C 62246-1-1：2016
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
3.1 リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義 ································································· 2
3.2 品質評価検査に関する用語及び定義··················································································· 3
3.3 検査に関する用語及び定義 ······························································································ 3
4 試験の計画 ······················································································································ 3
4.1 試験の手順に対する一般要求事項······················································································ 3
4.2 形式試験（開発・設計段階） ··························································································· 3
4.3 品質評価検査（生産） ···································································································· 3
4.4 検査ロット ··················································································································· 4
4.5 検査間隔 ······················································································································ 4
4.6 試験及び検査の標準条件 ································································································· 4
4.7 試験ジグの取付け ·········································································································· 4
4.8 試験及び検査の一般要求事項 ··························································································· 4
5 リードスイッチの特性値 ··································································································· 27
5.1 リードスイッチの基本特性値 ·························································································· 27
5.2 標準試験コイル番号 ······································································································ 28
5.3 接点データ ·················································································································· 28
5.4 環境性データ ··············································································································· 33
6 信頼性−故障率データ ······································································································ 33
7 表示······························································································································ 33
7.1 リードスイッチの表示 ··································································································· 33
7.2 包装箱の表示 ··············································································································· 34
附属書A（規定）標準試験コイルでの配置 ··············································································· 35
附属書B（規定）特性分類品 ································································································· 36
附属書C（参考）適用事例 ···································································································· 37
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 39
C 62246-1-1：2016
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気制御機器工業会（NECA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 62246の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 62246-1 第1部：品目別通則
JIS C 62246-1-1 第1-1部：品質評価及び試験方法
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 62246-1-1：2016
リードスイッチ−
第1-1部：品質評価及び試験方法
Reed switches-Part 1-1: Detail specification-Quality assessment
序文
この規格は，2013年に第1版として発行されたIEC 62246-1-1を基とし，技術的内容を変更して作成し
た日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，JIS C 62246の規格群の個別規格（品質評価及び試験方法）であり，一般用及び産業用途に
使用するリードスイッチの要求事項及び試験項目について規定する。
この規格は，JIS C 62246-1と併用して用いる。
この規格は，JIS C 62246-1，及びJIS C 62246-1の仕様から由来した個別規格に使用する適切な試験手順
から選定し，それらで構成している。
リードスイッチの品種は，特性値及び試験項目に従って規定する。
注記1 水銀入りリードスイッチは，環境問題からこの規格の適用範囲から除いている。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 62246-1-1:2013，Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality assessment（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 6575-2:2013 ミニチュアヒューズ−第2部：管形ヒューズリンク
注記 対応国際規格：IEC 60127-2:2003，Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links（MOD）
JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
（sinusoidal）（IDT）
JIS C 60068-2-11:1989 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-11:1981，Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−
Test Ka: Salt mist（IDT）
2
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14:2009，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature（IDT）
JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ
付け性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-20:2008，Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads（IDT）
JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-21:2006，Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
of terminations and integral mounting devices（IDT）
JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-78:2001，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
heat, steady state（IDT）
JIS C 62246-1:2016 リードスイッチ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 62246-1:2015，Reed switches−Part 1: Generic specification（IDT）
JIS E 4031:2013 鉄道車両用品−振動及び衝撃試験方法
注記 対応国際規格：IEC 61373:2010，Railway applications−Rolling stock equipment−Shock and
vibration tests（MOD）
3
用語及び定義
主な用語及び定義は，JIS C 62246-1の箇条3によるほか，次による。
3.1
リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義
3.1.1
品種（type）
製造業者が指定した仕様（寸法，接点構成，接点耐圧，開閉容量，封入ガスの種類など）によって分類
される製品。
3.1.2
特性分類品（variant）
規定の特性をもつ品種内でのバリエーション。
注記 特性分類品の種類については，附属書B及び附属書Cを参照。
3.1.3
リードスイッチ（reed switch）
一対の磁性材料を各々弾性的に可動できるように，その一部をプレス加工した線材に適切な重なり及び
間隔をもたせ，封着用ガラス管に封入した磁気で駆動するスイッチ。
3.1.4
高耐圧形リードスイッチ（high voltage vacuum reed switch）
高い電圧を開閉するためハーメチックシール管内を真空又は加圧して封着したリードスイッチ。
3.1.5
重負荷形リードスイッチ（heavy-duty reed switch）
より大きな接点開閉容量をもつリードスイッチ。
3
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 一対の接点チップ又は磁極部と通電部とを完全に分離させ，接点チップ及び戻しばねを接点片
に追加したリードスイッチ。
3.2
品質評価検査に関する用語及び定義
3.2.1
ルーチン検査（routine test）
出荷時に，各々のリードスイッチに行う適合検査。
3.2.2
ロットごとの検査（lot-by-lot test）
月に1回以上，定期的に量産中の製品から抜き取ったリードスイッチのサンプルに行う検査。
3.2.3
定期検査（periodic test）
サブグループC1の場合は年に1回以上，サブグループC4の場合は2年に1回以上，定期的に量産中の
製品から抜き取ったリードスイッチのサンプルに行う検査。
注記1 定期検査の結果は，技術的な特性が確保されていることを確認するために使用する。
注記2 サブグループは4.5を参照。
3.3
検査に関する用語及び定義
3.3.1
検査水準，IL（inspection level）
ロット又はバッチの生産数量とサンプル数量との関係によって決定される検査量。
注記 ロットからの抜取サンプル数量は，検査水準の厳しさによって決まる。
3.3.2
合格品質水準，AQL（acceptance quality level）
連続したロットの抜取検査で許容される工程平均の上限の品質水準。
4
試験の計画
4.1
試験の手順に対する一般要求事項
試験の手順は，JIS C 62246-1の箇条6（試験及び測定方法）による。
4.2
形式試験（開発・設計段階）
形式試験の手順は，次による。
− サンプリング及び試験の計画は，表2及び表3によって行う。
− 規定する試験及びその順序は遵守しなければならない。
− 他に規定がない場合は，表2及び表3に規定する試験は遵守しなければならない。
4.3
品質評価検査（生産）
製品は，出荷検査，抜取検査及び定期検査によって確認する。
品質評価検査を含む各検査は，次による。
− グループA：ルーチン検査
− グループA及びB：ロットごとの検査
− グループC：定期検査
この個別規格に規定がない場合は，表1の全ての検査を遵守しなければならない。
サブグループが含むルーチン検査，ロットごとの検査及び定期検査で，検査の順序は遵守しなければな
4
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
らない。破壊検査（表中において記号D）を行ったサンプルは，出荷してはならない。非破壊検査（表中
において記号ND）を行ったサンプルは，出荷してもよい。
4.4
検査ロット
品質評価検査のサンプル数量は，1か月間に生産するリードスイッチの量によって決定する。
4.5
検査間隔
検査間隔は，次のサブグループに分けて実施する。
− サブグループA0： 出荷時
− サブグループA4及びB1： 月当たり1回以上
− サブグループC1： 年当たり1回以上
− サブグループC4： 2年ごとに1回以上
4.6
試験及び検査の標準条件
全ての試験及び検査は，他に規定がない場合，JIS C 62246-1の6.3（試験の標準条件）に従い，標準試
験の条件で実施しなければならない。
4.7
試験ジグの取付け
リードスイッチの衝撃及び振動試験時に取り付けるジグは，試験に影響してはならない。
4.8
試験及び検査の一般要求事項
全ての試験及び検査は，他に規定がない場合，表5で示す試験コイル番号を使用しなければならない。
個別規格に規定がない場合は，製造業者が接点の極性を規定しなければならない。
5
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法
グループ A
サブグループA0
全ての試験項目：全数検査
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
特性要求事項：次に適合しな
ければならない。
A0-1
目視及び寸
法検査（ND）
JIS C 62246-1の6.4（目視検査その他）による。
表4及びJIS C 62246-1の6.1
（試験及び測定方法に関す
る要求事項）による。
A0-2
機能試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.5（機能試験）の手順1による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
感動値：
飽和値： 感動値の150 %
開放値：
接点測定電流（代表）： 10 mA，24 V DC以下
表4による。
A0-3
接触抵抗
（ND）
JIS C 62246-1の6.7（接触抵抗）による。
測定点：接点を閉じた端子間
初期値は，表4による。
標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
最大試験電圧： 6 V DC又は6 V AC
最大試験電流： 1 A
表5による。
A0-4
耐電圧試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.8（耐電圧試験）による。
測定点及び試験電圧：
試験時間： 1 min
注記 詳細仕様に規定する高い電圧による短時間試験を行っ
てもよい。
表4による。
最大リーク電流： 0.5 mA
A0-5
動作時間
（ND）
JIS C 62246-1の6.10（動作時間）による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
試験コイル電圧： 感動値の150 %
1) 動作時間
2) 復帰時間
3) 動作時のバウンス時間
接点の測定電流（代表）： 10 mA，24 V DC以下
表4による。
A0-6
気密度試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.21（気密度試験）による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
重負荷形リードスイッチ：アーク遮断時間
試験コイル電圧： 感動値の150 %
試験電圧： 100 V DC〜110 V DC
試験電流： 0.5 A〜0.55 A
試験回数： 3回
リードスイッチ，高耐圧形：リーク試験
表7による。
6
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法（続き）
サブグループA4（周期検査対象：検査ロットは1か月当たりの生産量を対象とする。）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
IL
AQL
特性要求事項
1
目視及び寸
法検査
（ND）
JIS C 62246-1の6.4（目視検査その他）による。
S4
1.0
表4及びJIS C 62246-1
の6.1（試験及び測定方
法に関する要求事項）に
よる。
2
機能試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.5（機能試験）の手順1による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
感動値：
飽和値： 感動値の150 %
開放値：
接点測定電流（代表）： 10 mA，24 V DC以下
表4による。
3
接触抵抗
（ND）
JIS C 62246-1の6.7（接触抵抗）による。
測定点：接点を閉じた端子間
初期値は，表4による。
標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
最大試験電圧： 6 V DC又は6 V AC
最大試験電流： 1 A
表5による。
4
耐電圧試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.8（耐電圧試験）による。
測定点及び試験電圧：
試験時間： 1 min
注記 詳細仕様に規定する高い電圧による短時間試
験を行ってもよい。
表4による。
最大リーク電流：
0.5 mA
5
動作時間
（ND）
JIS C 62246-1の6.10（動作時間）による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
試験コイル電圧： 感動値の150 %
1) 動作時間
2) 復帰時間
3) 動作時のバウンス時間
接点測定電流（代表）： 10 mA，24 V DC以下
表4による。
6
気密度試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.21（気密度試験）による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
重負荷形リードスイッチ：アーク遮断時間
試験コイル電圧： 感動値の150 %
試験電圧： 100 V DC〜110 V DC
試験電流： 0.5 A〜0.55 A
試験回数： 3回
リードスイッチ，高耐圧形：リーク試験
表7による。
7
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法（続き）
サブグループB1（周期検査対象：検査ロットは1か月当たりの生産量を対象とする。）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
IL AQL
特性要求事項
7
接触信頼性
試験
（D）
JIS C 62246-1の6.28（接触信頼性）による。
S3
2.5
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
表5による。
接点負荷条件：
表6による。
取付条件：
表6による。試験中，毎
回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
サブグループC1（周期：1年）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
8
端子強度
（D）
JIS C 62246-1の6.12（端子強度）による。
（JIS C 60068-2-21に準拠）
手順： 試験 Ua1−張力
最終測定項目：
6
0
表4による。
端子部に破損又は抜け
がない。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化が
ない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
9
はんだ付け
（D）
JIS C 62246-1の6.13（はんだ付け性及びは
んだ耐熱性）による。
（JIS C 60068-2-20，試験Ta，方法 1に準拠）
温度： （250±5）℃
試験時間： （2±0.5）s
適用部位： ガラス封着部から5 mm
JIS C 62246-1の6.13による。
（JIS C 60068-2-20，試験Ta，方法2に準拠）
温度： （350±5）℃
試験時間： （3±0.5）s
適用部位 ： ガラス封着部から5 mm
最終測定項目：
5
0
拡大鏡で見たとき，浸せ
きした表面は95 %新し
いはんだで覆われてい
る。残りの5 %は小さな
ピンホールだけを含ん
でもよい。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化が
ない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
8
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法（続き）
サブグループC1（周期：1年）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
10
急激な温度
変化
（D）
JIS C 62246-1の6.16（急激な温度変化）に
よる。
（JIS C 60068-2-14に準拠）
低温度：
−50 ℃：重負荷形リードスイッチ
−40 ℃ ：リードスイッチ及び高耐圧形リー
ドスイッチ
高温度：
100 ℃：重負荷形リードスイッチ
125 ℃：リードスイッチ及び高耐圧形リード
スイッチ
暴露時間：
20 min：重負荷形リードスイッチ
30 min：リードスイッチ及び高耐圧形リード
スイッチ
置換え時間：
1 min：重負荷形リードスイッチ
15 min：リードスイッチ及び高耐圧形リード
スイッチ
試験サイクル数：
10回：重負荷形リードスイッチ
5回：リードスイッチ及び高耐圧形リードス
イッチ
最終測定項目：
6
0
試験4−耐電圧試験
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化が
ない。
試験6−封着性
表7による。
9
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法（続き）
サブグループC1（周期：1年）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
11
振動
（D）
機能確認
JIS C 62246-1の6.18（振動）による。
6
0
接点開の状態で，10 μs
以上のチャタリングが
ない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
可動接点は交差する方
向に配置する。
振動条件：
適用： 3軸方向
1軸当たりの掃引回数： 3回
掃引率： 1 min当たり1オクターブ±10 %
総試験時間： 約30 min
接点測定電流： 24 V DC，10 mA以下
最終測定項目：
表7による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化が
ない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
12
電気的耐久
性試験
（D）
JIS C 62246-1の6.22（電気的耐久性）によ
る。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護回路： 規定しない
通電率： 50 %
表5による。
接点負荷条件：
表6による。
監視条件：
表6による。
試験中，各サイクルでチ
ェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
10
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法（続き）
サブグループC4（周期：2年に1回以上）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
13
衝撃
（D）
機能確認
JIS C 62246-1の6.19（衝撃）による。
6
0
接点開の状態で，10 μs
以上のチャタリングが
ない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
可動接点は交差する方
向に配置する。
衝撃条件：
適用： 3方向
衝撃回数： 18回
（1方向当たり正負各々3回）
衝撃時間： 11 ms
接点測定電流： 10 m A，24 V DC以下
最終測定項目：
表7による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化が
ない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
14
機械的耐久
性試験
（D）
JIS C 62246-1の6.23（機械的耐久性）によ
る。
20
1
破損部分がない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護回路： 規定しない
通電率： 50 %
1秒当たりの動作回数： 50回〜60回
間欠測定点：
1×106，3×106，5×106，7×106，1×107，
3×107，5×107，7×107及び1×108
表5による。
接触不良の限界：
感動値の±20 %変化：
重負荷形リードスイッ
チ
感動値の±15 %変化：
リードスイッチ及び高
耐圧形リードスイッチ
開離不良の限界：
開放値の50 %変化：
重負荷形リードスイッ
チ
開放値の30 %変化：
リードスイッチ及び高
耐圧形リードスイッチ
試験3−接触抵抗
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
11
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質評価検査方法（続き）
サブグループC4（周期： 2年に1回以上）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
15
投入電流容
量試験
（D）
JIS C 62246-1の6.30（投入電流容量試験）
による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
重負荷形リ
ードスイッ
チだけ
コイル保護回路： 規定しない
投入負荷条件：
表6による。
監視条件：
監視時間： t1＝400 ms，τ1＝50 ms
試験中，毎回チェックを
する。
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
16
遮断電流容
量試験
（D）
JIS C 62246-1の6.31（遮断電流容量試験）
による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
重負荷形リ
ードスイッ
チだけ
コイル保護回路： 規定しない
遮断負荷条件：
表6による。
監視条件：
監視時間： t2＝400 ms，τ2＝50 ms
試験中，毎回チェックを
する。
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
17
耐サージ電
圧試験
（D）
JIS C 62246-1の6.25（耐サージ電圧試験）
による。
3
0
試験電圧： 3 000 V
試験電圧波形： 1.2/50 μs
表6による。
重負荷形リ
ードスイッ
チの特性分
類Bだけ
パルス回数： 6回（正負各々3回）
最終測定項目：
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化が
ない。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
12
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
1
目視及び
寸法検査
（ND）
JIS C 62246-1の6.4（目視検査その他）による。
170
0
表4及びJIS C
62246-1の6.1（試験
及び測定方法に関す
る要求事項）による。
2
機能試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.5（機能試験）の手順1による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
感動値：
飽和値： 感動値の150 %
開放値：
接点測定電流： 10 mA，24 V DC以下
表4による。
3
接触抵抗
（ND）
JIS C 62246-1の6.7（接触抵抗）による。
測定点： 閉じた接点の端子間
初期値は，表4によ
る。
標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
試験電圧： 6 V DC又は6 V AC以下
試験電流： 1 A以下
表5による。
4
耐電圧試
験
（ND）
JIS C 62246-1の6.8（耐電圧試験）による。
測定点及び試験電圧：
試験時間： 1 min
注記 詳細仕様に規定する高い電圧による短時間
試験を行ってもよい。
表4による。
最大リーク電流：
0.5 mA
5
動作時間
（ND）
JIS C 62246-1の6.10（動作時間）による。
測定点及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
動作時間：
復帰時間：
動作時バウンス時間：
接点測定電流： 10 mA，24 V DC以下
表4による。
6
気密度試
験
（ND）
JIS C 62246-1の6.21（気密度試験）による。
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
重負荷形リードスイッチ：アーク遮断時間
試験コイル電圧： 感動値の150 %
試験電圧： 100 V DC〜110 V DC
試験電流： 0.5 A〜0.55 A
試験回数： 3回
リードスイッチ，高耐圧形：リーク試験
表7による。
7
残留磁気
試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.6（残留磁気試験）による。
6
0
測定点及び標準試験コイル番号：
表5による。
飽和値： 感動値の150 %
感動開始値1
飽和値（反対の極性）： 感動値の150 %
感動開始値2
残留値：10 %以下
13
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
8
絶縁抵抗
試験
（ND）
JIS C 62246-1の6.9（絶縁抵抗）による。
6
0
測定点及び試験電圧：
表4による。
9
接点ステ
ィッキン
グ
（ND）
熱による
接点ステ
ィッキン
グ
JIS C 62246-1の6.11.1.1（復帰時間及び動作時間の
変化）による。
6
0
測定点及び標準試験コイル番号：
カテゴリ温度の上限：
150 ℃：重負荷形リードスイッチ
125 ℃：リードスイッチ
表5による。
飽和値： 感動値の150 %
試験期間： 24 h以上
最大許容値：
許容値：10 %以下
JIS C 62246-1の6.11.2（磁気による接点スティッ
キング）による。
磁気によ
る接点ス
ティッキ
ング
測定点及び標準試験コイル番号：
開閉頻度： 1 s当たり10回
表5による。
駆動パルスの最大最小限界： 感動値の200 %及び
100 %
試験サイクル数： 5
開離不良ゼロ
開離不良を決定する最小接触抵抗値：
表4による。
10
端子強度
（D）
JIS C 62246-1の6.12（端子強度）による。
（JIS C 60068-2-21に準拠）
手順： 試験Ua1−引張り
最終測定項目：
6
0
表4による。
端子部に破損又は緩
みがない。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
11
はんだ付
け
（D）
JIS C 62246-1の6.13（はんだ付け性及びはんだ耐
熱性）による。
（JIS C 60068-2-20，試験Ta，方法1に準拠）
温度： （250±5）℃
期間： （2±0.5）s
測定点： ガラス封着部から5 mm
JIS C 62246-1の6.13による。
（JIS C 60068-2-20，試験Ta，方法2に準拠）
温度： （350±5）℃
期間： （3±0.5）s
測定点： ガラス封着部から5 mm
最終測定項目：
6
0
拡大鏡で見たとき，浸
せきした表面は95 %
新しいはんだで覆わ
れている。残りの5 %
は小さなピンホール
だけを含んでよい。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
14
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
12
耐候性シ
ーケンス
（D）
JIS C 62246-1の6.14（耐候性シーケンス）による。
乾燥高温：JIS C 62246-1の6.14.2（耐候性シーケ
ンス試験の方法）による。
6
0
測定点及び標準試験コイル番号：
高温温度：
表5による。
200 ℃：重負荷形リードスイッチ
125 ℃：リードスイッチ及び高耐圧形リードスイ
ッチ
暴露時間： 16 h
回復時間： 4 h
乾熱暴露の最後の2 h： 接触抵抗の監視
1秒当たりのサイクル数： 2
通電率： 1：1
接点間試験電圧： 最大 6 V DC又はAC
接点通電電流： 最大1 A
乾熱暴露試験終了前：
試験2−機能試験
温湿度サイクル：JIS C 62246-1の6.14.2による。
温度： 55 ℃
回復時間： 4 h
低温：JIS C 62246-1の6.14.2による。
低温温度：
表7による。
−50 ℃：重負荷形リードスイッチ
−40 ℃：リードスイッチ及び高耐圧形リードスイ
ッチ
暴露時間： 2 h
低温暴露試験終了前：
試験2−機能試験
温湿度サイクル：JIS C 62246-1の6.14.2による。
温度： 55 ℃
回復時間： 4 h
表7による。
最終測定項目：
試験4−耐電圧試験
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験6−封着性
表7による。
15
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
13
温湿度，
定常状態
（D）
JIS C 62246-1の6.15（温湿度，定常状態）による。
（JIS C 60068-2-78に準拠）
高温温度：
200 ℃：重負荷形リードスイッチ
125 ℃：リードスイッチ及び高耐圧形リードスイ
ッチ
放置時間： 10 d
最終測定項目：
6
0
試験4−耐電圧試験
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験6−封着性
試験11−はんだ付け性
表7による。
14
急激な温
度変化
（D）
JIS C 62246-1の6.16（急激な温度変化）による。
（JIS C 60068-2-14に準拠）
低温温度： −50 ℃
高温温度： 100 ℃
暴露時間： 20 min
置換え時間： 1 min
試験サイクル数： 10
最終測定項目：
6
0
試験4−耐電圧試験
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験6−封着性
表7による。
15
塩水噴霧
（D）
JIS C 62246-1の6.17（塩水噴霧）による。
（JIS C 60068-2-11に準拠）
濃度： 質量分率 (5±1) %
pH値： 6.5〜7.2
温度： 35 ℃
暴露時間：
168 h：重負荷形リードスイッチ
24 h：リードスイッチ及び高耐圧形リードスイッ
チ
最終測定項目：
6
0
試験4−耐電圧試験
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験6−封着性
表7による。
16
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
16
振動
（D）
機能確認
JIS C 62246-1の6.18（振動）による。
6
0
接点開の状態で，10
μs以上のチャタリン
グがない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
振動条件：
適用： 3軸方向
可動接点は交差する
方向に配置する。
掃引回数： 1方向当たり3回
掃引率： 1 min当たり1オクターブ±10 %
総試験時間： 約30 min
接点測定電流： 24 V DC，10 mA以下
最終測定項目：
表7による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
振動
（D）
耐久性
JIS C 62246-1の6.18（振動）による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
振動条件：
適用： 3方向
周波数： 5 Hz〜150 Hz
掃引回数： 1方向当たり3回
掃引率： 1 min当たり1オクターブ±10 %
試験時間： 1方向当たり5 h以上
最大最小値：
垂直方向： 7.90 m/s2
左右方向： 3.5 m/s2
上下方向： 5.50 m/s2
接点測定電流： 24 V DC，10 mA以下
最終測定項目：
可動接点は交差する
方向に配置する。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
17
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
17
衝撃
（D）
機能確認
JIS C 62246-1の6.19（衝撃）による。
6
0
接点開の状態で，10
μs以上のチャタリン
グがない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
可動接点は交差する
方向に配置する。
衝撃条件：
適用： 3方向
衝撃回数： 18回（1方向当たり正負3回）
衝撃時間： 11 ms
接点測定電流： 24 V DC，10 mA以下
最終測定項目：
表7による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
衝撃
（D）
耐久性
JIS C 62246-1の6.19（衝撃）による。
6
0
割れ目又は他の悪化
がない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
可動接点は交差する
方向に配置する。
衝撃条件：
適用： 3方向
衝撃回数： 18回（1方向当たり正負3回）
衝撃時間： 11 ms
最終測定項目：
表7による。
試験1−目視検査
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
18
電気的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.22（電気的耐久性）による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
表5による。
接点負荷条件：
表6による。
監視条件：
表6による。
試験中，毎回チェック
をする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
18
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
19
機械的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.23（機械的耐久性）による。
20
1
折れ部分等がない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
1 s当たりの動作回数： 50回〜60回
間欠測定点：
1×106，3×106，5×106，7×106，
1×107，3×107，5×107，7×107及び
1×108
表5による。
接触不良の限界：
感動値の±20 %変
化： 重負荷形リード
スイッチ
感動値の±15 %変
化： リードスイッチ
及び高耐圧形リード
スイッチ
開離不良の限界：
開放値の50 %変化：
重負荷形リードスイ
ッチ
開放値の30 %変化：
リードスイッチ及び
高耐圧形リードスイ
ッチ
試験3−接触抵抗
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
20
最大動作
頻度
JIS C 62246-1の6.24（最大動作頻度）の手順によ
る。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
最大バウンス時間： 3 ms
表5による。
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
1 s当たりの最大応答周波数： 60
表4による。
21
接触信頼
性試験
（D）
JIS C 62246-1の6.28（接触信頼性）による。
20
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
表5による。
接点負荷条件：
表6による。
監視条件：
最終測定項目：
表6による。
毎回チェックをする。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
19
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
A1
振動
（D）
機能確認
JIS E 4031の箇条8（振動機能試験条件）による。
6
0
接点開の状態で，10
μs以上のチャタリン
グがない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
可動接点は交差する
方向に配置する。
振動条件：
適用： 3方向
周波数： 5 Hz〜150 Hz
掃引回数： 1方向当たり3回
掃引率： 1 min当たり1オクターブ±10 %
試験時間： 約3×10 min
最大最小値：
垂直方向： 1.00 m/s2
左右方向： 0.45 m/s2
上下方向： 0.70 m/s2
接点測定電流： 24 V DC，10 mA以下
最終測定項目：
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
A2
衝撃
（D）
JIS E 4031の箇条10（衝撃試験条件）による。
6
0
接点開の状態で，
10 μs以上のチャタリ
ングがない。
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
表5による。
取付方向：
可動接点は交差する
方向に配置する。
衝撃条件：
適用： 3方向
衝撃回数： 18回（1方向当たり正負3回）
衝撃時間： 25 ms
最大最小値：
垂直方向： 30 m/s2
左右方向： 30 m/s2
上下方向： 50 m/s2
接点測定電流： 24 V DC，10 mA以下
最終測定項目：
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験6−封着性
表7による。
20
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
A3
電気的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.22.5（標準的負荷条件）による。
8
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
接点負荷条件： 110 V DC，60 mA（L/R＝22 ms）
開閉頻度： 1 s当たり5回
要求開閉回数：
表5による。
通電電流3 A： 500万回以上
サージ吸収器付き
通電電流5 A： 500万回以上
サージ吸収器付き
監視条件：
表6による。
毎回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
A4
電気的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.22.5（標準的負荷条件）による。
5
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
接点負荷条件： 100 V DC，125 mA（L/R＝17 ms）
開閉頻度： 1 s当たり5回
要求開閉回数：
通電電流5 A： 100万回以上
表5による。
監視条件：
表6による。
毎回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
21
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
A5
電気的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.22.5（標準的負荷条件）による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
接点負荷条件： 52 V DC，100 mA（L/R＝40 ms）
開閉頻度： 1 s当たり5回
要求開閉回数：
通電電流5 A： 180万回以上
表5による。
監視条件：
表6による。
毎回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
A6
電気的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.22.5（標準的負荷条件）による。
4
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
表5による。
接点負荷条件： 100 V DC，0.24 A（L/R＝100 ms）
開閉頻度： 1 s当たり5回
接点極性を2 000回ごとに反転
要求開閉回数：
通電電流5 A： 200万回以上
サージ吸収器付き
監視条件：
表6による。
毎回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
22
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
A7
電気的耐
久性
（D）
JIS C 62246-1の6.22.5（標準的負荷条件）による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
接点負荷条件： 24 V DC，1.2 A（L/R＝2 ms）
開閉頻度： 1 s当たり5回
要求開閉回数：
通電電流5 A： 100万回以上
表5による。
監視条件：
表6による。
毎回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
A8
接点の開
閉容量
（D）
JIS C 62246-1の6.26（接点の開閉容量）による。
3
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
通電率： 50 %
接点定格：
表5による。
監視条件：
表6による。
毎回チェックをする。
最終測定項目：
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
A9
条件付き
短絡電流
（D）
JIS C 62246-1の6.27（条件付き短絡電流試験）に
よる。
3
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
短絡保護デバイスの種類：速動ヒューズ，JIS C
6575-2のFH，スタンダードシート1による。
表5による。
短絡保護デバイスの定格： 5 A，250 V
試験電圧： 264 V AC又は115 V DC r.m.s.
試験電流： 20 A AC及びDC
試験間インターバル時間： 3 min以上
試験回数： 3回
最終測定項目：
表7による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
23
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
A10
温度上昇
（ND）
JIS C 62246-1の6.29（温度上昇）による。
3
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
表5による。
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
試験電流：
測定点： 端子
測定時間： 1.5 h
最終測定項目：
表4による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験3−接触抵抗
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
重負荷形リードスイッチの特性分類A及びBに適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
A11
投入電流
容量
（D）
JIS C 62246-1の6.30（投入電流容量試験）による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
表5による。
投入負荷条件：
表6による。
監視条件：
監視時間：t1＝400 ms，τ1＝50 ms
毎回チェックをする。
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
A12
遮断電流
容量
（D）
JIS C 62246-1の6.31（遮断電流容量試験）による。
6
0
リードスイッチ及び標準試験コイル番号：
試験コイル電圧： 感動値の150 %
コイル保護： 規定しない
表5による。
遮断負荷条件：
表6による。
監視条件：
監視時間： t2＝400 ms，τ2＝50 ms
毎回チェックをする。
試験3−接触抵抗
適用する場合：
表4による。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
24
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質評価試験（続き）
重負荷形リードスイッチの特性分類Bだけ適用
試験
番号
試験項目
試験の手順，試験条件など
抜取数 合否判定
の故障数
特性要求事項
B1
耐サージ
電圧
（D）
JIS C 62246-1の6.25（耐サージ電圧試験）による。
3
0
試験電圧： 3 000 V
試験電圧波形： 1.2/50 μs
パルス印加回数： 6回（正負各々3回）
最終測定項目：
表6による。
試験1−目視検査
割れ目又は他の悪化
がない。
試験2−機能試験
表4による。
試験4−耐電圧試験
表4による。
25
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−資格取得承認
試験
試験の条件及び要求事項
サンプル数
合格数
JIS C 62246-1に
準拠する試験条件
表2の試験
番号
試験中の合否
判定故障数
箇条番号
特別な条件
グループ1
目視検査その他
6.4
−
1
170
0
機能試験
6.5
手順1
2
接触抵抗
6.7
−
3
耐電圧試験
6.8
−
4
動作時間
6.10
−
5
気密度試験
6.21
−
6
グループ2
残留磁気試験
6.6
−
7
6
0
絶縁抵抗
6.9
−
8
6
0
接点スティッキング
6.11
6.11.1.1
9
6
0
グループ3
端子強度
6.12
−
10
6
0
はんだ付け性
6.13
−
11
6
0
耐候性シーケンス
6.14
−
12
6
0
グループ4
温湿度，定常状態
6.15
−
13
6
0
急激な温度変化
6.16
−
14
6
0
塩水噴霧
6.17
−
15
6
0
グループ5
振動
6.18
JIS C 60068-2-6
16
12
0
衝撃
6.19
−
17
12
0
グループ6
電気的耐久性
6.22
表3
18
6
0
グループ7
機械的耐久性
6.23
−
19
20
1
グループ8
最大動作頻度
6.24
−
20
6
0
グループ9
接触信頼性
6.28
−
21
20
0
グループ10（重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ）
振動
6.18
JIS E 4031
A1
6
0
衝撃
6.19
JIS E 4031
A2
6
0
グループ11（重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ）
電気的耐久性
6.22
−
A3
8
0
電気的耐久性
6.22
−
A4
5
0
電気的耐久性
6.22
−
A5
6
0
電気的耐久性
6.22
−
A6
4
0
グループ12（重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ）
電気的耐久性
6.22
−
A7
6
0
グループ13（重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ）
接点の開閉容量
6.26
−
A8
3
0
26
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−資格取得承認（続き）
試験
試験の条件及び要求事項
サンプル数
合格数
JIS C 62246-1に
準拠する試験条件
表2の試験
番号
試験中の合否
判定故障数
箇条番号
特別な条件
グループ14（重負荷形リードスイッチの特性分類Aだけ）
条件付き短絡電流試験
6.27
−
A9
3
0
温度上昇
6.29
−
A10
3
0
グループ15（重負荷形リードスイッチの特性分類A及びBだけ）
投入電流容量試験
6.30
表5
A11
6
0
遮断電流容量試験
6.31
表5
A12
6
0
グループ16（重負荷形リードスイッチの特性分類Bだけ）
耐サージ電圧試験
6.25
−
B1
3
0
170本のリードスイッチは，グループ1の試験に合格しなければならない。次に，グループ1の試験
に合格した170本のリードスイッチは，グループ2〜16の試験を受けなければならない。
27
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
リードスイッチの特性値
5.1
リードスイッチの基本特性値
リードスイッチの基本特性値を，表4に示す。
表4−リードスイッチの基本特性値
種類
リードスイッチ
高耐圧形
リードスイッチ
重負荷形リードスイッチ
通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
基本データ
ガラス管の直径
1.8以下
2.2以下
2.8以下
2.54以下
5.1以下
6.2以下
mm
端子の長さ
mm
35.8±0.3
44.3±0.3
55.4±0.3
56.1±0.3
61.0±0.2
71.4±0.2
質量
g
0.05±0.01
0.13±0.05
0.27±0.05
0.2±0.1
1.4±0.5
2.4±0.5
接点構成
1 NO
1 C/O
1 NO
端子の表面処理
すずめっき処理
機能試験
標準試験コイル番
号
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号1
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号7
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号13
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号2
JIS C 62246-1の表A.1のコイル番号25
開放値
A
5以上
5以上
5以上
4以上
50以上
60以上
感動値
A
10〜50
10〜50
10〜60
10〜30
100〜130
180〜230
接触抵抗
最大接触抵抗
mΩ
100
500
500（100：特性分
類Bだけ）
耐電圧試験
端子間電圧
150 V DC以上
200 V
DC以上
1 000 V
DC以上
150 V DC以上
500/550 V AC
（1 000/1 100 V AC
特性分類Bだけ）
800/880 V AC
（1 000/1 100 V AC
特性分類Bだけ）
試験時間
1 min
1 min/1 s
定格インパル
ス電圧（特性
分類Bだけ）
端子間ピーク電圧
適用外
3 000 V
適用外
試験電圧波形
適用外
1.2/50 μs
適用外
パルス数
適用外
6回（正負各々3回）
適用外
絶縁電圧（初期値）
1 000 MΩ以上（100 V DC）
1 000 MΩ以上（500 V DC）
最大動作時間 動作時間
0.5 ms
0.8 ms
1.5 ms
5 ms
復帰時間
0.1 ms
0.1 ms
0.1 ms
3 ms
動作時のバウンス
時間
0.5 ms
0.8 ms
2.0 ms
3 ms
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
28
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.2
標準試験コイル番号
リードスイッチの標準試験コイル番号を，表5に示す。
標準試験コイルでの配置は，附属書Aによる。
表5−リードスイッチの標準試験コイル番号
種類
リードスイッチ
高耐圧形
リードスイッチ
重負荷形リードスイッチ
通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
機能試験，残留磁気試験，接触抵抗，動作
時間，最大応答周波数，接点粘着，封着性
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号1
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号7
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号13
JIS C 62246-1の表
A.1のコイル番号2
JIS C 62246-1の表A.1の
コイル番号25
振動，衝撃，電気的耐久性，機械的耐久性，
接触信頼性試験，条件付き短絡電流試験，
耐サージ電圧試験，開閉容量，温度上昇，
投入電流容量，遮断電流容量
JIS C 62246-1の表A.1の
コイル番号28，29，30
5.3
接点データ
5.3.1
判定基準
リードスイッチ，高耐圧形リードスイッチ及び重負荷形リードスイッチの接触信頼性及び電気的耐久性について規定する。B接点が動作するときの
故障限界値及びA接点が復帰するときの不良限界値を表6に示す。また，5.3.2に示すA接点及びB接点のいずれかの短絡による接触障害も故障とみ
なす。
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
29
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−リードスイッチ 特性分類Aの判定基準
種類
リードスイッチ
高耐圧形
リードスイッチ
重負荷形リードスイッチ
定格通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
接触信頼性
接点開閉負荷
5 V DC，0.1 mA（抵抗負荷）
24 V DC，1 mA（抵抗負荷）
接触不良の限界値
接点間電圧が0.25 V DC以上
接点間電圧が1.2 V DC以上
開離不良の限界値
接点間電圧が4.75 V DC以下
接点間電圧が22.8 V DC以下
開閉回数a)
1 000万回以上
500万回以上
開閉頻度
1 s当たり100回以下
1 s当たり50回
1 s当たり10回以下
監視時間
t1＝2 ms，τ1＝0.1 ms，t2＝2 ms，τ2＝0.2 ms
t1＝5 ms，τ1＝0.1 ms，
t2＝5 ms，τ2＝0.1 ms
t1＝30 ms，τ1＝20 ms，
t2＝30 ms，τ2＝20 ms
電気的耐久性
接点開閉負荷
5 V DC，
5 mA
12 V DC，
10 mA
100 V DC，
50 mA
350 V DC，
1 mA
5 V DC，5 mA
24 V DC，37 mA，L/R＝7 ms
接触不良の限界値
接点間電圧が
0.25 V DC以上
接点間電圧が
0.6 V DC以上
接点間電圧が
5 V DC以上
接点間電圧が
0.25 V DC以上
接点間電圧が1.2 V DC以上
開離不良の限界値
接点間電圧が
0.25 V DC以下
接点間電圧が
11.4 V DC以下
接点間電圧が
95 V DC以下
接点間電圧が
0.25 V DC以下
接点間電圧が22.8 V DC以下
開閉頻度
1 s当たり100回以下
1 s当たり50回以下
1 s当たり10回以下
監視時間
t1＝2 ms，τ1＝0.1 ms，
t2＝2 ms，τ2＝0.2 ms
t1＝5 ms，τ1＝0.1 ms，t2＝2 ms，τ2＝0.2 ms
t1＝30 ms，τ1＝20 ms，
t2＝30 ms，τ2＝20 ms
期待寿命a)，b)
1 000万回
1 000万回
2 000万回
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
30
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−リードスイッチ 特性分類Aの判定基準（続き）
種類
リードスイッチ
高耐圧形
リードスイッチ
重負荷形リードスイッチ
定格通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
電気的耐久性
［交流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ）］
接点開閉負荷
適用外
240 V AC，
5 A投入（cos φ ＝
0.7）及び
0.5 A遮断（cos φ
＝0.4）
240 V AC，
10 A投入（cos φ＝
0.7）及び
1.0 A遮断（cos φ
＝0.4）
接触不良の限界値
適用外
接点間電圧が120 V AC以下
（監視用継電器は負荷間に並列接続）
開離不良の限界値
適用外
接点間電圧が72 V AC以上
（監視用継電器は負荷間に並列接続）
開閉頻度
適用外
最大1 s当たり1回
監視時間
適用外
t1＝400 ms，τ1＝50 ms，
t2＝400 ms，τ2＝50 ms
期待寿命b)
適用外
50万回
80万回
電気的耐久性
［直流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ）］
接点開閉負荷
適用外
110 V，0.2 A
（L/R＝40 ms）
110 V，0.5 A
（L/R＝100 ms）
接触不良の限界値
適用外
接点間電圧が55 V DC以下
（監視用継電器は負荷間に並列接続）
開離不良の限界値
適用外
接点間電圧が33 V DC以上
（監視用継電器は負荷間に並列接続）
開閉頻度
適用外
最大1 s当たり1回
監視時間
適用外
t1＝400 ms，τ1＝50 ms，
t2＝400 ms，τ2＝50 ms
期待寿命a)，b)
適用外
30万回
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
31
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−リードスイッチ 特性分類Aの判定基準（続き）
種類
リードスイッチ
高耐圧形
リードスイッチ
重負荷形リードスイッチ
定格通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
開閉容量
交流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバル
ブ）
適用外
120 V AC，1.5 A
240 V AC，0.75 A
（cos φ＝0.3）
120 V AC，1.5 A
240 V AC，0.75 A
600 V AC，0.3 A
（cos φ＝0.3）
直流誘導負荷
［開閉器コイル，
ソレノイドバルブ
a)］
適用外
120 V DC，0.55 A
L/R＝40 ms
120 V DC，0.55 A
240 V DC，0.27 A
L/R＝100 ms
総試験回数
適用外
6 050
投入電流容量
（交流誘導負荷）
投入負荷
（cos ϕ=0.3）
適用外
240 V AC，
15 A以下
240 V AC，
30 A以下
投入回数
適用外
10回以上
開閉頻度
適用外
1 min当たり6回
遮断回数
適用外
10回以上
遮断電流容量
（交流誘導負荷）
遮断負荷
（cos ϕ=0.3）
適用外
240 V AC，
15 A以下
240 V AC，
30 A以下
遮断回数
適用外
10回以上
開閉頻度
適用外
1 min当たり6回
遮断電流容量
（直流誘導負荷）
遮断負荷
適用外
120 V DC，
0.55 A以下
L/R＝40 ms
240 V DC，
0.27 A以下
L/R＝100 ms
遮断回数a)
適用外
10回以上
開閉頻度
適用外
1 min間当たり6回
注a) 直流回路で使用する場合，固定接点は正極側に接続する。
b) 寿命回数はB10値で表す。
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
32
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−重負荷形リードスイッチ 特性分類Bの判定基準
種類
重負荷形リードスイッチ
定格通電電流
A
3.0
5.0
接触信頼性
接点開閉負荷
24 V DC，1 mA（抵抗負荷）
1 V DC，1 mA（抵抗負荷）
接触不良の限界値
接点間電圧が1.2 V DC以上
接点間電圧が0.05 V DC以上
開離不良の限界値
接点間電圧が22.8 V DC以下
接点間電圧が0.95 V DC以下
開閉回数a)
500万回以上
開閉頻度
1 s当たり10回以下
監視時間
t1＝30 ms，τ1＝20 ms，t2＝30 ms，τ2＝20 ms
電気的耐久性
接点開閉負荷
24 V DC，37 mA（L/R＝7 ms）
接触不良の限界値
接点間電圧が1.2 V DC以上
開離不良の限界値
接点間電圧が22.8 V DC以下
開閉頻度
1 s当たり10回以下
監視時間
t1＝30 ms，τ1＝20 ms，t2＝30 ms，τ2＝20 ms
期待寿命a)，b)
1 000万回
1 000万回
電気的耐久性
［直流誘導負荷
（開閉器コイル，
ソレノイドバルブ）］
接点開閉負荷
110 V，0.3 A（L/R＝40 ms）
110 V，0.5 A（L/R＝40 ms）
接触不良の限界値
接点間電圧が55 V DC以下
（監視用継電器が接点負荷と並列に接続）
開離不良の限界値
接点間電圧が33 V DC以上
（監視用継電器が接点負荷と並列に接続）
開閉頻度
1 s当たり1回以下
監視時間
t1＝400 ms，τ1＝50 ms，t2＝400 ms，τ2＝50 ms
期待寿命a)，b)
10万回
100万回
投入電流容量
（直流誘導負荷）
投入電流
（L/R＝5 ms）
110 V DC，15 A以下
220 V DC，20 A以下
通電時間
0.5 s
投入回数
1万回以上
開閉頻度
1 min当たり6回
遮断電流容量
（直流誘導負荷）
遮断電流
（L/R＝40 ms）
110 V DC，0.5 A
220 V DC，0.15 A以下
遮断回数a)
10万回以上
開閉頻度
1 min当たり6回
注a) 直流回路で使用する場合，固定接点は正極に接続する。
b) 寿命回数はB10値で表す。
5.3.2
接触抵抗の判定基準
接触抵抗の判定基準は，次による。
− 重負荷形リードスイッチの接触抵抗の初期値は，通電電流1 Aの条件で，500 mΩ以下とする。
− リードスイッチの接触抵抗の初期値は，100 mΩ以下とする。
− 感動値の150 %を励磁した試験終了後，接触信頼性試験，電気的耐久性試験，機械的耐久性試験及び
環境試験は，通電電流1 Aの条件で，1 Ω以下とする。
− 感動値の150 %を励磁する試験中の接触信頼性試験，電気的耐久性試験，機械的耐久性試験及び環境
試験は，通電電流1 mAの条件で，1.2 kΩ以下とする。
5.3.3
機械的耐久性
機械的耐久性は，108回以上とする。ただし，特性分類Bの重負荷形リードスイッチには，107回とする。
附属書B参照。
33
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.4
環境性データ
リードスイッチは，表8に規定した環境ストレスに耐えなければならない。
表8−リードスイッチの環境性データ
種類
リードスイッチ
高耐
圧形
リード
スイッチ
重負荷形リードスイッチ
定格通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
振動性（正弦周波数）
196.0 m/s2（20 g）：
10 Hz〜2 000 Hz
147.0 m/s2（15 g）：
20 Hz〜1 000 Hz
196.0 m/s2（20 g）：
20 Hz〜1 000 Hz
衝撃a)
機能
294.0 m/s2（30 g）
196.0 m/s2（20 g）
392.0 m/s2（40 g）
耐久性
980 m/s2（100 g）
短絡保護デバイスの動作
特性
（特性分類Bは適用外）
適用外
20（A2 s）以上
端子強
度
引張り力
19.6 N（2 kgf）
98 N（10 kgf）
はんだ
付け
はんだ付け性
250 ℃，2 s
はんだ耐熱性
350 ℃，3 s
封着性
リーク率
1 Pa×cm3/s
適用外
適用外
アーク時間
適用外
最大60 ms
最大100 ms
遮断負荷b)
適用外
100 V DC，0.5 A
（L/R＝40 ms）
100 V DC，0.5 A
（L/R＝100 ms）
周囲
温度
使用時
−40 ℃〜＋125 ℃
−50 ℃〜＋150 ℃
保管時
−40 ℃〜＋125 ℃
−60 ℃〜＋180 ℃
注a) 正弦周波数半波による加速度，衝撃時間は11 ms。
b) 封着性試験では，固定接点は正極に接続する。
6
信頼性−故障率データ
表9に規定する信頼性数値は形式試験で評価し，量産時は表1に示すロット抜取方式で評価する。
表9−リードスイッチの信頼性データ
種類
リードスイッチ
高耐
圧形
リード
スイッチ
重負荷形リードスイッチ
定格通電電流
A
0.3
1.0
2.5
0.5
3.0
5.0
接触信頼性
最小使用
電圧電流
5 V DC，0.1 mA
24 V DC，1 mA
24 V DC，1 mA
（1 V DC，1 mA
特性分類B）
故障率a)
109回数当たり5回以下
注a) 故障率は，信頼性水準60 %で表す。
7
表示
7.1
リードスイッチの表示
リードスイッチには，次の項目を，容易に消えない方法で見やすい個所に表示する。
a) リードスイッチ種類の略号
b) 生産年月週などの生産日略号
34
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.2
包装箱の表示
梱包箱には，次の項目を，容易に消えない方法で見やすい個所に表示する。
a) 製造業者名若しくは略号，又は登録商標
b) 種類及び特性分類の略号
c) 製造業者のバッチ識別略号
d) 関連する詳細仕様
e) 数量
35
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
標準試験コイルでの配置
標準試験コイル内に配置するリードスイッチの方向及び位置を，図A.1に規定する。
図A.1−標準試験コイル内のリードスイッチ方向及び配置位置
36
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
特性分類品
この規格で規定するリードスイッチは，次の二つの異なった特性に分類する。
B.1
特性分類品Aの場合
この類似品は，機械的耐久性に特定の必要条件によって特徴付けられる。
B.2
特性分類品Bの場合
この類似品は，耐電圧，インパルス電圧及び電気的耐久性に特定の必要条件によって特徴付けられる。
注記 これら類似品の代表的な適用事例は，情報として，附属書Cに示す。
37
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（参考）
適用事例
C.1 特性分類品Aの場合
特性分類品Aのリードスイッチは，負荷の適用範囲が広く非常に信頼性が高いスイッチング接点を示す。
それらは，厳しい環境条件（ちり，油，水，振動，機械的衝撃並びに低温及び高温）及び高い開閉容量が
必要である多種多様な産業用途に適用できる。
代表的な適用分野は，次による。
a) リードスイッチは，エレベータの制御機器である磁気近接スイッチの内蔵接点に使用することができ
る。ISO 22201の規格群で規定するエレベータ，エスカレータ及び動く歩道に，磁気近接スイッチの
内蔵接点として使用する場合，国家規格を参照する。
b) 鉄道車両制御，鉄道信号装置等の制御リレー，ドアインターロックスイッチ，位置検知スイッチ，押
しボタンスイッチなどの接点として使用することができる。
c) 厳しい環境下で使用する機械類安全装置のドアインターロックスイッチの接点として，使用すること
ができる。
d) 潜在的に危険な環境に設置する防爆装置に接点として使用することができる。制御継電器，リミット
スイッチ，押しボタン，位置検知スイッチなどの内蔵接点として使用することができる。
e) 自動車の燃料タンク及びエンジンオイルの液量センサ，シート位置検知，停止ランプスイッチなどの
内蔵接点として使用することができる。
f)
家庭及び工業用途で，冷蔵庫ドアの開閉検知，製氷機の熱センサ，シリンダーセンサなどの内蔵接点
として使用することができる。
g) 健康器具及びレジャー用途で，歩数計，トレーニングマシンのスイッチ機能などの内蔵接点として使
用することができる。
C.2 特性分類品Bの場合
特性分類品Bの重負荷形リードスイッチは，高い信頼性で高速動作での大電流投入，通電及び遮断用途
に適用することができる。それらは，また高い絶縁耐圧性能及び高いインパルス電圧耐性をもっている。
ゆえに，主な用途は，高電圧ネットワークの部分として，計測リレー及び保護継電器である。
38
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：
A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold（IDT）
JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：
B）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
（IDT）
JIS C 60068-2-7:1993 環境試験方法−電気・電子−加速度（定常）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-7:1983，Basic environmental testing procedures−Part 2-7: Tests−Test
Ga and guidance: Acceleration, steady state（IDT）
JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-13:1983，Basic environmental testing procedures−Part 2-13: Tests−
Test M: Low air pressure（IDT）
JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-17:1994，Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−
Test Q: Sealing（IDT）
JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-27:2008，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
guidance: Shock（IDT）
JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイク
ル）試験方法（試験記号：Db）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)（IDT）
ISO 22201:2009，Lifts (elevators) −Design and development of programmable electronic systems in
safety-related applications for lifts (PESSRAL)
ISO 22201-2:2013，Lifts (elevators), escalators and moving walks−Programmable electronic systems in safety
related applications−Part 2: Escalators and moving walks (PESSRAE)
IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
IEC 61810-2-1:2011，Electromechanical elementary relays−Part 2-1: Reliability−Procedure for the
verification of B10 values
39
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 62246-1-1:2016 リードスイッチ−第1-1部：品質評価及び試験方法
IEC 62246-1-1:2013，Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality assessment
(I)JISの規定
(II)国際
規格番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
英語の名称 Detail specification
名称
Generic specification
変更
JIS C 62246-1が品目別通則で，JIS
C 62246-1-1も品目別通則では，規
格の優先順位が決められないため，
JISでは，個別規格とした。
対応国際規格の誤りと思われる。
対応国際規格の改正提案を行う。
3.1.2 特性
分類品
注記 特性分類品
の種類については，
附属書B及び附属書
Cを参照。
3.1.2
記載なし
追加
JISには，“特性分類品の種類につ
いては，附属書B及び附属書Cを
参照。”を注記として追加した。
対応国際規格では，附属書B及び
附属書Cを参照する文言がなく，
記載漏れと思われる。
対応国際規格の改正提案を行う。
3.2.3 定期
検査
注記2 サブグルー
プは4.5を参照。
3.2.3
記載なし
追加
JISには，“サブグループは4.5を参
照。”を注記として追加した。
サブグループの分類を規定してい
る箇所が分かりにくいため，追加
した。
特に提案等は行わない。
5.2 標準試
験コイル番
号
標準試験コイルで
の配置は，附属書A
による。
5.2
記載なし
追加
JISには，“標準試験コイルでの配
置は，附属書Aによる。”を追加し
た。
対応国際規格では，附属書Aを参
照する文言がなく，記載漏れと思
われる。
対応国際規格の改正提案を行う。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 62246-1-1:2013，MOD
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
40
C 62246-1-1：2016
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
C
6
2
2
4
6
-1
-1
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。