C 8904-1：2019
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
2A 用語及び定義 ················································································································ 2
3 一般的な測定要件 ············································································································· 2
4 測定装置························································································································· 3
4.1 自然太陽光での測定 ······································································································· 3
4.2 ソーラシミュレータでの測定 ··························································································· 3
5 自然太陽光での測定 ·········································································································· 4
5.1 配置 ···························································································································· 4
5.2 温度調整 ······················································································································ 4
5.3 I-V特性及び温度測定 ····································································································· 4
5.4 放射照度条件 ················································································································ 4
5.5 分光放射照度測定 ·········································································································· 4
5.6 測定結果の補正 ············································································································· 4
6 定常光形ソーラシミュレータによる測定 ··············································································· 5
6.1 ソーラシミュレータ ······································································································· 5
6.2 放射照度設定 ················································································································ 5
6.3 配置 ···························································································································· 5
6.4 計器の接続 ··················································································································· 5
6.5 温度調整 ······················································································································ 5
6.6 放射照度測定 ················································································································ 6
6.7 測定結果の補正 ············································································································· 6
7 パルス発光形ソーラシミュレータによる測定 ········································································· 6
7.1 基準デバイス ················································································································ 7
7.2 放射照度設定 ················································································································ 7
7.3 配置 ···························································································································· 7
7.4 接続 ···························································································································· 7
7.5 温度調整 ······················································································································ 7
7.6 測定 ···························································································································· 7
7.7 測定結果の補正 ············································································································· 7
8 試験報告書 ······················································································································ 8
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 10
C 8904-1：2019
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まえがき
この規格は，工業標準化法に基づき，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本
工業規格である。これによって，JIS C 8913:2005，JIS C 8914:2005，JIS C 8919:2005，JIS C 8934:2005，
JIS C 8935:2005及びJIS C 8940:2005は廃止され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8904の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8904-1 第1部：I-V特性の測定
JIS C 8904-2 第2部：基準太陽電池デバイスに対する要求事項
JIS C 8904-3 第3部：基準太陽光の分光放射照度分布による太陽電池測定原則
JIS C 8904-4 第4部：校正のトレーサビリティ確立手順
JIS C 8904-7 第7部：太陽電池測定でのスペクトルミスマッチ補正の計算方法
JIS C 8904-8 第8部：太陽電池デバイスの分光感度特性測定方法
JIS C 8904-9 第9部：ソーラシミュレータの性能要求事項
JIS C 8904-10 第10部：線形性の測定方法
日本工業規格 JIS
C 8904-1：2019
太陽電池デバイス−
第1部：I-V特性の測定
Photovoltaic devices-
Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics
序文
この規格は，2006年に第2版として発行されたIEC 60904-1を基に，構成を変更して作成した日本工業
規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，自然太陽光及びソーラシミュレータにおける太陽電池デバイスの電流−電圧特性（以下，
I-V特性という。）の測定手順について規定する。これらの手順は，太陽電池セル，組み立てられた太陽電
池セル又はモジュールに適用される。
注記1 この規格は，JIS C 8904-3のエアマス（以下，AMという。）1.5スペクトルにおける各要素
セルの電流値が同じになる場合，多接合形太陽電池の試験体にも適用できる。
注記2 この規格は，直達日射によって照射され，直達日射のスペクトルによるミスマッチ補正が行
われた場合，集光形太陽電池にも適用できる。
この規格の目的は，太陽電池デバイスのI-V特性の測定に必要な基本的な要求事項，異なる測定技術の
ための測定方法の定義，及び測定の不確かさを最小にするための実践方法を規定する。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60904-1:2006，Photovoltaic devices−Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage
characteristics（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 8904-2 太陽電池デバイス−第2部：基準太陽電池デバイスに対する要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60904-2，Photovoltaic devices−Part 2: Requirements for photovoltaic reference
devices
JIS C 8904-3 太陽電池デバイス−第3部：基準太陽光の分光放射照度分布による太陽電池測定原則
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注記 対応国際規格：IEC 60904-3，Photovoltaic devices−Part 3: Measurement principles for terrestrial
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
JIS C 8904-7 太陽電池デバイス−第7部：太陽電池測定でのスペクトルミスマッチ補正の計算方法
注記 対応国際規格：IEC 60904-7，Photovoltaic devices−Part 7: Computation of the spectral mismatch
correction for measurements of photovoltaic devices
JIS C 8904-9 太陽電池デバイス−第9部：ソーラシミュレータの性能要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60904-9，Photovoltaic devices−Part 9: Solar simulator performance
requirements
JIS C 8904-10 太陽電池デバイス−第10部：線形性の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60904-10，Photovoltaic devices−Part 10: Methods of linearity measurement
JIS C 8960 太陽光発電用語
JIS C 60891 太陽電池デバイス−I-V特性測定における温度及び照度補正法
注記 対応国際規格：IEC 60891，Photovoltaic devices−Procedures for temperature and irradiance
corrections to measured I-V characteristics
JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17025，General requirements for the competence of testing and calibration
laboratories
IEC 60904-5，Photovoltaic devices−Part 5: Determination of the equivalent cell temperature (ECT) of
photovoltaic (PV) devices by the open-circuit voltage method
2A 用語及び定義
この規格で使用する主な用語及び定義は，JIS C 8960による。
3
一般的な測定要件
測定要件は，次による。
a) 放射照度測定は，JIS C 8904-2に従ってパッケージ化され，校正した基準デバイス，又は全天日射計
を用いる。基準デバイスは，試験体に対しスペクトルが合致するか，又はJIS C 8904-7に基づきスペ
クトルミスマッチ補正を行う。基準デバイスは，JIS C 8904-10に定義されているように，対象の放射
照度範囲で，短絡電流（ISC）が線形性でなければならない。
注記1 基準デバイスが，試験体と同一な太陽電池技術及び封止構造で構成されている場合，スペ
クトルが合致しているとみなされる。スペクトルが合致していない場合は，スペクトルミ
スマッチを報告する。
b) 基準デバイス及び試験体の温度は，精度が±1 ℃で，再現性が±0.5 ℃の計器を用いて，測定する。基
準デバイスの温度が，校正時の温度から2 ℃以上異なる場合，測定温度に対して校正値を調整しなけ
ればならない。基準デバイスが全天日射計の場合，温度測定及びその出力信号の温度補正は必要ない。
c) 試験体の受光面は，基準デバイスの受光面と角度が±2°未満で同一平面でなければならない。
d) 電圧及び電流は，開放電圧（VOC）及び短絡電流（ISC）に関して，精度が±0.2 %の計器を用いて，試
験体の電極から，できるだけ短い独立したリード線を用いて測定する。データ取得の測定範囲は，慎
重に選択することを推奨する。太陽電池モジュールに適用する場合の4線接続は，端子又はコネクタ
に接続することを推奨する。太陽電池セルに適用する場合の4線接続は，バスバーに接続することを
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推奨する。
注記2 太陽電池セルの接続方法は，慎重に行うことを推奨する。はんだ付けされたタブがプロー
ブとして用いられるか，又はコンタクトスプリング及び太陽電池の裏面コンタクトと大面
積が接触する伝導板を取り付けたバーなどのはんだ付けを使わない方法を用いている場
合，異なる結果が生じる可能性がある。はんだ付けを使わない方法は，モジュールで観察
するよりも高い曲線因子が得られる場合がある。接触方法は，太陽電池の用途又は測定に
適切であることが望ましい。
e) 短絡電流（ISC）は，外部の直列抵抗による電圧の降下をオフセットする可変バイアス（可能な限り電
気的なもの）を用いて，ゼロ電圧の状態で測定する。また，短絡電流は，I-V特性から外挿できる。
外挿するための測定点の電圧は，デバイスの開放電圧の3 %を超えず，電流と直線関係にある。
f)
JIS C 60891に適合した放射照度及び温度補正の精度は，目的の放射照度及び温度条件下の試験体の性
能を測定し，JIS C 8904-10に規定する外挿データの結果との比較を定期的に検証しなければならない。
注記3 温度及び放射照度の補正を広範囲で行うと，モジュール補正係数は試験結果に大きな影響
を与える可能性がある。使用するモジュールパラメータの該当性に注意することが望まし
い。特に，直列抵抗は，同じ種類の試験体群について一般化することはできない。
安定性のない太陽電池を測定する場合，代表的な分光感度特性を選択するように注意する。
4
測定装置
4.1
自然太陽光での測定
箇条3に規定する一般的な測定要件に加えて，自然太陽光でI-V特性を測定するために次の装置を用い
る。
a) 箇条3 a) に規定する条件による基準デバイス又は全天日射計
b) 必要な場合，箇条3 b) に規定する条件による基準デバイスの温度計
c) IEC 60904-5に規定する等価セル温度（ECT）法又は箇条3 b) に規定する試験装置の温度を測定する
他の方法を用いて，試験装置の温度を測定する装置
d) 精度が±5°で，太陽を追尾できる二軸式追尾システム
e) 箇条3 a) に規定するスペクトル補正が必要な場合，試験体及び基準デバイスの分光感度の範囲で太陽
光のスペクトルを測定できる分光放射計
4.2
ソーラシミュレータでの測定
箇条3に規定する一般的な測定要件に加えて，ソーラシミュレータでI-V特性を測定するために次の装
置を用いる。
a) 試験体に対して，放射照度範囲，スペクトル分布及び温度の一致性がよく，箇条3 a) に規定する条件
による基準デバイス
b) 箇条3 b) に規定する条件による基準デバイス及び試験体の温度計
c) JIS C 8904-9に適合した等級B-B-B以上のソーラシミュレータ。試験範囲は，試験体の面積以上とす
る。
d) 試験平面で，放射照度を追跡することができる照度センサー。この照度センサーは，測定される放射
照度範囲と直線関係にある（JIS C 8904-10参照）。
e) 箇条3 a) に規定するスペクトル補正が必要な場合，試験体及び基準デバイスの分光感度の範囲でソー
ラシミュレータのスペクトル強度を測定できる分光放射計
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注記 直接遷移形半導体のセルの試験では，キセノンなどのような輝線ランプの使用に注意する必
要がある。温度によってバンドギャップが変化すると，ランプのスペクトルの様々な輝線を
通過し，性能に大きなぶれが生じる可能性がある。
5
自然太陽光での測定
太陽光での測定は，測定中に日射強度が±1 %以上変動しない場合だけ行うことが可能である。基準状
態（STC）を目的とする測定条件の場合，800 W/m2以上でなければならない。
試験手順は，次による。
5.1
配置
二軸式太陽光追尾装置に置いた試験体にできるだけ近い，同一平面に基準デバイスを取り付ける。試験
体及び基準デバイスは，直達日射に対する垂線の±5°に配置する。必要な計器に接続する。
5.2
温度調整
温度制御機能をもつ試験体及び基準デバイスの場合，目的の温度に温度調節装置を設定する。
温度調節装置を使用しない場合，次のいずれかによる。
a) 周囲温度が±2 ℃に安定するまで，試験体及び基準デバイスを太陽光及び風から遮る。
b) 試験体が安定した温度になるまで維持する。
c) 目的の温度を下回るまで試験体を冷却し，モジュールが自然に温まるまで維持する。
注記 暖機中の太陽電池セルの平均温度と裏面の平均温度との間には，相違がある場合がある。
5.3
I-V特性及び温度測定
試験体のI-V特性及び温度の測定は，必要に応じて，目的の温度条件で基準デバイスの出力及び温度を
同時に記録する。必要な場合，日よけを外した後，すぐに測定を行う。
注記 多くの場合，試験体及び基準デバイスの熱慣性によって，最初の数秒間の温度上昇は2 ℃未満
に抑えられる。温度は，ほぼ均一に保たれる。
5.4
放射照度条件
各データの記録中は，試験体及び基準デバイスの温度が±1 ℃に安定し，基準デバイスによって測定さ
れた放射照度が，±1 %（雲，煙霧，及び煙によって起こる変動）で安定していることを確認する。
5.5
分光放射照度測定
全天日射計又は分光感度が異なる基準デバイスを使用する場合は，分光放射照度計を用いて分光放射照
度測定を同時に行う。
分光感度データ（JIS C 8904-7を適用）を用いて，AM1.5（JIS C 8904-3参照）の下での試験体の有効放
射照度を計算する。
注記 放射照度データを使えない場合は，基準デバイスと試験体との一致性及びAMを慎重に調査す
る。
測定は，明るく晴れた日（太陽の周りに雲が観察されず，太陽放射の散乱光の割合が30 %以下である状
態）に行う。
5.6
測定結果の補正
JIS C 60891に従って測定されたI-V特性を，目的の放射照度及び温度条件に補正する（線形デバイスの
場合。）。非線形デバイスの場合は，どの範囲のデバイスが線形とみなされるかを決定する指針についてJIS
C 8904-10を参照する。
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定常光形ソーラシミュレータによる測定
太陽電池性能を測定するための定常光形ソーラシミュレータは，JIS C 8904-9の要件を満たさなければ
ならない。試験平面の放射照度の均一性を測定し，定期的に確認する。測定の正確性は，同じ試験条件で
連続して測定することによって，定期的に検証する。
校正方法は，次の三つのいずれかを適用する。試験体が基準デバイスと同じ大きさである場合は，A法
を用いる。試験体が基準デバイスより大きい場合は，B法を用いる。試験体が基準デバイスより小さい場
合は，C法を用いる。
注記 A法は，放射照度の場所むら又は電子部品のスケール係数を最小限に抑えられるため，推奨さ
れる方法である。
a) A法 試験体の構造は，寸法及び電気特性について，基準デバイスと同一とする。モジュールの場合，
この要件は，太陽電池セルの種類及びセルの接続回路も対象とする。基準デバイス及び試験体は，試
験平面の同じ位置に置く。
b) B法 試験平面での放射照度は，完全に均一でない可能性がある。有効放射照度は，デバイスのアパ
ーチャ面積の平均放射照度である。基準デバイスが試験体より小さいため，基準デバイスは，試験体
面積内の数箇所で測定する。基準デバイス測定の平均値に相当する位置は，6.2の放射照度設定のため，
基準デバイスの配置に用いる。
c) C法 試験平面での放射照度は，完全に均一でない可能性がある。有効放射照度は，デバイスのアパ
ーチャ面積の平均放射照度である。基準デバイスが試験体より大きいため，試験体は，基準面積内の
数箇所で測定する。試験体測定の平均値に相当する位置は，その後の試験の間，試験体の配置に用い
る。
試験方法は，6.1〜6.7による。
6.1
ソーラシミュレータ
ソーラシミュレータの光線の中心線に対して，±5°の試験平面に基準デバイスを配置する。
注記 ソーラシミュレータの試験平面は，JIS C 8904-9に適合していることを確認することが望まし
い。
6.2
放射照度設定
短絡電流（ISC）又は最大電力（Pmax）で校正された基準デバイスを使用し，A法，B法又はC法を用い
て，試験平面の放射照度を設定する。
6.3
配置
基準デバイスを取り除き，6.1に従って，試験体を試験平面に配置する。
注記 モニターセルの位置が校正と試験とで同じ位置にあるよう注意する。
6.4
計器の接続
試験体を，必要な計器に接続する。
注記 ソーラシミュレータの光線は十分な幅があって，均一である場合，試験体は基準デバイスの近
くに置く。
6.5
温度調整
温度調節装置があるときの試験の準備は，必要な温度に温度調節装置を設定する。温度調節装置がない
場合は，周囲温度の±1 ℃に試験モジュール及び基準デバイスを安定させる。周囲温度の±2 ℃に安定する
まで試験体及び／又は基準デバイスを照射光から遮る。
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6.6
放射照度測定
シミュレータの設定を変更することなく，試験体のI-V特性及び温度を同時に測定する。放射照度セン
サーを用いる場合，照度センサーは，基準デバイスと同じように，試験平面の放射照度が試験デバイスと
同じであることを確認するために使用することが望ましい。
試験体の温度を調節することが現実的でない場合，日よけを取り除いて，すぐに試験体の温度を測定す
る（5.3の注記参照）。
6.7
測定結果の補正
試験体の温度が目的の温度条件でない場合は，JIS C 60891に従って，測定したI-V特性を目的の温度条
件に補正する（線形デバイスの場合。）。非線形デバイスの場合は，どの範囲のデバイスが線形とみなされ
るかを決定する指針についてJIS C 8904-10を参照する。
注記1 モジュールに入射する放射照度が均一でない場合，結果として得られるI-V 特性に影響を与
える。このことは，モジュール内のバイパスダイオード，太陽電池セルの種類の逆I-V特性
及び試験平面の放射照度の場所むらによって影響を受ける。放射照度の場所むらの影響は，
慎重に分析することが望ましく，さらに，不確かさの中で考慮する。
注記2 モジュールを基準デバイスとして用いる場合は，短絡電流（ISC）又は最大電力（Pmax）が，
ソーラシミュレータの放射照度の設定のために適切なパラメータであるかどうかを慎重に検
証する。短絡電流（ISC）で測定する方法において，モジュール温度とモジュール接続方法と
は，ほぼ独立関係にあるが，放射照度の場所むらのために誤差が生じる可能性がある。最大
電力（Pmax）で測定する方法は，放射照度の場所むらを相殺できるが，モジュール温度及び
モジュール接続方法から誤差が生じる可能性がある。最も正確な結果は，基準モジュールの
短絡電流（ISC）及び最大電力（Pmax）の両方で放射照度を設定するときに得られる。
注記3 試験平面の放射照度の場所むらが不明であり，基準デバイスとして基準太陽電池セルを用い
る場合，基準太陽電池セルの位置によって試験体の測定結果が変化する可能性がある。この
ため，基準太陽電池セルの最適な配置は，モジュールの試験平面の平均放射照度になる場所
を選択することによって決定する。この影響は，試験体と同等の大きさの基準太陽電池モジ
ュールを用いることで軽減できる。
注記4 開放電圧（VOC）又は曲線因子（FF）は，光源の分光放射照度分布によって影響を受ける場
合がある。この影響は，必要な場合，自然太陽光で記録された測定結果と比較することで，
分析することが望ましい。
7
パルス発光形ソーラシミュレータによる測定
太陽電池性能測定のためのパルス発光形ソーラシミュレータは，JIS C 8904-9の要件を満たさなければ
ならない。試験平面の放射照度の均一性を測定し，定期的に確認する。測定の正確性は，同じ試験条件で
連続して測定することによって，定期的に検証する。
注記 一般的に，次の2種類のパルス発光形ソーラシミュレータを用いる。
− パルス長が1秒以下で，1回のフラッシュでI-V特性を取得するロングパルス方式
− パルス長が1ミリ秒未満のストロボタイプのランプを用いるショートパルス方式
ショートパルス形ソーラシミュレータは，静電容量が高い太陽電池セル及び太陽電池モジュ
ールのI-V特性の正確な測定には適さない可能性がある。
校正方法は，次の三つのいずれかを適用する。試験体が基準デバイスと同じ大きさである場合は，A法
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を用いる。試験体が基準デバイスより大きい場合は，B法を用いる。試験体が基準デバイスより小さい場
合は，C法を用いる。
a) A法 試験体の構造は，寸法及び電気特性について，基準デバイスと同一とする。モジュールの場合，
この要件は，太陽電池セルの種類及びセルの接続回路も対象とする。基準デバイス及び試験体は，試
験平面の同じ位置に置く。
b) B法 試験平面での放射照度は，完全に均一でない可能性がある。有効放射照度は，デバイスのアパ
ーチャ面積の平均放射照度である。基準デバイスが試験体より小さいため，基準デバイスは，試験体
面積内の数箇所で測定する。基準デバイス測定の平均値に相当する位置は，7.2の放射照度設定のため，
基準デバイスの配置に用いる。
c) C法 試験平面での放射照度は，完全に均一でない可能性がある。有効放射照度は，デバイスのアパ
ーチャ面積の平均放射照度である。基準デバイスが試験体より大きいため，試験体は，基準面積内の
数箇所で測定する。試験体測定の平均値に相当する位置は，その後の試験の間，試験体の配置に用い
る。
試験方法は，7.1〜7.7による。
7.1
基準デバイス
ソーラシミュレータの光線の中心線に対して，±5°の試験平面に基準デバイスを配置する。
注記 ソーラシミュレータの試験平面は，JIS C 8904-9に適合していることを確認することが望まし
い。
7.2
放射照度設定
短絡電流（ISC）又は最大電力（Pmax）で校正された基準デバイスを使用し，A法，B法又はC法を用い
て，試験平面の放射照度を設定する。
注記 一般的なパルス形ソーラシミュレータにおいて，パルス中の放射照度が，基準デバイスで事前
に設定したレベルに達したときに，I-V測定は照度センサー（モニターセル）によって始動す
る。
7.3
配置
必要な場合，基準デバイスを取り除き，7.1に従って，試験体を試験平面に配置する。
注記 モニターセルの位置が校正と試験とで同じ位置にあるよう注意する。
7.4
接続
試験体を，必要な計器に接続する。
注記 ソーラシミュレータの光線は十分な幅があって，均一である場合，試験体は基準デバイスの近
くに置く。
7.5
温度調整
必要な場合は，周囲温度の±1 ℃に試験体及び基準デバイスを安定させる。
7.6
測定
試験体のI-V特性及び温度（又は試験体の温度と周囲温度とが同じ場合は周囲温度）を記録する。測定
点の間隔は，試験体の応答時間及び誤差が生じないようなデータ収集速度を考慮して，十分な間隔を取る。
7.7
測定結果の補正
試験体の温度が目的の温度条件でない場合は，JIS C 60891に従って，測定されたI-V特性を目的の温度
及び放射照度条件に補正する（線形デバイスの場合。）。非線形デバイスの場合は，どの範囲のデバイスが
線形とみなされるかを決定する指針についてJIS C 8904-10を参照する。
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注記1 ロングパルスシステムの場合，I-Vデータは放射中の一定期間を通して記録する。照度補正
のためのモジュールパラメータは，慎重に用いる。目的の放射照度を中心に正及び負の照度
補正が生じるようトリガーで調節する。
注記2 モジュールに入射する放射照度が均一でないと，結果として得られるI-V特性に影響を与え
る。このことは，モジュール内のバイパスダイオード，及び太陽電池セル種による逆I-V特
性並びに試験平面の放射照度の場所むらの影響を受ける。放射照度の場所むらの影響は，慎
重に分析することが望ましく，不確かさとしても考慮する。
注記3 モジュールを基準デバイスとして用いる場合，短絡電流（ISC）又は最大電力（Pmax）が，ソ
ーラシミュレータの放射照度の設定のための適切なパラメータであるかどうかを慎重に検証
する。短絡電流（ISC）による測定法において，モジュールの温度又はモジュールの接続方法
は，ほぼ独立関係にあるが，放射照度の場所むらのために誤差が生じる可能性がある。最大
電力（Pmax）による測定法は，放射照度の場所むらの影響を相殺できるが，モジュールの温
度及びモジュールの接続方法から誤差が生じる可能性がある。
注記4 試験平面の放射照度の場所むらが不明であって，基準デバイスとして基準太陽電池セルを用
いる場合は，基準太陽電池セルの位置によって試験体の測定結果が変化する可能性がある。
このため，基準太陽電池セルの最適な配置は，モジュールの試験平面の平均放射照度になる
場所を選択することによって決定する。この影響は，試験体と同等の大きさの基準太陽電池
モジュールを用いることでも軽減できる。
注記5 開放電圧（VOC）又は曲線因子（FF）は，光源の分光放射照度分布によって影響を受ける場
合がある。この影響は，必要な場合は，自然太陽光で記録された測定結果と比較することで，
分析することが望ましい。
注記6 太陽電池セルの技術によって，I-V測定が電圧スイープ速度及びスイープ方向によって影響
を受ける場合がある。高い静電容量の太陽電池は問題が発生する可能性が高い。これらの影
響を試験で慎重に分析することが望ましい。短絡電流（ISC）から開始される正電圧方向の測
定，及び開放電圧（VOC）で開始される負の電圧方向の測定を重ね合わせることで悪影響を排
除できる。
8
試験報告書
測定した性能特性及び試験結果の試験報告書は，JIS Q 17025による書式で，試験実施機関が作成する。
試験報告書には，次の情報を記載する。
a) 標題
b) 試験実施機関の名称，住所及び試験実施場所
c) 報告書及び各ページの一意の識別情報
d) 試験依頼者の名称及び住所
e) 試験体（太陽電池セル，組み立てられた太陽電池セル又は太陽電池モジュール）の説明及び名称
f)
試験環境の説明［自然太陽光又はソーラシミュレータ（簡単な説明及び等級）］
g) 試験体の受取日及び校正又は試験日（該当する場合。）
h) サンプリング方法への言及（該当する場合。）
i)
使用した校正又は試験方法の特定
j)
校正又は試験方法に対する逸脱，追加又は除外項目，環境条件など特定の校正又は試験に関するその
9
C 8904-1：2019
他の情報
k) 一次基準デバイス及び／又は二次基準デバイス（太陽電池セル又は太陽電池モジュール）の説明及び
識別
l)
測定した特性の温度及び放射照度の補正方法の識別
m) 試験体及び基準デバイスの放射照度条件，温度を含む表及びグラフによる試験結果，並びにI-V特性
の補正に使用したモジュールパラメータ
n) 測定に使用したミスマッチ補正値又は基準デバイスによって生じた誤差の推定値のいずれか
o) 試験結果の不確かさの推定の記載
p) 証明書又は報告書の内容に関する責任者の署名及び役職，又は識別及び発行日
q) 試験体に対してだけ，結果が有効であるという記載
r) 試験所の書面による承認がない限り報告書の一部だけを複製してはならないという旨の記載
10
C 8904-1：2019
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 8904-1:2019 太陽電池デバイス−第1部：I-V特性の測定
IEC 60904-1:2006，Photovoltaic devices−Part 1: Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
2A
用語及び定義
−
−
追加
対応国際規格にはない，本文中で用
いられている用語及び定義を追加
した。
技術的差異はない。IECへの提案
を検討する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60904-1:2006，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
C
8
9
0
4
-1
：
2
0
1
9