2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
K 0801-1986
濁度自動計測器
Continuous Turbidimeter
1. 適用範囲 この規格は，公共用水域の水質監視及び工場・事業所における排水の水質管理のために用
いる濁度自動計測器（以下，計測器という。）について規定する。
引用規格：
JIS C 1301 絶縁抵抗計（発電機式）
JIS C 1302 絶縁抵抗計（電池式）
JIS C 1303 高絶縁抵抗計
JIS K 0101 工業用水試験方法
JIS K 0211 分析化学用語（基礎部門）
JIS K 8847 ヘキサメチレンテトラミン（試薬）
JIS K 8992 硫酸ヒドラジニウム (2＋) （硫酸ヒドラジン）（試薬）
2. 共通事項 共通事項は，JIS K 0101（工業用水試験方法）による。
3. 用語の意味 この規格で用いる用語の意味は，次に示すもののほか，JIS K 0101及びJIS K 0211［分
析化学用語（基礎部門）］による。
(1) 透過散乱方式 試料水に光束を照射したときに観測される透過光と，懸濁質による散乱光（一般に前
方散乱光）との強度比を測定して濁度を表示する方式。
(2) 表面散乱方式 試料水が静かにいつ（溢）流している試料セル水面に斜上方から光束を照射したとき
に観測される散乱光（一般に後方散乱光）の強度を測定して濁度を表示する方式。
(3) 採水形 ポンプなどによって採取した試料水を計測器まで運んで測定する形式。
(4) 浸せき（漬）形 計測器の本体（例えば指示記録部以外の部分）を水中に保って測定するもので，特
にサンプリング流路を要しない形式。
(5) 度（ホルマジン） 調製ホルマジン標準液を基準として測定する場合の濁度単位。FTUで表すことも
ある。
(6) 調製ホルマジン標準液 8.3.1の方法に従って調製した濁度標準液。
(7) スパン校正液 8.3.2(1)の方法に従って調製したスパン校正液。
(8) ゼロ校正液 8.3.2(2)の規定によるゼロ校正液。
4. 定格電圧及び定格周波数 計測器の定格電圧は，単相交流100V,定格周波数は50Hz若しくは60Hz専
用又は50Hz及び60Hz共用とする。
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5. 種類 計測器の種類は，次のとおりとする。
5.1
計測器原理別の種類
(1) 透過散乱方式
(2) 表面散乱方式
5.2
試料水導入形態別種類
(1) 採水形
(2) 浸せき（漬）形
6. 性能 最大目盛値が20度（ホルマジン）から1 000度（ホルマジン）の間にある計測器について，次
の性能を満足しなければならない。
(1) 繰返し性 8.4(1)の試験方法で試験を行ったとき，その偏差は各測定段階（以下，レンジという。）ご
とに最大目盛値の±3%以内であること。
(2) ゼロドリフト 8.4(2)の試験方法で試験を行ったとき，その偏差は各レンジごとに最大目盛値の±3%
以内であること。
(3) スパンドリフト 8.4(3)の試験方法で試験を行ったとき，スパンの変動は各レンジごとに最大目盛値の
±3%以内であること。
(4) 直線性 8.4(4)の試験方法で試験を行ったとき，直線性は各レンジごとに最大目盛値の±5%以内であ
ること。
(5) 電源電圧変動に対する安定性 8.4(5)の試験方法で試験を行ったとき，その指示値の変動は各レンジご
とに最大目盛値の±3%以内であること。
(6) 絶縁抵抗 8.4(6)の試験方法で試験を行ったとき，その絶縁抵抗は5MΩ以上であること。
(7) 耐電圧 8.4(7)の試験方法で試験を行ったとき，異常を生じてはならない。
7. 構造
7.1
構造一般 計測器の構造は，次の各項目に適合しなければならない。
(1) 形状が正しく，組立て及び各部の仕上がりが良好で，かつ，堅ろうであること。
(2) 通常の運転状態で危険を生じるおそれがなく，安全，かつ，円滑に作動すること。
(3) 各部は容易に機械的・電気的故障を起こさず，かつ，危険を生じない構造であること。
(4) 水漏れ，水はね，結露などによって計測器の作動に支障を生じない構造であること。
(5) 光源ランプなど発熱部に接する部分は，熱による変形及び機能の変化を起こさない構造であること。
(6) 保守・点検の際，作業しやすく，かつ，危険のない構造であること。
7.2
構成 計測器は，図に示す検出部及び指示記録部で構成する。
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図 計測器の構成
7.2.1
検出部 検出部は，試料水の濁度に比例して発生する電気信号を安定に指示記録部に供給するもの
で，検出器，変換器などで構成する。
(1) 検出器
(a) 採水形の検出器 採水形の検出器は，透過散乱方式及び表面散乱方式いずれの方式のものも試料水
をセルに導く構造とする。
透過散乱方式では，一定の光路長の空間（セルなど）に試料水を導き，この部分に光源からの光
束を入射させ，試料水を透過した透過光（直進光）と粒子散乱による散乱光を別々の受光素子で受
けるか，又は一つの受光素子で交互に受けて電気信号に変換する構造のものとする。
表面散乱方式のものでは上部開放形セルに試料水を導き，その水面に光源(1)からの光束を入射さ
せ，水面近傍からの粒子散乱による散乱光を受光素子(2)が受けて，電気信号に変換する構造のもの
とする。
(b) 浸せき形の検出器 浸せき形の検出器は，検出器を直接試料水に挿入して測定する構造のものとす
る。
注(1) タングステン電球などで種々の容量のものを用いる。
(2) セレン光電池，シリコンフォトダイオード，硫化カドミウム光導電セルなどの受光素子を用い
る。
(2) 変換器 変換器は，受光素子からの電気信号を統一伝送出力とするために変換する部分であり，必要
に応じて光源変動の補償，光源を点灯する電源の安定化，試料水の着色の補償，受光素子からの出力
の非直線性の補償などの演算を行うものとする。
また，変換器は，必要に応じて防滴構造とする。
7.2.2
指示記録部 指示記録部は，濁度を等分目盛で指示記録できるものとする。
7.2.3
附属装置 附属装置は，次のとおりとする。ただし，場合により付加しなくてもよい。
(1) 試料セル洗浄装置
(2) 採水部
8. 性能試験
8.1
性能試験は，次のとおりとする。ただし，複数のレンジをもつ計測器においては，8.4(4)は，すべて
のレンジについて行わなければならない。
なお，6.(1), (2), (3)及び(5)については，その計測器の最小レンジにおける試験結果をもって各レンジごと
の性能としてもよい。
8.2
試験条件 試験条件は，次のとおりとする。
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(1) 温度 10〜30℃の間の任意の温度。ただし，8.4(1)，(2)及び(3)の項目については，この温度変化幅が5℃
以内であること。
(2) 相対湿度 65±20%
(3) 電源電圧 定格電圧
(4) 電源周波数 定格周波数
(5) 暖機時間 製造業者が指定する時間
8.3
試験準備
8.3.1
調製ホルマジン標準液 次の試薬及び調製法によって調製する。
(1) 試薬
(a) 硫酸ヒドラジニウム (2＋) JIS K 8992［硫酸ヒドラジニウム (2＋)（硫酸ヒドラジン）（試薬）］に
規定する特級のもの。
(b) ヘキサメチレンテトラミン JIS K 8847［ヘキサメチレンテトラミン（試薬）］に規定する特級のも
の。
(c) 水 JIS K 0101の2.(8)(b)に規定する水。
(2) 調製法 硫酸ヒドラジニウム (2＋) を5.00gはかりとり，水400mlに溶かす。別にヘキサメチレンテ
トラミン50.0gをはかりとり，水400mlに溶かす。
この2液を混合し，水を加えて1 000mlとし，よくかき混ぜる。この液を液温25±3℃に保ち，48
時間静置する。この液の濁度値は，4 000度（ホルマジン）に相当する。
調製後1か月以上経過したものは，使用してはならない。
8.3.2
校正液
(1) スパン校正液 各レンジの最大目盛値の85〜95%値を指示するように8.3.1の調製ホルマジン標準液
を水で希釈したものをスパン校正液とする。
(2) ゼロ校正液 JIS K 0101の2.(8)(b)の水を使用する。
8.4
試験方法 試験方法は，次のとおりとする。
(1) 繰返し性 同一条件で，ゼロ校正液とスパン校正液を交互にそれぞれ3回流し(3), スパン値の平均値
を算出し，各指示値と平均値との偏差を求め，最大目盛値に対する百分率を算出する。
(2) ゼロドリフト ゼロ校正液でゼロ校正を行い，24時間経過後，同一条件でゼロ校正液を流し(3),この指
示値とゼロとの偏差を求め，最大目盛値に対する百分率を算出する。
(3) スパンドリフト スパン校正液でスパン校正を行い，24時間経過後，同一条件でスパン校正液を流し
(3)，この指示値と用いたスパン校正液の値との偏差から，ゼロドリフト分を差し引いたものの最大目
盛値に対する百分率を算出する。
(4) 直線性 ゼロ校正液でゼロ校正を，また，スパン校正液でスパン校正を行った後，スパン校正液を水
で2倍に希釈したものを流し(3)，この指示値と試験に用いた液の濁度値との偏差を求め，最大目盛値
に対する百分率を算出する。
(5) 電源電圧変動に対する安定性 ゼロ校正液によりゼロ校正を行い，スパン校正液を流し，指示が安定
した後，電源電圧を定格電圧の±10%変化させたときの指示値の変化を求め最大目盛値に対する百分
率を算出する。
(6) 絶縁抵抗(4) 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱（接地端子）との間の絶縁抵抗を，
JIS C 1301［絶縁抵抗計（発電機式）］，JIS C 1302［絶縁抵抗計（電池式）］又はJIS C 1303（高絶縁
抵抗計）に規定する直流500V絶縁抵抗計を用いて測定する。
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(7) 耐電圧(4) 計測器の電気回路を閉の状態で，電源端子一括と外箱（接地端子）との間に定格周波数の
交流電圧1 000Vを1分間印加して，異常の有無を調べる。
注(3) 校正液を検出器に導入して指示を読む場合，あらかじめ検出器内を校正液で十分に置換する必
要がある。
検出器に校正液を導入する方法は，計測器の原理方式によりそれぞれ異なる。
試料セルのある採水形透過散乱方式のものは，校正液を試料セルに封じ込めた状態で測定し
てもよい。
浸せき形のものは，適当な容器に満たされた校正液中に検出部又は検出器を挿入して測定し
てもよい。
採水形表面散乱方式の場合のように，試料の流速が測定値に影響を及ぼす計測器では，計測
器の使用時と同様の流速で校正液を検出器に流し込みながら測定する。
(4) この試験は，計測器の作動停止状態で行う。
9. 表示 計測器には，容易に消えない方法で次の事項を表示しなければならない。
(1) 名称及び製造業者が定めた計測器の形名
(2) 原理方式
(3) 測定範囲
(4) 使用周囲温度範囲（製造業者が保証する使用温度範囲）
(5) 電源の種別及び容量
(6) 伝送出力（必要ある場合）
(7) 製造業者名（又はその略号）
(8) 製造年月又は製造番号（又はその略号）
備考 これらの表示は，いずれかに分散させて表示してもよい。
10. 取扱説明書 取扱説明書に，次の事項を記載しなければならない。
10.1 測定原理に関する事項 透過散乱方式，表面散乱方式等の別。
10.2 使用方法に関する事項
(1) 設置場所の選択
(2) 配管及び配線
(3) 測定
(a) 測定の準備（校正）
(b) 測定
(c) 測定停止時の処置
10.3 保守に関する事項
(1) 測定セル，配管などの清掃
(2) 故障時の対策
10.4 使用上の注意事項
(1) 日常点検
(2) 定期点検 定期点検に半透明板又は散乱板を用いる場合における使用上の注意事項。
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濁度自動計測器，pH自動計測器工業標準改正原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
仁 木 榮 次
職業訓練大学校
（副委員長）
鈴 木 繁 喬
東京都立大学
内 山 英 樹
工業技術院計量研究所
番 匠 賢 治
工業技術院公害資源研究所
川 瀬 晃
工業技術院化学技術研究所
大久保 和 夫
工業技術院標準部
田 島 秀 雄
通商産業省機械情報産業局
広 瀬 定 康
通商産業省立地公害局
藤 原 正 弘
環境庁水質保全局
渡 部 春 樹
建設省土木研究所
澤 田 耕 造
財団法人機械電子検査検定協会
加 藤 順
財団法人化学品検査協会
本 宮 圭 二
日本石炭協会
関 川 泰 弘
栗田工業株式会社
石 原 実
石油化学工業協会（三菱化成工業株式会社）
井 上 互
東京都公害研究所
飯 田 英 則
紙パルプ技術協会（十条製紙株式会社）
湯 井 新 六
社団法人日本鉄鋼連盟（住友金属工業株式会社）
大 槻 重 夫
日本鉱業協会
（幹事）
坂 田 衛
公害計測器合同会議議長（株式会社島津製作所）
松 前 鼎 一
東亜電波工業株式会社
玉 手 徳太郎
横河北辰電機株式会社
青 海 隆
株式会社堀場製作所
森 田 博 義
電気化学計器株式会社
野 沢 安 博
株式会社柳本製作所
河 合 隆 昌
社団法人日本分析機器工業会
岩 崎 直 行
社団法人日本電気計測器工業会