡回冗長検査
~CRC
上記で定義するCRCのビット反転
DEP̲REQ（Data Exchange Protocol Request） JIS X 5211に規定するデータ交換プロトコル要求
DEP̲RES（Data Exchange Protocol Response） データ交換プロトコル応答
DID（Device ID）
JIS X 5211に規定するデバイス識別子
DSL̲REQ（Deselect Request command）
JIS X 5211に規定する選択解除要求命令
DSL̲RES（Deselect Response command）
選択解除応答命令
DUT（Device Under Test）
試験対象デバイス
5
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fc（carrier frequency）
JIS X 5211に規定する搬送波の周波数
Hmax（Maximum field strength）
JIS X 5211に規定する最大動作磁界強度
Hmin（Minimum field strength）
JIS X 5211に規定する最小動作磁界強度
HThreshold
JIS X 5211に規定する外部RFフィールドしきい値
ID（Identification number）
識別番号
LT（Lower Tester）
イニシエータ試験装置のターゲットエミュレーション部
Mute
規定タイムアウト以内に応答がないこと
pdu（Protocol Data Unit）
JIS X 5211に規定するプロトコルデータ単位
PNI（Package Number Information）
JIS X 5211に規定するパケット番号情報
POL̲REQ（Polling Request command）
JIS X 5211に規定するポーリング要求
POL̲RES（Polling Response command）
ポーリング応答
PSL̲REQ（Parameter Select Request command）
JIS X 5211に規定するパラメタ選択要求
PSL̲RES（Parameter Select Response command）
パラメタ選択応答
RF（Radio Frequency）
無線周波数
RFU（Reserved for Future Use）
将来使用するため予約
RLS̲REQ（Release Request command）
JIS X 5211に規定する解放要求命令
RLS̲RES（Release Response command）
解放応答命令
RTO PDU（Response Timeout extension）
JIS X 5211の12.6.1.3.3（ターゲット規定）及び12.6.2（タ
イムアウト応答拡張）に規定する
応答タイムアウト拡張要求
SDD（Single Device Detection）
JIS X 5211に規定する単一デバイス検出
Td
212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDDの要求フレームの最後尾とタイムスロットの先頭
との間の時間遅延（512×64/fcでなければならない。）
Ts
一つのタイムスロットの時間枠（256×64/fcでなければならない。）
TCM（Test control message）
試験管理メッセージ
UT（Upper Tester）
イニシエータ試験装置のマスタ部
7
概要
7.1
試験装置
注記 試験装置は，実装プロトコル及び機能に関する情報を要することがあり，これらパラメタは，
試験成績書に記録されなければならない。
7.1は，イニシエータ及びターゲットの試験に適用される。
この規格では，タイミング測定及びフレーム正当性の確認のための専用試験回路を定義しないが，その
ような回路を使用した場合は試験結果に影響してはならない。
7.1.1
受信モードにおける入出力特性タイミングの生成
JIS X 5211に従い，ターゲット試験装置及びLTは入出力ビット列を生成できなければならない。すべて
のタイミングパラメタ（スタートビットの長さ，ガードタイム，ビット幅，要求ガードタイム，フレーム
幅の先頭，フレーム幅の終端など）がJIS X 5211に定義する値に設定されなければならない。JIS X 5213
でその制限を試験しなければならない。
注記 LT (Lower Tester)イニシエータ試験装置のターゲットエミュレーション部
6
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7.1.2
RF入出力プロトコルの測定及び監視
ターゲット試験装置及びLTは，受信データを復調し論理的な1及び0の状態のタイミングを測定でき
なければならない。
7.1.3
試験シナリオ及び試験成績書
この規格で定義されたDUTの試験は，試験シナリオを適用する必要がある。この試験シナリオは，特
定の手順のプロトコル及びアプリケーションを含む。
試験シナリオの結果は，附属書A及び附属書Bに示す試験成績書に記録しなければならない。
7.1.4
RFUビット
RFUが既定値に設定されていない場合，試験は不合格とし，かつ，DUTが不適合なものであると明示し
なければならない。この規定に，該当する箇所はない。
7.1.5
一般規則
次の規則を適用する。
ターゲット試験においては試験装置がイニシエータとして常に要求を送信するのに対し，イニシエータ
試験においては試験装置のターゲットエミュレーション部 (LT) がターゲットとして応答を送信する。
応答は要求に続かなければならない。
すべての適正なTEST̲COMMANDn（nは数字1〜4）において，TEST̲RESPONSEnのPNIは
TEST̲COMMANDnのものと等しいので，各論ではこの条件を省略する。
8
ターゲット試験方法
DUTは，シナリオに定義するとおりに応答しなければならない。シナリオに定義するとおりにpduで応
答する前に一つ以上のRTO PDUを挿入してもよい。
8.1
ターゲット試験装置
ターゲット試験装置は，イニシエータをエミュレートすることによってDUTを試験する。
ターゲット試験装置は，初期化及びプロトコル活性化を実行して，データ交換命令を実行しなければな
らない。
8.2
JIS X 5211に関するプロトコル試験方法リスト
106 kb/sでの受動通信モードにおいてターゲットの初期化とSDDとを試験するには，JIS X 6305-6の
PICC試験方法を実行しなければならない。
212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおいてターゲットの初期化とSDDとを試験するには，表1
の試験方法を実行しなければならない。
表1−212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化
試験方法
対応する要件
細分箇条
名称
規格
細分箇条
8.3.1
活性化時間
JIS X 5211
11.2.2.3
8.3.2
フレーム形式
JIS X 5211
11.2.2.2
8.3.3
212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDD
JIS X 5211
11.2.2.3
11.2.2.4
能動通信モードにおいてターゲットの初期化を試験するには，表2の試験方法を実行しなければならな
い。
7
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表2−能動通信モードにおける活性化
試験方法
対応する要件
細分箇条
名称
規格
細分箇条
8.4.1
RF衝突回避
JIS X 5211
11.1.2
ターゲットの伝送プロトコルを試験するには，表3の試験方法を実行しなければならない。
表3−伝送プロトコルの論理操作
試験方法
対応する要件
細分箇条
名称
規格
細分箇条
8.5.1
ATR̲REQの取扱方法
JIS X 5211
12.5.1.3
8.5.2
PSL̲REQの取扱方法
JIS X 5211
12.5.3.3
8.5.3
DEP̲REQ 情報PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.2
8.5.4
複数情報リンクビットが1に設定され
たDEP̲REQ 情報PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.3
8.5.5
タイムアウトビットが1に設定された
DEP̲REQ 管理PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.3
8.5.6
タイムアウトビットが0に設定された
DEP̲REQ 管理PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.3
8.5.7
DSL̲REQの取扱方法
JIS X 5211
12.7.1.3
8.5.8
RLS̲REQの取扱方法
JIS X 5211
12.7.2.3
8.3
212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化
8.3.1
活性化時間
この試験の目的は，ターゲットが起動後2秒以内にPOL̲REQに対してPOL̲RESを応答することを確
認することにある［JIS X 5211の11.2.2.3（212 kb/s及び424 kb/sにおける単一デバイス検出）参照］。
8.3.1.1
手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜e)の手順を繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度においてTSNを0に設定したPOL̲REQ命令を送信する。
d) Td及びTsが経過してもPOL̲RESを受信しない場合，再度POL̲REQを送信する。DUTからの応答
があるまでこの手順を繰り返す。
e) RF起動からDUTの初回応答開始までの時間遅延を測定する。DUTの応答が2秒以内である場合，試
験は合格，そうでなければ不合格とする。
8.3.1.2 試験成績書
試験成績書は，DUTが両方の伝送速度において正しく動作するかどうかを示さなければならない。
8.3.2
フレーム形式
この試験の目的は，212 kb/s及び424 kb/sにおいて適正なフレーム形式を判断することにある［JIS X 5211
の11.2.2.2（フレームの形式）参照］。
8
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8.3.2.1
手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度においてPOL̲REQ命令を送信する。
d) DUTからの応答が正しいフレーム形式であることを確認する。
8.3.2.2
試験成績書
試験成績書は，両方の伝送速度においてDUTが正しく動作し，次の特性（表4参照）を含むかどうか
を示さなければならない。
表4−フレーム形式の特性
特性
期待される結果
プリアンブル
最低48ビットすべて0
SYNC
第1バイト“B2”
第2バイト“4D”
長さ
“12”
CRC
JIS X 5211の
附属書Aに従う。
8.3.3
212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDD
この試験の目的は，POL̲REQへの正しい応答を判断することにある［JIS X 5211の11.2.2.4（NFCID2
の内容）参照］。
8.3.3.1
手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜f)の手順を繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度においてTSNに設定した値を入れたPOL̲REQ命令を送信する（初回のTSNは0）。
d) POL̲REQとPOL̲RESとの間の時間遅延を記録する。最後のタイムスロットまでにDUTが応答しな
い場合は，手順c) を繰り返す。
e) 応答の内容を分析する。
f)
TSNを次のとり得る値に増やし，TSNが最大値に達するまでa)〜e)の手順を繰り返す。
8.3.3.2 試験成績書
試験成績書は，DUTが両方の伝送速度において正しく動作し，次の特性を含むかどうかを示さなければ
ならない（表5参照）。
表5−212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDDの特性
特性
期待値
ペイロードの第1バイト
“01”
ペイロードの第2バイト
“01”
ペイロードの第3バイト
“FE”
POL̲REQ及びPOL̲RES間の
時間遅延
Td + (TSN + 1)×Ts
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8.4
能動通信モードにおける活性化
8.4.1
RF衝突回避
この試験の目的は，能動通信モードにおけるRF衝突回避中のDUTの振る舞いを判断することにある
［JIS X 5211の11.1.2（応答RF衝突回避）参照］。
8.4.1.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜e)の手順を繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度で有効なATR̲REQ命令を送信し，その後RFを切断する。
d) ターゲット試験装置のRF切断からDUTのRF起動までの時間を測定する。
e) a)〜d)の手順を，ターゲットがランダムに生成する数値(0≦n≦3)の倍数に当たる周期時間すべてが観
測されるまで繰り返し，そのリトライ回数を数える。
8.4.1.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度において正しく動作するかどうかを示さなければならない（表
6参照）。
表6−能動通信モードにおける活性化
特性
期待値
TADT
最小 768/fc
最大 2559/fc
TRFW
n × 512/fc
8.5
ターゲット伝送プロトコルの論理操作
8.5.1
ATR̲REQの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるATR̲REQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211
の12.5.1.3.2（ターゲット規定）参照］。
8.5.1.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動両方の通信モードについて，a)〜e)の手順
を繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した伝送速度で活性化し，能動通信モードにおいて衝突回避を行う。
d) シナリオ記述表T 1を適用する。
e) DUTからの応答がシナリオ記述表T 1どおりであるかを解析する。
10
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 1−ATR̲REQ
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
Mute
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES
ATR̲REQ (~CRC)
→
←
Mute
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
ATR̲REQ
→
←
Mute
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
8.5.1.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.2
PSL̲REQの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるPSLの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211の
12.5.3.3.2（ターゲット規定）参照］。
8.5.2.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動両方の通信モードについて，a)〜f)の手順を
繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した通信モード及び伝送速度において初期化とプロトコル活性化とを実行する。
d) ATR̲REQを送信し，ATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 2を適用する。
f)
DUTからの応答がシナリオ記述表T 2どおりであるかどうかを確認する。
11
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 2−PSL̲REQ
ターゲット試験装置
DUT
PSL̲REQ
→
←
PSL̲RES
PSL̲REQ
→
←
Mute
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
PSL̲REQ (~CRC)
→
←
Mute
PSL̲REQ
→
←
Mute
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
PSL̲REQ
→
←
Mute
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
8.5.2.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.3
DEP̲REQ情報PDUの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるDEP̲REQ情報PDUの取扱いが正しいかどうかを判断することにある
［JIS X 5211の12.6.1.3（ブロックの取扱方法）参照］。
8.5.3.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動両方の通信モードについて，a)〜f)の手順を
繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
12
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 3，続いてシナリオ記述表T 4を実行する。
f)
DUTからの応答及びPNIがシナリオと一致するかどうかを確認する。
シナリオ記述表T 3−DEP̲REQ情報PDU，正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
TEST̲COMMAND110
→
←
TEST̲RESPONSE110
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
シナリオ記述表T 4−DEP̲REQ情報PDU，誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100 (~CRC)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101 (~CRC)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
13
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.5.3.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.4
複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲REQ情報PDUの取扱方法
この試験の目的は，複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲REQ情報PDUの取扱いが正しいかど
うかを判断することにある（JIS X 5211の12.6.1.3参照）。
8.5.4.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動両方の通信モードについて，a)〜f)の手順を
繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 動作範囲速度Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択した通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 5，続いてシナリオ記述表T 6を実行する。
f)
DUTからの応答及びPNIがシナリオと一致するかどうかを確認する。
14
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 5−複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲REQ情報PDU，
正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND3B01
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3E10
→
←
TEST̲RESPONSE310
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND3B01
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3010
→
←
A(ACK)10
TEST̲COMMAND3111
→
←
A(ACK)11
TEST̲COMMAND3200
→
←
A(ACK)00
TEST̲COMMAND3301
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3E10
→
←
TEST̲RESPONSE310
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
15
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND201
→
←
TEST̲COMMAND3B01
A(ACK)10
→
←
TEST̲ COMMAND3E10
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
次の試験は，DUTの振る舞いに依存するものであり，任意とする。
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND201
→
←
TEST̲COMMAND3B01
A(ACK)10
→
←
TEST̲COMMAND3010
A(ACK)11
→
←
TEST̲COMMAND3111
A(ACK)00
→
←
TEST̲COMMAND3200
A(ACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3301
A(ACK)10
→
←
TEST̲COMMAND3E10
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
16
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 6−複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲REQ情報PDU，
誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND3B01
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3010 (~CRC)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
TEST̲COMMAND3010
→
←
A(ACK)10
TEST̲COMMAND3E11
→
←
TEST̲RESPONSE311
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND201
→
←
TEST̲COMMAND3B01
A(ACK)10 (~CRC)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
A(ACK)10
→
←
TEST̲RESPONSE3E10
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
8.5.4.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
17
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.5.5
タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲REQ管理PDUの取扱方法
この試験の目的は，タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲REQ管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することにある（JIS X 5211の12.6.1.3参照）。
8.5.5.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動の両方の通信モードで，a)〜f)の手順を繰り
返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 7，続いてシナリオ記述表T 8を実行する。
f)
DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
シナリオ記述表T 7−タイムアウトビットが1に設定されているDEP̲REQ管理PDU，
正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND401
→
←
S(TO)
S(TO)
→
←
TEST̲RESPONSE401
TEST̲COMMAND110
→
←
TEST̲RESPONSE110
18
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 8−タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲REQ管理PDU，
誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND401
→
←
S(TO)
S(TO) (~CRC)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
S(TO)
→
←
TEST̲RESPONSE401
TEST̲COMMAND110
→
←
TEST̲RESPONSE110
8.5.5.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.6
タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲REQ管理PDUの取扱方法
この試験の目的は，タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲REQ管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することにある（JIS X 5211の12.6.1.3参照）。
8.5.6.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動の両方の通信モードで，a)〜f)の手順を繰り
返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 9，続いてシナリオ記述表T 10を実行する。
f)
DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
19
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 9−タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲REQ管理PDU，
正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
S(A)
→
←
S(A)
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
シナリオ記述表T 10−タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲REQ管理PDU，
誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
S(A) (~CRC)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
8.5.6.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.7
DSL̲REQの取扱方法
この試験の目的は，DSL̲REQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211の12.7.1.3
（DSL̲REQ及びDSL̲RESの取扱方法）参照］。
8.5.7.1
手順
106 kb/s，212 kb/s，424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動の両方の通信モードで，a)〜f)の手順を繰り返
す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 11，続いてシナリオ記述表T 12を実行する。
20
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
f)
DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
シナリオ記述表T 11−DSL̲REQ，正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
DSL̲REQ
→
←
DSL̲RES
DSL̲REQ
→
←
Mute
シナリオ記述表T 12−DSL̲REQ，誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
DSL̲REQ (~CRC)
→
←
Mute
DSL̲REQ
→
←
DSL̲RES
8.5.7.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.8
RLS̲REQの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるRLS̲REQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211
の12.7.2.3（RLS̲REQ及びRLS̲RESの取扱方法）参照］。
8.5.8.1
手順
106 kb/s，212 kb/s，424 kb/sの伝送速度で，能動及び受動の両方の通信モードで，a)〜h)の手順を繰り返
す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 13，続いてシナリオ記述表T 14を実行する。
f)
DUTからの応答及びPNIが試験シナリオと一致するかどうかを確認する。
g) 選択された通信モード及び伝送速度において活性化を実行する。
21
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
h) ATR̲REQを送信し，DUTからの有効なATR̲RESを確認する。
シナリオ記述表T 13−RLS̲REQ，正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
RLS̲REQ
→
←
RLS̲RES
RLS̲REQ
→
←
Mute
シナリオ記述表T 14−RLS̲REQ，誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
RLS̲REQ (~CRC)
→
←
Mute
RLS̲REQ
→
←
RLS̲RES
8.5.8.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードにおいて正しく振る舞うかどうかを示さなけれ
ばならない。
8.5.9
WUP̲REQの取扱方法（能動通信モードに限る）
この試験の目的は，DUTによるWUP̲REQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211
の12.5.2.3（WUP̲REQ及びWUP̲RESの取扱方法）参照］。
8.5.9.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜g)の手順を繰り返す。
a) DUTを動作範囲に置く。
b) 磁界強度範囲Hmin〜HmaxのRFフィールドを生成し，その磁界強度が試験結果に影響しないことを確
認する。
c) 能動通信モードにおいて，選択された伝送速度で活性化を実行する。
d) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
e) シナリオ記述表T 15，続いてシナリオ記述表T 16を実行する。
f)
DUTからの応答及びPNIがシナリオと一致するかどうかを確認する。
g) ATR̲REQを送信し，DUTからATR̲RESを受信する。
22
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表T 15−WUP̲REQ，正しいトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
DSL̲REQ
→
←
DSL̲RES
WUP̲REQ
→
←
WUP̲RES
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
シナリオ記述表T 16−WUP̲REQ，誤りのあるトランザクション
ターゲット試験装置
DUT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
DSL̲REQ
→
←
DSL̲RES
TEST̲COMMAND110
→
←
Mute
TEST̲COMMAND100
→
←
Mute
WUP̲REQ
→
←
WUP̲RES
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
23
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
DSL̲REQ
→
←
DSL̲RES
WUP̲REQ(~CRC)
→
←
Mute
WUP̲REQ
→
←
WUP̲RES
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
8.5.9.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度において正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。
9
イニシエータ試験方法
9.1
イニシエータ試験装置
9.1.1
イニシエータ試験装置の概念
イニシエータ試験装置は，二つの部分から構成される（図1参照）。
a) UTは，イニシエータを設定する部分で，命令の送信を指示する。この規格ではUTがDUTを制御す
る方法について言及しない。
b) LTは，ターゲットのプロトコルをエミュレートする部分で，タイミング測定のためのデジタルサンプ
リングオシロスコープをもつ。
図1−イニシエータ試験装置の概念図
イニシエータ（DUT）
UT
PDU
LT
イニシエータ
試験装置
24
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.1.2
106 kb/sでの受動通信モードにおけるプロトコル活性化手順
次の手順に従ってLTを活性化する。
a) 106 kb/sでLTを受動通信モードに設定する。
b) 106 kb/sでDUTを受動通信モードに設定する。
c) 106 kb/sでDUTに活性化及びSDDを実行させる。
9.1.3
212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおけるプロトコル活性化手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，次の手順を繰り返す。
a) 選択した伝送速度でLTを受動通信モードに設定する。
b) 選択した伝送速度でDUTを受動通信モードに設定する。
c) 選択した伝送速度でDUTに活性化及びSDDを実行させる。
9.1.4
能動通信モードにおけるプロトコル活性化手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，次の手順を繰り返す。
a) 選択した伝送速度でLTを能動通信モードに設定する。
b) 選択した伝送速度でDUTを能動通信モードに設定する。
c) 選択した伝送速度でDUTに能動通信モード活性化手順を実行させる［JIS X 5211の12.3（能動通信モ
ードの活性化手順）参照］。
9.2
イニシエータのプロトコル試験方法リスト
ここでは，イニシエータに必要なプロトコル試験方法をすべて記載する。
106 kb/sの受動通信モードにおけるイニシエータの初期化及びSDDの試験には，JIS X 6305-6のPCD試
験方法を適用する。
212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおけるイニシエータの初期化及びSDDの試験には，表7の
試験方法を適用する。
表7−212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードの活性化
試験方法
対応する要件
細分箇条
名称
規格
細分箇条
9.3.1
フレーム形式
JIS X 5211
11.2.2.2
9.3.2
212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDD
JIS X 5211
11.2.2.3
11.2.2.4
能動通信モードにおけるイニシエータの初期化の試験には，表8の試験方法を適用する。
表8−能動通信モードの活性化
試験方法
対応する要件
細分箇条
名称
規格
細分箇条
9.4.1
初期のRF衝突回避
JIS X 5211
11.1.1
9.4.2
時間ジッタn=0のときのRF衝突回避応答
JIS X 5211
11.1.2
イニシエータの伝送プロトコル試験には，表9の試験方法を適用する。
25
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表9−イニシエータの伝送プロトコルの論理操作
試験方法
対応する要件
細分箇条
名称
規格
細分箇条
9.5.1
ATR̲RESの取扱方法
JIS X 5211
12.5.1.3
9.5.2
PSL̲RESの取扱方法
JIS X 5211
12.5.3.3
9.5.3
DEP̲RES情報PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.2
9.5.4
複数情報リンクビットが1に設定された
DEP̲RES情報PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.3
9.5.5
タイムアウトビットが1に設定された
DEP̲RES管理PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.3
9.5.6
タイムアウトビットが0に設定された
DEP̲RES管理PDUの取扱方法
JIS X 5211
12.6.1.3
9.5.7
DSL̲RESの取扱方法
JIS X 5211
12.7.1.3
9.5.8
RLS̲RESの取扱方法
JIS X 5211
12.7.2.3
9.3
212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化
9.3.1
フレーム形式
この試験の目的は，212 kb/s及び424 kb/sにおけるDUTのフレーム形式が正しいかどうかを判断するこ
とにある（JIS X 5211の11.2.2.2参照）。
9.3.1.1
手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 選択した伝送速度において9.1.3を実行する。
c) DUTが有効なPOL̲REQを送るまで，LTは待機する。
d) フレーム属性がJIS X 5211の11.2.2.2と一致することを確認する。
9.3.1.2
試験成績書
試験成績書は，DUTが両方の伝送速度で正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。
9.3.2
212 kb/s及び424 kb/sにおけるSDD
この試験の目的は，DUTによるPOL̲REQの取扱いが正しいかどうかを判断することにある（JIS X 5211
の11.2.2.3及び11.2.2.4参照）。
9.3.2.1
手順
212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度ですべてのTSN値について，a)〜f)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 選択したTSN及び伝送速度で9.1.3を実行する。
c) DUTが有効なPOL̲REQを送るまで，LTは待機する。
d) 適切なタイムスロットにおいてLTはPOL̲RESを応答する。
e) DUTにATR̲REQを送信させる。
f)
LTはATR̲REQを受信する。
9.3.2.2
試験成績書
試験成績書は，DUTが両方の伝送速度及びすべてのTSN値で正しく振る舞うかどうかを示さなければ
ならない。
26
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.4
能動通信モードにおける活性化
9.4.1
初期のRF衝突回避
この試験の目的は，初期のRF衝突回避中におけるDUTの振る舞いを確認することにある［JIS X 5211
の11.1.1（初期RF衝突回避）参照］。
9.4.1.1
手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜h)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) LT（の磁界発生アンテナ）は，RFフィールドを生成しなければならない（試験アセンブリの配置に
ついてはJIS X 5213参照）。
c) DUTの磁界強度がHThreshold以上であることを確認する。
d) 選択した伝送速度で9.1.4を実行する。
e) LTは，RFを切断しなければならない。
f)
DUTが有効なATR̲REQを送信するまでLTは待機する。
g) LTがRFを切断してからDUTがRFを起動するまでの時間を測定する（JIS X 5211の11.1.1参照）。
h) n回のとり得るTRFWを検出するまで，a)〜g)の手順を繰り返す。
9.4.1.2 試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度で正しく振る舞うかどうかを示さなければならない。
9.4.2
時間ジッタn＝0のときの応答RF衝突回避
この試験の目的は，時間ジッタn＝0のときの応答RF衝突回避中のDUTの振る舞いを確認することに
ある（JIS X 5211の11.1.2参照）。
9.4.2.1 手順
106 kb/s，212 kb/s及び424 kb/sの伝送速度で，a)〜g)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 選択した伝送速度で9.1.4を実行する。
c) DUTが有効なATR̲REQを送信するまでLTは待機する。
d) LTは有効なATR̲RESを応答する。
e) DUTにTEST̲COMMAND1を送信させる。
f)
LTはTEST̲COMMAND1を受信する。
g) LTがRFを切断してからDUTがRFを起動するまでの時間がJIS X 5211の11.1.2に適合していること
を確認する。
9.4.2.2
試験成績書
試験成績書は，すべての伝送速度でタイミングが正しいかどうかを示さなければならない。
9.5
伝送プロトコルの論理操作
9.5.1
ATR̲RESの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるATR̲RESの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211
の12.5.1.3（ATR̲REQ及びATR̲RESの取扱方法）参照］。
9.5.1.1
手順
すべての伝送速度，通信モード，プロトコル活性化手順の組合せで，a)〜c)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
27
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 1を実行する。
シナリオ記述表I 1−ATR̲RES
DUT
LT
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES(~CRC)
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES
TEST̲COMMAND100
→
9.5.1.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.2
PSL̲RESの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるPSL̲RESの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211
の12.5.3.3（PSL̲REQ及びPSL̲RESの取扱方法）参照］。
9.5.2.1
手順
すべての伝送速度，通信モード，プロトコル活性化手順の組合せで，a)〜c)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 2を実行する。
シナリオ記述表I 2−PSL̲RES
DUT
LT
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES （変更可能なパラメタ）
PSL̲REQ
→
←
PSL̲RES
TEST̲COMMAND100
→
28
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ATR̲REQ
→
←
ATR̲RES（変更可能なパラメタ）
PSL̲REQ
→
←
PSL̲RES (~CRC)
PSL̲REQ
→
←
Mute
TEST̲COMMAND100
→
9.5.2.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.3
DEP̲RES情報PDUの取扱方法
この試験の目的は，DEP̲RES情報PDUの取扱いが正しいかどうかを判断することにある［JIS X 5211
の12.6.1.2（PDU番号の取扱方法）参照］。
9.5.3.1
手順
すべての指定された伝送速度，通信モード，及びプロトコル活性化手順の組合せで，a)〜d)の手順を繰
り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 3を実行する。
d) シナリオ記述表I 4を実行する。
シナリオ記述表I 3−DEP̲RES情報PDU，正しいトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
←
TEST̲RESPONSE101
TEST̲COMMAND110
→
←
TEST̲RESPONSE110
TEST̲COMMAND111
→
←
TEST̲RESPONSE111
TEST̲COMMAND100
→
29
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表I 4−DEP̲RES情報PDU，誤りのあるトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100 (~CRC)
A(NACK)00
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100 (~CRC)
A(NACK)00
→
←
Mute
A(NACK)00
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
9.5.3.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.4
複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲RES情報PDUの取扱方法
この試験の目的は，複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲RES情報PDUの取扱いが正しいかど
うかを判断することにある（JIS X 5211の12.6.1.3参照）。
9.5.4.1 手順
すべての伝送速度，通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 5を実行する。
d) シナリオ記述表I 6を実行する。
30
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表I 5−複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲RES情報PDU，
正しいトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND200
TEST̲COMMAND3B01
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3E10
→
←
TEST̲RESPONSE310
TEST̲COMMAND111
→
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND3B00
A(ACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3E01
TEST̲RESPONSE310
→
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND3B00
A(ACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3001
A(ACK)10
→
←
TEST̲COMMAND3110
A(ACK)11
→
←
TEST̲COMMAND3211
A(ACK)00
→
←
TEST̲COMMAND3300
A(ACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3E01
TEST̲RESPONSE310
→
31
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
次の試験は，DUTの振る舞いに依存するので，任意とする。
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND200
TEST̲COMMAND3B01
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3010
→
←
A(ACK)10
TEST̲COMMAND3111
→
←
A(ACK)11
TEST̲COMMAND3200
→
←
A(ACK)00
TEST̲COMMAND3301
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3E10
→
←
TEST̲RESPONSE310
TEST̲COMMANDE111
→
シナリオ記述表I 6−複数情報リンクビットが1に設定されたDEP̲RES情報PDU，
誤りのあるトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND3B00 (~CRC)
A(NACK)00
→
←
TEST̲COMMAND3B00
A(ACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3E01
TEST̲RESPONSE310
→
32
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND200
TEST̲COMMAND3B01
→
←
A(ACK)01 (~CRC)
A(NACK)01
→
←
A(ACK)01
TEST̲COMMAND3E10
→
←
TEST̲RESPONSE310
TEST̲COMMAND111
→
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲COMMAND3B00
A(ACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3001 (~CRC)
A(NACK)01
→
←
Mute
A(NACK)01
→
←
TEST̲COMMAND3001
A(ACK)10
→
←
TEST̲COMMAND3E10
TEST̲COMMAND111
→
9.5.4.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.5
タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲RES管理PDUの取扱方法
この試験の目的は，タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲RES管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することである（JIS X 5211の12.6.1.3参照）。
9.5.5.1
手順
すべての伝送速度，通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 7を実行する。
d) シナリオ記述表I 8を実行する。
33
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表I 7−タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲RES，正しいトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
S(TO)
S(TO)
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
シナリオ記述表I 8−タイムアウトビットが1に設定されたDEP̲RES，誤りのあるトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
S(TO) (~CRC)
A(NACK)00
→
←
S(TO)
S(TO)
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
TEST̲COMMAND100
→
←
S(TO) (~CRC)
A(NACK)00
→
←
Mute
A(NACK)00
→
←
S(TO)
S(TO)
→
←
TEST̲RESPONSE100
TEST̲COMMAND101
→
9.5.5.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.6
タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲RES管理PDUの取扱方法
この試験の目的は，タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲RES管理PDUの取扱いが正しいかどう
かを判断することにある（JIS X 5211の12.6.1.3参照）。
34
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.5.6.1
手順
すべての伝送速度，通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 9を実行する。
d) シナリオ記述表I 10を実行する。
シナリオ記述表I 9−タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲RES，正しいトランザクション
DUT
LT
S(A)
→
←
S(A)
シナリオ記述表I 10−タイムアウトビットが0に設定されたDEP̲RES，誤りのあるトランザクション
DUT
LT
S(A)
→
←
Mute
S(A)
→
←
S(A)
9.5.6.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.7
DSL̲RESの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるDSL̲RESの取扱いが正しいかどうかを判断することである［JIS X 5211
の12.7.1.3（DSL̲REQ及びDSL̲RESの取扱方法）参照］。
9.5.7.1
手順
すべての伝送速度，通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 11を実行する。
d) シナリオ記述表I 12を実行する。
35
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表I 11−DSL̲RES，正しいトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
DSL̲REQ
→
←
DSL̲RES
シナリオ記述表I 12−DSL̲RES，誤りのあるトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
DSL̲REQ
→
←
Mute
DSL̲REQ a)
→
←
DSL̲RES
注a) この振る舞いは適正なものであるが，任意とする。
9.5.7.2
試験成績書
試験成績書は，DUTがすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
9.5.8
RLS̲RESの取扱方法
この試験の目的は，DUTによるRLS̲RESの取扱いが正しいかどうかを判断することにある（JIS X 5211
の12.7.2.3参照）。
9.5.8.1
手順
すべての伝送速度，通信モード及びプロトコル活性化手順の組合せで，a)〜d)の手順を繰り返す。
a) LTをDUTの動作範囲に置く。
b) 106 kb/sの受動通信モードで9.1.2を，212 kb/s及び424 kb/sの受動通信モードで9.1.3を，すべての伝
送速度の能動通信モードで9.1.4を実行する。
c) シナリオ記述表I 13を実行する。
d) シナリオ記述表I 14を実行する。
シナリオ記述表I 13−RLS̲RES，正しいトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
RLS̲REQ
→
←
RLS̲RES
36
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
シナリオ記述表I 14−RLS̲RES，誤りのあるトランザクション
DUT
LT
TEST̲COMMAND100
→
←
TEST̲RESPONSE100
RLS̲REQ
→
←
Mute
RLS̲REQa)
→
←
RLS̲RES
注a)
この振る舞いは適正なものであるが，任意とする。
9.5.8.2
試験成績書
試験成績書は，DUTのすべての伝送速度及び通信モードで正しく振る舞うかどうかを示さなければなら
ない。
37
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
ターゲット試験の試験成績書テンプレート
供給者：
製品：
試験装置に関する情報：
キャプション：
A: 106 kbps
106 kb/s能動通信モード
A: 212 kbps
212 kb/s能動通信モード
A: 424 kbps
424 kb/s能動通信モード
P: 106 kbps
106 kb/s受動通信モード
P: 212 kbps
212 kb/s受動通信モード
P: 424 kbps
424 kb/s受動通信モード
試験日
すべてのプロトコル試験で有効な命令及びID定義
命令に関してはJIS X 5211で規定するコマンドのいずれをどのように試験命令としたかを記入する。
No
命令
解説
データ
1
TEST̲COMMAND1
試験のための既定命令
2
TEST̲RESPONSE1
TEST̲COMMAND1への応答
3
TEST̲COMMAND2
連鎖処理を強要するときに使う既定の命令
4
TEST̲COMMAND3
連鎖処理時の既定の命令。一つ以上に分割さ
れる。
5
TEST̲RESPONSE3
TEST̲COMMAND3への応答
6
TEST̲COMMAND4
ターゲットに応答待ち時間を強要する既定の
命令
7
TEST̲RESPONSE4
応答待ち時間経過後のTEST̲COMMAND4
への応答
8
DID
試験のための識別子
9
NAD
ターゲットがNADに対応する場合だけ試験
する。
対応又は非対応
10
連鎖
ターゲットが63バイト以上の命令に対応す
る場合だけ試験する。
対応又は非対応
212 kb/s及び424 kb/s での受動通信モードにおける活性化
No
試験
JIS X 5211における
期待値
JIS X 5211での参照
条件
試験結果
合格又は不合格
1
8.3.1
活性化時間
JIS X 5211に規定す
る時間でDUTが応答
する場合，合格
11.2.2.3
P: 212 kbps
P: 424 kbps
38
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
8.3.2
フレーム形式
JIS X 5211に規定す
るプリアンブル，
SYNC，長さ，CRCで
ある場合，合格
11.2.2.2
P: 212 kbps
P: 424 kbps
3
8.3.3
212 kb/s及び424
kb/sにおける
SDD
データと応答とがJIS
X 5211の規定を満た
す場合，合格
11.2.2.4
P: 212 kbps
P: 424 kbps
能動通信モードにおける活性化
No
試験
JIS X 5211 における
期待値
JIS X 5211での参照
条件
試験結果
合格又は不合格
1
8.4.1
RF衝突回避
リトライ回数を
記入する。
DUTがRFフィールド
をJIS X 5211にある
ように起動する場合，
合格
11.1.2
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
ターゲット伝送プロトコルの論理操作
No
試験
JIS X 5211 にお
ける期待値
JIS X 5211での
参照
シナリオ
番号
条件
試験結果
合格又は
不合格
1
8.5.1
ATR̲REQの取
扱方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.5.1.3.2
T 1
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
2
8.5.2
PSL̲REQの取扱
方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.5.3.3.2
T 2
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
3
8.5.3
DEP̲REQ情報
PDUの取扱方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.6.1.3
T 3
T 4
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
4
8.5.4
複数情報リンク
ビットが1に設
定された
DEP̲REQ 情報
PDUの取扱方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.6.1.3
T 5
T 6
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
39
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
8.5.5
タイムアウトビ
ットが1に設定
された
DEP̲REQ 管理
PDUの取扱方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.6.1.3
T 7
T 8
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212, kbps
A: 424 kbps
6
8.5.6
タイムアウトビ
ットが0に設定
された
DEP̲REQ 管理
PDUの取扱方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.6.1.3
T 9
T 10
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
7
8.5.7
DSL̲REQの取
扱方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.7.1.3
T 11
T 12
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
8
8.5.8
RLS̲REQの取扱
方法
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.7.2.3
T 13
T 14
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
9
8.5.9
WUP̲REQ の取
扱方法（能動通
信モードに限
る）
DUTがシナリオ
どおりに動作す
る場合，合格
12.5.2.3
T 15
T 16
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
40
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
イニシエータ試験の試験成績書テンプレート
供給者：
製品：
試験装置に関する情報：
キャプション：
A: 106 kbps
106 kb/s能動通信モード
A: 212 kbps
212 kb/s能動通信モード
A: 424 kbps
424 kb/s能動通信モード
P: 106 kbps
106 kb/s受動通信モード
P: 212 kbps
212 kb/s受動通信モード
P: 424 kbps
424 kb/s受動通信モード
試験日
プロトコル試験に使用する命令及びID定義
命令に関してはJIS X 5211で規定するコマンドのいずれをどのように試験命令としたかを記入する。
No
命令
解説
データ
1
TEST̲COMMAND1
試験のための既定命令
2
TEST̲RESPONSE1
TEST̲COMMAND1への応答
3
TEST̲COMMAND2
連鎖処理を強要するときに使う既定の命令
4
TEST̲COMMAND3
連鎖処理時の既定の命令。一つ以上に分割さ
れる。
5
TEST̲RESPONSE3
TEST̲COMMAND3への応答
6
TEST̲COMMAND4
ターゲットに応答待ち時間を強要する既定の
命令
7
TEST̲RESPONSE4
応答待ち時間経過後のTEST̲COMMAND4
への応答
8
DID
試験のための識別子
9
NAD
ターゲットがNADに対応する場合だけ試験
する。
対応又は非対応
10
連鎖
ターゲットが63バイト以上の命令に対応す
る場合だけ試験する。
対応又は非対応
212 kb/s及び424 kb/s での受動通信モードにおける活性化
No
試験
JIS X 5211における期
待値
JIS X 5211での参照
条件
試験結果
合格又は不合格
41
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
9.3.1
フレーム形式
JIS X 5211に規定する
プリアンブル，SYNC，
長さ，CRCである場
合，合格
11.2.2.2
P: 212 kbps
P: 424 kbps
2
9.3.2
212 kb/s及び424
kb/sにおける
SDD
データと応答とがJIS
X 5211の規定を満た
す場合，合格
11.2.2.3
11.2.2.4
P: 212 kbps
P: 424 kbps
能動通信モードにおける活性化
No
試験
JIS X 5211 における
期待値
JIS X 5211での参照
条件
試験結果
合格又は不合格
1
9.4.1
初期のRF衝突
回避
DUTがRFフィールド
をJIS X 5211にあるよ
うに起動する場合，合
格
11.1.1
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
ターゲット伝送プロトコルの論理操作
No
試験
JIS X 5211 におけ
る期待値
JIS X 5211での
参照
シナリオ
番号
条件
試験結果
合格又は
不合格
1
9.5.1
ATR̲RESの取
扱方法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.5.1.3
I 1
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
2
9.5.2
PSL̲RESの取
扱方法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.5.3.3
I 2
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
3
9.5.3
DEP̲RES情報
PDUの取扱方
法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.6.1.2
I 3
I 4
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
4
9.5.4
複数情報リン
クビットが1
に設定された
DEP̲RES情報
PDUの取扱方
法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.6.1.3
I 5
I 6
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
42
X 5214：2010 (ISO/IEC 23917：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
9.5.5
タイムアウト
ビットが1に
設定された
DEP̲RES管理
PDUの取扱方
法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.6.1.3
I 7
I 8
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
6
9.5.6
タイムアウト
ビットが0に
設定された
DEP̲RES管理
PDUの取扱方
法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.6.1.3
I 9
I 10
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
7
9.5.7
DSL̲RESの取
扱方法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.7.1.3
I 11
I 12
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps
8
9.5.8
RLS̲RESの取
扱方法
DUTがシナリオど
おりに動作する場
合，合格
12.7.2.3
I 13
I 14
P: 106 kbps
P: 212 kbps
P: 424 kbps
A: 106 kbps
A: 212 kbps
A: 424 kbps