JISC8201-3:2009 低圧開閉装置及び制御装置－第３部：開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

C 8201-3：2009

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1 総則······························································································································· 1

1.1 適用範囲及び目的 ·········································································································· 1

1.2 引用規格 ······················································································································ 2

2 用語及び定義 ··················································································································· 3

3 分類······························································································································· 6

4 特性······························································································································· 6

4.1 特性の要約 ··················································································································· 6

4.2 装置の形式 ··················································································································· 6

4.3 主回路の定格値及び制限値 ······························································································ 6

4.4 使用負荷種別 ················································································································ 8

4.5 制御回路 ······················································································································ 9

4.6 補助回路 ······················································································································ 9

4.7 リレー及び引外し装置 ···································································································· 9

5 製品情報························································································································· 9

5.1 情報の性質 ··················································································································· 9

5.2 表示 ···························································································································· 9

5.3 取付け，操作及び保守にかかわる指示··············································································· 10

6 標準使用，取付け及び輸送条件 ·························································································· 10

7 構造及び性能に関する要求事項 ·························································································· 10

7.1 構造に関する要求事項 ··································································································· 10

7.2 性能に関する要求事項 ··································································································· 14

7.3 電磁両立性 ·················································································································· 16

8 試験······························································································································ 18

8.1 試験の種類 ·················································································································· 18

8.2 構造要求事項のための形式試験 ······················································································· 19

8.3 性能のための形式試験 ··································································································· 21

8.4 電磁両立性試験 ············································································································ 36

8.5 特殊試験 ····················································································································· 36

附属書A（規定）1台のモータの直入開閉用装置 ······································································· 37

附属書B（参考）受渡当事者間（製造業者と使用者と）で合意を必要とする項目 ····························· 42

附属書C（規定）単極操作3極開閉器 ····················································································· 43

附属書JA（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ································································ 45

C 8201-3：2009

（2）

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まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本配線

器具工業会(JEWA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべ

きとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。こ

れによって，JIS C 8201-3:2001は改正され，この規格に置き換えられる。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責

任はもたない。

JIS C 8201の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 8201-1 第1部：通則

JIS C 8201-2-1 第2-1部：回路遮断器（配線用遮断器及びその他の遮断器）

JIS C 8201-2-2 第2-2部：漏電遮断器

JIS C 8201-3 第3部：開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

JIS C 8201-4-1 第4部：接触器及びモータスタータ−第1節：電気機械式接触器及びモータスタータ

JIS C 8201-5-1 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電気機械式制御回路機器

JIS C 8201-5-2 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第2節：近接スイッチ

JIS C 8201-5-5 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第5節：機械的ラッチング機能をもつ電気的非

常停止機器

JIS C 8201-5-101 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第101節：接触器形リレー及びスタータの補

助接点

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日本工業規格

JIS

C 8201-3：2009

低圧開閉装置及び制御装置−第3部：開閉器，

断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニット

Low-voltage switchgear and controlgear-Part 3: Switches,

disconnectors, switch-disconnectors and fuse-combination units

序文

この規格は，1999年に第2版として発行されたIEC 60947-3，Amendment 1 (2001) 及びAmendment 2 (2005)

を基に作成した日本工業規格であるが，我が国の配電事情に対応させるため，技術的内容を変更して作成

した日本工業規格である。ただし，追補(Amendment)については，編集し，一体とした。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格に追加した事項又は異なる事

項である。変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

総則

JIS C 8201-1（以下，第1部という。）で規定する通則の条項は，この規格で明確に示す場合，この規格

に適用する。適用する第1部の箇条，表，図及び附属書は，例えば，第1部の4.3.4.1，第1部の表4又は

第1部の附属書Aのように，“第1部”を付記して示す。

1.1

適用範囲及び目的

この規格は，定格電圧が交流1 000 V又は直流1 500 V以下の分岐回路及びモータ回路で使用する開閉器，

断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニット（非包装ヒューズを取り付けるものは除く。）について規

定する。

製造業者は，組み込まれたヒューズの関連規格によって，形式，定格及び特性を指定しなければならな

い。

この規格は，JIS C 8201-2-1，JIS C 8201-4-1及びJIS C 8201-5-1の適用範囲に規定する装置及びこれら

に類する装置には適用しない。しかし，この規格の適用範囲に規定する開閉器及びヒューズ組みユニット

を個々のモータの始動，加速及び／又は停止のために通常使用するときは，それらは，附属書Aにある追

加要求事項に適合しなければならない。単極操作3極開閉器についての要求事項は，附属書Cによる。

この規格の適用範囲の中の装置に取り付ける補助スイッチは，JIS C 8201-5-1又はJIS C 4526の規格群

の規定による。

この規格は，爆発性ガスの雰囲気で使用する電気器具に必要な追加要求事項を含まない。

注記1 その形状によって，開閉器（又は断路器）は，“ロータリー開閉器（断路器）”，“カム開閉器

（断路器）”，“刃形開閉器（断路器）”なども含むことがある。

注記2 この規格では，“スイッチ”という用語は，回路の変更及び切換えに用いるものに適用する。

注記3 一般に，この規格を通して，開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニットは，

“装置”として扱う。

C 8201-3：2009

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注記4 この規格の対応国際規格を，次に示す。

IEC 60947-3:1999，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 3: Switches, disconnectors,

switch-disconnectors and fuse-combination units, Amendment 1 (2001) 及びAmendment 2 (2005)

(MOD)

なお，対応の程度を表す記号(MOD)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，修正していることを

示す。

この規格は，次に示す事項を規定することを目的としている。

a) 装置の特性

b) 装置が適合しなければならない条件

1) 通常の使用における操作及び動作

2) 短絡など指定した異常時の操作及び動作

3) 耐電圧特性

c) これらの条件に適合していることを検証するための試験及びその方法

d) 機器に表示又は添付する情報

1.2

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 0445:1999 文字数字の表記に関する一般則を含む機器の端子及び識別指定された電線端末の識

別法

注記対応国際規格：IEC 60445:1988，Identification of equipment terminals and of terminations of certain

designated conductors, including general rules for an alphanumeric system (IDT)

JIS C 3307 600 Vビニル絶縁電線（IV）

JIS C 4526（規格群) 機器用スイッチ

JIS C 8201-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第1部：通則

注記対応国際規格：IEC 60947-1:2004，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules

(MOD)

JIS C 8201-2-1:2004 低圧開閉装置及び制御装置−第2-1部：回路遮断器（配線用遮断器及びその他の

遮断器）

注記 IEC 60947-2:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 2: Circuit-breakers (MOD)

JIS C 8201-4-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第4部：接触器及びモータスタータ−第1節：電

気機械式接触器及びモータスタータ

注記 IEC 60947-4-1:2000，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 4-1: Contactors and

motor-starters−Electromechanical contactors and motor-starters及びAmendment 1 (2002) (MOD)

JIS C 8201-5-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電

気機械式制御回路機器

注記 IEC 60947-5-1:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control circuit devices and

switching elements−Electromechanical control circuit devices (IDT)

JIS C 61000-4-2:1999 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試

験

C 8201-3：2009

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注記対応国際規格：IEC 61000-4-2:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 2: Electrostatic discharge immunity test及びAmendment 1 (1998)

(IDT)

JIS C 61000-4-3:2005 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-3:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test及び

Amendment 1 (2002) (IDT)

JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／

バーストイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-4:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and

measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test (IDT)

JIS C 61000-4-5:1999 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第5節：サージイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-5:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 5: Surge immunity test (MOD)

JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ

注記対応国際規格：IEC 61000-4-6:2003，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

(MOD)

IEC 60050 (441):1984，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)，Chapter 441: Switchgear, controlgear

and fuses, Amendment 1 (2000)

IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes

IEC 60417-DB:2002，Graphical symbols for use on equipment（データベース）

CISPR 11:2003，Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment−Electromagnetic

disturbance characteristics−Limits and methods of measurement

CISPR 22:2003，Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods

of measurement

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，IEC 60050 (441) 及び第1部の箇条2（用語及び定義）によるほ

か，次による。

2.1

開閉器（機械式）[switch (mechanical)] (IEV 441-14-10)

規定した過負荷動作を含む通常の回路条件の下で，電流を投入，通電及び遮断することができ，かつ，

回路の短絡によって生じるような，特定の異常回路条件の下でも規定した時間，電流を流すことができる

能力をもつ機械式開閉機器。

注記この開閉器は，短絡電流に対して，投入できるが，遮断が不可能であってもよい。

C 8201-3：2009

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2.2

断路器 (disconnector)

開路位置で，断路機能の規定要求事項に対応する機械式開閉機器。

注記1 この定義は，断路機能に対する要求事項が断路距離だけに依存しないので，IEV 441-14-05と

は異なる。

注記2 断路器は，微小電流を投入又は遮断するとき及び断路器の線間電圧が特に変化しないときに

回路を入・切できる。また，正常回路時に通電でき，短絡のような異常回路時には規定した

時間だけ通電できる。

2.3

断路用開閉器 (switch-disconnector) (IEV 441-14-12)

開路位置で，断路器について規定した断路に関する要求事項を満足する開閉器。

2.4

ヒューズ組みユニット (fuse-combination unit) (IEV 441-14-04)

製造業者又は取扱説明書などによって組み立てられた機械式開閉機器と一つ以上のヒューズとの複合ユ

ニット。

注記（IEV 441-14-04に含まれない。）これは，ヒューズ開閉機器の一般用語である（2.5〜2.10及び

表1も参照）。

2.5

ヒューズ付き開閉器 (switch-fuse) (IEV 441-14-14)

複合ユニット中の1極以上にヒューズを直列に入れた開閉器。

2.6

ヒューズ開閉器 (fuse-switch) (IEV 441-14-17)

ヒューズリンク又はヒューズリンクをもつヒューズキャリアが可動接点を形成する開閉器。

2.7

ヒューズ付き断路器 (disconnector-fuse) (IEV 441-14-15)

複合ユニット中の1極以上にヒューズを直列に入れた断路器。

2.8

ヒューズ断路器 (fuse-disconnector) (IEV 441-14-18)

ヒューズリンク又はヒューズリンクをもつヒューズキャリアが可動接点を形成する断路器。

2.9

断路用ヒューズ付き開閉器 (switch-disconnector-fuse) (IEV 441-14-16)

複合ユニット中の1極以上にヒューズを直列に入れた断路用開閉器。

2.10

断路用ヒューズ開閉器 (fuse-switch-disconnector) (IEV 441-14-19)

ヒューズリンク又はヒューズリンクをもつヒューズキャリアが可動接点を形成する断路用開閉器。

2.11

単極操作3極開閉器 (single pole operated three pole switch)

3極システムで使用するユニットとしての定格をもち，3台個々に操作可能な単極断路用開閉器。

注記この開閉器は，各相の開閉操作及び／又は分離が必要である電力配電システムに使用すること

を意図しているものであり，三相装置の一次回路の開閉操作に使用してはならない。

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2.12

複数チップ接点システム (multiple tip contact system)

1極当たり2接点間げき以上で構成し，それらを直列及び並列にして開閉することができる接点システ

ム。

2.13

直接手動操作（機械式開閉機器の）[dependent manual operation (of a mechanical switching device)]

(IEV 441-16-13)

開閉動作の速さ及び力が操作者の操作に依存するような，人が直接エネルギーを加えるだけの操作。依

存するとは，動力がなくなれば，動作が止まるようなものをいう。

2.14

間接手動操作（機械式開閉機器の）[independent manual operation (of a mechanical switching device)]

(IEV 441-16-16)

一連の操作の中で蓄積及び解放をする蓄積エネルギー操作であって，手動力が蓄積エネルギー源となる

もので，開閉動作の速さ及び力が操作者の操作には依存しないもの。

2.15

半間接手動操作 (semi-independent manual operation)

操作者が故意に遅らせなければ，手動力がある限界値まで増やされると，他に依存しない開閉操作を行

う，手動エネルギーを直接用いた単独の操作。

2.16

蓄積エネルギー操作（機械式開閉機器の）[stored energy operation (of a mechanical switching device)]

(IEV 441-16-15)

ある決められた条件の下で，操作の完了及び完了するのに十分な状態の前に，機構自身に蓄えられたエ

ネルギーによる操作。

注記この操作の種類は，次のように細分できる。

a) エネルギーの蓄積方法（ばね，おもりなど）

b) エネルギー源（手動，電気的など）

c) エネルギーの引外し方法（手動，電気的など）

表1−装置の定義の概要

機能

投入及び遮断電流

断路

投入，遮断及び断路

開閉器

2.1

断路器

2.2

断路用開閉器

2.3

ヒューズ組みユニット 2.4

ヒューズ付き開閉器

2.5

ヒューズ付き断路器

2.7

断路用ヒューズ付き開閉器

2.9

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表1−装置の定義の概要（続き）

ヒューズ開閉器

2.6

ヒューズ断路器

2.8

断路用ヒューズ開閉器

2.10

注記1 すべての装置は，単一遮断又は多重遮断であってもよい。
注記2 番号は，関連する定義の参照項である。
注記3 記号は，JIS C 0617-7による。
注a) ヒューズは，装置の固定位置と接点との間のどちらか一方にあってもよい。

分類

3.1

使用負荷種別による分類

使用負荷種別による分類は，4.4を参照。

3.2

手動で操作する装置の操作方法による分類

− 直接手動操作（2.13参照）

− 間接手動操作（2.14参照）

− 半間接手動操作（2.15参照）

注記閉路操作の方法は，開路の方法と異なっていてもよい。

3.3

断路に対する適合性による分類

− 断路に適したもの。（第1部の7.1.6及び7.1.6.1を参照。）

− 断路に適さないもの。

3.4

保護等級による分類

保護等級による分類は，第1部の7.1.11を参照。

特性

4.1

特性の要約

装置の特性は，次の項目から適用できる項目を明示しなければならない。

− 装置の形式（4.2参照）

− 主回路の定格値及び制限値（4.3参照）

− 使用負荷種別（4.4参照）

− 制御回路（4.5参照）

− 補助回路（4.6参照）

4.2

装置の形式

装置の形式は，次による。

4.2.1

極数

4.2.2

電流の種類

電流の種類（交流又は直流）及び交流の場合，相数及び定格周波数

4.2.3

主接点の状態の数（三つ以上の場合）

4.3

主回路の定格値及び制限値

定格値は，製造業者が4.3.1〜4.3.6によって明示する。ただし，すべての定格値を明示する必要はない。

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4.3.1

定格電圧

装置の定格電圧は，次による。

4.3.1.1

定格使用電圧 (Ue)

定格使用電圧は，第1部の4.3.1.1による。

4.3.1.2

定格絶縁電圧 (Ui)

定格絶縁電圧は，第1部の4.3.1.2による。

4.3.1.3

定格インパルス耐電圧 (Uimp)

定格インパルス耐電圧は，第1部の4.3.1.3による。

4.3.2

電流

装置の電流は，次による。

4.3.2.1

開放熱電流 (Ith)

開放熱電流は，第1部の4.3.2.1による。

4.3.2.2

閉鎖熱電流 (Ithe)

閉鎖熱電流は，第1部の4.3.2.2による。

4.3.2.3

定格使用電流 (Ie)（又は定格使用電力）

定格使用電流は，第1部の4.3.2.3による。

4.3.2.4

定格連続電流 (Iu)

定格連続電流は，第1部の4.3.2.4による。

4.3.3

定格周波数

定格周波数は，第1部の4.3.3による。

4.3.4

定格責務

定格責務は，次のことを考慮に入れる。

4.3.4.1

8時間責務

8時間責務は，第1部の4.3.4.1による。

4.3.4.2

連続責務

連続責務は，第1部の4.3.4.2による。

4.3.5

通常負荷及び過負荷特性

4.3.5.1

モータ開閉過負荷電流に耐える能力

モータ開閉過負荷電流に耐える能力は，附属書A参照。

4.3.5.2

定格投入容量

定格投入容量は，第1部の4.3.5.2によるほか，次による。

定格投入容量は，定格使用電圧，定格使用電流及び表3による使用負荷種別によって明示する。

AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20Bの装置には適用しない。

4.3.5.3

定格遮断容量

定格遮断容量は，第1部の4.3.5.3によるほか，次による。

定格遮断容量は，定格使用電圧，定格使用電流及び表3による使用負荷種別によって明示する。

AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20Bの装置には適用しない。

4.3.6

短絡特性

4.3.6.1

定格短時間耐電流 (Icw)

開閉器，断路器又は断路用開閉器の定格短時間耐電流は，製造業者の取扱説明書などによって指定し，

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8.3.5.1の試験条件下で装置が損傷なく流すことができる短時間耐電流の値とする。

定格短時間耐電流値は，最高定格使用電流値の12倍以上とし，製造業者がほかに規定しない場合，継続

時間は，1秒間とする。

交流に対して電流値は，交流成分の実効値とし，波高値は，実効値のn倍を超えないものと想定する。

比率nは，第1部の表16による。

4.3.6.2

定格短絡投入容量 (Icm)

開閉器又は断路用開閉器の定格短絡投入容量は，（該当する場合）定格周波数で，指定した力率（又は時

定数）で，定格使用電圧に対して製造業者が装置に示した短絡投入容量の値とする。それは，最高推定ピ

ーク電流として表示する。

交流に対して力率，推定ピーク電流及び電流実効値の関係は，第1部の表16による。

AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20Bの装置には適用しない。

4.3.6.3

（規定なし）

4.3.6.4

定格条件付き短絡電流

定格条件付き短絡電流は，第1部の4.3.6.4による。

4.4

使用負荷種別

使用負荷種別は，目的とした用途を明確にし，表2による。

それぞれの使用負荷種別は，電流値及び電圧値によって分類し，定格使用電流及び定格使用電圧を複合

して表記する。また，回路の力率及び時定数についても同様とする。表3に示す投入及び遮断の条件は，

表2に示す代表的な適用例に相当する。

使用負荷種別の指定は，目的とした用途が頻繁な操作を要求しているか，又はまれな操作を要求してい

るかどうかによる分類A又は分類Bを添えて完成させる。

分類Bをもつ使用負荷種別は，設計又は適用のために，まれな操作だけを意図した装置に適している。

これは，例えば，通常保守作業のときに断路を行うためだけに操作する断路器又はヒューズリンク刃が可

動接点を形成する開閉機器に適用できる。

頻繁な操作とまれな操作との違いは，製造業者が示す定格操作及び表4の試験基準を使った操作サイク

ルの数を基準とする。

特定の定格使用電流Ieに対して，製造業者が示す定格操作寿命が，表4の(3)欄，(4)欄及び(5)欄に示す

操作サイクルの数以上であるならば，装置は，頻繁な使用とみなす。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表2−使用負荷種別（利用カテゴリ）

電流の種類

使用負荷種別

（利用カテゴリ）

代表的な適用

分類A

（カテゴリA）

分類B

（カテゴリB）

交流

AC-20A
AC-21A
AC-22A
AC-23A

AC-20B
AC-21B
AC-22B
AC-23B

無負荷時の接続及び断路
適度の過負荷も含む抵抗性負荷の開閉
適度の過負荷も含む抵抗性負荷及び誘導性負荷の両方の開閉
モータ負荷又は高誘導性負荷の開閉

直流

DC-20A
DC-21A
DC-22A

DC-23A

DC-20B
DC-21B
DC-22B

DC-23B

無負荷時の接続及び断路
適度の過負荷も含む抵抗性負荷の開閉
適度の過負荷も含む抵抗性負荷及び誘導性負荷の両方の開閉
（例えば，分巻モータ）
高誘導性負荷の開閉（例えば，直巻モータ）

使用負荷種別AC-23A及びAC-23Bは，単一モータの時々の開閉を含む。コンデンサ又はタングステン

フィラメント電球の開閉は，受渡当事者間の協定による。

表2及び表3にある使用負荷種別は，個々のモータの始動，加速及び／又は停止などに通常使用する装

置には適用しない。この場合の装置に対する使用負荷種別は，附属書Aによる。

4.5

制御回路

制御回路は，第1部の4.5による。

4.6

補助回路

補助回路は，第1部の4.6による。

4.7

リレー及び引外し装置

リレー及び引外し装置は，第1部の4.7による。

製品情報

5.1

情報の性質

情報の性質は，特別な設計に対して適切に第1部の5.1を適用する。

5.2

表示

5.2.1

各々の装置は，次のデータを耐久性のある方法で明りょうに表示しなければならない。

次のa)，b) 及びc) は，装置それ自身又は装置に付けた銘板に表示しなければならず，そして，それら

が製造業者の指示によって装置を設置した後に正面から読みやすい場所に位置しなければならない。

a) 開及び閉位置の表示開又は閉位置は，図記号を用いる場合には，それぞれIEC 60417の図記号

60417-IEC-5007又は60417-IEC-5008によって表示しなければならない（第1部の7.1.5.1参照）。また，

開又は閉位置を文字で表示する場合には，開位置を“OFF”又は“切”，閉位置を“ON”又は“入”

によって表示しなければならない。ただし，目視によって開閉状態を容易に判断できるものには，適

用しない。

2個の押しボタンで操作する装置は，開操作用として設計された押しボタンだけを赤色，図記号“○”

又は“OFF”若しくは“切”の文字で表示しなければならない。

b) 断路適合性表1の適切な記号を使用しなければならない。

c) 断路器に対する追加表示使用負荷種別AC-20A，AC-20B，DC-20A及びDC-20Bは，装置がそのよ

うな操作を妨げるようにインターロックされていないなら，“負荷を接続して操作してはならない”と

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表示しなければならない。

注記装置の種々の形の記号は，表1による。

5.2.2

次のデータも，装置上に表示しなければならない。ただし，装置を取り付けたとき，正面から見え

る必要はない。

a) 製造業者名又はその略号

b) 形式名又は製造番号

c) 定格使用電圧における定格使用電流（又は定格電力）及び使用負荷種別（4.3.1，4.3.2及び4.4参照）

d) 定格周波数の値（又は範囲）又は“直流”の表示（又は記号）。ただし，商用周波数（50〜60 Hz）

の範囲で共用のものは，定格周波数の値の表示を省略できる。

e) ヒューズ組みユニットに対して，ヒューズの形式及びヒューズリンクの最大定格電流及び電力損失

製造業者がこの規格に適合していると主張する場合，JIS C 8201-3。

g) 箱入り装置の保護等級（第1部の附属書Cを参照）

5.2.3 次の端子は，見分けられなければならない。

a) 接続が重要でない場合を除いて，電源及び負荷端子（8.3.3.3.1参照）

b) 適用可能な場合，文字記号“N”によって中性極端子（第1部の7.1.7.4参照）

c) 保護接地端子（第1部の7.1.9.3参照）

5.2.4

次のデータは，製造業者が発行する取扱説明書の中に明らかにしなければならない。

a) 定格絶縁電圧

b) 断路に適した装置又は適合しているときの定格インパルス耐電圧

c) 汚損度3と異なる場合には，その汚損度

d) 定格責務

e) 適用可能な場合，定格短時間耐電流及び継続時間

適用可能な場合，定格短絡投入容量

g) 適用可能な場合，定格条件付き短絡電流

5.3

取付け，操作及び保守にかかわる指示

取付け，操作及び保守にかかわる指示は，第1部の5.3による。

標準使用，取付け及び輸送条件

標準使用，取付け及び輸送条件は，第1部の箇条6によるほか，次による。

汚損度（第1部の6.1.3.2を参照）

製造業者が特に指定しない場合，装置の環境条件は，汚損度3とする。

構造及び性能に関する要求事項

7.1

構造に関する要求事項

構造に関する要求事項は，第1部の7.1によるほか，次による。

7.1.1

材料

使用する材料の適合性は，次のいずれかの試験を行うことによって，異常過熱及び火炎に対する耐量に

関して検証しなければならない。

a) 装置に対して

b) 装置から取り出した部分に対して

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c) 代表的な断面積をもつ同一材料のサンプルに対して

もし，代表的な断面積をもつ同一材料が既に要件を満たしているならば，それらの試験は，繰り返す必

要がない。

7.1.1.1

異常過熱及び火炎に対する耐量

異常過熱及び火災に対する耐量は，第1部の7.1.1.1によるほか，次による。

通電部を保持するために必要な絶縁材料部分は，960 ℃の試験温度において，第1部の8.2.1.1.1のグロ

ーワイヤ試験に適合しなければならない。

試験が材料製造業者のサンプル7.1.1 c) に対して行うとき，それらは第1部の8.2.1.1.2及び附属書Mに

規定する燃焼性試験及び960 ℃のグローワイヤ試験に対応するホットワイヤ着火試験を行わなければな

らない。

7.1.3

空間距離及び沿面距離

空間距離及び沿面距離は，第1部の7.1.3によるほか，次による。

空間距離及び沿面距離の測定上の指針は，第1部の附属書Gによる。

7.1.4

操作部

操作部は，第1部の7.1.4による。

7.1.6

断路に適した装置のための追加要求事項

断路に適した装置のための追加要求事項は，第1部の7.1.6によるほか，次による。

7.1.6.1

断路に適した装置のための追加構造要求事項

装置は，5.2.1 b) によって表示しなければならない。

接点の位置表示を備えないとき，例えば，操作部又は別の表示器によって，すべての主接点は，開位置

で明りょうに目視できなければならない。

操作機構の強度及び開位置の表示の有効性は，8.2.5に従って検証しなければならない。さらに，開位置

で装置にかぎを掛ける手段を製造業者が備える場合，施錠は，主接点が開位置にあるときだけ，可能でな

ければならない（8.2.5を参照）。

この要件は，主接点の位置を開位置で目視できる装置及び／又は開位置を操作部以外の他の手段によっ

て示す装置には適用しない。

注記閉位置における施錠は，特殊な用途に対して認める。

開位置における同極の開接点間の空間距離は，第1部の表13に規定する最小の空間距離未満であっては

ならず，また，同じく第1部の7.2.3.1 1) b) の要件に適合しなければならない。

7.1.6.2

接触器又は回路遮断器で電気的インターロック装置を伴った装置のための補助的な要求事項

断路に適した装置が，接触器又は回路遮断器で電気的インターロックするための補助スイッチを備え，

モータ回路で使われるならば，装置が使用負荷種別AC-23A及びAC-23Bの定格でなければ，次の要求事

項を適用しなければならない。

補助スイッチは，製造業者が指定するように，JIS C 8201-5-1によって格付けする。

補助スイッチの接点の開放と主極の接点の開放との間の時間間隔は，装置の主極が開路する前に関係す

る接触器又は回路遮断器が電流を遮断することを保証するのに十分でなければならない。

製造業者の技術資料などに指定がなければ，装置を製造業者の指示によって操作するとき，時間間隔は，

0.02秒間以上でなければならない。

装置を製造業者の指示によって操作するとき，適合性は，補助スイッチの開放の瞬間と無負荷条件の下

での主極の開放の瞬間との間の時間間隔を測定することによって検証しなければならない。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

閉操作の間に，補助スイッチの接点は，主極の接点の後又は同時に閉じなければならない。

開極時間のふさわしい間隔は，インターロック接点が開き，かつ，主極が閉じたままである中間の位置

（オンとオフとの間の位置）によって備えてもよい。

7.1.6.3

開放位置での施錠装置を備えた機器のための補助的な要求事項

施錠装置は，適切なかぎを取り付けた状態でそれを取り外すことができないように設計しなければなら

ない。機器を一つのかぎによって施錠するとき，操作部を操作することによって，施錠装置が第1部の

7.2.3.1 1) b) の要求事項から外れる範囲まで，開いた接点間の空間距離が減少してはならない。

代わりに，設計は，操作部の使用を防ぐようにかぎをかけることができる装置を備えていてもよい。

操作部にかぎをかけるための要求事項の適合性は，施錠することを模擬する最も不利な条件を与えて，

製造業者が指定したかぎ又は等しいゲージを用いて検証しなければならない。8.2.5.2に規定する力Fは，

開放位置から閉路位置へ装置を操作する試みで操作部に適用する。力Fを適用している間に，装置は，開

いた接点間に試験電圧を加える。装置は，第1部の表14によって要求された，適切な定格インパルス耐

電圧の試験電圧に耐えることができなければならない。

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7.1.7.2

接続容量

製造業者は，形式［非可とう導体（単線若しくはより線）又は可とう導体］，端子に適している導体部の

最大及び最小断面積並びに適用可能な場合には，端子に同時に接続可能な導体の数を明示する。しかし，

最大断面積は，8.3.3.1（温度上昇）の規定値未満であってはならない。端子は，表2Aの欄に規定する少な

くとも2サイズ小さい同じ形式［非可とう導体（単線若しくはより線）又は可とう導体］の導体が接続可

能でなければならない。

注記1 最小値未満の導体の断面積は，異なる個別規格で要求される場合がある。

注記2 電圧降下及びその他の条件によって，温度上昇試験に規定するものより大きい導体の断面積

に適合する端子を個別規格で要求される場合がある。導体断面積と定格電流との関係は，個

別規格で規定してもよい。

表2Aに，銅の円形導体の断面積の標準値をメートル法とAWG/MCMシステムで電線サイズとの近似的

関係を示す。

7.1.7.4

端子の識別と表示

端子は，JIS C 0445及び必要な場合，個別規格の要求によって明確に，また，恒久的に識別できるもの

でなければならない。ただし，使用方法によって端子表示が特定できないものには，回路図などの分かり

やすい表示を製造業者の取扱説明書などに表示してもよい。

中性導体用の端子は，JIS C 0445によって，文字記号“N”を用いなければならない。

保護接地端子は，第1部の7.1.9.3によって識別しなければならない。

表2A−銅の円形導体の標準断面積

ISO断面積

mm2

AWG/MCM（参考）

JIS C 3307

寸法

等価断面積

mm2

標準導体断面積

（より線）mm2

標準導体径

（単線）mm

0.2

0.205

−

0.5

−

0.324

−

0.5

0.519

0.5

0.8

0.75

0.82

0.75

1.0

−

1.25

1.2

1.5

1.3

−

2.5

2.1

1.6

3.3

3.5

2.0

5.3

5.5

2.6

8.4

3.2

13.3

4.0

21.2

5.0

33.6

−

53.5

−

67.4

−

000

100

−

0000

107.2

−

120

250MCM

127

−

150

300MCM

152

150

−

185

350MCM

177

200

−

240

500MCM

253

250

−

300

600MCM

304

325

−

ダッシュ（−）は，接続容量を検討するときに，サイズの一つとして数える（7.1.7.2参照）。

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7.1.8

中性極を備えた装置に対する追加要求事項

過電流引外しに関係する注記を除いて，第1部の7.1.8による。

7.1.11 箱入り装置の保護等級

箱入り装置の保護等級及び関連する試験は，第1部の附属書Cによる。

7.2

性能に関する要求事項

7.2.1

操作条件

7.2.1.1

総則

総則は，第1部の7.2.1.1によるほか，次による。

次の要求事項は，10 kAを超える定格短絡投入容量をもち，かつ，その閉操作が挿入機構のない直接手

動操作によるヒューズ開閉器，ヒューズ断路器及び断路用ヒューズ開閉器に適用する（直接手動操作及び

半間接手動操作は，2.13及び2.15を参照）。

投入操作の試験速度は，次のとおり決定する（8.3.6.2参照）。

a) 装置は，製造業者の取扱説明書によって無負荷条件の下で，各々3人によって5回，計15回手動で操

作する。最後の閉接点の接触終止の瞬間における手動操作部の速度は，装置の適切な部分で，オシロ

グラフ又はその他の適切な装置によって決定する。

測定を行った点及び測定点における速度を，試験報告書に記載する。平均速度は，最高値及び最低

値を削除した後に決定する。

b) 試験器具は，供試装置が完全に閉じ，装置の自由な閉操作が妨害されないことを保証しなければなら

ない。

試験器具の可動部分の質量（供試装置以外）は，2 kg±10 ％でなければならない。

7.2.2

温度上昇

温度上昇は，第1部の7.2.2によるほか，次による。

ヒューズ組みユニットに対して，8.3.3.1による試験中のヒューズリンク接点の温度上昇は，試験シーケ

ンスⅠにおける装置のその後の性能を損なうような性質の損傷を起こしてはならない。

7.2.3

耐電圧特性

耐電圧特性は，第1部の7.2.3によるほか，次による。

7.2.3.1

インパルス耐電圧

インパルス耐電圧は，第1部の7.2.3.1によるほか，次による。

断路に適していない装置の開接点間の空間距離は，定格インパルス耐電圧に適切な第1部の表12に規定

する試験電圧に耐えなければならない。

7.2.3.2

主回路，補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧

主回路，補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧は，第1部の7.2.3.2 c) によるほか，次による。

断路に適した装置に対して，漏えい電流の最大値は，すべての試験シーケンスに対して8.3.3.5，8.3.4.3，

8.3.5.4，8.3.6.4及び8.3.7.3にそれぞれ規定する。

7.2.4

無負荷，正常負荷及び過負荷状態での投入及び遮断能力

7.2.4.1

投入遮断容量

定格投入遮断容量は，定格使用電圧及び定格使用電流並びに表3による使用負荷種別との関連で規定す

る。

試験条件は，8.3.3.3.1による。

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表3−定格投入及び遮断容量の検証（8.3.3.3を参照）−

種々の使用負荷種別に相当する投入及び遮断のための条件

使用負荷種別

定格使用電流

投入a)

遮断

操作サイクルの数

I / Ie

U / Ue

cosφ

Ic / Ie

Ur / Ue

cosφ

AC-20A AC-20B

すべての値

−

AC-21A AC-21B

すべての値

1.5

1.05

0.95

1.5

1.05

0.95

AC-22A AC-22B

すべての値

1.05

0.65

1.05

0.65

AC-23A AC-23B

0＜Ie≦100 A

1.05

0.45

1.05

0.45

100 A＜Ie

1.05

0.35

1.05

0.35

使用負荷種別

定格使用電流

I / Ie

U / Ue

L / R

Ic / Ie

Ur / Ue

L / R

操作サイクルの数

DC-20A DC-20B

すべての値

−

DC-21A DC-21B

すべての値

1.5

1.05

1.5

1.05

DC-22A DC-22B

すべての値

1.05

2.5

1.05

2.5

DC-23A DC-23B

すべての値

1.05

I ：投入電流
Ic ：遮断電流
Ie ：定格使用電流
U ：供給電圧
Ue ：定格使用電圧
Ur ：商用周波数回復電圧又は直流回復電圧

注a) 交流に対して，投入電流は，電流の周期成分の実効値によって表す。

7.2.4.2

操作性能

装置の操作性能の検証に関する試験は，意図した使用に対してその主回路に電流を流して，装置が損傷

なしで投入及び遮断できることを検証することを意図する。

種々の使用負荷種別に対する操作性能試験のための操作サイクルの数及び試験回路のパラメータは，表

4及び表5による。

試験条件は，8.3.4.1による。

表4−操作性能の検証−

定格使用電流に相当する操作サイクルの数

(1)

(2)

(3)

(4)

(5)

(6)

(7)

(8)

定格使用電流

時間当たりの
操作サイクル

の数

操作サイクルの数

交流及び直流

A分類

交流及び直流

B分類

電流なし

電流あり

合計

電流なし

電流あり

合計

0＜ Ie ≦ 100

120

8 500

1 500

10 000

1 700

300

2 000

100＜ Ie ≦ 315

120

7 000

1 000

8 000

1 400

200

1 600

315＜ Ie ≦ 630

4 000

1 000

5 000

800

200

1 000

630＜ Ie ≦ 2 500

2 500

500

3 000

500

100

600

2 500＜ Ie

1 500

500

2 000

300

100

400

表の値は，AC-20A，AC-20B，DC-20A及びDC-20Bを除いてすべての使用負荷種別に適用する。これらの種別は，
電流なしで(5)欄又は(8)欄で操作サイクルの合計数に従わなければならない。(2)欄は，最小操作率を規定する。いか
なる使用負荷種別に対する操作率は，製造業者の合意を得て増加してもよい。

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表5−表4に対する試験回路パラメータ

使用負荷種別

定格使用電流の値

投入a)

遮断

I / Ie

U / Ue

cosφ

Ic / Ie

Ur / Ue

cosφ

AC-21A AC-21B

すべての値

0.95

AC-22A AC-22B

すべての値

0.8

AC-23A AC-23B

すべての値

0.65

I / Ie

U / Ue

L / R

Ic / Ie

Ur / Ue

L / R

DC-21A DC-21B

すべての値

DC-22A DC-22B

すべての値

DC-23A DC-23B

すべての値

7.5

I ：投入電流
Ic ：遮断電流
Ie ：定格使用電流
U ：供給電圧
Ue ：定格使用電圧
Ur ：商用周波数回復電圧又は直流回復電圧

注a) 交流に対して，投入電流は，電流の周期成分の実効値によって表す。

7.2.4.3

機械的耐久性

機械的耐久性は，第1部の7.2.4.3.1による。試験条件は，8.5.1に規定する。

7.2.4.4

電気的耐久性

電気的耐久性は，第1部の7.2.4.3.2による。試験条件は，8.5.2に規定する。

7.2.5

短絡電流の投入，遮断又は耐える能力

装置は，この規格の条件の下で，短絡電流に起因する熱的，機械的及び電気的ストレスに耐え得るよう

に構成しなければならない。

短絡電流は，電流投入，閉位置における電流通電及び電流遮断の間に発生する場合がある。

装置の短絡電流の投入，通電及び遮断の能力は，次の定格の一つ以上の用語に含まれる。

a) 定格短時間耐電流（4.3.6.1を参照）

b) 定格短絡投入容量（4.3.6.2を参照）

c) 定格条件付き短絡電流（4.3.6.4を参照）

7.2.6

（規定なし）

7.2.7

断路に適した装置に対する追加性能要求事項

これらの要求事項は，定格使用電圧が50 Vを超える装置だけに適用する。

新しい状態における装置及び接点の開位置で，装置は，8.3.3.2の耐電圧試験に耐えなければならない。

8.3.3.3及び8.3.4.1による試験を行ったとき，試験後の状態における装置は，8.3.3.5の漏えい電流の要求

事項に適合しなければならない。

7.2.8

（規定なし）

7.2.9

ヒューズを結合している装置のための過負荷要求事項

装置の主回路は，8.3.7.1による過負荷電流を流すことができなければならない。そして，試験シーケン

スⅤにおいて，装置のその後の性能を害する性質の損害を引き起こしてはならない。

7.3

電磁両立性

7.3.1

（規定なし）

7.3.2

イミュニティ

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

7.3.2.1

電子回路を搭載しない装置

この規格の適用範囲中の電子回路を搭載しない装置は，通常使用状態では電磁妨害に対して影響を受け

ない。したがって，イミュニティ試験を要求しない。

7.3.2.2

電子回路を搭載する装置（表6参照）

電子回路を搭載する装置（例えば，電子ヒューズ溶断表示器）は，電磁妨害に対して確実にイミュニテ

ィをもたなければならない（8.4.1.2参照）。

表6−イミュニティ試験

イミュニティ試験の種類

適用できる基礎的標準

厳しい要求レベル

静電気放電

JIS C 61000-4-2

空気放電8 kV又は接触放電4 kV

電磁界

JIS C 61000-4-3

10 V/m

ファストトランジェント／バースト

JIS C 61000-4-4

2 kV

サージ

JIS C 61000-4-5

2 kV（コモンモード）
1 kV（ディファレンシャルモード）

無線周波界によって誘導される伝導妨害

JIS C 61000-4-6

10 V

注記単純な整流器は，通常使用状態では電磁妨害に対して敏感ではない。したがって，イミュニティ試験は，要

求しない。

7.3.3

エミッション（表7参照）

7.3.3.1

電子回路を搭載しない装置

電子回路を搭載しない装置について，時々の開閉操作中だけに電磁妨害が発生する。その妨害の持続時

間は，数ミリ秒のオーダーである。

これらのエミッションの周波数，レベル及び影響は，低電圧設備の通常の電磁環境の一部としてみなす。

したがって，電磁エミッションに対する要求事項を満足しているとみなし，検証は必要ない。

7.3.3.2

電子回路を搭載する装置

電子回路を搭載する装置（例えば，電子ヒューズ溶断表示器）は，連続的な電磁妨害を発生する可能性

がある。

エミッションは，CISPR 11のクラスA−グループ1又はCISPR 22のクラスAの要求事項を満足しなけ

ればならない（8.4.2.2参照）。

表7−エミッション限度値

ポートb)

周波数範囲MHz

限度値d)

標準

エンクロージャ

30 〜 230 a)

30 dB (μV/m) 準せん(尖)頭値
30 mの距離で測定c)

CISPR 11

クラスA−グループ1

又は

CISPR 22

クラスA

230 〜 1 000 a)

37 dB (μV/m) 準せん（尖）頭値
30 mの距離で測定c)

商用電源

0.15 〜 0.5 a)

79 dB (μV) 準せん（尖）頭値
66 dB (μV) 平均

0.5 〜 5 a)

73 dB (μV) 準せん（尖）頭値
60 dB (μV) 平均

5 〜 30 a)

73 dB (μV) 準せん（尖）頭値
60 dB (μV) 平均

注a) 下限値は，可変周波数で行う。

b) 9 kHzを超える周波数で動作する部品を含む機械的開閉機器だけに適用できる。

例マイクロプロセッサ

c) 10 mの距離で10 dB増加した限度値を用い，又は，3 mの距離で20 dB増加した限度値を用いて測定しても

よい。

d) これらの限度値は，CISPR 11及びCISPR 22から変更しないで引用した。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

これらの限界は，すべて産業的な環境で使われる機械的開閉装置のために規定している。産業的な環境

外で使用される可能性があるとき，次の警告は，製造業者が発行する情報に含めなければならない。

警告

これは，クラスA製品である。家庭環境では，この製品は，ラジオ干渉を起こす可能性があるが，

その場合，使用者は，適切な処置をとるように要求される可能性がある。

しかし，エミッションがCISPR 22クラスBで与えられた限度値を満たす場合，この警告は必要ない。

試験

8.1

試験の種類

8.1.1

総則

総則は，第1部の8.1.1による。

8.1.2

形式試験

形式試験は，第1部の8.1.2による。形式試験の試験項目は，この規格の表9による。

8.1.3

受渡試験

受渡試験は，第1部の8.1.3によるほか，次による。

8.1.3.1

総則

総則は，次の試験による。

− 機械的操作試験（8.1.3.2参照）

同一条件を適用し，操作回数が規定値未満でないという条件で，製造中及び／又は，受渡試験中の

開閉器，断路器，断路用開閉器又はヒューズ組みユニットの操作は，上記試験に置き換えてもよい。

− 耐電圧試験（8.1.3.3参照）

材料及び製造過程の管理によって耐電圧の性能が確実に証明される場合，この試験は，認定してい

る抜取計画によって抜取試験に置き換えてもよい（IEC 60410参照）。

8.1.3.2

機械操作試験

試験は，5回の開閉操作によって，装置の正確な機械操作を検証する。

8.1.3.3

耐電圧試験

耐電圧試験の条件は，第1部の8.3.3.4.2による。ただし，これに代えて，第1部の8.3.3.4.2 3) に基づい

た組合せの試験も認められる。電圧値は，第1部の表12Aに規定する値による。試験の接続期間は，1秒

間以上とし，試験電圧の印加は，次による。

− 開路状態における装置で，装置が閉位置のときに互いに電気的に接続するそれぞれ対の端子間

− 閉路状態における装置で，それぞれの極と隣接した極との間，及びそれぞれの極とフレームとの間

− 主極に接続された電子回路を具備する装置は，開放状態における装置で，電子構成部品の入力側か出

力側のどちらでも，それぞれの極と隣接した極及びそれぞれの極とフレーム間。代わりに，耐電圧試

験の間，電子回路を切断してもよい。

8.1.4

抜取試験

第1部の8.3.3.4.3による空間距離の検証のための抜取試験は，検討中である。

8.1.5

特殊試験

特殊試験（第1部の2.6.4参照）は，8.5による。

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8.2

構造要求事項のための形式試験

構造要求事項のための形式試験は，第1部の8.2によるほか，次による。

8.2.4

端子の機械的性能

端子の機械的性能は，第1部の8.2.4によるほか，次による。

装置が異なる設計の端子を備えるよう設計する場合，試験は，すべての設計に対して行う。

8.2.5

操作部機構の強度及び位置表示装置の検証

操作部機構の強度及び位置表示装置の検証は，第1部の8.2.5によるほか，次による。

8.2.5.1

供試装置の条件

操作部及び姿勢表示装置に対する試験は，試験シーケンスⅠ（8.3.3及び表11を参照）の一部とする。

異なる形式の操作部が，追加形，一体形を問わず，存在する場合，その一つの設計も試験シーケンスⅠ

の間に試験する。さらに，より重要な事例の典型的なサンプルは，8.3.3.7によって試験する。

8.2.5.2

試験方法

8.2.5.2.1

直接手動操作及び間接手動操作

装置を開路位置に操作するのに必要とする力は，作動装置の先端で測定する。測定した力Fは，新品の

状態の装置で3回連続した操作から得る最大力の平均値に等しくなければならない。表8の試験力を確定

するのにこの力Fを適用する。

閉路状態の装置に対して，試験が最も過酷になるとみなされる極の固定接点及び可動接点を，適切な手

段によって閉路状態に維持する。操作部に，その形式によって，表8に規定する試験力を加える。

装置に直列の2個以上の接点システムがある場合，各接点システムは閉位置に保持する。

複数チップ接点システムの場合，接点が分離することなくこの試験力を加えることができるように接点

システムを閉じておくのに必要な，最小数の並行接点チップを一緒に固定する。

接点を閉じておくための適切な手段及び接点数は，製造業者が指定する。接点数及びその方法を報告書

に記載する。

この力は，操作部に衝撃を与えることなく，10秒間，接点を開路する方向へ加える。

力の方向は，図1に規定するように，試験中維持する。

開路状態にある操作部をロックするための手段をもつ場合には，試験力を加えている間，操作部をロッ

クできてはならない。

8.2.5.2.2

直接動力操作

閉位置での装置で，試験が最も厳しいとみなされる極の固定及び可動接点は，溶接などによって互いに

固定する。

装置に直列の2個以上の接点システムがある場合，各接点システムは閉位置に保持しておく。

複数チップ接点システムの場合，接点が分離することなくこの試験力を加えることができるように接点

システムを閉じておくのに必要な，最小数の並行接点チップを一緒に固定する。

接点を閉じておくための適切な手段及び接点数は，製造業者が指定する。接点数及びその方法を報告書

に記載する。

動力操作への供給電圧は，装置の接触機構を開路するために，その標準的な定格値の110 ％の電圧を供

給する。

動力操作によって5分の間隔で装置を操作する3回の試みは，動力操作の関連する保護の装置がより短

い時間に制限する場合を除き，それぞれ5秒間で行う。

検証は，8.2.5.3.2によって行う。

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8.2.5.2.3

間接動力操作

閉位置での装置で，試験が最も厳しいとみなされる極の固定及び可動接点は，溶接などによって互いに

固定する。

装置に直列の2個以上の接点システムがある場合，各接点システムは閉位置に保持しておく。

複数チップ接点システムの場合，接点が分離することなくこの試験力を加えることができるように接点

システムを閉じておくのに必要な，最小数の並行接点チップを一緒に固定する。

接点を閉じておくための適切な手段及び接点数は，製造業者が規定する。接点数及びその方法を報告書

に記載する。

動力操作の蓄積エネルギーを，装置の接触機構を開路するために解放する。

蓄積エネルギーを解放することによって装置を操作する3回の試みを行う。

検証は，8.2.5.3.2によって行う。

8.2.5.3

試験中及び試験後の装置の条件

8.2.5.3.1

直接手動操作及び間接手動操作

試験後，試験力が操作部に加わらなくなったときには，開位置を誤って示してはならない。

表8−操作部の試験力

操作部の形式

試験力

最小の力 N

最大の力 N

押しボタン
1本指操作
2本指操作
片手操作
両手操作

図1a)
図1b)
図1c)
図1d)・1e)
図1f)・1g)

3F
3F
3F
3F
3F

50
50
100
150
200

150
150
200
400
600

Fは，新規の場合の通常の操作力である。試験力は，最小値と最大値との間の3Fであり，図1による。

8.2.5.3.2

直接動力操作及び間接動力操作

試験中及び試験後に，開位置は，備えたいずれの手段によっても示してはならない。そして，装置は，

その通常の操作を害するような損傷を示してはならない。

装置が開の位置でかぎをかける手段を備える場合，装置は，試験中に装置にかぎを掛けることが可能で

あってはならない。

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図1−力Fを加える操作部

表9−装置に適用する形式試験一覧

試験

開閉器ヒューズ

開閉器

ヒューズ
付き開閉

器

断路器ヒューズ

付き断路

器

ヒューズ

断路器

断路用開

閉器

断路用ヒ
ューズ付
き開閉器

断路用ヒ
ューズ開

閉器

温度上昇a)

〇

温度上昇検証

〇

耐電圧特性

〇

耐電圧検証

〇

漏えい電流

−

〇

定格投入遮断容量
（過負荷）

〇

−

〇

操作性能

〇

定格短時間耐電流

〇

−

〇

−

〇

−

定格短絡投入容量

〇

−

〇

−

定格条件付き短絡電流

〇

操作部機構の強度

−

〇

過負荷試験

−

〇

−

〇

−

〇

“〇”：試験
“−”：試験不要
注a) 8.3.2.1.3だけに適用する。

8.3

性能のための形式試験

装置の種類によって，適用する性能形式試験の内容を，表9に示す。

8.3.1

試験シーケンス

形式試験は，表10に示すように幾つかの試験シーケンスにグループ分けする。

各試験シーケンスに対して，試験シーケンスⅠの温度上昇（単純化した試験だけ）及び耐電圧試験とは

別に各項で規定する要求事項に従って試験を行う。それらは，別々のサンプルで行ってもよい。

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表10−試験シーケンスの概要

試験シーケンス

試験

Ⅰ 一般性能特性
（8.3.3及び表11参照）

温度上昇f) g)
耐電圧特性f)
投入遮断容量a)
耐電圧検証a)
漏えい電流b)
温度上昇検証
操作部機構強度

Ⅱ 操作性能の能力
（8.3.4及び表13参照）

操作性能
耐電圧検証
漏えい電流b)
温度上昇検証

Ⅲ 短絡性能の能力c)
（8.3.5及び表14参照）

短時間耐電流
短絡投入容量e)
耐電圧検証
漏えい電流b)
温度上昇検証

Ⅳ 条件付き短絡電流c)
（8.3.6及び表15参照）

ヒューズ保護短絡耐力
ヒューズ保護短絡投入
耐電圧検証
漏えい電流b)
温度上昇検証

Ⅴ 過負荷性能能力d)
（8.3.7及び表16を参照）

過負荷試験
耐電圧検証
漏えい電流b)
温度上昇検証

注a) 断路器（AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20B）に対しては要求しない。4.3.5.2

及び4.3.5.3を参照。

b) 50 Vを超える定格電流の断路に適した装置だけに適用する。

c) 試験シーケンスⅢ又はⅣのいずれを採用するかは，製造業者による。

d) 開閉器，断路器及び断路用開閉器には要求しない。

e) AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20Bの装置には適用できない。

f) 8.3.1を参照して，試験シーケンス外で行ってもよい。

g) 8.3.2.1.3だけに適用する。

8.3.2

一般試験条件

8.3.2.1

一般要求事項

一般要求事項は，第1部の8.3.2.1をすべての形式試験に適用する。すべての試験シーケンスの開始にお

ける装置は，清浄で新規の状態で実施する。

開路操作のために加える力は，8.2.5.2で規定した値以上であってはならない。また，装置に衝撃を与え

ることなく一定の条件下で行わなければならない。

正常な開路操作に疑義があれば，3回まではその操作を繰り返してもよい。

同じ基本設計の装置に対して重複した試験を減らすために，次の試験要求事項を使用してもよい。

8.3.2.1.1

同じ基本設計の単純化試験

同じ基本設計の範囲の開閉器，断路器，断路用開閉器又はヒューズ組みユニットを同時に試験する場合

は，装置が次に示す同一である事項をすべて満足するならば，g)〜l) に示す相違する事項は，認める。

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8.3.2.1.2

同じ基本設計をもつ装置の要求事項

開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニットは，次の事項のすべてが同一であれば，同じ

基本設計であるとみなす。

a) 端子の設計における相違及びヒューズ附属品の手段を除いて，通電部の材料の仕上げ及び寸法が同一

である。

b) 接点の大きさ，材料，形状及び取付けの方法が同一である。

c) 操作機構が同じ基本設計であり，材料及び物理特性が同一である。

d) 接点の投入速度と開放速度とが実質的に同一である。

e) 鋳造及び絶縁材料が同一である。

アーク消弧装置の方法，材料及び構造が同一である。

8.3.2.1.3に示す単純化した試験手順を使用する場合，次の相違も認める。

g) 使用負荷種別及び使用電圧

h) 50 Hz又は60 Hzのための適用

7.1.8の要件の適用が可能である場合，3極及び4極装置（開閉器付き又は開閉器なしの中性極）

空間距離及び沿面距離が減少されない場合の端子の設計

（7.1.3，8.2.4，8.3.3.2及び第1部の8.3.3.1を参照）

k) 操作部の強度のための要求事項（8.2.5参照）をそれぞれの形式の操作部の上に試験シーケンスⅠの一

つとして検証する場合は，追加，一体形を問わず，異なる形式の操作部

異なる形式のヒューズリンク（無負荷条件の下にだけ取り外されるヒューズリンク）をもつヒューズ

付き開閉器，ヒューズ付き断路器及び断路用ヒューズ付き開閉器のヒューズ器台接点。

8.3.2.1.3

単純化した試験手順

次の単純化した試験手順を使用する。

a) もし，同じ基本設計をもつ装置が二つ以上の使用負荷種別及び／又は二つ以上の使用電圧を表示して

いる場合，試験が最も厳しい条件の下で行うことを条件に，試験サンプルの数は，減らしてもよい。

短絡，投入遮断及び操作性能試験にとって，もし，次の条件を同時に満たす場合は，条件をより厳

しくする。

− 使用定格電圧が同等以上

− 試験電流が同等以上

− 力率が同等以下

− 操作数が同等以上

b) 次の例外を除き，50 Hzで行う試験は，60 Hzでの適用をカバーするものとみなす。

− 800 Aを超える電流をもつ装置の8.3.3.1に従う温度上昇試験

注記 800 Aを超える電流に対して，製造業者と使用者との合意で，50 Hzで行う試験は，60 Hz

及びその逆もまた同様に受け入れてもよい。

− リレー及び引外し装置の温度上昇及び操作性能（7.2.2及び第1部の7.2.2.6）。コイルの温度上昇試

験は，それぞれの周波数で行う。しかし，どちらかが関連の試験シーケンスに含まれなければなら

ない。コイルと他の回路を別に供給することが可能な場合，他の回路が50 Hzで供給されているこ

とは認める。

c) 3極装置で行う試験は，中性極への単相試験が第1部の8.3.3.3.4によって行う場合，同じく非開閉中

性極をもつ4極装置をカバーするものとみなす。

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4極の開閉極装置で行う試験は，すべての極が同一で，接点の投入速度及び開放速度が本質的（構

造上）に同じ場合は，（7.1.8の要件だけが中性極の閉路と開路に関して適用可能である。）同じく3極

の開閉極装置をカバーするものとみなす。しかし，4極の開閉装置は，常に三相配置で接続していな

ければならない（第1部の図11参照）。

d) 異なる形式のヒューズ器台接点で行う試験ヒューズ付き開閉器，ヒューズ付き断路器又は断路用ヒ

ューズ付き開閉器が異なる形式のヒューズ器台接点を備えるように設計される場合は，8.3.3.1に従う

温度上昇試験は，最も大きいヒューズの定格電流に対応するそれぞれの形式において行う。

最大の試験電流で最大の温度上昇をもつ形式は，試験シーケンスⅠ，Ⅱ及びⅤを使用する。

試験シーケンスⅣは，最も高い定格条件付き短絡回路に対応する電流で，最も高い試験電圧におい

て最大の通過エネルギーをもつ形式のヒューズで，そのヒューズを接続している装置がボルトで締め

られた接続以外のそれぞれの形式のヒューズ器台接点で行う。

e) 異なる設計の端子で行う試験装置が異なる設計の端子を備える場合，8.3.3.1及び第1部の8.2.4に従

う要求事項及び試験は，それぞれの設計ごとに行う。

装置がプラグオン形ブスバーに用いる端子をもつ場合は，適用可能であれば，8.3.3.1，8.3.5.1又は

8.3.6.2.1 a) に従う試験を行う。プラグを差し込む操作の検証を行わなければならない。サイクルは，

接続した位置から接続を断った位置まで，その後接続した位置に戻す操作で1サイクルとし，サイク

ルの数は，50とする。

試験は，器具の操作状態を損なわない場合に合格とみなす。

8.3.2.2

試験量

試験量は，第1部の8.3.2.2による。

8.3.2.3

試験結果の評価

装置の試験中の動作及び試験後の状態については，該当の試験の項で規定する。

8.3.2.4

試験報告書

試験報告書は，第1部の8.3.2.4による。

8.3.3

試験シーケンスⅠ：一般性能特性

この試験シーケンスは，表11に規定する形式の装置に適用し，この表によって試験を行う。

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表11−試験シーケンスⅠ：一般性能特性

試験

箇条
番号

サンプルc)

装置の形式及び試験の順序

開閉器

ヒューズ開
閉器及びヒ
ューズ付き
開閉器

断路器

ヒューズ付
き断路器及
びヒューズ
断路器

断路用開閉
器

断路用ヒュ
ーズ付き開
閉器及び断
路用ヒュー
ズ開閉器

温度上昇d) e)

8.3.3.1

A, B, C, F

耐電圧特性d)

8.3.3.2

A, C, F

投入遮断容量

8.3.3.3

A, D

耐電圧検証

8.3.3.4

A, D

漏えい電流b)

8.3.3.5

A, D

−

温度上昇検証

8.3.3.6

A, D

操作部機構の強度 8.3.3.7

A, E

−

注a) この試験は，断路器（AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20B）には要求しない。4.3.5.2及び4.3.5.3を参照。

b) 試験は，Ueが50 Vを超えるものだけに要求する。

c) 同じ文字によって表示した試験だけを所定のサンプルに順次適用する。“A”は，最も大きい定格電流Ieから，

また，適用可能な場合，8.3.2.1.3 d) によって最も高い温度上昇するものから選択した最も普通の設計サンプル
とする。

適用可能な場合，他のサンプル：

“B”は，適用可能な場合，8.3.2.1.3 b) に従う60 Hz試験のための異なったサンプルである。

“C”は，相当する最大定格電流によって試験したそれぞれ他の端子設計のサンプルである。

“D”は，試験を行うUe，Ie，AC又はDC電圧定格の多くの組合せとして検証するためのサンプルである（8.3.2.1.3
を参照）。

“E”は，8.2.5.1に規定する追加のサンプルであって，サンプルB，C又はDの一つにできる。

“F”は，8.3.2.1.3 d) に従うヒューズ組みユニットのヒューズ器台すべての形式のサンプルである。

d) 試験シーケンス外で行われてもよい。8.3.1参照。

e) 8.3.2.1.3だけに適用する。

8.3.3.1

温度上昇

温度上昇は，第1部の8.3.3.3によるほか，次による。

試験は，閉鎖熱電流Itheで行う（第1部の4.3.2.2を参照）。

ヒューズ組みユニットは，組みユニットの熱電流と等しい定格電流をもつヒューズリンクを取り付ける。

ヒューズリンクの電力損失は，装置の製造業者が規定した最大値を超えてはならない。

注記試験は，標準のヒューズリンクと基本的に同じ設計で規定の電力損失をもつ“ダミー”のヒュ

ーズリンクを用いて行ってもよい。

試験に使われたヒューズリンクの詳細，すなわち，製造業者の名称及び概要，定格電流，電力損失並び

に遮断容量を試験報告書に記載する。規定のヒューズリンクを用いた形式試験は，試験に使われたヒュー

ズリンクの電力損失を超えない，組みユニットの熱電流での電力損失をもつその他のヒューズリンクの使

用をカバーするものとみなす。

8.3.3.1.1

試験用接続設備

熱電流値によって，次の試験用接続設備の一つを使用する。

a) 400 A以下の試験電流の場合

1) 接続に用いる電線は，単心で，PVCで絶縁した，表11Aに示す断面積の銅導体とする。

2) 配線は，空気中で端子間に存在する程度のスペースを設ける。

3) 単相又は多相試験について，装置の端子からその他の端子又は試験装置，中性点への配線の最短長

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

は，次による。

− 38 mm2（AWG2）以下の断面積の場合，1 m。

− 38 mm2（AWG2）を超える断面積の場合，2 m。

b) 400 Aを超え800 A以下の試験電流の場合

1) 接続に用いる電線は，単心で，PVCで絶縁した，表11Bで与えられる断面積領域の銅導体か，又は

製造業者によって推奨された第1部の表11に規定する同等の銅バーとする。

2) 1)で示した配線は，端子間に等しい程度の距離を設ける。銅バーは，つや消しの黒で塗装する。一

つの端子に複数の導体を使用するときは，束ねて互いに10 mm程度のスペースを設ける。一つの端

子に複数の銅バーを使用するときは，板厚程度の距離を設ける。示されたバーのサイズが端子に適

さないか又は利用できない場合，同等の断面積をもち，同等又はより小さな冷却領域をもつ他のバ

ーが使用できる。銅導体又はバーは，厚さ方向に分割してはならない。

3) 単相又は多相試験について，装置の端子から他の端子又は試験装置への最小配線長は2 mとし，中

性点への最短長は1.2 mに減じてもよい。

c) 800 A以上3 150 A以下の試験電流の場合第1部の8.3.3.3.4による。

d) 3 150 Aを超える試験電流の場合第1部の8.3.3.3.4による。

表11A−試験電流400 A以下の試験用銅導体

試験電流の範囲a)

導体のサイズb) c) d)

ISO断面積

mm2

AWG/MCM

JIS断面積

mm2

（直径mm）

0
8

12
15
20
25
32
50
65
85

100
115
130
150
175
200
225
250
275
300
350

12
15
20
25
32
50
65
85

100
115
130
150
175
200
225
250
275
300
350
400

1.0
1.5
2.5
2.5
4.0
6.0

10
16
25
35
35
50
50
70
95
95

120
150
185
185
240

18
16
14
12
10
10

8
6
4
3
2
1
0

000

0000

250
300
350
400
500

0.75
1.25
2(1.6)
2(1.6)
3.5(2.0)
5.5
8

14
22
38
38
60
60

100
100
100
150
150
200
200
250

注a) 試験電流値は，第1列での最初の値より大きく，その列での第2番目の値以下である。

b) 試験の便宜のため，製造業者の合意が得られた場合，示された試験電流用に規定された導体より小さな導

体を使用してもよい。

c) 上記の表は，メートル法及びAWG/MCMシステムで導体のサイズを示す。

d) 試験には，規定する三つの導体のいずれを使用してもよい。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表11B−試験電流400 Aを超え800 A以下の試験用銅導体

試験電流の範囲a)

導体のサイズb) c) d)

ISO断面積

AWG/MCM

JIS断面積

本数

サイズ

mm2

本数

サイズ

本数

サイズ

mm2

400

500

150

250

150

500

630

185

350

200

630

800

240

300

250

注a)〜d)

表11Aの注を参照。

8.3.3.2

耐電圧特性試験

耐電圧特性試験は，第1部の8.3.3.4.1によるほか，次による。

製造業者との合意の下で，装置が第1部の8.3.3.4.1 3) に従う試験のために切り離される場合は，試験報

告書には，これらの装置を明記しなければならない。

50 Vを超える動作電圧Ueをもつ断路（3.3参照）に適した装置に対しては，漏えい電流は1.1 Ueの試験

電圧の下で開路位置の接点をもつ極ごとに測定する。その漏えい電流は0.5 mAを超えてはならない。

8.3.3.3

投入遮断容量

8.3.3.3.1

試験値及び条件

中性極を備えた装置に関して，試験値及び条件は，第1部の8.3.3.5による。

試験値は，使用負荷種別によって，7.2.4.1の表3に規定する。

投入遮断操作サイクルの規定値は，基準の熱電流が400 A以上の装置を除いて，投入遮断サイクルの間

隔は，30±10秒とする。時間間隔は，製造業者と使用者の合意によって大きくしてもよいが，その旨を試

験報告書に明記する。

各投入遮断操作サイクルの間，装置は，開閉操作が完了し，電流値が安定，装置の可動部分が停止する

のに十分な時間，閉路状態に保つ必要がある。各操作サイクルの後も，回復電圧は，0.05秒間以上維持し

なければならない。

試験の便宜上，使用負荷種別AC-23A及びAC-23Bの装置については，製造業者の合意があれば，投入

遮断操作サイクルを，連続した10 Ieの投入サイクルの指定値と，それに続く8 Ieの遮断サイクルの指定値

に置き換えてもよい。

交流の場合の試験回路の力率は，第1部の8.3.4.1.3によって決定する。その値は，7.2.4.1の表3による。

直流の場合の試験回路の時定数は，第1部の8.3.4.1.4によって決定する。その値は，7.2.4.1の表3によ

る。

試験電圧及び負荷は，装置の所定の端子に加える。装置が開路の位置にあるとき，可動接点が端子の片

側に接続されたままになっている装置に対しては，この試験は，電源側及び負荷側の接続を相互に変えて

繰り返す。ただし，端子に具体的に明りょうに，負荷及び電源の表示がしてある場合には，この限りでは

ない。

試験がヒューズ組みユニットで行われる場合には，ヒューズリンクは，製造業者が推奨する，寸法及び

大きさが電気的に同等な適切な銅リンクに置き換えてもよい。

8.3.3.3.2

試験回路

試験回路は，第1部の8.3.3.5.2による。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.3.3.3.3

過渡回復電圧

過渡回復電圧は，第1部の8.3.3.5.3を使用負荷種別AC-22A，AC-22B，AC-23A，及びAC-23Bだけに適

用する。使用負荷種別DC-22A，DC-22B，DC-23A，及びDC-23Bの試験における試験回路の負荷は，製造

業者と使用者の合意があれば，規定の電流及び時定数のモータに置き換えてもよい。

8.3.3.3.4

（規定なし）

8.3.3.3.5

投入遮断容量試験における装置の動作

装置は，試験中に，操作する人を危険にさらしたり，周辺の装置に害を及ぼすことがあってはならない。

極間又は極とフレームとの間で恒久のアーク又はフラッシュオーバがあってはならない。また，検出回

路のヒューズが溶断してはならない。

装置は，機械的操作に支障があってはならない。通常の方法による開路操作を妨げるような接点の溶着

があってはならない。

8.3.3.3.6

投入遮断試験後の装置の条件

試験直後に，無負荷開閉操作において，十分に開閉できることを，証明しなければならない。

開路操作の力は，8.2.5.2及び表8の試験力を超えてはならない。

閉路操作は，ストロークいっぱいの通常のハンドル操作によって，装置の定格使用電流を流すのに十分

な程接点を接触させるとき，満足なものとみなす。

試験後，整備することなく，装置は，8.3.3.4の要求事項に適合しなければならない。

接点は，整備することなく，定格使用電流を流すに適した状態にあり，そして，8.3.3.6の温度上昇検証

に適合しなければならない。

装置が断路に適している場合には，8.3.3.5及び8.3.3.7に適合しなければならない。

8.3.3.4

耐電圧検証

8.3.3.3に従う試験の後，試験は，第1部の8.3.3.4.1 4) によって行う。

8.3.3.5

漏えい電流

この試験は，50 Vを超える定格使用電圧Ueの断路に適した装置について行う。漏えい電流は，それぞ

れの接点のすき間及びそれぞれの端子とフレーム間を検証しなければならない。

漏えい電流の値は，装置の定格使用電圧の1.1倍に等しい試験電圧で，次を超えてはならない。

− AC-20A，AC-20B，DC-20A又はDC-20Bの使用負荷種別の装置については，1極当たり0.5 mA

− その他の使用負荷種別の装置については，1極当たり2 mA

8.3.3.6

温度上昇検証（表12参照）

8.3.3.3による試験を行った後，端子及びアクセスできる部分の温度上昇は，8.3.3.1に従って検証しなけ

ればならない。ただし，利用カテゴリが指定され，その試験が試験装置の定格動作電流Ieで実施される場

合を除く。

端子及びアクセスできる部分は，表12の限度値を超えてはならない。

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表12−端子及びアクセスできる部分（部品）の温度上昇限度

部分a)

温度上昇限度

外部接続用端子

手動操作手段：
− 金属
− 非金属

25
35

接触するが手で持たない部分：
− 金属
− 非金属

40
50

通常操作では接触する必要のない部分：
− 金属
− 非金属

50
60

注a) ここに示す以外の部分の値は規定しないが，絶縁材料の近接部分に損傷が生じてはならない。

8.3.3.7

操作部機構の強度

8.2.5は，断路に適した装置に適用する。

8.3.4

試験シーケンスⅡ：操作性能能力

この試験シーケンスは，表13に規定する形式の装置に適用し，この表によって試験を行う。

これらの試験は，7.2.4.2に適合することを検証するために行う。

表13−試験シーケンスⅡ：操作性能能力

試験

箇条番号

サンプルc)

装置の形式及び試験の順序

開閉器

ヒューズ
開閉器及
びヒュー
ズ付き開
閉器

断路器

ヒューズ
付き断路
器及びヒ
ューズ断
路器

断路用
開閉器

断路用ヒ
ューズ付
き開閉器
及び断路
用ヒュー
ズ開閉器

操作性能

8.3.4.1

A,B

耐電圧検証

8.3.4.2

A,B

漏えい電流b)

8.3.4.3

A,B

−

温度上昇検証

8.3.4.4

A,B

注a) 負荷遮断操作は，断路器の種別AC-20A，AC-20B，DC-20A，及びDC-20Bには要求しない。適用可能な場

合，4.3.5.2及び4.3.5.3も参照する。

b) 試験は，Ueが50 Vを超えるものだけに要求する。

c) “A”は，最も大きい電流Ieから選択し，そして，適用可能な場合，8.3.2.1.3 d) に従った最大の温度上昇を

もつ，最も普通の設計サンプルである。

“B”は，適用可能な場合，試験する必要のある多くのUe，Icw，Icm，AC又はDC電圧定格の組合せを検

証するサンプルである。

8.3.4.1

操作性能試験

8.3.4.1.1

試験値及び条件

試験値は，使用負荷種別によって7.2.4.2，表4及び表5の規定による。

通電されているときと通電されていないときの表4の操作サイクルの間隔及び試験の順序は，試験報告

書に記載する。

各一連の投入遮断操作の間，装置は，開閉操作が完了し，電流値が確定し，装置の可動部分が動作を停

止するのに十分な時間，閉路位置にあることだけが必要である。各操作サイクルの後，回復電圧は，少な

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

くとも0.05秒間保持しなければならない。

交流に関しては，試験回路の力率は，第1部の8.3.4.1.3によって決定する。値は，7.2.4.2の表5による。

直流に関しては，試験回路の時定数は，第1部の8.3.4.1.4によって決定する。値は，7.2.4.2の表5によ

る。

8.3.4.1.2

試験回路

試験回路は，第1部の8.3.3.5.2による。

8.3.4.1.3

過渡回復電圧

過渡回復電圧を調整する必要はない。

8.3.4.1.4

開閉過電圧

検討中。

8.3.4.1.5

試験中の装置の動作

装置は，試験中に，操作する人を危険にさらしたり，周辺の装置に害を及ぼすことがあってはならない。

極間又は極とフレームとの間で恒久のアーク又はフラッシュオーバがあってはならない。また，検出回

路のヒューズが溶断してはならない。

装置は，機械的操作に支障があってはならない。通常の方法による開路操作を妨げるような接点の溶着

があってはならない。

機構及び接点のわずかな磨耗は，その装置が正しく機能している場合には，認められる。

8.3.4.1.6

試験後の装置の条件

試験直後に，無負荷開閉操作において，十分に開閉できることを，証明しなければならない。

開路操作の力は，8.2.5.2及び表8の試験力を超えてはならない。

閉路操作は，ストロークいっぱいの通常のハンドル操作によって，装置の定格使用電流を流すのに十分

な程接点を接触させるとき，満足なものとみなす。

試験後，整備することなく，装置は，8.3.4.2の要求事項に適合しなければならない。

接点は，整備することなく，定格使用電流を流すに適した状態にあり，そして，8.3.4.4の温度上昇検証

に適合しなければならない。

装置が断路に適している場合には，8.3.4.3に適合しなければならない。

8.3.4.2

耐電圧検証

耐電圧検証は，8.3.3.4による。

8.3.4.3

漏えい電流

漏えい電流は，8.3.3.5による。

8.3.4.4

温度上昇検証

温度上昇検証は，8.3.3.6による。

8.3.5

試験シーケンスⅢ：短絡性能能力

この試験シーケンスは，表14に規定する形式の装置に適用し，この表によって行う試験を含む。

定格短絡投入容量の値が製造業者の取扱説明書などに指定されておらず（8.3.5.2.1を参照），かつ，試験

シーケンスⅣ（8.3.6）を行う場合には，この試験シーケンスは，実施する必要はない。

この試験は，7.2.5に適合することを検証するために行う。

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表14−試験シーケンスⅢ：短絡性能能力

試験

箇条番号サンプルd)

装置の形式及び試験の順序

開閉器

ヒューズ開
閉器及びヒ
ューズ付き
開閉器

断路器

ヒューズ付
き断路器及
びヒューズ
断路器

断路用
開閉器

断路用ヒュ
ーズ付き開
閉器及び断
路用ヒュー
ズ開閉器

短時間耐電流

8.3.5.1

短絡投入容量a) b)

8.3.5.2

A,B

−

耐電圧検証

8.3.5.3

A,B

適用しない

漏えい電流c)

8.3.5.4

A,B

−

温度上昇検証

8.3.5.5

A,B

注a) 試験シーケンスⅢは，試験シーケンスⅣを遂行する場合，実施する必要はない。

b) 定格短絡投入容量をもたない開閉器（2.1参照）及び断路用開閉器（2.3参照）は，試験シーケンスⅣの要件を

満たさなければならない（表15を参照）。

c) 試験は，Ueが50 Vを超えるものだけに要求する。

d) “A”は，最も大きいIcw電流から選択した最も普通の設計サンプルである。

“B”は，適用可能な場合，試験する必要のある多くのUe，Icw，Icm，AC又はDC電圧定格の組合せを検証

するサンプルである。

8.3.5.1

短時間耐電流試験

8.3.5.1.1

試験値及び条件

試験値及び条件は，第1部の8.3.4.3によるほか，次による。

試験電流は，4.3.6.1に規定する定格短時間耐電流でなければならない。

8.3.5.1.2

試験回路

試験回路は，第1部の8.3.4.1.2による。

交流に関しては，試験回路の力率は，第1部の8.3.4.1.3によって決定する。

直流に関しては，試験回路の時定数は，第1部の8.3.4.1.4によって決定する。

8.3.5.1.3

試験回路の校正

試験回路の校正は，試験時供試装置を接続する端子にできる限り近くしてインピーダンスを無視しても

よい程度の校正用臨時配線にて行う。

交流に関しては，抵抗器R1及びリアクトルXは，供給電圧の下で，第1部の8.3.4.1.3に規定する力率及

び定格短時間耐電流に等しい大きさの電流を得るように調整する。

直流に関しては，抵抗器R1及びリアクトルXは，供給電圧の下で，第1部の8.3.4.1.4に規定する時定数

及び定格短時間耐電流に等しい最大電流を得るように調整する。

8.3.5.1.4

試験手順

校正用臨時配線を供試装置によって置き換え，試験電流を，装置を閉の位置にして規定の時間流す。

8.3.5.1.5

試験中の装置の動作

装置は，試験中に，操作する人を危険にさらしたり，周辺の装置に害を及ぼすことがあってはならない。

極間又は極とフレームとの間で恒久のアーク又はフラッシュオーバがあってはならない。また，検出回

路のヒューズが溶断してはならない。

装置は，機械的操作に支障があってはならない。通常の方法による開路操作を妨げるような接点の溶着

があってはならない。

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8.3.5.1.6

試験後の装置の条件

試験直後に，無負荷開閉操作において，十分に開閉できることを，証明しなければならない。

開路操作の力は，8.2.5.2及び表8の試験力を超えてはならない。

閉路操作は，ストロークいっぱいの通常のハンドル操作によって，装置の定格使用電流を流すのに十分

な程接点を接触させるとき，満足なものとみなす。

試験後，整備することなく，装置が開閉器又は断路用開閉器である場合には，表14に規定する8.3.5.2

の短絡投入容量試験に適合しなければならない。

装置が断路に適していれば，8.3.5.3の耐電圧検証に適合しなければならない。

断路器の接点は，整備することなく，定格使用電流を流すに適した状態にあり，そして，8.3.5.5の温度

上昇の検証に適合しなければならない。

8.3.5.2

短絡投入容量試験

8.3.5.2.1

試験値及び条件

試験は，いかなる整備もせずに，8.3.5.1の試験と同じ装置で行わなければならない。

試験電流は，4.3.6.2に規定するように，製造業者の取扱説明書などによって指定した大きさとする。

8.3.5.2.2

試験回路

8.3.5.1.2による。

8.3.5.2.3

試験回路の校正

試験回路の校正は，試験時供試装置を接続する端子にできるかぎり近くしてインピーダンスを無視して

もよい程度の校正用臨時配線で行う。

装置が交流定格か直流定格かによって，校正は，次のとおりに行う。

a) 交流に対して：

試験は，装置の定格周波数で行う。

推定電流は，少なくとも0.05秒間適用し，その値は，校正記録から決定した実効値とする。この値

は，1極に規定された値以上でなければならない。

すべての相の平均値は，第1部の8.3.2.2に規定する許容範囲内になければならない。

最初のサイクルの間の電流の最高ピーク時の値は，定格短絡電流のn倍未満になってはならない。n

の値は，第1部の8.3.4.1.3の表16の3欄の規定による。

b) 直流に対して：

電流は，規定した時間通電し，記録から決定したその平均値は，規定した値以上でなければならな

い。

試験場所がこれらの試験を直流で行えない場合には，製造業者と使用者との合意があり，また，例

えば，電流のピーク値が許容電流を超えないといった適切な注意を前もって払う場合，交流で行って

もよい。

交流に関しても直流に関しても同じ定格電流をもつ装置に対しては，交流試験は，直流定格につい

ても有効とみなす。

8.3.5.2.4

試験手順

校正用臨時配線を供試装置によって置き換え，装置をこれらの操作の間に約3分間の間隔で2回，装置

の短絡投入容量以上の推定ピーク電流で閉路する。その電流は，少なくとも0.05秒保持する。

閉路機構は，できる限り実際の状態に近づけて操作する。

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8.3.5.2.5

試験中の装置の動作

装置は，試験中に，操作する人を危険にさらしたり，周辺の装置に害を及ぼすことがあってはならない。

極間又は極とフレームとの間で恒久のアーク又はフラッシュオーバがあってはならない。また，検出回

路のヒューズが溶断してはならない。

装置は，機械的操作に支障があってはならない。通常の方法による開路操作を妨げるような接点の溶着

があってはならない。

8.3.5.2.6

試験後の装置の条件

試験直後に，無負荷開閉操作において，十分に開閉できることを，証明しなければならない。

開路操作の力は，8.2.5.2及び表8の試験力を超えてはならない。

閉路操作は，ストロークいっぱいの通常のハンドル操作によって，装置の定格使用電流を流すのに十分

な程接点を接触させるとき，満足なものとみなす。

試験後，整備することなく，装置は，8.3.5.3の要求事項に適合しなければならない。

接点は，整備することなく，定格使用電流を流すに適した状態にあり，そして，8.3.5.5の温度上昇検証

に適合しなければならない。

8.3.5.3

耐電圧検証

耐電圧検証は，8.3.3.4による。

8.3.5.4

漏えい電流

すべての使用負荷種別において，1極当たりの漏えい電流が2 mA以下であることを除いて，8.3.3.5によ

る。

8.3.5.5

温度上昇検証

温度上昇検証は，8.3.3.6による。

8.3.6

試験シーケンスⅣ：条件付き短絡電流

この試験シーケンスは，表15に規定する形式の装置に適用し，この表によって試験を行う。

定格条件付き短絡電流の値が製造業者によって指定されず，かつ，試験シーケンスⅢ（8.3.5参照）を実

行する場合は，この試験シーケンスを実施する必要はない。

開閉器，断路器及び断路用開閉器にとって，装置の短絡電流保護装置は，回路遮断器又はヒューズであ

り，試験中，装置の負荷側に配備する。

回路遮断器又はヒューズの形式は，製造業者の取扱説明書などによって，装置に適切なものを明示しな

ければならない。

試験に使用する保護装置の詳細，すなわち，製造業者名，形名，定格電圧，電流及び短絡遮断容量は，

試験報告書に記載する。

規定した保護装置による形式試験は，試験に使用する保護装置の形式に対する規定値を超えない推定電

流及び力率の下で，定格電圧におけるジュール積分（I2t）及びカットオフ電流をもつ，その他の保護装置

の使用をカバーするものとみなす。

試験は，7.2.5によって実証する。

8.3.6.1

回路遮断器短絡耐力

検討中。

8.3.6.2

ヒューズ保護短絡耐力

8.3.6.2.1

試験値及び条件

ヒューズリンクは，装置の使用に対し，製造業者によって適切に認められた定格最大電流及び定格遮断

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

容量のものでなければならない。

製造業者は，その試験に使用するヒューズリンク（IEC 60269シリーズ参照）を提供する。使用するヒ

ューズリンクの詳細を試験報告書に記載する。

使用する試験電圧は，1.05Ueに等しくなければならない。ここで，Ueは供試器の動作電圧とする。

試験は，次によって行う。

a) 耐力試験製造業者が表示する定格条件付き短絡電流に対応した推定電流を，閉路状態で装置に通電

する。

b) 投入試験耐力試験a) の後，表15に従うすべての装置は，新しいヒューズリンクを取り付け，定格

条件付き短絡電流を投入する。

表15−試験シーケンスⅣ：条件付き短絡電流

試験

箇条番号

サンプルc)

装置の形式及び試験の順序

開閉器

ヒューズ
開閉器及
びヒュー
ズ付き開
閉器

断路器

ヒューズ
付き断路
器及びヒ
ューズ断
路器

断路用
開閉器

断路用ヒ
ューズ付
き開閉器
及び断路
用ヒュー
ズ開閉器

ヒューズ保護短絡耐力

8.3.6.2.1 a)

A,B

ヒューズ保護短絡投入

8.3.6.2.1 b)

A,B

−

耐電圧検証

8.3.6.3

A,B

漏えい電流b)

8.3.6.4

A,B

−

温度上昇検証

8.3.6.5

A,B

注a) 試験シーケンスⅣは，試験シーケンスⅢを実行する場合，実施する必要はない（表14参照）。

b) 試験は，Ueが50 Vを超えるものだけに要求する。

c) “A”は，最も高い定格条件付き短絡電流から選択した最も普通の設計サンプル，又は，適用可能な場合，“A”

は，8.3.2.1.3 d) に従ったそれぞれの形式のサンプルである。

“B”は，適用可能な場合，試験する必要のある多くのUe，Iq，AC又はDC電圧定格の組合せを検証するサン
プルである。

8.3.6.2.2

試験回路

試験回路は，8.3.5.1.2による。

8.3.6.2.3

試験回路の校正

試験回路の校正は，8.3.5.2.3による。

8.3.6.2.4

試験手順

ヒューズ開閉器，ヒューズ断路器及び断路用ヒューズ開閉器に対して，閉路機構は，7.2.1.1によって操

作する。

校正用臨時配線は，供試装置に置き換えられ，試験電流は，8.3.6.2.1による。

回復電圧は，ヒューズによって試験電流の遮断後，少なくとも0.05秒間維持する。

8.3.6.2.5

試験中の装置の動作

試験中の装置の動作は，8.3.5.2.5による。

8.3.6.2.6

試験後の装置の条件

試験後の装置の条件は，8.3.5.2.6による。

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.3.6.3

耐電圧検証

耐電圧検証は，8.3.3.4による。

8.3.6.4

漏えい電流

漏えい電流は，8.3.5.4による。

8.3.6.5

温度上昇検証

温度上昇検証は，8.3.3.6による。

8.3.7

試験シーケンスⅤ：過負荷性能能力

この試験の順序は，表16に記載する形式の装置に適用し，表によって試験を構成する。

8.3.7.1

過負荷試験

装置は，最初に室温で条件付きの温度にする。試験電流は，1時間又は一つ以上のヒューズが切れるま

での期間，1.6Ithe又は1.6Ith（第1部の4.3.2.2を参照）である。時間が1時間未満の場合，その時間を試験

報告書に記載する。

製造業者は，その試験に使用するヒューズリンク（IEC 60269シリーズ参照）を提供する。使用するヒ

ューズリンクの詳細を試験報告書に記載する。

試験は，8.3.3.1による。ただし，温度を測定する必要はない。

ヒューズの作動又は1時間経過後，3〜5分以内に，装置をもう1回開閉操作しなければならない。装置

は，そのような操作を妨げる損傷を受けてはならない。装置の開路操作の力は，8.2.5.2及び表8の試験力

を超えてはならない。

過負荷試験の時間を測定し，試験報告書に記載する。

8.3.7.2

耐電圧検証

耐電圧検証は，8.3.3.4による。

8.3.7.3

漏えい電流

漏えい電流は，8.3.3.5による。

8.3.7.4

温度上昇検証

温度上昇検証は，8.3.3.6によるほか，次による。

8.3.7.1による過負荷試験の間に古くなったヒューズリンクを，同じ形式及び定格の新しいヒューズリン

クに入れ代える。

表16−試験シーケンスⅤ：過負荷性能能力

試験

箇条番号

サンプル

装置の形式及び試験の順序

ヒューズ開閉器及び
ヒューズ付き開閉器

ヒューズ付き断路器
及びヒューズ断路器

断路用ヒューズ付き
開閉器及び断路用ヒ
ューズ開閉器

過負荷試験

8.3.7.1

耐電圧検証

8.3.7.2

漏えい電流a)

8.3.7.3

−

温度上昇検証c)

8.3.7.4

注a) 試験は，Ueが50 Vを超えるものだけに要求する。

b) “A”は，最も高い定格条件付き短絡電流から選択した最も普通の設計サンプル，又は，適用可能な場合，“A”

は，8.3.2.1.3 d) に従ったそれぞれの形式のサンプルである。

c) 製造業者との合意によって，試験シーケンスを変更して，温度上昇検証試験を過負荷試験の後に行うことが

可能で，規定どおりにその後，耐電圧検証及び漏えい電流試験を行うことができる。

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

8.4

電磁両立性試験

電磁両立性試験は，第1部の8.4によるほか，次による。

試験の間に，次の性能基準による。

− 接点の意図的でない分離又は閉路が生じてはならない。

8.4.1

イミュニティ

8.4.1.1

電子回路を搭載しない装置

試験を必要としない（7.3.2.1を参照）。

8.4.1.2

電子回路を搭載する装置

7.3.2.2の要求事項による。これらの要求事項への適合性を検証するために表6に規定した試験を実施す

る。

8.4.2

エミッション

8.4.2.1

電子回路を搭載しない装置

試験を必要としない（7.3.3.1を参照）。

8.4.2.2

電子回路を搭載する装置

7.3.3.2の要求事項による。表7に規定する限度値は，試験によって検証する。

測定は，通常のサービス条件（箇条6参照）と一致している調査された周波数領域で高い放散を生成し，

接地条件を含む動作状態で行う。

個々の測定は，規定する再現可能な条件において実行する。

8.5

特殊試験

機械的及び／又は電気的な消耗に対する抵抗力は，8.3.4.1に詳細に示す操作性能試験によって検証する。

異常使用状態が予測されるところでは（第1部の7.2.4.3の注記も参照），次の試験が必要になるかもし

れない。

8.5.1

機械的耐久性

機械的耐久性試験（7.2.4.3及び8.1.5参照）を要求する場合は，断路に適した装置を除き，8.3.4.1の適切

な要求事項によって実施し，最大漏えい電流は，全使用負荷種別に対し，1極当たり6 mAを超えてはなら

ない。

操作サイクルの全数は，製造業者が宣言した値とする。

8.5.2

電気的耐久性

電気的耐久性試験（7.2.4.4及び8.1.5参照）を要求する場合は，断路に適した装置を除いては，8.3.4.1

の適切な要求事項に従って実施し，最大漏えい電流は，使用負荷種別AC-21A，AC-21B，AC-22A，AC-22B，

AC-23A，AC-23B，DC-21A，DC-21B，DC-22A，DC-22B，DC-23A，及びDC-23Bに対し，1極当たり6 mA

を超えてはならない。

使用負荷種別AC-20A，AC-20B，DC-20A及びDC-20Bの装置は，この試験を行わない。

操作サイクルの全数は，製造業者が宣言した値とする。

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附属書A

（規定）

1台のモータの直入開閉用装置

通常，個別のモータの直入開閉をする開閉器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニットは，この附属書

の追加要求事項に適合しなければならない。この規定は，JIS C 8201-4-1の該当する項と本質的に同じで

ある。そして，この附属書に適合する装置は，表A.1によって該当する使用負荷種別を銘板に記載しても

よい。

A.1 定格責務

標準とみなされる追加の定格責務は，次による。

A.1.1 反復責務又は間欠責務

反復責務又は間欠責務は，第1部の4.3.4.3によるほか，次による。

A.1.1.1 間欠責務の等級

時間当たりできる操作回数によって，装置を次の等級に分ける。

− 等級1 ：1時間当たり1操作サイクルまで

− 等級3 ：1時間当たり3操作サイクルまで

− 等級12 ：1時間当たり12操作サイクルまで

− 等級30 ：1時間当たり30操作サイクルまで

− 等級120 ：1時間当たり120操作サイクルまで

A.1.2 暫定的責務

暫定的責務は，第1部の4.3.4.4による。

A.2 投入遮断容量

装置を，表A.2に規定する使用負荷種別に従い，その投入遮断容量によって定義する（A.3参照）。

A.3 使用負荷種別

表A.1に規定する使用負荷種別は，この附属書の標準とみなす。そのほかのどの形式の使用負荷種別も，

製造業者と使用者との間の合意に基づかなければならない。しかし，製造業者のカタログ又は同封物に規

定されている情報は，このような合意の代わりとみなしてもよい。

各使用負荷種別は，定格使用電流及び定格使用電圧の組合せで示す電流及び電圧の値及び定格投入遮断

容量の定義で使用するその他の試験条件並びに表A.2に規定する力率又は時定数によって区分する。

それらの使用負荷種別によって定義する装置に対しては，これらの値が表A.2に規定する使用負荷種別

に直接基づいているので，定格投入遮断容量を別に設定する必要はない。

表A.2の使用負荷種別は，原則的に表A.1に規定する用途に対応している。

C 8201-3：2009

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表A.1−使用負荷種別

使用負荷種別

代表的用途

交流

AC-2

スリップリングモータ：起動，逆転制動a)，開路

AC-3

かご形モータ：起動，運転中のモータの開路

AC-4

かご形モータ：起動，逆転制動a)，寸動b)

直流

DC-3

分巻モータ：起動，逆転制動a)，寸動b)，直流モータの発電制動

DC-5

直巻モータ：起動，逆転制動a)，寸動b)，直流モータの発電制動

注記回転子回路，コンデンサ又はタングステンフィラメントランプの開閉は，受渡当事者間の特別の合意による。
注a) 逆転制動は，モータの運転中にモータの一次側接続部を逆転することによって迅速にモータを停止すること又

は逆転することを意味する。

b) 寸動（徐動）は，駆動機構の小さな動作を得るために短期間に一度又は繰返しモータを付勢することを意味す

る。

表A.2−複数個の使用負荷種別に対応する定格投入遮断容量条件

使用負荷種別

投入遮断条件

Ic/Ie

Ur/Ue

cosφ

閉路時間

s b)

開路時間

操作回数

AC-2

4.0

1.05

0.65

0.05

AC-3 e)

8.0

1.05

0.05

AC-4 e)

10.0

1.05

0.05

L/R

DC-3

4.0

1.05

2.5

0.05

50 f)

DC-5

4.0

1.05

15.0

0.05

50 f)

使用負荷種別

投入条件

I/Ie

U/Ue

cosφ

閉路時間

s b)

開路時間

操作回数

AC-3

10.0

1.05 d)

0.05

AC-4

12.0

1.05 d)

0.05

I ：投入電流。投入電流は，直流又は交流対称実効値で示される交流に対してその回路の力率に対応する非対称

電流のピーク値は，より高い値と仮定してもよい。

Ic ：直流又は交流対称実効値で示される投入及び遮断電流。
Ie ：定格使用電流
U ：供給電圧
Ur ：商用周波回復電圧又は直流回復電圧
Ue ：定格使用電圧

cosφ：試験回路の力率

L/R ：試験回路の時定数

注a) Ie≦100 Aに対してcosφ＝0.45，Ie＞100 Aに対してcosφ＝0.35

b) 時間は，再開路前に接点が正しい位置に配置する場合には，0.05秒間未満でもよい。

c) 表A.3参照

d) U/Ueに対して±20 ％の許容差は，認める。

e) 投入条件も実証しなければならないが，製造業者と合意する場合には，投入遮断試験と組み合わせてもよい。

投入電流の倍率は，I/Ieに対して規定するとおりであり，遮断電流は，Ic/Ieに対して規定するとおりでなければ
ならない。開路時間は，表A.3から選択する。

f) 一つの極性側で25回操作し，逆極性接続で25回操作する。

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表A.3−定格投入遮断容量の評価のための遮断電流Icと開路時間との関係

遮断電流Ic A

開路時間 s

Ic ≦ 100

100＜Ic ≦ 200

200＜Ic ≦ 300

300＜Ic ≦ 400

400＜Ic ≦ 600

600＜Ic ≦ 800

800＜Ic ≦ 1 000

1 000＜Ic ≦ 1 300

1 300＜Ic ≦ 1 600

1 600＜Ic

10
20
30
40
60
80

100
140
180
240

開路時間の値は，製造業者の合意がある場合には，減らしてもよい。

A.4 操作性能

操作性能は，第1部の7.2.4.2によるほか，次による。

装置は，要求される使用負荷種別と規定する操作回数に対して，表A.4に規定する通常条件で故障しな

いで電流を投入し，遮断できなければならない。

表A.4−操作性能−複数個の使用負荷種別に対応する投入及び遮断に対する操作性能条件

使用負荷種別

投入遮断条件

Ic/Ie

Ur /Ue

cosφ

閉路時間

s b)

開路時間

操作回数

AC-2

2.0

1.05

0.65

0.05

6 000

AC-3

2.0

1.05

0.05

6 000

AC-4

6.0

1.05

0.05

6 000

L/R

DC-3

2.5

1.05

2.5

0.05

6 000 d)

DC-5

2.5

1.05

7.5

0.05

6 000 d)

Ic ：投入又は遮断電流。投入電流は，直流又は交流対称実効値で示すが，実際の値は，回路の力率に対応するピ

ーク値となる。

Ie ：定格使用電流
Ur ：商用周波回復電圧又は直流回復電圧
Ue ：定格使用電圧

注a) Ie≦100 Aに対してcosφ＝0.45，Ie＞100 Aに対してcosφ＝0.35

b) 時間は，再開路前に接点が正しい位置に配置する場合には，0.05秒未満でもよい。

c) これらの開路時間は，表A.3に規定する値以下でなければならない。

d) 一つの極性側で3 000回操作し，逆極性接続で3 000回操作する。

A.5 機械的耐久性

機械的耐久性は，第1部の7.2.4.3.1によるほか，次による。

百万単位で示される無負荷操作サイクルの推奨値は，次による。

0.001，0.003，0.01，0.03，0.1，0.3及び1

機械的耐久性が製造業者によって指定していない場合には，間欠責務の等級は，操作頻度の最高値に対

応する操作頻度で8 000時間の操作に対応する最小の機械的耐久性を意味する。

C 8201-3：2009

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A.6 電気的耐久性

電気的耐久性は，第1部の7.2.4.3.2によるほか，次による。

有負荷操作回数の総数は，製造業者が宣言した値とする。

A.7 投入遮断容量の検証

試験条件は，表A.2及び表A.3による以外は，8.3.3.3を参照する。

製造業者との合意によって，A.7及びA.8の試験を同一サンプルで行うことができる。

A.8 操作性能試験

試験条件は，表A.4による以外は，8.3.4.1を参照する。

製造業者との合意によって，A.7及びA.8の試験を同一サンプルで行うことができる。

A.9 特殊試験

機械的及び／又は電気的消耗に対する耐久性は，A.8に規定する操作性能試験によって検証する。

異常の使用条件が予想される場合には（第1部の7.2.4.3の注記も参照），次の試験が必要になる場合も

ある。

A.9.1 機械的耐久性試験

A.9.1.1 供試装置の条件

装置は，通常使用時のように取り付ける。特に，電線は，通常使用時と同じように接続する。

試験中に，主回路には電圧を印加せず，電流も通電してはならない。装置は，注油を通常使用時に規定

している場合には，装置は，試験に先立ち，注油してもよい。

A.9.1.2 操作条件

装置は，通常使用時のように操作する。

A.9.1.3 試験手順

a) 試験は，間欠責務の等級に対応する操作の頻度で行う。しかし，製造業者が，装置がより高い操作頻

度を使用しても要求条件を満たすと判断した場合には，より高い頻度で行ってもよい。

b) 行う操作回数は，製造業者が指定した無負荷操作サイクル数以上でなければならない。

c) 総操作回数の各々10回目が行われた後に，次の事項は，試験を行う前に認められる。

− 分解しないで全体の装置を清掃する。

− 製造業者によって注油が通常使用時に規定している場合には，部品に注油する。

− 装置の設計でこれを行うことができる場合には，接点の移動量及び圧力を調節する。

d) 整備作業は，部品の交換を含まない。

A.9.1.4 判定条件

機械的耐久性試験の後に，装置は，室温で通常操作条件に適合しなければならない。また，電線を接続

するために使用する部品の緩みがあってはならない。

A.9.2 電気的耐久性試験

電気的消耗に対する耐久性について，慣習的に装置は，修理又は交換をしないで行うことができる，表

A.5に規定する種々の使用負荷種別に対応する有負荷操作回数によって区分される。

すべての場合には，操作サイクルの速度及び回数は，製造業者が選択する。

試験報告書に記載される値が第1部の8.3.2.2.2に規定する許容差内で規定値と異なる場合にだけ，試験

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

は，有効とみなす。

試験は，接点の交換が認められない場合を除いて，該当する場合には，A.9.1.3の試験手順を使用して

A.9.1.1及びA.9.1.2の該当する条件に基づいて，装置に行う。

試験後，装置は，8.3.3.2に規定した通常操作条件を満足し，第1部の8.3.3.4.1 4) b) に規定した定格使用

電圧Ueの2倍の試験電圧とし，最低で1 000 Vとする。

表A.5−有負荷操作回数の検証

複数個の使用負荷種別に対応する投入遮断に対する条件

使用負荷種別

定格使用電流値

投入

遮断

I/Ie

U/Ue

cosφ a)

Ic/Ie

Ur/Ue

cosφ a)

AC-2

すべての値

2.5

1.0

0.65

2.5

1.0

0.65

AC-3

Ie≦17A

6.0

1.0

0.65

1.0

0.17

0.65

Ie＞17A

6.0

1.0

0.35

1.0

0.17

0.35

AC-4

Ie≦17A

6.0

1.0

0.65

6.0

1.0

0.65

Ie＞17A

6.0

1.0

0.35

6.0

1.0

0.35

I/Ie

U/Ue

L/R b)

Ic/Ie

Ur/Ue

L/R b)

DC-3

すべての値

2.5

1.0

2.0

2.5

1.0

2.0

DC-5

すべての値

2.5

1.0

7.5

2.5

1.0

7.5

I ：投入電流。交流で，投入に対する条件は，対称実効値で示されるが，回路の力率に対応する非対称電流のピ

ーク値がより高い値と仮定してもよい。

Ic ：遮断電流
Ie ：定格使用電流
U ：供給電圧
Ur ：商用周波回復電圧又は直流回復電圧
Ue ：定格使用電圧

注a) cosφ に対する許容差：±0.05

b) L/Rに対する許容差：±15 ％

C 8201-3：2009

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附属書B

（参考）

受渡当事者間（製造業者と使用者と）で合意を必要とする項目

注記この附属書で用いる用語は，次による。

− “合意”は，非常に広い意味で使用される。

− “使用者”は，試験所を含む。

第1部の附属書Jは，次の追加項目とともに，この規格の箇条及び細分箇条に適用する。

この規格の箇条及び
細分箇条の番号

項目

4.4

7.1.6.1の注記

7.2.4.2及び表4

8.3.3.1

8.3.3.3.3

8.3.5.2.3

A.3

表A.1

A.7

A.8

コンデンサ又はタングステンフィラメントランプの開閉

インターロックのために付けられる補助接点の操作時間

操作性能の評価に対する操作速度の増加

Ith＞400 Aの装置の投入遮断容量に対する開閉サイクルの間の30±10秒を超える時間間隔

種別AC-23A及びAC-23Bに対して8Ieの同じ数の投入遮断サイクルの前の10Ieにおける投入

サイクルによる投入遮断容量の試験

使用負荷種別DC-22A，DC-22B，DC-23A，及びDC-23Bに対する投入遮断容量の検証：モー

タによる試験回路の負荷の交換

直流装置の場合には，短絡投入容量試験に対する交流試験回路の校正

表A.2に規定する使用負荷種別以外の使用負荷種別

回転子回路の開閉

投入及び遮断容量の検証

作動性能試験

C 8201-3：2009

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附属書C
（規定）

単極操作3極開閉器

C.1 一般

次の修正箇所を除き，この規格のすべての要求事項を適用する。

投入及び遮断容量，操作性能及び条件付短絡耐量の検証に対して，この規格に基づいた試験要求事項は，

同時に操作する極をもつ装置に適用する。したがって，それらは極ごとに操作できる三相開閉器に対して

は適用しない。

基本的に同一設計の3極操作開閉器が試験に合格した場合，個々に作動する3極操作素子に対するこの

附属書の要求事項を満たしているとみなす。

極ごとに作動する三相開閉器及び上述の試験に対する重要性は，次のとおりである。

− 3極は個別に作動して，互いに隣接している。

3極は一般的に互いに傍らに位置する［水平配置，図C.1 b) を参照］又は互いに下に位置する［垂

直配置，図C.1 a) を参照］ことができる。

− 極の作動シーケンスは，熟練したオペレータの判断に任されている。

− 個々の極の設計は，基本的に同一である。

供試品の姿勢は，製造業者が指定し，試験報告書に記載する。

a)−垂直配置

b)−水平配置

図C.1−代表的配置

C 8201-3：2009

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C.2 試験

単極操作3極開閉器を試験する場合，表10の関連試験シーケンスを，C.3に従って修正した次の個別試

験で適用する。

− 8.3.3.3 試験シーケンスＩの投入及び遮断容量

− 8.3.4.1 試験シーケンスⅡの作動性能

− 8.3.6.2 試験シーケンスⅣのヒューズ保護短絡耐量 b) 投入

C.3 試験シーケンス

C.3.1 投入及び遮断容量（8.3.3.3.1）及び動作性能（8.3.4.1.1）

試験1：L1及びL2を閉路し，L3に要求する投入−遮断動作サイクルを適用する。

試験2：L2を閉路，L3を開路し，L1に要求する投入−遮断動作サイクルを適用する。

すべての試験は，第1部の図5に従って，三相試験回路で行う。

C.3.2 ヒューズ保護短絡回路試験（8.3.6.2）

ヒューズ開閉器の投入試験に対して，次の試験を適用する。

L1を開路，L2を閉路し，L3に要求する投入−遮断動作サイクルを適用する。この試験は，第1部の図

11に従って，三相試験回路で行う。

C.4 試験後の装置の状態

装置は，8.3.3.3.6，8.3.4.1.6及び8.3.5.2.6の関連項に適合しなければならない。

C.5 使用指示書

製造業者は，製品資料に次の声明を含めなければならない。

これら装置は各相の開閉操作及び／又は分離が必要である電力配電システムに使用することを意図して

いるものであり，三相装置の一次回路の開閉操作に使用してはならない。

参考文献 JIS C 0617-7:1999 電気用図記号第7部：開閉装置，制御装置及び保護装置

注記対応国際規格：IEC 60617-DB:2001，Graphical symbols for diagrams (IDT)

IEC 60269 (all parts)，Low-voltage fuses

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応する国際規格との対比表

JIS C 8201-3:2009 低圧開閉装置及び制御装置−第3部：開閉器，断路器，断路用
開閉器及びヒューズ組みユニット

IEC 60947-3:1999，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 3: Switches,
disconnectors, switch-disconnectors and fuse-combination units, Amendment 1 (2001)
及びAmendment 2 (2005)

(Ⅰ)JISの規定

(Ⅱ)
国際規格
番号

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(Ⅴ)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び名称

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1.1 適用
範囲及び
目的

この規格が規定す
る内容の概要及び
その規格が適用す
る範囲

1.1

JISにほぼ同じ

変更

日本独特の非包装ヒューズを
取り付けるものは除外した。ま
た，装置に取り付ける補助スイ
ッチにJIS C 4526の規格群を
追加した。

日本の製品事情に対応し，非包装
ヒューズを取り付けるものは運用
から除くこととした。今後，存続
の可否について，別途検討する必
要がある。また，日本の製品事情
に対し，補助スイッチの規格を追
加した。

1.2 引用
規格

5 製品情
報

5.2.1 装置に表示す
る関連情報（装置を
設置した後，正面か
ら読みやすい場所
に位置する情報）

5.2.1

JISにほぼ同じ

追加

文字を用いる場合はOFF，ON
又は切，入での表示を追加し
た。また，目視で判断できるも
のには適用しないことにした。

“○”，“｜”表示が日本国内で浸
透するまでは，文字による表示も
可とした。

5.2.2 装置に表示す
る関連情報（装置を
設置した後，正面か
ら見える必要のな
い情報）

5.2.2

JISにほぼ同じ

追加

商用周波数の範囲で共用のも
のは，定格周波数の値の装置上
の表示を省略できることにし
た。

日本の電気用品安全法技術基準，
JISなどの規定実態を考慮。

-3

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 8201-3：2009

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ)JISの規定

(Ⅱ)
国際規格
番号

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(Ⅴ)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び名称

内容

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7 構造及
び性能に
関する要
求

7.1.7.2 接続容量
電線の接続容量に
関連する要求事項

−

規定なし

追加

電線の接続容量を検証すると
きの銅の円形導体断面積の標
準値として，ISOメートルと
AWG/MCMに加えてJIS C
3307の電線サイズとの近似的
関係を追加規定した。（表2A）

日本の電線のIEC規格への整合化
動向を見ながら，IEC規格にJIS
の電線サイズを追加するように働
きかける。

7.1.7.4 端子の識別
と表示
端子の識別と表示
に関連する要求事
項

−

規定なし

追加

端子表示が特定できない場合
の回路図への表示を規定した。

日本の製品事情に対応。

8 試験

8.3.3.1.1 試験用接
続設備
試験用接続設備に
関連する要求事項

8.3.3.1

JISに同じ

追加

温度上昇試験用接続電線の標
準値として，ISOメートルと
AWG/MCMに加えてJIS C
3307の電線サイズとの近似的
関係を追加規定した。（表
11A，表11B）

日本の電線のIEC規格への整合化
動向を見ながら，IEC規格にJIS
の電線サイズを追加するように働
きかける。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：［IEC 60947-3：1999，Amd 1 (2001)，Amd 2 (2005)，MOD］

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD…………… 国際規格を修正している。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。