C 8201-2-1：2011
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般······························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 引用規格 ······················································································································ 2
2 用語及び定義 ··················································································································· 5
3 種類······························································································································· 8
3.1 選択度種別による分類 ···································································································· 8
3.2 遮断の手段による分類 ···································································································· 8
3.3 構造による分類 ············································································································· 9
3.4 開閉機構の制御の方法による分類 ······················································································ 9
3.5 断路への適合性による分類······························································································· 9
3.6 保守の準備による分類 ···································································································· 9
3.7 取付方法による分類 ······································································································· 9
3.8 箱入り装置の保護等級による分類 ······················································································ 9
3.8A 電気設備規定による分類 ······························································································· 9
4 回路遮断器の特性 ············································································································· 9
4.1 特性の概要 ··················································································································· 9
4.2 回路遮断器の形式 ········································································································· 10
4.3 主回路の定格及び限界値································································································· 10
4.4 選択度種別 ·················································································································· 13
4.5 制御回路 ····················································································································· 13
4.6 補助回路 ····················································································································· 14
4.7 引外し装置 ·················································································································· 14
4.8 一体形ヒューズ（ヒューズ組込み形回路遮断器） ································································ 15
5 製品情報 ························································································································ 15
5.1 情報の種類 ·················································································································· 15
5.2 表示 ··························································································································· 16
5.3 取付け，操作及び保守に関わる指示 ·················································································· 17
6 標準使用，取付け及び輸送条件 ·························································································· 17
7 構造及び性能に関する要求事項 ·························································································· 17
8 試験······························································································································ 17
附属書1（規定）JIS C 60364建築電気設備規定対応形回路遮断器 ················································· 19
附属書2（規定）在来電気設備規定対応形回路遮断器 ································································· 57
附属書A（規定）同一回路内に接続した回路遮断器とその他の短絡保護装置との間の短絡条件での
保護協調 ···························································································································· 73
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附属書B（規定）漏電遮断器 ································································································· 81
附属書C（規定）相接地式配電システムにおける単極短絡試験シーケンス ······································ 82
附属書D（規定）空白 ·········································································································· 83
附属書E（参考）受渡当事者間（製造業者と使用者との間）で協定を必要とする項目 ······················· 84
附属書F（規定）電子式過電流保護機能を備えた回路遮断器の追加要求事項 ··································· 85
附属書G（参考）電力損失 ··································································································· 105
附属書H（規定）IT（非接地又はインピーダンス接地）システムにおける回路遮断器の
試験シーケンス ·················································································································· 107
附属書J（規定）電磁両立性（EMC） ···················································································· 109
附属書K（参考）この規格で規定する製品に関する記号の解説 ··················································· 119
附属書L（規定）過電流保護の要求事項を満足しない回路遮断器 ················································· 121
附属書M（規定）漏電継電器 ································································································ 125
附属書N（規定）電磁両立性（EMC）−JIS C 8201-2-2（漏電遮断器）及び附属書F以外の電子回路を
搭載する装置に対して追加する要求事項及び試験方法 ······························································· 126
附属書O（規定）瞬時引外し回路遮断器（ICB） ······································································ 129
附属書JA（規定）誘導電動機保護兼用回路遮断器 ···································································· 131
附属書JB（規定）単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器 ························································ 133
附属書JC（参考）電灯分電盤用協約形回路遮断器 ···································································· 138
附属書JD（参考）JISと対応国際規格との対比表 ····································································· 141
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
電機工業会（JEMA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 8201-2-1:2004は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8201の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8201-1 第1部：通則
JIS C 8201-2-1 第2-1部：回路遮断器（配線用遮断器及びその他の遮断器）
JIS C 8201-2-2 第2-2部：漏電遮断器
JIS C 8201-3 第3部：開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニット
JIS C 8201-4-1 第4-1部：接触器及びモータスタータ：電気機械式接触器及びモータスタータ
JIS C 8201-4-2 第4-2部：接触器及びモータスタータ：交流半導体モータ制御器及びスタータ
JIS C 8201-4-3 第4-3部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器
JIS C 8201-5-1 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電気機械式制御回路機器
JIS C 8201-5-2 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第2節：近接スイッチ
JIS C 8201-5-5 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第5節：機械的ラッチング機能をもつ電気的非
常停止機器
JIS C 8201-5-8 第5-8部：制御回路機器及び開閉素子−3ポジションイネーブルスイッチ
JIS C 8201-5-101 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第101節：接触器形リレー及びスタータの補
助接点
JIS C 8201-7-1 第7部：補助装置−第1節：銅導体用端子台
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日本工業規格 JIS
C 8201-2-1：2011
低圧開閉装置及び制御装置−第2-1部：回路遮断器
（配線用遮断器及びその他の遮断器）
Low-voltage switchgear and controlgear-Part 2-1: Circuit-breakers
序文
この規格は，2006年に第4版として発行されたIEC 60947-2を基とし，我が国の配電電圧及び製品の仕
様を反映するために，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JDに示す。また，附属書1，附属書2及び附属書JA〜附属書
JCは対応国際規格にはない事項である。
1
一般
通則規格であるJIS C 8201-1（以下，第1部という。）で規定する箇条は，必要がある場合，この規格に
適用する。適用する第1部の箇条，表，図及び附属書は，例えば，第1部の1.2.3，第1部の表4，第1部
の附属書Aなどのように，参照部分を表示した。
1.1
適用範囲
この規格は，定格電圧が，交流1 000 V以下又は直流1 500 V以下の回路遮断器（配線用遮断器及びその
他の遮断器）について規定する。また，ヒューズ組込み形回路遮断器に対する追加要求事項を含む。
回路遮断器の用途，構造の形態及び定格電流にかかわらずこの規格を適用する。
注記1 日本の配電電圧は，電気設備に関する技術基準を規定する省令において，低圧は交流600 V
以下，直流は750 V以下と規定している。
この規格では，電気設備規定の技術的要求事項の差異によって，性能の異なる二つの回路遮断器を，次
の附属書に分けて規定する。
附属書1：JIS C 60364建築電気設備規定対応形回路遮断器
附属書2：在来電気設備規定対応形回路遮断器
注記2 在来電気設備規定とは，電気事業法に基づく電気設備の技術基準の解釈の第1条，第2条及
び第218条の規定を除くものをいう。
なお，附属書1の回路遮断器を在来電気設備規定の回路に設置してはならず，附属書2の回路遮断器を
JIS C 60364による回路に設置してはならない。
漏電遮断器に対する要求事項は，JIS C 8201-2-2に規定する。
電子式過電流保護装置を備えた回路遮断器についての追加要求事項は，附属書Fに示す。
ITシステム用の回路遮断器に対する追加要求事項は，附属書Hに示す。
回路遮断器の電磁両立性に関する要求事項及び試験方法は，附属書Jに規定する。
過電流保護の要求事項に完全には適合しない回路遮断器は，附属書Lに規定する。
2
C 8201-2-1：2011
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回路遮断器の補助器具の電磁両立性に関する要求事項及び試験方法は，附属書Nに規定する。
誘導電動機保護兼用回路遮断器に対する追加要求事項は，附属書JAに規定する。
単相3線式回路の中性線欠相保護を備えた回路遮断器に対する追加要求事項は，附属書JBに規定する。
電灯分電盤用協約形回路遮断器に対する追加推奨事項は，附属書JCに示す。
注記3 直入れ始動器として用いる回路遮断器で，電動機の保護特性の追加要求事項を接触器及びモ
ータスタータに適用するJIS C 8201-4-1（又はIEC 60947-4-1）が規定するものは，検討中で
ある。
住宅用又は類似設備の配線設備の保護に対する配線用遮断器であって，専門の知識をもたない人が使用
するように設計した配線用遮断器に対する要求事項は，JIS C 8211に規定する。
機器保護用遮断器に対する要求事項は，JIS C 4610に規定する。
特別な用途（輸送，圧延機及び船用）に対しては，特別な又は追加の要求事項が必要となることもある。
注記4 この規格で規定する回路遮断器は，過電流又は不足電圧で自動的に引き外す装置以外のもの
であってもよい。例えば，逆電力又は逆電流のような，あらかじめ決められた状態で自動的
に引き外す装置を備えていてもよい。この規格では，そのようなあらかじめ決められている
条件での動作の検証は，取り扱わない。
この規格の目的は，次の事項について規定することである。
a) 回路遮断器の特性
b) 回路遮断器が，適合しなければならない条件
1) 標準使用状態での動作
2) 使用条件での協調（選択及びバックアップ保護）を含む過負荷時及び短絡時の動作
3) 耐電圧性能
c) a)及びb)に適合していることを検証するための試験方法
d) 機器に表示又は添付する情報
注記5 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60947-2:2006，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 2: Circuit-breakers（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
1.2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 1102-2 直動式指示電気計器 第2部：電流計及び電圧計に対する要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60051-2，Direct acting indicating analogue electrical measuring instruments and
their accessories. Part 2: Special requirements for ammeters and voltmeters（IDT）
JIS C 3307 600 Vビニル絶縁電線（IV）
JIS C 3662-3 定格電圧450/750 V以下の塩化ビニル絶縁ケーブル−第3部：固定配線用シースなしケ
ーブル
JIS C 4610 機器保護用遮断器
注記 対応国際規格：IEC 60934，Circuit-breakers for equipment (CBE)（MOD）
JIS C 8201-1 低圧開閉装置及び制御装置−第1部：通則
3
C 8201-2-1：2011
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注記 対応国際規格：IEC 60947-1: 2004，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules
（MOD）
JIS C 8201-2-2 低圧開閉装置及び制御装置−第2-2部：漏電遮断器
注記 対応国際規格：IEC 60947-2，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 2: Circuit-breakers
（MOD）
JIS C 8201-4-1 低圧開閉装置及び制御装置−第4-1部：接触器及びモータスタータ：電気機械式接触
器及びモータスタータ
注記 対応国際規格：IEC 60947-4-1:2000，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 4-1: Contactors
and motor-starters−Electromechanical contactors and motor-starters及びAmendment 1:2002
（MOD）
JIS C 8211 住宅及び類似設備用配線用遮断器
注記 対応国際規格：IEC 60898-1，Electrical accessories−Circuit-breakers for overcurrent protection for
household and similar installations−Part 1: Circuit-breakers for a.c. operation（MOD）
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気･電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記1 対応国際規格：IEC 60068-2-14:1984，Environmental testing−Part 2: Tests. Test N: Change of
temperature及びAmendment 1 (1986)
注記2 JIS C 60068-2-14:2011は，IEC 60068-2-14:2009に一致している（IDT）。
JIS C 60068-2-30:1988 環境試験方法（電気･電子）温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
注記1 対応国際規格：IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
heat, cyclic (12 h＋12 h cycle)
注記2 JIS C 60068-2-30:1988は，IEC 60068-2-30:1980に一致している（IDT）。
JIS C 60364（規格群） 建築電気設備
注記 対応国際規格：IEC 60364 (all parts)，Electrical installations of buildings（IDT）
JIS C 60364-4-41:2010 低圧電気設備−第4-41部：安全保護−感電保護
注記 対応国際規格：IEC 60364-4-41:2001，Electrical installations of buildings−Part 4-41: Protection for
safety−Protection against electric shock（IDT）
JIS C 60695-2-10:2004 耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-10:2000，Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire apparatus and common test procedure（IDT）
JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-11:2000，Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire flammability test method for end-products（IDT）
JIS C 60695-2-12:2004 耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-12:2000，Fire hazard testing−Part 2-12: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire flammability test method for materials （IDT）
JIS C 60695-2-13:2004 耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ着火性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-13:2000，Fire hazard testing−Part 2-13: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire ignitability test method for materials（IDT）
JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電
流が20 A以下の機器）
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C 8201-2-1：2011
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注記 対応国際規格：IEC 61000-3-2:2000，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−
Limits for harmonic current emissions (equipment input current≦16 A per phase)，Amendment 1
(2001)及びAmendment 2 (2004)（MOD）
JIS C 61000-4-2:1999 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試
験
注記1 対応国際規格：IEC 61000-4-2:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 2: Electrostatic discharge immunity test.Basic EMC Publication，
Amendment 1 (1998) 及びAmendment 2 (2000)
注記2 JIS C 61000-4-2:1999は，IEC 61000-4-2:1999に一致している（IDT）。
JIS C 61000-4-3:2005 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test及び
Amendment 1 (2002)（IDT）
JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
注記1 対応国際規格：IEC 61000-4-4:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test.Basic EMC
Publication，Amendment 1 (2000)及びAmendment 2 (2001)
注記2 JIS C 61000-4-4:2007は，IEC 61000-4-4:2004，Technical Corrigendum 1 (2006)及びTechnical
Corrigendum 2 (2007)に一致している（IDT）。
JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術：サージイミュニティ試験
注記1 対応国際規格：IEC 61000-4-5:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
measurement techniques−Section 5: Surge immunity test及びAmendment 1 (2000)
注記2 JIS C 61000-4-5:2009は，IEC 61000-4-5:2005に一致している（IDT）。
JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
伝導妨害に対するイミュニティ
注記1 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2003，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
及びAmendment 1 (2004)
注記2 JIS C 61000-4-6:2006は，IEC 61000-4-6:2003を変更している（MOD）。
JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
（IDT）
IEC 60050-441:1984，International Electrotechnical Vocabulary.Switchgear, controlgear and fuses及び
Amendment 1 (2000)
IEC 60755:1983，General requirements for residual current operated protective devices，Amendment 1 (1988)
及びAmendment 2 (1992)
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C 8201-2-1：2011
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IEC 61000-3-3:1994，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3: Limits−Section 3: Limitation of voltage
fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with rated current≦16 A及び
Amendment 1 (2001)
IEC 61000-4-13:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-13: Testing and measurement techniques
−Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c. power port, low frequency immunity
tests
CISPR 11:2003，Industrial，scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment−Electromagnetic
disturbance characteristics−Limits and methods of measurement及びAmendment 1 (2004)
CISPR 22:2005，Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods
of measurement及びAmendment 1 (2005)
2
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，第1部の箇条2によるほか，次による。
注記 IEC 60050-441からの参照は，括弧で示す。
2.1
回路遮断器（circuit-breaker）（IEV 441-14-20）
通常の回路条件で，電流を投入，通電及び遮断をすることができ，かつ，回路の短絡のような異常回路
条件でも，投入，規定した時間の通電及び遮断をすることができる能力をもつ機械式開閉機器。
注記1 回路遮断器には，通常，配線用遮断器，低圧遮断器（気中遮断器）などがある。
注記2 漏電遮断器に対する要求事項は，JIS C 8201-2-2に規定する。
2.1.1
フレームサイズ（frame size）
回路遮断器の一つのグループを示す用語で，回路遮断器の物理的外形寸法がある範囲の定格電流に対し
て共通であるもの。フレームサイズは，グループの最大の定格電流に相当する電流をアンペアで示す（AF
と呼ぶ場合がある。）。フレームサイズ内では，幅寸法は極数に従って変化してもよい。
注記 この定義は，標準寸法を意味するものではない。
2.1.2
構造の相違要件（construction break）
与えられたフレームサイズの回路遮断器どうしで，追加の形式試験を必要とする構造上の重要な相違
（7.1.5参照）。
2.1.2A
断路（アイソレーション）（断路機能）［isolation（isolating function）］
安全のために，あらゆる電気エネルギー源から，設備又は区域を分離することによって，設備の全て又
は区域から電源を切り離す機能。
定格インパルス耐電圧（Uimp）を宣言しない（適用しない）回路遮断器は，断路に適しているものでは
ない。
2.1.2B
越流（overshoot）
白熱電球を点灯したとき，瞬時に流れる定常状態より大きな電流。
6
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2.2
ヒューズ組込み形回路遮断器（integrally fused circuit-breaker）（IEV 441-14-22）
回路遮断器及びヒューズを一つの装置に組み込んだもので，相の導体に接続できるように回路遮断器の
それぞれの極に直列にヒューズを接続したもの。
2.3
限流形回路遮断器（current-limiting circuit-breaker）（IEV 441-14-21）
短絡電流が到達し得る最大の値にならないように，短時間で遮断する回路遮断器。
2.4
差込形回路遮断器（plug-in circuit-breaker）
遮断用の接点のほかに，回路遮断器を取外し可能にする一対の接点をもつ回路遮断器。
注記 差込形回路遮断器の中には，電源側だけ差込用端子となっており，負荷側は通常の配線用端子
になっているものがあってもよい。
2.5
引出形回路遮断器（withdrawable circuit-breaker）
遮断用の接点のほかに一対の断路用の接点をもち，特定の要求条件に応じて断路距離を確保し，引出位
置で主回路から切り離すことができる回路遮断器。
2.6
モールドケース回路遮断器（moulded-case circuit-breaker）（IEV 441-14-24）
回路遮断器の一部として必須の部品を形成するモールドの絶縁材料でできた，部品を支持する箱をもっ
た回路遮断器。通常，“配線用遮断器”という。
2.7
気中遮断器（air circuit-breaker）（IEV 441-14-27）
大気中で接点が開閉する回路遮断器。
2.8
真空遮断器（vacuum circuit-breaker）（IEV 441-14-29）
高真空状態にある容器の中で接点が開閉する回路遮断器。
2.9
ガス遮断器（gas circuit-breaker）
大気圧又は高圧の空気以外のガス中で接点が開閉する回路遮断器。
2.10
投入時電流引外し（making-current release）
操作中に，その投入電流があらかじめ設定した値を超えた場合には，意図的に時延させることなく回路
遮断器を開放する引外し。この引外しは，回路遮断器が閉状態にあるときには働かない。
2.11
短絡引外し（short-circuit release）
短絡に対して保護をする過電流引外し。
2.12
短限時短絡引外し（short-time delay short-circuit release）
短時間の時延動作の後に作動する過電流引外し（第1部の2.5.26参照）。
7
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2.13
警報スイッチ（alarm switch）
回路遮断器に附属するもので，引外し動作したときだけ作動する補助スイッチ。
2.14
投入防止用ロックアウト装置付回路遮断器（circuit-breaker with lock-out device preventing closing）
特定の状態が確立したままで，投入命令が出た場合に，各々の可動接点が閉じることを防ぐ装置を付け
た回路遮断器。
2.15
短絡遮断（投入）容量［short-circuit breaking（or making）capacity］
短絡を含む規定の条件での遮断（投入）容量。
2.15.1
限界短絡遮断容量（ultimate short-circuit breaking capacity）
遮断後に定格電流を連続して流すという回路遮断器の能力を含まない試験シーケンスに従い，規定する
条件における回路遮断器の遮断容量。
2.15.2
使用短絡遮断容量（service short-circuit breaking capacity）
遮断後に定格電流を連続して流すという回路遮断器の能力を含む試験シーケンスに従い，規定する条件
における回路遮断器の遮断容量。
2.16
開路時間（opening time）
第1部の2.5.39に，次の事項を追加して適用する。
− 直接に動作する回路遮断器の場合は，開路時間の開始時点は，回路遮断器を動作させるのに十分に大
きな電流が流れ始めた時点とする。
− 補助電源のいかなる形態でも動作する回路遮断器の場合は，開路時間の開始時点は，引外しのための
補助電源を印加するか，又は補助電源を取り除いた時点とする。
注記 回路遮断器での開路時間は，一般に引外し時間といわれているが，厳密にいえば，引外し時
間は，開路時間の開始時点から開極命令が取消しできなくなる時点までの時間を指す。
2.17
過電流保護協調（over-current protective co-ordination）
第1部の2.5.22を適用する。
2.17.1
過電流選択保護協調（over-current discrimination）（IEV 441-17-15）
第1部の2.5.23を適用する。
2.17.2
全領域選択保護協調［total discrimination（total selectivity）］
直列に二つの過電流保護装置がある場合で，下位の過電流保護装置が，上位の保護装置を動作させない
ように保護する過電流選択保護協調。
2.17.3
部分領域選択保護協調［partial discrimination（partial selectivity）］
直列に二つの過電流保護装置がある場合で，下位の過電流保護装置が，過電流の与えられたレベルまで
8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
は上位の保護装置を動作させないように保護する過電流選択保護協調。
2.17.4
選択限界電流，IS（selectivity limit current）
下位の保護装置の全遮断時間−電流特性と，上位の保護装置の溶断特性（ヒューズの場合）又は動作時
間−電流特性（回路遮断器の場合）とが交差する点での協調上の電流。
選択限界電流（図A.1参照）は，次の電流で限界値を示す。
− 直列に二つの過電流保護装置がある場合で，選択限界電流より低い電流では，上位の保護装置が動作
を開始する時間までに下位の保護装置が遮断を完了する（選択性は確保される。）。
− 直列に二つの過電流保護装置がある場合で，選択限界電流より高い電流では，上位の保護装置が動作
を開始する時間までには下位の保護装置が遮断を完了しない（選択性は確保されない。）。
2.17.5
バックアップ保護協調（back-up protection）
第1部の2.5.24を適用する。
2.17.6
テイクオーバ電流，IB（take-over current）
第1部の2.5.25を，次のように拡大する。
この規格の目的に対して，動作時間が0.05s以上のとき，直列にある二つの過電流保護装置は，第1部
の2.5.25を適用する。動作時間が0.05s未満のとき，直列にある二つの過電流保護装置は，一体とみなす
（附属書A参照）。
注記 テイクオーバ電流とは，二つの直列にある過電流保護装置の最大遮断時間−電流特性が交差す
る点における協調上の電流をいう。
2.18
回路遮断器のI2t特性（I2t characteristic of a circuit-breaker）
関連電圧で，定格短絡遮断容量に相当する最大推定電流までを，推定電流（交流対称実効値）の関数と
して遮断時間に関連するI2tの最大値で与える情報（通常は特性曲線で示す。）。
2.19
リセット時間（resetting time）
回路遮断器が過電流によって引外し動作後から再閉路可能な状態に達するまでの経過時間。
2.20
定格瞬時引外し設定電流，Ii（rated instantaneous short-circuit current setting）
意図的な時延がない引外し動作を起こす電流の定格値。
3
種類
回路遮断器を，次のように分類する。
3.1
選択度種別による分類
A又はB（4.4参照）。
3.2
遮断の手段による分類
例えば，次のとおり。
− 気中遮断
− 真空遮断
9
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− ガス遮断
3.3
構造による分類
例えば，次のとおり。
− 開放構造
− モールドケース
3.4
開閉機構の制御の方法による分類
次のとおり。
− 直接手動操作
− 間接手動操作
− 直接動力操作
− 間接動力操作
− エネルギー蓄積操作
3.5
断路への適合性による分類
次のとおり。
− 断路に適しているもの（断路用ともいう。）
− 断路に適していないもの
3.6
保守の準備による分類
次のとおり。
− 保守できるもの
− 保守できないもの
3.7
取付方法による分類
例えば，次のとおり。
− 固定形
− 差込形
− 引出形
3.8
箱入り装置の保護等級による分類
第1部の7.1.11による。
3.8A 電気設備規定による分類
− JIS C 60364規格群によって施工する建築電気設備用のもの（附属書1の回路遮断器）
− 在来電気設備規定によって施工する電気設備用のもの（附属書2の回路遮断器）
4
回路遮断器の特性
4.1
特性の概要
適用する場合，回路遮断器は，次の特性をもつ。
− 回路遮断器の形式（4.2）
− 主回路の定格及び限界値（4.3）
− 選択度種別（4.4）
− 制御回路（4.5）
− 補助回路（4.6）
− 引外し装置（4.7）
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 一体形ヒューズ（ヒューズ組込み形回路遮断器）（4.8）
4.2
回路遮断器の形式
次のように規定しなければならない。
4.2.1
極数
4.2.2
電流の種類
電流の種類（交流又は直流），交流の場合は，相数及び定格周波数。
4.3
主回路の定格及び限界値
回路遮断器の定格値は，4.3.1〜4.4に従って指定しなければならない。ただし，ここに規定する全ての定
格値を設ける必要はない。
4.3.1
定格電圧
回路遮断器は，次の定格電圧によって明確に定義する。
4.3.1.1
定格使用電圧（Ue）
第1部の4.3.1.1を，次を追加して適用する。
− 第1部の4.3.1.1の注記2 a)で取り扱う回路遮断器
Ueは，一般的に線間電圧として規定する。
注記 我が国では，電圧線及び中間線（中性線）の電圧が100 V，電圧線間の電圧が200 Vの単相3
線式配線システムがある（例 100/200 V）。
非接地又はインピーダンス接地（IT）システム用の回路遮断器は，附属書Hによる追加試験が必要
である。ただし，附属書1の線間電圧240 Vを超える回路遮断器に適用し，附属書2の回路遮断器に
は適用しない。
− 第1部の4.3.1.1の注記2 b)で取り扱う回路遮断器（電圧相接地式）
これらの回路遮断器は，附属書Cの追加試験が必要である。ただし，附属書1の線間電圧240 Vを
超える回路遮断器に適用し，附属書2の回路遮断器には適用しない。
Ueは，文字Cを先頭に付けた線間電圧で表す。
4.3.1.2
定格絶縁電圧（Ui）
第1部の4.3.1.2を適用する。
4.3.1.3
定格インパルス耐電圧（Uimp）
第1部の4.3.1.3を適用する。
4.3.2
電流
回路遮断器は，次の電流で定義する。
4.3.2.1
開放熱電流（Ith）
第1部の4.3.2.1を適用する。
4.3.2.2
閉鎖熱電流（Ithe）
第1部の4.3.2.2を適用する。
4.3.2.3
定格電流（In）
回路遮断器については，定格電流は定格連続電流（Iu）（第1部の4.3.2.4参照）である。また，定格電流
は開放熱電流（Ith）に等しい。
4.3.2.4
4極回路遮断器に対する定格電流
第1部の7.1.8を適用する。
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4.3.3
定格周波数
第1部の4.3.3を適用する。
4.3.4
定格責務
通常とみなす定格責務は，次による。
4.3.4.1
8時間責務
第1部の4.3.4.1を適用する。
4.3.4.2
連続責務
第1部の4.3.4.2を適用する。
4.3.5
短絡特性
4.3.5.1
定格短絡投入容量（Icm）
回路遮断器の定格短絡投入容量は，交流では定格周波数及び規定の力率で，直流では規定の時定数で，
定格使用電圧に対して，製造業者がその回路遮断器に指定する短絡投入容量の値である。定格短絡投入容
量は，最大推定ピーク電流として示す。
交流では，回路遮断器の定格短絡投入容量は，定格限界短絡遮断容量に表2（4.3.5.3参照）の係数nを
乗じた値以上でなければならない。
直流では，回路遮断器の定格短絡投入容量は，その定格限界短絡遮断容量以上でなければならない。
定格短絡投入容量は，回路遮断器が定格使用電圧に関連する適切な印加電圧における定格短絡容量に相
当する電流を投入できなければならないことを意味する。
4.3.5.2
定格短絡遮断容量
回路遮断器の定格短絡遮断容量は，特定の条件で定格使用電圧に対して製造業者がその回路遮断器に指
定する短絡遮断容量の値である。
定格短絡遮断容量は，回路遮断器が規定の試験電圧値に相当する商用周波回復電圧，及び次の定格短絡
容量に一致する値以下の短絡電流値を遮断できなければならないことを求めている。
− 交流では附属書1表11の力率以上（附属書1又は附属書2の8.3.2.2.4参照）
− 直流では附属書1表11の時定数以下（附属書1又は附属書2の8.3.2.2.5参照）
規定の試験電圧値［附属書1（又は附属書2）の8.3.2.2.6参照］を超える商用周波回復電圧に対しては，
短絡遮断容量は保証しない。
交流では，回路遮断器は，交流成分が一定であると仮定して，固有の直流成分の値は無視して，附属書
1表11に規定する関連力率，及びその定格短絡遮断容量に相当する推定電流を遮断できなければならない。
定格短絡遮断容量は，次による。
− 定格限界短絡遮断容量
− 定格使用短絡遮断容量
4.3.5.2.1
定格限界短絡遮断容量（Icu）
回路遮断器の定格限界短絡遮断容量は，8.3.5に規定する条件で対応する定格使用電圧に対して，製造業
者がその回路遮断器に指定する限界短絡遮断容量（2.15.1参照）の値である。回路遮断器の定格限界短絡
遮断容量は，推定遮断電流（交流の場合には，交流分の実効値）の値としてキロアンペア（kA）で示す。
4.3.5.2.2
定格使用短絡遮断容量（Ics）
回路遮断器の定格使用短絡遮断容量は，8.3.4に規定する条件で対応する定格使用電圧に対して，製造業
者がその回路遮断器に指定する使用短絡遮断容量（2.15.2参照）の値である。
回路遮断器の定格使用短絡遮断容量は，表1に従って定格限界短絡遮断容量の規定パーセントの一つに
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相当するキロアンペア（kA）の推定遮断電流値で示し，最も近い整数に切り上げる。Icsは別の表現として，
Icuに対する百分率（%）で表してもよい（例 Ics＝25 %Icu）。
代わりに，定格使用短絡遮断容量が定格短時間耐電流（4.3.5.4参照）に等しいとき，定格使用短絡遮断
容量が表1の関連最小値以上である条件で，その値をキロアンペア（kA）で表示してもよい。
Icuが選択度種別A（4.4参照）に対して200 kA，又は選択度種別Bに対して100 kAを超える場合には，
製造業者は，50 kAのIcsを指定してもよい。
表1−IcsとIcuとの間の標準比率
選択度種別Aの標準比率
（Icuの%）
選択度種別Bの標準比率
（Icuの%）
25
50
75
100
50
75
100
4.3.5.3
交流回路遮断器に対する短絡投入容量と短絡遮断容量との間の標準の関係及び関連する力率
短絡投入容量と短絡遮断容量との間の標準の関係は，表2を適用する。
表2−短絡投入容量と短絡遮断容量との間の比率n及び関連力率（交流回路遮断器に対して）
短絡遮断容量 I
kA（実効値）
力率
nに対して要求する最小値
短絡遮断容量
短絡投入容量
=
n
4.5 ≦I≦ 6
0.7
1.5
6 ＜I≦ 10
0.5
1.7
10 ＜I≦ 20
0.3
2.0
20 ＜I≦ 50
0.25
2.1
50 ＜I
0.2
2.2
注記 4.5 kAより低い遮断容量の値に対して，力率は附属書1表11
を参照。
定格短絡投入容量及び定格短絡遮断容量は，回路遮断器が7.2.1.1及び7.2.1.2に従って動作するときだけ，
有効である。
特定の要求事項に対して，製造業者は，表2に従って要求する投入容量より高い定格短絡投入容量の値
を指定してもよい。これらの定格値を検証する試験は，受渡当事者間の合意の対象となる。
4.3.5.4
定格短時間耐電流（Icw）
回路遮断器の定格短時間耐電流は，8.3.6.2に規定する試験条件で製造業者がその回路遮断器に指定する
短時間耐電流値である。
交流では，この電流値は，短時間時延動作中は一定であると仮定した，推定短絡電流の交流分の実効値
である。
定格短時間耐電流と組み合わせる短時間時延動作は，0.03 s以上とし，次の推奨値から選定する。
0.03−0.05−0.1−0.25−0.3−0.5−1（s）
定格短時間耐電流は，表3に規定する値以上とする。
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表3−定格短時間耐電流の最小値
定格電流In
A
定格短時間耐電流Icwの最小値
kA
In≦2 500
12In又は5 kAのいずれか大きい値
In＞2 500
30 kA
4.4
選択度種別
負荷側に直列にあるその他の回路遮断器に対して，意図的に時延させることで，短絡条件下における選
択性を備えることを特別に意図するか否かについては，回路遮断器の選択度種別によって区別しなければ
ならない（図A.3参照）。
二つの選択度種別に適用する試験の差異に注意しなければならない（附属書1又は附属書2の8.3.4，8.3.5，
8.3.6及び8.3.8，並びに附属書1表9又は附属書2表9を参照）。
選択度種別は，表4による。
表4−選択度種別
選択度種別
選択に対する適用
A
短絡状態で負荷側に直列にあるその他の短絡保護装置との選択性を意図しない回路遮断
器。すなわち，短絡条件での選択用の意図的な短時間時延を備えないもので，4.3.5.4に従
った定格短時間耐電流がない回路遮断器。
B
短絡状態で負荷側に直列にあるその他の短絡保護装置との選択性を意図する回路遮断器。
すなわち，短絡条件での選択用の意図的な短時間時延を備えた（可調整でもよい。）回路遮
断器。この回路遮断器は，4.3.5.4に従った定格短時間耐電流をもつ。
注記 選択性は（瞬時引外し装置が動作した場合などのように），回路遮断器の限界短
絡遮断容量までは必ずしも保証されない。少なくとも，表3に規定する値までは
保証しなければならない。
注記1 各種の定格短絡電流に関連する力率又は時定数は，附属書1表11に規定している（8.3.2.2.4及び
8.3.2.2.5参照）。
注記2 表1では，選択度種別のA及びBに対しては，Icsの最小比率についての要求が異なるので注意する。
注記3 選択度種別Aの回路遮断器が短絡状態以外の状態での選択性を得るために，表3に規定する値より
小さい短時間耐電流をもつ意図した短時間の時延をもってもよい。その場合には，試験は，指定した
短時間耐電流において行う試験シーケンスⅣ（8.3.6参照）を含む。
4.5
制御回路
4.5.1
電気制御回路
第1部の4.5.1に，次の事項を追加して適用する。
定格制御電源電圧が主回路の電圧と異なる場合には，その値を表5から選択することを推奨する。
表5−主回路の電圧と異なる場合の定格制御電源電圧の推奨値
直流
V
単相交流
V
24−48−100−110−125−200−220−250
24−48−100−110−127−200−220−230−240−415
注記 製造業者は，定格制御電源電圧の値，及びその電圧における制御回路に流れる電流値を提示す
る準備をすることが望ましい。
4.5.2
空気供給制御回路（空気式又は電気空気式）
第1部の4.5.2を適用する。
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4.6
補助回路
第1部の4.6を適用する。
4.7
引外し装置
4.7.1
形式
形式は，次による。
1) 電圧引外し
2) 過電流引外し
a) 瞬時
b) 定限時
c) 反限時
− 過電流発生以前に流れていた電流に無関係のもの
− 過電流発生以前に流れていた電流に関係あるもの（例えば，熱動引外し装置）
注記1 “過負荷引外し”という用語は，過負荷保護目的の過電流引外しを表すために用いる
（第1部の2.4.30参照）。“短絡引外し”という用語は，短絡保護目的の過電流引外し
を表すために用いる（2.11参照）。
注記2 この規格で用いる“可調整引外し装置”という用語は，交換可能な引外し装置も含む。
3) 不足電圧引外し（開路用）
4) その他の引外し
4.7.2
特性
特性は，次による。
1) 電圧引外し及び不足電圧引外し（開路用）
− 定格制御回路電圧（Uc）
− 電流の種類
− 交流の場合，定格周波数
2) 過電流引外し
− 定格電流（In）
− 電流の種類
− 交流の場合，定格周波数
− 電流の設定（又は設定範囲）
− 時間の設定（又は設定範囲）
過電流引外しの定格電流は，附属書1表7又は附属書2表7に規定する温度上昇限度値を超えないで，
8.3.2.5に規定する試験条件で通電可能な，最大電流設定に相当する電流値（交流の場合，実効値）である。
4.7.3
過電流引外しの電流設定
可調整引外し装置［4.7.1の2)の注記2参照］付きの回路遮断器に対しては，電流設定（又は可能な場合，
電流設定範囲）は，引外し装置上又はその目盛上に表示しなければならない。表示は，直接的に電流値，
又は引外し装置上に表示した電流値の倍率のいずれでもよい。
注記 定格電流の設定が調整できるものには，次の種類がある。
− 使用者によって調整できるもの
− 使用者によって調整できない，シールがあるもの
− 使用者によって調整できない，シールがないもの
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− 定格電流設定が，連続的にできるもの
− 定格電流設定が，段階的にできるもの
調整できない引外し装置付きの回路遮断器に対しては，表示は回路遮断器上にしてもよい。附属書1表
6又は附属書2表6の要求事項に適合した過負荷引外し装置の動作特性の場合は，定格電流（In）を回路遮
断器に表示する。
変流器を経由して働く間接引外し装置の場合は，経由する変流器の一次電流，又は過負荷引外しの設定
電流のいずれかで表示してよい。いずれの場合も，変流比を表示する。
その他の規定がない場合は，次による。
− 熱動引外し方式以外の過負荷引外し装置の動作は，−5 ℃〜＋40 ℃の範囲内で周囲温度と無関係とす
る。
− 熱動引外し装置については，次の基準周囲温度に対する規定値とする。製造業者は，周囲温度の変化
による影響を明示しなければならない［7.2.1.2.4 b) 参照］。
基準周囲温度は，次による。
− 附属書1の回路遮断器：30 ℃±2 ℃
− 附属書2の回路遮断器：40 ℃±2 ℃
上記と異なる基準周囲温度を用いる場合には，その影響について配慮が必要である。
4.7.4
過電流引外し装置の引外し時間の設定
過電流引外し装置の引外し時間の設定は，次による。
1) 定限時過電流引外し装置 この引外し装置の時延時間は，過電流の大きさと無関係である。引外し時
間の設定値は，時延時間が調整できない場合，回路遮断器の開路時間又は時延時間が調整できる場合
は開路時間の最大値を秒で明示しなければならない。
2) 反限時過電流引外し装置 この引外し装置の時延時間は，過電流の大きさと関係する。
時間−電流特性は，曲線の形で製造業者が提供する。これらの特性曲線は，コールド状態から電流
を流し始めて，引外し装置が動作する範囲内の電流に対して開路時間がどう変化するかを示さなけれ
ばならない。製造業者は，適切な方法でこれらの特性曲線の使用許容範囲を表示する。
これらの特性曲線は，電流設定の最大及び最小の各限界値に対して明示しなければならない。また，
与えられた電流設定に対して動作時間の設定が調整できる場合は，時間設定の最大及び最小の各限界
値を追加して明示することを推奨する。
注記1 電流を対数目盛の横軸に，時間を縦軸にしてプロットすることを推奨する。さらに，様々
な形の過電流保護協調の検討のため，JIS C 8269-1の5.6.1並びにJIS C 8269-2-1の図4（I），
図3（II）及び図4（II）の標準グラフシートに，電流値は設定電流の倍数で，時間は秒で
プロットすることを推奨する。
注記2 一般に国内では，社団法人日本電気協会で発行する保護協調グラフ用紙を用いている。
4.8
一体形ヒューズ（ヒューズ組込み形回路遮断器）
第1部の4.8を適用する。製造業者は，必要な情報を提供しなければならない。
5
製品情報
5.1
情報の種類
第1部の5.1を適用する。
さらに，製造業者は，種々のフレームサイズ（2.1.1参照）に対する代表的な電力損失に関する情報を要
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求に応じて利用できるようにしなければならない（附属書G参照）。
5.2
表示
回路遮断器は，耐久性のある方法で次の事項を表示しなければならない。
a) 次のデータを回路遮断器本体上，又は回路遮断器の銘板上に表示し，回路遮断器を設置するときよく
見え，読める場所に取り付けなければならない。
− 定格電流（In）
− 該当する場合，次の記号によって，断路機能に適していることを表示する。
− 記号又は文字を用いる場合（第1部の7.1.5.1参照），開位置表示に“○”，“OFF”又は“切”，閉位
置表示に“│”，“ON”又は“入”を付す。
注記 上記表示については，併記してもよい。
b) a)と同様に，次の事項も回路遮断器上の外面に表示しなければならない。ただし，回路遮断器を設置
したときに見える必要はない。
− 製造業者の名称又は商標
− 形式又は製造番号
− この規格に適合している場合は，JIS C 8201-2-1
− 回路遮断器の種別
附属書1又は附属書2のいずれに規定するものであるかが明確に分かる表示とする。
例 附属書1の場合，“附属書1”，“Annex 1”，“Ann 1”など。
例 附属書2の場合，“附属書2”，“Annex 2”，“Ann 2”など。
− 選択度種別（表示例 Cat.A）
− 定格使用電圧（Ue）（4.3.1.1参照。また，適用する場合，附属書Hを参照。）
− 定格インパルス耐電圧（Uimp）（附属書1の回路遮断器の場合）
− 定格周波数の値（例えば，50 Hz，50 Hz/60 Hz又は範囲），及び／又は“dc”（又は記号 ）
− 定格使用短絡遮断容量（Ics）（適用する場合）
− 定格限界短絡遮断容量（Icu）
− 選択度種別Bに対して，定格短時間耐電流（Icw）及びその短時間時延時間
− その接続が電源側及び負荷側の区別が必要な場合，電源側及び負荷側端子の別
− 該当する場合，中性極端子に文字Nを付ける。
− 適用する場合，保護接地端子に記号 を付ける（第1部の7.1.9.3参照）。
− 基準周囲温度
c) 次の事項を回路遮断器上に表示するか，又は製造業者が発行する取扱説明書，カタログなどに記載し
なければならない。
− 定格短絡投入容量（Icm）が4.3.5.1の規定値より大きい場合，定格短絡投入容量（Icm）
− 定格絶縁電圧（Ui）が最大定格使用電圧より大きい場合，定格絶縁電圧（Ui）
− 宣言している場合には，定格インパルス耐電圧（Uimp）（附属書2の回路遮断器）
− 汚損度3以外の場合には，その汚損度
− 定格電流と異なる場合，閉鎖熱電流（Ithe）
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− 適用する場合，IPコード（第1部の附属書C参照）
− 表示した定格に合った最小エンクロージャ寸法及び換気データ（ある場合）
− エンクロージャなしで使う場合の，回路遮断器と回路遮断器の接地用金属部との間の最小距離の詳
細
− 該当する場合，環境A又は環境B（J.1を適用する。）
− 実効値（r.m.s）の検出。電子式過電流保護機能を備えた回路遮断器で，適合する場合，F.4.1.1を適
用する。
− 適用電線
附属書1の回路遮断器：70 ℃ CABLE，又は70 ℃電線
附属書2の回路遮断器：60 ℃ CABLE，又は60 ℃電線
d) 回路遮断器の開閉操作機構に関する次の事項を操作機構の銘板，又は回路遮断器の銘板上のいずれか
に表示しなければならない。表示するのに十分な大きさがない場合，代わりに製造業者が発行する取
扱説明書，カタログなどに記載しなければならない。
− 投入装置（第1部の7.2.1.2参照）の定格制御回路電圧，及び交流用では定格周波数
− 電圧引外し装置（第1部の7.2.1.4参照）及び／又は不足電圧引外し装置（又は無電圧引外し）（第1
部の7.2.1.3参照）の定格制御回路電圧，並びに交流用では定格周波数
− 間接過電流引外し装置の定格電流
− 主回路と異なる場合，補助スイッチの補助接点の数及び形式，電流の種類，定格周波数（交流の場
合）並びに定格電圧
e) 端子の表示は，第1部の7.1.7.4を適用する［5.2 b) 参照］。
5.3
取付け，操作及び保守に関わる指示
第1部の5.3を適用する。
6
標準使用，取付け及び輸送条件
第1部の6.1.3.2（汚損度）に次の事項を追加して適用する。
製造業者が特に指定しない場合には，回路遮断器は，汚損度3の環境条件に設置することを意図してい
る。
7
構造及び性能に関する要求事項
附属書1又は附属書2に規定する。
8
試験
附属書1又は附属書2に規定する。
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単位 mm
a) 押しボタン式の回路遮断器の場合
b) ハンドル式の回路遮断器の場合
注a) 操作手段は，閉操作のために正常に装着した延長部品を含む。
b) シールド板の目的は，ハンドル又は押しボタンの領域以外の領域から放射物がポリエチレンシートに達するこ
とを防止するためのものである（箱入りの試験の場合には不要）。
c) シールド板及び金属スクリーンの表面は，単一の導電性の金属板として組み合わせてもよい。
d) ポリエチレンシートの裂けを未然に防ぐため，適切な固い材料で作る。
図1−短絡試験用試験配置（接続導体は示してない）
（附属書1及び附属書2の8.3.2.6.1参照）
押しボタンがONの位置
操作手段a)
ハンドルがONの位置
裏打ちd)
ポリエチレンシート
シールド板b)
金属スクリーンc)
（箱入りの試験の場合には不要）
フレーム
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附属書1
（規定）
JIS C 60364建築電気設備規定対応形回路遮断器
序文
この附属書は，JIS C 60364規格群によって施工する電気設備用の回路遮断器について規定する。
この回路遮断器の性能試験は，JIS C 3662-3で規定する絶縁電線の許容温度が70 ℃の絶縁電線
（PVC70 ℃基準絶縁電線）を基準としている。
この附属書は，箇条1〜箇条6は本文を適用するため，箇条7から規定する。
7
構造及び性能に関する要求事項
7.1
構造に関する要求事項
第1部の7.1を適用する。ただし，次のa) 及びb) の変更を行う。
a) 第1部の7.1.1.1を次の内容に置き換えて適用する。
電気的な作用によって熱的変形作用にさらされたり，機器の安全性を損なうような劣化をする絶縁
材料の部品は，異常加熱又は火災によって，有害な影響を受けてはならない。
機器としての試験は，JIS C 60695-2-10，JIS C 60695-2-11，JIS C 60695-2-12及びJIS C 60695-2-13
のグローワイヤ試験による。
主回路の通電部を保持する絶縁材料の部品は，第1部の8.2.1.1.1のグローワイヤ試験を試験温度
960 ℃で実施する。
上記で規定している以外の絶縁材料の部品は，第1部の8.2.1.1.1のグローワイヤ試験を試験温度
650 ℃で実施する。
b) 第1部の7.1.4.1を，次に置き換えて適用する。
装置の操作部は，定格絶縁電圧及び定格インパルス耐電圧に対し，充電部から絶縁する。
7.1.1
引出形回路遮断器
引出形回路遮断器の主回路の断路用接点及び補助回路（適用する場合）の断路用接点は，断路位置にお
いて，製造上の誤差，摩耗による寸法変化などについて考慮した上で，断路機能のための規定及び要求事
項に適合する断路距離をもたなければならない。
引出機構には，断路用接点の位置を明確に示す信頼性のある表示装置を取り付けなければならない。
引出機構には，回路遮断器の主接点が開の場合にだけ，断路用接点の切離し又は再接続ができるインタ
ロックを取り付けなければならない。
さらに，引出機構には，次の場合のいずれかに限り主接点が投入できるインタロックも取り付けなけれ
ばならない。
− 断路用接点が完全に閉じている場合
− 断路用接点（断路位置）の固定部と可動部との間で規定の断路距離がある場合
回路遮断器が断路位置にある場合は，断路用接点間の規定の断路距離が意図せず狭まることがないよう
にする手段を講じなければならない。
7.1.2
断路に適する回路遮断器への追加要求事項
第1部の7.1.6.1に次の“注記”を，追加して適用する。
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注記 引外し位置が表示した開路位置でない場合には，明確に分かるようにすることが望ましい。
表示した開路位置とは，接点間の規定の断路距離を保証する唯一の位置である。
性能に関する追加要求事項として，7.2.7を参照する。
7.1.3
空間距離及び沿面距離
空間距離及び沿面距離の最小値は，第1部の表13及び第1部の表15を適用する（7.2.3.3及び7.2.3.4参
照）。
7.1.4
操作する人の安全のための要求事項
手動で操作する手段の近傍からしゃく（灼）熱化した溶融物を放出するような，いかなる通路及び開口
部があってはならない。
適合性は，8.3.2.6.1 b) の条件で確認する。
7.1.5
構造の相違要件のリスト
与えられたフレームサイズの回路遮断器は，次の事項が一つでも異なる場合，構造上の相違要件がある
ものとみなす（2.1.2参照）。
− 内部の通電部分の材料，仕上げ及び寸法が異なる場合。ただし，次のa)，b)及びc)に示す変化は，相
違要件とはみなさない。
− 主接点のサイズ，材質，構成及び取付方法が異なる。
− 手動操作機構で，材質及び物性が異なる。
− モールド及び絶縁材料の材質が異なる。
− 消弧装置の材質，構造及び動作原理が異なる。
− 過電流引外し装置の基本的な設計が異なる。ただし，次のa)，b)及びc) に示す変化は，相違要件とは
みなさない。
次のような変化は，構造の相違要件とはみなさない。
a) 沿面及び空間距離を減少させない条件での端子寸法の変化。
b) 熱動引外し装置及び電磁引外し装置の場合における，可とう接続を含む電流定格を決める引外し素子
の寸法及び材料の変化。
c) 引外し装置を働かせる変流器の二次巻線の変化。
d) 本体と一体になっている操作手段に付加する外部操作装置の変化。
e) 形式名称，及び／又は単なる意匠としての造作（例えば，銘板。）の変化。
7.1.6
中性極を備えた回路遮断器の追加要求事項
第1部の7.1.8に，次の事項を追加して適用する。
適切な投入容量及び遮断容量をもつ極を中性極として使う場合，中性極を含む全ての極の動作は実質上
同時でよい。
7.2
性能に関する要求事項
7.2.1
操作条件
7.2.1.1
投入
回路遮断器がその定格短絡投入容量に対応した投入電流を安全に投入するためには，短絡投入容量を検
証する形式試験と同一速度で，かつ，同一の確実性で操作することが必須である。
7.2.1.1.1
直接手動操作による投入
直接手動操作の投入機構をもつ回路遮断器は，機械的操作条件にかかわらず，定格短絡投入容量を表示
してはならない。
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このような回路遮断器は，推定ピーク投入電流が10 kAを超える回路には使用しないほうがよい。ただ
し，直接手動操作による機構であっても，10 kAを超える推定ピーク電流を投入する回路遮断器の速度及
び確実性に関係なく，回路遮断器を安全に遮断する一体形高速動作引外し機構をもつ回路遮断器の場合は
この限りでない。この場合には，定格短絡投入容量を表示してもよい。
7.2.1.1.2
間接手動操作による投入
間接手動操作による投入機構をもつ回路遮断器は，投入操作条件にかかわらず，定格短絡投入容量を表
示してもよい。
7.2.1.1.3
直接動力操作による投入
動力操作投入機構（必要がある場合には，間接的に制御リレーを含む。）は，投入動作中測定された供給
電圧が定格制御電源電圧の85〜110 %の範囲の間で，かつ，交流では定格周波数に維持されているとき，
無負荷から定格投入容量までの間のいかなる条件下においても，回路遮断器を確実に投入できなければな
らない。
定格制御電源電圧の110 %において，無負荷時の投入操作によって回路遮断器に何らかの損傷も発生さ
せてはならない。
定格制御電源電圧の85 %において，回路遮断器のリレー又は引外し装置の動作の許容範囲内でその回路
遮断器で確立されている電流が定格投入容量に等しく，かつ，投入操作に対して最大時間限界が定められ
ていて，その最大時間限界を超えない時間内である場合，投入操作は行えなければならない。
7.2.1.1.4
間接動力操作による投入
間接動力操作による投入操作をする回路遮断器は，動力による投入条件にかかわらず，定格短絡投入容
量を表示してもよい。
投入制御部品と同様に，操作機構のエネルギー蓄積手段は，製造業者の仕様に従って操作できなければ
ならない。
7.2.1.1.5
エネルギー蓄積形の投入
この閉路機構のタイプは，無負荷から定格投入容量までの間のいかなる条件下においても，回路遮断器
に電流を確実に投入できなければならない。
回路遮断器内に蓄積エネルギーを保持している場合には，蓄積機構がエネルギーを完全に蓄積している
ことを表示する手段がなければならない。
投入制御部品と同様に操作機構のエネルギー蓄積手段は，補助電源電圧が定格制御電源電圧の85〜
110 %にあるとき，操作できなければならない。
投入操作が完全に行えるまでエネルギーの蓄積ができていない場合，可動接点は，開路位置から動いて
はならない。
エネルギー蓄積機構を手動操作する場合，操作方向を表示しなければならない。
この最後の要求事項は，間接手動操作の回路遮断器には適用しない。
7.2.1.2
開路
7.2.1.2.1
一般事項
自動開路する回路遮断器は，引外し自由でなければならない。また，受渡当事者間で合意がない限り，
投入動作が完了する前に，引外し動作のためのエネルギーを蓄積しなければならない。
7.2.1.2.2
不足電圧引外しによる開路
第1部の7.2.1.3を適用する。
7.2.1.2.3
電圧引外しによる開路
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第1部の7.2.1.4を適用する。
7.2.1.2.4
過電流引外しによる開路
過電流引外しによる開路は，次による。
a) 短絡条件での開路 短絡引外しは，短絡電流引外し設定値の全ての値に対し，引外し電流の設定値の
±20 %で回路遮断器を動作させなければならない。
短絡引外し装置の動作を上限及び下限で表示するものでは，製造業者は，カタログなどに関連情報
を明示しなければならない。
過電流保護協調（2.17参照）が必要な場合，製造業者は，次の情報（通常は曲線）を明示しなけれ
ばならない。
− 推定電流（対称実効値）の関数で表した最大カットオフ（通過）ピーク電流（第1部の2.5.19参照）
− 選択度種別Aの回路遮断器に対してのI2t特性（2.18参照），又は選択度種別Bに該当する場合には，
オーバーライド瞬時引外し付き回路遮断器（8.3.5の注記参照）に対してのI2t特性
この情報への適合性は，試験シーケンスII及び試験シーケンスIII（8.3.4及び8.3.5参照）に規定す
る関連した形式試験で確認してもよい。
注記 回路遮断器の協調特性を検証するために，短絡保護機器の組合せ試験などの，その他の形式
のデータを提供してもよい。
b) 過負荷条件での開路
1) 瞬時又は定限時動作 引外し装置は，過負荷引外し電流設定値のいずれの値に対しても設定値の±
10 %の精度で回路遮断器を動作させなければならない。
2) 反限時動作 反限時動作に対する規定値を，附属書1表6に示す。
基準周囲温度（4.7.3参照）において，電流設定値の1.05倍（第1部の2.4.37参照）の電流，すな
わち，不動作電流（第1部の2.5.30参照）を，コールド状態（すなわち，基準周囲温度の状態）か
ら引外し装置の全ての電圧極に通電したとき，回路遮断器は，規定する不動作時間（第1部の2.5.30
参照）より早く引き外してはならない。
さらに，規定する引外し時間の終了後，直ちに電流設定値の1.30倍の電流，すなわち，引外し電
流（第1部の2.5.31参照）に引き上げたとき，規定する引外し時間内に引外しを行わなければなら
ない。
注記 基準周囲温度とは，回路遮断器の時間−電流特性が基準とする周囲温度である。
附属書1表6−基準周囲温度での長限時過電流引外しの動作特性
全極負荷
引外し時間
h
不動作電流
引外し電流
電流設定値の1.05倍
電流設定値の1.30倍
2 a)
注a) Inが63 A以下の場合は，1h。
引外しが実質的に周囲温度に依存しないことを製造業者が明示する場合，附属書1表6の電流値は，製
造業者が明示する温度範囲内で，0.3 %/Kの許容差範囲内で適合しなければならない。
温度範囲の幅は，基準周囲温度のいずれの側においても，10 K以上でなければならない。
7.2.2
温度上昇
7.2.2.1
温度上昇限度
回路遮断器の，幾つかの点の温度上昇は，8.3.2.5に規定する条件で測定し，8.3.3.6に従って行う試験期
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間中に，附属書1表7に規定する限度値以下とする。端子の温度上昇は8.3.4.4及び8.3.6.3に従い，試験
期間中に附属書1表7に規定する限界値以下とする。
7.2.2.2
周囲温度
附属書1表7の温度上昇限度は，周囲温度が第1部の6.1.1に規定する限界内にあるときだけ適用する
ことができる。
7.2.2.3
主回路
過電流引外し装置を含む回路遮断器の主回路は，附属書1表7に規定する温度上昇限度を超えることな
く，熱電流（Ith又はIthe，4.3.2.1及び4.3.2.2参照）を通電できなければならない。
7.2.2.4
制御回路
回路遮断器の開閉操作に使用する制御回路素子を含む制御回路は，4.3.4に規定する定格責務を行ったと
き，また，8.3.2.5に規定する試験条件における温度上昇試験を行ったとき，附属書1表7に規定する温度
上昇限度以下とする。
この要求事項は，新品の回路遮断器で検証しなければならない。別の方法として，製造業者の自由裁量
によって，その検証を8.3.3.6の温度上昇試験中に行ってもよい。
7.2.2.5
補助回路
補助装置を含む補助回路は，8.3.2.5に従い試験を行ったとき，附属書1表7に規定する温度上昇限度を
超えることなく，熱電流を通電できなければならない。
附属書1表7−端子及び近接（アクセス）できる部分（部品）の温度上昇限度
部分（部品）の種類a)
温度上昇限度
K b)
− 外部に接続するための端子
80
− つまむ，握るなどによって手動で操作する部分
金属
25
非金属
35
− 触れることができるが，つかむことを意図したところ
ではない部分
金属
40
非金属
50
− 通常の操作をするために人が触れる必要がない部分
金属
50
非金属
60
注a) 表中に記載がない部分は，規定値はないが，隣接絶縁物に異常をもたらさない
ことが望ましい。
b) 規定する温度上昇限度は，新品の供試品に適用しないが，箇条8に規定する試
験シーケンスでの温度上昇の検証に適用する。
7.2.3
耐電圧性能
第1部の7.2.3 a) 及び7.2.3 b) を適用する。形式試験は，8.3.3.2に従って行う。全ての試験シーケンス
中，耐電圧性能の検証は，8.3.3.5に従って行う。受渡試験は，8.4.5に従って行う。
7.2.3.1
インパルス耐電圧
第1部の7.2.3.1を適用する。
7.2.3.2
主回路，補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧
商用周波試験は，次の場合に用いる。
− 固体絶縁の検証のための形式試験としての耐電圧試験
− 開閉又は短絡の形式試験後の，不具合の評価としての耐電圧性能の検証
− 受渡試験
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7.2.3.3
空間距離
第1部の7.2.3.3を適用する。
7.2.3.4
沿面距離
第1部の7.2.3.4を適用する。
7.2.3.5
固体絶縁
固体絶縁は，第1部の8.3.3.4.1の3)に従って，商用周波試験又は直流試験で検証する（直流試験の場合
の試験電圧は，検討中である。）。
この規定の目的から，半導体を組み込んだ回路は，試験中接続を分離する。
7.2.3.6
分離した回路間の間隔
第1部の7.2.3.6を適用する。
7.2.4
無負荷，通常負荷及び過負荷条件での開閉（投入及び遮断）能力
7.2.4.1
過負荷性能
この要求事項は，定格電流が630 A以下の回路遮断器に適用する。
回路遮断器は，8.3.3.4に規定する試験条件に従って，主回路の定格電流を超える電流を規定回数開閉で
きなければならない。各動作サイクルは，1回の投入操作及びそれに続く1回の遮断動作からなる。
7.2.4.2
開閉耐久性能
第1部の7.2.4.2に次の事項を追加して適用する。
回路遮断器は，次の試験を行ったとき，附属書1表8に規定する能力をもたなければならない。
− 8.3.3.3.3に規定する試験条件で，主回路を無通電としたときの開閉性能の試験
− 8.3.3.3.4に規定する試験条件で，主回路を通電したときの開閉性能の試験
各々の動作サイクルは，1回の閉動作に続き，1回の開動作（無通電での開閉性能試験）又は1回の投入
動作に続き，1回の遮断動作（通電での開閉性能試験）からなる。
附属書1表8−動作サイクルの回数
1
2
3
4
5
定格電流
Aa)
1h当たりの
動作回数b)
動作サイクルの回数
無通電
通電c)
合計
In≦ 100
120
8 500
1 500
10 000
100＜In≦ 315
120
7 000
1 000
8 000
315＜In≦ 630
60
4 000
1 000
5 000
630＜In≦2 500
20
2 500
500
3 000
2 500＜In
10
1 500
500
2 000
注a) これは，指定したフレームの大きさに対する最大定格電流を意味する。
b) 欄2は，最小動作頻度を示す。この頻度は，製造業者の同意の下で増やしてもよい。こ
の場合，使われた頻度は，その試験成績書に記載しなければならない。
c) 各々の動作サイクルの間，回路遮断器は電流が確実に流れるに十分な時間の間，閉状態
を保たねばならない。ただし，2 sを超える必要はない。
7.2.4.2A 越流性能
定格使用電圧が100 V又は100/200 Vで定格電流が50 A以下の回路遮断器で，越流性能を明示するもの
では，越流性能の検証を8.3.3.9Aに従って行う。
7.2.5
短絡条件での投入及び遮断能力
第1部の7.2.5に，次の事項を適用する。
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定格短絡投入容量は，4.3.5.1及び4.3.5.3を適用する。
定格短絡遮断容量は，4.3.5.2を適用する。
定格短時間耐電流は，4.3.5.4を適用する。
注記 製造業者は，回路遮断器の引外し特性が，回路遮断器から発生する固有の熱及び電磁力に耐え
る能力について責任を負う。
7.2.6
空白
7.2.7
断路に適する回路遮断器のための追加要求事項
第1部の7.2.7を適用し，8.3.3.2，8.3.3.5，8.3.3.9，8.3.4.3，8.3.5.3及び8.3.7.7の試験で，適合性を検証
する。
7.2.8
ヒューズ組込み形回路遮断器の特殊要求事項
注記 回路遮断器とその同一回路に取り付ける単独ヒューズとの保護協調については，7.2.9を参照。
ヒューズ組込み形回路遮断器は，定格限界短絡遮断容量までの全ての電流においてこの規格に適合しな
ければならない。特に，試験シーケンスV（8.3.7参照）の要求事項を満たさなければならない。
この回路遮断器は，製造業者が指定する選択限界電流Isを超えない過電流が発生した場合，ヒューズを
作動させることなく機能しなければならない。
この複合ユニットに定められている定格限界短絡遮断容量以下の全ての過電流に対し，（欠相を防止する
ため）一つ以上のヒューズが作動したとき，回路遮断器は遮断しなければならない。製造業者がその回路
遮断器には投入を防止するロックアウト装置（2.14参照）を取り付けていると明示する場合，溶断したヒ
ューズリンクを交換するか，又はロックアウトをリセットするまで，回路遮断器の再投入ができてはなら
ない。
7.2.9
回路遮断器とその他の短絡保護装置との保護協調
回路遮断器とその他の短絡保護装置との保護協調については，附属書Aを参照する。
7.3
電磁両立性（EMC）
要求事項及び試験方法は，附属書Jに規定する。
8
試験
8.1
試験の種類
次を適用するとともに，第1部の8.1を適用する。
8.1.1
回路遮断器の特性を検証するために，次の試験がある。
− 形式試験（8.3参照）
− 受渡試験（8.4参照）
8.1.2
形式試験には，次の試験がある。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験
箇条番号
温度上昇
8.3.2.5
引外し限界及び特性
8.3.3.1
耐電圧性能
8.3.3.2
開閉耐久性能
8.3.3.3
過負荷性能（適用する場合）
8.3.3.4
越流性能（適用する場合）
8.3.3.9A
短絡遮断容量
8.3.4及び8.3.5
短時間耐電流（適用する場合）
8.3.6
ヒューズ組込み形回路遮断器の性能
8.3.7
形式試験は，製造業者が選定する製造業者の工場，又は製造業者が選定する試験機関で行わなければな
らない。
8.1.3
受渡試験は，8.4に規定する試験によって構成する。
8.2
構造に関する要求事項に対する適合性
第1部の8.2を適用する（7.1参照）。
8.3
形式試験
各種の試験シーケンスに適用する同一の試験の繰返しを避けるために，一般試験条件を次に示す。
− 全ての試験シーケンスに適用する試験条件（8.3.2.1〜8.3.2.4）
− 温度上昇試験に適用する試験条件（8.3.2.5）
− 短絡試験に適用する試験条件（8.3.2.6）
該当する箇所において，これらの一般試験条件は，第1部を引用又は基本にしている。
それぞれの試験シーケンスは，該当の一般試験条件を引用している。これによって，相互参照の手間が
かかるが，その反面，それぞれの試験をはるかに簡素化した様式で説明することが可能となった。
“試験”という用語は，実施する全ての試験に用いる。それに対して“検証”は，“検証のための試験”
と解釈し，同一試験シーケンスの先行試験で回路遮断器が悪影響を受けた可能性を検証する場合に用いる。
特定の試験条件又は試験の検索を容易にするため，8.3.1に索引を示す。これは，最もよく用いられる用
語を用いている（関連箇条の見出しに用いられているとおりの用語とは限らない。）。
8.3.1
試験シーケンス
形式試験の試験シーケンスは，附属書1表9を適用する。
それぞれの試験シーケンスにおいて，試験は列挙した順に従って行わなければならない。
第1部の8.1.1を参照して，試験シーケンスI（8.3.3参照）の次の試験は，シーケンスから分けて別の供
試品で行ってもよい。
− 引外し限界及び特性： 試験シーケンスで8.3.3.1.3の試験は，供試品は最大電流設定だけで行い，
8.3.3.1.3 b) の時間−電流の引外し特性の検証の追加試験は必要ない。
− 耐電圧性能試験（8.3.3.2）
− 第1部の7.2.1.3の要求事項を検証するための不足電圧引外し装置の試験［8.3.3.3.2 c) 及び8.3.3.3.3］
− 第1部の7.2.1.4の要求事項を検証するための電圧引外し装置の試験［8.3.3.3.2 d) 及び8.3.3.3.3］
− 引出形回路遮断器の無通電での引出操作能力を確認するための追加試験（8.3.3.3.5）
− 越流性能の検証
Ics，Icu及びIcwの関係によって，いずれの試験シーケンスを用いるかは，附属書1表9aに示す。
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試験の索引
一般試験条件
箇条番号
回路遮断器の配置
8.3.2.1
回路遮断器の短絡試験での配置
8.3.2.6.1
周波数
8.3.2.2.3
力率
8.3.2.2.4
記録の解釈
8.3.2.6.6
回復電圧
8.3.2.2.6
短絡試験回路
8.3.2.6.2
短絡試験順序
8.3.2.6.4
温度上昇試験
8.3.2.5
時定数
8.3.2.2.5
誤差許容度
8.3.2.2.2
試験
（試験シーケンスの一覧表，附属書1表9参照）
箇条番号
耐電圧性能
8.3.3.2
耐電圧（検証）
8.3.3.5−8.3.4.3−8.3.5.3−8.3.6.5−8.3.7.3−8.3.7.7−
8.3.8.5
単極の短絡遮断試験（相接地システムに対して） 附属書C
単極の短絡遮断試験（ITシステムに対して）
附属書H
主接点位置表示
8.3.3.9
ヒューズ組込み形回路遮断器（短絡試験）
8.3.7.1−8.3.7.5−8.3.7.6
開閉耐久性能
8.3.3.3−8.3.4.2−8.3.4.4
過負荷性能
8.3.3.4
過負荷引外し（検証）
8.3.3.7−8.3.4.5−8.3.5.1−8.3.5.4−8.3.6.1−8.3.6.6−
8.3.7.4−8.3.7.8−8.3.8.1−8.3.8.7
越流性能
8.3.3.9A
定格使用短絡遮断容量
8.3.4.1−8.3.8.3
最大短時間耐電流における短絡遮断容量
8.3.6.4
定格短時間耐電流
8.3.6.2−8.3.8.2
温度上昇（検証）
8.3.3.6−8.3.4.4−8.3.6.3−8.3.7.2−8.3.8.6
引外し限界及び特性
8.3.3.1
定格限界短絡遮断容量
8.3.5.2
引出形回路遮断器（追加試験）
8.3.3.3.5
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附属書1表9−試験シーケンスの一覧表a)
試験シーケンス
適用
試験
I
一般性能特性
（8.3.3）
全ての回路遮断器
引外し限界及び特性
耐電圧性能
機械的操作及び開閉耐久性能
過負荷性能（適用する場合）
越流性能の検証（該当する場合）
耐電圧の検証
温度上昇の検証
過負荷引外しの検証
不足電圧引外し装置及び電圧引外
し装置の検証（適用する場合）
主接点位置の検証（適用する場合）
II
定格使用短絡遮断容量
（8.3.4）
全ての回路遮断器b)
定格使用短絡遮断容量
開閉能力の検証
耐電圧の検証
温度上昇の検証
過負荷引外しの検証
III
定格限界短絡遮断容量
（8.3.5）
選択度種別Aの全ての回路遮断器及びオ
ーバーライド瞬時引外しをもった選択度
種別Bの回路遮断器c) d)
過負荷引外しの検証
定格限界短絡遮断容量
耐電圧の検証
過負荷引外しの検証
IV
定格短時間耐電流
（8.3.6）
選択度種別Bの回路遮断器b)
過負荷引外しの検証
定格短時間耐電流
温度上昇の検証
最大短時間耐電流における短絡遮
断容量
耐電圧の検証
過負荷引外しの検証
V
ヒューズ組込み形
回路遮断器の性能
（8.3.7）
第1段階
ヒューズ組込み形回路遮断器
第2段階
選択限界電流における短絡
温度上昇の検証
耐電圧の検証
過負荷引外しの検証
テイクオーバ電流の1.1倍におけ
る短絡
限界短絡遮断容量における短絡
耐電圧の検証
過負荷引外しの検証
VI
組合せ試験シーケンス
（8.3.8）
選択度種別Bの回路遮断器：
Icw＝Icsの場合，試験シーケンスII及びIV
を置き換える。
Icw＝Ics＝Icuの場合，試験シーケンスII，III
及びIVを置き換える。
過負荷引外しの検証
定格短時間耐電流
定格使用短絡遮断容量
開閉能力の検証
耐電圧の検証
温度上昇の検証
過負荷引外しの検証
単極短絡試験シーケンス
（附属書C）
電圧相接地システムで用いる回路遮断器
単極短絡遮断容量（Isu）
耐電圧の検証
過負荷引外しの検証
単極短絡試験シーケンス
（附属書H）
ITシステムで用いる回路遮断器
単極短絡遮断容量（IIT）
耐電圧の検証
過負荷引外しの検証
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附属書1表9−試験シーケンスの一覧表a)（続き）
注a) 種々のシーケンスの試験及び適用に対する回路遮断器の選定は，Isu，Icu及びIcwの関係によって，附
属書1表9aを参照する。
b) 組合せ試験シーケンスを用いた場合は除く。
c) 次のいずれかの場合は除く。
− Icw＝Icsの場合（8.3.5参照）
− 組合せ試験シーケンスを適用した場合
− ヒューズ組込み形回路遮断器の場合
d) 8.3.5参照。
附属書1表9a−Ics，Icu及びIcwの関係による試験シーケンスの選定法a)
Ics，Icu及びIcwの関係
試験
シーケンス
選択度種別
A
A
B
B
ヒューズ
組込み形
ヒューズ
組込み形
ケース1
I
X
X
X
X
II
X
X
X
X
Ics≠Icu
選択度種別A
III
X
X b)
Ics≠Icu≠Icw
選択度種別B
IV
X d)
X
X
V
X
X
ケース2
I
X
X
II
X
X
Ics＝Icw≠Icu
選択度種別B
III
X b)
IV
X
X
V
X
VI（組合せ）
X c)
X c)
ケース3
I
X
X
X
X
II
X
X
X
X
Ics＝Icu
選択度種別A
III
Ics＝Icu≠Icw
選択度種別B
IV
X d)
X
X
V
X
X
ケース4
I
X
II
X
Ics＝Icu＝Icw
選択度種別B
III
IV
X
V
VI（組合せ）
X c)
注a) Ueのいずれか一つの値に対して適用する表。多数のUe定格がある場合は，この表は，各々のUe
定格に適用する。該当の欄のXは，試験シーケンスを適用することを示す。
b) Icu＞Icwの場合だけに適用する試験
c) 製造業者の同意又は自由裁量によって，この試験シーケンスは選択度種別Bの回路遮断器に適用し
てもよい。その場合は，試験シーケンスII及び試験シーケンスIVと置き換える。
d) 試験シーケンスIVは，表4の注記3に従って扱われる回路遮断器の場合だけに適用する。
8.3.2
一般試験条件
注記1 開閉過電圧の検証のための試験条件は，検討中である。
注記2 この規格の要求事項による試験は，盤に取り付けた回路遮断器に関する追加の試験の必要性
（例えば，IEC 60439規格群による試験など）を除外していない。
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8.3.2.1
一般要求事項
製造業者によるその他の合意がない限り，それぞれの試験シーケンスは，清浄で新しい状態の回路遮断
器の供試品（又は供試品のセット）で行う。
それぞれの試験シーケンスで試験する供試品の数及び試験条件（例えば，過負荷引外しの設定，端子の
接続）を，附属書1表10に示す。
必要がある場合，追加情報を関連の箇条に示す。
その他に規定のない限り，試験は，与えられたフレームサイズの最大定格電流の回路遮断器で行う。そ
の場合，そのフレームサイズの全ての定格電流を網羅しているとみなす。
そのフレームサイズの中で一つ以上の構造の相違条件（2.1.2及び7.1.5参照）がある場合，附属書1表
10の注h)に従って，追加の供試品を試験しなければならない。
その他に規定がない限り，全ての試験に対して，短絡引外し装置は，最大に設定（時間及び電流）する。
試験する回路遮断器は，基本的な部分において，代表する形式の設計に一致していなければならない。
その他に規定がない限り，試験は同種の電流で実施し，交流の場合には，定格周波数と同一の周波数及
び同一の相数とする。
機構を電気的に制御している場合は，7.2.1.1.3に規定する最低電圧で供給する。さらに，電気的に制御
する機構は，開閉装置を備えた回路遮断器の制御回路を介して電圧を加える。回路遮断器を上記の条件で
操作したとき，無負荷において正確に動作することを検証する。
回路遮断器は，回路遮断器自体の支持物又はこれと同等の支持物に，強固に取り付ける。
回路遮断器は，開放大気中で試験を行う。
指定した個別のエンクロージャに入れて用いることができる回路遮断器を大気中で試験した場合は，新
しい供試品を用い，製造業者が指定するエンクロージャの最小のものに入れて，最大のUeで，かつ，その
Ueに対応するIcuで，引外し装置の設定は最大で，8.3.5に従った追加試験を行わなければならない［附属
書1表10の注a)参照］。
エンクロージャの寸法を含めた，この試験の詳細を試験成績書に記載しなければならない。
注記 個別のエンクロージャとは，1個の回路遮断器だけを入れるように設計した寸法のエンクロー
ジャをいう。
ただし，指定した個別のエンクロージャに入れて用いることができる回路遮断器を，製造業者が指定し
たエンクロージャの最小のものに入れて試験する場合で，そのエンクロージャが裸金属で作られ，かつ，
いずれの絶縁も施されていない場合は，開放大気中での試験は必要ない。エンクロージャの寸法を含む詳
細を，試験成績書に記載しなければならない。
開放大気中の試験のうち，過負荷（8.3.3.4），短絡（8.3.4.1，8.3.5.2，8.3.6.4，8.3.7.1，8.3.7.5，8.3.7.6及
び8.3.8.3）及び短時間耐電流（適用する場合）（8.3.6.2及び8.3.8.2）に関する試験では，製造業者の取扱
説明書に従って回路遮断器の全ての側面に金属スクリーンを配置する。
金属スクリーンへの回路遮断器からの距離を含めて，その詳細を試験成績書に記載しなければならない。
金属スクリーンの特性は，次による。
− 構造 金網，孔あき金属板又はエキスパンドメタル
− 孔の面積の全体の面積に対する割合 0.45〜0.65
− 孔の寸法 30 mm2以下
− 仕上げ めっきなし又は電導性のめっき
− 抵抗 放出されたアークが届く金属スクリーン上の最も遠い点から測定したときの抵抗値を，ヒュー
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ズエレメントの回路に流れる推定事故電流の計算時に含める［第1部の8.3.4.1.2 d) 参照］。
端子ねじの締付けトルクは，製造業者の取扱説明書を適用する。又はそのような取扱説明書がない場合
は，第1部の表4を適用する。
保守又は部品の交換は，認められない。
試験の都合で，試験を厳しくすること（例えば，試験期間を短縮するために，より高い操作頻度を採用
する。）が有用であることが明らかであっても，製造業者の同意なしには行ってはならない。
相接地方式に用いられる多極回路遮断器の単極の試験は，附属書Cを参照する。
非接地又はインピーダンス接地（IT）方式に対する追加試験については，附属書Hを参照する。
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附属書1表10−供試品の数及び試験条件
試験
シーケンス
表示するUe
定格の数
端子表示
電源
又は負荷
供試品
の数
供試品
の番号
電流設定a)
試験電圧
試験電流
温度
上昇
検証
注
1
2
多数
有
無
最小 最大
相応 最大
I
X
X
X
X
X
1
1
X
Ue max
8.3.3参照
X
h) j)
II
（Ics）
及び
VI
（組合せ）
X
X
2
1
X
Ue
X
X
h) i) j)
2
X
Ue
X
b)
X
X
3
1
X
Ue
X
X
h) i) j)
2
X
Ue
X
b)
3
X
Ue
X
X
c) j)
X
X
X
3
1
X
Ue max相応
X
X
h) i) j)
2
X
Ue max相応
X
b)
3
X
Ue max
X
X
d) j)
X
X
X
4
1
X
Ue max相応
X
X
h) i) j)
2
X
Ue max相応
X
b)
3
X
Ue 中間
X
X
f) j)
4
X
Ue max
X
X
d) j)
III
（Icu）
X
X
2
1
X
Ue
X
h)
2
X
Ue
X
b)
X
X
3
1
X
Ue
X
h)
2
X
Ue
X
b)
3
X
Ue
X
c)
X
X
X
3
1
X
Ue max相応
X
h)
2
X
Ue max相応
X
b)
3
X
Ue max
X
d)
X
X
X
4
1
X
Ue max相応
X
h)
2
X
Ue max相応
X
b)
3
X
Ue 中間
X
f)
4
X
Ue max
X
d)
IV（Icw）
試験シーケンスIIIと同じ
e)
V
（Icu）
X
X
X
X
X
2
1
X
Ue max
X
X
g) h) j)
2
X
Ue max
X
b)
単極
（附属書C）
（Isu）
X
X
X
X
X
2
1
X
Ue max
Isu
h)
2
X
Ue max
Isu
−
単極
（附属書H）
（IIT）
X
X
X
X
X
1
X
Ue max
IIT
h)
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附属書1表10−供試品の数及び試験条件（続き）
注記 相応：試験電圧に対応する電流
Ue max相応：試験電流に対応するUeの最大値を選定する。
表中の“X”は，適用することを示す。
注a) 最小は，指定したフレームサイズの定格電流Inの最小値をいう。可調整式過負荷引外し装置の場合には，定格
電流Inの最小値の最小設定値をいう。最大は，指定したフレームサイズの定格電流Inの最大値をいう。
b) 次の場合，供試品は必要としない。
− 指定したフレームサイズにおいて可調整でない単一の電流設定をもつ回路遮断器
− 電圧引外しだけを装備した回路遮断器（すなわち，過電流引外し装置がないもの）
− 電子的手段によってだけ指定されたフレームサイズの定格電流が調整可能な電子式過電流保護付き回路遮断
器（すなわち，電流検出器の交換がないもの）
c) 逆接続
d) 端子に表示がない場合，逆接続で行う。
e) 選択度種別Bの回路遮断器に適用。また，表4の注記3でカバーする選択度種別Aの回路遮断器にも適用。
f) 試験機関と製造業者との間の合意による。
g) 端子に表示がない場合は，追加の供試品で，逆接続で試験しなければならない。
h) そのフレームサイズの中に一つ以上の構造の相違要件（2.1.2及び7.1.5参照）がある場合には，更なる供試品
を，供試品1に適用した試験条件において，各構造に対応する最大定格電流ごとに試験を行う。
i) 注h)の要求は，組合せシーケンスにだけ適用する。
j) 外部通電部品（例えば，交換可能な端子又は引出し接続クレドル）の変更で定格電流Inの値が変わる遮断器に
ついては，この構造の最小及び最大の定格電流でシーケンスの全ての試験を行わなければならない。さらに，
シーケンスの最後で，最大の定格電流の供試品で各種外部通電部品で温度上昇の検証を行わなければならない。
8.3.2.2
試験値
8.3.2.2.1
試験値の数値
第1部の8.3.2.2.1を適用する。
8.3.2.2.2
試験値の誤差許容度
第1部の8.3.2.2.2を適用する。
8.3.2.2.3
交流の試験回路の周波数
全ての試験は，回路遮断器の定格周波数で行わなければならない。全ての短絡試験に対して，定格短絡
遮断容量が実質的に周波数に左右される場合には，周波数の許容差は±5 %とする。
製造業者が，定格短絡遮断容量は実質的に周波数にほとんど左右されないと明示する場合でも，周波数
の許容差は±25 %とする。
8.3.2.2.4
試験回路の力率
第1部の表16をこの規格の附属書1表11に置き換えて，第1部の8.3.4.1.3を適用する。
附属書1表11−試験電流に対する力率及び時定数
試験電流 I
kA
力率
時定数
ms
短絡
開閉耐久性能
過負荷
短絡
開閉耐久性能
過負荷
I≦ 3
0.9
0.8
0.5
5
2
2.5
3 ＜I≦ 4.5
0.8
4.5 ＜I≦ 6
0.7
6 ＜I≦ 10
0.5
10 ＜I≦ 20
0.3
10
20 ＜I≦ 50
0.25
15
50 ＜I
0.2
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.2.2.5
試験回路の時定数
第1部の表16を，この規格の附属書1表11に置き換えて，第1部の8.3.4.1.4を適用する。
8.3.2.2.6
商用周波回復電圧
第1部の8.3.2.2.3 a) を適用する。
8.3.2.3
試験結果の評価
試験後の回路遮断器の状態は，各シーケンスで適用する検証で確認する。
適用する各試験シーケンスの要求事項に適合する場合に，回路遮断器はこの規格に適合しているものと
みなす。
外郭は，破裂してはならない。ただし，微少なひび（ヘアークラック）は許容する。
注記 微少なひび（ヘアークラック）は，非常に大きな事故電流を遮断したとき，アークによる熱ス
トレス又は高いガス圧による結果として起こるもので，表面に現れる性質のものである。した
がって，装置の絶縁物製の外郭の厚さの全てにわたって延びるものは，微少なひび（ヘアーク
ラック）とはいえない。
8.3.2.4
試験成績書
第1部の8.3.2.4を適用する。
8.3.2.5
温度上昇試験の試験条件
回路遮断器は，7.2.2に適合しなければならない。
第1部の8.3.3.3に次の事項を追加して適用する。ただし，第1部の8.3.3.3.6は除く。
回路遮断器は，8.3.2.1に従って取り付ける。
不足電圧引外し装置のコイル（該当する場合）は，定格制御電源電圧の最大値を印加する。
4極回路遮断器は，過電流引外しを備えた3極について先に試験を行う。定格電流63 A以下の回路遮断
器の場合，4番目の極とこれに隣接する極とに試験電流を流す追加の試験を行う。この値を超える定格電
流の場合には，受渡当事者間の合意に基づく方法で試験を行う。
8.3.2.6
短絡試験の試験条件
8.3.2.6.1
一般的要求事項
注記1 注記3は，b)の新しい要求に基づいての不必要な再試験を避けるためのものである。
第1部の8.3.4.1.1は，次のように拡大する。
a) 回路遮断器は，8.3.2.1に従って取り付ける。
b) 手動操作ハンドルがいかなる位置にあっても，消弧装置の領域へ達するような，直径が0.26 mmのピ
アノ線を差し込める隙間が手動操作ハンドルの周囲にないことを証明することができない場合は，次
の試験に適合しなければならない。
開動作だけに対して，図1に規定する位置に固定し，枠に適切に広げて取り付けた，厚さが0.05 mm
±0.01 mmで，大きさが100 mm×100 mmのきれいな低密度ポリエチレンシートを，次のいずれかの
位置から10 mmのところに置く。
− 手動閉路ハンドルが回路遮断器の外郭より外側にある場合には，手動閉路ハンドルの最大の突起か
ら。
− 手動閉路ハンドルが回路遮断器の外郭より内側にある場合には，外郭から。
ポリエチレンシートは，次の物性値をもたなければならない。
− 23 ℃での密度：
0.92 g/cm3±0.05 g/cm3
− 融点：110 ℃〜120 ℃
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ポリエチレンシートの回路遮断器と逆の側に，短絡試験中の衝撃波によるポリエチレンシートの裂
けを未然に防ぐために，適切な裏打ちを施す（図1参照）。
個別のエンクロージャ内での試験以外の試験に対しては，絶縁材料又は金属から構成したシールド
を金属スクリーンとポリエチレンシートとの間に置く（図1参照）。
注記2 この試験は，O操作だけに適用する。その理由として，CO操作は，配置が困難になる
こと，及びO操作は，CO操作と厳しさが同等と認められているからである（8.3.2.6.4
参照）。
注記3 この細別b)に適合していることを立証するための新しい一連の短絡試験のシーケンスを
行う必要性をなくすために，製造業者の同意の下で，適用する各試験シーケンスに対し
て各々のO操作によってこの細別b)を検証することを認める。
なお，このポリエチレンシートは，次のさらしかなきんで代用してもよい。さらしかなきんは，密
度が25.4 mmにつき，たて72本±4本，よこ69本±4本，30番手のたて糸及び36番手のよこ糸を用
いたのり付けをしない平織の綿布とする。
c) 回路遮断器は，試験中，できるだけ実使用状態に近い状態で操作しなければならない。
直接動力操作による回路遮断器は，試験中，その定格値の85 %の制御源（電圧又は圧力）を用いて
投入しなければならない。
間接動力操作による回路遮断器は，試験中，その操作機構に製造業者が指定する最大値でエネルギ
ーを蓄積して投入しなければならない。
エネルギー蓄積形の回路遮断器は，試験中，その操作機構に補助電源の定格電圧の85 %でエネルギ
ーを蓄積して投入しなければならない。
d) 可調整の過電流引外し装置を備えた回路遮断器は，これらの引外しの設定は，各試験シーケンスの指
定による。
過電流引外し装置がないもので，電圧引外し装置を備えた回路遮断器では，この引外し装置は，短
絡の開始時点より以降，かつ，短絡の開始後10 ms以下の時間で，その引外し装置の定格制御電源電
圧（7.2.1.2.3参照）の70 %に等しい電圧を印加しなければならない。
e) これらの試験のために，試験回路の電源側は，製造業者が表示する回路遮断器の該当端子に接続しな
ければならない。そのような表示がない場合は，この試験の接続は，附属書1表10に規定するとおり
でなければならない。
8.3.2.6.2
試験回路
第1部の8.3.4.1.2を適用する。
8.3.2.6.3
試験回路の校正
第1部の8.3.4.1.5を適用する。
8.3.2.6.4
試験方法
第1部の8.3.4.1.6に次の事項を追加して適用する。
8.3.2.6.3による試験回路の校正のための接続は，試験品の回路遮断器及びその接続電線と置き換える。
短絡条件での性能に関する試験は，附属書1表9の試験シーケンスに従って行う（8.3.1参照）。
定格電流が630 A以下の回路遮断器は，その定格電流に対応する断面積（第1部の8.3.3.3.4の表9及び
表10参照）をもち，長さが75 cmの電線を次のように用いる。
− 電源側：50 cm
− 負荷側：25 cm
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操作シーケンスは，8.3.4.1，8.3.5.2，8.3.6.4及び8.3.7.6に規定する各試験シーケンスに従って行う。
4極回路遮断器は，附属書1表10に示すシーケンスに加え，1台以上の新しい供試品を用いて，N極と
隣接する極との間に，第1部の図12に示す回路でUe/√3の電圧を印加して，シーケンスIII及びIV，又は
IV及びVの試験を行う。試験電流は，受渡当事者間の合意によるものとし，さらに，Icu又はIcwの60 %
以上としなければならない。
製造業者の要求によって，これらの追加試験は，次の事項について関連する試験シーケンスにおいて同
一供試品で行ってもよい。
− 三つの電圧極について。
− N極とその隣接極とについて。
動作シーケンスを定義するために，次の記号を用いる。
Oは，遮断動作を示す。
COは，投入動作に続いて開路時間後に遮断する動作を示す。
tは，二つの連続した短絡動作の時間間隔で，回路遮断器のリセット時間（2.19参照）である。tは，で
きるだけ短くする。ただし，3 min以上でなければならない。tの実際の値は，試験成績書に記載しなけれ
ばならない。
最大のリセット時間は15 min，又は製造業者が指定するこれより長い時間とする。ただし，1 h以下と
する。回路遮断器は，その間に置き換えてはならない。リセット時間中に回路遮断器を再度閉路する試み
は，1 min以上の間隔を空けなければならない。
これらの試験でのI2t（第1部の2.5.18参照）の最大値は，試験成績書に記載してもよい［7.2.1.2.4 a) 参
照］。
注記 このとき記録したI2tの最大値は，規定する条件下で起こり得る最大値でなくてもよい。最大値
を決定することが必要な場合は，追加試験が必要である。
8.3.2.6.5
短絡投入及び遮断試験における回路遮断器の動作
第1部の8.3.4.1.7を適用する。
8.3.2.6.6
記録の解釈
第1部の8.3.4.1.8を適用する。
8.3.2.6.7
短絡試験後の検証
短絡試験後の検証は，次による。
a) 8.3.4.1，8.3.5.2，8.3.6.4，8.3.7.1，8.3.7.6及び8.3.8.3の短絡回路投入及び遮断容量試験の開動作後，ポ
リエチレンシートは，拡大鏡なしで目に見える孔があってはならない。また，さらしかなきんの場合
は，着火してはならない。
注記 0.26 mmの径より小さい孔は，無視することができる。
b) 短絡試験後，回路遮断器は，適用する各試験シーケンスに規定する検証に適合しなければならない。
8.3.3
試験シーケンスI：一般性能特性
試験シーケンスIは，全ての回路遮断器に適用し，次の試験によって構成する。
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試験
箇条番号
引外し限界及び特性
8.3.3.1
耐電圧性能
8.3.3.2
機械的操作及び開閉耐久性能
8.3.3.3
過負荷性能（適用する場合）
8.3.3.4
越流性能の検証（該当する場合）
8.3.3.9A
耐電圧の検証
8.3.3.5
温度上昇の検証
8.3.3.6
過負荷引外しの検証
8.3.3.7
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の検証（該当する場合）
8.3.3.8
主接点位置の検証（適用する場合）
8.3.3.9
供試品の台数，及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。
8.3.1を参照して，試験はシーケンスを省略したり，供試品を分けて行ってもよい。
8.3.3.1
引外し限界及び特性
第1部の8.3.3.2に次の事項を拡大して適用する。
8.3.3.1.1
一般事項
周囲温度は，温度上昇試験（8.3.2.5参照）のとき測定する。
過電流引外し装置が通常，回路遮断器の一部として組み込んである場合は，回路遮断器の内部にある状
態で検証する。
分離した引外し装置は，ほぼ実使用条件と同様に取り付ける。回路遮断器本体は，8.3.2.1に従って取り
付ける。試験中の装置は，外部からの過度の加熱又は冷却がないようにする。
分離した引外し装置の接続又は回路遮断器本体の接続は，実使用と同様に，定格電流（In）に対応する
断面積（第1部の8.3.3.3.4の表9及び表10参照）をもち，第1部の8.3.3.3.4に規定する長さの導体を用
いて行う。
可調整式過電流引外し装置をもつ回路遮断器の場合は，試験は次によって行う。
a) 最小電流設定，及び最小時延時間設定
b) 最大電流設定，及び最大時延時間設定
それぞれ，接続導体は定格電流値Inに従った導体とする（4.7.2参照）。
注記 端子の温度に依存しない動作特性の試験（例えば，電子式の過電流引外し又は電磁引外し）で
は，接続情報（形式，断面積又は長さ）が第1部の8.3.3.3.4の規定と異なってもよい。この接
続は，試験電流又は引き起こされる熱的ストレスが同等であることが望ましい。
過負荷引外しをもつ中性極を備えた回路遮断器では，この過負荷引外しの検証を中性極だけで行う。
試験は，任意の電圧で行ってもよい。
8.3.3.1.2
短絡条件での開極
短絡引外し装置（4.7.1参照）の動作は，その引外し装置の短絡電流設定値の80 %及び120 %で検証する。
試験電流は，非対称成分を含んではならない。
短絡引外し装置の動作を上限及び下限で表示するものでは，設定値の80 %及び120 %をそれぞれ製造業
者の指定する下限値及び上限値で置き換えて試験してもよい。
短絡電流設定の80 %の試験電流で，次の時間通電したとき，引外し動作をしてはならない。
− 瞬時引外しの場合は，0.2 s（2.20参照）
− 定限時時延引外しの場合は，製造業者が指定する時延時間の2倍の時間
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短絡電流設定の120 %の試験電流で，次の動作時間以下で動作しなければならない。
− 瞬時引外しの場合は，0.2 s以下（2.20参照）
− 定限時時延引外しの場合は，製造業者が指定する時延時間の2倍の時間以下
電子式過電流引外し装置をもつ回路遮断器の場合，短絡引外し動作は，各極ごとに通電して検証する。
複数の電磁式引外し装置をもつ回路遮断器の場合，短絡引外し装置をもつ全ての可能な組合せで2極を直
列に通電して検証する。
短絡引外し装置付の独立した中性極をもつ回路遮断器の場合，中性極は，無作為に選んだ電圧極との組
合せで直列に通電して検証する。さらに，短絡引外しの動作は，製造業者が単極で動作すると宣言した引
外し電流で，次の動作時間以下で動作することを各極ごとに通電して検証する。
− 瞬時引外しの場合は，0.2 s以下（2.20参照）
− 定限時時延引外しの場合は，製造業者が指定する時延時間の2倍の時間以下（2.20参照）
定限時時延引外しは，更に8.3.3.1.4の要求事項に適合しなければならない。
8.3.3.1.3
過負荷条件における開路
過負荷条件における開路は，次による。
a) 瞬時又は定限時動作 瞬時又は定限時時延引外し動作（4.7.1の注記1参照）は，過負荷引外し設定の
90 %及び110 %で検証する。試験電流は，非対称成分を含んではならない。多極の過負荷引外しの動
作は，同時に全電圧極に試験電流の負荷をかけて検証する。
さらに，定限時時延引外しは，8.3.3.1.4の要求事項に適合しなければならない。
設定電流の90 %の試験電流値で，次の時間通電したとき，引外し動作をしてはならない。
− 瞬時引外しの場合は，0.2 s（2.20参照）
− 定限時時延引外しの場合は，製造業者が指定する時延時間の2倍の時間
設定電流の110 %の試験電流値では，次の動作時間以下で引外し動作をしなければならない。
− 瞬時引外しの場合は，0.2 s以下（2.20参照）
− 定限時時延引外しの場合は，製造業者が指定する時延時間の2倍の時間以下
過負荷引外しをもつ中性極を備えた回路遮断器では（8.3.3.1.1参照），引外し試験電流は，設定電流
の110 %の1.2倍に等しい値でなければならない。
b) 反限時時延引外し 反限時引外し特性は，7.2.1.2.4 b) 2)の要求事項に従って検証する。
過負荷引外しをもつ中性極を備えた回路遮断器では（8.3.3.1.1参照），中性極引外し試験電流は，動
作引外し電流での試験電流に係数1.2を乗じることを除いて，附属書1表6を適用する。
引外し特性が周囲温度に依存する場合，動作特性は，引外し装置の全ての電圧極に電流を通電し，
基準周囲温度で検証する［4.7.3及び5.2 b) 参照］。
この試験を異なる周囲温度で行う場合，製造業者の温度−電流に関する資料に従って補正する。
製造業者が，周囲温度の影響を受けないと明示した熱動電磁引外し装置は，全ての電圧極に通電し，
動作特性は，30 ℃±2 ℃，及び20 ℃±2 ℃又は40 ℃±2 ℃の測定で検証する。
電子式引外し装置の場合，動作特性は引外し装置の全ての電圧極に電流を通電し，試験室の室温で
検証してもよい（第1部の6.1.1参照）。
当事者間で合意した電流値における追加試験は，製造業者が指定する時間−電流の引外し特性曲線
に適合していること（許容差を含む。）を検証しなければならない。
注記 この細分箇条の試験に追加して，回路遮断器の引外しは，試験シーケンスIII，IV，V及び
VIの試験中に各極ごとに検証しなければならない（8.3.5.1，8.3.5.4，8.3.6.1，8.3.6.6，8.3.7.4，
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8.3.7.8，8.3.8.1及び8.3.8.7参照）。
8.3.3.1.4
定限時時延引外しの追加試験
定限時時延引外しの追加試験は，次による。
a) 時延時間 この試験は，設定電流の1.5倍の電流で行う。
− 過負荷引外しの場合，全ての電圧極に通電する。
− 過負荷引外しをもつ中性極を備えた回路遮断器では（8.3.3.1.1参照），中性極の引外し試験電流も，
設定電流の1.5倍でなければならない。
− 短絡引外しの場合には，2極を直列にして試験電流を通電し，短絡引外し装置をもつ全ての電圧極
の可能な組合せに順番に通電する。
− 電磁式短絡引き外しの場合には，2極を直列にして試験電流を通電し，短絡引外し装置をもつ全て
の電圧極の可能な組合せに順番に通電する。
− 電子式短絡引外しの場合には，無作為に選んだ1極に通電する。
測定した時延時間は，製造業者が指定する範囲の間になければならない。
試験電流がその他の引外し特性と重なる場合は（例えば，瞬時引外し特性），試験電流を必要なだけ
減じ，試験成績書に記録しなければならない。
b) 不動作時間 この試験は，a) の過負荷及び短絡引外し試験と同一条件で行う。
最初に，設定電流の1.5倍の試験電流を製造業者が指定する不動作時間の間通電する。その後，試
験電流を定格電流まで減じ，製造業者が指定する動作時間の2倍の時間通電したとき，回路遮断器は
動作してはならない。
8.3.3.2
耐電圧性能試験
第1部の8.3.3.4.1を適用する。ただし，第1部の8.3.3.4.1の5) を除いて，次の事項を追加して適用す
る。
(i) 第1部の8.3.3.4.1の2) c) i) 及びii) に関連し，通常の動作位置とは，引外し位置も含む。
(ii) 第1部の8.3.3.4.1の3) c) に関連し，主回路へ接続している半導体素子を含む回路は，切り離して試
験する。
(iii) 断路に適していると宣言していない回路遮断器は，電源端子を一括接続し，負荷端子も一括接続して
主回路の極間に印加して試験する。試験電圧は，第1部の表12を適用する。
(iv) 50 Vを超える使用電圧をもつ断路に適する回路遮断器は，開路位置の各極で1.1Ueの試験電圧を印加
したとき，漏れ電流は0.5 mA以下とする。
8.3.3.3
機械的操作及び開閉耐久性能の試験
8.3.3.3.1
一般試験条件
回路遮断器は，試験のために金属フレームに取り付けてもよい場合を除いて，8.3.2.1に従って取り付け
る。回路遮断器は，外部からの過度の加熱又は冷却を受けないようにする。
試験は，試験室の室内温度で行う。
各制御回路の制御電源電圧は，定格電流通電時の端子で測定する。
制御装置の部品を構成する全ての抵抗又はインピーダンスは，回路内になければならない。また，電流
源と制御装置の端子との間に追加のインピーダンスを挿入してはならない。
8.3.3.3.2，8.3.3.3.3及び8.3.3.3.4の試験は，同一の回路遮断器で行う。ただし，これらの試験を行う順序
は任意である。不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の試験については，8.3.3.3.2及び8.3.3.3.3の試験
は，新しい供試品でもよい。
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保守可能な回路遮断器の場合において，附属書1表8に規定する回数以上の動作を希望する場合は，最
初に追加回数の試験を行い，その後製造業者の取扱説明書に従って保守し，附属書1表8に従った動作回
数の試験を行う。この残りの試験を行っている期間は，いかなる保守も行ってはならない。
注記 試験の便宜上，それぞれの試験を二つ以上の期間に分けることができる。ただし，それぞれの
期間は，3 h以上であることが望ましい。
8.3.3.3.2
構造及び機械的操作
構造及び機械的操作は，次による。
a) 構造 引出形回路遮断器は，7.1.1の要求事項に従って検証する。
エネルギー蓄積動作の回路遮断器は，蓄積状態表示及び手動エネルギー蓄積操作の操作方法に関し
て，7.2.1.1.5に従って検証する。
b) 機械的操作 試験は，次の目的のため，8.3.3.3.1に従って行う。
− 投入装置にエネルギーを与えた状態で，回路遮断器が確実に引外しを行うことを検証する。
− 引外し装置が動作状態で閉動作を始めたときに，回路遮断器が確実に動作することを検証する。
− 回路遮断器が既に閉状態にあるとき，動力操作装置の動作が回路遮断器に損傷を与えることなく，
また，操作する人を危険にさらすことなく操作できることを検証する。
回路遮断器の機械的操作は，無負荷状態で検証してもよい。
直接動力操作の回路遮断器は，7.2.1.1.3の規定に適合しなければならない。
直接動力操作の回路遮断器は，操作機構に製造業者が指定する最小値及び最大値の電圧を印加して
操作する。
エネルギー蓄積形の回路遮断器は，定格制御電圧の85 %及び110 %の補助電源電圧を印加したとき，
7.2.1.1.5の規定に適合しなければならない。また，エネルギー蓄積表示装置が明確に示す完全な蓄積
状態より僅かに低く蓄積された場合でも，可動接点が開路位置から動かないことを検証する。
引外し自由の回路遮断器は，引外し装置が回路遮断器を動作させようとしているとき，接点の接触
の保持又は可動接点の閉路状態の保持ができてはならない。
回路遮断器の閉路時間及び開路時間を製造業者が指定する場合には，その時間は，指定する値に適
合しなければならない。
c) 不足電圧引外し装置 不足電圧引外し装置は，第1部の7.2.1.3の規定に適合しなければならない。こ
の引外し装置は，最大定格電流の回路遮断器に装着しなければならない。
1) 落下（開放）電圧 引外し装置が，指定する電圧の範囲内で回路遮断器を開路することを検証する。
電圧は，約30 sで定格制御電源電圧から0 Vになる割合で下げる。
下限の試験は，主回路に電流を流さないで，かつ，引外しのコイルは予備加熱なしで行う。
定格制御電源電圧に範囲がある引外し装置の場合，この試験は，その範囲の最大定格電圧で行う。
上限の試験は，引外し装置に定格制御電源電圧を印加して，かつ，回路遮断器の主回路に定格電
流を通電して，その温度が一定状態になってから始める。この試験は，8.3.3.6の温度上昇試験と組
み合わせてもよい。
定格制御電源電圧に範囲がある引外し装置の場合，この試験は，その範囲の最大の定格制御電源
電圧及び最小の定格制御電源電圧の両方で行う。
2) 動作限界に対する試験 試験室の温度で回路遮断器を開にし，かつ，定格最大制御電源電圧の30 %
の電圧を印加して試験を開始したとき，操作部の操作によって回路遮断器が投入できないことを検
証する。電源電圧を最小制御電源電圧の85 %まで上げたとき，操作部の操作によって回路遮断器が
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投入できることを検証する。
3) 過電圧状態での性能 回路遮断器を閉とし，かつ，主回路に電流を通電しない状態にしたとき，不
足電圧引外し装置は，その定格制御電源電圧の110 %を4時間印加しても，その機能を損なわない
で耐えることを検証する。
d) 電圧引外し装置 電圧引外し装置は，第1部の7.2.1.4の要求事項に適合しなければならない。この引
外し装置は，最大定格電流の回路遮断器に装着する。
回路遮断器の主回路に通電しない状態で，かつ，周囲温度が55 ℃±2 ℃で試験したとき，その引
外し装置が定格制御電源電圧の70 %で回路遮断器を開路することを検証する。定格制御電源電圧に範
囲がある引外し装置の場合，この試験は，その範囲の最小定格制御電源電圧の70 %で行う。
8.3.3.3.3
無通電開閉耐久性能
これらの試験は，8.3.2.1に規定する条件で行う。動作サイクルの回数は，附属書1表8の欄3による。
また，1 h当たりの動作回数は，附属書1表8の欄2による。
この試験は，回路遮断器の主回路に電流を通電しないで行う。
電圧引外し装置を装着できる回路遮断器の場合，動作サイクルの総回数の10 %の回数は，その電圧引外
し装置に最大定格制御電源電圧を印加して動作させ，回路遮断器を投入及び動作させなければならない。
不足電圧引外し装置を装着できる回路遮断器の場合，動作サイクルの総回数の10 %の回数は，その引外
し装置に最小定格制御電源電圧を印加して投入し，投入後，その引外し装置からこの電圧を取り除き回路
遮断器を動作させることによって，回路遮断器を投入及び動作させなければならない。
いずれの場合においても，上記の動作サイクルの回数の半分は，試験の始めに行い，残りの半分は，試
験の最後に行う。
不足電圧引外し装置を装着している回路遮断器の場合，動作性能試験を行う前に，不足電圧引外し装置
に電圧を印加しない状態で，回路遮断器を10回投入操作し，最終的に投入できないことを検証する。この
試験は，回路遮断器の投入機構を装備した回路遮断器で行う。
電気的又は空気圧式投入装置を備えた回路遮断器の場合には，これらの装置に定格制御電源電圧又は定
格圧力を供給する。電気部品の温度上昇が附属書1表7に示す限度を超えていないことが確実になるよう
に，注意を払う。
手動操作の回路遮断器の場合は，標準使用状態で操作する。
8.3.3.3.4
通電開閉耐久性能
回路遮断器の取付方法及び取付状態は，8.3.2.1に規定する条件で，かつ，試験回路は，第1部の8.3.3.5.2
を適用する。
動作頻度及び動作サイクルの回数は，附属書1表8の欄2及び欄4を適用する。
回路遮断器は，附属書1表11の力率又は時定数によって，かつ，許容差は8.3.2.2.2によって，製造業者
が指定する最大定格使用電圧において，定格電流を投入し，遮断するように操作する。
交流定格の回路遮断器での試験は，45 Hz〜62 Hzの周波数で行う。
可調整引外し装置をもつ回路遮断器では，試験は，過負荷用の設定を最大に，短絡用の設定を最小にし
て行う。
この試験は，投入機構を備えた回路遮断器で行う。電気的又は空気圧式投入装置を備えた回路遮断器の
場合，これらの装置に定格制御電源電圧又は定格圧力を供給する。電気部品の温度上昇が附属書1表7に
示す限度を超えていないことが確実になるように，注意を払う。
手動操作の回路遮断器は，標準使用状態で操作する。
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8.3.3.3.5
引出形回路遮断器に対する無通電開閉耐久性能の追加試験
無通電開閉耐久性能試験は，引出機構及び引出形回路遮断器に組み込んだインタロックに対して行う。
動作サイクルの回数は，100回とする。
この試験後，断路接点，引出機構及びインタロックは，継続使用に対し問題があってはならない。これ
は，検査によって検証する。
8.3.3.4
過負荷性能
この試験は，定格電流が630 A以下の回路遮断器に適用する。
注記1 この試験は，製造業者の指定によって，定格電流が630 Aを超える回路遮断器に対して行っ
てもよい。
回路遮断器の取付方法及び取付状態は，8.3.2.1の規定によって，かつ，試験回路は，第1部の8.3.3.5.2
の規定に従ったものとする。
試験は，製造業者が指定する最大使用電圧Ue maxで行う。
可調整引外し装置をもつ回路遮断器では，この試験は，引外し装置の設定を最大にして行う。
回路遮断器は，手動によって9回開路し，過負荷引外し装置の動作によって自動的に3回開路しなけれ
ばならない。ただし，回路遮断器の短絡引外し装置の最大設定値が試験電流よりも小さい場合，12回の動
作全てを自動によって開路しなければならない。
注記2 試験装置が自動操作中の通過エネルギーに耐えられない場合，試験は，製造業者の同意によ
って，次のように行ってもよい。
− 12回の手動操作
− 自動で行う3回の追加の開路動作は，任意の電圧で行ってもよい。
手動操作の各サイクルにおいて，回路遮断器は，電流が完全に安定するのに十分な時間の間，閉路した
状態とする。ただし，2 s以下とする。
1 h当たりの動作回数は，附属書1表8の欄2に規定する値を適用する。回路遮断器が規定頻度でラッチ
が掛からず，リセットしない場合，回路遮断器を閉路させて電流が完全に安定するのに十分な程度までこ
の頻度を下げてもよい。
試験機関の試験条件が附属書1表8に規定する動作頻度で試験が行えない場合，より低い頻度で行って
もよい。ただし，詳細を試験成績書に記載しなければならない。
試験電流及び回復電圧の値は，附属書1表12を，力率又は時定数は，附属書1表11を，許容差は，8.3.2.2.2
を適用する。
注記3 製造業者の同意によって，試験を，規定より過酷な条件で行ってもよい。
附属書1表12−過負荷性能に対する試験回路条件
項目
交流
直流
電流
6In
2.5In
回復電圧
1.1Ue max
1.1Ue max
注記 Ue max＝回路遮断器の最大使用電圧
交流定格の回路遮断器の試験は，45 Hz〜62 Hzの周波数で行う。
回路遮断器の電源端子における推定電流は，試験電流の10倍又は50 kAのいずれか小さい値以上とする。
8.3.3.5
耐電圧の検証
試験は，第1部の8.3.3.4.1の4)に従って行う。
43
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 一般 回路遮断器は，直前の試験の取付状態で試験を行う。実施できない場合は，試験結果に影響が
出ないように，回路から切り離すか，取り外してもよい。
b) 試験電圧 第1部の8.3.3.4.1の3) b)を適用する。試験電圧値は2Ueで，ただし，最小1 000 V（実効
値），又は交流電圧試験が適用不可な場合は，直流1 415 Vを印加する。Ue値は，直前に行った開閉又
は短絡試験の条件値を用いる。
c) 試験電圧の適用 試験電圧は，第1部の8.3.3.4.1の2) c)のi)，ii)及びiii)，さらに，回路遮断器が開路
状態で，それぞれの極で入力と出力端子との間に5 s印加する。第1部の8.3.3.4.1の1)の金属はく（箔）
を用いる必要はない。主回路へ接続されている半導体素子を含む回路は，切り離して試験を行う。操
作の通常位置とは，トリップ位置も含む。
断路に適する回路遮断器は，漏れ電流を8.3.3.2 (iv)に従って測定する。ただし，漏れ電流は2 mA以
下とする。
d) 判定基準 第1部の8.3.3.4.1の3) d)を適用する。
8.3.3.6
温度上昇の検証
8.3.3.5の試験後，熱電流で温度上昇試験を8.3.2.5に従って行う。試験終了時点で，温度上昇値は，附属
書1表7に規定する値以下とする。
8.3.3.7
過負荷引外しの検証
8.3.3.6の試験後，直ちに基準周囲温度において，電流設定値の1.45倍の電流を通電して過負荷引外し装
置が動作することを検証する［7.2.1.2.4 b) 2)参照］。
この試験は，全ての極を直列に接続して検証する。代わりに三相電源を用いてもよい。
この試験は，任意の電圧で行ってもよい。
動作時間は，規定する引外し時間以下とする。
注記1 製造業者の同意によって，8.3.3.6と8.3.3.7との試験の間に時間をおいてもよい。
注記2 周囲温度に依存する引外し装置では，周囲温度で製造業者の温度−電流に関する資料に従っ
て補正した試験電流を通電して行ってもよい。
8.3.3.8
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の検証
不足電圧引外し装置を備えた回路遮断器は，上限及び下限の試験は主回路に電流を流さないで行い，か
つ，試験室の温度で行うこと以外は，8.3.3.3.2 c) 1)と同一の試験を行う。この引外し装置は，最小の定格
制御電源電圧の70 %で動作してはならず，かつ，最大の定格制御電源電圧の35 %で動作しなければなら
ない。
電圧引外し装置を備えた回路遮断器は，試験室の温度で行うこと以外は，8.3.3.3.2 d)と同一の試験を行
う。この引外し装置は，最小の定格制御電源電圧の70 %で動作しなければならない。
8.3.3.9
主接点位置の検証
断路に適している回路遮断器（3.5参照）は，8.3.3.7の試験終了後，第1部の8.2.5に従って主接点位置
表示の有効性を検証する。
8.3.3.9A 越流性能の検証
定格使用電圧が100 V又は100/200 V，かつ，定格電流が50 A以下の回路遮断器で，越流性能を明示す
るものは，次の試験を行ったとき，自動的に開放することなく，接点の溶着があってはならない。この検
証は，8.3.3.4の過負荷性能の試験後に行う。ただし，別の供試品で行ってもよい。
室温において，次の条件の下で白熱電球を点灯する。
a) 白熱電球は，100 V，200 Wのものを基準とし，点灯状態で回路遮断器の定格電流の100 %の電流を流
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すことができる個数とする。ただし，必要がある場合，1個又は2個は200 Wより小さいものでもよ
い。
b) 試験回路の電圧は，100〜105 Vとし，回路遮断器に白熱電球の負荷で電流を流したとき，回路遮断器
の電源側端子における電圧降下が5 %以下になるような容量をもつ電源とする。
c) 試験は，2 s閉路の後に開路し，2 min冷却する操作を連続3回行う。
8.3.4
試験シーケンスII：定格使用短絡遮断容量
試験シーケンスVI（組合せ試験）（8.3.8参照）を適用する場合を除き，この試験シーケンスは，定格使
用短絡容量（Ics）を宣言する回路遮断器に適用し，次の試験によって構成する。
試験
箇条番号
定格使用短絡遮断容量
8.3.4.1
開閉能力の検証
8.3.4.2
耐電圧の検証
8.3.4.3
温度上昇の検証
8.3.4.4
過負荷引外しの検証
8.3.4.5
Ics＝Icuの場合には，8.3.5参照。
試験用の供試品の数及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。
8.3.4.1
定格使用短絡遮断容量試験
この短絡試験は，8.3.2の一般的条件の下で，製造業者が指定する推定短絡電流Icsの値で，4.3.5.2.2に従
って行う。
この試験回路の力率は，試験電流に対応して附属書1表11を適用する。
動作の順序は，O−t−CO−t−COとし，これをもって動作責務1回とする。
ヒューズ組込み形回路遮断器の場合は，各動作の後に，溶断したヒューズを取り替える。時間間隔tは，
この取替えのために延びてもよい。回路遮断器の種類によって，次のa)〜j)のいずれかの試験用回路を適
用する。
a) 単極回路遮断器（単極1素子回路遮断器）は，第1部の図9の回路で1回行う。
b) 定格使用電圧が100/200 Vの単相2線式（中性点接地電路用）用2極回路遮断器（2極2素子回路遮断
器）は，附属書1図1の回路で1回行う。
c) 定格使用電圧が240/415 Vの2極回路遮断器（2極2素子回路遮断器）は，第1部の図10の回路で415
V×1.1の商用周波回復電圧で1回行う。
d) その他の交流用2極回路遮断器（2極1素子又は2極2素子回路遮断器）は，第1部の図10の回路で
1回行う。
e) 直流用の2極回路遮断器は，2極直列接続にして第1部の図9の回路で1回行う。
f)
定格使用電圧が100/200 Vの単相3線式用3極回路遮断器（3極2素子又は3極3素子回路遮断器）は，
附属書1図3の回路で1回行う。
附属書1図3の試験回路の代わりに，附属書1図2及び附属書1図1の試験回路で行うことができ
る。この場合，附属書1図1を適用し，電圧極間の定格電圧（100/200 Vにあっては，商用周波回復電
圧200 V×1.1），及び電圧極と中性極との間は，附属書1図2を適用し，電圧極と中性極との間の定格
電圧（100/200 Vにあっては，商用周波回復電圧100 V×1.1）をそれぞれ印加し，各供試品について定
格使用短絡遮断容量試験を実施する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
g) その他の交流用3極遮断器（3極3素子回路遮断器）は，第1部の図11の回路で1回行う。
h) 直流用の3極回路遮断器は，製造業者が指定する接続で，第1部の図9の回路で1回行う。ここで，
回路遮断器の端子間を接続する導体は，できるだけインピーダンスの低いものを用いる。
i)
交流用の4極遮断器（4極3素子又は4極4素子回路遮断器）は，第1部の図12の回路で1回行う。
j)
直流用の4極回路遮断器は，製造業者が指定する接続で，第1部の図9の回路で1回行う。ここで回
路遮断器の端子間を接続する導体は，できるだけインピーダンスの低いものを用いる。
8.3.4.2
開閉能力の検証
8.3.4.1の試験後，開閉能力試験は，8.3.4.1の試験で用いた定格使用電圧で，開閉回数を附属書1表8の
欄4に示す回数の5 %とすること以外は，8.3.3.3.4に従って検証する。
8.3.4.1の試験をフレームサイズの最小の定格電流In，又は附属書1表10に規定する最小の過負荷引外し
に設定された回路遮断器で行う場合，この検証は行う必要がない。
8.3.4.3
耐電圧の検証
8.3.4.2の試験後，耐電圧の検証を8.3.3.5に従って行う。
断路に適する回路遮断器は，8.3.3.5に従って漏れ電流値を測定しなければならない。
8.3.4.4
温度上昇の検証
8.3.4.3の試験後，主端子での温度上昇試験を8.3.2.5に従って行う。温度上昇値は，附属書1表7の値以
下とする。
8.3.4.1の試験をフレームサイズの最小の定格電流In，又は最小の過負荷引外しに設定された回路遮断器
で行う場合，この検証は行う必要がない。
8.3.4.5
過負荷引外しの検証
8.3.4.4の試験後，直ちに8.3.3.7に従って過負荷引外し試験を行う。
注記 製造業者の同意によって，8.3.4.4と8.3.4.5との試験の間に時間をおいてもよい。
8.3.5
試験シーケンスIII：定格限界短絡遮断容量
試験シーケンスVI（組合せ試験）（8.3.8参照）を適用する場合を除き，選択度種別Aの回路遮断器，及
び定格短時間耐電流より大きい定格限界短絡遮断容量をもつ選択度種別Bの回路遮断器には，この試験シ
ーケンスを適用する。
注記 上記の選択度種別Bの回路遮断器は，その瞬時引外し装置が表3の欄2に規定する電流値を超
えて動作することになる。このような引外し装置は，“オーバーライド瞬時引外し”という。
定格限界短絡遮断容量に等しい定格短時間耐電流をもつ選択度種別Bの遮断器では，定格限界短絡遮断
容量を試験シーケンスIVで検証するので，この試験シーケンスを行う必要はない。
ヒューズ組込み形回路遮断器に対しては，このシーケンスの代わりに試験シーケンスVを適用する。
Ics＝Icuの場合には，この試験シーケンスは行う必要がない。この場合，試験シーケンスIIの中で次の検
証を追加で行う。
− 試験シーケンスの最初に行う8.3.5.1の検証
− 試験シーケンスの最後に行う8.3.5.4の検証
この試験シーケンスは，次の試験によって構成する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験
箇条番号
過負荷引外しの検証
8.3.5.1
定格限界短絡遮断容量
8.3.5.2
耐電圧の検証
8.3.5.3
過負荷引外しの検証
8.3.5.4
試験用の供試品の数及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。
8.3.5.1
過負荷引外しの検証
過負荷引外しの動作は，各極ごとに電流設定値の2倍の値を通電して検証する。この試験は，任意の電
圧で行ってもよい。
注記1 周囲温度に依存する過負荷引外し装置では，周囲温度が基準周囲温度と異なる場合は，製造
業者が指定する温度−電流特性に基づいて試験電流を補正することが望ましい。
注記2 端子の温度に依存しない引外し特性の試験（例えば，電子式過負荷引外し装置又は電磁式引
外し装置）では，接続材料（形式，断面積又は長さ）が第1部の8.3.3.3.4で規定するものと
異なってもよい。この接続は，試験電流及び引き起こされる熱ストレスが同等であることが
望ましい。
この動作時間は，基準周囲温度において，各極単独に電流設定値の2倍の電流を通電したとき，製造業
者が指定する最大値以下とする。
8.3.5.2
定格限界短絡遮断容量試験
8.3.5.1の試験後，8.3.2による一般条件で，製造業者が指定する定格限界短絡遮断容量に等しい推定短絡
電流で短絡遮断試験を行う。
動作の順序は，O−t−COでなければならない。これをもって動作責務1回とする。回路遮断器の種類
によって，次のa)〜j)のいずれかの試験用回路を適用する。
a) 単極回路遮断器（単極1素子回路遮断器）は，第1部の図9の回路で1回行う。
b) 定格使用電圧が100/200 Vの単相2線式（中性点接地電路用）用2極回路遮断器（2極2素子回路遮断
器）は，第1部の図9の回路（中性線接地式電源の電圧線と中性点との間）で各極について1回行い，
次に，附属書1図1の回路で1回行う。ただし，各極ごとの試験では，定格限界短絡遮断容量が5 kA
を超えるものの試験電流は5 kAとする。
c) 定格使用電圧が240/415 Vの2極回路遮断器（2極2素子回路遮断器）は，第1部の図9の回路（中性
線接地式電源の電圧線と中性点との間：商用周波回復電圧240 V×1.1）で各極について1回行い，次
いで第1部の図10の回路で415 V×1.1の商用周波回復電圧で1回行う。ただし，各極ごとの試験で
は，定格限界短絡遮断容量が5 kAを超えるものの試験電流は5 kAとする。
d) その他の交流用2極回路遮断器（2極1素子又は2極2素子回路遮断器）は，第1部の図9の回路で
引外し素子をもつ各極について1回行い，次に，第1部の図10の回路で1回行う。ただし，各極ごと
の試験では，定格限界短絡遮断容量が5 kAを超えるものの試験電流は5 kAとし，定格使用電圧が240
Vを超えるものは，240 V×1.1の商用周波回復電圧で1回行う。
e) 直流用の2極回路遮断器は，2極直列接続にして第1部の図9の回路で1回行う。
f)
定格使用電圧が100/200 Vの単相3線式配電システム用3極回路遮断器（3極2素子又は3極3素子回
路遮断器）は，第1部の図9の回路（中性線接地式電源の電圧線と中性点との間）で引外し素子をも
つ各極について1回行い，次に，附属書1図3の回路で1回行う。ただし，各極ごとの試験では，定
格限界短絡遮断容量が5 kAを超えるものの試験電流は5 kAとする。
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附属書1図3の試験回路の代わりに，附属書1図2及び附属書1図1の試験回路で行うことができ
る。この場合，附属書1図1を適用し電圧極間の定格電圧（100/200 Vにあっては，商用周波回復電圧
200 V×1.1），及び電圧極と中性極との間は，附属書1図2を適用し電圧極と中性極との間の定格電圧
（100/200 Vにあっては，商用周波回復電圧100 V×1.1）をそれぞれ印加し，各供試品について定格限
界短絡遮断容量試験を実施する。
g) その他の交流用3極遮断器（3極3素子回路遮断器）は，第1部の図9の回路で各極について1回行
い，次に，第1部の図11の回路で1回行う。ただし，各極ごとの試験においては，定格限界短絡遮断
容量が5 kAを超えるものの試験電流は5 kAとし，240 Vを超えるものは，240 V×1.1の商用周波回
復電圧で1回行う。
h) 直流用の3極回路遮断器は，製造業者が指定する接続で，第1部の図9の回路で1回行う。ここで，
回路遮断器の端子間を接続する導体は，できるだけインピーダンスの低いものを用いる。
i)
交流用4極遮断器（4極3素子又は4極4素子回路遮断器）は，第1部の図9の回路で引外し素子を
もつ各極について1回行い，次に，第1部の図12の回路で1回行う。ただし，各極ごとの試験では，
定格限界短絡遮断容量が5 kAを超えるものの試験電流は5 kAとし，定格使用電圧が240 Vを超える
ものは，240 V×1.1の商用周波回復電圧で1回行う。
j)
直流用の4極回路遮断器は，製造業者が指定する接続で，第1部の図9の回路で1回行う。ここで，
回路遮断器の端子間を接続する導体は，できるだけインピーダンスの低いものを用いる。
上記のb)，c)，d)，f)，g)及びi)の多極回路遮断器の各極ごとの試験は，別の供試品で行ってもよい。
8.3.5.3
耐電圧の検証
8.3.5.2の試験に引き続き，8.3.3.5に従って耐電圧の検証を行う。
断路に適する回路遮断器については，漏れ電流値は6 mA以下とする。
8.3.5.4
過負荷引外しの検証
8.3.5.3の試験後，過負荷引外しの検証を8.3.5.1に従って行う。ただし，試験電流は，電流設定値の2.5
倍とする。
この動作時間は，基準周囲温度において，各極単独に電流設定値の2倍の電流を通電したときの製造業
者が指定する最大値以下とする。
8.3.6
試験シーケンスIV：定格短時間耐電流
試験シーケンスVI（組合せ試験）（8.3.8参照）を適用する場合を除き，選択度種別Bの回路遮断器及び
表4の注記3に従って取り扱う選択度種別Aの回路遮断器には，このシーケンスを適用する。
この試験シーケンスは，次の試験によって構成する。
試験
箇条番号
過負荷引外しの検証
8.3.6.1
定格短時間耐電流試験
8.3.6.2
温度上昇の検証
8.3.6.3
最大短時間耐電流における短絡遮断容量
8.3.6.4
耐電圧の検証
8.3.6.5
過負荷引外しの検証
8.3.6.6
ヒューズ組込み形回路遮断器が選択度種別Bの用途に属する場合には，これらの回路遮断器は，このシ
ーケンスの要求事項に適合しなければならない。
試験用の供試品の数及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。
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8.3.6.1
過負荷引外しの検証
過負荷引外しの検証は，8.3.5.1に従って行う。
8.3.6.2
定格短時間耐電流試験
第1部の8.3.4.3に次の事項を追加して適用する。
試験中に動作するおそれがあるオーバーライド瞬時引外しを含む過電流引外し装置は，動作しないよう
にしておく。
8.3.6.3
温度上昇の検証
8.3.6.2の試験後，主端子の温度上昇の検証を8.3.2.5に従って行う。温度上昇は，附属書1表7に規定す
る数値以下とする。
温度上昇の検証は，製造業者の合意がある場合，耐電圧の検証（8.3.6.5）後に行ってもよい。ただし，
8.3.6.2の試験を最小のIn，又は最小の過電流引外しに設定された回路遮断器で行う場合，この検証を行う
必要がない。
8.3.6.4
最大短時間耐電流における短絡遮断容量試験
8.3.6.3の試験後，短絡試験は，次の動作の順序で行う。
O−t−CO
推定短絡電流値は，短時間耐電流試験（8.3.6.2参照）と同一の値とし，定格短時間耐電流が適用できる
最大電圧で，8.3.2の一般条件で行う。
回路遮断器は，その短限時短絡引外しの，設定時間の最大時間に相当する短時間の間，閉状態を維持し
なければならない。オーバーライド瞬時引外し装置は，動作してはならない。回路遮断器が投入時電流引
外し（2.10参照）を備えている場合，CO動作は，推定短絡電流があらかじめ設定する値を超えるとき動
作するので，この要求事項は，CO動作には適用しない。
8.3.6.5
耐電圧の検証
8.3.6.4の試験後，耐電圧の検証を8.3.3.5に従って行う。
8.3.6.6
過負荷引外しの検証
8.3.6.5の試験後，過負荷引外しの検証を8.3.5.1に従って行う。ただし，試験電流値は，電流設定値の2.5
倍とする。
この動作時間は，基準周囲温度において，各極単独に電流設定値の2倍の電流を通電したときの製造業
者が指定する最大値以下とする。
8.3.7
試験シーケンスV：ヒューズ組込み形回路遮断器の性能
この試験シーケンスは，ヒューズ組込み形回路遮断器に適用する。試験シーケンスIIIに代わるもので，
次の試験によって構成する。
項目
試験
箇条番号
第1段階
選択限界電流における短絡
8.3.7.1
温度上昇の検証
8.3.7.2
耐電圧の検証
8.3.7.3
第2段階
過負荷引外しの検証
8.3.7.4
テイクオーバ電流の1.1倍の電流における短絡
8.3.7.5
限界短絡遮断容量における短絡
8.3.7.6
耐電圧の検証
8.3.7.7
過負荷引外しの検証
8.3.7.8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この試験シーケンスは，2段階に分ける。
− 第1段階は，8.3.7.1〜8.3.7.3の試験によって構成する。
− 第2段階は，8.3.7.4〜8.3.7.8の試験によって構成する。
二つの段階は，次のいずれで行ってもよい。
− 二つの別の回路遮断器で実施する。
− 段階間で保守を施した同一の回路遮断器で実施する。
− 保守を施さずに同一の回路遮断器で実施する。その場合，8.3.7.3の試験は省略してもよい。
8.3.7.2の試験は，Ics＞Isの場合にだけ行う必要がある。
8.3.7.1，8.3.7.5及び8.3.7.6の試験は，回路遮断器の最大使用電圧で行う。
試験用の供試品の数及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。
8.3.7.1
選択限界電流における短絡
短絡試験は，製造業者が指定する選択限界電流（2.17.4参照）に等しい推定短絡電流値で，8.3.2の一般
条件に従って行う。
この試験の目的に対して，ヒューズを取り付けて行う。
この試験は，1回の“O”操作で行い，ヒューズが溶断してはならない。
8.3.7.2
温度上昇の検証
注記 試験シーケンスIIの8.3.4.1の短絡試験時にヒューズが溶断する可能性があり，8.3.7.1の試験は，
その場合より厳しくなるので，温度上昇の検証を行う。
8.3.7.1の試験後，主端子の温度上昇の検証を8.3.2.5に従って行う。
温度上昇は，附属書1表7に規定する値以下とする。
8.3.7.3
耐電圧の検証
8.3.7.2の試験後，耐電圧の検証を8.3.3.5に従って行う。
8.3.7.4
過負荷引外しの検証
過負荷引外しの検証を8.3.5.1に従って行う。
8.3.7.5
テイクオーバ電流の1.1倍の電流における短絡
8.3.7.4の試験後，短絡試験は，製造業者が指定するテイクオーバ電流（2.17.6参照）の1.1倍に等しい推
定短絡電流の値で，8.3.7.1と同じ一般条件で行う。
この試験の目的に対して，ヒューズを取り付けて行う。
この試験は，1回の“O”操作で行い，2本以上のヒューズが溶断しなければならない。
8.3.7.6
限界短絡遮断容量における短絡
8.3.7.5の試験後，短絡試験は，製造業者が指定する定格限界短絡遮断容量Icuに等しい推定短絡電流値で，
8.3.7.1と同じ一般条件で行う。
この試験の目的に対して，一組の新品のヒューズを取り付けて行う。
動作の順序は，次による。
O−t−CO
時間間隔tは，ヒューズを取り換えるのに必要な時間としてもよい。
8.3.7.7
耐電圧の検証
8.3.7.6の試験後，新しい一組のヒューズを取り付け，耐電圧の検証を8.3.5.3に従って行う。
50
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.7.8
過負荷引外しの検証
8.3.7.7の試験後，過負荷引外しの検証を8.3.5.1に従って行う。ただし，試験電流は，電流設定値の2.5
倍とする。
この動作時間は，基準周囲温度において，各極単独に電流設定値の2倍の電流を通電したときの製造業
者が指定する最大値以下とする。
8.3.8
試験シーケンスVI：組合せ試験シーケンス
製造業者の自由裁量又は同意によって，この試験シーケンスは，選択度種別Bの遮断器に適用してもよ
い。
a) 定格短時間耐電流及び定格使用短絡遮断容量が同じ値（Icw＝Ics）の場合には，試験シーケンスII及び
IVを試験シーケンスVIに置き換える。
b) 定格短時間耐電流，定格使用短絡遮断容量及び定格限界短絡遮断容量が同じ値（Icw＝Ics＝Icu）の場合，
試験シーケンスII，III及びIVを試験シーケンスVIに置き換える。
この試験のシーケンスは，次の試験によって構成する
試験
箇条番号
過負荷引外しの検証
8.3.8.1
定格短時間耐電流
8.3.8.2
定格使用短絡遮断容量a)
8.3.8.3
開閉能力の検証
8.3.8.4
耐電圧の検証
8.3.8.5
温度上昇の検証
8.3.8.6
過負荷引外しの検証
8.3.8.7
注a) 上記b)の場合のようになった回路遮断器にとっては，
これはまた，定格限界短絡遮断容量でもある。
試験用の供試品の数及び可調整引外しの設定は，附属書1表10を適用する。
8.3.8.1
過負荷引外しの検証
過負荷引外しの検証を8.3.5.1に従って行う。
8.3.8.2
定格短時間耐電流試験
8.3.8.1の試験後，試験は，8.3.6.2による定格短時間耐電流で行う。
8.3.8.3
定格使用短絡遮断容量試験
8.3.8.2の試験後，試験は，8.3.4.1による定格使用短絡遮断容量の値で，定格短時間耐電流に適用できる
最大電圧によって行う。
回路遮断器は，その短限時短絡引外しの，設定時間の最大時間に相当する短時間の間，閉状態を維持し
なければならない。
この試験中，オーバーライド瞬時引外しは動作してはならないし，また，投入時電流引外しは動作しな
ければならない。
8.3.8.4
開閉能力の検証
8.3.8.3の試験後，開閉能力の検証を8.3.4.2に従って行う。
8.3.8.5
耐電圧の検証
8.3.8.4の試験後，耐電圧の検証を8.3.3.5に従って行う。断路に適する回路遮断器は，漏れ電流値の測定
を8.3.3.5に従って行う。
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C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
8.3.8.6
温度上昇の検証
8.3.8.5の試験後，主端子の温度上昇の検証を8.3.2.5に従って行う。
温度上昇値は，附属書1表7に規定する値以下とする。
8.3.8.3の試験をフレームサイズの最小の定格電流In，又は最小の過負荷引外しに設定された回路遮断器
で行う場合，この検証を行う必要はない。
8.3.8.7
過負荷引外しの検証
8.3.8.6の試験後，冷却してから8.3.3.7に従って過負荷引外しの検証を行う。
その後，過負荷引外しの動作は，試験電流を電流設定値の2.5倍にする以外は，8.3.5.1に従って各極ご
とに検証する。
この動作時間は，基準周囲温度において，各極単独に電流設定値の2倍の電流を通電したときの製造業
者が指定する最大値以下とする。
8.4
受渡試験
受渡試験の定義については，第1部の2.6.2及び8.1.3参照。
次の試験を適用する。
− 機械的操作試験（8.4.1）
− 過電流引外し装置の校正の検証（8.4.2）
− 不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の動作検証（8.4.3）
− JIS C 8201-2-2の漏電遮断器に対する追加試験（8.4.4）
− 耐電圧試験（注記参照）（8.4.5）
− 空間距離の検証（8.4.6）
注記 材料及び製造工程の管理によって耐電圧性能が確実に達成されている場合，この試験は承認
された抜取計画（IEC 60410参照）による抜取試験に置き換えてもよい。
ただし，同一の条件を適用し，かつ，動作の回数が規定する回数を下回らないという条件で，製造中及
び／又はその他の受渡試験中の回路遮断器の動作を上記試験に置き換えてもよい。
8.4.2，8.4.3及び8.4.4の試験は，回路遮断器又は回路遮断器の動作を模擬する適切な試験装置に取り付
けた引外し装置で実施する。
8.4.1
機械的操作試験
8.4.1.1及び8.4.1.2の試験は，引外し操作に必要な場合を除き，主回路には通電しない状態で行う。試験
中にいかなる調整も行ってはならないし，また，操作は正常でなければならない。
8.4.1.1 手動操作式回路遮断器は，次の試験を行う。
− 2回の開閉操作
− 2回の引外し自由操作
注記 引外し自由機械式開閉機器の定義については，第1部の2.4.23参照。
8.4.1.2 動力操作式回路遮断器は，次の試験を最大定格制御電源電圧及び／又は定格供給圧力の110 %，
並びに最小定格制御電源電圧及び／又は定格供給圧力の85 %で行う。
− 2回の開閉操作
− 2回の引外し自由操作
− 自動再閉路式回路遮断器は，2回の自動再閉路操作
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C 8201-2-1：2011
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8.4.2
過電流引外し装置の校正の検証
8.4.2.1
反限時時延引外し装置
反限時時延引外し装置の校正の検証は，製造業者が提供する動作曲線に引外し時間が合致しているかど
うか（ばらつきの範囲で）を確認するために，電流設定の任意の倍数の電流値で行う。
この検証は，基準周囲温度（4.7.3参照）との差に対する補正を行う場合，任意の温度で実施してもよい。
8.4.2.2
瞬時及び定限時時延引外し装置
瞬時及び定限時時延引外し装置の校正の検証は，8.3.3.1.2又は該当する場合，8.3.3.1.3 a) に規定する電
流値で引外し装置の不動作及び動作を確認する。ただし，遮断時間の計測は，行わなくてもよい。
試験は，引外し装置をもつ2極を直列につないで，全ての組合せについて試験電流を通電して行うか，
又は引外し装置をもつ1極に個別に通電して行ってもよい。
引外しレベルを決定する一つの方法として，ゆっくり増加する電流を通電する方法がある。動作値の下
限より低い電流値から通電を開始し，回路遮断器が動作するまで電流を上昇させる。試験電流の下限と上
限との間で動作しなければならない。
8.4.3
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の動作検証
8.4.3.1
不足電圧引外し装置
試験は，次に示すように，引外し装置が第1部の7.2.1.3に従って動作することを検証するために行う。
a) 吸引電圧 引外し装置は，最小定格制御電源電圧の85 %の電圧で投入できなければならない。
b) 落下電圧 引外し装置は，電圧が最小定格制御電源電圧の70 %から35 %に相当する電圧範囲のある
値に低下した場合に開放しなければならない。この規定は，8.3.3.3.2 c) 1) に規定する条件の下で動作
する必要性を考慮している。定格制御電源電圧に範囲がある場合，上限はその範囲の最小値に適用し，
下限はその範囲の最大値に適用する。
8.4.3.2
電圧引外し装置（開極用）
試験は，第1部の7.2.1.4に従って引外し装置が動作することを検証するために行う。この試験は，8.3.3.3.2
d) に規定する条件の下で動作する引外し装置に対する要求を考慮して試験電圧が低減するという条件で，
任意の温度条件で行ってもよい。定格制御電源電圧に範囲がある場合，試験電圧は，最小の定格制御電源
電圧の70 %でなければならない。
8.4.4
漏電遮断器のための追加試験
漏電遮断器又は漏電検出ユニットは，次の追加試験を行う。
a) 試験装置の動作 漏電遮断器の場合，2回の閉路−引外し操作を行い，漏電検出ユニットの場合，2
回の復帰−引外し操作を行う。漏電遮断器の場合，定格使用電圧の最小値を印加して試験装置の手動
操作によって引外しを行う。
b) 漏電遮断器の漏電動作装置の校正の検証 交流正弦波の漏れ電流を用いて次の検証を行う。
− 定格感度電流（調整できる場合，最小値）IΔnに対し，0.5倍の漏れ電流を各極に別々に通電したと
き，漏電遮断器は動作してはならない。ただし，電子回路によって感度電流を定めるものは，無作
為に選んだ極へ1回通電すればよい。
− 定格感度電流（調整できる場合，最小値）IΔnを各極に別々に通電したとき漏電遮断器は動作しなけ
ればならない。
8.4.5
耐電圧試験
試験条件は，第1部の8.3.3.4.1の1) を適用する。ただし，金属はく（箔）は用いなくてもよい。
試験は，次の箇所に適用する。
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− 開路位置にある回路遮断器の各極の端子間。その端子間とは，回路遮断器が電気的に閉じた場合に電
気的に接続する端子間である。
− 主回路へ接続する電子回路を内蔵していない回路遮断器は，閉路位置で各極と隣接する極との間及び
各極とフレームとの間（該当する場合）。
− 主回路へ接続する電子回路を内蔵している回路遮断器は，開路位置で適用できる場合，電子部品の位
置によって入力側又は出力側のいずれか片方の各極と隣接する極との間及び各極とフレームとの間
（該当する場合）。
代わりに，耐電圧試験中に電子回路は，主回路から切り離してもよい。この場合，試験は，回路遮
断器を閉路位置で，各極と隣接する極との間及び各極とフレームとの間で行う（該当する場合）。
試験方法は，次のa)，b)又はc)のいずれかでなければならない。ただし，製造業者が選定する。
a) 次の二つの試験を行う。
1) インパルス耐電圧試験 試験電圧は，定格インパルス耐電圧（標高補正なしで）の30 %又は2Uiの
ピーク値のいずれか大きい方の値を下回ってはならない。
2) 商用周波耐電圧試験 試験装置は，第1部の8.3.3.4.1の3) b)を適用する。ただし，過電流引外しは，
25 mAに設定する。安全上の理由で，製造業者の判断において電気容量の小さい試験装置，又は引
外し設定の小さい試験装置を用いてもよいが，試験装置の短絡電流は，過電流継電器の引外し設定
の8倍以上とする。例えば，40 mAの短絡電流をもつ変圧器においては，過電流継電器の最大設定
は5 mA±1 mAとする。
試験電圧値は，2Ueで最低実効値1 000 V，1 s以上印加する。過電流継電器は，引外し動作しては
ならない。
b) 最高値（Uimpの30 %，2Ui，最大Ueの2倍又は実効値1 000 Vの各ピーク値のうち）に相当する正弦
波の試験電圧で，上記a) 2)に規定する商用周波耐電圧試験。
c) 直流500 Vでの絶縁抵抗試験−絶縁抵抗は，いずれの点においても1 MΩ以上でなければならない。
耐電圧性能を8.4の注記に記載する抜取方法に従って試験する場合，商用周波耐電圧試験は，この箇条
のa) 2)に従って，第1部の表12Aに規定する試験電圧で行う。
8.4.6
第1部の表13のケースAに対応した値より小さい空間距離の検証試験
第1部の8.3.3.4.3を適用する。ただし，この規格の目的に対して，この試験は，受渡試験とする。
注記 第1部の表13のケースA以上の空間距離の場合，8.4.5の試験に含む。
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C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Ur1，Ur2，Ur3：電圧検出器
V ：電圧測定器
A ：投入装置
R1 ：可変抵抗器
N ：接地中間線，接地側線又は中性線c)
F ：ヒューズエレメント［第1部の8.3.4.1.2 d)］
X ：可変リアクトル
RL ：故障電流制限抵抗器
D ：供試装置（接続ケーブルを含む。）
注記 外形線は，金属スクリーン又はエン
クロージャを含む。
B ：校正用臨時配線
I1，I2：電流検出器
r ：分流抵抗［第1部の8.3.4.1.2 b)］
S ：電源
注a) 投入装置が電源の低圧側にある場合，調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側，低圧側のいずれに配置しても
よい。
b) 電圧相と中性線との間に接続してもよい。
c) ただし，3極遮断器においては，デルタ結線の接地側線とする。
附属書1図1−中間接地式2極2素子回路遮断器の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証の試験回路
（8.3.4.1及び8.3.5.2参照）
F
RL
N
A a)
Ur1b)
R1 a)
Ｘa)
r
S
Ur2
B
I1
V
R1 a)
Ｘa)
r
Ur3
B
I2
D
55
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Ur1，Ur2，Ur3：電圧検出器
V ：電圧測定器
A ：投入装置
R1 ：可変抵抗器
N ：接地中間線，接地側線又は中性線b)
F ：ヒューズエレメント［第1部の8.3.4.1.2 d)］
X ：可変リアクトル
RL ：故障電流制限抵抗器
D ：供試装置（接続ケーブルを含む。）
注記 外形線は，金属スクリーン又はエ
ンクロージャを含む。
B ：校正用臨時配線
I1，I2：電流検出器
r ：分流抵抗［第1部の8.3.4.1.2 b)］
S ：電源
注a) 投入装置が電源の低圧側にある場合，調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側，低圧側のいずれに配置し
てもよい。
b) ただし，3極遮断器においては，デルタ結線の接地側線とする。
附属書1図2−単相3線式回路遮断器の電圧相−中性極間の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証の
試験回路（8.3.4.1及び8.3.5.2参照）
R1 a)
Ｘa)
r
Ur2
B
I1
Ur1
V
Ur3
B
I2
D
F
RL
A a)
N
S
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Ur1，Ur2，Ur3，Ur4，Ur5，Ur6：電圧検出器
V ：電圧測定器
A ：投入装置
R1 ：可変抵抗器
N ：接地中間線，接地側線又は中性線c)
F ：ヒューズエレメント［第1部の8.3.4.1.2 d)］
X ：可変リアクトル
RL ：故障電流制限抵抗器
D ：供試装置（接続ケーブルを含む。）
注記 外形線は，金属スクリーン又はエン
クロージャを含む。
B ：校正用臨時配線
I1，I2，I3：電流検出器
T ：接地−1点接地に限る（負荷側又は電源
側）。
r ：分流抵抗［第1部の8.3.4.1.2 b)］
S ：電源
注a) 投入装置が電源の低圧側にある場合，調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側，低圧側のいずれに配置しても
よい。
b) 電圧相と中性線との間に接続してもよい。
c) ただし，3極遮断器においてはデルタ結線の接地側線とする。
附属書1図3−単相3線式の3極回路遮断器の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証の試験回路
（8.3.4.1及び8.3.5.2参照）
Ur6
B
I3
R1 a)
Ｘa)
r
Ur4
B
I1
R1 a)
Ｘa)
r
Ur5
B
I2
D
F
RL
V
Ur1b)
Ur2b)
Ur3b)
S
N
Aa)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書2
（規定）
在来電気設備規定対応形回路遮断器
序文
この附属書は，在来電気設備規定によって施工する電気設備用の回路遮断器について規定する。
この回路遮断器の性能試験は，JIS C 3307で規定する絶縁電線の許容温度が60 ℃の絶縁電線（PVC
60 ℃基準絶縁電線）を基準としている。
この附属書は，箇条1〜箇条6は本文によるため，箇条7から規定する。
なお，この附属書でこの規格の箇条，細分箇条，細別などを引用し，その引用箇所から更にこの規格の
引用がある場合，この附属書の箇条，細分箇条，細別などを適用する。例えば，附属書2の8.3.3.7におい
て“附属書1の8.3.3.7を適用する。”とあり，附属書1の8.3.3.7に“8.3.3.6の試験後”とある場合には，
“附属書2の8.3.3.6の試験後”として読み替える必要がある。（“附属書1の8.3.3.6の試験後”ではない。）。
7
構造及び性能に関する要求事項
7.1
構造に関する要求事項
第1部の7.1を適用する。ただし，次のa)及びb)の変更を行う。
a) 第1部の7.1.1.1を次に置き換えて適用する。
電気的な作用によって熱的変形作用にさらされたり，機器の安全性を損なうような劣化をする絶縁
材料の部品は，異常加熱又は火災によって有害な影響を受けてはならない。
回路遮断器の充電部を保持する熱可塑性の外郭絶縁物は，8.2に従って試験を行ったとき，鋼球によ
ってできた跡の直径は，2 mm以下でなければならない。
b) 第1部の7.1.4.1を，次に置き換えて適用する。
装置の操作部は，定格絶縁電圧に対し充電部から絶縁する。また，該当する場合には，定格インパ
ルス耐電圧に対しても充電部から絶縁する。
7.1.1
引出形回路遮断器
附属書1の7.1.1を適用する。
7.1.2
断路に適する回路遮断器への追加要求事項
附属書1の7.1.2を適用する。
7.1.3
空間距離及び沿面距離
製造業者が定格インパルス耐電圧（Uimp）の値を宣言した回路遮断器に対しては，第1部の表13及び第
1部の表15に最低値を規定する。
製造業者が定格インパルス耐電圧値（Uimp）の値を宣言していない回路遮断器で，定格絶縁電圧が300 V
以下及び定格電流が100 A以下の回路遮断器に対しては，第1部の附属書JAに最低値を規定する。さら
に，絶縁物の厚さは，次に適合しなければならない。
a) 器体の外被の材料が絶縁体を兼ねる場合，回路遮断器内に組み込まれる部分を除き，絶縁物（空間距
離及び沿面距離の規定に適合するために用いるものに限る。）の厚さは，0.8 mm（人が触れるおそれ
のないものは，0.5 mm）以上で，かつ，ピンホールがないものでなければならない。
ただし，質量が250 gで，ロックウェル硬度R100の硬さに表面をポリアミド加工した半径が10 mm
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の球面をもつおもりを，次の附属書2表1の左欄に規定する種類ごとに，それぞれ同表の右欄に規定
する高さから鉛直に3回落としたとき，又はこれと同等の衝撃力をロックウェル硬度R100の硬さに
表面をポリアミド加工した半径が10 mmの球面をもつ衝撃片によって3回加えたとき，感電，火災の
危険が生じるおそれがあるひび，割れ，その他の異常が生じないもので，かつ，ピンホールがないも
のは，この限りでない。
附属書2表1−球面をもつおもりを落とす高さ
単位 cm
種類
高さ
人が触れるおそれがないもの
14
その他のもの
20
b) a)以外のものであって，外傷を受けるおそれがある部分に用いる絶縁物（空間距離及び沿面距離の規
定に適合するために用いるものに限る。）の厚さは，0.3 mm以上であって，かつ，ピンホールのない
ものでなければならない。ただし，次の試験を行ったときにこれに適合するものであって，かつ，ピ
ンホールのないものにあっては，この限りではない。
− 附属書2表2の左欄に規定する絶縁物を使用する電圧の区分ごとに，それぞれ同表の右欄に規定
する交流電圧を加えた場合，連続して1 min加えたときこれに耐えなければならない。
附属書2表2−印加電圧
単位 V
絶縁物を使用する電圧の区分
交流電圧
30以下
500
30を超え
150以下
1 000
150を超え
300以下
1 500
300を超え 1 000以下
絶縁物を使用する電圧の2倍に1 000を加えた値
7.1.4
操作する人の安全のための要求事項
附属書1の7.1.4を適用する。
7.1.5
構造の相違要件のリスト
附属書1の7.1.5を適用する。
7.1.6
中性極を備えた回路遮断器の追加要求事項
附属書1の7.1.6を適用する。
7.2
性能に関する要求事項
7.2.1
操作条件
7.2.1.1
投入
附属書1の7.2.1.1を適用する。
7.2.1.1.1
直接手動操作による投入
附属書1の7.2.1.1.1を適用する。
7.2.1.1.2
間接手動操作による投入
附属書1の7.2.1.1.2を適用する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.2.1.1.3
直接動力操作による投入
附属書1の7.2.1.1.3を適用する。
7.2.1.1.4
間接動力操作による投入
附属書1の7.2.1.1.4を適用する。
7.2.1.1.5
エネルギー蓄積形の投入
附属書1の7.2.1.1.5を適用する。
7.2.1.2
開路
7.2.1.2.1
一般事項
附属書1の7.2.1.2.1を適用する。
7.2.1.2.2
不足電圧引外しによる開路
附属書1の7.2.1.2.2を適用する。ただし，動作電圧範囲を70 %〜20 %に変更する。
7.2.1.2.3
電圧引外しによる開路
附属書1の7.2.1.2.3を適用する。ただし，引外し動作電圧範囲を交流は85〜110 %，直流は75〜110 %
に変更する。
7.2.1.2.4
過電流引外しによる開路
附属書1の7.2.1.2.4を適用する。ただし，b) を次の内容に置き換えて適用する。
b) 過負荷条件での開路
1) 瞬時又は定限時動作 引外し装置は，過負荷引外し設定電流のいずれの値に対しても設定値の±
10 %の精度で回路遮断器を引外ししなければならない。
2) 反限時動作 反限時動作に対する規定値を附属書2表6に示す。
基準周囲温度（4.7.3参照）において，設定電流の1.0倍（第1部の2.4.37参照）の電流，すなわ
ち，不動作電流（第1部の2.5.30参照）を，コールド状態（すなわち，基準周囲温度の状態）から
引外し装置の全ての電圧極に通電したとき，回路遮断器は，規定する不動作時間（第1部の2.5.30
参照）より早く引き外してはならない。さらに，規定する引外し時間の終了後，直ちに設定値の1.25
倍，すなわち，引外し電流（第1部の2.5.31参照）に引き上げたとき，規定する引外し時間内に引
外しを行わなければならない。また，設定値の2.0倍の電流を，コールド状態から過電流引外し素
子のある電圧極について各極ごとに通電したとき，規定する動作時間内に引外しを行わなければな
らない。
注記 基準周囲温度とは，回路遮断器の時間−電流特性が基準とする周囲温度である。
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附属書2表6−基準周囲温度での長限時過電流引外しの動作特性
全極負荷
引外し時間
min
不動作電流
引外し電流
電流設定値の1.00倍
電流設定値の1.25倍
120a)
電流設定値の2.0倍
2以下（In≦30 A）
4以下（30 A＜In≦50 A）
6以下（50 A＜In≦100 A）
8以下（100 A＜In≦225 A）
10以下（225 A＜In≦400 A）
12以下（400 A＜In≦600 A）
14以下（600 A＜In≦800 A）
16以下（800 A＜In≦1 000 A）
18以下（1 000 A＜In≦1 200 A）
20以下（1 200 A＜In≦1 600 A）
22以下（1 600 A＜In≦2 000 A）
24以下（2 000 A＜In）
注a) Inが50 A以下の場合は，60 min
引外しが実質的に周囲温度に依存しないことを製造業者が明示する場合，附属書2表6の電流値は，製
造業者が明示する温度範囲内で，動作時間は0.3 %/Kの許容差範囲内で適合しなければならない。
温度範囲の幅は，基準周囲温度のいずれの側においても，10 K以上でなければならない。
7.2.2
温度上昇
7.2.2.1
温度上昇限度
附属書1の7.2.2.1を適用する。ただし，8.3.4.4，8.3.6.3，8.3.7.2，及び8.3.8.6の試験を除き，附属書1
表7を附属書2表7に置き換えて適用する。
7.2.2.2
周囲温度
附属書1の7.2.2.2を適用する。ただし，附属書1表7を附属書2表7に置き換えて適用する。
7.2.2.3
主回路
附属書1の7.2.2.3を適用する。ただし，附属書1表7を附属書2表7に置き換えて適用する。
7.2.2.4
制御回路
附属書1の7.2.2.4を適用する。ただし，附属書1表7を附属書2表7に置き換えて適用する。
7.2.2.5
補助回路
附属書1の7.2.2.5を適用する。ただし，附属書1表7を附属書2表7に置き換えて適用する。
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附属書2表7−端子及び近接（アクセス）できる部分（部品）の温度上昇限度
部分（部品）の種類a)
温度上昇限度
Kb)
− 外部に接続するための端子
60 c)
− つまむ，握るなどによって手動で操作する部分
金属
25
非金属
35
− 触れることができるが，つかむことを意図したところで
はない部分
金属
40
非金属
50
− 通常の操作をするために人が触れる必要がない部分
金属
50
非金属
60
注a) 表中に記載がない部分は，規定値はないが，隣接絶縁物に異常をもたらさないこ
とが望ましい。
b) 規定する温度上昇限度は，新品の供試品には適用しないが，箇条8に規定する試
験シーケンスでの温度上昇の検証に適用する。ただし，8.3.4.4，8.3.6.3，8.3.7.2
及び8.3.8.6の試験の温度上昇限度は，附属書1表7の値を適用する。
c) 銅帯を接続して試験した場合は，温度上昇限度を65 Kとする。
7.2.3
耐電圧性能
製造業者が定格インパルス耐電圧（Uimp）の値を宣言している場合は，第1部の7.2.3 a) 及び7.2.3 b) ，
並びに7.2.3.1，7.2.3.2，7.2.3.3，7.2.3.4，7.2.3.5及び7.2.3.6を適用する。形式試験は，8.3.3.2に従って行
う。全ての試験シーケンス中，耐電圧の検証は，8.3.3.5に従って行う。受渡試験は，8.4.5に従って行う。
定格インパルス耐電圧の値を宣言していない場合，試験シーケンス中に行われる耐電圧の検証のために，
回路遮断器は，8.3.3.2.0A，8.3.3.2.0B，8.3.3.2.0C及び8.3.3.2.0Dに規定する耐電圧試験に適合しなければ
ならない。さらに，8.3.3.2.0Eに規定する雷インパルス耐電圧試験に適合しなければならない。
7.2.3.1
インパルス耐電圧
附属書1の7.2.3.1を適用する。
7.2.3.2
主回路，補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧
附属書1の7.2.3.2を適用する。
7.2.3.3
空間距離
附属書1の7.2.3.3を適用する。
注記 定格インパルス耐電圧（Uimp）の値を宣言していない回路遮断器に対しては，第1部の附属書
JAにその最小値を規定する（7.1.3参照）。
7.2.3.4
沿面距離
附属書1の7.2.3.4を適用する。
注記 定格インパルス耐電圧（Uimp）の値を宣言していない回路遮断器に対しては，第1部の附属書
JAにその最小値を規定する（7.1.3参照）。
7.2.3.5
固体絶縁
附属書1の7.2.3.5を適用する。
7.2.3.6
分離した回路間の間隔
附属書1の7.2.3.6を適用する。
7.2.4
無負荷，通常負荷及び過負荷条件での開閉（投入及び遮断）能力
7.2.4.1
過負荷性能
附属書1の7.2.4.1を適用する。
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7.2.4.2
開閉耐久性能
附属書1の7.2.4.2を適用する。
7.2.4.2A 越流性能
定格使用電圧が100 V又は100/200 Vで定格電流が50 A以下の回路遮断器は，越流性能の検証を8.3.3.9A
に従って行う。
7.2.5
短絡条件での投入及び遮断能力
附属書1の7.2.5を適用する。
7.2.6
空白
7.2.7
断路に適する回路遮断器のための追加要求事項
附属書1の7.2.7を適用する。
7.2.8
ヒューズ組込み形回路遮断器の特殊要求事項
附属書1の7.2.8を適用する。
7.2.9
回路遮断器とその他の短絡保護装置との保護協調
附属書1の7.2.9を適用する。
7.3
電磁両立性（EMC）
附属書1の7.3を適用する。
8
試験
8.1
試験の種類
附属書1の8.1を適用する。
8.1.1
附属書1の8.1.1を適用する。
8.1.2
形式試験には，次の試験がある。
試験
箇条番号
温度上昇
8.3.2.5
引外し限界及び特性
8.3.3.1
耐電圧性能
8.3.3.2
開閉耐久性能
8.3.3.3
過負荷性能（適用する場合）
8.3.3.4
越流性能（適用する場合）
8.3.3.9A
短絡遮断容量
8.3.4及び8.3.5
短時間耐電流（適用する場合）
8.3.6
ヒューズ組込み形回路遮断器の性能
8.3.7
形式試験は，製造業者が選定する製造業者の工場，又は製造業者が選定する試験機関で行わなければな
らない。
8.1.3
受渡試験は，8.4に規定する試験によって構成する。
8.2
構造要件に関する要求事項に対する適合性
次の追加とともに，第1部の8.2を適用する（ただし，7.1を参照）。
8.2.0A 外郭絶縁物の強度試験
外郭絶縁物の強度試験は，附属書2図1に示す試験器具に従って行う。
試験する部分の表面は，水平位置に置き，直径5 mmの鋼球を20 Nの力で押し付ける。
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試験は，75 ℃±2 ℃又は8.3.3.6で試験した当該試料の温度上昇値に40 ℃±2 ℃を加えた値のいずれか
高い方の温度の恒温槽内で行う。
1時間後に鋼球を試料から取り外し，10 s以下でほぼ室温になるように水に浸して冷却し，鋼球によっ
てできた跡の直径を測定する。
単位 mm
附属書2図1−外郭絶縁物の強度試験器
8.3
形式試験
附属書1の8.3を適用する。ただし，附属書1の“試験シーケンスI”を“試験シーケンスIa（8.3.3参
照）”に置き換えて適用する。
8.3.1
試験シーケンス
次の事項を変更し，附属書1の8.3.1を適用する。ただし，附属書1表9の“試験シーケンスI”を附属
書2表9の“試験シーケンスIa”に置き換えて適用する。
附属書2表9−試験シーケンスの一覧表
試験シーケンス
適用
試験
Ia
一般性能特性
（8.3.3）
全ての回路遮断器
引外し限界及び特性
耐電圧性能
過負荷性能
越流性能の検証（該当する場合）
温度上昇の検証
過負荷引外しの検証
機械的操作及び開閉耐久性能
耐電圧の検証
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の検証
主接点位置の検証（適用する場合）
8.3.2
一般試験条件
附属書1の8.3.2を適用する。
8.3.2.1
一般要求事項
附属書1の8.3.2.1を適用する。
8.3.2.2
試験値
8.3.2.2.1
試験値の数値
附属書1の8.3.2.2.1を適用する。
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8.3.2.2.2
試験値の誤差許容度
附属書1の8.3.2.2.2を適用する。
8.3.2.2.3
交流の試験回路の周波数
附属書1の8.3.2.2.3を適用する。
8.3.2.2.4
試験回路の力率
附属書1の8.3.2.2.4を適用する。
8.3.2.2.5
試験回路の時定数
附属書1の8.3.2.2.5を適用する。
8.3.2.2.6
商用周波回復電圧
附属書1の8.3.2.2.6を適用する。
8.3.2.3
試験結果の評価
附属書1の8.3.2.3を適用する。
8.3.2.4
試験成績書
附属書1の8.3.2.4を適用する。
8.3.2.5
温度上昇試験の試験条件
附属書1の8.3.2.5を適用する。
ただし，“800 A以下の回路遮断器に接続する試験用銅導体は，第1部の表9A，表10又は表11を適用
する。また，長さを1.5 m以上とする。”を追加して適用する。
8.3.2.6
短絡試験の試験条件
8.3.2.6.1
一般的要求事項
附属書1の8.3.2.6.1を適用する。ただし，b)及びd)を次の内容に置き換えて適用する。
b) 定格絶縁電圧が300 V以下，及び定格電流が100 A以下の回路遮断器は，手動操作ハンドルがいかな
る位置にあっても，消弧装置の領域へ達するような，直径が0.26 mmのピアノ線を差し込める隙間が
手動操作ハンドルの周囲にないことを証明することができない場合は，次の試験に適合しなければな
らない。
開動作だけに対して，図1（ポリエチレンシートの位置の10 mmを20 mmに変えて適用する。）に
規定する位置に固定し，枠に適切に広げて取り付けた，厚さが0.05 mm±0.01 mmで，大きさが100 mm
×100 mmのきれいな低密度ポリエチレンシートを，次のいずれかの位置から20 mmのところに置く。
− 手動閉路ハンドルが回路遮断器の外郭より外側にある場合には，手動閉路ハンドルの最大の突起か
ら。
− 手動閉路ハンドルが回路遮断器の外郭より内側にある場合には，外郭から。
ポリエチレンシートは，次の物性値をもたなければならない。
− 23 ℃での密度：0.92 g/cm3±0.05 g/cm3
− 融点：110 ℃〜120 ℃
ポリエチレンシートの回路遮断器と逆の側に，短絡試験中の衝撃波によるポリエチレンシートの裂
けを未然に防ぐために，適切な裏打ちを施す（図1参照）。
個別のエンクロージャ内での試験以外の試験に対しては，絶縁材料又は金属から構成したシールド
を金属スクリーンとポリエチレンシートとの間に置く（図1参照）。
注記2 この試験は，O操作だけに適用する。その理由として，CO操作は，配置が困難になる
こと，及びO操作は，CO操作と厳しさが同等と認められているからである（8.3.2.6.4
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参照）。
注記3 この細別b)に適合していることを立証するための新しい一連の短絡試験のシーケンスを
行う必要性をなくすために，製造業者の同意の下で，適用する各試験シーケンスに対し
て各々のO操作によってこの細別b)を検証することを認める。
なお，このポリエチレンシートは，次のさらしかなきんで代用してもよい。さらしかなきんは，密
度が25.4 mmにつき，たて72本±4本，よこ69本±4本，30番手のたて糸及び36番手のよこ糸を用
いたのり付けをしない平織の綿布とする。
d) 可調整の過電流引外し装置を備えた回路遮断器は，これらの引外しの設定は，各試験シーケンスの指
定による。
過電流引外し装置がないもので，電圧引外し装置を備えた回路遮断器では，この引外し装置は，短
絡の開始時点より以降，かつ，短絡の開始後10 ms以下の時間で，その引外し装置の定格制御電源電
圧（7.2.1.2.3参照）の交流は85 %，直流は75 %に等しい電圧を印加しなければならない。
8.3.2.6.2
試験回路
附属書1の8.3.2.6.2を適用する。
8.3.2.6.3
試験回路の校正
附属書1の8.3.2.6.3を適用する。
8.3.2.6.4
試験方法
附属書1の8.3.2.6.4を適用する。ただし，次の事項を拡大して適用する。
定格電流が630 A以下の回路遮断器は，その定格電流に対応する断面積（第1部の8.3.3.3.4の表9A及
び表10参照）で，長さの和が1.5 mの電線を用いる。
8.3.2.6.5
短絡投入及び遮断試験における回路遮断器の動作
附属書1の8.3.2.6.5を適用する。
8.3.2.6.6
記録の解釈
附属書1の8.3.2.6.6を適用する。
8.3.2.6.7
短絡試験後の検証
附属書1の8.3.2.6.7を適用する。
8.3.3
試験シーケンスIa：一般性能特性
試験シーケンスIaは，全ての回路遮断器に適用し，次の試験によって構成する。
試験
箇条番号
引外し限界及び特性
8.3.3.1
耐電圧性能
8.3.3.2
過負荷性能
8.3.3.4
越流性能の検証（該当する場合）
8.3.3.9A
温度上昇の検証
8.3.3.6
過負荷引外しの検証
8.3.3.7
機械的操作及び開閉耐久性能
8.3.3.3
耐電圧の検証
8.3.3.5
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の検証（該当する場合）
8.3.3.8
主接点位置の検証（断路に適する回路遮断器）
8.3.3.9
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この試験シーケンスは，1台の供試品で試験を行う。可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用
する。
8.3.3.1
引外し限界及び特性
附属書1の8.3.3.1を適用する。ただし，附属書1の7.2.1.2.4を附属書2の7.2.1.2.4 に置き換えて適用
する。
8.3.3.1.1
一般事項
周囲温度は，温度上昇試験（8.3.2.5参照）のとき測定する。
過電流引外し装置が通常の回路遮断器の一部として組み込んである場合は，回路遮断器の内部にある状
態で検証する。
分離した引外し装置は，ほぼ実使用条件と同様に取り付ける。回路遮断器本体は，8.3.2.1に従って取り
付ける。試験中の装置は，外部からの過度の加熱又は冷却がないようにする。
分離した引外し装置の接続又は回路遮断器本体の接続は，実使用と同様に，定格電流（In）に対応する
断面積（第1部の8.3.3.3.4の表9A及び表10参照）をもち，第1部の8.3.3.3.4に規定する長さの導体を用
いて行う。ただし，試験の都合上，長さを1.5 m以上としてもよい。
可調整式過電流引外し装置をもつ回路遮断器では，最小及び最大電流に設定し，定格電流Inに相当する
導体（4.7.2参照）を接続して試験を行う。
注記 端子の温度に依存しない動作特性の試験（例えば，電子式の過電流引外し又は電磁引外し）で
は，接続情報（形式，断面積又は長さ）が第1部の8.3.3.3.4の規定と異なってもよい。この接
続は，試験電流又は引き起こされる熱的ストレスが同等であればよい。
過負荷引外しをもつ中性極を備えた回路遮断器では，この過負荷引外しの検証を中性極だけで行う。
試験は，任意の電圧で行ってもよい。
8.3.3.1.2
短絡条件での開極
附属書1の8.3.3.1.2を適用する。
8.3.3.1.3
過負荷条件における開路
附属書1の8.3.3.1.3を適用する。
8.3.3.1.4
定限時時延引外しの追加試験
附属書1の8.3.3.1.4を適用する。
8.3.3.2
耐電圧性能試験
耐電圧性能試験は，次による。
a) 製造業者が定格インパルス耐電圧（Uimp）（4.3.1.3参照）を宣言している場合 第1部の8.3.3.4.1を適
用する。ただし，第1部の8.3.3.4.1の5)を除いて，次の事項を追加して適用する。
(i) 第1部の8.3.3.4.1の2) c) i)及びii)に関連し，通常の動作位置とは，引外し位置も含む。
(ii) 第1部の8.3.3.4.1の3) c)に関連し，主回路へ接続している半導体素子を含む回路は，切り離して試験
する。
(iii) 断路に適していると宣言していない回路遮断器は，電源端子を一括接続し，負荷端子も一括接続して
主回路の極間に印加して試験する。試験電圧は，第1部の表12を適用する。
(iv) 50 Vを超える使用電圧をもつ断路に適する回路遮断器は，開路位置の各極で1.1Ueの試験電圧を印加
したとき，漏れ電流は0.5 mA以下とする。
b) 製造業者が定格インパルス耐電圧（Uimp）の値を宣言していない場合 8.3.3.2.0A，8.3.3.2.0B，8.3.3.2.0C
及び8.3.3.2.0D，並びにこの規格の関連する箇条に従って，絶縁耐力のための試験を行う。さらに，
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8.3.3.2.0A及び8.3.3.2.0Eに従って，雷インパルス耐電圧試験を実施したとき，絶縁破壊又はフラッシ
オーバがあってはならない。
8.3.3.2.0A 試験のための回路遮断器の状態
耐電圧試験は，乾燥した場所で，内部配線を含め使用状態と同じ取付状態の回路遮断器で行う。
回路遮断器のベースが絶縁物の場合，回路遮断器の通常の取付状態に従って，回路遮断器を固定する点
全てに金属部品を配置する。これらの部分は，回路遮断器のフレームの一部とみなす。
回路遮断器が，モールドケースで作られているか否かにかかわらず，絶縁物のエンクロージャに取り付
けるとき，エンクロージャは，フレームに接続した金属はく（箔）で覆う。操作ハンドルが金属の場合に
は，フレームに接続する。操作ハンドルが絶縁物の場合，フレームに接続した金属はく（箔）で覆う。
回路遮断器の絶縁耐力が，導線をテーピング又は特別な絶縁物の使用に依存しているような場合，試験
中もそのようなテーピング又は特別な絶縁物を用いる。
8.3.3.2.0B 試験電圧の印加
回路遮断器の回路がモータ，計器，スナップスイッチ又は半導体装置を含む場合で，それらの関連仕様
に従って8.3.3.2.0Cに規定する値よりも低い値で耐電圧試験を行っている場合，回路遮断器に要求した試
験を行う前，これらを取り外す。
a) 主回路 これらの試験のために，通常では主回路に接続しない制御回路及び補助回路は，使用状態で
通常接地している回路遮断器の全ての部品と接続しなければならない。
試験電圧は，次の部分に1 min印加する。
1) 回路遮断器が投入状態において
− 全ての極の充電部一括と，回路遮断器のフレームとの間
− 各極と，回路遮断器のフレームに接続した異極一括との間
2) 回路遮断器が開路位置及び引外し位置において
− 全ての極の充電部一括と，回路遮断器のフレームとの間
− 一方の端子一括と，他方の端子一括との間
b) 制御回路及び補助回路 これらの試験のために，主回路は，使用状態で通常接地する回路遮断器の全
ての部品に接続する。
試験電圧は，次の部分に1 min印加する。
1) 通常は主回路に接続しない制御回路及び補助回路を全て一括して接続し，それと回路遮断器のフレ
ームとの間
2) 適切な場合には，通常の動作中は，その他の部品から絶縁する制御回路及び補助回路の各部品と，
その他の全ての部品を一括したものとの間
8.3.3.2.0C 試験電圧の値
試験電圧は，できるだけ正弦波で周波数は45 Hz〜62 Hzとする。試験の電源電圧は，附属書2表12に
規定する値に調整でき，試験電圧を短絡させたとき出力が0.2 A以上になるような特性とする。
1 minの試験電圧の値は，次による。
a) 次のb)以外の制御回路及び補助回路に対して，並びに主回路に対しては，附属書2表12を適用する。
b) 製造業者の指示によって主回路への接続が不適切であるとした制御回路及び補助回路に対しては，次
による。
− 定格絶縁電圧Uiが60 V以下の場合：1 000V
− 定格絶縁電圧Uiが60 Vを超える場合：2Ui＋1 000 Vで最小値1 500 V
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附属書2表12−定格絶縁電圧に対応する耐電圧試験の電圧
単位 V
定格絶縁電圧Ui
耐電圧試験電圧
（交流，実効値）
Ui≦
60
1 000
60＜Ui≦ 300
2 000
300＜Ui≦ 690
2 500
690＜Ui≦ 800
3 000
800＜Ui≦ 1 000
3 500
1 000＜Ui≦ 1 500 a)
3 500
注a) 直流に限定する。
8.3.3.2.0D 結果
絶縁破壊又はフラッシオーバがない場合，試験は良好とみなす。
8.3.3.2.0E 雷インパルス耐電圧試験
回路遮断器を閉路位置とし，波形が1.2/50 μs（波形の裕度：波頭長で30 %，波尾長で20 %）で5.0 kV
の電圧を正極及び負極ごとに各3回充電部と非充電金属部との間に印加して行う。
8.3.3.3
機械的操作及び開閉耐久性能の試験
8.3.3.3.1
一般試験条件
附属書1の8.3.3.3.1を適用する。
8.3.3.3.2
構造及び機械的操作
附属書1の8.3.3.3.2を適用する。ただし，c)及びd)を次の内容に置き換えて適用する。
c) 不足電圧引外し装置 不足電圧引外し装置は，第1部の7.2.1.3の規定に適合しなければならない。た
だし，動作電圧範囲を70 %〜20 %に変更する。この引外し装置は，最大定格電流の回路遮断器に装着
しなければならない。
1) 落下（開放）電圧 引外し装置が，指定する電圧の範囲内で回路遮断器を開路することを検証する。
電圧は，約30 sで定格制御電源電圧から0 Vになる割合で下げる。
下限の試験は，主回路に電流を流さないで，かつ，引外しのコイルは予備加熱なしで行う。
定格制御電源電圧に範囲がある引外し装置の場合，この試験は，その範囲の最大定格電圧で行う。
上限の試験は，引外し装置に定格制御電源電圧を印加して，かつ，回路遮断器の主回路に定格電
流を通電して，その温度が一定状態になってから始める。この試験は，8.3.3.6の温度上昇試験と組
み合わせてもよい。
定格制御電源電圧に範囲がある引外し装置の場合，この試験は，その範囲の最大の定格制御電源
電圧及び最小の定格制御電源電圧の両方で行う。
2) 動作限界に対する試験 試験室の温度で回路遮断器を開にし，かつ，定格最大制御電源電圧の20 %
の電圧を印加して試験を開始したとき，操作部の操作によって回路遮断器が投入できないことを検
証する。電源電圧を最小制御電源電圧の85 %まで上げたとき，操作部の操作によって回路遮断器が
投入できることを検証する。
3) 過電圧状態での性能 回路遮断器を閉とし，かつ，主回路に電流を通電しない状態にしたとき，不
足電圧引外し装置は，その定格制御電源電圧の110 %を4時間印加しても，その機能を損なわない
で耐えることを検証する。
d) 電圧引外し装置 電圧引外し装置は，第1部の7.2.1.4の要求事項に適合しなければならない。ただし，
69
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
引外し動作電圧範囲を交流は85〜110 %，直流は75〜110 %に変更する。この引外し装置は，最大定
格電流の回路遮断器に装着する。
回路遮断器の主回路に通電しない状態で，かつ，周囲温度が55 ℃±2 ℃で試験したとき，その引
外し装置が定格制御電源電圧の交流は85 %，直流は75 %で回路遮断器を開路することを検証する。
定格制御電源電圧に範囲がある引外し装置の場合，この試験は，その範囲の最小定格制御電源電圧の
交流は85 %，直流は75 %で行う。
8.3.3.3.3
無通電開閉耐久性能
附属書1の8.3.3.3.3を適用する。
8.3.3.3.4
通電開閉耐久性能
附属書1の8.3.3.3.4を適用する。
8.3.3.3.5
引出形回路遮断器に対する無通電開閉耐久性能の追加試験
附属書1の8.3.3.3.5を適用する。
8.3.3.4
過負荷性能
附属書1の8.3.3.4を適用する。
8.3.3.5
耐電圧の検証
附属書1の8.3.3.5を適用する。
8.3.3.6
温度上昇の検証
8.3.3.5又は8.3.3.9A（該当する場合）の試験後，熱電流で温度上昇試験を8.3.2.5に従って行う。試験終
了時点で，温度上昇値は，附属書2表7に規定する値以下とする。
8.3.3.7
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.3.7を適用する。
8.3.3.8
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の検証
不足電圧引外し装置を備えた回路遮断器は，上限及び下限の試験は主回路に電流を流さないで行い，か
つ，試験室の温度で行うこと以外は，8.3.3.3.2 c) 1)と同一の試験を行う。この引外し装置は，最小の定格
制御電源電圧の70 %で動作してはならず，かつ，最大の定格制御電源電圧の20 %で動作しなければなら
ない。
電圧引外し装置を備えた回路遮断器は，試験室の温度で行うこと以外は，8.3.3.3.2 d)と同一の試験を行
う。この引外し装置は，最小の定格制御電源電圧の交流は85 %，直流は75 %で動作しなければならない。
8.3.3.9
主接点位置の検証
附属書1の8.3.3.9を適用する。
8.3.3.9A 越流性能の検証
附属書1の8.3.3.9Aを適用する。
8.3.4
試験シーケンスII：定格使用短絡遮断容量
附属書1の8.3.4を適用する。
8.3.4.1
定格使用短絡遮断容量試験
附属書1の8.3.4.1を適用する。
8.3.4.2
開閉能力の検証
附属書1の8.3.4.2を適用する。
8.3.4.3
耐電圧の検証
附属書1の8.3.4.3を適用する。
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C 8201-2-1：2011
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8.3.4.4
温度上昇の検証
附属書1の8.3.4.4を適用する。
8.3.4.5
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.4.5を適用する。
8.3.5
試験シーケンスIII：定格限界短絡遮断容量
附属書1の8.3.5を適用する。
8.3.5.1
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.5.1を適用する。
8.3.5.2
定格限界短絡遮断容量試験
附属書1の8.3.5.2を適用する。
8.3.5.3
耐電圧の検証
附属書1の8.3.5.3を適用する。
8.3.5.4
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.5.4を適用する。
8.3.6
試験シーケンスIV：定格短時間耐電流
附属書1の8.3.6を適用する。
8.3.6.1
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.6.1を適用する。
8.3.6.2
定格短時間耐電流試験
附属書1の8.3.6.2を適用する。
8.3.6.3
温度上昇の検証
附属書1の8.3.6.3を適用しない。
8.3.6.4
最大短時間耐電流における短絡遮断容量試験
附属書1の8.3.6.4を適用する。
8.3.6.5
耐電圧の検証
附属書1の8.3.6.5を適用する。
8.3.6.6
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.6.6を適用する。
8.3.7
試験シーケンスV：ヒューズ組込み形回路遮断器の性能
附属書1の8.3.7を適用する。
8.3.7.1
選択限界電流における短絡
附属書1の8.3.7.1を適用する。
8.3.7.2
温度上昇の検証
附属書1の8.3.7.2を適用する。
8.3.7.3
耐電圧の検証
附属書1の8.3.7.3を適用する。
8.3.7.4
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.7.4を適用する。
8.3.7.5
テイクオーバ電流の1.1倍の電流における短絡
附属書1の8.3.7.5を適用する。
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8.3.7.6
限界短絡遮断容量における短絡
附属書1の8.3.7.6を適用する。
8.3.7.7
耐電圧の検証
附属書1の8.3.7.7を適用する。
8.3.7.8
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.7.8を適用する。
8.3.8
試験シーケンスVI：組合せ試験シーケンス
附属書1の8.3.8を適用する。
8.3.8.1
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.8.1を適用する。
8.3.8.2
定格短時間耐電流試験
附属書1の8.3.8.2を適用する。
8.3.8.3
定格使用短絡遮断容量試験
附属書1の8.3.8.3を適用する。
8.3.8.4
開閉能力の検証
附属書1の8.3.8.4を適用する。
8.3.8.5
耐電圧の検証
附属書1の8.3.8.5を適用する。
8.3.8.6
温度上昇の検証
附属書1の8.3.8.6を適用する。
8.3.8.7
過負荷引外しの検証
附属書1の8.3.8.7を適用する。
8.4
受渡試験
附属書1の8.4を適用する。
8.4.1
機械的操作試験
附属書1の8.4.1を適用する。
8.4.1.1 附属書1の8.4.1.1を適用する。
8.4.1.2 附属書1の8.4.1.2を適用する。
8.4.2
過電流引外し装置の校正の検証
附属書1の8.4.2を適用する。
8.4.2.1
反限時時延引外し装置
附属書1の8.4.2.1を適用する。
8.4.2.2
瞬時及び定限時時延引外し装置
附属書1の8.4.2.2を適用する。
8.4.3
不足電圧引外し装置及び電圧引外し装置の動作検証
8.4.3.1
不足電圧引外し装置
附属書1の8.4.3.1を適用する。ただし，b)を次の内容に置き換えて適用する。
b) 落下電圧 引外し装置は，電圧が最小定格制御電源電圧の70 %から20 %までに相当する電圧範囲の
ある値に低下した場合に開放しなければならない。この規定は，8.3.3.3.2 c) 1)に規定する条件の下で
動作する必要性を考慮している。定格制御電源電圧に範囲がある場合，上限はその範囲の最小値に適
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C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
用し，下限はその範囲の最大値に適用する。
8.4.3.2
電圧引外し装置（開極用）
試験は，第1部の7.2.1.4に従って引外し装置が動作することを検証するために行う。この試験は，8.3.3.3.2
d)に規定する条件の下で動作する引外し装置に対する要求を考慮して試験電圧が低減するという条件で，
任意の温度条件で行ってもよい。定格制御電源電圧に範囲がある場合，試験電圧は，最小の定格制御電源
電圧の交流は85 %，直流は75 %でなければならない。
8.4.4
漏電遮断器のための追加試験
附属書1の8.4.4を適用する。
8.4.5
耐電圧試験
附属書1の8.4.5を適用する。ただし，定格インパルス耐電圧（Uimp）の値を宣言していないものは，定
格インパルス耐電圧試験は行わなくてもよい。
8.4.6
第1部の表13のケースAに対応した値より小さい空間距離の検証試験
附属書1の8.4.6を適用する。
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附属書A
（規定）
同一回路内に接続した回路遮断器とその他の短絡保護装置との間の
短絡条件での保護協調
A.1 序文
同一回路内に接続した回路遮断器（C1）とその他の短絡保護装置（SCPD）との間の短絡条件での保護協
調を確認する場合，組み合わせたものとしての装置の動作と同様に，二つの装置の各々の特性についても
考慮する必要がある。
注記 SCPDには，追加の保護手段，例えば，過負荷引外しが取り付けられていてもよい。
SCPDは，1個のヒューズ（又は複数のヒューズのセット）（図A.1参照）又はもう一つの回路遮断器（C2）
（図A.2〜図A.5参照）から構成してもよい。
直列の二つの装置の動作を照合する必要がある場合，二つの接続した装置の各々の動作特性の比較では
十分ではない場合もある。その理由は，装置のインピーダンスが必ずしも無視できないからである。イン
ピーダンスを考慮に入れることを推奨する。短絡電流に対しては，時間の代わりにI2tを照合することを推
奨する。
C1は，しばしばその他のSCPDと直列に接続する。その理由として，設備に採用した配電方式によるた
め，又はC1の短絡遮断容量だけでは，計画された用途に十分ではないからである。そのような場合には，
SCPDはC1から離れた場所に取り付けてもよい。SCPDは，多数の回路遮断器C1に給電する主幹給電線を
保護していてもよいし，又は単独の回路遮断器を保護していてもよい。
そのような適用に対して，使用者又は認定機関は，机上の検討だけに基づいて，保護協調の最適レベル
が最高に達成できる方法を決定してもよい。この附属書は，この決定についての指針，及び回路遮断器の
製造業者が想定する使用者に対して与えることが望ましい情報について規定する。
計画した用途に対して，試験が必要であると判断する場合には，試験の要求事項の指針も規定する。
“保護協調”という用語は，バックアップ保護協調（第1部の2.5.24参照）について考慮する事項とと
もに選択協調（第1部の2.5.23，この規格の2.17.2及び2.17.3参照）について考慮する事項を含んでいる。
選択協調について考慮する事項は，一般的に机上の検討（A.5参照）で決定できる。それに対して，バ
ックアップ保護協調の検証は，通常，試験（A.6参照）の実施が必要である。
短絡遮断容量を考慮するとき，望ましい保護協調基準に従って，定格限界短絡遮断容量（Icu）を参考に
してもよい。
A.2
一般
この附属書では，一方の遮断器をSCPDとして用いる場合，同一回路に接続した回路遮断器同士の保護
協調について，バックアップ保護協調及び同様に選択協調に関しての指針及び要求事項について規定する。
この附属書の目的は，次による。
− 一方をSCPDとして用いる回路遮断器の保護協調に対する一般的要求事項
− 保護協調の条件が適合していることを検証するための方法及び試験
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A.3 一方をSCPDとして用いる回路遮断器の保護協調のための一般的要求事項
A.3.1 一般考慮
理想的には，保護協調としては，回路遮断器（C1）だけで，その定格限界短絡遮断容量Icuの限界まで，
過電流の全ての値において動作することが望ましい。
注記 設備のある地点での推定事故電流の値が，C1の定格限界短絡遮断容量未満である場合，SCPD
は，バックアップ保護協調以外の目的のためだけに，回路に取り付けていると考えてよい。
実際には，次の考慮が必要である。
a) 選択限界電流Is（2.17.4参照）の値がかなり小さい場合，不必要に選択性がなくなるという危険性を
生じる。
b) 設備のある地点での推定事故電流の値が，C1の定格限界短絡遮断容量を超える場合，C1の動作がA.3.3
及びテイクオーバ電流IB（2.17.6参照）に従い，かつ，A.3.2の要求事項に適合するように，SCPDを
選択する。
SCPDは，できるだけC1の電源側に設置する。SCPDをC1の負荷側に設置する場合は，C1とSCPDとの
間の接続は，短絡の危険性を最小にするように配置しなければならない。
注記 交換可能な引外し装置の場合には，これらの考慮は，それぞれの関連する引外し装置に対して
適用することが望ましい。
A.3.2 テイクオーバ電流
バックアップ保護協調の目的のために，テイクオーバ電流IBは，C1単独の定格限界短絡遮断容量Icu以
下とする（図A.4参照）。
A.3.3 SCPDと組み合わせた場合のC1の動作
組み合わせた場合の短絡遮断容量までの過電流の全ての値に対して，C1は，第1部の7.2.5の要求事項
に適合し，組合せについては，7.2.1.2.4 a)の要求事項に適合しなければならない。
A.4 組み合わせるSCPDの形式及び特性
要求がある場合，回路遮断器の製造業者は，C1とともに用いるSCPDの形式及び特性についての情報，
並びに指定した使用電圧における組合せに適している最大推定短絡電流の情報について，提示しなければ
ならない。
この附属書に従って行った試験について，用いたSCPDの詳細，すなわち，製造業者名，形式名，定格
電圧，定格電流，短絡遮断容量などを試験成績書に記載しなければならない。
最大条件付短絡電流（第1部の2.5.29参照）は，SCPDの定格限界短絡遮断容量以下とする。
組み合わせたSCPDが回路遮断器の場合には，この規格又はその関連規格の要求事項に適合しなければ
ならない。
組み合わせたSCPDがヒューズの場合には，適切なヒューズの規格に従う。
A.5 選択協調の検証
選択協調は，通常，机上だけで検討できる。すなわち，例えば，組み合わせたSCPDが意図的な時間時
延をもつ回路遮断器（C2）である場合に，C1と組み合わせたSCPDの動作特性との比較によって検討でき
る。
C1及びSCPDの製造業者は，両者ともに，それぞれの個別の組合せに対してIsを決定できるように，関
連する動作特性に関しての十分なデータを提示しなければならない。
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C 8201-2-1：2011
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例えば，次の場合には，Isでの試験がその組合せにおいて必要となる。
− C1が限流形で，C2が意図的な時間時延をもたない場合
− SCPDの開路時間が半サイクルの時間より小さい場合
組合せに用いたSCPDが回路遮断器の場合，期待する選択協調を得るために，意図的な短時間時延がC2
に対して必要になってもよい。
選択協調は，C1の定格限界短絡遮断容量Icuまでの部分領域（部分領域選択動作という。図A.4参照）又
は全領域（全領域選択動作という。）であってもよい。全領域選択動作に対しては，C2の不動作特性又は
ヒューズの溶断特性が，C1の引外し（遮断時間）特性より上（長い時間）に位置していなければならない。
全領域選択動作についての二つの説明を，図A.2及び図A.3に示す。
A.6 バックアップ保護協調の検証
A.6.1 テイクオーバ電流の決定
A.3.2の要求事項への適合性は，C1の全ての設定に対して，C1と組み合わせたSCPDの動作特性（C2が
適用できる場合は，全てのC2の設定に対して）との比較によって検討できる。
A.6.2 バックアップ保護協調の検証
バックアップ保護協調の検証は，次による。
a) 試験による検証 A.3.3の要求事項への適合性は，通常，A.6.3に従って試験することによって検証す
る。この場合，試験についての全ての条件は，短絡試験用の可変抵抗器及び可変リアクトルを組み合
わせて電源側に配置し，8.3.2.6に規定するとおりに行う。
b) 特性の比較による検証 SCPDが回路遮断器（図A.4及び図A.5参照）である場合，次の特別な注意
を払えば，C1の動作特性と，組合せに用いたSCPDの動作特性とを比較することができる。
− IcuでのC1のジュール積分値，及び組合せの推定電流でのSCPDのジュール積分値
− SCPDのピーク動作電流におけるC1への影響（例えば，アークエネルギー，最大ピーク電流，カッ
トオフ電流による影響など）
C1の定格限界短絡遮断容量Icuから，組み合わせたときの推定短絡電流までの範囲（ただし，その値は
定格短絡遮断容量におけるC1の最大通過エネルギーI2tを超えないか，又は製造業者が明示する別のより
低い限界値以下の範囲）にわたる，SCPDの最大通過エネルギーI2tを考慮することで，組合せの適否を評
価してもよい。
注記 組み合わせたSCPDがヒューズの場合，机上検討の有効性は，C1のIcuの値以下である。
A.6.3 バックアップ保護協調の検証のための試験
C1が可調整の過電流引外し装置を備える場合，その動作特性は，最小の時間及び電流の設定に相当する
特性でなければならない。
C1が瞬時の過電流引外し装置を取付けできる場合には，用いる動作特性は，そのような引外しを取り付
けたC1に相当する特性でなければならない。
組み合わせるSCPDが，可調整の過電流引外し装置をもつ回路遮断器（C2）の場合には，用いる動作特
性は，最大の時間及び電流の設定に相当する特性でなければならない。
組み合わせるSCPDとして一組のヒューズを用いる場合，その前の試験で用いたヒューズが溶断しない
場合においても，各試験は新しい一組のヒューズを用いる。
適用する場合，接続電線は，組み合わせるSCPDが回路遮断器（C2）の場合，この回路遮断器に接続す
る電線の全部の長さ（約75 cm）が電源側にあってもよいということ以外は（図A.6参照），8.3.2.6.4の規
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定を適用する。
各々の試験は，附属書1又は附属書2の8.3.5に従って行うO−t−COシーケンスで構成しており，CO
動作は，C1で行う。
試験は，目的とする適用における最大の推定短絡電流で行う。これは，定格条件付短絡電流（第1部の
4.3.6.4参照）以下とする。
追加の試験は，C1の定格限界短絡遮断容量Icuに等しい推定短絡電流の値で行う。その試験に対しては，
新しい供試品C1を用いてもよい。また，組み合わせるSCPDが回路遮断器の場合，新しい供試品C2を用
いてもよい。
各動作中に次を実施する。
a) 組み合わせるSCPDが回路遮断器（C2）の場合 次の三つの場合のいずれかによる。
− C1及びC2の両方の回路遮断器は，両方の試験電流で動作しなければならない。その他の追加試験
は，必要ない。これは，一般的な場合であり，バックアップ保護協調だけを与える。
− 両方の試験電流でC1が動作し，かつ，C2が各々の動作の最後には閉路位置になければならない。
その他の追加の試験は，必要ない。
C2の接点は各々の動作中に一時的に開極してもよい。この場合，バックアップ保護協調に加えて，
電源供給が回復される（図A.4の注記1参照）。C2の接点開極がある場合，その時間を記録する。
− C1は，より小さな試験電流で動作しなければならない。C1及びC2は，両方とも大きな試験電流で
動作しなければならない。
C2の接点は，小さな試験電流で一時的に開極してもよい。C1及びC2の両方が動作する最小電流
（その電流より小さい電流では，電源の供給は回復できる。）を決定するため，追加の試験を中間の
電流で行う。C2の接点開極がある場合，その時間を記録する。
b) 組み合わせるSCPDがヒューズ（複数のヒューズの一組）の場合 次による。
− 単相回路の場合，1本以上のヒューズが溶断しなければならない。
− 多相回路の場合，2本以上のヒューズが溶断又は1本のヒューズが溶断し，かつ，C1が動作しなけ
ればならない。
A.6.4 結果
第1部の8.3.4.1.7を適用する。
試験に続いて，C1は，附属書1又は附属書2の8.3.5.3及び8.3.5.4に適合しなければならない。
さらに，組み合わせるSCPDが回路遮断器（C2）の場合には，手動操作又はその他の適切な手段によっ
て，C2の接点が溶着していないことを検証する。
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I ：推定短絡電流
Icu ：定格限界短絡遮断容量（4.3.5.2.1）
Is ：選択限界電流（2.17.4）
IB ：テイクオーバ電流（2.17.6）
A ：ヒューズの溶断特性
B ：ヒューズの動作特性
C ：回路遮断器，非限流（N）の動作特性
（遮断時間−電流，及びI2t−電流）
注記1 Aは，下限とみなす。B及びCは，上限とみなす。
注記2 1点鎖線のI2tは，放熱領域を示す。
図A.1−回路遮断器とヒューズとの間の過電流保護協調又はヒューズによる
バックアップ保護協調−動作特性
電流
遮
断
時
間
電流
遮
断
時
間
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C1：限流形回路遮断器（L）（遮断時間特性）
C2：非限流形回路遮断器（N）（引外し特性）
C1：非限流形回路遮断器（N）（遮断時間特性）
C2：意図的な短時間時延をもつ回路遮断器（STD）
（引外し特性）
Icuの値は，示していない。
Icuの値は，示していない。
図A.2−二つの回路遮断器間の全領域選択保護協調
（その1）
図A.3−二つの回路遮断器間の全領域選択
保護協調（その2）
N
遮
断
時
間
遮
断
時
間
電流
電流
試験によってこの領域の
保護協調ができることを
検証しなければならない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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C1：非限流形回路遮断器（N）
C2：限流形回路遮断器（L）
IB：テイクオーバ電流
C1，C2：非限流形回路遮断器（N）
IB：テイクオーバ電流
注記1 適用する場合，C2によって電源の復旧を行う。
注記2 Icu(C1＋C2)≦Icu(C2)
注記3 I＞IBの値に対して，曲線は，データを試験によって
得る必要がある（太く示した）組合せの曲線（太く
示した部分）である。
注記1 適用する場合，C2によって電源の復旧を行う。
注記2 Icu(C1＋C2)≦Icu(C2)
注記3 I＞IBの値に対して，曲線は，データを試験に
よって得る必要がある（太く示した）組合せ
の曲線（太く示した部分）である。
図A.4−回路遮断器によるバックアップ保護協調−
動作特性（その1）
図A.5−回路遮断器によるバックアップ保護
協調−動作特性（その2）
電流
遮
断
時
間
電流
ジ
ュ
ー
ル
積
分
電流
遮
断
時
間
電流
ジ
ュ
ー
ル
積
分
t
（秒）
t
（秒）
80
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S
：電源
Ur1，Ur2，Ur3，Ur4，Ur5，Ur6：電圧検出器
V
：電圧測定器
A
：投入装置
R1
：可変抵抗器
N
：接地中間線，接地側線又は中性線a)
注a) ただし，3極遮断器においては，デルタ
結線の接地側線とする。
F
：ヒューズエレメント［第1部の8.3.4.1.2 d)］
L
：可変リアクトル
RL
：故障電流制限抵抗器
B
：校正用臨時配線
I1，I2，I3：電流検出器
T
：接地−1点接地に限る（負荷側又は電源側）。
r
：分流抵抗［第1部の8.3.4.1.2 b)］
W1
：SCPDに対して規定する75 cmの電線
W2
：C1に対して規定する50 cmの電線
W3
：C1に対して規定する25 cmの電線
SCPD ：回路遮断器C2又は三つのヒューズの一組
C1
：回路遮断器
1線接地系統に用いるための装置の場合，Fは電源の一相に接続しなければならない。
注記1 可変リアクトルL及び可変抵抗器R1は，電源回路の高圧側又は低圧側のいずれに配置してもよく，投入装置
Aは低圧側に配置する。
注記2 Ur1，Ur2，Ur3は，それぞれ各相と中性点との間に接続してもよい。
図A.6−3極回路遮断器（C1）についての電線接続を示す条件付短絡遮断容量試験に対する試験回路の例
SCPD
81
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
漏電遮断器
漏電遮断器は，JIS C 8201-2-2に規定する。
82
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（規定）
相接地式配電システムにおける単極短絡試験シーケンス
C.1 一般
この試験シーケンスは，相接地式配電システムにおける使用を意図し，4.3.1.1に従って定義した多極回
路遮断器に適用する。これは，次の試験から構成する。ただし，附属書1の240 Vを超える回路遮断器に
適用し，附属書2の回路遮断器には適用しない。
試験
箇条番号
単極短絡遮断容量（Isu）
C.2
耐電圧の検証
C.3
過負荷引外し装置の検証
C.4
C.2 単極短絡遮断容量試験
短絡試験は，附属書1の8.3.2の一般条件で，単極短絡遮断容量Isuの値が，定格限界短絡遮断容量Icuの
25 %に等しい値として行う。
注記 Icuの25 %より高い値を，製造業者によって試験し，明示してもよい。
印加電圧は，電圧相接地配電システムでの使用に適する回路遮断器の最大定格使用電圧と一致した線間
電圧とする。試験用の供試品の数及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。力率は，
試験電流に対応した附属書1表11の値を適用する。
試験回路は，第1部の8.3.4.1.2及び図9を適用する。電源Sは，三相電源の二つの相から取り出したも
のであり，ヒューズエレメントFは，残りの相に接続する。残りの極（単数又は複数）も，ヒューズエレ
メントFを介して，この相に接続する。
動作のシーケンスは，O−t−COであり，かつ，各極ごとに順次，実施する。
C.3 耐電圧の検証
C.2による試験後，耐電圧を附属書1の8.3.5.3に従って検証する。
C.4 過負荷引外し装置の検証
C.3による試験後，過負荷引外し装置の動作を附属書1の8.3.5.4に従って検証する。
83
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D
（規定）
空白
84
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E
（参考）
受渡当事者間（製造業者と使用者との間）で協定を必要とする項目
注記 この附属書は，次による。
− “協定”は，極めて広い意味で用いる。
− “使用者”には，試験機関を含む。
第1部の附属書Jを，本体の箇条番号に関し，次の追加とともに適用する。
箇条番号
項目
4.3.5.3
表2に規定するものより高い短絡投入容量のための回路遮断器。
附属書1又は附属書2の7.2.1.2.1
引外し自由動作以外の自動開放引外し装置及び蓄積エネルギーによるも
の。
附属書1表10
短絡試験に対する過負荷引外し装置の中間値の設定。
附属書1又は附属書2の8.3.2.5
63 Aを超える熱電流をもつ，4極回路遮断器に対する温度上昇試験の方法。
附属書1又は附属書2の8.3.2.6.4
4極回路遮断器の4番目の極における短絡試験についての試験電流値。
附属書1又は附属書2の8.3.3.1.3 b) 反限時時間−電流特性の検証のための試験電流値。
附属書1又は附属書2の8.3.3.4
過負荷性能試験に対する条件の過酷さの増加のため。
附属書1又は附属書2の8.3.3.7又
は8.3.4.4
試験シーケンスI及びIIにおいて，温度上昇の検証と過負荷引外しの検証
との間で許容し得る時間。
附属書1又は附属書2の8.4.2
過電流引外し，電圧引外し及び不足電圧引外し以外の引外しの校正。
JIS C 8201-2-2の附属書1又は附属
書2の箇条8
IΔn＞30 Aのときの試験の適用について。
JIS C 8201-2-2の附属書1又は附属
書2の8.2.5
試験周囲温度の限界の拡大について。
F.4.1.3
2倍の電流設定値よりも低い電流での試験について。
85
C 8201-2-1：2011
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附属書F
（規定）
電子式過電流保護機能を備えた回路遮断器の追加要求事項
注記 附属書1の回路遮断器に適用し，附属書2の回路遮断器には適用しない。
F.1
一般
この附属書は，交流回路に設置することを意図した電子式で，かつ，電源電圧又は補助電源から独立し
た過電流保護機能を備えた回路遮断器に適用する。
この試験は，この附属書の環境条件下での回路遮断器の性能を検証する。
過電流保護以外の機能の電子式手段のための固有の試験は，この附属書には含まない。ただし，この附
属書の試験は，電子式手段が過電流保護機能としての性能を損なわないことを保証するために行う。
F.2
試験項目
この附属書で規定する試験は形式試験であり，附属書1の箇条8の試験に追加する。
注記 特定の環境条件についての規格がある場合には，関連がある場合，その規格を体系的に参照す
る。
F.2.1
電磁両立性（EMC）試験
F.2.1.1
総則
電子式の過電流保護機能を備えた回路遮断器は，表J.1及び表J.3に従って試験を行う。
F.2.1.2
性能基準
イミュニティ試験の結果は，J.2.1に規定する次の性能基準に基づいて評価する。
性能基準A：
ステップ1： 試験中において，電流設定値の0.9倍の負荷を掛けたとき，回路遮断器は動作してはなら
ない。また，監視機能がある場合，正確に回路遮断器の状態を示さなければならない。
ステップ2： 試験中において，電流設定値の2.0倍の負荷を掛けたとき，回路遮断器は，製造業者の時
間−電流特性の最小値の0.9倍と最大値の1.1倍との間の時間で動作しなければならない。
また，監視機能がある場合，正確に回路遮断器の状態を示さなければならない。
性能基準B：
試験中に，電流設定値の0.9倍の負荷を掛けたとき，回路遮断器は動作してはならない。
試験後に，電流設定値の2.0倍の負荷を掛けたとき，回路遮断器は製造業者の時間−電流特性に従わな
ければならない。また，監視機能がある場合，正確に回路遮断器の状態を示さなければならない。
F.2.2
多重周波数適合性
試験は，F.6に従って行う。
F.2.3
高温（乾燥）試験
試験は，F.7に従って行う。
F.2.4
温湿度試験
試験は，F.8に従って行う。
86
C 8201-2-1：2011
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F.2.5
規定する変化率での周囲温度の変化サイクル
試験は，F.9に従って行う。
F.3
一般試験条件
F.3.1
総則
この附属書による試験は，附属書1の箇条8の試験とは分けて行ってもよい。EMC試験は，F.4及びF.5
の付加要求とともに附属書Jを適用する。
F.3.2
電磁両立性試験
イミュニティ試験（F.4）の場合，フレームサイズ，及び電流センサの種類ごとに1台の回路遮断器で試
験を行う。ただし，巻線の巻数の違いは，異なる設計とみなさない。
設定電流IRは，最小値に調整する。
短時間及び瞬時引外しの設定は，該当する場合，IRの2.5倍以上の最小値に調整する。
欠相検出特性を考慮して，試験は，適切な試験回路を用いて，次の箇条において規定するように行う。
電子式過電流保護機能付きの回路遮断器については，次の試験のいずれの場合も，引外し特性が同一で
あることを想定してもよい。
− 多極回路遮断器の単極の場合
− 2極又は3極を直列にした場合
− 三相を接続した場合
注記 このことによって，異なる試験シーケンスで要求される，異なる極の組合せによって得られる
試験結果の比較が可能になる。
漏電遮断器（JIS C 8201-2-2参照）については，次による。
− F.4.4，F.4.5及びF.4.6は，漏電電流による不要動作を避けるため，多極遮断器は一対の相で試験する。
− F.4.1及びF.4.7は，漏電電流の不要動作を避ける場合，無作為に選んだ相の組合せで行ってもよい。
F.4
イミュニティ試験
F.4.1
高調波電流
F.4.1.1
総則
これらの試験は，製造業者が実効値検出と明示した電子式電流検出方式の回路遮断器に適用する。
“実効値（r.m.s.）”の表示は，回路遮断器に直接表示するか，若しくは製造業者の書類（仕様書など）
に表示するか，又は両方に表示しなければならない。
供試品は，指定したエンクロージャ内だけで用いることを意図した場合は，エンクロージャ内で試験を
行う。それ以外の場合は，大気中で試験を行う。エンクロージャの寸法を含む詳細は，試験成績書に記載
しなければならない。
適用できる場合，試験は，定格周波数で行う。
注記 試験電流は，サイリスタ（図F.1参照），飽和鉄心若しくはプログラマブル電源を利用した電源，
又はその他の適切な電源によって発生させる。
F.4.1.2
試験電流
試験電流の波形は，次の二つの選択肢のいずれかによる。
− 選択肢a)：次の二つの波形を連続して印加する。
− 基本波成分及び第3次の高調波成分からなる波形
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C 8201-2-1：2011
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−
基本波成分及び第5次の高調波成分からなる波形
− 選択肢b)：基本波成分並びに第3次，第5次及び第7次の高調波成分からなる波形。
試験電流は，次による。
− 選択肢a)：
第3次高調波及び波高率
− 基本波成分の72 %≦第3次高調波≦基本波成分の88 %
− 波高率：2.0±0.2
第5次高調波及び波高率
− 基本波成分の45 %≦第5次高調波≦基本波成分の55 %
− 波高率：1.9±0.2
− 選択肢b)：各期間の試験電流は，次に定義した二つの等しい，極性が逆の半波によって構成する。
− 各半波における通電時間は，試験時間の21 %以下
− 波高率：≧2.1
注記1 波高率は，電流の波高値を電流波形の実効値（r.m.s.）で除して求める。関連する式は，図
F.1を参照。
注記2 選択肢b) のための試験電流は，少なくとも次の高調波をもつ。
− 第3次高調波＞基本波成分の60 %
− 第5次高調波＞基本波成分の14 %
− 第7次高調波＞基本波成分の7 %
より高次の高調波があってもよい。
注記3 選択肢b) の試験電流波形は，例えば，二つの逆並列サイリスタ（back to back サイリスタ）
によって発生させてもよい（図F.1参照）。
注記4 試験電流0.9IR及び2.0IR（性能基準A参照）は，合成の波形の実効値（r.m.s.）である。
F.4.1.3
試験手順
試験は，附属書1の7.2.1.2.4 b)に従って無作為に選んだ2極において，図F.2に示す接続で任意の電圧
で，試験電流を通電して行う。欠相検出特性をもつ引外し装置の場合，接続は，図F.3又は図F.4を適用
する。
不足電圧引外しがある場合，電圧を加えるか，又は使用不可にするかのいずれかとする。その他の補助
装置は全て，試験の間，接続を外しておく。
イミュニティ試験の設定電流の0.9倍における不動作試験の時間は，電流設定の2倍に対応する引外し
時間の10倍としなければならない。
F.4.1.4
試験結果
F.2.1.2の性能基準Aを適用する。
F.4.2
静電気放電
J.2.2に次の事項を追加して，附属書Jを適用する。
試験の配置は，図F.16及び図J.3を適用する。
試験回路は，図F.2を適用する。欠相検出特性をもつ引外し装置は，図F.3又は図F.4を適用する。
図F.2，図F.3及び図F.4に示すブスバー（外部導体）の配置は，エンクロージャから0.1 mの距離で許
容差 %に保持されるように変えてもよい。試験した実際の配置は，試験成績書に記載しなければなら
ない。
＋10
0
88
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
F.2.1.2の性能基準Bを適用する。
F.4.3
放射無線周波電磁界
J.2.3に次の事項を追加して，附属書Jを適用する。
試験の配置は，図F.16及び図F.17を適用する。
試験回路は，図F.2を適用する。欠相検出特性をもつ引外し装置は，図F.3又は図F.4を適用する。
F.2.1.2の性能基準Aを適用する。
F.4.4
電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）
次を追加し，附属書J，特にJ.2.4を適用する。
電源ラインの試験配置は，図F.16及び図F.18を適用する。また，信号ラインの試験配置は，図F.16及
び図F.19を適用する。
図F.6に示すように，交流の電源ポートに対する妨害は，無作為に選んだ一つの相の極に印加し，電源
は供試品の残りの相の極に供給する。
欠相検出特性をもつ引外し装置については，試験は図F.7に示す直列接続の三相の極，又は図F.8に示
す三相接続の無作為に選んだ極で試験する。
F.2.1.2の性能基準Aを適用する。ただし，試験中の監視機能の一時的な変化（例えば，不必要なLED
点灯）は許容されるが，この場合には，監視機能が正しく動作することを，試験の後に確認しなければな
らない。ステップ2については，回路遮断器が動作するまで妨害を継続する。
F.4.5
サージ
次を追加し，附属書J，特にJ.2.5を適用する。
図F.9及び図F.12に従って，交流電源ポートに対する妨害は，無作為に選んだ一つの相の極に印加し，
電源は供試品の残りの二つの相の極に供給する。
欠相検出特性をもつ引外し装置には，図F.10及び図F.13に示すように，3極を直列接続にして試験を行
わなければならない。又は図F.11及び図F.14に示すように，三相接続で無作為に選んだ一相の極で試験を
行わなければならない。
妨害の印加中は，回路に設定電流の0.9倍の電流を流さなければならない。
F.2.1.2の性能基準Bを適用する。
F.4.6
無線周波電磁界（コモンモード）によって誘導される伝導妨害
J.2.6に次の事項を追加して，附属書Jを適用する。
試験の配置は，電源線の試験に対しては次による。
− 図F.16
− 図F.20
− 図F.21，図F.22又は図F.23
また，信号線の試験に対する，試験の配置は，図F.16を適用する。
図F.2に従って，交流電源ポートに対する妨害は，無作為に選んだ一つの相の極に印加し，電源は供試
品の残りの相の極に供給する。
欠相検出特性をもつ引外し装置には，図F.3又は図F.4の試験回路を適用する。
F.2.1.2の性能基準Aを適用する。
F.4.7
電流低下
F.4.7.1 試験手順
供試品は，指定した個々のエンクロージャ内だけで使うことを意図した場合は，そのエンクロージャ内
89
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
で試験を行う。それ以外の場合は，大気中で試験を行う。エンクロージャの寸法を含む詳細は，試験成績
書に記載しなければならない。
試験回路は，図F.2に従い，無作為に選んだ二つの相の極で試験しなければならない。
欠相検出特性をもつ引外し装置は，図F.3又は図F.4による。
試験は，任意の電圧の正弦波電流によって行わなければならない。通電する電流は，図F.5及び表F.1
に従わなければならない。ただし，IRは設定電流，IDは低下試験電流，Tは正弦波電流の周期である。
個々の試験時間は，電流設定の2倍に対応する最大の引外し時間の3倍〜4倍の時間，又は10 minのい
ずれか小さい方の値でなければならない。
表F.1−電流低下及び瞬断の試験パラメータ
試験番号
ID
Δt
1
0
0.5T
2
1T
3
5T
4
25T
5
50T
6
0.4 IR
10T
7
25T
8
50T
9
0.7 IR
10T
10
25T
11
50T
F.4.7.2
試験結果
試験後の検証が不要な場合を除き，F.2.1.2の性能基準Bを適用する。
F.5
エミッション試験
F.5.1
高調波
電子制御回路は非常に小さい電力で動作しており，無視できるほどの妨害しか発生しないので，いかな
る試験も必要ではない。
F.5.2
電圧変動
電子制御回路は非常に小さい電力で動作しており，無視できるほどの妨害しか発生しないので，いかな
る試験も必要ではない。
F.5.3
伝導無線周波妨害（150 kHz〜30 MHz）
この附属書に規定する回路遮断器は，電源電圧，又は任意の補助電源の供給に依存しない。電子回路は
電源に対して直接接続されておらず，非常に小さい電力で動作する。これらの回路遮断器は無視できるほ
どの妨害しか発生しないので，いかなる試験も必要ではない。
F.5.4
放射無線周波妨害（30 MHz〜1 GHz）
J.3.3に次の事項を追加して，附属書Jを適用する。
試験回路は，図F.2を適用する。欠相検出特性をもつ引外し装置は，図F.3又は図F.4を適用する。
不足電圧引外しがある場合，電圧を加えるか，又は使用不可にするかのいずれかとする。その他の全て
の補助装置は，試験の間接続を外しておく。
90
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表J.3の限度を適用する。
F.6
多重周波数の適合性
この試験目的は，回路遮断器の引外し特性が多重周波数に適合していることを検証することである。
定格周波数が50 Hz〜60 Hzだけの回路遮断器には，適用しない。
F.6.1
試験条件
試験は，各定格周波数で行う。又は定格周波数が範囲をもつ場合，最低及び最高の定格周波数で行う。
F.6.2
試験手順
試験は，任意の電圧で無作為に選んだ電圧極の一組で行う。
試験回路は，図F.2を適用する。欠相検出特性をもつ引外し装置は，図F.3又は図F.4を適用する。
不足電圧引外しがある場合，電圧を加えるか，又は使用不可にするかのいずれかとする。その他の全て
の補助装置は，試験の間，接続を外しておく。
短限時及び瞬時引外しの設定電流は，関連するものがある場合，2.5倍に調整する。
この設定値が適用できない場合，最も近くて高い方の設定値を用いる。
試験は，次によって行う。
a) 不動作電流（附属書1表6又は附属書2表6参照）の0.95倍の電流を，設定電流の2倍に相当する引
外し時間の10倍に等しい時間通電する。
b) a)の試験に引き続き，引外し電流（附属書1表6又は附属書2表6参照）の1.05倍の電流を通電する。
c) 続いて，コールドスタートで開始する試験は，設定電流の2倍で行う。
F.6.3
試験結果
各試験周波数において，過負荷引外し特性は，次の要求事項に適合しなければならない。
− 試験a)において，動作してはならない。
− 試験b)において，規定時間内で動作しなければならない（附属書1表6参照）。
− 試験c)において，製造業者が指定する時間電流特性の最大値の1.1倍，及び最小値の0.9倍の時間内
で動作しなければならない。
F.7
高温（乾燥）試験
F.7.1
試験手順
フレームサイズの最大定格電流で，附属書1の7.2.2に従って，全ての電圧極について，周囲温度40 ℃
で試験を行う。
試験時間は，温度が一定値に達してから168 hとする。
端子の締付トルクは，製造業者の指示による。指示がない場合は，第1部の表4を適用する。
附属書1の7.2.2の代わりに，次によって試験を行ってもよい。
− 試験シーケンスIの温度上昇検証中に，電子部品の周囲の雰囲気の最大温度上昇値を測定し，記録す
る。
− 試験室内に電子制御装置を設置する。
− 電子制御装置に入力エネルギーを供給する。
− 試験室の温度を，電子部品の周囲の雰囲気で記録された温度上昇値より40 K高い温度に調整し，この
温度を168 h維持する。
F.7.2
試験結果
91
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
回路遮断器及び電子制御装置は，次の要求事項に適合しなければならない。
− 回路遮断器は，いかなる動作もあってはならない。
− 回路遮断器を動作させるような電子制御装置のいかなる動作もあってはならない。
F.7.3
過負荷引外し装置の検証
F.7.1の試験に引き続き，回路遮断器の過負荷引外し装置の動作を附属書1の7.2.1.2.4 b)に従って検証す
る。
F.8
温湿度試験
F.8.1
試験手順
試験は，JIS C 60068-2-30に従って行う。
上限温度は55 ℃±2 ℃（方法1）とし，繰返しは6回とする。
試験は，試験室で電子制御装置だけで行ってもよい。
F.8.2
過負荷引外し装置の検証
F.8.1の試験に引き続き，回路遮断器の過負荷引外し装置の動作を附属書1の7.2.1.2.4 b)に従って検証す
る。
F.9
規定する変化率での周囲温度の変化サイクル
F.9.1
試験条件
それぞれの電子制御装置は，図F.15による周囲温度の変化サイクルの試験を行う。
温度が変化しているときの温度の上がり下がり速度は，1 K/min±0.2 K/minとする。
目的の温度に到達後，2 h以上その温度を維持する。
サイクル数は，28回とする。
F.9.2
試験手順
試験は，JIS C 60068-2-14に従って行う。
これらの試験に関し，電子制御装置は回路遮断器内に取り付けるか，又は分離してもよい。
電子制御装置は，通常，使用状態を想定してエネルギーを与えなければならない。
電子制御装置を回路遮断器内に取り付けている場合には，主回路にはエネルギーを与えてはならない。
F.9.3
試験結果
電子制御装置は，次の要求事項に適合しなければならない。
28回の試験サイクル中に，回路遮断器を動作させる電子制御装置の動作があってはならない。
F.9.4
過負荷引外し装置の検証
F.9.2の試験に引き続き，回路遮断器の過負荷引外し装置の動作を附属書1の7.2.1.2.4 b)に従って検証す
る。
92
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
記号
A：電流波高値
T：周期
t1：半サイクル中の通電時間
t0：時延時間
波高値＝
∫
2
/
0
2
d
)
(
2T
t
t
i
T
A
図F.1−F.4.1に従った逆並列サイリスタ（back to backサイリスタ）で発生する試験電流の波形
時間
電流
93
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.2−F.4.1.3，F.4.2，F.4.3，F.4.6，F.4.7.1，F.5.4及びF.6.2に従ったイミュニティ及び
エミッション試験に対する試験回路−2極直列接続
図F.3−F.4.1.3，F.4.2，F.4.3，F.4.6，F.4.7.1，F.5.4及びF.6.2に従ったイミュニティ及び
エミッション試験に対する試験回路−3極直列接続
（適用する場合）
（適用する場合）
94
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
記号
Z：電流調整用インピーダンス（必要な場合）
図F.4−F.4.1.3，F.4.2，F.4.3，F.4.6，F.4.7.1，F.5.4及びF.6.2に従ったイミュニティ及び
エミッション試験に対する試験回路−三相接続
記号
IR：設定電流
Δt：低下時間
ID：低下試験電流 4Δt：休止時間
図F.5−F.4.7.1に従った電流低下及び瞬断の影響を検証する試験電流
電
流
（
実
効
値
）
時間
最大 1 ms
最大 1 ms
（適用する場合）
95
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.6−F.4.4に従った電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティ試験回路−
2極直列接続
図F.7−F.4.4に従った電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティ試験回路−
3極直列接続
（適用する場合）
（適用する場合）
96
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
記号
Z：電流調整用インピーダンス（必要な場合）
図F.8−F.4.4に従った電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティ試験回路−
三相接続
図F.9−F.4.5に従った主回路（電圧相と接地との間）のサージに対する影響検証のための試験回路−
2極接続
（適用する場合）
（適用する場合）
97
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.10−F.4.5に従った主回路（電圧相と接地との間）のサージに対する影響検証のための試験回路−
3極直列接続
記号
Z：電流調整用インピーダンス（必要な場合）
図F.11−F.4.5に従った主回路（電圧相と接地との間）の電流サージに対する影響検証のための試験回路−
三相接続
（適用する場合）
（適用する場合）
98
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.12−F.4.5に従った主回路の電流サージに対する影響検証のための試験回路−2極接続
図F.13−F.4.5に従った主回路の電流サージの影響検証のための試験回路−3極直列接続
（適用する場合）
（適用する場合）
99
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
記号
Z：電流調整用インピーダンス（必要な場合）
図F.14−F.4.5に従った主回路への電流サージの影響検証のための試験回路−三相接続
図F.15−F.9.1に従った規定された変化率での周囲温度の変化サイクル
温
度
時間
（適用する場合）
100
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記1 端子の配列は，試験する回路遮断器のタイプによって異なってもよい。
注記2 引出形回路遮断器の場合，製造業者の指示に従って装置をエンクロージャ内に取り付けることが望ましく，
それに応じて試験配置を変更する。
図F.16−イミュニティ試験の一般試験配置
供試品
供試品
供試品
接地面
変圧器へ
接地面
X：最小寸法を維持する
X：最小寸法を維持する
接地面
絶縁材
絶縁材
絶縁台
該当する場合，図J.1と同
様の金属エンクロージャ
絶縁材
高調波接続
A−A
B−B
101
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注a) JIS C 61000-4-3参照
図F.17−放射電磁界イミュニティ検証のための試験配置
記号
CDN：結合−減結合回路網
図F.18−電力線における電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティ検証の
ための試験配置
~
＞0.5 m
規定しないa)
絶縁台
厚さは規定しない
絶縁台
絶縁材
変圧器
供試品
最小寸法を
維持した接
続
吸収体a)
吸収体
主フィルター
Da)
Ha)
供試品
X：最小寸法
絶縁台
絶縁材
全挿入電線長さ
接地面
変圧器
高調波接続
（必要があ
る場合）
ジェネレータ
102
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.19−信号線における電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティ検証の
ための試験配置
注記 寸法Lは，設置面から0.1 m離れて結合している導体の長さである。
図F.20−無線周波電磁界（コモンモード）によって誘導される伝導妨害イミュニティ検証のための
一般的な試験配置
X：最小寸法
絶縁台
絶縁材
接地面
連結クランプ
変圧器へ
全挿入電線長さ
電線用絶縁台
絶縁台
供試品
補助電源
高調波接続
変圧器
絶縁材
接地面
最小に維持する
供試品
その他の金属部品
103
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 結合−減結合回路網M1の代替として，結合−減結合回路網M2又はM3を用いてもよい。このとき，適
用できる場合，2本又は3本の接続配線を供試品の同じ点に接続する。
図F.21−無線周波電磁界によって誘導される伝導妨害イミュニティ検証のための接続配置−2極直列配置
注記 結合−減結合回路網M2の代替として，結合−減結合回路網M3を用いてもよい。このとき，適用できる
場合，2本又は3本の接続配線を供試品の同じ点に接続する。
図F.22−無線周波電磁界によって誘導される伝導妨害イミュニティ検証のための接続配置−3極直列配置
~
絶縁材
変圧器
無線周波発信器
接地面
主回路
主回路は開放
ケーブル長
0.1 m〜0.3 m
無線周波
供試品
結合−減結合回路網 M2
~
絶縁材
変圧器
無線周波発信器
接地面
主回路
主回路は開放
ケーブル長
0.1 m〜0.3 m
無線周波
供試品
結合−減結合回路網 M1
104
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.23−無線周波電磁界によって誘導される伝導妨害イミュニティ検証のための接続配置−三相配置
~
絶縁材
変圧器
無線周波発信器
接地面
主回路
主回路は開放
ケーブル長
0.1 m〜0.3 m
無線周波
供試品
結合−減結合回路網 M1
105
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G
（参考）
電力損失
G.1
一般
電力損失は，回路遮断器の基本的特性ではなく，製品に表示する必要はない。
電力損失は，規定条件で発生する熱の指標を与える。電力損失の測定は，新品の供試品で，自由空間で
行い，ワット（W）で記述する。
G.2
試験方法
G.2.1
電力損失は，図G.1に従って接続し，電圧降下（ΔUk），試験電流値（Ik）及び力率を測定し，次の
式によって算出する。
k
1
k
k
cos
Δ
φ
∑
p
k
I
U
＝
ここに，
p： 電圧極の数
k： 極数
ΔUk： 電圧降下
Ik： 8.3.2.2.2に従った許容差内にあるInに等しい試験電流
cosφk： 力率
各極に電力計を用いることを推奨する。
G.2.2
400 A以下の定格電流をもつ交流回路遮断器に対しては，力率測定をしないで，単相の交流で測定
してもよい。
電力損失は，図G.2に従って接続し，電圧降下（ΔUk）及び定格電流（In）を測定し，次の式によって算
出する。
∑
p
k
I
U
1
n
k
Δ
＝
ここに，
p： 電圧極の数
k： 極数
ΔUk： 電圧降下
In： 定格電流
G.2.3
直流回路遮断器に対しては，電力損失は，直流電流を用いて測定する。電力損失は，G.2.2と同じ
ように算出する。
G.3
試験手順
電力損失の評価は，定格電流を通電して，定常状態の温度条件で行う。
電圧降下は，各極の入力端子と出力端子との間で測定する。
測定装置（例えば，電圧計又は電力量計）へ接続する電線は，いずれもより線とする。測定ループは，
実際上できるだけ小さくし，各極に対して同じように配置する。
G.2.1に従った3極及び4極の交流回路遮断器の電力損失の計算に当たっては，4極回路遮断器の場合，
中性極は電流を通電しないで試験する（図G.1参照）。
106
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図G.1−G.2.1に従って電力損失を測定する場合の試験回路
図G.2−G.2.2及びG.2.3に従って電力損失を測定する場合の試験回路
107
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H
（規定）
IT（非接地又はインピーダンス接地）システムにおける
回路遮断器の試験シーケンス
注記1 この試験シーケンスは，ITシステム（4.3.1.1参照）に設置した回路遮断器の反対側に第一の
地絡が存在する状態での，第二の地絡を取り扱うものである。
注記2 附属書1の線間電圧240 Vを超える回路遮断器に適用し，附属書2の回路遮断器には適用し
ない。
注記3 附属書1の回路遮断器（線間電圧240 V以下のものも含む。）で4極3素子のものは，ITシ
ステムには用いることができない。
注記4 この方式を採用している化学プラント又は船舶では，通常，一次地絡故障は絶縁監視（接地
継電器）で検出し，警報又は遮断する保護方式を採用している。
H.1 一般
この試験シーケンスは，4.3.1.1に従って，ITシステムに用いる多極回路遮断器に適用する。また，これ
には，次の試験を含む。
試験
箇条番号
単極短絡試験（IIT）
H.2
耐電圧試験の検証
H.3
過負荷引外し試験の検証
H.4
H.2 単極短絡試験
短絡試験は，附属書1の8.3.2の一般条件で，次に示す電流と等しい電流値（IIT）を多極回路遮断器の各
極に通電して行う。
− 短限時引外しのものは，その引外し電流の最大設定値の1.2倍で，この装置を備えていないものは，
瞬時引外し電流の最大設定値の1.2倍
また，該当する場合には，
− 定限時引外しのものは，その最大の引外し電流設定値の1.2倍
ただし，50 kA以下とする。
注記1 試験回路の推定電流は，回路遮断器のインピーダンス及びその結線を考慮して試験電流が実
際の短限時又は瞬時ピックアップ電流を超えるように，必要がある場合は増加させてもよい。
注記2 必要に応じて，IITより大きい電流値で試験を実施し，製造業者がその数値を宣言してもよい。
適用する電圧は，ITシステムを適用するのに適切な回路遮断器の最大定格使用電圧に相当する線間電圧
とする。試験用の供試品の数及び可調整引外し装置の設定は，附属書1表10を適用する。力率は，試験
電流に合わせて附属書1表11に従って選択する。
IITが50 kAの場合，短限時又は瞬時引外し設定電流は，（50/1.2）kAより低い直近の値に調整する。
保護中性極を備えた4極回路遮断器では，中性極の試験電圧は，線間電圧を3で除した値とする。この
試験は，保護中性極の構造が電圧極と異なる場合だけに適用する。
108
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験回路は，第1部の8.3.4.1.2及び図9に従って，電源Sは三相電源の二つの相から引き出し，ヒュー
ズエレメントFは残りの相に接続する。残りの極は，ヒューズエレメントFを介してこの相に接続する。
動作シーケンスは，O−t−COとする。
また，各極において，順々に実施する。
H.3 耐電圧の検証
H.2の条件による試験の後，附属書1の8.3.5.3に従って耐電圧を検証する。
H.4 過負荷引外しの検証
H.3の条件による試験の後，過負荷引外しを附属書1の8.3.5.4に従って検証する。
H.5 表示
この附属書に従って全ての定格電圧で試験した回路遮断器，又はそのように要求した試験によって適合
する回路遮断器については，追加の表示は必要としない。
この附属書に従って，全ての定格電圧で試験しなかった，又はそのような試験に適合しない回路遮断器
は， の記号を表示しなければならない。この記号は，5.2 b)に従って，例えば，690 V の例のよう
に，これらの定格電圧値のすぐ後に続けて直接回路遮断器に表示しなければならない。
注記 この附属書に基づいて試験していない回路遮断器においては，明らかに全ての定格電圧におい
て試験していないことを表すものとして， の記号を表示してもよい。
IT
IT
IT
109
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J
（規定）
電磁両立性（EMC）
注記 附属書1の回路遮断器に適用し，附属書2の回路遮断器には適用しない。
J.1
一般
2種類の環境条件が考えられ，次のように定める。
− 環境A
− 環境B
環境A：大きい妨害があり得る電源を含む低圧の自家用又は産業用の，電力網，地域又は設備の関連。
注記1 環境Aには，CISPR 11及びCISPR 22のクラスAの装置が相当する。
注記2 環境Aの装置は，環境Bに設置した場合，電磁妨害の原因になることがある。
環境B：家庭，商業及び軽工業の，地域又は設備のような低圧の商用電力網の関連。大きい妨害を起こ
すアーク溶接機などの電源は，この環境に含めない。
注記3 環境Bには，CISPR 11及びCISPR 22のクラスBの装置が相当する。
注記4 環境Bの装置は，環境Aに設置した場合，電磁妨害の原因にならない。
注記5 CBI（附属書L参照）及びICB（附属書O参照）に対するEMCの要求事項は，同等の回路
遮断器の関連試験（L.2.1及びO.2.1参照）に含まれる。
この規格に特別に規定する場合を除いて，J.2及びJ.3の試験は，電子回路を組み込んでいる装置に適用
する。
J.2及びJ.3の試験方法は，許容基準に基づく性能を検証するために，この規格の該当する箇条に規定す
る手順によって補足する。
追加要求事項及び試験の詳細は，この規格の附属書に示す。例えば，漏電遮断器はJIS C 8201-2-2，電
子式過電流保護機能をもつ回路遮断器は附属書Fであり，回路遮断器の附属装置は附属書Nである。
各試験に新しい装置を用いるか，又は製造業者の裁量によって1台の装置を幾つかの試験に用いてもよ
い。
50 Hz/60 Hz定格の装置は，いずれか一つの定格周波数で試験を行う。
同一の電子制御装置（寸法，部品，プリント配線板の組立物，エンクロージャなどを含む。）及び同様の
設計であるとみなせる検出素子をもつ装置群とみなせる場合は，その群の一つの装置だけを試験すれば十
分である。
試験は，規定の取付状態で行う。すなわち，大気中又は表J.2及び表J.3に規定するエンクロージャ内で
ある。
J.2
イミュニティ
J.2.1
一般事項
第1部の7.3.2.2に次を追加して適用する。
イミュニティ試験は，表J.1に従って行う。
追加試験の詳細な関連データを，表J.2に示す。
110
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この箇条では，“電源ポート”の用語は，電源回路，補助電源供給ポート，及び主回路につながるどの補
助ポートも含む。
イミュニティ試験に次の性能基準を定義する。
性能基準A：試験中に，不要動作に対する耐性（ステップ1）と機能特性（ステップ2）とを検証する。い
かなる監視機能も正しく表示しなければならない。
性能基準B：試験中に，不要動作に対する耐性を検証する。監視機能は誤った表示をしてもよい。試験後
に機能特性を検証する。
性能検証の詳細は，附属書（B，F，M及びN）にそれぞれ示す。
全てのイミュニティ試験で，供試品は，床置形装置（IEC 61000-4規格群参照）として試験する。
111
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表J.1−EMC−イミュニティ試験
種類
関連規格
試験レベルa)
性能基準
取付け
静電気放電
JIS C 61000-4-2
8 kV 接触
8 kV 空間
B
エンクロージャ
図J.1
放射無線周波電磁界
JIS C 61000-4-3
10 V/m
A
大気中c)
電気的ファストトラン
ジェント／バースト
JIS C 61000-4-4
電源ポート：
Ue≧100 V，交流又は直流：4 kV
Ue＜100 V，交流又は直流：2 kV
信号ポート：2 kV
B
エンクロージャ
図J.1
サージ
JIS C 61000-4-5
電源ポート，Ue≧100 V，交流：
4 kV 導電部接地間
2 kV 線間（附属書F及び附属書N）
4 kV 線間（JIS C 8201-2-2）e)
電源ポート，Ue＜100 V，交流：
2 kV 導電部接地間
1 kV 線間
電源ポート，直流：
0.5 kV 導電部接地間
0.5 kV 線間
信号ポート：
2 kV 導電部接地間
1 kV 線間
B
エンクロージャ
図J.1
無線周波電磁界によっ
て誘導される伝導妨害
JIS C 61000-4-6
電源ポート：10 V
信号ポート：10 V
A
大気中c)
電源周波電磁界
適用なし
適用なし
適用なし 適用なし
電圧低下及び瞬停
JIS C 61000-4-11d)
d)
d)
大気中
高調波
IEC 61000-4-13b)
b)
b)
大気中
電流低下
b)
b)
b)
大気中
注a) 規定するイミュニティレベルは，回路遮断器の回路保護機能に対してより安全とするために，第1部の要求
事項を超えている。
b) 適切な基本規格がないため，試験手順は，附属書Fの電子式過電流保護装置で明確に規定する。
c) 回路遮断器が指定する個別のエンクロージャを用いるように限定する場合は，指定するエンクロージャを用
いて試験しなければならない。エンクロージャの寸法を含めた詳細を試験成績書に記載しなければならない。
エンクロージャは，製造業者の指示に従って接地面に接続しなければならない。
d) 適切な基本規格がないため，試験手順及び性能基準は，機能的に線間電圧に依存するJIS C 8201-2-2の漏電
遮断器に対して明確に規定する。附属書Fの電子式過電流保護装置を備えた回路遮断器（F.1参照）には，こ
の試験を適用しないで，電流低下及び遮断の試験に置き換える（F.4.7参照）。
e) 漏電検出装置は安全に機能しなければならないので，漏電検出装置のイミュニティレベルは，より高くする。
各イミュニティ試験の適切な試験配置及び回路図を，表J.2に示す。
112
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表J.2−イミュニティ試験で適用する図の一覧
試験
供試品
箇条番号
試験配置
回路図
静電気放電
漏電遮断器
J.2.2，
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
図J.1，図J.3
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
回路遮断器
J.2.2，F.4.2
図J.3，図F.16
図F.2，図F.3，
又は図F.4
その他の装置a)
J.2.2，N.2.2
b)
b)
放射無線周波電磁界
漏電遮断器
J.2.3，
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
図J.4
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
回路遮断器
J.2.3，F.4.3
図F.16，図F.17
図F.2，図F.3，
又は図F.4
その他の装置a)
J.2.3，N.2.3
b)
b)
電気的ファストトランジェ
ント／バースト
漏電遮断器
J.2.4，
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
図J.5，図J.6
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
回路遮断器
J.2.4，F.4.4
図F.15，図F.18，
図F.19
図F.6，図F.7，
又は図F.8
その他の装置a)
J.2.4，N.2.4
b)
b)
サージ
漏電遮断器
J.2.5，
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
b)
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
回路遮断器
J.2.5，F.4.5
導電部−接地間
図F.16
線間
図F.16
導電部−接地間
図F.9，図F.10，
又は図F.11
線間
図F.12，図F.13，
又は図F.14
その他の装置a)
J.2.5，N.2.5
b)
b)
無線周波電磁界によって誘
導される伝導妨害
漏電遮断器
J.2.6，
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
b)
JIS C 8201-2-2の
8.12.2.1
回路遮断器
J.2.6，F.4.6
図F.16，図F.20，
図F.21，図F.22，
図F.23
図F.2，図F.3，
又は図F.4
その他の装置a)
J.2.6，N.2.6
b)
b)
注a) 附属書Nの適用範囲の装置
b) 追加の図は不要
J.2.2
静電気放電
供試品は，特別なエンクロージャ内で試験を行う（表J.1参照）。配置及び追加試験の要求事項は，表J.2
を適用する。
直接及び間接放電は，JIS C 61000-4-2を適用する。
直接放電試験は，調整手段，キーボード，表示装置，押しボタンなどのような，通常，使用者が接触で
きる供試品の部分だけに行う。適用位置は，試験成績書に記載しなければならない。
直接放電は，両方の極性で，1 s以上の間隔で10回繰り返す。
間接放電は，エンクロージャの表面の選定した位置で行う。その位置での試験は，1 s以上の間隔で，10
113
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
回繰り返す。
J.2.3
放射無線周波電磁界
供試品は大気中（表J.1参照）で表J.2に規定する試験項目を追加して試験を行う。供試品は前面に対し
てだけ試験を行う。
再現できるように，電源導帯，変圧器などを含む実際の試験配置を試験成績書に詳細に記載しなければ
ならない。
試験は，水平及び垂直分極アンテナの両方で行う。
試験は，二つの段階で行う。第一段階では，周波数の全ての範囲で供試品の不要動作（例えば，不要遮
断）について試験を行う。第二段階では，個別の周波数で供試品の正常な動作（例えば，正常引外し）に
ついて試験を行う。
第一段階において，周波数は，JIS C 61000-4-3の8.に従い，80 MHz〜1 000 MHzの範囲，及び1 400 MHz
〜2 000 MHzの範囲で掃引する。各周波数に対する振幅変調した搬送波の印加時間は，500 ms〜1 000 ms
の間とし，周波数を変化させる割合は，前の周波数の1 %とする。実際の印加時間は，試験成績書に記載
しなければならない。
第二段階において，機能上の特性を検証するために，試験は次の各周波数で行う。
80 MHz，100 MHz，120 MHz，180 MHz，240 MHz，320 MHz，480 MHz，640 MHz，960 MHz，1 400 MHz
及び1 920 MHz。
動作の検証は，各周波数での電磁界レベルが安定した後に行う。
J.2.4
電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）
試験は，特定のエンクロージャ内で行わなければならない（表J.1参照）。
試験配置は，表J.2を適用する。
電源及び補助電源ポートには，附属書Fの直接注入法を用いなければならない試験を除いて，結合−減
結合回路網を用いなければならない（図F.18参照）。
信号ポートには，結合−減結合回路網又はクランプ注入法が適用できるいずれかを用いる。
妨害は，その他に規定されている場合を除き，1 min印加する。
J.2.5
サージ
規定するエンクロージャ内で供試品の試験を行う（表J.1参照）。供試品によって決まる試験レベル及び
試験配置を，表J.1及び表J.2に示す。
正極性及び負極性の両パルスを0°及び90°の位相角で印加する。
各極性及び各位相角度に対して連続して5パルス（合計20パルス）を，二つのパルスの間隔が約1 min
で印加する。製造業者の合意がある場合，より短い間隔で行ってもよい。
J.2.6
無線周波電磁界（コモンモード）によって誘導される伝導妨害
供試品は，表J.2による追加試験要求によって，大気中（表J.1参照）で試験を行う。妨害は，適用可能
な結合−減結合回路網M1，M2又はM3の方法によって，電源ライン上で注入する。
信号ラインにおいては，妨害は結合−減結合回路網の方法によって，注入する。
実行できない場合は，電磁結合を用いてもよい。
特別な試験配置は，試験成績書に記載しなければならない。
試験は，二つの段階で行う。第一段階では，周波数の全ての範囲で供試品の不要動作について試験を行
う。第二段階では，個別の周波数で供試品の正常動作について試験を行う。
第一段階において，周波数は，JIS C 61000-4-6の8.に従い，150 kHz〜80 MHzの範囲で掃引する。各周
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C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
波数に対する振幅変調した搬送波の印加時間は，500 ms〜1 000 msの間とし，周波数を変化させる割合は，
前の周波数の1 %とする。実際の印加時間は，試験成績書に記載しなければならない。
第二段階において，機能上の特性を検証するために，試験は次の各周波数で行う。
0.15 MHz，0.3 MHz，0.45 MHz，0.6 MHz，0.9 MHz，1.2 MHz，1.8 MHz，2.4 MHz，3.6 MHz，4.8 MHz，
7.2 MHz，9.6 MHz，12 MHz，19.2 MHz，27 MHz，49.4 MHz，72 MHz及び80 MHz。
動作の検証は，各周波数での妨害電圧レベルが安定した後に行う。
J.3
エミッション
J.3.1
一般事項
第1部の7.3.3.2に，次を追加して適用する。
エミッション試験は，表J.3に従って行う。
エミッション試験回路図の一覧を，表J.4に示す。
表J.3−EMC−エミッション試験
種類
関連規格
限度
取付け
高調波
JIS C 61000-3-2
c)
c)
電圧変動
IEC 61000-3-3
c)
c)
伝導無線周波妨害
150 kHz〜30 MHz e)
CISPR 11又はCISPR 22
クラスA又はクラスB，
グループ1 b) e)
大気中d)
放射無線周波妨害
30 MHz〜1 000 MHz a)
CISPR 11又はCISPR 22
クラスA又はクラスB，
グループ1 b)
大気中d)
注a) 処理装置（例えば，マイクロプロセッサ）又は9 kHzを超える周波数で動作するスイッチング電源をも
つ供試品に対してだけ適用する。
b) CISPR 11及びCISPR 22のクラスAの装置は，第1部の環境Aに相当する。環境Aの装置を環境Bに
設置する場合，電磁障害の原因になることがある。
環境Aの装置の製造業者は，電磁障害の危険を製品関連資料で公表しなければならない。
CISPR 11及びCISPR 22のクラスBの装置は，第1部の環境Bに相当する。環境Bの装置を環境A
に設置する場合，電磁障害の原因にならない。
c) 超低電力で操作する電子制御回路であり，妨害を無視できるので，試験を要求しない。
d) 特定の個別のエンクロージャ内だけで用いる供試品は，そのエンクロージャ内で試験しなければならな
い。寸法を含めたエンクロージャの詳細を試験成績書に記載しなければならない。
e) 附属書Fの回路遮断器は，電源電圧又は全ての補助電源からも独立している。電子回路は，電源に直接
接続しておらず，また，超低電力で動作する。これらの回路遮断器の妨害は無視できるので，試験を要
求しない。
表J.4−エミッション試験に適用する図の一覧
試験
供試品
箇条番号
試験配置図
回路図
伝導無線周波
妨害
漏電遮断器
J.3.2，
JIS C 8201-2-2の8.12.2.1
a)
a)
回路遮断器
J.3.2，F.5.3
適用なし
適用なし
その他の装置
J.3.2，N.3.2
a)
a)
放射無線周波
妨害
漏電遮断器
J.3.3，
JIS C 8201-2-2の8.12.2.1
図J.2
a)
回路遮断器
J.3.3，F.5.4
図J.2
図F.2，図F.3，又は図F.4
その他の装置
J.3.3，N.3.3
a)
a)
注a) 必要な追加図はない。
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C 8201-2-1：2011
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J.3.2
伝導無線周波妨害（150 kHz〜30 MHz）
試験方法及び試験配置の詳細は，CISPR 11又はCISPR 22に示す。実際の試験配置は，ケーブルのタイ
プを含めて試験成績書に記載しなければならない。
J.3.3
放射無線周波妨害（30 MHz〜1 000 MHz）
試験配置を，図J.2に示す。
電源導帯，変圧器などの実際の試験配置は，試験成績書に記載しなければならない。
注記 引出形回路遮断器の場合は，供試品には引出線を含む。
図J.1−金属エンクロージャ内に設置する供試品
0.1 m〜0.2 m
A−A
0.1 m ＋10 %
0 %
C−C
IT
A
C
HF
C
EUT
0.1 m ＋10 %
0 %
最小寸法
B
接地面
絶縁材
A
絶縁材
0.1 m ＋10 %
0 %
ケーブル及び
導帯引出し口
0.1 m ＋10 %
0 %
製造業者指示の最低寸法
B−B
B
0.1 m〜0.2 m
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注a) CISPR 11又はCISPR 22参照
図J.2−放射無線周波エミッション測定のための試験配置
図J.3−静電気放電イミュニティを検証する試験配置
＋
1
0
%
0
%
0
.1
m
470 kΩ
470 kΩ
金属エンクロージャへの接触放電
接触可能な電導性部材への接触放電
接触可能な非電導性部材への気中放電
図J.1で示す金属エンクロージャ
試験ジェネレータ
図J.1でのHF接続の代わりとな
る470 kΩの二つの直列抵抗
絶縁材
接地面
＞0.5 m
H a)
EUT
受信アンテナ
アンテナマスト
柔軟な接続
ターンテーブル
絶縁材
接地面
L = 3 m又は10 m a)
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注a) JIS C 61000-4-3参照
図J.4−放射無線周波電磁界イミュニティを検証する試験配置
HF：高周波接続
図J.5−電源ラインの電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティを検証する
試験配置
HF
HF
EFT/B
ジェネレータ
0
.1
m
＋
1
0
%
0
%
金属エンクロージャ
金属エンクロージャの試験配置は
図J.1を参照
0.9 m＜L＜1.0 m（全挿入電線長さ）
絶縁材
接地面
供試品
D a)
＞0.5 m
EUT
H a)
指定なしa)
吸収体a)
絶縁材
送信アンテナ
供試品
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AE：補助装置
HF：高周波接続
図J.6−信号ラインの電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）イミュニティを検証する
試験配置
HF
AE
~
0.1 m ＋10 %
0 %
0.1 m ＋10 %
0 %
0
.1
m
＋
1
0
%
0
%
＞5.0 m
絶縁材
絶縁材
結合クランプ
接地面
絶縁台
0.9 m＜L＜1.0 m（全挿入電線長さ）
供試品
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附属書K
（参考）
この規格で規定する製品に関する記号の解説
項目
記号
参照
回路遮断器，閉路位置
│
5.2
回路遮断器，開路位置
○
5.2
断路適合性
5.2
中性極端子
N
5.2
保護接地端子
5.2
定格制御回路電圧
Uc
4.7.2
定格電流
In
4.3.2.3
定格インパルス耐電圧
Uimp
4.3.1.3
定格絶縁電圧
Ui
4.3.1.2
定格使用電圧
Ue
4.3.1.1
定格使用短絡遮断容量
Ics
4.3.5.2.2
定格短絡投入容量
Icm
4.3.5.1
定格短時間耐電流
Icw
4.3.5.4
定格限界短絡遮断容量
Icu
4.3.5.2.1
選択限界電流
Is
2.17.4
テイクオーバ電流
IB
2.17.6
閉鎖熱電流
Ithe
4.3.2.2
開放熱電流
Ith
4.3.2.1
AC形漏電遮断器
JIS C 8201-2-2の4.4.1
A形漏電遮断器
JIS C 8201-2-2の4.4.2
可調整過負荷引外しの設定電流
IR
附属書F
対応する引外し時間
tR
a)
地絡電流設定
Ig
a)
対応する引外し時間
tg
a)
単極短絡遮断容量（電圧相接地式配電システム）
Isu
附属書C
単極短絡試験電流（ITシステム）
IIT
附属書H
定格瞬時引外し設定電流
Ii
2.20，図K.1，附属書L及び附属書O
対応する最大引外し時間
ti
a)
ITシステム用途に不適合
附属書H
定格漏電短絡投入及び遮断容量
IΔm
JIS C 8201-2-2
定格漏電不動作電流
IΔno
JIS C 8201-2-2
定格感度電流
IΔn
JIS C 8201-2-2
感度電流
IΔR
a)
短限時ピックアップ電流
Isd
a)
対応する引外し時間
tsd
a)
電圧相接地式配電システムに適合
C
4.3.1.1
2IΔnにおける慣性不動作時間
Δt
JIS C 8201-2-2の4.2
慣性不動作時間0.06 sの時延形漏電遮断器
□
S
JIS C 8201-2-2の箇条5 a)
IT
120
C 8201-2-1：2011
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項目
記号
参照
三相電源専用漏電遮断器
JIS C 8201-2-2の箇条5 c)及び8.9.2
注a) これらの項目は，この規格では用いない。図K.1参照。
図K.1−記号と引外し特性との関係
電流
時
間
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附属書L
（規定）
過電流保護の要求事項を満足しない回路遮断器
L.1 一般
この附属書は，この規格の本文に規定する過電流保護の要求事項を満足しない回路遮断器について規定
する（以下，CBIという。）。CBIは，例えば，電圧引外し，不足電圧引外しなどの補助装置で引外し動作
することができる。CBIは，回路の保護1)を行わないが，自己を保護するために短絡状態で引外し動作し
てもよい。CBIは，条件付きの短絡定格をもち，断路用に用いてもよい。CBIは，制御目的のため補助及
び警報スイッチ，及び／又は遠隔操作用の附属品を組み込むことができる。
等価の回路遮断器（L.2.1）から過電流引外し装置を取り除いたもの（クラスY），又は過負荷引外しだ
けを取り除いたもの（クラスX）からなるCBIは，回路遮断器とみなす（L.3を参照）。
注1) これは，特に過負荷保護を意味する。
L.2 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，箇条2によるほか，次による。
L.2.1
等価の回路遮断器
この規格に従って試験を行い，CBIと同一のフレームサイズをもつ，CBIの基となった回路遮断器。
L.2.2
過電流保護装置（OCPD）
過電流を遮断することによってCBIを保護することを意図する装置。等価の回路遮断器と同等以上の過
電流保護性能をもち，かつ，等価の回路遮断器以上のIcu（回路遮断器の場合），又は遮断電流（ヒューズ
の場合）をもつ。
注記 OCPDは，等価の回路遮断器であってもよい。
L.3
分類
CBIは，次のように分類する。
− クラスX：自己保護のため非可調整形瞬時短絡電流引外し装置を組み込んだもの
− クラスY：過電流引外し装置がないもの
L.4
定格値
L.4.1
定格電流（In）
CBIの定格電流は，等価の回路遮断器の定格電流以下とする。
注記 CBIの定格電流は，使用負荷種別AC-22（第1部の附属書A参照）に基づく定格電流に関連さ
せてもよい。
L.4.2
定格条件付短絡電流（Icc）
第1部の4.3.6.4を適用する。
CBIは，等価の回路遮断器のIcuの値以上のIccであってもよい。
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C 8201-2-1：2011
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L.5
製品情報
CBIは，5.2に従って表示をしなければならない。ただし，断路に適合する装置は，5.2 a)の2番目の細
別の図記号に代えて， とする。
加えて，次のように表示しなければならない。
− 5.2 a)では，分類に従った記号
ここで，Iiは，定格瞬時引外し設定電流を表す（2.20参照）。
− 5.2 c)では，次の記号
− 定格条件付短絡電流（Icc）
− 指定する場合，OCPD
製造業者の取扱説明書には，過電流保護装置ではないCBIであることに注意を引くよう記載することが
望ましい。
L.6
構造及び性能要求事項
等価の回路遮断器（L.2.1参照）から作ったCBIは，7.2.1.2.4を除いて，箇条7にある全ての構造及び性
能要求事項に適合していなければならない。
注記 CBIは，更に追加してJIS C 8201-3に適合してもよく，それに従って表示してもよい。
L.7
試験
L.7.1 総則
L.7.1.1 クラスXのCBI
OCPDを指定する。
ケース1：
Icc＝等価の回路遮断器のIcu
追加試験は，要求しない。
注記 指定のOCPDは，次のものであってもよい。
− 等価の回路遮断器（L.2.1参照）
− その他の回路遮断器（L.2.2参照）
− ヒューズの規約溶断電流≦等価の回路遮断器の規約引外し電流であって，かつ，遮断容量
≧CBIのIcc
ケース2：
Icc＞等価の回路遮断器のIcu
試験は，指定するOCPDを用いて，L.7.2.1及びL.7.2.2に従って行う。
これは，次のいずれかの場合に適用する。
− 指定のOCPDは，等価の回路遮断器と同じフレームサイズの回路遮断器で，かつ，Icu＞CBIのIcc。
− 指定のOCPDは，規約溶断電流≦等価の回路遮断器の規約引外し電流で，かつ，遮断容量≧CBIの
Icc。
CBI-X
Ii=…
CBI-Y
又は
123
C 8201-2-1：2011
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L.7.1.2 クラスYのCBI
次の二つの条件のうちの一つが適合する場合，試験は不要である。
− 条件1：Icc≦等価の回路遮断器のIcw
− 条件2：Icc≦等価の回路遮断器の定格瞬時引外し電流設定の最大
上記の条件のいずれにも適合しない場合，次の試験を要求する。
ケース1：OCPDは，製造業者によって指定する。
試験は，L.7.2.1及びL.7.2.2に従って行う。
ケース2：OCPDは，指定しない。
試験は，L.7.2.1及びL.7.2.3に従って行う。
L.7.2 定格条件付短絡電流試験
L.7.2.1 総則
これらの試験は，L.7.1.1のケース2，又はL.7.1.2のケース1若しくはケース2に従って要求された場合
は行う。
L.7.2.1.1 試験条件
附属書1又は附属書2の8.3.2.6を適用する。
試験回路は，SCPDをOCPDに置き換えて図A.6に従って行う。OCPDが可調整過電流設定付きの回路
遮断器の場合，最大に設定して行う。
OCPDをヒューズとの組合せで構成する場合，それぞれの試験は新品のヒューズを用いて行う。
接続ケーブル（適用する場合）は，附属書1又は附属書2の8.3.2.6.4に規定するものとする。ただし，
OCPDが回路遮断器の場合，回路遮断器に接続する全ケーブル長（0.75 m）は，電源側にあってもよい（図
A.6参照）。
L.7.2.1.2 試験中の状態
附属書1又は附属書2の8.3.2.6.5を適用する。
L.7.2.2 OCPDを指定する場合
試験は，L.7.2.2.1，L.7.2.2.2及びL.7.2.2.3に従って行う。
L.7.2.2.1 試験シーケンス
試験シーケンスは，次の試験からなる。
試験
箇条番号
Iccの検証
L.7.2.2.2
耐電圧の検証
L.7.2.2.3
L.7.2.2.2 Iccの検証
試験は，CBIのIccに等しい推定短絡電流で行う。各試験は，附属書1又は附属書2の8.3.5.2に従って行
うO−t−CO動作で構成する。CO動作は，CBIの閉路によって行う。
各動作の後，CBIは，3回手動で閉路及び開路の操作を行う。
L.7.2.2.3 耐電圧の検証
L.7.2.2.2の試験に引き続き，耐電圧試験を附属書1又は附属書2の8.3.5.3に従って行う。
L.7.2.3 OCPDを指定しない場合
試験は，L.7.2.3.1，L.7.2.3.2及びL.7.2.3.3に従って行う。
124
C 8201-2-1：2011
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L.7.2.3.1 試験シーケンス
試験シーケンスは，次の試験からなる。
試験
箇条番号
Iccの検証
L.7.2.3.2
耐電圧の検証
L.7.2.3.3
L.7.2.3.2 Iccの検証
試験は，CBIのIccに等しい推定短絡電流で行う。各試験は，附属書1又は附属書2の8.3.5.2に従って行
うO−t−CO動作で構成する。CO動作は，CBIの閉路によって行う。
試験中，電流を3サイクル維持した後に，電源から切り離す。
各動作の後，CBIは，3回手動で閉路及び開路の操作を行う。
L.7.2.3.3 耐電圧の検証
L.7.2.3.2の試験に引き続き，耐電圧試験を附属書1又は附属書2の8.3.5.3に従って行う。
125
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附属書M
（規定）
漏電継電器
対応国際規格の附属書Mは，適用しない。
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附属書N
（規定）
電磁両立性（EMC）−JIS C 8201-2-2（漏電遮断器）及び
附属書F以外の電子回路を搭載する装置に対して追加する要求事項及び
試験方法
注記 附属書1の回路遮断器に適用し，附属書2の回路遮断器には適用しない。
N.1 総則
N.1.1 一般
この附属書は，回路遮断器内部又は回路遮断器上に取り付け，かつ，電子回路を搭載した装置（第1部
の7.3参照）に適用する。
なお，JIS C 8201-2-2及び附属書Fに含まれるものは除く。
これらの装置の例としては，不足電圧引外し装置，電圧引外し装置，投入コイル，電気操作装置，遠隔
状態表示器などがある。通信モジュールには，これらの要求事項を適用しない。
この附属書は，附属書Jを補完して，これらの装置の試験条件及び判定基準を定める。
N.1.2 一般試験条件
この附属書に基づく試験は，附属書1の箇条8に基づく試験シーケンスとは別個に行ってもよい。
製造業者の判断で，試験ごとに新しい供試品を用いてもよいし，一つの供試品で複数の試験を行っても
よい。
電源電圧に複数の定格がある場合には，各定格電圧ごとに供試品を準備して試験を行う。
投入コイルの構造（コイル及び電子制御装置）が相当する電圧引外し装置と同一の場合，投入コイルに
対する試験は必要ない。
装置は，製造業者の指示に従って回路遮断器内又は回路遮断器上に取り付けて試験を行う。
電源に常時接続する不足電圧引外し装置及び電源ポートは，定格電圧を印加する。定格電圧が範囲をも
つ場合は，この範囲内の任意の電圧を印加する。
50/60 Hz共用の装置の場合には，いずれか一方の周波数で試験すればよい。
N.2 イミュニティ
N.2.1 一般
N.2.1.1 試験条件
イミュニティ試験は，1台の回路遮断器に異なる装置を搭載して行ってもよいし，JIS C 8201-2-2及び附
属書Fに適用する場合（例えば，静電気放電，放射無線周波電磁界などのように）には，それらの試験と
同時に行ってもよい。
投入コイル以外の装置は，回路遮断器を閉状態にして試験を行う。
投入コイル（適用する場合）を試験する場合（N.1.1参照）には，回路遮断器は投入可能状態（投入ばね
を蓄勢した状態）にして試験を行う。
N.2.1.2 性能基準
性能基準A：試験中，回路遮断器の状態及び遠隔状態表示器の出力の状態が変化してはならない。
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C 8201-2-1：2011
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性能基準B：試験中，回路遮断器の状態が変化してはならない。ただし，遠隔状態表示器の出力の状態は
一時的に変化してもよいが，試験後は回路遮断器の状態を正しく表示しなければならない。
試験後は，N.2.1.3に規定する単純化した機能検証を行う。
N.2.1.3 単純化した機能検証
性能基準A及び性能基準Bの双方に対して試験後に，次のa)〜d)に示すように各装置に定格電圧を印加
して，その動作を確認する。定格電圧が範囲をもっている場合，印加電圧はこの範囲内で任意に選んでよ
い。
a) 不足電圧引外し装置は，電圧を印加した状態では回路遮断器の閉状態を維持し，かつ，電圧が喪失し
た場合，回路遮断器を動作させなければならない。
b) 電圧引外し装置は，電圧を印加したとき，回路遮断器を動作させなければならない。
c) 投入コイルは，電圧を印加したとき，回路遮断器を投入させなければならない。
d) 電気操作装置は，製造業者が指示するシーケンスで電圧を印加したとき，回路遮断器の開閉を行うこ
とができなければならない。
注記 上記の確認は，各装置がイミュニティ試験によって損傷を受けていないことを確認するだけ
であって，この規格の本体で規定している要求事項全てに適合することを確認するものでは
ない。
N.2.2 静電気放電
附属書J，特にJ.2.2を適用する。N.2.1.2の性能基準Bを適用する。
N.2.3 放射無線周波電磁界
附属書J，特にJ.2.3を適用する。
試験における接続は，JIS C 61000-4-3の図5又は図6を適用する。取付けについて製造業者が指示する
場合には，それを考慮する。接続に用いた電線の種類を試験成績書に記載しなければならない。
第一段階（J.2.3参照）の場合には，性能基準Aを適用する。
第二段階（J.2.3参照）の場合には，J.2.3に規定する周波数のそれぞれにおいて，装置の動作をN.2.1.3
に従って確認する。遠隔状態表示器には，この試験は適用しない。
N.2.4 電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B）
附属書J，特にJ.2.4を適用する。
試験における接続は，JIS C 61000-4-4の図4を適用する。取付けについて製造業者が指示する場合には，
それを考慮する。
性能基準Aを適用する。
N.2.5 サージ
附属書J，特にJ.2.5を適用する。
試験における接続は，JIS C 61000-4-5の図6，図7，図8，又は図9を適用する。取付けについて製造業
者が指示する場合には，それを考慮する。
性能基準Bを適用する。
N.2.6 無線周波電磁界（コモンモード）によって誘導される伝導妨害
附属書J，特にJ.2.6を適用する。
第一段階（J.2.6参照）の場合には，性能基準Aを適用する。
第二段階（J.2.6参照）の場合には，J.2.6に規定する周波数のそれぞれにおいて，装置の動作をN.2.1.3
に従って確認する。遠隔状態表示器には，この試験は適用しない。
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C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
N.2.7 電圧降下及び停電
これらの試験は，定常交流電源を用いる装置だけに適用する。
試験は，JIS C 61000-4-11に従って，第1部の表23に示す要求レベルで行う。
試験中に，回路遮断器の状態が変化してもよい。遠隔状態表示器の出力は一時的に変化してもよいが，
試験後は，回路遮断器の状態を正しく表示しなければならない。試験後は，N.2.1.3の規定に従って，装置
が正常に動作することを確認する。
N.3 エミッション
N.3.1 一般
試験は，スイッチング基本波の周波数が9 kHzを超える電子回路（第1部の7.3.3.2.1参照）を組み込み，
かつ，連続動作するようになっている装置（例えば，不足電圧引外し装置）に適用する。
これらの試験は，組込形，分離形のいずれであるかにかかわらず，断路スイッチと組み合わせて用いる
ようになっている電圧引外し装置には適用しない。
これらの試験は，定常的に電圧が印加されている電子回路を組み込んでいない電気操作装置には適用し
ない。これは，電気操作装置の場合には，動作の頻度は非常に小さく，また，動作（開閉又はリセット）
の持続時間も，非常に短い（数百ms〜数s）ためである。
各装置は，個別にそれぞれのエミッション試験を行う。これらのエミッション試験は，JIS C 8201-2-2
及び附属書Fに規定している試験と同時に行わない。
投入コイルを試験する場合には，回路遮断器は，投入可能状態（投入ばねを蓄勢した状態）にして試験
を行う。
不足電圧引外し装置及び投入コイルの場合，回路遮断器は，閉状態にして試験を行う。電圧引外し装置
及び電気操作装置の場合，回路遮断器は，開状態にして試験を行う。
遠隔状態表示器の場合，回路遮断器は，閉状態にして試験を行う。
N.3.2 伝導無線周波妨害（150 kHz〜30 MHz）
附属書J，特にJ.3.2を適用する。
N.3.3 放射無線周波妨害（30 MHz〜1 GHz）
附属書J，特にJ.3.3を適用する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書O
（規定）
瞬時引外し回路遮断器（ICB）
O.1 一般
この附属書は，この規格の本文に規定する過電流保護の中で，短絡保護だけを満たす回路遮断器に適用
し，瞬時引外し回路遮断器という（以下，ICBという。）。これらは，可調整を含む瞬時短絡引外し装置で
構成され，過負荷引外し装置は含まない。ICBは，通常，モータスタータ，過負荷リレーなどの装置と組
み合わせて用いる。特定の過負荷リレーとの組合せで，回路及び機器の双方の過電流保護（過負荷及び短
絡）を行う。
ICBは，回路遮断器の一種で，等価回路遮断器（O.2.1参照）から過負荷保護装置を外し，可調整であっ
てもよい短絡保護装置を組み込み，特定のモータスタータ又は過負荷リレーと組み合わせて過電流保護を
行うように，設計してある。
O.2 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，箇条2によるほか，次による。
O.2.1
等価回路遮断器
この規格に従って試験を行い，ICBと同じフレームサイズをもつ，ICBの基となった回路遮断器。
O.3 定格値
箇条4の特性は，過負荷引外しに関する記述を除き，次の追加とともに適用する。
O.3.1 定格電流（In）
ICBの定格電流は，等価回路遮断器の定格電流以下とする。
O.3.2 定格短絡投入容量
ICBは，等価回路遮断器とは異なった定格短絡投入容量を指定してもよい。
注記 ICBは，特定のモータスタータ又は過負荷リレーで，JIS C 8201-4-1の適切な箇条によって試験
したとき（O.6.2参照），等価回路遮断器がもつ同等以上の定格短絡投入容量を指定してもよい。
O.3.3 定格短絡遮断容量
ICBは，等価回路遮断器とは異なった定格短絡遮断容量を指定してもよい。
注記 ICBは，特定のモータスタータ又は過負荷リレーで，JIS C 8201-4-1の適切な箇条によって試験
したとき（O.6.2参照），等価回路遮断器がもつ同等以上の定格短絡遮断容量を指定してもよい。
O.4 製品情報
ICBは，5.2に従って表示をしなければならない。
適用する場合，定格短絡投入容量及び定格短絡遮断容量を表示しなければならない（O.6.1.1参照）。モ
ータスタータ又は過負荷リレーに組み合わせてICBの短絡性能だけを規定する場合，組合せの短絡定格は，
ICBに表示してはならない（O.6.2参照）。
さらに，次のようにICBは表示しなければならない。
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− 5.2 a)では，“ICB”を追加。
− 5.2 b)では，定格瞬時引外し設定電流Ii（2.20参照）を追加（実際の値又は定格電流の倍率）。
製造業者の取扱説明書には，定格瞬時引外し設定電流未満では，ICBはそれ自身，又は回路の過電流保
護を行うものではないことの注意喚起の記載を行わなければならない。
ICBが指定した保護装置（O.6.2参照）と組み合わせない場合，製造業者は，適切な過負荷保護装置の選
定を可能にするデータを示さなければならない。例えば，最大の瞬時設定電流までのICBの耐電流特性な
どである。
O.5 構造及び性能要求事項
等価回路遮断器（O.2.1参照）から派生しているICBは，箇条7［7.2.1.2.4 b)を除く。］の適用可能な全
ての構造及び性能要求事項に適合する。
O.6 試験
O.6.1 ICB単体の試験シーケンス
O.6.1.1 一般
この試験は，次のいずれかの場合，実施する必要はない。
− ICBの短絡引外し及び主導体の短絡特性が，等価回路遮断器と全く同じである場合。
− ICBが，特定の保護機器との組合せとしてだけ評価及び試験する場合（O.6.2参照）。
個々のフレームサイズにおける定格電流Inの最大値及び最小値で，それぞれの供試品の試験を行う。そ
のフレームサイズの中で一つ以上の構造の相違要件（2.1.2及び7.1.5参照）がある場合，各構造における
最大定格電流ごとに，1台の供試品を追加して試験を行う。
O.6.1.2 試験シーケンス
試験は，過負荷引外しの検証を除いて，シーケンスII及びIIIを行う。
O.6.1.3 短絡引外しの検証
O.6.1.2の試験に続き，定格瞬時引外し電流の最大設定で，各極順番に引外し試験を8.3.3.1.2によって行
う。試験は，それぞれの極に製造業者が宣言した引外し電流値で行う。ICBは，引外ししなければならな
い。
O.6.2 指定した保護装置（すなわち，モータスタータ又は過負荷リレー）と組み合わせるICB
これらの組合せで適用する試験の要求事項は，次に示すように，JIS C 8201-4-1の該当の箇条で規定す
る。
− 短絡保護装置との協調
− 断路に適したコンビネーションスタータ及び保護付きスタータの追加要求事項
− 短絡条件下での性能
− スタータと組み合わせるSCPD間のクロスオーバー電流での協調
注記 JIS C 8201-4-1のSCPDは，ICBを含む多くの短絡保護装置に該当する。
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附属書JA
（規定）
誘導電動機保護兼用回路遮断器
JA.1 一般
この附属書は，周波数50 Hz又は60 Hzの交流600 V以下の電路の過負荷保護及び短絡保護，並びにこ
れに接続した単相又は三相誘導電動機の過負荷保護を兼ねた附属書2の回路遮断器について規定する。
この附属書で規定していない事項は，本文の規定を適用する。
注記 直入れ始動器として用いる回路遮断器で，電動機の保護特性の追加要求事項を接触器及びモー
タスタータに適用するJIS C 8201-4-1が規定するものは，検討中である。
JA.2 定格電流
定格電流は，誘導電動機の全負荷電流を考慮して定め，製造業者の表示した値とする。
JA.3 動作機構
長限時引外し装置は，定格電流の設定を電動機のそれぞれ異なった全負荷電流の種類に対応できるよう
に，可調整式とすることができる。ただし，設定電流は，定格電流以下とする。
設定電流の調整装置は，調整可能な電流目盛を備え，調整可能な範囲の設定電流値に対して，長限時引
外し装置は，製造業者が指定する時間以下で動作しなければならない。
JA.4 性能
JA.4.1 通電及び長限時引外し
JA.4.1.1 200 %電流引外し
過電流引外し装置は，JA.6.1に従って試験を行ったとき，表JA.1に示す時間以下で自動的に動作しなけ
ればならない。
表JA.1−過電流引外し時間
定格電流（In）
A
動作時間
min
定格電流の200 %の電流
定格電流の125 %の電流
In≦ 30
2以下（3以下）
60以下
30＜In≦ 50
4以下（5以下）
60以下
50＜In≦100
6以下
120以下
100＜In≦225
8以下
120以下
注記 括弧内の値は，電動機専用の分岐回路において，電気事業法に基づく電気設備の技術基準の
解釈第149条，分岐回路の施設第2項第二号ロによって，電動機の定格電流の1.25倍以上の
許容電流のある電線を用いた場合にだけ適用する。
JA.4.1.2 125 %電流引外し
過電流引外し装置は，JA.6.2に従って試験を行ったとき，表JA.1に示す時間以下で自動的に動作しなけ
ればならない。
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JA.4.1.3 100 %電流通電
過電流引外し装置は，JA.6.3に従って試験を行ったとき，動作してはならない。
JA.4.1.4 600 %電流引外し
過電流引外し装置は，JA.6.4に従って試験を行ったとき，2 s以上30 s以下で自動的に動作しなければな
らない。
JA.4.2 過負荷性能
回路遮断器は，JA.6.5に規定の試験条件に従って，主回路の定格電流を超える電流を規定回数開閉でき
なければならない。各動作サイクルは，1回の投入操作，及びそれに続く1回の遮断動作からなる。
JA.5 表示
誘導電動機保護兼用形回路遮断器は，回路遮断器の表面に誘導電動機保護兼用である旨，語句又は製造
業者の指定する記号で，表示しなければならない。
JA.6 試験方法
JA.6.1 200 %電流引外し試験
200 %電流引外し試験は，回路遮断器にその定格電流又は設定電流の200 %の電流を通電し，自動的に動
作するまでの時間を測定する。この場合，多極回路遮断器では，過電流引外し素子がある極について，任
意の電圧で各極ごとに通電して試験する。
JA.6.2 125 %電流引外し試験
125 %電流引外し試験は，回路遮断器にその定格電流又は設定電流の125 %の電流を通電し，自動的に動
作するまでの時間を測定する。この場合，多極回路遮断器では，過電流引外し素子がある極について，任
意の電圧で各極同時に通電して試験する。
JA.6.3 100 %電流通電試験
100 %電流通電試験は，回路遮断器にその定格電流を各部の温度が一定となるまで連続通電する。
なお，この試験は，基準周囲温度で行う場合又は電流補正を必要としないものの場合，温度上昇試験と
同時に行ってもよい。
JA.6.4 600 %電流引外し試験
600 %電流引外し試験は，定格電流又は設定電流の600 %の電流を各極同時に通電して行う。
JA.6.5 過負荷性能試験
附属書2の8.3.3.4に従って行う。ただし，開閉条件は，表JA.2を適用する。
表JA.2−過負荷性能試験の開閉条件
定格電流（In）
A
操作方式及び開閉回数
回
開閉の割合
回／時
手動投入手動遮断
手動投入自動遮断
合計
In≦100
35
15
50
240
100＜In≦225
20
5
25
120
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附属書JB
（規定）
単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器
JB.1 一般
この附属書は，単相3線式回路に用いて，中性線の欠相が発生した場合に電圧極に発生する不平衡電圧
（過電圧）を検出して回路を遮断する機能をもつ回路遮断器について規定する。
この附属書に規定していない事項は，本文の規定を適用する。
JB.2 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，箇条2によるほか，次による。
JB.2.1
過電圧引外し
電圧極と中性極との間に過電圧が生じたとき，開閉機構を開放し，回路遮断器を開放する自動引外し動
作。
JB.2.2
過電圧引外し装置
電圧極と中性極との間に生じる過電圧に対して，引外し動作を行わせる引外し装置。
JB.2.3
動作過電圧
電圧極と中性極との間に過電圧を印加したとき，回路遮断器が引外し動作をする電圧。
JB.2.4
定格動作過電圧
所定の条件の下で電圧極と中性極との間に過電圧を印加したとき，回路遮断器が必ず引外し動作をする
電圧。
JB.2.5
定格不動作過電圧
所定の条件の下で電圧極と中性極との間に過電圧を印加しても，回路遮断器が引外し動作をしない電圧。
JB.2.6
定格過電圧動作時間
定格動作過電圧に等しい電圧が発生してから，回路遮断器がその回路を遮断するまでの時間の上限値。
JB.3 単相3線式中性線欠相保護機能に関する定格値
JB.3.1 定格電圧
定格電圧は，100/200 Vとする。
JB.3.2 定格動作過電圧
定格動作過電圧は，135 Vとする。
JB.3.3 定格不動作過電圧
定格不動作過電圧は，120 Vとする。
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JB.3.4 定格過電圧動作時間
定格過電圧動作時間は，1 s以下とする。
JB.4
表示
次の事項を箇条5に規定する表示事項に追加して表示しなければならない。
JB.4.1 単相3線式中性線欠相保護機能付であることの表示
単相3線式電路の中性線欠相時に回路を遮断する機能がある場合に，例えば，“単3中性線欠相保護付”
と表示する。
この表示は，取付け位置で明確に見えなければならない。
JB.4.2 過電圧検出リード線の表示
過電圧検出リード線の引出し部近傍の見やすい位置に“N”を表示する。
この表示は，取り付けるときに見えなければならない。
JB.5 標準使用，取付け及び輸送条件
箇条6を適用する。
JB.6 単相3線式中性線欠相保護機能の構造及び動作に関する要求事項
JB.6.1 過電圧検出リード線の構造
単相3線式中性線欠相保護装置の過電圧検出リード線は，次による。
過電圧検出リード線の色は白とし，導体の断面積は0.5 mm2以上でなければならない。
過電圧検出リード線は，JB.7.3に従って試験を行ったとき，これに耐えなければならない。
JB.6.2 過電圧検出装置の動作特性
JB.6.2.1 過電圧引外し
JB.6.2.1.1 動作過電圧
JB.7.4.1に従って試験を行ったとき，単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器は，動作過電圧の値が定
格不動作過電圧の値を超え，かつ，定格動作過電圧の値以下で，動作しなければならない。
JB.6.2.1.2 過電圧動作時間
JB.7.4.2に従って試験を行ったとき，単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器は，定格過電圧動作時間
以下で動作しなければならない。
JB.6.2.2 周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する動作過電圧
JB.7.6に従って試験を行ったとき，単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器は，動作過電圧の値が定格
不動作過電圧の値を超え，かつ，定格動作過電圧の値以下で，動作しなければならない。
JB.6.2.3 周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する不動作過電圧
JB.7.7に従って試験を行ったとき，単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器は，動作してはならない。
JB.6.2.4 最大過電圧引外し
JB.7.8に従って試験を行ったとき，単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器は，定格過電圧動作時間以
下で動作しなければならない。
なお，単相3線式中性線欠相保護付回路遮断器は，瞬時的な過電圧（過渡的な開閉サージ電圧など）で
動作してはならない。
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JB.6.2.5 環境条件の影響
環境条件の影響を検証するために，試験はJB.7.9に従って行わなければならない。
この試験後，供試品は動作過電圧試験にも適合しなければならない。
JB.7 試験
JB.7.1 試験一般
附属書1の箇条8又は附属書2の箇条8に規定する試験に，次の試験を追加する。
JB.7.2 追加の試験及び試験シーケンス
JB.7.2.1 形式試験への追加
附属書1の箇条8又は附属書2の箇条8において適用しなければならない試験シーケンスは全て行い，
更に次の試験シーケンスを追加する。
試験シーケンス
試験
箇条番号
JB.I
過電圧検出リード線の強度試験
JB.7.3
JB.II
過電圧引外し試験
JB.7.4
耐電圧試験
JB.7.5
周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する動作過電圧試験
JB.7.6
周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する不動作過電圧試験
JB.7.7
最大過電圧引外し試験
JB.7.8
JB.III
環境条件の影響
JB.7.9
動作過電圧試験
JB.7.4.1
JB.IV
（附属書1の箇条8
又は附属書2の箇条
8に規定する各シー
ケンスへの追加）
動作過電圧試験
（各シーケンスの最後の“過負荷引外しの検証”又は“回路動作
特性の検証”を行った直後に，追加して実施する。）
JB.7.4.1
供試品の数は，試験シーケンスJB.Iは1台，JB.IIは3台をそれぞれの試験に，また，試験シーケンスJB.IV
は該当する試験シーケンスで規定する台数について用いなければならない。
注記 試験シーケンスJB.I，JB.II及びJB.IIIは，製造業者の判断によって，それぞれの試験シーケン
スをその他の適切な試験シーケンスと組み合わせて実施してもよい。
JB.7.2.2 受渡試験への追加試験
受渡試験の最後に，JB.7.4.1の動作過電圧試験を追加する。
JB.7.3 過電圧検出リード線の強度試験
過電圧検出リード線の強度試験は，次によって行う。
JB.7.3.1 回路遮断器の外側方向に向かって，30 Nの張力を10 s加える。
JB.7.3.2 回路遮断器の内側方向に向かって，リード線の器体側から5 cmの箇所を保持して，30 Nの力で
押し込む。
JB.7.4 過電圧引外し試験
JB.7.4.1 動作過電圧試験
動作過電圧試験は，図JB.1において，回路遮断器の電源側端子に定格電圧を印加し，回路遮断器の接点
を閉路した状態で，可変抵抗器によってVL及びVRを変化させたときの回路遮断器の動作過電圧を測定す
る。
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図JB.1−動作過電圧試験回路
JB.7.4.2 過電圧動作時間試験
過電圧動作時間試験は，図JB.2において回路遮断器に定格電圧を印加して，開閉器S2を開にして，開
閉器S1を開にした状態で，VL及びVRの値が定格動作過電圧の値になるように抵抗器の値を設定する。開
閉器S1を閉とし，また，開閉器S2を閉にした後，開閉器S1を開いてから回路遮断器が動作するまでの時
間を測定する。
図JB.2−過電圧動作時間試験回路
JB.7.5 耐電圧試験
次の事項を除いて，附属書1の8.3.3.2又は附属書2の8.3.3.2に該当するいずれかの規定に従わなけれ
ばならない。
検出用の電子回路を接続した端子間には実施しない。電子回路を接続した端子は，製造業者の指定によ
る。
JB.7.6 周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する動作過電圧試験
周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する動作過電圧試験は，周囲温度が−5 ℃，20 ℃及び40 ℃の
3点において，電源電圧をそれぞれ定格電圧の85 %，100 %及び110 %としてJB.7.4.1の試験を行う。
JB.7.7 周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する不動作過電圧試験
周囲温度の変化及び電源電圧の変動に対する不動作過電圧試験は，JB.7.6の試験において，動作過電圧
が最も小さくなる周囲温度及び電源電圧の組合せを求め，その条件の下で定格不動作過電圧を急激に印加
する。
JB.7.8 最大過電圧引外し試験
最大過電圧引外し試験は，図JB.3において，開閉器Sによって定格電圧の1.1倍の電圧を印加したとき
の回路遮断器の動作時間を測定する。
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図JB.3−最大動作過電圧試験回路
JB.7.9 環境条件の影響の検証
この試験は，F.8に従って行う。
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附属書JC
（参考）
電灯分電盤用協約形回路遮断器
JC.1 一般
この附属書は，周波数が50 Hz又は60 Hzの電路に用いる電灯分電盤用協約形回路遮断器について記載
する。
JC.2 定格値
JC.2.1 定格使用電圧（Ue）の推奨値
定格電圧の推奨値は，次の値とする。
定格使用電圧（Ue）の標準値
V
100，200，100/200，240
JC.2.2 定格電流の推奨値
定格電流の推奨値は，次の値とする。
定格電流の推奨値
A
10，13，15，16，20，25，30，40，50
JC.2.3 定格限界遮断容量（Icu）の推奨値
定格限界遮断容量（Icu）の推奨値は，次の値とする。
定格限界遮断容量（Icu）の推奨値
kA
2.5，5，7.5，10
JC.3 寸法及び極数
寸法の推奨値は，図JC.1に示すとおりとし，極数は，単極，2極又は3極とする。
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単位 mm
注記1 寸法は，単極の場合を示す。
*印の部分の寸法の推奨値は，2極の場合は50 mm，3極の場合は75 mmとする。
注記2 2極又は3極の場合に，端子座，取付用つめなどの数は，それぞれ2倍又は3倍とする。
注記3 電源側端子座は，銅帯接続ができる構造とする。
注記4 操作取っ手の中心軸は，本体中心線上になくてもよい。
図JC.1−電灯分電盤用協約形回路遮断器の寸法
0
−1.5
0
−2
140
C 8201-2-1：2011
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60112:1979，Method for determining the comparative and the proof tracking
indices of solid insulating materials under moist conditions（IDT）
JIS C 8201-3 低圧開閉装置及び制御装置−第3部：開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユ
ニット
注記 対応国際規格：IEC 60947-3，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 3: Switches,
disconnectors, switch-disconnectors and fuse-combination units（MOD）
JIS C 8201-5-1 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電気機械式
制御回路機器
注記 対応国際規格：IEC 60947-5-1，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control circuit
devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices（IDT）
JIS C 8269-1 低電圧ヒューズ−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60269-1，Low-voltage fuses−Part 1: General requirements（IDT）
JIS C 8269-2-1 低電圧ヒューズ−第2-1部：専門家用ヒューズの追加要求事項（主として工業用のヒュ
ーズ）−第I章〜第V章：専門家用標準ヒューズの例
注記 対応国際規格：IEC 60269-2-1:1998，Low-voltage fuses−Part 2-1: Supplementary requirements for
fuses for use by authorized persons (fuses mainly for industrial application)−Sections I to V: Examples
of types of standardized fuses（IDT）
JIS C 8313 配線用つめ付きヒューズ
注記 対応国際規格：IEC 60269-3:1987，Low-voltage fuses. Part 3: Supplementary requirements for fuses
for use by unskilled persons (fuses mainly for household and similar applications)（NEQ）
IEC 60410，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
IEC 60439 (all parts)，Low-voltage switchgear and controlgear assemblies
附属書JD
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 8201-2-1:2011 低圧開閉装置及び制御装置−第2-1部：回路遮断器（配線用遮
断器及びその他の遮断器）
IEC 60947-2:2006 Low-voltage switchgear and controlgear−Part 2: Circuit-breakers
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 一般
交流1 000 V以下又は
直流1 500 V以下の定
格電圧の回路に接続す
る回路遮断器。
適用する附属書リスト
同左
追加
適用する附属書リストについ
ては，JIS独自の附属書を追加
した。
我が国の配電設備などを考慮し
た。
配電システムの動向に合わせて見
直しをした。
2 用語及
び定義
回路遮断器，ヒューズ
組込み形回路遮断器，
限流形回路遮断器，差
込形回路遮断器などに
ついて定義を規定。
断路及び越流の規定な
し。
追加
断路及び越流の定義を追加し
た。
電気用品安全法の技術基準に合わ
せて，断路及び越流の定義を追加
した。
3 種類
製造業者の提供する状
況を必要に応じて規定
する。
同左から電気設備規定の
区分を除く。
追加
電気設備規定に区分した適用
遮断器の区分を追加した。
我が国の配電設備などを考慮し
た。
8
6
C
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0
1
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-1
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4.3 主回
路の定格
及び限界
値
定格電圧［定格使用電
圧（Ue），定格絶縁電圧
（Ui），定格インパルス
耐電圧（Uimp）］，電流
［開放熱電流（Ith），閉
鎖熱電流（Ithe），定格電
流（In），4極回路遮断
器に対する定格電流］，
定格周波数，定格責務
（8時間責務，連続責
務），短絡特性｛定格短
絡投入容量（Icm），定格
短絡遮断容量［定格限
界短絡遮断容量（Icu），
定格使用短絡遮断容量
（Ics）］｝，及び定格短時
間耐電流（Icw）の定義
①単相3線式配線システ
ムの説明を除く。
②附属書H（ITシステム）
の適用範囲の制限なし。
③附属書C（相接地式配
電システム）の適用範囲
の制限なし。
追加，
変更
①単相3線式配線システムの
説明を追記した。
②附属書H（ITシステム）の適
用範囲を制限した。
③附属書C（相接地式配電シス
テム）の適用範囲を制限した。
①我が国の配電システムを説明し
た。
②我が国で広く用いている240 V
以下について従来と同じ規定とし
た。
③我が国で広く用いている240 V
以下について従来と同じ規定とし
た。
4.5 制御
回路
電気制御回路及び空気
供給制御回路を規定。
我が国固有の電圧の規定
なし。
追加
我が国固有の電圧を追加した。 我が国固有のバリエーションを追
加した。
4.7 引外
し装置
形式［電圧引外し装置
過電流引外し装置（瞬
時，定限時，反限時），
不足電圧引外し，その
他の引外し］の規定。
基準周囲温度は30 ℃
追加，
変更
基準周囲温度
附属書1：30 ℃
附属書2：40 ℃
電線保護のためIEC規格，従来
JISそれぞれの基準を取り入れ
た。
8
6
C
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0
1
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-1
：
2
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5.2 表示
次の表示区分で表示項
目を規定。
a) 設置したとき見え
る銘板上に表示
b) 設置したとき見え
る必要はない回路遮断
器上に表示
c) 回路遮断器上又は
製造業者が発行する媒
体に表示
同左から，我が国独自の
電気設備規定の区分に関
する規定，日本語での記
述を認める規定を除く。
追加，
変更
電気設備規定の区分に対応す
る表示を追加した。
適用電線を追加した。
日本語の表示を追加した。
我が国の配電設備などを考慮，日
本人が分かる日本語の表示，配電
設備などを考慮した。
7 構造及
び性能に
関する要
求事項
附属書1又は附属書2
を引用する。
構造に関する要求事項，
性能に関する要求事項，
電磁両立性（EMC）
変更
電気設備規定が，我が国独自の
電気設備規定と，IEC規格に整
合しているJIS C 60364の電気
設備規定とがあることから，適
用する遮断器について，IEC規
格の規定を附属書1と附属書2
とに区分した。
我が国の配電設備などを考慮し
た。
8 試験
附属書1又は附属書2
を引用する。
試験の種類，構造要件に
関する要求事項に対する
適合性，形式試験及び受
渡試験。
変更
電気設備規定が，我が国独自の
電気設備規定と，IEC規格に整
合しているJIS C 60364の電気
設備規定とがあることから，適
用する遮断器について，IEC規
格の規定を附属書1と附属書2
とに区分した。
我が国の配電設備などを考慮し
た。
8
6
C
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1
-2
-1
：
2
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書1
（規定）
JIS C 60364規格群に
適用する遮断器の構造
に関する要求事項，性
能に関する要求事項，
電磁両立性（EMC），試
験の種類，構造要件に
関する要求事項に対す
る適合性，形式試験及
び受渡試験について規
定。
（箇条7及び箇条8の
内容の詳細）
IEC規格には，この附属
書は存在しないが，IEC
規格の附属書Bの箇条7
及び箇条8がそれに該当
する。
追加
JIS C 60364規格群に適用する
遮断器の，IEC規格の附属書B
の箇条7及び箇条8に対する附
属書である。
JIS C 60364規格群の配電設備な
どを考慮したものとなっている。
附属書2全体は，関連する法令の
改正動向，及び配電システムの動
向に合わせて見直しする。
附属書1
7.1 構造
に関する
要求事項
第1部を引用する。た
だし，材料に関する規
定はグローワイヤ試験
の規定だけ（難燃等級，
HWI，AIの規定を除
く）。
・断路に適する回路遮
断器への追加要求事項
・空間距離及び沿面距
離
操作部の絶縁に関する追
加要求の規定。
変更
操作部の絶縁に関する追加要
求の緩和。
操作部の絶縁に関する追加要求に
ついては電機業界のコンセンサス
が得られていないので，緩和規定
とした。
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C
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1
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：
2
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11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書1
7.2 性能
に関する
要求事項
操作条件（投入，開路）
について規定。
①投入
②開路
・短絡条件
・過負荷条件：不動作
電流＝1.05In，動作電流
＝1.3In
③温度上昇
④耐電圧性能
⑤過負荷，開閉耐久性
能
⑥越流性能
⑦断路に対する追加要
求事項
⑧回路遮断器とその他
の短絡保護装置との保
護協調
越流性能を除く。
追加，
変更
越流性能を追加した。
越流性能の追加：JIS C 8370に規
定があり，不要動作を防ぐため試
験を追加（ただし，附属書1は選
択性）。
附属書1
8.1 試験
の種類
試験（形式試験及び受
渡試験）の種類を規定。
形式試験の越流性能を除
く。
追加，
変更
形式試験に越流性能を追加し
た。
JIS C 8370に規定があり，不要動
作を防ぐため試験を追加した。
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：
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書1
8.3 形式
試験
形式試験に関する要求
条件，試験方法及び判
定基準を規定。
①試験シーケンスI
②試験シーケンスII
③試験シーケンスIII
④試験シーケンスIV
⑤試験シーケンスV
①商用周波回復電圧：1.05
倍
②短絡試験で用いるのは
ポリエチレンシートだ
け。
③越流性能の検証なし
④試験シーケンスII：
・適用緩和規定なし
⑤試験シーケンスIII：
・単極遮断試験の規定な
し。
追加，
変更
①商用周波回復電圧：1.1倍［第
1部の8.3.2.2.3 a)］
②短絡試験で用いるポリエチ
レンシートはさらしかなきん
で代用可。
③越流性能の検証を追加。
④試験シーケンスII：
・宣言する回路遮断器に適用す
る。
⑤試験シーケンスIII：
・単極遮断試験を追加。
①1.05倍は欧州の電圧統合のため
の過渡的な電圧で，将来1.1倍に
なる予定のため，また，我が国で
は定常的に1.1倍を用いているた
め，1.1倍に変更。
②従来から同一目的で用いてお
り，また，材料入手性を勘案して
デビエーションとした。
③JIS C 8370に規定があり，不要
動作を防ぐため試験を追加。ただ
し，附属書1は，選択性。
④試験シーケンスII：
・適用緩和規定：回路遮断器は，
Icuで選定するのが一般的であり，
Icsはインピーダンス短絡を想定し
ており，Icuで遮断器は選定できる
ため，試験シーケンスIIは宣言す
る回路遮断器に適用するとした。
⑤試験シーケンスIII：
・単極遮断試験：附属書Hの適用
範囲を制限し，また附属書Cの適
用範囲を制限するため，従来の
JIS基準の単極の遮断試験を追加
した。これによって，240 V以下
の範囲の単極の性能の保証を行う
ことができる。
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C
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：
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11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書2
（規定）
我が国の電気設備規
定に適用する遮断器
の構造に関する要求
事項，性能に関する要
求事項，電磁両立性
（EMC）試験の種類，
構造要件に関する要
求事項に対する適合
性，形式試験及び受渡
試験について規定し
ている（箇条7及び箇
条8の内容の詳細）。
IEC規格には，この附属
書は存在しないが，IEC
規格の箇条7及び箇条8
がそれに該当する。
追加
JIS C 60364規格群に適用する
遮断器の，IEC規格の箇条7及
び箇条8に対する附属書であ
る。
我が国の配電設備などを考慮した
ものとなっている。
附属書2全体は，関連する法令の
改正動向，及び配電システムの動
向に合わせて見直しする。
附属書2
7.1構造に
関する要
求事項
第1部を引用する。た
だし，材料に関する規
定はグローワイヤ試
験，難燃等級，HWI，
AIの規定を除く。
・ボールプレッシャー
試験。
・断路に適する回路遮
断器への追加要求事
項
・空間距離及び沿面距
離：定格インパルス耐
電圧値（Uimp）の値を
宣言するもの，宣言し
ないものそれぞれで
値を規定。
①材料に関する規定はグ
ローワイヤ試験あり。
②操作部の絶縁に関する
追加要求規定あり。
変更
①グローワイヤ試験基準は適
用外。
②回路遮断器の充電部を保持
する熱可塑性の外郭絶縁物に
ボールプレッシャー試験を追
加。
③操作部の絶縁に関する追加
要求の緩和。
④空間距離及び沿面距離
・定格インパルス耐電圧（Uimp）
の値を宣言するものはIEC規
格と同一。
・定格インパルス耐電圧（Uimp）
の値を宣言しないものはJIS C
8370と同一。
①JIS C 8370及び電気用品安全法
の技術基準で実施しているボール
プレッシャー試験及び短絡試験で
代用。
②グローワイヤ試験に代わる試験
として実施。
③操作部の二重絶縁については電
機業界のコンセンサスが得られて
いないので，除外規定とした。
④空間距離及び沿面距離
・UimpはJIS C 60364電気設備規
定で使う基準であり，在来電気設
備規定では用いないので，附属書
2は選択性とし，IEC規格にはな
いのでJIS C 8370を採用した。
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C
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：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書2
7.2 性能
に関する
要求事項
操作条件（投入，開路）
について規定。
①投入
②開路
・短絡条件
・過負荷条件：不動作
電流＝1.0In，動作電流
＝1.25In
③温度上昇
④耐電圧
⑤過負荷，耐久開閉性
能
⑥越流性能
⑦断路に適する回路遮
断器のための追加要求
事項
⑧回路遮断器とその他
の短絡保護装置との保
護協調
①開路
・過負荷条件での開路
不動作電流：105 %
動作電流：130 %
200 %：動作時間の上限は
規定なし。
・越流性能の規定なし。
②温度上昇
端子の温度上昇限度：80
K
③耐電圧
Uimpを宣言するものだけ
を規定。
追加，
変更
①開路
・過負荷条件での開路
不動作電流：100 %
動作電流：125 %
200 %：動作時間の上限を規定。
・越流性能追加
②温度上昇
端子の温度上昇限度：60 K
③耐電圧
Uimpを宣言するものとしない
もので耐電圧性能の検証を分
けた。
・Uimpを宣言するもの：IEC規
格基準（附属書1と同じ）
・Uimp宣言しないもの：商用周
波耐電圧試験及び雷インパル
ス試験
①開路
・過負荷条件での開路60 ℃電線
（JIS C 3307）の保護のため，従
来JISの動作基準を適用。
・越流性能の追加：JIS C 8370に
規定あり，不要動作を防ぐため試
験を追加（ただし，附属書1は選
択性）。
②60 ℃電線（JIS C 3307）の保護
のため，JIS C 8370の温度上昇限
度を適用。
③Uimpを宣言しないものの耐電圧
試験の基準を明確にした。また，
Uimpを宣言しないものは，インパ
ルス試験がなくなることになるの
で，雷インパルスの性能の確認の
ために，5 kVの雷インパルス試験
を追加。
附属書2
8.1 試験
の種類
試験（形式試験及び受
渡試験）の種類を規定。
形式試験の越流性能を除
く。
追加，
変更
形式試験に越流性能を追加し
た。
JIS C 8370に規定があり，不要動
作を防ぐため試験を追加した。
附属書2
8.2 構造
要件に関
する要求
事項に対
する適合
性
第1部を適用。ただし，
充電部を保持する熱可
塑性の外郭絶縁物にボ
ールプレッシャー試験
を追加。
同左
追加
充電部を保持する熱可塑性の
外郭絶縁物にボールプレッシ
ャー試験を追加した。
グローワイヤ試験に代わる試験と
して実施する。
8
6
C
8
2
0
1
-2
-1
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書2
8.3 形式
試験
形式試験に関する要求
条件，試験方法及び判
定基準を規定。
①試験シーケンスIa
②試験シーケンスII
③試験シーケンスIII
④試験シーケンスIV
⑤試験シーケンスV
①試験シーケンスI
②商用周波回復電圧：1.05
倍
③温度上昇試験の試験条
件
70 ℃電線（JIS C 3662-3）
の使用。長さは1 m（≦10
mm2），2 m（＞10 mm2）。
④短絡試験で用いるのは
ポリエチレンシートだ
け。
⑤越流性能の検証なし。
⑥電圧引外し，不足電圧
引外しの動作電圧範囲
SHT：70 %〜110 %
UVT：35 %〜70 %
⑦試験シーケンスII：
・適用緩和規定なし。
変更
①試験シーケンスIaをJIS C
8370の従来JISの試験シーケ
ンスとした。
過負荷−越流−温度上昇−耐
久
②商用周波回復電圧：1.1倍［第
1部の8.3.2.2.3 a)］
③温度上昇試験の試験条件
60 ℃電線（JIS C 3307）の使用。
長さは1.5 m。
④短絡試験の試験条件
ポリエチレンシート（さらしか
なきん）の試験を，300 V以下，
100 A以下の遮断器に限定。設
置位置（ハンドル先端からの距
離）を10 mmから20 mmに変
更。
⑤越流性能の検証を追加。
⑥電圧引外し，不足電圧引外し
の動作電圧範囲は従来JIS基準
とした。
SHT：70 %〜110 %→AC85 %〜
AC110 %，DC75 %〜DC125 %
UVT：35 %〜70 %→20 %〜
70 %
⑦試験シーケンスII：
・宣言する回路遮断器に適用す
る。
①60 ℃電線（JIS C 3307）の保護
のため，JIS C 8370（従来JIS）の
温度上昇限度に変更し，試験シー
ケンスを従来JIS基準とした。
②60 ℃電線（JIS C 3307）の保護
のため，従来JISの温度上昇限度
に変更し，試験シーケンスをJIS C
8370基準に変更し，使用電線も
60 ℃電線で長さもJIS C 8370基
準とした。
③JIS C 8370を適用。
④従来から同一目的で用いられて
おり，また，材料入手性を勘案し
てデビエーションとした。
⑤JIS C 8370に規定あり，不要動
作を防ぐため試験を追加。ただし，
附属書1は選択性。
⑥実績のあるJIS C 8370基準に変
更。
⑦試験シーケンスII：
・適用緩和規定：回路遮断器は，
Icuで選定するのが一般的であり，
Icsはインピーダンス短絡を想定し
ており，Icuで遮断器は選定できる
ため，試験シーケンスIIは宣言す
る回路遮断器に適用するとした。
8
6
C
8
2
0
1
-2
-1
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書2
8.3 形式
試験
（続き）
形式試験に関する要求
条件，試験方法及び判
定基準を規定。
①試験シーケンスIa
②試験シーケンスII
③試験シーケンスIII
④試験シーケンスIV
⑤試験シーケンスV
（続き）
⑧試験シーケンスIII：
・単極遮断試験
⑨試験シーケンスIV：
・温度上昇の検証
変更
⑧試験シーケンスIII：
・単極遮断試験を追加。
⑨試験シーケンスIV：
・温度上昇の検証なし
⑧試験シーケンスIII：
・単極遮断試験：附属書H（ITシ
ステム）の適用範囲を制限し，ま
た附属書C（相接地式配電システ
ム）の適用範囲を制限するため，
従来のJIS（JIS C 8370）基準の単
極の遮断試験を追加した。これに
よって，240 V以下の範囲の単極
の性能の保証を行うことができ
る。
⑨試験シーケンスIV：
・旧規格に合わせ，8.3.6.2の後の
温度上昇の検証は削除した。
附属書B
（規定）
漏電遮断器
規定しない。JIS C
8201-2-2を参照。
漏電遮断器について規
定。
削除
附属書Bは，JISでは独立化さ
せた規格とする。
この附属書B＝JIS C 8201-2-2
我が国の製品形態に合わせるとと
もにJISマークの区分によって附
属書BをJISでは独立規格として
作成する。
附属書C
（規定）
相接地式配電システム
における単極短絡試験
シーケンス
ただし，附属書1の240
Vを超える回路遮断器
に適用し，附属書2の
回路遮断器には適用し
ない。
同左から，“ただし，附属
書1の240 Vを超える回
路遮断器に適用し，附属
書2の回路遮断器には適
用しない”を削除する。
削除
附属書1の240 Vを超える回路
遮断器に適用し，附属書2の回
路遮断器には適用しないもの
とした。
我が国の配電設備，製品形態など
を考慮した。
8
6
C
8
2
0
1
-2
-1
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書F
（規定）
電子式過電流保護機能
を備えた回路遮断器の
追加要求事項
附属書1では，附属書
（規定）とする。
附属書2では，附属書
（参考）とする。
同左から，
“附属書1では，
附属書（規定）とする。
附属書2では，附属書（参
考）とする。”を削除し，
規定として取り扱う。
変更
IEC規格は規定として取り扱
う。
JISは，規定又は参考として，
取り扱う。
我が国のIEC規格のEMCの導入
については，検討を行っている状
況であるため。
EMCの技術的動向に合わせて見
直しをする。
附属書G
（参考）
電力損失
この附属書は，規定とし
ている。
変更
IEC規格は，規定として取り扱
う。
JISは，参考として取り扱う。
我が国では，要求されていないた
め，参考として適用する。
附属書H
（規定）
IT（非接地又はインピ
ーダンス接地）システ
ムにおける回路遮断器
の試験シーケンス
附属書1の線間電圧
240 Vを超える回路遮
断器に適用し，附属書
2の回路遮断器には適
用しない。
附属書1の回路遮断器
で4極3素子のものは
ITシステムには適用で
きない。
同左の規定なし。
削除
附属書1の線間電圧240 Vを超
える回路遮断器に適用し，附属
書2の回路遮断器には適用しな
い。附属書1の回路遮断器で4
極3素子のものはITシステム
には適用できないことを追加。
我が国の配電設備などを考慮した
ものとなっている。
附属書J
（規定）
電磁両立性（EMC）
附属書1では，附属書
（規定）とする。
附属書2では，附属書
（参考）とする。
同左から，
“附属書1では，
附属書（規定）とする。
附属書2では，附属書（参
考）とする。”を削除し，
規定として取り扱う。
変更
IEC規格では規定として取り
扱う。
JISでは，規定又は参考として，
取り扱う。
我が国のIEC-EMCの導入につい
ては，検討を行っている状況であ
るため。
EMCの技術的動向に合わせて見
直しをする。
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6
C
8
2
0
1
-2
-1
：
2
0
11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際規
格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書M
（規定）
適用しない。
漏電継電器について規
定。
削除
このJISでは，漏電継電器につ
いて規定しない（JIS C 8374が
あるため。）。
規格体系の差異によって削除し
た。
次回改正時にJIS C 8374と調整を
図る。
附属書N
（規定）
電磁両立性（EMC）−
JIS C 8201-2-2（漏電遮
断器）及び附属書F以
外の電子回路を搭載す
る装置に対して追加す
る要求事項及び試験方
法
附属書1では，附属書
（規定）とする。
附属書2では，附属書
（参考）とする。
同左＋漏電遮断器に対す
る要求事項
同左から，
“附属書1では，
附属書（規定）とする。
附属書2では，附属書（参
考）とする。”を削除し，
規定として取り扱う。
削除
JISでは，漏電遮断器に対する
要求を削除した。漏電遮断器
は，JIS C 8201-2-2で規定する。
IEC規格は規定として取り扱
う。
JISは，規定又は参考として取
り扱う。
規格体系の差異による削除。
我が国のIEC規格のEMCの導入
については，検討を行っている状
況であるため。
EMCの技術的動向に合わせて見
直しをする。
附属書JA
（規定）
誘導電動機保護兼用回
路遮断器
規定なし。
追加
単相又は三相誘導電動機の過
負荷保護を兼ねた回路遮断器
を規定した。
我が国の配電設備などで用いられ
るモータ保護のために追加した。
附属書JB
（規定）
単相3線式中性線欠相
保護付回路遮断器
規定なし。
追加
単相3線式中性線欠相保護付
回路遮断器を追加した。
我が国の配電設備などの事故減少
のために追加した。
附属書JC
（参考）
電灯分電盤用協約形回
路遮断器
規定なし。
追加
電灯分電盤に用いる回路遮断
器について追加した。
標準化することによって利便性を
向上させる目的で，寸法などを参
考として追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60947-2:2006，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。