R 1639-3 : 1999
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は,出願公開後の実用
新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
R 1639-3 : 1999
ファインセラミックス−
か(顆)粒特性の測定方法−
第3部:乾燥減量
Test methods of properties of fine ceramic granules
Part 3 : Drying loss
1. 適用範囲 この規格は,数十から数百μmのファインセラミックスか粒の乾燥器による乾燥減量の測
定方法について規定する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版を適用する。
JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語
JIS R 3503 化学分析用ガラス器具
JIS R 6003 研摩材のサンプリング方法
JIS Z 8401 数値の丸め方
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS R 1600によるほか,次による。
a) か粒 微粒子の造粒操作によって製造した粒子集合体。
b) か粒特性 か粒の特性を表す代表的な性質。
c) 乾燥減量 か粒を乾燥させたとき減少した質量。元の質量に対する割合で表す。
4. サンプリング方法 試験する試料のサンプリング方法は,JIS R 6003の3.(サンプリング方法)及び
4.(試料調整方法)による。
調整試料の1試料の量は,かさ体積で20cm3程度とする。
5. 装置及び器具 装置及び器具は,次による。
a) 乾燥器 装置室内の空気を循環させるファンを備え,乾燥温度150℃以上まで設定でき,±1℃の温度
範囲に保持できるもの。
b) はかり瓶 JIS R 3503に規定する平形はかり瓶50×30mm。
c) はかり(天びん) 最小表示目盛が1mg以下の化学はかり又は電子はかり。
d) デシケーター JIS R 3503に規定するもので,乾燥剤としてシリカゲルを入れたもの(1)。
注(1) シリカゲルは,約150℃に加熱放冷したものを用い,再生する場合も同じ処理を行う。
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6. 測定手順 測定手順は,次による。測定試料個数は,3個とする。
a) はかり瓶の質量を,1mgのけたまではかる。
b) はかり瓶に試料を厚さ5〜10mm程度になるように取り,試料表面を平らにしてからふたをし,質量
を1mgのけたまではかる。
c) 試料を入れたはかり瓶のふたを開けて,乾燥器に入れ,105℃±1℃で2時間乾燥する。
d) 乾燥器から,はかり瓶にふたをして取り出し,素早くデシケーターに移し,室温まで放冷する。
e) はかり瓶にふたをしたままデシケーターから取り出し,質量を1mgのけたまではかる。
f)
恒量(2)になるまでc)〜e)の操作を繰り返す。この場合,乾燥時間は1時間とする。
注(2) 恒量は,乾燥前後の質量変化が5mg以下になったときとする。
7. 計算 乾燥減量は,次の式によって小数点以下3けたまで計算し,3個の試料の計算結果を算術平均
して,JIS Z 8401によって2けたに丸める。
100
3
1
2
1
×
−
−
=
W
W
W
W
A
ここに,
A: 乾燥減量 (%)
W1: 乾燥前の試料とはかり瓶とふたの質量 (g)
W2: 乾燥後の試料とはかり瓶とふたの質量 (g)
W3: はかり瓶とふたの質量 (g)
8. 結果の表示 乾燥減量の測定結果の表示は,次による。
a) 試料名
b) 測定試料量
c) 乾燥減量
d) 乾燥温度及び時間
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ファインセラミックスか(顆)粒特性の測定方法−第3部:乾燥減量
原案作成委員会 構成表
氏名
所属
(委員長)
○ 内 海 良 治
工業技術院名古屋工業技術研究所
(委員)
○ 伊ケ崎 文 和
工業技術院物質工学工業技術研究所
○ 青 木 正 司
財団法人ファインセラミックスセンター
○ 山 田 哲 夫
宇部興産株式会社
○ 伊 藤 崇
大川原化工機株式会社
○ 渡 邊 敬一郎
日本ガイシ株式会社
○ 松 尾 康 史
日本特殊陶業株式会社
鈴 木 和 夫
工業技術院名古屋工業技術研究所
椿 淳一郎
名古屋大学
中 平 兼 司
財団法人ファインセラミックスセンター
中 村 彰 一
大塚電子株式会社
福 井 俊 文
株式会社島津製作所
橋 本 邦 男
昭和電工株式会社
佐々木 邦 雄
株式会社セントラル科学貿易
山 口 浩 文
日本ガイシ株式会社
虎 谷 秀 穂
名古屋工業大学
林 茂 雄
三重県窯業試験場
中 安 哲 夫
宇部興産株式会社
安 川 勝 正
京セラ株式会社
築 野 孝
住友電気工業株式会社
稲 場 徹
電気化学工業株式会社
○ 伊 藤 敏
通商産業省生活産業局
○ 大 嶋 清 治
工業技術院標準部
○ 加 山 英 男
財団法人日本規格協会
○ 菅 野 隆 志
ファインセラミックス国際標準化推進協議会
○ 渡 辺 一 志
社団法人日本ファインセラミックス協会
(事務局)
○ 杉 本 克 晶
社団法人日本ファインセラミックス協会
備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。
文責 原案作成小委員会