K 6249：2003
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本ゴム工業会
(JRMA)／財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによって，
JIS K 6249:1997は改正され，この規格に置き換えられる。
K 6249：2003
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
序文････････････････････････････････････････････････････・･･････････････････････････････････1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
4. 試験の種類 ····················································································································· 2
4.1 未硬化シリコーンゴム ···································································································· 2
4.2 硬化シリコーンゴム ······································································································· 2
5. 単位記号 ························································································································ 3
6. 試験の一般条件 ··············································································································· 3
6.1 試験室の標準状態 ·········································································································· 3
6.2 試験片の状態調節 ·········································································································· 3
6.3 数値の丸め方 ················································································································ 3
7. 粘度試験 ························································································································ 3
7.1 目的 ···························································································································· 3
7.2 試験の種類 ··················································································································· 3
7.3 回転粘度による方法 ······································································································· 3
7.4 見掛け粘度による方法 ···································································································· 3
8. 可塑度試験 ····················································································································· 4
8.1 目的 ···························································································································· 4
8.2 試験装置 ······················································································································ 4
8.3 試験片 ························································································································· 4
8.4 試験方法 ······················································································································ 4
8.5 試験結果のまとめ方 ······································································································· 4
8.6 記録 ···························································································································· 4
9. 硬化性試験 ····················································································································· 5
9.1 目的 ···························································································································· 5
9.2 試験方法 ······················································································································ 5
9.3 試験結果のまとめ方 ······································································································· 5
9.4 記録 ···························································································································· 5
10. タックフリー試験 ·········································································································· 5
10.1 目的 ··························································································································· 5
10.2 試験の種類 ·················································································································· 6
10.3 指触による方法 ············································································································ 6
10.4 鉛筆による方法 ············································································································ 6
11. 線収縮率試験 ················································································································ 7
11.1 目的 ··························································································································· 7
K 6249：2003
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
11.2 試験の種類 ·················································································································· 7
11.3 シートによる方法 ········································································································· 7
11.4 円板による方法 ············································································································ 8
12. 密度試験 ······················································································································ 9
12.1 目的 ··························································································································· 9
12.2 試験方法 ····················································································································· 9
12.3 試験結果のまとめ方 ······································································································ 9
12.4 記録 ··························································································································· 9
13. 硬さ試験 ······················································································································ 9
13.1 目的 ··························································································································· 9
13.2 試験方法 ····················································································································· 9
13.3 試験装置 ····················································································································· 9
13.4 試験結果のまとめ方 ······································································································ 9
13.5 記録 ··························································································································· 9
14. 針入度試験 ··················································································································· 9
14.1 目的 ·························································································································· 10
14.2 試験方法 ···················································································································· 10
14.3 試験結果のまとめ方 ····································································································· 10
14.4 記録 ·························································································································· 10
15. 引張試験 ····················································································································· 10
15.1 目的 ·························································································································· 10
15.2 試験片 ······················································································································· 10
15.3 試験方法 ···················································································································· 10
15.4 試験結果のまとめ方 ····································································································· 10
15.5 記録 ·························································································································· 10
16. 引裂試験 ····················································································································· 10
16.1 目的 ·························································································································· 10
16.2 試験片 ······················································································································· 10
16.3 試験方法 ···················································································································· 10
16.4 試験結果のまとめ方 ····································································································· 10
16.5 記録 ·························································································································· 10
17. 永久ひずみ試験 ············································································································ 11
17.1 目的 ·························································································································· 11
17.2 試験の種類 ················································································································· 11
17.3 引張永久ひずみ試験 ····································································································· 11
17.4 圧縮永久ひずみ試験 ····································································································· 11
18. 耐熱試験 ····················································································································· 11
18.1 目的 ·························································································································· 11
18.2 試験方法 ···················································································································· 11
K 6249：2003
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
18.3 試験結果のまとめ方 ····································································································· 11
18.4 記録 ·························································································································· 11
19. 浸せき試験 ·················································································································· 12
19.1 目的 ·························································································································· 12
19.2 試験方法 ···················································································································· 12
19.3 試験結果のまとめ方 ····································································································· 12
19.4 記録 ·························································································································· 12
20. 引張せん断接着強さ試験 ································································································ 12
20.1 目的 ·························································································································· 12
20.2 試験方法 ···················································································································· 12
20.3 試験結果のまとめ方 ····································································································· 12
20.4 記録 ·························································································································· 12
21. 体積抵抗率試験 ············································································································ 12
21.1 目的 ·························································································································· 12
21.2 試験装置 ···················································································································· 12
21.3 試験の種類 ················································································································· 13
21.4 試験片 ······················································································································· 13
21.5 常態試験 ···················································································································· 13
21.6 浸水試験 ···················································································································· 14
22. 絶縁破壊試験 ··············································································································· 14
22.1 目的 ·························································································································· 14
22.2 試験装置 ···················································································································· 14
22.3 試験の種類 ················································································································· 14
22.4 試験片 ······················································································································· 14
22.5 常態試験 ···················································································································· 15
22.6 浸水試験 ···················································································································· 16
23. 誘電正接及び比誘電率試験 ····························································································· 16
23.1 目的 ·························································································································· 16
23.2 試験装置 ···················································································································· 16
23.3 試験の種類 ················································································································· 16
23.4 試験片 ······················································································································· 16
23.5 常態試験 ···················································································································· 16
23.6 浸水試験 ···················································································································· 16
K 6249：2003
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
K 6249：2003
未硬化及び硬化シリコーンゴムの試験方法
Testing methods for uncured and cured silicone rubber
序文 シリコーンゴムは、他の有機ゴムにない特性を有しており、その特性を評価するための試験方法
として、１９９７年にＪＩＳ Ｋ６２４９が制定された。今回、本規格が第２版として改正された。
警告 この規格の利用者は，通常の実験室での作業に精通しているものとする。この規格は，その使用に
関連して起こるすべての安全上の問題を取り扱おうとするものではない。この規格の利用者は，各自の責
任において安全及び健康に対する適切な措置を取らねばならない。
1. 適用範囲 この規格は，ミラブル形シリコーンゴムコンパウンド（以下，ミラブル形シリコーンゴム
という。）及び液状シリコーンゴムコンパウンド（以下，液状シリコーンゴムという。）の試験方法につい
て規定する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 2320 電気絶縁油
JIS K 2220 グリース
JIS K 6200 ゴム用語
JIS K 6250 ゴム−物理試験方法通則
JIS K 6251 加硫ゴムの引張試験方法
JIS K 6252 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−引裂強さの求め方
JIS K 6253 加硫ゴム及び熱可塑性ゴムの硬さ試験方法
JIS K 6257 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−熱老化特性の求め方
JIS K 6258 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−耐液性の求め方
JIS K 6262 加硫ゴム及び熱可塑性ゴムの永久ひずみ試験方法
JIS K 6268 加硫ゴム−密度測定
JIS K 6271 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−体積抵抗率及び表面抵抗率の求め方
JIS K 6300-2 未加硫ゴム−物理特性−第2部：振動式加硫試験機による加硫特性の求め方
JIS K 6850 接着剤−剛性被着材の引張せん断接着強さ試験方法
JIS K 7117-1 プラスチック−液状，乳濁状又は分散状の樹脂−ブルックフィールド形回転粘度計によ
る見掛け粘度の測定方法
JIS Z 8202-0 量及び単位−第0部：一般原則
JIS Z 8202-1 量及び単位−第1部：空間及び時間
K 6249：2003
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS Z 8202-2 量及び単位−第2部：周期現象及び関連現象
JIS Z 8202-3 量及び単位−第3部：力学
JIS Z 8202-4 量及び単位−第4部：熱
JIS Z 8202-5 量及び単位−第5部：電気及び磁気
JIS Z 8203 国際単位系（SI）及びその使い方
JIS Z 8401 数値の丸め方
ISO 7323 Rubber，raw and unvulcanized compounded−Determination of plasticity number and recovery
number−Parallel plate method
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS K 6200によるほか，次による。
a) ミラブル形シリコーンゴム シリコーンゴムコンパウンドのうちで，硬化前の状態が天然ゴム又は通
常の合成ゴムの未加硫配合ゴムに類似し，練りロール機又は密閉式混合機で可塑化又は混合を行うこ
とができるものの総称。
b) 液状シリコーンゴム シリコーンゴムコンパウンドのうちで，硬化前の状態が液状又はペースト状の
ものの総称。
c) 粘度 液状シリコーンゴムの粘性を回転粘度計又は見掛け粘度試験機によって測定し，得られた値。
d) 可塑度 未硬化のミラブル形シリコーンゴムの可塑性を平行板可塑度計によって測定し，得られた値。
e) 硬化 シリコーンゴムが熱，湿気などによって，架橋構造をつくる化学反応。一般には，加硫と同義
語。
f)
硬化性 振動式加硫試験機によって得られる硬化速度又は硬化の程度。
g) タックフリータイム 湿気硬化形液状シリコーンゴムを硬化させるとき，指又は鉛筆に付着しなくな
るまでの時間。
h) 線収縮率 シリコーンゴムを金型によって正方形又は円形の形状に硬化させ，金型寸法に対して得ら
れた成形物の寸法変化を測定し，得られた変化率の値。
i)
針入度 規定円すいが規定時間に進入する深さを測定し，得られた値。シリコーンのゲル状硬化物の
やわらかさを表す。
j)
引張せん断接着強さ 被着体間でシリコーンゴムを接着硬化させた後，引張試験機でせん断破壊まで
の最大せん断荷重を求め，せん断面積で除した値。
4. 試験の種類 試験の種類を，次に示す。
4.1
未硬化シリコーンゴム
a) 粘度試験
b) 可塑度試験
c) 硬化性試験
d) タックフリー試験
e) 線収縮率試験
4.2
硬化シリコーンゴム
a) 密度試験
b) 硬さ試験
c) 針入度試験
K 6249：2003
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d) 引張試験
e) 引裂試験
f)
永久ひずみ試験
g) 耐熱試験
h) 浸せき試験
i)
引張せん断接着強さ試験
j)
体積抵抗率試験
k) 絶縁破壊試験
l)
誘電正接及び比誘電率試験
5. 単位記号 単位記号は，JIS Z 8202-0， JIS Z 8202-1， JIS Z 8202-2， JIS Z 8202-3， JIS Z 8202-4，
JIS Z 8202-5及びJIS Z 8203による。
6. 試験の一般条件
6.1
試験室の標準状態 試験室の標準状態は，JIS K 6250の5.1（試験室の標準温度）及び6.1（試験室
の標準湿度）によって，温度は23±2 ℃とし，相対湿度は（50±5）％が望ましい。
6.2
試験片の状態調節 試験片の状態調節は，JIS K 6250の8.3（試験片の状態調節）によるが，未硬化
シリコーンゴムについては，試験前少なくとも3時間以上，JIS K 6250の5.1に置く。
6.3
数値の丸め方 各試験によって得られた測定値又は求める値は，JIS Z 8401による。
7. 粘度試験
7.1
目的 この試験は，未硬化の液状シリコーンゴムの粘度を測定することを目的とする。
7.2
試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) 回転粘度による方法
b) 見掛け粘度による方法
7.3
回転粘度による方法
7.3.1
試験方法 試験方法は，JIS K 7117-1の4.1（ブルックフィールド形回転粘度計）による。
7.3.2
試験結果のまとめ方 得られた値は，単位はPa・sとし，有効数字3けたに丸めて表す。
7.3.3
記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（粘度）
b) 試験の種類
c) 試験条件（粘度計の型式，スピンドル番号及び回転数並びに温度）
d) 試験日
e) その他必要事項
7.4
見掛け粘度による方法
7.4.1
試験方法 試験方法は，JIS K 2220の5.15（見掛け粘度試験方法）による。
7.4.2
試験結果のまとめ方 結果のまとめ方は，7.3.2による。
7.4.3
記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（見掛け粘度）
b) 試験の種類
K 6249：2003
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 試験条件（せん断率，温度）
d) 試験日
e) その他必要事項
8. 可塑度試験
8.1
目的 この試験は，平行板可塑度計（ウイリアムスプラストメータ）による未硬化のミラブル形シ
リコーンゴムの可塑度を測定することを目的とする。
8.2
試験装置 試験装置は，ISO 7323によって平行板可塑度計を用い，その基本的な構造は次のとおり
とする。その一例を図1に示す。
a) 2個の金属板は，厚さ10 mm以上，直径40 mm以上あって，適切なフレームによって1個の金属板は
動かすことができ，かつ，金属板は相互に平行であり（傾斜1度以内）水平に置く。
b) 平行な金属板の間に置かれた試験片は，ダイヤルゲージの力を含めて49±0.05 Nの力を加えられるよ
うになっている。
c) ダイヤルゲージは，1/100 mmで目盛られており，金属板間の距離が常に読めるように装置に取り付け
てある。
8.3
試験片
8.3.1
試験片の形状 試験片の形状は，体積2±0.02㎝3の円筒状（直径約16 mm，高さ約10 mm）とす
る。
8.3.2
試験片の採取・作製
a) 十分に再練りした直後の試料から気泡を含まないように，8.3.1に規定する形状の試験片を作製する。
参考 再練りは，一般的には2本又は3本ロールで数分間行う。また，試験片は，8.3.1に規定する形
状の試験片が得られればよく，その作製方法は限定しない。
b) 試験片の数は，3個とし， 試験前に著しく変形することのないよう適切な方法で静置する。
c) 試験片の静置時間は，JIS K 6250の5.1で試験片作製後，60分以内とする。
8.4
試験方法 試験方法は，ISO 7323による。
a) 平行板間に2枚のセロハン紙を置き，その厚さでダイヤルゲージの目盛を0に調整する。 調整した後，
このセロハン紙は取り除く。
b) 試験片を2枚のセロハン紙に挟んで，試験片が平行板に付着するのを防止する。
c) セロハン紙に挟んだ試験片を平行板の間に置いて荷重を規定時間かけた後 ，ダイヤルゲージの目盛を
ミリメートルの1/100まで読み，試験片の厚さを記録する。この数値を100倍し可塑度とする。
8.5
試験結果のまとめ方 得られた値は，3個の試験片の中央値を整数位で表す。
8.6
記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（可塑度）
b) 試験条件（再練り条件，試験片の静置時間及び荷重をかけた時間）
c) 試験日
d) その他必要事項
K 6249：2003
（5）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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図 1 平行版可塑度計の一例
9. 硬化性試験
9.1
目的 試験は，未硬化のシリコーンゴムの硬化性を測定することを目的とする。
9.2
試験方法 試験方法は，JIS K 6300-2の8.（ディスク加硫試験）又は9.（ダイ加硫試験A法）によ
る。
9.3
試験結果のまとめ方 得られた値は，次によって表す。
a) 硬化時間 単位が秒ならば整数位，単位が分ならば小数点以下1けたとする。
b) トルク 単位はN・mとし，有効数字2けたとする。
9.4
記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果 （硬化時間及びトルク）
b) 試験条件（試験装置，振幅角及び試験の温度）
c) 試験日
d) その他必要事項
10. タックフリー試験
10.1 目的 この試験は，湿気硬化形液状シリコーンゴムのタックフリータイムを測定することを目的と
する。
K 6249：2003
（6）
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10.2 試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) 指触による方法
b) 鉛筆による方法
10.3 指触による方法
10.3.1 試験装置 試験装置は，次の器具を用いる。
a) ストップウオッチ
b) ガラス板
c) へら
10.3.2 試験方法
a) 試料をガラス板の上に泡が入らないように，厚さ約3 mmにへらなどで平らにした試験体1個を作る。
b) エチルアルコールで清浄にした指先で，表面に軽く触れる。
c) b）の操作を，異なる場所において，試料が指先に付着しなくなるまで，適切な間隔（1）をおいて繰
り返す。
d) 平らにしたときから，試料が指先に付着しなくなるまでに要した時間を測定し，これをタックフリー
タイムとする。
注(1) 試験開始から10分までは1分ごと，10分を超え30分以内の場合には5分ごと，30分を超え1
時間以内の場合には10分ごと，1時間を超え3時間以内の場合には30分ごと，3時間を超える
場合には1時間ごとに測定する。
10.3.3 試験結果のまとめ方 得られた値が10分以内の場合には1分単位，10分を超え30分以内の場合
には5分単位，30分を超え1時間以内の場合には10分単位，1時間を超え3時間以内の場合には30分単
位，3時間を超える場合には1時間単位に丸めて整数位で表す。
10.3.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（タックフリータイム）
b) 試験の種類
c) 試験条件（試験室の温度及び湿度）
d) 試験日
e) その他必要事項
10.4 鉛筆による方法
10.4.1 試験装置 試験装置は，次の器具を用いる。
a) ストップウオッチ
b) ガラス板
c) 鉛筆
10.4.2 試験方法
a) 試料をガラス板の上に泡が入らないように，カートリッジなどから棒状（径約8 mm）に出した試験
体1個を作る。
b) 削った鉛筆のしんをエチルアルコールで清浄にした後，鉛筆をガラス板に水平とし，試料に直角にな
るようにして，しんの側面で試料の表面に軽く触れる。
c) b）の操作を，異なる場所において，試料が鉛筆のしんに付着しなくなるまで，適切な間隔（1）をお
いて繰り返す。
d) 棒状に出したときから，試料が鉛筆のしんに付着しなくなるまでに要した時間を測定し，これをタッ
K 6249：2003
（7）
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クフリータイムとする。
10.4.3 試験結果のまとめ方 試験結果のまとめ方は，10.3.3による。
10.4.4 記録 記録は，10.3.4による。
11. 線収縮率試験
11.1 目的 この試験は，未硬化のシリコーンゴムを成形した時の成形収縮率を測定することを目的とす
る。
11.2 試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) シートによる方法
b) 円板による方法
11.3 シートによる方法
11.3.1 試験装置 試験装置は，次の装置を用いる。
a) 2本ロール
b) 加硫プレス
c) 線収縮率成形用金型 キャビティは深さ2 mm，大きさ130 mm×130 mmの正方形状
d) 寸法測定器 読取り顕微鏡など非接触のものが望ましい。
11.3.2 試験片 試験片は，正方形状で約130 mm×130 mm，厚さ約2 mmとする。
11.3.3 試験方法
a) ミラブル形シリコーンゴムの場合は，2本ロールによって再練りした試料から厚さ約1 mmのシート
を2枚作り，ロール圧延方向が互いに直角になるように重ねて，正方形の金型に入れる（2）。 液状シ
リコーンゴムの場合は，ミラブル形シリコーンゴムと同様の金型に液状シリコーンゴムを流し込む（2）。
b) 所定の条件（成形条件については，受渡当事者間の協定による。代表例は170 ℃，10分）で硬化させ
る。二次硬化が必要な場合は，JIS K 6257の10.（熱抵抗性試験B-2法）に規定されたオーブンを用い
る。試験片は恒温槽につるさずに，表面にガラスクロスを敷いた水平な板の上に置いて行う。
c) 寸法測定器を用い，相対する辺の中点を結ぶ二つの長さを0.1 mmまで読み取る。
d) 式(1)から線収縮率を計算する。
100
)
(
)
(
)
(
2
1
2
1
2
1
×
+
+
−
+
=
L
L
l
l
L
L
S
··························································· (1)
ここに，
S： 線収縮率（％）
L1，L2： 金型の相対する辺の中点間の長さ（mm）
l1，l2： 試験片の相対する辺の中点間の長さ（mm）
注(2) 試料は，成形の際に金型の内部によく流れて，ばりの出る程度の量をとる。
11.3.4 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位は％とし，有効数字2けたに丸めて表す。
11.3.5 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（線収縮率）
b) 試験の種類
c) 試験条件（硬化温度及び時間）
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（8）
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d) 試験日
e) その他必要事項
11.4 円板による方法
11.4.1 試験装置 試験装置は，次の装置を用いる。
a) 2本ロール
b) 加硫プレス
c) 線収縮率成形用金型 キャビティは深さ2 mm，直径215 mmの円板状
d) 寸法測定器 読取り顕微鏡など非接触のものが望ましい。
11.4.2 試験片 試験片は，円板状で直径約215 mm，厚さ約2 mm，4組の相対する刻印間の長さ約178 mm
とする。図2に試験片の形状を示す。
11.4.3 試験方法
a) ミラブル形シリコーンゴムの場合は，2本ロールによって再練りした試料から厚さ約3 mmのシート
を1枚作り，金型に入れる（2）。 液状シリコーンゴムの場合は，ミラブル形シリコーンゴムと同様の
金型に液状シリコーンゴムを流し込む（2）。
b) 硬化は11.3.3 b）による。
c) 寸法測定器を用い，試験片と金型の4組の相対する刻印間の長さを0.1 mmまで読み取る。
d) 式(2)から線収縮率を計算する。
(
)(
)
(
)
100
6
5
4
3
6
5
4
3
6
5
4
3
×
=
+
+
+
+
+
+
−
+
+
+
L
L
L
L
l
l
l
l
L
L
L
L
S
·································· (2)
ここに，
S： 線収縮率（％）
L3，L4，L5，L6： 金型の相対する刻印間の長さ（mm）
l3，l4，l5，l6： 試験片の相対する刻印間の長さ（mm）
11.4.4 試験結果のまとめ方 試験結果のまとめ方は，11.3.4による。
11.4.5 記録 記録は，11.3.5による。
K 6249：2003
（9）
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単位 mm
図 2 円板による方法の線収縮率用試験片（例）
12. 密度試験
12.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの密度を測定することを目的とする。
12.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6268の5.1（A法）による。ただし，水の温度は23±2 ℃とする。
12.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位はMg/m3又はg/cm3とし，有効数字3けたに丸めて表す。
12.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（密度）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，水の温度）
c) 試験日
d) その他必要事項
13. 硬さ試験
13.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの硬さを測定することを目的とする。
13.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6253の5.（デュロメータ硬さ試験）による。
13.3 試験装置 試験装置は，タイプAデュロメータ又はタイプEデュロメータを用いる。
13.4 試験結果のまとめ方 得られた値は，整数位に丸めて表す。
13.5 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（硬さ）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，デュロメータのタイプ及び積み重ねた場合にはその枚数と厚さ）
c) 試験日
d) その他必要事項
14. 針入度試験
備考 ＋印は刻印の位置を示す。
K 6249：2003
（10）
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14.1 目的 この試験は，液状シリコーンゴムの架橋密度が低いゲル状硬化物の硬さを測定することを目
的とする。
14.2 試験方法 試験方法は，JIS K 2220の5.3（ちょう度試験方法）による。用いる円すいはJIS K 2220
の参考1（1/4及び1/2ちょう度試験方法）の1/4円すいとする。
14.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，3回の中央値を整数位で表す。
14.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（針入度）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間及び用いた円すいの種類）
c) 試験日
d) その他必要事項
15. 引張試験
15.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの引張強さ，引張応力及び切断時伸びを測定することを目
的とする。
15.2 試験片 試験片は，JIS K 6250の8.5.2（試験片を型加硫で作製する場合）の板状試験片から作製す
るダンベル状試験片とする。
15.3 試験方法 試験方法は，JIS K 6251によって行うが，液状シリコーンゴムについてはゴムの列理（グ
レーン）方向は問わない。
15.4 試験結果のまとめ方 得られた値は，次によって表す。
a) 引張強さ，引張応力：単位はMPaとし，小数点以下1けたとする。
b) 切断時伸び：単位は％とし，有効数字2けたとする。
15.5 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（引張強さ，引張応力及び切断時伸び）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の形状）
c) 試験日
d) その他必要事項
16. 引裂試験
16.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの引裂強さを測定することを目的とする。
16.2 試験片 試験片は，JIS K 6250の8.5.2の板状試験片から作製する次の3種類とする。
a) クレセント形試験片
b) 切込みありアングル形試験片
c) 切込みなしアングル形試験片
16.3 試験方法 試験方法は，JIS K 6252によって行うが，液状シリコーンゴムについてはゴムの列理（グ
レーン）方向は問わない。
16.4 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位はN/mm又はkN/mとし，整数位に丸めて表す。
16.5 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（引裂強さ）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の形状及びアングル形試験片においては切込みの有無）
c) 試験日
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（11）
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d) その他必要事項
17. 永久ひずみ試験
17.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの永久ひずみを測定することを目的とする。
17.2 試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) 引張永久ひずみ試験
b) 圧縮永久ひずみ試験
17.3 引張永久ひずみ試験
17.3.1 試験方法 試験方法は，JIS K 6262の4.（引張永久ひずみ試験方法）による。
17.3.2 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位は％とし，小数点以下1けたに丸めて表す。
17.3.3 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（引張永久ひずみ）
b) 試験の種類
c) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の形状，試験温度，試験時間及び引張ひずみ）
d) 試験日
e) その他必要事項
17.4 圧縮永久ひずみ試験
17.4.1 試験方法 試験方法は，JIS K 6262の5.（圧縮永久ひずみ試験方法）による。
なお，試験片は大形試験片を用いることが望ましい。また，試験温度は，JIS K 6250の5.3（その他の試験
温度）に加え，180±2 ℃を採用してもよい。
17.4.2 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位は％とし，整数位に丸めて表す。
17.4.3 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（圧縮永久ひずみ）
b) 試験の種類
c) 試験の条件（硬化温度，硬化時間，試験片の形状，試験温度，試験時間及び圧縮の割合。積層した場
合はその枚数。）
d) 試験日
e) その他必要事項
18. 耐熱試験
18.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの耐熱性を確認するため，引張強さ，切断時伸び及び硬さ
の変化を測定することを目的とする。
18.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6257の4.［空気加熱老化試験（ノーマルオーブン法）］による。加熱
温度及び加熱時間は，JIS K 6250の5.3（その他の試験温度）及びJIS K 6250の7.（試験時間）によるが，
特に指定のない限り，250±2 ℃，
0
2
72−時間とする。
18.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位は％（硬さ変化を除く。）とし，整数位に丸めて表す。
18.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（引張強さ変化率，切断時伸び変化率及び硬さ変化）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の形状，加熱温度及び加熱時間）
c) 試験日
K 6249：2003
（12）
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d) その他必要事項
19. 浸せき試験
19.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの各種の液体に対する体積，引張強さ，切断時伸び及び硬
さの変化を測定することを目的とする。
19.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6258の5.（浸せき試験）による全面浸せき試験とし，試験項目は体
積の変化率，引張強さの変化率，切断時伸びの変化率及び硬さの変化とする。
19.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位は％（硬さ変化を除く。）とし，整数位に丸めて表す。
19.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（体積変化率，引張強さ変化率，切断時伸び変化率及び硬さ変化）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の形状，浸せき液の種類，浸せき温度及び浸せき時間）
c) 試験日
d) その他必要事項
20. 引張せん断接着強さ試験
20.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの引張せん断接着強さを測定することを目的とする。
20.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6850によって行う。ただし，特に指定のない限り，引張速度は50±5
mm/minとする。
20.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位はN/mm2又はMPaとし，小数点以下1けたに丸めて表す。
20.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（引張せん断接着強さ）
b) 試験条件（硬化温度，硬化時間，被着材の材質，接着層の寸法及び引張速度）
c) 試験日
d) その他必要事項
21. 体積抵抗率試験
21.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの体積抵抗率を測定することを目的とする。
21.2 試験装置 試験の装置は，JIS K 6271の6.2（試験装置）による。図3に電極の名称及び形状を示す。
また，図4に体積抵抗率回路図を示す。
K 6249：2003
（13）
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図 3 電極の名称及び形状
図 4 体積抵抗率 回路図
21.3 試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) 常態試験
b) 浸水試験
21.4 試験片 試験片は，JIS K 6271の6.3（試験片）による。ただし，寸法は，厚さ
2.0
1.0
1+− mm，大きさ100
mm×100 mm以上とする。
21.5 常態試験
21.5.1 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，塩化カルシウム，シリカゲルなどの乾燥剤入りのデシケ
ータ中に16時間以上静置する。
21.5.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6271の6.4（試験方法）による。ただし，21.5.1で状態調節した試
験片をデシケータから取り出してから15分以内に試験を終了させる。
体積抵抗率は，式(3)から計算する。
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v
2
v
4
R
t
d×
××
=π
ρ
v
2
4
I
t
V
d×
×
×
×
=π
········································································ (3)
ここに， ρv： 体積抵抗率（Ω・cm）
Rv： 体積抵抗の測定値（Ω）
d： 主電極の外径（cm）
t： 試験片中央部の厚さ（cm）
V： 試験片に印加した電圧（V）
Iv： 体積抵抗測定時の電圧印加1分後の電流（A）
π： 円周率
21.5.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，単位はΩ・cmとし，有効数字2けたに丸めて表す。
21.5.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（体積抵抗率）
b) 試験の種類
c) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の厚さ及び主電極と印加電極間に印加された電圧）
d) 試験日
e) その他必要事項
21.6 浸水試験
21.6.1 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，23±2 ℃のイオン交換水，蒸留水などの精製された水中
に16時間以上静置する。
21.6.2 試験方法 試験方法は，JIS K 6271の6.4による。ただし，21.6.1で状態調節した試験片を水中か
ら取り出し，速やかに2枚のろ紙の間に挟み表面の水滴を取り去り，試験片を取り出してから15分以内に
試験を終了させる。
体積抵抗率は，21.5.2の式(3)によって計算する。
21.6.3 試験結果のまとめ方 試験結果のまとめ方は，21.5.3による。
21.6.4 記録 記録は，21.5.4による。
22. 絶縁破壊試験
22.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの絶縁破壊の強さを測定することを目的とする。
22.2 試験装置 試験装置は，波高率が1.34〜1.48の間にあるような商用周波数の交流電圧が加えられる
装置を用いる。電極には，周りに半径約2.5 mmの丸みをもたせた径約25 mmの磨いたきずのない黄銅製
平板又は円柱2個を用いる。
22.3 試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) 常態試験
b) 浸水試験
22.4 試験片
K 6249：2003
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22.4.1 試験片の寸法 試験片の寸法は，21.4による。
22.4.2 厚さの測定 厚さの測定は，22.2の電極を置く場所を試験片ごとに5か所あらかじめ定めておき，
そのそれぞれの場所について3点以上ずつ，JIS K 6250の9.（寸法測定方法）の測厚器によって0.01 mm
まで厚さを測定し，その中央値をその場所の厚さとする。厚さの測定において，例えば，図5のように直
径25 mmの穴を5か所あけた紙を用いてもよい。
22.5 常態試験
22.5.1 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，21.5.1による。
22.5.2 試験方法 試験方法は，21.5.1で状態調節した試験片を取り出し，23±2 ℃のJIS C 2320に規定す
る1種2号絶縁油に2分間浸した後，試験片を取り出してから15分以内に油中で試験を終了させる。22.4.2
で定めてある場所を，22.2の電極で試験片を挟み，波高率が1.34〜1.48の間にあるような商用周波数の交
流電圧を加える。電圧は，0から1秒間に約1 000 Vの速さでなるべく一様に上昇して5か所の破壊電圧を
求める。
式(4)から絶縁破壊の強さを計算する。
t
V
V=
b
··················································································· (4)
ここに， Vb： 絶縁破壊の強さ（kV/mm）
V： 破壊電圧の測定値（kV）
t： 試験を実施した箇所の試験片の厚さ（mm）
22.5.3 試験結果のまとめ方 5か所の値の中央値をその試料の絶縁破壊の強さとする。単位はkV/mmと
し，有効数字2けたに丸めて表す。
図 5 当て紙の形状及び寸法
K 6249：2003
（16）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
22.5.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（絶縁破壊の強さ）
b) 試験の種類
c) 試験条件（硬化温度，硬化時間，試験片の厚さ及び昇圧速度及びオイルの種類）
d) 試験日
e) その他必要事項
22.6 浸水試験
22.6.1 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，21.6.1による。
22.6.2 試験方法 試験方法は，22.5.2による。ただし，22.6.1で状態調節した試験片を取り出し，速やか
に2枚のろ紙の間に挟み表面の水滴を取り去り，試験片を取り出してから15分以内に試験を終了させる。
計算は，22.5.2による。
22.6.3 試験結果のまとめ方 試験結果のまとめ方は，22.5.3による。
22.6.4 記録 記録は，22.5.4による。
23. 誘電正接及び比誘電率試験
23.1 目的 この試験は，硬化シリコーンゴムの誘電正接及び比誘電率を測定することを目的とする。
23.2 試験装置 試験装置は，ひずみ率5 ％以下の商用周波数の交流電圧500 Vが加えられるシェーリン
グブリッジを用いる。電極は21.2による。
23.3 試験の種類 試験の種類は，次の2種類とする。
a) 常態試験
b) 浸水試験
23.4 試験片 試験片は，21.4による。
23.5 常態試験
23.5.1 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，21.5.1による。
23.5.2 試験方法 試験方法は，23.5.1で状態調節した試験片を取り出し，21.2の電極と同形で0.59±0.15 N
又はそれに相当する力で黄銅板を用いて試験片を挟み, 試験片を取り出してから15分以内に誘電正接及び
比誘電率を測定する。
23.5.3 試験結果のまとめ方 得られた値は，有効数字2けたに丸めて表す。
23.5.4 記録 記録は，次の事項を記録する。
a) 試験結果（誘電正接及び比誘電率）
b) 試験の種類
c) 試験条件（硬化温度，硬化時間，周波数及び装置の種類）
d) 試験日
e) その他必要事項
23.6 浸水試験
23.6.1 試験片の状態調節 試験片の状態調節は，21.6.1による。
23.6.2 試験方法 試験方法は，23.5.2による。ただし，23.6.1で状態調節した試験片を取り出し，速やか
に2枚のろ紙の間に挟み表面の水滴を取り去り，試験片を取り出してから15分以内に試験を終了させる。
23.6.3 試験結果のまとめ方 試験結果のまとめ方は，23.5.3による。
23.6.4 記録 記録は23.5.4 による。