K 7350-3：2008
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 原理······························································································································· 2
4 装置······························································································································· 2
5 試験片···························································································································· 8
6 試験条件························································································································· 8
6.1 放射照度 ······················································································································ 8
6.2 温度 ···························································································································· 8
6.3 試験槽内空気の相対湿度 ································································································· 8
6.4 凝縮サイクル及び噴霧サイクル ························································································ 8
6.5 暗黒期間を含むサイクル ································································································· 8
6.6 暴露条件の設定 ············································································································· 8
7 操作······························································································································ 10
7.1 一般 ··························································································································· 10
7.2 試験片の取付け ············································································································ 10
7.3 暴露 ··························································································································· 10
7.4 放射露光量の測定 ········································································································· 10
7.5 暴露後の特性変化の測定 ································································································ 10
8 試験報告書 ····················································································································· 10
附属書A（参考）代表的な紫外線蛍光ランプの分光放射分布························································ 12
附属書JA（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ································································ 16
K 7350-3：2008
（2）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本プラスチック
工業連盟(JPIF)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきと
の申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これに
よって，JIS K 7350-3:1996は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS K 7350の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS K 7350-1 第1部：通則
JIS K 7350-2 第2部：キセノンアークランプ
JIS K 7350-3 第3部：紫外線蛍光ランプ
JIS K 7350-4 第4部：オープンフレームカーボンアークランプ
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日本工業規格 JIS
K 7350-3：2008
プラスチック−実験室光源による暴露試験方法−
第3部：紫外線蛍光ランプ
Plastics-Methods of exposure to laboratory light sources-
Part 3 : Fluorescent UV lamps
序文
この規格は，2006年に第2版として発行されたISO 4892-3を基に，技術的内容を変更して作成した日
本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
警告
この規格の利用者は，通常の実験室での作業に精通しているものとする。この規格は，その使用に関連
して起こるすべての安全性の問題を取り扱おうとするものではない。この規格の利用者は，各自の責任に
おいて安全及び健康に対する適切な措置を取らなければならない。
1
適用範囲
この規格は，材料を実際の使用環境で昼光又は窓ガラス越しの昼光に暴露したときに生じる現象を再現
するために，試験片を，水分の存在下で，紫外線蛍光ランプで暴露する方法について規定する。
試験片は，制御した条件（温度，水分など）で，紫外線蛍光ランプで暴露する。特定の材料に関する，
試験片の製作及び試験結果の評価は，該当規格による。
なお，試験についての全体的な指針は，JIS K 7350-1による。
注記1 塗料及びワニスの紫外線蛍光ランプによる暴露試験方法は，JIS K 5600-7-8に規定している。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 4892-3:2006，Plastics−Methods of exposure to laboratory light sources−Part 3: Fluorescent
UV lamps (MOD)
なお，対応の程度を表す記号(MOD)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，修正していることを
示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS K 7350-1:1995 プラスチック−実験室光源による暴露試験方法 第1部：通則
2
K 7350-3：2008
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注記 JIS K 7350-1:1995には，対応するISO 4892-1:1994，Plastics−Methods of exposure to laboratory
light sources−Part 1: General guidanceがあり，この規格の対応国際規格で引用しているISO
4892-1:1999には対応していないが，技術的差異はない。
JIS K 7362 プラスチック−アンダーグラス屋外暴露，直接屋外暴露又は実験室光源による暴露後の
色変化及び特性変化の測定方法
注記 対応国際規格：ISO 4582，Plastics−Determination of changes in colour and variations in properties
after exposure to daylight under glass, natural weathering or laboratory light sources (MOD)
3
原理
3.1 紫外線蛍光ランプは，正しく維持すれば，太陽光の紫外線（UV）領域の分光分布を近似することが
できる。
3.2 規定の条件で，試験片を，代表的な紫外線放射，熱及び湿度（3.4参照）に暴露する。
3.3 暴露条件は，次の項目について設定する。
a) 蛍光ランプの種類
b) 放射照度
c) 暴露温度
d) 湿度制御が必要な暴露条件では，照射時及び暗黒時の槽内相対湿度
注記 通常，市販の紫外線蛍光ランプ装置は，相対湿度制御機能を備えていない。
e) 試験片への湿潤方法（3.4参照）
f)
湿潤時の温度及び湿潤サイクル
g) 照射時間及び暗黒時間
3.4 湿潤は通常，試験片の表面への水の凝縮，試験片への純水又はイオン交換水の噴霧によって得られる。
3.5 操作には，試験片の表面での放射照度及び放射露光量の測定を含むことがある。
3.6 試験片とともに，性能既知の類似材料を比較用（コントロール）として同時に暴露するのがよい。
3.7 試験材料について，試験装置間で統計的な関係が得られていない限り，異なる試験装置で暴露した試
験片で得られた試験結果は，相互比較をしないほうがよい。
4
装置
4.1
実験室光源
4.1.1 紫外線蛍光ランプは，紫外線領域（すなわち400 nm未満）の放射が少なくとも全放射出力の80 ％
を占めている。この規格では，次の三つの異なる形式の紫外線蛍光ランプを用いる。
− タイプ1A(UVA-340)紫外線蛍光ランプ：
300 nm未満の放射が，全放射出力の2 ％未満の紫外線蛍光ランプで，放射ピークが343 nmにあり，
一般的には300 nm〜340 nmの昼光のシミュレーションに用いられ，UVA-340と呼ばれている（表1
のA1参照）。図A.1は，昼光と比較した代表的なタイプ1A (UVA−340)紫外線蛍光ランプの250 nm〜
400 nmの分光放射照度のグラフである。受渡当事者間の協定で，各種UVA蛍光ランプを組み合せて
用いてもよい（表1のA2参照）。異なる分光放射のランプを組み合わせて用いる場合は，配列したラ
ンプの周りで試験片を連続的に移動することによって，試験片の表面における分光放射照度の均一性
が，保証されるようにしなければならない。
3
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− タイプ1B(UVA-351)紫外線蛍光ランプ：
300 nm未満の放射が全放射出力の2 ％未満の紫外線蛍光ランプで，放射ピークが353 nmにあり，
一般的には窓ガラスを通した昼光の紫外部分のシミュレーションに用い，UVA-351と呼ばれている（表
2参照）。図A.2は，窓ガラスを通した昼光と比較した代表的な紫外線蛍光ランプ，タイプ1B(UVA-351)
の250 nm〜400 nmの分光放射照度である。
− タイプ2(UVB-313)紫外線蛍光ランプ：
300 nm未満の放射が，全放射出力の10 ％を超える紫外線蛍光ランプで，放射ピークが313 nmに
あり，一般的にはUVB-313と呼ばれている（表3参照）。図A.3は，昼光と比較した代表的な二つの
紫外線蛍光ランプ，タイプ2(UVB-313)の250 nm〜400 nmの分光放射照度のグラフである。タイプ
2(UVB-313)ランプは，受渡当事者間の協定によってだけ用いる。協定の内容を試験報告書に記載する。
注記1 タイプ2(UVB-313)ランプは，水銀アーク線の波長313 nmの付近にピークのある放射の分
光分布をもっており，254 nmまで放射していることがある。この波長領域では，劣化作用
が起こるが，実際の環境には存在しない領域である。
注記2 代表的な大気条件での太陽光分光放射照度は，CIE No.85に記載されている。この規格で
用いる基準の昼光は，CIE No.85の表4で定義する。
4.1.2 昼光の紫外線部分をシミュレートするには，タイプ1A(UVA-340)紫外線蛍光ランプ（表4のA法参
照），又はタイプ1A紫外線蛍光ランプに相当するランプを用いる。窓ガラスを通した紫外線部分をシミュ
レートするには，タイプ1B(UVA-351)ランプを用いる（表4のB法参照）。
4.1.3 蛍光ランプは，使用期間が長くなると著しく劣化する。自動放射照度コントロール・システムが装
備されていない場合， 目標とする放射照度を維持するのに必要な手順については，装置製造業者と協議す
る。
4.1.4 試験片への放射照度の均一性を保つために，暴露領域のすべての位置の放射照度が最大値の90 ％
未満である場合，試験片の配置を定期的に替える。配置替えを行う場合，放射露光量が均等になるように
する。
4
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表1−昼光紫外線対応のタイプ1A蛍光ランプの紫外部の相対分光放射照度（A法）a),b)
分光波長域
λ：波長 (nm)
タイプ1A(UVA-340)ランプ
A1
タイプ1Aランプの組合せ
A2
最小値c)
％
CIE No.85の
表4 d),e)
％
最大値c)
％
最小値c)
％
CIE No.85の
表4 d),e)
％
最大値c)
％
λ＜290
−
0
0.01
−
0
0
290≦λ≦320
5.9
5.4
9.3
4
5.4
7
320＜λ≦360
60.9
38.2
65.5
48
38.2
56
360＜λ≦400
26.5
56.4
32.8
38
56.4
46
注a) この表は，指定の波長域における放射照度，290 nm〜400 nmの放射照度に対する百分率で示す。特定のタ
イプ1A（UVA-340）ランプが，この表の要求に合致しているかどうかを判定するためには，250 nm〜400 nm
の分光放射照度を測定する。この測定は，通常2 nmごとに行う。 次に各波長域における放射照度を合計し，
290 nm〜400 nmの放射照度で除す。
b) この表のタイプ1A(UVA-340)ランプの最小値及び最大値は，異なる製造ロットのタイプ1A(UVA-340)ランプ
及び経時的にも様々な時間用いたランプによって，60回以上行った放射照度の測定結果に基づいている（参
考文献[2]参照）。分光放射照度のデータは，装置製造業者が推奨する使用可能時間範囲内にあるランプに適
用できる。さらに，多くの分光放射照度分布が得られれば，許容範囲の小規模な変更は可能である。最小値
及び最大値は，すべての測定値の平均値から3σ以内である。 紫外線蛍光ランプの組合せによる相対放射照
度の範囲は，装置製造業の推奨する暴露面積内の約50か所で測定された。
c) 最小値及び最大値の欄は，測定値の最小値及び最大値を記載しているので，合計は必ずしも100 ％にならな
い。個々の相対分光放射照度分布の百分率の合計は，この表の波長域で計算すると100 ％になる。個々のど
の紫外線蛍光ランプ，タイプ1A(UVA-340)に関しても，各波長域中の計算された割合は，この表の最小値及
び最大値の中に入ることを確認する。分光放射照度の許容範囲と異なったタイプのタイプ1A(UVA-340)ラン
プを使用した暴露試験では，結果は異なることが予測できる。用いるタイプ1A(UVA-340)ランプに関する分
光放射照度データが必要な場合は，試験装置の製造業者から入手する。
d) CIE No.85の表4の値は，エアマス1.0，標準気圧での大気オゾン含有量0.34 cm，下降水量1.42 cm，及び
500 nmでの混濁係数0.1のときにおける水平面全天放射照度である。これらの値を比較のために示す。
e) CIE No.85の表4に代表される太陽光について，290 nm〜800 nmの放射照度との百分率で示すと，紫外線放
射（290 nm〜400 nm）は11 ％で，可視放射（400 nm〜800 nm）は89 ％である。紫外線蛍光ランプの放射
は，300 nm〜400 nmの波長域に集中されるため，ランプの可視放射については利用できる十分なデータが
ない。紫外線蛍光ランプ装置で暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は，暴露される
試験片の数及び反射特性によって異なることがある。
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表2−窓ガラスを通した昼光対応のタイプ1B(UVA-351)蛍光ランプの
紫外部の相対分光放射照度（B法）a),b)
分光透過帯域
λ：波長 (nm)
最小値c)
％
CIE No.85の表4，
＋ 窓ガラス効果d),e)
％
最大値c)
％
λ＜300
−
0
0.2
300≦λ≦320
1.1
≦1
3.3
320＜λ≦360
60.5
33.1
66.8
360＜λ≦400
30.0
66.0
38.0
注a) この表は，指定の波長域における放射照度，290 nm〜400 nmの放射照度に対する百分率で示す。特定のタ
イプ1B(UVA-351)ランプが，この表の要求事項に合致しているかどうかを判定するためには，250 nm〜400
nmの分光放射照度を測定する。この測定は，通常2 nmごとに行う。次に，各波長域における放射照度を合
計し，290 nm〜400 nmの放射照度で除す。
b) この表のタイプ1B(UVA-351)ランプの最小値及び最大値は，異なる製造ロットのタイプ1B(UVA-351)ランプ
及び様々な時間用いたランプによって，21回行った放射照度の測定結果に基づいている（参考文献[2]参照）。
分光放射照度のデータは，装置製造業者が推奨する使用可能時間範囲内にあるランプに適用できる。さらに，
多くの分光放射照度分布が得られれば，許容範囲の小規模な変更は可能である。最小値及び最大値は，すべ
ての測定値の平均値から3σ以内である。
c) 最小値及び最大値の欄は，測定値の最小値及び最大値を記載しているので，合計は必ずしも100 ％になら
ない。個々の相対分光放射照度分布の値は，この表の波長域で計算すると百分率の合計が100 ％になる。
個々のどの紫外線蛍光ランプ，タイプ1B(UVA-351)に関しても，各波長域中の計算された割合は，この表の
最小値及び最大値の中に入ることを確認する。分光放射照度の許容範囲と異なったタイプ1B(UVA-351)ラン
プを使用した暴露試験では，結果は異なることが予測できる。用いるタイプ1B(UVA-351)ランプに関する分
光放射照度データが必要な場合は，試験装置の製造業者から入手する。
d) CIE No.85の表4のデータに窓ガラス効果を加えたもので，表4のデータに代表的な3 mm厚さの窓ガラス
（ISO 11341参照）の分光透過率を乗じて求めたものである。これらの値を比較のために示す。
e) CIE No.85の表4に窓ガラス効果を加えたデータに関しては，300 nm〜800 nmの全放射照度との百分率で示
すと，300 nm〜400 nmの紫外線放射は約9 ％で，可視放射(400 nm〜800 nm)は約91 ％である。紫外線蛍光
ランプの放射は，300 nm〜400 nmの波長域に集中されるため，ランプの可視光放射については利用できる
十分なデータがない。紫外線蛍光ランプ装置で暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合
は，暴露される試験片の数及び反射特性によって異なることがある。
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表3−タイプ2(UVB-313) 蛍光ランプの紫外部の相対分光放射照度（C法）a),b)
分光透過帯域
λ：波長 (nm)
最小値c)
％
CIE No.85の表4d),e)
％
最大値c)
％
λ＜290
1.3
0
5.4
290≦λ≦320
47.8
5.4
65.9
320＜λ≦360
26.9
38.2
43.9
360＜λ≦400
1.7
56.4
7.2
注a) この表は，指定の波長域における放射照度を，250 nm〜400 nmの放射照度に対する百分率で示す。特定の
タイプ2(UVB-313)ランプがこの表の要求事項に合致しているかどうかを判定するためには，250 nm〜400
nmの分光放射照度を測定する。この測定は，通常2 nmごとに行う。次に各波長域における放射照度を合計
し，250 nm〜400 nmの放射照度で除す。
b) この表のタイプ2(UVB-313)ランプの最小値及び最大値は，異なる製造ロットのタイプ2(UVB-313)ランプ及
び様々な時間用いたランプによって，44回行った放射照度の測定結果に基づいている（参考文献[2]参照）。
分光放射照度のデータは，装置製造業者が推奨する使用可能時間範囲内にあるランプに適用できる。さらに，
多くの分光放射照度分布が得られれば，許容範囲の小規模な変更は可能である。最小値及び最大値は，すべ
ての測定値の平均値から3σ以内である。
c) 最小値及び最大値の欄は，測定値の最小値及び最大値を記載しているので，合計は必ずしも100 ％になら
ない。個々の相対分光放射照度分布の値は，この表の波長域で計算すると百分率の合計は100 ％になる。
個々のどの紫外線蛍光ランプ，タイプ2(UVB-313)に関しても，各波長域中の計算された割合は，この表の
最小値及び最大値の中に入ることを確認する。 分光放射照度の許容範囲と異なったタイプ2(UVB-313)ラン
プを用いた暴露試験では，結果は異なることが予測できる。用いるタイプ2(UVB-313)ランプに関する分光
放射照度データが必要な場合は，試験装置の製造業者から入手する。
d) CIE No.85の表4の値は，エアマス1.0，標準気圧での大気オゾン含有量0.34 cm，下降水量1.42 cm，及び
500 nmでの混濁係数0.1のときにおける水平面全天放射照度である。これらの値を比較のために示す。
e) CIE No.85の表4に代表される太陽光については，290 nm〜800 nmの放射照度との百分率で示すと，紫外線
放射（290 nm〜400 nm）は11 ％で，可視放射（400 nm〜800 nm）は89 ％である。紫外線蛍光ランプの放
射は，300 nm〜400 nmの波長域に集中されるため，ランプの可視放射については，利用できる十分なデー
タがない。紫外線蛍光ランプ装置で暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は，暴露さ
れる試験片の数及び反射特性によって異なることがある。
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4.2
試験槽
試験槽は，試験結果に影響を与えないような材料で作製し，JIS K 7350-1の5.に規定する均一な放射が
でき，温度制御機能を備えているものを用いる。また，試験片表面への水の凝縮若しくは水の噴霧，又は
湿度の制御機能を必要とする。
4.3
放射計
放射照度制御を行うときは，放射計を用いることを奨励する。放射計を用いる場合は，JIS K 7350-1の
5.2による。自動放射照度制御システムが装備されていない場合，目標とする放射照度を維持するのに必要
な手順は，装置製造業者の指示に従う。
4.4
ブラックスタンダード温度計又はブラックパネル温度計
ブラックスタンダード温度計又はブラックパネル温度計は，JIS K 7350-1の5.1.5による。ただし，ブラ
ックスタンダード温度計は，金属板の厚さが0.5 mmのものとする。
4.5
水噴霧及び湿度制御装置
4.5.1
一般
水噴霧又は凝縮によって試験片を水分に暴露する。水噴霧又は凝縮を用いる試験条件を表4に示す。水
噴霧又は凝縮を用いる場合は，手順の詳細及び試験条件を試験報告書に記載する。
相対湿度の制御が必要な場合，制御が必要でない場合など，推奨する試験条件を表4に示す。
注記 凝縮期間，水の噴霧期間，又は空気の相対湿度は，高分子材料の光劣化に重大な影響を及ぼす
場合がある。
4.5.2
相対湿度の制御装置
暴露期間中に，相対湿度の制御が必要な場合がある。相対湿度制御が必要な試験では，湿度測定用セン
サの位置は，JIS K 7350-1の5.1.4による。相対湿度を制御する試験の場合，装置は，設定値に対して±10 ％
で維持できるものを用いる。
4.5.3
凝縮及び噴霧システム
試験槽は規定の条件下で，試験片の表面に水の凝縮を間欠的に起こすシステム，又は試験片の表面に水
を間欠的に噴霧するシステムを備え，凝縮又は噴霧は試験片に均一に分布していなければならない。噴霧
システムは，用いる水を汚染しない耐食性の材料で作る。
試験片表面への噴霧に用いる水は，試験片に目立った汚れ及び付着物が付かないものを用いる。要求さ
れる品質の水は，逆浸透膜とイオン交換樹脂との組合せで作ることができる。
注記 参考までに噴霧に用いる水の推奨する水質を示すと，電気伝導率5 μS/cm 未満，全固形分1 μg/g
未満及びシリカのレベル0.2 μg/g未満である。これらを測定する場合，JIS K 0101に規定する
測定方法を参照する。
4.6
試験片ホルダ
試験片ホルダは，試験片の裏面を開放した形又は試験片の裏面に裏当てをしたものでもよい。試験片ホ
ルダの材料は，試験結果に影響しない不活性なもの，例えば，酸化を起こさないアルミニウム又はステン
レス鋼とする。黄銅，鋼，又は銅は，試験片の近くで用いてはならない。裏当て及び裏当てと試験片との
間のすき間は（特に透明な試験片の場合），試験結果に影響を与える場合がある。裏当ての方法は，受渡当
事者間の協定による。
4.7
特性の変化を評価する機器
選択した特性は，JIS K 7362に規定する機器を用いて求める。
8
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5
試験片
試験片は，JIS K 7350-1の6.による。
6
試験条件
6.1
放射照度
紫外線放射照度は，表4に示す値に制御する。表4に記載されていない放射照度を用いる場合は，受渡当事
者間の協定による。測定した放射照度及び波長域を試験報告書に記載する。
6.2
温度
紫外線蛍光ランプは，太陽放射，キセノンアーク光源及びカーボン・アーク光源と比較すると，相対的
に可視光及び赤外線を，ほとんど放射していない。太陽放射とは異なり，紫外線蛍光ランプ装置では，試
験片の表面は，主にパネルを横切る加熱空気の対流によって熱せられる。したがって，ブラックスタンダ
ード温度計，ブラックパネル温度計，試験片表面及び試験槽の空気それぞれの間の温度差は，一般的には
2 ℃未満である。JIS K 7350-1で推奨しているホワイトスタンダード温度，又はホワイトパネル温度を追
加して測定する必要はない。
表4にブラックスタンダード温度を示す。ブラックスタンダード温度計の代わりに，ブラックパネル温
度計を用いてもよい。
注記 試験片の表面温度は，極めて重要な暴露のパラメータである。一般に，劣化過程は温度の上昇
とともに速く進行する。促進試験で許容される試験片の温度は，試験する材料及び想定する使
用条件によって決定する。
その他の温度は，受渡当事者間の協定による。協定の内容を，試験報告書に記載する。
凝縮期間を設ける場合の温度条件は，凝縮期間の温度平衡状態に適用される。水噴霧期間を設ける場合
の温度条件は，乾燥期間の終了時に対して適用される。短時間サイクル期間中で温度平衡が達成できない
ときは，水の噴霧を行わない状態で温度を設定し，乾燥期間中に到達した最高温度を報告する。
6.3
試験槽内空気の相対湿度
試験は，湿度が制御されていない試験槽内で行うか，又は規定の相対湿度に制御された試験槽内で行っ
てもよい。
暴露サイクルを表4に示す。
6.4
凝縮サイクル及び噴霧サイクル
凝縮サイクル及び噴霧サイクルは，受渡当事者間の協定による。ただし，表4に示すものが望ましい。
6.5
暗黒期間を含むサイクル
表4に示すサイクルNo.3及びサイクルNo.4の条件は，光源からの連続的な放射エネルギーが存在して
初めて有効となる。より複合的なサイクルを用いてもよい。これらのサイクルには，試料表面に凝縮を含
む暗黒期間が含まれる。
より複合的なサイクルでの試験は，詳細な設定条件を試験報告書に記載する。
6.6
暴露条件の設定
推奨する暴露条件を，表4に人工ウエザリング（A法），窓ガラスを通した昼光（B法）及びタイプ2
(UVB-313)ランプ（C法）として示す。
9
K 7350-3：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−暴露サイクル
A法：人工ウエザリング
サイクル
No.
ランプの
タイプ
暴露サイクル
放射照度
ブラックスタ
ンダード温度
℃
相対湿度
％
1
タイプ1A
(UVA-340)
8時間照射
340 nmにおいて
0.76 W/(m2・nm)
60±3
制御なし
4時間凝縮
暗黒
50±3
2
タイプ1A
(UVA-340)
8時間照射
340 nmにおいて
0.76 W/(m2・nm)
50±3
制御なし
0.25時間照射及
び水噴霧
制御なし
3.75時間凝縮
暗黒
50±3
3
タイプ1A
の組合せ
5時間照射
連続照射
45 W/m2（290 nm〜400 nm）
50±3
＜15
1時間照射及び
水噴霧
25±3
制御なし
4
タイプ1A
の組合せ
5時間照射
連続照射
45 W/m2（290 nm〜400 nm）
70±3
＜15
1時間照射及び
水噴霧
25±3
制御なし
B法：窓ガラスを通した昼光
5
タイプ1B
(UVA-351)
連続照射
（湿気なし）
340 nmにおいて
0.76 W/(m2・nm)
50±3
制御なし
C法：タイプ2 (UVB-313)ランプ
6
タイプ2
(UVB-313)
8時間照射
310 nmにおいて
0.48 W/(m2・nm)
70±3
制御なし
4時間凝縮
暗黒
50±3
注記1 この表の放射照度より高い放射照度条件で試験を実施した場合，ランプ寿命は著しく短くなる。
注記2 ブラックスタンダード温度の±3 ℃は，ブラックスタンダード温度計が，規定の設定値に安定状態にな
った場合の，前後の許容される変動である。これは任意の値から±3 ℃だけ変化してもよいという意味
ではない。
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K 7350-3：2008
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7
操作
7.1
一般
試験結果を統計的に評価するためには，試験ごとに，各材料で少なくとも3個の試験片を暴露すること
が望ましい。
7.2
試験片の取付け
試験片を試験槽内の試験片ホルダに取り付ける。各試験片は，暴露後の特性変化の測定に用いる部分を
避けて，消えることのない適切な印を付け識別する。確認用として，試験片の取付位置の配置図を作ると
よい。
色の変化及び外観の変化の測定に用いる試験片の場合には，必要に応じて，試験中各試験片の一部分を
不透明なカバーで覆ってもよい。これは，暴露部分に近い未暴露部分として比較用に用いるためである。
これは，暴露の進行過程を確認するのに役立つが，報告するデータは，必ず暗所に保管した保存試験片と
の比較に基づくものでなければならない。
均一な暴露状態が，確実に得られるように暴露領域の空き部分がないようにする。必要な場合は，ダミ
ーの試験片を試験片ホルダに取り付け，空き部分がないようにする。
7.3
暴露
7.3.1 試験片を試験槽内に取り付ける前に，装置が規定の条件で作動していることを確認する（箇条6参
照）。選択した試験条件を暴露期間中，連続的に行うようにプログラムする。試験条件の選択は，受渡当事
者間の協定による。また，その試験条件は，用いる装置の能力の範囲内にする。暴露期間中は，これらの
条件を維持する。試験装置の保守及び試験片の点検のための中断は，最小限度に抑える。
7.3.2 規定の暴露期間中に試験槽内に試験片を暴露し，必要に応じて，放射照度測定装置を取り付ける。
暴露期間中に，試験片の配置替えをすることが望ましい。試験片の配置替えについては，4.1.4による。
7.3.3 定期的な検査のために試験片を取り出す必要がある場合，暴露面に触れないように，かつ，作業に
よって表面をきずつけないように注意する。検査後，試験片は元の試験片ホルダに戻し，暴露面を元の方
向に向けて試験槽に戻す。
7.4
放射露光量の測定
放射計を用いるときは，試験片の暴露面での放射照度を示すように放射計を取り付ける。
放射露光量は，暴露期間中の290 nm〜400 nmの波長域での，暴露面の単位面積当たりの放射エネルギ
ー(J/m2)で表すか，又は選択した任意の波長（例えば，340 nm）における暴露面の単位面積当たりの放射エ
ネルギー［J/(m2・nm)］で表す。
7.5
暴露後の特性変化の測定
暴露後の特性変化の測定は，JIS K 7362による。
8
試験報告書
試験報告書に，次の事項を記載しなければならない。
a) この規格の規格番号
b) 試験片の詳細 試験片の詳細は，次による。
1) 試験片の仕様及び出所
2) 必要ならば化合物，硬化時間及び硬化温度の詳細
3) 試験片の作製方法の詳細
注記 暴露試験を請負機関で行う場合には，試験片は通常コード番号で認識する。請負機関が試験
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報告書に記載するのに必要な試験片の詳細は，依頼者が用意する。
c) 試験方法 試験方法は，次による。
1) 次の事柄を含む暴露装置及び光源の詳細
1.1) 装置
1.2) 用いたランプの詳細
1.3) 要求された場合には，試験片の表面における放射照度（測定時の波長域を含む。）
2) 用いたブラックパネル温度計のセンサのタイプ，及びセンサが試験片の暴露領域にない場合には，
センサの正確な位置
3) 要求された場合には，湿度を測定する機器のタイプ
4) 次の事項を含む暴露サイクルの詳細
4.1) 用いた温度計によって記録された温度の平均及び許容限度
4.2) 試験片上を流れる空気の相対湿度の平均及び許容限度
4.3) 水噴霧を含む試験の場合には，水噴霧の時間，及び水が暴露面の表面，裏面又は両面に噴霧され
たかどうか。試験片に目立った汚れ及び付着物が付いた場合には，噴霧に用いた水の水質
4.4) 水を試験片に凝縮させた場合には，その凝縮時間
4.5) 照射時間及び暗黒時間
5) 試験片の裏当てに用いた材料の詳細及び試験片の試験片取付枠への取付方法の詳細
6) 試験片の位置を入れ替えた場合には，その手順
7) 放射計で露光量を測定した場合には，その放射計の詳細
d) 試験結果 試験結果は，次による。
1) 報告した特性の測定に用いた手順の詳細
2) 次の事柄を含むJIS K 7362によって得られた結果
2.1) 試験片の特性測定の結果
2.2) コントロール試験片の特性測定結果
2.3) 測定した場合には，未暴露のファイル試験片（試験した試験片と同時に作製し，保存しておいた
試験片）の特性測定の結果
2.4) 暴露期間［時間，又は放射エネルギー(J/m2)及びその測定波長］
e) 試験年月日
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附属書A
（参考）
代表的な紫外線蛍光ランプの分光放射分布
序文
この附属書は，代表的な紫外線蛍光ランプの分光放射分布について記載するものであって，規定の一部
ではない。
A.1 一般
種々の紫外線蛍光ランプを，主に暴露用に用いることができる。この附属書で示しているランプは，そ
れらの代表的なものである。代わりに，他のランプ及び幾つかのランプの組合せを用いてもよい。どのラ
ンプを用いるかは，個々の使用環境によって決まる。ここで取り挙げているランプは，放射される全紫外
エネルギー量及び波長分布が互いに異なっている。ランプのエネルギー及び波長分布が違うと，試験結果
に著しい差が出る。したがって，試験報告書にランプの形式を記載することは，極めて重要なことである。
A.2 代表的な分光放射データ
A.2.1 タイプ1A(UVA-340)ランプ及びタイプ1B(UVA-351)ランプ
A.2.1.1 タイプ1A(UVA-340)ランプ及びタイプ1B(UVA-351)ランプの代表的な分光分布を，図A.1及び図
A.2に示す。
放射照度制御装置のない試験装置では，実際の露光量は，用いるランプの形式，製造業者，ランプの使
用時間，配列された一連のランプまでの距離及び暴露試験槽の空気温度によって異なる。フィードバック
ループ式放射照度制御装置付き試験装置では，選択した範囲内で様々な光強度を設定できる。
A.2.1.2 ほとんどの場合，タイプ1A(UVA-340)ランプが推奨される。CIE No.85の表4（昼光）と比較した
タイプ1A(UVA-340)ランプの分光分布を，図A.1に示す。
A.2.1.3 ほとんどの場合，タイプ1B(UVA-351)ランプは，窓ガラス透過後のシミュレーション用として用
いられる。CIE No.85の表4（窓ガラスを通した昼光分布）と比較した代表的なタイプ1B(UVA-351)ランプ
の分光放射照度を，図A.2に示す。タイプ1A(UVA-340)ランプとタイプ1B(UVA-351)ランプとでは分光放
射分布が異なっているので，異なる結果をもたらすことに注意する。
A.2.2 タイプ2(UVB-313)ランプ
図A.3は，一般に用いている2種類のタイプ2(UVB-313)ランプで，昼光と比較した分光分布を説明して
いる。これらのランプは，313 nmにピークがある。
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K 7350-3：2008
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1
CIE No.85の表4（昼光）
2
代表的タイプ1A(UVA-340)ランプの分光放射照度
X
波長 λ（nm）
Y
分光放射照度 Eλ［W/(m2･nm)］
図A.1−CIE No.85の表4（昼光）と比較した
代表的タイプ1A(UVA-340)ランプの分光放射照度分布
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K 7350-3：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
CIE No.85の表4（代表的な窓ガラスを通した昼光）
2
代表的タイプ1B(UVA-351)ランプの分光放射照度
X
波長 λ（nm）
Y
分光放射照度 Eλ［W/(m2･nm)］
図A.2−CIE No.85の表4（代表的な窓ガラスを通した昼光）と比較した
代表的タイプ1B(UVA-351)ランプの分光放射照度分布
15
K 7350-3：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
CIE No.85の表4（昼光）
2
代表的タイプ2(UVB-313)ランプの分光放射照度
X
波長 λ（nm）
Y
分光放射照度 Eλ［W/(m2･nm)］
図A.3−CIE No.85の表4（昼光）と比較した
代表的タイプ2(UVB-313)ランプの分光放射照度分布
参考文献
[1] CIE No.85:1989，Technical Report−Solar spectral irradiance
[2] ASTM G 154，Standard Practice for Operating Fluorescent Light Apparatus for UV Exposure of
Non-Metallic Materials
[3] ISO 11341，Paints and varnishes−Artificial weathering and exposure to artificial radiation−
Exposure to filtered xenon−arc radiation
[4] JIS K 0101 工業用水試験方法
[5] JIS K 5600-7-8 塗料一般試験方法−第7部：塗膜の長期耐久性−第8節：促進耐候性（紫
外線蛍光ランプ法）
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附属書JA
（参考）
JISと対応する国際規格との対比表
JIS K 7350-3:2008 プラスチック−実験室光源による暴露試験方法−第3部：紫外線蛍
光ランプ
ISO 4892-3:2006，Plastics−Methods of exposure to laboratory light sources−
Part 3: Fluorescent UV lamps
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際規格番
号
(Ⅲ)国際規格の規定
(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
箇条番号及び名
称
内容
箇条番
号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4 装置
4.3 放射計
放射計につい
て規定
4.3
JISにほぼ同じ
ISO 4892-1を引用
変更
JIS K 7350-1の5.2の引用に変
更
引用規格の構成の変更のた
め，技術的差異はない。
4.4 ブラックス
タンダード温度
計又はブラック
パネル温度計
温度計につい
て規定
4.4
JISにほぼ同じ
ISO 4892-1を引用
追加
JIS K 7350-1の5.1.5のすべて
の引用をやめ，温度計の板の
厚さを追加
JISは，ISO 4892-1:1994に対
応しているが，最新版のISO
4892-1:1999には対応していな
い部分があり，その部分の規
定を追加した。技術的差異は
ない。
4.5.3 凝縮及び
噴霧システム
噴霧に用いる
水質を参考記
載
4.5.3
噴霧に用いる水質を規定 変更
噴霧に用いる水質を，規定か
ら参考の注記に変更し，ISO
4892-3に記載されていない水
質項目の測定方法(JIS K
0101)を，参考として追記
ISO 4892-3には，噴霧に用い
る水質の規定があるが，この
規格の使用実態に則して変更
した。今後，ISO 4892-3の修
正をTC61/SC6へ申し入れる。
7 操作
7.3 暴露
暴露について
規定
7.3
JISにほぼ同じ
変更
細分箇条の追加
構成の変更のため，技術的差
異はない。
7.3.2
試験片の配置
替えについて
規定
7.3
JISにほぼ同じ
ISO 4892-1を引用
変更
JIS K 7350-1の引用をやめ，引
用している内容を記述
JISは，ISO 4892-1:1994に対
応しているが，最新版のISO
4892-1:1999に追加された部分
を含めた。技術的差異はない。
2
K
7
3
5
0
-3
：
2
0
0
8
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際規格番
号
(Ⅲ)国際規格の規定
(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
箇条番号及び名
称
内容
箇条番
号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
8 試験報告書
試験報告書の
詳細について
規定
8
JISにほぼ同じ
追加
JIS K 7350-1の引用をやめ，詳
細に報告項目を記載し，ISO
規格の最新版の規定を追加
JISは，ISO 4892-1:1994に対
応しているが，最新版のISO
4892-1:1999に追加された部分
を含めた。技術的差異はない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 4892-3：2006，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD················ 国際規格を修正している。
2
K
7
3
5
0
-3
：
2
0
0
8