C 8201-1：2020  

（1） 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 総則······························································································································· 1 

2 用語及び定義 ··················································································································· 6 

3 分類······························································································································ 31 

4 特性······························································································································ 31 

5 製品情報························································································································ 39 

6 標準使用，取付け及び輸送条件 ·························································································· 41 

7 構造及び性能に関する要求事項 ·························································································· 43 

8 試験······························································································································ 56 

附属書A（参考）低圧開閉装置及び制御装置の使用負荷種別の整合·············································· 115 

附属書B（参考）使用時の動作条件が標準使用条件と異なる場合の装置の適用 ······························· 118 

附属書C（規定）箱入装置の保護等級 ···················································································· 119 

附属書D（参考）締付具の例，及び締付具と接続機器との間の関係·············································· 125 

附属書E（参考）負荷回路の調整方法についての説明 ································································ 131 

附属書F（参考）短絡力率又は時定数の求め方 ········································································· 133 

附属書G（参考）沿面距離及び空間距離の測定 ········································································ 135 

附属書H（参考）電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係 ············· 140 

附属書J（参考）受渡当事者間で協定を必要とする項目 ····························································· 142 

附属書K（規定）機能安全用途に用いる電気機械装置の信頼性データを決定する手順······················ 143 

附属書L（規定）端子表示及び識別数字·················································································· 151 

附属書M（規定）可燃性試験 ································································································ 160 

附属書N（規定）保護分離をもつ装置に対する要求事項及び試験················································· 164 

附属書O（参考）環境配慮設計 ····························································································· 168 

附属書P（参考）銅導体を接続する低圧開閉装置及び制御装置のためのラグ端子 ···························· 178 

附属書Q（規定）特殊試験−温湿度，塩水噴霧，振動及び衝撃 ··················································· 179 

附属書R（規定）操作又は調整中に接近可能な部品の耐電圧試験に対する金属はく（箔）の適用 ······· 184 

附属書S（規定）デジタル入力及び出力 ·················································································· 189 

附属書T（規定）電子式過負荷リレーの拡張機能 ······································································ 201 

附属書U（参考）制御回路構成の例 ······················································································· 206 

附属書V（参考）電気エネルギー効率に関する開閉装置及び制御装置の電力管理 ···························· 209 

附属書W（参考）材料宣言書設定手順···················································································· 212 

附属書JA（規定）定格絶縁電圧が300 V以下及び定格電流が100 A以下の装置で 

  定格インパルス耐電圧を表示しない装置の絶縁距離 ···························································· 214 

参考文献 ··························································································································· 223 

附属書JB（参考）JISと対応国際規格との対比表 ····································································· 225 

C 8201-1：2020  

（2） 

まえがき 

この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人

日本電機工業会（JEMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本産業規

格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本産業規

格である。これによって，JIS C 8201-1:2007は改正され，この規格に置き換えられた。 

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。 

JIS C 8201の規格群には，次に示す部編成がある。 

JIS C 8201-1 第1部：通則 

JIS C 8201-2-1 第2-1部：回路遮断器（配線用遮断器及びその他の遮断器） 

JIS C 8201-2-2 第2-2部：漏電遮断器 

JIS C 8201-3 第3部：開閉器，断路器，断路用開閉器及びヒューズ組みユニット 

JIS C 8201-4-1 第4-1部：接触器及びモータスタータ：電気機械式接触器及びモータスタータ 

JIS C 8201-4-2 第4-2部：接触器及びモータスタータ：交流半導体モータ制御器及びスタータ 

JIS C 8201-4-3 第4-3部：接触器及びモータスタータ：非モータ負荷用交流半導体制御器及び接触器 

JIS C 8201-5-1 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電気機械式制御回路機器 

JIS C 8201-5-2 第5-2部：制御回路機器及び開閉素子−近接スイッチ 

JIS C 8201-5-5 第5部：制御回路機器及び開閉素子−第5節：機械的ラッチング機能をもつ電気的非

常停止機器 

JIS C 8201-5-8 第5-8部：制御回路機器及び開閉素子−3ポジションイネーブルスイッチ 

JIS C 8201-7-1 第7部：補助装置−第1節：銅導体用端子台 

JIS C 8201-7-2 第7-2部：補助装置−銅導体用保護導体端子台 

JIS C 8201-7-3 第7-3部：補助装置−ヒューズ端子台に対する安全要求事項 

JIS C 8201-7-4 第7-4部：補助装置−銅導体用プリント回路板端子台 

日本産業規格          JIS 

C 8201-1：2020 

低圧開閉装置及び制御装置−第1部：通則 

Low-voltage switchgear and controlgear-Part 1: General rules 

序文 

この規格は，2007年に第5版として発行されたIEC 60947-1，Amendment 1:2010及びAmendment 2:2014

を基に，我が国の風土，気候，配電方式を考慮して，技術的内容を変更して作成した日本産業規格である。

ただし，追補（amendment）については，編集し，一体とした。 

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JBに示す。また，附属書JAは対応国際規格にない事項である。 

1 

総則 

この規格は，低圧開閉装置及び制御装置に適用する一般的な性能に関する規定及び要求事項を，可能な

限り実情に合うように調和させ，全ての装置の範囲に応じた要求事項及び試験方法の統一を図り，必要な

試験方法を個々の規格で規定することを避けることが目的である。 

各々の装置の規格の中では，共通性をもつ部分がある。したがって，この規格では，各々の装置に広く

関係があって，かつ，適用する特定の項目を集めた。例えば，温度上昇，耐電圧性能などをまとめている。 

色々な形式の低圧開閉装置及び制御装置があるが，全ての要求事項及び試験を決定するために，次に示

す二つの主要な適用が必要である。 

1) この規格は，通則として“第1部”を構成しており，様々な低圧開閉装置及び制御装置の共通事項

に対して適用する。 

2) 色々な形式の機器の規格は，“第2部”（以下，個別規格という。）以降に構成している。 

個別規格では，この規格を適用するために，この規格（“JIS C 8201-1”）の後ろに箇条番号を引用する。

例えば，これらは文の末尾に“JIS C 8201-1の7.2.3”のように明確に示す。 

個別規格において，この規格が（適用できないため）引用しないときは，省略してもよい。また，本質

的に技術上の正当性がある場合には（不十分だと思われるような場合には，），個別規格は，この規格の当

該箇所に独自の規定を加えて適用してもよい。ただし，技術上の正当性がない場合は，この規格から逸脱

してはならない。 

1.1 

適用範囲及び目的 

この規格は，定格電圧が，交流で1 000 V以下，直流で1 500 V以下の回路に接続する低圧開閉装置及び

制御装置（以下，装置又は機器という。）の安全性について規定する。したがって，要求事項は個別規格で

それぞれ規定する。 

この規格では，低圧開閉装置及び制御装置に対する通則及び共通的安全要求事項について，次を含める。 

− 定義 

− 特性 

2 

C 8201-1：2020  

− 装置とともに供給する情報 

− 通常使用，取付け及び輸送条件 

− 構造及び性能に関する要求事項 

− 特性及び性能の検証 

− 環境側面 

− エネルギー効率（附属書V参照） 

この規格は，IEC 61439の規格群で取り扱う低圧開閉装置及び制御装置の盤には適用しない。 

注記1 我が国の配電電圧は，電気設備に関する技術基準を規定する省令において，低圧としては，

交流が600 V以下，直流が750 V以下となっている。 

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。 

IEC 60947-1:2007，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules，Amendment 

1:2010及びAmendment 2:2014（MOD） 

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。 

1.2 

引用規格 

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS B 3502:2004 プログラマブルコントローラ−装置への要求事項及び試験 

注記 対応国際規格：IEC 61131-2:2003，Programmable controllers−Part 2: Equipment requirements and 

tests 

JIS B 9705-1:2011 機械類の安全性−制御システムの安全関連部−第1部：設計のための一般原則 

注記 対応国際規格：ISO 13849-1:2006，Safety of machinery−Safety-related parts of control systems−

Part 1: General principles for design 

JIS B 9961:2008 機械類の安全性−安全関連の電気・電子・プログラマブル電子制御システムの機能

安全 

注記 対応国際規格：IEC 62061:2005，Safety of machinery−Functional safety of safety-related electrical, 

electronic and programmable electronic control systems 

JIS C 0365:2007 感電保護−設備及び機器の共通事項 

注記 対応国際規格：IEC 61140:2001，Protection against electric shock−Common aspects for installation 

and equipment及びAmendment 1:2004 

JIS C 0447:1997 マンマシンインタフェース（MMI）−操作の基準 

注記1 対応国際規格：IEC 60447:1993，Man-machine-interface (MMI)−Actuating principles 

注記2 IEC 60947-1の引用は，IEC 60447:2004であり，JISの年度と適合していないが，要求事項

は同様につき，JISを引用規格とした。 

JIS C 0508（規格群） 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全 

注記 対応国際規格：IEC 61508 (all parts)，Functional safety of electrical/electronic/programmable 

electronic safety-related systems 

JIS C 0508-4:2012 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第4部：用語の定義及

び略語 

3 

C 8201-1：2020  

注記 対応国際規格：IEC 61508-4:2010，Functional safety of electrical/electronic/programmable 

electronic safety-related systems−Part 4: Definitions and abbreviations 

JIS C 0617-7:2011 電気用図記号−第7部：開閉装置，制御装置及び保護装置 

注記 対応国際規格：IEC 60617-DB:2008，Graphical Symbols for Diagrams database 

JIS C 0920:2003 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード） 

注記 対応国際規格：IEC 60529:1989，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code) 及び

Amendment 1:1999 

JIS C 1302:2018 絶縁抵抗計 

注記 対応国際規格：IEC 61557-2，Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V a.c. 

and 1 500 V d.c.−Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures−Part 2: 

Insulation resistance 

JIS C 2143（規格群） 電気絶縁材料−熱的耐久性 

注記 対応国際規格：IEC 60216 (all parts)，Electrical insulating materials−Thermal endurance properties 

JIS C 3664:2007 絶縁ケーブルの導体 

注記 対応国際規格：IEC 60228:2004，Conductors of insulated cables 

JIS C 4003:2010 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方 

注記1 対応国際規格：IEC 60085:2007，Electrical insulation−Thermal evaluation and designation 

注記2 IEC 60947-1の引用は，IEC 60085:2004であるが，対応JISが発行されていない。JIS C 

4003:2010によると，IEC 60085:2007はIEC 60085:2004から規格の構成等に大幅な変更は

あったが，耐熱クラスの規格自体には大きな変更はなかったとあるため，対応JISを引用

規格とした。 

JIS C 5750-3-5:2006 ディペンダビリティ管理−第3-5部：適用の指針−信頼性試験条件及び統計的方

法に基づく試験原則 

注記 対応国際規格：IEC 60300-3-5:2001，Dependability management−Part 3-5: Application guide−

Reliability test conditions and statistical test principles 

JIS C 8201-5-1:2010 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電

気機械式制御回路機器 

注記 対応国際規格：IEC 60947-5-1:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control 

circuit devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices及びAmendment 

1:2009 

JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部：通則及び指針 

注記 対応国際規格：IEC 60068-1:2013，Environmental testing−Part 1: General and guidance 

JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：

A） 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold 

JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：

B） 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat 

JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc） 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration 

4 

C 8201-1：2020  

(sinusoidal) 

JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea） 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-27:2008，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and 

guidance: Shock 

JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイク

ル）試験方法（試験記号：Db） 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp 

heat, cyclic (12 h + 12 h cycle) 

JIS C 60068-2-52:2000 環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウ

ム水溶液） 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-52:1996，Environmental testing−Part 2: Tests−Test Kb: Salt mist, 

cyclic (sodium, chloride solution) 

JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-78:2001，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp 

heat, steady state 

JIS C 60664-1:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験 

注記 対応国際規格：IEC 60664-1:2007，Insulation coordination for equipment within low-voltage 

systems−Part 1: Principles, requirements and tests 

JIS C 60664-3:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第3部：汚損保護のためのコーティング，ポッティ

ング及びモールディングの使用 

注記 対応国際規格：IEC 60664-3:2003，Insulation coordination for equipment within low-voltage 

systems−Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution 

JIS C 60695-2-10:2004 耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法 

注記 対応国際規格：IEC 60695-2-10:2000，Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire apparatus and common test procedure 

JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法 

注記 対応国際規格：IEC 60695-2-11:2000，Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire flammability test method for end-products 

JIS C 60695-2-12:2013 耐火性試験−電気・電子−第2-12部：グローワイヤ／ホットワイヤ試験方法

−材料に対するグローワイヤ燃焼性指数（GWFI） 

注記 対応国際規格：IEC 60695-2-12，Fire hazard testing−Part 2-12: Glowing/hot-wire based test 

methods−Glow-wire flammability test method for materials 

JIS C 60695-11-10:2006 耐火性試験−電気・電子−第11-10部：試験炎−50 W試験炎による水平及び

垂直燃焼試験方法 

注記 対応国際規格：IEC 60695-11-10:1999，Fire hazard testing−Part 11-10: Test flames−50 W 

horizontal and vertical flame test methods及びAmendment 1:2003 

JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電

流が20 A以下の機器） 

注記 対応国際規格：IEC 61000-3-2:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−

Limits for harmonic current emissions (equipment input current ≤ 16 A per phase)，Amendment 

5 

C 8201-1：2020  

1:2008 及びAmendment 2:2009 

JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験 

注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and 

measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test 

JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験 

注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and 

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test，

Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010 

JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／

バーストイミュニティ試験 

注記 IEC 61000-4-4:2012，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and measurement 

techniques−Electrical fast transient/burst immunity test 

JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験 

注記 IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and measurement 

techniques−Surge immunity test 

JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ 

注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6:2013，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and 

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 

JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験 

注記 対応国際規格：IEC 61000-4-8:2009，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and 

measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test 

JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び

電圧変動に対するイミュニティ試験 

注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing 

and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests 

JIS C 61000-6-2:2008 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ 

注記 対応国際規格：IEC 61000-6-2:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic 

standards−Immunity for industrial environments 

JIS F 8076:2005 船用電気設備−第504部：個別規定−制御及び計装 

IEC 60050-151:2001，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 151: Electrical and magnetic 

devices 

IEC 60050-441:1984，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 441: Switchgear, controlgear 

and fuses及びAmendment 1:2000 

IEC 60050-604:1987，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 604: Generation, transmission 

and distribution of electricity−Operation及びAmendment 1:1998 

IEC 60050-826:2004，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 826: Electrical installations 

IEC 60060，High-voltage test techniques 

IEC 60071-1:1993，Insulation co-ordination−Part 1: Definitions, principles and rules 

6 

C 8201-1：2020  

IEC 60073:2002，Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification−Coding 

principles for indicators and actuators 

注記 対応JISに，JIS C 0448:1997［表示装置（表示部）及び操作機器（操作部）のための色及び

補助手段に関する規準］があり参照できるが，表の内容が異なるため，IEC規格を引用規格

とした。 

IEC 60417-DB:2002 1)，Graphical symbols for use on equipment 

IEC 60445:1999，Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification−

Identification of equipment terminals and of terminations of certain designated conductors, including 

general rules of an alphanumeric system 

注記 対応JISとして，JIS C 0445:1999があるが，引用のIEC規格は1988年であり，規定内容が

異なっているため，IEC規格を引用した。 

IEC 60947-8:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 8: Control units for built-in thermal 

protection (PTC) for rotating electrical machines及びAmendment 1:2006 

IEC 60981:2004，Extra heavy-duty electrical rigid steel conduits 

IEC 60999-1:1999，Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type 

and screwless-type clamping units−Part 1: General requirements and particular requirements for clamping 

units for conductors from 0,2 mm2 up to 35 mm2 (included) 

IEC 60999-2:2003，Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type 

and screwless-type clamping units−Part 2: Particular requirements for clamping units for conductors 

above 35 mm2 up to 300 mm2 (included) 

IEC 61000-3-3:2013，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-3: Limits−Limitation of voltage changes, 

voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems, for equipment with rated current ≤16 

A per phase and not subject to conditional connection 

IEC 61000-4-13:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-13: Testing and measurement techniques

−Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c. power port, low-frequency immunity 

tests及びAmendment 1:2009 

IEC 61180 (all parts)，High-voltage test techniques for low voltage equipment 

IEC 61649:2008，Weibull analysis 

CISPR 11:2009，Industrial, scientific and medical equipment−Radio-frequency disturbance characteristics−

Limits and methods of measurement及びAmendment 1:2010 

注1) IECホームページのデータベース（DB）参照。 

2 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。 

注記1 この箇条の定義の大部分は，IEV（IEC 60050）から変更なしに引用している。この場合，参

照IEV番号をタイトルとともに括弧内に示す（最初の3桁の数字は，IEVの章を示す。）。 

IEVの定義を修正している場合，参照IEV番号はタイトルとともに記載しないで注記に記

載する。 

注記2 定格又は非定格としての特性及びシンボルの一覧表を，箇条4に示す。 

2.1 

共通用語 

7 

C 8201-1：2020  

共通用語に関する用語及び定義は，2.1.1〜2.1.23に示す。 

2.1.1 

開閉装置及び制御装置（switchgear and controlgear） 

開閉機器並びにこれに付随した制御，計測，保護及び調整装置との組合せ，また，内部接続，附属品，

エンクロージャ及び支持構造をもつ機器並びに装置の盤。 

（IEV 441-11-01） 

2.1.2 

開閉装置（switchgear） 

電気エネルギーの発電，変電，配電及び変換を主な目的とし，開閉機器並びにこれに付随した制御，計

測，保護及び調整装置との組合せ，また，内部接続，附属品，エンクロージャ及び支持構造をもった機器

並びに装置の盤。 

（IEV 441-11-02） 

2.1.3 

制御装置（controlgear） 

電気エネルギーを消費する装置の制御を主な目的とし，開閉機器並びにこれに付随した制御，計測，保

護及び調整装置との組合せ，また，内部接続，附属品，エンクロージャ及び支持構造をもった機器並びに

装置の盤。 

（IEV 441-11-03） 

2.1.4 

過電流（over-current） 

定格電流を超える電流。 

（IEV 441-11-06） 

2.1.5 

短絡（short circuit） 

電位差が等しくなる又はゼロに近くなる複数の導電部間の偶発的又は意図的な導電経路。 

（IEV 151-12-04） 

2.1.6 

短絡電流（short-circuit current） 

電気回路の故障又は誤った接続によって短絡した回路に流れる過電流。 

（IEV 441-11-07） 

2.1.7 

過負荷（overload） 

過電流が発生しても，回路には電気的な損傷を生じない動作状態。 

（IEV 441-11-08） 

2.1.8 

過負荷電流（overload current） 

回路に電気的な損傷を生じない範囲の過電流。 

2.1.9 

周囲温度（ambient air temperature） 

規定する条件の下で決定した，開閉機器又はヒューズを取り巻く空気の温度。 

8 

C 8201-1：2020  

注記 エンクロージャ内部に取り付けた開閉機器又はヒューズの場合は，エンクロージャの外側の空

気の温度。 

（IEV 441-11-13） 

2.1.10 

導電部（conductive part） 

電気を導通させる機能をもつ部分。導電部には，使用電流を必ずしも通電しなくてもよい。 

（IEV 441-11-09） 

2.1.11 

露出導電部（exposed conductive part） 

容易に人の接触が可能で，通常は充電部にはなっていないが，故障したとき充電部となり得る導電部。 

注記 典型的な露出導電部には，エンクロージャの周囲の壁，操作ハンドルなどがある。 

（IEV 441-11-10） 

2.1.12 

系統外導電部（extraneous conductive part） 

電気系統を構成しない導電部で，大地電位などにするためのもの。 

注記 系統外導電部には，水道管，建築の金属部構造体などがある。 

（IEV 826-03-03） 

2.1.13 

充電部（live part） 

通常の使用状態で電圧を印加している導体又は導電部。中性線を含むが慣例的にPEN導体は含まない。 

注記 この用語は，必ずしも感電の危険性を意味しない。 

（IEV 826-03-01） 

2.1.14 

保護導体（PE）［protective conductor (symbol PE)］ 

電気的な接続に対して，感電に対する保護を要求する導体。保護導体には，次のようなものがある。 

− 露出導電部 

− 系統外導電部 

− 主接地端子 

− 接地極 

− 電源又は中性点の接地点 

（IEV 826-04-05） 

2.1.15 

中性線（N）［neutral conductor (symbol N)］ 

システムの中性点に接続し，電気エネルギーの伝達に用いる導体。 

注記 ある特定の条件の下では，中性線及び保護導体の機能を兼ねることがあって，PEN導体という

（PEN）。 

（IEV 826-01-03） 

2.1.16 

エンクロージャ（enclosure） 

外部から受ける影響に対する装置の保護等級，並びに充電部及び可動部に人が接近又は接触することを

9 

C 8201-1：2020  

防ぐための保護等級を決めている部分。 

注記 この定義は，IEV 441-13-01に適用している内容とほぼ同一である。 

2.1.17 

一体形エンクロージャ（integral enclosure） 

外郭のような，装置と一体となっているエンクロージャ。 

2.1.18 

使用負荷種別（開閉機器又はヒューズに対する）［utilization category (for a switching device or a fuse)］ 

開閉機器又はヒューズが，本来の目的を達成する条件に関係した，規定の要求事項の組合せ。実使用上

の特定グループを代表するものを選択する。 

注記 ここで“規定の要求事項”は，関連する回路，適用条件及び動作条件に関連する。例えば，（適

用できるものがあるとき）投入容量，遮断容量及びその他の特性値がある。 

（IEV 441-17-19） 

2.1.19 

断路（アイソレーション），断路機能［isolation (isolating function)］ 

安全のために，あらゆる電気エネルギー源から設備又は区域を分離することによって，設備の全て又は

分離した区域から電源を切り離す機能。 

2.1.20 

感電（electric shock） 

電流が，人体又は動物の体を通して流れるときに生じる，生理病理学的な影響。 

（IEV 826-03-04） 

2.1.21 

製造業者（manufacturer） 

次の最終責任を負う個人，企業又は組織。 

− 適用する規格又は規格群への適合性の検証 

− 箇条5による製品情報の提供 

注記 例えば“保護付きスタータ”の場合，構成機器提供業者の指示に従って組み立てた機器に対し

ては，製造業者が全責任を負う。 

2.1.22 

固体絶縁物（solid insulation） 

二つの導電部間に挿入された固体の絶縁物。 

2.1.23 

絶縁バリア（insulation coordination barrier） 

沿面距離若しくは空間距離，又は双方の増加を目的として配置する一体部品ではない固体の絶縁物。 

2.2 

開閉機器 

開閉機器に関する用語及び定義は，2.2.1〜2.2.23に示す。 

2.2.1 

開閉機器（switching device） 

電気回路において，電流の投入又は遮断することを意図した機器。 

注記 開閉機器は，これらの動作のいずれか一つ又は両方を行う。 

（IEV 441-14-01） 

10 

C 8201-1：2020  

2.2.2 

機械式開閉機器（mechanical switching device） 

開離できる接点を用いて，電気回路を開閉することを意図した開閉機器。 

注記 機械式開閉機器は，その接点の開閉に関係する媒体（例えば，空気，SF6，油）について指定す

る。 

（IEV 441-14-02） 

2.2.3 

半導体開閉機器（semiconductor switching device） 

半導体の導通制御機能を用いて，電気回路の電流の投入及び／又は遮断することを意図した開閉機器。 

注記 IEV 441-14-03にも半導体開閉機器が定義されていて，電流の遮断を意図しているが，この用語

とは異なる。 

2.2.4 

ヒューズ（fuse） 

種類に応じて用いる部品の溶断機能を用いたもので，ある一定時間電流がある一定値を超えたとき，そ

れが挿入してある回路の電流の遮断を行うことによって開路する装置。ヒューズは，その装置を構成する

全ての部品を含む。 

（IEV 441-18-01） 

2.2.5 

ヒューズリンク（fuse-link） 

ヒューズが溶断した後に，交換するヒューズの部品（ヒューズエレメントを含む。）。 

（IEV 441-18-09） 

2.2.6 

ヒューズエレメント（fuse-element） 

電流が規定時間の間，ある規定した値を超えているとき溶断するような構造のヒューズリンクの一部。 

（IEV 441-18-08） 

2.2.7 

ヒューズ組みユニット（fuse-combination unit） 

製造業者が組み込むか，又は製造業者の指示に従って組み立てたユニットで，機械式開閉機器及びヒュ

ーズを組み合わせたもの。 

（IEV 441-14-04） 

2.2.8 

断路器（disconnector） 

開路位置で，断路機能の要求事項に対応する機械式開閉機器。 

注記 この定義は，断路機能に対する要求事項が断路距離だけに依存しないので，IEV 441-14-05とは

異なる。 

2.2.9 

開閉器（機械式）［switch (mechanical)］ 

規定した過負荷動作を含む通常の回路条件の下で，電流の投入，通電及び遮断することができ，かつ，

回路の短絡によって生じるような，特定の異常回路条件の下でも規定した時間，電流を流すことができる

能力をもつ機械式の開閉機器。 

11 

C 8201-1：2020  

注記 この開閉器は，短絡電流の投入は可能で，遮断は不可能であってもよい。 

（IEV 441-14-10） 

2.2.10 

断路用開閉器（switch-disconnector） 

開路位置で，断路器について規定した断路に関する要求事項を満足する開閉器。 

（IEV 441-14-12） 

2.2.11 

回路遮断器（circuit-breaker） 

通常の回路条件の下で，電流の投入，通電及び遮断することができ，かつ，回路の短絡のような特定の

異常回路条件の下でも，電流の投入，規定した時間の通電及び遮断することができる能力をもつ機械式開

閉機器。 

注記 回路遮断器には，通常配線用遮断器，漏電遮断器及び低圧遮断器（ACB）がある。 

（IEV 441-14-20） 

2.2.12 

接触器（機械式）［contactor (mechanical)］ 

機械的動作位置として安定位置が一つだけあり，手以外によって動作するようになっている機械式開閉

機器で，過負荷動作を含む通常の回路条件の下で，電流の投入，通電及び遮断することができる能力をも

つ機械式開閉機器。 

注記 主接点の開閉動作を行わせる力を供給する方法によって接触器の方式を指定してもよい。 

（IEV 441-14-33） 

2.2.13 

半導体接触器（ソリッドステート接触器）［semiconductor contactor (solid-state contactor)］ 

半導体開閉機器によって，接触器の機能をもつ装置。 

注記 半導体接触器には，機械式開閉機器も含むこともある。 

2.2.14 

接触器形リレー（contactor relay） 

制御スイッチとして用いる接触器。 

（IEV 441-14-35） 

2.2.15 

スタータ（starter） 

モータを始動及び停止するために必要な開閉手段を組み合わせたもの。スタータには，適度な過負荷の

保護の機能を併せもっている。 

注記 主接点の閉路を行わせる力によって，そのスタータの方式を指定してもよい。 

（IEV 441-14-38） 

2.2.16 

制御回路装置（control circuit device） 

開閉装置及び制御装置の制御，信号の処理，インタロックなどの目的に用いる電気式装置。 

注記 制御回路装置として組み込まれたものを計測器，電位差計，リレーのように，ある限定した目

的に用いる限り，ほかの規格によって取り扱われたこれらを組み合わせた装置も制御回路装置

に含まれる。 

12 

C 8201-1：2020  

2.2.17 

制御スイッチ（制御回路用及び補助回路用）［control switch (for control and auxiliary circuits)］ 

信号の処理，電気的インタロックなどを含む，開閉装置又は制御装置の動作を制御することを目的とす

る，機械式開閉機器。 

注記 制御スイッチは，共通の動作システムをもつ接点素子で構成している。 

（IEV 441-14-46） 

2.2.18 

パイロットスイッチ（pilot switch） 

操作量の条件に応じた動作をする，非手動制御スイッチ。 

注記 操作量とは，圧力，温度，速度，液位，経過時間などをいう。 

（IEV 441-14-48） 

2.2.19 

押しボタンスイッチ（push-button） 

人体の一部（通常は，指又は手のひら）の作用で動作する操作部をもち，かつ，蓄積エネルギー（ばね）

で元に戻る制御スイッチ。 

（IEV 441-14-53） 

2.2.20 

端子台（terminal block） 

相互に絶縁した端子を組み合わせた構造で，支持体に固定するようになっている絶縁部品。 

2.2.21 

短絡保護装置（SCPD）［short-circuit protective device (SCPD)］ 

短絡電流に対して，回路を遮断することによって，その回路及び回路部品を保護する装置。 

2.2.22 

サージアレスタ（surge arrester） 

電気機器を高い過渡過電圧から保護するとともに，流入電流の持続時間及び多くの場合は振幅をも制限

する機器。 

（IEV 604-03-51） 

2.2.23 

単独エンクロージャ（individual enclosure） 

一つの装置だけを含んでいるエンクロージャ。 

2.3 

開閉機器の部品 

開閉機器の部品に関する用語及び定義は，2.3.1〜2.3.36に示す。 

2.3.1 

開閉機器の極（pole of a switching device） 

独立した開閉機器の一部分で，電気的に分離した主回路によって構成する一つの導電路の部分。ただし，

一緒になった極全体の取付け又は動作の手段として設けた部分は含まない。 

注記 開閉機器で，一つの極だけで構成しているものは単極という。複数の極のものは多極（2極，3

極など）といい，複数の極を同時に動作するような方法を用いて，対になる，又は対にできる

ようになっている。 

（IEV 441-15-01） 

13 

C 8201-1：2020  

2.3.2 

主回路（開閉機器の）［main circuit (of a switching device)］ 

回路を閉路又は開路することを意図した回路を含む，開閉機器の全ての導電部。 

（IEV 441-15-02） 

2.3.3 

制御回路（開閉機器の）［control circuit (of a switching device)］ 

装置の閉路若しくは開路又はその両方の動作に用いる回路を含む，開閉機器の全ての導電部（主回路を

除く。）。 

（IEV 441-15-03） 

2.3.4 

補助回路（開閉機器の）［auxiliary circuit (of a switching device)］ 

機器の主回路及び制御回路以外の回路を含めた開閉機器の全ての導電部。 

注記 信号処理，インタロック処理などのような付加機能を行う補助回路もある。そのような補助回

路は，ほかの開閉機器の制御回路の一部になることもある。 

（IEV 441-15-04） 

2.3.5 

接点（機械式開閉機器の）［contact (of a mechanical switching device)］ 

接触時に回路の接続性を確立し，動作中の相対的な振る舞いによって回路を開路又は閉路し，また，ヒ

ンジ形又はしゅう（摺）動形の場合には，回路の接続性を維持するような構造の導電部。 

（IEV 441-15-05） 

2.3.6 

接触片（contact piece） 

接点を形成する導電部の一つ。 

（IEV 441-15-06） 

2.3.7 

主接点（main contact） 

機械式開閉機器の主回路に用い，閉路位置で主回路の電流が流れるような構造の接点。 

（IEV 441-15-07） 

2.3.8 

アーク接点（arcing contact） 

アークを確実に発生させるために設けた接点。 

注記 アーク接点は，主接点として用いてもよい。アーク接点は，ほかと分離されてもよい接点で，

その動作は，接点の損傷を防ぐ目的で，ほかの接点が開いた後に開き，閉じる前に閉じるよう

にする。 

（IEV 441-15-08） 

2.3.9 

制御接点（control contact） 

機械式開閉機器の制御回路に用い，この機器によって機械的に動作する接点。 

（IEV 441-15-09） 

14 

C 8201-1：2020  

2.3.10 

補助接点（auxiliary contact） 

補助回路に用い，開閉機器によって機械的に動作する接点。 

（IEV 441-15-10） 

2.3.11 

補助スイッチ（機械式開閉機器の）［auxiliary switch (of a mechanical switching device)］ 

開閉機器によって，機械的に動作する制御接点及び／又は補助接点を含む開閉器。 

（IEV 441-15-11） 

2.3.12 

a接点，投入接点（“a” contact−make contact） 

機械式開閉機器の主接点が閉じたとき閉路し，主接点が開いたときに開路する制御接点又は補助接点。 

（IEV 441-15-12） 

2.3.13 

b接点，遮断接点（“b” contact−break contact） 

機械式開閉機器の主接点が閉じたとき開路し，主接点が開いたときに閉路する制御接点又は補助接点。 

（IEV 441-15-13） 

2.3.14 

リレー（電気式）［relay (electrical)］ 

機器を制御している電気的入力回路がある条件を満足したとき，電気的出力回路の切換えを直ちに行う

ような構造の機器。 

（IEV 446-11-01） 

2.3.15 

引外し装置（機械式開閉機器の）［release (of a mechanical switching device)］ 

機械式開閉機器に機械的に接続する機器で，開閉機器の保持機構を引き外し，開路又は閉路を可能にす

る装置。 

注記 引外し装置は，瞬時，時延などの動作がある。引外し装置の形式は，2.4.24〜2.4.35に定義する。 

（IEV 441-15-17） 

2.3.16 

動作システム（機械式開閉機器の）［actuating system (of a mechanical switching device)］ 

接触片に駆動力を伝える機械式開閉機器の操作手段。 

注記 動作システムの操作手段には，機械式，電磁式，流体式，空気式，熱式などがある。 

2.3.17 

操作部（actuator） 

外部から駆動力を加える動作システムの一部分。 

注記 操作部は，ハンドル，ノブ，押しボタン，ローラ，プランジャなどの形態をしている。 

（IEV 441-15-22） 

2.3.18 

位置表示装置（position indicating device） 

開路，閉路又は接地のいずれか適切な位置を表示する機械式開閉機器の一部分。 

（IEV 441-15-25） 

15 

C 8201-1：2020  

2.3.19 

表示灯（indicator light） 

点灯又は点滅によって情報を伝達する光源を用いた表示用の器具。 

2.3.20 

ポンピング防止装置（anti-pumping device） 

機器が閉動作開始の待機位置で保持しているとき，閉−開動作の後で再閉動作が起こらないようにする

機器。 

（IEV 441-16-48） 

2.3.21 

インタロック装置（interlocking device） 

装置の部品の位置又は動きに関連させて，開閉機器を動作させる機器。 

（IEV 441-16-49） 

2.3.22 

接続機器（connecting device） 

一つ又はそれ以上の端子を含み，ベースに固定されるか，又は装置に一体化された部分から成る，一つ

又はそれ以上の導体の電気的接続のための機器。 

（IEC 60999-1:1999の3.3） 

2.3.23 

端子（terminal） 

一つ又はそれ以上の締付具及び必要な場合絶縁物から構成され，外部回路への電気的接続をするための

装置の一つの極の導電性部品。 

（IEC 60999-1:1999の3.2を修正） 

2.3.24 

ねじ式端子（screw-type terminal） 

各種のねじ又はナットによって，直接的又は間接的に，導体の接続及び取り外しをするか又は複数の導

体の相互接続をする端子。 

注記 附属書Dにその例を示す。 

2.3.25 

ねじなし式端子（screwless-type terminal） 

ばね，くさび，偏心，円すい形状などによって，直接的又は間接的に，導体の接続及び取り外しをする

か又は複数の導体の相互接続をする端子。 

注記 附属書Dにその例を示す。 

2.3.25.1 

ユニバーサル端子（万能端子）（universal terminal） 

全ての種類の導体（硬質性及び可とう性）の着脱用端子。 

（JIS C 2814-2-2の3.101.1） 

2.3.25.2 

非ユニバーサル端子（非万能端子）（non-universal terminal） 

特定の種類の導体だけ［例えば，単線専用，又は硬質（単線及びより線）導体専用］の着脱用端子。 

（JIS C 2814-2-2の3.101.2） 

16 

C 8201-1：2020  

2.3.25.3 

差込端子（push-wire terminal） 

硬質導体（単線又はより線）を押し込んで接続する非ユニバーサル端子（非万能端子）。 

（JIS C 2814-2-2の3.101.3） 

2.3.26 

締付具（clamping unit） 

導体の機械的な締付け及び電気的に接続するのに必要な端子の部品。正常な接触圧力を確保するために

必要な部品を含む。 

（IEC 60999-1:1999の3.1） 

2.3.26.1 

ユニバーサル締付具（万能締付具）（universal clamping unit） 

全ての種類の導体に対する締付具。 

2.3.26.2 

非ユニバーサル締付具（非万能締付具）（non-universal clamping unit） 

特定の種類の導体に対する締付具。例えば，次のものがある。 

− 単線専用の差込締付具 

− 硬質導体（単線及びより線）専用の差込締付具 

注記 差込締付具において，接続は，硬質導体の簡単な差込みで行う（7.1.8.1参照）。 

2.3.27 

端末未処理導体（unprepared conductor） 

端子に挿入するために切断し，絶縁物を除去した導体。 

注記 端子への挿入のために形が整えられ（導体をほぼ均等に二つに分けて先端を整えるものも含め

る。）又は整えるためにより線をねじって固くした導体は，端末未処理導体とみなされる。 

2.3.28 

端末処理導体（prepared conductor） 

より線にはんだ付け，又は端部にケーブルラグ，アイレットなどを取り付けた導体。 

注記 我が国では，はんだ付けの端末処理は，望ましくない（JIS C 8201-7-1の7.1.1参照）。 

2.3.29 

単線導体（solid conductor） 

単線からなる導体。 

注記1 単線導体は，円形又は形成されたもの。 

注記2 単線導体は，JIS C 3664:2007のクラス1，又はIEC/TR 60344若しくはAWG/kcmilの同等品

として定義されたものである。 

（IEV 461-01-06を編集） 

2.3.30 

より線導体（stranded conductor） 

多数の素線から成り，全体又は一部の導体をより合わせた導体。 

注記 より線は，JIS C 3664:2007のクラス2，又はIEC/TR 60344若しくはAWG/kcmilの同等品とし

て定義されたものである。 

（IEV 151-12-36を編集） 

17 

C 8201-1：2020  

2.3.31 

硬質導体（rigid conductor） 

一定の直径の電線をもつ単線導体若しくはより線導体，又はその組み合わせたもので，可とうケーブル

の使用には適さない導体。 

2.3.32 

可とう導体（flexible conductor） 

多数の細線をもつより線であって，可とうケーブルの使用に適している導体。 

注記 可とう導体は，JIS C 3664:2007のクラス5若しくはクラス6，又はIEC/TR 60344若しくは

AWG/kcmilの同等品として定義されたものである。 

（IEV 461-01-11を編集） 

2.3.33 

多点接触方式（multiple tip contact system） 

直列及び／又は並列で1極につき複数の開閉可能な接点間ギャップで構成される方式。 

2.3.34 

最小断面積（minimum cross-section） 

製造業者が指定する端子に，接続可能な導体の断面積の最小値。 

注記 製造業者は，導体の種類［例えば，フェルール（口輪）付き又はなしの硬質，より線，可とう］

によって，複数の最小断面積を宣言してもよい。 

2.3.35 

最大断面積（maximum cross-section） 

製造業者が指定する端子に，接続可能な導体の断面積の最大値。 

注記1 製造業者は，導体の種類［例えば，フェルール（口輪）付き又はなしの硬質，より線，可と

う］によって，複数の最大断面積を宣言してもよい。 

注記2 JIS C 8201-7-1及びIEC 60999-2:2003で用いる“定格断面積（rated cross-section）”の用語並

びにIEC 60999-1:1999で使用される締付具の“定格接続容量（rated connecting capacity）”の

用語は，製造業者によって指定され，関連する個別規格で指定される熱的，機械的及び電気

的な要求事項に言及する場合，同等とみなされている。 

2.3.36 

電子的に制御する電磁石（electronically controlled electromagnet） 

能動電子素子を含んだ回路で制御するコイルをもつ電磁石。 

2.4 

開閉機器の動作 

開閉機器の動作に関する用語及び定義は，2.4.1〜2.4.38に示す。 

2.4.1 

動作（機械式開閉機器の）［operation (of a mechanical switching device)］ 

ある位置から隣接したほかの位置への可動接点の移動。 

注記1 例えば，回路遮断器では，閉動作又は開動作がこれに当たる。 

注記2 区別が必要な場合，投入又は遮断のような電気的な動作は電気開閉動作といい，閉路又は開

路のような機械的な動作は機械的動作という。 

（IEV 441-16-01） 

18 

C 8201-1：2020  

2.4.2 

動作サイクル（機械式開閉機器の）［operating cycle (of a mechanical switching device)］ 

ある位置からほかの位置への動作，及び必要な場合，全ての位置を経て最初の位置に戻るような，動作

の継続。 

（IEV 441-16-02） 

2.4.3 

動作シーケンス（機械式開閉機器の）［operating sequence (of a mechanical switching device)］ 

定めた時間間隔で進行するように定めた動作の継続。 

（IEV 441-16-03） 

2.4.4 

手動制御（manual control） 

人間が介在して行われる制御。 

（IEV 441-16-04） 

2.4.5 

自動制御（automatic control） 

人間の介在なしに，事前に決めた条件に応じて動作する制御。 

（IEV 441-16-05） 

2.4.6 

現場制御（local control） 

制御する開閉機器が置かれている場所又はその付近で行われる制御。 

（IEV 441-16-06） 

2.4.7 

遠隔制御（remote control） 

制御する開閉機器から離れている場所で行われる制御。 

（IEV 441-16-07） 

2.4.8 

閉動作（機械式開閉機器の）［closing operation (of a mechanical switching device)］ 

機器を開路位置から閉路位置まで移動させる動作。 

（IEV 441-16-08） 

2.4.9 

開動作（機械式開閉機器の）［opening operation (of a mechanical switching device)］ 

機器を閉路位置から開路位置まで移動させる動作。 

（IEV 441-16-09） 

2.4.10 

強制開離動作（機械式開閉機器の）［positive opening operation (of a mechanical switching device)］ 

指定する要求事項に従って，操作部が，その機器の開路位置にあるとき，全ての主接点が確実にその指

定した開路位置になるようにする開動作。 

（IEV 441-16-11） 

2.4.11 

強制駆動動作（positively driven operation） 

19 

C 8201-1：2020  

指定する要求事項に従って，機械式開閉機器の補助接点が，主接点の開路又は閉路のそれぞれの位置に

対応して確実に動くような構造による動作。 

（IEV 441-16-12） 

2.4.12 

直接手動動作（機械式開閉機器の）［dependent manual operation (of a mechanical switching device)］ 

動作の速さ及び動作の力が，操作者の操作に依存するような，人が直接エネルギーを加えるだけの動作。 

注記 依存するとは，操作者の操作が止まったとき，動作が止まるようなものをいう。 

（IEV 441-16-13） 

2.4.13 

直接動力動作（機械式開閉機器の）［dependent power operation (of a mechanical switching device)］ 

人力以外のエネルギー（ソレノイド，電気式モータ，空気式モータなど）によって連続的に供給される

動力に依存して動作を完了する動作。 

（IEV 441-16-14） 

2.4.14 

蓄積エネルギー動作（機械式開閉機器の）［stored energy operation (of a mechanical switching device)］ 

ある定められた条件の下で，動作が完了する前に機械自身に蓄えられており，動作を完了するのに十分

なエネルギーによる動作。 

注記 この動作の種類は，次のように区分する。 

1) エネルギーの蓄積方法（ばね，おもりなど） 

2) エネルギー源（手動，電気的など） 

3) エネルギーの解放方法（手動，電気的など） 

（IEV 441-16-15） 

2.4.15 

間接手動動作（機械式開閉機器の）［independent manual operation (of a mechanical switching device)］ 

一連の動作の中で蓄積及び解放を行う蓄積エネルギー動作で，人力がエネルギーとなるもの。その動作

時の速さ及び力は，操作者の操作には依存しない。 

（IEV 441-16-16） 

2.4.16 

間接動力動作（機械式開閉機器の）［independent power operation (of a mechanical switching device)］ 

一連の動作の中で蓄積及び解放を行う蓄積エネルギー動作で，蓄積エネルギーは外部電源がエネルギー

となるもの。その動作時の速さ及び力は，操作者の操作には依存しない。 

2.4.17 

駆動力［actuating force (moment)］ 

意図する動作を完了するのに必要な，操作部に加える力。 

（IEV 441-16-17） 

2.4.18 

復帰力［restoring force (moment)］ 

操作部又は接点素子を，最初の位置に復帰させるために供給する力。 

（IEV 441-16-19） 

20 

C 8201-1：2020  

2.4.19 

トラベル（機械式開閉機器又はその一部分の）［travel (of a mechanical switching device or a part thereof)］ 

可動素子上の1点の（並行又は回転運動による）位置の移動。 

注記 移動開始前の動き，移動完了後の動きなどと区別してもよい。 

（IEV 441-16-21） 

2.4.20 

閉路位置（機械式開閉機器の）［closed position (of a mechanical switching device)］ 

機器の主回路において，導通状態を保持している位置。 

（IEV 441-16-22） 

2.4.21 

開路位置（機械式開閉機器の）［open position (of a mechanical switching device)］ 

機器の主回路の開路した接点間において，規定する耐電圧に関する要求事項を満足する位置。 

注記 この定義は，絶縁特性に関する要求事項を満足しているIEV 441-16-23とは異なる。 

2.4.22 

引外し（動作）［tripping (operation)］ 

リレー又は引外し装置によって開始する，機械式開閉機器の開路動作。 

2.4.23 

引外し自由機械式開閉機器（trip-free mechanical switching device） 

閉路動作が行われた後，開路動作が開始すると（例えば，引外しなどで），閉路の命令が維持していても，

開路位置に戻り，そのまま開の状態を保持するようになっている可動接点をもつ機械式開閉機器。 

注記1 流れた電流を確実に遮断するために，接点が瞬間的に閉路位置に達することが必要となって

もよい。 

注記2 引外し自由機械式開閉機器は，開動作が自動的に制御されるようになっているため，IEV 

441-16-31の用語に“（例えば，引外しで）”を加えることによって，完全な表現となる。 

2.4.24 

瞬時リレー又は引外し装置（instantaneous relay or release） 

意図的な時延がなく動作する，リレー又は引外し装置。 

2.4.25 

過電流リレー又は引外し装置（over-current relay or release） 

リレー又は引外し装置の電流が規定値を超えたときに，時延を伴ったり又は伴わずに機械式開閉機器を

開路させる，リレー又は引外し装置。 

注記 リレー又は引外し装置の電流の規定値は，電流の増加率によるものもある。 

2.4.26 

定限時時延過電流リレー又は引外し装置（definite time-delay over-current relay or release） 

過電流の値に関係なく調整可能な定限時の時延をもつ，過電流リレー又は引外し装置。 

2.4.27 

反限時時延過電流リレー又は引外し装置（inverse time-delay over-current relay or release） 

過電流値によって決まる反限時動作の経過時間後に動作する，過電流リレー又は引外し装置。 

注記 このようなリレー又は引外し装置の時延は，過電流の高い値に対して最低の一定値をとるよう

な構造のものもある。 

21 

C 8201-1：2020  

2.4.28 

直接過電流リレー又は引外し装置（direct over-current relay or release） 

開閉機器の主回路の電流によって直接励磁される，過電流リレー又は引外し装置。 

2.4.29 

間接過電流リレー又は引外し装置（indirect over-current relay or release） 

変流器又は分流器を経由した開閉機器の主回路の電流によって励磁される，過電流リレー又は引外し装

置。 

2.4.30 

過負荷リレー又は引外し装置（overload relay or release） 

過負荷に対する保護を目的とした，過電流リレー又は引外し装置。 

2.4.31 

熱動形過負荷リレー又は引外し装置（thermal overload relay or release） 

（時延を含め，）動作が，リレー又は引外し装置に流れる電流による熱作用に依存する，反限時時延過負

荷リレー又は引外し装置。 

2.4.32 

電磁過負荷リレー又は引外し装置（magnetic overload relay or release） 

電磁石のコイルを励磁している主回路の電流によって働く力で動作する，過負荷リレー又は引外し装置。 

注記 通常，このようなリレー又は引外し装置は，反限時時延−電流特性になっている。 

2.4.33 

電圧引外し装置（shunt release） 

電源電圧で励磁される引外し装置。 

注記 この電源電圧は，主回路の電圧とは関係なくてもよい。 

（IEV 441-16-41） 

2.4.34 

不足電圧リレー又は引外し装置（under-voltage relay or release） 

リレー又は引外し装置の端子間の電圧が，事前に決めた値より低くなったとき，時延を伴い又は伴わず

に，機械式開閉機器を開路又は閉路させるようなリレー若しくは引外し装置。 

2.4.35 

逆電流リレー又は引外し装置（直流だけ）［reverse current relay or release (d.c. only)］ 

電流が逆方向へ流れ，事前に決めた値を超えたとき，時延を伴い又は伴わずに，機械式開閉機器を開路

させるようなリレー又は引外し装置。 

2.4.36 

動作電流（過電流リレー又は引外し装置の）［operating current (of an over-current relay or release)］ 

リレー又は引外し装置が動作する電流以上の電流値。 

2.4.37 

整定電流（過電流リレー若しくは引外し装置，又は過負荷リレー若しくは引外し装置の）［current-setting (of 

an over-current or overload relay or release)］ 

リレー又は引外し装置の動作特性の基準となる主回路電流値。リレー又は引外し装置は，その電流値で

整定する。 

注記 リレー又は引外し装置は，調整用ダイヤル，入換え可能なヒータなどによって電流整定値をも

22 

C 8201-1：2020  

っている。 

2.4.38 

整定電流範囲（過電流リレー若しくは引外し装置，又は過負荷リレー若しくは引外し装置の）［current setting 

range (of an over-current or overload relay or release)］ 

リレー又は引外し装置の整定電流を調整できる，最小値から最大値までの範囲。 

2.5 

特性値 

特性値に関する用語及び定義は，2.5.1〜2.5.67に示す。 

2.5.1 

公称値（nominal value） 

部品，機器，装置又はシステムを，指定又は確認するときに用いる概略値（量）。 

注記 公称値は，一般的に端数のない数値である。 

（IEV 151-16-09） 

2.5.2 

限界値（limiting value） 

部品，機器，装置又はシステムの仕様において，許容される最大又は最小値。 

（IEV 151-16-10） 

2.5.3 

定格値（rated value） 

仕様の目的で使用する量の値で，部品，機器，装置又はシステムの動作条件を確立するもの。 

（IEV 151-16-08） 

2.5.4 

定格（rating） 

定格値と動作条件との組合せ。 

（IEV 151-16-11） 

2.5.5 

推定電流（開閉機器又はヒューズに関係する回路の）［prospective current (of a circuit and with respect to a 

switching device or a fuse)］ 

開閉機器又はヒューズの各極を，インピーダンスを無視できる導体に置き換えたとき，その回路に流れ

る電流。 

注記 推定電流を評価又は表現するのに用いる方法を，個別規格で規定する。 

（IEV 441-17-01） 

2.5.6 

推定ピーク電流（prospective peak current） 

電流が流れ始める過渡期における推定電流のピーク値。 

注記 この定義は，インピーダンスが瞬時に無限大からゼロに推移するような理想的な開閉機器によ

って電流が流れると仮定している。例えば，多相回路のように，電流が複数の異なる経路を流

れる回路に対しては，たとえ1極だけとみなす電流であっても，電流は全極に同時に流れるこ

とが想定できる。 

（IEV 441-17-02） 

23 

C 8201-1：2020  

2.5.7 

推定対称電流（交流回路の）［prospective symmetrical current (of an a.c. circuit)］ 

電流が流れ始めたときから，過渡現象を伴わない推定電流。 

注記1 多相回路では，この過渡期間がない条件は，そのときの1極の電流に対して満足する。 

注記2 推定対称電流は，実効値で表す。 

（IEV 441-17-03） 

2.5.8 

最大推定ピーク電流（交流回路の）［maximum prospective peak current (of an a.c. circuit)］ 

初期電流が，最高の可能な値になる瞬間に起こるときの推定ピーク電流。 

注記 多相回路の多極装置に対する，最大推定電流波高値は，1極だけを対象としている。 

（IEV 441-17-04） 

2.5.9 

推定投入電流（開閉機器の極の）［prospective making current (for a pole of a switching device)］ 

規定条件で流れ始める，推定電流。 

注記 規定条件は，開始の方式（例えば，理想的な開閉機器による場合，），開始の瞬間（例えば，交

流回路の最大推定ピーク電流），又は上昇率に関係する。これらの条件仕様は，個別規格で規定

する。 

（IEV 441-17-05） 

2.5.10 

推定遮断電流（開閉機器又はヒューズの極の）［prospective breaking current (for a pole of a switching device or 

a fuse)］ 

遮断過程の開始の瞬間に対応する時間において評価する推定電流。 

注記 遮断過程の開始の瞬間に関する仕様は，個別規格で規定する。機械式開閉機器又はヒューズで

は，遮断過程の開始の瞬間は，通常，遮断過程におけるアーク開始の瞬間として定義する。 

（IEV 441-17-06） 

2.5.11 

遮断電流（開閉機器又はヒューズの）［breaking current (of a switching device or a fuse)］ 

遮断過程において，アーク発生の瞬間に流れる開閉機器又はヒューズの極の電流。 

注記 交流において，電流は，交流分の対称交流実効値として表す。 

（IEV 441-17-07） 

2.5.12 

遮断容量（開閉機器又はヒューズの）［breaking capacity (of a switching device or a fuse)］ 

規定の使用条件及び動作条件の下で，開閉機器又はヒューズが遮断できる所定の電圧における推定遮断

電流値。 

注記1 電圧及び条件は，個別規格で規定する。 

注記2 交流において，電流は，交流分の対称交流実効値として表す。 

注記3 短絡遮断容量については，2.5.14参照。 

（IEV 441-17-08） 

2.5.13 

投入容量（開閉機器の）［making capacity (of a switching device)］ 

24 

C 8201-1：2020  

規定の使用条件及び動作条件の下で，開閉機器が投入できる所定の電圧における推定投入電流値。 

注記1 電圧及び条件は，個別規格で規定する。 

注記2 短絡投入容量については，2.5.15を参照。 

（IEV 441-17-09） 

2.5.14 

短絡遮断容量（short-circuit breaking capacity） 

開閉機器の端子での短絡を含み，規定条件の下における遮断容量。 

（IEV 441-17-11） 

2.5.15 

短絡投入容量（short-circuit making capacity） 

開閉機器の端子での短絡を含み，規定条件の下における投入容量。 

（IEV 441-17-10） 

2.5.16 

臨界負荷電流（critical load current） 

使用条件の範囲において，アーク時間が極めて長くなる遮断電流値。 

2.5.17 

臨界短絡電流（critical short-circuit current） 

定格短絡遮断容量に満たない状態で，アークエネルギーが定格短絡遮断容量より極めて高い値の遮断電

流値。 

2.5.18 

ジュール積分（I2t）［joule integral (I2t)］ 

規定時間内に流れる電流の二乗積分値。 

∫

=

1

0

d

2

2

t

t

t

i

t

I

（IEV 441-18-23） 

2.5.19 

カットオフ電流−通過電流（cut-off current−let-through current） 

開閉機器又はヒューズの遮断動作における，到達する電流の最大瞬時値。 

注記 回路の推定ピーク電流に到達しないという方法の下で，開閉機器又はヒューズが動作する場合，

この概念は特に重要である。 

（IEV 441-17-12） 

2.5.20 

時間−電流特性（time-current characteristic） 

所定の動作条件の下で，例えば，プレアーク時間，動作時間など，推定電流の関数としての時間を与え

る曲線。 

（IEV 441-17-13） 

2.5.21 

カットオフ（電流）特性−通過電流特性［cut-off (current) characteristic−let-through (current) characteristic］ 

所定の動作条件の下で，推定電流の関数としてのカットオフ電流を与える曲線。 

注記 交流の場合，カットオフ電流値は，非対称の程度にかかわらず到達する最大値である。直流の

25 

C 8201-1：2020  

場合，カットオフ電流値は，時定数に関係して到達する最大値である。 

（IEV 441-17-14） 

2.5.22 

過電流保護装置の過電流保護協調（over-current protective co-ordination of over-current protective devices） 

過電流選択保護協調（識別）及び／又はバックアップ保護協調を行うために，直列にした複数の過電流

保護装置の協調。 

2.5.23 

過電流選択保護協調（over-current selectivity） 

所定の範囲内の過電流が生じたとき動作する装置によって，一方は動作するが他方は動作しないように

組み合わせた複数の過電流保護装置間の動作特性の協調。 

注記 実際は，同じ過電流が流れる異なる過電流保護装置を含む直列選択動作と，異なる比率の過電

流が流れる同じ保護装置を含むネットワーク選択動作とは，区別する。 

2.5.24 

バックアップ保護協調（back-up protection） 

一般的に電源側にあるが，必ずしも電源側でなくてもよい保護装置によって，ほかの保護装置の補助の

有無にかかわらず，過電流保護を行ったとき，後者の保護装置への過度のストレスを防止するように直列

に接続する二つの過電流保護装置の過電流協調。 

2.5.25 

テイクオーバ電流（take-over current） 

二つの過電流保護装置の時間−電流特性間で交差する電流の値。 

（IEV 441-17-16） 

2.5.26 

短限時（short-time delay） 

定格短時間耐電流の限界内での動作における，意図的な遅延。 

2.5.27 

短時間耐電流（short-time withstand current） 

閉路位置の回路又は開閉機器が，使用及び動作条件の下で，短時間流すことが可能な電流値。 

（IEV 441-17-17） 

2.5.28 

ピーク耐電流（peak withstand current） 

閉路位置の回路又は開閉機器が，使用及び動作条件の下で，耐えることが可能なピーク電流値。 

（IEV 441-17-18） 

2.5.29 

条件付短絡電流（回路又は開閉機器の）［conditional short-circuit current (of a circuit or a switching device)］ 

短絡保護装置で保護している回路又は開閉機器が，使用及び動作条件の下で，その機器の全動作時間の

間，満足に耐えることができる推定電流値。 

注記1 この規定において，短絡保護装置は，一般的に回路遮断器又はヒューズである。 

注記2 この定義は，電流制限装置の概念を短絡保護装置に広げたことによって，IEV 441-17-20とは

異なっており，その機能は電流を制限するだけではない。 

26 

C 8201-1：2020  

2.5.30 

不動作電流（過電流リレー又は引外し装置の）［conventional non-tripping current (of an over- current relay or 

release)］ 

リレー又は引外し装置が動作しない状態で，規定する時間（規約時間）通電できる電流の規定値。 

2.5.31 

動作電流（過電流リレー又は過電流引外し装置の）［conventional tripping current (of an over-current relay or 

release)］ 

リレー又は引外し装置を規定する時間（規約時間）内で動作したときの電流の規定値。 

2.5.32 

給与電圧（開閉機器の）［applied voltage (for a switching device)］ 

電流を投入する直前に，開閉機器の極の端子間に存在する電圧。 

注記 この定義は，単極機器に適用する。多極機器では，機器の電源端子間に加える線間電圧である。 

（IEV 441-17-24） 

2.5.33 

回復電圧（recovery voltage） 

電流の遮断直後に，開閉機器又はヒューズの極の端子間に現れる電圧。 

注記1 この電圧には，二つの連続した期間が考えられる。第一の期間は，過渡電圧が存在する期間，

第二の期間は，第一の期間に続く，商用周波電圧又は定常状態の回復電圧だけが存在する期

間である。 

注記2 この定義は，単極装置に適用する。多極機器に対しては，機器の電源端子の線間電圧である。 

（IEV 441-17-25） 

2.5.34 

過渡回復電圧（TRV）［transient recovery voltage (abbreviation TRV)］ 

過渡特性を生じている期間の回復電圧。 

注記 過渡電圧は，回路遮断器，開閉機器又はヒューズの特性によって，振動，非振動又はこれらの

組合せとなる。過電圧には，多相回路の中性点の電圧シフトも含まれる。 

（IEV 441-17-26） 

2.5.35 

商用周波回復電圧（power-frequency recovery voltage） 

過渡電圧現象が収まった後の，回復電圧。 

（IEV 441-17-27） 

2.5.36 

直流定常回復電圧（d.c. steady-state recovery voltage） 

過渡電圧現象が収まった後の直流回路の回復電圧。リプルがある場合は平均値で表す。 

（IEV 441-17-28） 

2.5.37 

推定過渡回復電圧（回路の）［prospective transient recovery voltage (of a circuit)］ 

理想的な開閉機器において，推定対称電流の遮断に続いて起こる過渡回復電圧。 

注記 この定義は，開閉機器又はヒューズの推定過渡回復電圧を決めるために，例えば，“自然”ゼロ

となるような電流ゼロの瞬間，インピーダンスがゼロから瞬時に無限大になるような理想開閉

27 

C 8201-1：2020  

機器と置き換えて考えられると仮定している。電流が，例えば，多相回路のように，幾つかの

異なる経路をたどることができる回路では，この定義は，更に，理想的な開閉機器による電流

遮断は対象とする極だけで発生すると仮定している。 

（IEV 441-17-29） 

2.5.38 

ピークアーク電圧（機械式開閉機器の）［peak arc voltage (of a mechanical switching device)］ 

規定条件において，アーク時間中の開閉機器の極の端子間の瞬時最大電圧値。 

（IEV 441-17-30） 

2.5.39 

開路時間（機械式開閉機器の）［opening time (of a mechanical switching device)］ 

規定する開動作開始の瞬間から，全ての極の接点が開離した瞬間までの時間。 

注記 開動作開始の瞬間，例えば，開路指令（例えば，引外し装置を作動させるなど）の適用につい

ては，個別規格で規定する。 

（IEV 441-17-36） 

2.5.40 

アーク時間（単極又は1個のヒューズの）［arcing time (of a pole or a fuse)］ 

単極又は1個のヒューズのアークが発生した瞬間から，最終的にアークが消滅した瞬間までの時間。 

（IEV 441-17-37） 

2.5.41 

アーク時間（多極開閉機器の）［arcing time (of a multipole switching device)］ 

最初のアークが発生した瞬間から，最終的に全極のアークが消滅した瞬間までの時間。 

（IEV 441-17-38） 

2.5.42 

遮断時間（break time） 

機械式開閉機器の開路時間（又はヒューズのプレアーク時間）の開始から，アーク時間の終了までの時

間。 

（IEV 441-17-39） 

2.5.43 

投入時間（make time） 

閉路動作の開始から，主回路に電流が流れ始める瞬間までの時間。 

（IEV 441-17-40） 

2.5.44 

閉路時間（closing time） 

閉路動作の開始から，全ての極の接点が接触する瞬間までの時間。 

（IEV 441-17-41） 

2.5.45 

投入−遮断時間（make-break time） 

電流が主回路に流れ始める瞬間に開路引外し装置を作動させて開路するとき，ある極に電流が流れ始め

る瞬間から，最終的に全極のアークが消滅した瞬間までの時間。 

（IEV 441-17-43） 

28 

C 8201-1：2020  

2.5.46 

空間距離（clearance） 

二つの導電部間に，最短の方法でひもを張ってできる最短の通路に沿って測った導電部間の距離。 

（IEV 441-17-31） 

2.5.47 

極間の空間距離（clearance between poles） 

隣接する極の導電部間の空間距離。 

（IEV 441-17-32） 

2.5.48 

対地空間距離（clearance to earth） 

任意の導電部と，接地又は接地を意図した部分との間の空間距離。 

（IEV 441-17-33） 

2.5.49 

開接点間の空間距離（ギャップ）［clearance between open contacts (gap)］ 

開路位置における機械式開閉機器の極の接点間，又は接点を接続した導電部との間の空間距離の合計。 

（IEV 441-17-34） 

2.5.50 

断路距離（機械式開閉機器の極の）［isolating distance (of a pole of a mechanical switching device)］ 

断路器に対して，規定する安全に関する要求事項に適合する開接点間の空間距離。 

（IEV 441-17-35） 

2.5.51 

沿面距離（creepage distance） 

二つの導電部間の絶縁材料の表面に沿う最短距離。 

注記 二つの絶縁材料の接合部分は，表面の一部分とみなされる。 

2.5.52 

ワーキング電圧（working voltage） 

装置に定格電圧を加えたとき，それぞれの絶縁物間に発生する交流実効電圧又は直流電圧の最大値。 

注記1 過渡状態は，無視する。 

注記2 開路状態又は通常動作状態も考慮する。 

2.5.53 

一時過電圧（temporary overvoltage） 

ある箇所で，電圧相対大地間，電圧相対中性点間又は線間にかかる比較的長い期間（数秒）の過電圧。 

2.5.54 

過渡過電圧（transient overvoltages） 

2.5.54.1〜2.5.54.3に示すこの規格における電圧。 

2.5.54.1 

開閉過電圧（switching overvoltage） 

特定の開閉動作又は故障によって，システムがある場所に現れる，過渡過電圧。 

2.5.54.2 

雷過電圧（lightning overvoltage） 

29 

C 8201-1：2020  

特定の雷放電によって，システムがある場所に現れる，過渡過電圧（IEC 60060及びIEC 60071-1:1993

参照）。 

2.5.54.3 

機能過電圧（functional overvoltage） 

機器の機能上必要な，意図的に発生させる過電圧。 

2.5.55 

インパルス耐電圧（impulse withstand voltage） 

規定する試験条件の下で，絶縁破壊を起こさない規定する波形及び極性をもつインパルス電圧の最大ピ

ーク値。 

2.5.56 

商用周波耐電圧（power-frequency withstand voltage） 

規定試験条件の下で，絶縁破壊を起こさない商用周波数の正弦波電圧の実効値。 

2.5.57 

汚損（pollution） 

絶縁耐力又は絶縁物の表面抵抗に影響する，固体，液体，又はガス状（イオン化したガス）の外部物質

の諸条件。 

2.5.58 

汚損度（環境条件の）［pollution degree (of environmental conditions)］ 

次を基準にして決定した度合。この現象は空気中の湿度の吸収又は結露を生じ，絶縁耐力及び／又は絶

縁物表面抵抗の低下を引き起こす。 

− 導電性又は吸湿性のじんあい 

− イオン化したガス及び塩分の量 

− 相対湿度及びその現象の発生の頻度 

注記1 装置がさらされる汚損度は，吸湿又は結露を防ぐためのエンクロージャの又は内部の加熱の

ような手段による保護をした場合，装置自体の置かれている場所で受けるマクロ環境の汚損

度と異なっている場合もある。 

注記2 この規定は，ミクロ環境の汚損度である。 

2.5.59 

ミクロ環境（空間距離又は沿面距離の）［micro-environment (of a clearance or creepage distance)］ 

対象とする空間距離又は沿面距離を取り巻く周囲条件。 

注記 絶縁に影響を及ぼすのは，沿面距離又は空間距離のミクロ環境で，装置の環境ではない。ミク

ロ環境は，装置の環境より良くても悪くてもよい。それは，気候条件，電磁的条件，汚損の発

生など，絶縁に影響する全ての要因を含んでいる。 

2.5.60 

過電圧種別（回路又は電気系統内の）［overvoltage category (of a circuit or within an electrical system)］ 

回路（又は異なった公称電圧の電気系統）に発生する推定過渡過電圧の制限値（又は制御値）及び過電

圧に影響を与える使用された手段に基づく番号。 

注記 電気系統において，ある過電圧種別から，ほかの低い種別へ移行するにはインタフェースに関

する要求事項に応じて，それに適した方法を用いればよい。過電圧保護装置又は直列シャント

インピーダンス回路に，サージ電流に付随したエネルギーを放散，吸収又は分散させる能力を

30 

C 8201-1：2020  

もたせることによって，希望する低い過電圧種別まで下げることができる。 

2.5.61 

絶縁協調（co-ordination of insulation） 

予測できる過電圧及び過電圧保護装置の特性と，予測できるミクロ環境及び汚損の保護方法とをもった

電気装置の絶縁特性に関する相互関係。 

2.5.62 

均一電界［homogeneous (uniform) field］ 

それぞれの半径が，相互間の距離より大きい二つの球体の間の空間のように，本質的に極間電圧勾配が

一定な電界。 

2.5.63 

不均一電界［inhomogeneous (non-uniform) field］ 

本質的に極間電圧勾配が一定ではない電界。 

2.5.64 

トラッキング（tracking） 

固体絶縁材料の表面に，電気的ストレスと電解質の汚損との複合作用によって生じる，導電経路の生成

状態。 

2.5.65 

比較トラッキング指数（CTI）［comparative tracking index (CTI)］ 

絶縁材料に試験液を50滴落としたとき，トラッキングを生じない電圧の最大電圧値。 

注記1 各試験電圧及びCTI値は，25で割り切れることが望ましい。 

注記2 この定義は，JIS C 2134の3.5を転記したものである。 

2.5.66 

定格制御回路電圧，Uc（rated control circuit voltage） 

制御装置の入力信号を制御する定格電圧。 

2.5.67 

定格制御回路電源電圧，Us（rated control circuit supply voltage） 

制御回路の電源供給端子へ供給される定格電圧。 

2.6 

試験 

試験に関する用語及び定義は，2.6.1〜2.6.4に示す。 

2.6.1 

形式試験（type test） 

ある定められた設計によって作られた1個以上の機器に対して，その設計が規定の仕様に適合している

かどうかを証明する試験。 

2.6.2 

受渡試験（routine test） 

規定の基準に合致しているかどうかを確かめるために，個々の機器それぞれに対し，製造中及び／又は

製造後に行う試験。 

2.6.3 

抜取試験（sampling test） 

1回分の中から，無作為に取り出した複数の機器に対して行う試験。 

31 

C 8201-1：2020  

2.6.4 

特殊試験（special test） 

形式試験及び受渡試験に加え，製造業者の判断又は受渡当事者間の協定の下に行う試験。 

2.7 

ポート 

ポートに関する用語及び定義は，2.7.1〜2.7.7に示す。 

2.7.1 

ポート（port） 

外部電磁環境を含み，指定した機器の特定のインタフェース（図17参照）。 

2.7.2 

エンクロージャポート（enclosure port） 

電磁界が放射又は印加される可能性がある機器の物理的な境界。 

2.7.3 

ケーブルポート（cable port） 

導体又はケーブルを機器に接続するポート。 

注記 例えば，データ変換用の信号ポートである。 

2.7.4 

機能接地ポート（functional earth port） 

電気保全以外の目的で接地に接続するメインポート，信号ポート又は電源ポート以外のケーブルポート。 

2.7.5 

信号ポート（signal port） 

データを転送するための情報を運ぶ導体又はケーブルを機器に接続するポート。 

注記 例えば，データバス，通信ネットワーク，及び制御ネットワークである。 

2.7.6 

電源ポート（制御電源ポート）［power port (control supply port)］ 

機器又は関連機器の動作（機能）に必要な一次電力を供給する導体又はケーブルを機器に接続するポー

ト。 

2.7.7 

メインポート（main port） 

導体又はケーブルを装置の主回路の極に接続するポート。 

注記1 例えば，コンタクタの主回路端子である。 

注記2 装置によっては，電源ポートがメインポートとなる場合がある。 

3 

分類 

装置の特性について，製造業者の提供する情報及び必ずしも試験で確認する必要がない項目を，この箇

条に規定する。 

この箇条は，個別規格に必須ではないが，分類基準を必要に応じて規定するために，空欄として空けて

おくことが望ましい。 

4 

特性 

定格又は非定格としての特性及びシンボルの一覧表を，次に示す。 

32 

C 8201-1：2020  

定格又は非定格としての特性及びシンボルの一覧表 

特性 

シンボル 

箇条 

閉鎖熱電流 

Ithe 

4.3.2.2 

開放熱電流 

Ith 

4.3.2.1 

8時間責務 

− 

4.3.4.1 

反復責務又は間欠責務 

− 

4.3.4.3 

周期的責務 

− 

4.3.4.5 

開閉機器の極インピーダンス 

Z 

4.3.7 

定格遮断容量 

− 

4.3.5.3 

定格条件付短絡電流 

Iq 

4.3.6.4 

定格制御回路電圧 

Uc 

4.5.1 

定格制御回路電源電圧 

Us 

4.5.1 

定格電流 

In 

a) 

定格周波数 

− 

4.3.3 

定格インパルス耐電圧 

Uimp 

4.3.1.3 

定格絶縁電圧 

Ui 

4.3.1.2 

定格投入容量 

− 

4.3.5.2 

定格使用電流 

Ie 

4.3.2.3 

定格使用電力 

− 

4.3.2.3 

定格使用電圧 

Ue 

4.3.1.1 

定格ロータ絶縁電圧 

Uir 

a) 

定格ロータ使用電流 

Ier 

a) 

定格ロータ使用電圧 

Uer 

a) 

定格使用短絡遮断容量 

Ics 

a) 

定格短絡遮断容量 

Icn 

4.3.6.3 

定格短絡投入容量 

Icm 

4.3.6.2 

定格短時間耐電流 

Icw 

4.3.6.1 

単巻変圧器スタータの定格始動電圧 

− 

a) 

定格ステータ絶縁電圧 

Uis 

a) 

定格ステータ使用電流 

Ies 

a) 

定格ステータ使用電圧 

Ues 

a) 

定格限界短絡遮断容量 

Icu 

a) 

定格連続電流 

Iu 

4.3.2.4 

ロータ通電電流 

Ithr 

a) 

選択限界電流 

Is 

a) 

ステータ通電電流 

Iths 

a) 

テイクオーバ電流 

IB 

2.5.25 

一時的責務 

− 

4.3.4.4 

連続責務 

− 

4.3.4.2 

使用負荷種別 

− 

4.4 

注記 この表の一覧は，全てを表していない。 
注a) この定格は，個別規格で定義する。 

4.1 

一般 

装置の特性は，次に関して適用する場合は個別規格で規定する。 

− 装置の形式（4.2） 

− 主回路の定格値及び限界値（4.3） 

− 使用負荷種別（4.4） 

33 

C 8201-1：2020  

− 制御回路（4.5） 

− 補助回路（4.6） 

− リレー及び引外し装置（4.7） 

− 短絡保護装置（SCPD）との協調（4.8） 

− 開閉過電圧（4.9） 

4.2 

装置の形式 

個別規格には，該当する場合は，次について規定する。 

− 装置の種類 

例 接触器，回路遮断器など 

− 極数 

− 電流の種類 

− 消弧媒質 

− 動作条件（動作方法，制御方法など） 

注記 装置の形式についての一覧は，全てを表していない。 

4.3 

主回路の定格値及び限界値 

定格値は，製造業者が指定する。定格値は，個別規格で規定するように4.3.1〜4.3.6に従って規定するが，

一覧中の全てを定格として規定する必要はない。 

4.3.1 

定格電圧 

装置は，4.3.1.1〜4.3.1.3の定格電圧をもつ。 

注記 装置の形式によっては，一つ以上の定格電圧，又は定格電圧範囲をもつ場合がある。 

4.3.1.1 

定格使用電圧（Ue） 

定格使用電圧は，定格使用電流と組み合わせて装置の適用を決める電圧の値で，かつ，関係の試験及び

使用負荷種別がこの電圧の値を基準にして決められる。 

単極の装置の場合，定格使用電圧は，一般に極間電圧として規定する。 

多極の装置の場合，定格使用電圧は，一般に線間電圧として規定する。 

ある種の機器及び特別な用途のときには，Ueの値が異なる場合がある。これは，個別規格で規定するの

がよい。 

多相回路で用いる多極装置の場合，次の区別を行ってもよい。 

a) 単一の地絡が発生したとき，1極の接点間に全線間電圧を生じさせないシステム（すなわち，非接地

又は中性点接地システム）上で用いる装置。 

b) 単一の地絡が発生したとき，1極の接点間に全線間電圧を生じさせるシステム（すなわち，電圧相接

地システム）上で用いる装置。 

異なる責務及び使用負荷種別に対して，定格使用電圧及び定格使用電流又は定格電力の複数の組合せを

装置に指定してもよい。 

異なる責務及び使用負荷種別に対して，複数の定格使用電圧並びに関連する投入及び遮断容量を装置に

指定してもよい。 

注記1 対応国際規格の注記1〜注記4は，推奨事項又は許容事項であるため，本文に移した。 

注記2 装置において使用電圧がワーキング電圧（2.5.52参照）と異なることがあるということに注

意する。 

34 

C 8201-1：2020  

4.3.1.2 

定格絶縁電圧（Ui） 

定格絶縁電圧は，耐電圧試験の電圧及び沿面距離の基準となる電圧の値とする。いかなる場合でも，定

格使用電圧の最大値は，定格絶縁電圧の最大値を超えてはならない。 

注記 定格絶縁電圧の指定がない場合，定格使用電圧の最高値を定格絶縁電圧とする。 

4.3.1.3 

定格インパルス耐電圧（Uimp） 

装置が指定の試験条件下で故障なしに耐えることができる規定の波形と極性とをもつインパルス電圧の

ピーク値で，空間距離の値の基準となる。 

定格インパルス耐電圧は，装置が取り付けてある回路に生じる過渡過電圧に対して規定する値以上とす

る。 

注記 定格インパルス耐電圧の推奨値を，表12に示す。 

4.3.2 

電流 

装置は，4.3.2.1〜4.3.2.4の電流に関する事項をもつ。 

4.3.2.1 

開放熱電流（Ith） 

開放熱電流は，自由大気中での開放形装置の温度上昇試験に用いる試験電流の最大値とする（8.3.3.3参

照）。 

開放熱電流の値は，8時間責務（4.3.4.1参照）での開放形装置の定格使用電流（4.3.2.3参照）の最大値

に等しい。 

自由大気とは，通風及び外部放射がない正常な屋内状態下での大気である。 

注記1 この電流は定格ではなく，また，装置への表示は必須ではない。 

注記2 開放形装置とは，エンクロージャなしに製造業者が供給する装置，又はそれ自身で完全に保

護しない一体形エンクロージャを伴う装置で，製造業者が供給する装置である。 

4.3.2.2 

閉鎖熱電流（Ithe） 

閉鎖熱電流は，指定のエンクロージャ内に取り付けたときの装置の温度上昇試験に用いるための，製造

業者が定める電流値とする。装置が製造業者のカタログで箱入装置として説明されており，かつ，通常指

定された形式及び寸法（注記3参照）のエンクロージャと一緒に用いることを意図している場合，試験は

8.3.3.3に従って必須である。 

閉鎖熱電流は，8時間責務（4.3.4.1参照）での箱入装置の定格使用電流（4.3.2.3参照）の最大値と等し

い電流値とする。 

装置が通常指定していないエンクロージャ内で用いるのを意図している場合，開放熱電流（Ith）につい

ての試験が既に行われているときは，その試験は必須ではない。この場合，製造業者は閉鎖熱電流の値又

は低減率の指針を示す（注記1参照）。 

注記1 局所周囲温度（装置の近傍）［例1：局所周囲温度40 ℃におけるAC-1 Ie（定格使用電流）は

45 A，局所周囲温度60 ℃におけるAC-1 Ieは40 A。例2：局所周囲温度40 ℃におけるIth （開

放熱電流）は200 A，局所周囲温度60 ℃におけるIthは150 A。］における最大定格電流を印

刷物で表示してもよい。局所周囲温度を公表することによって，製造業者は使用者にエンク

ロージャの寸法又は形式の個々の製品の適用限界の情報を提供する。 

注記2 この電流は定格ではなく，また，装置への表示は必須ではない。 

注記3 閉鎖熱電流値は，非換気式装置向けの値であり，この場合，試験に用いたエンクロージャは，

使用できる最小寸法として製造業者が指定するエンクロージャである。また，製造業者のデ

ータによって，その値は換気式装置用としてもよい。 

35 

C 8201-1：2020  

注記4 箱入装置は，通常，規定の形式及び寸法のエンクロージャとともに用いるか，又は1種類以

上のエンクロージャとともに用いることを目的としている。 

4.3.2.3 

定格使用電流（Ie）又は定格使用電力 

定格使用電流は，製造業者が指定する電流であって，定格使用電圧（4.3.1.1参照），定格周波数（4.3.3

参照），定格責務（4.3.4参照），使用負荷種別（4.4参照）及び該当する場合は，保護エンクロージャの形

式も考慮する。 

個々のモータを直接開閉する装置の場合，定格使用電流の表示は，装置が目的としているモータの定格

使用電圧で最大定格出力表示に置き換えるか，又は補足してもよい。製造業者は，必要がある場合，使用

電流と使用電力との間で仮定した関係について説明する。 

4.3.2.4 

定格連続電流（Iu） 

定格連続電流は，装置が連続責務（4.3.4.2参照）として流すことが可能な製造業者が指定する電流値と

する。 

4.3.3 

定格周波数 

定格周波数は，電源の周波数とする。定格周波数を基に装置を設計し，かつ，装置のほかの特性値は，

この周波数に対応する。 

注記 同じ装置に多数の，又はある範囲の定格周波数が割り当てられることがある。また，交流及び

直流の両方が割り当てられることもある。 

4.3.4 

定格責務 

標準的な定格責務を，4.3.4.1〜4.3.4.5に示す。 

4.3.4.1 

8時間責務 

8時間責務は，装置の主接点を閉路状態で，装置が熱平衡するのに十分な時間で8時間を超えずに，遮

断することなく定常電流を通電する責務とする。 

注記1 これは，装置の開放熱電流Ith及び閉鎖熱電流Itheを決定する基本的な責務である。 

注記2 遮断は，装置の動作による電流の遮断を意味する。 

4.3.4.2 

連続責務 

連続責務は，装置の主接点が閉路状態で，8時間以上（数週間，数箇月又は数年）遮断なしで定常電流

を通電し，いかなる無通電期間もない責務とする。 

注記 この種類の使用は，酸化物及びじんあいが接点上に堆積して漸進的な過熱を導く可能性がある

ため，8時間責務とは別に指定する。連続使用は，通電電流の低減係数又は特別な設計上の配

慮（例えば，銀接点にする。）によって実施可能である。 

4.3.4.3 

反復責務又は間欠責務 

反復責務及び間欠責務は，装置の主接点が閉路状態に保たれ，通電期間と無通電期間との関係を定義し，

両方の期間とも装置が熱的平衡に達するには短かすぎる通電期間をもつ責務とする。 

間欠責務は，電流値，電流が流れている持続期間，及び全期間に対する通電期間の比である通電率によ

って表し，通電率は，通常百分率（%）で表す。 

通電率の標準値は，15 %，25 %，40 %及び60 %である。 

装置が1時間当たりに流すことが可能な使用回数に従って，装置を次の等級に分類する。 

− 等級1 

： 1時間当たり1動作サイクル 

− 等級3 

： 1時間当たり3動作サイクル 

− 等級12 

： 1時間当たり12動作サイクル 

36 

C 8201-1：2020  

− 等級30 

： 1時間当たり30動作サイクル 

− 等級120 

： 1時間当たり120動作サイクル 

− 等級300 

： 1時間当たり300動作サイクル 

− 等級1 200 

： 1時間当たり1 200動作サイクル 

− 等級3 000 

： 1時間当たり3 000動作サイクル 

− 等級12 000 

： 1時間当たり12 000動作サイクル 

− 等級30 000 

： 1時間当たり30 000動作サイクル 

− 等級120 000 ： 1時間当たり120 000動作サイクル 

− 等級300 000 ： 1時間当たり300 000動作サイクル 

1時間当たりの使用回数が非常に多い間欠責務の場合，製造業者は，これが既知であるときには実際の

回数か，又は製造業者が指定した規約サイクルによって，次のいずれかの定格使用電流値を表示する。 

∫

×

T

T

I

t

i

0

2th

2d≦

 又は 

T

I

×

2the

ここに， 

T： 動作サイクルの合計時間 

注記 この式は，開閉時のアークエネルギーを考慮していない。 

間欠責務を目的としている開閉機器は，間欠責務の特性によって指定してもよい。 

例 5分間ごとに2分間100 Aが流れる間欠責務は，“100 A，等級12，40 %”と表す。 

4.3.4.4 

一時的責務 

一時的責務は，装置が熱的平衡状態に到達するまでの時間内で，装置の主接点が閉路状態を維持する責

務である。無負荷期間は負荷を切り離し，冷却媒体によって同等の温度に回復する十分な時間とする。 

接点を閉路状態で，3分，10分，30分，60分及び90分を一時的責務の標準値とする。 

4.3.4.5 

周期的責務 

周期的責務は，一定又は可変の負荷を定期的に繰り返す責務とする。 

4.3.5 

通常負荷及び過負荷特性 

この細分箇条では，通常及び過負荷状態下での，定格に関する一般要求事項を規定する。 

注記 適用する場合，4.4に規定する使用負荷種別は，過負荷条件下の性能に関する要求事項を含むこ

とがある。 

詳細な要求事項は，7.2.4に規定する。 

4.3.5.1 

モータ開閉過負荷耐容量 

モータの開閉を目的としている装置は，始動，通常速度までのモータの加速，及び過負荷動作による熱

応力に耐えなければならない。 

これらの条件に適合するための詳細な要求事項は，個別規格で規定する。 

4.3.5.2 

定格投入容量 

定格投入容量は，製造業者が指定する電流値であって，装置が規定の投入条件下で満足に投入できる電

流値とする。 

規定する投入条件は，次による。 

− 給与電圧（2.5.32参照） 

− 試験回路の特性 

定格投入容量は，個別規格による定格使用電圧及び定格使用電流を基準とする。 

注記1 適用する場合，個別規格で，定格投入容量と使用負荷種別との関係を示す。 

37 

C 8201-1：2020  

交流の場合，定格投入容量は，一定と仮定する電流の対称成分の実効値で表す。 

注記2 交流の場合，装置の主接点の閉動作に続く最初の半サイクル間の電流のピーク値は，回路の

力率及び投入動作の電圧位相によって，投入容量を決定するのに用いる定常状態下での電流

のピーク値より多少大きいことがある。 

装置は，個別規格で規定する力率から生じる結果の限度内で，固有の直流分の値がどうで

あっても，その定格投入容量を規定する交流分と等しい交流分をもつ電流を投入できる能力

をもつことが望ましい。 

4.3.5.3 

定格遮断容量 

定格遮断容量は，規定の遮断条件下で装置が十分に遮断することが可能な製造業者が指定する電流値と

する。 

規定する遮断条件は，次による。 

− 試験回路特性 

− 商用周波回復電圧 

定格遮断容量は，個別規格に従って定格使用電圧及び定格使用電流を基準にして決定する。 

装置は，定格遮断容量までの電流値を遮断できる能力をもたなければならない。 

注記1 開閉機器は，複数の定格遮断容量をもってもよい。各々の定格遮断容量は，使用電圧及び使

用負荷種別に対応する。 

交流の場合，定格遮断容量は，電流の対称成分の実効値によって表す。 

注記2 適用する場合，個別規格で，定格遮断容量と使用負荷種別との間の関係を示す。 

4.3.6 

短絡特性 

この細分箇条は，短絡条件下での定格についての一般要求事項を規定する。 

4.3.6.1 

定格短時間耐電流（Icw） 

定格短時間耐電流は，個別規格の規定条件の下で装置が損傷なしに流すことが可能な製造業者が指定す

る短時間電流値とする。 

4.3.6.2 

定格短絡投入容量（Icm） 

定格短絡投入容量は，定格周波数での定格使用電圧，及び交流の場合は規定の力率，直流の場合は規定

の時定数において，製造業者が指定する短絡投入容量値とする。それは，規定条件下での最大推定ピーク

電流として表す。 

4.3.6.3 

定格短絡遮断容量（Icn） 

定格短絡遮断容量は，定格周波数での定格使用電圧，及び交流の場合は規定の力率，直流の場合は規定

の時定数において，製造業者が指定する短絡遮断容量値とする。それは，規定の条件下での推定遮断電流

値（交流の場合には交流分実効値）として表す。 

4.3.6.4 

定格条件付短絡電流（Iq） 

定格条件付短絡電流は，製造業者が指定する短絡保護装置によって保護されている装置が，個別規格で

規定する試験条件下で，この短絡保護装置の動作時間の間，耐えることが可能な製造業者が指定する推定

電流値とする。 

指定する短絡保護装置の詳細は，製造業者が取扱説明書などに示す。 

注記1 交流の場合，定格条件付短絡電流は，交流分の実効値によって表す。 

注記2 短絡保護装置は，装置と一体形又は分離形であってもよい。 

38 

C 8201-1：2020  

4.3.7 

開閉機器の極インピーダンス（Z） 

極インピーダンスは，極に通電し電圧降下を測定することによって求める。また，製造業者が提供して

もよい。 

4.4 

使用負荷種別 

使用負荷種別は，使用する用途を明確にし，かつ，個別規格で規定する。使用負荷種別は，次の使用条

件の一つ又はそれ以上によって表す。 

− 電流：定格使用電流の倍数として表す。 

− 電圧：定格使用電圧の倍数として表す。 

− 力率又は時定数 

− 短絡性能 

− 選択度 

− その他の使用条件（適用する場合。） 

低電圧開閉装置及び制御装置に関する使用負荷種別の例を，附属書Aに示す。 

4.5 

制御回路 

4.5.1 

電気又は電子制御回路 

電気及び電子制御回路の特性は，次による。 

− 電流の種類 

− 定格周波数又は直流 

− 定格制御回路電圧Uc（交流・直流の別） 

− 定格制御回路電源電圧Us（交流・直流の別）（適用する場合。） 

− 外部制御回路機器（接点，センサ，光カプラ，電子式能動素子など）の特性 

− 消費電力 

注記 定格制御回路電圧Ucと定格制御回路電源電圧Usとを区分する。Usは，内蔵変圧器，整流器，

抵抗器，電子回路要素などがあるためUcとは異なる。 

正規の使用条件は，制御回路電流が最大値の状態で，その定格値Usの85 %〜110 %の制御回路電源電圧

の値に基づく。 

電子的に制御する電磁石の電子部品は，それが機器の固有の機能であるなら，一体部品又は別部品を形

成してもよい。どちらの場合も，機器は標準使用状態で取り付けられたこの電子部品とともに試験しなけ

ればならない。 

異なる制御回路形態の例を，附属書Uに示す。 

制御回路装置の定格及び特性は，JIS C 8201-5の規格群及びIEC 60947-5の規格群の要求事項に合致し

なければならない。 

4.5.2 

空気供給制御回路（空気式又は電気空気式） 

空気供給制御回路の特性は，次による。 

− 定格圧力及びその限度 

− 各々の開動作及び閉動作に要求する大気圧での空気の量 

空気式又は電気空気式装置の定格供給圧力は，空気式制御システムの動作特性が定められている空気圧

とする。 

4.6 

補助回路 

補助回路の特性は，JIS C 8201-5の規格群及びIEC 60947-5の規格群による，各々の回路中の接点の数

39 

C 8201-1：2020  

及び種類（a接点，b接点など）並びにそれらの定格とする。 

補助接点及び補助スイッチの特性は，JIS C 8201-5の規格群及びIEC 60947-5の規格群の要求事項に合

致しなければならない。 

4.7 

リレー及び引外し装置 

リレー及び引外し装置に関わる次の特性は，個別規格で規定する。 

− 形式 

− 定格値 

− 電流設定又は電流設定範囲 

− 時間−電流特性（時間−電流特性の表示については4.8参照。） 

− 周囲温度の影響 

− 附属書Tで規定する拡張機能 

4.8 

短絡保護装置（SCPD）との協調 

製造業者は，SCPDとの協調をする場合には，装置又は装置内で用いる短絡保護装置の形式又は特性，

及び短絡保護装置を含めて指定した使用電圧で適合する最大推定短絡電流を示さなければならない。 

注記1 IEC/TR 61912-1は，SCPDsとの協調のガイダンスを記載している。 

注記1A 一般に我が国では，一般社団法人日本電気協会発行の保護協調グラフを用いている。 

4.9 

開閉過電圧 

製造業者は，個別規格で要求する場合，開閉機器の動作によって発生する開閉過電圧の最大値を指定し

なければならない。 

この値は，定格インパルス耐電圧の最大値を超えてはならない（4.3.1.3参照）。 

5 

製品情報 

5.1 

情報の性質 

製造業者は，個別規格で要求する場合，次の情報を提供しなければならない。 

a) 明示事項 

− 製造業者の名称又は商標 

− 形式又は製造番号 

− 製造業者が適合性を主張する場合は，個別規格の番号 

b) 特性 

− 定格使用電圧（4.3.1.1参照） 

− 装置の定格使用電圧における使用負荷種別及び定格使用電流（又は定格電力若しくは定格連続電流）。

場合によって，この情報は装置が校正された基準周囲温度の値によって達成できてもよい（4.3.1.1，

4.3.2.3，4.3.2.4及び4.4参照）。 

− 定格周波数の値，例えば，50 Hz，50 Hz/60 Hz及び／又は“d.c.”，若しくは記号   の表示。 

− 定格責務，場合によっては間欠責務の等級の表示（4.3.4参照） 

− 定格投入容量及び／又は遮断容量。これらの表示は，適用する場合，使用負荷種別の表示によって

置き換えてもよい。 

− 定格絶縁電圧（4.3.1.2参照） 

− 定格インパルス耐電圧（4.3.1.3参照） 

− 開閉過電圧（4.9参照） 

40 

C 8201-1：2020  

− リレー又は引外し装置の特性（4.7参照） 

− その持続時間も含めた定格短時間耐電流（4.3.6.1参照）（適用する場合） 

− 定格短絡投入容量及び／又は定格短絡遮断容量（4.3.6.2及び4.3.6.3参照）（適用する場合） 

− 定格条件付短絡電流（4.3.6.4参照）（適用する場合） 

− 箱入装置の場合，IPコード（附属書C参照） 

− 汚損度（6.1.3.2参照） 

− 短絡保護装置の形式及び最大定格（適用する場合） 

− 感電保護の等級（JIS C 0365:2007参照）（適用する場合） 

− 定格制御回路電圧，電流の種類及び周波数 

− 制御コイルの電圧と異なる場合は，制御回路電源電圧，電流の種類及び周波数 

− （空気圧式制御装置に対しては）空気圧の定格供給圧力及び圧力変化の限度 

− 断路に対する適合性 

− 開閉機器の極インピーダンス（Z） 

− 材料宣言書（附属書W） 

− 端子に導体を挿入する前に除去する絶縁被覆の長さ 

− クランプしてもよい導体の最大数 

c) 非ユニバーサルねじなし端子に対する表示 

− “s”又は“sol”：硬質単線導体用と宣言する端子 

− “r”：硬質（単線及びより線）導体用と宣言する端子 

− “f”：可とう導体用と宣言する端子 

電子的に制御する電磁石の場合，例えば，制御回路構成のように他の情報が必要な場合がある（4.5及び

附属書U参照）。 

注記 a)〜c)以外の情報を提供してもよい。 

5.2 

表示 

5.1に詳細規定した中で，装置に表示する全ての関連情報は，個別規格に規定する。 

表示は消えにくく，かつ，容易に読めなければならない。 

製造業者の名称又は商標，及び形式又は製造番号を，装置上に，可能な場合は銘板に表示することは，

製造業者の全てのデータを得ることを可能とするために，必須である。 

次の情報も表示し，取付け後に見えなければならない。 

− 操作部の動作の方向（7.1.5.2参照）（適用する場合。） 

− 操作部の位置の表示（7.1.6.1及び7.1.6.2参照） 

− 承認又は認証マーク（適用する場合。） 

− 小形化した装置の場合，シンボル，色記号又は文字記号 

− 端子の識別及び表示（7.1.8.4参照） 

− IPコード及び感電に対する保護等級（可能な限り装置上に表示）（適用する場合。） 

− 断路に対する適合性について，適用する場合，装置に対して，断路機能のJIS C 0617-7:2011の記号

07-01-03に，適切な機能の記号を組み合わせて完成させてもよい。 

例えば， 

断路に適した回路遮断器 

断路用開閉器 

この記号は，次による。 

41 

C 8201-1：2020  

・ 明確に，かつ，誤認しないように表示する。 

・ 装置を通常の使用状態に取り付け，操作するときに，見えなければならない。 

この要求事項は，装置が7.1.11による箱入りか，箱入りではないかにかかわらず適用する。 

この要求事項は，記号を結線図に表示し，この結線図が断路に対する適合を示す唯一の表示の場合でも

適用できる。 

電子制御する電磁石の場合，5.1で規定する以外の情報が必要なことがある（4.5及び附属書U参照）。 

装置には，非ユニバーサルねじなし端子に対する“s”，“sol”，“r”又は“f”を表示しなければならない。

表示スペースが十分でない場合，最小の包装単体上に又は製品に附属する技術情報に表示する。 

まとめて配置する端子群の場合，装置上への1か所の表示は許容する。 

5.3 

取付け，操作及び保守に関わる指示 

製造業者は，操作中及び故障後の装置の設置，操作及び保守に対する条件がある場合，文書又はカタロ

グに明記しなければならない。製造業者は，また，電磁両立性（EMC）に関して取る対策がある場合，そ

れを明示しなければならない。 

環境A（7.3.1参照）だけに適合する装置に対して，製造業者は，これから製品を使用する可能性がある

顧客への情報として役立ち，及び使用者のために製品とともに次の文書を準備しなければならない。 

注意 

この製品は，環境Aに対して設計しています。この製品を環境Bで使用する場合，不必要な

電磁妨害を起こす可能性があるため，使用者が適切な軽減対策を講じる必要があります。 

必要な場合，装置の輸送，取付け及び操作に関する指示書は，装置の適切で，適切な取付け，取扱い及

び操作に関する特に重要な方法を指示する。 

これらの文書には，保守の推奨範囲及び周期を表示する。 

注記 この規格の対象となる全ての装置は，必ずしも保守できるように設計する必要はない。 

5.4 

環境情報 

環境情報としての材料宣言書（附属書W）は，関連する個別規格に指示がある場合，提供しなければな

らない。 

設備全体のエネルギー効率を改善するために，製造業者は，エネルギー管理を，エネルギー消費する負

荷の計測，監視及び制御によって行い，設備のエネルギー消費を最適化する手引（附属書V参照）を提供

することができる。 

6 

標準使用，取付け及び輸送条件 

6.1 

標準使用条件 

この規格に適合する装置は，6.1.1〜6.1.4に示す標準状態の下での動作が可能でなければならない。 

注記 特殊使用条件については，附属書B参照。この場合，受渡当事者間の協定が必要となる場合が

ある。 

6.1.1 

周囲温度 

周囲温度は，40 ℃以下で，かつ，24時間の平均が35 ℃を超えてはならない。 

周囲温度の下限は，−5 ℃とする。 

周囲温度は，エンクロージャがない場合は装置の周辺，エンクロージャがある場合はエンクロージャ近

42 

C 8201-1：2020  

辺の温度とする。 

注記1 40 ℃を超える周囲温度（例えば，鍛造工場，ボイラ室，及び熱帯地方の国々）又は−5 ℃よ

り低い周囲温度（例えば，IEC 61439の規格群では，−25 ℃として要求している。）で用い

る装置は，適用する場合，個別規格によって，又は受渡当事者間の協定によって設計又は使

用する。製造業者のカタログによる情報は，このような協定に置き換えられる。 

注記2 例えば，回路遮断器又はスタータ用の過負荷リレーのような特定の装置に対する周囲温度は，

個別規格で規定する。 

6.1.2 

標高 

据付場所の標高は，2 000 m以下とする。 

注記 更に高い標高で用いる装置に対しては，絶縁耐力の低下及び空気の冷却効果の低下を考慮する

ことが必要である。これらの条件で用いる電気装置は，受渡当事者間の協定によって設計又は

使用する。 

6.1.3 

雰囲気 

6.1.3.1 

湿度 

空気中の相対湿度は，最高温度が40 ℃で85 %を超えてはならない。例えば，20 ℃で90 %のように，

低い温度では相対湿度が，より高くなってもよい。温度変化によって結露及び氷結が生じる場合，特別な

手段が必要である。 

注記 6.1.3.2に規定する汚損度で，環境条件を更に詳細に定義している。 

6.1.3.2 

汚損度 

汚損度（2.5.58参照）は，装置を用いる環境条件に関係する。 

注記1 沿面距離又は空間距離のミクロ環境が絶縁への影響を決定し，装置の環境が決定するのでは

ない。ミクロ環境は，装置の環境よりよいことも，悪いこともある。これは，例えば，気候

条件，電磁的条件，汚損の発生などのような，絶縁に影響を及ぼす全ての要因を含んでいる。 

エンクロージャの内部で用いる装置又は一体形エンクロージャをもつ装置に対しては，エンクロージャ

内の環境の汚損度を適用する。 

沿面距離及び空間距離を評価する目的に対しては，次の四つのミクロ環境の汚損度が確立している（異

なる汚損度ごとの沿面距離及び空間距離を，表13及び表15に示す。）。 

− 汚損度1：汚損がない，又は乾燥した非導電性の汚損だけが生じる。 

− 汚損度2：通常，非導電性の汚損だけが生じる。ただし，まれに結露によって一時的な導電性の汚損

が生じることがある。 

− 汚損度3：導電性の汚損が生じる，又は結露のために導電性になる乾燥した非導電性の汚損が生じる。 

− 汚損度4：例えば，導電性じんあい（塵埃），雨又は雪が引き起こす持続的な導電性汚損が生じる。 

工業用途の標準汚損度は，個別規格に規定がない場合，工業用途の装置には，一般的に汚損度3を適用

する。ただし，特別用途又はミクロ環境に応じて別の汚損度を適用してもよい。一体形エンクロージャ内

では，コーティングした場合は汚損度2を，ポッティングした場合は汚損度1を適用する。 

注記2 装置に対するミクロ環境の汚損度は，エンクロージャ内へ据え付けることによって影響され

ることがある。 

住宅用及び類似用途の標準汚損度は，個別規格に規定がない場合，住宅用及び類似製品には，一般的に

汚損度2を適用する。一体形エンクロージャ内でポッティングした場合は，汚損度1を適用する。 

43 

C 8201-1：2020  

6.1.4 

衝撃及び振動 

装置に関する衝撃及び振動の標準条件は，検討中である。 

6.2 

輸送中及び保管中の条件 

輸送中及び保管中の条件は，例えば，温度及び湿度が6.1の規定と異なる場合には，受渡当事者間で特

別な協定を取り交わす必要がある。ただし，ほかに規定がない限り，周囲温度は−25〜55 ℃，及び24時

間を超えない短期間では70 ℃までを適用する。また，結露及び氷結があってはならない。 

運転していない状態でこれらの極端な温度にさらされた装置は，回復できないようないかなる損傷も受

けてはならない。また，標準使用条件の下で正常に動作しなければならない。 

6.3 

取付け 

装置は，製造業者の指示書に従って取り付けなければならない。 

7 

構造及び性能に関する要求事項 

7.1 

構造に関する要求事項 

7.1.1 

一般 

エンクロージャをもつ装置は，そのエンクロージャが一体形又は一体形でないかにかかわらず，通常の

使用の間に発生するストレスに耐える設計及び構造でなければならない。さらに，異常な加熱又は火災に

対する耐性を規定した等級をもたなければならない。 

一体形ではないエンクロージャの材料に対するグローワイヤの要求は，関連規格（例えばIEC 62208）

による。 

注記 製品ライフの全ての段階において，自然環境への影響を低減する必要が認識されている。JIS C 

8201の個別規格に関連する製品に関わる環境面での配慮は，附属書Oに示す。 

7.1.2 

材料 

7.1.2.1 

材料の一般要求事項 

絶縁材料の部品は，装置内で電気的影響による熱ストレスを受ける場合，異常過熱及び火災によって悪

影響を受けてはならない。 

製造業者は，7.1.2.2又は7.1.2.3のいずれかの試験を選択するか示す必要がある。 

7.1.2.2 

グローワイヤ試験 

用いる材料の適合性の評価は，次のいずれかによる。 

a) 装置に対して試験する。 

b) 装置から取った一部に対して試験する。 

c) 代表的な厚さをもつ同一材料の幾つかの部品に対して試験する。 

d) 絶縁材料の製造業者から提供されたJIS C 60695-2-12による要求事項を満たすデータ。 

適合性の判定は，異常な過熱及び火災に対する耐性による。 

製造業者は，a)，b)，c)及びd)の中で，どの手法を用いるかを示す。 

同一断面積をもつ同一材料の供試品が，既に8.2.1のいずれかの試験を満足している場合は，その試験

（8.2.1の試験）を行う必要はない。 

装置に対する試験は，JIS C 60695-2-10:2004及びJIS C 60695-2-11:2004によるグローワイヤ試験を最終

製品で実施する。 

通電部品を保持する必要がある絶縁材料部品は，8.2.1.1.1のグローワイヤ試験で，想定する火災の危険

性に対する試験温度が850 ℃，又は960 ℃に適合しなければならない。個別規格においては，JIS C 

44 

C 8201-1：2020  

60695-2-11:2004の附属書Aを考慮して，製品に対して適切な値を規定する。 

上記に示す以外の絶縁材料部品は，8.2.1.1.1のグローワイヤ試験で，試験温度が650 ℃に適合しなけれ

ばならない。 

注記 JIS C 60695-2-11:2004に規定する小部品に対しては，個別規格で別の試験を規定してもよい（例

えば，JIS C 60695-11-5に従って行うニードルフレーム試験）。金属部分が絶縁材料に比べて大

きい場合（端子台の場合。），ほかの実用上の理由によって同じ手順を適用してもよい。ニード

ルフレーム試験は，船舶用途の難燃性に対応する代替試験として用いられる。 

7.1.2.3 

燃焼性分類に基づく試験 

絶縁材料部品に対して，ホットワイヤ着火試験（HWI）及び適用する場合は，8.2.1.1.2で規定するアー

ク着火試験（AI）は，燃焼性分類に基づいていなければならない。 

材料試験は，附属書Mに従って行う。ホットワイヤ着火試験（HWI）及びアーク着火試験（AI）の材料

の燃焼性分類に関しての試験の要求値は，表M.1又は表M.2に規定する。 

代わりに，製造業者は，附属書Mに規定する要求事項を満たす，絶縁材料の製造業者からのデータを提

供してもよい。 

7.1.3 

通電部及び接続 

通電部は，通常使用に対し，必要な機械的強度及び通電容量をもたなければならない。 

電気的接続における接触圧力は，セラミックス又は適合した特性をもつ材料以外の絶縁材料を介して加

えてはならない。ただし，絶縁材料の収縮又はひずみを補うために，金属部に，十分な弾性をもたせてい

る場合を除く。 

適合性は，個別規格に従って，検査及び試験シーケンスを行うことによって判定する。 

7.1.4 

空間距離及び沿面距離 

7.1.4.1 

一般 

この規格の8.3.3.4に従って試験する装置に対して，空間距離及び沿面距離の最小値を，表13及び表15

に示す。 

定格絶縁電圧が300 V以下及び定格電流が100 A以下の装置で定格インパルス耐電圧を表示しない装置

に対しては，空間距離及び沿面距離の最小値を，附属書JAに示す。 

電気的要求事項は，7.2.3に規定する。 

その他の場合の最小値は，個別規格で規定する。 

注記 リスクレベル（危害の程度及び発生確率）に応じて，標準使用条件（6.1参照）又は単一故障状

態（JIS C 0365:2007の4.2，7.1.10及び附属書N）において，危険な充電部分への接近ができな

いよう考慮される。 

7.1.4.2 

沿面距離に対する絶縁バリア 

沿面距離の規定値に適合させるための絶縁バリアとして，固体絶縁物を用いる場合，その材料は，7.1.2.2

に規定するグローワイヤ試験の要求事項又は7.1.2.3に規定する燃焼性試験の要求事項に適合しなければ

ならない。 

7.1.4.3 

空間距離に対する絶縁バリア 

空間距離の規定値に適合させるための絶縁バリアとして，固体絶縁物を用いる場合であって，固体絶縁

物が関係する絶縁されていない部品の相対的な位置を物理的に支持又は保持していない場合，そのバリア

の材料は，7.1.2.2に規定するグローワイヤ試験の要求事項に適合し，8.2.1.1.1に規定するグローワイヤ試

験で，試験温度が650 ℃又は表M.2のAI値に適合しなければならない。また，その代替として，その材

45 

C 8201-1：2020  

料は7.1.4.2の要求事項に適合しなければならない。 

7.1.5 

操作部 

7.1.5.1 

絶縁 

装置の操作部は，定格絶縁電圧及び適用する場合，定格インパルス耐電圧に対し，充電部から絶縁しな

ければならない。 

さらに，次による。 

− 金属製の場合には，信頼性のある追加絶縁をもたない限り，保護導体に確実に接続しなければならな

い。 

− 絶縁材料の場合，又は絶縁材料で覆われている場合は，絶縁破壊のときに，接触するおそれがある全

ての内部の金属部も定格絶縁電圧に対して，充電部から絶縁しなければならない。 

7.1.5.2 

動作方向 

操作部の動作方向は，通常，JIS C 0447:1997の要求事項に適合しなければならない。装置が，例えば，

特別な適用をするとき又は逆の取り付けが可能なときのように，JIS C 0447:1997の要求事項を満足しない

場合は，装置には“｜”位置及び“○”位置，並びに動作方向に関して明確になるような表示をしなけれ

ばならない。 

7.1.6 

接点位置の表示 

7.1.6.1 

表示手段 

装置が開路位置及び閉路位置の表示手段をもつ場合，明確にこれらの位置を表示しなければならない。 

注記 箱入装置の場合には，表示は外側から見えても，見えなくてもよい。 

これは，位置表示によって行われる（2.3.18参照）。 

個別規格で，装置が位置表示を備えているかどうかを規定してもよい。 

シンボルを用いる場合には，IEC 60417に従って，開及び閉の位置を示す。 

IEC 60417-5007    オン（On）（電源） 

IEC 60417-5008    オフ（Off）（電源） 

閉位置を文字で表示する場合は，“オン（On）”又は“入”によって表示する。開位置を文字で表示する

場合は，“オフ（Off）”又は“切”によって表示する。2個の押しボタンで操作する装置は，開操作用とし

ての押しボタンだけを赤，シンボル“○”又は“オフ（Off）”若しくは“切”の文字で表示する。 

赤は，ほかのいかなる押しボタンにも用いてはならない。 

ほかの押しボタン，照光式押しボタンスイッチ及び表示ランプの色は，IEC 60073:2002による。 

7.1.6.2 

操作部による表示 

接点の位置を示す手段に操作部も用いる場合，引き外したとき，可動接点に対応する位置に自動的に移

動又は停止しなければならない。 

この場合の操作部は，可動接点に対応する，二つの別々の停止位置をもっていなければならない。ただ

し，自動開放に対しては，操作部の第三の別な位置を備えていてもよい。 

7.1.7 

断路（アイソレーション）に適した装置に対する追加要求 

7.1.7.1 

追加構造要求 

注記1 （対応国際規格の注記1は，北米独自の内容のため，この規格では適用しない。） 

断路に適した装置は，開路位置（2.4.21参照）において，断路機能（7.2.3.1及び7.2.7参照）を満足する

46 

C 8201-1：2020  

のに必要な要求事項による断路距離をもたなければならない。主接点の位置表示は，次に示す方法のいず

れか一つ又はそれ以上をもたなければならない。 

− 操作部の位置 

− 分離した機械式表示装置 

− 全ての可動主接点位置が見える構造 

装置がもつ各々の表示手段の有効性及び機械的強度は，8.2.5によって検証する。 

開路位置において装置をロックするために，製造業者が準備し，又は指定した場合，その位置における

ロックは，主接点が開路位置にあるときに限って可能でなければならない。これは8.2.5によって検証す

る。適切な接点位置の表示及びロックを確実にするため，操作部，表板又はカバーを装置に取り付けるよ

うな構造でなければならない。 

注記2 閉路位置におけるロックは，特定の適用に対して認める。 

注記3 補助接点をインタロックのために設けている場合，製造業者は，補助接点及び主接点の動作

時間を記載する。更なる仕様要求は，個別規格で規定してもよい。 

開路位置の表示は，接点間の規定の断路距離を保証する唯一の位置とする。 

“引外し位置”又は“待機位置”のように，開路位置ではない位置を表示する機器は，それらの位置を

明確に確認できるものとする。開路位置ではない位置に用いる記号は，“|”又は“○”を含まないもので

なければならない。 

一つの停止位置だけをもつ操作部は，主接点の位置表示に用いてはならない。 

7.1.7.2 

電磁接触器又は回路遮断器との電気的インタロックをもつ装置に対する追加要求 

断路に適した装置が，接触器又は回路遮断器との電気的インタロックの目的で補助スイッチをもち，か

つモータ回路で用いる場合，装置がAC-23の使用負荷種別の定格を満足しないときは，次の要求を適用し

なければならない。 

補助スイッチは，JIS C 8201-5-1:2010に従って，製造業者が指定した定格とする。 

装置の主極が開路する前に，連動する接触器又は回路遮断器が電流を確実に遮断するために，補助スイ

ッチの接点の開極及び主接点の開極動作の時間差は，十分でなければならない。 

開極動作の時間差が製造業者の技術資料に記載していない場合は，その時間差は，製造業者の取扱説明

書に従って，装置を操作したときに20 ms以上でなければならない。 

製造業者の取扱説明書に従って操作した場合，無負荷状態で補助スイッチが開路したときと主極が開路

したときとの時間差を測定することによって，適合性を検証する。 

閉路動作中，補助スイッチの接点は，主接点より遅いか又は同時に閉路する。また，開極動作の適切な

時間差は，インタロック接点が開路状態，及び主極が閉路状態であるような中間の位置（ONとOFFとの

間）によって与えられてもよい。 

7.1.7.3 

開路位置でパドロックする手段をもつ装置に対する追加要求 

ロック手段は，取り付ける専用パドロックとともに取り外すことがないような構造でなければならない。

装置を1個だけのパドロックでロックしている場合，操作部の動作によって，開路接点間の空間距離が

7.2.3.1 a) 2)に規定する値を満足できない範囲まで減少してなならない。 

別の方法として，操作部へのアクセスを妨害するパドロック手段をもってもよい。 

操作部をパドロックする要求事項の適合性は，製造業者が指定するパドロック又はロック状態を模擬し

て最悪の状態を再現する等価ゲージを用いて検証する。装置を開路位置から閉路位置へ動作する操作中に，

8.2.5.2.1に規定する操作力Fを操作部に適用する。操作力Fを適用している間，装置には開路接点間に試

47 

C 8201-1：2020  

験電圧を印加する。装置は，表14による定格インパルス耐電圧に応じた試験電圧に耐えなければならな

い。 

7.1.8 

端子 

7.1.8.1 

構造的要求 

接触を維持し，電流を流す端子は，全ての部分において，適切な機械的強度がある金属製でなければな

らない。 

端子接続は，必要な接触圧が維持できるように，導体を接続するための力が，ねじ，ねじなし式又は他

の同等な手段によって加えられるものでなければならない。 

端子は，導体又は端子のいずれも有害な損傷を受けてはならない。また，適切な表面に導体を締付けら

れるような構造でなければならない。端子は，装置の動作に害を与えるように導体を移動させたり，又は

端子自身が移動したりしてはならない。また，絶縁電圧は，定格値より小さくなってはならない。 

適用上必要な場合，端子と導体とは，銅導体用のケーブルラグによって接続してもよい。 

注記1 装置のスタッド端子を直接接続するのに適したラグ端子の外形寸法例を，附属書Pに示す。 

製造業者が特に指定しない限り，ねじなし式締付具は，表1に示す硬質及び可とう導体に対応できなけ

ればならない。 

ねじなし式締付具について，導体の接続又は取外しは，次のように行わなければならない。 

− ユニバーサル締付具の場合，一般用途の工具又は使いやすい装置の使用によって締付具を開き，導体

の挿入又は引出しを行う。 

− 単純な挿入による差込締付具の場合，導体の接続の取外しは，導体に対して単に引く以外の操作が必

要である。一般用途の工具又は使いやすい装置の使用によって締付具を開き，導体の挿入又は引出し

を補助してもよい。 

端子の例を，附属書Dに示す。 

この細分箇条の要求事項は，適用できるものとして，8.2.4.2〜8.2.4.4の試験で確認する。 

注記2 （対応国際規格の注記2は，北米独自の内容のため，この規格では適用しない。） 

7.1.8.2 

接続容量 

製造業者は，端子に適している導体部の形式［硬質性のもの（単線又はより線）又は可とう性があるも

の］，最大及び最小断面積，並びに適用可能な場合には，端子に同時に接続可能な導体の数をカタログなど

に記載する。ただし，最大断面積は，8.3.3.3に規定する値以上でなければならない。端子は，表1に規定

する2段階以上小さいサイズの同じ形式［硬質性のもの（単線又はより線）又は可とう性があるもの］の

導体が接続可能なものとする。また，表1Aに規定する公称断面積を適用する場合で，電線を直接取り付

ける構造のものは，表1Bに規定する電線が容易に，かつ，確実に接続できなければならない。 

注記1 最小値より小さい導体の断面積を，異なる個別規格で規定してもよい。 

注記2 電圧降下及びほかの条件によって，温度上昇試験に規定しているものより大きい導体の断面

積に適合する端子を個別規格で規定してもよい。導体断面積と定格電流との関係は，個別規

格で規定してもよい。 

銅の円形導体の断面積標準値は，表1又は表1Aによる。 

7.1.8.3 

接続 

外部導体への接続端子は，据付け時に容易に接続できなければならない。 

締付けねじ及びナットは，端子を定位置に保持する又は回転を防ぐために用いてもよいが，ほかの部品

を固定するために用いてはならない。 

48 

C 8201-1：2020  

7.1.8.4 

端子の識別及び表示 

端子は，個別規格に規定がない場合，IEC 60445及び附属書Lによって明確に，また，恒久的に識別で

きるものとする。ただし，製造業者による情報（カタログ，取扱説明書など）によってもよい。 

中性導体用に限定している端子は，IEC 60445に従って，文字記号Nを用いなければならない。 

保護接地端子は，7.1.10.3によって識別しなければならない。 

7.1.9 

中性極付装置の追加要求事項 

装置が中性点だけに接続するように意図した極をもつ場合，この極は，“N”（7.1.8.4参照）の文字を用

いて，明確に表示しなければならない。 

開閉する中性極は，ほかの極より前に開路してはならず，ほかの極より後に閉路してはならない。 

適切な投入容量及び遮断容量（2.5.14及び2.5.15参照）をもつ極が中性極として用いられた場合，構造

上中性極を含む全ての極が実質上同時に動作してもよい。 

注記 中性極には，過電流引外し装置を取り付けてもよい。 

63 A以下の開放熱電流（大気中又はエンクロージャ内）（4.3.2.1及び4.3.2.2参照）の装置では，その値

は全ての極に対して同じものとする。 

63 Aを超える通電容量の装置では，中性極の通電容量は，ほかの極と異なる通電容量であってもよい。

ただし，電圧極の通電容量の値の半分又は63 Aのいずれか高い方の値以上とする。 

7.1.10 保護接地に関する規定 

7.1.10.1 構造に関する要求事項 

露出導電部（シャーシ，枠組，金属のエンクロージャの固定部など）は，危険が生じない部分を除き，

電気的に相互接続し，かつ，接地電極又は外部保護導体に接続するための保護接地端子に接続しなければ

ならない。 

この要求事項は，十分な電気的連続性を与える通常の構造部品によって満たすことが可能で，装置をそ

れ自体で用いる場合にも又は盤に組み込む場合にも適用する。 

注記 必要に応じて，要求事項及び試験を，個別規格で規定してもよい。 

露出導電部を大きな範囲で接触することができないような場合，露出導電部を手で握ることができない

ような場合，露出導電部が小さい寸法（約50 mm×50 mm）であるような場合又は露出導電部に接触する

ことができない配置にしている場合には，露出導電部は危険を生じないものとみなす。 

例としては，大きさに関係なく，ねじ，リベット，銘板，変圧器の鉄心，開閉機器の電磁石，引外し装

置などの特殊部品がある。 

7.1.10.2 保護接地端子 

保護接地端子は，取り扱いやすく，また，接地電極又は保護導体への装置の接続がカバー又は取外し可

能な部品を外すときにも，保持できるように配置しなければならない。 

保護接地端子は，さびに対して適切に保護しなければならない。 

導電性構造物，エンクロージャなどをもつ装置の場合，必要に応じて，装置の露出導電部と接続導体の

金属シースとの間で，導通を確実にする手段を講じなければならない。 

保護接地端子は，PEN導体（2.1.15の注記参照）の接続を意図する場合を除き，ほかの機能をもっては

ならない。この場合には，保護接地端子に対して，適切に要求事項を満たし，更に，中性端子としての機

能をもたなければならない。 

7.1.10.3 保護接地端子の表示及び識別 

保護接地端子は，次の事項を明確に，恒久的に表示していなければならない。 

49 

C 8201-1：2020  

表示の識別は，色（緑−黄色のマーク），IEC 60445の5.3による記号PE若しくは適用が可能な場合，

PEN，又は装置に用いる図記号で行う。用いる図記号は，IEC 60417の記号5019で表示しなければならな

い。 

IEC 60417-5019 

保護接地 

注記 以前に用いていたIEC 60417-5017  は，IEC 60417-5019に徐々に置き換える。 

7.1.11 装置のエンクロージャ 

7.1.11.1及び7.1.11.2は，装置とともに用いるように意図したエンクロージャ又は供給されたエンクロー

ジャだけに適用する。 

7.1.11.1 設計 

エンクロージャは，それが開かれ，ほかの保護手段を取り外したとき，据付け及び保守作業のために接

近を必要とする全ての部品は，製造業者の指示どおりに簡単に接近できるように設計する。 

エンクロージャの内部には，外部導体を導入口から内部へ引き込み，端子に確実に接続できるように十

分な空間を設ける。 

金属のエンクロージャの固定部は，装置のほかの露出導電部と電気的に接続して，それらを接地するか

又は保護導体の端子へ接続しなければならない。 

エンクロージャの取外し可能な金属部品は，定位置に配置しているときには，いかなる事情にかかわら

ず，接地端子を接続する部品から絶縁してはならない。 

エンクロージャの取外し可能な金属部品は，装置の動作又は振動の影響のため偶発的に緩んだり外れた

りしないように固定部に確実に固定しなければならない。 

エンクロージャが，工具を用いずにカバーを開けることが可能な構造の場合には，締付部品の紛失を防

ぐ手段を施さなければならない。 

一体化したエンクロージャは，取外しできない部品とみなす。 

エンクロージャに押しボタンを装着する場合，押しボタンの取外しは，エンクロージャの中側からでな

ければならない。外側からの取外しは，この目的のために準備した工具を用いるときだけでなければなら

ない。 

7.1.11.2 絶縁 

金属エンクロージャと充電部との偶発的な接触を避けるために，絶縁材でエンクロージャを部分的又は

完全に内貼りする場合，この内貼りは，確実にエンクロージャに取り付ける。 

7.1.12 箱入装置の保護等級 

箱入装置の保護等級及び関連する試験は，附属書Cに規定する。 

7.1.13 金属電線管の引張強度，ねじり強度及び曲げ強度 

ねじを切った電線管用の口をもった合成樹脂製の装置のエンクロージャであって，IEC 60981:2004によ

る特別な重責務の硬質ねじ切り金属電線管を接続する装置は，取付け中に発生するストレス，例えば，引

張り，ねじり及び曲げに耐えなければならない。 

適合性は，8.2.7の試験によって検証する。 

7.2 

性能に関する要求事項 

7.2.1〜7.2.8は，個別規格に規定がない場合，清浄な新しい装置に適用する。 

50 

C 8201-1：2020  

7.2.1 

操作又は動作条件 

7.2.1.1 

一般 

投入容量及び遮断容量が操作者の熟練度に依存する直接手動操作のものは，製造業者の取扱説明書又は

個別規格に従って操作しなければならない。 

7.2.1.2 

動力操作装置の動作限界 

個別規格に規定がない場合，電磁式及び電気空気式装置は，定格制御回路電源電圧Usの85〜110 %及び

周囲温度範囲が−5〜40 ℃の間で閉路できなければならない。 

この制限値は，交流又は直流のいずれでも適用する。 

個別規格に規定がない場合，空気式及び電気空気式装置の供給空気圧力の限界値は，定格圧力の85 %及

び110 %とする。 

動作範囲をもつ場合には，85 %の値は範囲の下限値に，また，110 %の値は範囲の上限値に適用する。 

注記 ラッチ式装置については，動作限度は，受渡当事者間の協定が必要である。 

電磁式及び電気空気式装置の開放電圧は，定格制御回路電源電圧Usの75 %以下（直流及び交流）とし，

直流の場合はUsの10 %以上，交流の場合は定格周波数でUsの20 %以上でなければならない。 

電子制御された電磁石をもつ機器が開放し，完全に開く間の電圧の限界値は，次による。 

− 直流の場合：定格制御回路電源電圧Usの75 %を上限とし，10 %を下限とする。 

− 交流の場合：定格制御回路電源電圧Usの75 %を上限とし，20 %を下限とする。ただし，製造業者が

指定する場合，定格制御回路電源電圧Usの75 %を上限とし，10 %を下限とする。 

空気式及び電気空気式装置は，個別規格に規定がない場合，定格圧力の10〜75 %の間の圧力で開路でき

なければならない。 

動作範囲をもつ場合，その場合に応じて20 %又は10 %の値は範囲の上限に対して適用し，75 %の値は

範囲の下限に対して適用する。 

コイルの場合，コイル回路の抵抗が−5 ℃で得られる抵抗と等しいときに，限界開放値を適用する。 

これは，通常の周囲温度で得られる値に基づき計算で確かめてもよい。 

特殊な適用に対しては，開放時間を指定してもよい。この場合，開放時間は，この細分箇条（7.2.1.2）

の検証と組み合わせた試験の間に測定する。 

7.2.1.3 

不足電圧リレー及び引外し装置の動作範囲 

不足電圧リレー及び引外し装置の動作範囲は，次による。 

a) 動作電圧 不足電圧リレー又は引外し装置は，開閉機器に装着している場合，緩やかに降下する電圧

の場合にも，定格電圧の70〜35 %の範囲内で装置を開路できなければならない。 

注記 無電圧引外し装置は，定格電源電圧の35〜10 %を動作電圧とする不足電圧引外し装置の特殊

形である。 

不足電圧リレー又は引外し装置は，電源電圧がリレー又は引外し装置の定格値の35 %未満であると

きには装置が閉路できてはならない。装置は，定格値の85 %以上の電源電圧で閉路できなければなら

ない。個別規格に規定がない場合，電源電圧の上限は，定格値の110 %でなければならない。 

ここでの規定値は，直流及び定格周波数の交流に同じように適用する。 

b) 動作時間 時延形不足電圧リレー又は引外し装置については，時間遅れは，動作電圧に達した瞬間か

ら，そのリレー又は引外し装置が装置の引外し機構を起動させる瞬間までの計測時間とする。 

7.2.1.4 

電圧引外し装置の動作範囲 

開路用電圧引外し装置は，引外し動作中に計測した電圧引外し装置の電源電圧が定格制御回路電源電圧

51 

C 8201-1：2020  

の70〜110 %の間にあって，また，交流の場合には定格周波数であるとき，装置のあらゆる動作条件の下

で引外しができなければならない。 

7.2.1.5 

電流動作形リレー及び引外し装置の動作範囲 

電流動作形リレー及び引外し装置の動作範囲は，個別規格で規定する。 

注記 電流動作形リレー及び引外し装置の用語は，過電流リレー及び引外し装置，過負荷リレー及び

引外し装置，並びに逆電流リレー及び引外し装置を含む。 

7.2.2 

温度上昇 

装置に取り付けている部品の温度上昇は，8.3.3.3に規定する条件で試験中に測定する。温度上昇は，こ

の細分箇条に規定する値を超えてはならない。 

表2及び表3に規定する値は，清浄な条件で試験する新しい装置に適用する。異なる試験条件及び小形

の部品に対し，個別規格に異なった値を規定してもよい。ただし，10 Kを超えてはならない。 

注記1 通常使用中の温度上昇は，取付条件及び接続導体の大きさによって試験値と異なってもよい。 

注記2 対応国際規格の注記2は，規定事項であるため，本文に移した。 

7.2.2.1 

端子 

端子の温度上昇は，表2に規定する値を超えてはならない。 

7.2.2.2 

アクセスできる部品 

アクセスできる部品の温度上昇は，表3に規定する値を超えてはならない。 

注記 その他の部品の温度上昇は，7.2.2.8に規定する。 

7.2.2.3 

周囲温度 

周囲温度が，6.1.1に規定する範囲内にある場合にだけ，表2及び表3に規定する値を適用する。 

7.2.2.4 

主回路 

装置の主回路は，8.3.3.3.4に従って試験した場合，表2及び表3に規定する値を超えることなく装置の

熱電流を通電できなければならない。 

7.2.2.5 

制御回路 

開動作及び閉動作に用いる制御回路機器を含む装置の制御回路は，4.3.4による定格責務を満たし，

8.3.3.3.5に規定する温度上昇試験で，表2及び表3に規定する値を超えてはならない。開閉装置又は制御

装置におけるプログラマブルロジックコントローラ（PLC）対応しているデジタル入力及び／又は出力は，

附属書Sによる。 

7.2.2.6 

コイル及び電磁石の巻線 

コイル及び電磁石の巻線は，8.3.3.3.6に従って試験したとき，主回路を流れる電流で7.2.2.8に規定する

限度を超える温度上昇がなく，定格電圧に耐えなければならない。 

注記 この細分箇条は，製造業者が動作条件を定義するパルス動作コイルには適用しない。 

7.2.2.7 

補助回路 

補助スイッチの回路を含む装置の補助回路は，8.3.3.3.7に従って試験を行ったとき，表2及び表3に規

定する値を超える温度上昇がなく，熱電流を流すことができる電流容量をもつ回路でなければならない。 

注記 装置と一体になったような補助回路では，主体の装置と同時に試験してもよい。ただし，その

ときの電流は，実用時の値とする。 

7.2.2.8 

その他の部分 

試験中の温度上昇によって，製品の性能を損なうようなことがあってはならない。 

絶縁部分に対して，製造業者は，絶縁温度指数［例えば，JIS C 2143（規格群）の方法によって決めら

52 

C 8201-1：2020  

れた指数］又はJIS C 4003:2010によって，適合性を示さなければならない。 

7.2.3 

耐電圧性能 

耐電圧性能は，基本的に安全に関するJIS C 0365:2007及びJIS C 60664-1:2009に基づいている。コーテ

ィングの使用によって縮小された空間距離及び沿面距離は，JIS C 60664-3:2009による。2 mm以下の空間

距離及び沿面距離はIEC/TR 63040参照。 

耐電圧性能は，次による。 

a) b)に示す要求事項は，設置の条件に関わる装置の絶縁協調を達成する方法を提示している。 

b) 装置は，次に耐える性能をもたなければならない。 

− 附属書Hに記載する過電圧種別に従った，定格インパルス耐電圧（4.3.1.3参照） 

− 表14に規定する断路に適した装置の接点間に加えるインパルス耐電圧 

− 商用周波耐電圧 

注記 電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との相関関係は，附属書Hに示す。 

ある定格使用電圧（4.3.1.1の注記1及び注記2参照）に対する定格インパルス耐電圧は，附属書

Hに示すように，その装置を用いる時点の回路に供給する電源の公称電圧に対応する定格インパル

ス耐電圧で，かつ，それに合致した過電圧種別に属した電圧とする。 

c) この細分箇条の要求は，8.3.3.4の試験によって検証する。 

7.2.3.1 

インパルス耐電圧 

インパルス耐電圧は，次による。 

a) 主回路 

1) 充電部と接地用部品との間，及び極間の空間距離に，表12に規定する定格インパルス耐電圧に応じ

た試験電圧を加えた場合，これに耐えなければならない。 

2) 開接点の接点間の空間距離は，次に耐えなければならない。 

− 個別規格を適用する場合は，その規格に規定する定格インパルス耐電圧。 

− 断路に適している装置の場合，表14に規定する定格インパルス耐電圧に応じた試験電圧。 

注記 例えば，1)及び／又は2)を満たす空間距離に固体絶縁物を加えた装置の絶縁にこの要求事

項を適用する場合，1)及び／又は2)に規定する定格インパルス耐電圧とするのがよい。 

b) 補助回路及び制御回路 

1) 定格使用電圧で，主回路から直接動作する補助回路及び制御回路は，充電部と接地用部品との間，

及び極間の空間距離に，主回路の適切な過電圧種別並びに補助回路及び制御回路の定格インパルス

耐電圧に対応した表12に規定する試験電圧を印加し，これに耐えなければならない［7.2.3.1のa)

の注記参照］。 

2) 主回路から直接操作しない補助回路及び制御回路は，主回路の耐過電圧容量と異なった耐過電圧容

量にしてもよい。そのときの回路の空間距離及び固体絶縁物が加わった空間距離は，交流又は直流

のいずれでも，附属書Hを参照し，該当する電圧に耐えなければならない。 

7.2.3.2 

主回路，補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧 

主回路，補助回路及び制御回路の商用周波耐電圧は，次による。 

a) 商用周波耐電圧試験 商用周波耐電圧試験は，次の場合を適用する。 

− 固体絶縁の検証のための形式試験としての耐電圧試験 

− 開閉又は短絡の形式試験後の不具合の評価としての耐電圧検証試験 

− 受渡試験 

53 

C 8201-1：2020  

b) 耐電圧性能の形式試験 耐電圧性能の試験は，形式試験として，8.3.3.4に従って行う。 

断路に適した装置の場合，最大漏れ電流は7.2.7に従わなければならず，耐電圧試験は8.3.3.4に従

って試験を行う。 

c) 開閉又は短絡の形式試験後の耐電圧の検証 開閉又は短絡の試験後の不具合の評価としての耐電圧

の検証は，必ず8.3.3.4.1のd)に従って商用周波数の電圧で行う。 

断路に適した装置の場合，最大漏れ電流は7.2.7に従わなければならず，耐電圧試験は8.3.3.4に従

って試験を行い，最大漏れ電流は，個別規格で規定する値を超えてはならない。 

d) （空白） 

e) 受渡試験での耐電圧の検証 材料及び構造における欠陥の検出の試験は，8.3.3.4.2のb)に従って商用

周波数の電圧で行う。 

7.2.3.3 

空間距離 

空間距離は，7.2.3.1に従って，定格インパルス耐電圧をその装置に加えたとき，これに耐えるように，

十分に確保する。 

空間距離は，表13のケースB（均一電界）（2.5.62参照）に規定する値より大きく，かつ，8.3.3.4.3によ

る抜取試験によって検証する。定格インパルス耐電圧及び汚損度に関係がある空間距離が，表13のケー

スA（不均一電界）（2.5.63参照）に規定する値以上の場合，この試験は行わない。 

空間距離の測定方法は，附属書Gに示す。 

7.2.3.4 

沿面距離 

沿面距離は，次による。 

a) 寸法決定法 汚損度1及び汚損度2に対する沿面距離は，7.2.3.3に従って選択し，組み合わせた，空

間距離以上とする。汚損度3及び汚損度4に対する沿面距離は，過電圧による放電破壊のおそれがな

いように，表13に規定するケースAの空間距離以上とする。空間距離が7.2.3.3で許容されたとして

も，ケースAの値に達しない沿面距離は認められない。 

沿面距離の測定方法は，附属書Gに示す。 

沿面距離は，6.1.3.2で規定する汚損度及び／又は個別規格で規定する汚損度に対応しているととも

に，表15に示す定格絶縁電圧（又はワーキング電圧）に対応する材料グループと一致していなければ

ならない。 

材料グループは，比較トラッキング指数（CTI）（2.5.65参照）の値の範囲に応じて，次のように区

分する。 

− 材料グループI 

CTI値は，600以上 

− 材料グループII 

CTI値は，400以上，600未満 

− 材料グループIIIa 

CTI値は，175以上，400未満 

− 材料グループIIIb 

CTI値は，100以上，175未満 

注記1 CTI値は，JIS C 2134の試験液A，絶縁材料に対するものから得られた値を参照する。 

注記2 ガラス又はセラミックスのような痕跡を生じない無機質の絶縁材料については，組み合わ

せた空間距離を超える沿面距離には要求しない。ただし，放電破壊に対する危険を考慮す

る。 

b) リブの使用 高さが2 mm以上のリブを用いる場合，リブの数に関係なく，沿面距離を表15の関係す

る値の0.8倍まで小さくしてもよい。リブのベース部分の最小寸法は，機械的要求事項で決定する（附

属書G参照）。 

54 

C 8201-1：2020  

c) 特殊な適用法 表15は，装置ごとに与えられた定格絶縁電圧より高い絶縁電圧を達成するための基準

として役立てることができるため，絶縁不良によって生じる重大な結果を考慮しなければならないよ

うな，ある使用目的に限定した装置を設計する場合は，表15の中の影響がある要素（距離，絶縁材料

及びミクロ環境の汚損）について一つ又はそれ以上を選択し，適用する。 

7.2.3.5 

固体絶縁 

固体絶縁は，8.3.3.4.1のc)に従って商用周波数試験，又は直流装置の場合，直流試験で検証する。 

注記 固体絶縁の設計に関する追加情報は，JIS C 60664-1:2009の5.3.1に記載する。 

7.2.3.6 

分離された回路間の距離 

分離回路との間の空間距離，沿面距離及び固体絶縁の寸法を決定する場合は，最も高い電圧定格を用い

る（最も高い電圧定格とは，空間距離及び固体絶縁では，定格インパルス耐電圧であって，また，沿面距

離では，定格絶縁電圧又はワーキング電圧である。）。 

7.2.3.7 

保護分離をもつ装置に対する要求 

保護分離をもつ装置に対する要求は，附属書Nに示す。 

7.2.4 

無負荷，通常負荷及び過負荷において電流を投入，通電及び遮断できる能力 

7.2.4.1 

投入及び遮断容量 

装置には，個別規格（8.3.3.5の共通試験条件も参照）で規定する使用負荷種別で，かつ，この定格にお

いて指定する動作回数の条件の下で，負荷電流及び過負荷電流を損傷しないで投入及び遮断できる能力が

なければならない。 

7.2.4.2 

動作性能 

動作性能に関する試験は，装置の使用負荷種別に応じた条件の下で，装置が損傷しないで主回路に流れ

る電流を投入，通電及び遮断できる能力があることを検証するために行う。 

具体的な要求事項及び試験条件は，個別規格で規定するが，関連事項は，次のとおりである。 

− 無負荷状態での動作性能では，制御回路に電源を加え，主回路に電源を加えない状態で試験を行う。

これは，その装置の制御回路の開動作及び閉動作中の規定供給電源電圧及び／又は圧力の上限及び下

限で，規定する動作条件に合っていることを実証するために行う。 

− 次に，負荷をかけた状態での動作性能では，装置は，個別規格で規定する動作回数に対する使用負荷

種別と一致する指定された電流の投入及び遮断を行う。 

個別規格によっては，1回のシーケンスにまとめて，無負荷及び有負荷の動作性能の確証の試験を実施

するものもある。 

7.2.4.3 

耐久性 

注記 対応国際規格では，動作回数に対する期待度を表す耐久性について，“endurance”という用語

を用いないで，その代わりに“durability”を用いている。この細分箇条の動作回数は，その装

置が修理又は部品の交換をするまで実行できる回数である。“endurance”は，一般的に，7.2.4.2

に定義したような，一般的な動作性能に対して用いる。この二つの概念の混同を避けるために，

対応国際規格では“endurance”という表現は必然性がないと考え，“durability”を用いている。 

7.2.4.3.1 

機械的耐久性 

機械的な摩耗にどのように耐えるかは，装置について個別規格で規定する何らかの機構部品の修理又は

交換が必要になるまでの無負荷（すなわち，主接点に電流が流れない状態）での動作サイクルの回数によ

って判断する。ただし，保守を考慮している装置については，製造業者の取扱説明書に応じた通常の保守

を許容する。 

55 

C 8201-1：2020  

各動作サイクルは，1回の閉動作と次の1回の開動作とからなる。 

試験は，製造業者の取扱説明書に従って，その装置を取り付けて行う。無負荷の動作サイクルの回数は，

個別規格によって推奨回数を規定する。 

7.2.4.3.2 

電気的耐久性 

電気的な摩耗にどのように耐えるかは，装置が，個別規格で規定する使用条件に応じて，修理又は交換

を行わないで実行できる有負荷での動作サイクルの回数によって判断する。 

有負荷の動作サイクルの回数は，個別規格によって推奨回数を規定する。 

7.2.5 

短絡時において電流を投入，通電及び遮断できる能力 

個別規格で規定する条件の下で，装置は，短絡電流によって生じる熱的，機械的及び電気的ストレスに

耐える能力がある構造でなければならない。特に，8.3.4.1.8の要求事項に従って動きをするような装置で

なければならない。 

短絡電流は，次の状況で発生する可能性がある。 

− 電流を投入動作中 

− 閉路位置で通電中 

− 電流遮断中 

装置の短絡時の電流を投入，通電及び遮断できる能力を，次の定格のうちのいずれかで表す。 

− 定格短絡投入容量（4.3.6.2参照） 

− 定格短絡遮断容量（4.3.6.3参照） 

− 定格短時間耐電流（4.3.6.1参照） 

− 短絡保護装置（SCPD）と協調された装置の場合 

a) 定格条件付短絡電流（4.3.6.4参照） 

b) 個別規格で単独に規定するほかのタイプの協調。 

a)及びb)による定格値及び制限値を，製造業者がその装置の保護に必要な短絡保護装置（SCPD）の形式

及び特性（例えば，電流定格，遮断容量，遮断電流，及びI2t）として，表示する。 

7.2.6 

開閉過電圧 

個別規格で規定する場合，開閉過電圧試験を適用してよい。 

この場合，試験手順及び要求事項は，個別規格で規定する。 

7.2.7 

断路に適した装置の漏れ電流 

断路に適した装置及び50 V以上の定格使用電圧Ueの装置は，接点を開路位置とし，各極の漏れ電流を

測定する。 

漏れ電流値は，定格使用電圧の1.1倍の試験電圧で次の値を超えてはならない。 

− 新品の装置で，1極当たり0.5 mA 

− 個別規格の試験要求による投入動作及び遮断動作を実施した後で，1極当たり2 mA 

定格使用電圧の1.1倍の電圧での6 mAの漏れ電流は，断路に適した装置に対する限界値であって，いか

なる状況においてもこの値を超えてはならない。この条件を検証する試験は，個別規格で規定する。 

7.2.8 

極インピーダンス 

極インピーダンスは，8.3.3.8の試験による。 

7.3 

電磁両立性（EMC） 

7.3.1 

一般 

この規格の範囲内で該当する製品に対して，2種類の環境条件を考慮して次のように示す。 

56 

C 8201-1：2020  

a) 環境A 

b) 環境B 

環境Aは，高い妨害電源を含む低圧の非公共用又は工業用の配電網，地域及び設備に関係する。 

注記1 環境Aは，CISPR 11:2009のクラスA装置と一致する。 

環境Bは，低圧の公共用，例えば，住宅，商業並びに軽工業の配電網，地域及び設備に関係する。アー

ク溶接のような高妨害電源は，この環境には含まない。 

注記2 環境Bは，CISPR 11:2009のクラスB装置と一致する。 

この規格の目的に対しては，用語“電子回路”は，全ての部品が受動部品の回路を除く［例えば，ダイ

オード，抵抗，バリスタ，キャパシタ（コンデンサ），サージ抑制器及びインダクタ（コイル）］。 

7.3.2 

イミュニティ 

7.3.2.1 

電子回路を搭載していない装置 

電子回路を搭載していない装置は，電磁妨害を受けないため，イミュニティ試験を行う必要はない。 

7.3.2.2 

電子回路を搭載している装置 

電子回路を搭載している装置は，電磁妨害に対して確実にイミュニティをもたなければならない。 

この要求事項の適合性を検証するための適切な試験は，8.4に示す。 

性能評価は，個別規格で規定する。 

特殊な性能基準は，表24に示す許容基準に基づき，関連した個別規格で規定する。 

7.3.3 

エミッション 

7.3.3.1 

電子回路を搭載していない装置 

電子回路を搭載していない装置の電磁エミッションに対する要求は，満足しているとみなされるため，

検証の必要はない。 

注記 電子回路を搭載していない装置の場合，電磁妨害は時々の開閉操作中に，装置から発生するだ

けである。発生時間は，CISPR 22に基づき，200 ms以内である。 

エミッションの周波数，レベル及び結果は，低圧設備の通常の電磁環境の一部として考慮する。 

7.3.3.2 

電子回路を搭載する装置 

7.3.3.2.1 

高周波エミッションの限界 

電子スイッチング回路を搭載する装置から発生する継続的な高周波（9 kHz以上）エミッションは，環

境A及び環境Bに対してCISPR 11に基づき，個別規格で規定する限界を超えてはならない。 

注記 200 msを超えない1回限りの妨害について，更なる評価は不要である。 

7.3.3.2.2 

低周波エミッションの限界 

高調波を発生する装置の場合には，JIS C 61000-3-2:2011の要求を用いる。 

低周波電圧変動を発生する装置の場合には，IEC 61000-3-3:2013の要求を用いる。 

8 

試験 

8.1 

試験の種類 

8.1.1 

一般 

適用する試験によって，この規格及び個別規格で規定する要求事項を満足していることを実証しなけれ

ばならない。 

該当する試験は，次に示す。 

a) 形式試験（2.6.1参照）：この試験は，個々の装置の中から代表的な供試品を取り出して行う。 

57 

C 8201-1：2020  

b) 受渡試験（2.6.2参照）：この試験は，この規格又は個別規格のいずれかを適用する装置で，個々の製

品の全てに対して行う。 

c) 抜取試験（2.6.3参照）：この試験は，個別規格で，要求したときに行う。空間距離の検証のための抜

取試験については，8.3.3.4.3を参照。 

a)〜c)の試験は，個別規格の規定に従った試験シーケンスを構成してもよい。 

試験結果が，次の試験を進めても影響を受けなくて，規定の試験シーケンスのサブシーケンスにとって

重要ではないような試験シーケンスを個別規格で規定する場合は，製造業者との協定によって，試験シー

ケンスから除外してもよい。また，分離して新しい供試品で行ってもよい。 

適用する場合は，個別規格で，その試験を規定する。 

a)〜c)の試験は，製造業者が実施する。製造業者の工場で行うか，適切な研究所で行うかは製造業者の

選択となる。 

d) 特殊試験（2.6.4参照）：この試験は，個別規格の仕様に従うことが適切であって，かつ，受渡当事者

間の合意を得られたときは行ってもよい（附属書Q参照）。 

特殊な機械的及び電気的耐久試験（JIS C 8201-4-1の附属書B参照）を行った場合，試験結果は，機能

安全に適用するために必要なデータを入手する目的で利用できる（附属書K参照）。 

8.1.2 

形式試験 

形式試験は，この規格又は個別規格に基づいて設計した製品の適合性を検証するものである。 

試験は，次の事項を検証することが必要である。 

− 構造に関する要求事項 

− 温度上昇 

− 耐電圧性能（適用する場合は，8.3.3.4.1参照） 

− 投入容量及び遮断容量 

− 短絡投入容量及び短絡遮断容量 

− 動作限界 

− 動作性能 

− 箱入装置の保護等級 

− EMCの試験 

注記 上記の事項が全てではない。 

装置に実施しなければならない形式試験，得られる結果，並びに必要な場合の試験シーケンス及び抜取

数は，個別規格で規定する。 

8.1.3 

受渡試験 

受渡試験は，材料，仕上がりの不具合及びその装置の適切な機能を検証するためのもので，全ての個々

の製品に対して実施する。 

受渡試験には，次を含む。 

a) 機能試験 

b) 耐電圧試験 

受渡試験及びその試験の実施条件の詳細は，個別規格で規定する。 

8.1.4 

抜取試験 

技術的及び統計上の解析によって，受渡試験の必要がないことを検証した場合，また，個別規格で，受

渡試験の必要がないことを規定する場合は，受渡試験の代わりに抜取試験を行ってもよい。 

58 

C 8201-1：2020  

抜取試験には，次を含む。 

a) 機能試験 

b) 耐電圧試験 

抜取試験は，製造業者が決めた又は使用者と製造業者とで協定した装置の特定の性能又は特徴を証明す

るために行ってもよい。 

8.1.4A 特殊試験 

特殊試験としては，附属書K及び附属書Qがある。 

8.2 

構造に関する要求事項に対する適合性 

構造が，7.1に規定する要求事項を満足していることを評価するには，例えば，次の事項が関係する。 

− 材料 

− 装置 

− 箱入装置の保護等級 

− 端子の機械的及び電気的特性 

− 操作部 

− 位置表示（2.3.18参照） 

8.2.1 

材料 

8.2.1.1 

異常過熱及び火災に対する耐性 

8.2.1.1.1 

グローワイヤ試験（装置において） 

グローワイヤ試験は，7.1.2.2に規定する条件でJIS C 60695-2-10:2004，及びJIS C 60695-2-11:2004の4.

（試験の考慮事項及び試験片の選択の説明）〜10.（試験手順）に従って行う。 

この試験の目的から，保護導体は通電部分としてみなさない。 

注記 試験として同じ供試品で多数の箇所の試験を行う必要がある場合は，前の試験で起こる悪化が

次の試験に影響を与えないように注意する。 

8.2.1.1.2 

燃焼性試験，ホットワイヤ着火試験及びアーク着火試験（材料において） 

材料の適切な試験片で，次の試験を行う。 

a) JIS C 60695-11-10に規定する燃焼性試験 

b) 附属書Mに規定するホットワイヤ着火試験（HWI） 

c) 附属書Mに規定するアーク着火試験（AI） 

c)の試験は，材料がアークを発生する部品から13 mm以内，又は接続の緩みを想定できる充電部から13 

mm以内にある場合だけ適用する。投入−遮断試験を行う装置の場合，アークを発生する部品から13 mm

以内にある材料は，この試験は行わなくてもよい。 

8.2.2 

装置 

8.2の各細分箇条によって要求事項が満たされている。 

8.2.3 

装置のエンクロージャ 

箱入装置の保護等級については，附属書Cに規定する。 

8.2.4 

端子の機械的及び電気的特性 

この細分箇条は，アルミニウム端子及びアルミニウム導体を接続した端子には適用しない。 

8.2.4.1 

試験の共通条件 

製造業者が特に指定しない限り，各々の試験は清浄で新品の端子で行う。 

試験に用いる丸銅導体は，JIS C 3664:2007に規定する銅導体でなければならない。 

59 

C 8201-1：2020  

試験に平角銅導体を用いるときは，次の特性をもつものでなければならない。 

− 最低純度：99.5 % 

− 引張限界強度：200〜280 N/mm2 

− ビッカース硬度：40〜65 

8.2.4.2 

端子の機械的強度の試験 

試験は，最大断面積の適切な形式の導体で行う。 

7.1.8.1によるねじなし式締付具は，最大断面積の導体で試験する。 

導体は，5回脱着する。 

ねじ式端子の締付トルクは，表4又は製造業者が指定するトルクの110 %の値のいずれか大きい方のト

ルク値とする。 

試験は，二つの別の締付具で実施する。 

ねじ回しで締付けできる六角頭のねじで，かつ，表4のII列及びIII列の値が異なっている場合には，

二つの試験を実施する。まず，表4のIII列で規定するトルクを六角頭に加え，次に，もう一つの別の組

の供試品にねじ回しを用いてII列に規定するトルクを加える。 

表4のII列及びIII列の値が同じである場合，試験は，ねじ回しを用いる方法だけで行う。 

各々の締付試験には，毎回，クランプしたねじ又はナットを緩めて，新しい導体に取り換えて行う。 

試験中，締付具及び端子部には，緩みが生じてはならない。また，損傷が発生してはならない。損傷に

は，ねじの破壊，又は以後引き続き使用することが困難となるような，ねじなどの頭の溝，ねじ山，座金

若しくはあぶみ形の金具（電線のばらけ止めなど）の損傷が含まれる。 

8.2.4.3 

導体の偶発的な緩み及び損傷に対する試験法（ねん回試験） 

この試験は，製造業者が指定する本数，断面積及び形式［可とう性があるもの及び／又は硬質性のもの

（より線及び／又は単線）］の未処理の丸銅導体を接続するための端子に適用する。 

注記 銅の板状導体に適した試験法は，受渡当事者間の協定で決めてよい。 

次の試験は，二つの新しい供試品を用いて行う。 

a) 最小断面積の導体を，許容する最大接続数まで接続した状態 

b) 最大断面積の導体を，許容する最大接続数まで接続した状態 

c) 最小断面積の導体及び最大断面積の導体を，許容する最大接続数まで同時に接続した状態 

可とう性がある又は硬質性の（単線及び／又はより線）導体のいずれかを接続することを意図する端子

は，各々の形式の導体を用いて，それぞれ別の供試品で試験を行う。 

可とう性がある又は硬質性の（単線及び／又はより線）導体の両方を同時に接続することを意図する端

子は，c)による試験を行う。 

試験は，それに適した試験装置を用いて実施する。端子には，指定する本数の導体を接続する。 

試験導体の長さは，表5に規定する高さHより75 mm長いものとする。クランプねじは，表4に規定

するトルク又は製造業者が指定するトルクで締め付ける。供試機器は，図1に示すとおり確実に固定する。 

各導体は，次の手順に従って，円運動をさせる。 

試験する導体の先端は，表5に規定するように，装置の端子の下部で高さHの位置に設けた回転板にあ

けた適切な大きさのブッシングに通す。ほかの導体は，試験の結果に影響を与えないように曲げておく。

ブッシングは，水平の回転板を通る導体と同一中心にくるような位置にする。ブッシングの中心線が，回

転板の中心の周りを10±2 rpmで水平に，直径が75 mmの円を描くように動かす。端子の接続口からブッ

シングの上面までの距離は，表5の高さHで15 mmの公差とする。ブッシングには，油などを塗って滑

60 

C 8201-1：2020  

らかにし，絶縁導体を締め付けたり，ゆがんだり，回転したりしないようにする。表5のおもりは，導体

の先端につるしておく。試験は，135回連続回転させる。 

試験中に導体が端子から抜けたり，締付具付近で破断してはならない。 

各々の導体は，ねん回試験の後，直ちに，8.2.4.4に規定する引張試験を行う。 

8.2.4.4 

引張試験 

8.2.4.4.1 

銅の円形導体 

8.2.4.3の試験に続いて，表5に示す引張力を導体に加える。 

締付ねじは，この試験のために再度締め付けてはならない。 

引張力は，導体の軸方向に，徐々に1分間加える。 

試験中，導体は，端子から抜けてはならず，締付具の近くで折れてはならない。 

8.2.4.4.2 

銅の板状導体 

適切な長さの導体は，端子に確実に固定する。導体の挿入方向とは反対の方向に，表6に示す引張力を，

徐々に1分間加える。試験中，導体は，端子から抜けてはならず，締付具の近くで折れてはならない。 

8.2.4.5 

最大断面積をもつ端末未処理の銅の円形導体の挿入性試験 

8.2.4.5.1 

試験方法 

試験は，表7に規定する形状A又は形状Bの適切なゲージを用いて行う。 

ゲージの測定部は，端子の隙間を通して端子の深さいっぱいまで差し込むことができなければならない

（表7の注記参照）。 

別の方法として，試験は，絶縁物を取り除いた端部を整え直した後，製造業者によって推奨されたもの

の中から，最大となる形式及び定格断面積の導体を挿入することによって行うことができる。その導体の

直径は，表7aによる理論上の直径に合致し，導体の絶縁物を取り除いた端部は，過度な力を用いないで

クランプユニットの開口部の中に完全に挿入できなければならない。 

注記 対応国際規格の注記は，適切でないため，この規格では適用しない。 

8.2.4.5.2 

ゲージの構造 

ゲージの構造は，図2による。 

寸法a，寸法b及びそれらに適用する許容差は，表7による。 

ゲージの測定部は，ゲージスチールを用いる。 

8.2.4.6 

長方形の断面をもつ板状導体の挿入性試験 

（検討中） 

8.2.4.7 

ねじなし式締付具の電気的性能 

IEC 60999-1:1999の9.8及びIEC 60999-2:2003の9.8を適用する。 

注記1 IEC 60999の規格群で定義する用語“最小断面積（smallest cross-sectional area）”及び“最大

断面積（largest cross-sectional area）”は，それぞれこの規格で定義する“最小断面積”（2.3.34）

及び“最大断面積”（2.3.35）と同じである。 

注記2 最大断面積に対して，一般的に適用する試験電流は，製品に対して宣言するIth又はItheであ

る。最小断面積に対する試験電流は，JIS C 8201-7-1の表4及び表5に示す。 

詳細な試験の要求事項は，個別規格で規定してよい。 

注記3 個別規格では，実行性のある詳細な試験要求事項を考慮するのがよい。 

8.2.4.8 

ねじなし式締付具のエージング試験 

IEC 60999-1:1999の9.10及びIEC 60999-2:2003の9.10を適用する。 

61 

C 8201-1：2020  

注記1 8.2.4.7の注記1と同じ。 

注記2 8.2.4.7の注記2と同じ。 

詳細な試験の要求事項は，個別規格で規定してよい。 

注記3 8.2.4.7の注記3と同じ。 

8.2.5 

断路に適した装置の主接点位置表示の有効性の検証 

7.1.7に規定する主接点位置表示の有効性の検証のために，全ての接点位置表示は，動作性能試験及び特

殊な耐久試験を行った後も，適切な機能を維持しなければならない。 

8.2.5.1 

試験における装置の状態 

試験における装置の状態は，個別規格で規定する。 

8.2.5.2 

試験方法 

8.2.5.2.1 

直接手動操作及び間接手動操作 

装置を開路位置に動かすのに必要な操作力は，操作部の先端にて測定する。必要な操作力Fは，装置が

新品の状態で，3回の操作の平均値とする。この操作力Fを，表17の試験操作力の値として用いる。 

装置の閉路位置で，試験条件が最も厳しい極の固定及び可動接点の状態を，溶接などによって確実に固

定する。 

操作部は，3Fの力で試験する。ただし，その力は，表17による操作部の形式に応じた最小操作力以上

で，また，最大操作力以下でよい。 

装置が直列に複数の接点機構をもつ場合，直列の全ての接点機構を閉位置で保持する。 

多点接触方式の場合，接点が分離しないように，試験操作力を印加しても接点を閉路維持できる並列接

点の必要最小数を溶接などによって確実に固定する。 

接点を閉路維持する適切な方法及び接点数を製造業者は明示し，適切な方法及び固定する接点数は，報

告書に記載する。 

試験荷重は，操作部の先端に衝撃を加えることなく，接点を開路する方向に10秒間加える。 

操作部に応じた試験荷重の印加方向は，図16に示すように，試験中維持する。 

判定は，8.2.5.3.1によって行う。 

8.2.5.2.2 

直接動力操作 

装置の閉路状態で，試験条件が最も厳しい極の固定及び可動接点の状態を，溶接などによって確実に固

定する。 

装置が直列に複数の接点機構をもつ場合，直列の全ての接点機構を閉位置で保持する。 

多点接触方式の場合，接点が分離しないように，試験操作力を印加しても接点を閉路維持できる並列接

点の必要最小数を溶接などによって確実に固定する。 

接点を閉路維持する適切な方法及び接点数を製造業者は明示し，適切な方法及び固定する接点数は，報

告書に記載する。 

動力操作装置に，装置の接触機構が開極する方向へ，通常定格電圧の110 %の電圧を印加する。 

5秒間電圧を印加し，5分間隔で3回操作を行う。動力操作装置に保護装置が附属していない場合，より

短い周期で操作を行ってもよい。 

判定は，8.2.5.3.2によって行う。 

8.2.5.2.3 

間接動力操作 

装置の閉路状態で，試験条件が最も厳しい極の固定及び可動接点の状態を，溶接などによって確実に固

定する。 

62 

C 8201-1：2020  

装置が直列に複数の接点機構をもつ場合，直列の全ての接点機構を閉位置で保持する。 

多点接触方式の場合，接点が分離しないように，試験操作力を印加しても接点を閉路維持できる並列接

点の必要最小数を溶接などによって，確実に固定する。 

接点を閉路維持する適切な方法及び接点数を製造業者は明示し，適切な方法及び接点数は，報告書に記

載する。 

動力操作装置の蓄積エネルギーを，装置の接触機構が開極する方向に解放する。 

蓄積エネルギーの解放による装置の操作を，3回繰り返す。 

判定は，8.2.5.3.2によって行う。 

8.2.5.3 

試験中及び試験後の装置の状態 

8.2.5.3.1 

直接手動操作及び間接手動操作 

試験力解除後，操作部は，どのようなことがあっても開路位置を表示してはならない。また，装置は，

通常の動作を損なうような損傷があってはならない。 

装置が開路状態でのロック装置をもつ場合は，試験力を印加する試験中にロックができてはならない。 

8.2.5.3.2 

直接動力操作及び間接動力操作 

試験中及び試験後，どのようなことがあっても開路位置を示してはならない。また，装置は，通常の動

作を損なうような損傷があってはならない。 

装置が開路状態でのロック装置をもつ場合は，試験中にロックできてはならない。 

8.2.6 

（空白） 

8.2.7 

金属電線管の電線管引張試験，トルク試験及び曲げ試験 

試験は，長さが300±10 mmで，適切な寸法の金属電線管で行う。 

合成樹脂製のエンクロージャは，製造業者の指示に従って最も不利な状態にして設置する。 

試験は，同じ金属電線管の，最も不利な入口で行う。 

試験は，8.2.7.1〜8.2.7.3の手順で行う。 

8.2.7.1 

引張試験 

電線管は，入口に対して急激な力を加えることなく表22に規定する値の3分の2に等しいトルクで，ね

じ込む。電線管に対して5分間，急激な力を加えることなく，直接，引張力を加えなければならない。 

個別規格に規定がない場合，引張力は，表20による。 

試験後，入口に関する電線管の位置ずれは，ねじ1山の深さより少なく，また，エンクロージャの継続

使用を損なうような損傷があってはならない。 

8.2.7.2 

曲げ試験 

電線管の自由端末に急激な力を加えることなく曲げモーメントを加える。 

曲げモーメントが，電線管の長さが300 mmに対して，25 mmの変形を生じるか，又は曲げモーメント

が，表21に規定する値に達したとき，そのモーメントを1分間維持する。次に，直角となる方向で試験

を繰り返す。 

試験後，エンクロージャの継続使用を損なうような明らかな損傷があってはならない。 

8.2.7.3 

トルク試験 

電線管は，表22によるトルクで，急激な力を加えることなく締め付ける。 

トルク試験は，事前に電線管入口を準備していないエンクロージャ，及び電線管入口がエンクロージャ

に接続する前に電線管に対して機械的に接続するように指示しているものには適用しない。 

引込専用で引出用ではない電線管をもち，16H（表22参照）以下の単一電線管のエンクロージャに対し

63 

C 8201-1：2020  

ては，締付トルクを，25 Nmとする。 

試験後，電線管を緩めることができなければならない。また，エンクロージャの継続使用を損なうよう

な明らかな損傷があってはならない。 

8.3 

性能 

8.3.1 

試験シーケンス 

必要に応じて試験シーケンスを，個別規格に規定する。 

8.3.2 

一般試験条件 

注記 この規格の要求による試験は，装置の盤に関する追加する試験要求を排除するものではない。

IEC 61439の規格群によって行う試験がその例である。 

8.3.2.1 

一般要求事項 

試験する装置は，全ての本質的な細部において，装置が示す形式の設計に一致していなければならない。 

個別規格に規定がない場合，それぞれの試験は，単独試験又は試験シーケンスにかかわらず清浄し，新

品の状態で実施する。 

特に規定していない限り，試験は，意図する使用状態と同じ種類の電流（及び交流の場合，規定してい

るものと同じ周波数，同じ相数）で実施する。 

個別規格には，この規格で規定していない試験条件の値を規定する。 

試験の便宜のため，試験の厳しさを増すことが望ましい場合（例えば，試験時間を短縮するために，よ

り高い動作条件を適用するなど），製造業者の合意が得られる場合だけ実施してもよい。 

試験を行う装置は，製造業者の取扱説明書に従って，かつ，6.1に示す周囲条件下で，通常の使用状態と

同様に，それ自身で支持するか，又は等価的に支持することによって完全に取り付け，かつ，接続する。 

端子ねじに適用する締付トルクは，製造業者の取扱説明書による。取扱説明書がない場合は，表4によ

る。 

一体形エンクロージャをもつ装置（2.1.17参照）は，完全に取り付け，通常の使用状態で閉じている全

ての開口部は，試験のために閉じる。 

単独のエンクロージャ内で用いることを意図した装置は，製造業者が指定するエンクロージャのうち最

小のもので試験する。 

ほかの全ての装置は，大気中で試験する。このような装置が特有のエンクロージャで用いられるときに

は，大気中で試験した場合，更に，製造業者が指定する最小のエンクロージャにおいて追加試験を行う。

また，この追加試験は，個別規格で規定するとともに試験報告書に記載する。 

そのような装置が，特有のエンクロージャ内で用いられ，製造業者の指定する最小のエンクロージャで

試験する場合，大気中での試験は，裸の金属で絶縁をしていないエンクロージャを準備する必要はない。

詳細は，エンクロージャの寸法を含めて，試験報告書に記載する。 

大気中での試験に対して，個別規格に規定がない場合，投入及び遮断容量，並びに短絡状態における動

作試験に対して，製造業者が明示する配置及び距離に従って，故障が発生する外的現象の要因となる装置

の全ての部分に金属スクリーンを配置する。詳細は，試験装置から金属スクリーンまでの距離を含めて，

試験報告書に記載する。 

金属スクリーンの特性を，次に示す。 

− 構造：金網，孔あき金属板又は網状金属板 

− 材料：鋼材 

− 材料の厚さ又は径：1.5 mm以上 

64 

C 8201-1：2020  

− 全面積に対する孔面積の比率：0.45〜0.65 

− 孔の寸法：30 mm2以下 

− 表面処理：無処理又は導電性めっき 

− 抵抗値：アークの放射によって到達すると思われる金属スクリーンの最も遠い点で測り，ヒューズエ

レメント回路［8.3.3.5.2 g) 及び8.3.4.1.2 d) 参照］の推定故障電流の計算に含める。 

個別規格に規定がない場合，修理又は部品の置換えは認めない。 

装置は，試験前に無負荷で動作してもよい。 

試験に対して，機械式開閉機器の動作システムは，この規格又は個別規格に規定がない場合，製造業者

が示す使用方法及び規定制御量（例えば，電圧及び圧力）で動作する。 

8.3.2.2 

試験条件 

8.3.2.2.1 

試験条件の値 

全ての試験は，関連する表及び個別規格のデータに従って，製造業者が指定する定格に相当する試験値

で実施する。 

8.3.2.2.2 

試験条件の許容差 

試験報告書に記録する試験条件は，関連する箇条で規定がない限り，表8に示す許容差内とする。ただ

し，製造業者との協定によって，示されたより厳しい条件で試験を実施してもよい。 

8.3.2.2.3 

回復電圧 

回復電圧は，次による。 

a) 商用周波回復電圧 全ての遮断容量試験及び短絡遮断試験に対して，商用周波回復電圧の値は，製造

業者又は個別規格で定める定格使用電圧の値の1.1倍とする。 

注記1 商用周波回復電圧のための定格使用電圧の1.1倍の値は，通常動作状態での系統電圧の変

化の影響をカバーすることを考慮している。 

なお，回復電圧の値は，個別規格で規定してもよい。 

注記2 給与電圧が増大することを要求してもよいが，予想できるピーク投入電流を，製造業者と

の協定がない状態では超えないことが望ましい。 

注記3 商用周波回復電圧の上限は，製造業者の承認で増大してもよい（8.3.2.2.2参照）。 

b) 過渡回復電圧 個別規格で必要とする過渡回復電圧は，8.3.3.5.2で規定する。 

8.3.2.3 

試験結果の評価 

試験中及び試験後の装置の動作状態は，個別規格で規定する。短絡試験については，8.3.4.1.7及び8.3.4.1.9

も参照する。 

8.3.2.4 

試験報告書 

個別規格に従っていることを証明する形式試験の試験報告書は，製造業者が準備する。試験配置など次

の事項の詳細は，試験報告書に示さなければならない。 

a) エンクロージャの形式及び寸法 

b) 必要な場合，導体の大きさ 

c) 充電部からエンクロージャ又は動作中，通常接地している部分までの距離 

d) 動作システムの動作方法 

試験の数値及びパラメータは，試験報告書の一部を構成する。 

65 

C 8201-1：2020  

8.3.3 

無負荷，通常負荷及び過負荷状態での性能 

8.3.3.1 

動作 

試験は，製品が正確に7.2.1の要求事項に従って動作することを検証する。 

8.3.3.2 

動作限界 

8.3.3.2.1 

動力動作装置 

装置が，個別規格で規定する電圧，電流，気圧，温度のような制御量の限界値内で適切に開路及び閉路

することを検証する。試験は，特に規定がない場合，主回路に電流を流さないで実施する。 

電子制御電磁石をもつ動力操作装置で，電源は交流で，開放電圧限界が，定格制御回路電源電圧Usの

75 %を上限，10 %を下限と宣言する場合，機器は，次のとおりキャパシタ（コンデンサ）開放試験を追加

して行う。 

キャパシタC（コンデンサC）は，電源回路Usと直列に全長が3 m以下の接続導体で挿入する。キャパ

シタ（コンデンサ）は，インピーダンスが無視できるスイッチで短絡する。電源電圧は，定格制御回路電

源電圧Usの110 %に調整する。 

スイッチを開位置に操作したとき，機器が開放することを検証する。 

キャパシタ（コンデンサ）の値は，次の式で求める。 

C＝30＋200 000/(f×U) 

ここに， 

C： キャパシタ（コンデンサ）（nF） 

f： 最小定格周波数（Hz） 

U： 定格制御回路電源電圧Usの最大値（V） 

例えば，コイル定格が12 V…24 V−50 Hzの場合，キャパシタ（コンデンサ）の値は，196 nF（Usの最

大値で計算）となる。 

試験電圧は，宣言した定格制御回路電源電圧Usの最も高い値とする。 

注記 キャパシタ（コンデンサ）の値は，1.3 mAの漏れ電流をもつ静的出力に接続される1.5 mm2の

電線が100 mの代表的な制御配線（0.3 nF/m，つまり100 mで30 nF）を模擬している（式の中

の200 000 ≈ 10 E＋9 *1.3 E-3/2*π）。 

8.3.3.2.2 

リレー及び引外し装置 

リレー及び引外し装置の動作範囲は，7.2.1.3〜7.2.1.5の要求事項に従って，かつ，個別規格で規定する

試験方法に従って検証する。 

不足電圧リレー及び引外し装置については，7.2.1.3参照。 

電圧引外し装置については，7.2.1.4参照。 

電流動作形リレー及び引外し装置については，7.2.1.5参照。 

8.3.3.3 

温度上昇 

8.3.3.3.1 

周囲温度 

周囲温度は，装置の中央の高さで，装置から約1 mの距離で装置の周囲に均等に配置した二つ以上の温

度測定器，例えば，温度計又は熱電対によって，試験時間の最後の4分の1の時間記録する。温度測定器

は，気流，熱放射及び急激な温度変化による測定誤差に対して保護する。 

試験中，周囲温度は10〜40 ℃とし，かつ，10 Kを超える変化はあってはならない。周囲温度は，試験

時間の最後の4分の1又は試験時間の最後の1時間で，いずれか短い時間において，3 K以上の変化があ

ってはならない。試験は，この条件を満足するまで実施する。 

66 

C 8201-1：2020  

8.3.3.3.2 

部品の温度測定 

コイル以外の部品の場合，異なる部品の温度は，最大温度に到達する最も適切な測定点で，適切な温度

測定器によって測定する。これらの測定点は，試験報告書に記載する。 

油中に浸された装置の油の温度は，油の最上部で測定する。測定は，温度計の読取値によって行っても

よい。 

温度測定器は，温度上昇に影響を与えてはならない。 

温度測定器と部品表面との間に良好な熱伝導性を確保しなければならない。 

電磁石コイルについては，抵抗変化による温度測定方法が一般的に用いられる。抵抗法を用いることが

困難である場合（例えば，電子制御電磁石に対して）にだけ，他の方法が認められる。他の方法で測定す

る場合，許容温度上昇限度は，他の方法に合わせて調整する。個別規格には，他の方法及び限度値を明確

に示さなければならない。 

電子制御電磁石では，抵抗変化によるコイルの温度測定は，実行不可能な場合がある。その場合，他の

方法が認められる。例えば，熱電対又は他の適切な方法である。他の方法で測定する場合，許容温度上昇

限度は，他の方法に合わせて調整する。個別規格は，他の方法及び限度値を明確に示さなければならない。 

試験開始前のコイルの温度は，周囲の媒体の温度との間で3 Kを超える差があってはならない。 

銅導体では，高温度T2は，次の式によって高温での抵抗値R2と低温での抵抗値R1との比の関係として，

低温度T1から得られる。 

5.

234

)5.

234

(1

1

2

2

−

＋

＝

T

R

R

T

ここに， 

T1： 低温度（℃） 

T2： 高温度（℃） 

R1： 低温での抵抗値 

R2： 高温での抵抗値 

試験は，8時間を超えない範囲で温度上昇が十分飽和状態に達するまでの時間実施する。温度変化が1

時間当たり1 Kを超えなくなったとき，飽和状態に到達したとみなす。 

8.3.3.3.3 

部品の温度上昇 

部品の温度上昇は，8.3.3.3.2に従って測定した部品の温度と，8.3.3.3.1に従って測定した周囲温度との差

とする。 

8.3.3.3.4 

主回路の温度上昇 

装置は，8.3.2.1に示すように取り付け，外部からの異常な熱又は冷却から保護する。 

熱電流試験のために，一体形エンクロージャをもつ装置及び指定する形式のエンクロージャに入れてだ

け用いる装置は，そのエンクロージャ内で試験する。誤った換気を与える開放があってはならない。 

複数の形式のエンクロージャで用いる装置は，製造業者が適切に指定する最小のエンクロージャで試験

するか，又はエンクロージャなしで試験する。エンクロージャなしで試験する場合，製造業者は，閉鎖熱

電流の値を示さなければならない（4.3.2.2参照）。 

多相電流で試験する場合，電流は，各相で±5 %に平衡しており，これら電流の平均は，試験電流より

小さくてはならない。 

個別規格に規定がない場合，主回路の温度上昇試験は，4.3.2.1及び4.3.2.2で定義する一つ又は二つの熱

電流で実施する。試験しやすい電圧で実施してもよい。 

主回路，制御回路及び補助回路間で熱交換がある場合，この細分箇条から8.3.3.3.7に規定する温度上昇

67 

C 8201-1：2020  

試験は，個別規格で認めている場合に限り，同時に実施する。 

直流用の装置の試験は，製造業者が合意する場合に限り，試験の便宜のため交流で試験してもよい。 

同一の極を合わせた複数極の装置で交流で試験する場合は，磁気的な影響を無視できるように考慮し，

試験は，製造業者の合意を条件として，全ての極を直列に接続した単相電流で実施してもよい。 

各相極とは，別の中性極をもつ3極用装置の場合，試験は次のものを含む。 

− 三つの同様の極への三相試験 

− 隣接する極に直列に接続した中性極への単相試験。試験量の値は，中性極の熱電流値に従って決定す

る（7.1.9参照）。 

短絡保護装置付の装置は，個別規格で規定する要求事項に従って試験する。 

試験終了時，主回路の異なった部品の温度上昇は，個別規格に規定がない場合，表2及び表3に規定す

る値を超えてはならない。 

熱電流値によって，a)〜d)の試験用接続設備のいずれか一つを用いる。 

a) 400 A以下の試験電流の場合。 

1) 接続は，単心で，ポリ塩化ビニル（PVC）で絶縁し，表9又は表9Aに示す断面積の銅導体とする。 

2) 接続は，空気中で端子間に存在する程度のスペースを空ける。 

3) 単相及び多相試験について，装置の端子からほかの端子，試験装置又は中性点への配線の最短長は，

次による。 

− 35 mm2（AWG2）以下の断面積の場合：1 m 

− 35 mm2（AWG2）を超える断面積の場合：2 m 

b) 400 Aを超え800 A以下の試験電流の場合。 

1) 接続は，単心で，PVCで絶縁した，表10又は表9Aに示す断面積領域の銅導体か，又は製造業者が

推奨する表11に規定する銅帯と同等の銅帯とする。 

2) 1)で示した接続は，端子間に等しい程度の距離を空ける。銅帯は，つや消しの黒で塗装する。一つ

の端子に複数の銅帯を用いる場合は，束ねて互いに10 mm程度のスペースを空ける。一つの端子に

複数の銅帯を用いるときは，板厚程度の距離を空ける。示された銅帯のサイズが端子に適さないか，

又は利用できない場合，同等の断面積をもち，同等又はより小さな冷却領域をもったほかの銅帯が

使用できる。銅導体又は銅帯は，厚さ方向に分割してはならない。 

3) 単相又は多相試験について，装置の端子からほかの端子又は試験装置への最短の長さは2 mとし，

中性点への最短の長さは1.2 mとしてもよい。 

c) 800 Aを超え3 150 A以下の試験電流の場合。 

1) 接続は，装置が電線での接続だけを意図する構造の場合を除き，表11に示す寸法の銅帯とする。電

線接続だけの場合，電線の寸法及び配線方法は，製造業者が指定するものと同じものとする。 

2) 銅帯は，端子間と同等の距離を空ける。銅帯は，つや消し黒で塗装する。一つの端子に複数の銅帯

を用いる場合は，板厚と同等の距離を空ける。示された寸法のバーが端子に適さないか有効でない

場合，ほぼ同等の断面積をもち，同等又はより小さな冷却領域をもつほかのバーが使用できる。銅

帯は，厚さ方向に分割してはならない。 

3) 単相又は多相試験について，装置の端子からほかの端子，又は電源への最短の長さは3 mとする。

ただし，この距離は，配線の電源端での温度上昇が，配線の長さの中間での温度上昇より5 K以内

に低い条件では2 mに低減できる。中性点への最短の長さは，2 mとする。 

d) 3 150 Aを超える試験電流の場合 全ての関連する試験条件，例えば，電源の種類，相数及び（適用で

68 

C 8201-1：2020  

きる場合，）周波数，試験接続導体の断面積などについて，受渡当事者間で協定を行う。この情報は，

試験報告書に記載する。 

8.3.3.3.5 

制御回路の温度上昇 

制御回路の温度上昇試験は，指定する電流で，かつ，交流の場合には，定格周波数で行う。制御回路は，

定格電圧で試験する。 

連続動作を行うことを意図した回路は，温度上昇が定常状態に達するのに足りる程度の十分な時間をか

けて試験する。 

間欠責務のための回路は，個別規格で規定するとおりに試験する。 

これらの試験終了時の制御回路の各部の温度上昇は，個別規格に規定がない場合，7.2.2.5に規定する値

を超えてはならない。 

8.3.3.3.6 

電磁石コイルの温度上昇 

コイル及び電磁石は，7.2.2.6に示した条件に従って試験する。 

試験は，温度上昇が定常状態に達することができる程度の十分な時間をかけて行う。 

温度は，電磁石の主回路及びコイルの両方が熱平衡に達したときに測定する。 

間欠責務を行うことを意図した装置のコイル及び電磁石は，個別規格で規定するとおりに試験する。 

試験終了時の各部の温度上昇は，7.2.2.6に規定する値を超えてはならない。 

8.3.3.3.7 

補助回路の温度上昇 

補助回路の温度上昇試験は，8.3.3.3.5に規定するものと同じ条件で行うが，都合のよい電圧で行っても

よい。 

これらの試験終了時の補助回路の温度上昇は，7.2.2.7に規定する値を超えてはならない。 

8.3.3.4 

耐電圧性能 

8.3.3.4.1 

形式試験 

形式試験による耐電圧性能は，次による。 

a) 耐電圧試験の一般条件 供試装置は，8.3.2.1の一般要求事項に適合しなければならない。 

この装置がエンクロージャなしで用いるものである場合には，装置を金属板上に取り付け，かつ，

通常の使用では保護接地極に接続する露出導電部（フレームなど）は，全てこの金属板に接続する。 

装置の基台が絶縁材料製の場合，金属部品は，装置の通常使用状態に従って全ての場所に取り付け

る。これらの部品は，装置のフレームの一部とする。 

全ての絶縁材料製の操作部，及び追加エンクロージャなしでの使用を意図している装置の非金属製

一体形エンクロージャは，金属はくで覆い，かつ，フレーム又は取付板に接続する。金属はくは，装

置の調整又は操作中にテストフィンガ（近接プローブ）が触れることが可能な表面だけを覆う。付加

的なエンクロージャがあるために，一体形エンクロージャの絶縁部分にテストフィンガ（近接プロー

ブ）が触れないようになっている場合は，その部分には金属はくは不要である。 

注記1 これは装置の調整又は操作の間に操作者が接触可能な部分（押しボタンスイッチの操作部

など）に対応している。附属書Rは，操作又は調整の間に接触可能な部分の金属はく（箔）

の適用に対する指針を与える。 

装置の絶縁耐力がリード線に用いるテープ又は特別な絶縁物の使用に依存している場合，リード線

に用いるテープ又は特別な絶縁物は，試験中も用いなければならない。 

相間の耐電圧試験に対して，相間の全ての回路は，試験のために切り離してもよい。 

注記2 この試験の目的は，機能絶縁だけを検証することにある。 

69 

C 8201-1：2020  

機器の回路が，この規格で規定する値よりも低い電圧で，関連する規定に従って耐電圧試験を行っ

たモータ，計器，スナップスイッチ，キャパシタ（コンデンサ）及び半導体装置を含む場合，試験を

行うとき，そのような装置は切り離す。 

通常，主回路に接続する制御回路を切り離す場合，主接点を閉位置に維持する方法を試験成績書に

示す。 

電圧相と大地との間の耐電圧試験は，全ての回路を接続する。 

注記3 この試験の全ての回路の接続については，電圧相と大地との間の絶縁の感電に対する保護

機能を考慮に入れる。 

プリント回路及び多点コネクタをもつモジュールは，絶縁試験中，断路，又はダミーによる置き換

えをしてもよい。ただし，これは，絶縁破壊を生じた場合に，きょう（筐）体につな（繋）がってい

ない接触可能部分に電圧が印加される，又は高い電圧側から低い電圧側に印加される可能性があるも

の（例えば，補助トランス，測定装置，パルストランス，主回路と同じ絶縁耐力部分）の補助回路に

は適用しない。 

b) インパルス耐電圧の検証 

1) 一般 装置は，7.2.3.1に規定する要求事項に適合しなければならない。 

絶縁の検証は，定格インパルス耐電圧での試験によって行う。 

装置の耐電圧性能が標高に影響されない（例えば，オプトカプラ，カプセル入り部品）場合，絶

縁の検証は，標高補正率を適用しないで，定格インパルス耐電圧試験によって置き換えてもよい。

これらの部品を切り離した装置の残りの部分は，標高補正率を用いた定格インパルス耐電圧で試験

する。 

表13のケースAに規定する値以上の空間距離は，附属書Gに従った計測によって検証してもよ

い。 

2) 試験電圧 試験電圧は，7.2.3.1に規定する値とする。 

過電圧抑制手段を組み込んだ装置の場合，試験電流のエネルギー量は，その過電圧抑制手段のエ

ネルギー定格を超えてはならない。抑制手段のエネルギー定格は，その用途に適したものでなけれ

ばならない。 

注記1 このような定格については，検討中である。 

試験装置は，IEC 61180の規格群が規定する1.2/50 μs波形で校正する。その出力は，試験する装

置に接続し，1秒以上間隔で，各極性で5回インパルスを印加する。試験する装置が波形に与える

影響は，あったとしても無視する。 

試験手順の間に耐電圧試験を繰り返し行うことが必要な場合，この耐電圧試験の条件は，個別規

格で規定する。 

注記2 試験装置の例については，検討中である。 

3) 試験電圧の印加 1)に規定するとおり装置を取り付け，かつ，準備を行った上で，試験電圧を次の

とおり印加する。 

i) 

まとめて接続した主回路（主回路に接続した制御回路及び補助回路を含む。）の全端子と，エンク

ロージャ又は取付板との間。接点は，全て通常の動作位置とする。 

ii) 主回路の各極と，エンクロージャ又は取付板にまとめて接続したほかの極との間。接点は，全て

通常の動作位置とする。 

iii) 通常は主回路に接続しない制御回路及び補助回路と，次の箇所との間。 

70 

C 8201-1：2020  

− 主回路 

− その他の回路 

− 露出導電部 

− エンクロージャ又は取付板 

上記の箇所は，適切な場合にはともに接続してもよい。 

iv) 断路に適した装置の場合，主回路の同極間。電源端子は，まとめて接続し，かつ，各負荷端子も

まとめて接続する。 

試験電圧は，電源端子と負荷端子との間に，各接点を開路位置にして加える。その値は，7.2.3.1

のa) 2)に規定するとおりとする。 

断路に適さない装置では，接点を開路位置にして試験を行うための要求事項は，個別規格で規

定する。 

4) 合格判定基準 試験中，偶発的な放電破壊があってはならない。 

注記1 例えば，過渡的過電圧抑制手段などによる意図的な放電破壊は，例外とする。 

注記2 “放電破壊”という用語は，電気的ストレス下での絶縁不良に付随した現象を指し，こ

こでは放電が試験対象の絶縁を完全にブリッジして電極間の電圧をゼロ又はほとんどゼ

ロに低下させてしまう。 

注記3 “火花放電”という用語は，放電破壊が気体又は液体の誘電体中に発生した場合に用い

る。 

注記4 “フラッシオーバ”という用語は，放電破壊が気体又は液体媒体内にある誘電体の表面

で発生した場合に用いる。 

注記5 “絶縁破壊”という用語は，放電破壊が固体の誘電体で発生した場合に用いる。 

注記6 固体誘電体内で放電破壊が発生すると，絶縁耐力は永久的に喪失する。ただし，液体又

は気体の誘電体では，この喪失は一時的である。 

c) 固体絶縁に対する商用周波耐電圧の検証 

1) 一般 この試験は，固体絶縁及び一時的な過電圧への耐量を検証するために行う。 

表12Aに規定する値は，一時的な過電圧への耐量［表12Aの注b)参照］をカバーしているとみな

す。 

2) 試験電圧 試験電圧は，実質的に正弦波で，周波数は45〜65 Hzとする。 

注記 “実質的に正弦波”とは，波高値と実効値との比率が“2±3 %”を意味する。 

試験用高圧変圧器は，出力電圧を適切な試験電圧に調整した状態で，出力端子が短絡したときに

出力電流が200 mA以上になるような構造とする。 

過電流継電器は，100 mA以下の出力電流で動作してはならない。 

試験電圧値は，次による。 

i) 

主回路，制御及び補助回路については，表12Aによる。試験電圧の測定精度は，±3 %とする。 

ii) 例えば，EMCフィルタ部品のため交流の試験電圧が適用できない場合は，表12Aの直流の耐電

圧試験電圧を用いてもよい。試験電圧の測定精度は，±3 %とする。 

3) 試験電圧の印加 試験電圧は，b) 3)のi)〜iii)に従って，60秒間印加する。 

注記 既に形式試験が完了している装置は，この60秒間の再試験は不要である。 

4) 合格判定基準 試験中にフラッシオーバが生じてはならない。また，外部（表面）及び内部（貫通）

のいずれにも絶縁破壊又は破壊的な放電の兆候が生じてはならない。グロー放電は，無視する。 

71 

C 8201-1：2020  

電圧相と大地との間に接続した構成部品は，試験で故障してもよいが，その故障が，危険な状態

となってはならない。個別規格によって，詳細な合格判定基準を規定してもよい。 

注記 大地に対する電圧基準は，一般的に実際には起こり得ない最悪の条件の下で，JIS C 

60664-1:2009に基づいている。 

d) 開閉試験及び短絡試験後の商用周波耐電圧検証 

1) 一般 試験は，開閉試験後又は短絡試験後，装置を取り付けた状態で実施する。このことが実施で

きない場合には，試験回路から取り外して試験してもよいが，試験結果に影響がないように取り扱

う。 

2) 試験電圧 試験電圧は，c) 2)の要求事項を適用する。ただし，試験電圧値は，定格使用電圧（Ue）

の2倍の電圧とするが，最小値は交流1 000 V（実効値）又は交流が適用できない場合は直流1 415 V

とする。定格使用電圧（Ue）は，開閉試験及び／又は短絡試験に適用した値である。 

注記 対応国際規格の注記は，個別規格について記載しているため，この規格では適用しない。 

3) 試験電圧の印加 試験電圧の印加は，c) 3)の要求事項を適用する。8.3.3.4.1のa)に金属はくは適用

しない。 

4) 合格判定基準 合格判定基準は，c) 4)の要求事項を適用する。 

e) （空白） 

f) 

直流耐電圧の検証 直流定格専用の装置は，直流試験電圧にて試験を行う。 

g) 沿面距離の検証 各相間，異電圧回路導体間，及び充電部と露出導電部との間の最小沿面距離を測定

する。測定した沿面距離は，材料グループ及び汚損度に対して，7.2.3.4の要求事項に適合しなければ

ならない。 

h) 断路に適した装置の漏えい電流の検証 試験は，個別規格で規定する。 

8.3.3.4.2 

受渡試験 

受渡試験による耐電圧性能は，次による。 

a) インパルス耐電圧 試験は，8.3.3.4.1のb)に従って行う。試験電圧は，定格インパルス耐電圧（標高

補正率なしで）の30 %又は定格絶縁電圧（Ui）の2倍の電圧のいずれか高い方の電圧とする。 

b) 商用周波耐電圧 

1) 試験電圧 試験装置は，8.3.3.4.1のc) 2)に規定するものと同様とする。ただし，過電流引外しは，

25 mAに設定しなければならない。安全上の理由で製造業者が指定する場合は，低い引外し設定を

もつ装置又は低電力の装置を用いてもよい。ただし，試験装置の短絡電流は，過電流継電器の通常

の引外し設定の8倍以上とする。したがって，短絡電流が40 mAの変圧器については，過電流継電

器は5±1 mAで動作しなければならない。 

注記1 装置の静電容量を考慮してもよい。 

試験電圧は，定格使用電圧（Ue）の2倍の電圧であって，実効値は，1 000 V以上に設定する。 

注記2 複数の電圧値をもつ場合，定格使用電圧（Ue）は，装置に示す又は製造業者が指定する

最大値を適用する。 

2) 試験電圧の印加 試験電圧の印加は，8.3.3.4.1のc) 3)を適用する。ただし，試験電圧の持続時間は，

1秒間とする。 

代用として，絶縁に等価のストレスが加わると考えられる場合は，簡素な試験手順を採用しても

よい。 

3) 合格判定基準 過電流継電器は，動作してはならない。 

72 

C 8201-1：2020  

c) インパルス耐電圧及び商用周波耐電圧の同時実施 a)及びb)の試験が，一つの商用周波耐電圧試験に

置き換えられる場合，個別規格でそのように規定してもよい。その場合，正弦波電圧のピーク値は，

a)又はb)で示した値のいずれか大きい方の値とする。 

d) 8.3.3.4.1のa)による金属はくを用いる必要はない。 

8.3.3.4.3 

空間距離検証のための抜取試験 

空間距離検証のための抜取試験は，次による。 

a) 一般 試験は，空間距離に関する構造の適合性が維持しているか否かを検証するためのものであって，

表13のケースAに規定する値よりも小さな空間距離をもつ装置に対してだけ適用する。抜取方式及

び手順は，個別規格に規定する。 

b) 試験電圧 試験電圧は，定格インパルス耐電圧に相当する値を適用する。 

c) 試験電圧の印加 試験電圧の印加は，8.3.3.4.1のb) 3)を適用する。ただし，操作部又はエンクロージ

ャへの金属はくは適用しない。 

d) 合格判定基準 放電破壊があってはならない。 

8.3.3.4.4 

保護分離機能をもつ装置の試験 

保護分離機能をもつ装置の試験は，附属書Nで規定する。 

8.3.3.5 

投入容量及び遮断容量 

8.3.3.5.1 

一般試験条件 

投入容量及び遮断容量の検証に対する試験は，8.3.2に規定する一般試験条件に従って行う。 

各相に対する許容差は，規定がない場合，表8による。 

4極装置は，不使用の極付きの3極装置として試験する。この不使用極は，中性極がある装置ではその

中性極とし，フレームに接続する。全ての極が同一な場合，3個の隣接した極に対して，1回の試験を行え

ば十分である。これ以外の場合には，中性極と最も近い極との間で追加試験を行う。この追加試験は，中

性極の定格電流及び相電圧に対して，図4に従って行う。ほかの2個の用いない極は，フレームに接続し

て行う。 

通常の負荷及び過負荷条件下での遮断容量試験の場合，過渡回復電圧の値は個別規格で規定する。 

8.3.3.5.2 

試験回路 

試験回路は，次による。 

a) 次に関する試験に用いる回路の図を，図3〜図6に示す。 

− 単相交流又は直流の単極装置： 

図3 

− 単相交流又は直流の2極装置： 

図4 

− 三相交流動作の3極装置又は3台の単極装置： 図5 

− 三相4線式交流動作の4極装置： 

図6 

試験報告書には，試験に用いた回路の詳細図を記載する。 

b) 装置の電源端子の推定電流は，試験電流の10倍の値又は50 kAのうち低い方の値以上でなければなら

ない。 

c) 試験回路には，電源，供試装置D及び負荷回路を含む。 

d) 負荷回路は，直列の抵抗及び空心リアクトルで構成する。各相の空心リアクトルは，リアクトルを流

れる電流の約0.6 %をもつ抵抗で分流する。ただし，過渡回復電圧を規定する場合は，0.6 %シャント

抵抗器の代わりに負荷に対して並列な抵抗及びコンデンサを用いて，負荷回路全体は，図8a及び図

8bに示すとおりとする。 

73 

C 8201-1：2020  

注記 時定数（L/R）が10 msを超える場合の直流試験では，直列抵抗とともに鉄心リアクトルを用

いてもよい。必要な場合，オシロスコープでL/R値は指定のとおり(

)

%

150

＋

であって，また，

電流の95 %を得るために必要な時間は，“3×(L/R)±20 %”であることを確認する。 

過渡突入電流を指定する場合（例えば，使用負荷種別AC-5b，AC-6a及びDC-6）には，個別規格で

別タイプの負荷を規定してもよい。 

e) 指定する電圧において，次のものが得られるように，負荷を調整する。 

− 個別規格で規定する電流値，及び力率又は時定数の値。 

− 商用周波回復電圧値。 

− 指定する場合には，過渡回復電圧の振動周波数及び振幅率γの値。振幅率γとは，商用周波回復電

圧成分の過渡回復電圧の最高ピークの値U1の電流ゼロの瞬間の瞬時値U2に対する比である（図7

参照）。 

f) 

試験回路は，1か所だけで接地する。接地箇所は，負荷のスター結合点又は電源のスター結合点でも

よい。接地の位置は，試験成績書に記載する。 

注記 R及びX（図8a及び図8b参照）の接続順序は，負荷調整時及び試験時で変更しないほうが

よい。 

g) 通常の使用時に接地する装置の部分は，全てエンクロージャ又はスクリーンも含み，大地からは絶縁

し，図3〜図6に示したように接続する。 

この接続は，故障電流の検出のために直径が0.8 mmで，長さが50 mm以上の銅線で構成するヒュ

ーズエレメントF又は同等のヒューズエレメントを含んでいなければならない。 

ヒューズエレメント回路の推定故障電流は，8.3.2.1に規定するヒューズエレメント回路に金属スク

リーンを含めた抵抗値がある場合及び次の人工中性点の電源の場合を除き，1 500 A±10 %とする。必

要な場合，電流をこの値に制限するために抵抗を用いる。 

注記1 直径が0.8 mmの銅線は，1 500 Aを流したとき，45〜67 Hzの間の周波数では，約半サイ

クル（直流電流では0.01秒）で溶融する。 

人工中性点の電源の場合は，製造業者の承諾に応じて，次の表によるより細い直径の銅線を用いて，

より低い推定故障電流とすることができる。 

注記2 対応国際規格の注記2は，許容事項であるため，本文に移した。 

銅線の直径 

mm 

ヒューズエレメント回路の推定故障電流 

A 

0.1 

50 

0.2 

150 

0.3 

300 

0.4 

500 

0.5 

800 

0.8 

1500 

注記3 ヒューズエレメントの抵抗値については，8.3.2.1を参照。 

8.3.3.5.3 

過渡回復電圧の特性 

個々のモータ負荷（誘電負荷）を含む回路内の条件を模擬するために，負荷回路の振動周波数を，次の

式で求めた値に調整する。 

%

10

000

2

8.0

e

2.0c

±

×

×

=

−

U

I

f

ここに， 

f： 振動周波数（kHz） 

Ic： 遮断電流（A） 

74 

C 8201-1：2020  

Ue： 装置の定格使用電圧（V） 

振幅率γは，1.1±0.05に調整する。 

試験に必要なリアクタンス値は，過渡回復電圧の振動周波数が一つの周波数であるとみなせるという条

件において，複数のリアクトルを並列に結合させて得てもよい。これは，一般的には各リアクトルが実際

上同じ時定数をもつ場合である。 

装置の各負荷端子は，調整した負荷回路の端子とはできるだけ近くに接続する。負荷の調整は，これら

を接続した状態で行う。 

接地の位置による2種類の負荷回路調整手順を，附属書Eに示す。 

8.3.3.5.4 

（空白） 

8.3.3.5.5 

投入及び遮断容量の試験手順 

動作の回数，“オン（ON）”及び“オフ（OFF）”の回数，並びに周囲条件は，個別規格で規定する。 

8.3.3.5.6 

投入容量試験及び遮断容量試験の試験中及び試験後の装置の挙動 

試験中及び試験後の判定基準は，個別規格で規定する。 

8.3.3.6 

動作性能能力 

試験は，7.2.4.2の要求事項に対する適合性を検証するために行う。 

試験回路は，8.3.3.5.2及び8.3.3.5.3による。 

詳細な試験条件は，個別規格で規定する。 

8.3.3.7 

耐久性 

耐久性試験は，ある装置が修理又は部品の交換なしで行える動作サイクル数を検証することを意図して

いる。 

耐久性試験は，統計的寿命評価の基礎を形成する。統計的寿命の推定は，製造量が多い場合に可能とな

る。 

8.3.3.7.1 

機械的耐久性 

試験中，主回路には電圧又は電流が存在してはならない。通常の使用時に潤滑を行うことを規定してい

る場合には，試験前に装置を潤滑してもよい。 

制御回路には，定格電圧で，かつ，適用可能な場合には定格周波数を適用する。 

空気式及び電気空気式の装置には，定格圧力の圧縮空気を適用する。 

手動動作装置は，通常の使用どおりに動作する。 

動作サイクル数は，個別規格で規定する回数以上とする。 

開放リレー又は引外し装置を装備している装置では，このようなリレー又は引外し装置の実施する開放

動作の合計数は，個別規格で規定する。 

試験結果の評価は，個別規格で規定する。 

8.3.3.7.2 

電気的耐久性 

試験条件は，8.3.3.7.1の条件とする。ただし，主回路は，個別規格の要求事項に従って，電圧印加する。 

試験結果の評価は，個別規格で規定する。 

8.3.3.8 

極インピーダンス 

極インピーダンスは，8.3.3.3.4による試験及び条件によって決定する。開閉装置が単独エンクロージャ

で用いられても，エンクロージャ内での試験は，必要としない。 

電圧降下Udは，温度上昇試験と同じ測定点を用いた端子を含み，開閉装置の電源−負荷端子間で測定す

る。測定は，温度上昇が定常状態に達する十分な時間が経過した後で測定する。 

75 

C 8201-1：2020  

1極当たりのインピーダンスは，次による。 

Z＝Ud/Ith [Ω] 

同一構造の多極品における宣言値（5.1参照）は，試験から得られる平均値とする。 

電圧降下測定が，温度上昇に著しく影響せず，インピーダンスにも影響しないように注意する。 

注記 試験方法は，開閉装置の極数には関係していない。 

8.3.4 

短絡条件下での性能 

この細分箇条では，7.2.5の定格及び制限値の検証のための試験条件を規定する。試験手順，動作シーケ

ンス及び試験シーケンス，試験後の装置の状態，並びに短絡保護装置（SCPD）付装置の協調の試験に関す

る追加要求事項は，個別規格で規定する。 

8.3.4.1 

短絡試験の一般条件 

8.3.4.1.1 

一般要求事項 

8.3.2.1の一般要求事項を適用する。制御機構は，個別規格で規定する条件下で動作させる。制御機構を

電気式又は空気式で制御する場合は，個別規格で規定する最低電圧又は最低圧力で供給する。装置を上記

の条件下で動作させたとき，装置が，無負荷状態で適切に動作することを検証する。 

追加試験条件は，個別規格で規定してもよい。 

8.3.4.1.2 

試験回路 

試験回路は，次による。 

a) 次の各電源に関する試験に用いる回路図を，図9〜図12に示す。 

− 単相交流又は直流の単極装置： 図9 

− 単相交流又は直流の2極装置： 図10 

− 三相交流の3極装置： 

図11 

− 三相4線式交流の4極装置： 

図12 

試験報告書には，試験に用いた回路の詳細図を記載する。 

注記 短絡保護装置との組合せについては，短絡保護装置と試験対象装置との間の相対的配置を，

個別規格で規定する。 

b) 電源Sは，抵抗R1，リアクトルX及び供試装置Dを含む回路への電源供給を行う。 

如何なる場合においても，電源は，製造業者が提供する特性の検証を行うのに十分な容量を備えて

いなければならない。 

試験回路の抵抗及びリアクトルは，規定する試験条件を満たすように調整可能でなければならない。

リアクトルXは，空心とする。リアクトルは，抵抗R1と直列に接続し，リアクトル値は，個々のリ

アクトルの直列結合によって得られる値とする。各リアクトルが実際上同一の時定数をもつ場合には，

リアクトルを並列接続してもよい。大きな空心リアクトルを含む試験回路の過渡回復電圧特性は，通

常使用状態を代表するものではないため，各相の空心リアクトルは，リアクトルを流れる電流の約

0.6 %をもつシャント抵抗器で分流する。これ以外の場合は，製造業者と使用者との協定で行う。 

c) 図9〜図12の各試験回路において，抵抗及びリアクトルは，電源S及び供試装置Dの間に用いる。

投入装置A及び電流検出器（I1，I2及びI3）の位置は，異なってもよい。投入装置Aは，低圧側又は

一次側に設置してもよい。投入装置Aを一次側に設置する場合，試験所は，短絡変圧器の残留磁束に

よって電圧波形のひずみがないことを証明する必要がある。試験回路と供試装置との接続は，個別規

格で規定する。 

定格より少ない電流値で試験する場合，必要な追加インピーダンスは，装置の負荷側で，装置と短

76 

C 8201-1：2020  

絡点との間に用いる。追加インピーダンスを電源側に用いる場合は，試験報告書に記載する。 

これは，短時間耐電流試験には要求しない（8.3.4.3参照）。 

受渡当事者間で合意した特別事項を除いて，試験報告書に詳細に示し，試験回路は，図に従って行

う。 

単一で試験回路の1か所だけを接地する。接地点は，試験回路の短絡導体，供給電源の中性点，又

はほかの適切な箇所のいずれでもよい。ただし，接地方法は，試験報告書に記載する。 

d) エンクロージャ又はスクリーンを含んで，運転中に通常は接地する装置の全ての部分を，接地から絶

縁し，図9〜図12に示す箇所に接続しなければならない。 

この接続には，直径が0.8 mmで，最短の長さが50 mmの銅線で構成するヒューズエレメントF，

又は故障電流を検出するために同等の機能をもつヒューズエレメントを含む。 

ヒューズエレメント回路の推定故障電流は，8.3.2.1に規定するヒューズエレメント回路に金属スク

リーンを含めた抵抗値がある場合及び次の人工中性点の電源の場合を除き，1 500 A±10 %とする。必

要な場合，電流をこの値に制限するために抵抗を用いる。 

注記1 直径が0.8 mmの銅線は，1 500 Aの電流を流したとき，45 Hz〜67 Hzとの間の周波数では，

約半サイクル（又は直流に対して0.01 s）で溶断する。 

人工中性点の電源の場合は，製造業者の承諾に応じて，次の表によるより細い直径の銅線を用いて，

より低い推定故障電流とすることができる。 

注記2 対応国際規格の注記2は，許容事項であるため，本文に移した。 

銅導線の直径 

mm 

ヒューズエレメント回路の推定故障電流 

A 

0.1 

50 

0.2 

150 

0.3 

300 

0.4 

500 

0.5 

800 

0.8 

1500 

注記3 ヒューズエレメントの抵抗値については，8.3.2.1を参照。 

8.3.4.1.3 

試験回路の力率 

交流の場合，試験回路の各相の力率は，試験報告書に記載する方法に従って確定する。 

二つの例を，附属書Fに示す。 

多相回路の力率は，各相の力率の平均値とする。 

力率は，表16による。 

異なる相の力率の平均値と，最大値及び最小値との差異は，±0.05でなければならない。 

8.3.4.1.4 

試験回路の時定数 

直流試験回路の時定数は，F.2に規定する方法に従って決定する。 

時定数は，表16に適合しなければならない。 

8.3.4.1.5 

試験回路の校正 

試験回路の校正は，試験時，供試装置を接続する端子にインピーダンスを無視してもよい程度の仮の校

正用臨時配線（図9〜図12参照）を施して行う。 

交流回路の場合，その給与電圧において8.3.4.1.3に示す力率で定格短絡遮断容量に等しい電流が得られ

るように，抵抗R1及びリアクトルXを調整する。 

77 

C 8201-1：2020  

校正オシログラムから試験する装置の短絡投入容量を確定するためには，ある一相で推定投入電流が確

かめられるように，回路を校正することが必要である。 

注記 給与電圧は，規定の商用周波回復電圧となるような開回路電圧である（8.3.2.2.3の注記1参照）。 

直流回路の場合，その試験電圧において8.3.4.1.4に規定する時定数で，定格短絡遮断容量に等しい電流

の最大値が得られるように，抵抗R1及びリアクトルXを調整する。 

試験は，全ての極に同時に印加し，電流曲線は0.1秒以上記録する。 

校正曲線の最大値に達するまでにその接点が開離する直流開閉器の場合は，アンペア／秒（A/s）で表す

電流の上昇割合が，その試験電流に対して規定する時定数と同じであることを示すためには，その回路へ

純粋な抵抗を追加して試験を記録する方法でよい。この追加抵抗は，校正電流曲線のピーク値が少なくと

も遮断電流のピーク値に等しくなるようなものとする。この抵抗は，実際の試験では外す［8.3.4.1.8 b)参

照］。 

8.3.4.1.6 

試験順序 

8.3.4.1.5に適合するように試験回路を校正した後，校正用臨時配線，その接続ケーブルなどは，供試装

置へ置き換える。 

短絡試験時の性能試験は，個別規格の要求事項に適合しなければならない。 

8.3.4.1.7 

短絡投入及び遮断試験における機器の挙動 

電極相互間及び電極とフレームとの間で，アーク及びフラッシオーバが生じてはならない。また，漏え

い検出回路のヒューズエレメントFが溶断してはならない（8.3.4.1.2参照）。 

追加要求事項は個別規格で規定してもよい。 

8.3.4.1.8 

試験の解釈 

試験の解釈は，次による。 

a) 給与電圧及び商用周波回復電圧の決定 給与電圧及び商用周波回復電圧は，その供試装置について行

われた遮断試験の記録から確定し，交流は図13，直流は図14に示すように決定する。 

電源側の電圧は，全ての極のアークが消滅し，高い周波数の現象が鎮静化した後の，最初の完全な

サイクルの間に測定する（図13参照）。例えば，個々の極間の電圧，アーク時間，アークエネルギー，

開閉過電圧などの追加の情報が必要な場合は，各極間へ検出機器を追加してこれを求めてもよい。た

だし，この場合，これらの測定回路の抵抗値は，極間の電圧実効値当たり100 Ω未満であってはなら

ない。この値は，試験報告書に記載する。 

b) 推定遮断電流の決定 推定遮断電流は，試験回路の校正時に記録した電流曲線とその装置の遮断試験

記録とを比較して決定する（図13参照）。 

交流の場合，推定遮断電流の交流分は，アーク接点が開離した瞬間における校正電流の交流分実効

値とする［この値は，図13 a)の“A2/(22)”に相当する。］。推定遮断電流は，表8の許容差内で，全

ての相の推定遮断電流の平均値とする。各相の推定電流は，定格値の±10 %とする。 

開離が半サイクル以内の場合には，半サイクルの時点での電流値で定めてもよい。 

許容差は，表8による。 

注記 製造業者の合意がある場合，各相の電流は，平均値の10 %以内でもよい。 

直流の場合，推定遮断電流値は，電流がその最大値に達する前に装置が遮断したときは，校正曲線

から求めた最大値A2とする。また，電流がその最大値に達した後に装置が遮断したときは，値Aとす

る［図14のb)及びc)参照］。 

8.3.4.1.5の要求事項に従って試験する直流装置については，定格遮断容量より小さい電流I1で回路

78 

C 8201-1：2020  

を校正した場合，実際の遮断電流I2がI1より大きいときは，校正は無効となる。この場合，I2より高

い値の電流I3で校正した後，再度試験を行う（図15参照）。 

推定遮断電流は，校正回路の抵抗R1に対応する試験回路の抵抗Rによって計算し確定する。試験

回路の時定数Tは，次の式で求める。 

dt

di

A

T

/

2

＝

許容差は，表8による。 

c) 推定ピーク投入電流の決定 推定ピーク投入電流は，校正記録から求め，その値は，交流の場合は図

13 a)のA1，直流の場合は図14 a)のA2に相当する値とする。三相の試験の場合は，記録から得られる

三つのA1の値の最高値を適用する。 

注記 単相装置の場合，投入した位相に依存するため，校正記録から求めた推定ピーク投入電流は，

実際の投入電流と相違があってもよい。 

8.3.4.1.9 

試験後の装置の状態 

試験後，装置は，個別規格に適合しなければならない。 

8.3.4.2 

短絡投入及び遮断容量 

装置の短絡時の定格投入容量及び遮断容量の検証試験手順は，個別規格に適合しなければならない。 

8.3.4.3 

定格短時間耐電流の通電能力の検証 

この試験は，装置を閉路位置として，8.3.4.1の一般条件で，定格短時間耐電流に等しい推定電流を使用

電圧で印加する。 

使用電圧での試験が困難な試験設備の場合には，任意のより低い電圧で，定格短時間耐電流Icwに等しい

電流で行ってもよい。任意の低い電圧を用いた場合，試験報告書に記載する。ただし，試験中に接点が瞬

間的に開離する場合には，定格使用電圧で試験を再度繰り返し行う。 

試験中に動作する場合，過電流引外し装置は，動作しないようにする。 

試験は，次による。 

a) 交流の場合 この試験は，機器の定格周波数の±25 %で，定格短時間耐電流に対応する表16に示す

力率で行う。 

校正電流値は，全ての相の交流分実効値の平均値とする（4.3.6.1参照）。その平均値は，表8の許容

差以内とする。 

各相の電流は，定格値の±5 %とする。 

定格使用電圧で試験する場合，校正電流は，推定電流とする。 

低電圧で試験をする場合，校正電流は，実際の試験電流とする。 

電流は，その交流分の実効値が一定値を維持している規定の時間通電する。 

試験所が困難な場合であって，製造業者の合意がある場合，各相の電流は，平均値の±10 %でもよ

い。 

注記 対応国際規格の注記は，許容事項であるため，本文に移した。 

最初の1サイクル間の電流最大値は，定格短時間耐電流のn倍以下になってはならない。この電流

値に対応するnの値は，表16による。 

試験設備の特性によって上記の要求事項を満足しない場合には，次に示す条件でもよい。 

∫

×

test

0

st

2

2test

t

t

I

dt

i

≧

79 

C 8201-1：2020  

ここに， 

ttest： 試験の持続時間 

tst： 短時間 

itest： 交流成分が一定でない場合又は定格短時間耐電流以上の場合

の校正電流 

I： 交流成分が一定と仮定する場合の実際の校正電流 

試験設備の短絡電流の減衰によって，定格短時間耐電流が定格時間得られない場合は，電流の実効

値を試験中規定する値以下に下げ，その持続時間を適切に増加してもよい。ただし，最大ピーク電流

値は，規定値以上でなければならない。 

要求された電流ピーク値が得られるように，電流値を規定値以上に増加させる場合は，試験の持続

時間を適切に減じなければならない。 

b) 直流の場合 電流を規定の期間供給したとき，電流の平均値は，規定する値と同じでなければならな

い。 

試験設備の短絡電流の減衰によって，上記の要求事項を満足できない場合は，試験中電流を規定す

る値以下に下げて，その持続時間を適宜に増加してもよい。ただし，電流の最大値は，規定値以上と

する。 

製造業者と使用者との間の合意がある場合，これらの直流試験ができない試験設備のときは，交流

で行ってもよい。ただし，電流のピーク値は，試験装置の容量を超えてはならない。 

c) 試験中及び試験後の装置の挙動 試験中の装置の挙動は，個別規格に規定する。 

試験後，通常の操作手段によって動作できなければならない。 

8.3.4.4 

短絡保護装置及び定格条件付短絡電流との協調 

短絡保護装置及び定格条件付短絡電流との協調の試験条件及び試験手順は，個別規格で規定する。 

8.4 

EMC試験 

エミッション試験及びイミュニティ試験は，形式試験であって，関連するEMC規格に従って，製造業

者が指定する取付条件で行う。 

特定の試験条件（例えば，エンクロージャの使用）及び製品の性能基準を検証するために必要な任意で

追加した方法（例えば，休止時間の適用）を，個別規格に規定する。 

8.4.1 

イミュニティ 

8.4.1.1 

電子回路をもたない場合 

電子回路をもたない場合，試験は必要ない（7.3.2.1参照）。 

8.4.1.2 

電子回路をもつ場合 

8.4.1.2.1 

一般 

全てが受動的な部品（7.3.1参照）を用いた回路は，この試験を行う必要はない。 

性能基準は，表24に示す許容基準に基づき，個別規格に規定する。 

8.4.1.2.2 

静電気放電 

異なる試験基準が個別規格で規定され，判定される場合を除き，試験は，表23に規定する値で，JIS C 

61000-4-2:2012に従って行い，各測定点で気中放電又は接触放電を1秒以上の間隔で，10回繰り返し印加

する。 

試験配置は，図18による。 

8.4.1.2.3 

放射無線周波電磁界 

異なる試験基準が個別規格で規定され，判定される場合を除き，試験は，表23に規定する値で，JIS C 

61000-4-3:2012に従って行う。 

80 

C 8201-1：2020  

試験配置は，図19による。 

試験は，二つの段階で行う。第一段階（ステップ1）では，全ての周波数範囲で供試品の不要動作への

耐性について試験を行う。第二段階（ステップ2）では，個別の周波数での供試品の動作試験を行う。 

ステップ1では，周波数は，JIS C 61000-4-3:2012の箇条8に従って，80 MHz〜1 000 MHz及び1 400 MHz

〜2 000 MHzの範囲で掃引し，各周波数の振幅変調キャリアの印加時間は，個別規格に規定がない場合，

500 ms〜1 000 msとする。また，ステップサイズは，前の周波数の1 %とする。印加時間を試験成績書に

記載する。 

ステップ2では，個別周波数での機能特性を検証する試験は，個別規格に従って行う。 

8.4.1.2.4 

電気的ファストトランジェント／バースト（EFT/B） 

異なる試験基準及び／又は繰返し率が個別規格で規定されている場合を除き，試験は，表23に規定する

値で，5 kHzの繰返し率で，JIS C 61000-4-4:2015に従って行う。 

信号ポートを除き，全てのポートの試験配置は，図20による。 

信号ポートの場合，EFT発生器と容量性結合クランプとの間の電線の全長を，1 m以下として，接続リ

ード線は，容量性結合クランプへ結合する。 

8.4.1.2.5 

サージ 

試験は，JIS C 61000-6-2:2008の表2，及び表3の注d)を考慮して，表23に規定する値で，JIS C 

61000-4-5:2009に従って行う。 

正及び負の両極性をもつパルスが印加され，その推奨位相角は0°，90°及び270°とする。 

連続する5波のパルスは，両極性と各々の位相角に，パルスの時間間隔は約1分間で印加する。各相に

おいて，同一の回路構成をもつ三相機器は，一つの相だけに試験を要求する。 

8.4.1.2.6 

無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害 

試験は，表23に規定する値で，JIS C 61000-4-6:2017に従って行う。試験は，自由大気中で，供試品を

用いて行う。 

妨害は，電源ライン上にM1，M2又はM3の結合−減結合回路網の手段によって注入する。 

信号線上での妨害は，結合−減結合回路網の手段によって注入する。実行できない場合，EMクランプ

を用いてもよい。 

特別な試験配置は，図21又は図22による。また，試験成績書に試験配置を記載する。 

試験は，二つの段階で行う。第一段階（ステップ1）では，周波数の全ての範囲で供試品の不要動作へ

の耐性について試験する。第二段階（ステップ2）では，個別の周波数で供試品の正常な動作について試

験する。 

第一段階では，周波数は，JIS C 61000-4-6:2017の箇条8に従って，150 kHz〜80 MHzの範囲で掃引する。

個別規格に規定がない場合，各周波数に対する振幅変調搬送波を加える時間は，500 ms〜1000 msの間で，

周波数を変化する割合は，前の周波数の1 %とする。実際の印加時間を，試験成績書に記載する。 

第二段階では，個別の周波数で機能特性を実証するための試験は，個別規格に従って行う。 

8.4.1.2.7 

電源周波数磁界 

この試験は，個別規格に定義する電源周波数磁界に影響されやすい機器を含む設備だけに適用する。試

験方法は，JIS C 61000-4-8:2016に従って，試験は専用きょう（筐）体だけを用いるものを除いた供試品を

用いて，大気中で行う。試験レベルは，表23による。電磁界は，供試品の三方向の垂直軸に適用する（図

23参照）。 

8.4.1.2.8 

電圧ディップ及び短時間停電 

81 

C 8201-1：2020  

この試験は，個別規格で定義する電圧ディップ及び短時間停電の場合に不要動作する装置だけに適用す

る。 

この試験は，JIS C 61000-4-11:2008に従って行う。供試品は，供試品の製造業者が指定する最短の電力

供給ケーブルで試験電圧発生器に接続する。ケーブルの長さの指定がない場合，供試品に適した最も短い

長さで行う。 

試験レベルは，表23に規定し，記載する百分率（%）は，定格使用電圧の百分率（%）を意味する。 

8.4.1.2.9 

供給電源における高調波 

供給電源における高調波は，検討中。 

8.4.2 

エミッション 

8.4.2.1 

電子回路をもたない場合 

電子回路をもたない場合，試験は必要ない（7.3.3.1参照）。 

8.4.2.2 

電子回路をもつ場合 

電子回路をもつ場合，試験方法の詳細を，個別規格に規定する（7.3.3.2参照）。 

表1−銅の円形導体の公称断面積（mm2）とAWG/kcmilとの近似関係 

（7.1.8.2参照） 

公称断面積 

mm2 

AWG/kcmil 

サイズ 

AWG/kcmilの 

等価断面積 

mm2 

0.2 

24 

0.205 

0.34 

22 

0.324 

0.5 

20 

0.519 

0.75 

18 

0.82 

1 

− 

− 

1.5 

16 

1.3 

2.5 

14 

2.1 

4 

12 

3.3 

6 

10 

5.3 

10 

8 

8.4 

16 

6 

13.3 

25 

4 

21.2 

35 

2 

33.6 

− 

1 

42.4 

50 

0 

53.5 

70 

00 

67.4 

95 

000 

85.0 

− 

0000 

107.2 

120 

250 kcmil 

127 

150 

300 kcmil 

152 

185 

350 kcmil 

177 

− 

400 kcmil 

203 

240 

500 kcmil 

253 

300 

600 kcmil 

304 

注記 ダッシュ（−）は，接続容量を検討するときサイズの一つ

として数える（7.1.8.2参照）。 

82 

C 8201-1：2020  

表1A−電線の公称断面積（7.1.8.2参照） 

銅の円形導体（より線）の 

公称断面積 

mm2 

銅の円形導体（単線）の 

導体径 

mm 

0.5 

0.5 

0.75 

0.8 

1.25 

1.0 

2 

1.2 

3.5 

1.6 

5.5 

2.0 

8 

2.6 

14 

3.2 

22 

4.0 

38 

5.0 

60 

100 

150 

200 

250 

325 

400 

500 

注記 この表は，JIS C 3307を基に作成した。 

表1B−接続可能電線（7.1.8.2参照） 

定格電流（In） 

電線 

A 

単線（直径） 

mm 

より線（断面積） 

mm2 

15以下 

1.6 

− 

  15を超え 

20以下 

1.6及び2.0 

2 〜 5.5 

  20を超え 

30以下 

2.0及び2.6 

3.5 〜 8 

  30を超え 

50以下 

− 

8 〜 14 

  50を超え 

60以下 

− 

8 〜 22 

  60を超え 

75以下 

− 

 14 〜 22 

  75を超え 

100以下 

− 

 22 〜 38 

 100を超え 

125以下 

− 

 38 〜 60 

 125を超え 

150以下 

− 

 38 〜 60 

 150を超え 

175以下 

− 

 60 〜 100 

 175を超え 

200以下 

− 

 100 〜 150 

 200を超え 

225以下 

− 

 100 〜 150 a) 

 225を超え 

300以下 

− 

 100 〜 200 a) 

 300を超え 

350以下 

− 

 150 〜 250 a) 

 350を超え 

400以下 

− 

2× (60〜100)a) 

 400を超え 

500以下 

− 

2× (100〜150)a) 

 500を超え 

600以下 

− 

2× (100〜200)a) 

注a) 端子は，600 Vビニル絶縁電線のこれらの断面積とほぼ

等しい断面積をもつ銅帯が接続できる構造でもよい。 

83 

C 8201-1：2020  

表2−端子の温度上昇限度 

（7.2.2.1及び8.3.3.3.4参照） 

単位 K 

端子の材質 

温度上昇の限度a) c) 

裸銅 

60 

銅合金（黄銅） 

65 

すずめっきの銅又は銅合金（黄銅） 

65 

銀めっき，又はニッケルめっきの銅又は銅合金（黄銅） 

70 

その他の材料 

b) 

注記 この表は，IEC規格のPVCケーブルを基準にしている。 
注a) 表9，表9A及び表10に示すものより小さい導体を用いるときは，端子及び内部の部

品の温度が高くなるおそれがある。また，温度の上昇によって，装置が故障すること
もあるため，製造業者との協定なしでそのような導体を用いない方がよい。 

b) 使用経験又は寿命試験を基準にした温度上昇限度値。ただし，65 Kを超えない。 

c) この試験の条件と異なったもの，及び寸法の小さい装置に対しては，別の値を個別規

格が指定してもよい。ただし，表2の値より10 Kを超えて差異があってはならない。 

表3−アクセスできる部分（部品）の温度上昇限度 

（7.2.2.2及び8.3.3.3.4参照） 

単位 K 

アクセスできる部分 

温度上昇の限度a) 

つまむ，握るなどによって手動で操作する部分： 
− 金属製 
− 非金属製 

15 
25 

触れようとはするが，つかむところではない部分： 
− 金属製 
− 非金属製 

30 
40 

通常の操作中では，人が触れることがない部分で， 
ケーブル引込口に隣接したエンクロージャの表面部分： 
− 金属製 
− 非金属製 

 
 

40 
50 

抵抗器のエンクロージャの表面部分 

200 b) 

抵抗器のエンクロージャの換気口から出る空気 

200 b) 

注a) 個別規格で規定する数値は，試験の条件の違い及び小形装置などによって異なっても

よいが，この表に規定する値に対して，10 Kを超える差異があってはならない。 

b) 装置は，燃えやすい材料への接触又は使用者の不慮の接触に対して保護しなければな

らない。200 Kの限界は，製造業者によって指定する場合，超えてもよい。危険を防ぐ
配置及び保護は，設置する人の責任である。製造業者は，5.3によって適切な指示を準
備しなければならない。 

84 

C 8201-1：2020  

表4−機械的強度の検証を行うときのねじ式端子に加える締付トルク 

（8.2.4.2及び8.3.2.1参照） 

ねじ部の直径 

mm 

締付トルク 

N･m 

メートル表示の基準値 

直径の範囲 

I 

II 

III 

1.6 

1.6 以下 

0.05 

0.1 

0.1 

2.0 

 1.6 を超え 2.0 以下 

0.1 

0.2 

0.2 

2.5 

 2.0 を超え 2.8 以下 

0.2 

0.4 

0.4 

3.0 

 2.8 を超え 3.0 以下 

0.25 

0.5 

0.5 

− 

 3.0 を超え 3.2 以下 

0.3 

0.6 

0.6 

3.5 

 3.2 を超え 3.6 以下 

0.4 

0.8 

0.8 

4.0 

 3.6 を超え 4.1 以下 

0.7 

1.2 

1.2 

4.5 

 4.1 を超え 4.7 以下 

0.8 

1.8 

1.8 

5 

 4.7 を超え 5.3 以下 

0.8 

2.0 

2.0 

6 

 5.3 を超え 6.0 以下 

1.2 

2.5 

3.0 

8 

 6.0 を超え 8.0 以下 

2.5 

3.5 

6.0 

10 

 8.0 を超え 10.0 以下 

− 

4.0 

10.0 

12 

 10 を超え 12 以下 

− 

− 

14.0 

14 

 12 を超え 15 以下 

− 

− 

19.0 

16 

 15 を超え 20 以下 

− 

− 

25.0 

20 

 20 を超え 24 以下 

− 

− 

36.0 

24 

 24 を超えるもの 

− 

− 

50.0 

I列： 締め付けるとき，ねじ穴からはみ出る部分がないような頭なしねじ，又は先端の刃の部分がねじ

の基本部分の直径より大きい（マイナス）ねじ回しでは締付けができないようなねじに適用する。 

II列： ねじ回しで締め付けるようにしたねじ及びナットに適用する。 
III列： ねじ回し以外の手段で，締め付けるようにしたねじ及びナットに適用する。 

85 

C 8201-1：2020  

表5−銅の円形導体に対するねん回及び引張試験の試験値 

（8.2.4.4.1参照） 

導体サイズ 

ブッシング孔

の直径a) b) 

高さ 

H a) 

おもり 

引張力 

mm2 

（AWG/kcmil） 

mm 

mm 

kg 

N 

0.2 

24 

6.5 

260 

0.2 

10 

0.34 

22 

6.5 

260 

0.2 

15 

0.5 

20 

6.5 

260 

0.3 

20 

0.75 

18 

6.5 

260 

0.4 

30 

1.0 

− 

6.5 

260 

0.4 

35 

1.5 

16 

6.5 

260 

0.4 

40 

2.5 

14 

9.5 

280 

0.7 

50 

4.0 

12 

9.5 

280 

0.9 

60 

6.0 

10 

9.5 

280 

1.4 

80 

10 

8 

9.5 

280 

2.0 

90 

16 

6 

13.0 

300 

2.9 

100 

25 

4 

13.0 

300 

4.5 

135 

− 

3 

14.5 

320 

5.9 

156 

35 

2 

14.5 

320 

6.8 

190 

− 

1 

15.9 

343 

8.6 

236 

50 

0 

15.9 

343 

9.5 

236 

70 

00 

19.1 

368 

10.4 

285 

95 

000 

19.1 

363 

14 

351 

− 

0000 

19.1 

368 

14 

427 

120 

250 kcmil 

22.2 

406 

14 

427 

150 

300 kcmil 

22.2 

406 

15 

427 

185 

350 kcmil 

25.4 

432 

16.8 

503 

− 

400 kcmil 

25.4 

432 

16.8 

503 

240 

500 kcmil 

28.6 

464 

20 

578 

300 

600 kcmil 

28.6 

464 

22.7 

578 

注a) 許容差：高さHについては±15 mm，ブッシング孔の直径については±2 mm。 

b) ブッシング孔の直径が，その導体を拘束しないで収納できる大きさでない場合，次に大きい径の

ブッシングを用いてもよい。 

表6−銅の板状導体の引張試験の数値 

（8.2.4.4.2参照） 

銅の板状導体の最大幅 

mm 

引張力 

N 

12 

100 

14 

120 

16 

160 

20 

180 

25 

220 

30 

280 

86 

C 8201-1：2020  

表7−最大導体断面積及び相当するゲージ 

（8.2.4.5.1参照） 

導体サイズ 

ゲージ（図2参照） 

可とう導体 

mm2 

硬質導体 

（単線又はより線） 

mm2 

形状A 

形状B 

a及びbの

許容差 

mm 

マーキング 

直径a 

mm 

直径b 

mm 

マーキング 

直径a 

mm 

1.5 

1.5 

A1 

2.4 

1.5 

B1 

1.9 

0 

2.5 

2.5 

A2 

2.8 

2.0 

B2 

2.4 

−0.05 

2.5 

4 

A3 

2.8 

2.4 

B3 

2.7 

4 

6 

A4 

3.6 

3.1 

B4 

3.5 

0 

6 

10 

A5 

4.3 

4.0 

B5 

4.4 

−0.06 

10 

16 

A6 

5.4 

5.1 

B6 

5.3 

16 

25 

A7 

7.1 

6.3 

B7 

6.9 

0 

25 

35 

A8 

8.3 

7.8 

B8 

8.2 

−0.07 

35 

50 

A9 

10.2 

9.2 

B9 

10.0 

50 

70 

A10 

12.3 

11.0 

B10 

12.0 

0 

70 

95 

A11 

14.2 

13.1 

B11 

14.0 

−0.08 

95 

120 

A12 

16.2 

15.1 

B12 

16.0 

120 

150 

A13 

18.2 

17.0 

B13 

18.0 

150 

185 

A14 

20.2 

19.0 

B14 

20.0 

185 

240 

A15 

22.2 

21.0 

B15 

22.0 

0 

240 

300 

A16 

26.5 

24.0 

B16 

26.0 

−0.09 

注記 この表に示す以外の異なる形状の単線，又はより線の規定導体断面積には，適切な断面積の未処理導体を

ゲージとして用いてもよい。挿入力は，5 N以下である。 

87 

C 8201-1：2020  

表7a−導体断面積と直径との関係 

導体断面積 

 
 
 
 

mm2 

最大導体の理論上の直径 

硬質導体 

可とう導体 

 
 
 

mm 

AWG/kcmil 

硬質導体 

可とう導体 

単線 

mm 

より線 

mm 

AWG 

/kcmil 

単線b) 

mm 

クラスB 

より線b) 

mm 

クラスI，K，M 

より線c) 

mm 

0.2 

0.51 

0.53 

0.61 

24 

0.54 

0.61 

0.64 

0.34 

0.63 

0.66 

0.8 

22 

0.68 

0.71 

0.80 

0.5 

0.9 

1.1 

1.1 

20 

0.85 

0.97 

1.02 

0.75 

1.0 

1.2 

1.3 

18 

1.07 

1.23 

1.28 

1.0 

1.2 

1.4 

1.5 

− 

− 

− 

− 

1.5 

1.5 

1.7 

1.8 

16 

1.35 

1.55 

1.60 

2.5 

1.9 

2.2 

2.3 a) 

14 

1.71 

1.95 

2.08 

4.0 

2.4 

2.7 

2.9 a) 

12 

2.15 

2.45 

2.70 

6.0 

2.9 

3.3 

3.9 a) 

10 

2.72 

3.09 

3.36 

10.0 

3.7 

4.2 

5.1 

8 

3.43 

3.89 

4.32 

16.0 

4.6 

5.3 

6.3 

6 

4.32 

4.91 

5.73 

25.0 

− 

6.6 

7.8 

4 

5.45 

6.18 

7.26 

35.0 

− 

7.9 

9.2 

2 

6.87 

7.78 

9.02 

50 

− 

9.1 

11.0 a) 

0 

− 

9.64 

12.08 

70 

− 

11.0 

13.1 a) 

00 

− 

11.17 

13.54 

95 

− 

12.9 

15.1 a) 

000 

− 

12.54 

15.33 

− 

− 

− 

− 

0000 

− 

14.08 

17.22 

120 

− 

14.5 

17.0 a) 

250 kcmil 

− 

15.34 

19.01 

150 

− 

16.2 

19.0 a) 

300 kcmil 

− 

16.80 

20.48 

185 

− 

18.0 

21.0 a) 

350 kcmil 

− 

18.16 

22.05 

− 

− 

− 

− 

400 kcmil 

− 

19.42 

24.05 

240 

− 

20.6 

24.0 a) 

500 kcmil 

− 

21.68 

26.57 

300 

− 

23.1 

27.0 a) 

600 kcmil 

− 

23.82 

30.03 

注記 最大の硬質導体及び可とう導体は，JIS C 3664:2007の表3及び表5，並びにIEC/TR 60344に基づいて

いる。またAWG導体はASTM B172-71，ICEA Publication S-19-81，ICEA Publication S-66-524，及びICEA 
Publication S-68-516に基づいている。 

注a) クラス5の可とう導体の寸法は，JIS C 3664:2007による。 

b) 記載の直径は，公称直径の1.05倍 

c) 記載の直径は，クラスI，クラスK及びクラスMの中の最大径の1.05倍 

表8−試験条件の許容差 

［8.3.4.3 a)参照］ 

全試験 

無負荷，通常負荷及び過負荷状態での試験 

短絡条件での試験 

電流：50

＋ % 

力率：±0.05 

力率：00.05

−

電圧：50

＋ % 

時定数：150

＋ % 

時定数：250

＋ % 

（商用周波回復電圧は，±3 %
とする。） 

周波数：±5 % 

周波数：±5 % 

注記1 最大動作限界及び／又は最小動作限界が個別規格に記載されている場合，この表の許容差は適用し

ない。 

注記2 受渡当事者間の協定によって，50 Hzでの試験は60 Hzでの動作として認めてもよい。その逆も同

様に許容する。 

88 

C 8201-1：2020  

表9−試験電流400 A以下の試験用銅導体 

（8.3.3.3.4参照） 

試験電流の範囲a) 

A 

導体のサイズb) c) d) 

mm2 

AWG/kcmil 

0 

8 

1.0 

18 

8 

12 

1.5 

16 

12 

15 

2.5 

14 

15 

20 

2.5 

12 

20 

25 

4.0 

10 

25 

32 

6.0 

10 

32 

50 

10 

8 

50 

65 

16 

6 

65 

85 

25 

4 

85 

100 

35 

3 

100 

115 

35 

2 

115 

130 

50 

1 

130 

150 

50 

0 

150 

175 

70 

00 

175 

200 

95 

000 

200 

225 

95 

0000 

225 

250 

120 

250 kcmil 

250 

275 

150 

300 kcmil 

275 

300 

185 

350 kcmil 

300 

350 

185 

400 kcmil 

350 

400 

240 

500 kcmil 

注a)〜d) 

表11の注a)〜d)に同じ。 

89 

C 8201-1：2020  

表9A−試験用銅導体 

（8.3.3.3.4参照） 

定格電流 In 

A 

電線 

単線（直径） 

mm 

より線（断面積） 

mm2 

15 以下 

1.6 

− 

 15 を超え 

20 以下 

2.0 

− 

 20 を超え 

30 以下 

− 

5.5 

 30 を超え 

40 以下 

− 

8 

 40 を超え 

50 (60) 以下a) 

− 

14 

 50 (60) を超え 

75 以下a) 

− 

22 

 75 を超え 

113 以下 

− 

38 

 113 を超え 

152 以下 

− 

60 

 152 を超え 

208 以下 

− 

100 

 208 を超え 

276 以下 

− 

150 

 276 を超え 

328 以下 

− 

200 

 328 を超え 

389 以下 

− 

250 

 389 を超え 

455 以下 

− 

2×100，又は325 

 455 を超え 

520 以下 

− 

2×150，又は400 

 520 を超え 

600 以下 

− 

2×200，又は500 

注a) (60)は，配線用遮断器及び漏電遮断器に適用する。 

表10−試験電流400 Aを超え800 A以下の試験用銅導体 

（8.3.3.3.4参照） 

試験電流の範囲a) 

 
 

A 

導体b) c) d) 

メートル 

kcmil 

本数 

サイズ 

mm2 

本数 

サイズ 

kcmil 

400 

500 

2 

150 

2 

250 

500 

630 

2 

185 

2 

350 

630 

800 

2 

240 

3 

300 

注a)〜d) 

表11の注a)〜d)に同じ。 

90 

C 8201-1：2020  

表11−試験電流が400 Aを超え3 150 A以下の試験用銅帯 

（8.3.3.3.4参照） 

試験電流の範囲a) 

A 

銅帯b) c) d) e) f) 

本数 

寸法 

mm 

寸法 

inch 

400 

500 

2 

30 × 5 

1 

× 0.250 

500 

630 

2 

40 × 5 

1.25 × 0.250 

630 

800 

2 

50 × 5 

1.5 × 0.250 

800 

1000 

2 

60 × 5 

2 

× 0.250 

1000 

1250 

2 

80 × 5 

2.5 × 0.250 

1250 

1600 

2 
2 

100 × 5 

50 × 10 

3 

× 0.250 

1600 

2000 

3 
2 

100 × 5 

75 × 10 

3 

× 0.250 

2000 

2500 

4 
2 

100 × 5 

100 × 10 

3 

× 0.250 

2500 

3150 

3 
2 

100 × 10 

150 × 10 

6 

× 0.250 

注a) 試験電流値は，第1列での最初の値より大きく，その列での第2番目の値以下とする。 

b) 試験の便宜のため，製造業者の合意を得た場合には，示された試験電流用の導体より小

さな導体を用いてもよい。 

c) この表は，メートル法及びAWG/kcmilシステムでの導体のサイズを，ミリメートル（mm）

及びインチ（inch）で銅帯のサイズをそれぞれ示す。AWG/kcmilとメートル法でのサイズ
の比較は，表1を参照。 

d) 示した電流範囲に対して規定する二つの導体のうちいずれを用いてもよい。 

e) 銅帯は，長い面を垂直にして配線する。製造業者が示す場合には，長い面を水平にして

配線することがある。 

f) 四つの銅帯を用いる場合には，この銅帯の対とし，各々の対の中心間の距離は，100 mm

以内とする。 

表12−インパルス試験耐電圧値 

［7.2.3及び7.2.3.1 a) 1)参照］ 

単位 kV 

定格インパ
ルス耐電圧 

Uimp 

試験電圧及び対応標高 

U1.2/50 

海水面 

200 m 

500 m 

1 000 m 

2 000 m 

0.33 

0.35 

0.35 

0.35 

0.34 

0.33 

0.5 

0.55 

0.54 

0.53 

0.52 

0.5 

0.8 

0.91 

0.9 

0.9 

0.85 

0.8 

1.5 

1.75 

1.7 

1.7 

1.6 

1.5 

2.5 

2.95 

2.8 

2.8 

2.7 

2.5 

4 

4.9 

4.8 

4.7 

4.4 

4.0 

6 

7.3 

7.2 

7.0 

6.7 

6.0 

8 

9.8 

9.6 

9.3 

9.0 

8.0 

12 

14.8 

14.5 

14 

13.3 

12 

注記 この表は，均一電界，ケースBの特性を用いている（2.5.62参照）。 

91 

C 8201-1：2020  

表12A−定格絶縁電圧に対する耐電圧試験電圧 

単位 V 

定格絶縁電圧値 

Ui 

耐電圧試験電圧 

（交流，実効値） 

耐電圧試験電圧b) c) 

（直流） 

60以下 

1 000 

1 415 

60を超え 

300以下 

1 500 

2 120 

300を超え 

690以下 

1 890 

2 670 

690を超え 

800以下 

2 000 

2 830 

800を超え 1000以下 

2 200 

3 110 

 1000を超え 1500以下a) 

− 

3 820 

注a) 直流用。 

b) JIS C 60664-1:2009の6.1.3.4.1の第5段落による試験電圧 

c) 直流試験電圧は，交流試験電圧が適用できない場合にだけ用いてよい。

8.3.3.4.1のc) 2) ii)を参照。 

表13−最小空間距離 

定格インパルス

耐電圧 

最小距離 

mm 

Uimp 

ケースA不均一電界 

（2.5.63参照） 

ケースB理想的均一電界 

（2.5.62参照） 

汚損度 

汚損度 

kV 

1 

2 

3 

4 

1 

2 

3 

4 

0.33 

0.01 

0.2 

0.8 

1.6 

0.01 

0.2 

0.8 

1.6 

0.5 

0.04 

0.04 

0.8 

0.1 

0.1 

1.5 

0.5 

0.5 

0.3 

0.3 

2.5 

1.5 

1.5 

1.5 

0.6 

0.6 

4.0 

3 

3 

3 

3 

1.2 

1.2 

1.2 

6.0 

5.5 

5.5 

5.5 

5.5 

2 

2 

2 

2 

8.0 

8 

8 

8 

8 

3 

3 

3 

3 

12 

14 

14 

14 

14 

4.5 

4.5 

4.5 

4.5 

注記 最小空間距離の値は，インパルス電圧が1.2/50 μs，標高が2 000 mでの通常の気圧に相当す

る80 kPaの気圧に基づいている。 

表14−断路に適した装置の開路接点間の試験電圧 

単位 kV 

定格インパルス

耐電圧 

Uimp 

試験電圧及び対応標高 

U1.2/50 

海水面 

200 m 

500 m 

1 000 m 

2 000 m 

0.33 

1.8 

1.7 

1.7 

1.6 

1.5 

0.5 

1.8 

1.7 

1.7 

1.6 

1.5 

0.8 

1.8 

1.7 

1.7 

1.6 

1.5 

1.5 

2.3 

2.3 

2.2 

2.2 

2 

2.5 

3.5 

3.5 

3.4 

3.2 

3 

4.0 

6.2 

6.0 

5.8 

5.6 

5 

6.0 

9.8 

9.6 

9.3 

9.0 

8 

8.0 

12.3 

12.1 

11.7 

11.1 

10 

12 

18.5 

18.1 

17.5 

16.7 

15 

92 

C 8201-1：2020  

表15−最小沿面距離 

装置の定
格絶縁電
圧又はワ
ーキング
電圧交流
実効値又
は直流b), 

c) 

長期間ストレスにさらす装置に対する最小沿面距離 

プリント 
配線材料 

− 

汚損度 

1 

2 

1 

2 

3 

4 

材料グループ 

全て IIIb除く

全て 

全て 

I 

II 

III 

I 

II 

IIIa 

IIIb 

I 

II 

IIIa 

IIIb 

V 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

mm 

10 

0.025 

0.04 

0.08 

0.4 

0.4 

0.4 

1 

1 

1 

1.6 

1.6 

1.6 

a) 

12.5 

0.025 

0.04 

0.09 

0.42 

0.42 

0.42 

1.05 

1.05 

1.05 

1.6 

1.6 

1.6 

16 

0.025 

0.04 

0.1 

0.45 

0.45 

0.45 

1.1 

1.1 

1.1 

1.6 

1.6 

1.6 

20 

0.025 

0.04 

0.11 

0.48 

0.48 

0.48 

1.2 

1.2 

1.2 

1.6 

1.6 

1.6 

25 

0.025 

0.04 

0.125 0.5 

0.5 

0.5 

1.25 

1.25 

1.25 

1.7 

1.7 

1.7 

32 

0.025 

0.04 

0.14 

0.53 

0.53 

0.53 

1.3 

1.3 

1.3 

1.8 

1.8 

1.8 

40 

0.025 

0.04 

0.16 

0.56 

0.8 

1.1 

1.4 

1.6 

1.8 

1.9 

2.4 

3 

50 

0.025 

0.04 

0.18 

0.6 

0.85 

1.2 

1.5 

1.7 

1.9 

2 

2.5 

3.2 

63 

0.04 

0.063 

0.2 

0.63 

0.9 

1.25 

1.6 

1.8 

2 

2.1 

2.6 

3.4 

80 

0.063 

0.1 

0.22 

0.67 

0.95 

1.3 

1.7 

1.9 

2.1 

2.2 

2.8 

3.6 

100 

0.1 

0.16 

0.25 

0.71 

1 

1.4 

1.8 

2 

2.2 

2.4 

3.0 

3.8 

125 

0.16 

0.25 

0.28 

0.75 

1.05 

1.5 

1.9 

2.1 

2.4 

2.5 

3.2 

4 

160 

0.25 

0.4 

0.32 

0.8 

1.1 

1.6 

2 

2.2 

2.5 

3.2 

4 

5 

200 

0.4 

0.63 

0.42 

1 

1.4 

2 

2.5 

2.8 

3.2 

4 

5 

6.3 

250 

0.56 

1 

0.56 

1.25 

1.8 

2.5 

3.2 

3.6 

4 

5 

6.3 

8.0 

320 

0.75 

1.6 

0.75 

1.6 

2.2 

3.2 

4 

4.5 

5 

6.3 

8.0 

10 

400 

1 

2 

1 

2 

2.8 

4 

5 

5.6 

6.3 

8.0 

10 

12.5 

500 

1.3 

2.5 

1.3 

2.5 

3.6 

5 

6.3 

7.1 

8.0 

10 

12.5 

16 

630 

1.8 

3.2 

1.8 

3.2 

4.5 

6.3 

8 

9 

10 

12.5 

16 

20 

800 

2.4 

4 

2.4 

4 

5.6 

8 

10 

11 

12.5 

a) 

16 

20 

25 

1000 

3.2 

5 

3.2 

5 

7.1 

10 

12.5 

14 

16 

20 

25 

32 

1250 

− 

− 

4.2 

6.3 

9 

12.5 

16 

18 

20 

25 

32 

40 

1600 

− 

− 

5.6 

8 

11 

16 

20 

22 

25 

32 

40 

50 

2000 

− 

− 

7.5 

10 

14 

20 

25 

28 

32 

40 

50 

63 

2500 

− 

− 

10 

12.5 

18 

25 

32 

36 

40 

50 

63 

80 

3200 

− 

− 

12.5 

16 

22 

32 

40 

45 

50 

63 

80 

100 

4000 

− 

− 

16 

20 

28 

40 

50 

56 

63 

80 

100 

125 

5000 

− 

− 

20 

25 

36 

50 

63 

71 

80 

100 

125 

160 

6300 

− 

− 

25 

32 

45 

63 

80 

90 

100 

125 

160 

200 

8000 

− 

− 

32 

40 

56 

80 

100 

110 

125 

160 

200 

250 

10000 

− 

− 

40 

50 

71 

100 

125 

140 

160 

200 

250 

320 

注記1 32 V以下のワーキング電圧用の絶縁の場合，トラッキング又は浸食は発生しないことが認められる。ただし，

電食の可能性を考慮する必要があって，このために最小沿面距離を指定する。 

注記2 電圧値は，R10シリーズに従って選択する。 
注a) この領域での沿面距離値は，確定していない。一般には，材料グループIIIbの適用は，630 Vを超える汚損度3

及び汚損度4では推奨しない。 

b) 例外として，127 V，208 V，415/440 V，660/690 V及び830 Vでは，各々より低い値の125 V，200 V，400 V，

630 V及び800 Vの沿面距離を用いる。 

c) 250 Vの沿面距離の値は，公称電圧が230 V（±10 %）に用いることができる。 

93 

C 8201-1：2020  

表16−試験電流に対応する力率及び時定数，並びに試験電流のピーク値と実効値との比率n 

［8.3.4.3 a)参照］ 

試験電流I 

A 

力率 

時定数 

ms 

比率 

n 

1500以下 

0.95 

5 

1.41 

1500を超え 3000以下 

0.9 

5 

1.42 

3000を超え 4500以下 

0.8 

5 

1.47 

4500を超え 6000以下 

0.7 

5 

1.53 

6000を超え 10000以下 

0.5 

5 

1.7 

 10000を超え 20000以下 

0.3 

10 

2.0 

 20000を超え 50000以下 

0.25 

15 

2.1 

 50000を超え 

0.2 

15 

2.2 

表17−操作部の形式に対する試験力の限度 

（8.2.5.2.1参照） 

単位 N 

操作部の形式a) 

試験荷重a) 

最小操作力 

最大操作力 

押しボタン（a） 

3F 

50 

150 

一本指操作（b） 

3F 

50 

150 

二本指操作（c） 

3F 

100 

200 

片手操作（d及びe） 

3F 

150 

400 

両手操作（f及びg） 

3F 

200 

600 

注a) Fは，未使用状態での通常の操作力である。操作荷重3Fが最小値と最大

値との間である場合，3Fで行う。3Fが最小値よりも小さい場合は最小値，
3Fが最大値よりも大きい場合は最大値で行う。操作荷重は，図16に示す
ように加える。 

表18−空白 

表19−空白 

表20−金属電線管引張試験値 

（8.2.7.1参照） 

電線管の規格 

電線管の径 

引張力 

IEC 60981:2004 

内径 

mm 

外径 

mm 

N 

12H 

12.5 

17.1 

900 

16H〜41H 

16.1〜41.2 

21.3〜48.3 

900 

53H〜155H 

52.9〜154.8 

60.3〜168.3 

900 

94 

C 8201-1：2020  

表21−金属電線管曲げ試験値 

（8.2.7.2参照） 

電線管の規格 

電線管の径 

曲げモーメント 

IEC 60981:2004 

内径 

mm 

外径 

mm 

Nm 

12H 

12.5 

17.1 

35 a) 

16H〜41H 

16.1〜41.2 

21.3〜48.3 

70 

53H〜155H 

52.9〜154.8 

60.3〜168.3 

70 

注a) この値は，エンクロージャの入口側の電線管に対しては，17 Nmを適用

する。ただし，出口側の電線管には適用しない。 

表22−金属電線管のねじり試験値 

（8.2.7.1及び8.2.7.3参照） 

電線管の規格 

電線管の径 

トルク 

IEC 60981:2004 

内径 

mm 

外径 

mm 

Nm 

12H 

12.5 

17.1 

90 

16H〜41H 

16.1〜41.2 

21.3〜48.3 

120 

53H〜155H 

52.9〜154.8 

60.3〜168.3 

180 

95 

C 8201-1：2020  

表23−EMCイミュニティ試験 

（8.4.1.2参照） 

形式試験 

試験レベル 

静電気放電イミュニティ試験 
JIS C 61000-4-2:2012 

8 kV/気中放電 
又は 
4 kV/接触放電 

放射無線周波電磁界イミュニティ試験（80 MHz〜1 GHz） 
JIS C 61000-4-3:2012 

10 V/m 

放射無線周波電磁界イミュニティ試験（1.4 GHz〜2 GHz） 
JIS C 61000-4-3:2012 

3 V/m 

放射無線周波電磁界イミュニティ試験（2 GHz〜2.7 GHz） 
JIS C 61000-4-3:2012 

1 V/m 

電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験 
JIS C 61000-4-4:2015 

2 kV/5 kHz電源ポート 
1 kV/5 kHz信号ポート 

1.2/50 μs−8/20 μsサージイミュニティ試験a) 

JIS C 61000-4-5:2009 

2 kV（充電部と大地との間） 
1 kV（充電部間） 

伝導無線周波イミュニティ試験（150 kHz〜80 MHz） 
JIS C 61000-4-6:2017 

10 V 

電源周波数磁界イミュニティ試験b) 
JIS C 61000-4-8:2016 

30 A/m 

電圧ディップに対するイミュニティ試験 
JIS C 61000-4-11:2008 

クラス2 c) d) e) 
0.5サイクル間及び1サ
イクル間0 % 
25/30サイクル間70 % 

クラス3 c) d) e) 
0.5サイクル間及び1サイ
クル間0 % 
10/12サイクル間40 % 
25/30サイクル間70 % 
250/300サイクル間80 % 

短時間停電に対するイミュニティ試験 
JIS C 61000-4-11:2008 

クラス2 c) d) e) 
250/300サイクル間0 % 

クラス3 c) d) e) 
250/300サイクル間0 % 

供給電源における高調波のイミュニティ試験 
IEC 61000-4-13:2009 

要求なしf) 

注記 性能基準を表24の許容基準に基づいて個別規格で規定する。 
注a) 適用性に関しては，JIS C 61000-4-5:2009の7.2及び8.2を参照［二次回路（交流主電源から分離されている）

に過渡過電圧を印加しない場合，低圧DCの入力／出力ポート（60 V以下）には適用しない。］。 

b) 電源周波数磁界の影響を受けやすい素子を含んだ機器にだけ適用（8.4.1.2.7参照） 

c) 記載のパーセントは，定格使用電圧のパーセントを意味する。例えば，定格電圧が100 Vの場合，40 %は40 

Vを意味する。 

d) クラス2は，共通結合点及び一般的な工業環境における工場内共通結合点に適用する環境である。 

クラス3は，工業環境の工場内結合点にだけ適用する。クラス3は，負荷の主要部分に電力変換装置を通

じて給電する場合，溶接機がある場合，大形電動機を頻繁に起動する，また，大形電動機へ非常に急激に負
荷をかける場合，考慮するのがよい。 

JIS C 8201の規格群の個別規格は，適用可能なクラスを規定している。 

e) スラッシュ記号“/”の前の規定値は，50 Hzの試験に，後の規定値は，60 Hzの試験に用いる。 

f) 要求事項は検討中。 

96 

C 8201-1：2020  

表24−EM（電磁）妨害がある場合の許容基準 

項目 

許容基準 

（試験中の性能基準） 

A 

B 

C 

全般性能 

動作特性の顕著な変化なし 
意図している動作が可能 

自己回復可能な性能の一時的
な低下又は喪失 

オペレータの介在又はシステ
ムのリセットが必要な性能の
一時的な低下又は喪失a) 

電源及び制御回
路の動作 

動作不良なし 

自己回復可能な性能の一時的
な低下又は喪失a) 

オペレータの介在又はシステ
ムのリセットが必要な性能の
一時的な低下又は喪失a) 

表示及び制御パ
ネルの動作 

情報の表示の変化なし 
LEDの僅かな光強度の変化だ
け，又は特性の僅かな変化 

一時的な視覚的変化，又は情
報の喪失 
望ましくないLEDの点灯 

表示の停止又は永久喪失 
正常でない情報及び／又は許
可されていない動作モード
（それらは明瞭であるのがよ
い又は表示が用意されている
のがよいもの） 
自己回復なし 

情報の処理及び
機能の検出 

外部機器への妨害されない通
信及びデータ交換 

内部及び外部機器の起こり得
る誤った情報出力を伴う一時
的な妨害通信a) 

情報の誤った処理 
データ又は情報の喪失 
通信中のエラー 
自己回復なし 

注a) 特別な要求は，JIS C 8201の規格群の個別規格で規定している。 

単位 mm 

図1−ねん回試験の試験装置 

（8.2.4.3及び表5参照） 

97 

C 8201-1：2020  

単位 mm 

図2−形状A及び形状Bのゲージ 

（8.2.4.5.2及び表7参照） 

98 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2 ：電圧検出器 
 

V ：電圧測定器 

F ：ヒューズエレメント［8.3.3.5.2 g)］ 

Z ：負荷回路（図8参照） 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線には，金属スクリーン

又はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

I1 ：電流検出器 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

図3−単相交流又は直流の単極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路 

（8.3.3.5.2参照） 

99 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2， 
 

Ur3 ：電圧検出器 

V ：電圧測定器 

N ：電源の中性線（又は中性点） 

F ：ヒューズエレメント［8.3.3.5.2 g)］ 

Z ：負荷回路（図8参照） 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

I1，I2 ：電流検出器 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

注記1 Ur1は，電圧相と中性線との間に接続してもよい。 
注記2 相を接地するシステムで用いる装置，又はこの回路が4極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場合

には，Fは電源の一つの相へ接続する。 

直流の場合，Fは，電源の負極に接続する。 

図4−単相交流又は直流の2極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路 

（8.3.3.5.2参照） 

100 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2， 
 Ur3，Ur4， 
 Ur5，Ur6 ：電圧検出器 
 

V ：電圧測定器 

N ：電源の中性線（又は中性点） 

F ：ヒューズエレメント［8.3.3.5.2 g)］ 

Z ：負荷回路（図8参照） 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

 I1，I2，I3 ：電流検出器 
 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

注記1 Ur1，Ur2及びUr3は，電圧相と中性線との間に接続してもよい。 
注記2 相を接地するシステムで用いる装置，又はこの回路が4極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場合

には，Fは電源の一つの相へ接続する。 

直流の場合，Fは，電源の負極に接続する。 

図5−3極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路 

（8.3.3.5.2参照） 

101 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2， 
 Ur3，Ur4， 
 Ur5，Ur6 ：電圧検出器 
 

V ：電圧測定器 

N ：電源の中性線（又は中性点） 

F ：ヒューズエレメント［8.3.3.5.2 g)］ 

Z ：負荷回路（図8参照） 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

 I1，I2，I3 ：電流検出器 
 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

注記 Ur1，Ur2及びUr3は，電圧相と中性線との間に接続してもよい。 

図6−4極装置の投入容量及び遮断容量検証試験回路 

（8.3.3.5.2参照） 

図7−最初に遮断した相の接点間の回復電圧の理想状態の説明 

［8.3.3.5.2 e)参照］ 

102 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

D ：供試装置 

C ：相切換スイッチ 

B ：ダイオード 

A ：レコーダ 

Ra ：抵抗器 

G ：高周波発生器 

R ：負荷側回路抵抗 

X ：負荷側回路リアクトル［8.3.3.5.2 d)］ 

RP ：並列抵抗 

CP ：並列キャパシタ 

 I1，I2，I3 ：電流検出器 
 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側） 

 高周波発生器（G）及びダイオード（B）の位置関係を示す。回路に示す1点を除き，ほかの回路は接地してはなら

ない。 

図8a−負荷側の中性点を接地した場合 

（8.3.3.5.2参照） 

図8−負荷回路の調整方法の図 

103 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

D ：供試装置 

C ：相切換スイッチ 

B ：ダイオード 

A ：レコーダ 

Ra ：抵抗器 

G ：高周波発生器 

R ：負荷側回路抵抗 

X ：負荷側回路リアクトル［8.3.3.5.2 d)］ 

RP ：並列抵抗 

CP ：並列キャパシタ 

 I1，I2，I3 ：電流検出器 
 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側） 

 高周波発生器（G）及びダイオード（B）の位置関係を示す。回路に示す1点を除き，ほかの回路は接地しない。 

この図は，例として1，2及び3が，並列に接続した2相及び3相と直列に接続した1相の調整する対応位置を表し

ている。 

図8b−電源側の中性点を接地した場合 

図8−負荷回路の調整方法の図（続き） 

104 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2 ：電圧検出器 
 

V ：電圧測定器 

A ：投入装置 

R1 ：調整抵抗 

F ：ヒューズエレメント［8.3.4.1.2 d)］ 

X ：調整リアクトル 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

I1 ：電流検出器 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

r ：分流抵抗［8.3.4.1.2 b)］ 

注記 可調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側又は低圧側のいずれに設置してもよい。 

図9−単相交流又は直流の単極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証回路 

（8.3.4.1.2参照） 

105 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2， 
 

Ur3 ：電圧検出器 

V ：電圧測定器 

A ：投入装置 

R1 ：調整抵抗 

N ：電源の中性線（又は中性点） 

F ：ヒューズエレメント［8.3.4.1.2 d)］ 

X ：調整リアクトル 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

I1，I2 ：電流検出器 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

r ：分流抵抗［8.3.4.1.2 b)］ 

注記1 可調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側又は低圧側のいずれに設置してもよい。 
注記2 Ur1は，電圧相と中性線との間に接続してもよい。 
注記3 相を接地するシステムで用いる装置，又はこの回路が4極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場合

には，Fは電源の一つの相へ接続する。 

直流の場合，Fは，電源の負極に接続する。 

図10−単相交流又は直流の2極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証試験回路 

（8.3.4.1.2参照） 

106 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2， 
 Ur3，Ur4， 
 Ur5，Ur6 ：電圧検出器 
 

V ：電圧測定器 

A ：投入装置 

R1 ：調整抵抗 

N ：電源の中性線（又は中性点） 

F ：ヒューズエレメント［8.3.4.1.2 d)］ 

X ：調整リアクトル 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

 I1，I2，I3 ：電流検出器 
 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

r ：分流抵抗［8.3.4.1.2 b)］ 

注記1 可調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側又は低圧側のいずれに設置してもよい。 
注記2 Ur1，Ur2及びUr3は，電圧相と中性線との間に接続してもよい。 
注記3 相を接地するシステムで用いる装置，又はこの回路が4極装置の中性極と隣接する極との試験に用いる場合

には，Fは電源の一つの相へ接続する。 

直流の場合，Fは，電源の負極に接続する。 

図11−3極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証試験回路 

（8.3.4.1.2参照） 

107 

C 8201-1：2020  

記号 
 

S ：電源 

 Ur1，Ur2， 
 Ur3，Ur4， 
 Ur5，Ur6 ：電圧検出器 
 

V ：電圧測定器 

A ：投入装置 

R1 ：調整抵抗 

N ：電源の中性線（又は中性点） 

F ：ヒューズエレメント［8.3.4.1.2 d)］ 

X ：調整リアクトル 

RL ：故障電流制限抵抗器 

D ：供試装置（接続ケーブルを含む。） 

注記 外形線は，金属スクリーン又

はエンクロージャを含む。 

B ：校正用臨時配線 

 I1，I2，I3 ：電流検出器 
 

T ：接地：1点接地に限る（負荷側又は供

給側）。 

r ：分流抵抗［8.3.4.1.2 b)］ 

注記1 可調整負荷X及びR1は，電源回路の高圧側又は低圧側のいずれに設置してもよい。 
注記2 Ur1，Ur2及びUr3は，電圧相と中性線との間に接続してもよい。 
注記3 中性極と隣接する極との間で追加試験を要求する場合，接続C1及びC2は取り除く。 

図12−4極装置の短絡投入容量及び短絡遮断容量検証試験回路 

（8.3.4.1.2参照） 

108 

C 8201-1：2020  

 
 
 
 
a) 回路の校正 
 

A1： 推定ピーク投入電流 

2

2

2

A： 推定対称遮断電流（実効値） 

2

2

1

B： 給与電圧（実効値） 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
b) O又はCO動作 

2

2

2

B： 商用周波回復電圧（実効値） 

 投入容量（波高値）：A1 

［8.3.4.1.8のb)及びc)参照］ 

遮断容量（実効値）：

2

2

2

A ［8.3.4.1.8のb)及びc)参照］ 

注記1 試験電流が流れ始めたときの電圧軌跡の振幅は，投入装置の調整用インピーダンス，電圧測定器の関係位

置及び試験回路構成によって変わる。 

注記2 投入の瞬間は，校正時も試験時も同一であると仮定する。 

図13−単相交流の単極装置の場合の短絡投入及び遮断試験記録の例 

（8.3.4.1.8参照） 

109 

C 8201-1：2020  

 
a) 回路の校正 

推定ピーク投入電流：A2 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
b) 最大値通過後に遮断したときの

オシログラム 

短絡遮断容量： 
電圧U＝B1での電流I＝A 
短絡投入容量： 
電圧U＝Bでの電流I＝A2 

 
 
 
 
 
 
 
 
c) 最大値通過前に遮断したときの

オシログラム 

短絡遮断容量： 
電圧U＝B2での電流I＝A2 
短絡投入容量： 
電圧U＝Bでの電流I＝A2 

図14−直流での短絡投入容量及び短絡遮断容量検証 

（8.3.4.1.8参照） 

Ａ2

110 

C 8201-1：2020  

図15−試験回路の最初の校正が定格遮断容量より低い試験電流で実施された場合の推定遮断電流の確定 

［8.3.4.1.8 b)参照］ 

図16−操作部の試験力 

（8.2.5.2.1及び表17参照） 

111 

C 8201-1：2020  

図17−ポートの例 

図18−静電気放電イミュニティ検証のための試験配置 

エンクロージャへの間接放電 

接触可能な導電性部材への接触放電 

接触可能な非導電性部材への気中放電 

金属エンクロージャ（ある場合） 

470 kΩの2個の抵抗を直列接続 

試験ジェネレータ 

絶縁台 

接地面 

設備／装置 

エンクロージャポート 

信号ポート 

機能的接地ポート 

電源ポート 

（制御電源ポート） 

メインポート 

112 

C 8201-1：2020  

 a 

JIS C 61000-4-3:2012参照。 

図19−放射無線周波電磁界イミュニティの検証試験配置 

記号 
HF 高周波接続 

図20−電気的ファストトランジェント／バーストのイミュニティの検証の試験配置 

供試品 

金属エンクロージャ（ある場合） 

絶縁台

接地面 

EFT/B 

発生器 

0.9 m≦L≦1.0 m  
（静電性結合クランプが使用されないときの 

全体の挿入ケーブルの長さ） 

供試品 

電波吸収体a 

指定して 

いないa 

絶縁材料 

D a 

H a 

＞0.5 m 

113 

C 8201-1：2020  

記号 
CDN 結合−減結合回路網 
注記 結合−減結合回路網M1の代わりに電線を2又は3本接続する減結合網M2又はM3

を供試品の同じ場所に接続して使用してもよい。 

図21−電力線における無線周波電磁界によって誘導する 

伝導妨害に対するイミュニティ検証のための試験配置 

図22−CDNが適していない信号線における無線周波電磁界によって誘発する 

伝導妨害に対するイミュニティ試験の配置の例 

0.1 m≦長さ≦0.3 m 

EM（電磁）クランプ 

接地面 

絶縁台 

可能な場合 

減結合装置 

絶縁台 

無線周波 

発生器 

供試品 

補助 

装置 

≦0.3 m 

ケーブル用の絶縁支持台 

絶縁台

接地面 

無線周波 

発生器 

供試品 

主回路 

0.1 m≦長さ≦0.3 m 

CDN：M1，M2又はM3

供試品 

114 

C 8201-1：2020  

記号 

A 保護接地 
B 電力供給源に 
C1 電力供給回路 
C2 信号回路 

 
D 信号源，シミュレータへ 
E 

接地端子 

G 試験用電源へ 
H 磁界強度 

 
I 

誘導電流 

L 

通信線 

S 

絶縁支持部 

図23−電源周波数磁界イミュニティ検証のための試験配置 

供試品 

誘導コイル 

115 

C 8201-1：2020  

附属書A 

（参考） 

低圧開閉装置及び制御装置の使用負荷種別の整合 

JIS C 8201の規格群は，いろいろな種類の低圧開閉装置に対して，要求事項が異なる個別規格から成る。

その規格群の個別規格は，各々の装置に関係する様々な委員会で，異なる時期に制定してきた。その結果，

JIS C 8201の規格群では，類似した多くの使用負荷種別が存在する。 

この附属書の目的は，表A.1に示すように，低圧開閉装置及び制御装置に対して，使用負荷種別の整合

性の枠組みを提供することである。検討中である将来目標は，JIS C 8201の規格群の異なる個別規格から

試験要求事項の共通項目を制定することにある。 

意図した利点は次による。 

− 種別の共通項目をまとめ，全ての類似種別を集約することによって，規格群が簡潔になる。 

− 使用者が，ある特定用途の装置を選定する場合に役立つ。 

表A.1−JIS C 8201及びIEC 60947の規格群に用いる使用負荷種別 

交直流 

の別 

種別 

代表的開閉負荷 

個別規格 

提案c) 

現状d) 

交流 

AC-20 

AC-20 

無負荷状態 

JIS C 8201-3:2009 

AC-21 

AC-21 

中程度の過負荷を含む，抵抗負荷 

AC-22 

AC-22 

中程度の過負荷を含む，抵抗・誘導混合負荷 

AC-23 

AC-23 

モータ負荷その他の高誘導負荷 

AC-1 

AC-1 

無誘導又は低誘導負荷 

JIS C 8201-4-1:2010 

AC-2 

AC-2 

巻線形モータ，中程度の過負荷を含む，抵抗・誘導混合負荷 

AC-3 

AC-3 

かご形モータ 

AC-4 

AC-4 

かご形モータ，プラッギングa)，インチングb) 

AC-5a 

AC-5a 

放電灯安定器 

AC-5b 

AC-5b 

白熱灯 

AC-6a 

AC-6a 

変圧器 

AC-6b 

AC-6b 

コンデンサバンク 

AC-8 
AC-8 

AC-8a 
AC-8b 

密閉形冷媒コンプレッサ 

AC-2a 

AC-52a 

巻線形モータステータ：始動閉路電流，加速，運転の8時間責務 JIS C 8201-4-2:2010 

AC-2b 

AC-52b 巻線形モータステータ：間欠責務 

AC-3a 

AC-53a 

かご形モータステータ：始動閉路電流，加速，運転の8時間責務  

AC-3b 

AC-53b かご形モータステータ：間欠責務 

AC-8a 

AC-58a 

自動復帰式過負荷引外し装置付密閉形冷媒コンプレッサモー
タ：始動閉路電流，加速，運転の8時間責務 

AC-8b 

AC-58b 自動復帰式過負荷引外し装置付密閉形冷媒コンプレッサモー

タ：間欠責務 

116 

C 8201-1：2020  

表A.1−JIS C 8201及びIEC 60947の規格群に用いる使用負荷種別（続き） 

交直流 

の別 

種別 

代表的開閉負荷 

個別規格 

提案c) 

現状d) 

交流 

AC-1 

AC-51 

無誘導又は低誘導負荷 

JIS C 8201-4-3:2010 

AC-5a 

AC-55a 

放電灯安定器 

AC-5b 

AC-55b 白熱灯 

AC-6a 

AC-56a 

変圧器 

AC-6b 

AC-56b コンデンサバンク 

AC-12 

AC-12 

フォトカプラによって絶縁した抵抗負荷及び半導体負荷 

JIS C 8201-5-1:2010 

AC-13 

AC-13 

変圧器によって絶縁した半導体負荷 

AC-14 

AC-14 

小形電磁負荷 

AC-15 

AC-15 

交流電磁負荷 

AC-12 

AC-12 

光学絶縁した抵抗負荷及び半導体負荷 

JIS C 8201-5-2:2009 

AC-140 AC-140 閉路電流0.2 A以下の小形電磁負荷 

（例 コンタクタリレーなど） 

AC-1 

AC-31 

無負荷又は低誘導負荷 

IEC 60947-6-1:2005 

AC-2 

AC-32 

巻線形モータ，中程度の過負荷を含む，抵抗・誘導混合負荷 

AC-3 

AC-33 

かご形モータ 

AC-5a 

AC-35 

放電灯安定器 

AC-5b 

AC-36 

白熱灯 

AC-40 

AC-40 

抵抗及び誘導リアクタンスを含む配電回路 

IEC 60947-6-2:2002 
Amd 1:2007 

AC-1 

AC-41 

無誘導又は低誘導負荷 

AC-2 

AC-42 

巻線形モータ，中程度の過負荷を含む，抵抗・誘導混合負荷 

AC-3 

AC-43 

かご形モータ 

AC-4 

AC-44 

かご形モータ，プラッギングa)，インチングb) 

AC-5a 

AC-45a 

放電灯安定器 

AC-5b 

AC-45b 白熱灯 

AC-7a 

AC-7a 

家庭用及び同様の適用における低誘導負荷 

IEC 61095:2009 

AC-7b 

AC-7b 

家庭用のモータ負荷 

直流 

DC-20 

DC-20 

無負荷状態での接続・切断 

JIS C 8201-3:2009 

DC-21 

DC-21 

中程度の過負荷を含む，抵抗負荷 

DC-22 

DC-22 

中程度の過負荷を含む，抵抗・誘導混合負荷（分巻モータなど） 

DC-23 

DC-23 

高誘導負荷（直巻モータなど） 

DC-1 

DC-1 

無誘導又は低誘導負荷 

JIS C 8201-4-1:2010 

DC-3 

DC-3 

分巻モータ 

DC-5 

DC-5 

直巻モータ 

DC-6 

DC-6 

白熱灯 

DC-12 

DC-12 

フォトカプラによって絶縁した抵抗負荷及び半導体負荷 

JIS C 8201-5-1:2010 

DC-13 

DC-13 

直流電磁石 

DC-14 

DC-14 

回路に節約抵抗を含む直流電磁負荷 

DC-12 

DC-12 

光学絶縁した抵抗負荷及び半導体負荷 

JIS C 8201-5-2:2009 

DC-13 

DC-13 

電磁石 

DC-1 

DC-31 

無誘導又は低誘導負荷 

IEC 60947-6-1:2005 

DC-3 

DC-33 

分巻モータ 

DC-6 

DC-36 

白熱灯 

117 

C 8201-1：2020  

表A.1−JIS C 8201及びIEC 60947の規格群に用いる使用負荷種別（続き） 

交直流 

の別 

種別 

代表的開閉負荷 

個別規格 

提案c) 

現状d) 

直流 

DC-40 

DC-40 

抵抗及び誘導リアクタンスを含む配電回路 

IEC 60947-6-2:2002 
Amd 1:2007 

DC-1 

DC-41 

無誘導又は低誘導負荷 

DC-3 

DC-43 

分巻モータ 

DC-5 

DC-45 

直巻モータ 

DC-6 

DC-46 

白熱灯 

注a) プラッギングとは，モータ運転中にモータの一次側接続を逆にして，モータを急激に停止又は逆転させること

をいう。 

b) インチング（ジョギング）とは，モータを1回又は短時間繰り返し動作させ機構を小さく移動させることをい

う。 

c) それぞれの個別規格の今後の改訂版を通して整合を図ることを意図した使用負荷種別。 

d) 提案の使用負荷種別へ変更するまでの間，最後の欄の関連個別規格における発行版にて定義されている使用負

荷種別。 

118 

C 8201-1：2020  

附属書B 

（参考） 

使用時の動作条件が標準使用条件と異なる場合の装置の適用 

この附属書は，使用時の動作条件が標準使用条件と異なる場合の装置の適用について記載する。 

使用時の動作条件及び用途が，この規格に規定するものと異なる場合，使用者は，規格条件からの逸脱

事項を明示し，そのような条件下での使用に対する装置の適用について製造業者と協議する。 

B.1 

標準使用条件と異なる条件の例 

B.1.1 周囲温度 

周囲温度の予想範囲が，−5 ℃未満又は40 ℃を超える場合。 

B.1.2 標高 

設置場所の標高が，2 000 mを超える場合。 

B.1.3 大気条件 

装置の設置環境が，6.1.3に規定する値より高い相対湿度である場合，又は過度のじんあい，酸，腐食ガ

スなどを含む場合。 

装置を，海の近くに設置する場合。 

B.1.4 設置条件 

装置を可動機器に取り付ける場合，装置の支持が永久的若しくは一時的に傾斜位置をとる可能性がある

場合（装置を船舶に取り付けた場合），又は使用時に装置が異常な衝撃若しくは振動を受ける可能性がある

場合。 

B.2 

他器具との接続 

他器具と接続する場合，使用者は，この規格及び／又は個別規格で規定する設置及び温度上昇条件に適

合するエンクロージャ及び端子を準備するため，かつ，必要に応じてエンクロージャ内で導体を広げるた

めのスペースを設けるため，他器具との電気的接続部品の種類及び寸法を製造業者に通知しなければなら

ない。 

B.3 

補助接点 

使用者は，信号，インタロック，その他の類似機能などの要求事項を満たすために供給される補助接点

の数及び種類を指定しなければならない。 

B.4 

特殊用途 

使用者は，この規格及び／又は個別規格で規定していない特殊用途に装置を用いる可能性がある場合に

は，製造業者に提示しなければならない。 

119 

C 8201-1：2020  

附属書C 
（規定） 

箱入装置の保護等級 

製造業者が箱入装置及び一体形エンクロージャをもつ装置に対して，IPコードを指定する場合，JIS C 

0920:2003の保護等級（IPコード）の要求事項，並びに次の修正及び追加に従う。 

注記 表C.1は，JIS C 0920:2003に規定するIPコードの理解を容易にする追加情報を示している。 

箱入装置に適用可能なJIS C 0920:2003の箇条について，この附属書で詳細を示す。 

この附属書の箇条番号は，JIS C 0920:2003の箇条番号に対応している。 

C.1 適用範囲 

この附属書は，定格電圧が，交流の場合1 000 V以下，直流の場合1 500 V以下の箱入開閉装置及び制御

装置（以下，この附属書では装置という。）の保護等級に適用し，JIS C 0920:2003の1.を，この附属書の

追加要求事項として適用する。 

C.2 引用規格 

引用規格は，JIS C 0920:2003の2.を適用する。 

C.3 定義 

定義は，JIS C 0920:2003の3.を適用する。ただし，3.1は，備考を除き，次に置き換える。 

C.3.1 

外郭（enclosure） 

外部から受ける影響に対する装置の保護等級，並びに充電部及び可動部に人が接近又は接触することを

防ぐための保護等級を決めている部分。 

注記 この規格の2.1.16に示す定義は，盤に適用するIEV 441-13-01に類似している。 

C.4 指定方法 

指定方法は，JIS C 0920:2003の4.による。ただし，補助文字のH，M及びSを適用しない。 

C.5 第一特性数字で表される危険な箇所への接近及び外来固形物に対する保護等級 

JIS C 0920:2003の5.を適用する。 

C.6 第二特性数字で表される水の浸入に対する保護等級 

JIS C 0920:2003の6.を適用する。 

C.7 付加文字で表される危険な箇所への接近に対する保護等級 

JIS C 0920:2003の7.を適用する。 

120 

C 8201-1：2020  

C.8 補助文字 

補助文字は，JIS C 0920:2003の8.による。ただし，補助文字H，M及びSを適用しない。 

C.9 IPコードによる表示例 

IPコードによる表示例は，JIS C 0920:2003の9.による。 

C.10 表示 

表示は，JIS C 0920:2003の10.による。ただし，次の事項を追加し適用する。 

IPコードの取付位置を一つだけ指定する場合，装置のこの位置を規定するIPコードの次に，ISO 7000

の記号0623を表示しなければならない。 

例 垂直の場合 

C.11 試験の一般的要求事項 

C.11.1 水及びじんあいに対する試験時の大気の状態 

水及びじんあいに対する試験時の大気の状態は，JIS C 0920:2003の11.1による。 

C.11.2 被試験品 

被試験品は，JIS C 0920:2003の11.2による。ただし，次の事項を追加し適用する。 

全ての試験は，無電源状態で行う。 

機器（例えば，押しボタンの露出表面）によっては，目視検査で検証可能である。 

供試品の温度は，実際の周囲温度に対して，差異が5 K以内でなければならない。 

既にIPコード（JIS C 0920:2003の11.5参照）をもつ空のエンクロージャに，装置を取り付ける場合に

は，次の事項を適用する。 

a) IP1X〜IP4X及び付加文字A〜D：検査及びエンクロージャの製造業者の指示書に従って検証する。 

b) IP6Xじんあい試験：検査及びエンクロージャの製造業者の指示書に従って検証する。 

c) IP5Xじんあい試験及びIPX1〜IPX8水に対する試験：箱入装置の試験は，じんあいの侵入又は水の浸

入が装置の動作を損なう場合にだけ適用する。 

注記 c)の試験は，危害を与えない量のじんあいの侵入及び水の浸入を許容する。したがって，全

ての内部装置の形状を別途検討することが望ましい。 

C.11.3 試験条件の適用及び試験結果の解釈 

試験条件の適用及び試験結果の解釈は，JIS C 0920:2003の11.3による。ただし，次の事項を追加し適用

する。 

排水及び換気口を，通常開口部として取り扱う。 

C.11.4 第一特性数字に対する試験条件の組合せ 

第一特性数字に対する試験条件の組合せは，JIS C 0920:2003の11.4による。 

C.11.5 外郭の内部に機器を入れない場合（外郭単独の場合） 

空のエンクロージャを箱入装置の部品として用いる場合，JIS C 0920:2003の11.5による。 

121 

C 8201-1：2020  

C.12 第一特性数字によって表される危険な箇所への接近に対する保護に関する試験 

第一特性数字によって表される危険な箇所への接近に対する保護に関する試験は，JIS C 0920:2003の12.

による。ただし，12.3.2を適用しない。 

C.13 第一特性数字によって表される外来固形物に対する保護の試験 

第一特性数字によって表される外来固形物に対する保護の試験は，JIS C 0920:2003の13.による。ただ

し，次を置き換え適用する。 

C.13.4 第一特性数字5及び6に対するじんあい試験 

保護等級IP5Xの箱入装置は，JIS C 0920:2003の13.4に規定するカテゴリー2に従って試験を行う。 

注記1 保護等級IP5Xの装置に対して，特定の個別規格は，JIS C 0920:2003の13.4に規定するカテ

ゴリー1に従って試験することを要求してもよい。 

保護等級IP6Xの箱入装置は，JIS C 0920:2003の13.4に規定するカテゴリー1に従って試験を行う。 

注記2 この規格の箱入装置の場合，保護等級IP5Xは，一般的に十分であると考えられる。 

注記3 JIS C 0920:2003の13.4に規定するカテゴリー1とは，内部機器の通常使用サイクル，熱サイ

クル効果などによって外郭内が外気に対して負圧になるものを示す。また，カテゴリー2と

は，外気に対して気圧の差がないようにできるものを示す。 

C.13.5.2 第一特性数字5に対する適合条件 

第一特性数字5に対する適合条件は，JIS C 0920:2003の13.5.2による。ただし，次の事項を追加し適用

する。 

じんあいの堆積が正規の機能及び装置の安全性に関して疑義を生じる場合，前調整及び耐電圧試験を次

のとおり行う。 

じんあい試験後の前調整は，次の試験条件の下でJIS C 60068-2-78:2004に規定する高温高湿（定常）試

験によって検証する。 

じんあいの堆積を受けやすい試験となるように蓋を開けたままとし，及び／又は工具なしで可能な場合，

部品を取り外して，装置を準備する。 

試験室に置く前に，装置を試験前4時間以上は室温に保持する。 

試験の継続時間は，24時間とする。 

この試験後，装置を15分以内に試験室から取り出し，最大の定格使用電圧（Ue）の2倍の電圧（ただ

し，1 000 V以上）で，1分間の商用周波耐電圧試験に耐えなければならない。試験電圧及び判定基準は，

8.3.3.4.1のc) 3)及びc) 4)による。 

C.14 第二特性数字によって表される水に対する保護等級の試験 

C.14.1 試験装置 

試験装置は，JIS C 0920:2003の14.1による。 

C.14.2 試験条件 

試験条件は，JIS C 0920:2003の14.2による。 

C.14.3 適合条件 

適合条件は，JIS C 0920:2003の14.3による。ただし，次の事項を追加し適用する。 

装置は，最大の定格使用電圧（Ue）の2倍の電圧（ただし，1 000 V以上）で，1分間の商用周波耐電圧

試験に耐えなければならない。試験電圧及び判定基準は，8.3.3.4.1のc) 3)及びc) 4)による。 

122 

C 8201-1：2020  

C.15 付加文字によって表される危険な部分への接近に対する保護のための試験 

付加文字によって表される危険な部分への接近に対する保護のための試験は，JIS C 0920:2003の15.に

よる。 

C.16 個別規格で規定する事項 

個別規格は，この附属書の上記に記載する補足事項を考慮して，JIS C 0920:2003の附属書Bを指針とし

て，詳細情報を規定する。 

なお，IPコードの理解を容易にするため，表C.1を示す。 

表C.1−IPコード 

C.1a 第一特性数字 

固形異物の侵入に対する保護 

危険部分への接近に 

対する人体の保護方法 

IP 

要求事項 

例 

0 

無保護 

無保護 

1 

直径が50 mmの球の完全な侵入を禁
止している。危険部分との接触は許容
しない。 

手のこぶし（拳） 

2 

直径が12.5 mmの球の完全な侵入を
禁止している。結合したテストフィン
ガ（近接プローブ）は，危険部分から
十分な空間距離をもたなければなら
ない。 

指 

3 

直径が2.5 mmの近接プローブが全く
侵入しない。 

工具 

4 

直径が1.0 mmの近接プローブが全く
侵入しない。 

電線 

5 

限定したじんあいの侵入は許容する
（有害な堆積があってはならない。）。 

電線 

6 

じんあいの侵入に対する完全な保護。 

電線 

123 

C 8201-1：2020  

表C.1−IPコード（続き） 

C.1b 第二特性数字 

水の浸入に対する保護 

水からの保護方法 

IP 

要求事項 

例 

0 

無保護 

無保護 

1 

垂直に滴下する水の浸入に対して保
護している。限定した浸入は許容す
る。 

垂直滴下 

2 

15度以内で傾斜しても垂直落下水滴
に対して保護している。限定した浸入
は許容する。 

垂直から15度までの傾
斜への滴下 

3 

垂直線から60度までの噴霧した水に
対して保護している。限定した浸入は
許容する。 

限定された散水 

4 

あらゆる方向からの水の飛まつに対
して保護している。限定した浸入は許
容する。 

あらゆる角度からの飛ま
つ 

5 

噴流に対して保護している。限定した
浸入は許容する。 

あらゆる角度からのホー
スによる吹きかけ 

6 

暴噴流に対して保護している。限定し
た浸入は許容する。 

あらゆる角度からの強い
ホースによる吹きかけ 

7 

15 cm〜1 mの潜水の影響に対する保
護。 

一時的な潜水 

8 

水圧下における長期潜水に対する保
護。 

連続的な潜水 

124 

C 8201-1：2020  

表C.1−IPコード（続き） 

C.1c 付加文字（オプション） 

IP 

要求事項 

例 

危険部分への接近に 

対する人体の保護方法 

A 

第一特性数字 

0に適用 

バリアまでの直径が50 mmの球の侵
入は，危険部分に接触してはならな
い。 

手のこぶし（拳） 

B 

第一特性数字 

0及び1に適用 

80 mm以下のテストフィンガ（近接プ
ローブ）の侵入は，危険部分に接触し
てはならない。 

指 

C 

第一特性数字 

1及び2に適用 

球形の端面を部分的に入れた場合，直
径が2.5 mmで，長さが100 mmの電
線が危険部分に接触してはならない。 

工具 

D 

第一特性数字 

2及び3に適用 

球形の端面を部分的に入れた場合，直
径が1 mmで，長さが100 mmの電線
は，危険部分に接触してはならない。 

電線 

125 

C 8201-1：2020  

附属書D 
（参考） 

締付具の例，及び締付具と接続機器との間の関係 

D.1 接続機器の中の締付具 

定義を明確にするために，接続機器の中の締付具を図D.1に示す。 

図D.1−接続機器の中の締付具 

126 

C 8201-1：2020  

D.2 締付具の例 

締付具の例を，図D.2〜図D.8に示す。 

注記 ここに示している例は，導線がねじの両側に分割することを禁止していない。 

ねじ締付具とは，1本以上のねじの頭で導線を締め付けるねじ式締付具。締付圧力は，ねじの頭で

直接加えるか，又は座金，締付板，ばらけ防止部材などの中間部品を介して加えてもよい。 

図D.2−ねじ締付具 

127 

C 8201-1：2020  

 ピラー締付具とは，導線を孔又は空洞部中に挿入し，ねじの軸によって締め付けるねじ式締付具。締付圧力は，

ねじの軸によって直接加えるか，又はねじの軸によって圧力を加える中間部品を介して加えてもよい。 

図D.3−ピラー締付具 

締付具用空洞部をもつ装置の一部 

c) 直接圧力形締付具 

記号 

a) 圧力板なし締付具 

b) 圧力板付き締付具 

d) 間接圧力形締付具 

締付具用空洞部を 
もつ装置の一部 

128 

C 8201-1：2020  

注記 導線を締め付けるのに必要な圧力が絶縁材料を介して伝達しない場合，導線を所定位置に保持する部

分は，絶縁材料でもよい。 

スタッド締付具とは，1本又は2本のナットで導線を締め付けるねじ式締付具。締付圧力は，適切な形を

したナットで直接加えるか，又は座金，締付板，ばらけ防止部材などの中間部品を介して加えてもよい。 

図D.4−スタッド締付具 

 サドル締付具とは，複数のねじ又はナットによって導線をサドルで締め付けるねじ式締付具。 

図D.5−サドル締付具 

記号 

記号 

129 

C 8201-1：2020  

 ラグ締付具とは，ねじ又はナットによって，ケーブルラグ又は導帯を締め付けるような構造のねじ締付具

又はスタッド締付具。 
 

注記 ケーブルラグの寸法例は，附属書Pに示す。 

図D.6−ラグ締付具 

130 

C 8201-1：2020  

 マントル締付具とは，ナットによって，ねじ溝を切ったスタッドの孔の基部に導線を締め付けるねじ式締付具。 

導線は，ナットの下部の適切な形をした座金によって孔の基部に締め付けるか，キャップナットの場合には中央の

脚によって締め付けるか，又は圧力をナットから孔内の導線に伝達する同等の有効な手段によって締め付ける。 

図D.7−マントル締付具 

図D.8−ねじなし式締付具 

間接圧力のねじなし締付具 

直接圧力のねじなし締付具 

可動素子をもつねじなし締付具 

締付具用空洞部をもつ装置の一部 

記号 

131 

C 8201-1：2020  

附属書E 

（参考） 

負荷回路の調整方法についての説明 

過渡回復電圧の特性を得るための負荷回路を調整するには，幾つかの方法を実施してもよい。その方法

の一つを次に記載する。 

原理は，図8に示す。 

過渡回復電圧の振動周波数f及び振幅率γの値は，固有周波数及び負荷回路の減衰によって基本的に決

定される。これらの値は，回路に印加する電圧及び周波数とは無関係であるため，校正は，交流電源から

負荷回路にエネルギーを与えることによって可能であって，かつ，この電圧及び周波数は，装置の試験に

利用する電源の電圧及び周波数とは異なっていてもよい。回路は，ダイオードによって，電流がゼロとな

る点で遮断され，かつ，回復電圧の振動は，オシロスコープの画面によって観察する。この掃引は，電源

の周波数と同期している（図E.1参照）。 

信頼度の高い測定を実施するために，負荷回路は，高周波発生器Gによってエネルギーを与えられ，ダ

イオードの許容範囲の電圧を発生している。発生器の周波数は，次のとおり選定する。 

a) 1 000 A以下の試験電流に対しては，2 kHz 

b) 1 000 Aを超える場合の試験電流に対しては，4 kHz 

発生器に直列接続している場合は，次による。 

− a)及びb)の各々の場合の負荷回路インピーダンスに対して，高い抵抗値Raをもつ電圧降下用抵抗器［Ra

≧10Z，ただし，

2

2

)

(ωL

R

Z

＋

＝

，ここに，a)及びb)それぞれに対して，“ω＝2π×2 000s−1”又は“2π

×4 000s−1”］。 

− 瞬間的に遮断するスイッチングダイオードB，1 A以下の順方向定格電流の拡散接合シリコンスイッ

チングダイオードなどのように，コンピュータに通常使用するスイッチングダイオードがこの方法に

適している。 

発生器Gの周波数の値によって，負荷回路は実質上，純粋に誘導負荷になって，かつ，電流がゼロの瞬

間に負荷回路にかかる給与電圧は，そのピーク値となる。負荷回路の成分が適切なものであることを確認

するために，初期（図E.1のA点）の点における過渡電圧の曲線が事実上，水平の接線をもっていること

を画面上で確認する。 

振幅率γの実際の値は，比率U11/U12である。U11は画面上で読み取り，U12は負荷回路が発生器によって，

エネルギーを与えてないときのオシロスコープの記録の縦座標の値と，A点の縦座標の値との間で読み取

る（図E.1参照）。 

並列に抵抗器Rp又はコンデンサCpがない負荷回路の過渡電圧を観察する場合，画面で負荷回路の固有

振動周波数を読む。オシロスコープのキャパシタンス，又はその接続リード線のキャパシタンスは，負荷

回路の共振周波数に影響しないことに注意する。 

上記で得られた固有周波数が要求値fの上限を超える場合，周波数及び振幅率γの適切な値は，適切な

値の並列コンデンサCpと抵抗器Rpとを接続することによって得ることができる。抵抗器Rpは，実質的に

無誘導とする。 

接地の位置によって，負荷回路の調整は，次の二つの手順で実施するのが望ましい。 

c) 負荷の中性点に接地がある場合 図8aに示すとおり負荷回路の三相の各々の相を独立に調整する。 

132 

C 8201-1：2020  

d) 電源側の中性点に接地がある場合 図8bに示すとおり一つの相とほかの並列にした二つの相を直列

接続する。調整は，高周波発生器に接続して，可能な限りの組合せで繰り返し実施する。 

注記1 発生器Gから得た高い周波数の値は，画面の観察を容易にし，かつ，分解能を向上する。 

注記2 周波数及び振幅率γを決定するためにほかの方法（負荷回路に方形波電流の印加）を用い

てもよい。 

注記3 スター接続の場合，負荷短絡の方法（接地又はフローティング）が調整と試験で変更がな

い場合，負荷の抵抗端，又はインダクタンス端のいずれかを接続してもよい。 

事由：負荷側が短絡されることによって，異なった発信周波数が生じる。 

注記4 高周波発生器の浮遊容量が，負荷回路の共振周波数に影響しないように考慮する。 

図E.1−振幅率γの実際の値の決定 

133 

C 8201-1：2020  

附属書F 

（参考） 

短絡力率又は時定数の求め方 

短絡力率又は時定数を精度よく求める方法はないが，この規格の目的のために，試験回路の力率又は時

定数の決定を，次の方法のうちいずれかで行ってもよい。 

注記 短絡力率を求めるためのほかの方法は，検討中である。 

F.1 

短絡力率の求め方 

方法I 直流成分からの決定 

短絡が形成された時点及び接点が開離した時点との間で流れた非対称直流の直流成分の電流曲線から，

次のように角度φを求めてもよい。 

a) 直流成分に対する式から時定数L/Rを算出する方法 直流成分に対する式は，次による。 

id＝Idoe−Rt/L 

ここに， 

id： 時刻tにおける直流分の値 

Ido： 基準時間における直流分の値 

L/R： 回路の時定数（s） 

t： 基準時間からの経過時間（s） 

e： 自然対数の底 

時定数L/Rは，次の手順で求めることができる。 

1) 短絡開始時点の電流値Ido及び接点開離前のある時間tにおける電流値idを測定する。 

2) 電流値idを電流値Idoで除して，e−Rt/Lを求める。 

3) id/Idoの比に対応する−χの値をe−χ値の表から求める。 

このχがRt/Lの値であって，これによってR/Lが得られる。 

b) 角度ϕを求める方法 角度ϕを求める式は，次による。 

R

ωL

tan

arc 

＝

ϕ

ここに， 

ω： 実際の周波数に2πを乗じた値 

変流器を用いて電流値を測定する場合は，この式を用いてはならない。ただし，次の原因による誤

差を除去するために，適切な予防策を講じる場合を除く。 

− 変流器の時定数及び一次側回路の時定数に関連する変流器の負担 

− 過渡磁束条件と残留磁気との組合せの結果として起きる磁気飽和 

方法II パイロット発電機を用いての決定 

試験用発電機と同一の軸でパイロット発電機を用いる場合，パイロット発電機の電圧と試験用発電機の

電圧との位相をオシログラム上で比較し，次にパイロット発電機の電圧と試験用発電機の電流との位相を

比較する。 

パイロット発電機の電圧と試験発電機との電圧との位相角，及びパイロット発電機の電圧と試験発電機

の電流との位相角から，試験発電機の電圧と電流との位相角が分かり，力率が求められる。 

134 

C 8201-1：2020  

F.2 

短絡時定数の決定（オシログラム法） 

回路校正オシログラム曲線の増加部分の縦座標0.632A2に対応する横座標から時定数が求められる（図

14参照）。 

135 

C 8201-1：2020  

附属書G 
（参考） 

沿面距離及び空間距離の測定 

G.1 

基本原理 

例1〜例11に指定した溝の幅Xは，次の表G.1のとおり汚損の関数として全ての例に適用する。 

表G.1−汚損度及び溝幅X 

単位 mm 

汚損度 

溝幅Xの最小値 

1 

0.25 

2 

1.0 

3 

1.5 

4 

2.5 

接点受け台の固定及び可動部絶縁体間の沿面距離に関して，相互に関連して動く絶縁が施してある部品

間には，Xの最小値は要求しない（図G.2参照）。 

空間距離が3 mm未満の場合，溝の最小幅は，この空間距離の3分の1まで減少してもよい。 

沿面距離及び空間距離の測定方法は，例1〜例11に示す。 

例1〜例11では，隙間と溝とを区別せず，また，絶縁の形式による差を区別しない。 

さらに，次による。 

− いかなる角も，最も望ましくない位置に移動したX mm幅の絶縁物で隙間を埋め，橋絡することを想

定している（例3参照）。 

− 溝の上部の溝幅の距離がX mm以上の場合，沿面距離は，溝の輪郭に沿って測定する（例2参照）。 

− 相互に関連して移動する部品間の沿面距離及び空間距離は，それらの部品が最も望ましくない位置に

あるときに測定する。 

G.2 

リブの使用 

汚損に対する影響及び良好な乾燥効果のため，リブは，漏えい電流の発生を相当減少させる。したがっ

て，リブの高さが2 mm以上の場合，沿面距離は，所要値の0.8倍まで減少できる（図G.1参照）。 

図G.1−リブの測定 

136 

C 8201-1：2020  

図G.2−接点受け台の固定及び可動部絶縁体間の沿面距離 

例1 

条件 ：沿面距離の経路が，溝の側面が平行であるかテーパであるかにかかわらず，X mm未満の幅をもつ溝を含む場

合。 

ルール：沿面距離及び空間距離は，図に示すように溝の間を直線的な距離である。 

例2 

条件 ：沿面距離の経路が，X mm以上の幅をもつ溝を含み，その溝の側面が平行である場合。 
ルール：空間距離は，直線的な距離である。沿面距離の経路は，溝の輪郭に沿った距離である。 

例3 

条件 ：沿面距離の経路が，X mm以上の幅をもつV形溝を含む場合。 
ルール：空間距離は，直線的な距離である。沿面距離の経路は，溝の輪郭に従うが溝の底部をX mmで橋絡させた距

離である。 

137 

C 8201-1：2020  

例4 

条件 ：沿面距離の経路が，リブを含む場合。 
ルール：空間距離の経路は，リブ上面の最短の空間距離経路である。沿面距離経路はリブの輪郭に沿った距離である。 

例5 

条件 ：沿面距離の経路が，各側面にX mm未満の幅の溝をもつ，接着していない突合せ面を含む場合。 
ルール：沿面距離及び空間距離は，図に示すとおり，直線距離である。 

例6 

条件 ：沿面距離の経路が，各側面にX mm以上の幅の溝をもつ，接着していない突合せ面を含む場合。 
ルール：空間距離は，直線距離である。沿面距離経路は，溝の輪郭に沿った距離である。 

例7 

条件 ：沿面距離の経路が，一側面にX mm未満の幅の溝をもち，ほかの側面にX mm以上の幅の溝をもつ，接着し

ていない突合せ面を含む場合。 

ルール：空間距離及び沿面距離経路は，図に示すとおりの距離である。 

138 

C 8201-1：2020  

例8 

条件 ：接着していない突合せ面を通る沿面距離が，障壁上を通る沿面距離以下の場合。 
ルール：空間距離は，接着していない突合せ面を通る経路（沿面距離と同一）又は図の破線で示す経路のうち短い方

の経路の距離である。 

例9 

条件 ：ねじの頭とくぼみの側面との間の隙間が，十分な幅をもつ場合。 
ルール：空間距離及び沿面距離の経路は，図に示すとおりの距離である。 

139 

C 8201-1：2020  

例10 

条件 ：ねじの頭とくぼみの側面との間の隙間が狭い場合。 
ルール：沿面距離は，距離がX mmに等しいときは，ねじから壁までの距離である。 

例11 

140 

C 8201-1：2020  

附属書H 
（参考） 

電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係 

この附属書は，電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係について記載

するものであって，規定の一部ではない。 

この附属書は，電気システム内又はその一部のシステム内の回路で用いるため，装置の選定に関して必

要な情報を提供することを目的としている。 

表H.1には，電源システムの公称電圧と対応する装置の定格インパルス耐電圧との間の相関関係の例を，

記載する。 

表H.1に記載した定格インパルス耐電圧の値は，サージアレスタの動作特性に基づく。 

表H.1の値に関する過電圧の制御は，適切なインピーダンスの存在又はケーブルのようなシステムにお

ける条件によって達成することを認識するのがよい。 

上記の場合，過電圧の制御がサージアレスタ以外の手段で行われる場合，電源システムの公称電圧と定

格インパルス耐電圧との間の相関関係に関する手引は，JIS C 60364-4-44:2011に記載してある。 

141 

C 8201-1：2020  

表H.1−IEC 60099-1に準拠するサージアレスタによって過電圧を保護する場合の， 

電源システムの公称電圧と装置の定格インパルス耐電圧との間の関係 

定格使用 
対地電圧 
の最大値 

電源システムの公称電圧 

（装置の定格絶縁電圧≧） 

2 000 mにおける定格インパルス耐電圧の望ましい値 

（1.2/50 μs） 

kV 

過電圧種別 

IV 

III 

II 

I 

設置起点 

（引込口） 

のレベル 

配電回路 
のレベル 

負荷（製品 
及び装置） 

レベル 

特別に保護
したレベル 

交流実効値 

又は直流 

V 

交流実効値 

V 

交流実効値 

V 

交流実効値又は 

直流 

V 

交流実効値又は 

直流 

V 

50 

− 

− 

12.5，24，25 

30，42，48 

60-30 

1.5 

0.8 

0.5 

0.33 

100 

66/115 

66 

60 

− 

2.5 

1.5 

0.8 

0.5 

150 a) 

120/208 
127/220 

115，120 

127 

 100，110，120 

100-200，220-110，

240-120 

4 

2.5 

1.5 

0.8 

300 

220/380，230/400 
240/415，260/440 

277/480 

 200，220，230 

240，260 

277 

220 

440-220 

6 

4 

2.5 

1.5 

600 

347/600，380/660 
400/690，415/720 

480/830 

347，380，400 
415，440，480 
500，577，600 

480 

960-480 

8 

6 

4 

2.5 

1000 

− 

660 

690，720 

830，1 000 

1 000 

− 

12 

8 

6 

4 

注a) 我が国において，給電系統の公称（対地）電圧100 Vは，150 Vの欄を適用する（JIS C 60664-1:2009参照。）。 

1

4

1

C

 8

2

0

1

-1

：

2

0

2

0

142 

C 8201-1：2020  

附属書J 

（参考） 

受渡当事者間で協定を必要とする項目 

この附属書は，受渡当事者間で協定を必要とする項目について記載するもので，規定の一部ではない。 

注記 この附属書のために，次を適用する。 

− “協定”は，非常に幅広い意味に用いている。 

− “受渡当事者間”には，試験所も含まれる。 

本体の箇条番号 

項目 

2.6.4 

特殊試験 

6.1 

標準使用条件と異なる場合については，附属書Bを参照。 

6.1.1 

−5〜＋40 ℃の範囲以外の周囲温度で用いることを意図する装置。注記1参照。 

6.1.2 

標高2 000 m以上で用いることを意図する装置。注記参照。 

6.2 

この細分箇条で指定した条件と異なる場合の輸送及び保管に関する条件。 

7.2.1.2 

ラッチ式装置の動作限度。注記参照。 

7.2.2.1（表2） 

表9，表9A及び表10に記載した値よりもかなり小さい断面積の導体を接続して用いる場合。 

7.2.2.2（表3） 

抵抗器のエンクロージャの温度上昇限度に関して製造業者が提供する情報。 

7.2.2.6 

パルス動作コイルの使用条件（製造業者が指定する。）。 

7.2.2.8 

絶縁材料は，JIS C 2143（規格群）及び／又はJIS C 4003:2010に準拠（製造業者が示す。）。 

8.1.1 

特殊試験 

8.1.4 

抜取試験 

8.2.4.3 

銅製の板状導体のねん回試験。 

8.3.2.1 

試験の便宜を図り，試験の厳格度を高くする場合（製造業者との合意）。 
複数の形式又は寸法のエンクロージャを用いるための装置を試験するための最小のエンクロー
ジャ（製造業者の指定）。 

8.3.2.2.2 

より厳格な試験条件（製造業者との協定による。）。 
60 Hzで用いる装置を50 Hzで試験した場合（又はその逆）の受入れ。表8の注記2参照。 

8.3.2.2.3 

商用周波数の回復電圧の上限を高くする（製造業者との協定が必要である。）。注記3参照。 

8.3.3.3.4 

直流定格の装置を交流電源で試験する（製造業者との協定が必要である。）。 
単相電流で多極装置を試験する（製造業者との協定が必要である。）。 
3 150 Aを超える試験電流値で試験する場合の接続配置。 
表9，表9A，表10及び表11に記載した値よりも小さい断面積の導体を用いる（製造業者との
協定が必要である。）。表9，表10及び表11の注b)参照。 

8.3.3.5.2 g) 
8.3.4.1.2 d) 

より細い直径の銅線を用いて，ヒューズエレメント回路の推定故障電流を1 500 A未満とした場
合（製造業者との協定が必要である。）。 

8.3.4.1.2 

b) 短絡試験用の試験回路で，ここで定義した抵抗器と異なる抵抗器で空心リアクトルを分流

する場合。 

c) 図9〜図12の回路図と異なる場合の短絡試験用の試験回路図。 

8.3.4.3 

Icw用試験電流値の増加。 

直流定格の装置に対して交流電流Icwを導通する能力の確認。 

143 

C 8201-1：2020  

附属書K 

（規定） 

機能安全用途に用いる電気機械装置の信頼性データを決定する手順 

K.1 一般 

K.1.1 まえがき 

信頼性データの解析は，次の方法によって製造業者が指定する。 

K.1.2 適用範囲及び目的 

この附属書は，JIS C 0508-4:2012に定義される高頻度作動要求モード又は連続モードで機能安全用途に

用いる電気機械装置の信頼性データの解析手順を規定する。 

この方法は，電子部品には適用しない。 

注記1 電気機械式でない装置は，故障率を推定する計算のガイダンスのためにJIS C 0508-6を引用

することが望ましい。電子部品の故障率は，例えば，IEC/TR 62380（信頼性データハンドブ

ック）によって評価することが望ましい。 

注記2 低頻度作動のためにこの附属書による信頼性データの使用は適切ではない。低頻度作動要求

モードは考慮中である。 

これらのデータは，JIS C 0508（規格群），JIS B 9961:2008，JIS B 9705-1:2011などの機能安全規格が要

求している。 

個別規格は，その機能又は考えられる故障モードを定義する。 

K.1.3 一般要求事項 

機能安全のための特定データは，この手順で得られなければならない。 

この手順は，信頼性データを提供するための試験結果の統計的分析に基づいている。 

この附属書の要求事項は，適切な試験及び故障モード並びに故障率の条件において，該当する個別規格

によって更に規定してもよい。 

機器の使用寿命期間中の故障率計算に関連する信頼水準は，60 %である。 

注記 信頼性データに関連するパラメータは，同様に機能安全用途に用いる他のパラメータと矛盾な

く選択する。 

この附属書によって得られた統計データは，装置の耐用寿命期間の間だけ有効である。 

この附属書において，統計的な一貫性を保つために，“時間”は動作サイクル数を意味する。 

この附属書では，試験期間中の装置の部品取替えは考慮していない。 

K.2 用語及び定義，並びに記号 

K.2.1 用語及び定義 

用語及び定義は，次による。 

K.2.1.1 

信頼性，信頼性性能（reliability，performance） 

アイテムが与えられた条件の下で，与えられた期間，要求機能を遂行できる能力。 

（JIS Z 8115:2000） 

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C 8201-1：2020  

K.2.1.2 

耐用寿命（useful life） 

与えられた条件で，与えられた時間から故障強度が許容できなくなるまでの時間。 

注記 耐用寿命は，動作サイクル数で示してもよい。 

K.2.1.3 

偶発故障期間（constant failure rate period） 

修理できないアイテムの運用期間中，故障率がほぼ一定である期間。 

（JIS Z 8115:2000） 

K.2.1.4 

有効期間（overall lifetime） 

ランダムハードウェアの故障によって，想定した信頼率を維持するために超過しないことが望ましい機

器の使用年数。 

注記1 有効期間は，保管期間などの非使用期間も含む。有効期間は，年によって示す。 

注記2 JIS B 9961:2008に対応するT1（プルーフテスト間隔）及びJIS B 9705-1:2011に対応するTM

（使命時間）に基づく。 

K.2.1.5 

中途打ち切り（censoring） 

複数のアイテムの実施する試験において，規定故障数の発生時点又は規定動作時間への到達時点での観

測（試験）の終了。 

K.2.1.6 

サスペンション（suspension） 

アイテムが故障していない又は調査中（他の原因のため故障した状況を取り除くなど）であって故障し

ていない状況。 

K.2.1.7 

無負荷開閉（no-make-break-current utilization） 

開閉装置を無負荷で，閉路及び開路する状態。 

K.2.1.8 

故障までの時間（time to failure） 

アイテムが動作可能状態になった時点から最初の故障までの全運用時間。 

注記 故障までの時間は，動作サイクル数で表してもよい。 

K.2.2 記号 

記号は，次による。 

n： 

サンプル数 

r： 

故障数 

t： 

動作サイクル数 

η： 

尺度パラメータ 

β： 

形状パラメータ（ワイブル係数：m） 

c： 

時間当たりの動作サイクル数 

λu： 

信頼水準60 %における動作単位ごとの故障率（上限） 

λ： 

単位時間当たりの故障率 

145 

C 8201-1：2020  

λD： 

単位時間当たりの危険側故障 

r2： 

決定係数 

K.3 耐久性試験の結果の解析手法 

K.3.1 一般的な方法 

この細分箇条で記載する方法は，ランダムハードウェア故障に的を絞るために，適切な耐久試験にて，

装置の故障を継続的に監視し，ランダム性のハードウェア故障が発生しているとして計算する方法である。 

K.3.2 試験の要求事項 

試験環境は，箇条6及びできる限り関連する個別規格の要求事項によらなければならない。 

機械的耐久性は，7.2.4.3.1を適用して評価する。無電流閉路及び開路の使用条件では，機械的耐久性を

適用してよい。 

電気的耐久性は，個別規格が規定する使用負荷種別，又は製造業者が指定する使用負荷種別を用いて，

7.2.4.3.2を適用して評価する。 

K.3.3 サンプル数 

試験するサンプル数は，IEC 61649:2008及びJIS C 5750-3-5:2006に従って，技術的判断によって選択す

る。 

注記 このサンプル数の決定は，統計的手法（IEC 61649:2008の箇条4参照）及び得られる信頼性デ

ータの信頼水準の不確実性を考慮する。 

K.3.4 故障モードの特徴 

個別規格又は製造業者によって決められていない場合，表K.1に示す故障モードの一つ又はそれ以上の

発生によって，そのサンプルの試験を終了する。これらの結果を記録する。 

注記 製造業者が指定する動作サイクル数の到達によって，その試験（試験の中途打ち切り又はサス

ペンション）を終了する。統計的分析を行うために，故障の回数にかかわらず全ての動作サイ

クル数を記録する。 

表K.1−装置の故障モード 

故障モード 

開閉接触子の特徴 

開路不良 

通常の開路操作の後，1極又はそれ以上の極に電流が継続して流れる。 

閉路不良 

通常の閉路操作の後，1極又はそれ以上の極に電流が流れない。 

絶縁不良 

安全機能の喪失の結果，極間又は隣接導電部間との絶縁故障 

K.3.5 ワイブル解析 

K.3.5.1 結果の評価 

尺度パラメータを決定するために，統計的ソフトウェア又はスプレッドシートによって立証された形状

パラメータ又は故障率が利用できる。必要な手段を次に示す。 

K.3.5.2 解析方法 

信頼性データは，IEC 61649:2008に規定するワイブル分布によって，試験結果データをモデル化するこ

とによって得る。 

故障数が20以下の場合，メディアンランク法（MRR）を用いる。故障数が10を超える場合，ワイブル

パラメータのβ及びηの推定値を得るのに，最ゆう（尤）推定（MLE）方法を用いることができる。γが

60 %でのフィッシャー分配（Fγ）でコルモゴロフスミルノフ適合度検定（H）を，方程式(K.1)を立証する