X 0521-1：2005 (ISO/IEC 15426-1：2000)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本自動認識システム協会(JAISA)
／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日
本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO/IEC 15426-1:2000，Information
technology−Automatic identification and data capture techniques−Bar code verifier conformance specifications−
Part 1:Linear symbols を基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
JIS X 0521-1には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定）1次参照テストシンボル
附属書B（規定）1次参照テストシンボルの検証要件
JIS X 0521の規格群には、次に示す部編成がある。
JIS X 0521-1第1部：1次元シンボル
JIS X 0521-2第2部：2次元シンボル（予定）
X 0521-1：2005 (ISO/IEC 15426-1：2000)
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 規格への適合 ·················································································································· 1
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 定義 ······························································································································ 2
5. 記号及び略語 ·················································································································· 2
6. 機能要件 ························································································································ 2
6.1 一般要件 ······················································································································ 2
6.2 反射率の校正 ················································································································ 2
6.3 必す（須）機能 ············································································································· 2
6.4 任意補足機能 ················································································································ 3
7. 構成上及び操作上の一般要件 ····························································································· 3
7.1 設置，操作及び保守 ······································································································· 3
7.2 電源 ···························································································································· 3
7.3 温度 ···························································································································· 3
7.4 動作温度範囲 ················································································································ 3
7.5 湿度 ···························································································································· 3
7.6 周辺光への耐性 ············································································································· 3
8. 試験要件 ························································································································ 4
8.1 試験方法 ······················································································································ 4
8.2 試験環境 ······················································································································ 4
8.3 1次参照テストシンボル ·································································································· 4
8.4 試験報告 ······················································································································ 5
9. 証明及びラベルちょう（貼）付 ·························································································· 5
10. 装置仕様 ······················································································································ 5
附属書A（規定）1次参照テストシンボル ················································································· 6
附属書B（規定）1次参照テストシンボルの検証要件 ·································································· 7
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日本工業規格 JIS
X 0521-1：2005
(ISO/IEC 15426-1：2000)
バーコード検証器の適合仕様−
第1部：1次元シンボル
Barcode verifier conformance specifications−Part 1:Linear symbols
序文 この規格は，2000年に第1版として発行されたISO/IEC 15426-1，Information technology−Automatic
identification and data capture techniques−Bar code verifier conformance specifications−Part 1:Linear symbolsを
翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格では，JIS X 0520の手法を用いる1次元バーコード向け検証器（以下，検証器と
いう。）について，試験方法及び最低限の精度基準について規定する。これらを試験するときの参照すべき
校正基準についても規定する。この規格では，装置の代表的サンプルに対する試験について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO/IEC 15426-1:2000，Information technology−Automatic identification and data capture techniques
−Bar code verifier conformance specifications−Part 1:Linear symbols (IDT)
2. 規格への適合 検証器は，6.3に規定する機能を実行し，8.によって実施した1次参照テストシンボル
の試験結果が次の条件を満たしている場合に，この規格に適合した検証器と見なす。
a) 試験したシンボル全体のグレードの小数第1位までが，1次参照テストシンボルの供給者が提示する
シンボル全体のグレードの±0.2である。
b) 試験によって得られる個々のパラメタについて10回試験した平均が，表1に示す許容範囲内である。
c) 試験によって得られる個々のパラメタについて10回試験して得たグレードを四捨五入した整数が，1
次参照テストシンボルの供給者が提示するグレードに等しい。
表 1 試験したパラメタ値の許容範囲
パラメタ
許容範囲
Rmax
±5 % 反射率
Rmin
±3 % 反射率
復号容易度
±0.08
欠陥
±0.08
備考 これらの許容範囲は，1次参照テストシンボルの供給者が
提示する許容範囲に追加されることになる。
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X 0521-1：2005 (ISO/IEC 15426-1：2000)
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3. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Q 9001 品質マネジメントシステム−要求事項
備考 ISO 9001:1994，Quality systems−Model for quality assurance in design，development，production，
installation and servicing及びISO 9002:1994，Quality systems−Model for quality assurance in
production，installation and servicingからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS X 0520 バーコードシンボル印刷品質の評価仕様−1次元シンボル
備考 ISO/IEC 15416 Information technology−Automatic identification and data capture techniques−
Bar code print quality test specification−Linear symbolsが，この規格と一致している。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 ISO 2859-1 Sampling procedures for inspection by attributes−Part 1: Sampling schemes indexed
by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspectionが，この規格と一致している。
ISO 3951 Sampling procedures and charts for inspection by variables for percent nonconforming
CEN/EN 1556 Bar coding−Terminology
4. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，CEN/EN 1556によるほか，次による。
4.1
1次参照テストシンボル 許容誤差を検証器精度の10倍に近い精度で作り，この規格に従ったバー
コード検証器の精度試験用シンボル。
5. 記号及び略語
Rmax : JIS X 0520の定義による最大反射率
Rmin : JIS X 0520の定義による最小反射率
PCS値 : CEN/EN 1556の定義による。
参考 CEN/EN 1556によるPCS (Print Contrast Signal) 値の定義は，JIS X 0520の附属書Iの規定と同
じである。
6. 機能要件
6.1
一般要件 検証器は，一定期間内において同じ検証器で特定のシンボルを反復して測定する場合及
び異なる検証器で特定のシンボルを測定する場合であっても，正確，かつ，一貫した形で，シンボルの品
質を評価できなければならない。時間を変えて2回検証したシンボル及び二つの異なる検証器で検証した
シンボルでも，評価を正しく比較できるようにするためには，このような一貫性が必要となる。
6.2
反射率の校正 検証器は，必要なときに基準反射率校正サンプルを使って，反射率の値を校正及び
調整できる手段をもっていなければならない。JIS X 0520では，二つの校正基準点を使用するように規定
しているが，この校正基準点は，反射率の範囲で最も上限に近い基準点及び最も下限に近い基準点の二つ
である。
6.3
必す（須）機能 JIS X 0520による検証器は，次の機能をもたなければならない。
− シンボルを通る1本以上の走査線上で測定された反射率測定結果を集める。
− 上の測定値から走査反射率波形を作成する。
− 走査反射率波形を分析する。
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− 走査反射率波形のパラメタごとのグレードを報告する。
− シンボル全体のグレードを決定して報告する（開口径及び使用した照明のピーク波長も含む。）。
− 復号化したデータを報告する。
− 符号化されたすべてのシンボルキャラクタを報告する。
検証結果を報告する方法については特に規定しないが，検証器での画面表示，印刷，コンピュータを含
めた他の装置とのデータ通信などが考えられる。
6.4
任意補足機能 検証器にどこまで詳しい報告を求めるかは，検証器の使用者によって異なるため，
検証器は次のような補足機能をもっていてもよい。
− 総合シンボルグレードの基準となる走査反射率波形の数を報告する。
− バー幅の平均偏差，最大偏差及び最小偏差を報告する。
− 検証されたシンボル体系を報告する。
− 使用者の選択によって，走査反射率波形のすべて又は選択部分を，印刷又は表示する。
− (Rmax ‒ Rmin)/Rmaxを計算し，PCS値として報告する。
備考 PCS値を計算しておくと，PCS値でコントラストを規定しているアプリケーション仕様に従っ
ている使用者に有益である。このパラメタは，シンボルコントラストと比べて，読取性能との
相関性が少ない。
7. 構成上及び操作上の一般要件
7.1
設置，操作及び保守 製造業者は，装置の設置者，使用者又は保守管理者へ提供する文書の中で，
装置の設置，操作及び保守に関する条件を規定しなければならない。これらの文書では，保守の推奨範囲
及び頻度について指示しておかなければならない。この規格の対象となる装置が，上の条件に従って設置，
操作及び保守されるときは，提供する文書の規定どおりに動作しなければならない。
7.2
電源 製造業者は，装置がその仕様に従って動作することができる電源について，最小パラメタ及
び最大パラメタを表示しなければならない。製造業者によって規定されている範囲で電源電圧及び周波数
が変動しても，検証器の精度に悪影響があってはならない。
電池式装置の場合，検証器の信頼性を保証できない低電圧の限界に近づいた時点で，検証器は，操作者
へ警告信号を送るか，又は動作を停止しなければならない。充電式装置の場合は，製造業者は，電池への
充電要件を表示しなければならない。
7.3
温度
7.4
動作温度範囲 製造業者は，装置が動作する温度範囲について，℃の単位で明記しなければならな
い。
7.4.1
保存温度範囲 製造業者は，装置（取外し可能な電池も含む）が，保存及び輸送中に，性能を劣化
させることなく耐えることのできる温度範囲を，℃の単位で明記しなければならない。
7.5
湿度 製造業者は，装置が動作する空気中の相対湿度(RH)範囲及びその環境における結露の有無に
ついて明記しなければならない。
7.6
周辺光への耐性 周辺光には様々な特徴があるため，これも考慮に入れておいた方がよい。問題を
引き起こす可能性がある代表的な光源としては，高効率蛍光灯，ナトリウム灯，水銀灯，赤色ネオン灯，
直射日光などが挙げられる。
製造業者は，装置を使用する場合の周辺光について，推奨条件を明記しなければならない。
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8. 試験要件
8.1
試験方法 製造業者による試験手順は，必要に応じて，JIS Q 9001の要件に従っていることが望ま
しい。
8.1.1
試験用装置の選択 試験は，一括生産したものの中から，製造業者自身の品質管理サンプリング抽
出方法に従って選択した，一つ以上の検証器で行わなければならない。
備考 選択した装置がその型を代表しているかどうかは，製造業者自身の判断に従う。サンプリング
抽出方法については，JIS Z 9015-1による。
8.1.2
走査パラメタ 試験中の走査速度（すなわち，開口部が試験シンボルを横切る速度），その他の装
置仕様にかかわるパラメタは，装置製造業者によって指定する範囲内になければならない。走査速度は一
定であることが望ましいが，変化する場合は，装置で補正できるようになっていることが望ましい。
8.1.3
試験測定 使用する試験シンボルは，一つのシンボルにつき10回連続して走査しなければならな
い。検証器が報告した総合シンボルグレード及び個々の測定パラメタ値は，試験シンボルに与えられてい
る実測値と比較しなければならない。
シンボル体系について，附属書Aに規定していない性能を試験しなければならない場合は，該当するシ
ンボル体系仕様に適合し，この規格に適合した校正済み検証器で測定したテストシンボルを用いることが
望ましい。この場合，試験をする必要があるパラメタは，復号化及び復号容易度である（検証器が，シン
ボル体系仕様で定義されている復号化アルゴリズムを適用していることを確認するため。）。そのほかのパ
ラメタについては，附属書Aで定義する参照テストシンボルに，すべて含まれている。
8.2
試験環境 検証器での試験は，製造業者が指定する環境条件で実施しなければならない。その条件
には，最低でも，電源，温度，相対湿度及び周辺光を含めることが望ましい。
8.3
1次参照テストシンボル この規格に適合するための試験は，1次参照テストシンボルを用いて実施
しなければならない。1次参照テストシンボルを用いるのは，その走査反射率波形が，検証器の製造業者
及び使用者に，既知である特定のパラメタを示すことになるからである。その値は，測定方法が市販され
ている検証器に似ているが，反射率及び寸法測定についての性能が，市販装置よりも10倍以上優れた，国
家計量標準の性能をもつ測定装置で決定される。附属書Aは1次参照テストシンボルの適合範囲を示す。
附属書Bは1次参照テストシンボルの検証要件について，詳しく規定する。
シンボルを走査する環境において，光のピーク波長又は測定開口径が複数あるような場合には，複数の
波長又は開口径校正点をもつ1次参照テストシンボルが必要となる場合がある。どのような場合にも，1
次参照テストシンボルは，該当するシンボル体系仕様書（あるならば，当該のシンボル体系に関する国家
規格，地域規格若しくは国際規格，又は業界仕様書）に適合していなければならず，次の項目を明記しな
ければならない。
− 用いられているシンボル体系
− 符号化しているデータ
− 測定に用いる測定開口径及び光のピーク波長
− JIS X 0520による総合シンボルグレード又はJIS X 0520によるパラメタごとのグレード及び値（走査
反射率波形の特定のパラメタを強調するように，1次参照テストシンボルが設計されている場合）
1次参照テストシンボルは，適合試験機関が検証器の種別試験を行うため及び検証器製造業者がこの規
格(JIS X 0521-1)に適合していることを自己証明するために用いなければならない。検証器使用者のために，
1次参照テストシンボルのサブセットを編集することもできる。使用者はこのような1次参照テストシン
ボルのサブセットを，検証器の定期点検及び検証器を正しく使うための訓練に使用することができる。
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1次参照テストシンボルは，周囲温度が10〜30 ℃及び湿度が30〜70 % RHに変化しても，寸法に無視
できる程度の変化しか生じない材料で作成しなければならない。
この範囲から外れる条件下で輸送されても元の寸法が保たれる材料又はその寸法へ戻る材料の使用を検
討することが望ましい。
検証器の製造業者及び使用者は，定期的な生産品質保証手続きの一環として，2次テストシンボルの使
用を選択してもよい。2次テストシンボルのパラメタ値は，1次参照テストシンボルを測定することによっ
て確認した検証器を使って決定されていなければならない。2次テストシンボルは，定期的な生産品質保
証手続きに用いてもよいが，これによって，この規格に適合していることを明示できるわけではない。
8.4
試験報告 試験環境，装置設定，走査パラメタ及び使用している1次参照テストシンボルは，次の
項目と合わせて記録しなければならない。
− 試験対象となっているシンボル体系
− 検証器によって測定され，報告された総合シンボルグレード及び当該1次参照テストシンボルで定義
されている総合シンボルグレード
− 測定した値が，2.で定義している許容範囲内にあることの確認
試験している検証器から報告書が出力される場合は，試験報告書に添付しておかなければならない。こ
れらは，印刷された報告書であってもよいし，検証器が接続されているコンピュータの画面を印刷したも
のであってもよい。
9. 証明及びラベルちょう（貼）付 製造業者は，検証器関係の文書に，装置がこの規格に従って試験さ
れたものであることを宣言した内容を含めなければならない。
製造業者は，検証器がこの規格に従っていることを指示するラベルを，装置にはり付けてもよい。この
ラベルちょう（貼）付については，何の要件も定義されていない。
10. 装置仕様 製造業者は，装置使用者が入手できる文書に，次の内容を規定しておかなければならない。
− 検証器で検証することのできるシンボル体系（使用可能なシンボル体系がもつ任意選択機能の仕様も
含む。）
− 有効な測定開口径
− 光のピーク波長を含む光源の仕様
− 反射率の測定方法
− 検証結果の報告方法及び（可能な場合）その記録方法
− 報告することのできる検証パラメタ
− 走査を繰り返して得た結果を平均化する能力
− PC又はプリンタといった他の装置に接続できる機能
− プログラミング及び設定に関する仕様
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附属書A（規定）1次参照テストシンボル
1次参照テストシンボルには，JIS X 0520の走査反射率波形で分析される個々のパラメタごとに，異な
るグレードをもつ一連のシンボルを含めなければならない。いずれの場合にも，表A.1で様々なパラメタ
について例示されているとおり，不確実な要素をなくすため，パラメタ値をグレードの境界線から十分に
離しておかなければならない。次の選択パラメタを推奨する。
a) JIS X 0507（バーコードシンボル−EAN/UPC−基本仕様）によるEAN又はUPCシンボルで，異なる
パラメタグレードをもつもの（X寸法: 0.330 mm）
− シンボルコントラスト グレード4及び1
− 変位幅 グレード4及び1
− 欠陥（スポット及びボイド） グレード4及び1
− 復号容易度（エッジ対類似エッジ） グレード4及び1
− 復号容易度（バー） グレード4及び1
b) JIS X 0503（バーコードシンボル−コード39−基本仕様）によるコード39シンボルで，異なるパラメ
タグレードをもつもの（X寸法: 0.191 mm及び0.600 mmの2セット）
− 変位幅 グレード4及び1
− 復号容易度 グレード4及び1
− 欠陥 （ボイド） グレード4及び1
c) JIS X 0504（バーコードシンボル−コード128−基本仕様）によるコード128シンボルで，異なるパラ
メタグレードをもつもの（X寸法: 0.191 mm及び0.600 mmの2セット）
− 復号容易度 グレード4及び1
− 欠陥（スポット） グレード4及び1
これらの選択例は，代表的なテストシンボルセットであり，これによって測定された個々のパラメタ値
と，テストシンボルの供給者によって証明されている実際のパラメタ値との比較によって，この規格に適
合していることを確認できる。
表A.1は，これらの要件を満たすために必要な個々のパラメタ値の範囲を示す。
表A.1 1次参照シンボルのパラメタ値
パラメタ
グレード4
グレード1
シンボルコントラスト
73.75 %以上
25 %〜35 %
変位幅
0.725以上
0.425〜0.475
欠陥
0.137 5以下
0.262 5〜0.287 5
復号容易度
0.65以上
0.28〜0.34
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附属書B（規定）1次参照テストシンボルの検証要件
1次検証とは，測定方法は市販されている一般的な検証器と似ているが，反射率及び寸法測定について
の性能が，市販検証器よりも10倍優れている国家計量標準の性能をもつ検証器で行う測定のことをいう。
さらに，1次検証器は，繰返し精度が一般的な検証器よりも10倍優れていなければならない。1次検証で
は，高分解能の走査形マイクロデンシトメータを検証器として用いるのが一般的である。
寸法の測定は，ガラスに描かれたクロムパターンを用いるリニアエンコーダ，レーザ干渉計又は国家計
量標準の石英に描かれたクロム目盛線に対して，トレーサビリティを保つのがよい。
反射率の測定は，高分解能（10ビット以上）AD変換器で反射光を測定し，その結果は，国家計量標準
で測定済みの反射率表に従うのがよい。
同じ箇所を繰り返し走査したときの寸法測定精度は，エレメント幅で39個以上のエレメントに広がった
ものを5回走査したときに，±0.5 μmでなければならない。また，測定した反射率は，エレメント幅で19
個のスペースと2個のクワイエットゾーンとに広がったものを，同じ走査線で5回走査したとき，±0.5 %
で再現しなければならない。