K 6266：2007
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 原理······························································································································· 4
5 試験の種類 ······················································································································ 4
6 直接屋外暴露試験 ············································································································· 4
6.1 目的 ···························································································································· 4
6.2 試験装置 ······················································································································ 4
6.3 試験片 ························································································································· 5
6.4 試験方法 ······················································································································ 6
6.5 暴露後の試験片の評価 ···································································································· 7
6.6 試験結果のまとめ方 ······································································································· 9
6.7 記録 ···························································································································· 9
7 アンダーグラス屋外暴露試験 ····························································································· 10
7.1 目的 ··························································································································· 10
7.2 試験装置 ····················································································································· 10
7.3 試験片 ························································································································ 11
7.4 試験方法 ····················································································································· 11
7.5 暴露後の試験片の評価 ··································································································· 12
7.6 試験結果のまとめ方 ······································································································ 12
7.7 記録 ··························································································································· 12
8 太陽追跡集光暴露試験 ······································································································ 12
8.1 目的 ··························································································································· 12
8.2 試験装置 ····················································································································· 13
8.3 試験片 ························································································································ 13
8.4 試験方法 ····················································································································· 13
8.5 暴露後の試験片の評価 ··································································································· 13
8.6 試験結果のまとめ方 ······································································································ 13
8.7 記録 ··························································································································· 13
9 オープンフレームカーボンアーク試験 ················································································· 13
9.1 目的 ··························································································································· 13
9.2 試験装置 ····················································································································· 14
9.3 試験片 ························································································································ 16
9.4 試験方法 ····················································································································· 16
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（2）
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ページ
9.5 放射露光量の測定 ········································································································· 17
9.6 暴露後の試験片の評価 ··································································································· 18
9.7 試験結果のまとめ方 ······································································································ 18
9.8 記録 ··························································································································· 18
10 キセノンアーク試験 ······································································································· 19
10.1 目的 ·························································································································· 19
10.2 試験装置 ···················································································································· 19
10.3 試験片 ······················································································································· 20
10.4 試験方法 ···················································································································· 20
10.5 放射露光量の測定 ········································································································ 21
10.6 暴露後の試験片の評価 ·································································································· 21
10.7 試験結果のまとめ方 ····································································································· 21
10.8 記録 ·························································································································· 21
11 紫外線蛍光灯試験 ·········································································································· 21
11.1 目的 ·························································································································· 21
11.2 試験装置 ···················································································································· 21
11.3 試験片 ······················································································································· 23
11.4 試験方法 ···················································································································· 23
11.5 放射露光量の測定 ········································································································ 24
11.6 暴露後の試験片の評価 ·································································································· 24
11.7 試験結果のまとめ方 ····································································································· 24
11.8 記録 ·························································································································· 24
附属書A （参考） ウェザリング基準材料 ················································································ 25
附属書B （参考） 暴露後の評価に使用できる特性の例 ······························································ 28
附属書JA （参考） 耐候性試験の一般事項 ·············································································· 29
附属書JB （参考） ウェザリング基準材料の劣化特性 ······························································· 32
附属書JC （参考） 遮へい（蔽）暴露試験 ·············································································· 48
附属書JD （参考） JISと対応する国際規格との対比表 ····························································· 51
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（3）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本ゴム工業会
(JRMA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申
出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによっ
て，JIS K 6266 : 1996は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
K 6266：2007 目次
（4）
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白 紙
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
K 6266：2007
加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−
耐候性の求め方
Rubber, vulcanized or thermoplastic-
Determination of resistance to weathering
序文
この規格は，2006年に第2版として発行されたISO 4665を基にし，技術的内容を変更して作成した日
本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JDに示す。
警告
この規格の利用者は，通常の実験室での作業に精通しているものとする。この規格は，その使用に
関して起こるすべての安全上の問題を取り扱おうとするものではない。この規格の利用者は，各自
の責任において安全及び健康に対する適切な措置を取らなければならない。
1
適用範囲
この規格は，加硫ゴム及び熱可塑性ゴム（以下，加硫ゴムという。）の，屋外暴露試験及び実験室光源暴
露試験について規定し，更に暴露後の試験片の色，外観，物理特性などの変化(耐候性)を求める方法につ
いて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 4665 : 2006，Rubber, vulcanized or thermoplastic−Resistance to weathering (MOD)
なお，対応の程度を表す記号 (MOD) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，修正していることを
示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS K 5600-4-4 塗料一般試験方法−第4部：塗膜の視覚特性−第4節：測色（原理）
注記 対応国際規格：ISO 7724-1 : 1984，Paints and varnishes−Colorimetry−Part 1 : Principles (IDT)
JIS K 5600-4-5 塗料一般試験方法−第4部：塗膜の視覚特性−第5節：測色（測定）
注記 対応国際規格：ISO 7724-2 : 1984，Paints and varnishes−Colorimetry−Part 2 : Colour
measurement (IDT)
JIS K 5600-4-6 塗料一般試験方法−第4部：塗膜の視覚特性−第6節：測色（色差の計算）
注記 対応国際規格：ISO 7724-3 : 1984，Paints and varnishes−Colorimetry−Part 3 : Calculation of
2
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colour difference (IDT)
JIS K 6200 ゴム用語
JIS K 6250 ゴム−物理試験方法通則
注記 対応国際規格：ISO 23529 : 2004，Rubber−General procedures for preparing and conditioning test
pieces for physical test methods (MOD)
JIS K 6251 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−引張特性の求め方
JIS K 6252 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−引裂強さの求め方
JIS K 6253 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−硬さの求め方
JIS K 6259 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−耐オゾン性の求め方
注記 対応国際規格：ISO 1431-1 : 1989，Rubber，vulcanized or thermoplastic−Resistance to ozone
cracking−Part 1 : Static strain test (MOD)
JIS K 7219 プラスチック−直接屋外暴露，アンダーグラス屋外暴露及び太陽集光促進屋外暴露試験
方法
注記 対応国際規格：ISO 877 : 1994，Plastics−Methods of exposure to direct weathering, to weathering
using glass-filtered daylight, and to intensified weathering by daylight using Fresnel mirrors (IDT)
JIS K 7350-1 プラスチック−実験室光源による暴露試験方法 第1部：通則
注記 対応国際規格：ISO 4892-1 : 1994，Plastics−Methods of exposure to laboratory light sources−Part
1 : General guidance (IDT)
JIS K 7350-2 プラスチック−実験室光源による暴露試験方法 第2部：キセノンアーク光源
注記 対応国際規格：ISO 4892-2 : 1994，Plastics−Methods of exposure to laboratory light sources−Part
2 : Xenon-arc sources (IDT)
JIS K 7350-3 プラスチック−実験室光源による暴露試験方法−第3部：紫外線蛍光ランプ
注記 対応国際規格：ISO 4892-3 : 1994，Plastics−Methods of exposure to laboratory light sources−Part
3 : Fluorescent UV lamps (IDT)
JIS K 7350-4 プラスチック−実験室光源による暴露試験方法−第4部：オープンフレームカーボン
アークランプ
注記 対応国際規格：ISO 4892-4 : 1994，Plastics−Methods of exposure to laboratory light sources−Part
4 : Open-flame carbon-arc lamps (IDT)
JIS K 7363 プラスチック−耐候性試験における放射露光量の機器測定−通則及び基本的測定方法
JIS L 0801 染色堅ろう度試験方法通則
JIS L 0804 変退色用グレースケール
注記 対応国際規格：ISO 105-A02 : 1993，Textiles−Tests for colour fastness−Part A02 : Grey scale for
assessing change in colour (MOD)
JIS R 3202 フロート板ガラス及び磨き板ガラス
JIS Z 2381 大気暴露試験方法通則
JIS Z 8401 数値の丸め方
JIS Z 8720 測色用標準イルミナント（標準の光）及び標準光源
JIS Z 8741 鏡面光沢度−測定方法
CIE Publication No.85 Technical Report−Solar spectral irradiance
3
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3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS K 6200，JIS K 7219及びJIS K 7350-1によるほか，次によ
る。
3.1
耐候性
自然環境のうち，主として日光，雨雪，温度及び湿度による色，外観，物理特性などの変化に対する抵
抗性。特に，耐候性のうち，日光，温度及び湿度による変化に対する抵抗性を耐光性という。
3.2
ブラックパネル温度
耐候性試験装置の試験片取付け枠に取り付けたブラックパネル温度計の指示する温度で，試験片の表面
温度を代表する温度。
3.3
ブラックスタンダード温度
耐候性試験装置の試験片取付け枠に取り付けたブラックスタンダード温度計の指示する温度で，試験片
の表面温度を代表する温度。
3.4
コントロール試験片（control）
暴露後の試験片と比較するために同時に暴露する試験片。
注記 コントロール試験片は，試験片と同じか若しくは似通った組成をもつもの又はその暴露条件に
対して既知の応答をするものであればよい。コントロール試験片は，材料の性能比較を行うと
き，又は実験室光源暴露試験で暴露条件が適切に行われたことの検証に用いることができる。
異なった時期に作製したものは，製品のロット間のばらつきの比較及び資材の受入検査の比較
に用いることができる。
3.5
保存試験片（file test piece）
試験に用いる材料の一部で，安定した条件下で，保管し，暴露後の状態と暴露前の状態（初期値）とを
比較するために用いるもの。
3.6
マスキング面（masked area）
マスキングによって光暴露から保護した試験片の一部分。試験片と比較するのに用いる。
注記 マスキング面は，試験前の初期値として利用する。光照射条件だけを除いた効果を調べるため
にも用いることができる。
3.7
ウェザリング基準材料（weathering reference material）
同一条件で暴露したとき，繰返し再現性のある基準材料で，附属書Aによるほか，ウェザリングによる
特性の劣化が文書化されているもの。
注記 ウェザリング基準材料は，材料の性能の評価などに用いるもので試験片と同時に暴露する。コ
ントロール試験片としても使用することができる。
3.8
暴露ステージ（exposure stage）
4
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試験片の暴露試験を行う中間及び最終の暴露段階。試験時間 (h)，放射露光量 (kJ/m2)，又は分光放射露
光量 [kJ/(m2･nm)]で表示する。
注記 放射露光量は，特定波長域（例えば，最も代表的な300〜400 nm）の放射の積算値をいい，分
光放射露光量は，単波長（例えば，340 nm）を中心とする狭帯域の放射の積算値をいう。
4
原理
試験片を屋外暴露又は実験室光源暴露雰囲気にさらし，試験片の色，外観及び必要な物理特性の変化を
求める。ゴムの耐候性試験の一般事項は，参考として附属書JAに記載する。
5
試験の種類
試験の種類は，表1の6種類とし，この中から選択して用いる。
なお，遮へい（蔽）暴露試験については，参考として附属書JCに記載する。
表1−試験の種類
暴露方法の区分
種類
屋外暴露方法
直接屋外暴露試験
アンダーグラス屋外暴露試験
太陽追跡集光暴露試験
実験室光源暴露方法
オープンフレームカーボンアーク試験
キセノンアーク試験
紫外線蛍光灯試験
6
直接屋外暴露試験
6.1
目的
この試験は，屋外暴露試験装置を用いて，直接太陽光下における加硫ゴムの耐候性を調べるために行う。
6.2
試験装置
試験装置は，暴露架台，試験片保持枠，試験片取付け具などで構成し，暴露試験に適した堅ろうな構造
で，JIS K 7219の5.2（A法に用いる暴露試験装置）及びJIS Z 2381の7.2.1（直接暴露試験方法）による。
ただし，暴露架台並びに試験片保持枠及び試験片取付け具は，次による。図1にその一例を示す。
a) 暴露架台 暴露架台は，暴風雨，積雪荷重及び暴露架台の全面に試験片を取り付けた場合の最大荷重
に耐える強度及び耐久性をもつものとする。暴露架台の構成材料は，試験片の化学的性質，物理的性
質及び性能の経時変化に影響を与えない耐食性のあるステンレス鋼，アルミニウム合金，表面処理を
施した鉄鋼などの金属の形材，適切な防腐処理を施した木材などの不活性な材料とする。
暴露架台は，試験片面が規定の暴露方位及び角度に設定でき，維持できる構造とする。受光をより
効率よくするために，暴露方位及び暴露角度を調節して太陽を追跡できる装置を用いてもよい。この
場合には，試験成績表に記録する。
暴露架台の接地面から暴露試験を行う試験片の最下端部までの距離は，500 mm以上とする。
b) 試験片保持枠及び試験片取付け具 試験片保持枠及び試験片取付け具は，試験片の種類，形状，寸法
及び暴露試験条件に適した構造とし，試験片の化学的性質，物理的性質及び性能の経時変化に影響を
及ぼさない不活性な材料とする。
試験片の取付け機構は，試験片の自由変形を妨げず，試験片が脱落するおそれがない構造とし，試
験片の取付け及び取外しが容易で，かつ，安全に取り扱うことができるものとする。
5
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図1−直接屋外暴露試験装置の一例
c) 放射照度計 放射照度計は，JIS K 7219の5.5.1（太陽放射を測定する装置）に規定するもの。
6.3
試験片
6.3.1
試験片の形状及び寸法
試験片の形状及び寸法は，次による。
a) 色変化及び外観変化測定用試験片 色変化及び外観変化測定用試験片は，長さ約100 mm以上，幅約
50 mm以上，厚さ2.0 ± 0.2 mmの短冊状で，かつ，表面が平滑なもの。それ以外の寸法は，受渡当事
者間の協定による。
b) 物理特性変化測定用試験片 物理特性変化測定用試験片は，引張特性，引裂強さ，硬さなどを評価す
るもので，JIS K 6251，JIS K 6252又はJIS K 6253に規定する形状及び寸法とする。
シート，その他の形状の試験片又はa) の試験片を用いて暴露し，暴露後，所定の寸法に切り取っ
てもよい。この場合には，試験片取付け具から20 mmの部分を除いて評価し，試験成績表に記録する。
6.3.2
試験片の採取・作製
試験片の採取・作製は， JIS K 6250の箇条8（試験片の採取・作製）による。
6.3.3
試験片の数
試験片の数は，次による。
a) 色変化及び外観変化測定用試験片 暴露ステージごとに3個とする。暴露ステージごとに試験片の保
管の必要がない場合には，測定後に暴露を継続してもよい。
b) 物理特性変化測定用試験片 暴露ステージごとに，JIS K 6251，JIS K 6252又はJIS K 6253に規定す
る数とする。必要な試験片の総数は，この数に暴露ステージ数を乗じた数である。
6.3.4
試験片の厚さ及び幅の測定
試験片の厚さ及び幅の測定は，JIS K 6250の箇条10（寸法測定方法）による。
6
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6.4
試験方法
6.4.1
試験条件
試験条件は，次による。
a) 試験片及び保存試験片の保管は，JIS K 6250の箇条7（試料及び試験片の保管）による。
b) 試験は，試験片にひずみを与えない状態で実施する。ただし，ひずみを与えて試験する場合には，JIS
K 6259による。
c) 暴露条件は，次による。
1) 試験片の暴露面の方位は，赤道面とし，暴露角度は，暴露場所の緯度とするか，又は水平面から45
度の角度とする。1年間に最も多く太陽放射を受けるようにするために，水平面からの仰角をその
暴露場所の緯度マイナス10度としてもよい。また，必要に応じて，水平面から10〜90度までの間
の角度としてもよい。用いた角度は，試験成績表に記録する。
2) 樹木，建物などから十分に離れた広い場所で，仰角20度以上に障害物があってはならない。周辺の
植物は，低く刈っておく。
注記 信頼性の高い試験を行うためには，暴露試験は幾つかの環境で行うとよい。例えば，使用
する条件にできるだけ近い環境をもつ場所など。
3) 暴露ステージは，時間又は放射露光量若しくは分光放射露光量のいずれかによる。放射露光量又は
分光放射露光量の求め方は，JIS K 7363による。時間による場合には，次による。
3.1) 1か月，3か月，6か月又は9か月
3.2) 1か年，1.5か年，2か年，3か年，4か年，5か年又は6か年
注記 1年未満の暴露ステージの結果は，暴露を行った季節に依存する。暴露ステージが長い場
合には，季節の影響は平均化されるが，暴露を始めた季節によって結果が異なるおそれが
ある。例えば，春開始か又は秋開始かによる。
6.4.2
測定方法
測定方法は，次による。
a) 試験片の暴露に先立ち，試験片及び必要に応じコントロール試験片の特性値を測定する。
b) 試験片及び必要に応じコントロール試験片をそのまま，又はマスクを施した試験片を試験片取付け具
に取り付ける。保存試験片を用いる場合には，試験片の暴露期間と同一期間，冷暗所に保管する。
c) 試験片の周囲は，十分なゆとりをもたせ，試験片に著しいひずみを与えないようにする。
d) 試験片の裏側にマーキングを付ける。マーキングは，試験の結果に影響しないようにする。照合のた
めに，取付け配置図を作成しておくとよい。
e) 試験片取付け具に取り付けた試験片及び必要に応じコントロール試験片を，暴露架台に固定する。
f)
放射照度計を用いる場合には，放射照度計を暴露架台に取り付ける。
g) 暴露期間中試験片は洗浄しない。もし，洗浄を要求されたときは，清浄な水又は石けん水（2 %非ア
ルカリ性石けん水）を用いて洗う。また，暴露表面をこすったりなどして，きずを付けないように注
意する。緩んだ試験片の再固定，試験片の状態の記録，装置の損傷の補修などのために，定期的な点
検及び保守管理を行うことが望ましい。
h) 暴露期間中，次の項目について観測を行う。
なお，各項目は，近隣の気象測候所などのデータを利用してもよい。
1) 放射露光量又は分光放射露光量
2) 気温（日最高の月平均及び日最低の月平均並びに月最高･最低）
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3) 相対湿度（日最高の月平均及び日最低の月平均並びに月最高･最低）
4) その他必要事項
i)
規定の暴露ステージ（試験時間，放射露光量又は分光放射露光量）に達したとき，暴露架台から試験
片を取り外す。
j)
目視で試験片の変化を調べる。次いで，試験片の表面を清浄な水又は石けん水（2 %非アルカリ性石
けん水）で洗い，風乾した後，色，外観及び／又は物理特性の変化を測定する。
6.5
暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，暴露前の試験片との比較によって行い，次による。また，6.5.1 a) 1)（目視に
よる方法）では，暴露前の試験片として保存試験片又はマスキング面を用いる。
なお，暴露後の評価に使用できる特性の例を，附属書Bに記載する。
6.5.1
色変化及び外観変化の評価
色変化及び外観変化の評価は，次による。
a) 色変化の評価 色変化の評価は，目視による方法又は測色計による方法のいずれかを選択して用い，
次による。
1) 目視による方法 暴露後の試験片と保存試験片又はマスキング面との色の差を，JIS L 0804に規定
する変退色用グレースケールを用いて比較し，色の差に一致するグレースケールの色票の号数によ
って色変化の度合いを表示する。変退色用グレースケールを用いて試験片の変化を比較する方法は，
JIS L 0801によってもよい。
なお，表2のいずれかの色変化又は組み合わせた色変化の種類を観察し，色変化の度合いに併記
することが望ましい。
例 表示の例“変退色用グレースケール2-3号，黄みが増し，よりくすみ，明るくなった。”
表2−色変化の種類
色相変化
彩度変化
明度変化
青みが増した又は減った
緑みが増した又は減った
赤みが増した又は減った
黄みが増した又は減った
よりくすんだ
よりさえた
明るくなった
暗くなった
色の差を比較するときは，直射日光を避け，北空昼光1) 又はこれに相当する600 lx以上の明るさの照明
光源下で行う。照明光源は，JIS Z 8720による常用光源D65を用いることが望ましい。光線は約45度の角
度で表面に当て，観察する方向は試験片及びグレースケールの表面に対してほぼ直角になるようにする。
注1) 日の出の3時間後から日没3時間前までの北空昼光で，周辺の建物，部屋の内装などの環境色
の影響を受けない光。
2) 測色計による方法 測色計による方法は，JIS K 5600-4-4，JIS K 5600-4-5及びJIS K 5600-4-6の規
定に従って，測色計を用い，暴露前後の試験片の三刺激値X，Y，Z又はX10，Y10，Z10を測定し，次
の式 (1) 〜式 (4) によって，色差 (ΔE*ab) 及び色差の成分 (ΔL*ab, ΔC*ab, ΔH*ab) を算出する。
(
)()()
[
]21
2
*
2
*
2
ab
*
ab
*
b
a
L
E
∆
+
∆
+
∆
=
∆
···················································· (1)
(
)(
)(
)
[
]21
2
ab
*
2
ab
*
2
ab
*
ab
*
C
L
E
H
∆
−
∆
−
∆
=
∆
··············································· (2)
8
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(
)(
)21
2
0
*
2
0
*
2
1
21*
21*
ab,0
*
ab,1
*
ab
*
b
a
b
a
C
C
C
+
−
+
=
−
=
∆
································ (3)
ab,0
*
ab,1
*
ab
*
Δ
L
L
L
−
=
····································································· (4)
ここに，
ΔE*ab： 暴露前後の試験片の色差
ΔL*ab： 暴露前後の試験片の明度の差
Δa*，Δb*： 暴露前後の試験片の各色度座標の差
ΔH*ab： 暴露前後の試験片の色相の差
ΔC*ab： 暴露前後の試験片の彩度の差
C*ab，0： 暴露前の試験片の彩度量
C*ab，1： 暴露後の試験片の彩度量
a*0，b*0： 暴露前の試験片の各色度座標
a*1，b*1： 暴露後の試験片の各色度座標
L*ab，0： 暴露前の試験片の明度
L*ab，1： 暴露後の試験片の明度
b) 外観変化の評価 外観変化の評価は，目視によって次の項目について行うことが望ましい。
1) 光沢，ブルーミング，ブリード及びフロスチング
光沢の変化の測定は，次の方法を用いてもよい。
JIS Z 8741によって，光沢計を用いて，暴露前後の試験片の60度鏡面光沢度又はその他の角度の
鏡面光沢度を測定し，次の式 (5) によって光沢残存率 (γ) を算出し，光沢の変化を表示する。
100
0
1×
=Gs
Gs
γ
············································································ (5)
ここに，
γ： 光沢残存率 (%)
Gs0： 暴露前の試験片の鏡面光沢度 (%)
Gs1： 暴露後の試験片の鏡面光沢度 (%)
2) クレージング（ひび割れ）及びき裂（クラッキング)
注記 屋外で暴露した試験片のき裂（クラッキング）又はクレージングは，オゾンと同様に光に
よっても生じることがある。その見分けは，特に明るい色のゴムでは難しい。日光による
クレージングの特徴は，浅いき裂であり，ひずみと無関係に生じる。疑わしい場合には，
比較のために，ひずみを与えた試験片とともにひずみを与えない試験片を暴露するとよい。
3) チョーキング（白亜化）
6.5.2
物理特性変化の評価
物理特性変化の評価は，次の式 (6)，式 (7) 又は式 (8) によって，暴露前後の試験片から引張強さ，切
断時伸び，引張応力，引裂強さ，硬さなどの残留率，変化率又は変化として算出する。それぞれの測定は，
JIS K 6251，JIS K 6252又はJIS K 6253による。暴露前後の試験片の測定条件は，同一とする。
a) 残留率
100
0
1
R
×
=XX
W
·········································································· (6)
ここに，
WR： 各特性の残留率 (%)
X0： 暴露前の試験片の各特性の測定値
X1： 暴露後の試験片の各特性の測定値
b) 変化率
Wc
100
0
0
1
×
−
=
X
X
X
······································································ (7)
ここに，
Wc： 各特性の変化率 (%)
9
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
X0： 暴露前の試験片の各特性の測定値
X1： 暴露後の試験片の各特性の測定値
c) 変化
WH＝H1−H0 ············································································· (8)
ここに，
WH： 硬さの変化
H0： 暴露前の試験片の硬さ
H1： 暴露後の試験片の硬さ
d) 暴露期間に対する特性値のプロット
6.5.3
その他の特性の評価
その他の特性の評価は，寸法変化，応力緩和，電気抵抗，引張永久ひずみなどについて行うことが望ま
しい。
6.6
試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，次による。
a) 色変化 目視による色の変化は，6.5.1 a) 1) による結果を試験片ごとに表示する。測色計による色の
変化は，6.5.1 a) 2) によって算出した色差及び色差の成分の試験片3個の平均値を，JIS Z 8401によ
って丸めの幅1で表す。
b) 外観変化 外観変化は，6.5.1 b) による結果を試験片ごとに表示する。定性的な外観変化及び表面特
性の変化の評価方法を用いてもよい。例えば，次のような方法がある。
0−なし
1−ほとんど感知できない
2−中程度
3−著しい
光沢残存率を求める場合には，試験片3個の測定結果の平均値をJIS Z 8401によって丸めの幅1で
表す。き裂（クラッキング）の評価は，JIS K 6259による。
c) 物理特性変化 物理特性変化は，6.5.2による結果をJIS Z 8401によって丸めの幅1で表す。
d) その他の特性変化 その他の特性変化は，6.5.3による結果を試験片ごとに表す。
6.7
記録
試験成績表には，次の事項を記録する。
a) 適用規格番号
b) 試料の詳細
1) 試料の明細，履歴など
2) 配合の明細，加硫条件など
3) 試験片作製方法
4) ウェザリング基準材料を用いた場合は，その明細
c) 試験の詳細
1) 物理特性の変化を測定するのに用いた方法の規格名称
2) 暴露方法の種類及び試験装置
3) 暴露場所の位置及び明細
4) 暴露ステージ決定に用いた手順（放射露光量，分光放射露光量又は時間）
5) 暴露前の試験片として保存試験片又はマスキング面を用いた場合は，その種類
6) 試験片にひずみを与えたか，もし与えた場合には，その程度
10
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7) 裏打ち又は支持具の性質
8) 保存試験片の保管条件
9) 放射露光量又は分光放射露光量を決めるのに用いた方法
10) 水洗の明細（該当するとき）
11) その他この規格の規定と異なった試験方法
d) 試験結果
1) 暴露ステージ
2) 気象データ（放射露光量又は分光放射露光量，気温，相対湿度，その他必要な事項）
3) 色変化
4) 外観変化（測ったとき）
5) ひずみを与えた試験片の場合には，き裂（クラッキング）の劣化等級
6) 各物理特性値の個々の値（暴露前）
7) 各暴露ステージ後の各物理特性値の試験結果
8) 各物理特性値の残留率，変化率及び変化，並びに各測定値の単位
e) 試験年月日
f)
その他必要な事項
7
アンダーグラス屋外暴露試験
7.1
目的
この試験は，屋外暴露試験装置を用いて，ガラスを透過した太陽光(昼光)下における加硫ゴムの耐光性
を調べるために行う。
7.2
試験装置
暴露試験装置は，試験用暴露架台及び建築用窓ガラス，風防ガラス，自動車用窓ガラスなどの適切なガ
ラスのふたで枠組みされ，底部が解放された箱で構成する。試料を直接に，又は適切な試料ホルダによっ
て取り付ける試料保持枠は，箱のガラスカバー面に平行に設置しなければならない。暴露試験装置は，太
陽高度（すなわち，太陽の仰角）又は方位に関して調節できることが望ましい。
ガラスのふたと試料保持枠との間は，適切な換気ができるように十分な間隔が必要である。例えば，こ
の間隔は，最低75 mmが必要である。ガラスふたの枠による影を最小にするため，ガラスの下で暴露に使
用できる面積は，ガラスカバーと試料との距離によって決まる面積だけ縮小された範囲に限定しなければ
ならない。
暴露架台，試験片保持枠及び試験片取付け具及び放射照度計は，6.2による。ただし暴露架台の上面は，
ガラスで覆った試験箱を取り付けた構造とする。装置の一例を，図2に示す。
11
K 6266：2007
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図2−アンダーグラス屋外暴露試験装置の一例
a) 試験箱の構造の形式は，次のいずれかによる。
1) 自然通風形 雨水の影響を受けず，外気が自由に流通し，かつ，試験箱内の温度の上昇を少なくす
るために，試験箱側面の一部及び底面は開放した構造とする。
2) 強制通風形 試験箱内の温度を調節するための換気機構をもつ構造とする2)。
3) 密閉形 試験箱の全面をふさぎ，外気が自由に流通できない構造とする。
注2) 強制通風に伴って外気中の汚染物質を試験箱内に蓄積する可能性がある。
b) 使用するガラスは，JIS R 3202に規定するフロート板ガラスとし，平らで欠陥がなく，波長370〜830
nmの範囲の分光透過率が約90 %以上，波長310 nm以下の分光透過率が1 %以下の板ガラスが望まし
い。板厚は，通常，2〜3 mmとするが，風圧，積雪，降ひょうなど，その地域の気象条件によって変
えてもよい。ただし，その場合には，厚さを試験成績表に記録する。
ガラスの使用期間は，通常，2年とする。
c) ガラスは，弾性シーラント又はガスケットを用いて試験箱にはめ込み，雨，雪及び漏水の影響が試験
片に生じないようにする。受渡当事者間の協定によって，ガラスは，他の種類の板ガラス又は窓用プ
ラスチック材料を用いてもよい。
d) 試験片の上面と試験箱のガラス下面との距離が75 mm以上とする。
注記 アンダーグラス屋外暴露は，直接屋外暴露と比較すると，太陽光の分光分布の相違及びアン
ダーグラス試験箱内の温度と大気の温度との相違によって異なった結果を生じることが多い。
7.3
試験片
試験片は，6.3による。
7.4
試験方法
7.4.1
試験条件
試験条件は，6.4.1による。
12
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7.4.2
操作方法
操作方法は，次による。
a) 試験片の暴露に先立ち，試験片及び必要に応じコントロール試験片の特性値を測定する。
b) 試験片及び必要に応じコントロール試験片をそのまま，又はマスクを施した試験片を試験片取付け具
に取り付ける。保存試験片を用意する場合には，試験片の暴露期間と同一期間，冷暗所に保管する。
c) 試験片の周囲は，十分なゆとりをもたせ，試験片に著しいひずみを与えないようにする。
d) 試験片の裏側にマーキングを付ける。マーキングは，試験の結果に影響しないようにする。照合のた
めに，取付け配置図を作成しておくとよい。
e) 試験片取付け具に取り付けた試験片及び必要に応じコントロール試験片を，暴露架台に固定する。
f)
放射照度計を用いる場合には，放射照度計を暴露架台に取り付ける。
g) 暴露期間中試験片は洗浄しない。もし，洗浄を要求されたときは，清浄な水又は石けん水（2 %非ア
ルカリ性石けん水）を用いて洗う。また，暴露表面をこすったりなどして，きずを付けないように注
意する。緩んだ試験片の再固定，試験片の状態の記録，装置の損傷の補修などのために，定期的な点
検及び保守管理を行うことが望ましい。
h) 暴露期間中，次の項目について気象観測を行う。
1) 放射露光量又は分光放射露光量
2) アンダーグラス試験箱内の空気温度又は外気温（日最高の月平均，日最低の月平均及び月最高･最低）
なお，各項目は，近隣の気象測候所などのデータを利用してもよい。
3) アンダーグラス試験箱内の相対湿度又は外気の相対湿度（日最高の月平均，日最低の月平均及び月
最高･最低）
4) その他必要事項
i)
規定の暴露ステージ（試験時間，放射露光量又は分光放射露光量）に達したとき，暴露架台から試験
片を取り外す。
j)
目視で試験片の変化を調べる。次いで，試験片の表面を清浄な水又は石けん水（2 %非アルカリ性石
けん水）で洗い，風乾した後，色，外観及び／又は物理特性の変化を測定する。
k) ガラスは，定期的に洗浄する。汚れ，砂などが付きやすい荒天の後は，速やかに洗浄する。ガラスの
裏面は，付着したほこり，試験片からの発散物などを取り除くため，定期的に洗浄することが望まし
い。
7.5
暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，6.5による。
7.6
試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，6.6による。
7.7
記録
記録は，6.7による。
8
太陽追跡集光暴露試験
8.1
目的
この試験は，太陽追跡集光暴露試験装置を用いて，加硫ゴムの耐候性を調べるために行う。
この試験は，太陽光の光軸方向を垂直に追跡し，フレネル反射鏡を用いて太陽光を集光した部位に試験
片を取り付け，集光した太陽光によって加硫ゴムの耐候性を調べる暴露試験方法である。
13
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
フレネル反射鏡を用いた太陽追跡集光暴露試験は，年間日照時間3 500時間以上，年間の日中平均相対
湿度30 %以下の乾燥した天気のよい場所で行うのが最もよい。この試験を実施するための最低条件は，太
陽に垂直な面での直達日射3) の全天日射4) に対する比率が0.8とする。
注3) 太陽から直接入射する太陽の放射照度（W / m2）
4) 太陽から入射するすべての太陽放射照度（W / m2）
相対湿度の高い地域，浮遊粒子の多い地域など，太陽放射の散乱光が多い地域では，紫外線の放射光が
天空へ散乱されるため，試験片の照射位置に紫外線を集中する効率が大きく減少し，促進倍率は大きく減
少する。
8.2
試験装置
試験装置は，JIS K 7219又はJIS Z 2381による。
8.3
試験片
試験片は，6.3による。
8.4
試験方法
8.4.1
試験条件
試験条件は，次による。
a) 試験片及び保存試験片の保管は，JIS K 6250の箇条7（試料及び試験片の保管）による。
b) 試験は，試験片にひずみを与えない状態で実施する。ただし，ひずみを与えて試験する場合には，JIS
K 6259による。
c) 暴露ステージは，放射露光量又は分光放射露光量のいずれかによる。
8.4.2
操作方法
操作方法は，次による。
a) 試験片を，試験片取付け面に試験装置が回転しても移動又は脱落しないように取り付ける。
b) 適切な間隔で，試験片の表面温度を測定する5)。
c) 試験片に照射された反射光の放射露光量を測定する。放射露光量又は分光放射露光量の求め方は，JIS
K 7363による。
d) フレネル反射鏡は，常に清浄な表面を保持するように管理する。
e) 材料及び製品が熱劣化を起こす温度以上に加熱されないように，試験片の表面温度を制御することが
望ましい。
f)
水噴霧の有無及び噴霧条件は，暴露試験の目的によって定める。
g) 太陽光の光軸を常に垂直に追跡することができるように，試験装置を維持管理する。
注5) ブラックパネル温度計を用いるなど，適切な方法によることが望ましい。
8.5
暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，6.5による。
8.6
試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，6.6による。
8.7
記録
記録は，6.7による。
9
オープンフレームカーボンアーク試験
9.1
目的
14
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この試験は，オープンフレームカーボンアーク灯式耐候性試験装置を用いて，加硫ゴムの耐候性を試験
するために行う。
9.2
試験装置
試験装置は，JIS K 7350-1の5.（試験装置），JIS K 7350-4の4.（装置）による。ただし，実験室光源（発
光部）は，次による。
注記 試験装置の詳細は，JIS B 7753を参考にするとよい。
9.2.1
実験室光源（発光部） 実験室光源は，オープンフレームカーボンアーク灯及びフィルタとし，こ
れらは，次による。
a) オープンフレームカーボンアーク灯は，開放空気中において，カーボン棒電極間に形成されるアーク
によって構成され，ピークが約380 nmの波長域にある分光分布をもつものとする。
b) 試験片に達する放射は，フィルタを通過させる。フィルタは，通常8枚が光源の周囲に設けられたフ
ィルタ枠に取り付けられる。代表的な3種類（Ⅰ形，Ⅱ形及びⅢ形）のフィルタ通過後の放射の分光
分布は，表3〜表5による。
表3−Ⅰ形フィルタ透過後の代表的な放射照度分布
分光分布波長域
λ（nm）
放射照度の割合
%
CIE Publication No.85の表4に
よる放射照度の割合
%
最小値
最大値
λ ＜ 290
−
4.9
−
290 ≦ λ ≦ 320
2.3
6.7
5.4
320 ＜ λ ≦ 360
16.4
24.3
38.2
360 ＜ λ ≦ 400
68.1
80.1
56.4
250 〜 400
100
100
100
注記 Ｉ形フィルタは，歴史的に最も古く，多くの規格で規定されている。このフィルタは，放射
エネルギーがClE Publication No.85に記載されている地表上の太陽光の分光分布に近似し，
かつ，紫外域エネルギーを強調するためのフィルタである。地表に達する太陽光には存在し
ないかなり短い波長の放射を透過するので，屋外暴露では起こらない劣化反応を引き起こす
おそれがある。
表4−Ⅱ形フィルタ透過後の代表的な放射照度分布
分光分布波長域
λ（nm）
放射照度の割合
%
CIE Publication No.85の表4によ
る放射照度の割合
%
λ ＜ 290
0.05
−
290 ≦ λ ≦ 320
2.9
5.4
320 ＜ λ ≦ 360
20.5
38.2
360 ＜ λ ≦ 400
76.6
56.4
290 〜 400
100
100
注記 Ⅱ形フィルタは，放射エネルギーがClE Publication No.85に記載されている地表上の太陽光
の分光分布に近似したフィルタである。昼光フィルタとも呼ばれる。
15
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−Ⅲ形フィルタ透過後の代表的な放射照度分布
分光分布波長域
λ（nm）
放射照度の割合
%
CIE Publication No.85の表4によ
る放射照度に窓ガラスの透過率
を乗じた放射照度の割合
%
λ ＜ 300
0.0
−
300 ≦ λ ≦ 320
0.3
≦ 1
320 ＜ λ ≦ 360
18.7
33.1
360 ＜ λ ≦ 400
81.0
66.0
290 〜 400
100
100
注記 Ⅲ形フィルタは，単層窓ガラスの紫外線透過特性を代表するものである。
なお，表3〜5に示す放射照度分布を得るには，表6に示すフィルタを用いる。
表6−使用前の特定波長におけるガラスフィルタの透過率
Ⅰ形
Ⅱ形
Ⅲ形
波長
nm
透過率
%
波長
nm
透過率
%
波長
nm
透過率
%
255
≦1
275
≦ 2
295
≦ 1
302
71〜86
320
65〜80
320
≧ 40
≧ 360
> 91
400 〜 700
≧ 90
400 〜 700
≧ 90
c) 直接屋外暴露を人工的に再現しようとする場合には，Ⅰ形フィルタ又はⅡ形フィルタ用いる（SA法）。
アンダーグラス屋外暴露を人工的に再現しようとする場合には，Ⅲ形フィルタを使用する（SB法）。
d) フィルタの特性は，使用時間及び付着物によって変化するので，フィルタは適切な間隔で交換及び清
掃する。フィルタは，2 000時間使用後か，又は著しい変色若しくは白濁が生じた場合には交換する。
フィルタの交換は，長期にわたり照射の均一性を保つように，同時にフィルタ全部を交換せず，一定
の時間間隔で交換することを推奨する。その方法として，8枚のフィルタのうち対称位置にあるフィ
ルタ2枚を500時間ごとに順次取り替える。8枚以外のフィルタ数を用いる場合には，これに準じて
適宜交換する。また，カーボン棒の交換時に，清浄な，乾いたタオルなどでフィルタにきずを付けな
いように清掃する。洗剤液で洗い，次に清浄な水でゆすいでもよい。
e) カーボン棒は，使用するカーボンの種類に応じて適宜交換する。
9.2.2
試験槽 試験槽は，試験片取付け枠を装備し，温度調節のために試験片面上に空気を通過させるた
めの装置を備えているものとする。試験片取付け枠は，光源を中心にしてその周りを回転するものとし，
試験片を直接保持するか又は試験片を取り付けた試験片ホルダを保持できるものとする。
9.2.3
放射照度計 放射照度計は，JIS K 7350-4の4.3（放射照度計）に規定するもので，試験片取付け
枠に試験片と並べて取り付け，試験片表面の放射照度又は放射露光量が測定できるものを用いる。試験片
表面と異なる位置に取り付けて測定してもよい。この場合には，試験片位置での放射照度に校正したもの
を用いる。放射照度計の校正は，オープンフレームカーボンアーク灯に対して行われているものとする。
注記 放射照度計がない場合には，受渡当事者間の協定によって，これに代わる方法を用意する。
9.2.4
ブラックパネル温度計 ブラックパネル温度計は，JIS K 7350-4の4.4（ブラックスタンダード温
度計／ブラックパネル温度計）のブラックパネル温度計を用いる。
16
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.2.5
加湿装置 加湿装置は，試験槽内を流れる循環空気を規定の相対湿度に制御できるものとする。相
対湿度測定及び制御用のセンサは，光源及び水噴霧から遮へいされているものとする。
9.2.6
試験片表面の水噴霧装置 試験片表面の水噴霧装置は，ノズル及び水噴霧時間をプログラムする装
置からなり，試験片の表面に規定の時間水噴霧を与え，十分湿らせることができるものとする。
9.2.7
試験片ホルダ 試験片ホルダは，試験片の裏側が露出できる枠とし，試験結果に影響を及ぼすおそ
れがない不活性な材料，例えば，アルミニウム，ステンレス鋼などの，酸化しにくい合金材のものを用い
る。
9.3
試験片
試験片は，6.3による。
9.4
試験方法
9.4.1
試験条件
試験条件は，次による。
a) 試験室の標準温度状態は，JIS K 6250の6.1（試験室の標準温度）による。
b) 試験片及び保存試験片の保管は，JIS K 6250の7.（試料及び試験片の保管）による。
c) 試験片の状態調節は，JIS K 6250の9.（試験片の状態調節）による。
d) 試験は，試験片にひずみを与えない状態で実施する。ただし，ひずみを与えて試験する場合には，JIS
K 6259による。この場合には，試験成績表に詳細を記録する。
e) 暴露条件は，表7による。ただし，受渡当事者間の協定によって他の条件を用いてもよい。
表7−オープンフレームカーボンアーク灯式耐候性試験の暴露条件
条件の項目
条件
SA法
（直接屋外暴露の再現方法）
SB法
(アンダーグラス屋外暴露の
再現方法）
アーク電圧・電流
交流電圧 許容範囲48〜52 V，中心値50±1 V
交流電流 許容範囲58〜62 A，中心値60±1.2 A
フィルタ
I形又はⅡ形
Ⅲ形
試験片面の放射照度 W/m2
表3若しくは表4によるか，又は波長域
300〜700 nmにおいて255 (±10 %)とす
る。
表5によるか，又は波長域 300
〜700 nmにおいて255 (±
10 %)とする。
試験時間 h
又は試験片面の放射露光量
kJ/m2
受渡当事者間の協定による。
ブラックパネル温度 ℃
（水噴霧をしていないとき）
63±3 a)
試験槽内空気温度 ℃
40±5
相対湿度 %RH
（水噴霧をしていないとき）
50±5
試験片表面へ
の水噴霧
噴霧サイク
ル
102分間の照射後，18分間の照射及び水
噴霧，又は48分間の照射後，12分間の照
射及び水噴霧。
水噴霧なし
17
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−オープンフレームカーボンアーク灯式耐候性試験の暴露条件（続き）
条件の項目
条件
SA法
（直接屋外暴露の再現方法）
SB法
(アンダーグラス屋外暴露の
再現方法）
試験片表面へ
の水噴霧
水質
蒸留水又はイオン交換水（電気伝導率5
µS/cm以下)とし，全固形分の含有が1 μg/g
以下，及びシリカの含有が0.2 μg/g以下の
水が望ましいb)。
−
水温
16±5 ℃とするのが望ましい。
−
照射方法
連続照射とする。明暗法を用いる場合には，明（照射）及び暗(消灯)の時
間を適切に決める。
注a) ブラックパネル温度については，53±3 ℃，83±3 ℃，89±3 ℃などもある。
b) イオン交換及び逆浸透処理などを組み合わせて要求された水質を作ることができる。
9.4.2
操作方法
操作方法は，次による。
a) 試験片の暴露に先立ち，試験片，必要に応じコントロール試験片及び保存試験片の特性値を測定する。
b) 試験片及び必要に応じコントロール試験片をそのまま又は試験片にマスクを施して試験片ホルダに取
り付ける。保存試験片を用意する場合には，暴露期間と同一期間冷暗所に保管する。
c) 試験片の周囲は十分なゆとりをもたせ，試験片に著しいひずみが加わらないようにする。
d) 試験片の裏側にマーキングを付ける。マーキングは，試験の結果に影響しないようにする。
e) 放射照度計を用いる場合には，放射照度計を取り付ける。
f)
表7の放射照度，ブラックパネル温度及び相対湿度に調節した後，試験片及び必要に応じコントロー
ル試験片を取り付けた試験片ホルダを，試験装置の試験片取付け枠に取り付け，暴露を開始する。
g) 試験片取付け枠が，試験片を取り付けた試験片ホルダで満たされない場合には，ダミーの試験片を試
験片ホルダに取り付け，試験片取付け枠を満たす。また，露光の均一化を図るため，定期的に各試験
片の位置を変えることが望ましい。その方法として，適切な間隔で定期的に試験片の上下を引っ繰り
返すか，試験片が試験片取付け枠の上下にある場合には，上下の試験片の位置の入替えを行う方法な
どがある。
h) 暴露期間中試験片は，洗浄しない。もし，洗浄を要求されたときは，清浄な水又は石けん水（2 %非
アルカリ性石けん水）を用いて洗う。また，暴露表面をこすったりなどして，きずを付けないように
する。
i)
規定の暴露ステージ（通常は，試験時間）に達したとき，試験装置の運転を中断又は終了して，試験
片を取り出す。
j)
目視で試験片の変化を調べる。次いで，試験片の表面を清浄な水又は石けん水（2 %非アルカリ性石
けん水）で洗い，風乾した後，色，外観及び／又は物理特性の変化を測定する。
k) 試験条件の検証を行うためにコントロール試験片を用いた場合には，その変化を調べ，暴露試験が正
常に行われていることを確認する。また，必要に応じ，試験片の変化をコントロール試験片の変化と
比較し，試験片の暴露性能を評価する。
9.5
放射露光量の測定
JIS K 7350-4の7.3による。
18
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9.6
暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，6.5による。
9.7
試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，6.6による。
9.8
記録
試験成績表には，次の事項を記録する。
a) 適用規格番号
b) 試料の詳細
1) 試料の明細，履歴など
2) 配合の明細，加硫条件など
3) 試験片作製方法
4) ウェザリング基準材料を用いた場合は，その明細
c) 試験の詳細
1) 物理特性の変化を測定するのに用いた方法の規格番号
2) 試験の種類
3) 試験装置の名称及び形式
4) 暴露ステージ及びその手順
5) 試験片にひずみを与えたか，もし与えた場合には，その程度。
6) 暴露前の試験片として保存試験片又はマスキング面を用いた場合は，その種類。
7) 裏打ち，試験片ホルダの性質
8) 保存試験片の保管条件
9) 放射露光量によった場合には，その方法
10) 水洗の明細（該当するとき）
11) 暴露条件
11.1) フィルタの種類
11.2) 放射照度 (W/m2)，波長域 (nm) 及びその測定方法
11.3) ブラックパネル温度 (℃)
11.4) 相対湿度 (%)
11.5) 水噴霧の明細
12) その他規定と異なった試験方法
d) 試験結果（色変化又はその他の外観変化，物理特性の変化など）
1) 暴露ステージ（試験時間，又は放射露光量及び波長域）
2) 色変化（測定したとき）
3) その他の外観変化（測定したとき）
4) ひずみを与えた試験片の場合には，き裂 (クラッキング)の劣化等級
5) 各物理特性値の個々の値
6) 各暴露ステージ後の各物理特性値の試験結果
7) 各物理特性値の残留率，変化率及び変化，並びに各測定値の単位
e) 試験年月日
f)
その他必要な事項
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10 キセノンアーク試験
10.1 目的
この試験は，キセノンアーク灯式耐候性試験装置を用いて，加硫ゴムの耐候性を調べるために行う。
10.2 試験装置
試験装置は，JIS K 7350-1の5.（試験装置）及びJIS K 7350-2の4.（装置）による。ただし，実験室光
源（発光部）は，次による。
注記 試験装置の詳細は，JIS B 7754を参考にするとよい。
10.2.1 実験室光源（発光部） 実験室光源は，水冷式又は空冷式のロングアーク式キセノンアークラン
プ及びフィルタとし，次による。
a) キセノンアークランプは，石英管に封止されたもので，270 mm以下から，紫外，可視及び赤外スペ
クトルにわたる範囲の放射を発するものとする。
b) 試験片に達する放射は，フィルタを通過させる。フィルタは，石英ガラス，紫外線遮断用ガラス製フ
ィルタ，赤外線遮断用ガラス製フィルタ，水フィルタなどを組み合わせて用いる。
注記 代表的なフィルタの分光透過率は，JIS B 7754の4.1 (1)（発光部の分光特性）を参照。
c) 直接屋外暴露を人工的に再現しようとする場合には，放射エネルギーが，CIE Publication No.85に記
載されている，地表上の日光の分光分布に近似した分光分布を得るようなフィルタを使用する（XA
法）。アンダーグラス屋外暴露を人工的に再現しようとする場合には，320 nm以下の放射照度を低下
させるフィルタを使用する（XB法）。
d) フィルタを通過したキセノンアーク光源の紫外部の分光放射照度（推奨値）を，XA法に対しては表8
に，また，XB法に対しては表9に示す。
表8−XA法におけるキセノンアーク灯
の放射照度分布
表9−XB法におけるキセノンアーク灯
の放射照度分布
波長(λ)
nm
相対放射照度の
分布a)
%
波長(λ)
nm
相対放射照度の
分布a)
%
290 <λ≦ 800
100.0
300 <λ≦ 800
100.0
≦ 290
0
≦ 300
0
290 <λ≦ 320
0.6±0.2
300 <λ≦ 320
< 0.1
320 <λ≦ 360
4.2±0.5
320 <λ≦ 360
3.0±0.5
360 <λ≦ 400
6.2±1.0
360 <λ≦ 400
6.0±1.0
注a) 290 (又は300) 〜800 nmの放射照度を
l00 %とする。
e) 試験片の加熱によって光化学反応速度に影響を与えたり，実際の屋外暴露では起こらない熱劣化を引
き起こしたりするおそれのある試験片の場合には，化学反応作用のない赤外エネルギーを低下させる
ためのフィルタを追加使用することが望ましい。
f)
試験片表面の放射照度は，試験片ホルダ面において±10 %とする。これが不可能な場合には，各位置
で等しい暴露時間を与えるように定期的に試験片の位置を入れ替える。
g) キセノンアークランプ及びフィルタの特性は，使用時間に伴って変化するのでこれらは適切な間隔で
交換する。さらに，汚れのたい（堆）積によっても変化するため，適切な間隔で清掃する。
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10.2.2 試験槽 試験槽は，9.2.2によるほか，次による。
a) ランプの点灯によってオゾンが発生する場合には，試験片及び試験担当者からオゾンを隔絶させるた
め，オゾンを含む空気を建物の外へ直接排出する。
b) 放射照度を増やすため，2本以上のランプを並べて用いてもよい。ただし，試験片面上の放射照度が
規定の範囲に維持されるようにする。
10.2.3 放射照度計 放射照度計は，JIS K 7350-2の4.3（放射照度計）に規定するもので，試験片取付け
枠に試験片と並べて取り付け，試験片表面の放射照度又は放射露光量を測定できるものとする。試験片表
面と異なる位置に取り付けて測定してもよい。この場合には，試験片位置での放射照度に校正されたもの
を用いる。放射照度計の校正は，キセノンアーク灯に対して行う。
放射照度計がない場合には，受渡当事者間の協定によって，これに代わる方法を用意する。
10.2.4 ブラックパネル温度計又はブラックスタンダード温度計 ブラックパネル温度計は，9.2.4による。
ブラックスタンダード温度計は，JIS K 7350-2の4.4（ブラックスタンダード／ブラックパネル温度計）の
ブラックスタンダード温度計を用いる。
10.2.5 加湿装置 加湿装置は，9.2.5による。
10.2.6 試験片表面の水噴霧装置 試験片表面の水噴霧装置は，9.2.6による。
10.2.7 試験片ホルダ 試験片ホルダは，9.2.7による。
10.3 試験片
試験片は，6.3による。
10.4 試験方法
10.4.1 試験条件
試験条件は，9.4.1による。ただし，暴露条件は，表10による。
なお，暴露条件は，受渡当事者間の協定によって他の条件を用いてもよい。
表10−キセノンアーク灯式耐候性試験の暴露条件
条件の項目
条件
XA法
(直接屋外暴露の再現方法)
XB法
(アンダーグラス屋外暴露の
再現方法)
フィルタ
石英ガラス，紫外線遮断用ガラス製フィルタ，赤外線遮断用フィルタ，水
フィルタなどを適切に組み合わせる。
ランプの相対分光放射照度
表8による。
表9による。
試験片面の放射照度 W/m2
又は分光放射照度W/(m2・nm)
( ）内は，測定波長域を表す。
60±2 (300〜400 nm)
若しくは0.51±0.02 (340 nm)
又は180±5 (300〜400 nm)
50±2 (300〜400 nm)
若しくは1.10±0.02 (420 nm)
又は162±5 (300〜400 nm)
試験時間 h
又は試験片面の放射露光量
kJ/ m2
受渡当事者間の協定による。
ブラックパネル温度 ℃ a)
（水噴霧をしていないとき）
55±3，63±3，83±3又は89±3
相対湿度 %RH
（水噴霧をしていないとき）
50±10，20±10又は調節しない。
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表10−キセノンアーク灯式耐候性試験の暴露条件（続き）
条件の項目
条件
XA法
(直接屋外暴露の再現方法)
XB法
(アンダーグラス屋外暴露の
再現方法)
試験片表面へ
の水噴霧
噴霧サイク
ル
102分間の照射後，18分間の照射及
び水噴霧，又は48分間の照射後，12
分間の照射及び水噴霧。
水噴霧なし
水質
蒸留水，又はイオン交換水(電気伝導
率5 µS/cm以下)とし，全固形分の含
有が1 μg/g以下，及びシリカの含有
が0.2 μg/g以下の水が望ましいb)。
−
水温
16±5 ℃とするのが望ましい。
−
照射方法
連続照射とする。明暗法を用いる場合には，明（照射）及び暗(消灯)の時
間を適切に決める。
注a) ブラックスタンダード温度（65±5 ℃又は必要に応じ他の温度）によってもよい。この場合，あら
かじめブラックパネル温度との関係を求めておく。
なお，ブラックスタンダード温度は，放射照度，試験片の種類，試験槽内空気の風速などによっ
ても異なるが，通常ブラックパネル温度より3〜10 ℃高い。
b) イオン交換及び逆浸透処理などを組み合わせて要求された水質を作ることができる。
10.4.2 操作方法
操作方法は，9.4.2による。ただし，f) の暴露条件の表7は，表10に置き換える。
10.5 放射露光量の測定
JIS K 7350-2の7.3による。
10.6 暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，6.5による。
10.7 試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，6.6による。
10.8 記録
試験成績表は，9.8による。ただし，暴露条件は，次に置き換える。
a) 暴露条件
1) フィルタの種類又は分光透過率
2) 放射照度 (W/m2) 又は分光放射照度 [W/(m2･nm)]
3) ブラックパネル温度 (℃) 又はブラックスタンダード温度 (℃)
4) 相対湿度 (%)
5) 水噴霧の明細
11 紫外線蛍光灯試験
11.1 目的
この試験は，紫外線蛍光灯式耐候性試験装置を用いて，加硫ゴムの耐候性を試験するために行う。この
試験は，一般に，限られた範囲の紫外線 (UV) 放射に材料を暴露する場合に用いる。
11.2 試験装置
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試験装置は，JIS K 7350-1及びJIS K 7350-3による。ただし，JIS K 7350-1の5.1（実験室光源）は，11.2.1
に，5.5（湿気への影響）は，11.2.5に， 5.6（試験片ホルダ）は，11.2.6に置き換える。
11.2.1 実験室光源 実験室光源は，紫外線蛍光灯とし，次による。
a) 紫外線蛍光灯は，蛍光を励起する低圧水銀灯からの放射を利用して蛍光物質を励起させ，これによっ
て波長のピーク値周辺に比較的狭い波長範囲の連続スペクトルを生成する蛍光ランプで，波長400 nm
未満の放射が少なくとも全放射の80 %を占めているものとする。紫外線蛍光灯の分光分布は，蛍光の
放射スペクトル及びガラス管の紫外線透過率によって決まる。紫外線蛍光灯は，次の2種類とする。
1) Ｉ形紫外線蛍光灯 一般にUVAランプと呼ばれ，300 nm未満の放射が全放射出力の2 %未満で，
ピーク放射の波長が340 nm，351 nm，355 nm，365 nmなどのランプがある。これらの中で，ピー
クが340 nmのランプ (UVA340) は，他の紫外線蛍光灯よりも300〜340 nm間の分光分布が太陽光
をよく再現する。異なったランプを組み合わせて使用してもよい。ただし，試験片表面における分
光放射照度が均一になるように処置を講じる。例えば，並べたランプ列の周りで試験片の位置を入
れ替える。代表的な紫外線蛍光灯の分光分布を，表11に示す。
2) Ⅱ形紫外線蛍光灯 一般にUVBランプと呼ばれ，300 nm以下の放射が全放射出力の10 %を超え，
313 nmの近くに分光分布のピークをもっているランプである。この紫外線蛍光灯は，屋外では通常
生じない劣化を起こすおそれのある300 nm未満の紫外線をかなりの量放射する。
代表的な紫外線蛍光灯の分光分布を，表11〜表13に示す。
表11−Ⅰ形ランプ（UVA-340）の分光放射照度分布
UVA-340ランプ
UVA-340と他のランプの組合せ
分光波長域
λ nm
最小値
%
CIE Publication
No.85の表4の
値
%
最大値
%
最小値
%
CIE Publication
No.85の表4の値
%
最大値
%
λ＜290
0.1
0
290≦λ≦320
6.4
5.4
8.7
4
5.4
7
320＜λ≦360
61.9
38.2
65.5
48
38.2
56
360＜λ≦400
26.0
56.4
31.6
38
56.4
46
表12−Ⅰ形ランプ（UVA-351）の分光放射照度分布
分光波長域
λ nm
最小値
%
CIE Publication No.85の表4に
よる放射照度に窓ガラスの透
過を乗じた放射照度の割合
%
最大値
%
λ＜300
0.2
300≦λ≦320
1.1
≦ 1
3.3
320＜λ≦360
60.5
33.1
66.8
360＜λ≦400
30.0
66.0
38.0
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表13−Ⅱ形ランプ（UVB-313）の分光放射照度分布
分光波長域
λ nm
最小値
%
CIE Publication No.85の表
4の値
%
最大値
%
λ＜290
2.10
5.60
290≦λ≦320
46.8
5.4
67.4
320＜λ≦360
25.6
38.2
44.8
360＜λ≦400
1.3
56.4
7.4
b) 多くの紫外線蛍光灯は，使用に伴い著しく経時変化する。規定の放射照度を維持するために必要な手
順は，製造業者の推奨による。
c) ランプの選定は，受渡当事者間の協定による。
11.2.2 試験槽 試験槽のデザインは任意でよいが，堅固な材料で作られ，温度及び湿度調節装置をもち，
規定に従った均一の放射照度を与えることのできる構造のものとする。
11.2.3 放射照度計 放射照度計は，JIS K 7350-3の5.3（放射照度計）に規定するもので，試験片取付け
枠に試験片と並べて取り付け，試験片表面の放射照度又は放射露光量を測定できるものを用いる。放射照
度計の校正は，紫外線蛍光灯に対して行っているものとする。
放射照度計がない場合には，受渡当事者間の協定によって，これに代わる方法を用意する。
11.2.4 ブラックパネル温度計 ブラックパネル温度計は，JIS K 7350-3の5.4（ブラックスタンダード／
ブラックパネル温度計）のブラックパネル温度計又はブラックスタンダード温度計を用いる。
受渡当事者間の協定によって，黒板の材質がアルミニウムのものを用いてもよい。この場合には，試験
報告書に記録する。
11.2.5 水分の発生器 水分の発生器は，試験槽底部の容器中で水を加熱し，水蒸気を発生する構造のもの
とする。試験を行うときには，試験片取付け枠全部に試験片を取り付け，試験片の壁を作る。この壁が周
囲の空気にさらされ，その冷却効果によって，試験片の表面(照射を受ける面)に水分の凝縮(結露)が生じ
る構造になっている。水分凝縮の調整は，試験槽内の相対湿度の調節，周囲空気の温度調節などによって
行う。
11.2.6 試験片ホルダ 試験片ホルダは，試験結果に影響を及ぼすおそれがない不活性な材料で作られたも
のを用いる。また，試験片ホルダは，試験片の表面が均一放射を受ける位置に取り付ける。一般にはラン
プの端から160 mm以内又はランプ列の端から50 mm以内になるようにして取り付けることが望ましい。
すべての試験片が紫外線及び温度に均一に暴露されるようにするため，光照射を一定の放射照度に調節す
るか，ランプを一定時間間隔で位置の入替えをするか，又は試験片の位置の入替えを行う。
11.3 試験片
試験片は，6.3による。
11.4 試験方法
11.4.1 試験条件
試験条件は，9.4.1による。ただし，暴露条件は，表14による。
なお，受渡当事者間の協定によって，他の条件によってもよい。他の照射サイクルによる場合には，温
度が平衡状態に達することを考慮し，各条件の時間は，少なくとも2時間以上に設定することが望ましい。
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表14−紫外線蛍光灯試験の暴露条件
条件項目
条件
照射サイクル
4時間の照射後，4時間照射なし（水分の凝縮又は結露）
ブラックパネル温度
照射時
照射なしのとき
60±3 ℃又は63±3 ℃
50±3 ℃
11.4.2 操作方法
操作方法は，9.4.2による。ただし，f) の暴露条件の表7は表14に置き換える。
11.5 放射露光量の測定
JIS K 7350-2の7.3による。
11.6 暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，6.5による。
11.7 試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，6.6による。
11.8 記録
記録は，9.7による。
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附属書A
（参考）
ウェザリング基準材料
A.1 一般
この附属書は，屋外暴露条件及び実験室光源暴露条件において物理特性の変化を求めるために，コント
ロール試験片として用いるウェザリング基準材料について記載する。
なお，ウェザリング基準材料の劣化特性については，附属書JBに記載する。
A.2 ゴムの種類
ウェザリング基準材料の種類は，SBR，EPDM，CR及びNRの4種類とする。
日本の相関研究によれば，これら4種類のゴムがウェザリング基準材料として優れた性能を示した。特
にSBRが屋外暴露及び実験室光源暴露の暴露時間と諸物性との間に高い直線関係があった。100 %弾性率
及び破断点伸びは，屋外暴露3年後においてもなお徐々に変化することがこの研究で観察されている。そ
の結果，これら4種類のゴムについて屋外暴露試験と実験室光源とを用いた暴露試験との間に大きな相関
があることが分かった。他の配合物についても検討されたが，推奨できるものはない（参考文献 [1] 参照）。
老化防止剤を含まないカーボンブラック配合物は，屋外暴露3年後で大きく変化したが，実験室光源では，
変化は少なかった。白色フィラー充てん（填）配合物は，暴露の初期の段階で大きな性能変化を示した。
したがって長期間の暴露には適していない。
A.3 配合及び加硫条件
それぞれに適した配合及び加硫条件を，表A.1〜表A.4に示す。
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表A.1−SBR試験片の配合及び加硫条件
原料ゴム及び配合剤
配合割合（質量部）
SBR1502
100
カーボンブラック (N330)
50
酸化亜鉛
ステアリン酸
3
1
老化防止剤 (6PPD) a)
老化防止剤 (TMQ) b)
ワックスc)
2
2
1
加硫促進剤 (TBBS) d)
硫黄
1
1.75
加硫条件
160 ℃，25分間
注記 合成ゴムSBRの試験方法は，JIS K 6383による。
注a) N-1，3-ジメチルブチル-Nʼ-フェニル-p-フェニレンジアミン
b) 2，2，4-トリメチル-1，2-ジヒドロキノリン(重合物)
c) 融点：65 ℃，密度：0.93 Mg/m3
d) N-tert-ブチルベンゾチアゾール-2-スルフェンアミド
表A.2−EPDM試験片の配合及び加硫条件
原料ゴム及び配合剤
配合割合（質量部）
EPDM a)
100
カーボンブラック(N330)
80
酸化亜鉛
ステアリン酸
プロセスオイルb)
5
1
50
老化防止剤 (TMQ) c)
2
加硫促進剤 (TMTD) d)
加硫促進剤 (MBT) e)
硫黄
1
0.5
1.5
加硫条件
160 ºC，20分間
注記 合成ゴムEPDMの試験方法は，JIS K 6395による。
注a) EP24［ムーニー粘度 ML 1＋4 (100 ℃)：65；エチレン質量分率（%）：54；ENB タ
ーモノマー質量分率（%）：4.5］（参考：JSR品又は相当品）
b) ダイアナプロセスオイルPW90［粘度（98.9 ℃）：11.25cSt；流動点：−15 ℃；アニ
リン点：127.7 ℃；密度：0.87 Mg/m3］（参考：出光興産品又は相当品）
c) 2，2，4-トリメチル-1，2-ジヒドロキノリン(重合物)
d) テトラメチルチウラムジスルフィド
e) 2-メルカプトベンゾチアゾール
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K 6266：2007
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表A.3−CR試験片の配合及び加硫条件
原料ゴム及び配合剤
配合割合（質量部）
CR（硫黄変性）a)
100
カーボンブラック (N330)
25
酸化亜鉛
酸化マグネシウム
ステアリン酸
5
4
0.5
老化防止剤 (6PPD) b)
2
加硫条件
160 ºC，15分間
注記 合成ゴムCRの試験方法は，JIS K 6388による。
注a) スカイプレーンR22 東ソー品（参考）又は相当品
b) N-1，3-ジメチルブチル-Nʼ-フェニル-p-フェニレンジアミン
表A.4−NR試験片の配合及び加硫条件
原料ゴム及び配合剤
配合割合（質量部）
NR (RSS#1)
100
カーボンブラック (N330)
35
酸化亜鉛
ステアリン酸
5
2
老化防止剤 (6PPD) a)
老化防止剤 (TMQ) b)
ワックス
2
2
1
加硫促進剤 (TBBS) c)
硫黄
0.7
2.25
加硫条件
150 ℃，10分間
注記 天然ゴムNRの試験方法は，JIS K 6352による。
注a) N-1，3-ジメチルブチル-Nʼ-フェニル-p-フェニレンジアミン
b) 2，2，4-トリメチル-1，2-ジヒドロキノリン(重合物)
c) N-tert-ブチルベンゾチアゾール-2-スルフェンアミド
A.4 ウェザリング基準材料の使用
表の4種類のゴムのうち一つ又はそれ以上の基準材料の使用が望ましく，試験に用いる材料と同一であ
ると更によい。これによれない場合には，SBR配合物によるのがよい。
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附属書B
（参考）
暴露後の評価に使用できる特性の例
B.1
外観
色
光沢
チョーキング
クラック，クレージング，ピット，穴又は孔
微生物の成長
内部から表面への配合剤の移動
B.2
機械的性質
引張応力･ひずみ特性
動的性質
硬さ
引裂強さ
引張永久ひずみ
応力緩和
B.3
その他の性質
寸法
電気抵抗性
電機絶縁破壊
誘電特性
化学分析
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附属書JA
（参考）
耐候性試験の一般事項
序文
この附属書は，JIS K 7219及びJIS K 7350-1に規定する一般的な事項のうち，加硫ゴムに関する部分を
記載するものであり，規定の一部ではない。
JA.1 一般事項
材料は，使用中に自然環境にさらされて色，外観，物理特性などが経時変化することが知られている。
耐候性試験は，材料の試験片を，一定の環境条件の下で暴露し，その結果生じた特性の変化を評価する試
験である。試験を行うにときに，次の事項を考慮する。
JA.2 屋外暴露試験と実験室光源暴露試験との関係
耐候性試験は，試験片を自然環境に暴露する屋外暴露試験（自然暴露試験ともいう。）と人工的に作られ
た環境の中に暴露する実験室光源暴露試験（一般に，促進耐候性試験ともいう。）との2種類に大別される。
屋外暴露試験では，材料の劣化に影響を及ぼす因子として，太陽光をはじめ，温度，湿度，温湿度の変
動，降雨，オゾン，汚染空気など多くの因子がある。これらの因子は，すべて自然現象であるため変動が
大きく，しかも一定に制御することはできない。例えば，地表上の太陽光の分光分布及び強度は，場所，
気候，季節，時間などによって大幅に変動し，環境は必ずしも一定ではない。暴露中の条件の変動による
影響を少なくするためには，同一場所で最低2年の暴露が必要であるといわれている。このような理由か
ら，屋外暴露では試験結果の再現性が乏しく，また，結果の判断に難しさが伴う。さらに，結果を得るま
でに非常に長い試験期間を要し，短時間で耐候性を予測するのに適さない。
屋外暴露でのこのような欠点を排除するため，自然環境を人工的に再現した環境に暴露する実験室光源
暴露試験を用いるようになった。しかし，過去の経験によると，屋外暴露試験の結果と実験室光源暴露試
験との相関は必ずしも明確ではないが，これらの相関が既に把握されている材料を比較に用いることによ
って他の材料についても相関を推定することができる。
実験室光源を太陽光と比較するときに用いる太陽光の分光分布及び放射照度は，CIE Publication No.85
のデータを基とする。このCIE Publication No.85は，地表上での太陽光の全放射照度 (300〜2 450 nm) を，
1 090 W/m2としている。その紫外部，可視部及び赤外部の分光放射照度の分布を，表JA.1に要約して示す。
30
K 6266：2007
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表JA.1−地表上の太陽光の分光放射照度分布
波長
nm
放射照度
W/ m2
全光分布
(300〜2 450 nm) %
紫外・可視部分布
(300〜800 nm) %
300 〜 320
4.1
0.4
0.6
320 〜 360
28.5
2.6
4.2
360 〜 400
42.0
3.9
6.2
300 〜 400
74.6
6.8
11.0
400 〜 800
604.2
55.4
89.0
300 〜 800
678.8
62.2
100.0
800 〜 2 450
411.6
37.8
−
300 〜 2 450
1 090.4
100.0
−
注記 CIE Publication No.85からの要約データ
JA.3 実験室光源暴露試験の目的
実験室光源暴露試験は，次の目的で行う。
JA.3.1 屋外暴露試験のシミュレーション
自然環境への長期暴露による材料の変化を促進して，短期間に近似的に再現するために用いる。この目
的のためには，試験期間全体にわたる材料の変化が分かるように，多くの暴露ステージで試験片の変化を
測定することが望ましい。また，測定には材料が一定の変化をするのに要する放射露光量又は分光放射露
光量を用いてもよいが，材料の変化は光放射だけでなく，温度，湿度などの総合的な影響によるもので，
そのことに注意をする必要がある。放射露光量又は分光放射露光量は，必要に応じ内挿法によって求めて
もよい。
この規格では，自然環境因子のうち，オゾン及び汚染空気は，制御因子として含まない。
JA.3.2 品質管理
材料が一定の管理範囲にあるかどうかを判断するために用いる。材料の耐候性の予想値から，その材料
に適した暴露ステージを定めて試験を行い，試験片の変化度合いによって評価を行う。この場合，試験す
る材料ごとに暴露試験の再現性を確認しておく必要がある。試験片に所定の変化が生じるのに要する放射
露光量又は分光放射露光量によって測定する方法もある。
JA.3.3 品質・性能の仕様の表示又は決定
製品に要求される品質・性能の仕様を決定するのに用いる。この仕様に基づき，製品の合否又は使用材
料の適否の判断を行う。
JA.4 屋外暴露試験と実験室光源暴露試験との相関を低下させるおそれのある因子
因子として，次のものがある。
a) 太陽光と実験室光源との分光分布の違い
b) 実用条件より高い放射照度又は分光放射照度の適用
c) 連続照射による自然条件との相違
d) 高い試験片温度の適用(特に熱の影響だけで容易に変化を受ける材料の場合)
e) 明るい色又は暗い色の試験片における温度差
f)
高低温の繰返しの場合による温度衝撃
g) 水質の相違
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h) 生物化学的物質
i)
汚染物質
JA.5 実験室光源暴露における制御因子
JA.5.1 放射
ゴムには，光照射の反応に分光依存性をもつものがある。したがって，自然光への暴露でゴムに生じる
光化学反応と同じような反応を起こさせるためには，太陽光の分光分布をできるだけ忠実に実験室光源で
再現させることが重要である。
この規格では，実験室光源としてキセノンアーク，オープンフレームカーボンアーク及び紫外線蛍光灯
を用いる。これらの光源の直接光は，地表上の太陽光に存在しない短い波長の紫外線をかなり含んでいる。
キセノンアークは，適切なフィルタを用いて，紫外及び可視域における平均的な太陽光に近似した分光分
布をもった放射を与えることができる。その反面，赤外域に大きなエネルギーをもっている。オープンフ
レームカーボンアーク1) は，紫外域に太陽光と比べて極めて大きな放射をもっている。
大気圏の太陽光には，存在しない短い波長の紫外線を照射したり，ゴムに特に鋭敏な波長の光を強めた
り，又は分光分布を変化させずに放射の強度を増加したりすることによって劣化を促進させることができ
る。しかし，いずれの方法も異常な結果を与える可能性があるので，光源の分光分布を正しく選択するこ
とが，適切な試験片温度を選択することと同様に重要である。
暴露期間を，紫外線放射露光量で表示する方法がある。したがって，この規格は，試験片面における放
射照度（広帯域幅手法又は狭帯域幅手法）及び放射露光量又は分光放射露光量の測定方法も含む。
注1) サンシャインカーボンアークともいう。
JA.5.2 温度
暴露する材料の最高表面温度は，基本的には試験片に照射したエネルギーの吸収，放出，試験片の熱伝
導，試験片と空気又は試験片ホルダとの間の熱移動などに依存しているため，正確には予測できない。し
かし，個々の試験片の温度を測定することは現実的ではないので，温度表示は，黒色板をもったブラック
パネル温度計又はブラックスタンダード温度計によって行う。ブラックパネル温度計又はブラックスタン
ダード温度計の指示温度は，試験片周囲の空気温度及び風速によっても影響される。
JA.5.3 湿度及び水噴霧
水分，特に試験片暴露面上の凝縮した水分の存在は，促進試験では重要な影響を与える。試験装置は，
湿度調節装置及び試験片の暴露面をぬらす水噴霧装置をもつものとする。
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K 6266：2007
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附属書JB
（参考）
ウェザリング基準材料の劣化特性
序文
この附属書は，加硫ゴムのウェザリング基準材料の劣化特性について記載するものであり，規定の一部
ではない。
JB.1 概要
附属書Aに記載する4種類のウェザリング基準材料を，国内外5か所［札幌，銚子，宮古島，セルポン
（インドネシア），及びフェニックス（アメリカ）］で，かつ，ISO規格及び日本工業規格に規定する代表
的な実験室光源暴露条件で暴露して得られた劣化特性，これから得られたそれぞれの関係などの情報を提
供する。これらの情報は，耐候性試験を行う者が，より正確な耐候性の評価，判断の手助けとなるガイド
である。
注記 この附属書で記載するウェザリング基準材料の劣化特性は，1999年4月から2003年3月の期
間，社団法人日本化学工業協会で行った，新規産業支援型国際標準開発事業“過酷環境下にお
ける高分子製品の性能評価試験法の標準化”の標準化調査研究の成果である。
JB.2 ウェザリング基準材料の屋外暴露試験及び実験室光源暴露試験における劣化特性
基準材料の屋外暴露試験及び実験室光源暴露試験の試験条件を，表JB.1〜表JB.7に示す。測定した物
理特性項目は，伸び，引張特性，硬さ，色及び外観，動的特性などであるが，この附属書では，代表的な
TS，Eb，M100 及びIRHDの一定期間後の劣化特性を，表JB.8〜表JB.15及び図JB.1〜図JB.16に示す。
表JB.1−直接屋外暴露試験
地域
緯度
暴露角度
暴露開始日
暴露面放射露光量
(MJ/m2) b)
平均
気温
(℃)
d)
平均相
対湿度
(%)
d)
紫外線
量c)
日射量
札幌
北緯43度03分
南面45度
1999年10月4日
922.5
15 375.4
8.8
70.9
銚子
北緯35度43分
南面30度
1999年10月1日
946.4
16 992.5
14.7
77.2
宮古島
北緯24度44分
南面20度
1999年10月1日 1 133.5
17 044.5
23.8
79.0
セルポン
（インドネシア）
南緯 6度15分
南面5度a)
（北面）
1999年10月1日
770.1
17 159.0
26.4
89.9
フェニックス
（アメリカ）
北緯33度54分
南面34度
1999年9月29日 1 227.5
25 751.7
22.9
31.2
注a) インドネシアにおいては，11月〜2月は南面5度，3月〜10月は北面5度。
b) 1999年10月〜2002年9月の積算値
c) 各地域における紫外線量の測定波長域は，次のとおりである。
銚子：2000年まで300〜400 nm，2001年1月以降315〜400 nm
宮古島：300〜400 nm
セルポン及びフェニックス：295〜385 nm
d) 1999年10月〜2002年9月の平均値
33
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.2−アンダーグラス屋外暴露試験
地域
緯度
暴露角度
暴露開始日
暴露面放射露光量
(MJ/m2) b)
平均
気温
℃
d)
平均相
対湿度
%
d)
紫外線c)
日射量
銚子
北緯35度43分
南面30度
1999年10月1日
639.4
16 992.5
14.7
77.2
宮古島
北緯24度44分
南面20度
1999年10月1日
―
17 044.5
23.8
79.0
表JB.3−太陽追跡集光暴露
地域
緯度
暴露開始日
注記
フェニックス
（アメリカ）
北緯33度54分
2000年6月
水噴霧：照射中は1時間ごとに8分，
夜間は3回各8分
表JB.4−キセノンアーク試験（直接屋外暴露シミュレーション条件）
光源
キセノンランプ
フィルタ
内側：石英，外側：ほうけい酸ガラス（パイレックス 275）
放射照度
60 W/m2 (300−400 nm)
槽内温度
約40 ºC
ブラックパネル温度
63 ºC
噴霧サイクル
120分照射中18分間水噴霧
表JB.5−キセノンアーク試験（アンダーグラス屋外暴露シミュレーション条件）
光源
キセノンランプ
フィルタ
内側：石英，外側：紫外線吸収ガラス（ソーダライム 320）
放射照度
50 W/m2 （300−400 nm）
槽内温度
約40 ºC
ブラックパネル温度
63 ºC
噴霧サイクル
水噴霧なし
表JB.6−オープンフレーム（サンシャイン）カーボンアーク試験
光源
オープンフレーム（サンシャイン）カーボンアークランプ
フィルタ
I形
放射照度
255 W/m2 （300−700 nm）
ブラックパネル温度
63±3 ºC
噴霧サイクル
120分照射中18分間水噴霧
表JB.7−キセノンアーク試験（高エネルギー形）
光源
キセノンランプ
フィルタ
内側：石英，外側：ほうけい酸ガラス（パイレックス 275）
放射照度
180 W/m2 (300−400 nm)
ブラックパネル温度
63±3 ºC
噴霧サイクル
120分照射中18分間水噴霧
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K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.8−ウェザリング基準材料SBR（屋外暴露試験結果）
評価項目及び単位
期間
月
直接暴露
アンダー
グラス暴露
銚子
宮古島
札幌
フェニッ
クス
セルポン
銚子
宮古島
TS MPa
0
23.1
23.1
23.1
23.1
23.1
23.1
23.1
Eb %
431
431
431
431
431
431
431
M100 MPa
2.6
2.6
2.6
2.6
2.6
2.6
2.6
IRHD
66
66
66
66
66
66
66
TS MPa
3
24.4
25.3
22
21.7
21.2
22
22.6
Eb %
434
437
395
344
329
385
378
M100 MPa
2.8
3
2.9
3.4
3.7
3
3.2
IRHD
71
71
70
73
75
72
71
TS MPa
6
24.7
20.8
24.6
21.6
21.8
23.3
24.4
Eb %
432
345
445
342
300
414
390
M100 MPa
3
3
2.7
3.8
4.6
2.9
3.4
IRHD
72
72
69
74
76
72
73
TS MPa
12
22.7
23.3
23.9
21.1
22.3
24.5
23.2
Eb %
342
334
385
288
275
359
315
M100 MPa
3.9
4.4
3.3
5.1
5.8
4
4.6
IRHD
74
75
73
78
78
76
76
TS MPa
24
22.2
22.6
22.7
19.5
18.5
20.8
20.6
Eb %
336
311
372
235
229
305
267
M100 MPa
4.3
5
3.6
6.2
6.3
4.4
5.6
IRHD
75
77
73
78
77
76
78
TS MPa
36
21.4
20
21.7
18.6
19.1
20.9
20
Eb %
304
264
328
216
210
292
270
M100 MPa
4.6
5.5
4.2
7.1
7.6
4.8
5.7
IRHD
77
79
76
70
70
77
74
35
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.9−ウェザリング基準材料SBR（促進暴露試験結果）
評価項目及び単位
集光暴露
サンシャイン
キセノン
（直接）
キセノン
（アンダーグラス）
高エネ
キセノン
放射露光量
MJ/m2
時間
h
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
TS MPa
0
23.1
0
23.1
0
23.1
0
23.1
0
23.1
Eb %
431
431
431
431
431
M100 MPa
2.6
2.6
2.6
2.6
2.6
IRHD
66
66
66
66
66
TS MPa
90
22.5
300
24
75
23.4
75
22.7
175
22.1
Eb %
335
390
359
343
290
M100 MPa
4.1
3.3
3.8
4
4.9
IRHD
77
74
76
77
80
TS MPa
180
20.4
600
20.9
175
21.7
150
21.3
350
21.3
Eb %
273
358
266
294
290
M100 MPa
4.7
3.7
5.6
4.9
5.1
IRHD
78
76
79
79
80
TS MPa
360
14.8
1 200
21.2
350
18.5
350
―
525
18.2
Eb %
182
310
215
―
220
M100 MPa
6.5
4.5
6.4
―
6.3
IRHD
82
78
81
―
81
TS MPa
720
16.5
2 400
19.2
525
17.3
525
―
700
16.4
Eb %
204
246
180
―
200
M100 MPa
6.5
5.8
8.1
―
6.8
IRHD
82
80
84
―
84
TS MPa
―
―
―
―
700
15.2
―
―
―
―
Eb %
―
―
160
―
―
M100 MPa
―
―
8.3
―
―
IRHD
―
―
85
―
―
36
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.10−ウェザリング基準材料EPDM（屋外暴露試験結果）
評価項目及び単位
期間
月
直接暴露
アンダー
グラス暴露
銚子
宮古島
札幌
フェニッ
クス
セルポン
銚子
宮古島
TS MPa
0
14.2
14.2
14.2
14.2
14.2
14.2
14.2
Eb %
386
386
386
386
386
386
386
M100 MPa
3.6
3.6
3.6
3.6
3.6
3.6
3.6
IRHD
75
75
75
75
75
75
75
TS MPa
3
14.1
14.4
14.1
14.3
13.7
13.1
13.8
Eb %
375
380
378
369
356
362
334
M100 MPa
3.4
3.5
3.6
3.7
3.9
3.6
3.8
IRHD
78
78
78
79
80
79
79
TS MPa
6
13.5
13.8
13.3
12.7
12.8
12.9
13.3
Eb %
358
368
356
330
316
355
353
M100 MPa
3.6
3.6
3.4
3.7
3.9
3.4
3.6
IRHD
79
80
78
80
80
79
80
TS MPa
12
14.3
13.2
13.2
12.9
13.9
13.7
14.3
Eb %
358
301
332
280
290
329
310
M100 MPa
3.8
4.2
3.8
4.5
4.5
4
4.4
IRHD
80
80
80
81
80
80
80
TS MPa
24
13.2
13.3
13.5
12.9
13.1
13.2
13.1
Eb %
319
306
350
275
288
321
295
M100 MPa
3.9
4.2
3.8
4.6
4.4
4
4.3
IRHD
79
79
78
80
80
73
80
TS MPa
36
13.2
13.2
13.7
12.9
12.4
13.2
13.9
Eb %
313
308
343
273
265
301
340
M100 MPa
4.1
4.2
3.8
4.5
4.5
4.3
4
IRHD
68
66
67
70
68
60
74
37
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.11−ウェザリング基準材料EPDM（促進暴露試験結果）
評価項目及び単位
集光暴露
サンシャイン
キセノン
（直接）
キセノン
（アンダーグラス）
高エネ
キセノン
放射露光量
MJ/m2
時間
h
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
TS MPa
0
14.2
0
14.2
0
14.2
0
14.2
0
14.2
Eb %
386
386
386
386
386
M100 MPa
3.6
3.6
3.6
3.6
3.6
IRHD
75
75
75
75
75
TS MPa
90
13.8
300
14.2
75
13.8
75
13
175
13.4
Eb %
337
370
336
324
300
M100 MPa
3.8
3.7
3.9
3.9
4.3
IRHD
79
79
80
82
80
TS MPa
180
14.1
600
12.8
175
13.6
175
12.9
350
13.6
Eb %
322
337
293
292
290
M100 MPa
4.2
3.7
4.5
4.4
4.4
IRHD
80
80
78
83
80
TS MPa
360
13.8
1 200
12.9
350
13.2
350
―
525
12.3
Eb %
290
317
287
―
270
M100 MPa
4.6
3.8
4.6
―
4.3
IRHD
80
79
80
―
80
TS MPa
720
12.8
2 400
13.4
525
13.8
525
―
700
13.1
Eb %
274
303
270
―
360
M100 MPa
4.4
4.1
4.9
―
3.9
IRHD
78
79
81
―
81
TS MPa
―
―
―
―
700
13.4
―
―
―
―
Eb %
―
―
270
―
―
M100 MPa
―
―
4.7
―
―
IRHD
―
―
81
―
―
38
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.12−ウェザリング基準材料CR（屋外暴露試験結果）
評価項目及び単位
期間
月
直接暴露
アンダー
グラス暴露
銚子
宮古島
札幌
フェニッ
クス
セルポン
銚子
宮古島
TS MPa
0
24
24
24
24
24
24
24
Eb %
526
526
526
526
526
526
526
M100 MPa
3
3
3
3
3
3
3
IRHD
69
69
69
69
69
69
69
TS MPa
3
25
24.9
24.5
22.8
23.2
25
24.4
Eb %
517
508
511
459
450
518
481
M100 MPa
3.3
3.4
3.3
3.5
3.8
3.3
3.5
IRHD
73
74
72
74
75
73
74
TS MPa
6
23.2
23.1
23.4
22.3
22.3
22.6
21.4
Eb %
496
494
508
463
424
474
440
M100 MPa
3.2
3.3
3.1
3.4
3.7
3.3
3.3
IRHD
73
73
72
74
76
73
74
TS MPa
12
23.9
22.3
24.1
21.7
20.7
23
22.7
Eb %
465
414
474
383
349
403
427
M100 MPa
3.6
4
3.4
4.2
4.8
4.2
4.1
IRHD
75
76
74
76
78
75
76
TS MPa
24
20.8
19.7
21.6
18
17.6
18.8
19.9
Eb %
418
380
446
332
329
372
391
M100 MPa
3.8
4.2
3.6
4.4
4.6
3.9
4.2
IRHD
75
76
74
76
78
75
77
TS MPa
36
20.6
18.5
22.5
17.2
15.8
20
18.4
Eb %
403
357
459
301
278
404
367
M100 MPa
4
4.4
3.8
5
5.3
3.9
4.4
IRHD
76
77
69
70
80
73
77
39
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.13−ウェザリング基準材料CR（促進暴露試験結果）
評価項目
及び単位
集光暴露
サンシャイン
キセノン
（直接）
キセノン
（アンダーグラス）
高エネ
キセノン
放射露光量
MJ/m2
時間
h
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
TS MPa
0
24
0
24
0
24
0
24
0
24
Eb %
526
526
526
526
526
M100 MPa
3
3
3
3
3
IRHD
69
69
69
69
69
TS MPa
90
23.4
300
21.3
75
22.1
75
20.7
175
22.7
Eb %
444
420
434
407
440
M100 MPa
3.7
3.8
3.7
3.7
3.7
IRHD
75
74
74
76
75
TS MPa
180
21.8
600
20.9
175
19.8
175
20.5
350
22.3
Eb %
404
402
360
408
450
M100 MPa
3.9
3.8
4.5
3.8
3.5
IRHD
77
75
78
78
76
TS MPa
360
17.6
1 200
19.9
350
20.2
350
―
525
21.4
Eb %
310
392
351
―
490
M100 MPa
4.4
3.9
4.7
―
3.4
IRHD
79
76
79
―
76
TS MPa
720
15.4
2 400
19.7
525
16.5
525
―
700
20.5
Eb %
272
359
270
―
490
M100 MPa
4.7
4.5
5.6
―
3.4
IRHD
71
78
80
―
77
TS MPa
―
―
―
―
700
16
―
―
―
―
Eb %
―
―
260
―
―
M100 MPa
―
―
5.7
―
―
IRHD
―
―
82
―
―
40
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.14−ウェザリング基準材料NR（屋外暴露試験結果）
評価項目及び
単位
期間
月
直接暴露
アンダー
グラス暴露
銚子
宮古島
札幌
フェニッ
クス
セルポン
銚子
宮古島
TS MPa
0
33.1 33.1
33.1 33.1
33.1
33.1
33.1
Eb %
636
636
636
636
636
636
636
M100 MPa
2.2 2.2
2.2 2.2
2.2
2.2
2.2
IRHD
63
63
63
63
63
63
63
TS MPa
3
32.1 32.8
31.7 29.8
32
29.8
31.4
Eb %
603
617
597
552
564
574
594
M100 MPa
2.4 2.5
2.5 2.8
3.1
2.4
2.8
IRHD
67
67
67
69
70
67
68
TS MPa
6
29.4 29.2
29.6 28.9
28.2
31.6
31.6
Eb %
550
586
588
570
536
642
633
M100 MPa
2.6 2.4
2.3 2.8
3
2.4
2.6
IRHD
67
68
66
69
70
68
69
TS MPa
12
32
31.5
32
28.5
29
31.6
31.5
Eb %
568
528
559
508
514
536
549
M100 MPa
2.9 3.1
2.8 3.5
3.4
3.2
3.1
IRHD
70
70
68
72
73
70
71
TS MPa
24
29
28.3
29.7 23.6
25
29.1
26.1
Eb %
551
523
572
453
465
540
480
M100 MPa
2.9 3.2
2.8 3.9
3.8
3.1
3.5
IRHD
69
71
68
72
72
70
71
TS MPa
36
29
28.1
29.9 21.2
16.1
28.9
25.8
Eb %
556
528
570
407
296
549
493
M100 MPa
3
3.3
2.8 4
4.4
3.1
3.5
IRHD
70
71
68
72
69
70
71
41
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.15−ウェザリング基準材料NR（促進暴露試験結果）
評価項目
及び単位
集光暴露
サンシャイン
キセノン
（直接）
キセノン
（アンダーグラス）
高エネ
キセノン
放射露光量
MJ/m2
時間
h
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
放射露光量
MJ/m2
TS MPa
0
33.1
0
33.1
0
33.1
0
33.1
0
33.1
Eb %
636
636
636
636
636
M100 MPa
2.2
2.2
2.2
2.2
2.2
IRHD
63
63
63
63
63
TS MPa
90
28.6
300
27.1
75
30.2
75
29.8
175
26.7
Eb %
521
500
594
586
480
M100 MPa
2.9
3.4
3.1
3
3.5
IRHD
70
68
70
71
70
TS MPa
180
23.9
600
29.8
175
27.5
175
28.4
350
30
Eb %
443
566
492
544
560
M100 MPa
3.3
2.9
3.7
3.2
2.8
IRHD
70
69
71
71
71
TS MPa
360
11.9
1 200
27.3
350
23.3
350
―
525
22.5
Eb %
245
533
415
―
460
M100 MPa
3.6
3
4.1
―
3
IRHD
69
70
72
―
71
TS MPa
720
5.3
2 400
25.2
525
15.1
525
―
700
9.8
Eb %
123
467
260
―
250
M100 MPa
4
3.6
4.8
―
3.2
IRHD
81
72
73
―
72
TS MPa
―
―
―
―
700
14.1
―
―
―
―
Eb %
―
―
260
―
―
M100 MPa
―
―
4.6
―
―
IRHD
―
―
74
―
―
42
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記1 表JB.8〜表JB.15及び図JB.1〜図JB.16の各試験名称は，表JB.16のように省略して表示し
た。
表JB.16−試験名称の略称
試験名称
略称
アンダーグラス屋外暴露試験 銚子
U銚子
アンダーグラス屋外暴露試験 宮古島
U宮古島
太陽追跡集光暴露試験
集光暴露
キセノンアーク試験（直接屋外暴露シミュレーション条件）
キセノン
キセノンアーク試験（アンダーグラス暴露シミュレーション
条件）
キセノン（アンダーグラス）
オープンフレーム（サンシャイン）カーボンアーク試験
サンシャイン
キセノンアーク試験（高エネルギー形）
高エネキセノン
注記2 表JB.8〜表JB.15中の“―”は，データなしを意味する。
注記3 図JB.2〜図JB.16の中で，サンシャインの時間は，300〜400 nmにおける放射照度70 W/m2
を基にして放射露光量に換算して表示した。
注記4 表JB.8〜表JB.15及び図JB.1〜図JB.16中では，実験室光源暴露と太陽追跡集光暴露とを合
わせて促進暴露とした。
図JB.1−屋外暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料SBR
43
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図JB.2−促進暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料SBR
図JB.3−屋外暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料EPDM
図JB.4−促進暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料EPDM
44
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図JB.5−屋外暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料CR
図JB.6−促進暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料CR
図JB.7−屋外暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料NR
45
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図JB.8−促進暴露試験における劣化特性 (Eb)−基準材料NR
図JB.9−屋外暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料SBR
図JB.10−促進暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料SBR
46
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図JB.11−屋外暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料EPDM
図JB.12−促進暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料EPDM
図JB.13−屋外暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料CR
47
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図JB.14−促進暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料CR
図JB.15−屋外暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料NR
図JB.16−促進暴露試験における劣化特性 (M 100)−基準材料NR
48
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JC
（参考）
遮へい（蔽）暴露試験
序文
この附属書は，加硫ゴムの遮へい暴露試験について記載するものであり，規定の一部ではない。
JC.1 目的
この試験は，加硫ゴムを遮へい構造物の下若しくは中，又は屋内に暴露し，その耐候性を調べるために
行う。
JC.2 試験装置
試験装置は，日光の直射，雨，雪，風などの一部又は全部の直接的な影響から遮へいできるように，遮
へい屋根又は覆いを設けた構造とする。試験片及び必要に応じコントロール試験片を取り付けるための試
験片取付け器具を用いる。
装置の例を，図JC.1に示す。
図JC.1−遮へい暴露試験装置の例
49
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JC.3 試験片
試験片は，6.3.1 b) による。
注記 この試験は，色変化及び外観の評価は行わない。
JC.4 試験方法
JC.4.1 試験条件
試験条件は，次による。
a) 試験片及び保存試験片の保管は，JIS K 6250の8.2による。
b) 試験は，JIS K 6259に従って，静的ひずみを与えた状態で実施する。
c) 暴露ステージは，時間による。
JC.4.2 操作方法
操作方法は，次による。
a) 試験片及び必要に応じ，コントロール試験片を試験片取付け器具に固定し，暴露架台に取り付ける。
b) 試験片の裏側にマーキングを付ける。マーキングは，試験の結果に影響しないようにする。照合のた
めに取付け配置図を作成しておくとよい。
c) 試験片の取付けは，試験装置が設置された床面又は地面から試験片の下端までの距離が50 cm以上に
なるようにして上部からつり下げる。ただし，受渡当事者間の協定によって距離を変更してもよい。
注記 緩んだ試験片を再固定すること，及び試験片の状態の記録，装置の損傷の補修などのために
定期的な点検及び保守管理を行うことが望ましい。
JC.5 暴露後の試験片の評価
暴露後の試験片の評価は，本体の6.5による。
JC.6 試験結果のまとめ方
試験結果のまとめ方は，本体の6.6による。
JC.7 記録
記録は，次による。
a) この規格の規格番号
b) 試料の詳細
1) 試料の明細，履歴など
2) 配合の明細，加硫条件など
3) 試験片作製方法
4) コントロール試験片を用いた場合は，その明細
c) 試験の詳細
1) 物理特性の変化を測定するのに用いた方法の規格名称及び番号
2) 暴露方法の種類及び試験装置
3) 暴露場所の位置及び明細
4) 暴露ステージ（期間）
5) 試験片に与えたひずみの程度
50
K 6266：2007
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6) 保存試験片の保管条件
d) 試験結果
1) き裂の劣化等級
2) 各測定値の個々の値
3) 各暴露ステージ（期間）後の各物理特性値の試験結果
4) 各物理特性値の残留率，変化率及び変化，並びに各測定値の単位
e) 試験年月日
f)
その他必要な事項
参考文献 [1] Aimura, Y. and Wada, N Reference Materials for Weathering Tests on Rubber Products,
PolymerTesting, Vol.25, No.2, pp. 166-175 (2006)
[2] Mitsuhashi, K., Okutsu, S. and Takane, Y. The Study of Weathering Reference Materials for Rubber,
Material Raifu Gakkaishi, Vol. No. 1, P.15 (2003) （日本語）
JIS B 7753 サンシャインカーボンアーク灯式の耐光性試験機及び耐候性試験機
JIS B 7754 キセノンアークランプ式耐光性及び耐候性試験機
JIS D 0205 自動車部品の耐候性試験方法
JIS K 6352 天然ゴム (NR)−試験方法
JIS K 6383 合成ゴム−SBR−試験方法
JIS K 6388 合成ゴム−CR−試験方法
JIS K 6395 合成ゴム−EPDM−試験方法
JIS Z 8722 色の測定方法−反射及び透過物体色
JIS Z 8729 色の表示方法−L*a*b*表色系及びL*u*v*表色系
JASO M 346 自動車用内装部品のキセノンアークランプによる促進耐光性試験方法
JASO M 351 自動車部品−外装部品のキセノンアークランプによる促進耐候性試験方法
51
K 6266：2007
附属書JD
（参考）
JISと対応する国際規格との対比表
JIS K 6266 : 2007 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−耐候性の求め方
ISO 4665 : 2006，Rubber，vulcanized or thermoplastic−Resistance to weathering
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
序文
−
追加
警告文を追加した。
実質的な技術的差異なし。
1適用範囲
加硫ゴム及び熱可塑性ゴムの，屋
外暴露試験又は実験室光源暴露
試験を規定し，さらに暴露後の試
験片の色，外観，物理的特性など
の変化（耐候性）を求める方法に
ついて規定。
1
JISと同じ。
一致
適用範囲は一致している。
なお，ISO規格の規定内容は主
として別のISO規格の引用に
よるとしているが，JISは，規
格の利用者のため別のJISの引
用だけでなく，必要な内容をこ
の規格で規定している。
2引用規格
2
3定義
JIS K 6200, JIS K 7219及びJIS K
7350-1によるほか，8用語の定義
を規定。
3
5用語の定義を規定。
追加
ウェザリング基準材料とし
ての具体的材料名を，附属書
Aで規定。
具体的材料名の規定が必要。
ISO規格の改正を提案する。
ISO規格にない3用語を追
加。
ISO規格の引用規格ISO 4892
に記載・規定・引用されており，
技術的差異はない。
4原理
試験片を屋外暴露又は実験室光
源暴露雰囲気にさらし，色，外観，
物理特性などの変化を求める。そ
の一般的な情報を，一般事項とし
て，附属書JAに述べる。
4
試験片を屋外暴露又は
実験室光源暴露雰囲気
にさらし，色，外観，物
理特性などの変化を求
める。
追加
一般事項を，附属書JAを追
加。
ISO規格がその序文で引用し
ているISO 877及びISO 4892-1
の一般的事項のうち，ゴムに関
する部分を附属書に記載する
ことにしたので，実質的な差異
はない。
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
52
K 6266：2007
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5試験の種
類
屋外暴露試験方法及び実験室光
源暴露試験方法の各々3種類を規
定。
5
6
屋外暴露試験方法
実験室光源暴露試験方
法
追加
ISO規格は，試験の方法を規
定。ただし，試験の種類は
JISと同じ。また，附属書JC
を追加した。
JIS利用者の利便性のために，
規定項目を追加。
6.1目的
屋外暴露試験装置を用いて，直接
太陽光下における加硫ゴムの耐
候性を調べる。
4
原理
試験片を自然又は実験
室光源に暴露し耐候性
を調べる。
削除
JISは，屋外暴露に限定して
規定。
JISは，試験の種類ごとに試験
方法を規定。
6.2試験装置 JIS K 7219及びJIS Z 2381による
ほか，暴露架台，試験片保持枠及
び試験片取付け具並びに放射照
度計を規定。
5
ISO 877（JIS K 7219に
対応）による。
追加
JISは，JIS Z 2381の内容な
どを追加し，試験装置を詳し
く規定。
JIS Z 2381は，ISO規格と同等
の内容を規定したゴムを含む
各試料の共通規格であり，実質
的な差異はない。
6.3試験片
6.3.1試験片の形状及び寸法
7.2
色変化測定用試験片
追加
JISは，実用を考慮し適切な
寸法を具体的に設定。
JISとして必要な内容を追加。
次回ISO規格改正時に提案す
ることを検討する。
9.2
物性測定用試験片
追加
試験方法のJISを引用。
6.3.2試験片の採取・作製
6.3.3試験片の数
6.3.4試験片の厚さ及び幅の測定
−
−
追加
−
6.4試験方法 6.4.1試験条件
6.4.2測定方法
5
ISO 877による。
追加
ISO規格は，試験方法を引用
規格で規定。JISは，引用に
よる規定に加え，この規格で
追加規定。
JIS利用者の利便性のために，
規定内容を追加。
次回ISO規格改正時に提案す
ることを検討する。
6.5暴露後の
試験片の評
価
6.5.1色変化及び外観変化の評価
6.5.2物理特性変化の評価
6.5.3その他の特性の評価
7.1
7.3
8
9.1
9.3
10
色の変化（7.2試験片は，
JISの7.3に規定した。）
その他の外観の変化
物理特性の変化
結果の表示
追加
・測色及び色差の計算式を追
加
・光沢計による光沢変化の別
の評価法を追加。
JISは，ISO規格に整合した試
験方法JISを引用しており，技
術的差異はない。試験片だけ，
ゴム用にして，7.3に規定した。
6.6試験結果
のまとめ方
色変化，外観変化などの結果のま
とめ方を規定。
−
−
追加
−
JIS利用者の利便性のために，
規定項目を追加。
6.7記録
試験成績表の記録事項を規定。
11
試験報告書
一致
−
−
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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K 6266：2007
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7.1目的
屋外暴露試験装置を用いて，ガラ
スを透過した太陽光下における
加硫ゴムの耐光性を調べる。
4
原理
試験片を自然又は実験
室光源に暴露し耐光性
を調べる。
削除
JISは，屋外暴露試験装置を
用いたガラスを透過した太
陽光下における試験に限定
して規定。
JISは，試験の種類ごとに試験
方法を規定。
7.2試験装置 JIS K 7219及びJIS Z 2381による
ほか，装置の一例を図示。
5
ISO 877（JIS K 7219に
対応）による。
追加
JISは，JIS Z 2381の内容な
どを追加し，試験装置を詳し
く規定。
JIS Z 2381は，ISO規格と同等
の内容を規定したゴムを含む
各試料の共通規格であり，実質
的な技術的差異はない。
7.3試験片
6.3による。
7.2
9.2
（6.3の記載内容に同
じ。）
追加
（6.3の記載内容に同じ。）
（6.3の記載内容に同じ。）
7.4試験方法 7.4.1試験条件
7.4.2操作方法
5
ISO 877による。
追加
ISO規格は，試験方法を引用
規格で規定。JISは，引用に
よる規定に加え，この規格で
追加規定。
JIS利用者の利便性のために，
規定内容を追加。
次回ISO規格改正時に提案す
ることを検討する。
7.5暴露後の
試験片の評
価
暴露後の試験片の評価は6.5によ
る。
7.1
7.3
8
9.1
9.3
10
（6.5の記載内容に同
じ。）
追加
（6.5の記載内容に同じ。）
（6.5の記載内容に同じ。）
7.6試験結果
のまとめ方
色変化，外観変化などの結果のま
とめ方は，6.6による。
−
（6.6の記載内容に同
じ。）
追加
（6.6の記載内容に同じ。）
（6.6の記載内容に同じ。）
7.7記録
試験成績表の記録事項は，6.7に
よる。
11
（6.7の記載内容に同
じ。）
一致
（6.7の記載内容に同じ。）
（6.7の記載内容に同じ。）
8.1目的
太陽追跡集光暴露試験装置を用
いて，加硫ゴムの耐候性を調べ
る。
4
原理
試験片を自然又は実験
室光源に暴露し耐候性
を調べる。
削除
JISは，太陽追跡集光暴露試
験装置を用いた試験に限定
して規定し，その原理も説
明。
JISは，試験の種類ごとに試験
方法を規定。
8.2試験装置 JIS K 7219又はJIS Z 2381によ
る。
5
ISO 877（JIS K 7219に
対応）による。
追加
JISは，JIS Z 2381の引用を
追加。
JIS Z 2381は，ISO規格と同等
の内容を規定したゴムを含む
各試料の共通規格であり，実質
的な差異はない。
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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K 6266：2007
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
8.3試験片
6.3による。
7.2
9.2
（6.3の記載内容に同
じ。）
追加
（6.3の記載内容に同じ。）
（6.3の記載内容に同じ。）
8.4試験方法 8.4.1試験条件
8.4.2操作方法
5
ISO 877による。
追加
ISO規格は，試験方法を引用
規格で規定。JISは，引用に
よる規定に加え，この規格で
追加規定。
JIS利用者の利便性のために，
規定内容を追加。
次回ISO規格改正時に提案す
ることを検討する。
8.5暴露後の
試験片の評
価
暴露後の試験片の評価は6.5によ
る。
7.1
7.3
8
9.1
9.3
10
（6.5の記載内容に同
じ。）
追加
（6.5の記載内容に同じ。）
（6.5の記載内容に同じ。）
8.6試験結果
のまとめ方
色変化，外観変化などの結果のま
とめ方は，6.6による。
−
（6.6の記載内容に同
じ。）
追加
（6.6の記載内容に同じ。）
（6.6の記載内容に同じ。）
8.7記録
試験成績表の記録事項は，6.7に
よる。
11
（6.7の記載内容に同
じ。）
一致
（6.7の記載内容に同じ。）
（6.7の記載内容に同じ。）
9.1目的
オープンフレームカーボンアー
ク灯式耐候性試験装置を用いて，
加硫ゴムの耐候性を調べる。
4
原理
試験片を自然又は実験
室光源に暴露し耐候性
を調べる。
削除
JISは，オープンフレームカ
ーボンアーク灯式耐候性試
験装置を用いた試験に限定
して規定。
JISは，試験の種類ごとに試験
方法を規定。
9.2試験装置 JIS K 7350-1及び JIS K 7350-4
によるほか，実験室光源，試験槽，
放射照度計，ブラックパネル温度
計，加湿装置，試験片表面の水噴
霧装置及び試験片ホルダを規定。
5
ISO 4892-4 (JIS K
7350-4に対応) による。
追加
JIS B 7350-1の引用を追加
し，それらの内容を詳述。
装置詳細の規定引用JISを追
加。実質的な差異はない。
9.3試験片
6.3による。
7.2
9.2
（6.3の記載内容に同
じ。）
追加
（6.3の記載内容に同じ。）
（6.3の記載内容に同じ。）
9.4試験方法 9.4.1試験条件
9.4.2操作方法
5
ISO 4892-4による。
追加
ISO規格は，試験方法を引用
規格で引用。JISは，引用規
格の内容を規定。
JIS利用者の利便性のために，
規定内容を追加。実質的な差異
はない。
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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K 6266：2007
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
9.5放射露光
量の測定
−
−
追加
引用規格の該当部分の内容
を規定
JIS利用者の利便性のための追
加で，実質的な差異はない。
9.6暴露後の
試験片の評
価
暴露後の試験片の評価は6.5によ
る。
7.1
7.3
8，9
10
（6.5の記載内容に同
じ。）
追加
（6.5の記載内容に同じ。）
（6.5の記載内容に同じ。）
9.7試験結果
のまとめ方
色変化，外観変化などの結果のま
とめ方は，6.6による。
−
（6.6の記載内容に同
じ。）
追加
（6.6の記載内容に同じ。）
（6.6の記載内容に同じ。）
9.8記録
試験成績表の記録事項を規定
11
試験報告書
JISとほぼ同じ。
追加
試験の詳細として暴露条件
の記録を追加。
JISとして必要な事項を追加。
実質的な差異はない。
10.1目的
キセノンアーク灯式耐候性試験
装置を用いて，加硫ゴムの耐候性
を調べる。
4
原理
試験片を自然又は実験
室光源に暴露し耐候性
を調べる。
削除
JISは，キセノンアーク灯式
耐候性試験装置を用いた試
験に限定して規定。
JISは，試験の種類ごとに試験
方法を規定。
10.2試験装置 JIS K 7350-1 及びJIS K 7350-2
によるほか，実験室光源，試験槽，
放射照度計，ブラックパネル温度
計又はブラックスタンダード温
度計，加湿装置，試験片表面の水
噴霧装置及び試験片ホルダを規
定。
5
ISO 4892-2 (JIS K
7350-2に対応) による。
追加
JIS B 7350-1の引用を追加
し，それらの内容を詳述。
装置詳細の規定引用JISを追
加。実質的な差異はない。
10.3試験片
6.3による。
7.2
9.2
（6.3の記載内容に同
じ。）
追加
（6.3の記載内容に同じ。）
（6.3の記載内容に同じ。）
10.4試験方法 10.4.1試験条件
10.4.2操作方法
5
ISO 4892-2による。
追加
ISO規格は，試験方法を引用
規格で規定。JISは，引用及
び引用規格の内容を規定。
JIS利用者の利便性のために，
規定内容を追加。
実質的な差異はない。
10.5放射露光
量の測定
−
−
追加
引用規格の該当部分の内容
を規定。
JIS利用者の利便性のための追
加で，実質的な差異はない。
10.6暴露後
の試験片の
評価
暴露後の試験片の評価は6.5によ
る。
7.1
7.3
8
9.1
9.3
10
（6.5の記載内容に同
じ。）
追加
（6.5の記載内容に同じ。）
（6.5の記載内容に同じ。）
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
56
K 6266：2007
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
10.7試験結
果のまとめ
方
色変化，外観変化などの結果のま
とめ方は，6.6による。
−
（6.6の記載内容に同
じ。）
追加
（6.6の記載内容に同じ。）
（6.6の記載内容に同じ。）
10.8記録
試験成績表の記録事項は，暴露条
件の内容を変更の上，9.7による。
11
試験報告書
JISとほぼ同じ。
追加
試験の詳細として暴露条件
の記録を追加。
JISとして必要な事項を追加。
実質的な差異はない。
11.1目的
紫外線蛍光灯式耐候性試験装置
を用いて，加硫ゴムの耐候性を調
べる。
4
原理
試験片を自然又は実験
室光源に暴露し耐候性
を調べる。
削除
JISは，紫外線蛍光灯式耐候
性試験装置を用いた試験に
限定して規定。
JISは，試験の種類ごとに試験
方法を規定。
11.2試験装置 JIS K 7350-3によるほか，光源，
試験槽，放射照度計，ブラックパ
ネル温度計，水分の発生器及び試
験片ホルダについて規定。
5
ISO 4892-3 (JIS K
7350-2に対応) による。
追加
ISO規格の試験法は，規格の
引用だけ。JISは内容を記述。
実質的な差異はない。
11.3試験片
6.3による。
7.2
9.2
（6.3の記載内容に同
じ。）
追加
（6.3の記載内容に同じ。）
（6.3の記載内容に同じ。）
11.4試験方法 11.4.1試験条件
11.4.2操作方法
5
ISO 4892-3による。
追加
ISO規格は，試験方法を引用
規格で規定。JISは，引用及
び引用規格の内容を規定。
JIS利用者の利便性のために，
規定内容を追加。
実質的な差異はない。
11.5 放射露
光量の測定
−
−
追加
引用規格の該当部分の内容
を規定。
JIS利用者の利便性のための追
加で，実質的な差異はない。
11.6暴露後
の試験片の
評価
暴露後の試験片の評価は6.5によ
る。
7.1
7.3
8
9.1
9.3
10
（6.5の記載内容に同
じ。）
追加
（6.5の記載内容に同じ。）
（6.5の記載内容に同じ。）
11.7試験結
果のまとめ
方
色変化，外観変化などの結果のま
とめ方は，6.6による。
−
（6.6の記載内容に同
じ。）
追加
（6.6の記載内容に同じ。）
（6.6の記載内容に同じ。）
11.8記録
試験成績表の記録事項は，9.7に
よる。
11
試験報告書
JISとほぼ同じ。
追加
試験の詳細として暴露条件
の記録を追加。
JISとして必要な事項を追加。
実質的な差異はない。
1
2
K
6
2
6
6
：
2
0
0
7
1
2
K
6
2
6
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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K 6266：2007
(Ⅰ) JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ) 国際規格の規定
(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書A（参
考）
ウェザリング基準材料
Ann
ex A
一致
−
−
附属書B（参
考）
暴露後の評価に使用できる特性
の例
Ann
ex B
一致
−
−
附属書JA
（参考）
耐候性試験の一般事項
−
−
追加
−
JISとして必要。
附属書JB
（参考）
ウェザリング基準材料の劣化特
性
−
−
追加
−
JISとして必要。
附属書JC
（参考）
遮へい（蔽）暴露試験
−
−
追加
−
JISとして必要。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 4665 : 2006，MOD
注記1 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次による。
− 一致……………技術的差異がない。
− 削除……………国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加……………国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価の意味は，次のとおりである。
− MOD……………国際規格を修正している。
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K
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0
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。