K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
JIS K 0400-42-80には，次に示す附属書がある。
附属書（参考） 参考文献
JIS K 0400シリーズは，付表1に示す各部からなる。
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適用分野 ························································································································ 1
2.1 範囲 ···························································································································· 1
2.2 検出下限 ······················································································································ 1
2.3 感度 ···························································································································· 1
2.4 妨害 ···························································································································· 1
2A. 引用規格 ······················································································································ 2
3. 原理 ······························································································································ 2
4. 試薬 ······························································································································ 2
5. 装置 ······························································································································ 3
6. サンプリング方法及び試料 ································································································ 3
7. 手順 ······························································································································ 3
7.1 検量線の作成 ················································································································ 3
7.2 濃度直読メーターの調節·································································································· 4
7.3 定量 ···························································································································· 4
7.4 プローブの保管 ············································································································· 4
8. 試験結果の表現 ··············································································································· 4
8.1 計算方法 ······················································································································ 4
8.2 精度 ···························································································································· 5
9. 特別な場合 ····················································································································· 5
9.1 序文 ···························································································································· 5
9.2 原理 ···························································································································· 5
9.3 手順 ···························································································································· 5
9.4 測定結果の表現 ············································································································· 5
10. 試験報告 ······················································································································ 6
附属書（参考） 参考文献 ····································································································· 7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
K 0400-42-80 : 2000
(ISO 6778 : 1984)
水質−アンモニウムの定量
−電位差法
Water quality−Determination of ammonium−
Potentiometric method
序文 この規格は，1984年に第1版として発行されたISO 6778, Water quality−Determination of ammonium
−Potentiometric methodを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格
である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，原水，廃水及び下水中のアンモニウムの定量に対してアンモニア感応膜プロ
ーブを使用した電位差法について規定する。
2. 適用分野
2.1
範囲 この方法は，測定試料を希釈せずに，アンモニウム体窒素の濃度，ρN，50mg/Lまでの定量に
適用できる。
2.2
検出下限 検出限界は，規定した条件の下でのネルンスト応答（3.参照）の限界として定義され，約
ρN＝0.2mg/Lに相当する値をもっている。
2.3
感度 プローブの電位は，ネルンスト式に従って，アンモニウムの濃度1けたの変化当たり約60mV
変化する。
2.4
妨害 アンモニア感応膜プローブはρN＝50mg/Lを超えるアンモニウムの濃度の水の測定に連続的
に使用されると，満足な応答をしない。このような水に対しては，測定試料をこの濃度未満に薄めること
を勧める。
もし，浸透圧に差異があるならば，プローブの応答は，半透膜を通過する水蒸気の移動によって影響さ
れる。したがって，アルカリ性緩衝液による処理後の試料の浸透圧が，プローブの内部液のそれと非常に
近似していることを確認することが必要である。この目的のため，全溶存成分の濃度（溶液中のすべての
イオン及びその他の化学種の全濃度，mol/L）が0.1mol/Lを超える，緩衝性のない試料は，もし，希釈に
よって，アンモニウムの濃度を窒素0.2mg/L未満に低められないならば，測定前に薄めることが望ましい。
アミン類は正の妨害を与える。表1に示す妨害物質が報告されている。
界面活性剤及びある種の有機溶媒は，プローブの膜の寿命を短くする。また，そのためにプローブの手
入れを必要とする頻度が増加する。この影響はかなり重大で，これらの妨害物質の濃度が高い試料では，
プローブの劣化を早めることになる。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
2
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ISO 6778 : 1984, Water quality−Determination of ammonium−Potentiometric method
2A. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS K 8107 エチレンジアミン四酢酸二水素二ナトリウム二水和物（試薬）
JIS K 8116 塩化アンモニウム（試薬）
JIS K 8576 水酸化ナトリウム（試薬）
JIS K 8951 硫酸（試薬）
表1
妨害物質
妨害物質濃度
mg/L
アンモニウム濃度ρN＝1mg/Lに
おける見掛けの増加
mg/L
ヒドラジン
4
0.06
シクロヘキシルアミン
1
0.03
モルホリン
10
0.03
オクタデシルアミン
0.4
0.14
メタノールアミン
3.4
0.15*
尿素
11
0.01
注*
アンモニウムの濃度ρN＝0.5mg/Lにおける見掛けの増加。
3. 原理 測定試料のpHを12に上げ，また，アンモニアと錯化する金属を隔離するため，水酸化ナトリ
ウム及び錯化剤を含むアルカリ性緩衝液による測定試料の処理。アルカリ性におけるアンモニウムイオン
のアンモニア水への変換。溶液中のアンモニア分圧に感応する電極であるアンモニア感応膜プローブを用
いるアンモニア含有量の定量。
プローブの電位は，ネルンストの式に従ってアンモニウム濃度の1けたの変化当たり約60mV変化する。
)
(NH
log
3.2
4
10
O
P
+
−
=
c
F
RT
E
E
ここに， EP ： プローブ電位，mV
EO ： プローブと参照電極によってきまる条件標準電位
R ： 気体定数
T ： 熱力学的温度，K
F ： ファラデー定数
c (NH4＋) ： アンモニウムの濃度，mol/L
4. 試薬 分析には，分析用と認められた試薬だけを，及び4.1に従って調製した水だけを使用する。
4.1
水 アンモニウムを含まないもの。次のいずれかの方法で調製する。
4.1.1
イオン交換法 蒸留水を強酸性陽イオン交換樹脂（水素形）のカラムに通し，流出液を密栓できる
ガラス栓付きのガラス瓶に集める。貯蔵する場合は，流出液1Lにつき同じ樹脂約10gを加える。
4.1.2
蒸留法 蒸留水1 000±10mlにJIS K 8951に規定する硫酸 (ρ＝1.84g/ml) 0.10±0.01mlを加え，全
ガラス蒸留装置で再蒸留する。最初の留出液50mlを捨て，その後の留出液を密栓できるガラス栓付きガ
ラス瓶に集める。留出液1Lにつき強酸性陽イオン交換樹脂（水素形）約10gを加える。
4.2
アルカリ性緩衝液 1L中に水酸化ナトリウム1mol及びエチレンジアミン四酢酸二ナトリウム
0.1molを含む。
3
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− JIS K 8576に規定する水酸化ナトリウム40±0.2g及びJIS K 8107に規定するエチレンジアミン四酢酸
二水素ナトリウム二水和物（EDTA二ナトリウム塩）37.2±0.2gを水約800mlに溶かし，水で1Lに薄
める。
− この溶液は，ポリエチレン瓶に貯蔵する。
− 低濃度アンモニウム (ρN＜0.5mg/L) の定量のためには，この緩衝液を，約20分間煮沸し，冷却後，
薄めるとよい。
4.3
塩化アンモニウム溶液，約0.1mol/L JIS K 8116に規定する塩化アンモニウム5.4±0.1gを水約800ml
に溶かし，水で1Lに薄める。
4.4
アンモニウム体窒素標準液，ρN＝1 000mg/L JIS K 8116に規定する塩化アンモニウム（105℃で少
なくとも2時間乾燥）3.819±0.004gを全量フラスコ1000ml中で水約800mlに溶かし，水を標線まで加え
る。
この溶液1mlは1mgNに相当する。この溶液を密栓できるガラス瓶に貯蔵する。少なくとも1か月は安
定である。
4.5
アンモニウム体窒素標準液，ρN＝100mg/L アンモニウム体窒素標準液 (4.4) 100mlをピペットで全
量フラスコ1 000mlにとり，水で標線まで薄める。
この溶液1mlは0.1mgNに相当する。この溶液は，密栓できるガラス瓶に貯蔵する。1週間は安定であ
る。
5. 装置 装置は，通常の試験室用の装置及び次による。
5.1
アンモニア感応膜プローブ
5.2
pH-mV計 0.2mVまではかれるもの。
5.3
マグネチックスターラー 四ふっ化エチレン樹脂 (PTFE) 又はポリプロピレン被覆した回転子付き
5.4
コニカルフラスコ 容量100ml
6. サンプリング方法及び試料 試験室試料は，ポリエチレン又はガラス瓶に採取しなければならない。
これらはできるだけ早く分析するか，分析するまで2〜5℃で貯蔵する。もし，酸性にした試料が，大気中
のアンモニアの吸収によって汚染することが避けられれば，JIS K 8951に規定する硫酸 (ρ＝1.84g/ml) で
pH2未満にすることは，保存の役に立つ。
しかし，アルカリ性緩衝液 (4.2) を添加したとき，正しいpH値に達しなくなるほど多量の酸を加えて
はならない。
7. 手順
7.1
検量線の作成
7.1.1
試料の予想濃度範囲を含む濃度のアンモニウム検量線用溶液を少なくとも3個調製する。もし，試
料の予想濃度範囲が広いならば，アンモニウム体窒素標準液 (4.5)，各々500，50，5mlを全量フラスコ1
000mlにとり，標線まで薄めることによって，それぞれ50，5，0.5mgN/Lに相当する3段階の検量線用溶
液を調製する。しかし，もし，範囲が狭いならば，アンモニウム体窒素標準液 (4.5) の適切な希釈によっ
てできるだけ接近した範囲になるように検量線用溶液を調製することが望ましい。したがって，中間濃度
の検量線用溶液が必要となる場合もある。
7.1.2
4
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 最も低い濃度の検量線用溶液50mlを乾いたコニカルフラスコ (5.4) 100mlにピペットで移し入れる
（備考1.参照）。
− マグネチックスターラー (5.3) （回転数300±50min−1が適切）で静かにかき混ぜる。スターラーのモ
ーターによる測定試料の加熱を避けるために，コニカルフラスコとスターラーの間に薄い断熱シート
を置く。端に泡が付着しないように注意をして，プローブの先端を溶液中に浸し，次いで，アルカリ
性緩衝液 (4.2) 5mlをピペットで加える。
− プローブの電位，mVが，30秒間に0.1mV以内で一定になったとき，電位を読み取り，記録する。プ
ローブを溶液から取り出し水ですすぐ。
− 濃度が増加する順でより高い濃度の検量線用溶液へと，この手順を繰り返す。
備考1. ビーカー100mlを用いてもよいが，プローブがちょうど入る大きさの口径のコニカルフラス
コは，アンモニアの損失が少ないので好ましい。
2. アルカリ性にした検量線用溶液は，使用後捨てるのがよい。それらの検量線用溶液は5〜10
分間たつと誤差を与える量のアンモニアを損失するからである。次の校正には，新しい検量
線用溶液を用いることが望ましい。
3. プローブの確認は，1個，できれば2個の検量線用溶液を用いて，3時間ごとに行う。検量線
用溶液の温度は，測定試料の温度の1℃以内とする。
7.1.3
検量線用溶液の濃度，mgN/L，の10を底とした対数に対して，プローブの電位，mV，の検量線を
プロットする。
備考4. 検量線の直線部のこう配は，普通の試験室温度では，アンモニウム濃度1けた変化当たり58.5
±2mVであることが望ましい。そうでない場合は，プローブの取扱説明書を参照する。
7.2
濃度直読メーターの調節 適切な検量線用溶液を7.1に従って調製する。取扱説明書に従って，7.1
に述べられているように，pH計を校正する。次いで，指示値が一定になった後，初めて，指示値を読み取
る。
備考5. もし，検量線用溶液か，又は試料のいずれかの，アンモニウム体窒素が0.2mgN/L未満であれ
ば，この方法を用いてはならない。この濃度では，その関係が直線から外れるからである。
7.3
定量
− 定量前，試験室試料を室温に達するまで放置する。測定試料の温度は検量線用溶液の温度の1℃以内
にする。
− 測定試料として試験室試料50mlをピペットでとり，乾燥したコニカルフラスコ100ml (5.4) に移し入
れ，7.1.2に従って操作する。
7.4
プローブの保管
− プローブは，測定と測定の間，アルカリ性緩衝液 (4.2) で処理された検量線用溶液中に保管する。
− より長い期間（例えば，一夜）保管するためには，プローブは，塩化アンモニウム溶液 (4.3) に浸し
たチップとともに保管する。使用前に，プローブのチップを十分にすすぐ。
8. 試験結果の表現
8.1
計算方法
− プローブの測定された電位に相当するアンモニアの濃度，mgN/Lを検量線から求める。
− 結果は，窒素，アンモニア，アンモニウムの質量濃度，それぞれ
+
4
3
NH
NH
N
ρ
ρ
ρ
，
，
いずれもmgN/L
5
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
又は，アンモニウムイオンの物質量濃度，c (NH4＋)，μmol/Lとして表示する。換算係数を表2に示す。
表2 換算表
ρN
3
ΝΗ
ρ
＋
4
ΝΗ
ρ
c (NH4＋)
mg/L mg/L
mg/L
μmol/L
ρN＝1mg/L
1
1.216 1.288
71.4
3
ΝΗ
ρ＝1mg/L
0.823 1
1.059
58.7
＋
4
ΝΗ
ρ
＝1mg/L
0.777 0.944 1
55.4
c (NH4＋) ＝1μmol/L 0.014 0.017 0.018
1
例 アンモニウムイオンの濃度，
＋
4
ΝΗ
ρ
1mg/Lは，窒素
の濃度0.777mg/Lに相当する。
8.2
精度 繰返し性及び再現性の標準偏差は，表3に示すように測定された。
表3 精度*
試料
アンモニウム濃度，ρN
mg/L
標準偏差**(mg/L)
繰返し性
再現性
標準液
0.5
0.010
0.012
標準液
2
0.030
0.050
標準液
25
0.06 〜0.52 ***
0.24 〜1.29 ***
河川水
3
0.016〜0.217*** 0.048〜0.391***
下水排水
3
0.036〜0.205*** 0.045〜0.476***
下水排水
8
0.035〜0.310*** 0.085〜0.562***
注*
連合王国において得られたデータ。
** すべての推定値の自由度9
*** 参加機関の室間実験で得られた最大値及び最小値
9. 特別な場合
9.1
序文 7.に規定した手順によるある種の廃水試料の分析は，試料中のマトリックスの影響によって複
雑となる。その影響を最小にするため，また，疑わしい結果を確かめるために，この箇条で述べる標準添
加法を用いることができる。2.4で述べた妨害物質を含む試料の例のように，このような影響が著しい場合
は，試料の前蒸留を行うとよい。
9.2
原理 測定試料中のプローブ電位測定後，測定試料にアンモニウム体窒素の標準液の添加及びプロ
ーブ電位の新たな測定。
電位の変化及び検量線のこう配から，試料のアンモニウム濃度の計算。
9.3
手順
− 7.3に従って操作する。ただし，電位測定後，プローブのチップは測定試料中に浸したままにしておく。
− 測定試料の予想アンモニウム濃度が50〜100%増加する程度の量のアンモニウム体窒素標準液（5.4又
は4.5）を，測定試料に加える。新しい電位及び添加したアンモニウム体窒素標準液の体積を記録する。
次の試料を分析する前に，プローブを水で十分にすすぐ。
備考1. 試料中のアンモニウム濃度が予測できないならば，添加されるアンモニウム体窒素標準液の
体積は，電位変化が少なくとも20mVを示すのに十分な量とする。
2. アンモニウム体窒素標準溶液の添加量は，測定試料の希釈を最小にするためできるだけ少な
くすることが望ましい。
3. この操作は，プローブの応答が直線となる範囲においてだけ適用する。
9.4
測定結果の表現 アンモニウムの濃度，
1
Ν
ρ，mg/Lは，次の式によって示される。
6
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
)1
(
])
(
log[
anti
2
1
N
2
1
−
+
×
−
×
=
Ν
k
S
E
E
kρ
ρ
ここに，
1
Ν
ρ： 添加に使用したアンモニウム体窒素標準液のアンモニウム体
窒素濃度，mgN/L
E1： プローブの最初の電位，mV
B2： プローブの最終の電位，mV
S： アンモニア体窒素濃度1けた倍の変化当たりのmVで表した
検量線（7.1参照）のこう配
0
1
V
V
k=
ここに， V0： 測定試料の体積，ml
V1： 添加に用いた標準液の体積，ml
10. 試験報告 報告書は，次の事項を含めなければならない。
a) この規格の引用
b) 試料の完全な識別のために必要なすべての詳細な説明
c) 分析前の試験室試料の貯蔵及び保存に関する詳細な説明
d) この方法を用いたとき，試験室で得られた再現性の説明
e) 試験結果及び用いた表現方法
f)
この規格に規定された手順からの逸脱の詳細な説明，又は結果に影響を与えた可能性のあるその他の
付随事項。
7
K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書（参考） 参考文献
序文 この附属書は，文献を参考として記載したものであり，規定の一部ではない。
MIDGELEY, D. and TORRANCE, K. Analyst 97 1972 : 626.
MIDGELEY, D. and TORRANCE, K. Potentiometric Water Analysis. Wiley, Chichester, 1979.
BAILEY, P. L. Analysis with Ion-selective electrodes (2nd edition). Heyden, London, 1980.
付表1 JIS K 0400シリーズ規格
JIS K 0400-9-10 水質−濁度の測定
JIS K 0400-11-10 水質−色の試験及び測定
JIS K 0400-12-10 水質−pHの測定
JIS K 0400-13-10 水質−電気伝導率の測定
JIS K 0400-15-10 水質−アルカリ度の測定−第1部：全及び混合アルカリ度の測定
JIS K 0400-15-20 水質−アルカリ度の測定−第2部：炭酸塩アルカリ度の測定
JIS K 0400-20-10 水質−化学的酸素消費量の測定
JIS K 0400-21-10 水質−5日後の生物化学的酸素消費量 (BOD5) の測定−希釈と植種による方法
JIS K 0400-22-10 水質−全有機体炭素 (TOC) の定量のための指針
JIS K 0400-28-10 水質−フェノール指標の測定−蒸留・4-アミノアンチピリン吸光光度法
JIS K 0400-28-20 水質−一価フェノール類の定量−第1部：溶媒抽出濃縮後のガスクロマトグラフ法
JIS K 0400-30-10 水質−界面活性剤の定量−第1部：メチレンブルー吸光光度法による陰イオン界面活
性剤の定量
JIS K 0400-30-20 水質−界面活性剤の定量−第2部：ドラゲンドルフ試薬による非イオン界面活性剤の
定量
JIS K 0400-32-10 水質−溶存酸素の定量−よう素滴定法
JIS K 0400-32-30 水質−溶存酸素の定量−電気化学プローブ法
JIS K 0400-33-10 水質−遊離塩素及び全塩素の定量−第1部：N, N-ジエチル-1, 4-フェニレンジアミン
を用いる滴定法
JIS K 0400-33-20 水質−遊離塩素及び全塩素の定量−第2部：日常管理のためのN, N-ジエチル-1, 4-フ
ェニレンジアミン比色法
JIS K 0400-33-30 水質−遊離塩素及び全塩素の定量−第3部：全塩素定量のためのよう素滴定法
JIS K 0400-34-10 水質−ふっ化物の定量−第1部：低汚濁水の電気化学プローブ法
JIS K 0400-34-20 水質−ふっ化物の定量−第2部：加熱分解及び蒸留後の無機ふっ化物の定量
JIS K 0400-35-10 水質−塩化物の定量−クロム酸塩を指示薬とする硝酸銀滴定（モール法）
JIS K 0400-35-30 水質−イオンの液体クロマトグラフィーによる溶存ふっ化物，塩化物，亜硝酸，オル
トりん酸，臭化物，硝酸及び硫酸イオンの定量−第1部：低汚濁水のための方法
JIS K 0400-35-40 水質−イオンの液体クロマトグラフィーによる溶存陰イオンの定量−第2部：廃水中
の臭化物，塩化物，硝酸，亜硝酸，オルトりん酸及び硫酸イオンの定量
JIS K 0400-38-10 水質−シアン化物の定量−第1部：全シアン化物の定量
JIS K 0400-38-20 水質−シアン化物の定量−第2部：容易に遊離するシアン化物の定量
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K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS K 0400-38-30 水質−シアン化物の定量−第3部：塩化シアンの定量
JIS K 0400-38-40 水質−シアン化物の定量−第4部：pH6での拡散によるシアン化物の定量
JIS K 0400-39-10 水質−溶存硫化物の定量−メチレンブルー吸光光度法
JIS K 0400-41-40 水質−硫酸塩の定量−塩化バリウムを用いる重量法
JIS K 0400-42-30 水質−アンモニウムの定量−蒸留・滴定法
JIS K 0400-42-60 水質−アンモニウムの定量−第1部：吸光光度法
JIS K 0400-42-70 水質−アンモニウムの定量−第2部：自動吸光光度法
JIS K 0400-42-80 水質−アンモニウムの定量−電位差法
JIS K 0400-43-30 水質−亜硝酸塩の定量−吸光光度法
JIS K 0400-43-40 水質−硝酸塩の定量−第1部：2, 6-ジメチルフェノール吸光光度法
JIS K 0400-43-50 水質−硝酸塩の定量−第2部：蒸留後の4-フルオロフェノール吸光光度法
JIS K 0400-43-60 水質−硝酸塩の定量−第3部：スルホサリチル酸吸光光度法
JIS K 0400-44-40 水質−ケルダール窒素の定量−セレンを用いる無機質化後の方法
JIS K 0400-45-10 水質−窒素の定量−デバルダ合金還元後の接触分解
JIS K 0400-46-40 水質−りんの定量−第1部：モリブデン酸アンモニウム吸光光度法
JIS K 0400-48-10 水質−ナトリウム及びカリウムの定量−第3部：フレーム発光法によるナトリウム及
びカリウムの定量
JIS K 0400-48-20 水質−ナトリウム及びカリウムの定量−第1部：原子吸光法によるナトリウムの定量
JIS K 0400-49-20 水質−ナトリウム及びカリウムの定量−第2部：原子吸光法によるカリウムの定量
JIS K 0400-50-10 水質−カルシウムの定量−EDTA滴定法
JIS K 0400-50-20 水質−カルシウム及びマグネシウムの定量−原子吸光法
JIS K 0400-51-10 水質−カルシウム及びマグネシウムの合計量の定量−EDTA滴定法
JIS K 0400-52-20 水質−コバルト，ニッケル，銅，亜鉛，カドミウム及び鉛の定量−原子吸光法
JIS K 0400-55-20 水質−原子吸光法によるカドミウムの定量
JIS K 0400-57-10 水質−鉄の定量−1, 10-フェナントロリン吸光光度法
JIS K 0400-58-10 水質−アルミニウムの定量−ピロカテコールバイオレット吸光光度法
JIS K 0400-61-10 水質−全ひ素の定量−ジエチルジチオカルバミド酸銀吸光光度法
JIS K 0400-65-10 水質−全クロムの定量−原子吸光法
JIS K 0400-65-20 水質−クロム (VI) の定量−1, 5-ジフェニルカルバジド吸光光度法
JIS K 0400-66-10 水質−フレームレス原子吸光法による全水銀の定量−第1部：過マンガン酸塩-ペル
オキソ二硫酸塩処理による方法
JIS K 0400-66-20 水質−フレームレス原子吸光法による全水銀の定量−第2部：紫外線照射処理による
方法
JIS K 0400-66-30 水質−フレームレス原子吸光法による全水銀の定量−第3部：臭素処理による方法
JIS K 0400-67-20 水質−セレンの定量−原子吸光法（水素化物発生法）
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K 0400-42-80 : 2000 (ISO 6778 : 1984)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
平成8年度JIS K 0102改正原案作成委員会 構成表（平成9年3月現在）
氏名
所属
（委員長）
○ 並 木 博
工学院大学工学部
○ 佐 藤 寿 邦
横浜国立大学工学部
○ 西 出 徹 雄1)
工業技術院標準部消費生活規格課
乾 敏 一2)
通商産業省環境立地局産業施設課
○ 畑 野 浩3)
環境庁水質保全局水質規制課
中 村 進
工業技術院物質工学技術研究所計測化学部
中 村 和 憲
工業技術院生命工学工業技術研究所
○ 田 尾 博 明
工業技術院資源環境技術総合研究所水圏環境保全部
田 中 宏 明
建設省土木研究所下水道部
柴 田 康 行
国立環境研究所化学環境部
○ 土 屋 悦 輝
東京都立衛生研究所環境保健部
渡 辺 真利代
東京都立衛生研究所環境保健部
○ 日 野 隆 信
千葉県衛生研究所
小 倉 光 夫
神奈川県環境科学センター水質環境部
西 尾 高 好
財団法人日本環境衛生センター東日本支局環境科学部
○ 坂 本 勉
財団法人日本規格協会技術部
山 村 修 蔵
財団法人日本規格協会技術部
浅 田 正 三
財団法人日本品質保証機構環境計画センター
○ 梅 崎 芳 美
社団法人産業環境管理協会名誉参与
横 倉 清 治
社団法人日本環境測定分析協会（三菱マテリアル株式会社）
神 代 啓
社団法人日本化学工業協会
池 田 久 幸
社団法人日本分析機器工業会（横河アナリティカルシステム
ズ株式会社）
長 澤 忠 彦
社団法人日本鉄鋼連盟（住友金属工業株式会社）
山 田 昭 捷
社団法人日本下水道協会（東京都下水道局）
土 屋 徳 之
石油連盟（興亜石油株式会社）
松 谷 成 晃
日本石鹸洗剤工業会（ライオン株式会社）
波多江 正 和
日本製紙連合会技術環境部
佐 山 恭 正
日本鉱業協会（三菱マテリアル株式会社）
狩 野 久 直
日本練水株式会社研究所
久 島 俊 和
オルガノ株式会社総合研究所
○ 川 瀬 晃
セイコー電子工業株式会社科学機器事業部
○ 米 倉 茂 男
元東京都立工業技術センター
岩 崎 岩 次
社団法人日本工業用水協会
（事務局）
秋 本 孝
社団法人日本工業用水協会
飛 渡 祥 弘
社団法人日本工業用水協会
本 郷 秀 昭
社団法人日本工業用水協会
備考
1)：発足当初は岡林哲夫（工業技術院標準部繊維化学規格課）
2)：発足当初は相澤徹（通商産業省環境立地局産業施設課）
3)：発足当初は飯島孝（環境庁水質保全局水質規制課）
○は小委員会委員兼任