C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

（1） 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 装置······························································································································· 2 

4 試験体の選定 ··················································································································· 2 

5 電流及び電圧の線形性試験手順 ··························································································· 3 

5.1 自然光での測定手順 ······································································································· 3 

5.2 ソーラシミュレータでの測定手順······················································································ 4 

5.3 分光感度による短絡電流の線形性試験手順 ·········································································· 6 

6 2光源法による短絡電流の線形性試験手順············································································· 6 

6.1 背景 ···························································································································· 6 

6.2 装置A及びBの光源 ······································································································ 6 

6.3 一般的な手順 ················································································································ 6 

7 線形性の算出 ··················································································································· 7 

7.1 傾きの線形性検証 ·········································································································· 7 

7.2 2光源法による短絡電流線形性の検証 ················································································ 7 

7.3 非線形の許容範囲に対する要求事項··················································································· 7 

8 報告······························································································································· 8 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

（2） 

まえがき 

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電機工業会（JEMA）から，

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。 

JIS C 8904の規格群には，次に示す部編成がある。 

JIS C 8904-1 第1部：太陽電池I-V特性測定方法（予定） 

JIS C 8904-2 第2部：基準太陽電池デバイスに対する要求事項 

JIS C 8904-3 第3部：基準太陽光の分光放射照度分布による太陽電池測定原則 

JIS C 8904-4 第4部：校正のトレーサビリティ確立手順 

JIS C 8904-5 第5部：開放電圧法による等価セル温度の決定（予定） 

JIS C 8904-7 第7部：太陽電池測定でのスペクトルミスマッチ補正の計算方法 

JIS C 8904-8 第8部：太陽電池分光感度特性測定方法（予定） 

JIS C 8904-9 第9部：ソーラシミュレータの性能要求事項 

JIS C 8904-10 第10部：線形性の測定方法 

日本工業規格          JIS 

C 8904-10：2017 

(IEC 60904-10：2009) 

太陽電池デバイス−第10部：線形性の測定方法 

Photovoltaic devices-Part 10: Methods of linearity measurement 

序文 

この規格は，2009年に第2版として発行されたIEC 60904-10を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。 

1 

適用範囲 

この規格では，試験パラメータについて，あらゆる太陽電池デバイスの線形性の程度を測定するために

用いる手順について規定する。この規格は，主に，校正機関，モジュールの製造業者及びシステム設計者

が用いることを意図している。 

太陽電池及びシステムを性能評価する場合，並びに温度及び照度の組合せ条件を他の条件に性能変換す

る場合には，線形方程式の使用に頼ることが多い（IEC 60891及びIEC 61829を参照）。この規格は，三つ

の線形方程式から十分な質の結果を導くための線形性要求事項及び試験方法を規定する。これらの要求事

項によって，方程式を用いることができる温度及び照度の変数の範囲を間接的に規定する。 

この規格で規定する測定方法は，全ての太陽電池デバイスに適用することができ，サンプル又は同一の

技術を用いた同等の太陽電池デバイスに用いることを意図している。これらは，線形デバイスを必要とす

る全ての測定及び修正手順の前に実行する必要がある。この規格で用いる方法論は，IEC 60891に規定す

る，最小二乗適合計算ルーチンを用いて線形（直線）関数をデータ点集合に適合する手法と類似している。

この関数からデータの偏差を算出し，線形性の定義を許容偏差として表している。 

なお，太陽電池デバイスは，7.3の要求事項を満たすときに線形であるとみなすことができる。 

これら及び他の試験パラメータによる線形性の程度の決定方法は，箇条5及び箇条6に記載する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。 

IEC 60904-10:2009，Photovoltaic devices−Part 10: Methods of linearity measurement（IDT） 

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。 

2 

引用規格 

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS C 8904-3 太陽電池デバイス−第3部：基準太陽光の分光放射照度分布による太陽電池測定原則 

注記 対応国際規格：IEC 60904-3，Photovoltaic devices−Part 3: Measurement principles for terrestrial 

photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data（MOD） 

JIS C 8904-9 太陽電池デバイス−第9部：ソーラシミュレータの性能要求事項 

2 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

注記 対応国際規格：IEC 60904-9，Photovoltaic devices−Part 9: Solar simulator performance 

requirements（MOD） 

JIS C 8990 地上設置の結晶シリコン太陽電池（PV）モジュール−設計適格性確認及び形式認証のた

めの要求事項 

注記 対応国際規格：IEC 61215，Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules−Design 

qualification and type approval（IDT） 

JIS C 8991 地上設置の薄膜太陽電池（PV）モジュール−設計適格性確認試験及び形式認証のための

要求事項 

注記 対応国際規格：IEC 61646，Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules−Design qualification 

and type approval（IDT） 

JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項 

注記 対応国際規格：ISO/IEC 17025，General requirements for the competence of testing and calibration 

laboratories（IDT） 

IEC 60891，Photovoltaic devices−Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V 

characteristics 

IEC 60904-1，Photovoltaic devices−Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics 

IEC 60904-8，Photovoltaic devices−Part 8: Measurement of spectral responsivity of a photovoltaic (PV) 

device 

3 

装置 

測定に用いる装置は，次による。 

a) I-V 曲線を測定するために必要な装置（IEC 60904-1を参照）。 

b) メッシュフィルタ，NDフィルタなどの，相対スペクトル分布及び放射照度の場所むらに影響を与え

ずに必要とされる範囲内で照度を変えるために必要な装置。 

注記1 照度を変えるために用いる装置及び手順は，放射計を用いて検証する必要がある。相対スペ

クトル照度分布の変化によって，太陽電池デバイスの短絡電流に0.5 %以上の変化があって

はならない（JIS C 8904-7及びIEC 60904-8参照）。メッシュフィルタを用いる方法が大面積

の試験平面に最も適した方法である。 

注記2 JIS C 8904-7は，太陽電池デバイスの試験で発生するスペクトルミスマッチ誤差の計算方法

を規定し，IEC 60904-8は，スペクトル測定のための指針を規定している。 

c) 試験体の温度を変えるために必要な装置。 

d) 試験体及び基準太陽電池デバイスの温度を調節する方法，又は取り外し可能な日よけ。 

e) IEC 60904-8に規定する，試験体（又は試験体を代表するサンプル）の分光感度を測定値の±2 %の繰

り返し精度で測定するための装置。 

4 

試験体の選定 

この規格は，可能な限り大形の試験体に対して適用する。実製品サイズの試験体が用意できない場合に

は，構造及び素材が同じ小形のサンプルを用いてもよい。 

3 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

5 

電流及び電圧の線形性試験手順 

温度及び照度に関する短絡電流の線形性試験には，三つの手順がある。それぞれを，5.1，5.2及び5.3

に示す。温度及び照度に関する開放電圧の線形性試験には，二つの手順がある。それぞれを，5.1及び5.2

に示す。 

5.1 

自然光での測定手順 

5.1.1 

日射強度，日射強度変動及び風速に関する規定 

自然光での測定は，次の場合に限り行うことができる。 

a) 照度が，必要とされる範囲の上限の水準以上である。 

b) 短期変動（雲，煙霧又は煙）によって起こる照度の変化が基準太陽電池デバイスで測定した照度の±

2 %未満である。 

c) 風速が 2 m･s−1未満である。 

5.1.2 

試験体固定方法 

基準太陽電池デバイスを試験体と同一平面に置き，両方が直射日光に対する垂直線から±1°以内の位置

になるようにする。必要な器具に接続する。 

注記 この細分箇条以降に記載する測定は，スペクトル条件の変化の影響を最小限に抑えるため，同

じ日の数時間以内にできるだけ迅速に行う必要がある。それができない場合は，スペクトル補

正が必要となる。 

5.1.3 

温度制御を行う場合 

試験体及び基準太陽電池デバイスに温度制御機能が付いている場合は，必要な温度に調節装置を設定す

る。温度調節装置を用いていない場合は，試験体を太陽光から遮って大気温度の±1 ℃以内に安定させる。

基準太陽電池デバイスもその平衡温度の±1 ℃以内に安定させてから手順を進める。 

5.1.4 

測定項目 

試験パラメータXi及び試験体パラメータYi，並びに基準太陽電池デバイスの短絡電流及び温度を日よけ

を外して（用いている場合），同時に測定する。 

5.1.5 

日射強度の算出方法 

照度Goは，次の式(1)で算出する。 

(

)

[

]

25

1

000

 1

m

rc

rc

sc

o

−

−

×

×

=

T

I

I

G

α

 ····················································· (1) 

ここに， 

Isc： 基準太陽電池デバイスの短絡電流 

Irc： 基準太陽電池デバイスの標準状態（STC）での校正値 

αrc： 基準太陽電池デバイスの温度係数 

Tm： 基準太陽電池デバイスの温度 

5.1.6 

日射強度の可変方法 

照度を可変パラメータとする場合，放射照度の場所むら又はスペクトル分布に影響を与えない範囲で，

試験体の照度を既知の比率kiまで下げる。これを行うには，次に示すような様々な方法がある。 

a) 校正済みの均一密度メッシュフィルタを用いる。この方法を選択した場合，試験中に入射照度を測定

できるようにするため，基準太陽電池デバイスはフィルタで覆わない。この場合のkiは，フィルタ校

正パラメータ（透過した光線の比率）である。 

b) 校正されていない均一密度メッシュフィルタを用いる。この方法を選択した場合，試験中，基準太陽

電池デバイスをフィルタで覆う必要がある。この場合のkiは，基準太陽電池デバイスの短絡電流（Isc）

4 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

の，その校正値（Irc）に対する比率である。 

注記1 メッシュフィルタの最大線径寸法は，基準太陽電池デバイス及び試験体の最小短辺寸法の

1 %以下である必要があり，そうでない場合は位置によって誤差が生じる可能性がある。 

c) 入射角度を調節する。この方法を選択した場合，基準太陽電池デバイスは試験体と同じ反射特性があ

る必要があり，試験体に対し垂直位置から±1°の同一平面上に設置する必要がある。 

この場合のkiは，基準太陽電池デバイスの短絡電流（Isc）の，その校正値（Irc）に対する比率である。 

注記2 厚さのある電極をもつ太陽電池では，シャドウイングを最小限に抑える又は排除するために，

回転軸が金属配線の方向に平行である必要がある。 

5.1.7 

試験体の放射照度計算 

試験体の放射照度Giは，次の式(2)で算出する。 

o

i

i

G

k

G

×

=

 ··············································································· (2) 

ここで，Goは，式(1)で表される。 

5.1.8 

温度の調整方法 

温度を可変パラメータとする場合，調節装置を用いるか，又は所望する温度に達してそれを維持できる

まで試験体を光線にさらしたり光線から遮ったりして温度を調節する。代替として，試験体が，暖機中に

定期的に行われる，5.1.4のデータ記録手順によって自然に温まるのを待ってもよい。 

5.1.9 

温度制御範囲 

試験体及び基準太陽電池デバイスの温度が±1 ℃以内に安定し，基準太陽電池デバイスによって測定し

た照度が，データ記録中，±2 %以内に安定することを確認する。 

5.1.10 繰返し測定手順 

5.1.4〜5.1.9の手順を繰り返す。試験パラメータの値は，必要とされる範囲内で4か所以上がおおよそ同

じ増分となるように選択する必要がある。各試験条件で，最低3回測定する。 

5.2 

ソーラシミュレータでの測定手順 

注記 キセノンなどの輝線ランプは，使用前に評価する。温度変化のために太陽電池デバイスのバン

ドギャップが変動した場合，ランプのスペクトルの様々な輝線を通過し，性能に大きなぶれが

発生する可能性がある。分光感度特性及びランプスペクトルの直線性に基づき，温度の関数と

しての不整合補正を実行することによって，この影響の規模を算出することができる。 

5.2.1 

試験体固定方法 

試験体及び基準太陽電池デバイスをソーラシミュレータの試験平面の同一表面に置き，両方が光線の中

心線に対する垂線から±2°になるようにする。必要な器具に接続する。 

5.2.2 

温度制御あり又はなしの場合の注意事項 

試験体及び基準太陽電池デバイスに温度制御装置が付いている場合は，必要な温度に調節装置を設定す

る。温度調節装置を用いていない場合は，試験体及び基準太陽電池デバイスを室温の±1 ℃以内に安定さ

せる。 

5.2.3 

放射照度の設定 

試験平面の照度を，基準太陽電池デバイスの電流測定値（Isc），及びそのSTC（Irc）での校正値を用いて

必要とされる範囲の上限に設定する。 

5.2.4 

測定項目 

試験を実行して，試験パラメータXi及び試験片パラメータYi，並びに基準太陽電池デバイスの短絡電流

及び温度を同時に測定する。 

5 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

5.2.5 

放射照度の算出方法 

照度Goは，次の式(3)で算出する。 

(

)

[

]

25

1

000

 1

m

rc

rc

sc

o

−

−

×

×

=

T

I

I

G

α

 ····················································· (3) 

ここに， 

Isc： 基準太陽電池デバイスの短絡電流 

Irc： 基準太陽電池デバイスの標準状態（STC）での校正値 

αrc： 基準太陽電池デバイスの温度係数 

Tm： 基準太陽電池デバイスの温度 

5.2.6 

放射照度の可変方法 

照度を可変パラメータとする場合，放射照度の場所むら又はスペクトル分布に影響を与えない範囲で，

試験体の照度を既知の比率kiまで下げる。これには次に示すような様々な方法がある。 

a) 試験平面とランプとの間の距離を長くする。基準太陽電池デバイスを試験体と同じ試験平面に保った

場合，kiは基準太陽電池デバイスの短絡電流（Isc）の，その校正値（Irc）に対する比率である。 

b) 光学レンズを使用する。この場合のkiは，基準太陽電池デバイスの短絡電流（Isc）の，その校正値（Irc）

に対する比率である。レンズは，試験体及び基準太陽電池デバイスが応答する波長範囲での相対スペ

クトル照度を大きく変えないことに注意する。 

c) 入射角度を調節する。この方法を選択した場合，ランプ光源と試験体との間の距離は，傾斜面の照射

変化が0.5 %以下に限定されるように大きく取る。また，照射光束は平行光である必要があり，基準

太陽電池デバイスには試験体と同じ反射特性がある必要があるため，試験体と同一平面に設置する。

この場合のkiは，基準太陽電池デバイスの短絡電流（Isc）の，その校正値（Irc）に対する比率である。 

d) 校正済みの均一密度メッシュフィルタを用いる。この方法を選択した場合，試験中に入射照度を測定

できるようにするため，基準太陽電池デバイスをフィルタで覆わない。この場合のkiは，フィルタ校

正パラメータ（透過した光線の比率）である。 

e) 校正されていない均一密度メッシュフィルタを用いる。この方法を選択した場合，試験中，基準太陽

電池デバイスをフィルタで覆う必要がある。この場合のkiは，基準太陽電池デバイスの短絡電流（Isc）

の，その校正値（Irc）に対する比率である。 

注記 メッシュフィルタの最大線径寸法は，基準太陽電池デバイス及び試験体の最小短辺寸法の

1 %以下である必要があり，そうでない場合は位置によって誤差が生じる可能性がある。 

5.2.7 

試験体の放射照度計算 

試験体の照度Giは，式(4)で算出する。 

o

i

i

G

k

G

×

=

 ··············································································· (4) 

ここで，Goは，式(3)による。 

5.2.8 

温度の調整方法 

温度を可変パラメータとする場合，適切な方法で温度を調節する［JIS C 8990及びJIS C 8991の10.4（温

度係数の測定）参照］。 

5.2.9 

温度制御範囲 

試験体及び基準太陽電池デバイスの温度が，試験中に±1 ℃以内に安定することを確認する。 

5.2.10 繰返し測定手順 

5.2.4〜5.2.9の手順を繰り返す。試験パラメータの値は，必要とされる範囲内で4か所以上がおおよそ同

じ増分となるように選択する必要がある。各試験条件で，最低3回測定する。 

6 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

5.3 

分光感度による短絡電流の線形性試験手順 

IEC 60904-8に従って，必要とされる範囲内での温度又は照度がほぼ同一の増分で最低4回，温度又は

バイアス光の関数として分光感度を測定する。短絡電流密度は，JIS C 8904-3に規定する基準スペクトル

を用いて測定した応答性を統合することによって算出する。 

6 

2光源法による短絡電流の線形性試験手順 

6.1 

背景 

太陽電池デバイスが線形の場合，二つの光源から照射する太陽電池デバイスの短絡電流（光電流）は，

式(5)のとおり，各光源からの短絡電流（光電流）の合計に等しくなる。 

AB

B

A

I

I

I

=

+

 ············································································· (5) 

ここに， IAB： 両ランプが太陽電池デバイスを照射している場合の短絡電流 
 

IA： 一つのランプを太陽電池デバイスに照射し，もう一つのランプからの

光線を遮ったときの短絡電流 

IB： IAとは逆のランプを太陽電池デバイスに照射し，もう一つのランプか

らの光線を遮ったときの短絡電流 

注記 この方法の利点は，フィルタ及びランプの特性を測定する必要がないことである。 

6.2 

装置A及びBの光源 

単一接合の太陽電池の試験体の場合，放射照度の場所むら及びスペクトル分布は重要ではない。モジュ

ールである試験体の場合，JIS C 8904-9の等級B-B-A以上の光源が二つ必要である。放射照度時間変動率

は，IAB，IA及びIBの測定期間中，0.5 %未満である必要がある。 

6.3 

一般的な手順 

6.3.1 

試験体の接続 

Iscを測定するために試験体を装置に接続する。 

6.3.2 

試験体温度の設定 

試験体の温度を必要とされる値に設定し，±5 ℃以内に維持する。 

6.3.3 

照度の調整 

必要な照度が得られ，かつ，安定するように光源を調節する。二つの光源からおおよそ同じ短絡電流を

発生するときに最適な結果が得られる。 

注記 照度はフィルタを用いたり，光源の強度を変えたりすることで変更できる。 

6.3.4 

短絡電流の算出 

光源A及び光源Bに対して，一定のフィルタ又は照度の組合せでI*AB，I*A，I*B，及びIroom（両光線を

遮ったときの短絡電流）を測定する。IAB，IA及びIBを，次の式(6)〜式(8)で算出する。 

room

AB

AB

*

I

I

I

−

=

 ········································································· (6) 

room

A

A

*

I

I

I

−

=

 ··········································································· (7) 

room

B

B

*

I

I

I

−

=

 ··········································································· (8) 

6.3.5 

短絡電流測定の繰返し 

IABに相当する短絡電流IA及びIBを得られる照度値で6.3.3〜6.3.4の手順を繰り返す。 

6.3.6 

測定の繰返し 

照度の関心範囲に達するまで，工程（6.3.3〜6.3.5の手順）を繰り返す。 

注記 関心範囲のデータ点を増やすには，6.3.4〜6.3.6の手順で測定された短絡電流を得られる照度値

の組合せを用いることができる。 

7 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

7 

線形性の算出 

評価対象以外の変数パラメータが試験中に一定に保たれていることを確認する。温度及び／又は照度の

小さな変化は，IEC 60891を用いて必要な条件に分析的に補正することができる。この補正は，線形性が

確立されたとき，及びより精度の高い補正係数が特定されたときに更新される反復的な工程になる。 

7.1 

傾きの線形性検証 

開放電圧−温度，又は短絡電流−照度のような性能特性の傾きについては，次の方法を用いて線形性を

計算する。 

7.1.1 

試験パラメータの平均値算出 

次の最小二乗法を用いて，試験パラメータの平均値，及び最良適合直線の特性を計算する。 

− 手順1：式(9)及び式(10)を用いて，X及びYデータ点の平均値を計算する。 

n

X

X

n∑

=

=

1

i

i

 ··············································································· (9) 

n

Y

Y

n∑

=

=

1

i

i

 ·············································································· (10) 

ここで，nは測定の回数とする。 

− 手順2：最良適合直線の傾きmを式(11)で算出する。 

∑

∑

=

=

−

−

−

=

n

n

X

X

Y

Y

X

X

m

1

i

2

1

i

)

(

)

)(

(

i

i

i

 ······························································(11) 

− 手順3：回帰線とも呼ばれる最良適合直線は，式(12)で算出することができる。 

(

)

i

iˆ

X

X

m

Y

Y

−

×

=

−

 ··································································· (12) 

注記1 Ŷは，適合することを基にした予想値である。 

注記2 これはb＝Y−mXの場合のŶi＝mXi＋bと同等である。 

7.1.2 

線形からの偏差の検証 

線形性からの百分率偏差は，最良適合直線の傾きm及び測定データを次の式(13)で算出する。 

線形性からの百分率偏差

(

)

Y

Yˆ

/

1

100

i

−

×

=

······································ (13) 

ここで，一般的な{Xi，Yi}の組は，{Isc，Gi}又は{Pmax，T}である。 

7.2 

2光源法による短絡電流線形性の検証 

偏差Dlinを線形性からの百分率偏差として表すと，式(14)となる。 

(

)

[

]1

)

2

/(

100

room

B

A

room

AB

lin

−

×

−

+

−

×

=

I

I

I

I

I

D

 ··································· (14) 

各照度には，Dlin値がある。 

7.3 

非線形の許容範囲に対する要求事項 

特定の太陽電池デバイスが線形であるとされている場合，温度，照度若しくは電圧の適用範囲，又は他

の必要な条件も記載する必要がある。非直線性（偏差）の許容限界の要求事項は，次のとおりである。 

a) 短絡電流−照度曲線の場合，直線性からの最大偏差は2 %未満である。 

b) 開放電圧−照度の対数の曲線の場合，直線性からの最大偏差は5 %未満である。 

c) 開放電圧−温度，短絡電流−温度，最大電力−温度の曲線の場合は，直線性からの最大偏差が5 %未

8 

C 8904-10：2017 (IEC 60904-10：2009) 

満である。短絡電流の温度係数が0.1 %/K未満の場合は，このパラメータに関して太陽電池デバイス

は線形であるとみなす。 

8 

報告 

上記の手順の完了後，測定された特性を含む性能試験の認証報告は，JIS Q 17025の手順に従って試験機

関が作成する。各認証書又は試験報告には，少なくとも次の情報を記載する。 

a) 表題 

b) 試験実験室の名称及び所在地，並びに校正又は試験が行われた場所 

c) 証明書又は報告書，及び各ページへの一意な識別 

d) 適切な場合，依頼主の名称及び所在地 

e) 校正又は試験された項目の説明及び識別 

f) 

校正又は試験された項目の特性及び条件 

g) 試験項目の受領日，及び，適切な場合は校正又は試験の実施日 

h) 用いられた校正又は試験方法の識別 

i) 

該当する場合は，サンプリング手順の参照 

j) 

校正又は試験方法からのあらゆる逸脱，追加又は除外，及び環境条件などの特定の校正又は試験に関

連する他の全ての情報 

k) モジュールの入射角度効果の測定，検査及び派生結果，並びにその動作温度及び分光感度 

l) 

非対称光学モジュールの場合，図への傾斜角及び方位角の記入 

m) 校正及び試験結果の推定不確実性の声明（該当する場合） 

n) 証明書又は報告の内容を承認した責任者の署名，役職又はそれに相当する識別，及び発行日 

o) 該当する場合，試験された試験体だけに関連する結果に関する記述 

p) 証明書又は報告が，実験室の書面による全面的な許可なく複製できないことを示す記述 

q) サンプルが線形基準に適合するかしないかの記述，及び線形性からの偏差 

r) 7.3で線形性を決定するために用いたデータのグラフ 

参考文献 JIS C 8904-2 太陽電池デバイス−第2部：基準太陽電池デバイスに対する要求事項 

JIS C 8904-7 太陽電池デバイス−第7部：太陽電池測定でのスペクトルミスマッチ補正の計算

方法 

注記 対応国際規格：IEC 60904-7，Photovoltaic devices−Part 7: Computation of the spectral 

mismatch correction for measurements of photovoltaic devices 

JIS C 8912 結晶系太陽電池測定用ソーラシミュレータ 

注記 このJISは，他のJISと統合し，JIS C 8904-9に置き換わった。 

JIS C 8913 結晶系太陽電池セル出力測定方法 

JIS C 8914 結晶系太陽電池モジュール出力測定方法 

JIS C 8915 結晶系太陽電池分光感度特性測定方法 

JIS C 8916 結晶系太陽電池セル・モジュールの出力電圧・出力電流の温度係数測定方法 

JIS C 8919 結晶系太陽電池セル・モジュール屋外出力測定方法 

IEC 61829，Crystalline silicon photovoltaic (PV) array−On-site measurement of I-V characteristics