C 8110：2008
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 種類······························································································································· 3
5 要求事項························································································································· 3
5.1 安全性 ························································································································· 3
5.2 性能 ···························································································································· 7
6 試験······························································································································· 8
6.1 一般的要求事項 ············································································································· 8
6.2 試験方法 ······················································································································ 8
7 検査······························································································································· 8
7.1 検査一般 ······················································································································ 8
7.2 形式検査 ······················································································································ 9
7.3 受渡検査 ······················································································································ 9
8 製品の呼び方 ··················································································································· 9
9 表示······························································································································ 10
附属書A（規定）試験用安定器 ······························································································ 11
附属書B（規定）試験用ランプ ······························································································ 12
附属書C（参考）巻線の熱耐久性 ··························································································· 13
附属書D（参考）保護機能 ···································································································· 15
C 8110：2008
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電球
工業会(JELMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきと
の申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 8110:1987は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 8110：2008
放電灯安定器（蛍光灯を除く）
Ballasts for discharge lamps (excluding tubular fluorescent lamps)
序文
この規格は，1958年に制定され，前回の改正は1987年に行われたが，その後国際規格と整合した日本
工業規格であるJIS C 8147-1，JIS C 8147-2-9及びJIS C 8119が制定されたため，これらの規格を可能な範
囲で引用するよう改正した。また，規格の名称を放電灯安定器（蛍光灯を除く）とした。
1
適用範囲
この規格は，JIS C 7604に規定する高圧水銀ランプ，JIS C 7610に規定する低圧ナトリウムランプ，JIS
C 7621に規定する高圧ナトリウムランプ及びJIS C 7623に規定するメタルハライドランプを点灯する磁
気回路式放電灯安定器のうち，定格周波数50 Hz又は60 Hzの1 000 V以下の交流電源で定格二次電圧が
1 000 V以下で，一般の場所で使用するもの（以下，安定器という。）について規定する。
この規格は，上記の日本工業規格に規定していないランプを点灯する安定器についても適用できる。
注記 巻線の熱耐久性については附属書Cに，また，保護機能については附属書Dに記載する。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 1302 絶縁抵抗計
JIS C 1602 熱電対
JIS C 4908 電気機器用コンデンサ
JIS C 7604 高圧水銀ランプ−性能規定
JIS C 7610 低圧ナトリウムランプ
JIS C 7621 高圧ナトリウムランプ−性能規定
JIS C 7623 メタルハライドランプ−性能規定
JIS C 8119 放電灯安定器（蛍光灯を除く）−性能要求事項
JIS C 8147-1 ランプ制御装置−第1部：一般及び安全性要求事項
JIS C 8147-2-9 ランプ制御装置−第2-9部：放電灯安定器個別要求事項（蛍光灯を除く）
JIS Z 8113 照明用語
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 8113 によるほか，次による。
2
C 8110：2008
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3.1
安定器 (ballast)
変圧器，チョークコイル，コンデンサなどの全部又は一部で構成され，ランプを適正に動作させるため
に使用するもの。力率改善用コンデンサ，コンデンサ放電装置，保護装置などを含めて，安定器という場
合もある。
3.2
試験用安定器 (reference ballast)
安定器の試験及び試験用ランプの選定のために使用する基準となるチョークコイル形安定器。
3.3
試験用ランプ (reference lamp)
安定器を試験するために，負荷として使用する十分に枯らしたランプ。
3.4
変圧式安定器 (transformer type ballast)
変圧器の機能をもつ安定器。この安定器には，安定器の一次，二次間が絶縁しているものとしていない
ものとがある。
3.5
定格入力電圧 (rated input voltage)
安定器及びランプを含む回路の入力端子間に加える電圧の基準値で，安定器に表示した値。
3.6
定格周波数 (rated frequency)
安定器及びランプを含む回路の入力端子間に加える電圧の周波数の基準値で，安定器に表示した値。
3.7
定格入力電流 (rated input current)
試験用ランプを負荷として，定格周波数の定格入力電圧で点灯し，安定した状態のときの入力電流の基
準値で，安定器に表示した値。
3.8
定格入力電力 (rated input power)
試験用ランプを負荷として，定格周波数の定格入力電圧で点灯し，安定した状態のときの入力電力の基
準値で，安定器に表示した値。
3.9
定格二次電圧 (rated secondary voltage)
変圧式安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたときの二次無負荷電圧の基準値で，安定器に表示し
た値。
3.10
定格二次電流 (rated secondary current)
変圧式安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたときのランプに流れる電流で，安定器に表示した適
合ランプの電流の基準値。
3.11
定格二次短絡電流 (rated secondary short-circuit current)
変圧式安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたときの二次短絡電流の基準値で，安定器に表示した
3
C 8110：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
値。
4
種類
安定器の種類は，表1による。
表1−種類
適合ランプによる区分
使用箇所による区分
回路力率による区分
高圧水銀灯安定器
低圧ナトリウム灯安定器
メタルハライド灯安定器
高圧ナトリウム灯安定器
器具内用
屋内用
屋外用
低力率形
高力率形
5
要求事項
5.1
安全性
5.1.1
構造
構造は，JIS C 8147-1の15.1（木，綿，絹，紙及び同様な繊維質材料）によるほか，次による。
a) 外箱の中に絶縁性充てん物が満たしてあるもの（コンデンサを収めてある部分を除く。）は，それが外
部に漏れるおそれがあってはならない。ただし，5.1.11に適合するものは，絶縁性充てん物がなくて
もよい。
b) 屋外用のものは，使用状態において雨水が浸入するおそれがなく，かつ，雨水が保護ブッシングにか
かりにくい構造でなければならない。
c) ステンレス鋼以外の鋼製又は鉄製の部品（鉄心を除く。）には，さび止めを施さなければならない。
d) 口出線が外箱又は外被を貫通する部分は，保護ブッシング，その他の適切な保護部品を使用する場合
を除き，口出線を損傷するおそれのないように面取り，その他の適切な保護加工を施していなければ
ならない。ただし，貫通部が金属以外のものであって，その部分が滑らかであり，口出線を損傷する
おそれのないものは除く。
5.1.2
端子
端子は，次による。
a) 接地用以外の端子は，呼び径が4 mm以上（押し締めねじ形のものは，3.5 mm以上）の銅製又は銅合
金製のねじ又はボルト・ナットで，導体径が2 mmの絶縁電線を確実に取り付けることができるもの
でなければならない。ただし，器具内用のものは，JIS C 8147-1の附属書1の表1.2に示す適合電線を
確実に電気的接続できる銅又は銅合金製で，次の1)又は2)に該当する端子でもよい。また，屋内用の
ものは，JIS C 8147-1の附属書1の表1.2に示す適合電線を確実に電気的接続できる銅又は銅合金製で，
次の2)に該当する端子でもよい。
1) はんだ付けをするのに十分な大きさをもつラグ端子又ははとめ類。
2) 端子の機械的接触手段によって十分な圧力で電線導体を支持する丈夫な構造で，かつ，その安定器
に定格周波数の定格入力電圧を印加したとき，電線導体と端子との接触部に流れる電流及び電圧降
下によって算出する接触抵抗が，30 mΩ以下となる端子又はこれに類するもの。
b) 接地用以外の端子は，適合電線を接続し，その接続方向及び接続面に垂直な方向に20 Nの引張力を
徐々に加えたとき，単独でこれに十分耐えなければならない。
4
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5.1.3
保護接地
保護接地は，JIS C 8147-1の9.B及び9.Cによるほか，接地端子又は接地線には，そのもの（容易に取
り外せる接地用端子ねじを除く。）又はその近くに，容易に消えない方法で，接地用である旨の表示
（ ， ，P.E，E，G，アース，接地又は接地端子）がなければならない。
5.1.4
口出線
口出線は，JIS C 8147-1の附属書1の3.によるほか，次による。
a) 定格入力電圧又は定格二次電圧が300 V以下の屋外用の安定器には，JIS C 8147-1の附属書1の表1.2
の300 Vを超え600 V以下の欄に示す屋外用の電線を使用しなければならない。
b) 導体は，より線でなければならない。
c) 外箱外の長さは，150 mm以上でなければならない。ただし，器具内用は除く。
d) 安定器内部で接続する部分には，口出線を動かしたとき，直接力が加わらないようにしなければなら
ない。
e) 口出方向に20 Nの引張力を徐々に加えたとき，単独でこれに十分耐えるように取り付けてあり，かつ，
断線してはならない。屋外用のものは，外箱の一方向の口出線ごとに一括して自重に相当する引張力
（自重が2 kg以下のものは20 N，10 kgを超えるものは100 N）を徐々に加えたとき十分耐え，かつ，
断線してはならない。
5.1.5
コンデンサ
コンデンサは，JIS C 8147-2-9の4.1（コンデンサ及びその他の構成部品）によるほか，次による。
a) 安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えてランプを点灯し，安定した状態のとき，コンデンサの端
子電圧は，その定格入力電圧を超えてはならない。
b) 力率改善用コンデンサには，適切な放電装置を設け，電源回路が遮断されてから1分間以内に，コン
デンサの端子電圧が45 V以下となるようにしなければならない。ただし，安定器の回路特性上，この
時間内に45 V以下になるようなものは除く。
5.1.6
充電部との偶発接触からの保護
JIS C 8147-1の10.1によるほか，次による。
a) 充電部（口出線及び端子を除く。）及び鉄心部は，金属性の外箱の中に収めていなければならない。た
だし，器具内用のもので巻線を金属性の外被によって保護したものは，外箱がなくてもよい。器具内
用以外のものは，通常の使用状態で充電金属部に人が触れるおそれがあってはならない。
b) 外箱及び外被は，次に適合しなければならない。
1) 屋外用のものの外箱は，材料の公称厚さが0.8 mm以上でなければならない。ただし，絶縁性充て
ん物として熱硬化性樹脂を用いたものは，0.5 mm以上でもよい。
2) 屋内用のものの外箱，器具内用のものの外箱又は外被は，材料の公称厚さが0.5 mm以上でなけれ
ばならない。
5.1.7
電源からの絶縁
電源からの絶縁は，JIS C 8147-1の附属書1の1.（電源からの絶縁）による。
5.1.8
温度上昇
温度上昇は，6.2.2によって試験を行ったとき，表2に適合しなければならない。さらに，試験中には，
絶縁性充てん物などの流出があってはならない。
なお，tw（巻線の定格最高使用温度）及びtc（安定器の外部表面の最高許容温度）を表示する安定器は，
JIS C 8147-2-9の14.（安定器の温度上昇）による。
5
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表2−温度上昇
単位 K
測定箇所
温度上昇a)
巻線
A種絶縁のもの
60以下
E種絶縁のもの
75以下
B種絶縁のもの
85以下
外郭
50以下
（55以下）
コンデンサ表面
M表示のもの
30以下
Y表示のもの
35以下
H表示のもの
40以下
Z表示のもの
45以下
コンデンサ表面の記号M，Y，H，Zは，JIS C 4908
に規定する最高許容温度の区分の記号による。
注a) 温度上昇で，数値に括弧の付いたものは，
器具内用のものに適用する。
5.1.9
絶縁抵抗
絶縁抵抗は，6.2.3によって試験を行ったとき，5 MΩ以上でなければならない。ただし，温度上昇試験
を行わない場合の冷間絶縁抵抗の値は，30 MΩ以上でなければならない。
5.1.10 耐電圧
耐電圧は，6.2.4によって試験を行ったとき，これに耐えるものでなければならない。
5.1.11 耐湿性及び絶縁性
耐湿性及び絶縁性は，JIS C 8147-2-9の11.（耐湿性及び絶縁性）によるほか，次による。
a) 6.2.4によって試験を行ったとき，これに耐えなければならない。
b) 表示の消失又は著しいさびの発生があってはならない。
5.1.12 沿面距離及び空間距離
充電部相互間及び充電部と非充電金属部との絶縁距離は，表3及び表4による。
表3−コンデンサの外部端子部の空間距離（沿面距離を含む）
線間電圧又は対地電圧 V
空間距離 mm
極性が異なる充電部間
充電部と接地するおそれがあ
る非充電金属部との間
固定している部分
であってじんあい
が侵入しにくく，か
つ，金属粉が付着し
にくい箇所
その他
の箇所
固定している部分
であってじんあい
が侵入しにくく，か
つ，金属粉が付着し
にくい箇所
その他
の箇所
50以下
1
1.2
1
1
50を超え
150以下
1.5
2
1.5
1.5
150を超え
300以下
2
2.5
2
2
300を超え
600以下
3
4
3
4
600を超え 1 000以下
4
5
4
5
注記 “線間電圧又は対地電圧”とは，使用中に継続的に発生する電圧又は無負荷の電圧の
うち，いずれか高いものをいう。また，“対地電圧”とは，接地式電路では，電線と対
地との間の電圧をいい，また，非接地式電路では，電線とその電路中の任意の他の電
線との間の電圧をいう。
表4−コンデンサ以外の充電部の空間距離（沿面距離を含む）
線間電圧又は
対地電圧 Ⅴ
空間距離 mm
電源電線の取付部
出力側電線の取付部
その他の部分
使用者が接
続する端子
部間
使用者が接
続する端子
部と接地す
るおそれが
ある非充電
金属部又は
人が触れる
おそれがあ
る非金属部
の表面との
間
製造業者が
接続する端
子部間
製造業者が
接続する端
子部と接地
するおそれ
がある非充
電金属部又
は人が触れ
るおそれが
ある非金属
部の表面と
の間
使用者が接
続する端子
部間
使用者が接
続する端子
部と接地す
るおそれが
ある非充電
金属部又は
人が触れる
おそれがあ
る非金属部
の表面との
間
製造業者が
接続する端
子部間及び
使用者が接
続器によっ
て接続する
端子部間
製造業者が
接続する端
子部及び使
用者が接続
器によって
接続する端
子部と接地
するおそれ
がある非充
電金属部又
は人が触れ
るおそれが
ある非金属
部の表面と
の間
極性が異なる充電部間
充電部と接地するおそれが
ある非充電金属部又は人が
触れるおそれがある非金属
部の表面との間
固定してい
る部分であ
って，じんあ
いが侵入し
にくく，か
つ，金属粉が
付着しにく
い箇所
その他の箇
所
固定してい
る部分であ
って，じんあ
いが侵入し
にくく，か
つ，金属粉が
付着しにく
い箇所
その他の箇
所
50以下
−
−
−
−
3
3
2
2
1.2
1.5
1.2
1.2
50を超え
150以下
6
6
3
2.5
6
6
3
2.5
1.5
2.5
1.5
2
150を超え
300以下
6
6
4
3
6
6
4
3
2
3
2
2.5
300を超え
600以下
−
−
−
−
10
10
6
6
4
5
4
5
600を超え
1 000以下
−
−
−
−
10
10
8
8
6
7
6
7
2
C
8
11
0
：
2
0
0
8
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5.2
性能
5.2.1
二次電圧
二次電圧は，次による。
a) 定格二次電圧は，1 000 V以下とする。
b) 変圧式安定器の二次電圧は，定格二次電圧の90〜l10 ％の範囲内になければならない。
5.2.2
始動電圧
始動電圧は，表5による。
表5−始動電圧
適合ランプによる区分
始動電圧
高圧水銀灯安定器
JIS C 8119の12.3.1による。
低圧ナトリウム灯安定器
JIS C 8119の13.3.1による。
メタルハライド灯安定器
JIS C 8119の14.3による。
高圧ナトリウム灯安定器
JIS C 8119の15.3による。
5.2.3
二次短絡電流
二次短絡電流は，JIS C 8147-1の附属書1の2.1（二次短絡電流特性）による。
5.2.4
ランプ電流，ランプ電力及びランプ電力変動率
ランプ電流，ランプ電力及びランプ電力変動率は，表6による。
なお，試験用安定器は附属書A，試験用ランプは附属書Bによる。
表6−ランプ電流，ランプ電力及びランプ電力変動率
適合ランプによる区分
ランプ電流
ランプ電力
ランプ電力変動率
高圧水銀灯安定器
JIS C 8119の12.1
による。
JIS C 8119の12.1
による。
JIS C 8119の12.1
による。
低圧ナトリウム灯安定器
JIS C 8119の13.1
による。
−
−
メタルハライド灯安定器
JIS C 8119の14.1
による。
JIS C 8119の14.1
による。
JIS C 8119の14.1
による。
高圧ナトリウム灯安定器
−
JIS C 8119の15.1
による。
−
5.2.5
ランプ電流波形
ランプ電流波形は，JIS C 8119の9.2（ランプ電流波形）による。
なお，試験用ランプは，附属書Bによる。
5.2.6
磁気遮へい
磁気遮へいは，JIS C 8119の箇条10（磁気遮へい）による。
なお，試験用ランプは，附属書Bによる。
5.2.7
入力電流及び入力電力
入力電流及び入力電力は，JIS C 8147-1の附属書1の2.2.2による。
なお，試験用ランプは，附属書Bによる。
5.2.8
入力電流波形
入力電流波形は，JIS C 8119の9.1（入力電流波形）による。
なお，試験用ランプは，附属書Bによる。
5.2.9
回路力率
回路力率は，JIS C 8119の箇条7（回路力率）による。
8
C 8110：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
なお，試験用ランプは，附属書Bによる。
6
試験
6.1
一般的要求事項
JIS C 8119の附属書Cによる。
6.2
試験方法
6.2.1
構造及び表示試験
構造，端子，保護接地，口出線，コンデンサ，充電部との偶発接触からの保護，電源からの絶縁，沿面
距離及び空間距離，並びに表示の試験は，目視又は適切な測定器具によって行う。
6.2.2
温度上昇試験
安定器の周囲温度を35〜40 ℃に保ち，試験用ランプを負荷とし，安定器に定格周波数の定格入力電圧
を加え，各部の温度がほぼ一定になった後，5.1.8に規定する測定箇所の温度上昇を測定する。
巻線の温度は，抵抗法によって測定し，次の式によって温度上昇値を算出する。
なお，安定器は8時間以上通電せず，周囲温度t1は，t1±2 ℃に4時間以上放置しておかなければなら
ない。さらに，最終周囲温度t2の変化は，測定する前2時間において±1 ℃でなければならない。
(
)
2
1
1
1
1
2
5.
234
t
t
t
R
R
R
T
−
+
+
−
=
ここに，
T： 温度上昇値（℃）
t1： 最初の一定周囲温度（℃）
t2： 最終周囲温度（℃）
R1： t1 ℃における巻線の抵抗（Ω）
R2： 温度が一定になったときの巻線の抵抗（Ω）
外箱又は外被及びコンデンサ表面の温度は，JIS C 1602に規定する熱電対を使用し，測温接点を測定面
に確実に接触させ，かつ，外気に影響されないよう，その部分を少量のパテなどで覆って測定する。
6.2.3
絶縁抵抗試験
絶縁抵抗試験は，温度上昇試験の直後に行い，一括した充電部と非充電金属部との間，及び絶縁形変圧
器の巻線相互間の絶縁抵抗を，JIS C 1302に規定する500 V絶縁抵抗計又はこれと同等以上の性能をもつ
測定器で測定する。
なお，7.3.1の受渡検査では，冷間で行う。
6.2.4
耐電圧試験
耐電圧試験は，絶縁抵抗試験の直後に行い，一括した充電部と非充電金属部との間，及び絶縁形変圧器
の巻線相互間にJIS C 8147-1の表1に示す50 Hz又は60 Hzの正弦波に近い電圧を1分間加えて試験する。
なお，受渡検査の場合は，同表の120 ％の電圧を1秒間加えて試験してもよい。
屋外用安定器では，試験に先立ち，正規の取付状態で，約45度の傾斜の降雨状態で，任意の方向から清
水（抵抗率が10 kΩ・cmの水を基準とする。）を水量毎分約3 mmの割合で，一様に1時間注水した後，
試験する。ただし，この試験は，屋外において常温で行ってもよい。
7
検査
7.1
検査一般
検査は，形式検査及び受渡検査に区分し，いずれも箇条6によって試験したとき，箇条5に適合しなけ
ればならない。
9
C 8110：2008
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7.2
形式検査
形式検査は，同一試験品を，次の項目について行う。
a) 構造及び表示
b) 端子
c) 保護接地
d) 口出線
e) コンデンサ
f)
充電部との偶発接触からの保護
g) 電源からの絶縁
h) 温度上昇
i)
絶縁抵抗
j)
耐電圧
k) 耐湿性及び絶縁性
l)
沿面距離及び空間距離
m) 二次電圧（変圧式安定器に限る。）
n) 始動電圧（変圧式安定器に限る。）
o) 二次短絡電流（変圧式安定器に限る。）
p) ランプ電流，ランプ電力及びランプ電力変動率
q) ランプ電流波形
r) 磁気遮へい
s)
入力電流及び入力電力
t)
入力電流波形
u) 回路力率
7.3
受渡検査
7.3.1
検査項目
受渡検査は同一試験品を，次の項目について行う。ただし，検査項目の内容については，受渡当事者間
の協定によって，その全部又は一部を省略してもよい。
a) 構造・外観及び表示
b) 二次電圧（変圧式安定器に限る。）
c) 絶縁抵抗
d) 耐電圧
7.3.2
抜取検査
抜取検査を必要とする場合，検査項目及び方法については，受渡当事者間の協定による。
8
製品の呼び方
製品の呼び方は，名称，定格ランプ電力，定格入力電圧，定格周波数，使用箇所による区分（屋内用は，
呼称しない。）による。
例 （高圧）水銀灯安定器 400 W，200 V，50 Hz 屋外用
（低圧）ナトリウム灯安定器 135 W，200 V，60 Hz 器具内用
10
C 8110：2008
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9
表示
安定器には，見やすいところに容易に消えない方法で，次の事項を表示する。
a) 名称
b) 定格入力電圧 (V)
c) 定格周波数 (Hz)
d) 定格入力電流 (A)
e) 定格入力電力 (W)
f)
回路力率による区分（高力率形安定器に限る。）
g) 定格二次短絡電流 (A)（変圧式安定器に限る。）
h) 定格二次電圧 (V)（変圧式安定器に限る。）
i)
定格二次電流 (A)（変圧式安定器に限る。）
j)
適合ランプの定格ランプ電力及び個数（適合ランプの種別が複数ある場合は，1種類で代表すること
ができる。）
k) 接続図（単一チョークコイルのものは，省略してもよい。コンデンサを別に接続するものは，その静
電容量，定格電圧及び接続方法を含む。）及び口出線の色別。
l)
使用箇所による区分（取付けの向きを指定するものは，その旨を示す。）
m) 絶縁の種類（A種以外のもの）
n) 製造業者名又はその略号
o) 製造年又はその略号
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C 8110：2008
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附属書A
（規定）
試験用安定器
序文
この附属書は，試験用安定器について規定する。
試験用安定器は，JIS C 8119の附属書Aによる。ただし，高圧水銀ランプ用及び低圧ナトリウムランプ
用は，表A.1による。
表A.1−試験用安定器（25 ℃において）
ランプ
適合するランプの
定格ランプ電力
W
定格入力電圧
V
基準電流
A
インピーダンス
Ω
力率
高
圧
水
銀
ラ
ン
プ
40
200
0.53
300.0±3.8
0.095±0.019
100
200
1.0
137.0±1.5
0.080±0.011
200
200
1.9
72.60±0.79
0.065±0.008
250
200
2.1
60.00±0.72
0.064±0.008
300
200
2.5
50.40±0.60
0.060±0.007
400
200
3.3
38.20±0.46
0.048±0.005
700
200
5.9
21.40±0.25
0.046±0.005
1 000
200
8.3
15.40±0.18
0.038±0.004
低
圧
ナ
ト
リ
ウ
ム
ラ
ン
プ
35
470
0.6
767±15
0.058±0.007
55
90
500
0.9
528±8
0.047±0.007
135
700
0.9
739±11
0.040±0.005
180
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C 8110：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
試験用ランプ
序文
この附属書は，試験用ランプについて規定する。
試験用ランプは，JIS C 8119の附属書Bによる。ただし，高圧水銀ランプ及び低圧ナトリウムランプは，
表B.1による。
表B.1−試験用ランプ
ランプ
定格ランプ電力
W
ランプ電力
W
ランプ電流
A
ランプ電圧（参考）
V
高
圧
水
銀
ラ
ン
プ
40
40 ±3
0.53±0.02
90
100
100 ±5
1.00±0.05
115
200
200 ±5
1.90±0.05
120
250
245 ±6
2.10±0.05
130
300
295 ±7
2.50±0.06
130
400
395±10
3.30±0.08
130
700
705±18
5.90±0.15
130
1 000
1 000±25
8.30±0.21
130
低
圧
ナ
ト
リ
ウ
ム
ラ
ン
プ
35
38±1.5
0.60±0.02
70
55
58 ±2
0.59±0.02
105
90
97±2.5
0.92±0.03
115
135
136 ±4
0.92±0.03
160
180
190 ±5
0.88±0.03
245
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附属書C
（参考）
巻線の熱耐久性
序文
この附属書は，巻線の熱耐久性について記載するものであって，規定の一部ではない。
C.1 適用範囲
巻線の熱耐久性は，巻線の最高許容温度を数値表示している安定器の巻線を構成する絶縁組織の耐久性
をいい，絶縁組織の一部又は全部を変更する場合に適用する。
C.2 性能
安定器は，C.3の試験方法によって試験した後，常温に戻し，次の各項を満足しなければならない。
a) 定格電圧でランプが正常に点灯する。また，ランプ電流が初期値の115 ％以下である。
b) 充電部を一括したものと非充電金属部との間，及び絶縁形変圧器の巻線相互間の絶縁抵抗を，JIS C
1302に規定する500 Vの絶縁抵抗計又はこれと同等以上の性能をもつ測定器で測定し，1 MΩ以上で
ある。
c) 充電部を一括したものと非充電金属部との間，及び絶縁形変圧器の巻線相互間にJIS C 8147-1の表1
に示す50 Hz又は60 Hzの正弦波に近い電圧を1分間印加し，これに耐える。
C.3 試験方法
試験は，他の試験に使用しない安定器（複数個が望ましい。）を用い，次によって行う。
a) 予備試験
1) 定格周波数の定格入力電圧で，ランプが正常に点灯することを確認する。また，このときのランプ
電流値を測定する。
2) 絶縁抵抗試験及び耐電圧試験を行い，5.1.9及び5.1.10に適合する。
b) 加熱方法
1) 加熱期間は30日間，60日間又はそれ以上の適切な期間（目標試験期間）を設定してもよいが，で
きるだけ30日間で実施することが望ましい。加熱期間に見合った理論的試験温度は，表C.1又は式
(C.1)によって決定する。
2) 安定器は，恒温槽中に置く。この場合，コンデンサ，試験対象以外の部品，装置などは，恒温槽の
外に置き，ランプが点灯するように接続する。
なお，動作に影響しない部品などは，取り外してもよい。
3) ランプを使用し，定格周波数の定格入力電圧で点灯する。ただし，チョークコイル形安定器は，ラ
ンプの代わりに，定格電流となるような抵抗を使用してもよい。
4) 安定器の最も温度が高くなる巻線の温度を，表C.1又は式(C.1)から求めた理論的試験温度になるよ
う恒温槽の温度を制御する。
5) 試験開始8時間以上後に巻線温度を抵抗法で測定し，理論的試験温度と異なる場合は，恒温槽の温
度を修正する。
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6) 試験開始24時間後に再度巻線温度を抵抗法で測定し，そのときの温度tから，加熱試験期間を式(C.1)
で求める。
この試験期間は，目標試験期間の2/3倍以上2倍以下とする。
この試験以後，加熱はこのときの温度で行う。
7) 試験期間は，通電開始時点から積算する。
8) 試験期間中にランプが正常に点灯しなくなった場合及び試験期間を満了した場合，その安定器を電
源から遮断する。ただし，恒温槽からは取り出さない。
+
−
+
+
=
273
1
273
1
log
log
w
0
t
t
S
L
L
··········································· (C.1)
ここに，
L： 加熱試験期間（日）
L0： 3 652（日）
t： 試験温度（℃）
tw： 巻線の定格最高使用温度（℃）
S： 定数4 500
表C.1−加熱試験温度
単位 ℃
目標試験期間 絶縁の種類
巻線の定格最高使用温度
理論的試験温度
A種
105
185
30日間
E種
120
207
B種
130
222
A種
105
172
60日間
E種
120
193
B種
130
207
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附属書D
（参考）
保護機能
序文
この附属書は，保護機能について記載するものであって，規定の一部ではない。
D.1 適用範囲
この附属書は，安定器本体が異常過熱することによる，焼損状態の拡大を防止する保護機能を組み込ん
である安定器に適用する。
D.2 用語及び定義
この附属書で用いる主な用語及び定義は，次による。
D.2.1
自動復帰形保護装置
何らかの原因で安定器の内部の温度が異常に上昇したとき，回路への通電を一時的に遮断し，温度の上
昇を防止する熱的な保護装置。遮断後，内部温度が降下し保護装置の復帰温度に達したとき，回路が自動
的に復帰し再動作するものである。
D.2.2
非復帰形保護機構
何らかの原因で安定器の内部の温度が異常に上昇したとき，回路への通電を遮断し，温度の上昇を防止
する熱的な保護装置を含む保護機構。一度回路が遮断されると，温度が降下しても復帰しない。
D.2.3
A形保護機能付き安定器
自動復帰形保護装置と，非復帰形保護機構を併用した安定器。何らかの原因で安定器の内部の温度が異
常に上昇したとき，回路への通電を一時的に遮断し，遮断後，内部温度が降下し保護装置の復帰温度に達
したとき，回路が自動的に復帰し再動作する。さらに，異常状態が拡大したときは，非復帰形保護機構で
回路への通電を遮断する。
D.2.4
B形保護機能付き安定器
非復帰形保護機構をもつ安定器。何らかの原因で安定器の内部の温度が異常に上昇したとき，回路への
通電を遮断し，温度の上昇を防止するもので，一度回路が遮断されると，温度が降下しても復帰しない。
D.3 種類
保護機能の種類は，表D.1による。ただし， （“クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置）又は
（動作温度が宣言された熱的保護機能付きランプ制御装置）を表示する安定器の保護機能は，JIS C
8147-2-9の附属書Bによる。
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表D.1−保護機能の種類
保護機能による区分
保護機能が動作したときの安定器の
最高表面温度による区分及びその記号
A形保護機能
130 ℃以下のもの
130 ℃を超えるもの
B形保護機能
130 ℃以下のもの
130 ℃を超えるもの
* * * は製造業者が宣言する℃表示で，その値は10の倍数とする。
D.4 構造
a) 保護装置及び保護機構は，安定器の内部に組み込み，交換できない構造でなければならない。ただし，
銘板などで電流ヒューズと組合せ使用を明記するものは除く。
b) 保護機能のための構造及び材料は，取扱い及び輸送中の振動，点灯中の熱などによって性能の変化が
少ないものでなければならない。
D.5 性能
保護機能は，次のとおりでなければならない。ただし， 又は を表示する安定器の保護機能は，
JIS C 8147-2-9の附属書Bによる。
D.5.1 不動作特性
不動作特性は，D.6.1及びD.6.2によって試験を行ったとき，充てん物が流出したり，保護装置及び保護
機構が動作してはならない。
なお，試験前後で一般電気特性（入力電流，入力電力及びランプ電流など）の変化があってはならない。
ただし，A形保護機能付き安定器は，D.6.2 b)によって試験を行ったとき，自動復帰形保護装置は動作して
もよい。
D.5.2 動作特性
動作特性は，D.6.1及びD.6.3によって試験を行ったとき，次のとおりでなければならない。
D.5.2.1 保護機能が動作したときの安定器の最高表面温度が130 ℃以下のもの
a) 保護装置又は保護機構が動作し，安定器の表面温度が135 ℃以下となるか，表面温度と時間との関係
が表D.2を満足し，かつ，180 ℃を超えてはならない。A形保護機能付き安定器は，自動復帰形保護
装置再閉時の安定器の表面温度が，125 ℃以下でなければならない。
b) D.6.3 a)の試験で保護装置又は保護機構が動作せず，安定器の表面温度が135 ℃以下のものは，D.6.3 c)
によって試験を行い，保護装置又は保護機構が動作し，かつ，安定器の表面温度が，180 ℃を超えて
はならない。
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表D.2−最高表面温度に対する許容時間
最高表面温度
℃
許容時間a)
分
最高表面温度
℃
許容時間a)
分
175を超え180以下
15
150を超え155以下
50
170を超え175以下
20
145を超え150以下
60
165を超え170以下
25
140を超え145以下
90
160を超え165以下
30
135を超え140以下
120
155を超え160以下
40
−
−
注a) 許容時間は，安定器表面温度が135 ℃を超過してから，最高表面温度に達
するまでの最大時間。
c) D.6.3 b)の試験で，保護装置又は保護機構が動作しない場合は，安定器の表面温度は135 ℃以下でな
ければならない。
D.5.2.2 器具内用以外で保護機能が動作したときの安定器の最高表面温度が130 ℃を超えるもの
a) 保護機能が動作し，次の1)及び2)を満足しなければならない。
なお，A形保護機能付き安定器は，自動復帰形保護装置の再閉時の木製取付台の表面温度は，125 ℃
以下でなければならない。
1) 安定器の最高表面温度が表示した温度以下となり，D.6.1の木製取付台の表面温度が135 ℃以下と
なるか，木製取付台の表面温度と時間との関係が表D.2を満足し，180 ℃を超えてはならない。た
だし，保護装置動作後15分以内では，表示した温度の10 ％のオーバーシュートは許容する。
2) 巻線の温度が250 ℃を超える時間の合計が，15分以下でなければならない。
b) D.6.3 a)の試験で保護機能が動作せず，安定器の表面温度が表示した温度以下，木製取付台の表面温度
が135 ℃以下で安定，かつ，巻線温度が250 ℃を超える時間の合計が，15分以下であるものについ
ては，D.6.3 c)によって試験を行い，保護機能が動作し，木製取付台の表面温度が180 ℃を超えてはな
らない。
c) D.6.3 b)の試験で保護機能が動作しない場合は，次の1)及び2)を満足しなければならない。
1) 安定器の最高表面温度が表示した温度以下，及びD.6.1の木製取付台の表面温度が135 ℃以下でな
ければならない。
2) 巻線の温度が250 ℃を超える時間の合計が，15分以下でなければならない。
D.5.2.3 器具内用で保護機能が動作したときの安定器の最高表面温度が130 ℃を超えるもの
a) 保護機能が動作し，次の1)及び2)を満足しなければならない。
なお，A形保護機能付き安定器は，自動復帰形保護装置の再閉時の安定器の表面温度は，表示した
温度より10 ℃以上低い温度でなければならない。
1) 安定器の最高表面温度が表示した温度以下でなければならない。ただし，保護装置動作後15分以内
では，表示した温度の10 ％のオーバーシュートは許容する。
2) 絶縁階級がE種以下の安定器は，巻線の温度が250 ℃を超える時間の合計が，15分以下でなけれ
ばならない。
b) D.6.3 a)の試験で保護機能が動作せず，安定器の表面温度が表示した温度以下で安定し，かつ，巻線温
度が250 ℃を超える時間の合計が15分以下であるものについては，D.6.3 c)によって試験を行い，保
護機能が動作し，安定器の表面温度が表示した温度以下でなければならない。
c) D.6.3 b)の試験で保護機能が動作しない場合は，次の1)及び2)を満足しなければならない。
1) 安定器の最高表面温度が表示した温度以下でなければならない。
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2) 絶縁階級がE種以下の安定器は，巻線の温度が250 ℃を超える時間の合計が，15分以下でなけれ
ばならない。
D.6 試験
D.6.1 試験条件
保護機能試験は，安定器の周囲温度を40±3 ℃とし，次のとおり行う。ただし， 又は を表示
する安定器は，JIS C 8147-2-9の附属書Bによる。
なお，安定器は，図D.1に示すように，安定器底面に対し縦横が片側100 mm以上大きく，19 mm以上
の厚さをもつ木製取付台の中央に固定し，試験台から約75 mm浮かせた状態で試験する。
a) 供試安定器 供試安定器は，次に示すような故障状態のうち，最も厳しい状態とすることができるよ
うに巻線及び結線の中間部にタップを設け，特別に作製したものとする。
1) チョークコイル式安定器は，その巻数の20 ％に相当する巻回数を巻き終わりに近い部分で短絡す
る。ただし，コイルが2個以上からなる場合は，それぞれのコイルの巻数の20 ％分を短絡する。
2) 変圧式安定器は，一次巻数の20 ％に相当する巻回数を巻き終わりに近い部分で短絡する。
3) 変圧式安定器は，二次巻数の20 ％に相当する巻回数を巻き終わりに近い部分で短絡する。
4) ランプと直列に接続されている力率改善コンデンサを短絡する。
5) 電源と並列に接続されている力率改善コンデンサを開放する。
b) 事前選別試験 保護機能試験に用いる熱的な保護装置は，定格動作温度より5 ℃低い周囲温度の場所
に12時間置き，動作しないものを用いなければならない。
単位 mm
図D.1−動作特性試験時の安定器の取付け状態
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D.6.2 不動作特性試験
不動作特性試験は，次のとおり行う。
a) 適合ランプを負荷とし，安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧の106 ％（定電力形安定器
の場合は，110 ％）電圧を加えてランプを点灯し，各部の温度が一定になるまで，この状態を継続す
る。
b) 安定器を，次の1)及び2)の異常状態で最も温度が高くなるような状態とし，安定器の入力端子間に定
格周波数で指定された電圧を加え，各部の温度が一定になるまで，この状態を継続する。
1) 安定器の入力端子間に定格入力電圧の106 ％（定電力形安定器の場合は，110 ％）電圧を加え，ラ
ンプ（複数の場合は，いずれか1個）を回路に接続しない。
2) 高圧ナトリウムランプのように，ランプ寿命末期にランプ電圧が低下する確率の高いランプを点灯
可能な安定器は，二次短絡電流を，ランプ電圧が定格値の70 ％に相当するランプ電流の値になる
ように入力電圧を調整する。
D.6.3 動作特性試験
動作特性試験は，次のとおり行う。
a) 適合ランプを負荷とし，安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧を加えて，正常状態で4時
間点灯する。その後，特別に設けたタップによって，最も厳しい故障状態を作り，この状態を各部の
温度が一定になる，又は保護装置若しくは保護機構が動作し温度が下降し始めるまで継続し，安定器
の最高表面温度又は安定器最高表面温度と時間との関係を測定する。
なお，自動復帰形保護装置が動作した場合は，3サイクル繰り返し動作させ，自動復帰形保護装置
の動作時及び再閉時における入力電流，及び安定器の表面温度が安定若しくは下降するまで，又は非
復帰形保護機構が動作するまで継続する。
b) 高圧ナトリウムランプのように，ランプ寿命末期にランプ電圧が低下する確率の高いランプを点灯可
能な安定器は，ランプ（複数の場合はいずれか1個）を短絡し，安定器の入力端子間に定格周波数の
定格入力電圧を加え，保護機能が動作し，温度が降下し始めるまで，又は各部の温度が一定になるま
で継続する。
なお，自動復帰形保護装置が動作した場合は，3サイクル繰り返し動作させ，自動復帰形保護装置
の動作時及び再閉時における入力電流，及び安定器の表面温度が安定若しくは下降するまで，又は非
復帰形保護機構が動作するまで継続する。
c) D.6.3 a)の試験で保護機能が動作しない場合，次の1)，2)のいずれかの方法で保護装置又は保護機構が
動作するまで継続する。ただし，試験途中でコンデンサの保安装置又は保安機構が動作した場合は，
電源に並列に接続されたコンデンサはそのままとし，ランプと直列に接続されたコンデンサは，短絡
し継続する。
1) 安定器の入力電圧を定格入力電圧の10 ％分ずつ増加させ，温度が安定するまで放置し，動作する
まで繰り返し継続する。
2) 安定器の表面温度が135 ℃となるように恒温槽内の温度を調整し，十分安定するまで放置した後，
槽内の温度を10 ℃ずつ上昇させ，安定器の表面を温度が十分安定するまで放置し，保護機能が動
作するまで繰り返し継続する。
なお，温度を表示した安定器は，最初に設定する恒温槽の温度を，表示した温度より30 ℃低い
温度（135 ℃以下にはしない。）とする。
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D.6.3の試験において，試験中にランプが切れた場合は，直ちに新しいランプに取り替えて試験する。た
だし，2回以上切れたときは，ランプ回路を短絡し試験を続行する。