JISR1639-2:1999 ファインセラミックス－か（顆）粒特性の測定方法

R 1639-2 : 1999

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は，出願公開後の実用

新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

R 1639-2 : 1999

ファインセラミックス−

か（顆）粒特性の測定方法−

第2部：かさ密度

Test methods of properties of fine ceramic granules

Part 2：Bulk density

1. 適用範囲この規格は，数十から数百μmのファインセラミックスか粒のかさ密度の測定方法につい

て規定する。

2. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は，その最新版を適用する。

JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語

JIS R 1628 ファインセラミックス粉末のかさ密度測定方法

JIS R 6003 研摩材のサンプリング方法

JIS Z 8401 数値の丸め方

3. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，JIS R 1600によるほか，次による。

a) か粒微粒子の造粒操作によって製造した粒子集合体。

b) か粒特性か粒の特性を表す代表的な性質。

c) かさ密度か粒が占める単位かさ体積当たりの質量。

d) 初期かさ密度か粒を静かに容器に入れたときのかさ密度。

e) タップかさ密度か粒を容器に入れた後，容器にタップによる衝撃を加え，体積変化がなくなったと

きのかさ密度。

定体積測定法測定体積を一定として行う測定方法。

g) 定質量測定法測定質量を一定として行う測定方法。

4. サンプリング方法試験する試料のサンプリング方法は，JIS R 6003の3.（サンプリング方法）及び

4.（試料調整方法）による。

調整試料の1試料の量は，体積で200cm3程度とする。

5. かさ密度の種類かさ密度の種類は，次による。

a) 初期かさ密度

R 1639-2 : 1999

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b) タップかさ密度

6. 測定方法の種類かさ密度の測定は，次のいずれかによる。

a) JIS R 1628による方法

b) その他の方法

7. 測定方法

7.1 JIS R 1628による方法 JIS R 1628に規定する定体積測定法又は定質量測定法による。ただし，試料

の乾燥は行わない。タップかさ密度を求める場合には，いずれの測定法においても，最初のタップ回数を

100回から始めてもよい。

7.2

その他の方法による場合 JIS R 1628に規定する方法以外の場合には，測定結果がJIS R 1628に規

定する定容積測定法又は定質量測定法の結果との差が，あらかじめ当事者間で合意した許容範囲内になる

ように，測定条件を設定して行わなければならない。

8. 計算かさ密度の計算は，次による。

8.1

初期かさ密度及びタップかさ密度初期かさ密度及びタップかさ密度は，それぞれの測定における

試料の質量を，測定容器中に占める試料の最上層までの体積で除して求め，それぞれ初期かさ密度及びタ

ップかさ密度とする。

8.2

計算結果の整理測定値は，有効数字3けたまで求め，平均値は4けたまで計算して，JIS Z 8401

によって3けたに丸め，単位はg/cm3で表示する。

9. 結果の表示かさ密度の測定結果の表示は，次による。

a) 試料名

b) 測定方法（JIS R 1628による方法の場合には，その規格番号と測定方法の種類。その他の方法による

場合には，容器の材質及び断面積，容器に入れた試料の高さ，タップ高さ，タップ速度，タップ時間

及び衝撃面材質）

c) 測定条件（温度及び湿度）

d) 初期かさ密度

e) タップかさ密度

R 1639-2 : 1999

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ファインセラミックスか（顆）粒特性の測定方法第2部かさ密度原案作成委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

○ 内海良治

工業技術院名古屋工業技術研究所

（委員）

○ 伊ケ崎文和

工業技術院物質工学工業技術研究所

○ 青木正司

財団法人ファインセラミックスセンター

○ 山田哲夫

宇部與産株式会社

○ 伊藤崇

大川原化工機株式会社

○ 渡邊敬一郎

日本ガイシ株式会社

○ 松尾康史

日本特殊陶業株式会社

鈴木和夫

工業技術院名古屋工業技術研究所

椿淳一郎

名古屋大学

中平兼司

財団法人ファインセラミックスセンター

中村彰一

大塚電子株式会社

福井俊文

株式会社島津製作所

橋本邦男

昭和電工株式会社

佐々木邦雄

株式会社セントラル科学貿易

山口浩文

日本ガイシ株式会社

虎谷秀穂

名古屋工業大学

林茂雄

三重県窯業試験場

中安哲夫

宇部與産株式会社

安川勝正

京セラ株式会社

築野孝

住友電気工業株式会社

稲場徹

電気化学工業株式会社

○ 伊藤敏

通商産業省生活産業局ファインセラミックス室

○ 大嶋清治

工業技術院標準部

○ 加山英男

財団法人日本規格協会

○ 菅野隆志

ファインセラミックス国際標準化推進協議会

○ 渡辺一志

社団法人日本ファインセラミックス協会

（事務局）

○ 杉本克晶

社団法人日本ファインセラミックス協会

備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。

文責原案作成小委員会