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C 9300-10:2018  

(1) 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 用語及び定義 ··················································································································· 3 

4 一般的試験要求 ················································································································ 4 

4.1 試験条件 ······················································································································ 4 

4.2 測定装置 ······················································································································ 4 

4.3 擬似電源回路網 ············································································································· 4 

4.4 電圧プローブ ················································································································ 4 

4.5 アンテナ ······················································································································ 4 

4.6 負荷・減結合回路網 ······································································································· 4 

5 エミッション及びイミュニティのための試験時の配置 ····························································· 5 

5.1 一般 ···························································································································· 5 

5.2 負荷 ···························································································································· 7 

5.3 附属装置 ······················································································································ 8 

6 エミッション試験 ············································································································· 9 

6.1 RFエミッション試験のための分類(RF装置のクラス) ······················································· 9 

6.2 試験条件 ······················································································································ 9 

6.3 エミッションの許容値 ··································································································· 10 

7 イミュニティ試験 ············································································································ 14 

7.1 分類 ··························································································································· 14 

7.2 試験条件 ····················································································································· 14 

7.3 イミュニティ性能判定基準 ····························································································· 14 

7.4 イミュニティレベル ······································································································ 15 

8 買い手及び使用者のための文書 ·························································································· 16 

附属書A(参考)設置及び使用 ······························································································ 18 

附属書B(参考)許容値 ······································································································· 20 

附属書C(参考)シンボル ···································································································· 25 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 26 

C 9300-10:2018  

(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本溶接協会(JWES)及び一

般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 9300の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 9300-1 第1部:アーク溶接電源 

JIS C 9300-3 第3部:アーク起動及びアーク安定化装置 

JIS C 9300-5 第5部:ワイヤ送給装置 

JIS C 9300-6 第6部:限定使用率アーク溶接装置 

JIS C 9300-7 第7部:トーチ 

JIS C 9300-10 第10部:電磁両立性(EMC)要求事項 

JIS C 9300-11 第11部:溶接棒ホルダ 

JIS C 9300-12 第12部:溶接ケーブルジョイント 

JIS C 9300-13 第13部:溶接クランプ 

日本工業規格          JIS 

C 9300-10:2018 

アーク溶接装置− 

第10部:電磁両立性(EMC)要求事項 

Arc welding equipment-Part 10: EMC requirements 

序文 

この規格は,2014年に第3版として発行されたIEC 60974-10及びAmendment 1:2015を基とし,我が国

の実態に合わせるため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。ただし,追補(amendment)

については,編集し,一体とした。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

適用範囲 

この規格は,アーク溶接及び関連プロセスのために用いる装置(以下,アーク溶接装置という。)の電磁

両立性に関する,次の要求事項及び試験方法について規定する。 

a) 無線周波数(RF)エミッションに対する要求事項及び試験方法 

b) 高調波電流エミッション,電圧変動及びフリッカに対する要求事項及び試験方法 

c) 静電気の放電を含む伝導及び放射による連続的及び過渡的な妨害波に対するイミュニティの要求事項

及び試験方法 

この規格のアーク溶接装置には,溶接電源及びワイヤ送給装置,冷却水循環装置,アーク起動装置,ア

ーク安定化装置などの附属装置を含む。 

注記1 関連プロセスの例としては,プラズマ切断及びアークスタッド溶接がある。 

注記2 この規格は,感電,危険な操作,絶縁体の試験などの保護といった,アーク溶接装置に対す

る基本的安全要求事項は規定していない。 

注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 60974-10:2014,Arc welding equipment−Part 10: Electromagnetic compatibility (EMC) 

requirements及びAmendment 1:2015(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

この規格に規定する全ての試験を形式検査として実施し,かつ,それぞれの要求事項を満たすアーク溶

接装置だけが,この規格に規定する電磁両立性を満たすとみなす。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

C 9300-10:2018  

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 9300-1 アーク溶接装置−第1部:アーク溶接電源 

注記 対応国際規格:IEC 60974-1,Arc welding equipment−Part 1: Welding power sources(MOD) 

JIS C 9300-6 アーク溶接装置−第6部:限定使用率アーク溶接装置 

注記 対応国際規格:IEC 60974-6,Arc welding equipment−Part 6: Limited duty equipment(MOD) 

JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部:限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電

流が20 A以下の機器) 

注記 対応国際規格:IEC 61000-3-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−

Limits for harmonic current emissions (equipment input current ≤ 16 A per phase),Amendment 

1:2008及びAmendment 2:2009(MOD) 

JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部:試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-2,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and 

measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test(IDT) 

JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-3,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and 

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test(IDT) 

JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部:試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バー

ストイミュニティ試験 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-4,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and 

measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test(IDT) 

JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-5:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and 

measurement techniques−Surge immunity test(IDT) 

JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-6:2003,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and 

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

(IDT) 

JIS C 61000-4-11 電磁両立性−第4-11部:試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧

変動に対するイミュニティ試験 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-11,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing and 

measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

(IDT) 

JIS C 61000-4-34 電磁両立性−第4-34部:試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超え

る電気機器の電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-34,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-34: Testing and 

measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for 

equipment with input current more than 16 A per phase(IDT) 

IEC 60050(all parts),International Electrotechnical Vocabulary 

IEC 61000-3-3:2013,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-3: Limits−Limitation of voltage changes, 

C 9300-10:2018  

voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems, for equipment with rated current ≤ 

16 A per phase and not subject to conditional connection 

IEC 61000-3-11:2000,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-11: Limits−Limitation of voltage 

changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems−Equipment with rated 

current ≤ 75 A and subject to conditional connection 

IEC 61000-3-12:2011,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-12: Limits−Limits for harmonic 

currents produced by equipment connected to public low-voltage systems with input current > 16 A and ≤ 

75 A per phase 

CISPR 11:2009,Industrial, scientific and medical equipment−Radio-frequency disturbance characteristics−

Limits and methods of measurement及びAmendment 1:2010 

CISPR 14-1,Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and similar 

apparatus−Part 1: Emission 

CISPR 16-1-1,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-1: 

Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Measuring apparatus 

CISPR 16-1-2,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-2: 

Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Coupling devices for conducted disturbance 

measurements 

CISPR 16-1-4,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-4: 

Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Antennas and test sites for radiated disturbance 

measurements 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,IEC 60050-161,IEC 60050-851及びJIS C 9300-1によるほか,

次による。 

3.1 

クリック(click) 

振幅が連続妨害波の準せん(尖)頭値による許容値を超える妨害波であって,継続時間が200 ms以下,

かつ,後続の妨害波から200 ms以上離れているもの。 

注記1 継続時間及び後続の妨害波との間隔は,連続妨害波の限度値水準に関連する。 

注記2 クリックは,多数のインパルスを含む場合があるが,この場合のクリック幅は,最初のイン

パルスの開始から最終のインパルスの終了までである。 

3.2 

CDN(coupling/decoupling network) 

結合回路網及び減結合回路網の両方を一つの箱に収めた電気回路。 

3.3 

EUT(equipment under test) 

供試機器。 

3.4 

アイドル状態(idle state) 

電源がオンされていても,出力回路に電力を供給しない動作状態。 

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注記1 ある種の装置では,アイドル状態はないが,溶接回路に電力を供給するとき,アーク起動に

先行する動作状態は存在する。 

注記2 アイドル状態は,電源がオフされる待機モードとは異なる。 

3.5 

携帯用(portable) 

一人で可搬できること。 

注記 携帯用か否かは,一般的に使用目的,装置設計及び/又は国内法に基づいて,製造業者が指定

する。 

3.6 

小形機器(small equipment) 

床の上に直立するか,又は机の上に設置するもので,かつ,その機器のケーブルを含めて,大地面から,

高さ1.5 m及び直径1.2 mの円柱の試験空間内に収まる機器。 

一般的試験要求 

4.1 

試験条件 

試験は,シリーズ機種を代表する完全に組み立てられた試験装置を用いて実施する。 

試験は,JIS C 9300-1又はJIS C 9300-6による運転条件並びに定格入力電圧及び定格周波数で行う。50 Hz

で得られたRFエミッション及びイミュニティの結果は,同一モデルの60 Hzにも有効であり,その逆も

有効である。 

4.2 

測定装置 

測定装置は,CISPR 16-1-1の要求事項による。また,適宜,図1,図2及び図3の配置で参照した基本

規格を適用する。 

4.3 

擬似電源回路網 

電源端子妨害波電圧の測定は,市販品の場合,CISPR 16-1-2に規定する50 Ω/50 μHのV形回路網を構

成する擬似電源回路網を用いる。 

擬似電源回路網は,測定点におけるRFでの電源系統によるインピーダンスを提供し,試験装置から電

源ラインノイズを遮断するものとする。 

4.4 

電圧プローブ 

擬似電源回路網を用いることができない場合は,CISPR 16-1-2に規定する電圧プローブを用いる。プロ

ーブは,各ラインと基準接地との間に順次接続する。プローブは,ラインと接地との間の総抵抗値が1 500 

Ω以上になるように,ブロッキングコンデンサ及び抵抗器で構成する。測定受信機を危険な電流から保護

しているコンデンサ又はその他の装置による測定精度への影響は,1 dB未満にするか又はキャリブレーシ

ョンを許容する。 

4.5 

アンテナ 

30 MHz〜1 GHzの周波数レンジにおけるアンテナは,CISPR 16-1-4による。測定は,水平及び垂直の両

偏波で行う。地面とアンテナ最下点との高低差は,0.2 m以上にする。 

4.6 

負荷・減結合回路網 

シールド室が必要で,負荷をシールド室の外側に設置する場合,RFフィルタを介した室外負荷に接続す

る負荷・減結合回路網は,シールド室内で用いる。JIS C 61000-4-6:2006に規定する150 ΩのCDN-AF-2

を,適切な負荷電流及び電圧で用いる。CDNのRFポートは,50 Ωで終端する。 

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エミッション及びイミュニティのための試験時の配置 

5.1 

一般 

携帯用ではない装置のエミッション及びイミュニティ試験は,図1の配置で行う。携帯用装置は,図1

又は図2に示す配置で行う。これらの配置のいずれかで試験したアーク溶接装置は,この規格の要求事項

を満たす。 

出力電流リプルの測定に関して,配置構成のための特定の要求はしない。 

この規格の要求事項によることを示すために装置を再試験する場合,製造業者が別の方法で試験するこ

とに同意しない限り,結果の整合性を保証するために,初回に選んだ配置を用いる。 

RFエミッション,電磁界イミュニティ,コモンモードでのイミュニティ及びファストトランジェントで

のイミュニティの試験には,次の寸法を適用する。 

図1のa:1 m 

図1及び図2のb:0.4 m以下 

図2のh:0.8 m 

a,b及びhの寸法は,エミッション試験及びイミュニティ試験以外の試験では定義されていない。 

記号 

溶接電源 

 7 溶接ケーブル(束にした) 

冷却水循環装置 

 8 入力ケーブル(束にした) 

ワイヤ送給装置 

 9 絶縁物 

リモートコントローラ 

10 基準大地面 

接続ケーブル(束にした) 

11 標準負荷又は負荷・減結合回路網 

リモートコントローラ用ケーブル(束にした) 

電源と負荷又は負荷・減結合回路網との間の距離 

ケーブルの束の長さ 

注記1 2,3及び4は,適用可能な附属装置,及び装置製造業者の指定による典型的な配置を示す。 
注記2 製造業者の指定がある場合は,1と3との間に絶縁物(9)を置く。 

図1−一般的なアーク溶接装置のための試験配置 

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アーク溶接装置の設計上,これらの試験が行えない場合,製造業者の推奨方法(例えば,一時的バイパ

ス又は制御回路の無効)は,これらの試験目的に合うようにすることが望ましい。この場合,アーク溶接

装置へのいかなる一時的な変更も,記録する。 

附属装置が溶接電源に接続可能な場合,溶接電源は,ポートを動作させるのに必要な附属装置の最小限

の構成によって試験を行う。溶接電源が多数の類似ポート又は多くの類似の接続を備えるポートをもつ場

合は,実際の動作条件を模擬し,全ての異なる種類の終端方法を含むことを保証する十分な数のポートを

選定する。 

電源端子妨害波電圧の試験を行う場合は,溶接電源を,可能であれば4.3に規定するV形回路網を用い

て入力電源と接続する。このV形回路網の最も接近した表面と試験中の装置の最も近い面との距離が,0.8 

m以上になるように配置する。入力ケーブルの長さは,2 m以上とする。 

記号 

溶接電源 

絶縁物 

リモートコントローラ(テーブルの下) 

基準大地面 

溶接ケーブル(束にした) 

非導電テーブル 

リモートコントローラ用ケーブル(束にした) 

標準負荷又は負荷・減結合回路網(テーブルの下) 

入力ケーブル(束にした) 

ケーブルの束の長さ 

非導電テーブルの高さ 

注記 2は,適用可能な附属装置を示す。 

図2−携帯用アーク溶接装置のための試験配置 

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記号 

溶接装置 

試験アンテナ(水平偏波の場合を示す。) 

溶接ケーブル(束にした) 

標準負荷又は負荷・減結合回路網 

試験する装置とアンテナの放射中央との距離 

試験する装置とアンテナの最も近い点との距離 

図3−図1に示す試験配置の上面図 

溶接電源は,出力電流に対して適切な断面積をもつ溶接ケーブル,又はアダプタを用いた適切なトーチ

若しくは電極ホルダによって標準負荷に接続する。溶接ケーブルの長さは,2 m以上とする。 

負荷をシールド室の外側に置く場合,4.6に定義した負荷・減結合回路網は,シールド室の内部に置く。

負荷・減結合回路網は,基準大地に終端し,適切なフィルタを介して外部の負荷に接続する。 

図1の試験配置によるRFエミッション試験を行う場合,溶接電源は,厚さ12 mm以下の絶縁マット(又

はブロック),又は該当する場合は絶縁された溶接装置自身によって絶縁する。 

図1の試験配置による電磁放射妨害及び電磁界イミュニティ試験を行う場合,溶接電源及び標準負荷(又

は該当する場合,負荷・減結合回路網)は,図3に示す試験アンテナに対して,静止位置にする。図3の

分離距離eは,CISPR 11:2009の箇条6による。図3の分離距離iは,JIS C 61000-4-3による。 

ケーブルは,基準大地面に自然に垂らす。余分なケーブルは,それぞれ別々に,可能な限り長さ0.4 m

以下の束に束ねる。 

イミュニティ試験のために規定する試験配置は,図1,図2及び図3で参照した基本規格によってもよ

い。 

EUTの配置は,試験レポートに記載する。 

5.2 

負荷 

試験中,アーク溶接の動作は,装置をJIS C 9300-1に規定する標準負荷によって模擬する。RFエミッシ

ョン試験でCDNを用いない場合,標準負荷は,厚さ12 mm以下の絶縁マット(又はブロック),又は絶縁

された溶接装置自身によって絶縁する。 

出力電流リップルの測定に関して,基本波での溶接ケーブルを含む負荷のインダクタンスを,総合抵抗

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100 mΩ当たり10 μH未満にする。 

5.3 

附属装置 

5.3.1 

一般要求 

附属装置は,溶接電源に接続して試験を行う。接続及び取付けは,製造業者の推奨による。 

附属装置の動作に対する個別要求は,5.3.2〜5.3.5による。 

5.3.2 

ワイヤ送給装置 

ワイヤ送給装置は,設計に従って,溶接電源の上又は近傍に設置する。溶接電源の外箱の内側又は外側

の両方に置くことができるワイヤ送給装置は,外側に置く。RFエミッション試験では,床置きとして設計

されたワイヤ送給装置は,厚さ12 mm以下の絶縁マット(又はブロック),又は絶縁された溶接装置自身

によって絶縁する。 

ワイヤ送給装置と溶接電源とを接続する溶接ケーブルは,接続するために長さ2 m以上とし,かつ,適

切な電流定格をもつものとする。製造業者が2 mを超える溶接ケーブルを提供した場合は,2 mを超える

部分を0.4 m以下の実用的な束に折りたたむ。溶接ケーブルを装置と一緒に提供する場合は,溶接ケーブ

ルの接続は,2 mよりも短くてもよい。 

ワイヤ送給装置と溶接電源との間の接続ケーブルは,製造業者の推奨による形式及び長さとする。余分

なケーブルは,0.4 m以下の実用的な束に折りたたむ。 

製造業者の推奨による溶接トーチは,ワイヤ送給装置と標準負荷との接続のための溶接ケーブルの代わ

りに用いてもよい。 

5.3.3 

リモートコントローラ 

溶接電源がリモートコントローラを用いる場合は,リモートコントローラを接続して試験を行う。これ

によって最も高いエミッション及び/又は最も低いイミュニティを得ると見込まれる。リモートコントロ

ーラは,できるだけ負荷の近くの大地面に絶縁して置く。RFエミッション試験の場合,その絶縁は,厚さ

12 mm以下とする。アーク溶接装置の使用中に取り付けて用いるように設計されたリモートコントローラ

は,意図したとおりに設置する。 

余分なケーブルは,0.4 m以下の実用的な束に折りたたむ。 

専用電源から独立して使用可能な複合的なコントローラは,製造業者の指定によって,電源に接続して

試験してもよいし,又は単独装置として試験してもよい。 

5.3.4 

アーク起動装置及びアーク安定化装置 

アーク起動装置及びアーク安定化装置は,試験装置を保護するため,RFエミッション試験以外の全ての

試験中,無効にする。また,RFエミッション試験の測定は,これらの装置の動作開始から5秒後に開始す

る。 

5.3.5 

冷却水循環装置 

冷却水循環装置は,設計に従って,溶接電源の上又は近傍に設置する。溶接電源の外箱の内側又は外側

の両方に置くことができる冷却水循環装置は,外側に置く。RFエミッション試験では,床置きとして設計

された冷却水循環装置は,厚さ12 mm以下の絶縁マット(又はブロック)又は絶縁された溶接装置自身に

よって絶縁する。 

冷却水が流れるように,入口と出口とは,製造業者の推奨によってホースでつないでもよい。 

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エミッション試験 

6.1 

RFエミッション試験のための分類(RF装置のクラス) 

6.1.1 

クラスA装置 

クラスA装置は,電力を商用低電圧電源系統によって供給する住宅環境以外の場所での使用を意図した

装置をいう。 

クラスA装置は,6.3によるクラスAの許容値を満たさなければならない。 

アーク起動装置及びアーク安定化装置,並びにアークスタッド溶接装置は,クラスA装置に分類する。 

6.1.2 

クラスB装置 

クラスB装置は,電力を商用低電圧電源系統によって供給する住宅環境を含む全ての場所での使用に適

した装置をいう。 

クラスB装置は,6.3によるクラスBの許容値を満たさなければならない。 

6.2 

試験条件 

6.2.1 

溶接電源 

6.2.1.1 

RFエミッション試験のための試験条件 

溶接電源は,次の両方の出力条件を用いて,6.2.2による標準負荷電圧によって試験を行う。 

a) 定格最小出力電流 

b) 100 %使用率における定格出力電流。100 %使用率における定格出力電流を指定していない場合,試験

はI2max(定格最大出力電流)の50 %で行う。 

上記に加えて,アイドル状態における溶接電源試験は,負荷を接続せずにケーブル付きで行う。 

入力電流が上記の出力条件で25 Aを超える場合,入力電流を25 Aにするために,出力を減少させても

よい。入力電流が25 A以下の入力電流が得られない場合,6.3.2の測定において,4.4に規定する電圧プロ

ーブを擬似電源回路網の代わりとして用いてもよい。 

交流及び直流の両方で動作する溶接電源は,両方のモードで試験を行う。 

複数のプロセスに対応する溶接電源は,設定電流に対して最大標準負荷電圧となる標準負荷で試験を行

う。二つ以上の出力回路をもっている溶接電源(例えば,プラズマ切断及び手動アーク溶接)の場合は,

それぞれの出力回路において,別々に試験を行う。 

ワイヤ送給装置を内蔵した溶接電源は,ミグ溶接の構成は,所定の標準負荷電圧で試験する。 

6.2.1.2 

高調波のための試験条件 

JIS C 9300-1の適用範囲に入る溶接電源は,定格使用率の定格最大出力電流で6.2.2によるプロセスに従

って標準負荷電圧で試験を行う。 

溶接電源がI2maxを供給したとき,供給電流の1.5秒間の平滑実効値(IEC 61000-3-12:2011のIref)の平均

値を測定する。 

定格最大入力電流が20 A未満のJIS C 9300-1の適用範囲に入る溶接電源の場合,制限値の定義に関して,

上記の電流Irefは20 Aとする。 

離散フーリエ変換の各時間窓において,1.5秒平滑実効値の高調波における最大電流及び平均電流は,ア

イドル状態の時間を含む10分間の全熱サイクルの中で決定する。 

注記 10 %を超えるアイドル状態の時間は,IEC 61000-3-12:2011が定めるスタンバイモードではな

く,全熱サイクル内の溶接装置の動作時間である。 

交流及び直流の両方で動作する溶接電源は,両方のモードで試験を行う。 

10 

C 9300-10:2018  

複数のプロセスに対応する溶接電源は,設定電流に対して最大標準負荷電圧となる標準負荷で試験を行

う。 

JIS C 9300-6の適用範囲に入る溶接電源の試験条件は,JIS C 61000-3-2:2011による。 

6.2.1.3 

電圧変動及びフリッカのための試験条件 

溶接電源の試験条件は,IEC 61000-3-3:2013による。 

6.2.1.4 

出力電流リップルのための試験条件 

溶接電源は,100 %使用率における定格出力電流で,6.2.2による標準負荷電圧で試験する。100 %使用率

における定格出力電流を指定していない場合,試験をI2maxの50 %で行う。 

電流リップルを時間領域で記録する。 

6.2.2 

標準負荷電圧 

標準負荷電圧は,JIS C 9300-1又はJIS C 9300-6による。 

6.2.3 

ワイヤ送給装置 

ワイヤ送給装置は,設定可能な場合は,最高送給速度の50 %で試験する。事前にプログラムされていて,

かつ,協調して動作するワイヤ送給装置の場合は,溶接電源の出力設定に従って試験する。 

この試験の間,ワイヤ送給装置は,送給ロールからワイヤ加圧を取り除き,かつ,溶接電源は,6.2.1.1

による負荷をかける。 

6.2.4 

附属装置 

他の附属装置は,製造業者の推奨条件によって試験を行う。 

6.3 

エミッションの許容値 

6.3.1 

一般 

エミッション許容値は,障害の確率を減少させるために規定しているが,例えば,影響を受ける機器が

近くにある場合,高い感度をもつ場合など,全ての事例に対して障害を排除できるとは限らない。 

他の無線及び電子システムと互換性のある方法で動作するアーク溶接装置の能力は,設置方法及び使用

方法によって大きく影響される。この理由から,実施基準をこの規格に附属しており(附属書A参照),

電磁両立性を達成するために,アーク溶接装置をこの実施基準に従って設置及び使用を行うことを推奨し

ている。 

注記 引用される規格の許容値を要約したものは,附属書Bを参照する。 

6.3.2 

電源端子妨害波電圧 

6.3.2.1 

アイドル状態 

アイドル状態におけるクラスA装置の電源端子妨害波電圧の許容値は,定格入力にかかわらず,CISPR 

11:2009の表2中の入力容量が20 kVA以下の場合の許容値による。 

アイドル状態におけるクラスB装置の電源端子妨害波電圧の許容値は,CISPR 11:2009の表3による。 

EUTは,次のいずれかを満足しなければならない。 

− 平均値及び準せん(尖)頭値の検出器を用いる場合,両方の許容値を満足する。 

− 準せん(尖)頭値の検出器を用いる場合,平均値の許容値を満足する。 

6.3.2.2 

負荷時 

負荷時のクラスA装置の電源端子妨害波電圧の許容値は,CISPR 11:2009の表6に示すグループ2の許

容値による。許容値は,定格最大入力電流I1maxによって算出した装置の定格最大入力によって選定する。 

負荷時のクラスB装置の電源端子妨害波電圧の許容値は,CISPR 11:2009の表7のグループ2の許容値

による。 

11 

C 9300-10:2018  

EUTは,次のいずれかを満足しなければならない。 

− 平均値及び準せん(尖)頭値の検出器を用いる場合,両方の許容値を満足する。 

− 準せん(尖)頭値の検出器を用いる場合,平均値の許容値を満足する。 

クラスA装置の場合,1分間当たり5回未満のインパルスノイズ(クリック)は,考慮しない。 

クラスB装置のインパルスノイズが1分間当たり0.2回未満の場合,44 dB許容値の緩和が許される。 

1分間当たり0.2回〜30回クリックが現れる場合,許容値に対して,

(

)

N

30

log

20

(dB)(Nは,1分間

当たりのクリック数)の緩和が許される。区別されたクリックの基準は,CISPR 14-1による。 

6.3.3 

放射妨害波 

6.3.3.1 

アイドル状態 

アイドル状態におけるクラスA装置の放射妨害波の許容値は,定格入力にかかわらず,CISPR 11:2009

の表4中の定格入力が20 kVA以下の許容値による。 

アイドル状態におけるクラスB装置の放射妨害波の許容値は,CISPR 11:2009の表5による。 

6.3.3.2 

負荷時 

負荷時のクラスA装置の放射妨害波の許容値は,CISPR 11:2009の表10の許容値による。 

30 MHz〜1 000 MHz周波数帯における負荷時のクラスB装置の放射妨害波の許容値は,CISPR 11:2009

の表11に示すグループ2の許容値による。 

アーク溶接装置において,80.872 MHz〜81.848 MHz及び134.786 MHz〜136.414 MHzの周波数領域にお

ける20 dBの緩和は適用しない。 

6.3.4 

高調波,電圧変動及びフリッカ 

入力電流が75 A以下のアーク溶接機の場合,次の許容値を,図4及び図5に示すように適用する。 

a) 高調波電流エミッションの許容値は,JIS C 61000-3-2:2011及びIEC 61000-3-12:2011による。 

b) 電圧変動及びフリッカの許容値は,IEC 61000-3-3:2013又はIEC 61000-3-11:2000による。 

注記 IEC/TS 61000-3-4を,入力電流が75 Aを超える低電圧電源系統のアーク溶接装置の取付けに関

わるガイドとして用いてもよい。 

background image

12 

C 9300-10:2018  

図4−入力電流75 A以下の場合の高調波要求の概要 

JIS C 9300-10の規定を満たす 

JIS C 9300-10の規定を満たさない 

いいえ 

はい 

はい 

はい 

はい 

はい 

はい 

はい 

いいえ 

いいえ 

いいえ 

いいえ 

いいえ 

いいえ 

I1max> 

20 A 

専門家用の装置 

IEC 61000-3-12によって装置のRsce値を測定 

JIS C 61000-3-2の適用 

基準B準拠

=33? 

≦ 

表B.6〜表
B.9からの
最大値 

8 e) 参照 

8 f) 参照 

background image

13 

C 9300-10:2018  

図5−フリッカ要求の概要 

6.3.5 

出力電流リップル 

クラスBの溶接電源の出力電流リップルは,表4の許容値を超えてはならない。 

注記1 出力電流リップルのピーク対ピーク値に対するこれらの許容値の適用は,CISPR 11:2009に

よる150 kHz〜30 MHzの範囲において,溶接回路から10 mの離隔距離で磁界のエミッショ

ンの許容値を満たしている。 

注記2 許容可能なピーク対ピーク値は,出力電流リップルの基本周波数に基づいて選択する。磁界

強度のための許容値を定義する周波数範囲以下である基本周波数でこの値を満たすことによ

って,全てのスペクトル成分を満たすことができる。 

dc,dmax,Pst値を評価 

はい 

8 f) 参照 

I1max>20 A 

IEC 61000-3-3の適用 

IEC 61000-3-11の適用 

手溶接装置 

手溶接装置 

8 e) 参照 

dc値を評価 

dc,dmax,Pst値を評価 

dc値を評価 

Zmax算出 

JIS C 9300-10の 

規定を満たす 

JIS C 9300-10の 

規定を満たさない 

はい 

いいえ 

いいえ 

いいえ 

はい 

はい 

いいえ 

いいえ 

はい 

いいえ 

はい 

@Zrefの 

許容値以下 

@Zrefの 

許容値以下 

background image

14 

C 9300-10:2018  

表4−クラスBの溶接電源のための出力電流リップルの許容値 

周波数範囲 

MHz 

時間領域での電流リップル振幅 

dBAa)ピーク対ピーク 

55.6 

0.01〜0.150 

周波数の対数で直線的に減少した値 

8.6 

8.6 

0.150〜30 

周波数の対数で直線的に減少した値 

−27.4 

注a) dBAは,0 dBAが1 Aの電流を表す場合の対数単位である。 

イミュニティ試験 

7.1 

分類 

7.1.1 

試験の適用性 

この規格で適用するアーク溶接装置は,イミュニティ要求の目的によってカテゴリに細分化する。カテ

ゴリ1のアーク溶接装置は,試験なしで必要なイミュニティ要求を満たすものとする。カテゴリ2のアー

ク溶接装置は,7.4の要求事項を満たさなければならない。 

7.1.2 

カテゴリ1の装置 

カテゴリ1の装置は,いかなる電子制御回路をもたないアーク溶接装置,例えば,変圧器,変圧整流器,

受動のリモートコントローラ,冷却水循環装置,CO2ヒータ及び電子制御なしのワイヤ送給装置,を含む。 

リアクタなどの受動素子で構成した電気回路,RF抑制回路網,商用周波数変圧器,整流器,ダイオード

及び抵抗器は,電子制御回路とはみなさない。 

7.1.3 

カテゴリ2の装置 

カテゴリ2の装置は,上記のカテゴリ1を除く全てのアーク溶接装置をいう。 

7.2 

試験条件 

溶接電源は,無負荷及び6.2.2に従って標準負荷に電流が流れたときに100 %使用率における出力電流に

なる負荷で動作させて試験を行う。 

上記のいかなる出力条件でも入力電流が25 Aよりも大きくなる場合は,入力電流が25 Aになるように,

出力を減じてもよい。 

適否は,(無負荷試験としての)無負荷電圧,及び(負荷動作試験としての)出力電流の平均値の測定に

よって判定する。 

ワイヤ送給装置の送給速度は,最高送給速度の50 %とする。ワイヤ送給装置の送給速度は,回転速度計

を送給ロールに当てるか,又は他の同等の方法を用いて測定する。 

注記 この試験中,ワイヤ加圧は,送給ロールから取り除く。 

7.3 

イミュニティ性能判定基準 

7.3.1 

性能判定基準A 

アーク溶接装置は,意図した運転を続ける。製造業者が指定しない限り,出力電流,ワイヤ送給速度及

び走行速度の変動は,設定の±10 %を許容する。全ての制御は,機能を継続し,通常のスイッチ(例えば,

ミグ溶接及びマグ溶接のトーチスイッチ又はフットコントローラ)を用いることによって出力電流を終了

することができる。いかなる保存したデータの喪失も許容しない。試験後の出力は,オリジナル設定に戻

る。いかなる状況下でも無負荷電圧は,JIS C 9300-1による値を超えない。 

background image

15 

C 9300-10:2018  

7.3.2 

性能判定基準B 

出力電流,ワイヤ送給速度及び走行速度の変動は,設定の100

50

  

+

 %を許容する(実際には,アークが消弧

するかもしれないが,この場合,作業者によって通常の方法で作業者によってアークを再点弧してもよい。)。

全てのコントローラは,通常のスイッチ(例えば,ミグ溶接及びマグ溶接のトーチスイッチ又はフットコ

ントローラ)を用いることによって出力電流を終了することができる。いかなる保存したデータの喪失も

許容しない。試験後の出力は,オリジナル設定に戻る。いかなる状況下でも無負荷電圧は,JIS C 9300-1

による値を超えない。 

7.3.3 

性能判定基準C 

例えば,スイッチのオン及びオフによって,手動リセットができるアーク溶接装置に対する一時的な機

能喪失は,許容する。 

保存したデータがコントローラの操作によって元どおりにできない限り,いかなる保存したデータの喪

失も許容しない。いかなる状況下でも無負荷電圧は,JIS C 9300-1による値を超えない。 

7.4 

イミュニティレベル 

イミュニティの要求事項は,外箱は表1,交流入力ポートは表2,並びにプロセス測定及び制御線のため

のポートは表3による。 

表1−イミュニティレベル−外箱 

環境現象 

単位 

試験仕様 

基本規格 

参考 

性能判定

基準 

無線周波電磁界振幅変調 

MHz 
V/m(無変調実効値) 
%AM(1 kHz) 

80〜1 000 

10 
80 

JIS C 61000-4-3 

指定された試
験レベルは,変
調の前 

GHz 
V/m(無変調実効値) 
%AM(1 kHz) 

1.4〜2.0 

80 

JIS C 61000-4-3 

指定された試
験レベルは,変
調の前 

GHz 
V/m(無変調実効値) 
%AM(1 kHz) 

2.0〜2.7 

80 

JIS C 61000-4-3 

指定された試
験レベルは,変
調の前 

静電気放電 

接触放電 

kV(充電電圧) 

±4 a) 

JIS C 61000-4-2 

接触放電及び
/又は気中放
電試験は,基本
規格を参照。 

気中放電 

kV(充電電圧) 

±8 a) 

注a) 試験は,規定よりも低いレベルには要求しない。 

background image

16 

C 9300-10:2018  

表2−イミュニティレベル−交流入力ポート 

環境現象 

単位 

試験仕様 

基本規格 

参考 

性能判定

基準 

ファストトラン 
ジェント 

kV(ピーク) 
繰返し周波数kHz 
“tr/tw”(立ち上がり
時間/パルス幅)ns 

±2 

5/50 

JIS C 61000-4-4 

直接注入 

無線周波コモン
モード 

MHz 
V(無変調実効値) 
% AM(1 kHz) 

0.15〜80 

10 
80 

JIS C 61000-4-6:2006 注記参照。 

指定された試験レベ
ルは,変調の前 

サ 
ー 
ジ 

 
 

ライン−
ライン間 

“tr/tw”(立ち上がり
時間/パルス幅)μs 
kV(開回路電圧) 

1.2/50(8/20) 

±1 

JIS C 61000-4-5:2009 この試験は,EUTの

CDNの影響を受け
て普通の動作ができ
ないときは要求しな
い。 

ライン−

接地間 

Tr/Th μs 
kV(開回路電圧) 

1.2/50(8/20)

±2 

電圧ディップ 

% 残存電圧 
50/60 Hzのサイクル 

70 

25/30 

JIS C 61000-4-11 
JIS C 61000-4-34 

ゼロクロス時の電圧
変化 

% 低下 
期間 


注記 試験レベルは,150 Ω負荷と同等の電流としても定義できる。 

表3−イミュニティレベル−プロセス測定及び制御線のためのポート 

環境現象 

単位 

試験仕様 

基本規格 

参考 

性能判定 

基準 

ファストトラン 
ジェント 

kV(ピーク) 
Tr/Th ns 
繰返し周波数kHz 

±2 

5/50 

JIS C 61000-4-4 

容量性結合クランプ 

無線周波コモン
モード 

MHz 
V(無変調実効値) 
% AM(1 kHz) 

0.15〜80 

10 
80 

JIS C 61000-4-6:2006 注記参照。 

指定された試験レベ
ルは,変調の前 

製造業者の仕様による総長が3 m以下の場合を除き,ケーブルと接続するプロセス測定及び制御線のためのポー

トは,適用できる。 
注記 試験レベルは,150 Ω負荷と同等の電流としても定義できる。 

買い手及び使用者のための文書 

購入する前に買い手及び使用者が利用可能な文書には,次の使用制限を明確に記載しなければならない。 

a) RF装置のクラス(クラスA又はクラスB) 

b) 商用低電圧電源系統接続のための低周波要求事項 

附属書Cのシンボル1は,のRF装置のクラス及び使用制限を明らかにするために,クラスA装置に用

いることを推奨する。 

附属書Cのシンボル2は,商用低電圧電源系統接続のための低周波要求事項による使用制限を明らかに

するために,用いることを推奨する。 

使用者は,エミッション障害を最小限にするために,アーク溶接装置の適切な設置及び使用が必要であ

ることを認識する必要がある。したがって,製造業者又はその代理人は,それぞれの溶接電源に対する次

に示す指示及び情報を与えなければならない。 

17 

C 9300-10:2018  

a) クラスB装置の場合,クラスB装置の声明文を記載する。この声明文には,電力が商用低電圧電源系

統によって供給される住宅場所を含む,産業及び住宅環境での電磁両立性要求を満たしている旨を記

載する。 

b) クラスA装置の場合,次の警告文又は同等の文章を取扱説明書に記載する。 

“このクラスA装置は,電力が商用低電圧電源系統によって供給される住宅環境での使用を意図し

ていない。伝導性妨害及び放射性妨害のために住宅環境の中での電磁環境の両立性を保証するには潜

在的な困難さがある可能性がある。” 

c) 入力電流が一相当たり75 A以下の装置を商用低電圧電源系統に接続することを意図している場合,か

つ,電源系統のインピーダンス制限に基づくIEC 61000-3-11:2000又はIEC 61000-3-12:2011に適合し

ている場合,次の情報又はそれと同等の情報を取扱説明書に記載する。ただし,この場合の制限は,

これらの規格の試験から得た,許容電源系統インピーダンスの低い方の値(XX mΩ),又は要求した

短絡電力の高い方の値(YY MVA)による。インピーダンスは,短絡電力値から計算してもよく,そ

の逆からも計算してもよい。 

“共通結合のポイントでの商用低電圧電源系統のインピーダンスがXX mΩよりも低い場合(又は,

短絡電力がYY MVAよりも高い場合),この装置は,IEC 61000-3-11:2000及びIEC 61000-3-12:2011

に適合しており,商用低電圧系統に接続することができる。必要ならば配電システムの作業者に相談

することによって,系統インピーダンスがインピーダンス制限を満足することを確実にすることは,

取付け業者又は使用者の責任である。” 

d) 入力電流が一相当たり75 A以下の装置を商用低電圧電源系統に接続することを意図している場合,か

つ,IEC 61000-3-12:2011の要求を満たしていない場合は,次の情報又は同等の情報を取扱説明書に記

載する。 

“この装置は,IEC 61000-3-12:2011に適合していない。商用低電圧電源系統に接続する場合,配電

システムの作業者に相談することによって,装置を接続することを確実にすることは,取付け業者又

は使用者の責任である。” 

e) 適合するための特別な測定に関する情報,例えば,シールドケーブルの使用,を与える。 

f) 

妨害を最小限にするため,設置及び使用に必要な注意事項を確認するための要求周辺領域のアセスメ

ントを推奨する。A.2及びA.3参照。 

g) 妨害を最小限にする方法を推奨する。A.4参照。 

h) 溶接による障害に関する使用者の責任についての注意文書を与える。 

18 

C 9300-10:2018  

附属書A 

(参考) 

設置及び使用 

A.1 一般 

使用者は,製造業者の取扱説明書に従ってアーク溶接装置の設置及び使用を行う責任がある。電磁妨害

が見つかった場合,製造業者の技術的支援で状況を解決することは,アーク溶接装置の使用者の責任であ

る。幾つかの事例では,この救済措置は,溶接回路を接地するなど,簡単な場合がある(注記参照)。他

の事例では,関連の入力フィルタを完備し,溶接電源及び溶接物を囲む電磁スクリーンの構成を必要とす

る場合もある。全ての事例において,電磁妨害は,それらが問題にならない程度まで減少させる必要があ

る。 

注記 溶接回路の接地実施は,各国の安全規則による。電磁両立性を改善するための接地の変更は,

傷害のおそれ又は装置故障に影響する場合がある。追加のガイダンスは,IEC 60974-9を参照

する。 

A.2 領域のアセスメント 

使用者は,アーク溶接装置を設置する前に,周辺領域における電磁妨害問題の可能性のアセスメントを

次の事項を考慮して行う。 

a) アーク溶接装置の上,下及び隣接した他の入力ケーブル,制御ケーブル,信号及び電話ケーブル。 

b) ラジオ及びテレビジョンの送信機及び受信機。 

c) コンピュータ及び他の制御装置。 

d) 安全のための重要装置,例えば,産業装置の防護。 

e) 周囲の人々の健康,例えば,ペースメーカ及び補聴器の使用。 

f) 

校正又は測定のために用いる装置。 

g) 使用環境における他の装置のイミュニティ。使用者は,使用環境で用いる他の装置がイミュニティを

満足していることを確認する。これには追加の保護対策が必要になる場合がある。 

h) 溶接又は他の動作を実行する1日のうちの時間。 

考慮する周辺領域の大きさは,動作させる場所の建物の構造及び他の活動に依存する。周辺領域は,構

内の境界を越えて広がる場合がある。 

A.3 溶接設備のアセスメント 

領域のアセスメントに追加して,アーク溶接の設置のアセスメントを,障害の事例を評価及び解決する

ために用いてもよい。エミッションのアセスメントには,CISPR 11:2009の箇条10による現場測定を含め

ることが望ましい。現場測定は,軽減対策の効率を確認するために用いてもよい。 

A.4 軽減対策 

A.4.1 商用低電圧電源系統 

アーク溶接装置は,製造業者の推奨に従って商用低電圧電源系統との接続が望ましい。障害が起きた場

19 

C 9300-10:2018  

合,商用低電圧電源系統のフィルタリングなどの追加の対策が必要な場合がある。金属製のコンジット又

は同等なもので,恒久的に設置するアーク溶接装置の入力ケーブルをシールドすることを考慮することが

望ましい。シールドは,入力ケーブルの長さにわたって電気的に連続性があることが望ましい。シールド

は,良好な電気的接触がコンジットと溶接電源の外箱との間で維持されるように,溶接電源に接続するこ

とが望ましい。 

A.4.2 アーク溶接装置の保守 

アーク溶接装置は,製造業者の推奨する条件に従って日常的に保守することが望ましい。アーク溶接装

置の動作中は,全てのアクセス部並びにサービスのためのドア及び覆いは,閉じて適切に留めることが望

ましい。アーク溶接装置は,変更及び調整が製造業者の取扱説明書に含まれる変更及び調整を除いて変更

してはならない。特にアーク起動及びアーク安定化装置のスパークギャップは,製造業者の推奨に従って

調整及び維持することが望ましい。 

A.4.3 溶接ケーブル 

溶接ケーブルは,可能な限り短く,かつ,床に近く又は床の上に連続して一緒に置くことが望ましい。 

A.4.4 等電位接合 

周辺領域の全ての金属物の接合を考慮することが望ましい。ただし,溶接片に接合した金属物は,作業

者が同時にこれらの金属物及び電極に接触することによる感電のリスクを増大させる場合がある。そのよ

うに接合した全ての金属物から,作業者を隔離することが望ましい。 

A.4.5 ワークピースの接地 

例えば,船の外壁,建物の鉄鋼製品など,ワークピースが接地されておらず,かつ,装置のサイズ及び

位置のために接地していない場合,かつ,そのサイズ及び位置のために接地していない場合,そのワーク

ピースを接地することによって,全てではないが,幾つかの事例において,エミッションが減少する場合

がある。ただし,使用者の傷害の危険,又は他の電気装置の被害を増大させるワークピースの接地を防ぐ

ために注意を払う必要がある。 

必要な場合,ワークピースの接地は,ワークピースに対して直接接続する。 

A.4.6 スクリーン及びシールド 

周辺領域における他のケーブル及び装置の選択的なスクリーン及びシールドを施すことによっては,障

害の問題を軽減する場合がある。溶接エリア全体のスクリーンを構成することは,特別な適用として考慮

してもよい。 

background image

20 

C 9300-10:2018  

附属書B 

(参考) 

許容値 

B.1 

一般 

この規格の規定部分に引用した規格による許容値を,参考のために表B.1〜表B.10に要約した。幾つか

の参考文献は,参照した文書による許容値の表の特定部分を参照するため,それらの表の適用できる部分

だけを複製した。 

B.2 

電源端子妨害波電圧の許容値 

電源端子妨害波電圧の許容値を,表B.1及び表B.2に示す。CISPR 11:2009及びAmendment 1:2010参照。 

表B.1−アイドル状態における電源端子妨害波電圧の許容値 

周波数帯域 

MHz 

クラスB 

dBμV 

クラスA 

dBμV 

準せん(尖)頭値 

平均値 

準せん(尖)頭値 

平均値 

66 

56 

0.15〜 0.50 

周波数の対数に対し直線的に減少 

79 

66 

56 

46 

0.50〜30 

56 

46 

73 

60 

表B.2−負荷時の電源端子妨害波電圧の許容値 

周波数帯域 

 
 
 

MHz 

クラスB 

dBμV 

クラスA 

最大定格電力≦75 kVAa) 

dBμV 

クラスA 

最大定格電力>75 kVAa) 

dBμV 

準せん(尖)頭

値 

平均値 

準せん(尖)頭

値 

平均値 

準せん(尖)頭

値 

平均値 

66 

56 

0.15〜 0.50 

周波数の対数に対し 

直線的に減少 

100 

90 

130 

120 

56 

46 

0.50〜 5 

56 

46 

 86 

76 

125 

115 

 90 

80 

5  〜30 

60 

50 

周波数の対数に対し 

直線的に減少 

115 

105 

 73 

60 

注a) 最大定格電力は,最大定格入力電流I1maxを用いて計算する。 

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21 

C 9300-10:2018  

B.3 

放射妨害波の許容値 

放射妨害波の許容値を,表B.3及び表B.4に示す。CISPR 11:2009及びAmendment 1:2010参照。 

表B.3−アイドル状態における放射妨害波の許容値 

周波数帯域 

MHz 

クラスB 

dBμV/m 

クラスA 

dBμV/m 

測定距離10 m 

測定距離3 ma) 

測定距離10 m 

測定距離3 ma) 

30〜  230 

30 

40 

40 

50 

230〜1 000 

37 

47 

47 

57 

注a) 3 mの距離に対する許容値は,3.6で定義したサイズ規格を満たしている小形機器だけに適用する。 

表B.4−負荷時の放射妨害波の許容値 

周波数帯域 

MHz 

クラスB 

dBμV/m 

クラスA 

dBμV/m 

測定距離10 m 

測定距離3 m a) 

測定距離10 m 

測定距離3 m a) 

30 

30 

40 

80 

90 

>30〜 80.872 

30 

40 

周波数の対数に対し直線的に減少 

80.872〜 81.848 

30 b) 

40 b) 

  81.848〜134.786 

30 

40 

134.786〜136.414 

30 b) 

40 b) 

136.414〜≦230 

30 

40 

>230〜 1 000 

37 

47 

60 

70 

注a) 3 mの距離に対する許容値は,3.6で定義したサイズ規格を満たしている小形機器だけに適用する。 

b) 6.3.3.2に従って20 dBの緩和を削除した。 

B.4 

高調波電流許容値 

高調波電流許容値を,表B.5〜表B.9に示す。JIS C 61000-3-2:2011及びIEC 61000-3-12:2011参照。 

表B.5−最大定格入力電流I1maxが20 A以下の専門家用でない装置の最大許容高調波電流 

高調波次数n 

高調波電流 

奇数高調波 

 3 

3.45 

 5 

1.71 

 7 

1.16 

 9 

0.60 

11 

0.50 

13 

0.32 

15≦n≦39 

0.23×15/n 

偶数高調波 

 2 

1.62 

 4 

0.65 

 6 

0.45 

8≦n≦40 

0.35×8/n 

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22 

C 9300-10:2018  

表B.6−I1maxが75 A以下の平衡三相装置以外の電流エミッション許容値 

最小Rsce 

許容高調波比 Ih/ Iref a) 

許容高調波パラメータ 

I3 

I5 

I7 

I9 

I11 

I13 

THC/ Iref 

PWHC/ Iref 

 33 

21.6 

10.7 

7.2 

3.8 

3.1 

23 

23 

 66 

24 

13 

 8 

 5 

 4 

26 

26 

120 

27 

15 

10 

 6 

 5 

30 

30 

250 

35 

20 

13 

 9 

 8 

40 

40 

350以上 

41 

24 

15 

12 

10 

47 

47 

注記1 12次までの偶数高調波の相対値は,16/h %以下である。12次を超えた偶数高調波は,奇数高調波と同

様にTHC及びPWHCを考慮する。 

注記2 Rsce値の間での線形補間をしてもよい。 
注a) Iref=参照電流,  Ih=高調波電流成分 

表B.7−I1maxが75 A以下の平衡三相装置の電流エミッション許容値 

最小Rsce 

許容高調波電流 Ih/ Iref a) 

許容高調波パラメータ 

I5 

I7 

I11 

I13 

THC/ Iref 

PWHC/ Iref 

 33 

10.7 

7.2 

3.1 

 2 

13 

22 

 66 

14 

 9 

 5 

 3 

16 

25 

120 

19 

12 

 7 

 4 

22 

28 

250 

31 

20 

12 

 7 

37 

38 

350以上 

40 

25 

15 

10 

48 

46 

注記1 12次までの偶数高調波の相対値は,16/h %以下である。12次を超えた偶数高調波は,奇数高調波と同

様にTHC及びPWHCを考慮する。 

注記2 Rsce値の間での線形補間をしてもよい。 
注a) Iref=参照電流,  Ih=高調波電流成分 

表B.8−特定の使用条件(a,b及びc)下のI1maxが75 A以下の平衡三相装置の電流エミッション許容値 

最小Rsce 

許容高調波電流Ih/ Iref a) 

許容高調波パラメータ 

I5 

I7 

I11 

I13 

THC/ Iref 

PWHC/ Iref 

33 

10.7 

7.2 

3.1 

 2 

13 

22 

120以上 

40 

25 

15 

10 

48 

46 

注記1 12次までの偶数高調波の相対値は,16/h %以下である。12次を超えた偶数高調波は,奇数高調波と同

様にTHC及びPWHCを考慮する。 

注記2 Rsce値の間での線形補間をしてもよい。 
注a) Iref=参照電流,  Ih=高調波電流成分 

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23 

C 9300-10:2018  

表B.9−特定の使用条件(d,e及びf)下のI1maxが75 A以下の平衡三相装置の電流エミッション許容値 

最小 

Rsce 

許容高調波電流 Ih/ Iref a) 

許容高調波パラメータ 

I5 

I7 

I11 

I13 

I17 

I19 

I23 

I25 

I29 

I31 

I35 

I37 

THC/ Iref 

PWHC/Iref 

33 

10.7 

7.2 

3.1 

1.5 

1.5 

1.5 

13 

22 

250以上 25 

17.3 

12.1  10.7 

8.4 

7.8 

6.8 

6.5 

5.4 

5.2 

4.9 

4.7 

35 

70 

注記1 Rsceが33の場合,12次までの偶数高調波の相対値は,16/h %以下である。表にないI14〜I40の全ての高調波

の相対値はIrefの1 %以下である。 

注記2 Rsceが250以上の場合,12次までの偶数高調波の相対値は,16/h %以下である。表にないI14〜I40の全ての

高調波の相対値はIrefの3 %以下である。 

注記3 Rsce値の間での線形補間をしてもよい。 
注a) Iref=参照電流,  Ih=高調波電流成分 

表B.6は,平衡三相装置以外の装置,並びに表B.7,表B.8及び表B.9は,平衡三相装置に適用する。 

表B.7は,あらゆる平衡三相装置に用いてもよい。 

次のいずれかの条件に合う場合,表B.8は平衡三相装置に用いてもよい。 

a) 基本の相電圧に関連する第5次高調波電流の位相角は,90°〜150°である。 

注記1 この状態は,制御されていない整流器ブリッジ及び3 %(交流)又は4 %(直流)リアク

タを含む容量性フィルタをもつ装置によって,通常,実現できる。 

b) 装置の設計は,第5高調波電流の位相角が時間上で優先的な値をもたず,全位相角(0°〜360°)で,

どのような値も採ることができる。 

注記2 この状態は,完全に制御したサイリスタブリッジコンバータによって,通常,実現できる。 

c) 第5高調波電流及び第7高調波電流は,それぞれ基本となる参照電流の5 %未満である。 

注記3 この状態は“12パルス”装置によって,通常,実現できる。 

次のいずれかの条件に合う場合,表B.9は,平衡三相装置に用いてもよい。 

d) 第5高調波電流及び第7高調波電流は,全試験観察期間において,それぞれ参照電流の3 %未満であ

る。 

e) 装置の設計は,第5高調波電流の位相角が時間上で優先的な値をもたず,全位相角(0°〜360°)で,

どのような値も採ることができる。 

f) 

相と中性点との間の基本電圧に関係する第5高調波電流の位相角は,全試験観察期間中で,150°〜

210°の範囲である。 

注記4 この条件は,負荷として動作している小直流結合容量をもつ6パルス変換器によって,通

常,実現できる。 

B.5 

電圧変動及びフリッカのための許容値 

電圧変動及びフリッカのための許容値を,表B.10に示す。IEC 61000-3-3:2013及びIEC 61000-3-11:2000

参照。 

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24 

C 9300-10:2018  

表B.10−I1maxが75 A以下のアーク溶接装置の許容値 

最大相対電圧変動dmax 

相対定常状態電圧変動dca) 

短期間フリッカ指標 Psta) 

3.3 

1.0 

注a) dc及びPstの許容値は,手動アーク溶接(MMA)プロセスのために設計した装置

だけに適用する。 

Pstは,手動切替によって起こる電圧変動には適用しない。 

IEC 61000-3-3:2013による参照インピーダンスを用いて試験又は評価した場合,表B.10の許容値を満た

さない装置は,条件的な接続が必要となるため,製造業者は次のいずれかに対応する。 

a) IEC 61000-3-11:2000の6.3に従って,使用者供給のインタフェイス点で最大許容システムインピーダ

ンスZmaxを算出し,取扱説明書にZmaxを記載する。 

b) IEC 61000-3-11:2000の6.2に従って装置を試験し,かつ,装置が一相当たり100 A以上のサービス電

流容量をもつ施設に限っての使用を意図することを取扱説明書に記載する。 

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25 

C 9300-10:2018  

附属書C 
(参考) 
シンボル 

表C.1は,RF装置のクラス表示及び使用制限のシンボルを示す。 

表C.1−EMC特性を示すためのシンボル 

N◦ 

シンボルID引用元 

シンボル 

機能,キーワード又は

表現 

適用 

IEC 60417-5109 

商用低電圧電源系統に
接続する住居領域では
用いない。 

クラスA装置と識別
し,使用制限をするた
め。 
注記 シンボルは購入
前に買い手及び使用者
が分かるように,包装,
装置又は文書上に用い
る。 

IEC 60417-5939 
及び 
ISO 7000- 0434A 
の組合せ 

商用低電圧電源系統に
接続するための制限を
適用する。 

要求される電源系統の
パラメータに関する使
用制限を識別するた
め。 
注記 シンボルは購入
前に買い手及び使用者
が分かるように,包装,
装置又は文書上に用い
る。 

参考文献 IEC 60417-DB:2011,Graphical symbols for use on equipment 

IEC 60974-9,Arc welding equipment−Part 9: Installation and use 

IEC/TS 61000-3-4,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-4: Limits−Limitation of emission of 

harmonic currents in low-voltage power supply systems for equipment with rated current greater 

than 16 A 

ISO 7000:2004,Graphical symbols for use on equipment−Index and synopsis 

background image

26 

C 9300-10:2018  

附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

JIS C 9300-10:2018 アーク溶接装置−第10部:電磁両立性(EMC)要求事項 

IEC 60974-10:2014,Arc welding equipment−Part 10: Electromagnetic compatibility 
(EMC) requirements及びAmendment 1:2015 

(I)JISの規定 

(II)国際 
規格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

6.2 試験条
件 
6.2.1.2 

 
 
高調波のための試
験条件 

 
 
6.2.1.2 

 
 
JISにほぼ同じ 

 
 
変更 

 
 
定格入力電流の範囲を16 A未満を
20 A未満とした。 

 
 
我が国の配電事情に合わせて,20 
A未満としたため,IECへの提案
は不要。 

B.4 高調波
電流許容値 

 
 
表B.5の表題 最大
定格入力電流I1max
が20 A以下の専門
家用でない装置の
最大許容高調波電
流 

 
 
表B.5 

 
 
JISにほぼ同じ 

 
 
変更 

 
 
最大定格入力電流の16 Aを20 Aと
した。 

 
 
我が国の配電事情に合わせて,20 
Aとしたため,IECへの提案は不
要。 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:(IEC 60974-10:2014,Amd.1:2015,MOD) 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

− MOD ··············· 国際規格を修正している。 

6

C

 9

3

0

0

-1

0

2

0

1

8