JISC61326-3-1:2020 計測用，制御用及び試験室用の電気装置－電磁両立性要求事項－第３－１部：安全関連システム及び安全関連機能（機能安全）の遂行を意図した装置に対するイミュニティ要求事項

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 2

3 用語，定義及び略語 ·········································································································· 3

3.1 用語及び定義 ················································································································ 3

3.2 略語 ···························································································································· 6

4 一般事項························································································································· 6

5 EMC試験計画 ················································································································· 7

5.1 一般事項 ······················································································································ 7

5.2 試験の説明 ··················································································································· 7

5.3 試験中の供試装置の構成 ································································································· 7

5.4 試験中のEUTの動作条件 ································································································ 8

5.5 性能評価基準の仕様 ······································································································· 8

5.6 試験の記述 ··················································································································· 8

6 性能評価基準 ··················································································································· 9

6.1 性能評価基準DS ············································································································ 9

6.2 性能評価基準DSの適用 ·································································································· 9

6.3 性能評価基準DSの適用時に考慮すべき側面 ······································································· 9

7 イミュニティ要求事項 ······································································································ 10

8 安全用途を意図する機能があるEUTに対する試験セットアップ及び試験の考え方 ······················ 14

8.1 安全関連システムでの使用を意図する安全関連システム及び装置の試験 ·································· 14

8.2 安全関連システムでの使用を意図した装置に対する試験の考え方 ··········································· 14

8.3 安全関連システムに対する試験の考え方············································································ 15

8.4 試験構成及び試験性能 ··································································································· 15

8.5 監視 ··························································································································· 16

9 試験結果及び試験報告書 ··································································································· 16

附属書A（参考）この規格及びIEC 61326-3-2の適用方法の指針 ·················································· 19

附属書B（参考）電磁現象の評価 ··························································································· 21

附属書C（参考）イミュニティ試験中に許容できる影響 ····························································· 25

附属書JA（参考）対応国際規格の序文 ···················································································· 30

参考文献 ···························································································································· 31

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

（2）

まえがき

この規格は，産業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気計測器工業会（JEMIMA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出

があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本産業規格である。これによって，

JIS C 1806-3-1:2014は廃止され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61326の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61326-1 第1部：一般要求事項

JIS C 61326-2-1 第2-1部：個別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定

用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

JIS C 61326-2-2 第2-2部：個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，測定用

及び監視用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準

JIS C 61326-2-3 第2-3部：個別要求事項−一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサ

の試験配置，動作条件及び性能評価基準

JIS C 61326-2-6 第2-6部：個別要求事項−体外診断用医療機器

JIS C 61326-3-1 第3-1部：安全関連システム及び安全関連機能（機能安全）の遂行を意図した装置

に対するイミュニティ要求事項−一般工業用途

日本産業規格 JIS

C 61326-3-1：2020

(IEC 61326-3-1：2017)

計測用，制御用及び試験室用の電気装置−

電磁両立性要求事項−

第3-1部：安全関連システム及び安全関連機能

（機能安全）の遂行を意図した装置に対する

イミュニティ要求事項−一般工業用途

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-

EMC requirements-Part 3-1: Immunity requirements for safety-related

systems and for equipment intended to perform safety-related functions

(functional safety)-General industrial applications

序文

この規格は，2017年に第2版として発行されたIEC 61326-3-1を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本産業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。また，附属

書JAには対応国際規格の序文を記載している。

適用範囲

この規格は，JIS C 61326-1の適用範囲（箇条1）にあり，かつ，JIS C 0508規格群で安全度水準（SIL）

1〜3として規定している安全機能の遂行を意図した工業用システム及び装置の電磁両立性（EMC）に関す

るイミュニティの要求事項について規定する。

この規格が対象とする電磁環境は，JIS C 61000-6-2で工業地域として規定している，又はJIS C 61326-1

の3.8（工業的電磁環境）で規定している屋内及び屋外の工業的環境である。例えば，プロセス産業機器又

は防爆機器を必要とするような電磁環境での使用を意図した装置及びシステムは，この規格の適用範囲か

ら除外する。

JIS C 0508規格群に従うような，“実績による使用（proven-in-use）”又はJIS C 0511規格群に従うよう

な，“経験のある使用（prior use）”とみなす装置及びシステムは，この規格の適用範囲から除外する。

建造物用の火災警報システム及び保安警報システムは，この規格の適用範囲から除外する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61326-3-1:2017，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC

requirements−Part 3-1: Immunity requirements for safety-related systems and for equipment

intended to perform safety-related functions (functional safety)−General industrial applications

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。

JIS C 0508-2:2014 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第2部：電気・電子・

プログラマブル電子安全関連系に対する要求事項

注記対応国際規格：IEC 61508-2:2010，Functional safety of electrical/electronic/programmable

electronic safety-related systems−Part 2: Requirements for electrical/electronic/programmable

electronic safety-related systems

JIS C 60050-161:1997 EMCに関するIEV用語

注記対応国際規格：IEC 60050-161:1990，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 161:

Electromagnetic compatibility

JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-2:2008，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and

measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test

JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-3:2006，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test,

Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010

JIS C 61000-4-4:2015 電磁両立性−第4-4部：試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント／

バーストイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-4:2012，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and

measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test

JIS C 61000-4-5:2018 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-5:2014，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques−Surge immunity test

JIS C 61000-4-6:2017 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ

注記対応国際規格：IEC 61000-4-6:2013，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部：試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-8:2009，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and

measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test

JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部：試験及び測定技術−電圧ディップ，短時間停電及び

電圧変動に対するイミュニティ試験

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

注記対応国際規格：IEC 61000-4-11:2004，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing

and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

JIS C 61000-4-16:2017 電磁両立性−第4-16部：試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コ

モンモード妨害に対するイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-16:2015，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-16: Testing

and measurement techniques−Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the

frequency range 0 Hz to 150 kHz

JIS C 61000-4-34:2017 電磁両立性−第4-34部：試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16Aを

超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

注記対応国際規格：IEC 61000-4-34:2005，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-34: Testing

and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

for equipment with input current more than 16 A per phase及びAmendment 1:2009

JIS C 61000-6-2:2019 電磁両立性−第6-2部：共通規格−工業環境におけるイミュニティ規格

注記対応国際規格：IEC 61000-6-2:2016，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic

standards−Immunity standard for industrial environments

JIS C 61326-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第1部：一般要

求事項

注記対応国際規格：IEC 61326-1:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 1: General requirements

IEC 61000-4-29:2000，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-29: Testing and measurement techniques

−Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests

用語，定義及び略語

3.1

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 61326-1及びJIS C 60050-161によるほか，次による。

注記1 ISO及びIECは，次のアドレスで示す場所に，規格化において使用する用語のデータベース

を保持している。

・ IEC Electropedia: http://www.electropedia.org/

・ ISO Online browsing platform: http://www.iso.org/obp

注記2 JIS C 60050-161及びこの規格には含まないが，試験の実施に必要なその他の用語及び定義

は，JIS C 61000規格群又はIEC 61000規格群のEMC基本規格（以下，基本規格という。）

参照。

3.1.1

危険側故障（dangerous failure）

安全機能を実行するときにある役割を果たす，要素及び／又はサブシステム及び／又はシステムに関す

る次のような故障。

a) EUCが危険状態又は危険になり得る状態に陥るように，作動要求モードで要求された場合に安全機能

の作動を阻止する，又は連続モードで安全機能を失敗させる。

b) 要求された場合に安全機能が正しく作動する確率を下げる。

（JIS C 0508-4の3.6.7）

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

3.1.2

装置（equipment）

サブシステム，機器，器具，その他の組立製品。

3.1.3

被制御系装置，EUC（equipment under control）

製造，プロセス，輸送，医療，その他の業務に用いられる装置，機械類，機器，プラントなど。

注記 EUC制御系は，EUCから分離かつ区別される。

（JIS C 0508-4の3.2.1）

3.1.4

機能安全（functional safety）

EUC及びEUC制御系の全体に関する安全のうち，E/E/PE安全関連システム及び他リスク軽減措置の正

常な機能に依存する部分。

（JIS C 0508-4の3.1.12）

3.1.5

危害（harm）

身体への傷害若しくは健康障害，又は財産及び環境への損害。

（JIS Z 8051の3.1を修正。“身体への”を追加）

3.1.6

潜在危険（hazard）

危害の潜在的な源。

注記1 この用語は，（火災又は爆発のように）短時間で生じる人への危害のほかに，（例えば，中毒

性物質の放出による）長期にわたる健康への影響も含む。

注記2 この規格では，この用語を使用していない。

（JIS Z 8051の3.2を修正。注記を追加）

3.1.7

安全側故障（safe failure）

安全機能を実行するときに役割を果たす，要素，サブシステム及び／又はシステムに関する次のような

故障。

a) 安全機能の誤作動が，EUC（又はその部品）を安全状態にする，又は安全状態を維持する結果となる。

b) EUC（又はその部品）を安全状態に置く，又は安全状態を維持するように安全機能が誤作動する確率

を上げる。

（JIS C 0508-4の3.6.8）

3.1.8

安全機能（safety function）

E/E/PE安全関連システム又は他リスク軽減措置によって遂行される機能。この機能は，特定の危険事象

に関してEUCに関わる安全な状態を達成又は保持する。

例安全機能の例を，次に示す。

− 危険状態を避けるために，積極的措置として実行が要求される機能（例えば，モータを停止

する。）

− 動作を防止する機能（例えば，モータの起動を防止する。）

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

（JIS C 0508-4の3.5.1）

3.1.9

プログラマブル電子の，PE（programmable electronic）

ハードウェア，ソフトウェア，入力及び／又は出力装置などからなるコンピュータ技術に基づく。

例次に示すものは，全てプログラマブル電子機器である。

− マイクロプロセッサ

− マイクロコントローラ

− プログラマブルコントローラ

− 特定用途向け集積回路（ASIC）

− プログラマブル論理コントローラ（PLC）

− その他のコンピュータ関連装置（例えば，スマート・センサ，送信機，アクチュエータなど）

注記この用語は，1個以上のマイクロプロセッサ（CPU）及びメモリなどからなるマイクロ電子機

器も対象とする。

（JIS C 0508-4の3.2.12）

3.1.10

電気・電子・プログラマブル電子の，E/E/PE（electrical/electronic/programmable electronic）

電気（E），電子（E）及び／又はプログラマブル電子（PE）技術に基づく。

例電気・電子・プログラマブル電子機器の例を，次に示す。

− 電気機械機器（電気の）

− 半導体非プログラマブル電子機器（電子の）

− コンピュータ技術に基づく電子機器（プログラマブル電子の）（3.1.9参照）

注記この用語は，電気的原理で作動する全ての機器又はシステムを包括する。

（JIS C 0508-4の3.2.13を修正）

3.1.11

直流配電系統（DC distribution network）

あらゆる種類の装置への接続を意図する，ある設備又は建造物における局所的な直流の配電系統。

注記単一の装置だけにつながる局所的又は遠隔の電池への接続は，直流配電系統とはみなさない。

3.1.12

安全関連システム（safety-related system）

次の両方を満足するシステム。

− EUCを安全な状態に移行させるため，又はEUCの安全な状態を維持するために必要な，要求された

安全機能を行う。

− それ自体で，又はその他のE/E/PE安全関連システム及び他リスク軽減措置によって，要求される安全

機能に対して必要な安全度を達成する。

注記安全関連システムには，規定の安全機能を遂行するために必要とされる，全てのハードウェア，

ソフトウェア，及び全ての支援サービス（例えば，動力供給）を含む［したがって，検出端（セ

ンサ），その他の入力装置，操作端（アクチュエータ）及びその他の出力装置が安全関連システ

ムに含まれる。］。

（JIS C 0508-4の3.4.1を修正。注記1，2，3，4，5及び7を削除）

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

3.1.13

供試装置，EUT（equipment under test）

イミュニティ試験対象の装置（機器，器具及びシステム）。

3.1.14

補助装置，AE（auxiliary equipment）

EUTの正常な動作に必要な信号を供給するための装置，及びEUTの性能を検証する装置。

3.1.15

システム安全要求仕様書，SSRS（system safety requirements specification）

安全機能及びそれらの関連する安全度水準の要求事項を含む仕様。

3.1.16

安全度水準，SIL（safety integrity level）

安全度の値の範囲に対応する離散的水準（4水準のうちの一つ）。安全度水準4は最高の安全度水準であ

り，1は最低である。

注記1 四つの安全度水準に関わる目標機能失敗尺度は，JIS C 0508-1:2012の表2及び表3に規定し

ている。

注記2 安全度水準は，E/E/PE安全関連システムに割り当てられた安全機能の安全要求事項を規定す

るために用いる。

注記3 安全度水準（SIL）は，システム，サブシステム，要素又はコンポーネントの特性ではない。

“SILn安全関連システム”（ここで，nは1，2，3又は4）という表現の正しい解釈は，その

システムがnまでの安全度水準をもつ安全機能に潜在的に対応できるということである。

（JIS C 0508-4の3.5.8を修正。3.5.17への参照を削除し，JIS C 0508-1の発行年を追加）

3.2

略語

auxiliary equipment

補助装置

DS a)

defined state

定義した状態

E/E/PE

electrical/electronic/programmable electronic

電気・電子・プログラマブル電子の

EUC

equipment under control

被制御系装置

EUT

equipment under test

供試装置

ISM

industrial, scientific and medical

工業，科学及び医療

protective earth

保護接地

SIL

safety integrity level

安全度水準

SSRS

system safety requirements specification

システム安全要求仕様書

注a) 対応国際規格に合わせてDSを略語として記載したが，DSは6.1にあるように，A，B及びC

と同じく，性能評価基準を表す記号である。

一般事項

この規格では，JIS C 61326-1の要求事項に加えて，JIS C 0508規格群に従う安全機能の遂行を意図した

工業用途のシステム及び装置のための要求事項を規定する。これらの要求事項は，装置及びシステムの安

全に関連しない機能には適用しない。

注記電気及び電子システムの機能安全を達成するための，全体的な設計プロセス及び必要な設計の

要点は，JIS C 0508規格群に規定されている。これは，電磁妨害に対するシステムの信頼性（JIS

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

C 0508-2の7.4.7.1）を実現する設計の要求事項を含んでいる。

JIS C 61326-1のイミュニティ要求事項は，安全に関連しない用途で使用する装置に対して適切なイミュ

ニティレベルを保証するよう選択されている。しかし，要求されるイミュニティレベルはいかなる場所で

も起こり得るが，極めて低い発生確率で起きる場合は含んでいない。

この規格では，電磁現象が引き起こす危険側故障を回避するためのシステム的対応策として，JIS C

61326-1よりも厳しいイミュニティ試験レベルを規定する。結果として，例えば，作動要求時の失敗確率

などのハードウェアの安全度の定量化に当たって，電磁現象の影響を考慮する必要はない。必要に応じて，

厳しいイミュニティ試験レベルを規定する。

厳しいイミュニティ試験レベルは，機能安全の側面だけに関連し，信頼性及び可用性の評価の側面には

適用しない。厳しいイミュニティ試験レベルは，特別な機能安全の性能評価基準（性能評価基準DS）を

もつ安全関連機能だけに適用する。厳しいイミュニティ試験レベルは，最大試験値の限度値として設定す

る。この規格に適合するには，より高い値での更なる試験は必要ない。

EMC試験計画

5.1

一般事項

EMC試験計画は，試験実施前に作成する。試験計画には，5.2〜5.6に規定する内容を含めなければなら

ない。

この規格への適合性を証明する必要がない試験については，試験を行わないことの正当性をEMC試験

計画書に記載する。

5.2

試験の説明

安全機能におけるイミュニティ試験の説明は，詳細に明記しなければならない。よって，一連のイミュ

ニティ試験を実施する場合，関連する詳細の全てを試験計画書に記載する。試験計画書は少なくとも次の

情報を含めなければならない。

・イミュニティ試験の対象となる入出力ポート

・必要な周辺機器及び監視機器を含む，EUTの構成

・安全機能の動作モード

・イミュニティの試験レベル

・定義した状態を含む性能評価基準

・ EUTの動作の監視

・製造業者が指定した性能評価基準に対するEUTの反応の評価

5.3

試験中の供試装置の構成

5.3.1

一般事項

計測，制御及び試験室用装置は，定まった構成でシステムを構築するとは限らない。装置内の様々なサ

ブアセンブリの種類，使用数量及び設置は，システムごとに異なっている。

EMC条件を現実的に模擬するために，装置は，製造業者が指定する典型的な組合せでなければならない。

EMC試験は，製造業者が指定する通常条件に従って，形式試験として行う。

EUTへ電磁妨害が影響して，安全機能が妥当に動作したことを監視するためには，AEのセットアップ

が必要な場合がある。

5.3.2

EUTの構成要素

EMCに潜在的に関連し，かつ，EUTを構成する全ての機器，ラック，モジュール，ボードなどを試験

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

計画書に記載する。EUTの構成要素の選択理由も，EMC試験計画書に記載する。

5.3.3

EUTの組合せ

EUTの内部及び外部の構成が変化する場合には，形式試験は，製造業者が想定する最も影響を受けやす

い構成で試験する。全ての種類のモジュールは，1回以上の試験を行う。これらの選択理由をEMC試験計

画書に記載する。最も影響を受けやすい装置構成を構築する場合には，装置の要素間のあらゆる電磁的な

相互作用の可能性を考慮する。EUTの組合せの選択理由は，EMC試験計画書に記載する。

5.3.4

I/Oポート

複数のI/Oポートがあり，それら全てが同一種類かつ同一機能の場合，他のケーブルを接続することに

よって試験結果が大きく影響されないことを示せば，その一つのポートにケーブルを接続するだけでよい。

I/Oポートの選択理由は，EMC試験計画書に記載する。

5.3.5

実際の動作状態を模擬するために，EUTに種々のAEを使用する場合には，それぞれの種類に対して一

つ以上ずつAEを選択する。AEとして，シミュレータを用いてもよい。繰返し試験に必要な，AEのソフ

トウェアは，試験計画書に記載する。

電磁妨害の影響を受けにくいAEの使用を強く推奨する。例えば機械装置で，EUTの挙動を簡単に検出

及び評価できるものがよい。

5.3.6

ケーブル配線及び接地（グラウンド）

ケーブル及び接地（グラウンド）は製造業者の仕様に従ってEUTに接続する。追加の接地接続をしては

ならない。

5.4

試験中のEUTの動作条件

5.4.1

動作モード

代表的な動作モードは，EUTの全機能ではなく，最も典型的な機能だけを試験することを考慮して選択

する。意図する用途で，装置の仕様範囲内の推定できる最悪の動作モードを選択する。

注記最悪の動作モードとは，例えば最も影響を受けやすい動作モードを示す。

5.4.2

環境条件

特別な試験要求事項がない場合には，試験は，製造業者が指定する環境（例えば，周囲温度，湿度，大

気圧など）動作範囲内，並びに電源電圧及び電源周波数の定格範囲内で行う。

5.4.3

試験中のEUTのソフトウェア

繰返し試験に必要な，選択した動作モードを実行するために使用するソフトウェアは，試験計画書に記

載する。

5.5

性能評価基準の仕様

各ポート及び試験の性能評価基準は，可能な限り定量的に指定する。

5.6

試験の記述

適用するそれぞれの試験は，EMC試験計画書で指定する。試験項目，試験方法，試験の特性及び試験セ

ットアップは，表2〜表7に引用している基本規格に規定している。基本規格の内容は，試験計画に転記

する必要はない。ただし，この規格の試験の遂行に実際に必要な追加情報を示す。EMC試験計画書は，詳

細に実施方法を指定しなければならない場合がある。

注記この規格は，試験目的のために全ての既知の妨害事象を規定するものではなく，重要と考えら

れる妨害事象だけを規定している。詳細は，附属書Bを参照。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

性能評価基準

6.1

性能評価基準DS

性能評価基準は，EUTが電磁現象にさらされた場合，その反応を記載し評価するために用いる。機能安

全については，特に“性能評価基準DS”を適用する。性能評価基準DSは，次による。

a) 安全用途での使用を意図するEUTの安全機能は，次のいずれかとする。

1) 仕様の範囲外でも，影響を受けない。

2) 検知可能で，EUTの定義した状態が，妨害に対して次のいずれかでEUTが反応する場合には，一

時的に又は永続的に影響を受けてもよい。

定義した状態を維持する。

ii) 定義した状態を所定時間内に達成する。

b) 安全用途の使用を意図しない機能は，一時的又は永続的に妨害を受けてもよい。

注記1 定義した状態が通常の動作範囲外でもよい。

注記2 JIS C 1806-3-1:2014は，性能評価基準の記号にFSを使用した。基本規格のIEC 61000-1-2及

び共通規格のIEC 61000-6-7に従い，技術的な変更なしに，この規格では記号にDSを使用す

る。

6.2

性能評価基準DSの適用

性能評価基準DSは，EUTの安全用途の機能だけに適用可能である。いかなる現象に対しても性能評価

基準DSが関連する。連続的な電磁現象と，過渡的な電磁現象との間に，要求事項の差異はない。

安全用途全体又はその部分の機能を，遂行する又は遂行を意図する装置は，性能評価基準DSで定義し

た，指定の動作をしなければならない。安全関連システムの指定した挙動は，その装置及び関連の被制御

系関連装置の安全な状態を達成するか，又は維持することを意図している。これを達成するために，イミ

ュニティの試験前，試験中及び試験後に安全機能を確認する。

装置又はシステムの一部が，安全用途を意図する機能と，安全用途を意図しない機能との両方を遂行す

る場合には，機能安全に対する要求事項は，その安全用途を意図する機能だけに適用する。

性能評価基準DSの評価には，EUTの状態の詳細な監視を使用する場合がある。その目的のため，性能

評価基準DSの状態は明確にしなければならない。多くの場合で，意図された安全機能が正しく動作した

ことを明確に特定し監視するには，指定のAEが必要となる。このAEは，イミュニティ試験中にEUTの

動作に影響を与えないことを確認しなければならない。

6.3

性能評価基準DSの適用時に考慮すべき側面

EUTが妨害によって定義した状態になったとしても，偶然の結果ではなく，この動作に再現性があるこ

とを検証する。再現性を検証するために，性能評価基準DSを適用する場合には，表1に規定したルール

を用いる。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表1−試験結果の再現性の検証ルール

試験

試験中のEUTの反応

試験を継続する方法

過渡的a)

EUTは定義した状態になり，動作の継続
には使用者の介在が必要である。

EUTを正常動作に戻し，再試験を同じ試験値及び極性で
3回繰り返す。EUTは4回とも性能評価基準DSに適合
した反応でなければならない。この場合，基本規格に従
って次の試験値又は次の極性の試験を継続する。

EUTは定義した状態になり，破損する。 EUTを交換又は修理し，再試験を同じ試験値及び極性で

3回繰り返す。EUTは4回とも性能評価基準DSに適合
した反応でなければならない。この場合，基本規格に従
って次の試験値又は次の極性の試験を継続する。

連続的b)

特定の試験周波数で，6.1 a) 2) にあるよ
うにEUTは定義した状態になる。

EUTが反応した特定の試験周波数で3回再試験する。
EUTは4回とも性能評価基準DSに適合した反応でなけ
ればならない。EUTの反応が毎回同じ場合，特定外の試
験周波数では再試験は行わなくてもよい。

注a) JIS C 61000-4-2，JIS C 61000-4-4，JIS C 61000-4-5，JIS C 61000-4-11，IEC 61000-4-29及びJIS C 61000-4-34

による試験

b) JIS C 61000-4-3，JIS C 61000-4-6，JIS C 61000-4-8及びJIS C 61000-4-16による試験

イミュニティ要求事項

JIS C 61326-1の要求事項に追加するイミュニティ試験要求事項を，表2〜表7に示す。安全用途を意図

する機能，及び安全用途を意図しない機能について電磁妨害を許容する場合の影響の全体像を表10に示

す。

表2〜表7に規定する電磁現象には，統計的な方法においてだけ，装置の動作状態に関連する場合があ

る（例えば，デジタル回路又はデジタル信号伝送の瞬時の状態におけるインパルスの瞬間など。）。電磁妨

害に対するイミュニティに関して，より高いSILを意図する安全関連のシステム及び装置に対する信頼の

水準を高めるためには，対応する基本規格の試験性能要求事項と比較して，より多くのノイズ源を含む電

磁現象に対するイミュニティ試験を実施する必要がある。これは，より長い試験時間又はより多くのノイ

ズを印加することによって実現できる（表2〜表7の注を参照）。

表2−イミュニティ試験要求事項−きょう体ポート

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

1.1 静電気放電（ESD） JIS C 61000-4-2

±6 kV接触放電a) b)
±8 kV気中放電a) b)

1.2 放射無線周波電

磁界

JIS C 61000-4-3

20 V/m［80 MHz〜1 GHz，1 kHz（80 %振幅変調）］c)
10 V/m［1.4 GHz〜2 GHz，1 kHz（80 %振幅変調）］c)
3 V/m［2.0 GHz〜6.0 GHz，1 kHz（80 %振幅変調）］c)

1.3 電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8

30 A/m d)

注a) ESDの制御手順に従って作業する作業者以外の人がアクセス可能な装置の部分に対し，JIS C 61000-4-2で規

定する環境に従って，これらの試験値を適用する。適切に訓練を受けた人だけにアクセスを制限した装置に
は，これらの試験値を適用しない。

b) SIL 3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの放電回数は，基本規格で規定する回数の3

倍にする。

c) これらの試験値は，表8で規定する周波数範囲に適用する。ISM周波数は，個々に考慮する。

d) 磁気に感受性の高いデバイスを内蔵する装置の場合に適用する。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表3−イミュニティ試験要求事項−入出力交流電源ポート

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

2.1 バースト

JIS C 61000-4-4

3 kV（5/50 ns，5 kHz）a)

2.2 サージ

JIS C 61000-4-5

2 kV（線間）b) c)
4 kV（線と接地との間）b) c)

2.3 無線周波伝導妨害 JIS C 61000-4-6

10 V［150 kHz〜80 MHz，1 kHz（80 %振幅変調）］d)

2.4 電圧ディップ

JIS C 61000-4-11
又は
JIS C 61000-4-34

1サイクルの間 0 %
10/12 e) サイクルの間 40 %
25/30 e) サイクルの間 70 %

DS
DS
DS

2.5 短時間停電

JIS C 61000-4-11
又は
JIS C 61000-4-34

250/300 e) サイクルの間 0 %

2.6 伝導性コモンモー

ド電圧

JIS C 61000-4-16 1.5 kHz〜15 kHz，1 V〜10 V，20 dB/decade

15 kHz〜150 kHz，10 V

注a) SIL 3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの試験持続時間は，基本規格で規定する時間

の5倍にする。

b) SIL 3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの印加回数は，基本規格で規定する回数の3

倍にする。

c) 規定するイミュニティレベルは，外部保護デバイスを用いて達成してもよい。使用するデバイス及びそれら

の設置要求事項は，ユーザマニュアルで指定する。

d) これらの試験値は，表9で規定する周波数範囲に適用する。ISM周波数は，個々に考慮する。

e) “10/12サイクル”の表記は，50 Hzに対しては10サイクル，60 Hzに対しては12サイクルを意味する（25/30

サイクル及び250/300サイクルも同様）。

表4−イミュニティ試験要求事項−入出力直流電源ポート

現象

基本規格

安全用途の意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

3.1 バースト

JIS C 61000-4-4

3 kV（5/50 ns，5 kHz）a)

3.2 サージ

JIS C 61000-4-5

1kV（線間）b) c)
2 kV（線と接地との間）b) c)

3.3 無線周波伝導妨害 JIS C 61000-4-6

10 V［150 kHz〜80 MHz，1 kHz（80 %振幅変調）］d)

3.4 伝導性コモンモー

ド電圧

JIS C 61000-4-16 1.5 kHz〜15 kHz，1 V〜10 V，20 dB/decade

15 kHz〜150 kHz，10 V
10 V（直流，16 2/3 Hz，50/60 Hz及び150/180 Hz）
100 V短時間（1 s）（直流，16 2/3 Hz及び50/60 Hz）

3.5 電圧ディップ

IEC 61000-4-29

10 ms間UTの40 %

3.6 短時間停電

IEC 61000-4-29

20 ms間UTの0 %

直流配電系統に接続しない装置又はシステム間の直流の接続は，I/Oポートとして扱う（表5及び表6参照）。

注a) SIL3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの試験持続時間は，基本規格で規定する時間

の5倍にする。

b) SIL3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの印加回数は，基本規格で規定する回数の3

倍にする。

c) 規定するイミュニティレベルは，外部保護デバイスを用いて達成してもよい。使用するデバイス及びそれら

の設置要求事項は，ユーザマニュアルで指定する。

d) これらの試験値は，表9で規定する周波数範囲に適用する。ISM周波数は，個々に考慮する。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表5−イミュニティ試験要求事項−I/Oポート

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

4.1 バースト

JIS C 61000-4-4

2 kV（5/50 ns，5 kHz）a) b)

4.2 サージ

JIS C 61000-4-5

2 kV（線と接地との間）c) d) e)

4.3 無線周波伝導妨害 JIS C 61000-4-6

10 V［150 kHz〜80 MHz，1 kHz（80 %振幅変調）］f)

4.4 伝導性コモンモー

ド電圧c) g)

JIS C 61000-4-16 1.5 kHz〜15 kHz，1 V〜10 V，20 dB/decade

15 kHz〜150 kHz，10 V
10 V（直流，16 2/3 Hz，50/60 Hz及び150/180 Hz）
100 V短時間（1 s）（直流，16 2/3 Hz及び50/60 Hz）

注a) 3 m以上の線の場合に適用する。

b) SIL 3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの試験持続時間は，基本規格で規定する時間

の5倍にする。

c) 長距離線の場合だけに適用する（JIS C 61326-1の3.10参照）。

d) SIL 3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの印加回数は，基本規格で規定する回数の3

倍にする。

e) 規定するイミュニティレベルは，外部保護デバイスを用いて達成してもよい。使用するデバイス及びそれら

の設置要求事項は，ユーザマニュアルで指定する。

f) これらの試験値は，表9で規定する周波数範囲に適用する。ISM周波数は，個々に考慮する。

g) 接地したシステム又は装置の場合だけに，それぞれに適用する。

表6−イミュニティ試験要求事項−電源系統に直接接続するI/Oポート

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

5.1 バースト

JIS C 61000-4-4

3 kV（5/50 ns，5 kHz）a)

5.2 サージ

JIS C 61000-4-5

2 kV（線間）b) c) d)
4 kV（線と接地との間）b) c) d)

5.3 無線周波伝導妨害 JIS C 61000-4-6

10 V［150 kHz〜80 MHz，1 kHz（80 %振幅変調）］e)

5.4 伝導性コモンモー

ド電圧

JIS C 61000-4-16 1 V〜10 V，20 dB/decade（1.5 kHz〜15 kHz）

10 V（15 kHz〜150 kHz）
10 V（直流，16 2/3 Hz，50/60 Hz及び150/180 Hz）
100 V短時間（1 s）（直流，16 2/3 Hz及び50/60 Hz）

注a) SIL3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの試験持続時間は，基本規格で規定する時間

の5倍にする。

b) SIL3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの印加回数は，基本規格で規定する回数の3

倍にする。

c) 規定するイミュニティレベルは，外部保護デバイスを用いて達成してもよい。使用するデバイス及びそれら

の設置要求事項は，ユーザマニュアルで指定する。

d) 交流又は直流電力線用の結合回路網を使用する。

e) これらの試験値は，通常，移動体通信に用いる表9で規定する周波数範囲に適用する。ISM周波数は，個々

に考慮する。

表7−イミュニティ試験要求事項−機能接地ポート

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

6.1 バースト

JIS C 61000-4-4

2 kV（5/50 ns，5 kHz）a)

注a) SIL3の用途で用いることを意図した装置の場合，最高レベルでの試験持続時間は，基本規格で規定する時間

の5倍にする。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表8−電磁界試験のための移動体通信及びISM装置の周波数範囲

試験周波数

例／参考

試験周波数

例／参考

範囲

周波数範囲

用途

範囲

周波数範囲

用途

MHz

84.000

83.996〜84.004

ISM

1 428〜2 700

1 476〜1 511

3.9G/LTE

ISM（イギリスだ
け）

（続き）

1 525〜1 559

137〜174

Mobile & SRD

1 627〜1 661

151.820〜151.880

MURS

1 710〜1 785

154.570〜154.600

MURS

1 710〜1 785

GSM

167.992〜168.008

ISMイギリスだけ

3G/UMTS

219.500

219〜220

アマチュア無線

3G/FOMA

380〜400

TETRA

3G/HSPA

420〜470

アマチュア無線

1 805〜1 880

GSM

433.05〜434.79

ISM

3G/UMTS

（地域1だけ）

3G/FOMA

450〜470

4G/LTE-A

3G/HSPA

698〜960

698〜894

3G/UMTS

3.9G/LTE

1 900〜2 025

3G/UMTS

746〜845

TETRA

3G/FOMA

825〜845

TETRA

3.9G/LTE

830〜840

3G/FOMA

2 110〜2 200

3G/UMTS

860〜915

3.9G/LTE

3G/FOMA

870〜876

TETRA

3.9G/LTE

860〜960

RFID

2 300〜2 450

アマチュア無線

886〜906

ISM

2 400〜2 500

ISM

（イギリスだけ）

2 300〜2 400

4G/LTE-A

880〜915

GSM

3.9G/LTE

3G/FOMA

2 500〜2 690

3.9G/LTE

3G/HSPA

3 300〜3 600

3 300〜3 500

アマチュア無線

915〜921

NADC

3 400〜3 600

4G/LTE-A

902〜928

ISM

5 150〜5 925

5 150〜5 350

HIPERLAN

（地域2だけ）

5 470〜5 725

HIPERLAN

925〜960

GSM

5 650〜5 925

アマチュア無線

3G/HSPA

5 725〜5 875

ISM

1 240〜1 300

アマチュア無線

5 795〜5 815

RTTT

1 428〜2 700

1 428〜1 496

3.9G/LTE

3G/HSPA

3.9G/LTE

試験周波数範囲の欄に単一の試験周波数が示されている周波数帯では，試験はその周波数でだけ実施する。試験

周波数範囲の欄に周波数範囲が示されている場合，その周波数範囲は実際の周波数の1 %以下のステップ幅でステ
ップする。
注記1 試験には，基本規格で規定する変調方式を適用している。他の変調方式もある。
注記2 地域ごとの周波数割当ての詳細については，IEC/TR 61000-2-5又はITUの出版物を参照。我が国の周波数

割当ての詳細は，総務省の電波利用ホームページhttps://www.tele.soumu.go.jp/j/freq/index.htmに記載されて
いる。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表8−電磁界試験のための移動体通信及びISM装置の周波数範囲（続き）

注記3 この表の略称は次のとおり。

GSM：Global System for Mobile Communication

ISM：Industrial, Scientific and Medical

SRD：Short Range Devices

TETRA：Terrestrial Trunked Radio

UMTS：Universal Mobile Telecommunications System

MURS：Multi-Use Radio Service

LTE：Long Term Evolution

FOMA：Freedom of Mobile Multimedia Access

RFID：Radio Frequency Identification

HSPA：High Speed Packet Access

NADC：North American Digital Cellulars

RTTT：Road Transport and Traffic Telematics

地域1 ヨーロッパアフリカロシア

地域2 南北アメリカ

表9−伝導性無線周波試験のための移動体通信及びISM装置の周波数範囲

試験周波数

MHz

例／参考

周波数範囲

MHz

用途

3.39

3.370 〜 3.410

ISMオランダだけ

6.780

6.765 〜 6.795

ISM

13.560

13.553 〜 13.567

ISM

27.120

26.957 〜 27.283

ISM/CB/SRD

40.680

40.66 〜 40.70

ISM/SRD

注記この表の略称は次のとおり。

CB：Citizens' Band

ISM：Industrial, Scientific and Medical

SRD：Short Range Devices

安全用途を意図する機能があるEUTに対する試験セットアップ及び試験の考え方

8.1

安全関連システムでの使用を意図する安全関連システム及び装置の試験

安全関連システムは，複合的かつ拡張された設備で構成する場合，及び機器の様々な配置で構成する場

合がある。このような安全関連システムを，表2〜表7で示す様々な基本規格を用いた実用的な方法でイ

ミュニティ試験を行うことは難しい。したがって，対応するイミュニティ試験は，8.2で規定するように，

できる限り個々の装置で実行する。

物理的に小さな安全関連システムの場合には，対応するイミュニティ試験は，8.3で規定する試験の考え

方を安全関連システム全体に適用することができる。代替の試験の考え方を用いる場合は，その考え方及

びそれを使用する根拠をEMC試験計画書に記載する。

8.2

安全関連システムでの使用を意図した装置に対する試験の考え方

機能安全では，例えば，センサ，ロジックソルバ及びアクチュエータで構成されるシステム全体での正

しい機能を要求するとしても，それらの機器を個別に試験することができる。安全関連システムに実装す

ることを意図した個々の機器は，明確に仕様を指定する。この仕様は，意図する機能，及び故障時に許容

する動作を含む。この規格で規定するイミュニティ試験の目的は，考慮する電磁現象に対して，その仕様

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

を満足することを証明することである。

安全関連システムでどのような使われ方をするかに依存するため，妨害を受けた機能が危険となるかど

うかは分からない。したがって，試験時のEUTの挙動をあらかじめ指定する。妨害を受けない状態の機能

からの逸脱は，検出できなければならず，かつ，試験報告書に記載しなければならない。

性能評価基準DSは，安全関連用途での使用を意図した装置に対して，追加要求事項を規定している。

この場合，EMC製品群規格で規定する性能評価基準，及びこの規格で規定する性能評価基準DSの両方を

適用する。EMC製品群規格で規定する性能評価基準と，この規格で規定する性能評価基準DSとは，別々

に考慮する。機能別の性能評価基準の一般的適用方法を，表10に示す。

表10−安全関連システムでの使用を意図した装置に適用する性能評価基準及び試験中に観測される動作

安全用途を意図する機能

安全用途を意図しない機能

通常のEMC試験

EMC安全試験

通常のEMC試験

EMC安全試験

関連する製品群規格に従った，次の
いずれかの性能評価基準。
− 性能評価基準A
− 性能評価基準B，観測される偏

移，及び文書化した復帰時間

− 性能評価基準C，検知可能で文書

化された，観測される動作

性能評価基準DS 関連する製品群規格に従った，次のい

ずれかの性能評価基準。
− 性能評価基準A
− 性能評価基準B

− 性能評価基準C

不要

注記1 性能評価基準A，B及びCは，JIS C 61326-1で規定している。
注記2 イミュニティ試験中の許容される影響についての詳細は，表C.1及び表C.2を参照

8.3

安全関連システムに対する試験の考え方

試験中にEUTを，その機能がこの規格を満足していることを示すために監視する。この監視システムは，

適用する試験による電磁妨害の影響を受けてはならない。

安全関連システムに対して，その意図した機能及び可能な安全状態を指定する。イミュニティ試験は，

システムが全体として性能評価基準DS（箇条6参照）による要求事項を満たし，指定の動作をするかど

うかを確認するために行う。

機能安全に対する性能評価基準は，安全関連システムに対して追加要求事項を規定している。EMC製品

群規格で規定する性能評価基準と，この規格で規定する性能評価基準DSとは，別々に考慮する。表B.1

には，電磁現象別に許容可能な影響の例を示すことで，関連する性能評価基準の適用を示している。

8.4

試験構成及び試験性能

図1に，単独の装置又はシステム全体で試験する場合の，安全関連システムでの使用を意図した，試験

セットアップの典型的な構成を示す。この構成で，イミュニティ試験は，試験対象の安全関連システムに

適用する。試験中にEUTを動作するために使用する他の機器は，あらゆる電磁的影響を受けないように分

離する。図1は，安全関連システムをシステム全体として試験する場合にも有効である。

図2に，代表的な安全関連システムの一部として試験する場合の，安全関連システムでの使用を意図し

た，試験セットアップの典型的な構成を示す。この構成で，イミュニティ試験は，安全関連システムの試

験対象部分に適用する。試験中にEUTを動作するために使用する他の機器は，あらゆる電磁的影響を受け

ないように分離する。

EUTが安全関連システム全体でない場合，EUTのポートは，安全システムをシミュレートする他の要素

（センサ，ロジックソルバ，アクチュエータなど），又は実際の要素の特性をシミュレートする他の負荷に

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

接続することが望ましい。

EUTは，そのEUTの機能及び安全用途を意図したEUTの指定する機能を実行するために，必要な安全

システムの機器と協調しなければならない。

JIS C 0508規格群に従った安全ロジックソルバのソフトウェアを実行する機器の組合せの場合，適切な

分析的証拠によって，他の組合せに対するイミュニティの証拠が得られる限り，対応するイミュニティ試

験を少なくとも一つの典型的な組合せに適用する。

EUTの機能及び安全用途を意図した機能を実行するために，必要なAEは，電磁妨害から十分に保護さ

れた環境内に配置する（図1参照）。試験中，AEは電磁妨害の影響を受けてはならない。

EUTの機能に必要なI/Oポートは，EUTに必要な機能，又は安全用途を意図した機能を実行するために，

安全関連システム機器を適切なポートに接続する。

使用しないEUTのケーブル及びI/Oポートは，製造業者が指定する方法で終端する。

試験セットアップでは，EUT又は安全システムの製造業者が指定するケーブルだけを使用する。

安全機能に使用する通信リンクに標準的な試験方法がある場合は，それらを使用することを強く推奨す

る（例えば，フィールドバス通信にはIEC 61784-3を参照）。

安全関連システムの安全機能は，順次，指定した組合せで試験する。イミュニティ試験は，安全機能が

立ち上がった状態で実行し，例えば，安全機能を有効にして，試験を実行する。

イミュニティ試験は，安全機能が有効又は無効になる瞬間に適用する必要はないが，製造業者が試験計

画に追加してもよい。

8.5

監視

可能な限り，監視システムはEUTの動作に影響を与えてはならない。これが不可能な場合は，影響の範

囲を文書化する。この場合でも，EUTの安全関連機能は監視システムの影響を受けてはならない。

監視システムは，該当する場合に次の事項を観測する。

− EUTと，EUTの機能及び安全用途を意図した機能を実行するために必要な機器との間のデータ通信。

− 安全用途を意図した機能をもつ出力の状態。

試験結果及び試験報告書

試験結果は，試験の再現性を提供するために十分な詳細内容を記載した，理解しやすい試験報告書にま

とめる。

試験報告書は，次に示す情報を含まなければならない。

− EUTの説明

− 試験計画で指定された項目

− 試験データ及び結果

− 試験装置及び試験セットアップ

− 試験中に観測した動作

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

A EUT：試験対象の安全関連システム
C シールドケーブルの接地（製造業者が指定する場合）
D EUTと電磁的に分離された環境との間のインタフェースでの減結合回路網
E

EUTの接地（製造業者が指定する場合）

G グラウンド面
M 監視システム
P

監視用シールドケーブル（必要な機能用及び全ての安全関連機能用）

K 絶縁支持台
T

EUTポート終端器（製造業者が指定する場合には接地する。）

U 監視用非シールドケーブル（必要な機能用及び全ての安全関連機能用）
X 電磁的に分離された環境

図1−単独の装置又はシステム全体で試験する場合の，安全関連システムでの使用を意図とした

装置での典型的な試験セットアップ

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

A EUT：安全関連システムの試験対象部分
B 安全関連システムの試験対象でない部分及びAE
C シールドケーブルの接地点（製造業者が指定する場合）
D EUTと電磁的に分離された環境との間のインタフェースでの減結合回路網
E

EUTの接地点（製造業者が指定する場合）

G グラウンド面
M 監視システム
P

監視用シールドケーブル（必要な機能用及び全ての安全関連機能用）

K 絶縁支持台
S

監視された安全関連システムの出力

EUTポート終端器（製造業者が指定する場合には接地する。）

U 監視用非シールドケーブル（必要な機能用及び全ての安全関連機能用）
X 電磁的に分離された環境

図2−代表的な安全関連システムの一部として試験する場合の，安全関連システムでの使用を

意図とした装置での典型的な試験セットアップ

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

附属書A

（参考）

この規格及びIEC 61326-3-2の適用方法の指針

電磁環境に対処し，機能安全を考慮したイミュニティ要求事項を決定するには，基本的に次の二つの方

法がある。

a) システム及び装置の適切なイミュニティレベルを選定するとき，いかなる特定の制限もなしに一般的

な電磁環境（例えば，工業環境）を考慮して，起こり得る全ての電磁現象及びそれらの最大の大きさ

を考慮する。これは，この規格が規定するレベルを決めるときに用いた方法であり，選定したレベル

は，機能安全を考慮しないイミュニティレベルに比べ，幾つかの電磁現象については厳しいイミュニ

ティレベルになる。

b) 例えば，特定の装備及び低減措置の適用によって，電磁現象及びそれらのレベルが一定限度しか起き

ないように，電磁環境を制御する。これらの現象及び制限されたレベルを考慮して，適切なイミュニ

ティレベルを決める。これらのレベルは，機能安全を考慮しないレベルよりも，必ずしも高くはない。

対応する手段によって，より高いレベルが通常は予測されないことが，実証されているからである。

この方法は，IEC 61326-3-2で考慮されている。

一般的な工業環境に関してa) の方法を適用することは，そこで予測される電磁現象及びそのレベルの

適切な知識を要する。この目的のため，IEC/TR 61000-2-5の電磁環境データを用いる。IEC/TR 61000-2-5

は，どの電磁環境を予測するかの情報を提供し，かつ，両立性レベルの観点からそれらのレベルを記載し

ている。両立性レベルは，容認可能な電磁両立性がそこに存在する妨害レベルとみなし得るので，JIS C

61326-1，JIS C 61326-2規格群又は共通規格JIS C 61000-6-2のような安全に関連しないEMC規格が規定

する通常のイミュニティ要求事項の基礎として，両立性レベルを用いる。電磁両立性を達成するために適

用するこの通常の方法は，技術的又は経済的合意に基づいていて，ある程度の有害な障害を許容する。し

かし，この方法は，安全関連システム及びそれらに用いる装置の場合には十分ではない。イミュニティレ

ベルは，想定した電磁環境で予測される全ての電磁現象及び最大レベルを考慮に入れて決めなければなら

ず，このため，多くの電磁現象で，通常レベルに比べて拡張したレベルを用いる。

a) の方法に従い，この規格は，安全関連システム及び安全関連システムで用いることを意図した装置に

適用する，特定のイミュニティ要求事項を規定する。これらの要求事項は，JIS C 61326-1の特定の要求事

項を拡張し，選択した電磁現象及び規定したイミュニティ試験レベルは，ほとんどの工業用途の環境条件

の最大レベルを網羅することが予測される。

JIS C 61326-1，JIS C 61326-2規格群又はIEC 61326-2規格群，この規格及びIEC 61326-3-2の相互関係

を図A.1に示す。

この規格における拡張した規定試験レベルは，ほとんどの工業用途の環境で予測される最大レベルから

決定した。これらの試験レベルは，（起こり得る）電磁環境に関連する。試験レベルと使用中の失敗確率と

の間に実際的に立証可能な関係がないために，拡張した試験レベルは，安全関連システムに要求されるSIL

に分析的手法で関連付けることはできない。電磁現象の影響は，決定論的影響と考えられ，そしてそれら

の性質上，しばしば共通原因事象をもたらす。

装置の設計特性は，要求されるSILを考慮しなければならず，かつ，危険な決定論的原因故障を回避す

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

るように設計しなければならない。電磁妨害に対する十分なイミュニティは，電磁側面を考慮した，設計，

低減策及び構造技術によってだけ確保され得る。しかしそれは，この規格の適用範囲ではない。

したがって，要求のSILの性能を達成する道筋は，一方では設計特性を取り入れ，かつ，他方では試験

結果における信頼水準を上げるために試験性能パラメータを適切にすることが望ましい。

注記このフローチャートは，試験の順序について要求事項を規定したものではない。

図A.1−JIS C 61326-1，JIS C 61326-2規格群又はIEC 61326-2規格群，この規格及びIEC 61326-3-2の

相互関係

JIS C 61326-1及び／又はJIS C

61326-2-x若しくはIEC 61326-2-x

に従った試験値の下での性能評価

基準に対する機能試験

意図した用途に
適さない

用途や環境に適して
いる

一般的な工業環境にお
ける安全関連用途に適
している

特定の工業用電磁環境
における安全関連用途
に適している

EMC安全試験

の結果

アプローチ（A）
JIS C 61326-3-1に従った
試験値の下での性能評価
基準に対する安全機能試
験

特定の電磁環境での使用
を意図しているか？

いいえ

安全関連用途での

使用を目的としているか？

箇条1参照

意図した用途に
適さない

開始

試験合格

試験不合格

アプローチ（B）
IEC 61326-3-2（及びJIS
C 61326-3-1表10）に従
った試験値の下での性能
基準に対する安全機能試
験

EMC安全試験

の結果

いいえ

試験不合格

試験合格

はい

EMC試験

の結果

はい

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

附属書B

（参考）

電磁現象の評価

特に安全機能故障の結果は深刻なことがあり得るので，EMCと安全との関係は十分な考察が望まれる。

安全関連装置及びシステムのためのEMC要求事項は，関係者間の広範囲な議論だけによって構成できる。

JIS C 0508（群）及びIEC 61000-1-2のようなJIS及びIEC規格又は技術仕様書（TS）及び技術報告書（TR）

は，EMC及び機能安全の側面を扱っているが，それらの両方ともIEC/TR 61000-2-5を参照している。

E/E/PEシステムで機能安全を達成するための要求事項の目的は，JIS C 0508規格群に従って，SILで示

す値まで安全機能の危険側故障の最大確率を抑えることにある。

これは，E/E/PEシステムが，SILで示す値よりも大きい確率で意図する機能を十分に実現するか，又は

フォールトの場合には，フォールトに対して定義した反応をすることを意味する。

この目的を達成するために，JIS C 0508（群）は，システムの動作中に起こることがある故障を回避す

るか，又はフォールトを制御するために，特定の技術及び手段の適用を要求している。

これらの要求事項は，故障を引き起こし得るあらゆる発生源に関係する。JIS C 0508（群）は，EMCに

関係するJIS C 61000又はIEC 61000規格群を参照し，関連団体がEMC仕様を発行することを求めている。

EMC仕様は，IEC/TR 61000-2-5に基づく。よく知られた電磁現象は，様々な種類の環境についてIEC/TR

61000-2-5に規定されている。関連現象及び適切な試験レベルの選択は，関連団体に任されている。

安全側面は，通常使用に対するEMC要求事項によってカバーされない。例えば，JIS C 61000-6-2に示

すような通常使用に対するEMC要求事項は，通常の状態の下で十分な動作を支援する目的である一方で，

装置又は制御下の装置の安全性を確かなものにする安全要求事項の目的でもある。

EMCのイミュニティレベルを導き出すための古典的アプローチは，図B.1によって示すことができる（よ

り詳細は，IEC/TR 61000-1-1及びIEC/TR 61000-2-5参照）。図中の左側の曲線は，電磁妨害レベルとなる

個々の発生源からのエミッションに起因する電磁妨害発生の確率密度を示している。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

確

率

密

度

両立性レベル

個々の装置の

エミッション限度値

約 5 %

妨害レベル

装置の

イミュニティ

レベル

想定

レベル

イミュニティ

試験レベル

妨害レベル

図B.1−エミッション，イミュニティ及び両立性レベル（独立変数の関数としての，

単一の放射源のエミッションレベル及び感受体のイミュニティレベルの例）（IEC/TR 61000-1-1参照）

右側の曲線は，電磁妨害に対する装置のイミュニティ挙動を示す。イミュニティレベルは，通常，離散

的な定量値である。それにもかかわらず，装置のイミュニティ挙動は確率曲線で表される結果となる。こ

の曲線は，装置がしばしば要求されたイミュニティよりも高いイミュニティをもつという事実を表す（イ

ミュニティは，通常，要求されたレベルに関して試験するだけで，そのレベルを超えて試験しない。）。さ

らに，装置自体の許容差，装置の製造工程の許容差，試験装置及び試験実施による不確かさのような，不

確かさのために実際のイミュニティに変動があるという事実を表す。

そのような潜在的障害状態の定量的記載については，両立性レベルが導入され，妨害の記載のために一

種の基準レベルになっている。様々な電磁現象に対する両立性レベルは，例えば，IEC/TR 61000-2-5に規

定してあり，それらは，イミュニティレベルを導き出すための出発点として使用することができる。もち

ろん，イミュニティレベルの実際の値は，考慮している電磁環境に大きく依存する。したがって，各々の

場所において，累積するエミッションによる妨害レベルが，この同じ場所に位置する各々のデバイス，装

置及びシステムのイミュニティレベルよりも十分に低くなるように，エミッション及びイミュニティのレ

ベルを制御するときに限って，EMCを達成することができる。しかし，両立性レベルは，現象，時間又は

場所への依存性に注意が必要である。

図B.1の曲線の形状から，両立性レベルと適用するイミュニティレベルとのマージンを増やすことが，

障害状態の発生確率を減らすことになり，よりよいイミュニティにつながって，全体としてEMCの“よ

りよい”状態になると結論付けることができる。したがって，考慮することが望ましいほとんどの電磁現

象について，通常のEMCに対し使用するイミュニティ試験レベルと比較して，より厳しいものを使用し

なければならない。

実用的には，純粋なEMC目的のイミュニティレベルは，妨害レベルを示す領域とイミュニティレベル

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

を示す領域との潜在的な重複が，それらの領域の数パーセント（図B.1では典型的に約5 %）の範囲内で

あるように決められている。

この手法は，経済的・技術的な観点から導き出されており，規定のイミュニティレベルは，電磁障害を

回避するために十分高くない場合があり得る。5 %の重複は，これらの装置が使用される場合に，電磁障

害が設備の5 %で起こることを必ずしも意味しない。IEC/TR 61000-1-1のA.6で説明しているように，結

果的に生じる電磁障害の確率は，通常，極めて低い。

図B.1の曲線は，妨害レベル及び装置のイミュニティレベルの確率の原理的な分布，想定レベルの範囲，

イミュニティ試験レベル並びに両立性レベルの位置を示す。これらの曲線は，現象，時間及び／又は場所

に依存している。したがって，特定の設備及び現象での確率密度曲線の知見は，他の電磁現象及び設備へ

は転用できない。

そのような確率的な曲線の実際の知見は，ほとんどの電磁現象において十分ではない。詳細な情報は，

幾つかの現象（例えば，雷保護及び落雷の場所に関する項目）だけに有効である。しかし，その場合でも，

その分野の現象そのものの分野（例えば，落雷に関する等雷雨日数線）に知見がある程度あっても，これ

らの現象が装置に及ぼす電磁障害の知見は多くない。

一般的な確率曲線の場合については，確率密度は数パーセント又は数十パーセントの値をもっているこ

とがよく知られている。しかし，SILによって定義される確率の必要条件をみた場合，十分であるとみな

すことはできない。

安全の分野では，安全関連システムの技術者は，一時間当たり10−5〜10−9の危険側故障の確率，又は作

動要求モードでは10−5を超える危険側故障の確率を，電磁妨害波の発生及び電磁妨害波に関連するレベル

の発生の両方について考慮しなければならない。

これらの境界条件から，ほとんどの場合，装置内の妨害の両立性レベルと安全関連システム内の個々の

装置のイミュニティレベルとの間に，明確な相関関係を見つけるための，信頼性の高い，明白で，証明可

能な方法はないと，結論付けられる。

適切なイミュニティレベルを導き出すための唯一の実用的な方法は，安全関連システムが使用されるこ

とを意図した特定の電磁環境の評価及び技術的な議論によってイミュニティレベルを決定することである。

IEC/TR 61000-2-5に示すような両立性レベルは，イミュニティ要求を導き出すための基礎として使用でき

る。

この分野での最悪の場合の仕様を回避するために，このアプローチを適用し，かつ，EMC及び機能安全

の専門家の知識を考慮した提案を，表B.1に示す。表中で“安全用途のEUTの機能に対する安全用途でな

いEUTとの試験レベルの差異”の欄は，これらの試験基準が通常機能の試験レベルとどのように関連して

いるかについて情報を提供する。それらは，通常機能（例えば，JIS C 61326-1に規定している工業的電磁

環境用）に対する試験レベルにある係数を乗じること，又は対象の基本規格で規定する試験レベルより一

つ高いレベルを適用することによって導き出される。両方の場合とも，安全機能のための試験レベルは，

IEC/TR 61000-2-5で示される試験レベルの基本に基づいて，工学的議論と併せて決められた。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表B.1−工業用途における機能安全に関する電磁現象及び試験レベルの典型的な考慮事項

番号

現象

基本規格

安全用途のEUTの

機能に対する安全用

途でないEUTとの

試験レベルの差異

静電気放電
（ESD）

JIS C 61000-4-2

あり
JIS C 61000-4-2の一
部は一段高いレベル

ESDの制御手順に従って作業する作業者以外の人
がアクセス可能な装置の部分に，JIS C 61000-4-2
で規定する環境に従って試験レベルを適用する。

なし

機器へのアクセスは，適切に訓練を受けた人だけ
に制限する。

放射無線周波
電磁界

JIS C 61000-4-3

あり
倍率2〜3

より厳しいレベルは，通常，移動体通信に用いる
周波数範囲に適用する。ただし，移動体通信を近
くで用いることを避けるための信頼できる対策方
法が分かっている場合は除く。ISM周波数は，個々
に考慮しなければならない。

バースト

JIS C 61000-4-4

あり
倍率1.5〜2

−

サージ

JIS C 61000-4-5

あり
倍率1〜2

外部保護デバイスは，必要なイミュニティを達成
させるためにあってもよい。

無線周波伝導
妨害

JIS C 61000-4-6

あり
倍率3

電源周波数磁
界

JIS C 61000-4-8

なし

共通規格で規定された除外事項に従う。
一般的に安全マージンはない。IEC 61000-6-5又は
変電所のような環境では安全マージンが必要にな
る場合がある。

電圧ディップ JIS C 61000-4-11

なし

ディップ，停電，電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は，機能的な側面とみなし，EMCとは関
連しない。

短時間停電

JIS C 61000-4-11

なし

ディップ，停電，電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は，機能的な側面とみなし，EMCとは関
連しない。

伝導性コモン
モード電圧

JIS C 61000-4-16 あり

あり。ただし，短時間電源周波数現象だけ。
電源の定格電圧に制限する。

電圧ディップ IEC 61000-4-29

なし

ディップ，停電，電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は，機能的な側面とみなし，EMCとは関
連しない。

短時間停電

IEC 61000-4-29

なし

ディップ，停電，電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は，機能的な側面とみなし，EMCとは関
連しない。

電圧ディップ JIS C 61000-4-34 なし

ディップ，停電，電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は，機能的な側面とみなし，EMCとは関
連しない。

短時間停電

JIS C 61000-4-34 なし

ディップ，停電，電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は，機能的な側面とみなし，EMCとは関
連しない。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表C.1−イミュニティ試験中に許容できる装置の機能への影響

番
号

干渉時の影響

安全用途を意図する機能

安全用途を意図しない機能

通常のEMC試験レベル

EMC安全試験レベル

通常のEMC試験レベル

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

短時間の過渡
的な電磁現象

長時間の過渡
的な電磁現象

妨害を受けない機能。

常に許容でき
る。

再現性のある一時的な性能低下。
性能低下に関する情報を提供され
る（性能低下は自動診断によって
検出できる必要はない。）。

指定範囲内だけ
許容できる。

許容できる。

指定範囲内だ
け許容できる。

許容できる。情
報を提供する
必要はない。

一時的な機能喪失。試験後は意図
した動作をする（自己回復）。
さらに，故障は自動診断によって
検出できる（故障に関する情報は
提供される。）。

許容できない

（機能を損なわ

ないことが望ま
しい，通常の
EMC挙動によ
って，妨害を受
けない通常の動
作が要求され
る。）。

許容できる。

許容できない。許容できる。

許容できる。

一時的な機能喪失。試験後は意図
した動作をする（自己回復）。
さらに，故障は自動診断（EUT内
部又は外部）によって検出できな
い。

許容できない。

許容できない

（DS固有側面が

優先する。）。

許容できない。

許容できない。許容できる。

許容できる。

回復のためにオペレータの介入又
はリセットが必要な一時的な機能
喪失。
さらに，故障は，診断などによっ
て検知できる（故障に関する情報
は提供される。）。

許容できない

（通常のEMC要

求が優先する，
すなわち，機能
を損なわないこ
とが望まし
い。）。

許容できる。

許容できない。許容できない。許容できる。

-3

-1

：

-3

-1

：

)

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表C.1−イミュニティ試験中に許容できる装置の機能への影響（続き）

番
号

干渉時の影響

安全用途を意図する機能

安全用途を意図しない機能

通常のEMC試験レベル

EMC安全試験レベル

通常のEMC試験レベル

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

短時間の過渡
的な電磁現象

長時間の過渡
的な電磁現象

回復のためにオペレータの介入又
はリセットが必要な一時的な機能
喪失。
さらに，故障は自動診断（EUT内
部又は外部）によって検出できな
い。

許容できない。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない。許容できない。許容できる。

5と同様。ただし，復帰しない（損
傷を含む。）。

許容できない

（通常のEMC要

求が優先す
る。）。

許容できない

（通常のEMC要

求が優先す
る。）。

許容できる。

許容できない。許容できない。許容できない。

6と同様。ただし，復帰しない（損
傷を含む。）。

許容できない。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない。許容できない。許容できない。

注記 ESD，バースト及びサージは短時間の過渡的な電磁現象とみなす。電源ディップ及び短時間停電は長時間の過渡的な電磁現象とみなす。

-3

-1

：

-3

-1

：

)

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表C.2−イミュニティ試験中に許容できるシステムの機能への影響

番
号

試験中の影響

安全関連機能

安全に関連しない機能

通常のEMC試験レベル

EMC安全試験レベル

通常のEMC試験レベル

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

短時間の過渡
的な電磁現象

長時間の過渡
的な電磁現象

妨害を受けない機能。

常に許容でき
る。

一時的な機能喪失。
試験後は意図した動作をする（自
己回復）。
さらに，指定したフォールトに対
する反応が実行される。

許容できない

（機能を損なわ

ないことが望ま
しい。通常の
EMC挙動によ
って，妨害を受
けない通常の動
作が要求され
る。）。

許容できる。

許容できない。許容できる。

許容できる。

一時的な機能喪失。
試験後は意図した動作をする（自
己回復）。
さらに，指定したフォールトに対
する反応が実行されない。

許容できない。

許容できない

（DS固有側面が

優先する。）。

許容できない。

許容できない。許容できる。

許容できる。

回復のためにオペレータの介入又
はリセットが必要な一時的な機能
喪失。
さらに，指定したフォールトに対
する反応が実行される。

許容できない

（通常のEMC要

求が優先する。
すなわち，機能
を損なってはな
らない。）。

許容できる。

許容できない。許容できない。許容できる。

回復のためにオペレータの介入又
はリセットが必要な一時的な機能
喪失。
さらに，指定したフォールトに対
する反応が実行されない。

許容できない。

許容できない

（安全側故障を

除く。）。

許容できない

（安全側故障を

除く。）。

許容できない

（安全側故障を

除く。）。

許容できない。許容できない。許容できる。

-3

-1

：

-3

-1

：

)

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

表C.2−イミュニティ試験中に許容できるシステムの機能への影響（続き）

番
号

試験中の影響

安全関連機能

安全に関連しない機能

通常のEMC試験レベル

EMC安全試験レベル

通常のEMC試験レベル

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

過渡的な
電磁現象

連続的な
電磁現象

短時間の過渡
的な電磁現象

長時間の過渡
的な電磁現象

4と同様。
ただし，回復しない（損傷を含
む。）。

許容できない

（通常のEMC要

求が優先す
る。）。

許容できない

（通常のEMC要

求が優先す
る。）。

許容できる。

許容できない。許容できない。許容できない。

5と同様。
ただし，回復しない（損傷を含
む。）。

許容できない。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない

（安全側故障は

除く。）。

許容できない。許容できない。許容できない。

注記 ESD，バースト及びサージは短時間の過渡的な電磁現象とみなす。電源ディップ及び短時間停電は長時間の過渡的な電磁現象とみなす。

-3

-1

：

-3

-1

：

)

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

附属書JA

（参考）

対応国際規格の序文

機能安全は，EUC及びEUC制御システムの全体に関する安全のうち，電気的安全関連システムの正常

な機能に依存する部分である。機能安全を達成するためには，安全機能の遂行に関連する安全関連システ

ムの全ての装置が，関連する全ての条件下で指定のとおりに動作しなければならない。

E/E/PE安全関連システムの機能安全に対する基本安全規格は，JIS C 0508規格群である。そこでは，機

能安全を達成するための全体的要求事項を規定している。電磁妨害に対する十分なイミュニティは，その

要求事項の一つである。

JIS C 0508規格群の概念は，アプリケーションの考慮と安全関連電気電子システムの設計とを区別する

ことである。全ての安全要求仕様は，次のように，意図した用途の全ての関連要求事項を指定する。

a) 意図した用途のリスクアセスメントに基づく，安全機能（その機能は，リスクの軽減を意図した）の

定義。

b) 意図した用途のリスクアセスメントに基づく，各安全機能に対する適切な安全度水準（SIL）。

c) JIS C 0508-2が要求する，システムが動作を意図した（電磁環境を含む。）環境の定義。

各安全機能の要求事項は，一つ又は複数のシステム安全要求仕様書（SSRS）に規定する。したがって，

JIS C 0508規格群が要求するように，電磁現象に対するイミュニティに関し，電磁環境及び電磁現象を

SSRSで考慮することが，極めて重要な出発点である。指定の安全機能の実装を意図した安全関連システ

ムは，SSRSを満たさなければならず，各装置の対応するイミュニティ要求事項を，SSRSから導き出され

なければならない。そのイミュニティ要求事項が，結果的に装置要求仕様になる。電磁環境に関し，SSRS

及び装置要求仕様は，その装置の全動作寿命にわたる，実際の環境における予見可能な電磁的脅威の的確

な評価に基づくのが望ましい。ゆえに，装置のイミュニティ要求事項は，その装置が意図する使用電磁環

境の特性に依存する。

したがって，装置の製造業者は，その装置が装置要求仕様を満たすことを実証しなければならず，シス

テム組立業者は，そのシステムがSSRSを満たすことを実証しなければならない。また，適切な方法を適

用して証を作成しなければならない。ただし，装置の製造業者及びシステム組立業者は，アプリケーショ

ンの他の側面を考慮する必要はない。例えば，安全関連システムの故障に関連するアプリケーションのリ

スクを考慮する必要はない。目標は，システム内の全ての装置が，機能安全側面を考慮してSSRSが指定

する水準まで拡張した特別な性能評価基準（例えば，性能評価基準DS）に適合することであり，要求さ

れるSILとは無関係である。

附属書Aに，この規格及びIEC 61326-3-2の適用方法の指針を記載する。

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

参考文献

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注記対応国際規格：IEC 61508-1:2010，Functional safety of electrical/electronic/programmable

electronic safety-related systems−Part 1: General requirements（IDT）

JIS C 0508-4:2012 電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第4部：用語の定義及

び略語

注記対応国際規格：IEC 61508-4:2010，Functional safety of electrical/electronic/programmable

electronic safety-related systems−Part 4: Definitions and abbreviations（IDT）

JIS C 61326-2-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第2-1部：個

別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定用の装置の試験配置，動作

条件及び性能評価基準

注記対応国際規格：IEC 61326-2-1:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 2-1: Particular requirements−Test configurations, operational

conditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC

unprotected applications（IDT）

JIS C 61326-2-2:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第2-2部：個

別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，測定用及び監視用の装置の試験配

置，動作条件及び性能評価基準

注記対応国際規格：IEC 61326-2-2:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 2-2: Particular requirements−Test configurations, operational

conditions and performance criteria for portable test, measuring and monitoring equipment used in

low-voltage distribution systems（IDT）

JIS C 61326-2-3:2019 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第2-3部：個

別要求事項−一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサの試験配置，動作条件及び

性能評価基準

注記対応国際規格：IEC 61326-2-3:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 2-3: Particular requirements−Test configuration, operational

conditions and performance criteria for transducers with integrated or remote signal conditioning

（IDT）

JIS C 1806-3-1:2014 計測，制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第3-1部：安全関連

システム及び安全関連機能（機能安全）の遂行を意図した装置に対するイミュニティ要求事項−

一般工業用途

注記対応国際規格：IEC 61326-3-1:2008，Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 3-1: Immunity requirements for safety-related systems and for

equipment intended to perform safety-related functions (functional safety)−General industrial

C 61326-3-1：2020 (IEC 61326-3-1：2017)

applications

JIS C 61000 電磁両立性（全ての部）

注記対応国際規格：IEC 61000 (all parts)，Electromagnetic compatibility (EMC)

JIS Z 8051:2015 安全側面−規格への導入指針

IEC/TR 61000-1-1:1992，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 1: General−Section 1: Application and

interpretation of fundamental definitions and terms

IEC 61000-1-2:2016，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 1-2: General−Methodology for the

achievement of functional safety of electrical and electronic systems including equipment with regard to

electromagnetic phenomena

IEC/TR 61000-2-5，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-5: Environment−Description and

classification of electromagnetic environments

IEC 61000-6-5，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-5: Generic standards−Immunity for equipment

used in power station and substation environment

IEC 61000-6-7，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-7: Generic standards−Immunity requirements

for equipment intended to perform functions in a safety-related system (functional safety) in industrial

locations

IEC 61326-2-4:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements

−Part 2-4: Particular requirements−Test configurations, operational conditions and performance criteria

for insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for insulation fault location

according to IEC 61557-9

IEC 61326-2-5:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements

−Part 2-5: Particular requirements−Test configurations, operational conditions and performance criteria

for field devices with field bus interfaces according to IEC 61784-1

IEC 61326-3-2:2017，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements

−Part 3-2: Immunity requirements for safety-related systems and for equipment intended to perform

safety-related functions (functional safety)−Industrial applications with specified electromagnetic

environment

IEC 61508 (all parts)，Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic safety-related systems

IEC 61511 (all parts)，Functional safety−Safety instrumented systems for the process industry sector

IEC 61784-3，Industrial communication networks−Profiles−Part 3: Functional safety fieldbuses−General

rules and profile definitions

IEC Guide 107:2014，Electromagnetic compatibility−Guide to the drafting of electromagnetic compatibility

publications

IET Guide，Overview of techniques and measures related to EMC for Functional Safety

2016年12月06日時点で次のURLにて参照可能 http://www.theiet.org/factfiles/emc/index.cfm

JAEKEL, Bernd: “Considerations on immunity test levels and methods with regard to functional safety”, in

LEWANDOWSKI, G. and JANISZEWSKI, JM (ed.). Electromagnetic Compatibility 2006, Wroclaw:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wroclawskiej, 2006, p.187-192, ISBN 83-7085-947-X