C 9801-2:2015
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語,定義及び記号 ·········································································································· 2
4 性能要求事項及び試験 ······································································································· 2
4.1 一般 ···························································································································· 2
4.2 貯蔵試験 ······················································································································ 2
4.3 冷却能力試験 ················································································································ 2
4.4 冷凍能力試験 ················································································································ 2
4.5 自動製氷能力試験 ·········································································································· 2
4.6 その他の試験 ················································································································ 2
4.7 試験概要 ······················································································································ 2
5 一般試験条件 ··················································································································· 4
6 貯蔵試験························································································································· 4
6.1 目的 ···························································································································· 4
6.2 冷却機器の準備 ············································································································· 4
6.3 空気温度センサの位置並びに試験用負荷及びM負荷の配置 ··················································· 4
6.4 試験手順 ····················································································································· 11
6.5 貯蔵温度 ····················································································································· 13
6.6 記録するデータ ············································································································ 13
7 冷却能力試験 ·················································································································· 14
7.1 目的 ··························································································································· 14
7.2 セットアップ手順 ········································································································· 14
7.3 試験手順 ····················································································································· 15
7.4 記録するデータ ············································································································ 18
8 冷凍能力試験 ·················································································································· 18
8.1 目的 ··························································································································· 18
8.2 方法の概要 ·················································································································· 18
8.3 手順 ··························································································································· 18
8.4 試験手順 ····················································································································· 19
8.5 フォースター室の適合基準 ····························································································· 20
8.6 記録するデータ ············································································································ 21
9 自動製氷能力試験 ············································································································ 21
9.1 目的 ··························································································································· 21
9.2 手順 ··························································································································· 21
C 9801-2:2015 目次
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ページ
9.3 記録するデータ ············································································································ 22
附属書A(規定)プルダウン試験 ··························································································· 23
附属書B(規定)ワイン貯蔵機器及び室の貯蔵試験 ···································································· 26
附属書C(規定)温度上昇試験 ······························································································ 28
附属書D(規定)結露試験 ···································································································· 29
附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 31
C 9801-2:2015
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まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電機工業会(JEMA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 9801の規格群には,次に示す部編性がある。
JIS C 9801-1 第1部:一般要求事項
JIS C 9801-2 第2部:性能要求事項
JIS C 9801-3 第3部:消費電力量及び内容積の算出
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日本工業規格 JIS
C 9801-2:2015
家庭用電気冷蔵庫及び電気冷凍庫の特性及び
試験方法−第2部:性能要求事項
Household refrigerating appliances-Characteristics and test methods-
Part 2: Performance requirements
序文
この規格は,2015年に第1版として発行されたIEC 62552-2を基とし,我が国の特別な事情を勘案する
ため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は,機器の内部を冷気自然対流によって冷却する又は冷気強制循環によって冷却する家庭用冷
却機器の基本特性,及びその特性を検査するための試験方法を規定する。
冷却機器の様々な試験の設定事項は,一部の共通性があるが(全ての設定を一つの試験機器に適用する
ことは有用である可能性がある。),試験機器に特定する特性を評価するために,別々の試験として扱う必
要がある。この規格は,試験機器の試験結果をもって,その試験機器群全体の特性を予想する手順は規定
しない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 62552-2:2015,Household refrigerating appliances−Characteristics and test methods−Part 2:
Performance requirements(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 9801-1 家庭用電気冷蔵庫及び電気冷凍庫の特性及び試験方法−第1部:一般要求事項
注記 対応国際規格:IEC 62552-1,Household refrigerating appliances−Characteristics and test methods
−Part 1: General requirements(MOD)
JIS C 9801-3 家庭用電気冷蔵庫及び電気冷凍庫の特性及び試験方法−第3部:消費電力量及び内容積
の算出
注記 対応国際規格:IEC 62552-3,Household refrigerating appliances−Characteristics and test methods
−Part 3: Energy consumption and volume(MOD)
2
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3
用語,定義及び記号
この規格で用いる主な用語,定義及び記号は,JIS C 9801-1の箇条3及びJIS C 9801-3の箇条3による。
4
性能要求事項及び試験
4.1
一般
この規格は,家庭向け及び同様の冷却機器の性能を評価する試験について規定する。この試験の実施の
要求がある場合は,4.2〜4.7に従い実施する。
4.2
貯蔵試験
貯蔵試験は,冷却機器が適切な各室の貯蔵温度を維持できるか否かを確認するために行う。試験方法は,
箇条6による。
4.3
冷却能力試験
冷却能力試験は,規定の試験用負荷を用い,冷蔵室の負荷を冷却する能力として,規定の試験用負荷を
周囲温度から規定温度まで冷やす時間を測定するために行う。試験方法は,箇条7による。
4.4
冷凍能力試験
冷凍能力試験は,規定の試験用負荷を用い,冷凍室の負荷を冷凍する能力として,規定の試験用負荷を
周囲温度から規定温度まで冷やす時間を測定する。この試験は,冷凍室がフォースター室の要求事項に適
合するか否かを確認する。試験方法は,箇条8による。
4.5
自動製氷能力試験
自動製氷能力試験は,規定する期間中の製氷量を算出するために行う。試験方法は,箇条9による。
4.6
その他の試験
その他の試験は,次による。試験方法を,附属書A〜附属書Dに示す。
a) プルダウン試験 附属書Aに規定するこの試験は,冷却機器の高外気温時の冷却能力を測定するため
に行う。
b) ワイン貯蔵試験 附属書Bに規定するこの試験は,様々な気候クラスにおける該当する周囲温度での,
この規格の要求事項への適合を確認するために行う。
なお,この規格で採用する気候クラスは温帯(N)とする。
c) 温度上昇試験 附属書Cに規定するこの試験は,電源を切った後,最も温かいM負荷の温度が−18 ℃
から−9 ℃まで上昇する時間を測定するために行う。これは,スリースター室又はフォースター室が
一つ以上ある冷却機器に適用する。
d) 結露試験 附属書Dに規定するこの試験は,規定の周囲条件下の冷却機器の外表面における結露の程
度を確認するために行う。
4.7
試験概要
実施する試験の概要を,表1に示す。
3
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表1−試験概要
箇条/附
属書及び
試験
周囲
温度
条件
パント
リ及び
セラー
冷蔵
チラー
ゼロスター
ワン
スター
及び
ツー
スター
スリー
スター
及び
フォー
スター
試験開始
後の温度
要求事項
箇条6
貯蔵
16 ℃
/32 ℃
負荷の有無
なし
あり
なし
あり
初期値の
維持
初期温度
平均
瞬時
平均
最高
箇条7
冷却能力
25 ℃
負荷の有無
なし
試験用負
荷最終だ
け
初期温度
表2参照 +4 ℃
±0.5 ℃
表2参照
最高/最低
平均/最低
箇条8
冷凍能力
25 ℃
負荷の有無
M負荷だけ
あり
なし
あり
あり
変位及び
最終
初期温度
表2参照
測定なし
最高/最低
箇条9
自動製氷
能力
25 ℃
負荷の有無
なし
なし
初期温度
表2参照
最高/最低
附属書A
プルダウ
ン
43 ℃
負荷の有無
なし
最終だけ
初期温度
43 ℃
附属書C
温度上昇
25 ℃
負荷の有無
貯蔵試験と同じ
−18 ℃
室だけ
初期温度
規定なし
−18 ℃
附属書D
結露
25 ℃
負荷の有無
なし
初期値の
維持
初期温度
JIS C 9801-3の表1規定の消費電力量試験温度以下
注記1 記号の定義は,JIS C 9801-1の3.7を参照。
注記2 この表と個々の試験手順とのデータ間に矛盾がある場合は,試験手順を優先する。
注記3 ワイン貯蔵試験は,附属書Bを参照。
貯蔵温度は,表2に示す。
表2−室の温度
単位 ℃
室タイプ
冷蔵
スリースタ
ー及びフォ
ースター
ツー
スター
ワン
スター
ゼロ
スター
チラー
セラー
パントリ
T1m,T2m,
T3m
Tma
T*** a)
T**a)
T*a)
Tzma
Tcci
Tcma
Tpma
0≦T1m,
T2m,T3m≦
+8
平均
Tma≦+4
平均
T***≦−
18b)
最高
T**≦−12b)
最高
T*≦−6
最高
Tzma≦0
平均
−3≦Tcci
≦+3
瞬時
+2≦Tcma
≦+14
平均
+14≦Tpma
≦+20
平均
注記 記号の定義は,JIS C 9801-1の3.7に示す。
注a) 記号Tに付いている上付き文字は,スリースター及びフォースター,ツースター又はワンスター室の温度に
対応する。
b) 霜取り及び復帰期間中の間の自動霜取り方式冷却機器の貯蔵温度は,3 K以下の範囲で上昇してもよい。
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5
一般試験条件
特に規定がない場合は,試験室のセットアップ及び計測器は,JIS C 9801-1の附属書Aによる。
特に規定がない場合は,冷却機器の据付け,並びに棚,引出し,ケース,フラップ及び制御装置のセッ
トアップは,JIS C 9801-1の附属書Bによる。
6
貯蔵試験
6.1
目的
この試験の目的は,冷却機器がそれぞれの周囲温度で指定の庫内温度を維持できるか否かを確認するこ
とである。
この規格で規定する条件下及びJIS C 9801-1のA.3.2.3で規定する気候クラスNに対する周囲温度にお
いて,冷却機器は,表2の注b)に示す霜取り及び復帰期間中の許容温度偏差範囲内(+3 K以下)の貯蔵
温度を,同時に維持する。
これらの試験要求事項を満たすために,それぞれの周囲温度において,全ての室が規定の庫内温度を達
成する一つ以上の制御設定が必要である。ただし,制御は様々な周囲温度で試験できるよう調整してよい。
注記 冷凍室への負荷配置は,大部分が冷凍能力試験と同じであるため,これらの試験を連続して行
うことは有効である。
6.2
冷却機器の準備
試験室の周囲温度は,JIS C 9801-1のA.3.2.3で規定する気候クラスNとする。
冷却機器は,JIS C 9801-1の附属書Bに従って試験室に設置する。
通常使用中に常時“オン”になる露付き防止ヒータをもつ冷却機器の場合,ヒータを動作した状態で試
験する。
使用者が手動で制御する露付き防止ヒータは,スイッチを“オン”にし,調整可能な場合は,ヒータが
最大発熱するように設定する。
自動制御の露付き防止ヒータは,通常の動作で行う。
冷却機器は空の状態でセットアップし,表2に規定する温度又はそれに近い温度で,平衡状態に達する
まで運転する。
自動製氷機は,試験中には新しい氷ができないよう設定するが,それ以外のときには動作可能な状態を
維持する。ただし,水供給源への接続の有無がこの試験の結果に影響しないことが証明できる場合,水供
給源への接続を省略してよい。
6.3
空気温度センサの位置並びに試験用負荷及びM負荷の配置
6.3.1
チラー室及びワイン貯蔵庫を除いた非冷凍室
非冷凍室の貯蔵温度を測定するため,空気温度センサを,JIS C 9801-1のD.2.2に従って,その室内に配
置する。
注記 ワイン貯蔵機器及び室の貯蔵試験は,附属書B参照。
6.3.2
チラー室
6.3.2.1
一般
全ての試験用負荷及びM負荷は,JIS C 9801-1の附属書Cに規定する。
チラー室の貯蔵温度を測定するための貯蔵負荷は,6.3.2.2による。
温度Tcci(表2参照)は,最大面を水平に配置又はつり下げたM負荷で測定する。室又は引出しの底面
に直接配置してよいが,全ての壁及び天井並びに他の試験用負荷から15 mm以上離す。
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M負荷は,室の対角線上の角に配置する。
室に設計の一部として特別な細分割区画(棚など)を含む場合,また,室の寸法が小さくてM負荷を水
平に配置することができない場合,M負荷を垂直に配置してもよい。
室の寸法が小さくてM負荷を扉棚などの中に配置することができない場合,寸法が小さい棚などの隣に
特別な支えを使用して,できる限り扉の裏板の近くにM負荷を配置する。
チラー室の温度は,その室のM負荷の瞬時温度である。表2に規定する温度及び条件を適用する。
6.3.2.2
チラー室の貯蔵負荷
室は,表3に規定する数の負荷を配置する。
試験用負荷をM負荷と置き替えることは問題ないが,二つ以上のM負荷は常に設置する。
表3−チラー室の貯蔵負荷数
チラー室の内容積 V
(L)
試験用負荷の数
(個)
V<10
2
10≦V<20
3
20≦V<30
4
30≦V<40
5
40≦V<50
6
50≦V<60
7
60≦V<70
8
70≦V<80
9
V≧80
10
6.3.3
冷凍室又は区画
6.3.3.1
一般
試験用負荷は,6.3.3.3に規定するとおりに配置する。
温度は,試験用負荷の全体にわたって配置したM負荷で測定する。M負荷は6.3.3.4で規定するとおり
に配置する。
各区画又は室の温度は,その区画又は室内のM負荷の最大温度である。表2に規定する温度及び条件を
適用する。
6.3.3.2
試験用負荷
全ての試験用負荷及びM負荷は,JIS C 9801-1の附属書Cに規定する。
試験用負荷は,事前に,表2に規定する貯蔵温度とほとんど同じ温度にする。
試験用負荷をぬらして一緒に凍結してはならないが,位置をそろえて試験用負荷を積み重ねて置くため
に,非金属のひもで縛り合わせてもよい。
積み重ねた試験用負荷の間の空隙を維持するために,スペーサを使用してもよい。ただし,スペーサの
断面が可能な限り最小で,低い熱質量及び熱伝導率をもち,通常の空気循環を著しく妨げないように配置
する場合に限る。垂直に積み重ねた負荷をひもを用いて縛り合わせるときに,そのひもにつないだ数個の
直径 15 mmの球体のプラスチックビーズは,これらの要件を満たす。
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6.3.3.3
試験用負荷配置
6.3.3.3.1
一般
試験用負荷は次のように配置する。
a) 室(扉貯蔵を含む。)は,6.3.3.3.2及び6.3.3.3.3の空気の通り道及び隙間の要求事項に従って,できる
限り多くの試験用負荷で満たす。
b) 棚の上に試験用負荷を配置する場合,試験用負荷は前列の前部が棚の前部と一致するように並べ,こ
れらの負荷は,棚の前から後ろへのセンターラインに対して左右対称に並べる。室が対称的でないた
めに並べることができない場合の積重ねは,できる限り左右対称とする。
c) 貯蔵を意図した各水平面の上に直接積み重ねる(図1及び図2参照)。試験用負荷は,垂直に積み重ね
る。すなわち,それぞれの試験用負荷が完全に下の試験用負荷にかぶさり,偏りがない積重ねとする。
− 扉貯蔵を除き,試験用負荷は最大面を水平に配置する。
リブなどの付いた棚は水平表面とみなす。必要な場合は,積重ねの安定性を維持するために,棚
の陥没に最低限の詰め物を使用してもよい。
d) 扉貯蔵の試験用負荷は,試験用負荷と扉の内面との間の空間と試験用負荷とドアポケットの壁の間と
の空隙とが等しくなるように配置する。
− 貯蔵の場合,試験用負荷を水平に配置するのに十分な空間がない場合は,垂直に配置する。利用す
る十分な高さがある場合,垂直に負荷を積み重ねる[図2 e)参照]。
貯蔵の底部の形状によって必要な場合は,試験用負荷を中央及び垂直に保つために最低限の詰め
物を使用してもよい。
e) 垂直面が扉の内面の場合,次に示すように積み重ねる。
− 負荷配置限界線がある場合,この線まで負荷を積み重ねる[図1 a)参照]。
− 負荷配置限界線はないが,自然負荷配置限界がある場合,この限界まで負荷を積み重ねる[図1 b)
参照]。
内扉,棚の端,バスケット及びフラップ(ぱたぱたする蓋)は,自然負荷配置限界とみなす。
f)
水平な負荷表面と垂直な表面との交線が円みを帯びている場合,積重ねの底部の負荷は,水平な負荷
表面に直接接触して配置する[図1 e)参照]。
g) 細分割区画を氷の非自動製造及び貯蔵のために専用に設け,工具の使用なしに取り外すことができな
い場合,試験用負荷を室に積み重ねる前に,製氷トレイに水を満たし,中身を冷凍して適切な位置に
配置する。取外しが可能な場合,製氷トレイ及び細分割区画は取り外して,試験用負荷を室全体に積
み重ねる。
h) 冷却機器に自動製氷機がある場合,専用の貯氷箱は現状を維持し,試験用負荷で満たす。
6.3.3.3.2
横の隙間
試験用負荷の公称寸法から最小15 mmの空隙を算出し,試験用負荷の隣接する積重ねの間,及び試験用
負荷の積重ねと室壁及びダクトなどとの間に確保する(図1参照)。可能な限り,試験用負荷の間の空隙
は,各水平寸法において等しくする。
容器内に貯蔵する場合,内半径が許す限り,容器の内壁まで試験用負荷を積み重ねる。
試験用負荷が,凍結して,公称寸法より僅かに大きくなる場合,実際の空隙は,15 mmに満たなくても
よい。試験用負荷の寸法の許容値は,JIS C 9801-1の附属書Cを参照する。
6.3.3.3.3
上部の隙間
最も高い位置にある試験用負荷の上面と,すぐその上部にある負荷配置限界,棚又は水平面との間の垂
7
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直の空隙は,10 mm以上かつ60 mm未満とする。
同様に,負荷配置限界線のない上開き形の室の場合,最も上部にある試験用負荷の上面と,その上方に
ある蓋の内面との間の垂直の空隙は,10 mm以上かつ60 mm未満とする。
唯一の例外は,内容積とみなし,かつ,高さ60 mm未満の室の場合,最も上部の試験用負荷の上端及び
すぐ上方に位置する水平面との間の垂直の空隙は,10 mm未満であってもよい。ただし,試験用負荷は天
井に触れてはならない。
6.3.3.4
M負荷の配置
6.3.3.4.1
前開き形の室
図2 a)〜図2 e)に示すとおり試験用負荷をM負荷に置き替える。
一般的な配置は,二つのM負荷を最上位層の対角及び底層の別の二つの対角に配置する(TMP1〜TMP4)。
前開き形の室の開口高さが1 m以上の場合,最前列の積重ねの幾何学的中点の試験用負荷をM負荷
(TMP8)と置き替える。
室が,きょう体の底部にあり,圧縮機の段がある場合, 圧縮機の真上に最も近い場所にある最下部の試
験用負荷を,もう一つのM負荷(TMP5)に置き替える。
扉貯蔵に試験用負荷がある場合,最上部の棚上の前部M負荷(TMP1)の反対側にある扉貯蔵の最上部
の試験用負荷を,M負荷(TMP6)に置き替える。最も低い場所にある前部M負荷(TMP3)の反対側にあ
る扉貯蔵の最も低い場所にある試験用負荷をもう一つのM負荷(TMP7)に置き替える。扉貯蔵の空間の
高さ寸法が1 mを超える場合,中間前部のM負荷(TMP8)は,きょう体自体ではなく扉貯蔵の対応する
位置に配置する[図2 e)の“TMP8”ではなく“TMP8'”の位置]。
規定の数又は規定の位置にM負荷を配置することができない場合,規定の配置及び位置に可能な限り近
い数及び位置でM負荷を配置することによって,同等の結果を得る。
室の寸法が小さくて要求する間隔で規定の数のM負荷を配置できない場合,適宜数を減らして使用する。
M負荷の数又は配置が規定と異なる場合は,異なるM負荷の代替の数又は配置の詳細を,試験報告書
に記載する。
6.3.3.4.2
上開き形の室
角4か所並びに中央最上部,中央底部及び圧縮機の段の上部の試験用負荷をM負荷に置き替える。圧縮
機に段がない場合,この負荷は,最も温度が高いと考えられる底部の角又は端に配置する[図2のf)及び
g)参照]。
a) 側面断面図−負荷配置限界線
b) 側面断面図−自然な負荷配置限界
図1−冷凍室の試験用負荷の配置,隙間の指示
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c) 側面断面図−容器
d) 側面断面図−吐出口等から保持する隙間
e) 水平面だけに負荷配置
全ての水平寸法a,b,c,e,g,h,j,k及びmは,15 mm以上である。
全ての垂直寸法d,f,i及びlは,10 mm以上かつ60 mm未満である。
図1−冷凍室の試験用負荷の配置,隙間の指示(続き)
図2に用いられている記号を,次に示す。
a) 前開き形室
− TMP1:最上部前列左1)のM負荷
− TMP2:最上部後列右1)のM負荷
− TMP3:底部前列右1)のM負荷
− TMP4:底部後列左1)のM負荷
− TMP5:圧縮機の段のM負荷
− TMP6:扉最上部右1)のM負荷(扉が閉まっているとき)
− TMP7:扉底部左1)のM負荷(扉が閉まっているとき)
− TMP8:開口高さが1 m以上の場合の高さの中間,幅の中間のM負荷
− TMP8':背の高い室に扉貯蔵がある場合のTMP8の代替位置のM負荷
b) 上開き形室
− TMP9:最上部前列左のM負荷
− TMP10:最上部後列左のM負荷
9
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− TMP11:最上部前列右のM負荷
− TMP12:最上部後列右のM負荷
− TMP13:中央最上部のM負荷
− TMP14:中央底部のM負荷
− TMP15:圧縮機の上方,最も温度が高いと考える底部の角又は端のM負荷
注1) 図2 d)のように非対称で,TMP1を最上部前列右角に置いたほうがよい場合,全ての他のM負
荷を反対側へ交換する。すなわち,全ての“左”を“右”に,全ての“右”を“左”に交換す
る。
左及び右は,扉を閉めた状態の,きょう体を正面から見たときのものである。
a) 幅が245 mm未満の室
b) 幅が245 mm以上360 mm未満の室
c) 扉収納部をもつ室
図2−M負荷を含む冷凍室の試験用負荷の配置
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d) 固定製氷トレイラック,貯氷箱付き室のM負荷のミラーイメージ配置
e) 中間高さにM負荷を追加した背の高い室
図2−M負荷を含む冷凍室の試験用負荷の配置(続き)
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f) 上開き形の室
g) 上開き形の室(段付き)
図2−M負荷を含む冷凍室の試験用負荷の配置(続き)
6.4
試験手順
6.4.1
概要
全ての温度が表2に適合した後の試験期間は,通常約24時間である。“適合”と判定するためには,試
験期間全体を通して許容する逸脱も含め温度が表2に適合し,終了時の3時間ブロック(期間E)のそれ
ぞれの負荷の平均温度が開始時の3時間ブロック(期間S)の平均より適合基準を超えて高くなってはな
らない(図3参照)。
冷却機器に霜取り制御サイクルを備える場合,期間Sと期間Eとの間に霜取り及び復帰期間を含まなけ
ればならない。
6.4.2
詳細
全ての温度が表2に適合した後に,次の試験を開始する。
期間S及び期間Eの位置及びその長さは,表4に規定する。
12
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表4−期間S及び期間Eの要求事項
項目
温度制御サイ
クルの有無
霜取り制御サイクル
なし
24時間以内に開始する霜
取り制御サイクルが二つ
以上
24時間以内に開始する霜
取り制御サイクルが一つ
だけ
期間S及び
期間Eの長さ
無
それぞれ3時間以上
有
それぞれ合計3時間以上となる同じ整数の温度制御サイクルから構成する。
期間Sの位置
無
いつでもよい
霜取り及び復帰期間が開始する直前に終了する。
有
期間Eの位置
無
期間Sの開始から24時
間以上後に終了する。
期間Sの開始から24時間
以内に始まる最後の霜取
り及び復帰期間が始まる
直前に終了する。
期間Sの開始から24時間
以上後,かつ,次の霜取り
及び復帰期間が始まる前
に終了する。
有
期間Sの開始から24時
間以上後に進行中の温
度制御サイクルの終了
時に終了する。
期間Sの開始から24時間
以内に始まる最後の霜取
り及び復帰期間が始まる
前に完了する最後の温度
制御サイクルとともに終
了する。
期間Sの開始から24時間
以上後,かつ,次の霜取り
及び復帰期間が始まる前
に進行中の温度制御サイ
クルの終了時に終了する。
表4の補足説明は,次による。
− 温度制御サイクルのない冷却機器の期間S及び期間Eは,それぞれ3時間以上とする。期間Eは,期
間Sの開始から24時間以上後に終了するものとする。ただし,霜取り制御サイクルのある冷却機器
は,最後の霜取り及び復帰期間の開始が24時間以内の場合は,期間Eは,その直前に終了とする。
− 温度制御サイクルのある冷却機器の期間S及び期間Eは,それぞれ合計3時間以上となる同じ整数の
温度制御サイクルから構成する。期間Eは,期間Sの開始から24時間以上後の温度制御サイクルの
終了とともに終了する。ただし,霜取り制御サイクルのある冷却機器は,最後の霜取り及び復帰期間
の開始が24時間以内の場合,期間Eは,その直前の最後の温度制御サイクルの終了時に終了とする。
− 霜取り制御サイクルのある冷却機器の期間Sは,霜取り及び復帰期間が開始する直前に終了とする。
期間S及び期間Eの結果が6.4.3の適合基準に適合しない場合,期間Eを期間Sの開始より24時間を
超えて延長してよい。ただし,次の霜取り及び復帰期間までは延長してはならない。
試験の例を,次に示す。
例1 10時間の霜取り制御サイクルのある冷却機器の期間Sが3時間の場合,2度目の霜取り及び復
帰期間は試験の開始から13時間で始まり,3度目の霜取り及び復帰期間は試験の開始から23
時間で始まる。すなわち,期間Eは2度の完全な霜取り制御サイクルを含み,期間Sの開始後
約23時間で終了する。
例2 11時間の霜取り制御サイクルのある冷却機器の期間Sが3時間の場合,2度目の霜取り及び復
帰期間は試験の開始から14時間で始まり,3度目の霜取り及び復帰期間は試験の開始から25
時間で始まる。すなわち,試験は1度だけ完全な霜取り制御サイクルを含み,期間Sの開始後
約14時間で終了する。
例3 22時間の霜取り制御サイクルのある冷却機器の期間Sが3時間の場合,2度目の霜取り及び復
帰期間は試験の開始から25時間で始まる。すなわち,試験は1度だけ完全な霜取り制御サイク
ルを含み,期間Sの開始後約24時間で終了する。
不規則なサイクルの冷却機器は,必要に応じ,期間S及び期間Eの長さ,及びその間の時間を増やして
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よい。
図3−貯蔵試験の流れ
6.4.3
適合基準
全試験期間を通じて,許容する霜取り及び復帰期間の逸脱を含め全ての温度は,表2による。
期間Eの各測定点におけるM負荷の平均温度は,同じ測定点における期間Sの平均温度よりも0.2 Kを
超えて高くなってはならない。
6.5
貯蔵温度
冷却機器は,表2に規定する貯蔵温度並びに霜取り及び復帰期間の許容温度偏差を,それぞれの室にお
いて同時に維持する。
6.6
記録するデータ
該当する場合,次のデータは試験ごとに記録する。
a) 周囲温度
b) 使用者が調整可能な温度制御装置及び使用者が調整可能な他の制御装置,ダンパーなどの設定
c) 冷蔵貯蔵温度Tma,T1m,T2m及びT3mの値
d) 冷凍室について,期間Sにおける最も温度が高いM負荷[k)参照]の最大温度(基準温度),霜取り
及び復帰期間の間に基準温度を超える温度上昇の持続時間,並びに霜取り及び復帰期間の基準温度か
らの温度上昇
e) 期間S及び期間EのそれぞれのM負荷の平均温度及び最大温度(6.4.1参照)
f)
ゼロスター貯蔵温度Tzma,Tz1m,Tz2m及びTz3mの値
g) 記録した最大及び最小チラー室温度Tcciの値及びそれぞれのM負荷のTccimの値
h) セラー室Tcma,Tc1m,Tc2m及びTc3mの値(適宜)
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i)
パントリ室Tpma,Tp1m,Tp2m及びTp3mの値(適宜)
j)
全ての室の試験用負荷及びM負荷の配置を示す貯蔵計画の図(適宜)
k) これらの各室内及び任意のツースター区画で最も温かいM負荷の位置及び霜取り制御サイクルの結
果生じる全ての温度逸脱の間で最も温かいM負荷の位置を示す図又は表
l)
製造業者が宣言する各室タイプ又は室の部分のタイプ
7
冷却能力試験
7.1
目的
この試験は,内容積100 L当たり4.5 kgの負荷を25 ℃から10 ℃になるまで冷却するために要する時間
によって冷却能力を測定することを目的とする。
冷却能力試験における内容積は,表2に示す平均室温度が4 ℃となる室の内容積だけを対象とする。
7.2
セットアップ手順
7.2.1
周囲温度
周囲温度は25 ℃とする(JIS C 9801-1のA.3.2.3参照)。
7.2.2
設置
冷却機器は,JIS C 9801-1の附属書Bに従って試験室に設置する。
通常使用中に常時“オン”になる露付き防止ヒータをもつ冷却機器の場合,ヒータを動作した状態で試
験する。
使用者が手動で制御する露付き防止ヒータは,スイッチを“オン”にし,調整可能な場合は,ヒータが
最大発熱するように設定する。
自動制御の露付き防止ヒータは,通常の動作で行う。
冷却機器に附属する全ての内部アクセサリは,それぞれの位置に取り付ける。
試験用負荷を投入する前に全ての室を空にする。試験用負荷温度はJIS C 9801-1の附属書Dの規定に従
って測定する。
安定運転状態に達した後,冷蔵室(7.3参照)以外の全ての室の温度は,表2によるほか次による。
− 表2に温度下限値を規定していない各室の試験開始温度は,目標温度よりも2 Kを超えて低くなって
はならない。
− 各室の温度を個別に調節できない冷却機器において,上記の設定ができない場合,温度下限値を下回
って不適合となった室の温度をできる限り高くなるように設定する。
− 冷凍室においては,M負荷の平均庫内温度(Tfma)が目標温度に達しなければならない。
7.2.3
室の調整
使用者が,セラー室又はチラー室及び冷蔵室の内容積を互いに調整できる場合,冷蔵室をできる限り大
きい内容積に調整し,この内容積に基づいて試験を実施する。
7.2.4
棚の調整
M負荷を配置する三つの棚が調整できる場合,棚又は容器等の底に直接置いたM負荷の中心部と,JIS C
9801-1の附属書Dで規定する温度測定点TMP1,TMP2及びTMP3との垂直距離ができる限り小さくなるよ
うに棚を配置する。
試験用負荷は野菜用引出し,野菜容器又はこれに類する容器に置かない。ただし,引出し又は容器が冷
蔵室の中にある空間をほとんど占めている場合,引出し又は容器の底を棚とみなす。
試験用負荷は引出し又は容器の中の,次に規定する位置に置く。
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注記 野菜用引出し,野菜容器又はこれに類する容器を備えていない室においては,内部の容器又は
他の室との仕切りの底部を最も低い棚とする。
冷却機器が高さの低い冷蔵室を備え,三つの測定点に適した位置がとれない[例えばJIS C 9801-1の図
D.3のa)で示す]場合,TMP1及びTMP2を試験に用いる。
試験用負荷を置くために使わない棚で,調整できる棚は,冷却機器内に均一に分散する。この場合,選
択した位置が,できる限り試験用負荷の冷却時間に影響しないように注意する。
試験用負荷とその上に配置した棚又はバスケットとの間は,15 mmの最小垂直距離を維持する。
7.3
試験手順
7.3.1
一般
冷蔵室は,安定運転状態で平均庫内温度Tmaは,+4 ℃±0.5 ℃とする。平均庫内温度を範囲内に調整
できない場合,結果は二つの測定値から補間によって求める。この場合,一方の温度は目標温度より低い
温度にし,もう一方の温度は目標温度より高い温度にする。補間のために使用する二点の温度差は4 Kを
超えてはならない。
試験開始時に表2に従う安定温度に到達した後は,制御装置の設定変更はしない。
ただし,冷却機器が急速冷却機能を備えている場合は,負荷投入時に取扱説明書に従って動作してもよ
い。
注記 急速冷却機能を満足するための条件としては,その機能が自動で終了する。手動でサーモスタ
ットを“強”側にし,後で“弱”側に設定することは急速冷却機能とはみなさない。
試験用負荷及びM負荷は,JIS C 9801-1の附属書Cで規定している試験用負荷を用いる。
投入前の試験用負荷及びM負荷は,+25 ℃±0.5 ℃とする。
霜取り制御サイクルを備える冷却機器は,霜取り及び復帰期間の後に安定状態となり,温度要求事項を
満たしたときに試験用負荷を投入する。この試験は,霜取り及び復帰期間と重複しないことが望ましい。
試験用負荷は室に迅速に配置する。試験用負荷の配置上必要がある場合,測定点TMP1,TMP2及びTMP3
の測定用メタルは,取り外し又は横に移動してもよい。
全てのM負荷の瞬時の温度の算術平均が+10 ℃に達するまでM負荷の温度を記録する。また,この温
度に達するまでに要する時間も記録する。
7.3.2
冷蔵室内の試験用負荷の配置
試験用負荷は冷蔵室の内容積100 L当たり4.5 kgとする。計算結果は0.5 kg単位に丸める。
できる限り各棚に同数の試験用負荷を配置する。端数が出る場合は,底から開始して一つの棚に対して
1個の試験用負荷を配置する。また,各棚の試験用負荷数の差は,1個以内とする。
試験用負荷は冷却機器内では水平に配置する。すなわち,棚(室,ケース又はバスケットの底面)に試
験用負荷の最大面が直接接触する。
水平方向の試験用負荷間の空隙はそれぞれ同じ寸法とする。負荷間,負荷と壁又は固定壁のある容器と
の空隙の最小寸法は,前後左右ともに15 mmとする。棚に備えた冷気循環用の開口部を試験用負荷で覆っ
てはならない。また,試験用負荷は棚の端からはみ出してはならない。
試験用負荷の最初の層は各棚の幅,奥行き方向で均等に配置し,前後の中心線に対し対称になるように
調整する(図4参照)。非対称であるため対称の配置ができない場合は,できる限り対称にする。
棚への負荷配置時に規定の位置へ物理的に調整ができない場合,規定に最も近い代わりの位置を選ぶ(例
えば,幅の等しい二つの容器によって分割している貯蔵部の場合,圧縮機の段の前で棚の奥行きが360 mm
以下の場合。)。また,配置した試験用負荷の位置を記録する。
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試験用負荷は最大3×3の構成で配置する。すなわち,どの層にも9個を超えて試験用負荷を配置しない。
各棚の最初の層に最大数の試験用負荷を配置し,さらに試験用負荷を置くことが必要な場合,2番目の
層を最初の層と同じ手順で積み重ねる。試験用負荷は垂直に積み重ねる。すなわち,それぞれ積み重ねた
試験用負荷は下の試験用負荷に対しずらさない。
注記 この箇条は,試験用負荷の位置をどのようにして選ぶかを記載している。試験時に配置する順
番についての記載ではない。
7.3.3
M負荷
合計負荷が3 kg以上となる場合,6個のM負荷を使用する。合計負荷が3 kg以下の場合,M負荷だけ
を使用する。最大2個のM負荷を各々三つの棚の一番下の層に配置する。
4個以上の試験用負荷を使用する場合,M負荷は図4に示すように負荷配置の外側で対角線上に配置す
る(7.3.2参照)。
M負荷は各棚の一番下の層だけに配置する。これより上の層が必要となる場合は,試験用負荷だけで構
成する。
対角に置いたM負荷の位置は各棚で交互に配置する。
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記号を付けた全ての寸法は15 mm以上とする。
図4−冷却能力試験の試験用負荷及びM負荷の配置(上面断面図)
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7.4
記録するデータ
次のデータを記録する。
a) 試験用負荷質量(kg)
b) 試験する冷蔵室の内容積(L)
c) 冷却時間(h,小数第1位まで)
d) 規定と異なる棚,引出し又はケースの位置
e) 規定と異なる試験用負荷の位置
f)
設定した何らかの急速冷却機能
8
冷凍能力試験
8.1
目的
この試験の目的は,フリーザー室の冷凍能力を測定することである。8.5の適合基準を満たす場合,その
室をフォースター室とみなす。
8.2
方法の概要
軽負荷投入用に空けておく空間を除いて,安定負荷用の試験用負荷を,貯蔵試験(箇条6参照)と同様
に,冷凍室に積み重ねる。冷却機器は,表2に従って温度が安定するまで運転する。次に,+25 ℃の試
験用負荷を追加投入する。これは,一般にいう軽負荷のことで,冷凍しようとする食料品を模擬している。
軽負荷は,−18 ℃で動作する室の内容積100 L当たり3.5 kgである。 この負荷を−18 ℃にまで冷却する
時間を測定する。これが24時間以内に達成し,かつ,8.5の適合基準を満たす場合,フォースター室とみ
なすことができる。
注記 冷凍室の負荷の積重ねは,大部分が貯蔵試験と同じであるため,これらの試験を連続して行う
ことは有用である。
8.3
手順
8.3.1
周囲温度
周囲温度は25 ℃とする(JIS C 9801-1のA.3.2.3参照)。
8.3.2
冷却機器の準備
8.3.2.1
一般
冷却機器をJIS C 9801-1の附属書Bに従って設置する。
空間内に室タイプが複数あって,使用者が内容積のバランスを調整できる場合,最も低温の空間の内容
積が最大になるように調整してこの試験を実施する。
通常使用中に常時“オン”になる露付き防止ヒータをもつ冷却機器の場合,ヒータを動作した状態で試
験する。
使用者が手動で制御する露付き防止ヒータは,スイッチを“オン”にし,調整可能な場合は,ヒータが
最大発熱するように設定する。
自動制御の露付き防止ヒータは,通常の動作で行う。
冷却機器は空の状態でセットアップし,表2で規定する温度又はそれに近い温度で,平衡状態に達する
まで運転する。
8.3.2.2
チラー室及び0 ℃を超える温度で動作する全ての室の温度の測定
試験中,チラー室の温度は測定しない。しかし,貯蔵試験(6.3.2参照)と同様に,試験用負荷を積み重
ねる。通常,0 ℃を超える温度で動作する室の貯蔵温度の測定は,JIS C 9801-1の附属書Dに従って空気
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温度センサを配置するが,測定用メタルの代わりに,M負荷を用いる。
8.3.3
冷却機器の負荷の積重ね
8.3.3.1
冷凍室の安定負荷
8.3.3.1.1
一般
当該の−18 ℃の室に軽負荷投入用に空けておく空間を除いて,安定負荷用の試験用負荷を室と同様の温
度に冷やしてから,貯蔵試験(箇条6参照)と同様に,冷凍室に積み重ねる。
−18 ℃の室において,軽負荷投入用の空間を残しておくために,軽負荷1個に対して最大3個まで,安
定負荷を積み重ねなくてもよい。
取扱説明書に,食品凍結用の独立した区画がある旨を記載している場合,この区画は軽負荷を使用する。
8.3.3.1.2
軽負荷投入用の空間を確保するために配慮する安定負荷内のM負荷の配置
安定負荷内のM負荷は,軽負荷投入用の空間を除き,貯蔵試験で規定する位置にできる限り近い位置に
配置するとともに,貯蔵試験と異なる新たな位置に配置する場合,その位置も記録する。安定負荷の積重
ねが軽負荷の近隣にある場合,軽負荷に前後左右で隣接する積重ねのうち,1個以上の積重ねの一番上に
ある試験用負荷を,M負荷の1個に置き替える。安定負荷が軽負荷の上側にある場合,軽負荷の直上の層
の中心にある試験用負荷を,M負荷の1個に置き替える。安定負荷が軽負荷の下側にある場合,軽負荷の
直下の層の中心にある試験用負荷を,M負荷の1個に置き替えてもよい。
8.3.3.2
独立したスリースター室を備えた冷却機器
冷却機器が,外側から操作できる専用の扉又は蓋が付いた独立したスリースター室を備えており,かつ,
凍結前に,既に貯蔵中の冷凍食品をその室に入れ替えることによって,新たに凍結する食品負荷を受け入
れるための空間をフリーザー室に確保することを取扱説明書で推奨している(つまり,スリースター室を
フリーザー室の延長とみなす)場合,次の条件を満足するとき,この使用方法に基づいた冷凍時間を要求
することができる。
a) この使用方法に従って試験をするとき,宣言した冷凍時間を立証し,かつ,該当する場合,他の室の
温度要求事項[8.5のa)〜g)参照]を,冷凍能力試験中,満足している。
b) フリーザー室で凍結した軽負荷が,フリーザー室とスリースター室との合計内容積100 L当たり3.5 kg
以上である。
軽負荷投入用の空間を確保する目的で積重ねを免除する安定負荷用の試験用負荷は,最大3個までの規
定によって,フリーザー室に積み重ねたままとなる安定負荷も幾つかある。
8.4
試験手順
8.4.1
開始条件
関連する全ての調節装置を要求事項に従って調節した後,負荷を配置した冷却機器を安定運転状態に達
するまで運転する。
安定運転状態に達した後,庫内温度は,表2による。ただし,表2に温度下限値を規定していない各室
の試験開始温度は,目標温度よりも2 Kを超えて低くなってはならない。
各室の温度を個別に調節できない冷却機器において,上記の設定ができない場合,温度下限値を下回っ
て不適合となった室の温度をできる限り高くなるように設定する。
表2において,左から右への温度の並び順が,設定する温度条件の優先順位も示す。
状況によっては,8.4.2で規定する安定化の前に,ここで規定する安定化の実行が不要な場合がある。
8.4.2
調節装置の設定
冷却機器に予冷(急速冷凍)運転の手段を備えている場合,8.4.1に従った安定運転状態に達した後で,
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取扱説明書に従って,冷却機器が予冷運転をするように設定する。その後,8.4.3に規定する手順を実施す
る。
取扱説明書に予冷についての特別な指示がない場合,8.4.1の温度要求事項に従って冷却機器が安定運転
状態に達した後,8.4.3の手順を実施する。
8.4.3
軽負荷の凍結
8.4.2に規定する状態を達成した後,軽負荷を投入する。霜取り制御サイクルを備える機器は,霜取り及
び復帰期間後に安定運転状態に回復し,かつ,温度要求事項に適合したタイミングで,軽負荷を投入する。
この試験は,霜取り及び復帰期間と重複しないことが望ましい。軽負荷を投入する前に安定運転状態が達
成した後は,8.4.2を除き,手動の調節装置の設定変更は許可しない。
軽負荷は,ツースター区画を除いた全てのフリーザー室の総内容積100 L当たり3.5 kgとする。負荷量
の計算値は,最も近い0.5 kgに丸め,全ての場合で2.0 kg以上とする。
軽負荷は,あらかじめ事前に+25 ℃±1 ℃の温度にしておく。
軽負荷用の試験用負荷は,製造業者の指示及び負荷貯蔵計画(箇条6参照)の要求事項を考慮して,平
らに配置する。指示がない場合,試験用負荷はできる限り速く凍結するであろう位置に配置する。
軽負荷は,安定負荷から15 mm以上離す。隣接する試験用負荷の積重ねの間は,スペーサを用いること
を許容するが,その他の方法は許容しない(6.3.3.2参照)。
M負荷を軽負荷全体にわたって均一に分散し,1個以上は軽負荷の幾何学的中心に,できる限り近い位
置に配置する。M負荷の数量は,軽負荷3 kgにつき1個,最少でも2個とする。
8.4.4
この段階で記録する試験データ
安定負荷内及び軽負荷内のM負荷の温度を記録する。フリーザー室以外の室がある場合,その室のM
負荷温度も記録する。これは,軽負荷内の全てのM負荷の瞬時温度の算術平均が,−18 ℃以下に達する
まで行う。また,この温度に達するのに要した時間も記録する。
8.5
フォースター室の適合基準
フォースター室の適合基準は,軽負荷内の全てのM負荷の瞬時温度の算術平均が24時間以内に−18 ℃
以下に達し,かつ,次による。
a) 霜取り及び復帰期間がこの試験と重複していない場合,安定負荷の最も高いM負荷の最高温度が−
15 ℃以下になり,かつ,試験終了時点で,安定負荷の最も高いM負荷の最高温度が−18 ℃以下にな
る。
b) 霜取り及び復帰期間がこの試験と重複している場合,安定負荷中のM負荷の最高温度が,霜取り及び
復帰期間中は−12 ℃以下になり,かつ,試験終了時点で,安定負荷の最も高いM負荷の最高温度が
−18 ℃以下になる。
c) 8.3.3.2に従わない独立したスリースター室内の最も高いM負荷の最高温度が−18 ℃以下になる。さ
らに,表2に規定する霜取り及び復帰期間中の温度上昇も許容する。
d) ツースター区画又はツースター室の最も高いM負荷の最高温度が−12 ℃以下になる。さらに,表2
に規定する霜取り及び復帰期間中の温度上昇も許容する。
e) ワンスター室内の最も高いM負荷の最高温度が,−6 ℃以下になる。
f)
試験中,常に,冷蔵室の瞬時温度T1,T2及びT3が,−1 ℃〜+10 ℃の間になり,かつ,冷蔵室の瞬
時温度の平均値Taが,+7 ℃を超えない。
g) セラー室の瞬時温度Tc1,Tc2及びTc3が,適宜(セラー室の高さによって,測定点が3点の場合もあれ
ば,2点の場合もある。),0 ℃を下回らない。
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8.6
記録するデータ
記録するデータは,次による。
a) 安定負荷の質量(kg)
b) 軽負荷の質量(kg)
c) 軽負荷の冷凍時間(h)
d) この試験に関係する各室の内容積(L)
e) 軽負荷の冷凍能力試験中に安定負荷内のM負荷で測定した最高温度,並びにスリースター室,ツース
ター区画又はツースター室,及びワンスター室内のM負荷で測定した最高温度,及び−18 ℃(ツー
スター区画又はツースター室がある場合は−12 ℃)を超えた温度の逸脱時間及び霜取り制御サイクル
の期間(表2参照)
f)
該当する場合,T1,T2及びT3並びにTc1,Tc2及びTc3の最高温度及び最低温度
g) 全ての温度調節装置の設定及び該当する場合はタイマの設定
h) 安定負荷及び軽負荷についてM負荷の位置及び最も温度の高いM負荷の位置を示す負荷配置図
i)
凍結時に,フリーザー室を連続運転に設定し,その後,自動的に温度調節器による運転に復帰するよ
うにした装置を冷却機器が備えている場合,フリーザー室が温度調節器による運転に復帰するまでの
時間
j)
軽負荷量が内容積100 L当たり3.5 kg以上であって,全ての場合が2.0 kg以上であり,冷凍時間が24
時間以内であるか否か。
k) 12時間当たりの (kg/12 h)
9
自動製氷能力試験
9.1
目的
この試験は冷却機器の自動製氷機能の製氷能力の算出を目的とする。
9.2
手順
9.2.1
周囲温度及び水温
周囲温度及び給水温度は,25 ℃とする(JIS C 9801-1のA.3.2.3参照)。
冷却機器が給水口に接続している場合,給水口温度は冷却機器への接続点で測定する。
9.2.2
冷却機器の準備
冷却機器は,JIS C 9801-1の附属書Bによって設置する。
全ての室は空とする。庫内の平均温度はJIS C 9801-1の附属書Dの規定によって測定する。
通常使用中に常時“オン”になる露付き防止ヒータをもつ冷却機器の場合,ヒータを動作した状態で試
験する。
使用者が手動で制御する露付き防止ヒータは,スイッチを“オン”にし,調整可能な場合は,ヒータが
最大発熱するように設定する。
自動制御の露付き防止ヒータは,通常の動作で行う。
冷却機器に附属する全ての内部アクセサリはそれぞれの位置に取り付けるが,手動で水を満たす製氷ト
レイは取り外す。
安定運転状態に達した後の温度は表2による。ただし,表2に温度下限値を規定していない各室の平均
開始温度は,目標温度よりも2 Kを超えて低くなってはならない。
各室の温度を個別に調節できない冷却機器において,上記の設定ができない場合,温度下限値を下回っ
12
×
冷凍時間
軽負荷
冷凍能力=
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C 9801-2:2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
て不適合となった室の温度をできる限り高くなるように設定する。
セラー室は内容積を調整可能な場合,できる限り小さくし,取扱説明書に従って温度制御装置(例えば,
フラップ)を設定するか,又は取扱説明書がない場合は表2の温度に達するように設定する。
冷却機器が自動霜取り制御サイクルを備えている場合,自動霜取り制御は動作したままとするが,製氷
試験は霜取り及び復帰期間と重複しないことが望ましい。
9.2.3
試験手順
9.2.3.1
水道直結タイプ
水道直結タイプの自動製氷機は,取扱説明書に従って,25 ℃±1 ℃の温度の給水源に接続する。製氷能
力試験の開始前に,自動製氷機は,適正な動作を保証するだけの十分な時間運転する。貯氷箱に水が流れ
込んだ痕跡があってはならない。
サイクル運転製氷機の場合,試験は1サイクルの給水完了時に開始する。連続(サイクル運転製氷なし)
製氷装置の場合,定常製氷運転状態が確立した後には,いつ試験を開始してもよい。貯氷箱は空にし,試
験開始時に再配置する。
この試験は,連続形の製氷機は12時間以上の間,サイクル運転形の製氷機は12時間に加えてさらに整
数回の製氷サイクルが完了するまで,中断なく継続する。
試験を中断なく継続するため氷を貯氷箱から取り出した場合,取り出した氷の質量を測定し,試験終了
時の貯氷箱内の氷の質量に加える。
試験終了時の貯氷箱内の氷の質量を測定する。貯氷箱に水が入り込んだ痕跡がある場合,試験は1回以
上繰り返す。この状態が続く場合,試験を停止し,試験報告書に記載する。
試験期間を24時間当たりの製氷能力(kg/24 h)の計算に用いるために記録する。
9.2.3.2
タンクタイプ
自動製氷機の場合は正しい動作を保証するために,製氷能力試験を開始する前に,初期温度が25 ℃±
1 ℃で300 gの水をタンクに入れて,タンクの水が最低水位に達し新たな氷が作れなくなるまで12時間以
上の間,運転する。貯氷箱に水が入り込んだ痕跡があってはならない。
貯氷箱が備わっている扉を開け,貯氷箱内の氷は取り除く。扉は1分間開いたままにする。
タンクは,取扱説明書で規定する最大の量の水(25 ℃±1 ℃)で満たす。タンクは再度設置する。タン
クを取り外してから再度取り付けるまでの時間は1分未満とする。タンクを設置する室の扉は1分間開い
たままにする。
試験の開始は,タンクを再設置した後,製氷機の製氷皿を最初に水で満たした時点とする。
この試験は,連続形の製氷機は12時間以上の間,サイクル製氷形の製氷機は12時間に加えてさらに整
数回の製氷サイクルが完了するまで,中断なく継続する。試験完了時に貯氷箱内の氷の質量を測定する。
このサイクルは製氷皿の下の温度を測定することによって確認することができる。
試験期間を24時間当たりの製氷能力(kg/24 h)の計算に用いるために記録する。
9.3
記録するデータ
試験ごとに,次のデータのうち該当するものを記録する。
a) 製氷機のタイプ,形式,製造番号
b) 試験開始時の各室の平均温度(℃)
c) 24時間当たりの製氷能力(kg/24 h)
d) 温度調節設定
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附属書A
(規定)
プルダウン試験
A.1 一般
この試験は,特に高外気温での冷却機器の能力の測定を目的とする。この試験は,独立したワイン貯蔵
庫又は冷却機器がもつワイン貯蔵室には適用しない。
A.2 方法概要
この試験は,内部を含めた冷却機器全体が,43 ℃の試験室と熱的平衡が取れた後に開始する。冷却機器
の電源を入れ,各室が表A.1で規定するプルダウン温度に達するまでの時間を測定する。
A.3 セットアップ手順
A.3.1 試験室温度
試験室の温度は温度安定期間から試験終了まで43 ℃に設定する。温度は42.5 ℃以上に維持するが,製
造業者が宣言する性能を検証するときは43.0 ℃±0.5 ℃に維持する。
A.3.2 据付け
冷却機器はJIS C 9801-1の附属書Bによって設置する。
A.3.3 部品の取外し
圧縮機の保護装置の取外し又は短絡をしない。プルダウン試験中の冷却システムの連続動作を妨げるお
それがあり,使用者が調整可能な装置は,無効にするか又は試験が継続する間冷却システムが連続動作す
るように設定する。この試験中の連続動作を保証するように温度制御装置を設定し,可能で必要な場合は
自動霜取りシステムを無効にする。霜取りシステムを無効にすることで性能が低下する場合,製造業者の
初期設定又は推奨位置に温度制御装置を設定する。
A.3.4 使用者が調整可能な機能
使用者が調整可能な温度制御装置及びバッフルは最適な結果を得るように設定する。
切替室がある場合は,製造業者が宣言した最も低温の室タイプの温度規定を満足する範囲で最適な結果
を得るように設定する。
例外として,便利機構の温度制御装置及びバッフルは最も低温になるよう設定する。
A.3.5 内装部品
取扱説明書にかかわらず,道具を用いずに取り外せるアイスブリックのような蓄熱部品は,試験中は取
り外す。
その他全ての内装部品は,JIS C 9801-1のB.2.5.1の規定に従って設置又は取り外す。
製氷トレイを試験中は空とする。
A.3.6 室温度の決定
空気温度用センサは,JIS C 9801-1の附属書Dで規定する位置に配置する。ただし,温度測定が不要な
ゼロスター室は除く。
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C 9801-2:2015
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A.4 試験手順
A.4.1 一般
試験手順を次に示す。
A.4.2 熱的平衡
43 ℃の試験室で冷却機器の電源を切り,全ての扉及び蓋を開放し,周囲温度に到達するまで放置する。
注記 経験的に,熱的平衡となるためには試験室で冷却機器のドアを開けて6時間以上必要となる。
電源は入れずに扉を閉める。30分以上の期間,冷却機器が次のプルダウン試験開始条件を満たしている
ことを確認する。試験開始条件を次に示す。
a) 各室の平均温度は0.3 ℃を超えて変化していない。
b) 各室の平均温度は次による。
1) 冷却機器の性能を測定するための試験では,各室の平均温度を43 ℃以上とする。
2) 製造業者が宣言する性能を検証するための試験では,各室の平均温度を43 ℃以下とする。
A.4.3 プルダウン
冷却機器の電源を入れ,全ての室の同時平均庫内温度(瞬時値)が表A.1にある該当するプルダウン温
度以下になるまで運転する。
注記 プルダウン試験中,庫内の温度は連続的に下がるため,庫内温度の瞬時値は,その時の室又は
副室の全ての測定点の温度の算術平均である。
A.5 試験終了点
全ての室の同時平均庫内温度(瞬時値)が,該当するプルダウン温度以下になった後に試験を終了する。
表A.1に各室タイプのプルダウン温度を規定する。
表A.1−室タイプのプルダウン温度
室タイプ
プルダウン温度
℃
パントリ
20
セラー
15
冷蔵室
8
チラー
6
ゼロスター
要求しない
ワンスター
−1
ツースター
−7
スリースター,フォースター
−12
A.6 記録するデータ
試験ごとに,次のデータのうち該当するものを記録する。
a) 試験を開始してから,全ての室が表A.1に示す目標温度以下になるまでの期間(h)
b) 試験終了時の各室の同時平均庫内温度(℃)
c) 該当する場合,変更した全ての空気温度センサの位置(JIS C 9801-1の附属書D参照)
d) 選択した切替室の設定
e) 使用者が調整する全ての室のバッフルの位置(便利機構の空間も含む。)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
f)
全ての温度調節装置の設定
g) 使用者が調整する,その他全てのスイッチ及び制御の設定
h) 試験のために冷却システムが連続動作するように設定した手段(取外し,短絡又は調整)
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附属書B
(規定)
ワイン貯蔵機器及び室の貯蔵試験
B.1
目的
この試験は,該当する気候クラスについて,各周囲温度(JIS C 9801-1のA.3.2.3参照)における,この
規格の要求事項への適合の確認を目的とする。
B.2
貯蔵温度
この附属書で規定する条件でワイン貯蔵機器は,該当する気候クラスについて次に規定するように,全
ての室内において要求する貯蔵温度(許容する霜取り及び復帰期間の逸脱を含め)を同時に維持する。
貯蔵温度要求事項
ワイン貯蔵室の温度範囲
Twim:+5 ℃≦Twim≦+20 ℃
ワイン貯蔵室の温度は,次の温度に冷却できなければならない。
Twma:Twma≦+12 ℃
ワイン貯蔵機器又は室が,この試験中12 ℃以下に到達しない場合,ワイン貯蔵機器又は室とはいえな
い。一つの冷却機器に複数のワイン貯蔵室を備える場合,貯蔵温度要求事項を満足する範囲内であれば,
ワイン貯蔵室ごとに温度設定範囲を設定できる。例えば,二つの室を備えるワイン貯蔵機器で,一つが6 ℃
〜14 ℃と設定し,もう一つが10 ℃〜18 ℃と設定した場合,この要求事項に適合する。
霜取り及び復帰期間の間,ワイン貯蔵室の温度はその室の平均温度Twmaより1.5 Kを超えて上昇しては
ならない。
注記1 これは表2の注b)で許容しているものよりも小さな値である。
注記2 自動霜取り制御サイクルの一例は,JIS C 9801-1の図1に示されている。
B.3
室の温度の測定
これらの室の貯蔵温度を測定する場合,M負荷はJIS C 9801-1のG.6に従って配置する。
B.4
冷却機器の準備
JIS C 9801-1の附属書Bに従って試験室に設置するワイン貯蔵機器が,温度調節装置を備えている場合,
装置は該当する周囲温度で通常動作するよう製造業者が推奨する位置に設定する。使用者による装置の調
整ができない場合,測定は出荷状態で行う。温度調節装置は再調整することができる。
ワイン貯蔵機器が複数のワイン貯蔵室を備え,使用者が室の内容積を互いに変更できる場合,試験室温
度より最も離れた温度の室が最大容積になるように調整する。
ワイン貯蔵室の内容積が,ワイン貯蔵室より温度の低い表2で規定する室タイプに調整できる場合,ワ
イン貯蔵室の内容積は最小になるように調整する。
ワイン貯蔵室が単一の温度と複数の温度域とに設定できる場合,単一の温度に設定して試験を行う。
通常使用中に常時“オン”になる露付き防止ヒータをもつ冷却機器の場合,ヒータを動作した状態で試
験する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
使用者が手動で制御する露付き防止ヒータは,スイッチを“オン”にし,調整可能な場合は,ヒータが
最大発熱するように設定する。
自動制御の露付き防止ヒータは,通常の動作で行う。
B.5
測定
B.5.1 一般
温度制御装置及びその他の制御装置を備えている場合は,安定運転状態に達した後,必要に応じてこの
箇条の要求事項に従った貯蔵温度になる位置に調整する。
B.5.2 適合条件
次の条件に適合しなければならない。
− 冷凍又は冷却能力試験中を除き,全試験期間中の各ワイン貯蔵室の各測定点での全ての温度Twiの振
幅の平均値は±0.5 K以内とする(JIS C 9801-1のG.7参照)。
− 冷凍又は冷却能力試験中,全試験期間中の各ワイン貯蔵室の各測定点での全ての温度Twiの振幅の平
均値が±1.5 K以内とする(JIS C 9801-1のG.7参照)。
− 積分時間平均温度Twimは+5 ℃〜+20 ℃とする。Tw1m,Tw2m及びTw3mの算術平均温度Twmaは,+12 ℃
以下とする(JIS C 9801-1のG.3.1参照)。
B.6
記録するデータ
試験ごとに,次のデータのうち該当するものを記録する。
a) 周囲温度(℃)
b) 各周囲温度について,温度制御装置及びその他の制御装置を備えている場合は,その設定(使用者が
調整する場合)
c) 各周囲温度について,ワイン貯蔵温度Twma,Tw1m,Tw2m及びTw3mの値(℃)
d) 各周囲温度について,各測定点における全ての温度振幅の平均(K)
e) 各周囲温度について,室の湿度の時間平均(%)
f)
配置可能な標準ボトルの数(JIS C 9801-1のG.5.2参照)
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附属書C
(規定)
温度上昇試験
C.1 目的
この試験は,スリースター又はフォースター室を一つ以上備える冷却機器内の試験用負荷の温度上昇の
時間の確認を目的とする。
C.2 手順
C.2.1 周囲温度
周囲温度は25 ℃とする(JIS C 9801-1のA.3.2.3参照)。
C.2.2 冷却機器の準備
冷却機器はJIS C 9801-1の附属書Bに従って設置する。
冷却機器は,安定してから貯蔵試験の場合と同様に試験用負荷を加えた状態にする(箇条6参照)。
C.2.3 冷却機器の動作
冷却機器は,全ての冷凍室が表2に規定する温度以下になるまで制御装置を設定し運転する。
C.3 試験期間及び測定
冷却機器の電源は,安定運転状態に達した場合に遮断する。自動霜取り方式の冷却機器の場合,霜取り
制御サイクルの安定期間で遮断する。
スリースター又はフォースター室内の最も温かいM負荷が−18 ℃に達したときの時間及びこれらの室
内のM負荷のいずれかが最初に−9 ℃に達した時間を記録する。
注記 最初に−18 ℃に到達したM負荷は,最初に−9 ℃に到達しない可能性がある。
C.4 温度上昇時間
温度上昇時間は,C.3で規定する二つの時間の差とする。
C.5 記録するデータ
試験ごとに,次のデータのうち該当するものを記録する。
a) 周囲温度(℃)
b) −18 ℃から−9 ℃への温度上昇時間(h)
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附属書D
(規定)
結露試験
D.1 目的
この試験は,指定の周囲条件下での冷却機器の外表面における露付きの程度の確認を目的とする。
D.2 手順
D.2.1 周囲温度
周囲温度は,25 ℃とする。
D.2.2 相対湿度
露点温度の時間平均値は,19 ℃±0.5 ℃とする。
試験中に記録した露点温度の標準偏差の2倍が0.5 K未満とする。
周囲温度,露点温度,相対湿度及び湿球温度の関係を表D.1に示す。
表D.1−湿度変換
周囲温度
露点温度
相対湿度
湿球温度
(気圧1 013.25 hPa)
25 ℃
19 ℃
69.3 %
21.3 ℃
D.2.3 冷却機器の準備
冷却機器はJIS C 9801-1の附属書Bに従って設置する。
平均庫内温度はJIS C 9801-1の附属書Dに従って算出する。試験全体を通して平均庫内温度はJIS C
9801-3の表1の消費電力量試験の目標温度以下とする。
D.2.4 冷却機器の動作
使用者が“オン”又は“オフ”する露付き防止ヒータを備える場合,これらは“オフ”にする。ただし,
水滴の流下が冷却機器の外部で発生する場合は露付き防止ヒータを“オン”にし,調整できる場合は最大
発熱に設定して再試験する。自動制御の露付き防止ヒータは,通常の動作で行う。
半自動制御の露付き防止ヒータを備える冷却機器の露付き防止ヒータの設定又は調整は,試験依頼者又
は機関が要求したとおりに実施する。
D.2.5 試験期間
安定運転状態に達した後,冷却機器の全ての外表面は清潔な布で水気を拭き取り,試験は24時間継続す
る。観察期間は結露が最も起こりやすい期間を選択する。
D.3 観察
試験期間中,曇り,水滴及び水滴の流下が生じた外表面の部分の概要を記載し,それぞれ“A”,“B”,
“C”の文字でコード化する(図D.1参照)。
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C 9801-2:2015
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D.4 記録するデータ
試験ごとに,次のデータのうち該当するものを記録する。
a) 試験中に発生した全ての外表面の水滴の流下部分の略図又は図D.1に示すコード
b) 選択した試験期間
c) 観察期間
d) 使用者が“オン”又は“オフ”する露付き防止ヒータの“オン”又は“オフ”の状態。また,“オン”
にした場合,D.2.4に従って行った調整内容
e) 半自動露付き防止ヒータ制御装置の有無,設定及び機能
f)
自動露付き防止ヒータ制御装置の有無及び機能
記号
A:曇り
B:水滴
C:水滴の流下
図D.1−結露コード
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C 9801-2:2015
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附属書JA
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 9801-2:2015 家庭用電気冷蔵庫及び電気冷凍庫の特性及び試験方法−第2
部:性能要求事項
IEC 62552-2:2015,Household refrigerating appliances−Characteristics and test
methods−Part 2: Performance requirements
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4.7
表1
貯蔵試験の周囲温
度
4.7
表1
JISとほぼ同じ
変更
国際規格では,様々な温度とし
たが,この規格では,+16 ℃
及び+32 ℃を採用した。
JIS C 9801-1で我が国の気候クラ
スをNと規定しているため,この
規格では,+16 ℃及び+32 ℃で
試験を行うこととした。
結露試験の周囲温
度
4.7
表1
JISとほぼ同じ
変更
国際規格では,+25 ℃又は+
32 ℃を選択することとした
が,この規格では,+25 ℃だ
けを採用した。
JIS C 9801-1で我が国の気候クラ
スをNと規定しているため,この
規格では,+25 ℃で試験を行う
こととした。
7.1
冷却能力試験にお
ける冷蔵室内容積
7.1
JISと同じ
追加
国際規格において7.1で対象と
する冷蔵室の内容積は,平均温
度が+4 ℃となる室の内容積
であるため,これにJISを整合
させた。
我が国では,冷凍室を除く全ての
室の内容積の合計を冷蔵室内容
積と定義しているため,国際規格
に整合するよう補足説明を追加
した(JIS C 9801-1の3.4.6C参
照)。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価: IEC 62552-2:2015,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
2
C
9
8
0
1
-2
:
2
0
1
5
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