C 8147-1：2017
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 4
4 一般的要求事項 ··············································································································· 10
5 試験上の一般的注意事項 ··································································································· 10
6 分類······························································································································ 11
7 表示······························································································································ 11
7.1 表示する項目 ··············································································································· 11
7.2 表示の耐久性及び判読性 ································································································ 13
8 端子······························································································································ 13
9 接地······························································································································ 13
9.1 保護接地 ····················································································································· 13
9.2 機能接地 ····················································································································· 13
9.3 プリント基板上の導体パターンで構成する保護接地用導体付きランプ制御装置 ························· 14
9.4 器具内用ランプ制御装置の接地 ······················································································· 14
9.5 独立形ランプ制御装置を経由した接地··············································································· 14
10 充電部との偶発接触からの保護 ························································································ 15
11 耐湿性及び絶縁性 ·········································································································· 16
12 耐電圧 ························································································································· 16
13 安定器巻線の熱耐久性試験 ······························································································ 17
14 故障状態 ······················································································································ 20
15 構造 ···························································································································· 23
15.1 木，綿，絹，紙及び同様な繊維質材料 ············································································· 23
15.2 プリント配線板 ··········································································································· 23
15.3 SELV又はELVで使用するプラグ及びコンセント（outlet） ················································ 23
16 沿面距離及び空間距離 ···································································································· 24
17 ねじ，通電部及び接続部 ································································································· 25
18 耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性 ··············································································· 25
19 耐食性 ························································································································· 26
20 無負荷出力電圧 ············································································································· 26
附属書A（規定）導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験 ·························· 27
附属書B（規定）熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項 ··············································· 28
附属書C（規定）過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項 ········································· 36
附属書D（規定）熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法··············································· 39
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附属書E（規定）tw試験での4 500以外の定数Sの使用 ······························································ 41
附属書F（規定）風防容器 ····································································································· 44
附属書G（規定）パルス電圧の値の由来の説明 ········································································· 45
附属書H（規定）試験 ·········································································································· 49
附属書I（規定）二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項 ·················· 54
附属書J（規定）より面倒な要求事項の一覧 ············································································· 57
附属書K（参考）製造工程における適合試験 ············································································ 58
附属書L（規定）SELV制御装置の個別追加要求事項 ································································· 60
附属書M（参考）耐インパルスカテゴリIIIの制御装置の耐電圧試験電圧 ······································ 69
附属書N（規定）二重絶縁又は強化絶縁のために使用される絶縁材料の要求事項 ····························· 70
附属書O（規定）二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置の追加要求事項······················· 74
附属書JA（規定）追加の安全性要求事項 ················································································· 77
参考文献 ···························································································································· 80
附属書JB（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 81
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
照明工業会（JLMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格で
ある。
これによって，JIS C 8147-1:2011は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 8147の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 8147-1 第1部：通則及び安全性要求事項
JIS C 8147-2-1 第2-1部：始動装置の個別要求事項（グロースタータを除く）
JIS C 8147-2-2 第2-2部：直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項
JIS C 8147-2-3 第2-3部：交流及び直流電源用蛍光灯電子安定器の個別要求事項
JIS C 8147-2-7 第2-7部：非常時照明用制御装置の個別要求事項
JIS C 8147-2-8 第2-8部：蛍光灯安定器の個別要求事項
JIS C 8147-2-9 第2-9部：放電灯安定器個別要求事項（蛍光灯安定器を除く）
JIS C 8147-2-10 第2-10部：管形冷陰極放電ランプ（ネオン管）の高周波動作用電子インバータ及び
変換器の個別要求事項
JIS C 8147-2-11 第2-11部：照明器具用のその他の電子回路の個別要求事項
JIS C 8147-2-12 第2-12部：直流又は交流電源用放電灯電子安定器の個別要求事項（蛍光灯電子安定
器を除く）
JIS C 8147-2-13 第2-13部：直流又は交流電源用LEDモジュール用制御装置の個別要求事項
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日本工業規格 JIS
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ランプ制御装置−第1部：通則及び安全性要求事項
Lamp controlgear-Part 1: General and safety requirements
序文
この規格は，2007年に第2版として発行されたIEC 61347-1，Amendment 1：2010及びAmendment 2：
2012を基とし，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。ただし，追補（amendment）につい
ては，編集し，一体とした。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JBに示す。また，附属書JAは対応国際規格にはない事項であ
る。
1
適用範囲
この規格は，250 V以下の直流電源及び／又は1 000 V以下の50 Hz又は60 Hzの交流電源に使用する，
ランプ制御装置の通則及び安全性要求事項について規定する。
この規格は，まだ規格化されていないランプのためのランプ制御装置についても適用する。
この規格で扱う試験は，形式試験だけである。生産しているランプ制御装置個々の試験の要求事項は，
規定しない。
準照明器具の安全性要求事項は，JIS C 8105-1（準照明器具の定義は，JIS C 8105-1の1.2.60参照）によ
る。
注記1 熱的保護機能付きランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項は，附属書B，過熱保
護手段付き電子ランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項は，附属書C，安全特別
低電圧（SELV）を供給するランプ制御装置特有の安全性要求事項は，附属書L，追加の安全
性要求事項は，附属書JAによる。
注記2 この規格に適合するランプ制御装置は，独立形として又は照明器具の安全性要求事項通則
JIS C 8105-1及びその個別安全性要求事項を規定するJIS C 8105-2規格群に適合する照明器
具内蔵形として動作するため，定格電圧90 %〜110 %の範囲で安全性が期待できる。また，
性能要求はより厳しい限界が必要となる。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61347-1:2007，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements，Amendment 1:2010
及びAmendment 2:2012（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
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2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0366:1997 建築電気設備の電圧バンド
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529:1989，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code) 及び
Amendment 1:1999（IDT）
JIS C 2143（規格群） 電気絶縁材料−熱的耐久性
注記 対応国際規格：IEC 60216 (all parts)，Electrical insulating materials−Thermal endurance properties
（MOD）
JIS C 3215-0-1 巻線共通規格−第0-1部：一般特性−エナメル銅線
注記 対応国際規格：IEC 60317-0-1:2008，Specifications for particular types of winding wires−Part 0-1:
General requirements−Enamelled round copper wire（MOD）
JIS C 3301 ゴムコード
JIS C 3306 ビニルコード
JIS C 3307 600 Vビニル絶縁電線（IV）
JIS C 3315 口出用ゴム絶縁電線
JIS C 3316 電気機器用ビニル絶縁電線
JIS C 3317 600 V二種ビニル絶縁電線（HIV）
JIS C 3663（規格群） 定格電圧450/750 V以下のゴム絶縁ケーブル
JIS C 4003 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方
注記 対応国際規格：IEC 60085:2007，Electrical insulation−Thermal evaluation and designation（MOD）
JIS C 4908 電気機器用コンデンサ
JIS C 5101-14 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデン
サ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14: Sectional
specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the
supply mains（IDT）
JIS C 6065:2013，オーディオ，ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60065:2001，Audio, video and similar electronic apparatus−Safety
requirements（MOD）
JIS C 6691 温度ヒューズ−要求事項及び適用の指針
注記 対応国際規格：IEC 60691:2002，Thermal-links−Requirements and application guide（MOD）
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60950-1，Information technology equipment−Safety−Part 1: General
requirements（MOD）
JIS C 7601 蛍光ランプ（一般照明用）
JIS C 8105-1 照明器具−第1部：安全性要求事項通則
注記 対応国際規格：IEC 60598-1:2008，Luminaires−Part 1: General requirements and tests（MOD）
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JIS C 8105-2（規格群） 照明器具−第2部：個別安全性要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60598-2 (all parts)，Luminaires. Part 2: Particular requirements（MOD）
JIS C 8118 蛍光灯安定器−性能要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60921:2004，Ballasts for tubular fluorescent lamps−Performance requirements
（MOD）
JIS C 8119 放電灯安定器（蛍光灯を除く）−性能要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60923:2005，Auxiliaries for lamps−Ballasts for discharge lamps (excluding
tubular fluorescent lamps)−Performance requirements（MOD）
JIS C 8147-2（規格群） ランプ制御装置−第2部：個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61347-2 (all parts)，Lamp controlgear−Part 2: Particular requirements（MOD）
JIS C 8147-2-8 ランプ制御装置−第2-8部：蛍光灯安定器の個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61347-2-8，Lamp controlgear−Part 2-8: Particular requirements for ballasts for
fluorescent lamps（MOD）
JIS C 8147-2-9 ランプ制御装置−第2-9部：放電灯安定器個別要求事項（蛍光灯安定器を除く）
注記 対応国際規格：IEC 61347-2-9:2000，Lamp controlgear−Part 2-9: Particular requirements for
ballasts for discharge lamps (excluding fluorescent lamps)，Amendment 1:2003及びAmendment
2:2006（MOD）
JIS C 9730-2-3 家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置−第2-3部：蛍光ランプ用安定器の
感熱式保護装置の個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60730-2-3，Automatic electrical controls for household and similar use−Part
2-3: Particular requirements for thermal protectors for ballasts for tubular fluorescent lamps（MOD）
JIS C 60664-1:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1:2007，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 1: Principles, requirements and tests（IDT）
JIS C 60664-3 低圧系統内機器の絶縁協調−第3部：汚損保護のためのコーティング，ポッティング
及びモールディングの使用
注記 対応国際規格：IEC 60664-3，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−
Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution（IDT）
JIS C 60695-2-10 耐火性試験−電気・電子−第2-10部：グローワイヤ／ホットワイヤ試験方法−グ
ローワイヤ試験装置及び一般試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-10，Fire hazard testing−Part 2-10: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire apparatus and common test procedure（IDT）
JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部：試験炎−ニードルフレーム（注射針バーナ）
試験方法−装置，試験炎確認試験装置の配置及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60695-11-5，Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test
method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance（IDT）
JIS C 61558-1:2012 変圧器，電源装置，リアクトル及びこれに類する装置の安全性−第1部：通則及
び試験
注記 対応国際規格：IEC 61558-1:2005，Safety of power transformers, power supplies, reactors and
similar products−Part 1: General requirements and tests（MOD）
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JIS C 61558-2-6:2012 入力電圧1 100V以下の変圧器，リアクトル，電源装置及びこれに類する装置
の安全性−第2-6部：安全絶縁変圧器及び安全絶縁変圧器を組み込んだ電源装置の個別要求事項
及び試験
注記 対応国際規格：IEC 61558-2-6:2009，Safety of transformers, reactors, power supply units and
similar products for supply voltages up to 1 100 V−Part 2-6: Particular requirements and tests for
safety isolating transformers and power supply units incorporating safety isolating transformers
（MOD）
JIS C 61558-2-16:2012 入力電圧1 100V以下の変圧器，リアクトル，電源装置及びこれに類する装置
の安全性−第2-16部：スイッチモード電源装置及びスイッチモード電源装置用変圧器の個別要求
事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 61558-2-16:2009，Safety of transformers, reactors, power supply units and
similar products for voltages up to 1 100 V−Part 2-16: Particular requirements and tests for switch
mode power supply units and transformers for switch mode power supply units（MOD）
JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
注記 対応国際規格：ISO 4046-4:2002，Paper, board, pulps and related terms−Vocabulary−Part 4: Paper
and board grades and converted products（MOD）
JIS Z 8113 照明用語
IEC 60227（all parts），Polyvinyl chloride insulated cables of rated voltages up to and including 450/750 V
IEC 60417，Graphical symbols for use on equipment
IEC 60884-2-4，Plugs and socket-outlets for household and similar purposes−Part 2-4: Particular requirements
for plugs and socket-outlets for SELV
IEC 60906-3，IEC System of plugs and socket-outlets for household and similar purposes−Part 3: SELV plugs
and socket-outlets, 16 A 6 V, 12 V, 24 V, 48 V, a.c. and d.c.
IEC 61189-2，Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and
assemblies−Part 2: Test methods for materials for interconnection structures
IEC 61249-2（all parts），Materials for printed boards and other interconnecting structures
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 8113によるほか，次による。
3.1
ランプ制御装置（lamp controlgear）
電源電圧を変圧する，ランプ電流を規定の値に制限する，始動電圧及び予熱電流の供給，コールドスタ
ートの防止，力率の改善，無線障害の低減などに役立つ，電源と1個又はそれ以上のランプとの間に挿入
する単独又は複数の構成部品。
3.1.1
器具内用ランプ制御装置（built-in lamp controlgear）
照明器具，箱，外郭又は類似のものに組み込むように設計したランプ制御装置。特別な防護なしに，照
明器具などの外部に設置することを意図しない。
注記 道路照明用ポール底部のランプ制御装置収納部は，外郭と考える。
3.1.2
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独立形ランプ制御装置（independent lamp controlgear）
ランプ制御装置の表示に従った保護を備え，何らかの外郭を付加することなく，照明器具の外側に別置
できるよう設計した，1個以上の素子で構成したランプ制御装置。
注記 独立形ランプ制御装置は，表示に従って必要な保護を備えた適切な外郭の中に設置した器具内
用ランプ制御装置で構成してもよい。
3.1.3
器具一体形ランプ制御装置（integral lamp controlgear）
照明器具の交換不可能な部分を形成し，照明器具から分離して試験することのできないランプ制御装置。
3.2
安定器（ballast）
電源と1個又は複数のランプとの間に挿入される装置であり，インダクタ，コンデンサ又はインダクタ
とコンデンサとの組合せによって，主としてランプ電流を規定の値に制限するもの。
注記 電源電圧を変圧する手段，始動電圧及び予熱電流の提供を補助するための手段を含んでもよい。
3.2.1
直流電源用電子安定器（d.c. supplied electronic ballast）
半導体部品を用いた直流−交流インバータ。1個又は複数の蛍光ランプに電力を供給するための安定化
素子を含んだものがある。
3.2.2
試験用安定器（reference ballast）
安定器の試験に用いる比較の基準及び試験用ランプ選定のために設計した特別な誘導形安定器。この安
定器は，JIS C 8118の附属書C（試験用安定器）及びJIS C 8119の附属書A（試験用安定器）に規定する
ように，電流，温度及び電磁的環境の変化に対し，相対的に影響を受けない安定した電圧−電流特性をも
つという，本質的な特性がある。
3.2.3
外部制御形安定器（controllable ballast）
ランプ点灯特性を，主電源又は外部制御入力によって変更することができる電子安定器。
3.3
試験用ランプ（reference lamp）
安定器の試験用に選定したランプ。試験用安定器と組合せたとき，関連するランプ規格に規定する定格
値に近い電気特性をもつ。
3.4
試験用安定器の基準電流（calibration current of a reference ballast）
試験用安定器の校正及び管理の基準となる電流。
注記 この電流は，試験用安定器に適合するランプの定格ランプ電流と，ほぼ等しくすることが望ま
しい。
3.5
入力電圧（supply voltage）
ランプ及びランプ制御装置の回路全体に印加する電圧。
3.6
動作電圧（working voltage）
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ランプ制御装置を定格電圧で動作させるとき，過渡的なものは無視し，無負荷状態又は通常動作中に絶
縁物間に生じる最大実効値電圧。
3.7
設計電圧（design voltage）
ランプ制御装置の全ての特性が満足すると，製造業者が宣言した電圧。この値は，定格電圧範囲の最大
値の85 %以上である。
3.8
電圧範囲（voltage range）
安定器を動作させることを意図した入力電圧の範囲。
3.9
定格無負荷出力電圧（rated no-load output voltage）
安定器出力に負荷を接続しない状態で，定格周波数の定格入力電圧を印加したとき，出力する電圧。過
渡的及び始動時は除く。
3.10
入力電流（supply current）
ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電流。
3.11
充電部（live part）
通常の使用中に電撃を生じるおそれのある導電部。中性線は，充電部とみなす。
注記 導電部が，電撃を生じるおそれのある充電部であるかどうかを確認するための試験を，附属書
Aに規定している。
3.12
形式試験（type test）
関連する規定の要求事項に対する製品設計の適合性確認の目的のために，形式試験試料で行う試験又は
一連の試験。
3.13
形式試験試料（type-test sample）
形式試験のために，製造業者又は責任がある販売業者によって提出される，1個又は複数の同様のユニ
ットからなる試料。
3.14
回路力率，λ（circuit power factor，λ）
ランプ制御装置とランプ制御装置が設計の対象としたランプとを組み合わせたときの力率。
3.15
高力率形安定器（high power factor ballast）
回路力率（進相又は遅相）が0.85以上の安定器。
注記1 0.85の値は，電流波形ひず（歪）みの力率への影響を考慮している。
注記2 北米では，高力率は0.9以上と定義されている。
3.16
定格最高温度，tc（rated maximum temperature，tc）
通常使用状態で，定格電圧又は定格電圧範囲内において，温度が厳しくなる電圧にて，外郭で生じる（表
7
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示している場合には表示した箇所）最高許容温度。
3.17
ランプ制御装置巻線の定格最高使用温度，tw（rated maximum operating temperature of a lamp controlgear
winding，tw）
50/60 Hzでランプ制御装置が，10年間以上の連続寿命をもつと期待し得る最高温度で，製造業者が指定
した巻線温度。
3.18
整流現象（rectifying effect）
片側の電極の破損又は不十分な電子放射によって，連続する半サイクルに放電電流の不均衡な状態が継
続する，ランプ寿命末期に生じる現象。
3.19
熱耐久性試験の試験期間，D（test duration of endurance test，D）
温度条件に基づいた選択可能な熱耐久性試験の期間。
3.20
安定器巻線の絶縁劣化定数，S（degradation of insulation of a ballast winding，S）
安定器絶縁の劣化を決定する定数。
3.21
イグナイタ（ignitor）
放電ランプを始動するためにパルス電圧を発生させる装置。両電極の予熱を行うものではない。
注記 始動パルス電圧を発生する素子は，トリガーのあり又はなしのいずれでもよい。
3.22
保護接地（大地）， ［IEC 60417の5019 (2002-10)］［protective earth (ground)， ］
安全上の理由で，端子によって大地に接続する部分。
3.23
機能接地（大地），
［IEC 60417の5017 (2002-10)］［functional earth (ground)，
］
安全以外の理由で，端子によって大地に接続する部分。
注記1 機能接地は，始動の容易性及び／又は電磁両立性のために必要となることがある。
3.24
フレーム（シャーシ）， ［IEC 60417の5020 (2002-10)］［frame (chassis)， ］
その電位を基準とみなす端子。
3.25
制御端子（control terminals）
電源入力端子以外の電子安定器接続端子で，安定器との情報交換をする端子。
注記 電源入力端子を，情報交換をする端子としてもよい。
3.26
制御信号（control signal）
安定器を制御するために，安定器と情報交換をする信号。この信号は，交流又は直流の電圧であっても，
アナログ，ディジタル又はその他の変調信号でもよい。
3.27
特別低電圧，ELV（extra-low voltage）
8
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
導体間又は導体と接地との間の，交流50 V（実効値）又はリップルのない直流120 V以下の電圧（JIS C
0366:1997の電圧バンドI）。
注記 “リップルのない”とは，従来から，“正弦波で10 %（実効値）以下のリップル成分”という
定義がある。したがって，公称120 Vのリップルのない直流系統での最大ピーク電圧は140 V
以下である。
3.28
安全特別低電圧，SELV（safety extra low voltage）
JIS C 61558-2-6:2012に規定する安全絶縁変圧器の，一次側と二次側との間の絶縁と同等以上の絶縁によ
って，電源から絶縁した回路における特別低電圧。
注記1 特に充電部との直接的な接触が許される場合，交流50 V又はリップルのない直流120 V以下
の最大電圧を特別要求事項で規定できる。
注記2 電源が安全絶縁変圧器である場合，電圧は最大負荷と無負荷の間のいかなる負荷でも限度を
超えない。
注記3 “リップルのない”とは，従来から，“正弦波で10 %（実効値）以下のリップル成分”とい
う定義がある。したがって，公称120 Vのリップルのない直流系統での最大ピーク電圧は140
V以下であり，公称60 Vのリップルのない直流系統での最大ピーク電圧は70 V以下である。
3.29
きょう（筐）体（body）
全ての可触導電部，シャフト，ハンドル，ノブ，グリップ及び同種のもの並びに可触金属固定ねじ。絶
縁物の可触表面に使用する金属はく（箔）（非可触金属部は含まない）を含む。
3.30
耐インパルスカテゴリ（impulse withstand category）
過渡的な過電圧状態を定義する数字。過電圧カテゴリともいう。
注記 耐インパルスカテゴリには，I，II，III及びIVがある。各カテゴリの詳細な情報は，JIS C 8105-1
及びJIS C 60664-1:2009を参照。
3.31
クラスIランプ制御装置（class I lamp controlgear）
感電に対する保護が基礎絶縁だけに依存しておらず，追加安全予防措置をもつ独立形制御装置。基礎絶
縁が故障を起こした場合でも，可触導電部が充電部にならないように，設備の固定配線の保護接地用導体
にそれらを接続する手段をもっている。
注記1 クラスI独立形制御装置は，二重絶縁又は強化絶縁の部分があってもよい。
注記2 クラスI独立形制御装置は，SELVに対応する感電に対する保護の部分があってもよい。
注記3 基礎絶縁だけによって感電を防止する独立形制御装置は，クラス0独立形制御装置と定義さ
れる。これは最終の使用状態において，人が触れるおそれのある導体部があっても，これを
電源配線の保護接地導体に接続する手段がないことを意味している。すなわち，基礎絶縁が
故障した場合は使用環境だけが頼りである。クラス0独立形制御装置には，基礎絶縁で全体
又は一部を形成する絶縁外郭のもの及び少なくとも基礎絶縁によって充電部から隔離した金
属の外郭のものがある。
3.32
クラスIIランプ制御装置（class II lamp controlgear）
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
感電に対する保護が，基礎絶縁だけに依存しておらず，二重絶縁又は強化絶縁のような追加安全予防措
置をもつ独立形制御装置。この制御装置は，保護接地の手段を備えておらず，また，設置条件に依存しな
い。
3.33
クラスIIIランプ制御装置（class III lamp controlgear）
感電に対する保護をSELVの電源に依存し，かつ，内部でSELVを超える電圧を発生しない独立形制御
装置。
3.34
保護インピーダンスデバイス（protective impedance device）
定常状態の接触電流と電荷を危険なレベルにならないように制限するインピーダンス部品又は構造。
3.35
最大動作電圧，Uout（maximum working voltage，Uout）
正常又は異常動作状態中の出力端子間又は出力端子と接地との間に発生する動作電圧の最大値（実効
値）。
注記 過渡現象及び始動電圧は除く。
3.36
基礎絶縁（basic insulation）
正常状態で，感電に対する基礎的な保護を与えるために充電部に施した絶縁。
注記 基礎絶縁は，必ずしも機能目的（感電に対する保護）にだけ使用する絶縁に限らない。
3.37
二重絶縁（double insulation）
基礎絶縁が破壊したときに，感電に対する保護を行うために，基礎絶縁及び付加絶縁の二つで構成する
絶縁。
3.38
強化絶縁（reinforced insulation）
二重絶縁と同程度の感電に対する保護をもつ，充電部に施した単一の絶縁方式。
注記 “絶縁方式”は，絶縁が単一で均質のものであることを意味しない。付加絶縁又は基礎絶縁と
して単独に試験できない数層の絶縁で構成してもよい。
3.38A
入力電力（supply wattage）
ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電力。
3.38B
変圧式安定器（transformer type ballast）
変圧器の機能をもつ安定器。この安定器には，絶縁変圧器形とそうでないものとがある。
3.38C
二次電圧（secondary voltage）
安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたとき，二次側に定常的に発生する，無負荷（多灯用では全
てのランプを外した状態）又は適合ランプ点灯時（定格点灯又は調光負荷時）のいずれか高い方の電圧。
3.38D
二次短絡電流（secondary short-circuit current）
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C 8147-1：2017
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安定器に定格周波数の定格入力電圧を加え，二次側（フィラメント端子間を除く。）を短絡したときに二
次側に定常的に流れる電流（無負荷時の二次電圧を定格二次電圧とするものに限る。）。
3.38E
定格最高周囲温度，ta（rated maximum operating ambient temperature，ta）
ランプ制御装置が通常の状態で使用できる，製造業者が宣言した最高周囲温度。
4
一般的要求事項
ランプ制御装置は，通常の使用状態で使用者及び周囲を危険にさらすことなく使用できるように，設計
及び構成しなければならない。
適合性は，規定する全ての試験を実施することによって判定する。
ランプ制御装置の二重絶縁又は強化絶縁のために使用する絶縁材の要求事項は，附属書Nで規定する。
独立形ランプ制御装置は，IP分類などの分類及び表示の要求事項も含めて，JIS C 8105-1の要求事項
を満足しなければならない。
二重絶縁又は強化絶縁を備えた器具内用磁気回路式安定器は，附属書Iの要求事項に適合しなければ
ならない。
二重絶縁又は強化絶縁を備えた器具内用電子制御装置は，附属書Oの要求事項に適合しなければなら
ない。
外郭をもたず，プリント基板及びその基板上の部品で構成する器具内用ランプ制御装置は，照明器具
に組み込まれた場合に，JIS C 8105-1の要求事項を満足しなければならない。
外郭をもたない器具一体形ランプ制御装置は，JIS C 8105-1の0.5（照明器具の構成部品）で定義した
一体化構成部品として扱い，器具に組み込んだ状態で試験する。
注記 必要がある場合，試験方法について照明器具製造業者が安定器製造業者に相談することを推奨
する。
ランプ安全規格では，ランプの安全動作のために“安定器設計のための情報”を提供している。安定器
の試験時，これは規定とみなす。
SELV制御装置は，附属書Iの要求事項に従わなければならない。これには，一次回路と二次回路との
間の絶縁抵抗，耐電圧，沿面距離及び空間距離を含む。
5
試験上の一般的注意事項
5.1
この規格による試験は，形式試験である。
注記 要求事項及びこの規格で規定する許容差は，形式試験のために製造業者が提出した形式試験試
料の試験に適用することになる。この形式試験試料が適合しても，製造業者の全ての製品がこ
の安全規格に適合していることを保証するものではない。
製品の適合性は，製造業者の責任であり，形式試験のほかに日常試験及び品質保証を含んで
もよい。
5.2
試験は，その他に規定がない場合，10 ℃〜30 ℃の周囲温度で実施する。
5.3
形式試験は，その他に規定がない場合，形式試験の目的のために提出された1個又は複数の品目
からなる一つの試料で実施する。
一般に，全ての試験は，それぞれの形式のランプ制御装置に対して実施するか，一連の同様なランプ制
御装置を含む場合は，製造業者の同意を得てその範囲の中の各ワット数のもの，又はその範囲から代表を
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選んで実施する。
JIS C 61558-1:2012の14.3又は15.5の試験をする場合，試験は新たな3個の試験試料を用いて行う。こ
れらの試料は，このそれぞれの試験だけに用いる。
5.4
試験は，JIS C 8147-2の規格群に規定がない場合，この規格に規定する順番で実施する。
5.5
温度上昇試験では，厚さ15 mm〜20 mmの3枚のつや消し黒色塗装した木製又は木繊維板を部屋の
二つの壁及び天井に模した試験コーナーの中に，独立形ランプ制御装置を取り付ける。ランプ制御装置は，
壁にできる限り近い天井に固定し，天井は，ランプ制御装置の壁側以外の端部から250 mm以上離れてい
なければならない。
5.6
電池を用いて動作することを意図している直流電源安定器では，電源インピーダンスが電池のもの
と同等である場合，電池以外の直流電源を代わりに用いてもよい。
注記 適切な定格電圧で50 μF以上の静電容量をもつ無誘導性コンデンサを，試験中のユニットの電
源端子の両端に接続している場合，通常，電池のものと同等の電源インピーダンスをもってい
る。
5.7
この規格の要求事項に対してランプ制御装置を試験する場合，新しい試験試料を以前の試験報告書
とともに提出することで，以前の試験報告書をこの規格に従って更新してもよい。
一般的には，全ての形式試験は必要としない。製品と以前の試験結果とは，附属書Jに“R”と表記し
た修正箇条だけ，見直す。
6
分類
ランプ制御装置は，取付方法によって次のように分類する。
− 器具内用
− 独立形
− 器具一体形
7
表示
7.1
表示する項目
JIS C 8147-2の規格群には，次の項目のいずれかを，必須の表示として表示するか，情報としてランプ
制御装置本体又は製造業者のカタログ若しくは類似の資料に表示するかを，規定している。
器具内用に分類されるが，外郭をもたないランプ制御装置（例えば，基板が露出した構造）は，a)，b)
及びJIS C 8147-2の規格群による他の必須表示について，情報としてランプ制御装置の本体又はカタログ
若しくは類似の資料に表示する。
a) 供給者の名称等（登録商標，製造業者名又は責任のある販売業者名若しくは納入業者名）。
b) 製造業者の形式番号又は形式名。
c) 独立形ランプ制御装置の記号 （該当する場合）。
d) ランプ制御装置のヒューズなどの交換部品と互換部品との相関関係は，ランプ制御装置上の凡例によ
って表示するか，又はヒューズは除いて，製造業者のカタログに記載してもよい。
e) 定格入力電圧（複数の電圧がある場合，それぞれの電圧），電圧範囲，電源周波数，入力電流及び定格
入力電力。
注記1 定格入力電力は，製造業者の資料に記載してもよい。
f)
接地用端子がある場合，記号 又は
によって識別しなければならない。これらの記号は，ねじ
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又はその他の容易に取り外せる部品には表示しない。ランプ制御装置が接地用記号を備え，接地接続
なしでの使用について製造業者の取扱説明書に記載しなければならない。
注記2 記号の用い方は，IEC 60417参照。
g) 記号twの後に，巻線の定格最高使用温度の宣言値。値は，5 ℃の倍数で表記する。
h) ランプ制御装置が，充電部との偶発的な接触から保護するために，照明器具の外郭に依存しない場合
は，照明器具の外郭に依存しないことを表示する。
i)
端子がある場合，適合する電線の断面積又は導体径。
表記：断面積で表す場合には，該当する値の平方ミリメートル（mm2）の後に，小さな四角□を付け
る。導体径で表す場合には，関連する導体の導体径のミリメートル（mm）の値の前に，φを付ける。
j)
ランプ制御装置に適したランプ形式及び定格電力若しくは電力範囲，又はランプ制御装置が設計の対
象とするランプ形式についてのランプデータシート上の名称。ランプ制御装置が複数のランプを点灯
することを意図している場合には，ランプの数及び各ランプの定格電力を表示する。
注記3 JIS C 8147-2-2に規定するランプ制御装置では，製造業者の印刷物にその他の規定がない
場合，表示した電力範囲は，範囲内の定格を全て含むことを前提としている。
k) 端子の位置及び目的を示す配線図。端子のないランプ制御装置の場合には，結線に用いる電線の記号
の意味を配線図に明確に記載する。特定回路だけで動作するランプ制御装置は，例えば，表示，配線
図などによって記載する。
l)
tcの値。これがランプ制御装置の特定の位置に関係する場合には，この位置を明示するか，又は製造
業者のカタログに記載する。
m) 動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の記号 （附属書B参照）。この三角形の中
の点は，製造業者が指定する定格最高ケース温度（単位は℃）の値に置き換えることとし，その値は，
10の倍数で表記する。
n) ランプ制御装置に追加で要求する放熱手段。
o) 照明器具設計の情報として，制御装置を照明器具に内蔵する場合の異常状態における巻線の限界温度。
注記4 異常状態となり得ない回路に用いるランプ制御装置，又はランプ制御装置がJIS C 8105-1
の附属書C（異常回路状態）の異常回路状態になることを防止するために用いる始動装置
とランプ制御装置との組合せだけの場合には，異常回路状態を示す巻線温度の表示は，不
要である。
p) 製造業者の選択によって，30日を超える期間にわたり試験するランプ制御装置の熱耐久性試験の試験
期間は，記号D及びその後に，60日間，90日間，120日間などの10日間隔の適切な日数をtwの表示
の直後に括弧に入れて表示することができる。例えば，“D6”は，試験期間が60日間の制御装置であ
る。
注記5 標準的な30日間の熱耐久性試験では，表示する必要はない。
q) 製造業者が宣言する4 500以外の定数Sのランプ制御装置では，記号Sの表示とともに，1 000単位の
適切な値を表示する。例えば，Sが6 000の値であれば，“S6”となる。
注記6 Sの望ましい値は，4 500，5 000，6 000，8 000，11 000及び16 000である。
r) 定格無負荷出力電圧。ただし，変圧式のものに限る。
s)
SELV制御装置である場合は，その図記号を記載する（表L.1参照）。
t)
ランプ収納部の接続のために使用する独立形制御装置の接地端子がある場合は，記号 で表示す
る。この記号は，ねじ又はその他の容易に取り外せる部品には表記してはならない。ランプ収納部の
．．．
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接続に使用する独立形制御装置の接地端子の記号サイズは，文字を含めて全体で5 mm以上とする。
u) 最大動作電圧Uout（実効値）。最大動作電圧Uout（実効値）は，出力端子間及び該当の出力端子と接地
との間の動作電圧に対し，表5に示す電圧ステップで記載する。
最も大きい最大動作電圧Uout（実効値）を“出力動作電圧＝…V”又は“U-OUT＝…V”又は“Uout＝…V”
として制御装置に表示しなければならない。
注記7 JIS C 61558-1:2012で定義されるSELV回路を備えた端子に適用しない。
表5−動作電圧及びUoutステップ
動作電圧
＜50 V
＜500 V
＞500 V
Uout
1 V刻み
10 V刻み
50 V刻み
uA) 定格二次電圧。
uB) 定格二次短絡電流又は定格二次電流のいずれか大きい値。
uC) taの記号の後に，定格最高周囲温度の宣言値。値は，5 ℃の倍数とする。
7.2
表示の耐久性及び判読性
表示は耐久性があり，かつ，判読できなければならない。
表示の適合性は，次の両方の検査又は試験を行い，その結果で，判定する。
a) 目視検査を行う。
b) 2枚の布の一方を水に浸し，残りの布を石油系溶剤に浸す。その浸したそれぞれの布で試料の表示を，
15秒間ずつ軽くこする。
試験後，表示は判読できなければならない。
注記 使用する石油系溶剤は，芳香族成分が容積分率0.1 %以下，カウリブタノール価29，初期沸点
約65 ℃，蒸発温度約69 ℃で，密度が約0.68 g/cm3のへキサン系溶剤が望ましい。
8
端子
ねじ端子は，JIS C 8105-1の第14章（ねじ締め式端子）に適合しなければならない。
ねじなし端子は，JIS C 8105-1の第15章（ねじなし端子及び電気接続）に適合しなければならない。
9
接地
9.1
保護接地［記号：IEC 60417-5019（2006-08）］
接地用端子は，箇条8の要求事項に適合しなければならない。電気的接続及び締付け手段は，緩まない
ように適切に固定でき，かつ，工具を用いないで手で電気的接続及び締付け手段が緩んではならない。ね
じなし端子は，意図せず締付け手段及び電気的接続が緩んではならない。
接地用端子の全ての部品は，接地導体又はそれらと接触する金属から生じる電食の危険性を最小限にし
なければならない。
ねじ又はその他の接地用端子の部品は，黄銅若しくはこれと同等以上の耐食性をもつ金属，又はさびな
い表面をもつ材料で，接触する表面のうちの一つ以上は，金属面が露出していなければならない。
適合性は，JIS C 8105-1の7.2.3による。
9.2
機能接地［記号：IEC 60417-5018（2011-07）］
機能接地端子は，箇条8及び9.1の要求事項による。ランプ制御装置の機能接地の接触子（電位）は充
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電部から二重絶縁又は強化絶縁で絶縁しなければならない。
9.3
プリント基板上の導体パターンで構成する保護接地用導体付きランプ制御装置
器具内用，独立形又は器具一体形制御装置において，プリント基板上の導体パターンを内部保護接地と
して使用する場合には，次によって試験する。
a) 25 Aの交流電流を，接地用端子又はプリント基板上の導体パターンを経由した接地接点と，人の触れ
るおそれのある各金属部品との間に，順に1分間通電する。
b) 試験後，制御装置を周囲温度まで冷やし，JIS C 8105-1の7.2.3の要求事項に適合しなければならない。
9.4
器具内用ランプ制御装置の接地
照明器具の接地した金属にランプ制御装置を固定することで，器具内用ランプ制御装置の接地ができる。
JIS C 8105-1の7.2（保護接地）に従って判定しなければならない。ランプ制御装置に接地用端子がある場
合，その端子は，器具内用ランプ制御装置を接地するためだけに用いる。器具内用ランプ制御装置を介し
て，照明器具又は他の設備（機器）を接地してはならない。
9.5
独立形ランプ制御装置を経由した接地
9.5.1
他の設備への接地接続
独立形ランプ制御装置は，施工時に，他の設備への接地接続を許容する接地端子を具備する場合がある。
貫通配線又は送り配線の導体は，断面積が1.5 mm2以上の銅又は等価の導電材料を使用する。照明器具の
保護接地する線は，JIS C 8105-1の5.3.1.1及び第7章（保護接地）による。送り配線及び貫通配線の断面
積は1.5 mm2以上必要である。適合性は検査及び測定によって判定する。
9.5.1A
独立形ランプ制御装置は，定格入力電圧及び定格二次電圧が150 V以下で，屋内の乾燥した場所
で使用するものを除き，安定器の外郭の表面又はその他の適切な場所に，接地用端子又は接地用の口出し
線を取り付ける。
9.5.1B
接地用端子は，呼び径が4 mm以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって，直径が
2 mm以上の電線を確実に取り付けることができる，ねじ端子又は同等の導体を取り付けることができる
ものとする。定格二次電圧が600 Vを超え，かつ，定格二次短絡電流が1 Aを超えるものに取り付ける接
地用端子には，5 mm以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって，直径が2.6 mm以上の電線
を確実に取り付けることができる，ねじ端子又は同等の導体を取り付けることができるものとする。
押し締めねじ形の接地用端子には，呼び径が3.5 mm以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子でな
ければならない。ただし，器具内用，独立形（屋内使用に限る）には，速結端子を用いることができる。
9.5.1C
接地用口出し線については，口出し線の種類及び断面積を除き，JA.3に適合しなければならない。
また，口出し線の種類及び断面積は，次のいずれか又は同等以上とする。
a) 直径が1.6 mmの軟銅線又はこれと同等以上の強さ及び太さをもつ容易に腐食し難い金属線。
b) 断面積が1.25 mm2以上の単心コード又は単心キャブタイヤケーブル。
c) 断面積が0.75 mm2以上の2心コードであって，その2本の導体を両端でより合わせ，かつ，ろう付け
又は圧着したもの。
d) 断面積が0.75 mm2以上の多心コード（より合わせコードを除く。）又は多心キャブタイヤケーブルの
線心の1心。
9.5.2
独立形ランプ制御装置によって電力供給されたランプ収納部の接地
独立形ランプ制御装置は，この制御装置によって電力が供給されるランプ収納部の接地を許容する接地
端子を具備する場合がある。このような場合，制御装置の接地端子の入出力間の接地経路は，次の試験に
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耐えなければならない。
25 Aの交流電流を，接地用端子又は接地点（プリント基板上の導体パターンを保護接地として使用する
場合）と，人の触れるおそれのある各金属部品との間に，順に1分間通電する。
試験の後，制御装置を周囲温度まで冷やし，12 Vを超えない無負荷電圧を備えた電源から，10 A以上の
電流を，接地用端子又は接地点（プリント基板上の導体パターンを保護接地として使用する場合）と，人
の触れるおそれのある各金属部品との間に，順に流す。
接地用端子又は接地点と人の触れるおそれのある各金属部品との間の電圧降下を，測定する。その電流
及び電圧降下から求めた抵抗値は，0.5 Ω以下とする。
7.1 t) に記載するように，ランプ収納部への接地端子が表示されなければならない。
10 充電部との偶発接触からの保護
10.1 電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しないランプ制御装置は，通常の使用状態で設置したとき，
充電部（附属書A参照）との偶発接触に対して十分に保護しなければならない。
照明器具の外郭に保護を依存する器具一体形ランプ制御装置は，その意図した用途に従って試験する。
ラッカー又はエナメルは，この要求事項に対して適切な保護又は絶縁性をもつものとはみなさない。
偶発接触に対する保護のための部品は，機械的強度が十分であり，通常の使用状態で緩みが生じてはな
らない。また，工具を用いないで取り外すことができてはならない。
適合性は，目視及び手による試験によって，また，偶発接触に対する保護に関しては，接触を検出する
ために電気指示器を用いたJIS C 0920の付図1に示すテストフィンガによって，判定する。このテストフ
ィンガは，考えられる全ての位置に当てて，必要がある場合，10 Nの力を加える。
接触の検出をするためにランプを用いる場合は，電圧は40 V以上にすることが望ましい。
10.2 合計静電容量が0.5 μFを超えるコンデンサを組み込んだランプ制御装置は，定格電圧の電源からラ
ンプ制御装置を遮断し，1分間以内にランプ制御装置の端子間の電圧が50 V以下となる構造にしなければ
ならない。
10.3 SELV制御装置の可触導電部は，少なくとも二重絶縁又は強化絶縁で充電部から電気的に分離しなけ
ればならない。出力回路ときょう（筐）体又は保護接地回路とは，接続してはならない。また，その構造
は，その他の導電部を通じて直接又は間接的にこれらの回路間に接続の可能性がないようにしなければな
らない。ただし，意図的に接続するものは除く（10.4参照）。
SELV出力回路は，少なくとも基礎絶縁によって接地から電気的に分離しなければならない。
“回路”という用語には，制御装置の内部変圧器（高周波など）の巻線も含む。
特別低電圧（ELV）制御装置では，導電部は充電部とみなすので，絶縁しなければならない。
適合性は，目視検査，該当する絶縁試験及び測定によって確認する。
その他は，附属書Lによる。
10.4 SELV制御装置は，負荷時定格出力電圧が実効値25 V，又はリップルのない直流電圧60 Vを超えな
い場合，SELV回路には可触導電部があってもよい。また，電圧が実効値25 V又はリップルのない直流電
圧60 Vを超える場合は，接触電流は，次の値を超えてはならない。
− 交流の場合，0.7 mA（ピーク値）
− 直流の場合，2.0 mA
− 無負荷出力は，交流電圧ピーク値35 V又はリップルのない直流電圧60 Vを超えない。
注記 上限値は，IEC 60364-4-41に基づいている。
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適合性は，制御装置に定格電源電圧及び定格周波数を入力して，安定状態に達してから，出力電圧を測
定することによって確認する。制御装置の負荷時試験は，定格出力電圧で定格出力電流又は定格出力電力
を与える抵抗器を接続する。複数の電源電圧をもつ制御装置の要求事項は，定格電源電圧の各々に適用す
る。
接触電流は，JIS C 8105-1の附属書G（接触電流及び保護導体電流の測定）による測定によって確認す
る。
上記の値を超える定格出力電圧又は電流をもつSELV制御装置については，SELV回路の導電部の一つ
以上は，実効値500 Vの試験電圧に1分間耐えられる絶縁体で絶縁しなければならない。
同じ定格値（抵抗又は容量）の二つ以上の個別部品で構成し，それぞれの定格が合計の動作電圧に対応
し，また，そのインピーダンスが制御装置の個別の寿命期間中で大きく変化しない場合，抵抗器又はY2
コンデンサで二重絶縁又は強化絶縁によって分離された可触導電部［例えば，充電部及びきょう（筐）体
又は一次及び二次回路など］をブリッジ（導電ブリッジ）してもよい。さらに，充電部から二重絶縁又は
強化絶縁によって分離された可触導電部は，単一のY1コンデンサでブリッジしてもよい。
Y1又はY2コンデンサは，JIS C 5101-14の表2（クラスYのコンデンサの分類）及び表3（サンプリン
グ計画 安全性を要求する試験）に適合し，また，抵抗器を使用する場合，抵抗器は，JIS C 6065:2013の
14.1（抵抗器）の試験a)の要求事項に適合しなければならない。
11 耐湿性及び絶縁性
ランプ制御装置は，次の試験を満足する耐湿性をもっていなければならない。次の試験を行った後，使
用上問題となる損傷があってはならない。ランプ制御装置は，相対湿度91 %〜95 %に保った加湿容器内に，
通常の使用で最も好ましくない位置に置く。試料を設置する全ての場所の温度は，20 ℃〜30 ℃の任意の
値tの1 ℃以内に保たなければならない。加湿容器に入れる前に，試料はtと（t＋4）℃との間の温度に
保つ。試料は，48時間容器内に保管する。
注記 多くの場合，試料は耐湿試験の前に，4時間以上tと（t＋4）℃との間の温度の室内に保管する
ことによって，tと（t＋4）℃との間の規定温度になる。
この容器内を規定した状態にするために，一般に，熱的に遮断した容器を用い，内部空気の
一定循環を確実にする必要がある。
充電部ときょう（筐）体との間の絶縁抵抗は，基礎絶縁の場合は2 MΩ以上，強化絶縁の場合は4 MΩ
以上とする。一次回路と二次回路との間の絶縁について，SELV制御装置では，他の値を用いる（附属書L
参照）。
次の箇所では，十分絶縁していなければならない。
a) 充電部と，固定ねじ又は外部絶縁部と接触している金属はく（箔）を含む外部金属との間
b) 充電部と関連する制御端子との間
一つ以上の出力端末と接地用端子との間で，内部接続部又は部品をもつランプ制御装置の場合，この接
続は試験中に外さなければならない。
試験では，入出力端子は全て接合する。絶縁カバー又は覆いをもっている制御装置は，金属はく（箔）
で包まなければならない。
12 耐電圧
ランプ制御装置は，十分な耐電圧をもたなければならない。
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絶縁抵抗の測定の直後に，箇条11に規定する部品間に1分間の耐電圧試験を適用し，ランプ制御装置は，
それに耐えなければならない。
試験電圧は，50 Hz又は60 Hzの実質的に正弦波で，表1に規定する値でなければならない。
初めは規定する電圧の半分以下を印加し，それから，その電圧は急速に規定する値まで上げる。
表1−耐電圧試験電圧
動作電圧 U
試験電圧
V
SELVの電圧のための基礎絶縁
500
50 V以下
500
50 Vを超え1 000 V以下
基礎絶縁
2U＋1 000
付加絶縁
2U＋1 000
二重絶縁又は強化絶縁
4U＋2 000
強化絶縁及び二重絶縁の両方を用いる場合，強化絶縁に適用する試験電圧は，基礎絶
縁又は付加絶縁に過剰ストレスを加えないよう，注意する必要がある。
入出力間の絶縁にかかわらず制御装置を試験する場合，入力側は，供給電圧に一致す
る試験電圧で試験する。また，出力側は，Uoutに一致する試験電圧で試験する。
二重又は強化絶縁のために使用する固体絶縁又は薄板絶縁については，附属書Nを適用する。
試験中に，フラッシオーバ又は絶縁破壊が発生してはならない。
試験に用いる高圧変圧器は，出力電圧を適切な試験電圧に設定した後，出力端子を短絡したとき，その
出力電流が200 mA以上となるように，設計する。
過電流リレーは，出力電流が100 mA未満の場合に，トリップしてはならない。
印加する試験電圧の実効値は，±3 %以内とする。
箇条11に規定する金属はく（箔）は，絶縁体の縁でフラッシオーバが起きないように，配置する。
電圧降下なしのグロー放電は，無視する。
13 安定器巻線の熱耐久性試験
安定器巻線は，十分な熱耐久性をもっていなければならない。
適合性は，次の試験で判定する。
注記1 SELVを備える制御装置に用いられる巻線は，JIS C 61558-1:2012の附属書Uを参照。
この試験の目的は，安定器に表示した定格最高使用温度twの正当性を確認することである。この試験は，
他の試験をしていない新しい7台の安定器で実施する。これらは，これ以降の試験に用いてはならない。
この試験は，照明器具に一体化し，照明器具から分離して試験できない安定器にも適用する。このため，
器具一体形安定器にもtw値を表示する。
試験の前に，各安定器は通常に始動及び動作させ，ランプ電流は，通常の動作状態及び定格電圧で測定
する。熱耐久性試験の詳細を，次に規定する。温度条件は，製造業者が指定した目標試験期間に調整しな
ければならない。指定がない場合，試験期間は，30日間とする。
試験は，適切な恒温槽の中で行う。
安定器は，通常の使用時と同様に，電気的に機能しなければならない。試験対象でないコンデンサ，部
品又はその他補助部品を取り外し，恒温槽の外部で，回路に再度接続する。巻線の動作状態に影響しない
他の部品は，外してよい。
注記2 コンデンサ，部品又は他の補助部品を取り外す必要がある場合，製造業者がこれらの部品を
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外し，その他あらゆる必要な追加接続部品を安定器から取り除いた特別な安定器を供給する
ことが望ましい。
一般に，通常の動作状態を得るために，その安定器は適合するランプで試験する。
安定器の容器が金属の場合，容器を接地する。ランプは，常に恒温槽の外に設置する。
単一のインピーダンス（例えば，スイッチスタート式チョークコイル式安定器）の場合，その安定器は，
ランプ又は抵抗を用いず，定格入力電圧時のランプの電流と同じ値に調節した電流値で試験を行う。
安定器は，ランプ制御装置の巻線と接地との電圧ストレスがランプを用いた場合と同じであるように電
源を接続する。
7台の安定器を恒温槽内に配置し，各回路に定格電源電圧を印加する。
恒温槽の内部温度によって，各安定器の中の最も高い巻線温度が，表2に規定する理論値とほぼ等しく
なるように恒温槽のサーモスタットを調整する。
30日間を超える試験期間を適用する安定器では，理論的試験温度は，この箇条の注記4での説明のよう
に，式(2)によって求める。
巻線温度が安定し始めた後に，巻線の実際の温度を抵抗法で決定する。必要がある場合，恒温槽のサー
モスタットは，目標試験温度にできるだけ近づくよう再調整する。その後，恒温槽内の温度を毎日読み，
サーモスタットが正しい値の±2 ℃以内に保っているかを確かめる。
巻線温度は，24時間後に再度測定し，それぞれのランプ制御装置の最終試験期間は，式(2)によって決め
る。図1は，これをグラフで表したものである。試験中の安定器の実測最高巻線温度と理論値との間の許
容差は，その最終試験期間が目標と同等以上かつ2倍以下でなければならない。
注記 これらの曲線は，参考として，4 500の定数Sを用いた式(2)を説明したものである（附属書E参照）。
図1−巻線温度と熱耐久性試験期間との関係
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表2−熱耐久性試験期間30日を要する安定器に対する理論的試験温度
単位 ℃
定格最高
使用温度
tw
定数S
S4.5
S5
S6
S8
S11
S16
90
163
155
142
128
117
108
95
171
162
149
134
123
113
100
178
169
156
140
128
119
105
185
176
162
146
134
125
110
193
183
169
152
140
130
115
200
190
175
159
146
136
120
207
197
182
165
152
141
125
215
204
189
171
157
147
130
222
211
196
177
163
152
135
230
219
202
184
169
158
140
238
226
209
190
175
163
145
245
233
216
196
181
169
150
253
241
223
202
187
175
注記 安定器上に表示してない場合，S4.5欄に規定する理論的試験温度を適用する。
S4.5以外の定数を用いる場合は，附属書Eに従って立証することが望ましい。
注記3 抵抗法による巻線温度の測定では，式(1)を適用する。
(
)234.5
234.5
1
1
2
2
−
+
=
t
R
R
t
····························································· (1)
ここに，
t1： 初期温度（℃）
t2： 最終温度（℃）
R1： 温度t1での抵抗値
R2： 温度t2での抵抗値
234.5： 銅巻線に適用する定数（アルミニウムの場合は，229）
24時間後の測定後に，巻線温度を一定に保とうとして条件を変えてはならない。サーモスタット制御で
は，周囲温度だけを安定化させる。
各安定器の試験期間は，安定器を電源に接続したときから始まる。この試験の終了時に，関連する安定
器は電源から外すが，その他の安定器の試験が完了するまで恒温槽から取り出さない。
注記4 図1に示す理論的試験温度は，定格最高使用温度twでの10年連続使用の寿命に相当する。
それらは，式(2)によって求める。
−
+
=
w
0
1
1
log
log
T
T
S
L
L
···························································· (2)
ここに，
L： 目標の熱耐久性試験日数（30日，60日，90日，120日など）
L0： 3 652日（10年）
T： 絶対温度による理論的試験温度（t＋273）
Tw： 絶対温度による定格最高使用温度（tw＋273）
S： ランプ制御装置の設計及び用いる巻線絶縁体で決まる定数
試験後，安定器は，室温に戻ったとき，次の要求事項を満たさなければならない。
a) 定格電圧では，安定器は同一ランプを始動でき，ランプ電流は試験前に測定した値の115 %以下とす
る。
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注記5 この試験は，出力特性に何らかの悪い変化がないかを判定するためのものである。
したがって，試験前及び試験後のランプ電流測定に用いるランプは，特性試験だけに用い
る。
b) 約500 Vの直流電圧で測定した巻線と安定器のケースとの間の絶縁抵抗は，1 MΩ以上とする。
14 故障状態
14.0 ランプ制御装置は，故障状態の下で動作させたときに，炎若しくは溶融物質の放出又は可燃性ガス
の発生がないように設計する。10.1に規定する偶発接触に対する保護が損なわれてはならない。
故障状態での動作とは，14.1〜14.4に規定する条件の各々を順次適用することを意味する。これと関連
して，一度に1個の部品だけが故障状態になるという条件の下で，理論的に予測することができるその他
の故障状態を意味する。
製造業者が保護接地記号を記したランプ制御装置に関して，仕様書にて接地接続なしでの使用を許可す
る場合は，故障状態での動作は接地接続あり，及び接地接続なしの両方で試験する。
製造業者が機能接地記号を記したランプ制御装置に関して，仕様書にて機能接地接続なしでの使用を許
可する場合は，故障状態での動作は接地接続あり，及び接地接続なしの両方で試験する。
通常，供試装置及び回路図を検討すれば，適用することが望ましい故障状態が分かる。故障状態の試験
は，最も都合のよい順序で適用する。
全体が覆われたランプ制御装置又は部品は，試験のため又は内部の故障状態を適用するために開けては
ならない。ただし，回路図を検討して疑わしい場合には，出力端子を短絡するか，又は製造業者の同意を
得て，製造業者が特別に準備したランプ制御装置で試験する。
関連する表面に自己硬化形充塡剤が充塡され，空間距離が存在しないランプ制御装置は，全体が覆われ
たランプ制御装置又は部品とみなす。
製造業者の仕様によって，短絡が発生しない部品又は短絡を無視できる部品は，短絡しない。
製造業者の仕様書によって，開路することがない部品は，開放しない。
JIS C 5101-14に適合する主電源に直接接続したX1又はX2のフィルタ用コンデンサは，試験する必要
はない。
製造業者は，例えば，関連規格に適合していることを明らかにすることなどによって，部品の予測動作
を明示しなければならない。
関連規格に適合しないコンデンサ，抵抗器又はインダクタは，短絡するか又は開放するかのいずれかよ
り好ましくない状態で試験する。
を表示したランプ制御装置は，ランプ制御装置の外郭温度がいずれの箇所においても表示した温度
を超えてはならない。
注記 記号の表示がないランプ制御装置及びフィルタコイルがある場合，JIS C 8105-1に従って，照
明器具とともに検査する。
14.1 沿面距離及び空間距離が，14.1〜14.4において許容する低減措置を考慮に入れた上で，箇条16に規
定する値未満の場合は，その部分を短絡する。
箇条16に規定する値未満の沿面距離及び空間距離は，充電部と人が接触するおそれがある各金属部分と
の間であってはならない。
IEC 61189-2の引抜強度及び剝離強度の要求事項に適合するプリント基板上で，電源からのサージエネ
ルギーから保護した導体間（例えば，チョーク巻線又はコンデンサによって）では，沿面距離の要求事項
．．．
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を修正する。表3の距離は，式(3)から値を求める。ただし，0.5 mm以上
=
300
ˆ
log
0.78
log
V
d
·································································· (3)
ここに，
d： 最小沿面距離（mm）
Vˆ： 動作電圧のピーク値（V）
これらの距離は，図2を参照して決定することができる。
注記1 プリント基板上のラッカーなどの被覆は，距離を求める場合には無視する。
プリント基板上の沿面距離は，JIS C 60664-3に適合するコーティングをしてある場合は，上記の値より
も小さくてもよい。この規定は，充電部と人が接触するおそれがある金属部分に接続した部分との沿面距
離にも適用する。JIS C 60664-3の関連項目に従って試験する場合，要求事項に適合しなければならない。
図2−直接電源に電気的に接続していないプリント配線板の導体間の沿面距離
14.2 半導体素子両端の短絡又は開放
一度に1個の部品だけを短絡（又は開放）する。
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14.3 ラッカー，エナメル又は繊維被覆で構成する絶縁物の短絡
このような被覆は，表3に規定する沿面距離及び空間距離を評価するときには無視する。ただし，エナ
メルが電線の絶縁体を形成して，JIS C 3215-0-1の箇条13（絶縁破壊）に規定する電圧試験に耐える場合
には，沿面距離及び空間距離に対して1 mmを付加するものとみなす。
この細分箇条は，コイルのターン間，絶縁スリーブ又はチューブの間の絶縁を短絡する必要性を意味す
るものではない。
14.4 電解コンデンサ端子間の短絡
14.5 14.1〜14.4の適合性は，14.6に示す試験手順で，ランプを接続し，ランプ制御装置の外郭温度を定格
最高温度tcにして，定格入力電圧を加えてランプ制御装置を動作させて判定する。そして，14.1〜14.4に
規定する故障状態を，順次適用する。
注記1 この細分箇条の目的は，試験電圧がランプ制御装置の供給電圧範囲内，又は単一の定格入力
電圧の場合はその±5 %の，いずれかの値とすることである。これは，この試験で高い入力
電流容量を要求することを認めている。
試験は，安定状態になるまで継続し，ランプ制御装置の外郭温度を測定する。
注記2 試験中，抵抗器，コンデンサ，半導体ヒューズなどの部品が故障する場合がある。試験を継
続するために，このような部品を交換してもよい。
一括した入出力端子間と，全ての露出した金属部分及び関連する制御端子との間の絶縁は適切でなけれ
ばならない。絶縁カバー又は覆いをもっている制御装置は，金属はく（箔）で包まなければならない。
試験後に，ランプ制御装置が周囲温度に戻ったとき，約500 Vの直流電圧で測定した絶縁抵抗は，1 MΩ
以上でなければならない。
部品から出るガスが可燃性であるかどうかを確認するためには，高周波火花発生器を用いて試験を行う。
接触するおそれのある部品が充電部であるか確認するために，附属書Aに従って試験を実施する。
発生した炎又は溶融物質の放出が安全であるかどうかを確認するために，JIS P 0001の6228に規定する
1枚の包装用ティシュで試験片を包んだとき，包装用ティシュが着火してはならない。
14.6 試験対象のランプ制御装置を，160 A
0
10
+ %の短絡電流を供給できる大電力交流電源に，図3に示す
ように接続し，関連する故障状態を適用する。
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UN：電源電圧
DUT：供試品
R：電源配線又は電流調整用の抵抗器
T：分流器
X1，X2，X3及びX4：配線接続又は抵抗接続用の端子
A及びB：短絡用端子及びランプ制御装置接続用の端子
C.P.：電流プローブ
図3−制御装置の試験回路
試験は，次の手順で行う。
a) 端子A及び端子Bを短絡し，X1-X2間及びX3-X4間の配線及び抵抗器で，電流値を160 A
010
+ %に調
整する。
b) 短絡を解除し，端子A及び端子Bにランプ制御装置を接続する。
c) ランプ制御装置の試験を行う。
15 構造
15.1 木，綿，絹，紙及び同様な繊維質材料
木，綿，絹，紙及び同様な繊維質材料は，含浸していない場合，絶縁物として用いてはならない。
適合性は，目視検査によって判定する。
15.2 プリント配線板
プリント配線板は，内部接続として許容する。
適合性は，箇条14を参照して判定する。
15.3 SELV又はELVで使用するプラグ及びコンセント（outlet）
SELV又はELVのコンセント（outlet）を具備する制御装置の出力回路については，設置基準，電圧及び
周波数に関連して入力回路として使用するコンセントとそのコンセントに直接接続するプラグとの互換性
は，危険のないようにしなければならない。SELVのプラグ及びコンセント差込口は，IEC 60906-3及びIEC
60884-2-4の要求事項に適合しなければならない。
ただし，72 Wを超えない定格電流3 A，最大交流電圧25 V又は直流電圧60 V以下のSELVのプラグ及
びコンセントは次の要求事項を満足する場合，許容する。
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− プラグは，その他の規格で規定するコンセント差込口に差し込むことができてはならない。
− コンセントは，その他の規格で規定する電圧規格のプラグを差し込むことができてはならない。
− コンセントは，保護接地をもってはならない。
IEC 60906-3は，6 V，12 V，24 V又は48 Vの出力電圧の制御装置を規定している。中間の出力電圧の
制御装置は，最も近い高い側の電圧に耐えることができなければならない。
16 沿面距離及び空間距離
沿面距離及び空間距離は，特に箇条14に規定する場合を除き，表3及び表4に規定する値以上でなけれ
ばならない。また，SELV制御装置は，L.11が適用する。
幅1 mm未満の溝の沿面距離は，その幅とする。
1 mm未満の空隙は，総空間距離の計算では無視する。
注記1 沿面距離は，絶縁物の表面に沿って測定した空間での距離である。
安定器の巻線間の距離は，熱耐久性試験で調べるので，測定しない。これは，タップ間の距離にも適用
する。ただし，絶縁を要求する巻線間は除く。
金属製外郭に絶縁ライニング（裏打ち）がなく，充電部と外郭との間の沿面距離又は空間距離が，関連
する表に規定する値よりも小さい場合には，JIS C 8105-1に従って，金属製外郭に絶縁ライニング（裏打
ち）を施さなければならない。
注記2 開放形コアの安定器において，巻線の絶縁を形成し，JIS C 3215-0-1の箇条13（絶縁破壊）
のグレード1又はグレード2の電圧試験に耐えるエナメル又は同様の材料では，異なる巻線
のエナメル被覆巻線間又はエナメル被覆巻線からカバー若しくは鉄心までの距離は，表3及
び表4に規定する値より1 mm少ない値を最小距離としてもよい。
ただし，これは沿面距離及び空間距離がエナメル層に加えて2 mmを超える箇所にだけ適
用する。
部品を自己硬化形充塡剤で充塡し，絶縁が必要な各面の間に空隙が存在しないランプ制御装置は検査し
ない。
プリント配線板の基礎絶縁の距離は，箇条14に従って試験するので，この箇条の要求事項から除外する。
ただし，プリント配線板の二重絶縁又は強化絶縁を設けられているところでは，除外しない。
表3−正弦波交流電圧（50/60 Hz）の場合の最小距離
右記の電圧以下の動作電圧（実効値）
V
50
100
150
200
250
500
750
1 000
最小距離mm
沿面距離
− 基礎絶縁 PTI≧600
PTI＜600
− 付加絶縁 PTI≧600
PTI＜600
− 強化絶縁
0.6
1.2
−
−
−
0.71
1.4
0.71
1.4
2.8 b)
0.8
1.6
0.8
1.6
3.2 a)
1.5
2.0
1.5
2.0
4.0 a)
1.5
2.5
1.5
2.5
5 a)
3
5
3
5
6
4
8
4
8
8
5.5
10
5.5
10
11
空間距離
− 基礎絶縁
− 付加絶縁
− 強化絶縁
0.2
−
−
0.5
0.5
1.5
0.8
0.8
1.6
1.5
1.5
3
1.5
1.5
3
3
3
6
4
4
8
5.5
5.5
11
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表3−正弦波交流電圧（50/60 Hz）の場合の最小距離（続き）
注記1 PTI（保証トラッキング指数）は，IEC 60112に基づく。
注記2 トラッキングが起こり得ない場所の電圧が加わらない部分，又は接地を意図していない部分の沿面距離は，
PTI≧600の材料に規定する値を全ての材料に適用する（実際のPTIに関係なく）。60秒間未満の動作電圧
が印加される沿面距離については，PTI≧600の材料に規定する値を全ての材料に適用する。
注記3 じんあい又は湿気で汚染されにくい箇所の沿面距離は，PTI≧600の材料に規定する値を適用する（実際の
PTIに関係なく）。
注記4 IEC 61347-2-1に規定するランプ制御装置では，人が触れるおそれのある金属部は充電部に関して強固に設
置する。
注記5 この箇条に規定する沿面距離及び空間距離は，IEC 60155に規定する寸法に適合するIEC 61347-2-1に規定
する装置には適用しない。このような場合には，その規格の要求事項を適用する。
注記6 規定する電圧の中間の電圧の絶縁距離は，直線補間を適用する。
注記7 クラス0照明器具に組み込むことを意図した器具内用及び器具一体形ランプ制御装置，又はクラス0独立
形ランプ制御装置は，JIS C 8105-1の11.2（沿面距離及び空間距離）も配慮する。
注a) PTI≧600の絶縁材料では，この材料の基礎絶縁に対する値の2倍まで小さくできる。
b) PTI≧600の絶縁材料では，1.5 mmまで低減できる。
表4−非正弦波パルス電圧の場合の最小距離
定格パルス電圧
ピークkV
2.0 2.5 3.0 4.0 5.0 6.0 8.0 10
12
15
20
25
30
40
50
60
80 100
最小空間距離 mm
1.0 1.5 2
3
4
5.5 8
11
14
18
25
33
40
60
75
90 130 170
正弦波電圧及び非正弦波パルス電圧がともに印加される場合，要求する最小距離は，表3又は表4に規
定する，いずれか大きい方の値以上でなければならない。
沿面距離は，要求する最小空間距離以上でなければならない。
17 ねじ，通電部及び接続部
その故障によってランプ制御装置の安全性を損なうおそれがあるねじ，通電部及び機械的接続部は，通
常の使用で起こる機械的ストレスに耐えなければならない。
適合性は，JIS C 8105-1の4.11（電気的接続及び通電部）及び4.12（ねじ，機械的接続及びグランド）
の検査及び試験によって判定する。
18 耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性
18.1 充電部を規定の位置に保持する絶縁部品及び電撃保護用絶縁部品は，十分な耐熱性をもたなければ
ならない。
セラミック以外の材料の適合性は，JIS C 8105-1の第13章（耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性）に
よるボールプレッシャ試験をその部品に対して行って判定する。
18.2 電撃保護のために用いる外部絶縁部品及び充電部を規定の位置に保持する絶縁材料部品は，十分な
耐炎性，耐着火性及び耐火性をもっていなければならない。
セラミック以外の材料の適合性は，18.3又は18.4の試験によって判定する。
プリント基板は，18.3又は18.4の試験は行わず，IEC 61189-2の8.7及びIEC 61249-2の規格群の関係す
る部分によって試験する。自己持続炎は，ガスの炎を除去した後30秒間以内に消滅しなければならない。
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
また，燃焼滴下物によって，JIS P 0001の6228に規定する1枚の包装用ティシュに着火してはならない。
18.3 電撃保護のために用いる外部絶縁部品は，JIS C 60695-2-10に従って，次の条件で30秒間グローワ
イヤ試験を実施する。
− 試験試料は，1個とする。
− 試験試料は，完成したランプ制御装置とする。
− グローワイヤの先端温度は，650 ℃とする。
− グローワイヤを取り除いてから30秒間以内に，試験用試料のいかなる炎（自己持続炎）及び赤熱状態
も消滅しなければならない。また，燃焼滴下物によって，試験用試料の下方200 mm±5 mmに水平に
広げたJIS P 0001の6228に規定する1枚の包装用ティシュに着火してはならない。
18.4 充電部を規定の位置に保持する絶縁材料部品は，JIS C 60695-11-5に従って次の条件でニードルフレ
ーム試験を実施する。
− 試験試料は，1個とする。
− 試験試料は，完成したランプ制御装置とする。ランプ制御装置の部品を取り外して試験を行う必要が
ある場合には，試験条件が通常使用時の状態と大きく異ならないように留意する。
− 試験炎を試験する表面の中心に当てる。
− 試験炎を10秒間当てる。
− 自己持続炎は，ガスの炎を除去した後，30秒間以内に消滅しなければならない。また，燃焼滴下物に
よって，試験用試料の下方200 mm±5 mmに水平に広げたJIS P 0001の6228に規定する1枚の包装
用ティシュに着火してはならない。
18.5 普通形照明器具以外の照明器具に組み込むことを意図する器具内用ランプ制御装置，独立形ランプ
制御装置及びピーク値が1 500 Vよりも高い始動電圧を印加する絶縁体をもつランプ制御装置は，充電部
を固定している場合並びに充電部と接触する絶縁性部品を湿気及びじんあいにさらされることがないよう
保護している場合を除き，耐トラッキング性をもっていなければならない。
セラミック以外の材料の適合性は，JIS C 8105-1の第13章（耐熱性，耐火性及び耐トラッキング性）で
規定するトラッキング試験を，その部品に実施して判定する。
19 耐食性
腐食することによって，ランプ制御装置の安全性を損なうおそれのある鋼鉄製部品は，腐食に対して適
切に保護していなければならない。ただし，外被によって機械的に十分保護した安定器の露出した鉄心は，
その表面にさびが生じても適切に保護されているものとみなす。
適合性は，JIS C 8105-1の4.18.1による試験によって判定する。ワニスによる保護は，外部表面に対し
て適切であるとみなす。
20 無負荷出力電圧
無負荷出力電圧は，無負荷出力電圧は，電源周波数で動作する，変圧器をもつ磁気回路式安定器だけに
適用する。
無負荷の状態で磁気回路式安定器に定格周波数の定格入力電圧を印加したとき，出力電圧は，定格無負
荷出力電圧の±10 %以内とする。
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附属書A
（規定）
導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験
A.1 導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるために，被測定装置（DUT）を定格電圧及び
公称電源周波数で動作させる。A.2又はA.3に適合する場合，導電部は充電部でない。
A.2及びA.3による試験は，次の条件で行う。
− DUTの電源の1極は，接地電位でなければならない。
極性の明確でないDUTの場合，両方の極性で試験する。
− 関係する部分とあらゆる接触可能導電性部分の間，次に関係する部分と接地の間との測定を進める。
注記 この附属書の目的は，人が触れたとき導体部が感電を起こすかを特定することである。使用す
る絶縁物の種類又は程度を要求するものではない。
A.2 電圧は，50 kΩの無誘導抵抗で構成する測定回路によって測定する。
電圧は，交流電圧ピーク値35 V以下，又はリプルのない直流電圧60 V以下でなければならない。
A.3 A.2によって測定した電圧が許容値を上回る場合又は保護インピーダンスを使用する場合，接触電流
は次の値を上回ってはならない。
・ 交流：0.7 mA（ピーク値）
・ 直流：2.0 mA
適合性は，JIS C 8105-1の図G.2の測定ネットワークを使用することによって判定する。
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附属書B
（規定）
熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項
B.1
一般事項
熱的保護機能付きランプ制御装置の二つの異なる分類が，この附属書に含まれる。
第一の分類は，米国で用いられている“クラスP”（B.9.2による。）ランプ制御装置で，この規格では“保
護機能付きランプ制御装置”と呼んでいる。これは寿命末期の過熱に対し，照明器具の取付面を保護する
ことを含め，いかなる使用状態においてもランプ制御装置の過熱を防止することを意図する。
第二の分類は，“動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”（B.9.3，B.9.4及びB.9.5によ
る。）で，ランプ制御装置に表示した熱的保護手段の動作温度と照明器具との組合せによって，ランプ制御
装置の寿命末期の過熱に対して照明器具の取付面を保護する。
注記 熱的保護機能付きランプ制御装置における第三の分類では，取付面の温度保護がランプ制御装
置以外の熱的保護手段によることを認めている。関連する要求事項は，JIS C 8105-1による。
この附属書の各箇条は，本体の対応する箇条を補足している。この附属書に対応する箇条又は細分箇条
がない場合には，本体の箇条又は細分箇条を修正なしでそのまま適用する。
B.2
適用範囲
この附属書は，照明器具に組込むことを意図しているランプ制御装置のうち，ランプ制御装置のケース
温度が規定した限度値を超える前に，ランプ制御装置への電源を遮断することを意図する熱的保護手段を
組み込んだ放電ランプ用ランプ制御装置に適用する。
B.3
用語及び定義
B.3.1
“クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置（“class P”thermally protected lamp controlgear）
いかなる使用状態においても過熱を防止するため，及び寿命末期の影響による過熱に対して照明器具の
取付面を保護する熱的保護手段をもつランプ制御装置。
B.3.2
動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置（temperature declared thermally protected lamp
controlgear）
いかなる使用状態においても，ランプ制御装置のケースの温度が表示値を超えるのを防止するために，
過熱に対する保護手段をもつランプ制御装置。
注記 三角形の中の点は，B.9の条件の下で製造業者が宣言するものであり，ランプ制御装置のケー
スの外面上の全ての箇所での定格最高ケース温度（℃）の値で置き換える。
ケースの最高温度130 ℃以下の値を表示したランプ制御装置は，照明器具の表示要求事項に従い，寿命
末期の影響による過熱に対して保護を表したものである。JIS C 8105-1参照。
P
．．．
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ケースの最高温度が130 ℃を超える場合は，照明器具に温度感知制御を用いていない場合を考慮し，可
燃性材料表面へ直接取り付ける照明器具は，JIS C 8105-1に従って追加の試験をしなければならない。
B.3.3
定格動作温度（rated opening temperature）
無通電状態で熱的保護手段が動作するように設計した温度。
B.4
熱的保護機能付きランプ制御装置の一般的要求事項
熱的保護手段は，ランプ制御装置と一体になっており，機械的損傷から保護した場所に設置しなければ
ならない。交換可能な部品がある場合，その部品は工具を用いる場合だけ取替え可能なものでなければな
らない。
保護手段の機能に極性があり，極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合，両極に保
護手段がなければならない。
適合性は，目視検査及び該当するJIS C 9730-2-3又はJIS C 6691の試験によって判定する。
B.5
試験上の一般的注意事項
B.9に従って特別に準備した適切な数の試料を準備する。
B.9.2に規定する最も厳しい故障状態で1個の試料だけを試験し，B.9.3又はB.9.4に規定する状態で1
個の試料を試験する。さらに，“クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置及び動作温度を宣言する熱的
保護機能付きランプ制御装置では，B.9.2に規定する最も厳しい故障状態となるように，1個以上のランプ
制御装置を準備する。
B.6
分類
B.6.0 ランプ制御装置は，B.6.1又はB.6.2によって分類する。
B.6.1 保護クラスによるもの
a) “クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置，記号
b) 動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置，記号
B.6.2 保護タイプによるもの
a) 自動復帰（繰返し）タイプ
b) 手動復帰（繰返し）タイプ
c) 交換不能な非復帰（ヒューズ）タイプ
d) 交換可能な非復帰（ヒューズ）タイプ
e) 同等の熱的保護手段をもつその他のタイプの保護方法
B.7
表示
B.7.1 過熱に対する保護手段を組み込んだランプ制御装置は，保護クラスに従って次の表示をする。
− 記号 は“クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置。
− 記号 は，動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置。値は，10の倍数ずつ増加する。
熱的保護手段を接続している端子は，この記号によって識別する。
さらに，交換可能な熱的保護手段では，用いる熱的保護手段のタイプを表示に含めなければならない。
P
．．．
．．．
P
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注記1 この表示は，表示した端子がランプ制御装置のランプ側に接続されないようにするために，
照明器具の製造業者から要求されている。
注記2 ある国の配線規定では，熱的保護手段は，非接地側に接続するように要求していることがあ
る。これは，極性のある電源を用いるクラスI器具において最も重要なことである。
B.7.2 B.7.1の表示のほかに，ランプ制御装置の製造業者は，B.6.2に従って保護タイプを宣言しなければ
ならない。
B.8
巻線の熱耐久性
熱的保護手段を組み込んだランプ制御装置は，熱的保護手段を短絡して，巻線の熱耐久性試験を行い，
適合しなければならない。
注記 形式試験のために，製造業者は，熱的保護手段を短絡した試料を求められることがある。
B.9
ランプ制御装置の加熱
B.9.1 事前選別試験
この試験を開始する前に，熱的保護手段の定格動作温度よりも5 K低い温度に保った恒温槽の中に，ラ
ンプ制御装置を12時間以上放置する（無通電で）。
さらに，温度ヒューズ付きランプ制御装置は，恒温槽から取り出す前に，温度ヒューズの定格動作温度
より20 K以上低い温度に冷却させる。
この期間の終了時に，僅かな電流，例えば，ランプ制御装置の公称入力電流の3 %以下の電流を，ラン
プ制御装置に通電して，熱的保護手段が閉じているかどうかを判定する。
熱的保護手段を作動させたランプ制御装置は，それ以降，試験に用いてはならない。
B.9.2 “クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置
このランプ制御装置の限度値は，ランプ制御装置の最高ケース温度が90 ℃，定格最高巻線温度twが
105 ℃及びコンデンサ定格最高使用温度tcが70 ℃である。
注記 これらのランプ制御装置は，米国において実際に使用されている。
ランプ制御装置は，周囲温度40
50
−℃の試験容器の中で，通常状態下の温度安定状態で動作させる。試
験容器については，附属書Dによる。
熱的保護手段は，この操作状態下で開路してはならない。
B.9.2.1及びB.9.2.2の故障状態における最も厳しいものを対象に，最後まで完全に試験を実施しなけれ
ばならない。
この状態を得るためには，特別に準備したランプ制御装置が必要である。
B.9.2.1 変圧式のものに対しては，JIS C 8105-1の附属書C（異常回路状態）によるほか，次の関連する
故障状態を適用する。
a) JIS C 8147-2-8に規定するランプ制御装置では，次による。
− 一次巻線の外側10 %の巻線を短絡する。
− 任意の二次電源巻線の外側10 %の巻線を短絡する。
− 任意の電力コンデンサを短絡する。ただし，これによって安定器の一次巻線を短絡しない場合に限
る。
b) JIS C 8147-2-9に規定するランプ制御装置では，次による。
− 一次巻線の外側20 %の巻線を短絡する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 任意の二次電源巻線の外側20 %の巻線を短絡する。
− 任意の電力コンデンサを短絡する。ただし，これによって安定器の一次巻線を短絡しない場合に限
る。
B.9.2.2 チョークコイル式のものに対しては，JIS C 8105-1の附属書Cによるほか，次の故障状態を適用
する。
a) JIS C 8147-2-8に規定するランプ制御装置では，次による。
− 各巻線の外側10 %の巻線を短絡する。
− 該当する場合，直列コンデンサを短絡する。
b) JIS C 8147-2-9に規定するランプ制御装置では，次による。
− 各巻線の外部20 %の巻線を短絡する。
− 該当する場合，直列コンデンサを短絡する。
この測定のために，加熱と冷却とを3サイクル実施する。非復帰形熱的保護手段では，特別に準備した
各ランプ制御装置に1サイクルだけを実施する。
ランプ制御装置のケース温度は，熱的保護手段の開路後も，継続して測定する。熱的保護手段の再閉温
度を試験する場合を除き，熱的保護手段の開路後でケース温度が下がり始めた場合又は規定の温度限度値
を超えた場合には，試験を中止してもよい。
注記 ケース温度が110 ℃を超えることなく一定になるか，又は下降し始めた場合には，ピーク温度
に初めて達したときの1時間後に，試験を中止してもよい。
試験中に，ランプ制御装置のケース温度は110 ℃を超えてはならない。また，熱的保護手段が回路を再
び閉じたとき（復帰タイプ熱的保護手段を用いて）には，85 ℃を超えてはならない。ただし，試験中の熱
的保護手段の任意の動作サイクル中に，ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から，表B.1に規定する
最高温度に達するまでの時間が，当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合，ケ
ース温度は110 ℃を超えてもよい。
このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は，90 ℃を超えてはならない。ただ
し，ケース温度が110 ℃以上の場合には，コンデンサの外郭温度は90 ℃を超えてもよい。
表B.1−熱的保護手段の動作
ランプ制御装置のケースの最高温度
℃
110 ℃から最高温度に達するまでの最大時間
分
150を超え
0
145を超え150以下
5.3
140を超え145以下
7.1
135を超え140以下
10
130を超え135以下
14
125を超え130以下
20
120を超え125以下
31
115を超え120以下
53
110を超え115以下
120
B.9.3 JIS C 8147-2-8に規定する定格最高ケース温度が130 ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能
付きランプ制御装置
附属書Dに規定する試験容器の中で，通常状態で（tw＋5）℃の巻線温度を得るような周囲温度，又は（ta
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＋5）℃の周囲温度の温度安定状態で，ランプ制御装置を動作させる。
ただし，安定器の外部表面の定格最高温度tcを宣言しているものは，安定器の外部表面が（tc＋5）℃と
なる温度安定状態で動作させる。
熱的保護手段は，この状態下で動作してはならない。
B.9.2に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を，試験全体において導入及び適用しなければならな
い。
注記 B.9.2に規定する最も厳しい故障状態と同等な巻線温度をもたらす電流で，ランプ制御装置を動
作させることが許容されている。
試験中に，ランプ制御装置のケース温度は135 ℃を超えてはならない。また，熱的保護手段が回路を再
び閉じたとき（復帰タイプ熱的保護手段を用いて）には，110 ℃を超えてはならない。ただし，試験中の
熱的保護手段の任意の動作サイクル中に，ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から，表B.2に規定す
る最高温度に達するまでの時間が，当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合，
ケース温度は135 ℃を超えてもよい。
このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は，定格最高温度tcの表示があって
もなくても，通常動作状態では50 ℃又はtc ℃，故障動作状態では60 ℃又は（tc＋10）℃を超えてはなら
ない。ただし，JIS C 4908に規定する保安装置内蔵コンデンサ及び保安機構付きコンデンサは，適用外と
する。また，力率改善用又は進相用以外のコンデンサで，そのコンデンサの故障によって使用者及び周囲
に危険が生じるおそれのないものは，適用外とする。
表B.2−熱的保護手段の動作
ランプ制御装置のケースの最高温度
℃
135 ℃から最高温度に達するまでの最大時間
分
180を超え
0
175を超え180以下
15
170を超え175以下
20
165を超え170以下
25
160を超え165以下
30
155を超え160以下
40
150を超え155以下
50
145を超え150以下
60
140を超え145以下
90
135を超え140以下
120
B.9.4 JIS C 8147-2-8に規定する定格最高ケース温度が130 ℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機
能付きランプ制御装置
JIS C 8147-2-8に規定する定格最高ケース温度が130 ℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機能付き
ランプ制御装置は，次による。
a) 安定器は，B.9.3に規定する条件でランプを点灯させる。ただし，チョークコイル式安定器は，附属書
Dに規定する条件下において，（tw＋5）℃の巻線温度を生じる短絡電流で，温度安定状態でランプ制
御装置を動作させてもよい。
熱的保護手段は，この状態下で動作してはならない。
b) ランプ制御装置は，B.9.2に規定する故障状態のうちの最も厳しい条件の下での温度と同等な巻線温度
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を生じる電流において動作させる。
試験中に，ランプ制御装置のケース温度を測定する。
次に，必要がある場合，巻線を流れる電流を，熱的保護手段が動作するまで，ゆっくりと連続的に
増加させる。
時間間隔及び電流の増加は，巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間で，できる限り温度安定状態
が得られるように設定する。
試験中に，ランプ制御装置表面の最高温度を，連続的に測定する。
自動復帰の温度過昇防止装置及び／又は熱的保護手段［B.6.2 a)参照］又は別のタイプの保護機構［B.6.2
e)参照］を取り付けたランプ制御装置では，安定した表面温度に達するまで，試験を継続する。
自動復帰の温度過昇防止装置及び／又は熱的保護手段は，その状態でランプ制御装置のオン・オフのス
イッチング動作によって3回動作させる。
手動復帰の温度過昇防止装置及び／又は熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では，試験を3回繰
り返し行い，試験と試験との間は30分間の間隔をとる。各30分間の間隔終了時に，熱的保護手段を復帰
させる。
交換不能な非復帰タイプを取り付けたランプ制御装置及び熱的保護手段が交換可能なランプ制御装置で
は，試験は1回だけ実施する。
ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が，表示値を超えない場合，適合と判定する。
宣言した値の10 %のオーバシュートは，保護手段が動作した後の15分以内まで許容する。その後は，
宣言した値を超えてはならない。
B.9.5 JIS C 8147-2-9に規定する温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置
B.9.5.1 一般
ランプ制御装置は，熱的保護手段を備えなければならない。図B.1の試験回路を用いて，B.9.5.1〜B.9.5.3
に規定する条件の下で試験を行った場合，ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度は，表示した値を
超えてはならない。熱的保護手段の動作後15分間以内は，表示した値の10 %のオーバシュートは許容す
る。
ただし，ケースの最高温度が130 ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の場合，
試験中に，ランプ制御装置のケース温度は135 ℃を超えてはならない。また，熱的保護手段が回路を再び
閉じたとき（復帰式熱的保護手段を用いて）には，ケース温度は110 ℃を超えてはならない。ただし，試
験中の熱的保護手段の任意の動作サイクル中に，ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から，表B.2に
規定する最高温度に達するまでの時間が，当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない
場合，ケース温度は135 ℃を超えてもよい。
このランプ制御装置の一部として用いているコンデンサの外郭温度は，定格最高温度tcの表示があって
もなくても，故障動作状態では60 ℃又は（tc＋10）℃以下とする。ただし，JIS C 4908に規定する保安装
置内蔵コンデンサ及び保安機構付きコンデンサは，適用外とする。また，力率改善用又は進相用以外のコ
ンデンサで，このコンデンサの故障によって危険が生じるおそれのないものは，適用外とする。
直列コンデンサは，試験中短絡する。
試験中，巻線温度及びランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度を継続して測定する。
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DUT：供試品
D：ダイオード，100 A，600 V
R：抵抗器，0 Ω〜200 Ω（ランプ電力の1/2）
UN：試験電圧
図B.1−熱的保護機能付きランプ制御装置の試験回路
B.9.5.2 試験手順
試験手順は，次による。
a) 5 K上昇させた平常巻線温度状態の試験 H.12に規定する条件の下，（tw＋5）℃の巻線温度を得る短
絡電流（抵抗器Rで調整する）でランプ制御装置が温度安定状態となるように動作させる。twの表示
のない安定器で，絶縁の種類がA種のものはtw＝105，E種のものはtw＝120，B種のものはtw＝130
を適用する。ただし，図B.1による試験が困難な場合，（tw＋5）℃の巻線温度を得る周囲温度，又は
定格最高周囲温度taを宣言しているものは（ta＋5）℃の周囲温度で，ランプを点灯させてもよい。さ
らに，安定器の外部表面の定格最高温度tcが宣言されているものは，安定器の外部表面が（tc＋5）℃
で温度安定状態となるように動作させてもよい。
このとき，熱的保護手段は，この状態下で動作してはならない。
電流値Itw＋5は，試験b)のための基準となる電流として，記録する。
b) 熱的保護手段の機能試験−表示した温度限界値の制御（tw＋5）℃の平常巻線温度状態での試験後，熱
的保護手段が動作するまで次のように電流を増加させ，ランプ制御装置を動作させる。
− ステップ1：Itw＋5＋5 %となる電流値。
− ステップ2：Itw＋5＋10 %となる電流値。
− ステップ3：Itw＋5＋15 %となる電流値。
熱的保護手段が動作し接点が開放するまで，5 %ステップで電流を増加させる。
各ステップ間において，ランプ制御装置の温度が安定するまでの時間を測定する。
なお，図B.1による試験が困難な場合，巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間が，できるだ
け温度安定状態を得るように，熱的保護手段が動作し接点が開放するまで，ゆっくりと連続的に温度
を上昇させる。
B.9.5.3 試験サイクル
熱的保護機能付きランプ制御装置の保護タイプごとの試験サイクルは，次による。
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) B.6.2 a)による自動復帰タイプの熱的保護手段又はB.6.2 e)によるその他のタイプの保護方法を備えた
ランプ制御装置では，表面温度が安定するまで試験を継続する。自動復帰タイプの熱的保護手段は，
その状態でランプ制御装置のオン・オフによって3回以上動作させる。
b) B.6.2 b)による手動復帰タイプの熱的保護手段を備えたランプ制御装置では，試験を3回繰り返し行い，
試験と試験との間は30分間の間隔をとる。各30分間の間隔終了時に，熱的保護手段を復帰させる。
c) B.6.2 c)による交換不能な非復帰タイプの熱的保護手段及びB.6.2 d)による交換可能なタイプの熱的保
護手段を備えたランプ制御装置では，試験は1回だけ行う。
d) 保護装置を組合せたランプ制御装置では，製造業者の宣言によって，温度制御で最も重要な保護機能
を提供する保護装置に対して，試験を行う。
B.9.5A 熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置
可燃材料表面への直接取付けする熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置は，JIS C 8105-1の附属書N
（可燃材料表面への取付け及び断熱材で覆うことに適さない照明器具に対する表示の説明）の要求事項に
基づき，かつ，次のいずれかの要求事項を満足しなければならない。
a) “クラスP”熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置に関する要求事項
b) “定格最高ケース温度が130 ℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”に関す
る要求事項
温度試験は，JIS C 8105-1による。
注記 温度の判定は，安定器の最高ケース温度ではなく，安定器の取付面の温度の最大値である［JIS
C 8105-1の12.6.2（安定器及び変圧器の外部に温度感知制御素子を備えた照明器具及び130 ℃
を超える温度を表示した マーク表示又は
若しくは マーク表示のある熱的保護
機能付き安定器をもつ照明器具の試験）参照］。
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C 8147-1：2017
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附属書C
（規定）
過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項
C.1 適用範囲
この附属書は，ランプ制御装置のケース温度が宣言した限度値を超える前にランプ制御装置の電源回路
を開放する熱的保護手段を組み込んでいる電子ランプ制御装置に適用する。
C.2 用語及び定義
C.2.1
動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置（temperature declared thermally protected lamp
controlgear）
ランプ制御装置のケースの温度が表示値を超えることを防止するために，過熱に対して保護する手段を
組み込んだランプ制御装置。
注記 三角形の中の点は，C.7の条件の下で製造業者が宣言するものであり，ランプ制御装置のケー
スの外面上の全ての箇所での定格最高ケース温度（℃）の値で置き換える。
ケースの最高温度が130 ℃以下の値を表示したランプ制御装置は，照明器具の表示要求事項に従った寿
命末期の過熱に対して保護するものである（JIS C 8105-1参照）。
ケースの最高温度が130 ℃を超える場合，照明器具に温度感知制御を用いないことを考慮し，可燃性材
料表面へ直接取り付ける照明器具は，JIS C 8105-1に従って追加の試験を行う。
C.3 過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の一般的要求事項
C.3.1 熱的保護手段は，ランプ制御装置と一体であり，機械的損傷から保護した位置に設置しなければな
らない。交換可能な部品がある場合，その部品は工具を用いる場合だけ取替え可能でなければならない。
保護手段の機能に極性があり，極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合，両極に保
護手段がなければならない。
適合性は，目視検査及び該当するJIS C 9730-2-3又はJIS C 6691の試験によって判定する。
C.3.2 保護手段の回路破損によって，火災の危険を引き起こしてはならない。
適合性は，C.7の試験によって判定する。
C.4 試験上の一般的注意事項
C.7に従って，特別に準備した適切な数の試料を提供しなければならない。
C.7.2に規定する最も厳しい故障状態にする必要がある。
C.5 分類
過熱保護手段付きランプ制御装置は，保護のタイプに従って次のように分類する。
a) 自動復帰タイプ
b) 手動復帰タイプ
．．．
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 交換不能な非復帰タイプ
d) 交換可能な非復帰タイプ
e) 同等の熱的保護をもつその他のタイプの過熱保護方法
C.6 表示
熱的保護手段付きランプ制御装置は，C.6.1及びC.6.2のように表示する。
C.6.1 記号 は，動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置を表す。値は，10の倍数ずつ
増加する。
C.6.2 C.6.1の表示のほかに，ランプ制御装置の製造業者は，C.5に従って保護タイプを宣言しなければ
ならない。この情報は，製造業者のカタログなどに示してもよい。
C.7 加熱の制限
C.7.1 事前選別試験
この試験を開始する前に，ケース温度tcよりも5 K低い温度に保った恒温槽の中に，ランプ制御装置を
12時間以上放置する（無通電で）。
熱的保護手段が動作したランプ制御装置は，それ以降の試験に用いてはならない。
C.7.2 熱的保護手段の機能
附属書Dに規定する試験容器の中で，通常状態で（tc50
−）℃のケース温度が得られるような周囲温度の
温度安定状態で，ランプ制御装置を動作させる。
熱的保護手段は，この状態下で動作してはならない。
14.1〜14.4に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を，試験全体において適用する。
高調波を抑制するために，主電源に接続したフィルタコイルなどの巻線が，試験するランプ制御装置に
含まれる場合には，これらの巻線の出力接続を短絡し，ランプ制御装置の残りの部分は，通常条件下で動
作させる。電波障害防止用フィルタコイルに対しては，この試験を行わなくてもよい。
注記 これは特別に準備した試料によって実施することができる。
次に，必要に応じて，当該巻線を流れる電流を，保護手段が動作するまで，ゆっくりと連続的に増加さ
せる。時間間隔及び電流の増加は，巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間で，できるだけ温度安定
状態を得るように設定する。試験中に，ランプ制御装置表面の最高温度を，連続的に測定する。
自動復帰タイプ熱的保護手段［C.5 a)参照］又は他のタイプの過熱保護方法［C.5 e)参照］を取り付けた
ランプ制御装置では，安定した表面温度に達するまで，試験を継続する。
自動復帰タイプ熱的保護手段は，規定の条件下でランプ制御装置のオン・オフのスイッチング動作によ
って3回動作させる。
手動復帰タイプ熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では，試験を6回繰り返し行い，試験と試験
との間は30分間の間隔をとる。各30分間の間隔終了時に，熱的保護手段を復帰させる。
交換不能又は非復帰タイプの熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置及び交換可能な熱的保護手段付
きランプ制御装置では，試験は1回だけ実施する。
ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が，表示値を超えない場合，適合と判定する。
表示した値の10 %のオーバシュートは，保護手段を動作させた後の15分間以内まで許容する。その後
は，表示値を超えてはならない。
．．．
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ただし，最高表面温度が130 ℃以下の表示をする安定器にあっては，安定器の表面温度が135 ℃以下と
なるか，又は表面温度と時間との関係が表C.1に規定する値を満足しなければならない。
なお，自動復帰タイプの保護機構が動作する場合は，保護機構解除時の安定器の表面温度は，110 ℃以
下とする。
表C.1−最高表面温度に対する許容時間
最高表面温度
℃
許容時間a)
分
最高表面温度
℃
許容時間a)
分
175を超え180以下
15以下
150を超え155以下
50以下
170を超え175以下
20以下
145を超え150以下
60以下
165を超え170以下
25以下
140を超え145以下
90以下
160を超え165以下
30以下
135を超え140以下
120以下
155を超え160以下
40以下
−
−
注a) 許容時間は，安定器の表面温度が135 ℃を超過してから，最高表面温
度に達するまでの時間。
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C 8147-1：2017
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附属書D
（規定）
熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法
D.0 一般事項
大形の安定器は，この附属書に規定する試験容器に収まらない場合があるので，附属書Fに規定する構
造又は空気の循環のない恒温槽で代用することができる。ただし，試験の再現性を確保するため，安定器
製造業者は，代用した試験方法を提示しなければならない。
D.1 試験容器
加熱試験は，周囲温度を規定の温度に維持できる容器内で行う（図D.1参照）。試験容器全体は，厚さ
25 mmの断熱材で覆う。この容器の試験区画の内寸は，610 mm×610 mm×610 mmとする。試験区画の床
は560 mm×560 mmとし，加熱した空気の循環用に台の全周に25 mmの空間を設ける。試験区画の床下に
は，ヒーターエレメント用に75 mmのヒーター区画を設ける。試験区画の一つの側面は取り外すことがで
き，かつ，容器にしっかりと固定できるような構造とする。側面の一つには，試験区画の底部の中央に位
置する150 mm角の正方形開口部を設け，この開口部だけを通して空気の循環ができるような容器の構造
とする。開口部は，図D.1に示すようなアルミニウム製のシールドで覆う。
D.2 容器の加熱
D.1の試験容器に用いる熱源は，約40 mm×300 mmの加熱表面寸法をもつ4個の300 Wストリップヒ
ーターとする。これらのエレメントは，電源と並列に接続する。これらのエレメントは，試験区画の床と
容器の底との間の75 mmのヒーター区画に設置し，容器の内壁から各エレメントの端をそれぞれ65 mm
離して，四角形になるよう取り付ける。エレメントは，適切な温度制御装置によって制御する。
D.3 ランプ制御装置の動作条件
試験中，電源の周波数はランプ制御装置の定格周波数とし，電源電圧はランプ制御装置の定格入力電圧
とする。試験容器内の温度は，試験中4050
− ℃に保つ。試験に先立ち，ランプ制御装置（無通電で）を，
全ての部品が容器内の温度に達するまで，十分な時間容器に入れておく。試験終了時の容器内の温度が，
試験の初めの温度と異なる場合には，その温度差を，ランプ制御装置の部品の温度上昇を決定するときに
考慮しなければならない。ランプ制御装置は，意図する大きさ及び本数のランプを点灯できるようにして
おく。ランプは，容器の外部に置く。
D.4 容器内のランプ制御装置の位置
試験中に，ランプ制御装置は，75 mmの2個の木製ブロックによって試験区画の床の上75 mmに浮かし
た位置に通常動作姿勢にして，容器の各側面に対して中央になるように置く。電気的接続は，図D.1に示
す150 mmの正方形の開口部を通して容器の外へ出してもよい。試験中，容器はシールドした開口部が通
風又は急激な気流に触れないところに置く。
40
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D.5 温度測定
容器内の平均温度は，最も近い壁から76 mm以上離れた位置で，ランプ制御装置の中心と同一高さにお
ける平均空気温度とする。通常，温度は棒状ガラス温度計によって測定する。代替の測定器には，放射熱
を遮へいする小さな金属羽根に取り付けた熱電対又は“サーミスタ”がある。通常，ケース温度は，熱電
対によって測定する。それまでに経過した試験時間の10 %の間隔（ただし，5分間間隔以上）をおいた連
続した3回の値が変化しない場合，温度安定であるとみなす。
単位 mm
図D.1−熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱用容器の例
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C 8147-1：2017
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附属書E
（規定）
tw試験での4 500以外の定数Sの使用
E.1
一般事項
この附属書は，4 500以外の定数Sの宣言値を製造業者が立証するための試験について規定する。
安定器の耐久性試験に用いる理論的試験温度Tは，箇条13に示す式(2)によって求める。
その他の規定がない場合には，定数Sは4 500とするが，手順A又は手順Bによって正当化することが
できる場合には，製造業者は表2に規定するいずれの値を用いるかを宣言できる。
特定の安定器に4 500以外の定数を用いることを手順A又は手順Bに基づいて立証した場合には，その
定数を，その安定器，並びに同じ構造及び材料のその他の安定器の耐久性試験に用いてもよい。
E.2
手順A
製造業者は，30個以上の十分な数の試料に基づいて，対象安定器の設計に関する寿命及び巻線温度につ
いての実験データを提出する。
このデータから，Tとlog Lとを関係付ける回帰線を95 %信頼度曲線とともに計算する。
次に，10日及び120日の座標を横切る95 %信頼度曲線のそれぞれ上方及び下方が交差する点を通る直
線を引く。代表的な例を，図E.1に示す。この線の勾配の逆数が，定数Sの宣言値以上である場合，定数
Sの宣言値が95 %信頼度限界以内にあることを立証したことになる。故障の基準については，手順B参照。
注記1 10日及び120日の点は，信頼度曲線の適用に必要な最小間隔を表している。同等又はより大
きい間隔の場合には，その他の点を用いることができる。
注記2 ここに規定する手法に関する情報並びに回帰線及び信頼度限界を計算する方法は，JIS C
2143規格群及びIEEE 101:1987を参照。
E.3
手順B
耐久性試験に要求した安定器のほかに，製造業者が提出した14個の新しい安定器を，無作為に7個の二
つのグループに分けて試験をする。製造業者は，定数Sの宣言値及びその試験温度T1（10日間の公称平均
寿命を達成するのに必要な温度）並びに箇条13の式(2)を変形した式(E.1)によって求めた温度T2（120日
間以上の公称平均寿命のための温度）を宣言する。
S
T
T
S
T
T
079
.1
1
1
10
120
log
1
1
1
1
2
1
2
+
=
+
=
又は
········································ (E.1)
ここに，
T1： 10日間に対する絶対温度による理論的試験温度
T2： 120日間に対する絶対温度による理論的試験温度
S： 製造業者が宣言する定数
耐久性試験は，理論的試験温度T1（試験1）及びT2（試験2）に基づいて，それぞれ7個ずつ2グルー
プの安定器に箇条13に規定する基本的方法を用いて実施する。
試験開始の24時間後に，電流が最初の値から15 %を超えて外れた場合には，より低い温度で試験を繰
り返さなければならない。試験期間は，箇条13の式(2)を用いて求める。恒温槽での動作中に次のいずれ
かの状態になった場合，安定器は故障したものとみなす。
a) 安定器が開路状態になる。
42
C 8147-1：2017
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b) 24時間後に測定した電流値によって，初期入力電流の150 %〜200 %の定格電流の速動溶断ヒューズ
が動作するような絶縁物の絶縁破壊を起こす。
試験1は，全ての安定器が故障するまで10日間以上続ける。平均寿命L1は，温度T1での個々の寿命の
対数の平均から求める。これから，温度T2における平均寿命L2を，箇条13の式(2)を変形した式(E.2)によ
って求める。
−
=
1
2
e
1
2
1
1
log
exp
T
T
S
L
L
························································ (E.2)
注記1 1個以上の安定器が故障した場合には，試験中の残りの安定器の温度に影響を及ぼさないよ
うに，注意を払うことが望ましい。
試験2は，温度T2での平均寿命がL2を超える時間まで続ける。この結果は，試料の定数Sが少なくと
も宣言値どおりであることを意味する。ただし，平均寿命がL2に達する前に試験2の試料が全て故障した
場合，試料に関して宣言した定数Sは立証されなかったことになる。
試験寿命は，宣言した定数Sを用いて，実際の試験温度から理論的試験温度に正規化する。
注記2 一般に，全ての安定器が故障するまで試験2を続ける必要はない。試験に必要な期間の計算
は容易であるが，故障が起きるたびに計算し直す必要がある。
温度に敏感な材料を組み込んだ安定器の場合，10日間の公称安定器寿命は適切でないことがある。その
場合，適切な耐久性試験期間，例えば30日間，60日間，90日間又は120日間よりも短い場合，製造業者
はより長い寿命を採用できる。その場合には，長い公称安定器寿命は，短い期間の10倍以上（例えば，15/150
日間，18/180日間など）とする。
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C 8147-1：2017
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図E.1−定数Sの宣言値の評価
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C 8147-1：2017
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附属書F
（規定）
風防容器
ランプ制御装置の温度上昇試験で要求するような，適切な風防容器の構造及び用い方については，次の
推奨事項を適用する。同様な結果の得られることが確証できる場合は，風防容器の代わりにその他の構造
を用いることを許容する。
風防容器は長方形で，上面及び三つ以上の側面は二重の外板とし，底面は頑丈であることが望ましい。
二重の外板は孔の開いた金属で互いの間隔を約150 mm離し，規則正しく直径1 mm〜2 mmの孔がそれぞ
れの外板の全体の面積の約40 %を占めるように開いていることが望ましい。
内面は，つや消し塗料で塗装することが望ましい。三つの主要内部寸法は，各々900 mm以上とするこ
とが望ましい。最大のランプ制御装置の上面及び四つの側面と容器内面との間の距離が200 mm以上とな
るように，容器を設計することが望ましい。
注記
大形容器で2組以上のランプ制御装置を試験する必要がある場合には，一つのランプ制御装
置からの放射熱がその他の容器に影響を及ぼすことがないように，注意することが望ましい。
この容器の上面の上方及び孔の開いた側面の周囲には，300 mm以上の距離があることが望ましい。容
器は，通風及び気温の突然の変化からできる限り影響しない位置に置き，放射熱源からも保護することが
望ましい。
試験中のランプ制御装置は，この容器の五つの内面からできるだけ離れた位置に置き，附属書Dに従っ
て，この容器の底面に立っている木台の上に置くことが望ましい。
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C 8147-1：2017
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附属書G
（規定）
パルス電圧の値の由来の説明
G.1
パルス電圧の立ち上がり時間Tは，インバータの入力フィルタを衝撃励振させて，“最悪状況”の影
響を与えるよう意図している。非常に簡単な入力フィルタの立ち上がり未満の時間として，5 μsの時間を
選択する。
LC
T
π
=
············································································· (G.1)
ここに，
L： 入力フィルタのインダクタンス
C： 入力フィルタの静電容量
G.2
長時間パルス電圧のピーク値は，設計電圧の2倍とする（図G.2参照）。
13 V及び26 Vのインバータでは，インバータに印加する電圧はそれぞれ次のようになる。
(13×2)＋15＝41 V
(26×2)＋30＝82 V
注記 15及び30は，各々13 V及び26 Vのインバータの電圧範囲の最大値である。
G.3
短時間パルス電圧のピーク値は，設計電圧の8倍とする。
13 V及び26 Vのインバータでは，インバータに印加する電圧はそれぞれ次のようになる。
(13×8)＋15＝119 V
(26×8)＋30＝238 V
注記 15及び30は，各々13 V及び26 Vのインバータの電圧範囲の最大値である。
G.4
図G.1に示す短時間パルスエネルギーの測定回路の部品定数の選択に関する説明。
ツェナーダイオードに1パルスだけを印加するように，非周期的に放電を行う。したがって，次の事項
を満足するよう，抵抗値Rは十分大きな値とする。
a) 配線による回路の自己インダクタンスの影響が十分に小さい。すなわち，時定数L/Rが時定数RCよ
りも明らかに小さいことを意味する。
b) 電流の最大値［(Vpk−VZ)/Rによって評価することができる。］は，ツェナーダイオードが良好な動作
を示す電流値の範囲内が望ましい。
一方，この抵抗値Rは，パルスを短時間とするためには大きすぎないほうがよい。
総インダクタンスが14 μH〜16 μH（図G.1参照）で，Cの値が式(G.2)によるときに，設計電圧が13 V
であるインバータで約20 Ωの値から，110 Vの設計電圧に対して約200 Ωの値までが，上記の条件［a)及
びb)］を満たすことができると思われる。
別にインダクタLを図G.1の回路に挿入する必要がないことに注意することが望ましい。
非周期的放電を想定した場合，容量Cの値は，ツェナーダイオード（インバータの代わりになる）に加
えるエネルギーEZ及び関連する電圧に関連し，式(G.2)によって表す。
Z
CT
Z
pk
Z
)
(
V
V
V
V
E
C
×
−
−
=
···························································· (G.2)
ここに，
Vpk： コンデンサCの初期電圧
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VZ： ツェナーダイオードの電圧
VCT： コンデンサCTの最終電圧
VZ及びVpkは，次による。
VZ＝Vmax（最適近似）
Vpk＝8 Vd＋Vmax
ここに，
Vd： 試験をするインバータの設計電圧
Vmax： その定格電圧範囲の最大値
更にVCTは，1 V以下とする。
この条件によって，この電圧VCTは，差（Vpk−VZ）に関して無視することができるので，式(G.3)のよう
になる。
Z
Z
pk
Z
)
(
V
V
V
E
C
×
−
=
··································································· (G.3)
上記の電圧値及び規定条件EZ＝1 mJ（図G.1参照）から，C(μF)の式は式(G.4)になる。
max
d
125
)
μF
(
V
V
C
×
=
···································································· (G.4)
一方，容量CTの最小値は，式(G.5)から計算を始める。
Z
CT
T
Z
V
V
C
E=
········································································· (G.5)
EZに1 mJ，及びVCTに1 Vを代入すると，式(G.6)が得られる。
max
T
000
1
)
μF
(
V
C
=
······································································· (G.6)
Vmax＝1.25 Vdの場合，コンデンサC及びCTの値は，設計電圧Vdの関数として式(G.7)及び式(G.8)のよう
に表される。
()2
d
100
)
μF
(
V
C
＝
········································································· (G.7)
d
T
800
)
μF
(
V
C
＝
········································································· (G.8)
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構成部品
R ： 回路の抵抗器
L ： 回路の自己インダクタンスを表すインダクタ
Z ： 電圧VZを電圧範囲の最大値（Vmax）のできるだけ近くに選択するツェナーダイオード
C ： インバータの設定電圧の8倍に等しい電圧Vpkに初期充電されたコンデンサ。1 mJのエネルギーをダ
イオードZに送り込むことを意図している。
式(G.4)に示したように，その容量の値は，次の式によって求める。
()2
d
d
max
max
d
100
1.25
125
)
μF
(
V
V
V
V
V
C
の場合，
＝
又は
＝
×
CT： 放電後に，その電圧が1 V以下になるように選んだコンデンサ
式(G.6)に示したように，その容量の最小値（1 Vの電圧に対応）は，次の式によって求める。
d
d
max
max
T
800
1.25
000
1
)
μF
(
V
V
V
V
C
の場合，
＝
又は
＝
このコンデンサは，初期充電前に誘電体薄膜によって電圧が誘導されない非電解形でなければなら
ない。
D1： 逆電圧バイパスダイオード，PIV（ピーク逆電圧）の定格は，設計電圧の20倍。高速形とし，ター
ンオン及びターンオフ200 ns。
D2： 逆電流阻止ダイオード。ターンオフが200 nsの高速オフ形が望ましい。
S ： 跳ね返り時間が放電時間よりも長いオン・オフスイッチ。半導体スイッチを用いてもよい。
V ： 入力抵抗が10 MΩより高い電圧計（通常は電子式）。
表G.1は，ごく普通に見られる設計電圧に対する次の項目を与えるものである。
a) Vmax＝1.25 Vdの場合の，上の式によるコンデンサC及びCTの値。
b) 時定数L/RとRCとが次の関係を満足する抵抗値R。
RC
R
L
05
.0
=
ここで，Lは15 μHと仮定する。
この抵抗値Rは，最大電流を4.5 A程度に制限することが望ましい。
c) 評価するパルス幅の大きさを決める時定数RC。
図G.1−短時間パルスエネルギーを測定するための回路
表G.1−短時間パルスエネルギーを測定する回路定数
設計電圧
V
コンデンサC
μF
コンデンサCT
μF
抵抗R
Ω
時定数RC
μs
13
0.59
61.5
22.5
13.3
26
0.15
30.8
45
6.7
50
0.04
16
87
3.5
110
0.008 3
7.3
190
1.6
注記 この表のCTは，最小値である。電圧計の読みVが安定している場合，より大きな静電容量
のコンデンサを用いてもよい。電圧Vを観測した場合，ツェナーダイオードに加えられた
エネルギーは，次のように表される。
EZ = CTVCTVZ
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C 8147-1：2017
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構成部品
PSU1 ：2 %の電圧レギュレーション（無負荷から全負荷まで）で，規定する最大パルス電圧（電圧範囲の最大
＋設計電圧X）及びその電圧においてインバータが規定するパルス電流を供給できる電源装置。
PSU2 ：入力電圧範囲の最大値に調整した電源装置。
注記1 両PSUは，試験中のインバータが故障した場合に損傷することを防ぐために，電流制限を設
けることが望ましい。
TH1 ：電圧パルスをインバータに印加するための主スイッチングサイリスタ。多くのサイリスタがこの動作に
適している。約1 μsのターンオン時間があり，十分なパルス電流能力がある。
TH2 ：リレーRLCの動作を制御するサイリスタ。
D1 ：TH1用逆電流バイパスダイオード。TH1が動作したときの初期振動性過渡電流を流す。電圧定格が最大
パルス電圧の2倍の高速形（200 ns〜500 ns）である。
D2 ：PSU2用ブロッキングダイオード。PSU2の出力インピーダンスが，電圧パルス源（PSU1）の負荷になる
ことを防止する。電圧定格が，最大パルス電圧の2倍の高速形（約1 μsのターンオフ）である。
RLC ： 接点Kのパルス終止用リレー。
R及びC：スパーク抑止構成部品。R及びCは，26 Vインバータ用には，100 Ω及び0.1 μFを提案する。
S1
： オン／オフ又はリセット制御に用いるスイッチ
注記2 正しいパルス幅を確保するための遅延システムは，図示していない。TH1の作動500 ms後に
サイリスタTH2をトリガーすることを確実に行い，リレー作動時間を考慮に入れる。
図G.2−長時間パルスを生成して適用するための適した回路
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附属書H
（規定）
試験
H.1 周囲温度及び試験室
H.1.1 測定は，通風のない部屋の中で20 ℃〜27 ℃の範囲内の周囲温度で行う。
安定したランプ特性を必要とする試験において，ランプの周囲温度は，23 ℃〜27 ℃の範囲内で，試験
中に1 ℃を超えて変化してはならない。
H.1.2 周囲温度のほかに，空気の循環もランプ制御装置の温度に影響を及ぼす。信頼性のある結果を得る
ためには，試験室は通風があってはならない。
H.1.3 冷間の巻線抵抗を測定する前に，ランプ制御装置は，試験室の周囲温度に確実に到達するように，
試験前に十分な時間試験室に放置する。
ランプ制御装置の温度試験の前後で，周囲温度が相違することがある。ランプ制御装置の温度は変化し
た周囲温度よりも遅れるので，補正が困難である。このため，試験するランプ制御装置のほかに，別のラ
ンプ制御装置を試験室に設置して，温度試験の始め及び終わりにその冷間の抵抗を測定する。この抵抗値
の差は，温度を求めるための式に用いて，試験中のランプ制御装置の値を補正するための根拠として用い
ることができる。
補正の困難さは，恒温の室内で測定を実施することによって排除することができる。この場合，補正は
必要ない。
H.2 入力電圧及び周波数
H.2.1 試験電圧及び周波数
特に規定がない場合，試験中の制御装置はその設計電圧で動作させ，試験用安定器はその定格電圧及び
周波数で動作させる。
H.2.2 電源及び周波数の安定
特に規定がない場合，入力電圧及び試験用安定器に該当する場合，周波数は±0.5 %以内の一定値に維持
しなければならない。ただし，実際の測定中には，電圧は指定試験値の±0.2 %以内に調整しなければなら
ない。
H.2.3 試験用安定器だけに対する入力電圧波形
入力電圧の全高調波含有率は，3 %を超えないものとする。高調波含有率は，基本周波数を100 %とした
ときの個々の成分の実効値（rms）の総和として定義している。
H.3 ランプの電気特性
周囲温度は，ランプの電気特性に影響を及ぼすことがある（H.1参照）。また，ランプは，周囲温度とは
無関係に，初期特性のばらつきを示す。さらに，この特性はランプの寿命中に変化することがある。
定格入力電圧の100 %及び110 %でのランプ制御装置の温度の測定では，定格電圧の100 %又は110 %で
試験用ランプを用いて得た値と等しい短絡電流でランプ制御装置を動作させることによって，ランプの影
響を排除することもできる（例えば，スタータ動作回路で用いるチョークコイル式安定器など。）。ランプ
を短絡し，要求する電流が回路を流れるように，入力電圧を調節する。
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疑義が生じた場合には，ランプを用いて測定を行う。このランプは，試験用ランプと同じようにして選
択するが，試験用ランプに要求するようなランプ電圧及び電力に対する狭い公差は，要求しない。
ランプ制御装置の温度上昇を評価する場合には，巻線に流れる電流を測定し，記録する。
H.4 磁気の影響
特に規定がない場合，試験用安定器又は試験中のランプ制御装置の全ての側面から25 mm以内に，磁気
を帯びた物体があってはならない。
H.5 試験用ランプの装着及び接続
試験用ランプの電気特性の再現性が最もよく得られるよう，ランプを関連するランプ規格に規定する方
向に取り付けて，この試験用ソケットに取り付けたままにしておくことが望ましい。ランプ制御装置の端
子の識別（番号）で判別できる場合は，試験用ランプは，エージング中での接続の極性と同じ極性となる
回路にして接続することが望ましい。
H.6 試験用ランプの安定性
H.6.1 ランプは，安定した動作状態になってから測定を実施する。移動じま（縞）が存在してはならない。
H.6.2 ランプの特性は，一連の各試験の直前及び直後に検査する。
H.7 計器の特性
H.7.1 電圧回路
ランプと並列に接続した計器の電圧回路は，公称電流の3 %を超える電流が流れてはならない。
H.7.2 電流回路
ランプと直列に接続した計器の電流回路は，電圧降下が目標ランプ電圧の2 %を超えないよう十分に低
いインピーダンスとする。測定器を並列予熱回路に挿入する場合，計器の総インピーダンスが0.5 Ωを超
えてはならない。
H.7.3 実効値測定
計器は，波形のひずみによる誤差がないものとし，使用周波数に適しているものでなければならない。
計器の対地静電容量が試験中のユニットの動作を妨げないことを確実にするように注意しなければならな
い。試験中の回路の測定箇所を接地電位にする必要があることもある。
H.8 インバータの電源
ランプ制御装置が電池から電力を供給して使用することを意図する場合，電源インピーダンスが電池の
インピーダンスと同等であるとき，電池以外の直流電源を用いることを許容する。
注記 適切な定格電圧で50 μF以上の静電容量の無誘導形コンデンサが，試験中のユニットの電源端
子の両端に接続されている場合，通常，電池のインピーダンスと同等の電源インピーダンスを
示す。
H.9 試験用安定器
JIS C 8118に規定する要求事項に従って測定したときに，試験用安定器は，その規格及びJIS C 7601の
該当するランプのデータシートの両方に規定する特性をもっていなければならない。
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H.10 試験用ランプ
試験用ランプは，JIS C 8118の規定に従い測定及び選定し，JIS C 7601の適合ランプのデータシートに
規定する特性をもっていなければならない。
JIS C 7601に規定されていないランプの場合，周囲温度が25 ℃の環境において試験用安定器でランプ
を点灯させたとき，ランプ電流が製造業者の宣言値から2.5 %を超えて外れてはならない。
H.11 試験条件
H.11.1 抵抗測定の時間遅延
ランプ制御装置はスイッチをオフにした後に急速に冷却することがあるので，スイッチオフから抵抗測
定までの時間の遅延は，最小とすることが望ましい。コイル抵抗は，経過時間の関数として決定し，これ
によってスイッチオフの瞬間の抵抗を求めることができる。
H.11.2 接点及びリード線の電気抵抗
接続部分は，できるだけ回路から取り除く。スイッチを用いて通常条件から試験条件に切り換える場合
には，スイッチの接触抵抗が試験結果に影響を及ぼさないように十分に低く維持していることを確かめる
ために，定期的に検査を行わなければならない。ランプ制御装置と抵抗測定計器との間の接続リード線の
抵抗値は，全て考慮しなければならない。
測定精度を確実に向上させるためには，いわゆるダブル結線による4点測定法を適用することが望まし
い。
H.12 ランプ制御装置の温度上昇
H.12.1 器具内用ランプ制御装置
H.12.1.1 ランプ制御装置の各部分の温度
ランプ制御装置は，巻線の熱耐久性試験について箇条13に規定するように，恒温槽の中に設置する。
H.12.4に規定するように，ランプ制御装置は，定格入力電圧での通常使用時と同様の電気的動作状態と
する。
次に，巻線の最高温度が，規定するtwの値とほぼ等しい温度になるように，恒温槽のサーモスタットを
調整する。ただし，安定器の外部表面の定格最高温度tcを宣言しているものは，安定器の外部表面がtcと
ほぼ等しくなるように調整する。
4時間後に，巻線の実際の温度を抵抗法［箇条13の式(1)参照］によって求めて，twの値との差が±5 K
を超える場合，温度twにできる限り近くになるように，恒温槽のサーモスタットを再調整する。
温度が安定した後，抵抗法［箇条13の式(1)参照］によって，巻線温度を測定する。
電源電圧が定格電圧の100 %における巻線温度の測定終了後，電源電圧を定格電圧の106 %に増加する
（ただし，個別規格の規定に基づいて，製造業者の要求がある場合，電源電圧は定格電圧の100 %のまま
とすることができる。）。温度が安定した後，twと測定した巻線温度，又はtcと測定したケース温度との差
を補正した安定器の各部分の温度は，個別規格で規定する要求事項に適合しなければならない。
H.12.1.2 ランプ制御装置の巻線温度
通常状態での巻線の温度上昇を宣言するランプ制御装置では，試験条件は次による。
ランプ制御装置は，附属書Fに規定するような風防容器の中に入れて，図H.1に示すような二つの木台
によって支持する。
木台は，高さ75 mm，厚さ10 mmで，幅はランプ制御装置の幅以上とする。さらに，この木台は，ラン
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プ制御装置の一番端がこの木台の外側垂直面に一致するように置く。
ランプ制御装置を二つ以上のユニットで構成する場合，各ユニットは別々の木台で試験をしてもよい。
コンデンサは，ランプ制御装置のケースに収納されていない場合，風防容器の中に入れてはならない。
ランプ制御装置は，温度が安定するまで，定格入力電圧及び定格周波数の通常状態で，試験する。
巻線温度は，可能ならば抵抗法［箇条13の式(1)参照］によって，測定する。
H.12.2 独立形ランプ制御装置
独立形ランプ制御装置は，附属書Fに規定するような風防容器の中に入れて，部屋の2面の壁と天井と
を模した厚さが15 mm〜20 mmの3枚のつや消しの黒い塗装板からなる試験コーナーの中に取り付ける。
ランプ制御装置は，壁のできるだけ近くの試験コーナーの天井に固定し，天井は，ランプ制御装置の壁側
以外の各側面から250 mm以上伸びていなければならない。
他の試験条件は，JIS C 8105-1の照明器具に対して規定したものと同じである。
H.12.3 器具一体形ランプ制御装置
器具一体形ランプ制御装置は，JIS C 8105-1に従う照明器具の一部として試験するので，ランプ制御装
置の温度上昇の限度に対して，個別に試験しない。
H.12.4 試験条件
通常条件の試験では，ランプ制御装置を適合ランプとともに動作させるが，発生する熱がランプ制御装
置の温度上昇に影響しないように，配置しなければならない。
ランプ制御装置の温度上昇試験の限度に関して用いるランプは，試験用安定器で25 ℃の周囲温度で点
灯したときに，ランプ電流が，関連するランプ規格に規定する目標値から，又はまだ規格化していないラ
ンプでは製造業者が宣言した値から2.5 %を超えて外れていない場合，適切であるとみなす。
注記 リアクタ形のランプ制御装置（単一チョークコイル式安定器）の場合，製造業者の判断によっ
て，定格入力電圧においてランプを用いたときと同じ値の電流値に調整しているときは，ラン
プなしで試験又は測定を行うことを許容している。
非リアクタ形のランプ制御装置の場合，相当する損失があることを明確にする必要がある。
並列陰極予熱の変圧器をもったスタータを用いないランプ制御装置では，JIS C 7601の規定にて，同じ
定格のランプを低抵抗の陰極又は高抵抗の陰極いずれでも用いることができる場合，低抵抗の陰極をもつ
ランプを用いて試験を実施する。
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単位 mm
（寸法許容差±1.0）
図H.1−温度試験用試験台
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附属書I
（規定）
二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項
I.1
適用範囲
この附属書は，二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器に適用する。
I.2
用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，次による。
I.2.1
二重絶縁又は強化絶縁形器具内用安定器（built-in ballast with double or reinforced insulation）
接触可能な金属部を二重絶縁又は強化絶縁によって充電部から絶縁している安定器。
I.2.2
基礎絶縁（basic insulation）
電撃に対し基礎的な保護を与えるために充電部に施す絶縁。
I.2.3
付加絶縁（supplementary insulation）
基礎絶縁の破壊の場合において，電撃に対する保護を与えるために基礎絶縁に加えて施す独立した絶縁。
I.2.4
二重絶縁（double insulation）
基礎絶縁と付加絶縁との双方からなる絶縁。
I.2.5
強化絶縁（reinforced insulation）
二重絶縁と同等の電撃保護の程度をもつ充電部に施す単一の絶縁システム。
注記 “絶縁システム”の用語は，絶縁が単一均質片でなければならないということを意味しない。
絶縁システムは，付加絶縁又は基礎絶縁として単独に試験のできない数層から構成していても
よい。
I.3
一般的要求事項
二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は，工具なしで橋絡又は取り外しできない熱的保護機能を具備しな
ければならない。さらに，保護装置の故障だけが回路開放状態を生じさせなければならない。
注記1 上記の内容は，熱的保護手段の製造業者が宣言することが望ましい。
注記2 非復帰タイプの装置の使用は認められている。
二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用磁気回路式安定器は，また，附属書Bに適合しなければならない。
ただし，短絡する巻線は，熱的保護手段からできるだけ遠くに配置しなければならない。
さらに，試験の最後に，安定器は，I.10に加えて表1に規定する値の35 %に減じた試験電圧の耐電圧を
満足しなければならない。絶縁抵抗は，4 MΩ以上とする。
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C 8147-1：2017
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I.4
試験上の一般的注意事項
箇条5を適用する。
I.5
分類
箇条6を適用する。
I.6
表示
7.1で規定した表示に加え，二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は，記号 によって識別できなけれ
ばならない。
注記 この表示の意味を製造業者の印刷物又はカタログに説明することが望ましい。
I.7
充電部との偶発接触からの保護
箇条10の要求事項に加え，テストフィンガが基礎絶縁だけで保護した金属部と接触してはならない。
注記 この要求事項は，充電部を二重絶縁又は強化絶縁によってテストフィンガから隔離しなければ
ならないことを必ずしも意味しない。
I.8
端子
箇条8を適用する。
I.9
保護接地
二重絶縁又は強化絶縁をもつ安定器は，保護接地端子をもってはならない。
I.10 耐湿性及び絶縁性
箇条11を適用する。
I.11 高電圧インパルス試験
JIS C 8147-2-9の箇条15（高電圧インパルス試験）をHID安定器に適用する。
I.12 安定器巻線の熱耐久性試験
熱耐久性試験は，箇条13によって実施する。
温度を制限する装置は，熱耐久性試験前に橋絡しなければならない。特別に準備したサンプルが必要な
場合がある。
試験後，安定器温度が周囲温度に戻ったとき，次の要求事項を満足しなければならない。
a) 定格電圧において，7台中6台以上の安定器は，同じランプを始動させなければならない。ランプ電
流は，試験前に測定した値の115 %を超えてはならない。
注記 この試験は，安定器の設置条件において，幾つかの不利な変化を割り出すためのものである。
b) 全ての安定器に対して，巻線と安定器ケースとの間の絶縁抵抗は，500 Vの直流電圧で測定したとき，
4 MΩ未満であってはならない。
c) 全ての安定器は，巻線と安定器ケースとの間に表1に規定する値の35 %に減じた電圧を1分間印加し
た耐電圧試験に耐えなければならない。
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I.13 安定器の温度上昇
JIS C 8147-2-9の箇条14（安定器の温度上昇）を適用する。
I.14 ねじ，通電部及び接続部
箇条17を適用する。
I.15 沿面距離及び空間距離
次の事項とともに，箇条16を適用する。二重絶縁又は強化絶縁を施した器具内用安定器に対して，JIS C
8105-1の照明器具の関連する値を適用する。
I.16 耐熱性，耐火性及び耐トラッキング
箇条18を適用する。
I.17 耐食性
箇条19を適用する。
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附属書J
（規定）
より面倒な要求事項の一覧
J.1
適用範囲
この附属書は，再試験が必要な製品に要求するより厳しい，かつ，面倒な要求事項を含む，修正箇条に
適用する。
注記 “R”と表記し，この附属書の一覧に記載する箇条は，将来の改正版に含まれる。現時点では，
規定されていない。
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附属書K
（参考）
製造工程における適合試験
K.1 適用範囲
この附属書に記載する試験は，安全上容認できない材料及び製品の不適合を発見することを目的に，製
造業者が製造後，全ての制御装置に対し行うことが望ましい。これらの試験は，制御装置の特性及び信頼
性を損なうものではなく，より低い電圧を用いるため，規格に対する形式試験とは異なる。
全ての制御装置がここに記載されている形式試験に合格したサンプルと一致することを保証するには，
更に試験が必要となる場合がある。それらの試験は，製造業者が経験で決めることが望ましい。
品質マニュアルの範囲内で，この附属書に記載するのと同じレベル以上の安全性を確保することを確認
できる場合，試験の手順書及び試験の値を製造設備に適合した形に変えたり，製造工程中の適切な段階に
試験を設けることができる。
K.2 試験
電気的試験は，表K.1の一覧に従って全数実施することが望ましい。不合格品は，廃棄又は再生のため
隔離する。
表K.1−電気的試験の最小値
試験
制御装置の種類及び法令遵守
磁気式安定器
交流及び直流電子安定器
低電圧白熱電球及びLED
モジュール用の電子トランス
高周波冷陰極ランプ用
インバータ及び変換器
イグナイタ
目視検査a)
適用
機能試験／回路接続
（ランプ又は模擬ラ
ンプとともに）
インピーダンス試験b) ランプ／動作電圧
ランプ／動作電圧
ランプ／動作電圧
最小定格入力電圧
の90 %
ピーク電圧
接地導通c)
制御装置の接地用端
子と，人が触れるおそ
れがあり，充電部にな
る部品との間に適用
する。
（クラスI 独立形制
御装置だけ）
最大0.5 Ω
12 Vを超えない無負
荷電圧で，10 A以上の
電流を1秒間以上通電
し，測定する。
最大0.5 Ω
12 Vを超えない無負荷電
圧で，10 A以上の電流を1
秒間以上通電し，測定する。
最大0.5 Ω
12 Vを超えない無負荷電圧で，10
A以上の電流を1秒間以上通電し，
測定する。
最大0.5 Ω
12 Vを超えない無負荷電
圧で，10 A以上の電流を1
秒間以上通電し，測定する。
最大0.5 Ω
12 Vを超えない無
負荷電圧で，10 A以
上の電流を1秒間以
上通電し，測定す
る。
耐電圧c)
回路端子一括ときょ
う（筐）体との間に交
流1.5 kV又は直流1.5
×2 kVの電圧を1
秒間印加し，測定す
る。
入出力端子一括ときょう
（筐）体との間に交流1.5
kV又は直流1.5×2 kV
の電圧を1秒間印加し，測
定する。
入出力端子一括ときょう（筐）体
との間に交流1.5 kV又は直流1.5
×2 kVの電圧を1秒間印加し，
測定する。
入出力端子間は，交流3 kV又は直
流3×2 kVの電圧を1秒間印加
し，測定する。
入出力端子一括ときょう
（筐）体との間及び入力と
出力との間に交流1.5 kV又
は直流1.5×2 kVの電圧
を1秒間印加し，測定する。
回路端子一括とき
ょう（筐）体との間
に交流1.5 kV又は
直流1.5×2 kV
の電圧を1秒間印加
し，測定する。
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
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附属書L
（規定）
SELV制御装置の個別追加要求事項
L.1
一般
この附属書は，照明器具用SELV入力として使用する制御装置について規定する。この附属書は，機器
用変圧器に対するJIS C 61558-1:2012の4.2の要求事項及び安全絶縁変圧器に対するJIS C 61558-2-6:2012
の該当要求事項から構成する。また，高周波変圧器を含む制御装置に対しては，JIS C 61558-2-16:2012の
該当要求事項も適用する。
L.2
用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，次による。
L.2.1
耐短絡制御装置（short-circuit proof controlgear）
制御装置が過負荷又は短絡したときに温度が規定する限界値を超えず，過負荷又は短絡を取り除いた後
に継続して，この規格全ての要求事項を満たす制御装置。
L.2.2
非本質耐短絡制御装置（non-inherently short-circuit proof controlgear）
制御装置が過負荷又は短絡したときに，入力回路若しくは出力回路を開放するか，又は入力回路若しく
は出力回路の電流を減少させ，かつ，過負荷又は短絡を取り除いた後，及び可能である場合，保護装置の
リセット又は交換後に継続して，この規格全ての要求事項を満たす保護装置を備えている耐短絡制御装置。
注記1 保護装置の例には，ヒューズ，過負荷開放，温度ヒューズ，サーマルリンク，サーマルカッ
トアウト，PTC抵抗，自動停止機械式器具，及びプリント基板上のプリント配線ヒューズが
ある。
注記2 交換もリセットも不可能な装置による保護の場合，“過負荷又は短絡を取り除いた後，及び可
能である場合，保護装置のリセット又は交換後に継続して，この規格全ての要求事項を満た
す”という表現は，制御装置が継続して動作するということを意味しない。
L.2.3
本質耐短絡制御装置（inherently short-circuit proof controlgear）
制御装置を保護する装置をもたず，過負荷又は短絡したときに，温度が規定する限度値を超えず，過負
荷又は短絡を取り除いた後に継続して動作して，この規格全ての要求事項を満たす耐短絡制御装置。
L.2.4
フェールセーフ制御装置（fail-safe controlgear）
異常状態の下で，入力回路の停止によって永久に機能しなくなり，使用者及び周囲に危険を及ぼさない
制御装置。
注記 リセット不可及び取替不可の保護装置を用いてもよい。
L.2.5
非耐短絡制御装置（non short-circuit proof controlgear）
制御装置に組み込んでいない保護装置を用いて温度の過大な上昇に対する保護を意図し，過負荷又は短
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絡を取り除いた後及び保護装置のリセット後に継続して，この規格全ての要求事項を満たす制御装置。
L.2.6
分離形高周波変圧器（separating HF-transformer）
定格周波数が電源周波数より非常に高い制御装置の構成部品。
注記 この高周波変圧器は，制御装置の入力回路と出力回路とを分離することができる。
L.3
分類
L.3.1 感電保護による分類
感電保護による独立形制御装置の分類は，次による。
a) クラスI制御装置
b) クラスII制御装置
c) クラスIII制御装置
L.3.2 短絡保護又は異常使用に対する保護による分類
短絡保護又は異常使用に対する保護による制御装置の分類は，次による。
a) 非本質耐短絡制御装置
b) 本質耐短絡制御装置
c) フェールセーフ制御装置
d) 非耐短絡制御装置
L.4
表示記号
表示図記号は，表L.1による。
表L.1−表示図記号
図記号
内容
PRI
入力
SEC
出力
直流
N
中性線
単相
ヒューズリンク（時間−電流特性の記号追加）
ta
定格最高周囲温度
フレーム又は鉄心の端子
F 又は
F
フェールセーフランプ制御装置
又は
非耐短絡ランプ制御装置
又は
耐短絡ランプ制御装置（本質又は非本質）
安全絶縁ランプ制御装置（SELVランプ制御装置）
62
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
L.5
感電保護
SELV制御装置は，10.3及び10.4の要求事項に加えて，JIS C 61558-1:2012の9.2に規定する要求事項に
適合しなければならない。
適合性は，JIS C 61558-1:2012の9.2に規定する検査による。
L.6
温度上昇
SELV制御装置及びその支持部又は取付表面は，通常使用において過度の温度に達してはならない。
適合性は，JIS C 61558-1:2012の箇条14に規定する試験に，次の修正を加えて確認する。
− 14.1の第10段落（“変圧器は定格入力電圧で給電し”で始まる段落）：
10 %を，6 %に置き換える。
− 表1を，表L.2に置き換える。
表L.2−通常使用中の温度値
部品
温度
℃
コンデンサのケース
− tcが表示されている場合
tc c)
− tcが表示されていない場合
50
巻線（ボビン付き，ラミネーションに接点あり。）の絶縁が次の材料の場合
− A種材料a)
100
− E種材料
115
− B種材料
120
− F種材料
140
− H種材料
165
− その他の材料b)
−
注a) 材料の分類は，JIS C 4003:1998，JIS C 3215-0-1，又は同等規格に従う。
b) JIS C 4003:1998に規定するA種，E種，B種，F種及びH種以外の材料が使用されている場合は，JIS C
61558-1:2012の14.3の試験に耐えなければならない。
c) 分離変圧器をブリッジするコンデンサの最高温度は，tcが表示されていない場合は50 ℃未満，tcが表示さ
れている場合はtcでなければならない。その他の部品については，JIS C 8105-1の表12.1（12.4.1の試験条
件における主要部分の最高温度）を参照する。
− 14.1（一般要求事項）の最後から第2段落：
18.3への参照を，この附属書のL.8.3に置き換える。
− 14.3（絶縁階級が明示されない絶縁システムの加速エージング試験）の第1段落：
14.2，19.12.3及び26.3への参照を，L.6に置き換える。
− 14.3.4（測定）の第1段落：
18.1，18.2，18.3及び18.4への参照を，L.8に置き換える。
モールド変圧器については，熱電対を備えた特別に準備したサンプルを試験用として提出する。
L.7
短絡及び過負荷保護
SELV制御装置は，通常の使用中に起こり得る短絡又は過負荷によって危険になってはならない。
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
適合性は，JIS C 61558-1:2012の箇条15に規定する試験に，次の修正を加えて確認する。
− 15.1（一般）の第2段落：
14.1への参照を，L.6に置き換える。
− 15.1（一般）の表3の後の第2段落：
箇条9への参照を，この規格の箇条10に置き換える。
− 15.1（一般）の表3の後の第3段落：
18.3への参照をL.8.3に置き換える。
− 15.3.4：
適用しない。
− 15.5.1の第2段落：
14.1への参照を，L.6に置き換える。
L.8
絶縁抵抗及び耐電圧
L.8.1 一般
SELV制御装置の絶縁抵抗及び耐電圧は，十分でなければならない。
適合性は，箇条11，箇条12，L.8.2及びL.8.3の試験によって判定する。試験は，取り外した部品の再
取付け後に，加湿状態，又は試料が規定温度になった部屋の中で，この規格の箇条11の試験の直後に行う。
L.8.2 絶縁抵抗
絶縁抵抗は，約500 Vの直流電圧を印加して1分後に測定する。絶縁抵抗は表L.3に規定する値以上で
なければならない。
表L.3−絶縁抵抗値
試験対象の絶縁箇所
絶縁抵抗
MΩ
入力回路と出力回路との間
5
基礎絶縁だけによって充電部から分離されたクラスII制御装置の金属部ときょう（筐）体と
の間
5
絶縁材のきょう（筐）体の内面に接触する金属はく（箔）と，外面に接触する金属はく（箔）
との間
2
L.8.3 耐電圧
L.8.2の試験の直後に，絶縁物には，定格周波数の正弦波交流電圧を1分間印加する。試験電圧の値及び
印加箇所は，表L.4による。
注記 より高い有用性を要求する照明器具で用いられる制御装置の試験電圧は，附属書Mに記載があ
る。
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C 8147-1：2017
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表L.4−耐インパルスカテゴリIIの制御装置の耐電圧試験電圧
耐電圧試験電圧の印加箇所b)
動作電圧
V a)
50未満
100以上
150以下
150超え
300以下
600
1 000
1) 入力回路の充電部と出力回路の充電部と
の間（二重絶縁又は強化絶縁）
500
2 000
3 000
4 200
5 000
2) 次の間の基礎絶縁又は付加絶縁
a) 故障状態でない通常使用で，極性の異な
る充電部相互間。同一巻線内では試験を
適用しない。
b) 保護接地を意図する場合，充電部ときょ
う（筐）体との間
c) 接触可能な導電部と，コード挿入口のブ
ッシング，コードガード及びコード止め
などに挿入する可とうケーブル又はコ
ードと直径が同じ金属棒［又はコードの
周りを包んだ金属はく（箔）］との間
d) 充電部と中間導電部との間
e) 中間導電部と本体との間
f) 各入力回路と同時接続したその他の全
ての入力回路との間
250
1 000
1 500
2 100
2 500
3) 本体と充電部との間の強化絶縁
500
2 000
3 000
4 200
5 000
注a) 動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は，表の値の間での補間によって得られる。100 V以上150 V
以下及び150 Vを超え300 V以下の列は，補間は適用しない。
b) JIS C 61558-1:2012の19.12.3 c)及び26.2.4.1の試験Bに規定する構造では，電圧は1.25倍する。JIS C
61558-1:2012の26.2.4.2に規定する構造では，電圧は1.35倍する。
L.9
構造
SELV制御装置に使用する変圧器の構造は，JIS C 61558-1:2012の19.12及びJIS C 61558-2-6:2012の箇
条19による。ただし，独立形でない制御装置の場合，19.1.6を除く。
絶縁電線を300 V以下の入力電圧を備えた制御装置に使用する場合は，原材料に対しての絶縁耐圧試験
電圧は3 kVに制限する。
なお，分離形高周波変圧器の構造は，JIS C 61558-2-16:2012の箇条19による。ただし，独立形でない制
御装置の場合，19.1.3.7を除く。
適合性は，検査及び測定によって判定する。
L.10 部品
SELV制御装置の保護装置として使用する部品は，JIS C 61558-1:2012の20.6〜20.11の要求事項に適合
しなければならない。
適合性は，検査及びJIS C 61558-1:2012の関連する試験によって判定する。
L.11 沿面距離，空間距離及び絶縁物を通しての距離
沿面距離，空間距離及び絶縁物を通しての距離は，この規格の表3及び表L.5に規定する値以上でなけ
ればならない。さらに，SELV制御装置と一体の変圧器は，JIS C 61558-1:2012の箇条26に規定する要求
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C 8147-1：2017
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事項及び試験に適合しなければならない。
JIS C 6950-1に規定する二重絶縁又は強化絶縁の要求事項に適合するフォトカプラ内部の絶縁物を通し
ての距離は，個々の絶縁が十分に密閉されており，かつ，個々の材料間の空気を除去している場合には測
定しない。そうでない場合，フォトカプラの入出力間の絶縁物を通しての距離は0.4 mm以上でなければ
ならない。いずれの場合も，L.8に規定する試験を適用する。
注記 沿面距離，空間距離及び絶縁物を通しての距離に関する詳細は，JIS C 61558-1:2012の附属書A，
附属書C，附属書D，附属書M，附属書N及び附属書Pを参照。
表L.5−耐インパルスカテゴリIIに対する沿面距離（cr），空間距離（cl），及び絶縁物を通しての距離（dti）（汚損度2の場合）
材料グループIIIa（175＜CTI＜400）
単位 mm
絶縁の形式
測定対象
動作電圧c)，i)
V
巻線エナメ
ルを通す場
合b)
巻線エナメ
ルを通さな
い場合
25を超え50未満
100
150
250
cl
cr
cl
cr
cl
cr
cl
cr
1) 入力回路と出
力回路との間
の絶縁（基礎絶
縁）
a) 入力回路の充電部と出力回路の充電部と
の間の沿面距離及び空間距離
−
○
0.2
1.2
0.5
1.4
1.5
1.6
2.5
2.6
○
−
0.2
1.2
0.2
1.4
0.5
1.6
1.2
2.6
− 低減値a)
−
0.18
−
0.25
−
0.3
−
0.57
b) 入力回路又は出力回路と接地された金属
遮蔽板との間の絶縁物を通しての距離
dti
dti
dti
dti
○
○
要求事項なし
c) 入力回路と出力回路との間の絶縁物を通
しての距離
○
○
要求事項なし
2) 入力回路と出
力回路との間
の絶縁（二重絶
縁又は強化絶
縁）
a) 入力回路の充電部と出力回路の充電部と
の間の沿面距離及び空間距離
cl
cr
cl
cr
cl
cr
cl
cr
−
○
0.5
1.4
1.5
2.0
3.0
3.0
4.7
5.0
○
−
0.5
1.4
0.5
2.0
1.5
3.0
2.5
5.0
− 低減値a)
−
0.25
−
0.4
−
0.7
−
1.4
b) 入力回路又は出力回路と接地された金属
遮蔽板との間の絶縁物を通しての距離a)
○
○
dti
dti
dti
dti
0.1 e)
0.2 e)
0.25 e)
0.42 e)
[0.05] f)
[0.07] f)
[0.08] f)
[0.14] f)
c) 入力回路と出力回路との間の絶縁物を通
しての距離a)
○
○
0.2 e)
0.3 e)
0.5 e)
0.83 e)
[0.1] f)
[0.1] f)
[0.15] f)
[0.25] f)
3) 近接する入力
回路間の絶縁，
又は近接する
出力回路間の
絶縁d)
沿面距離及び空間距離
cl
cr
cl
cr
cl
cr
cl
cr
○
○
0.2
1.2
0.2
1.4
0.2
1.6
0.4
2.6
− 低減値a)
−
0.18
−
0.25
−
0.3
−
0.57
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表L.5−耐インパルスカテゴリIIに対する沿面距離（cr），空間距離（cl），及び絶縁物を通しての距離（dti）（汚損度2の場合）
材料グループIIIa（175＜CTI＜400）（続き）
単位 mm
絶縁の形式
測定対象
動作電圧c)，i)
V
巻線エナメ
ルを通す場
合b)
巻線エナメ
ルを通さな
い場合
25を超え50未満
100
150
250
dti
dti
dti
dti
4) 外部ケーブル及びコードの接続用端子間の沿面距離及び空間
距離。ただし，入力回路用端子と出力回路用端子との間を除く。
○
○
3.0
3.6
4.0
5.4
5) 基礎絶縁又は
付加絶縁h)
規格で要求する箇所，例えば，次の間
a) 異極充電部相互間
cl
cr
cl
cr
cl
cr
cl
cr
−
○
0.2
1.2
0.5
1.4
1.5
1.6
2.5
2.6
b) 保護接地を意図する場合，充電部ときょ
う（筐）体との間
○
−
0.2
1.2
0.2
1.4
0.5
1.6
1.2
2.5
c) 接触可能導電部とコード挿入口ブッシン
グ，コード止めなどの内部に挿入した可
とうケーブル又はコード［又は金属はく
（箔）被覆コード］と同一直径の1本の
金属棒との間
d) 充電部と単一中間導電部との間
e) 単一中間導電部ときょう（筐）体との間
−
−
−
−
−
−
−
−
−
−
− 低減値a)
−
0.18
−
0.25
−
0.3
−
0.57
6) 強化絶縁又は
二重絶縁
きょう（筐）体と充電部との間又は規格で要
求する箇所（入出力巻線間の絶縁を除く。）
−
○
0.5
1.4
1.5
2.0
3.0
3.0
4.7
5.0
○
−
0.2
1.4
0.5
2.0
1.5
3.0
2.5
5.0
過渡電圧に対し追加装備で保護される場合，
きょう（筐）体と出力回路の充電部との間
○
○
0.2
1.4
0.2
2.0
0.5
3.0
1.2
5.0
− 低減値a)
−
0.25
−
0.4
−
0.7
−
1.4
7) 絶縁体を通し
ての距離
a) 基礎絶縁g)
○
○
要求事項なし
b) 付加絶縁g)
○
○
dti
dti
dti
dti
0.1 e)
0.15 e)
0.25 e)
0.42 e)
[0.05] f)
[0.05] f)
[0.08] f)
[0.13] f)
c) 強化絶縁（入出力回路間の絶縁を除く。）
○
○
0.2 e)
0.3 e)
0.5 e)
0.9 e)
[0.1] f)
[0.1] f)
[0.15] f)
[0.25] f)
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表L.5−耐インパルスカテゴリIIに対する沿面距離（cr），空間距離（cl），及び絶縁物を通しての距離（dti）（汚損度2の場合）
材料グループIIIa（175＜CTI＜400）（続き）
注記1 ○は，適用を意味する。
注記2 数値の代わりに“−”と示す箇所は，要求数値がないことを意味する。
注記3 表中の空間距離の最小値は，海抜0 m〜2 000 mの大気に適用できる。
注記4 安全特別低電圧回路とその他の安全特別低電圧回路との間の絶縁は，絶縁の形式6)及び7) による（JIS C 61558-1:2012の19.1による。）。
注a) JIS C 61558-1:2012の26.2（低減値に関して）及び26.3［絶縁の形式2)のb)及びc)に関して］の汚損度1（P1）の要求事項及びJIS C 60664-1:2009の表F.4を参
照。
b) 1本以上の巻線がJIS C 3215-0-1のグレード1以上の適合電線で構成されている場合，巻線のエナメルを介して測定する。
c) 沿面距離，空間距離及び絶縁物を通しての距離は，表の値を補間して得られる動作電圧の中間値として求めてもよい。動作電圧25 V以下については，値を規
定していない。これは表L.4の電圧試験で十分であるとみなせるためである。
d) これらの値は，次には適用しない。
1) 同時に接続する巻線の端末が同電位の場合，各巻線内部又は同時に永久に接続する巻線のグループ相互間
2) 巻線が直列又は並列に接続しているだけの場合で（例 入力電圧が110/220 V），動作電圧が300 V以下，かつ，巻線の電線がJIS C 3215-0-1のグレード1
以上に適合するとき。
e) 固体絶縁に関しての値を示す。
f) 薄いシートからなる絶縁の場合の値を示す。
g) 入力巻線と出力巻線間との間で二重絶縁が必要な場合，絶縁を通しての厚さの合計は，直接又は金属部を介して測定するかを問わず，絶縁の形式2) c)に示す値
と同じでなければならない。ただし，絶縁電線は例外とする（JIS C 61558-1:2012の19.12を参照）。
h) 基礎絶縁又は付加絶縁の絶縁（破壊）耐力はその空間距離に依存する。
i) 300 Vを超える動作電圧は，JIS C 61558-1:2012を参照。
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
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附属書M
（参考）
耐インパルスカテゴリIIIの制御装置の耐電圧試験電圧
表M.1は，より高い有用性を要求する照明器具のための耐インパルスカテゴリIIIで設計された制御装
置で使用することを意図している。
注記 詳細情報については，JIS C 8105-1の附属書Uを参照。
表M.1−耐インパルスカテゴリIIIの制御装置の耐電圧試験電圧
耐電圧試験電圧の印加箇所b)
動作電圧
V a)
50未満
100以上
150以下
150超え
300以下
600
1 000
1) 入力回路の充電部と出力回路の充電部と
の間（二重絶縁又は強化絶縁）
500
2 800
4 200
5 000
5 500
2) 次の間の基礎絶縁又は付加絶縁
a) 極性の異なる充電部相互間。同一巻線
内での試験には適用しない。
b) 保護接地に接続することを意図した充
電部と本体との間
c) 接触可能な導電部と，コード挿入口の
ブッシング，コードガード及びコード
止めなどに挿入する可とうケーブル又
はコードと直径が同じ金属棒［又はコ
ードの周りを包んだ金属はく（箔）］と
の間
d) 充電部と中間導電部との間
e) 中間導電部と本体との間
250
1 400
2 100
2 500
2 700
3) 本体と充電部との間の強化絶縁
500
2 800
4 200
5 000
5 500
注a) 動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は，表の値の間での補間によって得られる。100 V以上150
V以下及び150 Vを超え300 V以下の列は，補間は適用しない。
b) JIS C 61558-1:2012の19.12.3 c)及び26.2.4.1の試験Bに規定する構造では，電圧は1.25倍する。JIS
C 61558-1:2012の26.2.4.2に規定する構造では，電圧は1.35倍する。
試験には，JIS C 61558-1:2012の18.3の要求事項を適用する。
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C 8147-1：2017
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附属書N
（規定）
二重絶縁又は強化絶縁のために使用される絶縁材料の要求事項
N.1 一般
この附属書は，二重絶縁又は強化絶縁の要求事項を満たすために使用する固体絶縁材料又は薄板絶縁材
料に適用する。
この附属書は，制御装置の絶縁巻線及び絶縁カバー又は覆いに適用しない。
N.2 引用規格
箇条2を適用する。
N.3 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，次による。
N.3.1
固体絶縁（solid insulation）
二つの導電性部品間に挿入した一層の均質材料で作られる絶縁。
N.3.2
薄板絶縁（thin sheet insulation）
二つの導電性部品間に挿入した薄板（複数枚）の絶縁材料で構成される絶縁。
N.4 一般要求事項
N.4.1 材料の要求事項
絶縁材料は，JIS C 4003及びJIS C 2143規格群に適合しなければならない。
N.4.2 固体絶縁
固体絶縁の妥当性は，5 kV又は表N.1に規定する適用可能試験電圧に1.35を乗じた値のいずれか大きい
電圧での耐電圧試験（箇条12）によって，検証する。
材料が，JIS C 4003及びJIS C 2143規格群によって分類されていない場合，耐電圧試験電圧の値は，規
定値の更に10 %だけ増やす。つまり，5.5 kV又は表N.1に規定する適用可能試験電圧に1.5を乗じた値の
いずれか大きい電圧とする。
N.4.3 薄板絶縁
N.4.3.1 薄板絶縁の厚さ及び構成
薄板絶縁の厚さ及び構成は，次による。
a) 薄板材料が安定器の内部で使用され，かつ，安定器の生産及び保守の期間に手が触れる扱い又は磨耗
がない場合，薄板材料による絶縁は，その厚さに関係なく許容する。
b) 全ての絶縁層が同じ材料である必要がない。
c) 樹脂含浸塗膜は，薄板材料の絶縁とみなさない。
d) 薄板材料で構成する絶縁は，全ての箇所で次の層数以上をもつ絶縁でなければならない。
1) 層が分離できない（一体接着）場合
71
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
・ 3層
・ 全多層板は，150 Nの引張力によるマンドレル試験（N.4.3.2参照）に耐えなければならない。
2) 層が分離できる場合
・ 2層
・ 各層は，50 Nの引張力によるマンドレル試験（N.4.3.2参照）に耐えなければならない。
3) 層が分離できる場合（代替）
・ 3層
・ 全層数の2/3は，100 Nの引張力によるマンドレル試験（N.4.3.2参照）に耐えなければならない。
N.4.3.2 マンドレル試験（機械的応力下の耐電圧試験）
マンドレル試験は，製造業者が提供する薄板の試験片を，図N.1に示すように，ニッケルめっきを施し
た鋼又は黄銅製の表面を，平滑に仕上げしたマンドレル上に固定して行わなければならない。試験片は，
幅70 mmの薄板三枚を準備する。
幅70 mmの薄板の三枚の個別試験片を製造業者は供給しなければならない。
厚さ0.035 mm±0.005 mmの金属はく（箔）（アルミニウム又は銅）を試験片の表面に密着させ，1 Nの
引張力を加えなければならない。金属はく（箔）の境界が試験片の境界から20 mm離れるように金属はく
（箔）の位置決めをしなければならない。また，マンドレルがその最終位置にある場合，マンドレルは，
試験片が置かれている端部を10 mm以上覆うように配置する。
試験片は，適切な締付け装置によってその自由端で規定の位置に保持し，次の引張力を加える。
a) 分離できない数層で構成される試験片の場合，150 Nの引張力
b) 全層の2/3が分離できる層で構成される試験片の場合，100 Nの引張力［のこぎり（鋸）歯状又は非の
こぎり（鋸）歯状］
c) 単層で構成される試験片の場合，50 Nの引張力
マンドレルは，急に動かすことなくゆっくりと前後に3回，230°回転させなければならない。試験片が
回転中に締付け装置で壊れる場合，試験は繰り返して行わなければならない。一つ以上の試験片が他の箇
所で壊れる場合，試験は不合格とする。マンドレルがその最終位置にある間，最終位置決め後1分以内に，
箇条12に規定する耐電圧試験電圧を，マンドレルと金属はく（箔）との間に，次のように1分間印加しな
ければならない。
d) 分離できない数層で構成される試験片の場合，3層以上に5 kVの試験電圧又は表N.1に規定する試験
電圧に1.35を乗じた値のいずれか大きい方の試験電圧
e) 全層の2/3が分離できる層で構成される試験片の場合，3層以上に5 kVの試験電圧又は表N.1に規定
する試験電圧に1.25を乗じた値のいずれか大きい方の試験電圧
f)
二つの分離できる層の一つで構成される試験片の場合，5 kVの試験電圧又は表N.1に規定する試験電
圧に1.25を乗じた値のいずれか大きい方の試験電圧
試験中にフラッシュオーバー又は絶縁破壊は，発生してはならない。コロナ効果及び同様の現象は，無
視しなければならない。
72
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表N.1−マンドレル試験中に要求する耐電圧試験電圧
項目
最大動作電圧実効値
V
50
150
250
500
750
1 000
きょう（筐）体と充電部との間の二重絶
縁又は強化絶縁に，更に1.25又は1.35を
乗じる試験電圧（N.4.2参照）
500
2 800
3 750
4 750
5 200
5 500
動作電圧の中間値に対する試験電圧の値は，表の値の間での補間によって得る。
単位 mm
a) マンドレル
図N.1−薄板層の絶縁材料の機械的耐力判定用試験要領
73
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
b) マンドレルの位置
c) 紙上の金属はく（箔）の位置
図N.1−薄板層の絶縁材料の機械的耐力判定用試験要領（続き）
74
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書O
（規定）
二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置の追加要求事項
O.1 適用範囲
この附属書は，二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置に適用する。
O.2 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，次による。
O.2.1
二重絶縁又は強化絶縁形器具内用電子制御装置（built-in electronic controlgear with double or reinforced
insulation）
照明器具，箱，きょう（筐）体又は相当のものに組み込むように設計され，照明器具の外に取り付ける
ことを意図していない電子式ランプ制御装置であって，接触可能な金属部が充電部から二重絶縁又は強化
絶縁によって絶縁されているもの。
注記1 二重絶縁又は強化絶縁をもつ電子制御装置は，金属きょう（筐）体をもつクラスII照明器具
に適用してもよい
注記2 機能接地線の絶縁に対する要求事項がないため，この附属書の要求事項を，電子制御装置の
機能接地端子にも適用する。
O.2.2
基礎絶縁（basic insulation）
電撃に対し基礎的な保護を与えるために充電部に施す絶縁。
O.2.3
付加絶縁（supplementary insulation）
基礎絶縁の破壊の場合において，電撃に対する保護を与えるために基礎絶縁に加えて施す独立した絶縁。
O.2.4
二重絶縁（double insulation）
基礎絶縁と付加絶縁との双方からなる絶縁。
O.2.5
強化絶縁（reinforced insulation）
二重絶縁と同等の電撃保護の程度をもつ充電部に施す単一の絶縁システム。
注記1 “絶縁システム”の用語は，絶縁が単一均質片でなければならないということを意味しない。
絶縁システムは，付加絶縁又は基礎絶縁として単独に試験のできない数層から構成していて
もよい。
O.3 一般的要求事項
箇条4を適用する。
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
O.4 試験上の一般的注意事項
箇条5を適用する。
O.5 分類
箇条6を適用する。
O.6 表示
7.1で規定した表示に加え，二重絶縁又は強化絶縁をもつ電子制御装置は，記号 によって識別でき
なければならない。この表示の意味を製造業者の印刷物又はカタログに説明することが望ましい。
O.7 充電部との偶発接触からの保護
箇条10の要求事項に加え，テストフィンガが基礎絶縁だけで保護した金属部と接触してはならない。
O.8 端子
箇条8を適用する。
O.9 保護接地
二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置は，機能接地だけ許容する。箇条9の要求事項は，
機能接地端子に適用する。二重絶縁又は強化絶縁をもつ器具内用電子制御装置は，保護接地端子をもって
はならない。
O.10 耐湿性及び絶縁性
箇条11を適用する。
O.11 耐電圧試験
箇条12を適用する。
O.12 巻線の熱耐久性試験
箇条13は適用しない。
O.13 故障状態
次の追加事項とともに箇条14を適用する。
試験が終了し，制御装置が周囲温度に戻った時点で，箇条12に加えて，充電部と接触可能な金属部の間
又は充電部と支持している表面と接触している絶縁材料の外部部分との間で，試験電圧値を表1の要求値
の35 %に低減した耐電圧試験に適合しなければならない。
さらに，充電部と接触可能な金属部又は支持している表面と接触している絶縁材料の外部部分の間で，
O.10に従った絶縁抵抗は，4 MΩ未満であってはならない。
O.14 構造
次の追加とともに箇条15を適用する。
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
器具内用電子制御装置の，全ての接触可能な金属部は，充電部から二重絶縁又は強化絶縁で絶縁しなけ
ればならない。さらに，充電部と制御装置の外面を接触から支持している表面との間の絶縁は，二重絶縁
又は強化絶縁で構成していなければならない。
O.15 沿面距離及び空間距離
次の事項とともに，箇条16を適用する。二重絶縁又は強化絶縁を施した器具内用安定器に対して，JIS C
8105-1の照明器具の関連する値を適用する。
O.16 ねじ，通電部及び接続部
箇条17を適用する。
O.17 耐熱性，耐火性及び耐トラッキング
箇条18を適用する。
O.18 耐食性
箇条19を適用する。
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C 8147-1：2017
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附属書JA
（規定）
追加の安全性要求事項
JA.1 電源からの絶縁
定格二次電圧が300 Vを超える変圧式の安定器の変圧器は，絶縁変圧器でなければならない。ただし，
次に適合するものにあっては，この限りでない。
a) ランプを取り外したとき，二次電圧が300 V以下になるもの。
b) ランプが取り外されたときに一次側の回路を自動的に遮断する装置を設けるべき旨が，安定器本体に
表示されている接続図によって示されているもの。
JA.2 特性試験
JA.2.1 二次短絡電流特性
定格周波数に等しい周波数の定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した二次短絡電流は，定格二次短絡
電流の115 %以下とする。
JA.2.2 点灯特性
定格周波数に等しい周波数の下で，試験用ランプを接続して点灯したとき，次に適合しなければならな
い。
a) 定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した試験用ランプの管電流は，次の表JA.1の値である。
表JA.1−安定器の種別及び試験用ランプの試験用安定器の値に対する比
単位 %
安定器の種別
試験用ランプの試験用
安定器の値に対する比
蛍光灯安定器
予熱始動式
115以下
ラピッドスタート式
115以下
その他のもの
120以下
蛍光灯電子安定器
120以下
高圧放電灯安定器
水銀灯安定器
110以下
その他のもの
120以下
低圧ナトリウム灯安定器
120以下
放電灯電子安定器
115以下
b) 定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した入力電流及び入力電力は，定格入力電流及び定格入力電力
の90 %以上110 %以下とする。ただし，試験用ランプの定格消費電力が10 W以下の場合にあっては，
定格入力電流及び定格入力電力の80 %以上120 %以下とすることができる。
JA.2.3 二次電圧特性
二次電圧特性は，次による。
a) 定格二次電圧は，1 000 V以下とする。
b) 定格周波数に等しい周波数の定格入力電圧に等しい電圧の下で測定した二次電圧は，定格二次電圧の
110 %以下とする。
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C 8147-1：2017
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JA.3 口出し線
独立形ランプ制御装置の口出し線は，JIS C 8105-1の5.2（電源との接続及びその他の外部配線）及び7.2
（保護接地）の規定に，また，独立形ランプ制御装置以外のランプ制御装置の口出し線については，JIS C
8105-1の5.3（内部配線）の規定に適合しなければならない。ただし，JIS C 8105-1の5.2.2及び5.3.1の規
定を次のa)及びb)に置き換える。
a) 表JA.2に規定する電線若しくはこれと同等以上の絶縁効力で表JA.2に規定する導体の公称断面積を
もつ電線，又はIEC 60227の規格群及びJIS C 3663の規格群に適合する電線（屋外用の独立形ランプ
制御装置の場合，キャブタイヤケーブル又は絶縁電線に限る。）は，断面積が0.75 mm2以上のもので
なければならない。
ただし，定格電圧が300 V以下の蛍光灯安定器及び殺菌灯安定器の場合，負荷側の口出し線又はそ
の構造上，直接電源に接続されることのない電源側の口出し線，若しくはその表示する接続図によっ
て直接電源に接続されない旨が示されている電源側の口出し線は，独立形ランプ制御装置を除き，断
面積が0.5 mm2以上のゴムコード又はビニルコードを使用することができる。
b) a)のただし書きの規定によって，断面積が0.75 mm2未満のゴムコード又はビニルコードを口出し線に
用いる場合は，色分けその他の方法によって当該口出し線をその他の口出し線と容易に識別できるよ
うにする。
表JA.2−電線の種類
定格入力電圧又は
定格二次電圧
V
電線の種類
JIS番号
導体の公称断面積
mm2
蛍光灯安定器
蛍光灯電子安定器
電子トランス
LEDモジュール用
制御装置
放電灯安定器
放電灯電子安
定器
300以下
ゴムコード
JIS C 3301
0.75以上
0.75以上
ビニルコード
JIS C 3306
300を超え 600以下
600 Vビニル絶縁電線（IV）
JIS C 3307
0.9以上
1.25以上
口出用ゴム絶縁電線
JIS C 3315
0.75以上
電気機器用ビニル絶縁電線
JIS C 3316
600 V二種ビニル絶縁電線（HIV）
JIS C 3317
600を超え1 000以下
1 000 V蛍光放電灯用電線
−
0.75以上
JA.4 試験方法
JA.4.1 二次電圧試験
二次電圧試験は，安定器を例えば図JA.1のように接続し，入力端子間に定格周波数の定格電圧を加え，
ランプの両端に接続する端子のいずれか高い電圧を測定する。
注記 無負荷の二次電圧が間欠的に変化する場合，実効値指示計器の最大指示値を二次電圧と考える。
なお，陰極線オシロスコープで波形を観察し，実効値の平均を計算によって求めてもよい。
JA.4.2 二次短絡電流試験
二次短絡電流は，安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧を加え，JA.4.1に規定する端子間を
電流計で短絡して測定する。
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C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 短絡時の二次電流が間欠的に変化するものにあっては，実効値指示計器の最大指示値を二次短
絡電流とみなす。
なお，陰極線オシロスコープで波形を観察し，実効値の平均を計算によって求めてもよい。
図JA.1−二次電圧測定回路
80
C 8147-1：2017
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
[1] IEC 60065:2001，Audio, video and similar electronic apparatus−Safety requirements及びAmendment 1:2005
[2] IEC 60112:2003，Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid
insulating materials
[3] IEC 60155:1993，Glow-starters for fluorescent lamps
[4] IEC 60479 (all parts)，Effects of current on human beings and livestock
[5] IEC 60598 (all parts)，Luminaires
[6] IEC 60925:1989，DC supplied electronic ballasts for tubular fluorescent lamps−Performance requirements，
Amendment 1:1996及びAmendment 2:2001
[7] IEC 60927:1996，Auxiliaries for lamps−Starting devices (other than glow starters)−Performance
requirements，Amendment 1:1999及びAmendment 2:2004
[8] IEC 61047:2004，DC or AC supplied electronic step-down convertors for filament lamps−Performance
requirements
[9] IEC 61347-2-1，Lamp controlgear−Part 2-1: Particular requirements for starting devices (other than glow
starters)
[10] IEC 61347-2-2:2011，Lamp controlgear−Part 2-2: Particular requirements for d.c. or a.c. supplied electronic
step-down convertors for filament lamps
[11] IEC 62384，DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules−Performance requirements
[12] IEEE 101:1987，IEEE Guide for the Statistical Analysis of Thermal Life Test Data
・ IEC/TR 60083:2009，Plugs and socket-outlets for domestic and similar general use Standardized in member
countries of IEC
・ IEC 60364-4-41:2001，Electrical installations of buildings−Part 4-41: Protection for safety−Protection
against electric shock
・ IEC 60449:1973，Voltage bands for electrical installations of buildings
附属書JB
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 8147-1:2017 ランプ制御装置−第1部：通則及び安全性要求事項
IEC 61347-1:2007，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements，
Amendment 1:2010及びAmendment 2:2012
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲 250 V以下の直流電
源及び／又は1 000
V以下の50 Hz又は
60 Hzの交流電源に
使用する，ランプ制
御装置の通則及び
安全性要求事項に
ついて規定。
1
JISとほぼ同じ。
追加
“追加の安全性要求事項”を
附属書JAに規定
我が国の法規制を追加。
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3 用語及び
定義
49項目の用語の定
義を規定。
3
JISとほぼ同じ。
追加
追加
変更
a) 入力電力，変圧式安定
器，二次電圧，二次短絡
電流及び定格最高周囲
温度を追加。
b) クラスIランプ制御装置
の注記に，クラス0ラン
プ制御装置の情報を追
加。
c) IEC 61347-1 Ed3.0記載
の機能接地記号を先取
りした。
a) 電気用品安全法に日本独自の必須表
示項目があるので，これらを用語及び
定義に追加した。我が国固有の安全・
電気設備に関連する技術の内容であ
り，WTO/TBT協定に影響ない。また，
独立形ランプ制御装置においては，
JIS C 8105-1の要求規定を満たすこ
とが明記されており，定格最高周囲温
度をランプ制御装置に表示する場合
があるため，この定義を追加した。こ
れによって試験条件もより明確にし
た。国際貿易の不必要な障害にならな
い事柄であり，WTO/TBTに関する影
響はない。
b) JIS C 8105-1:2010では，クラス0照明
器具の定義があるため，同様に，クラ
ス0ランプ制御装置の情報を追加し
た。我が国固有の安全・電気設備に関
連する技術の内容であり，WTO/TBT
協定に影響ない。
c) IEC 61347-1 Ed2.2記載の機能接地記
号は誤りであるため。
5 試験上の
一般的注意
事項
試験条件・方法に関
する事項について
規定。
5
5.3
ある国では，試験個
数3台のうち1台の
不適合を認め，追加
の3台が適合すれば
よいとの規定が記
載されている。
削除
−
我が国では適用しないため，試験個数3
台のうち1台の不適合を認める記載は削
除した。
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 表示
7.1 表示する項目
本体又はカタログ
に表示する項目を
規定。
7
JISとほぼ同じ。
追加
変更
a) uA），uB）及びuC）を追
加。また，e），i），p）及
びr）に，国内規定内容
を追加。
b) 外郭をもたないランプ
制御装置の必須表示は，
カタログ又は類似の資
料での表示を許容する
内容に変更。
a) 我が国では，電気用品安全法及び電気
設備技術基準があり，その表示規定を
追加。我が国固有の安全・電気設備に
関連する技術の内容であり，
WTO/TBT協定に影響ない。
b) 今後の小形化と実装密度向上を見込
み，カタログ又は類似の資料での表示
を許容する内容に変更。今後，差異解
消に向け，表示方法の追加をIECに
提案していく。
9.5.1 他の
設備への接
地接続
接地用端子材料，適
合性，接地を要する
条件，接地用端子及
び接地用口出し線
の仕様を規定。
9.5.1
JISとほぼ同じ。
追加
接地を要する条件，接地用端
子及び接地用口出し線の仕
様を追加。
国内技術基準（電気用品安全法）の接地
要求基準を追加。我が国固有の安全に関
連する技術の内容であり，WTO/TBT協定
に影響ない。
13 安定器
巻線の熱耐
久性試験
試験方法及び絶縁
性能について規定。
13
JISとほぼ同じ。
変更
追加
削除
a) 抵抗法による巻線の温
度条件を“巻線温度が安
定し始めた後に”に変更
した（対応国際規格では
“4時間後に”）。
b) 注記5で試験前及び試験
後のランプ電流測定用
ランプは特性試験だけ
に使用することを追加。
c) 不合格の存在を許容す
る試験結果の判定基準
を削除
a) 熱容量の大きい放電灯安定器などは，
安定前に時間を要するため変更した。
今後，差異解消に向け，表示方法の追
加をIECに提案していく。
b) 熱耐久性試験に用いるランプとラン
プ電流測定用ランプとを明確に区別
するため追加した。
c) 不合格を認めるのは，技術基準とし
て，不適切と判断した。我が国固有の
安全に関連する技術の内容であり，
WTO/TBT協定に影響ない。
1
4
C
8
1
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-1
：
2
0
1
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
14 故障状
態
故障状態について
規定
14
JISとほぼ同じ。
削除
三つの試験試料で実施し，一
つの試験試料が不合格であ
る場合には，新たに三つの試
験試料で実施して全て合格
であれば合格とする判定基
準を削除。
不合格を認めるのは，技術基準として，
不適切と判断した。我が国固有の安全に
関連する技術の内容であり，WTO/TBT協
定に影響ない。
16 沿面距
離及び空間
距離
ランプ制御装置各
部間の沿面距離及
び空間距離の考え
方及び値（直線補完
法採用）について規
定。
16
JISとほぼ同じ。
追加
“ただし，絶縁を要求する巻
線間は除く。”を追加。
旧規格からのデビエーションを継続す
る。
表3の注記に“規定する電圧
の中間の電圧の絶縁距離は，
直線補完を適用する。”を追
加。
IEC 60598-1 Ed5.0では，絶縁距離の規定
として直線補完が認められており，これ
に合わせた。
我が国固有の定格電圧での
絶縁距離について，数値を記
載した。また，クラス0ラン
プ制御装置の絶縁距離は，
JIS C 8105-1の11.2を配慮す
る旨を追記した。
JIS C 8105-1で記載された我が国固有の
定格電圧及びクラス0照明器具の絶縁距
離の要求事項を追加した。これによって，
器具とランプ制御装置との絶縁距離の要
求事項を整合させた。我が国固有の安全
に関連する技術の内容であり，WTO/TBT
協定に影響ない。
18 耐熱性，
耐火性及び
耐トラッキ
ング性
外部絶縁部品，充電
部保持部品の耐熱
性，耐火性及び耐ト
ラッキング性につ
いて規定。
18
JISとほぼ同じ。
追加
18.5において，耐トラッキン
グ性をもつランプ制御装置
の種類条件に対象となる部
品及び除外項目を追加し，部
位を明確化。
対応国際規格は，ランプ制御装置のどの
部位が耐トラッキング性をもたなくてよ
いのか不明であるため，具体的部位を明
確にした。
なお，国際貿易の不必要な障害にならな
い事柄であり，WTO/TBTに関する影響は
ない。
19 耐食性
鋼鉄製部品の腐食
に対し，その試験及
び評価方法を規定。
19
JISとほぼ同じ。
追加
安定器の露出した鉄心表面
の耐食性を緩和する条件を
追加。
さびが生じても適切に保護されているも
のとみなす条件を追加。
なお，国際貿易の不必要な障害にならな
い事柄であり，WTO/TBTに関する影響は
ない。
1
4
C
8
1
4
7
-1
：
2
0
1
7
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書B
（規定）
熱的保護機
能付きラン
プ制御装置
の個別要求
事項
B.9.3 JIS C 8147-2-8
に規定する定格最
高ケース温度が，
130 ℃以下の動作
温度を宣言する熱
的保護機能付きラ
ンプ制御装置につ
いての要求事項を
規定。
附属書B
（規定）
B.9.3
JISとほぼ同じ。
追加
B.9.3“通常状態で（tw＋5）℃
の巻線温度を得るような周
囲温度，又は（ta＋5）℃の周
囲温度の温度安定状態でラ
ンプ制御装置を動作させる。
ただし，安定器の外部表面の
定格最高温度tcを宣言して
いるものは，安定器の外部表
面が（tc＋5）℃となる温度安
定状態で動作させる。”旨を
追加。“各々，通常動作状態
では50 ℃又はtcを超えては
ならない。”を削除，“なお，
JIS C 4908に規定する保安
装置内蔵コンデンサ及び保
安機構付きコンデンサは，適
用外とする。また，力率改善
用又は進相用以外のコンデ
ンサで，そのコンデンサの故
障によって危険が生じるお
それのないものは，適用外と
する。”を追加。
蛍光灯安定器及び放電灯安定器では，コ
ンデンサをケースに内蔵し，巻線を含め
コンパウンドに充塡したものが広く用い
られている。この種の安定器は，特に器
具込みの温度上昇について，定格最高使
用温度twとなる周囲温度で試験を実施し
たとき，コンデンサの定格最高温度tc以
上となる場合がある。このため，安定器
外郭表面（コンデンサ）の定格最高温度
tcとなる周囲温度での試験条件を追加し
た。また，独立形の場合，ta表示もあるの
で，taでの試験条件も併せて追加した。コ
ンデンサの通常状態での試験条件は，重
複するので削除した。また，故障状態で
（tc＋10）℃以下は困難であるため，保安
装置内蔵コンデンサは除外した。
なお，我が国で普及している代替方法の
追加でWTO/TBTに関する影響はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書B
（規定）
B.9.4 JIS C 8147-2-8
に規定する定格最
高ケース温度が
130 ℃を超える動
作温度を宣言する
熱的保護機能付き
ランプ制御装置に
ついての要求事項
を規定。
B.9.4
JISとほぼ同じ。
追加
変更
B.9.4 a) “安定器は，B.9.3
に規定する条件でランプを
点灯させる。ただし，チョー
クコイル式安定器は，附属書
D”を追加し，“…動作させ
ること”を“…動作させても
よい”旨に変更。
我が国の変圧式安定器には短絡電流は適
合できないため，ランプ点灯状態とする
必要がある。我が国で普及している代替
方法の追加でWTO/TBTに関する影響は
ない。
B.9.5 JIS C 8147-2-9
に規定する温度を
宣言する熱的保護
機能付きランプ制
御装置についての
要求事項を規定。
B.9.5
追加
JISとしてのデビエーション
を追加した。
“表B.2に規定する最高温度
に達するまでの時間が，当該
表に規定するケースの最高
温度に対応する時間を超え
ない場合，ケース温度は
135 ℃を超えてもよい。”
“なお，JIS C 4908に規定す
る保安装置内蔵コンデンサ
及び保安機構付きコンデン
サは，適用外とする。また，
力率改善用又は進相用以外
のコンデンサで，このコンデ
ンサの故障によって危険が
生じるおそれのないものは，
適用外とする。”を追加。
上記に加え，B.9.3と同様の理由によるほ
か，放電灯安定器は，一般的に安定器ケ
ース内にコンパウンドが充塡されてお
り，熱容量も大きいため，オーバシュー
トの規定が必要である。我が国で普及し
ている代替方法の追加でWTO/TBTに関
する影響はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書B
（規定）
B.9.5
B.9.5
試験回路及び試験
条件が明確でない。
構成順序が異なる。
変更
B.9.5.2の試験手順は，温度条
件を（tw＋20）℃から（tw＋
5）℃に変更した。
twの表示のない安定器で，絶
縁の種類がA種のものはtw
＝105，E種のものはtw＝120，
B種のものはtw＝130を適用
する。
試験手順の熱的保護機能付きランプ制御
装置の不動作条件（tw＋20）℃については，
我が国の安定器では自動復帰タイプ熱的
保護手段内蔵の場合，（tw＋10）℃で動作
するものがあるため，（tw＋5）℃に修正し
た。また，twを表示しない我が国固有の絶
縁クラス表示（A種など）は，tw温度との
相関を規定し，試験に適用させた。また，
ダイオード＋抵抗の試験回路では困難な
場合も適用できるよう，ランプ負荷での
試験条件も認めた［（ta＋5）℃及び／又は
（tc＋5）℃双方の条件］。我が国で普及し
ている代替方法の追加でWTO/TBTに関
する影響はない。
B.9.5A 熱的保護機
能付き独立形ラン
プ制御装置につい
ての要求事項を規
定。
−
−
追加
熱的保護機能付き独立形ラ
ンプ制御装置についての要
求事項を規定。
従来，JISで規定していた“取付け面の動
作温度を宣言した熱的保護機能付き独立
形安定器”は，130 ℃を超えるものがな
いため削除し，この規定でカバーできる
として追加。我が国で普及している代替
方法の追加でWTO/TBTに関する影響は
ない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書C
（規定）
過熱保護手段付き
電子ランプ制御装
置の個別要求事項
附属書C
（規定）
JISとほぼ同じ。
追加
C.7.2に，“最高表面温度が
130 ℃以下の表示をする安
定器の表面温度と時間との
関係”の旨の規定を追加。
安全性の確保のため追加。我が国で普及
している代替方法の追加でWTO/TBTに
関する影響はない。
附属書D
（規定）
熱的保護機能付き
ランプ制御装置の
加熱試験方法
附属書D
（規定）
JISとほぼ同じ。
追加
D.0として，“大形の安定器
は，この附属書に規定する試
験容器に収まらない場合が
あるので，附属書Fに規定す
る構造又は空気の循環のな
い恒温槽を代用することが
できる”を追加。
大形の安定器での試験条件を明確化し
た。今後，差異解消に向け，表示方法の
追加をIECに提案していく。
附属書H
（規定）
H.5 試験用ランプ
の装着及び接続
H.5
JISとほぼ同じ。
変更
ランプを“水平に”を“関連
するランプ規格に規定する
方向に”に変更。
ランプによって取付け方向が異なる場合
があるため，表現を変更した。国際貿易
の不必要な障害にならない事柄であり，
WTO/TBTに関する影響はない。
H.10 試験用ランプ
H.10
JISとほぼ同じ。
追加
“JIS C 7601に規定されて
いないランプの場合，周囲温
度が25 ℃の環境において試
験用安定器でランプを点灯
させたとき，ランプ電流が製
造業者の宣言値から2.5 %を
超えて外れてはならない。”
を追加。
JISに規定されていないランプもあるた
め，ランプ電流が製造者の宣言値から逸
脱しないよう追記。国際貿易の不必要な
障害にならない事柄であり，WTO/TBTに
関する影響はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書H
（規定）
H.12.1.1 ランプ制
御装置の各部分の
温度
H.12.1.1
JISとほぼ同じ。
追加
a) “ただし，安定器の外部
表面の定格最高温度tcを
宣言しているものは，安
定器の外部表面がtcとほ
ぼ等しくなるように調
整する。”を追加。
b) 巻線温度の測定は“抵抗
法”に限定。
c) “（ただし，個別規格の
規定に基づいて，製造業
者の要求がある場合，電
源電圧は定格電圧の
100 %のままとすること
ができる。）”及び“twと
測定した巻線温度，又は
tcと測定したケース温度
との差を補正した”を追
加。
a) tc宣言の安定器の試験条件の追加。国
際貿易の不必要な障害にならない事
柄であり，WTO/TBTに関する影響は
ない。
b) 巻線の温度上昇は，抵抗法に統一し
た。我が国で普及している方法であ
り，WTO/TBTに関する影響はない。
c) 国際規格を作成するときにも（洩）れ
たと思われるため，JIS C 8118-1（現
在は廃止）の規定内容を追加した。
IEC規格の見直しの際，改修提案を行
う。
附属書JA
（規定）
追加の安全性要求
事項
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−
追加
−
我が国の技術基準（電気用品安全法，電
気設備技術基準）の安全要求事項を追加
し，安全性を確保する。我が国固有の安
全・電気設備に関連する技術の内容であ
り，WTO/TBT協定に影響ない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：（IEC 61347-1:2007，Amd.1:2010及びAmd.2:2012，MOD）
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。