R 1639-4 : 1999
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は，出願公開後の実用
新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS R 1639-4：1999には，次に示す附属書がある。
附属書（規定） 流動度測定装置の検定
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
R 1639-4 : 1999
ファインセラミックス−
か（顆）粒特性の測定方法−
第4部：流動度
Test methods of properties of fine ceramic granules
Part 4 : Flowability
1. 適用範囲 この規格は，数十から数百μmのファインセラミックスか粒の流動度の測定方法について
規定する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版を適用する。
JIS B 0601 表面粗さ−定義及び表示
JIS B 7510 精密水準器
JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語
JIS R 3503 化学分析用ガラス器具
JIS R 6003 研摩材のサンプリング方法
JIS R 1639-3 ファインセラミックス−か（顆）粒特性の測定方法−第3部：乾燥減量
JIS Z 8401 数値の丸め方
JIS Z 8901 試験用粉体及び試験用粒子
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS R 1600によるほか，次による。
a) か粒 微粒子の造粒操作によって製造した粒子集合体。
b) か粒特性 か粒の特性を表す代表的な性質。
c) 流動度 か粒が漏斗から1秒間に排出する平均質量。
d) 検定流動度 装置の特性を表示するために，検定用試料を使用して測定した流動度。
4. サンプリング方法 試験する試料のサンプリング方法は，JIS R 6003に規定する3.（サンプリング方
法），及び4.（試料調整法）による。
調整試料の1試料の量は，かさ体積で約40〜50cm3とする。
5. 装置及び器具 装置及び器具は，次による。
a) 測定用漏斗 形状及び寸法は，付図1に示すもので，材質はステンレス鋼製とする。測定用漏斗の排
2
R 1639-4 : 1999
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
出口径は，2.5mmとする。ただし，試料が落下しない場合は，5mmの排出口径の漏斗を用いてもよい。
漏斗内面は，研削仕上げ以上の精密仕上げとし，その表面粗さは，JIS B 0601による算術平均粗さ
(Ra) で0.2μm以下とする。
b) 充てん用漏斗 形状及び寸法は，測定用漏斗と同じとする。ただし，a)の表面粗さの規定は適用しな
い。
c) 受器 100cm3程度の円筒形の容器。
d) 流動度測定装置(1) 付図2に示す漏斗支持器，支持棒及び支持台から構成されるもの。流動度測定装
置は，測定中に振動，移動などの支障がでない構造とする。
漏斗支持器は，支持棒の周りに水平に回転し，かつ，留め金によって上下に調節できる構造とする。
支持棒は，支持台に受器を置き，その上に充てん用漏斗及び測定用漏斗を装着でき，かつ，それら
の漏斗間を20mm開けて支持することができる長さをもつもの。
e) 水準器 JIS B 7510に規定するもの。
f)
時計 精度が±0.1秒以上のもの。
g) はかり 最小表示目盛が10mg以下の化学はかり又は電子はかり。
h) 手袋 綿製が望ましい。静電気の発生の原因となりやすい素材は避ける。
i)
デシケーター JIS R 3503に規定するもので，乾燥剤としてシリカゲルを入れたもの(2)。
注(1) 流動度測定装置の特性は，附属書（規定）（流動度測定装置の検定）によって検定用試料の流動
度を測定し，検定流動度として表示することができる。
(2) シリカゲルは，約150℃に加熱放冷したものを用い，再生する場合も同じ処理を行う。
付図1 測定用漏斗
3
R 1639-4 : 1999
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
付図2 流動度測定装置の例
6. 測定手順
6.1
サンプリングした調整試料を，3個準備する。
6.2
受器の質量w1を，10mgの単位まではかりではかる。
6.3
流動度測定装置の受器，測定用漏斗及び充てん用漏斗を，中心が同じになるように調整する。また，
測定用漏斗の上端と，充てん用漏斗底部の排出口下端の高さの間隔を，20mmになるように調整する。こ
のとき，測定用漏斗の上端面が水平であることを水準器で確かめる。
6.4
手に手袋をした後，片方の手の指で，充てん用漏斗底部の排出口下端をふさぎ，他方の手で，調整
試料の1試料を発じんしないように，静かに充てん用漏斗に充てんする。
6.5
測定用漏斗底部の排出口下端を，空いた手の指でふさぎ，充てん用漏斗底部の排出口下端から指を
離して，測定用漏斗に試料を充てんする。
6.6
測定用漏斗底部の排出口下端から指を離し，その瞬間から最後の試料が排出口下端を離れるまでの
時間tを，時計で0.1秒の単位まで読み取る。
試料が，不連続的に漏斗から排出するとき及び排出できないときは，その状況を記録する。
6.7
受器と排出された試料との合計の質量w2を，10mgのけたまではかる。
6.8
残った2個の試料についても，6.2〜6.7の手順によって測定を行う。
4
R 1639-4 : 1999
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.9
試料の排出が，付着水又は湿度の影響を受けていると思われるときは，JIS R 1639-3に従って，乾燥
減量を測定する。
7. 計算 流動度Fは，3回の測定結果のそれぞれについて，次の式によって小数点以下3けたまで計算
し，計算結果を算術平均して，JIS Z 8401によって2けたに丸める。
t
w
w
F
1
2−
＝
ここに，
F： 流動度 (g/s)
w1： 受器の質量 (g)
w2： 受器と排出試料との合計の質量 (g)
t： 排出時間 (s)
8. 結果の表示 測定結果の表示は，次による。
a) 試料名
b) 装置名及び／又は装置番号
c) 測定用漏斗の排出口径
d) 測定条件（温度及び湿度）
e) 流動度（試料の排出が不連続のときは，その状況を付記する。）(3)
f)
乾燥減量（測定したときだけ）
注(3) 排出不能のときは，流動度“0”と表示する。
5
R 1639-4 : 1999
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書（規定） 流動度測定装置の検定
1. 適用範囲 この附属書は，流動度測定装置の特性として，検定用試料を使用して検定流動度を求める
方法について規定する。
2. 定義 この附属書で用いる主な用語の定義は，本体の3.によるほか，次による。
a) 検定用試料 JIS Z 8901に規定する試験用粉体2のガラスビーズ。
3. 装置及び器具 装置及び器具は，本体の5.によるほか，次による。
a) 乾燥器 装置室内の空気を循環させるファンを備え，乾燥温度150℃以上まで設定でき，±1℃の温度
範囲に保持できるもの。
4. 試料の調整 試料の調整は，次による。
a) 検定用試料を，二分割器又は四分法によって，1試料の量がかさ体積で約40〜50 cm3となるように調
整し，3個の試料を準備する。
b) 検定用試料を，乾燥器で105℃±1℃で2時間乾燥し，デシケーター内で室温まで放冷する。
5. 装置の検定流動度の測定及び計算 装置の検定流動度は，検定用試料を使用して，本体の6.によって
測定を行い，本体の7.によって計算して流動度Fを求め，これを装置の検定流動度とする。
6. 結果の表示 測定結果の表示は，次による。
a) 検定用試料名
b) 装置名及び／又は装置番号
c) 測定用漏斗の排出口径
d) 測定条件（温度及び湿度）
e) 検定流動度
6
R 1639-4 : 1999
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ファインセラミックスか（顆）粒特性の測定方法 第4部 流動度原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
○ 内 海 良 治
工業技術院名古屋工業技術研究所
（委員）
○ 伊ケ崎 文 和
工業技術院物質工学工業技術研究所
○ 青 木 正 司
財団法人ファインセラミックスセンター
○ 山 田 哲 夫
宇部興産株式会社
○ 伊 藤 崇
大川原化工機株式会社
○ 渡 邊 敬一郎
日本ガイシ株式会社
○ 松 尾 康 史
日本特殊陶業株式会社
鈴 木 和 夫
工業技術院名古屋工業技術研究所
椿 淳一郎
名古屋大学
中 平 謙 司
財団法人ファインセラミックスセンター
中 村 彰 一
大塚電子株式会社
福 井 俊 文
株式会社島津製作所
橋 本 邦 男
昭和電工株式会社
佐々木 邦 雄
株式会社セントラル科学貿易
山 口 浩 文
日本ガイシ株式会社
虎 谷 秀 穂
名古屋工業大学
林 茂 雄
三重県窯業試験場
中 安 哲 夫
宇部興産株式会社
安 川 勝 正
京セラ株式会社
築 野 孝
住友電気工業株式会社
稲 場 徹
電気化学工業株式会社
○ 伊 藤 敏
通商産業省生活産業局ファインセラミックス室
○ 大 嶋 清 治
工業技術院標準部
○ 加 山 英 男
財団法人日本規格協会
○ 菅 野 隆 志
ファインセラミックス国際標準化推進協議会
○ 渡 辺 一 志
社団法人日本ファインセラミックス協会
（事務局）
○ 杉 本 克 晶
社団法人日本ファインセラミックス協会
備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。
文責 原案小委員会