C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
（1）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
3.1 一般的な用語に関する用語及び定義··················································································· 4
3.2 タイマの種類の用語（記号を含む。）及び定義 ····································································· 6
4 基本的試験条件 ··············································································································· 10
5 定格······························································································································ 11
5.1 総則 ··························································································································· 11
5.2 電源電圧及び周波数 ······································································································ 11
5.3 復帰電圧 ····················································································································· 12
5.4 定格消費電力 ··············································································································· 12
5.5 出力回路 ····················································································································· 12
5.6 周囲温度 ····················································································································· 13
5.7 輸送温度及び保存温度 ··································································································· 13
5.8 湿度 ··························································································································· 13
5.9 汚損度 ························································································································ 13
5.10 標高 ·························································································································· 14
5.11 計時機能 ···················································································································· 14
6 試験要求事項 ·················································································································· 14
7 マーキング及び関連文書 ··································································································· 15
7.1 文書に記載する情報 ······································································································ 15
7.2 表示 ··························································································································· 16
8 温度上昇························································································································ 17
8.1 総則 ··························································································································· 17
8.2 試験条件 ····················································································································· 17
8.3 端子の温度上昇 ············································································································ 17
8.4 接触可能な部分の温度上昇 ····························································································· 18
8.5 絶縁材料の温度上昇 ······································································································ 18
9 基本動作機能 ·················································································································· 19
9.1 一般基準 ····················································································································· 19
9.2 動作 ··························································································································· 19
9.3 復帰 ··························································································································· 19
9.4 時間機能 ····················································································································· 19
10 絶縁 ···························································································································· 19
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10.1 一般 ·························································································································· 19
10.2 前処理 ······················································································································· 20
10.3 絶縁耐力 ···················································································································· 20
10.4 直接接触に対する保護 ·································································································· 22
11 電気的寿命試験 ············································································································· 22
11.1 一般 ·························································································································· 22
11.2 抵抗負荷，誘導負荷及び特殊負荷 ··················································································· 22
11.3 低容量負荷 ················································································································· 22
12 条件付短絡電流 ············································································································· 23
12.1 一般 ·························································································································· 23
12.2 試験手順 ···················································································································· 23
12.3 有接点出力の試験回路 ·································································································· 23
12.4 無接点出力の試験回路 ·································································································· 23
12.5 試験後の切替出力部分の状態 ························································································· 24
13 空間距離及び沿面距離 ···································································································· 24
13.1 一般事項 ···················································································································· 24
13.2 沿面距離 ···················································································································· 25
13.3 空間距離 ···················································································································· 26
13.4 沿面距離及び空間距離の測定 ························································································· 27
14 機械的強度 ··················································································································· 27
14.1 総則 ·························································································································· 27
14.2 端子及び通電部分の機械的強度 ······················································································ 27
15 耐熱性及び耐火性 ·········································································································· 28
16 振動及び衝撃 ················································································································ 28
16.1 振動 ·························································································································· 28
16.2 衝撃 ·························································································································· 29
17 電磁両立性（EMC） ······································································································ 29
17.1 一般事項 ···················································································································· 29
17.2 イミュニティ ·············································································································· 29
17.3 放射及び伝導エミッション ···························································································· 31
附属書A（参考）ボールプレッシャ試験 ·················································································· 32
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気制御機器工業会（NECA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
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日本工業規格 JIS
C 61812-1：2014
(IEC 61812-1：2011)
産業用及び住宅用タイマ−
第1部：要求事項及び試験
Time relays for industrial and residential use-
Part 1: Requirements and tests
序文
この規格は，2011年に第2版として発行されたIEC 61812-1を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，タイマ（限時機能をもつ開閉装置）の一般要求事項及び試験方法について規定する。この
規格は，主に次に示す電気・電子技術分野に使用するタイマに適用する。
− 工業用制御装置
− 工業用自動化装置
− 工業用信号装置
− 一般工業装置
− 住宅用途又は同様の用途の装置に関連して使用する電気的自動制御装置
注記1 家庭用及び家電に組み込む制御装置，又は同様の用途の装置に関連して使用する制御装置に
ついては，JIS C 8281-2-3又はJIS C 9730-2-7などを参照することが望ましい。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61812-1:2011，Time relays for industrial and residential use−Part 1: Requirements and tests
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 0920:2003 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529:1989，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)（MOD）
JIS C 2134:2007 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
注記 対応国際規格：IEC 60112:2003，Method for the determination of the proof and the comparative
tracking indices of solid insulating materials（IDT）
2
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
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JIS C 4003:2010 電気絶縁−熱的耐久性評価及び呼び方
注記 対応国際規格：IEC 60085:2007，Electrical insulation−Thermal evaluation and designation（MOD）
JIS C 4540-1:2010 電磁式エレメンタリ リレー−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 61810-1:2008，Electromechanical elementary relays−Part 1: General
requirements（IDT）
JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：
B）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
（IDT）
JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal)（IDT）
JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-27:2008，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
guidance: Shock（IDT）
JIS C 60664-1:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1:2007，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 1: Principles, requirements and tests（IDT）
JIS C 60664-3:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第3部：汚損保護のためのコーティング，ポッティ
ング及びモールディングの使用
注記 対応国際規格：IEC 60664-3:2003，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 3: Use of coating, potting or moulding for protection against pollution（IDT）
JIS C 60664-4:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第4部：高周波電圧ストレスの考慮
注記 対応国際規格：IEC 60664-4:2005，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 4: Consideration of high-frequency voltage stress（IDT）
JIS C 60664-5:2009 低圧系統内機器の絶縁協調−第5部：2 mm以下の空間距離及び沿面距離を決定
するための包括的方法
注記 対応国際規格：IEC 60664-5:2007，Insulation coordination for equipment within low-voltage
systems−Part 5: Comprehensive method for determining clearances and creepage distances equal to
or less than 2 mm（IDT）
JIS C 60695-2-11:2004 耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-2-11:2000，Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test
methods−Glow-wire flammability test method for end-products（IDT）
JIS C 60721-3-3:1997 環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋内固定
使用の条件
注記 対応国際規格：IEC 60721-3-3:2002，Classification of environmental conditions−Part 3:
Classification of groups of environmental parameters and their severities−Section 3: Stationary use
at weatherprotected locations（IDT）
JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
3
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
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measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／
バーストイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-4:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び
電圧変動に対するイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
（IDT）
IEC 60060-1:2010，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 61000-4-6:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and measurement techniques−
Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
IEC 61000-4-8:2009，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and measurement techniques
−Power frequency magnetic field immunity test
IEC 61210:2010，Connecting devices−Flat quick-connect terminations for electrical copper conductors−
Safety requirements
IEC 61984:2008，Connectors−Safety requirements and tests
IEC 62314:2006，Solid-state relays
IEC 60947-5-4:2002，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-4: Control circuit devices and switching
elements−Method of assessing the performance of low-energy contacts−Special tests
IEC 60999-1:1999，Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for screw-type
and screwless-type clamping units−Part 1: General requirements and particular requirements for clamping
units for conductors from 0,2 mm2 up to 35 mm2 (included)
CISPR 11:2009，Industrial, scientific and medical equipment−Radio-frequency disturbance characteristics−
Limits and methods of measurement，Amendment 1:2010
CISPR 22:2008，Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods
of measurement
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
4
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3.1
一般的な用語に関する用語及び定義
3.1.1
タイマ（time relay, specified-time relay）
一つ以上の限時機能をもつ開閉装置。
3.1.2
指定時間（specified time）
動作時間，復帰時間，パルス時間，インターバル時間など，タイマの限時機能に関しタイマが指定でき
る特性。
3.1.3
設定精度（setting accuracy）
目盛上に設定した指定値と，実際の測定値との差。
注記 アナログ設定ではこの値は最大目盛値に対して規定している。
3.1.4
（指定時間に対する）影響度［effect of influence (on specified time)］
規定範囲内において，指定時間が影響要因によって変化する度合い。
3.1.5
復帰時間（recovery time）
特定の機能を再動作させる前に，電源をオフ，又は制御信号をオン若しくはオフする最小時間。
3.1.6
最小印加パルス時間（minimum control impulse time）
特定の機能を動作させるための電源又は制御信号の最小印加時間。
3.1.7
繰返し精度（repeatability）
同一条件下の同一供試品で複数回測定した値の上下限間の差。
注記 繰返し精度は，全測定値の平均値に対するパーセントで示すことが望ましい。
3.1.8
供給電源（power supply, energizing quantity）
タイマの電源回路において，供給又は遮断する電気的諸量（例 電流及び電圧）。
3.1.9
入力電圧（電流）［input voltage (current)］
電源及び制御信号へ供給又は遮断できる電圧（電流）。
3.1.10
制御信号（control signal）
タイマを機能させるために，電源とは別に供給，又は遮断しなければならない入力信号。
注記 制御信号は，電子回路を開閉させるために設計した別の機器が供給する。
3.1.11
出力回路の条件付き短絡電流（conditional short-circuit current of an output circuit）
特定の短絡保護装置によって保護された接点回路が，特定の使用状態又は動作において，保護装置の全
遮断時間に耐えることが可能な電流。
5
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3.1.12
無接点出力の残留電圧（on-state voltage drop of a solid-state output circuit）
負荷電流を流したときに，タイマの無接点出力間で測定される電圧。
3.1.13
無接点出力の漏れ電流（leacage current of a solid-state output）
タイマのオフ状態の無接点出力に，特定の電圧を加えたときに流れる電流。
3.1.14
電源ポート（power port）
供給電源（交流又は直流）をタイマに接続するポート。
注記 図1参照。
3.1.15
制御ポート（control port）
電源電圧の供給中に，動作を開始するため，又は外付けのポテンショメータ，制御信号などの接続のた
めに追加するポート。
注記 図1参照。電圧又は電流供給を必要とするものと，必要としないものとがある。
3.1.16
出力ポート（output port）
タイマに負荷を接続するポート
注記 図1参照。出力ポートは有接点又は無接点出力とすることができる。
3.1.17
きょう（筐）体ポート（enclosure port）
タイマにおいて，電磁界を放出する，又は電磁界の影響を受ける物理的な境界。
注記 図1参照。
きょう（筺）体ポート
制御ポート
（ない場合もある。）
図1−ポートの定義
電源ポート
タイマ
出力ポート
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3.2
タイマの種類の用語（記号を含む。）及び定義
図3〜図16における記号の定義を，図2に示す。
図2−記号の定義
3.2.1
オンディレイタイマ（power on-delay relay, on-delay relay）
電源を印加したときに計時を開始し，設定時間経過後に出力をオンとするタイマ（図2及び図3参照）。
図3−オンディレイタイマ
3.2.2
オフディレイタイマ（power off-delay relay, true off-delay relay）
電源を印加したときに出力がオンとなり，電源をオフとしたときに計時を開始して，設定時間経過後に
出力をオフとするタイマ（図2及び図4参照）。
図4−オフディレイタイマ
3.2.3
シグナルオフディレイタイマ（off-delay relay with control signal, off-delay relay）
電源印加中で，制御信号をオンしたときに出力をオンとし，制御信号をオフとしたときに計時を開始し
て，設定時間経過後に出力をオフとするタイマ（図2及び図5参照）。
注記 制御信号の一連の動作又はリセットの影響は，製造業者が明示することが望ましい。
図5−シグナルオフディレイタイマ
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3.2.4
シグナルオンオフディレイタイマ（on-and off-delay relay with control signal）
電源印加中に，制御信号をオンとしたときに計時を開始し設定時間経過後に出力をオンとし，その後制
御信号をオフとしたときに計時を開始し，設定時間経過後に出力をオフとするタイマ（図2及び図6参照）。
注記 制御信号の一連の動作又は再印加の影響は，製造業者が明示することが望ましい。
図6−シグナルオンオフディレイタイマ
3.2.5
フリッカタイマ（flasher relay, repeat cycle relay）
電源印加中に，出力がオン・オフを繰り返すタイマ（図2及び図7参照）。
注記1 出力オンスタートかオフスタートかは，タイマの種類による。
注記2 フリッカタイマは，制御信号によって動作開始してもよい。
T1 ：タイマのオン時間
T2 ：タイマのオフ時間
t
：限時中の経過時間
図7−フリッカタイマ
3.2.6
オンオフ時間同一フリッカタイマ（symmetrical flasher relay, symmetrical repeat cycle relay）
オン時間及びオフ時間が同じ長さで，出力がオン・オフを繰り返すフリッカタイマ。
3.2.7
オンオフ時間不等フリッカタイマ（asymmetrical flasher relay, asymmetrical repeat cycle relay）
オン時間及びオフ時間が個別に設定可能で，出力がオン・オフを繰り返すフリッカタイマ。
3.2.8
スターデルタタイマ（star-delta relay）
モータをスター結線モードで始動し，次にデルタ結線モードで駆動させるため，順次切り換わる二つの
遅延出力をもつタイマ（図2及び図8参照）。
8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
TS ：スタータイマのオン時間
TD ：スタータイマのオフ後からデルタタイマオンまでの時間
図8−スターデルタタイマ
3.2.9
積算タイマ（summation time relay）
制御信号をオンしている間の時間を積算（加算）し，その積算値が設定時間経過した後に出力をオンと
するタイマ（図2及び図9参照）。
図9−積算タイマ
3.2.10
パルス出力タイマ（pulse delayed relay）
電源を印加したときから計時を開始し，設定時間経過後に一定時間の間，出力を一時的にオンとするタ
イマ（図2及び図10参照）。
注記 出力時間を固定とするか又は可変とするかは，製造業者が指定する。
図10−パルス出力タイマ
3.2.11
シグナルパルス出力タイマ（pulse delayed relay with control signal）
電源印加中に，制御信号をオンしたときから計時を開始し，設定時間経過後に瞬時に出力をオンとする
が，計時中又は出力動作が完了するまでの期間に再度オンした制御信号は，計時をリセットしないタイマ
（図2及び図11参照）。
注記 出力時間を固定とするか又は可変とするかは，製造業者が指定することが望ましい。
9
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図11−シグナルパルス出力タイマ
3.2.12
インターバルタイマ（interval relay）
“電源印加”，“出力のオン”，及び“計時の開始”の三つの動作を同時に行い，設定時間経過後に出力を
オフとするタイマ（図2及び図12参照）。
図12−インターバルタイマ
3.2.13
シグナルインターバルタイマ（interval relay with control signal, single shot relay）
電源印加中に，制御信号をオンしたときに出力をオンとし，設定時間経過後に出力をオフとするが，計
時中に制御信号を再度オンしても，計時は再開させないタイマ（図2及び図13参照）。
図13−シグナルインターバルタイマ
3.2.14
再計時付シグナルオンインターバルタイマ（retriggerable interval relay with control signal on watchdog relay）
電源印加中に，制御信号をオンとしたときに出力をオンとすると同時に計時を開始し，設定時間経過後
に出力をオフとするが，計時中に制御信号を再度オンしたときは計時を再度開始させるタイマ（図2及び
図14参照）。
10
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
t：設定時間前の経過時間
図14−再計時付シグナルオンインターバルタイマ
3.2.15
再計時付シグナルオフインターバルタイマ（retriggerable interval relay with control signal off fleeting off delay
relay）
電源印加中に，制御信号をオフとしたときに出力をオンとすると同時に計時を開始し，設定時間経過後
に出力をオフとするが，計時中に制御信号を再度オンしたときは計時をリセットし，その後制御信号をオ
フとしたとき計時を再度開始させるタイマ（図2及び図15参照）。
t：設定時間前の経過時間
図15−再計時付シグナルオフインターバルタイマ
3.2.16
保持タイマ（maintained time relay）
計時中，電源供給をオフしてもリセットしないタイマ（図16参照）。
図16−保持タイマ
4
基本的試験条件
試験条件は表1による。
11
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−試験条件及び基準値
試験条件
基準値
許容範囲
周囲温度
23 ℃
±5 K
気圧
96 kPa
±10 kPa
相対湿度
50 %
±25 %
取付方向
製造業者の指定どおり
各方向2°
電源電圧
定格値
±5 %（定常状態で）a)
出力回路（電圧及び電流）
定格値
±5 %（定常状態で）
周波数
製造業者の指定どおり
±1 %
電源波形
正弦波
最大ひずみ率5 % b)
交流中の直流成分
電源電圧への指定どおり
ピーク値の最大2 %
直流中の交流成分（リプル率）
電源電圧への指定どおり
最大6 % c)
衝撃及び振動
製造業者の指定どおり
最大1 m/s2
周囲環境の雰囲気
清浄空気
清浄空気（JIS C 60721-3-3に規定する
分類3C2を超えてはならない）
注a) 時間誤差に関する試験に限り，許容範囲は±1 %とする。
b) ひずみ率：基本波の実効値に対する高調波含有量の実効値の比。パーセントで表す。
c) リプル率：直流値に対する，リプル電流の最大瞬時値と最小瞬時値との差の比。パーセントで表す。
5
定格
5.1
総則
この規格に記載している定格の数値は，最先端として知られている電子タイマ又は機構タイマにおける
推奨値又は典型的な値である。具体的な製品における定格の数値がこの規格，又はその数値がこの規格か
ら外れる場合は別途参照できる規格に適合することを，製造業者が示すことが望ましい。
5.2
電源電圧及び周波数
電源電圧及び周波数は，次による。
a) 交流定格電源電圧の推奨値を，次に示す。
12 V，24 V，48 V，100 V，110 V，115 V，120 V，127 V，200 V，208 V，220 V，230 V，240 V，
277 V，400 V，415 V，480 V
b) 直流定格電源電圧の推奨値を，次に示す。
5 V，12 V，24 V，48 V，60 V，100 V，110 V，125 V，220 V，250 V
c) 定格周波数の推奨値を，次に示す。
50 Hz，60 Hz，400 Hz
d) 定格電源電圧範囲（例 220 V〜240 V）及び対応周波数（例 50 Hz/60 Hz）は，製造業者が指定しな
ければならない。
e) 許容電圧範囲の推奨値は，次のいずれかであることが望ましい。
− 電源電圧の80 %〜110 %
− 電源電圧の85 %〜110 %
− 電源電圧の90 %〜110 %
a)〜e)の値は，製造業者が指定する全ての周囲温度に適用する。
a)〜e)以外の値を仕様にする場合，製造業者は定格電源電圧及び許容電圧範囲を指定しなければならな
い。
12
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.3
復帰電圧
復帰電圧とはタイマ本体が内部状態も含め電源印加前に戻る電圧である。
復帰電圧は，5.2で規定する最低定格電源電圧の10 %を超えなければならない。
注記 製造業者と使用者との合意があれば，より高い電圧値を指定できる。
復帰電圧は，製造業者が指定する全ての周囲温度に適用する。
5.4
定格消費電力
タイマの定格消費電力は，定格電源電圧で設定しなければならない。複数の電源回路を備えたタイマの
場合，それぞれの回路で定格消費電力を設定しなければならない。
設定又はその他の理由によって，消費電力が変化するタイマの場合，最も高い値をVA又はWで表示す
る。交流の場合，力率は省略してもよい。
5.5
出力回路
5.5.1
有接点出力回路
有接点回路の出力負荷は，次による。
a) 抵抗負荷，誘導負荷，特殊負荷（例えば，ランプ負荷，ケーブル負荷など）は，JIS C 4540-1:2010の
5.7（接点負荷），附属書B（誘導接点負荷）及び附属書D（特別な負荷）によって指定しなければな
らない。
製造業者は次の事項を指定しなければならない。
− 出力回路の定格負荷電圧及び電流
− 電気的寿命回数
− 機械的寿命回数
− 動作周波数
b) 最小適用負荷（例 電子的システム，プログラマブルコントローラ）は，IEC 60947-5-4に従って指定
しなければならない。定格負荷値及び動作サイクル（mc）の統計的算定平均回数を製造業者は指定し
なければならない。定格負荷値を指定するときの例を，次に示す。
− 最低電圧及び電流で指定する場合の例：24 V及び1 mA
− 最低電力で指定する場合の例：50 mW。この例では5 Vでの電流は10 mA以上，又は5 mAでの電
圧は10 V以上でなければならないことを意味している。
5.5.2
機械的寿命回数
内部リレーの機械的寿命値を使用しなければならない。ただし，製造業者は，JIS C 4540-1による機械
的寿命試験を選択してもよい。
5.5.3
無接点出力回路
負荷カテゴリは，IEC 62314:2006の4.4によって指定することが望ましい。
製造業者は，次の値を指定しなければならない。
− 定格負荷電流での無接点出力の残留電圧
− 最大指定周囲温度での無接点出力の漏れ電流
5.5.4
寿命回数及び開閉頻度
寿命回数の推奨値を表2に，開閉頻度の推奨値を表3にそれぞれ示す。
13
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−寿命回数の推奨値
動作回数 × 106
0.03
0.1
0.2
0.3
0.5
1
3
10
20
30
表3−最大許容開閉頻度の推奨値
負荷条件下での開閉頻度（1時間当たりの動作回数）a)
12
30
120
300
600
1200
1800
3600
7200
注a) これらの推奨値は，タイマの最小遅れ時間で許される
範囲内でだけ適用する。
5.5.5
条件付き短絡電流
短絡保護装置（例えば6.3 Aのヒューズなど）でタイマを保護する場合，タイマの条件付最低短絡電流
は100 Aとする。
5.6
周囲温度
特に指定がない限り，タイマ動作時の推奨周囲温度範囲は−10 ℃〜＋40 ℃とする。
5.7
輸送温度及び保存温度
動作させない状態で輸送時及び保存時の上限温度及び下限温度に放置した機器は，復元が不可能な損傷
を受けてはならず，かつ，規定条件下でも正常作動しなければならない。
各温度範囲は次による。
− 保存時：−25 ℃〜＋55 ℃
− 輸送時：−40 ℃〜＋70 ℃
5.8
湿度
特に断りがない限り，推奨相対湿度範囲は25 %〜75 %とする。
5.9
汚損度
特に断りがない限り，タイマはJIS C 60664-1による汚損度2の環境条件とすることが望ましい。
ただし，ミクロ環境条件によっては他の汚損度の適用をしてもよい。
注記1 タイマのミクロ環境条件の汚損度は，きょう（筐）体内への据付け状況に影響を受ける場合
がある。
14
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記2 タイマの本体内部のミクロ環境にある回路の汚損度は，タイマが設置されたミクロ環境の汚
損度とは異なる場合がある。
5.10 標高
タイマの設置場所の標高は，2 000 m以下とする。
注記 2 000 mを超える高度で機器を使用するとき，絶縁耐力減少及び大気冷却効果を考慮する必要が
ある。これらの条件下で作動させるタイマは，製造業者と使用者との合意の上で設計及び使用
する。
5.11 計時機能
5.11.1 総則
計時回路の構造設計によって，タイマの機能が決まる。
設定時間は，固定又は可変とすることができる。
表4の値を，設定範囲の最大値とすることが望ましい。
表4−設定範囲の最大値
秒
0.5
1
3
−
10
−
−
30
60
−
100
300
600
分
−
1
3
−
10
−
−
30
60
−
−
300
−
時
−
1
3
6
−
12
24
30
60
72
100
−
−
デジタル式タイマの場合，設定範囲の最大値は，数字9による構成（例 999分）とすることが望まし
い。
5.11.2 設定精度
設定精度は，次のように表す。
− アナログ設定によるタイマの場合，最大目盛値に対するパーセント（%）
− デジタル設定によるタイマの場合，設定値に対するパーセント（%）又は絶対値
5.11.3 繰返し精度
計時時間の繰返し精度は，次の推奨値から選択しなければならない。
±0.01 %，±0.05 %，±0.1 %，±0.2 %，±0.3 %，±0.5 %，±1 %，±2 %，±3 %，±5 %
繰返し精度は，パーセント（%）値又は絶対値で指定してもよく，0.01 %又は10 msのいずれか高い方
の値で指定できる。
5.11.4 復帰時間及び最小信号入力幅
復帰時間及び最小信号幅は製造業者が指定する。
6
試験要求事項
この規格による試験は，表5の形式試験とする。
注記 この規格による試験は，受渡試験及び抜取試験に利用できる。
供試品が合格しない場合，同一設計の別の供試品でこの試験を再度繰り返さなければならない。また，
製造業者がタイマを変更する場合，この変更によって技術的影響を受ける試験は全て実施しなければなら
ない。
この規格で特に断らない限り，表1に規定した試験条件，基準値及び許容範囲によって試験及び測定を
実施しなければならない。
温度・高度・湿度，及びちり，煙，蒸気，塩分などによる大気汚染に関わる特殊な条件は，表1に規定
15
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
した基準値から外れる場合がある。そのような場合，製造業者はJIS C 60068-2-2の関連項目に従って供試
品に実施した各試験及び厳しい条件を，指定しなければならない。
表5−形式試験内容
試験項目
箇条
最小供試品数
対象ロットグループ
適用規格
基本動作機能
9
3
1
マーキング及び関連文書
7
1
1
温度上昇
8
1
1
JIS C 4003
空間距離及び沿面距離
13
1
1
JIS C 60664-1
振動及び衝撃
16
1
1
絶縁
10
1
2
電気的寿命試験
11
1 a)
3
条件付短絡電流
12
1
4
機械的強度
14
1
5
耐熱性及び耐火性
15
1
6
JIS C 60695-2-11
EMC
17
1
7
注a) 11.1参照
7
マーキング及び関連文書
7.1
文書に記載する情報
表6で規定する必要情報を，単位がある場合は単位を付して明示する。
表6−タイマの必要情報
No.
情報
内容
表示場所
1
製品情報
1a
製造業者名，識別記号又は商標
製品本体
1b
形式名称
各関連文書によって明確となり，製品
識別が分かるようにしなければなら
ない。
製品本体
1c
製造日付
関連文書に記載する場合はコード化
してもよい。
製品本体（推奨）又は包装
2
電源データ
2a
直流又は交流電圧の記号付き定格電源
電圧範囲
製品本体
2b
交流周波数
製品本体
2c
定格消費電力
カタログ又は取扱説明書
2d
復帰電圧
カタログ又は取扱説明書
3
出力データ
3a
出力回路データ
定格動作電圧，定格動作電流，用途カ
テゴリ
製品本体
3b
電気的寿命動作回数
カタログ又は取扱説明書
3c
開閉頻度
カタログ又は取扱説明書
3d
機械的寿命動作回数
該当する場合
カタログ又は取扱説明書
3e
接点材
該当する場合
カタログ又は取扱説明書
3f
低エネルギ信頼性−試験結果の特性
該当する場合
製造業者の文書
3g
最小適用負荷
該当する場合電圧，電流及び開閉頻度 カタログ又は取扱説明書
3h
無接点出力の残留電圧
該当する場合
カタログ又は取扱説明書
3i
無接点出力の漏れ電流
該当する場合
カタログ又は取扱説明書
16
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表6−タイマの必要情報（続き）
No.
情報
内容
表示場所
4
絶縁情報
4a
絶縁種別
機能，基礎，強化，二重絶縁
カタログ又は取扱説明書
4b
規定距離を外れる場合
13.1 a)〜c)を参照
カタログ又は取扱説明書
4c
汚損度
汚損度2以外の場合
カタログ又は取扱説明書
4d
インパルス耐電圧試験電圧
全ての回路
カタログ又は取扱説明書
4e
商用周波数による絶縁耐力試験電圧
全ての回路
カタログ又は取扱説明書
4f
過電圧カテゴリ
カタログ又は取扱説明書
5
一般情報
5a
周囲温度範囲
カタログ又は取扱説明書
5b
相対湿度範囲
カタログ又は取扱説明書
5c
取付位置
該当する場合
カタログ又は取扱説明書
5d
配線に関する制限事項
極性を含む。
カタログ又は取扱説明書
5e
配線図
製品本体
5f
附属品
タイマ性能に必須の場合
カタログ又は取扱説明書
5g
金属部のグランド又はアースの表示
該当する場合
製品本体
5h
設置間隔
該当する場合
カタログ又は取扱説明書
5i
EMCのイミュニティ試験レベル
カタログ又は取扱説明書
5j
JIS C 0920による保護等級（IPコード）
カタログ又は取扱説明書
5k
端子の最高許容定格温度（必要ならば），
平形接続子の場合，結合部の材料の最高
許容定格温度
タイマ及びソケットへの結合部にも
適用する。
製造業者の文書
5l
規定電流値（1 000 A未満の場合）
条件付短絡電流の試験時
カタログ又は取扱説明書
6
時間機能データ
6a
指定時間（公称時間範囲）
製品本体
6b
タイマ機能種別
3.2による。
カタログ又は取扱説明書
6c
復帰時間
カタログ又は取扱説明書
6d
最小信号入力幅
カタログ又は取扱説明書
6e
セット誤差
カタログ又は取扱説明書
6f
繰返し精度
カタログ又は取扱説明書
6g
試験条件の影響度合い
推奨は電圧及び温度
カタログ，取扱説明書又は
製造業者の文書
7.2
表示
表6の1a及び1bの各データは読みやすく，耐久性をもたせて製品本体に表示しなければならない。
材料を付着させるだけの印刷方式（例 インクジェット式プリント，パッド式プリント）を使用する場
合，次の試験を行う。
マーキング耐久性要求事項の合否は，検査及び次の順序で手で表示をこすって確認する。
a) 蒸留水を浸み込ませた布切れ1枚を使って約15秒間，前後に15回こする。
b) a) の後で，有機溶剤を浸み込ませた布切れ1枚を使って約15秒間，前後に15回こする。
試験中，その浸み込ませた布切れを約2 N/cm2の圧力で表示の上に押し付けなければならない。
使用する有機溶剤は，芳香族最大容量0.1 %，カウリブタノール価29，初期沸点約65 ℃，乾点約69 ℃，
比重0.68の脂肪族溶剤ヘキサンとする。
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8
温度上昇
8.1
総則
タイマは，通常使用において過度に高い温度に達しない構造にしなければならない。
8.2
試験条件
次の条件で，温度が平衡になるまで適切な恒温槽でタイマを動作させる。
a) 周囲温度を，使用温度範囲の上限と同等にしなければならない。
b) 出力回路には，製造業者の指定する連続限界抵抗負荷電流を流す。試験中は出力の開閉を行ってはな
らない。このため，出力閉の状態では，別途設置するスイッチを使用して電流のオン・オフの切換え
を行わなければならない。
c) 電源は，最大定格電圧を使用する。
d) 作動モードは，通常使用において最大電力損失が発生するモードに設定する。
5分間隔で実施する連続測定3回のうちの連続するいずれか2回の測定値が，1 K以下の変化の場合，熱
平衡状態とみなす。
8.3
端子の温度上昇
8.3.1
一般事項
端子温度に影響を与えないように細線の熱電対を使用して端子温度を測定する。測定点は，タイマ本体
にできる限り近い端子に配置する。この熱電対を端子に当てることができない場合は，タイマにできる限
り近い導体に固定する。
熱電対以外の温度センサであっても，同等の試験結果を示すものであれば，これを用いてもよい。
製造業者が指定する端子の最高許容定常温度を超えてはならない。
8.3.2
ねじ締め端子，ねじなし端子の温度上昇
電圧源及び電流源へのタイマの電気的接続は，表7に準拠した可とう導体によって行う。
表7−端子から流れる電流に対する導体の面積及び長さ
端子から流れる電流
A
導体の断面積
試験用最小導体長
mm
超え
以下
mm2
AWG（参考）
−
3
0.5
20
500
3
6
0.75
18
500
6
10
1.0
17
500
10
16
1.5
16
500
16
25
2.5
14
500
25
32
4.0
12
500
32
40
6.0
10
1400
40
63
10.0
8
1400
端子の温度上昇は，45 K以下とする。
8.3.3
平形接続子の温度上昇
電圧源又は電流源へのタイマの電気的接続は，表7に準拠した可とう導体付きの，IEC 61210に準拠し
た平形接続子（ニッケルめっき）を用いて行う。
注記1 平形接続子は，リードかしめ部にはんだ付けすることが望ましい。これは，平形接続子又は
リードかしめの質の影響を受けずに，タイマの平形接続子の温度測定を可能にするものであ
18
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
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る。
製造業者が適切な材料の組合せを指定しない場合，指定絶対温度はIEC 61210:2010の附属書A［maximum
permissible temperature (maximum service temperature)］による平形接続子の最低許容値以下とする。
平形接続子の温度上昇は，45 K以下とする。
タイマに内蔵されているリレーの接点，及びコイルによる温度上昇の影響がない状態（例 リレーの回
路を短絡状態にする。）で確認してもよい。
注記2 平形接続子の公称寸法及び最大定常電流は，次の値が望ましい。
平形接続子の公称寸法
mm
最大定常電流
A
2.8
6
4.8
16
6.3
25
9.5
32
8.3.4
ソケットの温度上昇
タイマとソケットとの間の接続部，並びに接続部に隣接するタイマ及びソケットの絶縁材料の温度上昇
は，最大許容温度以下とする。
各ソケットの間隔は，製造業者が指定しなければならない。
8.3.5
その他の端子部の温度上昇
電圧源及び電流源へのタイマの電気的接続は，表7に従った可とう導体によって行う。
8.4
接触可能な部分の温度上昇
接触可能な部分の温度上昇は，表8の値を超えてはならない。
表8−接触可能な部分の温度上昇限界
接触可能な部分
温度上昇限度値
K
手動操作部：
金属部
15
非金属部
25
手で触れるが，握れない部分：
金属部
30
非金属部
40
ケーブル差込口に隣接するきょう（筐）体の外側：
金属部
40
非金属部
50
8.5
絶縁材料の温度上昇
絶縁材の温度は，JIS C 4003の許容値を超えてはならない。
JIS C 4003に含まれない新種の絶縁材は，同程度の安全性が確認できれば，使用可能である。また，絶
縁材の性能は，附属書A又は適切な試験方法によって確認してもよい。
明らかな破損及び特性変化がなければ，温度上昇値は絶縁材の一部において，規定の温度上昇限界値を
超過してもよい。
19
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9
基本動作機能
9.1
一般基準
試験を始める前に，タイマが熱平衡状態になるように表1で規定する環境試験条件に置く。
9.2
動作
試験前準備でタイマを製造業者が指定した最大許容温度内で，5.2で規定する定格電源電圧，又は範囲が
ある場合は5.2の定格電源電圧の上限値を印加し，かつ，出力最大通電電流を接点に流してタイマが熱平
衡状態になるまで放置する。その後にタイマへの電源を開放した直後，再度最低動作電圧の下限をタイマ
に印加したとき，タイマは正しく動作しなければならない。
9.3
復帰
はじめにタイマを最低許容周囲温度で熱平衡状態にする。次に動作状態となるための電源電圧を短時間
印加した後，直ちに5.3に規定した復帰電圧の値まで電源電圧を下げる。
このとき，タイマは復帰しなければならない。
9.4
時間機能
9.4.1
電源条件における機能試験
9.4.1.1 一般
機能試験は，表1に規定した試験基準値で実施する。測定は連続10回以上としなければならない。
9.4.1.2 設定精度
測定値の平均と設定値との差は，製造業者が指定した設定精度の許容範囲内でなければならない。
9.4.1.3 繰返し精度
測定値の平均と各測定値との差は，製造業者が指定した繰返し精度の許容範囲内でなければならない。
9.4.2
電圧及び温度の影響度
入力電源電圧及び周囲温度が，設定時間に与える影響度を調べる。ここでは，表9に規定する電源電圧
と周囲温度との全ての組合せに対する影響度を調べる。入力電圧は製造業者が指定する。
測定数は，連続で10回以上としなければならない。
温度の影響を測定する場合，タイマの周囲温度が表9に規定する値に達するまで，適切な装置内でタイ
マを動作させる。5分間隔で実施する周囲温度の連続測定3回のうちの2回が1 K以下の変化になったと
き，熱平衡状態とする。
製造業者が指定する許容値以内でタイマが正常に動作する場合，試験は合格とみなす。
表9−影響を確認するための項目
変化させる要因
値
単位
入力電圧
次のいずれかによる。
− 110 %及び80 %
− 110 %及び85 %
− 110 %及び90 %
V
周囲温度
−5 ℃
＋40 ℃
℃
10 絶縁
10.1 一般
絶縁のために使用する材料は，十分な電気的特性，熱的特性及び機械的特性をもっていなければならな
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
い。
絶縁特性は，JIS C 60664-1に基づく。
JIS C 60664-1，JIS C 60664-3及びJIS C 60664-5に規定する基礎及び強化絶縁を踏まえて寸法を規定す
る。
タイマ内の回路の絶縁は，タイマの最高基準電圧及び過電圧カテゴリに従って試験を行う。
10.2 前処理
前処理は，高温試験及び高温高湿試験の両方を実施しなければならない。
高温試験は，加熱装置（恒温槽）内で実施する。供試品を設置する領域は，周囲温度55 ℃±2 Kの精度
を維持させる。供試品は，加熱装置内に48時間，保管する。
高温高湿試験は，相対湿度（93±3）%の耐候性試験装置（恒温恒湿槽）内で実施する。供試品を設置す
る領域は，周囲温度は，40 ℃±2 Kの精度を維持させる。供試品は，加熱装置内に4日間保管する。供試
品が結露しないようにしなければならない。
前処理完了後，10.3の試験を直ちに実施し，遅滞なく終了させる。その試験の終了時刻を試験報告書に
記載しなければならない。
10.3 絶縁耐力
10.3.1 一般事項
十分な絶縁耐力を確保するため，沿面距離及び空間距離は箇条13の規定に従い，表10に規定するイン
パルス耐電圧試験，及び表11又は表12に規定する交流商用周波耐電圧試験の要求事項を満足しなければ
ならない。
絶縁試験は，次のように実施しなければならない。
a) 各回路と露出した非充電金属部との間の絶縁耐力を測定する場合，各回路の端子は一括接続する（絶
縁きょう（筐）体をもつタイマの形式試験では，端子部のフラッシオーバを回避するために，適切な
間隔を設けなければならない端子を除き，絶縁きょう（筐）体全体を金属製はく（箔）で覆うことに
よって，露出した非充電金属部の代わりにする。）。
b) 各回路間の絶縁耐力を測定する場合，各回路内の端子は一括接続する。
互いに絶縁された回路は製造業者が指定したものとする。
露出した非充電金属部の試験を実施するとき，同等の定格絶縁電圧をもつ回路は互いに接続する。
試験電圧は，端子に直接印加しなければならない。
絶縁破壊及びフラッシオーバが発生しない場合，試験は合格とみなす。試験中のタイマへの動作影響は，
あっても無視する。
10.3.2 インパルス耐電圧試験
波形1.2/50 µsの電圧によるインパルス耐電圧試験を実施する［IEC 60060-1:2010の図6（基礎絶縁のイ
ンパルス耐電圧試験）］。1秒以上の間隔で各極性ごとにパルスを，3パルス以上印加しなければならない。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
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表10−基礎絶縁のインパルス耐電圧試験
単位 V
対地電圧
交流実効値又は直流
住宅環境用
過電圧カテゴリII
工業環境用
過電圧カテゴリIII
定格インパルス
電圧
海面におけるインパルス
耐電圧試験電圧
定格インパルス
電圧
海面におけるインパルス
耐電圧試験電圧
50以下
500
541
800
934
100以下
800
934
1500
1751
150以下
1500
1751
2500
2920
300以下
2500
2920
4000
4923
600以下
4000
4923
6000
7385
注記1 インパルス耐電圧試験電圧値は，海面が基準である。
上記値を使用するとき，高度補正は必要ない。ただし，補正を必要とする場合，JIS C 60664-1:2009の
6.1.2.2.1.3に示す補正係数を適用する。
注記2 非接地電圧システムの場合，隅接地システムのように処理する必要がある。
10.3.3 交流商用周波耐電圧試験
絶縁部に，周波数50 Hz又は60 Hzの正弦波に近い形の電圧を印加する。試験電圧は，5秒間以内に0 V
から表11又は表12に指定した値まで一定の割合で上昇させ，60秒間以上その値に保たなければならない。
絶縁破壊及びフラッシオーバが発生せず，かつ，機能の変化が起こらない場合，試験は合格とする。電流
値は3 mA以下でなければならない。
EMC用のフィルタ部品などのため交流試験電圧が使用できない場合，表11の直流試験電圧を使用する
ことができる。試験電圧の測定変動は±3 %を超えてはならない。
表11−単相3線又は単相2線交流及び直流システムに使用する装置に適用する試験電圧
単位 V
供給システムの
公称電圧UN
交流試験電圧，
60秒間（実効値）a), b), c)
直流試験電圧a)
60
1 260
1 781
100/200
1 400
1 980
120/240
1 440
2 037
220/440
1 640
2 320
480
1 680
2 376
注記 直流試験電圧はJIS C 60664-1:2009の6.1.3.4.1（試験方法）の第5段落
に基づいている。
注a) 二重絶縁の試験電圧値はこれら基礎絶縁の値の2倍であることが望ま
しい（JIS C 60664-1:2009の5.3.3.2.3及び6.1.3.4.1による）。
b) 供給システムの位相については，JIS C 60664-1:2009の附属書B（過電
圧制御の異なるモードに関する給電系統の公称電圧）を参照する。
c) 交流試験電圧値は公式UN＋1 200 Vから得ている（JIS C 60664-1:2009
の5.3.3.2参照）。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
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表12−三相4線又は4線交流システムに使用する装置に適用する試験電圧
単位 V
供給システムの公称電圧
試験電圧，60秒間a), b), c)
66/115
1 315
120/208
1 408
230/400
1 600
260/440
1 640
277/480
1 680
注a) 二重絶縁の試験電圧値は基礎絶縁の値の2倍であることが望
ましい（JIS C 60664-1:2009の5.3.3.2.3及び6.1.3.4.1による）。
b) 供給システムの位相については，JIS C 60664-1:2009の附属書
Bを参照する。
c) 交流試験電圧値は公式UN＋1200 Vに基づいている（JIS C
60664-1:2009の5.3.3.2参照）。
10.4 直接接触に対する保護
例えば時間設定など，通常使用状態において操作するタイマの場合，電圧の印加される接触可能な充電
部は，全て直接接触に対する十分な保護を行わなければならない。
注記 JIS C 0920による保護等級IP20をもった端子などの露出した充電部に，この箇条の規定を適用
する。
定格電圧が交流50 V（実効値）以下又は直流60 V以下の場合，この要求事項は適用しない。
JIS C 0920のテストフィンガによる指への保護に対する試験に合格すれば，保護等級IP1Xであっても，
保護状態は十分とみなす。
11 電気的寿命試験
11.1 一般
電気的寿命は，電気的消耗に対するタイマの耐性を示す。製造業者が指定する負荷条件のもと，タイマ
が部品の保守，修理，交換なしで適正に働く動作回数で表す。特に製造業者が指定しない限り，負荷は切
換接点（c接点）のメーク及びブレークの両方に加えなければならない。
電気的寿命試験は，関連製品規格（例えば，電磁リレーのJIS C 4540-1，半導体出力のIEC 62314など）
に従って実施しなければならない。製造業者が指定し，試験報告書に記載しているとおり，タイマの公称
定格の一つを使用して試験を実施する。
内部リレーの定格がない場合，又はタイマの定格が内部リレーに比べてより厳しい場合は，電気的寿命
試験は最低三つの供試品で実施しなければならない。また，タイマの定格が内部リレーと同じか，又はよ
り緩い場合，試験は一つ以上の供試品に対して実施する。
11.2 抵抗負荷，誘導負荷及び特殊負荷
製造業者が指定した各接点材料及び各負荷に対して試験を実施する。
製造業者が特に指定しない限り，室温で試験を実施し，定格入力電圧の値又は定格入力電圧範囲内の適
切な値を，タイマに印加しなければならない。
11.3 低容量負荷
低容量負荷（例 電子システム，プログラマブル・コントローラ）は，IEC 60947-5-4に従って試験を実
施しなければならない。
製造業者の文書には，IEC 60947-5-4に規定する試験結果の特性を記載しなければならない。
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12 条件付短絡電流
12.1 一般
タイマの出力は，5.5.5に規定する短絡電流に耐えなければならない。
12.2 試験手順
試験前に，出力を無負荷又は定格電流以下で数回作動させるとよい。
試験は，別途設置した閉路用スイッチによって電流を流し，短絡保護装置（SCPD）が起動するまで電流
を維持しなければならない。
12.3 有接点出力の試験回路
製造業者が指定した型式及び定格のSCPDを，直列に出力に接続しなければならない。また，図17に示
すように回路を閉じるためのメークスイッチを直列に接続しなければならない。
試験回路の負荷インピーダンスは，1 000 A，又は製造業者が指定する100 A以上の電流値，かつ，定格
電源電圧で力率が0.5〜0.7となるように直列に接続した抵抗体及び空芯コイルを，調整しなければならな
い。
試験は同じ接点に対して3回実施しなければならず，各試験後に短絡保護装置のリセットを行うか，又
はタイマ（被試験スイッチ）を交換しなければならない。試験間隔は，3分間以上としなければならない。
実際の試験間隔は，試験報告書に記入しなければならない。
切換接点（c接点）に対しては，上記試験をメーク接点（a接点），ブレーク接点（b接点）の両方に個
別に実施しなければならない。
注記 a接点及びb接点と，c接点との両方の出力をもつ場合，両方に対する試験の実施が望ましい。
各々の接点に対して，別々の試験回路を構成してもよい。
スイッチの動作電流に合わせた全長1 mのケーブルを使用して，試験回路にスイッチを接続しなければ
ならない。
注a) テストごとに，I又はIIに接続を交互に入れ替えて試験を実施する。
図17−接点出力に対する条件付短絡電流の試験回路
12.4 無接点出力の試験回路
新品状態の被試験装置（DUT）は実使用時と同様に実装し，実使用時と同一サイズの電線を使用して，
図18に示すように試験回路に接続しなければならない。
SCPDは，製造業者の指定する型式と定格からなるものとしなければならない。
タイマの出力がオンのとき，定常状態において流れる電流が定格動作電流と等しくなるように負荷R1
を選択して，短絡電流が100 Aとなるように供給電源を調整しなければならない。“SCスイッチ”は，負
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荷R1と並列に接続され，短絡を引き起こす可能性がある。開回路状態の電源電圧は，タイマの出力の定
格負荷電圧又は最高電圧の1.1倍としなければならない。
“SC”スイッチを任意に閉じることによって試験を3回実施する。SCPDが機能するまで試験電流を維
持しなければならない。3回の試験間隔は3分間以上としなければならない。実際の試験間隔を，試験報
告書に記入しなければならない。各試験後，SCPDを取り替えるか，又はリセットしなければならない。
a) 交流式2端子又は直流式2端子
b) 交流式3端子又は直流式3端子
図18−無接点出力に対する条件付短絡電流の試験回路
12.5 試験後の切替出力部分の状態
試験後の切替出力部分は，次による。
a) 短絡試験後，タイマは復帰状態にできなければならない。
b) 試験後，装置は10.3で規定する絶縁耐力試験に耐えなければならない。
13 空間距離及び沿面距離
13.1 一般事項
空間距離及び沿面距離は，使用目的に応じてJIS C 60664-1による基準電圧，過電圧カテゴリ及び汚損度
を踏まえて寸法を規定しなければならない。
JIS C 60664-1に従って，沿面距離及び空間距離を規定するための環境条件を明確にしなければならない。
ここで環境条件とはタイマが実装されている場所の環境のことで，その場所がある工場のことではない。
タイマ又はその部品が導電性の汚損に対して保護されている場合，沿面距離及び空間距離は，その保護
後の周囲環境にもっとも近い条件に従って決めてよい。製造業者は，据付環境に要求されている保護等級
［例 適切なきょう（筐）体の使用］を適用しなければならない。保護等級IP54（JIS C 0920参照）のき
ょう（筐）体を使用する場合，きょう（筐）体内の環境は，汚損度1とみなす。
プリント配線板にワニス又は経年劣化を防ぐコーティングを施してある場合は，被覆面の沿面距離も汚
損度1とみなす（JIS C 60664-3参照）。
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相互絶縁回路間（例 入力回路と出力回路との間）の空間距離は，双方の基準電圧のうち，より高い方
の基準電圧によって規定しなければならない。
メーク接点（a接点）には，空間距離の規定を適用しなくてもよい。
また，汚損度2及び汚損度3に対する空間距離及び沿面距離は，電子部品（例 トライアック）には適
用しない。
すなわち，プリント配線板上の電子部品の内部，電気的端子及びはんだ接合部には適用しない。
導体を被覆などの固体絶縁物で完全に囲んだり，密封したりする場合，空間距離及び沿面距離は適用し
ない。
低電圧系統内機器の絶縁協調分野の基本安全規格であるJIS C 60664-1，JIS C 60664-3，JIS C 60664-4
及びJIS C 60664-5に従って，製造業者は，次のa)〜c)のうち一つ以上を選択して適用してよい。
a) JIS C 60664-5の全条件を満たす場合，JIS C 60664-1の代わりにJIS C 60664-5を適用してよい。
空間距離及び沿面距離が同一で固体平面上にある構造物（プリント配線板など）にJIS C 60664-5
を適用する。JIS C 60664-1に規定する寸法規定より小さい場合は，固体絶縁物の水分吸着特性を考慮
し適用することができる。
b) JIS C 60664-3による構造の場合，十分な被覆，埋込又は成形によって汚損に対する保護を実施すれば，
JIS C 60664-3に規定する短縮した空間距離及び沿面距離を適用してもよい。JIS C 60664-3の全要求事
項及び試験を満たさなければならない。次を適用する。
− JIS C 60664-3:2009の5.7.1の低温値： −10 ℃
− JIS C 60664-3:2009の5.7.3の温度サイクル： 厳しさの度合い 1
− JIS C 60664-3:2009の5.8.5の部分放電試験は要求しない。
− JIS C 60664-3:2009の5.9の追加試験はしない。
c) 動作電圧周波数30 kHz以上に使用するタイマの場合，JIS C 60664-4に規定した絶縁協調規定を適用
することが望ましい。
13.2 沿面距離
沿面距離は，表13から選択しなければならない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表13−基礎絶縁の最小沿面距離
電圧
交流実効値
又は
直流
V
沿面距離
mm
プリント配線板材料
その他の材料
汚損度
汚損度
1
2
1
2
材料群
3
材料群
a)
b)
a)
I
II
III
I
II
III
50以下
0.025
0.04
0.18
0.5
0.85
1.2
1.5
1.7
1.9
50を超え100以下
0.1
0.16
0.25
0.71
1.0
1.4
1.8
2.0
2.2
100を超え160以下
0.25
0.4
0.32
0.8
1.1
1.6
2.0
2.2
2.5
160を超え250以下
0.56
1.0
0.56
1.25
1.8
2.5
3.2
3.6
4.0
250を超え320以下
0.75
1.8
0.75
1.6
2.2
3.2
4.0
4.5
5.0
320を超え400以下
1.0
2.0
1.0
2.0
2.3
4.0
5.0
5.6
6.3
400を超え500以下
1.3
2.5
1.3
2.5
3.6
5.0
6.3
7.1
8.0
500を超え630以下
1.8
3.2
1.8
3.2
4.5
6.3
8.0
9.0
10.0
注記 この電圧は，定格電圧又はタイマの定格内で動作する条件のうち，最も厳しい組合せのもと定格電圧を印加
したときの内部回路に発生し得る最高の電圧を指す。
注a) 材料群I，II，IIIa，IIIb
b) 材料群I，II，IIIa
材料は比較トラッキング指数（CTI）値に基づいて，次の群に分類される。
− 材料群I
600≦CTI
− 材料群II
400≦CTI＜600
− 材料群IIIa
175≦CTI＜400
− 材料群IIIb
100≦CTI＜175
保証トラッキング指数（PTI）は材料のトラッキング特性を確かめるために使用される。
溶液Aを用いたJIS C 2134の方法で確認したPTIが，材料群に規定された下限値以上であれば，材料は
上記の四つの材料群のいずれかに含めてもよい。
13.3 空間距離
住宅用又は工業用によって空間距離は異なる。住宅用では過電圧カテゴリIIの要求事項を満たし，工業
用では過電圧カテゴリIIIの要求事項を満たさなければならない。空間距離は，表14から選択しなければ
ならない。
表14−基礎絶縁の最小空間距離
対地電圧
交流実効値又は直流
V
定格インパルス
耐電圧
V
標高2 000 m以下の最小空間距離a)
mm
汚損度
カテゴリII機器
カテゴリIII機器
1
2
3
50
−
500
0.04
0.2
0.8
100
50
800
0.1
0.2
0.8
150
100
1500
0.5
0.8
300
150
2500
1.5
600
300
4000
3.0
−
600
6000
5.5
注a) この表の距離は，標高2 000 m以下の高度において有効であるため，標高2 000 m超過の空間距離では
JIS C 60664-1:2009の表A.2（標高補正係数）に指定した標高補正係数を乗じることが望ましい。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
過電圧制御素子（例 サージサプレッサ）を使用する場合，表15の規定によってもよい。
表15−内部回路の過電圧を制御した場合の最小空間距離
電圧
V
最小空間距離
mm
汚損度
1
2
3
330
0.01
0.20
0.80
400
0.02
0.20
0.80
500
0.04
0.20
0.80
800
0.08
0.20
0.80
900
0.10
0.20
0.80
1000
0.15
0.20
0.80
注記 過電圧制御素子のクランプ電圧。
13.4 沿面距離及び空間距離の測定
沿面距離及び空間距離の測定方法は，JIS C 60664-1に従わなければならない。
相互絶縁回路間（例 入力回路と出力回路との間）の回路導体間，及び充電部と露出した非充電金属部
との間の最小沿面距離を測定しなければならない。
14 機械的強度
14.1 総則
部品及び接続には十分な強度をもたせ，確実に固定する。
調整用部品は振動によって位置が変わらないようにし，かつ，必要な箇所は固定しなければならない。
内部の接続線は，鋭利な角などによって破損を受けることのないよう設計しなければならない。
輸送後も，タイマは上記に示した要求を満足しなければならない。構造上の処置によって上記の要求事
項が満たされない場合は，輸送に必要な手段を講じ，機械的な破損からタイマを保護しなければならない。
特別な場合は，こん包及び輸送指示書を添付しなければならない。
14.2 端子及び通電部分の機械的強度
14.2.1 一般事項
端子を含む通電部分は，以降の細分箇条で規定する種類に応じた十分な強度をもつ金属でなければなら
ない。
14.2.2 ねじ締め端子及びねじなし端子の機械的強度
ねじ締め端子及びねじなし端子は，IEC 60999-1の要求事項及び試験を満たさなければならない。試験
電流は，製造業者が指定したタイマの定格電流としなければならない。
14.2.3 平形接続子の機械的強度
平形接続子は，IEC 61210で規定する寸法，温度上昇及び機械的な力に関する要求事項及び試験を満た
さなければならない。標準平形接続子への接続によってIEC 61210で規定する挿抜力を確保できるのであ
れば，メールタブの寸法基準外れは，あってもよい。
非絶縁平形接続子を取り付ける場合，メールタブは箇条13で規定する空間距離及び沿面距離を確保しな
ければならない。絶縁平形接続子を使ってこれらの要求事項を満たす場合，絶縁平形接続子を使用しなけ
ればならないという条件を，製造業者の文書に明記しなければならない。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
14.2.4 ソケットの機械的強度
ソケットは，IEC 61984の要求事項及び試験を満たさなければならない。
ただし，IEC 61984の腐食試験は，JIS C 60068-2-2の5.2（試験Bb：発熱がない供試品に対する緩やか
な温度変化を伴う高温試験）の70 ℃・240時間の試験Bbによる乾燥加熱定常試験に置き換える。
注記1 この加速試験は，タイマとソケットとを組み合わせた場合の機械的性能及び電気的性能を確
認するものである。
タイマとソケット端子部との間の抵抗値を測定するため，測定用のタイマダミーを使用してもよい。
製造業者の指定による，タイマの仕様書又はカタログに記載したソケットを使用して試験を実施しなけ
ればならない。
注記2 この基準範囲内では，タイマとソケットとの組合せだけを評価している。
14.2.5 その他の端子形の機械的強度
その他の端子形では，この規格に適合し，関連JIS又はIEC規格（存在する場合）を満たすのであれば
許容される。
15 耐熱性及び耐火性
タイマは，所定の条件における異常過熱及び火災に耐える構造でなければならない。
電気的作用，及び装置の安全性劣化による熱ストレスにさらされる絶縁材料の部品は，異常過熱及び火
災に耐えなければならない。
絶縁材の加熱及び火災に対する耐久性が要求事項を満たすかを確認するために，グローワイヤ試験を行
う。タイマ製造業者は，材料試験報告書で代用してもよい。
絶縁材料は，JIS C 60695-2-11に従って最低限度の次の要求事項を満さなければならない。
− きょう（筐）体： 750 ℃
− 導電支持部： 850 ℃
− 試験時間： 30秒
試験済み部品の熱源を取り除いた後，30秒以内に炎及び赤熱部が消えれば試験は合格とする。
16 振動及び衝撃
16.1 振動
動作状態及び非動作状態の双方においてタイマの試験を行わなければならない。
作動状態での試験中，5.2による作動範囲下限，すなわち定格入力電圧の80 %，85 %及び90 %でタイマ
を評価しなければならない。
試験中，接続動作を監視することが望ましい。接点が開放状態になる接点開離は，3 msまでは許容する。
次の条件で（船舶規格などで製造業者が別途指定しない限り）JIS C 60068-2-6に従って試験を実施する。
− 周波数範囲： 10 Hz 〜150 Hz
− 折れ点周波数： 60 Hz
− 60 Hz未満の周波数：一定振幅±0.15 mm
− 60 Hzを超える周波数：一定加速度20 m/s2（2 g）
− 1方向当たりの掃引サイクル数： 10
− 掃引速度： 1オクターブ／分
設定時間は，振動応力によって変化してはならない。更に絶縁物の破損があってはならない。
29
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験終了時，外観検査及び機能試験を実施しなければならない。
16.2 衝撃
機械的衝撃値は，製造業者が指定し，JIS C 60068-2-27に従って試験を実施しなければならない。試験
終了時，外観検査及び機能試験を実施しなければならない。その他の試験（例えば，船舶規格など）は，
製造業者が指定する。
17 電磁両立性（EMC）
17.1 一般事項
この規格の適用対象となる製品が置かれる環境などには，次の2種類がある（表16参照）。
a) 工業地域，工業用地及び工業用機器
b) 住宅環境，商業環境及び軽工業環境
表16−電磁両立性に影響を与える環境条件
高エミッション
低エミッション
低イミュニティ
適用不可
住宅［b) 参照］
高イミュニティ
工業［a) 参照］
住宅及び工業
工業用機器の用途例には，固定設備に永久接続された機器及び機器内開閉装置がある。
工業用地は，次の一つ又は二つの機器が存在する敷地である。
− 工業，科学又は医療用（ISM）機器（CISPR 11の定義による）
− 頻繁に電流を切り換える大形誘導負荷又は容量負荷をもつ機器
− 高電流磁気探傷器
住宅用途の例は，その応用機器や同様の負荷をもつ機器である。
17.2 イミュニティ
電磁両立性（EMC）の要求事項は，電磁的外乱に対して，タイマの耐量を十分に確保するように選ばれ
ている。工業環境の表17，及び住宅環境・商業環境・軽工業環境の表18の規定によって試験を実施しな
ければならない。
タイマ用に規定した温度・湿度・気圧の動作範囲内，かつ，定格供給電圧において試験を実施する。タ
イマの各機能又は各指定時間の全ての試験ができない場合は，最も厳しい動作モードを選択しなければな
らない。
イミュニティ試験でのタイマの動作は，指定時間中及び指定時間後に適切な測定装置を使用して監視し
なければならない。
判定基準A： 時間機能（例 オンディレイ，オフディレイ）に変化がなく，また計時機能も再起動しな
い場合，機能異常があってはならない。これは，計時中及び計時後に適用する。試験中の
時間変動は，ノイズ印加前の10 %を超えてはならない。表示障害（LED点滅及び判読不
可表示など）があってはならない。
いかなるタイマの出力障害もあってはならない。
判定基準B： 時間機能（例 オンディレイ，オフディレイ）に変化がなく，また計時機能も再起動しな
い場合，機能異常があってはならない。これは，計時中及び計時後に適用する。試験中の
時間変動は，ノイズ印加前の10 %を超えてはならない。試験中の短い表示障害（LED点
滅及び判読不可表示など）は故障ではない。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験中，出力状態が変わってはならない。
判定基準C： 機能の自己回復又はシステムリセットによる復元が可能であれば，一次的機能低下があっ
てもよい。
試験中の動作構成及びモードは，試験報告書に正確に記載しなければならない。各試験について製造業
者は各試験レベルを記載しなければならない。
表17−工業環境のイミュニティ試験
試験の種類及び適用規格
要求試験レベル及び適用ポート
性能判定
静電気放電
JIS C 61000-4-2
±8 kV（気中放電）：きょう（筐）体ポート
±4 kV（接触放電）：きょう（筐）体ポート
B
放射無線周波電磁界
JIS C 61000-4-3
80 MHz〜1 GHz
1.4 GHz〜2 GHz
2 GHz〜2.7 GHz
10 V/m：きょう（筐）体ポート
3 V/m：きょう（筐）体ポート
1 V/m：きょう（筐）体ポート
A
電気的ファストトランジェント／
バースト
JIS C 61000-4-4
±2 kV，5 kHz又は100 kHz：交流又は直流電源ポート
±1 kV：制御及び出力ポートa), b)
B
サージ（1.2/50 µs〜8/20 µs）
JIS C 61000-4-5
±2 kV（対地間）：50 Vを超える交流又は直流電源ポートf)
±1 kV（対地間）：制御ポート，及び50 V未満の交流又は直流電
源ポートf)
±1 kV（線間）：50 Vを超える交流又は直流電源ポート
±0.5 kV（線間）：50 V未満の交流又は直流電源入力
B
伝導無線周波数150 kHz〜80 MHz
IEC 61000-4-6
10 V b)：制御ポート，出力ポート，及び交流又は直流電源ポート
A
商用周波数磁界のイミュニティ
IEC 61000-4-8 c)
適用しない。
A
電圧ディップ
JIS C 61000-4-11
クラス2 d)
交流電源ポートの1サイクル中の残留電圧0 %
交流電源ポートの25/30サイクルg) 中の残留電圧70 %
B
短時間停電e)
JIS C 61000-4-11
交流電源ポートの250/300サイクルg) 中の残留電圧0 %
C
注a) 容量性クランプを用いる場合，試験レベルは2 kVとする。試験中，制御ポートを電源に接続する場合に適用
する。
b) 制御ポートは，製造業者の機能仕様に従って接続する制御ポートだけに適用できる。そのインタフェースに
用いるケーブルは，全長が3 mを超えてもよい。
c) 製造業者が指定した，電源周波数の磁界に影響されやすい装置を含む機器は，30 A/mで試験を行わなければ
ならない。
d) クラス2は，一般的に工業環境での共通結合部及び現場共通結合部に適用する。機能損失又は性能低下の時
間が要求試験レベルと異なる場合，これを試験報告書に明記する。
e) 機能損失又は性能低下の時間が要求試験レベルと異なる場合，これを試験報告書に明記する。
f) 製造業者が指定する場合，全長が30 mを超えるケーブル及びインタフェースで接続する制御ポートにも適用
できる。
g) 例えば，“25/30サイクル”の表記は，“50 Hzの試験に対しては25サイクル”及び“60 Hzの試験に対しては
30サイクル”の継続時間を適用することを意味している。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表18−住宅環境，商業環境及び軽工業環境のイミュニティ試験
試験の種類及び適用規格
要求試験レベル及び適用ポート
性能判定
静電気放電
JIS C 61000-4-2
±8 kV（気中放電）：きょう（筐）体ポート
±4 kV（接触放電）：きょう（筐）体ポート
B
放射無線周波電磁界
JIS C 61000-4-3
80 MHz〜1 GHz
1.4 GHz〜2 GHz
2 GHz〜2.7 GHz
3 V/m：きょう（筐）体ポート
3 V/m：きょう（筐）体ポート
1 V/m：きょう（筐）体ポート
A
電気的ファストトランジェント／
バースト
JIS C 61000-4-4
±1 kV：交流電源ポート
±0.5 kV：直流電源ポート
0.5 kV：静電結合クランプを使用する制御ポートa)
B
サージ（1.2/50 µs〜8/20 µs）
JIS C 61000-4-5
±2 kV（対地間）：50 Vを超える交流又は直流電源ポートd)
±1 kV（対地間）：50 V未満の交流又は直流電源ポートd)
±1 kV（線間）：50 Vを超える交流又は直流電源ポート
±0.5 kV（線間）：50 V未満の交流又は直流電源入力
B
伝導無線周波数150 kHz〜80 MHz
IEC 61000-4-6
3 V：実効値制御ポートd)及び交流又は直流電源ポート
A
商用周波数磁界のイミュニティ
IEC 61000-4-8 b)
適用しない。
A
電圧ディップc)
JIS C 61000-4-11
交流電源ポートの10サイクル中の残留電圧0 %
交流電源ポートの10サイクル中の残留電圧40 %
交流電源ポートの10サイクル中の残留電圧70 %
C
短時間停電c)
JIS C 61000-4-11
交流電源ポートの250/300サイクルe) 中の残留電圧0 %
C
注a) ±1 kV：試験中，制御入出力を電源に接続する場合に適用する。
b) 製造業者が指定した，商用周波数磁界に影響されやすい装置を含む機器は，3 A/mで試験を行う。
c) 機能損失又は性能低下の時間が要求試験レベルと異なる場合，これを容認し，試験報告書に明記する。
d) 製造業者が指定する場合，全長が30 mを超えるケーブル及びインタフェースで接続する制御ポートにも適用
できる。
e) “250/300サイクル”の表記は，“50 Hzの試験に対しては250サイクル”及び“60 Hzの試験に対しては300
サイクル”の継続時間を適用することを意味している。
17.3 放射及び伝導エミッション
タイマは，CISPR 11又はCISPR 22の規定を満たさなければならない。
工業用機器のタイマは，工業要求事項のクラスAを満たさなければならない。
住宅用機器のタイマは，住宅環境，商業環境及び軽工業環境のクラスBを満たさなければならない。
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C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
ボールプレッシャ試験
ボールプレッシャ試験の目的は，材料に過度の変形がなく，高温での機械的圧力に耐えることができる
ことを評価することである。
試験はJIS C 60695-10-2に従って実施するが，恒温槽内部の温度は20 ℃＋加熱試験中の最高温度値か，
又は次のいずれか高い方の温度を示す。
− 外部取付け部品では，75 ℃。
− 作動部品を支える部品では，125 ℃。
試験を行う部品の表面は，厚さ3 mmの鋼板上の水平位置に置く。供試品の厚さは2.5 mm未満になって
はならない。必要であれば，試験用層材を2枚以上重ねて使用する。
直径5 mmの鋼球を20 Nで供試品の表面に押し当てる。試験中は，鋼球が動かないように固定すること
が望ましい。
1時間後，鋼球を取り外し，供試品を室温に冷やす。鋼球による痕跡の直径を精度0.1 mm単位で測定し，
直径が2 mm未満であることを確認する。鋼球による痕跡を除いて，周りに供試品の変形がないことを確
認する。
注記 試験は，セラミック材の部品には適用しない。
33
C 61812-1：2014 (IEC 61812-1：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
JIS C 8201-5-1:2007 低圧開閉装置及び制御装置−第5部：制御回路機器及び開閉素子−第1節：電気
機械式制御回路機器
注記 対応国際規格：IEC 60947-5-1:2003，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control
circuit devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices（IDT）
JIS C 8281-2-3:2012 家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ−第2-3部：遅延スイッチ
（TDS）の個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60669-2-3:2006，Switches for household and similar fixed electrical installations
−Part 2-3: Particular requirements−Time-delay switches (TDS)（MOD）
JIS C 9730-2-7:2010 家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置−第2-7部：タイマ及びタイムス
イッチの個別要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60730-2-7:2008，Automatic electrical controls for household and similar use−Part
2-7: Particular requirements for timers and time switches（MOD）
JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-78:2001，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat,
steady state（IDT）
JIS C 60695-10-2:2008 耐火性試験−電気・電子−第10-2部：異常発生熱−ボールプレッシャー試験方
法
注記 対応国際規格：IEC 60695-10-2:2003，Fire hazard testing−Part 10-2: Abnormal heat−Ball pressure
test（IDT）
IEC 60050-141:2004，International Electrotechnical Vocabulary−Part 141: Polyphase systems and circuits
IEC 60947-1:2007，Low-voltage switchgear and controlgear−Part 1: General rules
IEC 61180-1:1992，High-voltage test techniques for low voltage equipment−Part 1: Definitions, test and
procedure requirements