JISH1012:2001 銅及び銅合金の分析方法通則

H 1012 : 2001

(1)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本伸銅協会

(JBMA)／財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによってJIS H 1012 : 1991は改正され，この規格に置き換えられる。

今回の改正では，日本工業規格を国際規格に整合させるため，ISO 1811-1 : 1988, Copper and copper alloys

−Selection and preparation of samples for chemical analysis−Part 1 : Sampling of cast unwrought products及び

ISO 1811-2 : 1988, Copper and copper alloys−Selection and preparation of samples for chemical analysis−Part 2 :

Sampling of wrought products and castingsを基礎として用いた。

JIS H 1012には，次に示す附属書がある。

附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

H 1012 : 2001

銅及び銅合金の分析方法通則

General rules for chemical analysis of copper and copper alloys

序文この規格は，1988年に第1版として発行されたISO 1811-1, Copper and copper alloys−Selection and

preparation of samples for chemical analysis−Part 1 : Sampling of cast unwrought products及びISO 1811-2,

Copper and copper alloys−Selection and preparation of samples for chemical analysis−Part 2 : Sampling of

wrought products and castingsを元に，対応する部分［3．用語の定義，5．一次試料のサンプリング及び6．

試料の調製］については，技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であるが，対応国際規格

に規定されていない規定項目（3.，5.及び6.以外の項目）を日本工業規格として追加している。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲この規格は，次の日本工業規格に規定する銅及び銅合金中の各成分の定量方法に共通な事

項について規定する。

JIS H 1051 銅及び銅合金中の銅定量方法

JIS H 1052 銅及び銅合金中のすず定量方法

JIS H 1053 銅及び銅合金中の鉛定量方法

JIS H 1054 銅及び銅合金中の鉄定量方法

JIS H 1055 銅及び銅合金中のマンガン定量方法

JIS H 1056 銅及び銅合金中のニッケル定量方法

JIS H 1057 銅及び銅合金中のアルミニウム定量方法

JIS H 1058 銅及び銅合金中のりん定量方法

JIS H 1059 銅及び銅合金中のひ素定量方法

JIS H 1060 銅及び銅合金中のコバルト定量方法

JIS H 1061 銅及び銅合金中のけい素定量方法

JIS H 1062 銅及び銅合金中の亜鉛定量方法

JIS H 1063 銅合金中のベリリウム定量方法

JIS H 1064 銅中のテルル定量方法

JIS H 1065 銅中のセレン定量方法

JIS H 1066 銅中の水銀定量方法

JIS H 1067 銅中の酸素定量方法

JIS H 1068 銅中のビスマス定量方法

JIS H 1069 銅及び銅合金中のカドミウム定量方法

JIS H 1070 銅及び銅合金中の硫黄定量方法

JIS H 1071 銅及び銅合金中のクロム定量方法

H 1012 : 2001

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

JIS H 1072 銅及び銅合金中のアンチモン定量方法

JIS H 1073 銅合金中のチタン定量方法

JIS H 1292 銅及び銅合金中の蛍光X線分析方法

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応程度を示す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD（修

正している），NEQ（同等でない）とする。

ISO 1811-1 : 1988 Copper and copper alloys−Selection and preparation of samples for chemical

analysis−Part 1 : Sampling of cast unwrought products (MOD)

ISO 1811-2 : 1988 Copper and copper alloys−Selection and preparation of samples for chemical

analysis−Part 2 : Sampling of wrought products and castings (MOD)

2. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS H 0500 伸銅品用語

備考 ISO 197/1 : 1983, Copper and copper alloys−Terms and definitions −Part 1 : Materials

ISO 197/2 : 1983, Copper and copper alloys−Terms and definitions −Part 2 : Unwrought products

(Refinery Shapes)

ISO 197/3 : 1983, Copper and copper alloys−Terms and definitions −Part 3 : Wrought products

ISO 197/4 : 1983, Copper and copper alloys−Terms and definitions −Part 4 : Castings

ISO 197/5 : 1980, Copper and copper alloys−Terms and definitions −Part 5 : Methods of

processing and treatment

からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。

JIS K 0050 化学分析方法通則

JIS K 0113 電位差・電流・電量・カールフィッシャー滴定方法通則

JIS K 0115 吸光光度分析通則

JIS K 0116 発光分光分析通則

JIS K 0119 蛍光X線分析方法通則

JIS K 0121 原子吸光分析通則

JIS K 0211 分析化学用語（基礎部門）

JIS Z 2613 金属材料の酸素定量方法通則

JIS Z 2616 金属材料の硫黄定量方法通則

JIS Z 8401 数値の丸め方

JIS Z 8402-1 測定方法及び測定結果の精確さ（真度及び精度）−第1部：一般的な原理及び定義

備考 ISO 5725-1 : 1994, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results−Part 1 :

General principles and definitionsがこの規格と一致している。

3. 定義この規格で用いる主な用語の定義は，JIS H 0500，JIS K 0211，及びJIS Z 8402-1によるほか，

次による。

a) 伸銅品 (wrought products) 板，条，棒，管，線，鍛造品などの特定の形状に加工された銅又は銅合

金の製品。

H 1012 : 2001

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

b) 鋳物 (castings) 砂型鋳造法，金型鋳造法，ダイカスト鋳造法，連続鋳造法，遠心鋳造法などによっ

て，特定の形状に鋳造された銅及び銅合金の鋳物製品。

c) 鋳造品 (cast unwrought products) ケーク，ビレット，ワイヤバー，インゴットなどの特定の形状に鋳

造された銅又は銅合金の鋳塊製品。

d) ロット (lot) ロットの定義は，次による(1)。

1) 伸銅品の場合一様な条件で連続して製造された，同一品種の，ある特定の形状（板，条，棒，管，

線，鍛造品など）をもった材料又は製品。製造条件が異なる場合には，別のロットとして取り扱う。

2) 鋳物の場合バッチ炉の一融解量又は連続融解炉のある特定の融解量から，一定の鋳造方法（砂型

鋳造，金型鋳造，ダイカスト鋳造，遠心鋳造など）で鋳造された，ある特定の形状をもった材料又

は製品。

3) 鋳造品の場合バッチ炉の一融解量又は連続融解炉の24時間の融解量から鋳造された，ある特定の

形状（ケーク，ビレット，ワイヤバー，インゴットなど）をもった鋳塊。形状，寸法及び／又は融

解炉が異なっている場合には，別のロットとして取り扱う。

e) サンプリング (sampling) ロットを代表するように試料を採取することをいう。

一次試料 (sampling unit) ロットを代表するように抜き取った個々の伸銅品，鋳物又は鋳造品。

g) グロス試料 (gross sample) ロットを代表するように採取した一次試料を合わせたもの。

h) 分析用試料 (test sample) グロス試料から調製した化学分析に用いるための試料。

分析試料 (test portion) 化学分析の操作を行うためにはかり取られた分析用試料。

注(1) 受渡当事者間の協定がある場合には，その協定による。

4. 一般事項分析方法に共通な一般事項は，JIS K 0050，JIS K 0113，JIS K 0115，JIS K 0116，JIS K 0119，

JIS K 0121，JIS Z 2613及びJIS Z 2616の規定による。

5. 一次試料のサンプリング

5.1

伸銅品の一次試料のサンプリング伸銅品の一次試料のサンプリングは，次による(1)(2)(3)(4)。

a) 板，条，棒，線及び形材の場合一つのロットの中の長さの異なる4個の最終製品から一次試料を採

取する。一つのロットの中で長さが異なっている最終製品が4種類未満の場合には，長さの異なる最

終製品からそれぞれ1個の一次試料を採取する。

b) 管の場合一つのロットから表1に規定する数の一次試料を採取する。

注(2) 一次試料は，一つのロットからランダムに抜き取る。

(3) 最終製品から一次試料を採取する場合には，それに必要な長さ又は量を最終製品に余分に見込

んでおく。

(4) 受渡当事者が同意すれば，鋳造時に採取した一次試料又は引張試験後の試験片若しくは他の物

理試験のために採取した試験片を，製品から採取する一次試料に代わる一次試料として用いて

もよい。

H 1012 : 2001

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表1 一次試料の採取数

ロットの管の数

採取する一次試料の数 (5)

1〜

51〜 200

201〜 1 500

1 501以上

ロットの管の数の0.2%,ただし，最大10

注(5) 各一次試料は，異なる管から採取する。

5.2

鋳物の一次試料のサンプリング鋳物の一次試料のサンプリングは，次による(1)(2)(3)(4)。

a) 炉の各融解ごとに，連続した融解・鋳造の2時間ごとに又は各作業シフトの初期，中期及び終期ごと

に，少なくとも1個の一次試料を抜き取る。

b) 一次試料を溶湯から鋳込試料として採取する場合には，偏析を避けるために，溶湯を状態図の液相線

の温度よりも高い温度で小さな金型に注ぎ込む。

c) 複数の炉の溶湯を，鋳込む前に一つのとりべで混合するときには，鋳物を鋳込む前に，その混合した

溶湯から1個の一次試料を採取する。

5.3

鋳造品の一次試料のサンプリング鋳造品の一次試料のサンプリングは，次による(1)。

a) バッチ炉の場合

1) 各融解ごとに製造される鋳造品のロットを代表するように，鋳造の初期，中期及び終期に各1個の

一次試料を採取する。

2) 複数の炉の溶湯を，鋳込む前に一つのとりべで混合するときには，鋳造品を鋳込む前に，その混合

した溶湯から1個の一次試料を採取する。

b) 連続融解炉の場合連続融解によって製造される鋳造品のロットを代表するように，鋳造作業の3時

間ごとに1個の一次試料を採取する。

6. 試料の調製

6.1

伸銅品及び鋳物の試料調製伸銅品及び鋳物の試料調製は，次による。

a) 試料採取方法試料は，伸銅品及び鋳物の断面全体を切り取るか削り取ることによって又は一次試料

の長手方向に沿った数箇所をきりが貫通するまできりもみすることによって，採取する。製品が薄い

ために，機械を用いて切り取り・削り取り・きりもみを行うことが困難なときには，はさみを用いて

切り取る。

b) 試料採取操作

1) 試料を採取する前に，一次試料は，スケール，汚れ，油，グリース及び他の汚染物質を取り除いて

清浄にする。必要ならば，試料を採取する前に，一次試料をエチルエーテル又はアセトン，次にエ

タノールで順次洗浄した後，乾燥する。スケール，汚れなどは，機械的又は化学的な手段を用いて

取り除く。化学的な手段を用いるときには，金属表面を変質させない方法を選定しなければならな

い。

2) 試料の採取に用いるカッター，きりなどの工具類は，あらかじめ清浄にしたものを用いる。切断機，

切削機，きりもみ機などの速度は，試料が発熱して酸化されないように調節する。減摩剤は用いて

はならない。工具類は鉄分の混入を防ぐためにカーバイドの刃先がついたものが望ましい。鋼製の

工具類を用いるときには，混入する鉄分を後で除きやすくするために，磁性をもつ材質でできたも

のを用いなければならない。

H 1012 : 2001

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

3) 切取り・削取り・きりもみなどによって試料を採取する場合には，汚染物が混入しないように注意

深く行った後，混入した鉄分は，磁石を用いて取り除く。

なお，磁性相のある合金の試料を採取する場合には，必ずカーバイドの刃先がついた工具類を用

い，磁石を用いて汚染物の除去を行ってはならない。

4) 一次試料の断面全体を光学的に検査するような場合には，その断面を切り出して適切に印を付け，

残りの一次試料は他の試料採取に用いる。

5) 1）〜4）によって各一次試料から採取した試料をほぼ一定の大きさに細かく切断した後，それぞれ

を等量ずつはかり取り，よく混合してグロス試料とする。

6) グロス試料は，分析に必要な量の4倍以上の量を調製し，それを等量ずつに4分割し，それぞれ容

器に入れて密封し，分析用試料とする。分析用試料は，受渡当事者がそれぞれ1個ずつを分析に，

また1個を必要ならば審判分析に使用し，残るもう1個を予備として保存する。

7) 酸素の定量が必要な場合には，6）の分析用試料とは別に，酸素分析用試料を一次試料から採取する。

各酸素分析用試料は，各一次試料の受渡当事者が合意した位置から，受渡当事者が合意した方法に

よって，十分な大きさをもった1個の小塊として切り出す。切り出した酸素分析用試料は，ほぼ等

質量になるように3分割し，それぞれを酸素分析試料とする。酸素分析試料は，受渡当事者がそれ

ぞれ1個ずつを分析に，残る1個を必要ならば審判分析に使用する。

6.2

鋳造品の試料調製鋳造品の試料調製は，次による。

a) 試料採取方法

1) 試料は，鋳造品に化学成分の偏析がない場合には，製品の平均品質を代表するように鋳造品から採

取した各一次試料の数箇所を，きりが貫通するまできりもみすることによって，採取し，鋳造品に

化学成分の偏析がある場合には，各一次試料の断面の全面を削り取るか切り取ることによって，採

取する。

2) 水平鋳造した鋳造品の場合には，試料は，一次試料の両端の間の等間隔に選んだ5か所(6)を，鋳込

面上面からきりもみすることによって(7)，採取する。

3) 垂直鋳造した鋳造品の場合には，試料は，一次試料の両端の間の等間隔に選んだ5か所(8)を，きり

もみすることによって(7)，採取する。

4) 質量が450kgを超える一次試料からの試料の採取方法は，受渡当事者間の協定による。

b) 試料採取操作 6.1b）による。

注(6) ビレット，インゴット及びワイヤバーの場合には，中央線に沿った位置とし，ケークの場合に

は，対角線に沿った位置とする。

(7) きりもみする代わりに，一次試料の同じ位置の，側面から中心までの断面又は断面全体を，削

り取ってもよい。

(8) ビレット及びワイヤバーの場合には，中央線に沿った位置とし，ケークの場合には，対角線に

沿った位置とする。

6.3

分析用試料の保管分析用試料は，異物などの汚染を防止するため，ポリエチレン袋，ふた付きガ

ラス容器などに入れて密封し，保管する。

7. 分析試料のはかり方分析試料のはかり方は，次による。

a) 分析試料は，分析用試料を乾燥剤を入れたデシケーター中に入れて1時間以上放置した後，その一部

をはかり取る。はかり取る際には，よくかき混ぜて，平均組成を代表するように注意し，また，異物

H 1012 : 2001

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

が混入していないことを確かめなければならない。

b) 分析試料のはかり取りには，化学はかりを用い，0.1mgのけたまで読み取る。

c) 分析試料のはかり取り量は，各成分の定量方法規格で規定する。

8. 分析値のまとめ方

8.1

分析回数通常，同一分析所において2回の繰返し分析を行う。

8.2

空試験分析を行うに当たっては，空試験を行い，測定値を補正する。

8.3

分析値の表示分析値は，質量百分率で表し，各製品規格に規定された数値の有効最小位の次のけ

たまで算出し，JIS Z 8401によって有効最小位のけたに丸める。

9. 安全衛生に関する注意有害化学物質，危険薬品などの使用及び廃棄処理，原子吸光分析における高

圧ガスの取扱い及びフレームの点火・消火，蛍光X線分析におけるX線による障害などには十分に注意し，

災害の防止及び環境の保全に努めなければならない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表

JIS H 1012：2001 銅及び銅合金の分析方法通則

ISO 1811-1：

ISO 1811-2：

1988 銅及び銅合金−化学分析用試料のサンプリング及び試料調製
−
Part1：鋳造品のサンプリング
1988 銅及び銅合金−化学分析用試料のサンプリング及び試料調製
−
Part2：伸銅品及び鋳物のサンプリング

(I) JISの規定

(II) 国際規格番

号

(III) 国際規格の規定

(IV) JISと国際規格との技術的差異の項

目ごとの評価及びその内容

表示箇所：本体
表示方法：側線

(V) JISと国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

項目番号内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

1.適用範
囲

銅及び銅合金中の
各成分の定量方法
に共通な事項につ
いて規定

ISO 1811-1

ISO 1811-2

1.

1.

銅及び銅合金（鋳造
品）のサンプリング
と試料調製について
規定
銅及び銅合金（伸銅
品及び鋳物）のサン
プリングと試料調製
について規定

MOD／
追加

MOD／
追加

JISの適用範囲の方がISO
より広い。

JISの適用範囲の方がISO
より広い。

ISOと規格体系が違うため，ISOにない分
析に関する通則を追加している。ISOを包
含した総括的規格であり，何ら問題ないの
でISOへの提案は当面行わない。

2.引用規
格

JIS H 0500他11の
JIS

ISO 1811-1

ISO 1811-2

ISO 197-1，ISO
197-2，ISO 181-2
ISO 197-1，ISO
197-3，ISO 197-4，
ISO 181-1

MOD／
追加

JISではISOの引用規格と
整合したJISとISOに引用
されていない規格も追加し
て引用している。

適切な分析が行えるよう，ISOにない分析
に関する通則に関する引用JISを追加して
いる。ISOを包含した総括的規格であり，
何ら問題ないのでISOへの提案は当面行
わない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

3.定義

JIS H 0500，JIS K
0211及びJIS Z
8402-1によるほか，
伸銅品，鋳物，鋳造
品，及びサンプリン
グ関連用語につい
て定義

ISO 1811-1

ISO 1811-2

3.

3.

鋳造品，及びサンプ
リング関連用語につ
いて定義
伸銅品，鋳物及びサ
ンプリング関連用語
について定義

MOD／
追加

JISではISOの引用規格と
整合したJISとISOに定義
されていない用語も追加し
て定義している。

分析方法通則に追加し，混乱を招くおそれ
のあるISOにない用語も定義している。
ISOを包含した総括的規格であり，何ら問
題ないのでISOへの提案は当面行わない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(I) JISの規定

(II) 国際規格

番号

(III) 国際規格の規定

(IV) JISと国際規格との技術的差異の

項目ごとの評価及びその内容

表示箇所：本体
表示方法：側線

(V) JISと国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

項目番号

内容

項目番号内容

項目ごと

の評価

技術的差異の内容

4.一般事
項

分析に共通な一般
事項を規定

−

MOD／
追加

ISOでは規定していない定
量方法に関する通則を追加
した。

適切な分析が行えるよう通則を追加した。
ISOを包含した総括的規格であり，何ら問
題ないのでISOへの提案は当面行わない。

5.一次試
料のサ
ンプリ
ング

伸銅品の一次試料
のサンプリング
鋳物の一次試料の
サンプリング
鋳造品の一次試料
のサンプリング

ISO 1811-2

ISO 1811-2

ISO 1811-1

4.

4.

4.

JISに同じ

JISに同じ

JISに同じ

IDT

IDT

IDT

−

6.試料の
調製

伸銅品及び鋳物の
試料調製方法
鋳造品の試料調製
方法
分析試料の保管方
法

ISO 1811-1

ISO 1811-2

5.

5.

JISに同じ

JISに同じ

IDT

IDT

−

7.分析試
料のは
かり方

分析試料のはかり
方

−

MOD／
追加

ISOでは規定していない分
析精度確保に必要なJIS独
自の規定内容を追加した。

分析精度の確保が必要であるため，規定が
必要。ISOを包含した総括的規格であり，
何ら問題ないのでISOへの提案は当面行
わない。

8.分析値
のまと
め方

分析値のまとめ方

−

MOD／
追加

ISOでは規定していない分
析結果を正しく評価するた
めにJIS独自の規定内容を
追加した。

分析結果の正確な評価が必要であるため，
規定が必要。ISOを包含した総括的規格で
あり，何ら問題ないのでISOへの提案は当
面行わない。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(I) JISの規定

(II) 国際規格

番号

(III) 国際規格の規定

(IV) JISと国際規格との技術的差異の

項目ごとの評価及びその内容

表示箇所：本体
表示方法：側線

(V) JISと国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

項目番号

内容

項目番号内容

項目ごと

の評価

技術的差異の内容

9.安全衛
生に関
する注
意

安全衛生に関する
注意

−

MOD／
追加

ISOでは規定していない安
全確保のためにJIS独自の
規定内容を追加した。

安全確保が必要であるため，規定が必要。
ISOを包含した総括的規格であり，何ら問
題ないのでISOへの提案は当面行わない。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD

備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。

− IDT ·················· 技術的差異がない。
− MOD／追加 ······· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。

− MOD ················ 国際規格を修正している。

H 1012 : 2001

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

伸銅品分析JIS原案作成本委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

○ 佐山恭正

日本新金属株式会社技術開発部

小熊幸一

千葉大学工学部

藤沼弘

東洋大学工学部

大河内春乃

東京理科大学理学部

橋本進

財団法人日本規格協会技術部

俣野宣久

川崎製線株式会社

宮田恵守

NTT東日本株式会社技術協力センター

佐藤秀樹

日本電子材料工業会

矢岡隆

日本鉱業協会技術部兼環境保安部

元芳照夫

富士通分析ラボ株式会社

○ 束原巌

株式会社第一原子力グループ放射線研究所

○ 田口克徳

株式会社コベルコ科研関門事業所

○ 関根孝雄

三菱マテリアル株式会社総合研究所

○ 小林秀章

日本青銅株式会社技術部

○ 豊嶋雅康

住友軽金属工業株式会社研究開発センター

○ 久留須一彦

古河電気工業株式会社横浜研究所

○ 小松孝之

日鉱金属株式会社技術開発センター

○ 宮地孝

日立電線株式会社土浦工場

○ 藤沢裕

日本伸銅協会技術部

備考 ○印を付してある者は，分科会委員も兼ねる。