C 8281-2-1：2019
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 5
4 一般要求事項 ··················································································································· 8
5 試験に関する一般注意事項 ································································································· 8
6 定格······························································································································· 9
7 分類······························································································································· 9
8 表示······························································································································ 10
9 寸法検査························································································································ 13
10 感電に対する保護 ·········································································································· 13
11 接地接続の手段 ············································································································· 14
12 端子 ···························································································································· 15
13 構造 ···························································································································· 15
14 機構 ···························································································································· 16
15 耐老化性，防水性及び耐湿性 ··························································································· 17
16 絶縁抵抗及び耐電圧 ······································································································· 17
17 温度上昇 ······················································································································ 17
18 開閉容量 ······················································································································ 20
19 平常動作 ······················································································································ 22
20 機械的強度 ··················································································································· 26
21 耐熱性 ························································································································· 26
22 ねじ，通電部及び接続部 ································································································· 26
23 沿面距離，空間距離及びシーリングコンパウンドを通しての絶縁距離······································ 27
24 絶縁材料の耐過熱性，耐火性及び耐トラッキング性 ····························································· 28
25 耐腐食性 ······················································································································ 28
26 電磁環境両立性（EMC） ································································································ 28
101 異常状態 ····················································································································· 34
102 部品··························································································································· 37
附属書A（規定）試験に必要な試験品の一覧表 ········································································· 42
附属書B（規定）可とうケーブルのための保持器具及びアウトレットをもつスイッチの追加規定 ········ 43
附属書AA（参考）電子スイッチの形式及び機能の例 ································································· 44
附属書BB（参考）回路開発：19.109の説明·············································································· 45
附属書CC（規定）IEC 62756-1によるDLT技術を使用する電子スイッチへの追加要求事項 ·············· 50
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 53
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（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
配線システム工業会（JEWA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工
業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工
業規格である。これによって，JIS C 8281-2-1:2012は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8281の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8281-1 第1部：一般要求事項
JIS C 8281-2-1 第2-1部：電子スイッチの個別要求事項
JIS C 8281-2-2 第2-2部：電磁遠隔制御式スイッチ（RCS）の個別要求事項
JIS C 8281-2-3 第2-3部：遅延スイッチ（TDS）の個別要求事項
日本工業規格 JIS
C 8281-2-1：2019
家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用
スイッチ−第2-1部：電子スイッチの個別要求事項
Switches for household and similar fixed electrical installations-
Part 2-1: Particular requirements-Electronic switches
序文
この規格は，2002年に第4版として発行されたIEC 60669-2-1，Amendment 1:2008及びAmendment 2:2015
を基に，我が国固有の配電理由によって定格電圧などを追加し，技術的内容を変更して作成した日本工業
規格である。ただし，追補（amendment）については，編集し，一体とした。
この規格は，JIS C 8281-1:2011の関連する各箇条の規定と併せて適用する規格である。JIS C 8281-1:2011
に追加する箇条・細分箇条，図，表，注記などを，100番台の番号で示す。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
適用範囲は，JIS C 8281-1:2011の箇条1を，次に置き換える。
この規格は，家庭用及びこれに類する用途の屋内用又は屋外用の，固定電気設備に取り付ける電子スイ
ッチ及びそれに関連する電子式拡張ユニット（子器）に適用する。
この規格の対象となる電子スイッチ及びそれに関連する電子式拡張ユニット（子器）は，JIS C 60364（規
格群）の規定による施設で使用する。
この規格は，ランプ回路操作用，ランプの輝度制御（調光器）用，モータ（例えば，換気扇に用いるも
の）の速度制御用，その他の目的（例えば，暖房設備の温度制御）の電子スイッチで，交流の定格電圧が
250 V以下，かつ，定格電流が16 A以下のものに適用する。
操作及び／又は制御は，人の意図的な接触，接近，回転，光，音，熱，その他の方法を用いて，操作部，
検出面又は検出装置を通じて行う。
この規格は，操作及び／又は制御が，光，温度，湿度，時間，風速，人体検知など，物理量の変化によ
って起動する自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチにも適用する。
この規格は，埋込形電子スイッチ用の取付ボックスを除く，電子スイッチ用の取付ボックスにも適用す
る。
この規格は，定格電圧が440 V以下，かつ，定格電流が25 A以下の家庭用及びこれに類する用途の固定
電気設備用スイッチで，屋内用又は屋外用の電子RCS（遠隔制御式スイッチ）及び電子TDS（遅延スイッ
チ）にも適用する。
注記1 抵抗器，コンデンサ，インダクタ，PTC部品・NTC部品，バリスタ，プリント配線板，コネ
クタなど，受動部品だけを含むスイッチは，電子スイッチとはみなされない。
2
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注記2 電子スイッチは，交流又は直流の定格制御電圧による制御回路をもってもよい。
この規格に適合する電子スイッチは，通常は25 ℃以下，一時的に35 ℃に達する周囲温度で使用するの
に適する。
船舶，自動車などの中のような特別な条件がある場所及び爆発が起こるような危険な場所では，特別な
構造を要求する場合がある。
注記3 この規格は，機器に組み込むように設計した装置，特別な機器と共に出荷するための装置，
並びにJIS C 9730の規格群及びJIS C 4526-1の適用範囲に入る装置に適用することは意図し
ていない。
電子スイッチの形式及び機能の例を，附属書AAに示す。
注記4 主回路に機械式スイッチを含まない電子スイッチは，“切”の状態でも完全な開路状態にはな
らない。したがって，負荷側の回路は，充電部であるとみなされる。
注記5 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60669-2-1:2002，Switches for household and similar fixed electrical installations−Part 2-1:
Particular requirements−Electronic switches，Amendment 1:2008及びAmendment 2:2015
（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
引用規格は，JIS C 8281-1:2011の箇条2によるほか，次による。
JIS C 0922 電気機械器具の外郭による人体及び内部機器の保護−検査プローブ
注記 対応国際規格：IEC 61032，Protection of persons and equipment by enclosures−Probes for
verification
JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60112:2003，Method for the determination of the proof and the comparative
tracking indices of solid insulating materials
JIS C 3215-0-1:1999 巻線個別規格−第0部：一般特性−第1節：エナメル銅線
注記 対応国際規格：IEC 60317-0-1:1997，Specifications for particular types of winding wires−Part 0:
General requirements−Section 1: Enamelled round copper wire
JIS C 4003:2010 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方
注記 対応国際規格：IEC 60085:1984，Thermal evaluation and classification of electrical insulation
JIS C 5101-14:2009 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14:1993，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:
Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection
to the supply mains
JIS C 6065:2009 オーディオ，ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60065:2001，Audio, video and similar electronic apparatus−Safety
requirements
JIS C 6575（規格群） ミニチュアヒューズ
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注記 対応国際規格：IEC 60127 (all parts)，Miniature fuses
JIS C 8281-1:2011 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60669-1:2007，Switches for household and similar fixed-electrical installations
−Part 1: General requirements
JIS C 8281-2-2 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ−第2-2部：電磁遠隔制御式
スイッチ（RCS）の個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60669-2-2:2006，Switches for household and similar fixed electrical installations
−Part 2-2: Particular requirements−Electromagnetic remote-control switches (RCS)
JIS C 8281-2-3 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ−第2-3部：遅延スイッチ
（TDS）の個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60669-2-3:2006，Switches for household and similar fixed electrical installations
−Part 2-3: Particular requirements−Time-delay switches (TDS)
JIS C 8462（規格群） 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備の電気アクセサリ用のボックス及
びエンクロージャ
注記1 対応国際規格：IEC 60670 (all parts)，Boxes and enclosures for electrical accessories for
household and similar fixed electrical installations
注記2 対応国際規格の箇条2にはIEC 60670の記載がないが，記載漏れと判断し追加した。
JIS C 9730（規格群） 家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置
注記 対応国際規格：IEC 60730 (all parts)，Automatic electrical controls for household and similar use
JIS C 60364（規格群）低圧電気設備
JIS C 60664-1:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1:2007，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 1: Principles, requirements and tests
JIS C 60664-3:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第3部：汚損保護のためのコーティング，ポッティ
ング及びモールディングの使用
注記 対応国際規格：IEC 60664-3，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−
Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution
JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電
流が20 A以下の機器）
注記 対応国際規格：IEC 61000-3-2:2000，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−
Limits for harmonic current emissions (equipment input current ≦ 16 A per phase)
JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication
JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
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注記 対応国際規格：IEC 61000-4-4:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test. Basic EMC
Publication
JIS C 61000-4-5:2018 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 5: Surge immunity test
JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:1996，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by
radio-frequency fields
JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波磁界イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-8:1993，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 8: Power frequency magnetic field immunity test. Basic EMC
Publication
JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11: 1994，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations
immunity tests
JIS C 61558-2-6:2012 入力電圧1 100 V以下の変圧器，リアクトル，電源装置及びこれに類する装置
の安全性−第2-6部：安全絶縁変圧器及び安全絶縁変圧器を組み込んだ電源装置の個別要求事項
及び試験
注記 対応国際規格：IEC 61558-2-6，Safety of transformers, reactors, power supply units and similar
products for supply voltages up to 1 100 V−Part 2-6: Particular requirements and tests for safety
isolating transformers and power supply units incorporating safety isolating transformers（MOD）
JIS K 7206:1999 プラスチック−熱可塑性プラスチック−ビカット軟化温度（VST）試験方法
注記 対応国際規格：ISO 306:1994，Plastics−Thermoplastic materials−Determination of Vicat softening
temperature (VST)
IEC 61000-2-2:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-2: Environment−Compatibility levels for
low-frequency conducted disturbances and signalling in public low-voltage power supply systems
IEC 61000-3-3:1994，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3: Limits−Section 3: Limitation of voltage
fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with rated current ≦ 16 A
IEC 62756-1，Digital load side transmission lighting control (DLT)−Part 1: Basic requirements
CISPR 14 (all parts)，Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools
and similar apparatus
CISPR 15:2013，Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of electrical lighting
and similar equipment
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用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 8281-1:2011によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の箇条3の第1段落の後に，次を追加する。
用語“電子スイッチ”は，電子式スイッチング装置及び電子式制御装置の両方を含む一般的な用語とし
て用いる。
3.22の用語及び定義の後に，次の用語及び定義を追加する。
3.101
定格負荷（rated load）
製造業者が電子スイッチに指定する負荷。
3.102
最小負荷（minimum load）
電子スイッチが正常に動作する最も低い負荷。
3.103
最小電流（minimum current）
電子スイッチが正常に動作する最も低い電流。
3.104
電気機械式駆動接点機構（electromechanically operated contact mechanism）
電気機械的に回路を開閉操作するために使用する部品を操作する構成部材。
3.105
半導体式スイッチング装置（semiconductor switching device）
電気回路において，半導体の導電率を制御してその回路を開閉するスイッチング装置。
注記1 周期的に又はその他の方法で電流がゼロ点を通過する回路において，ゼロ点を通過後の電流
を“接続しない”という効果は，電流を遮断することと等価である。
注記2 半導体スイッチング装置の代表的実例を，次に示す。
− 各半波のゼロ点交差又はその後，任意の位相角で電流を通じることによって，負荷を制
御するフェーズ カット オン方式（例えば，サイリスタによる。）を用いた電子式スイッ
チング部品／装置。
− 各半波のゼロ点交差後の任意の位相角で電流を遮断することによって負荷を制御するフ
ェーズ カット オフ方式（例えば，ダイオードブリッジ回路の中に配置したトランジス
タによる。）を用いた電子式スイッチ。
3.106
注記 対応国際規格のelectronic momentary contact switch（電子式モーメンタリスイッチ）の定義は，
本文で用いていないため削除した。
3.107
機械式制御ユニット（mechanical control unit）
機械的手段（例えば，ポテンショメータ）によって直接調節可能な，電子部品を介して出力を制御する
装置。
3.108
電子式出力制御ユニット（electronic output control unit）
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非機械的手段（例えば，検知ユニット）で調節可能な，電子部品を組み込み，電子部品を介して出力を
制御する装置。
3.109
電子式拡張ユニット（子器）（electronic extension unit）
離れたところから電子スイッチの制御ができるユニット。
3.110
保護インピーダンス（protective impedance）
充電部と人とが接触するおそれがある導電部との間に接続し，通常の使用状態及び電子スイッチに起こ
るおそれがある故障状態において，電流を危険が生じるおそれがない値に制限し，その電子スイッチが使
用できる間，信頼性を維持できる構造のインピーダンス。
3.111
外部可とうケーブル（external flexible cable）
電子式出力制御ユニットまでの外部接続用ケーブル。
注記 ケーブルは，電源供給用又はアクセサリと附属品との接続用のいずれにも使用する。
3.112
RCS（remote controlled switch）
離れたところから操作するためのスイッチ（リモートコントロールスイッチ）。
3.112.1
注記 対応国際規格のelectromagnetic RCS（電磁RCS）の定義は，本文で用いていないため削除した。
3.112.2
電子RCS（electronic RCS）
JIS C 8281-2-2に従ってRCSの機能，表示及び接続構成を提供し，電子部品及び／又は電子部品とコイ
ルとの組合せをもつ，電子式拡張ユニット（子器）によって操作する電子スイッチ。
注記 この電子RCSは，例えば，JIS C 8281-2-2に従ったRCSの代替品のように使用する。
3.113
定格制御電圧（rated control voltage）
製造業者が外部制御回路に対して指定する電圧。
3.114
スイッチング回路（switching circuit）
RCS又はTDSを通して定格電流が流れる部分をもつ回路。
3.115
制御回路（control circuit）
スイッチング機構を作動させる電気部品をもつ回路。
3.116
制御機構（control mechanism）
RCS又はTDSの操作を目的とした全ての部品をもつ機構。
3.117
組込手動装置（incorporated hand-operated device）
スイッチング回路を直接又は間接に操作できるようにする，スイッチに組み込んだ装置。この装置は
RCS又はTDSの通常操作のためのものではない。
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3.118
注記 対応国際規格のrated control current（定格制御電流）の定義は，本文で用いていないため削除し
た。
3.119
注記 対応国際規格のbistable electronic RCS（双安定電子RCS）の定義は，本文で用いていないため
削除した。
3.120
注記 対応国際規格のmonostable electronic RCS（単安定電子RCS）の定義は，本文で用いていないた
め削除した。
3.121
注記 対応国際規格のpriority electronic RCS（優先電子RCS）の定義は，本文で用いていないため削
除した。
3.122
TDS（time delayed switch）
一定時間（遅延時間）作動する時間遅延装置を搭載したスイッチ（遅延スイッチ）。手動によって作動す
る場合及び／又は遠隔操作によって電気的に起動する場合がある。
3.123
電子TDS（electronic time delayed switch）
JIS C 8281-2-3に従ってTDSの機能，表示及び接続構成を提供する，電子部品を搭載した電子スイッチ。
注記 この電子TDSは，例えば，JIS C 8281-2-3に従ったTDSの代替品のように使用する。
3.124
遅延時間（delay time）
スイッチング回路（又は複数のスイッチング回路）が閉路したままである時間。遅延時間の終わりに電
圧を減少させる（例えば，減光するための）時間は，遅延時間に含む。
3.125
遅延装置（delay device）
遅延時間に影響する全ての部品からなる装置。遅延時間を調節できてもよい。
3.126
制御装置内蔵形ランプ（self ballasted lamp）
回復不能な損傷なしに解体することができず，ランプの口金をもち，光源並びに光源の起動及び安定動
作に必要なあらゆる追加要素を組み込んだランプ。
注記 この本文中の制御装置内蔵形ランプは，CFLi又はLEDiとして表示する。“i”の意味はランプ
内に制御装置を含むことである。
3.127
制御装置非内蔵形ランプ（externally ballasted lamp）
回復不能な損傷なしに解体することができず，ランプの口金をもち，分離されたランプ制御装置によっ
て制御する光源を組み込んだ白熱灯以外のランプ。
注記 ランプ制御装置は，JIS C 8147-1の定義を参照。
3.128
導通角（conduction angle）
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a) リーディングエッジ（順位相制御の）調光に対し，導通の始まる点から半波の終わり（ゼロクロス）
までを測定した位相角。
b) トレーリングエッジ（逆位相制御の）調光に対し，半波の始まり（ゼロクロス）から導通がスイッチ
で“切”にする点までを測定した位相角。
4
一般要求事項
一般要求事項は，JIS C 8281-1:2011の箇条4による。
5
試験に関する一般注意事項
試験に関する一般注意事項は，JIS C 8281-1:2011の箇条5によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の5.4に，次を追加する。
試験品の数は，表101による。
表101−試験品の数
電子スイッチのタイプ
一般試験の
試験品の数
箇条別の追加試験品の数
18.2
19.101 19.102 19.109 箇条24 箇条26 箇条101，
箇条102
一つの定格電流及び一つの
定格電圧の表示がある
3
3 a)
3 a)
3 a)
3 a)
3
1
3 c)
一つの定格電流及び二つの
定格電圧の表示がある
6
6 a)
6 a)
6 a)
6 a)
6
1
6 b), c), d)
注a) 機械式及び電気機械式スイッチング装置をもつ電子スイッチで，機械的な接点機構のものに適用する。
b) 101.3の試験で3個の追加の試験品が必要な場合がある。
c) 箇条26の試験に合格した場合，その試験品は，これらの試験に用いることができる。
d) 101.1.1.2の試験で3個の追加の試験品が必要な場合がある。
JIS C 8281-1:2011の5.5の後に，次を追加する。
5.101
測定は，目的に適した方法，かつ，波形などの要因によって測定値に影響がない方法で実施する。
注記 計測器は，真の実効値を表示するものを用いるように注意する。
5.102
電子回路が囲われており，電子回路構成部品の短絡又は開放が不可能又は困難な場合には，製造
業者は，測定，短絡などのためにリード線を接続した追加の試験品1個を準備する。ただし，ハイブリッ
ド及びモノリシック集積回路の内部にリード線を接続する必要はない。
5.103
試験のために，電子部品を取り外すことが必要な場合もある。
5.104
102.4.1の試験のために，カットアウト（スイッチの保護用）を設けた電子スイッチは，更に3個
の追加の試験品を準備することが必要な場合もある。
5.105
電子RCS又は電子TDSに組込手動装置がある場合は，箇条19に規定するように試験する。
注記1 開閉容量試験及び平常動作試験では，誤った結果となることを防ぐため，同一位相角での開
閉を避けたほうがよい。
注記2 同期モータ及びそれに類似した操作デバイスをもつ装置の組合せを用いる場合は，予防措置
をとることが望ましい。
5.106
制御回路とスイッチング回路とに同電位点がない電子TDSの場合は，製造業者が指定する定格電
圧をそれらの回路に供給して試験する。
9
C 8281-2-1：2019
6
定格
定格は，JIS C 8281-1:2011の箇条6によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の箇条6の末尾に，次を追加する。
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の箇条6を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の箇条6を適用する。
JIS C 8281-1:2011の6.1〜6.3を，次の6.1〜6.3に置き換える。
6.1
交流定格電圧は，100 V，110 V，120 V，130 V，200 V，220 V，230 V及び240 Vとすることが望ま
しい。
6.2
JIS C 8281-1:2011のこの箇条は適用しない。
6.3
定格電源周波数は，50 Hz及び／又は60 Hzとすることが望ましい。
7
分類
分類は，JIS C 8281-1:2011の箇条7によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の7.1.1に，次を追加する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の7.1.1を適用する。
JIS C 8281-1:2011の7.1.5に，次を追加する。
− タッチ式
− 近接式
− 光学式
− 音響式
− その他の外部作用による
注記101 スイッチの動作には，開閉動作及び／又はランプの明るさ又はモータの速度を制御するこ
とを含む。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の7.1.5を適用する。
注記102 対応国際規格の“電子RCSには，IEC 60669-2-2の7.1.5を適用する”旨の規定を削除した。
JIS C 8281-1:2011の7.1.6に，次を追加する。
− 床上1.7 mよりも高い場所にだけ設置することを意図した電子スイッチ
JIS C 8281-1:2011の7.1.9A及び7.1.9Bを，次に置き換える。
7.1.9A
接続する電線によって，次のように分類する。
− JIS C 3664による断面積の導体を接続するスイッチ
注記 JIS C 8281-1:2011の7.1.9Aで分類するタイプ2のスイッチ及びタイプ1，タイプ2兼用のスイ
ッチは，この規格では扱わない。
7.1.9B
絶縁設計によって，次のように分類する。
− JIS C 8281-1:2011の表20を適用するスイッチ
10
C 8281-2-1：2019
注記 JIS C 8281-1:2011の7.1.9Bで分類する附属書JAを適用するスイッチは，この規格では扱わな
い。
JIS C 8281-1:2011の7.1.9Bの後に，次を追加する。
7.1.101
電子スイッチによって制御する負荷の種類は，次による。
− 白熱灯
− 制御装置非内蔵形ランプ（例：蛍光灯，CFL及びLED）
− モータ
− 制御装置内蔵形ランプ（例：CFLi及びLEDi）
− 製造業者が指定する負荷
JIS C 8281-1:2011の7.2は適用しない。
JIS C 8281-1:2011の箇条7の末尾に，次を追加する。
7.101 電子RCSには，JIS C 8281-2-2の7.101を適用する。
7.102 電子RCSには，JIS C 8281-2-2の7.102を適用する。
7.103 電子RCS又は電子TDSは，安全特別低電圧（以下，SELVという。）回路又は保護特別低電圧（以
下，PELVという。）回路をもつものがある。
8
表示
表示は，JIS C 8281-1:2011の箇条8によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の8.1を，次に置き換える。
8.1
電子スイッチには，次の表示を施さなければならない。
− 定格電圧：ボルト（V）
− 定格電流：アンペア（A）又は定格負荷：ボルトアンペア又はワット（VA又はW）
− 電源の種類の記号
− 製造業者又は責任ある販売業者の名称，商標又は識別記号
− 品番。カタログ番号でもよい。
− 該当する場合，ミニギャップ構造の記号
− 該当する場合，マイクロギャップ構造の記号
− 該当する場合，半導体スイッチング装置の記号
− 危険部分への接近又は外部固形物の有害な侵入に対する保護に関する第1特性数字が，3以上の場合
は表示し，この場合は，第2特性数字（水の有害な浸入に対する保護等級）も表示しなければならな
い。
− 水の有害な浸入に対する保護に関する第2特性数字が1以上の場合は表示し，この場合は第1特性数
字（危険部分への接近又は外部固形物の侵入に対する保護等級）も表示しなければならない。
注記1 電子スイッチの目視検査では接続構成が分かりにくい場合には，7.1.1による様式番号を表示
することが望ましい。この様式番号は，品番の中に組み入れてもよい。
注記2 操作装置が分離している二つ以上のスイッチが，一つのベースにある場合には，様式番号を
11
C 8281-2-1：2019
表示することが望ましい。例えば，“1＋6”，“1＋1＋1”。
注記3 二つ以上の種類の定格負荷をもつ電子スイッチは，8.3を参照。
これらに加えて電子スイッチには，次の表示を施さなければならない。
− 電子スイッチが，50 Hz及び60 Hzの二重周波数定格でない場合には，定格周波数（Hz）
− 電子スイッチに組み込んだヒューズの定格及び形式
− 負荷の種類の記号（8.2参照）
− 該当する場合，用語“拡張ユニット（子器）”をその製品を販売する国の公用語で識別表示に続けて表
示する。
− スイッチ取付けのための最小高さに制限がある場合には，製造業者の施工説明書に記載する（10.1参
照）。
− ねじなし端子付きスイッチは，単線だけを使用するもの又は非可とう導体だけを適用電線とする場合
には，これを示す表示を施さなければならない。この表示は，スイッチの表面，及び／又は包装箱に
施してもよい。
− 電子スイッチは，JIS C 60364（規格群）の規定による施設で使用する旨の記載をカタログ，仕様書又
は施工説明書に記載しなければならない。
自動機能をもつ電子スイッチで，製造業者が指定する操作回数が19.101，19.102，19.104及び19.109に
示すものよりも多い場合，附属の説明書に操作回数を記載しなければならない。
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の8.1を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の8.1を適用する。
JIS C 8281-1:2011の8.2の注記1の前に，次を追加する。
ボルトアンペア ·················································································································· VA
ワット ······························································································································· W
ヘルツ ······························································································································ Hz
制御する負荷用端子 ···········································································································
負荷の種類
白熱灯 ····························································································································
制御装置非内蔵形蛍光ランプ ························································································
モータ ·····························································································································
特別低電圧（ELV）白熱灯用電子式ステップダウンコンバータ（例えば，ハロゲンランプ） ·······
特別低電圧（ELV）白熱灯用鉄心変圧器（例えば，ハロゲンランプ） ········································
注記5の後に，次を追加する。
注記101 ヒューズの定格及び形式は，記号を用いて表示してもよい（JIS C 6575の規格群参照）。
他の特定の記号を用いるときは，施工説明書の中で説明する。
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の8.2を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の8.2を適用する。
JIS C 8281-1:2011の8.3の第1段落を，次に置き換える。
次の表示を，電子スイッチの主要部分に表示しなければならない。
− 定格電流又は定格負荷，定格電圧，電源の種類の記号，定格周波数（8.1によって必要な場合），一つ
12
C 8281-2-1：2019
以上の（接続できる）負荷の種類，並びに組込ヒューズの定格及び形式（これらをヒューズホルダ又
はヒューズの近傍に表示しなければならない。）
− 製造業者又は責任ある販売業者の名称，商標又は識別記号
− ねじなし端子の場合，電線の絶縁被覆を取り除く長さ
− 該当する場合，ミニギャップ構造，マイクロギャップ構造，又は半導体スイッチング素子の記号
− 品番
注記1 品番は，そのシリーズ製品の記号だけでもよい。
JIS C 8281-1:2011の8.3の末尾に，次を追加する。
二つ以上の負荷の種類に適しており，電子スイッチに表示がないときは，負荷の種類の表示を附属の説
明書に記載しなければならない。さらに，それぞれの負荷の最小及び最大電流，又は最小及び最大負荷を，
ボルトアンペア又はワットで，負荷の種類ごとに表示しなければならない。
鉄心トランスと共に用いることを意図した調光器の場合，この調光器と共に用いることを意図するトラ
ンス以外を用いてはならないという情報を，製造業者の説明書に記載しなければならない。
JIS C 8281-1:2011の8.4の末尾に，次を追加する。
3個以上の端子がある場合には，負荷端子は，端子から出る矢印記号又は8.2による記号のいずれか一つ
を表示し，他の端子は，施工説明書に対応する端子の表示を行わなければならない。
電子スイッチへの電線の接続方法が端子の記号の表示によっても分かりにくい場合には，結線図を各ス
イッチに付けなければならない。
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の8.4を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の8.4を適用する。
JIS C 8281-1:2011の8.6の末尾に，次を追加する。
箇条10によって，負荷側回路が，“切”状態でも充電部とみなすときは，“切”状態を記号“○”で表示
してはならない。
JIS C 8281-1:2011の8.7の前に，次を追加する。
8.6.101
ランプの明るさを制御する電子スイッチは，次のいずれかの方法によって，使用状態が見てすぐ
に分かるようにすることが望ましい。
− “入（閉路）／切（開路）”の位置に関する表示を設ける。
− 表示灯を設ける。
− 調光器を最小の制御状態にして，定格電圧の90 %とした状態でも，まだランプの光が見えるようにす
る。
注記101 まだ光が見えていることの試験方法は，検討中である。
電子スイッチの状態表示を負荷のランプだけによって行う場合には，最小の制御状態の調節は，次によ
る。
− 負荷のランプが白熱灯の場合には，調光器の調節は，製造業者が行わなければならない。工具を用い
ないで，最小の設定値を更に低くすることができてはならない。
− 負荷のランプが蛍光灯の場合には，調光器の調節は，製造業者が行わなければならない。ただし，調
13
C 8281-2-1：2019
節方法を施工説明書に指示しているときには，施工者によって最小の設定値を変えることができても
よい。
JIS C 8281-1:2011の8.8の第2段落の後に，次を追加する。
床上1.7 mよりも高い位置に設置することを意図する検出ユニット用の窓（レンズなど）がある電子ス
イッチは，この情報を，施工説明書に記載しなければならない。
JIS C 8281-1:2011の8.8の注記2に，次を追加する。
− 該当する場合，外部の直接関連するヒューズ及び／又は電流制限装置に関する情報
9
寸法検査
寸法検査は，JIS C 8281-1:2011の箇条9によるほか，箇条9の末尾に次を追加する。
電子スイッチは，それを取り付ける適切なボックスと共に供給する場合，スタンダードシートに規定す
る寸法以外のものでもよい。
10 感電に対する保護
感電に対する保護は，JIS C 8281-1:2011の箇条10によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の10.1の第1段落の後に，次を追加する。
注記101 この規格においては，保護インピーダンス（10.2参照）を使用して充電部と接続する金属
製の検出面は，充電部とみなさない。
JIS C 8281-1:2011の10.1の第7段落及び第8段落（“この追加試験の間”及び“このテストフィンガは”
で始まる段落）を次に置き換える。
この追加の試験の間，スイッチに，検査プローブ11（JIS C 0922参照）の先端で，力を1分間加える。
絶縁材料が変形することによって，電子スイッチの安全性を損なう（感電の）おそれがある全ての部分
に対して電気表示器に接続した検査プローブによって75 Nの力を加える。その部分が薄いノックアウトの
場合は，10 Nの力を適用する。
床上1.7 mよりも高いところに取り付ける電子スイッチの検出ユニット用の窓，又は類似のもの（表示
用など）には，30 Nの力を加える。
検査プローブによる試験は，遮蔽膜などには適用しない。これらの部品は，13.15.1によって試験する。
注記102 この規格では，交流25 V又は直流60 V以下のリップルフリーのSELVに接続する部分は，
危険な充電部とはみなさない。
JIS C 8281-1:2011の10.2の末尾に，次を追加する。
タッチ式電子スイッチの関連する保護インピーダンスは，箇条16及び箇条23の要求事項に適合しなく
てよい。
7.1.5の第1ダッシュ（タッチ式）に分類する電子スイッチにおいて，電子スイッチの操作のために人が
接触する必要がある部分（例えば，検知面）を充電部に接続してもよい。その場合，充電部との接続は，
保護インピーダンスによって行う。
14
C 8281-2-1：2019
保護インピーダンスは，同一の公称値の2個以上の抵抗器若しくは独立したコンデンサ又はそれらの複
合品を直列に接続して構成しなければならない。抵抗器は，102.3の要求事項に適合しなければならない。
また，コンデンサは，102.2の要求事項に適合しなければならない。
電子スイッチを破壊するか又は使用できない状態とならない限り，保護インピーダンスを取り外せては
ならない。
適否は，目視検査及び次の試験による。
測定は，定格電圧で定格負荷を接続し閉路状態及び開路状態で，並びに最小及び最大の設定値のときに，
人が触れる金属部の1か所又は人が触れる金属部を任意に組み合わせた部分と大地との間に2 kΩの無誘導
抵抗器を接続して実施する。各抵抗器及び保護インピーダンスに含む全ての部品は，順番に1個ずつ短絡
して（同時に複数個を短絡することはしない。）測定する。
測定した電流は，1 kHz以下の交流に対しては0.7 mA（ピーク値）及び直流に対しては2 mAを超えて
はならない。
1 kHzを超える周波数に対して限度値は，0.7 mAにキロヘルツ（kHz）単位の周波数の値を乗じた値と
する。ただし，その値は，70 mA以下でなければならない。
JIS C 8281-1:2011の10.7の後に，次を追加する。
10.101
カバー，カバープレート又はヒューズが工具を使用しないで取り外せる場合，又は，使用者のた
めの取扱説明書に保守目的でヒューズを交換するときに工具を使用してカバー若しくはカバープレートを
外すことを記載しているとき，カバー又はカバープレートを取り外した後でも充電部への接触に対する保
護は確実でなければならない。
ヒューズ交換のために，電子スイッチを取付手段から取り外す必要があるときは，この要求事項は適用
しない。
注記 ヒューズ交換のときの条件は，製造業者の説明書で指定するのがよい。
適否は，JIS C 0922の検査プローブBによって，10 N以下の力を加えて判定する。このとき検査プロー
ブBは，充電部に接触してはならない。
10.102
電子スイッチの設定を調節する孔があり，その旨を表示しているとき，その調節を行うことによ
って感電のおそれがあってはならない。
適否は，孔を通して図101のテストピンを当てることによって判定する。テストピンは，充電部に接触
してはならない。
10.103
充電部の上の換気用開口部は，通常の使用状態で電子スイッチを取り付けた場合に，これらの開
口部に入る異物が充電部に接触してはならない。
適否は，開口部にJIS C 0922の検査プローブ13を当てることによって判定する。検査プローブは，充
電部に接触してはならない。
11 接地接続の手段
接地接続の手段は，JIS C 8281-1:2011の箇条11によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の11.1の前に，次を追加する。
SELVの電子スイッチには，適用しない。
15
C 8281-2-1：2019
JIS C 8281-1:2011の11.4の後に，次を追加する。
11.101
プリント配線板上のプリント導体は，次のいずれかの条件を満足する場合だけ保護接地の連続性手段に
使用してもよい。
− 独立したはんだ付け点（接続点）をもつ二つ以上の経路（トラック）で，101.3に従った1回の短絡試
験に耐え，直後に11.4を満足する。
− それぞれの端部に二つの独立した接続手段をもつ一つの経路（トラック）で，101.3に従った1回の短
絡試験に耐え，直後に11.4を満足する。
さらに，プリント配線板は，次による。
− プリント配線板の材質は，ガラス布基材エポキシ樹脂銅張積層板でなければならない。
− プリント配線板は，101.1.1.2に従った過負荷試験を完全に満足しなければならない。
12 端子
端子は，JIS C 8281-1:2011の箇条12によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の12.1の第3段落の後に，次を追加する。
JIS C 2814-2-1によるねじ止め式端子を用いてもよい。
JIS C 8281-1:2011の12.1の第4段落の後に，次を追加する。
JIS C 2814-2-1によるねじ止め式端子をJIS C 8281-1:2011の表2に従って選択し適用したものは，12.2.6
〜12.2.8を除き12.2の要求事項及び試験に適合しているとみなす。
注記101 主回路（負荷回路）以外の回路用端子の接続容量は，電子スイッチの定格電流に関連しな
い。外部検出ユニットに至る導体用端子は，必ずしもスイッチの電源側端子及び負荷側端
子と同一の接続容量がなくてもよい。
JIS C 8281-1:2011の12.2の表2の注b) に，次を追加する。
この要求事項は，二つの分離した取付具をもつ端子を使用することで達成できる。
13 構造
構造は，JIS C 8281-1:2011の箇条13によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の13.4の第1段落の後に，次を追加する。
10.102及び10.103に規定する開口部は，あってもよい。
JIS C 8281-1:2011の13.5を，次に置き換える。
13.5 電子スイッチのつまみが緩むことによって危険を生じるおそれがある場合，通常の使用状態におい
て緩まないような確実な方法で固定しなければならない。
つまみによって電子スイッチの操作状態を示す場合，つまみを誤った位置に取り付けて操作をすると危
険を生じるおそれがある場合には，つまみを誤った位置に固定できてはならない。
適否は，目視検査及び次の試験によって判定する。
通常の使用状態で，軸方向の引張力を加えることが可能である場合，つまみに軸方向の引張力を引き外
16
C 8281-2-1：2019
す方向に1分間加える。
通常は15 Nの引張力を加えるが，通常の使用状態で引張力が加わる場合，引張力を30 Nに増加する。
その後，軸方向の押込力30 Nを1分間，全てのつまみに加える。
試験中及び試験後，電子スイッチが損傷したり，つまみがこの規格に適合しなくなるように動いてはな
らない。
注記 自己硬化性樹脂以外の，例えば，シーリングコンパウンドなどは，緩みを防止するのに十分で
あるとはみなさない。
JIS C 8281-1:2011の13.15.1を，次に置き換える。
13.15.1
遮蔽膜，レンズ及び類似のものは，確実に固定し，通常の使用状態で発生する機械的及び熱的ス
トレスによって変位してはならない。
適否は，次の試験によって判定する。
遮蔽膜，レンズ及び類似のものは，スイッチに取り付けて試験をする。
電子スイッチに，15.1によって処理した遮蔽膜，レンズ及び類似のものを取り付ける。
電子スイッチは，15.1の恒温槽の中に2時間放置する。温度は，40±2 ℃に維持する。
この直後に，JIS C 0922の検査プローブ11の先端で30 Nの力を，遮蔽膜，レンズ及び類似の各部品に
5秒間ずつ加える。
これらの試験中，遮蔽膜，レンズ及び類似の部品は，充電部が可触となるほどの変形をしてはならない。
遮蔽膜，レンズ及び類似の部品は，通常の使用状態で軸方向に引っ張られそうなものは，軸方向の引張
力30 Nを5秒間加える。
この試験中，遮蔽膜，レンズ及び類似の部品は外れてはならない。
この試験は，何の処理もしていない遮蔽膜，レンズ及び類似の部品でも繰り返す。
JIS C 8281-1:2011の13.15.2の後に，次を追加する。
13.101
モータ速度制御回路用の電子スイッチに使用するカットアウトは，非自己復帰形のものでなけれ
ばならない。
適否は，目視検査によって判定する。
13.102
特別低電圧（ELV）白熱灯（例えば，ハロゲンランプ）用の鉄心変圧器の電圧制御装置用電子ス
イッチは，正半波と負半波との間の位相制御角の許容差は±2°でなければならない。
注記1 これよりも大きい許容差は，鉄心変圧器の巻線中の温度上昇に影響を与える直流を発生する
可能性がある。
注記2 正半波と負半波との間の位相制御角の許容差は，直接又は定格電圧の百分率で表した直流電
圧で測定できる。これは，90°のとき，定格電圧のピーク電圧の1.1 %に相当する。
適否は，測定によって判定する。
13.103
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の13.101を適用する。
14 機構
機構は，JIS C 8281-1:2011の箇条14によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の箇条14は，機械式開閉機構をもった電子スイッチだけに適用する。
17
C 8281-2-1：2019
JIS C 8281-1:2011の14.6の後に，次を追加する。
14.101
電子RCSは，JIS C 8281-2-2の14.101を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の14.101を適用する。
15 耐老化性，防水性及び耐湿性
耐老化性，防水性及び耐湿性は，JIS C 8281-1:2011の箇条15による。
16 絶縁抵抗及び耐電圧
絶縁抵抗及び耐電圧は，JIS C 8281-1:2011の箇条16によるほか，次による。
箇条16の第1段落の後に，次を追加する。
10.2による保護インピーダンスを外した状態で，絶縁抵抗及び耐電圧の測定を行う。
JIS C 8281-1:2011の表14に，次を追加する。
絶縁測定箇所
絶縁抵抗の
最小値
MΩ
試験電圧
V
定格電圧が130 V
以下のスイッチ
定格電圧が130 V
を超えるスイッチ
9
スイッチング回路と制御回路とを電気的に分離し
ている場合の両者間
5
2000
3000
10 SELV/PELV回路と，SELV/PELVよりも高い電圧を
印加する他の回路との間
7
2500
3750
11 二つのSELV/PELV回路間
5
500
500
注記101 項目3に関する試験は，機械式スイッチを組み合わせた電子スイッチだけについて実施する。
17 温度上昇
温度上昇は，JIS C 8281-1:2011の箇条17を，次に置き換える。
電子スイッチは，通常の使用状態で過度の温度上昇がないような構造でなければならない。
該当する場合，接点の金属及び設計は，電子スイッチの開閉動作が酸化その他の劣化による悪影響を受
けないものでなければならない。
電子スイッチの設計及び材質は，通常の使用状態での温度上昇によって，内部の材質及び部品に悪影響
を与えないようにしなければならない。
適否は，次の試験によって判定する。
電子スイッチに表15で規定する断面積1.5 mm2以上の導体を付ける。端子ねじ又はナットは，12.2.8に
規定するトルクの2/3に等しいトルクで締め付ける。
白熱灯（供給電源の電圧を定格にするランプ。ハロゲンランプを含む。）を負荷とする電子スイッチに対
し，次を適用する。
− 幾つかの負荷の定格電力が“W”で表示され，それが“VA”で表示する他の負荷の定格電力以上の場
合，電子スイッチは，負荷の定格電圧で定格負荷が得られるように，ハロゲンランプ又はタングステ
ンフィラメントランプで負荷をかける。
注記1 ハロゲンランプの特性は，電力が異なっても同等であるので，幾つかの電力のランプで定
格負荷を構成することができる。
18
C 8281-2-1：2019
− 幾つかの負荷の定格電力が“W”で表示され，それが“VA”で表示する他の負荷の定格電力より小さ
い場合，電子スイッチは，製造業者の説明書に従った全ての種類の負荷を接続する。
− “W”で表示する制御装置内蔵形ランプ又は制御装置非内蔵形ランプの定格電力が白熱灯の定格電力
の125 %を超える場合，試験は全ての種類の負荷で実施する。
白熱灯用に設計していない電子スイッチに対し，次を適用する。
− 制御装置内蔵形ランプ（例：LEDi，CFLi）用電子スイッチは，負荷の定格電圧で，定格負荷が得られ
るように通電する。調光器は，調光可能な制御装置内蔵形ランプで通電する。電子スイッチのこれら
のタイプが，制御装置内蔵形ランプの最大接続数及びランプの定格を製造業者が指定する場合，電子
スイッチはそれによる負荷を接続する。二つ以上の負荷の構成を製造業者が指定する場合，試験は全
ての構成に対し繰り返す。
− 他の種類のランプ用の電子スイッチは，製造業者の説明書に従って試験する。
その他の電子スイッチは，製造業者の説明書による種類の負荷を接続する。
注記2 定格負荷は，電子スイッチを短絡した状態で適合するように調整する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の17.1を適用する。
電子スイッチは，定格電圧の0.9〜1.1倍の範囲で最も不利な条件となる電圧で，定常温度に達するまで
負荷を加える。
リーディングエッジ及びトレーリングエッジで操作する調光器は，関連する負荷で両方のモードで試験
する。
調光器及び速度制御装置の設定は，温度上昇が最大となるように調節する。
埋込形電子スイッチは，埋込形ボックスに取り付ける。埋込形ボックスは，その前縁が角材の前面表面
から突き出ない，かつ，角材の前面表面から5 mm以上低くならないように松の角材の中に置く。埋込形
ボックスと松の角材との間を，石こうで充塡する。
試験用に組み立てた装置は，最初に作ったときは7日間以上乾燥した後に使用する。
角材は，二つ以上の部分で構成してもよいが，その寸法は，石こうの周囲で厚さ25 mm以上でなければ
ならない。石こうの厚さは，埋込形ボックスの側面及び裏面の最大寸法部で，10〜15 mmでなければなら
ない。
注記3 角材に囲まれた空洞部分の側面は，ボックスに合わせて円筒形でもよい。
電子スイッチに接続するケーブルは，ボックスの上部から挿入する。引込口は，空気が循環しないよう
に封止する。ボックス内の各導体の長さは，80±10 mmとする。
露出形電子スイッチは，厚さ20 mm，幅500 mm，高さ500 mm以上である木板ブロックの表面の中心に，
通常の使用状態で取り付ける。
その他の形式の電子スイッチは，製造業者の説明書に従って取り付ける。説明書がない場合には，通常
の使用状態で，最も不利な条件となるように取り付ける。
試験装置は，試験の間，通風がない環境に配置する。
温度は，溶融粒子（特定の温度に達すると溶ける粒子），色変化温度表示器又は熱電対を使用し，測定す
るが，それらが温度判定に影響を与えないように選択し配置する。
試験中に，電子スイッチの状態は変化してはならない。ヒューズその他の保護装置は，作動してはなら
ない。表102の箇条17の欄において決定する許容温度上昇値を超えてはならない。
この試験の後，電子スイッチは動作可能な状態でなければならない。
シーリングコンパウンドを使用しているとき，シーリングコンパウンドは，充電部が露出するほどに流
19
C 8281-2-1：2019
出してはならない。
適否は，目視検査によって判定する。
注記4 JIS C 8281-1:2011の21.3の試験のために，通電部分及び接地回路の部品に接触してはいるが，
それらを正しい位置に保持するためには必要でない絶縁材料でできた外側部分の温度上昇値
も決定する。
注記5 接点の過度の酸化は，すり合わせ動作又は銀接点若しくは銀めっき接点を用いることによっ
て防止できる。
注記6 直径3 mmの蜜ろうペレット（溶融点65 ℃）を溶融粒子として用いてもよい。
注記7 複数の電子スイッチの組合せの場合には，試験はそれぞれの電子スイッチごとに，別々に行
う。
102.2，102.3及び102.4.1の試験において，電子スイッチ内の構成部品周囲の参照温度は，試験中に部品
上で測定した最大温度上昇値に25 ℃を加算したものとする。
表102−許容温度上昇値
（この表は，JIS C 6065の表3を基にしている。）
単位 K
電子スイッチの部分
許容温度上昇値
箇条17
箇条101
外部部品
金属部
つまみ，ハンドル，感知面など
40
75
外郭a)
50
75
非金属部
つまみ，ハンドル，感知面などb)
60
75
外郭a), b)
70
75
絶縁材料製の外郭の内部
c)
c)
巻線d)
クラスAのもの
75
115
クラスEのもの
90
130
クラスBのもの
95
140
クラスFのもの
115
155
クラスHのもの
140
175
クラス200のもの
160
195
クラス220のもの
180
215
クラス250のもの
210
245
積層鉄心
巻線の種類による。
電源ケーブル及び配線ケーブル
普通の塩化ビニル絶縁h)
− 機械的ストレスがない場合
70
110
− 機械的ストレスがある場合
55
110
天然ゴム絶縁
55
110
その他の絶縁物d), g) ただし，熱可塑性材料を除く。
非含浸紙
65
80
非含浸ボール紙
70
90
含浸した綿，絹，紙及び繊維，ユリア（尿素）樹脂
80
100
フェノール−ホルムアルデヒド樹脂接着積層板，セルロース充塡フェノール−ホルムア
ルデヒド成形品
95
120
無機充塡材入りフェノール−ホルムアルデヒド成形品
105
140
エポキシ樹脂接着積層板
130
160
20
C 8281-2-1：2019
表102−許容温度上昇（続き）
単位 K
電子スイッチの部分
許容温度上昇値
箇条17
箇条101
天然ゴム
55
110
熱可塑性材料e)
f)
取付状態でケーブルの絶縁体と接触する端子及び部品
55
110
温度上昇値は，周囲温度25 ℃に基づく。測定は通常状態で行う。
注a) 5 cm2以下で，通常の使用状態で接触するおそれがない部分に対して，通常動作状態で75 Kまでの温度上昇
を認める。
b) この部分の温度上昇が，関連する絶縁階級の絶縁物に対する許容値よりも高い場合には，それを認めるか否
かについては，絶縁物の材質による。
c) 絶縁材料の外郭の内部に対する許容温度上昇は，関連材料に対して示す温度上昇とする。
d) この規格の目的に対しては，許容温度上昇はJIS C 4003の推奨に基づく（上記の材料は，実例としてだけ示
す。）。JIS C 4003に規定する材料以外の材料を使用する場合の最高温度は，問題がないと認めた温度を超え
てはならない。
e) 天然ゴム及び合成ゴムは，熱可塑性材料とみなさない。
f) 様々な種類があるため，熱可塑性材料は，許容温度上昇値を定めることができない。検討中の間，次を適用
する。
1) 材料の軟化温度は，JIS K 7206に規定する条件を次のように修正し，個別の試験品で測定する。
− 侵入量は，0.1 mmとする。
− 10 Nの押圧は，ダイアルゲージをゼロに設定するか，又はその最初のゲージ値を記録する前に加える。
2) 温度上昇を決定するための許容限度温度は，次による。
− 通常動作状態においては，1)で得る軟化温度よりも10 ℃低い温度。
− 故障状態においては，軟化温度。
g) 関連するJIS又はIEC規格によって別途規定する部品には，この表を適用しない。
h) 耐熱性塩化ビニルで絶縁した電線及びケーブルの温度上昇限界値を引き上げることは，検討中である。
18 開閉容量
開閉容量は，JIS C 8281-1:2011の箇条18よるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の18.1の前の七つの段落を，次に置き換える。
電子スイッチは，適切な開閉容量をもたなければならない。
注記1 JIS C 8281-1:2011の中で使用する用語“スイッチ”は，用語“接点機構”に適宜読み替える。
注記2 リレーを用いた電子スイッチの場合，リレーは，通常の使用状態で，適切な負荷を用いて規
定する操作速度で操作する。
この試験は，機械的に又は電気機械的に作動する接点機構をもつ電子スイッチについてだけ実施する。
接点機構は，適切な開閉容量をもたなければならない。
試験は，機械的な接点機構をもつ3個の個別の試験品で行う。
適否は，次の試験によって判定する。
− 蛍光灯負荷用電子スイッチは，18.1の試験
− モータ速度制御回路用電子スイッチは，18.1及び18.101に規定する試験
− 特別低電圧（ELV）白熱灯用の鉄芯変圧器の電圧制御用電子スイッチは，18.1及び18.2並びに18.102
に規定する試験
− 特別低電圧（ELV）白熱灯用の電子ステップダウンコンバータの電圧制御用電子スイッチは，18.2に
21
C 8281-2-1：2019
規定する試験
− その他の負荷を制御する電子スイッチに対しては，18.1及び18.2に規定する試験
− 制御装置内蔵形ランプ制御用電子スイッチは，18.1に規定する試験
注記3 電子スイッチの繰返し動作が，その用途（例えば，受動赤外線，遅延電子スイッチ）によっ
て制限を受ける場合，試験中の操作速度は，製造業者が指定してもよい。
試験は，原理を図12に示す装置で，通常動作を模擬するように配置して行う。
接続は，図13に示すとおりとする。
電子スイッチは，箇条17の試験用の導体を取り付ける。
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の箇条18を適用する。
JIS C 8281-1:2011の18.1の第2段落（操作回数及び速度に関する規定）の後に，次を追加する。
電子スイッチの繰返し動作が，その用途（例えば，温度，光センサ）によって制限を受ける場合，電子
スイッチの操作速度は，可能な限り最短サイクル時間に設定する。スイッチは，各サイクルの終わりから
2±0.5 s以内に再起動する。
電子TDSには，次の条件においてJIS C 8281-2-3の18.1の第2段落（操作回数及び操作速度に関する規
定）を適用する。
電子TDSの繰返し動作が，その用途（例えば，温度，光センサ）によって制限を受ける場合，電子TDS
の操作速度は，可能な限り最短サイクル時間に設定する。スイッチは，各サイクルの終わりから2±0.5 s
以内に再起動する。
他の全ての電子TDSには，次の一様な速度で200回の操作をする。
− 定格電流が10 A以下の場合は，30回／分の操作
− 定格電流が10 Aを超え25 A未満の場合は，15回／分の操作
− 定格が25 Aの場合は，7.5回／分の操作
JIS C 8281-1:2011の18.2の後に，次を追加する。
18.101
接点機構は，定格電圧及び18.1に規定する操作速度で，次の方法によって各々50サイクルの動
作試験を行う。
− 9In（cosφ＝0.8±0.05）の電流が流れるようにした回路を接点機構によって閉路する。この電流は，各
閉路の50〜100 ms後に外部スイッチによって遮断する。
− 6In（cosφ＝0.6±0.05）の電流が流れるようにした回路を外部スイッチによって閉路し，各閉路の300
〜500 ms後に接点機構によって開路する。
注記1 Inは，電子スイッチの定格電流である。
注記2 電子スイッチが定格電流の代わりに定格負荷をもつとき，Inは，モータ負荷の力率（cosφ）
が0.6であると仮定して計算する。
試験中に，持続するアークが発生してはならない。
試験後，試験品は，その後の使用を損なう損傷があってはならない。
18.102
特別低電圧（ELV）白熱灯（例えば，ハロゲンランプ）用の鉄心変圧器の電圧制御用電子スイッ
チについては，次の試験を行う。
この試験は，3個の試験品に対して実施する。
接点機構は，定格電圧及び18.1に規定する操作速度で，各々50回の閉路動作を行う。
22
C 8281-2-1：2019
試験回路は，スイッチの閉路状態を模擬するため，電源周波数の1/2サイクルの間，電子スイッチの定
格電流の10倍の試験電流に調整する。
試験中に，持続するアークが発生してはならない。
試験後，試験品は，その後の使用を損なう損傷があってはならない。
注記 無負荷状態の変圧器で操作することができる電子スイッチの試験方法は，検討中である。
19 平常動作
平常動作は，JIS C 8281-1:2011の箇条19を，次に置き換える。
電子スイッチは，過度の破損，その他の有害な影響なしに，通常の使用状態で起こる機械的，電気的及
び熱的応力に耐えなければならない。
適否は，19.101〜19.105及び19.109の試験によって判定する。その間，電子スイッチは，定格電圧及び
箇条17に規定する負荷で試験する。ただし，特に規定がない場合に限る。
自動機能を組み込んだ電子スイッチの場合，19.101，19.102，19.104及び19.109の試験の動作回数は対
応する各細分箇条で指定した回数とする。対応する各細分箇条に示す回数よりも多い回数を製造業者が指
定する場合は，指定する値に従って試験を行う。
注記1 19.102及び19.109の試験の相関関係は，検討中。
スイッチのその後の操作を妨げない場合，接点の張り付きは，溶着とはみなさない。
機械的にスイッチへ打撃を与えない値の力をアクチェータに加えて分離できる場合，接点の張り付きは，
許容する。
常に，ゼロクロス±20°の位相角で接点機構の接点を閉じる電子回路を搭載する電子スイッチは，電子
回路と共に試験する。
注記2 この試験の目的において，製造業者は，自動操作を模擬した特別な回路をもつ試験品を準備
してもよい。
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の19.1を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の19.1を適用する。
注記3 電子スイッチの繰返し動作が，その用途（例えば，受動赤外線，遅延電子スイッチ）によっ
て制限を受ける場合，試験中の操作速度は，製造業者が指定してもよい。
試験中に，試験品は正しく機能しなければならない。
試験後，試験品は，次に耐えなければならない。
− 箇条16に規定する4 000 Vの試験電圧は，1 000 V減少し，その他の試験電圧は，500 V減少した耐電
圧試験。ただし，19.102で試験した試験品に対しては，耐電圧試験を実施しない。
− 箇条17に規定する温度上昇試験
試験後，試験品は，次のようなことがあってはならない。
− その後の使用を損なう摩耗
− 操作部の位置を表示しているとき，操作部の位置と可動接点の位置との間の不一致
− 電子スイッチが更に動作できない又は箇条10の要求事項に適合しないほどの外郭，絶縁用内張又は隔
壁の劣化
− 電気的又は機械的な接続の緩み
− シーリングコンパウンドの漏れ
− 様式番号2のスイッチの可動接点の相対的な位置のずれ
23
C 8281-2-1：2019
注記4 15.3による湿気処理は，この項目の耐電圧試験の前には繰り返さない。
注記5 試験中，試験品に注油しない。
19.101
ステップダウンコンバータの有無にかかわらず，白熱灯回路用電子スイッチに組み込んだ接点機
構（主回路の開閉を直接行う機械式接点機構）は，次の試験を実施する。
試験は，完全な接点機構をもつ3個の個別の試験品について行う。
回路の詳細及び（図13に示す試験回路の）切換スイッチSの操作方法は，特に規定がない限り，18.1
による。
操作回数は，40 000回とする。
操作速度は，18.1による。
左右の方向に回転操作するロータリスイッチの場合，操作部は，全操作回数の半分を一方向に回転させ，
残りの半分を逆方向に回転させる。
一つの部分で実施している間は，他の部分は“切”状態とする。さらに，適用できる場合は，14.3の試
験を続けて行う。
モータ速度制御回路用電子スイッチに組み込んだ接点機構（主回路の開閉を行う。）は，白熱灯回路用電
子スイッチと同様に試験する。このとき接点機構は，6×In（cosφ＝0.65±0.05）の電流が流れる回路状態
で閉路し，In（cosφ＝0.65±0.05）の電流が流れる回路状態で開路する。回復電圧Usの定格動作電圧Ue
に対する比率は，1.00（±10 %）とする。
19.102
制御装置非内蔵形ランプ（例：蛍光灯，CFL，LED）用電子スイッチに組み込んだ接点機構は，
次の条件で図103の負荷Aの試験回路で確認する。
注記 負荷Bによる試験は適用しない。
力率cosφ＝0.9±0.05（遅れ）における電源の固有短絡電流（実効値）は，3 000 Aと4 000 Aとの間と
する。Fは，公称直径0.1 mmで長さ50 mm以上の銅線ヒューズである。
R1は，電流を100 Aに制限する抵抗器である。
2心ケーブルは，負荷への試験回路において0.25 Ωに等しい抵抗R3が得られる適切な長さにする。ケー
ブルの断面積は，定格電流が10 A以下のスイッチを試験する場合，1.5 mm2とし，定格電流が10 Aを超え
16 A以下のスイッチを試験する場合，2.5 mm2とする。
負荷は，次のように構成する。
− 表103に規定する容量になるように並べたコンデンサC1は，断面積2.5 mm2の可能な限り短い導体を
用いて接続する。
− インダクタL1及び抵抗器R2は，力率0.9±0.05（遅れ）で試験品を通る試験電流値がIn（＋5，−0 %）
になるよう調整する。
24
C 8281-2-1：2019
表103−定格電流とコンデンサ容量との関係
定格電流
A
コンデンサ容量
μF
1以下
12
1を超え
2以下
24
2を超え
3以下
35
3を超え
4以下
48
4を超え
5以下
58
5を超え
6以下
70
6を超え
7以下
77
7を超え
8以下
96
8を超え
9以下
105
9を超え
10以下
140
10を超え
16以下
140
注記 回路パラメータは，最も実用的に使う代表的
なランプ負荷を示すように選んだ。
適否は，次の試験によって判定する。
試験には新しい試験品を使用する。
試験電圧の許容差は，±5 %とする。回路の詳細及び切換スイッチSの操作方法は，18.1の説明による。
操作回数は，次による。
定格電流が10 A以下の電子スイッチの場合は，30回／分で10 000回操作とする。
定格電流が10 Aを超え16 A以下の電子スイッチの場合は，15回／分で5 000回操作とする。
端子に影響することなく温度上昇測定ができるよう，試験品は，長さ1±0.1 mのケーブルで試験回路に
接続する。
スイッチを支持する金属枠がある場合，その上にスイッチを取り付ける。スイッチの可触金属部品があ
る場合，試験中に溶断しないワイヤヒューズを通し接地する。ヒューズ素子は，直径0.1 mmで長さ50 mm
以上の銅線で構成する。
この試験中，試験装置がスイッチ機構の平常動作及び操作部の自由な動きに影響しないようにスイッチ
を操作する。
強制的な作動をせず，“入”状態の期間は合計のサイクルの25＋5
0 %，“切”状態の期間は75 0
−5 %とする。
19.103
電子スイッチに組み込んだ半導体スイッチング装置及び／又は電子式調整ユニットについては，
次の試験を行う。
注記 電子式調整ユニットの例は，時間調節，明るさ調節又は感度調節に使う制御装置である。
電子スイッチには，定格電圧の1.1倍で，一定温度に達するまで定格負荷をかける。
スイッチの状態を10回変更する。設定値がある場合には，検出面又は検出ユニットによって，全範囲に
わたって最小から最大に，次に最小に戻す操作を10回繰り返す。
さらに，適用できる場合には，電子式拡張ユニット（子器）によって，スイッチの状態を10回変更する。
設定値がある場合には，全範囲にわたって最小から最大に，次に最小に戻す操作を10回繰り返す。
19.104
電子スイッチに組み込んだ機械式制御ユニットは，次の試験を行う。
電子スイッチに定格負荷を定格電圧で接続し，その後，電圧を定格電圧の1.1倍に増加する。制御ユニ
ットによって設定を全範囲にわたって最小から最大に，次に最小に戻す操作を10 000回繰り返す。操作速
度は，毎分10〜15回とする。
25
C 8281-2-1：2019
機械式制御ユニットとは，押しボタンスイッチ，ポテンショメータなどであり，手動で操作することを
要求する。
通常の使用状態で使用者が操作できない部分には，適用しない。
19.105
製造業者が最小負荷又は最小電流を指定する電子スイッチに対しては，定格電圧を0.9倍にした
状態で，最小負荷又は最小電流による次の追加試験を行う。
スイッチの状態を10回変更する。設定がある場合には，全範囲にわたって最小から最大に，次に最小に
戻す操作を10回繰り返す。
さらに，適用可能な場合には，電子式拡張ユニット（子器）によって，スイッチの状態を10回変更する。
設定がある場合には，全範囲にわたって最小から最大に，次に最小に戻す操作を10回繰り返す。
19.106
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の19.101を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の19.101を適用する。
19.107
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の19.102を適用する。
19.108
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の19.103を適用する。
19.109
制御装置内蔵形ランプ用を意図した電子スイッチに組み込む接点機構は，情報としてだけ示す供
給電源に関連した要求事項を除き19.102によって試験を行う。
注記1 突入電流及びI2tに対する要求値を得るため，計算は次のパラメータを基礎にしている。
− 力率cosφ＝0.9（遅れ）における電源の固有短絡電流3 000 A（実効値）
− 試験回路の2心ケーブルを模擬した0.25 Ωに等しい抵抗器R3及び20 μHに等しいインダクタンスL
適否は，試験で供給電源へ接続した電子スイッチを経由して図103の負荷Bに接続して判定する。その
最大ピーク値及び突入電流の最大I2tは，表108による。
注記2 負荷Aでの試験は，適用しない。
SBLランプ用の定格電力が250 W以下の電子スイッチは，30回／分で40 000回操作とする。
SBLランプ用の定格電力が250 Wを超える電子スイッチは，15回／分で40 000回操作とする。
注記3 R1は，コンデンサのESR（equivalent series resistance）値を含むランプ回路の直列抵抗値の合
計である。
負荷BのR1及びCの値は，スイッチ接点が位相角90±5°で閉路したとき，表108のIpeak及びI2tの値
（±5 %）を達成するように選定する。R2の値は，定格電力（±5 %）を達成するように選定する。
26
C 8281-2-1：2019
表108−配電方式によるIpeak及びI2tに対する値
定格電力
（W）
Ipeak
A
配電システム
220/380
230/400
240/415
I2t
A2s
配電システム
220/380
230/400
240/415
Ipeak
A
配電システム
120/208
127/220
I2t
A2s
配電システム
120/208
127/220
15
22
0.08
69
0.56
30
41
0.3
109
1.9
60
73
1.2
162
5.9
100
108
2.8
200
11.5
150
142
5.5
231
18.5
200
170
9
248
24.5
250
192
13
255
30
300
209
16.5
260
35
350
223
20.5
262
39
400
235
24.5
263
43
表にない値に対する試験値は，補間法によって決定する。
注記 日本で一般的な100/200の配電方式でのIpeak及びI2tの値は検討中であるが，当面の間，配電システムが
“120/208”の欄の値と同等とみなす。
表109−回路パラメータの計算値
定格電力
（W）
R1（Ω）
230 V
C（μF）
230 V
R1（Ω）
120 V
C（μF）
120 V
15
13
20
1.36
70
30
6.5
40
0.65
140
60
3.25
80
0.28
280
100
1.9
125
0.17
445
150
1.25
180
0.11
640
200
0.95
240
0.10
830
250
0.8
310
0.10
1000
300
0.7
355
0.11
1250
350
0.64
420
0.13
1500
400
0.59
480
0.135
1660
表109の値は情報としてだけ示す。回路は，Ipeak及びI2tの値が表108を達成するように調整する。
20 機械的強度
機械的強度は，JIS C 8281-1:2011の箇条20による。
21 耐熱性
耐熱性は，JIS C 8281-1:2011の箇条21よる。
22 ねじ，通電部及び接続部
ねじ，通電部及び接続部は，JIS C 8281-1:2011の箇条22による。
27
C 8281-2-1：2019
23 沿面距離，空間距離及びシーリングコンパウンドを通しての絶縁距離
沿面距離，空間距離及びシーリングコンパウンドを通しての絶縁距離は，JIS C 8281-1:2011の箇条23
によるほか，次による。
JIS C 8281-1:2011の表20の前に，次を追加する。
表20の項目1，2，6及び7の値は，外部導体用端子には適用するが，十分な遮断容量をもつ直接接続し
たヒューズ，その他の電流制限装置によって，箇条101を満足するように保護した電子スイッチの他の充
電部には適用しない。ヒューズを直接接続していない，又はその他の電流制限装置がない場合，電子スイ
ッチは，表20に適合しなければならない。
注記1 直接接続するヒューズ，その他の電流制限装置は，電子スイッチの保護を主な機能として回
路に挿入した装置である。
注記2 直接接続するヒューズ及び／又はその他の電流制限装置は，電子スイッチと一体になってい
なくてもよい。
JIS C 8281-1:2011の表20のそれぞれの欄に，次を追加する。
絶縁距離の詳細
mm
沿面距離
101
交流又は直流で生じる50 V以下の公称電圧で，かつ，JIS C 61558-2-6に従った安全絶縁変圧器
又は同等の有効性をもつ方法で主電源から電気的に分離した電源からの供給によって，回路に発
生する電圧が加わる沿面距離A), B)は，次による。
− プリント配線材料上−汚損度1
− プリント配線材料上−汚損度2
− その他の絶縁材料上−材料グループIの絶縁材料を横断して
− その他の絶縁材料上−材料グループIIの絶縁材料を横断して
− その他の絶縁材料上−材料グループIIIの絶縁材料を横断して
0.025
0.04
0.6
0.85
1.2
空間距離
102
交流又は直流で生じる50 V以下の公称電圧で，かつ，JIS C 61558-2-6に従った安全絶縁変圧器
又は同等の有効性をもつ方法で主電源から電気的に分離した電源からの供給によって，回路に発
生する電圧が加わる空間距離A)は，次による。
− 汚損度1
− 汚損度2
0.1
0.2
注記101 空間距離の値は，次の条件を用いたときのJIS C 60664-1の表F.2の値に基づいている。
− 交流又は直流50 Vの充電線の対地間電圧，過電圧カテゴリIII及びケースA（不平等電界）として，
JIS C 60664-1の表F.1に由来する800 Vの定格インパルス電圧
− 汚損度1及び2
沿面距離の値は，JIS C 60664-1の表F.4に基づいており，表F.3aの電力供給系統の公称電圧50 Vの場
合に対応した表F.4に集約した実効値50 Vの区分による。
注記102 公称電圧の定義については，IEC 60050-601（IEV 601-01-21）を参照。
注記103 項目101及び項目102は，電子RCS及び電子TDSだけに適用する。
28
C 8281-2-1：2019
注A) この規格においては，次を適用する（JIS C 60664-1から引用）。
− ミクロ環境：沿面距離の規定値の決定に特に影響を及ぼす絶縁物の近傍の環境（JIS C 60664-1の3.12.2）。
− 汚損度：ミクロ環境の予測できる汚損の特徴を示す数値（JIS C 60664-1）。
− 汚損度1：どのような汚損も発生しないか又は乾燥状態で非導電牲の汚損だけを発生する。この汚損は，
どのような影響も及ぼさない。
プリント配線基板が，結露の発生，及び導電性，吸湿性又は溶性塵埃の堆積物から保護している場合には，
RCSのプリント配線板に対して汚損度1の使用を認める。これは通常，プリント配線板及び／又は回路をコ
ーティングし，そのコーティングがJIS C 60664-3の規定に適合し，更に封止している場合，又は保護コーテ
ィングによって，プリント配線板アセンブリ全体を密閉している場合にだけ実現可能となる。
− 汚損度2：非導電性の汚損だけは発生するが，結露によって一時的に導電性を引き起こすことが予測でき
る（JIS C 60664-1参照）。
プリント配線板及び／又は回路をコーティングし，そのコーティングがJIS C 60664-3の規定に適合してい
る場合，RCSのプリント配線板に対して汚損度2の使用を認める。
この規格では，絶縁材料をそのPTI値によって，四つのグループに分類している。
− 材料グループI
600≦PTI
− 材料グループII
400≦PTI＜600
− 材料グループIIIa
175≦PTI＜400
− 材料グループIIIb
100≦PTI＜175
材料グループIIIには，材料グループIIIa及び材料グループIIIbを含む。
材料は，JIS C 2134の方法に従って溶液Aを用いて測定したそのPTIが，当該グループで指定した低い方
の値以上であることを基準として，上記の四つのグループのいずれかに該当しなければならない。
B) プリント配線板の沿面距離の値は，汚損度1及び2について示している。その他の絶縁材料については，汚
損度2の沿面距離の値だけを許容する。
JIS C 8281-1:2011の23.2の後に，次を追加する。
23.101
SELVへの接続に適する制御回路をもつ電子スイッチで，スイッチング回路にSELVよりも高い
電圧を供給するものは，制御回路とスイッチング回路との間の空間距離及び沿面距離が5.5 mm以上でな
ければならない。
7.103に従って分類する電子RCS及び電子TDSの場合，SELVと主電源との間の空間距離及び沿面距離
については，JIS C 8281-2-2及びJIS C 8281-2-3の関連する要求事項を適用する。
23.102
エナメル線のエナメルの厚さがJIS C 3215-0-1のグレード1以上である場合，制御コイルの電線
と異極充電部及び露出した導電部との間の空間距離は，エナメルがないときの値の2/3まで減少させても
よい。
24 絶縁材料の耐過熱性，耐火性及び耐トラッキング性
絶縁材料の耐過熱性，耐火性及び耐トラッキング性は，JIS C 8281-1:2011の箇条24による。
25 耐腐食性
耐腐食性は，JIS C 8281-1:2011の箇条25による。
26 電磁環境両立性（EMC）
電磁環境両立性（EMC）は，JIS C 8281-1:2011の箇条26を，次に置き換える。
電子スイッチは，使用を意図する電磁環境の下で正しく動作するように設計しなければならない。この
要求は，交流低電圧の公共電源システムへの接続を意図する電子スイッチに特に適用し，IEC 61000-2-2
による両立性レベルで規定する電源システムにおける通常の妨害を考慮しなければならない。
29
C 8281-2-1：2019
試験は，1個の新しい試験品によって行う（表101参照）。
製造業者は，電子スイッチの負荷に関連する全ての詳細を明らかにしなければならない。
適否は，26.1及び26.2の試験によって判定する。
26.1 イミュニティ
電子スイッチは，スイッチの状態（“入”又は“切”）及び／又は設定値を妨害に対して保護するように
設計しなければならない。
スイッチの操作は連続する妨害に対して保護しなければならない（例：JIS C 61000-4-3，JIS C 61000-4-6
及びJIS C 61000-4-8）。
次の試験のため，電子スイッチは，適切なボックスがある場合はそこに通常の使用状態で，箇条26の関
連する細分箇条に規定がない限り，製造業者の指定に従って全ての種類の負荷を接続する。
電子スイッチは，調光器に対する定格負荷の100 %と他の電子スイッチに対する機能負荷とを一緒に接
続する。
電子スイッチは，箇条26の関連する細分箇条に規定するように，操作あり及び操作なしについて表104
に従って試験を行う。
電子スイッチに接続している負荷が機械式スイッチ装置（例えば，リレー）で制御され，半導体式装置
が負荷回路に存在しない場合，試験は，抵抗負荷だけで行う。
操作をしない試験に対し，電子スイッチは，次の状態で試験を行う。
a) “入”状態で
状態の設定が変えられる電子スイッチ（例えば，調光器）に対し，出力電力P0（実効値）が出る導
通角100±5°の状態で行う。
±10 %未満のP0の変化は，設定の変化とみなさない。
b) “切”状態で
操作を伴う試験は，1回／秒以上の操作速度で電子スイッチの“入／切”を行う。設定を変えるこ
とができる場合（例えば，調光器），“入／切”に代えて，例えば，最小から最大のように設定値を変
更してもよい。
その機能（例えば，受動赤外線，遅延電子スイッチ）によって，操作速度が制限される電子スイッ
チの場合，試験中の操作速度は，製造業者の指定による。
表104−イミュニティ試験（概要）
外的要因
試験条件
試験方法
細分箇条
電圧ディップ／短時間停電
表105
JIS C 61000-4-11:2008
26.1.1
サージ
表110
JIS C 61000-4-5:2018
26.1.2
ファストトランジェント
（バースト）
表106
JIS C 61000-4-4:2015
26.1.3
静電気放電
±4 kV 接触放電
±8 kV 気中放電
JIS C 61000-4-2:2012
26.1.4
放射電磁界試験
3 V/m
JIS C 61000-4-3:2012
26.1.5
無線周波数電圧
3 V（実効値）
JIS C 61000-4-6:2017
26.1.6)
電源周波数磁界
3 A/m，50 Hz
JIS C 61000-4-8:2016
26.1.7 a)
注a) この試験は，磁場に敏感な装置（例えば，ホール素子，ダイナミック形マイクロホン，
その他）を含む電子スイッチだけに適用する。
30
C 8281-2-1：2019
26.1.1 電圧ディップ及び短時間停電試験
電子スイッチは，26.1に規定するように，JIS C 61000-4-11で規定する試験用機器で表105に従って試
験を行う。試験と次の試験との間隔を10秒間以上とし，電圧ディップ及び短時間停電の反復を3回繰り返
す。
試験は，電子スイッチの電力供給線路の上で行う。
試験中，電子スイッチは操作しない。
供給電圧の急激な変動は，ゼロクロス時に発生させる。
試験電圧発生器の出力インピーダンスは，電圧の変動中でも低くなければならない。
試験電圧UTと変動電圧との間の変化は，急激にする。
注記 100 %UTは，定格電圧と同じである。
試験レベル0 %は，全供給電圧の遮断に相当する。
表105−電圧ディップ／短時間停電の試験値
試験レベル
% UT
電圧ディップ／短時間停電
% UT
継続時間
（定格周波数によるサイクル数）
0
100
10
40
60
10
70
30
10
試験中，電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
試験後，電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず，かつ，意図する操作が可能でな
ければならない。
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
26.1.2 1.2/50 μs波形インパルスによるサージイミュニティ試験
電子スイッチは，スイッチの開閉及び雷による過渡現象による過電圧によって引き起こされる単極性の
サージに対する耐性について試験を行う。
試験中，電子スイッチは操作しない。
試験は，JIS C 61000-4-5に従って実施する。繰返し率60±5秒／回，表110による開回路試験電圧で，
位相角0°，90°，180°及び270°の各々について，2回の正極性サージ及び2回の負極性サージを繰り
返す。
低い側の電圧での試験は要求しない。
通常使用の取付状態で，金属製取付表面をもつ電子スイッチの場合には，電源ラインと接地との間で，
表110による試験電圧で試験を繰り返す。
表110−サージイミュ二テイ試験電圧
導体／端子
結合
試験電圧
kV
主電源
線間
1
線と接地との間
2
試験中，電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
試験後，電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず，かつ，意図する操作が可能でな
ければならない。
31
C 8281-2-1：2019
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
26.1.3 電気的ファストトランジェント／バースト試験
電子スイッチは，主電源供給用及び制御用の端子及び／又は終端への繰返しファストトランジェント／
バーストに対する耐性を試験する。
試験中，電子スイッチは操作しない。
試験は，JIS C 61000-4-4に従って，次の仕様で実施する。
電子スイッチの主電源供給用及び制御用の端子及び／又は終端に結合する，多くのバーストによって構
成する繰返しファストトランジェントの値は，表106による。
表106−ファストトランジェント試験値
開回路出力試験電圧±10 %
レベル
主電源供給用の端子及び／又は終端
kV
制御用の端子及び／又は終端
kV
2
±1
±0.5
繰返し率は，5 kHzとする。
試験の継続時間は，60＋5
0 秒で，正極及び負極に反応する電子スイッチのために必要な時間以上とする。
試験中，電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
試験後，電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず，かつ，意図する操作が可能でな
ければならない。
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
26.1.4 静電気放電試験
通常使用の取付状態で，電子スイッチは，静電気の接触放電及び気中放電に耐えなければならない。試
験は，抵抗負荷を接続して実施する。電子スイッチが白熱灯の制御を意図しない場合，製造業者の説明書
に指定する負荷を一つだけ用いて試験する。
試験中，電子スイッチは操作しない。
低い側の電圧での試験は要求しない。
試験は，正極性サージ10回，負極性サージ10回を次の方法によって，JIS C 61000-4-2に従って実施す
る。
− 導電性表面及び結合板に対する接触放電
− 適用できるならば，絶縁性表面に対する気中放電
静電気放電は，通常の使用状態で接触できる電子スイッチの表面及び点に対してだけ実施する。
静電気放電は，製造業者が設計し，あらかじめ選定した点に適用する。また，そこに異なる材質がある
場合は，含める。
次の試験値を適用する。
− 接触放電の試験電圧：4 kV
− 気中放電の試験電圧：8 kV
試験中，電子スイッチの状態及び設定は変化してもよい。フリッカは無視する。
試験後，電子スイッチは初期状態及び初期設定にならなければならず，かつ，意図する操作が可能でな
ければならない。
遅延時間調整装置をもつ電子スイッチ（例えば，受動赤外線スイッチ）は，遅延時間が試験時間を上回
32
C 8281-2-1：2019
るように調節する。
接触によって操作を意図する表面に検知ユニットをもつ電子スイッチは試験後，状態及び／又は設定値
が変化してもよいが，電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
26.1.5 放射電磁界試験
この試験は，赤外線（IR）受信装置，無線周波受信装置，受動赤外線（PIR）装置，マイクロプロセッ
サをもつ装置などを含む電子スイッチだけに適用する。
電子スイッチは，抵抗負荷だけを接続する。
電子スイッチは，放射電磁界試験に耐えなければならない。
試験は，トランスミッタ，レシーバ及び双方向トランシーバの関連規格で定義する帯域を除く周波数範
囲80〜1 000 MHz及び1 400〜2 000 MHz，電界強度3 V/mを適用し，JIS C 61000-4-3に従って実施する。
電子スイッチが自動機能を含むか又は遠隔操作ができる場合，試験中，電子スイッチを操作する。
試験中及び試験後，電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。フリッカは許容しない。
試験中，試験装置の周波数変更による過渡現象によって生じるランプのちらつき及びモータの不規則な
動作は無視する。
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
26.1.6 無線周波数電圧試験
この試験は，赤外線（IR）受信装置，無線周波数受信装置，受動赤外線（PIR）装置，マイクロプロセ
ッサをもつ装置などを含む電子スイッチだけに適用する。
電子スイッチは，抵抗負荷だけを接続する。
電子スイッチは，無線周波数電圧試験に耐えなければならない。
試験は，無線周波数電圧3 V（実効値）の電源ライン及び制御ラインへ適用しJIS C 61000-4-6に従って
実施する。
電子スイッチが自動機能を含むか又は遠隔操作ができる場合，試験中，電子スイッチを操作する。
試験中及び試験後，電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。フリッカは許容しない。
試験中，試験装置の周波数変更による過渡現象によって生じるランプのちらつき及びモータの不規則な
動作は無視する。
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。
26.1.7 電源周波数磁界試験
この試験は，磁場に敏感な装置（例えば，ホール素子，電気力学によるマイクロホン，その他）を含む
電子スイッチだけに適用する。
電子スイッチは，抵抗負荷だけを接続する。
電子スイッチは，電源周波数磁界試験に耐えなければならない。
試験は，磁界3 A/mで50 HzにおいてJIS C 61000-4-8に従って実施する。
電子スイッチが自動機能を含むか又は遠隔操作ができる場合，試験中，電子スイッチを操作する。
試験中及び試験後，電子スイッチは意図する操作が可能でなければならない。フリッカは許容しない。
試験中，試験装置の周波数変更による過渡現象によって生じるランプのちらつき及びモータの不規則な
動作は無視する。
試験後，自動機能を組み込んだ一般用電子スイッチは，意図する操作が可能でなければならない。
33
C 8281-2-1：2019
26.2 エミッション
26.2.1 低周波エミッション
電子スイッチは，回路網に過度の妨害を引き起こさないように設計しなければならない。
電子スイッチは，JIS C 61000-3-2及びIEC 61000-3-3に適合している場合，要求事項を満たしていると
みなす。
この要求事項は，チャンネルが相互に独立しているマルチチャンネルをもつ調光器の場合，各チャンネ
ルに適用する。
注記1 点弧角度を変動させるための自動制御装置（例えば，ダンスホール，ディスコなどで使用す
る自動システム）を組み込んだもの以外の電子スイッチは，試験を実施しなくともIEC
61000-3-3に適合しているとみなす。
注記2 白熱灯を含む異なる種類の負荷を調光するために設計した独立形調光器は，JIS C 61000-3-2
に対応した白熱灯用とみなす。チャンネルごと（チャンネルの制御は独立している）の定格
電力が1 000 W以下の場合，JIS C 61000-3-2の箇条7に従った全ての異なる種類の負荷での
試験は，必要ではない。負荷電流を半導体式スイッチングする電子スイッチは，調光器とみ
なす。
注記3 IEC 61000-3-3は，その適用範囲に従い，定格電圧220 V〜250 Vで定格電源周波数が 50 Hz
以外の電子スイッチには適用しない。
電気機械式駆動接点機構（例えば，リレー）をもつ電子スイッチの負荷用の端子及び／又は終端は，高
調波電流エミッションを引き起こさないため，試験を実施しなくともJIS C 61000-3-2に適合しているとみ
なす。したがって，これらの製品の主電源供給用の端子及び／又は終端だけ試験を行う。
26.2.2 無線周波数エミッション
電子スイッチは，過度の電磁妨害を引き起こさないように設計しなければならない。
電子スイッチは，CISPR 14又はCISPR 15の要求に適合しなければならない。電気照明器具用に使用す
る電子スイッチに対し，CISPR 15を適用する。
CISPR 15の8.1.4.2及び8.1.4.3は，次のように修正して適用する。
適否は，次の試験によって判定する。
a) 主端子（CISPR 15:2013の8.1.4.2）
最初の確認又は走査として，周波数帯9 kHz〜30 MHzの全てで“入”状態の最高設定で行う。さら
に，次の周波数及び最初の確認で見つけたCISPR 15の限度から6 dB下げたレベルを超える最大の妨
害が出た周波数で，最大負荷を接続し，制御設定を最大妨害が出るよう変化させる。
9 kHz，50 kHz，100 kHz，160 kHz，240 kHz，550 kHz，1 MHz，1.4 MHz，2 MHz，3.5 MHz，6 MHz，
10 MHz，22 MHz及び30 MHz
b) 負荷及び／又は制御端子（CISPR 15:2013の8.1.4.3）
最初の確認又は走査として，完全な周波数帯160 kHz〜30 MHzまで“入”状態の最高設定で行う。
さらに，次の周波数及びCISPR 15の限度から6 dB下げたレベルを超える最大の妨害が出た周波数で，
最大負荷を接続し，制御設定を最大妨害が出るよう変化させる。
160 kHz，240 kHz，550 kHz，1 MHz，1.4 MHz，2 MHz，3.5 MHz，6 MHz，10 MHz，22 MHz及び
30 MHz
JIS C 8281-1:2011の箇条26の後に，次の箇条を追加する。
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C 8281-2-1：2019
101 異常状態
電子スイッチは，異常状態でも危険な状態を生じてはならない。
障害が発生したとき，電子スイッチから出る最大電力が0.5 W未満の場合，異常状態の要求事項に適合
しているとみなす。
適否は，101.1〜101.3に規定する試験によって判定する。
注記 これらの試験に対しては，電子スイッチの追加部品が必要な場合もある。
101.1
電子スイッチは，異常状態となった場合でも，電子スイッチの周囲に対して火災の危険が生じる
おそれのある温度になってはならない。
適否は，101.1.1に規定するように，電子スイッチの故障状態を模擬した温度上昇試験によって判定する。
試験中に，温度上昇は，表102の許容温度上昇値欄の箇条101に関する列の値を超えてはならない。
101.1.1
特に規定がない限り，電子スイッチは，箇条17に規定するように取り付け，接続し，負荷を加
えた状態で試験を行う。
101.1.1.1及び101.1.1.2に示す異常状態を，順番に適用する。
注記 試験中，直接の結果として生じるその他の故障が発生する場合がある。
異常条件は，試験に最も適切な順序で適用する。
101.1.1.1
次の故障状態を，模擬する。
− 箇条23の規定に適合するものを除き，沿面距離及び空間距離を短絡する。ただし，JIS C 6065の図
10（プリント基板の最小空間距離及び沿面距離）に示す値未満であるときに限る。
− 例えば，ラッカー又はエナメルで構成する絶縁塗装部分の短絡。
このような塗装は，沿面距離及び空間距離の評価のときに無視する。
エナメルが電線の絶縁体を形成し，JIS C 3215-0-1の13.のグレード2に対して規定する電圧試験に
耐える場合，エナメルは，沿面距離及び空間距離の内の1 mmに相当するとみなす。
注記1 グレード2の変更は，検討中である。
− 半導体部品の短絡又は開放
注記2 電子スイッチの制御回路に用いる半導体部品（マイクロコントローラ，ICなど）の短絡又
は開放は，電源供給側ピン部だけで行う。
− 電解コンデンサの短絡
− 箇条102の要求事項に適合しないコンデンサ又は抵抗器の短絡又は開放
− 負荷側端子の短絡
試験中に模擬した故障状態が，その他の故障状態に影響する場合には，これらの全ての故障状態を同時
に適用する。
電子スイッチの温度を自動保護装置（ヒューズを含む。）の動作によって制限する場合は，その装置の動
作の2分後に温度を測定する。
温度制限装置が動作しない場合は，温度が安定状態に達したとき又は4時間後のいずれか短い方の時間
の後に温度を測定する。
ヒューズによって温度を制限する場合，疑義があるときには，次の追加試験を行う。
ヒューズを短絡状態にして故障状態における電子スイッチの電流値を測定する。測定した電流によって
JIS C 6575の規格群で規定する形式のヒューズの特性に応じて最大不溶断時間を求め，相当する最大不溶
断時間の間，電子スイッチを作動する。通電完了の2分後に温度を測定する。
101.1.1.2
該当する場合には，次の試験を行う。
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C 8281-2-1：2019
温度制御装置及びヒューズを組み込んでいない電子スイッチの検証に使用する保護装置（例えば，ヒュ
ーズ，自動保護装置）の作動電流は，電子スイッチの保護を目的として製造業者が指定する保護装置の定
格電流に関連しなければならない。製造業者は，電子スイッチの保護を目的として保護装置に関する情報
を製造業者の説明書で指定することが望ましい（JIS C 8281-1:2011の8.8参照）。
温度制限装置及びヒューズを組み込んでいない電子スイッチは，据付部で電子スイッチを保護する装置
（ヒューズなど）の協約溶断電流を1時間加える。
内蔵する自動保護装置（ヒューズを含む。）によって保護する構造の電子スイッチは，保護装置が1時間
後に遮断する電流の0.95倍の電流を加える。
温度上昇は，温度が安定状態に達したとき又は4時間後のいずれか短い方の時間の後に測定する。
JIS C 6575の規格群に適合するヒューズを組み込み，それによって保護する電子スイッチは，それらの
ヒューズをインピーダンスが無視できるリンク導体に取り替え，ヒューズの定格電流の2.1倍の電流を流
す。
電子スイッチは，30分間負荷電流を通電した後で，温度上昇を測定する。
包装ヒューズ及び自動保護装置の両方によって保護する電子スイッチは，上記のように，組込ヒューズ
又は他の自動保護装置のいずれかに負荷を加える。ただし，より低い方の負荷が必要な試験を選ぶ。
過負荷の場合に限って，短絡する自動保護装置によって保護する電子スイッチは，自動保護装置付きの
電子スイッチ及び自動保護装置がない電子スイッチの両方とみなして試験しなければならない。
上記で規定する試験において，温度上昇が安定する前に電子スイッチが“切”状態になる場合は，新し
い試験品のセットで次の追加試験を行う。
− 電子スイッチは，定格電流の1.1倍の負荷を加える。
− 次に電流を10 %増やし温度を安定させる。これを保護装置の協約溶断電流まで又は電子スイッチが破
壊（正常に動作しなくなるか，この規格の意味するところの安全性を損なう。）するまで繰り返す。
101.2
故障状態で電子スイッチを使用したとしても，感電に対する保護が必要となる。
適否は，101.1の試験後，箇条10の試験によって判定する。
101.3
電子スイッチは，負荷側の短絡電流に，その周囲を危険にさらすことがないような状態で耐えな
ければならない。
適否は，次の試験によって判定する。
電子スイッチは，通常の使用状態で取り付ける。追加のボックス又はエンクロージャを使う場合，JIS C
8462（規格群）の関連するパートに適合したエンクロージャで試験しなければならない。
注記1 （対応国際規格のNOTE 1は，他国に関する規定であり削除した）
電子スイッチは，非誘導性回路で負荷インピーダンス及び固有通過値I2t（ジュール積分）を制限する装
置に直列に接続して試験する。
試験における電源の固有短絡電流は，電子スイッチの定格電圧に等しい電圧で，1 500 A（実効値）とす
る。
固有通過値I2t（ジュール積分）の最小値は，15 000 A2sでなければならない。
注記2 固有電流は，電子スイッチ，電流制限装置及び負荷インピーダンスを，回路には他の変化を
与えずに，インピーダンスが無視できるリンク導体に交換したときに，その回路に流れる電
流である。
注記3 固有通過値I2t（ジュール積分）は，電子スイッチ及び負荷インピーダンスをインピーダンス
が無視できるリンク導体と交換したときに，電流制限装置を通過する値である。I2t値は，開
36
C 8281-2-1：2019
放形ワイヤヒューズ，イグナイトロン又は他の適切な装置を用いることによって制限できる。
注記4 15 000 A2sのI2t値は，固有短絡電流が1 500 Aのとき，16 Aの小形遮断器を通過する最大の
値に相当する。
電子スイッチを試験する回路図を，図102に示す。
インピーダンスZ1（短絡インピーダンス）は，規定の固有短絡電流を加えることができるように調節す
る。
インピーダンスZ2（負荷インピーダンス）は，その電子スイッチに規定する最小負荷又は定格負荷の約
10 %のうちのいずれか高い方で負荷できるように調節する。
注記5 負荷は，電子スイッチを閉路状態とするために必要である。
回路は，次の許容差に校正する。
電流：0〜＋5 %，電圧：0〜＋10 %，周波数：±5 %
製造業者が推奨する，電子スイッチの中に組み込むか又は組み込まない状態のヒューズを含む自動過電
流保護装置がある場合，負荷回路に挿入する。可変調整がある場合，最大出力の位置に設定する。
短絡回路は，電圧に同期しない状態で補助スイッチAによって6回発生させる。
注記6 波形上のタイミング指定における複雑さを避ける必要を考慮し，6回の試験を行う。
試験中，炎又は燃焼小片の放出がある場合，周囲が危険になってはならない。
試験中に追加の拡大なしの裸眼又は矯正視力で見える炎又は燃焼する部品の放出がない場合，上記の要
求事項を満足する。
炎又は燃焼する部品の見える放出がある場合，試験は新しい試験品で繰り返す。試験を繰り返す前に，
透明な厚さ0.05±0.01 mmのポリエチレンフィルムで，炎又は燃焼する部品が見える範囲より各々の方向
に50 mm以上大きなサイズで枠に適度に伸ばし固定する。炎を放出した製品の表面から最大10 mmの距
離に炎の軌跡にほぼ垂直にフィルムを置く。
フィルムには，次の物理的な特性があることが望ましい。
− 23 ℃での密度は，0.915〜0.935 g/cm2
− 溶融点は，110〜120 ℃
試験後は，次による。
− 可触金属部は充電部になってはならない（箇条10参照）。
− 炎又は燃焼する部品の見える放出は，追加の拡大なしの裸眼又は矯正視力で確認したとき，フィルム
に目に見える孔が空いていてはならず，かつ，フィルムは1体の部品のままでなければならない。
− 導体，埋込形ボックス及び取付面には炎の痕跡があってはならない。消せる痕跡，及びケーブル又は
ハウジングのその後の使用を妨げない痕跡は，無視する。
試験中及び試験後に試験品が動作可能である必要はない。ただし，電子スイッチが明らかに使用できな
い場合を除き，組み込んだ全ての自動保護装置の接点は，溶着してはならない。
短絡回路試験後，試験品は，通常操作の状態で再通電し，組込ヒューズがある場合は取り替え，状況を
4時間観察する。試験品は，この間，発煙，過剰な温度上昇のような危険な状況になってはならない。疑
義がある場合は，表102の最大温度上昇値を超えてはならない。
6回の試験は，同一試験品に対して行ってもよい。ただし，組込ヒューズを交換することによって電子
スイッチが依然として動作可能であるときに限る。そうでない場合には，新しい試験品を使用して，合計
6回の試験を行う。
さらに，電子スイッチは，箇条16に従った耐電圧試験に耐えなければならない。それは，箇条19に規
37
C 8281-2-1：2019
定する電圧での短絡試験後に試験品が周囲温度に達したとき実施する。この試験は，表14の項目3を適
用しない。
手動リセットできる過電流保護装置は，試験前に“入”状態に切り替える。
101.4
電子RCSには，JIS C 8281-2-2の箇条101を適用する。
電子TDSには，JIS C 8281-2-3の箇条101を適用する。
101.5
白熱灯用及び／又は制御装置内蔵形ランプ用に分類する調光器の場合，非調光用安定器内蔵ラン
プをその回路に接続したとき，調光スイッチの周囲に対し火災の危険が生じる温度に至る部分がないよう
に設計しなければならない。
試験は，調光器を箇条17で規定するように取り付け，接続して実施する。
調光器は，調光器の制御装置内蔵形ランプの定格に対応した図103の負荷Bを幾つか用いたランプ負荷
擬似回路で負荷通電する。負荷Bの擬似回路は，25 Wの非調光タイプの制御装置内蔵形ランプを示して
いる。
制御装置内蔵形ランプ用に分類しない調光器の場合，宣言された白熱灯負荷の1/5の合計出力となるよ
うに図103の負荷Bを幾つか用いたランプ負荷擬似回路で負荷通電する。
例えば，制御装置内蔵形ランプ用の計算出力110 Wの電子スイッチは，5個の擬似負荷を使って負荷す
る。
ここに：
R1＝4.4 Ω±5 %
C＝14 μF コンデンサ
R2は，電力25 Wに調整する。
適否は，電子スイッチへ温度上昇試験を実施することによって判定する。他に規定がない限り，試験は，
箇条17に規定する手順で実施する。
設定は，最大電流ピーク値が発生するような安定した条件に調整する。
試験中，炎又は燃焼する部品の放出が発生してはならず，かつ，温度上昇は，表102の箇条101に関す
る欄の値を超えてはならない。
試験後，可触金属部は，充電部になってはならない。
試験品は，動作状態を維持する必要はない。しかし，電子スイッチが明らかに使用できない場合を除き，
組み込んだ全ての自動保護装置の接点は，溶着してはならない。
102 部品
故障することによって電子スイッチに危険を生じるおそれがある部品は，適用できる限り，関連規格に
規定する安全性要求事項に適合しなければならない。
電子スイッチの中で用いる構成部品に動作特性の表示がある場合には，この規格中で特に例外規定があ
る場合を除き，これらの表示に従って用いなければならない。
他の規格に適合しなければならない構成部品の試験は，通常，関連規格に従って次のように個別に行う。
部品に表示があり，その表示に従って用いる場合，試験品の数は，関連規格で要求する数とする。
規格がない，部品に表示がない，又は表示に従った使用をしていないとき，部品は，電子スイッチの中
で生じる条件で試験を行う。試験品の数は，通常，関連規格で要求する数とする。
電子スイッチに組み込んだ部品は，電子スイッチの一部としてこの規格の全ての試験を行う。
38
C 8281-2-1：2019
102.1
ヒューズ
ヒューズがある場合，JIS C 6575の規格群又は他の関連する規格に適合し，1 500 Aの定格遮断容量をも
つもの（故障電流を35 Aに制限するときを除く。）でなければならない。
102.2
コンデンサ
コンデンサは，次の場合，JIS C 5101-14に適合し，かつ，表107によらなければならない。
− 短絡又は開放において，故障状態の要求事項を満足せず，感電又は火災の危険がある場合
− コンデンサの端子を短絡したときに0.5 A以上の電流が流れる場合
− 電磁妨害雑音防止に用いるのもの
注記 JIS C 5101-14の4.12による高温高湿（定常）試験で，21日間以上の試験に合格したコンデン
サは，この要求事項に適合しているとみなされる。
コンデンサには，定格電圧をボルト（V），定格容量をマイクロファラッド（μF），参照温度（最大温度
上昇値＋25 ℃）を摂氏（℃）で表示しなければならない。
電流は，ヒューズ及び関連するコンデンサが短絡したとみなして決定する。
他の保護装置の場合，抵抗素子を等価のインピーダンスに置き換える。
表107−コンデンサ
コンデンサの適用箇所
JIS C 5101-14に基づく適合形式
Un≦125 V
125 V＜Un≦250 V
過電流保護なし
過電流保護付きa)
充電部（L又はN）と接地（PE）との間
Y4
Y2
Y2
充電部間
（LとN又はL1とL2との間）
− インピーダンスの直列接続なし
X2
X1
X2
− インピーダンスを直列に接続しており，コン
デンサを短絡したとき，電流値が次の場合
・ 0.5 A以上
X3
X2
X3
・ 0.5 A未満
指定なし
指定なし
指定なし
注a) 過電流保護素子（例えば，ヒューズ抵抗）をコンデンサの外部又は内部に組み込んだもの。
102.3
抵抗器
抵抗器の開路又は短絡によって，感電又は火災のおそれがある抵抗器は，電子スイッチの中で生じる過
負荷条件の下で，適切な一定の値をもたなければならない。
これらの抵抗器は，電子スイッチの中の抵抗器の参照温度（箇条17参照）に関し修正を加えたJIS C 6065
の14.1の要求事項に適合しなければならない。
注記 複合形抵抗器のための追加の要求事項については，検討中である。
102.4
自動保護装置（ヒューズを除く）
自動保護装置は，JIS C 9730の規格群に適合しなければならない。ただし，JIS C 9730の規格群が適用
できるときに限る。さらに，追加要求事項として，電流を遮断する自動保護装置（以下，カットアウトと
いう。）は，102.4.1に適合し，電流を減少させるだけの自動保護装置は，102.4.2に適合しなければならな
い。
102.4.1
カットアウトは，十分な開閉容量をもたなければならない。
適否は，3個の試験品を102.4.1.1又は102.4.1.2の試験によって判定する。
電子スイッチの中のカットアウトが，箇条17に従った参照温度が55 ℃を超える場合には，試験品は，
39
C 8281-2-1：2019
この参照温度で試験する。
試験中，他の条件は，電子スイッチの中で起こる条件と類似のものでなければならない。
試験中，持続するアークが発生してはならない。
試験後，試験品は，更なる使用ができなくなるか又は電子スイッチの安全性を損なう損傷があってはな
らない。
カットアウトの故障によって大きな危険が生じない場合には，カットアウトのスイッチング周波数は，
電子スイッチに固有の通常のスイッチング周波数を超えて増加してもよい。
カットアウトを個別に試験することができない場合には，カットアウトを使用する電子スイッチの追加
の試験品を用意する必要がある。
102.4.1.1
電子スイッチの負荷回路の中の非自己復帰形カットアウトは，電子スイッチの定格電圧の1.1
倍の電圧及び次の負荷で試験する。
カットアウトは，動作ごとに復帰させ，連続して10回動作させる。
− 白熱灯用電子スイッチの中のカットアウトは，非誘導性回路の中で試験し，ヒューズがJIS C 6575の
規格群に規定するものの場合，保護ヒューズの定格電流の2.1倍，その他のヒューズに対しては，関
連する協約溶断電流を流す。
− 蛍光灯用の電子スイッチの中のカットアウトは，白熱灯用電子スイッチの中のカットアウトと同様に
試験を行う。
− 速度制御回路用電子スイッチの中のカットアウトは，10回の動作を2回連続で行う。
最初の試験では，試験するカットアウトは，9In（cosφ＝0.8±0.05）の電流を流す回路を閉路する。この
電流は，各閉路の後，50〜100 msの間に補助スイッチによって遮断する。
次の試験では，6In（cosφ＝0.6±0.05）の電流を流す回路を補助スイッチによって閉路し，試験するカッ
トアウトによって開路する。
注記1 6In及び9Inは，暫定値である。
注記2 “In”は，電子スイッチの定格電流である。電子スイッチが定格電流の代わりに定格負荷を
もつ場合，Inは，負荷力率cosφ＝0.6であると仮定して計算する。
102.4.1.2
電子スイッチの負荷回路の中の自己復帰形カットアウトは，電子スイッチの定格電圧の1.1倍
の電圧及び次の負荷で試験する。
− 白熱灯用電子スイッチの中のカットアウトは，非誘導性回路の中で自動的に200サイクル動かし，ヒ
ューズがJIS C 6575の規格群に規定するものの場合，保護ヒューズの定格電流の2.1倍，その他のヒ
ューズに対しては，関連する協約溶断電流を流す。
注記 蛍光灯用電子スイッチのカットアウトの試験は，検討中である。
102.4.1の試験中に，持続するアークが発生してはならない。
102.4.1の試験後に，試験品は，更なる使用ができなくなるか又は電子スイッチの安全性を損なう損傷が
あってはならない。
カットアウトは，開路した接点の間で，次の試験電圧に1分間耐えなければならない。
− 照明回路用電子スイッチの中のカットアウト：500 V
− 速度制御回路用電子スイッチの中のカットアウト：定格電圧130 V以下に対しては，1 200 V，及び130
Vを超える定格電圧に対しては，2 000 V
102.4.2
電子スイッチに流す電流を減少させるだけの自動保護装置は，次のように試験する。
電子スイッチは，箇条17で得られる用途ごとの負荷条件に従った電流を4時間流す。この通電の終わり
40
C 8281-2-1：2019
に補助スイッチを閉路することによって，電子スイッチに流す固有電流を保護ヒューズの定格電流の2.1
倍（ヒューズがJIS C 6575の規格群に規定するものの場合），又はその他のヒューズに対しては，関連す
る協約溶断電流に電流を増加する。
補助スイッチを30分間閉路し，次に電子スイッチを通る電流が初期の値に安定するまで開路する。その
後，再び補助スイッチを閉路する。
この手順を10回繰り返す。
この試験後，自動保護装置は，正しく機能しなければならない。
適否は，箇条17による追加試験によって判定する。
102.5 変圧器（トランス）
SELV回路を意図した変圧器は，安全絶縁変圧器でなければならず，JIS C 61558-2-6の関連する要求事
項に適合しなければならない。
注記 SELV及びPELVの使用に関しては，JIS C 0365及びJIS C 60364-4-41を参照。
単位 mm
図101−感電に対する保護を検査するためのテストピン
Z1 ：固有短絡回路電流（非誘導性）調整用のインピーダンス
Z2 ：負荷（非誘導性）調整用のインピーダンス
L
：固有通過値I2tの制限装置
S
：試験品
A ：短絡用の補助スイッチ
図102−101.3に従って電子スイッチを試験するための回路図
41
C 8281-2-1：2019
図103−19.102及び19.109に従ったスイッチの試験回路図
42
C 8281-2-1：2019
附属書A
（規定）
試験に必要な試験品の一覧表
試験に必要な試験品の一覧表は，JIS C 8281-1:2011の附属書A及びこの規格の表101（箇条5参照）に
よる。
43
C 8281-2-1：2019
附属書B
（規定）
可とうケーブルのための保持器具及び
アウトレットをもつスイッチの追加規定
可とうケーブルのための保持器具及びアウトレットをもつスイッチの追加規定は，次を除き，JIS C
8281-1:2011の附属書Bを適用する。
13 構造
JIS C 8281-1:2011の附属書Bの13.16の第1段落の後に，次を追加する。
電子スイッチと関連する制御装置又は類似の装置との間を接続する外部可とうケーブルの断面積は，電
流を制限する手段によって制御装置に流れる電流を制限している場合には，小さくてもよい。この最小断
面積を，表B.101に示す。可とうケーブルは，JIS C 3663-4による60245 IEC 66又はJIS C 3662-5による
60227 IEC 53に適合しなければならない。
注記 これらのケーブルの絶縁に対する要求事項は，SELVで供給する可とうケーブルには，適用し
ない。
表B.101−最大電流及び最小断面積
最大電流
A
最小断面積
mm2
0.2 以下
要求事項なし
0.2 を超え
6 以下
0.75
6 を超え
10 以下
1.0
10 を超え
16 以下
1.5
44
C 8281-2-1：2019
附属書AA
（参考）
電子スイッチの形式及び機能の例
電子スイッチの形式
機能
タッチスイッチなど
電子操作形半導体式スイッチング装置
電子操作形機械式スイッチング装置
調光器など
速度制御装置など
電子式制御回路付きの機械操作形調節器
電子式制御回路付きの電子操作形調節器
スイッチ付調光器など
スイッチ付速度制御装置など
電子式制御回路及び機械式スイッチング装置をもつ機械操作形調節器
電子式制御回路及び電子操作形機械式スイッチング装置をもつ機械操作形調節器
電子式制御回路及び半導体式スイッチング装置をもつ機械操作形調節器
電子式制御回路及び半導体式スイッチング装置をもつ電子操作形調節器
電子式制御回路及び電子操作形機械式スイッチング装置をもつ電子操作形調節器
DLT制御装置
電子制御回路及び半導体スイッチング装置をもつ電子式コントローラ
熱又は光センサを組み込んだ
電子スイッチ
電子操作形半導体式スイッチング装置
電子操作形機械式スイッチング装置
注記 電子スイッチは，補助制御回路によって操作できてもよい。
45
C 8281-2-1：2019
附属書BB
（参考）
回路開発：19.109の説明
BB.1 理論的根拠
白熱灯の段階的廃止及び制御装置内蔵形ランプによる置き換えが進み，この変更の技術的結果に対処す
るため，関係するIECの技術委員会によって作業が行われた。
電子スイッチに対する主な影響の一つは，白熱灯に比較し省エネルギー効果をもつこれらのランプの
“入”状態時の突入電流の変化である。特に，電気機械式接点機構をもつ電子スイッチは，影響を受ける
（例：接点の張り付き）。
IECのジョイントフォーラムでは，1灯当たりの最大値を設定した。電源インピーダンスZmainsは，ラン
プの試験が行えるように追加した。これは，ランプ規格（例：JIS C 7620-2）によってカバーする予定であ
る。
表BB.1−ランプ
P
（W）
Vmains
（Vrms）
Ipeak
（A）
I2t
（A2s）
Zmains
P≦15
120
60
0.5
0.450 Ω＋100 μH
P≦15
230
20
0.08
0.2 Ω＋400 μH
15＜P≦25
120
60
0.5
0.450 Ω＋100 μH
15＜P≦25
230
35
0.15
0.2 Ω＋400 μH
Ipeak及びI2t値は，接点機構が閉路されたときに発生する最も高い値を示している。
BB.2 平常動作試験に対するIpeak及びI2t
19.102は，Ipeak及びI2t値が同等と定義された回路の原則に基づいており，19.109は，関連事項としてIpeak
及びI2t値を使用する。19.109のアプローチは，試験環境の中で検討され，必ずしもZmainsの理想的なパラ
メータに至るわけではない。このアプローチで，等価回路は，この規格で与える許容差内の要求値に至る
調整を行うことができる。
BB.3 単独ランプのスイッチング
この試験の目的のため，P＝15 Wのランプを使用する。この負荷は，25 Wランプと比較し，Ipeak/Wの比
率がより高い中で結果を示し，より高い負荷を加えるときにBB.4に対し使用する。
19.102で得られた回路網のインピーダンスは，19.109にも使用する。表BB.1から（P＜15 W）のランプ
を19.102の回路網で使用するとき，表108の1行目にIpeak及びI2t値を与える。結果としてのIpeak及びI2t
値は，より高い。
3 000 Aの固有短絡電流（Ipscc）を用いた計算は，適切とみなす。
図BB.1及び図BB.2のランプと同等の回路のR及びCの値は，表BB.1から計算する。
これらの回路網のZmainsは，次による。
a) 120 V，60 Hz，Ipscc＝3 000 A，cosφ＝0.9
0.036 Ω＋46.25 μH＋cables 0.25 Ω＋20 μH＝0.286 Ω＋66.25 μH
46
C 8281-2-1：2019
b) 230 V，50 Hz，Ipscc＝3 000 A，cosφ＝0.9
0.069 Ω＋106 μH＋cables 0.25 Ω＋20 μH＝0.319 Ω＋126 μH
注記 R1は，図103及び表109のR1ではない。
図BB.1−120 V 15 W（LT spice model）
Source
Conductors̲2 × 10 m 1,5 mm2
20 μ
.tran 0 500 m 50 m 1e-4
.MEAS TRAN I̲max MAX I(RLINE)
.MEAS TRAN i2t̲10 %̲10 % INTEG(I(RLINE)*I(RLINE))
+TRIG I(RLINE) = I̲max*0,1 cross = 1
+TRAG I(RLINE) = I̲max*0,1 cross = 2
L1
46,25 μ
RLINE
286 m
V1
SINE (0 170 60 1e-6)
S1
S
W
IT
C
H
V2
PULSE (0 1 4,1 m)
.meas V1rms RMS V(source)
.meas I1rms RMS I(V1)
.meas Vout̲rms RMS V(out̲a, out̲b)
.meas Iout̲rms RMS I(R1)
.meas PF̲1 PARAM (Vout̲rms*Iout̲rms)/(V1rms*I1rms)
.meas REAL̲POWER PARAM (Vout̲rms*Iout̲rms)
.meas REAL̲APPARENT̲POWER PARAM (V1rms*I1rms)
.meas POWER̲FACTOR PARAM REAL̲POWER / REAL̲APPARENT̲POWER
out̲b
R1
1 800
70 μ
C1
RESR
1,35
out̲a
R2
0,01
out1
D2
D1
D3
D4
MUR460 MUR460
Source1
.MODEL SWITCH VSWITCH (Ron = 0,001)
47
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注記 R1は，図103及び表109のR1ではない。
図BB.2−230 V 15 W（LT spice model）
BB.4 複数ランプのスイッチング
複数のランプ負荷は，15 Wの単独ランプの組み合わせで得られる。
複数ランプのIpeak及びI2t（図BB.4参照）は，次の方針を原則とする。
60 W（4個のランプ）以下の場合，次の最も厳しい条件を適用する。
− 表BB.1による最も高いIpeak及びI2tを与える15 Wランプ
− BB.3による回路網インピーダンス
60 Wを超える場合は，次による。
− それぞれ（75 mΩ＋6 μH）を加えた3 mのケーブルをもつ追加の三つのランプ
− それぞれの追加ランプのバルクコンデンサは，公称値を使用し，表BB.1による最も厳しい条件とは
しない。
− 値は，表108の公称値を補間している。
Source
Conductors̲2 × 10 m 1,5 mm2
20 μ
.tran 0 500 m 50 m 1e-4
.MEAS TRAN I̲max MAX I(RLINE)
.MEAS TRAN i2t̲10 %̲10 % INTEG(I(RLINE)*I(RLINE))
+TRIG I(RLINE) = I̲max*0,1 cross = 1
+TRAG I(RLINE) = I̲max*0,1 cross = 2
L1
106 μ
RLINE
319 m
V1
SINE (0 325 50 1e-8)
S1
S
W
IT
C
H
V2
PULSE (0 1 5 m)
.meas V1rms RMS V(source)
.meas I1rms RMS I(V1)
.meas Vout̲rms RMS V(out̲a, out̲b)
.meas Iout̲rms RMS I(R1)
.meas PF̲1 PARAM (Vout̲rms*Iout̲rms)/(V1rms*I1rms)
.meas REAL̲POWER PARAM (Vout̲rms*Iout̲rms)
.meas REAL̲APPARENT̲POWER PARAM (V1rms*I1rms)
.meas POWER̲FACTOR PARAM REAL̲POWER / REAL̲APPARENT̲POWER
out̲b
R1
6 400
20 μ
C1
RESR
6
out̲a
R2
8
out1
D2
D1
D3
D4
MUR460 MUR460
Source1
.MODEL SWITCH VSWITCH (Ron = 0,001)
48
C 8281-2-1：2019
図BB.3−複数ランプ負荷のモデル
高い突入電流で遮断器が動作するため，表108は，400 Wまでとなる。
.MEAS TRAN i2t̲10 %̲10 % INTEG(I(RLINE)*I(RLINE))
+TRIG I(RLINE) = I̲max*0,1 cross = 1
+TRAG I(RLINE) = I̲max*0,1 cross = 2
L1
RLINE
319 m
V1
PULSE (0 325 0 1e-7)
.tran 0 2 m 0 1e-8
.MEAS TRAN I̲max MAX I(RLINE)
R33
L2
6μ
75 m
R12
6 400
RESR5
6
C6
20 μ
R11
7
D12
D11
R10
6 400
RESR4
6
C5
20 μ
R9
D10
D9
MUR460 MUR460 7
Total of 4 loads
R5
D6
D5
MUR460 MUR460 7
R6
6 400
RESR2
6
C3
16 μ
D7
D8
R7
MUR460 MUR460 7
RESR3
6
C4
16 μ
R8
6 400
D1
MUR460
D2
R2
MUR460 7
RESR
6
C1
16 μ
R1
6 400
R34
L3
6μ
75 m
D3
MUR460
D4
R3
MUR460 7
RESR1
6
C2
16 μ
R4
6 400
D17
MUR460
D18
R17
MUR460 7
RESR8
6
C9
16 μ
R18
6 400
R16
6 400
RESR7
6
C8
16 μ
D15
MUR460
D16
R15
MUR460 7
Additional cables (±3 m)
Additional cables (±3 m)
C-20 %
C-20 %
49
C 8281-2-1：2019
図BB.4−複数ランプ負荷のためのIpeak及びI2t
50
C 8281-2-1：2019
附属書CC
（規定）
IEC 62756-1によるDLT技術を使用する電子スイッチへの追加要求事項
注記 この附属書の箇条番号は，本体の箇条番号に対応している。
CC.3 定義
箇条3によるほか，次の用語及び定義を追加する。
CC.3.101
DLT
負荷側の主電線上のデジタル信号による電子照明機器のデジタル制御。
CC.3.102
DLT制御装置（DLT control device）
IEC 62756-1によるDLT技術を使用し，インタフェースに接続され，一つ以上の制御装置に指示を送る
電子スイッチ。
CC.8 表示
箇条8によるほか，次による。
CC.8.1
8.1の最後に次を追加する。
さらに，DLT制御装置で支援する電信タイプは，制御装置に表示しなければならない。IEC 62756-1に
従った電子タイプの完全な説明は，同こん（梱）する説明書内に記載しなければならない。
注記3の下の“これらに加えて”の段落の下に次を追加する。
− DLT制御装置のシンボル
CC.8.2
8.2の“制御する負荷用端子”で始まる行の下に次を追加する。
DLT制御装置 ··································································································· 文字で“DLT”
DLT制御装置の支援された電信タイプ ··············································································· TPx.
“制御装置非内蔵形蛍光ランプ”で始まる行の下に次を追加する。
DLT制御負荷 ················································································································ DLT
CC.8.3
8.3の最初のダッシュを，次に置き換える。
− 定格電流又は定格負荷，定格電圧，電源の種類の記号，定格周波数（8.1によって必要な場合），DLT
制御装置を除く，一つ以上の（接続できる）負荷の種類，並びに組込ヒューズの定格及び形式（これ
らをヒューズホルダ又はヒューズの近傍に表示しなければならない。）
8.3の最後に次を追加する。
DLT制御装置とDLT負荷との間のケーブル最大長は，説明書にも記載しなければならない。
51
C 8281-2-1：2019
CC.17 温度上昇
箇条17によるほか，次による。
注記2の後の第4段落を，次に置き換える。
ランプ調光器，DLT制御装置及び速度コントローラでは，最も高い温度上昇が発生するよう設定を調整
する。
“その他の形式の電子スイッチ”で始まる注記2の後の第10段落の前（“露出形電子スイッチは”で始
まる段落の後）に次を追加する。
DLT制御装置は，製造業者の説明書に従い，DLT負荷で試験する。
CC.19 平常動作
箇条19によるほか，次による。
CC.19.103の初めの段落を，次に置き換える。
電子スイッチに組み込んだDLT制御装置を含む電子調整装置及び／又は半導体スイッチ素子は，次の試
験を行う。
注記の下に，次を追加する。
DLT制御装置は，CC.8.3で宣言された最大長のケーブルで，制御装置と負荷との間を施工する。
CC.26 EMC要求
箇条26によるほか，次による。
CC.26.2 エミッション
CC.26.2.1 低周波数エミッション
26.2.1の最後に次を追加する。
DLT制御装置は，最大抵抗負荷で試験する。
注記4 IEC 61000-3-2がこの原則を取扱い次第，この要求事項は廃止になる。
52
C 8281-2-1：2019
参考文献
JIS C 0365 感電保護−設備及び機器の共通事項
注記 対応国際規格：IEC 61140，Protection against electric shock−Common aspects for installation and
equipment
JIS C 3215（規格群） 巻線個別規格
注記 対応国際規格：IEC 60317 (all parts)，Specifications for particular types of winding wires
JIS C 3662-5:2009 定格電圧450/750 V以下の塩化ビニル絶縁ケーブル−第5部：可とうケーブル（コ
ード）
注記 対応国際規格：IEC 60227-5:1997，Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and
including 450/750 V−Part 5: Flexible cables (cords)
JIS C 3663-4:2007 定格電圧450/750 V以下のゴム絶縁ケーブル−第4部：コード及び可とうケーブル
注記 対応国際規格：IEC 60245-4: 1994，Rubber insulated cables−Rated voltages up to and including
450/750 V−Part 4: Cords and flexible cables
JIS C 4526-1 機器用スイッチ−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61058-1，Switches for appliances−Part 1: General requirements
JIS C 60364-4-41 低圧電気設備−第4-41部：安全保護−感電保護
注記 対応国際規格：IEC 60364-4-41，Low-voltage electrical installations−Part 4-41: Protection for safety
−Protection against electric shock
JIS C 7620-2 一般照明用電球形蛍光ランプ−第2部：性能仕様
注記 対応国際規格：IEC 60969:1988，Self-ballasted lamps for general lighting services−Performance
requirements，Amendment 1:1991及びAmendment 2:2000
JIS C 8147-1 ランプ制御装置−第1部：通則及び安全性要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61347-1，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements
JIS C 8462-1 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備の電気アクセサリ用のボックス及びエンク
ロージャ−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60670-1，Boxes and enclosures for electrical accessories for household and similar
fixed electrical installations−Part 1: General requirements
IEC 60050-601:1985，International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 601: Generation, transmission and
distribution of electricity−General
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C 8281-2-1：2019
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 8281-2-1:2019 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用ス
イッチ−第2-1部：電子スイッチの個別要求事項
IEC 60669-2-1:2002，Switches for household and similar fixed electrical installations−Part 2-1:
Particular requirements−Electronic switches，Amendment 1:2008及びAmendment 2:2015
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲 家庭用及び類似用途
の固定電気設備用電
子スイッチ
1
JISとほぼ同じ
追加
“JIS C 60364（規格群）の規定によ
る施設で使用する”旨を追加した。
JIS C 8300で規定する電子スイッチとの
す（棲）み分けを明確にした。我が国固
有の問題のため，IEC提案はしない。
3 用語及び
定義
用語の定義
3
JISとほぼ同じ
削除
本文で用いない用語の定義を削除し
た（3.106，3.112.1及び3.118〜3.121）。
関連する用語の定義であり，IEC提案は
しない。
6 定格
定格電圧，定格電流，
定格周波数など
6.1
JISとほぼ同じ
追加
定格電圧に100 V及び200 Vを追加
した。
我が国の配電事情によって，定格電圧が
異なるため追加した。国内固有の問題の
ためIEC提案はしない。
7 分類
スイッチの駆動方法
による分類
7.1.5
JISとほぼ同じ
削除
電子RCSにはIEC 60669-2-2の7.1.5
を適用する旨の規定を削除した。
IEC 60669-2-2の7.1.5はコイルの分類で
電子式RCSには関係ない。国際規格の誤
記と思われるためIEC提案を検討する。
接続する電線による
分類
7.1.9.A
JISとほぼ同じ
追加
JIS C 3664による断面積の導体を接
続するスイッチだけとした。
JIS C 8281-1:2011に設けたJIS C 3664以
外の断面積の導体を接続するスイッチを
否定するため。国内固有の問題のためIEC
提案はしない。
絶縁設計による分類
7.1.9.B
JISとほぼ同じ
追加
表20の絶縁距離を適用するスイッ
チだけとした。
JIS C 8281-1:2011に設けた附属書JA絶縁
距離によるスイッチを否定するため。国
内固有の問題のためIEC提案はしない。
1
6
C
8
2
8
1
-2
-1
：
2
0
1
9
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C 8281-2-1：2019
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
8 表示
表示要求事項
8.1
JISとほぼ同じ
追加
ねじなし端子の適合電線が，単線だ
けの場合も表示することを規定し
た。
我が国のねじなし端子は，単線専用のも
のが一般的である。国内固有の問題のた
めIEC提案はしない。
表示要求事項
8.1
IECにはない
追加
JIS C 60364（規格群）の規定による
施設で使用する旨をカタログ，仕様
書又は施工説明書へ記載する旨を追
加した。
IEC工事に適した製品であることを施工
業者などへ周知するため。国内固有の問
題のためIEC提案はしない。
10 感電に
対する保護
感電に対する保護
10.2
JISとほぼ同じ
変更
“7.1.4”を“7.1.5”へ修正した。
国際規格の誤記と思われるためIEC提案
を検討する。
17 温度上
昇
温度上昇の試験方法
17
表102
JISとほぼ同じ
追加
注g)“JIS”を追加した。
使用する部品に対し，関連する規格はIEC
以外にJISも想定されるため。国内固有
の問題のためIEC提案はしない。
19 平常動
作
平常動作による開閉
試験の方法
19.104
JISとほぼ同じ
追加
“通常の使用状態で使用者が操作で
きない部分には，適用しない。”を追
加した。
組み込んだ機械式制御ユニットで，試験
の適用除外の条件を明確にした。
IEC提案を検討する。
26 電磁環
境両立性
（EMC）
イミュニティ試験及
びエミッション試験
の規定
26.1.2
JISとほぼ同じ
変更
“表10”を“表110”へ修正した。
国際規格の誤記と思われるためIEC提案
を検討する。
26.2.2
JISとほぼ同じ
変更
“8.1.3.1及び8.1.3.2”を“8.1.4.2及
び8.1.4.3”へ修正した。
国際規格の誤記と思われるためIEC提案
を検討する。
附属書A
（規定）
試験に用いる試料数
に関する規定
附属書
A
JISとほぼ同じ
追加
附属書Aの規定で，“試験に必要な
試験品の一覧表は，JIS C
8281-1:2011の附属書Aによる。”と
していたが，そこに“この規格の表
101（箇条5参照）”を追加した。
この規格の箇条5にも試験品の一覧を記
載している。IEC提案を検討する。
附属書CC
（規定）
DLT技術を使用する
電子スイッチへの追
加規定
附属書
CC
JISとほぼ同じ
変更
“注記1の後の第4段落”を“注記
2の後の第4段落”へ変更した。
国際規格の誤記と思われるためIEC提案
を検討する。
JISとほぼ同じ
追加
変更箇所を分かりやすくするため
“注記2の後の”を追加した。
国内固有の問題のためIEC提案はしな
い。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：（IEC 60669-2-1:2002，Amd.1:2008，Amd.2:2015，MOD）
1
6
C
8
2
8
1
-2
-1
：
2
0
1
9
55
C 8281-2-1：2019
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
1
6
C
8
2
8
1
-2
-1
：
2
0
1
9