C 8117：2008
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 種類······························································································································· 4
5 要求事項 ························································································································· 4
5.1 安全性要求事項 ············································································································· 4
5.2 性能要求事項 ··············································································································· 10
6 試験······························································································································ 12
6.1 試験条件 ····················································································································· 12
6.2 試験方法 ····················································································································· 14
7 検査······························································································································ 21
7.1 形式検査 ····················································································································· 21
7.2 受渡検査 ····················································································································· 22
8 製品の呼び方 ·················································································································· 22
9 表示······························································································································ 22
9.1 一般 ··························································································································· 22
9.2 特例 ··························································································································· 24
附属書A（規定）試験用安定器の特性 ····················································································· 25
附属書B（規定）試験用ランプ ······························································································ 26
附属書C（規定）実用性加速評価試験方法 ··············································································· 27
附属書D（規定）蛍光ランプの寿命末期時の安全性評価方法 ························································ 28
附属書E（参考）ランプの点灯周波数······················································································ 31
C 8117：2008
（2）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電球
工業会(JELMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきと
の申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 8117:2006は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
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日本工業規格 JIS
C 8117：2008
蛍光灯電子安定器
AC supplied electronic ballasts for fluorescent lamps
序文
この規格は，1992年に制定されたが，高周波点灯専用形蛍光ランプ用電子安定器を適用できる内容にす
るため改正した。
さらに，対応国際規格と整合した関連国内規格であるJIS C 8147-1（ランプ制御装置−第1部：一般及
び安全性要求事項），JIS C 8147-2-3（ランプ制御装置−第2-3部：交流電源用蛍光灯電子安定器の個別要
求事項）及びJIS C 8120（交流電源用蛍光灯電子安定器−性能要求事項）について，国際規格との整合を
図れる部分については引用している。
1
適用範囲
この規格は，JIS C 7601に規定する蛍光ランプ［ただし，4.2.1 c) コンパクト形蛍光ランプ（スタータ内
蔵）を除く。］及びJIS C 7605に規定する殺菌用低圧水銀放電管（以下，ランプという。）の点灯に使用す
る屋内用又は器具内用の蛍光灯電子安定器のうち，定格入力電圧が交流（50 Hz専用，60 Hz専用又は50
Hz/60 Hz共用）300 V以下及び定格二次電圧が1 000 V以下で，一般の場所で使用する蛍光灯電子安定器
（以下，安定器という。）について規定する。ただし，外郭のない構造のもので，器具と一体化されている
ものは除く。
器具と一体化のものとは，JIS C 8147-1の3.1.3（器具一体形ランプ制御装置）のことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
JIS C 1102（規格群） 直動式指示電気計器
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS C 1509-1 電気音響−サウンドレベルメータ（騒音計）−第1部：仕様
JIS C 1509-2 電気音響−サウンドレベルメータ（騒音計）−第2部：型式評価試験
JIS C 1602 熱電対
JIS C 4908 電気機器用コンデンサ
JIS C 6481 プリント配線板用銅張積層板試験方法
JIS C 7601 蛍光ランプ（一般照明用）
JIS C 7605 殺菌用低圧水銀放電管
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JIS C 7617-2 直管蛍光ランプ−第2部：性能規定
JIS C 7618-2 片口金蛍光ランプ（環形を含む）−第2部：性能規定
JIS C 8105-1 照明器具−第1部：安全性要求事項通則
JIS C 8118 蛍光灯安定器−性能要求事項
JIS C 8120 交流電源用蛍光灯電子安定器−性能要求事項
JIS C 8147-1 ランプ制御装置−第1部：一般及び安全性要求事項
JIS C 8147-2-3 ランプ制御装置−第2-3部：交流電源用蛍光灯電子安定器の個別要求事項
JIS C 61000-3-2 電磁両立性−第3-2部：限度値−高調波電流発生限度値（1相当たりの入力電流が
20 A以下の機器）
JIS Z 8113 照明用語
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 8113によるほか，次による。
3.1
蛍光灯電子（回路式）安定器 (electronic ballast)
半導体素子と変圧器，チョークコイル，コンデンサなどの全部又は一部の組合せによる始動及び点灯回
路をもち，これらが一体又は分割して構成され，かつ，ランプの始動時及び点灯中ともに半導体素子によ
る交流−交流（一般的には商用周波−高周波）変換を行ってランプを適正に点灯させる機能のある安定器。
なお，雑音防止機構，力率改善機構，保護機構などの補助装置を含んでもよい。
3.2
試験用安定器 (reference ballast)
安定器の試験及び試験用ランプの選定のために使用する，基準となるJIS C 8118の附属書C，又はこの
規格の附属書Aに規定する安定器。
3.3
試験用ランプ (reference lamp)
安定器を試験するために事前に長時間点灯し，負荷として使用する十分に枯らし，特性変化を少なくし
たランプ（JIS C 8118又は附属書Bによる。）。
3.4
屋内用安定器 (independent ballast)
構成する部品全体（口出線及び端子を除く。）が耐火性をもつ外箱（開口部がなく全面を覆っている。）
の中に収めてあり，通常の使用状態で充電部に人が触れるおそれがないようにした安定器であって，照明
器具と別置して使用できるもの。
3.5
器具内用安定器 (built-in ballast)
構成する部品全体（口出線及び端子を除く。）を耐火性をもつ外被（全面を覆っているが，内部の充電部
に触れるおそれがない開口部があってもよい。）の中に収めてある安定器で，照明器具に組み込んで使用す
るもの。
なお，照明器具そのものを外被とし，プリント配線板とその基板上の部品とで構成される点灯装置は，
器具内用安定器とみなす。
3
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3.6
高出力形安定器 (high output ballast)
ランプの光出力を試験用安定器で点灯した値より大きくした安定器。
注記 定格光出力比が120 ％以上のものをいう。
3.7
保護機能付き安定器 (ballast with mean of protection against overheating)
蛍光灯器具取付面の温度の過昇を防止するための保護機構（熱的保護機構，又は電源回路の電流ヒュー
ズ及びその他機構部品で特に配慮した過電流遮断機構。）を内蔵する安定器で，何らかの異常で安定器の内
部の温度が上昇したとき，電源回路が遮断するか，又は保護回路によって主回路の動作を変化させて，温
度の上昇を防止するもの（自動復帰形のものと非復帰形のものとがある。）。安定器に表示された最高表面
温度によって，次の2種類がある。
a) 最高表面温度が130 ℃以下のもの：表示は 又は （動作温度が宣言された熱的保護機能付き
ランプ制御装置）
b) 最高表面温度が130 ℃を超えるもの：表示は とする。
なお，最高表面温度とは，この規格で規定した条件で試験したとき，安定器の表面の最高温度をいう。
三角形の中の三つの点は，定格最高ケース温度（℃）の値で置き換え，JIS C 8147-1のC.7の条件の下
で製造業者が宣言するものであり，ランプ制御装置のケースの外面上のすべての箇所に適用する。三角形
の中の三つの点で表す温度値は，10 ℃単位とする。
注記 130 ℃以下を表示したランプ制御装置は，照明器具の 表示要求事項に従った寿命末期の
過熱に対して保護するものである（JIS C 8105-1参照）。
値が130 ℃を超える場合，照明器具に温度感知制御を用いないことを考慮し， と表示し
た照明器具は，JIS C 8105-1に従って追加の試験を行う。
3.8
定格入力電圧 (rated input voltage)
安定器とランプを含む回路の入力端子間に加える電圧の基準値で，安定器に表示した値。
3.9
定格入力周波数 (rated input frequency)
安定器とランプを含む回路の入力端子間に加える電圧の周波数の基準値で，安定器に表示した値。
3.10
定格入力電流 (rated input current)
周囲温度25 ℃において，試験用ランプを負荷として定格入力周波数の定格入力電圧で点灯し，安定し
た状態のときの入力電流の基準値で，安定器に表示した値。
3.11
定格入力電力 (rated input power)
周囲温度25 ℃において，試験用ランプを負荷として定格入力周波数の定格入力電圧で点灯し，安定し
た状態のときの入力電力の基準値で，安定器に表示した値。
3.12
定格二次電圧 (rated secondary voltage)
安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えたとき，二次側に定常的に発生する無負荷時又は適合ラ
ンプ点灯時のいずれか高い方の電圧で，安定器に表示した値。
4
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3.13
定格二次電流 (rated secondary current)
安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときのランプに流れる電流で，安定器に表示した値。
3.14
定格二次短絡電流 (rated secondary short-circuit current)
安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えたとき，定常的に流れる二次短絡電流の基準値で，安定
器に表示した値。
3.15
定格光出力比 (rated ballast lumen factor)
高出力形安定器において，周囲温度25 ℃で試験用ランプを負荷とし，安定器に定格周波数の定格入力
電圧を加え，安定した状態のときの光出力を，試験用安定器で点灯したときの光出力で除した値の百分率
(％) で，安定器に表示した値。
3.16
試験用基準電圧 (test reference voltage)
試験用安定器と試験用ランプとを組み合わせて諸特性を測定するときの入力端子間に印加する電圧。
4
種類
種類は，表1による。
なお，適合ランプによる分類において，複数の始動方式及び形状のランプが使用できるものでは，区分
記号の併記によって区分する。
表1−種類
適合ランプによる分類
使用箇所
による区
分
水に対する保
護による区分
回路力率
による区
分
保護機能の最
高表面温度に
よる区分
始動方式による区分
形状による区分
区分記号
スタータ形
直管形
FL
屋内用
ないもの
低力率
130 ℃以下の
もの
又は
130 ℃を超え
えるもの
環形
FCL
コンパクト形
（スタータ非内蔵）
CF
器具内用
防まつ形 (SP)
防浸形 (WT)
高力率
ラピッドスタート形 直管形
FLR
スリムライン形
直管形
FSL
高周波点灯専用形
直管形
FHF
コンパクト形，
多数管形
FHT
環形
FHC
二重環形
FHD
注記 “防まつ形”は，JIS C 0920の4.2（IPコードの要素とその意味）の“飛まつ”を，“防浸形”は，JIS C
0920の4.2の“一時的潜水”を示す。
5
要求事項
5.1
安全性要求事項
5.1.1〜5.1.15の要求事項を適用する。ただし，外郭をもたず，プリント配線板とその配線板上の部品で
5
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構成される点灯装置においては，5.1.1〜5.1.15の安全要求事項のうち，次を適用する。
a) 5.1.1（構造）a)，d)，f)，g)，h) 及びi)
b) 5.1.2（端子）
c) 5.1.3（保護接地）
d) 5.1.5（コンデンサ）
e) 5.1.7（電源からの絶縁）
f)
5.1.12（沿面距離及び空間距離）
ただし，照明器具との間の沿面距離及び空間距離は，適用しない。
g) 5.1.15（蛍光ランプ寿命末期時の安全性）
なお，外郭をもたず，プリント配線板とその配線板上の部品とで構成される点灯装置においては，5.1.4
（口出線），5.1.6（充電部との偶発接触からの保護），5.1.8（温度上昇），5.1.9（絶縁抵抗），5.1.10（耐電
圧），5.1.11（耐湿性及び絶縁性）及び5.1.13（防水性）については，器具に組み込まれたときにJIS C 8105-1
の要求事項を満足しなければならず，この安定器が組み込まれた照明器具を試験することによって確認さ
れる。また，この安定器においては，3.7（保護機能付き安定器）は定義されない。したがって，5.1.14（保
護機能）は適用しないため，照明器具に組み込まれたときに，JIS C 8105-1の関連する要求事項を満足し
なければならず，この安定器が組み込まれた照明器具を試験することによって確認される。
注記 なお，必要に応じ，試験方法について照明器具製造業者が安定器製造業者に相談することを推
奨する。
5.1.1
構造
構造は，JIS C 8147-2-3の17.（構造）によるほか，次による。
a) 巻線に接している繊維質絶縁物は，電気絶縁用コイル含浸ワニス又はこれに類するもので完全に処理
する。
b) 外郭内に充てん物を充てんする場合に，充てん物は耐水質で絶縁性があり，使用中にひび割れを生じ
たり，漏出するおそれがあってはならない。
c) 防まつ形及び防浸形のものは，水が外郭内に浸入するおそれがあってはならない。端子又は口出線部
分には，耐水性の絶縁カバー若しくは絶縁ブッシングを取り付けるか，又はこれと同等の防水保護を
施さなければならない。
d) ステンレス鋼以外の鋼製又は鉄製の部品（鉄心は除く。）には，さび止めを施さなければならない。
e) 口出線が箱を貫通する部分は，保護スプリング，保護ブッシング，その他の適切な保護部品を使用す
る場合を除き，口出線を損傷するおそれがないように面取り，その他の適切な保護加工を施さなけれ
ばならない。ただし，貫通部が金属以外のもので，その部分が滑らかであり，口出線を損傷するおそ
れがないものは除く。
f)
ランプの放電開始を促進するために，ランプに近接導体を設ける照明器具に使用する安定器にあって
は，ランプ回路と近接導体との間の電流の実効値が，1 mA以下でなければならない。ただし，1 kHz
以上200 kHz以下の周波数成分については，図1の電流実効値以下でなければならない。
g) 過電流遮断機構（電源電圧整流前の電源回路の電源ヒューズ，その他の機構部品で特に配慮したもの）
又は熱的保護機構のいずれかを内蔵しなければならない。また，それらの機構は安定器の内部に組み
込まれていて，工具を使わなければ交換できない構造でなければならない。
h) 安定器に使用するプリント配線板用銅張積層板の難燃性は，JIS C 6481の5.15（耐燃性）によって試
験を行ったとき，次の条件に適合しなければならない。
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1) フレーミング（炎をあげて燃焼している状態）時間は，試験片5個，各2回，計10回の平均が5
秒以下，及び最大が10秒以下であるもの。
2) 2回目着火時のグローイング（炎を出さずに赤熱している状態）時間が30秒を超えないもの。
i)
部品又は附属品の定格電圧，定格電流及び許容電流は，これらに加わる最大電圧，又はこれらに流れ
る最大電流以上でなければならない。
5.1.2
端子
端子は，次による。
a) 接地用以外の端子は，呼び径が4 mm以上（押し締めねじ形のものは，3.5 mm以上）の銅製又は銅合
金製のねじ又はボルト・ナットで，導体径が2 mmの絶縁電線を確実に取り付けることができるもの
とする。ただし，器具内用のものは，JIS C 8147-1の附属書1表1.2に示す適合電線を確実に電気的接
続ができる銅又は銅合金製で，次に示す1) 又は2) に該当する端子でもよい。また，屋内用のものは，
JIS C 8147-1の附属書1表1.2に示す適合電線を確実に電気的接続ができる銅又は銅合金製で，次に示
す2) に該当する端子でもよい。
1) はんだ付けをするのに足りる十分な大きさをもつラグ端子又ははとめ類。
2) 端子の機械的接触手段によって十分な圧力で電線導体を支持する丈夫な構造で，かつ，その安定器
に定格入力電圧を印加したとき，電線導体と端子の接触部に流れる電流と電圧降下とによって算出
する接触抵抗が30 mΩ以下となる端子，又はこれに類するもの。
b) 接地用以外の端子は，適合電線を接続し，その接続方向及び垂直方向に20 Nの引張力を徐々に加えた
とき，単独でこれに十分耐えなければならない。
5.1.3
保護接地
保護接地は，JIS C 8147-1の9.B及び9.Cによるほか，次による。
a) 接地端子又はその近くには，容易に消えない方法で，接地用である旨の表示（ ，P.E， ，E，G，
アース，接地，接地端子）がなければならない。
b) 定格入力電圧又は定格二次電圧が150 Vを超えるもの，防まつ形のもの及び防浸形のものは，外郭の
外面，その他の適切な箇所に，接地用端子又は接地用の口出線を取り付けていなければならない。た
だし，器具内用のものは除く。
5.1.4
口出線
口出線は，JIS C 8147-1の附属書1の3. によるほか，次による。
a) 器具内用で直接電源側に接続しない口出線は，単線を用いることができる。
b) 安定器外の長さは，150 mm以上とする。ただし，器具内用は除く。
c) 安定器内部で接続する部分には，口出線を動かしたとき直接力が加わらないようにしなければならな
い。ただし，器具内用のものは除く。
d) 口出方向に20 Nの引張力を徐々に加えたとき，単独でこれに十分耐えるように取り付けてあり，かつ，
切断してはならない。
5.1.5
コンデンサ
コンデンサは，次による。
a) 安定器の商用電源接続側に使用するコンデンサ（雑音防止用コンデンサは除く。）は，JIS C 4908に規
定するもの，又はこれと同等以上の性能のあるもの。
b) コンデンサをもつもので差込み刃によって電源に接続するものは，差込み刃を刃受けから引き抜いた
とき，差込み刃間の電圧が1秒後において，45 V以下となるようにする。その他のものは，一次側の
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回路が遮断したときから1分間以内に一次側及び二次側の端子電圧が，45 V以下となるようにする。
ただし，一次側から見た回路の総合静電容量が0.1 μF以下であるものは，除く。
5.1.6
充電部との偶発接触からの保護
充電部との偶発接触からの保護は，JIS C 8147-1の10.1によるほか，次による。
a) 充電部（口出線及び端子を除く。），鉄心部，巻線及び電子部品は，耐火性をもつ外郭の中に収めなけ
ればならない。器具内用で電源に接続するチョークコイルなどでは，巻線を耐火性の外被で保護して
あれば，鉄心部分は露出してもよい。
注記 ここでいう“外郭”とは，外箱，外被などのことをいう。
b) 屋内用のものの外箱，器具内用のものの外箱又は外被に用いる金属製外郭は，材料の呼び厚さが0.5
mm以上とする。
c) 屋内用のものは，通常の使用状態で充電金属部に人が触れるおそれがあってはならない。
5.1.7
電源からの絶縁
電源からの絶縁は，定格二次電圧が300 Vを超える安定器は，一次，二次間が絶縁されていなければな
らない。ただし，次のいずれかに適合するものは，この限りではない。
a) ランプを取り外したとき，二次電圧及び出力端子の対地電圧が300 Vを超えないもの。
b) 表示する接続図によってランプを取り外したときに，一次側の回路を自動的に遮断する装置を設ける
旨が示されているもの。
5.1.8
温度上昇
温度上昇は，6.2.11によって試験を行ったとき，表示の不明りょう化及び充てん物の流出がなく，温度
上昇は，表2に適合しなければならない。
なお，試験が終了してから，自然冷却によって温度が下がった後，再点灯に支障があってはならない。
表2−許容温度上昇値
単位 K
測定箇所
平常温度上昇
異常温度上昇
定格入力電圧の
100 ％時
定格入力電圧の
106 ％時
定格入力電圧の
100 ％時
巻
線
A種絶縁のもの
60以下
70以下
125以下
E種絶縁のもの
75以下
85以下
140以下
B種絶縁のもの
85以下
95以下
150以下
外郭
50以下
60以下
105以下
整流体（電源回路に使用するもの）
シリコン製のもの
90以下
−
−
5.1.9
絶縁抵抗
絶縁抵抗は，6.2.11 a) の平常温度上昇試験を行った直後に，6.2.12によって試験を行ったとき，5 MΩ以
上でなければならない。ただし，温度上昇を行わない場合の冷間絶縁抵抗の値は，30 MΩ以上とする。
注記 冷間絶縁抵抗とは，安定器の温度が周囲温度と平衡した状態の絶縁抵抗をいう。この平衡状態
とは，通常，使用後12時間以上放置した状態である。
5.1.10 耐電圧
耐電圧は，6.2.13によって試験を行ったとき，これに耐えなければならない。
5.1.11 耐湿性及び絶縁性
耐湿性及び絶縁性は，JIS C 8147-2-3の11.（耐湿性及び絶縁性）によるほか，次による。
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a) 6.2.13によって試験を行ったとき，これに耐えなければならない。
b) 表示の消失及び著しいさびの発生があってはならない。
5.1.12 沿面距離及び空間距離
異極充電部間，充電部と非充電金属部間，及び人の触れるおそれがある非充電金属部との間の最小絶縁
距離（沿面距離を含む。）は表3，コンデンサの外部端子の最小絶縁距離は表4による。ただし，線間電圧
又は対地電圧が15 V以下の充電部分の最小絶縁距離は，耐湿性の絶縁被膜をもつものは0.5 mm，その他
のものは1 mmとする。空間距離の測定は，屋内用安定器の外面では30 N，安定器の内部では2 Nの力で，
距離が最小になる方向に加えて行う。
なお，絶縁変圧器の二次側の回路，整流後の回路，その他これに類する回路の構造上やむを得ない箇所
であって，次の条件に適合する部分は除く。
a) 極性が異なる充電部を短絡した場合に，短絡回路に接続された部品が燃焼してはならない。ただし，
一つの部品が燃焼した場合において，他の部品に燃焼が波及しないものは除く。また，この試験後に
500 Vの絶縁抵抗計によって測定した充電部（対地電圧及び線間電圧が交流は30 V以下，直流は45 V
以下，又は1 kΩの抵抗を接続した場合に抵抗に流れる電流が図1の電流実効値以下のものを除く。）
と人の触れるおそれがある非充電金属部との間の絶縁抵抗は，0.1 MΩ以上とする。
b) 極性が異なる充電部相互間，又は充電部と人の触れるおそれがある非充電金属部とを接続した場合に，
非充電金属部と対地電圧及び線間電圧が，交流は30 V以下，直流は45 V以下であるか，又は充電部
と人の触れるおそれがある非充電金属部とを接続した場合に，その非充電金属部と大地との間に1 kΩ
の抵抗を接続したとき，抵抗を流れる電流は，図1の電流実効値以下とする。
直流の場合も，0.05 kHzと同様に1 mAとする。
図1−許容電流値
9
C
8
11
7
：
2
0
0
8
9
C
8
11
7
：
2
0
0
8
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−コンデンサ以外の充電部の空間距離（沿面距離を含む。）
単位 mm
線間電圧又は
対地電圧 V
電源電線の取付部
出力側電線の取付部
その他の部分
使用者が接
続する端子
部間
使用者が接
続する端子
部と接地す
るおそれが
ある非充電
金属部，又
は人が触れ
るおそれが
ある非金属
部の表面と
の間
製造業者が
接続する端
子部間
製造業者が
接続する端
子部と接地
するおそれ
がある非充
電金属部，
又は人が触
れるおそれ
がある非金
属部の表面
との間
使用者が接
続する端子
部間
使用者が接
続する端子
部と接地す
るおそれが
ある非充電
金属部，又
は人が触れ
るおそれが
ある非金属
部の表面と
の間
製造業者が
接続する端
子部間及び
使用者が接
続器によっ
て接続する
端子部間
製造業者が
接続する端
子部及び使
用者が接続
器によって
接続する端
子部と接地
するおそれ
がある非充
電金属部，
又は人が触
れるおそれ
がある非金
属部の表面
との間
極性が異なる充電部間
充電部と接地するおそ
れがある非充電金属部
又は人が触れるおそれ
がある非金属部の表面
との間
固定してい
る部分であ
って，じん
あいが侵入
し難く，か
つ，金属粉
が付着し難
い箇所
その他の箇
所
固定してい
る部分であ
って，じん
あいが侵入
し難く，か
つ，金属粉
が付着し難
い箇所
その他の箇
所
50以下
−
−
−
−
3
3
2
2
1.2
1.5
1.2
1.2
50を超え
150以下
6
6
3
2.5
6
6
3
2.5
1.5
2.5
1.5
2
150を超え
300以下
6
6
4
3
6
6
4
3
2
3
2
2.5
300を超え
600以下
−
−
−
−
10
10
6
6
4
5
4
5
600を超え
1 000以下
−
−
−
−
10
10
8
8
6
7
6
7
10
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−コンデンサの外部端子部の空間距離（沿面距離を含む。）
単位 mm
線間電圧又は対地電圧a)
極性が異なる充電部間
充電部と接地するおそれがある
非充電金属部との間
V
固定している部
分であってじん
あいが侵入し難
く，かつ，金属粉
が付着し難い箇
所
その他の箇所
固定している部
分であってじん
あいが侵入し難
く，かつ，金属粉
が付着し難い箇
所
その他の箇所
50以下
1
1.2
1
1
50を超え
150以下
1.5
2
1.5
1.5
150を超え
300以下
2
2.5
2
2
300を超え
600以下
3
4
3
4
600を超え 1 000以下
4
5
4
5
注a) 定常的に発生する実効値電圧をいう。
5.1.13 防水性
防水性は，防まつ形安定器及び防浸形安定器について6.2.14によって試験を行った直後に，6.2.12によ
って試験を行ったとき，絶縁抵抗が2 MΩ以上で，かつ，6.2.13に示す電圧に耐えなければならない。
5.1.14 保護機能
保護機能付き安定器の保護機能は，JIS C 8147-1の附属書Cによる。ただし， 表示のものは，次に
よる。
a) 不動作特性 不動作特性は，6.2.15 a) によって試験を行ったとき，保護機構が動作してはならない。
また，試験前後の一般電気特性（入力電流，入力電力，ランプ電流など）の変化があってはならない。
ただし，自動復帰形の保護機構を内蔵するものは，6.2.15 a) 2) の試験を行ったときは，保護機構が動
作してもよい。
b) 最高表面温度が130 ℃以下の安定器の動作特性 動作特性は，6.2.15 b) 1) によって試験を行ったと
き，安定器の表面温度が135 ℃以下となるか，表面温度と時間との関係が，表5を満足しなければな
らない。
なお，自動復帰形の保護機構が動作する場合は，保護機構解除時の安定器の表面温度は，110 ℃以
下とする。
表5−最高表面温度に対する許容時間
最高表面温度
℃
許容時間
分
最高表面温度
℃
許容時間
分
175を超え180以下
15以下
150を超え155以下
50以下
170を超え175以下
20以下
145を超え150以下
60以下
165を超え170以下
25以下
140を超え145以下
90以下
160を超え165以下
30以下
135を超え140以下
120以下
155を超え160以下
40以下
−
−
許容時間は，安定器表面温度が135 ℃を超過してから，最高表面温度に達するま
での時間。
5.1.15 蛍光ランプ寿命末期時の安全性
蛍光ランプ寿命末期時の安全性は，附属書Dによる。
5.2
性能要求事項
11
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.2.1
二次電圧
二次電圧は，無負荷時の二次電圧を定格二次電圧とするものでは，6.2.2によって試験を行ったとき，定
格二次電圧の値の90〜110 ％の範囲内になければならない。
5.2.2
始動条件
始動条件は，JIS C 8120の箇条7（始動条件）に適合しなければならない。
注記 JIS C 8120の箇条7による試験は，形式試験である。JIS C 8120の箇条7で規定する公差は，
形式試験用として製造業者が提出した試料を試験するためのものである。通常，この試験用試
料は，製造業者の代表的製造品の特性をもつ製品で，できる限り製造品の特性中心値に近いも
のでなければならない。
形式試験試料に準拠して製造した製品は，大部分が定められた公差をもってこの試験を満足
すると期待してよい。しかし，生産のばらつきによって，ときには規定の公差からはずれる安
定器が生じることは避けられない。
5.2.3
二次短絡電流
二次短絡電流は，JIS C 8147-1の附属書1の2.1に適合しなければならない。試験方法は，6.2.3による。
5.2.4
ランプ電流及び光出力
ランプ電流及び光出力は，6.2.4によって試験を行ったとき，次による。
a) ランプ電流は，定格二次電流値の115 ％以下とする。
b) 光出力は，試験用安定器点灯時に対し90 ％以上でなければならない。
高出力形安定器及び光出力が試験用安定器点灯時に対して90 ％未満の場合には，安定器に表示又は製
造業者によって宣言された定格光出力比の0.9倍以上とする。
5.2.5
光出力変動率
光出力変動率は，6.2.5によって試験を行ったとき，表6に適合しなければならない。
表6−光出力変動率特性
安定器の種類
試験用安定器点灯時に対する光出力比
定格入力電圧の90 ％時
定格入力電圧の110 ％時
適合ランプの定格ランプ電
力が10 W以下のもの
85 ％以上
130 ％以下
適合ランプの定格ランプ電
力が10 Wを超えるもの
115 ％以下
スリムライン形ランプを使
用するもの
高出力形安定器
高出力形安定器の光出力の基準は，試験用安定器の試験用基準電圧の90 ％及び110 ％で
点灯したときの光出力に（定格光出力比／100）を乗じた値とする。
5.2.6
ランプ電流波形
ランプ電流波形は，6.2.6によって試験を行ったとき，次の各項に適合しなければならない。
a) 入力電圧（50 Hz又は60 Hz）の連続した正負の半サイクルに対応するランプ電流（高周波）の包絡波
形（図2）は，ほぼ同じとする。
b) 波高率（最大値／実効値）は，2.1以下とする。
12
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図2−入力電圧の正負半サイクルに対応するランプ電流の包絡波形
5.2.7
入力電流及び入力電力
入力電流及び入力電力は，6.2.7によって試験を行ったとき，表示された値の90〜110 ％の範囲内でなけ
ればならない。ただし，適合ランプの定格ランプ電力が10 W以下の安定器では，80〜120 ％の範囲内で
なければならない。
5.2.8
回路力率
回路力率は，JIS C 8120の箇条9（回路力率）による。試験は，6.2.8による。
5.2.9
磁気遮へい
磁気遮へいは，磁気影響による電流値の変動率は，磁気の影響に対して，適切に保護されるものとし，
6.2.9によって試験を行ったとき，電流値の変動率は，2 ％以下でなければならない。
5.2.10 騒音
騒音は，6.2.10によって試験を行ったとき，実用上差し支えがない程度でなければならない。
5.2.11 電源衝撃波特性
入力端子間及び入力端子の一端と外郭間の耐電源衝撃波特性は，6.2.16によって試験を行った後，これ
に耐え，試験後，安定器は正常に動作しなければならない。
5.2.12 実用性加速評価
実用性加速評価は，附属書Cによって試験を行い，試験終了後，室温まで冷却した後，はんだ部のき裂
がなく，適合ランプを始動させることができ，かつ，15分間正常に動作しなければならない。
5.2.13 電源入力電流高調波
電源入力電流高調波は，JIS C 61000-3-2に適合しなければならない。
6
試験
6.1
試験条件
6.1.1
周囲温度
試験は，ほぼ無風状態の室内において，特に規定する以外は，20〜27 ℃の範囲内の周囲温度で行う。試
験用ランプを負荷として使用する試験については，特に規定する以外は，ランプの周囲温度を25±1 ℃と
する。
6.1.2
試験用電源
13
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
安定器に印加する商用周波数の試験用電源は，次の各項に適合しなければならない。
a) 電源電圧及び周波数は，できるだけ急激な変化を生じないもので，その変動範囲は，±0.5 ％とする。
b) 電源電圧の高調波含有率は，基本波に対して3 ％以下とする。
c) 安定器側から見た電源インピーダンスは，安定器のインピーダンスより十分に低い値とする。
6.1.3
定格入力周波数又は定格入力電圧が複数ある場合の試験
定格入力周波数又は定格入力電圧が複数ある安定器では，安定器に規定されたすべての定格入力周波数
及び定格入力電圧で試験を行う。ただし，定格入力電圧が範囲で示された安定器では，示された範囲の最
高の電圧と最低の電圧とで行う。
なお，保護機能試験及び実用性加速評価試験は，構成する部品の温度上昇に有意な差のないものは，複
数の定格入力周波数のうちいずれか一つの定格，及び複数の定格入力電圧のうちいずれか一つの定格で，
有意な差のあるものは上記定格のうちの最も厳しい定格だけで，試験してもよい。
6.1.4
試験用ランプ及び試験用安定器の使用方法
適合ランプがスタータ形ランプ及びラピッド形ランプの場合は，JIS C 8118の附属書C及び附属書Dに
よるほか，次による。
適合ランプが高周波専用形ランプの場合は，JIS C 8120の附属書B，並びにこの規格の附属書A及び附
属書Bによるほか，次による。
a) JIS C 8118の表D.1の試験用ランプの場合は，使用中，通常水平点灯とし，JIS C 8118の表D.2の試
験用ランプの場合は，口金を上方にした鉛直点灯とし，試験中ソケットから外さないものとする。た
だし，JIS C 8118の表D.2の試験用ランプで，ランプ長が300 mm以上のもので，測定に疑義を生じ
るおそれのない場合は，水平点灯としてもよい。
附属書Bの試験用ランプの場合は，特に指定のない限り，水平点灯とする。
b) 試験用ランプは，使用前に特性を点検するとともに，定格値との誤差を測定し，試験用ランプとして
選定したときと同じ条件で接続する。
c) 試験用ランプの温度の平衡及び安定な点灯を持続するため，測定に先立ち，あらかじめ，JIS C 8118
の表D.1及びこの規格の附属書Bの試験用ランプの場合は，10〜30分間準備点灯を行い，また，JIS C
8118の表D.2の試験用ランプの場合は，45〜60分間準備点灯を行う。ただし，安定器を切り替えたと
き，又は試験用ランプを消灯した場合は，消灯時間の長さに応じて準備点灯時間を適切な時間に短縮
してもよい。
d) 適合ランプの種別が複数ある安定器の試験は，すべての試験用ランプによって行う。ただし，ランプ
間において安定器の性能上，相関関係が明らかな場合には，最も試験条件の厳しいランプを代表とし
て選定し，試験を行うことができる。
e) 試験用安定器は，使用前にその特性を点検し，規定どおりであることを確認する。その使用中は，安
定器の各面から25 mm以内に強磁性体を近付けてはならない。
6.1.5
計器の特性
試験のために用いる計器は，波形ひずみによる誤差がほとんど生じないもので，その特性は，次のとお
りとする。ただし，次の項目については，適合ランプ電力が10 W以下のものは，適用しなくてもよい。
a) 計器は，真の実効値指示形で，特に指定がない限り，商用周波数で使う計器の階級は，JIS C 1102（規
格群）に規定する0.5級とし，高周波で使う計器の階級は，1級又はこれと同等以上とする。
b) ランプに並列に接続される計器の電圧回路コイルのインピーダンスは，その分流電流がランプ電流の
3 ％以下となるような十分に高い値とする。
14
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) ランプに接続される計器の電流回路コイルのインピーダンスは，その電圧降下が，ランプ電圧の2 ％
以下となるような十分低いものとする。
d) 計器の大地に対する静電容量成分が，供試安定器の動作を妨げないようにする。
6.2
試験方法
6.2.1
構造及び表示試験
構造，端子，保護接地，口出線，コンデンサ，充電部との偶発接触からの保護，電源からの絶縁，沿面
距離及び空間距離，並びに表示試験は，目視又は適切な測定器具によって行う。
6.2.2
二次電圧試験
二次電圧試験は，JIS C 8147-1の附属書1の4.1による。
6.2.3
二次短絡電流試験
二次短絡電流試験は，JIS C 8147-1の附属書1の4.2による。
6.2.4
ランプ電流及び光出力試験
ランプ電流及び光出力試験は，供試及び試験用安定器を例えば，図3のように接続し，ランプ電流は，
供試安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えて測定し，供試安定器に表示された定格二次電流値に
対する比を求める。光出力は，供試安定器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときと，試験用安定
器に定格入力周波数の試験用基準電圧を加えたときの比を求める。ただし，試験用ランプの定格値からの
誤差の百分率（％）を比に加えて補正してもよい。
供試安定器の測定値の変化が無視し得る程度のものであるか，その補正が可能なものは，図4のa) 又
はb) のように接続して試験してもよい。試験のときは，次の事項に留意する。
a) 光出力の測定は，ランプ中央部から一定の距離に固定した照度計などによって測定する。この場合，
受光部をランプ以外の光から遮へいする。
b) 安定器からランプ電流測定のための中間導線を設けてあるものは，その両端に電流計を接続して測定
する。
c) ラピッドスタート形ランプを試験用安定器によって点灯する場合は，陰極予熱変圧器を用いるが，こ
の二次電圧は，主回路の電圧を増加させないように接続し，その定格二次電圧は3.6 Vとする。
d) 高周波専用ランプを試験用安定器で始動させる場合の陰極予熱電圧は，6 Vとし始動後は陰極予熱は
行わない［図3 c) のスイッチSW2を開く。］。
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C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) スタータ形ランプを使用するもの
b) ラピッドスタート形ランプを使用するもの
図3−ランプ電流及び光出力測定回路
16
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 高周波専用形ランプを使用するもの
図3−ランプ電流及び光出力測定回路（続き）
6.2.5
光出力変動率試験
光出力変動率試験は，6.2.4の光出力試験における安定器接続と同一回路を用い，同試験用ランプを負荷
とし，供試安定器と試験用安定器とに定格周波数で，定格入力電圧及び試験用基準電圧の90 ％及び110 ％
の電圧を切り換えて加えたとき，それぞれの印加電圧における供試安定器による光出力の試験用安定器に
よる光出力に対する比を求める。
6.2.6
ランプ電流波形試験
ランプ電流波形試験は，適合ランプを負荷とし，供試安定器に定格周波数の定格入力電圧を加え，ラン
プの動作が正常になったときのランプ電流の波形を陰極線オシロスコープなどで調べる。
測定回路の一例を，図4に示す。
17
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 検出抵抗による方法（片側の陰極予熱を遮断したとき，安定器の動作が影響を受けない場合）
b) 検出抵抗による方法（片側の陰極予熱を遮断したとき，安定器の動作が影響を受ける場合）
図4−ランプ電流波形測定回路
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C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 電流プローブによる方法
図4 b) のように擬似陰極負荷抵抗，又はランプの陰極を付加して測定してもよい。
ランプ電流を測定するときには，正規の接続状態に比べ，光出力の変化が3 ％以下に
なるように図4 a) 又は図4 b) のいずれかを用いて測定を行う。
注a) Rによる電圧降下は，ランプ電圧の2 ％以下とする。
b) ランプ電流波形を測定する場合，陰極線オシロスコープ (CRO) の電源入力を絶縁
変圧器で電気的に絶縁するなど，供試安定器の回路動作が変化しないように，適切
な処置をしたうえで測定する。
図4−ランプ電流波形測定回路（続き）
6.2.7
入力電流及び入力電力試験
入力電流及び入力電力試験は，供試安定器を図5のように接続し，試験用ランプを負荷とし，供試安定
器に定格入力周波数の定格入力電圧を加えて，入力電流及び入力電力を測定する。
図5−入力電流及び入力電力測定回路
6.2.8
回路力率試験
回路力率試験は，6.2.7の測定値を用い，次の式によって求める。
A
V
W
×
=
λ
ここに， λ： 力率
V： 定格入力電圧 (V)
W： 定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときの，入力電力 (W)
A： 定格入力周波数の定格入力電圧を加えたときの，入力電流 (A)
6.2.9
磁気影響による電流値の変動率試験
磁気影響による電流値の変動率試験は，試験用ランプを負荷とし，定格入力周波数の定格入力電圧を加
19
C 8117：2008
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えて点灯し，周囲に磁気の影響がない場合のランプ電流と，厚さ1 mm以上で長さ及び幅が供試安定器の
それよりも大きい鋼板を供試安定器取付面に密着させたときのランプ電流を測定し，電流値の変動率を，
次の式によって求める。
100
1
1
2
×
−
=
A
A
A
x
ここに，
x： 電流値の変動率 (％)
A1： 鋼板取付前のランプ電流 (A)
A2： 鋼板取付後のランプ電流 (A)
6.2.10 騒音試験
騒音試験は，適合ランプを負荷とし，安定器の入力端子間に定格入力周波数の定格入力電圧を加え，JIS
C 1509-1及びJIS C 1509-2に規定する騒音計，又はこれらと同等以上の騒音計を用い，周波数重み付け特
性Aで測定する。
6.2.11 温度上昇試験
温度上昇試験は，次による。
a) 平常温度上昇試験 平常温度上昇試験は，安定器及び試験用ランプの周囲温度を，30±2 ℃に保ち，
試験用ランプを負荷とし，安定器の入力端子間に定格入力周波数の定格入力電圧及び定格入力電圧の
106 ％の電圧を加え，各部の温度がほぼ一定になった後，5.1.8によって測定箇所の温度上昇を測定す
る。
b) 異常温度上昇試験 異常温度上昇試験は，安定器を次に示す五つの異常状態のうちで最も温度が高く
なる状態とし，a) に準じて試験したときの温度上昇を測定し，外観を調べる。ただし，安定器の入力
端子間に加える電圧は，定格入力電圧とする。
なお，自動復帰形保護機構を内蔵した安定器では，安定器の最高表面温度が，表2に規定する値以
下であれば，保護機構が動作してもよい。
1) 外部に始動用スイッチがある場合は，このスイッチを（2個以上あるときは，いずれか1個）短絡
した状態。
2) 一本又は複数のランプが回路に接続されていない。
3) 陰極は断線しないでランプが点灯しない。
4) 片方の陰極が断線し，ランプが点灯しない。
5) ランプは点灯しているが，片側の陰極が，不活性化又は断線している（整流効果）。
c) 適合ランプが複数ある場合は，最もランプ電力の大きい種別の試験用ランプを使用する。
d) 巻線の温度は，抵抗法によって測定し，次の式によって温度上昇値を算出する。ただし，抵抗値が低
い巻線であって，抵抗法による測定が困難な場合は，熱電対によって測定してもよい。
(
)
2
1
1
1
1
2
5.
234
R
R
R
t
t
t
T
−
+
+
−
=
ここに，
T： 温度上昇値 (K)
t1： 最初の一定周囲温度 (℃)
t2： 最終周囲温度 (℃)
R1： t1 ℃における巻線の抵抗値 (Ω)
R2： 温度が一定になったときの巻線の抵抗値 (Ω)
e) 外郭及び整流体表面の温度は，JIS C 1602に規定する熱電対を使用し，測温接点を測定面に確実に接
触させ，かつ，外気に影響されないよう，その部分を少量のパテなどで覆って測定する。
20
C 8117：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.2.12 絶縁抵抗試験
絶縁抵抗試験は，充電部を一括したものと非充電金属部との間を，安定器の一次，二次間が絶縁変圧器
で絶縁されているものは，更に，一次，二次間の絶縁抵抗を，JIS C 1302に規定する絶縁抵抗計500 V 50 MΩ
又はこれと同等以上の方法で測定する。
なお，受渡試験では，JIS C 8120の7.4（始動性）による始動性試験の後，冷間で行う。
6.2.13 耐電圧試験
耐電圧試験は，絶縁抵抗試験の直後で行うものとし，一次，二次間が絶縁されているか否かの別によっ
て，表7に示す箇所に，JIS C 8147-1の表1に示す50 Hz又は60 Hzの電圧を1分間加えて試験する。
なお，受渡試験は，表7の120 ％の電圧を1秒間加えてもよい。
表7−耐電圧試験箇所と基準となる電圧
安定器の種類
試験電圧を印加する箇所
試験電圧を決めるのに基準と
なる電圧 (E)
一次，二次間が
絶縁されていな
いもの
一括された充電部と非充電金
属部
定格入力電圧又は定格二次電
圧のいずれか高い方
安定器の一次，
二次間が内部に
おいて絶縁変圧
器で絶縁された
もの
一括された一次側充電部と非
充電金属部
定格入力電圧
一括された二次側充電部と非
充電金属部
定格二次電圧
一次・二次相互間
定格入力電圧又は定格二次電
圧のいずれか高い方
6.2.14 防水性試験
防水性試験は，防まつ形安定器は，JIS C 0920の14.2.4（オシレーティングチューブ又は散水ノズルに
よる第二特性数字4に対する試験）によって散水試験を行い，防浸形安定器は，JIS C 0920の14.2.7（深
さ0.15〜1 mの一時的潜水状態での第二特性数字7に対する試験）によって浸水試験を行った後，表面の
水滴を吸収紙などで除き，それぞれ6.2.12及び6.2.13によって絶縁抵抗及び耐電圧を試験する。
6.2.15 保護機能試験
を表示する安定器の保護機能試験は，JIS C 8147-1の附属書Cによる。また， を表示する安定
器の保護機能試験は，特に指定する場合を除き，周囲温度40±3 ℃の状態で，次のとおり行う。
a) 不動作特性試験
1) 適合ランプを負荷とし，安定器の入力端子間に定格入力周波数の定格入力電圧を加えてランプを接
続し，各部の温度が一定になるまで，この状態を継続する。
2) 安定器を，6.2.11 b) の五つの異常状態のうち，最も温度が高くなるような状態とし，安定器の入力
端子間に，定格入力周波数で定格入力電圧の106 ％の電圧を加えてランプを点灯し，各部の温度が
一定になるまで，この状態を継続する。
b) 動作特性試験
1) 適合ランプを負荷とし，安定器の入力端子間に定格入力周波数の定格入力電圧を加えて，正常状態
で4時間点灯した後，次に示すうちの最も厳しい故障状態を作り，この状態を継続し，安定器の表
面温度及び表5に示す許容時間を測定する。自動復帰形の保護機構が動作する場合は，3サイクル
繰り返し動作させる。
1.1) 最小絶縁距離（沿面距離を含む。）が，5.1.12 a) 及びb) の試験を必要とする部分は，その間を短
絡する。
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1.2) コンデンサ，半導体素子及び抵抗器を短絡又は開放する。ただし，加わる電圧がピーク電圧で2 500
V未満の抵抗器は，開放だけとする。
1.3) 変圧器は入力端又は出力端を短絡又は開放し，チョークコイルはその両端を短絡又は開放する。
6.2.16 耐電源衝撃波特性試験
耐電源衝撃波特性試験は，安定器に定格入力電圧を加えてランプを点灯した状態で，表8に示す衝撃波
電圧を安定器の入力端子間及び入力端子の一端と外郭間に，電圧極性の正負をそれぞれ3回繰り返して加
える。
なお，衝撃波電圧の波形の各部の名称は，図6による。
表8−衝撃波電圧の特性
入力端子間
入力端子の一端と外郭間
無負荷電圧ピーク値
1 000 V ± 3 ％
2 500 V ± 3 ％
短絡電流ピーク値
200 A ± 5 ％
56 A ± 5 ％
波頭長
1.2 μs ± 30 ％
1.2 μs ± 30 ％
波尾長
50 μs ± 20 ％
50 μs ± 20 ％
図6−衝撃波電圧波形（無負荷）
7
検査
7.1
形式検査
形式検査は，同一試験品につき，次の試験項目について行う。また，s)〜u) については必要に応じて，
それぞれ別の供試安定器によって行う。
a) 構造及び表示
b) 温度上昇
c) 絶縁抵抗
d) 耐電圧
e) 耐湿性及び絶縁性
f)
防水性
g) 保護機能
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h) 蛍光ランプ寿命末期時の安全性
i)
二次電圧
j)
始動条件
k) 二次短絡電流
l)
ランプ電流及び光出力
m) 光出力変動率
n) ランプ電流波形
o) 入力電流及び入力電力
p) 回路力率
q) 磁気遮へい
r) 騒音
s)
電源衝撃波特性
t)
実用性加速評価
u) 電源入力電流高調波
実用性加速評価試験は，設計内容が同じで実装的にも十分に同等の配慮がなされており，C.2 a)，b)及び
c) の性能レベルが同じとみなせる場合は，同じ設計内容の他の安定器の結果の確認だけで，特にこの試験
を行うことなく規格に適合したものとみなす。
7.2
受渡検査
7.2.1
検査項目
受渡検査は同一試験品につき，次の項目について行う。ただし，検査項目の内容については，受渡当事
者間の協定によって，その全部又は一部を省略することができる。
a) 構造及び表示
b) 始動性［試験方法は，JIS C 8120の7.4（始動性）による。］
c) 絶縁抵抗
d) 耐電圧
7.2.2
抜取検査
抜取検査を必要とする場合，検査項目及び方法については，受渡当事者間の協定による。
8
製品の呼び方
製品の呼び方は，名称，適合ランプの種別及び本数，定格入力電圧，定格周波数，並びに使用箇所によ
る。ただし，名称は，“電子安定器”と省略してもよい。
例 蛍光灯電子安定器（又は電子安定器）FLR40S 2灯用100 V 50 Hz/60 Hz共用屋内用
9
表示
9.1
一般
安定器には，見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の項目を表示する。
なお，外郭をもたず，プリント配線板とその配線板上の部品とで構成される点灯装置には，表示する必
要はない。
a) 名称［蛍光灯電子安定器（又は電子安定器）と記す。高出力形のものには，“高出力形”の文字を入れ
る。］
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b) 適合ランプの種別（又は区分）及び本数（適合ランプの種別は，試験用ランプとしたランプの種別を
代表として表示するとともに，適合ランプの始動方式による区分と形状とによる区分を表示する。）
例1 ラピッドスタート形の直管40 W形だけ使用できる場合
FLR40S（FLR用）1灯用
例2 ラピッドスタート形及びスタータ形の直管40 W形が使用できる場合
FLR40S（FLR，FL用）1灯用
例3 スタータ形の直管及び環形の40 W形が使用できる場合
FL40S（FL，FCL用）1灯用
例4 スタータ形の環形の32 W形及び環形の40 W形が使用できる場合
FCL32（FCL用）＋FCL40（FCL用）
例5 高周波点灯専用形の直管32 W形を使用した高出力形安定器の場合
FHF32（消費電力45 W）×1
c) 定格入力電圧 (V)
d) 定格入力周波数 (Hz)
e) 定格入力電流 (A)
f)
定格入力電力 (W)
g) 回路力率による区分（高力率形安定器に限る。）
h) 定格二次電圧 (V)（無負荷時であるか，負荷時であるかを明記する。）
例1 定格二次電圧（無負荷時）450 V
例2 定格二次電圧（負荷時） 180 V
i)
定格二次電流 (A)
j)
定格二次短絡電流 (A)（二次短絡電流が，定格二次電流を超えるものに限る。）
k) 接続図（ランプの始動用コンデンサを別に接続するものは，その静電容量，定格電圧及び接続方法を
含む。）及び口出線の色別
l)
定格光出力比 (％) （高出力形のものに限る。）
例 定格光出力比 120 ％
m) 器具内用，屋内用の別（取付けの向きを指定するものは，その旨。）
n) 水に対する保護による区分 防水形のものに限る［防まつ形のものは，防まつ形又は防水 (SP)，防浸
形のものは，防浸形又は防水 (WT) と記す。］。
o) 絶縁の種類
p) 製造業者名又はその略号
q) 製造年又はその略号
r) 保護機能をもつものは，表1に示すその記号
s)
高周波専用形のものは，高周波専用形を示す図7のHfマークを表示してもよい。
図7−Hfマーク
t)
tcの値 これがランプ制御装置の特定の位置に関係する場合には，この位置を明示する。ただし，定
格最高使用温度を宣言するものに限る。
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9.2
特例
9.1のe)，f) 及びi) については，次による。
a) 適合ランプが複数ある場合は，最もランプ電力の大きい種別のランプを試験用ランプとして用いたと
きの値を表示する。
b) ただし，次の1)〜3) のものは，直管形ランプで最もランプ電力の大きい種別のランプ（ただし，試験
用安定器の区分が32aのものは，FCL32）を試験用ランプとして用いたときの値を表示する。
1) 適合ランプの種別が複数ある場合で，附属書Aに規定した同じ試験用安定器の区分に属するすべて
の直管形ランプ・環形ランプ・コンパクト形ランプを対象とするもの。
2) 直管形ランプ・環形ランプだけを対象とするもの。
3) 直管形ランプ・コンパクト形ランプだけを対象とするもの。
c) 直管形ランプだけ，環形ランプだけ及びコンパクト形ランプだけを対象としたものは，対象とするラ
ンプの中で最もランプ電力の大きい種別のランプを試験用ランプとして用いたときの値を表示する。
なお，ランプ電力の小さい種別のランプを試験用ランプとして用いたときの，そのランプの種別と
値を併記してもよい。
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附属書A
（規定）
試験用安定器の特性
序文
この附属書は，高周波点灯専用形蛍光灯用試験用安定器の特性について規定する。
A.1 試験用安定器の特性
試験用安定器の構造，性能，試験方法，表示などは，JIS C 8120の附属書Bの規定に適合しなければな
らない。高周波点灯専用形蛍光灯電子安定器の対象となるものの基本特性は，表A.1に示すとおりとする。
表A.1−試験用安定器の特性
ランプの種類
定格ランプ電力
W
試験用基準電圧
V
基準電流
A
インピーダンス
Ω
回路力率
FHF16
16（定格）
128
0.255
250±2
0.99以上
23（高出力）
0.425
173±2
FHF32
32（定格）
256
0.255
500±5
0.99以上
45（高出力）
0.425
350±2
FHF50
50（定格）
284
0.355
400±3
0.99以上
65（高出力）
0.550
300±3
FHT16
16
160
0.210
380±3
0.99以上
FHT24
24
160
0.300
265±2
0.99以上
FHT32
32
200
0.320
315±3
0.99以上
FHT42
42
270
0.320
420±4
0.99以上
FHF24S
24
150
0.300
250±2
0.99以上
FHF54S
54
235
0.460
255±2
0.99以上
FHC20
20（定格）
186
0.215
430±3
0.99以上
28（高出力）
0.380
300±2
FHC27
27（定格）
250
0.215
580±3
0.99以上
38（高出力）
0.380
400±2
FHC34
34（定格）
316
0.215
730±3
0.99以上
48（高出力）
0.380
510±3
FHC41
41（定格）
389
0.215
880±4
0.99以上
58（高出力）
0.350
640±3
FHD40
41
192
0.430
224±2
0.99以上
FHD70
68
320
0.430
372±2
0.99以上
FHD100
97
458
0.430
530±2
0.99以上
26
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附属書B
（規定）
試験用ランプ
序文
この附属書は，高周波点灯専用形蛍光灯の試験用ランプについて規定する。
B.1
試験用ランプの電気特性
試験用ランプは，JIS C 8120の附属書Bに従って，6.1.5に規定した計器を用い，附属書Aに規定した
試験用基準電圧を加えて点灯し，十分安定した状態で，25±1 ℃において測定したとき，表B.1に適合し
なければならない。ランプ電力については，表B.1に示す値の±2.5 ％以内でなければならない。
表B.1−“高周波点灯専用形蛍光ランプ”電気特性
試験用ランプの種別
ランプ電力
W
ランプ電圧
V
ランプ電流
A
FHF16（定格）
16.2
64±6
0.255（参考）
FHF16（高出力）
23.0
54±6
0.425（参考）
FHF32（定格）
32.4
128±10
0.255（参考）
FHF32（高出力）
45.3
107±10
0.425（参考）
FHF50（定格）
50.4
142±10
0.355（参考）
FHF50（高出力）
65.4
119±10
0.550（参考）
FHT16
16.5
80（参考）
0.210±0.020
FHT24
24.0
80（参考）
0.300±0.030
FHT32
32.0
100（参考）
0.320±0.030
FHT42
43.0
135（参考）
0.320±0.030
FHF24S
22.5
77±8
0.295（参考）
FHF54S
54.1
120±10
0.455（参考）
FHC20（定格）
19.7
93（参考）
0.215±0.03
FHC20（高出力）
27.2
74（参考）
0.380±0.03
FHC27（定格）
26.5
125（参考）
0.215±0.03
FHC27（高出力）
37.9
100（参考）
0.380±0.03
FHC34（定格）
33.8
157（参考）
0.215±0.03
FHC34（高出力）
47.5
125（参考）
0.380±0.03
FHC41（定格）
41.0
191（参考）
0.215±0.03
FHC41（高出力）
55.5
159（参考）
0.350±0.03
FHD40
41
96（参考）
0.430±0.03
FHD70
68
160（参考）
0.430±0.03
FHD100
97
229（参考）
0.430±0.03
表B.1で規定していないランプは，JIS C 7617-2及びJIS C 7618-2のデータシートによる。
27
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附属書C
（規定）
実用性加速評価試験方法
序文
この附属書は，実用性加速評価試験方法について規定する。
C.1 試験の目的
蛍光灯電子安定器は，半導体，コンデンサ，巻線などで構成され，個々の部品は，それらの定格範囲で
使用している。しかし，安定器全体としての実用性を評価するために，次に示す試験を行う。
C.2 試験方法
実用性加速評価試験は，次のとおりに行う。
a) 安定器を5 ℃の周囲温度に1時間放置し，次に100 ℃の周囲温度に1時間放置する。このサイクルを
5回繰り返す。ただし，温度の上昇，下降は，JIS C 0025の2.（試験Na：温度急変）に基づき，6分
間以内に設定温度になるようにして行う。
b) 安定器に定格入力電圧を10秒ON，10秒OFFのサイクルで印加する。このサイクルを適合ランプを
接続した場合及び無負荷で各1 000回繰り返す。周囲温度は，25±5 ℃とする。
c) 安定器に適合ランプを接続し，定格入力電圧，周囲温度80 ℃の下で360時間安定器を動作させる。
ランプの周囲温度は，25±5 ℃とする。保護機構があるものは，それが動作しないようにして試験を
行う。
なお，a)〜c) の試験は，それぞれ最低3台以上の安定器で，各々独立して実施するものとする。
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附属書D
（規定）
蛍光ランプの寿命末期時の安全性評価方法
序文
この附属書は，蛍光ランプ寿命末期時の安全性評価方法について規定する。
D.1 適用範囲
この附属書は，表D.1に規定する一般照明用蛍光ランプを点灯するAC入力の蛍光灯電子安定器に適用
する。
D.2 合否判定
蛍光灯電子安定器は，蛍光ランプ寿命末期におけるランプ口金の過熱を防止するための適切な保護をも
たなければならない。
蛍光灯電子安定器は，D.3.1及びD.3.2に規定する試験を実施したとき，表D.1に規定する非対称電力値
を超えてはならない。
D.3 試験方法
D.3.1 試験条件
電源電圧 ：定格入力電圧の90〜110 ％の電源範囲を保証できる試験電圧で実施する。
供試ランプ：100時間エージングした新品蛍光ランプ。
周囲温度 ：10 ℃〜30 ℃の範囲で実施する。
D.3.2 試験方法
回路図は，図D.1を参照。試験手順は，次による。
a) スイッチS1を位置Aにセットする。
b) 抵抗R1の値を0 Ωにセットする。
c) 供試蛍光灯電子安定器に電源を入れ，蛍光ランプを始動し，5分間蛍光ランプをウォーミングアップ
させる。
d) R1にて消費される電力が，表D.1に規定する検知電力に等しくなるまで，素早く（15秒間以内）R1
の抵抗を増加させる。蛍光灯電子安定器が検知電力に到達する前にスイッチオフする場合，e) を継続
する。蛍光灯電子安定器がスイッチオフせず，検知電力より小さな値にR1の電力を制限するときは，
R1を最大電力を生じる値にセットする。
e) d) で検知電力値に到達したら，更に15秒間待つ。d) で検知電力値に到達しない場合，更に30秒間
待ちR1の電力を測定する。抵抗R1の電力消費は，Pmax（保護電力）以下でなければならない。抵抗
R1の電力消費がPmaxより大きいときは，その蛍光灯電子安定器は，不合格であり試験を中止する。
f)
蛍光灯電子安定器の電源を切り，スイッチS1を位置Bにセットする。
g) 試験手順c)〜e) を繰り返す。
h) 複数灯用蛍光灯電子安定器に対しては，それぞれのランプ位置ごとに試験手順a)〜g) を繰り返す。複
数灯用蛍光灯電子安定器は，それぞれのランプ位置での試験に合格しなければならない。
29
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i)
複数の蛍光ランプタイプを動作させる蛍光灯電子安定器に対しては，その蛍光ランプタイプ各々につ
いて試験する。それぞれの蛍光ランプタイプに対し，試験手順のa)〜h) を繰り返す。
R1は，無誘導形を使用する。
R2，R3の抵抗値は，JISのデータシートに規定する各陰極抵抗の1/2とする。データシートに記
載がない蛍光ランプについては，冷抵抗値の約2.4倍とする。
D1，D2は，高周波用を使用する。
注記1 C，D，E及びFは，蛍光灯電子安定器の陰極接続を表す。
注記2 インスタントスタート式蛍光灯電子安定器では，接続点Gは一方に，D及びFを他の端
子に接続する。
図D.1−非対称電力検出回路
3
0
C
8
11
7
：
2
0
0
8
3
0
C
8
11
7
：
2
0
0
8
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表D.1−管径分類による非対称電力値
管径
中心値 (mm)
範囲 (mm)
T4
T5
T6
T7
T8
T9
T10
T11
T12
12.7
15.9
19.1
22.2
25.4
28.6
31.8
34.9
38.1
11.1<T4≦14.3 14.3<T5≦17.5 17.5<T6≦20.6 20.6<T7≦23.8 23.8<T8≦27.0 27.0<T9≦30.2 30.2<T10≦33.3 33.3<T11≦36.5 36.5<T12≦39.7
Pmax×2
（検知電力上限値）
10 W
15 W
20 W
20 W
20 W
20 W
20 W
20 W
20 W
Pmax
（保護電力上限値）
5 W
7.5 W
10 W
10 W
10 W
10 W
10 W
10 W
10 W
対象ランプは，一般照明用とする。
管径は，製造業者公表値を適用する。
31
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附属書E
（参考）
ランプの点灯周波数
序文
この附属書は，ランプの点灯周波数について説明するものであり，規定の一部ではない。
E.1
ランプ点灯周波数
ランプの点灯周波数の範囲は，次に記載するように関係機器間の相互干渉防止対策が設定されているの
で，それに準拠することが望ましい。
赤外線方式のワイヤレスリモートコントロール家電機器，高周波点灯方式などの照明器具が出現し，今
後，これらの機器の一層の普及が予想される。このことから，機器間の相互干渉防止策を確立することが，
公共性，公益性の見地から重要である。このため，家電製品協会，赤外線リモコン研究会，関係工業会，
関係製造業者と検討した結果，家電機器の使用周波数範囲と家庭用照明機器の使用周波数範囲とを分離す
るなどして対処することとした。その相互干渉防止対策の詳細は，次のとおりであり，これに準拠するこ
とが望ましい。
a) 対象機器
1) 赤外線方式のワイヤレスリモートコントロール家庭用電気機器（照明器具を含む。）
2) 家庭用蛍光灯器具及び電球形蛍光ランプの高周波点灯装置
b) 使用する周波数の範囲
1) 家庭用電気機器（照明器具を含む。）の赤外線方式のワイヤレスリモートコントロール装置
通常，33 kHz以上40 kHz以下
2) 家庭用蛍光灯器具及び電球形蛍光ランプ
通常，基本周波数及びその高調波が，33 kHz未満又は40 kHz超
注記 ここでいう“基本周波数”とは，ランプ電流波形の振幅の最大値付近での発振周波数をい
う。また，“高調波”とは，基本周波数の整数倍をいう。
c) 家庭電気機器（照明器具を含む。）のワイヤレスリモートコントロールの受光部
可視光及びb) 2) で変調された赤外線の影響を受けない特性をもたなければならない。