JISX5151:2018 光情報配線試験

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 2

2 引用規格························································································································· 2

3 用語，定義及び略号 ·········································································································· 3

3.1 用語及び定義 ················································································································ 3

3.2 略号 ···························································································································· 6

3.3 記号 ···························································································································· 6

4 試験又は検査の適合性 ······································································································· 6

5 一般要件························································································································· 7

5.1 試験系 ························································································································· 7

5.2 基準測定及び校正 ·········································································································· 7

5.3 環境条件 ······················································································································ 8

5.4 文書 ···························································································································· 8

5.5 品質計画 ······················································································································ 9

6 試験装置························································································································· 9

6.1 光源及びパワーメータ ···································································································· 9

6.2 OTDR ························································································································· 10

6.3 試験コード及び光アダプタ ····························································································· 11

6.4 MMF入射モード分布（LMD） ······················································································· 15

6.5 SMF入射条件 ·············································································································· 15

7 検査装置························································································································ 15

8 被測定配線−チャネル及びパーマネントリンク ····································································· 15

8.1 一般 ··························································································································· 15

8.2 基準面 ························································································································ 15

8.3 測定波長 ····················································································································· 17

8.4 測定方向 ····················································································································· 17

9 敷設配線の試験 ··············································································································· 17

9.1 減衰量 ························································································································ 17

9.2 伝搬遅延 ····················································································································· 23

9.3 長さ ··························································································································· 24

10 既設配線内の配線部材の試験 ··························································································· 24

10.1 光ケーブルの減衰量 ····································································································· 24

10.2 近端及び遠端試験インタフェースの減衰量 ······································································· 26

10.3 接続器具の減衰量 ········································································································ 28

10.4 接続器具の反射減衰量 ·································································································· 29

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014) 目次

（2）

ページ

10.5 光ファイバ長 ·············································································································· 31

10.6 コードの減衰量 ··········································································································· 33

11 配線及び配線部材の検査 ································································································· 34

11.1 光ファイバの連続性 ····································································································· 34

11.2 配線極性 ···················································································································· 34

11.3 光ファイバケーブル長 ·································································································· 34

11.4 光ファイバ端面の検査 ·································································································· 34

11.5 光ファイバコアサイズ ·································································································· 35

附属書A（規定）マルチモードファイバ配線を試験するための入射モード条件 ································ 36

附属書B（規定）光コネクタの目視検査基準············································································· 37

附属書C（参考）OTDR法（Optical time domain reflectometry） ·················································· 38

附属書D（規定）試験コード及び校正用コードの検査及び試験····················································· 42

附属書E（参考）拡張試験コード基準法及び試験コード基準法によるリンク及びチャネル減衰量 ········ 44

附属書F（参考）品質計画 ····································································································· 47

附属書G（参考）チャネル及びパーマネントリンクの計算例 ······················································· 49

附属書H（参考）光コネクタ端面の清掃及び検査 ······································································ 51

参考文献 ···························································································································· 52

日本工業規格 JIS

X 5151：2018

(ISO/IEC 14763-3：2014)

光情報配線試験

Information technology-Implementation and operation of customer

premises cabling-Part 3: Testing of optical fibre cabling

序文

この規格は，2014年に第2版として発行されたISO/IEC 14763-3を基に，技術的内容及び構成を変更す

ることなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。

この規格は，JIS X 5150及び他の配線規格を支援して作成された四つの国際規格の一つである。

図1は，JIS X 5150と他の国際規格及び配線システムに関連した規格との相互関係を示す。

図1−関連した国際規格の相互関係

JIS X 5151は，次の光ファイバ配線に対する検査及び試験手順を詳しく述べる。

a) JIS X 5150，ISO/IEC 24764，ISO/IEC 24702及びISO/IEC 15018を含む構内配線規格に従って設計さ

れた光ファイバ配線

b) ISO/IEC 14763-2の要件及び助言に従って施工された光ファイバ配線

この規格の利用者は，関連する情報配線規格及びISO/IEC 14763-2を熟知することを推奨する。

それぞれの施工に対する品質計画は，施工のための受け入れ試験及び抜き取り試験を定義できる。品質

計画の作成に対する要件及び助言は，ISO/IEC 14763-2に説明されている。

JIS X 5151

光情報配線試験

（ISO/IEC 14763-3）

Information technology−

Implementation and operation of

customer premises cabling−Part 3:

Testing of optical fibre cabling

IEC 61935-1

Specification for the testing of

balanced and coaxial information

technology cabling−Part 1: Installed

balanced cabling as specified in

ISO/IEC 11801 and related standards

IEC 61935-3

Testing of balanced and coaxial

information technology cabling−Part

3: Installed cabling as specified in

ISO/IEC 15018 and related standards

JIS X 5150

構内情報配線

システム

（ISO/IEC 11801）

Information technology

−Generic cabling for

customer premises

ISO/IEC 14763-2

Information technology

−Implementation and

operation of customer

premises cabling−Part

2: Planning and

installation

ISO/IEC 24702

Information technology

−Generic cabling−

Industrial premises

ISO/IEC 24764

Information technology

−Generic cabling

systems for data centres

ISO/IEC 15018

Information technology

−Generic cabling for

homes

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

適用範囲

この規格は，JIS X 5150，ISO/IEC 24764，ISO/IEC 24702，ISO/IEC 15018などの構内情報配線システム

規格に従って設計及び敷設された光ファイバ配線の調査及び試験の体系及び方法を規定する。試験方法は，

ある場合は既存の規格に基づいた手順を参照する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

ISO/IEC 14763-3:2014，Information technology−Implementation and operation of customer premises

cabling−Part 3: Testing of optical fibre cabling（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5961 光ファイバコネクタ試験方法

注記対応国際規格：IEC 61300-3-4，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation及び

IEC 61300-3-6，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss（MOD）

JIS C 6803 レーザ製品の安全−光ファイバ通信システムの安全

注記対応国際規格：IEC 60825-2，Safety of laser products−Part 2: Safety of optical fibre

communication systems (OFCS)（IDT）

JIS X 5150 構内情報配線システム

注記対応国際規格：ISO/IEC 11801，Information technology−Generic cabling for customer premises

（IDT）

ISO/IEC 14763-2，Information technology−Implementation and operation of customer premises cabling−Part

2: Planning and installation

IEC 60050-731，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 731: Optical fibre communication

IEC 60874-14-3，Connectors for optical fibres and cables−Part 14-3: Detail specification for fibre optic

adapter (simplex) type SC for single-mode fibre

IEC 60874-19-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Connectors for optical fibres

and cables−Part 19-1: Fibre optic patch cord connector type SC-PC (floating duplex) standard terminated

on multimode fibre type A1a, A1b−Detail specification

IEC 61280-1-3，Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-3: General communication

subsystems−Central Wavelength and spectral width measurement

IEC 61280-1-4，Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-4: General communication

subsystems−Light source encircled flux measurement method

IEC 61280-4-1，Fibre-optic communication subsystem test procedures−Part 4-1: Installed cable plant−

Multimode attenuation measurement

IEC 61280-4-2，Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 4-2: Fibre optic cable plant

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

−Single-mode fibre optic cable plant attenuation

IEC 61300-3-35:2009，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 3-35: Examinations and measurements−Fibre optic connector endface

visual and automated inspection

IEC 61300-3-42，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-42: Examinations and measurements−Attenuation of single mode alignment sleeves

and or adaptors with resilient alignment sleeves

IEC 61755-3-1，Fibre optic connector optical interfaces−Part 3-1: Optical interface, 2,5 mm and 1,25 mm

diameter cylindrical full zirconia PC ferrule, single mode fibre

IEC 61755-3-2，Fibre optic connector optical interfaces−Part 3-2: Optical interface, 2,5 mm and 1,25 mm

diameter cylindrical full zirconia ferrules for 8 degrees angled-PC single mode fibres

IEC 62614，Fibre optics−Launch condition requirements for measuring multimode attenuation

IEC 62664-1-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Fibre optic connector product

specifications−Part 1-1: LC-PC duplex multimode connectors terminated on IEC 60793-2-10 category

A1a fibre

用語，定義及び略号

3.1

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS X 5150及びIEC 60050-731によるほか，次による。

3.1.1

光アダプタ（adapter）

終端された光ファイバケーブル同士の相互接続を可能にする器具。

3.1.2

減衰量，A（attenuation）

光信号が光ファイバのような媒体中を伝送することに伴う光パワーの減少。その値Aは，A＝−10 lg

（Pout/Pin）（dB）で計算する。ここで，Pin及びPoutは，それぞれ配線ケーブルへの光の入力及び出力パワ

ーであり，一般的に単位は，mWである。

3.1.3

減衰量デッドゾーン（attenuation dead zone）

反射又は非反射イベントにおいて，与えられた垂直距離ΔFより大きいことによって後方散乱波形が影

響を受ける領域。

注記 ΔFは，通常0.5 dBの値が認められる。

（IEC 61746-1:2009及びIEC 61746-2:2010の3.3参照。注記は変更しており，図1は含まれていない。）

3.1.4

ケーブル外被（cable sheath）

光ファイバ又は導体に加えて，1本又は複数の金属部材，抗張力体又はジャケット全体を覆うもの。

注記単に“シース”ともいわれる。

3.1.5

3.1.5.1

接続部（connection）

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

2本のケーブル又はケーブル要素の終端接続部を含む結合器具。

3.1.5.2

接続（connection）

2本のケーブル又はケーブル要素の終端接続部を含む器具の組合せ。

3.1.6

エンサークルドフラックス，EF（encircled flux）

全出力光パワーと光軸からの半径方向距離の関数として計算したニアフィールド光パワーとの比。

3.1.7

イベントデッドゾーン（event dead zone）

OTDRによる測定において，反射イベントに続く反射イベントを検出することができない領域。

3.1.8

不合格結果（fail result）

試験結果が指定の要求値を満足せず，かつ，測定値と要求値との差が試験系の測定の不確かさより大き

いときの判定結果。

注記不合格結果の取扱いは，検討中。

3.1.9

入射側試験コード，ランチ試験コード（launch test cord）

光源と被測定配線又は試験基準測定の一部としての配線とを接続するために用いるケーブル用品。

3.1.10

光源及びパワーメータ（light source and power meter）

光源（LS），パワーメータ（PM）及び敷設された配線の減衰量を測定するために用いる試験コードによ

って構成される試験系。

3.1.11

判定困難，マージナル結果（marginal result）

測定値と指定の要求値との差が試験系の測定の不確かさの範囲内であるときの判定結果。

注記判定困難の取扱いは，検討中。

3.1.12

マルチモード光ファイバ，MMF（multimode optical fibre）

コアに沿って，特定の波長で二つ以上の伝搬モードの光が伝送する光ファイバ。

注記代表的なマルチモードファイバは，おおよそ100以上のモードを伝送する。

（IEC 60050-731:1991及びIEC 60050-731-02-03参照。定義を一部変更し，注記を追加している。）

3.1.13

光ファイバ（optical fibre）

誘電体で作られた，光を伝達する繊維。

（IEC 60050-731:1991及びIEC 60050-731-02-01参照）

3.1.14

光パルス試験器，OTDR（optical time domain reflectometer）

入射した光パルスの後方散乱光及び反射光を時間を基準にして測定し，光ファイバ配線の特性を計測す

る装置。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

3.1.15

合格結果（pass result）

試験結果が指定の要求値に適合し，かつ，測定値と要求値との差が規定した測定の不確かさより大きい

ときの判定結果。見掛け上の値が測定の不確かさを超えないことを条件とする。

注記合格結果の取扱いは，検討中。

3.1.16

基準光アダプタ（reference adapter）

基準光コネクタ相互接続の性能を得ることを確実にする光アダプタ。

注記この定義は，円筒状フェルールの光コネクタにだけ適用する。

3.1.17

基準光コネクタ（reference connector）

光ファイバに終端された厳しい公差をもった光コネクタ。二つの基準光コネクタのかん合によって発生

する減衰量は，一般的に要求される減衰量より小さい規定値以下となるよう厳しい公差が要求される。

3.1.18

基準測定（reference measurement）

被測定配線への入力パワーレベルを得るために行う光源の出力パワーの測定。

3.1.19

シングルモード光ファイバ，SMF（singlemode optical fibre）

単一モードだけの光伝送を行う光ファイバ。

3.1.20

置換用試験コード（substitution test cord）

被測定配線の減衰量測定中に置き換えられる基準測定で用いる試験コード。

3.1.21

出射側試験コード，テイル試験コード（tail test cord）

パワーメータと被測定配線又は試験基準測定の一部として用いる配線とを接続するために用いるケーブ

ル用品。

3.1.22

試験コード（test cord）

試験装置と被測定配線とを接続するために用いる，又は試験のための基準値（Pr）測定の一部として用

いるケーブル用品。

3.1.23

試験員（test operator）

試験系設計者の作業指示に従って試験を実施する技能者。

3.1.24

試験系（test system）

この規格の要件に沿った試験を実施するために必要な試験装置，試験コード及び光アダプタ。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

3.2

略号

この規格で用いる主な略号は，JIS X 5150によるほか，次による。

APC

斜めPC（Angled Physical Contact）

分岐点（Consolidation Point）

DUT

被試験体（Device Under Test）

EQP

機器（EQuiPment）

ffs

略語は使用せず，“検討中”と記載（for further study）

IOR

屈折率（Index Of Refraction）

LTC

入射側試験コード（Launch Test Cord）

光源（Light Source）

LSA

最小二乗法（Least Square Average）

LSPM

光源及びパワーメータ（Light Source and Power Meter）

MMF

マルチモード光ファイバ（MultiMode optical Fibre）

MPO

MPOコネクタ（Multifibre Push-On connector）

N/A

適用外（Not Applicable）

OTDR

光パルス試験器（Optical Time Domain Reflectometer）

球面研磨（Physical Contact）

パワーメータ（Power Meter）

反射減衰量（Return Loss）

加入者コネクタ（Subscriber Connector）

SMF

シングルモード光ファイバ（Single-Mode optical Fibre）

STC

置換用試験コード（Substitution Test Cord）

TTC

出射側試験コード（Tail Test Cord）

3.3

記号

図中の接続部を示すために，次の記号を適用する。

光コネクタ（一般）

敷設した配線上の光コネクタ

基準光コネクタ

光アダプタ（一般）

敷設した配線上の光アダプタ

基準光アダプタ

接続（Splice）

試験又は検査の適合性

この規格に従って敷設された配線の試験を行うためには，次の要件に適合しなければならない。

a) 試験は，箇条5の一般要件及び箇条8に適合する。

b) 試験装置及び試験コードは，箇条6に適合する。

c) 試験方法は，必要に応じて箇条9及び箇条10に適合し，試験結果の取扱いは，箇条9及び箇条10に

適合する。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

d) 試験結果は，5.4に従って文書化する。

e) レーザ製品は，JIS C 6803のレーザ製品の安全の要件に適合する。

この規格に従って敷設された配線の検査を行うためには，次の要件に適合しなければならない。

a) 検査装置は，箇条7の要件に適合する。

b) 検査方法は，必要に応じて箇条11に適合する。

c) レーザ製品は，JIS C 6803のレーザ製品の安全の要件に適合する。

安全作業実施に関する，関連国内規制・法規を遵守しなければならない。

一般要件

5.1

試験系

この規格で定義する試験系は，近端側試験装置及び（必要があるときには）遠端側試験装置，並びに被

測定配線とこれら試験装置とをつなぐ試験コード及び光アダプタとから構成する（図2参照）。

この規格の特定の試験方法は，詳細な情報は提供されていないが，プラスチック光ファイバ配線の試験

に適用してもよい（例減衰量）。プラスチック光ファイバのカテゴリA4ファイバは，IEC 60793-2-10に

規定されている。

試験系，特に光アダプタ及び基準光コネクタは，構成部品，リンク又はチャネルの減衰量測定の不確か

さに影響する。

光コネクタの相互接続に屈折率整合剤（ジェル及び／又は液体）を用いてはならない。

図2−試験系及び被測定配線

5.2

基準測定及び校正

基準測定の手順は，必要に応じて，試験系が規定の測定の不確かさを得るように規定している。

試験装置は，規格化された手順書（例えば，JIS C 6186，JIS C 6185-2及びJIS C 6185-3）又は試験装置

の製造業者が提供した手順書に従って適切な校正をしなければならない。

試験員は，試験のときにはその試験装置の有効な校正証明書を保有していなければならない。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

5.3

環境条件

5.3.1

伝送機器及び端末機器の保護

伝送機器及び端末機器は，この規格によるあらゆる試験又は検査が実施される前に，被測定配線から切

り離さなければならない。

5.3.2

検査及び光コネクタの清掃

被測定配線，試験コード及び試験機器のインタフェースのほこり，汚れ又はその他の異物は，誤った結

果を生み出すおそれがあり，場合によっては被測定配線を傷めるおそれがある。

試験コードの光コネクタ端面は，附属書Bに従って検査しなければならない。

コネクタ端面に汚れがある又は異物が付着している場合は，附属書Hの提案に従って清掃し再検査する

ことを推奨する。試験コードの光コネクタ端面が傷ついたり，附属書Bの要件に合わない場合は，試験コ

ードを取り換えなければならない。

被測定配線の光コネクタ端面は，附属書Bに従って検査しなければならない。コネクタ端面に汚れがあ

る又は異物が付着している場合は，附属書Hに従って清掃し附属書Bに従って再検査することを推奨する。

被測定配線の光コネクタ端面が傷ついたり，附属書Bの要件に合わない場合は，そのコネクタを交換する

という提案と合わせて，不具合を報告しなければならない。

5.3.3

試験装置の使用

外部要因（例えば，環境的，電磁気的，物理的要因）は，試験装置に悪影響を与え，測定結果に影響す

る。試験装置は，その試験装置の製造業者が提供する仕様書に従って取り扱わなければならない。

製造業者が提供する仕様書の中で指定されていない場合は，試験装置は，基準測定をする少なくとも15

分前に試験環境で安定した状態にしなければならない。

5.3.4

測定の妥当性

測定は，次のいずれかでなければならない。

a) 意図した動作環境の代表値である環境下で行う。

b) 代表値ではない環境下での測定であることを試験報告書に記載する。

5.3.5

判定困難の取扱い

判定困難は，次の方法で取り扱うことができる。

a) 同じ試験系を用いて試験系の基準測定から再測定する。

b) 全ての判定困難を容認する。

c) 改善した測定の不確かさをもつ別の試験系を用いて再測定する。

5.4

文書

文書には，次の項目を含まなければならない。

a) ID及び試験項目の詳細

b) チャネル又はパーマネントリンク

c) 試験装置

1) 型式及び製造業者

2) シリアル番号及び校正状態

3) 測定波長

d) 光ファイバ配線の詳細（光ファイバケーブルの性能カテゴリ，例えば，OM2，OM3，OM4，OS1，OS2）

e) 配線の光コネクタ型の詳細

試験中の配線試験装置の設定

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

g) 測定結果

h) 適用要件

参照番号及び試験方向の詳細

試験日（試験時刻を加えてもよい）

k) 試験員名

試験系の計算上の測定の不確かさ（検討中）

注記試験系の計算上の不確かさは，現在ISO/IEC SC 25で審議されている。この情報は，追補1で

追加される予定である。

5.5

品質計画

品質計画（検査及び試験計画）については，附属書Fを参照する。

試験装置

6.1

光源及びパワーメータ

6.1.1

一般

IEC 61280-4-1，IEC 61280-4-2及びJIS C 5961（IEC 61300-3-4）に基づいて，JIS X 5150に規定するリ

ンク減衰量及びチャネル減衰量（減衰量は，挿入損失とも呼ばれる。）をLSPM法で測定する場合，次の

事項を適用する。

6.1.2

光源

試験波長に対する要件は，JIS X 5150及びISO/IEC 14763-2を参照する。マルチモード光ファイバ及び

シングルモード光ファイバ配線の試験には，それぞれLED光源及びファブリペロレーザ光源を使用するこ

とを推奨する。ビクセルレーザ光源は使用しないほうがよい。マルチモード光ファイバ配線及び接続器具

などの構成要素を試験するための光源は，IEC 61280-1-3に従って測定した場合，表1の波長特性に適合し

なければならない。

表1−マルチモード光ファイバ用光源の特性

中心波長

（nm）

850±30

1 300±30

シングルモード光ファイバを試験するための光源は，IEC 61280-1-3に従って測定した場合，表2の波長

特性に適合しなければならない。

表2−シングルモード光ファイバ用光源の特性

中心波長

（nm）

1 310±30

1 550±30

6.1.3

パワーメータ

パワーメータは，光パワーの測定値を少なくとも小数点第2位まで表示しなければならない（例 −14.32

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

dBm，2.19 dB）。

試験装置（LSPM）をリンク又はチャネル減衰量測定のために用いる場合，測定の不確かさは，±0.2 dB

（検討中）以内であることが望ましい。

試験装置（LSPM）をその損失を測定することによって基準光コネクタの現場確認のために用いる場合，

測定の不確かさは，0.2 dB（検討中）未満であることが望ましい。

パワーメータが受光素子部と取り外し可能な光アダプタとで構成されている場合は，その光アダプタは，

パワーメータの製造業者が提供した手順書に従って取り付けなければならない。

6.1.4

試験系の安定性（検討中）

光源は，±0.1 dBの安定性をもつことが望ましい。

注記測定された光パワーと実際の光パワーとの間の非直線性は，測定誤差の要因となる。また，内

部に導波路を保有するパワーメータは，モード条件の変動によって測定値の変動を引き起こす

おそれがある。

6.2

OTDR

6.2.1

一般

マルチモード光ファイバ配線及び部品を試験するOTDRは，表1の中心波長に適合しなければならない。

シングルモード光ファイバを試験するOTDRは，表2の中心波長に適合しなければならない。

OTDRによる測定は，入射側試験コード及び出射側試験コードを用いて行わなければならない。

OTDRについてのより詳しい情報は，附属書Cを参照する。

6.2.2

入射側試験コード及び出射側試験コードを用いた場合のOTDRによる測定

入射側試験コード及び出射側試験コードを用いたOTDRによる測定の特徴は，次のとおりである。

a) 図3に示す一方向特性波形が得られる。

b) 被測定配線に対する連続性試験が可能である。

c) 被測定配線の近端側及び遠端側インタフェースの特性，敷設されたケーブルの特性及び接続部の特性

についての情報が得られる。

d) それぞれの方向での測定値を用いて被測定配線の近端側及び終端側のインタフェースの定量的な測定

ができる。

e) 一方向でチャネル又はリンクの定量的な減衰量測定（箇条8参照）を行うためには，次の要件に適合

する必要がある。

− チャネル又はリンクが1本のケーブル及び終端された光コネクタだけで構成されている。

− 入射側試験コード及び出射側試験コードの光ファイバの後方散乱特性が被測定配線の光ファイバ

と同じである。

両方向の測定で中間に接続部をもつチャネル又はリンクの定量的な減衰量測定（箇条8参照）を行う

ためには，次の要件に適合する必要がある。

− パーマネントリンク，チャネル又は接続部の損失を両方向から測定し，該当する測定結果を平均

化する。

− 配線内の接続部間の距離は，OTDRのデッドゾーンより長い（C.2.1参照）。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

図3−入射側試験コード及び出射側試験コードを用いたOTDRによる測定波形

6.3

試験コード及び光アダプタ

6.3.1

試験インタフェースの接続器具

被測定配線に接続する接続器具（例入射側試験コード及び出射側試験コード），置換用試験コード及び

この規格の試験方法の一部として用いる接続器具アダプタは，次の要件を満たさなければならない。

a) 試験インタフェースの接続器具は，被測定配線の両端に取り付けられた光コネクタ以上の性能をもつ

ことが望ましい。

b) 光コネクタの研磨端面の曲率半径，球面偏心量及び光ファイバ引込み量は，次の規格によることが望

ましい。

− MMF用2連LC光コネクタは，IEC 62664-1-1

− SMF用LC光コネクタは，IEC 62664-1-2（検討中）

− MMF用2連SC光コネクタは，IEC 60874-19-1

− SMF用SC光コネクタは，IEC 60874-14-3

c) IEC規格によって相互接続性が保障されない場合，接続器具アダプタの製造業者によって指定された

ものと同一製品であることが望ましい。

注記1 LC光コネクタ規格のIEC 62664規格群だけが相互接続性を規定する。

d) 使用する接続器具アダプタは，次の関連IEC製品規格に適合する基準光アダプタでなければならな

い。

− MMF用2連LC光コネクタは，IEC 62664-1-1

− SMF用SC光コネクタは，IEC 60874-14-3

テストコード及び光アダプタの検査並びに試験は，一連の基準測定作業が実施される前に附属書Dに従

って行わなければならない。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

注記2 MPOインタフェースの場合，光アダプタが存在しないため，接続の最終的な位置合せには影

響しない。

6.3.2

基準光コネクタの要件

円筒形及び角形の基準光コネクタの要件は，表3による。

表3−LC光コネクタ以外の基準光コネクタ要件

円筒形フェルールを用いた

光コネクタ

角形フェルールを用いた

光コネクタ

MMF

SMF

MMF

SMF

コア偏心量

＜1 μm

＜0.3 μm

適用外

コア位置ずれ量

適用外

＜1 μm

＜0.3 μm

出射角

≦0.2°

フェルール外径精度

±0.5 μm

適用外

基準光コネクタ相互の接続減衰量

≦0.10 dB

≦0.20 dB

≦0.10 dB

≦0.20 dB

LC基準光アダプタは，IEC 62664-1-1に規定され，減衰量は，IEC 61300-3-42によって測定する。

シングルモード基準PCコネクタの反射減衰量は，45 dB以上でなければならない。

シングルモード基準APCコネクタの反射減衰量は，60 dB以上（かん合時）及び55 dB以上（未かん合

時）でなければならない。

マルチモード基準PCコネクタは，グレード3（35 dB以上）の要件に適合しなければならない。

シングルモードPCコネクタ及びシングルモード斜めPCコネクタの形状データは，それぞれIEC

61755-3-1及びIEC 61755-3-2による。

基準光コネクタは，一群で測定する全ての他のコネクタに対して低い減衰量をもつように調整されてい

なければならない。

6.3.3

試験コード

6.3.3.1

一般

それぞれの試験コードは，次の要件に適合することが望ましい。

a) 試験コードの光ファイバの代表特性［コア／クラッド径，モードフィールド／クラッド径，及び開口

数（NA）］は，被測定系の光ファイバと同じである。

b) それぞれの光コネクタは，他のものと区別できる識別子のラベルを表示する（図4参照）。

c) 試験コードは，2 m以上の長さをもつ。

d) 試験コードは，光ファイバの減衰量が測定値に重要な影響を与えるほど長くない。

注記最大試験コード長10 mは，ほとんどの応用システムにおいて問題がないと考えられている。例

えば，マルチモードファイバ10 mの減衰量は，850 nmにおいて，0.035 dB以下である。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

図4−試験コードのラベル及び識別例

6.3.3.2

LSPM入射側試験コード

入射側試験コードは，次の条件を満たさなければならない。

a) 一端は，光源との接続に適切な光コネクタが1個以上で終端されている。

b) 他端は，敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタ1個以上で終端されている。

マルチモードLSPM入射側試験コードに関して，光源が規定のモード分布（6.4参照）を提供するかど

うか不明な場合には，入射モード分布が適正な状態を維持するために，入射側試験コードに適切なモード

コントローラを取り付けなければならない。

6.3.3.3

LSPM出射側試験コード

出射側試験コードは，次の条件を満たさなければならない。

a) 一端は，パワーメータとの接続に適切な光コネクタ1個以上で終端されている。

b) 他端は，敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタ1個以上で終端されている。

6.3.3.4

LSPM複合入射側及び出射側試験コード

2連の入射側及び出射側試験コードは，次の条件を満たさなければならない。

a) 一端は，LSPM装置との接続に適切な一つの2連基準光コネクタ又は二つの基準光コネクタ（2連化

可能）で終端されている。

b) 他端は，敷設した配線のインタフェースと互換性のある一つの2連基準光コネクタ又は二つの基準光

コネクタ（2連化可能）で終端されている。

6.3.3.5

LSPM置換用試験コード

置換用試験コードは，両端に敷設された配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタが付いて

いなければならない。

6.3.3.6

OTDR入射側試験コード

OTDRは，規定する入射モード分布（6.4参照）を出力することが望ましい。マルチモードOTDR入射

側試験コードに関してOTDR光源が規定のモード分布を出力するかどうか不明な場合には，入射モード分

布が適正な状態を維持するために，入射側試験コードに適切なモード調整ジグを取り付けなければならな

い。

OTDR入射側試験コードは，次の要件に適合することが望ましい。

a) 全長は，OTDRの減衰量デッドゾーンよりも長い（詳細は，附属書C参照）。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

b) 信頼性がある減衰量測定が行えるように，デットゾーンに続く後方散乱波形に対して信頼性がある直

線近似が行えるだけの十分な長さをもつ（図11のC1〜C2部分）。例えば，入射側試験コードは，マ

ルチモードファイバ配線の場合75 m以上必要であり，シングルモードファイバ配線の場合150 m以

上必要である。

c) 一端は，OTDRとの接続に適切な光コネクタ1個以上で終端されている。

d) 他端は，敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタ1個以上で終端されている。

OTDR入射側試験コードに用いる光ファイバの一部は，きょう（筐）体（図5参照）で保護することが

しばしば求められる。

図5−OTDR入射側試験コード及び出射側試験コードの構成

被測定配線又は被測定部品のインタフェースが2連型の場合には，2本の光ファイバは，被試験ケーブ

ルの極性の維持管理を行うために違った長さでなければならない。OTDRとの接続は，図4に示す表示を

付け，相互に識別可能にしなければならない。

6.3.3.7

OTDR出射側試験コード

OTDR出射側試験コードは，次の要件に適合しなければならない。

a) OTDRの減衰量デッドゾーンより長い（詳細は，附属書C参照）。

b) 信頼性がある減衰量測定が行えるように，デットゾーンに続く後方散乱波形に対して信頼性がある直

線近似が行えるだけの十分な長さをもつ（図11のC3〜C4部分）。例えば，出射側試験コードの長さ

は，マルチモードファイバ配線の場合少なくとも75 mであり，シングルモードファイバ配線の場合

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

少なくとも150 mである。

c) 一端は，敷設した配線のインタフェースと互換性のある基準光コネクタで終端されている。

反対側の終端は，必ずしも必要ない。

OTDR出射側試験コードに用いる一定長の光ファイバは，きょう（筐）体で保護することが望ましい（図

5参照）。

6.4

MMF入射モード分布（LMD）

試験接続点において，入射モード分布は，附属書Aの要件に適合しなければならない。

要求される入射モード分布は，適切な光源を用いることによって，又は入射側試験コードに内蔵される

モードコントローラによって実現する。

6.5

SMF入射条件

シングルモード入射条件は，入射側試験コードを2回以上，直径35 mm〜50 mmの輪を作るか，又はマ

ンドレルに巻くことによって実現する。しかしながら，一般的にこれは，試験装置の内部で提供され，入

射側試験コードに外付けの輪を作ることを必要としない。

検査装置

光コネクタ端面は，IEC 61300-3-35に従って検査しなければならない。光コネクタの端面検査に用いる

顕微鏡は，最低250 µmの視野があり，マルチモード光ファイバに対しては少なくとも100倍，シングル

モード光ファイバに対しては少なくとも200倍の観察倍率をもたなければならない。完成した角形コネク

タのフェルール端面は，汚れに対して低倍率で検査しなければならない。適正な検査のために，顕微鏡は，

光コネクタを適正な位置に安定して保持する機構を備えていなければならない。

直視型顕微鏡は，突発的な目の傷害を防ぐために，適切な赤外遮断フィルタを備えていなければならな

い。検査員が観察する端末の反対側が管理されていないような状況では，特にこの点が重要である。

運用中のファイバシステムに直視型顕微鏡を用いてはならない。

より詳細な説明は，附属書Bも参照する。

被測定配線−チャネル及びパーマネントリンク

8.1

一般

パーマネントリンクについて，この箇条で触れているが，JIS X 5150では，この規格に従って試験する

べきサブリンクについての要件を規定している。

8.2

基準面

JIS X 5150及び同等の規格は，図6に示す代表的な基準面に対してチャネル及びパーマネントリンクの

伝送特性を規定している。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

a) 試験コードと被試験パーマネントリンク又はチャネルとの間のインタフェースにおける光ファイバ及

び光コネクタの状態によって，測定結果にばらつきが発生する。

b) 減衰量が小さい短い長さの場合は，測定結果のばらつきは，測定値に対して無視できない程度に大き

くなる場合がある。これによって，減衰量を正確に測定できない最低損失の限度が定まる。

c) 測定を再現するためには，使用した試験コードの構成も含めて測定条件を再現することが必要である。

試験系の構成が変わると，測定結果が一致しない場合がある。

8.3

測定波長

光情報配線試験がJIS X 5150及び同等の規格に適合するために，特に取決めがない限り，箇条9及び箇

条10に規定する伝送性能の測定（減衰量，又は減衰量及び反射減衰量）は，次の公称波長を用いなければ

ならない。

a) MMF 850 nm及び1 300 nm（表1参照）

b) SMF 1 310 nm及び1 550 nm（表2参照）

8.4

測定方向

箇条9及び箇条10は，片方向又は両方向の測定方法についての要件を規定する。特性が不明の部品が含

まれたリンクの適合試験に対しては，両方向試験を実施しなければならない。

敷設配線の試験

9.1

減衰量

9.1.1

LSPM

9.1.1.1

一般

IEC 61280-4-1，IEC 61280-4-2及びJIS C 5961（IEC 61300-3-4）から引用した次の試験方法は，パーマ

ネントリンク及びチャネルのLSPM法による減衰量測定に関するJIS X 5150と整合性が取れている。

9.1.1.2

敷設チャネルの拡張試験コード減衰量試験方法

チャネル試験の手順は，次のとおり実施する。

基準測定手順は，シングルモードファイバ及びマルチモードファイバの両方に関して図8に示すとおり，

光源とパワーメータとの間に入射側試験コード及び設置機器の出力に接続される近端側機器コードを接続

して行うことが要求される。

基準値（Pr）は，ワット（W）又はデシベルmW（dBm）で記録しなければならない。

近端側機器コードは，光源との接続を保持しつつ，パワーメータから切り離し，敷設された配線に再接

続する。

パワー（P1）は，遠端側機器コードで直接測定する。

測定値（P1）は，ワット（W）又はデシベルmW（dBm）で記録しなければならない。

入射側試験コードは，6.3.3.2（又は6.3.3.4）に従っていなければならない。

チャネルの減衰量は，式(1)で計算する。

−

（dB） ······································································ (1)

ここで，P1及びPrは，dBmで表される。

P1及びPrがWで表される場合，測定減衰量は，式(2)で計算する。

−

（dB） ································································ (2)

チャネル試験は，一方向だけで行う。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

図8−敷設されたチャネルのLSPM拡張試験コード基準法による減衰量測定

9.1.1.3

試験コード基準法によるリンクの試験方法

敷設されたパーマネントリンクの減衰量は，拡張試験コード基準法を用いて，又は敷設配線両端の光コ

ネクタと試験装置の光コネクタとに互換性がある場合は，試験コード基準法を用いて測定してもよい。

試験コード基準法と拡張試験コード基準法との違いは，附属書Eを参照する。

基準測定は，図9に示すように，光源とパワーメータとを6.3.3.2に規定する入射側試験コードで接続し

て行う。

基準値（Pr）は，ワット（W）又はデシベルmW（dBm）で記録しなければならない。

出射側試験コードは，入射側試験コードと光源との接続を保持しつつ，パワーメータと接続しなければ

ならない。

入射側試験コード及び出射側試験コードのコネクタ減衰量は，それらのコードを共に接続することによ

って確認してもよい。そして，この接続の減衰量が，二つの基準光コネクタ間の減衰量以下であることを

確認する。試験コードの検査及び試験に対する更なる情報は，附属書Dを参照する。

被測定配線は，入射側試験コード及び出射側試験コード間に接続し，その試験測定値P1は，ワット（W）

又はデシベルmW（dBm）で記録しなければならない。減衰量は，それぞれ式(1)又は式(2)によって決定し

なければならない。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

単一光源及びパワーメータの試験構成

図9−敷設されたパーマネントリンクのLSPM試験コード基準法による減衰量測定

9.1.1.4

一方向試験及び両方向試験

1本の固定ケーブルと終端された光コネクタとだけで構成されたパーマネントリンクは，一方向試験で

よい。パーマネントリンク又はチャネルの構成がより複雑な場合，又は測定方向によって異なった減衰量

を示す部品が被測定配線の中にある場合には，両方向の測定を行わなければならない。

9.1.1.5

試験結果

規定の波長及び測定方向で測定した減衰量は，それぞれ式(1)又は式(2)で計算する。

例えば，基準値Prが−20 dBm（0.01 mW）で，測定値P1が−23 dBm（0.005 mW）の場合の減衰量は，3

dBとなる。

両方向から測定した場合には，その二つの測定値の大きい値を測定結果としなければならない。

9.1.1.6

試験系の測定の不確かさ

パーマネントリンクの測定減衰量は，試験インタフェース両側の二つの光ファイバの軸合せによって影

響を受ける。

この規格による基準光コネクタ付き試験コードを用いることによって，ばらつきが減少し，その結果，

通常の光コネクタ付きコードを用いたときと比較すると，測定の不確かさは小さくなる。

測定の不確かさを確定するために，被測定配線の両端の光コネクタに関して次の情報を与えなければな

らない。

a) MMF基準コネクタに対するMMF接続の最大減衰量

b) SMF基準コネクタに対するSMF接続の最大減衰量

JIS X 5150に従って接続器具の標準値を表4に示す。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

表4−接続器具の減衰量

MMF

SMF

光コネクタの種類

減衰量

（ランダム接続）

減衰量

（対基準接続）

減衰量

（ランダム接続）

減衰量

（対基準接続）

IEC 62664-1-1

性能グレードB

最大0.30 dB 50 %
最大0.60 dB 97 %

最大0.50 dB

−

IEC 62664-1-2

性能グレードC a)

−

最大0.25 dB 50 %
最大0.50 dB 97 %

最大0.75 dB

JIS X 5150

最大0.75 dB 100 %

−

最大0.75 dB 100 %

−

注a) 検討中

基準光アダプタで基準光コネクタを相互に接続した場合の最大減衰量に対する要件を，6.3.2及び表3に

示す。

9.1.1.7

チャネル試験結果の取扱い

9.1.1.2に規定する拡張試験コード基準法を使用したチャネル減衰量試験の規定値は，次による。

Σ（ケーブル減衰量）＋Σ（接続部の減衰量）

これらの計算例を，附属書Gに示す。

規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格，不合格又は判定困難の判定を付与しな

ければならない。

9.1.1.8

パーマネントリンク試験結果の取扱い

試験コードへの基準光コネクタの使用は，パーマネントリンク減衰量試験の規定値の計算に影響を及ぼ

す。基準測定には，表3に従った基準コネクタ相互の接続減衰量が含まれている。リンクの測定において

は，試験コードとJIS X 5150に規定される非基準終端との接続減衰量が含まれる。その接続減衰量を，表

4に示す。

9.1.1.2で規定する試験コード基準法又は拡張試験コード基準法を用いると，パーマネントリンクの減衰

量試験に関する規定値（Alim）は，次の式による。

MMFの場合，

Alim＝（2×0.5）＋Σ（ケーブルの減衰量）＋Σ（接続部の減衰量）

SMFの場合，

Alim＝（2×0.75）＋Σ（ケーブルの減衰量）＋Σ（接続部の減衰量）

（グレード1基準光コネクタの場合）

被測定配線のインタフェースの光コネクタ性能がJIS X 5150の規定に適合しない場合には，表3及び表

4に相当する情報を決める情報は，光コネクタの製造業者から得ることを推奨する。

注記拡張試験コード基準法を用いる場合，ALTC/STCは，入射側試験コードの基準光コネクタと置換用

試験コードの基準光コネクタとの測定された減衰量である。

9.1.2

OTDR

9.1.2.1

試験方法

6.3.3.6に従った入射側試験コードは，OTDRと被測定配線との間に接続しなければならない。6.3.3.7に

従った出射側試験コードは，被測定配線の遠端に接続しなければならない。

OTDR出力は，附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し，次の項目を適切に設定する。

a) レンジ

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

b) パルス幅

c) IOR

d) 平均化時間

9.1.2.2

チャネル試験結果の取扱い

配線の減衰量測定の前に，入射側試験コード及び出射側試験コードの基準光コネクタを接続して，その

品質を検証しなければならない。

敷設された配線の減衰量は，図10又は図11に示すいずれかで測定しなければならない。

図10は，敷設された配線の減衰量を測定しなければならない2点を示す。機器コードが非常に短い場合

及び／又はOTDRデッドゾーンが長い場合は，減衰量測定の正確さが低下する可能性がある。

次の点に注意する。

a) 二つの反射波形がC1及びC2の周りの部分に近接し，機器コードの光ファイバの長さが直線状の部分

を得るために十分でない場合は，より正確な5点減衰量測定を行うことができない。

b) 機器コードが非常に短い場合及び／又はOTDRデッドゾーンが長い場合は，チャネル減衰量を測定で

きない可能性がある。

図11は，機器コードのコネクタの減衰量を加えて測定するチャネルの減衰量の代替え手段を示す。

チャネル減衰量の結果は，両方向から測定を行い，その二つの測定値の平均を計算することによって得

る。被測定配線の光ファイバがその両端に光コネクタを終端した単一のケーブルだけで構成され，光ファ

イバの後方散乱係数が入射側試験コード及び出射側試験コードと同一の場合には，単一方向からの測定だ

けでよい。

規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格，不合格又は判定困難の判定を付与しな

ければならない。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

記号 LTC

入射側試験コード

TTC

出射側試験コード

機器コード

C1，C2

2点法によるチャネル減衰量を示すカーソル

チャネルの減衰量

チャネル長

図10−2点減衰量測定法による敷設されたチャネルのOTDR測定

9.1.2.3

パーマネントリンク試験結果の取扱い

図10は，敷設された配線の減衰量を測定する点を示す。

パーマネントリンク減衰量の結果は，両方向から測定を行った二つの測定値の平均値とする。被測定配

線の光ファイバがその両端に光コネクタを終端した単一のケーブルだけで構成され，それらの光ファイバ

の後方散乱係数が入射側試験コード及び出射側試験コードと同一の場合には，単一方向からの測定だけで

よい。

図11における減衰量測定値と8.2のパーマネントリンク基準面との比較は，JIS X 5150又は同等の規格

に規定するパーマネントリンクの制限減衰量は，次の規定最大減衰量の合計でなければならないことを示

す。

a) 被測定配線のインタフェース部における接続減衰量（基準に対する結合）

b) 被測定配線中の接続部

c) 被測定配線中のケーブル（光ファイバケーブルの長さの減衰量がその長さによって増加する減衰量係

数から計算される場合）

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格，不合格又は判定困難の判定を付与しな

ければならない。

記号 LTC

入射側試験コード

TTC

出射側試験コード

C1，C2，C3，C4

直線近似を定義するカーソル

C5，C6

パーマネントリンクの減衰量を示すカーソル

パーマネントリンクの減衰量

パーマネントリンク長

図11−敷設配線のOTDR測定（パーマネントリンク）

9.1.2.4

試験系の測定の不確かさ

注記試験系の測定の不確かさは，検討中。

チャネル又はパーマネントリンクの測定減衰量は，試験インタフェース両側での光ファイバ相互の軸合

せに影響される。

この規格で規定する基準光コネクタ付きの試験コードを用いると，測定値の不確かさが減少し，その結

果，より正確な測定結果が得られる。

測定の不確かさを決めるために，被測定配線に取り付けられている光コネクタに関して次の情報を試験

結果とともに記録することを推奨する。

a) MMFについては，MMF基準光コネクタに対する最大減衰量

b) SMFについては，SMF基準光コネクタに対する最大減衰量

JIS X 5150に従って接続器具のための基準値を表4に示す。

9.2

伝搬遅延

9.2.1

試験方法

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

光ファイバは，時間領域で光信号の伝搬を測定できる機器，例えば，OTDRを用いて，又はある種の光

源及びパワーメータの組合せによって試験する。このタイプの試験装置は，光ファイバ長の計算値も表示

する。

伝搬遅延は，式(4)で計算する。

OF×

············································································ (4)

ここに，

T：伝搬遅延

LOF：光ファイバ長

c：真空中の光速（3×108 m/s）

n：光ファイバコアの群屈折率（IOR）

注記 nは，全ての光ファイバにおいても，およそ1.5であり，公式は，T＝LOF×5 ns/mで近似される。

9.2.2

試験結果の取扱い

伝搬遅延の規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格，不合格又は判定困難の判定

を付与しなければならない。

9.3

長さ

9.3.1

試験方法

光ファイバ長試験は，伝搬遅延時間を測定できる機器（例えば，OTDR）を用いて試験する（9.2.1参照）。

光ファイバケーブル長の決定は，11.3を参照する。

9.3.2

測定の不確かさ

被測定配線の中に含まれる伝送路の測定長は，ケーブルの物理長ではなく，（正確な実効群屈折率に基づ

く）光ファイバ長である。光学的に測定した光ファイバ長とケーブルの物理長とは異なる可能性がある。1

本のケーブルに複数の光ファイバが入っている場合，光ファイバ個々の長さも異なっている可能性がある。

光ファイバの長さは，常にケーブルの長さと同じかそれよりも長い。この両者の差は，ケーブルの構造

による。具体的な情報が必要な場合は，ケーブル製造業者に問い合わせることを推奨する。

9.3.3

試験結果の取扱い

9.3.2に示す限界及び制限事項は，測定の不確かさの報告に含めなければならない。

長さの規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格，不合格又は判定困難の判定を付

与しなければならない。

試験装置で光ファイバ長を求めるために，被測定光ファイバケーブルの製造業者によって提供される伝

搬速度又は群屈折率が必要である。仮に，製造業者によってその値が提供されず（例えば，不明のケーブ

ルの検査），別の値を用いる場合は，発生するあらゆる誤差の影響を施工業者と利用者との間で認識し合意

しておくことを推奨する。群屈折率の初期設定は，表C.1を参照する。

注記長さの規格値は，使用する応用システムによって規定されている。マルチモード光ファイバケ

ーブルを使用した配線の場合，長さ情報は重要である。

既設配線内の配線部材の試験

10.1

光ケーブルの減衰量

10.1.1

試験方法

チャネル又はパーマネントリンク（箇条8参照）を試験するために，6.3.3.6に従った入射側試験コード

は，OTDRと被測定配線との間に接続する。

端末加工がされていない光ファイバを試験するために，6.3.3.6に従った試験インタフェースコネクタの

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

ない入射側試験コードは，OTDRと被測定光ファイバとの間に接続する。

OTDR出力は，附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し，次の項目を適切に設定する。

a) レンジ

b) パルス幅

c) IOR

d) 平均化時間

この方法は，JIS C 6832の石英系マルチモード光ファイバ素線及びJIS C 6835の石英系シングルモード

光ファイバ素線に適合した光ファイバケーブルの減衰量の均一性の確認にも使うことができる。

被測定配線は，一方向で測定する。

10.1.2

測定の不確かさ

測定は，OTDRの減衰量デッドゾーン（附属書C参照）を避けた光ファイバ部で行い，接続器具を含め

てはならない。

減衰係数は，OTDRによる任意の2点間の後方散乱パワーの差（損失）を2点間の距離で除して求める。

距離が短い場合，たとえ損失の不確かさが小さくても，減衰係数の計算結果には大きな不確かさが生じる

場合がある。

例えば，距離が50 mの場合，±0.05 dBの損失の不確かさは，±1.0 dB/kmの減衰係数の不確かさとなる。

このため，減衰係数は，短い光ファイバで測定しないことを推奨する。

むしろ，減衰係数は，後方散乱光信号の直線回帰によって求めることができる（LSA法）。

最短の光ファイバ長は，MMF及びSMF測定並びに使用波長によって異なる。OTDRの製造業者は，減

衰係数を正確に測ることができる最短光ファイバ長の推奨値を提供しなければならない。

10.1.3

測定結果の取扱い

図12は，被測定配線の光ファイバ減衰量の測定点を示す。

測定結果は，単純な減衰量（単位はdB）又は減衰係数（単位はdB/km）である。

光ケーブルの減衰量の規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格又は不合格の判定

を付与しなければならない。

注記光ケーブルの減衰量の規格値は，1 km当たりの減衰量として規定されている（JIS X 5150参照）。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

記号 LTC

入射側試験コード

TTC

出射側試験コード

C1，C2

直線近似を定義するカーソル

光ファイバの減衰量

光ファイバ長

図12−光ファイバ減衰量のOTDR測定

10.2

近端及び遠端試験インタフェースの減衰量

10.2.1

試験方法

6.3.3.6に従った入射側試験コードは，OTDRと被測定配線との間に接続する。6.3.3.7に従った出射側試

験コードは，被測定配線の遠端側に接続する。

OTDR出力は，附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し，次の項目を適切に設定する。

a) レンジ

b) パルス幅

c) IOR

d) 平均化時間

被測定配線は，両方向で測定しなければならない。

10.2.2

試験系測定の不確かさ

注記試験系測定の不確かさは，検討中。

チャネル又はパーマネントリンクの減衰量の測定値は，試験インタフェース両側での光ファイバ相互の

軸合せに影響される。

この規格による基準光コネクタ付き試験コードを用いると，ばらつきが減り，より正確な測定結果が得

られる。

測定の不確かさを決めるために，次の情報が被測定配線に終端されている光コネクタに示されることが

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

望ましい。

a) MMFについては，MMF基準光コネクタに対する最大減衰量

b) SMFについては，SMF基準光コネクタに対する最大減衰量

JIS X 5150に従って接続器具の規定値は，表4に示す。

10.2.3

試験結果の取扱い

図13に，被測定配線に接続するインタフェースの減衰量の測定点を示す。既設配線は，チャネル又はパ

ーマネントリンクのいずれかである（箇条8参照）。ただし，チャネルの片端又は両端に短い機器コードが

含まれている場合には，パーマネントリンクに接続するコードとの接続点が終端からの反射によって隠さ

れてしまうために，測定ができないことがある。

記号 LTC

入射側試験コード

TTC

出射側試験コード

C1，C2，C3，C4 直線近似を定義するカーソル

減衰量を示すカーソル

被測定接続部の減衰量

図13−OTDRによる接続部の減衰量の測定

近端側インタフェースの減衰量は，インタフェースの損失（dB）として示される。しかしながら，この

値は，後方散乱係数（k）が入射側試験コードと被測定配線とで異なるため，真値とはならない。入射側試

験コードの後方散乱係数が被測定配線よりも大きい場合は，測定結果は過大となり得る。被測定配線の後

方散乱係数が入射側試験コードよりも大きい場合は，測定結果は過小となり得る。

注記ときどき見掛け上増幅されたような結果となる。

この理由で，測定結果は，両方向の測定値を平均して求めなければならない。

インタフェースに対する減衰量の上限値は，（対基準光コネクタ接続に対する）最大減衰量である（表4

参照）。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格又は不合格の判定を付与しなければなら

ない。

10.3

接続器具の減衰量

10.3.1

試験方法

チャネル又はパーマネントリンク（箇条8参照）を試験するために，6.3.3.6に従った入射側試験コード

は，OTDRと被測定配線との間に接続する。

端末加工がされていない光ファイバの試験のために，6.3.3.6に従った試験インタフェースコネクタのな

い入射側試験コードは，OTDRと被測定配線との間に接続する。

OTDR出力は，附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し，次の項目を適切に設定する。

a) レンジ

b) パルス幅

c) IOR

d) 平均化時間

被測定配線は，両方向で測定しなければならない。

10.3.2

試験結果の取扱い

図14に，被測定配線内の接続器具及び／又はスプライスの接続減衰量の測定点を示す。

接続部，特に融着接続部は，接続部に隙間がなく反射ピークは通常見られない。その代わりに，光パワ

ーは，単に段差として表示される。

接続器具の前後の光ファイバの後方散乱係数が異なる場合，それぞれの方向からの測定値は異なる。

注記一方向において，見掛け上増幅するような結果が得られる場合がある。

このため，測定結果は，それぞれの方向の測定値を平均して求めなければならない。

接続器具の減衰量の規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格又は不合格の判定を

付与しなければならない（表4参照）。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

記号 LTC

入射側試験コード

TTC

出射側試験コード

C1，C2，C3，C4

直線近似を定義するカーソル

減衰量を示すカーソル

スプライス接続部の減衰量

図14−OTDRによる接続減衰量の測定

10.4

接続器具の反射減衰量

10.4.1

試験方法（JIS C 5961の7.2適合）

6.3.3.6に従った入射側試験コードは，OTDRと被測定配線との間に接続しなければならない。

被測定配線の遠端側の反射減衰量を測定する場合には，6.3.3.7に従った出射側試験コードは，被測定配

線の遠端に接続しなければならない。

終端されていない光ファイバ内にあるかん合した接続器具の減衰量を試験するために，片側が光コネク

タで終端されていない6.3.3.6に従った入射側試験コードは，OTDRと被測定光ファイバとの間に接続しな

ければならない。

OTDRの受光器が飽和しない程度に光パワーを減少させるために，減衰器を用いてもよい。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

図15−OTDRによる反射減衰量の測定

10.4.2

試験結果の取扱い

配線接続器具の反射減衰量は，反射のピークの高さ（図15のHA又はHB）から，次のように計算する。

−

（dB） ········································· (5)

ここで，H＞5（dB）の場合，

−

≈

（dB） ························································ (6)

ここに，

H：ピークの高さ（HA又はHB）（dB）

d：パルス幅（ns）

k：光ファイバの後方散乱係数（dB）

代表的なマルチモード光ファイバ及びシングルモード光ファイバの後方散乱係数は，附属書Cに示す。

注記1 ほとんどのOTDRは，製造業者によって設けられた装置の設定を用いて，反射減衰量を自動

的に測定する。しかしながら，この場合は，10.4.3に示すように，測定の不確かさに対する

検討を注意深く行うことも重要である。

注記2 一部のOTDRの受光器は，大きな反射H（図15のHCのような場合）で飽和し，測定の不確

かさは，小さい反射減衰量の測定において失われる。このような信号の飽和は，OTDRと被

測定配線部品との間に可変減衰器を追加することによって避けることが可能である。

注記3 “反射減衰量”という用語は，OTDR製造業者によっては，負号を伴って，“反射率”と表現

される。

接続器具の反射減衰量の規格値に対する合否の判定を求められた場合，測定結果に合格又は不合格の判

定を付与しなければならない。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

10.4.3

測定の不確かさ

反射減衰量を測定する場合，不確かさの異なる要因を考慮しなければならない。

パルス振幅の誤差，パルスの形状における不確かさ，又はパルス幅の真値における不確かさのような装

置に関連する不確かさが正しくない場合，OTDRの製造業者から提供される最大の不確かさを考慮しなけ

ればならない。

光ファイバに関連する不確かさは，直接的に反射量の不確かさに影響する（例えば，±2 dBの後方散乱

係数の不確かさは，反射量でちょうど±2 dBの不確かさを生じる。）。附属書Cに示す代表的な後方散乱量

は，用いてもよい。

10.5

光ファイバ長

10.5.1

試験方法

チャネル又はパーマネントリンク（箇条8参照）を試験するために，6.3.3.6に従った入射側試験コード

をOTDRと被測定配線との間に接続する。

端末加工がされていない光ファイバの試験のために，6.3.3.6に従った試験インタフェースコネクタのな

い入射側試験コードは，OTDRと被測定配線との間に接続する。

OTDR出力は，附属書Cに記載しているようにモード及び波長を選択し，次の項目を適切に設定する。

a) レンジ

b) パルス幅

c) IOR

d) 平均化時間

図16−OTDRによる長さの決定

図16に，被測定配線内の伝送路長の測定点を示す（SMFにおいては，遠端側の反射によるピークが表

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

入射側試験コード

被測定配線

出射側試験コード

図18−パーマネントリンク中における曲げの発生を示すOTDR波形

10.5.2

測定の不確かさ

被測定配線の中に含まれる伝送路の測定長は，ケーブルの物理長ではなく，（正確な実効群屈折率に基づ

く）光ファイバ長である。光学的に測定された光ファイバ長とケーブルの物理長とは異なる可能性がある。

1本のケーブルに複数の光ファイバが入っている場合，光ファイバ個々の長さも異なっている可能性があ

る。

光ファイバの長さは，常にケーブルの長さと同じかそれよりも長い。この両者の差は，ケーブルの構造

による。具体的な情報が必要な場合は，ケーブル製造業者に問い合わせることを推奨する。

10.5.3

測定結果の取扱い

10.5.2に示す限界及び制限事項は，測定の不確かさについての報告書に含めることを推奨する。

測定した光ファイバ長は，供給し，敷設した光ファイバ長（測定の不確かさを配慮した上で，）との一貫

性を保つために確認しなければならない。

試験装置で光ファイバ長を求めるために，被測定光ファイバケーブルの製造業者によって提供される伝

搬速度又は群屈折率が必要である。仮に，製造業者によってその値が提供されず（例えば，不明のケーブ

ルの検査），別の値を用いる場合は，発生するあらゆる誤差の影響を施工業者と利用者との間で認識し合意

しておくことを推奨する。群屈折率の初期設定は，表C.1を参照する。

10.6

コードの減衰量

10.6.1

試験方法

基準測定は，図19に示すように，6.3.3.2（又は6.3.3.4）に従った入射側試験コードを光源及びパワーメ

ータ間に接続して行う。

入射側試験コードは，製造業者の仕様に適合していることを検証するために両端で試験することを推奨

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

する。

基準値Prは，W又はdBmで記録しなければならない。

入射側試験コードは，光源から取り外してはならない。

被測定コードは，入射側試験コードとパワーメータとの間に接続し，測定値P1は，W又はdBmで記録

しなければならない。

図19−光コード接続部分の減衰量の測定

減衰量の詳細な測定方法については，JIS C 5961の7.1（挿入損失）を参照する。

10.6.2

測定結果の取扱い

規定の波長及び測定方向で測定した減衰量は，Pr及びP1を用いて，式(1)で計算する。

Pr及びP1がWで示される場合，測定した減衰量は，式(2)で計算する。

接続部の測定結果は，記録しなければならない。また，関連IEC製品規格で規定する対基準光コネクタ

の規格値に対して，合格，不合格又は判定困難を付与してもよい（SCコネクタに関しては，表4参照）。

配線及び配線部材の検査

11.1

光ファイバの連続性

二つのインタフェース間の光ファイバの連続性は，LSPM又は出射側試験コードを用いたOTDRによる

試験で確認してもよい。光ファイバの連続性は，可視光源を用いても確認できる。

11.2

配線極性

配線システムにおける要求極性は，LSPMで確認してもよい。配線システムにおける要求極性は，2連

の出射側試験コードが使用されている場合は，LSPM又はOTDRで確認してもよい。配線システムの極性

は，可視光源を用いても確認できる。

11.3

光ファイバケーブル長

光ファイバケーブルの長さは，ケーブル外被の表示から確認できる。

このケーブルの長さは，OTDR又はOTDRの機能をもったいかなる測定器で測定した光ファイバ長とも

一致しない可能性がある。その差は，ケーブル構造によるものと光ファイバの群屈折率の設定の誤りによ

るものとがある。

11.4

光ファイバ端面の検査

附属書Bを参照する。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

附属書A

（規定）

マルチモードファイバ配線を試験するための入射モード条件

測定点である入射側試験コードの出射口における入射モード条件は，IEC 62614及びIEC 61280-4-1の要

件に適合しなければならない。測定点での基準光コネクタのコアから出射した光の入射モード条件は，色々

な方法によって得られる。

適切なエンサークルドフラックスモード条件は，次の方法で得られる。

a) 適切な試験コード及びモード調整部品をもつ検証済みの機器の使用

b) モード条件が不明な機器を用いる場合は，検証済みのモード調整部品をもつ入射側試験コードの使用

c) モード選択が可能な光源をもつ機器の使用及び基準光コネクタの出射口において，IEC 61280-1-4に従

って測定する入射側モード条件によって制御された光源をもつ機器の使用

入射側試験コードは，IEC 61280-4-1の要件に適合した基準品質の光コネクタをもっていなければならな

い。

次の入射側条件が，規定されている。

a) 850 nm（コア径50 µmの光ファイバに対して）

b) 1 300 nm（コア径50 µmの光ファイバに対して）

c) 850 nm（コア径62.5 µmの光ファイバに対して）

d) 1 300 nm（コア径62.5 µmの光ファイバに対して）

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

附属書C
（参考）

OTDR法（Optical time domain reflectometry）

C.1 測定能力

C.1.1 有効な設定パラメータ

OTDRの測定能力を決める基本パラメータには，次のものがある。

a) ダイナミックレンジ

b) 平均化時間

c) レーザのパルス幅

これらの項目は，それぞれ次のことを規定する。

a) 測定可能な減衰量の範囲

b) ある一定の時間内に特性評価をできる光ファイバリンクの数

c) 光ファイバ上の2個のイベント評価できる最小間隔

注記これらの項目は，相互に関連性がある。その組合せは，マルチモードファイバとシングルモー

ドファイバとの違い及び波長の違いによって異なる。

C.1.2 ダイナミックレンジ

ダイナミックレンジは，光ファイバから発生する後方散乱光が雑音レベルに到達するまでの範囲を示す。

光ファイバに対して，次に示す場合にダイナミックレンジが増加する。

a) レーザのパルスパワーの増加

b) 有効パルス幅の増加

c) 雑音レベルの低下（例えば，平均化時間の増加，パルス幅の増加及び帯域幅の減少）

C.1.3 パルス幅

OTDRのパルス幅は，その最大出力と同様に，光ファイバに入射する光のパワーを決定する。C.1.2で示

すように，パルス幅が増加するとダイナミックレンジが増加する。しかしながら，全ての反射光（例えば，

入力用光コネクタ，光ファイバの端末及び他の光コネクタ）は，後方散乱光を覆い隠し，少なくともパル

ス幅と同程度の範囲となる。パルス反射波の範囲内の二つのイベントを分離することができないため，パ

ルス幅は，分解能を制限する。

パルス幅の選択は，リンク全体にわたって測定できる最小値とすることを推奨する。

C.1.4 積算回数又はサンプル数

最良の評価結果を得るためには，積算回数を多くすることを推奨する。積算回数が多いほど，測定結果

（波形）を得るまでの時間は長くなる。一般的に積算回数が増えるほど，得られるノイズ低減効果は徐々

に少なくなっていく。したがって，積算回数は，効果的な結果が得られる最小の値を選択することを推奨

する。

C.2 OTDRの能力限界

C.2.1 測定可能な最小距離−減衰量デッドゾーン

入射側試験コードが必要最小限の長さ以上でない限り，入射側試験コードへのOTDR入射光によって生

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

じる局部的なデッドゾーンは，OTDRの分解能と同様に，近端側インタフェース（又はその他のイベント）

の妥当な評価を妨げる。

短パルス（20 ns未満）を用いることができ，かつ，一般的に2 000 mまでの長さの測定をするために十

分なダイナミックレンジ（20 dBよりも大きい。）をもったOTDRの使用を推奨する。OTDRは，標準光コ

ネクタ（例えば，反射減衰量がマルチモード光コネクタに対して35 dB及びシングルモード光コネクタに

対して45 dB）に対して，減衰量デッドゾーンは，10 m未満であることが望ましい。

注記減衰量デッドゾーンは，利用可能な最小パルス幅とともに，一般的にOTDR製造業者によって

示される。

図C.1は，同じパーマネントリンクを3 mの入射側試験コードを用いて試験した場合（上の図）及び500

mの入射側試験コードを用いて試験した場合（下の図）の結果を示す。上の図では，近端側インタフェー

スは，見ることができない。下の図では，近端側インタフェースまでの損失がはっきりと確認でき，また，

入射側試験コードのケーブル損失も直線状である。この後者の要素によって，近端側インタフェース損失

の有効な測定ができる。

図C.1−異なった長さの入射側試験コードを使用した場合のOTDR測定波形

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

C.2.2 ゴースト

ゴーストは，繰り返し反射によってOTDRの測定波形に表れる複数のピークで，複数のインタフェース

を含むパーマネントリンクを測定したときに限定して現れる現象である。ゴーストは，ある事象の第2次

（又は第3次）反射によって発生する。

図C.2−ゴーストの現れたOTDR測定波形

簡単な例は，図C.2に示す。反射のピークB及びDは，多重反射によって発生したものである。ゴース

トは，あらかじめ想定された位置に現れる（例えば，基準点からBまでの距離は，基準点からAまでの距

離の2倍である。基準点からDまでの距離は，基準点からCまでの距離と基準点からAまでの距離の和

である。）。ゴーストは，測定波形に影響を与える光パワーを加算又は減算しない（図C.2では，測定結果

からゴーストが容易に識別される。）。

しかし，被測定配線の構成が非常に複雑な場合，ゴーストの数は非常に多くなり，専門家でもその結果

の解析が不可能となってしまう。その一例を，図C.3に示す。

OTDRの中には，解析用ソフトウェアによってゴーストを除去するものがある。別のゴースト除去方法

として，測定するパーマネントリンクより長い入射側試験コードを用いることもある。しかし，ゴースト

効果を制御する最も簡単な方法は，あらかじめ計画を立て，許容される試験構成を厳格に守ることである。

一般に，出力コネクタ及び入射側試験コードのコネクタを清掃することを推奨する。

注記ゴーストは，主にオープン，汚れ，異物の付着又はコネクタ端面のきずに起因し，OTDR測定

波形に尾を引いた飽和したパルスとして表示される。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

図C.3−複雑なゴーストが表示されたOTDR測定波形

C.2.3 有効群屈折率

正確な有効群屈折率を用いることは，長さを正確に測定するためだけに重要である。それ以外への影響

はない。群屈折率が分かっている場合には，その値を用いなければならない。その情報がない場合には，

表C.1に示す値を用いる。

表C.1−有効群屈折率の代表値

850 nm

1 300 nm

1 310 nm

1 550 nm

SMF

−

1 467

1 468

MMF（50/125）μm

1 490

1 486

−

MMF（62.5/125）μm

1 496

1 491

−

C.2.4 後方散乱係数

正確な後方散乱係数を用いることは（JIS C 5961又はJIS C 61300-3-6に規定されたように），反射減衰

量を正確に測定するために重要である。後方散乱係数が自動的に測定されず，OTDRに設定する場合は，

表C.2に示す値を代表値として考える。

表C.2−後方散乱係数の代表値

850 nm

1 300 nm

1 310 nm

1 550 nm

SMF

−

80 dB

82 dB

MMF（50/125）μm

66 dB

72 dB

−

MMF（62.5/125）μm

67 dB

74 dB

−

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

附属書D
（規定）

試験コード及び校正用コードの検査及び試験

D.1 一般要件

入射側試験コード，置換用試験コード又は出射側試験コードは，次の検査要件に適合していれば適切に

機能する。

a) 光コネクタ端面は，附属書Bの検査要件に適合する。

b) コード端末の基準光コネクタは，規格に適合する。

c) コードは，その規格に適合する。

D.2 減衰量（試験コード及び置換用試験コードの基準接続）

測定手順は，9.1.1の試験コード基準法に従う。

マルチモード光ファイバについて，基準測定作業は，図D.1に示すように，6.3.3.2（又は6.3.3.4）に従

った入射側試験コードで，光源とパワーメータとを接続して行う。

シングルモード光ファイバについて，基準測定作業は，図D.1に示すように，6.3.3.2（又は6.3.3.4）に

従った入射側試験コードで，光源とパワーメータとを接続して行う。

基準測定は，必要に応じて，定期的に繰り返さなければならない。基準測定の繰返しを必要とする状況

は，光パワーの変化，温度変動，測定場所の移動，並びに測定器の電源切断及び置換用試験コード又は光

アダプタの劣化による交換を含んでいる。基準測定をする場合は，光源の安定化のために十分な時間を取

ることを推奨する。

基準測定値Prは，W又はdBmで記録する。

入射側試験コードは，光源に接続しつつ，パワーメータを入射側試験コードから切り離す。試験する置

換用試験コード，及び出射側試験コード又は他の入射側試験コードの基準光コネクタは，入射側試験コー

ドとパワーメータとの間に接続する。試験測定値P1は，W又はdBmで記録する。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

附属書E

（参考）

拡張試験コード基準法及び試験コード基準法による

リンク及びチャネル減衰量

E.1

リンク減衰量のための基準法

この附属書は，JIS X 5150に規定されているように光ファイバ配線リンクの減衰量測定に，試験コード

及び拡張試験コード基準法を用いることに対する指針及び選択情報を提供する。拡張試験コード基準法は，

チャネルの減衰量及びパーマネントリンクの減衰量を測定するために用いる。試験コード基準法は，パー

マネントリンクの減衰量を測定するためだけに用いることができる。

敷設されたパーマネントリンクの両端のコネクタ接続部が異なるような場合でも，拡張試験コード基準

法は，同じ光コネクタの置換用試験コードを選ぶことによって，減衰量の測定が可能になる。置換用試験

コードの両端の光コネクタは，基準コネクタ品質のものであることに注意が必要である。

リンクの減衰量測定の試験規定値及び予期される測定の不確かさは，試験コード基準法及び拡張試験コ

ード基準法の両方に対して同じである。

E.2

リンク減衰量のための試験コード基準法

試験コード基準法は，次の限定した二つの条件を満たすことで適用することが可能である。

a) 被測定配線のインタフェースが，パワーメータのインタフェースと同一である。

b) 被測定配線の単芯インタフェース（又は単芯系と同様の取扱いが可能）である。

E.3

チャネル減衰量のための試験方法

JIS X 5150の規定に従ってチャネルは，ネットワーク機器に接続する機器コードのコネクタを含まない。

ネットワーク機器に規定される光減衰量規格値は，機器と敷設された配線との接続に関連する減衰量を考

慮している。

チャネル試験は，利用者の機器コードをチャネルの両端で利用し，これらの機器コードは，試験後はそ

のまま残す。チャネル試験方法は，通常はサービス実施時又は保守時に，チャネルの減衰量を測定するた

めに用いる。

E.3A 試験コード基準法

試験コード基準法は，パーマネントリンクを測定するときの測定の不確かさを最小限に抑えることが可

能であるため，パーマネントリンクを測定するときに用いる基本的な試験方法である。

基準値（Pr）を測定するときに，試験コード1本を使用して光源とパワーメータとを直接接続する。

この規格の本文では，基準値（Pr）の測定後に被測定配線の測定を行う手順となっているが，本体の別

の場所で説明しているように，次の手順で試験を行うことを推奨する。この手順を行うことによって，試

験コードの不具合によって生じる各種の問題を回避することが可能となる。

a) 推奨手順

手順1 試験コードの品質確認

1) 9.1.1.3及び図9（上図）に従って，基準値を測定する（Pr）。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

2) D.2及び図D.1（中図）に従って，試験コード（入射側試験コード及び出射側試験コード）を接続し

た状態の測定値を測定する（P10）。

3) 試験系の減衰量（Pr−P10）を算出する。

4) 算出した値が，6.3.2の表3の要件に適合することを確認する。試験コードの端面を清掃して再試験

を行ってもこの要件に適合しない場合には，この試験コードは使用しないほうがよい。

手順2 配線試験

5) 9.1.1.3及び図9に従って，測定値（P1）を測定する。

6) 配線の減衰量は，次の式で計算する。

配線の減衰量＝Pr−P1（dB）

7) 次の被測定配線を，手順の5) に戻り測定する。

測定を繰り返すと，試験コード端面に異物が混入することがある。異物の混入などによって測定

値の正当性が損なわれることがないように，手順1)〜4) を定期的に実施することを推奨する。

b) 推奨手順によって回避できる問題

1) 基準値測定のときに用いる試験コードのパワーメータ側のコネクタ端面に，きず，汚れなどの不具

合がある場合でも，a) の手順2)〜4) を行うことによって，不具合のある試験コードを発見でき，

このことがより正確な測定結果を得るのに役立つ。

2) 試験コードのコネクタ端面に，砂，ほこり（埃）などの固い異物が付着した状態で被測定配線に接

続すると，被測定配線側のコネクタ端面にきずを付ける可能性が生じる。a) の手順2)〜4) を行う

ことによって，異物の付着を発見できるので，被測定配線のコネクタ端面破損を防ぐことが可能で

ある。

E.3B 拡張試験コード基準法

チャネルを測定するときの測定の不確かさを最小限に抑えることが可能であるため，チャネルを試験す

るときに用いる基本的な試験方法である。ただし，片方向試験にしか対応できない。

この方法では，近端側機器コード（実際にユーザが用いるコード）を使用して基準値測定をするため，

近端側機器コードの不具合を発見できない可能性がある。これを防止するために，次の手順で試験を行う

ことを推奨する。

a) 推奨手順

手順1 試験コードの品質確認

1) D.2及び図D.1（上図）に従って，光源及びパワーメータを入射側試験コードで接続して基準値を測

定する（Pr0）。

2) D.2及び図D.1（中図）に従って，試験コード（入射側試験コード及び出射側試験コード）を接続し

た状態の測定値を測定する（P10）。

3) 試験系の減衰量（Pr0−P10）を算出する。

4) 算出した値が，6.3.2の表3の要件に適合することを確認する。試験コードの端面を清掃して再試験

を行ってもこの規定に適合しない場合には，この試験コードは使用しないほうがよい。

手順2 入射側機器コードの品質確認

5) 出射側試験コードに替えて近端側機器コードを入射側試験コードとパワーメータとの間に接続する

［図8（上図）］。

6) 9.1.1.2及び図8（上図）に従って，基準値（Pr）を測定する。

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

附属書F

（参考）
品質計画

F.1

検査及び試験計画

この規格は，次の2段階の試験を規定する。

a) 第1段階パーマネントリンク施工前の配線用部材に適用する試験

b) 第2段階施工後のチャネル及びパーマネントリンクに適用する試験

第2段階試験は，次の2群に分ける。

1) 基本試験群

2) 拡張試験群

基本試験群に含まれる試験は，JIS X 5150及び同等の規格の要件に対して，チャネル及びパーマネント

リンクの適合を決定できる。測定は，光源及びパワーメータを用いて行う。

測定した結果が，適用される規格に適合しない場合，不適合な部品を特定するために，拡張試験群によ

って，そのチャネル及びパーマネントリンクを調査することを推奨する。

拡張試験群の試験は，OTDRを使うことによって可能となる部品単位の測定で，基本試験群の試験を補

完する。OTDRによる試験は，（トラブルシュート又は施工不良のために）局部的なイベントのグラフ表示

が必要な場合，又は画像の記録が書類作成のため及び管理上の目的で要求される場合に用いる。

F.2

第1段階検査及び試験

次の試験は，第1段階試験計画に含めてもよい。

a) 10.1による光ファイバ減衰量試験

b) 10.5による光ファイバ長試験（及び／又は伝搬遅延試験）

次の試験は，第1段階検査計画の中で実施できる。

c) 11.3による光ファイバケーブル長試験

d) 11.1による連続性試験

F.3

第2段階試験

F.3.1

基本試験群

次の試験は，基本試験群に含まれる。

a) 9.1.1によるチャネル又はパーマネントリンクの減衰量試験

b) 9.2によるチャネル又はパーマネントリンクの伝搬遅延試験

c) 9.3によるチャネル又はパーマネントリンク長試験

d) 11.1による連続性試験

e) 11.2による極性維持試験

附属書Bによる汚れに対する磨いた端面の目視検査

LSPM試験装置に伝搬遅延測定機能がない場合，チャネル又はパーマネントリンク長試験を検査基準に

加えることができる。

F.3.2

拡張試験群

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

附属書G
（参考）

チャネル及びパーマネントリンクの計算例

G.1

チャネル測定

次の例は，表4に基づいている。

例1

チャネルの配線構成

− 光ファイバケーブルのカテゴリは，JIS X 5150のOM4である。

− 機器コードを含めた合計長は，100 mである。

− JIS X 5150に従った二つのパッチパネル接続。

− JIS X 5150に従った光コネクタで終端されている機器コード。

測定波長850 nmで，このチャネルの許容減衰量は，次の式で計算する。

(

)(

)

5.3

1.0

測定波長1 300 nmで，このチャネルの許容減衰量は，次の式で計算する。

(

)(

)

5.1

1.0

例2

チャネルの配線構成

− 光ファイバケーブルのカテゴリは，JIS X 5150のOS1である。

− 機器コードを含めた合計長は，500 mである。

− JIS X 5150に従った二つのパッチパネル接続。

− JIS X 5150に従った二つの光ファイバスプライス。

− JIS X 5150に従った光コネクタで終端されている機器コード。

測定波長1 310 nmで，このチャネルの許容減衰量は，次の式で計算する。

(

)(

)

6.2

3.0

0.1

5.0

測定波長1 550 nmで，このチャネルの許容減衰量は，次の式で計算する。

(

)(

)

6.2

3.0

0.1

5.0

G.2

パーマネントリンク測定

次の例は，表4に基づいている。

例1

パーマネントリンクの配線構成

− 光ファイバケーブルのカテゴリは，JIS X 5150のOM3である。

− 合計長は，100 mである。

− JIS X 5150に従った二つのパッチパネル接続。

試験コード基準法を用いて，この配線構成の許容減衰量は，次の式で計算する。

5.3

1.0

5.0

dB 測定波長850 nm

5.1

1.0

5.0

dB 測定波長1 300 nm

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

例2

パーマネントリンクの配線構成

− 光ファイバケーブルのカテゴリは，JIS X 5150のOS1である。

− 合計長は，500 mである。

− JIS X 5150に従った二つのパッチパネル接続。

− JIS X 5150に従った光ファイバスプライス。

拡張試験コード基準法又は試験コード基準法を用いて，この配線構成の許容減衰量は，次の式で計算す

る。

(

)(

)

6.2

3.0

0.1

5.0

dB 測定波長1 310 nm

(

)(

)

6.2

3.0

0.1

5.0

dB 測定波長1 550 nm

X 5151：2018 (ISO/IEC 14763-3：2014)

参考文献

JIS C 6185-2 オプティカルタイムドメインリフレクトメータ（OTDR）−第2部：校正方法−シング

ルモード光ファイバ用OTDR

注記対応国際規格：IEC 61746-1，Calibration of optical time-domain reflectometers (OTDR)−Part 1:

OTDR for single mode fibres（IDT）

JIS C 6185-3 オプティカルタイムドメインリフレクトメータ（OTDR）−第3部：校正方法−マルチ

モード光ファイバ用OTDR

注記対応国際規格：IEC 61746-2，Calibration of optical time-domain reflectometers (OTDR)−Part 2:

OTDR for multimode fibres（IDT）

JIS C 6186 光ファイバ用光パワーメータ校正方法

注記対応国際規格：IEC 61315，Calibration of fibre optic power meters（IDT）

JIS C 6828 光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法

注記対応国際規格：IEC 61745，End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre

geometry test sets（IDT）

JIS C 6832 石英系マルチモード光ファイバ素線

注記1 対応国際規格：IEC 60793-2-10:2007，Optical fibres−Part 2-10: Product specifications−

Sectional specification for category A1 multimode fibres（MOD）

注記2 対応国際規格は，IEC 60793-2-10:2011，Optical fibres−Part 2-10: Product specifications−

Sectional specification for category A1 multimode fibresが発行されている。

JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線

注記対応国際規格：IEC 60793-2-50，Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional

specification for class B single-mode fibres（MOD）

JIS C 6837 全プラスチックマルチモード光ファイバ素線

注記1 対応国際規格：IEC 60793-2-40:2009，Optical fibres−Part 2-40: Product specifications−

Sectional specification for category A4 multimode fibres（MOD）

注記2 対応国際規格は，IEC 60793-2-40:2015，Optical fibres−Part 2-40: Product specifications−

Sectional specification for category A4 multimode fibresが発行されている。

JIS C 61300-3-6 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-6部：反射

減衰量測定

注記対応国際規格：IEC 61300-3-6，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss（MOD）

ISO/IEC 14763-1，Information technology−Implementation and operation of customer premises cabling−

Part 1: Administration

ISO/IEC 15018，Information technology−Generic cabling for homes

ISO/IEC 24702，Information technology−Generic cabling ‒ Industrial premises

ISO/IEC 24764，Information technology−Generic cabling systems for data centres

IEC 60793 (all parts)，Optical fibres

IEC 60874-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Connectors for optical fibres and