X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

（1） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 適合性···························································································································· 1 

3 引用規格························································································································· 2 

4 表記法···························································································································· 2 

4.1 数値の表記 ··················································································································· 2 

4.2 名称 ···························································································································· 2 

4.3 試験報告書 ··················································································································· 2 

5 記号及び略語 ··················································································································· 2 

6 試験方法の適用条件 ·········································································································· 3 

6.1 試験環境 ······················································································································ 3 

6.2 許容誤差 ······················································································································ 3 

6.3 寄生インダクタンス ······································································································· 3 

6.4 測定の不確かさ ············································································································· 3 

6.5 アンテナクラス ············································································································· 3 

7 試験設備及び回路 ············································································································· 3 

7.1 デジタルサンプリングオシロスコープ················································································ 3 

7.2 校正用コイル ················································································································ 3 

7.3 試験アセンブリ ············································································································· 3 

7.4 基準デバイス ················································································································ 3 

8 イニシエータの機能試験 ···································································································· 4 

8.1 イニシエータのRF検知 ·································································································· 4 

8.2 能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの磁界強度 ······································ 4 

8.3 能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び送信波形 ······················· 5 

8.4 受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変調受信能力 ····················································· 5 

8.5 能動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び波形の受信能力 ········································· 5 

8.6 能動通信モードにおけるイニシエータの最大負荷影響の試験（任意選択） ································ 6 

9 ターゲットの機能試験 ······································································································· 6 

9.1 受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調送信 ······························································ 6 

9.2 能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度 ···································································· 6 

9.3 能動通信モードにおけるターゲットの変調度及び送信波形 ····················································· 6 

9.4 能動通信モード及び受動通信モードにおけるターゲットの変調度及び波形の受信能力 ················· 7 

9.5 受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷影響の試験（任意選択） ··································· 7 

附属書A（参考）試験報告書の様式例 ······················································································ 8 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

（2） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人情報

処理学会（IPSJ）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。 

これによって，JIS X 5213:2010は改正され，この規格に置き換えられた。 

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格 

JIS 

X 5213：2015 

(ISO/IEC 22536：2013) 

近距離通信用インタフェース及びプロトコル

（NFCIP-1）−RFインタフェース試験方法 

Information technology- 

Telecommunications and information exchange between systems- 

Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)- 

RF interface test methods 

序文 

この規格は，2013年に第2版として発行されたISO/IEC 22536を基に，技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

この規格は，JIS X 6305-6との調整がなされており，試験機関がJIS X 6305-6の設備と専門知識とを利

用できるようになっている。 

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。 

1 

適用範囲 

この規格は，JIS X 5211で規定したNFCIP-1を試験する方法を規定する一連の規格の一つであり，RF

インタフェース用の試験方法を規定する。具体的には，50 mm×40 mmの長方形の領域に入るアンテナを

備えたNFCデバイスのRFインタフェース試験方法を規定する。 

この試験方法規格は，2部構成のはじめのものであり，JIS X 5211に規定するデバイスのRFインタフェ

ースに対する適合試験を規定する。もう一方の規格JIS X 5214は，JIS X 5211に規定するプロトコルに対

する試験方法を規定する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。 

ISO/IEC 22536:2013，Information technology−Telecommunications and information exchange 

between systems−Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)−RF interface test 

methods（IDT） 

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。 

2 

適合性 

この規格において規定された全ての必須要件を満たしたとき，JIS X 5211を実装するシステムは，この

規格に適合する。 

2 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

3 

引用規格 

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS X 5211 システム間の通信及び情報交換−近距離通信用インタフェース及びプロトコル

（NFCIP-1） 

注記 対応国際規格：ISO/IEC 18092，Information technology−Telecommunications and information 

exchange between systems−Near Field Communication−Interface and Protocol (NFCIP-1)（IDT） 

JIS X 6305-6:2013 識別カードの試験方法−第6部：非接触（外部端子なし）ICカード−近接型 

注記 対応国際規格：ISO/IEC 10373-6:2011，Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards

（IDT） 

ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1:2012，Additional PICC classes 

4 

表記法 

4.1 

数値の表記 

（対応国際規格では，この細分箇条において，数値の表記について，英語特有の規定をしているが，こ

の規格では不要であり，不採用とした。） 

4.2 

名称 

（対応国際規格では，この細分箇条において，基本要素の名称の表記について，英語特有の規定をして

いるが，この規格では不要であり，不採用とした。） 

4.3 

試験報告書 

試験報告書には，行った試験の総数に対して合格した試験の数，サンプル個体数及び試験日を記載する

（附属書A参照）。 

5 

記号及び略語 

JIS X 5211によるほか，次の記号及び略語を使用する。 

DFT（Discrete Fourier Transformation） 

離散型フーリエ変換 

DUT（Device Under Test） 

試験対象のデバイス 

fc（Frequency of the operating field） 

搬送波の周波数 

fs（Frequency of subcarrier at 106 kbit/s in passive 

106 kbit/sの受動通信モードにおける副搬 

communication mode） 

送波の周波数 

Hm（Maximum external field strength for not preventing 

イニシエータが磁界を出力し始めることを 

the Initiator to switch on its RF field） 

妨げない最大外部磁界強度 

Hmax（Maximum field strength of the Initiator antenna field） 

最大動作磁界強度 

Hmin（Minimum field strength of the Initiator antenna field） 

最小動作磁界強度 

HThreshold（Minimum field strength for the RF level detector） 

RFレベル検出における最小磁界強度 

PCB（Printed Circuit Board） 

プリント基板 

RF（Radio Frequency） 

無線周波数 

3 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

6 

試験方法の適用条件 

6.1 

試験環境 

JIS X 6305-6の4.1による。 

6.2 

許容誤差 

JIS X 6305-6の4.3による。 

6.3 

寄生インダクタンス 

JIS X 6305-6の4.4による。 

6.4 

測定の不確かさ 

JIS X 6305-6の4.5による。 

6.5 

アンテナクラス 

試験はISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1に規定されたクラス3アンテナを使用して行う。 

注記 NFCIP-1デバイスに使われるアンテナサイズがクラス3アンテナサイズより大きい場合は，

ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1に規定されたクラス1アンテナをクラス3アンテナに加えて使用

してもよい。 

7 

試験設備及び回路 

試験設備には，次のものを含む。 

− デジタルサンプリングオシロスコープ 

− 校正用コイル 

− 試験アセンブリ 

− 基準デバイス 

この試験設備を，次の細分箇条（7.1〜7.4）で示す。 

7.1 

デジタルサンプリングオシロスコープ 

JIS X 6305-6の5.1.1による。 

7.2 

校正用コイル 

JIS X 6305-6の5.2による。 

7.3 

試験アセンブリ 

JIS X 6305-6の5.3による。 

7.4 

基準デバイス 

基準デバイスは，動作空間内で，次のイニシエータの能力測定に使用する。 

− Hmin以上でHmaxを超えない磁界を発生する。 

− ターゲットへ変調信号を送信する。 

− 受動通信モードにおいて，ターゲットからの負荷変調信号を受信する。 

基準デバイスは，動作空間内で，次のターゲットの能力測定に使用する。 

− 能動通信モードにおいて，Hmin以上でHmaxを超えない磁界を発生する。 

− イニシエータへ変調信号を送信する。 

7.4.1 

基準デバイスの外形寸法 

JIS X 6305-6の5.4.1による。 

4 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

7.4.2 

基準デバイスの構造 

JIS X 6305-6の5.4.2による。基準デバイスのコイル構造は，ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1のAnnex D.3

に定義されている。 

注記 アンテナがクラス3アンテナサイズより大きい場合は，ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1のAnnex 

D.1に規定する基準デバイス1コイルを基準デバイス3に加えて使用してもよい。 

7.4.3 

基準デバイスの共振周波数調整 

JIS X 6305-6の5.4.3による。 

8 

イニシエータの機能試験 

8.1 

イニシエータのRF検知 

8.1.1 

目的 

この試験は，イニシエータがJIS X 5211の8.4に規定されているようにHThreshold以上の磁界強度で，外

部RFフィールドを検知できることの確認を目的とする。 

8.1.2 

試験手順 

7.3に規定する試験アセンブリを使用する。 

手順1： 

信号発生器から試験アセンブリへ供給されるRF電力は，NFCIP-1デバイスのない状態で，校正用コイ

ルで測定しながら0〜Hmaxの必要な磁界強度に調整されていなければならない。 

試験回路の出力は，デジタルサンプリングオシロスコープに接続する。可変抵抗P1を調整して残留搬

送波の電圧を最小にしなければならない。この信号は，DUTがRFフィールドを発生したかどうかを検出

できるように，一方のセンスコイルを短絡して得られる信号より少なくとも40 dB低くなければならない。 

手順2： 

試験対象のNFCIP-1デバイスを，DUTの位置にセンスコイルaの中心軸に合わせて設置しなければなら

ない。DUTは，イニシエータモードに設定されなければならない。 

信号発生器は，周波数fcの無変調のRFフィールドを発生し始めて，磁界強度は0から，イニシエータ

がRFフィールドを発生することを妨げない最大磁界強度Hmまで直線的に増加しなければならない。 

試験は，イニシエータがRFフィールドを正しく発生することを検証しなければならない。 

HmがHThreshold以下のとき，DUTはこの試験に合格とする。 

8.1.3 

試験報告書 

試験報告書は，DUTが8.1.2に示す手順に従って正しく動作しているか否かを記載する。 

8.2 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの磁界強度 

8.2.1 

目的 

この試験は，JIS X 5211の8.2に規定された動作空間において，イニシエータが発生した磁界の強度を

測定することを目的とする。 

8.2.2 

試験手順 

JIS X 6305-6の7.1.1.2による。 

8.2.3 

試験報告書 

JIS X 6305-6の7.1.1.3による。 

5 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

8.3 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び送信波形 

8.3.1 

目的 

この試験は，全ての伝送速度において，イニシエータが発生するRFフィールドの変調度，立上がり時

間，立下がり時間，及びオーバーシュートが，規定された動作空間内でJIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2

の規定に一致していることの確認を目的とする。 

8.3.2 

試験手順 

JIS X 6305-6の7.1.4.2による。 

8.3.3 

試験報告書 

試験報告書は，規定された動作空間において，変調度，立上がり時間，立下がり時間及びオーバーシュ

ート値を記載する。 

8.4 

受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変調受信能力 

8.4.1 

目的 

この試験は，イニシエータがJIS X 5211の9.3.2.2及び9.3.3.2に規定するターゲットの負荷変調を正し

く検出するかの確認を目的とする。 

8.4.2 

試験手順 

JIS X 6305-6の7.1.5.2による。 

8.4.3 

試験報告書 

試験報告書は，試験位置及びイニシエータの負荷変調を記載する。 

8.5 

能動通信モードにおけるイニシエータの変調度及び波形の受信能力 

8.5.1 

目的 

この試験は，イニシエータがJIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2に規定された能動通信モードにおいて，

ターゲットの変調波形を正しく検出するかの確認を目的とする。 

8.5.2 

伝送速度 106 kbit/s 

8.5.2.1 

試験環境 

JIS X 6305-6の7.2.2.2.1による。 

8.5.2.2 

試験手順 

7.3に規定する試験アセンブリを使用する。 

8.5.2.1に規定する環境下において，イニシエータは，試験アセンブリから送られた変調波形を検波し，

通常動作を継続しなければならない。 

8.5.2.3 

試験報告書 

試験報告書は，イニシエータが正常に動作したか否かを記載する。使用した試験環境も試験報告書に記

載する。 

8.5.3 

伝送速度 212 kbit/s及び424 kbit/s 

8.5.3.1 

試験環境 

JIS X 6305-6の7.2.2.3.1による。 

8.5.3.2 

試験手順 

7.3に規定する試験アセンブリを使用する。 

8.5.3.1に規定する環境下において，イニシエータは，試験アセンブリから送られた変調波形を検波し，

通常動作を継続しなければならない。 

6 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

8.5.3.3 

試験報告書 

試験報告書は，イニシエータが正常に動作したか否かを記載する。使用した試験環境も試験報告書に記

載する。 

8.6 

能動通信モードにおけるイニシエータの最大負荷影響の試験（任意選択） 

8.6.1 

目的 

この試験は，能動通信モード時に受信動作しているイニシエータの負荷影響が基準デバイスの負荷影響

よりも大きいか又は小さいかを確認することを目的とする。 

8.6.2 

試験手順 

ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1の7.2.4.2で定義されるクラス3 PICCにおいてCON3のDC電圧を4.5 Vと

する。 

8.6.3 

試験報告書 

JIS X 6305-6の7.2.4.3による。 

9 

ターゲットの機能試験 

9.1 

受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調送信 

9.1.1 

目的 

この試験は，ターゲットの負荷変調信号の振幅がJIS X 5211の9.3.2.2及び9.3.3.2の規定に一致してい

ることの確認を目的とする。 

9.1.2 

試験手順 

JIS X 5211は，受動通信モードに対し，三つの異なる伝送速度を規定する。受動通信モードにおけるタ

ーゲット試験は，106 kbit/s，212 kbit/s及び424 kbit/sで実行しなければならない。 

9.1.2.1 

106 kbit/sの試験手順 

JIS X 6305-6の7.2.1.2に規定されているPICCを参照する。 

9.1.2.2 

106 kbit/sの試験報告書 

上側帯波（fc＋fs）及び下側帯波（fc−fs）の振幅がJIS X 5211で規定する値よりも大きいとき，この試

験に合格とする。 

9.1.2.3 

212 kbit/s及び424 kbit/sの試験手順 

JIS X 6305-6の7.2.1.2に規定されているPICCを参照する。 

ただし，次の操作を行う。 

− 副搬送波を搬送波に置き換える。 

− REQA又はREQBコマンドをJIS X 5211に規定されている当該通信速度のポーリングコマンドに置き

換える。 

− 信号又は負荷変調応答をJIS X 5211に規定されている当該通信速度のポーリング応答コマンドに置き

換える。 

9.1.2.4 

212 kbit/s及び424 kbit/sの試験報告書 

変調データの振幅がJIS X 5211に規定した値を超えているとき，この試験は合格とする。 

9.2 

能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度 

ターゲットについては，8.2を実施する。 

9.3 

能動通信モードにおけるターゲットの変調度及び送信波形 

ターゲットについては，8.3を実施する。 

7 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

9.4 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるターゲットの変調度及び波形の受信能力 

ターゲットとイニシエータとを交換して8.5を実施する。 

9.5 

受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷影響の試験（任意選択） 

ターゲットについては，8.6による。 

8 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書A 

（参考） 

試験報告書の様式例 

序文 

供給者： 

製品： 

凡例： 

# passed tests＝合格した試験数 

# tests＝遂行した総試験数 

# samples＝DUTのサンプル数 

# of tested positions＝動作空間中の試験位置数 

# date＝日付 

No 

試験名称 

目的 

8.1 

イニシエータRFレベル検出 

この試験は，イニシエータがJIS X 5211の8.4に規定され
たHThreshold以上の磁界強度で，外部RFフィールドを検知
できることの確認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests 

# samples 

# date 

H＜HThreshold 

DUTは，自身のRFフィールド
を発生する。 

HThreshold≦H

＜Hmax 

DUTは，自身のRFフィールド
を発生しない。 

No 

試験名称 

目的 

8.2 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイ
ニシエータ磁界強度 

この試験は，JIS X 5211の8.2に規定された動作空間にお
いて，イニシエータが発生した磁界の強度を測定すること
を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

動作空間内の
異なる位置 

Hmin≦H≦Hmax 

No 

試験名称 

目的 

8.3 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるイ
ニシエータの変調度及び送信波形 

この試験は，全ての伝送速度において，イニシエータが発
生するRFフィールドの変調度，立上がり時間，立下がり
時間，及びオーバーシュートが，規定された動作空間内で
JIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2の規定に一致しているこ
との確認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

動作空間内の
異なる位置 

JIS X 5211で規定された要求範
囲内の波形パラメタとする。 

9 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

No 

試験名称 

目的 

8.4 

受動通信モードにおけるイニシエータの負荷変
調受信能力 

この試験は，イニシエータがJIS X 5211の9.3.2.2及び
9.3.3.2に規定するターゲットの負荷変調を正しく検出す
るかの確認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

動作空間内の
異なる位置 
106 kbit/s， 
212 kbit/s， 
424 kbit/s 

JIS X 5211で規定された要求を
下回る負荷変調振幅感度とす
る。 

No 

試験名称 

目的 

8.5 

能動通信モードにおけるイニシエータの変調度
及び波形受信能力 

この試験は，イニシエータがJIS X 5211の9.2.1.2及び
9.2.2.2に規定された能動通信モードにおいて，ターゲット
の変調波形を正しく検出するかの確認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

Hmin，Hmax 

106 kbit/s 

イニシエータが正しく変調波形
を受信し，通常動作を継続する
とき，この試験は合格とする。 

Hmin，Hmax 

212 kbit/s 

イニシエータが正しく変調波形
を受信し，通常動作を継続する
とき，この試験は合格とする。 

Hmin，Hmax 

424 kbit/s 

イニシエータが正しく変調波形
を受信し，通常動作を継続する
とき，この試験は合格とする。 

No 

試験名称 

目的 

8.6 

能動通信モードにおけるイニシエータの最大負
荷影響（任意選択） 

この試験は，能動通信モード時に受信動作しているイニシ
エータの負荷影響が基準デバイスの負荷影響よりも大き
いか又は小さいかを確認することを目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

Hmin 

基準デバイスの負荷影響が小さ
いとき，この試験は合格とする。 

10 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

No 

試験名称 

目的 

9.1 

受動通信モードにおけるターゲットの負荷変調
送信 

この試験は，ターゲットの負荷変調信号の振幅がJIS X 
5211の9.3.2.2及び9.3.3.2の規定に一致していることの確
認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests 

# samples 

# date 

106 kbit/s 

上側帯波（fc＋fs）及び下側帯波
（fc−fs）の振幅がJIS X 5211の
規定値を上回っているとき，こ
の試験は合格とする。 

212 kbit/s 

上側帯波（fc＋fs）及び下側帯波
（fc−fs）の振幅がJIS X 5211の
規定値を上回っているとき，こ
の試験は合格とする。 

424 kbit/s 

上側帯波（fc＋fs）及び下側帯波
（fc−fs）の振幅がJIS X 5211の
規定値を上回っているとき，こ
の試験は合格とする。 

No 

試験名称 

目的 

9.2 

能動通信モードにおけるターゲットの磁界強度 

この試験は，JIS X 5211の8.2に規定された動作空間にお
いて，ターゲットが発生した磁界の強度を測定することを
目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

動作空間内の
異なる位置 

Hmin≦H≦Hmax 

No 

試験名称 

目的 

9.3 

能動通信モードにおけるターゲットの変調度及
び送信波形 

この試験は，全ての伝送速度において，ターゲットが発生
するRFフィールドの変調度，立上がり時間，立下がり時
間，及びオーバーシュートが，規定された動作空間内で
JIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2の規定に一致しているこ
との確認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

動作空間内の
異なる位置 

JIS X 5211で規定された要求範
囲内の波形パラメタとする。 

11 

X 5213：2015 (ISO/IEC 22536：2013) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

No 

試験名称 

目的 

9.4 

能動通信モード及び受動通信モードにおけるタ
ーゲットの変調度及び波形受信能力 

この試験は，ターゲットがJIS X 5211の9.2.1.2及び9.2.2.2
に規定する能動通信モードのイニシエータからの変調波
形を正しく検出するかの確認を目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

Hmin，Hmax 

106 kbit/s 

ターゲットが正しく変調波形を
受信し，通常動作を継続すると
き，この試験は合格とする。 

Hmin，Hmax 

212 kbit/s 

ターゲットが正しく変調波形を
受信し，通常動作を継続すると
き，この試験は合格とする。 

Hmin，Hmax 

424 kbit/s 

ターゲットが正しく変調波形を
受信し，通常動作を継続すると
き，この試験は合格とする。 

No 

試験名称 

目的 

9.5 

受動通信モードにおけるターゲットの最大負荷
影響（任意選択） 

この試験は，受動通信モードにおける受信動作中のターゲ
ットの負荷影響が基準デバイスの負荷影響よりも大きい
か又は小さいかを確認することを目的とする。 

条件 

JIS X 5211で期待する結果 

# passed tests 

# tests &  

# of tested 

positions 

# samples 

# date 

Hmin 

負荷影響が基準デバイスのとき
の値より小さいとき，この試験
は合格とする。