JISK0312:2020 工業用水・工場排水中のダイオキシン類の測定方法

K 0312：2020

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 用語，定義及び略語 ·········································································································· 2

3.1 用語及び定義 ················································································································ 2

3.2 略語 ···························································································································· 4

4 測定方法の概要 ················································································································ 4

5 試料······························································································································· 5

5.1 採取時期及び採取地点の選定 ··························································································· 5

5.2 試料の採取 ··················································································································· 5

5.3 試料採取の記録 ············································································································· 6

5.4 試料の取扱い ················································································································ 7

6 試料の前処理 ··················································································································· 7

6.1 試料の前処理の概要 ······································································································· 7

6.2 試薬及び材料 ················································································································ 8

6.3 器具及び装置 ··············································································································· 12

6.4 前処理操作 ·················································································································· 12

7 同定及び定量 ·················································································································· 18

7.1 概要 ··························································································································· 18

7.2 試薬及び装置 ··············································································································· 18

7.3 測定操作 ····················································································································· 20

7.4 ダイオキシン類の同定及び定量 ······················································································· 24

7.5 検出下限及び定量下限 ··································································································· 26

7.6 回収率の確認 ··············································································································· 28

8 結果の報告 ····················································································································· 28

8.1 結果の表示方法 ············································································································ 28

8.2 濃度の単位 ·················································································································· 29

8.3 毒性当量への換算 ········································································································· 29

8.4 数値の取扱い ··············································································································· 29

9 測定データの品質管理 ······································································································ 30

9.1 一般 ··························································································································· 30

9.2 測定データの信頼性の確保 ····························································································· 30

9.3 測定操作における留意事項 ····························································································· 31

9.4 測定操作の記録 ············································································································ 33

9.5 精度管理に関する報告 ··································································································· 33

K 0312：2020 目次

（2）

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附属書JA（規定）大容量捕集装置による試料の採取 ·································································· 35

附属書JB（参考）内標準物質の使用例 ···················································································· 37

附属書JC（参考）GC-MSの測定条件及びクロマトグラムの例 ···················································· 41

附属書JD（参考）TEQへの換算 ···························································································· 54

附属書JE（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 58

K 0312：2020

（3）

まえがき

この規格は，産業標準化法に基づき，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって，JIS K 0312:2008は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

日本産業規格 JIS

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工業用水・工場排水中のダイオキシン類の測定方法

Method for determination of tetra-through octachlorodibenzo-p-dioxins,

tetra-through octachlorodibenzofurans and dioxin-like

polychlorinatedbiphenyls in industrial water and waste water

序文

この規格は，1999年に“工業用水・工場排水中のダイオキシン類及びコプラナーPCBの測定方法”とし

て制定され，その後2回の改正が行われ今日に至っている。今回，2004年に第1版として発行されたISO

18073及び2007年に第1版として発行されたISO 17858を基とし，技術的内容を変更して作成した。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JEに示す。また，附属書JA〜附属書JDは対応国際規格には

ない事項である。

適用範囲

この規格は，工業用水及び工場排水中のテトラからオクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン，テトラからオ

クタクロロジベンゾフラン及びダイオキシン様（よう）PCBのガスクロマトグラフ質量分析計（以下，

GC-MSという。）を用いた測定方法について規定する。ここで用いるGC-MSは，ガスクロマトグラフ（以

下，GCという。）のカラムにキャピラリーカラムを用い，分解能が10 000以上の二重収束形質量分析計（以

下，MSという。）の装置とする。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

ISO 18073:2004，Water quality−Determination of tetra- to octa-chlorinated dioxins and furans−

Method using isotope dilution HRGC/HRMS

ISO 17858:2007，Water quality−Determination of dioxin-like polychlorinated biphenyls−Method

using gas chromatography/mass spectrometry（全体評価：MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

警告ダイオキシン類は非常に有害性が高いので，吸入，誤飲，直接皮膚への接触などをできるだけ

避け，前処理室及び分析室の換気並びに廃液及び廃棄物の管理は十分に行う。また，その他の

薬品，溶媒などでも，吸入又は誤飲によって測定者の健康を損なうものがあるので，取扱いは

できるだけ慎重に行い，実験室の十分な換気に注意する。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

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JIS K 0094 工業用水・工場排水の試料採取方法

JIS K 0114 ガスクロマトグラフィー通則

JIS K 0123 ガスクロマトグラフィー質量分析通則

JIS K 0211 分析化学用語（基礎部門）

JIS K 0215 分析化学用語（分析機器部門）

JIS K 0216 分析化学用語（環境部門）

JIS K 0557 用水・排水の試験に用いる水

JIS K 1107 窒素

JIS K 8040 アセトン（残留農薬・PCB試験用）（試薬）

JIS K 8117 ジクロロメタン（残留農薬・PCB試験用）（試薬）

JIS K 8180 塩酸（試薬）

JIS K 8550 硝酸銀（試薬）

JIS K 8574 水酸化カリウム（試薬）

JIS K 8637 チオ硫酸ナトリウム五水和物（試薬）

JIS K 8680 トルエン（試薬）

JIS K 8825 ヘキサン（残留農薬・PCB試験用）（試薬）

JIS K 8891 メタノール（試薬）

JIS K 8951 硫酸（試薬）

JIS K 8987 硫酸ナトリウム（試薬）

JIS K 9502 L(+)-アスコルビン酸（試薬）

JIS K 9702 ジメチルスルホキシド（試薬）

JIS K 9703 2,2,4-トリメチルペンタン（試薬）

JIS R 3503 化学分析用ガラス器具

JIS R 3505 ガラス製体積計

JIS Z 8401 数値の丸め方

用語，定義及び略語

3.1

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS K 0094，JIS K 0114，JIS K 0123，JIS K 0211，JIS K 0215

及びJIS K 0216によるほか，次による。

3.1.1

ダイオキシン類

テトラからオクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン（以下，PCDDsという。），テトラからオクタクロロジベ

ンゾフラン（以下，PCDFsという。）及びダイオキシン様PCB（以下，DL-PCBsという。）の総称。

注記 JIS K 0216:2014の定義とは異なる内容である。

3.1.2

異性体

塩素の置換数が同じで置換位置だけを異にする個々の化合物。

3.1.3

同族体

K 0312：2020

塩素の置換数が同じで置換位置だけを異にする化合物の一群。

3.1.4

2,3,7,8-位塩素置換異性体

2,3,7,8-位に置換塩素をもつPCDDsのうち7種及びPCDFsのうち10種の計17化合物で，表1に示すも

の。

表1−2,3,7,8-位塩素置換異性体

2,3,7,8-位塩素置換異性体

略記

PCDDs

2,3,7,8-テトラクロロジベンゾ-p-ジオキシン

2,3,7,8-TeCDD

1,2,3,7,8-ペンタクロロジベンゾ-p-ジオキシン

1,2,3,7,8-PeCDD

1,2,3,4,7,8-ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン

1,2,3,4,7,8-HxCDD

1,2,3,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン

1,2,3,6,7,8-HxCDD

1,2,3,7,8,9-ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン

1,2,3,7,8,9-HxCDD

1,2,3,4,6,7,8-ヘプタクロロジベンゾ-p-ジオキシン

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-オクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

PCDFs

2,3,7,8-テトラクロロジベンゾフラン

2,3,7,8-TeCDF

1,2,3,7,8-ペンタクロロジベンゾフラン

1,2,3,7,8-PeCDF

2,3,4,7,8-ペンタクロロジベンゾフラン

2,3,4,7,8-PeCDF

1,2,3,4,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン

1,2,3,4,7,8-HxCDF

1,2,3,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン

1,2,3,6,7,8-HxCDF

1,2,3,7,8,9-ヘキサクロロジベンゾフラン

1,2,3,7,8,9-HxCDF

2,3,4,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン

2,3,4,6,7,8-HxCDF

1,2,3,4,6,7,8-ヘプタクロロジベンゾフラン

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

1,2,3,4,7,8,9-ヘプタクロロジベンゾフラン

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-オクタクロロジベンゾフラン

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

3.1.5

DL-PCBs

PCBのうち，オルト位（2,2',6及び6'）に置換塩素をもたない化合物（以下，ノンオルト体という。）及

びオルト位に置換塩素が1個ある化合物（以下，モノオルト体という。）の中で，表2に示すもの。

表2−DL-PCBs

DL-PCBs

略記

ノンオルト体

3,3',4,4'-テトラクロロビフェニル

3,3',4,4'-TeCB (#77)

3,4,4',5-テトラクロロビフェニル

3,4,4',5-TeCB (#81)

3,3',4,4',5-ペンタクロロビフェニル

3,3',4,4',5-PeCB (#126)

3,3',4,4',5,5'-ヘキサクロロビフェニル

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

モノオルト体

2,3,3',4,4'-ペンタクロロビフェニル

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

2,3,4,4',5-ペンタクロロビフェニル

2,3,4,4',5-PeCB (#114)

2,3',4,4',5-ペンタクロロビフェニル

2,3',4,4',5-PeCB (#118)

2',3,4,4',5-ペンタクロロビフェニル

2',3,4,4',5-PeCB (#123)

2,3,3',4,4',5-ヘキサクロロビフェニル

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

2,3,3',4,4',5'-ヘキサクロロビフェニル

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)

2,3',4,4',5,5'-ヘキサクロロビフェニル

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

2,3,3',4,4',5,5'-ヘプタクロロビフェニル

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。

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3.2

略語

略語は，表3による。

表3−略語

略語

名称

TeCDD

テトラクロロジベンゾ-p-ジオキシン（tetrachlorodibenzo-p-dioxin）

PeCDD

ペンタクロロジベンゾ-p-ジオキシン（pentachlorodibenzo-p-dioxin）

HxCDD

ヘキサクロロジベンゾ-p-ジオキシン（hexachlorodibenzo-p-dioxin）

HpCDD

ヘプタクロロジベンゾ-p-ジオキシン（heptachlorodibenzo-p-dioxin）

OCDD

オクタクロロジベンゾ-p-ジオキシン（octachlorodibenzo-p-dioxin）

TeCDF

テトラクロロジベンゾフラン

（tetrachlorodibenzofuran）

PeCDF

ペンタクロロジベンゾフラン

（pentachlorodibenzofuran）

HxCDF

ヘキサクロロジベンゾフラン

（hexachlorodibenzofuran）

HpCDF

ヘプタクロロジベンゾフラン

（heptachlorodibenzofuran）

OCDF

オクタクロロジベンゾフラン

（octachlorodibenzofuran）

TeCB

テトラクロロビフェニル

（tetrachlorobiphenyl）

PeCB

ペンタクロロビフェニル

（pentachlorobiphenyl）

HxCB

ヘキサクロロビフェニル

（hexachlorobiphenyl）

HpCB

ヘプタクロロビフェニル

（heptachlorobiphenyl）

DeCB

デカクロロビフェニル

（decachlorobiphenyl）

DMSO

ジメチルスルホキシド

（dimethyl sulfoxide）

IUPAC

国際純正・応用化学連合

（International Union of Pure and Applied Chemistry）

注記化合物の略語において，複数を意味する“s”を付けて表記することがある。

測定方法の概要

工業用水及び工場排水中のダイオキシン類を，抽出後，クリーンアップしてGC-MSで同定及び定量す

る。測定のフローを，図1に示す。

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図1−用水・排水中のダイオキシン類測定のフロー

試料

5.1

採取時期及び採取地点の選定

試料の採取時期及び採取地点の選定は，JIS K 0094に従って試料の代表性が確保されるように選定する。

5.2

試料の採取

5.2.1

器具

器具は，次による。

5.2.1.1

試料容器試料容器は，特に指定がない限りガラス製のものを用い，使用前にメタノール又はア

目的の明確化，計画の立案

試料採取

試料採取の準備，採取器具類の洗浄

ダイオキシン類用試料保存・運搬

代表試料の採取

内標準物質の添加（クリーンアップスパイク）

試料からの抽出

抽出液

クリーンアップ

内標準物質の添加（シリンジスパイク）

GC-MSによる同定及び定量

装置の維持管理，GCカラム取付け
分解能（R＞10 000）などの調節
質量校正

標準液の測定

検量線の直線性
検出下限及び定量下限の確認
クロマトグラムのピーク形状

実試料の測定

S/N比評価，操作ブランク値確認
クロマトグラムのピーク形状
妨害成分，感度変動

ダイオキシン類の同定

相対保持時間の一致
イオン強度比の評価
化合物の分離状況

ダイオキシン類の定量

化合物ごとの濃度

ダイオキシン類の濃度値確定

：作業

：添加

：物又は試料

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セトン及びトルエン又はジクロロメタンでよく洗浄したものを使用する。洗浄に用いた溶媒は，容器内に

残らないよう注意する。栓は，スクリューキャップなどで密栓できるものとし，ゴム製又はコルク製のも

のは使用しない。空試験などによって，測定に支障のないことを確認する。

5.2.1.2

採水器採水器は，ガラス製，ステンレス鋼製など測定対象物質が採水器内壁に吸着しないもの

を用いる。

5.2.2

試料の採取量

試料の採取量は，次の手順によって決定する。

a) 測定の目的から評価しなければならない最小の濃度を決定する。

b) 試料における検出下限は，特に指定がない限り，a) で決定した濃度の1/30以下に設定する。

c) 式(1)によって測定に必要な最小の試料の量を算出する。

································································ (1)

ここに，

V：測定に必要な最小の試料の量（L）

DL：測定方法の検出下限（pg）

y：測定用試料の液量（µL）

x： GC-MSへの注入量（µL）

VE：抽出液量（mL）

V'E：抽出液分取量（mL）

SDL：設定した試料における検出下限（pg/L）

d) 算出された最小の試料の量V以上を試料の採取量とする。

5.2.3

採取方法

試料の採取は，JIS K 0094による。ただし，試料水による容器の洗浄は行わない。採取した試料は，試

料容器に空間が残るように入れ，密栓する。試料水中に残留塩素が存在する場合には，残留塩素1 mg/Lに

対してJIS K 8637に規定するチオ硫酸ナトリウム五水和物7.0 mg/L，又はJIS K 9502に規定するL(+)-ア

スコルビン酸20 mg/Lを添加し，よく混合する。場合によっては，測定地点において試料水を通水してダ

イオキシン類を捕集する大容量捕集装置を用いる採取を行ってもよい（附属書JA参照）。

なお，再度抽出からやり直す可能性を考慮し，予備試料も併せて採取することが望ましい。

5.3

試料採取の記録

試料採取時には，次の事項を記録する。

a) 試料の名称及び試料番号

b) 採取場所の名称及び採取位置

c) 採取年月日及び時刻

d) 採取時の天候及び前日の天候

e) 採取者の氏名

採取場所の状況（試料の水質に影響を与えると思われる事項。例えば，採取現場の略図など。）

g) 採取時の気温及び水温

h) 河川流量又は排水量

その他，試料の外観（試料の色，濁りなど），臭気の有無及び必要に応じて透視度，pH，残留塩素，

採取場所の写真など参考となる事項。

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5.4

試料の取扱い

試料は，遮光して運搬し，直ちに測定を行う。直ちに測定できない場合は，0 ℃〜10 ℃の暗所に保存し，

できるだけ早く測定する。

試料の前処理

6.1

試料の前処理の概要

採取した試料は，クリーンアップスパイク用内標準物質を添加した後，最初にろ過を行ってからろ液と

ろ過残さとをそれぞれ別に抽出する方法，又は試料中で固相に捕集してからろ過を行ってろ過残さだけを

抽出する方法のいずれかによって抽出を行う。抽出後，必要に応じて分取し，硫酸処理−シリカゲルカラ

ムクロマトグラフ操作，多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又はそれらを組み合わせた精製操作を

行い，その後，アルミナカラムクロマトグラフ操作，高速液体クロマトグラフ操作，活性炭カラムクロマ

トグラフ操作のいずれか又はこれらを組み合わせた精製操作を行う。試料中に鉱物油などの油分が多いと

きなどは，必要に応じてDMSOとヘキサンとの間の分配係数の差を利用した処理操作（以下，DMSO処

理操作という。）を精製操作に加えてもよい。これらの精製操作を行った後，試料をガスクロマトグラフィ

ー質量分析法によって測定する。表4に精製操作の概要を示す。また，図2に試料の前処理から測定まで

のフローの例を示す。

表4−精製操作の概要

操作名

主な効果

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

大部分のマトリックスの分解除去
着色物質，多環芳香族炭化水素，強極性物質の除去

多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

フェノール類，酸性物質，脂質，たんぱく質，含硫黄化合物，
脂肪族炭化水素類，強極性物質，着色物質，多環芳香族炭化水
素の除去

アルミナカラムクロマトグラフ操作

低極性物質，有機塩素化合物の除去

高速液体クロマトグラフ操作

PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsの分離精製

活性炭カラムクロマトグラフ操作

PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsの分離精製

DMSO処理操作

脂肪族炭化水素などの低極性物質の除去

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図2−試料の前処理から測定までのフローの例

なお，ここに挙げた精製操作以外の操作であっても，次の全ての条件を満たすことが確認できれば，用

いてもよい。この確認は，適用する試料媒体について，5か所以上の採取地点の異なる試料を用いて，そ

れぞれ5回以上の測定を繰り返し，計25点以上のデータを用いて行う。

a) 対象とするダイオキシン類の回収率が90 %以上。

b) この規格において規定されている精製操作で得られた試料液と適用しようとする新規の操作方法によ

って得られた試料液とを，四重極形などの低分解能のGC-MSを用いて7.3.1 a) のGCの条件で測定質

量数が50〜450の範囲の全イオン検出法によって測定し，得られたそれぞれのクロマトグラムを比較

して精製効果に差がないか，又はこの規格の精製操作と同等の効果が得られる。

c) 適用しようとする新規の操作方法によって得られた試料液について7.3.3によって測定を行い，分析対

象成分によるピークの出現する付近において校正用標準試料のモニターイオンの応答に変動がない。

6.2

試薬及び材料

試料の前処理に用いる試薬及び材料は，次による。これらの試薬及び材料は，空試験などによって測定

に支障のないことを確認する。

6.2.1

水 JIS K 0557に規定するA4（又はA3）の水。

6.2.2

メタノール JIS K 8891に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.3

アセトン JIS K 8040に規定するもの，又は同等の品質のもの。

試料

抽出

抽出液

一部分取

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

アルミナカラムクロマトグラフ操作など

測定用試料

★内標準物質の添加
（クリーンアップスパイク）

★内標準物質の添加
（シリンジスパイク）

：作業

：省略できる作業

：添加

：物又は試料

★ ：重要

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6.2.4

トルエン JIS K 8680に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.5

ジクロロメタン JIS K 8117に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.6

ヘキサン JIS K 8825に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.7

ジメチルスルホキシド JIS K 9702に規定するもの，又は同等の品質のもの。

注記 JIS K 9702では，ジメチルスルホキシドを規定しているが，この規格では，略語としてDMSO

を用いている（表3参照）。

6.2.8

デカン測定に支障のない品質のもの。

6.2.9

ノナン測定に支障のない品質のもの。

6.2.10

2,2,4-トリメチルペンタン JIS K 9703に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.11

硫酸ナトリウム JIS K 8987に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.12

塩酸 JIS K 8180に規定する特級，又は同等の品質のもの。

6.2.13

硫酸 JIS K 8951に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.14

水酸化カリウム JIS K 8574に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.15

硝酸銀 JIS K 8550に規定するもの，又は同等の品質のもの。

6.2.16

ヘキサン洗浄水 6.2.1の水を6.2.6のヘキサンで十分洗浄したもの。

6.2.17

クリーンアップスパイク用内標準物質抽出からクリーンアップまでの前処理操作全体の結果を

確認し，ダイオキシン類を定量するための基準とするために添加する内標準物質で（表5及び附属書JB

参照），全ての炭素又は塩素原子が13C又は37Clで標識したダイオキシン類のうち，適正な種類及び濃度の

ものを用いる。6.2.18のシリンジスパイク用内標準物質で使用するもの以外の内標準物質を用いる。使用

時に6.2.3のアセトンで希釈して用いる。

PCDDs及びPCDFsについては，少なくとも塩素数ごとに2,3,7,8-位塩素置換異性体を最低1種類ずつ，

PCBsについては，ノンオルト体のDL-PCBsを全種類，モノオルト体のDL-PCBs又はその他のPCBを塩

素化物ごとに1種類ずつ選択する。できれば毒性等価係数（以下，TEFという。）がゼロ（0）でない化合

物は，全て選択することが望ましい。

内標準物質によっては，GC-MSの測定条件によって測定に妨害を与える場合があるので，その使用に際

しては，十分に検討・確認をする。

6.2.18

シリンジスパイク用内標準物質 GC-MSへの測定用試料液の注入を確認するために添加する内

標準物質（表5及び附属書JB参照）で，全ての炭素又は塩素原子が13C又は37Clで標識したPCDDs，PCDFs

及びPCBsのうち，適正な種類を6.2.9のノナンなどの測定用試料と同じ溶媒を用いて適正な濃度に調整し

たものを用いる。6.2.17のクリーンアップスパイク用内標準物質で使用するもの以外の内標準物質を用い

る。

6.2.19

シリカゲルカラムクロマトグラフ用シリカゲル（粒径63 µm〜212 µm）をビーカーに入れて6.2.2

のメタノールで洗浄し，メタノールを十分揮散させる。これを層の厚さを10 mm以下になるように蒸発皿

又はビーカーに入れ，130 ℃で約18時間加熱した後，デシケーター中で約30分間放冷する。調製後，密

閉できる試薬瓶に入れ，デシケーター中に保存する。

6.2.20

水酸化カリウム（質量分率2 %）シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.14の水酸化

カリウムで調製した水酸化カリウム溶液（50 g/L）40 mLを加えた後，ロータリエバポレータを用いて約

50 ℃で減圧脱水し，水分のほとんどを除去した後，温度を50 ℃〜80 ℃に上げて更に約1時間減圧脱水を

続けて粉末状にする。調製後，密閉できる試薬瓶に入れデシケーター中に保存する。

6.2.21

硫酸（質量分率22 %）シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.13の硫酸28.2 gを添

K 0312：2020

加後，十分振とうし粉末状にする。調製後，密閉できる試薬瓶に入れデシケーター中に保存する。

6.2.22

硫酸（質量分率44 %）シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.13の硫酸78.6 gを添

加後，十分振とうし粉末状にする。調製後，密閉できる試薬瓶に入れデシケーター中に保存する。

6.2.23

硝酸銀（質量分率10 %）シリカゲル 6.2.19のシリカゲル100 gに対して6.2.15の硝酸銀で調製

した硝酸銀溶液（400 g/L）28 mLを加えた後，ロータリエバポレータで水分を完全に除去する。調製後，

密閉できる着色容器に入れ，デシケーター中に保存する。

なお，調製及び保管に当たっては，極力遮光する。

6.2.24

アルミナカラムクロマトグラフ用アルミナ（塩基性，活性度I）は，あらかじめ活性化したもの

が入手できる場合は，そのまま使用してもよい。活性化する必要のある場合には，ビーカーに層の厚さを

10 mm以下にして入れて130 ℃で約18時間加熱，又はペトリ皿に層の厚さを約5 mm程度にして入れて

500 ℃で約8時間加熱処理した後，デシケーター中で約30分間放冷した後，密閉できる試薬瓶中に保存す

る。活性化後は，速やかに使用する。

注記アルミナの活性は製造ロット又は開封後の保存期間によって，かなり変化が認められる。活性

の低下したものでは，1,3,6,8-TeCDD，1,3,6,8-TeCDFなどが第1画分に溶出したり，OCDD，OCDF

などがジクロロメタン（体積分率50 %）を含むヘキサン溶液の規定量では第2画分に溶出しな

い場合もある。

6.2.25

高速液体クロマトグラフ用カーボンカラム高速液体クロマトグラフ用の多孔質グラファイトカ

ーボン（porous graphitized carbon）カラム，又はこれと同等の分離性能をもつもの。

注記高速液体クロマトグラフ用のグラファイトカーボンカラムには，Hypercarb®（内径4.6 mm，長

さ100 mm）（サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社）などがある。この情報は，

この規格の利用者の便宜を図って記載するもので，この製品を推奨するものではない。

6.2.26

活性炭カラム充塡剤活性炭を含浸又は分散させたシリカゲル，又はこれと同等の分離性能をも

つもの。

注記活性炭カラム充塡剤には，活性炭埋蔵シリカゲル（富士フイルム和光純薬株式会社），活性炭分

散シリカゲル（関東化学株式会社）などがある。この情報は，この規格の利用者の便宜を図っ

て記載するもので，この製品を推奨するものではない。

6.2.27

ガラス繊維ろ紙孔径0.5 µm程度のもので，有機バインダーを含まないもの。ブフナー漏斗に用

いる。

注記市販品には，孔径の代わりに保持粒子径，粒子保持能などと表示しているものもある。

6.2.28

抽出用固相オクタデシル基（ODS）を化学的に結合させたシリカゲルを固定したディスク形，

カラム形又はカートリッジ形固相。又はこれと同等の抽出性能をもつもの。次の全ての条件を満足してい

なければならない。

a) JIS K 0557に規定するA3の水又は水道水に，6.2.17のクリーンアップスパイク用内標準物質を添加し

た試料20 Lを通水した場合の添加した内標準物質の回収率が90 %以上。定量下限付近及び定量下限

の10倍の各濃度で2回以上行った平均値で確認する。

b) 水道水を100 L通水しても，ダイオキシン類の損失が認められない。固相に6.2.17のクリーンアップ

スパイク用内標準物質を添加した後，水道水100 Lを通水して添加した内標準物質の回収率を求め，

その回収率が70 %〜130 %の範囲にある。

6.2.29

分散型固相吸着−凝集剤試料に分散させて使用する固相吸着剤及び無機系の凝集剤を混合した

もの，又はこれと同等の抽出性能をもつもの。JIS K 0557に規定するA3の水又は水道水に，6.2.17のクリ

K 0312：2020

ーンアップスパイク用内標準物質を添加した試料を測定した場合の添加した内標準物質の回収率が90 %

以上。定量下限付近及び定量下限の10倍の各濃度で2回以上行った平均値で確認する。

注記分散型固相吸着−凝集剤には，ダイオフロック®（三浦工業株式会社）などがある。この情報は，

この規格の利用者の便宜を図って記載するもので，この製品を推奨するものではない。

6.2.30 窒素 JIS K 1107に規定する窒素2級，又は同等の品質のもの。

表5−ダイオキシン類の内標準物質の例

内標準物質

TeCDD

13C12-1,2,3,4-TeCDD

13C12-2,3,7,8-TeCDD

37Cl4-2,3,7,8-TeCDD

PeCDD

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD

HxCDD

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD

HpCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

OCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

TeCDF

13C12-2,3,7,8-TeCDF

13C12-1,2,7,8-TeCDF

PeCDF

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF

HxCDF

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF

HpCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

OCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

TeCB

13C12-2,3',4',5-TeCB (#70)

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77) a)

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81) a)

PeCB

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105) a)

13C12-2,3,4,4',5-PeCB (#114) a)

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118) a)

13C12-2',3,4,4',5-PeCB (#123) a)

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126) a)

HxCB

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156) a)

13C12-2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157) a)

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167) a)

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169) a)

HpCB

13C12-2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170)

13C12-2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180)

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189) a)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。
注a) DL-PCBを示す。

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6.3

器具及び装置

試料の前処理に用いる器具及び装置は，メタノール又はアセトン，及びトルエン又はジクロロメタンで

十分洗浄し，空試験によって測定に支障がないことを確認する。

6.3.1

ガラス器具 JIS R 3503及びJIS R 3505に規定するもの。コックの部分がふっ素樹脂製のものを用

いてもよい。

6.3.2

固相抽出装置固相抽出装置は，ディスク形固相，ファンネル，サポートスクリーン，ガスケット，

ベース，クランプ，ゴム栓，吸引瓶及び吸引ポンプからなる（図3参照）。

6.3.3

ソックスレー抽出器 JIS R 3503に規定するもの又はこれと同等の性質のもの。接続部にグリース

を使用してはならない。

6.3.4

濃縮器クデルナ−ダニッシュ（KD）濃縮器又はロータリエバポレータ。接続部にグリースを使

用してはならない。

6.3.5

カラムクロマトグラフ管内径が10 mm又は15 mmで，長さが300 mmのダイオキシン類の吸着

及び／又は混入，妨害物質の溶出などがないガラス製又はこれと同等の材質のカラムクロマトグラフ管。

6.3.6

ブフナー漏斗

6.3.7

高速液体クロマトグラフ流路切替えバルブを装着したもの。

図3−固相抽出装置（抽出部）の例

6.4

前処理操作

6.4.1

試料量の記録

採取した試料は，試料容器中の全量を測定に用いる。試料の量は，試料を入れた容器の質量から空の容

器の質量を差し引いて求めるか，又は試料を採取したときに試料容器の水面の位置に印を付けておき，測

定終了時に印のところまで水を入れてその水の体積を試料の量として記録する。

6.4.2

内標準物質の添加（クリーンアップスパイク）

抽出操作前の試料に，クリーンアップスパイク用内標準物質を一定量添加する。添加量は，通常，TeCDDs

試料

クランプ

ファンネル

ディスク形固相

サポートスクリーン

ガスケット

ベース

吸引

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〜HpCDDs及びTeCDFs〜HpCDFsでは0.1 ng〜2 ng，OCDD及びOCDFでは0.2 ng〜4 ng並びにDL-PCBs

では0.1 ng〜2 ngとなる。試料中のダイオキシン類の濃度が非常に高く，通常の添加量では定量範囲を超

えてしまうことなどが予想される場合には，この範囲を超えて添加してもよい。また，試料を複数の試料

容器に採取した場合は，各容器に濃度がほぼ均一となるように内標準物質を加え，合計した添加量を記録

する。

6.4.3

試料からの抽出

6.4.3.1

一般

内標準物質を添加した試料からの抽出は，試料の量，共存有機物の量などを考慮し，最初にろ過を行っ

てから，ろ液とろ過残さとをそれぞれ別に抽出する方法，又は試料中で固相に捕集してから，ろ過を行っ

てろ過残さだけを抽出する方法のいずれかを選択する。

6.4.3.2

最初にろ過を行う方法

最初にろ過を行う方法は，次による。

a) 試料のろ過内標準物質を添加した試料をガラス繊維ろ紙で吸引ろ過し，ろ過残さとろ液とに分ける。

懸濁物質が多く目詰まりしやすい試料では，孔径の大きいろ紙を用いて多段階のろ過を行った後，孔

径0.5 µm程度のガラス繊維ろ紙でろ過を行ってもよい。

b) ろ液からの抽出ろ液からの抽出は，次のいずれかによる。

1) 固相抽出法固相抽出法は，選択した抽出用固相にa) で得たろ液を通水し，通水後，水分を十分

除去する。水分を除去した固相をソックスレー抽出などにかけ，溶媒中に抽出する。吸着破過を起

こす通水量の確認ができていない試料については，一つの抽出用固相への通水量を5 L以下とする。

なお，抽出操作の詳細は，選択した抽出用固相の推奨する方法に従う。

2) 液−液抽出法液−液抽出法は，a) で得たろ液を分液漏斗に入れ，ろ液1 Lに対してトルエン又は

ジクロロメタンを100 mLの割合で添加し，振とう幅約5 cm，毎分100回以上で約20分間振り混ぜ

て抽出する。抽出を3回行い，抽出液を合わせて硫酸ナトリウムで脱水する。

なお，かき混ぜ抽出法などのこの操作方法以外の液−液抽出法であっても，抽出効率が90 %以上

あることが確認できれば用いてもよい。

c) ろ過残さからの抽出ろ過残さからの抽出は，a) で得たろ過残さの水分を十分に除去した後，ソック

スレー抽出又はこれと同等の抽出方法で抽出する。ソックスレー抽出法と同等かどうかの判定は，次

のいずれかによる。

なお，条件を満たしていることの確認は，少なくとも3試料をそれぞれ3回の測定を繰り返し，合

計9個のデータを用いて行う。

− 土壌などの認証標準物質を，適用しようとする新規の抽出方法で抽出して測定し，測定結果と認証

値との差が所間標準偏差の±2倍にある。

注記認証標準物質に認証値の記載がない項目の場合は，参考値との差としてもよい。

− 土壌などの試料を，ソックスレー抽出法で抽出して測定する。これと併行して，適用しようとする

新規の抽出方法で抽出して測定する。両方の測定結果の平均値を求め，適用しようとする新規の抽

出方法による測定結果が平均値の±15 %にある。

ソックスレー抽出は，トルエンによって16時間（100回転程度）以上行う。ソックスレー抽出にお

いては試料中に残存する水分の影響で抽出効率が悪くなるおそれがあるので，水分の適切な除去を行

い，抽出する。また，抽出には長時間を要するので，抽出中の光分解に注意する。

ソックスレー抽出においては，ソックスレー・ディーンスターク形抽出器を用いる方法（EPA Method

K 0312：2020

1613など参照）を用いてもよい。

d) 抽出液の調製 b) 及びc) で得られた抽出液を一つに合わせ，更に，試料容器内壁をトルエン又はジ

クロロメタンで洗浄した洗液を硫酸ナトリウムで脱水後，この抽出液に合わせる。これを濃縮器で濃

縮してトルエンで一定量とし，抽出液とする。

6.4.3.3

固相に捕集後ろ過を行う方法

固相に捕集後ろ過を行う方法は，次による。操作の詳細は，選択した分散型固相吸着−凝集剤の推奨す

る方法に従う。

a) 固相への捕集分散型固相吸着−凝集法は，内標準物質を添加した試料のpHを，凝集を起こす範囲

に調整する。更に分散型固相吸着−凝集剤を添加し，十分にかくはん後，凝集物が沈降するまで静置

する。

なお，懸濁物質が多く目詰まりしやすい試料では，内標準物質を添加し，孔径の大きいろ紙を用い

て多段階のろ過を行った後，ろ液のpHを，凝集を起こす範囲に調整してから分散型固相吸着−凝集

剤を添加してもよい。このとき，ろ過残さは，c) の操作と同時に抽出する。

b) 試料のろ過 6.4.3.2 a) と同様に，a) で固相に捕集した試料をろ過する。

c) ろ過残さからの抽出 6.4.3.2 c) と同様に，ろ過残さから抽出する。

d) 抽出液の調製試料容器内壁をトルエン又はジクロロメタンで洗浄した洗液を硫酸ナトリウムで脱水

後，c) で得られた抽出液に合わせる。これを濃縮器で濃縮し，トルエンで一定量とし，抽出液とする。

6.4.4

カラムクロマトグラフ操作の溶出条件

6.4.6及び6.4.7のカラムクロマトグラフ操作におけるダイオキシン類の溶出条件は，使用する充塡剤の

種類又はロットによって異なってくるので，あらかじめ飛灰の抽出液など全てのダイオキシン類を含む試

料液を用いて分画試験を行って確認する。分画試験は，少なくとも充塡剤のロットごとに行う。

6.4.5

抽出液の濃縮

6.4.3で得られた抽出液の適量を分取し，濃縮器で約5 mLに濃縮する。次いで，窒素気流によってトル

エンを除去し，約100 µLの濃縮液とする。ヘキサン2 mL〜3 mLを加え，窒素気流によって溶媒を除去し，

約100 µLの濃縮液とする。この操作をもう1回繰り返す。ただし，6.4.6でa) の操作を行う場合は，濃縮

器によるヘキサンへの転溶操作を行ってもよい。

窒素気流による濃縮操作によって目的物質の損失を招かないように，溶液の表面が動いているのがよう

やく見える程度に窒素気流を調節して溶液が飛散しないように注意し，また，完全に乾固させてはならな

い。

なお，再測定の必要な場合があるため，抽出液の一部を保存しておくことが望ましい。

注記窒素気流による濃縮操作において，溶液に大きな渦ができるほど窒素を吹き付けたり，完全に

乾固させると，目的物質の損失を招くことがある。

6.4.6

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作による

精製は，次による。

なお，次のa) 1)〜2) の操作を行った後，b) の操作による精製を行ってもよい。

警告硫酸の添加は，硫酸と有機物との反応による溶媒の突沸に十分注意し，数mL程度から始め，

着色の度合いによって徐々に添加する。また，必ず手袋，マスクなどの保護具を使用する。

a) 硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操

作の手順は，次による。

K 0312：2020

なお，ここに示す手順は標準的なものであり，精製の効果を十分得ることが可能な場合は，必ずし

もこのとおりでなくてもよい。

1) 6.4.5で得られた濃縮液を分液漏斗（300 mL）にヘキサン50 mL〜150 mLで洗い込みながら移し入

れ，硫酸5 mLを加え，穏やかに振とうし，静置後，硫酸層を除去する。この操作を硫酸層の着色

が薄くなるまで3回〜4回繰り返す。

2) ヘキサン層をヘキサン洗浄水50 mLで洗液がほぼ中性になるまで繰り返し洗浄し，硫酸ナトリウム

で脱水後，濃縮器で約2 mLに濃縮する。

なお，硫黄分除去が必要な場合は，硝酸銀処理又は銅チップ処理を硫酸処理の後に行う。具体的

には硝酸銀シリカゲル又は銅チップ（塩酸処理した銅線を細かく切ったもの）をカラムに詰めて，

試料液を通過させるのがよい。

3) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め，ヘキサン10 mLで管内を洗浄し，石英

ガラスウール上部までヘキサンを残す。シリカゲル3 gをヘキサン10 mLを入れたビーカーにはか

りとり，ガラス棒で緩やかにかき混ぜて気泡を除き，カラムクロマトグラフ管に充塡する。ヘキサ

ンを流下させ，シリカゲル層を安定させた後，その上に硫酸ナトリウムを約10 mmの厚さになるよ

うに積層し，ヘキサン数mLで管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。

4) シリカゲルカラムにヘキサン50 mLを流下させた後，液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げ，2)

で調製した溶液をカラムに静かに移し入れ，ヘキサン1 mLで数回洗い込み，液面を硫酸ナトリウ

ム層の上端まで下げ，ヘキサン150 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の流量で流下させる。

5) 溶出液は，濃縮器で約2 mLに濃縮する。

b) 多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作は，次の手順

による。

なお，ここに示す手順は標準的なものであり，精製の効果を十分得ることが可能な場合は，必ずし

もこのとおりでなくてもよい。

1) カラムクロマトグラフ管（内径は15 mmのもの）の底部に石英ガラスウールを詰め，シリカゲル

0.9 g，水酸化カリウム（質量分率2 %）シリカゲル3 g，シリカゲル0.9 g，硫酸（質量分率44 %）

シリカゲル4.5 g，硫酸（質量分率22 %）シリカゲル6 g，シリカゲル0.9 g，硝酸銀（質量分率10 %）

シリカゲル3 g及び硫酸ナトリウム6 gを順次充塡する（図4参照）。

なお，硫酸処理と同様な効果は，硫酸シリカゲルだけを用いた処理で得られるため，試料によっ

ては多層シリカゲルカラムの代わりに硫酸（質量分率22 %）シリカゲルカラムを用いてもよい。

注記硝酸銀（質量分率10 %）シリカゲルは，特に硫黄分が多い試料に対して用いると効果的で

ある。

2) ヘキサン50 mLを流下させた後，液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。

3) 6.4.5で得られた濃縮液をカラムに静かに移し入れ，液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。

4) ヘキサン1 mLで濃縮液の容器を洗浄し，洗液はカラム内壁を洗いながら入れる。この洗浄操作を2

回〜3回繰り返す。

5) ヘキサン120 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の流量で流下させる。

6) 溶出液を濃縮器で約2 mLに濃縮する。充塡部の着色が多い場合は，1)〜6) の操作を繰り返す。

K 0312：2020

図4−多層シリカゲルカラムの例

6.4.7

その他の精製操作

6.4.6で得られた濃縮液を，次に示すいずれかの操作又はそれらの組合せで精製を行い，PCDDs及び

PCDFs測定用並びにDL-PCBs測定用の濃縮液を調製する。

なお，ここに示す手順は標準的なものであり，精製の効果を十分得ることが可能な場合は，必ずしもこ

のとおりでなくてもよい。

a) アルミナカラムクロマトグラフ操作アルミナカラムクロマトグラフ操作は，PCDDs及びPCDFs測

定用とDL-PCBs測定用とに濃縮液を分けて行う。それぞれの操作手順は，次による。同定及び定量の

操作条件によっては，濃縮液を分けないで行ってもよい。その場合の手順は，この限りではない。

1) PCDDs及びPCDFs測定用アルミナカラムクロマトグラフ操作 PCDDs及びPCDFs測定用のアル

ミナカラムクロマトグラフ操作は，次の手順による。

1.1) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め，ヘキサン10 mLで管内を洗浄し，石

英ガラスウール上部までヘキサンを残す。アルミナ10 gをヘキサン10 mLを入れたビーカーには

かりとり，ガラス棒で緩やかにかき混ぜて気泡を除き，カラムクロマトグラフ管に充塡する。ヘ

キサンを流下させ，アルミナ層を安定させた後，その上に硫酸ナトリウムを約10 mmの厚さにな

るように積層し，ヘキサン数mLで管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。ヘキサン

50 mLを流下させた後，液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。

1.2) 濃縮液を正確に二分した後，その一つを6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって約0.5 mLまで

濃縮し，1.1) のカラムに静かに移し入れ，ヘキサン1 mLで数回洗い込み，液面を硫酸ナトリウム

層の上端まで下げた後，ジクロロメタン（体積分率2 %）を含むヘキサン溶液100 mLを約2.5

mL/min（毎秒1滴程度）の流量で流下して第1画分を得る。この画分は，測定が終了するまで保

管する。

1.3) ジクロロメタン（体積分率50 %）を含むヘキサン溶液150 mLを，約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）

の流量で流下して第2画分を得る。この画分にPCDDs及びPCDFsが含まれる。

1.4) 第2画分を濃縮器で約2 mLに濃縮する。

2) DL-PCBs測定用アルミナカラムクロマトグラフ操作 DL-PCBs測定用のアルミナカラムクロマト

硝酸銀（質量分率10 %）シリカゲル3 g

硫酸（質量分率22 %）シリカゲル6 g

硫酸（質量分率44 %）シリカゲル4.5 g

水酸化カリウム（質量分率2 %）シリカゲル3 g

石英ガラスウール

硫酸ナトリウム6 g

シリカゲル0.9 g

K 0312：2020

グラフ操作は，次の手順による。

2.1) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め，ヘキサン10 mLで管内を洗浄し，石

英ガラスウール上部までヘキサンを残す。アルミナ10 gをヘキサン10 mLを入れたビーカーには

かりとり，ガラス棒で緩やかにかき混ぜて気泡を除き，カラムクロマトグラフ管に充塡する。ヘ

キサンを流下させ，アルミナ層を安定させた後，その上に硫酸ナトリウムを約10 mmの厚さにな

るように積層し，ヘキサン数mLで管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。ヘキサン

50 mLを流下させた後，液面を硫酸ナトリウム層の上端まで下げる。

2.2) 濃縮液を正確に二分した後，その一つを6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって約0.5 mLまで

濃縮し，2.1) のカラムクロマトグラフ管に静かに移し入れ，ヘキサン1 mLで数回洗い込み，液面

を硫酸ナトリウム層の上端まで下げた後，ヘキサン40 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の流

量で流下して鎖状炭化水素などを溶出させる。

2.3) ジクロロメタン（体積分率5 %）を含むヘキサン溶液120 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の

流量で流下して第1画分を得る。この画分にはDL-PCBsが含まれる。

2.4) ジクロロメタン（体積分率50 %）を含むヘキサン溶液160 mLを，約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）

の流量で流下して第2画分を得る。この画分は，測定が終了するまで保管する。

2.5) 第1画分を濃縮器で約2 mLに濃縮する。

b) 高速液体クロマトグラフ操作高速液体クロマトグラフ操作は，次の手順による。

なお，ここで示す操作条件は，使用する機器，カラムなどによって若干異なってくるので，あらか

じめ飛灰の抽出液などを用いて分画試験を行って確認しなければならない。

1) 高速液体クロマトグラフにカーボンカラムを移動相の流れの向きが切り替えられるように装着し，

溶離液の流量を2 mL/minに設定する。検出器として吸光光度検出器を接続し，検出器出口から溶出

液を分取できるようにしておく。

2) 溶離液をトルエンとして通常の流れの向きで流し，十分にカラムを洗浄した後，溶離液をヘキサン

に代えてカラム及び装置の流路内をヘキサンで置換する。検出器の指示値の変化でヘキサンに置換

したかどうかを判断するのがよい。

3) 濃縮液を更に6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって100 µL程度に濃縮する。この液を高速液体

クロマトグラフに注入し，溶離液をヘキサンのままで4分間流し，溶出液8 mLを分取して第1画

分とする。ここには，DL-PCBs以外のPCBが含まれている。

4) 溶離液をジクロロメタン（体積分率50 %）を含むヘキサン溶液として20分間流し，溶出液40 mL

を分取して第2画分とする。ここには，DL-PCBsのモノオルト体が含まれている。

5) 溶離液をトルエン（体積分率30 %）を含むヘキサン溶液として20分間流し，溶出液40 mLを分取

して第3画分とする。ここには，DL-PCBsのノンオルト体が含まれている。

6) オーブンを50 ℃に加熱し，カラムでの移動相の流れの向きを逆にしてトルエンを15分間流し，溶

出液30 mLを分取して第4画分とする。ここには，PCDDs及びPCDFsが含まれている。

7) 第2画分と第3画分とを一つにし，DL-PCBs測定用として濃縮器で約2 mLに濃縮し，第4画分を

PCDDs及びPCDFs測定用として同様に濃縮する。

c) 活性炭カラムクロマトグラフ操作活性炭カラムクロマトグラフ操作は，次の手順による。

1) カラムクロマトグラフ管の底部に石英ガラスウールを詰め，その上に硫酸ナトリウムを厚さ約10

mm，活性炭カラム充塡剤を1 g，硫酸ナトリウムを厚さ約10 mmに積層して充塡する。トルエンを

流下させて十分洗浄した後，ヘキサンを流下させてカラム内をヘキサンに置換する。

K 0312：2020

2) 濃縮液を更に6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって100 µL程度に濃縮する。この液をカラムに

負荷し，ヘキサン50 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の流量で流下させる。

3) ジクロロメタン（体積分率25 %）を含むヘキサン溶液150 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の

流量で流下させ，第1画分を得る。ここに，DL-PCBsのモノオルト体が含まれている。

4) トルエン200 mLを約2.5 mL/min（毎秒1滴程度）の流量で流下させ，第2画分を得る。ここには，

PCDDs，PCDFs及びDL-PCBsのノンオルト体が含まれている。

5) この第1画分と第2画分とを濃縮器で約2 mLにそれぞれ濃縮する。

d) DMSO処理操作 DMSO処理操作は，次の手順による。この操作は，脂肪族炭化水素などの低極性物

質の除去を目的として行うものであり，PCDDs及びPCDFs測定用とDL-PCBs測定用とに分けること

はできないので，a)〜c) の精製操作と組み合わせて行う。

1) 分液漏斗にヘキサン飽和のDMSO 25 mLを入れ，これに濃縮液をヘキサンで洗浄しながら移し入れ，

振とう抽出を4回行って得られた合計約100 mLのDMSO抽出液に，ヘキサン40 mLを加え，洗浄

する。

2) 分液漏斗にヘキサン75 mLとヘキサン洗浄水100 mLとを入れ，1) の操作で得られたDMSO抽出液

約100 mLを加え，振とう抽出を3回行う。ヘキサン抽出液約225 mLを得る。

3) 得られた合計約225 mLのヘキサン抽出液を分液漏斗に入れ，水酸化カリウム水溶液（2 mol/L）10 mL

による洗浄を行う。さらに，水25 mLで2回洗浄し，硫酸ナトリウムで脱水した後，濃縮器で2 mL

に濃縮する。

6.4.8

測定用試料の調製

6.4.7の精製操作によって得られたPCDDs及びPCDFs測定用並びにDL-PCBs測定用の各濃縮液にシリ

ンジスパイク用内標準物質を検量線作成用標準液と同程度になるように添加して，ノナン，トルエン，デ

カン又は2,2,4-トリメチルペンタン0.5 mLを加え，再度，6.4.5の窒素気流による濃縮操作によって一定液

量にしたものをそれぞれPCDDs及びPCDFs測定用並びにDL-PCBs測定用試料とする。

同定及び定量

7.1

概要

ダイオキシン類の同定及び定量は，キャピラリーカラムを用いるGC及びMSを用いるガスクロマトグ

ラフィー質量分析法によって行う。分解能は10 000以上が要求されるが，使用する内標準物質によっては

12 000が必要となる。10 000以上の高分解能での測定を維持するため，校正用標準試料を測定用試料と同

時にイオン源に導いてモニターイオンに近い質量のイオンをモニターして質量の微少な変動を補正するロ

ックマス方式による選択イオンモニタリング（以下，SIMという。）で検出し，保持時間及びイオン強度

比からダイオキシン類であることを確認した後，クロマトグラム上のピーク面積から内標準法によって定

量を行う。

この規格で用いるGC-MSにおける装置の検出下限（7.5.1参照）は，装置の機種，測定条件などによっ

て変動するが，TeCDDs，PeCDDs，TeCDFs及びPeCDFsで0.1 pg，HxCDDs，HpCDDs，HxCDFs及びHpCDFs

で0.2 pg，OCDD及びOCDFで0.5 pg並びにDL-PCBsで0.2 pg以下とする。

7.2

試薬及び装置

7.2.1

試薬

同定及び定量に用いる試薬は，次による。

7.2.1.1

校正用標準試料ペルフルオロケロセン（PFK）などの質量分析用高沸点成分を使用する。

K 0312：2020

7.2.1.2

標準物質内標準法によるダイオキシン類の同定及び定量に使用する標準物質は，表6による。

7.2.1.3

内標準物質クリーンアップスパイク用内標準物質（6.2.17参照）及びシリンジスパイク用内標

準物質（6.2.18参照）。

7.2.1.4

検量線作成用標準液 7.2.1.2の標準物質及び7.2.1.3の内標準物質を混合して，標準物質の濃度は，

GC-MSの定量範囲内で装置の定量下限程度となるような低濃度から5段階程度をノナン，トルエン，デカ

ン又は2,2,4-トリメチルペンタンで希釈して調製する（検量線作成用標準液の調製例は，附属書JBを参照）。

表6−ダイオキシン類の標準物質

標準物質

TeCDD

2,3,7,8-TeCDD

PeCDD

1,2,3,7,8-PeCDD

HxCDD

1,2,3,4,7,8-HxCDD

1,2,3,6,7,8-HxCDD

1,2,3,7,8,9-HxCDD

HpCDD

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

OCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

TeCDF

2,3,7,8-TeCDF

PeCDF

1,2,3,7,8-PeCDF

2,3,4,7,8-PeCDF

HxCDF

1,2,3,4,7,8-HxCDF

1,2,3,6,7,8-HxCDF

1,2,3,7,8,9-HxCDF

2,3,4,6,7,8-HxCDF

HpCDF

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

OCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

-P

TeCB

3,3',4,4'-TeCB (#77)

3,4,4',5-TeCB (#81)

PeCB

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

2,3,4,4',5-PeCB (#114)

2,3',4,4',5-PeCB (#118)

2',3,4,4',5-PeCB (#123)

3,3',4,4',5-PeCB (#126)

HxCB

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

HpCB

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。

7.2.2

装置（GC-MS）

同定及び定量に用いるGC-MSは，次による。

7.2.2.1

GC GCは，次による。

a) 試料導入部スプリットレス方式，オンカラム注入方式又は大量注入方式（温度プログラム気化注入

方式など）で250 ℃〜300 ℃で使用可能なもの。

K 0312：2020

注記大量注入方式の場合，ダイオキシン類の脱塩素によって定量に影響を与える可能性がある。

例えば，OCDDがHpCDDsの濃度に比較して高濃度である場合，HpCDDsの定量が正確でな

くなることが考えられるので注意する。

b) カラム内径0.1 mm〜0.52 mm，長さ25 m〜60 mの溶融シリカ製のキャピラリーカラム。

PCDDs及びPCDFsの測定では，2,3,7,8-位塩素置換異性体が可能な限り単離でき，全ての化合物に

ついてクロマトグラム上における溶出順位の判明しているカラムを使用する。全ての2,3,7,8-位塩素置

換異性体を他の異性体と完全に分離できるカラムは報告されていないので，溶出順位の異なる2種以

上のカラムを併用して2,3,7,8-位塩素置換異性体全てを単独に定量できるようにすることが望ましい。

単独に定量できない2,3,7,8-位塩素置換異性体がある場合，重なっている異性体の影響が無視できなく，

測定結果に大きく影響することがあるので注意する［8.1 a) 参照］。

DL-PCBsの測定では，12種類のDL-PCBsが他のPCB化合物と可能な限り単離でき，TeCB〜DeCB

のPCB化合物全てについてクロマトグラム上における溶出順位の判明しているカラムを使用する。

注記 PCDDs及びPCDFsの溶出順位が報告されているカラムとしては，BPX-DXN（SGE），CP-Sil

88（Agilent J&W），DB-5（Agilent J&W），DB-17（Agilent J&W），DB-210（Agilent J&W），

DB-225（Agilent J&W），007-17（Quadrex），RH-12ms（Inventx），SP-2331（Supelco）などが

あり，PCBsの溶出順位が報告されているカラムとしては，DB-5ms（Agilent J&W），HT8-PCB

（SGE），RH-12ms（Inventx）などがある（附属書JC参照）。この情報は，この規格の利用者

の便宜を図って記載するもので，この製品を推奨するものではない。

c) キャリヤーガス純度99.999 %（体積分率）以上の高純度ヘリウム。

d) カラム恒温槽温度制御範囲が50 ℃〜350 ℃であり，測定対象物質の最適分離条件の温度に調節でき

るような昇温プログラムの可能なもの。

7.2.2.2

MS MSは，次による。

a) 方式二重収束方式

b) 分解能 10 000以上。ただし，内標準物質として13C12-OCDFを使用する場合，キャピラリーカラムの

選択によっては12 000程度が必要となる。

c) イオン検出方法校正用標準試料を用いたロックマス方式によるSIM

d) イオン化方法電子イオン化（EI）法

e) イオン源温度 250 ℃〜320 ℃

イオン化電流 0.5 mA〜1 mA

g) 電子加速電圧 30 V〜70 V

h) 最大イオン加速電圧 5 kV〜10 kV

7.3

測定操作

7.3.1

GC-MSの測定条件の設定

GC-MSの測定条件の設定は，次による。

注記 GC-MSの測定条件及びクロマトグラムの例は，附属書JCを参照。

a) GC PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsのGCの設定条件は，次による。

1) PCDDs及びPCDFs PCDDs及びPCDFsの測定においては，クロマトグラム上における2,3,7,8-位

塩素置換異性体のピークが他の異性体のものと良好な分離が得られ，各塩素化物の保持時間が適切

な範囲にあり，安定した応答が得られるようにGCの条件を設定する。設定した条件における各化

合物の分離状況を飛灰の抽出液などの試料を測定して確認しておく。

K 0312：2020

2) DL-PCBs DL-PCBsの測定においては，DL-PCBsのクロマトグラム上でのピークが他の化合物のも

のと良好な分離が得られ，各塩素化物の保持時間が適切な範囲にあり，安定した応答が得られるよ

うにGCの条件を設定する。設定した条件における各化合物の分離状況を飛灰の抽出液などの試料

を測定して確認しておく。

b) MS MSは，次の全てを満足する条件に設定する。

1) 分解能分解能は10 000以上とする。ただし，内標準物質として13C12-OCDFを使用する場合，GC

のカラムの選択によっては12 000程度が必要になる。

2) 検出方法校正用標準試料を用いたロックマス方式によるSIMを用いる。

3) m/z 標準物質及び内標準物質の塩素化物ごとに，二つ以上の選択イオンのm/z及びロックマス用の

選択イオンのm/zを設定する。PCDDs及びPCDFsのm/zの例を表7に，DL-PCBsのm/zの例を表8

にそれぞれ示す。

キャピラリーカラムによって得られるピークの幅は5秒〜10秒間程度であり，一つのピークに対

して十分な測定点を確保するため，クロマトグラムにおける単独成分ピークの最も幅の狭いピーク

であっても，そのピークを構成する測定点が7点以上となるようにSIMのサンプリングの周期を設

定しなければならない。1回の測定で設定可能なモニターイオンの数は，要求される感度との兼ね

合いとなるので，十分に検討した上で設定する。

クロマトグラム上の各ピークの保持時間を考慮して，時間分割によるグルーピング方式によって

測定してもよいが，この場合にはグループごとに，適切な内標準物質ピークが出現するように条件

を設定する。

表7−PCDDs及びPCDFs測定のm/z（モニターイオン）の例

M＋

(M＋2)＋

(M＋4)＋

分

析

対

象

物

質

TeCDDs

319.896 5

321.893 6

323.890 6

PeCDDs

353.857 6

355.854 6

357.851 7 a)

HxCDDs

387.818 6

389.815 6

391.812 7 a)

HpCDDs

421.779 6

423.776 7

425.773 7

OCDD

455.740 7

457.737 7

459.734 8

TeCDFs

303.901 6

305.898 7

307.895 7

PeCDFs

337.862 7

339.859 7

341.856 8

HxCDFs

371.823 7

373.820 7

375.817 8

HpCDFs

405.784 7

407.781 8

409.778 8

OCDF

439.745 7

441.742 8

443.739 8

内

標

準

物

質

13C12-TeCDDs

331.936 8

333.933 9

335.930 9

37Cl4-TeCDDs

327.884 7

−

13C12-PeCDDs

365.897 8

367.894 9

369.891 9

13C12-HxCDDs

399.858 9

401.855 9

403.853 0

13C12-HpCDDs

433.819 9

435.816 9

437.814 0

13C12-OCDD

467.780 9

469.778 0

471.775 0

13C12-TeCDFs

315.941 9

317.938 9

319.936 0

13C12-PeCDFs

349.902 9

351.900 0

353.897 0

13C12-HxCDFs

383.863 9

385.861 0

387.858 0

13C12-HpCDFs

417.825 0

419.822 0

421.819 1

13C12-OCDF

451.786 0

453.783 0

455.780 1

K 0312：2020

表7−PCDDs及びPCDFs測定のm/z（モニターイオン）の例（続き）

校正用標準試料

（PFK）

330.979 2（TeCDDs，PeCDDs，TeCDFs及びPeCDFs定量用）
380.976 0（PeCDDs，HxCDDs，PeCDFs及びHxCDFs定量用）
430.972 9（HpCDDs，OCDD，HpCDFs及びOCDF定量用）
442.972 9（HpCDDs，OCDD，HpCDFs及びOCDF定量用）

注記1 質量は，IUPAC, Element by element review of their atomic weights, Pure Appl.

Chem., 56 (6), 695-768 (1984) を基にして算出した。

注記2 Mは，最も質量数の少ない安定同位体だけで構成された分子を示す。
注a) PCBの妨害を受けることがある。

表8−DL-PCBs測定のm/z（モニターイオン）の例

M＋

(M＋2)＋

(M＋4)＋

分

析

対

象

物

質 TeCBs

289.922 4

291.919 4

293.916 5

PeCBs

323.883 4

325.880 4

327.877 5

HxCBs

357.844 4

359.841 5

361.838 5

HpCBs

391.805 4

393.802 5

395.799 5

内

標

準

物

質

13C12-TeCBs

301.962 6

303.959 7

305.956 7

13C12-PeCBs

335.923 7

337.920 7

339.917 8

13C12-HxCBs

369.884 7

371.881 7

373.878 8

13C12-HpCBs

403.845 7

405.842 8

407.839 8

校正用標準試料

（PFK）

304.982 4（TeCBs及びPeCBs定量用）
330.979 2（PeCBs及びHxCBs定量用）
380.976 0（HxCBs及びHpCBs定量用）

注記1 質量は，IUPAC, Element by element review of their

atomic weights, Pure Appl. Chem., 56 (6), 695-768
(1984) を基にして算出した。

注記2 Mは，最も質量数の少ない安定同位体だけで構成

された分子を示す。

7.3.2

MSの調整

MSの調整は，装置が作動している状態で必要な項目の条件を設定した後，校正用標準試料を導入し，

質量校正用プログラムによって行う。m/z目盛，分解能（10 000以上）などを測定目的に応じて規定の値

に校正する。特に，分解能は測定質量範囲の全域で10 000以上に調節しなければならない。通常，一連の

測定を開始する前に行い，質量校正結果は保存しておく。

7.3.3

SIM測定操作

SIM測定操作は，次による。

a) GC-MSを所定の条件に設定する。

b) 校正用標準試料を導入しながらそのモニターイオンの応答が安定したら，測定試料の測定を行う。

c) 設定した各塩素化物のモニターイオンについて，クロマトグラムを記録する。

d) 測定終了後，データ処理作業に入る前に個々の試料ごとに校正用標準試料のモニターイオンのクロマ

トグラム，妨害成分の有無及び2,3,7,8-位塩素置換異性体の分離の確認を行う。

校正用標準試料のモニターイオンのクロマトグラムで，測定対象化合物の出現時間においてシグナ

ルに±20 %を超えた変動が認められた場合には，その化合物については定量してはならない。主な要

因として，試料の前処理が不十分な場合が考えられるので，試料の前処理を再度十分に行い，ロック

K 0312：2020

マスの変動を最小限に抑える。

7.3.4

検量線の作成

検量線の作成は，次による。

a) 検量線作成用標準液の測定各検量線作成用標準液を1濃度に対して最低3回GC-MSに注入し，7.3.3

のSIM測定操作を行って，全濃度領域で合計15点以上のデータをとる。

b) ノイズ幅に対するピーク高さの確認最も濃度の低い検量線作成用標準液のクロマトグラムにおいて，

ベースラインのノイズ幅（N）に対する標準物質のピーク高さ（S）の比（S/N）が10以上であること

を確認する［7.4.1 b) 参照］。

c) ピーク面積の強度比の確認得られたクロマトグラムから，各標準物質の対応する二つのイオンのピ

ーク面積の強度比を求め，塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比と±15 %で一致する

ことを確認する（表9参照）。

d) 相対感度の算出相対感度の算出は，次による。

なお，ここで用いるピーク面積は，一方のモニターイオンのピーク面積，両モニターイオンのピー

ク面積の合計値，又は両モニターイオンのピーク面積の平均値のいずれかとし，試料の測定までの全

ての測定において同じものを用いなければならない。

1) 各標準物質及び内標準物質のピーク面積を求め，各標準物質とそれに対応するクリーンアップスパ

イク用内標準物質とのピーク面積の比，及び注入した標準液中のその標準物質と内標準物質との濃

度の比を用いて検量線（最小二乗法による一次直線回帰式）を作成し，検量線の切片が限りなくゼ

ロ（0）に近いことを確認する（測定対象の標準物質に対応する内標準物質の例は，附属書JBを参

照）。

相対感度（RRCS）は，式(2)によって測定ごとに求め，得られた全濃度域合計15点以上のデータ

を平均する。この場合，データの変動係数が5 %を目安に可能な限り小さくなるようにし，変動係

数が10 %を超える化合物があってはならない。変動係数が10 %を超える場合は，GC-MSの状態を

確認して，必要な場合，調整し直すか，直線性のある範囲に定量範囲を狭めるなどの処置を行って

検量線を作成し直す。

······································································· (2)

ここに，

RRCS：測定対象物質のクリーンアップスパイク用内標準物質に

対する相対感度

QCS：標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質の量

（pg）

QS：標準液中の測定対象物質の量（pg）

AS：標準液中の測定対象物質のピーク面積

ACS：標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質のピー

ク面積

2) 同様にして，クリーンアップスパイク用内標準物質のシリンジスパイク用内標準物質に対する相対

感度（RRRS）を式(3)によって測定ごとに求め，得られた全データを平均する（クリーンアップスパ

イク用内標準物質とシリンジスパイク用内標準物質との対応の例は，附属書JBを参照）。この場合，

データの変動係数が10 %を目安に可能な限り小さくなるようにし，変動係数が20 %を超える化合

物があってはならない。変動係数が20 %を超える場合は，GC-MSの状態を確認して，必要な場合，

調整し直して検量線を作成し直す。

K 0312：2020

······································································ (3)

ここに，

RRRS：クリーンアップスパイク用内標準物質のシリンジスパイ

ク用内標準物質に対する相対感度

QRS：標準液中のシリンジスパイク用内標準物質の量（pg）

QCS：標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質の量

（pg）

ACS：標準液中のクリーンアップスパイク用内標準物質のピー

ク面積

ARS：標準液中のシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積

7.3.5

試料の測定

試料の測定は，次による。

a) 検量線の確認ある一定の周期（1日に1回以上）で，検量線作成用標準液の中から一つ以上選び，

7.3.3のSIM測定操作に従って測定し，7.3.4と同様にして各化合物のそれに対応したクリーンアップ

スパイク用内標準物質に対する相対感度（RRCS）を求める。さらに，クリーンアップスパイク用内標

準物質のシリンジスパイク用内標準物質に対する相対感度（RRRS）を求める。

これらの相対感度が，7.3.4で求めた検量線作成時の相対感度（RRCS及びRRRS）に対してRRCSにつ

いては±10 %，RRRSについては±20 %にあるとき，7.3.4で求めた相対感度を用いて測定を行う。こ

の範囲を外れた場合には，その原因を取り除き，再測定を行うか，再度検量線を作成する。

さらに，保持時間についても，その変動を調べ，保持時間が1日に±5 %，内標準物質との保持時

間の比が±2 %を超えて変動する場合には，その原因を取り除き，その直前に行った一連の試料の再

測定を行う。

b) 試料の測定 6.4.8で調製した測定用試料を7.3.3のSIM測定操作に従って測定し，各塩素化物のモニ

ターイオンについてクロマトグラムを得る。

7.4

ダイオキシン類の同定及び定量

7.4.1

ピークの検出

7.3.5で得られたクロマトグラムにおけるピークの検出は，次による。

a) シリンジスパイク用内標準物質の確認 6.4.8で調製した測定用試料中のシリンジスパイク用内標準

物質のピーク面積が標準液におけるシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積の70 %以上である

ことを確認する。この範囲から外れた場合は，原因を調査し，その原因を取り除いて再度測定する。

b) ピークの検出クロマトグラム上において，ベースラインのノイズ幅（N）に対して3倍以上のピー

ク高さ（S）となるピーク，すなわち，ピーク高さでS/N＝3以上となるピークについて，同定及び定

量の操作を行う。

ここで，ノイズ幅及びピーク高さは，一般に次のようにして求める。まず，ピークの近傍（ピーク

の半値幅の10倍程度の範囲）のノイズを計測し，その標準偏差の2倍をノイズ幅とするか，経験的に

ノイズの最大値と最小値との幅はおおよそ標準偏差の5倍となるため，その幅の2/5をノイズ幅とす

る。一方，ノイズの中央値をベースラインとし，ベースラインのノイズを基にピークトップを決めて

この幅をピーク高さとする。

なお，得られたクロマトグラムのベースラインが装置のゼロ点より高くない場合，ノイズを計測す

ることはできないので，測定に先立ってベースラインを確認，必要に応じてオフセットなどを適切に

調節しなければならない。

K 0312：2020

c) ピーク面積の算出 b) で検出されたピークについて，そのピーク面積を算出する。

7.4.2

ダイオキシン類の同定

ダイオキシン類の同定は，次による。

a) PCDDs，PCDFs及びPCBsの同定モニターした二つ以上のイオンにおけるクロマトグラム上のピー

ク面積の比が標準物質のものとほぼ同じであり，表9に示す塩素原子の同位体存在比から推定される

イオン強度比に対して±15 %（検出下限の3倍以下の濃度では±25 %）にあるとき，そのピークはダ

イオキシン類又はPCBsによるものとする。標準物質のない化合物の同定は，分析に用いたカラムの

溶出順位を参考にして行う。

b) 2,3,7,8-位塩素置換異性体の同定同定されたPCDDs及びPCDFsの中の2,3,7,8-位塩素置換異性体は，

クロマトグラム上のピークの保持時間が標準物質とほぼ同じであり，対応する内標準物質との相対保

持時間が標準物質と一致することで同定する。

c) DL-PCBsの同定同定されたPCBsの中のDL-PCBsは，クロマトグラム上のピークの保持時間が標

準物質とほぼ同じであり，対応する内標準物質との相対保持時間が標準物質と一致することで同定す

る。

表9−塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比

M＋2

M＋4

M＋6

M＋8

M＋10

M＋12

M＋14

TeCDDs

77.43

100.00

48.74

10.72

0.94

0.01

−

PeCDDs

62.06

100.00

64.69

21.08

3.50

0.25

−

HxCDDs

51.79

100.00

80.66

34.85

8.54

1.14

0.07

−

HpCDDs

44.43

100.00

96.64

52.03

16.89

3.32

0.37

0.02

OCDD

34.54

88.80

100.00

64.48

26.07

6.78

1.11

0.11

TeCDFs

77.55

100.00

48.61

10.64

0.92

−

PeCDFs

62.14

100.00

64.57

20.98

3.46

0.24

−

HxCDFs

51.84

100.00

80.54

34.72

8.48

1.12

0.07

−

HpCDFs

44.47

100.00

96.52

51.88

16.80

3.29

0.37

0.02

OCDF

34.61

88.89

100.00

64.39

25.98

6.74

1.10

0.11

TeCBs

76.67

100.00

49.11

10.83

0.93

−

PeCBs

61.42

100.00

65.29

21.43

3.56

−

HxCBs

51.22

100.00

81.48

35.51

8.75

1.17

−

HpCBs

43.93

100.00

97.67

53.09

17.38

3.43

−

注記1 イオン強度比は，塩素数ごとにそれぞれ最大強度を示すイオンを100 %とした値である。
注記2 Mは，最低質量の同位体を示す。

7.4.3

ダイオキシン類の定量

ダイオキシン類の定量は，次による。

a) 検量線範囲の確認同定されたダイオキシン類のピーク面積（Ai）の対応するクリーンアップスパイ

ク用内標準物質のピーク面積（ACSi）に対する比（Ai/ACSi）が，検量線範囲の最も高い濃度比における

ピーク面積比の平均値以下であることを確認する。2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs以外の化

合物の場合で，各塩素化物に用いているクリーンアップスパイク用内標準物質が複数ある場合は，そ

れらのピーク面積比の平均値と比較する。

これを超える場合は，予備試料からの抽出をやり直す。

b) 各化合物の定量抽出液全量中の同定された，2,3,7,8-位塩素置換異性体又はDL-PCBsの量（Qi）は，

K 0312：2020

それに対応するクリーンアップスパイク用内標準物質の添加量を基準にして内標準法で，式(4)によっ

て求める。他の化合物についても同様にして求める（測定対象物質，標準物質及びそれに対応するク

リーンアップスパイク用内標準物質の例は，附属書JBを参照）。

2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs以外の化合物の定量には，各塩素化物に用いている標準物質

とクリーンアップスパイク用内標準物質との相対感度の平均値を用いる。各塩素化物に用いているク

リーンアップスパイク用内標準物質が複数ある場合は，それらのピーク面積の平均値を用いる。

CSi

······································································· (4)

ここに，

Qi：抽出液全量中の化合物の量（ng）

Ai：クロマトグラム上の化合物のピーク面積

ACSi：対応するクリーンアップスパイク用内標準物質のピーク

面積

QCSi：対応するクリーンアップスパイク用内標準物質の添加量

（ng）

RRCS：対応するクリーンアップスパイク用内標準物質に対する

相対感度

c) 濃度の算出得られた各化合物の量から，試料中の濃度を式(5)によって算出する。

(

−

······································································· (5)

ここに，

Ci：試料中の化合物の濃度（pg/L）

Qi：抽出液全量中の化合物の量（pg）

Qt：操作ブランク試験での化合物の量（pg）

V：試料の採取量（L）

7.5

検出下限及び定量下限

7.5.1

装置の検出下限及び定量下限

最低濃度（各標準物質をそれぞれTeCDDs，PeCDDs，TeCDFs及びPeCDFsで0.1 pg〜0.5 pg，HxCDDs，

HpCDDs，HxCDFs及びHpCDFsで0.2 pg〜1.0 pg，OCDD及びOCDFで0.5 pg〜2.5 pg並びにDL-PCBsで

0.2 pg〜1.0 pgを含む。）の検量線作成用標準液をGC-MSで測定し，各化合物を定量する。この操作を5

回以上繰り返し，得られた測定値から式(6)によって標準偏差を求め，その3倍を装置の検出下限，10倍を

装置の定量下限とする。ここでは，測定値の丸めを行わずに標準偏差を算出し，得られた検出下限は有効

数字を1桁とし，定量下限は検出下限と同じ桁までで丸める。

ここで得られた装置の検出下限が，TeCDDs，PeCDDs，TeCDFs又はPeCDFsで0.1 pg，HxCDDs，HpCDDs，

HxCDFs又はHpCDFsで0.2 pg，OCDD又はOCDFで0.5 pg若しくはDL-PCBsで0.2 pgより大きいときに

は，器具，機器などを確認して，これらの値以下になるように調節する。

この装置の検出下限及び定量下限は，使用するGC-MSの状態などによって変動するため，ある一定の

周期で確認し，常に十分な値が得られるように管理する。また，使用するGC-MS及び／又は測定条件を

変更した場合などには必ず確認する。

(

)

−

=∑n

······································································· (6)

ここに，

s：標準偏差

xi：個々の測定値（pg）

K 0312：2020

x：測定値の平均値（pg）

n：測定回数

7.5.2

測定方法の検出下限及び定量下限

測定に用いるのと同量の抽出溶媒を濃縮した抽出液に式(7)によって算出した量の標準物質を添加し，前

処理，GC-MSでの測定，同定及び定量を行う。これを5回以上行い，得られた測定値の標準偏差を式(6)

によって求め，その3倍を測定方法の検出下限，10倍を測定方法の定量下限とする。ここでは，測定値の

丸めを行わずに標準偏差を算出し，得られた検出下限は有効数字を1桁とし，定量下限は検出下限と同じ

桁までで丸める。

この測定方法の検出下限及び定量下限は，前処理操作及び／又は測定条件によって変動するため，ある

一定の周期で確認し，常に十分な値が得られるように管理する。また，前処理操作及び／又は測定条件を

変更した場合などには必ず確認する。

QL'

············································································· (7)

ここに，

Q：標準物質の添加量（pg）

QL'：装置の定量下限（pg）

v：測定用試料の液量（µL）

vi： GC-MSへの注入量（µL）

7.5.3

試料における検出下限及び定量下限

試料における検出下限及び定量下限は，試料の採取量などによって異なってくるため，式(8)及び式(9)

によって試料ごとに求める。得られた検出下限は有効数字を1桁とし，定量下限は検出下限と同じ桁まで

で丸める。

2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs以外の化合物の試料における検出下限及び定量下限は，各塩素

化物に用いている標準物質の丸める前の試料における検出下限及び定量下限を平均して求める。得られた

検出下限は有効数字を1桁とし，定量下限は検出下限と同じ桁までで丸める。

······························································· (8)

································································ (9)

ここに，

CDL：試料における検出下限（pg/L）

CQL：試料における定量下限（pg/L）

DL：測定方法の検出下限（pg）

QL：測定方法の定量下限（pg）

vi： GC-MSへの注入量（µL）

v：測定用試料の液量（µL）

V：試料の採取量（L）

VE：抽出液量（mL）

V'E：抽出液の分取量（mL）

7.5.4

試料測定時の検出下限の確認

実際の試料の測定において，2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBsの中でピークが検出されなかった

ものについては，そのクロマトグラム上において，検出下限を次の手順で求め，その値から算出される試

料中の濃度が7.5.3で求めた試料における検出下限以下であることを確認する。この値が試料における検

K 0312：2020

出下限を超える場合は，前処理操作又は測定操作に問題がなかったかどうかを確認し，その原因を取り除

いて再測定し，少なくとも試料測定時の検出下限から算出される試料中の濃度が，評価しなければならな

い濃度の1/30以下になるようにする。

a) 対象とする化合物のピーク近傍のベースラインにおいてノイズ幅を求める［7.4.1 b) 参照］。

b) ノイズ幅の3倍のピーク高さに相当するピークの面積を標準液のクロマトグラムなどから推定する。

c) 得られたピーク面積を用いて，その面積に相当する量を算出し，試料測定時の検出下限とする。

7.6

回収率の確認

クリーンアップスパイク用内標準物質のピーク面積とシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積との

比及び対応する相対感度（RRRS）を用いて式(10)によって，クリーンアップスパイク用内標準物質の回収

率を算出する。

なお，クリーンアップスパイク用内標準物質の添加量は，抽出液の分取，精製操作における分割などの

補正を行う。

このクリーンアップスパイク用内標準物質の回収率が50 %以上120 %以下の範囲から外れるときは，そ

の原因を取り除き，再度，抽出液からクリーンアップをやり直す，又は予備試料からの抽出をやり直す。

CSi

RSi

CSi

100

····························································· (10)

ここに，

RC：クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率（%）

ACSi：クリーンアップスパイク用内標準物質のピーク面積

ARSi：対応するシリンジスパイク用内標準物質のピーク面積

QRSi：対応するシリンジスパイク用内標準物質の添加量（pg）

RRRS：対応するシリンジスパイク用内標準物質に対する相対

感度

QCSi：クリーンアップスパイク用内標準物質の添加量（pg）

結果の報告

8.1

結果の表示方法

ダイオキシン類測定結果の表示方法は，特に指定がない場合には，次による。

a) PCDDs及びPCDFs PCDDs及びPCDFsの濃度の測定結果には，2,3,7,8-位塩素置換異性体の濃度，

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体の濃度並びにそれらの総和を記載する。

各化合物の濃度は，試料における定量下限以上の値はそのまま記載し，試料における定量下限未満

で検出下限以上のものは，定量下限以上の値と同等の精度が保証できない値であることが分かるよう

な表示方法（例えば，括弧付きにする，別の欄にするなど。）で記載する。試料における検出下限未満

のものは，検出下限未満であったことが分かるように記載する。

単独で定量できなかった2,3,7,8-位塩素置換異性体については，単独で定量できていないことが分か

るように結果表の2,3,7,8-位塩素置換異性体の欄に重なっている異性体の名称を明記する。例えば，

1,2,3,7,8-PeCDFに1,2,3,4,8-PeCDFが重なっている場合，1,2,3,7,8-PeCDFの欄に“1,2,3,7,8＋1,2,3,4,8-

PeCDF”と記載する。

各同族体の濃度及びそれらの総和は，検出された化合物の濃度で算出する。

これらの表示方法は表10のとおりとし，試料における検出下限及び定量下限も明記する。

b) DL-PCBs DL-PCBsの濃度の測定結果には，各化合物の濃度とそれらの総和をa) と同様に記載する。

表示方法は表11のとおりとし，試料における検出下限及び定量下限も明記する。

K 0312：2020

表10−PCDDs及びPCDFsの化合物体並びに同族体の表示方法

PCDDs

PCDFs

同族体

化合物

同族体

化合物

化

合

物

及

び

同

族

体

TeCDDs

2,3,7,8-TeCDD
その他

TeCDFs

2,3,7,8-TeCDF
その他

PeCDDs

1,2,3,7,8-PeCDD
その他

PeCDFs

1,2,3,7,8-PeCDF
2,3,4,7,8-PeCDF
その他

HxCDDs

1,2,3,4,7,8-HxCDD
1,2,3,6,7,8-HxCDD
1,2,3,7,8,9-HxCDD
その他

HxCDFs

1,2,3,4,7,8-HxCDF
1,2,3,6,7,8-HxCDF
1,2,3,7,8,9-HxCDF
2,3,4,6,7,8-HxCDF
その他

HpCDDs 1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

その他

HpCDFs

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF
その他

OCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

OCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

総

和

PCDDs

−

PCDFs

−

PCDDs＋PCDFs

表11−DL-PCBsの化合物の表示方法

ノンオルト体

モノオルト体

化

合

物

3,3',4,4'-TeCB (#77)
3,4,4',5-TeCB (#81)

−

3,3',4,4',5-PeCB (#126)

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)
2,3,4,4',5-PeCB (#114)
2,3',4,4',5-PeCB (#118)
2',3,4,4',5-PeCB (#123)

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)
2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)
2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

−

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

総

和

ノンオルト体

モノオルト体

DL-PCBs

8.2

濃度の単位

ダイオキシン類の実測値は，pg/Lで表示する。

8.3

毒性当量への換算

ダイオキシン類の濃度を毒性当量（以下，TEQという。）に換算する場合は，附属書JDを参照する。

8.4

数値の取扱い

濃度の表示における数値の取扱いは，特に指定がない場合には，次による。

a) 8.1の濃度が試料における検出下限以上か未満か及び定量下限以上か未満かの判断は，7.4.3 c) で算出

された丸めていない濃度と7.5.3で求めた丸めた試料における検出下限及び定量下限とを比較して行

う。

b) 各化合物の濃度については，JIS Z 8401によって数値を丸め，有効数字を2桁として，ただし，試料

における検出下限の桁までで丸めて表示する。

K 0312：2020

c) 各同族体の濃度及び総和については，検出された化合物の丸めていない濃度を合計し，JIS Z 8401に

よって数値を丸め，有効数字を2桁として，ただし，合計対象の検出された化合物の中で最も高い試

料における検出下限の桁までで丸めて表示する。

測定データの品質管理

9.1

一般

ダイオキシン類の測定は，極めて低濃度の測定であるため，測定精度の管理を十分に行う。

9.2

測定データの信頼性の確保

9.2.1

内標準物質の回収率の確認

クリーンアップスパイク用内標準物質の回収率を確認し，各クリーンアップスパイク用内標準物質の回

収率が50 %〜120 %の範囲内にない場合は，その原因を調査し，改善後，再度，抽出液からクリーンアッ

プをやり直す，又は予備試料からの抽出をやり直す。

9.2.2

検出下限及び定量下限の確認

検出下限及び定量下限の確認は，次による。

a) 装置の検出下限及び定量下限最低濃度（各標準物質をそれぞれTeCDDs，PeCDDs，TeCDFs及び

PeCDFsで0.1 pg〜0.5 pg，HxCDDs，HpCDDs，HxCDFs及びHpCDFsで0.2 pg〜1.0 pg，OCDD及び

OCDFで0.5 pg〜2.5 pg並びにDL-PCBsで0.2 pg〜1.0 pgを含む。）の検量線作成用標準液をGC-MS

で測定し，各2,3,7,8-位塩素置換異性体を定量する。この操作を5回以上繰り返し，得られた測定値か

ら標準偏差を求め，その3倍を装置の検出下限，10倍を装置の定量下限とする。

ここで得られた装置の検出下限が，TeCDDs，PeCDDs，TeCDFs又はPeCDFsで0.1 pg，HxCDDs，

HpCDDs，HxCDFs又はHpCDFsで0.2 pg，OCDD又はOCDFで0.5 pg若しくはDL-PCBsで0.2 pgよ

り大きいときには，器具，機器などを確認して，これらの値以下になるように調節する。

この装置の検出下限及び定量下限は，使用するGC-MSの状態などによって変動するため，ある一

定の周期で確認し，常に十分な値が得られるように管理する。また，使用するGC-MS及び／又は測

定条件を変更した場合などには必ず確認する。

b) 測定方法の検出下限及び定量下限測定に用いるのと同量の抽出溶媒を濃縮した抽出液にGC-MSへ

の注入量が装置の定量下限と同じ量になるように標準物質を添加し，前処理，測定，同定及び定量を

行う。これを5回以上行い，得られた測定値の標準偏差を求め，その3倍を測定方法の検出下限，10

倍を測定方法の定量下限とする。

この測定方法の検出下限及び定量下限は，前処理操作及び／又は測定条件によって変動するため，

ある一定の周期で確認し，常に十分な値が得られるように管理する。また，前処理操作及び／又は測

定条件を変更した場合などには必ず確認する。

c) 試料における検出下限及び定量下限試料における検出下限及び定量下限は，試料の採取量などによ

って異なってくるため，測定方法の検出下限及び定量下限を用いて試料ごとに求める。得られた試料

における検出下限は，評価しなければならない濃度の1/30以下でなければならない。

d) 試料測定時の検出下限の確認実際の試料の測定において，2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBs

の中でピークが検出されなかったものについては，そのクロマトグラム上において，ピーク近傍のベ

ースラインのノイズ幅から，試料測定時の検出下限を推定し，その値から算出された試料における濃

度が試料における検出下限以下でなければならない。

その値が試料における検出下限を超える場合は，前処理操作，測定操作に問題がなかったかどうか

K 0312：2020

を確認し，その原因を除いて再測定し，少なくとも試料測定時の検出下限から算出される試料中の濃

度が，評価しなければならない濃度の1/30以下になるようにする。

9.2.3

操作ブランク試験

操作ブランク試験は，測定用試料の調製又はGC-MSへの導入操作などに起因する汚染を確認し，測定

に支障のない測定環境を設定するために行うものである。試料の前処理に用いるのと同じ試薬の同じ量を

用いて箇条6及び箇条7の操作を試料と同様に行う。

この試験は，試薬のロットが変わるときなど一定の周期で定期的に行い，操作時の汚染などに対して十

分に管理をしなければならない。さらに，次の場合は，測定に先立って行い，操作ブランク試験の結果（以

下，操作ブランク値という。）が十分低くなるようにしておくことが望ましい。

なお，操作ブランク値が大きいと測定感度が悪くなるばかりでなく，測定値の信頼性が低下するため，

操作ブランク値は極力低減を図らなければならない。そのため，必要に応じてクリーンドラフト内で前処

理操作などを行うことが望ましい。

a) 新しい試薬又は機器を使用するとき，修理した機器を使用するときなどの前処理操作に大きな変更が

あった場合。

b) 試料間汚染が予想されるような高い濃度の試料を測定した場合。

9.2.4

二重測定

試料採取，前処理操作及び測定操作における総合的な信頼性を確保するために，同一試料から二つ以上

の測定試料について同様に測定し，2,3,7,8-位塩素置換異性体及びDL-PCBsで定量下限以上で検出された

化合物の測定値について，その平均値を求め，個々の測定値が平均値の±30 %にあることを確認する。

差が大きい場合には，測定操作を細かく確認して原因を究明し，改善した後，再度測定を行う。二重測

定は，特に規定がない場合，10試料数に1回の頻度で行う。

9.2.5

標準物質

測定値の信頼性を確保するため，国家計量標準にトレーサブル又は国家計量標準機関が認めた標準物質

を用いる。また，これらの標準液は，溶媒の揮散などによって濃度変化がないようにガラス製の密閉容器

に入れて冷暗所に保管し，厳重な管理下で保管する。

9.3

測定操作における留意事項

9.3.1

試料の採取

試料の採取においては，次の点に注意する。

a) 採水器，試料容器の準備及び保管使用する採水器は，必要に応じてメタノール又はアセトン，及び

トルエン又はジクロロメタンを用いてあらかじめ十分に洗浄を行ってから使用する。また，洗浄後，

外部からの汚染を受けないように保管する。

b) 試料の保管・運搬採取後の試料は，外部からの混入及び／又は分解などを防ぐため，密封・遮光で

きる容器に入れ，保管・運搬する。また，測定に用いた試料の残りを長期間保存する場合は，冷蔵保

存する。

c) 試料の代表性の確保目的とする調査対象に対して代表試料の採取が適切に行われなければならない。

9.3.2

前処理操作

前処理操作においては，次の点に注意する。

a) 試料からの抽出試料からの抽出においては，次の点に注意する。

1) 固相抽出においては，共存有機物の多い試料について破過が起こらないように固相への通水量を確

認する。

K 0312：2020

2) 液−液抽出においては，目的の溶媒層への抽出が十分に行われるように溶媒の選択及び抽出条件を

確認する。

3) 分散型固相吸着−凝集剤を用いた抽出においては，凝集剤が十分に凝集を起こすようにpHが最適

な範囲に調整されていることを，添加の前後で確認する。

4) ソックスレー抽出においては，抽出を行う固相及びガラス繊維ろ紙は，十分に乾いていることを確

認する。

5) 光による分解を防ぐため，試料に強い光の当たることを避ける。特に，ソックスレー抽出などで光

が長時間当たる場合には遮光して行う。

b) 硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

操作においては，次の点に注意する。

1) 硫酸処理においては，抽出液の着色が完全にないことを確認する。

2) カラムクロマトグラフ操作における分画条件は，使用する充塡剤の種類及び活性度，又は溶媒の種

類及び量によって異なるので，あらかじめ飛灰の抽出液のように全化合物が含まれたものを用いて

分画試験を行って条件を確認しておく。

c) アルミナカラムクロマトグラフ操作アルミナの極性は，製造ロット又は開封後の保存状態若しくは

保存期間によってかなり変化が認められる。活性の低下したものでは，ダイオキシン類の場合，

1,3,6,8-TeCDD，1,3,6,8-TeCDFなどが第1画分に溶出したり，OCDD，OCDFなどがジクロロメタン（体

積分率50 %）を含むヘキサン溶液の規定量では溶出しなかったりすることがあり，DL-PCBsの場合，

一部がヘキサン溶出画分に溶出することがあるので，あらかじめ飛灰の抽出液のように全化合物が含

まれたものを用いて分画試験を行って条件を確認しておく。

9.3.3

同定及び定量

同定及び定量においては，次の点に注意する。

a) GC-MS 使用するGC-MSは，目的に応じて測定条件を設定し，試料の測定が可能なように機器を調

整する。このとき，応答の直線性，安定性などのほか，測定の誤差となる干渉の有無，その大きさ，

その補正方法など，十分信頼できる測定ができるかどうかを確認しておく。GC-MSの調整，操作条件

及び維持管理は，次による。

1) GCの調整カラム槽温度，注入口温度，キャリヤーガス流量などの条件を設定し，応答が安定し

ていること，各塩素化物の保持時間が適切な範囲にあり，かつ，ピークが十分に分離されているこ

となどを確認する。スプリットレスの時間，パージガス流量などを適切な値に設定する。

キャピラリーカラムは，測定対象成分と他成分との分離が十分でない場合には，新品と交換する。

ただし，キャピラリーカラムを300 mm程度切断（両端又は片端）することによって測定対象物質

と他成分との分離に問題がない場合は，交換しなくてもよい。

2) MSの調整 MSに校正用標準試料（ペルフルオロケロセン：PFKなど）を導入し，MSの質量校正

用プログラムなどによってマスパターン，分解能（10 000以上）などの校正を行うとともに，装置

の感度などの基本的な確認を行う。この調整の結果を記録して保管する。

3) GC-MSの操作条件キャピラリーカラムによって得られるピークの幅は，5秒〜10秒間程度であ

るが，一つのピークに対して十分な測定点を確保するため，クロマトグラムにおける単独成分ピー

クの最も幅の狭いピークであってもそのピークを構成する測定点が7点以上となるようにSIMのサ

ンプリングの周期を設定しなければならない。1回の測定で設定可能なモニターイオンの数は，要

求される感度との兼ね合いとなるので，十分に検討した上で設定する。

K 0312：2020

クロマトグラム上の各ピークの保持時間を考慮して，時間分割によるグルーピング方式によって

測定してもよいが，この場合には，グループごとに，適切な内標準物質のピークが出現するように

条件を設定する。

4) 装置の維持管理 GC-MSの性能を維持するには，日常的な保守管理を欠かしてはならない。特に，

GCとのインタフェース及びイオン化室内の汚れは，感度，分解能及び測定精度の低下に大きく影

響するので，適宜，洗浄する。

b) 検量線の作成検量線は，測定を初めて開始するときに作成する。その後は，標準液の更新，分析条

件の変更など測定上の変更があった場合又は感度が大きく変動した場合に作成する。

測定の精度を維持するためには，上記以外のときでも定期的に更新することが望ましい。どの程度

の周期で更新するかは，測定条件，装置の稼動状況などによって異なってくるので，感度変動などの

状況から3か月間というような一定の期間か，一定の測定試料数で決めておく。

c) 装置の感度変動 1日1回以上，定期的に1濃度以上の標準液を測定して，内標準物質の感度が検量

線作成時に比べ大きく変動していないことを確認する。また，ダイオキシン類の各化合物の内標準物

質に対する相対感度の変動が，検量線作成時の相対感度に比べて±10 %にあることを確認し，この範

囲を超えて変動した場合には，その原因を取り除き，再測定を行うか，検量線を再作成して試料の再

測定を行う。

さらに，保持時間については，分離カラムの劣化などによって徐々に保持時間が変動する場合には，

必要に応じて対応を取ればよいが，比較的短い間に変動（通常，1日に保持時間が±5 %の範囲外，内

標準物質との相対保持比が±2 %の範囲外）した場合には，その原因を取り除き，それ以前の試料の

再測定を行う。

9.3.4

異常値及び欠測値の取扱い

測定機器の感度の変動が大きい，操作ブランク値が大きい，二重測定の結果が大きく異なるなどの場合

には，測定値の信頼性に問題があるため，再測定を行ったり，欠測扱いとして再度試料の採取を行わなけ

ればならない。このような問題が起こると，多大な労力，時間及び経費がかかるだけでなく，調査結果全

体の評価に影響を及ぼすことになるため，事前の確認などを十分に行い，異常値及び欠測値を出さないよ

うに注意しなければならない。また，異常値及び欠測値が出た経緯を十分に検討し，記録に残して，今後

の再発防止に役立てることが重要である。

9.4

測定操作の記録

次の情報を記録し，整理及び保管する。

a) 採水器の状況

b) 試料の採取地点の状況

c) 試料の採取方法

d) 試料の状況

e) 測定装置の校正及び操作

前処理から測定に至るまでの操作の記録

g) 測定値を得るまでの各種の数値

9.5

精度管理に関する報告

精度管理に関する次の情報を記録し，必要な場合，データとともに報告する。

a) GC-MSの日常的点検，調整の記録（装置の校正など）

b) 測定機器の測定条件の設定及び結果

K 0312：2020

c) 標準物質などの製造業者及びトレーサビリティ

d) 検出下限及び定量下限の測定結果

e) 操作ブランク試験及び二重測定の結果

前処理操作の回収試験の検証結果

g) 測定機器の感度の変動

h) 測定操作の記録（試料採取から前処理及び測定までに関する記録）

K 0312：2020

附属書JA

（規定）

大容量捕集装置による試料の採取

JA.1 大容量捕集装置の概要

この装置は，採取現場において試料水を通水してダイオキシン類を捕集する装置である。吸引した試料

水をフィルタによってろ過して懸濁物を捕集し，吸着剤で溶存しているダイオキシン類を捕集する。装置

を構成する主な部分は，次による。また，装置の構成の例を，図JA.1に示す。

a) フィルタ孔径0.5 µm程度のもの。

b) 吸着剤ポリウレタンフォーム，スチレン-ジビニルベンゼン共重合体など。

c) 流量測定部通水した流量を測定し，積算流量が測定できるもの。

d) 吸引ポンプ試料水を吸引し，捕集部に通水するポンプ。

図JA.1−大容量捕集装置の構成の例

JA.2 使用範囲

この装置は，工業用水に用いる河川水，地下水などダイオキシン類の濃度が低く，大量の採取を必要と

する試料について使用する。

JA.3 試料の採取

JA.3.1 準備

試料の採取の準備は，次による。

a) フィルタガラス繊維製の孔径0.5 µm程度のもので，有機バインダーを含まないもの。あらかじめ

450 ℃で4時間以上加熱し，冷却後，容器に密閉して保存しておく。

b) 吸着剤試料水を所定の流量で通水することが物理的に可能で，ダイオキシン類を吸着捕集できるも

の。ポリウレタンフォーム，スチレン-ジビニルベンゼン共重合体などがある。あらかじめ，JIS K 0557

に規定するA3の水及びアセトンで洗浄し，トルエン又はジクロロメタンを用いて24時間以上ソック

スレー抽出器で洗浄し，減圧乾燥して容器内に密封して保存しておく。

JA.3.2 試料採取操作

試料採取操作は，次による。ただし，ここに示した操作は，標準的なものであり，捕集効率が十分確保

でき，ダイオキシン類の損失，汚染などがない操作方法の場合，必ずしもこのとおりでなくてもよい。

a) 装置の流路を試料水で十分洗浄した後，フィルタ及び吸着剤を装着する。

b) 試料水の吸引を開始し，吸引流量を所定の値に設定する。

c) ダイオキシン類の測定に必要な試料量を吸引したら，吸引を止め，正確な試料採取量を記録する。

試料水

フ
ィ
ル

タ

吸着剤

流量測定部

吸引ポンプ

K 0312：2020

d) フィルタ及び吸着剤を汚染のないように密閉して試験室まで輸送する。

JA.4 試料からの抽出

試験室に持ち込まれたフィルタ及び吸着剤は，汚染のないように取り出し，6.4.2の内標準物質の添加を

した後，ソックスレー抽出又はこれと同等の抽出方法で抽出する。

K 0312：2020

附属書JB

（参考）

内標準物質の使用例

内標準物質の使用は，GC-MSの分析条件などによって使用方法が異なる部分があるため，使用の詳細に

ついては特に規定せず，最低限の要求事項だけを規定した。ここでは，一般的な使用の例を表JB.1〜表JB.4

に示す。その場合の検量線作成用標準液，定量のときの分析対象物質とそれに対応する内標準物質などを

例として示した。これを参考にして各試験所において，その操作手順，GC-MSの分析条件に照らし合わせ

て使用を検討する。

表JB.1−内標準物質の使用例

内標準物質

例1

例2

クリーンアップ

スパイク

シリンジ
スパイク

クリーンアップ

スパイク

シリンジ
スパイク

13C12-2,3,7,8-TeCDF

○

13C12-1,2,3,4-TeCDD

○

13C12-2,3,7,8-TeCDD

○

37Cl4-2,3,7,8-TeCDD

○

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF

○

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF

○

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD

○

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF

○

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF

○

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF

○

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF

○

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD

○

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD

○

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD

○

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

○

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

○

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

○

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

○

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

○

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77)

○

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81)

○

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

○

13C12-2,3,4,4',5-PeCB (#114)

○

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118)

○

13C12-2',3,4,4',5-PeCB (#123)

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126)

○

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

○

13C12-2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

○

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

○

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

○

13C12-2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170)

13C12-2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。

K 0312：2020

表JB.2−検量線作成用標準液の調製例（表JB.1の例1の場合）

単位 ng/mL

標準物質

濃度

STD1

STD2

STD3

STD4

STD5

2,3,7,8-TeCDD

0.4

2.0

200

1,2,3,7,8-PeCDD
1,2,3,4,7,8-HxCDD

1.0

5.0

100

500

1,2,3,6,7,8-HxCDD
1,2,3,7,8,9-HxCDD
1,2,3,4,6,7,8-HpCDD
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

2.0

200

1 000

2,3,7,8-TeCDF

0.4

2.0

200

1,2,3,7,8-PeCDF
2,3,4,7,8-PeCDF
1,2,3,4,7,8-HxCDF

1.0

5.0

100

500

1,2,3,6,7,8-HxCDF
1,2,3,7,8,9-HxCDF
2,3,4,6,7,8-HxCDF
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

2.0

200

1 000

13C12-2,3,7,8-TeCDD

100

13C12-1,2,3,4-TeCDD

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

200

13C12-2,3,7,8-TeCDF

100

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

200

3,3',4,4'-TeCB (#77)

1.0

5.0

100

500

3,4,4',5-TeCB (#81)
2,3,3',4,4'-PeCB (#105)
2,3,4,4',5-PeCB (#114)
2,3',4,4',5-PeCB (#118)
2',3,4,4',5-PeCB (#123)
3,3',4,4',5-PeCB (#126)
2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)
2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)
2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)
3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)
2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170)
2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180)
2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

K 0312：2020

表JB.2−検量線作成用標準液の調製例（表JB.1の例1の場合）（続き）

単位 ng/mL

標準物質

濃度

STD1

STD2

STD3

STD4

STD5

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77)

100

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81)

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118)

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126)

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。

表JB.3−標準物質とクリーンアップスパイク用内標準物質との対応例（表JB.1の例1の場合）

標準物質

対応するクリーンアップスパイク用

内標準物質

2,3,7,8-TeCDF

13C12-2,3,7,8-TeCDF

2,3,7,8-TeCDD

13C12-2,3,7,8-TeCDD

1,2,3,7,8-PeCDF

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF

2,3,4,7,8-PeCDF

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF

1,2,3,7,8-PeCDD

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD

1,2,3,4,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF

1,2,3,6,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF

1,2,3,7,8,9-HxCDF

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF

2,3,4,6,7,8-HxCDF

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF

1,2,3,4,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD

1,2,3,6,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD

1,2,3,7,8,9-HxCDD
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

3,3',4,4'-TeCB (#77)

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77)

3,4,4',5-TeCB (#81)

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81)

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118)

2,3,4,4',5-PeCB (#114)
2,3',4,4',5-PeCB (#118)
2',3,4,4',5-PeCB (#123)
3,3',4,4',5-PeCB (#126)

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126)

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)
2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

2,2',3,3',4,4',5-HpCB (#170)

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

2,2',3,4,4',5,5'-HpCB (#180)
2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。

K 0312：2020

表JB.4−クリーンアップスパイク用内標準物質とシリンジスパイク用

内標準物質との対応例（表JB.1の例1の場合）

クリーンアップスパイク用

内標準物質

対応するシリンジスパイク用

内標準物質

13C12-2,3,7,8-TeCDF

13C12-1,2,3,4-TeCDD

13C12-2,3,7,8-TeCDD

13C12-1,2,3,7,8-PeCDF

13C12-2,3,4,7,8-PeCDF

13C12-1,2,3,7,8-PeCDD

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDD

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,7,8,9-HxCDF

13C12-2,3,4,6,7,8-HxCDF

13C12-1,2,3,4,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,6,7,8-HxCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

13C12-1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

13C12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

13C12-3,3',4,4'-TeCB (#77)

13C12-2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

13C12-3,4,4',5-TeCB (#81)

13C12-2,3',4,4',5-PeCB (#118)

13C12-3,3',4,4',5-PeCB (#126)

13C12-2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

13C12-2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

13C12-3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

13C12-2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

注記括弧内の数値は，IUPAC No.を示す。

K 0312：2020

附属書JC

（参考）

GC-MSの測定条件及びクロマトグラムの例

JC.1 GC-MSの測定条件

PCDDs及びPCDFs並びにDL-PCBsの測定におけるGC-MSの測定条件の例を次に示す。

a) PCDDs及びPCDFsのGC-MSの測定条件の例1

① 測定対象物質

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：BPX-DXN

内径0.25 mm，長さ60 m

カラム温度

：130 ℃（1 min）→（15 ℃/min）→210 ℃

→（3 ℃/min）→310 ℃

→（5 ℃/min）→320 ℃

注入口温度

：300 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（60 s）

試料注入量

：1 µL

② 測定対象物質

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：RH-12ms

内径0.25 mm，長さ60 m

カラム温度

：130 ℃（1 min）→（15 ℃/min）→210 ℃

→（3 ℃/min）→310 ℃

→（5 ℃/min）→320 ℃

注入口温度

：300 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（60 s）

試料注入量

：1 µL

分解能

：10 000以上

電子加速電圧：40 V〜50 V

イオン化電流：0.5 mA

イオン源温度：320 ℃

検出方法

：ロックマス方式によるSIM

K 0312：2020

b) PCDDs及びPCDFsのGC-MSの測定条件の例2

① 測定対象物質

TeCDDs，TeCDFs及びPeCDFsの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：SP-2331

内径0.25 mm，長さ60 m，膜厚さ0.20 µm

カラム温度

：120 ℃（1 min）→（50 ℃/min）→200 ℃

→（2 ℃/min）→260 ℃（25 min）

注入口温度

：260 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（90 s）

試料注入量

：1 µL

② 測定対象物質

PeCDDs，HxCDDs及びHxCDFsの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：SP-2331

内径0.25 mm，長さ60 m，膜厚さ0.20 µm

カラム温度

：120 ℃（1 min）→（50 ℃/min）→200 ℃

→（2 ℃/min）→260 ℃（25 min）

注入口温度

：260 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（90 s）

試料注入量

：1 µL

③ 測定対象物質

HpCDDs，OCDD，HpCDFs及びOCDFの同族体並びに2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：DB-17

内径0.32 mm，長さ30 m，膜厚さ0.25 µm

カラム温度

：120 ℃（1 min）→（20 ℃/min）→160 ℃

→（3 ℃/min）→280 ℃（5 min）

注入口温度

：280 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（90 s）

試料注入量

：1 µL

分解能

：10 000以上

電子加速電圧：70 V

イオン化電流：1 mA

イオン源温度：260 ℃

検出方法

：ロックマス方式によるSIM

K 0312：2020

c) PCDDs及びPCDFsのGC-MSの測定条件の例3

① 測定対象物質

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体ごとの合計並びに主な2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：SP-2331

内径0.32 mm，長さ60 m，膜厚さ0.20 µm

カラム温度

：120 ℃（1 min）→（50 ℃/min）→200 ℃

→（2 ℃/min）→260 ℃（30 min）

注入口温度

：170→300 ℃（100 ℃/min）

試料導入法

：オンカラム注入方式

試料注入量

：1 µL

② 測定対象物質

TeCDDs〜OCDD及びTeCDFs〜OCDFの同族体ごとの合計並びに一部の2,3,7,8-位塩素置換異性体

使用カラム

：DB-17

内径0.32 mm，長さ30 m，膜厚さ0.25 µm

カラム温度

：120 ℃（1 min）→（20 ℃/min）→160 ℃

→（3 ℃/min）→280 ℃

注入口温度

：150→300 ℃（100 ℃/min）

試料導入法

：オンカラム注入方式

試料注入量

：1 µL

分解能

：10 000以上

電子加速電圧：35 V〜40 V

イオン化電流：0.5 mA

イオン源温度：270 ℃

検出方法

：ロックマス方式によるSIM

d) DL-PCBsのGC-MSの測定条件の例1

測定対象物質

DL-PCBs

使用カラム

：RH-12ms

内径0.25 mm，長さ60 m

カラム温度

：130 ℃（1 min）→（15 ℃/min）→210 ℃

→（3 ℃/min）→310 ℃

→（5 ℃/min）→320 ℃

注入口温度

：300 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（60 s）

試料注入量

：1 µL

分解能

：10 000以上

電子加速電圧：40 V〜50 V

イオン化電流：0.5 mA

イオン源温度：320 ℃

検出方法

：ロックマス方式によるSIM

K 0312：2020

e) DL-PCBsのGC-MSの測定条件の例2

測定対象物質

DL-PCBs

使用カラム

：DB-5ms

内径0.32 mm，長さ60 m，膜厚さ0.25 µm

カラム温度

：150 ℃（1 min）→（20 ℃/min）→185 ℃（3 min）

→（2 ℃/min）→245 ℃（3 min）

→（6 ℃/min）→290 ℃（10 min）

注入口温度

：170→300 ℃（100 ℃/min）

試料導入法

：オンカラム注入方式

試料注入量

：1 µL

分解能

：10 000以上

電子加速電圧：35 V〜40 V

イオン化電流：0.5 mA

イオン源温度：270 ℃

検出方法

：ロックマス方式によるSIM

DL-PCBsのGC-MSの測定条件の例3

測定対象物質

DL-PCBs

使用カラム

：HT8-PCB

内径0.25 mm，長さ60 m

カラム温度

：120 ℃（1 min）→（20 ℃/min）→180 ℃

→（2 ℃/min）→260 ℃

→（5 ℃/min）→300 ℃（4 min）

注入口温度

：280 ℃

試料導入法

：スプリットレス方式（60 s）

試料注入量

：1 µL

分解能

：10 000以上

電子加速電圧：70 V

イオン化電流：1 mA

イオン源温度：260 ℃

検出方法

：ロックマス方式によるSIM

JC.2 クロマトグラム

ダイオキシン類のGC-MSのクロマトグラムの例を，図JC.1〜図JC.9に示す。

K 0312：2020

注記カラム：BPX-DXN，内径0.25 mm，長さ60 m

図JC.1−PCDDsのクロマトグラムの例1

TeCDDs

PeCDDs

HxCDDs

HpCDDs

OCDD

K 0312：2020

注記カラム：BPX-DXN，内径0.25 mm，長さ60 m

図JC.2−PCDFsのクロマトグラムの例1

OCDF

HpCDFs

TeCDFs

PeCDFs

HxCDFs

K 0312：2020

注記カラム：RH-12ms，内径0.25 mm，長さ60 m

図JC.3−PCDDsのクロマトグラムの例2

TeCDDs

PeCDDs

HxCDDs

HpCDDs

OCDD

K 0312：2020

注記カラム：RH-12ms，内径0.25 mm，長さ60 m

図JC.4−PCDFsのクロマトグラムの例2

TeCDFs

PeCDFs

HxCDFs

HpCDFs

OCDF

K 0312：2020

注記カラム：SP-2331，内径0.32 mm，長さ60 m，膜厚さ0.20 µm（TeCDDs，PeCDDs，HxCDDs）

DB-17，内径0.32 mm，長さ30 m，膜厚さ0.15 µm（HpCDDs，OCDD）

図JC.5−PCDDsのクロマトグラムの例3

321.8936 TeCDDs

355.8546 PeCDDs

389.8156 HxCDDs

423.7767 HpCDDs

459.7348 OCDD

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
1050

22:00 23:00 24:00 25:00 26:00 27:00 28:00 29:00 30:00 31:00 32:00

28:00 29:00 30:00 31:00 32:00 33:00 34:00 35:00

33:00 34:00 35:00 36:00 37:00 38:00 39:00 40:00 41:00 42:00

15:00 16:00 17:00

16:00 18:00

時間

K 0312：2020

注記カラム：SP-2331，内径0.32 mm，長さ60 m，膜厚さ0.20 µm（TeCDFs，PeCDFs，HxCDFs）

DB-17，内径0.32 mm，長さ30 m，膜厚さ0.15 µm（HpCDFs，OCDF）

図JC.6−PCDFsのクロマトグラムの例3

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

305.8987 TeCDFs

22:00 24:00 26:00 28:00 30:00 32:00

26:00 28:00 30:00 32:00 34:00 36:00

33:00 34:00 35:00 36:00 37:00 38:00 39:00 40:00 41:00 42:00 43:00

15:00 16:00 17:00

16:00 18:00

時間

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

100

95
90
85
80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
105

339.8597 PeCDFs

373.8207 HxCDFs

407.7818 HpCDFs

443.7398 OCDF

時間

K 0312：2020

注記カラム：RH-12ms，内径0.25 mm，長さ60 m

図JC.7−PCBsのクロマトグラムの例1

TeCBs

PeCBs

HxCBs

HpCBs

109
107

108

K 0312：2020

注記カラム：DB-5，内径0.32 mm，長さ60 m，膜厚さ0.25 µm

図JC.8−PCBsのクロマトグラムの例2

K 0312：2020

注記カラム：HT8-PCB，内径0.25 mm，長さ60 m

図JC.9−PCBsのクロマトグラムの例3

K 0312：2020

附属書JD

（参考）

TEQへの換算

JD.1 TEQへの換算

ダイオキシン類の濃度をTEQに換算する場合は，濃度にTEFを乗じる。TEQへの換算は，次による。

a) TEF 特に指定がない場合は，表JD.1に示すTEFを用いる。別のTEFを用いた場合は，用いたTEF

を明記する。

b) TEQの算出各化合物のTEQを算出し，それらを合計したTEQも算出する。その算出は，次のよう

に行うことが望ましい。ただし，いずれの場合でも算出方法は必ず明記する。

1) 特に指定がない場合は，定量下限以上の濃度はそのままその値を用い，定量下限未満で検出下限以

上のもの及び検出下限未満のものはゼロ（0）として算出する。

2) TEQ算出の目的に応じて，1) 以外にも次の方法があり，指定がある場合は，次による。

2.1) 定量下限以上の値及び定量下限未満で検出下限以上の濃度はそのままその値を用い，検出下限未

満のものは試料における検出下限を用いて算出する。

2.2) 定量下限以上の値及び定量下限未満で検出下限以上の濃度はそのままその値を用い，検出下限未

満のものは試料における検出下限の1/2の値を用いて算出する。

JD.2 TEQの単位

ダイオキシン類のTEQは，pg-TEQ/Lとして表示する。

JD.3 数値の取扱い

JD.1でTEFに乗じる濃度は，8.4で丸めて表示された濃度とする。

各化合物のTEQは，丸めの操作を行わずに表示する。合計のTEQは，各化合物の丸めていないTEQを

合計して算出し，JIS Z 8401によって数値を丸め，有効数字を2桁として表示する。

JD.4 結果の表示方法

測定結果の記載例を，表JD.2及び表JD.3に示す。

K 0312：2020

表JD.1−TEF

化合物

TEF（2006）

PCDDs

2,3,7,8-TeCDD

1,2,3,7,8-PeCDD

1,2,3,4,7,8-HxCDD

0.1

1,2,3,6,7,8-HxCDD

0.1

1,2,3,7,8,9-HxCDD

0.1

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

0.01

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

0.000 3

その他

PCDFs

2,3,7,8-TeCDF

0.1

1,2,3,7,8-PeCDF

0.03

2,3,4,7,8-PeCDF

0.3

1,2,3,4,7,8-HxCDF

0.1

1,2,3,6,7,8-HxCDF

0.1

1,2,3,7,8,9-HxCDF

0.1

2,3,4,6,7,8-HxCDF

0.1

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

0.01

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

0.01

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

0.000 3

その他

DL-PCBs

ノンオルト体

3,4,4',5-TeCB (#81)

0.000 3

3,3',4,4'-TeCB (#77)

0.000 1

3,3',4,4',5-PeCB (#126)

0.1

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

0.03

DL-PCBs

モノオルト体

2',3,4,4',5-PeCB (#123)

0.000 03

2,3',4,4',5-PeCB (#118)

0.000 03

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

0.000 03

2,3,4,4',5-PeCB (#114)

0.000 03

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

0.000 03

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

0.000 03

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)

0.000 03

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

0.000 03

注記このTEFは，2005年にWHO/IPCSから提案され，2006年に専

門誌（Toxicological Sciences，Oxford Journal社，Volume 93，
Number 2）に掲載されたものを表す。

K 0312：2020

表JD.2−測定結果の記載例1

実測濃度

試料におけ
る定量下限

試料におけ
る検出下限

毒性等価

係数

毒性当量

pg/L

pg-TEQ/L

2,3,7,8-TeCDD

TeCDDs

−

1,2,3,7,8-PeCDD

PeCDDs

−

1,2,3,4,7,8-HxCDD

1,2,3,6,7,8-HxCDD

1,2,3,7,8,9-HxCDD

HxCDDs

−

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

HpCDDs

−

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

Total

−

2,3,7,8-TeCDF

TeCDFs

−

1,2,3,7,8-PeCDF

2,3,4,7,8-PeCDF

PeCDFs

−

1,2,3,4,7,8-HxCDF

1,2,3,6,7,8-HxCDF

1,2,3,7,8,9-HxCDF

2,3,4,6,7,8-HxCDF

HxCDFs

−

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

HpCDFs

−

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

Total

−

Total (PCDDs＋PCDFs)

−

ノ

ン

オ

ル

ト

体 3,4,4',5-TeCB (#81)

3,3',4,4'-TeCB (#77)

3,3',4,4',5-PeCB (#126)

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

Total

−

モ

ノ

オ

ル

ト

体

2',3,4,4',5-PeCB (#123)

2,3',4,4',5-PeCB (#118)

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

2,3,4,4',5-PeCB (#114)

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

Total

−

Total DL-PCBs

−

Total (PCDDs＋PCDFs＋DL-PCBs)

−

注記1 実測濃度の欄の括弧付きの数値は，定量下限未満で検出下限以上の濃度であることを示す。
注記2 実測濃度の欄の“ND”は，検出下限未満であることを示す。
注記3 毒性等価係数は，WHO/IPCS（2006）のTEFを適用した。
注記4 毒性当量は，定量下限未満の実測濃度をゼロ（0）として算出したものである。

K 0312：2020

表JD.3−測定結果の記載例2

実測濃度

試料におけ
る定量下限

試料におけ
る検出下限

毒性等価

係数

毒性当量

pg/L

pg-TEQ/L

2,3,7,8-TeCDD

1,2,3,7,8-PeCDD

1,2,3,4,7,8-HxCDD

1,2,3,6,7,8-HxCDD

1,2,3,7,8,9-HxCDD

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

2,3,7,8-TeCDF

1,2,3,7,8-PeCDF

2,3,4,7,8-PeCDF

1,2,3,4,7,8-HxCDF

1,2,3,6,7,8-HxCDF

1,2,3,7,8,9-HxCDF

2,3,4,6,7,8-HxCDF

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

TeCDDs

−

PeCDDs

−

HxCDDs

−

HpCDDs

−

OCDD

−

Total PCDDs

−

TeCDFs

−

PeCDFs

−

HxCDFs

−

HpCDFs

−

OCDF

−

Total PCDFs

−

Total (PCDDs＋PCDFs)

−

-P

3,4,4',5-TeCB (#81)

3,3',4,4'-TeCB (#77)

3,3',4,4',5-PeCB (#126)

3,3',4,4',5,5'-HxCB (#169)

2',3,4,4',5-PeCB (#123)

2,3',4,4',5-PeCB (#118)

2,3,3',4,4'-PeCB (#105)

2,3,4,4',5-PeCB (#114)

2,3',4,4',5,5'-HxCB (#167)

2,3,3',4,4',5-HxCB (#156)

2,3,3',4,4',5'-HxCB (#157)

2,3,3',4,4',5,5'-HpCB (#189)

Totalノンオルト体

−

Totalモノオルト体

−

Total DL-PCBs

−

Total (PCDDs＋PCDFs＋DL-PCBs)

−

注記1 実測濃度の欄の括弧付きの数値は，定量下限未満で検出下限以上の濃度であることを示す。
注記2 実測濃度の欄の“＜a”は，検出下限（a）未満であることを示す。
注記3 毒性等価係数は，WHO/IPCS（2006）のTEFを適用した。
注記4 毒性当量は，定量下限未満の実測濃度をゼロ（0）として算出したものである。

K 0312：2020

附属書JE

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS K 0312:2020 工業用水・工場排水中のダイオキシン類の測定方法

ISO 18073:2004，Water quality−Determination of tetra- to octa-chlorinated dioxins and
furans−Method using isotope dilution HRGC/HRMS
ISO 17858:2007，Water quality−Determination of dioxin-like polychlorinated biphenyls
−Method using gas chromatography/mass spectrometry

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1 適用範囲

ISO
18073
ISO
17858

1

1

対象試料を懸濁物質濃
度が1 %未満の水及び
排水として規定。

変更

JISは工業用水及び工場排水に限定
して規定した。

ISOでは対象とされる浄水等は
JISの対象外。技術的差異はない。

警告

ISO
18073
ISO
17858

Annex C

19
20

環境汚染の防止並びに
廃棄物の管理及び処理
方法を規定。

変更

JISは測定者を対象に，有害性及び
危害を避けるための予防処置を記
載した。

環境汚染の防止並びに廃棄物の管
理及び処理方法は法令で規定され
ており，JISの対象外。技術的差
異はない。

2 引用規格

4 測定方法
の概要

ISO
18073
ISO
17858

4

4

原則を文章として記載。変更

概要をフロー図として記載した。

表現方法の違いであり，技術的差
異はない。

5 試料

5.2.2 試料の採取量

ISO
18073
ISO
17858

9.1.3.1

9.1.3.1

検出下限が基準値の1/3
未満と規定。

変更

評価しなければならない濃度の
1/30以下の検出下限になるように
試料量を規定した。

評価しなければならない濃度（基
準値）近傍の測定値の信頼性を確
保するために必要な水準である。
ISOへの提案を検討。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

5 試料
（続き）

5.2.3 採取方法

ISO
18073
ISO
17858

8.2

8.2

・残留塩素が存在する場

合，試料1 L当たりチオ
硫酸ナトリウム80 mg
を添加する。

変更

・“残留塩素1 mg/Lに対してチオ硫

酸ナトリウム五水和物7.0 mg/L又
はL(+)-アスコルビン酸20 mg/Lを
添加する。”として，残留塩素の濃
度に応じた還元剤の添加量を規定
した。

・JISの考え方が妥当と考えられ
るので，ISOへの提案を検討。

・試料のpHが9を超え

る場合，中和することを
規定。

削除

・pHの測定を行う要求事項を削除
した。

・遮光して運搬し，直ちに測定を
行えば，濃度変化はないと考えら
れる。

5.4 試料の取扱い

ISO
18073
ISO
17858

8.2

8.2

0 ℃〜4 ℃で遮光して運
搬する。

変更

遮光して運搬し，直ちに測定を行
う。直ちに測定できない場合は，
0 ℃〜10 ℃の暗所に保存し，できる
だけ早く測定するとした。

遮光していれば微生物による分解
などを考慮する必要はないと考え
られる。直ちに測定を行うことを
規定しており，技術的差異はない。

6 試料の前
処理

6.1 試料の前処理の
概要

ISO
18073
ISO
17858

9.2
13.1.1
9.2
13.1.1

妥当性確認の方法及び
基準に関して，濃度の変
動及びGC-MS測定時の
ピーク面積の変動を規
定。

変更

妥当性確認の方法及び基準に関し
て，回収率の基準，全イオン検出法
による精製効果の確認及び校正用
標準試料のモニターイオンの変動
を規定した。

法令がJISを引用しているため，
精度管理の基準を変更することは
できない。

6.2.17 クリーンア
ップスパイク用内
標準物質

ISO
18073
ISO
17858

4.1

4.1

塩素化物ごとに最低1
種類ずつ添加する。

変更

ノンオルト体のDL-PCBsを全種
類，モノオルト体のDL-PCBs又は
その他のPCBを塩素化物ごとに1
種類ずつそれぞれ添加するとした。

添加する内標準物質を変えること
は精度に影響すると考えられる
が，法令がJISを引用しているた
め，変更することはできない。

6.2.27 ガラス繊維
ろ紙

ISO
18073
ISO
17858

7.4.6

7.4.6

−

追加

ろ過に用いるガラス繊維ろ紙は，孔
径0.5 µm程度のものと規定した。

孔径の異なるろ紙でろ過すると，
ダイオキシン類の抽出効率に影響
することが考えられるため，孔径
を規定。ISOへの提案を検討。

6.4.3 試料からの抽
出

ISO
18073
ISO
17858

11.2

11.2

懸濁物質濃度を求める
ことを規定。

削除

懸濁物質濃度を求めることを規定
しない。

対象試料に懸濁物質濃度による制
限を規定していない。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

6 試料の前
処理（続き）

6.4.3.2 a) 試料のろ
過

ISO
18073
ISO
17858

11.3.1

11.3.1

目視できる粒子が存在
しない場合は，ろ過を行
わず直接抽出する。

変更

ガラス繊維ろ紙（孔径0.5 µm程度）
で吸引ろ過するとした。

目視で判断するのは定量的ではな
い。ISOへの提案を検討。

6.4.3.2 b) 1) 固相抽
出法

ISO
18073
ISO
17858

Annex D

12.2

固相抽出法について規
定（ISO 18073は参考）。

変更

本体に詳細な方法は，抽出用固相の
推奨する方法に従うことを規定し
た。

実質的には，技術的差異はない。

6.4.3.2 b) 2) 液−液
抽出法

ISO
18073
ISO
17858

12.1

12.1

1 Lに対してジクロロメ
タンを60 mL添加し，2
分間振とうする。

変更

1 Lに対してトルエン又はジクロロ
メタンを100 mL添加し，20分間振
とうするとした。

抽出溶媒にトルエンを使用する場
合を考慮した。技術的差異はない。

6.4.3.2 c) ろ過残さ
からの抽出

ISO
18073
ISO
17858

12.2

12.3

・ソックスレー抽出の場

合，円筒ろ紙に活性シリ
カを入れる。

削除

・円筒ろ紙に活性シリカを入れるこ

とは規定から削除した。

・ろ過残さは水分を十分に除去す
ることを規定しているため不要。
技術的差異はない。

・ソックスレー抽出を行

う前に3時間以上の予
備抽出を行う。

削除

・ソックスレー抽出の前に予備抽出

を行う規定は削除した。

・空試験を行い，操作時の汚染を
十分に管理することを規定してい
るため不要。技術的差異はない。

6.4.3.3 固相に捕集
後ろ過を行う方法

ISO
18073
ISO
17858

−

−

−

追加

分散型固相吸着−凝集法による抽
出法を規定。

技術的な妥当性が確認され，実績
もある抽出法なので，ISOへの提
案を検討。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

6 試料の前
処理（続き）

6.4.6 硫酸処理−シ
リカゲルカラムク
ロマトグラフ操作
又は多層シリカゲ
ルカラムクロマト
グラフ操作
6.4.7 その他の精製
操作

ISO
18073
ISO
17858

13

13

GPC，多層シリカゲルカ
ラムクロマトグラフ，ア
ルミナカラムクロマト
グラフ，活性炭カラムク
ロマトグラフ，フロリジ
ルカラムクロマトグラ
フを規定。ISO 17858で
は，高速液体クロマトグ
ラフ，硝酸銀シリカゲル
カラムクロマトグラフ
を追加。

変更

GPC，フロリジルカラムクロマトグ
ラフ及び硝酸銀シリカゲルカラム
クロマトグラフによる精製方法を
削除し，硫酸処理及びDMSO処理
による精製方法を追加。

精製方法は，妥当性確認を行えば
別の精製方法を用いてもよいこと
が規定されており，技術的差異は
ない。

7 同定及び
定量

7.2.2.1 b) カラム

ISO
18073
ISO
17858

16

16

一つのカラムで測定し
てもよいが，基準値を
20 %未満で超えた場合
は，別のカラムで確認す
ることを規定。

変更

2,3,7,8-位塩素置換異性体及び
DL-PCBsが可能な限り単離でき，
溶出順位の判明しているカラムを
使用することを規定した。

最初から可能な限り単離できるカ
ラムで測定することを規定してお
り，技術的差異はない。

7.3.1 a) GC

ISO
18073
ISO
17858

10.5

10.5

ピークの分離度を確認
することを規定。

変更

分離度に関する基準は規定しない
こととした。

使用するキャピラリーカラムを特
定しないため，規定することは困
難。

7.3.4 a) 検量線作成
用標準液の測定

ISO
18073
ISO
17858

10.6
10.7
10.6
10.7

1濃度に対して1回測定
することを規定。

変更

1濃度に対して3回以上測定すると
した。

算出する相対感度の精度に影響す
ると考えられるが，法令がJISを
引用しているため，変更すること
はできない。

7.3.4 c) ピーク面積
の強度比の確認

ISO
18073
ISO
17858

10.3

10.3

二つのイオンのピーク
面積の強度比が，ISO
18073は±20 %，ISO
17858は±15 %で一致
する。

変更

二つのイオンのピーク面積の強度
比が±15 %で一致するとした。

算出する相対感度の精度に影響す
ると考えられるが，法令がJISを
引用しているため，変更すること
はできない。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7 同定及び
定量（続き）

7.3.4 d) 相対感度の
算出

ISO
18073
ISO
17858

10.6
10.7
10.6
10.7

・ピーク面積は，両モニ

ターイオンのピーク面
積の合計値とする。

選択

・ピーク面積は，一方のモニターイ

オンのピーク面積，両モニターイオ
ンのピーク面積の合計値又は両モ
ニターイオンのピーク面積の平均
値のいずれかとするとした。

算出する相対感度の精度に影響す
ると考えられるが，法令がJISを
引用しているため，変更すること
はできない。

・相対感度の変動係数は

20 %未満。

変更

・相対感度の変動係数が5 %を目安

に可能な限り小さくなるようにし，
10 %を超えないとした。

7.3.5 a) 検量線の確
認

ISO
18073
ISO
17858

15.1

15.1

・12時間ごと又は最大
20試料ごとに検量線を
確認することを規定。

変更

・1日に1回以上検量線を確認する

と規定。

・頻度の基準は異なるが，技術的
差異はない。

ISO
18073
ISO
17858

15.3

15.3.5

・濃度が±20 %以内と規

定。

変更

・確認した相対感度が，RRCSは±
10 %，RRRSは±20 %にあることを
規定。

・定量結果の精度に影響すると考
えられるが，法令がJISを引用し
ているため，変更することはでき
ない。

ISO
18073
ISO
17858

16

16.5

・内標準物質との保持時

間の差を秒で規定。

変更

・1日の変動は，保持時間で±5 %，

内標準物質との相対保持比で±2 %
にあることを規定。

・JISの考え方が妥当と考えられ
るので，ISOへの提案を検討。

7.4.1 a) シリンジス
パイク用内標準物
質の確認

ISO
18073
ISO
17858

−

−

−

追加

シリンジスパイク用内標準物質の
ピーク面積が70 %以上と規定。

GCへ適切に注入されているかを
確認するために必要。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7 同定及び
定量（続き）

7.4.2 a) PCDDs，
PCDFs及びPCBsの
同定

ISO
18073

・二つのイオンのピーク

の間隔が±2 s以内と規
定。

削除

・二つのイオンのピークの間隔は規

定しない。

・±2 sの間隔は大きすぎ，規定す

る意味がない。

ISO
17858
ISO
18073

16.2

18.1

・PCDEを同時にモニタ

ーし，PCDEのピークが
重なった場合は，再精製
して除くことを規定。

削除

・PCDEに関して規定しない。

・PCDEを確実に除去できる精製
方法を明示できないため，規定す
ることが困難。

ISO
18073
ISO
17858

16

16.4

・二つのイオンのピーク

面積比が理論値の±
20 %以内と規定。

変更

・二つのイオンのピーク面積比が同

位体存在比の±15 %（検出下限の3
倍以下の濃度では±25 %）。

・定量結果の精度に影響すると考
えられるが，法令がJISを引用し
ているため，変更することはでき
ない。

7.5 検出下限及び定
量下限

−

追加

装置，測定方法及び試料における検
出下限並びに定量下限を規定。

測定値の信頼性を担保するために
規定。法令がJISを引用している
ため，変更することはできない。

7.6 回収率の確認

ISO
18073
ISO
17858

18.2.2

18.2.2

内標準物質の回収率が
50 %（40 %）〜130 %の
範囲で，TEQへの寄与
率が10 %未満の場合，
30 %（20 %）〜150 %の
範囲と規定。

変更

許容するクリーンアップスパイク
用内標準物質の回収率の範囲は
50 %以上120 %以下と一律であり，
TEQへの寄与率を考慮することは
規定しない。

定量結果の精度に影響すると考え
られるが，法令がJISを引用して
いるため，変更することはできな
い。

8 結果の報
告

8.1 結果の表示方法

ISO
18073
ISO
17858

19

17.4

最小レベル以上のもの
及び未満のものの表示
方法を規定。

変更

試料における定量下限以上のもの，
定量下限未満で検出下限以上のも
の及び検出下限未満のものの表示
方法を規定。

法令がJISを引用しているため，
変更することはできない。

8.4 数値の取扱い

ISO
18073
ISO
17858

19

17.4

有効数字を2桁で報告
することを規定。

変更

有効数字は2桁だが，試料における
検出下限の桁までで丸めて表示す
るとした。

測定値の信頼性を担保するために
必要な規定。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

9 測定デー
タの品質管
理

9.2 測定データの信
頼性の確保

ISO
17858

4.6

・一連の試料ごとに品質

管理試料を分析する。

削除

・品質管理試料の測定を規定しな
い。

・計量法のMLAP制度において品

質管理が運用されており，測定方
法のJISとしては規定しない。

−

ISO
18073
ISO
17858

5

5

・汚染及び妨害を避ける

方法を箇条にまとめて，
具体的に規定。

変更

・箇条にまとめてはいないが，それ

ぞれの箇条に汚染及び妨害を避け
ることを規定。

・汚染及び妨害は一義的に決まる
ものではないため，具体的に規定
することは，対応可能性を制限し
てしまう。

−

ISO
18073
ISO
17858

9.2

9.2

・測定者が，繰り返し分

析による正確さと再現
性が基準以内にあるこ
とを，最初に確認すると
規定。

削除

・測定者が，測定精度を実試料の測

定前に確認することは規定しない。

・計量法のMLAP制度において品

質管理が運用されており，測定方
法のJISとしては規定しない。

−

ISO
18073
ISO
17858

9.3.5

9.4

・5試料ごとに内標準物

質の回収率の平均値及
び標準偏差を記録する
ことを規定。

削除

・クリーンアップスパイク用内標準

物質の回収率を統計的に管理する
ことは規定しない。

・統計的に管理する目的，評価方
法及び対処方法が規定されていな
い。

−

ISO
18073
ISO
17858

9.5

9.6

・認証標準試料（ISO
17858は試験所間比較
の試料及び標準物質を
添加した試料も許容）を
4半期ごとに分析する
ことを規定。

削除

・標準試料等を定期的に測定するこ

とは規定しない。

・計量法のMLAP制度において品

質管理が運用されており，測定方
法のJISとしては規定しない。

9.2.3 操作ブランク
試験

ISO
18073
ISO
17858

9.4.2

9.5.2

少なくとも20試料に1
回はブランク試験を行
い，基準値以上で検出さ
れた場合は，基準値未満
になるまで試料の分析
を行わない。

変更

一定の周期で定期的に，また，特定
の機会に操作ブランク試験を行っ
て，操作ブランク値を極力低減する
ことを規定。

実質的には，技術的差異はない。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

9 測定デー
タの品質管
理（続き）

9.2.4 二重測定

ISO
18073
ISO
17858

9.6

9.6

特定の要求があった場
合だけ，二重測定を行
う。

変更

二重測定を行う頻度（10試料数に1
回）及び評価の基準（個々の測定値
が平均値の±30 %）を規定。

測定値の信頼性を担保するために
必要な規定。

−

ISO
18073
ISO
17858

Annex A

Annex B

HRGC/LRMSの使用に
ついて記載。

削除

JISとしては参考としても不要と判
断し削除した。

参考であり，規格ではないので削
除。今後必要な場合は，参考とし
て採用を検討する。

−

ISO
18073
ISO
17858

Annex B

Annex C

試験所間比較の結果に
ついて記載。

削除

JISとしては参考としても不要と判
断し削除した。

参考であり，規格ではないので削
除。

附属書JA
（規定）

大容量捕集装置に
よる試料の採取

ISO
18073
ISO
17858

−

−

−

追加

測定地点において試料水を通水し
て捕集する方法についての規定を
追加。

低濃度の場合，大量の試料水が必
要となるが，試料水を運搬する労
力を軽減するために追加。

附属書JB
（参考）

内標準物質の使用
例

ISO
18073
ISO
17858

6.8

6.8

標準物質及び内標準物
質の使用例を記載。

変更

内標準物質及び標準物質の使用例
について記載。

GC-MSの測定条件などによって
使用方法が異なるため，附属書（参
考）とした。国内の実情に合わせ
て変更しているが，技術的差異は
ない。

附属書JC
（参考）

GC-MSの測定条件
及びクロマトグラ
ムの例について記
載。

ISO
18073
ISO
17858

10.1
10.1
Annex A

GCの測定条件の例を記
載。ISO 17858はクロマ
トグラムの例を記載。

変更

GC-MSの測定条件及びクロマトグ
ラムの例について記載。

キャピラリーカラムの組合せによ
ってGCの測定条件が多岐にわた
るため，附属書（参考）にまとめ
て記載した。国内の実情に合わせ
て変更しているが，技術的差異は
ない。

：

K 0312：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書JD
（参考）

TEQへの換算

ISO
18073
ISO
17858

19

17.4

・濃度が検出下限未満で

あった場合，2種類の方
法で計算したTEQを報
告することを規定。

変更

・濃度が検出下限未満であった場
合，2種類の方法で換算したTEQ
を報告することは規定しない。

・TEQへの換算は参考であり，報
告方法はJISを引用している法令
が規定する。

ISO
18073
ISO
17858

17.4

17.5

・濃度にTEFを乗じて
計算することを規定。

変更

・丸めて表示された濃度にTEFを
乗じて換算することを規定。

・JISとして濃度を確定する必要
がある。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：（ISO 18073:2004，ISO 17858:2007，MOD）