C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
（1）
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目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
3.1 リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義 ································································· 3
3.2 動作値に関する用語 ······································································································· 4
3.3 動作時間に関する用語 ···································································································· 5
3.4 接点に関する用語 ·········································································································· 7
4 定格値··························································································································· 10
4.1 一般要求事項 ··············································································································· 10
4.2 動作頻度 ····················································································································· 10
4.3 通電率 ························································································································ 10
4.4 接点間電圧 ·················································································································· 11
4.5 定格電流 ····················································································································· 11
4.6 定格電力 ····················································································································· 11
4.7 動作回数 ····················································································································· 11
4.8 耐候性カテゴリ ············································································································ 11
4.9 環境に対する性能 ········································································································· 11
4.10 サージ電圧 ················································································································· 12
4.11 負荷の種別 ················································································································· 12
4.12 接触信頼性 ················································································································· 13
5 表示······························································································································ 13
6 試験及び測定方法 ············································································································ 13
6.1 試験及び測定方法に関する要求事項·················································································· 13
6.2 代替方法 ····················································································································· 13
6.3 試験の標準条件 ············································································································ 13
6.4 目視検査その他 ············································································································ 13
6.5 機能試験 ····················································································································· 14
6.6 残留磁気試験 ··············································································································· 15
6.7 接触抵抗 ····················································································································· 16
6.8 耐電圧試験 ·················································································································· 17
6.9 絶縁抵抗 ····················································································································· 18
6.10 動作時間 ···················································································································· 19
6.11 接点スティッキング ····································································································· 21
6.12 端子強度 ···················································································································· 23
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015) 目次
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6.13 はんだ付け性及びはんだ耐熱性 ······················································································ 23
6.14 耐候性シーケンス ········································································································ 23
6.15 温湿度，定常状態 ········································································································ 24
6.16 急激な温度変化 ··········································································································· 25
6.17 塩水噴霧 ···················································································································· 25
6.18 振動 ·························································································································· 25
6.19 衝撃 ·························································································································· 26
6.20 加速度試験−機能試験 ·································································································· 27
6.21 気密度試験 ················································································································· 27
6.22 電気的耐久性 ·············································································································· 28
6.23 機械的耐久性 ·············································································································· 34
6.24 最大動作頻度 ·············································································································· 35
6.25 耐サージ電圧試験 ········································································································ 36
6.26 接点の開閉容量 ··········································································································· 36
6.27 条件付き短絡電流試験 ·································································································· 39
6.28 接触信頼性 ················································································································· 39
6.29 温度上昇 ···················································································································· 41
6.30 投入電流容量試験 ········································································································ 41
6.31 遮断電流容量試験 ········································································································ 42
附属書A（規定）リードスイッチの標準試験コイル ··································································· 44
附属書B（規定）試験システム ······························································································ 46
附属書C（参考）電気的耐久試験回路 ····················································································· 47
附属書D（参考）突入電流負荷 ······························································································ 48
附属書E（参考）条件付き短絡電流試験回路············································································· 49
附属書F（参考）誘導負荷の電気的定格の種類 ·········································································· 50
附属書G（参考）モータ負荷における定格出力の例 ··································································· 51
附属書H（参考）接触信頼性試験の回路例 ··············································································· 52
附属書I（参考）投入電流容量試験の回路例 ············································································· 53
附属書J（参考）遮断電流容量試験の回路例 ············································································· 54
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気制御機器工業会（NECA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 62246の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 62246-1 第1部：品目別通則
JIS C 62246-1-1 第1-1部：品質評価及び試験方法
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 62246-1：2016
(IEC 62246-1：2015)
リードスイッチ−第1部：品目別通則
Reed switches-Part 1: Generic specification
序文
この規格は，2015年に第3版として発行されたIEC 62246-1を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，リードスイッチ（品質評価済みの磁気バイアス形リードスイッチを含む。）の品目別通則に
ついて規定する。この規格は，一般用及び産業用途の全ての品種を規定する。
注記1 環境問題から水銀入りリードスイッチは，この規格の適用範囲から除いている。
この規格は，リードスイッチの個別規格（JIS C 62246-1-1）に用いることができる試験及び測定手順を
扱っている。
この規格は，形成する磁場で駆動するリードスイッチの接点定格に適用できる。
リードスイッチを使用するリレーは，JIS C 4540-1及びIEC 61811-1を併用するのがよい。
リードスイッチを使用する応用製品は，応用製品規格を併用するのがよい。
注記2 規格の優先順位は，次のとおりである。
a) 個別規格
b) 品種別通則
c) 品目別通則
d) 引用する国際的な規範文書（例えば，IEC規格）及び日本工業規格（JIS）
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 62246-1:2015，Reed switches−Part 1: Generic specification（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 8201-5-1:2010 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電
気機械式制御回路機器
注記 対応国際規格：IEC 60947-5-1:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control
circuit devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices（IDT）
JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
2
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
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注記 対応国際規格：IEC 60068-1:1988，Environmental testing. Part 1: General and guidance（IDT）
JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：
A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold（IDT）
JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：
B）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
（IDT）
JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal)（IDT）
JIS C 60068-2-7:1993 環境試験方法−電気・電子−加速度（定常）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-7:1983，Basic environmental testing procedures−Part 2-7: Tests−Test
Ga and guidance: Acceleration, steady state（IDT）
JIS C 60068-2-11:1989 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-11:1981，Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−
Test Ka: Salt mist（IDT）
JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-13:1983，Basic environmental testing procedures−Part 2-13: Tests−
Test M: Low air pressure（IDT）
JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14:2009，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature（IDT）
JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-17:1994，Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−
Test Q: Sealing（IDT）
JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ
付け性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-20:2008，Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads（IDT）
JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-21:2006，Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
of terminations and integral mounting devices（IDT）
JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-27:2008，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
guidance: Shock（IDT）
JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイク
ル）試験方法（試験記号：Db）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)（IDT）
3
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法（試験記
号：Cab）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-78，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat,
steady state（IDT）
JIS C 62246-1-1:2016 リードスイッチ−第1-1部：品質評価及び試験方法
注記 対応国際規格：IEC 62246-1-1:2013，Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality
assessment（MOD）
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
注記 リードスイッチに関する用語は，JIS C 5600で規定されている。
3.1
リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義
3.1.1
品種（type）
製造業者が指定した仕様（寸法，接点構成，接点耐圧，開閉容量，封入ガスの種類など）によって分類
される製品。
3.1.2
特性分類品（variant）
規定の特性をもつ品種内でのバリエーション。
3.1.3
リードスイッチ（reed switch）
一対の磁性材料を各々弾性的に可動できるように，その一部をプレス加工した線材に適切な重なり及び
間隔をもたせ，封着用ガラス管に封入した磁気で駆動するスイッチ（図1参照）。
封着用ガラス管
封入ガス
接触片
端子
図1−リードスイッチの構造事例
3.1.4
高耐圧形リードスイッチ（high voltage vacuum reed switch）
高い電圧を開閉するためハーメチックシール管内を真空又は加圧して封着したリードスイッチ。
3.1.5
重負荷形リードスイッチ（heavy-duty reed switch）
より大きな接点開閉容量をもつリードスイッチ（図2参照）。
注記 一対の接点チップ又は磁極部と通電部とを完全に分離させ，接点チップ及び戻しばねを接点片
に追加したリードスイッチ。
4
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
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封着用ガラス管
磁極部
可動リード
戻しばね
封入ガス
ばね接点接点チップ
図2−重負荷形リードスイッチの構造事例
3.1.6
磁気バイアス形リードスイッチ（magnetically biased reed switch）
機能特性，並びに動作位置及び復帰位置を決めるために磁界でバイアスされたリードスイッチ。
3.2
動作値に関する用語
3.2.1
指定位置（preferred position）
他に規定がない場合，試験で正常に機能する位置。
3.2.2
定格値（rated value）
製造業者が，その機器の仕様又は適正な使用方法を示した値。
3.2.3
動作位置（operate position）
A接点では閉じる位置，B接点では開く位置。
3.2.4
復帰位置（release position）
A接点では開く位置，B接点では閉じる位置。
3.2.5
感動値（just-operate value）
リードスイッチが感動する起磁力の値（図3参照）。
3.2.6
必須感動値（must-operate value）
リードスイッチが感動する起磁力の限界値（図3参照）。
3.2.7
開放値（just-release value）
動作しているリードスイッチが，開放する起磁力の値（図3参照）。
3.2.8
必須開放値（must-release value）
動作しているリードスイッチが，開放する起磁力の限界値（図3参照）。
3.2.9
必須否感動値（must-not-operate value）
リードスイッチが感動しない起磁力の限界値（図3参照）。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.2.10
必須否開放値（must-not-release value）
動作しているリードスイッチが，開放してはならない起磁力の限界値（図3参照）。
3.2.11
否開放特性値（characteristics non-release value）
動作しているリードスイッチが，接触抵抗又はノイズの値にかかわらず開放しない起磁力の限界値（図
3参照）。
3.2.12
飽和値（saturate value）
それ以上増加してもリードスイッチが影響を受けない起磁力の値（図3参照）。
3.2.13
接点バウンス（contact bounce）
接点が最初に閉じた後，一時的に再度開状態になる又は最初に開いた後，一時的に閉状態になること。
3.2.14
磁性ドエル（C接点形だけ）（magnetic dwell）
B接点が開き，A接点が閉じるとき又はその逆のとき，リードスイッチに加えられる起磁力の値の差。
図3−機能特性
3.3
動作時間に関する用語（図4参照）
3.3.1
バウンス時間（bounce time）
接点が，最初に閉じて（又は開いて）から，完全に閉じる（又は開く）までの時間。
3.3.2
動作時間（operate time）
リードスイッチに規定した磁場を印加した時点から，接点が動作位置になるまでの時間。ただし，バウ
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
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ンス時間を含まない。
3.3.3
復帰時間（release time）
リードスイッチから規定した磁場を取り除いた時点から，接点が復帰位置に戻るまでの時間。ただし，
バウンス時間を含まない。
3.3.4
（C接点形）トランスファー時間（transfer time）
C接点形の場合，バウンス時間を含まない両方の接点回路が開いている間の時間間隔。
3.3.5
（C接点形）ブリッジ時間（bridging time）
C接点形の場合，バウンス時間を含まない両方の接点回路が閉じている間の時間間隔。
3.3.6
動作時の動作時間（operate make time）
リードスイッチに磁場をかけた瞬間からA接点が最初に閉じる瞬間までの時間間隔。
3.3.7
動作時の復帰時間（operate break time）
リードスイッチに磁場をかけた瞬間からB接点が最初に開く瞬間までの時間間隔。
3.3.8
復帰時の動作時間（release make time）
リードスイッチから規定する磁場を取り除いた瞬間からB接点が最初に閉じる瞬間までの時間間隔。
3.3.9
復帰時の復帰時間（release break time）
リードスイッチから規定する磁場を取り除いた瞬間からA接点が最初に開く瞬間までの時間間隔。
3.3.10
（C接点形）動作時のトランスファー時間（operate transfer time）
C接点形の場合，新しい接点を閉じる前に最初のセットの接点を開くリードスイッチが，復帰位置から
動作位置に動くときの切換え時間。
3.3.11
（C接点形）復帰時のトランスファー時間（release transfer time）
C接点形の場合，新しい接点を閉じる前に最初のセットの接点を開くリードスイッチが，動作位置から
復帰位置に動くときの切換え時間。
3.3.12
動作エネルギーの最小励磁時間（minimum time of operate energization）
所定の値で磁場を最初に励磁した瞬間から，リードスイッチが安定動作状態に保たれる否開放特性値ま
で到達する瞬間までの最小時間。
3.3.13
安定閉位置までの時間（time to stable closed position）
所定の磁界を印加してから，接触抵抗又はノイズ特性の値にかかわらず所定の品質を満たすまでの時間。
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試験コイルの通電
試験コイルの通電遮断
t1：動作時の復帰時間
t11：復帰時の復帰時間
t2：動作時の動作時間
t12：復帰時の動作時間
t3：動作時のトランスファー時間
t13：復帰時のトランスファー時間
t4：動作時のブリッジ時間
t14：復帰時のブリッジ時間
t5及びt6：動作時のバウンス時間
t15及びt16：復帰時のバウンス時間
VBのキーについては図10及び図11を参照
図4−動作時間の定義
3.4
接点に関する用語
3.4.1
接触片（contact blade）
a) ブレイク ビフォア メイク
b) メイク ビフォア ブレイク
以内
以内
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リードスイッチで，電気回路若しくは磁気回路のいずれかの機能，又はその両方を合わせた機能をもつ
金属片。
3.4.2
バイアス磁界（biasing magnetic field）
接点の動作位置及び復帰位置を決定する外部の連続磁界。単安定又は双安定の接点構成を形成するため
に調整する。
注記 双安定の接点に関しては，製造業者が動作条件及び復帰条件を印加する磁界の極性はJIS C
62246-1-1に示されている。
3.4.3
印加される磁界（applied magnetic field）
接点の位置を変えるため，外部で（例えば，試験コイルによって）発生させる磁界。
3.4.4
機械的バイアス式リードスイッチ（switch，mechanically biased）
動作位置及び復帰位置を決めるため，機械的にバイアスされたリードスイッチ。
3.4.5
A接点（make contact）
磁界を印加することで感動し，それまで開いていた回路が閉状態になる接点の形式（図5参照）。
注記 図5は常時開路接点を表す。
固定接点
可動接点
図5−A接点形リードスイッチの接点シンボル
3.4.6
B接点（break contact）
磁界を印加することで感動し，それまで閉じていた回路が開状態になる接点の形式（図6参照）。
注記 図6は常時閉路接点を表す。
固定接点
可動接点
図6−B接点形リードスイッチの接点シンボル
3.4.7
C接点（切換接点）（change-over contact）
一つのガラス管にA接点とB接点とを備え，共通の接点ブレードをもつもので，磁界を印加すると，B
接点の片方が，A接点の方に移動する接点切換形の形式。
切換接点は，A接点が閉じる前にB接点が開状態になる，又はB接点が開状態になる前にA接点が閉
じる2種類がある（図7参照）。
固定接点
可動接点
図7−C接点形リードスイッチの接点シンボル
9
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.4.8
最大動作周波数（maximum cycling frequency）
リードスイッチが仕様を満たすことができる1秒当たりの最大動作サイクル数。
3.4.9
接触不良（failure-to-make）
接点が接触不能になる状態。所定の時間内に，所定の磁場をかけた試料の接点接触抵抗値が，規定値を
超えることによって検出される。
3.4.10
開離不良（failure-to-break）
接点が開離不能になる状態。所定の時間内に，所定の磁場をかけた試料の接点接触抵抗値が，規定値を
超えないことによって検出される。
3.4.11
接点スティッキング（contact sticking）
残留磁気，物理的又は化学的な影響で起こるリードスイッチの開離不良。
3.4.12
最大開閉電流（maximum switching current）
最大の許容開閉直流又はピーク電流。所定の動作回数，動作頻度及び負荷で規定する。
3.4.13
定格通電電流（limiting continuous current）
規定の条件下で，閉じている接点に連続して通電できる電流の許容値。
3.4.14
最大開閉電圧（maximum switching voltage）
最大の許容開閉交流／直流又はピーク電圧。所定の動作回数と負荷とで規定する。
3.4.15
接点ノイズ（contact noise）
閉じた接点の端子間に発生する不規則な電圧変動。
3.4.16
熱起電力（thermal e.m.f.）
リードスイッチによって発生する熱起電力。動作位置の状態で2種類の異なる導体の両端を接合し，各々
の接合点を異なる温度に保ったときに生じる。
3.4.17
通電率（duty factor）
全動作期間に対する励磁した期間の比率。
注記 通電率は，全期間の割合をパーセント（%）で表すことができる。
3.4.18
定格条件付き短絡電流（rated conditional short-circuit current）
製造業者が指定する予期される電流値。製造業者が指定した短絡保護デバイスによって，リードスイッ
チが，規定した条件において耐えられる電流値。
3.4.19
動作に関する故障率（cycle-related failure rate）
10
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
リードスイッチの使用動作回数に対する平均故障回数。
注記 故障率（λc）は，平均故障間隔（MTBFc）の逆数である。
3.4.20
動作頻度（frequency of operation）
時間当たりの動作回数。
3.4.21
機械的耐久性（mechanical endurance）
接点無負荷及び規定の動作条件において開閉できる，接点故障までの動作回数。
3.4.22
電気的耐久性（electrical endurance）
規定された出力回路の電気負荷及び規定の動作条件において開閉できる，接点故障までの動作回数。
3.4.23
定格閉路電流容量（rated making current capacity）
接点電圧，投入回数，力率，負荷時定数など規定する条件において，投入できる電流値。
注記 交流の場合，実効値で規定される。
3.4.24
定格開路電流容量（rated breaking current capacity）
接点電圧，遮断回数，力率，負荷時定数など規定する条件において，遮断できる電流値。
注記 交流の場合，実効値で規定される。
3.4.25
定格絶縁電圧（rated insulation voltage）
絶縁設計の基準となる電圧値。耐電圧試験と絶縁距離とに関係する。
3.4.26
接点間電圧（open circuit voltage across contacts）
復帰位置のA接点形リードスイッチ，又は動作状態のB接点形リードスイッチの端子間の電圧。
3.4.27
定格使用電圧（rated operational voltage）
規定の条件において使用できる電圧。閉路容量，遮断容量，開閉頻度及び開閉耐久性に関係する。
3.4.28
定格使用電流（rated operational current）
定格電圧において，閉路容量，遮断容量，開閉頻度及び開閉耐久性を満足する最大適用電流。
4
定格値
4.1
一般要求事項
この箇条の推奨値は，技術的に必要な値を全て含んでいるとは限らない。このためJIS C 62246-1-1に規
定していない場合，動作条件又は用途によって他の値を用いてもよい。
4.2
動作頻度
推奨する動作頻度は，1秒当たり1回，2回，5回，8回，10回，12.5回，16回，20回，25回，30回，
50回，60回，100回，120回，200回及び500回とする。
4.3
通電率
11
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
推奨する通電率は，50 %とする。
4.4
接点間電圧
交流及び直流の推奨する接点間電圧は，次による。
a) 交流：0.01 V，0.1 V，5 V，12 V，24 V，30 V，40 V，50 V，100 V，110 V，120 V，127 V，150 V，170 V，
175 V，200 V，220 V，240 V，250 V，265 V，300 V，380 V，400 V，500 V，1 000 V，1 500 V及び2 000
V
b) 直流：0.01 V，0.03 V，0.05 V，0.1 V，1 V，1.5 V，4.5 V，5 V，6 V，6.3 V，10 V，12 V，15 V，17 V，
20 V，24 V，28 V，30 V，36 V，40 V，48 V，50 V，60 V，72 V，80 V，96 V，100 V，110 V，125 V，
150 V，170 V，175 V，200 V，220 V，250 V，265 V，280 V，350 V，400 V，440 V，500 V，600 V，
800 V，1 000 V，1 200 V，1 500 V，2 000 V，3 500 V，5 000 V，10 000 V及び15 000 V
4.5
定格電流
推奨する電流値は，1 A，1.25 A，1.5 A，1.6 A，2 A，2.5 A，3 A，3.15 A，3.5 A，4 A，5 A，6.3 A，7 A，
7.5 A及び8 A，又はこれら電流値の10分の1若しくは倍数とする。
4.6
定格電力
交流及び直流の推奨する定格電力は，次による。
− 交流：0.3 VA，1 VA，2 VA，3 VA，5 VA，10 VA，15 VA，16 VA，20 VA，25 VA，30 VA，40 VA，50 VA，
70 VA，100 VA，150 VA，250 VA，500 VA，750 VA，1 000 VA，1 800 VA，3 600 VA及び7 200 VA
− 直流：0.1 W，0.3 W，1 W，2 W，3 W，5 W，10 W，15 W，16 W，20 W，25 W，30 W，40 W，50 W，
70 W，100 W，150 W，250 W及び500 W
4.7
動作回数
推奨する動作回数は，5千回，1万回，2万回，5万回，10万回，20万回，100万回，200万回，500万
回，1 000万回，2 000万回，5 000万回，1億回，2億回，5億回，10億回及び100億回とする。
4.8
耐候性カテゴリ
定常状態及びサイクル試験の両方に関する耐候性カテゴリ（JIS C 60068-1の附属書A参照）は，次の周
囲温度並びに温度の下限値及び上限値から選定する。
a) 低温放置温度は，−65 ℃，−55 ℃，−50 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃とする。
b) 高温放置温度は，40 ℃，55 ℃，70 ℃，85 ℃，100 ℃，125 ℃，150 ℃，180 ℃及び200 ℃とする。
c) 定常温放置及び温度の露出時間は，4日間，10日間，21日間，42日間及び56日間とする。
d) 耐候性カテゴリの例は，次による。
65/125/56：下限値 −65 ℃，上限値 125 ℃，露出時間 56日間
40/100/56：下限値 −40 ℃，上限値 100 ℃，露出時間 56日間
40/100/21：下限値 −40 ℃，上限値 100 ℃，露出時間 21日間
40/85/56 ：下限値 −40 ℃，上限値 85 ℃，露出時間 56日間
40/70/21 ：下限値 −40 ℃，上限値 70 ℃，露出時間 21日間
25/70/21 ：下限値 −25 ℃，上限値 70 ℃，露出時間 21日間
25/55/04 ：下限値 −25 ℃，上限値 55 ℃，露出時間 4日間
10/40/04 ：下限値 −10 ℃，上限値 40 ℃，露出時間 4日間
10/55/04 ：下限値 −10 ℃，上限値 55 ℃，露出時間 4日間
4.9
環境に対する性能
環境に対する性能は，次による。
12
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 振動（JIS C 60068-2-6の試験Fc参照）に対する性能は，次による。
（周波数）
（振幅又は加速度）
（掃引回数）
10 Hz〜500 Hz
0.35 mm又は49 m/s2 （5 g）
10
10 Hz〜500 Hz
0.75 mm又は98 m/s2 （10 g）
10
10 Hz〜2 000 Hz
0.75 mm又は98 m/s2 （10 g）
8
10 Hz〜2 000 Hz
1.5 mm又は196 m/s2 （20 g）
8
10 Hz〜2 000 Hz
3.5 mm又は490 m/s2 （50 g）
12
三軸各々の掃引持続時間は，所定の掃引回数によって規定する。
掃引率は，1分当たり1オクターブ±10 %，交差周波数は57 Hz〜62 Hzとする。
b) 衝撃（JIS C 60068-2-27の試験Ea参照）に対する性能は，次による。
6 ms，980 m/s2，100 g
11 ms，490 m/s2，50 g
11 ms，294 m/s2，30 g
c) 加速度（JIS C 60068-2-7の試験Ga参照）に対する性能は，次による。
m/s2
g
98
10
196
20
490
50
19 600
2 000
49 000
5 000
98 000
10 000
196 000
20 000
294 000
30 000
仕様に規定する各方向において，1分間とする。
d) 減圧力（JIS C 60068-2-13の試験M参照）に対する性能は，80 hPaとする。
4.10 サージ電圧
サージ電圧は，次による。
a) 波高値は，800 V，1 500 V，2 500 V，3 000 V，4 000 V及び5 000 Vとする。
b) サージ波形は，1.2×50 μs，10×700 μs及び1 000 μsとする。
4.11 負荷の種別
負荷の種別は，表1の負荷の種別を使用することが望ましい。他の種別を使用する場合は，製造業者と
使用者とで合意しなければならない。
なお，製造業者のカタログ又は見積書による情報は合意とみなすことができる。
表1−負荷の種別
電流の種類
使用負荷種別
代表事例
交流
交流誘導負荷
（開閉器コイル，ソレノイドコイル）
72 VAを超える電磁負荷制御
直流
直流誘導負荷
（開閉器コイル，ソレノイドコイル）
電磁石の制御
13
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 8201-5-1の使用負荷種別を適用してもよい。この場合，正常及び異常負荷条件の開閉に関する責
務，定格条件付き短絡電流などの要求事項は，JIS C 8201-5-1の要求事項及び試験に従う。
注記 特別な要求がある場合，使用負荷に静電容量又はフィラメントランプを適用することができる。
4.12 接触信頼性
推奨する故障率は，動作回数1 000万回に対し，1回，5回及び10回とする。
5
表示
品種別通則又はJIS C 62246-1-1には，スイッチユニット及び／又は包装箱に識別基準及び他の情報を表
示する旨を規定しなければならない。文字又は色コードは，適切な仕様を全部又は参照番号で明示しなけ
ればならない。小さなユニットの表示の優先順位の例として，附属書F及び附属書Gに示す接点定格など，
製造業者が文字で与える情報は，接点定格の表示スペースを取ってもよい。
スイッチユニットの表示は，次の内容を含まなければならない。
− 製造業者又は登録商標
− ユニット，形式及び特性分類の略号
− 製造年月又はそのコード化した略号
リードスイッチの各包装箱は，次の情報を表示しなければならない。
− 製造年月又はそのコード化した略号
− JIS C 62246-1-1の番号
− 製造業者の工場の識別略号
− JIS C 62246-1-1に規定する追加表示
6
試験及び測定方法
6.1
試験及び測定方法に関する要求事項
実施する試験，各試験又は試験サブグループの前後に実施する測定及びその方法は，リードスイッチの
個別規格（JIS C 62246-1-1）に規定する。
6.2
代替方法
関連仕様に規定する試験及び測定方法は，必ずしも使用できる唯一の方法ではない。製造業者は，代替
方法が規定の方法と同等な結果が得られることを確認しなければならない。
6.3
試験の標準条件
他に規定がない場合，全ての試験は，JIS C 60068-1による。リードスイッチに通電が求められる測定は，
JIS C 62246-1-1による。試験コイルは附属書Aの標準試験コイルリストの中から，試験システムは附属書
Bの試験システムの中から，それぞれ選択する。
試験は，外部磁場又はきょう体の影響が，試験結果に対して起磁力0.5 A又は2 %のうち，いずれか大き
い方の値と同等量にならないように行う。他に規定がない場合，全ての試験電圧は公称値の±0.5 %でなけ
ればならない。
6.4
目視検査その他
6.4.1
目視検査
JIS C 62246-1-1に規定がない場合，検査は，通常の目視条件下で行う。技量，封着，仕上げ及び表示は，
JIS C 62246-1-1による。
JIS C 62246-1-1に規定がない場合，次の欠陥に対し，特定倍率のより詳細な目視検査を行う。
14
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− ガラス欠陥：割れ，泡，結晶化，失透，粒，封着不良など
− 幾何学的欠陥：接点接合，接点重なり不良，ばり，接点ずれなど
− 機械的欠陥：膨れ，非めっき部分，汚染，さび，磁性ほこり，非磁性ほこり，ウィスカ成長など
6.4.2
外形寸法
外形寸法は，JIS C 62246-1-1に規定する寸法に適合していることを確認する。
6.4.3
公称質量
公称質量は，個別規格で要求する場合，JIS C 62246-1-1に規定する質量に適合していることを確認する。
6.4.4
詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 目視検査は，照明，拡大条件及び検査の限度
b) 外形寸法
c) 公称質量
6.5
機能試験
6.5.1
機能試験方法
6.5.1.1
リードスイッチの試験方法
試験コイルにリードスイッチを取り付け，規定する順序で行う。他に規定がない場合，通電の増減は，
飽和値及び通電ゼロに対しては，1 ms当たりの起磁力5 Aを，必須否開放値，必須開放値，必須否感動値，
必須感動値，開放値及び感動値に対しては，1 ms当たりの起磁力1 Aを超えてはならない。
試験中の監視は，次による。
a) 手順1：接触不良及び開離不良は，コイルを適切な値で励磁し，接点回路を試験中監視する。
b) 手順2 a：磁気誘導又は同等の方法で，接点の物理的な開閉を試験中監視する。
1) 飽和：接点を動作させた状態で，所定の時間，飽和値まで通電する。
2) 必須否開放：コイルの通電を必須否開放値まで降下させる（注記1及び注記2参照）。
3) 必須開放：コイルの通電を必須否開放値（指定がない場合，飽和値）から必須開放値まで降下させ
る。必須開放値に達した後，20 ms間以上無通電としなければならない。
4) 必須否感動：コイルへの通電をゼロから必須否感動値まで上昇させる（注記1参照）。
5) 必須感動：コイルへの通電をゼロ（指定がある場合，必須否感動値）から必須感動値まで上昇させ
る。
c) 手順2 b：磁気誘導又は同等の方法で，接点の物理的な開閉を試験中監視する。
1) 飽和：接点を動作させた状態で，所定の時間，飽和値まで通電する。
2) 無通電：コイルの通電を20 ms間ゼロとしなければならない。
3) 必須否感動：コイルへの通電をゼロから必須否感動値まで上昇させる（注記1参照）。
4) 必須感動：コイルへの通電をゼロ（指定がある場合，必須否感動値）から必須感動値まで上昇させ
る。
5) 必須否開放：コイルの通電を必須否開放値まで降下させる（注記1及び注記2参照）。
6) 必須開放：コイルの通電を必須否開放値（指定がない場合，飽和値）から必須開放値まで降下させ
る。
注記1 必須否開放及び必須否感動の試験はオプションであり，JIS C 62246-1-1に規定されている
場合だけ実施する。
注記2 規定がある場合，必須否開放値の機能試験は否開放特性値に置き換えることができる。
15
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.5.1.2
磁気バイアス形リードスイッチの試験方法
6.5.1.1の励磁の増減は，必須否開放値，必須開放値，必須否感動値，必須感動値，開放値及び感動値の
場合は，1 ms当たりの起磁力0.1 Aを適用する。また，試験システムは図B.1及び図B.2に示す方法で，
次のいずれかを用いることができる。
a) 試験システム1の場合の手順
1) 中央コイルMは，無通電とする。
2) コイルLの通電は，復帰位置の飽和値まで上昇させ，その後ゼロに降下させる。
3) コイルRの通電は，ゼロから必須感動値まで上昇させる。
4) コイルRの通電は，動作位置の飽和値まで上昇させ，その後ゼロに降下させる。
5) コイルLの通電は，必須開放値まで上昇させる。
b) 試験システム2の場合の手順
1) 中央コイルMの通電は，動作位置の飽和値まで上昇させ，その後ゼロに降下させる。
2) コイル通電は，反対の極性で開放値まで上昇させ，更に復帰位置の飽和値まで上昇させた後ゼロ降
下させる。
3) コイル電圧を反対の極性で動作位置まで上昇させる。
6.5.2
要求事項
判定基準は，次による。
− 接触不良及び開離不良に対する接触抵抗の限度値に適合する。
− 接点の物理的開閉は，必須開放，必須否開放，必須感動及び必須否感動の規定値以内とする。
6.5.3
詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 試験コイル（及び可能な場合，試験システム）
b) 接点の開閉を監視する方法
c) 飽和値及び印加時間
d) 必須否開放値（可能な場合）
e) 必須開放値
f)
必須否感動値（可能な場合）
g) 必須感動値
h) 否開放特性値（適用する場合）
i)
接触不良（手順1による。）：接触抵抗限界値
j)
開離不良（手順1による。）：接触不良限界値
k) 通電ゼロの時間：20 ms以外の場合
l)
通電の増減比（該当する場合）
6.6
残留磁気試験
6.6.1
残留磁気試験方法
残留磁気試験は，試験コイルにリードスイッチを取り付け，次の順序で行う（図8参照）。スイッチの位
置及び外部磁場の影響は，試験中一定に保たなければならない。試験を通じて，適切にコイルに通電し接
触不良及び開離不良を検出するため接点回路を監視する。
a) 飽和：接点を動作させた状態で，試験コイルに飽和値で20 ms間以上通電しなければならない。
その後，電流をゼロまで降下させ，20 ms間以上維持しなければならない。
16
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 感動（1）：コイルの通電をゼロから同じ極性で，感動値（1）まで上昇させる。
c) 飽和（逆極性）：感動値からゼロに戻し，逆極性で飽和値を20 ms間以上維持しなければならない。
d) 感動（2）：逆極性の飽和値からゼロに戻し，元の極性に反転させ感動値（2）まで上昇させる。
6.6.2
要求事項
残留磁気の値は，感動値（1）と感動値（2）との差を感動値（1）で除したものである（6.6.1参照）。接
触不良となる接触抵抗の限界値は，6.5.2に従わなければならない。
6.6.3
詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 試験コイル
b) 飽和値
c) 残留値（%表示）：Rv
注記 残留値Rvは，次の式によって求める。
100
1
M
1
M
2
M
Rv
×
−
−
=
（%）
ここに，
M1： 感動値（1）
M2： 感動値（2）
d) 6.5.2による接触不良の接触抵抗限界値
e) 20 ms以外の場合，無通電の時間
図8−残留磁気試験のシーケンス
6.7
接触抵抗
6.7.1
接触抵抗の測定方法
接触抵抗の測定手順は，次による。
− 接触抵抗値はケルビン法（四端子法）で，シール封着終端から6 mm，又はJIS C 62246-1-1に規定す
る点で測定する。
− 他に規定のない場合，接点回路に印加する電圧及び電流は，交流実効値又は直流で6 V，1 A未満とし
なければならない。
− 交流電流の周波数は，可聴周波数の範囲でなければならない。
− 接触抵抗値は，二つの値の平均値としなければならない。
− 他に規定がない場合，試料は試験コイルで磁気的に飽和させる。さらに，個別規格に規定された値ま
17
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
で励磁を落とす。
− 他に規定がない場合，B接点の接触抵抗は，試験コイルの励磁なしで測定する。
− JIS C 62246-1-1の規定に従って，測定回路は，時間軸ゼロ又はt2（図4参照）の時に試料に接続して
よい。
− JIS C 62246-1-1に記載しているように，測定回路は，時間軸t3の時に試料から外す。
− 接点の接触抵抗は，A接点では時間t2とt3との間で，B接点では時間t5とt6との間で，測定する（図
9参照）。
6.7.2
要求事項
接触抵抗は，JIS C 62246-1-1に規定する値を超えてはならない。
6.7.3
詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 試験コイル
b) 測定点（6 mm以外の場合）
c) 接触抵抗
d) 飽和値及び下降値
e) t1，t2，t3，t4，t5及びt6
f)
印加する測定電圧及び電流（該当する場合）
g) 印加周波数（交流の場合）（該当する場合）
図9−接触抵抗測定のシーケンス
6.8
耐電圧試験
6.8.1
耐電圧試験の方法
絶縁性は，正弦波又は直流電圧をかけて試験する。試験電圧は，ゼロから次のa)で規定する値まで一様
に上昇させる。短絡とみなすリーク電流は，0.1 mA〜1 mAの間としなければならない。
a) 手順1 JIS C 62246-1-1に規定がない場合は，4.4から試験電圧を選択し，次の個所に印加する。
− A接点形リードスイッチでは，接点開の状態で端子間
− C接点形リードスイッチは，A及びB両方共接点開の状態で端子間
− 規定された全ての導電部間
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験電圧は，直流又は45 Hz〜65 Hzの正弦波を端子間に，次の時間印加する。
− 60±5秒
− 1秒間又は規定値の1.1倍の条件
b) 手順2 上記a)の方法で，適切なイオン化方法も適用できる。JIS C 62246-1-1に規定がない場合，手
順1の試験時間を適用する。
c) 手順3 通常の最大動作温度にて，次の個所に60 Hzの正弦波又は直流電圧を印加後，1分間は絶縁破
壊せずに耐えなければならない。
− 接点が開又は閉の状態で，絶縁していない導電部とガラス管との間
− 接点が閉の状態で，反対極性の端子間
− 他の回路の絶縁されていない導電部間
試験電圧は，次に示す交流電圧値，又はその1.414倍の直流電圧値とする。
− 500 V 定格絶縁電圧値が50 V以下の産業用制御機器
− 1 000 V＋定格絶縁電圧の2倍 定格絶縁電圧値が51 V〜600 Vの産業用制御機器
− 1 000 V 汚染度2に使用する場合，定格絶縁電圧値が51 V〜250 Vの産業用制御機器
− 2 000 V＋最大定格絶縁電圧の2.25倍 定格絶縁電圧値が601 V〜1 500 Vの産業用制御機器
6.8.2
要求事項
リーク電流は，JIS C 62246-1-1に規定する時間で規定値を超えてはならない。
6.8.3
詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 手順1，手順2又は手順3
b) 前処理（該当する場合）
c) JIS C 62246-1-1に規定がない場合，A接点形及びB接点形では，接点開の状態で端子間に印加する電
圧（C接点形リードスイッチでは，接点開及び閉の状態で端子間に印加する電圧）
d) 導電部
e) 試験電圧の印加時間
f)
リーク電流の最大値
g) リーク電流の最大時間
h) イオン化前処理からリーク電流を検出するまでの時間（該当する場合）
6.9
絶縁抵抗
6.9.1
絶縁抵抗試験の方法
JIS C 62246-1-1に規定する試験電圧を適用し，次による。
− JIS C 62246-1-1に規定がない場合，A及びB接点形リードスイッチでは，接点開の状態で端子間，C
接点形リードスイッチでは，接点開及び閉の状態で端子間
− 規定の金属部間
絶縁抵抗は，JIS C 62246-1-1に規定する直流電圧で測定する。ただし，次のいずれでもよい。
− 100 V
− 500 V
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電圧は，0.5秒以上又は安定な読取りをするために必要な時間かけ続けなければならない。
その後に，絶縁抵抗を記録する。
6.9.2
要求事項
絶縁抵抗値はJIS C 62246-1-1に規定する値以下であってはならない。
6.9.3
詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 絶縁試験電圧
b) 絶縁抵抗の最小値
c) 導電部
6.10 動作時間（図4，図10及び図11参照）
6.10.1 動作時間の測定方法
試験コイルは，高い開路インピーダンスをもち減衰回路をもたない，調整可能で，バウンスのない接点
を用いた直流電源から通電する。
注記 リードスイッチの動作時間測定結果は，スイッチ自体だけではなく試験コイル及びリードスイ
ッチの動作位置及び復帰位置における全回路のインピーダンスによっても影響を受ける。
6.10.1.1 動作時の動作，復帰，切換え又はブリッジ時間
コイルには，10 ms間以上の無通電を維持しなければならない。直流電源電圧は，感動値の150 %に相当
する安定した電流を供給しなければならない。これは，試験コイルにも当てはまり，時間t1（該当する場
合は，時間t2，t3，t4も）を測定する。
6.10.1.2 動作時のバウンス時間（t5，t6）
動作時のバウンス時間は，動作時間と同じ条件で測定する。ただし，他に規定がない場合，10 μs未満の
不連続は無視しなければならない。
6.10.1.3 復帰時の動作，復帰，切換え又はブリッジ時間
直流電源電圧は，感動値の150 %に設定した電流を試験コイルに供給し，最低でも10 ms間はコイル通
電を遮断するまで維持し，時間t11（該当する場合は，時間t12，t13，t14も）を測定する。
6.10.1.4 復帰時のバウンス時間（t15，t16）
復帰時のバウンス時間は，復帰時間と同じ条件で測定する。ただし，他に規定がない場合，10 μs未満の
不連続は無視しなければならない。
6.10.2 要求事項
時間は，JIS C 62246-1-1に規定する値を超えてはならない。
6.10.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 試験コイル番号（表A.1参照）
b) 試験システムに関する記述
c) 感動値
d) 動作時間の最大値
e) 復帰時間の最大値
f)
動作時のバウンス時間の最大値（規定がある場合）
g) 復帰時のバウンス時間の最大値（規定がある場合）
h) 試験回路の電位及び抵抗
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
i)
繰返し率及び通電率
j)
トランスファー時間の最大値及び最小値
k) ブリッジ時間の最大値及び最小値
E：アース（接地）
T：トリガ
Y：アンプ
図10−復帰時間・バウンス時間の測定試験回路
C ：試験コイル
R1〜R4：抵抗器
c
：被試験リードスイッチ
RF：固定抵抗器
VS ：試験電源電圧
T：トリガ
SBF ：スイッチ（バウンスなし）
Y及びE：測定入力
VB ：試験供給電源電圧
注記 ブリッジ時間とトランスファー時間とを区別するため，次の抵抗比率とすることが望ましい。
R1＝1，R2＝2，R3＝2/3，R4＝1
図11−切換接点の各時間の測定試験回路
100 Ω
10 kΩ
C接点
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.11 接点スティッキング
6.11.1 熱による接点スティッキング
6.11.1.1 復帰時間及び動作時間の変化
6.10に規定する試験回路を使用する。
a) A接点 リードスイッチを試験コイルに取り付け，感動値の150 %で励磁し，その後室温で復帰時の
復帰時間を測定しなければならない。コイルの通電を維持したまま周囲温度を所定の耐候性カテゴリ
に基づく上限温度まで，1時間以上かけて徐々に上昇させなければならない。
この温度で，リードスイッチを感動値の150 %で24時間以上動作させ続けなければならない。その
後，リードスイッチにいかなる物理的じょう乱も加えることなしに，コイルの通電を遮断し，周囲温
度を維持したままで，復帰時の復帰時間を測定する（6.10.1参照）。
1回目の測定と2回目の測定との差が，接点のスティッキング度を示す。
b) B接点 リードスイッチを試験コイルに取り付け，その後室温で感動値の150 %で励磁し，動作時の
復帰時間を測定しなければならない。コイルを通電しないまま，周囲温度を所定の耐候性カテゴリに
基づく上限温度まで，1時間以上かけて徐々に上昇させなければならない。
この温度で，コイルに通電せず24時間以上保持しなければならない。その後，リードスイッチにい
かなる物理的じょう乱も加えることなしに，コイルに感動値の150 %を通電し，周囲温度を維持した
ままで，動作時の復帰時間を測定する。
1回目の測定と2回目の測定との差が，接点のスティッキング度を示す。
c) 要求事項 2回の測定間の差が，JIS C 62246-1-1に規定する値を超えてはならない。
d) 詳細仕様に記載する情報
1) 試験コイル
2) 耐候性カテゴリの上限温度
3) 許容されるスティッキング度の最大値
4) 試験回路の記述
5) 24時間を超える場合，その試験時間
6.11.1.2 瞬断値及び瞬接値の変化
a) A接点 開放値は，飽和値が適用できない場合，6.5に従って測定する。
リードスイッチを試験コイルに取り付け，感動値の150 %を励磁した後，室温で開放値を測定しな
ければならない。
コイルの通電を維持したまま周囲温度を所定の耐候性カテゴリに基づく上限温度まで，1時間以上
かけて徐々に上昇させなければならない。
この温度で，リードスイッチを必須感動値の150 %で24時間以上動作させ続けなければならない。
その後，リードスイッチにいかなる物理的じょう乱も加えることなしに，コイルの通電を遮断し，
周囲温度を維持したままで，開放値を測定する。
1回目の測定と2回目の測定との差が，接点のスティッキング度を示す。
b) B接点 感動値は，飽和値が適用できない場合，6.5に従って測定する。
リードスイッチを試験コイルに取り付け，コイルの通電をゼロから増加させ，感動値を測定しなけ
ればならない。
コイルを通電しないまま，周囲温度を所定の耐候性カテゴリに基づく上限温度まで，1時間以上か
けて徐々に上昇させなければならない。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この温度で，コイルに通電せず24時間以上保持しなければならない。
その後，リードスイッチにいかなる物理的じょう乱も加えることなしに，周囲温度を維持したまま
でコイルに通電し，感動値を測定する。
1回目の測定と2回目の測定との差が，接点のスティッキング度を示す。
c) 要求事項 2回の測定間の差が，JIS C 62246-1-1に規定する値を超えてはならない。
d) 詳細仕様に記載する情報
1) 試験コイル
2) 耐候性カテゴリの上限温度
3) 許容される測定の差の最大値
4) 通電の変化率
5) 監視方法
6) 6.5.1.1の手順1を使用する場合，開離不良の接触抵抗限界値
6.11.2 磁気による接点スティッキング
a) 手順
1) A接点 リードスイッチを試験コイルに取り付け，規定のパルス率で2 000のく（矩）形波をパル
スで励磁する。パルスの最大値及び最小値はJIS C 62246-1-1に規定する値にする。
励磁の最大値は必須感動値より高く，最小値は必須否開放値より高くする。
コイル励磁はリードスイッチに物理的じょう乱を与えることなく，最大値で遮断し，試験中は開
離不良を検出する（6.5参照）。
開離不良の検出電圧は，試験コイルが遮断される前にゼロに戻す。
この試験サイクルは，5回以上実施しなければならない。
故障は，試験コイルの励磁中断後，規定の時間内で測定された接点開離不良によるものでなけれ
ばならない。
注記1 スティッキングの傾向は，6.11.1の試験中，開放値と除励後の復帰時間とを比較するこ
とによって推定できる。
2) B接点 リードスイッチを試験コイルに取り付け，規定のパルス率で2 000のく（矩）形波をパル
スで励磁する。パルスの最大値及び最小値はJIS C 62246-1-1に規定する値にする。
励磁の最大値は必須否感動値よりも低く，最小値は必須開放値よりも低くする。
コイル励磁はリードスイッチに物理的じょう乱を与えることなく，感動値の150 %まで上昇させ，
試験中は開離不良を検出する（6.5参照）。
開離不良の検出電圧は，試験コイルが遮断される前にゼロに戻す。
この試験サイクルは，5回以上実施しなければならない。
故障は，試験コイルの励磁中断後，規定の時間内で測定された接点開離不良によるものでなけれ
ばならない。
注記2 スティッキングの傾向は，6.11.1の試験中，感動値と励磁後の復帰時間とを比較するこ
とによって推定できる。
b) 要求事項 開離不良の合計数は，JIS C 62246-1-1に規定する回数を超えてはならない。
c) 詳細仕様に記載する情報
1) 試験コイル
2) パルス率
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3) パルスの波高値の限界
4) 試験サイクル数
5) 開離不良の許容数
6) 開離不良となる接触抵抗の最小値
7) 測定時間
6.12 端子強度
6.12.1 端子強度試験の方法
JIS C 60068-2-21の試験Uの方法に従う。
6.12.2 要求事項
端子及び封着部に，目に見える破損が生じてはならない。ただし，JIS C 62246-1-1で劣化が許容される
程度の場合は除く。
6.12.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 適用するJIS C 60068-2-21の試験U
b) JIS C 60068-2-21から選択した試験の要求情報
c) 許容可能な機能特性の変化
d) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク遮断時間の最大遮断時間
6.13 はんだ付け性及びはんだ耐熱性
6.13.1 はんだ付け性及びはんだ耐熱性の試験方法
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験は，次による。
a) はんだ付け性 前処理：蒸気に1時間又はJIS C 62246-1-1で規定しているようにJIS C 60068-2-20に
従い，155 ℃の乾熱に16時間さらした後，急激なエージングを行わなければならない。
はんだ付け性の試験方法は，JIS C 60068-2-20の試験Taによる。
b) はんだ耐熱性 はんだ耐熱性の試験方法は，JIS C 60068-2-20の試験Tbによる。
6.13.2 要求事項
はんだ付け性及びはんだ耐熱性に関する要求事項は，JIS C 62246-1-1に従わなければならない。
6.13.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 方法
b) JIS C 60068-2-20から選択した試験の要求事項
6.14 耐候性シーケンス
6.14.1 耐候性シーケンスの要求事項
耐候性シーケンスの試験は，3日以内の期間に限られる。ただし，温湿度サイクル試験の1サイクル目
と低温試験との間は除く。温湿度サイクル試験に規定している回復時間経過直後に，乾燥低温試験を実施
しなければならない。試験及び測定は6.14.2〜6.14.4で規定する順序で行わなければならない。
6.14.2 耐候性シーケンス試験の方法
耐候性シーケンス試験は，次による。
a) 乾燥高温試験 規定の耐候性カテゴリの上限温度で，JIS C 60068-2-2の試験Bb又は試験Bdを実施す
る。
b) 温湿度サイクル試験，1サイクル目
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− JIS C 60068-2-30の試験Dbに準拠し，1サイクルを24時間として実施する。ただし，温度の定期
的な変化は省略する。
− 回復後，直ちに低温試験を実施する。
c) 低温試験 規定の耐候性カテゴリの下限温度で，JIS C 60068-2-1の試験Ab又は試験Adを実施する。
d) 減圧試験 JIS C 62246-1-1に規定する減圧値で，JIS C 60068-2-13の試験Mを実施する。
望ましい減圧値は，4.9による。
e) 温湿度サイクル試験，残りのサイクル
− JIS C 60068-2-30の試験Dbを実施する。ただし，温度の定期的な変化は省略する。
− サイクル数は，JIS C 62246-1-1による。
− 試験完了後，選択した厳しさに適した回復条件にさらす。
6.14.3 要求事項
シーケンス終了後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
a) 目視検査及び寸法確認（6.4）
b) 機能試験（6.5）
c) 接触抵抗（6.7）
d) 耐電圧試験（6.8）
e) 絶縁抵抗試験（6.9）
f)
気密度試験（6.21）
6.14.4 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 試験Mの厳しさレベル
b) 試験Ab又はAd，及びBb又はBdの試験時間
c) 試験Dbのサイクル数
d) 機能特性の許容可能な変化
e) 接触抵抗
f)
漏れ電流の最大許容値
g) 絶縁抵抗
h) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.15 温湿度，定常状態
6.15.1 温湿度，定常状態の試験方法
JIS C 62246-1-1に規定する適切なJIS C 60068-2-78の試験Cabの試験手順に従う。
6.15.2 要求事項
試験終了後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
a) 目視検査及び寸法確認（6.4）
b) 機能試験（6.5）
c) 接触抵抗（6.7）
d) 耐電圧試験（6.8）
e) 絶縁抵抗試験（6.9）
f)
気密度試験（6.21）
g) はんだ付け性及びはんだ耐熱性（6.13）
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.15.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) JIS C 60068-2-78の試験Cabの試験の厳しさレベル
b) 機能特性の許容変動
c) 接触抵抗
d) 漏れ電流の最大許容値
e) 絶縁抵抗
f)
JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.16 急激な温度変化
6.16.1 急激な温度変化の試験方法
JIS C 60068-2-14の試験Na又は試験Ncの手順に従う。
6.16.2 要求事項
JIS C 62246-1-1に規定に従って，スイッチは目視で検査しなければならない。明確に記載されているも
のを除いて，目に見える破損があってはならない。
表示は読みやすくなければならない。また，気密度試験の要求事項を満たさなければならない。
6.16.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) JIS C 60068-2-14の試験Na又は試験Nc
b) 選択した試験に要求する情報（特に，試験条件及び厳しさ）
c) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.17 塩水噴霧
6.17.1 塩水噴霧試験の方法
JIS C 60068-2-11の試験Kaの方法に従う。
6.17.2 要求事項
JIS C 62246-1-1の規定に従って，スイッチは目視で検査しなければならない。明確に記載されているも
のを除いて，目に見える破損があってはならない。
表示は読みやすくなければならない。また，気密度試験の要求事項を満たさなければならない。
6.17.3 詳細仕様に規定する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
JIS C 60068-2-11の試験Kaに規定する情報。
6.18 振動
6.18.1 機能性
振動機能性試験は，次による。
a) 振動機能性試験の方法 4.9に規定する性能値で，JIS C 60068-2-6の試験Fcの8.2（振動応答検査），
引き続き8.3.1（掃引耐久試験），最後に（もう一度）8.2（振動応答検査）について，4.9に規定する性
能値で実施する。個別規格で規定がない場合，振動は3軸方向に加える。
この試験のため試料は試験コイルにしっかり固定する。試験コイルには，感動値の150 %の励磁及
び非励磁を各掃引に同期して交互に行わなければならない。ただし，共振周波数帯での不具合は無視
する。
試験中の試料は，開閉不良を検出するため継続的に監視する。また，振動テーブルの漏れ磁界を遮
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
蔽するため適切な注意を払う。
b) 要求事項 試験中，10 μsを超える接触不良又は開離不良があってはならない。
試験終了直後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
1) 目視検査及び寸法確認（6.4）
2) 機能試験（6.5）
3) 気密度試験（6.21）
c) 詳細仕様に記載する情報
1) 取付軸の方向（振動方向と異なる場合）
2) 接点の動作方向の識別（該当する場合）
3) 厳しさ
4) 機能特性の許容変動
5) 取付ジグ
6) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.18.2 耐久性
振動耐久性試験は，次による。
a) 振動耐久性試験の方法 リードスイッチは取付ジグに固定する。JIS C 62246-1-1に規定がない場合，
振動振幅0.35 mm，周波数50 Hzで6時間，接点は開路状態及び閉路状態で，接点動作の加速方向と
垂直な方向にだけ，振動を加える。
b) 要求事項 試験終了直後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
1) 目視検査及び寸法確認（6.4）
2) 機能試験（6.5）
3) 気密度試験（6.21）
c) 詳細仕様に記載する情報
1) 取付軸の方向（振動方向と異なる場合）
2) 接点の動作方向の識別（該当する場合）
3) 機能特性の許容変動
4) 取付ジグ
5) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.19 衝撃
JIS C 60068-2-27の試験Eaの手順に従い，実施する。周囲環境の厳しさは，4.9で規定されている。そ
の厳しさは，JIS C 62246-1-1に規定する。JIS C 62246-1-1に規定がない場合，振動は3軸方向に加えなけ
ればならない。
6.19.1 衝撃試験の方法
衝撃試験の方法は，次による。
a) 機能性 リードスイッチは試験コイルにしっかり固定する。リードスイッチ感動値の150 %で試験コ
イルを励磁した状態で，試験回数の半数の衝撃を加え，無通電の状態で残り半数を加えなければなら
ない。試験中，リードスイッチは開閉不良を検出するため継続的に監視する。
b) 耐久性 リードスイッチは，JIS C 62246-1-1に規定する試験コイルにしっかり固定し，要求される衝
撃試験回数を加える。
6.19.2 要求事項
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
要求事項は，次による。
a) 機能性 試験中，10 μsを超える接触不良又は開離不良があってはならない。
試験終了直後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
1) 目視検査及び寸法確認（6.4）
2) 機能試験（6.5）
3) 気密度試験（6.21）
b) 耐久性 試験終了直後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
1) 目視検査及び寸法確認（6.4）
2) 機能試験（6.5）
3) 気密度試験（6.21）
6.19.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) JIS C 60068-2-27の試験Eaが要求する情報
b) 機能性又は耐久性
c) 取付ジグ
d) 接点の動作方向の識別（可能な場合）
e) 機能特性の許容変動
f)
JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.20 加速度試験−機能試験
6.20.1 加速度試験の方法
JIS C 60068-2-7の試験Gaの手順に従い，実施する。周囲環境の厳しさは，4.9による。JIS C 62246-1-1
に規定がない場合，加速は縦軸に対してだけ，接点は開状態及び閉状態で加えなければならない。
リードスイッチは試験コイルにしっかり固定する。個別規定に規定がない場合，リードスイッチには，
10回以上，感動値の150 %で，試験コイルで励磁と遮断とを交互に行わなければならない。試験中の開閉
不良を検出するため，リードスイッチは継続的に監視する。
6.20.2 要求事項
試験終了直後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
a) 目視検査及び寸法確認（6.4）
b) 機能試験（6.5）
c) 気密度試験（6.21）
6.20.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) JIS C 60068-2-7の試験Gaが要求する情報
b) 取付ジグ
c) 接点の動作方向の識別
d) 機能特性の許容変動
e) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql及び漏れ率，又はアーク継続時間の最大継続時間
6.21 気密度試験
6.21.1 気密度試験の方法
JIS C 60068-2-17の試験Qk又は試験Qlの手順に従う。重負荷形リードスイッチでは，ハーメチックの不
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
良を，JIS C 62246-1-1に規定した接点負荷で開閉し，アーク継続時間をチェックする。
6.21.2 要求事項
要求事項は，次による。
a) 気密度は，JIS C 62246-1-1に規定する値を超えてはならない。
b) JIS C 60068-2-17の試験Qlで要求する目視検査，電気的及び機械的な検査を行わなければならない。
c) アーク継続時間は，JIS C 62246-1-1の気密度試験に規定する値を超えてはならない。
6.21.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) JIS C 60068-2-17の試験Qk若しくは試験Ql，又はアーク継続時間
b) JIS C 60068-2-17の試験Qkの圧力及び時間，JIS C 60068-2-17の試験Qlの厳しさ，又はアーク継続
時間における接点負荷及び試験頻度
− 試験Qk 気密度
− 試験Ql 目視検査，電気的及び機械的検査方法の情報
− アーク継続時間の最大継続時間
6.22 電気的耐久性
6.22.1 電気的耐久性試験の種類
電気的耐久性試験の種類は，次による。
a) 標準の電気的耐久性試験
b) 最大の電気的耐久性試験
c) 過負荷試験
d) シミュレーション回路の耐久性試験
シミュレーション回路の耐久性試験は，明確な用途に関係する規定の条件下で実施する試験である。
この耐久性試験は，多様性及び適用の可能性が無数にあることから，多くの製品にまたがる仕様書に
指定することはできない。
注記 故障モード解析又はワイブルパラメータ解析等信頼性データの評価については，IEC 61810-2
が参考となる。
6.22.2 標準の電気的耐久性試験
複数の製品比較を可能にし，標準化された条件で信頼性及び品質の評価に関する情報を提供するため，
この試験はできるだけ標準化する。
6.22.3 試験設備
試験設備の例を，附属書Cに示す。励磁装置は，所定の通電及びインピーダンス限度値に合致した安定
化回路，並びに過電流保護を備えた電源を使用する。リードスイッチを試験コイルで動作させるため開閉
装置は，指定の周波数，通電率，動作波形をもつパルスパターンを備えたものとする。
制御装置は，開閉装置及び制御機器の動作，開始，測定停止などの信号を備えたものとする。
附属書Aに従い，試験コイル内に取り付ける。
負荷は，一つの部品，一つのケーブル又は複数の部品及び／又はケーブルの組合せとしなければならな
い。負荷条件は，JIS C 62246-1-1に規定する標準負荷から選択する。
測定装置及び表示装置は，次の機能をもつものでなければならない。
− 不良が発生したとき，不良を検出したリードスイッチの動作回数及び不良の種類の表示
− 不良回数のデータ及び停止した時間の表示
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 試験中の限界値の設定及び定期的に測定したときの平均値の計算
− 試験装置の故障の表示又は故障したリードスイッチの電源供給を遮断する制御装置への指令
この試験は，標準環境条件において行わなければならない。
動作頻度，負荷条件，開閉回数，定格開閉電流，定格開閉電圧及びスイッチングする極性は，JIS C
62246-1-1で規定する。
6.22.4 電気的耐久性試験の方法
次の電気的耐久性試験は，標準的な大気条件で実施する。
a) 標準電気的耐久性試験 JIS C 62246-1-1に規定していない場合，動作のための試験コイルへの励磁電
流は，感動値の150 %，復帰のための励磁電流は，ゼロとしなければならない。
JIS C 62246-1-1に規定していない場合，動作頻度は，1秒当たり10回，12.5回，16回，20回，25
回，50回及び60回から選択し，パルスパターンは，通電率50 %のく（矩）形波としなければならな
い。
b) 最大の電気的耐久性試験及び過負荷試験 JIS C 62246-1-1に規定していない場合，動作のための試験
コイルへの励磁電流は，感動値の150 %，復帰のための励磁電流は，ゼロとしなければならない。
JIS C 62246-1-1に規定していない場合，動作頻度は，1秒当たり6回とし，パルスパターンは，通
電率50 %のく（矩）形波としなければならない。
入力励磁電源は，内部インピーダンスの低い電圧源としてよい。
リードスイッチを取り付ける試験コイルには，相互干渉に対して注意を払いながら個別に通電する
か，又は並列で通電する。コイル保護回路は，JIS C 62246-1-1に規定するものを使用する。
JIS C 62246-1-1に規定していない場合，各リードスイッチは，接点保護の有無にかかわらず，別々
の負荷に接続する。
注記1 耐久性試験の目的から，1台の継電器を1試験システムとする。
JIS C 62246-1-1に規定していない場合，各リードスイッチは，各々の動作で接触不良及び開離不良
が起こるまで試験する。この試験は，通常の負荷条件で接点間の電圧降下を測定することで検出でき
る。
接触不良の測定時間τ1は，コイルに通電を開始した後，時間t1で計測を開始する。開離不良の測定
時間τ2は，コイル通電を中止した後，時間t2で計測を開始する。時間t1，t2，τ1及びτ2は，JIS C 62246-1-1
による。
JIS C 62246-1-1に規定する時間に，各リードスイッチの接触抵抗は，6.7の方法に従い測定する。
ただし，試験コイルの励磁は感動値の150 %で測定した場合，測定時間τ3はコイルに通電を開始した
後，時間t3まで計測を続ける。
測定装置の集積時間は，τ1，τ2及びτ3よりも短くする。
集積時間は，信号の平均値を記録するため監視装置によって要求される時間である。不良判定レベ
ルを入力ステップ電圧で見る場合は，故障を記録するため要求される時間である。
負荷は，試料で開閉するので，負荷との接続電線は可能な限り短くする。
制御，測定及び表示装置の配線は，試験中の試料に流れる電流と電圧とに影響を及ぼしてはならな
い。
例えば，試験点は，この目的のためスイッチで切り替える場合がある。
出力源が電圧源である場合，片側端子はアースする。電圧源では，内部抵抗Riは直流負荷抵抗値の
0.02倍以下，また，1 MHzまでの負荷では，サージインピーダンスZsは，全インピーダンスの0.02
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
倍以下の内部抵抗Ri及びサージインピーダンスZsでなければならない（6.3参照）。
試験中，それぞれのスイッチが，同じ電圧源で幾つかの負荷を並列に接続する場合は，複合された
負荷を考慮しなければならない。電圧源の変動許容範囲は，30 mVで最大±10 %，また，他の値では
最大±2 %でなければならない。
接点の接続極性をもつ非対称形のスイッチの場合は，JIS C 62246-1-1の規定による。
注記2 この手順は，A接点の試験だけ規定されている。B接点を試験する場合は，同じ試験条件
がJIS C 62246-1-1に規定されている。両接点を試験する場合は，各々独立した二つの負荷
と二つの回路とが必要となる。
6.22.5 標準的負荷条件
標準的な電気的耐久性試験の負荷条件は，次の負荷から選択する。
a) 抵抗負荷（表2参照） 接続電線を含む負荷は，最大立上り時間が0.1 μs，インダクタンスが10−4 H
以下，静電容量が50 pF以下としなければならない。より厳しい試験条件が必要な場合，JIS C 62246-1-1
による。測定の試験点及び表示装置は，50 kΩ以上の抵抗値を介して試料に接続する。
表2−抵抗負荷
電圧の種類
出力電圧
V
接点電流
mA
直流
0.03
1
0.03
10
0.10
1
5
5
5
10
10
100
12
2
12
10
24
50
50
10
50
100
60
10
60
100
100
50
120
50
200
100
350
1
500
1
1 000
1
2 000
1
3 500
1
5 000
1
10 000
1
15 000
1
交流
0.03
10
0.1
1
230
100
230
500
230
1 000
注記 下線の負荷を用いることが望ましい。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 複合負荷（例 電話用途） 出力励磁の電源は直流電圧でなければならない。負荷は，抵抗負荷にケー
ブル，接点保護又はその両方を接続したもので構成しなければならない。抵抗器及び接続配線は，上
記のa)に規定する要求事項を満たさなければならない。
複合負荷は，表3から選択した負荷と，表4から選択したケーブルとを連結して構成する。
表3−負荷
出力電圧
V DC
接点電流
mA
12
10
24
50
50
50
50
100
60
50
100
50
注記 下線の負荷を用いることが望ましい。
表4−ケーブル
電線番号
電線種類
種類の区分a)
Zc
Ω
長さ
m
1
同軸ケーブル
50-3-1
50
1，3，10，100
2
同軸ケーブル
75-4-4
75
1，3，10，100
3
同軸ケーブル
100-4-1
100
1，3，10，100
4
シールドケーブル
−
140
1，3，10，100
注記1 下線のケーブルを使用することが望ましい。
注記2 例えば，二芯ケーブルなど余分なインダクタンスの使用は避ける。
注a) 区分の意味は次のとおりである。
1項の数字群：特性インピーダンスを表したもの。
2項の数字群：絶縁体の概略直径をmm単位で表したもの。
3項の数字群：シリアル番号を表したもの。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 誘導負荷 負荷及び電気的耐久性試験に関する開閉容量は，JIS C 8201-5-1に規定する値を使用し，
表5による。
表5−電気的耐久性試験に関する開閉容量
電流
使用負荷種別
投入
遮断
交流
交流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ）
I
U
cosφ
I
U
cosφ
10 Ie
Ue
0.7a)
Ie
Ue
0.4a)
直流
直流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ） b)
I
U
T0.95
I
U
T0.95
Ie
Ue
6×Pc)
Ie
Ue
6×Pc)
定格使用電圧の推奨値：
交流：12 V，24 V，50 V，100 V，110 V，120 V，200 V，220 V，230 V，240 V，380 V，400 V，480 V，500 V，
550 V，600 V （実効値）
直流：12 V，24 V，48 V，100 V，110 V，120 V，125 V，200 V，220 V，250 V
定格使用電流の推奨値：
1 mA，10 mA，15 mA，30 mA，50 mA，100 mA，0.3 A，0.5 A，1 A，2 A，3 A，5 A
Ie
：定格使用電流
I ：試験電流
Ue
：定格使用電圧
U ：投入前の電圧
P＝Ue×Ie ：消費電力（W）
T0.95
：定常電流の95 %に達する時間（ms）
注a) 規定する力率は通常値で，導通回路（コイル回路）の電気的特性をシミュレートする試験回路だけに適用す
る。力率0.4の回路に対しては，実際の電磁石の渦電流損のダンピング効果をシミュレートするために並列抵
抗を用いる。
b) 経済抵抗を導入している開閉機器とともに，供給される直流電磁負荷（誘導負荷）に対して定格使用電流は，
突入電流の最大値と同等でなければならない。
c) “6×P”の値は，多くの直流誘導負荷が上限P＝50 W，すなわち，6×P＝300 msであることから決めた実験
的値である。消費電力が50 Wを超える負荷は，小さな負荷の並列接続で構成するものとみなす。したがって，
消費電力の値には無関係に300 msが上限となる。
d) 突入電流負荷 静電容量及びフィラメントランプ負荷に関する試験回路は，附属書Dによる。
e) モータ負荷 モータ負荷に関する開閉容量は，附属書Gによる。
6.22.6 最大負荷の試験条件
最大負荷での耐久性試験条件は，表6による。
表6−耐久性試験における最大負荷条件
試験電流
A
力率
開閉回数
回
開閉頻度
秒
ON時間
OFF時間
定格電流
−
6 000
1
9
定格電流
1.0
6 000
1
9
6.22.7 過負荷試験条件
過負荷での耐久性試験条件は，表7による。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−耐久性試験における過負荷の試験条件
用途
電流
A
力率
直流抵抗負荷
定格値の1.5倍
−
交流抵抗負荷
定格値の1.5倍
1.0
6.22.8 要求事項
規定の動作回数以内で決定的な不良が発生した場合，どのリードスイッチも不合格（欠陥となる）とみ
なさなければならない。不合格回数が規定回数以上の場合は，不合格とし，不合格は次のカテゴリに特定
した方がよい。
a) 接触不良
b) 開離不良
c) 接触抵抗の不良
d) JIS C 62246-1-1に規定するa)，b)及びc)のあらゆる組合せ
6.22.9 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号，コイル保護装置（該当する場合）
− 動作頻度
− 通電率（50 %以外の場合）
− 極性（該当する場合）
b) 負荷条件
− 抵抗負荷の場合：表2から選択した電圧及び電流値
− 抵抗負荷とケーブル放電負荷との複合負荷の場合：表3から選択した電圧及び電流値，表4から選
択した指定ケーブル長のケーブル
− 誘導負荷の場合：表5から選択した電圧及び電流値
− 突入電流負荷の場合：附属書Dを参照
c) 不良判定基準
− 要求される総動作回数
− 試験中の監視
・ 限界値： 接触不良：.........（Ω）
開離不良：.........（Ω）
・ 監視時間：t1，t2，τ1及びτ2
・ 試験中に決定的な不良となる1接点当たりの不良回数
− 定期的測定
・ 接触抵抗測定を実施する動作回数
・ 監視時間（t3及びτ3）
・ 接触抵抗不良限界及び試験中に決定的な不良となる1接点当たりの接触抵抗不良回数
・ 機能特性値［起磁力アンペアターンズ（以下，アンペアターンズという。）］を測定する動作回
数
− C接点のブリッジの監視：JIS C 62246-1-1に規定がある場合，A接点及びB接点は該当しない。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
・ 監視時間
・ 監視間隔
− 耐久性試験前後の測定
・ 試験中決定的な不良につながる接触抵抗値，JIS C 62246-1-1で規定している場合，機能特性値
の最大許容変化，又は接触不良及び機能特性値の限界値
注記 故障スイッチとは，測定の異なるモード（試験中の監視，定期測定又は耐久性試験前後の測定）
で，一つ以上の決定的な不良が発生したものをいう。
d) 用途
他の用途に関しては，製造業者と使用者との合意に基づかなければならない。ただし，製造業者カ
タログ又は見積書で出された情報も合意とみなす。
6.23 機械的耐久性
6.23.1 試験の取決め
多くの耐久性試験装置は，図C.2のブロック図によって製作されている。リードスイッチの接点には，
負荷をかけないよう，また，6.23.3に記載する一般的な試験の取決めが有効である。
6.23.2 機械的耐久性の試験方法
次の機械的耐久性試験は，標準的な大気条件で実施する。
動作は，試験コイルへ感動値の150 %を励磁し，復帰はJIS C 62246-1-1に規定がない場合，無通電とし
なければならない。動作頻度は，1秒当たり10回，20回，50回，75回及び100回から選択しなければな
らない。パルスパターンは，JIS C 62246-1-1に規定がない場合，通電率50 %のく（矩）形波としなければ
ならない。
入力励磁電源は，内部インピーダンスの低電圧電源としなければならない。リードスイッチを取り付け
る試験コイルは，個別に励磁するか，又は相互干渉に対して注意を払いながら並列で励磁する。コイル保
護回路使用時は，JIS C 62246-1-1に規定するものでなければならない。接触不良及び開離不良は6.7の方
法による試験で，接触抵抗を測定することによって検出する。
接触不良の測定時間τ1は，コイルの通電を開始した後の時間t1から開始し，開離不良の測定時間τ2は，
コイルの通電停止後の時間t2から開始する。時間t1，t2，τ1及びτ2は，JIS C 62246-1-1による。
6.23.3 要求事項
規定の動作回数以内で決定的な不良が発生した場合，どのリードスイッチも不良（欠陥となる）とみな
さなければならない。したがって，規定された動作回数の前に決定的な不良が検出されたとき，試料の寿
命が起こり，この耐久性試験の目的が達成される。
不良回数が規定された動作回数以上の場合は，不合格とし，不良は次のカテゴリに特定した方がよい。
a) 接触不良
b) 開離不良
c) 接触抵抗の要求事項
d) JIS C 62246-1-1に規定するa)，b)及びc)のあらゆる組合せ
6.23.4 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号
− コイル保護装置（該当する場合）
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 動作頻度
− 通電率（50 %以外の場合）
− 極性（該当する場合）
b) 不良判定基準
− 要求される総動作回数
− 定期的測定
・ 接触抵抗測定を実施する動作回数
・ 監視時間：（t3及びτ3）
・ 接触抵抗不良限界及び試験中に決定的な不良となる1接点当たりの接触抵抗不良回数
・ 機能特性値（アンペアターンズ）を測定する動作回数
・ 耐久性試験前後の測定：試験中決定的な不良につながる接触抵抗値（mΩ），JIS C 62246-1-1で
規定している場合は，機能特性値（アンペアターンズ）の最大許容変化，又は接触不良及び機
能特性値の限界値
− 耐久性試験前後の測定
・ 試験中決定的な不良につながる接触抵抗値，JIS C 62246-1-1で規定している場合は，機能特性
値の最大許容変化，又は接触不良及び機能特性値の限界値
注記 故障スイッチとは，測定の異なるモード（試験中の監視，定期測定又は耐久性試験前後の測定）
で，一つ以上の決定的な不良が発生したものをいう。
6.24 最大動作頻度
6.24.1 最大動作頻度の試験方法
試験回路は6.11による。
試験システムは，高い開路インピーダンスでダンピング回路がない調整式直流励磁電源からバウンスの
ないデバイスを介して励磁する。
他に規定がない場合，バウンスのない動作頻度試験システムの駆動装置は，最低動作頻度の1秒当たり
10回からJIS C 62246-1-1で規定された最大動作頻度まで連続的に上昇させる。
試料は，この周波数範囲内で規定された要求事項を満たさなければならない。
次の項目を確認する。
a) リードスイッチの動作及び復帰
b) ブリッジ又は切換え時間（C接点）
c) バウンス時間
他に記載のない場合，10 μs未満の不連続は無視する。
注記 試験システムでの試料の最大動作頻度の測定試験結果は，リードスイッチ自体だけではなく試
験システムと動作及び復帰位置の試験回路とのインピーダンスにも依存する。
6.24.2 要求事項
全体周波数範囲で，リードスイッチは動作及び復帰し，切換え時間，ブリッジ時間及びバウンス時間は
規定の限界値以内でなければならない。
6.24.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) トランスファー時間：最小値−最大値
b) ブリッジ時間：最小値−最大値
C接点
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) バウンス時間，最大値
d) 試験コイル番号（附属書A参照）
e) 試験回路の記述
f)
通電率
g) 最大サイクリング周波数
6.25 耐サージ電圧試験
6.25.1 耐サージ電圧試験の方法
次の耐サージ電圧試験は，標準的な大気条件で実施する。
試験のサージ電圧（JIS C 61000-4-5参照）は，JIS C 62246-1-1で規定するピーク電圧値（V peak）でなけ
ればならない。その値は，4.10から選択する。
試験条件は次による。
− 復帰位置にあるA接点の端子間
− 動作位置にあるB接点の端子間
− 他に規定がない場合，復帰位置の端子間
− JIS C 62246-1-1に規定するパルス電圧を，規定の間隔で規定のパルス数
測定は，JIS C 62246-1-1に規定する前処理（暗所に数時間，放射から遮蔽）後に実施する。
6.25.2 要求事項
漏れ電流は，JIS C 62246-1-1に規定する値を超えてはならない。
6.25.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 前処理
b) ピーク電圧値
− t1：波高値
− t2：波尾長
c) パルス数
d) 所定のパルス間隔
e) 直列抵抗値又はネットワーク
f)
暗所に置く時間
g) 漏れ電流
6.26 接点の開閉容量
6.26.1 試験回路及びブロック図
最大負荷条件及び過負荷試験条件で，接点の開閉容量を検証する。試験回路及びブロック図は，附属書
Cに示す。
6.26.2 開閉容量の試験方法
次の開閉容量の試験は，標準的な大気条件で実施する。動作は，試験コイルに感動値の150 %を励磁し，
復帰は，JIS C 62246-1-1で規定していない場合，無通電としなければならない。
6.26.3 要求事項
判定基準は，次による。
a) 最大負荷試験条件における開閉容量
表6に示す使用負荷で故障があってはならない。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 過負荷試験条件における開閉容量
表7に示す使用負荷で故障があってはならない。
6.26.4 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号
− コイル保護装置（該当する場合）
− 動作頻度
− 通電率（50 %以外の場合）
− 極性（該当する場合）
b) 負荷条件
− 表8又は表9及び表F.1又は表G.1から選択した負荷定数の電圧及び電流値
c) 不良判定基準（6.22参照）
− 要求される総動作回数
− 試験中の監視
・ 限界値：接触不良...........（Ω）
開離不良...........（Ω）
・ 監視時間：t1，t2，τ1及びτ2
・ 試験中に決定的な不良となる1接点当たりの不良回数
− 定期的測定（6.7参照）
・ 接触抵抗測定を実施する動作回数
・ 監視時間：t3及びτ3
・ 接触抵抗不良限界及び試験中に決定的な不良となる1接点当たりの接触抵抗不良回数
・ 機能特性値（アンペアターンズ）を測定する動作回数
− C接点のブリッジの監視：JIS C 62246-1-1に規定がある場合，A接点及びB接点は適用しない。
・ 監視時間
・ 監視間隔
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表8−正常条件における使用負荷別の投入及び遮断容量の検証
使用負荷種別
投入
遮断
開閉動作の回数及び頻度
交流誘導負荷
（開閉器コイル，ソ
レノイドバルブ）
I/Ie
U/Ue
cosφ
I/Ie
U/Ue
cosφ
開閉回数
開閉頻度
（1分間当た
りの回数）
通電時間
（秒）
10
c)
0.3
1
c)
0.3
50
6
0.05
10
1
0.3
1
1
0.3
10
60超b)
0.05
10
1
0.3
1
1
0.3
990
60
0.05
10
1
0.3
1
1
0.3
5 000
6
0.05
総開閉回数
6 050
直流誘導負荷
（開閉器コイル，ソ
レノイドバルブ）
I/Ie
U/Ue
T0.95
I/Ie
U/Ue
T0.95
開閉回数
開閉頻度
（1分間当た
りの回数）
通電時間
1
c)
6×Pa)
1
c)
6×Pa)
50
6
T0.95
1
1
6×Pa)
1
1
6×Pa)
10
60超b)
T0.95
1
1
6×Pa)
1
1
6×Pa)
990
60
T0.95
1
1
6×Pa)
1
1
6×Pa)
5 000
6
T0.95
総開閉回数
6 050
Ie
：定格使用電流
I ：試験電流
Ue
：定格使用電圧
U：試験電圧
P＝Ue×Ie ：消費電力（W）
T0.95
：定常電流の95 %に達する時間（ms）
JIS C 8201-5-1に規定する使用負荷種別を適用する場合，全てにおいて関連する要求事項及び試験に従わなければ
ならない。
注a) “6×P”の値は，多くの直流誘導負荷が上限P＝50 W，すなわち，6×P＝300 msであることから決められた
実験的値である。消費電力が50 Wを超える負荷は，小さな負荷の並列接続で構成するものとみなす。したが
って，消費電力の値には無関係に300 msが上限となる。
b) 最大許容周波数（接点の投入及び遮断を確実に行う。）。
c) Ue×1.1倍まで上昇した試験電圧を使用し，試験電流Ie は電圧Ueでの電流値とする。
表9−異常条件における使用負荷別の投入及び遮断容量の検証
使用負荷種別
投入
遮断
開閉回数
交流誘導負荷
（開閉器コイル，ソ
レノイドバルブ）
I/Ie
U/Ue
cosφ
I/Ie
U/Ue
cosφ
最小通電電流
（50 Hz又は 60 Hz）
回数
1分間
当たり
の頻度
10
1.1
0.3
10
1.1
0.3
2
10
6
直流誘導負荷
（開閉器コイル，ソ
レノイドバルブ）
I/Ie
U/Ue
T0.95
I/Ie
U/Ue
T0.95
時間
回数
1分間
当たり
の頻度
1.1
1.1
6×Pa)
1
1
6×Pa)
T0.95
10
6
Ie
：定格使用電流
I ：試験電流
Ue
：定格使用電圧
U ：試験電圧
P＝Ue×Ie ：消費電力（W）
T0.95
：定常電流の95 %に達する時間（ms）
JIS C 8201-5-1に規定する使用負荷種別を適用する場合，全てにおいて関連する要求事項及び試験に従わなければ
ならない。
注a) “6×P”の値は，多くの直流誘導負荷が上限P＝50 W，すなわち，6×P＝300 msであることから決められた
実験的値である。消費電力が50 Wを超える負荷は，小さな負荷の並列接続で構成するものとみなす。したが
って，消費電力の値には無関係に300 msが上限となる。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6.27 条件付き短絡電流試験
6.27.1 試験回路
試料は，新しく汚れのない状態で，使用時と同じように実装する。
試験回路は附属書Eによる。接点短絡保護デバイスの詳細は，JIS C 62246-1-1に規定がない場合，製造
業者が指定しなければならない。
6.27.2 条件付き短絡電流試験の手順
次の条件付き短絡電流の試験は，標準的な大気条件で実施する。
動作における試験コイルの通電は，感動値の150 %とし，復帰においては無通電としなければならない。
6.27.3 要求事項
試料は，規定する短絡電流から起こるストレスに耐えなければならない。試験の前に，無負荷又は定格
電流を超えない任意の電流で数回作動してもよい。試験は接点を閉じた状態で，附属書Eに示す回路で行
わなければならない。
試験電流は，別のリレーの動作で不規則に3回投入し，接点短絡保護デバイスが作動するまで，流し続
けなければならない。
各試験後，接点短絡保護デバイスは交換又はリセットしなければならない。
投入スイッチは，試料と直列に接続しなければならない。3回行う試験の間隔は3分以上，その試験間
隔時間は報告書に明記しなければならない。
試験終了後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
a) 目視検査及び寸法確認（6.4）
b) 機能試験（6.5）
c) 耐電圧試験（6.8）
6.27.4 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) コイル励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号
b) 短絡電流及び通電時間
c) SCPDの動作：I2t （A2 s）
6.28 接触信頼性
接触信頼性試験では，JIS C 62246-1-1に規定する条件でリードスイッチの信頼度を評価する。
注記 信頼性データの評価については，IEC 61810-2が参考になる。
6.28.1 接触信頼性の試験方法
次の接触信頼性の試験は，標準的な大気条件で実施する。
動作における試験コイルの通電は，感動値の150 %としなければならない。復帰では，JIS C 62246-1-1
に記載がない場合，無通電としなければならない。動作頻度は4.2から選択する。
パルスパターンは，JIS C 62246-1-1に記載がない場合，通電率50 %のく（矩）形波としなければならな
い。入力励磁電源は，内部インピーダンスの低電圧電源としなければならない。リードスイッチを取り付
ける試験コイルは，個別に励磁するか，又は相互干渉に対して注意を払いながら並列で励磁する。コイル
保護回路使用時，コイル保護回路はJIS C 62246-1-1に規定するものでなければならない。接触不良及び開
離不良は6.7の方法による試験で，接触抵抗を測定することによって検出する。
接触不良の測定時間τ1は，コイルの通電を開始した後の時間t1から開始し，開離不良の測定時間τ2は，
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コイルの通電停止後の時間t2から開始する。時間t1，t2，τ1及びτ2は，JIS C 62246-1-1による。
6.28.2 要求事項
規定の動作回数以内で決定的な不良が発生した場合は，どのリードスイッチも不良（欠陥品）とみなさ
なければならない。
不良回数が規定回数以上の場合，不合格とし，不良は次のカテゴリに分類して記録する。
a) 接触不良
b) 開離不良
c) 接触抵抗の不良
d) JIS C 62246-1-1に規定する，a)，b)及びc)のあらゆる組合せ
6.28.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号
− コイル保護装置（該当する場合）
− 動作頻度
− 通電率（50 %以外の場合）
− 極性（該当する場合）
b) 負荷条件
− スイッチング負荷：電圧及び電流（最小使用電圧及び最小使用電流）
c) 不良判定基準（附属書H参照）
− 要求される総動作回数
− 試験中の監視
・ 限界値：接触不良...........（Ω）
開離不良...........（Ω）
・ 監視時間：t1，t2，τ1及びτ2
・ 試験中に決定的な不良となる1接点当たりの不良回数
− 定期的測定（6.7参照）
・ 接触抵抗測定を実施する動作回数
・ 監視時間：t3及びτ3
・ 接触抵抗不良限界及び試験中に決定的な不良となる1接点当たりの接触抵抗不良回数
・ 機能特性値（アンペアターンズ）を測定する動作回数
− C接点のブリッジの監視：JIS C 62246-1-1で規定している場合，A接点及びB接点は適用しない。
・ 監視時間
・ 監視間隔
− 耐久性試験前後の測定
・ 試験中決定的な不良につながる接触抵抗値，JIS C 62246-1-1で規定している場合，機能特性値
の最大許容変化，又は接触不良及び機能特性値の限界値
d) 用途
他の用途に関しては，製造業者と使用者との合意に基づかなければならない。ただし，製造業者カ
タログ又は見積書で出された情報も合意とみなす。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 故障スイッチとは，測定の異なるモード（試験中の監視，定期測定又は耐久性試験前後の測定）
で，一つ以上の不良が発生したものをいう。
6.29 温度上昇
6.29.1 温度上昇の試験方法
4.5に規定する定格通電電流を，指定の時間流し続ける。
各端子に接続する配電の長さは，特に規定がない場合1 mで，配線の断面積はJIS C 4540-1の負荷電流
に応じて決定する。
6.29.2 要求事項
測定した温度上昇値は，特にJIS C 62246-1-1の規定がない場合，45 ℃を超えてはならない。また，リ
ードスイッチにいかなる損傷もあってはならない（JIS C 4540-1参照）。
試験終了後，JIS C 62246-1-1に規定する次の試験の要求事項を満たさなければならない。
a) 目視検査及び寸法確認（6.4）
b) 機能試験（6.5）
c) 接触抵抗（6.7）
6.29.3 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) コイル励磁条件（該当する場合，附属書Aから選択した試験コイル番号）
b) 試験電流
c) 測定点
d) 測定時間
e) 45 ℃以下の場合，最大温度上昇値
6.30 投入電流容量試験
6.30.1 試験配置
試験回路及び試験シーケンスを附属書Iに示す。試料は，試験コイル内に取り付ける。
動作頻度，負荷条件，動作回数，定格閉路電流及び定格閉路電圧は，JIS C 62246-1-1による。
6.30.2 投入電流容量の試験方法
投入電流容量の試験は，標準的な大気条件で実施する。
動作における試験コイルの通電は，感動値の150 %としなければならない。復帰では，JIS C 62246-1-1
に規定していない場合，無通電としなければならない。
6.30.3 要求事項
規定の動作回数以内で決定的な不良が発生した場合は，どのリードスイッチも不良（欠陥品）とみなさ
なければならない。
不良回数が規定回数以上の場合，不合格とし，不良は次のカテゴリに分類して記録する。
a) 接触不良
b) 開離不良
c) 接触抵抗の不良
6.30.4 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を基に，次の情報を記載する。
a) 励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− コイル保護装置（該当する場合）
− 動作頻度
− 通電率（50 %以外の場合）
− 極性（該当する場合）
b) 負荷条件
誘導負荷の例を，附属書Iに示す。
c) 不良判定基準
− 要求される総動作回数
− 試験中の監視
・ 接触不良及び開離不良の限界値.........（Ω）
・ 監視時間（t1，t2，τ1及びτ2）
・ 試験中に決定的な不良となる1接点当たりの不良回数
− 定期的測定
・ 接触抵抗測定を実施する動作回数
・ 監視時間（t3及びτ3）
・ 接触抵抗不良限界及び試験中に決定的な不良となる1接点当たりの接触抵抗不良回数
− 機能特性値（アンペアターンズ）を測定する動作回数
− C接点のブリッジの監視：JIS C 62246-1-1に規定がある場合，A接点及びB接点は該当しない。
・ 監視時間
・ 監視間隔
− 耐久性試験前後の測定
・ 試験中決定的な不良につながる接触抵抗値，JIS C 62246-1-1で規定している場合，機能特性値
の最大許容変化，又は接触不良及び機能特性値の限界値
d) 用途
他の用途に関しては，製造業者と使用者との合意に基づかなければならない。ただし，製造業者カ
タログ又は見積書で出された情報も合意とみなす。
6.31 遮断電流容量試験
6.31.1 試験配置
試験回路及び試験シーケンスを附属書Jに示す。試料は，試験コイル内に取り付ける。
動作頻度，負荷条件，動作回数，定格閉路電流及び定格閉路電圧は，JIS C 62246-1-1に従う。
6.31.2 遮断電流容量の試験方法
遮断電流容量の試験は，標準的な大気条件で実施する。
動作における試験コイルの通電は，感動値の150 %としなければならない。復帰では，JIS C 62246-1-1
に記載がない場合，無通電としなければならない。
6.31.3 要求事項
規定の動作回数以内で決定的な不良が発生した場合は，どのリードスイッチも不良（欠陥品）とみなさ
なければならない。
不良回数が規定回数以上の場合，不合格とし，不合格は次のカテゴリに分類して記録する。
a) 接触不良
b) 開離不良
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 接触抵抗の不良
6.31.4 詳細仕様に記載する情報
各製品の詳細仕様には，JIS C 62246-1-1の5.1を参考に，次の情報を記載する。
a) 励磁条件
− 附属書Aから選択した試験コイル番号
− コイル保護装置（該当する場合）
− 動作頻度
− 通電率（50 %以外の場合）
− 極性（該当する場合）
b) 開路負荷条件
誘導負荷に関しては，附属書Jを参照する。
c) 不良判定基準
− 要求される総動作回数
− 試験中の監視
・ 接触不良及び開離不良の限界値......（Ω）
・ 監視時間（t1，t2，τ1及びτ2）
・ 試験中に決定的な不良となる1接点当たりの不良回数
− 定期的測定
・ 接触抵抗測定を実施する動作回数
・ 監視時間：t3及びτ3
・ 接触抵抗不良限界及び試験中に決定的な不良となる1接点当たりの接触抵抗不良回数
・ 機能特性値（アンペアターンズ）を測定する動作回数
− C接点のブリッジの監視
・ 監視時間
・ 監視間隔
− 耐久性試験前後の測定
・ 試験中決定的な不良につながる接触抵抗値，JIS C 62246-1-1で規定している場合，機能特性値
の最大許容変化，又は接触不良及び機能特性値の限界値
d) 用途
他の用途に関しては，製造業者と使用者との合意に基づかなければならない。ただし，製造業者カ
タログ又は見積書で出された情報も合意とみなす。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
リードスイッチの標準試験コイル
A.1 試験コイルの構造及びリスト
リードスイッチの性能を評価するための試験コイルの構造を，図A.1に示す。また，リストは表A.1に
よる。
L
d
フレーム
巻線
図A.1−試験コイルの構造
表A.1−標準試験コイルのリスト
試験コイル番号
巻線長さL
（±0.1 mm）
mm
コイルの内径d
（±0.1 mm）
mm
巻数
（±1巻）
公称導体径
mm
公称抵抗値
Ω
1
10
3.3
5 000
0.063（0.060）
600
2
10
4.6
5 000
0.080
550
3
10.4
3.96
5 000
0.040
1 145
4
10.75
3.55
2 900
0.056
305
5
11
4.6
10 000
0.063
1 900
6
11.68
4.57
10 000
0.032
4 500
7
15
3.7
5 000
0.071（0.070）
450
8
18.5
5.2
5 000
0.071
470
9
19
4.2
10 000
0.032
3 500
10
19.05
4.32
10 000
0.032
3 500
11
19.5
4.32
10 000
0.040
2 500
12
20.5
4.3
10 000
0.080
1 000
13
21
4.6
5 000
0.071（0.070）
500
14
23
5.5
10 000
0.080
1 000
15
25.4
6.8
10 000
0.040
3 420
16
25.4
7.6
10 000
0.071
1 500
17
25.4
8.75
5 000
0.101
385
18
32.51
5.54
10 000
0.071
1 400
19
43
9.35
10 000
0.127
630
20
43
11.1
10 000
0.127
820
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.1−標準試験コイルのリスト（続き）
試験コイル番号
巻線長さL
（±0.1 mm）
mm
コイルの内径d
（±0.1 mm）
mm
巻数
（±1巻）
公称導体径
mm
公称抵抗値
Ω
21
48.2
7.3
10 000
0.090
1 000
22
54.5
5.9
10 000
0.100
670
23
19.0
8.1
10 000
0.10
1 245
24
28.3
7.4
10 000
0.07
1 630
25
33.5
10.5
3 000
0.2
80
26
48.2
14.2
10 000
0.11
1 000
27
25.4
8.05
1 100
0.11
54.8
28
26.6
6.2
9 500
0.058（0.06）
1 520
29
36.3
7.2
10 000
0.08
1 020
30
28.2
13.8
5 200
0.17
253
注記1 巻線用銅線は，JIS C 3215-1（グレード1）適合品。
注記2 （ ）内は，中間公称導体径を示す。
JIS C 62246-1-1で規定していない場合，標準試験コイル及びリードスイッチのエンベロープの中心線は
一致させなければならない。
コイルは巻層とし（すなわち，巻線がコイルの長さ全体にわたって均一に配分されている。），コイル内
径はJIS C 62246-1-1に規定するものでなければならない。
コイルフレームの材料は，非磁性体で電気的に非導電性になるように，かつ，巻線に使用するワイヤと
ほぼ同じ膨張係数をもつように，選択することが望ましい。
励磁による温度上昇で，試験コイルが損傷を受けてはならない。
理想的ソレノイドは，全ての巻線が軸に垂直な平面で，等間隔とみなされる円筒形のコイルで，このコ
イルは均一の磁界を与える。
コイルの寸法は，次のとおりとする。
− コイルの内径は80 mm以上。
− コイル長は9 mm以上。
このようなコイルを使用して得られた結果は，SI単位で求める（A/m）。
このコイルは，小形コイルの校正に使用しなければならない。
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
試験システム
B.1
試験システム1及び試験システム2
電磁コイルによるバイアスを付加したリードスイッチの機能性能を検証するための試験システムを，図
B.1に，永久磁石によるバイアスを付加したリードスイッチの機能性能を検証するための試験システムを，
図B.2に示す。
両試験とも，試験コイルは表A.1から選択する。
図B.1−試験システム1
図B.2−試験システム2
コイルM，L及びRは，該当する場合には表A.1から選択する。
試験システム構造に関する寸法及び追加する詳細は，JIS C 62246-1-1に規定する。
B.2
試験手順
システム1 三つのコイル（M，L及びR）への励磁の厳しさ，タイミング及び他の試験の試験手順を明
記する。
システム2 コイルMへの励磁の厳しさ，タイミング及び他の試験の試験手順を明記する。
注記 試験システムとしてリレー構造を選択した場合の全ての詳細は，JIS C 62246-1-1に示す。
リレーコイルをコイル抵抗及び寸法だけで規定した場合は，リードスイッチの機能限度値を示
した方がよい。
コイルL
コイルR
コイルM
N
S
N
S
コイルM
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C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（参考）
電気的耐久試験回路
C.1 耐久試験回路及び機能ブロックの例
一般的な電気的耐久試験回路を図C.1に，機能ブロック図を図C.2に示す。
負荷選択接点の位置1は，異なる負荷（突入電流）が必要とされる場合の閉路試験に使用する。
負荷選択接点の位置2は，同じ負荷での遮断又は開路試験に使用する。
遮断接点は，被試験用リードスイッチとは別に，負荷回路の接続及び遮断に使用する。
RM
XM
RB
XB
遮断接点
被試験用リードスイッチ
負荷選択接点
閉路試験
遮断又は
開路試験
1
2
ZM
ZB
試験電源
(Zs, Rs)
図C.1−一般的な耐久試験回路
コイル励磁の
電源電圧
標準試験
コイル
接点負荷
接点負荷
の
電源電圧
制御デバイス
測定及び表示
デバイス
被試験リー
ドスイッチ
開閉指令
デバイス
コイル励磁
図C.2−機能ブロック
48
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D
（参考）
突入電流負荷
この附属書は，電気的耐久性試験の突入電流負荷の例を示すものであって，規定の一部ではない。ただ
し，他に規定がない場合，フィラメントランプ負荷回路は図D.1に，静電容量負荷回路は図D.2に準拠し，
詳細は，製造業者が指定してもよい。
D.1 フィラメントランプ負荷の試験回路例
フィラメントランプ負荷での電気的耐久性を検証するための試験回路を，図D.1に示す。
R1
遮断接点
被試験用
リードスイッチ
ランプ負荷
図D.1−フィラメントランプ負荷の試験回路
D.2 静電容量負荷の試験回路例
静電容量負荷での電気的耐久性を検証するための試験回路を，図D.2に示す。
R1
遮断接点
被試験用
リードスイッチ
R2
R3
C
図D.2−静電容量負荷の試験回路
49
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E
（参考）
条件付き短絡電流試験回路
E.1
条件付き短絡電流の試験回路例
条件付き短絡電流での電気的耐久性を検証するための試験回路を，図E.1に示す。
投入接点
期待電流；1000A
力率；0.5〜0.7
（又は製造業者の指定による）製造業者が指定する
接点短絡保護デバイス
被試験用
リードスイッチ
L
R
図E.1−条件付き短絡電流試験回路
50
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F
（参考）
誘導負荷の電気的定格の種類（表F.1参照）
表F.1−使用負荷種別に基づいた接点定格の呼称例
呼称a)
使用負荷種別
閉鎖熱電流Ithe
A
定格使用電圧Ueにおける定格使用電流Ie
A
VA定格
VA
交流電流
120 V
240 V
380 V
480 V
500 V
600 V
投入
遮断
A150
交流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ）
10
6
−
−
−
−
−
7 200
720
A300
10
6
3
−
−
−
−
7 200
720
A600
10
6
3
1.9
1.5
1.4
1.2
7 200
720
B150
5
3
−
−
−
−
−
3 600
360
B300
5
3
1.5
−
−
−
−
3 600
360
B600
5
3
1.5
0.95
0.75
0.72
0.6
3 600
360
C150
2.5
1.5
−
−
−
−
−
1 800
180
C300
2.5
1.5
0.75
−
−
−
−
1 800
180
C600
2.5
1.5
0.75
0.47
0.375
0.35
0.3
1 800
180
D150
1.0
3.6
0.6
−
−
−
−
432
72
D300
1.0
3.6
0.6
1.8
0.3
432
72
E150
0.5
1.8
0.3
−
−
−
−
216
36
直流電流
125 V
250 V
−
400 V
500 V
600 V
投入
遮断
N150
直流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ）
10
2.2
−
−
−
−
−
275
275
N300
10
2.2
1.1
−
−
−
−
275
275
N600
10
2.2
1.1
−
0.63
0.55
0.4
275
275
P150
5
1.1
−
−
−
−
−
138
138
P300
5
1.1
0.55
−
−
−
−
138
138
P600
5
1.1
0.55
−
0.31
0.27
0.2
138
138
Q150
2.5
0.55
−
−
−
−
−
69
69
Q300
2.5
0.55
0.27
−
−
−
−
69
69
Q600
2.5
0.55
0.27
−
0.15
0.13
0.1
69
69
R150
1.0
0.22
−
−
−
−
−
28
28
R300
1.0
0.22
0.11
−
−
−
−
28
28
JIS C 8201-5-1に規定する使用負荷種別を適用する場合，全てにおいて関連する要求事項及び試験による。
注記 定格使用電流 Ie（A），定格使用電圧 Ue（V）及び見掛け上の遮断電力B（VA）の間に次の式が成り立つ。 B＝Ue×Ie
注a) 文字は閉鎖熱電流を表し，交流又は直流で区別する。例えば，Bは交流5 Aである。
2
C
6
2
2
4
6
-1
：
2
0
1
6
(I
E
C
6
2
2
4
6
-1
：
2
0
1
5
)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
51
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G
（参考）
モータ負荷における定格出力の例
モータ負荷の定格出力と制御回路の接点定格との間の関係を，表G.1に示す。
交流モータ始動の必要条件を満たす補助接点デバイスは，同じ電圧で最低でもパイロット負荷の突入電
流の150 %及び力率0.5以下の過負荷電流試験を実施せずに，交流パイロット負荷で許容できる。
代表的なパイロット負荷としては，コンタクタ，ソレノイド，バルブなどの電磁負荷が挙げられる。
コードA，コードB，コードCなどコードを用いて定格を表すスイッチでは，パイロット負荷の突入電
流（投入）が定常電流（遮断）の10倍であり，コードD及びコードEは，パイロット負荷の突入電流（投
入）が定常電流（遮断）の6倍である。
表G.1−モータ負荷における定格出力例
1相でのスイッチ定格
kW
コイルの最大定格
VA
制御回路の接点定格コード
0.75
720
A150，A300，A600
0.37
360
B150，B300，B600
0.09
180
C150，C300
0.07
72
D150，D300
52
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H
（参考）
接触信頼性試験の回路例
H.1 接触信頼性の試験回路例
最小使用電流での接触信頼性を検証するための試験回路を，図H.1に示す。
図H.1−接触信頼性試験回路
試験コイルに励磁を開始してからt1時間後，接触不良の測定をτ1時間行う。
試験コイルの励磁を解除してからt2時間後，開離不良の測定をτ2時間行う。
製造業者のカタログ又は入札において伝えられる情報等，JIS C 62246-1-1で規定していない動作電圧と
接触不良及び開離不良の限界値との関係は，製造業者と使用者との合意に基づかなければならない。
τ1
τ2
t1
t2
53
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書I
（参考）
投入電流容量試験の回路例
この附属書は，投入電流容量の試験回路例を示すものであって，規定の一部ではない。製造業者が試験
の詳細を指定しなければならない。
I.1
閉路容量の試験回路例及び閉路容量試験のシーケンス例
最大投入電流での電気的耐久性を検証するための試験回路の例を，図I.1に，試験のシーケンスの例を
図I.2に示す。
遮断接点
被試験リードスイッチ
遮断器
トリップコイル
図I.1−閉路容量試験回路の例
図I.2−閉路容量試験のシーケンスの例
試験コイルに励磁を開始した後，時間t1から，接触不良の測定を時間τ1行う。
τ1
t1
54
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J
（参考）
遮断電流容量試験の回路例
この附属書は，遮断容量の試験回路例を示すものであって，規定の一部ではない。製造業者が試験の詳
細を規定しなければならない。
J.1
遮断容量の試験回路例及び遮断容量試験のシーケンス例
最大遮断電流での電気的耐久性を検証するための試験回路の例を，図J.1に，試験のシーケンスの例を
図J.2に示す。
遮断接点
被試験リードスイッチ
遮断器保持コイル
図J.1−開路容量試験回路の例
図J.2−開路容量試験のシーケンスの例
試験コイルの励磁を解除した後，時間t2から開離不良の測定を時間τ2行う。
t2
τ2
55
C 62246-1：2016 (IEC 62246-1：2015)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
JIS C 0617-7 電気用図記号−第7部：開閉装置，制御装置及び保護装置
注記 対応国際規格：IEC 60617，Graphical symbols for diagrams（MOD）
JIS C 3215-1 巻線個別規格−第1部：クラス105のポリビニルアセタール銅線
注記 対応国際規格：IEC 60317-1，Specifications for particular types of winding wires−Part 1: Polyvinyl
acetal enamelled round copper wire, class 105（MOD）
JIS C 4540-1:2010 電磁式エレメンタリ リレー−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61810-1:2008，Electromechanical elementary relays−Part 1: General
requirements（IDT）
JIS C 5600:2006 電子技術基本用語
注記 対応国際規格：IEC 60050 (all parts)，International Electrotechnical Vocabulary（MOD）
JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5: 2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test（IDT）
JIS E 4017:2000 鉄道車両−電気用図記号
注記 対応国際規格：IEC 60027 (all parts)，Letter symbols to be used in electrical technology（MOD）
IEC 61810-2，Electromechanical elementary relays−Part 2: Reliability
IEC 61811-1，Electromechanical telecom elementary relays of assessed quality−Part 1: Generic specification
and blank detail specification