C 7709-0：2018
（1）
追補6のまえがき
このJIS C 7709-0の追補6は，工業標準化法に基づき，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大
臣がJIS C 7709-0:2013を改正した内容だけを示すものである。
JIS C 7709-0:2013は，この追補6の内容の改正がされ，JIS C 7709-0:2018となる。
記事欄
JIS C 7709-0追補5:2013発行後，IEC 60061-4の追補版IEC 60061-4 Ed.1.0 Amendment 15が発行された
ことに伴って改正を行った。
日本工業規格 JIS
C 7709-0：2018
電球類の口金・受金及びそれらの
ゲージ並びに互換性・安全性
第0部 電球類の口金・受金及び
それらのゲージ類の総括的事項
（追補6）
Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety Part 0: General information
(Amendment 6)
JIS C 7709-0:2013の一部を，次のように改正する。
なお，この追補で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格IEC 60061-4を変更している事項であ
る。
2.（引用規格）を，次の文に置き換える。
2. 引用規格 次に揚げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の一部を構成する。こ
れらの引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補
を含む。）は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 1302 絶縁抵抗計
備考 対応国際規格：IEC 61557-1，Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V a.c.
and 1 500 V d.c.−Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures−Part 1:
General requirements
IEC 61557-2，Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V a.c. and 1 500 V d.c.
−Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures−Part 2: Insulation
resistance
JIS C 2134 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
備考 対応国際規格：IEC 60112，Method for the determination of the proof and the comparative tracking
indices of solid insulating materials
JIS C 7709-1 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金
備考 対応国際規格：IEC 60061-1，Lamp caps and holders together with gauges for the control of
interchangeability and safety−Part 1: Lamp caps
JIS C 8105-1 照明器具−第1部：安全性要求事項通則
C 7709-0：2018
備考 対応国際規格：IEC 60598-1，Luminaires−Part 1: General requirements and tests
JIS C 8121-1 ランプソケット類−第1部：一般要求事項及び試験
備考 対応国際規格：IEC 60838-1，Miscellaneous lampholders−Part 1: General requirements and tests
JIS C 8122 差込みランプソケット
備考 対応国際規格：IEC 61184，Bayonet lampholders
JIS C 8147-2-1 ランプ制御装置−第2-1部：始動装置の個別要求事項（グロースタータを除く）
備考 対応国際規格：IEC 61347-2-1:2006，Lamp controlgear−Part 2-1: Particular requirements for
starting devices (other than glow starters)
JIS C 8280 ねじ込みランプソケット
備考 対応国際規格：IEC 60238，Edison screw lampholders
JIS C 8324 蛍光灯ソケット及びスタータソケット
備考 対応国際規格：IEC 60400，Lampholders for tubular fluorescent lamps and starterholders
JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
備考 対応国際規格：IEC 60664-1:2007，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 1: Principles, requirements and tests
JIS C 60664-4 低圧系統内機器の絶縁協調−第4部：高周波電圧ストレスの考慮
備考 対応国際規格：IEC 60664-4:2005，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 4: Consideration of high-frequency voltage stress
JIS G 4404 合金工具鋼鋼材
備考 対応国際規格：ISO 4957，Tool steels
JIS Z 8113 照明用語
備考 対応国際規格：IEC 60050-845，International Electrotechnical Vocabulary. Lighting
IEC 61347-1:2015，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements
IEC Guide 104:2010，The preparation of safety publications and the use of basic safety publications and group
safety publications
C 7709-0：2018
シートNo.0-0-6を，次のシートNo.0-0-7に置き換える。
2013
口金・受金及びそれらのゲージ類の総括的事項
目次及びJIS/IEC対照表
ページ 1/1
2018
項目
シートNo.
対応IEC
シートNo.
特記事項
口金及び受金の国際記号表記方式
0-1-3 (4)
7007-1-6 (13)
電球類の口金及び受金寸法のゲージ類並
びに測定器類
0-2-2 (2)
7007-10-1 (10)
7007-11-2 (8)
完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離
0-3-3 (6)
7007-6-4 (15)
改正（シートNo.0-12-1
を統合）
各シートの記号の表示方式
0-4-2 (1)
−
電球類の口金及び受金の包装表示
0-5-1 (1997)
−
口金シートの“はんだ”の解釈
0-6-1 (1)
7007-12-1 (8)
ランプソケット／コネクタ
0-7-1 (2)
7007-9-1 (8)
工程中の適合試験（参考）
0-8-1 (3)
7007-13-1 (10)
ランプ・スタータ一体形ソケット
0-9-1 (3)
7007-23-1 (9)
一般照明分野における新規口金のガイド
ライン
0-10-1 (3)
7007-14-1 (11)
口金へのシステム要求事項
0-11-1 (5)
7007-24-1 (14)
備考 1. シートNo.欄及び対応IECシートNo.欄内に記載した括弧内の数字又は記号は，それぞれの
シートの追補番号又は発行年を示す。
2. 特記事項欄の“新設”又は“改正”は，最新の改正でデータシートを新設又は改正したこと
を示す。
0-0-7
C 7709-0：2018
シートNo.0-参考-1を，次のシートNo.0-参考-2に置き換える。
2013
口金・受金及びそれらのゲージ類の総括的事項
IECシート 一覧表
ページ 1/1
2018
項目
対応IECシートNo.
特記事項
新口金受金への安全性向上のための要求
7007-4-1(1991)
新口金受金への標準化の要件
7007-5-1 (B)
多目的アダプタ
7007-7-1 (6)
保持機構をもつ口金受金の設計ガイドライン
7007-8-1 (8)
E27口金付きランプ及びE14口金付きランプの安全
システム
7007-20-1(1991)
E14口金受金，公称寸法22 mm未満のランプネック
部の取り扱い
7007-21-1 (B)
G5口金付きランプ及びG13口金付きランプの寸法
7007-22-2 (D)
備考 対応IECシートNo.欄内に記載した括弧内の数字又は記号は，それぞれのシートの追
補番号又は発行年を示す。
0-参考-2
C 7709-0：2018
シートNo.0-3-2及びNo.0-12-1を，次のシートNo.0-3-3に置き換える。
2004
完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離
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1. 適用範囲 この規格は，定格周波数30 kHz以下の定格電圧及び定格インパルス電圧，並びに定格周波
数30 kHzを超える場合における，完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離について規定する。
なお，ソケットの沿面距離及び空間距離は，JIS C 8280，JIS C 8324，JIS C 8121-1及びJIS C 8122に規
定されている。
機能絶縁，平等電界，不平等電界，部分放電，その他絶縁協調に関する用語は，JIS C 60664-1を参照。
2. 引用規格
JIS C 7709-1 電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性 第1部 口金
JIS C 8105-1 照明器具−第1部：安全性要求事項通則
JIS C 60664-1:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
JIS C 60664-4:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第4部：高周波電圧ストレスの考慮
JIS C 8147-2-1 ランプ制御装置−第2-1部：始動装置の個別要求事項（グロースタータを除く）
IEC 61347-1:2015，Lamp controlgear−Part 1: General and safety requirements
3. 定格周波数30 kHz以下における沿面距離及び空間距離の指針，並びに一般事項
3.1
特別な条件 完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離は，一般にJIS C 7709-1に規定されている。
その理由は，口金が使用される特別な条件において，受金又は照明器具に必要とされているよりも，小さ
い沿面距離及び空間距離の値が許容されているからである。
備考 口金単体の沿面距離及び空間距離は，ランプ製造中の影響，例えば，はんだ仕上げによって
沿面距離が短くなることなどを想定して，より大きな距離を必要とする場合もある。
JIS C 8105-1の第11章（沿面距離及び空間距離）では，除外項目を考慮し次のように規定されている。
“表11.1の値は，個別にIEC規格，JIS又は関連法規に規定している構成部品には適用しないが，照明
器具内へ取り付けた場合の取付面又は可触面と構成部品の充電部との距離に対しては適用する。
注記 関連法規には，電気用品安全法（昭和36年法律第234号）に基づく“電気用品の技術上の基準
を定める省令の解釈について（20130605商局第3号）”がある。”
照明器具に必要とされているよりも小さな沿面距離及び空間距離が許容される，特別な条件の例を次に
示す。
− 安全性への影響が小さい場合の沿面距離及び空間距離（3.2参照）
− 固体絶縁における電圧ストレスの影響が小さい場合の沿面距離及び空間距離（3.3参照）
− 電圧ストレス印加時間が短い場合の沿面距離及び空間距離（3.4参照）
3.2
安全性への影響が小さい場合の沿面距離及び空間距離 JIS C 8105-1に規定する照明器具並びにJIS
C 8280，JIS C 8324，JIS C 8121-1及びJIS C 8122に規定するランプソケットの沿面距離及び空間距離は，
安全側面に基づき，不平等電界のような最悪のケースを考慮して規定されている。
0-3-3
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2004
完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離
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しかし，口金では多くの場合，沿面距離又は空間距離の値は安全のためではなく特性面，すなわち，感
電防止のための基礎絶縁ではなく，適正な使用に必要な機能絶縁の目的で設定されている。
例えば，ランプ挿入途中及び挿入完了後において，（対応国際規格の記載を削除。）感電防止を図るよう
に設計されているランプソケットの場合，口金のコンタクト（口金シェルがコンタクトになっているもの
もある。）間で絶縁破壊してもシステム全体の安全には影響しないため，空間距離は平等電界を想定して決
められている。
特別な例として，パルス電圧を考慮して良好に設計された口金の外郭は，安全上要求されるよりもずっ
と高いレベルを実現できているので，追加の試験をせずにJIS C 60664-1の表F.2（過度過電圧に耐える空
間距離）ケースAの汚損度2に規定する空間距離を適用してもよい。
加えて，この口金がJIS C 60664-1の6.1.2（空間距離を検証する試験）によって確認できる場合，同じ
表に規定されたケースBの汚損度2に規定する値を下回らない範囲で，空間距離を小さくしてもよい。
3.3
固体絶縁における電圧ストレスの影響が小さい場合の沿面距離及び空間距離
3.3.1
固体絶縁の故障メカニズム 電気ストレスの影響を考える上で，固体絶縁物への二つの故障メカニ
ズムを想定する。
− 短時間ストレス（3.3.2参照）
− 長時間ストレス（3.3.3参照）
3.3.2
短時間ストレス 高い電気ストレスによる誘電損失が原因となって発熱が増大し，熱的不安定及び
絶縁破壊を引き起こす可能性がある。この現象は一般に数分で発生するので，高電圧試験によって比較的
簡単に確認することができる。口金の例では，非正弦波のパルス電圧を印加する放電ランプ始動時のよう
な条件が，それに当たる。
セラミック以外の絶縁材料の場合，一般にパルス電圧5 kV（ピーク値）以上で熱的絶縁破壊のリスクを
もつが，JIS C 8147-2-1の18.2には，次に示す時間条件があることに留意するのがよい。
“パルス電圧が10 kVを超えるイグナイタは，始動動作の時間的制限をする装置を備えていなければな
らない。この装置は，ランプが始動しない場合，3秒間以内に始動パルスの発生を中断しなければならな
い。この時間制限は，装置のラベルにその情報がある場合には，30秒間まで延長することができる。パル
ス電圧が5 kVを超え10 kV以下のイグナイタでは，パルスの発生を60秒間以内に中断する時限装置を備
えていなければならない。この時間制限は，装置のラベルにその情報がある場合には20分間まで延長する
ことができる。”
3.3.3
長時間ストレス 固体絶縁システムには通常，絶縁の異なる層間，絶縁物間のインターフェース，
又は固体絶縁物の製造上の問題によって発生する空隙若しくはボイドが含まれている。このように微小な
空隙又はボイドでは，より小さなストレスによる部分放電が，固体絶縁における熱的絶縁破壊よりも頻繁
に発生し，最終的には絶縁物の故障を引き起こす。
この現象の測定及び故障解析は，熱的絶縁破壊に比べてかなり複雑であるため，この側面を高電圧試験
によって検証することができない。
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完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離
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空気中において，部分放電は300 V（パッシェン電圧）を超えるピーク電圧で発生する可能性があるが，
実際には，500 V以下では発生しにくい。故障の原因は，パンクチャ又は表面フラッシオーバに至る漸進
的に進行する侵食又はトリーイングである。
絶縁システムは，別々の性質をもっている。例えばセラミック絶縁体のような場合は，その期待寿命を
通じて放電に耐えることができる。一方，その他の場合は放電のない状態にしなければならない。電圧，
放電の繰返し率及び放電量は，重要なパラメータである。
口金への長時間ストレスは，一般に500 V以下の主電源又は電子安定器の出力電圧であり，多くの場合
で部分放電は発生しにくい。
詳細は，JIS C 60664-1の5.3（固定絶縁物の設計要求）参照。
高周波の場合，固体絶縁における誘電損失及び部分放電は，より重要になる。
固体絶縁における高周波電圧ストレスの側面は，JIS C 60664-4に規定している。
3.4
電圧ストレス印加時間が短い場合の沿面距離及び空間距離 沿面距離は，電圧の実効値を考慮し設
計される。JIS C 60664-1に規定する沿面距離は，長時間（又は連続）の電圧ストレスに対する絶縁を目的
に決定される。製品規格では，電圧ストレスが短時間にすぎない場合，JIS C 60664-1の表F.4（トラッキ
ングによる障害を回避するための沿面距離）に規定する値よりも小さい値を規定することができる。
このような場合，次に示す指針を適用する。
a) 汚損度4を除き，電圧ストレスを受ける時間の合計が15 000時間以下の絶縁の場合，JIS C 60664-1
の表F.4に規定する沿面距離は，一段階低い電圧区分を適用してもよい。同様に，電圧ストレスを受
ける時間が1 500時間以下の絶縁の場合，JIS C 60664-1の表F.4に規定する沿面距離は，二段階低い
電圧区分を適用してもよい。これらの緩和の度合いは，継続するストレスに対しての条件付きとなっ
ている。
b) また，汚損度2の場合，JIS C 60664-1の表F.4に規定する材料グループI［PTI（保証トラッキング指
数）≧600］に対する沿面距離を，全ての材料グループに適用できる。
通常の光源が寿命までに受ける電圧ストレスは，短時間の条件に相当する。確実な電気的接続を維持す
るために，汚損度2を超える環境を避けることが望ましく，汚損度が高くなる場合はコンタクト部分を保
護することが望ましい。
加えて，ランプの点灯は絶縁表面を乾燥しやすくするので，トラッキングは起こりにくくなる。
特殊な光源における単体の口金にも適用するため，前述の代替手段b)を，新しい口金の設計に適用でき
るようにした。ランプの定格電圧に対応したその結果を，表1に示す。
空間距離は，耐インパルスカテゴリ（過電圧カテゴリ）IIの過渡過電圧のために設定されたものである。
定常状態の実効値，短時間過電圧又は反復ピーク電圧が，インパルス耐電圧で必要とされるより長い空間
距離を必要とするときは，JIS C 60664-1の表F.7 a（定常電圧，短時間過電圧又は反復ピーク電圧に耐え
る空間距離の規定値）に規定する値を適用しなければならない。
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完成ランプ口金の沿面距離及び空間距離
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表1 交流（50 Hz/60 Hz）正弦波における沿面距離及び空間距離
距離 mm
定格電圧 V
50
150
250
500
750
1 000
基礎絶縁における沿面距離及び空間距離b) c)
0.6
1 a)
1.5
3
4
5.5
注a) JIS C 60664-1の表F.4に規定する値は0.8 mmであるが，2 kVのインパルス電圧まで対応するため1 mm
となっている。
b) 沿面距離は，要求される空間距離以上であることが望ましい。
c) 主電源に接続する耐インパルスカテゴリ（過電圧カテゴリ）IIの過渡電圧では，定格電圧の中間値に対す
る空間距離の補間は許容されない。沿面距離に対しては，定格電圧の中間値に対する補間が許容される。
表1に示す値は，基本的な推奨値である。新しい口金を設計する場合には，沿面距離及び空間距離に対
する全ての要素による影響を考慮することが望ましい。JIS C 7709-1の口金データシートには，それらを
考慮した結果が反映されているので，口金データシートの値は，基本的な推奨値よりも優先する。
備考 汚損度2では，一時的な結露は沿面距離に大きな影響を及ぼすので，これらの要求事項は口金
内部及び口金単体の外部に適用される。
4. 定格周波数30 kHzを超える場合における沿面距離及び空間距離の指針
4.1
一般事項 定格周波数30 kHzを超える場合における沿面距離及び空間距離は，3.に加えて4.2及び
4.3も適用する。
4.2
沿面距離 IEC 61347-1の16.2.3を適用する。
4.3
空間距離 基礎絶縁及び付加絶縁についてはIEC 61347-1の表10，並びに強化絶縁については表11
で規定する空間距離を，追加の試験をせずに適用してもよい。一方，JIS C 60664-1の6.1.2（空間距離を
検証する試験），及び絶縁破壊電圧の低下が起こる臨界周波数fcritを超える周波数においてJIS C 60664-4
の箇条7（高周波試験）によって確認できる場合，次に示す規定を下回らない範囲で空間距離を小さくし
てもよい。
− イグニッションパルス電圧は，JIS C 60664-1の表F.2のケースB 汚損度2に規定する値
− その他の場合は，JIS C 60664-1の表F.7（定常電圧，短時間過電圧又は反復ピーク電圧に耐える空間
距離）のケースBに規定する値
5. 参考文献
JIS C 8121-1 ランプソケット類−第1部：一般要求事項及び試験
JIS C 8122 差込みランプソケット
JIS C 8280 ねじ込みランプソケット
JIS C 8324 蛍光灯ソケット及びスタータソケット
IEC Guide 104:2010，The preparation of safety publications and the use of basic safety publications and group
safety publications
0-3-3