G 1351：2006
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本フェロアロイ
協会(JFA)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS G 1351:1987は改正され，この規格に置き換えられる。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
G 1351：2006
（2）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 1
4. 分析元素及び定量範囲 ······································································································ 2
5. 一般事項 ························································································································ 2
6. 試料 ······························································································································ 3
6.1 試料の採取 ··················································································································· 3
6.2 試料の調製 ··················································································································· 3
6.3 検量用試料 ··················································································································· 3
7. 定量方法 ························································································································ 3
7.1 要旨 ···························································································································· 3
7.2 スペクトル線及び分光結晶 ······························································································ 3
7.3 測定 ···························································································································· 3
7.4 検量線の作成 ················································································································ 4
7.5 含有率の算出 ················································································································ 4
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日本工業規格 JIS
G 1351：2006
フェロアロイ−蛍光X線分析方法
Ferroalloys - Method of X-ray fluorescence spectrometric analysis
序文 この規格は，1977年に制定され，その後1回の改正を経て今日に至っている。前回の改正は1987
年に行われたが，その後の技術的進歩などに対応するために改正した。
なお，対応国際規格は現時点で制定されていない。
1. 適用範囲 この規格は，JIS G 2301，JIS G 2302，JIS G 2303，JIS G 2304，JIS G 2312，JIS G 2315及
びJIS G 2318で規定されているフェロアロイの蛍光X線分析方法について規定する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS G 1301 フェロアロイ分析方法の通則
JIS G 1311 フェロマンガン分析方法
JIS G 1312 フェロシリコン分析方法
JIS G 1313 フェロクロム分析方法
JIS G 1314 シリコマンガン分析方法
JIS G 1322 金属けい素分析方法
JIS G 1325 シリコクロム分析方法
JIS G 1327 フェロボロン分析方法
JIS G 1501 フェロアロイのサンプリング方法通則
JIS G 1601 フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法（その1 フェロマンガン，フェロシリコ
ン，フェロクロム，シリコマンガン及びシリコクロム）
JIS G 1603 フェロアロイの成分用試料のサンプリング方法（その3 フェロホスホル，金属マンガン，
金属けい素，金属クロム，カルシウムシリコン及びフェロボロン）
JIS G 2301 フェロマンガン
JIS G 2302 フェロシリコン
JIS G 2303 フェロクロム
JIS G 2304 シリコマンガン
JIS G 2312 金属けい素
JIS G 2315 シリコクロム
JIS G 2318 フェロボロン
JIS K 0119 蛍光X線分析方法通則
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3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS G 1301，JIS G 1501及びJIS K 0119によるほか，次
による。
a) 分析元素 この規格を適用するフェロアロイ中の分析対象元素。
4. 分析元素及び定量範囲 この規格を適用する品種ごとの分析元素及び定量範囲は，表1による。
表 1 分析元素及び定量範囲
品種
分析元素
定量範囲
％（質量分率）
フェロマンガン
マンガン
73〜95
けい素
0.10〜3.0
りん
0.005〜0.50
フェロシリコン
けい素
8〜95
アルミニウム
0.5〜3.0
りん
0.005〜0.050
高及び中炭素フェロクロム
クロム
45〜75
けい素
1.0〜10
りん
0.005〜0.050
低炭素フェロクロム
クロム
45〜75
けい素
0.20〜10
りん
0.005〜0.050
シリコマンガン
マンガン
60〜75
けい素
10〜35
りん
0.05〜0.50
金属けい素
アルミニウム
0.20〜1.0
鉄
0.20〜1.5
カルシウム
0.050〜1.0
シリコクロム
けい素
10〜55
クロム
20〜60
りん
0.005〜0.050
高炭素フェロボロン
ほう素
9〜23
けい素
1.0〜4.0
アルミニウム
0.10〜0.50
りん
0.005〜0.050
低炭素フェロボロン
ほう素
9〜23
けい素
0.2〜2.0
アルミニウム
2〜12
りん
0.005〜0.050
5. 一般事項 定量方法に共通な一般事項については，JIS G 1301及びJIS K 0119による。
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6. 試料
6.1
試料の採取 試料の採取は，JIS G 1501，JIS G 1601及びJIS G 1603による。ただし，低炭素フェ
ロクロムなど粉砕の困難な場合には，鋳型兼用スプーンなどを用いて直接溶湯から採取する。
6.2
試料の調製
6.2.1
粉状試料 JIS G 1601及びJIS G 1603に規定する成分試験試料の適切量を取り，更に粉砕機で粉
砕し(1)，板状に加圧成形(2)して一面をX線照射面とする。
注(1) 一般に試料の粒径を小さくすれば，精度は向上する。測定に際しては，あらかじめ試料の粒径
又は粉砕条件と蛍光X線強度との比較を行い，蛍光X線強度が一定となる粒径又は条件を求め，
この粒径以下に粉砕することが望ましい。
(2) 成形性の悪い試料は，試料に石炭，でん粉，ステアリン酸などを均一に混合するか，又はX線
照射面の裏面に銅粉，硫酸ナトリウムなどを層状に裏打ちして，加圧成形する。
6.2.2
塊状試料 鋳型兼用スプーンなどによって採取した供試体を，切断機などを用いて適切な寸法に成
形した後，その一面を粒度60番以上の研磨材を用いて平面研磨し，X線照射面とする。
6.3
検量用試料 検量用試料は，次による。
a) 検量用試料は，試料と品種とが同一のもので，分析元素の含有率が定量範囲内であって，かつ，定量
する試料の含有率範囲を含む一系列3試料以上を用いる。
b) 検量用試料は，試料と同一の方法で調製する。
c) 検量用試料の分析元素含有率は，日本工業規格に規定されているそれぞれのフェロアロイの分析方法
規格（JIS G 1311，JIS G 1312，JIS G 1313，JIS G 1314，JIS G 1322，JIS G 1325及びJIS G 1327）に
よって決定された値を使用する。
7. 定量方法
7.1
要旨 平面状に調製した試料に，一次X線を照射して元素を励起させ，発生した分析元素の蛍光X
線を分光結晶で分光して検出器に導き，その強度を測定する。
7.2
スペクトル線及び分光結晶 この分析方法で用いるスペクトル線及び分光結晶は，表2による。
表 2 スペクトル線及び分光結晶
分析元素
スぺクト
ル線
波長
nm
次数
分光結晶
マンガン
MnKα
0.210 3
1
LiF又はトパーズ
MnKβ
0.191 0
けい素
S iKα
0.712 6
1
EDDT又はPET
アルミニウム
A1Kα
0.834 0
1
EDDT又はPET
クロム
CrKα
0.229 1
1
LiF
CrKβ
0.208 5
鉄
FeKα
0.193 7
1
LiF
カルシウム
CaKα
0.335 9
1
EDDT，PET又はLiF
りん
PKα
0.618 0
1
Ge，EDDT又はPET
ほう素
BKα
6.760
1
人工多層膜
7.3
測定 試料を試料ホルダを用いて装置の試料室に正しく装着し，X線照射面積を試料マスク及びX
線管の絞りによって調節する。必要がある場合には，X線通路を真空にするか，又はヘリウムガス若しく
は水素ガスで置換した後，あらかじめ設定した測定条件(3)(4)によって，X線を照射して発生した分析元素
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の蛍光X線強度を測定する。測定は，パルス計数方式の装置では定時法（若しくは定計数法）又は対比法
(5)，積分電圧測定方式の装置ではモニター法又は定時法による。
試料及び検量用試料は同一条件で測定し，蛍光X線強度を求める。
注(3) クロムターゲットのX線管を用いてクロムを定量する場合は，バックグラウンド，試料の粒度
及び平面度並びにマトリックスの影響によって誤差を生じることがあるため，注意する必要が
ある。
(4) 装置の型式，定量元素及びその含有量範囲，所要定量精度などを考慮して，実験的に最も適切
な測定条件を設定する。測定条件には，表2に示したスペクトル線及び分光結晶のほかに，X
線発生部の設定条件（管電圧，管電流など），分光部の設定条件（スリット幅など），計数記録
部の設定条件などがある。
(5) 自動対比機構をもたない装置で対比法を用いる場合は，分析試料及び対照試料の測定は，通常，
続けて行う。
7.4
検量線の作成 6.3の検量用試料を7.3に従って測定し，得た蛍光X線強度又は対照試料との強度比
などと，分析元素含有率との関係から検量線を作成する。
備考1. フェロマンガンのマンガン，フェロシリコンのけい素，フェロクロムのクロム，シリコマン
ガンのマンガン及びけい素，シリコクロムのけい素及びクロム，並びにフェロボロンのほう
素は，含有率範囲が広いので，検量線は種類別に作成する。
2. フェロマンガンの検量線は，高炭素フェロマンガンと中炭素フェロマンガンとは別に作成す
る。
3. フェロクロムの場合は，一般に高及び中炭素フェロクロムは粉状試料を用い，低炭素フェロ
クロムは塊状試料を用いる。高及び中炭素フェロクロムは，粉状試料の場合，けい素と炭素
との含有率によって試料粒度及び蛍光X線強度の変動があるので注意する。
4. フェロボロンの検量線は，高炭素フェロボロンと低炭素フェロボロンとは別に作成する。
7.5
含有率の算出 7.4で作成した検量線から分析元素の含有率を求める。