C 8269-11 : 2000
(1)
まえがき
この規格は，工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づいて，社団法人日本電機工業会 (JEMA) から工
業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，通商
産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，
このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 8269
の規格群には，主題部を“低電圧ヒューズ”として，次の部編成がある。
JIS
C
8269-1
第 1 部：一般要求事項
JIS
C
8269-2
第 2 部：専門家用ヒューズの追加要求事項（主として工業用のヒューズ）
JIS
C
8269-2-1
第 2-1 部：専門家用ヒューズの追加要求事項（主として工業用のヒューズ）
第 I 章∼第 V 章：専門家用標準ヒューズの例
JIS
C
8269-11
第 11 部：A 種，B 種ヒューズ
C 8269-11 : 2000
(1)
目次
ページ
序文
1
1.
一般
1
1.1
適用範囲
1
1.2
目的
1
2.
定義
1
3.
使用状態の条件
1
3.1
周囲空気温度 (T
a
)
1
3.2
標高
1
3.3
大気条件
1
3.4
電圧
1
3.5
電流
2
3.6
周波数，力率及び時定数
2
3.7
装置の状態
2
3.8
用途区分
2
3.9
“gG”及び“gM”ヒューズリンクの過電流協調
2
4.
類別
2
5.
ヒューズの特性
2
5.1
特性の概要
2
5.2
定格電圧
2
5.3
定格電流
2
5.4
定格周波数
2
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット
2
5.6
時間−電流特性の規制
2
5.7
遮断領域及び遮断容量
3
5.8
限流特性及び I2t 特性
3
6.
表示
4
6.1
ヒューズホルダの表示
4
6.2
ヒューズリンクの表示
4
6.3
表示記号
4
7.
構造の標準条件
4
7.1
機械的設計
4
7.2
絶縁性能
4
7.3
ヒューズリンクの温度上昇とワット損
4
7.4
動作
5
7.5
遮断容量
5
C 8269-11 : 2000
目次
(2)
ページ
7.6
限流特性
5
7.7
I
2
t
特性
5
7.8
ヒューズリンクの過電流協調
5
7.9
感電に対する保護
6
7.10
耐熱性
6
7.11
機械的強度
6
7.12
耐食性
6
7.13
耐異常熱及び火災
6
7.14
電磁気両立性
6
8.
試験
6
8.1
一般
6
8.2
絶縁性能の検証
8
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8
8.4
操作の検証
9
8.5
遮断容量の検証
10
8.6
限流特性の検証
13
8.7
I
2
t
特性及び過電流動作協調の検証
13
8.8
外箱の保護の級別検証
13
8.9
耐熱性の検証
13
8.10
接触部の不劣化の検証
13
8.11
機械的試験及びその他の試験
13
図 1 筒形端子をもつヒューズリンクの形状・寸法
14
図 2 刃形端子又は締付け形端子をもつヒューズリンクの形状･寸法
15
図 3 つめ形端子をもつヒューズリンクの形状・寸法
16
図 4 せん形プラグヒューズリンクの形状・寸法
16
図 5 筒形端子をもつヒューズリンクの試験装置
17
図 6 刃形端子をもつヒューズリンクの試験装置
18
図 7 締付け形端子をもつヒューズリンクの試験装置
19
図 8 つめ形端子をもつヒューズリンクの試験装置
20
図 9 せん形プラグヒューズリンクの試験装置
21
日本工業規格
JIS
C
8269-11
: 2000
低電圧ヒューズ−
第 11 部：A 種，B 種ヒューズ
Low-voltage fuses
−
Part 11 : Class A, class B fuses
序文 この規格は，JIS C 8269-1，低電圧ヒューズ−第 1 部：一般要求事項と併せて使用する。
項目及び小項目並びに表の番号は，
JIS C 8269-1
と同一である。
“置換”
は JIS C 8269-1 に対する置き換え，
“追加”は JIS C 8269-1 に対する追加事項を意味する。
ただし，この規格で追加している表については，
表 A，表 B などのように大文字で表している。
1.
一般 この規格に規定するヒューズは，次の指示がない限り，JIS C 8269-1 による。また，次の追加
要求事項にもよる。
1.1
適用範囲
置換：この規格は，交流の定格電圧が 100V 以上 300V 以下，定格電流が 1A 以上 200A 以下の A 種又は
B
種の特性をもつ包装ヒューズ（管形及び封入形ヒューズを除く。
）であって，かつ，定格遮断電流が 2 kA
を超える該当ヒューズリンクに適用する。
1.2
目的 JIS C 8269-1 の 1.2 を適用する。
1.2.1
ヒューズの特性
置換：該当ヒューズリンクの特性の概要は，次による。
− 定格値
− 通常の使用状態における温度上昇
− ワット損
− 時間−電流特性
− 遮断容量
− 限流値及び I
2
t
特性
2.
定義 JIS C 8269-1 の 2.を適用する。
3.
使用状態の条件 JIS C 8269-1 の 3.を適用する。
3.1
周囲空気温度 (Ta) JIS C 8269-1 の 3.1 を適用する。
3.2
標高 JIS C 8269-1 の 3.2 を適用する。
3.3
大気条件 JIS C 8269-1 の 3.3 を適用する。
3.4
電圧
2
C 8269-11 : 2000
置換：系統電圧の最大値は，該当ヒューズリンクの定格電圧を超えないものとする。
3.5
電流 JIS C 8269-1 の 3.5 を適用する。
3.6
周波数，力率及び時定数
3.6.1
周波数 JIS C 8269-1 の 3.6.1 を適用する。
3.6.2
力率
置換：交流回路の力率は，固有電流に対応して示された
表 K の値による。
3.6.3
時定数 JIS C 8269-1 の 3.6.3 は，適用しない。
3.7
装置の状態 JIS C 8269-1 の 3.7 を適用する。
3.8
用途区分 JIS C 8269-1 の 3.8 は，適用しない。
3.9
“gG”及び“gM”ヒューズリンクの過電流協調 JIS C 8269-1 の 3.9 は，適用しない。
4.
類別
置換：該当ヒューズリンクの類別は，次の 2 種類とする。
a)
定格電流の 110%に等しい電流を不溶断電流とするもの：A 種
b)
定格電流の 130%に等しい電流を不溶断電流とするもの：B 種
5.
ヒューズの特性
5.1
特性の概要 JIS C 8269-1 の 5.1 を適用する。
5.1.1
ヒューズホルダ JIS C 8269-1 の 5.1.1 は，適用しない。
5.1.2
ヒューズリンク JIS C 8269-1 の 5.1.2 を適用する。
5.1.3
完成品ヒューズ JIS C 8269-1 の 5.1.3 を適用する。
5.2
定格電圧
置換：ヒューズリンクの定格電圧の標準値は，次による。
a) AC.125V
b) AC.250V
5.3
定格電流
5.3.1
ヒューズリンクの定格電流
置換：該当ヒューズリンクの定格電流の標準値は，次による。
1-3-5-10-15-20-30-40-50-60-75-100-125-150-200
5.3.2
ヒューズホルダの定格電流 JIS C 8269-1 の 5.3.2 は，適用しない。
5.4
定格周波数 JIS C 8269-1 の 5.4 を適用する。
5.5
ヒューズリンクの定格ワット損及びヒューズホルダの定格受容ワット
置換：該当ヒューズリンクの定格ワット損は，製造業者の明示によるものとする（ヒューズホルダの定格
受容ワットに関しては不適用。）。
5.6
時間−電流特性の規制 JIS C 8269-1 の 5.6 を適用する。
5.6.1
時間−電流特性，時間−電流ゾーン JIS C 8269-1 の 5.6.1 を適用する。
5.6.2
協約時間及び協約電流
置換：該当ヒューズリンクの協約時間及び協約電流は，
表 A による。
3
C 8269-11 : 2000
表 A 協約時間及び協約電流
ヒューズリンクの定格電流
協約時間
協約電流
A
種
B
種
I
n
(A)
(h)
I
nf
I
f
I
nf
I
f
5
以下 1
5
を超え 15 以下 1
15
を超え 30 以下 1
30
を超え 60 以下 1
60
を超え100 以下 2
1.1I
n
1.35I
n
1.3I
n
1.6I
n
100
を超えるもの 2
備考 I
n
は，ヒューズリンクの定格電流，I
nf
は，協約不溶断電流，I
f
は，協約溶断電
流を表す。
5.6.3
ゲート
置換：該当ヒューズリンクのゲートは，
表 B による。
表 B ゲート
溶断時間−電流特性の範囲
非限流ヒューズ
限流ヒューズ
2I
n
2I
n
6.3I
n
溶断時間
ヒューズ
リンクの
定格電流
I
n
(A)
最大値
(min)
最大値
(min)
最小値
(s)
最大値
(s)
1
− 0.016
3
− 0.10
5
− 0.56
10
− 0.71
15
0.008
0.90
20
0.010
1.0
30
2 2
0.016 1.2
40
0.020
2.1
50
0.025
3.0
60
4 4
0.032 3.2
75
0.063
3.6
100
6 6
0.080 4.0
125 0.12
4.5
150 0.13
5.6
200
8 8
0.14 7.1
5.7
遮断領域及び遮断容量
5.7.1
遮断領域及び用途区分 JIS C 8269-1 の 5.7.1 は，適用しない。
5.7.2
定格遮断容量
置換：ヒューズリンクの定格遮断容量は，電圧に対応した値で，製造業者の明示による。
最小定格遮断容量の値は，2kA を超えるものとする。
5.8
限流特性及び I
2
t
特性 JIS C 8269-1 の 5.8 を適用する。
5.8.1
限流特性
置換：限流特性をもつ旨を表示するヒューズリンクは，JIS C 8269-1 の 5.8.1 による。
5.8.2
I
2
t
特性 JIS C 8269-1 の 5.8.2 を適用する。
4
C 8269-11 : 2000
6.
表示 JIS C 8269-1 の 6.を適用する。
6.1
ヒューズホルダの表示 JIS C 8269-1 の 6.1 は，適用しない。
6.2
ヒューズリンクの表示
置換：小さいヒューズリンクで表示が不可能な場合を除いて，すべてのヒューズリンクに次に示す事項を
表示しなければならない。
a)
製造業者名など
b)
定格電圧
c)
定格電流
d) A
種は
又は B 種は
の記号
e)
定格遮断容量
f)
限流特性をもつものはその旨
小さいヒューズリンクですべての規定項目をその上に表示することが不可能な場合は，商標，製造業者
の照会リスト，定格電圧及び定格電流を表示する。
6.3
表示記号 JIS C 8269-1 の 6.3 は，適用しない。
7.
構造の標準条件
7.1
機械的設計
置換：該当ヒューズリンクの形状・寸法は，
図 1∼図 4 による。
7.1.1
ヒューズリンクの取換え JIS C 8269-1 の 7.1.1 を適用する。
7.1.2
端子を含む接続 JIS C 8269-1 の 7.1.2 は，適用しない。
7.1.3
ヒューズ接触部 JIS C 8269-1 の 7.1.3 は，適用しない。
7.2
絶縁性能 JIS C 8269-1 の 7.2 は，適用しない。
7.3
ヒューズリンクの温度上昇とワット損
置換：該当ヒューズリンクは，標準使用状態の下で，その定格電流を超えない範囲で，連続して通電でき
るように設計され，配置されていなければならない。
該当ヒューズリンクの温度上昇は，8.1 の条件の下で定格電流に等しい電流を通電した場合に，次の
表 C
及び
表 D に掲げる値以下でなければならない。
表 C 絶縁筒部の温度上昇限度
ヒューズリンクの種類
測定箇所
温度上昇 K
A
種絶縁のもの
65
E
種絶縁のもの
80
B
種絶縁のもの
90
F
種絶縁のもの
115
筒形ヒューズリンク
せ ん 形 プ ラ グ ヒ ュ ー
ズリンク
せ ん 形 プ ラ グ ヒ ュ ー
ズ の 筒 の 中 央 部 の 外
面 及 び そ の 他 の も の
の外郭の各部分（充電
部を除く。
）
。
H
種絶縁のもの
140
5
C 8269-11 : 2000
表 D 筒形ヒューズリンクの接触部の温度上昇限度
∆T＝ (T-T
a
)
7)
温度上昇 K
測定箇所
開放形
1)
密閉形
2)
裸銅 40
45
裸黄銅 45
50
ばね接触
すずめっき 55 60
7)
ニッケルめっき 70
3)8)
75
銀めっき
3) 3)
裸銅 55
60
裸黄銅 60
65
すずめっき 65 65
ボルト締め
ニッケルめっき 80
3)8)
85
7)
銀めっき
3) 3)
注
1)
T
e
＝T
a
の場合（2.2.5参照）
2)
△
T
e
の値は，10K∼30K (10K≦△T
e
≦30K) の範囲で適
用される。
周囲空気温度は，40℃を超えてはならない。
密閉形の規定は，特殊な密閉ヒューズホルダを使用
する場合に適用する。
3)
周辺部品への何らかの損傷を与えないための制限
7)
この表の値は，ある種の小さすぎる接触部では，失敗
の危険なしに温度測定ができないので適用できない。
8)
ニッケルめっきの接触部は，その電気抵抗が比較的高
いので，その設計において比較的高い接触圧力の使用
かその他による適切な対応が必要である。
7.4
動作
置換：ヒューズリンクは，適切な試験配置で，定格周波数及び周囲空気温度 20±5 ℃で試験したとき，次
の機能をもつように設計され配置されるものとする。
− 定格値を超えない電流を，連続して流すことができる。
− 普通の使用状態で発生する過負荷条件に耐え得る（8.4.3.4 参照）
。
協約時間以内では，協約不溶断電流 (I
nf
)
以下の電流では溶断せず，協約溶断電流 (I
f
)
と等しいか又は
それ以上の電流で溶断しなければならない。
8.4.3.3
で測定した時間−電流値は，
製造業者の提供した時間−電流ゾーンの領域内でなければならない。
8.4
の試験に合格したヒューズリンクは，これらの条件を満足したものとみなす。
7.5
遮断容量
置換：該当ヒューズリンクは，8.5 による試験を行ったとき，これに適合しなければならない。動作過電圧
は，2 000V を超えてはならない。
7.6
限流特性
置換：限流特性をもつ旨を表示するヒューズリンクは，8.6 で測定された限流値が，製造業者が指定した特
性値より低いか又は同じでなければならない。
7.7
I
2
t
特性
置換：8.7 によって検証された溶断 I
2
t
値は，5.8.2 によって製造業者が提示した特性よりも小さくてはなら
ない。
8.7
によって検証された動作 I
2
t
値は，5.8.2 によって製造業者が提示した値以下でなければならない。
7.8
ヒューズリンクの過電流協調 JIS C 8269-1 の 7.8 は，適用しない。
6
C 8269-11 : 2000
7.9
感電に対する保護 JIS C 8269-1 の 7.9 は，適用しない。
7.10
耐熱性
置換：すべての部品は，正常の状態で発生する熱に十分耐えなければならない。
8.9
の試験で満足な結果が得られた場合，この要求事項に適合したものとみなす。
7.11
機械的強度 JIS C 8269-1 の 7.11 を適用する。
7.12
耐食性 JIS C 8269-1 の 7.12 を適用する。
7.12.1
耐さび性
置換：鉄の部分は，適切な試験に適合するように保護されていなければならない。
8.11.2.3
の試験で満足な結果が得られた場合，この要求事項に適合したものとみなす。
7.12.2
耐応力腐食割れ
置換：電流を通じる部分は，応力腐食割れに対して十分耐えるものでなければならない。関連する試験は，
8.11.2.1
で規定する。
7.13
耐異常熱及び火災 JIS C 8269-1 の 7.13 は，適用しない。
7.14
電磁気両立性 JIS C 8269-1 の 7.14 を適用する。
8.
試験
8.1
一般
8.1.1
試験の種類 JIS C 8269-1 の 8.1.1 を適用する。
8.1.2
周囲空気温度 JIS C 8269-1 の 8.1.2 を適用する。
8.1.3
ヒューズの状態 JIS C 8269-1 の 8.1.3 を適用する。
8.1.4
ヒューズの配置と寸法
置換：ヒューズは通常の使用状態で，例えば，垂直で，通風がない環境の自由空気中に取り付けられ，か
つ，特に指定がない限り，試験中のヒューズには外部から荷重を加えられることなく，試験中の力に十分
耐える堅固な絶縁材上に取り付けられていなければならない。
ヒューズリンクの試験に使用する試験装置は，ヒューズリンクの種類ごとに，それぞれ
表 E に掲げる装
置による。
表 E 試験装置
ヒューズリンクの種類
試験装置
1
形
図 5
筒形端子をもつ
もの
2
形及び 3 形
図 1
図 6
刃形端子をもつもの又は締
付け形端子をもつもの
図 2
図 7
筒形ヒューズ
リンク
つめ形端子をもつもの
図 3
図 8
せん形プラグヒューズリンク
図 4
図 9
ヒューズリンクは，試験開始前に外形寸法を測定し，
図 1∼図 4 に規定された寸法に適合していること
を検証する。
8.1.5
ヒューズリンクの試験
置換：試験は交流で行う。
8.1.5.1
ヒューズリンクの全項目試験
追加：
表 7A は，表 F に置き換える。
全項目試験の一覧は，
表 F に示す。
7
C 8269-11 : 2000
表 F ヒューズリンクの全項目試験の一覧及び試験数
試験数
試験項目
1
1
1
1
1
1
1
3
1
3
3
1
1
8.1.4
寸法
× ×
8.1.5.1
抵抗
× × × × × × × × × × × × ×
8.3
温度上昇・ワット損
×
8.4.3.1a)
協約不溶断性能
×
8.4.3.1b)
協約溶断性能
×
8.4.3.2
定格電流
5)
×
8.4.3.3
時間−電流特性 no.3a
1)
×
no.4a
1)
×
no.5a
1)
×
ゲート a)2.0I
n
×
b)6.3I
n
2)
×
8.4.3.4
過負荷
×
8.4.3.6
表示装置
3)
× × ×
ストライカ
3)
× × × ×
8.5 No3.
遮断容量
2)
×
No2.
遮断容量
2)
×
No1.
遮断容量
×
8.6
限流特性
2)
× ×
8.7
I
2
t
特性
× ×
8.9
耐熱性
× × × × × × × × × × ×
8.11
機械的強度
× × ×
8.11.2.1
耐応力腐食割れ
4)
×
8.11.2.3
耐さび性
×
注
1)
製造業者のための指標。
no.3a
＝10I
n
∼20I
n
no.4a
＝5I
n
∼8I
n
no.5a
＝2.5I
n
∼4I
n
2)
限流特性をもつ旨を表示するヒューズリンクに限る。
3)
表示装置又はストライカをもつヒューズリンクに限る。
4)
銅が 83%未満の圧延銅合金で作られた導電部をもつヒューズリンクに限る。
5)
B
種ヒューズリンクに限る。
8.1.5.2
同形シリーズのヒューズリンクの試験
追加：
表 7B 及び表 7C は，次に置き換える。
同形シリーズのヒューズリンクの試験
− 最大定格電流のヒューズリンクは，
表 F によって試験しなければならない。
− 最小定格電流のヒューズリンクは，
表 G によって試験しなければならない。
− 最大と最小の中間値の定格電流のヒューズリンクは，
表 H によって試験する。
8
C 8269-11 : 2000
表 G 同形シリーズの最小定格電流のヒューズリンクの試験項目及び試験数
試験数
試験項目
1
1
1
1
1
1
1
1
3
1
1
8.1.4
寸法
× × ×
8.1.5.1
抵抗
× × × × × × × × × × ×
8.4.3.1a)
協約不溶断性能
×
8.4.3.1b)
協約溶断性能
×
8.4.3.2
定格電流
5)
×
8.4.3.3
時間−電流特性 no.3a
1)
×
no.4a
1)
×
no.5a
1)
×
ゲート a)2.0I
n
×
b)6.3I
n
2)
×
8.4.3.6
表示装置
3)
×
ストライカ
3)
× ×
8.5
No.1 遮断容量
×
8.6
限流特性
2)
×
8.7
I
2
t
特性
×
8.9
耐熱性
× × × × × × × × ×
8.11
機械的強度
×
8.11.2.1
耐応力腐食割れ
4)
×
8.11.2.3
耐さび性
×
注
1)
製造業者のための指標。
no.3a
＝10I
n
∼20I
n
no.4a
＝5I
n
∼8I
n
no.5a
＝2.5I
n
∼4I
n
2)
限流特性をもつ旨を表示するヒューズリンクに限る。
3)
表示装置又はストライカをもつヒューズリンクに限る。
4)
銅が 83%未満の圧延銅合金で作られた導電部をもつヒューズリンクに限る。
5)
B
種ヒューズリンクに限る。
表 H 同形シリーズの最大定格電流及び最小定格電流の中間のヒューズリンクの試験項目及び試験数
試験数
試験項目
1
1
1
1
1
8.1.4
寸法
× × ×
8.1.5.1
抵抗
× × × × ×
8.4.3.1a)
協約不溶断性能
×
8.4.3.2
定格電流
1)
×
8.4.3.3.1
時間−電流特性 no.4a
×
8.4.3.2
ゲート a)2.0I
n
×
b)6.3I
n
2)
×
注
1)
B
種ヒューズリンクに限る。
2)
限流特性をもつ旨を表示するヒューズリンクに限
る。
8.1.6
ヒューズホルダ試験 JIS C 8269-1 の 8.1.6 は，適用しない。
8.2
絶縁性能の検証 JIS C 8269-1 の 8.2 は，適用しない。
8.3
温度上昇及びワット損の検証
8.3.1
ヒューズの配置
追加：
表 10 は，次に置き換える。
9
C 8269-11 : 2000
接続導体は，
表 I に掲げる断面積をもつ 600V ビニル絶縁電線を使用する。
表 I 接続電線断面積
定格電流 (A)
断面積 (mm
2
)
10
以下
2
10
を超え 30 以下
8
30
を超え 60 以下
22
60
を超え100 以下
38
100
を超えるもの 100
8.3.2
温度上昇測定
置換：ヒューズリンクの
表 C 及び表 D に示す温度上昇値は，最も適切な測定装置によって測定するものと
し，測定装置はヒューズの各部の温度に影響を与えることのないものとする。測定した方法は，試験報告
書に記載する。
8.3.3
ヒューズリンクのワット損測定
置換：ワット損は，ヒューズリンクの端子間の電圧降下を測定して算出する。
8.3.4
試験方法 JIS C 8269-1 の 8.3.4 を適用する。
8.3.4.1
ヒューズホルダの温度上昇 JIS C 8269-1 の 8.3.4.1 は，適用しない。
8.3.4.2
ヒューズリンクのワット損 JIS C 8269-1 の 8.3.4.2 を適用する。
8.3.5
試験結果の評価
置換：温度上昇の測定結果は，
表 C 及び表 D に示す値を超えてはならない。
ヒューズリンクのワット損は，製造業者の明示する値以下とする。
8.4
操作の検証
8.4.1
ヒューズの配置
置換：試験の配置は，8.1.4 で規定する。
接続導体の長さと断面積は，8.3.1 の規定と同一とし，定格電流によって選定する（
表 I 参照）。
8.4.2
周囲空気温度 JIS C 8269-1 の 8.4.2 を適用する。
8.4.3
試験方法及び試験結果の評価
8.4.3.1
協約不溶断電流及び協約溶断電流の検証
置換：
a)
ヒューズリンクに，
表 A に規定した協約時間に等しい時間，協約不溶断電流 (I
nf
)
を通電する。この
時間中に動作してはならない。
b)
周囲空気温度に冷却した後のヒューズリンクに協約溶断電流 (I
f
)
を通電する。その結果，
表 A に規定
した協約時間以内に動作しなくてはならない。
8.4.3.2
ヒューズリンクの定格電流の検証
追加：A 種ヒューズには，JIS C 8269-1 の 8.4.3.2 を適用しない。
8.4.3.3
時間−電流特性及びゲートの検証
8.4.3.3.1
時間−電流特性
置換：時間−電流特性は，8.5 に規定する試験を実施中に得られるオシログラムの記録によって検証しても
よい。
次の時間を決定する。
a)
溶断時間：回路を閉じた瞬間から測定中の電圧がアークの開始を示す瞬間まで
10
C 8269-11 : 2000
b)
動作時間：回路を閉じた瞬間から回路が明確に遮断される瞬間まで
上記によって決定した溶断時間及び動作時間の値は，固有電流の値を横軸として表し，製造業者が示し
た時間−電流ゾーンの範囲内でなければならない。
同形シリーズ（8.1.5.2 参照）の複数のヒューズリンクに関して，8.5 による完成試験を，最大定格電流の
ヒューズリンクについてだけ行う場合は，それよりも小さな定格電流のヒューズリンクについては，溶断
時間の検証だけで十分である。この場合，周囲温度 20±5 ℃において，次に示す固有電流の値でだけ補足
試験を行う。
該当ヒューズリンクの時間−電流特性は，次の試験を行って溶断時間を検証する。
試験 3a) ヒューズリンクの定格電流の 10∼20 倍の間の電流
試験 4a) ヒューズリンクの定格電流の 5∼8 倍の間の電流
試験 5a) ヒューズリンクの定格電流の 2.5∼4 倍の間の電流
これらの試験は，低い電圧で行ってもよい。この場合，溶断時間が 0.02 秒を超えるときは，試験中に測
定された電流値は固有電流の値とする。
8.4.3.3.2
ゲートの検証
置換：時間−電流特性試験に追加するものは，
表 B に示す検証を行う。
この試験は，低い電圧で行ってもよい。
8.4.3.4
過負荷
置換：ヒューズの配置は 8.3.1 と同一とし，
3
個の試験品を直列に接続して，
50
回の繰返し通電試験を行う。
試験電流は，製造業者の示す 5 秒溶断電流の最小値の 80%の電流とする。
通電時間は 5 秒間とし，休止時間は，
表 A の協約時間の 20%の時間とする。ただし，休止時間は，製造
業者の合意で短縮してもよい。
50
回繰返し通電を行った後，試験品を周囲空気温度まで冷却し，再び 5 秒溶断電流を連続して通電し，
溶断時間が製造業者の示す時間範囲内であることを確認する。
この試験は，低い電圧で行ってもよい。
8.4.3.5
協約ケーブルの過負荷保護 JIS C 8269-1 の 8.4.3.5 は，適用しない。
8.4.3.6
表示器又はストライカの動作
置換：表示器の動作状況は，遮断容量の検証 (8.5.5) と組み合わせて検証する。
ストライカの動作状況は，遮断容量の検証と組み合わせて行うほか，次の試験を実施する。
試験電流＝2.0I
f
による溶断試験。ただし，回復電圧は 20V 以上とする。
ストライカは，回復電圧 20V 以上では，すべて動作しなければならない。
8.5
遮断容量の検証
8.5.1
ヒューズの配置 JIS C 8269-1 の 8.5.1 を適用する。
8.5.2
試験回路の特性
置換：試験回路は，
図 4 に例示する。
試験回路は，単極形とする。すなわち，一つのヒューズをその定格電圧で試験しなければならない。
備考 単相試験は，三相回路に適用するのに対しても，十分な情報が与えられるものとみなされる。
試験回路の電源用のエネルギー供給源は，規定された特性を得るのに十分な電力をもっていなければな
らない。
エネルギー供給源は，遮断器又は他の適切な装置 D で保護されていなければならない。直列の可変抵抗
R
及び可変リアクトル L は，試験回路の特性を調整するものである。回路は，適切な装置 C によって閉じ
11
C 8269-11 : 2000
られなければならない。
考慮すべき値は，J
表に示す。
ヒューズの定格周波数が 50Hz か 60Hz 又は表示がない場合（5.4 参照）の試験は，供給周波数 45∼62Hz
の間で行う。
なお，他の周波数の表示があれば，その周波数の裕度±20%で試験を行わなければならない。
試験 No.1 及び No.2 のリアクトル L は，空心リアクトルでなければならない。
遮断後の最初の半サイクル中での，商用周波回復電圧波高値及びそれに続く 5 個のピーク波高値は，
表
J
の実効値に関連する波高値と一致しなければならない。
8.5.3
測定装置 JIS C 8269-1 の 8.5.3 を適用する。
8.5.4
試験回路の校正
置換：試験回路は，無視できるインピーダンスを，試験回路（
図 4）のヒューズに替わる位置に挿入した
仮の接続 A によって，校正しなければならない。
抵抗器 R 及びリアクトル L は，所望の電流値が所望の瞬間に得られるように調整し，かつ，試験するヒ
ューズの定格電圧の 100
5
0
+
%
の商用周波回復電圧での所望の力率が得られるものでなければならない。
試験電流に対応する回路の短絡力率は，
表 K によるものとする。
表 J 遮断試験条件
試験系列番号
試験条件項目
1 2
3
試験周波数
（50 Hz 又は 60 Hz）±10%
試験電圧・回復電圧
定格電圧の 100
5
0
+
%
試験電流・固有電流
I
1
1
）
I
2
2
）
I
3
3
）
＝1.25I
f
4
）
試験電流のばらつき
10
0
+
%
−
20
0
+
%
短絡力率
表 K による
投入位相
5)
−
0
∼20°
−
(
限流ヒューズ) 40∼65°
65
∼90°
−
−
発弧位相
1)5)
(
非限流ヒューズ) 0∼20° 60∼90°
−
−
試験数 1
2
3
1
注
1)
I
1
は定格遮断容量に相当する電流で，これより小さい電流であってはならない。
限流ヒューズは，発弧位相が40∼65°及び65∼90°となるような2種類の条件で行う。
40
∼65°の間で発弧の条件を満たすのが困難な場合は，電圧0
10
0
+
°の投入角で試験を
行うものとする。
なお，この試験で 65°以上で発弧する場合は，40∼65°の間で発弧の条件を満たす
代わりに，その試験を承認してもよい。しかし，発弧位相が 40°以下の場合は，表に
規定する 3 回の試験を行う。また，非限流ヒューズは，発弧位相が 0∼20°及び 60∼
90
°となるような 2 種類の条件で行う。
2)
I
2
は，限流ヒューズのアークエネルギーが最大とみなされる条件に対応する電流で，
限流値が試験電流（交流分実効値）の 0.6×√2∼0.75×√2 倍となる試験電流とする。
非限流ヒューズは一般に I
2
の試験は必要としないが，これらのものでも I
1
の試験で
最大通過電流の波高値が I
1
の波高値の 0.55 倍以下になるものは，I
2
試験を行う。
3)
I
3
は，小過電流の範囲でもヒューズの動作が満足いくものであることを証明するもの
とみなされる試験電流である。
4)
I
f
は協約溶断電流を示し，A 種ヒューズは 1.35I
n
，B 種ヒューズは 1.6I
n
とする。すな
わち，A 種ヒューズは I
3
＝1.7I
n
，B 種ヒューズは I
3
＝2.0I
n
となる。
5)
投入位相及び発弧位相は，電源電圧ゼロからの電気角を示す。
12
C 8269-11 : 2000
表 K 短絡力率
試験電流 (A)
短絡力率
1
500
以下
0.7
以上 0.8 以下
1 500
を超え 2 500 以下
0.5
以上 0.6 以下
2 500
を超え10 000 以下
0.3
以上 0.4 以下
10 000
を超えるもの 0.2 以上 0.3 以下
8.5.5
試験方法
8.5.5.1
置換：ヒューズリンクが 7.5 の条件を満足することを検証するためには，
表 J に示す値によって再用ヒュ
ーズリンクは，可溶体又は取換えユニットを取り換えて各試験系列番号ごとに動作を 2 回行う。
非限流ヒューズにおいては，排気孔その他ガスを放出するおそれがある部分には，さらしかなきん（密
度が 25.4 mm に付き たて 72 本±4 本，よこ 69 本±4 本で，30 番手のたて糸及び 36 番手のよこ糸を使用
したのり付けをしない平織の綿布）を当てる。
試験 No.1 及び No.2:
各々の試験は連続して 3 個のサンプルで行わなければならない。
試験 No.1 実施中に試験 No.2 の要求事項が 1 又はそれ以上の試験で満たされている場合には，試験 No.2
の相当部分は繰り返す必要はない。
試験 No.2 に適応する固有電流が定格遮断容量より大きいとき，試験 No.1 及び No.2 は電流 I
1
で，約 30°
ずつ 6 個の異なる投入角をもつ 6 個のサンプルの試験結果で置き換えなければならない。
試験 No.3:
各試験の回路は，電圧経過ゼロからどの時点で閉路してもよい。
なお，試験配置が，試験中常時必要な全電圧で電流を維持できない場合は，ヒューズを低減電圧で試験
電流に等しいか又はそれに近い電流で予熱してもよい。この場合，アーク発生前に，8.5.2 の試験回路に切
り換える切換時間 T
1
（無通電の間隔）は，0.2 秒を超えてはいけない。電流が再び流れてから発弧するま
での時間間隔は T
1
の 3 倍以上でなければならない。
8.5.5.2
置換：試験 No.2 の 3 回の試験のうちの 1 回の試験では，回復電圧の印加時間を次の値に維持する。
− 本体又は充てん剤に，有機物を使用していない場合は，動作後 30 秒以上。
− その他のすべての場合に，ヒューズリンクの動作後，5 分以上。切換時間（無電圧の間隔）が 0.1 秒を
超えないなら，15 秒後に別の電源への切換えが許される。
その他の
表 J のすべての試験では，回復電圧の印加時間は，ヒューズの動作後 15 秒間維持しなければな
らない。
動作後少なくとも 6 分，最大 10 分の時間が経過した後（製造業者の合意によって，ヒューズリンクの本
体又は充てん剤に，有機物を使用していない場合は，時間を短縮してもよい。
）ヒューズリンクの端子間の
絶縁抵抗を測定し，記録する。
8.5.6
周囲空気温度
置換：もし，試験結果が時間−電流特性（8.4.3.3 参照）の検証にも使われる場合には，遮断容量試験を周
囲空気温度 20±5℃で行わなければならない。
これらの制限に耐えられない場合，−5∼＋40℃の間の周囲空気温度で遮断試験を行うことが許される。
この場合，
表 J の試験 No.3 は，溶断時間−電流特性を検証するために電圧を下げて周囲空気温度 20±5℃
13
C 8269-11 : 2000
で，再度試験を行わなければならない。
8.5.7
オシログラムの解釈 直流に関する箇所を除き，JIS C 8269-1 の 8.5.7 を適用する。
8.5.8
試験結果の評価
追加：再用形のものは，動作した可溶体を新たな可溶体に取り換えるのに支障があってはならない。
非限流ヒューズは，さらしかなきんが燃焼又は破損してはならない。
8.6
限流特性の検証
8.6.1
試験方法 JIS C 8269-1 の 8.6.1 を適用する。
8.6.2
試験結果の評価 JIS C 8269-1 の 8.6.2 を適用する。
8.7
I
2
t
特性及び過電流動作協調の検証
8.7.1
試験方法 JIS C 8269-1 の 8.7.1 を適用する。
8.7.2
試験結果の評価
置換：測定された動作 I
2
t
値は，製造業者が示した最小値を超えてはならない。
溶断 I
2
t
値は，製造業者が示した値以上でなければならない。
8.7.3
0.01
秒におけるヒューズリンクの適合性の検証 JIS C 8269-1 の 8.7.3 は，適用しない。
8.7.4
過電流動作協調の検証 JIS C 8269-1 の 8.7.4 は，適用しない。
8.8
外箱の保護の級別検証 JIS C 8269-1 の 8.8 は，適用しない。
8.9
耐熱性の検証
置換：耐熱性は，すべての動作試験，特に 8.3∼8.5 の試験の結果に基づいて判断する。
8.10
接触部の不劣化の検証 JIS C 8269-1 の 8.10 は，適用しない。
8.11
機械的試験及びその他の試験
8.11.1
機械的強度 JIS C 8269-1 の 8.11.1 を適用する。
8.11.2
その他の試験
8.11.2.1
応力腐食割れの検証 JIS C 8269-1 の 8.11.2.1 を適用する。
8.11.2.2
耐異常熱及び火に対する耐性の検証 JIS C 8269-1 の 8.11.2.2 は，適用しない。
8.11.2.3
耐さび性の検証 JIS C 8269-1 の 8.11.2.3 を適用する。
14
C 8269-11 : 2000
図 1 筒形端子をもつヒューズリンクの形状・寸法
15
C 8269-11 : 2000
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
a
b
c
d
e
1
e
2
l
定格電流
(A)
1 15
以上
13
±0.2 2
±0.07
20
以下
5.5
±0.2
7
土 0.5
80
±1.5 30 以下
2 19
以上
16
±0.2 2.5
±0.09
26
以下
7
±0.3
9
±0.5
113
±1.5 60 以下
3 25
以上
20
±0.2 3.2
±0.09
38
以下
8.5
±0.3
11
±0.5
145
±2 100 以下
4 35
以上
30
±0.2 4.5
±0.11
52
以下
10.5
±0.3
14.5
±1.0
180
±3 200 以下
図 2 刃形端子又は締付け形端子をもつヒューズリンクの形状･寸法
16
C 8269-11 : 2000
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
a
b
c
d
1
d
2
l
r
t
定格電流
(A)
1 5
±0.2
5
以上 4.2±0.2
10
±0.3 20 以下 35±1 2.1 ±0.1 0.3 以上
2 5
±0.2
5
以上 4.2±0.2
10
±0.3 20 以下 45±1 2.1 ±0.1 0.3 以上
20
以下
3 6
±0.2
8.5
以上 5.5±0.2
12
±0.3 20 以下 45±1 2.8 ±0.2 0.3 以上
4 6
±0.2
8.5
以上 5.5±0.2
12
±0.3 20 以下 55±1 2.8 ±0.2 0.3 以上
5 6
±0.2
8.5
以上 5.5±0.2
12
±0.3 20 以下 75±1 2.8 ±0.2 0.3 以上
30
以下
6 8
±0.3
10
以上 7
±0.3
16
±0.5 26 以下 45±1 3.5 ±0.2 0.4 以上
7 8
±0.3
10
以上 7
±0.3
16
±0.5 26 以下 55±1 3.5 ±0.2 0.4 以上
8 8
±0.3
10
以上 7
±0.3
16
±0.5 26 以下 75±1 3.5 ±0.2 0.4 以上
60
以下
9 10
±0.3
12
以上 8.5±0.3
20
±0.5 38 以下 55±1 4.3 ±0.2 0.5 以上
10 10
±0.3
12
以上 8.5±0.3
20
±0.5 38 以下 75±1 4.3 ±0.2 0.5 以上
11 10
±0.3
12
以上 8.5±0.3
20
±0.5 38 以下 95±1.5
4.3
±0.2 0.5 以上
100
以下
12 12.5
±0.5
14
以上 10 ±0.3
25
±0.5 52 以下 55±1 5
±0.2 0.7 以上
13 12.5
±0.5
14
以上 10 ±0.3
25
±0.5 52 以下 75±1 5
±0.2 0.7 以上
14 12.5
±0.5
14
以上 10 ±0.3
25
±0.5 52 以下 95±1.5
5
±0.2 0.7 以上
200
以下
図 3 つめ形端子をもつヒューズリンクの形状・寸法
寸法 (mm)
ヒューズの形
d
1
d
2
l
1
l
2
定格電流 (A)
1
12.7
±0.5 7.9±0.5
50
±1.5
11
±1.5
10
以下
2
12.7
±0.5 9.9±0.5
50
±1.5
11
±1.5
10
を超え
20
以下
3
12.7
±0.5 13.7±0.5
50
±1.5
11
±1.5
20
を超え 30 以下
4
27
±1 16 ±0.5
50
±1.5
11
±1.5
30
を超え 40 以下
5
27
±1 18 ±0.5
50
±1.5
11
±1.5
40
を超え 50 以下
6
27
±1 20 ±0.5
50
±1.5
11
±1.5
50
を超え 60 以下
7
34
±1 5 ±0.3
57.5
±2 5.4±0.5
60
を超え 75 以下
8
34
±1 8 ±0.3
57.5
±2 5.4±0.5
75
を超え 100 以下
9
46
±1 5 ±0.3
57.5
±2 5.4±0.5
100
を超え 125 以下
10 46
±1 8 ±0.3
57.5
±2 5.4±0.5
125
を超え 150 以下
11 46
±1 10 ±0.4
57.5
±2 5.4±0.5
150
を超えるもの
図 4 せん形プラグヒューズリンクの形状・寸法
17
C 8269-11 : 2000
寸法 (mm)
試験装置
の形
試験品の端子
の外形
(mm)
a
b
c
d
e
f
h
i
j
ヒューズに加わる
接触圧力
(kg)
1 6
未満
9 10 4 3 8 48
12 17.5
8 0.4
以上 0.6 以下
2 6
以上 9 未満 9 10 4 6 12 76
17.5
24 15 0.8
以上 1.2 以下
3 9
以上
12 13 6 6 12 82
17.5
24 15 1.2
以上 1.8 以下
備考 試験装置の各部の寸法の許容差は，±0.3mm とする。
備考 a，b，c，d，e，f，g，h，i，j，k，l 及び m は，次の表による。
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
a
b
c
d
e
f
g
2 13
±0.5 10±0.5 7.5±0.1
6
±0.3 250 以上
55
以上 25±1
3 16
±0.5 10±0.5 10 ±0.1
6
±0.3 250 以上
55
以上 44±1
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
h
i
j
k
l
m
2 0.8
±0.05 32±0.5 12±0.5 20±1
約 28 5±0.3
3 1.0
±0.05 40±0.5 14±0.5 24±1.5
約 36 6±0.3
図 5 筒形端子をもつヒューズリンクの試験装置
18
C 8269-11 : 2000
備考 a，b，c，d，e，f，g，h，i，j，k，l，m，n 及び o は，次の表による。
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
a
b
c
d
e
f
g
1 13
±0.5 10±0.5 2
±0.07
6
±0.3 250 以上 55 以上
52
±1
2 16
±0.5 10±0.5 2.5±0.09 6±0.3 250 以上 55 以上
78
±1
3 20
±0.5 10±0.5 3.2±0.09 6±0.3 250 以上 55 以上 100±1.5
4 30
±0.5 10±0.5 4.5±0.11 8±0.3 250 以上 55 以上 115±1.5
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
h
i
j
k
l
m
n
o
1 1.4
±0.05 32±0.5 12±0.5 1±0.3 30±1 5±0.3 15±0.5 14±1
2 1.6
±0.05 40±0.5 14±0.5 1±0.3 38±1 6±0.3 23±0.5 17±1
3 2.0
±0.05 50±0.5 18±0.5 1±0.3 45±1 8±0.3 30±0.5 21±1
4 2.6
±0.07 72±0.5 30±1 1±0.3 55±1 8±0.3 38±0.5 31±1
図 6 刃形端子をもつヒューズリンクの試験装置
19
C 8269-11 : 2000
備考 a，b，c，d，e，f，g，h，i，j，p，l 及び m は，次の表による。
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
a
b
c
d
e
f
g
1 13
±0.5 10±0.5 2 ±0.07 6±0.3 250 以上 55 以上 52±1
2 16
±0.5 10±0.5 2.5±0.09 6±0.3 250 以上 55 以上 78±1
3 20
±0.5 10±0.5 3.2±0.09 6±0.3 250 以上 55 以上 100±1.5
4 30
±0.5 10±0.5 4.5±0.11 8±0.3 250 以上 55 以上 115±1.5
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
h
i
j
p
l
m
1 1.4
±0.05 32±0.5 12±0.5 4±0.3 30±1 5±0.3
2 1.6
±0.05 40±0.5 14±0.5 5±0.3 38±1 6±0.3
3 2.0
±0.05 50±0.5 18±0.5 6±0.3 45±1 8±0.3
4 2.6
±0.07 72±0.5 30±1 8±0.3 55±1 8±0.3
図 7 締付け形端子をもつヒューズリンクの試験装置
20
C 8269-11 : 2000
備考 a，b，c，d，e，f，g 及び l は，次の表による。
寸法 (mm)
ヒューズ
の形
a
b
c
d
e
f
g
l
1 10
±0.3 4±0.3 24±1 4±0.3 5 ±0.3
55
±1 10±0.5 35±1
2 10
±0.3 4±0.3 24±1 4±0.3 5 ±0.3
55
±1 10±0.5 45±1
3 12
±0.3 6±0.3 30±1 5±0.3 6 ±0.3
55
±1 10±0.5 45±1
4 12
±0.3 6±0.3 30±1 5±0.3 6 ±0.3
55
±1 10±0.5 55±1
5 12
±0.3 6±0.3 30±1 5±0.3 6 ±0.3
55
±1 10±0.5 75±1
6 16
±0.5 6±0.3 38±1 5±0.3 8 ±0.3
55
±1 10±0.5 45±1
7 16
±0.5 6±0.3 38±1 5±0.3 8 ±0.3
55
±1 10±0.5 55±1
8 16
±0.5 6±0.3 38±1 5±0.3 8 ±0.3
55
±1 10±0.5 75±1
9 20
±0.5 8±0.3 46±1 6±0.3 10 ±0.3
55
±1 10±0.5 55±1
10 20
±0.5 8±0.3 46±1 6±0.3 10 ±0.3
55
±1 10±0.5 75±1
11 20
±0.5 8±0.3 46±1 6±0.3 10 ±0.3
55
±1 10±0.5 95±1
12 25
±0.5 10±0.3 68±1 8±0.3 12.5±0.3
55
±1 10±0.5 55±1
13 25
±0.5 10±0.3 68±1 8±0.3 12.5±0.3
55
±1 10±0.5 75±1
14 25
±0.5 10±0.3 68±1 8±0.3 12.5±0.3
55
±1 10±0.5 95±1.5
図 8 つめ形端子をもつヒューズリンクの試験装置
21
C 8269-11 : 2000
寸法 (mm)
ヒューズの形
a
b
d
1
，2 及び 3 25.6±1 31.7±2 13.6±0.3
4
，5 及び 6 32.5±1 27.5±2 29.2±1
7
及び 8 32.9±1 37.5±2 36 ±1
9
，10 及び 11 33.1±1 37.5±2 50.5±2.5
図 9 せん形プラグヒューズリンクの試験装置
JIS C 8269-11
原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
荒 井 聰 明
東京電機大学工学部
（幹事）
大 森 豊 明 OHT 技術士事務所
鈴 木 茂 男
株式会社宇都宮電機製作所
（委員）
西 澤 滋
建設省大臣官房官庁営繕部
橋 爪 邦 隆
工業技術院標準部
斉 藤 俊 樹
資源エネルギー庁公益事業部
椎 橋 宏 次
椎橋技術士事務所
住 谷 淳 吉
財団法人電気安全環境研究所技術規格部
浅 井 功
社団法人日本電気協会
多 賀 裕 司
四国電力株式会社配電部
石 山 壮 爾
社団法人電気設備学会
平 岩 直 哉
東京電力株式会社配電部
相 磯 均
社団法人日本電子機械工業会
太 田 修 平
社団法人日本配線器具工業会技術本部
杉 岡 正 晴
株式会社洋電エンジニアリング開発研究所
石 岡 孝 志
内橋エステック株式会社
松 﨑 裕 一
エス・オー・シー株式会社技術管理部門
新 家 正 敏
大阪ヒューズ株式会社
長 内 紀 男
ヒューズ工業組合
石 川 煕
富士電機株式会社機器事業本部
秋 定 三津男
三菱電機株式会社配電器製造部
（事務局）
町 田 一 郎
社団法人日本電機工業会技術部